NORMA CHILENA OFICIAL NCh 44.0#2007 TITUTO NACIONAL DE NORMALIZACION INN-CHILE Procedimientos de muestreo para inspeccién por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspeccién lote por lote Sampling procedures for inspection by attributes - Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection Primera edicién : 2007 CORRESPONDENCIA CON NORMA INTERNACIONAL 180 2859.1:1999 (E} Sampling procedures for inspection by attributes - Part 1: Sampling schemes indexed by Deseriptores: muestreo, inspeccién por atributos, planes de muestreo, requisitos, AQL CIN 03.120.30 COPYRIGHT © 2007: INSTITUTO NACIONAL DE NORMALIZACION - NN + Pronibia reproduecion y venta * Deveciany : Matias Causa NY 64, 6 Piso, Santiago, Che Miembro do. 180 fletomational Organization for Standardization] © COPANT (Comisién Panamericana de Norms TeenleashSSOCSSCOCESSOOSHVSTOOHOC OE GESCSIVO SSCSSCSSSSSIVGSTSSEISI HSI BYat 42 6.1 58.2 5.3 6.1 62 7 72 73 Contenido Preambulo Introducci6n ‘Alcance y campo de aplicacién Referencias normativas Terminologia, definiciones y simbolos Expresién de no conformidad General Clasificaci6n de no conformidades Nivel limite de calidad a jptable (AQL) Uso y aplicacién Especificacién det AQL AQLs preferidos Presentacién del producto para muestreo Formacién de lotes Presentacién de los lotes Aceptacién y no aceptacién Aceptabilidad de lotes Disposicisn de lotes no acepados ltemes no conformes NCh44, Pagina 10 10 10 10 10 WW u " " 12 12 12 12 12NChaa 74 7.6 8.1 8.2 83 91 9.2 93 94 95 10 10.1 10.2 10.3 10.4 " Contenido Clases de no conformidades o ftemes no conformes Reserva especial para clases criticas de no conformidades Lotes presentados nuevamente Extraccién de muestras Seleccién de la muestra Ocasién para la extraccién de muestras Muestreo doble 0 multiple Inspeccién normal, rigurosa y reducida Inicio de ta inspeccién Continuacién de ta inspaccion Reglas y procedimientos de cambio Interrupeién do la inspeccién Muestreo sucesivo parcial Planes de muestreo Nivel de inspeceién Letras oédigo del tamaiio de muestra Obtencién del plan de muestreo Tipos de planes de muestreo Determinacién de la aceptabilidad Inspeccién para itemes no conformes Inspeccidn para no conformidades Pagina 13 13 13 13 14 14 14 14 14 16 7 7 7 18 18 18 19 19 19 ee O°12 12.4 12.2 12.3 12.4 12.5 12.6 13 13.1 13.2 13.3 13.4 Anexos Contenido Informacién adicional Curvas caracteristicas operativas (OC) Promedio del proceso Calidad promedio de salida (AQ) Limite de la calidad promedio de salida (ACQL) Curvas de tamafo promedio de muestra Riesgos del olionte y del productor Planes con nimero de aceptacién fraccionario para muestreo simple {opcional) Aplicacién de planes con niimero de aceptacién fraccionario Determinacién de ta aceptabilidad Reglas de cambio Plan de muestreo no constante Anexo A (informativo) Ejemplo para plan de muestreo no constante Anexo B (informative) Bibliogratia Figuras Figura 1 Diagrama de las reglas de cambio Tablas Tabla 1 Letras cédigo del tamafio de muestra NChaa 20 20 2 21 21 22 22 23 24 28 93 94 15 26NCha4, Contenido Tabla 2-A Planes de muestreo simple para inspeccién normal (tabla maestra} Tabla 2-B Planes de muestreo simple para inspeccién rigurosa (tabla maestra) Tabla 2-C Planes de muestreo simple para inspeccién reducida (tabla maestra) ‘Tabla 3-A Planes de muestreo doble para speccién normal (tabla maestra) Tabla 3-B Planes de muestreo doble para inspeccién rigurosa (tabla maestra) Tabla 3-C Planes de muestreo doble para inspeccién reducida (tabla maestra) Tabla 4-A Planes de muestreo miiltiple para inspeccién normal (tabla maestra) Tabla 4-8 Planes de muestreo mil 'specci6n rigurosa (tabla maestra} le pare Tabla 4-C Planes de muestreo muiltiple para inspeccién reducida (tabla maestra) Tabla 5-A Riesgo del productor para inspeccién normal (en porcentaje de lotes no aceptados para planes de muestreo simple) Tabla 5-B Riesgo del productor para inspeccién rigurosa (en porcentaje de lotes ho aceptados para planes de muestreo simple) Tabla 5-C Riesgo del productor para inspeccién reducida (en porcentaje de lotes no aceptados pata planes de muestreo simple) Tabla 6-A Calidad de riesgo del cliente para inspeccién normal (en porcentaje de ho conformes para planes de muestreo simple, para inspeccién por porcentaje de no conformes Tabla 6-B Calidad de riesgo del cliente para inspeccién rigurosa (en porcentaje de no conformes para planes de muestreo simple, para inspeccién por porcentaje de no conformes Tabla 6-C Calidad de riesgo del cliente para inspeceién reducida (en porcentaje de no conformes para planes de muestreo simple, para inspeccién por porcentaje de no conformes} Tabla 7-A Calidad de riesgo del cliente para inspeccién normal (en no conformidades por 100 itemes para planes de muestreo simple, para inspeccién por no conformidades por 100 itemes) Pagina 27 28 39 42 43 44 45 46 47 48 o2e0Contenido Tabla 7-B Calidad de riesgo del cliente para inspeccién rigurosa (en no conformidades por 100 itemes para planes de muestreo simple, para inspeccién por no conformidades por 100 itemes) Tabla 7-C Calidad de riesgo del cliente para inspeccién reducida (en no conformidades por 100 itemes para planes de muestreo simple, para inspeccién por no conformidades por 100 itemes) Tabla 8-A Limite de la calidad promedio de salida para inspeccién normal (Planes de muestreo simple) Tabla 8-B Limite de la calidad promedio de salida para inspeccién 1 (Planes de muestreo simple) Tabla 9 Curvas de tamafio promedio de muestra para planes de muestreo simple, doble y multiple (inspeccién normal, rigurosa y reducida) Tabla 10-A Tablas para la letra cédigo A de tamafo de muestra (Planes individuales) Tabla 10-A-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-A-2 Planes de muestreo para la lotra o6digo A Tabla 10-8 Tablas para la letra cédigo B de tamafio de muestra {Planes individuales) Tabla 10-B-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-B-2 Planes de muestreo para la letra cédigo B Tabla 10-C Tablas para fa letra cédigo C de tamafio de muestra (Planes individuates) Tabla 10-C-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-C-2 Planes de muestreo para la letra cédigo C Tabla 10-D Tablas para la letra cédigo D de tamafio de muestra (Planes individuates) Ncha4 49 50 51 82 53 55 85 56 87 57 58 59 59 60 61Ncha4, Contenido Tabla 10-D-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-D-2 Planes de muestreo para la letra cédigo D Tabla 10-E Tablas para la letra cédigo E de tamaiio de muestra (Planes individuates) Tabla 10-E-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-£-2 Planes de muestreo para la letra eédigo E Tabla 10-F Tablas para la letra cédigo F de tamafio de muestra (Planes individuales) Tabla 10-F-1 Volores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-F-2 Planes de muestreo para la letra cédigo F Tabla 10-G Tablas para la letra cédigo G de tamafio de muestra (Planes individuales) Tabla 10-G-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-G-2 Planes de muestreo para la letra cédigo G Tabla 10-H Tablas para la letra cédigo H de tamafio de muestra (Planes individuates) Tabla 10-H-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-H-2 Planes de muestreo para la letra cédigo H Tabla 10-J Tablas para la letra cédigo J de tamafio de muestra (Planes individuates) Tabla 10-J-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-J-2 Planes de muestreo para la letra cédigo J vw Pagina 64 65 65 66 67 67 6s 69 69 70 n n 72 6 ©Contenido Tabla 10-K Tablas para la letra cédigo K de tamaiio de muestra {Planes individuales) Tabla 10-K-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-K-2 Planes de muestreo para la letra cédigo K Tabla 10-L Tablas para ta letra cédigo L de tamafo de muestra (Planes \dividuales} Tabla 10-L-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-L-2 Planes de muestreo para Ia letra cédigo L Tabla 10-M Tablas para la letra cédigo M de tamafio de muestra (Planes individuales) Tabla 10-M-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-M-2 Planes de muestreo para la letra cédigo M Tabla 10-N Tablas para la letra cédigo N de tamafio de muestra (Planes individuates) Tabla 10-N-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-N-2 Planes de muestreo para la letra cédigo N Tabla 10-P Tablas para la letra cédigo P de tamaio de muestra (Planes individuales) Tabla 10-P-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-P-2 Planes de muestreo para la letra cédigo P Tabla 10-Q Tablas para la letra cédigo Q de tamafo de muestra (Planes individuales) Nen4a4 73 74 75 75 76 7 7 78 79 79 80 81 81 82 83 vitNCh44 Contenido Tabla 10-0-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para planes de muestreo simples Tabla 10-0-2 Planes de muestreo para la letra cédigo Q Tabla 10-R Tablas para la letra cédigo R de tamaiio de muestra (Planes individuates) Tabla 10-R-1 Valores tabulados para las curvas caracteristicas operativas para Planes de muestreo simples Tabla 10-R-2 Planes de muestreo para la letra cédigo R Tabla 10-S Tablas para la letra cédigo S de tamaiio de muestra (Planes individuates) Tabla 10-S-1 Valores tabulados para curva caracteristica operativa para plan de muestreo simple Tabla 10-S-2 Planes de muestreo para la letra cédigo $ de tamafio de muestra Tabla 11-A Planes de muestreo simple para inspeccién normal (tabla maestra auxiliary Tabla 11-B Planes de muostreo simple para inspeccién rigurosa (tabla maestra auxiliar) Tabla 11-C Planes de muestreo simple para inspeccién reducida (tabla maostra auxiliar) Tabla 12 Gréfico curvas OC (Normalizada) vin Pagina 83 84 85 85 86 87 87 a7 Bg 89 90 a1NORMA CHILENA OFICIAL NCh44.0f2007 Procedimientos de muestreo para inspeccién por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspecci6n lote por lote Predmbulo El instituto Nacional de Normalizacion, INN, es el organismo que tiane a su cargo el estudio y preparacién de las normas técnicas a nivel nacional. Es miembro de la INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION (ISO) y de la COMISION PANAMERICANA DE NORMAS TECNICAS (COPANT), representando a Chile ante esos organismos. Esta norma se estudié a través del Comité Técnica Métodos estadisticos, para especificar los planes y procedimientos de muestreo para la inspeccidn por atributos, Esta norma es una traduccién modificada de la versién on inglés de la Norma Internacional ISO 2859-1:1999 Sampling procedures for inspection by attributes - Part 1: Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection y su corrigenda técnica 1. Para los propésitos de esta norma, se han realizado los cambios editoriales que se indican y justifican en Anexo C. En esta norma se han realizado modificaciones con respecto a la norma internacional debido a la necesidad de armonizar esta norma con otras normas chilenas sobre el tema, Estas desviaciones técnicas se han incorporado al texto de la norma, y estén marcadas con una barra simple en los margenes (I) En Anexo C se incluye una lista completa de las desviaciones técnicas, junto con su justificacién.NCha4 La Nota Explicativa incluida en un recuadro en cléusula 2 Referencias normativas y en Anexo Bibliografia, es un cambio editorial que se incluye con el propésito de informar la correspondencia con norma chitena de las normas internacionales citadas en esta norma La norma NCh44 ha sido preparada por la Divisién de Normas del Instituto Nacional de Normalizacién, y en su estudio el Comité estuvo constituido por las organizaciones y personas naturales siguientes: DICTUC S.A Verdnica Césped J. Editorial Trineo S.A Ivan Lopez A, Instituto Nacional de Normalizacién, INN Laura Avila M. M. Esther Palomero M. Elsa Samaniego E. Motrogas S.A. Cristian Ferrada D. SEICA Ltda. Eliana Chandia A Ligia Chandio A Universidad de Santiago de Chile - Depto. Matemiticas y CC. - Area Estadistica Carlos Prado C. Universidad de Santiago de Chile - Depto. Técnico Industrial Marco Avaria A En forma adicional a las organizaciones que participaron en Comité, el Instituto recibi6 respuesta durante el periodo de consulta publica de esta norma, de las entidades siguientes: Universidad de Chile - Facultad de Ciencias Veterinarias y Pecuarias Universidad de Chile - Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales Universidad de Chile - Unidad de Calidad. Facultad de Ciencias Quimicas y Farmacéuticas. Los Anexos A, B y C no forman parte de la norma, se insertan sélo a titulo informative. Este norma anula y reemplaza, a la norma NCh44.0f1978 Jnspeccién por atributos - Tablas y procedimientos de muestreo, declarada Oficial de la Republica por Resolucin N°107, de fecha 12 de mayo de 1978, del Ministerio de Economia, Fomento y Reconstruccién, publicada en el Diario Oficial del 28 de junio de 1978 y a NCh2237.011999 Procedimientos de muestreo para inspeccién por atributos - Planes de ‘muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL} para la inspeccién lote por lote, deciarada Oficial de la Republica por Resolucion Exenta N°74, de fecha 17 de febrero de 1999, del Ministerio de Economia, Fomento y Reconstruccién, publicada en el Diario Oficial del 24 de febrero de 1999. Esta norma ha sido aprobada por e! Consejo del Instituto Nacional de Normalizacién, en sesién efectuada el 21 de diciembre de 2006. Esta norma ha sido declarada Oficial de la Repiblica de Chile por Resolucién Exenta N°110, de fecha 23 de febrero de 2007, del Ministerio de Economia, Fomento y Reconstruccién, publicada en el Diario Oficial del 12 de marzo de 2007. © eNORMA CHILENA OFICIAL NCh44.012007 Procedimientos de muestreo para inspeccién por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspecci6n lote por lote 0 Introduccién Esta norma se basa en ISO 2859-1:1999, que constituye una revision técnica de ISO 2859-1:1989, @ incluye los cambios significativos siguientes: - un nuevo procedimiento para cambio de inspeccién normal a reducida; una referencia a muestreo sucesivo parcial, como una alternativa a la inspeccién reducida; ~ el término calidad limite, ha sido cambiado a calidad de riesgo del cliente en el encabezamiento de Tablas 6-A, 6-8, 6-C, 7-A, 7-B y 7-C; ‘se ha agregado una nueva tabla, dando al riesgo del cliente la probabilidad de rechazo de lotes con un porcentaje de no conformes igual al AQL; - se ha agregado planes de nimero de aceptacién fraccionario opcional; el propésito de ‘estos planes es proveer una progresién consistente, a partir de los planes para numero de aceptacién cero a los planes de nimero de aceptacién uno. Los planes de aceptacién de numeros fraccionarios se encuentran en Tablas 11-A, 11-8 y 11-C, donde ellos toman el lugar de las flechas, en las posiciones correspondientes en Tablas 2-A, 2-B y 2-C; - os planes reducidos han sido cambiados para eliminar la brecha entre el nimero de aceptacién y rechazo; - alos planes de muestreo doble, se les han hecho algunos cambios para proveer un tamafio de muestra promedio menor;Nchaa los planes de muestreo multiple han sido reducidos a § etapas en lugar de 7. El cambio no ha aumentado el tamafio de muestra promedio; algunos de los nuevos planes tienen un tamafio de muestra promedio menor que su contraparte en la versién anterior; ~ se ha agregado curvas caracteristicas operativas, como Tabla 12 1 Alcance y campo de aplicacién 1.1 Esta norma especitica los planes y procedimientos de muestreo para la inspeccién por atributos. Esta indexada en términos del nivel de calidad aceptable (AOL) Su propésito es estimular al proveedor a través de la presin econémica y psicolégica de la no aceptacién de lotes, para mantener un promedio del proceso como minimo tan bueno como el AOL especificado, Al mismo tiempo proporciona un limite superior para el riesgo del cliente de aceptar ocasionalmente un lote deticiente. Los planes de muestreo disefiados en esta norma son aplicables, pero no limitados, a la inspeccién de a) itemes terminados; b)_componentes y materias primas; ©) operaciones; dd) materiales en proceso; €} productos almacenados; f) operaciones de mantenimiento; 9) datos 0 registros; y bh) procedimientos administrativos, 1.2 Estos planes estén destinados principalmente a ser usados para una serie continua de lotes, esto es, una sorie bastante extensa para permitir que se apliquen las reglas de cambio (ver 9.3). Estas reglas proporcionan aj una proteccién para el cliente (mediante un cambio a inspeccién rigurosa o interrumpiondo ta inspeccién por muestreo|, al detectarse un deterioro de la calidad; b} un incentive (a criterio de la autoridad responsable) para reducir los costos de inspeccién (mediante un cambio a inspeccién reducidal, al aleanzarse una buena calidad de forma estable. Estos planes también se pueden usar para la inspeccién de lotes aislados pero, en este 280, se recomienda al usuario consultar las curvas caracterlsticas operativas para encontrar un plan que otorgue la proteccién deseada (ver 12.6). En ese caso, también se remite al usuario a consultar los planes de muestreo indexados por calidad limite (LO) dados en NCh2238 - ISO 2889-2. 2Nch4a4 2 Referencias normativas Los documentos referenciados siguientes son indispensables para la aplicacién de esta norma. Para referencias con fecha, sdlo se aplica la edicién citada. Para referencias sin fecha se aplica la Ultima edicién del documento referenciado (incluyendo cualquier enmienda). NCh2239 - ISO 2859-3 Procedimientas de muestreo para inspeccién por etributos Procedimientos de muesteo sucesivo parcial. NCh2420/1 -1S0 3534-1 Estadistica - Simbolos y vocabulario - Porte 1: Probabilidad y términos estadisticos. NCh2420/2 - ISO 3534-2 Vocabulario y simbolos estadisticos - Parte 2: Control estadistico de la calidad. ISO 2859-3:1991 Sampling procedures for inspection by attributes - Part 3: Skip-lot sampling procedures. ISO 3534-1:1993 Statistics - Vocabulary and symbols - Part 1: Probability and general statistical terms. ISO 3534-2:1893, Statistics - Vocabulary and symbols - Part 2: Statistical quality control. | NOTA EXPLICATIVA NACIONAL La oguivatencia de las noriias internacionales sefaladas anteriormente con norma chilena, y su grado de ccorrespondoncia os ol siguiente: Norma incenacional ‘Norra nacional Grad da correspondence 150 2069.3:1991 wich2739,071999 idennien 150 3534.17998 fucn2420/1-011998 iaannics [iso 3534-2:1999, ~_|ch2a20r2.on1998 [ ident 4 3 Terminologia, definiciones y simbolos 3.1 Términos y definiciones Para los propésitos de esta norma, se aplican los términos y definiciones indicados en NCh2420/1 - ISO 3634-1 y NCh2420/2 - ISO 3534-2, y adicionalmente los siguientes: NOTA - Para facltar las referencias, las definiiones de algunos de estos téminos se citen de NCR2420/1 130 3534-1 y NCh242012 - ISO 3534-2, en tanto que otras se han redefinido o definido nuevamente, 3.1.1 inspeccién: evaluacién de la conformidad por medio de observacién y dictamen, ‘acompafiada cuando sea apropiado por medicién, ensayo/prueba © comparacién con patrones 3.1.2 inspeccién inicial: primera inspeccién de un lote efectuada segiin esta norma NOTA - Esto se debe distinguir de la inspecsién do un lote que ha side presentado nuevamente, después de 90 haber sido aceptado con anterioridadNCh4a4. 3.1.3 inspeccién por atributos: inspeccién en que el item se clasifica simplemente como Conforme o no conforme respecto a un requisita especificado o conjunto de requisitos especificados, 0 se cuenta el ntimero de no conformidades en el item NOTA - La inspeccién por atibutos incluye inspuccién para determinar fa conformidad de los ttemes, asf como inspeceién para determinar al ndmero de no contormidades por 100 items, 3.1.4 item, unidad de producto: lo que puede ser desctito y considerado en forma individual EJEMPLOS: ~ un item fisico una cantidad detinida de material; lun servicio, uns actividad, © un procesa: = una organizaeién 9 une persona; 0 = la combinacién de todos 0 algunos de ellos. 3.1.5 no conformidad: e! no cumplimiento de un requisito especificado NOTAS 11 En algunos casos, los cequisitos especificados coincidlen con los cequisites para el uso que tiane al cliente (ver defecto 9.1.6), En otras casos pueden no coincidr, siondo més o menos saveros, 0 bien la tlacion exacta entre los dos no 6s completamente camprendida 9 conocido. 2) Las no conformidades generalinente se clasficaran de acuerdo a su nivel de gravedad, tal come: Clase A Aqualtas no conformidades de un tipo que se considera de fa mayor importancia para el producto © servicio. En ef muestreo de aceptacién, a dichos tipos de no conformidades $0 le asignardn valores de AQL muy pequetios. Clase B - Aquellas no confermidades de un tipo que se considera ex de un grado de importancia inmediatamente inferior. Por fo tanto a éstas se les asignara un valor de AOL mayor que al de la Clase Ay enor que 2 fos de la Clase C, st existe una tercera clase, ete, La clasificacién anterior se basa en et concepto de no conformidad y reemplaza a Ia clasificacién de efectos eriticas, mayores o menores, que astablecia NChA4.0F1978. 3} Ganeraimente, agregar caracteristicas y clases de no conformidades afectord a la probabilidad globsl de ‘2ceptacidn del producto, 4} El nimero de clases, fa asignacion dentro de una de ellas y la eleccién de un AQL para cada clase, deboria ser edecuado a los requlsitos de calidad de la stuacién especttica no cumplimiento de un requisito de uso previsto Es apropiado usar el té:mino defecto cuando una caracteristica de calidad de un producto, 0 servicio es ‘evalteda en funcién de su uso (como contraste a confarmidad con las espacifcaciones). 2) Baclo que en la actualiad el término defecto tiene un significado definide dentro de te ley, no se deborta sar como un término genérice. 4Nch4a4 3.1.7 item no conforme: item con una 0 mas no conformidades: NOTA - Los ftemes no conformes genetelmente se elasfiearn segin su nivel de gravedad, tal como: Clase A - Un item que contiene una 0 més no conformidades de la Case A y que puede también contener no conformidades de la Clase B vio Clase C, ote Clase B - Un item que contione una 6 mas no contormidedes de la Clase B y que puade eontener también no cconformidades de la Clase C, etc., pero ne contiane no conformidades de la Ciase A. 3.1.8 porcentaje de no conformes : numero de ftemes no conformes en la muestra, dividido por el tamafio de la muestra, y multiplicado por 100 | | 100 p = 4.100 | | en quo: | p= fraccién de itemes no conformes en ta muestra; | | | d= ntimero de itemes no conformes en la muestra: | tamaiio de la muestra: 3.1.9 porcentaje de no conformes : numero de itemes no conformes en la poblacién 0 lote, dividido por el tamafio de la poblacién o lote, y multiplicado por 100. D 100 p, = 2 «100 Poy en que: 1p, = fraccién de itemes no conformes en la poblacién o lote; D_ = ntimero de itemes no conformes en la poblacion o lote; N= tamajio de la poblacién o lote. NOTAS 11 Enesta norma, los té:minos porcentaje de na canformes (ver 3.1.8 y 3.1.91 0 10 conformidades por 100 temes (ver 3.1.10 y 3.1.11} 86 usan en lugar de los términos te6ricos proporcion de itemes no contormes no conformidedes por item, nor ser generalmente los mas utilizados. 2). Esta definiciin difiere de la que aparece en NCh2420/2 - ISO 9534-2.NChaa 3.1.10 no conformidades por 100 itemes : niimero de no conformidades en la muestra, dividido por el tamaiio de la muestra, y multiplicado por 100 100 v= £ = 100 i [en que: 4 = nuimero de no conformidades por item en la muestra; | = ndmero de no conformidades en la muestra; n= temaho de la muestra, 3.1.11 no conformidades por 100 itemes : nimero de no conformidades en la poblacién o lote, dividido por el tamafio de la poblacién o lote, y multiplicado por 100 jon ao | | w= nimero de no conformidades por tom ena pobactno ote C= ntimero de no conformidades en Ia poblacién o lote; : NOTA - Un ftem puede contener una @ mas no contormnidades. 3.1.12 autoridad responsable: término genérico usado para mantener la neutralidad de esta norma (principalmente para el propésito de establecer _especificaciones} independientemente de si es invocado o aplicado por la primera, la segunda o por la tercera parte NoTAS 1) Le autoridad responsable pod sar 81 el departamento de calidad dentro de la orgerizaciGn de! proveedor (primera pate) 1) ef comprador o la organizacion de adquisiciones (sogunda parte } una autoridad de cortiticacién o veriticacion independlonte (tercera port 4) cualquiera de al, b) 0 c} que diflere de acuerdo con la funcién Iver Nota 2), seqtin se doscribe en un ‘scuerdo escrito entre dos de las partes, por ejemplo, un documento entre proveeriory clionte 2) Los deberes y funcionas de una autoridad responsable se indican en esta norina (ver 5.2, 6.2, 7.2, 7.3, 78,78, 9.1, 93.3, 9.4, 10.1, 10.3 13.4)NCha4. 3.1.13 lote | 3.1.1.1 lote de produccién: cantidad definida de algtin producto, 0 servicio, producido de una vez bajo condiciones que se supone son uniformes | 3.1.13.2 lote de inspecetén: cantidad definida de algin producto, material, 0 servicio que | 50 june vse somote o inspeccion | NOTA - Un lote de insneccién puede consistir de varios lotes de praducei6n o partes de lotes de procuccién. 3.1.14 tamafio del lote: ntimero de ftemes en un lote 3.1.15 muestra: conjunto de uno o més itemes extraidos aleatoriamente de un lote y destinados a proporcionar informacion sobre el lote 3.1.16 tamafio de la muestra: ntimero de itemes on fa muestra 3.1.17 plan de muestreo: combinacin del tamafio de la(s) muestra(s) a utilizar y el criterio de aceptacién asociado NOTAS 1) Un plan de muestreo simple es la combinacidn del tamanto de la muestra y fos nimeras de aceptacién y todiazo, Un plan de muostreo doble os la combinacion de dos tamafios de muestra y los atmeros de feeptacién y rechazo para la primera muestta y para la muestra combinada, 2). Un plon de muestre0 no contione los crterios sobre cémo extraer a muestra. ora tos propésitos de esta norma, se deberia distinguir tos términos plan de muestreo iver 3.1.17) programa do mucstraa (ver 3.1-18) y sistoma de muestrea (ver 3.1.19), 3.1.18 programa de muestreo: combinacién de planes de muestreo con regias para el cambio de un plan a otro NOTA - Ver 9.3. 3.1.19 sistema de muestreo: conjunto de planes de muestreo o de programas de muestreo, cada uno de ellos con sus propias reglas para el cambio de plan, junto con los procedimientos de muestreo que incluyen criterios para la eleccién de los planes 0 programas mas apropiados. NOTA - Esta norma considera un sistema de muestreo indexedo por rangos de tamafio do lote, nivoles de inspeceién y AQLS. En NCh2238 - [SO 2889-2 so indica un sistoma de muastreo para planes de calidad lite LO. 3.1.20 inspeccién normal: uso de un plan de muestreo (ver 3.1.17) con un criterio de aceptacién que ha sido planificado para asegurar al productor una alta probabilidad de aceptacién cuando el promedio del proceso (ver 3.1.25) del lote es mejor que el nivel de calidad aceptable (ver 3.1.26) NOTA - La inspeecién nesrnal se usa cuando no hay razén para pensar qua el promedo del proceso (ver 3.1.25) ifiore de un nivel aceprable,Nch44 3.1.21 inspeccién rigurosa: uso de un plan de muestreo (ver 3.1.17) con un io de aceptacién que es mas riguroso que el plan correspondiente a inspeccién normal (ver 3.1.20) NOTA - La inspeccién rigueose se usa cuando el resultado de la inspeccion de un nimero prodeterminade de lotes consecutives indica que el pramedio del proceso iver 3.1.26) podria vor poor que el AOL (ver 3.1.26), 3.1.22 inspeccién reducida: uso de un plan de muestreo (ver 3.1.17) con un tamaiio de muestra (ver 3.1.16) que es ms pequeiio que el del correspondiente plan para inspecoién normal (ver 3.1.20) y con un ctiterio de aceptacién que es comparable al del correspondiente plan para inspeccién normal Notas ‘1 La capacidad de discriminacién bejo la inspeccién reducita es menar que hejo inspaccién normal 2) La inspeceién reducida se puede utilizar cuando los resultados de fe inspeceién de un ntimero Prodeterminado de lotes consecutives indican que el promedio del proceso (ver 3.1.26} os mejor que AOL (ver 3.1.26, 3.1.23 puntaje de cambio: indicador que se usa en la inspeceién normal para determinar si los resultados de la inspeccién en curso, son suficientes para permitir el cambio a inspeccién reducida NOTA - ver 9.3.3. 3.1.24 puntaje de aceptacién: indicador que se usa on planes con ntimero de aceptaci fraceionario para determinar la aceptabilidad del lote NOTA - Vor 13.2.1.2. 3.1.25 promedio del proceso: nivel de calidad (porcentaje de no conformes 0 néimero de | No conformidades por 100 ftemes} durante un periodo, cuando el proceso esté en estado | de control estadistico | | NOTA - Nivel del proceso que se promedia durante un tiempo detinide o para una eantided de produccion INch2420)2 - 150 3834-2, 3.1.2), 3.1.26 nivel de calidad aceptable (AQL): nivel de calidad que representa el peor pramedio tolerable det proceso cuando una serie continua de lotes es presentada para muestreo de aceptacién NoTAS 1). Este concepto so aplica dnicamente cuando se usa un programa de muestreo con reglas de cambio y de interupcién, tal camo en NCh44 0 iSO 3951 21 Aunque lotes individuales con calidad tan mata como ef AQL, tienen una probabilided alta de ser sceptados, {a fijacién de un AQL no sigrifica que sea el nivel do calidad deseable. Los programas de musstreo que se encuentran en nowmas como la presente, con sus regias de cambio y de interrupcisn de Ja inspeccién por muestreo, estén disefiades para animar alos proveedores a lograr promedics del proceso Consistentemente mejores que el AGL. Si no fuese asf, habria un alto riesgo ce quo la severidad de la inspeccidn se cambiase a una inspeccidn rigurosa bajo Ia cual el crterio de aceptacién de los lotes Hegaria 8 Sor mas exigente. Una vez que ha empezado la inspeccién rigurosa, a menos que 9e aclopte une ancion de mejoramionte del proceso, lo més probable es que se deba interrumpir la inspeceida por mucstreo hasta que so haya llevade a cabo el mejaramiento | |Nchaa 3.1.27 calidad de riesgo del cliente: nivel de calidad de un lote 0 proceso que en el plan de muestreo corresponde a un riesgo del cliente especificado NOTA - Fl riesgo del cliente es generaimente 10%, 3.1.28 calidad limite (LQ): cuando un tote en considerado en aislacién, el nivel de calidad {que para los propésitos de inspeccién por muestreo esté limitado a una baja probabilidad de aceptacién 3.2 Simbolos y abreviaturas Los simbolos y abreviaturas usados en esta norma son: Ac AL AOQ AcaL cra D ta : calidad li : fraccién de itemes no conformes en la poblacién o lots ntimero de aceptacién: : nivel de calidad aceptable (en porcentaje de itemes no conformes, 0 en no conformidades por 100 itemes); calidad media de salida (en porcentaje de itemes no conformes, 9 en no conformidades por 100 itemes); limite de ta calidad media de salida jen porcentaje de itemes no conformes, 0 en ho conformidades por 100 itemesl; : calidad de riesgo del cliente (en porcentaje de itemes no conformes, 0 en no conformidades por 100 itemes); ntimero de no conformidades en la muestra; ntimero de no conformidades en la poblacién o lote: numero de itemes no conformes en la muestra; ndimero de itemes no conformes en fa poblacisn 0 lote: te (en porcentaje de itemes no conformes, 0 en no conformidades por 100 ftemes); tamafio del lote; tamafio de la muestra; : fraceién de ftemes no conformes en la muestra; promedio del proceso expresado en no conformes;P. nivel de calidad para ef eual ta probabildad do acoptecién es », donde x es una 2, + probabildad de aceptacion (en porcentae) Re + numero de rechazo: |: mero de no contormidades por tem en la muestea |1v, + ndmero de no confomidades por tem an le pobacisno tote; a promedio del proceso expresado como no contormidades. NOTA - El simbolo » puede estar acompaiiade por un subindice. Los subindices numéricos 1 a § denotan ta primera a la quinta muestra respectivamente, En general, n, es el tamafio de la Hésima muestra en un muestieo doble © maitiple 4 Expresién de no conformidad 4.1 General La magnitud de ta no conformidad se debe expresar ya sea en términos de porcentaje de no conformes (ver 3.1.8 y 3.1.9) 0 en términos de no conformidades por 100 itemes (ver 3.1.10 y 3.1.11), Las Tablas 7, 8 y 10 se basan en el supuesto que las no conformidades curren aleatoriamente y con independencia estadistica. Es conocido que una no conformidad en un item puede ser causada por una condicién que probablemente cause otras, los itemes se deben considerar tnicamente como conformes 0 no conformes, & ignorar las multiples no conformidades. 4.2 Clasi acién de no conformidades Dado que la mayoria de los muestreos de aceptacién implican la evaluacién de mas de una caracteristica de calidad, y considerando que éstas pueden diferir en importancia en términos de calidad y/o efectos econdmicos, 0s a menudo deseable clasificar los tipos de no conformidades segtin las clases convenidas que se dofinen en 3.1.5, El nmero de clases, 4a asignacién de no conformidades dentro de las clases, y la eleccién del AQL para cada clase, deboria ser apropiado a los requisitos de calidad de la situacién especifica. 5 Nivel limite de calidad aceptable (AQL) 5.1 Uso y aplicacion EI AQL, junto con fa letra eédigo del tamaiio de muestra (ver 10.2) se usa para indexar los planes y programas de muestreo dados en esta norma, 10 eeNchaa Cuando se asigna un valor especifico de AQL. para una cierta no conformidad 0 grupo de no conformidades, ello indica quo el programa de muestreo aceptar4 fa gran mayoria de los lotes prosentados, siempre que el nivel de calidad (porcentaje de no conformes 0 no conformidades por 100 ftemes} de estos lotes, no sea superior al valor especificado de ‘AL. Los planes de muestreo estén ordenados de modo que la probabilidad de aceptacién ‘en el valor especificado de AOL, dependa del tamanio de la muestra para un AQL dado, siendo generalmente mayor para muestras grandes que para muestras pequerias, EI AQL es un parémetro del programa de muestreo y no se deberia confundir con ol promedio del proceso que describe el nivel operativo del proceso de fabricaci6n. Se espera que e! promedio del proceso seré mejor que el AQL para evitar excesivos rechazos bajo este sistema. PRECAUCION - La designacién de un AQL no debe implicar que el proveedor tenga el derecho do suministrar ‘conacientemente agin tem no conforme. 5.2 Especificacién del AQL EI AQL que se va a usar debe ser especificado en el contrato 0 por, (0 de acuerdo con las roglas establecidas por) la autoridad responsable. Se puede asignar diferentes AQL para grupos de no conformidades consideradas en conjunto 0 para no conformidades individuales segin se define en 3.1.5. La clasificacién en grupos deberia ser apropiada a los requisitos de calidad de la situacién ospecifica. Se puede especificar un AQL para un ‘grupo de no conformidades como complemento a los AQLs para no conformidades individuales, 0 subgrupos, dentro dal grupo. Cuando el nivel de calidad se expresa como porcentaje de itemes no conformes (ver 3.1.8 y 3.1.9}, los valores de AQLs no deben exceder el 10% de no conformes. Cuando el nivel de calidad se expresa como niimero de no conformidades por 100 itemes (ver 3.1.10 y 3.1.11) se puede usar valores de AQLS de hasta 1.000 no conformidades por 100 ftemes. 5.3 AQLs preferidos La serie de valores de AQLs dados en las tablas de la presente norma se conoce como serie de AQLs preferides. Si, para algin producto, se especifica un AOL diferente de uno de estos valores, estas tabias no son aplicables. 6 Presentacién del producto para muestreo 6.1 Formacién de lotes I producto se debe agrupar en lotes o sublotes identificables 0 de manera tal que pueda ser trazable (ver 6.2). Cada lote debe consistir, siempre que sea posible, de itemes de un solo tipo, grado, clase, tamaiio y composicién, fabricados bajo condiciones uniformes y esencialmente al mismo tiempo. "1NCha4 6.2 Presentacién de los lotes La formacién de los lotes, el tamario del lote y la manera en que cada lote debe ser presentado e identificada por el proveedor, debe ser establecido 0 aprobado por, o estar de acuerdo con, la autoridad responsable. Cuando sea necesario, el proveedor debe disponer espacio de almacenamiento adecuade y apropiado para cada lote, el equipo necesario para la identificacién y presentacién apropiadas y el personal para todas las manipulaciones del producto requeridas para la extraccién de muestras. 7 Aceptacién y no aceptacién 7.1 Aceptabilidad de lotes La aceptabilidad de un lote debe ser determinada mediante ef uso de un plan o varios planes de muestreo, £1 té&mino no acepracién se usa en este contexto como rechazo cuando se refiore all resultado de seguir ef procedimiento. Otras acepciones del término rechazo se reservan para acciones que el cliente puede adoptar, como por ejemplo: ntimero de rechazo, 7.2 Disposicién de lotes no aceptados La autoridad responsable debe decidir cémo so dispone de los lotes que no son ‘aceptados. Dichos lotes pueden ser desechados, seleccionados (con o sin reemplazo de itemes no conformes) retrabajados, reevaluados contra criterios de uso mas especificos, 0 ser retenidos para informacién adicional, ete. 7.3 temes no conformes Si un lote ha sido aceptado, se reserva el derecho de no aceptar algtin item encontrado no conforme durante la inspeccién, independientemente de que dicho item forme parte © no de la muestra. Los itemes encontrados no conformes pueden ser retrabajados o reemplazados por itemes conformes y sor presentados de nuevo a inspeccién con ta aprobacién de, y en la forma especificada por la autoridad responsable. 7.4 Clases de no conformidades o itemes no conformes La asignacién especifica de no conformidades o itemes no conformes a dos o més clases, equiore ol uso de un conjunto de planes de muestreo. En general, el conjunto de planes de Muestreo, tienen un tamafio de muestra comtin, pero diferentes nimeros de aceptacién ara cada clase con un AQL diferente, tal como se muestra en Tablas 2, 3 y 4, 12 eeNch44 7.5 Reserva especial para clases criticas de no conformidades ‘Algunos tipos de no conformidades pueden tener una importancia critica. Esta subcldusula ‘especifica las disposiciones especiales para tales tipos de no contormidades designadas. Bajo su criterio, la autoridad responsable puede requerir que se inspeccione cada item det lote para esa clase de no conformidades. Se reserva el derecho a inspeccionar cada item presentado con relacién a tales no conformidades y rechazar el lote inmediatamonte si se encuentra una no conformidad de esta clase. También se reserva el derecho a realizar un muestreo, para clases especificas de no conformidades de cada lote presentado por el proveedor, y no aceptar lote alguno si se encuentra que una muestra extraida de é! contiene una 0 mas de estas no conformidades: 7.6 Lotes presentados nuevamente Todas las partes deben ser notificadas inmediatamente si se encuentra un lote inaceptable. Dichos lotes no deben ser presontados nuevamente para reinspeccién hasta que todos los itemes sean reexaminados o reensayados y el proveedor esté seguro que todos los ftemes no conformes han sido removidos o reemplazados por itemes conformes, © todas las no conformidades hayan sido corregidas. La autoridad responsable debe determiner si se usa un nivel de inspeccién normal o rigurosa en fa reinspeccin y si la reinspeccién debe incluir todos los tipos 0 clases de no conformidades o solamente los tipos 0 clases particulares de no conformidad que causaron el rechazo inicial 8 Extraccién de muestras 8.1 Seleccién de la muestra Los ftemes seleccionados para la muestra deben ser extraidos del lote por muestreo simple al azar (ver NCh2420/2 - ISO 3534-2, 2.1.5). Sin embargo, cuando el lote consiste de sublotes o estratos, identificados por algtin criterio racional, se debe usar un muestreo estratificado, de tal forma que el tamajio de la submuestra de cada sublote o estrato sea proporcional al tamaiio de este sublote o estrato. NOTAS 1) Para la seleccién de musstras al azar, utlizar NCh43, 0 NCh2296 - 150 2859-0. 2) Para procedimientos de muestreo de productos especiticos, utilizar las normas correspondientes, 8.2 Ocasién para la extraccién de muestras Las muestras pueden ser extraidas después que el lote ha sido producido, o durante su produccién; on cada caso, las muestras deben ser seleccionadas de acuerdo a 8.1 13 | |Nohaa 8.3 Muestreo doble o miiltiple Cuando se usa muestreo doble o multiple, cada una de las muestras consecutivas se deben seleccionar entre los itemes restantes del mismo lote 9 Inspeccién normal, rigurosa y reducida 9.1 Inicio de ta inspecci6n Al comienzo de la inspeccién se debe efectuar inspeccién normal a menos que se indique otra cosa por parte de la autoridad responsable. 9.2 Continuacién de la inspeccién La inspeccién normal, rigurosa o reducida debe continuar sin cambio sobre los lotes sucesivos, excepto cuando los procedimientos de cambio (ver 9.3) requieran cambiar la severidad de la inspeccién. Los procedimientos de cambio se deben aplicar independientemente a cada clase de no conformidades 0 ftemes no conformes. 9.3 Reglas y procedimientos de cambio (ver Figura 1) 9.3.1 Inspeccién normal a rigurosa Cuando se esté apiicando inspeccién normal, se debe cambiar a inspeccién rigurosa tan pronto como dos de cinco (o menos de cinca) lotes consecutivos han resultado no aceptables en la inspeccién inicial (es decir, ignorando los lotes presentados de nuovo a inspeccién), 9.3.2 Inspeccién rigurosa a normal Cuando se esta aplicando inspeccién rigurosa, se debe restituir la inspeccidn normal si cinco lotes consecutivos han sido considerados aceptables en la inspeccién inicial 9.3.3 Inspeccién normal a reducida 9.3.3.1 General Cuando se estd aplicando inspeccién normal, se debe cambiar a inspeccién reducida si se cumple cada una de las condiciones siguientes: a} el valor actual del puntaje de cambio (ver 9.3.3.2) es al menos 30; y b)_ la produccién esta en régimen uniforme: y ©) la inspeccidn reducida es considerada deseable por la autoridad responsable. 4 eeNch4a4 (€°6 26) ojquieo op seGeu se} op ewesdeig - 1 eunBiy ‘spfonpos ‘pjoaedsuy 15NCh44 9.3.3.2 Puntaje de cami El célculo del puntaje de cambio se debe iniciar al principio de ta inspeccién normal, a menos que se indique otra cosa por parte de la autoridad responsable. El puntaje de cambio se debe establecer en cero al comienzo, e ir actualizandose durante la inspeccién de los lotes siguientes en la inspeccién normal inicial: a} Planes de muestreo simple 1) cuando el nimera de aceptacién es 2 0 mas, agregar 3 al puntaje de cambio, si el lote hubiera sido aceptado con un ntimero de aceptacién correspondiente a un AQL més severo; en caso contrario, volver a asignar el valor cero al puntaje de cambio. 2) cuando el numero de aceptacién es 0 6 1, agregar 2 al puntaje de cambio si se acepta el lote; en caso contrario, si ef lote es rechazado, volver a asignar el valor cero al puntaje de cambio, b) Planes de muestreo doble o mltiple 1) cuando se usa un plan de muestroo doble, agregar 3 al puntaje de cambio si el lote se acepta can Ia primera muestra; en caso contrario, volver a asignar e! valor cero al puntaje de cambio. 2) cuando se usa un plan de muestreo multiple, agregar 3 al puntaje de cambio si el lote es aceptado por el resultado de hasta la tercera muestra: en caso contrario, volver a asignar el valor cero al puntaje de cambio. NOTA - La aplicacion del puntaje de cambio se lustra en Anexo A. 9.3.4 Inspeccién reducida a normal Cuando se esta aplicando inspeccisn raducida, se debe restituir la inspeccién normal si en la inspeccién inicial se cumple alguna de las condiciones siguientes: a}_un lote no es aceptado; 0 b)_ fa produccién comienza a ser irregular o a decaer: u ©} otras condiciones que justifiquen el restablecimiento de la inspeccién normal, 9.4 Interrupcién de la inspeccion Si el némero acumutado de lotes no aceptados en una secuencia de lotes consecutivos sobre la inspeccién rigurosa inicial aleanza el valor de 5, se debe interrumpir fos procedimientos de aceptacién de esta norma, hasta que el proveedor haya tomado {as acciones para mejorar la calidad de los productos a servicios presentados y la autoridad responsable haya aceptado que esta accién realmente serd efectiva. La inspeccién rigurosa se debe usar entonces como si se hubiese invocado 9.3.1 16 eeNcha4 9.5 Muestreo sucesivo parcial La inspeccién lote a lote de esta norma, puede ser reemplazada por muestreo sucesivo parcial cuando se cumplan los requisitos de NCh2239 - ISO 2859-3. NOTA. Existon limitaciones para usar los procecimiantos de musstreo sucesivo parcial de NCh2239 - ISO 28599, ton lugar de los procedimientos de inspeccibn reducida de esta norma. Algunos niveles de AQLS e inspeccidn mo son apiicables. 10 Planes de muestreo 10.1 Nivel de inspeccién EI nivel de inspeccién indica la cantidad selativa de inspeccién. En Tabla 1 so dan tres niveles de inspeccidn |, Ily Ill para uso general. A menos que se espocifique otra cosa, se debe usar el nivel Il, El nivel | se puede usar cuando se necesita menor discriminacién 0 el nivel Il, cuando se requiere mayor discriminacién. En Tabla 1 se indican también cuatro niveles especiales adicionales, S-1, $-2, S-3 y S-4 que se pueden usar cuando sean necesarios tamafios de muestra relativamente pequefios y puedan o se deban tolerar mayores riesgos en el muestreo. EI nivel de inspeccién requerido para cualquier aplicacién especifica debe ser establecido por la autoridad responsable. Esto permite a la autoridad exigir mayor discriminacién para algunos propésitos y menor para otros En cada nivel de inspeccién, las reglas de cambio deben operar para requerir inspeccisn normal, rigurosa o reducida, segtin se especifica en cléusula 9. La eleccién dol nivel de inspeccién es totalmente separada de estas tres formas de inspeccién. De este modo el nivel de inspeccién que se ha especificado se debe mantener cuando se cambia entre inspeccién normal, rigurosa y reducida En la designacién de los niveles de inspeccién S-1 4 S-4, se debe tener cuidado para eviter el uso de AQLs inconsistentes con estos niveles de inspeccién. Por ejemplo, la letra c6digo para el nivel S-1 no puede ser mayor que D, equivalente en un muestreo simple a un tamaiio de muestra 8, pero no se puede usar el nivel S-1 si el AQL es 0,19% para of cual el minimo tamaiio de muestra es 125. La cantidad de informacién acerca de la calidad de un lote, obtenida de! examen de las muestras extraidas del lote, depende del tamafio absoluto de las muestras, no del tamafio telativo de la muestra en relacién al tamafio del lote, siempre que la muestra sea pequefia respecto del lote que se examina, A pesar de esto, hay tres razones para variar el tamafio do la muestra con respecto al tamaiio del lote: a) cuando la pérdida debida a una decisién errénea es alta, es mas importante tomar la decision correcta; b} con un lote grande, se puede proporcionar un tamaiio de muestra que podria ser antieconémico para un lote pequefio; c} Ia verdadera seleccién al azar es rolativamente més lenta, si la muestra es demasiado pequefia en proporcién al lote. WNchaa, 10.2 Letras cédigo del tamafio de muestra Los tamafios de las muestras se designan por medio de letras cédigo. La Tabla 1 se debe usar para encontrar la letra cédigo aplicable a un tamafio de lote en particular y al nivel de inspeccién establecido. NOTA - Por economia de espacio en las tablas 0 para ovitar repeticiones inneceserias en el texto, eljunas veces se usa ol término abroviada letra eceigo, 10.3 Obten ién del plan de muestreo EI AQL y Ia letra eddigo del tamaiio de muestra se deben usar para obtener el plan de muestreo desde Tablas 2, 3, 4.u 11. Para un AQL especificado y un tamaiio de lote dado, Ja misma combinacion de AQL y letra eédigo del tamafio de muestra se deben usar para obtener, @ partir de Ia tabla, el plan de muestreo para inspeccién normal, rigurosa y reducida, Cuando no se dispone de un plan de muestreo para una combinacién dada de AQL y de letra cédigo de tamano de muestra, fas tablas orientan al usuario a otra letra cédigo. El tamafio de muestra a utilizar esta dado por la nueva letra eédigo de tamaio de muestra no por fa letra original. Si este procedimiento conduce a diferentes tamanos de muestra Pata diferentes clases de no conformidades o itemes no conformes, se puede usar la letra e6digo correspondiente al tamafio de muestra més grande para todas las clases de no conformidades 0 ftemes no conformes, cuando ost establecido 0 aprabado por la autoridad responsable. Como altemnativa a un plan de muostreo simple con numero de aceptacidn 0, se puede usar el plan con ntimero de aceptacién 1 con su correspondiente mayor tamafio de muestra para un determinado AQL (cuando est4 disponible), cuando sea establecido 0 aprobado por la autoridad responsable. Como otra altemnativa s¢ puede usar la opcidn de los planes descritos en clausula 13, con numero de aceptacién fraccionario opcional, cuando sea aprobado por la autoridad responsable. 10.4 Tipos de planes de muestreo En Tablas 2, 3 y 4 respectivamente se dan tres tipos de planes de muestreo: simple, doble y multiple. Cuando se disponga de varios planes de muestreo para un AQL y una letra cédigo de tamafio de muestra dados, se puede usar cualesquiera de ellos. La docisién para tipificar el plan que se deba usar, (simple, doble 0 muittiple), para un AQL y letra cédigo determinados, se debe tomar generalmente basdndose en la comparacién entre las dificultades administrativas y los tamafios promedio de muestra de ios planes disponibles. Para los planes de muestreo dados en esta norma, el tamafio de muestra promedio de los planes miltiples es menor que para el doble y ambos son menores que él tamafio de muestra para los planes simples (ver Tabla 9). Generalmente, las dificultades administrativas para el muestreo simple y el costo por item de la muestra son menores que para el muestreo doble 0 miltiple. 18Nch44 11 Determinacion de la aceptabilidad 11.1 Inspeccién para itemes no conformes Para determinar fa aceptabilidad de un lote por medio de la inspeccién del porcentaje de no conformes, él plan de muestreo aplicable debe ser usado de acuerdo con 11.1.1 11.4.3. 11.1.1 Planes de muestreo simple (ntimero de aceptacién entero} El niimero de itemes de la muestra inspeccionada debe ser igual al tamafio de muestra dado por el plan. Si el némero de itemes no conformes encontrados en la muestra es menor o igual que el numero de aceptacién, el lote se debe considerar aceptable. Si of niimero de itemes no conformes encontrados on la muestra es mayor © igual que el niimero de rechazo, él lote se debe considerar no aceptable. 11.1.2 Planes de muestreo doble El ntimero de itemes inspeccionados de la primera muestra debe ser igual al tamafio de la primera muestra dado por el plan. Si et ntimero de ftemes no conformes encontrados en la primera muestra es menor © igual que el primer niimero de aceptacién, el lote se debe considerar aceptable. Si el ntimero de itemes no conformes encontrados en la primera muestra es mayor o igual que el primer nimero de rechazo, el lote se debe considerar no aceptable. Si el niimero de itemes no conformes encontrados en la primera muestra se encuentra ‘ontre los primeros ntimeros de aceptacién y rechazo, se debe inspeccionar una segunda muestra del tamafio dado por el plan. El némero de itemes no conformes encontrados en la primera y segunda muestra se deben acumutar. Si el nimero acumulado de itemes no conformes es menor o igual que el segundo niimero de aceptacién, el lote se debe considerar aceptable. Si el numero acumulado de itemes no conformes es mayor o igual que el segundo ntimero de rechazo, el lote se debe considerar no aceptable. 11.1.3 Planes de muestreo miltiple En el muestreo milltiple, el procedimiento debe ser similar al especiticado en 11.1.2. En esta norma hay cinco etapas de modo que en la quinta etapa se deberd alcanzar una decision. 11.2 Inspeccién para no conformidades Para determinar la aceptabilidad de un lote en una inspeccién de no conformidades por 100 itemes, se debe usar el procedimiento especificado para la inspeccién del porcentaje de no conformes (ver 11.1), excepto que el término no conformidades se debe sustituir por itemes no conformes.Nehaa 12 Informacién adicional 12.1 Curvas caracteristicas operativas (OC) Las curvas caracteristicas operativas para inspeccién normal y rigurosa, mostradas en Tabla 10, indican el porcentaje de totes que se puede esperar sean aceptados segiin los diferentes planes de muestreo para una calidad de proceso dada. Las curvas Fepresentadas son las correspondientes al muestreo simple, para planes con mero de aceptacién entero; las curvas para muestreo doble y miiltiple se ajustan a éstas tanto como es posible. Las curvas OC representadas para AQLs superiores a 10 son aplicables para inspeccién por némero de no contormidades; aquellas OC para AQLs de 10 0 menos son aplicables para inspeccién por itemes no conformes y también para inspeccién por nimero de no conformidades. Para cada una de las curvas representadas se han tabulado los valores de la calidad de los productos presentados que corresponden a valores seleccionados de la probabilidad de aceptacién, adicionalmente, se dan los valores correspondientes a inspeccién Figurosa y los valores correspondientes a muestreo por numero de no conformidades para AQLs de 10 0 menos no conformidades por 100 itemes. 8 grafico de curvas OC normatizadas de Tabla 12 indican el amplio campo de Porcentajes de lotes de diferentes calidades que seran aceptados, teniendo en cuenta las roglas de cambio, pero sin considerar el efecto de la regia para interrupcién de la inspeccién (ver 9.4). El eje de abscisas es la razén entre la calidad del proceso y el AQL. Cada una de las curvas rapresenta un nimero de aceptacién pata inspeccién normal 12.2 Promedio det proceso El promedio det proceso puede ser estimado por el porcentaje promedio de no conformes © por el ntimero promedio de no conformidades por 100 itemes (seguin sea aplicable) encontrados en las muestras del producto enviadas por el proveedor para la inspeccién inicial, siempre que la inspeccin no se haya truncado. Cuando se usa muestreo dable 0 mtitiple, se debe incluir Gnicamente el resultado de la primera muestra en la estimacién del promedio del proceso. 12.3 Calidad promedio de salida (AOQ) La calidad promedio de salida es ta calidad promedio en el tiempo del producto resultante, para un valor dado de Ia calidad del producto de entrada, incluyendo todos los lotes aceptados, mas todos los lotes no acoptados, después que estos lotes hayan sido efectivamente inspeccionados al 100% y todos los itemes no conformes hayan sido reemplazados por itemes conformes. 20 ee