f

JULIAN DEPUTAT

BADAI{IA
uLTRADŹW!EKoWE

PODSTAWY

MATERIAŁYszKoLENIoWE

INSTYTUT METALURG|I zELAzA lM. STAN|SŁAWA sTAszlcA

ośRoDEK DosKoNALEN|A KADB K|ERowN|czYcH

I SPECJALISTYCZNYCHMH
 , ZESZYTNRIZSERII
BADANIANIENIszczĄcEwYRoBÓw I PÓŁwYRoBÓw HurNlczYcH

Opiniodawca i redaktor merytoryczny

Adam Strvk

Redaktor techniczny

Teodor Bielski

Skład na składopisieIBM Composer82

Elżbieta Brożek

wYDANo NAKŁADEM

INSTYTUTU METALURGII żnteze im. STANISŁAwA STASZICA

44-101GLIWICE. UL. KAROLA MIARKI I2

oraz

oŚRoDKA DosKoNALENIA KADR KIERowNIcZYcH I sPEcJALIsTYcZNYCH

MINISTERSTWAHUTNICTWA
4l.506 cHoRzow. UL. RACŁAWICKA 20a

||szelkie prawa z astrzeźone

Nakładl000 cgz.Ark' wyd.25.87,Ark. druk. 62.51lA5

Druk wykonano w OśrodkuMałejPoligrafiiInstytutuMetalurgiiŻe|azaw Gliwicach
Zam.369l'19
 sPIsTREŚcl

Od wydawcy XI
Od autora XIII
Wskazówki dla korzystających ze skrypfu xv
Wykaz waiiniejszychsymboli uzytych w tekście xvl

czĘŚĆ I Wprowadzenie I
l. Cel i zakres stosowaniabadań nieniszczących I
1.1. ogólnacharakterystykabadańnieniszczących I
1.f. Metody badań nieniszczących . I
l '3. Badania u|tradźwiekowe 2
2. ogólne zasady badań u|tradźwiękowych 3
2.|. Rozwój badań 3
2.2. Badaniadefektoskopowe 3

czĘŚĆ il Wiadomościpodstawowe l0

3. Skala decybeli l0
3.l. P o z i o m w l e t x o ś. c. i . . . . : . . . . . . . l0
3.2. Skala decybeli - praktycznie ll
3.3. Skala decybeli - nieco teoreĘcznie l5
4. Przebiegi okresowe 16
4.|' Uwagi ogólne l6
4.2. okres i częstotliwość. t7
4.3. Amplituda l8
4.4. Faza l8
5. Ruch drgający 19
5.1. Drganiaswobodne 19
5.2. Drganiawymuszone 20
6. Ruch falowy 2l
6.1. Istotaruchu falowego 2l
6.2. Interferencja fal. ZasadaHuygensa 24
6.3. Prędkość rozchodzenia się fali 26
6.4. Długość fali 28
6.5. Ciśnienieakustyczne 29
* 6.6. Natężeniefali 29
1. Przetwornikiultradźwiękowe 30
7.1. Rodzajeprzetwornikówultradźwiękowych . 30
7.f. Przetwornikipiezoelektryczne 30
7.3. Przetworniki elektromagnetyczne 35
* 7 .4. Przetworniki magnetostry kcyjne 35
* 1.5. Generacja fal ultradźwiękowych za pomocą lasera 3s
8. Pole u|tradźwiękowe przetwornika piezoelektrycznego 36
8.l. Wiązka fal 36
8'2. Ilościoweprzedstawienieruchu falowego w obrębie wiązki . . . . . . . 37
8.3. Pole bliskie i dalekie 38
8.4. Szerokość wiązki 4|
8.5. Uproszczonyksztatt wią?ki fal dla l0 dB spadkuciśnienia . . . . . . . 44
8.6. Charakterystykakierunkowaprzetwornika 44

III

F
 9. Rodzaje fal stosowanychw badaniach ultradźwiękowych . . . 4S
9.1. Uwagi ogólne 45
9.2. Fale podłużne 45
9.3. Fale poprzeczne 46
9.4. Falepowierzchniowe 4'.1
* 9.5. Fale płytowe 48
* 9.6. Fale Loye'a 50
* 9.'l . Fale podpowierzchniowe 50
10. Zachowanie się fal na ganicy ośrodków 5l
l0.l. Granica ośrodków 5l
L0.2. Zjawiska na graniry ośrodków 52
l0.3. odbicie, załamaniei transformacjafal 53
10.4. Mechanizm odbicia fal 5ó
l0.5. Mechanizm załamania fal 58
10.6' Kąty grańczne 59
|o.7 ' Ciśnieniowewspółczynniki odbicia i załamania 60
10.8. Energetycznewspótczynniki odbicia i załamaria 6l
10.9. Rozproszeniefal 62
l0.10. Ugięcie (dyfrakcja)fal 6f
w zjawiskach na granicy ośrodków
l1. Ilościowezal'eżności 63
t 1.l. Padańe fa| L na granicę ,,woda/stal'' 63
|I.2. Padanie fal Z na granicę ,,stal/powietrze'' 64
I 1.3. Odbicie fal T od granicy ,,stal/powietrze" 64
11.4. Współczynnikodbicia od szczelinyw stali ó5
11.5. odbicie fal ?od naroża 67
l2. Tłumienie fal ultradzwiękowych 68
I2.|. Przyczyny ttumienia fal ultradźwiękowych 68
|f .2. Współczynnik tłumienia 69
|f .3. Mechanizm pochtaniańa fal . . . 70
12.4. Mechanizm rozprawania fal 1I

cZĘŚĆ III ŚroaH co realizacji badań ultadźwiękowych 74

13. Budowadefektoskopuultradźwiękowego. . .
13.1. Uwagi ogólne '14
13.2. Lampaoscyloskopowa 75
l3.3. Generatorsynchronizujący.Nadajnik impulsów 't7
13.4. odbiornik. Decybelowyregulatorwzmocńenia 80
13.5. Mechanizmpowstawaniaoscylogramu 83
13.6. Monitol 86
* |3,,I, Rozwiąpaniaspecjalne 8'7
* 13.8. Sposobyzobrazowaniawad 88
14. ogólne zasady posługiwaniasię defektoskopem 91
14.1. Zasilanie 9l
|4.2. Przyłączaniegłowic 91
L4.3. Pokrętła ENERGIA i PODCIĘCIE 92
|4.4. Wyznaczaniepoziomu impulsu odbieranegoprzez głowicę ultadźwiękową . . . 93
14.5. Zakresobserwacji . . . . 96
1 5 . Parametry defektoskopu ultradźwiękowego 101
l5.l. Uwagiogólne l0l
15.2. Liniowośćtoru X 101
15.3. Charakterystykatoru )' 103
15.4. Dynamikazobrazowania 104

IV
 sPIs TREŚC|

Od wydawcy XI
Od autora xIII
Wskazówki dla korzystających ze skrypfu xv
Wykaz wa:łniejszychsymboli uzytych w tekście xvt

czĘŚĆ I Wprowadzenie I

l. Ce| i zakres stosowaniabadań nieniszczących I

l.1' ogólnacharakterystykabadańnieniszczących I
|.2. Metody badań nieniszczących . I
l.3. Badaniau|tradźwiekowe 2
f. ogólne zasady badań ultradźwiękowych 3
2.1,. Rozwój badań . 3
2.2. Badaniadefektoskopowe 5

CZĘŚĆ il Wiadomościpodstawowe l0
3. Skala decybeli l0
3.l. P o z i o m w i e t x o ś. c. .i : . . . - . . . . . . . 10
3.2. Skala decybeli - praktycznie ll
3.3. Skala decybeli * nieco teoretycznie l5
4. Przebiegi okresowe ló
4.|. Uwagi ogólne l6
4.2. o k r e s i c z ę s t o t l i w o.ś
. ć: . . . . . : . : : . . . . . . . t7
4.3. Amplituda l8
4.4. Faza l8
Ruch drgający t9
5.1. Drgania swobodne l9
5.2. Drgania wymuszone 20
6. Ruch falowy 2l
ó.l. Istota ruchu faloweso 2l
6.2. Interferencja fal. Zasada Huygensa 24
ó.3. Prędkość rozchodzenia się fali 26
6.4. Długośófali 28
6.5. Ciśńenieakustyczne 29
* 6.6' Natężenie fali 29
7 Przetworniki ultradź więkowe 30
7.|. Rodzajeprzetwolników ultradźwiękowych 30
7.2. Przetwornikipiezoelektryczne 30
7.3. Przetwornikielektromagnetyczne 35
* '1
.4. Przetwornikimagnetostrykcyjne 35
* 7.5. Genelacjafa| ultradźwiękowychza pomocąlasera 35
8. Pole ultradźwiękoweprzetwornika piezoelekw cznego 36
8.l. Wiązkafal 36
8,2. Ilościowe przedstawienieruchu falowegow obrębiewiązki )I

8.3. Pole bliskie i dalekie 38

8.4. Szerokość wiązki 4|
8.5. Uproszczonykształtwiąpkifal dla l0 dB spadkuciśnienia . . . . . . . 44
8.6. CharakterysĘkakierunkowaprzetwornika 44

III
 9. Rodzaje fal stosowanychw badaniach ultradźwiękowych . . . 45
9.l. Uwagi ogólne 45
9.2. Fale podłużne 4S
9.3. Fale poprzeczne . . 46
9.4. Falepowierzchniowe 47
* 9.5. Fale płytowe 48
* 9.6. Fale Loye a 50
* 9.7. Falepodpowierzchniowe 50
10. Zachowanie się fal na granicy ośrodków 51
10.1. Granicaośrodków 51
I0.2. Zjawiska na granicy ośrodków 52
l0.3. odbicie, załamaniei transformacjafal 53
10.4. Mechanizm odbicia fal 56
l0.5. Mechanizm załamania fa| 58
10.ó. Kąty graniczne 59
l0.7. Ciśnieniowewqpółczynniki odbicia i załamania ó0
l0.8. EnergeĘcznewspółczynniki odbicia i załamania 6l
10.9. Rozproszenie fal 6f
10.10. Ugięcie (dyfrakcja)fal 62
w zjawiskach na graniry ośrodków
1l. Ilościowezależności 63
11.l. Padanie falI na granicę,,woda/stal'' 63
|1.2. Padaniefal I na granicę,'stal/powietrze'' 64
11.3. Odbicie fal Tod panicy ,,stal/powietuze" o4
l1.4. Współczynńk odbicia od szczeliny w stali 65
11.5. odbicie fal Tod naroża 67
12. Tłumienie fal ultradzwiękowych 68
|2.l. Przyca1ny tłumienia fal ultadźwiękowych 68
|2.2. Współczynnik tłumienia 69
|2.3. Mechanizm pochłaniańa fa| . . . 70
I2.4. Mechanizmrozpraszaniafal '11
.. .....

czĘŚĆ III Środki do realizacji badań ulfuadźwiękowych . . .t4

13. Budowa defektoskopu ultralźwiękowego 74

l3.l. Uwagi ogólne 74
13.2. Lampaoscyloskopowa 7s
l3.3. Generatorsynchronizujący.Nadajnikimpulsów 77
L3.4. odbiornik. Decybelowy regulatorwzmocńenia 80
13.5. Mechanizmpowstawaniaoscylogramu ....... 83
13.6. Monitor 86
* L3.7. Rozwią3aniaspecjalne 87
* 13.8. Sposobyzobrazowaniawad ....... 88
14. ogólne zasadyposługiwaniasię defektoskopem 91
14.L. Zasilanie 91
|4.2' Przyłączaniegłowic 9l
|4.3. Pokrętła ENERGIA i PODCIĘCIE 92
l4.4. Wyznaczanie poziomu impulsu odbieranegoprzez głowicę ultradźwiękową . . . 93
14.5. Zakresobserwacji. ..
'96

l5. Parametry defektoskopu ultradźwiękowego l0t

15.l. Uwagi ogólne t0l
|5.2. Liniowośćtoru X 101
15.3. Charakterystykatoru Y r03
15.4. Dynamikazobrazowania 104

IV
 15.5. Doktadnośćregulatorawzmocnienia . ' 104
torówXi Y . . .
15.6. stabi|ność 104
15.7. Wpływ zmian napięcia zasilania 105
l5'8. Poziom szumów elektronicznych 105
l5.9. Czyte|nośćobrazu 105
16. ośrodeksprzęgający 106
16.1. Rola ośrodkasptzęgającego 106
t6.2. Rodzajeośrodkówsprzęgających 10ó
16.3. Kontrola jakościsprzężeniaakustycznego 108

L7. Wzorce r09

1 7 . 1 . Rodzaje wzorców 109
t't.2. Wzorzec kontrolnY l/,1 110
17.3. Wzorzec kontrolnY I/2 111
17.4. Wzorce mikrosekundowe tt2
Wzorzec schodkowY
l'l .5. tt2
1,|.6.Wzorce do sporządzaniawykresów o|alR dla głowic normalnych tt2
|.|.7.Wzorce do sporządzaniawykresów oIlR dla głowic skośnych 113
17.8. Inne wzotce 1r3
18. Echo płaskiegoreflektoraumieszczonego w polu u|traÓźwiękowym kołowego prłptwor.
ńka piezoelektrycznego tl3
tt8.l. Wiązkafal odbitych il3
18.2. Za|eżność oWR 115
t8.3. NakładanaskalaoltlR 119
l8.4. Charakterystyka w kierunku prostopadłym do osi wiązki t2r
l8.5. Wpływ ksztattu reflektora naza|eźnośćoWR r22
;!8.6. Wpływ własnościośrodkana geometrię wiązki
123
19. ogólne wiadomości o głowicach ultradźwiękowych 124
Częściskładowe
l9.r. t24
Rodzajegtowic
19.2. 125
Dane techniczne i parametry gtowic
19.3. 127
Sposób oznaczaniagłowic
19.4. 128
Częstotliwość
19.5. gtowicy 128
Tłumienie przetwomika głowicy
19.6. 130
Długośćpola bliskiego
|9.,I. l3o-
Skutecznaśrednicaprzetwomika
l9.8. 133
Kąt rozbieżności
l9.9. wiryki |34
* Skupianiei rozpravanie wigki fal
19.10. 135

20. Parmametry uktadu ,,defektoskop _ głowica'' 137

20.1. Zapaswzmocnienia . . . . 137
20,f. Strefa mańwa 139
f0.3. Strefa wpływu impulsu nadawczego 141
20.4. Rozdzielczość 143
20.5. Strefa wzajemnegowpływu ech wad 146
2l. Głowice normalne fal podłużnych t47
2|.|' Przeznaczenieibudowagłowiry :. . . . . 147
zl.f. Długośćpola bliskiego 148
2|.3, Kąt zboczeniaosi wipki 148
f|.4. Kąt rozbieźności wĘki
i szerokość 149
21.5. Zapaswzmocnienia 149
2|.6. Długość strefy martwej t49
f|.7. Rozdzie|czość 149
2l.8. Ptzykłady głowic 150

V
 22. Gtowice skośnefal poprzecznych
r53
22.L. kzeznaczenie i budowa
22.2.
153
Długość pola bliskiego
22.3.
ls3
Środek głowicy
22.4.
Rf
Kąt załamania
155
22.s. Kąt rozbieżnościwiązki 157
22.6' Kąt.zboczeniawiązki
158
22.7. Zapaswzrnocńenia
159
22.8. Długośćstrefy martwej
159
22'9. Rozdzielczość
159
22.|0. Pnykłady głowic
159
23. Głowice podwójne fal podtuźnych
23.1.
r63
kzeznaczenie
ló3
23,2. Budowa głowicy podwójnej
ló3
23,3. obszar czutościgtowicy podwójnej
tó3
23.4. Parametry pola gtowicy podwójnej
t64
23.5. Przesłuch
t64
23.6. Wykresyo|1lR d|agłowicpodwójnych
165
23.7. Pnykładygłowic.
166
24, Inne głowice
168
24.|. Głowice fal powierzchniowych
168
?4.2. Głowice o skupionejwiązceultradźwiękowej 1ó9
24'3. Głowice do badań zanurzeniowych
r69
24.4. Głowice do badań elementów gorących
* 169
24.5. Głowice oponowe
t70
* 24.6. Głowice z wieloma przetwomikami I'12
czĘŚĆ Iv ogólne zagadnieniabadań u|tradźwiękowych 173
f5. Zagadnienie oceny rozmiaru wady
r73
25.1. Wady naturalne
r't3
25.2. Kontur wady
t't4
25.3. Wady punktowe
t75
25.4. Wady liniowe
r75
25.5. Wady roz|egłe
176
25.6. Wada równowaźna względem wady punktowej
176
2s.7. Sposoby oceny rozmiarów wad
178
25.8. ocena rozmiaru i kształtu wady przez ana|izęwidma częstot|iwościowego
echa
wady
25 '9. 179
ogó|ne zasadyoceny dopuszczalności wad 180
26. Pomiar współczynnikatłumienia
| Pomiar wspótczynnika tłumieniaza pomocągłowicy
{ar
?6
26.2. Wyznaczaniewspółczynnikatłumeinia,u pońo.ą głowic
norma|nej
skośnych
@
183)
2 7 . Wyznaczaniestratprzeniesienia .
27.|. Uwagi ogólne
róą
18ł
27.2. ,Wyznaczanie stlat przeniesieniadla głowicy normalnej
27 .3' Wyznaczanie strat pneniesienia d|a głowicy skośnej
:{'t Y-f

28. Interpretacjaoscylogramu
189
28'1. Uwagiogólne 189
f8.f. Oscy|ogramy wad rzeczywisĘch 190
28.3. Echa fal transformowanvch 193
fB-4. Inne przypadki powstawania pozornych ech wad
195

VI
cZĘŚĆV Technikibadaniadefektoskopoweso . . . l98
29. Badaniemetodąkontaktow{echa za pomocągtowicy normalnejfal podłuznych 198
29.I. Uwagi ogólne l98
29.2. Dobór zakresuobserwacji 198
29.3. Skalowanie zakresu obserwacji 198
29.4. Czułość badania ,201
29 .5. Lokalizacjawady 203
29.6. ocena rozmiaru wady zapomocą skali oWR łĄl . : : . : : :
""l.iui"'.:."".k';;
29.7. ocena rozmiaru wady za pomocą nieunornoyanego wykresu o|4lR bez poprawki
\ J

na tłumieniei stratyprzejścia . . . .Ęv. '

f9.8 ocena rozmiaru wady za pomocą unqmowanego wykresu oI4lR bez poprawki na
tłumienieistraĘprzejścia ./\l . . .
29.9. ocena rozmiaru wady za pomocą wykresów o|ilR z uwzg)ędnieniempoprawki na
6'
ttumienie i straty przejścia 2tf
29.l0. ocena rozmiaru wady przez pomiar przesunięciagtowicy 216
30. Badaniemetodąkontaktowąecha za pomocągłowicyskośnej fal poprzecznych 219
30.l. Uwagi ogólne 2r9
30.2. Dobór zakresuobserwacji 220
30.3. Skalowaniezakresuobserwacji 221
30.4. Czutośćbadanra 227
30.5. Lokalizacja wady
30.6. ocena rozmiaru wady zapomocą skalio|łR nakładanej na ekran .i,i, . . . '
30.,|. ocena rozmiaruwady zapomocą wykresów oIlR . . . . JĄi
30.8' ocena rozmiaruwady przez pomiar przesunięcia głowiry
3l . Badanie metodą kontaktową za pomocą głowicy podwójnej fal podłużnych 236
31.1. Uwagi ogólne 236
3l.f . Skalowanie zakresu obserwacji 236
3r.3- Czułość badania i ocena rozmiarów wad 237
32. Badanie za pomocą fal powierzchniowych 237
3f.1. Uwagi ogólne 237
32.2. Skalowanie zakresu obserwacii 238
3f .3. Ocena rozmiaruwad 239
32.4. Przykładyzastosowań 240
33 Badaniemetodąkontaktowąza pomocąukładugłowic 241
33.1. Uwagi ogólne 241
33.2. Uktad tandem 241
33.3. Uktad typu delta 24f
33.4. Układy głowic pracującychw ,,taktach'' 243
54. Badanie metodą zanurzeniową 244
3 5 . Badanie metodą przepuszczania 245
36. Inne metody akustyczne f46
36.t. Metody emisji akustycznej . . . 246
36'2" Metoda drgańrezonansowych 248
36.3. Badanietożsamości dźwiękowej 248
36.4. Holografia ultradźwiękowa 248
37. ogólne zasady organizacjibadania defektoskopowcgo 25r
31.1. Plan badania 251
3'1.2. Przygotowanie powierzchni 252
37.3. Wybór obszarówbadania 252
3'l .4. Technika badania 253

VII
 3 7. 5 . Dobór rodzaju gtowicy 253
3 7 . 6 . Dobór częstotliwości głowicy 253
3 7 . 7. Dobór wielkościprzetwornika głowicy f54
3 7 . 8 . Dobór i nastawaczułościbadania 2s6
3 7 . 9 . Sposób prowadzenia głowicy f56
37 . 1 0 . Dokumentacja badania 25'l
3 7 . 1 1 .Kontrola parametlów głowic i defektoskopu 258
3 7 . 1 2 . Uwzględńenie Wzyw.uny reflektora odniesienia przy postugiwaniu się wykresem
owR 259
37.13.BHP 259
38. Badanie blach 261
38.1.. Uwagi ogólne 261
38.2. Badańe blach falami podłużnymi 261
38.3. Badanie blach falami poprzecznymi 264
38.4. Badanie blach falami płytowymi 264
39. Badar{e rur 266
39.l. Uwagi ogólne f66
39.2. Geometria przebiegu wiązki ultradźwiękowejstosowanejdo wykrywańa wad po-
dłużnych f66
39.3. Badanie kontaktowe skośnągłowicąfal poprzecznych f69
39 .4. Badańe kontaktowe za pomocą dwóch głowic skośnychfal poprzecznych . . . . 2'.71
39.5. Badańezanurzeniowe 272
39.6. ocena tozmiarów wad 273
40. Badańe prętów 273
40.l. Badanieprętów o płaskichpowierzchniach lt5

4o.2. Badańe prętów okrągtych 2't5

41. Badanie odkuwek 2'16
42. Badanie odlewów 278

43. Badanie złącz spawanych 280

43.l. Uwagi ogólne 280
43.2. Badanie za pomocą głowic normalnych 28|
43.3. Badanieza pomocągłowic skośnych 28j

czĘŚĆ vI Pomiary ultradźwiękowe 290

44. Pomiar grubości 290
14.I. Zasady ogólne 290
44.2' Pomiary grubościza pomocą defektoskopu ultradźwiękowego . 290
44.3. Grubościomierzeultradźwiękowe 291
* 44'4. Inne techniki pomiaru grubości 294
45. Pomiar prędkości fal'ultradźwiękowych 296
45.l. Zasady ogólne 296
4s.2. Pomiar prędkości fal za pomocą defektoskopu 296
45.3. Pomiar prędkościza pomocąpróbników materiału 298
* 45.4. Pomiar prędkościza pomocąrefraktometu ultradźwiękowego 298
* 46' Pomiar i kontrola wtasności
fizycznych metali 299
46.I. Pomiar modułów sprężystości 299
46.2. Pomiar wielkościziama 300
46.3. Pomiar anizotropii 300
46'4. Pomiar grubościwalstw 302

VIII
 46.5. ocena wytrzymałości źeliwa 302
46.6. Kontrola obróbki cieplnej 303

CZĘŚĆ vII Podstawy teoretyczne oceny rozmiatów wad 306

* 47. Pole promieniowania i odbioru głowicy 30ó

* 48. Pole przetwomikana drganiapodłużne 308
48.l. ogólny opis pola 308
48.f . Ciśnienieakustyczne na osi wiąlki 310
48.3. Charakterystykakierunkowaprzetwomikakołowegoi prostokątnego 312
48.4. Charakterystyka kierunkowa głowicy skośnej 314
48.5. Uproszczonaanalitycznapostaćcharakterystykikierunkowej 3t4
* 49. Echo ptaskiego reflektora w osi wiązki Jl6
49.|. Sposób obliczaniawielkościecha 316
49.2. Echo dużegoreflektora 3|7
49.3' Echo małegoreflektora kolistego 3l8
49.4. tlnormowanaza]eżnośćoWR ....... 320
49.5. Echa reflektorów o wymiarach bliskich średnicyprzetwornika 321
4?-6. Echa reflektorów bardzo małych 322
* 50. Za|eżność
owR dla reflektorów nrepłaskich 323
* 51. Przetwornikz monotonicznympolem btiskim 325
* 52. Szerokość
obwiedniecha reflektora 326
obwiedniprzy względnymplogu Ęestrowalnościecha .
52.|. Szerokość 326
52.2. Szerokościobwiedni przy stałym progu rejestrowalności
echa 331
* 53. Cień wady ko|istej 334
53.l. Ciśnienieakustyczne w strefie cienia wady płaskiej 334
53.2. Za|eżność
oWR d|a metody przepuszczania J:s
Tablica I Najczęściejspotykane obcojęzyczne nazwy elementów regulacyjnychiptzyłącze-
niowych defektoskopu ultradŹwiękowego 340
Tablica II Wielkościi jednostki stosowanew badaniach ultradźwiękowych . . 340
Tablica III dane akusĘczne materiałów 342
Tablica IV Długość pola bliskiego przetworników kołowych w różnych ośrodkach 343
Tablica V Związek między długością }.lub częstotliwością / fal i średnicąprzetwornika ko
łowego D a długościąpolabliskiego y'y'i kątem rozbieżnościo (oa 6 dB spadku
ciśnienia) 344
Tablica VI Unormowany wykres OhrR 34s
Tablica VII WartościX/Xow funkcji poziomu Uw decybelach 346
Tablica VIII Wartościs/2, L '12 oraz rzutów drogi fal w funkcji kąta załamariagtowicy p . . 347
TablicaIX Wartościfunkcji trygonometrycznych 348
Tablica wartościfunkcji sinus i cosinus 348
Tablica wartościfunkcji tangensi cotangens 350
Karta badania ultradźwiękowego . 3s2
Literatura 353
Indeks rzeczowy 354

x
 PRZEDMOWADO WYDANIADRUG!EGO

Spełnienie coraz większych wymagań stawianych wyrobom i półwyrobom hutni.

czym wymaga doskonalenia zarówno technologii jak i metod kontroli jakości,wśród
któ-
rych coraz szerzej znajdują zastosowanie metody nieniszczące. Są to przede wszystkim
metody ultradźwiękowe, radiologiczne i elektromagnetyczne - reprezento wane przezbo.
gaty i różnorodny asortyment aparatów kontrolnych, wykoriystujących
osiągnięcia
współczesnejelektroniki i fizyk't,cechującychsię dużązłozonościąiwymagających
od
personeluposługującego się nimi specjalistycznegoprzygotowania.
Konieczność posiadania kadry specjalistów badań nieniszczących o kwalifikacjach
odpowiadających potrzebom resortu hutnictwa zna|azła swój wyraz w Poleceniu
Służ.
bowym Ministra Hutnictwa ru 25|77, które jednocześnieoirełiło ramy dla systemu
szkolenia pracowników resortu w zakresie tych metod oraz nadawania forrnalnych
upraw.
nień do wykonywania badań w celu orzekania o jakości bież,ącejprodukcji, wzglęanie
o jakościeksploatowanych częścimaszyn i urządzeń.
Polecenie to uczyniło współodpowiedzialnymi zarea|izacjętych celów odpowiednio
Instytut Metalurgii Że|azaim. St. Staszicaw Gliwicach oraz ośrodekDoskonalenia
Kadr
Kierowniczych i Specjalisty cznych Ministerstwa Hutnictwa w Chorzowię.
W wyniku współdziałaniatych instytucji uruchomiono system kursów badań nie.
niszczącychwyrobów hutniczych, a między innymi kursów badań ultradźwiękowych,
prowadzących do uzyskania uprawnień 1 bądź 2 stopnia. Podstawowym przedmiotem
wykładanym na tych kursach są ,,podstawybadań ultradźwiękowych''.Niniejszy skrypt
- araczejpodręcznik stanowi istotnąpomoc
dydaktycznąw nauczaniutegoprzedmiotu.
Drugie wydanie skryptu uwzględnia doświadczeniadydaktyczne uzyskane w wyniku
prowadzenia kursów w oparciu o pierwszejego wydanie oraz wyniki
konfrontacji piog'..
mu kursów z praktyką badań ultradźwiękowych.Włożonowiele wysiłków by w skrypcie
zna|azły się wszystkie istotne zagadnieniabadań rrltradŹwiękowychi by zostały
one
przedstawionew sposób systematyczny,przejrzysty i łatwy do przyswojenia.
oddając ten skrypt do rąk zainteresowanychpracowników hutnictwa życrymyby im
słuŻyłtak podczas kursu jak t poźniejw trakcie dalszej pracy zawodowej,przyczynlając
się do pogłębieniai utrwalenia wiedzy o badaniachultradźwiękowych,do lepszego
wy.
konywania obowiązków służbowych,a tym samym, do wzrostu jakościpot*y'ouo*
i wyrobów hutniczych.

Dyrekcja Dyrekcja
lnstytufu Metalurgiiżelazaim.St.Staszica ośrodkaDoskonalenia Kadr Kierowniczych
w Gliwicach i SpecjalistycznychMinisterstwaHutnictwa
w Chorzowie

Gliwice _ Chorzów, grudzień |979 t'

XI
 OD AUTORA

Drugie wydanie niniejszego skryptu zawiera znacznię bogatszy materiał informacyj.

ny, przedstawiony w zmienionym układzie. Szczegó|lą uwagę poświęconow skrypcie za-
gadnieniuoceny rozmiarów wad. Zagadnienieto potraktowano dwustopniowo:na pozio.
mie ,,przeciętnym''i ,,wyi:szym,,(w rozdziałach47.53).
W drugim wydaniu starano się maksymalnie uwzględnić potrzeby słuchaczy i absol.
wentów kursów badań ultradźwiękowychorganizowanychprzez resort hutnictwa.
Drugie wydanie niniejszego skryptu jest rezultatem szerokiej współpracy z redakto.
rem, który - jako kierownik Z,akŁaduBadań Nieniszczących Instytutu Metalurgii Że|aza,
współodpowiedzialnego za pto9tamy i skutecznośćszkolenia pracowników resortu hut.
nictwa * w oparciu o zbieranei analŁowane doświadczenia skuteczniewpływał na treść
skryptu i jej układ,jak również pomógł w opracowaniuszereguzagadnień.
Za gkazaną pomoc składam redaktorowi - kol. Adamowi Strykowi - serdecznepo-
dziękowanie.
Składam również podziękowanie wszystkim osobom, których życilivty stosunek
i rzeczowe uwagi przyczyniły się do podniesieniapoziomu merytorycznego i szaty gra.
ficznej skryptu.

Julian Deputat

XIII
 WsKAzoWK! DLA KoRzYsTAJĄcYcH zE SKRYPTU

l. Skrypt jest przeznaczony w pierwszym rzędne dla słuchaczy kursów badań ultra.
dźwiękowychwyrobówipółwyrobówhutniczych,prowadzącychdouprawnień 1stopnia.
Poszczególne zagadnieńa, poczynając od najprostszych do coraz bar dńej zŁoiony ch, są
w skrypcie umieszczone w p r z ybIiż, e ni u w takiej kolejności'wjakiej sąomawia-
ne na kursach' Pełne zachowanie tej Zasadynie było jednak moź:liweani celowe i dlatego,
przy posługiwaniu się skryptem w toku kursu należy się stosować do wskazówek wykła.
dowców.
orientacyjnie mofura przyjąć, że słuchacze kursów prowadzących do uprawnień
l stopnia powinni opanować partie materiału nie oznaczone gwiazdką. Materiał ten jest
wyjaśnionyw sposób opisowy zufuciem nielicznych, prostych wzorów matematycznych
typu a = blc, w których występują m.in. funkcje sinus i tangens.Wzory są objaśnione
przykładami,które usuwająm, in. wszelkie wątpliwościodnośnierodzajujednostekw ja.
}dch należywyrażac występujące w nich wielkości.
Konsekwentnie, słuchacze tych kursów powinni umieć posługiwać się podstawowy.
mi funkcjami trygonometrycznyrri i obliczać wartościprostych wyrńleń algebraicznych.
Z uwagi na obowiązującą w badaniach ultradźwiękowych skalę decybeli, jest wskazane,
by mieli oni przynajmniej ogólne pojęcie o logarytmach dziesiętnych.
opanowanie materiałupowinno polegaćna:
- pełnym zrozumieniu omawianych zagadnień,
- wyuczeniu się na pamięć definicji i regut (przeważnie podanych wyróżnionym
drŃiem) oraz ważniejszychcharakterystycznych danych liczbowych,
samodzielnym wykonywaniu obliczeń wedtug podanych wzorów przy zaŁoż:eniu
różnych danych wyjściowych,
samodzielnym wykonywaniu pomiarów i badań według podanych reguł i wska.
zówek.
2. Skrypt jest przeznaczony takźLedla słuchaczy kursów badań ultradźwiękowych
prowadzących do uprawnień 2 stopnia, od których wymaga się znajomościszerszegoza.
kresu zagadnień składającychsię na ,,podstawybadań ultradźwiękowych'',w stopniu
znacznie gtębszym. Tych słuchaczy obowiązuje znajomośćcałego materiału skryptu
I - za wyjątkiem partii tekstu ilustrowanych wzorami wyiLwej matematyki (w rozdziałach

II 41 - s3).
3. Skrypt jest wreszcie ptzeznaczonyrównież dla ,,absolwentów''kursów, jako zbiór
definicji, reguł i wskazówek postępowania oraz danych liczbowych. Korzystanie z niego
w tym aspekcieułatwiaZamieszczonyna końcu indeks rzeczowy.
v 4. Należy wyraźniepodkreślić,żew skrypcie zostały wyczerpująco omówione tylko
zagadnieniapodstawowe,natomiastspecjalistycznetachniki badaniaposzczególnychgrup

Il vryrobów lub półwyrobów hutniczych (ak blachy, rury itp.) zostały omówione ogólni.
kowo. Przyjmuje się,żetechniki te będą szczegółowoomówione w odrębnych skryptach.
J Skrypt nie zawierateżinformacji o wadachwyrobów hutniczych, których znajomość jest
niezbędnądla praktycznegowykorzystywaniazawartychw nim wiadomości.
;

XV

ti$
.\
 WY KAZ WAŻNIEJSZYCH SYMBOL t UŻYTYCH W TEKSCIE

A amplifuda /długośćpoziomej skali ekranu (ppc) podziałka podstawy czasu

defektoskopu R fala powierzchniowa/współczynnik od-
a odległośćod początku poziomej skali bicia
ekranu defektoskopu s skok głowicy
D szerokośćwiązki ultadźwiękowej T okres/fala poprzeczna
c pr@kośćrozchodzenia się fal U pozionr impulsu
D średnicaprzetwgrnika (wlpółczynnik prze- w wzmocnienie
puszczania
Lw zmianawzmocnienia(deltaW)
Dsk skutecznaśrednicaprzetvornika Z akustyczna opornośćfalowa
E podłłrżnej
moduł sprężystości zo zakres obserwacji
d średnicareflektora zw zapas wzmocnienia
dz działka skali ekranu derektoskopu a (alfa) kąt padania/współczynniktłu.
/ częstotliwość mienia fa| ultradźwiękowych
G, g grubość p (beta)kąt zatamania
G moduł sprężystości poprzecznej 'l (gamma)kąt odbicia
H wysokośćekranu lampy oscyloskopowej T (lambda)długość fali
ł wysokośćecha na ekranie lampy oscylo. o (teta)kąt rozbieżnościwiązki
skopowej p (ro) gęstośćośrodka
/ natężeniefali ultradźwiękowej u (ni) liczba Poissona
Z od|egtość/fa|apodłużna -TI głowicaultradźwiękowa
lsl2 długośópołowy skoku głowicy fala podłużna
N długośćpola bliskiego fala poprzeu,na
p amplitudaciśnieniaakustycznego fala powierzchniowa

XVI
 Częs I
UTPROWADZEilIE

l. cEL I zAKREs sTosowANIABN)AŃ UtTRADŹwĘKourYcTt

l.l. ogólna chara|cterysĘka badań nieniszczryyen

Badania nienisacząpe to badania, które nie powodują 'mnieiszcnb wł&no{bi użytto

v'ych bodanego obiektu (pótwyrobu, wyrobu, konstrukcji).
Bada'nianieniszczące są stosowane w celu:
a) ujawnienia i oceny nieciągłościmateriału badanego obiel1u lub obecrrościw nim
wtrąceń obcego materiału, nazywanych potocznie wadami - badania takie są na.
zryane d e f e k t o s k o p o w y m i;
b) określenia grubości ścian dostępnych jednostronnie, czyli pomiaru grubości;
c) określeniawłasnościlub stanu materiału badanego obiektu, np. wytrrymałości,
rozmiaru ziarna, naprężeńitp.

l.2. Metody badarńnieniszcz4cych

l.2.l. w badaniach nieniszczących stosuje się głównie metody.

- akustyczne,
- radiologiczne,
- elektromagnetycne (magnetyczne, wiroprądowe i inne)'
- penetraryjne.

l.2.2. Metody akustyczne wykorrystują zjawiska towarzyszące wzbudzaniu i rozchodze.

niu śędrgań mechanicznych w badanych obiektach. Wśródmgtod akustycznych wyróż.
nia śęmetody:
- ultradźwiękowe,
- emisji akustycznej,
- drgań resonansowych,
- tożsamości dźwiękowej.

1.2.3. Metody radiologiczne wykorzystują promieniowanie rentgenowskie (X), promie.

niowanie wysyłane przez izotopy promieniotwórczs (a, p,1) oraz promieniowanie neu.
tlonowe - do ,,prześwietlania'' badanych elementów, celem wykrycia wad makrostruk.
tury lub okreśieniaich geometrii.
Za pomocą badań radiologicznych można wykrywać wady objętościowe,jakżuzle.
pęcherze, rzadzizny, obce wtrącenia w odlewach czy złączach spawanych. Główne
ograniczeniebadań radiologicznych to mała możliwość
wykrycia wad płaskichzoriento.
wanych prostopadlelub skośniedo kierunku promieniowania.Szczególną niedogodność
stanowi konieczność stosowania specjalnych zabezpieczeń przed promieniowaniem.

1.2.4. Metody magrreĘczne wykorzystują zjawisko zakłócania pola magnetycalego

przez wady powierzchniowei podpowierzchniowe.obszary, w których występująwady
zaznaczurc sĄprzez skupiska proszku magnetycznego(metoda proszkowa), przez rejestra.
cję zmian natężeniapola magnetycznegoza pomocą taśmmagnetycznych(magnetogra-
fia) lub wykrywane za pomocą przyrządów słuzących do pomiaru natężeniapola. Za po.
mocą tej metody można wykrywać tylko wady powierzchniowe i znajdujące się w pobli-
żu powierzchnimateriału.

1.2.5. Metody wiroprądowe wykorzystują zjawiska towarzyszące wzbudzaniu w bada.

nym materialeprądów wirowych. Wady materiałuwpływająna natężeniei rozkład tych
prądów. Z obserwacjipola elektromagnetycznego wytwarzanegopruezprądy wirowe uzy.
skuje się wskazaniao obecnościwad powierzchniowychi. strukturzebadanegomateriału.
Metodę tę stosujesię w szczególnoścido wykrywania pęknięć powierzchniowych,kon.
troli prawidłowościstruktury po obróbce cieplnej, pomiaru twardości,pomiaru grubości
warstw tilepszonychcieplnie.

l.3. Badania rrltradźwiękowe

Badania ulhadzwiękowe opierają się na wykorzystaniu zjawisk towarzyszących wy-

twarzaniu i rozchodeeniu się drgań mecharricznych o częstotliwościponaddźwiękowej,
tj. o częstotliwościponad ló 000 Hz.
Wśródbadań ultradźwiękowychnajszerzejznanei stosowanesq badaniadefektosko.
powe. Znalazły one zastosowanieprzede wszystkim do wykrywania wad w obiektach me.
talowych - głównie stalowych:
- w przemyślehutniczym' maszynowymi budowlanym do bieżącejkontroli jakości
produkowanych wyrobów i półwyrobów, jak; odlewy, odkuwki, pręty, blachy,
rvry, zł'ączaspawane'częścimaszyn; zadaniem tej kontroli jest niedopuszczerie
do sprzedażyproduktów z wadami;
- w przemyślei w transporciedo okresowejkontroli elementów, odktorychza|eży
ciągłośći bezpieczeństwo ruchu urządzeń prodŃcyjnych i środków transportu
- pociągów, samolotów, samochodów itp.; zadaniem tej kontroli jest wczesnewy.
krycie wad powstającychw czasie eksploatacji,główniepęknięć i ubytków gru.
bości,by móc w porę dokonać naprawy lub wymiany zuźrytego elementu.
Badania ultradźwiękowe znalazły również szerokie zastosowanie poza przemysłem,
m. in. - w medycynie - do wykywania ,,wad'' w organizmie człowieka(ak guzy i no.
wotwory)' a takżedo badania mózgu, oczu' płodu w organizmie matki, pracy sercaczy
przepływukrwi.
 2. oc'ÓrNn zAsADYnłołŃ uI,rnłoŹwĘKowYcn

2.l. Rozwój badari

Wśródwielu możIwych wańantów badań ultradźwiękowych dominującą rolę odgry.

w a w a r i a n tn a z y w a n y i m p u l s o w ą metodą echa. Polegaonnatym,żedo
badanego obiektu ,,wprowadza się'' impulsy drgań mechanicznych i prowadzi się
,Jta.
słuch'',którego celemjest stwierdzenie:
- czy występująecha,
- jak,,silne'' są te echa,
- pojakim czasieone występują.
Z zasdy spodziewamy się echa od przeciwległej, ganicznej powierzchni badanego
obiektu, nazywanej d n e m. Jeślistwierdzi się wystąpienie ech wcześniejszych,ozrla-
cza to,że pomiędzy powierzchnią badania (wprowadzenia fa|) a dnem znajduje się prze.
szkoda, odbijająca catkowicie lub częściowodrgania mechaniczne. Przeszkodą taĘ jeśt,
mlędzy - wada. Im bliżej powierzchni badania znajłuje
Tnymi, nieciągtośćmateriału
się wada, Ęm prędzej powTaca do powierzchni badania odbite od niej echo;im wi|tsza
wada - tym silniejsze echo.
Na mozliwość użycia fal u|tradźwiękowych do nieniszczących badań materiałów
wskazał Sokołow (ZSRR) w |929 roku. Stosowana przez Sokotowa metodapozwalała
na wykrywanie wad o znacznych wymiarach i mogła być stosowana tylko w1edy, gdy
dostępnebyły dwie przeciwległepowierzchniebadanegomateriału.
w 1945 roku .F'.A. Firestone (UsA) i D. o' Sproule (Wielka Brytania),
niezależnieod
siebie, zbudowak prryrządy wykorzystujące impulsy fal ultradźwiękowych do otrzymy.
wania ech małych nawet nieciągtościwewnętrznych.Idea
Ęch p,,y,,ąió. zac?Hpruęta
została z rozwljającej się wówczas techniki radarowej, gdzie wykorrystuje się impńsy
fal
elektromagneĘcznych do uzyskania ech od obiektów znaiaującycil śę na ich
drodze.
Pierwve defektoskopy ultradźwiękowe pracującł impulsową ńetodą echa były
racĄ
aparatami laboratoryjnymi, a wykorrystywane były głównie w hutnictwie.
W ciągu ostatnich dwudziestu lat rozwój elektroniki umożliwił powstanie wysoko.
czułych defektoskopów ultradźwiękowych o lekkiej konstrukcji,
irzeznaczonych do
badań ręcznych, a takźe powstanie automaĘcznych układów kónboli,
w których ana.
lŁ ę sygnat ów dostarczanych przez f ale rrltradźwiękowe wykonuje komputer.

2.2. Badania defektoshopowe

W badaniach ultradźwiękowych do wytwarzania i wprowadzania drgań

mecha.
n i c z n y c hd o b a d a n e g o b i e k t uj e s t s t o s o w a n a g ł o w i c r i u l t r a d ź w i ę k o w a
( r y s . 2 . l ) I. s t o t n y mj e j s k t a d n i k i e m
jest p ł y t ka z m ateri a ł u pie zoelek-
try cz nego (przetwornikpiezoe|e|iĘczny)ośrednicywgranicach
od 5 do 50 mm ,
która zmienia swojągrubośćpod wpływem przyłożonegonapięcia, doprowadzonego
do
cienkiej warstwy metalicznej naniesionej na jej powierzchnię. Płytka
ta zostaje pobudzona
na drodze elektrycznej do krótkotrwałych d r g a ń r e z o n a n s o w y c
h o częstotliwości
rzędu miliona cykli na sekundę,tj. drgań,których olaes jest rzędu
mikrosekundy.
Głowicę przyktada się do powierzchni badania popi,"zcienką warstwę
ciecry - wo.
dy lub oleju _ spełniającejrolę o śr o d k a s p t z ę E a j ą c e g o. WTy tak szybkich
drganiach płytki i prry jednocześniemałej ich amptrtudźie,płynny osrodek sprzęgający,
jako mało ściśliwy, bardzo skutecznie przenosi drgania zpłytlr'l do materiału, powodując
sprężyste, periodyczne odkształcenia _ najpierw powierzchni, a poźniej podpowierzch.
niowych warstw materiału.

tr
g

b)

lNęo
ńm r)
r)
I
2t0.mc

Rys.2.1 Gtowicaultradźwiękowa
a _ Schemat l - przetwornikpiezoelektrycznyobustronniepokryty warstwąsrebra,2- doprowa.
dzeruenapięcia,3-griazdokabla,4_masaochronna,5_masatłumiąca,6-obudowazewnętlz.
na (uchwytdla ręki)' 7 _ powierzchnia
robocza.
b _ Widokzewn{trznygłowicywytwarzającej faleo częstotliwości2 MHz(ptod.ZZGlNCo,Warszawa).
Przedstawiona na rysunkugłowicawytwarzafale podłużne w kierunkuprostopadłym do powierzch.
ni roboczeji nosi nazwęgłowicynormalnejfal podłuźnych. Wśród odzna.
gtowic ultradźwiękowych
cza się onanajprostsząkonstrukcją.

Celem bliźszegozaznajomienia się z mechanizmem badania impulsową metodą echa,

weźmy pod uwagę element stalowy (rys.2.fa), w którym znajduje się mała wada. Za.
łóiLmy, że przyłożLonądo jego powierzchni głowicę pobudzamy tak' by wykonała ona
5 drgań w przeciągu 5 mikrosekund.
Drganiate przenosząsię w głąbmateriałuw postacikolejnych tal ,lagęszczen I rozrze-
dzeń'' materiału- nazywanych f a l a m i p o d ł użn ymi -z prędkością 5940 m/s.
(z tym, że dla uproszczerua przyjmiemy, że prędkośćta wynosi 6000 m/s). Kolejne fazy
rozchodzenia się fal w próbce przedstawionona rys. 2.2a...h.Po upływie 5 mikrosekund
(licząc od chwili pobudzenia płytki) w materiale znajduje się 5 fal ,Łagęszczeńiroaze.
dzeń,,, odległych od siebie o ok. 6 mm, tj. o długośćfa|i (b). W ruch drgającyzostają
kolejno wprowadzone - na czas ok.5 mikrosekund - coraz to inne obszary materiatu.
Po upływie 30 mikrosekund czoło pierwszejfali dochodzi do wady /e/. Następuje czę-
ścioweodbicie fali, osłabiającefalę biegnącądalej w stronę dna (f). Po upływie 60 mi.
krosekund fala odbita od wady dochodzi do powierzchni badania 1ł/ i ponownie odbija
się w stronę dna. Dla uproszczenia rozwaŻańdalszy los tej częścifali pominiemy. Po
upływie l20 mikrosekund do powierzchni dochodzi fala odbita od dna (j).
Do ,,rrasłuchu''ech słuzyć może ta samagłowiea,która wytworzyła drganiaw ba.
danym materiale, lub głowice osobna, identycznie zbudowana.Wykorzystanie głowicy
do tego celu jest mozliwe dzięki temu, że zjawisko piezoelektrycznejest zjawiskiem
odwracalnym, tzn. płytka piezoelektrycznapoddana naciskom ze strony materiału w
momencie powrotu fali do powierzchni badania _ wytwarza napięcie elektryczne.

A
 Funkcję pobudzania przetwornika piezoelektryc7ne$o otaz ,"nasłuchu'' ech za
j e g o p o ś r e d n i c t w e m s p ed łenfi ae k t o s k o p u l t r a d ź w i
ękowy (rys.2.3).
Zawieraon l a m p ę o scylo skopow ą orazróżnezespołyelektroniczne_Jak
np. nadajnik i odbiornik impulsów oraz|iczne pokrętła regulacyjne.
Lampa oscyloskopowa uwidacznia na swym ekanie przebiegi elektryczne. Są one
keślone przez strumień elektronów, którego ruch jest sterowany w następujący sposób:
_ przesunięcie poziome jest proporcjonalne do upływu czasu od momentu
rozpo.
częcia wytwarzutia drgań w głowicy; poziomy ruch punktu świetlnegotworty
n a e k r a n i e l i n i ęp o d s t a w y c z a s u '
_ odchylenie pionowe następuje w momencie odbioru echa fa] i jest proporcjonalne
do napięcia wzbudzonego w przetworniku piezoelektrycznym głowicy.
Szybkość przesuwu plamki świetlnejw kierunku poziomym może być regulowana
w bardzo szerokich granicach,tak że skalapozioma ekranu możeodpowiadać za k r e .
s o w i o b s e r wac j i odok.0-l0mm do ok.0-5 mw stali.Wzmocnienieodbiorni-
ka może być regulowane również w bardzo szerokich granicach.
I
W wyruku równoczesnego odchylania strumienia elektronów w kierunku poziomym
i p i o n o w y m ,n a e k r a n i e p o w s t a j eo s c y l o g r a m ( r y s . 2 . a ) , k t ó r y d o s t a r c z a n a s t ę p u -
jących informacji:
- obecnośćimprrlsu jest oznaką obecnościdna lub wady w zakresie obserwacji,
- w y s o k o śićm p r r l s uj e s t m i a r ą r o z m i a r u r e f l e k t o r a odbijającegofa.
lę (|akimjest wada lub dno).
- miejsce występowania unpulsu wskazuje g ł b o
ę k o ść na jakiej znajduje
się wadalub dno.
Defektoskop jest wyposażony w komplet głowic, tóiniących się konstrukcją,śred.
nicą przetwornika oraz częstotliwością wytwarzanych drgań. Podstawową ,grupę'' gło-
wic stanowiątzw. g ł o w i c e n o r m a l n e fal podłuznych (rys. 2.5a),służącedo
wytwarzania wspomnianych już fal typu ,ągęszczeń i rozrzedzeń''. Drugą' równie ważną
g u p ę g ł o w i cs t a n o w i ą g ł o w i c e s k o ś n e f a | p o p r z e c z n y c h , w p r o w a d z a j ą c e
f a l e p o p r zeczne wkierunku skośnymd o p o w i e r z c h n i b a d a n i(ar y s . 2 . 5 b ) .
Fale te charakteryzują się tym, że drgania materiału zachod,ząwkierunku poprzecznym
do kierunku ich rozchodzenia się;drganiom tym towarryszą naprężeniaścinające. Sto.
s o w a n es ą r ó w n i e ż g ł o w i c e podwójne -o dwóchprzetwornikachumieszczo.
nych we wspólnej obudowie. Jeden przetwornik służydo wzbudzaniafai, a drugi do ich
odbioru (rys. 2.5c). Do kompletu głowic należ'ąteż.głowice wytwarzające f a l e p o .
wier z ch n io w e (rys.2.5d).
omówrony sposób badania, w którym głowica dotyka badanej powierzchni poprzez
cienkąwarstwęcieczy nazywa się b a d a n i e m k o n t a ktowym (rys.2.6a).
Badany obiekt może też,być całkowicie Zanurzony w cieczy - wówczas mamy do czy.
nieniaz badaniem zanur zeniowym (rys.2.6b).
B a d a n i eu l t r a d ź w i ę k o wmeo ż eb y ć z r e a l i z o w a n e t z w .m e t o d ą p r z e p u -
szCzania'wktórejobecnośćwadyjestqygnalizowananieprzezjejecholeczptznz
zmniejszenie wysokości impulsu przechodzącego między głowicami na skutek przesło.
nięcia wiązki ultradŹwiękowejprzez wadę (rys.2.6c).
 nil n nn
ą) c'l

r| .IITI
Hffil
t'o!, 5y, l0Yt

llt___ltlL__l!E
I l--' I

tl
PfrA

f[,":-]f
nt ffil
ll

mffi
ili!i I
ll
lnlf

H
'u
lr

n nn
t'+. 3r,l

et j)

Rys 2.2 Schemat rozchodzenia się fal ultradźwiękowych w próbce stalowej o dtugości360 mm.
Na rysunkach a . . . j przedstawiono kolejne fazy wędrówki fal-w próbce (rysunki dolne) oraz
razv.ructru plamki Ńótlnej na ekranie oścyloskopułrysunki górne). przy założeniu,że pręd.
kośćrozchodzenia się fa| wynosi 6000 m/s
 E KRAN LA.T,IPYOSCY LOS KOPOWEJ

t llilil wD ,nn

,AZDA
KABLI GŁowIC

Rys. 2.3 Przenośnydefektoskopultradźwiękowy

Widok od strony płyty czołowejdefektoskoputyp UNIPAN 520 M (prod.ZD PAN ,,UNIPAN'' War.
szawa).Wymiary defektosk.opuwyn.osząI3f x200 x 360mm,masa5,8 kg.ZnacznąćzęścpłyĘczo-
łowej defektoskopuzajmujeekran lampy oscyloskopowej.Ro|ę poszczególnychpótrętet.ot;asnla.;ą
naprsy

l|4Ą)Ls NNAWCZY

Rys. 2.4 oscylogram na ekranie defektoskopu ultradźwiękowego. Położenie ech wady

i dna (ay1, ap) jest miarą od|egłości wady i dna od powierzchni badania (I14, lp).lł,lyso.
kośćecha wady ł jest miarą wielkości wa<ly
 ,/l,

ą[T-Tl
-r'',N,Nrrrr-
I

i
I
I

R.ys. 25 Rodzaje głowic

r - Głowicr normdne frl podtużnyń. Przetwornik piezoelektryczny umieszczony równolegle do po
vicrzchni badanil. Jcden i ten sam puetwornik pracuje na przemian jako nadajnik i odbiomik fal.
b - Gtoł'icr rto&re h| pqzocznyclr. Przetwornik piezoelettryczny umieszczonl n1 klinie z.p'leksi-
;lral jest zońentovany śko-&rfu względem povierzchni badania. W wyniku'.tzw. tr.ansform.acjiĘ p*
ółużńc w ploksiglasie żamieniajł się i fale pop|zerxne w stali. Podczas odbioru fa| transformĄaza.
drodzi w ti4wro-tnym kiorunkri:-faló popr;ccznie w stali zamieniaj1 się w fale podłuźne w pleksiglasie.
Jodcn i tcn Jrm plzetwornit pncuje jŃo nadajnik i odbiomik fal.
c - Głowice podw{nr. lV obrębie jcdnej obudowy znqjdują się dwa przetworniki, z których.jeden
rtelc pracuje jńko gcńcrator fat'i &is jalro odbiornik fł. Stosuje się żarówno głowice podwójne fal
podtriżnych jat i głowice podwdne fal poprzecznych.
d - Głowicr fr| powienchnirrwydr. Dzięki odpowied4iej konstrukcji klina z p|ek.sig|asu.do którego
Jost przyktejony p-rzetwornit, na granicy ''stal/pfeksiglas''następujezamiana pod.ł9zn.ychdrgali pleksi.
;|rsu na drgar.ia warstwy powierzchniowej stali' przebiegające odmiennie anzeli dĘanla Podłuzne
ipoplzcczne. Gtowica służy wytącznie do wykrywania wad powiezchniowych
 o)

b)

II
I

Rys. 2.6 Podstawowemetody badań ultradźwiękowych.

a - Metoda kontaktowa echa. Głowica dotyka bezpośredniobadanegoelementu,po uprzednim zwil.
źeniujego powierzchni cieczą. Ciecz stanowi ośrodekspnęgający' istotny dla p'owodzeńa badania
poniewaŹ sżczelinapowietrzna praktycznie zupetnie nie przewodzi drgali ultradźwiękowych. Sy8na.
łem obecnościwady.(wl jest ecńo odbite od wady (EW) występująceprzed echem dna(ED).
b - Metoda zanurzeniowa echa. Głowica (G) lbadany element (X) sązanarzone w wodzie, przy crym
między nimi jest dośćznaczna odległość.Sygrałem obecnościwady (||l) 'Ę1t.echoodbite od wady
(Eill),wvstępijące pomiędzy echami powierzctni 1 i 2 badanegoelementu (EP| , EP2).
c - Metoda przepuszczania (cienia). Badanie wykonuje się za pomocą 4ryg.-t' o{ę!nvc| głowic'
z których jeana (GN) jest załączonado nadajnikadefektoskopu, a druga(Go) do wejściaodpi.o1ryr1
Głowiie obrytaią pźóciw|egłich powierzchńi badanegoelemćntu (X) imusg,ąsię znajdować dokład.
nie naprzeciw śió6ie.cav ł ma[eriale nie ma wad głowica ,pdbiorcza'' odbiera fale wytwarzane
pnez głowicę,,nadawczą'-'i na ekranie widoczny jest_,,impulsprzejścia''(EN).wada (|Ąl)znajdująca
śięnabsi głowic przesłania częściowolub całkowicie wiązkę fal' w wyniku czego 'jmpuls przejŚcla''
maleje lub całkowicie zanika
 Częśćll

W|ADoMoŚctPoDsTAWoWE

3. SKALADECYBELI

3.l. Poziom wielkości

3.|.l. Przpz wielkośćrozumiemy to co można zmierzyć.Wielkościamisą więc, przykła-

dowo: długość,masa,czas,prędkośćitd. Wielkościoznaczasię różnymi symbolami i wy.
rażaprznzpodanie wańościliczbowej oraz jednostki miary, na prrykład:masa m = l0 k8.

3.l.2. Często zachodzi potrzeba oceny ile razy danawielkośćX jest większa od wielko-
ściĘ przyjętej za odniesienie.Liczba określającastosunek(iloraz) tych wielkościjest na.
Tywana p o z i o m e m i oznaczanaliterąu.

u (poziom X względem X,) = X (3.1)

Ę

Przykład l
Średnia dzienna produkcja wykonana na 5 jednakowych stanowiskach produkcyjnych wynosl
I 2 345
X = 9734 8 9 3I 9602 t2 t20 16 590 szt.
Przyjmijmy jako wzorcowe stanowisko produkcyjne nr 4, a wańośćjego produkcji dzlennej _ za
wartośćodn iesienia.otrzymamy następującewartościpoziomu produkcj i :
u=0,8 o;t4 0;19 1 1,37
Jak widać' otrzymane liczby obrazujące poziom produkcji znaczniepnejnyściej charakteryzują
możliwościprodukcyjne poszczególnych stanowisk aniźelidane bezwzględne.

3.l.3. w badaniachultradźwiękowych,podobnie jak w wielu dziedzinachtechniki, gdzie

używane jest pojęcie poziomu wielkości, prryjęto wyrażać poziom wielkości rlle przez
w a r t o śsćt o s u n k u = X f x o , | e c z p r z e z 2 0 - k r o t n ą wartość logaryt.
mu dziesiętnego tego stosunku, przypisując tej wartości
j e d n o s t k ę d e c y b e l ( d B ) ' w n i n i e j s z y ms k r y p c i et a k z d e f i n i o w a n p
y o z i o mb ę .
dziemy oznaczAć |iterą U:

U : (poziom X względem Xow decybelach1 = 20 log rc Ę ' czylt

Ao

U = 20 log16u (32)

l0
 Skala derybeli zostaławprowadzonadlatego'żeułatwiaona znakomicieoperowanie
poziomemwielkości.Skalę derybeli spotykamy* badaniachultradźwiękowych niemal
na każdymkroku. Z tych względów opanowaniejej ptzez osoby wykonującebadania
ultradźwiękowe jest sprawąbardzowłż:ną.
Wyrażaniepoziomu wielkościw decybelachprry pierwszymkon:akciewydawaćsię
możedużymutrudnieniem.Tak jednak nie jest. Bez zagłębianiasię w teorięqposóbko.
rrystaniaze stali derybeliwyjaśnia
ustęp3.2.

3.2. skala decybeli - pnkĘcznie

3.2.l. Zwtązekpomiędzy poziomemU wyrarżonym w decybelacha wartością stosunku

u = XlX, przedstawiatabela3.1.Z tabehtej możemyodczytaćwartościu = XfXodLa
całkowrtych,zmieniającychsię co l dB wartości
poziomu Uw granicachod U = _lb as
do(/=+79dB.
u d|arJ równego0 dB, l dB, 6 dB' 20 dB. Sąto wańo.
odcrytajmy z tabeli wartości
ściktóre wartozapamiętać. oto one;

U=0dB u=Xl)'o=l
łdB t,t2
6dB 2
20 dB 10
Wartościu podane w tabeli 3.l są wańościami prrybliżonymi. Na prrykład, dla
U = 6 dB a wynosi l9953' co w zaokrągleniu daje |iczbę 2. Jedynym wyjątkiem sąwar-
tościu odpowiadającepoziomom 0 dB, t 20 dB, 140 dB itd., wynoszącedoktadnie l,
l0, l00 itd' względnie0,l ;0,0l ; 0,00l itd.

3.2.2. D|Ą celów badań ultradzwiękorł'ych określaniepoziomu (/ z dokłńnością więk-

szą niż l dB nie jest potrzebne, wystarczy operować całkowitymi wartośc{amipoziomu.
ffiy U lub u są dane w postaci |iczb których nie rna w tabe|i 3.l, należy zaolaąg[e p do
najbliżvych wańości figurujągych w tabeli.

Ptzykład f
Ile wynosi u dla U = 24,7 dB?
Rozwiązanie
Poniewaź wartości U=f4,7 dB niemawtabeli'zaokrąglamyjądowartościcatkowitej
(I=25dB.
Azatemu=x/Ę=l7,8

Przykład 3
Ile wynośUdla u = 55?
Rozwiązanie
Poniewaźwartościz = 55 nie ma w tabeli, przyjmujemy wartośćnajbliźsząfigrrrującąw tabeli
u = 56,2.A zatem t/ = 35 dB.

Przykład 4
Na ekraniedefektoskopuzaobserwowanoobrazjak na rys.3.l ' Impuls.Ipośadaamplitudęo war.
tości3 działek, a impu|s 1/ amplitudę o wartościl działki. Jaki jest poziom amplitudy impulsu.I
wzfl,ędemII2

ll
 Rozwiązanie
Stosunexamp|ifud wynosi l = 3. w tabeli 3.l najbliźvawartośćwynosi 3,16, czemu odpowiada
U - l0 dB. A zatem, poziom amp|itudy 1 względem .I1wynoś l0 dB, czy|i amplituda impulsu 1jest
więLva o l0 dB od amplitudy impulsu //.

Przykład 5
W pomiarach otrzymano następującewartościwie|kościX:
1234 5
X = l,s3 185 to 621 207 0,9
.Naleźy
obliczyć poziom u i U pny1mu1ącwartośćtrzeciąza odniesienie.
Rozwig,anie
u = 0,000144 0,0175 I 0,019s 0,00008s
U= -77 -35 0 -34 -8ldB
Zauważmy, źe wańości poziomu w decybelach są o wie|e bardziej aniżeliwartości
u,
reprezentowaneprzez ułamki dziesiętne z wieloma zerami.
"czytelne'',

dz
5
1
3
-ł Rys. 3.1 Impulsy na ekraniedefektoskopu,
!l
2 ol których amplitudy różnią się o l0 dB.
1 :i Poziom impu|su I względem impulsu |I
wynosi plus l0 dB, zaśpoziom impu|suII
0 względem impulsu I wynoś minus l0 dB

3.2.3. Wzy1rryjmy się wartościomu w części,,a''i,,b''tabeli 3.l .Zauwairymy bardzo

charakterysty czną rzecz.
Gdy X jest więkve od xo, to poziom U wynża się liczbą dodatnią, gdy natomiast
x jest mniejsze od xo; to poziom U wynż,a się |iczbą ujemną.
A zatem znak plus lub minus przy wartościpoziomu U informuje czy wielkośćpo.
równywana X jest mniejszaczy ilększa od wielkościodniesieniaXo,na przrykłzd
jeże|iU= 6dBtoX)Ę'
jeż,eliU= 6dBtoX(Ę'

3.2.4. CharakterysĘczną własnościąskali decybelowejjest to, że mnożeniuwartościu

odpowiada dodawanie wartościU, mianowicie

(3.3a) uU | . u 2 t o U : U 1 + U 2
j e ż e | i= (3.3a)

i podobnie, dzielęniu wartościu odpowiada odejmowanie wartościU, a mianowicie

j e ż e | i u = u 1 l u 2t o U = U 1 - U 2

Przykład ó
Sprawdźmypowyższąregułęna 2parach wartościodczytanych zczęści,,a'' tabeli 3.l.:

Ut=l4dB ul=5
u2= 6dB u2=2

ll
 obliczamy sumę i iloczyn:

U = U,+ U2= tądB + 6dB = 20dB'

u=ul.u2=5'2=10

WartościU = 20 dB w tabeli 3.l odpowiada rzeczywiścierr = l0

Z kolei obliczamy lloraz i różnicę:

U=Ut-UZ=t4dB-6dB=8dB
u=u1lu2=512=2,5
WartościU = 8 dB w tabeli 3.l odpowiadau= 2,5| 32,5 (niezgodnośćpochodzisĘd,żetabe|a
3.l podajewartości
przybllźone).

Pełne zrozumienie i opanowanie omówionej wyżej wtamości skali derybelowej bar.

dzo ułatwia posługiwanie się nią. Ilustrują to następujące przykłady:

Przykład 7
Znamy poziom U d|au = 2. |le wynosi U d|au = 4;8; ló ?
Rozwiązanie
u= 4=2.2 U=ódB+6dB=l2dB
u= 8=2.f.f {J=6dB+6dB+6dB=l8dB
u = 1 6= 2 . f . 2 . f U=4.6 dB = 24dB

Plzykład 8
Znamy poziom U dlau = 2iu = I0.lle wynosi poziom IJ dlau = 20;200;2000?
Rozwiązanic
u= 20= 2.|0 U= 6dB + 20dB= 2ódB
u = f00 = 2.10.10 U = 6dB + 20dB+ Z0dB=46dB
u = 2 0 0 0 =2 . 1 0 . 1 0 . 1 0 I J = 6 d , B +3 . 2 O d B = 6 6 d B

Przykład 9
u d|a U = l l9 dB (wartości
I|e rłrynosi tej nie ma w tabeli 3.l)?
Rozwiązanie
U= ll0dB = l00dB + lgdB = 5. 20dB+ lgdB
Z tabe|i3.1 odczytujemy,że|9 dB odpowiadarr = 8,9l. A zatem

ł = l 0 0 0 0 0 . 8 . 9 l = 8 9 10 0 0

Konsekwencją omówionych wyżej własności skali decybelowej jest następująca re.

guła:

jeże|i danej wartości t/odpowiada wartość u, to wańości - U odpowiada od-

wrotność
u,tj. Ilu.
Zgodnie z tą regułąwiadomo natychmiast,że

j e ż e i i d lUa = 2 0 d B t z= l 0 , t o d l a U = - 2 0 d B ł =0,l
j e ż e l i d l aU = 4 o d B r , r= l 0 0 , t o d 1 a U = - 4 0 d B u = 0 , 0 l i t d .

l3
 H
\o
P P
@{o\(j5(, I'JHO\OO {O\O5a19Ho
.\

(ł
t
6 { o\{ 5 o o o ob.J }J t.J t.J E
\o \9 b i, b b -5 io rł.E -a.o i' "o \ -q b.p L tl
H +CDH { O u pH
19H o\ Ąó6 6 H a iJ
#1" ti

!. l.! u| 9) |, 9 o o u) a !9 v Ę \) ....) \J t.J NJ NJ p tl

\o @ { o\ u 5

łi"
o t.J E o \o @ { ó u 5 ó Ń ; ó

E N
a J\ O ! o\ !a !a + a (' o b.J !.r N) te F a
\ O .Ą
.E Oa O\O 5 \O u H 6 o o O { u S rg i- O tl
.*.t9.- -t9.* .o
bo \ io i^ b. b bo t" i ir. i'
ł<F< d
o
!ł (/' o o 91 (^ u u u' Ą 5 r
\o !4 s ! 5 6
5 5 5 5 s
6{ o\ q Ą o bJ E o \o r { o\ q j\ ó NJ I ó N
!
x N

99 ą !. !4 + 99 a o b.J p N) bJ ts
\ o !\ P 9!
N
o o\o 5 \Ó q - o Q { q 5 p i o
E 5t H N ts {@ u o \ 9t .0' J t s P
5Ó oo o - iń p
c)
ó
tl

ik t
:! J{ { -] { { { { { o\ o\ o\ ą o\ o\ o\ o\ o\ o
\Ó co{ o\ u 5 o bJ E o \o| @ ł ó q A ó Ńj l c> o

o
D
99 :-J { o\ !4 !ł + a a a b.J t.J t.J }.J H
o
€ \9o ao\o 5 €u g,9 s o s u i-9 ll
56 E t..JH{ e o T 90u
ot . o o o o o o o o o ó o o ó ó ó o ó 5ą o Ę Ę + ó e ó }: 6 ig o
i( lx
vl

ltrltttttl t-I
*__* I J I I | | I
\o oo{ o\ u 5 Q l.J ts o € @ {P\q 5 a N H o

Pp P P 9 P g P P .t.l
-
P _.po - o --b.J
r:. - *
o .-a9 .a "5 9 o .ao .qo .+
o -o
o P
Ń i, 1^ 1^ tl
-
p !95u {oUu @ - u ro 5 o o\ óo.o 6
o\H@@o 5 H l.Jo\ u @ q i p. ó ś ;
ł|X
.l.l | | | | I | | I I | | | I I | | | |
:9 | 9 a a o a a aqa @ ę p
6 { o\ 5 a
NNp
N E o \o @ q a (ń Ń vppv
s ó i.-] i: cl
x
d

P -'o'o
o - o - o ."o
g . g ."o o o -o
g . "o'o o o o o o o o o o o o .o
I b b "o "o "o "o "o "o'o "- a'- tl
N
J 1 H - H E p p N p a @ a 5 t ł u ó ś ś ó( ł r o
|p - 1 | 9 5H u { oau@ x 5 o o\ óo G 6
o\ { @ Ó q
5 H tJ o\ Ó ł ; Ńj ; ó ś'= ó'lX

. l I u uI ( a| o ó| u qI | | | q| t I I I | | | | | | .\
!l u
9 @{o\u pH
5 Ą A Ł j| t ! | A +
Ą @
5 a o\o { o\ ; ó :
E o
e.
N
t<
P _o-o_o_o.g.g o o o o o o o o o o o o o
E I- ? -8 I 8 8 E I I I I I IA u óI 8 "ó 8
-l.Jpppaaa " 8ś "ó8 " 8 E tl &
- (ł - N
!i \) 5 { o o (ł O'= b \o 5 c) o\ ó G \o xt.
o
ó|x
@
p o\ts{ ooo 5 H po\ o ó q i Ń ; ó ś'=

t_ t. t- t. t. t. | | t.
; t s : x d x d ś j 3 s La 3L eI eIB $ $| 9 3| .^
| | I I
ID
Ę
:- 9
_ n_' ao _ o - o - o . g . g o o o o o o o o o o o o !t

g 8EEEEEEEEEEEEEEśEEE
o tl

łlx
ts H (ł
S Bi3;8B3sesBś9s:BE9
- - |. t.J t..J },J }.J a a b s u ó. . ó

t4
3.2.5. Zdarza się' że po obliczeniu poziomu wielkościotrzymanych z serii pomiarów
okazuje się, że byłoby dogodniej znać poziom obliezony względem innej wielkościod.
niesienia.*ł,leźmypod uwagę prrykład 5, w którym poziom u obliczono przyjmującwar.
tośćtrzeciąza odniesieniei załóżmy,żez pewnych względów byłoby lepiej znać poziom
obliczony względem wartościpiątej.W tym przypadku ponowne obliczanie poziomu
,,od
początku'' jest zbędne. Aby otrzymac nowe wartościpoziomu u na|eĘ po prostu odjąć
od wszystkich wartościU aktualny poziom nowej wartościodniesienia,tj. w danym prry.
padku -8l dB. otrzymamy nowy zbiór w którym poziom nowej wartościodniesienia
będziewynosiło dB:

u -77 -35 0 -34 ,-8r dB

U4 46 8l 47 0dB
u:U _(_8ldB)

3.3. Skaladerybeli - niecoteoreĘcznie

3.3.1. obliczaniewartości poziomuUd|a danejwartościuwgwzoru(3.2)wymagaposia.

daniabądźtablic logarytmicznych'bądźkalkulatoraelektronicznego.
Znającpoaom U
dla obliczeniau stosujemywzór
IL
u = to2o (3.3)

Jeśliposługujemysię kalkulatorem zadaniesprowadzasię do obliczenia odpowiedniejpo-

tęgi l0' natomiast przy posługiwaniusię tablicami zadanie polega na znalezieniuliczby,
której logarytm dziesiętny wynosi Ul20

3.3.2. Wiadomo, że logarytm liczby mniejszejod l jest ujemny, aliczby większej od l -

dodatni. To wyjaśnia,dlaczego,gdy X )Ę otrzymujemy dodatnie wartościpoziomu U,
a gdy X ( Ę, to wartościpoziomu U są ujemne.
Jeże|iwartościa odpowiada poziom w decybelachą to dla 1fu mamy

U = 2 0 l o g , s ł = 2 0 l o 9 1 6| - 2 0 l o 9 1 6 u = - - 2 O l o g 1 eu = - ( J (3.4)
ul uz
3.3.3. Jeżeli, = , to z uwagi nato,że logarytm iloczynu lub ilorazujestodpo-
\
wiednio sumąlub rożnicą|ogarytmówposzczegó|nychczynników' mamy:

U = 20log19u = 20loglOul + 20 loglg u2_ 2Olog16u3

U=Ut+U2-U3

Jeż.e|izatem poziom u moie być wyrażony jako iloczyn lub i|oraz, to odpowiada
temu odpowiednie dodawanielub odejmowaniepoziomu u w decybelach.
Z przedstawionychwyżej własnościskali decybeli (ako ska|i logarytmicznej)wyni.
k a , ż e t a b e l a3 . l m o g ł a b yb y ć o g r a n i c z o n a
d o w a r t o ś cui d | a I I = 0 + 2 0 d B , t a i i a k m a

t\
to miejscena nomogramiepokazanymna rys. 3.2. Wyjście bowiempoza ten zakreswar-
tościsprowadzasię do prostegododawania 20 dB oraz mnożeniapruez
wielokrotności
prryktady:
potęgę10. Ilustrująto następujące
Przykład 10
Obliczanie u dladanego U
l) U=26dB u='!
u=26d8=663+20dB
u=2'x10 =20
2\ U= -I4dB u=2
U=-14dB=6dB-20dB
u=2 :10 =0.2

Przykład ll
Obliczanie U dla danego u
1) z=2000 U=?
u=2O00=2 ; 1000
U=6dB+ó0dB=6ódB
2) u=0,002 U=?
u=0.002=2: 1000
U=6dB * 60dB=-54dB

stosunkux/x6 d|ax/x6 =
poziomuU od wartości
Rys. 3.2 Nomogramzależności
1+10

3.3.4. Wzór (3.2) może być stosowany do obliczania poziomu w decybelach tylko ta.
kich wielkościX, które nie reprezentują mocy lub energii. Wielkościamitakimi są,przy-
kładowo: ciśnienieakustyczne' napięcie elektryczne, natężenieprądu elektryczne1o oraz
współczynniki wzmocnienia lub tłumienia tych wielkości.
Gdyby zasztapottzeba obliczenia poziomu wielkościtakich jak moc' energia, natężle.
nie fali rrltradźwiękowejlub współczynników wzmocnienia lub tłumienia tych wielkości
nalezałoby zastosować wzór :

U= lOtorrg* (3.s)

4, PRZEBIEGIOKRESOWE

4.l. Uwagiogólne
Zjawiskaflryczne mogąprzebiegaćw taki sposób,żewystępującew nich wielkości

l6
fuyczne _ jak np. napięcieelektrycme,.ciśnienieitp. * powtarzająsię okresowow cza-
sie. Wówczaswykres zależności wartościtych wielkościw funkcji czasu możemieć po.
staćjak na rys. 4.l. Charakterystyczną
cechątych wykresówjestto,żE w ciągujednr.ko.
wych okresów czasu0l = 12 = ... itd. przebiegpowtarzasię bądźw sposobidentyczny
(wykresa) bądźzachowująckształt rrlegapewnejzmianiepod względemwielkości(wy.
kresyb i c). Prry omawianiutakich przebiegówposługujemy się pojęciami: okre su,
częstotliwości, amplitudy i f azy.

Rys. 4.l Przykłady przebiegówokresowych;

a _ o stałejamp|ifudzie.b, c _ o zmienneiamp|i
tud.zie,7 - okres,l - amplituda,lr., --matiy-

i;_l malna amplituda przebiegu

4.2. okres i częstodiwość

okresem nazy}l'amyczas w ciągu którego następqieje.|na pełna zmiana mierzonej

wielkoŁ:i. okres bznacza się literą r i wyrażaw jednostkach czasrr:selrrmdach(s), mili.
sekundach(ms) lub mikrosekundach(p9. Sposib wyanaczaniaokresuilustnrjerys.4.l.
t^
lms= 1000 r

I trrs=iO#OOO,
CzęstotliwoścĘnazywamy liczbę okresów występujryych w ciągujednej sekundy.
Częstotliwośćoanaczamy literą / i wyrażamyw hercach (Hz), kilohercach (kHz) onz
rnegahercach (MHz).
I kHz = l0O0Hz
I MHz = I 000 000 Hz

t7
okres obliczamyjako odwrotność
częstotliwości.

r = TI (4.1)

Jeśli przy posługiwaniu się tym wzorem' częstotliwość wyrazimy w hercach, to

okres otrzymamy w sekrrrrdach; jeśli częstotliwość wyrazimy w kilohercach, to okres
otrzymamy w milisekundach; a gdy częstotliwość wyrazimy w megahercach, to okles
otrzymamy w mikrosekundach.

Przykład
.f=5 kHz,7=l/5ms
I=fMHz,T=1l2Ps
f =l Hz,T=ls

4.3. Amplituda

Amplitudą nazywamy maksymalną wartośćmierzonej wielkościobsenvowanąw cią.

gu okresu*). Zgodnie z tym określeniem, przebiega przedstawionyna rys. 4.l jest prze.
Li"gi.. o stałej amplitudzie A, a przebiegi ó i c są przebiegami o zmiennej amplitudzie.
W badaniach ultradźwiękowych mamy do czynienia zprzebiegami typu ó i c, szybko
zanikającymi) przy czym interesuje nas największa amplituda.4'ną występującaw prze.
biegu. Przebiegi takie nazywane są dalej przebiegami impulsowymi lub wprost impulsami,
a ichmaksymalnaamplitudajest nazywanaumownie a m pl i t u d ą im p u1su.

4.4.Raza

Pojęcie fazy występuje w przebiegach sinusoidalnych, tj. przebiegach dających śę

opisać wzorem

a=Asin(Zrft+p) (4.2)

wktórym: a -wartośćchwilowamierzonejwielkości,,4 - amplituda,t -czas,ę-kąt,

którego wartośćza|eżyod wyboru momentu, od którego zaczyna się liczyć czas.
Fazą przebiegu nazywamy wartość argumentu funkcji s i n u s we wzorz,e(4.2), tj.
wartośćkąta (2 n ft + 9) w radianach lub stopniach. Pojęciem fazy przebieguposługuje.
my się gdy mamy do czynienia z dwoma lub więcej przebiegami o tej samej częstotliwo.
ści,np.

a1= A1 sin(2 n ft + 9r)

af = Af sin(2 n ft + ę2)

*) oefiniqa uploszczonaze wzg|ędówdydaktycznych

18
 o dwóch przebiegachmówimy, że są w zgodneifazie,gdy argumentyobu funkcji
sinus są jednakowe dla każdegomomentu czasu. M.a to miejsce gdy pl = ą2.Przebie$ o
zgodnej fazie osiągająwartościzerowe i maksymalne w tych samych momentach czasu
(tys.4.2a). Gdy 91 * 92,to przebieginie sązgodnew fazie (rys. a.zb).

hrr
ffi
b)ą

Rys. 4.2 Ilustracja róż'nicyfaz 2 ptzebie-

gów sinusoidalnych
a - fazy zgodne, b - fazy niezgodne

5. RUCHDRGAJĄCY

5.1. Drgania srobodne

Jako przykład uktadu wykonującego ruch drgający może posłużyćmasa zawieszona

na dwóch sprężynach(rys. 5.1). hzebieg drganiaw czasiemożnazarejestrowaćza pomo.
cą przymocowanego do niej pisaka i przesuwającejsię pod nim taśmypapieru.
Załóiany , że w przedstawionym układzie nie występują siły tarcia. odchylmy masę
z potoŻeniarównowagi 0 do położeniaA, po czym puśćmyją. Puszczonamasa,nabiera.
jąc ciągle prędkości,minie położenierównowagi i wychyli się do punktu.4, który jest
w takiej samejodległości od położeniarównowagi'jakpunktz4'Wpunkcie,4 prędkość
masy osiągniewartośćZero. Masa zawróci i znów osiqgniepunkt,4. Proces ten będzie
się powtarzał wielokrotnie. Wykres drgań przedstawiarys. 5.2a. Mamy tu do czynienia
z drganiami swobodnymi i nietłumionymi.
Układ złożony zmlsy i sprężyn,wprawiony w ruch drgający ptzezwychytenie masy
z połoienia równowagi, wykonuje drgania z sobie właściwączęstotliwością;częstotli

to
wośćta nazywa się cz ę st o t l i w o śc i ą w ł a s'n ą uktadu.
W rzeczywistych układach drgających Zawsz,ewystępuje tarcie, które prowadzi do
zarriany energii ruchu na ciepło. W wyniku tego, po wychyleniu masy z położeniarów.
nowagi, obserwujemy, że zarejestrowaneskrajne wychylenia są corźlzmniejsze i po pew.
nym czasie, drgania ustają. W tymprzypadku mamy do czynienia z drganiami swobodny-
mi t ł um i o n ymi. Zapisprzebiegudrgańmapostaćpokazanąnarys.5.2b.Przpz
dobór sposobu zawieszenia, materiatu sprężyn czy ośrodkaw którym masa drga (np.
ciecz zamiast powietrza) można regulować wielkośćtłumienia, a więc i szybkośćwyga.
szania ruchu drgającego.Miarą tłumienia występujące1oprTy drganiach tłumionych mo.
ż'ebyć stosunek amplitud kolejnych drgań.

Rys. 5.1 Model układu sprężystego

a)

I
LJ
J
I
I
=
Rys. 5.2 Przebieg drgańa swobodńego b)
a * niettumionego,b tłumionego

5.2. Ihgania wymuszone

odchylona i swobodnie puszczona masa zamocowana na sprężynachdrga z częstotli

wościąwłasną.Masę tę możnajednak zmuŚć do drgań z inną częstotliwością, By to
osiągnąć,ttzeba na układ działać siłą okresowo zmiennąo wymaganejczęstotliwości.
Możemy np. popychać masę za pomocą bolca, wystającegoz obracającegosię koła (rys.
5.3). Pod wpływem kolejnych impulsów powstanądrganiawymuszone. okres drgańbę-
dzie taki sam. jak okres siły wymuszającej drgania. Początkowo amplituda drgań będzie

20
 , , ,I ._
I

ffi
I

v Rys. 5.3 Schemat wymuszania drg:ańukładu 'sprężystego

niuastała.Po pewnym czasie amplituda drgań ustali się.

Wartośćamplitudy za\ezy od wtasnościukładu (masa, własnościspręryny) i _ co
jest bardzo waż.ne- od stosunku częstotliwości Śty wymuszającej/ do częstotliwości
drgań własnych układu fg. cay częstotliwośćdrgań własnych układu różni Śę znacz.
nie od częstotliwościsiły wymuszającej, amplituda drgań jest niewielka. Jeślizmieniając
częstotliwość siły wymuszającej zb|iżymy się do częstotliwościdrgań własnych, uzy.
skujemy drgania masy o narastającej amplitudzie. Gdy osiągniemy zgodnośćczęsto.
tliwościsiły wymuszającej z częstotliwościądrgań własnych (f = /,) masa osiqgnie naj.
większą amplitudę. Mówimy, że nastąpił r e zo n a n s międzyukłademdrgającym
i siłą wymuszającą. Typową za|einoścamplitudy drgań układu od częstotliwościsiły
wymuszającejpokazano na rys.5.4.

Rys. 5.4 Za|eż'ność amplitudy drgań układu

sorężystego od częstotliwości działania siły
wymuszającejdrganla
/o - częstotliwośćdrgań własnych układu

Jeze|i za|eżynam na uzyskaniu możliwie największych amplitud drgpń, dobieramy

takie warunki, by wystąpito zjawisko rezonansu. Na wielkośćamplitudy w rezonansie
ma wpływ wartośćtłumienia: im większe tłumienie, Ęm mniejsza amplituda drgań
rezonansowvch.

6. RUCH FAIJOWY

6.1. Istota ruchu falowego

ó.1.l. Ciało materialne można przedstawićjako zbiorowisko cząsteczekmaterialnych

(mas) połączonych ze sobą w sposób sprężysty.Poglądowy model ciała stałegoprzed-
stawiarys. 6.1.

21
 Rys. 6.1 Model sprężystyciała stałego

Jezeli w takim układzie spowodujemy ruch drgającyjednej cząsteczki (lub pewnej

ich liczby)' to wskutek sprężystych połączeńmiędry cząsteczkami,ruch drgający udzieli
się cząsteczkom sąsiednim. W miarę uptywu czasu w ruch drgający zostaną wprawione
cząsteczki znajdujące się coraz dalej. Zjawisko takie - tozptzestrzeniania się w ośrodku
materialnym ruchu drgającego- na4ywamy f al ą spręzystą.
Ruch drgający rozprzestrzenla się ze ściśle okeśloną prędkością,właściwądla dane.
go ośrodka,nazwaną p r ę d k o śc i ą r o z c h o d,z en i a s i
ę f a l i.
Poszczególne cząsteczki ośrodka przez który ptzechodzą fale wykonują drgania
względem swych położeń równowagi. Częstotliwośćtych drgań jest taka - jak cząste-
czek od których drgania uę zaczęł'y, tj . taka jak częstotliwośćźrodłafa|'
Amplituda drgań cząsteczekjest różLna: w ,,źródle''jest największa, a w miarę oddala.
nia się od ,iródła,, coraz mniejsza. Na zmniejszanie się amplitudy drgai z odległością
wpływają dwa czynrriki: wprowadzanie w ruch falowy coraz większej liczby cząsteczek
(edna i ta sama energia ruchu falowego przypada na coraz większą liczbę cząsteczek)
oraz tłumienie (straty energii).

6.|.2. Ieżeli ruch drgającyjest wprowadzany do ośrodkapoptzez pobudzanie do drgali

rnałego obszaru (lub objętości)materiału - to powstała wskutek tego fala narywa się
f a l ą k uli st ą. Nazwa tapochodzi stąd,że c zo t o tej falimakształtpowierzch.
ni kulistej. Odpowiednikiem fali kulistej na powierzchni wody jest fala kolista
Wtwarza-
na przez padające trople wody Fala kulista odgrywa ważną rolę w omó.
wionej dalej zasadzie Hu1ryensa.
Jeżeli ruch drgający jest wprowadzany poprzez duzą powierzchnię płaską, pow.
stała fala nazywa się f a l ą p ł a s k ą, gdyż,jej czoło jest płaskie. Falę taką .ó^.
wytutorzyć na powierzchni wody zanvrzającw niej prosty pręt

ó.l.3. Cząsteczki ośrodka można pobudzić do drgań na dwa sposoby: w kierunku

prostopadłym do powierzchni granicznej oraz w kierunku stycznym do tej po.
wierzchni.
Schemat sposobu pobudzania cząsteczek w kierunku prostopadłym do powierzch.
ni granicznej' za pomocą wibrującegptłoka _ przedstawia rys.6.2' Przyjmijmy dla
uproszczenia, żE tŁok ma duzą powierzchnię (czego nie da się przedstawić na
rysunku),
dzięki czemu powstanie fala ptaska. Nie ulega żadnejwątpliwości,że w tym przypadku
kierunek drgań cząsteczek jest zgodny z kierunkiem rozchodzenia się fali - fal| taką
n a z y w a m yf a l ą p o d ł u ż n ą .

22
 -_\-
,/ Ź
-
I

til rlill \

Il++
I
wrcłmf^rE
Lill I

-3--.).

Rys.6.2 Schematwzbudzaniadrgańpodłużnych(fal podłużnych)w ciele stałym.

itód'łem drgań jest tłok przyciskany do powierzchni ciała z siłązmieniającąsię w takt zmian natęże.
nia prądu w ceivce. Cząsika w punkcie P zostaje wprawiona w drgania po upływie czuu t = UCL
(C7,._irrędkość rozchodzeniasię drgańpodłużnych)

I ,/ /T\.

>X
I FJ
I

tllll
l t{;
{)>f=(
ll t++
u ,Ę1.
r^L,
( r-)
t.r-*-'

oEIlAz lrlcr,Y pczĄ'rKl

w Atrf,cE
Rys.6.3 Schematwzbudzaniadrgańpoprzecznych(fal poprzecznych) w cielestałym.
Źród'temdrgańjest silniedociśnięty
tłok,wywierającysitę stycznądo powierzchniw takt zmianprą.
du w uzwojóniuwzbudzającym. Cząstkaw punkcieP zostajewprawiona w drganiapo upływieczasu
t = l/Cr (C7 - prędkość sięfal poprzecznych)
rozchodzenia

Schemat sposobu pobudzania cząsteczek w kierunku stycznym do powierzchni

glanicznej, za pomocą tłoka silnie prryciśniętegodo powierzchfi ganicznej przedsta.
wia rys. 6.3. Dzięki sprężystympołączeniom pomiędzy cząsteczkami, coraz to głę.
biej położone cząsteczki zostaną kolejno wprawione w drgania w kierunku stycznym
do powierzchni. W tym przypadku występuje niezgodnośćkierunku drgań cząstek z kie-
runkiem rozprzestrzeniania się drgań, kierunki te są względem siebie prostopadłe. Falę
t a k ą n a z y w a m yf a l ą p o p t z e c z n ą ,
Fala podłużna i fala poprzeczna stanowią podstawowe rodzaje fal mechanicznych.
W czystej postaci występują one tylko w ośrodkacho rozmiarach wielokrotnie większych
od dtugości tych fal. W ośrodkach o ograniczonych rozmiarach występują inne fale,

L-)
o bardziej złożnnym mechaniŹmie drgań.

6.l.4. leżn|i odkształcenia są wyprowadzane w sŃsób ciągły, to cząstki ośrodkadrgają

również w sposób ciągły_mamy do crynieniaz f a|ą ciągt ą. JeŻe|iodkształceniasą
wprowadzane olcesowo, np. kilkanaściedrgań co pewien odstęp czasu, to poszczególne
czą5tkiośrodkadrgająrównieżokresowo-mamydo czynieniaz impul sami f al.

ó.l.5. Fale polegające na rozprzestrzenianiu śę ruchu drgającego materialnych cząlte-

czek ośrodka- są różnie nazywane: falami mechanicznymi, akustycznymi,.sprężystymi
względnie dŹwiękowymi. W niniejszym skrypcie vfiwac będziemy nazw f ale aku.
s t y c z n e. Fale te w zależnościod częstotliwości drgań cząsteczek dzielą się na:
_ f al e i n f r a d źwię kowe (infradźwięki)_gdyczęstotliwośćichjest
mniejva od 16 Hz,
- fal e dź wi ę kowe s ł y s z a | n e ( d ź w i ę k i s t y s z a l n_eg)d y c z ę s t o -
tliwośćich jest w granicach 16Hz - l6 kHz,
- f a l e u l t r a d ź w i ę k o w e ( u l t r a d ź w i ę k-i )g d y c z ę s t o t l i w o ś ć i c h j e s t
większa od l6 kHz.
Dla celów badania materiałów stosuje się fale ultradźwiękoweo częstotliwościod
ok. 30 kHz do ok. 300 M|Iz, prry crym do badania wyrobów metalowych wykorzystuje
się wężvy zakres częstotliwości- od ok. 0,5 MHz do ok. l0 MHz. Stosowaniefal o tak
wysokiej częstotliwości drgań jest podyktowane tym, że dopiero przy tych częstotliwo.
ściachdrgania wprowadzone do badanego obiektu rozchodzą się w postaci ukierunkowa.
nych wiązek fal (podobnie jak świattolatarki), co umozliwia lokalizację wad.
Przechodzeniu fal akustycznych przez ośrodekmaterialny towarzyszą,zmieniające
się z częstotliwością drgań:
- dodatkowenaprężenia,naTywanec i śn i e n i e m a k u s ty czny m,
- zmiany gęstościośrodka.
Fale akustyczne rozchodzą się dzięki własnościomsprężystym tych ośrodków.
Własnościsprężysteciał stałych określamoduł sprężystości podtużnej (Younga) oraz
i ę. s p r ę ż y s t o .
c io p r z e c z n e j ; c i a ł a s t a ł e c h a r a k t e r y z u j ąt zsw
m o d u łs p r ę r y s t o ś p
śc i ą p o s t a c i. Cieczeigazyróiniąsięodciałstałych tym,że nieposiadająsprę.
ściśliwości. Wsku-
rystościpostaci, a ich własnościspręzysteokreślatylko współczynnik
tek tego, w ciałach stałych może rozchodzić się więcej rodzajów fal aniżeliw cieczach
i gazach.

6-2. lnterferencja fal. Asada Huygensa

ó.2.l. Interferencją nazywamy zjawisko nakładania się fal. Gdy do jakiegośpunktu

ośrodkadocierająfale niez jednegoleczzkilku źrodeł(względniezjednegoźródła,|ecz
po odbiciu śę od różnych reflektorów), to pwrkt ten uczestniczy jednocześnie w kilku
iuchach falowych. Drgania tego punktu są sumą drgań, jakie wykonywałby gdyby dzia.
ł'ały pouczególne fale. Wynik interferencji fal w danym punkcie od
za|eżry faz,w których
fale się spotykająi od ich amplitud.
Rozpatrzmy prosty Przypadek nakładania się dwóch fal o tej samej częstotliwości
i tych samych amplitudach, wytwarzanych przez dwa źrodła punktowe (rys. ó.4).
Punkt C znajdujesię w odległości r1 od fuodłaA i odległości 12 od źródłaB.Jeślir1 = 12

-a
 to w punlłcieC fale spotkająsię w zgodnejfaziei amplitudadrgańpunktuC będziedwa
razy większaod amplitudy,jaką punkt ten miałbypod działaniem
Ęlko jednegoźrodła.
Taka samarytuacjawvs.teli.gdy różnicaodległości od punktu C do ilodet będzierówna
całkowitejwielokrotnościdługości fali
rl-rZ=il\ n=0, 1,2,3,...

_,, =3
ł

11 -12 --L

rr-12:'I-

11-12:Q

r'-r,=
ł
ry -12:)t

\ ,, -r, =3)

Rys. 6.4 |nterferencjafal wychodząpych

z źród'etA i B. Linie ciryłełącząpunkty maksymalnego
wzmocnieniafa|,zaśna liniachprzerywanych
leżąpunkty,w których falewygaszają się

JęiLe|iróinlca dróg nie jest równa całkowitej wielokrotnościdługościfali, to fale spo.

tykają się w różnych fazach i punkty ośrodkawykonują drgania o odpowiednio mniejszej
amplitudzie. W skrajnym przypadku fale składowe całkowicie
Wgaszą się. Przypadek
takj zajdzie w tych punktach, w których fale spotykają się w fazach przeciwnych, tzn.
gdy z jednego źrodładojdzie do punktu fala ,grzbietem,,, a z drugiego
,,doliną''. Róznica
odległościtych punktów od źródeł fal jest równa połowie długościfali, albo rueparzy-
stej wielokrotnościpołowy długościfali

rt-12=Qn+t))

Punkty, w których fale wzmocnią się maksymalnie leżą na symetralnej odcinka AB

oraz na hiperbolach zaznaczonych liniami ciągtymi. Punkty, w których fale wygaszająsię
są położone na hiperbolach zaznaczonich liniami przerywanymi. Taki obraz interferen-
cyjny mozna łatwo utworzyć na powierzchni wody,wzbudzającw dwóch punktach fale
koliste.

6.f.2. Zagda Huygensa stwierdza, że każdy punkt ośrodka,do którego dociera fala,
jestsamodzielnymźródłemfalkulistych,nazywanych f a l a m i e I e m e n t a rn y m i.
obszar pola ultradźwiękowegogłowicy można uwazać za wynik interferencji fal
elementarnychwysyłanych przez poszczególnepunkty powierzchni drgającegoprzetwor.
nika. Podobnie wiązka fal odbitych od wady, czy od granicy ośrodkajest wynikiem inter-

25
ferencji fa] elementarnych wysyłanych przez poszczególne punkty pobudzonej do drgań
powierzchni granicznej.
Zasadę Huygenv łatwo można zademonstrować dla fal rozchodzących się po po-
wierzchni wody. Jeślido przeszkody, w której znajduje się mała w porównaniu z dłu.
gościąfali ptzerwa' dotrze fala płaska, to za ptzeszkodą widać rozchodz1ce się fale
koliste (rys.6.5).
ppzEamDĄ

Rys. 6.5 llustracja zasady Huygensa.

otwór w przeszkodziena drodze fali płaskiej
(na powierzchniwody) stajesię źródłemfa.
li kolistej
FALĄ k]Ąsl</| ł<cr'lsTA

ó.3. Prędkośćrozchodzenia się fali

6.3.l. Prędkośćrozchodzenia się fali oznaczamy literą c i wyrażamy w metrach na se.

kundę (m/s). D|a celów obliczeniowych dogodne jest wyrażać prędkość w milimetrach
na milcrosekundę(mm/ps)' np.

+ =5,e4ps
mm
se4o

Prędkośćrozchodzenia się fali za|eżyod:.

_ gęstości ośrodkai jego własnościsprężystych,
- temperatury i napręircńw ośrodku,
- w niektórych przypadkach od wymiarów ośrodkai kierunku fa]i.
Wpty* tych czynników jest omówiony dalej. Wartościprędkościrozchodzenia się róż.
nych rodzajów fal w roinychośrodkach są podane w tabeli zamieszczonejw końcowej
częściskryptu.
-
ó.3.2. Prędkośćrozchodzenia się fali, o której była mowa,jestnazywanatakże p r ę d
k o ś c i ą g r u p o w ą f a | i ; z t a k ą p r ę d k o ś c i ą p r z e n o s z o n aej ensetr g i af a l i .
-
Ptzy rózpatrywaniu ruchu falowego czasem bierze się pod uwagę tzw. p.r ę d
k o ść f a z o w ą f a l i , t j . p r ę d k o ś ć z j a k ą r o z c h o d z i s i e w o ś r o d k u o k r e ś l o n a f a z a
drgań.Prędkośćta możebyć inna aniżeliw/w prędkośćgrupowa.

ó.3.3. Wpływ temperaturyna prędkośćrozchodzenia się fal jest szczególniedużyw ga.

26
 zach i cieczach. W ciałach stałych zmiany temperatury powodują
tylko niewielkie zmia.
ny prędkościfal.
W stali wzrostowi temperatury o loC odpowiada zmniejszenie
się prędkościfal po.
dłuznych o ok. 0J m/s, zaśfal poprzecznych o ot. O35
mA. Są to zmiany małe i nie.
mające praktycznego znaczenia prty lokalizacji wad. Dla
tworzyrv sztucznych zrriany te
są znacznie większe. W prrypadku stosowanegow konstrukcji
giowic ultradźwiękowych
pleksiglasu, w zakresie temperatur od 0 do 40oC wzrosto'i
i.ńp.,.i*y o toc io,"airv.
szy zmniejszenie się prędkościfal podłuznych o 3
m/s. Ma to itaczący wpĘw na war.
tośćkąta załamann fal głowic skośnych.

6.3.4. WpĘw naprężeniana wartośćprędkościjest

zateżnyod rodzaju fali i kierunku fali
względem kierunku naprężenia.W stali wzrost naprężn,niarozciągającegoo
l00 meganiu-
tonów na metr kwadratowy (ok. 1o kG/mm2) powoduje
zmni{sze*e się prędkościfal
podłużnych biegnących w kierunku naprężeniao
ok. 6,im/s. rriatosc fal poprzecznych
biegnących w kierunku naprężenia praktycznie rue
za|eżyod wielkościnapręzenia. Na-
prężenie ściskającepociąga za sobą wzrost prędkości.
W ieliwach obserwuje się znaczrrie
większy Wpływ naprężeniana wartośćp.ęłtós.i. Efekt
zalezności|ręakości od naprę-
żeniajest wykorzystywany dla celów pomiarów naprężeń.

ó.3.5. w materiałach anizotropowych, tj. takich których

własnościnie sąjednakowe we
wszystkich kierunkach, prędkośćfat zależyod ich
kierunku. Przykładem takiego mate.
riału są cienkie blachy, w których prędkośćfal
mierzona ' l.i.'"ntu walcowania jest
większa niż w kierunku poprzecznym. w przypadku
materiałów anizot,opowych pomia.
ry prędkościpozwalająoloeślićstopień anizotropii.

Zwiuki między wartościamistatych sprężystościi gęstością

!.3..6. materiału, a pręd-
kościamifal określająpodane niżejwzory

l-v
cL= (6.1)
+ v) (1 -2v)

EI
(6.2\
P Zft+rl

cR =C = acT (6.3)

We wzorach tych poszczególne symbole oznaczają:

c; = prędkośćfal podłużnych w ośrodkunieograniczonym (m/s)
c7 = prędkośćfal poprzecznych (m/s)
c4 = prędkośćfal powierzchniowych (m/s)
f = moduł sprężystości
podłużnej@a)
G = moduł sprężystości
poprzecznej (Pa)

27
 u = liczbę Poissona
p = gęstość(kg/m3)
o = współczynnik
(średnio):
Dla stali wielkościwystępujące w powyższych wzclrach wynoszą
= i t , s ' l 0 , P a ; c = a ź s o o .i o 9 p a
a = o B 4 , v = o , 3 0 , p =7 8 5 0 k g / m J , ' '

6.4, fali
Dtugorść

6.4.1. Długością fati nazywamy odległość mierzoną w kierunku rozchodzenia się fali
fali ozna-
l's'oao drpjryvmi w tej samejfazie. Długość
między na3urizszymi
""Ńu.i
czamy literą I (lambda).
Dtugość fali obliczaśęze wzoru;

\= (6.4)

(Hz).
(m/s), T- okres (s),/- częstotliwość
w którym: c - prędkośćrozchodzeniasię fali
w MHz;wówczas długość fali
l"śli 'y,u"imy dtugośćfali w mm/tls,a częstotliwość
otrzymamY wProst w mm.

PnykŁad l

c = 5 , 9 4 m m / t t/s=' 2 M H z

I = = 2 , 9 7m m
ź='f.'

6.4.2.D|awyjaśnieniapojęciadługościfaliskorzystajmyzeschematupowstawaniafali
wody znajdują się
woay (is. 6.6). Wyobraźmy sobie, żena powierzchni
"u-p"*.'".r'j

2
3
ABCDEfGHIJKT

powierzchni wody.
Rys. ó.6 llustracja pojęcia długo&:ifati na pnykładzie ruchu falowego na
Diusość rai Xiest ojregłościimiędzy cząstkami wykonującymi drgania w tej samejfazie. Czą5tkami
t y m i s ą m .i n . :A , I - B ' J - c ' K - D . L

28
 drobne pływające cząstki, ułatwiające obserwację ruchu falowego. Weźmy pod uwagę
cząstki oznaczone na rysunku literami A - L. Cząstkiwykonująruchdrgającywkierun.
ku pionowym. Wskutek tego, że cząstki sąsiednie znajdują się w róznyctr połozeniach,
powierzchnia wody przyjmie kształt ,falowy''. W kolejnych momentach obraz fali ilu.
strują krzywe |, 2, 3. Zauważmy, ze cząstlrjA i I wykonujq ruchy zgodne: w tym sa-
mym czasie przechodzą przez poŁozenie zerowe' w tym sźlmymczasie dochodzą do
,,grzbietu'' i ,'doliny'' fali. Ta sama uwaga odnosi się do par cząstekB i J, C i K, D i L itd.
Cząstki te fugająw tej samej fazię. A zatem, zgodnie z definicją, odległośćmiędzy tymi
cząstkamijest długościąfali.
W defektoskopii ultradźwiękowej,przy badaniu metali, stosuje Śę fale o długościach
lawartych w granicach od ułamków milimetrów do kilkunastu milimetrów.

ó.5. Ciśnienieakustyczne

CiśnieniemakusĘcznym nazywamy zmiany ciśnienia(napręźnń)w ośrodkumaterial.

nym wywołane drganiem cząpteczek tego ośrodka.CiśnienieakusĘczne oznaczamy literą
p i wyriżamy w pad<alach (Pa). Ciśnienie akusĘczne zmienia się w czasie w talct
drgań
czą5teczek ośrodka.
Między amplitudą ciśnieniap, a amplitudą drgań cząsteczekA zachodń miązek

p=pc2rfA (6.s)
*dzie:
p - gęstość ośrodka(kg/m3)
- prędkośćrozchodzenia się fali (m/s)
f - (Hz)
częstotliwość
A - amplitudadrgań (m)

Przykład 2
ob|lczyć wartośćamplitudy ciśnieniaw stali (p = 7850 kg/m31dla fali podłużnej(c =
5940 m/s)
f = 2 MHz,gdy l = l0.9 rn.
o częstot|iwości
Rozwiązanie

p = 7 8 5 0. 5 9 4 0 . 2 . 3 , | 4 . 2 . t o ó . t 0 . 9P a = 0 , 5 8 6. 1 0 6P a

Jtrzymana wartośćjest ponad l000 razy mniejsza od naprężeniarozrywającego

w stali. Jest to więc
wartośćbardzo mała,nie majacapraktycznie żadnegowpływu na własności
stati.
Ciśnienie akustyczne jest praktycznie jedyną mierzalną wielkością ruchu falowego.
W ciele stałym ciśnienieakustycznejest równoznaczne:
- w przypadku fal podłużnych - naprężeniom rczciꥹcym i ściskającym,
- w przypadku fali poprzecznej * naprężeniom Ścinającyrn.

6.6. Natężeńe fali

Natężeniem fali ulhadźwiękowej nazywamy ilość energii przeniesionej przez jedno.

29
stkę powienchni ustawionejprostopadledo kierunku rozchodzeniasię t.aliw ciągujedno.
'*i Natęźeniefali ultradzwiękowej om:rrcuImyliterą.I i wyraź;amyw watachna
""u*.
rnetrkwadratorvy ffi/m2).
PomiędzynatęŹeruem .I,a amplitudądrgańcząsteczekA wzg|ędnieciśnieniem aku.
stycznymp zachodzązvtiązJ<t

r =f enfA)2 (6.6a)
a
D. (6.6b)
,, __ Z p c

Oznaczenia jak we wzorze 6.5.

Przykład 3
obliczyć natężeniefali dla danych z przykładu 2, gdy: a) mamy do czyrierlla z falą ciągłą'
=
b) fala rozchodzi się w postaci impulsów trwających5 gs, nadawanychco l000t'ts l ms.
Rozwiązanie
Natężeńe fati ciągłej1. wYnosi

s86 0002 w w=
Ic= 3682 fip
2 . 7 8 5 0 . 5 9 4 0 ńf

Średnie natęż'enieIi impulsów fal wynosi

li=Łń=l8,4+

7. Przetworniki ultradźwiękowe

7. l . Rodzaje przetworników ultradźwiękowych

Zadanięm znajdujących się w głowicach przetworników ultradźwiękowych jest

przetwatzanie impulsów elektrycznych doprowadzutych z nadajnika na impulsy aku-
śty.^" i odwrotnię, przetwaruaniedochodzących do głowicy impulsów akustycznych na
impulsy elektryczne.
Najbardziej rozpowszechnione są przetworniki :
- piezoelektryczne,
- elektromagnetYczne,
- magnetostrYkcYjne.

7.2. Przetworniki piezoelekĘczne

7.f.l. padaimpulsultradŹwiękowy
Jeślina powierzchniępłytki piezoelektrycznej

30
(rys. 7.1.), to pod wpływem ciśnieniawywieranegoprzezfa|ęmateriałpłytki odkształ-
ca się i na powierzchni płytki powstają ładunki.elektryczne. Wartośćroi:nicy poten.
cjałów między powierzchniami przetwornika zmienia się w rytm zmian ciśnieniaw
padającym impulsie fali - a amplituda imprrlzu napięcia elektrycznego jest propor.
cjonalna do amplitudy ciśnienia impulsu rrltradźwiękowego. Pr,.etwornik piezoelek-
tyczny działa więc tak, jak mikrofon. Zreśztą,materiaty piezoelektryczne sąwykorzy.
stywane i w mikrofonach, gdzie też ptzstwaruają sygnały dźwiękowe na elektryczne.

lt'ątLs ELEKTFilcfjIY
D0 dtsopMru

Rys. 7.1 Pod wpływemciśnienia

impr'|:uulfoadźwiękowego
przetwornikpiezoelektryczn
y wtwa|za
impulsńapięciaelektrycznego

Zjawisko piezoetektryczne Jest odwracalne, co oznacza, że jeśli do powierzchni

przetwornika przyłoiryć zmienne napięcie, to materiał przetwornika będzie się od.
kształcał w takt zmian tego napięcia. Gdy przetwornik jest w kontakcie z jakimśma.
teriałem, odkształcenia przetwornika są przekazywane cząsteczkom tego materiału
i w materiale zostaje wzbudzona fala (rys. 7.2).Pruetwornik działa więc takżntak jak
głośnik:przekształca przyłozone impulsy elektryczne na fale dźwiękowe. I tu znów
odkształcenie przetwornika jest proporcjonalne do prryłoizonego napięcia. W zależ-
ności od ptzyŁozonego napięcia można więc otrzymywać fale ultradźwiękowe o róż.
nej amplitudzie. Materiaty piezoelektrycane mo8ą więc być używane zatówno do wy.
twarzania,jak i do odbioru fal ultradźwiękowych.

: lt1ąI.s ELEKTRY0aNY
- z NNAłtl,<^

Rys. 7.2 Pod wpływem.impulsunapięciaelektrycznego

przetwor.
nik wysyłaimpulsyultradźwiękowe

Wtasnościpiezoelektryczne wykazĄą:
- niektóre kryształy jak kwarc, turmalin, siarczan litu, sól Seignette.a (czytaj:
Senieta),
- polikrystaliczne materiały ceramiczne, jak tytanian baru, cyrkono-tytanian
ołowiu i mataniobianotowiu,
- niektóre tworz}Ąvasztuczne.
Ponieważ materiaĘ piezoelektrycznę źIe przewodzą prąd elektryczny, d7adopro.

31
wadzenia napięcia przeciwległepowierzchnieprzetworników pokrywa się cienkimi
srebralub złota,stanowiącymielektrody.
warstwamimetali,zrłtykJe
7.f .2. Zjawtsko piezoelektrycznewynika ze specjalnejbudowy materiałupiezoelek-
trycanego.hryjmuje się, żrccząsteczkimateriałówpiezoelektrycznychtworzą upo.
rządkowanedipole elektryczne.W przetworniku piezoelektryczlym na fale podłuż-
ne dipolesąustawionepod kątem45o do powierzchniprzetwornika(rys.7.3).
Jeślido gornej powierzchnipłytki prryłoĘmy potencjałdodatni, a do dolnej
ujemny, to poniewaźładunki różnoimienneprrycigają się, dipole obrócą się tak,
żegrubość płytki wzrośnie(rys.7 .4).Po usunięciunapięciaodkształcenieustąpi.
Gdy do górnej ptytki przył'oirymynapięcie ujemne,a do dolnej dodatnie,di.
pole obrócą się ry przeciwnymkierunkutak, żegrubość płytki zmniejszysię (rys.7.5).

a4aa.-ź
Rys. 7.3 Dipole w przetworniku piezoelektrycznym
7,,7z
7z)
PO WIE R Z CHN IA M E TA LI CZ N A

i,7żf
Rys. 7.4 obrót dipoli w lewo powoduje
,iź&Ai
zwiększenie grubościprzetwornika

Rys. 7.5 oblót dipoli w prawo powoduje

zmniejszeniegrubościprzetwornika

Gdy do powierzchni przetwornika doprowadzi się napięcie zmienne, przetwornik

będzie wykonywał drgania w rytm zmian przyłożonego napięcia. Jeślido przetwornika
przył'oĘ się krótki impuls wysokiego napięcia zmiennego, to drgania przetwornika będą
trwały jeszcze po zaniknięciu pobudzającegoimpulsu elektrycznego. Przetwornik będzie
&gał z częstotliwościądrgań własnych, tak jak uderzony gong, cTy szarpnięta struna.
Wówczas największo amplitudy drgań cząstek materiału przetwornika wystąpią ptry jego
powierzchniach, natomiast cząsteczki znajdujące się w środkugrubościnie będą drgały
(rys. 7.6). Mówimy, że na grubościgprzetwornika utworzyło się pół fali podłużnejXi2.
Tak właśniedrgająprzetworniki w głowicach rrltradźwiękowych.

7 .2.3. z warunku g = \l2,wynika wzór na częstotliwość drgań własnych/płytki o gru.

bościg, jeśliprędkośćrozchodznnjz się fali w materiale wynosi c

^c
J= 2g (7.1)

5^L
 AMPLITI]DA DRGAŃ

-t-
IlTł++-++++
# ltffilit
,1--+++ +-_L
++-+
g.r/l

Rys. 7.6 Amplitudadrgariczą,stek

przetwornika
przy powierzchnijest najwiękva

Po przekształceniu otrzymujemy wzór na grubośćpłytkt g jeże|iczęstotliwośćjej drgań

własnych ma wynosić/
c
g=Zf (7.2)

Częstotliwość drgań wlasnycn przetwornika piezoelektrycznego jest odwrotnie pro.

porcjonalna do jego grubości:im cieńszy jest przetwornik, tym wyższajest częstotliwość
jego drgań własnych, tym krótsze fale są wzbudzane. Własnościniektórych materiałów
piezoelektrycznych podano w tablicy 7.1.

Tabela 7.L.
charakterystyczne własnościmateńatów piezoelektrycznych

Prędkość Gęstość Dopuszczalna

Mateńał fali temp€ratura
piezoelektryczny c p pracy
lm/sl lks/m3l oc

Kwarc - cięcie X 5740 2,65 s70

Kwarc - cięcie Y 3900 2,65 570
Siarczanlitu 54ó0 2,06 75
Tytanian baru 5ó00 5,4 110
Cyrkono.Ętanian ołowiu 5000 1ą 330
Metaniobian ołowiu 2760 5,8 550

Przyktad
obliczyć grubośćprzetwornika z tytanianu baru, przy której jego częstotliwośćdrgali własnych
wynosi I MHz.
Rozwiazanie

5 600m/s
- 2,8 mm
2 . 1 o ól / s

JJ
 Wykonując takie obliczenia dla róiLnych częstotliwościotrzymamy następującewar-
tościgrubości
/[MHz] 0,5 l0

Jak widać, przy częstotliwościachwyższych niż,6 MHz przetworni| jest bardzo

cienki.
Z uwagi na koniecznośćzapewnienia niezniekształconych drgań i ze wz.ElQdowtech-
nologicznych, średnicaprzetwornika powinna leżeć w pewnym zakresie wielokrotności
jego grubości.Dla przetworników stosowanych w głowicach ultradźwiękowych zakres
ten wynosi orientacyjnie(5 - l5)S.

7.2.4. Mateńały piezoelektryaznę tracą swe własnościprzetwarzania sygnałów gdy ich

temperatura prze|<raczaP€wn4, charakterystyczną d|a danego materiału wartość,zwaną
temperaturą ćurie. D|a kwarcu temperatura ta wynosi 570oc, zaśdla tytanianu baru tyl.
ko 1lOoC.
Zdolność przetwarzulia energii mechanicznej na elektryczną nie jest taka sama dla
wsrystkich materiałów piezoelektrycznych. Zdolność ta określaczułośćprzetwornika.
Największą czutośćwykazuje ceramika cyrkonianowa, potem tytanianowa i niobianowa.
Kwarc ma czutośćokoło 10 ruzy mniejsząod czułościceramiki cyrkonianowej.
Ceramika piezoelektryczna jest krucha i podatna na ścieranie.Dlatego przetworniki
ceramiczne w głowicach ultradźwiękowych nie stykają się bezpośrednioz badanym ma-
teriałem, lecz sąoddzielone warstwą ochronną.Natomiast dużąodpornośćna ścieraniema
kwarc. Głowice kwarcowę mogą więc być ,,otwańe'', to znaczy zamontowanyw nich prze.
twornik kwarcowy może bezpośredniostykać się z powierzchnią badanego przedmiotu.
odpowiednio wycięte ptytki z kryształów piezoelektrycanych albo odpowiednio
spolaryiowane płytki ceramiki piezoelektrycznej mogą być też'używane jako źródła
drgań poprze cznych (rys. 7.7).

,
PRaETV)RNIK
,t

KIERUNEK RozCHoDzENIA sIĘDRGAŃ

Rys. 7.7 Przetworńk kwarcowy o cięciu Y wytwarza falę poprzeczną

34
 7.3. Przetworniki elektromągneĘ cane

W materiałach przewodzących prąd elektryczny można wytwaruać fale ultradźwię.

kowe, wykorzystując elektrodynamiczne oddznływanie prądów wirowych wzbudzo.
nych w materiale. Prty tym sposobie wytwarzaria fal, między czołem głowicy i po.
wierzchnią materiału nie jest potrzebna warstwa ośrodka sprzęgającego.Fale można
wzbudzać przez warstwę powietrza lub nawet przsz ptóżLnię,
Głowica do takiego wzbvdzania fa] składa się ze stałegomagnesui zwojnicy, do któ.
rej doprowadza się impulqy elektryczne z nadajnika defektoskopu (rys. 7.8). Pod wpły.
wem zmiennego prądu w zwojnicy, w materiale badanym powstają prądy wirowe, na
które oddziaływuje pole magnetyczne magnesu stałego - występuje przyciąganie i od.
pychanie. W wyniku tego oddziaływania, na cząstki ośrodkadziatają siły przemienne o
częstotliwościrównej częstotliwościimpulsu elektrycznego doprowadzonego do cewki
i w materiale powstają fale ultradźwiękowe. W ten sposób można wtwarzać wsrystkie
rodzaje fal. Tak wytworzone fale narywa się też ,,wiro.dźwiękami''.
Jeśli do powierzchni materiatu znajdującej się w zasięgu pola magnetycznego mag-
nesu.stałego dotrze impuls ultradźwiękolvy, to wskutek drgań tego materiału zostaną
w niń wzbudzone prądy wirowe. Prądy te będą z kolei indukowały w cewce głowicy
prąd elektryczny. W ten sposob impuls ultradźwiękowy zostanie przetworzony na
sygnałelektryczny.

* 7 .4. Przetworniki magnetostrykryjne

Do wzbudzania fal ultradźwiękowych wykorzystuje się także zjawisko, polegające

na zmianie wymiarów ciała pod wpływem pola magnetyczne9o, tzw. zjawisko magne.
tost-rykryjne. Zjawisko to wykazują: nikiel, kobalt oraz niektóre ich stopy. Przetwor.
niki ultradźwiękowe wykorzystujące zjawisko magnetostrykcyjne są wykorzystywane
do wytwarzania fal o częstotliwościachw zakresie 0,l _ 2,5 MHz.
W elemencie badanym, jeślijego materiał wykazuje własnościmagnetostrykcyj-
ne, fale ultradźwiękowe można wzbudzać Za pomocą cewki, przez którą przepływa
prąd zmienny, bez potrzeby bezpośredniegokontaktu między cewką i powierzchnią
badanegoelementu.

* 7.5. Generacja fal ultradźwiękowych za pomoc4 lasera

Nowym i perspektywicznym sposobem wzbudzania fal ultradźwiękowych w mate.

riale jest metoda oparta na wykorzystaniu silnych imprrlsów światławyqyłanegoptz.ez|a.
ser, tj. przez vrządzenie wytwarzającewiązkę tzw. spójnego światłao bardzo dużym na.
tężeniu. Wlsoko energetycany impuls światłalasera skierowany na powierzchnię ma.
teriatu powoduje udarowe nagrzarie. Obszar napromieniowany w wyniku rlagr?a^ia
rozszer7Asię gwałtownie, stającśęźródłem fali ultradźwiękowej.Po odbiciu od dna lub
wady fale ultradźwiękowewracają,powodując drgania powierzchni materiału. Drgania te
są rejestrowanePrzez optyczny układ odbiorcry.
Zaletą tego sposobu jest mozliwość bezstykowego sposobu wzbudzania i odbio.
ru fal ultradźwiękowych, brak ogranicz,enze strony chropowatościpowierzchni i tem.

35
peratury badanego materiału, a także mozliwośćbadań obiektów znajdujących się w
śzybkimruchu i wprowadzania fal w miejscach trudno dbstępnych.

PRADV wrRowE

PRĄDv'w,RowE

(a) i po'
Rys. 7.8 Schemat elektromagrreĘcznego pfletwornika ultradźwiękowego fal podłuźnych
przecznych (b).
- wektor indukcji magnetycznej, F,1, - sita elektrodynamiczna plo-
F. - prad elektryczny wirowy, B,
siopaat.a do powierzchni' F'2 _ siła elektrodynamiczna równoległa do powterzchnl

8. PoLE ULTRADŹwęrown PRZETWoRNIKA PIEZoELEKTRYCZNEC'o

8.1. Wiązka fal

Wymiary liniowe (średnice)przetworników stosowanych w głowicach ultradźwięko-

wych Ę rzędu kilku - kilkunastu długościfal. Powierzchnie drgająceo takich wymiarach
są zbyt wielkie by można je było vwazac za źrodłafal kulistych, a za małe dla utworze.
nia fali płaskiej.
Jak się okazuje, przetworniki o takich wymiarach wytutaruająw stykającym się z
nim ośrodkufale, które rozchodząsię w obszarze ograniczonym powierzchnią o kształcie
zbliżonym do powierzchni stoźkowej(rys. 8.1). Poza tym obszarem nie stwierdza się ru-

36
 Rys. 8.l Wiązka podłuźnyc.hfal ultradźwiękowych.
l _ obszarw którym występujeruch fa|owy,
2 - obszar w którym nie występuje ruch falowy"
3 _ kierunekdrgańcząstekośrodka,
4 - kierunekrozchodzeniasie fal

{
chu falowego, lub co najmniej występuje on w znikomym stopniu (patrz 8.2). o falach
rozchodzących się w ten sposób mówimy, ile rozchodząsię w postaci w iązk i. Pow.
stanie wiązki fal tłumaczy się - zgodnie z zaudąHuygensa _ interferencjąelementar-
nych fal kulistych wytwarzanych przez poszczególne puŃty powierzchni przetwornika.
B|izsza analiza ruchu falowego w obrębie wiązki wykazuje , irc:
a) w obszarze bliskim przetwornika mamy do czynienia z drganiami rozchodzącymi
się podobnie jak w fali płaskiej,z tym jednak, że występujetam wiele obszarów
o wzmożonym ciśnieniu;obszarów tych jest coraz więcej w miarę zb|iżaniasię
do przetwornikarys. 8.2 a;
b) w obszarze odległym od przetwornika drgania rozchod,ząsię podobnie jak w fali
kulistej, przy czym najsilniejszedrganiawystępująna osi wiązki.,a spadajądo ze.
ra na ,J<rawędziach'' wiązki (rys. 8.2b).

Rys. 8.2 Rozktad amplitudy drgań cząstek ośrodka

w obrębie wiązki.
a _ w pobliżu przetwornika, b - z dala od przetwor.
nika

8.2. Ilościoweprzedstawienie ruchu falowego w obrębie wiązki

Ruch falowy przedstawia się liczbowo - najprościej- Za pomocą rozkładu ciśnienia

akustycznego. Związek między amp[tudą drgań a amplitudą ciśnieniazostał już omówio.
ny w poprzednich rozdziałach. Wielkościte są do siebie wprost proporcjonalne: im więk.
sze ciśnienie- tym większa amplituda drgańi na odwrót.
obliczenia rozkładu ciśnieniaakustycznegow ośrodkustykającymsię z przetwornikiem
wykonuje się przy załozeniu, ie przetwornik wykonuje drgania ,,tłokowe'' (rys. 8.3)
oraz źrcczasowy przebiegzmian jego grubościjest sinusoidąo stałejamplitudzie tzn.,i:e
wytwarza on w ośrodkufalę ciągłą.oba te załozenianie sąwpraktyce spełnione.Prze.

)t
 ((((ffi)
)))) -r4"-, u, o, nr, ", r. or r r r, "r r r *
Rys. 8.3 Model tłokowego źródłafal

twornik drga w sposób zŁożony - ,4ie tłokowy''; drgania jego bardzo szybko zanikają
w czasie, wskutek czego wytwarzane są impulsy fal (rys. 8.4). Nie spełnienie tychzaŁo-
żpń ttle wprowadza jednak różnic na tyle istotnych, by nie można było stosować wy.
prowadzonych wzorów dla celów defektoskopii imulsowej.
Schemat układu do pomiaru ciśnieniaakustycznego,wytworzonegoprzez plzetwor.
nik piezoelekttyczrty w ośrodkuptynnym jest przedstawiony na rys. 8.5. Pomiaru moż.
na dokonać za pomocą głowicy odbiorczej o małym przetworniku, która spełnia rolę
''.
,głowicy pomiarowej'' , zaŁączonĄ do tego sźImego defektoskopu co głowica ''badana
Miarą ciśnieniajest amplituda impulsu obserwowanego na ekranie defektoskopu, którą
notuje się w funkcji położenia(x, y, z) tej głowicy względemgłowicy ,,badanej''.otrzy-
mane w ten sposób wyniki pomiarów są wartościamiproporcjonalnymi do amplitudy
ciśnieniaakustycznego.

8.3. Pole bliskie i dalekie

8.3.1. Bardzo charakterystyczny jest rozkład ciśnieniaakustycznego wzdłuilos'Z prze-

-
twornika (rys. 8.ó). Wartośćciśnieniaw pobliżu przetwornika zmienia się przechodzi
-
przez makśma i minima i dopiero po ostatnim maksimum (przy oddaleniu się od prze.
j
twornika) następuje powolny, ednostajny spadek.
odlegtość między powierzchnĘ przetwornika, a ostatnim maksimum ciśnienianazy.
wa się dtugoŁ:ią pola bliściego.l/.
Dtugośćpola bliskiego wyraiLasię wzorem

D?t-\' (8.1)
fy'=
4tr

który w prrypadkugdYDsk ) ) }.przyjmujepostać

(8.2)

Dsk _ tzw. skuteczna średnicaprzetwornika (m lub mm);

38
 I - długośćfali (m lub rnm),
f - częstotliwośćfali (Hz lub MHz),
c _ prędkośćrozchodzeniasię falipodłuznej w ośrodkuotaczającymprzetwor.
nik (m/s lub mm/ps)
Im mniejsza częstotliwość i średnicaprzetwornika oraz im więk}za prędkośćrozcho-
dzenia się fal w ośrodku stykającym się z przetwornikiem _ Ęm mniejsza długośćpola
bliskiego.
We wzorach 8.1 i 8.2 (ak w ogóle we wzorach opisujących pole ultradźwiękowe
p r z e t w o r n i k a ) w y s t ę p us kj eu t e c z n a ś Ie d n i c a przetwornika Dsk
Wartośćśreclnicyskutecznej przetwornika jest mniejsza od średnicyrzeczywistej D i dla
przetwornika okrqgłegowynosi w przybliżeniu

Dsk = 0,97 D (8.3)

Potrzeba posługiwania się wartością D31ę zamiast D wynika stąd, że rzeczywiste drgania
przetwornika są mniej efektywne niż ,,tłokowe''; ich skutek w ośrodku stykającym się
z przetwornikiem jest taki jakby w sposób idealny (zatoiLony w obliczeniach) drgał prze.
twornik o średnicy D57g.

Przyktad I
polabliskiegow stali (c = 5,94 mm/trls)
obliczyć długość dlaD = 25 mnif = 2y11,.
Rozwiązanie
Dsk = 0,9'l . 25 mm = 24,25 mm
'N = 24,U2-:2 mm = 4e,5 mm
4-5.94

Przykład 2
ob|iczyć długośćpola bliskiego w stali dla D = 7 mm'.f = 2 MHz' t1.dla tej samejczęstotliwości
i przy stosowaniuprzetwornika o ponad 3 razymniejszej średnicyaniźeliw ptzykładzie I
Rozwiązanie
D r l r = 0 , 9 1' 7 m m = 6 , 8 m m
6-82' f
i / = - 4 . 5 , 9 4 m m = 3 ' 8m m

-a^

s3.Ł-a!gltą"Ę-^.qjgqiŁ"y-sięrv odległo&ń nięprzekracząi*ejJfnazywasiępolę'm I

b|isld{tr. jest to, żewystępują

cechątego'obszaru
9!aIąk!-e-r'YlĘ:41 w nim silnewahania
.
"j'ryggfś',!ygago.--
oŁryrylł$-ąg!$q9y sięw odlęgł.o.ścinie
mniejvejniż3Nnaryvnsiępoler.rr
da.
lekinr.Charakterystvgł!ąlggŁŁLego
o-b.ryą11jes!
!o,ż9ni9 maw nimwahańciśnienia
i że
war:tośilciśnieniap mierzona na ośZ zmienia się odwr9tni9 propo1-cjonalnie.do odlegto.
ffiz'- --
p = staiy współczynnik x }
o qg.d{a:1łPz-yv4 sięob!4$mprc'śeńo.
wym.Podo!ryęjąt.w-po!_dalekim,
niemaw nimwahańciśnienia,
aleprawozrnianyciś.
ł
jłfu p r -oŚl.g!9*-it
jsltl.. -
"
li
I

39
 Podana wyżej definicja pola dalekiegojest czysto praktyczna.Z teoretycznego punk-
tu widzenia, bardziej poprawne jest zdefiniowanie pola dalekiegojako obszaru, w którym
ciśnieniezmienia się odwrotnie proporcjonalnie do odległościz. W tym pttypadku za
granicę pola bliskiego przyjmuje się odlegtość'w któĘ odcĘłka od prawa odwrotnej
proporcjonalnościosiągawańość l dB.

/\
tr=-t t

'#a?#
l'j i,l"y"xffiil: il1l,ilxi,il;.iąf. Wzdttlż,wiązki przemie.z","1ą,ięrł",,ra,,a
Taki sposó6 drgania przetwomika zakłada się w obliczeniach rozkładu ciŚrueruaaxu.
za drugą''.
o- - iłv#l'x''ł''k pobudzany impulsowo do drgań w odstępach czasuTp , za kaiLdymrazemwykonuje.
óEńi;';.ą iić'6ć a.ńń (ha rysunku _j.qe*il).i malejącej.fnpl|tud3ie' o c-z.ęstotliwości
/
= paczce
wlat'i*iŁlii lrżemńszczają iię ,,paczki'' fal od|egłychod sióbie o l' Tp . c. W tażdej.
pierwsza
..i".t fła niesie najwięk.sżą ónóidę tpo*oduje największedrganiacĄtek ośrodka),nato.
ał,". iaó ńi",ą ćo',,} *riie1szą-enei}ę.Tarorgają p-rzetworn1kigtowic stosowanychw ba-
daniach defektoskopowych
Przykład
Niech czestotliwośćdrgań przetwornika wynosi / = l MHz oraz ńech przetworni.kwytwarza 1000 pa.
czek fal iv ciągu t s, tń. ?r = 0'00l s. Przy tych danych długość fali wynosi ^= 5'94 mm'aodle.
głość między-kolejnymipaózkami wynosi l = 5940 mm

40
Rys. 8.5 Schemat pomiaru ciśnieniaakustycznegow ośrodkuptynnym. Głowica badanapracujejalo
nadajnik, a pomiarowajako odbiornik.
l -.głowica badana, 2 - gtowica pomiarowa, 3 _ ciecz, x, y - współrz@ne położeniagłovĘ
pomiarowej

Rys. 8.6 hzebieg zmian ciśnieniaakusĘcznego p wzdłuż,osi Z przetwornika. ;

po _ ciśńenieakustycznebezpośrednioprzy przetworniku, z . odległość
od powierzchni przetwornika;

8.4. Szerokość
wiądd
8.4.l. Na rysunku 8.7 przedstawionorozkład ciśnieniawzdłuż'linii poprowadzonych
prostopadledo osi Z przez punktyP l ..' Pł. Y,łzdłuż,linii
przechodzącej
prrrz punktyPl
i P2,|eżącew polu bliskim, ciśnienie
zmieniasię w sposób,,oscylujący'',
przy czymwat

4l
 Rys. 8.7 hzebiegzmianciśnienia w kierunkuplostopadtymdo osiZ
akusĘcznego

przez
tośćmakqymalna nie występuje w oi Z,|ecz poza nią. Wzdłuz linii poprowadzonĄ
przechodzącĄprzez punkt P4
purrkt P3 ieżący nagranicypoia bliskiego orazwzdłuil linii
-
7et:ącyw obszarzł przejściowym ciśnienie osiąga maksimum w osi Z i równomiernie
opada w miarę oddalania się od niej.
-
Wyobraźmy sobie, że takie linie * prostopadte do osiZ, awzajemnie równoległe
każdej linii maksy.
zostały przeprowadz one przuz wiele punktów tej osi. Wyz.naczamy na
3 dB'
malną wartośćciśnienia,a następnie punkty, w których wartośćciśnieniaqpadao
jednakowym spadkom ciśnienia. W wy.
ó dB, 9 dB itd. Potączmy punkty odpowiadające
niku tego otrrymamy krrywe przedstawione na rys. 8.8'
Poszczególne krzywe stanowiąkontury wiązki fal, rozumiane jako granice na których
ciśnienie,pń" o określonąilośćdecybeli względem wartościmakqymalnych. Jak widać'
od
kontury wiązki dla różnych spadków ciśnieniasą róźne. W odległo$ciachwięksrych
prostymi, tworzącymi z osą Z kąt @
długośti poia bfiskiego, Lontury wiązki są liniami
(teta) nazywamy kątem rozbieżnościwiązki. odległośćmiędry kontwami dla danej od.
legtościz stanowi szerokośćwiązkj b,
Z matematycznych rozważań wynika, źe dla przetwornika okrągłego, dla danego
wiązki można oblicryć zwzorów
ryadku ciśnieniaAp Ęt rozbiezności i szerokość

sinO = *"+=kńil (8.4)

42
 @ (3 dB)
=9dB
6dB
3dB

3dB
6dB
9dB
f

Rys. 8.8 Rozkład ciśnieniaakustycznego w płaszczyźnieprzechodzącej pnez ośZ przetwornika.

Na osiach Z iX odmierzono'odległościunolTnowane'tzn.: odległośćz jako wielokrotnośćpola blis.
Ę"so '{' a odległość
x jako wielokrotność połowy średnicyDprzetwomika.Dzięki wpiowadze-
niu odległościunormowanychprzedstawionyrózkład.jestważńydń ka:źdego przetwoinikabkrągłego

)' c
b=2zsin(i = 22.k. (8.s)
Dtk:22'k f Dsk

tr - długość fali (mm)'

D37g- skuteczna średnicaprzetwornika (mm),
ł - współczynnik za|eżnyod przyjętejwartościspadku ciśnienia.

Wartościwspółczynnikar( dla danegoAp podano w tabeli:

A p (dB) 3 6 l0 @

k 0,51 0.70 0,87 1,22

Znakięm @ oznaczono w tabelce przypadek, gdy granicę wiązki wyznacza ciśnienie

bliskie zeru. W praktyce najczęściej
bierze się pod uwagę spadek ciśnieniabądźo 3 dB,
b ą d Źo l 0 d B .
Ęt rozbieżnościi szerokośćwiązki Ę tym mniejsze im więkwa jest średnicai czę-
stot|iwośćprzetwornika orajz im mniejsza jest prędkośćrozchodz€nia się fali w ośrodku.

Przykł'ad 3
obliczyć kąt rozbieżnościwiązkiorazszerokość z = 100mm dla spadkuciś.
wiązkiw odlegtości
nieńa o 3 dB' d|adanychjak w przyktadziel (stal'D = 25 mm,f = 2 MHz),
Rozwiązanie
,t = 0,51
Drp = f4,25mm
s's4 =
sinO=0.51 . 0.062
2 24-25
@ = 3,60
b =f 100. 0,062 = 12,4mm

43
 Ptzykład 4
ob1iczyć kąt rozbieżnościwiązki oraz szerokośćwiązki w odlegtościz = I00 mm dla spadku
ciśnieniao 3 dB, dla danych jak wptzyktadzie 2 (stal'D = 7 mm,f = f MHz).
Rozwiązanie
Drp = 6,8 mm
s.94
sin@ = 0,51 j - = 0,22

O = 12,9o
b = 2 . l 0 O. 0 , 2 2= 4 4 J m m

8.5. Uproszczony kształt wiązki fal dla l0 dB spadku ciśnienia

Dla spadku ciśnieniao l0 dB przyjmuje się , że kontur wiązki fal wytwarzanych przez
przetwornik kołowy ma kształt w przybliżeniu taki, jak przedstawiony na rys. 8.9.
tU
lł- ap,acB
B
\
xr- 4
N
H
ęf Al 0
(5
qł

H
'L]
I

L -1
ź
5
o
E
ś ost z
4 z/I)

Rys. 8.9 Uproszczony sposób rysowania konturu wiązki ultradźwiękowejprzetwornika okrągtegodla

l0 dB spadku ciśnienia.
Na osiach Z i X podane są odległościunornowane (patz poptzedni rysunek). Przedstawiony k.o.ntur
20 dB
ńązki jest za,azóm kontuiem o6szaru odbioru echa ńałego rehektora kulistego przy założ,eniu
spadku echa (patrz rozdział 18)

wiązki w odległości większej od 31y'wyznaczają linie wychodzące ze środka

Kontury
osi Z pod takim kątern, że szerokość wiązki w odległo-
Przetwornika, biegnące względem
poazy.
Li z,s'rr jest równa średnicyprzętwornika. W miarę zbliżaniasię do przetwornika,
nając od odległościl1/, kontur wiązki liniowo poszerza się i dochodzi do krawędzi prze.
twornika.

8.6. Charaktefystyka kierunkowości przetwornfl<a

-
8.ó.l. Ultradźwiękowepole przetwornikabywa opisywaneza pomocą tzw. c h a r a k
t e r y s t y ki kierunkowo ści. Charakterystykakierunkowościprzedstawiawe
wspóirzędnych biegunowych rozkład ciśnieniazmierzonego na okręgu o określonym
p.omi.niu, np. równym |N, zatoczonym dokoła środkaprzetwolnika (rys.8.10). Cha.

44
 Rys. 8.10 Charakterystyka kierunkowa
przetwornika

rakterystyka przetwornika ma kształt listka, którego szerokośćzależy od stosunkuD./}..

Miarą ciśnienia(a tym $mym amplitudy drgań) w danym kierrrnku jest długośćpromie-
nia wodzącego.

8.6.2. Budziej dokładna ana|izapowstawania pola akustycznego przetwornika wykonu.

jącego fugania podłużne prowadzi do wniosku, Że oprócz wiązki fal podtuznych'której
kształt został opisany, do ośrodkawprowadzane są fale rozchodzące się skośniew sto-
srurku do kierunku tej wiązki. Fale te tworzą tzw. ,Jistki boczne'' w charakterystyce kie.
runkowej proemieniowania przetwotntka. Ze względu na małe poziomy ciśnieniafa]
w ,Jistkach bocznych'' względem ciśnieniana osi wiązki ,głównej'', ,Jistki boczne''
mają znaczenie dopiero przy dużychwzmocnieniach odbiornika.

9. RoDZAJE FAL sTosowAr{YCH w BADANIACH ULTRADZWIĘKoWYCH

9.l. Uwagi ogólne

W badaniach ultradźwiękowych znajdują zastosowaniefale :

- podłuzne
- poprzeczne
- powierzchniowe - nazywane również falami Raylegh ó (czytaj: releja)
- płytowe _nazywane również fa|amiLamb it
- Loveó(czytaj|awa)
- podpowierzchniowe.
Fale te są omówione w dalszej częścininiejszego rozdziału. Dla porządku omówione
sąrównreżfale podłużnei poprzeczne,o których była już.mowa.

9.2.Fale podłużne

9.2.t. Fa|ą podłuzną nazywamy falę,której kierunekrozchodzenia się jest zgodny z kie

45
runkiem drgańcząstekośrodka.
Drganiom (podtuznym) cząstek towarTyszązmiany ciśnieniaakustycznego oraz
Schematdrgańcząstekjestprzedstawiony
gęstości. na rys. 9. I .
Falę podtużną ozrlaczamy|iterą L i linią przerywaną.

9.2.f. Fa|ę podłużnąmoźnawzbudzić w każdym ośrodku:statym, ciektym i gazowym.

ó.4. W badaniach ultra.
Ęólną koncepcję wzbudzania fali podłużnejprzedstawiarys.
dźwiękowych stosuje się do tego celu przetwornik piezoelektryczny wykonujący drga.
nia ,,tłokowe'' (,,gubościowe'').oto prędkościrozchodzenia się fali podłuznejw nie.
których ośrodkach:

cL cL
[m/s] [mm/!sl

powietrze 330 0,33

woda 1480 1,48
f730 )11
pleksiglas
stal 5940 5,94

9.3. Fale popnzeczne

się jest
9.3.1. Falą poprzeczną (rft:inania)niUzywamyfalę, której kierunek rozchodzenia
prostopadły
. do kieruŃu Ęań cząptek.
Diganióm (poprzecznym) cząstek towarzysząnaprężeniaścinające, nie występują na.
tomiasizmiany gęstości. Schemat drgań cząstek jest przedstawionyna rys. 9.l.
Falę poprzecznąoznacza się literą 7i linią ciągtą.
ponieważcie-
9"3.2. Fa|a poprzeczna może być wzbudzona tylko w ośrodkachstałych,
koniecznej dla istnienia tej fali sprężystościpostaci (nie mogą w
cze i gary nie posiadają
ścinające)' ogólną koncepcją wzbudzania fali poprzecznej
nich wystąpić naprężenia
na 6.5. w badaniach ultradźwiękowych fale poprzeczne wzbudza się
przeastawiano rys.
przez
iądź za pomocą przetwornika piezoelektrycznego o drganiach poprzecznych,bądź
*yto,,y,t*ie transformacji fJ podłużnych na fa|e poprzeczne przy załamaniu fal po.
dłuanych.
Piędkość rozchodzenia się fali poprzecznejjest mniejsza niż fali podłużneji wynoś'
przykładowo:

cT cT
[m/s] [mm/$l

powietrze
woda
pleksiglas 1430 t,ąl
stal 3250 3,25

46
 toozAJE fAl UlIl^o2wl€xo|vYcH

a a a aa a a aaaa o aa a a a a a a a a a a oaaaaaaaaa
a aaa a a aaa a a a a a a a a a a a a a a a aaaoaooaaa
o o a aa a a aa aa a aa a a a a a a a a a a aaaaaaaoao
a a a a a a a a a a a o a a a a a a a a a a a a aaaaaaaaaa
a a a a a a a a a a a a a a a a a a a
a a a a a a a a a ao a aa a a a a a
a o a a a a a a a a a a a a a a a a a a a a o a a a a a a a a oa a a

osrooc( w sT^NlE sPoczYNXU

a-aa a a a aaa-aa a a o a a aaaaaaa a a aaaaaoaaaa

€ .Q.o. o a aaa-aa a o a a a aoaoaa a a aaaaaaaoaa
a-aa a a a aaa-aa a a a a a oaoaaaa a a aaaaaaaaaa
- aoaa a a a oaaQaa a a a a a aora.. a o ooaaaaaaaa
a-aa a o a aaa-aa a a a a a. aoaaaa ...oa aoaaaaa
a a a a a a - a a a a a o a a a o a a o a a a aaaaaaaoaa
a-aa a . a a a aaooaa a a a a a aoaaaaa a a aaaaaaaaaa

t^tA Pootuz NA

1t...
f .t...
ł:i:::
:!i::':,'::' a a o a a " " a a
o o o r o " ' o ' a
o o o o o t " " '

oo'oo"""
aaoaaa
a a a a a a a a a a

r^t^ PoPłz.czN^

fAtA POwrErzcHNtow^

A) FFts.€€- E..ts.€

ll

ffi
_ schematdrgańcząstekośrodka
Rys 9.1 Rodzajefal ultradźwiękowych

9.4. Fale powierzchniowe

9.4.1. Falą powierzchniową nazywamy falę rozchodzącą się po swobodnej powierzchni

47
 ąśrodkastałego, którego grubośćjest znacznie więkwa od długościfali.
Falę powierzchniową tworzą ptzemieszczn,niacz{stek ośrodkazarówno w kierunku
rozchodzenia się fali jak i w kierunku prostopadłym: torami ruchu cząstek są elipsy
(rys. 9.1). Fale te są do pewnego stopnia podobne do fal na powierzchni wody. Ampli.
tuda przemieszczeń cząstek szybko maleje w miarę oddalania się od powierzchni. Na
głębokościrównej długościfali amplituda drgań stanowi zaledwie |9 %amp|itudy drgań
cząstek na powierzchni. p latego za pomocą fal powierzchniowych można badać tylko
urarstwęmateriału bliską powierzchni.
Falę powierzchniową oznacza się literąR i linią falistą.

9.4,f . Fa|e powierzchniowe wzbudza się przez załarnaniefal poprzecznych przy kącie
załamania 90o, albo za pomocą przyłożonych do powierzchni przetworników o drga.
niach poprzecznych.
Prędkośćfali powierzchniowej w stali wynosi 3050 m/s, tj. 3,o5 mm/gs.

* 9.5. Fale pĘtowe

9'5.l. Fale ptytowe, albo fale Lambą _ to fale rozchodzące się w elementach ograniczo.
nych powierzchniami równoległymi, o grubościporównywalnej z długościąfali, jak cien.
kie blachy, rury iĘ.

9.5.2. określenie,'fale Lamba'' odnosi się do fal, które mogą przebiegaćw ośrodku
cienkościennymna nieskończenie wiele sposobów, w zależności od sposobu ich wzbudza.
n i a ( p a t r z9 . 5 . 3 ) F. a l e t e m o g ąm i e ćp o s t a ć s y m e t r y c z n ą lub antysyme-
t r y c z n ą. Podstawą takiego podiału jest symetria albo antysymetria ruchu cząstek
względem środkowejpłauczyzny elementu. Każda z tych dwóch postaci dzieli się na fale
pierwszego, drugiego, trzeciego itd. rzędów. Ptzemieszczenia cząStek w przekroju płyty
podczas przechodzenia fal Iamba poptaci symetrycznej i antysymetrycznej pierwszego
rzędu pokazano na rys. 9.l. Jak widać, cechą charakterystycznąfal postaci rymetrycz-
nych są podłuzne drgania cząstek w obszarze środkowym.Natomiast podczas przecho.
dzenia fali l,amba postaci antysymetrycznej cząstki strefy środkowejwykonują drgania
pprzeczne. Przemieszczenia cząstek ośrodka podczas przechodzenia fal danej postaci
tzędu wyższegoniż pierwszy są takie same co do charakteru jak w przypadku fal rzędu
pierwszego, ale na grubościelementu układa się odpowiednio więcej ,,warstw'' }vypeł.
niÓnych falą rzędu pierwvego. Drgania cząstek ośrcdkaptry przechodzeniu qymetrycz.
nych i antysymetrycznych fal lamba rzędów wyższych pokazano schematycznie na
rys.9.2.

9.5.3' Fale Lamba wzbudza ię przez skośnepadanie fal podłużnych na powierzchnię

badanego elementu, przy czym stosuje się zarówno sposób zanurzeniowy, w którym
wiązkę fal kieruje się na powierzchnię badanego elementu przez warstwę cieczy, jak i
sposób kontaktowy, za Pomocą głowicy skośnejz klinem załamującym.Padającana pły.
tę fala podłuzna załamuje się, tworząc w ogólnym przypadku wiązlci załamanie fal
podłuznych i poprzecznych. Mązki te rozchodzą się w kierunku długościptyty, odbija
jąc śę kolejno od dolnej i górnej powierzchni. W wyniku nałożeniasię tych wiązek pow.
stająwłaśniefale płytowe.

48
 b)

O
o)
'--1

o
L_7 \-/ \-/
/a
O O \-/

Rys. 9.2 lrale Lanlba postaci a) symetrycznej i b) anĘsymetrycznej drugiego rzędu

Prędkośćrozchodzenia się tej samejfazy fugańwzdtuz długości płyty c1@rędkość

fazowa)jest prędkościąślizgania się czoła zatamanejfali wzdłużswobodnejpowierzchni
płyty (rys. 9.3). Za|eżyona zarówno od kąta padaniao jak i prędkoŚci rozchodzeniasię
fal wzbudzających.

cl,
Cf= -
r slno

Za|eżność prędkościfazowej fal Lamba od iloczynu częstotliwościprzez grubość

płyty pokazanona rys. 9.4a ib. Ponieważ w impu|sach wzbudzĄących falc zawarte są

Rys.9.3 Powstawanie fali płytowej ptzezzałamanic fa|i podłużnej. Prędkość fazowaCp fa] Lamba
jest prędkościąślizganiasię czoła fali zatamancj na powicrzchni swobodnej płyty

drgania o szerokim paśmieczęstotliwości,więc przy danym kącie padaniac w danym

fale Lamba rożlnychrzędów'
elemenciewzbvdza się jednocześnie
Fale podobne charakteremdo fal lamba można wzbudzac w cienkich prętach czy
drutach.
Fale Lamba osiągająnajwiększąanlplitudę gdy sinuskąta padaniafal podtużnychna
powierzchnięelementujest równy stosunkowi prędkościpadającychfal podłużnychC1
do prędkościfazowej C1fa||-ambawzbudzanegotypu:

.cL
smo= Ą
/x ( e . )l
'J ,f

49
Rys. 9.4 Prędkość i gubościdla postacia) sy-
fazowaCp fal Lambaw funkcjiiloczynuczęstotliwości
metrycznej ib)niesymetrycznej.
Cyfry |...5 oznaczająrzędy fal Lamba

9.ó. Fale l.ovea

9.ó.l. Falami Love,a nazywamy fale rozchodzącesię w cienkich warstwachmateriału,

znajdującychsię na podłożuz lnnego materiału.
Przykładem ośrodka,w którym rozchodzą się fale Love'a mogą być warstwy wie.
rzchnie materiałów, które w wyniku procesów obróbki cieplnej, chemicznej czy mecha-
nicznej uzyskaty inne niż podłoże własnościmechaniczne. Fale Love'a są falami po.
przecznymi, rozchodzącymi się w kierunku długościwarstwy. Cząstki ośrodkapodczas
przechodzenia fal [,ove'a drgają w płaszczyznach równoległych do powierzchni warstwy
(rys.9.5).

Rys. 9.5 Fale Loye'a _ schemat drgań cząstek

9.ó.2. Fale l,ove'a wzbudza się za pomocą przetwornika wykonującego drgania po.
przeczne, sprzężonegoakustycznie z powietzchnią ośrodkazawierającegowarstwę po.
wierzchniowąo odmiennych własnościach niż podłoże.

9 .7. F ale podpowierzchniowe

9.7.l. Jeślikąt padania fal podłuznych o1 na powierzchnięciała stałegojest tak dobra-

ny, że kąt załamania tych fal wynosi 90o, w ciele statyn rozchodzi się wiązka fal po.
dłuznych. Cechą charakterystyczną fal podpowierzchniowych jest brak czułościna nie-
równościpowierzchni. Tę własnośćfal podpowierzchniowychwykorzystuje się do wy.
krywania wad znajdującychsię blisko pod powierzchniąo małejgładkości, np. pod licem
spoiny.

50
 b)

O
ą)

oo
V \-/

O O
Rys. 9.2 Fale Lamba postaci a) symetrycznej i b) antysymetrycznej drugiego rzędu

Prędkoścrozchodzenia się tej samejfazy drgańwzdłuż, długościpłyty c1@rędkość

fazowa)jest prędkościąślizgania się czoła załamanejfali wzdłuz swobodnejpowierzchni
płyty (rys. 9.3). Za|eżyona zarówno od kąta padaniao jak i prędkoŚci rozchodzeniasię
fal wzbudzających.

cL
cf =-
J Stnc

Za|eż:noścprędkościfazowej fal Lamba od iloczynu częstotliwościprzez grubość

płyty pokazanona rys. 9.4aib. Ponieważw impulsachwzbudzającychfalc zawartesą

HDlĘltr)Ą FAuĄ
-_WIńt^

Rys. 9.3 Powstawanie fali ptytowej ptzezzałamanie fali podtużnej. Prędkość fazowaCp fa.l Lamba
jest prędkościąślizganiasię czoła fali zatamanej na powicrzchni swobodnej płyty

drgania o szerokim paśmieczęstotliwości,więc przy danym kącie padaniaa w daltym

elemenciewzbudza się jednocześnie
fale Lamba różnych rzędów.
Fate podobne charakteremdo fal Lamba możnawzbudzac w cienkich prętach czy
drutach.
Fale Lamba osiągająnajwiększąanlplitudę 8dy sinuskąta padaniafa| podtużnychna
powierzchnięelementujest równy stosunkowi prędkościpadającychfal podłużnychC7,
do prędkościfazowej C1fa|l-amba wzbudzanegotypu:

.cL
slna=
/x ( e . )l
,f
T

49
 Rys. 9.4 Prędkość fazowaCp fal Lambaw funkcjiiloczynuczęstotliwości dla postacia) sy-
i grubości
metryczneji b) niesymetrycznej.
Cyfry | . . .5 oznaczająrzędy
fal Lamba

9.6. Fale Lovea

9.ó.1. Falami Love,a nazywamy fale rozchodzącesię w cienkich warstwachmateriału,

znajdującychsię na podłożuz innegomateriału.
Przykładem ośrodka,w którym rczchodzą się fale l,ove'a mogą być warstwy wie.
rzchnie materiatów, które w wyniku procesów obróbki cieplnej, chemicznej czy mecha.
nicznej uzyskały inne niż podłoże własnościmechaniczne. Fale Love.a są falami po.
przecznymi, rozchodzącymi się w kierunku długościwarstwy. Cząstki ośrodkapodczas
przechodzenia fal l,ove'a drgają w płaszczyznach równoległych do powierzchni warstwy
(rys.9.5).

Rys. 9.5 Fale Loye'a _ schemat drgań cząstek

9.6.2. Fa|e l,ove'a wzbudza się za pomocą przetwornika wykonującego drgania po-
prueczne' sprzężonegoakustycznie z powierzchnią ośrodkazawierającegowarstwę po-
wierzchniowąo odmiennych wtasnościach niż podłoże,

* 9.7. Fale podpowierzchniowe

9.7.1. Jeślikąt padania fal podłuznych o1-na powierzchnięciała stałegojest tak dobra.
ny, że kąt załamania tych fal wynosi 90o, w ciele stałym rozchoda się wiązka fal po.
dłuznych. Cechą charakterystyczną fal podpowierzchniowych jest brak czułościna nie-
równościpowierzchni. Tę własność fal podpowierzchniowychwykorzystuje się do wy.
krywania wad znajdującychsię blisko pod powierzchniąo małejgładkości, np. pod licem
. spoiny.

50
9.7.f . Fa|e podpowierzchniowe można wzbudzać za pomocą głowic skośnychz klinem
ztworrywa sztucznego. W gtowicach na fale podpowierzchniowe w stali kąt padania fal
podłużnych na granicę pleksiglas_ stal powinien wynosić 27o3o, (pierwszy kąt kytycz-
ny)' Przy tym kącie padania,obok fali podpowierzchniowej rozchodzi się w stali silna fa.
la poprzeczna. Ze w4|ędu na wysoki poziom sygnałów zakŁócających' badanie za pomo-
cą fal podpowierzchniowych prowadzi się nie za pomocą pojedynczej głowicy nadawczo.
odbiorczej pracującejmetodą echa,|ecz stosujesię dwie głowiceskośne, z których jedna
spełniarolę nadajnika,a drugajest odbiornikiem impulsów odbitych.
Mązka fal podpowierzchniowych ma skomplikowany kształt, odmienny od kształtu
wiązki fal podłużnych, rozchodzących się w materiale zdalaod powierzchni ogranczaią-
cych. Maksimum amplitudy ciśnieniaakustycznego w tej wiązce, a więc i największa wy.
krywalnośćwad, przypada na głębokościkilku milimetrów. Na rys. 9.6 pokazano sche-
matycznie układ głowic skośnychdo badania za pomocą fal podpowierzchniowych. Przy
głowicacho częstotliwościl,8 MHz i średnicyprzetwornika 18 mm za pomocą takiego
układu możnanp. wykrywać z odległości l00 mm wady o średnicyrównoważnej4 mm,
za|egĄącena głębokościl4 mm.

Rys. 9.6 Układ gtowic skośnych do badania za pomocą fal podpowierzchniowych

l0. ZAcHowANIE sIĘ FALI NA GRANICY oŚRoDKÓw

10.1. Granica ośrodków

10.l.1.Granicą ośrodkównazywamy powierzchnię rozdzielającądwaróżne ośrodki.,,Po-

wierzchnia rozdzie|ająca'' jest pojęciem abstrakcyjnym, ale bardzo często używanym.
Przykładowo,granicamiośrodkasą:
- powierzchniawody (,Justro'') stanowiącagranicę pomiędzy wodą i powietrzem,
- powierzchnia zewnętrzna objektu stalowego,stanowiącagranicę pomiędzy stalą
i powietrzem,itd.

l0.l.2.Z punktu widzenia akustyki dwa ośrodkisą różne,gdy prędkościrozchodzenia

sią fal sąw nich różne,lub gdy ich akustyczneopoInościfalowe sąróżne.

5l
 AkusĘczną opornoścĘ falową Z ośrodkadla danęo rodzaju fali nazywamy ilocz}rn
gęstościośrodkap i prędkości rozchodzenia się fali w.Ęm ośrodkuc
z=pc (lo.l)

Przykład 1
W stali (P = ?850 kc/m3) dla fali podtużnej(C7 = 5940 m/s) akustyczna opomośćfalowa wynosi

z7 Ł= ło,o. ro6
= nsoĘx 5940
"mJs ,H

oto wartościprędkościrozchodzenia się fali podłużnejC1 oraz akustycznej oporno-

ścifa1owej dla tej fali Z7 - dla kilku najczęściejspotykanych w badaniach ultradźwięko.
wvch ośrodków:

c1[m/s] zlfkclmsl

Powietrze 330 0,000428

Oleje mineralne ok. 1450 ok. 1,5
Woda 1480 1,49 x 10ó
Pleksiglas 2120 3l
S tal 5940 46,6

Z powyżLszego zestawienia widać jak istotnie różnrą się pod względem akustycznym
powietrze, cieczei ciata stałe(reprezentowaneprzez pleksiglasi stal).

lo.2. Zjawislca na'granicy ośrodków

Na granicyośrodkówmogąwystąpićnastępującezjawiska:
- odbicie fal,
- załamanie fal,
- transformacjafal,
- rozprovenie fal,
- ugięciefal,
- zmianageometrii wiązki fal (gdy granica ośrodków'niejest płaska).
Znajomość reguŁ rządzących tymi zjawiskami jest sprawą bardzo ważną w bada-
niach ultradźwiękowych. Wynika to z faktu, że nośnikieminformacji o obecnościi wiel-
kościwady w badanym obiekcie są fale odbite od wady, przechodzące ,,po drodze,, przez
granice różnych ośrodków (rys. l0.l). Z punktu widzenia akustyki, wada to granica
óśrodkówtypu ',ciało stałe - gaz,,(w przypadku nieciągłości wypełnionychgazem)lub
typu ,,ciato stałe - ciało state'' (w przypadku wypełnionyclr
nieciągłości obcym mate.
riałem).

52
Rys. 10.1 Drogafa|ultradźwiękowych podczasbadaniaza pomocągtowicyskośnej fa|poprzecznych.
od chwili wzbudzeniado chwili powlotu do przetwornikajako echo,faleprzechodzą przeznastępu-
jące ośrodki: W stati mająmiejscetrzy odbicia:dwa od granicy
pleksiglas.woda.sta|-woda-pleksiglas.
orazjednood graniry,,stal/woda"
,,stal/powietrze"

l0.3. odbicie, załarnanie i transformacja fal

10.3.l.Przy omawianiu zjawiska odbicie i załamaniefal posługujemy się kątami:

- padania o
- odbicia 7
- zaŁamania p
Kąty te są mierzone między osią wiązki padającej(wzgl. odbitej lub załamanej),a
prostą poprowadzonąprostopadledo granicy ośrodków,czy|itzw.,J:Iormalnąpadania''
(rys. 10.2).

=l
śt

Rys. l0.2 Oznaczenie kątów nagranicy ośrodków.

o _ kąt padania, } - kąt odbicia, p - kąt załamania

|o3 .2.Przy rozpatrywaniu zjawisk na granicy ośrodków,na|eżyzdać sobie przedewszy.

stkim sprawę z tego, jakie rodzaje fal i z jakimi prędkościamimogą się tozchodzic w tych
ośrodkach.Weźmypod uwagę ośrodki,,|', i ,,2,,,w których mogą się tozchodńćfaleL
i ?",których prędkościwynoszą Ctt,.CtT, Czt', C2L (pierwszy indeks oznacza ośro.
dek, drugi rodzaj fali).
Jeżelina granicy tych ośrodków,od strony ośrodka,,l'' pada wiązka fal Z pod ką.
t e mo l l ( r y s . l 0 . 3 a )t .o :
'':
a) występujqdwie wiązki fal odbitych z powrotem do ośrodka,,l wiązka fal Z od.
bita pod kątem,I IL olaz wiązka fal 7odbita pod kątem 717, powstaław wyniku tzw.

53
t r a n s f o r m a c 1 i f aIi L na falę Tizwiązek między kątami padaniai kątami od.
bicia określawzór Snelliuv

sinola _sinllL =tinZ.Z (10.2a)

CtL Cru Cn

b) występują dwie wiązki fa| zał'amanychw ośrodku ,,2,,: wiązka fa| L zaŁamana
pod kątem 921 oraz wiązka fa| T zaŁamanapod kątem p27, powstatdwwynikujuż
wspomnianej transformacji; związłk między kątami padania i kątami załamaniajest na-
stępujący

sinolZ _sinB2L _sill.p7T

(10.2b)
Ctt CZt CZr
Jeżp|ina granicę ośrodków,,|,' i ,,2,,od strony ośrodka,,l'' pada wiązka fal Tpod
kątem a17, to - podobnie jak wyżej - powstajądwie wiązki fal odbitych z powrotem do
ośrodka,,l'' i dwie wiązk'tfa|załamanychw ośrodku''2,, (ry'' l0.3b)' przy czym wiązki
fal Z powstają w wyniku transformacji. Wzory wiąiące te kąty mają następującąpostać:

!1no1r -- !n]/f = l1_1/Ł (10.2c)

Ctf Cn Ctt

sinolf _sinfZf _sinl 2L

(10.2d)
Ctf CZr CZt

Zjawiskamiodbicia, zaŁamanni transformacjifa|rządząnastępującereguły:

l. Jezeli w danym ośrodkumogą występować dwa (lub więcej) rodzaje fal, to za.
równo w ivyniku odbicia od granicy tego ośrodkajak i w rvyniku załamania w
tym ośtodkumogą powstać dodatkowo wiązki fal innego Ępu' aniżeli fala docho'
dząca do granic ośrodka. Zjawisko to narywa się transformacją fal. Zjawisko
hansformacji ozn|rctA się symbo|icznie :

L- L+T

lub

T.T+L

Zjawisko transformacji nie występuje jedynie przy prostopadtym padaniu na gra.

nicę ośrodka,tm. gdy o = o.
f. Kąt padania iest równy kątowi odbicia dla jednego i tego samego rodzaiu fali.
(ąl' = lt, Q1T = t1fl. KĄtY odbicia i załamania transformowanych fal T są
mniejsze od kątow odbicia i załamaniafal t..
Wzór Snelliusa dla fal odbitych i zatamanych (z uwzględnieniem fal transformo.

54
 wanych) ma postać:

sinuskątapadar.iafallprzychodzqceiz ośrodka
,,I,,
prędkość fali w ośrodktl
,,1,,

sinus kqta odbicia fali w ośrodku,,],,

(10.3)
prędkośćfali w ośrodku,,],,

sinus kqta załamaniafali w ośrodku,,2,,

prędkośćfali w ośrodlą'l,,2,,

cn

Rys. 10.3 Odbicie i zatamanie fal na granicy

b)
ośrodków I i 2 w których mogą się rozcho.
dzićfa|eLiT.
a) z ośrodka 1 na granicę padafalaL,
b) z ośrodka l na granicę padafa|aT

olL.a|T k ą t y p a d a n i a w o ś r o d k u1

.|t,^|n _ kąty odbicia w ośrodku 1

Bzr,an kąty załarnania rv ośrodku2

Rys. l0.4 odbicie fal na granicy,,ciałostałelgaz,,

55
10.4. Mechanizm odbicia fal

10.4.l. odbicie fal występuje gdy sąsladująceze sobą ośrodkiposiadająróźneakusĘczne

opornościfa|owe.
Rozpatrzmy zjawisko odbicia przy plostopadłym padaniu fa| na granicę typu ,gazl
ciecz'' lub ,gazlciało stałe'',biorąc pod uwagę model ciała przedstawionynarys l0.4
Gdy kulka 1 zostaje wprowadzonaw ruch, to całąswąenergięruchu przekażekulce
2, a samapozostaniew spoczynku. Sytuacjajest podobna do tej,jaka powstajeprzy zde-
rzeniu dwóch kul sprężystycho jednakowych masacll, z których jedna porusza się z pew.
ną prędkością, a druga (uderzana)jest w spoczynku. W wyniku zdetzenia,kulka uderza.
jąca pozostaje nieruchoma, a całą energię ruchu otrzymuje ku|ka uderzona. W łańcu-
chu kulek, następuje przekazywanieruchu kolejnym kulkom. Proces ten trwa bęz za.
kłóceń tak długo, ail na drodzp fali stanie krawędŹ materiału.ostatnia, granicznakul-
ka 9 nie ma partnera w kierunku rozclrodzenia się fa|i, któremu mogtaby przekazac
enerqie.W rezultaciekulka 9 całą energięotrzyman4 od kulki 8 po wykonaniu drgania
przekaże na powrót tej kulce,rozpoczynając w ten sposób cyKzderzeń kulek w prze-
ciwnynlkierunku,a więc tworzącfalę odbit4.

Rys. l0.5 odbicie fal na granicy dwóch

l Zł)Zl ciał statych o różnych akustycznych
l'2 311łla ? E 9 o opornościach falowych
@

|o.4.f.Zjawisko odbicia przy prostopadłym padaniu fa|i na granicę typu ,,ciałostałe

/ciało stałe'' lub ,,ciało stałefciecz,' przebiegaw podobny sposób. D|a uproszczeniaopi-
su weźmy pod uwagę granicę ',sta1/p|eksiglas''. Model takiej granicy pokazuje rys. lU.5.
Gęstośćstali oraz prędkośćrozchodzeniasię fali w stali sąwiększe od gęstości i prędko.
ścifal w pleksig|asie.Większej gęstościodpowiada na modelu większa masakulek, więk.
szej prędkościfal - silniejszepołączeniasprężystemiędzy kulkami.
Gdy impuls dojdzie do kulki 5, ostatniejw stali, pobudzi ona do drgań swą sąsiadkę
ó' będącą pierwsząw pleksiglasie.Jednakżeze względu na znaczniemniejsząmasę kul.
ki ó i ze względu na znacznie słabszesprzężeniemiędzy kulkami 6-7' 7-8 . . . , ku].
ka 5 przekaile kulce ó tylko częśćswej energii. Energia przekazana kulce ó będzie się
rozchodziła dalej w pleksiglasie,natomiast pozostatą częśćenergii kulka 5 przekaze
z powrotem kulce 4, od której rozpocznlesię fala odbita.

10.4.3.Rozpatrzmy z kolei przypadek skośnegopadania wiązki fal podłużnychna B|a.

nicę ,'ciało stałelgaz',.odcinek AE (rys l0.6a) oznaczapołozenie ,,czoła,,fali w mo-

56
 czoLo FALt PADAIaCEJ

a)
clALo 5lAź'E
5-_
c GAZ

CZAO FALI PADA'4CEJ

b)
clALo gtAŁ€

czoto FAL' Oo6rt

Rys. 10.ó Kolejne fazy odbicia fali od granicy ,,ciałolgaz',

a) wiąz'kapada na granicę.ciaŁ stałe'gozEazem,punkt,4 zaczyna wysyłać fa|ę kulistą
o' punKt E zaczyna wysyłac talę kullstą
c) punkt C zaczyna wysyłac falę kulistą

czoao FALI
:ApAlĄsśL
WODA

l\
l\

Rys. l0.7 Załamanie faii podłużnej na gtanicy

.,woda/stal"

5'7
mencie' gdy lewy skraj wiązki osiągnąłpunkt ',4. Do punktów B i C fala dotrze z opóż.
nieniem. Zgodnie z zasadąHuygensa, jeślido jakiejścząstki ośrodkadochodzi zabwze-
nie (fala), to cząptka ta staje się Źródłem fali kulistej. A więc w punktach A, B i C po.
wstają źródła fal kulistych, z Ęm ż"enajpierw wysłana będzie fala z punktu A, bo do te-
go miejsca fala padającadotarła najszybciej.
Gdy punkt B zacznie wysyłać falę kulistą, fala wysłana z punktu A przebędzie już
drogę równą ttługościodcinka DB (rys,10.6b). opóźnienie źrodłaB względem A jest
równe czasowi, potrzebnemu na przejściefalli przez drogęDB.
Gdy punkt C zacznie wyqyłać falę kulistą, fala wysłana z punktu,4 przebędzie dro.
gą równą odcinkowi 8C, a fala wysłana z punktu .B drogę równą różnicy odcinków Ź'C
.|
i DB. Na rys 0.6c pokazano sytuacjęw tym momencie.
Naturalnie nie tylko te trzy punkty będą źródłem fal cząstkowych. W podobnej
sytuacji będą wszystkie punkty powierzchni, które znajdują się w obszarze wiązki bada.
jącej. Kolejno będą one vysyłatyfale cząstkowe. obwiednia fal cząstkowych utworzy
czoto fali odbitej.
Gdybyśmy starannie przeprowadzili konstrukcję czoł'afaIiodbitej, okazałoby się, że
= .fL.
wiązka odbita tworzy z normalnąpadaniataki sam kąt,jaki był kąt padania,tzn.qL

10.5. Mechanizm zatamania fal

lo.5.l.Załamanie fal jest spowodowaneróżnicą prędkościrozchodzeniasię fal w sąsia.

dujących ze sobą ośrodkach.
Prześledzimypowstawanie zatamanej fali podłużnejna granicy ,,woda/stal''(rys.
l0.7), pamięta!ąc,ze w stali prędkośćfal podłużnychjest prawie 4 razy większa niż
w wodzie' W momencie,gdy fala dotrze do punktu A, punkt ten staje się źródłemfali
kulistej. Gdy punkt B zacznie wysytać falę kulistą, fala wysłana z punktu .4 osiągniejuż
odległośćcztery razy większą od odlegtościDB ' Gdy do punktu C dojdzie czoło fali pa.
daiącej,to fala wvsłanaz punktu C przernieścisię w stali na odległość4 x @C - DB). Na
rysunku pokazanajestsytuacjawmomencie,gdypunkt Czaczął wysyłac falę. obwiednia
fal cząstkowych stanowi czoło fali padającej- kierunek rozchodznnia się tej fali uległ
zmianie w stosunkudo pierwotnego,czylinastępito zatamaniefali.
RIERUNE'< JAZDY

Rys. 10'8 ,,Załamnie,, kierunku ja-

zdy pojazdu przy skośnym najecha-
niu na granicę ośrodków o,'różnej''
prędkości

10.5.2.Zjawisko zmiany kierunku fal przy skośnympadaniuna granicęośrodków,w któ-

rych pręókościfal są różne,jest podobne do zjawiska zmiany kierunkujazdy pojazduw
przypadku skośnegonajeż'dzaniana granicę drogi o różnej nawierzchru. Łatwo przewi.
dzieć, jak zmieni się kierunekj azdy rozpędzonegowózka, gdy jadąc przez murawę osiąg.
nie przebiegającą skośniedo toru jazdę granicę murawy z asfaltem(rys.10.8).W czasie,

Jó
gdy koło prawe przebędzie po trawniku odcmex EC, koł'o lewe toczące się już po asfal.
cie (większaprędkość)pokona odlegtośćwiększą o.EC, w wyniku czego kierunek jazdy
zmieni się - zwiększy się kąt kierunku jazdy wzg|ędemnormalnej do granicy. Przykład
wózka tłumaczy poglądowo, dlaczego kąt zaŁamaniafali jest tym większy, im większa
jest prędkośćfali w ośrodkuzałamującym.

Rys. l0.9 Ilustracja przenikalności ga.

nicy ,,woda/stal'' przy kącie padania fal
Qrownym 12,5u

l0.ó. KąĘ graniczne

10.6.l. WeŹmy pod uwagę wiązkę fal podłużnychbiegnącąz prędkościąC1 z ośrodka

,'l'' do granicy z ośrodkiem,,2,,,w którym mogą istnieć fakeL,I, R o prędkościach
C21, C27 i C2p większych od C71, C tr, C tn.
Wzór Snelliusadla padająceji załamanejfali Lma postać

s m a l a _ stn !127
Ctt czt.
Maksymalny kąt załamaniu 7zt = 90o (wówczas sin
|zt = 1) występujedla kąta pada.
niau 11
Ctt
Śnd|1 = (10.4)
Cu

Kąt padarria ą ]L,po przekroczeniu którego w ośrodku ,,2,, Iiejest wzbudzana fala
podłuźna _ nazywa się pierwvym katem granicznvm.

|0.6.2, Wzór Snelliusa wiąż'ącykąty padania fa|i L i załamaniafali I ma postać

sin o1Z _ sin 027

ctt czr

Maksymalny kąt załamaniap2T = 90o (wówczas sin p27 = 1) występujedla kąta padania
q'it

. ctt
sln c'---
It' czr

59
Kat padania ą.iL po przekroczeniu którego w ośrodku ,,2'' nie jest wzbudzana fala po.
ptzeczfil _ nazl'wa się drugm Ętem granicznym.

l0.7. Ciśnieniowewspółczynniki odbicia i pnepuszczania

lo.7.1. o tym jakie jest ciśnienieakustyczne w fali odbitej i załamanejinformująciśnie.

niowe współczynniki odbicia Ro i przepvszczaniaD,, określonenastępująco:

amplituda ciśnieniafali odbitej

Rp= (l0.ó)
ampliruda ciśnieniafali padajqcej

ąmpliuda ciśnieniafali pn echodzqcei

Dp (10.7)
ampli tudn ciśnieniafali padajqcej

W}stępujące we wzorach amplitudy ciśnieniasąmierzone tuż,przy granicy ośrodków.Dla

przypadku prostopadłego padania na granicę ośrodków (o = 0) dla ich obliczenia słuzą
wzory:

Zt- Zt
Rp = (10.8)
zl *ź

2Zz
Dp (10.e)
Zt+Zz
Z ] _ opornośćakustyczna ośrodka,w którym rozchodzi się fala padająca,
22- opornośćakustyczna ośrodkana który pada fala.
Suma ciśnieniafali padająceji ciśnrenrafali odbitej jest równa ciśnieniufalrizaŁama.
nej. Stąd między ciśnieniowymi współczynnikami odbicia t przepvszczania zachodzi
zuńązek

l+Rr=DO (10.r0)

Wartościwspółczynników ciśnieniowychmogą być większe od jedności,poniewaź

ciśnienieakustyczne nie jest miarą energii przenoszonej przez fa|ę; wielkośćenergi za.
lezy bowiem również od akustycznej opornościfalowej ośrodka.

Przykład 2
granicy
fali podłużnejprzy przechodzeniu
wspótczynnikprzepuszczania
obliczyć ciśnieniowy
,,woda/stal".
Rozwiązanie
Dla wody Zt = t,s ' 106,t<g/m's
22- = 46,6 ' 106 kg/m ' s
Dla st.ahi
f .46.6
Dp (woda/stal)= = 1'9ł
oun * ,.

60
 Przykład 3
obliczyć ciśnieniowywspółczynnik przepuvczania fali podtużnej ptzy przechodzeniugranicy
,,stal/woda".
Rozwiązanie
Z t = 4 6 , 6k g / m . s
22 = 1,5 kg/m . s

-
Dr (stal/woda) 2' l'5 = 0,062
r
1 . 5+ 4 6 . 6

lo.7.2.o tym, jakie jest ciśnienie fali powracającej do przetwornika po przejściuprzez

granicę dwóch lub więcej ośrodków i po całkowitym odbiciu się od swobodnej granicy
ostatniego ośrodka - informuje ciśnieniowy współcrynnik przenikania dla metody echa
Pp (rvs.l0.9). Współczynnik
tenjestokreślony
przezstosunek

amplinda ciśnieniafali odebranejpnez gtowicę

'pp- ( 1 0 .r1)
ampliruda diśnieniafali wytwononej przez głowicę

Wartośćtego współczynnika jest iloczynem współczynników przepuszczania przy

przejściugranicy lub granic w jednym kierunku przezwspołczynnik przepuszczania przy
przejściugranicy z powrotem

Przykład 4 (rys.10.9)
Współczynnik przepuszczania d|a metody echa ptzy prostopadłym padaniu fa| podłuźnych z
wody na stal wynosi

Pp (woda/stal) = Dp (woda/stat) .Dp (stal/woda)

Posługując się wynikami z przykładu 3 i 4 otrzymujemy

P p ( w o d a / s t a l )= 1 , 9 4 . 0 , 0 6 2 = 0 , 1 2

* l0.8. EnergeĘczne współcrynnfti odbicia i przepusrczania

o podziale energii pomiędzy falę odbitą i zał'amanąinformują energetycznewspół-

czynniki odbicia R6 i przepuszczaniaD2', określonenastępująco:

amplituda natężeniafali odbitej

Rr: amplifuda natężeniafali padajqcej
(10.12)

^ amplituda natężeniafali przechodzqcej

(10.13)
amp litu da rwtężenia fali padajqcej

Dla prostopadłegopadania (ą = 0), wartościR g i Dp ob|icza się z wzorów:

Zz-zt
Rg ( 1 0 . 1 )- i
z:+Zt
 421 22 (10.1s)
Dn =12r*2rp

nie przebaczają
Wartości energetycznych współczynników odbicia i załamann
energii. Dlatego
wartościl;wyhikatozdefinicjinatęź:eniafaliizasadyzachowania
dla współczynników energetycznychspełnionajest zależność

Rg+Dg=l (10.16)

10.9. Rozproszeńe fal

- ,,chropowatą''- grani.
Rozproszenie występuje przy padaniu fali na nierówną
defuzyjnym'' w odróżnie.
cę ośrodków. Rozproszerri. nu"y'.n. jest także ,,odbiciem
(rys. l0.l0). Wskutek nie-
niu od ,,odbicia zwierciadlanego''od gładkiej powierzchni
przez co w mniej.
równości powierzchni fale są odbijane we wszystkich kierunkach,
wiązki fal odbitych.
srym lub większym stopniu zatrica się kierunkowy charakter

a)

bt
Rys. 10.10 Schemat odbicia: a) zwiercia-
dlanego, b) dyfuzyjnego

10.10 Ugięcie (dyfrakcja) fal

Ugięciemalbodyfrakcjąnazywamyzjawiskoodchyleniabiegufaliodpierwotnego
porównaniu z długością fali.
kierunku, zachodzące,,up,,.'"l.oiach małych w
mniejsze od długościfali są
W wyniku dyftakcji, przeszkody (wady) znacznie
otrzymuje się cienia zaprzeszkodą.Zgodniezzavdą
,pptywane,, przez wiązLę fal i nie
Huygensa, fale elemęntarne powstające na krawędziachptzeszkody nie mogą się spotkać
t u ż , z a p r z e s z k o d ą w p r z e c i w n e j f a ń e , g d y Ż r o Ż n i c a d r ó g o d o b y d w ó c h k r a w ę d z i dao d o -
jest mniejsżaod' połowy długościfali,
wolnego punktu obszaru spodziewanegocienia
oddziaływująna fale krawędzie
więc ńle nie wvgasząsię. ńodobnie jak małeprzeszkody
przeszkód o dużych wymiarach.
fal.
Ugięciu fa| towarzyszy z reguty rozproszenie i transformacja
małych w porównaniu z długością fali
Zjawisko ,,opły!Vani;,'prłez fale przeszkód
pa] nie stanowi istotnej przeszko.
łatwo zauważyćobserwująciule .,a wołzie. Pojedynczy
powstaniedopiero wtedy, gdy
dy na drodzeiali morskiej, za palem nie ma ,,cienia'';cień
przeszkodabędzie miała rozmiary większe od długości fali.

62
 ll. lt,oŚclowEzALEżNoŚclw a.twtsKAcH NA GRANIcłcrroŚnooxÓw

1l .1 . Padanie fal I na granicę ,,woda/stal''

Tego rodzaju ganica ośrodków występuje przy badaniach zanurzpruowych. Jak

wiemy, w wodzie mogą się rozchodńć tylko faleZ (CLl = 1480 m/s), natomiast w stali
mogą się rozchodzić fa|eL (C21 = 5940 m/s), fale r Gzr = 325o m/s) i faleR (CzR =
3050 m/s). Mązka fal I padającana granicę ośrodków, odbija się w stronę wody oraz
załamuje w stali, przy czym załamanie to ogólnie biorąc może być typu L*L + T + R
z tym, że podńał energii pomiędzy poszczególne rodzaje fa| załamanych za|eĘ od kąta
padania. o tym, co się dzieje przy różnych kątach padania, informują nas współczynniki
przenikalnościprzedstawione na rys. l l.l i l |.2 oruz wańościkątów granicznych, które
wynosząa,11 = |4,5o i ai1 = 27 ,69

Rys. 1l .l

WużwYo't a.

Rys. 1l.2 Współczynnikprzenikalności

P granicy,,woda/stal''
dla padającej
fali podłuzneji załama-
nejfali poprzecznej

Prześledźmysytuację w stali dla róznych wartościkąta padania a17 wiązkt ta].L.

a) a17 = 0o
W stali występujątytko fa7eL,ptzy czymP ż 0,|2.
b) 0 < ł111|4,5o
W stali występują fale L i T. Ze wzrostem kąta padania fala I dośćrównomiernie
słabnie i ciśnienietej fali spada do zera przy orlI, = l4,5o. Ciśnieniefali Zrośnie poczy.
nającod zera,osiągamaksimum dla a11 = 40o ' . . 75o,po czym spadado zera.
Zakres kątów padania od 0o do l0o jest wtaściwydla wykrywania wad za pomocą
załamanejfali Z. Wówczas współczynnik przenikalnościfali Z jest względnie wysoki, a
fali I niski.

63
 c) o7; = 14,50
w stai występuje ś|iBającasię wzdłuż powierzchni fala Z (fala podpowierzchnio.
wa) oraz fala 7n
d) lr',5o1u11ś 27,6o
W stali nie występuje falaL |ecz tylko fala Z. Dla kątów padania od l60 do 260 osią-
ga ona swój maksymalny i utrzymujący się dośćrównomiernie poziom. (P711.= o'2).
po-
Zakres kątów padania t6o - 260 jest właściwydla wykrywania wad w stali za
mocą załamanej fali poprzecanej.
e ) 2 7 , 6 01 a 1 7
W stali nie wyśtępujefala 7 (ani L).Prry kątach padania bliskich 28o na powierzchni
stali pojawia się fala powierzchniowa.

lt.2. Padanie fal Z na ganicę ,ptal/powietrze''

Tegorodzajugranicatopoprostupowierzchniabadanegostalowegoelementu.
występuje odbicie typu
Przy ut<ośnym |adaniu wiązki fal I na granicę ,,stal/powietrze''
zostaje wprowadzone w ruch falowy'
L . L + T. Ponieważpowietrzew nikomym stopniu
jest pomiędzy odbite wiązki I i ?P.
praktycznie, cała energiawiązki padającej rozdzielona
dla odbitych L
fa]. oraz ?nod kąta pa.
Za|eżnośc ciśnieniowychwspółczynników odbicia
dania fal podłużnychprzedstawiająwykresy na rys. 11.3.
..: wzrostemkąta padaniaciśnienianajpierwmaleje(poczyna.
w oa.uiteiwiizce fal I -
jąc od R717"= l, ,E ..imniejsze wartościR1.17=o,|5 d|aa 17 = 600 75o, po
czym ponowni€ t -Jrll€ do wartościwyjściowej.
W odbitej wiązce fa| T ze wzrostem kąta padaniaciśnienie rośnie(poczynającod ze-
_ aio (R711=0,6), po czym spadado zera.
,, osiągamaksimumd|a a11
ra), "wiązt
p,ó ukośnympaoanlu i fa|i rtagranicę ,,stal/powietrze'',obok odbitej wiązki
fa|L zawszeistnieje odbita wiizka fa1T. Dla kątów padania od ok. 3oo do ok. 80U,ciś-
nienie fali ?njest większe od ciinienia padającej fa|i L.Z tego powodu skośnepadanie fali
i n. g."nl.ę ,,stal/powietrze'' jest niekorzystne dla ce1ów badania defektoskopowego.

11.3. Odbicie fal 7 od granicy ,,stal/powietrze"

ptzy badaniach za
odbicie fal 7 od granicy ,,stal/powietrze'' jest wykorzystywarlę
granicę,,stal/powietrze''
pomocą głowic skośnylh.Przy ukośnympadaniuwiązki fal 7na
.7 + L lut typu T-T,za|eŻnie od wartości kątapadania.Ką.
występujeodbicie typu 7
odbitych fa]lL i T przedsta.
tową zależnośćciśnieniowychwspółczy*ito* odbicia dla
wiająwykresy na rys. l l .4.
najpierw maleje (po-
W odbitej wiązce fa| T ze wzrostem kąta padania o77ciśnienie
czynającoa ń717 = l), osiąganajmniejszewartościRryr
=.0:l5 a1r = 60 - 75o,
!|.a
=.l.. Przebiegzmian i wartości
po czym ponownie rośniedo wartościwyjściowejRrli
identybzne jak przebieg zmian i wertości
wspótczynnita odbicia Rrlr * funkcji ą1T są
wspótcrynnika odbicia R7 11 (rys. l l .3).
W odbitej wiązce tal'ii wzrostem kąta padania a7 7 ciśnienienajpierw rośnie.Przy
ganicznymkąciepadaniaąlT=33,20ciśnieniejestpięciokrotniewiększeodciśnienia
= 5). Dla większych kątów padania aniżeli
iv padaiicei wiązce fa: ppriecmych (R,,,

64
 KĄT ODBICIA FALI PoPRECZNEI ttr
10b . 30 3233 332',

q6

Rtlt R 1t

ą4

Qtr
ZU 40@
KĄT pADN,tlA FALI nootużNEJ ai..
Rys. 11.3 Padanie fa| L nagranicę ,,stal/powietze''. Za|eżnośćciśnieniowych iv$ótczynników odbi-
cia fa| podłużnychR1'11i poprzecznych R711odkątapadania.Wmianownikuindeksuwspótczynni.
ka odbiciajest podany rodzaj fali padającej' w liczniku _ odbitej.
71L - kąt odbicia fali Z
71T _ kąt odbicia fali 7 powstałej przez transformację

33,2o, nie ma wogóle odbitej fali Z . Jest to bardzo ważnyfakt dla badań.
Jeżeli podczas badań za pomocą wiązki fal poprzecanych chc€my uniknąć powsta.
wania fal podłużnych przy odbiciu od granicy ,,stal/powietrze'', to należy wiązkę kiero-
wać tak, byjej kąt padania na tę granicę był więksry niż,3320.

|l.4. Współcrynnik odbicia od szczeliny w stali

l|.4.l.Gdy fala ultradźwiękowapada na cienką, ,1ównoległościenną'' warstwę innego

materiału zawartą w materiale rodzimym * np. na cienkie rozwarstwienia lub szczelinę
wypełnioną gazem czy cieczą - to wartośćwspółczynnika odbicia za|eżyńe tylko od
ńżmicy opornościakustycznych materiałów warstwy i ośrodĘ |ecz takile od grubościtej
warstwy i długościfali w materiale warstwy.
Na rys. l l.5 przedstawionoprzebiegzmian współczynnikaodbicia fal ultradźwięko.
wych od cienkiej warstwy powietuza oraz od cienkiej warstwy wody w stali, przy zmia-
nach grubościwarstwy i długościfali. Na osi pionowej odłożonowartościwspółczynni.
ka, zaśna osi poziomej I|oczyn częstotliwościw MHz przez grubośćwarstwy w mm. Jak

65
 oB a
KĄT aoatcA FAL| NOLUZ|E) t'rL

. Za|eż,ność
Rys. 11.4 Padanie fal T na granicę ,,stal/powietrze,, ciśnieniowychwspótczynńków odbi-
cia fal podłużnychR1pi fal poprzecznych R7p od kąta padania

1o0r'-,
8or a li
o 60!
o
o
{
a
a Rys. ll.5 Wartość ciśnieniowego
{ współczynnika odbicia od szczeli.
!
ą ny powietrznej w stall w zależno.
t ści od iloczynu częstotliwości
częstotuwość t eeuaoćć wlalTwY tM,Ęmm| i grubościszczeliny (MHz . mm)

widać z wyklesu, przy częstotliwości l MHz szczelina powietrza o grubościlO-8 mm

ptzepuszclA fale ultradźwiitowe bez strat. Szczelina pońetrzna o grubościl0.7 m odbi.
ja ra" ultradźwiękowe o częstotliwości l MHz już w około 20 v,. Ta sama szczelina
.powietrzna
w stali o grubościok. l05 mm i większych odbijają w 10o % fale ultradźwię.
to* o częstotliwościachstosowanych w defektoskopii ultradźwiękowej (większych od
0,5 MHz). Szcze|iny pęknięć, potąc1zei|wciskowychczy skurczowych są zwykle większe
od l0.5 mm i dlatego są tatwo wykrywalne za pomocą metod ultradźwiękowych'
Zwrocmy z kolei uwagę na przenikalnośćfal ultradźwiękowych przez wczehnę w
grubość
sta|iwypełni.onąwodą. Z wykresu na rys. l1.5 widać, żejeśliwarstwawody ma
mniejszi od l0-3 mm, to współcrynnik odbicia fal o częstotliwości1 MHz ma wartość-

66
blisko 0 %, to znacry, ie przez taką warstwę fale te przechodzą prawie bez strat na odbi-
cie. Współczynnik odbicia fal o częstotliwościl MHż osiągawartość L00%ćtawarstwy
wody o grubości0,l mm i większych.

ll.4.2.Wartość wspótczynnika odbicia dla padającejprostopadle fali ciqgłej(której czą-

(+-#r
stki wykonują drgania ,,sinusoidalne,,')wy|l,czasię ze wzoru

ft= ( lr . l )
+ctszffi-(e-?)'
we wzotze tym 21 - opornośćakustyczna materiału rodzimego, 22 _ opotnośćaku-
styczna materiału warstwy, g - grubośćwarstwy, tr * długośćfali w materiale warstwy.
Wartośćwspółczynnika odbicia fali o danej częstotliwościzmienia się wraz ze zmia-
ną grubościwarstwy. Gdy grubośćwarstwy jest całkowitą wielokrotnościądługościpo-
łówki fąli lj. g = współczynnikodbiciama wartości najmniej-
,! r, = 1,2,3, . . .),to
sze. Ptzez takie warstwy fale przechodząz najmniejszymi stratami na odbicie, współczyn.
nik przenikania ma wartościmaksymalne' Jeśliwarstwa ma grubośćstanowiącąnieparzy.
stą wielokrotnośććwiartki fali tj.s: = (2 n - l) f to współczynnik odbicia dla tych gru.
bo ściprzechodń przez maksimum, a wspó łczynnik przenikania pt zez minimum.
W praktyce badań ultradźwiękowych obserwuje się znaczne odchylenia współczyn.
nika odbicia od wartościobliczonych z powyiLszegowzoru. Wynika to z faktu, żeimpulsy
fal ultradŹwiękowych to fale, w których oprócz drgań o częstotliwościnominalnej (pod.
stawowej) występują również drgania o (harmonicznych).
Ęnych częstotliwościach
Drugą przyczyną obserwowanych odchyłek!oc|wartóściprzewroywanych ptzez ten wzór
są odstępstwa rzeczywislego kształtu ,,warstw'' takich jak pęknięcia i rozwarstwienia -
od kształtu ,,równoległościenn€ g o''.Powierzchnia tych wad nigdy nie jest dcskonale
gładka,a więc i grubośćw obszarzeobjętym wiązkąniejest jednakowa.

l l '5. odbicia fal 7 od narcża

Wady zaczynające się od powierzchni, a w szczególnościpęknięcia wychodzące na

powierzchnię, tworzą z powierzchnią materiatu lnatoile. Interesującedla wy-
krywania tych wad wnioski uzyskuje się na drodze ana|izy biegu wiązki fal ultradźwię-
kowych padającejna narożeprostokątnetypu ,,sta1/powietrze'' (rys.11.ó ).
Wiązka fal 7dochodzącadonatoŻa pada na jego ściany1i2 pod kątamioi 909 -a.
Mązka fal 7 odbitych od ściany/ pod kątem c pada na ścianę2 i odbija się od niej pod
kątem 90o - o, natomiastwiązka fal 7odbitych od ściany2 pada na ścianę1 i odbija
się od niej pod kątem a. Jak widać, wiązka zostaje odbita z powrotem, tak jakby na dro.
dze fa| znajdowała się granica ''stal/powietrze,', zotientowana prostopadle do kierunku
rozchodzeniasię fali.
W wyniku podwójnego odbicia (od ścian1 i 2) wspoŁczynnik odbicia od narożazale-
ży odkąta padania zupełnie inaczej niż na płaskiej granicy ,,stal/powietrze''. Ilustruje
to.rys. l |.7 . Jak widać, zakreskątów padanla,przyktórych współczynnik odbicia utrzy.

67
 Rys. 1l.ó Schemat przebiegu fal w naro.
żu. Wspótczynnik odbicia R jest iloczy.
nem współczynników odbicia R7 w
punkcie I onz R2w Punkcie 2

}ęa0

a
60
o
Y
f 40
a

'o
I
t

Rys. 11.7 Zz|eż.ność współczynnika od.

bicia od naroż.a- od kąta padania fali wspótczvuntx oDB,ctA R [7]

jak
muje się na statym poziomie(|oo 7d wynosiod ok. 32o do ok. 58o.w tym zalaeśe
wierny następujecałkowiteodbicie fa|i poprzecznej.Dla innych kątów występują si|ne
wabaniawspółcrynnikaodbicia.
A zatem, prry urykrywaniuwad powierzchniowychzorientowanychprostopadledo
powi€rzchni za pomocą fal 7, kąt padaniatej wiązki na powi€rzchnię stali powinionĘć
wgrmicach ń32o do 58o.

12. TŁI.JMIEME FAL ULTRADŹWIĘKoWYCH

tf .1. Prrycryly ttumienia fal ultradźwiękowych

Amplituda ciśnieniafali rozchodzącejsię w materialemalejeze wzrostemodległości
od głowiry.kryczynami tegoĘ:
_ straty zutiązanezrczbieżnościąwiązkj,narywane takżestratamigeometrycznymi,
- procesy rozpraszaria,

68
 - procesy nieodwracalnezamieniająceenergiędrgań mechanicznychna ciepło, na.
zwane teżprocesamipochłaniania lub tarciawewnętrznego'
osłabienie fal ryowodowane prooesami rozpraszania i pochłaliania, charaktery.
styczne dla materiatu ptzsz który pnechodzi fala ultradźwiękowa,nazywanejest tłu.
mieniem.

l2.2. Wqpółcrynnikttumi€nia
l2.2.l.Wqpółczynnikiem tłumienia fal uttradzwiękowych nazyva się wartośćzn'niej.
szenia amplifudy ciśnieniafali odrriesionądo dłrrgości
drog w ośrodku,na której to
znnĘszenie zachodzi.Wqpó'łczynniktłumieniaoianr;Lasię|iterąa(atfa)iwyrażawde.
rybetachna metr.

Pnyktad I
Na odcinku długości200 mm stwierdzono spadek amplifudy ciśnieniao ó dB. Współczynnik tłu-
mienia wynosi

ódB
a = = 30dB/m
O,rn

Ptzykład' 2
Wspótczynnik tłumienia fal podłuźnycho c4ęstotliwości2MEzw stali kutej wynosi ok.9 dB/m.
obliczyć' o ile decybeli byłaby większa amplituda ciśnieniaecha dna elementu o długości1800 mm,
gdyby w materialenie było ttumienia.
Rozwią4anie
Fale ultradźwiękowebiegrą do dna i z powlotem, przebywającdrogę 2 x l,8 m = 3,ó m. Staty
amplifudy ciśnieniana tej drodze wynoszą:

dB
3.6m.9 3f dB
m-

A zatemamplitudaciśnienia
echa.dnaw przypadkubraku stratna rozpraszanie
i tłumieniebyłaby
o 32 dB wyż'sza.

lz.z.f.Wartość współczynnika tłumienia - przy danej częstotliwości- za|eżyw duzym

stopniu od składu chemicznego oraz struktury materiału, nadanej przez obróbkę cieplną
czy mechaniczną. Wartośćwspółczynnika tłumienia złtiększa się wraz z częstotliwością,
czy|i ze zmniejszeniemdługościfali4Ilustrujeto przykładowo rys. |2.| i lf .2.
Wartościwspółczynnika tłumienia dla fal podłuznych o częstotliwości2 MHz w nie-
których materiałachpodaje tabela l2.l. Przy tej częstotliwościwspółczynnik tłumie.
nia dla niskostopowych stali w stanie kutym lub walcowanym na ogół nie przekacza
l0 dB/m.

l2.2.3.Za1eżnośćwspółczynnika tłumienia o od średniegorozmiaru D ńanamateriału

polikrystaliczne$o\_ ptzy stałej częstotliwości_ ilustruje rys. l2.3.rNajsilniejszeroą.
praszaniei silna zależnośćwystępująEdy D jest od 3 do 4 razy mniejszeod dtugości

69
 -
fali. Gdy ziarno jest wielokrotnie mniejsze lub większe od długościfalli rozmiar zjnr-
na nie ma silnego wpływu na wartośćwspółczynnika o.

l2.2.4.Współczynnik tłumienia c możnaprzedstawić jako sumę: wspótczynnika pochła-

niania c, i współczynnika rozpraszaniaap

Q=QP+oR (12.1)

Tabela I

Wspótc7ynnik tłumienia o fal podłuźnych o częstotliwości 2 MHz

Maksymalna
o Materiał grubośćmate-
(dB/m) riału możliwa
dla konholi
(m)

do 10 Odlewy aluminiowe i magnezowe.Kute lub walcowane:

(mały) niskostopowa stal, aluminium, magnez,srebro,nikiel, t-10
wolfram, tytan. Szkło' porcelana.

odlewy stopów aluminium i magrrezu. sta]iwo, żeliwo

l0 - 100 sferoidalne. Walcowana mie dź, mosiądż, brąz. Tworzy- 0 , 1- 1
(&edni) wa sztuczne: polistylol, pleksiglas, żywice, polichlorek
winylu.

odlewy z miedzt, rynku, mosiądzu, brąpu. żetwo szare.

ponad 100 Ceramika polowata, minerały. Tworzywa sztuczne (po- do 0,1
(duży) lichlorek winylu), twolzywa z wypełniaczami i żywicą.
guma wulkanizowana, drewno

|f.3. Mechanizm pochłaniania fal

12.3.1. Pochłanianiespowodowanejęst następującymizjawiskami.

l. Częśćenergii fali przechodzi do drgań cieplnych cząptek ośrodka.Powoduje to
wzrost jego temperatury.Strata energii tą drogąjest tym większa,im wyższajest
temperatura ośrodka.
2. Fale ultradzwiękowe wprowadzają w ruch Ęający elektrony i jony dodatnie.
Jest to równoznaczne z powstaniem lokalnych prądów elektrycznych, zamienia.
jących swąenergięw ciepło.
3. Fale ultradzwiękowe wprowadzają w ruch Ęający elementarne dipole magre.
tyczne (w materiałach magreĘcznych).Powoduje to indukowanie lokalnych prą.
dów elektrycznychzarrieniających swą energię w ciepto,
4. Fale ultradźwiękowe powodują drgania dyslokĘi. Ruch dyslokacji napotyka na
opór ze strony sieci krystalicznej. Wartośćtłumienia dyslokacyjnego jest zależ,na
od gęstościi długości fal.
linii dystokacji,temperaturyi częstotliwości

70
 0

d
dBłn

cz'Ęsrot]Ltudb
[t|ą]
Rys. l2.l Częstotliwościowaza|eżność współczynnika tłumienia fal podłużnychw aluminium, mag.
nezie i miedzi. D _ średnirozmiat ziatn

l2.3.2.D|a metali, z dobrym dla praktyki przybliżeniem można przyjąć ze współczynnik

pochłaniania op jest wprost proporcjonalny do częstotliwości fali f, tzn.

%=ct'f (r2.2)

C7 - stałacharakterystycznadla danegomateriatu.

12.4. Mechanizm rozpraszania fal

|2.4.l.Metate techniczne są ciałami polikrystalicznymi, tzn. składają się z drobnych

ziarn krystalicznych. Povczególne ziarna wykazują wtasnościkierunkowe, jednak (prze-
waznie) wskutek przypadkowej orientacji ziatn _ własnościmateriałów polikrystalicz.
nych są od kierunku nieza|eime.Fale ultradŹwiękowe przechodzące ptzezmateriaŁ ota.
kiej budowie ulegają rozproszeniu, zarówno wskutek odbić jak i załamań na granicach
zlan. Udńał w rozpraszaniu mają także drobne wtrącenia, pory, wydzielenia itp. W ma.

7l
 I

:i II

Il
I
I
-tl I

I
i
I

współczynnikatłumieniadla stali w gatunku,,15''

zależność
Rys. 12.2 Częstotliwośćiowa
_
D średnirozmiarn ziaren

rozmiaruziarnaD _ przy statejczęstotli.

współczynnikatłumieniaod średniego
Rys. 12.3 Za|eżnośś
wości

teriałach z silną teksturą rozpraszaniajest również zależneod kierunku wiązki względem

kierunku wyróżnionej orientacji ziarn. Rozpraszanie fal jest główną ptzycTyną osłabie.
nia wiązki fal ultradźwiękowych w materiałachpolikrystalicznych.
Przy rozpraszaniu fal nie występuje zamiana energii fal na ciepło. Ta częśćenergii
wiązki, która uległa rozproszeniu rczchodzi się dalej w materiale, |eczw rożnych kierun.

11
kach i wskutek tego ,pie bierze udziału'' w tworzeniu obserwowanych na ekranie de.
fektoskopu ech dna czy ech wad.

|f .4.f .Wie|kośćrozproszenia fal o danej długościzależy od różnic własnościsąsiednich

ziarn' od rodzaju materiału międrykystalicznego i od rozmiaru samych ziarn. !'ewzto.
stem częstotliwościfal, tj. gdy długośćfali maleje, rozpraszanie silnie rośnie.Gdy ziarna
w badanym materiale są duże, to na ekranie lampy oscyloskopowej można obserwować
charakterystyczneecha ziarn, które interferującze sobą tworzątzw. sz umy st r uk-
*turalne,(rys.l2.a).
Dla uniknięcia zakłócających badanie szumów strukturalnych pochodzących od gra.
nic ziarn, należy stosować odpowiednio długie fa]e ultradźwiękowe. Gdy długośćfal
jest przynajmniej 6 razy większa od średniegorozmiaru ziarn, szumy strukturalne nie
przeszkadzająw badaniach i udział rozpraszania w osłabieniu wiązki jest mały. Należy
to mieć na uwadze prry wyborze gtowic do badania materiałów gruboziarnistych.
Gdy długośćfali jest o ok' 10 razy większa od średnicyziarna(tzw.obszarrozpra-
.
szania Rayleigh a), za|eżLność współczynnika od średniegorozmiaru ziarna D i często-
tliwości/ - w niektórych przypadkach * dobrze oddaje wzór

qR = Cz.faD3
(r2.3)

C2 - stała charakterystyczna d|a danego materiału.

@€ńm
drq w st.oll

Rys. 12.4 Oscylogramy obserwowanena ekranie defektoskopu podczas badania zanurzeniowegoele-

mentu ze stali austenitycznejw gafunku 23CrNiMo747 o średnimrozmiarze ziam 33 lrn - za pomocą
fal poprzecznych o częstotliwościach8 i 18 MHz. oscylogramy przedstawiająobwiednie szumów
strukturahych

73
 Część1||

Śnoort Do REALlzAcJtBADAŃuLTRADŹWIĘKoWYcH

13. BtJDowA DEFEKToSKoPU tJLTRADŹwIĘKowEGo

l3.1. Uwagi ogólne

13.1.l.Ępowy współczesnydefektoskopultradźwiękowy,to d e f e k to skop

im p ul so w y. Jest to urządzenieelektronicznerealizującenastępującefunkcje:
_ imprrlsowepobudzanie przetwornika głowicy do drgań własnych,
_ wizualizacja na ekranie lampy oscyloskopowej czasowych przebiegów drgń prze-
twornika głowicy, występujących zarówno podczas wytwarzania fal ultradźwię.
kowych jak i podczas odbioru ech odbitych od reflektorów (wad, dna itd.),
- pomiar poziomu ech,
_ sygnalizacja ech o amplitudzie przekraczającej zadanąwańość progową.

l3.l.z.Defektoskop impulsowy składa się z szereguzespołów jak m.in.:

- lampa oscyloskopowa,
- nadajnik impulsow,
- generatorpodstawowY czasu,
_ odbiornik impulsów z decybelowym regulatorem wzmocnienia.
Zespoty te, odpowiednio ze sobą połączone,wspótpracują według precyryjnego ryt.
mu czasowego' narzuconego przez tzw. generator synchronizujący. Dzięki temu, na ekra.
nie lampy oscyloskopowej powstaje stabilny oscylogram czasowych przebiegów napięć
występujących na przetworniku głowicy, który stanowi podstawę dla wnioskowania
o obecnościwad w badanym obiekcie oraz o ich lokalizacji i rozmiarzp.

13.13.Wspótczesny defektoskop ultradźwiękowy jest przytządem o bardzo zł'oi:onej

budowie elektronicznej,wykonany całkowiciena elementachpółprzewodnikowych,jesi
nie|iczyć lampy oscyloskopowej, która jest elektronową lampą próżniową. Defektoskopy
do badań ręcznych są lekkie, mogą być zasilane zarówno z sieci jak i akumulatorów lub
baterii. Zewnętrzny ich wygląd ilustrująrys. l3.l i |3.2.
Elementem przyŁączanym ,,z zewlątrz,, _ niemniej elementem bez którego defekto.
skop nie możewogóle spetnić swojej roli - jest głowica.Z defektoskopemmogąwspół.
pracowaćgtowice róimych typów:
- wytw arzającefale podłużne,poptzeczne, powierzchniowe ;
- pojedyncze,podwójne itp.

74
 €ffi
Rys. l3.1 DefektoskopUNIPAN 5l0 produkcji ZD ,,Unipan''.Widok od stronyptyĘ frontowej.Wy-
miary 234 x 156 x (głębokość) 4l7 mm. Masa:ok. 9,6 kg.
pnisv.wzel. p'rzeznaczenieelementów z.najdującychsię na płycie frontowej:
l _ ENERG|A impulsu nadawczego,2 : |aiiiasygrrulizująóazał.ączerue inonitora,3 _ P9Ł6żENIE
- wyłączriik'-onlióiull.,-śżEńóKośc-BĘIl,rxi.ńo'ito'a,
I*AY5I,monitori,4
(9:g!.|qY' ó _ WZMoC-
y.!NJE .
regulatoi wzmocnienia obrotowy)' 7 gniazd,o *yjś"lo;; odbiomika impul-
,^9'*l - .. .-
]{ła!znit zasilania,9.- wskaznik.napię9ia
uy. i| Pi| -- gnlazoo
.v.
wskaznik.napięciazaglaryą, |Ó _- przet{óznrk
zasilania'1_0 przetĄóznLkrodzaju
rodzajupracy
pracy główi
główi-
ń1JJ; ;;J*'.*.l"o"i"ili"Ho."l',óij]ii
we|sc|owenaoa|n|kamDulsow. lf - złslłĄSIĘc (skokowaregu|acja prędkościprzesu-
311$1-'1nqu,tsóry.'*t-z=.ŁA9l-ĘG(skokowaiegu|acjaprĘ:dkościp*rzesu.
wu plamki
plamkina ekranig). -
ekranie),|3 PODĆIĘC]E,.l4
PoDcIĘC]E'-l4 opÓŹNlEt.lIE.(zmiana
oPÓŹNIENI ,no-".ntu śtaitupodstari.ycza-
su).-t5 . PRĘDKoŚĆ-(płynna regulicjaf''.,u*.. ptńkr na ekranie)

13.2. L-ampaoscyloskopowa

Lampa oscyloskopowajest istotnym i charakterystycznympodzespołemdefektosko.

pu ultradźwiękowego'Schematyczny szkic lampy oscyloskopowe1pokazuje rys. l3.3.
Prąd elektryczny przepływającprzez spiralę żarzeniapodgrzewa katodę. Rozgrzana kato-
da emituje elektrony, które są rozpędzane w kierunku eklanu przez anodę, na której pa-
nuje wysoki potencjat dodatni. Układ elektrod ogniskujewiązkę elektronów w jednym
punkcie ekranu. Ekran pokryty jest warstwąluminoforu. Pod wpływem bombardowania
przez elektrony luminofor ekranu świeci- na ekranie powstajeplamka świecąca. Zmie.
niając wartościpotencjałuprzyśpieszającego elektrony może}xyzmierliaćnatężenieświe-
cenia plamki;od maksymalnejjasnościażLdo zupełnegojej wygaszenia.
Strumień elektronów jest ,płówkiem elektonoWYffi'', który z łatwością możnado.
wolnie przesuwaćpo eklanie, przez przyłożenieodpowiedniegonapięcia do płytek od-
chylających. W oscyloskopie są dwie pary takich ptytek:
- płytki X przeznaczone do odchylania strumienia elektronów w kierunku pozio-
mym,
- płytki Y przeznaczone do odchylania strumienia elektronów w kierunku piono.
wvm.

"75
 Eł
Es
Ez
l-lo
Es
E.
l-lr
ol-l l-] u
rE Elt

Rys. l3.2 Defektoskop DI4T produkcji zzc INco. Widok od strony płyty frontowej. Wymiary 275
x l45 x (głębokbść) 410 mm. Masa:ok. 7'0 kg.
opisy wzcl. oltzez;it'aczpnieelementówznajdującychsię napłycie frontowej: . '
_
1.- i'yżńoćŃ]L-Ńr, (Tecvue|owy regulatof wżmocnienia--ptzełączn;ikwciskowy.),2 gniazdo wej-
ścioweodbiomika impulsów, 3 _ wskłźnik napięcia zasilania, 4 _ gn'iazdo.-lvyJsclowe naoaJnlxalm-
;ińa;.'-ói;óŹNidŃ-e (imanamogr.entu stiriu podstawy czasu),6 _ FILTR (4nian.astałejczasu
iltł.ai'' óeteic-vjn.8ój- ż _. pnĘoroŚĆ (ptynna rógulacja'prędkościprzesuwu- n!a1k!-1a,ekranie)'
8.rPóDciifif,, f _'uouróR tregutaci.alołożeń i sierbtbśćbrńki), l0 zAsIĘG (skokowa
regulacjaprędkościprzesuwuplamki na ekranie)

Rys. 13.3 Schematlampyoscyloskopowej

Gdy do płytek X ptwł'oĘmy narastającenapięcie (rys. l3.4), strumieńelektronów

będzie się przesuwał poziomo, z prędkościąokreślonąprzez szybkośćwzrostu napię-
cia. Gdy napięcie przyŁożone do płytek X spadnie nagle do pierwotnej wańości, stru-
mień elektronów natychmiast wróci do położeniapoczątkowego.Jeślido płytek X
przył'ozymy powtarzające się impulsy napięcia o kształcie zęba piły, strumień elektro.
nów będzie w rytm zmianprzyłożonegonapięcia kreśliłpoziomą linię p od stawy
c z a s u' przesuwającsię ruchem jednostajnymod lewej do prawej krawędzi ekranu
i następnie, wracającbłyskawicznym ruchem do położeniawyjściowego
Napięcid a o p ł y t e k X d o s t a r c z ag e n e r a t o r podstawy czasu' CzasT

76
 *e*-l

Rys. l3.4 Pod wpĘwem narastającegonapięcia między

płytkami odchylającymi X, strumień elektronów plzesuwa
się w prawo. Gdy napięcie qpada,strumień elektronów gwat-
townie wraca z powrotem
ąAs

narastania tego napięcia (rys.l3.a) jest regulowany skokowo pokrętłem ZASIĘG oraz
ptynnie pokrętłem PRĘDKOŚĆ. Regrrlacja czasu narastania daje się przeprowadzić w
bardzo szerokich granicach, w przybliżeniu od 3 ps do 3 ms, co dla fali podtużnej w stali
odpowiadaodległości ,głowica-reflektor''od l0 mm do l0 m.
Gdy podczas kreślenialiniii podstawy czasu zostanie przyłoircne napięcie do płytek
I., np. plus na górną płytkę, to plamka odchyli się do góry i na ekranie nakreśliczasowy
przebieg przyłożonego napięcia. Wysokośćodchylenia plamki od linii podstawy czasu
jest proporcjonalna do wańościnapięcia prcył.oircnegodo płytek I. Do pt5rtek I dopro.
w a d z as i ęn a p i ę c i zew y j ś c i ao d b i o r n i k a im pul sów.

l3.3. Generator synchronizująpy. Nadajnik impulsdw

13.3.1 Generator synchronizujący ,'k'oordynuje'' pracę generatorapodstawy czasv otaz

nadajnika impulsów (rys. l3.5). Wytwarza on powtarzające się okresowo krótkie impul.
sy napięcia, które są ptzekarywane do dwóch niezaleiŁnychukładów opóźniających' wy.
twarzającychpo uptywie różnych czasów wtasne imprrlsy, stanowiącebezpośredni,elek.
tryczny ,,roz)Łaz,,startu generatora podstawy czasu oraz startu nadajnika impulsu. Czę.
stotliwośćz jaką wytwarzane Ę impulsy synchronizującenarywa się czę s t o t l i.
wo ści ą po wt arza nia. Wwiększościdefektoskopówdobadańręcznychjest
ona nźuzucona ptzez producenta, bez moź:liwości zmiany przsz uŻytkownika i mieści
się w granicach l00 Hz - 1kHz. Tylko nieliczne defektoskopy posiadają przełącznik't
częstotliwości powtarzania.

7'I
 PRzEŁAczNlK L
ELEKTĘU!ICZNY

Hś
r'
:,

EE]:
.Pl'
Ha\'
N6
Rys. 13.5 Schemat blokowy defektoskopu ultradźwiękowego (bez monltora) i przebiegi elektryczne
na wyjściuposzczególnych zespołów

13.3.2.opóźnieniestartu nadajnikaimpulsów względem impulsu synchronizującego jest

stałę.Z chwilą gdy opóźniony impuls synchronizujący dotrze do nadajnika,:uu1twarua
on krótkotrwały impuls napięcia, który jest doprowadzony do elektrod płytki piezo.
elektrycznej. Płytka pod wpływem tego ,,elektrycznegouderzenia'' wykonuje krótką
serię zanikającychdrgań o częstot|iwości rezonansowej,zależnejm. in. od jej grubości.
a jće s t c z ę s t o t l
C z ę s t o t l i w otś i w o ś ci ą p r a c y głowicy (rys.13.6).
I m p u l sw y t w a r z a n p
y r z e z n a d a j n i k
n a z y w as i ę i m p ul s e m n a d a w cZym.
Za pomocą przełącznka ENERGIA lub SZEROKOŚĆ IMPULSU można w pewnych
granicachregulowaćamplitudę tego impulsu, a tym samym i czasjego trwania.

13.3.3.opóźnienie startu generatorapodstawy czasu względem impulsu syncfuonizują-

cego jest ręgulowanew sposób ciągty za pomocą pokrętła oPoŹNIENIE . Zmieniając
położenietego pokrętła, możnaopożnic lub przyśpieszać moment startupodstawy r:za.
su względem momentu startu nadajnika, a więc względem momentu wzbtrdzęniafali
ultradźwiękowej.Gdy nadajnik i podstawa czasu startująjednocześnie, na ekranieobser.
wuje się impuls nadawczy na początku linii podstawy czasu (rys. l3.7.a). Gdy start pod.
stawy czasu jest opóźniony wzglęclemstartu nadajnikanie występuje impuls nadawczy
(rys. l3.7.b). W przypadku przyśpieszeniastartu podstawy czasu impuls nadawczypoja-

78
 a) b)

I
I
f
T

ll^ , I v I

Rys. 13.6 Kształt impulsu nadawczego

a) na wyjściunadajnikapo odłączeniugłowicy, b) na elektrodach przetwomika głowicy

b)

Ryś. l3.7 llustracjaprzesunięcia

d'
czasowego startu podstawy czasu
względem startu nadajnika
a - start jednoczesny, b - start
podstawy czasu opóźniony o At,
c - start podstawy czasu pr:zy-
śpieszonyo At' lN _ impuls na.
dawczy
l ót -,l

wia się na linii podstawy czasu w pewnejodlegtościna prawo od początku linii podstawy
czasu (rys. |3.7.c). Za pomocą poklętła OPOŹNIENIE można więc w sposób płynny
zmien|ać w szerokich granicach potożenie impulsu nadawczego na linii podstawy czasu,
czyLi wybrać moment rozpoczęcia wizualizacji na ekranie napięć występujących na prze-
tworniku.

79
13.4. Odbiornik. Decybelowy regulator wzmocnienia

13.4.l.Wędrujący w materialeimpuls ultrailźwiękowypo odbiciu od dna lub wady wraca

do głowicy i powoduje powstanie impulsu napięcia między elektrodami przetwornika.
Impuls ten,po wzmocnieniu w odbiornikuprzechodzi przezukŁad prostowania(detekcji),
w którym jest przetwar zany z przemiennegona jednokierunkowy i je{nocześnie,,wygła-
-
dzany,,, Stopień ,,wygładzania'' odbieranego impulsu - echa dna lub wady możnare.
grrlować przez znianę stałej czasu w układzie prostowania;do tego celu służyodpowie-
dni przeł'ącznik,często oznaczany napisem FILTR (rys'l3.8). Prostowanie stoĘe się dla
poprawienia przejrzystościobrazu na ekranie lampy oscyloskopowej. Czasem jednak inte-
resujenas impuls,,niewygładzony''.

a) b)

Rys. 13.8 Typowy oscylogram na ekranie defektoskopu

a _ ,,niewygładzony'' (filtr wyłączony)
b - ,,wygładzony'' (filtr załączony)

|3.4.2.Wzmocnienie wzmacniaczajest regulowanew szerokichgranicachza pomocą tzw,

d e cy b e l o w e g o regulatora wZmocnienia. Jesttodzielniknapięcia
(rys. l3.9.a), przeŁączanyza pomocą jednego lub dwu przełącznlkówobrotowych (rys.
l3.9.b) lub zespotu przeŁącznlkowwciskowych (rys. l3.9.c). Decybelowy regulator
wzmocnienia jest oznaczony napisem WZMOCNIENIE, a położeniepokręteł lub po.
szczególne przyciski są oznaczone liczbami, informującymi o ile decybeli wzmocnienie
wzmacniaczajest większe od wartościnajmniejszej- progowej- która występuje,gdy
regulator jest w położeniu0 dB' Wartośćwzmocnienia progowego nie jest podawana
przez producentów i dla celów badania defektoskopowegoznajomośćtej wartościnie
jest potrzebna. Det.ektoskopyróżnych firm różniąsię wartościąwzmocnieniaprogowego'
a takżlepomiędzy poszczególnymi egzemplarzamitego samegotypu mogą występować
różnicewartościwzmocnieniaprogowego.
Za pomocą regulatora można zmieniać wzmocnienie o określonąliczbę decybeli.
Przęważniezmiany wzmocnienia są realizowane skokowó, co 1 dB (|,22 razy)|ub co
2 dB (l ,259 razy), w granicach0 - 80 dB, a w niektórych typach defektoskopóww gra.
nicach 0 - 100 dB lub nawet 0 - 120 dB.

|3.4.3.Decybelowy regulator wzmocnienia służy do ,,powiększania''wysokościimpul.

sów rysowanych na ekranie lampy oscyloskopowej gdy są one zbyt niskie, lub ,,zmniej-
(impulsy
szania,',gdy są zbyt wysokie, m.in. gdy wylłaczĄąpozagórnąkrawędź ekranu
wzmocnienia n-razy powinna n-krotnie zmienić
,przesteńwane''). Teoretycznie, znlana

80
 c)
m-t E9
a-t i-rg
lDl-r -r?
a-t trf c
b) 30 l-r r-l 6
n-1 r-r {
10 -t l-r 3
oEl Ef 2
P l-l l---1 .t

Rys. 13.9 Decybelowy regulatorwzmocnienia

a _ schemat ogólny' b. -_ry3:ł!??:n! stosowany w defektoskopie UNIPAN 510, c - przełączniksto.
sowanyw defektoskopieDI4T INCO

skalę odwzorowania wysokościimpulsów na eklanie. W praktyce występują jednak

mniejszelub większe odstępstwaod tej wartości,wskutek tego,żecharakterystykatoru
Ł nie jest liniowa.
T o r e m Y nazywamy wszystkie zespoty defektoskopu pośrednicząceprTy prz*.
noszeniu' wzmacnianiu i zobrazowaniu napięcia występującegona elektrodach przetwor-
nika głowicy ultradźwiękowej. Charakterystyką toru IZ naTywamy zależ:ność porniędry
amplitudą napięcia a doprowadzonego do wejściaodbiornika a wielkościąodchylenia y
plamki świetlnejna ekranie. Charakterystyka toru I, jest liniowa, jeili za|eżność
y od rr
ma postać

y : u Xstaty współczynnik

WyobraŹmy sobie (rys. l3.l0), żeamplitudanapięciana wejściuwzmacniaczawyno-

si 2 mV, a wzmocnienie wzmacniaczaW zostałotak dobrane,by amplitudaoscylogramu
na ekranie wynosiła 2 działki. Jeżeli amplituda napięcia na wejściuwzmacniacza dwu.
kotnie wzrośnie(do 4 mV) bądź zma|eje(do l m!), to oscylogram na ekranie zmieni
się następująco:
a) jeże|icharakterystyka toru Ł jest liniowa ,tzn. jeiLe|icharakterystykę reprezentuje
linia prosta przechodzącaprzez punkty 0 i P (2 dz,2 mY),to amplitudaimprrlsu
też,zmieni się dwukrotnie,tj.bądź wzrośniedo wartości4 dz,bądź spadniedo
wartości1 dz:
b) jeżeli charakterystyka toru Y nie jest liniowa, to amplituda impulsu bądź nie
wzrośniedo wartości4 dz,bądźnie spadniedo wartościl dz.
Widzimy zatem, że nieliniowośćcharakterystyki toru I,powoduje, żezmiany ampli.
tudy impulsów obserwowanych na ekranie, przy jednym i tym samym ustawieniu decy.
belowego regulatora wzmocnienia, nie są rzetelnym odwzorowaniem zmian napięcia wy-
stępującegona wejściuodbiornika. Z tego powodu, pomiary poziomu imprrlsów (o crym

8l
 A]APAKTNYSftKA

czaa

impulsu
wysokości
Rys. 13.10 Ilustracjawptywu nielińowościcharakterystykitoru Y na zmiany
na ekranie

mowa dalej) nie polegająna porównywaniu amplltud impulsów obserwowanych na ekra-

nie, lecz na porównaniu potożeń decybelowegoregulatorawzmocni€ n ia, przy których
szczyty porównyvanych ze sobą impulsów dochodzą do jednakowej wysokości.Po.
wszechnie przejmuje się, że wysokośćta powinna wynosić 40 % pełnejwysokościekra.
nu (0.41l).

wztcfl,EtllA
Rys. 13.11 Umownawysokość się wzmocnienieodbiorruka
impulsuna ekranieprzy której określa
defektoskopu
t3.4.4.Z wzmacniaczem współpracu1ezazwyczaj specjalny uktad regulowany przez po.
krętło z napisem PoDcIĘcIE. Przez obrót tego pokrętła obraz na ekranie możebyć
przesunięty ,;w dół'', jak to przedstawionona rys. |3.|2.Dzięt't temu, z pola widzenia
-
można usunąć szumy - impulsy zaktócające zwane popularnie ,Jrawą'' pozostawiając
na ekranie jedynie ich szczyty wystająceponad ,,trawę''.

82
 a) b) \
I +

I I

llr ll.

Rys. 13.12 Wpływ regulatora PoDCIĘCIE

na obraz na ekranie
a _ oscylogram bez ,,podcięcia'',
b, c _ oscylogram z,'podcięciem''

13.5. Mechanizm powstawaruaoscylogramu

l3.5.l. w wyniku równoczesnegoodchylaniastrumieniaelektronów przez napięciegenero.

tora podstawy czasu doprowadzonedo płytekXorazprzez napięciewyjścioweodbiorni-
ka impulsów d'oprowadzonedo płytek Y - na ekraniepojawia się oscylogram'który jest
wizua|izacjączasowychprzebiegów napięcia na przetworniku głowicy.Napięcie to ma po-
stać krótkotrwałych impulsów, występujących podczas wytwarzania i odbioru fali ultra.
dźwiękowejodbitej od takich czy innych reflektorów w badanym materiale.Położenie
tych impulsów na osi poziomej, względem imprrlsunadawczego,jest miarą odległości re-
flektorów od głowicy,a amplitudaimpulsów jest pewnąmiarąwielkościtych reflektorów.

l3.5.2.Zrozumienie zasad powstawania oscylogramu na ekranie defektoskopu ułatwia

jego interpretację. oto kilka podstawowych informacji z tego zakresu.
|. obraz oglądanyna ekranieprzedstawiaprzebiegiczasowenapięcia,jakie zachodzą
w przedziale czasu t1 - t2, Iiczonego od chwili startu nadajnika (czas t1 może
być ujemny). Dla wyboru wartościt1i t2 słuĄ polaętła ZASIĘG, PRĘDKOŚĆ
i OPOŹNIENIE - o czym już,byłamowa.
2. obraz oglądanyna ekraniejest kreślonyprzez okres czasu t1 - t2, któryjest bar-
dzo krótki. To, że obrazjest jasny, wynika z faktu, żejest on kreślonywielokrot-
nie w ciągu sekundy, mianowicie z częstotliwością powtarzania.Im większa jest
częstotliwość powtarzania,tym jaśniejszy jest obraz.
3. Fale ultradźwiękowe wytworzone w chwili pracy nadajnika impulsów - rozcho-

83
 dzą się w badanymobiekcie'w sposóbzupełnienieza|eż,ny od pracydefektosko-
pu. Częstotliwość powtarzaniajest tak dobrana,że w większościprzypadków
wzbudzone drgania ,,zd&aJą,,całkowiciezarriknąćzanim pojawi się kolejny im-
puls nadawcz1tJeśliczaszaniku drg.ańw badanymobiekciejest dŁuższyod okre.
iu powtarzaniaTp, wówczasna ekraniepojawiąsię nie tylko przebie$ jakie za.
cnoaząw czasiei _ tz lecz rówrtteż: przebiegijakie ,jeszcze,,zaehodząwczasie
(u + T) _ (tz + Tp), co prowadzido zakłóceniaoscylogramu.Ilustrujeto rys.
ii.ts.it"s, powodu,częstotliwość powtarzanianie możebyć zbyt wysoka.Dla
uniknięciai dla rozpoznaniatakich ,,spóźnionych''ech pochodzącychzpoptzed-
niegocyklu pracynadajnika,niektóredefektoskopysązaopatrzonew przełącznik
częitotliwościpowtarzania,bowiem przy zmianieczęstotliwości powtarzaniata.
kie echazmieniająpołożenie na etranie.

F-rp -l-r, -t
+ ----+

r---- J t,t_- -l +cza6

I
I ll

7p nie zanikną kolejne

Rys. 13.13 Skutki zbyt krótkiego okresu powtarzania Tp' Ieżpli w okresie
za echa wady
dn", to echa odebranew czasie t .>Tp mogąbyć mylnle uwaźane
""h"
przedstawiający poło.
13.5.3. Interpretację ech na ekranie ułatwia wykres ,,droga-czas''
prosto-
zenie impulsu fal w badanymelemenciew funkcji czasu(rys. 13, 14).Jednaz osi
.uttuo.,
kątnego współrzędnych(w którym rysujesię wykres)jest zorientowanarówno.
połoźenieimpul.
legle óo kierunku rózchobzeniasię fal w elemencie;na tę ośrzutujesię
osi'
drugiej
su fal oraz położeniareflektorów(powierzchnibadania,dna' wady).Wzdtuż
prostopadłej
^ do pierwszej,odmierzasię czas.
N; rys. 13, i4" p,".J,t"*iono ciągech dna(ED} pojawiających się w przypadkugdy
w elemencie nie ma wad.Echa te pojawĘąsię po upĘwie 20,40,60 . . . milaosekund
od momentuwystąpienia impulsunaoawczego (IN).Gdyby,przyktadowozakresobser.
wacji defektoskopurozciągafsę oa 10 tr'rs,na ekraniewidzielibyśmyobrazobjętyramĘ
wyrysowanąlinią przerywaną.

84
 Na rys. |3, |4b przedstawiono ciąg ech dna(ED) oraz ciąech wady (EW)
znajdu!ą.
od połowy odległościdna. Wskutek wielokrotnego o-oui1.-
*Tit!$ę :,"d|'.głości.mniejszej
nra ta| od wady i powierzchni badania, pojawiają się wielokrotne
echa wady. Jeślitiu-
mienie materiału jest małe, echa wielokrotne pochodzące od impulsu
fal przeiiegającego
przez e|ement po raz pierwszy będą występowały równi
eż'zi pierwszym echerp dna,
obok ech wielokrotnych pochodzących od impulsu przebiegającego
po raz drugi przez
element. Wskutek tego oscylogram pomiędzy i i z a'i Ęó"i" ,,, ało przejtzysty,
Jest to jeden z powodów, d|aczngozakres obserwacji "che-
na ogół nie wy|łaczapoza pierw.
sze echo dna. Gdyby zakres obserwacji wyregulowal od
0 ń ao zz1rs, na ekranie widzie.
libyśmyobraz objęty ramką wyrysowaną linią przerywaną.
Na rys. |3, 14c przedstawiono echo wady i echo dna w prrypadku
głowiry podwój-
nej z nakładkami z pleksiglasu, odebrane przsz przetwornik
odbiorczy. Ectn grarucy
''pleksiglas.stal'' nie wycho dząpoza nakładkę przetwornika nadawczego.
Jedynie w prTy.
padku występowania tzw. przesłuchu' pojawi się w 32
mikrosekundzie impuls przesłu.
chu (IP). Jeżeli'zakres obserwacji zostanie wyregulowany
od 32 Ms do 50 ps, na ekranie
otrzymamy obraz objęty ramką wyrysowaną linią przerywaną.

t,,, ED

GŁoWlcA
NORMALNA

a)

EL.AD.

bl

85
GŁowlcA
PODWOJNA

c)

Rys. 13.14 Konstrukcja odbrelanycn p|zez

ciągu impulsów odbieranych pfletwornik
ptaezptzeIwornlK Bluwruy za pomocą wykresu
głowicy

,droga-czas"
(słowica normalna), c) echo wady i dna (gtowi.
a - echa dna (głowrca normalna), b) echa dna i w.adv
i. p"J*?i'ii, ilłóui"a óoui.r aneprzezprzetwomik odbiorczy). wynosi6000 m/s
WykresyĘ spolządzone p;,;;,;i:;:"r;;';ili.;#}ł-_il uuauny. elemencie

13.6- Monitor

l3.ó.1.Więkvośćdefektoskopówposiadazespótsygnalizującyobecnośćęchawwybra-
jest monitorem lub sygnalizato-
nym odcinku zaklesu ouserwaqi. ŻespóŁ ten nazy\,Vany
z.j.śti na odcinku podstawy czasuwybranym b r a m .
rem wad. DziaŁaon w ten ,po,jb ,
p o j a w i s i ęe c h o b a m p l i t u d z i ep r z n b a c z a j ą c epj r ó g czuł o ści
k ą monitora
i akustyczny.
m o n i t o r a (rys. l3.l5), uruchamianyjest sygnałświetlny

Rys. 13.l5 Ilustracjadziałaniamonitora.

czułości,Echo.2 nie
Monitor sygrralŁujeobecnośće.chai które mieścisię Y b-.u*ę iprzekaczapróg
iest svsnalrzow"n" pon,.*"ź.ń ć-pńku,,^ pro.gucżutości; echal i 4 nie są sygrralizowane'ponlewaz
i3.*ii&ll#iiił. dg;ilil;;;it'"i ,vńłi''jó r;ktwejścia w obszarzakreskowany
impulsu

86
 Do regulacji monitora służąpokrętła, za pomocą których moźna ustalić położenie
początku i końca bramki. Bramka jest raznacznna na ekranie za pomocą znacznika. Nie.
które defektoskopy posiadają regulatory progu czułościmonitora, w niel(órych próg
czułościjest staĘ. Monitor ułatwia prowadzenie badania, w którym bierze się pod uwa-
gę wady, których echa ptze|.'raczająpewnąokreślonąwielkość.

l 3 . 6 2 . M o n i t o rm
y o g ąm i e ć w y I s c r a l o g i c z n e i a n a l o g o w e . Nalogicz.
nym wyjściumonitora pojawia się napięcie o statej wartości(rys. l3.ló. w momencie
),

Rys. 13.ló Napięciana wyjściu

monitora
logicznym(LOG) i analogowym (,4N).
gdy w bramce monitora pojawia się echo o amplitudzie przekraczającejpróg czułości;
gdy echo maleje ponizej progu czułościmonitora, napięcie na wyjściumonitora zanika.
Na analogowym wyjściumonitQra pojawia się napięcie o wartościproporcjonalnej do
amplitudy najwyższegoimpulsu w bramce.

* |3.7. Rozwiązania qpecja|ne

Omówione wyżej zespoły defektoskopu spotykane są w typowych współczesnych

.
defektoskopach do badań ręcznych, których użycie zakłada-subiektywną otserwac3ę
oscylogamów pojawiających się na ekranie. Do badań automatycznych uzywane są ae.
fektoskopy rozwiązane w sposób bardziej przemyślnyi skomplikowany;defettostopy te
są na ogół znacznie większe i cięższe.Nie wchodząc w ich opis, wymienimy kilka cha-
rakterystycznych rozwiązań jakie w nich (ak również w nietypowych defektoskopach
przenośnych)moźnaspotkać.

87
 1. Wyzwalanie podstawy czasu nie od impulsu nadawczego, lecz od pierwszegoode-
branego impulsu (echa); taki sposób wyzwalania jest potrzebny m. in' przy bada-
niach zanurzeniowych, gdzie wygodnie jest gdy podstawę czasu wyzwala echo od
powierzchni obiektu zanurzonegow wodzie'
-
2. Wejściedla zewnętrznych impulsów synchronizujących konieczne przy równo.
legiej pracy defektoskopów oraz gdy częstotliwośćpowtarzania powinnaza|eżeć
od przesuwu badanegoobiektu.
3. Logarytmiczna charakterystyka toru Y, przy której odchylenie p|amki świetlnej
w kierunku osi I/ jest proporcjonalne nie do amplitudy napięcia przetwornika,
lecz do jego poziomu w decybelach; umozliwia ona jednoczesną obserwację za.
równo bardzo małych jak i bardzo dużych ech.
4. Zasięgowa regulacja wzmocnienia _ tj. uzależnieniewzmocnienia od wielkościna.
pięcia podstawy czasu' w taki sposób, by amplitudy ech zobrazowanych na ekra-
od odległościreflektorów a tylko od ich wielkości.
nie nie za|eż,ały
5. Elektroniczne, kolejrie wtączanie kilku głowic do jednego defektoskopu (przeŁą-
czarie z częstotliwością równą częstotliwościpowtarzania), umożliwiającezwięk.
szenie obszaru badania.
6. Monitory o dwóch lub więcej bramkach, oraz (lub) o dwóch lub więcej progach
czułości,reagujące bądź na przekroczenie przez echo progu czułości(sygnaliza.
cja pojawienia się echa wady), bądźna spadek echa poniżej progu czułości(sy-
gnalizacjazaniku echa dna).
7. Eliminacja wptywu zakłóceń elektrycznych w otoczeniu na pracę monitora (co
ma zavidnicze zrlaczeniew badaniach automatycznych)'

* 13.8. Sposoby zobrazowania wad

13.8.l. Sposób zobrazowania omówiony w poprzednich ustępach niniejszego rozdziałv,

-
. ' u ' y ' u ' i ę z o b r a z o w a n i e m t y p u , 4 , a u z y s k a n y o b r a z neak r a n i e o b r a .
zem o s c ylo sko powym ty pu A.Jeston stosowanypowszechniewewszy-
stkich współczesnych defektoskopach ultradźwiękowych.
obraz oscyloskopowy typuA uzyskuje się przez:
* doprowadzenie do ptytek X podstawy czasu
- doprowadzenie do płytek Y napięcn proporcjonalnego do amplitudy impulsu
odebranego ptzez głowicę.
Jak już wiemy, na obraz oscyloskopowy typu A składająsię impulsy o różnej wyso.
jest
kości, wznoszące się ponad poziomą linią podstawy czasu. Amplituda impulsów
pewną miarą wielkości reflektorów (wad) leżących na drodze wiązki fal rrltradźwięko.
reflek.
wycrr. oategłośćimpulsów od impulsu początkowego jest miarą oddalenia tych
torów od głowicy.
oprócz zobrazowania typu A w nietypowych urządzeniach do badań ultradźwię-
kowych można się spotkać z zobrazowaniemtypu B i C.

13.8.2.obraz oscyloslropowy typuB uzyskuje się przez..

- doprowadzenie do płyt€k X napięcia podstavy czasu'
głowicy od
- doprowadzeniado płytek )/ napięciaproporcjonalnegodo odległości

88
 określonegopunktu na linii przesuwu głowicy po powierzchni badanegoobiektu,
- rozświetlanieplamki tylko w momentach odbioru impulsów przezgłowicę.
Powstaty obraz ilustrujerys. 13.17orazrys. l3.l9.b.Jest toobrazprzekrojupoprzecz-
te1o przez badany obiekt wzdłużlinii przesuwu głowicy. Aby obraz taki w rzeczywistości
otrzymać, naLeżaŁoby stosowaćlampę oscyloskopową z ekranem b tzw. długiej poświacie,
albo fotografować ekran |ampy za pomocą aparatu fotograficznego z otwartą migawką.

bl
I
I
t
Y +
I I I

t I
- KI r

^ tt-l
Il./
It
I .,,
c)

Rys. 13.17 Schemat powstawania obrazu oscyloskopowego typu B.

l) Po powierzchni przedmiotu o grubościg, wzdłuż.linii badania przesuwa się głowioa ultradźwię.
kowa. W położeniach a, b, c wiązka ultradźwiękowa po kolei natra|ra na dno' wadę A i wadę .R.
2) Przesuw plamki świetlnejna ekranie w kierunku pionowym odwzorowuje położenie głowicy na
linii przesuwu. Przesuw plamki w kierunku poziomym odbywa się w takt podstawy czasu jak w
zu,ykłym defektoskopie). Plamka jest ,,wygawona'' i rozświetla się tylko w chwi|i odbioru ccha
dna lub wady, tj. w położeniach a, b, c (wówczas na ekranie widać punkĘ 1,2, 3 ).
3) obraz powstaty w wyniku przesunięcia gtowicy wzdłuźl.liniibadania. Jest to obraz przekroju ba.
danego elementu wzdłuż linii badania (prostopadłego do powierzchni badania) '

13.8.3.obraz oscyloskopowy typu C uzyskuje się przez..

- doprowadzeniedo płytek X napięcia proporcjonalnegodo przesuwugłowicy po
powielzchni badanegoobiektu w określonymkierunku'
- doprowadzeniedo płytek )Z napięcia proporcjonalnegodo przesuwugłowicy po
powierzchni badanego obiektu w kierunku prostopadłym do poprzedniego.
- Iozświetlanieplamki tylko w momentach odbioru impulsów przez głowicę.
otrzymany obraz ilustrujerys. l3.l8 olaz rys. 13.l9.c. Jest to rzut wad wewllęl:z-
nych na powierzchnię badania,podobnie jak na zdjęciach otrzymywanych metod4rent.
genowską.Zobrazowanietypu C nie dostarczainformacji o odległości wad od powierzch.
ni badania. Podobnie iak w przypadku obrazu typu B' dla otrzymania obrazu należało-
by stosowaćlampę oscyloskopowąo długiejpoświacie,albo fotografowaćekran za po.
mocą aparatufotograficznegoz otwartąmigawką.

Bt)
 oBRĄz WADY

Rys. 13.8 Schemat powstawaniaobrazu

oscyloskopowegotypu C

Rys. 13.19 Porównanie zobtuo-

wań typu A, B, C jednej i tej sa.
mej wady.
Obraz typu ,4 uzyskany w po'
łożeniugtowicy nad wadą. obraz
typu B powstał przy przesuwie
głowicy wzdłuż,osi X. obraz ty.
pu C powstał pny pnesuwaniu
głowicy po całej powierzchni ba-
danegoprzedmiotu

90
 t4. oGÓLNE ZASADY PoSŁUGMANIA sIĘDEFEKToSKoPEM
ULTRADŹWIĘKowYM

14.1. Zasilanie

14.l.1 .Defektoskop ultradźwiękowyjest przyrządemelektronicznym,wymagającymza-

silania energią elektryczną. Niektóre typy defektoskopów, przede wszystkim defekto.
skopy przemysłowe (stacjonarne)mogą być zasilane tylko z sieci. Defektoskopy przenoś.
ne z reguły mogą być zasilane bądźz sieci' bądź zbateńi akumulatorów.
Defektoskop osiąga gotowośćw pełni stabilnej pracy po upływie określonegocza.
su od chwi]i zaŁączeniazasilania, który jest podany w jego instrukcji fabrycznej. W tym
czasie elementy Ńładu elektronicznego osiągają temperaturę ,'pracy'' pod wpływem
ciepła wydzielonego przez vkład elektroniczny. W czasie nagrzewania parametry ele.
mentów elektronicznychzmieniająsię i występuje tzw. p ł y n i ę c i e w to rze
XiwtorzeY.
Płynięcie w torze X objawia się przesuwanięm ech na ekranie w kierunku pozio-
mym; jest ono szczególnie łatwe do zaobserwowania,gdy zakres obserwacjijest wąski,
np.ZO = (0 - l0) mm lub ZO = (100 - 110)mm.
Płynięcie w torze Y objawia się zmianą wysokościimpulsów na ekranie.Podczas
obserwacji tego zjawiska położeniegłowicy na próbce jak i warunki sprzężeniaaku.
stycznego powinny być stale takie same.
Zjawisko ,,płynięcia'' zanika w pełni dopiero po upływie stosunkowo długiego
czasu ,,gIzania''. W praktyce, czas jaki na1eżry
odczekać po załączeniv zasilania do roz.
poczęcia badań może być znacznie krótszy. Pamiętając jednak o skutkach tego zjawi-
ska, należy w początkowĄ fazie pracy defektoskopu często i w miarę potrzeby spraw-
dzać i korygowaćzarówno zakresy obserwacjijak i wzmocnienie.
|4.|,2. WskazaniadefektoskopuultradźwiękowegoĘ w pewnym stopniu uzależnioneod
napięcia zasilania.Dla zmniejszeniawpływu zmian tego napięciadefektoskopy sązaopa-
trzonew układy stabilizujące.

|4.2. Przyłączalltegłowic

l4.2'|. Defektoskopy posiadająz regułydwa gniazdad|a przy1tączenia głowic:

- gniazdoODBIORNIK (,,O"),
- gniazdoNADAJNIK (,N"),
oraz ptzełącznik RODZAJ PRACY.
Głowice o jednym przetworniku są przyŁączanejednym kablem do gniazda ,'o''.
Przełącznik RODZAJ PRACY jest wówczas w położeniu przewidzianym dla tego typ
głowic, dzięki czemu' przetwornik głowicy jest przełączanyelektroniczniena przemian
na wyjścienadajnikai wejście powtarzania.
odbiornika,z częstotliwością
Głowice o dwóch przetwornikach, tj. głowice podwójne sąprzeŁączaneza pomocą
2 kabli do gniazd ,,N'' i ,,o''. PrzełącznlkRODZAJ PRACY znajdujesię wówczas w po-
łożeniu przewidzianym dla głowic podwójnych, w wyniku czego jeden z przetworników
. gtowicy zostajepołączonyz wyjściemnadajnikaa drugi z wejściem odbiornika.

9l
14.2.2.Dta azyłkaaa prawidłołłąpłacygłołilcy (odpońeódo n7nbĘ czułośc), loz.
itp) jest konieczne,by była ona odpowiedniodopasowanaelektryczniedo
dzielczości
(e(sktoskoju. ((e(eKtotkog
g(yg(ow(ct
\$rnógteaits(s!ętruatY odte6osa-
gattrodzł
nrodlleen13 t - I . '. : 7 . ' ' ' - . , l l .ll-.
t,l1€9o
.'r-- rr.1,, r f . ; 1 , . 1, I )l-1rll1--!'' ' .1

Z tego względu, nie należystosowacgtowtc t delektoskopu pochodzqcychor roz.

nych producentów,jeślimożliwość ich współpracy nie zostałasprawdzona.

Nie naleĘ stosować do defektoslropu głowic produkowanych przez innego produ-

centa, jeżeli moż|iwośćich stosowania nie została uprzednio sprawdzona.

l 4.2.3. Eleme ntem ł ączącym głowicę z defektoskopem jest kabel koncentryczny, j edno.
lub kilkuzyłowy.PrzyŁączenie kabla do głowicy możebyć następujące:
a) rierozł'ączne,
b) rozł ączne,zabezpieczonenakrętką,
c) rozłączne zabezpieczone ,'zamkiem'' (celem rczłączenia należy wtyk wcisnąć
i obrócić)"
Ptzyłączenie kabla do defektoskopu jest zawsze rozłączne z tym, że może być:
d) zabezpieczsne nakrętką,
e) zabezpieczone zamkiem.
Ptryłączenta typu a, b; d gwarantują dobry i stabilny kontakt' Przyłączenia typu
c, e dośćpowszechnie spotykane, odznaczają się znacznie mniejszą niezawodnością.Zły
kontakt w złączu objawia się przypadkowymi zmianami amplitudy zobrazowanych
impulsów.
Jakośćkontaktu można sprawdzić przez oberwację ekranu podczas poruszania ka.
b|a w oko|icy zt.ryza. Prry dobrym kontakcie oscylogram na ekranie nie powinien ulegać
żladnejanianie.

|4,f.4.Kabe| łączącygłowicę z defektoskopem odznacza się stosunkowo dużąpojemno.

ściąelektryczną i, tym samym' stanowi dla nadajnika i odbiornika defektoskopu nieko.
rrystne obciąŻeniepojemnościowe(działa jak kondensator elektryczny). Z tego powodu,
producenci defektoskopów i głowic dostarczają również kable, odpowiednio dostosowa.
ne do defektoskopów.
Z uvgi na to, nie należy do łączenia głowic z defektod<opem stosować włamych
kab|i' jeśliich plzydatrość do tego celu nie została uprzednio sprawdzona.
Szczególną ostrożnośćna|eżyzachować prry stosowaniu kabli długich. Im dłuzszy
kabel, tym większa pojemnośćzostaje załączona do nadajnika, tym większe są straty
energii w kablu. Należy się wówczas |icryć z potlzebą wprowadzenia dodatkowego
układu korygującegodopasowaniegtowicy do defektoskopu.

|4.3. Polcrętła ENERGIA i FoDcIĘcIE

14.3.r.Poklętło ENERGIA opisywane także sZERoKoŚĆ IMPULSU lub IMPULS -

słuzy do zrliany amplitudy i czasu trwania impulsu nadawczego. Im większa amplituda
i dłuzszy czas trwania tego impulsu, tym większa jest energia fali wysyłanej z głowicy.
Położenie pokrętta ENERGIA jest ważnym parametrem pracy defektoskopu i

9f
14.2,2.D|a uzyskania prawidłowej prary głowicy (odpowiednio wysokiej czułości,roz-
dzielczościitp) jest konieczne, by była ona odpowiednio dopasowana elektrycznie do
defektoskopu.Wymóg ten jest spełnionygdy głowicei defektoskoppochodząod tego sa-
mego producenta. W przypadku gdy tak nie jest' co zdarua się w praktyce, własności
układu ,,defekstoskopgłowica'' mogą być gorsze lub znacznie gorsze od spodziewanych.
Z tego względu, nie należystosowaćgłowic i defektoskopupochodzącychod róż.
nych producentów,jeślimożliwość ich współpracy nie zostałasprawdzona.

Nie naleĘ stosowtić do defektoskopu głowic produkowanych pruez inrrego produ.

enta, jeze|i możliwośćich stosowania nie została uprzednio qprawdzona.

14.2.3.Elementem łączącymgłowicę z defektoskopem jest kabel koncentryczny, jedno.

lub kilkuzyłowy.Prryłączenie kabla do głowicy możebyć następujące:
a) nierozłączne'
b) tozł'ączne,zabezpieczonenakrętką,
c) rozł.ączne zabezpieczsne ,pamkiem'' (celem rozŁączenia należy wtyk wcisnąć
i obrócić).
Przyłączenie kabla do defektoskopu jest zawsze rozł'ącznez tym, że może być:
d) zabezpieczone nakrętką,
e) zab ezpieczone zamkiem.
Ptzyłączerlta typu a, b; d gwarantują dobry i stabilny kontakt. Przyłączenia typu
c, e dośćpowszechnie spotykane, odznaczają się znacznie mniejszą niezawodnością.Zły
kontakt w zŁączv objawia się przypadkowymi zmianami amplitudy zobrazowanych
impulsów.
Jakośćkontaktu możxraqprawdzić przez obserwację ekranu podczas poruszania ka-
b|a w oko|iry złryza. Przy dobrym kontakcie oscylogram na ekranie nie powinien ulegać
żadnej znrianie.

|4.2.4.Kabe| łączący głowicę z defektoskopem odznacza się stosunkowo dużąpojemno-

ściąelektryczną i, tym samym' stanowi dla nadajnika i odbiornika defektoskopu nieko.
rrystne obciążeniepojemnościowe(działa jak kondensator elektryczny). Z tego powodu,
producenci defektoskopów i głowic dostarczają również kable, odpowiednio dostosowa.
ne do defektoskopów.
Z uwagi na to, nie naleĘ do łączenia głowic z defektod<opem stosować włamych
kabli' jeśliich ptzydatnośćdo tego celu nie została uprzednio sprawdzona.
Szczególną ostrożnośćna|eżyzachować przy stosowaniu kabli długich. Im dłuzszy
kabel' tym większa pojemnośćzostaje załączona do nadajnika, tym większe są straty
energii w kablu. Należy się wówczas |icryć z potrzebą wprowadzenia dodatkowego
układu korygującegodopasowaniegłowicy do defektoskopu.

|4.3. Pokrętła ENERGIA i PoDcIĘcIE

14.3.r.Pokrętło EMRGIA opisywane także SZERoKoŚĆ IMPULSU lub IMPULS _

słuzy do zmiany amplitudy i czasu trwania impulsu nadawczego. Im większa amplituda
i dłuzszy czas trwania tego impulsu, tym większa jest energia fali wyrytanej z gŁowicy.
Położenie pokrętła ENERGIA jest ważnym parametrem pracy defektoskopu i

92
powinno być zanotowanew protokóle badania. W miarę moź:liwości
należypracować
przy stalejednakowympołożeniutegopokrętła.

14.3.2.Rolapokrętta PODCIĘCIE zostałajuż omówiona w poprzednimrozdziale.

Podcięcianie wolno stosowaćprzy posługiwaniusię nakładanąskaląoWR. Prry sto.
sowaniupodcięcianależysię upewnić,żenie eliminujeono ech wad o wielkościniedo.
puszczalnej,tzn. nie jest zbyt duze.

l4.4. Wyznaczaniepoziomu impulru odbieranegoprzez gtowicę ultradzwiękową

l4.4.l.D|a określeniapoziomu imprrlzu(echa)na podstawiejego zobrazowaniana ekra.
nie defektoslropu,należyustawić derybelowy regulator wzmocnienia w takim położe-
niu I/ (dB)' prą' którym wierzchołek impulsu rna rrmownąwysokośćho @ziałek).
Przyjmujesię powwechnie,że

h'=0'4H

gdzie 11_ jest użytecznąwysokoścĘekranu(rys. l4.1). PokrętłoPoDcĘcIE powirrno

Ęć w położeńu zerowym. Tak wyznaczonewzrnocnienieW zależyod własnościstoso-
wanegodefektoskopuorazod położenia pokrętłaENERGIA.

6
Rys. 14.l określeniepoziomu impulsu echa
odebranego przez gtowicę ultradźwiękową

piom dn W.$dB

Poziom impulsu U (w rozumieniu rozdziału 3) jest odcrytaną wańościąpoziomu

wzmocnienia W, wziętąze znakiem ujemnym

U=-ll) (14.1)

W praktyce przyjęto,zamiast poziomu impulsu U, podawać poziom wzmocnienia Ł

nazywany potocznie wzmocnieniem. Nie prowadzi to do nieporozumień, jeżeli pamięta.
my za|eżnośc (l4.l). Należy pamiętać, ż:egdy ltl rośnie,to U maleje (maleje amplituda

93
Sygnatu). Dlatego przy sporządzaniu wykresów zależnościwielkościsygnału od takiego
czy innego parametru, narastającewartościwzmocnienia są odkładane na osi I w kie.
runku ujemnym' tj. z ,,góry na dół" (rys. la.2).

wbB)
^w( au (aB)

f'
AB)

"ł

,r1 l-
-l ---+ oDLEGŁoŚĆ
l-
l--40
Rys. l4.2 Sposób opisu osi rzędnych w przypadku gdy odmierzamyna nĘ wartość poziomu Ulub
wzmocnienial/
Wartościl{/ narastająw kierunku ujemnym.ośrzędnvch ..zeów na dót''. natomiastkierunek nara.
śi*ii.**i.3' u ióśtigpanil JoŹ"iniń ri"runkięm-osirięónych..obok skal [r i W.przedstawiono
;ił;'óż"[6'i"'.;;zu.i 'oznic *żńo"nienia Aril, pny zatóiLeniu,że wartościamiodniesienia są
wartościdla punktu P.

|44.f.Pońom impulsu oznacza się według następującego schematu:

/, INonrs = 0,4H ptzy ł| = . '. dB,

Co odczytuje się następująco:''echo reflektora opisanegoprzez INDEKS ma wy-

sokośćO,4 H, gdy wzmocnieirie wynosi . . . dB"' Zamiast indeksu możnaużyć nawiasu,
w którym nale{y umieścićopis reflektora:

= o,4H przy I/ = ... dB

ł (oplsreflektora)

Przykład 1
Echo o wysokości0,4 tI uzyskano prly w = l0 dB dla głowicy normalnej umieszczonejna wzor.
ct |4|Iwykotzysfując grubość25 mm (rys. |4.3.a).
Sposób zapisu:

h25=0,4H przY W = l0dB

Przykład 2
Echo o wysokości0'4 f1 uzyskano przy W = f4 dB dla głowicy skośnejumieszczonejna wzorcu
|Ąl2,wykotzystującpowierzchnię o krzywźnie R = 25 mm (rys. 14.3.b).
Sposób zapisu:

hazs = 0,4II przy ł|l= 24 dB

94
 a, r-Tld
W=Dd,B +

W(hrr.Q4H)=l'ciB

b)
T

W(hB.o,iH)-21d8

l: i,lLl""i:ili
'.l'ffi
i:i:ffiiillfJ,o"0.,
l4.43.Ieże|i przy 'W.7naczaniu poziomu imprrlsu' jego wysokośćh na ekranie jest inna
od ustalonejwartościhg,to pońom impulsu obliczasię zwzoru

U = - W + 2 0 l o g l o _h_
ho (r4.2)

14.4.4.w defektoskopii ultradźwiękowej,m.in. dla oceny rozmiaru wad, bierze się pod
uwagę nie bezwzględne wartościU Iub W, lecz ich różnice A{/ lub LW ob|iczonewzglę.
dem pewnej wartościodniesienia,otrzymanej dla reflektora wzorcowego.

Przykład 3
W toku pomiarówotrzymano:h/l = ąs dB, W2 = 35 dB, W3 = tg dB. Trzeciąwartość
należy
ptzyjąćza odniesienie.
RóźnicewzmocnieńAI/wynovą:

AWI3 = hlt - tt/3= 26 dB

A W Z 3= h t Z - w 3 = 1 6 d B

Różnicepoziomów A [/wynoszą:

LUr3 = Ut - U3 = Fwt) - FwS) = - 26 dB

^U23 = U2 - U3 = Fwz) - FWl -- - t6 dB

Róznice AU lub AIł reprezentująstosunki wartościamplitud porównywanych ze so.

bą impulsów (ech), niezależnieod własnościdefektoskopu i głowiry - pod warunkiem
jednak, że btany pod uwagę zbiór wartości W został .v{yłĄaczonyza pomocą jednego

95
i tego samegozestawu ,'defektoskopgłowica'',przy jednym i tym samym ustawieniupo-
kręteł ENERGIA i PoDcIĘcIE.

14.5. Zakres obserwacji

14.5.1.Jak już to omówiono w rozdziaIedotyczącymbudowy defektoskopuultradźwię.

kowego, plamka świetlnaprzesuwasię poziomo na ekralrieze.stałąprędkością, ustaloną
p*o"ą pokręteł ZA5IĘG (regu1acja skokowa)i PRĘDK9ŚĆ (regulacjapłynna),przy
"u
czym moment startu plamki z potożenia spoczynkowego jest opoźniony względem
impulsu nadawczego o czas zaLeżnyod położeniapolrrętła OPQZNIENIE. Za pomocą
tych pokręteł moŻna więc tak wyreguiować generator podstawy czasu, aby plamka
świetlnaznajdowałasię (rys. l4.4):
- na początku poziomej skali ekranu (o działek) - w momencie gdy do przetworni.
ka głowicy powraca fa]a odbita od reflektora znajdującegosię w dowolnej odle-
L 1od środkagłowicy;
głości
- na końcu tej skati (A dńałek) - w momencie gdy do przetwornika głowicy po-
wraca fala odbita od reflektora znajdującegosię w dowolnej (innej)odległości12
od środkagłowicy.
Mówimy wtedy, żezakles obserwacjiZo wynośL 1 + L2 co zapizujemy

zo:(LlłL)mm

Lł

Lł+Lt

Rys. 14.4 Ilustracjaokreśleniazakresu obserwacji

96
 Różnicę Lz _ Lt nazywamy długościązakrezu obserwacji.
Położeniapokręteł, przy których otrzymuje się dany zakres obserwacji,za1ci:,z1
od
typu głowicy, indywidualnych własnościgłowicy oraz prędkościrozchodzenia się lir|i
w badanym materiale.Z tego powodu zapis zalcesu bbserwacji można uzupełnićinlbr
macjąo rodzaju fali i o gatunku materiału,np. dla fali Z w stali

Zo (L, stal) = (Z7 ł L2) mm

W większościprzypadków nastawiasię zakres obserwacjiod powierzchlri badanego

materiatu, np. Zo (o + 200) mm. opóźnienie podstawy czasu nie jest wtedy r<iwneze.
ro, ponieważ impuls ultradźwiękowy nie zaczyna rozchodzić się w badanym materiltlc
w tym samym momencie,w którym pojawia się imprrlsnadawczy. Zanim impu|s ultra-
dźwiękowy osiągnie powierzchnię badanego materiału, przechodzi on przez warstwę
ochronną przetwornika o głowicy normalnęi a|bo ptzcz klin z tworzywa sztucznegti
w przypadku głowicy skośnej.Z tego powodu impuls nadawczy nie jest przydatny dcl
skalowania początku zakresu obserwacji.

l4.5.2.Iloraz długościzakresu obserwacji w milimetrach pruez liczbę działek A pozio.

mej slrali ekranu nazywamy podziałką podstawy czzsr (ppc):

gdy ZO: (O + L)mm,to

Lmm
(ppc/ =7 (l.ł i x;
dz

gdy ZO = (LI + L2)mm,to

Lz - Lt mm
(ppc/= ( l . ł ' .b
])
A dz

Podziałka podstawy czag informuje ile milimetrów od|egłościw materiale przypada

na 1 działkę poziomej skali d<ranu.
M i e j sc a ax na poziomej skaliekranu,wktórym powinnowypaśćecho reflekttl-
ra położonegow odległości Lpobliczamy z wzorow:

gdy ZO = (O + L)mm,to

o- = !,
^ (ppc) działek ( t 4 . 4a )

gdy ZO = (LI + L2,1mrn,to

Lx-LI
ax: działek ( 1 4 . 4b \
(ppc)

97
 G ł ę b o k o ść L 1 n a k t ó r e j z n a j d u j es i ę r e f l e k t o r , k t ó r e g o e c h o w y s t ę p u j e w
miejscu ay ob|iczamy ze wzorów

gdy ZO = (O + Z/ mm, to

Lx = ax. (ppc) mm (14.5 a)

gdy ZO: (Lt i L2) mm,to

Lx = LI + ax' (Ppc) mm (14.5b

Przykład 4
Dane:ZO > (O i 500)mm,A = l0 dz
Naleźyobliczyć:
a) a1 dla Ix = 400 mm
b) L1 dlaay = 45 dz
Rozwiązanie:
500 mm mm
(ppc) = = 50
l0 d, a"

400
ax = y) dz = 8dz

L x = 4 , 5 . 5 0 m m = 2 2 5m m

Przykład 5
Dane:ZO = (1000 : 2000) mm,A = t0 dz
Należyobliczyć:
a) a, dla Zx = 1200 mm
b) Z" dla a, -- 5 dz
Rozwiązanie:

2000 - 1000 mm mm
(ppc) =
lo

1 2 0 0- 1 0 0 0
ox= 100 dz=fdz

Z" = 1000mm + 100. 5 mm = 1500mm

14.5.3.w plzypadku głowic wytwanających falę biegnącąw kierunku prostopadłymdo

powierzchnibadania
wartościL 1 i L2 ' opisująceZakresobserwacjioznaczająodlegtościod powierzchni

98
 badania (rys. 14.5 a). W przypadku głowic wytwaruających falę biegnącąwkier-
runku skośnymdo powierzchni, konieczny jest dodatkowy komentarz odnośnie
znaczenia tych wartości.W praktyce spotyka się bowiem 3 następującewarianty
zakresu obserwacji dla tego przypadku;
a) L1 i L2 oznaczają odległościpunktów l i 2 od środkagłowicy, mierzone
wzdłuż'osi wiązki ultradźwiękowej (rys. l4.5 b);
b) Ll i L2 oznaczająodległości ,'rzutów'' punktów I i2 napowierzcznię badania
od środkagłowicy (rys. 14.5 c);
c) L 1 i L2 oznaczająodległości,'rzutów'' punktów I i 2 na powierzchnię badania
liczone od brzeguobudowy głowicy (rys. 14.5 d).

b)

c)

Rys. l4.5 Róźne warianty interpretacji zakresu obserwacji

a ._ odle'8łościrnierzone od środkagłowicy, wzdłuż osi
wiąz.kigłowicy normalnej,b - odlógłości-mierzonó od
srodka głowicy' wzdłużosi wĘki głowicy skośnej, c -
d) oo|eglosct mlelzone od środkagłowicy skośnejwzdłuż
powierzchni' badania (,rzut odleiło.ści'-'),
o - odlexłości
mleIz9ne' od.czoła oprywki głowiry skośnejwzdłuż po.
wlerzchnibadania(,,skróconyrzut od|egłości'')

14.5.4.w pewnych przypadkach celowe jest wyrażeniezakresu obserwacji

Zo i podziatkl
podstawy czasu (ppc) w jednostkach czasu - w mikrosekundach

ZO=(O+t)ps
lub

ZO = (t1 * tZ)ps

99
 tps (14.6a,
(ppc) =
Adz

b -tl
!s (14.ób)
(ppc)= T dz

zakresobserwacjiw jednostkachdtugościi cza-

.Pomiędzy wartościamiokreślającymi
su zachodzi związek

t'c=2L
tyc=2L1 (r4.7)
t2-c= 2 L2

gdzie:c-jestprędkościąrozchodzeniasięfalultradŹwiękowychwbadanymmatęriale
bez jakichkolwiek prze-
Zakres obserwacji-ożnu wyskalować w jednostkach czasu,
Iiczeń,postugującsięwzorcamimikrosekundowymi.Charakterystycznącechątychwzor-
odstępachczasu' np. co 1,
cow 1esi to' że-kolejneecha dna występująw standardowych
skalowania ilustruje rys. 14.6. Miejsce
2,5, |o lub 20 mikrosekund. Sposób takiego
a1napoziomejskaliekranu,wktórympowinnowypaśćechowmomenciet1obliczamy
zwzoróvt

tx (1a.8a)
^=
dy --,
(ppc/
QZ

gdy ZO--(O-t)'Ps

tx - tl ( 1 4 . 8b )
a^
-= ---, , QZ
(ppcl

gdy ZO =(tt -tZ) Ps

-+-
lrl Rys. 14.6 Ilustracjaskalo-

t-_Ll
wania zakresu obserwacji
za pomocą wzorca mikro-
sekundowego,którego ko.
WZORZEt 20Ys lejne echa dna występują
co 20 mikrosekund

100
15. PARAMETR.Y DEFEKTOSKOPU

l5.l. Uwagi ogólne

Parametry defektoskopu można podzielić na dwie grupyi ogólnotechniczne oraz

elektroniczne.
Do parametrów ogólno -technicznych defektoskopu zalicza się:
- masę'
- wymiary gabarytowe,
- rodzaj zasilania(sieć- akumulatory - baterie suche,wysokośćnapięcia),
* pobieranąmoc w watach,
- dopuszczalny zakres temperatur otdczenia.
Do istotnych dla użytkownika parametrów elektronicmych defektoskopu zalicza się:
- liniowośćtoru.X'
- charakterystykę toru )/,
- dynamikę zobrazowania,
- dokładność decybelowegoregulatorawzmocnienia,
_ płynięciewtorzeXiY.

|5.2. LiniowośćtoruX

Ruch plamki świetlnejw kierunku poziomym na ekranie defektoskopu powinien

odbywać się ze stałąprędkością, tzn. odlegtośćplamki a mierzonaod położeniazerowe.
go powinna być liniowo za|eżnaod czasu / upływającegood chwili wyzwolenia generato-
ra podstawy czasu (rys. 15.l , krzywa l ). Jeślitak jest, to mówimy, żetor X jest liniowy.

IŁ
I
l
l

-T.!-

l Ry,. 15.l Ilustracjanieliniowościtoru X defek-

I toskopu.
Krzywa 1 (linia prosta) przedstawia zależność
odchyleniaplamki świetlnej od czasugdy torX
jest liniowy' Echo dochodzące do głowicy w
chwili r pojawia się w odległościa. Knywa 2
przedstawiaprzyktadowo, zaleźność odchylenia
plamki świetlnejod czasugdy tor X jest nielinio..
wy. To samo echo występuje w odleqłości a

l0l
 W defektoskopach,tor X możewykarywac odstępstwaod liniowości.objawia się
a _ występujew odległości
to tym, żeechoktóre powinnowystąpićw odległośct a (rys.
l5.2), co prowadzido błędnegopomiarugłębokości
zaleganiawad.Miarąnieliniowości
jestwyrażonyw procentachstosunek

maksymalna ńżnica(a _ a)
A
gdzie,'A jest długościąskali poziomej ekranu (zawtyczaj A = |o działek).
Może ona byc róima dla róznych położeńp9klęteł zAsIĘG i PRĘDKOŚĆ.
ZO = (o+1@) nm

a)
ńl
Rys. l5.2 Przykład oceny liniowościtoruXna
zakresie Zo =(o . l00) mm polegającyna ob.
serwac1izmian odległościmiędzy dwoma kolej-
ll1,nltechami dna próbki o grubości20 mm,
przesuwanymi wzd'łużekranu przez obrót po-
krętłaoPoŹNIENIE.
a - tor X wyregulowany tak, by echo 1 było
ustawionena 0 dz, a echo2 na 2 dz H
b echo 1 plzesunięte na 2 działki, obserwu-
jenry odległośćecha 2: w danym przypadku
odległośćzmniejszyła się z 2 dz na |,7 dz - co
świadczyo nieliniowości toruX

Nieliniowośćtoru X można stwierdzić obserwującodległośćdwóch kolejnych ech

dna podczas ich przesuwaniana ekranie przez obrót pokrętta opÓŹNlBNIE (rys. 15.3).
lub wielokrotnych ech dna (rys.I5.3)
Przykład l (rys.l5.3)
Po wyskalowaniuzakresuobserwacjiZo = (o i 500)mm za pomocą5 kolejnychechdnaprób'
ki o grubościl00 mm otlzymanonastępujące
wyniki

położenie ech dna w driałkach

odczytane nominalne odchytka
0 0 0
1,9 2 - 0,1
71 4 _n1
4,5 6 - 0,5
't,8 - 0,2
8
10,0 l0 0
Nie|iniowość wynoś
0,5
r 0 0 =s %
l0

102
 ńq
**n*,,ł#il,#,ofug,
Rys. l5.3 Pnykład oceny nieliniowościtoru X dla zakresu _ 500) mm przez
obserwacjiZo=(0
wyznaczenieodchvłekoołożeniakolejnychech dna próbki
o grubościróo .,n

15.3. CharakterysĘka toru Y

l5.3.l.Charakterystyką toru I nazywa się zależność pomrędzy wielkoscią odchylenia

plamki świetlnej 7 na ekranie, a amplitudą impulsu napięcia a na wejściuodbiornika.
Z uwagi na trudnośćprzeprowadzeniapomiaru zgodnież jefinicją, charakterystykę
toru
Y Wznacza się następującó:
- posługującsię dowolną głowicąi próbką
rloprowadzasię do pojawieniaecha na
ekranie,
- zmieniając wzmocnienie W odczytuje
się wysokośćh tego echana el<ranie (przez
cały czasgłowicaiest stalew tym samym położeniu).
- wyniki pomiaru przedstawiasię
w układzie współrzędnych prostok ątnych, przy
czym wzdłuż'osi ,,I'' o ska|ilogarytmicznejodmierza się ł w działkach,
wzdłuż,osi ,,X'' o skali |iniowejodmierza się I/ w decybelach(rys. 15.4).
Jeze|i otrzymany wykres zależności h od W jest linią próstą, to charakterystyka to.
ru ), jest liniowa, jeślinie - charakterystykajest nieliniowa.
Ten sposób pomiaruzakła.
da, że decybelowy regulator wzmocnienia iest dokładnv

ŚJ CHARAKTERYSTYKA
-- '--- --t LtNtowA
--
:ut'0 .
,/
Y
?0,'
ł
0
WZHOCNIENIE

Rys. 15.4 Charakterystyka toru I defektoskopu

103
 ocęnę' czy charakterystyka toru Y jest liniowa moi:na przeprowadzić
|5.3.2.Sz-l,,bką
w rrastępującysposób:
do|rowadzić echo do wysokości5 dz,
- zmniejszaćwzmocnienieco 2 dB odczytując wysokośćechah,
jeślicharakterystykatoru )z jest liniowa, to wysokościech powinny przyjmować
następującewartości

A r/ (dB) 0 12 l4 20
'){ t 2s 1,00 0,5
h (dz) 396 3,14 198

i 4. Ęnamika zobrazowania

|5 4.| Dynamiką zobrazowania nazywamy liczbę decybeli, o którą na\eżyzmienić

wz,tt.,cItienieIł, aby wysokośćecha na ekanie defektoskopuzmieniła się o określoną
warttlść,na przyktad zH do 0,o5 11.Wartośćdynamiki zobrazowaniamożemy zapisać
:v rlrholiczttie
w następującysposób

f l - - ' 0 , 0 5H : 2 6 d 8

Z,apisten olIracza,irc aby uzyskać zmianę wysokościecha na ekranie od fI do 0'05 fl

(l ull tld 0 '05 l1 do //) ' trzeba zmienić wzmocnienieo 26 dB

|5.4.z.Ęnamikę zobrazowaniaokreślasię m.in. dla zmiany wysokościecha od warto.

ścr1/ rlo wartościprogowej' przy której echo przestajebyć widoczię na ekranie.Tak
tlkreślonatlynamika zobrazowaniajest nazywana dynamiką zobrazowaniana całąwyso-
koścekranu. ZauwaŻmy,że użytkownik defektoskopu jest zainteresowanyw tym, by
wartośćtej dynamiki zobrazowania byta jak największa.W typowych defektoskopach
wynosi ona ok. 25 dB. Ęnamika zobrazowaniamalejepo włączeniupodcięcia.

! 5.5. Dokładnośćregulatorawzmocnienia

Parametr ten jest bardzo wazny przy ocenie rozmiarów wad równoważnych,przy
pomiarach tłumienia, strat przeniesienia,itp. Niestety, do sprawdzeniadokładności
wskazań regulatora wzmocnienia potrzebna jest specjalna aparatura elektro.
niczna. We wtasnym zakresie możemy dokonać tylko kontroli zgrubnej. Zmieniając
wartośćwzmocnięniao stałąwartość,np. o 6 dB, możemy sprawdzić,czyw ca]tymza.
kresie regulacjiwzmocnienia (np.0 - 80 dB) uzyskujemyjednakoweprzyrosty wysoko-
jed.
ściech. Może.myrównież sprawdzić,czy zmiala wzmocnienia o l0 dB, realizowana
powoduje taką samą zmianę wysokości echa, jak zmlana
nym skokiem regulatora,
o l0 dB realizowanamatymi skokami,np. co I dB'

torówXi
15.6. Stabilność I

15.6.l.Tor x jęst stabilny, grly położenieecha na poziomej skali ekanu nie zmienia się
w czasie p,u"y d.f"ktoskopu. Celem określenia wielkościpłynięcia w torze X, mierzy się

104
 zmianę położenia echa reflektora wzorcowego, nP. echa dna wzorcakontrolnego I//, co
l minutę od chwili zaŁączeniazasilania defektoskopu. Miarą płynięcia są zmiany poł.oż'e-
nia echa odniesione do długościpoziomej skali ekranu, przedstawione w funkcji czasu.
Wartośćpłynięcia można też wyrażnc w mikrosekundach _ w funkcji czasu. W tym
celu, zakres obserwacji należywyskalować w jednostkach czasu.fomiar płynięcia pozwa-
la ustalić czas' po upływie którego, od chwi]i włączenia defektoskop jest gotowy do po-
miarów grubości,prędkościfd, czy położeniawad. Parametr ten jest szczególnie istotny
przy małych zakresachobserwacji,np. Zo = (o + 10) mm |ub Zo = (100 + l l0) mm.

|5.6.2.Tor )Z jest stabilny, gdy wysokośćecha na ekranie nie ulega zmianom w czasie
pracy defektoskopu. Płynięcie w torze I występuje zwykle po włączeniu defektoskopu
do sieci. Miarą płynięcia w torze I jest wartośćzmian amplitudy echa w ciągu wybrane.
go czasu' np.f czy l0 minut. Przy badaniu płynięcia w torze Y na|eżyzapewnićstabil.
nośćsprzężeniaakustycznego.
ZwyŁJe uważa się, że defektoskop jest gotowy do pomiarów amplitudy ech, gdy
amplituda ęcha nie jest mniejsza od więcej ntż'0,5 dB (a czasem 1 dB) od wartościmakqy-
malnej, którą osiągapo bardzo długim czasie pracy defektoskopu.

|5.7. wpĘw zmian napięcia zasi|ania

Kontrola wpływu zmian napięcia zasilania na wskazania defektoskopu polega na

pomiarze zmian odległościna ekranie między impulsami (tor Ę' np. między impulsem
nadawczym i echem, a takŻena pomiarze, zmian amplitudy echa (tor Ę przy zmianach
wartościnapięcia zasilającego.Zmiany w torze X podaje się w procentach dla określo.
nych spadków napięcia,np.- 5 %przy zmianienapięciaod 200 V do l80 Y.Zmiany
w torze Y podaje się w decybelach na określonyspadek napięcia, np. + 3 dB przy zrrua-
nie napięciaod 22o V do 240 V.

15.8. Poziom szumów elekhonicznych

Poziom szumów elektronicznych określasię przez podanie wartościwzmocnienia

przy którym wysokośćszumów na ekranie wynosi h = o,| H,

l5.9. Crytelnośćobiazu

Jest to parametrtrudny do określenia liczbowego,gdyiLnaczytelnośćobrazu składa

. się jasnośćlinii kreślonejprzez strumień elektronów (za|eżnaczęsto od zakresu obserwa.
cji), kontrast między impulsem i tłem lampy, ostrośćzarysowaniaimpulsów i sposób de.
tekcji. Pewnąpróbę liczbowego.opisu czytelnościobrazujest podawanienajwiększegona.
tężeniaoświetleniew luksach, przy którym z odległości2 mętrów obserwatorprzestaje
zauważyćokreślonezmiany amplitudy echa, wywoływane zmianami wzmocnienia.

105
ló. oŚRoDEK SPRZĘGAJĄCY

16.l. Rola ośrodkasprzęgającego

16.l.l.Wielkość amplitudy obserwowanychna ekranie defektoskopu ech odbitych od

wad naturalnych, sztucznych jak również od dna badanego elementu - zależy m. in. od
tego, jak wielka jest amplituda impulsu ultradźwiękowego'wprowadzonego do badanego
materiału ptzez gŁowicę ultradźwiękową. Amplituda tego impulsu powinna być stale
jednakowa, w przeciwnym razie wnioski ilościowe,wyciągane na podstawie obserwacji
wysokościimpulsu na ekranie,będą błędne.Dla spełnieniatego warunkujest konieczne,
by przetwornik głowicy drgał stale z jednakowąamplitudą,co gwarantująwytwórcy de-
fektoskopu, oraz by nie występowaty przeszkody przy przechodzeniu drgań na drodze
,głowica - materiałbadany'', co z kolei jest sprawą'o którą musi dbać prowadzącyba.
danie. Innymi słowami, pomiędzy głowicąa badanym materiałempowinno być dobre
e c z a s i eb a d a n i a s p r z ę ż ' e n i e a k u s t y c z n e .
i n i e z m i e n nw
Sprzężenieakustyczne w praktyce nie istnieje zupetnie, gdy między powierzchnią
roboczą głowicy, a powierzchniąbadanegomateriałuistnieje szcze|inapowietrzna,szcze.
lina taka jest bowiem bardzo skutecznie dziaŁającymreflektorem fal ultradźwiękowych.
Celem zapewnieniadobrego sprzężeniaakustycznegomiędzy głowicąa badany element
w p r o w a d zsai ęw i ę c a ś r o d e k s p r z ę g a j ą c y .
o tym co się dzieje, pomiędzy przetworąikiema powierzchniąbadanegoobiektu in'
formuje w przybliżeniuwykres narys. l1.5,przedstawiającyzaIeżność międzywartością
współczynnika odbicia fal ultradźwiękowych o różnej częstotliwości,a grubościąszczeI|.
ny w stali. Z wykresu widać, że przy częstotliwości1 MHz i grubościszczeIiny powietrz.
nej l0-5 mm, współczynnik odbicia od szczelinyjest bliski |OO%.Dopiero gdy szczelina
powietrzna ma mniejszągrubość,częśćenergii fali wnika do materiału.Do wprowadze.
nia fa| przez bezpośrednikontakt należałobybardzo silnie przycisnąć głowicę do bada-
nego materiału.Jeśliszczelinajest wypełniona cieczą,współczynnik odbicia ma znacznie
mniejsząwartość.Fale ultradźwiękoweo częstotliwościl MHz w takim Mmym stopniu
przenikają przez szcze|inę o grubości0,l mm wypełnioną wodą jak przez szczelinę po.
wietrznąo grubości0,00001 mm.

ló.l.2.ośrodek sprzęgającymoże stanowić cienką warstwę po której ,,ślizga się'' głowi-

c a ; t a k is p o s ó bb a d a n i na a z y w as i ę b a d a n i e m kontaktowym ( r y s .1 6 . l a ) .
W badaniu kontaktowym grubośćwarstwy ośrodkasprzęgającegowinna być możli.
wie mała - znacznie poniżej l mm.
ośrodeksprzęgającymożebyć stosowanyrównież w ten sposób, że badany obiekt
jest w nim zanutzoly; badanietakie nazywasię b ad a n i e m zanurzenio wym
(rys. 16.l b). Pośredniwariant stanowi sprzęienie w postaci laminarnegosłupa cieczy,
utworzonegoprzez specjalnedysze (rys. l6.l c)

16.2. Rodzaje ośrodkówsprzęgjących

l6.f .l.w praktyce badań ultradźwiękowychstosowanesą najczęściej

następująceośrod.
ki sprzęgające:

106
 Rys. 16.1 Sposobyuzyskiwaniaqprzężenia
akustycznego
_,p9pnezwarstwę..cieczy,b._pn9z zanurzenie w'cieqY,c-_zapomocąsłupacieczy,
?sredn|ctwem d_zapa
cieczą,| _ głowica'z.] oeod_efsp;#ą'ili' 3._E.ińv óu-ióń
,,opony''wypełnionej

- woda,
- oleje róznej gęstości,
- smary stałe,np. towot,
- roztwór kleju malarskiego (celrrlozy metylu),
- płynne sole (badaniaobiektów gorących).
Woda jest najłatwiej osiągalnym ośrodkiemsprzęgającym.Stosując wodę należy pa.
miętać, by nie występowały w niej pęcherze powietrza. Dlatego dobrze jest stosować
wodę nie bezpośrednioz kranu, lecz ,pdstaną'' w zbiorniku. Dodatek alkoholu do wody
pozwala pracowaćw temperaturachponŹej zera..ł,ladąwodyjest jej działaniekororyjne.
oleje są równie często stosowane jak woda w badaniach ultradźwiękowych. Nie
możnaich jednak stosowaćgdy nie wolno ,,zatłuścić'' badanejpowierzchni, np. gdy bę-
dzie ona malowana lub gdy badany obiekt ma być następnie obrabiany mechanicznie.
hzy badaniu powierzchni o małej gładkościoraz powierzchni pionowych - stosuje się
oleje gęste,m.in. smary stałe.
GęsĘ roztwór kleju malarskiego jest bardzo wygodnym ośrodkiemsprzęgającym,
szczególnie przy badaniu powierzchni pionowych i skośnych (a nawet skierowanych
w dół), z których ciecze łatwo spływają. Klej stosunkowo szybko wyqycha, po czym go
łatwo usunąćz badanej powierzchni.

1ó.2.2. Nietypolvym sposobem zapewnienia dobrego sprzężeniaakustycznegojest rozwią-

zanie głowicy w postaci tzw. k o ł a Sperry.ego (rys.1ó.l d). Właściwa głowicajest
umieszczona wewnątrz opony plasĘkowej wypełnionej olejem. opona dopasowuje się
do więksrych nierównościbadanej powierzchni, niemniej pomiędzy oponę a powierzch-
nię należywprowadzić dodatkowo wodę lub olej.

16.2.3.Wymienionewyżej ośrodkisprzęgająceĘ stosowanew przypadku głowic, któ.

rych przetworniki wytwarzają fale podłużne;ośrodkite są zupełnie nieprzydatne w prł/.

r07
padtggłowic, których przetworniki wykonują crgania poptzeczne, tj. w kierunku równo-
r.gł. {o czoła głowicy. Wówczas stosuje się ośrodkio dużejlepkości,np. Ąrwice epo-
ksydowe w stanie nieutwardzonym, miód pszczeli itp.

ló.3. Kontrola jalrościqprzężeniaakustycznego

Najlepvym wskaźnikiem jakości sprzęż'eniajestobecnośćna ekranie defektoskopu

echa kóntiolnego o określonejwysokości.Przy badaniu głowicą normalną, rolę echa kon-
trolnego może spełniaćecho dna. Przy badaniu głowicami skośnymi,rolę tę można speł.
niać ińptrls o{ebrany przez dtvgą, odpowiednio ustawioną głowicę skośną,albo echo
dna'uzyskane za pomocą głowicy normalnej wysyłającej wiązkę fal ultradźwiękowych
do materiału ptzez ten sam obszar, przez który przechodzi wiązka z głowicy skośnej.
Przykłady kontroli sprzęzenia akustycznego pokazano na rys. 16.2.
.W badaniach autotlatycznych amplituda impulsu kontrolnego jest zwykle zapisywa-
na w dokumencie badania. W niektórych urządzeniachzmiana amplitudy echa kontrolne.
go,bądź na skutek zmiany jakości sptzęircnia,bądźteż,na skutek lokalnych różnic tłu.
mierua, powoduje automatycznie odpowiedni wzrost wzmocnienia . Urządzenia takie za-
pewniają stałączułośćbadania.

I
II ł
II II
I

Rys. l 6. 2 Kontrola jakościsptzężeniaakusĘcznego

a _ pruez obserwacjęecha dna, b - ptzez obserwacjęecha dna za qomocą pomocniczego przetworni.
ka, c -.pnez obserwacjęimprrlsu,,przejścia''za pomocą dodatkowej głowicy

108
-
17. WZORCE

l7.t. Rodzaje wzorców

t7.1.t.Wzorcem nazywamy element, lw którym anajdują się wzorcowe reflektory fal

ultradźwiękowych.
Reflektorem fal ultradźwiękowych jest - jak już wiadomo - granica ośrodków o
ńżnych własnościachakustycznych. Dla celów badań ultradźwiękowych obiektów stalo-
powierzchnia elementu.
wych najlepiej służyjako reflektor granica ,,stal/powietrzft,,',Qzyh
Wzorcowy reflektor - to taki, który odbija fale rrltradźwięko.wew ściśle określony
sposób. oto przykłady reflektorów wzorcowych:
a) płaska powierzchnia, na tyle rozległa,by odbić catą s$ierowanąna nią wiązkę fal
(rys.l7.la),

Rys. 17. l Przykłady reflektorów wzorcowych.

a - duż.apowierzchnia płaska, b płaskie dno
otworu okrągłego, c - naroźe utworzone z po-
wierzchni tioania i płaskiej ściany rowka pro.
s t o k ą t n e g o ,d n a r o ż eu t w o r z o n e z p o w l e l z c n -
ni b;dańia i pobocznicy otworu okrągłego,
e _ pobocznica otworu okrągłego

b) płaskiedno otworu okrągłegoo określonej średnicy(rys.l7.lb)'.

c) płaska ścianarowka tworząca naroże prostokątne z płaską lub walcową po.
wierzchnioąb i e k t u( r y s . l 7 . lc i d ) ,
d) pobocznicaotworu okągłego o określonej średnicy(rys.l7.le).

|7.|.2.Spośródwielu wzorców stosowanychdo kontroli i nastawianiaczułościaparatury

ultradŹwiękowej do badań nieniszczących, kilka jest znormalizowanych i powszechnie
stosowanychw wielu krajach, Dwa najważniejsze wzorce,tO wzotzec kontrolny Wl wg
PN.75|M-7005| i wzorzec kontrolny W2 wg PN-75/M-70054. Wzorce te zostały opra-
cowane przez Międzynarodowy Instytut Spawalnictwa i chociaż w poszczególnych kra.
jach przyjęto wersjenieco różne, to główne wymiary i wtasności materiału stosowanego
na tę wzorce są takie same' co nadaje tym wzorcom rangę międzynarodową i pozwala na
porównywanie wyników badań wykonanych w różńych miejscach i za pomocą odmien.
nej aparatury.
Z inny ch wzorców należywymienić wzorce :
- schodkowe.
- mikrosekundowe,
- do sporządzaniaskal oWR dla głowic normalnych,
- do sporządzaniaskal oWR dla głowic skośnych.

|7.|'3. W odniesieniu do wzorców używane są określenia: kontrolny i porównawcry.

pomiarów pa.
Wzorcem kontrolnym nazrya się wzorzec przeznaczony do kontroli i
rametrów defektoskopów i głowic. Wzorzec taki zawiera sztuczne reflektory wzorcowe.

109
Wzorcami takimi są wspomniane wzorce Wl i W2.
Wzorcem porównawcrym nazyva się wzorzec przeznaczony do nastawy parametrów.
Może on posiadac reflektory sztuczne lub wady naturalne.

17.t.4. Przy wykonywaniu wzorców porównawczych na|eĘ zwracać uwagę na następu-

jące sprawy:
l. Materiał wzorca powinien mieć określonewtasnościakustyczne:bądźodpowia.
dające wymogom stawianym wzorcom wl iw2' bądź takie, jakie posiadają badane ele-
menty. ostatni lvymóg jest szczególnie istotny wtedy, gdy badane elementy wykazują
nietypowe własności.
2. Materiał wzotca nie może posiadać wad naturalnych, co należy stwierdać przez
odpowiednie badanie.
3. Kształt i wymiary'sztucznych reflektorów powinny być dokładnie sprawdzone.
hrykładowo ' rzeczywisty kształt płaskiego dna otworu okrągłegonalezy ocenić metodą
repliki z gumy utwardzalnej, a kształt rowków _przezoględziny (lub zdjęcia) ich wylotów.

17.2. Wzorzs kontrolny Wl

Yłznrzpckontrolny Wl jest przedmiotem normy PN-75n\,t-7005l. Kształt i wymiary

wmtca przedstawia rys. I7.2. Jest on wykonany ze stali o niskiej zawartościwęgla, o
drobnym ńamie, bez wad makrostruktury. Prędkościfal podtuznych i poprzeczrrych w
materiale wzorca powinny wymosić odpowiednio 5920 + 30m/s oraz3255 + 15 m/s.
Wzotzpc Wl posiada następującereflektory:
_ dwie płaskie powierzchnie / oddalone od siebie <l25 mm i stanowiące reflektor
płaski o bardzo dużych wymiarach, używany m.in. do skalowania zakresu obser.
wacji głowic normalnych i nastawiania czułości;
_ dwie płaskie powierzchnie 2 oddalone od siebie o l00 mm oraz płaskie powierzch.
nie -7 i 4 oddalone od siebie o 200 mm - przaznaczone do skalowania zakresu
obserwacji głowic normalnych;
_ płaska powierzchnia 5 oddalona od powierzchni 1 o 9l mm ; przez wyskalo-
wanie zakresu obserwacji 29 = (o_9|) mm dla głowicy normalnej i fali podłuz-
nej uzyskuje się zakres obvrwaĘi Zo = (0_50) mm dla fal poprzecznych;
_ dno rowka ó' stanowiące wIaz z powierzchniaffi 2 i 5 zespół trzech reflektorów
służąry do określaniarozdzie|czościgtowicy normalnej prryłożonej do prze.
ciwlegtej powierzchni 2 (rys.l1 .2a);
- powierzchnia walcowa 7 o promieniu R = 100 mm oraz boczne ścianydwóch
rowków 8, ptzechodzące przez środek|<rrywizny powierzchni 7;te dwa reflek.
tory służą do skalowania zakresu obserwacji gtowicy skośnej(rys.l7.2b) i na-
stawiania czułościdefektoskopu pracującegoz głowicami skośnymi.
_ walcowa powierzchnia 9 otworu okrągłego o średnicy50 mm; powierzchnia ta
służym.in. do pomiaru kąta załamaniagłowicy skośnej (rys.l7.2c);
_ klązek z pleksiglasu 10 o grubości23 mm wprasowany do otworu, dawniej słuzą.
cy do wyznaczania energii układu ,,defektoskop - głowica normalna'';
- otwór o średnicyl,5 mm' którego powierzchnia 11 stanowi natożez powierzch.
nią 1 (rys.l7.2d), stużącedo wyznaczaniacharakterystykgłowic skośnychi do
nastawianiaczutościbadania.

il0
 dt

Rys. 17.2 WzorzeckontrolnyWl

17.3. Wzorzec kontrolny W2

Wzorzec kontrolny W2 jest przedmiotem normy PN-75/M-70054.Kształt i wymiary

wzorca przedstawiarys. l7.3. Jest on wykonany ze stali odpowiadającejwymogom poda.
rym w opisiewzorcaWl.
,V,lzotzec
W2 posiada następującereflektory:
- dwie płaskie powierzchnie 1 oddalone od siebie o 12,5 mm,
mogącesłużyćdo
skalowaniawąskichzakresów obserwacjigtowic normalnych;
. powierzchnię walcową 2 o promieniu R = 25 mm i powierzchnię
walcową 3 o
promieniu Wzywizny R = 50 mm przeznaczonado skalowania zakresów obserwa.
Ąi przy ptacy za pomocą głowic skośnych;
- otwór o średnicy5 mm, którego powierzchnia 4 jestprzeznaczona
do nastawy
czułościuktadu ,,defektoskop- głowica skośna''.

111
17.4. Wzorce mikrosekundowe

Wzorce mikrosekundowesą przedmiotem normy PN-75iM.7005ó. Są to walce o tak

dobranej wysokości,ze czas przejściapodłużnych fal ultradźwiękowych do powierzchni
do dna i spowrotem jest równy całkowitej wielokrotności1 mikrosekundy. Wzorce te są
stosowane do skalowania podstawy czasu defektoskopów w mikrosekundach za pomocą
głowicy normalnoj. Takie wyskalowanie podstawy czasu ułatwia pomiary prędkościfal
ultradźwiękowych. Kształt i wymiary wzorców przedstawia rys. |7 A. Powierzchnie wal-
cowe są celowo..sfalowane'',abyzmniejszyćdo minimum ewentualneboczne.odbiciafal,
które pogarszajączytelnośćoscylogramu.

T-Tr
+
ffiE t-.1fi
.tiltc'
L.--lu il
.ols' ,5ps' .4rs,
u.3r,s'
Rys. 17.4 Wzorcemikrosekundowe

l7.5. Yłzorzscschodkowy

Wzorzec schodkowy przedstawionyjest na rys. l7.5. Ma on postać płytki o schodko-

wo zmieniającej się grubości.Słuzy on do skalowania zakresu obserwacji defektoskopu
prry pomiarach grubości.

Rys. 17.5 Wzorzec schodkowY

|7.6. Wzorce do sporządzania wykresriw owR dla głowic normalnych

Do sporządzania wykresów owR, tj. zaleinościamplitudy impulsu od rozmiaru i od.

legtościwady - służąwzorce o postaciprzedstawionejna rys. l7.6. Są to walce lub pro-
stopadłościany' w dnach których nąwierconesą okrągłeotwory o różnej średnicy,któ-
rych płaskie dna znajdują się w różnej odległościod przeciwległejpowierzchni.

r12
 Rys. 17.6 Wzorce do sporządzaniaskal oWR gło.
wlcnormalnych.Za\ecwtyciry wartościd : l.0 -
r . 4- 2 , 0 - 2 , 8 _ 4 , 0_ s , 6 _ 8 , 0 _ l t , o _ 1 6 , 0 m m

|7.7 . Wzorce do sporządzańia rvykresów owR dla głowic ś<ośnych

Kształt wzorców przedstawia rys. 17.7. Dla każdego kąta załamarnagłowicy

po-
trzebny jest osobny komplet wzorców.

Rys. l7.7 Wzorce do spotządza.

nia skal oWR głowic skośnych.
Za|ecanyciąg wańościd - jak na
rys. 17.6

17.8. Inne wzorce

Do skalowania aparatury wykorzystuje się również cały szereginnych

wzorców zawie-
rających wzorcQwe wady sztuczne, lub elementóvi zawierają.y.li^-.
wady naturalne.
Ciekawy wzorzec stosowany przez prodvcentów aparai"ł oo kontroli
i |orównywa-
nia parametrów defektoskopów i głowic, a głó1vnieao tontrór
zapasu wzmocnienia, sta.
nowi przyklejona na stałe do próbki stalowej głowica ultradźwiękowa.
Trwałe połącze.
nie głowicy z próbką pozwala na uniknięcie błędów, wynikających
zniepowtarza]ności
sprzę żaniaakustycznego.

18. ECHo PŁASKIEGo REFLErToRA I'JMIEszczoNEGow PoLU

ULTRADŹWIĘKoWrMKoŁoWEGo PRZETWoRNIKA
PIEZOELEKTRYCZNEGO

18.1. Wiązka fal odbiĘch

Weźmy pod uwagę reflektor fal ultradźwiękowych w postaci płaskiej szczeliny po.

113
wietrznejo kształciekołowymi gładkiejpowierzchni,zorientowanejprostopadledo oś
Z przetwornika(rys. l8.1). Reflektortaki będziemydalej narywać p ł a skim re.
flektorem kołowym.

Rys. l8.1 Ptaski,kołowyreflektorw obrębiewiązkifal

Dużypłaskireflektorumieszczonynadrodzewiązkifalodbijająwcałości,bez
zmnnykvtałtu,takjakzwierciadłoodbijawiąpkęświetlną(rys.l8.2).Wiązkaodbita
przetwornika wywo.
prznz-duż'yreflektor znajdująry się w odległościz po powrocie do
wysłana przez identycany przetwornik
iuie w nim taki efekt 1aki w11wotatauy wiązka
umieszczony w odlegtości2z.

.-t--
I
I

Rys. l8.2 Dużypłaskireflektorodbiiawiązkęfal bezzmianyjej kvtałtu

Mały, płaski reflektor o średnicyd umieszczony w miejscu gdzie ciśnienieakustycz.

prze.
n. *ynŃ i, powoduje taki skutek na ekranie, jakby w Ęm mĘscuznajdował się
ciśnienie o amplitudzie p (rys. l8.3). Wiązka fal wy.
twornik o średnicyd wytwarzający
_ c n y h w i ą z k a f a l o d b i t y c h _ podlega
t w a r z a n ap r z n z t e n p r z e t w o r n i k
pole blis.
wszystkim prawom omówionym w poprzednich rozdziałach. Występuje w niej
określoną rozbieżność dla zatoionego spadku ciśnienia itd.
kie i dalekie, posiada ona
od małego reflektora ptaskiego za|eĘ odjego średnicy d'
Amplituda ectra fat odbitych
odległościz od przetwornika oraz od odległości od osi Z.

114
 TWORMA
-t
z
I

wl>wi -*ldjr
\PETETrM
dr') da'

Rys. 18.3 Wiązka fal odbitych od małego reflektora ma kształt za|eżny od jego średnicy i długości fa.
li. Im mniejsza średnica reflektora, tym mniejszajest długość pola bliskiego oraz większy kąt rozbież.
ności odbitej wiązki fal

l8.2. oWR
Zależność

l8.2.l. Unormowany wykres oWR. Dla celów praktyki defektoskopowej szczegó|nezna.

czenie ma za|eż'ncść pomiędzy wielkościąecha małych, płaskich reflektorów, |eżących
na osi Z przetwornika a ich średnicąd i odległościąz. Zależnośćtajest reprezentowana
przeztzw. wykres OWR.
SkIót owR pochodzi od słów ,,odległość, wzmocnienie,rozmiar''. Istotę wykresu
oWR wyjaśniaopis 1egosporządzenia.
1. Posłużmysię próbkamiomówionymiw ustępiel7.6. w więkvościpróbek sąnawiercone na
różnągłębokość okrągłeotworyo płaskimdniei o różnychśrednicach. Niektórepróbki sąbez otwo-
rów; dno Ęch próbeksłużyjako duży,płaskireflektor.Zakładarny
, co jest istotnedla wykresuoWR
_ źemateriałpróbeknie tłumifal u|tradźwiękowych oraz,żepowierzchnia stykuz głowicąjest
płaskai gładka,tak że nie ma stlat na granicy ,głowica/próbka,,przy badaniupovczegó|nych pró.
bek.
2. Umieśćmyna każdejpróbce z otworem głowicę tak, by otrzymać na elaanie defektoskopu
maksymalne echo. odczytajmy wzmocnienie h|, przy którym echo dna otworu wynosi h6 = 0,4 H
(rys. 18.4).Wyniki pomiarów zapiszmy w tabeli

d W
mm mm dB

I l5
Rys. 18.4 Położeniereflektora względem głowicy podczaspomiarów prowadzących do wykresu oWR

3. Umieśćmygłowicę na próbkach bez otworu i odczytajmy wzmocnienie W,przy którym echo

dna wynosi ho = o,4 H. Wyniki pomiarów zapiszmy w tabeli

4. Pruehczrnydane zebranew obu tabelachw następującysposób:

a) zamiast d w milimetrach wprowadźmy bezwymiarową unormowaną średnicęR małegore-
flektora

d
R=Ę (18.1)

D,7. - skuteczna średnicaplzetwornika głotvicy;

b) zamiastz wprowadźmybezwymiarową' unormowanąodległość,4

,4--N (1 8 . 2 )

lr' _ odległość
pola bliskiego głowicy;
c) zamiast wartościwzmocnienia z tablicy przyjmijmy za W wdttośóróżnicy

\/ W= WD-htp(z= 0,d =@) (18.3)

..,spółrzędnych prostokąfoiych,odmie.
5. Przedstawmy tak przekształcone wyniki w ńll
rzając na osi rzędnych wzmocnienie h), a na osi odcięi '.. trytm unormowanej odległościlog 1.
Połączmy liniami punkty reprezentującewyniki dla den\*"ł.ala reflektorów o jednakowej unonno.
uę
w a n e jś r e d n i coy t. z y m a r n y r o d z i n ęk r z y w y c h , n o s z ą c y c h n i r z w normowanego wykre-
s u OWR (rys.18.5).

ll6
 Rys. 18.5 Unormowany wykres oWR. Punkty 1 t 2 odnosząsię do ptzykładu
l

Unormowany łvykrcs oWR przedstawia1nleżnośćwielkościwzrnocnienia od unonno-

*"ffiar'ętr.il-'lt..
śę-ffiodfptzgtwffiEa**
=--W}E6--s
owR słuł do oceny*\,!Le-Ę9ry'--wadróvmoważnychwzględemwvkrvtYch--
wadńafu.alny"T.
owFjest Ei-ffiiqszyffaaTfĘ'orł:i pota
bliiftĘo-@r{ 1), zalerżność
owR n6 'iwsz; jest jó-fitiznaczrn.Kizywe przeastawi4ące
nq1bĘ.irlrran wńoci'iónia w runkqi oabgłóściw polu bJiskim mogąmieć malcsimai
mfuilmrńa*;ffe-ł9den,:
rl{I!,k'r's"i9-.
9irrs9-ig)''.o-abgosciach ao wa,ay*i"jryęŁp1t-
dłuEqp]'ora-6r&iegofre ńożna..bef;ast'óńn.Ilo-ny'tie .'ngr..c*laęeó'rrrykezu
owR dó óceńyEzń_fil.fi wałtrównoważhycĘ- "
tlnormowany-wykres owRlesi.w-ażńyd|aprzetwornikówo dowolnejśrednicy i czę.
stotliwości'Mimo, że przeprowadzonerozwaź:aniadotyczyłyprzetwornikakołowego,
wykonującego drganiapodłużne,
rrnormowany wykresowR - jak na rys. l8'5 - jestwa.
żnylakżew przypadku:
- gdy przetwornik ma kształtniekołowy (np. prostokątny),
- fal poprzecznych, gdy są one wytwarzane bądź przezprzetwornik
drgający po-
przecznie, bądź przez gtowice skośne,jako wynik transformacji fal podłużnych
w klinie z pleksiglasu.
Krzywe unormowanego wykresu oWR dla reflektorów o małych rozmiarach (R (
0,05) osiągająmaksimum w odległościach równv^t. długościnola hliskiego głowicy;
natomiast maksima krzywych dla reflektorów o większych wymiarach lesuwają się w
stronę większych odległości, nD. maksimtl'ndlaR = 0,4 występujeprzy 't = |,3
W polu dalekim (w odległ .szych od 3 długościpola bliskiego) zależności
między odległością,. wzrnocr . rozmiarem wady mają następujące własności;
_ wzrnocnienie dla reflel ulrźego(dna) wzrasta dwukrotnie, tj. o 6 dB, gdy od.
ległośćod tego refliktor," podwaja się;
- wanocnienie dla reflektora małego wzrasta czterokrotnie tj. o 12
, dB, gdy odle.
głośćod tego reflektora podwaja się;

tt7
 _ wunocnbnie dla refldrtora małegowzrastadwukrotnie, tj. o 6 dB, gdy jego po-
wierzchniawzrastadwulrrotnie(wówczasśrednica wzrastat tl raty).
W oparciu o unormowany wykręs oWR moźnadla dowolnej głowicy określić
wzmocnieniedefektoskopuprzy którym echopłaskiegoreflektorao danejśrednicy osiąg.
nie na ekraniewysokość 0ł H.w tym celu, na|e;ży przeprowadzić tylko jeden pomiar,
mającyna celu otrrymanierzeczywistychparametrówdowolnegopunktuwykresuoWR.
Najczęściejwykorrystujesię wzorzecWl i wyznacza|4ld|ah25 = otH.Ilustruje to po.
dany nizejprzykład.
W oparciuo unormowanywykresoWR moźnateżoloeślićśrednicę d* reflektoraje.
żn|iznarrtywzmocnienie wx, przy którym h* = o,4 H, oraz rz'eczywisteparametrydo.
wolnegopunktu wykresu. Wykres oWR słuzy gtównie do tego celu.sprawa ta jest omó-
wionaw osobnym rozdaale.

Przyktad 1
17 = 166 mm' na wy-
Posłrrgującsię głowicą 2 LN 25 ustawiamy echo dna leżącegow odległości
sokościh = ti'ł H' o ile decybeli trzeba zwiękwyć wzmocnienie, aby echo re{lektora o średnicy
.!
d = 2 mmleżącegow odległości lz = zoo mm osiągnęłotaką samąwysokośćh = o,4 H
Rozwiąlanie
obliczamy Dg1 iN głowicy 2 LN 25;'

Dg = 0.97 'D = 24,f5 mm

f =
- . JnU^m m
1^y,-=i r4kc

=
ob|iczamy wartościunormowaneR 1 i A 1 d|a dna leżącegow odlegtościJ1 100 mm :

R1=o
It
A1 =:=2

Dla tych wartościz wykresu (rys. 18.5) odczytujemy t/l = : an.

obliczamy wartościrrnormowanedla reflektora d = 2 mm leżąpegow odległości12 =20o mm

i
Rz=Ę'=o'oa
t.t
A2=;= a

Dla tych wartościz wykresu odczytujemy W2 = ą9 as.

Wzmocnienie należyzwiększyć o

WZ- I't/t= 49 dB - 3 dB = 46 dB'

18.2.2.Nieunonnowanywykres oWR. Zaletą unotmowanegowytxesu jest to, żejest

wartościrzeczywi-
,,uniwersalny'',wadą natomiast koniecznościstałego prze|ic7ania
stych na unormowanei na odwót. Niedogodności tej nie posiadamykty wylaes oWR'
na którym zamiastR podanesą średnice d, a zamiasl/ odległość z'Ta|<lwykresodnosi

lló
się do jednego, konkretnego typu głowicy.Prrykład takiegowykresujest podany na
rys.18.6.
-----l o

to
IW
l+ł I

nł
lll
20
I

$
$

&

!o

6a)
dB

żc

-z
!.so -E

x 100 mm
Rys. 18.6 WykresoWR (nieunormowany)głowicy4LN25

18.3. Nakładana skala owR

t8.3.| . Zależnościreprezentowane przez wykres oWR można przedstawić na ptzeźroczy.

stej szybce (błonie fotograficmej, pleksiglaśe itd.), przystosowanej od nakidańa na
ekran defektoskopu.otrzymuje się w ten sposób n ak ł a d an ą ska 1ę owR,
naTryaną skalą oWR.
Skalę oWR stanowi rodzina krąrwych przedstawiających położenie więrzchołków
ech płaskich, kolistych reflektorów o różnej średnicy,znajdujących się w badanym mate.
riale w roźLnychodległościach od głowicy. Ska|aoWR jest przypisanado określonego de.
fektoskopu, głowicy i zakresu obserwacii. Po dokonaniu odpowiedniej nastawy wzmoc.
nienie skala oWR umożliwia natychmiastową ocenę średnicywady równoważnej wzglę-
dem wykrytej wady naturalnej.

t8.3.2. Sposób sporządzalia skali oWR wyj aśnianastępujący przykład.

Przyktad, 2
NależysporządzićskalęoWR dla głowicyf LN 2s dla zakresuobserwacjizo= (0 i 250)mm
idl.ad= I -2 _ 4 mm.Dla/ = l50mm krzywa,,d = 4mm,,powinnadochodzić doh = H.
Zaopatrujemysię w próbki zawierająceotwory płaskodenne j.w.' znajdujące
o średnicach się
w odległościach 50.l0G150-200-250mm od powierzchnibadania(razem15'próbek);ponadtoza.
opatrujemysię w 5 próbekbezotworów,o wysokościach j.w.
Nakładamyszybkęna ekran'skalujemywymaganyzakresobserwacji. Dobieramywzmocnienie
tak' aby wierzchołekechareflektorad = 4 mm z odległościr = 150 mm doĘkał gómej krawędzi
eklanu(rys. |8.,|).Bez zmianywzmocńeniaustawiamygłowicęna poszczególnych próbkachz otwo.
rami o średnicy położenieszczytówechi łączymyottzymanepunkty linią.Następ-
4 mm,zaznaczalrty
nie,nadalbez zmianywzmocnienia,zaznaczanypołożenieszczytówechwado średnicach 2 i 1 mm.
otrzymamyw ten sposóblińe obrazujące za|eżność
amplitudł echwado średnicach d = 1-2.4
mm w zależności /.
od odległości
Z kole| należyodpowiedniozapisaćczułośćukładu,,defektoskop_ głowica'',przy której skala

ll9
 50 100 200 250 mm

skalaoWR dlagłowicy2LN25i Zo {L, stal)= (0 _ 250)mm

Rys. l8.7 Nakładana

zostzławykonana.W Ęm celu lależy wyznaczyćalbo krzywąprzedstawiającą połozenieszczytów

ech den leżącychw róźnychodległościach, szczytuechdnaz jednejod-
albo przynajmniejpołożenie
ległości.Na rys. 18.7przedstawionoobydwaprzypadki.
Położenie wierzchołków ech dna zńinych odległościprzedstawia krzywa naryso.
wana linią przerywdną, otrrymana po obniżeniu wzmocnienia o 30 dB' co oznaczono
wpisując obok krzywej ,,ł30 dB''. IeżBEzatem posługującsię echem dna leżącegow do.
wolnej odległościw zaklesie 80 - 250 mm wyregulujemy wzmocnienie tak' aby szczyt
echa dotykał tej linii, to dla posłużeniasię skalą należywanocnienie zwiękvyć o 30 dB.
Drugą możliwośćstanowi wykÓrzystanie echa powierzchni bocznej wzorca W| |eż'ą-
cego w odlegtości25 mm. 7akładamy, że jego wierzchołek powinin zna|eźćsię na wy.
sokościot H. okazu1e się, żew tym celu nalely wzmocnienie zmniejsryć o 45 dB. Poło-
żrerttewczytu echa oznac7arfly kółkiem i napisem + 45 dB. oznacza to, źr chcąc wyko.
rrystać skalę, po ustawieniu echa dna z odległości25 mm w kółku' należywzmocnienie
mńększyć o 45 dB.

18.3.3. Nakładanąskalę oWR sporządzasię przy uzyciu próbek, w których tłumienie

fal ultradźwiękowych jest takie samo, lub dostatecznie bliskie tłumieniu w materiale ba.
danego elementu.
Jeśli skala lest przeznaczona dla materiału o niskim ttumieniu, to krzywa dna jest
miejscem geometrycznym zarówno wierzchołków ech dna badanych elementów, jak i echa
powierzchni bocznej wzotca Wl . w tym przypadku ,,kółko'', o którym mowa w l8.3.2.'
|eżyna krzywej dna i jest właściwieniepotrzebne.
Jeśliskala jest ptzeznaczonadla materiału o zwiększonym tłumieniu, to krzywa dna
nie jest miejscem geometrycznym wierzchołków ech dna elementów o niskim tłumieniu,
jakim jest m.in. wzorzec |,|1, i ,'kółko'', w którym ma się znaleźćwierzchołekecha bo.
cznej ścianywzorca |UI|eĘ poza?'rzywąechadna (ponad nią).W tym przypadku celowe
jest wyrysowanie całej krzywej dna dla materiału o niskim tłumieniu. Posiadanie na skali
obu krzywych dna umozliwia szybkie wyznaczenie tzw. strat przejścia(rozdział 27)

r20
18.3.4. Nakładaną skalę oWR dla odległościwiększych od 3 długościpola bliskiego
głowicy można sporządzić w sposób uproszczony' posługującsię próbkami zawierujący.
mi nawierconedo różnejgłębokości otwory płaskodenneo s t a ł ej średnicy. Jeślina.
przykład dysponujemy otwórami o średnicy4 mm, to po wykreśleniukrzywej dla tej
średnicypowtarzamy postępowanie przy wzmocnieniacho 6; |2,l8 dB większych i
mniejszych' Jest to równoznaczne z odbiorem ech den otworów o średnicachwiększych
lub mniejszychodpowiedniot/2,f,2\/2 razy,tj. o średnicach ll,o - 8,o _ 5ś _ 2,8
- 2 - 1 , 4m m .

l8.4. CharakteryĘka w kierunku prostopadĘm do osi wiądri

18.4.1.Postugując się próbkami z reflektorami płaskimi o jednakowej średnicyd,takimi

jak przy wyznaczaniv zależnościoWR, możemy wyznaczyć za|eżnosćpoziomu echa od
wielkościprzesuwu reflektora w kierrrnku prostopadłym do osi wiązki. Schemat i wyniki
takiego pomiaru są przedstawione na rys. l8.-9.I&zywe poziomu echa osiągająmaksimum
d l a x = 0 i o p a d a j ą o6 d B w p u n k t a c h p i p , t j . d l a x = x ix = x .Jeżn|ipunktytakie
wyznaczymy dla różnych odległościz, przedstawimy je w układzie XZ i połączymy zc
sobą, to otlzymamy kontur analogiczny do konturu wiązki omówionego w rozdziale do.
tyczącym pola ultradźwiękowegoprzetwornika kołowego, ztym,irc nie jest olnti4zarry
z ciśnieniemakustycznym, lecz poziomem echa. Kontur ten jest nazywany konturem
wiązki ultradż'więkowej dla metody echa.

I
I
I

Rys. 18.8 Sposób przedstawieniacharakterystykigłowicy w kierunku prostopadłymdo osi wiązki

121
 .,(tj.róimicax ,_ ,)
odległość międry punktamip i p x jest miarąszerokości wipki
rryięksry spadek wzmocnienia _ np.
ultradźwiękowej w metodzieecha.Gdyby dopuścić
20 dB _ szerokość wiązkibyłabywiększa.
wiązld i kąt jej rozbitźności
Jalr się okazuje, szerokość są si|nie zależneod średnicy
jej
rcflektora ptadriego użytegodo wyznaczenia. Dla ref|elctorów nie płaslrichotrzymuje
dę inne wyniki' zu|Efuetatrżeod ich kształtu. Z tego powodu:
_ n8lezy zlwsz|Bpodawać rodząi i urymiar rcflektora użytegoprzy wyznaczaniu
cnarakterystytriw kierunlruprostopadĘm do osi wiąd<iuluadźwiękowej'
- moźna* *otą poróYmywaćtyk; wyniki otrzymane dla reflektorów o jednako.
wym kształciei vapianch.
{ praktyce, do wyznaczaniaclrarakterystykiw kierrnku prostopadłymdo osi wiąz.
ki nie.stozuje reflektorówpłaskich,ponieważpomiarysąkłopotliwe.Najchętniejwy.
się
korrystujeśiędo tego celu echaod pobocznicyotworuolaągtegolub dnarowkaprosto-
kątnego.
t8.4.2.Szczególnyprzypadekzachodńgdy poziom echajest wznaczarrydla małegore.
flektora kulistego.Wówozaskontrrrwiąpkiultradźwiękowej dla metodyechadla spadku
2N decybeli,pokrywa się z konturemwiązkidla spadkupoziomuciśnienia akustycznego
o tr/derybeli.Na prrykład,kontur wiązkidla spadkupoziomuechao 20 dB pokrywasię
z konturemdla spadkupoziomuciśnienia o l0 dB(rys. l8.9).

oWR
18.5. wpĘw kształtureflelrtorana zależność
- jak wiemy - do
omówione w poprzednichustępachlvyklesy oWR odnosząsię
zorientowanychrównoleglewzględempowierzchnibada-
płaskich,kolistych.reflektorów,
nia. Amplitudaech takich małychreflektorówjest odwrotnieproporcjonalnado kwadra.
tu odległościz tzn.

hr"no=
j

koh-
Spotykane w praktyce wady naturalne lub wzorcowę nie zawsze są płaskimi
mogą być za takie uważane). Z przeprowa.
stymi reflektorami (ewentualnie nię zawsze
dzonych badari wynika, żewysokoścechzaleiry..
a). odwrotnie proporcjonalnie do z2 dla:
- sferyczny.t' o.n okrągłych otworów, krótkich rowków o przekroju prostokąt.
nym lub trójkątnym'
- pęcherzykulistych i podłuznych,pojedynczych,żuż|i(w spoinach);
b) odwrotnie proporcjonalnedo zsl/' dla"
_ bocznych powierzchni okrągłych otworów;
- łańcuchów pęcherzy, długich braków przetopu i długich ż'użliw spoinach;
c) odwrotnie proporcjonalnie do z dla dużych pęknięć o chropowatej powierzchni.
Fakt zmiany wysokościech w funkcji odlegtościwedług różnych praw uzasadnia,
na-
dlaczego w określeniurównoważnośćwad zakłada się jednakową odległośćdla wady
turahój i równoważn ej.Z powyż,szego Że dvtareflektory
wynika teź:', o różnej charaktery.
styce równowaźne sobie w pewnej odległości,nie są sobie równoważne w odległościin-

t22
nej. o tym należy pamiętać m.in. prry stosowaniu do nastawy czułościreflektorów w
postaci pobocznic otworów walcowych, co zdarza się dośćczęsto w praktyce. Przykła.
dowo' pobocznica otworu o średnicy4 mm, znajdującegosię w odległości500 mm od gło.
wicy MWB.N2 jest równoważna płaskiemu dnu otworu o średnicy6 mm, natomiast w od-
ległości20 mm, pobocznica ta odbija fale tak jak płaskie dno olworu o średnicy3 mm.

18.ó. WpĘw własnościo&odka na geometrię wiądd

Pomiary ciśnieniaakustycznego, czy poziomu echa odbitego od reflektora w polu

jednego i tego samego przetwornika, wykonane w ośrodkacho róznych własnościach_
wykazują,iLe:
a) rozkład wzdtuż osi Z jest jednakowy jeżeli jest przedstawiony w funkcji nie bez.
względnejodległościy,leczw odległości unormowanej1

odległośćbezwz8ledna z
^' -
Długośćpola bliskiego .|/
jest jednakowy jeżelijbst przedsta-
b) rozkład w kierunku prostopadłym do osi Z
wionywfunkcjiprzesunięciawyrażonegowjednostkachdługości.
Regułętę ilustrujerys. l8.9.

ośnuxą ffi,<2
'"u-IE.f
4c' ^ł#
AA
Rys. 18.9 Wptyw własnościośrodkana kształt wiązki ultradźwiękowej wytwarzanej przez 1edną
i tę samą gtowicę. Szerokościwiązek A! i CD.sąjednakowe gdy pomiar wykonujemy w jednakowych
odlegtościachunormowanych'tj gdv =
ń, iv..

123
 W myśl tej reguły, geomefuię wiązki w stali można określićna podstawie pomiarów
w wodzie, przyjmując następnie, że:
xstal: xwoda

ct
Nstal
=zwoaaffi=
zstal ,r**i#ff =o,2szwooA

Mozliwość tę częstowykorzystuje sięw praktyce.Zewzfl,ędu na wyiodę,wznaczA

się parametrypola głowic (np. dtugośćpola bliskiego,kąt rozbieżności wiązki)w wo.
dae, a następniezgodniez przedstawioną zasadąprze|iczasię na odpowiednieparametry
w inieresującymośrodku (np' w staliczy aluminium).

19. oGÓLNE wIADoMoŚcI o GŁoWIcAcH ULTRADŹWIĘKoWYCH

l9.1. Częścislrładowegłowicy

Głowica ultradźwiękowajest integralnączęściąskładowądefektoskopu.Istotnym

elementemgłowicy jest przetwornik piezoelektryczny.Za pomocą samegoprzetwornika
moźnawprawdzie wytworzyć i odebraćfale ultradźwiękowe- stosującnp. układjak na
rys. l9.1 - jednak taki sposób jest w praktyce nie do przyjęcia z następującychpo"
wodów:
- brak mozliwościuchwyceniaprzetwornikaw rękę, celem przesuwaniago po bada.
nej powierzchni,
- przetwornikjest narażonyna uszkodzeniewskutek ścierania lub uderzenia,
- przetwornik pobudzony impulsowo do drgań' drga zbyt długo,
- przewód łączący górną elektrodę przetwornika z nadajnikiem i odbiornikiem
inrpulsów jest narażony na wpływy elektryczne z otoczeria (,,wychwytuje'' za-
kłócenia),
* przetwornik stanowi dla nadajnika impulsów stosunkowo dużeobciążeniepojem.
nościowe.

Rys. l 9' 1 Sposób wzbudzania fal za pomocą samegoprzetwornika

124
 Dla uniknięcia wymienionych mankamentów stosuje się następująceelementy po.
mocnicze,stanowiąceczęściskładowegłowicy (rys. 19.2):
a) obudowę mechaniczną _ która spełnia rolę uchwytu dla ręki operatora, osłony
mechanicznej i korpusu nośnegodla pozostałych częściskładowych głowicy;
b) płytkę czołową _ cfuoniącą przetwornik przed bezpośrednimstykiem z badaną
powierzchnią; w głowicach skośnychrolę tę spełnia klin pozwalający wprowa.
dzać fa|e do materiału pod żądanymkątem, dzięki czemu _ wykorzystując zja.
wisko transformacji fal _ można w materiale wzbudzać fale poprzeczne lub po-
wierzchniowe:
c) maę ttumiącą _ nałożLoną na tylną powierzchnię przetwornika, mającą zazada.
nie skrócoć czas trwania drgań właurych przetwornika;

f:łś; Ryq. 19.2 Częściskładowegłowicyultadźwiękowej.

P _'przetwomik, 1 _ obudowa,2 _ płytka czoŁowa'.? - ma.
_
9a'tł'um|ąca.4 gniazdodla kabla eluanowanego,5 - cewka
indukcyjna (dostrajająca)

d) piazdo dla dotączenia kabla ekranowego;

e) cewkę indukcyjną - dostrojoną do rezonansu z pojemnościąe|ektryczną ptzn.
twornika i kabla, prze,zco zostaje zredŃowane do minimum pojemnościoweob-
ciązenie nadajnika impulsów wnoszone przez te elementy (dzięki czemu wzrasta
energiafal wprowadzanych do badanegomateriatu).

|9.2. Rodzaje głowic

l9.2.l.Rodzaj głowiry z przetworrikiem wykonującym drgania olaeślająnastępujące

czynniki (tabela l9.l):
l. Rodzaj obudowy. od konstrŃcji obudowy głowicy zaLeżyjejprzeanczenie,1ak:
- ręczne badania kontaktowe
- badaniew zanurzeniu,
_ badanieelementówgorących.
2. Liczba puetworników. Jeżelriw obudowie znajduje się jeden przetwornik, mamy
do czynienia z głowicą pojedynczą - nazywaną głowicą jednoprzetwornikową
lub ,,nadawczo-odbiorczą''. Jeśliw obudowie znajdują się dwa przetworniki, to
możliwe są dwa prrypadki:
_ przetworniki sąpołączoneze sobąrównolegle;jestto przypadek dwóch głowic
jednoprzetwornikowych, umieszczonych we wspólnej obudowie ;

125
 _ jeden przetwornik jest ptzyłączony stale do nadajnika, a drugi do odbiornika
impulsów; daje to w efekcie gtowicę podrrójną nazywaną też głowicą Ępu
,padajnik - odbiornik"
3. Kształt klina głowic slrośnych.Za|eż'nieod ksztattu klina
_ fale wzbudzane w badanym materiale mogą być falami podtuznymi, po-
przecznymi lub PowierzchniowYmi,
_ [ąt z{tamania wiązki fal podtużnych lub poprzecznych może być tóż'ny,
_ *ią"t." fal może mieć ,lraturalny'' kształt lub też być specjalnieuformowana
lub rozbieżnie).
(zbież'nie
4. Wielkośćtłumieniaprzetwornika.
Tabela 19.1

Ceńy sktadające się na olcreślenierodzaju głowicy

Liczba Rodzaj Kątzała- Ttumienie

Kształt pfletwor-
przetwor- wzbudz matua
Obudowa
fal wiązki nika
ników fat

Normalna (głowica
(do badańręcznych) L 0o
pojedyncza)
(głowica Naturalny
Normalne
normalna) (nieformo-
wany,
Specjalna
(do badań zmechanizowa.
(głowica T
nych lub autom.)
podwójna)

Wodoszczelna
(do badańzanurzeniowych) f
>0o Formowa-
(dwie gło- (głowica ny
wice poje- skośna) (wiązka Duże
dyncze, zbież,na
odporna na temperaturę R
(do badań elementów gorą- włączone lub roz-
równoleg. bieżna)
cych) le do de-
fektoskoPu)

- to głowice ptzezna.
|9.2.2.hzeważająca ilośćgłowic jakie są w powszechnym użyciu
czone do zwykłych badań ręcznych, o norma|nej (nieformowanej) wiązce fal, wytwarza.
to gtowice następujących rodzai:
nej przez przetwornik o ''normalnym'' tłumieniu. Są
-u;gto*i..pojedyncze(|ednoprzetwornikowe)falpodłuznychwprowadzanychpro.
-
stopadle do powierzchni badania (o zerowym kącie zaŁamaniawiązki) nazywa-
nelotocznie głowicami norma1nymi fal podłllż'nych, lub
rmal n y m i ;
l e s z c z e k r ó c egj t o w i c a m i n o
fal podłużnych- narywane po.
o c z n i e podwójne typu ,,nadajnikodbiornik''
b). i!łowice
gto*ic'ami podwójnymi fal podłuż'nych, lub
w p r o s tg ł o w i c a m i p o d w ó j n y m i ;
c) głowice pojedyncze (ednoprzetwornikowe) fal poprzecznych wprowadzanych
badania -
do badanego materiału w kierunku skośnymwzględem powierzchni
r Ł a T r y a n e p o t o c z ngi eł o w i c a m i sko śnymi Qub kątowymi)

126
 fal p o p r z e c z n y c h , a c z ę s t o w p r o sgt ł o w i c a m i skośnymi;
_ naTywane
d) głowice podwójne Ępu ,,nadajnikodbiornik'' fal poprzecaiych
gtowicami podwójnymi fal poprzecznych;
e) głowice pojedyncze wzgl. podwójne typu.,,nadajnik.odbiornik'' fal powierzch.
niowych.
U z y w a n i em a k s y m a l n i es k ó c o n y c h o k r e ś l ejńa k g ł o w i c a norma.lna,
głowica skośna i głowica podwójna wodniesieniudogłowic
wymienionych w punktach a, b, c - na ogół nie prowadzi do nieporozumień. Ury.
wając tych określeńnależyjednak zdawać sobie sprawę,żc:
- w kierunku prostopadtym do powierzchni badania mqżna wprowadzić także
fale poprzeczne, postugując się głowicą normalną o przetworniku wykonują-
cym drgania poprzeczne
- w kierunku skośnymdo powrerzchni badania można wprowadzić fale podłużne'
stosując odpowiedni klin pomiędzy przetwornikiem wykonującym drgania po.
dłuzne a powierzchnią badania;
_ obok głowic podwójnych fal podłuznych są również stosowanegłowice podwój-
ne fal poprzecznych lub powierzchniowych.
Dla uniknięcia dwuznacznościzaleca się używać określeńuzupetnionych o rodzaj
wytwarzanychfalawięc,,... falpodłużnych'' falpoprzecznYch'',,,...falpo.
wierzchniowych".

19.3. Dane techniczne i parametgy głowic

Uzytkownik głowicy powinien posiadać informa cje:

a) o załresie stosowalnościgłowiry.
b) o wykrywalnościwad wynikającejz jej budowy ,3kustycznej'',
c) o wyxrywalności wad wynikającej z własnościgłowicy i uĄrtego defektoskopu'
czyli wtasnościukładu,,defektoskopgłowica''.
Zakres stosowalnościgłowicy jest określonyprzez następującedane:
_ masę'
- wymiary,
- zakres dopuvczalnych temperatur otoczenia,
- wodoszczelność,
- odpornośćna wstrząsy,
_ odpornośćna ścieranie.
Własnościgłowicy wynikające z jej konstrukcji ,BkusĘcznej'' (niezależnieod sto.
sowanegodefektoskopu) są określoneprzez:
_ częstotliwośćdrgań,
_ kąt załamania wiązki fal w badanym materiale (z zafgidy podawany dh stali)'
- lvymiary Przetwornika,
- wytres lub skale OWR,
Własnościukładu głowicy z defektoskopem, wpływające na wykrywalnośći oce.
nę rozmiaru wad, są określoneprzez:
- zapas wzmocnienia,
- długośćstrefy martwej,
- długośćstrefy wpływu impulsu nadawczego,

127
 - rozdzielczość.
- długoścsuefy wzajemnegowptywu ech wad,,
_ długośćstrefy wpływu echa sprzężenia (w prrypadku gtowic podwójnych).
oprócz wymienionych wyżej danych czasem potrzebne są dalsze, bardziej specja.
listyczne, jak - przykładowo _ v{ymiary ogniska, współczynnik temperaturowy kąta
załamania wiązki w badanym materiale, itp.

|9,4, głowic
Sposób oixltuczgfrńa

Podstawowe dane głowiry, które powinny być podane w jej oanaczeniu,to:

_ częstotliwośćdrgariw MHz,
- rcdzaj fal wzbudzanych w badanym materiale (L, T, R\,
_ wartośćkąta załamaniap w badanym materiale w stopniach,
- rzeczywiste wymiary przetwornika w milimetrach.
Wśródkrajowych producentów i uzytkowników głowic przyjęto zasadę oznaczania
głowic kombinacją liczb i liter, które informują o danych głowicy w podanej wyżej kolej-
ności.Wartośckątazał'amaniapodaje się zwykle dla stali.

Pruykłady 1-3
U Symbol 11 0020 lub 1t.|/20oznaczagłowicęwytwarzającą fale o częstotliwości
lMHz,po-
dłużną'załamaną w stalipod kątem0o. Przetwornikgłowicyma średnicę 20 mm
2) Symbol4n0o l0x10 oznaczagłowicęwytwarzającą falę o częstotliwości4MHz' popfteczną'
załamanąw stalipod kątem70o.Przetwornikgtowicymawymiary10x10mm.
3) Symbol fLL0o8x|6 oznacza głowicę wytwarzającą falę o częstotliwości 2MHz, podłużną'
załamanąw stali pod kątem 0o. Głowica ma dwa przetwomiki o wymiarach 8x16 mm.

19.5. Częstotliwośćgłowicy

19.5.|.Przez częstotliwośćgtowicy rozumie się jej częstotliwość

nominalną,będącączę.
stotliwością jest poda-
drgań własnych przetwornikagłowicy. Wartośćtej częstotliwości
wanaprzez producentagłowicy i występujewjej oznaczeniu.
Częstotliwośćgłowicy można w przybhżeniu wyznaczyć na podstawie obserwacji
echa wady na ekranie defektoskopu, przy maksymalnym jego ,,rozciągnięciu'' w czasie
(rys. l9.3). Zakres obserwacji powinien być wyskalowany w mikrosekundach.Nalezy
zmierzyć czas / (ps) w którym występuje ł pełnych okresów drgań T. Częstotliwość /
(MHz) wynosi

-ln
'tT= t- = -

19.5.2.Pobudzony przez impuls nadawczy przetwornik wykonuje drgania, które celowo

są silnie tłumione. Wskutek tego, czasdwy przebieg zmian grubościprzetwornika jak i
zmian ciśnieniaakustycznego w stykającym się z nim ośrodkumają postać ,,sinusoidy o
szybko malejącejamplitudzie'' . Z matematycznegoi fizycznego punktu widzenia przebieg

r28
Rys. l9.3 Wyznaczenie częstotliwościgtowrcy na podstawie obserwacji impulsu zobranowanego
na ekranie defektoskopu.
a._pru99detekdą'b-podetekQi.Czasodpowiadająa1 4okresomfugaliwynosi2gs.Stąd7=0J|rs'
f= 2MHz

taki nie jest snusoidą, lecz sumą sinusoid o różnych częstotliwościachi różnych amplitu-
dach. Z Ę8o powodu, chcąc doktadniej scharakteryzować pracę głowicy, na|eĘ wzĄć
pod uwagę tzw. widmo drgań przetwornika, czyh rczkład amplitud drgarńskładowych
w funkcji częstotliwości(rys. 19.4). W rozktadzie tym można wyróżnić zalres częstotli-
wościo największych amplitudach, w którym leży omówiona wyżej nominalna częstotli-
wośćgłowicy.

q
o
h
)
{
ą
(I

o 1
" !,,7o|",-o.,I,,ł,ł
drgańprzetwornika
Rys. 19.4 Prrykładwidmaczęstotliwości

W katalogach producentów głowic - oprócz c4ęstotliwościnominalnej - podawa.

ne czas€m także wartości ,,częstotliwościecha''. Przez częstotliwośćecha rozumie się
częstotliwość określoną z mierzonęgo na wejściuodbiornika rozkładu częstotliwoś.
ciowego echa odbitego od wzorcowego reflektora, Rozkład ten ma inny przebieg aniżeli
rozkład drgąń przetwornika' ponieważposzczególne ich składowe nie powracająw jedna.
kowym stopniu do przetwornika po odbiciu się od reflektora. Częstotliwośćecha jest
więc nieco inna aniżBliczęstotliwośćnominalna głowicy.
Z koleiinny _ aniżeli na wejściuodbiornika _ jest rozkład częstotliwościowyimpul-
su obserwowanego na ekranie defektoskopu. Jest to wynikiem niejednakoweSo wzmoc-
nienia povczególnych przebiegów sktadowych występujących na przetworniku przez
odbiornik defektoskopu. Z tego powodu' częstotliwośćzobrazowanego echa może być
nieco inna aniżeli częstotliwośćtego echa na wejściuodbiornika.

t29
19.ó. Tłumięnie przetwornika głowicy

Sposób zamocowaniaprzetwornika w głowicy i stopień tłumieniajego drgań' m.in.

przez masę tłumiącą,wpływają w istotny sposób na paremetry głowicy ultradźwięko.
wej. Jeśliprzetwornikjest słabotłumiony, to jego drganiaswobodnepo ustąpieniupobu-
dzenia trwają jeszcze ptzezwiele okresów (rys. l9.5a). Impuls ultradźwiękowy wysyłany
ptzez gŁowicę ze słabo tłumionym przetwornikiem jest długi a energia fal wprowadza.
nych do materiatu - duża.Za pomocągtowicy o ,,słabo''tłumionym przetworniku uzy.
skuje się dużą,,czułość''badania'natomiastmałąrozdzielczość.
Jeśliprzetwornik jest silnie ttumiony, impulsy wysyłane do badanegomateriałusą
bardzo krótkie (rys.l9.5b). Powstaje tzw.fa|a uderzeniowa.W tym przypadku uzyskuje
się bardzo dobrą rozdzielczość'lecz kosztem czułości.Widmo częstotliwościowe tak
krótkiego impulsu ultradŹwiękowego jest bardzo szerokie, występują w nim fale o bardzo
różnych częstotliwościach. Każdej częstotliwościodpowiada inna długość pola bliskiego
i rozbieżnośćwiązkj, wskutek czego, kontury wiązki nie są ostro Zarysowane.Prry bada-
niu takimi głowicami nie można oceniać rozmiarów wad równowaznych na podstawie
ogólnej zależnościoWR.
W praktyce defektoskopowej stosuje się głowice z przetwornikami o średnimstopniu
tłumienia.

Rys. 19.5 Kształt impulsu wysy.

łanego z gtowicy' w której prze-
twornik jest :
a - stabo tłumiony, b silnie
tłumiony (fale uderzeniowe)

19.7. Długośćpola b|iskiego

19.1.l. Długośćpola bliskiegogłowic o przetwornikachokrągłychoblicza się Z wzoru

(19.1a)

Jeżelipominięcie X2 wobec Ę nie wprowadzanadmiernegobłędu,

*=
+'Ł=
to

n'trr
4c (1e.1b)

W powyższychwzorach przyjmuje się, żeD,21= O,94D2.

Oznaczenia:.

,|/ - długośćpola bliskiego w nrm,

D - rueczywista średnicaprzetwornika w mm (D'p 4'97 D),

130
 Dsk skuteczna średnicaprzetwornika,
}. - długośćfali w mm,
/ _ częstotliwośćwMHz,
c1_ prędkośćrozchodzenia się fal w ośrodkuw mm/ ps.

19.7.2.Długośćpola bliskiego głowicy o przetworniku kwadratowym o boku a (mm)

oblicza sie z wzoru

N=1,37f;^=,,t
# (re.2)

|9.7.3.Długośćpola bliskiego głowicy o prostoĘtnym przetworniku o bokach a i ó

(mm) oblicza się z wzoru

, =+3 0 - h) ft1t) (1e.3)

19.7.4.Długość pola bliskiegotry'możnawyznaczyć doświadczalnie wykorzystując fakt,

że na wykresie oWR prosta styczna do krzywej ,,dna'' w zakresie odległościwiększych
W = 0 dBw odległościunormowanej
od 3.|y'przecina|lruę A =r|2 = |,57.

wo
W,I

w2
W

Rys. 19.6 Sposób wyznaczania długościpola bliskiego głowicy normalnej na podstawie pomiarów
po-
ziomu kolejnych ech powierzchni granicznejpróbki płasko-równoległejo grutości
s,) 3 .^r

Przebieg pomiaru w przypadku głowicy normalnej jest następujący (rys. 19.6):

a) posługując się cienką płytką w7laczarny wzmocnienie Wg przf którym echo
dna tej płytki wynosi o,4 H;
b) posługującsię płytką o grubościg ż 3N z materiałuo pomijalnym współczyn.
niku tłumienia fa|, wyznac'Zamy wzmocruenia W1 i W2, przy których pierwsze
i drugie echo dna osiągająwysokość0,4 H;
c) w Ńładzie ,;ogarytm odległości- wzmocnienie'', prowadzimy linię prostą
przez purkty g, |Ą)1oraz k, Iłz, odcrytujemy wartośćly przy której prosta

l3l
 przecina|inię |ł6;
d) szukana wartośćN wynosi

lru
N: L-
1,57

Przebiegpomiaruwprzypadkugtowicyskośnejjesttakisam,ztym,iLena|eżrypo-
prowadzi do zadawalających
służyćsię p,ótk o ks"tat.ie 1ak na rys. 19.7. Ten sposób
*y,,ito*-tylto wtedy, gdy ttumienie jest pomijalnie małe. Gdy do pomiaru używa się
wpły.
p,ot.t. ,tuli węglowyctr dla głowic o częstotliwoścido l,5 MHz uwzględnianie
". echa dna nie jest niezbęd.
wu tłumienia na ,n,znac71ny pizebieg krzywej zmian poziomu
poprawki na tłumienie nie nastręcza jednak żadnejtrudnościi w każ-
ne. Uwzględnienie
pomiaru jest istotny.
dym priypadku warto stwierdzić, czy wpływ tłumienia na wynik
przebiegu linii echa
u*"gięani.nie tłumienia polega na przyjmowaniu do wyznaczania
osiągałybywysokość
dna, takich wartości*"*o..'i*iu, prły kiórycn amplitudy ech dna
współczynnikatłumie-
o,4 H gdyby nie było tłumienia.Należy więc zmierzyć wartość
głowicę. Wzmocnienia |ł1 i W2
nia w materiale próbki dla fal wysyt alych przez badaną
H w materiale bez tłu.
przy których pierrvsze i drugie echa dna osiągałybywysokośćO!
mienia mają wartości

Iłl,=|łt-2g,o

Iłz-2g,ą
|4/z,=

Rys. l9.7 Sposóbwyznaczenia dłu.

gości pola btiskiego gtowicy skoś-
nej na podstawie pomiarów poziomu
kolejnych ech powierzchni granicz-
nych próbki płasko-równoległej

dla
Pomiary zmian amplitudy echa dużegoreflektora w funkcji odległościzarówno
war-
głowic normalnych, jak i skośnychmożna przeprowadzić w wodzie. Wyznaczone
dłu.
iości długościpól bliskich w wodzie trzeba następrtte prze|iczyć na równoważne
gościw interesującymnas materiale.
Wartościwspółczynników tłumienia fal podłuznych w wodzie wynoszą:
- prTyczęstotliwościfMHz _ 0,87 dB/m
_ przy częstotliwości4MHz _ 3ł7 dBlm

się, iLewiązka fa]lprzebiega przez

19.7.5.w badaniach ultradźwiękowych często zdarza
- granica znajduje..sięw odległości /7
dwa różne ośrodki- jak na rys. 19.8 których
obliczona dla ośrodka bliższego.
mniejszej aniżeli długośćpola uti,ki.go 1y'7przetwornika

132
Powstaje pytanie: w jakiej odległości12 od granicy ośrodków kończy się pole bliskie
przetwornika ?
Pole bliskie końcry się w miejscu, gdzie suma unormowanych odległościwynosi l,
to znaczy
l'-*lz=l
N1 N2
stąd

t2=N2-#,, (re.4)

Rys. 19.8 Ilustracja do obliczenia długości pola

bliskiego (odległości,'ogniska'') gdy wiązka fal
przechodzi pflez d\ta ośrodki.
N1 _ długość pola bliskiego przetwornika w ośrod.
ku I, N2 - długość pola bliskiego przetwornika
w ośrodku 2, /7 + 12 - odległość ,,ogniska''

Przykład 1 (rys.19.8)
Granicaośrodków
',|" i ',2,'znajduje = 2g.*. ł.1= 50mm,lr'2= 42mm
sięw odległościl1

l' 5
t=042**-920mm=25,Zmm

l9.8. Skuteczna średnicaprzetwornika

Dla przetwornikakołowego przyjmuje się, że średnicaskutecznawynosi 97 %śred-

nicy rzeczywistej, tj.

Dsk = 097 D

leże|i znana jest wartośćpola bliskiego głowicy y'/,to skuteczną średnicęprzetworni

ka obliczamy ze wzorów

( 19.5a)

133
lub gdy można pominąć X-

Dsk = / 4)rN (1e.sb)

Powyższywzór stosujesię równieżw przypadku przetworńków nie okrągłych.

l9.9. Kąt rozbieżnościwiązki

19.9.1.Pojęcie wiązki ultradźwiękowejzostało omówione w ustępach 8.4 i |8.4.Przez

wiązkę ultradźwiękowągłowicy rozumie się obszar pola ultradźwiękowegona granicy
którelo poziom ciśnieniaakustycznegospada o A decybeli, lub (co na jedno wychodzi)
poziom echa małego kulistego reflektora spada o 2 A decybeli - wobec poziomu maksy-
malnego,stwierdzonegodla danejodległości.
Linia t4cząca punkty, w których występuje maksymalny poziom ciśnienialub echa,
nazywanajest o s ią w iązki. Wprzypadkugłowicnormalnych'oświązkijestlinią
prostą,poprowadzoną prostopadle do powierzchni przetwornika,zjej środka.W przypad-
ku głowic skośnych'oświązki jest też linią wychodzącąze środkaprzetwornika,w kie-
runku doń prostopadłym,która jednak na powierzchnibadanegoelementuulegazałama.
niu pod kątem,nazywanym kątem załamania głowicy.

t9.9.2. Wiązka ultradźwiękowagłowicy o przetworniku okrągłymw odległości więk-

szej od 3 długości pola bliskiegoma kształt stożka,
opierającego się o przetworni
środek
ka, którego kąt wierzchołkowy wynosi 2 @ (patrz ustęp 8.5 i rys. 8.9).
Kąt rozbieżnościwiązki @ obliczamy z wzoru

sin@=k
* (l9.ó)

ptzy czym współczynnik k za|eiLyod założonegospadku poziomu ciśnienialub echa

spadekpoziomu ciśnienia dB 3 610

spadekpoziomu echa dB 6 12 20

0,51 0,70 0,87

z wynosi
wiązki ó w odległości
Szerokość

b =2 z sin@ (re.7
)
t9.9.3. Wiązka ultradźwiękowagłowicy o przetworniku prostokątnym w odległości
większej od 3 długościpola bliskiego, ma kształt ostrosłupao przekroju prostokątnym,
przechodzącegow dużej odległościw elipsę. W tym przypadku występują dwa różne ką.
ty rozbieżnościwiązki :
kąt @1 w płaszczyźnierównoległej do boku przetwornika o długościa7

sin @1 = /c (le.8a)
Ą

134
 oraz kąt @2w płaszczyźnierównoległejdo boku przetwornikao długości
a2

sin@2=
ł +
(le.8b)

* 19.10. Skupianie i rozpraszanie wiązki fal

Wiązkę ultradźwiękowągłowicy możnakształtowaćza pomocą soczeweki zwiercia-

deł akustycznych.Na rys. 19.9 pokazano schematodbicia równoległejwiązki fal od po.
wierzchni granicznej ośrodków o różnych akustycznych opornościachfalowych. Wiązka
odbita od powierzchni wklęsłej staje się wiązką skupioną,natomiast wiązka odbita od
powierzchni wypukłej - rozbieżną.
Wiązka równoległa po przejściuprzezpłytkę o ksztatcie soczewkioptycznej,w któ.
rej fale rozchodzą się z prędkościąc, inną niż prędkośćfa|cow otaczającymją ośrodku,
skupia się lub rozprasza.

Pow,EkzcHN,A nł,,'ifA

Pow,Ep2cHN,.Ą
wvPukŁA RofPRAslA

Rys. 19.9 Przy odbiciu fal od krzywych

powierzchni gtanicznych między ośrodkami
o różnych własnośoiach akusĘcznych, na-
stępuje skupianie lub rozpraszanie fal

Jeżelic' ż co, to skupianie uzyskuje się za pomocą soczewki ,,wklęsłej'''jak na rys.

19.10.
Jeżelic' 1 co, to skupianieuzyskuje się za pomocą soczewki ',wypukłej''.
W miejscuskupieniawiązki - w ognisku - panujeciśnienie większe aniżeliwe wiązce
nie skupionej.Dzięki temu uzyskuje się zwiększone echa wad znajdującychsię w obsza-
rze ogniska.
odległośćogniska od soczewki, nazywanaogniskową' za|eżyod wartościprędkości
c, i co oraz od promienia ktzywizny soczewki.
W przypadku soczewki z pleksiglasujak na rys. 19.10,ogniskowa/w wodzie wynosi
(w przybliżeniu):

135
 f= R-!.
J WODA
n- |
(le.e)
CL PLEKSIGLAS
cL wool,

R promień |c;zywu:nysoczewki,c1 _ prędkość

rozchodzeniasię ful podtuznych.

o€N,sr<owA f

w wodzieprzezwklęsłąsoczewkęz pleksiglasu
wiązkirównoległej
Rys. l9.l0 ogrriskowanie

Głowice skupiające są wykonywane z przeznaczeniem do badań kontaktowych i za.

nruzeniowych. Głowice do badń kontaktowych charakteryzuje wartośćogniskowej w
stali, a głowice do badań zanurzeniowych - wartośćogrriskowejw wodzie.
Podczas badania kontaktowego Położenie ogniska w elemencie jest stałe (zgodne
z ogniskpwą). Natomiast podczas badania zanurzeniowego, położenieogniska w elemen.
cie, jest za|eżneod odległościpowierzchni badania od soczewki głowicy. Gdy odległość
ta jest równa ogntskowej,ognisko znajduje śęna powierzchni badanegoelementu. W mia-
rę zmniejszenia się tej odległości,ognisko przemieszczasię w głąbelementu, a ogniskowa
coraz bardziej skraca się (rys. l9.11). Położenieogniska w stalimożnaobliczyć Zwzoru

Rys. 19.11 Położenie ogniska

podczas badania zanurzeniowego
zależy od odlegtościgłowicy od
powierzchni badanego elementu

c'wopł
- /
/sr,ł,I-,=Ąvooo WODA c; ttOt (l9.l0a)

-
a odległośćw wodzie, przy której uzyskuje się określonepołożenieogniska w stali z
wzoru

136
 /*ooo=Ąvooo
_ /srłt
#ffi (l9.lob)
Gdy wiązka zogniskowana pada ukośniena powierzchnię elementu, powstająw nim dwie
wiązki zaŁamane:fal podłużnych'i poptzecznych, posiadające.odrębne ogniska w róż.
nych odległościachod powierzchni (licząc wzdłuż osi wiązki).
Schematy budowy głowic skupiających dla fal poprzecznych przedstawiono na rys.
24.2.

20. PARAMETRY UKŁADU 'pEFEKTosKoP _ GŁowIcA"

20.1. Zapaswzrnocnienia
?.0.11.ZapasemwzmocnieniaZW Ńładu ,,defektoskop_ głowica''naąrw.amy
wartość

ZIĄ)=Ił,-Wo

Wo - w z m o c n i e n i e p r zkyt ó r y m e c h o odniesienia osiąganaekranie

wysokość0,4Ę
Wz - wzmocnienie przy którym szumy elektroniczne i strukturalne (i ewtl. inne
zakłócenia wynikające z budowy głowicy) osiągająna ekranie wysokość
0.2H.
Za echo odniesienia przyjmujesię:
- w prrypadku głowic normalnych echo ścianywzorca |łl1od|egłejo 25 mm od
głowicy (rys. 20.la)'
- w przypadku głowic skośnychecho ścianywzorca I/1 o promieniu l00mm'lub
wzorca l4)2o promieniu 50 lub 25 mm,
_ w przypadku głowic podwójnych echo płytki stalowej o pomijalnie matym tłu-
mieniu, o grubościrównej odległościogniska głowicy.
Wzmocni.enie Wz, PIzY którym szumy osiągająwysokośćo,2 H wyznacza się gdy
głowica znajduje się na wzorcu lńl1 nad ścianąodległąo l00 mm (rys. 20.lb). Jeż'elli przy
makqymalnym wmocnieniu defektoskopu |U max poziom szumów jest nżsry niż,0,2H
przyjmujemy Wz = |ł inax.
Sposób zapisu zapasu wzmocnienia ilustrują następująceprzykłady:

ZW (h25 = O,4H) = 70 dB

Zlrt (hp1gg = 0,4 H) = 55 dB

Wielkqśćzapasu wzmocnienia danego ukłądu ,,defektoskop-głowica'' jest miarąje.

go przydatnoścido wykrywania wad w dużej odległości.Im większy jest zapas wanoc.
nienia, tym mniejsze i dalej potożone wady mogą być wykryte.

t37
 b)

I
I
I

Rys. 20.1 Sposób pomiaruzapasuwzmocnieniaprzy użycillwzorcaW].

a _ echo z odlegtości25 mm osiągawysokość0,4 11,wzmocnieniewynosi Wo,b - echa zakłóceń
dochodzą do wysokości0 '2 H, wzmocnienie wynosi I1,|,
ZW = Iłz_ Wo

2o.l2.Lirua podoma poprowadzona na wyklesie oWR o ZW decybe|i niżej od pllnktu

odpowiadającego echu odniesienia dzieli tęn wykres na dwa obszary (rys. 20.2): w obsza.
rze nad tą linią, echa.wad przewyiuają co najmniej o 6 dB maksymalną amplitudę zakłó.
ceń, w związku z czym wady te są wykrywane w sposób pewny; natomiast wady leżące

|ł
i z* d,la cr.2 I
|, z,-, ąta d.4
J
wykrywania wad na wykresie oWR gdy zapas wzmoc.
Rys. 20.2 Wyznaczenie granicznych odległości
nieniaZW = 50 dB

138
pod tą prostą dają echaza małe, by były na pewno lvyklyte.Linia ta przecinakrzywe
dla poszczególnych średnicwad równowainych _ prTy odległościach,które są najwięk.
szymi odległościami,z xtorych wady o tych średnicachdają echa przekraczające jeszcze
o 6 dB poziom szumów. odległościte sąnazywane granicznymi odległościamiwykrywa.
nia wad.

20.2. Strefa martwa

2o.2.|.Strefa martwa jest wynikiem ,,zajęcia,,przez impuls nadąwczy pewnej długości

początkowej częścizakresu obserwacji(rys. 20.3). Echa wad występującychw strcfic
martwej trudno jest, albo wogóle nie możnawyróżnić od impulsu nadawczego.Za dtu-
gośćstrefy martwejmuwaza się odcinek drogi fal w materiale,odpowiadającyczęści
1lod.
stawy czasu ,,zajętej,, przez impuls nadawczy. Długośćstrefy martwej|iczy się otl po-
wierzchni badania do miejsca w którym obwiednia imprrlsu nadawczego spada do wy-
sokościo,| H (wg PN.75/M.70054)lub o,f H (wg innych za|eceń).
Długośćstrefy martwej za|eżyod czasu trwania imprrlsu nadawczego i od grubości
nakładek przyklejonych do czoła przetwornika
Długośćstrefy martwei za|eżytakże od wzmocnienia. Gdy wzmocnienie Wo jest
ustalonetak, by echo odniesienia(ak w ustępie20.1) miałowysokość o,4H,tolvystę.
pująca wówczas długośćstrefy martwej nazywa się ,,długością strefy martwej przy po-
ziomie 0 dB" i jest oznaczanasymbolemln (0 dB). Jeżelinastępniezwiększymy wzmoc.
nienie do wartościW0 * , decybeli, to mamy do czynienia ze ,,strefąmartwą przy pozio.
mie n decybeli'', której długośćoznacza się symbolem m(n dB).

Rys. 20.3 Strefa martwa (ptzy założ,entu'Że

obwiedniaimpulsu nadawczegospadado 0,1 H).
m długośćstrefy miutwej

Przyktad I
Firma Krautkramerdla głowiry normalnejĘp B2.SN (odpowiednik2LN24) w połączeniuz de.
fektoskopemUSIPI 0W podaje:
n ( 0 d B ) = 8 , 51 2 m m
m(20dB)=15t3mm
n ( 4 0d B ) = 2 4 ! 6 m m
Wymowatych liczb jest następująca
(rys. 20.4):

, -lt)
 wady leźącena głębokości mniejszejniżok. 8,5 mm nie sąwykywalne;
wady których echo jest mniejszeo 20 dB względem echa odniesieniamogąbyć wykryte' jeśli
leżąw odległościnie mniejszejniźok. 15 mm od powierzchni badania;
wykryte jeśli
wajy których echo jest mniejsze o 40 dB względem echa odniesieniamogąbyć
leżąw odległościnie mniejszejntż'ok. f4 mm od powierzchni badania.

Rys. 20.4 Długośćstrefy martwej głowicy

B2S -N prry Poziomach 0 dB, 20 dB i 40 dB

?.o.2.2.Wartościdługościstrefy martwej możnananieśćna wykres oWR (rys. 20.5). Li.

rtla tącząca punkty reprezentujące granicę tej strefy przy poszczególnych poziomach
wzmocnienia dzieli obszar wyklesu oWR na dwie części:w obszarze lewym impuls na.
dawczy uniemożliwia wyklycie wad' mogą być wykryte tylko wady położonew obszarze
prawym.

ń(4ndB)
m(20d8)
m(0d

w
dB

cld
Rys. 20.5 lnterpretacja długościstrefy martwej na wykresie owR. w obszatzepołożonymna lewo
granicy strefy martwej impuis nadawczy uniemożliwiawykrycie wad. Wada o danej średnicymożebyc
granicąstrefy
wykryta w odległościnie mniejszej od tej, przy której krzywa tej średnicyprzecina się z
.nartwej(na przykładwada o średnicy 2J mm dopierood odległości 21 mm)

140
fo.2.3.orientacyjnie, wartośćdługościstrefy martwej głowicy możnawyznaczyć nastę-
pująco(rys.20.6):
_ wyregulować wzmocnie nie |łg tak , by echo odniesienia wynosiło 0 T f/;
_ nie zmieniając nastawy defektoskopu, odjąć ltowicę zwzorca'oczyścić zresztek
cieczy sprzęgająceji odczytać długośćzakresu obserwacji, poza którą obwiednia
impulsu nadawczegospada poniżej0,l I/;
- z kolei dokonać odczytów d|a Wo + 20 dB onz |ł, + 40 dB.

&owtcA

l__ I

25
I
1-- ]mmłn

---T
QrsrA pawtEpzcttil/,A

r/
L

strefymartwej
Rys' 20.ó Uproszczonysposóbpomiarudługości

20.2.4.WedŁug PN.75/M.7o05l dla wyznaczenia strefy martwej układu ,,defektoskop.

głowica normalna'', badanągłowicęuktadasię na'wzorcu l|] w połoircniu/ lub B (rys.
20.7). Konsekwentnie, długośćstrefy martwej należy podać jako długośćdrogi fal w
pleksiglasie
. lub stali.
-
Dia wyznaczenia długościstrefy martwej układu ,,defektoskop głowica skośna'',
badaną głowicę umieszcza się na wzorcu w] w położeniu pokazanym na rys. 20.8.

20.3. Strefa wpĘwu imptrlsu nadawczego

20.3.l.Wpływ impulsu nadawczego rozciąga się również poza długośćstrefy martwej.

Na odcinku bezpośredniopoza strefą martwą nie powoduje on wprawdzie ,,przesło-
nięcia'' echa wad, ale - jak się okazuje - powoduje zmianę ich amplitud' wskutek czego
obserwowane echa nie są rzetelną miarą wielkościrównoważnych wad. Z tego względu'
pruducenci defektoskopów i głowic podają długościstrefy wpływu impulsu nadawcze.
przeŁsaczat 2 dB.
Eo ' poza którą ,,zafałszowanie''amplitudy echa wady nie
Długośćstrefy wpływu impulsu nadawczego zależyod wzmocnienia i jest podawana

141
 tak samojak dla strefymartwej.Pomiar
dla poziomów 0 dB, 20 dB i 40 dB, określonych
dtugości strefywpływuimpulsunadawczego wymagauzycia specjalnejaparatury.

Rys. 20.7 Sposóbpomiarudługości - głowicanormalna''według

strefymartwejukładu,,defektoskop
PN - 7slM-7005r.
a _ pily ustawieniu na pleksiglasiewzrnocni'eniewynoś |t/(h2j = ff), a zakresobserwacjiZo = (0 _ |00)
mm' b _ przy ustawieniuna stali wzmocnieniewynosi |ł(h25 = 0,a il + 30 dB, a zakles obserwacji
ZO=(o-50)mm

m.20mm
Rys. 20.8 Sposób pomiaru długościstrefy martwej układu ,,defektoskopgłowica skośna''według
PN-7s/M-700s1.
Wzmocnieniewynosi I{r(źp1o0= 0'41' + 20 dB azakres obserwacjizo = (O _ 100) mm

Przykład 2
Dla głowicy wspomniarrejw ptzykŁadzie 1 długościstrefy wpływu impulsu nadawczegowyno.
szą:
s(0dB) = l2.5t4mm
s (20 dB) = 20 t 4'5 mm
s(40dB)=32t6mm

f0.3.2.Wartości długości strefy wpływu imprrlsu nadawczego można nanieść na wykles

r42
 oWR (rys. 20.9). Linia łączącapunkty, reprezentującegranicę tej strefy prry poszczegóit-
nych poziomach wzmocnienia, dzieli obszar wykresu oWR na dwie części:w obszarze le.
wym (do linii strefy martwej) znajdują się reflektory,których są obrazowane z btędem
przekraczającym+ f dB, w obszarze prawyrn _ z błędem mniejszym.

rO

20

Fffi
to

ao

w 'o
dB
óo

7O

to

Io O

20 S{ @Oe

Rys. 20.9 Interpretacja długościstrefy wpływu impulsu nadawczego. W obszarze połoźonym na lewo
od granicy strefy wpływu (linia ciągła) impuls nadawczy zmienia echo wady o więcej ilż, + 2 dB.
Dla porównania, linią przerywanąz:dznaczono granicę strefy martwej

2o.4. Rozdzielczość

2o.4.l.Echa wad leżącychw dostatecznieróznych odległościach od powierzchnilvystę-

pują w różnych miejscach ekranu. W miarę zmniejszania się różnic ich odległości,echa na
ekranie zbliżająsię do siebie i w końcu zlewają się (rfs. 2o.l0). Mówimy wówczas, żeod.
ległośćtych wad stała się mniejsza od rozdńe|czościukładu ,,defektoskop3łowica''.
Miarą rozdzielczości jest najmniejsza różnica r odległości od powierzchni badania
dwóch wad dająrych echa ńżnĘce się od n derybeli, przy której to odległościmiędzy
echami tych wad występuje ,,wlclęśnięcie''sięgające.śdB poniżlej amplitudy mniqiszego
echa (rys. 20.ll). Talr zdefiniowane róźnice odległorfoi Ę tym większe, im większa jest
tóźnica amplitud n (dB).
Przyktad 3
Dla głowicywqpomnianej w przykładzieI rozdzielczość
r wynosi:
r (O)dB = 6,5t 1,5mm
r ( 2 0 ) d B= | 2 ż 2 m m
r ( 4 0 ) d B= 4 2 t 4 m m

143
 I

Rys. 20.l0 Ilustracja rozdzielczości

układu,,defektoskopgłowica''.W
miarę zrnniejszania się odległości
między reflektorami (wadami) ich
'na
impulsy eklanie zbliżają się do
siebie i na koniec zlewaJąsię

,,defektoskop.głowica''
Rys. 20.11 llustracjadefinidi tozdzie|czościukładu

prz€.
Pomiar rozdile]rcrcś(;według powyższ€j definicji wklac7A poza moiliwości
w związku z czym, w praktyce defektoskopowej bywają
ciętnego ułtkownika głowicy,
stósońne inne, omówione dalej sposoby określaniai mierzeńa rozdzielczości.

?.o.42.D|agłowicy normalnej rczdzje|czpść można określićrównież na podstawie obser.

wacji oscylJgamu 'towicy umieszczonej na wzorcu Wl (rys. 20.12). Jeśliuzyskamy peł.
ne iozdzjelone echa, uważamy rczdńe|czość za lOWo. Gdy oscylogram składa śę z
trzech,nie w pełni rozdzielonych impulsów, rozdne|czośćobiczamy wg wzoru

144
 A_B
tozdzie|czość= l00 -/o
A

oznaczeriaA, B - jaknarys.2O.l2.
Rozdzielczość głowic normalnych można też określićprzez pod,anienajmniejvej
grubościstalowej płytki płasko-równoległej,przy kt&Ą uzysku3e
sii w pełni oddzieionó
od siebiekolejne echa dna.

Y /\-
Rys. 20.12 Ocenarozd'zie|czości
,. fi- ga

głowicynormalnejza pomocąwzorcaW]

z|.!.3'.Przv pracy z głowicami skośnymi rozl'nelczośćmożna

wyznaczyć na wzorcu
półkolistym posiadającym powierzchnie cylindryczrre
o promieniach l00, 9l i 85 mm
(rys. 20.13), albo też za pomocą wzorca dwuczęściow.go,
któ,y posiada dwa płaskie
przesuwane reflektory (rys. 20.14). W tym ostatnim przypadku
póńu' polega na wyzna.
czeniu najmniejszej odległościr między powierzchnilaml
oati.ia3ącymi, ptzy której echa
tych powierzchni są rozróinialne.

+
ll
Rys. 20.l 3 Wzotzec z trzema wspót.
osiowymi powierzchniamirylindrycz-
nymi umoźliwiający ocenę rczdzie|-

i czościgłowic skośnych

r45
 .wzotzec dwuczęściowyumożliwiającyocenę
Rys. 20. 14
rozdzielczości głowic skośnych

fr.S. wpĘwu ech wad

Strefa wząierrrnego

Na wielkość echawadymożemieć takżewpływsąsiednie echo(rys.20.l5).

Miarądtugościestrefywpływusąsiednich-echoamplitudachróżniącychsięonde.
po p,,ćwo,,eniu której echo niższejest zobrazowanez btędem
cybeli 3esi odległość,
mnĘszym niż,!z dB.
PomiardługościŚtrerywzajemnegowpływuechwadwymagastosowaniaspecjalisty.
cznejaparaturYelektronicznej'

Przykład 4
strefy e wynoszą:
Dla głowicy wspomnianejw przykładzie l dtugości
e(O)dB=10+2mm
e(20)dB=19+3mm
e(40)dB=50+6mm

Rys. 2O.15 Ilustracjadefinidi dtugo-

.
&i strefy wpływu sqgiednich ech

układu ,,defektoskop- głowica''

al.ó. Granice stosowalności
(a = 0) możnawykryć
W prrypadku,gdy materiałbadanegoelementunie tłumi fal
od z
głow,icy |eżąw obszarzeograniczo.
wady,których wieńośćrównoważnai odległość
zapas wzmocnienia(rys.
nym: krzywą dna, linią strefy martweji linią 'ep'ezentuiącą
20.16).
wady leżącew obsza.
W przypadku,gdy materiałtłumi fa|e(a ) 0), możnawykryć
i krzywą tłumienia. IGzywątłumie.
,," og,i*ćionym:krzywą dna, linią strefy martwej
w górę od niej rzędneo wańo.
nia risujemy nad linią ,"i"* wzmocnienia,odmierzając
^WT
śc|

AtrlT = 2 az

t46
Rys. 20. l6 Granice stosowalnościuktadu ',,defektoskop.głowica,, wyznaczają:
w przypadku.zerowego współczynnika tłumienia: krzywa dna 1, linia strefy mattwej 2, linia za.
pasu wzmocnienia J,
wprzypadkuwspółczynnikatłurnieniaróżncgoodzcra:ktzywadna1,liniastrefymaltwej 2,-kny-
wa tłumienia 4

2l. GŁowIcE NoRMALNE FAL PoDŁUŻNYCH

21.|. Przeznaczeniei budowa głowiry

Głowica ta jest ptzez,naczonado wykrywania wewnętrznych wad przestrzennych

oraz wad ptaskich zorientowanyclirównoleglelqb pod niewielkim kątem do powierzchni
z której wplowadza się fale. Głowica normalna może być stosowanatakżedo pomiaru
$ubości,tłumieniai prędkościfal.
Zakres głębokości,na których możnawykrywać wady w danym materiale,jestogra.
niczona od dołu długościąstrefy martwej, a od gory ptzez tzw. odległośćgraruczną,
zw iązanąz zapasemwzmo cnienia uk ładu' g łowica-defektoskop''.
Schemat budowy gtowicy normalnej pokazuje rys.21.1. W głowicach normalnych
bardzo często zamiast stałejptytki czołowej stosujesię naktadane nasadki ochronne z
miękkich tworzyw' stykające się z przetwornikiem poprzez cienką warstwę oleju (rys.
2|.1 ,a). Nasadka taka nie tylko chroni przetwornik przed uszkodzeniem' lecz ułatwia
też' sprzężenieakustyczne z badanym materiałem,gdy powierzchnia materiału jest nie.
równa lub chropowata.

t47
 GNIAzDo KAALA KONCEN.TRYCZN EOO

O BUDOW A

MAsA rtuMt'^CA

PRZEfWOENIK
Rys. 2l.1 Schematgłowicy normal-
nej fal podłużnych
a-nakładkazfolii
.'ryAą3!wLoś!!|g!ĘNA

2|.2. Długość.polab|idciego
bli.
W głowicach normalnych stosuje się zwykle przetworniki otrągłe. Długośćpola
skiego takich przetworników oblicza się według wzorów podanych w rozdziale 19. Gru.
dłu.
bośJochronnych płytek czotowych jest na ogół tak mata,ż!ebez większegobłędu
gośćpola bliskiego możnaliczyć od czołowej powierzchni głowicy.

2l.3. Ęt zboczenia osi wiązki

jak w przy-
Kąt zboczenia osi wiązki określasię za pomocą takich samych pomiarów,
padku wyznaczania charakterysĘki głowicy, stosując jako reflektor albo pobocznicę
ót.rągtugootworu albo dno prostokątnego rowka we wzorcv w].
sy-ny^u",yć kąt zboczenia osi wiązki 6 na|eirywyznacryć w którym miejscu po.
jest makqy.
wierzóhni wzorca znajduje się środekbadanej głowicy, gdy echo na ekanie
malne (rys. 2|,Z).Kąt 6 obliczamy zw7.orv
AX
sin6 =..- (21.1)

Rys. 2l.2 Pomiar kąta zboczeniaosi wiązki

I zBoczEN,Ą
głowicy normalnej

148
 2|.4. Ęt rozbieżnościi szerokośćwiązki

Charakterystykę głowicy możnaWznaczyc posługującsię jako reflektorem pobocz-

nicą otworu okrągłego (rys. 2l.3a). Kolejnośćczynności przy
wznaczaniu chaiaktery.
styki dla odległości z:
a) wyskalować zakres obserwacji,
b) wyznactyć poziom imptrlsów dla różnych wartościx,
c) prryjąć najmniejsząwartośćwzmocnienia W^inzaodniesienie, ob|iczyćróżnicę
w z m o c n i e ńA ' W = W _ ł | ^ i n , s p o r z ą d z i ć
w y k r e sA I ł = f ( x ) ( r y s . Z | 3 . c j ,
d) zmierzyć szerokośćlub kąt rozbieżnościwiązki przyjmując okreśióny spade.k
amplitudy echa (np. 6 dB albo 20 dB).
D|a wyznaczenia charakterystyki możnaposłużyćsię również dnem rowka we wzor-
cuWl (rys.21.3.b).

I ł
I I
I
f ł
I

o) bt
Rys. 21.3 Przyktady reflektorow wykorzystywanych do sporządzania
charakteryśĘki gtowicy w kie.
runku prostopadłym do osi wiązki
a _ pobocznica okrągłego otworu (np. rp2 mm) ' b _ dno rowka prostokątnego
we wzotcu |Ą,I

21.5. Zapas wzmocnienia

Pomiar zapasu wzmocnieniawykonuje się przy wyłączonympodcięciu imonitorze,

zgodnie ze wskazówkami podanymi w ustępie2.l. Należypamiętac, Że zapaswzmocnie-
nia za\eżyod położeniapokrętła ENERGIA.

2|.6. Długośćstrefy martwej

Pomiar długościstrefy martwej wykonuje się przy wyŁączonympodcięciu i monito.

rze _ zgodnie ze wskazówkami podanymi w p. 20.2.| i 20.2.4.Należypamiętać,
żedłu.
gośćstrefy martwej za|eżl'y
od położeniapokrętła ENERGIA.

2l.7 . Rozdzielczość

Pomiar rozdzielczości
wykonuje się za pomocąwzorca|4il przy wy ł ączonym podcię.
ciu i monitorze - zgodnie ze wskazówkami podanymi w p. 20.4.2. Na rozdzielczość
ma wpływ położenieprzełącznikaENERGIA'

r49
2l.8. Przykładygłowic
metrykę głowicy normalnej typ B4S-N produkcji firmy
2l.8.l. Niżej przedstawiono
Krautkramer.
K R A U T K R A M I ] I i( i I ]I I I I P.-
DATENaLATT PRUFXOPF Adtbń'
ob M.ut .do|ol. ohm sdUE&Bd Ę opóń.|q
DATA SHEET PROBE odbl.slalllng. dl. wda trld.n dd .ul ssl.
oARAoT.RISTIaUES PALPEUR v.tr.ń&ic. Pdfr.bl' PKLL 2

fl
B4S-N ZUMOi: EMu.schultdich! €s 3a

PLa- nob

tl
M..tut.ń.ntt t.i(!n f|houl Fot.ctiv. coY.r ł|ń
optńuń in.fuń.ol &frńg'' v.lu.! rollld |o .|r|

C.bt. utlll.sd XLL 2

".tl
=/
Tyr ot tave:
Acc.t.oń!.
Lonciludiń.|
sF'. EoteiivÓ cov.B Es s

\
.f: -l A LoLr
'
ii., Pour l.t mcrur.! ablonna$ opom.b f l .Nl
Fltsu. {n! couch. PhUc., vdM t.lril. @r

C& vul& ilLL 2

||fu6 d.t oŃt lo.gifudn.l
AĆc.u|Et] @och.. @tbc.t o
md.ffisl. ES 3e

-;
AYGIocs) ołAGRAMx

.(l-lr) .'r lńlt ż.!Js ll fl|U 2{sry t!!.!.u

-f-il
vtnl I ł s -. ' 14

F.$
ł i;;. i or

rc -s -&lr ż@n@

Parametry głowicy

Częstotliwośćnominalna 4MHz
Częstotliwośćecha 4 !OtMHz
Długośćpola bliskiego 88r15mm
Szerokość ogniska(d|a 6 dB spadku echa) 3 1 0 , 4m m

150
 Rzeczywistaśrednica
przetwornika 24 mm
Skutecznaśrednica
przetwornika 22,8+0,6 mm
Kąt załamaniawiązkip o t 0,5o
Zmianakątazałamaniaz temperaturą lo/looc
Przesunięcieoświązkiwzględernosi geometrycznej 0,6 mm
Kąt rozbieżności
wiązki(dla 6 dB spadkuecha) | 9 x O,2o
Scieralność O,5 mm/km
MaksymalnedopuszczalnezuĘ ae powierzchni
czołowej 0.2 mm
Maksymalnynaciskpunktowy l0 kp
Temperaturapracy - 15... + 66oC

Pararnetry uktadu ,y'efektoskop - głowica''

Typ defektoskopu
Parametr
usIP low USIP 1I USM 2

zapaswzmocnienia, dB zw 55 ó5 ó8

m ( 0dB) 9 al,s r 1,5 5Jt1

długośćstrefy m (20 dB) I1,5t 2,5 l 0 x2,5 9 !2,5
martwej, mm m (40 dB) 14,5r 3J l 3 ż3'5 125 t 3,s

długośćstrefy s ( odB) l0 t 1,5 9 trJ 9 llJ

wpływu impulsu s (20dB) l4 +3 l 3 , st 3 13 t3
nadawczego,mm s (40dB) l9 +4 t8 x4 L7 t 4

długośćstefy e ( 0dB) ?<+t < 6511J 6J r r,5

wzajemnegowpływu e (20 dB) L2,5ż2,5 1l +2,5 1l !2,5
ech.mm e (40 dB) 30 +7 28 t',l 25 t7

t ( odB) 5 tl 4 . 51 1 4 tt
rozdzielczość.mm r (20dB) 9 +) ,I
8,5tlj ttJ
r (40dB) t4 +3 12,5r 3 il +3

21.8.f. Dane kilku typów głowic normalnych fal podłużnych produkcjifirmy Kraut.
kramer, ujęte w sposób poglądowy _ przedstawiono na rvs. f| '4.

Na rysuŃu przedstawiono kształt i wymiary wiązek ultradźwiękowych 5 głowic:

_ o f różnych średnicachprzetworników : Q 24 mm i l0 mm'
@
- o 3 różnych częstotliwościach:
l, 2 i 4 MHa
Porównanie ze sobą wiązek głowic |, 2, 3 oraz 4 z 5 (kolejnoścgtowic licząc od le.
wej) ilustruje wptyw wzrostu częstotliwości (rośnieodległośćpola bliskiego, maleje
Ęt rozbieżności)'Natomiast porównanie wiązek gtowicy f z 4 oraz 3 z 5 ilustruje wpływ
zmniejszenia wielkościprzetwornika (maleje odległośćpola bliskiego, rośniekątrozbież-
ności).
l5l
 tI [E-rJ-:Nl t6zE:Ńl E.T-il-'] rMgTS:Ńl E*&łslN]
2 Ó24mm Ó24mm 624mm Ó1omm @1omm
3 Oo Oo Oo Oo Oo
4 1 MHr 2MHz 4MHz 2MHż 4MHz
80 dB 80 dB 72 dB 72 dB 74 dB
5
o że|iwo sz. odkuwki odkuwki odkuwki odkuwki

dlm)
f]]L -lL - ] [ ł B . o] t - ]| f
T2--lr ]r,jlooltritd IL lt flo l
[ łl [-łgo__l [''lzsg) [ljrs-] t !'s-] 'l f 994-]
ril r6sol t.ł5o9l L:oóó l llex fupo ']

Rys.21.4 Danekilkutypówgtowicnormalnychfalpodtużnych,produkowanychprzezfumęKraut.
przedstawionew sposóbposladowy.
klf,r:;":l-
1-typgtowicy,2-średnicaprzetwornika,3_kątzatarnania,4-częstotliwośc,5-zapaswzmoc-
nienia.6 - rodzai bad. mat.
..'r?ń.ióiiviązri-oxrćsta o ćiiiśpadekciśnienia.Zaczernionepole wiązki oznacza strefę martwą..Liczt,y
w po|u wiażki oznaczaiąśredńice wad równoważnych'które możnawyklyc w danym zakresieodle.
głóści.w tabeli u dołu-podano maksymalneodległości w których możnawykryć wady o średnicy
równoważnejl_8mm

152
22. GŁowIcEsKoŚNE FAL PoPRzEczr{YcH

22.1. kzeznaczenie i budowa

Głowice skośnesłuzą do wykrywania wad wewnętvnych o kształtach przestrzen.

nych, wad płaskich nie równoległych do powierzchni przesuwu' atakże do wykrywania
wad powierzchniowych' tworzących narożnz powierzchnią badanegoelementu.
Budowę typowej głowicy skośnejfal poprzecznych pokazuje rys. 22.|. Różni się
ona od głowicy normalnej głównie Iym, irc przetwornik jest prąyklejony do klina z two.
rzywa sztvcznego o tak dobranym kącie o, by kąt załamania fal poprzecznych w stali p
miał wymaganą wartość.Kąt załamann zawiera się w granicach 35 _ 80b. wiązka fal
podłużnych wytwarzana przez ptzetwornik odbija się częściowood granicy ,'pleksiglas/
stal'' i przechodzi do masy tłumiącej pokrywającej klin z plekĘasu. Gdyby nie było tej
maqy, fale odbite wielokrotnie w klinie trafiałyby do przetwornika, tworząc zakłócenia
na ekranielampy oscyioskopowej.
PRZET WOFI N' K
wTYK ŁACzACy

CEWKA -
oo?A3owur4cA STAL

K LIN
PtEKStSt/{su
Rys. 22.l Schemat głowicy skośnejfal poprzecznych

Stosowanesąrównieżgłowiceo regulowanymkącie załamaniatal (rys.22.2).

f2.2. Długośćpola bliskiego

W głowicach skośnychfa| poprzecznych zwykle stoĘe się przetworniki kwadrato-

we lub prostokątne. Długośćpola bliskiego takich przetworników oblicza się według
wzorów podanych w rozdziale 19.
W przeciwieństwie do głowic normalnych, długośćdrogi fal ultradźwiękowych w
klinie z pleksiglasu jest dośćmaczna Dla obliczenia odległościl37 gr-anicypola bliskie.
go oo i,owierzchnibadanegoelementu(wzdłużosi wiązki) stużywzór:

/sr--r/sru j#
tvpL
l (22.1)

153
 gdzie:
= 3250m/s),
ilsr _ długośópolabliskiegoobliczonadlafalipoprzecznejwstali(c
_
Npr długość (c = 2730
w pleksiglasie
polabliskiegoobliczonadla fali podłużnej
m/s),
lpt _ długość
drogi fal w klinie z pleksiglazu.
PnzEIwoRNIK

PMM

t,@'

b) l\) PoDxa.ADxaf PMM

Rys. 22.2 Schematy głowic

sto&rych o zmiennyur kącie
załamania
a - obrót pótcylindrycznej
wkładki powoduje zmianę ką
ta' IownoczesnrepEzesuwaslę
środekgłowicy, b.- głowica
o statym środku'c - zmianę .l
kąta padania osiąga się prze7 c,
wzaiemny obrót klinów I i II
PMM - pleksiglas

Przykład 1
obliczyć odległośćgraniry pola bliskiego w stali dla głowicy 2T70o 18 x 18 (rys.22.3).
Rozwiązanie
W pleksiglasie ńamy:
=
lpL = 20 mm,cpL f ,73 mmlls

r 8 2' 2
Npt = I,37 ł3,.jrr.m = 80,1mm

W stali mamy:
cgy= 3,25mmllts

182.2
Ng7= r,37 = 67'7 mm
4ffimm
A zatem
20
lg7 = 67 ,7 (1 - mm = 508 mm
BOJ)

Granica pola bliskiego znajduje się w odległośd50,8 mm licząc od punktu wejściaosi wiązki do stali.

154
 Rys. 22.3 Ilustracjado przykładu 1 doty.
cząceEo obliczenia odległościgranicy pola
bliskiegow stali dla gtowicy 2T70ol8xl8

n3. Środekgto'łicy

Środek głowicy skośnej jest punktem, w którym oświązki ultradźwiękowejopusz-

cza klin i wchodzi do badanegomateriału.od tego punktu zaczyna się droga fa|izała.
manej w materiale. Położenie środkawskazują znaki na bocznych ściankachobudowy
głowicy.
DIa wyznaczenia środkagłowicy, badaną głowicę ustawia się na wzorcu W] lub |ł2
w sposób pokazany na rys.22.4.Precyzy1niedoprowadzasię głowicędo położenia,w
którym echo od powierzchni cylindrycznej wzoIca osiągamaksymalną wysokość.W typ
potożeniu rzeczywisty środekgłowicy pokrywa się ze środkiemkrzywizny powierzchni
cylindrycznej, który jest zaznaczony na wzorcu. Należyzaznaczyćna obudowie głowicy
położenierzeczywistegośrodkagłowicy,lub zapisaćo ile milimetrów jest on przesunięty
względemznaku fabrycznegodo przodu (np. + 3 mm) lub do tyłu (np' - 2 mm).

,p
0 9r0

Rys. 22.4 Sposób posłużeniasię wzorcem

|łl i wzorcem 1ł2 w ce|u wyznaczenia po
łożenia środka głowicy skośnej-Jeśli w po.
łożeniu głowice jak na rysunku otrzymuje
się maksymalne echo, to przesunięcie środ.
ka głowicy względem znaku na obudowie
wynosi ,,a"

22.4.Kąt nłamania

Na wartośćkąta zatamania wpływają błędy wykonania głowicy , jak również-zuĘ.

cie klina i temperatura.W czasie eksploatacjiklin może się ścieraćnierównomiernie.
Zmiana temperatury pociąga za sobą odpowiednie zmiany prędkościfal podłuznych w
materialeklina. Zmiany prędkościfal w stali nie są istotne.
Dla wyznaczenia kąta Załamaniaza pomocą wzorca |łl , naleŻ1luzyskać echo makqy-
malnej wysokościod otworu o średnicy50 mm (rys.22.5) i zmieruyc odległość x7 lub
p
x2 tzeczywistego środkagłowicy od krawędzi wzorca. Wartośćkąta załamania ob|icza

155
 0t23156

a- "t .l

ts B-,,;ź#

I
I
I
Rys. 22.5 Sposób wyznaczenia kątz za- fi
łamania głowic skośnych za pomocą
wzorcah)I tsp- "21:#

się z zależności

x1-35
tg1 =
70

x2-35
tEA =
30

bądźodczytuje się ze skali naniesionejna wzorzec.

Kąt załamania można też'wyznaczyć, przyktadając głowicę do powierzchni wzorca
|ĄlI _ tak, jak prry kontroli środkagłowicy skośnej(rys.22.4) - i znajdującpotożenie
osi wiązki padającejna powierzchni cylindrycznej wzorca |łl .
W celu wznaczpniak1ta załamaniaza pomocą wzorca W2 m|eży głowicę ustawić w
jednym z połoierl pokazanychna rys' 22.6,l'uzyskać maksyrnalneecho otworu o średni.
cy 5 mm. Kąt zatamaniaodczytuje się ze skalinaniesionejna wzorzec.

Rys. 22.6 Wyznaczaniekąta załamaniagtowicy skośnejza pomocą wzorca W2

r56
 f2.5. Ęt rozbieżnościwiązki
Zanimwiązka fal ultradźwiękowych wytworzonych przez przetwornik głowicy skoś-
nej wejdzie do badanego materiału, przechodzi przezkLin materiału oznacznej wartości
współczynnika ttumienia. Poszczególne fragmenty wiązki mają do przebycia w klinie róż.
ne drogi, a więc w różnym stopniu ulegną osłabieniu. Dlatego wiązka fal poprzecznych
wytworzonych w stali ptzez głowicę skośnąnie jest kołowo.symetryczna. Dla opisania
wiązki fal zaŁamanych podaje się charakterystyki pionową i poziomą głowic skośnych.
C h a r a k t e r y s t y k ę p i o n o w ą W z n a c z a s i ę p r z yu z y c i u w z o r c aI ł ] , w .
korzystując odbicia od otworu o średnicy50 mm, z wprasowanym łrązkiem z pleksigla.
su (rys. 22.7). D|a poszczególnychpołożeńgłowicy notujemy odległość środkagłowicy
od krawędzi wzorca i wartośćwzmocnienia, niezbędną do uzyskania echa o wysokości
h = 0,4 ł. Wartośćwzmocnienia, przy której amplituda echa jest największa prryjmuje-
my za poziom odniesienia. Wykres konstruujemy, wykorzystując rysunek fragmentu
wzorca |łI. Łączymy środekkrązka z punktami oznaczającymi położenieśrodkagło-
wicy przy poszczególnych pomiarach. Wyznaczone linie odpowiadają ,promienioń''
wiązki, odbijanym od lcązka przy kolejnych położeniach głowicy. Na każdej linii
odkładamy wartośćróżnicy wzmocnienia niezbędnego dla uzyskania echa o wysokości
h __o,4 H w tym położeniu.
Ze wĄędu na różne odległościod środkagłowicy do powierzchni odbijającejprzy
poszczególnych połozeniach głowicy, otrzymana charakterystyka jest zniekształcona i
wyznaczona w ten sposób wartośćkąta rozbieżnościo możebyć traktowana tylko jako
wartośćprzybliżona. Bardziej dokładne pomiary można przeprowadzić w wannie do
badań zanurzeniowychlub za pomocągłowic bezstykowych.

Ryl 22.7 Sposób wyznaczeniacharakterystykipionowejgtowicy skośnej

za pomocąwzorca|ł1

C h a r a k t e r y s t y k a p o z i o m a głowic skośnychwznacza się na wzorcu

Wl, wykorzystując otwór przelotowy o średnicyl,5 mm (rys.22.8). W wybranej odle.
głościod otworu przesuwasię głowicęrównolegle do krawędzi wzorca i - podobniejak
ptzy wznaczaniu charakterystyki pionowej - dla każdegopołożeniagłowicy notuje się
wartośćwzmocnienia, przy którym uzyskuje się echo otworu o średnicyl,5 mm o wy.

157
sokościO,4 H. Najniższą wartośćwzmocnienia (odpowiadającą najwyż'szejamplitudzie
echa) przyjmuje się za poziom odniesienia. Łącząc na rysunku otwór o średnicyl,5 mm z
punktami oznaczającymi położenia głowicy, wznaczamy przebieg ,,promieni'' wiązki
odbitych w poszczególnychpołożeniachgtowicy. Na tych promieniachodkładanlyzmie.
rzone wartościróżnicwzmocnieniawzględemwartościodniesienia.
Scne taat poturapu wvRReS

-+-
I

+-::=
wt i,F 20t5 ro 5 0

Rys. 22.8 Sposób wyznaczenia charakterystyki poziomej głowicy skośnejza pomocą wzorca ||]

f2.6. Ęt zboczenia osi wiązki

Kątem zboczenia osi wiązki nazywamy kąt jaki tworzy jej poziomy rzut na po-
wierzchnię badania z osią pcldłużnejsymetrii głowicy, którą przyjmuje się jako równo-
ległądo bocznejkrawędzi obudowy głowicy.
Wyznaczenie kąta zboczenia sprowadza się do wyznaczenia kierunku poziomego rzu-
tu osi wiązki. Można to uczynić w oparciu o znajomość charakterystykipoziomej głowi-
cy (rys. 22.9). IXugl sposób Dolegana jednoczesnejobserwacjiecha otworu @ 1,5 mm
oraz echakrawędzi wzorca Iłl (rys.22.|o) i ustawieniagłowicy w takim położeniu,w
którym oba te echa osiągnĄmaksymalnąwysokość.Prosta poprowadzonaprzez poziomy
rzut środkaprzetwornika na powierzchnię badania i środekotworu @ l,5 mm Wznacza
poziomy rzut osi wiązki fal. Kąt między interesującyminas osiami mtetzy się za pomocq
przyrządu(tys. 22.l0) albo na szkicu.

-{=.
Rys. 22.9 Wyznaczenie kąta zboczenia
głowicy ó na podstawie charakterystyki
poziomej głowicy, za pomocą wzorca W I -w
a _ charakterystyka głowicy, 1 _ głowi.
ca,f - otwót wzorcowy

158
 Rys. 22.10 Pomiar Ęta zboczenlĄ z
użyciem przyĘ
1-głowica,.2 -przytryz*

22.7. Zapas wzmocnienia

Zapas wzmocnienia wyznacza się według wskazówek podanych w ustępie 20.l.

22.8. Długośćstrefy martwej

Długośćstrefy martwe! w7nacza się według wskazówek podanych w punktach

20.2.1i20.2.4.

2f.9. Rozdzielczość

Rozdzielczośćwznacza się według wskazówek podanych w punkcie 20A.3.

22.|0. Pnykład gtowic

fz.lo.t. Niżej przedstawionometrykę głowicy skośnejtyp MWB 70.N2 produkcji firmy

Krautkramer
KRAUTKRAMI:R CMtsH
OATENBLATT PRUFKOPF
B ^.m..Ę
h5$t -del. d o!dn.l.łMlńffig
OATA SHEET PROBE eWd.brtu6.ulM
CARACTERISTIQUES PALPEUR v.il.Ń!.rffii gtl

t|wB 7oN 2 w.*ń

ZuDfr

?boń

vM.&ld lo .ld
C&uilrd: m !
lFoltat.: I.ltm
^@.d.: sr.ńff

A T-?

tuvSPlB.

crtr: Rl
N.bfiŃ: T.nd
^d.] d.ÓFffiO
tffe.ff

159
 AVG (OOS}DIAORAMM

(.xr)arta6il!o

Parametry głowicy
Częstotliwośćnominalna 2 MHz
Częstotliwośćecha 2 + 0,2 MHz
Długośćpola bliskiego (prry założ,eruu,
żeprzetworńk styka się ze stalą) 15 + 2,3 mm
Wymiary ogniska w płaszczyźnieprostopadłej
do osi wiązki (dla 6 dB spadku echa) 2 , 4 + 0 , 3 x l P + 0 , 2m m
Rzeczyrviste vvymiary przetwornika 8x9 mm
Skuteczne wymiary przetwornika 7,7x 8,6 mm
Kąt załamaniawiązki 70+30
Zmiana kąta załamanta z temperaturą o,go/looc
Kąt zboczeruaosi wiązki 0,goc
Długośćdrogi w pleksiglasie (c = 2730 m/s) I 1,5 mm
Przesunięcie osi wiązki względem osi
geometrycznej 0,8 mm
Ęt rozbieżnościwiązki w ptaszczyźnie
prostopadtej do powierzchni badania
(dla 6 dB spadku echa) 1 5 , 3+ 1 , 6 0
Ęt rozbieżnościwiązki w płaszctyźnie
skośnejdo powierzchni badania (dla 6 dB
spadku echa) 40+0,5o
Sciera]ność 0,5 mm/km
Maksymalne dopuszczalne zuity cie po'
wierzchni czolowej 2mm
Makqymalny nacisk punktowy l0 Kp
Temperatura pracy -f0 ...70 0c
Maksymalna temperatura badanegoelementu
prry dotyku naprzeci1g 3 sekund 100/200og

160
 ParameĘ uktadu ,y'efektoskop_ głowica''

Typ defektoskopu
Parametr
U$P 1I usIP10w USM2

zapas wzmocnienia, dB ZW 54 58

długość
strefy m( 0dB) 1 3+ 2,5 15+3 14.5 + 3
martwej,mm m (20 dB) JI +6' 33+6 33 +6

długośćstrefy wpływu s ( OdB) 18 + 3.5 f0+4 19 + 3.5

impulsu nadawczego, mm s ( 2 0d B ) 35+7 38+7 3'l,5 + 7

długośćstrefy wzajem. ( odB) 'l,5+ +l

6+ I 1 7
nego wpływu ech, mm (20dB) f0+4 2 1+ 4 20 +4

r ( 0dB) 4+l 5+1 5 +l

r o z d z i e l c z o ś ćm
, m
r ( 2 0d B ) 1 3+ 3 14+3 L4 +3

2f .|o.2. Dane ki|ku typów głowic skośnychfa| poprzecznych produkcji firmy Kraut.
kramer,ujętew sposóbpog|ądowy- przedstawiono na rys.22.|1.

Na rysunku przedstawiono kształt i wymiary wiązek ultradźwiękowych8 głowic:

- o 2 rożnychpod względem wielkościprzetwornikach:20 22
x mmi 8 x 9 mm,
' o 3 różnychczęstotliwościach: 1,2 i 4MHz,
- o 2 kątach załamania 4so i 70o'
Porównanie Ze sobą wiązek głowicy 1 z 3,2 z 4,5 z 7 oraz 6 z 8 (kolejirośćgłowic
licząc od lewej) ilustruje wpływ wzrostu częstotliwości(rośnieodległość pola bliskiego,
maleje kąt rozbieżności). Natomiast porównanie wiązek głowic 2 z 3 oraz 6 z 7 ilustruje
wpływ zmniejvenia wielkościprzetwornika (zmniejszasię odległość pola bliskiego,roś.
nie kąt rozbieżności).

161
 L'] IWBTBNTIEwE5Tzl M.6{il mwB70N2]
unwB.5NłlwB70N1'-] i w B T o N2 l [MwB70Fł
2 2ox22mm 8x9mm 2Ox22mm 8x9 mm 2Ox22mm 8x9 mm 20x22mm 8x9mm
3 450 450 45o 45o 7Oo 7Oo 700 700
4 lMHz 2MHz 2 MHz 4 MHz 1 MHz 2 MHz 2 MHz 4MHz
5 78dB 87dB 87 dB 87 dB 80 dB 81 dB 77 dB 84 dB
6 sta| węg|. sta| węg|. 6taI węgl. stal Węg|. staI Wę9|. staI węg|. s t a IW ę g | . staI wę9|.
7 4dBlm 8 dB/m 8 dB/m 6O dB/m 4 dB/m I dBlm 8 dB/m 6O dB/m

dtml --l -lf --]

Et L-f f- f 520 l f If---r -l t-
f i?o -l --l
r- f_-66Ęl t_J:g] f-eil] L _l l - . € i l r'ń l t ego Lr _-l

f- f 1lTol f-oo 1 f--l rlrló] L!!o ] L lloo I L- -- |

fru!-l
fil r_1Łoo l t-l?lo l l-uŁ] L tro l L r s s q I f r z o p l L !?oo '.] L ł7'9--]

produkowanych prżuz firmę

Rys. 22'11 Dane kilku typów głowic skośnych fal poprzecznych,
K r a l l l k r a m p r n r z e d s l a w i o n e w s o o s ó b n o s | a . d o w v-
^i":'t'ń';L;Ę.'i::ó;ńry -zapas wtmoc.
piżeŃórnlta, 3 kąt załamania,4 _ częstotliwość' 5
- współczynnlk tłumiliijd
nienia, 6 _ rcdzajbadanego materiatu, 7
stfefe ńaftwa' Llczt'y
Granice wiązki określa6 dB spadek ctsntenia. Zaczerńitsne pole wiązki ozrlacza zakreiieodle-
;.ili;;i[ki'.i.j".,.'i:i ióodń.-*..i-ió*nó*aznvcn,1ói" ;';iil *'[ryć w.danyIn
iłJś"i.W.T;i;;li; d;',.i p;Jil;;;ńi*"ń óJiJgto3ciw którychmóżnawykryćwadyo średnicy
iównoważnej1_8mm

162
23. GŁowICE PoDWÓJNEFAL PoDŁUzr{YcH

23.1 . Przezru'czgnie

Głowice podwójne fal podłuznych są przeznaczone do wykrywania wad wewnętrz.

nych w elementacho gruboścido około 200 mm oraz do pomiaru grubościelementów
cienkościennych.Za pomocą głowic podwójnych pracującychz defektoskopem ultra-
dźwiękowym lub grubościomierzemultradźwiękowym można mierzyc grubośćelemen-
tów stalowychpocząwszyod ok. 2 mm.

23.2. Budowa głowicy podwójnej

Na rys. 23.|. pokazano schematgłowicy podwójnej. Głowica posiada dwa odizolo-

wane od siebie akustycznie i elektrycznie przetworniki akustyczne,zktórychjedenŁączy
się z nadajnikiem defektoskopu, a drugi z odbiornikiem. Przetworniki przyklejone są do
górnych powierzchni odcinków prętów z pleksiglasu.Pręty te spełniająrolę tzw. l i n i i
o p o ź n.i a j ący ch. Dobierającdługość linii opóźniającej
możemywpływaćnapo-
łożeniekońca pola bliskiego przetwornika nadawczego.Dla uzyskania potrzebnegoroz-
kładu pola ultradźwiękowegoprzetworniki mogą być zorientowane równoleg|e bądź
skośniedo czoła głowicy. Linie opóŹniającei izol,acjaelektrycznai akustycznasprawiają,
że echo od powierzchni badanegoprzedmiotu występuje w dużejodległościod impulsu
nadawczego,przy czym echo to ma'bardzomałąamplitud-ę.

Rys' 23.1 Schemat głowicy podwój.

nci fal podłużnych
PMM - pleksiglas
\'\

23.3 . ohszar czułościgłowicy podwójnej

E'-^roreflektora (wady) powstaje w wyniku współdziałania przetwornika nadawcze-

go i odbiorczego.Echo otrz7muje się wtedy,gdy reflektorjest w zasięguwiązki fal wysy-
łanych przez przetwornik l.,'awczy. a wiązka fal odbitych trafia do przetwornika od-
i,.orczegu.iii.lzkład czułościgtowicy,.'.t specyficzny i mają nań wpływ: kształt iwiel.
kośćprzetworników, odległość między przetwornikami,kąt nachylenia przetworników
względemgeometrycznejosi głowicy a takircdtugośćlinii opóźniających.
Pole czułościprzetwornika odbiorczego ma podobny rozkładjak pole ciśnienia te.

163
go przetwornika, pracującegojako nadajnik. Dlatego za obszar.pola czułościgłowicy po.
łwfone5 można przyjąć obszar, w którym nakładają się na siebie kontury wiązek ultra-
tlźwiękowych obu przetworników, gdyby pracowały one jako nadajniki.

23.4. Parametry pola głowicy podwójnej

Wielkościcharakterystyczne dla pola czułościgłowicy podwójnej to przede wszyst:

jego długość
kim odległośćogrriska ód powierzctrń materiału i rozmiary ogniska, a więc
i szerokoić (rys, f3.2). Mały reflektor znajdujący się w ognisku daje echo o największej
amplitudzie. Długośći szerokośćogniska podaje się zwykle dla spadku czułościo 6 dB.
Wartości,,ogniskowych'' głowic podwójnych zaczynają się już od 5 mm i sięgajądo
kilkudziesięciu milimetrów. Długościogniska dla 6 dB spadtu czutościmieszczą się w
ganicach óo ru.u milimetrów do nawet 100 mm. Szerokościogniska wynoszą zwykle
jest sze.
kilka milimetrow, Ze względu na brak qymetrii obrotowej pola czułości,inna
rokość ogniska, mierzona w kierunku prostopadłym do płaszczyzny rozdziału głowic
(mniejsza),niż w kierunku równoległym do ptaszczyzny rozdziału (większa).

Rys. 23.2 Parametrypola czutościgłowicy

podwójnej

23.5. Przesłuch
fali ptzez prze.
23.5.t.Ze względu na duże opóźnienie między momentem wysyłania
twornik nadawczy a momentern wejścia fa]i do badanego materiatu, uktady ,,defekto.
- małą, a często praktycznie równą zelo stre.
skop głowica podwójna'' mają bardzo
fę martwą.
Jednakżewgtowicachpodwójnychwystępujeefekt,którymożepogarszaćv{ykry.
Efektem tym
walnośćwad bliskich powiórzchni w sposób taki sam, jak strefa martwa.
mo.
jest tzw. prZe st uctr międzynadajnikiemiodbiornikiem.Faleultradźwiękowe
nadawczej do części odbiorczej, m.in. przez war.
ią 'niuno*i"ie przedostać się z części
podstawy cza-
itwę sprzęgaiącą,w wyniku czego występuje impuls na ekranie w miejscu
fal do materiału (rys. 23.3). Wielkość tego im.
su, odpowiadającymmomentowi wejścia
jakościgłowicy podwójnej. Dobrze wykonane głowice po-
pulsu przesłuótruiest miarą

164
dwójne mają tak niski poziom przesłuchu, że nie ogranicza on praktycznie wykrywal.
nościwad i możemy mówić, że ,,strefamartwa'' jest wtedy równa zero.
Głębokości,z których moźnawykryć wadę przy ułciu dobrej głowicy podwójnej
zaczynają się od l mm.

A.(O-1dftm

Rys. 23.3 Impulsprzesłuchuwy.

stępujący na początku zakresu
obserwadi
t\
I

23.5.2.w strefie wpływu impulsu przestuchu na amplitudę ech wad nie możnapopraw-
nie ocenić rozmiarów wady za pomocą zależnościoWR. Wańośćdługościstrefy wpĘwu
impulsu przestuchu określa u od powierzchni badanegomateriału,na któ-
sięodległością
rej amplitudy ech wad Ę wskazywane na ekranie z błędem ptzekraczającym 1 2 dB.
Długośćstrefy wpływu impulsu przesłuchu między przetwornikami za|eĘ od
wzmocnienia. Gdy wzmocnienie Wg jest ustalone tak, aby echo dna płytki materiału
o małym tłumieniu i grubościrównej odległości,,ogniska''wynosiło 0sH,to wystę.
pująca wówczas długośćstrefy wpływu nazywa się ,,długościąstrefy wpływu przy po-
ziomie 0 dB" i jest oznaczanasymbolem u (0 dB). Jeżeli wzmocnienie zostanie zwięk.
szone o n decybeli ponad|łg, to mamy do czynienia z ,,długościąstrefy wpływuprzy
poziomie n dB".
Firma Krautkramer dla głowicy podwójnej typ MSEBóH w połączeniu z defektosko-
pem USIPI0W podaje:
tz(0dB)=0mm
u(20dB)=0mm
u(40dB)=7mm
Dla głowicy tej odlegtość,pgniska'' wynosi 4,5 mm.

23.6. Wykresy owR dla głowic podwójnych

Przebieg krzywych zmian echa dużego reflektora i reflektorów matych przy zmia-

r65
nach odległości,głowica.wada''jest dla głowic podwójnych inny, niż dla głowic nadaw.
czo.odbiorczych.Na rys.23.4 pokazanowykres oWR dla głowicy MSEBóH firmy Kraut.
kramer. Dla tej głowicy ogniskowa wynosi 5 mm, wymiary ogniska (przy 6 dB zmianie
czułości)są 6,5 mm x 2,5 mm, zaśdługość ogniska5 mm. Pole zakreskowaneodpowiada
strefiewpływu impulsu przesłuchuna amplitudy wad.

Rys. 23.4 Wykres OWR dla gtowicY

podwójnej MSEB6H. Z lewej strony
zakreskowano strefę wpływu impulsu
przestuchu

23.7. Przykłady głowicy

.
Niżejprzedstawionometrykę głowicy podwójnej fal podłuŹnychtyp SEB2H produk.
cji firmy Krautkramer

x lrAUtxlii\1r.R (it1Iill P-'

OATENBLATT PRUFKOPF AŃ.o
ol. Mcmung .dolgt. b.a optm.l.r o.ral..'.ll.ilono,
OATA SHEET PROBE
d|. w.ń. b.ti.hon trch .ul sl.h|
CARACTERISTIOUES PALPEUR
= v.r.nd.t.rPdfr.b.l sEKL

I
w.||.n.ń oNG
l
SEB 2H 2!b.hó.

Pb.. ńob

,]n
Mc..Ur.m.nl' |.k.ń tih oplin!m in.tuń.ńt t.n|ńg.

ó C.bl. ulilizsd SEKL

Typ. ol *.v! LONG
Acc...onar

. )\ A iobr
t'-_ l Pour |.3 ń..!..l .l.lonnlo€ o9|inl|. dó | app.r.il.
ri'Effi v.bun Yi.bl. Dour r'rci.t

,i:,' i
6 | Cabl. unl.. SEXI
Nltur. d..ond.. @NG

r66
 Al,G(0G61-0ta6RAl{M
r3
J2idltr .2 .ł .3 .. hhffil
bd*dl
^ffist-ń|

tx.
2 D2 ffir
ro! 2
23
5.Et t ńil
o
0,3
t c
to ł!

rm/m
o Od&F

ParameĘ głowicy
Częstotliwość nominalna/ f MHz
Częstotliwość echa 2 + 0,2 MHz
odległość środka strefy odbioru (punk-
tu o makqymalnejczułościbadania) l0+2 mm
Szerokośćstrefy odbioru
(dla 6 dB spadku echa) 23+5 mm
Wysokośćstrefy odbioru
(dla 6 dB spadku echa) 5,8 + mm
Długośćstrefy odbioru
(dla 6 dB spadku echa) 9ł mm
Maksymalne dopuszczalne zużycie
powierzchni czołowej 6mm
Maksymalny nacisk punktowy t0 Kp
Temperatura prary -20... +70 0c
Maksymalna temperatura badanego
elementuprry dotyku na przeciąB
3 sekund 100/200oc

167
Parametry układu ,,defektoskop _ głowica''

T y p d ef ek t o sk op u
Paramet
USIP IOW USIP I I USM 2

zapas wzmocnienia,dB zw 60 ó0 60

długośćstrefy wpływu u( OdB) 0 0 0

impulsuprzesłuchu'mm u (20 dB) 0 0 0

dtugośćsfoefy wzajem. 1 3+ 3 1 3+ 3
e( OdB) 13+3
negowpływu ech, mm

'l+l
rozdzielczość,mm
r( OdB) 7+1 7+r
r (20 dB) f0+4 20+4 20+4

24. INNEGŁoWcE

u.l. Głowice fal powierzchniowych

24.1.1.Gtowica ta jest głowicąskośnąo takim kącie padania fal podłużnychna granicę

,,klin/badanymateriał''' przy którym w badanym materialepowstająfale powierzchnio-
we (rys. 24.|.a). Głowice na fale powierzchniowe mogą być gtowicami podwójnymi.
Wartośćkąta padania fal podłużnych, przy którym amplituda fal powierzchniowych
jest największaob|iczasię Ze wzoru:

C1
srn c
Cp

gdzie C1 - prędkoścfal podłużnychpadającychna badanąpowierzchnię

Cp - prędkośćfal powierzchniowychw badanymmateriale.

24.1.2.Inne sposoby wzbudzania fal powierzchniowych. Fale powierzchniowe można

też'wytwarzać kierując fale podłużnepod odpowiednim kątem na powierzchnię zanu.
rzonego w cieczy przedmiotu. Jednakżeamplituda wytworzonych w tych warunkach
fal powierzćh iowych szybko maleje ze wzrostem odległościod miejsca wzbudzenia.
Przyczyną szybkiego spadku amplitudy jest ,,odpromieniowywanie''enelgii fal po.
wierzchniowychdo przylegającejpowierzchniwody.
Fale powierzchniowemożna teiL wzbudzić Za pomocą przetwornika wykonującego
drgania ścinania(przetwornik na fale poprzeczne), przez pobudzenie powierzchni do
drgań w jednym punkcie lub wzdłużjednej linii, albo też za pomocą grzebieniowejna.
sadki na czoło gtowicy normalnejna fale podłużne.Różne sposoby wzbudzania fal po.
wierzchniowychpokazaneĘ na rys.24.l a.f.

168
 cnd #
o.

d'l o) f)
Rys. 24.1 Sposoby wzbudzania fal powierzchniowych
_ pomocą głowicy normałnej, c _ za pomocą przetwornika wy.
l-':,::::::t^g-1:::l-:!.-ś::j'} ?u pomocą
organra.popr7eczne, d - za
tlul,luJ,ącego głowicy z.ostrym klincm, i - za pbmocą głowiq z
konśowką grzebieniową, f _ za pomocą głowicy-normalnej, prźez p,iyłiź""i"
ńła głowijy ao tia.
wędzi przedmiotu

24.2. Głowice o skupionej wiązce ultradźwiękowej

Przykłady głowic do badań kontaktowych, których wiązkaultradŹwiękowazostaje

zogniskowanaw badanym materiale- przedstawiarys.24.2.

24,3. Głowice do badań zarrurzeniowych

Są to szczelne głowice normalne. Dobierająckąt padania moż'naza pomocą tych

głowic wytwarzać w badanym materiale fa|eL, T, R |ub Lamba. Głowice te są często
stosowaneZ nasadkąskupiającąwysyłan4wiązkę fal.

24.4. Głowice do badań elementów gorących

ZazwyczĄ, do badania elementów gorących stosuje się głowice chłodzone prze-

pływającąwodą. Można też wprowadzac fa\edo badanegoelementu nie bezpośrednio z
głowicy,|ecz poprzezfalowód. Gdy temperaturabadanegoobiektu wynosi około l000oC,
jako ośrodeksprzęgającysłuŹąroztopione sole. Stosuje się też wprowadzanie fa| bez
ośrodkasprzęgającego;jest to możliwewtedy, gdy falowód głowicy przyciska się dosta-
tecznię silnie do badanejpowierzchni. Falowodem może być też strumieńwody, skiero-
wany na powierzchnię badanegoelementujak na rys. 2f .3. Za pomocągłowicy pokaza.
nej na tym rysunku prowadzi się badania kęsisk płaskich ze stali o tempelaturze do
12000c.

t69
 ,r' a/ --
,',r' - --

sxośNa GŁow,CĄ sKu PtA|ĄcA

Z PRZET W O R N I K IE M CYL' N DRYCZ-
NYM LUB SFERVCZNYM

S x u r t ta x t E P R Z E Z O O B | C ' E
OD KRZYW'ZNY

Rys. 24.2 Głowice skośnePal poprze.

cznych o zogtiskowanej więce fal
a _ głowica z przetwornikiem cy|in.
drycznym, b - skupianie przez od-
bicie od wk|ęsłej granicy ośrodków, 6towtcA s,<uPtA,ĄcA
c _ skupianie pruez załamanie na o zMlENNYM KĄctE
wklęsłej granicy ośrodków

* f4.5. Głowice oponowe

Ciekawą głowicą o różnych zastosowaniach stanowi głowica opracowana przez

Sperry ógo (USA), rLazwanateż kołem Sperry ógo.
Wnętrze opony koła (rys' 24.4) wypełnione jest cieczą.Głowica ultradźwiękowa
zanurzona w tej cieczy jest związana Z osią koła. Przez odpowiednie ustawienie głowicy
(zmianę kąta padania) można wprowadzać do materiału albo fale podtużne, albo po-
przeczne.Pomiędzy oponę a powierzchniębadanegomateriałuwprowadzasię wodę. Za.

170
 GŁowlcA

Rys. 24.3 Głowica ultradźwiękowado

badaniaelementówgorących,chłodzona
wodą

bąuga

BLACHA GRUBA

Rys. 24.4 Głowicaw postacikoła Sperry ego

a _ ogó|ny schemat,b _ przekrój przez głowicę,c - przykładyzastosowań

t71
 letą k o ł a S p e r r y' ego jest to, żepodczas badania blach, kształtowników czy prę-
tów uciążliweprzesuwaniegtowicy jest zastąpionetoczeniem.

* ?4.6. Głowice z wieloma przetwornikami

Dla u7yskania pól ultradźwiękowych obejmujących duże obszary materiału, albo

pól o specjalnym tozkładzie ciśnieniastosuje się głowicę o więcej niżjednym przetwor.
niku. Przetworniki głowicy mogą być ustawione pod różnymi kątami, mieć różną często.
tliwość,albo też różnić się rozmiarem i ksztattem.

t72
 CzęśćlV

oGÓLNE ZAGADNlEN|A
BADAŃoererrosKoPoWYcH

25. ZAGADNIENIE OCET{Y ROZMIARU WADY

25.1. Wady naturalne

25.l.1 . Wadą nazryamy nieciągłość materiału.Nieciągłośćtaka możepowstać(przykła-

dowo) wskutek:
- pęiknięciamateriału,
- obecnościciał obcych lub pęcherzy gazowych,
- nie całkowitego usunięcia z wlewka częścizawierającejtzw.jamęusadową(skur-
czową)
- nieprawidłowegouformowania powierzchni podczas przeróbki plastycznej.
Pęknięcia występują zarównÓ na powierzchni jak i wewnątrz materiału. Przyczyną
ich są nadmierne naprężeniamechaniczne. Do najbardziej typowych na|eż,ą:
- pęknięcia zmęczeniowe,spowodowanenaprężeniamipowstającymipodczas eks.
ploatacji, przeważniena powierzchni elementu,
- pęknięcia hartownicze, spowodowane naprężeniami powstającymi podczas nag.
łych zmian.temperatury,zreglły na powierzchni elementu,
- pęknięcia wodorowe naTywarleteż ptatkowymi, spowodowanewydzielaniem się
rozpuszczonego w stali wodoru podczas stygnięcia elementu, występujące wew.
nątrz elementu,przewainie w postaci większych skupisk,
- krzyż kucia, będący wynikiem nieprawidłowegokucia, występujący w środkowej
częściodkuwki.
Ciała obce w stali naTywane są wtrąceniami. Są nimi najczęściejmateriaĘ ognio.
trwałe (szamota) lub żużle.Mogą one wystąpić w różnych miejscach przekroju elementu.
Wynikiem przerobu plastycznego wlewka zawierającegoresztki jamy usadowej Ę nie.
ciągłościwystępujące w środkowejczęściprzekroju elementu, na dużejdługości(w prę.
tach), lub na dużejpowierzchni (w blachach).
Przykładem nieprawidłowegouformowania powierzchni podczas przeróbki plastycz.
nej są zawalcowaniawystępującena powierzchni rur i prętów.
Wymienione wady reprezentujątylko częśćwad, jakie można spotkać w wyrobach
i półwyrobach stalowych.

25.1.2.Wadajest obszaremo innych własnościach akustycznychaniżelimateriałbadane-

go elementu. Z tego powodu jej powierzchnia grarucznajest reflektorem ultradźwięku.
Wadę nazywamy płaskąjeślijej powierzchniagranicznama kształt figury płaskiej.

LIJ
 Wadę nazywamy przestrzennąjeślijej powierzchnia gtariczna ma kształt figury
przestrzennej.
Jak wynika z podanego wyżej prze$ądu wad' mogą one występować w różnych
miejscach przekroju elementu, a ich orientacjawzględem powierzchni elementu może
być ńżna.

25.2. Kontur wady

25,f .,'.Powierzchniowymkonturem wady nazywamy rzut wady na powierzchniębadania

wzdlłuiosi wiązki ultradźwiękowejstosowanejgtowicy.
Pozornym konturem wady nazywamy granicę obszaru powierzchni badanraz które.
go, podczas przemieszczaniagłowicy otrzymuje się echo wady.
Pozorny kontur wady jest większy od powierzchniowegokonturu wady. Różnice za.
leżąod czułości.badania, parametrów głowicy, odległości międry głowicą i wadą a tak.
żeod kształtu samejwady.

25.2.2.Badanieultradźwiękowezmierza do wyznaczeniapowierzchniowegokonturu wa.

dy. Cel ten osiągasię tylko Z pewnym przyblieniem, przez odpowiednie skorygowanie
(zmniejszenie)pozornegokonturu wady. Dotychczis brak ujednoliconegosposobukory'
gowania pozornego konturu wady i w instrukcjach badania wzgl. normach rnożnasię
spotkać z roznymi zaleceniami.
Przykładowo, projekt normy czechosłowackiejna badanieodkuwek (CSN 0l 5040)
zalecastosowaniepoprawekA/ obliczonych wg wzoru

Al = 2 ro'7-\
Dsk

gdzie z - odlegtośćod wady,

}. - długość fali w badanymmateriale,
Dsk - skutecznaśrednicaprzetwornika'

25.2.3.Powierzchniowy kontur wady nie zawiera informacji o wymiarach wady w kie-

runku równoległym do osi wiązki. Aby otrzymać pełnąinformacjęo wadzie należałoby
wznaczyc jej powierzchniowe kontury na trzech wzajemnieprostopadłychpłaszczyz.
Na
nach. Jest to jednak moiliwe tylko w przypadku elemęntów prostopadłościennych.
ogót, kształt powierzchni badanych elementów pozwala wyznaczyc tylko jeden po-
wierzchniowy kontur wady. Wskutek tego wady płaskie, niekorzystnie zorientowane
względempowierzchni badaniamogąwogóle nie być wykryte.
W przypadku elementów odpowiedzialnych o niekorzystnie ukształtowanychpo-
wierzchniach,dla zwiększenia prawdopodobieństwawykrycia wad, prowadzi się bada.
nia za pomocą róznych głowic, wprowadzającychwiązkę ultradŹwiękowądo materia-
łu pod różnymikątami.

25.2.4.Powierzchniowykontur wady charakteryzujernydługością, i polem

szerokością
jego powierzchni.
Długościąkonturu nazywamy najdłuższyjego liniowy wymiar. Szerokościąkontu.
ru nazywamy najdłuższyjego liniowy wymiar, wyznaczony w kierunku prostopadłym

174
do długości.
Pole powierzchni konturu wady obliczamy jako iloczyn jego długościi szerokości'
W niektórych przypadkach wprowadza się dodatkowo współczynnik korekcyjny.

f5.2.5.w za|ężności
od wymiarów powierzchniowego konturu wady rozróżnia się wady:
- punktowe,
- liniowe,
- rozległe.

f5.3. Wady punktowe

25.3.1.Wadąpunktową nazywamy wadę,której konturmieścisię w obrębie padającejna

nią wiązki ultradźwiękowej (rys. 25.l.). Wady punktowe są nazywane wadami małymi.
Na ogół wymiary liniowe wad punktowych nie przekraczają wymiarów średnicy
przetwornikastosowanejgłowicy.
okręślenie,'wada punktowa'' jest względne.Na przykład, jedna i ta samawada mo.
że być dla'jednej głowicy punktową, a d|a innej nie punktową,za|eżnieod kąta rozbież,-
nościwiązki i odległości
pomiędzy głowicąi wadą.
Miarą wielkościwady punktowejjest średnica dp lub powierzchniaF = t d2nl4 wady
równoważnej.Pojęcie wady równoważnejjest omówione w ustępie 25.6, a technika jej
wyznaczania w rozdziałach 29 i 30.

25.3.2'Wada punktowa daje echo mniejsze aniż;e|i duily płaski reflektor umieszczony w
tej samejodległości'Niskie echo wady nie jest jednak wystarczĄącym kryterium dla za.
liczenia wady do grupy wad punktowych. Szeregbowiem wad o rozmiarach przel<racza-
jących kontury ultradŹwiękowej wiązki gtowicy daje niskie echo, wskutek małego
współczynnika odbicia lub niekorzystnegoukształtowaniaich powierzch'rrigranicznej.
W celu rozstrzygnięciaczy wada jest punktowa,naleĘ wyznaczyc rozmiary jej pozornę-
go konturu, a następniekonturu powierzchniowego.
.
Wadajest punktową jeślidługośći verokośćjej powierzchniowego konfuru nie prze-
kraczają średnicywiązki ultradźwiękowejna głębokościzaleganiawady.
Powyższekryterium należytratowaćjako orientaryjne - jedno z wielu możliwych.
Wymiary konturu powierzchniowegobowiem bardzo silnie zależąod sposobuobliczania
poprawki. Przykładowo,według projektu normy wspomnianegow 25.2.2.wada jest
punktowa,jeżeli wymiary jej konturu powierzchniowęgosą ujemnelub co najwyżejrów-
ne zeru.

25.4. Wady liniowe

Wadąliniową nazywamy wadę, któĘ szerokośćmieścisię w obrębie padającejna nią

wiązki ultradzwiękowej,a długość- nie mieścisię (rys. 25.|), Wady liniowe nazywane
sąwadami ciągłymilub wydłuŹonymi.
Gdy głowica przemieszczasię wzdłuższerokościwady - wada przedstawiasię jako
punktowa.
Miarą wielkościwady liniowej sąjej długość, szerokość(zakt&ąprzyjmuje się śred.
nicę wady równoważnej)oraz pole powierzchni' Pole powierzchni wady liniowej oblicza

05
się jako iloczyn jej długościpowierzchniowej i średnicywady równoważnej. JeiLeIina
swej długościwada posiada różną szerokość, do obliczeń bierze się średnicęśredniąlub
maksymalną, lub też pole oblicza się jako sumę pól odcinków, dla których przyjęto roż-
ne średnicewady równoważnej.

25.5. Wady rodegłe

25.5.1. Wadą rozległą nazywamy wadę, której długość i szerokośćnie mieszczą się w ob-
rębie padającejna nią wiązki ultradźwiękowej (rys. 25.l ). Wady roz|egłesą nazywane też
wadami duzymi.
Miarą wiel|ościwady roz|egŁejsą długość, szerokośćoraz pole powierzchni]ej po-
wierzchniowego konturu. Pole to oblicza się jako iloczyn długości i szerokości.

Rys. 25.1 Ilustracja kryterium wiclkości wady

1 - konturwiązki na płaszczyźniewady,2
w a d a p u n k t o w a ( m a t a } ' 3 . w a d a r o z l e g ł a( d u -
ż . a \ . 4- w a d a l i n i o w a

25.5'2.z pomiarowego punktu widzenia, wadą rodegłą jest taka, któĘ długośći szero-
kośćnie spetniają warunków wymaganych od wady punktowej.
W praktyce wadami rozległymi ą:
wady, będące duzymi reflektorami' dająceecho o wielkościbliskiej echu dna ele.
mentu,
- wady o złożonymkształcie lub blisko siebie leżącewady punktowe lub liniowe,
dającewzględnie niskie lęcz nie zankająceecho podczasplzesuwrrgłowicy na du.
żym nawet obszarze.

25.6. Wada równoważna względem wady punktowej

25.ó.1. Wadą równoważnąwzględem danejpunktowej wady naturalnejjest płaskikolisty

reflektor, o wqpółczynniku odbicia równym 1, umieszczony w miejscu wady naturalnej
prostopadledo osi wiązki - o takiej średnicyd,przy której uzyskuje się na ekraniedefek.

176
 toskopu echo o takiej samejwielkościjak od wady naturalnej.
Modelem wady równoważnej jest płaskie dno otworu okrągłego nawierconego w
próbce z takiego Mmego materiału jak materiał obiektu badanego i o powierzchni bada.
nia o takim samym stopniu chropowatościjak powierzchnia obiektu badanego;dno tego
otworp powinno się znajdować w tej samej odległościod środka głowiry (mierząc
wzdłuż,osi wiązki ultradźwiękowej) - co wada natwalna. Zasadę tę dla głowicy normal.
nej i skośnej
ilustruje rys.25.2.

tt łl'

W1z wz

di'
--J

iut ,
t'._( l_#
a u
J 4
\ \

Rys. 25.2 llustracjarównowa:łności wady

2 o średnicydn = z mm jest równoważnawadzie nafuralnej 1 poniewaź
Yada odległościobu wad od
są-jednakowe(l1 = l-) i echa na ekranie przy tym samym wzmocnieniu
9t."Y.':{ są tej samejwysoko-
4 o średnicydp. = 5 mm jest równoważnawadzie naturahej J ponieważ
:.j srooKa
]^li odległościobu wad
oo powierzchni głowicy, mierzone wzdłuż'osi wiązki sąjednakowe (7 =
IĄ i echa wad na
ekranie przy tym samym wzmocnieniu są tej samejwysokości

2s.6'2.Z uwagi na różnorodność kształtu wad naturalnyih średnicawady równoważnej

jest przybliżoną (umowną) miarą ich wielkości.
}rla rys. 25.3 pokazano spodziewane zależności między powierzchnią wady rzeczywi-
stej ,F'i powierzchnią wad równoważnych dla wad różnych typów.Jak widać, po.
Ę

t77
wierzchnia wad rzeczywistych jest prawie zawszewiększa od powierzchni wad równoważ.
nych;wyjątek stanowiątylko wady płaskiei wklęste, korzystnie zorientowanewzględem
wiązki fal i znajdującesię w odpowiedniejodległości.
W pewnych przypadkach, w celu uwzględnieniawpływu kształtu powierzchni gra.
nicznej wad, wprowadza się odpowiednie współczynniki korekcyjne, przezktóte mnozy
wad równowainych.
się średnicę

l"r F-Fr

lil;
: F )Fr
U
rd. F)F,

I il,z
z
Y
F2Fr

, H'[--'
lrt.
p. FśFr
PECHERZ O F))Fr

Rys. 25.3 Pruykłady wad naturalnych i spo- żużtt FTFr

dziewane wielkości powierzchni wad równo. #
ważnych względem nich.
powierzchnia wady naturalne!1lr ' Po'
F
n dlz
wierzchniawady równoważnej ( ; I

25.l . Sposoby oceny rozmiarów wad

25.7.l. ocena rozmiaru wad punktowych, zmieruającado określenia średnicywad wzglę.

dem nich różnoważnychdokonywanajest:
- Za pomocą skal oWR nakładanychna ekran defektoskopu,
- Za pomocą wykresów oWR (unormowanegolub nieunormowanego),
- za pomocąwzorców porównawczych,
_ przezanalizęwidma częstotliwości echa wady (patrz ustęp 25.8).
Sposób oceny rozmiarów wad Za pomocą skal i wykresów oWR jest omówiony w
- 50.
rozdziałach 29 i 30, a podstawy teoretyczne tych metod - w rozdziałach47
Wzorce porównawcze,zawierająceotwory płaskodennewykorzystuje się m.in.wów.

178
 czas' gdy nalezy określićwielkośćwad znajdującychsię w obszarzepola bliskiegogłowi.
cy. Jak wiadomo, w tym abszarze za|eżność poziomu echa od średniryi odległościwady
nie da się przedstawić w ogólnej postaci. Rozwiązaniem jest wyznaczenie tej zależności
dla danejgłowicy w sposób taki samjak w przypadku nakładanejskali oWR.

25.7.2.ocena rozmiarów (konturów) wad rozległychjest dokonywana metodą pomiaru

przesunięciagłowicy przy względnym lub przy stałym progu rejestrowalności echa.Me.
tcldata jest też nazwana metodą przesuwupoprzecznego'
Metoda pomiaru przesunięcia głowicy przy względnym progu restrowalności echa
polega na wyznaczeniu położeńgłowicy, przy których echo wady spada o AW decybeli
względemmaksymalnejjego wartości.
ocena rozmiaru wady przez pomiar przcsunięciagłowicy przy stałym progu
Ąestro.
walnościecha polega na wyznaczeniu położeńgłowicy' przy których echo wady spada
rjclokreŚl<lnego,bezwzględnegopoziomu, odpowiadającegoechu płaskiego,kolistego re.
flektora o określonejśrednicy.
W obu przypadkaclr'ogólnie biorąc,otrzymuje się pozorny kontur wady, który nale.
ży odpowiednio skorygować.
SzczegoŁy sposobu postępowaniasą podane w rozdziaŁach29 i30,a podstawy teo-
retyc,zne- w rozdziałach51 52.

25.8' ocena rozrniaru i kształtu wady przez analizę widma częstotliwościowegoecha

wady

Porównując widmo impulsu wprowadzonegodo matęriału z widmem impulsu odbi.

tego od wady możnauzyskać informacjeo rozmiarach i kształciewady, a także- co jest
często bardzo waż:ne'o kącie nachylenia powiepchni wady w stosunku do osi wiązki.
Wpływ kąta padaniawiązki fal (na jedną i tę samąwadę) na ksztatt widma częstotliwości
odebranegoimpulsu _ ilustruje rys.25.4. Analizę takiego widma przeprowadza się za
pomocą specjalnych elektronicznych analizatorow. Pruyrządy te nie weszły jeszcze do
rutynowej kontroli przemysłowej.

- K4T PaoĄuta
-.- KĄ| paDaNtA
0c
7o
a
ffi
ffi
/

częsToTL, w 03c

1231 ,r234

Rys. 25.4 Widma częstotliwości

ech ultradźwiękowych:
a _.dużegoreflektorapłaskiegoqĄ/ _ 5 MHz), b _ reflektora płaskiegoo średnicy3,l7 mm d|aróż..
nych kątów padania

1'79
25.9. ogólne zasady oceny dopuvczalności wad

25.9.1.Szkodliwośćwad zależy od ich rodzaju, wielkości,nasilenia i miejsca występo-

-dopuszczalności
wania. Sposób formułowania wad jest różny. Niżej podano przyktady
sposobów podejściado tej sprawy.
niedopuszczalne'bez względu
25.9.f.Rodzaj wad. Pewne rodzaje wad bywają w ogóle
są pęknięcia ptatkowe oraz pęk.
na ich wielkośćlub nasilenie.Przykładem takich wad
nięcia zmęczeniowe.
ocenarodzajuwadnapodstawiebadaniaultradźwiękowegomoŹebyćdokonana
procesuprodukcyjnego
tylko z pewnym prawdopodóbieństwem,w oparciu o znajomośc
(w przypadku badań
badanego elementu wzjędnie warunków eksploatacji'elementu
okresowych).

wad. Pod uwagębierze się przykładowo:

25.9.3.Wielkość
- maksymalnąśrednicęwykrytych wad punktowych,
- maksymalnepole powierzchni wykrytych wad liniowych lub rozległych'
- sumę pól powierzchni wszystkich wykrytych wad.

25.g.4.Łączenie wad. Jeśliwady znajdują się blisko siebie, ich szkodliwośćdla elemen-
tu może być większa, niżby to wynikało z arytmetycznej,,sumy'' wadliwościkażdejz
nich z osobna. Z tego powodu, dośćpowszechniejest przyjęta zasadatraktowania wad
blisko siebiepołożonych jako jednej większejwady. Łączeniu podlegajązarówno wady
leżącew tej samej odległościod głowicy, jak i wady leżącew rcżnych odległościach.
W ostatnim przypadku echa występujące na określonychodcinkach zakresu obserwacji
uwaza się za ęchojedneji tej samejwady. Zasady łączeniawad nie sąjednolite.

25.9.5.Nasileńe wad. Dopuszczalnewartościwielkościwad mogą byc odniesione(przy.

kładowo):
- do całegoelementu,
- do metra bieżącego(lub metra kwadratowego)elementu,
- do metra bieŻącego(lub metra kwadratowego)elementu, na którym występuje
największenasileniewad.

25.9.ó. Lokalizacja wad. W elemenciemogą być wyodrębnione obszary w których dopu.

szcza się wady o róinej wielkościi różnym nasileniu.Przykładowo,w odkuwkach o prze-
kroju okrągłym wyodrębnia się czasemobszar wewnętrzny o średnicyrównej l/3 średni.
cy zewnętrznej.

25.9.7.Najmniejszawada istotna. Jest to najmniejszawada, którą bierze się pod uwagęw

badaniui oceniejakościelementu.Jeśli,przykładowo,najmniejsząwadą istotnąjest wada
o średnicyrównoważnej5 mm, to wad o mniejszych średnicachrównoważnychw ogóle
nie bierze się pod uwagę(tak jakby ich w ogó|e nie było).

t80
26. PoMIAR wsPÓŁczYNMKA TŁI'JMIBNIA

26.|. Pomiar współcrynnika za pomocą głowicy norma|nej

26.l.1.Pomiar wykonuje się przy użyciujednej lub dwóch próbek płaskorównoległych:

a) bądźw oparciu pomiar amplitud pierwszychech dna dwóch próbek z tego samego
materiału|ecz o roż'nychgrubościach,
b) bądźw oparciu o pomiar amplitud ech dna jednej i tej samejpróbki.

f6.|.z.Schemat pomiaru współczynnika tłumienia w oparciu o pomiar amplitud pierw.

szych ech dna dwóch próbek o różnejgrubościjestnastępujący
a) należy wyznaczyc wzmocnienia W1 i W2 przy których amplitudy ech den leżą.
cych w odległościl1 i 12będą na ekraniemiały takąsamąwysokość (np. o,4H)
i obliczyć

A,W=Ił2-W|

b) należy wyznaczyc wartośćĄ WR o jaką spadaamplituda echa dna na drodze od

l1 do 12wskutek rozbieżności
wiązki;
c) współczynnik tłumieniaq oblicza się z wzoru

A,W -A,||ą
" 2(t2 t1)

Mnożnik 2 w mianowniku występuje dlatego,że fa|a odbywa drogę (l2-l1i dwu-

krotnie(,,tami z powrotem").
Wartość L|łpna|eży odczytaćz wykresuoWR (rys. 26.1).Jeżelill>3N (N - dtu-
gośćpola bliskiego),to LWp możnaob|iczyćz wzolu

l)
awR= 20los1s (26.2)
f I

Przykład l
Dana jest próbka jak na rys. 26.l, w której lt = zs mm i12 = 60 mm. Poziomy ech tych den'
wyznaczoneza pomocągłowicy4LN7 wynoszą:wI = 9 dB,W2 = z0 dB. Należyobl.iczyća
Rozwią?anie
Długość pola bliskiegogłowicywynosiy'f = 8 mm.
=
Z unormowanegowykresu oWR dla głowicy normalnejodczytujemy,że d|a I1 25 mm = 3 N
= =
j c s t h r p 7 5 d B , a d | a l , . =6 0 m m 7 , 5N j e s t | ł p 2 = L 3 d B . A z a t e m A
: w = ( 2 0 - 9)dB = 11dB'
Awp=(13*s)dB=8dB.
Szukanawartość tłumieniawynosi

dB
ą_ --
l1-8 -d B = 4 3 _ -
2(60- 25) mm m

t8!

o
 mffi
@

d8

nł
Rys. 26.1 Pomiar współczynnika ttumienia fal podtużnychw oparciu o różnicę poziomów picrw-
od głowicy. Ilustracjawg
szych ech przeciwległychścianpróbki, leżącychw róźnych odległościach
przykładu l

ech
2ó.l.3.Schemat pomiaru współczynnika tłumienia w oparciu o wielkość kolejnych
- jest następujący (rys.26.f):
jednego i tego samego dna, znajdującego się w odległości 8

nrt-?
J
*c.l
Rys. 26.2 Pomiar współczynnika tłumienia za pomocą głowicy normalnej w oparciu o pomiar róż-
nicy poziomów wielokrotnych ech dna próbki

a) na|eżywznaczyc różnicę wzmocnień A,W przy których echan]-te i n2.te,|eż'ące

ch l 1 = n 1g oraz 12 : n2 g mają na eklanie tę samąwysokość.
w odległościa
b) należy wyznaczyć, o jaką wartośćA'}łp spada amplituda echa dna na drodze od
l1 do 12wskutek rozbieżności wiązki;
c) współczynniktłumieniaoblicza sięzwzoru(f6.l)podstawiającl1=n]8il2=n28.
Jeże|in p > 3 N, to AWp można obliczyć z wzoru (26.2), który przyjmuje postać

Atrn--zotocrcff (26.3)

Gdy bierze się pod uwagę pierwve i drugieecho dna, tj. gdy 12 = 2 l1, i gdy rÓwno.

182

g
 l1> 3 N, to AIlp = ó dB i wówczas
cześnie

LW-6
0,= (26.4)
Ą

natomiast edy lt < 3Ai' to za AWR można przyjąc następującewartości(wynikające

z wykresu OWR):

ttlw ar./R[dB]

0,5-l I
l,l - 1,4 f
1 , 5- 1 , 8 J

t , 9- 2 , 0 +
)t_)4 5
ponad,2,4 6

Ptzykład 2
Dana jest próbka jak na rys. f6 '2 o grubościg = l0 mm. Po ustawieniu na niej głowicy 4LN7
stwierdzono, ż'e poziom trzeciego i szóstego echa dna róźni się o AW = l0 dB. Na.leży
obliczyć u
Rozwiązanie
Długośćpola bliskiego głowicy wynosi N = 8 mm
Trzecie echo znajduje się w odległości

lt = 3 s = 3 . 10 = 30 mm = 3'7 Nż3 N

S z ó s t c e c h o z n a j d u j e s i ę w o d | e g ł o ś cti2 = 6 g = ó 0 m m .
Poniewuł lf = 2ly to A l,tl^ = 6 63
Szukana wartośćwspółczynnika tłumienia wynosi

l06dBdB
o'=t(60-30) 67;
,#-=

26.2. Wyznaczanie współcrynnika tłumienia za pomocą głowic skośnych

Za pomocą głowic skośnych Wznacza się współczynnik tłumienia dla fal po.
pruecznych. Pomiar wykonuje się przy uzyciu próbki płaskorównoległej.Schemat
pomiarujest następujący (rys. 26.3):
a) posługujemy się dwiema głowicami skośnymi,o kącie załamaniaB z ktorych
jedna pracujejako nadajnik,a drugajako odbiornik,
b) na|eżyustawić głowicę tak, by głowica pracującajako odbiornik odebrata
maksymalny impuls od głowicy nadawczej po jednokrotnym jego odbiciu od
przeciw|egłejpowierzchni (poł'ożenieI)' po czym wyznaczyc poziom |ł1
odebranegoimpulsu,
c) należy ustawić głowicę odbiornika tak' by odebrałaona maksymalnyimpuls
od gtowicy nadawczeJpo dwukrotrrynljego odbiciu od przeciwległej
powierzch.

183
 ni (położenieII), po czym wyznaczyć poziom W2 odebtanegoimpulzu;
d) należy wyznaczyć, zgodnie z regułamipodanymi w 26'|.2,wartośćAl,t/p na dro-
dze wiązkt fal od punktu I do punktu II, tj. w odległościachod

od l1 = 2glcosP do 12= 4gfas P;

e) współczynniktłumieniaobliczasięz wzoru

(W2- W1)*A|rn
(26.4)
lz - lt

Przykład 3
Dana jest próbka jak na rys. 26.3 o grubościg= 25 mm. Posługującsię głowicą2T70o 7 stwier-
dzono, że |ł1 = lo dB i w2 = 45 dB. Nalezy obliczyć o.
Rozwiązanie
Ąw=ąs_30=15dB
Długość pola bliskiegogłowicywynosi ly' = 9 mm
2 .25
L=-
't =146mm
cos 70o

4 .25
l^=--
-z - ''a g 2 m m
cos 70o
Poniewaź146 mm )3.9 mm i12 = 2I1,to Lł|lp = 6 dB. Szukanawartość
owynosi

15_ó dB = dB
o - 3l_
f (292- 146) mm m

Wą Wz
WŁ2zENlE
I nnŻEMEn

l
I
]-
Rys' 2ó.3 Schematpomiaru wspótczynnika ttumieniaza pomo.
cą dwóch gtowic skośnych
W1 ' poziom impulsu odebranegow położeniu/ głowicy od.
biorczej, w2 _ poziom impulsu odebranegow położeniu11gło.
wicy odbiorczej

21. WTZNACZANIESTRATPRZENIESIENIA

27.l. Uwagi ogólne

Jeżelijedną i tę samągłowicę przyłoŻymydo próbek płasko.równoległycho jedna.

184
 kowych wymiarach, z kt&ychjedna ma powierzchnię gładką a druga chropowatą (rys.
27.1 a)iwyznaczymywzmocnienia,przy którychechadnaoŚągająwysokość h_0,4H,
to wzmocnienie |ł61 wyznaczone dla próbki o powierzchni gładkiej będzie mniejsze ani.
żeli wzmocnienie |ilggp wznaczone dla próbki o powierzchni chropowatej. Różnica
A W p = l / c g R _ | | c t j e s t m i a r ąt z w . s t r a t przeniesienia, występująrych
podczas przechodzenia wiązki ultradźwiękowej przez chropowatą powierzchnię próbki.
Straty przeniesienia mogą być również spowodowane Wzywizną powierzchni (rys. 27.l b).

DNO

wcr oNo( wcn nNo

wxRz oNo
Rys. 27.1 Wzmocnienieniezbędne do
uzyskania echa dna próbki o wysokości
h = 0'4 H gdy jej powierzchnia jest gład.
ka i płaskajest mniejsze niż,w ptzypad.
ku powierzchni chropowatej i zakrzy-
wionei
Wpr orvo <.wxnz oNo *-1
f_,**_
l Straty przentestenianie wprowadzająbłędu, gdy porównujemy z sobąecha otrzymy. i
i wane poprzez powierzchnię ojednakowymstanie.Itak, różnica wzmocnień wyznaczonai
dla dna i echa płaskiego reflektora w próbce o chropowatej powierzchni (rys. 21 .2 a)i
- jest taka sama jak różnica '*'zmocnień wyznaczona dla tak samo położonegodna i pła.|
skiego reflektora (o tej samej średnicy)w próbce o gładkiej powierzchni (rys. z.l
Ą9.\
WcŁ oxo WGt w,ło,ł

a)
I
I

rl

wcu oNo WcHw,ąo,ą Rys.27.2 Różnicapoziomów ech

dna i wady jednego i tego samego
b) elementu nie zależy od stanu po.
I wierzchni
I
I
wct wa,oł _ Wct DNo =
rl
l l
Wcg włoł - WcHoNo

Straty przeniesieniagrająnatomiastistotną rolę, gdy chcącwyznaczyć metodąoWR

wielkośćwady równoważnej w próbce o chropowatej powierzchni, posługujemy się

185
echem dna otrzymanym Z wzorca o gładkiej powierzchni, np. wzorca WL,Wówczasróż,.
nica pomiędzy poziomami echa dna i echa wady jest zwiększona o wartośćA,|łp, co Pro.
wadzi do niedocenienia (pomniejszenia) wielkościwady równoważnej.

27.f . Wyznaczanie strat przeniesienia dla głowicy normalnej

W celu wyznaczenia strat przeniesienia dla próbki o chropowatej powierzchni, należy

znać poziom echa płaskiegoi gładkiegodna
_ tej próbki,
_ próbki o gładkiejpowierzchni,którą możebyc wzorzec |4/I.

Przykład 1 (rys.27.3)
Należy wyznaczyć si.:aĘ przeniesieniaw przypadku próbki, która ma płaskiei gładkiedno w
odległości l00 mm. Materiałpróbki nie tłumi fal ultradźwiękowych.Posługującsię głowicąo długo.
ścipola bliskiego 25 mm stwierdzono,że..
_ echo dna próbki wynosi lr = 0,4 H Edy wl = 30 dB'
- echo dna wzorca I/7 z odległości 25 mm wynosi ł = 0,4 H Edy W2 = 18 dB'
Rozwiązanie
Z unormowanego wykresu oWR wynika, ż'e ńżnica wzmocnień dla ech dna lcżących w odle-
głościach unormowanych |00125 = 4 oraz 25l25 = l powinna wynosić 7 dB.Zmierzona różnicawy.
n o s iI / 7 - h | z = 1 2 d B i j e s t z a w y ż o n a o A } ł Al oz.a t e m Ą w o = 1 2 d B - 7 d B = 5 d B .

Wz.18dB

t
I
t
I
I
I a
I
I
I', pruo
McEim

R y s . 2 7 . 3 W y z n a c z a n i c s t r a t p r z e n i e s i c ni a g ł o w i c y n o r m a l n e j. I l u s t r a c j ad o p r z y k ł a d u l

l8ó
 Straty przeniesieniamożna Wznaczyc Za pomocą nakładanejskali oWR (rys. 27.5).
Po wyskalowaniu zakresu zgodnie z wymaganiami tej skali, ustawia się głowicę na próbce
o płaskieji gładkiej powierzchni i regulujewzmocnienie tak, by vczyt impulsu dotykał
dna (Ił = |U1). Z ko|ei ustawia się głowicę na elemencie badanym. Liczba decy-
]<r1vwej
beli, o którą należy wówczas zwiększyc wzmocnienie (W = W), aby uczyt echa dna
dotknąłkrzywej dna,jest miarą strat przeniesieniaA,Iło, tzn.

AWp=||z-Iłt

Sposób ten możnastosowaćpod warunkiem,że tłumieniefal w próbce wzorcowej nie

różni się istotnie od tłumienia w elemenciebadanym' Jeśliwystępujątóżnicetłumienia,
to posłużeniesię nakładanąskalą oWR jest możliwetylko wtedy, gdy naniesionajest na
niej dodatkowa Wzywa dna dla materiałupróbki wzorcowej (rys.27.6). Wówczas szczyt
echa dna próbki wzorcowej i szczyt echa dna elementubadanegonależydoprowadzićdo
zetknięcia się z właściwymidla nich krzywymi' Straty przeniesieniasąróżnicą odczyta.
nych wzmocnień W2 i Ił1

AW, = Ił2 ||1

27.3. Wyznaczanie strat przeniesienia dla głowicy skośnej

Sposób wznaczanie strat przeniesieniapokazano schematycznięna rys. 27.4. Na

bocznej powierzchni wzorca I/1 ustawiamy naprzeciw siebie dwie jednakowe głowice
skośne:jednaz nich pracujejako nadajnik, zaśdrugajako odbiornik. Notujemy wartość
wzmocnienia |ł1,przy którym amplitudaodebranegoimpulsu osiągawysokośćh = O,4H
dla długościdrogi fal 217Zko|ei, przenosimy głowice na badany materiałi notujemy
wartoścwzmocnienia |ł2, przy którym amplituda odebranegoimpulsu osiągataką samą
wysokośćdla długościdrogi fa| 2l2.
Na powstanieroż,ntcyaW : Iłz - ilr7 składająsię:
- straty przeniesieniaAIłp,
- rÓi:nice tłumieniaw materialebadanym i w materialewzorca A Ił7,
- straty związane z rozbieżnościąwiązkiA'Iłp.
Straty związane z tłumieniem A'|ł7wyltczamy, znając współczynnik tłumienia w
badanym materiale. Straty geometryczne A ltlR, wynikające z rozbieżnościwiązki na
drodze od /7 do 12 wyznaczamy z wykresu oWR biorąc pod uwagę ktzryądla reflekto.
rów dużych. odejmując od zmierzonej rożnicypoziomów A I/ wartościAW7i A||p,
otrzymujemy wartośćstrat przeniesienia:

AWp=AW-A''ą-AW7

Przykład 2 (rys.27.4)
jeże|ia(2MHz, D = 80 dBlm,W1 = 22 dB,tal2 = 52 dB,
Należywyznaczyc stlaty przeniesienia
l1 = 75 mm,12 = 130 mm.

t87
 Rozwiązanie
Obliczamy straty na ttumienie:

A w 7 = 2 Ę , a = 2 . 1 3 0, 0 ' 0 8d B = 2 1 d B

dużegoz odległości
Z wykresu oWR odczytujemy, że różnica wzmocńeń dla ech reflektora
mm i l30 mm wynosi A ||/n = ą dB. Wartośćpoprawki na stlaty przeniesieniawynosi zatem
?5

Aw, = 52 dB - 22 óB _ 21 dB _ 4 dB = 5 dB

"@

w
N ftlrvn 1{mm
Ilustracjado przykładu 2
Rys. 27.4 Wyznaczaniestrat plzeniesieniagłowicy skośnej.

z
Straty przeniesienia można wyznaczyc bez obliczeń stosującopisan4 procedurę
-owocn
głowic, używając nakładanych skal olllR na których są naniesione
u{ciem
wierzchołków impulsów nadaw.
,,krzywe przejścia''.Krzywe te wyznaczająpołożenia
.,y.i, *yiytu-nych przez gtowicę pracującą jako nadajnik, a odbieranychprzez głowicę
p,acuiąci jako odbiornik. Krzywe przejścia są w danym przypadku odpowiednikiemkrzy.
(rys. 27.5 if7.6).Po ustawieniugtowic na próbce
*y.t,-..ńu dna dla głowicnoi-utny.ń
|ł = |ł1,tak by wierzchołek odebranego impulsu
wzorcowejregulujesię wzmocnienie
właściwej dla tej próbki. Następnie po ustawieniu głowic na
dotykał krzywej przejścia
= odebranego
elemencie badanym regulujesię wzmocnienie |,| W2, tak by wierzchołek
p.,.jś.iu właściwej ctla próbki badanej. Różnica wzmocnień
impulsu dotykał krzywej
-
Iłz Iłl jest równa wartościstrat przeniesienia AW,.

188
 ll/-vL

Rys. 27.5 Wyznaczanie po-

prawki na straty pfleniesienia
w przypadku materiału o nis.
90 kim tłumieniu fal ultradźwię.
kowych

Rys. 27.6 Wyznaczanie po-

prawki na straĘ przeniesienia
01234567 w przypadku gdy mateńał ba-
dany wykazuje znaczne tłu.
mienie

f8. INTERPRETACJA OSCYLOGRAMU

28.1. Uwagi ogólne

28.l.1.Interpretacjaoscyloglamu zmierzado uzyskanianastępującychinformacji:

- czy jest wada,
- w którym miejscuZnajdujesię wada,
wady równoważnejwzględemwady wyklytej'
jak jest średnica
- jakiegorodzajujestwada.
Uzyskanie tych informacji z jednego oscyloglamu nie Zawszejest możliwe.Dlatego
obserwujesię sekwencjeoscylogramów podczas przesuwaniagłowicy w jednym obszarze
przęsuwulub w kilku obszarach.
Interpretacjaoscylogramujest umiejętnością,którą nabywa się w toku badań prowa.
dzonych przez dłuiLszyokres czasu. omówione dalej zasady interpretacji oscylogramu
należytraktowaćjako ogólne wskazówki, które musząbyć uzupeł'nionedoświadczeniem.

28.1.2. ogóine zasadyinterpretacjioscylogramumożnaująć następująco

l. obecnośćecha pomiędzy impulsem nadawczym a pierwszymechem dna świadczy

I ti9
 z dui.ym prawdopodobieństwemo obecnościwady. Może się jednak zdatzyć, ż:e
echo to nie pochodzi od wady (echo wady pozornej).
2. Brak echa pomiędzy impulsem nadawczym a pierwszym echem dna świadczyz
-
dużym prawdopodobieństwemo nieobecnościwady. Może się jednak zdarzyć
przy niekorzystnej orientacji wad względem wiązki ultradźwiękowej stosowanej
głowicy _ źrcrueczywistawada nie będzie sygnalizowanaobecnościąecha.
3. Wyraźnie obniżenie się lub całkowity zanik echa dna świadczy
zduzym prawdo.
podobieństwem o obecnościwady (lub wad), pod warunkiem, ze nie zostało to
spowodowanepogorszeniemsię sprzęzeniaakustycznegomiędzy głowicą i po.
wierzchnią badanegoelementu, lub zwiększenienl tłumienia fal ultradźwięko-
wych w materialetego elementu.
Do wad pozornych za|icza się eoha transformowane,nieprawidtowo zobraz<rwane
echa dna oraz echa niekorzystnieukształtowanychścianbocznych"

)3.f " Osrylogramy wad rzecrywistych

Niżej porlano zestawieniecharakterystycznychclscy|ograniówwad otrzyrnywanych

przy badaniachza pomocągłowicy normalnej.

A. Element płasko-równoległy,wady leżąw odległościwiększej od połowy grubości

badanego elementu
1. Mała wada płaska równolegta do powierzclrni badania.
Pojawia się echo wady. Zmniejszasię ccho dna rv porównanittz echem uzyski.
wanym gdy na drodze fal nie było wady.

2 . Mała wada ptzestrzenna

Pojawia się echo wady o amp|itudziemniejszejniż w przypadku 1.
Zmniejsza się echo dna.

3 . Mata wada płaslca, zońentowana ukośnie względem powierzchni badania.

Pojawia się echo wady o amplitudzie za|eżnej m.in. od kąta nachyleniawady
(przy zbyt wielkim nachyleniuecha nie będzie wcale).

r90
 ą9q

4. Dwie wady blisko siebie na różnych gtębokościach

Ież'elirożnicagłębokościnie jest zbyt mała, pojawiająsię dwa oddzielne echa;
w przeciwnym razie echa zlewająsię w jedno. Zmniejszasię echo dna.

J. Dwie wady małe b|isko śebiena Ę samej głębokości

obie wady są reprezentowaneprzez jedno echo, które zmienia amplitudę pod.
czas przesuwaniagłowicy. Echo dna zmniejszasię.

6. Dużo rozsianych małych wad

Pojawia się wiele ech o różnych amplitudach.Echo dna zmniejszasię.

7' Dużo rozsianych bardzo maĘch wad (np. wtrąęń)

Pojawia się wiele ech ,,szpi1kowych'' o róznych amplitudach, mniejszych niż
w przypadku poprzednim.Echo dna zmniejszasię.

t9l
 8. Duza wadapład<aw środkowej częścielementu
Pojawiasię silneechowady. Zanka całkowicieecho dna.

9. Duża wada płaska blisko dna

Silne echo wady zlewa się z echem dna, obserwuje się jedynie przesunięcie
echa dna w stronę początku skali.

B. Element płasko-równolegĘ, wady leżą w odległościmniejszej od połowy grubo.

ścibadanego elemenfu.
l0. Mała wada
Przed echem dna pojawiająsię 2 (lub więcej) echawady' rozmieszczonew jed.
nakowych odległościach. ZmniĄsza się echo dna.

1 1 . Duża wada płaslca oddalona od powierzchni badania

Przed echem dna pojawĘą się 2 (lub więcej) wysokie echa wady, rozmie.
szczonych w jednakowych odległościach.Całkowicie zanika echo dna.

192
 -_l
I
il
, ']
f-l
'T '.:
il

rl

t2. Duża wada płaska fuiL przy powierzchni badania

Impulsy od wady Ąewają się z impulsem nadawczym' powodującjego wydłu.
żenie.Całkowicie zanika echo dna.

1 3 . Duża wada płaska zorientowana prostopadle do powierzchni badania

PrzeważLnie
nie występuje w ogóle echo wady. Silnie malejeecho dna, spowo.
dowanerozpraszaniemwiązki ',na boki''.

28.3. Echa fal transformowanych

28.3.1.Echa fal transformowanychpojawiająsię z reguły zapierwszym ęchem dna. Jeśli

obserwacjęprowadzi się na odcinku pomiędzy inlpulsem nadawczym,a pierwszylnechem
dna, to w zasadzienie należyobawiać się ,'kłopotów'' ze strony tych ech.

28.3.2.Schematpowstawaniaech fal transformowanychpodczasbadaniablach przedsta-

wia rys. 28.l4. w wyniku nieco skośnego padania skrajnychpromieni wiązki fal podtuż.
nych na dno, powstaje odbita wiązka fal poprzecznych. obecnośćtej wiązki powoduje
powstanie ech przy stosowaniudużegowzmocnienia.Położenietych ech możnaprzewi.
dzieć, co ilustruje następującyprzykład.

le3
 Przykład (rys.28.14)
przejściadrogi równej 2g, z prędkościąfal
Położeniepierwszego echa dna a7 odpowiada czasowi
podłużnychCtr

fg
,I =
fupą cL

czasowi przejściafali podłużnejod gło.

Potoź:eniepierwszego echa transformowanegoa2 odpowiada =
do głowicy z prędkościąCT 0,54 Cil
wicy do dna blachy z prędkościąC1i talipóprzóczneiod dna

I tS -' ś - l
(ppc) ' cr 0 , 5 4c L '

ech między następnymi echami dna na-

Przy krrżdymkotejnym odbiciu zachodzątransformacjei ilość
rasta.

Rys.28.14Transformacjeimpulsówprzyodbiciuoddnapłytypłasko.równoległe1
echatransformowanego
pierwszego
pierwszego dna,ai potożenie
ai _ notożenie "iha

podczasbadaniaelementuwysu-
28.3.3.Schemat pow$awania ech fal transformowanych
siośnegopadaniaskrajnychpromieni
kłego przedstawiarys' 28.l 5 . Echa te sąwynikiem
w i ą z k i n a b o c z n ą p o w i e r z c h n i ę e l e m e n t u . W w y n i k u t e g o p o w s t a j ą w i ą z k i f-+
aILiT .KaŻ-
,padającna przeciwiegłą powierzchnię znów ulega transformacji L L + T
da z nich
po uptywie różnych czasów,
i T -+ T + I. Fale transformowanepowracajądo głowicy
dłuższychod czasu powrotu częścicentralnejwiązki.
podczasbadaniaokrągtegopręta
f8.3.4.Schematpowstawaniaech fal tiansformowanych
o płaskim czole przedstawiarys.
z powierzchni bócznej za pomocą głowicy normalnej
Echo dna w odlegtościd
28.1ó. w tym przypadt<u*iązta-tilega silnem.,'o"pio''..'iu.
Prońienie odchylone od osi wiązki o 30o, po odbiciach
tworzy centralny p,o*J,i wiązt<i.
d za pierwszym echem dna.
od bocznej powierzchni tworzą drugie echo odlegte o 0,3
w wyniku odbicia od
Promienie, których kąt odchylenia ód osi wiązki wynosi 35$o,

194
 Rys. 28.15 TransformacjaL t L + T oraz T)T + L w elementach wysmukłych
Echo l pochodzi od fal, któte ptzeszŁy drogę ABA
Echo 2 pochodzi od fa|,które przeszłydrogę A | 2BA
Echo 3 pochodzi od fa|,które przeszłydrogę A123BA
Echo 4 pochodzi od fal, które przeszty drogęA 1234BA

tl.'.
.1#, t\tt
/ //l ' i r\ fl
"r'd,

\ \\! . ) ;

n:#i#:fu"
Rys. 28.l6 Schemat powstawania ech podczas badania okrągłego pręta
l' 4 _ echa dna,2 _ echo,,okrężne'',3 _ echo transformowane

bocznej ściankidają silną wiązkę fal podłuznych, biegnącąw kierunku środkagłowicy.

Ta częśćwiązki tworzy na ekranie ttzecieecho, odległeod pierwszegoecha dna o 0,67
d.

28.4. Inne przypadki powstawania pozornych ech wad

28,4.1.Na rys. f8.17 pokazano echa od niekorzystnie ukształtowanejpowierzchni prze-

wężenia.Identyfikację tych ech można przeprowadzić na podstawió icn położeniana
linii podstawy czasu.Przezodpowiedni dobór głowicy, albo przez wprowadzeniefa| z po.
łożeniaoznaczone8o cyfrą 3 można uniknąć powstania pozornych ech wad.

te5
 GtowtcA
--lr 0t210,02120
of'til un 0u
T-
ł

Rys. 28.17 Pozornewskazania wad - echaod niekorzystnie po.

ukształtowanych
wierzchnibocznych.Kolejneimpulsyna ekraniepowstają po przejściu
odlegtości
0 1 0 ,l u b0 2 0 , 0 1 2 0 , 2 0 1l u0b2 0 2 0 , 0 3 0

28.4.2.Na rys.28.l8 pokazano ciekawy przypadek zawrócenia z powrotem do głowicy

fal wprowadzonych skośniedo elementupłaskiegoo nierównoległychściankach. Podob.
ne zjawisko może wystąpic przy wprowadzaniu fal poprzecznych w kierunku obwodo.
wym do ściankirury wykazującejmimoosiowość,gdyfale są wprowadzanew kierunku
malejącejgrubościściaŃi.

T I
I

Rys. 28.18 Echo powsta-

łe na skutek powrotu fali
w wyniku prostopadłego
odbicia od ścianki
I r E.łI,-n

28.4.3.Pozorne echa wad powstałena ekIanie na skutek zoblazowania częściciągu ech

dna utworzonych w poprzednim cyklu pracy defektoskopu pokazano na rys. 28.19. Sy-
tuacja taka może zajścw plzypadku zbyt wysokiej częstotliwościpowtarzania defekto-
skopu, przy małym tłumieniu fal w badanym elemencie. Ech tych mozna uniknąć przez
zmianę częstotliwościpowtarzania.

r96
 20. (?- t)ps
tA

tt

Rys' 28.19 Schemat powstawania pozolnego echa wady gdy czas zaniku drgań w badanym
elemencie
jest dłuższy od okresu powtarzania. W polu zakresu obserwacji pomiędzy
impulsem nadawczym (IN1
i picrwszym echem dna (ED1), o dtugości @ - t) lr.s,występuje czwarte echo dna (ED4),pochodzące
z dtgań wzbudzonyoh w poprzednim okresie powtarzania

t97
 CzęśćV

TECHNIKI BADANIA DEFEKTOSKOPOWEGO

29.BADANIEMEToDĄKoNTAKTowĄECHAZAPioMocĄGŁowIcY
NoRMALNEI FAL PoDŁUżnycH

29.l. Uwagi ogólne

Badanie kontaktową metodą echa za pomocą głowicy normalnej stosuje się dla wy.
krywania wad równoległych lub lekko nachylonych do powierzchni z której wprowadza-
my fale, wad objętościowych,a takżedla zmierzenia grubości,tłumienia czy prędkości
fal w materiale badanego elementu.Metodę tę można stosowaćdo badania elementów
stalowych o grubościod kilku milimętrów do kilku metrów. Dolne ograniczenie narzvca
długośćstrefy martwej, a górne - gtanicznawykrywalnośćwad.
Wskazaniemobecnościwady jest echo występującena odcinku podstawy czasu mię.
dry impulsem nadawczym, a pierwszym echem dna. Zanik lub osłabięnieecha dna w
pewnym obszarze przesuwu głowicy (przy niezmiennychwarunkach sprzężenia)wskazu-
ją na lokalnie występującąstrukturę gruboziarnistąlub porowatą,drobne wtrąceniaalbo
teżna obecnośćpłaskiejwady prostopadłejdo powierzchni badania.

29.f . Dobór zakresu obserwacji

grubości
Zakres obserwacjinależywybrać o dtugościrównej lub nieco większej od
badanego elementu. Wskazanejest, z uwagi na wygodę odczytu odległości, długość
by
podziałki podstawy czasu,wyraiającejsię liczbą
zakresu obserwacjibyła wielokrotnością
całkowitą,np.(ppc)= l0 mmidz.

29.3. Skalowanie zakresu obserwacji

W badaniachkontaktowych za pomocą głowicy normalnejz reguł'ywystępujezakres

obserwacji typu (0 - L) mm. Przy skalowaniu takiego zakresu występuje ta niedogod.
ność'ż'enie dysponujemy echem powierzchni badania,za pomocą którego możnabyusta.
wić początek zakresu obserwacji.Dzieje się tak d|atego,żena echo to nakładasię impuls
nadawczy.
Skalowanieprzeprowadzasię następującymidwoma sposobami:

Sposób 1
Najpierw za pomocą pokręteł ZASIĘG i PRĘDKoŚĆ reguluje się długośćZ zakresu

l9lJ
obserwacji,a następnieza pomocą pokrętła OPÓŹNIENIE ustawiasię echo z odległośc'i
l, na prawym końcu slrali ekranu. Taki qposib postępowaniajest możliwy,jeże|idyĘo
nujemyechamimiędry którymi odległość wynosiZ.

Przykład l (rys.29'1)
NależywyskalowaćzakresobserwacjiZo = (o - 25) mm.
Ustawiamy głowicę na wzorcu |łI ibierzemy pod uwagę l i 2 echo ścianyodległej o 25 mm.
odległośćmiędzy tymi echami wynosi 25 mm, czyli jest równa długościzakresu obserwacji.operując
pokrętłami doprowadzamy do tego, by echo 1 znajdowało się w miejscu 0 dz, a echo 2 w miejscu
10 dz (rys. 29'|a). Z kolei, za pomocąĘlko pokrętta OPÓŹNIENIE pźesuwamyoscylogramtak, by
echo 1 znalazłosię w miejscu l0 dz (rys. 29.1b).

a)

w,t
= (0 25) mm według sposobu 1.
Rys. 29.1 Przykład skalowania zakresu obserwacji Zo
a najpierw ustawiamy echo 1 na 0 dz i echo 2 na 10 dz, przez co zostanie nastawiona
'' następnie pzesuwamy
wymagana długośćzakresu i podziałka postawy czasu (ppc), b
oscylogram w prawo, tak by echo 1 było na 10 dz

W ten sposób można skalować zakresy obserwacjio niezbyt wielkich długościach,

dla których za pomocą poklętła QPOŹNIENIE można przesunąć oscylogram o iądaną
wielkość.Przy skalowaniumożnabrać pod uwagę l i 3 echo dna, l i 4 itd. Posługującsię
wzorcem Wl i W2 można bardzo tatwo w ten sposób wyskalować zakresy których dtu.
gośćjest ńwna |2,5 mm wzgl' 25 mm lub jest wielokrotnością
tych wartości, naprrykład:
25 mm,50 mm,75 mm ( a b l i c a 2 9 . 1 ) .

Sposób 2
Postugując się pokrętłami zAsIĘG i oPoŻ{IENtE doprowadzamy do tego, aĘ:
_ echo odpowiadające odległościLt 1 L znajdowało się rra właściwymmĘscu
na ekranie, a7 dz, wybranym możliwie blisko początku skali;
_ echo odpowiadające odległościL2 ś L znajdowało się we właściwymmiejscu
na ekranie, c2 dz, wybranym możliwie blisko końca dcali lub na jej końcu.
Przed przystąpieniem do powyższych czynności mleĘ ztobić ,plan slcalowania'',
tj. ustalić juki" pu'y wartościZ 7, a1 oraz L 2, 02 Ę brane pod uwagę.
Warunkiem powodzenia tego sposobu skalowaniajest dysponowaniewzorcem o gru-
bościco najrnniej 2 razy mniejszejod długościzakresu obserwacji.

t99
 Przykład 2
Nalezy wyskalowaćzakresZo = (0 - 400) mm.
Bierzemy pod uwagękolejneecha dna ścianywzotca Iłl odległejo 100 mm (tabe|a29 .1, poz.4).
W y s t ę p u j ą o n e w o d l e g ł o ś c i a c=h Z 17 00mm,Lz=z0omm,Lj =300mm'I,ł=400mm,czyliw
n a s t ę p u j ą c y c h m i e j s c a c h s k a=l i2: a, 57d z , a 2 = 5 d z ' a j = 7 , 5 d z , a 4 = 1 0 d z . D l a c e l ó w s k a l o w a n i a
bierzemyli4echodnaimetodą,,ko|ejnychptzyb|rż,eń''ustawiamy:1echonaa1=2,5dza4echo
naa4 = l0 dz.

Jeżeli długość zakresu obserwacji jest równa lub jest wielokrotnością odlegtości wy-
stępujących we wzorcach ||1 |ub Ił2 (|ub innych), skalowanie według sposobu 2 jest ła-
twe i nie wymaga żadnych obliczeń.
Jeżeli jednak nie dysponujemy wzorcem dającym echa w dogodnych od|egłościach
względem długości zakresu obserwacji, przed skalowaniem konieczne jest przeprowadze-
nie odpowied ruch prze|iczeń..

Tablica 29.1

sPosÓB sKALowANIA N|EKToRYCH ZAKREsow oBsERwACJ| ZA PoMocA wzoRcA wl

TAIRES 5ms0BppZYŁ1ZENlA M EKPANIEPWOZENIE

OBPAZ EAm
ffiŁtł]u.,lI GLOWICY SIGIOTANIA

0-n aiSdz
ar-10d2

a,-2,5d2
0-ffi a,-10d2

I
\l

fr
0-m or'Sdz

lll
0r2ra!art9D
arl0dz

0-4u o,-z5dz
ar-\0d2

r00
 cd. Tablicy29.1

arSdz
atDdz

a,-2ft2
arl)dz

[ir
I
lr o,'ZdZ
arl0dz

P r zy k ład 3

Należywyska|owaćzakresobserwacjiZo = t0 320) mm posługującsię wzorcem l/1

obliczamy podziałkępodstawyczasuzakrcsuobserwacii

320 mm =
(ppc) = 32 mmldz
ffa"

W obrębiezakresuobserwacjiwystępują3 kolejneechadna ścianywzorca}t,Iodległejo 100 mm.

Bierzemypod uwagęccho l i 3.
obliczamy położcnie1 ccha na ekranie

",=*dz=3.td,z

obliczamy położenieecha 3 na ekranie

=# dz = e.4dz
",
A zatem, echo l należy ustawić na 3,7 dz, a echo 3 na9 '4 dz.

f9.4. Czułośćbadania

29.4.|.Czułośćbadaniaokreśla się przez podanie:

- opisu reflektora wzorcowego' którego echo na ekranie defektoskopu powinno
mieć wysokośćo,4H,
- wartościwzmocnienia o jaką naleiLyzmienić (zwiększyć lub zmniejszyć)nastawę
decybelowegoregulatorawzmocnienia po wyregulowaniuwysokościecha reflek.

)nr
 tora wzorcowego,
_ położeń pokręteł ENERGIA i PODCIĘCIE
Do najczęściej używanych reflektorów wzorcowych nat'eżLą:
- powleizctrnie ptań,iak na przykład boczne powierzchnie wzorców Wl i |ł2 '
- płaskie dna otworów okrągłych.
Czułość badania można zapisać w następujący sposób:

Przykł ad 4

a') W = W (hZS = 0,4 H) + 40 dB

przy którym echo powierzchni
Zapis oznacza,żewzmocnienie na|eżyustalić o 40 dB większe od tego,
(wzorca l/1) z odległości25 mm ma wysokość0,4 //.

b) W = W (ht xzs = O,4Ili + 10dB

przy którym trzecie echo po.
Zapis oznacza,że wzmocnienie na|eżyustalić o 10 dB większe od tego,
25
wierzchni z odległości mm ma wysokość 0,4 l/.

Winnychprzypadkach,dlauniknięcianieporozumieńwynikającychzróżnegood-
cn1tania symboli, czutość badania powinna być określona opisowo.
Sposób doboru
fg.42.Zasdy doboru czułości badania są omówione w ustępie 37.8.
czułości Za pomocą wykresu o|łR przedstawia przykład.

Przykład 5
badania tak, by od
Posługującsię unormowanym wykresem owR (rys. 29.2) dobrac czgt.ość
się w odległości.25omm od powierzchni badania
wady o średnicyrównowa:żnej2 mm, znajdującej
o wysokości Oy' 11. Współczynnik ttumicnia o materiałubadanegoelementuwynosi
;;J*";
""r.o = 8 dB'
30 dB/m, a straty przeniesieniaLW, pola
f4 mmi długości
IJirywanama być głowica ztoozs o skutecznejśrednicyprzetwomika
bliskiego50 mm.
Rozwiązanie
wady od powierzchnibadaniaoraz jej unormowanyrozmiar
obliczamy unormowanąodległość

1, =
- 4- !5gOt r- -
mm=)

R- = f2 rmfmr n l = 0 , 0 8

=
Dla tych parametrówz wykresu odczytujemyW 52 dB.
obliczamy unormowaną odległośćdo dna wzorca lł,l1

,ł=,f;ss=
o,s
= 1 dB. Różnica wzmocnień spowodowana roz.
Dla tego parametru, z krzywej ,,dna'' odczytujemy W =
bicżnościąwynosi Wę = 52 dB _ 1 dB = 5l dB. Straty spowodowane tłumicnicm wynoszą W1

r0l
2 . 0.25 . 30 dB = 15 dB. Sumarycznaróżnicawzmocnieńdla wadyi dnawzorcaW1wynosi

Aw* + Awt + Awn = 51 dB + 15dB + 8 dB = 74dB

Czułość
badaniapowinnawynosić

|łl= W(h25 = 0'a H) + 74 dB

ot @ 6 q 66 0 0 2 r a 5 c taro to - - $@ o 6
......A- -
N

Rys. 29'2 Ilustracja do przykładu 5. Dobór czułościbadania w oparciu o wykres oI{/R

29.5. Lokalizacja wady

Wada wykryta za pomocą głowicy normalnej' gdy jej echo osiągamaksymalnąwar.

tośćznajduje się pod głowicą' w osi jej wiązki ultradźwiękowej.odległośćz wady od
środkagłowicy oblicza się mnożącpodziałkę podstawy czasu (ppc) przez.|iczbędziałek
a, odczytanych na poziomej skali ekranu w misjscu występowania echa. Na przykład:

a=7,5d2
(ppc) = l5 mm/dz
z=7,5.15mm= ll2,5mm

29.6. ocena rozmiaru wady za pomocą skati owR nakładanejna ekran

f9.6.|.Przy posługiwaniusię nakładanąna ekran skalą oWR' na]eżysię stosowaćdo

wskazówek podanych przez jej producenta.Wskazówkj te powinny mieć postaćinstruk.
cji określającejjednoznacznie :
- typ defektoskopu i głowicy, oruz rcdzaj badanegomateriału(ewentualniezakres
wartościwspółczynnika tłumienia),do ktÓrych odnosi się skala,
- sposób skalowaniazakresuobserwacjii nastawyczułości,
- czynnościjakie nalezy wykonać, celem sprawdzeniaczy parametrydanegoeBzem-
plarza defektoskopuodpowiadająwymogom skali.

203
 Jeślichodzi o defektoskop,to m. in. jest ważne,aby;
_ linia podstawy czasu pokrywała się z linią
,,o działek'' nakładanejskali (eślitak
nie jest, należyją przesunąć),
_ tor X nie wykazywał nadmiernej nieliniowości.

f6.62.Aby posłuzyć się skalą na|eĘ najpierw wyskalować właściwydla niej zakres ob-
serwacji,a następnie nastawić czułość.PokęttoPoDCIĘCIEpowinno być ustawionena
zerze.Nastawaczułościpolegana wykonaniu następującychczynności:
- ustawieniugłowicy nad dużym reflektorem _
,,dnem'' - i takim ustawieniudecy-
belowego regulatora wzmocnienia , aby szczyt echa tego reflektora dotykał krry-
wej oznaczonejjako ,,dno" lub symbolem-,
_ zwiększeniu wzmocnieniao podanąna skali liczbę decybeli,
- zwiększeniu wzmocnienia o wartośćstrat przeniesienia AWo (eśli należy je
uwzględnić).
Po dokonaniu tych czynności,można przystąpić do badania.Za średnicęwady rów.
noważnej prryjmuje się średnicęprzypisaną krzywej, której dbtyka szczyt echa wady.
Jeśliszczyt tego echa znajduje się między krzywymi, należyśrednicę ocenić przez inter.
polację, lub przyjąćją równą wartościprzypisanejkrzywej znajdującejsię bliżej.

Przykład 6
Należy posłużyć się nakładanąskalą oWR przedstawioną na rys. 29.3. Skala jest ptzeznaczona
dla głowicy 2Loo25 i zakresuobserwacjiZo = (0 - 250) mm w stali o niskim współczynnikutłu.
mienia.
Najpierw skalujemy zakres obserwacji,wykorzystując l i 2 echo ścianywzorca|,|], odlcgtej
o 100 mm (rys.29.3a).
Z kolei echo tej ścianywzorca sprowadzamydo zetknięciasię z krzywą Ę po czym zwiększamy
wzmocnienieo 30 dB (rys. 29.3b).Przyjmujemy,żenie ma stat przeniesienia.
Jeślipodczas badania otzymamy echo wady jak na rys. 29-3c,to średnica wady równoważncj
wynosi 2 mm. odległość wady wynosi 163 mm.

29.63. Straty przeniesienia na|eiry uwz$ędnić, gdy podczas nastawy czułości korzysta
się z echa dna elementu o gładkiej i płaskiej powierzchni, np. wzorca l/1 . Jeśliwykorzy-
stuje się echo dna badanego elementu, strat przeniesienia uwzględniać nie trzeba.

29.6.4.Gdy echo wady jest zbyt mate lub wykracza pozaeklan,można ,,poszerzyć,,za-
kres stosowalnościskali, zmieniając wzmocnienie o + 6 dB, + 12 dB lub -6 dB, -l2 dB.
Po wprowadzeniu takich zmian, wartości średnic d przypisanych poszczególnym krzy.
wym skali zmieniają się (w przybliżeniu) następująco:

zmianaW zmianad
6dB x lĄ
-l2dB x2 )
+ 6dB *O,l'1l
+ 12 dB *,0:Lz'
Przykładowo, jeśliparametrem danejkrzywejbyławartość =
d 2mm, to po zmianieI,/
o l2 dB, krzywejtejjestprzypisana
wartośćd = 2 x2 mm = 4 rnm.

204
 a) SKALOWANIE
ZAKPESTJ

\[

+T)dB

ą 1cEM stEINtcY fr
WADYNWNO -

i
ł
-I d - 2 m m
Rys. 29.3 Sposób posłu-
giwania się nakładaną na
ekran skalą oIłrR. I|ustra.
5 p cja do przykładu6

29.6.5.Jeśliprzy postugiwaniu się skaląoWR korrystamy jednocześnie z monitora, nale.

ity zwrocić uwagę' czy znacznlk monitora nie zmienia wysokościech zobrazowanych na
ekranie. Jeślitak jest, należyodczyty średnicrównowaznych wykonywać prfy wyŁączo.
nym monitorze.

29.7 ' ocena rozmiaru wady za pomocą nieunormowanego wykrezu oWR bez poprawki
na ttumienie i straĘ pnejścia

29.7.1.Nieunormowanywykres oWR (wykres oWR) przedstawiazależność względnego

poziomu echa W płaskich,kolistych reflektorów od ich średnicyd i odległości
z od prze-
twornika głowicy. Na wykes składa się rodzina Ęzywych, których parametrirmiĘ war.
tościśrednicreflektorów. Jedna z krzywych, oznaczona znakiem o, reprezentuje względ.
ny poziom echa dużego,płaskiegoreflektora (rys.29.4a).
Rys. 29.4 Wykres OllR (nieunormowany)
a - wykres głowicy B2S-N o częstotliwości f MHz i średnicyprzetwolnika 24 mm. Przykładowo, gdy
z = l00 mm i ltl = 35 dB to d = 2,5 mm, b wartość ltl podana na wykresie o|łR jest różnicą od-
czytów decybelowego regulatora wzmocnienia|l/p - I|/n um, gdy echo wady i echo blisko położone.
go duźegoreflektora osiągająwywokość 0'4 11

Nieunormowany wykles oWR odnosi się do konkretnegotypu głowicy, określonego

przez ksztaŁt i wymiary przetwornika oraz częstotliwośćjego drgań. Przykładowo, wy.
kres przedstawionyna rys.29.4a odnosi się do głowicy B2S.N produkowanejprzez firmę
Krautkramer. Jest to głowica normalna' posiadająca przetwornik kołowy o średnicy
24 mm i pracującaprzy częstotliwości2 MHz.
Wzezw4|ędny poziom echa W przedstawiony na wyklesie rozumie się różnicę

|ł = IłD - l/o łttN (2e.r )

|łp - wartość odcTytana z decybelowego regulatora wzmocnienia defekto.

skopu gdy echo reflektora kolistego osiągawysokośćna ekranięo,4H,
l/outN _ wartość-odczytana z decybelowegoregulatorawzmocnienia defekto.
skopu gdy echo dużegoptaskiego reflektora, znajdującegosię tuż przy
przetworniku osiągawysokość0,4}/ (rys. 29.4b)'
Wartości|Ą/p za|eżązarówno od średnicyi odległościreflektorów, jak i od seryjnych
i indywidualnych własnościużytego defektoskopu, a takile od położeniapoklętet
ENERGIA i PoDcIĘcIE. Natomiast wartościróżnicy |ł zależąwyłącznie od średnicyi
odległościreflektorów. Dzięki temu wykres ma charakter ,,uniwersalny''i pozwala oce.
nić wielkośćwady, niezależnieod tego,zjakim defektoskopemwspótpracować będzie
głowica,dla której zostałon sporządzony.
reprezentowane ptzez nieunormowany wykles owR
Nalezy pamiętać, że zależ,ności
(a takżeprzez wykres unolmowany, omówiony w następnym ustępie) zostały wznaczo-
ne przy następującychzałożeniach:

206
 - mateliał elementu w którym znajdują się reflektory nie tłumi fal ultradŹwięko.
wych,
- powierzchnia elementu jest ptaska i gładka - nie występują straty przejścia'
_ powierzchnie graniczne reflektorów są płaskie i gładkie i zorientowanerówno.
legle do powierzchni stykającejsię z głowicą'
Jedynie przy spełnieniu tych załoiLeńmożna Wznaczac średnicewad równowaź.
nych w sposób opisany w niniejszym ustępie.

29.7,2.Wykłes oWR słuzy do wyznaczalia średnicywad równoważLnychwadom punk.

towym (patrz ustęp 25.3).
Aby określićna podstawie nieunormowanegowykresu oWR średnicęwady równo-
ważnej,na|eżyznać..
- odległość wady od głowicyz,
- wzmocnienie l/ prrypisanewadzie na wykresie.
Średnicą wady równoważnej jest wartośćparametru krrywej przechodzącej ptzez
punkt przecięcialinii ,,Z,,i ,N,, (rys.29.4a).
WartośćW mozna wyznaczyć dwoma sposobami,opisanymi w p. 29.7.4. i 29.7.5,
wychodząc z wartościwzmocnienia |łp odczytanego dla w4dy z decybelowego regula.
tora wzmocnienia.W obuprzypadkachkoniecznajestznajomość poziomu echa od.
n i e s i e n i a, pochodzącegoodreflektoraoznanychparametrach,nazylvanego re.
f l e k t o r e m o d n i e s i e n ia' Uzasadnienieobu sposobów podane jestw p.29."l.3.

29.7.3.Weźmypod uwagę dwa płaskiereflektory:

_ reflektor o nieznanej średnicyd,|eż,ącyw odległości z,którego echo ma wyso-
kośc0,4 11przy wzmocnieniu|ilp, któremu to reflęktorowi na wykresie oWR od.
powiada wzmocnienie l/;
- duzł reflektor |eż:ący w odległościz,, będący reflektorem odniesienia,którego
echo ma wysokość0,4 H przy wzmocnieniu WDo,a któremu na wykresie oWR
odpowiada wartość|ł,.
(29.l ) możemydla tych reflektorów napisać
Zgodnie z za|eż:ności4

W= WD- WOtuttN

wo= ||Do - /o ttilN

Po odjęciu stronamiotrzymujemy

W-Wo=WD-WDO (2e.2)

co w słowach można wyrazic następująco:różnice wzmocnień |ł odczytanych dla obu

reflektorów z wykresu oWR są takie same,jak różnice wzmocnień Wpodcrytanych dla
nich z decybelowegoregulatorawzmocnienia.
We wzorze (29.2) występującztery wielkości,z których trzy są znane.Są to: pars
metry reflektora odniesienia Wpg i Wg, oraz wzmocnienie Wp wy znaczonedla reflekto
ra o nieznanejśrednicy.A zatem:

201
 W = WD- IWOO-w9) (2e.3)

lub, jeśliinaczej zgrupujemy wraTy w nawiasie

w=wo+(wo-woo) (2e.4)

Wzór (29.3) odczytujemynastępująco:aby otrzymaćwańośćI/ dla reflektorao nie.

znanejśrednicyd naleĘ od wartościWp odjąćpoprawkę Woo - |łg, wyanczoną za po.
mocąreflektoraodniesienia.
oz'mczairy,poprawkęprzez AWp
AWD=WOO-WO (2e.s)
otrrymujemy
W=WD-AWO (fe.6)

Taki sposób obliczenia |ł,nazvtany,'rnetodąstałejpoprawki'' jest omówiony w p.29.7 .4.

Z ko\ei, sens wzoru (29.4) możnawypowiedzieć następująco:aby otrrymać wańość
I/ dla reflektora o nieznanej średnicyd, należyz punkfu |łg na wykresie oWR przesunąć
się ,,w dół'' o wartość|A/n* ||oo.
Taki sposób podejścia,nazwany ,,metodąprzesunięciana wykresie oWR'', jest omó.
wiony w p. 29 .7.5. Dla celów praktyki sposób ten jest nieco mniej prze1rzystyi bardziej
pracochłonny.Warto go jednak znać, gdyż'ułatwia on zrozumienie,jak wpływają na
określenieśrednicywady równoważnej tłumienie i straty przejścia.
f9.7 .4.Wyznaczehie średnicywady równoważnej ,,rnetodąstałej poprawki''. Jako reflek-
tora odniesieniau{wamy bądźpłaską,boczną powierzchnięwzorców |ł1 lub |ł2,bądź
,,dno'' badanegoelementu (eślijest ono dostateczniepłaskiei równoległedo powierzch.
ni badania).Przebiegpostępowaniajest następujący:
a) wyznaczamy poprawkę AIl2:
_ tłyznaczamy wskazanie |łpg decybelowegoregulatora wzmocnienia przy którym
echo reflektoraodniesieniaosiągawysokośco,4 H
- z wykresu oWR odczytujemy wzmocnienie Iłg dIa punktu o panmetrach zoi
6 : - (zo - odległość reflektoraodniesienia)
- obliczamy poprawkę AIl2

L|4/D=|łoo- Wo

b) wyznaczamy ,,parametry"wady:
- wyznaczamy odległośćz
- wyznaczamy wskazanie IĄ/p decybe|owegoregulatora wzmocnienia prry którym
eclro wady osiągawysokośćo t H
- obliczamy W

Ił= |łD- A|Ą/o

c) odczytujemy z wykresu średnicęwady równoważnej dla danych z i |ł.

208
 - materiał elementu w którym znajdują się reflektory nie tłumi fal ultradźwięko.
wych,
- powierzchnia elementu jest płaska i gładka - nie występują straty przejścia'
_ powierzchnie graniczne reflektorów są ptaskie i gładkie i zorientowanerówno.
legle do powierzchni stykającejsię z głowicą.
Jedynie przy spetnieniu tych załoircń można wyznaczać średnicewad równowłż.
nych w sposób opisany w niniejszym ustępie.

29.7.2.Wyk,res oWR służy do wyznaczania średnicywad równoważnych wadom punk-

towym (patrz ustęp 25.3).
Aby określićna podstawie nieunormowanegowykresu oWR średnicęwady równo.
ważnej,na|eży znać:
- odległość wady od głowicyz,
- wzmocnienie [r przypisanewadzie na wykresie.
Średnicą wady równoważ,nejjest wartośćparametru lazywej przechodzącej ptzez
punkt przecięcialinii ..z'.i ,,W''(rys.29.4a).
WartośćW można wyznaczyć dwoma sposobami,opisanymiw p.29.7.4, i29.7.5,
wychodząc z wartościwzmocnienia Iłp odczytanego dla wądy z decybelowego regula.
tora wzmocnienia.W obuprzypadkachkoniecznajest znajomość poziomu eche od.
n i e s i e n i a, pochodzącegoodreflektoraoznanychparametrach,nazywanego re.
f l e k t o r e m o d n i e sie n i a. Uzasadnienieobu sposobówpodanejest w p.29.7.3.

29.7.3.|Neźmvpod uwagę dwa płaskiereflektory:

_ reflektor o nieznanej średnicyd,Ież,ącyw odległościz, którego echo ma wyso.
kość0,4.F1przy wzmocnieniu|łp, któremu to reflektorowi na wykresie oWR od.
powiada wzmocnienie I4l,'
- duzy reflektor |eż,ącyw odległościzo, będ4cy reflektorem odniesienia,którego
echo ma wysokość0,4 H przy wzmocnieniu WDo, a któremu na wykresie oWR
odpowiada wartośćWo.
(29.1) możemydla tych reflektorów napisać
Zgodnie z za|eż'nością

W= ||D- WOl,ttN

wo = wDo - /o tttltrl

Po odjęciu stronamiotrzymujemy

W - Wo= WD- WDO (2e.2)

co w stowach można wyrazic następująco:różnice wzmocnień W odczytanych dla obu

reflektorów z wykresu oWR są takie same,jak różnice wzmocnień |łpodczytanych dla
nich z decybelowegoregulatorawzmocnienia.
We wzorze (29.2) występującztery wielkości, z których trzy są znane.Są to: paril
metry reflektora odniesienia |łpg i |łg, oraz wzmocnienie Wpwy'znaczone dla reflekto
ra o nieznanejśrednicy.A zatęm:

201
 W = WD- (WDO-wO) (fe.3)

lub, jeśliinaczei zgrupujemy WraTy w nawiasie

W=WO+(WO-WOO) (2e.4)

Wzot (29.3) odczytujemy następująco:aby otrrymać wańość I{/dla reflektora o nie.

znanejśrednicydna|eĘodwartości|łpodiąć poprawkę Woo- |łg,wyznaczonązapo.
mocą reflektora odniesienia.
oznczając poprawkę przez AWo

AWD=WOO-WO (2e.s)
otrzymujemy

W=WD-AWO (2e.6)

Taki sposób obliczenia ł|,nazutany,,rnetodąstałejpoprawki'' jest omówiony w p.29 .7.4.

Z kolei, Senswzoru (29.4) możnawypowiedziećnastępująco:aby otrrymać wańość
Ił dla reflektora o nieznanej średnicyd, na|eĘ z punktu Iłg na wykresie oWR przesunąć
się ,,w dół'' o wartośćWo - Woo.
Taki sposób podejścia,nazwany ,,metodąprzesunięciana wykresie oWR'', jest omó.
wiony w p. 29 .7.5. Dla celów praktyki sposób ten jest nieco mniej przejrzysty i bardziej
pracochłonny.Warto go jednak znać, gdyż ułatwia on zrozumienie, jak wpływają na
określenie średnicywady równoważnejtłumieniei straty przejścia.
29.7.4.Wyznaczeiie średnicywady równoważnej ,,rnetodąstałej poprawki''. Jako ref]ek-
tora odniesieniaużywamy bądźpłaską,bocznąpowierzchnię wzorców |ł] lub W2,bądź
,,dno'' badanegoelementu (eślijest ono dostateczniepłaskiei równoległedo powierzch.
ni badania).Przebiegpostępowaniajest następujący:
a) wyznaczamy poprawkę AIl2:
_ Wznaczamy wskazanie Wpg decybelowegoregulatora wzmocnienia przy którym
echo reflektoraodniesieniaosiągawysokośćo,4 H
- z wykresu OWR odczytujemy wzmocnienie |lg dla punktu o parametrach zo i
d : * (zo - odległość reflęktoraodniesienia)
- obliczamy poprawkę AIl2

L|łD=||no_||o

b) wyzraczamy ,,parametry" wady:

- wyznaczamy odległośćz
- wyznaczamy wskazanie Wp decybelowego regulatora wzmocnienia prry którym
eclro wady osiągawysokośćo t H
- obliczamy W

W= WD- Alło

c) odczytujemy z wykresu średnicęwady równoważnej dla danych z i W.

208
 Przykład,|
Badanieprowadzonejest głowicą,której wykres oWR jestprzedstawionyna rys. 29.5.Posługu-
jąc się wzorcem h)I obzymano Wn.; 20 dB. W toku badaniawykryto 3 wady, którychpiirametry
UU
}łp, zbyły następujące:
1 ) 1 0 0m m , 6 5 d B 2 ) 4 0 0 m m , 5 2 d B 3 ) 8 0 0 m m , 7 7 d B .
Należy określićśrednicewad równowaznych.
Rozwiązanie
Z wykresu oI4lR odczytujemy, żedla wzorca |łI' |łp = 3 dB' azatem

ĄI,lo = 20 dB - 3 dB = 17 dB

obliczamy wartościI/ dla wykrytych wad:

1 ) 6 5d B - l T d B = 4 8 d B 2 ) 5 f d B - l T d B = 3 5 d B 3 ) 7 7 d B - l T d B = 6 0 d B
Dla par wartościz i |il odczytujemy z wykresu:
1 ) d = I m m 2 ) d = 9 m m 3 ) d = 4 , 5m m
Dane uzyskanez badaniai obliczeń wpisujemykolejnodo tabeli:

Reflektor WD awo w d
mm dB dB dB mm

w1 f5 f0 17 5 @

wada I 100 65 I7 48 I
wada 2 400 5f tt 35 9
't7 ó0
wada 3 800 t7 4,5

rO

20

+
2to

"l,"
3).o
70

ao

dB

11 12 ir
Rys. 29.5 ocena rozmiaru wady za pomoc.lwykresuoWR ',rnetodąstałejpopraw.
ki''. I|ustracjado przykładu7

109
29.7.5.Wyznaczenie średniry wady równowłźnej ,,rnetoĄ przesunięcia na wykresie
owR''. Jako reflektora odniesieniaużywamy bądź płaską boczną powierzchnię wzor.
ców |1l]|ub W2, bądź dno badanegoelementu.Przebieg postępowaniajest następujący:
a) wyznaczamy parametry echa odniesienia:
- wznaczamy wskazanie lłpg decybe|owegoregulatora wzmocnienia przy którym
echo reflęktoraodniesieniaosiągawysokość0,4 H
- na wylcesie o|łR odnajdujemy punkt o parametrachd = - i zo (z6 - odległość
reflektoraodniesienia)
b) wyznaczamy ,,parametry" wady:
_ :u4yznaczamy odległośćz
* wyznaczamy wskazanie Wp decybelowego regulatora wzmocnienia przy którym
echo wady osiągawysokośco,4 H
c) obliczamy ńż'nicę
LW:Iln-IIOO

d) z punktu o parametrachzo i d = * odmierzamy ,,w dót'' odcinek AW decybeli'

prowadzimy linię poziomą, znajdujemy punkt przecięcia się tej |inii z linią pio-
nową dla odległościwady z i odczytujemy średnicęwady równoważnejprzypis.
ną temu punktowi.
Uwaga: Przesunięcie,,w dół'' o AW ma miejsce'gdy wartośćAltl jest dodatnia,tj.BdY
echo wady jest mniejve od echa dna. Jeślitak nie jest, wówczas otrzymuje się ujemną
wartośćAW, na wykresie oWR należyprzesunąćsię ,,w górę''.

Przykład 8
Badaniejest prowadzonegłowicą'której wykres o}tlR jest przedstawionyna rys. 29.6.Posługu.
jąc się wzorcem I1)1ottzymanowp(h25 = 0,4 H) = 20 dB. W toku badaniawykryto 3 wady, których
palametry z, )1l p by ty następujące:
1 ) 1 0 0m m . 6 5 d B 2 ) 4 0 0 m m , 5 2 d B 3 ) 8 0 0 m m , 7 7 d B
Należy określićśrednicęwad równowaiinych w oparciu o wykres oIłlR.
Rozwiązanie
obliczamy różnicę A}r wzmocnień otrzymanych dla wad i wzorca:
1 ) 6 5 d B - 2 0 d B = 4 5 d B 2 ) 5 2 d 8 - 2 0 d B = 3 2 d B 3 ) ' l ' ld B - 2 0 d B = 5 7 d B .
Echu wzorca I{/,lodpowiadana wykresieowR'w = 3 dB. Bierzemy pod uwagę linie poziome
oddalone od tego punktu o Aw, tj. tinie odpowiadającewzmocnieniu:
1 ) 4 5d B + 3 d B = 4 8 d B 2 ) 3 2 d B + 3 d B = 3 5 d B 3 ) 5 7 d B + 3 d B = 6 0 d B
Przez punkĘ przecięcia tych linii z pionowymi |iniami odpowiadającymi odległościom z = Loo
mm,400 mm, 800 mm przechodząkrzywe o parametrachd = 1 mm, 9 mm,4,5 mm.

29.8. ocena rozmianr wady za pomocą unonnowanego wykresu oWR bez popfawki na
tłumienie i straty przejścia

Unormowany wykles olłR ptzedstawia zależnośćwzględnej wartości wzmocnienia

Itl od unormowanej odległości,4 i unormowanej średnicyR płaskich, kolistych reflekto.
rów, przy tych samych zatożeniach jak dla nielrnormowanego wykresu oWR' Za]'eżność
ta ma postać rodziny krzywych, których parametrami są wartości unormowanych średnic
R (rys.29.7).

2r0
 32d0,"
/r5dłL 'o

l_=-."
to

to

w r
clB
rOO

tro

rto
a tfo 20 SO o-6 tA&@a@&r- 2 a. aZ

'ł 2ł J|
Rys. 29.6 ocena rozmiaru wady Za pomocą wykresu oI4)R
,,metodąprzesunięcia na wykresie''
I l u s t r a c j ad o p r z y k ł a r l u 8

łl w
20

tłr
30
i s
3
rl 40
- ao

N
= !o

&
dB
o € Ę G6 B

'o=Zl
o 'o - .9o Ó o

NI
UNoRMowANA oDLEGŁoSC

Rys.29.7 lJnormowany
wykresoWR. Strzałki
i kółkoodnoszą
siędo przyktadu1l

Sposób posługiwaniasię wykrcsem jest taki sam jak w przypadku wykresu nieunor.
mowanego'z tym tylko, ż'ena|eżyobliczyć wartości
'4 i R

A =zN

lli
 R=h
gdzie z - odległośćreflektora (wady), N - długośćpola bliskiego użytej głowicy,
d - średnicawady równoważ'nej,D,p - skuteczna średnicaprzetwornika użytej
głowicy

Przykład 9
z = 500 mm przy wzmocnieniu
W toku badaniagłowicą2L 0o l0 wykryto wadę w odległości
wn = 4s aBi.
Dla wzorca WI otrzymano WOO = l0 dB. Naleźy określić średnicę wady równoważnej w opar-
ciu o unormowany wykres OIIIR.

Rozwiązanie
Stosujemy ',metodęstatej poprawki''. Na wykresieodnajdujemypunkt odpowiadającybocznej
powierzchniwzolca. Unormowanaodległość wynosi 25 mm/70 mm = 0,4' Dltt tej odległości
nakzy.
wejd = 6 o d c z y t u j e m y | ł = | d B . A z a t e m Lwo= l0 dB_ ldB = 9dB.obliczamywspółrzędne
wady A i |ł:

N = o,94
' .30:'.f, mm 3 7o mm
4.5.94

.4 = 500 mm/70mm = 7,1

l1t=45dB-9dB=36dB

Przez punkt o tych współrzędnychprzechodzi krzywaR = 0,3 (rys. 29,.I),a zatem średnica
wady
równowaiłnejwynosi

d = R Dr1,= 0,3 .0'97 . 10 mm = 2,9 mm

29.9. ocena rozmiaru wady Za pomocą wykresów oWR z uwzględnieniem poprawki

na ttumienie i straĘ przejścia

29.9.l. Straty przejściai tłumienia fal w materiale badanego elementu powodują, ż,eęcha
reflektorów są słabsze. Wskutek tego wzmocnienie Wp potrzebne dla uzyskania echa
o wysokości 0,4.I1 jest większe od wzmocnienia |łpwyznaczone1o gdy zjawiska te nie
występują. Wzrost wzmocnienia jest równy sumie strat przejściaLWp t strat tłumienia
awr
W ó = w o a A W P +L W 7

przyczym
LW7:2za

gdzie z - odlegtośćreflektoraod głowicy, a _ współczynnik tłumienia.

Sposób uwzględnieniastrat przejściai tłumienia w badanym elemencieptzy wyzna.
czaniu średnirywady równoważnejza pomocąwykresu oWR zależyod tego, skądpocho-

212
dzi ęcho odniesienia.Przypadek gdy echo odniesięniapochodzi z wzotców |ł1 |ub |ł2
o m ó w i o n yj e s tw p . 2 9 . 9 . f. a g d y e c h o t o p o c h o d z i z d n a b a d a n e g o e l e m e-nwt p
u'29.9.3.

f9.9,2.|Jwzględnienie strat przejściai tłumienia gdy echo odniesienia pochodzi zwz'otca

Ił1 |ub W2.Przypadek ten rozpatrujemyrozumującw sposób prlyjęty w ,,metodzieprze.
suwu na wykresie oWR''. Poziom Ę na którym na wykresie oWR należyszukać średnicy
wady równoważnej,w przypadku gdy nie występują straty przejścia i tłumienia,jest od-
dalony od poziomu Iłg echadna wzorca Wl lub W2 - o odlegtość

I|o- Iłoo

przy czym Wp i Wpg są wartościamiodczytanymi z decybelowegoregulatorawzmoc.

i tłumieniapowodują,żez decybelowegore-
nienia. W danym przypadku straty przejścia
gulatorawzmocnieniaodczytujemy dla wady wartośćbłędną Iłp

W ó = w o + A W p +^ W T

We wzorcach W] |ub |ł2 stratyte nie występują'w związkv z czym

IIOO = WOO

Jeżeli więc na wykresie oWR z punktu I,!g przesuniemysię ',w dół'' o różnicę od.
czytów decybelowegoregulatorawzmocnienia,tj. o wartość

Wn- l|no= WD- |łDo+ AWP+ ^WT

to znajdziemy się poniżejI/ o wartośćL|łp + AI|7, czyIiw zakresiemniejszychwartości

średnic równoważnych.
Nie uwzględnienie strat przejściai tłumienia w badanym elemencie gdy echo odnie-
sienia pochodzi z wzorca WI |ub W2 prowadzi do zaniżeniawartościśrednicywady rów-
nowaiinej.
Celem uwdędnienia strat przejściai tłumieńa należy najpierw wyznaczyć na wy-
kresie oWR poziom |ł wady równowaŹnej tak, jakby te straty nie występowaĘ, a na.
stępnie przesunąć się ,,w górę'' tj. w stronę większych wańości średnico wartośćAIlp
+ AW7.

Przykład l0
Pruy założ.enlll braku tłumicnia i strat przejścia, ',micjscem'' wady jest punkt P (rys. 29.8)
owspółrzędnychW=30dBiz=f50mm,odpowiadającywadzierównowaźncjośrednicyd=ok.
7 m m . W i a d o m o , ż , e A W , = 4 d B ' o = l 0 d B / m . N a l e ż y w y z n a c z y ć ś r e d n i c ęr ó w n o w a : ł n ą z u w z g l ę d -
nieniem tłumicnia i strat.przejścia.

Rozwiązanie
AWr= 2.0,25 . l0 rlB = 5 dB
R z e c z y w i s t y n r m i i - ' j s c c mw a d y | c s t p u n k t P o w s p t l ł r z ę d n y c h
I/= 30dB - 4 dB 5 dB = ll dll.z = 250mnr.
r ' ) ''Il
\ \ ,' !. ^
Ś r e d n i c a r v a d y r ó w n o r v a ż n t 'pi o t i r v z g l ę d n i c n i r l \ ! l i | t p ! . ? i ) i ś ( i : . i 1 i l l r r l l c n l J w y n U
 w,t'
o

t0

1_
AW
?o

l--
lo

ao

5O

ao

70

to

to

oo

rro

ttO
20 -.o aO-O el6e
II
I

Rys' 29.8 0cenarozmiaruwadyza pomocąwykresuoWR z uwzględnieniem po-

prawkina tłumieniei stratyprzejścia, jestechodnawzor.
gdy echemodniesienia
do przykładu10
ca I/1.Ilustracjri

29.9.3.Uwzg|ędnienie strat przejściai tłumienia gdy echo odniesienia pochodzi z badane.

go elem€ n hr. Przypadek ten rozpatrujemyw podobny sposóbjak r:rrp.29.9.2.
W danym przypadku Zarówno odczyt poziomów echa wady ||p jak i echa odniesie-
niawDo Ę zafałszowane:

WD=I4/D+AWpł2zq'.

|l/óo=|łN+ LWp+2zou

gdzie: z _ odległośćwady, zo - odległośćreflektora odniesienia,o - współczynnik

tłumienia.
Jeżeli na wykresie oWR z punktu W, przesuniemy się ',w dół'' o ióżnicę odczytów
derybelowegoregulatorawzmocnienia

wó- wóo= IłD |łoo+ 2a(z - z,)

to znajdziemy się na poziomie różniącymsię od ltl o wartość2a(z - zd.w tymprzy-

padku straty przejścianie mają wpływu na ocenę średnicywady równoważnej.Gdy dno
znajduje się dalej niż wada (z,ż z), to poziom na którym się znajdziemy leżyw zakresie
większych wartościśrednicrównoważnych.Gdy natomiastdno znajdujesię bliżejniż wa-
da (zo ś z), to znajdziemy się w zakresie mniejszych wartościśrednicrównoważnych.

214
 Nie uwzględnieńe strat ttumieńa w badanym elemencie, gdy echo odniesienia po.
chodzi z ,,dna,, elementu, prowadzi do zawyżenia wartościśrednirywady równoważĘ,
gdy dno znajduje się w większej odległościniż wada, lub do zaniźenia wartościśrednicy
wady równoważnej,gdy dno znajduje się w odległościmniejwej niż wada.
Ce|em uwzględnienia strat na tłumienie należy najpienal wztncryć na wykrcie
oWR poziom W wady równowaźnej prry zał.ożentubraku tłumienia, a następnie dodać
do W wartośśAW = 2 ą (zo - z), Gdy dno znajduje się dalej niż wada, poprawka ryo'
woduje zmniejwenie wartości średnicy wady równowaznej, a gdy dno znajduje się b|i.
żej - zwiększenie wartościtej średnicy.
- -'-i---::':-*:..
.-J

Przykład 11
braku tłumienia ,'miejscem''wady jest punkt Q (rys. (29.9) o współrzędnych
P:'zy założ'eniu
w = 56 d,Bl z = 1000 mm, odpowiadającywadzierównowaznej'o średnicy d = ok' 6 mm. Dno znaj.
duje się w odległości zo = 200 mm. Wiadomo,ż'ea = l0 dB/m. Należywyznaczyć średnicę wady
równ owłżnejz uwzględnieniemstrat.

Rozwiązanie
A ' I l /= 2 ą ( z o - z ) = 2 . 1 0 . ( 0 ' 2 - l ) d B = - 1 6 d B

Współrzędnerzeczywistegomiejscawady (punkt Q wynoszą

W = 56dB _ 1ó dB = 40 dB'z = 1000mm

Średnicawady równowaznejpo uwzględnieniustratwynosi więc ok. l7 mm.

w
dB

Rys. 29.9 ocena rozmiaru wady za pomocą wykesu oWR z uwzględnieniempoprawki

na tłumienie,gdy echem odniesieniajest echo dna badanegoelementu.Ilustracjado pny-
kładu 11

215
f9.9.4.DIa utatwienia uwzględnienia poprawki na tłumienie na wykresie oWR, na wy.
kes można nanieśćkrzywe przedstawiającespadek wzmocnienia AW7w funkcji odległo-
ści,dla jednej lub więcej wartościwqpółczynnika o (rys. 29.10). Rzędna tej krzywej
przedstawia sobą odcinek o który należy na wykresie ,,przesunąćsię'', aby uwzględnić
vaływ tłumienia.
AWt
dB

I
@
70 6wt

g
40
u
n
o
o
ro t- xr
2DLE6łf/#l
Rys.29.10WykresoWRznaniesionąkrzywąpopraweknatłumierfieAI/1dlawspół.
czynnika tłumieniao = 60 dB/m

29.10. ocena rczmiaru wady przez pomiar przesunięcia głowiry

29.|o.l. obserwacja echa rozległej(dużej)płaskiejgady, zorientowanejrównolegle do

powierzchni badania,podczas przesuwanianad nią głEwicy wykazuje, żegdy środekgto-
wicy znajduje się nad krawędzią wady, to echo spadado połowy wartościwystępującej'
gdy cała wiązka głowicy jest odbijana przezwadę (rys. 29.l l). Innymi słowami,rozmiar
wady / mierzony wzdłuż,linii przesuwu głowicy, jest równy szerokościobwiedni echa
l,, PrzY której jego amplituda spadao A l/ = 6 dB

t:tp(6dB)

ocena rozmiaru wady sprowadzasię do wyznaczenia jej konturu powierzchniowego,

położeń środ-
wprzez przesuwanie nad nią głowicy w różnych kierunkach izaznaczania
ka głowicy, przy których obserwujesię spadekecha do połowy wartości.

29.|o.2. Szerokośćobwiedni odpowiadającaspadkowi amplitudy echa o wartośćAW>

6 dB jest większa od rozmiarów wady wzdłuż |inii przesuwugłowicy. Wówczas, dla wy.
znaczenia rzeczywistegorozmiaru wady należy od zmierzonej wartościlp (A'W) odjąć

ll6
$
s
d
E
PPZESUNTFTE Rys. 29.11 Wyznaczanie rozmia-
lp6ctB) ---- 6ł'0wlcY ru wady przez pomiar przesunię-
cia głowiry nad wadą. Echo wady
tph2dB)----l
I

rozległej spada o 6 dB gdy środek

gtowicy znajduje się nad brze.
giem wady (,,metoda 6 dB spadku
echa''). Długośćprzesuwu głowi-
cy lp 6 dB) między tymi miejs.
cami jest równa wymiarowi wady
/ mierzonemu wzdłużl|inii prze-
suwu głowicy. Gdy dtugośćprze.
suwu głowicy jest okreś|onaspad.
kiem echa o AW ) 6 dB, to
rp(Lw)>t
'' - u ''ra
)\
:1 ..l)
poprawkę Al (AW): ' ., i
'.-.-

I = lr(AW)- Al(LW) (2e.8)

Wartośćpoprawki zaIeżyod przyjętego spadku amplitudy echa AW, parametrówgłowicy

i odległości,,głowica-wada'''Wartośćpoprawki możnaWznaczyc doświadczalnie uży.
wającelementów zawierającychwady o znanych rozmiarach.

29.|o.3. W pewnych przypadkach za szerokośćobwiedni echa wady przyjmuje się wiel.

kośćprzesunięciagłowicy, przy której amplituda echa wady przekraczapewnąstałąwar.
tość,odpowiadającąamp|itudzie echa wady punktowej o określonejśrednicy.W tym
przypadku również otrzymuje się zawyżonąwartośćrozmiaru wady i koniecznejest sto.
sowanieodpowiednich poprawek.
Jak już wspomnianow p.25.2.2., norma czechosłowacka csN 01 5040 zalecaobli.
czać powierzchniowądługość wady liniowej oraz długość i szerokość
wady rozległejwe.
długwzoru

t:lr_Lt

A t = -) -2 0 , 7 X (2e.e)
Dsk

gdzie l, - szerokośćobwiedni echa przekraczającej poziom echa najmniejszej wady

istotnej przyjętej w badaniach,A/ - poprawka, z - odległośćwady od głowicy,
X - długość fa|l,D'p - skutecznaśrednicaprzetwornikagłowicy.

217
 Porównując wzór (29'9) z(l9.6) i (19.7) widzimy, że wartośćpoprawki A/ jest
równa szerokościwiązki głowicy w okolicy wady dla 6 dB spadku ciśnienia(rys.29.|2).
Wspomniananorma' dla uniknięcia obliczeń, zaleca posługiwaćsię wykresemjak na rys.
29.r3.

Rys. 29.12 Według normy CSN 015040' aby

otrzymać wymiar wady l wzdłuż.linii przesuwu
gtowicy, należy od pozolllego wymiaru lo odjąć
poprawkę równą szerokościwiązki ultradźwię.
wady z
kowcj ó na głębokości

f-l
h
250

t50 n0
R y s . 2 9 . 1 3 N o m o g r a m d l a w y z n a c z e n i a ^ c z m i a r uw a d y / n a p o d s t a w i c p o z o r n e g o r o z m i a r u / o i g ł ę b o .
k o ś c iz w a d y ( w g C S N 0 1 5 0 4 0 ) . N o m o g r a m j e s t o b l l c z o n y d l a g ł o w l c y o c z ę s t o t l i w o ś c i f M H z l p r z e -
t w o r n i k a o s k u t e c z n e j ś r e d n i c y2 4 m m .
P r z y k ł a d p o s ł u ż e n i a s i ę n o m o g r a m e m . D a n e s ą i p = l 5 0 m m , Z = 3 0 0 m m ' n a | e ż ' yw y z n a c z y ' ć ' l .
jei z
Z p u n k t u 7 ' = l s 0 n r m n a o s i p i o n o u e j t p u n k t I t f i r o w a d z i m y l r n i ę p o z r o m ąz z d o p r z c c i ę c i a , s i ę
l i n i ą u k o ś n Ęz = 3 0 0 m m ( p u n k t 2 ) . N i l s t ę p n l cz t c g o p u n k t u p r o w a d z i m y l i n i ę p i o n o w ą . k t o r a p r z c .
c l n a o śp o z i o m ą w p u n k c i c / = l 0 0 m n l ( p u n k t 3 )

I8
29.ll. ocena rozmiaruwady pnez porównaniezwadąwzorcową
Gdy kształtbadanegoelementunie pozwalaskorrystaćzza|eżnościoWR,wówczas
ocenawielkościwad możebyć przeprowadzona jedynie w oparciuo wzorceporównaw.
cze. W tym przypadkuwzorcemtakim jest jeden z badanychelementów,w którym na.
wiercono szeregotworów płaskodennych:w różnych miejscach,o różnejśredniryi na
różnągłębokość (rys. 29.|4).W oparciuo taki wzorzec,dla povczególnychobszarów
powierzchnisporządzasię zależnośćwysokościechaod odległości i średnicy
wad,którą
moŹnananieść na ekrandefektoskopu lub na nałożony nań transparent.

0)

L-J

Rys. 29.14 Wzorce porównawczedo na.

stawy czułościbadania i oceny wielkości

Ab1
wad podczas badania okrągłych odku.
wek.
a _ wada wzorcowa (dno otworu okrą.
głego) w osi odkuwki, b _ wada wzorco.
iL _i _ __J wa odległao pół promienia odkuwki

30. BADANIE METoDĄ KoNTAKTowĄ ECHA ZA PoMoCĄ GŁowIĆY sKoŚNEJ

FAL POPRZECZNYCH

30.1. Uwagi ogólne

Badanie kontaktową metodą echa za pomocą głowicy skośnejfa| poprzecznych sto-

suje się dla wykrycia wad objętościowych,wad płaskich tworzących narożazpowierzch-
nią badanegoelementu,a takżepłaskich wad wewnętrznychzorientowanyc.tr skośniedo
powierzchni, z której wprowadza się fale. Skośnywzględem powierzchni kierunek wiąz.
ki fal szczególnie predysponuje ten sposób badania do wykrywania wad zalegającychpod
obszarami powierzchni, z których wprowadzenie fal jest utrudnione lub niemożliwe
(rys. 30.l). Jest on stosowany szeroko do kontroli złącz spawanych,rur, prętów, szyn,
odkuwek i od|ewów.
Wskazaniemwady jest obecnośćecha wady. Echa dna elementuzwykle nie otrzymu.

219
Rys. 30.1 Pzykłady zastosowa.
nia głowicy skośnejdo wykrywa.
nia wad w obszarach nie nadają. a)
cych się do badania głowicą nor.
malną:
a _ w oodpiaściu(powierzchnia
dla wprówailzenia fdli podłużnej
w ogóle niedostępna),b._ w zł.ą.
czu lpawanym (wprowadzenie fa-
li podłuźnejod strony lica jest
uńdnione wskutek krzywizny i
nierówności)

je się w ogóle. Brak echa dna, którego poziom mógłby słuzyć Za oznakę skuteczności
kontroli narzuca konieczność szczególnej troski o jakość sprzężenia akustycznego.
pod
Dla umożliwieniawykrycia wad zorientowanychwzględem powierzchni badania
w dwie przeciwne strony (rys.
irurymi kątami nale{ prowadzić badania kierując wiązkę
30.2).

Rys. 30.2 Zmianakierunku wprowa-

dzenia wiązki zwiększa skuteczność
wykrycia wad skośnie zońentowa.
nych względem powierzchni bada-
nia
a _ opĘmalnie jest wykrywana wa.
da 1, b - optymalniejest wYkrywa-
na wada 2

N.2. Dobór zakresu obserwacji

30.2.l.w przypadku głowicy skośnejzakres obserwacji, wyraż'onyo8ólnie w postaci

Zo = (L 1 - L2) min. możebyć rozumiany następująco:
jest wy.
a,) iI i Lj oznaczająodległościod środkagłowicy, czyli zakres obserwacji
rażony(wyskalowany) w dtugościdrogi fal
b)LI I L2 oznaczająrzuty odległościod środkagłowicy na powierzchnię badania
,^r,"' obserwacji jest wyrażony w rzucie długościdrogi fal na powierzch-
",yti
nię badania
c) L1i L2 ozlaczają rzuty odległościod krawędzl obudowy głowicy, czy|izakres
obserwicji jest wyrażony w tzw. skróconym rzucie długościdrogi fali na po-
wienchnię badania

obserwacji powinien być większy od odcinka drogi (lub rzutu drogi) fal,
3o.2.2.Za|<res
na którym spodziewamy się wystąpienia wad. Przy kontroli elementów płasko.równo.
ległych korzystny jest wybór Zak.resuobserwacji odpowiadającegodwom Iub więcej
skośnym przejścioml,12wiązkimiędry powierzchniamielementu(rys. 30.3),tzn,:

ZO: (0 * 2 tsl, lub ZO = (0 - 3 tsl2)

ll0
 Rys. 30.3 Skok s, połowa
skoku s/2 i droga ls12 odpo-
wiadająca połowie skoku gło.
wicy

30.3. Skalowanie zakresu obserwacji

30.3.l.Uwagi ogólne. Dla wyskalowania wybranego zakresu obserwacji niezbędne są

2 echa:
- bądź dwóch reflektorów Leż'ącychw różnych, znanych odległościach11 i 12,
mieszczącychsię w zakresieobserwacji,
- bądźjednegoi tego samegoreflektora, ale po przejściuprzezwiązkę dróg oróż.
nych długościach,odpowiadającychw/w odległościom l1 i l2.
Jako reflektory wykorzystuje się głównie powierzchnie cylindryczne wzorców kon-
trolnych WI i W2 otaz narożaprostokątne.
ja.
30.3.2. Skalowanie za pomocą wzorców W1 iW2. W tablicy 30.l zestawionoodległości
kim odpowiadają położenia na ekranie ech otrzymanych od powierzchni walcowych
wzorców WI i W2. Tablica 30.1

oDLEGŁoŚCI EcH oTRZYMYWANYCH oD PoWIERZCHNIwALcoWYcH

wZoRCÓW wl i w2 PRZY sKALowANIU ZAKRESU oBsERwAcJI GŁoWIc
SKOSNYCH
ODLEG ŁoŚc ECr A , m m
I 100

2 100 200 w ffi

J 50 100

1
6 2A ffi 175 2n

221
 cd. Tablicy 30.1

Istotną
Wzorzec |łl dajeecha odpowiadająceodległości100 mm i jej wielokrotności.
rolę odgrywająnacięcia rowkowe, odbijająceczęśćwipki powracającejod powierzchni
*.i"o*"j-, pówrotem ku niej. Bez tych nacięć powstałoby tylko jedno echo z odległo.
ścil00 mm, nie wystarczającedla celów skalowaniazakresuobserwacji.
Sposób powstawaniaech w przypadku wzorca Ił2 wyjaśnimyw oparciu o rys. 30.4,
gdy wiązka u1tradźwiękowa głowicy jest skierowanaku powierzchni o promieniu 25 mm.

Rys. 30.4 Bieg wiązki ultradźwię|owej we wzorcu W2

podczas wykorzysĘwania go do skalowania zakresu ob
serwacji

Po odbiciu się od tej powierzchni powraca ona do punktu wyjściao, po czym częŚctowo
odbija się od powierzchni wzorca w stronę powierzchni o promieniu 50 mm, częściowo
zaśzałamujesię w klinie z pleksiglasu.Wiązka odbita od powierzchnl o promieniu 50 mm
powraca do punktu o, gdzieZnowu następujeczęściowe jej odbicie i załamarrie.Cykl ten
powtarza się wielokrotnie. Mązka powraca do punktu o po przebyciu następujących
dróg:
- 0l0 o długości 50 mm, po raz pierwszy
- 0l020 o długości l50 mm, po raz drugi
- 0102010 o długości 200 mm, po ruZtrzeci
- 0l0201020 o długości 300 mm, po raz Czwarty
- 01020l020l0 o długości 350 mm, po raz piąty,itd.
Po każdym powrocie do punktu o wlązkawyjściowazałamujesię w pleksiglasie,ale
tylko co drugi raz trafia do przetwornika. Ma to miejsce tylko po jej powrocie od po'

222
 wierzchni o promieniu 25 mm. Po powrocie od powierzchni o promieniu 50 mm zaŁama.
na w pleksiglasiewiązka biegnie do punktu J i omija przetwornik. Dlatego na ekranie
de.
fektoskopu obserwujesię echa odpowiadająceodległościom reflektorów:
1 1 2. 5 0 m m = 2 5 m m ,
1 1 2. f O } m m = 1 0 0 m m ,
I 12 . 350 mm = I 75 mm, itd.
Sposób ska|owaniawyjaśniają przykłady.

Przykład 1
Na|eży wyskalować zakres obserwacji Zo = Q - 250) mm w stali za pomoca wzorca WI.

Rozwiązanic
Wymagana podziałka podstawy czasu wynosi (ppc) = = zs Tm'
+*+!
Ustawiamy głowicę na wzofcu tak, by uzyskac
i|,f,'.,,"tlni-"ń"na,,"znej o największej
amplitudzie i bierzemy pod uwagę echa z odległości /1 = ".*,"
l00 mm i /, = 200 mm. Pierwsze echo powinno
być ustawione w mieiscu

11
ot =fi*l = l-rt
oo
dz = 4 dz

drugie echo w miejscu

lt 200
o 2 = f u ; A =1 s d z = u d z

Przykład 2
Nalcży wyskalować zakrcs obserwacji Zo = (0 _ 250) mm w stali za pomocą
wzotca W2.
Rozwiązanie
Wymagana podziałka podstawy czasu wynosi f5 mmldz (|ak w przykładzie
t ).
Wariant I
Kierujemy wiązkę ku powicrzchni odlcgłej o 25 mm i bierzemy pod
uwagę echa z odległości
25 mm (pierwsze) oraz 250 mm (czwańe)' Ł'cha te powinny
wystąpić w następuJących miejscach
na ekranie:

',=:+dz=rdz

a4= 10 dz

Wariant2
Kierujemy wiązkę ku powierzchni od|cgłcjo 50 mm i bierzemy pod uwagę echa z odległości
50 mm (pierwsze)i 200 mm (trzecie).Echa te powinny wystąpić w następującychmiejacachna
ekranio:

,t= 2dz
*dz=

=,u,
",=,łs9-
 W tym spo.
w jednostkachdługości.
30.3.3.Skalowanieza pomocąnarożaprostokątnego
i oznaczenia..
określenia
sobieskalowaniawystępująnastępujące
skokgłowicys (rys.30.3)
s=2gIgP
połowaskohl sl2
sl2=gtgB (30.1)

połowieskoku l,12
droga(fali) odpowiadajqca

'sl2 - I (3o.2)
cos6

-
W powyższychwzorach:g - grubośćelementu,p kąt załamaniawiazki w stali.
odległościodpowiadającepołożeniu ech od naroź:'a są następujące(tablica 30'2
poz.
, I - 3):
l"l, - gdy głowicaznajdujesręw odległości s/2 od naroża,
.
2, l"tl - gdy głowica znajduje się w odległości2 . sl2,
- gdy głowica znajduje się w odległości3 . s/2, itd.
z lłń
S p o s o bs k a l o w a n i a w y j a ś n i a p r z y k ł a d . Tabl i ca 3O.2

REFLEKTORY WYKORZYSTYWANE DO SKALOWANIA ZAKRESU OBSERWACJI

GŁoWIC SKoŚNYCH
,QAwĘDf ELEIąENrU ooI'EcroŚ(tcHn
A i
ńF--]
I
sW
KPAwEDż ELEHENn]
2
,ffi 2#T

KPAWEDżELEMENrU
D
3 @3

atOWtCA
utł, mDATI<OtlA
4
ffi' ćt"T

224
 cd. Tablicy 30.2

DNO
, DŻUrKowAGt|wtcA
5 2kF

?Tw0p W A r c O W T
ri\ ra g/z
-I a,s.B
6
r#
Przykład 3

Nalcżj' wyskalować zakres obserwacji Zo = (0 _ 550) mm głowicy o kącie załamaniap= 4go

l)rzy pomocy krawędzi blachy o grubościg = 80 mm.

Rozwiązanic

Obliczamy (ppc):

550mm = -- mm
(PPc) = tt
l0 m, a,

Obliczamy s/2 i Irp:

s / 2= S t e ! = 8 0 m m ' I , l 1 = 8 9 m m

lr12= slcosB= 80 mm/0,669= 119 mm

Bierzemypod uwagęechaotrzymanepoprzebyciuprzezwiązkędtógl12i3.Islf Echapowinny

wystąpićna ekraniew miejscacha| i ą3:

l19 .
ot = dz=2,2d2
SS

a =1ffa,=6,6dz
Podczas skalowania maksymalne echa od narożapowinny wystłpić gdy głowica znajduje się w-odle.
głościachsl2 i 3 . sl2 od naroża'tj. 89 mm i 267 mm.

30.3.4.Skalowanie za pomocą naroża prostokątnegow wielolrrotnofoi poło*y dcoku

głowrcy.W niektórych przypadkachmożcbyć celoweoperowaniezakresemobserwacji
wyrażonymnie w jednostkachdtugofoi,lecz w wielokrotności
długości l,12.PrueYażrue
wdtodząw rachubęzakresyodpowiadające dwuklotnemulub trrylcotnem,uprzejściu fali
skośnieprzezbadanyelementpłasko.równoległy.
Sposób skalowaniazalgesu odpowiadającegotrrykrotnemu Przeiściufali przez ele.

225
ment ilustruje ryS. 3o.5. Skalowanie polega na znalezieniupołożeńI i 2 głowicy.w któ-
Dla tych położeńgtowicy, echa
rych echo górnej i dolnej krawędzi osiągająmaksimum.
należyustawićia Il3 długości ekranu, tj. 3,3 d,z,orazna2/3 długościeklanu tj.6,6 dz.
1 t 2)
między po)toż'eniami
odlegtościgłowicy w położeniu,1od krawędzi (lub odległość
jest równa połowieskoku s/2.
Ten sposób postępow.aniamoźleokazac się zawodny w przypadku gdy krawędzie
elementu nie sa dokła<lnieobrobione, szczególnieprzy dużychwartościaclr kąta p,gdyż'
wówczas obwitr'lniaecha na ekraniejest płaskai nie pozwala Wznaczyc dokładniepoło.
ż€ ń ] l2. W tyńl przypadku należygłowicęustawicw odległościach sl2 i2 .sl2 odkra-
wędzi,obliczonychz wzoru (30.l )

2 3ic 5 diz I 910

z 3sl2

R y s . 3 0 . 5 S k a l o w a n i c z a k r e s u o b s e r w a c j iZ O = ( 0 31tp)

30.3.5.Skalowanie za pomocą elementu płasko-równoległegoi dwóch głowic skośnych.

Posługującsię elernentemptasko.równolegtynri dwoma gtowicami skośnylni.z któ.
poz.
rych jedna pracujejako nadajnik a drugajako odbiornik, otrzymujemy(tab.30.2
4i5):
przy odlegtościgłowicy 2 . sl2 impuls na ekranie odpowiadającydrodze wiąz-
ki w stali2 .|sl2, czyli odległościreflektora/.'72,
- przy odległościgłowic a . sl2 impuls na etranie odoowiadającydrodze wiązki
reflektora 2 . l,lz.
w stali 4 . t,12, czy|i odległości

30.3.6.Inne sposoby skalowania. Skaiowanie zakresu obserwacji można przeprowadzić

wykorzystując echa pobocznicy otworu okrągłegonawierconego w połowie grubości
elementupłasko.równoległego (tabl. 30.2 poz.6).W położeniu.I gtowicy echo występu.
j e w o d l e g ł o śIcl fi . l * 1 2 . a wp o t o ż e n i1u1- w o d l e g ł o ś3cli2 ' l s l 2 .
Zaniin *p,o*.dz6.no do użyciawzo1ceW! znacięciem w środkukrzywizny R l00
oraz wzotce i/2, 'kulo*unie zakresu obserwacjigtowic skośnychfal poprzecznych wy-
konywano przy użyciuwzorca I1l1i dodatkowejgłowicy normalnejfal podłużnycho od-
krytym przetworniku.Dla celów skalowaniawykorzystywanościanęodległąo 9l mm.
Zasadatakiego skalowaniajest następująca(rys. 30.6):

:zo
 a) posługując się głowicą normalną należy wybrane 2 echa z ciąpiuech ścianyodle.
głej o 9l mm, odpowiadającekolejnym odległościom50, l00, 150 . . . mm dla
fal poprzecznych, odpowiednio ustawić na poziomej skali ekranu,
b) po przyłożeniu głowicy skośnejdo środkapowierzchni o promieniu R100' za po-
mocą pokrętła OPÓŹNIENIE należy doprowadzić echo tej powierzchni (odle-
gtość100 mm) do właściwego miejscana skali.

Rys. 30.6 Skalowaniezakresuobserwacjifal poprzecznychza pomocąwzorcaW] l

dodatkowej głowicyfal podłużnych

30.4. Czułośćbadania

30.4.l. Czułośćbadaniaokreślasię przez podanie:

- opisu reflektora wzorcowego' którego echo na ekranie defektoskopu poWinno
mieć wysokość0,4 H,
- wartościwzmocnienia o jaką na|eży zmtenić nastawę decybelowego regulatora
wzmocnienia po wyregulowaniu wysokościecha reflektora wzorcowego'
- położeniapokręteł ENERGIA i PoDcIĘcIE.
Reflektory wzorcowe używane do nastawy czułościprzedstawiono na rys. 30.7. Na-
leżądo nich:
- powierzchniawalcowa wzorca I/1 o promieniu R100,
- powierzchnie walcowe wzorca IU2o prorrieniach R25 i R50,
- pobocznica otworu @ 5 mm we wzorcu |ł2 (i w ogóle pobocznice otworów okrąg.
łych)'
_ naroż:e utworzone przez pobocznicę otworu @ l ,5 mm z boczną ścianąwzorca WI ,
_ naroże prostokątne utworzone przez ścianęrowka naciętego na płaskiej po.
wierzchni.
Czu.łośćbadania w przypadku korzystania z powierzchni walcowych można zapi.
.saćw następującysposób:

Przykład 4
w = ł1l(hp1gg = 0'4H) + 40 dB
Zapis oznacza,że wzmocnieniena|eżyustawićo 40 dB wyższeod tegowzmocnienia,przy którym
0'4H.
echopowierzchnicylindrycznejo.promieniul00 mm wzorcaWIosiągawysokość
W innych przypadkach dla uniknięcia nieporozumieńwskazanejestczułośćbadania
podać opisowo.

227
 ,,sfur,,62,
ą

w
Rys. 30.7 Reflektory stosowanc do
nastawy czułości badania za pomo.
cą gtowicy skośnejfal poprzecznych.
ą f)
a oowierzchnia walcowa wzorca
W1 , b' - powierzchnia walcowa wzor-
ca W2, c-- pobocznica otworu 9b we (15
*zrrc, W2, d Pobocznica otworu
nawieiconego w clemencie płasko.
równoległym, e. naroże otworu
Ó l ,5 we wzorcu [4)1 , f - naroże otwo-
ru okrągtego nawierconego w ele. q)
mencie płasko.równoległym, g - na.
roże rowka prostokątnego

3o.4.2.Zasadydoboru czułości
badaniasąomówione w ustępie37.8.

30.5. Lokalizacja wady

30.5.l.JeżelizakresobserwacjiZostałwyskalowanyw odległościach mierzonychwzd,łuż

wiązki, to odległość
/ ocl środkagłowicy clo wady odczytuje się bezpośrcdnio
z ckranu
lampy oscyloskopowejlub obliczana podstawiepołożeniaecha

I : a' (ppc) (30.3)

odległość rzutu wady na powierzchnię,z której wprowadzasię fale od środkagtowicy

wv|icza sie z zależności

l* = I -sinP (30.4)

gdzie p jest kątem załamaniafal (rys.30.8). odległośćrzutu wady od czołagłowicy

otrzymujesię, odejmującod /" wartość odlegtości głowicy.
l 1 międzycz'ołemi środkiem
Gdy wadazostaławykryta falą bezpośrednit,pailając4,głębokośćzaleganiawady wylicza
się wedtug wzoru
l, =l.cos1 (30.s)

Skale odegłościl*, l, i(lx - lt) mo1ą być naniesionena ekran, co eliminuje potrzebę
dokonywania przd.Licźeń.

228
 t L-lsinB

zo - (0 =ilŻ)mm
a'fdz ; I , l r , l r ,- ?
Fozwiaząnie
(ppc)- fummldz
l - Tdz'2Omm/dz - 140mm
I,-740mn'494- 131mm 'l
1,,'140mm'0.35 - 48rm I l-
0 n b ,f, u)t
0 17 u t1l ra l,
0 17 31 6' ct t,
Rys. 30.8 Wyznaczanie współrzędnych wady wykrytej za pomocą głowicy skośnej

30.5.2.Jeśliwada zostaławykryta falą odbitą od dna jedenraz (rys. 30.9) lub więcej ra.
rzutu wady na powierzchniębadaniaoblicza się wzorami (30.3) i (30.4).
zy, to odległości
Natomiast głębokościzaleganiawady w przypadku fali jednokrotnie odbitej oblicza się
wzorem
y: c (l - lr1) cos! (30.6)

a w przypadkufali dwukrotnieodbitej(rys.30.10)

y=(l-21r1)cosP (30.7)

Da ułatwienia oceny głębokościza|eganiawady przy wykorrystywaniu wielokrot.

nych odbić fali, celowejest na ekran nanieśćskalęjak na rys. 30.l 1. Skala pozioma ekra.
nu jest podzielona na tyle odcinków, ile długościl'12 zawiera zakres obserwacji(na rys.
30.1l jest ich 3), akaż'dy odcinek jest podzielony na l0 części.Linia tamana informuje
o tym, czy w miarę oddalania się echa od początku skali głębokośćza7egania wady roś.
nie czy maleje.I tak' w obrębie pierwszegoodcinka,gdzie uzyskuje się bezpośrednie echo
wady' głębokośćrośnie.W obrębie drugiegoodcinka, gdziewykorzystuje się odbicie od
powierzchni dolnej, głębokość maleje.Natomiast w obrębie trzeciegoodcinka, przesuwa.
nie się echa oznaczawzrost głębokościzaleganiawady. Skala taka pozwalawięc na bez.
pośredni odczyt

229
 _ odległościwady od środkagłowicy mierzonej wzdtuŻ wiązki w procentach /'72
rzutu wady od głowicy w procentachs/2
_ odległości
_ głębokościzalegania wady w procentach grubościelementu.

Przykładowo, interpretacjaoscylogramupokazanegona rys. 30.l l jest następująca:

wada znajduje się na gtęuotosci o2 g, a odległość jej rzutu na powierzchnięod środka
.
głowicy wynosi 2,2 sl2. Znając grubość g i kąt zaŁamania p tatwo te odległościwyra-
zić w milimetrach.

Z0 -(0-fr)nm
p-15' 9-40nm o-Bt
l,1,.lr.t
fuviazdrb
pp)- lOnmlck
I - 8'Onm -ffirnn
L- Ottm'0,t1-28mn
lę.zonm/ail - 50nnl
b -rorm- @-m\rm.Aft -Zmm

Rys. 30.9 wyznaczanie współrzędnych wady wykrytej głowicą skośnąfalą jednokrotnie odbitą od dna

tr-(t-zt)u.D

Z0 - 0-ffi)mt
9-8., q-Amm,a-Q,2dz
l,l,,ly - ?
RoEwiamrie
(p) -ummlclz
t - ,,2'9 166
l, - 1llOrm'477- lt9mm
tc- lotmt/aoł - 63mm
tr- (tCE- 2'63)'0ianm-'t9nm

wykrytej falą dwukrotnie

Rys. 30.10 określaniewspółrzędnych wady za pomocą głowicy skośnej
odbitą

230
 Rys. 30'l l Skala ułatwiająca
okrcślcnie współrzędnych wa-
dy .przy badanju elcmentów
płasko-równoIegłych głowicą
skośną

30.6. ocena rozmiaru wady za pomocą *ali oWR nakładanejna ekfan

30.ó.l.Przy posługiwaniusię nakładanąna ekran skalą oWR należystosowaćsię do

wskazówek podanych przez producentaimieć pewność, irc używanydefektoskopma
właściwe parametry(patrzp. 29.6.1dotyczącyskalioWR dla gtowicy normalnej).

30.6.2.Aby posłużyćsię skaląnależynajpierwwyskalowaćwtaściwyd|a niej zakresob.

serwacji,a następnienastawićwymaganączułośc.
Skale oWR cllagłowicskośnych mogąmieć zakresobselwacjiwyrażonybądŹw dłu.
gościdrogi |al' b4dŹ w clługości rzutu |ub skróconegorzutu tej drogi (rys. 30.l2). Skalo.
wanie wykonuje się w oparciuo ccha reflektorówwyszczególnionychw tabl' 30.l i 30.2-
PokrętłoPoDclĘCIE powinno być ustawionena zerzę.Nastawaczułości polegana
wykonaniunastępujących czynności :
skierowaniuwiązki głowicy na właściwydla danejskali ręflektorodniesieniai ta-
kim ustawicniudecybelowegoregulatorawzmocnienia,aby szczyt echa tego re-
flektoraznajdowałsię w kółku naniesionymna polu skali,
zwiększeniuwzmocnieniao podaną|iczbędecybe|i,
- Zwiększeniuwznlocnieniao wartość stratprzeniesieniaAv|,(eślione występują).
Stosowane reflektory odniesienia i spotykane ich oznaczeniaprzedstawionona rys.
e z o r c ó w W ] i W 2 , b ą d Źp o b o c z .
3 0 . l 3 . S ą t o b ą d źz e w n ę t r z n ew a l c o w ep o w i e r z c l r n iw
nice otworów walcowych,nawielconychw tych wzorcach.

Przykład 7
N a r y s . 3 0 . l 4 r z e d s t a w i o n o p o g l ą d o w o s p o s ó b p o s ł u ż e n i as i ę n a k ł a d a n ą s k a l ą o W R d l a g ł o -
p

l3r
 = (0 - 250) mm' wyrażonego
wicy 2T?0oAl5. Skala jest przeznaczona dla zakresu obserwacji Zo
w ilługościdrogi fal.
Kolejnośćcrynności:
1. Skalowaniezakresuobserwacji(rys. 30.14b)
Bierzemy pod uwagę 1 i 2 echo powierzchni o promieniu 100 mm wzorcalĄ/l, tj.echazod-
ległościl00 i 200 mm.
2. Nastawaczułości(rys. 30.14c)
się w
Ustawlamywzmocnienie,tak by szczyt echa powierzchnio promieniu l00 mm znalazł
środkukółka ,,Rl''. Następnic zwiększamy wzmocnienico 2ó dB. Przyjmujemy, ż'eAW,= 0
3. odczyt średnirywady równowaźnej(rys. 30.l4d)
Śreanica wady równowaźnejwynosi 4 mm. Wada znajdujesię w odległości 125 mm od środ'
ka gtowicy, |tczącwzdłuż'osi wiązki fal.

0)
t-l
ii
l-l

lr --Q
ti
il

b) I
I +r
t
1
I
,X l
L'0
2 3l a 5

tr A

t t8
Rys. 30.l2 Zakres obserwacji skali oWR naktadanej na ekran moż,ebyć wyrrrźony w długości:
a drogi fal, b _ rzutu drogi fal na j powierzchnię badania,_c skróconego rzutu drogi fal na po
wierzchn"ię badania, G _ głońica, EB element badany, A, B _ miejsca, w których powinny wystą
pić echa określonegoreflektora odniesienia

132
R y s . 3 0 . t 3 R e f l e k t o r y o d n i e s i e n i ai s p o s ó b i c l r w y k o r z y s t a n i a d I a n a s t a w y c z u ł o s . u | ł ; l l l t l . ' d c 1 l l k t o ,
' przypadku nakładanychskal ()WR
s k o p . g ł o w i c as k o ś n a ' w

rl

al
a

I i v s . 3 ( ) . l 4 S p o s ó b p o s ł u ż e | l t as | ę \ k l l ą ( ) W R g t o r l t t . '
21 70oA I5 dla zakrestt obscrwacji /0 (l) 250 I nlnr

u y r a ż o n e g o i v t l ł u g o ś c it l r o g i l i l i
a skltla. b skalowanlc zaktestl tlb:crnai1t. r' nil-
starrlt czułości' tl o t i c z y , t ś r t r l t ; i t . l .r l ' a t l r ' r t l u l t t l .
rvaŻlrcj i 1cj odległości trld irtldkll głtlrr l..r l

:-l-l
 Przykład 8
oWR dla głowicy
Na rys. 30.15.przedstawionopoglądowosposób korzystaniaz nakładanejskali
= (0 - l00) mm, wyrażonegow długości
MwB 70. Skalajest prueznaczonadlazakresuobserwacjiZo
skróconego rzutu drogi fal na powierzchnię badania.

-qJ \\
c2\

b)

c)

d)
it d-r

o b s e r w a c j iZ o = Q ' 1 0 0 )
R y s . 3 0 . 1 5 S p o s ó b p o s ł u ż e n i as i ę s k a l ą o W R g ł o w i c y M w B 7 0 d l a z a k r e s u
badania.
m m , w y r a ż o n e g ow d ł u g o ś csi k r ó c o n e g o r z u t u d r o g i f a l n a p o w i e r z c h n i ę
s k a l o w a n t ez a k r e s u o b s e r w a c j i ,c n a s t a w ac z u ł o ś c i d
, o d c z y t ś r e d n i c yw a d y r ó w n o .
a skala. b
w a ż n e ji j e j o d l e g ł o ś c(i o d c z o ł a g ł o w t c y )

414
 Kolejnośćczynności:
1. Skalowaniezakresuobserwacji(rys. 30.15b)
Instrukcja zatączona do skali nakazuje do skalowania uzyć kolejne echa powierzchni o plo.
mieniu 25 mm wzorca |Ą)2.Echa te naleźyustawić w miejscach zaznaczonych na skali pozio.
mej grubymi kreskami.
2. Nastawaczutości (rys.30.15c)
Wzmocnienie należy wyregulować tak' by szczyt echa pochodzącegoz powierzchni o promie-
niu 25 mm wzorca W2 znalazł się w środkukółka '32''. Następnie należy wzmocnienie
zviększyć o 30 dB.
3. odczyt średnicywady równowa:źnej (rys. 30.15d)
Średnica wady równowa:źnej wynosi 2 mm. odległośówady od czoła głowicy, mierzona
wzdtuit powierzchni badania wynosi 50 mm.

30.ó.3.w przypadku głowic skośnych, z uwagi na to, że nastawę czułościwykonuje się

Za pomocą wzorców W] i W2, na|eży uwz9|ędniać straty przeniesienia.

30ś.4.w przypadku głowic skośnych można ,,poverzyć'' zakres skali stosując zmianę
wzmocnienia o +6 dB, +12 dB itd. wg zasad omówionych w p.29.6.4. dla skali oWR
gtowicy normalnej.

30.ó.5. Uwagi odnośnie używania monitora jak w p. 29.6.5.

3o.7. ocena rozmianr wady za pomocą wykresów oWR

Zaudy postępowaniasą takie same,jak w przypadku głowicy normalnej.

30.8. ocena rozmiaru wady przez pomiar pruesrtnięciagłowiry

Przesuwającgłowicę po powierzchni badanegoelementui mierzącdtugośćprzesuwu

lp, na granicy którego amplituda echa bądźmalejeo pewnąliczbę decybeli względemam.
plitudy makrymalnej, bądź spada poniżej pewnego, stałegopoziomu, możemy.WZna.
czyc rozmiar wady / w kierunku prostopadłymdo osi wiązki (rys. 30.l6)
l=lOcos!-Ll
gdzie:.p - kąt załamaniagłowicy, A/ - poprawka.
Podejściedo poprawki A/ jest w przybliżeniutakie samo,jak w prrypadku głowicy
normalnej(ustęp 29.1o).

Rys. 30. 16 Wyznaczanie rozmiaru wa-

8A-t
dy przez pomiar przesunięcia głowicy
skośnci
lp - pozorny rozmiar wady, I rzeczy-
wisty rozmiar wady' p ' kąt załamania
głowicy

235
3l. BADANIEMEToDĄKoNTAKTov]Ąz^PoMocĄ GłowIcYPoDWÓJNEJFAL
FoDŁUżNYcH

3l.l. Uwagi ogólne

Badania kóntaktowe głowicą podwójną fal podłuznych stosuje się w celu wykycia
wad bliskich powierzchni oraz wad w elementach o małej grubościw porównaniu z dłu.
gościąstrefy martwej głowic o jednym przetworniku. Między innymi, badania takie sto.
suje się dla wykrycia wad w blachach równoległych do ich powierzchni.
Głowicę należydobrać tak, by w obszarze spodziewanychwad, znajdowało się jej
ognisko. Nalery też pamiętać, że strefa odbioru tych głowic nie jest kołowo symetrycz.
na; wskutek tego, po wykryciu wady należy uryskać maksymalne echo przez obrót gło-
wicy dokoła jej podłużnejosi symetrii.

31.f. Skalowanie zakresu obsrwacji

Zakres obserwacjiz zasady ustala się tak, by moment wejściafali do materiałupo.

krywał się z początkiem skali poziomej ekranu, a pierwsze echo dna przypadało blisko
końca skali. Wykorzystuje się tylko odcinek podstawy czasu przed pierwszym echem dna.
Do nastawieniazakresu obserwacji wykorrystuje się echa dna elementów (wzorców) o
znanej,róznej grubości.Nastawieniezakresu obserwacjina podstawie kolejnych ech jed.
nego i tego ylmego dna nie jest wskazane,gdyż'możebyć związane z niekontrolowanym
błędem.

Przykład l (rys.3l.l)
zo = (0 _ 10)mm dla falI.
zakresobserwacji
Należywyskalować
a) b)

Z0 - (O*O)mm
(prlc) - 'tmm/dz

3rm

R y s . 3 1 . l S k a l o w a n i e z a k r e s u o b s e r w a c j iz o = Q - l0)mm głowicy podwójnej lalpodtużnych.

I l u s t r a c j ad o p r z y k ł a d u l

236
 Rozwiązanie
Podziałkapodstawyczasu(ppc)= l mm/dz.Wykorrystujemy dwaschodkiwzorcaschodkowego
o Eubościach3 mm i 10 mm. Ustawiająckolejnogłowicęna tych schodkach,
za pomocąpoklęteł
oPoŹNIENIE i PRĘDKoŚc doprowadzamy echoz odległości
3 mm na działkę.7,zaśechoz odle.
głości
10mmnadziałkę10.

3l.3. Czułośćbadania i ocena rozmiarów wad

Czułoścbadania nastawiasię za pomocą wad wzorcowych.

Do oceny rozmiarów wad wykrytych stosuje się metodę przesuwu poprzeczne8o,
albo w przypadku wad małych, skalę oWR nakładanąna ek-ranlub wykres oWR właści.
wy dla danej głowicy. Nie ma uogólnionych wykresów oWR dla giowic podwójnych.

32. BADANIEZA PoMoCĄ FAL PowIEMCHNIowYcH

32.l. Uwagi ogólne

Badanie Za pomocą fal powierzchniowych stosuje się dla wykrycia wad wychodzą.
cych na powierzchnię materiałulub zalegającychbardzo blisko powierzchni.
Ten zakres
zastosowańrtynika z faktu' ż'efa|epowierzchniowe rozchodzą się tylko w warstwie
ma.
teriatu bliskiejpowierzchni.Na głębokości równej kiJku długościomfali amplitudadrgań
cząsteczekosiągawartośćzero. D|a ilustracjina
rys- 32.l przedstawionozależność ampli.
tLrdyecłrotworów o średnicy0,45 mm unrieszczonychrównolegle do powierzchni -
od
głębokościzaleganiatych otworów. Na osi poziornej odłożonogłębokość
za|egania
otworu wyrażonąw częściach długościfali, zaśna osi pionowejwzględnąamplitudęecha
w procentaclr. Widać, ż'e graniczną wykrywalnośćosiągnięto przy głębokości
r-ównej
d ł u g o śfcai l i .
Fale powierzchniowemajązdolność,,opływania''łagodnych zal<rzywieńpowierzch-

\łI)
i|a
Ee
Bo
t.o
la Rys. 32.l llustracja zasięgu,,wgłębnego'' falpowierzchnio.
ł^ wych. Za|eż'nośćamplitudy echa od pobocznicy otworu
.p'45 mm, nawierconego równo|egle do powierzchni _ od
zl^ jego odległościod powierzchni

ZJ I
ni. ostre nawet kawędzie zewnętrzne stanowiądla tych fal przeszkodę ,,półprzepusz:
cza|ną,,:częśćenergii fali odbija się od krawędzi, a pozostaŁaczęśćbiegnie dalej (rys.
32.2\. Fa|e powierzchniowe są silnie tłumione przez nierównościpowierzchni oraz przez
zanieczyszczenia znajdujące się na powierzchni, takie nawet jak krople cieczy. Fakt ten
ogranicza zakles zastosowań do kontroli powierzchni gładkich i czystych.
Jeżeli uzyskamy na ekranie echo jakiegośreflektora, to przyŁoż'enezwilżonego palca
do powierzchni na drodze wiązki, powoduje silne obniżenie echa. Wykorzystywane jest
to do identyfikacji położeniareflektorów fal powierzchniowych.

b)
rl
:1
. ;;
II' * F !
f!
ll

BC
fuwiłzdtnia bz rcd

Rys. 32.2 Zachowanie się fal powierzch.

niowych
a _ fale odbdają się częściowo od każdej
krawędzi, b * dużepęknięciew całościod.
bija wiązkę fal

32.2. SkalowaŃezakrezuobserwacji

Zakres obserwacjimożnawyskalowaćwykorrystującdwa reflektory fal powierzch.

niowychznajdujące od głowicy.Możnado tegoceluwykorzy.
sięw różnejodległości
staćkrawędziewzorcaW]. Jeże|ichcemy np. obserwacji
wyskalować(rys. 32.3)zak.res
Zo = -
(o 200) mm, ustawiamy głowicętak, by echokrawędziA zna|aztosię na piątej
działcepoziomejskalipodstawyczasu, echo
zaś krawędziB na ]0.
działce

:38
 A
t

L
R y s . 3 2 . 3 P r z y k ł a d s k a l o r v a n i a Z a k r e s u o b s o r w a c j iZ o = Q 200) mm dla fal powierzchniowych
za pomocą wzorca W]

32.3. Ocena rozmiaru wad

Zale,ż'nośc
nriędzy odległościądo wady, amplitud4 echa wady i jej rozmiaremnie jest
wykorzystywana do oceny rozmiarów wad wykrytych za pomocą fal powierzchniowych,
w takim Zaklesiejak rna to miejsce w przypadku fal rozchodzących się wewnątrz mate-
riału.Przyczyną tegojest si|nazależność amplitudyfal wzbu<lzanych na powierzchniba-
danegomateriałuod warunków sprzężeniaakustycznegooraz d,używpływ jakościpo.
wierzchnina ttumieniefal.
Wady wykryte falanripowierzchniowymi zwykle wychodzą na powierzchnię badane-
go elenrcntui łatwo ocenićich rozmiarwizualnie(np.przezlupę) bądźteż:przy
Zastoso-
wanru nretody magnetyczno-proszkowej albo penetracyjnej.Rozmiar wady na powierzch_
ni (długość) możnaocenićtcżmetodąprzesuwugłowicywzdłuż,wady.
Pewnc moż|iwości oceny głębokościpęknięc claje sposób przedstawionyna
rys.
32.4, polcgający na pomiarze rożnicy czasu przejściafal powierzchniowych
między
dwomagłowicami- nadawcząi odbiorczą ustawionymiw stałejod|egłości:
gdy na drodze fal nie ma wady,
gdy na drodze fal występujepęknięcie.

Rys.32.4 Zasada oceny

głębokości pęknięcia /y/
tnctodą oceny różnicy
czasu przejścia faI po.
rr.icrzclrniowych między
drvonra głorvicami. Wsku.
tek zrt'iększenia drogi 1al
o odcinck 2 g czas przejścia
fal wydłużasię o Al
Ar. cp

)
ji'.ł. l,rzvkłiltlv zilstos(,wan
gttrwtt.yf al powierzchniowych pokazano na rys.32.5
l)tz.yKładv./Jsl(l\()\\iłll

,!tl.-r
Jll- -- -r
, )) Pękntęc
t9

ilrt
ull---J
' Ethą
.
pęBntęc'lą
! Ęcho'kyawędzt
r-- i
,\l l

ltl
W]ęele fcho pękntęc!ą

ff:-..
-?il
rPęk,,ę,,,
lez wodtl

PQ<ntęcte
w narozuA

Rys.32.5 Przykładybadaniaza pomocąfal powierzchniowych

ll d _ koła
topatek turbin, b _ fragmentuarmatury, c _ elementudźwigrriowego'
7,ębate8o

140
33' BADANIE METoDĄ KoNTAKTowĄ zAPoMocĄ UKŁADÓW GŁowlc

33.1. Uwagi ogólne

Układy głowic stosuje się dla wykrycia wad których orientacjawzględempowierzch.

ni elementu uniemożliwiaotrzymanie wyraźnychwskazań przy zastosowaniugłowic po-
jedynczych. W uktadach {nogąpracować głowice o różnych rozmiarachprzetwornika,z
tym ie częstotliwośćgłowic współpracującychjest taka sama.W zależności od rozmia.
rów i kształtu badanego elementu oraz od charakteru i orientacji wad, które mają być
}vykryt9' stosuje się różne konfiguracje głowic i rożnesystemy prary. omówimy kilka
przykładów.

33.2. ljkład tandem

Układ tandemjest stosowany do wykrywania płaskich wad wewnętrz\ych' nie wy.

chodzących na powierzchnię i zorientowanych prostopadle do powierzchni elementu.
Przykładem takich wad są pęknięcia poprzecznew prętach lub w grubych złączachspa.
wanych.
Rysunek 33.l pokazuje zasadę pracy układu tandem. Impulsy wysyłane z głowicy
nadawczejpo odbiciu od płaskiejwady prostopadłejdo powierzchni oraz po odbiciu od
dna, są odbierane przez głowicę odbiorczą. Jeże|iodległośćmiędzy nadajnikiem i od.
biornikiem jest stała' to układ tandem ma maksymalnączułośćw pewnym obszarzegru.
bościbadanego elementu. Dla skontrolowaniacałej grubościtrzeba zmieniać odległość
między głowicami albo, jak to ma miejscew układachdo badań zmechanizowanych,sto-

Rys. 33. l Układ głowic typu tandem

sowaćukład złoż.onyz wielu głowic nadawczychi odbiorczyclr.

Za pomocą układu tandem możnawykryc takżewady przestrzenne(objętościowe).
Przez porównanie amplitud ech przy zmianie rodzaju pracy głowic, można rozróźnic wa-
dy płaskieod wad przestrzennych.Możliwośćtą pokazuje rys.33.2' Jeżeligłowica I pra.
cuje metodąecha i echo wady jest niskie, a pruy pracy głowic ] i 2 w układzie ,,nadajnik/
odbiornik'' eóho jest wysokie - to wada iest wadą płaską.Jeżeli echo wady uzyskane
głowicą 1 jest wysokie, a impuls odebrany po przejściudrogi ,Iadajnik - wada - dno -
odbiornik'' jest niskie - to wada jest wadą przestrzenną.Stosunek wysokościech w tych
dwóch przypadkach może być uważanyZa swego rodzaju współczynnik kształtu wady.
Przy stosowaniu układu tandem, czułośćusta|a się na wzorcach zawierających
sztucznewady wzorcowe, a do oceny rozmiarów wad możnastosowaćspecjalnedla tych

fll
-!l
 ILJ lx
( ) Ł o w rc A 1 - N l.
oŁo w lcA 2 - O

GŁowlcA 1 - No

i= li
Gtow,cA
QLow,cA
1 - N
2 - O
LL l,i
,\J- l'l
Rys. 33.2 Porównanie amplitud ech uzyska.
nych za pomocą układu tandem i za pomocą
pojedynczej głowicy skośnejpozwala odróż- GLowtcA 1 - NO

nić wady płaskie od przestrzennych

układów wykresy oIlR.

33.3. Układ typu delta

Układ tego typu stosuje się do wykrywania wad płaskich i objętościowychróżnie

zorientowanychwzględem powierzchni' z której wprowadza się fale. Układ delta składa
się też z dwóch głowic, nadawczeji odbiorczej, ustawionychnad powierzchniązanurzo.
nego w cieczy elementu badanego(rys. 33.3). Wskazaniemwady jest obecnośćecha ode-
branego przez głowicę odbiorczą. Za pomocą tego układu można wykrywać zarówno
wady makrostruktury jak również skupiska drobnych wtrąceń czy obszary o zwiększo.
nych rozmiarachziarna.
tladajnik

\x1

Rys. 33.3 Układ głowic typu ,,delta''

Podobne układy głowic stozujesię przy automatycznejkontroli rur cienkościennych

(rys. 33.4). Gtowica odbiorcza rejestrujeobecnośćimpulsów rozproszonychprzez wadę.

f42
 A NAIJ,.WCZ;i.

Rys. 33.4 Przyktad układugłowic do zanurzeniowychbadań rur cienkościennych

33.4. Układy głowic pracująrych w ,,taktach''

Układy takie stosujesię w badaniachautomatycznych.Poszczególnegłowiceuktadu

pracują albo jako głowice nadawczoodbiorcze metodą echa, albo tylko jako nadajniki'
albo tylko jako odbiorniki fal.
Na rys. 33.5 pokazano przykład układu głowic skośnychstosowanegoprzy automa.
tyczne1kontroli złącz spawanych.GłowiceN1 i N2 pracująjako nadajniki,zaśo1io2
jako odbiorniki fal. Wady pod łużnesąwykryw anęprzez układy głowic1/7 - o 1 i N 2 -
0 2 , z a ś w a d yp o p r z e c z n ó p r z e z p a rgy ł o w i c / / l - o z i N 2 - o7

)))))))

a) b)
Rys' 33.5 Układ głowic skośnych do automatycznegobadaniazłączspawanych
a wskazaniemwady podłużnejsą echa pojawiające się w taktachpr.a'cy N7 _.Qt iŁ oz,t
w s k a z a n i e m w a d y p o p r z e c z n e j s ą e c h a p o j a w i i r j ą c e s i ę w t a k t i l c h p_rO
a cz yi N1:V 7 O t

].ł.]
34. BADANIE METoDĄ ZANURZENIoWĄ

Badaniemetodązanurzeniowąstosujesię:
* cdy zabezpieczenLe dobrego sprzężeniaakustycznegoprzy badaniu metodą kon.
taktową jest utrgdnione,
- dla ułatwieniawprowadzaniafal pod różnymi kątami względem powierzchni ba-
danegoelementu,
- dla ułatwieniabadań wiązkązogniskowaną.
Badania prowadzi się zwykle w wannachwyposażonychw mechanizmy kontrolowa-
nego plzesuwu i ustawieniagłowic. Głowice sąprowadzonezwykle w pewnejodległości
nad powierzchnią badanegoelementu.Ponieważszerokośćecha powierzchni jest mniej.
sza od szerokościimpulsu nadawczegouzyskuje się dobrą wykrywalnośćwad położo.
nych blisko powierzchni badania.
Do badań zanurzeniowychstosuje się głowicew szczelnychobudowach.Wannę wy.
pełniasię najczęściej wodą z dodatkiem środkówantykorozyjnych.
tv

GLOW'CA

Rys. 34.1 Schemat badania

zanurzcniowcgo
a - typowy oscylogram

244
 Metodę zanurzeniowąmożna stosować takze przy pomiarach tłumienia,prędkości
czy teżprzy obserwacjiszumów strukturalnych.
Schemat badania oraz typowy oscylogram uzyskiwany przy badaniu elementu
płasko.równoległego Za pomocą fal podłużnychpadającychprostopad|edo powierzch-
nt pokazanona rys. 34.1.Przy jego interpretacjinależypamiętać,żeprędkość fal w wo.
dzie jest blisko cztery razy mniejszaod prędkościfa| podłuznych w stali. Impulsy { 11,
ilI i IV są kolejnymi echami powierzchnibadanegoelementu.Impulsy 1,2 i3 stanowią
pierwszy ciąg ech dna' a impulsy oznaczone cyframi arabskimi z indeksamisąkolejnymi
ciągarniech dna. Jeśliodległości 97 i g2 są sobierówne, to cztwarteechadna pokrywają
.się
z kolejnymiechamiod granicy,,woda/powierzchnia elementu''.
Zakes obserwacjinależywybrać między pierwszymechem od powierzchnibada.
nego elementu (impuls I na początku poziomej skali ekranu) a pierwszym echem dna
(imptrls 1 na końcu skali). W związku z Iym, odległośćpomiędzy głowicą a powierzch-
nią badanego elementu ze sta|i, mietzona w wodzie, powinna być większa od 1/4 gru-
bościtego elementu.
Dobór i nastawęczułości badaniaoraz ocenę rozmiarów wad wykrytych prowadzi
się wedługogóInych zasacl.Należy pamiętać,by podczas nastawianiaczułości próbki
zawierającewady wzorcowe były takze zanurzone.Uwaga ta jest szczególnieistotna przy
badaniuZa pomocą |al wprowadzanychskośnici dochodzącychdo wady po odbiciu od
d n l b a d a n e geol e l n c n t u .
W badaniachzanurzeniowychz powodzenienrstosujesię układy głowic,a w sZcZę.
g<ilności układtypu delta,przy uzyciu którego wskazaniemwady sąimpu|syrozproszone
przez wadę.

35. BADANIE METODA PRZEPUSZCZANIA

Metodę pfzepuszczaniastosujesię gdy:

ze względu na rozmiary lub tłunrieniefal nie jest nrożliwakontrolametod4echa'
_' istniejekoniecznoścwykrycia wad położoIlychblisko powierzchnilub dna c|e-
mentu.
Schemat badanianletod4przepuszczania przetlstawia rys. 35.| . Badanyelemetrtprzc
suwa się między dwiema osiowo ustawionynrigłowicanri:nadawcząt odbiorczą.Stosuje
się zarówno metodękontaktowąjak i zanurzeniową.
Wskazaniemwady w metodz.ieprz,epusz-cz.ania jest zrniar'rarnplitudyiurpulsur\irJ.lw-
czegrlgłowicypracującej jako nadajnik.odbieranegoprzez gtrlwicętldhiorcza-
I ) r z y b a d a n i um e t o d ąp r z e p u s z c z a n ri ar z y s k r r jsei ę z t t a c z n i er n r r i c j s zra' ' ' v k l ' , r t , l t l l t o ś c
wad niż w przypadkumetody echa.ZaletąInetoLlyprzeptlszczaIlia jcst hrllk rlgtl;liii.,:'enia
w'a d ą n l e t o d yj e s t b r a k n l c l z | i w o śocki r c ś l c r rgi lłre b t l k < r ś
p r z e zs t r e f ę . m a r t w ą z . ci lir . : l t r l i l t
wad.
occna rrlznriarciw wad tlpierł sil.:zarówno n a w r c l k < l ś c lZ I l I l i j n i l ] : ' i l ! i t r . l \ ' I i l l i . t . l . t t
przcchtlclzaccgo jlk t e z l l a p o m i a r z e : Z e f o k o ś c i o l l r v i e J I t i w l i t i . t ; ; ' . l l ' . ' ' ; ^ , . !. l.t' 1: i ' \ ; i l j l o -
nvni zntia',r.lnrnltrlittrtlr,.
 Ze wz.g|ęduna koniecznośćzapewnieniaosiowościgłowic i stałościich ustawienia
względem badanego obiektu, badanie metodą przepuszczaniastosuje się zwykle jako
zmechanizowane.Badanie ręczne możnaprowadzić tylko za pomocą uchwytów zabezpie.
czającychstałość sprzężeniaakustycznegoi powtarzalność geometriibadania.
W praktyce przemysłowejmetodę przepuszczania stosuje się do zmechanizowanych
badań blach (zarówno bardzo grubych jak i bardzo cienkich), odlewów' tworryw sztucz-
nych, a takżedo pomiarów prędkości i zmian ttumienia w materiałach silnie tłumiących'

łlł
lll

+ +

Rys' 35.1 Zasada badania metodą przepuszczania. Miarą rozmiaru wady jcst spadek AIl odbieranego
impulsu

ł 3ó. INNE METoDY AKUSTYCZNE

3ó.l. Metoda emi$i akusĘcznej

Metoda emisji akustycznej polega na rejestracjii analizie fal akustycznych (mecha-

nicznych), które powstają w materiale rv wyniku wyzwalania się energii sprężystejw
procesach odksztatcania lub pękania materiału. Zjawisko występowania tych fa| nary.
wanejest emisjąakustyczną.
Schematukładu do badaniametodąemisjiakustycznejprzedstawiarys. 36.1. Do ba.
danego obiektu przykłada się czujnik zdolny odebrać rozchodzącesię w materialefaie.

246
 i u Kł,ADv
F' LTR ANALltu]Ące
? i
REJESTRU

Rys. 3ó.l Schemat

układudo badaniametodąemisjiakusĘcznej
Ze wzg|ędu na to, że fale te mogą mieć bardzo zróżnicowane częstotliwości,powinien
on mieć szerokie pasmo przenoszenia.odebrane sygnały są analizowaneprzez układy
elektroniczne,a wyniki tej analizy - rejestrowane.
Jeślibadanym obiektem jest próbka zamocowana w szczękach maszyny do badań
wytrzymałościowych, można śledzićemisję akustycznąw czasiepróby rozciągania'oka.
zuje się, że w zakresieodkształceńsprężystychilośćaktów emisji w jednostceczasujest
mała. Gdy natomiast materiał wchodzi w zakres odkształceń plastycznych szybkość
emisji sygnałów gwałtownie wzrasta. Widać to na rys. 36.2 przedstawiającymktrywą
rozciągania i ilośćzarejestrowanych impulsów emisji akustycznej. obserwując emisję sy.
gnałów akustycznych powstającychw materialemożnawięc wykryć obecnośćodkształ.
ceń plastycznych.Ta własność emisji akustycznejjest w głównej mierzewykorzystywana
w badaniachnieniszczacych.

KRZVWA
ROZCr^6AN tA

x
o o
12s
b x
b ł'
lłl
24t
.o
ic {
16f
tal- q.
q
ą i
-q 'ol ' '
a {
o Rys. 36.f Krzywa rozciągania żeliwa szarego i odpowiada-
jąca jej krzywa narastania emisji akustycznej
oDKszTAŁcENlE

I tak na przykład obserwującemisjęakustycznąw czasiepróby ciśnieniowej zbiorni.

ka spawanego,można stwierdzić, czy w spoinach występująwady rozwijającesię przy
stosowanych ciśnieniacir. Materiał w pobliżu czoła rozwtjającejwię wady (pęknięcia)
wchodzi w zakres plastyczny znaczniewcześniejniż w obszarachodległyohod wad. Dla-
tego obecnośćrozwijającychsię wad będzie sygnalizowanawzrostem emisji akustycznej
przy naprężeniachznacznic niższychod granicy plastycznościmateriatu zbiornika. Jeśli
czujniki rejestrująceemisję akustycznąumieścićna pracującymzbiorniku ciśnieniowym'
mościeczy tnnej konstrukcji, to wzrost rejestrowanychaktów emisji będzie sygnałem
ostrzegawczym,żew materialerozwijająsię pęknięcia.

) A1
 Jeślido badanego obiektu ptzyłożymy kilka czujników, to mierząc rożniceczasów,
po.
w których qyglat emisji dochodzi do poszczególnych czujników, można wyznaczyć
łożenieźródta emisji.

36.2. Metoda drgań rezonansowych

a takżrcobecność
Własnościsprężystemateriału, kvtałt i wymiary przedmiotu,
jego drgań własnych.Badany
ewentualnych wad znajdują swoje odbicie w charakterze
lub siła okreso.
przedmiot pubudza się do drgań przez dziatatlie impulsu siły (uderzenie
Po przerwaniu
wo zmienna) wytwarzanej np- ptzez przetwornik elektromechaniczny'
drgań
pubudzenia, gdy przedmiot wykónuje drgania swobodne, mierzy się częstotliwość
zaniku drgań.
,."on"n**yóh, amplitudy cięstotliwościharmonicznych oraz szybkość
typowy zestaw przyrządow do kontroli tą metodą. Metodę drgań
Na rys. 36.3 pokazano
rezonansowych stosuje sii zwykle jako porówn awczą. Wyznacza się charakterystykę
uzy-
drgań przedmiotu uznanegoza spełniającywymaganiai porównuje ze wskazaniami
tego samego wyrobu. Metoda drgań rezonan.
stanymi przy badaniu innych egzemp|arzy
elementów o
sowych ina|azłapowszechne zastosowaniew kontroli produkcji masowej
jak odlewy, odkuwki, wyroby ceramiczne, wyroby z twotzyw
złoiLonym kształcie,
sztucznych itP.

ńlIBuDxIK

UkŁ^Dv
ANALrzu,ĄcE
QENERATOP

Rys. 36.3 Schemat układu do badania metodą drgań rezonansowych

3ó.3. dzwiękowej
Metoda tożsamości

|Jrządzenia zawierające ruchome elementy wytwarua1ąpodczas pracy charaktery

styczne az*ięl.i. Z chwt\ą,gdy któryś z pracującychelementów traci swoje pierwotne
własności,dŹwięki zmieniają się. Przez rejestracjędŹwięków maszyny czy urządzenia
będącegow dobrym stanie technicutym i porównanie ich z dźwiękami aktualnie wyda-
wanymi, można ocenić stan techniczny urządzenia,a nawet wskazać prawdopodobne
miejscauszkodzenia.

36.4. Holografia ultradźwiękowa

36.4.|.omówione dotychczas sposoby badaniawykorzystywałydla oceny wad tylko

jedno źródło informacji,a nlianowicie_ amplitudęciśnieniafal dochodzącychdo głowi-
cy, odbitych lub rozproszilnyclrprzez wadę.Fale ultradźwiękowepo odbiciu od różnych
punktów powierzchniwac1ydochodządo głowicyw r<iżnych fazach.Różnice |azmiędzy

].ł8
falami odbitymi od różnych punktów wady stanowiąinformację o kształcie wady. Nie.
stety omówione dotychczas defektoskopy nie pozwalają wykorzystać tych informacji
i dlatego nie otrrymujemy przestrzennychobrazów wad,lecz co najwyżejzarysy ich kon.
turów (zobrazowanietypu B lub C).
otrzymanie przestrzennegoobrazu wady umozliwia holografia ultradźwiękowa.
Holografią nazywamy ogólnie technikę otrzymywania obrazów przestrzennych poprzez
wykorzystanie informacji zawartych i w amplitudach i w fazachdrgań fal dochodzącycir
do odbiornika, po odbiciu się od obserwowanego(badanego)obiektu.Nazwa ,Jrolografia''
pochodzi od greckich słów: holos - cały,grapho - rysuję.Dotychczas, szeroko Znana
jest holografia optyczna, wykorzystującafale świetlne,
które są falami elektromagnetycz-
nymi.

36.4.2.Prześ1edźmy najpierw pokazany na rys. 36.4 uproszczony schematpowstawania

hologramuoptycznego.Przedmiot jest oświetlonywiązkąświatła wytworzonego przezt,La.
ser. Wiązka ta charakteryzuje się tym, ie wszystkie jej fale biegną w jednakowej fazie
(wiązka fal jest spójna), co jest podstawowymwarunkiem uzyskaniahologramu.Do bło.
ny fotograficznejdochodzi jednocześnie wiązka odbita od badanegoprzedmiotr1i druga
wiązka światłaspójnego,padającana nią bezpośrednio. Błona fotograficznanie jest czu.
ła na fazę,lecz tylko na natężenieświatła.obecnośćtej drugiej wiąz(<l,zwanej,,wiązką
odniesienia'' powoduje,żenaświetlenie kliszy w poszczególnychpunktach jest różne,od.
powiednio do różnicy fal wiązki odniesienia(stałafaza) orazwiązki odbitej od przedmio-
tu (faza za]eżnaod ksztattu powierzchni odbijającej).W punktach btony, w których pro-
mienie tych dwóch wiązek spotkająsię w zgodnej fazie naświetlenie emulsji będzie naj.
większe, zaśw punktach w których fazy obu wiązek nie są zgodne - naświetlenie emul-
sji fotograficznej będzie mniejsze. W ten sposób zostaną zapisanena błonie informacje
o przedmiocie,jakie Zawartesą w fazach fal odbitych. obraz na błonie nazywa się holo.
gramem.

ZWIERC'ADLO

BłoNA
FoioeRĄF,czNA

Rys. 36.4 Powstawanie hologranru optycznego

l.+q
 og|ądany bezpośredniohologram nie przypomina obrazu przedmiotu. Trójwymia-
rowy obraz przedmiotu otrzymuje się dopiero po odtworzeniu hologramu za pomocą
światłaspójnego, a więc Za pomocą wiązki wysłanejz lasera.Sposób odtwarzania trój-
wymiarowegoobrazu optycznego ilustruje rys. 3ó.5.

Rys. 36.5 Schemat odtwarzania hologramu

36.4.3.W ho|ografii ultradŹwiękowej stosuje się dwie różne techniki otrzymywania ho.
logramów wad. Pierwsza jest podobna do sposobu używanegow holografii optycznej
i polega na tym, Źe interferencyjny obraz, tworzony przez nałożeniewiązki odbitej od
przedmiotu i wiązki odniesienia' powstajepoprostu na powierzchni wody, w której zanu.
rzony jest badany obiekt (rys. 36.6). odkształceniapowierzchniwody odzwierciedlają
rozkład anlplitud i faz wiązki odbitej od przedmiotu, a więc tworzą hologram przedmio.
tu. Ten swoisty hologram fotografujesię i odtwarza na drodze optycznej'

wr47.KA ODErf A
oo oB,EKfu

DO NADA'NIKA
U LIRAOI,W'EKO*E-
co
W,AZXA
oDN, ES, E NIA

WODA

R y ' s . 3 6 ' 6 S c | t c l l l u tu k ł a d u l r o l o g r a t . i c z n e g zo u | t r a d ź w i ę k o w ąw r ą z k ą o d n i e s i c n i a P 1 . P 2 plzetwor.

rllkiultradzrr'iękou.c

Druga rechnika, która ma znacznię większe osiągnięcia,wykorzystule tylko jedną

głowicę ultradŹwiękowąpracującąmetodą echa. Głowica ta jest przemieszczanapo
powierzcltni badanego przedmiotu lub nad powierzchnią w przypadku badań zanurze-
stosuje się zwykle Zogniskowaną
niowych rys. 3ó.7. Dla uiryskanialepszej rozdzię|czości
wiązkę fal ultradŹwiękowycłr. Informacjezebraneprzez głowicęprzeszukującą są mie.
szane nie z' wiązkqodniesienia,lecz z elektroniczniewytworzonym przebiegiem,stano-
wiącynl sZtuczlląwiązkę odniesienia'Tak wymieszanedane są Zobrazowane na ekranie
oscvltlsktlptt.Fotografiaobrazu oscyloskopowegostanowihologram,który odtwarzasię

ls0
na drodze optycznej.
Stosuje się teżinny sposób zapisu hologramu,polegającyna tym' żewymieszanesyg.
nały obiektu i wiązki odniesieniapowodują świecenieźródła światła,poruszającegosię
zgodnie z ruchami głowicy. Poruszającesię i świecące ze zmiennym natężeniemźrodło
światła jest fotografowaneaparatemz otwartą migawką.W ten sposób na kliszy powsta.
je hologram.
03cvLo6r<oP

5/GNAŁY oBrExtu

U ,<ŁAD

-
:ff
\-.łr-
UY

\-----f
PRZE3TRZENNY
OERAZ WADY

TwoRzEN,E srĘ
HOLOGRAMU

LASE R

oDTwARzANtE oBRAztr

a" "ł,1Ł"#łł9ś::"ł7:: :.+?

Rys. 36.7 Schemat układu do ultradźwiękowej holografii scanningowej

37. OGOLNE ZASADY ORGANIZACJI BADANIA DEFEKTOSKOPOWEGO

37 .1. Plan badania

37.|.|'Przed przystąpieniemdo badanianależyustalićplan badania'Zewnętrznąformą

tego planu jest, przykładowopisemnainstrukcjabadania.Zwięzłąformąinstrukcjibada-
nia stanowi ,,Karta badania'',której wzór zamieszczonyjest na końcu skryptu.
Punktem wyjścia dla opracowaniaplantrbadaniasąwymaganiastawianeprzez produ.
centa (technologa), odbiorcę lub użytkownikae|ementuodnośnie wad dopuszcza|nychi
niedopuszczalnych.Wymaganiate bywają określonepruez normy i warunki techniczne.
Zwrocmy uwagę' że nie ma materiałówbez wad, ani też'nie opłacasię dążyćdo
produkowaniamateriatówbez wad w ścistymtegostowa znaczeniu,W materiałach to|e-

l,st
ruje się obecnośćwad, które nie obniżająw istotny sposóbjakościwyrobów,jakie mają
być z tych materiałów wykonane. Wady takie nazywamy wadami dopuszczalnymi.
Szkodliwośćwad za|eżyod ich rodzaju, wielkości'nasileniai miejscawystępowania
(patrzustęp 25.9).

3 7. | . 2 .P | a nb a d a n i ap o w i n i e nu j m o w a ć :
a) podział objętościbadanegoelementuna strefyw których należywykryc określo-
ne wady
b) podział powierzchnibadanegoelementuna obszaryz których rlależyprowadzić
badanieokreślonymi technikami
c) opis stosowanychtechnik badania
d) kryteriaoceny uzyskanychwyników
Plan badania powinien uwzględniaćkształt i stan powierzchnibadanegoclcrnentu.

37 .2. Przygotowanie powierzchni

37.2.l.Powierzclrniaz której wprowadzasię fale musi być dostateczniegładkai jedno.

rodna, by umożliwiaćpłynny przesuw głowicy i nie powodować silnegorozpraszania
wiązki przechodzącejdo materiału.Dlategoczęstozachodzikonieczność przygotowanla
powierzchnido badania'polegającego na usunięciu przypadkowych nierówności, np. oti.
prysków spawalniczych,luŹnej zgorze|inylub warstwy słabo farby'
przyłegającej a w nie.
-
których przypadkach na mechanicznejobróbce powierzchni.Przyjmuje się, że nierów-
nościnie większe o<i l/l0 dtugościfali ultradŹwiękowejnie ograniczająkontroli ultra-
dźwiękowej.

37'2.z.Granice poszczególnychobszarów powierzchni badania'jeślinie są onc jedno.

znacznię określoneprzez ksz'tałIelementu. oł'naczasię za,pomocą kredy woskowĆj.W
przypadku elementówodpowicclzialnych. dla ktrirychsporządzane sądokładneprotokó.
ły ba<lania, granice tych obszarów zaznacza się poIladto trwale za pomocą punktaka.
W przypadku, gdy obszar badania jest rozlcgły, dzieli się go na małe obszary,na
przykład o wymiarach250 x ]50 mm' Daje to większą gwarancję przeprowadzeniaba.
d a ń b e z l u k i u ł a t w i az a p i sw y n i k ó w b a d a n i a .

37.3. Wybór obszarów badania

3 7 . 3 . | . W y b ó ro b s z a r ó wp o w i e r z c h n i z. k t i i r e jn a l e Ź yw p r o w a d z a c| a | eu l t r a d Ź w i ę k o w e
p o w i n i e nb y ć p o d y k t o w a n yw z g l ę d a n lni a j l e p s z cwj y k r y w a l n o św c ia c l .B y u z y s k a će c h a
n
w a d o m o ż l i w i en a j w i ę k s z eaj n l p l i t u d z i c . a l e ż ys t a r a cs i ę w p r o w a < i z al .ća l eu l t r a d Ź w i ę -
kowe z nriejscapowicrzchni najbliższcgodo spodziewanego obszartr ich zalegania.po.
zwalającegona trafieniewady wiązk4 padajqcąlnożliwie prostopadle na powierzchnię
wa<l.Granice obszaru powierzchni.w ranlach kttircgcl przesuwamy głowicę podczas
p o s z u k i w a n i aw a < ip o w i n n y b y ć w y b r a n et a k , b y w i q z k a u l t r a d Ź w i ę k o w pae n e trowata
c a ł ąo b j ę t o śm c a t e r i a ł uk,t ó r ą n a l e z ys k o n t r o l o w l r c .

3 7 . 3 . 2 . P r z ' dy o b o r z e o b s z a r ó wb a d a n i aI r a l e ż ny l i e ć n a u w a d z ci s t n i e n i cs t r e f ym a r t w e j
i p o l a h l i s k i e g og ł o w i c y .J l k w i l d o l r r o w . s k u t e ki s t n i c n i ls t r e | yn ) a r t w c jw. w l r s l w i c

l5l
o grubościrównej dtugościtej strefy nie można uzyskać ech wad. Zkolrei w warstwie
do grubościrównej długościpola bliskiegonie możnaocenic wielkościwad za pomocą
wykresuOWR.

37.3.2.Dla wykrycia wad o powierzchniachróżnie zorientowanych,należyprowadzić

badaniamożliwiez kilku obszarów.Jeślidostępnajest tylko jedna powierzchniaz której
można wprowadzac fa|e, dla zwiększenia prawdopodobieństwawykycia wad o różnej
orientacji,należywprowadzacdo materiatuwiązkę fal ultradźwiękowychpod różnymi
k4tami.Stosujesię teżwtedy badanieprzy roż,nych
częstot|iwościach.

37.4. Technika badania

Technikębadaniaokeślają :
a) rodzajgłowicyi jej parametry(częstotliwość
i wymiary przetwornika),
b) rodzajsprzężeniaakustycznego,
c) sposóbprowadzeniagłowicy'
d).parametrybadania(zakresobserwacji,czułośc, itp.)
e) sposóboceny roznliarówwad.

3,7.5, Dobór rodzaju gtowicy

Dobor rodzajugłowicyjest podyktowany przęz rodzaj i miejscewystępowaniawad

oraz ich orientacjęwzględem powierzchnibadania.NaleŹy tu wziąć pod uwagę możli-
wościwykrywanla wad pvez, poszczegdnerodzajegłowic,onówjone w rozdz.2) -- 24.
W rezultaciemogąbyć wytypowanedo użycianastępujące rodzajegłowic:
- normalnefal podłużnych.
-. skośne fal poprzecznych,
-. podwójnefal podłużnychlub poprzecznych,
fal powierzchniowych(ewent.takżepodwójne)
CzasemmożeSię okazać potrzebnezastosowanie głowicynormalnejfa| podłużnych
z dodatkowymklinem z pleksiglasu,majqcymna celu zatamaniewiązkiwbadanym ma-
terialepod pewnym (niewielkim)kątenl.

37.6' Dobór częstot|iwości

głowiry

37.6.|.Dobór częstotliwościgłowicy jest podyktowany następującymiczynnikami:

a) wielkościątłumieniafal w materialebadanegoelementu
b) wymiaranrinajmniejszejwady wymagaj4cejwykrycia
c) clrientacją
wad
d) stanempowierzchnibadanegoelementu

37.6Z.Tłumienie |al rośniew miarę zmniejszaniasię dtugościfa|i, czy|i ze wzrostem

częstotliwości' W związkuz tym do badaniamateriatówsilnietłumiącychfale należysto.
wwać głowiceo niskich częstot|iwościach.
A b y u n i k n ą co c l b i ćo d g r a n i cz i a r n .n a l c ż yi l < l b r accz ę s t o t l i w o śt lćk . b y d ł u g o śfca{l i
była przynajmniej 6 krotnie większa od średniejśrednicyziarna d,

I>6dz ( 3 7. t a )
czyli

i< 6Ę L

(37.1b)

c - prędkośćrozchodzeniasię fal w badanym elemencie

Należy pamiętać, ż,eprzy tej samej częstotliwościtłumienia fal poprzecznych jest
większe aniżeli tłumienie fal podłużnych (ponieważ długośćfal poprzecznychjest
mniejsza).

37.6.3.Jeż'e|ina|eżywykryć wady o średnicach poczynającodd-i,, to z uwagina ugię-

cie fal długośćfali powinna być krótsza od 4 d-,,

)t14 d-i, ( 3 7. f a )

czyli

f> 47;_. (37.2b)

37.6.4.Gdy zależy nam na wykryciu wad ptaskich, zorientowanych nieprostopadle

względem osi wiązki ultradźwiękowejgłowicy, należywybierać głowice o niż'szejczę-
stotliwości.Im niższaczęstotliwość,tym większy jest kąt rozbieżności
wiązki odbitej od
płaskiegoreflektora - tym większe prawdopodobieństwoodebrania echa od tych wad.
Nalezy jednak pamiętać' ze wraz z obniżeniemczęstotliwościgłowicy maleje rozdziel-
czość' pogarsza się dokładnośćoceny konturu wady rozległej,wydłuża się strefa
martwa.

3? .6.5.Ze wzrostem częstotliwości

wzrastarozproszeniefal na nierównościach
powierzch.
ni (rosnąstraty przejścia).

37.7 . Dobór wielkościprzetwornika głowĘ

37.7.|.Dobór wielkościprzetwornika głowicy jest uzależnionyod następującychczyn.

ników:
a) kształtu powierzchni badanegoelementu
b) rozbieżnościwiązki,
c) długość pola bliskiego

37.7.2.Niemal wszystkie seryjnieprodukowane głowice mają płaskiepowierzchnieczo.

ł'owe.Za pomocą takich głowic badanie powierzchni płaskich nie nastręczatrudności.
Jeślijednak powierzchniabadaniajest zakrzywiona, to zarówno wskutek ograniczonego
kontaktu głowicy z powierzchniąjak i wskutęk zmian jej położenia,do materiałujest
wprowadzanawiązka o różnej energii, posiadającakształt odmienny od tego,jaki mia.
łaby w przypadku płaskiejpowierzchni badania.Wskutek tego pogarszasię skuteczność

254
wykrywania wad i rosnąbłędy oceny ich wielkości.
Przyjmuje się, że przy badaniu ultradźwiękowymprowadzonym z powierzchni wy.
pukłych, wielkośćszczeliny 6 między krawędzią głowicy i powierzchnią e|ementunie
może przekraczac o,5 mm (rys. 37 .|)' z warunku tego wynika, ż,egdy wymiar głowicy
wynosi o, to za pomocą tej gtowicy możnaprowadzić badania z powierzchni zakrzywio-
nych o promieniu krzywizny R

R ż a 21 8 (37.3)

Rys. 37.1 Wymagane dopasowanie powierzchni głowicy do powierzchni

badaneso elemontu

Gdy ó ) 0,5 mm na|ezywybrac głowicęo mniejszychwymiarachzewnętrznych'al.

bo dopasowaćkształt czoła głowicy do badanejpowierzchni.Niekiedy nlożnato uzys.
kać ptzez doszlifiwanie klina głowicy skośnej.Dobrym spsobenrjest stosowanicnakła-
dek dopasowującychz twotzywasztucznego(rys.37 .2).Nakładki takie nroznaprzykleić
do czoła głowicy' łączyc śrubamiz klinem lub po prostu naktadac na czas badania.
Między nakładkąa czołęmgłowicy musi być zabezpieczoneclobresprzężenieakustycz.
ne np. pIZeZwprowadzenieo|eju.Przy stosowaniugłowicy z nakłarlkąnależyuwzględ.
niać wpływ nakładkina wielkośćamplitudy ech wykrywanych wad (tłumienienakład-
ki) i na wynik pomiaru odległości wady (zwiększonejwskutek obecnoŚci naktaclki).
te najlepiejuwzględnićwykonując skalowaniezakresu obserwacjr1 nastawęczu.
llłrwv
łościza pomocq głowicy z juź:. nałożrcnąnakładką.Skalowanie takie nlożnaprzeprowa.
dzać albo na badanym elemencielub też Za pomocą specja|nychwzorct)w z zakrzywi<>-
nymi powierzchniami.
Znacznl'ebardziejkłopotliwesą badaniaz powierzchniwklęsłych.I w tyrn przypad.
'
ku prowadzeniebadań ułatwiająnakładkidopasowujące.

R y s . 3 7 . 2 N a s a d k i d o p a s o w u j q c cg ł o w i c e d o k s z t a ł t u p o w i c r z c h n i

37.7 '3.Im większy przetwornik(przy stałejczęstotliwości)

tyrn dłuższejcst polc bliskic
i mniejszarozbieżnośćwiązki.

155
 Dobór wielkościprzetwornika głowicy ułatwia tablica zamieszczona na końcu skryp.
tu, podająca za|eżnośćparametrówwiązki ultradżwiękowejod długościfali, częstotliwo.
ścioraz średnicyprzetwornika.

37.8. Dobór i nastawa czułościbadania

37.8.l.Czułośćbadania za\eżyod nastawy decybelowegoregulatorawzmocnienia oraz

pokręteł WZMOCNIENIE i PoDcIĘcIE.
Czułośćbadaniapowinnazapewnićwykrycie najmniejszychwad istotnych (p.25.9.7)
znajdującychsię w maksymalnejodległości od głowicy, wynikającejz wymiarów badanej
strefy i jej położeniawzględem powierzchni badania.Amplituda echa najmniejszejwady
istotnej powinna na ekraniemieć wysokośćco najmniej l0 mm. Równocześnie,wówczas
poziom szumów powinien być co najmniejo 6 dB niższyod poziomu tego echa.

37.8.2.w przypadku, gdy są podstawy do posłużeniasię wykresem oWR, czułośćbada-

nia możnadobraćnastępująco:
- odczytać z wykresu oWR różnicę AIl poziomu wzmocnieniaecha dna elementui
poziomu wzmocnienia najmniejszejwady istotnej, |eżącejw największejodległo-
ści,z uwzględnieniemwptywu tłumienia,
- wyregulować wzmocnienie tak, by echo dna na ekranie miało wysokośćco naj.
mniej l0 mm,
- zwiększyć wzmocnienieo AIl decybeli.
Przykład takiego postępowaniajest opisany w p. 29 .4.2.

37.8.3.w przypadku stosowanianakładanychna ekran defektoskopuskal oWR, nastawę

czułościwykonuje się wg wskazówek zawartych z instrukcji posługiwania się tymi
skalami.

37.8.4.w przypadku, gdy użycie wykresów i skal oWR nie wchodzi w rachubę,nastawa
czutościbadania powinna być dokonywana w oparciu O wzorzec porównawczy. Jest nim
z regułybadany element (lub próbka z niego wycięta), w którym zostaływykonane wa.
dy wzorcowe w postaci otworów (przelotowych, płaskodennych),rowków lub nacięć.
Do nastawyczułościbadaniamożnarównieżwykorzystac jedno z kolejnych ech dna
badanegoelementu.

37 .9. Sposób prowadzenia głowĘ

38.9.1.Przy badaniach ręcznych, głowicę należy prowadzić ruchem płynnym, powol.

nym, ciągleobserwującekran lampy oscyloskopowej.Nalezy dbać, by głowica prry|ega.
ł'a cał'ąswą powierzchnią do powierzchni badanego elementu.Te same obszary nale{
kontrolować kilkakrotnie. Przy przesuwiegłowicy skośnej,należygłowicę lekko odchy-
lać w lewo i w prawo do kierunku przesuwu'nie odrywającjej od powierzchni.Ruch ten
zwiększa prawdopodobieństwowykrycia wad zolientowanych niekorzystnie względem
kierunku wiązki'
Jeśliotrzymamy na ekranieecho wady, na|eźryznaleźćpołożeniegłowicy, w którym
uzyskuje się echo o największejwysokości.W tym położeniunależygłowicę zatrzymaći

256
wykonać pomiary odlegtościwady oraz amplitudy echa wady. od tego położenia naleĘ
też,mierzyć wartośćprzesuwu głowicy dla określeniarozmiarów wady w przypadku wad
duzych. W miarę mofiwości, należy potwierdzić obecnośći wyznactyć rczmiar wady
wprowadzając fa|e z innego obszaru przesuwu.

37.9.Ż'Jeże|ichcemy zbadać całą objętośćmateriałupołożonegow odległości więkvej

od z-i,, to sąsiedniepaqy przesuwu głowicy nie porvinny byc od siebieoddaloneo wię.
cej ruż,(orientacyjnie)bmax, tj. o szerokośćwiązki głowicy w odległościz-i,d|a6dB
spadku ciśnienia (rys. 37.3)

bmax = 2,-i, (37.4)

Ę-
b-

Rys. 37.3 Aby zapewnić l00vozba-

danie materiatu poczynając od odle.
głościz.;'', kontury wiązek głowi.
cy znajdującej się na sąsiednich pa.
sach badania, powinny stykać się ze
sobą na tej głębokości

37. 10. Dokumentacja badania

37.l0.l. Dokumentacja badania może mieć różną postać, na przykład: protokółu bada.
nia lub dziennika pracy stanowiska kontrolnego.
Protokół badania stosuje się z reguły w przypadku badania pojedyncrych, odpo.
wiedzialnych elementów. Powinien on zawierać wszystkie informacje umozliwiające po.
wtórzenie badaniaw identyczny sposób, oraz opis wykrytych wad.
Dokumentowanie badania poprzez wpis do dziennika pracy stanowiska kontrolnego
stosuje się gdy badanie ma charakter masowy. W dzienniku notuje się parametry badania
i jego wyniki, w odpowiednio zwięztej formie. W tym przypadku sposób badania po-
winien być ujęty pisemnąinstrukcją.

37.|o.2. W badaniach,które wymagająszczegółowejewidencji wykrytych wad dużąpo.

moc mogą oddać formularze zawierającerubryki do wpisywania danych otrrymywanych
podczas badania oraz danych branych pod uwagę przy ocenie jakościelementu,oblicza.
nych po zakończeniu badania. Przykład takiego formularza podano na rys. 37 .4.

f5'l
Rys. 37.4 Formularz od notowania wyników badania ultradźwiękowego.
oznaczenia..nr - kolejny numer wady; rodzaj _ punktowa (A), liniowa (B), rozległa (C);dr _ śr'edni.
ca wady równowa:źnej, szerokość wady rozległej;} _ długość z ; cięb9-
wady liniowej lub roz|egłej;
kośćzaleganiawady; / - odlegtośćwady od krawędzi odniesienia;9 _ kąt tworzącej na ktÓreJ leży
]
wada;h) poziom wzmocnieńiaecha wady;z6 _ odległość powierzchnibadaniaoddna;Rp - pro.
mień krzywizny dna;I1lg1i woz 'poziom wzmocnienia 1 i 2 echa dna

37.10.3. Czasem celowe jest wykonać zdjęcie oscylogramuwady, lubodrysowaćgo.

W praktyce, bardzo często zapomina się o odpowiednim opisaniu zdjęcia (lub rysunku),
bez czego dokument ten traci bardzo na wartości. Przykład opisu ,,minimum'' przed.
stawionona rys.37.5.

BI"SMEUT [R
trlDl m
DtsTBKIOSTOP
EREBOI
PoDcĘcI8
7n B
ołdIo^
l . l(Ł5 . o,4E)+ llE
l(\rar . o'4B,l óB

Rys. 37.5 Sposóbopisuzdjęcialub szkicuoscylogramu

37. 1l.,Kontrola parametrów głowic i defektoskopu

37.|l.|. Głowice i defektoskop należytraktować jako przyrządy kontrolno.pomiarowe,

które pozwalają uzyskać rzetelne wyniki tylko wówczas, gdy nie są uszkodzone lub roz.
regulowane.Petna kontrola własności(parametrów)głowic i defektoskopów jest zada-
niem odpowiedniejkomórki atestacyjnej.Niemniej. każdy ich użytkownik musi przepro.
wadzać we własnym zaklesie pewne ''rninimum'' kontroli, aby uniknąć przykrych nie.
spodzianek.

37.l | .2. Kontrola defektoskopu powinna obejmować

- liniowośćtoru X
* liniowośćtoru Y

fs8
 - dynamikę zobrazowania
- poziom linii podstawy czasu
- wzmocnienie(przy uzyciu głowicy wzorcowej).

37.l1.3. Dla głowic normalnych na\eŻywyznaczać strefę martwą' rozdzie|czości zapas

wzmocnienia.
Dla głowic skośnychnileż:y wyznaczać przed,ewszystkim środekwiązki i kąt zała-
mania, a następnieparametrywymienione dla głowicy normalnej.
W przypadku głowic podwójnych, bardzo ważnajest kontrola odległościi wytnia-
rów ,,ogniska'',ponieważ palametry te mogą zmieniać się w miarę ścieraniasię nakta-
dek z pleksiglasu.

37,|2. Uwzf,ędnienie krzywizny reflektora odniesienia przy posługiwaniu się wykresem

owR
W praktyce zdarza się' ż:ena|eżyposłużyćsię echem dna elementu, które nie iest
płaskie.
W przypadkuelementówo kształciewalcowym (rys. 37.6b) przyjmujesię,żeecho
,,dna'' możebyć uważaneza odpowiednik echa dużegopłaskiegoreflektora,gdy średnica
elementuD jest co najnniej3,7 razy większaod dtugości pola bliskiegoN stosowanejgło-
w i c y ,t z n .

D>3,1N (37.s)

Rys' 37.ó Gdy dno badanego elementu nic jest płaskie,

należy liczyc się z potrzcbą skorygowania poziomu
wzmocnrenia, wyznaczonego dla ccha dna

Jeś|iwarunek ten nie jest spełniony,koniecznejest stosowaniepoprawki,którq nale.

ży wyznaczyć doświadczalnie. Uwaga ta dolyczy m. in. użytkowaniawa|cowychpo-
wierzchni wzorców Wl |ub Ił2 jako reflektorów odniesieniadla głowic skośnych.Nięktci-
re firmy podająwartość tych poprawekdla poszczególnychtypów gtowic.
Echo pochodzącez otworu walcowego1rys.37.6a)jest zaniżone,wskutek rozpra-
szającegod'ziałantajego powierzchni. Na rys.37.7 przedstawiononomogran, za pomocą
którego można obliczyć poprawkę AI,|, o którą nalezy pomniejszyć wartośćpozionru
echadna odczytanqz decybelowegoregulatorawzmocnięnia.

3 7 . 1 3 .B H P

Wegługaktualnegorozeznania,fale ultradŹwiękowe'jakie mogą byc wprowaclzone

do ciała podczasprowadzeniakontroli nieniszczqcejnie stanowiązagrożeniatllltztlrtlwilr
osób prowadzącychtę kontrolę.Dlategonie stosujesię Żadnychśror1ktiwcllatlc|tItlttr,,tlr-
ganizmuprzed ich działallienl.
 Rys. 37.7 Nomogram dla obliczenia po-
prawki AIrl o którą naleźyzmniejszyć po-
ziom wzmocnienia echa otworu walcowe-
go, aby otrzymŃ wartość echa dużego
ptaskiego reflektora. Nomogram jest waż.
ny dla zakresu częstotliwości2 _ 4 MHz
óW
Poprawkę odczytuje się ze skali AI{/ w
punkcie przecięcia się z nią linii prostej'
poplowadzonej przez wartości G i Go.
Przykładowo,dla G = 200 mm i'Dp = 100
mm odczytujemyLW = Z aS

Przy prowadzeniu badań ultradźwiękowych trzeba przestrze9ac ogólnych zasad

bezpieczeństwa pracy przy urządzeniach elektrycznych. W szczególności,dla uniknię.
cia porażeńprądem trzeba dbać o dobrą jakośćprzewodów doprowadzającychnapięcie
zasilającedo defektoskopów.
Nie należy doŁączac głowic do już pracujących defektoskopów. Najpierw trzeba
przyłączyc głowicę do dęfektoskopu' a potem włączyćjego zasilanie.Uniknie się pruez
to możliwych ,,porażeń,' impulsami wysokiego napięcia wJrtwarzanymi ptzez nadajnik.
Aczkolwiek niska moc tych impulsów nie stanowi żadnego zagrożenia,,tojednakspowo.
dowany nimi ,,wstrząselektryczny'' może doprowadzić do chwilowej utraty orientacji
i niekontrolowanychodruchów.
Przy badaniu elementów o dużych powierzchniach na|eż:y zwrócić uwagę na ślis.
kośćtych powierzchni (spowodowaną ich zwiż:eniemwodą lub olejem) i zabezpieczyc
się przed skutkami jakie z tegomogąwyniknąć.

260
 38. BADANIE BLACH

38.1. Uwagi ogólne. Blacha jest elementemptasko-równolegtym, o grubościod ułamka

milimetra do ok. 200 mm. Do najczęściej występującychwad w blachach na|eż,ąrozwar.
stwienia, tj. nieciągłościzorientowane równolegle do powierzchni onzwtrącenia, Zarów-
no rozwarstwienia jak i wtrącenia występują zwykle w okolicy środkagrubościblach.
Znacznie rzadziej występuje potrzeba wykrywania pęknięć, które są zorientowane pro.
stopadle lub skośniedo powierzcłrni.
Grubość blach i rodzaj wad wymagających wykrycia decydują o technice badania
blach:
a) rozwarstwienia i wtrącenia w blachach o grubościponad ok. 3 mm są wykrywal-
ne falami podłużnymi za pomocą głowic normalnych o odpowiednio krótkiej
strefiemartwej,albo za pomocągłowic podwójnych;
b) wady prostopadłelub skośnewzględempowierzchni w blachacho grubościponad
ok. 3 mm są wykrywane falami poprzecznymi przy użlyciugłowic skośnychl
c) blachy o grubościponiżej3 mm sąbadanefalami płytowymi;
d) pęknięcia dochodzącedo powierzchni w blachach o gtadkiej powierzchni można
wykrywać falami powierzchniowymi.

38,2. Badanie blach falami podłuznymi

38.2.l.Użycie głowicy normalnej jest mozliwe pod warunkiem, ż!9jej strefa martwa
i długośćpola bliskiego są odpowiednio l małe l od grubościblachy. Zakres obserwacji
ustala się zwykle na wartośćodpowiadającąkilku grubościomblachy. ocenę rozmiaru
wad dokonuje się dla wad małych metodą o|łR, a dla wad durych - metodą przesuwu
poprzecznego.Jako reflektor odniesieniaprzy nastawianiuczułościwykorzystuje się dno
otworu płaskodennegonawierconegow blasze(np. do połowy grubości) lub przeciwległą
powierzchnię blachy. Czułośćbadania, rozmięŚzczenie pasów badania' rozmiar wady
istotnej (którą należynotować) oraz sposób oceny jakościblachy podane sązwykle w in-
strukcjach badania.Wskazaniemwady jest w zasadziętylko echo występującepomiędzy
impulsem nadawczym i pierwszym echem dna. Na rys. 38.1 pokazano kilka charaktery-
stycznych obrazów oscyloskopowych' uzyskiwanych przy badaniu b|achza pomocągło-
wicy normalnej.
Jeżeli nie ma potrzeby wyznaczania głębokościzaleganiawad, kontrolę możnaprowa.
dzić obserwującciągech dna (rys. 38.2). W tym celu trzeba obrać zakresobserwacjirów-
ny przynajmniej l0 grubościomblachy tj. Zo = (0 - l0) g. Charakter zaniku ciągu ech
dna i przebieg ewentualnych ech wad są równie dobrymi wskaźnikami wad, jak poszcze-
góIne echa wad. Ponadto przy szybkim przesuwie głowicy po powierzchni blachy łatwiej
jest zauważyć zmiany obwiedni całego ciągu, niż pojawienie się pojedynczych ech.
Gdy stosuje się duże wzmocnienie , na|eżysię liczyć z pojawieniem ech transformo-
wanych pomiędzy pierwszym i drugim echem oraz pomiędzy dalszymi kolejnymi echa.
mi dna (rys. 38.3).

38.2.2.Przy badaniu za pomocą głowicy podwójnej stosuje się - o ile to jest mozliwe
zakres obserwacjirówny grubościblachy g, tj. Zo = (0. g).Przy bardzo małych gru-

z6r
 0, 3 t, s 6 7 8 9r0
5lLN E R9,wAPsrwtźNlE
W POELIzU OXA DACHV

gt 2 3 I 5 6 ? I ero
DRo8NE xrEc,Ą6.oścl
o Du żYcll,!5Pó.c|YNN..
XACH OOBIC'A

0r 23 5 6 7 I 9'0
o
MALE wf RAceN,Ą,|A
RóżH., ę.1EoKośc,
Rys. 38.1 Obraz.yoscyloskopowc wad blach
otrzymanc przy badaniu 8łowicą normalną

0, 23 I9t0
o 3oDń
L
KOLON.A DROBNVCH
ut.4csŃ (nAe.,flA
Pó'P eIC Pu3,c,ALHA)

a)

b)

Rys. 38.2 OscylogramYotrzY-

rlrywaneprzy badaniu blach,
gd) zakres obserwacji jcst
l0.krotnie większy od 8ru.

*'. o małac)
|.j.'ol,]jilt",
wada (pojawiają ccha rva.
się
dy, obwicdnia ech dna oPada
prędze'j)'c .- duża wada (po-
zostajątylko echa rvady)

l6l
 Rys. 38.3 Transformacjefal przy odbiciu od
dna eleńentu ptaskorównoległego. Uktad
,,droga.czas''umieszczony pod skalą ekranu
wyjaśniadlaczego pierwsze echo transfor.
mowanej fali T pojawia się między 1 i 2
echem fali podłużnejodbitej od dna

bościachstosuje się z koniecznościnajmniejszy zakres obserwacji moaiwy do uzyskania

w stosowanymdefektoskopie.
Na rys. 38.4 pokazano charakterystyczne obrazy oscyloskopowe, jakie można spot.
kać przy kontroli b|achza pomocągłowicy podwójnej.

o)

ó)

4
',LNź RozwAłsfwlEN,E
w tąooxu

NO
tl
c)
It
(---;r--l
0 7 I9r0g
0
s, LN s Roz'vAą.l,,,s n,s
DL'SXO DNA

NO d)
tl
rrl
t7
0,231 6 E 910
o I
Pół'Pu,sPu.,cfALNA
nAuptaoDxu

Rys. 38.4 Wskazaniawad przy badaniu blach za pomocą głowicy podwójnej

38.2.3.w układach do kontroli zmechanizowanejblach stosujesię takżemetodę przepu.

szczania fal podłuźnych, wprowadzanych prostopadle do powierzchni blachy. Badaną
blachę umieszcza się w wannie między rzędami głowic nadawczych i odbiorczych, roz.
mieszczonychpo przeciwnych stronachblachy (rys. 38.5). Sposób ten pozwala na wykry.

263
 badania-jak zaw.
ich zalegania,jednakżeczułość
waniewad niezależnieod głębokości
sze w metodńe ptzepuszczarln jest wielokrotniemniejszaw porównaniuz czułością
_
uryskiwanąmetodąecha.

Rys. 38.5 Badanie blach falami podtużnymi metodą p|zepuszczanla

38.3. Badanieblach falami poprzecznymi

Badaniaprowadzisię z wykorrystaniemdwukrotnegoodbiciafal od powierzchnibla.
chy, prryjmujączakresobserwacjirówny trzemdługościompołowy skokutj. Zo = (o _
przesuwaćpo powierzchniblachy tak, aby każdyjej przekrój był
3 i,,ń).óio*,i"ę na|eży
pod aziataniemwiązki,jak na rys.38.6.
po-
Jeśliwady wymagającewykrycia mogąbyć dowolnie zorientowanewzględem
wierzchni blachy, to badanie trf|reĘprzeprowadzićprzynajmniejdwukrotnie, stosując
przesuwygłowicw kierunkachwzajemnieprostopadłych.

Rys. 38.6 Bieg wiązki i orientacjawad optymalnie

prze'
wykrywanych w przekroju ,,x" blachy podczas
głowicy w obszarze o jednego sko.
szerokości
suwu
ku, odlegtym od przekrojuo l/4 skoku

38.4. Badanie blach falami płytowymi

Fale płytowe w blasze wytwarza się za pomocą głowicy skośnej.Kąt załamaniafal

głowicy powinien być taki, by uzyskać maksymalnąamplitudę echa krawędzi lub wady.
Dobrzę nadająsię do tego celu głowiceo regulowanymkącie zaŁamania(rys. 38.7)'

)64
 Rys. 38.7 Wzbudzanie fal pły.
towych za pomocą głowicy o
zmiennym kącie' Kąt padania
dobiera się tak, by uzyskać
największą arnplitudę echa
krawędzi lub wady

Do wzbudzania fal płytowych stosuje się też głowice fal podtużnych w potączeniu
z tzw. ,,lokalnąwanną'' (rys. 38.8).
Możliwe teżjest badania falami płytowymi metodąprzepuszczania(rys.38.9). Ten
sposób kontroli używa się głównie w badaniach zmechanizowanych. Wskazaniem obec-
nościwady jest w tym przypadku zmnĘszenie się amplitudy impulsu, przechodząceBo
między głowicąnadawcząi odbiorczą.

lDopaoweotextc
łwoDv

Rys. 38.8 Głowica o zmiennymką.

cie z 'Jokalną wanną'' do wzbudza.
nia fal płytkowych w b|ave (wg
Ur^a"^ /
Krautkramera)

t-
f,

Rys. 38.9 Badanie blach falami płytowymi metodą przepttszczartla. Wady powodują zmniejszenie
amp|itudy impul su pne chodzącego m ięd zy gł owicami

]Ó.s
39. BADANH RI.'R

39.1. Uvngi ogólne

Przemysł produkuje rury o średnicachod ułamka milimetra do ponad pół metra i o

grubościachściankidochodzących do kilkudziesię ciu milime E ów . Z ultradźwiękowego
punktu widzenia rura jest elementem cieŃościennym o znacznej' lub bardzo znacznejktzy.
wiźnie' UĄrtkową jakośćrur obniżają:zawalcowania, pęknięcia, rozwarstwienia oraz nie-
wtaściwagubość ścianki.Pęknięcia mogąwystępować zarówno na powierzchni zewnętrz-
nq jak i wewnętrznej, mogą być zońentowane (najczęściej)wzdłuż oraz w poprzek rury'
Dla wykrycia pęknięć i zawalcowań i stosuje się fale poprzecl;ne,wprowadzane skoś-
nie do ściankirury, wykorrystując odbicia fal od powierzchni rury. Celem wyłrycia wad
porituznych wiązkę fal wprowadza się w lrjerunku obwodowym, a dla wykrycia wad po.
przncznych _ wzdłui tworzącej rury. W prrypadku rur o małej średnicyzachodzipofize-
ba stosowania gtowic o skupionej wiązce.
Rozwarstwienia wykrywa się za pomocą głowic normalnych.

39.2. Geometria przebiegu wiądd rrltradźwiękowej stosowanej do wykrywania wad

podłużnych

39.2.l. Prześledźmy bieg załamanejw ściancerury wiązki fal poprzecznych(rys. 39.1).

Średnica rury wynosi D, grubośćściankiwynosi g. Wiązka załamanapod kątem 01 pada
na powierzchnię wewnętrzną rury pod kątem a1 i odbija się od-niej pod kątem 1T = oIT
z kolei wiązka pada na powierzchnię zewnętrzną pod kątem a T = pT i odbija się od niej
podkątemrT=oi=01ito.
Z za|eżności
trygonometrycznych
wynika,że

D
D =z - 8
łn1tTÓT_rti) snpt
czyk
.l
sin a1 = ( ;'-T ) sin 0f
(3e.1)

Ponieważ wyrażenie w nawiasie jest zawsze większe od jedności,to Zawsze sin o1 )

sin p1, cryli kąt padania na powierzchnię wewnętrzną eI jest zawsae większy od kąta
załamania p1.

39.2.f. Jeżeli chcemy uzyskać odbicie od wad zaczynającychsię od powierzchni wew-

nętrznej - traktowanych jako naroi:eprostokątne - ośzałamanejwiązki ultradźwięko.
wej rnusi zetknąćsięz powierzchniąwewnętrzną.Będzieto miało miejsce,jeżeliCI.i<90o,
czyli
2p
sinp1ś| - (3e.2)
D

266
 fl*n,^
PLEKSICLAS
LUB WOU

łZ.8 -l*

9<,, Rys. 39.l Bieg osi wiązki ultradźwiękowej

wprowadzonej w kierunku obwodowym
w ściancerury

Jeżeli odbicie od narożama być optymalne' to jak wiadomo powinno być 35o ( o1
( 650. czvli

27Ąsin
(l 35o(sin0r<(1 _ 6 5o (39.3a)
})sin

byłobyprzyjęclea7 = 45o,czy\l
Najwłaściwsze

sinP1=O,1l0 -# (3e.3b)

Skutki nie spełnieniapowyższychwymogów ilustruje rys. 39.2,

R y s . 3 9 . 2 P r z y k ł a d y ź I c d o b r a n y c h k ą t ó w z a ł a m a n i aB w i ą z k i
f a l p o d c z a s b a d a n t ar u r
a nio wykryrva slę wad bliskich wewnętrzncj powicrzchnt,
b przy odbiciu od powierzr:hniwewnętrznej porvstajesilna
f . a l ap o d t u ż n a

lo7
39.f.3. Jeże[ chcemy uzyskać odbicie od wad zacrynających się od powierzchni zewnę.
trznej - traktowanych jako naro.żeprostokątne - to musimy wykorzystać odbicie wiąz.
ki od powierzchni wewnętrznej' czyli musi być spełnionywarunek (39.l). Jeżeliodbicie
od narożama być optymalne to, podobniejak wyżej,powinno byc 35o < a f < 650,tzn.

35o{P1(650 (3e.4)

39,2.4. optymalne warunki odbicia Zarówno od narożana powierzchni wewnętrznejjak

i na powierzchni zewnętrznej wystąpią, gdy będą jednocześnieuwzględnione warunki
(39.3 a) i (39.4).Będzie tak, gdy

sin 35o( sinBl< (l - $ sin 650 (3e.s)

Za|eżnośćtę ilustrujewykresna rys. 39.3.w miaręwzlostugrubości rury'

ścianki
się
górna wartośckąta97 corazbardziejprzyb|iża do 35o. W skrajnymprzypadku

sin35o= (1 - f) sin650
Lp,v,,v której moż.
Z tegowarunku obliczamy największą względną gubość ścianki
na równocześniewykrywać wady na powierzchni wewnętrznej i zewnętrznej. Mianowicie

6 )-u* = o'la (3e.6)

Rys. 39.3 optymalne wanrnki odbicia od naroży

prostokątnych znajdujących się na powierzchni
zewnętrznnej i wewnętrznej rury są, gdy kąt zała.
mania wiązki ultralźwiękowej głowicy leży w
zatresie p,ni" . . . p.o. Zgodnie z wzorem (395):
p,ni., = 35o i sin p1n61= 0.2glD) sin ó5o

39.2.5. Na rys. 39.4 przed,stawionoschematycznie przebieg osi i skrajnych ,,promieni"

wiązki. Widzimy, że wiązka zatamana jest rozbież'na,a odbicie od powierzchni wewnętrz.
nej powiększa tę rozbieżność. Dopiero kolejne' nie pokazanena rysunku, odbicie od po.
wierzchni zewnętrznej częściowoniweluje rozbieżnośćwiązki. Niemniej, wiązka równo.
legła wprowadzona do rury jest zawsze wiązką rozbieŻną,w stopniu tym więkvym' im
mniejszajest średnicarury D. Rozbieżność wiązki utrudnia interpretacjęobrazu oscylo.

268
skopowego. Z tego powodu,prTy badaniu rur o średnicachmniejszych niż ok. 40 mm sta.
je się konieczne wprowadzanie do rury wiązki skupionej.

wIĄzKA RÓVNŻLEGŁA WIAZKA

wIĄzKA RŻZBIEŻNA
RŻZBIEŻNA

rozbieżności
Rys. 39.4 Powstawańe do rury w kierunkuobwodowym
wiązklwprowadzonej

39.2.6. Z rysunku 39.l możemy również wydedukować rolę grubościściankigwbada.

niu. otóż punktowi 1 odpowiada na ekranie defektoskopustosunkowosilne echo od zew-
nętrznej powierzchni rury. Najbliższeecho wady wewnętrznejpojawi się' gdy znajdzie
się ona w miejscu 2,awady zewnętrznej gdy znajdziesię ona w miejscu 3. Azatem,
proporcjonalnejdo odcinka dl = l,72.
na ekranie najbliższeecho pojawi się w odległości
Łatwo zauwaĘć, że im mniejszagrubośćścianki,tym mniejszajest odległość echa wady
od ęcha powierzchni. Dla bardzo małych grubościściankiecho wady zlewa się z echem
powierzchni rury. Aby temu zaradzic na|eżywówczas prowadzić obserwacjęech wystę-
pujących po kilkakrotnym odbiciu wiązki od powierzchni wewnętrznej i zewnętrznej.
Długośćodcinka |g2można obliczyć zwzoru

I sl}= s k tr, Ge.1)

cosP
gdziep - kąt załamaniawiązki, |ę* współczynrukza|eżny
od p i stosunku Nlettóre
wartościwspółczynnika f
k podajeponiższa tabela

8l D
pn
o o,os 0,r o,ts
I |
400 l I l,s r,8 I t.,
500 l9 2,6

600 )R

39.3. Badanie kontaktowe za pomocą głowicy skośnejfal poprzecznych

39.3.l. Wykrywanie wad podłuznych. Najprostszą metodą wykrywania wad podłuz.

2ó9
nych jest badanie Za pomocą głowicy,której klin jest dopasowany do krzywizny rury.
Kąt zaŁamann na|eżydobierać w Zależności od średnicyi grubościściankirury tak' by
wiązka fal poprzecznych odbijała się od obydwóch powierzchni ściankibez tworzenia
fal podłużnych_ zgodniez wskazówkami podanymi w 39.2.
Właściwydobór kąta załamatia może być dokonany doświadczalnie na podstawie
wskazań od wad sztucznych.W tym ce|u wygodnie jest wykonac w odcinku rury wady
wzorcowe na zewnętrzneji wewnętrznej powierzchni rury i wykorzystać specjalnąna-
sadkę,pozwalającąłatwo zmieniaćkąt załamania.Szkic takiej nasadkipokazuje rys. 39.5.
Kąt załamania przewai:niedobiera się tak, by amplitudy ech od jednakowych wad dol.
nej i górnej powierzchni były jednakowe.

Rys. 39.5 Gtowica o regulowarrym kącie załama-

ria.Przez zmianę potożenia głowicy na podkładce
z pleksiglasu uzyskujemy zmianę kąta załanania

tak' by
Przy badaniach z wykorzystaniem monitorÓw możemy ustawić ich bramki
(rys. 39.6).Przy
w oddz.ie1nychkanałaclrrejesirować wady zewnętrzne i wewnętrzne
osiągająnaj.
obrocie rury echa wad zaczynających się od powierzchni zewnętrznej rury
większąamplitudęw odlegiości21sl2,41,l2,itd., awady zaczynające się odpowierzch.
ni wewnętrinej dają echa o najwię(szejańp|itudziew odległościach|,12'3| '12'ird.

Rys. 39.6 WadY Powierzchni wc-

wnętrznej (l/) występują na ckra.
nie w innych mĘscach niż wady
powierzchni zewnętrznej (Z), co
umożliwia ich odrębne śledzenie
pruez moni'^r dwubramkowY.
Wady powierzchni wewnętrzne1
pojawiają się gdy.głowica zajmu-
je położenia 1, ] ird., a wady po.
trlll wierzchni zewnętrznej - gdy

Itł'l l7l tsa|,t,p,,

F.....-l-+<
głowica zajmu.ie położ.cn\a 2, 2
itd.

210
 Przy badaniurury za pomocąfal obiegających
rurę w jednymkierunku zachodz4nie.
korzystnewarunki dla wykrycia wad powierzchniowych,których powierzchnietworzą
narożazwróconekątemrozwartymw kierunkupadającejwiązki(rys. 39.7).Dla skutecz.
negowykrycia takich wad niezbędnejest powtarzaniebadaniagłowicązwróconąw ptz*.
ciwległymkierunku.

Rys. 39.7 Dla wykrycia

tak zorientowanych wad
należy wprowadzić wiązkę
w kierunku przeciwnym

39.3.-2: wykrywanie wad poprzecznych. Dla wykrycia wad poprzecznych (obwodo-

wych) stosuje się głowice wysyłające wiązkę w kierunku tworzącei. Fale rozchodzą się
po torze zygzakowatym, odbijając się między powierzchniami ściankirury (rys. 39.8).
Także tu łatwejest odróżnieniewad wewnętrznychod zewnętrznychna podstawiepoło.
żeniaech na ekranie.

Rys. 39-8 Wykrywanie wad poprzecznych

w ściancerury

39.4. Badanie kontaktowe za pomocą dwóch głowic *ośnych fal poprzecznych.

Do badania rur z powodzeniem jest stosowany zestaw dwóch, przeciwnie zwróco.

rych głowic skośnych,załączonychrównolegledo jednego defektoskopu (rys. 39.9).
Jeślina drodze fal nie ma wad, to impuls wysytany z głowicy 1jest odebrany przezgło.
wtcę 2, a impuls wysłany przez gł.owicę2 przezgłowicę 1. Na ekranie lampy oscylosko.
powej powstaje impuls utworzony z dwóch sygnałów, jednocześnieodebranych przez
każ,dąz głowic. odległość tego impulsu od impulsu nadawczego odpowiada czisowi
przejściadrogi między głowicami, a jego amplituda jest za|eżnaod czułościobydwóch
głowic i od strat na drodze między nimi.
Ewęntualne uszkodzeniejednej z głowic,pogorszeniejakościsprzężenia,zmiana tłu.
mienia czy obecnościwady na drodze wiązki powodująobtriżeniesię amplitudy tego im.
prrlsu.Dlatego impuls ten nazywa się impulsemkontrolnym.
Jeś|ina drodze fal znajdujesię wada, kazda z głowic odbierajej echo, przy crym po.
łoŻeniaech na ekranie zaleitąod odległościposzczególnych głowic odwady.Przyobro.
cie rury, echa wady będą się przesuwały odpowiednio do zmian odlegtości
,głowica.
wada''. Gdy wada zajmuje położenieodpowiadającekątowi l80o, to echa wady odebra.
ne przez obydwie głowice spotykająsię z impulsemkontrolnym.
omówiona głowica ułatwia znaczniekontrolę w porównaniu z głowicąpojedynczą.

271
 Rys. 39.9 Badanie rurY za Po-
5 mocą dwóch głowic skośnych
wytwarzających wiązki przeciw.
bieżne.
a _ oscylogram gdy wiązka rue
napotyka na wadę lub gdy wada
znaidujesięw potożeniu,'180o''
b - oscylogam gdy wiązki obu
głowic napotykają na wadę w
0r23456 7 I9r0 potożeniuinnym niż ,,l80o.';
o. 900 ,Eoo z'to. 3600 ócha wad się'' wzglę.
,,rozbiegają
dem impulsu kontrolnego

39.5. Badaniezanurzeniowe

Za|etąbadań zanurzeniowych jest stałośćsprzężeniaakustycznego i możliwośćpre.

cyzyjnego dobierania kątów padania. Dodatkową za|etę stanowi mozliwośćstosowania
głowic normalnych na fale podłuzne do wytwarzania w ściancerury zarówno fal podłuż.
nych jak i poprzecznych, a także mozliwośćstosowania głowic związką skupioną za po.
mocą soczewek. Skupienie wiązki, będące warunkiem powodzenia badania rur o małej
&ednicy, uzyskuje się przez stosowanie wklęstych soczewek z tworzywa sztucznego.
Soczewki mogą mieć krzywiznę kulistą albo cylindryczną. W pierwszym przypadku ob-
szar ogniska ma przekIój kołowy, a w drugim ,|iniowy''.
hzez dobór promienia Wzywizny soczewki można osiągnąć ogniskowanie wiązki
w różnej odległościod głowicy. Z ko\ei przez ztrttanę odległościod głowicy do po.
wierzchni badanego materiału mÓżna dobierać połozenie ogniska wewnątrz badanego
materiału, w celu zwiększeńa wykrywalności wad w żądanym obszarzę. Schemat bada.
nia rury przy zastosowaniu głowicy skupĘącej przedstawia rys. 39.10.

Rys. 39.10 Badanie rur wiązką zogni.

skowaną na wewnętrznej powierzchni

2'r2
39.ó. ocena rozmiarów wad

Z uwagina zniekształceniewiązki fal rrltradźwiękowychw wyniku załamaniai ko-

lejnych odbić od powierzchnizakrrywionych,do oceny rozmiarów wad nie mofurasto.
sowaćmetody ollR. Dla.konkretnejgłowicy stosowanejdo badaniarury o danejgso.
metrii możnajednak ustalićzależnośćmiędry głębokością vtucznych wad wzorcowych
imitująrych pęknięcia,a amplitudąechaod tych wad. Jako wady wzorcowestosowane
i wewnętrznejpowierzchnirury (rys. 39.l l). Głębo.
są rowki i nacięcia7A zewnętrzr|ej
kośćtych wad stanowi określonyprocent grubościściankirwy. 7ł względu na si|ny
wpływ geometriinacięciana amplitudęecha,wady wzorcowemusząbyć wykonywane
z duĄprecyzją.

( (((
\
b)

Rys. 39.ll Przyktady wzorcowych wad sztucznych do nastawianiaczutościbadania

a _ dla wykrycia wad podłuźnych,b - dla wykrycia wad poprzecznych

40. BADANIE PRĘrÓw

.().l. Badanb prętów o ptaccich powbrzcbniach

Charakterystycznewady prętów i położ'enie z których

głowic ultradźwiękowych,
wady te mogąbyć wykryte pokazanona rys. 40.l.
Podtużnewady przestrzennewykrywa śęza pomocągłowicnormalnychfal podłuz-
nych, pojedyncrychlub podwójnych.W podobnysposobwykryr"aśęteżwady płaskie'
równoległedo płaszcryznybadania.
 t' *,

t--'f.- t\l
l-l

Ń+l
t\
m
ń

+, +
LS+

ctE POOt.urNE

SrLNE oatABrENrE
ECH ONA

Rys. 40.l Przykłady badania prętów o powierzchniach płaskich

Gdy powierzchnia wady płaskiejjest ustawionaskośniedo powierzchni pręta' do jej

wykrycia trzeba stosować układ dwóch głowic normalnych, pracującychmetodą echa,
ustawionych na sąsiednichpowierzchniach.
Wykrycie podłużnych pęknięć jest możliwe przy uĘciu głowicy skośnej'jednar
- gdy pęknięcie jest usytuowanew sźlmymrogu pręta - echo od pęknięcia pokrywa się
z echem od krawędzi.
Wady poprze czne tworzące naroże z powierzchnią wykrywa się za pomocą fal po-
przecznych, biegnących po torze zygzakowatym między powierzchniami pręta. Płaskie
wady poprzeczne położonew środkupręta można wykryć za pomocą dwóch głowic
skośnych,pracujących w układzie tandem.
IGótkie odcinki prętów można badać od czoła za pomocą głowic normalnych.
W tym przypadku echa otrzymuje się od wad poprzecznych. Natomiast drobnę wtrącenia
i wady podłużne(równoległe do kierunku wiązki) powodują tylko silne zmniejszenie
echa dna.

214
40.2. Badanie prętów okrągĘch

Dla wykrycia wad zaczynających się od powierzchni stosuje się techniki zbliżone do
stosowanych do badania rur. Różnica polega na tym,że nie ma wewnętrznych powierzch.
ni odbijających i fale poprzeczne obiegają pręt, odbijając się tylko od powierzchni zew.
nętrznej. Podobne ą też metody skalowania zakresu obserwacji i oceny głębokościwad
powierzchniowych. Na rys. 4o.2 pokazano układy głowic, służącedo wykrywania'po.
dłużnych wad powierzchniowych.

ron wtAzKt

NA'TAr'r''AN'5 APA'ATUEV

EADAN,e ,rrrrrAit
PN'TCIl'r'D'SfNY'''

Rys.40.2 Przykłady badaniaprętów okrągłych

Płaskie i objętościowewady podłuzne we wnętrzu pręta możnalvykryć za pomocą

głowic normalnych, pojedynczych albo podwójnychz powierzchnibocznej, a płaskiewa.
dy poprzeczne.- za pomocą pojedyńczych głowic skośnychlub głowic skośnychpracują.
cych w układzietandem.
Przy ocenie rozmiarów wad wykrytych głowicami normalnymi należy się |iczyć ze
znacznym znER-ształieniemwiązki, spowodowanym kzywizną powierzchni,przez które
wprow6d2ą-Jięfale do pr|ta, jak również Y*rzywiznąpowierzchni przeciwległej,stanowią.
cej dno (rys. 40.3)' Powierzchnia z której wprowadza się fale jest wypukła i rozprava
wiązkę' dno natomiast jest wklęsłe i powoduje skupianie wiązki odbitej. Gdy średnica

275
 t<

Rys. 40.3 Schemat oddziaływania po'

wicrzchni pręta okrągłego na ksztatt wiązki.
Wiązka wchodząca do plęta poprzez po-
wierz chnię wypuktą jest rozpraszana. Wiąz.
ka odbita od powierzchni wklęsłej jest sku-
piana

skutki rozpląlzanie i skupiania równoważą się i alnplituda

Prs]Ląplzgk!ągzą_o*.'1QQrr1nr
ócńa dna pręta odpowiada amplitudziedna elementupŁasko.równoległego o takiej samej
grubości.
obraz otrzymwany na eklanie przy badaniu cienkich prętów za pomocą głowicy
normalnejjest jednoznaczny tylko na odcinku do pierwszegoecha dna.Za pierwszym
echem dna pojawiają się impulsy w wyniku odbić zewnętrznych ,,promieni''wiązki od
powierzchni pręta w sposób przedstawionyna rys. 28.l6. Występujeto szczególniewów.
czas' gdy głowica posiada powierzchnię płaską' wówczas bowięm efekt rozproszenia
wiązki jest szczególnie silny.
Promienie odchylone od osi wiązki o 30o po dwukrotnym odbiciu się od powierzch-
ni pręta, powracają do głowicy, dając echo 2 od|egŁeod pierwszego echa dna o 0,3 d.
Promienie,których kąt odchyleniaod osi wynosi 35,60 dochodządo głowicy po bardziej
złożonejdrodze, wskutek czego na ekranie powstaje impuls 3, odległy od pierwszego
echa dna 0,6'l d.

41. BADANIB ODKI.IWEK

W przypadku odkuwek na|eĘ |iczyć się ze znaczną różnorodnościąrodzajów wad

i ich orientacji wz$ędem powierzchni, z których moźnapodczas kontroli wprowadzać
fale ultradźwiękowe. Do najbardziej charakterystycznych wad odkuwek należą:resztki
jamy usadowej, pęknięcia płatkowe i kuźnicze, wtrącenia niemetaliczne, rzadzizny.

z',t6
Kształt odkuwek jest często bardzo zróżnocowany. Dlatego przed przystąpieniemdo
badania należy zapoznać się z rysunkami odkuwki i zaplanować sposób kontroli, wła.
ściwydla danego przypadku, uwzględniającykształt i wymiary odkuwki. Gdy badanie
ma objąć większąliczbę odkuwek jednakowegokształtu,wskazanejest w jednym egzem.
plarzu wykonać sztucznewady wzorcowe ] za pomocą tych wad nastawiaćczułośćba.
dania.
Ze wzg|ęduna możliwość wy'stąpieniagruboziarnistejstruktury należystosowaćgło.
wice o niskiej częstotłiwościi prowadzić badania w kierunku najmniejszejgrubości.
W niektórych przypadkach prowadzenieskutecznych badań okazuje się mozliwe dopie-
ro po obróbce cieplnej, w wyniku której uzyskuje się strukturę o drobnym ziarnie'
W badaniachznajdujązastorcwaniezarówno głowice normalne,jak i skośne(rys.4l.1).
odkuwki o małych wymiarach wygodniejest badać w zanurzeniu.

Rys. 41.l odkuwki badasię za pomocągłowicnormal.

nychi skośnych

Pomocne w ocenie rodzaju wady są obserwacjekształtu ech, a takżeobserwacjeob.

wiedni ech przy przesuwaniu głowicy. Na rys. 4|.2 pokazano różnice ksztattu ech od
wtrąceń i pęknięć płatkowych w odkuwce wirnika przy badaniu głowicą normalnąw
kierunku średnicy.
Badania eksploatowanych elementów kutych mają na celu wykrycie pęknięć zmę.
czeniowych, które powstajągłównie w obszarach koncentracji naprężeń,w miejscach
zmiany kształtu elementu. Pęknięcia te mogą powstać również w obszarach innych,
w których występowaływady hutnicze.
W przypadku badania długich prętów i wałów od powierzchni czołowej na|eży|i.
czyć się ze zmniejszonąwykrywalnościąpęknięć znajdującychsię w odle$łości większej
od kilku długościpola bliskiego, spowodowanąznacznąrozbieżnością wiązki i zwlązaną
z tym jej deformacjąw wyniku odbicia od ściankibocznej(rys.4l.3). Pęknięcia takie
łatwiejjest wykryć za pomocągłowic skośnych,wprowadzającfale z powierzchni bocz.
nei wału'

2'77
 ]Lł^r
I

d
ax-
t9
tJ\ ,,,,1,,I
n Puttt

Rys. 41.2 Prryktady badania odkuwek i interpretacji oscylogramów

_.
a - w połoźeniu.7 można wyskalowac defektoskop dla badania z potożenia 2, b wykryw3ru9 p9
;-";;'i"i.;a; pó*i"i'ińnió*ói na powierzchni cńropowatej, c _.ustawienie głowicy przy badaniu
bs' d _.oscyiońam wtrąceń (ećha żachodząna siebie, są poshzępione)' e oscylogirampęKnlęc
płattowych (ecńa są oddzielone od siebie, ostro zarysowane)

Rys. 41.3 Wykrywalnoścwad powierzch.

niowych znajdujących się w dużej odległo.
ściod głowicy jest mata poniewłż wiq,zka
fal biegrrących wzdtuż ściankizniekształ.
jL7".,ffi3}iźijit^
łł*"ś ca się na skutek odbicia

42. BADANIEoDLEwÓw

Do najbardziej charakterystycznych wad odlewów na\eŻą.. jamy skurczowe, rzadzŁ-

ny, wtrącenia,pęcherze,pęknięcia i sitowatość.
o możliwościprzeprowadzenia badania ultradźwiękowego i o jego skutecznościde.
ryduje ksztatt odlewu, stan jego powierzchni oraz stopień tłumienia fal ultradŹwięko.
wych, które może być bardzo duże(tab.42.l). Dlatego niezbędnajest w każdymprzy.
padku ocena wańości współczynnika tłumienia. Trzeba ponadto liczyć się z możliwo.

f78
 ściąwystępowania dużych lokalnych różnic tłumienia, a więc i lokalnych róznic wykry.
walności wad.
T ab el a 42.L

Współczynniki tłumienia fal u.ltradźwiękowychw odlewach przy tóźnych częstotliwościach

(dane orientaryjne)

o dB/m
Materiał
5 MHz 2$MHz I MHz

Staliwa po obróbce cieplnej

_ niskowęglowe ferrytyczne < 100 < 100 < 100
_ nisko. i średniostopowe < 100 < 100 < 100
- martenzytyczne 10-14 Vochroml < 100 < 100 <100
_ a u s t e n | t y c z n eo d p o r n e
na Ście-
ranie i żaroodporne >ó00 >600 >600
ieliwa
- sfcroidalne 100- 300 100 < 100
_ Żtzo 300- 600 100- 300 < 100
Żt-ts >600 300- 600 100- 300
Odlewy z metali kolorowych
- btę70-30 >600 300- 600 100- 300
_ miedźelektrolityczna >600 300- 600 100- 300
brąz fosforowy 300- 600 1 0 0- 3 0 0 < 100
brązy a|uminiowe 100- 300 < 100 < 100

Do badań odlęwów silnie ttumiących stosuje się gtowice o niskiej częstotliwości.

Ponieważbadania prowadzi się zwykle przy wysokich wartościach wzmocnienia,długość
stlefy martwejjest zwykle bardzo duia.Z tego względu zaleca się Stosowaniegłowic po-
dwójnych.
Chropowatośćpowierzchni odlewów utrudnia w poważnymstopniu kontrolę. Bada.
nia w Zanurzeniu,stosowaniepodkładek gumowych czy gęstych smarów jako ośrodka
sprzęgającego - to środki,które redukująniekorzystny wpływ chropowatości powierzch.
ni. Czasami badania Ę mozliwe dopiero po obróbce powierzchni odlęwu (szlifowanie,
sk órowanie itp.).
Trudnościprowadzenia badań powodują często ograniczeniekontroli tylko do ob.
szarów Spodziewanejkoncentracji naprężeń.Stosuje się też specjalne nadlewy o po.
wierzchniach tak zorientowanych,by z nich możnabyło wygodnie wprowadzić fale do
obszarów l<rytycznychodlewu. Nadlewy te usuwa się podczas obróbki wykańczającej.
Przy ocenie wad struktury odlewów wykorzystuje się zarówno pomiary tłumienia,
jak i pomiary prędkości.Zwiększone w jakimśobszarzetłumienie możewskazywać na
gruboziarnistość,rzadziznę, skupiskawtrqceń lub porowatość.
W odlewach z ze|iwaszaregopomiary prędkościpozwalająna wykrycie obszarów o

279
 wytrzymatości(ptatrzrczdział 46).
z,ani,żonĄ
W niektórych instrukQachkontroli ultradźwiękowej wprowadzasię ocenędopuv.
czatnościurykrytych wad na podstawie porównania echa wady wykrytej z echem dna
uryslranymw obszarzebez wad,w bezpośrednim sąsiedztwie.
ogólnie biorąc,technikabadaniaodlewów pokrywasię z techniĘ badaniaodkuwek,
utrudnienia,qpowodowane
z tym, źr występują7nlac;urc kvtał-
więkvą różnorodnością
tów, chropowatoścĘ powierzchnioraz silnymi nĘednorodnymtłumieniemfal.

43. BADANIE zŁĄcz sPAwANYcI|

43.l. Urngi ogó|nc

Istnieje wielka różnorodnośćpoł1czeńqpawanych.Najczęściej spotykanei jedno.

cześnienajprostszepod względem geometrycznym Ę złącza doczołowe o grubości
do
ok.4Omm.
Do najczęściej qpoĘkanycłrwad w złączachqpawanychza]iczasię pęcherze,porY,
wtrąccniażużlowe(fużle),brakprzetopu,pęknięciai podtopienia(rys.a3.l).

o o3o
.o/

PłCE2P2 D|.ol.lE PĘca E RtE, PoR'y

v
flżeąłtaącał,e,.3tAr'rc,ł. PAZYKLE,sN,s

'rklłón,qdE .eeN,

il,
P,xN,.c,3 PoD.użNE PĘ,<N,Ęc,E ?oPe,.c2Ns

Rys.43.l wady złączspawanych

PootoDrcNrE

280
 Badanie ztącz spawanych stanowi qpecjalistycznądomenę badari ultradźwiękowych.
W niniejszym rozdzia|e podamy tylko ogólne informacje o technice badania zł.ączdoczo-
łowych.

43.2. Badanie za pomocą głowic nomralnych

Głowice normalne fal podłuznych mają bardzo ograniczone zastosowanie. Badania

za ich pomocą (rys. 43.2\ można prowadzić od strony lica
Ęlko M.dy, gdy jest ono
gładkie i gdy grubośćzłączajestdużo większa od długościstrefy martwej. W ten qposób
można wykryć przede wsrystkim wady objętościowe,jak pęcherze,pory i żużel.Trudne
lub w ogóle niemożliwe jest natomiast wykrycie przyklejeń i pęknięć prostopadĘch do
powierzchni.
Technika badania i sposób oceny rozmiarów vrykrytych wad są takie same jak prry
badaniu blach.
Jeślikontroloutane złącze znajduje się w niewielkiej odległościotl dostępnej krawę.
dzi blachy, (rys. a3.3), można za pomocą gtowiry normalnej skutecznie skontrolować
całą objętośćzłącza.
Istnieją wówczas korzystne warunki do wykrycia przyklejeń i pęknięć biegnących
wzd'łuż,licaqpoiny. Pęknięcia prostopadłe do osi qpoiny natomiast trudno wykrywat.
ą
ne,gdyż,powierzchnia ich jest równoległa do kierunku oś.wiązki.

Rys. 43.2 Badaniespoiny Rys.43.3 Badaniespoiny za pomocą

za pomocą fal podłużnych fal podłużnychod strony bocznej po.
od strony lica wierzchni grani

43.3. Badanie za pomocą głowic slrośnych

43.3.l.Powszechne zastosowanie do badania złącz spawanych znalazły głowice skośne

fa| poprzecznych. Podstawową zaletą badania za pomocą tych głowic jest możliwość
wprowadzania fal z powierzchri poza licem spoiny i możliwośćpenetracji obszaru złąeza
wiązką,tworzącąróżne kąĘ z powierzchniąwad, co bardzo zwiękva prawdopodobień.
stwo wykrycia i właściwejich oceny.
Na rys. 43.4 pokazano,jak wiązka fal wysłanychprzezgłowicę skośną penetrujeob.
szu złącza podczas przesuwaniasię głowiry w kierunku prostopadłymdo osi spoiny.
W położeniu 1 wiązka przechodzi przez do|ne obszary złącza. o tym, jak blisko można
prrysunąć środekgłowicy do osi spoiny, decyduje szerokość lica i wymiar ,3'' w opraw.
ce głowicy. W położeniu2 oświązki pada na grali spoiny. odległośćod środkagłowicy
do osi lica wynosi s/2. odsuwając dalej głowicę (aż,d,opołoż,enia4)badamy spoinę falą
jednorazowo odbitą, która przecina obszar badany skośnieod dołu do góry. W połrlŹe.
niu 4 oświązki pada na lico, a środek głowicyjest teraz w odlegtościs od osi lrca ił p<'
 t Jt-t
tl

Ó.i
v g
i.':l!li
| | r ę ! r \ . hnl..rn.inorł-
nl.o pada na grań

oś wiązki pada tra

11co po Jednokrot-
nyn odblclu

3., oó w1ązkl pa.

da na graó po
ćlwuklotr1yn oil.
blclu

Rys.43.4 Schemat penetracjiobszaru spoiny podczas przcsuwu głowicy

łożeniachgłowicy od 2 do 4 istniejądobre warunki wykrycia, oprócz wad objętościo-

wych' takźewad płaskich zorientowanych tak' jak przyklejenteP1. Trudniejszelub nie-
możliwe do wykrycia są wady ustawione tak, jak przyk]ejenieP2' Między położeniami
głowicy 4 i 6 wiązka przecinaobszar spoiny skośnieod góry do dołu. Teraz zachodząko-
rzystne warunki do wykrycia wad płaskich, Zorientowanych tak, jak przyklejenie P2.
Aby przeprowadzić ,,pełne''badanie obszaru spoiny wiązką skierowanąukośniew dół i
ukośniew górę na|eży przesuwaćgłowicę między liniami, których odległośćod osi
spoiny różni się o długośćskoku s.
Zauważmy,żejeśligłowicę będziemy przem\eszczaćnie po prawej (ak na rys 43.4)
lecz po lewej stronie spoiny, to przy tych samych odległościachśrodkagłowicy od osi

lrJ l
spoiny wiązka przecina ten sam obvar spoiny w innym kierunku. Zmianę kierunku pene.
tracji można więc uzyskać bez potrzeby zwiększanie odległościgłowiry do spoiny. Jest
to korrystne dla czułościbadania, gdyżjak wiemy _ ze wzrostem odległościwady maleje
amplituda jej echa.
Złącza o gruboścido 40 mm bada się zwykle z dwóch obszarów przesuml' leżących
po przeciwległych stronach spoiny na tej samej powierzchni. Prry większych grubościach
powinno się prowadzić badania ze wszystkich czterech obszarów przesuwu. Jeśligrubość
złącza przeŁ'racza l00 mm badanie z większej odległościnn 3l4 skoku związane jest
cz,ęstoze znacznym ograniczeniem wkrywalnościmatych wad (dużaodległość,głowica.
wada''). Przyjmuje się, że dla złącz o grubościod l00 mm do 200 mm nie powinno się
odsuwać głowicy od środkalica dalej ntż,3l4 skoku, a przy grubościachponad 200 mm
nie dalej nilż,3l5skoku. Jeślibadanie prowadzi się z obydwóch powierzchnizłączaipo
obydwóch stronach spoiny, to tak wybrane szerokościobszarów przesuwu zapewniają
pełną penetrację obvaru spoiny wraz z obszarem materiału rodzimego o verokości ok.
20 mm.
Polska norma PN-77/M.70055 zaleca stosowanie obszaru przesuwrr o verokośii jed.
nego skoku. Początek obszaru przesuwu powinien znajdować się w odległościsl4.

43.3.2. Wybór zakresu obserwaQi. Zakres obserwacji wybiera się tak, by echa wad złącza
mogły być uwidocznione na ekranie przy przesuwaniu głowicy w całym zakresie prze-
suwu. Przy stosowaniu nakładanych skal ollR ustawia się zakres obserwacji na taką war.
tość'jakiej odpowiada stosowana skala. Jeślinie stosuje się skal oWR, wskazanejest wy.
brać zakres obserwacji równy 2.krotnei lub 3.krotnej długościlsl2 drogi fal w grubość
blachy (patrz rozdział 30).

43.3.3. Lokalizacja wad. Wyznaczenie położeniawady ułatwia skala pomocnicza jak na

rys. 43.5. Na rys. 43'6 pokazano oscylogram wady i położeńe głowicy prry którym go
otrzymano. Wada zostałalvykryta faląjednokrotnieodbitą, odległość od środkagłowicy
do wady wynosi | ,5 . l'12 = 82 mm,fala ptzebyta drogę odpowiadającąl,5 g. ostatnia in-
formacjajest równoznaćznastwierdzeniu,żewadaznajdujesię w połowiegrubości blachy.

Ltco cRAŃ Ltco a,RAŃ

I
tl
tl
tłt
o 123
tł2

Rys. 43.5 Skala pomocnicza ułatwiająca ustalanie współrzędnych wady

283
 !,co , oeAń

e't' rt

x'O
y.lg . rot,m
I
ły
164)mm
lg12=54,6mm,s12=5Imm,Zo=@-3lg12)=Q
Rys.43.6.|ł,lyzlaczanlepołożeniawady

=
Wadę nalezy szukać * mierzącpo powierzchni blachy - w odległościl,5 . sf2 16 mm.
Wy4nczenie odległościrzutu wady na powierzchnię badania od środkagłowicy
utatwia wskaźnik przJmocowany do głowicy. Rolę tę może spełniaćcienki pręt z za-
u1czonymi odcinkami o długościsl2,2 sl2 i 3 sl2. Niektórzy producencigłowic dostar-
czająwskaźnikinaktadane na głowicę,posiadająceprzesuwneznacznlki.Produkowane są
teżwskaźnikielektroniczne,zawierająceszeregdiod świecących.

43.3.4. CharakterysĘczne wdrazania różnych wad.

Pęcherz (rys. 43..7). Pomimo, i,e wewnątrz pęcherza znajduje się gaz, amplituda
echa jest mała. Powodem tego jest kulisty kształt tej wady. Jeślina pęcherz kieruje się
wiązkę fal ultradźwiękowych z różnych kierunków' amplituda echa i ksztatt echa nie

fr
zmieniająsię.

\=-_-Z \.a q
Y
R y s . 4 3 . 7Pęcherz pojedynczy. Ilcho o matej amplitudzie nieza|eżnejod kierunktr badania

284
 Skupisko pęcherry reprezentuje grupa maĘcłr ech, zachodzących na siebie. Ampli.
tuda echa mało zmienia się przy badaniu z różnychkierunków (rys. a3.s).

Rys' 43.8 Skupiskopęcherzy.

Grupa małych ech

iużrt dajeecho szerokie u podstawy,postrzępionei o dużejamplitudzie (rys. 43.9).

Amplituda ech mało za\eżyod kierunku badania.Wynika to z kształtu powierzchni żuż.
la, którą można rozłozyc na szereg reflektorów, znajdujących się w różnej odległości
(stąddużaszerokość echa i kształt przypominającychoinkg).

R y s . 4 3 . 9 ż u ź e l .E c h o o < l u ż eaj m p l i t u d z i e ,
nie zależy od kierunku badania. Charaktery-
styczny jest kształt echa szeroka podsta-
wa l postrzępiona choinkowa rzeźba

Prryklejenie boczne (rys. a3.10) charakteryzuje się silną za|eżnościąamplitudyecha

od kierunku badania(ak w przypadku wszystkich wad płaskich).

Rys.43'10 Przyk|ejenia.
AmplitudaechasilniezaLeży
od kierunkubadania.Przy badaniuznaprze.
ciwległych
obszarówprzesuwu
echaróżniąsięwyraźnieamplitudą

Podtopienie|icaigrani(rys.43'll).Amplitudaecha słaboza|eĘ odtego, zktorej

strony spoiny wprowadzamy wiązkę' Charakterystycznajest głębokośćzalegania:bliska
zero lub g. Podobne wskazaniaotrzymujemy w przypadku wklęśnięciagrani'
Pęknięcia podłuzne.Echo silnie za|eżyod kierunku badania' (rys.43.|2).
Pęknięcia popnzecznesą wykrywalne przy skośnymprowadzeniugłowicy względem

185
spoiny. Amplituda echa przybadaniu ,,nawprost'' jest mała (rys. a3.l3).
Zagadnienie identyfikacji rodzaju wad na podstawie badań ultradźwiękowych należy
traktować z dużąostrożnością, gdyż wskazania,jakie otrzymujemy od różnych wad mogą
być podobne. Potrzebne jest tu duże doświadczetie,poparte konfrontacjami wyników
badań ultradźwiękowychz wynikami badań innymi metodami, a w szczególności bada.
niami radiograficznymi i badaniami niszczącfmi.

Rys. 43.I I Podtopienielica i grani.

Charakterystyczna głębokość 0 lub
g. Amplituda maŁo za|eżyod obsza-
ru przesuwu

Rys.43.12 Pęknięcia podłużne. Amplituda echa duża

tylko przy badaniu na wprost

Rys. 43.13 Pęknięcie poprueczne.

Dla wykrycia trzeba prowadzić gło-
względemspoiny
wicę skośnie

286
 dwu.
43.3.5. Prowadzeniegłowicy. Wielkośćprzesuwuustala się możliwietak, by wiązka
krotnie, w różnych kierunkach, penetrowała całą grubość złącza.W ramach obszaru
przesuwu należy prowadzić głowicę wzdtuiL Iinii zygzakowatej, o skoku nie większym
niż'O,9 szerokościgłowicy Qys. a3.la). Dla lepvego wykrycia wad o powierzchniachzo.
rientowanych skośniewzględem osi spoiny, na1eżypodczas wykonywania przesuwów od-
chylać ośgłowicy w lewo i w prawo od kierunku ruchu.

I\ /r

t
a
I \ t\
\' \ Rys' 43.14 Ruchy głowicy
podczas badania złącza

43.3.6.Wpływrozwarstwień.Rozwarstwieniaw obvarze przesuwupowodująwyłączenie

z badaniaczęściobszaruspoiny,a takżeuniemożliwiająprawidłowąlokalizacjęi ocenęroz.
miarów wad na po<lstawieamplitudy echa (rys.43.15). Dlatego przed przystąpieniemdo
kontroli złącz na|eĘ się upewnić, czy w obszarachprzesuwunie ma rozwarstwień.Przyj.
muje się, że rozwarstwienieuniemożliwiaprzeprowadzeniekontroli spoiny gdy daje ono
echo takie, jak płaski reflektor kolisty o średnicy10 mm, umieszczonyw środkublachy.

POZWAFISfWTE
BSZAR N'E BADANV

złącza
Rys. 43.15 Rozwarstwienia uniemożliwiają poprawne badania

głowice o
43.3.7. Wybór głowicy. Przy badaniu ztączb|achcienkich należystosować
duzym kącie załamania.Istniejąwtedy lepszewarunki do uzyskania ech o dużejamplitu-
dzie' nie tylko od wad przestrzennych,lecz równieżod wad płaskich;ponadto wówczas
amplitudy ech od powierzchni przejścialica w blachę są bardzo małe.
W miarę wzrostu gubościblachy rośnieodległość od głowicy do wady, co pociągaza
sobą narastaniestrat związanychz tłumieniemiz rozbieżnością wiązki. Dlatego,im grub.
sze ztącze,tym mniejszy powinien być kąt załaman[a gtowicy. Norma PN-77/M.70055
dopuszczabadaniagłowicimi o kątachzałamania0 35o = .. .70o t 20,kątach rozbież'.
ności@ < l0o i kąiach zboczenianie większychod 20. Kąt załamania powinienbyć wy.
znaczonyz dokładnością do lo, a środek głowicyz doktadnością do 1 l ntm.

).87
 Przy badaniuzłącTyo dużejgubościnależydodatkowoprowadzićbadaniaukładem
głowic skośnych,,tandem''dla zapewnieniawykrycia wad płaskich,równoelgłychdo
oŃ .qpoinya prostopadtychdo powierzchniblachy. Za|ecasię takżedla tych grubości
-prowadzeniedodatkowychbadańgłowicąnormalnąi od strorrylica.
Pruykontroli elementówvczególnie odElwiedzialnychzalecaśęprowadzeniebadań
wielokrotnychza pomocągłowico różnychkątachzałamania.
Ze w:4lllęduna większąrozbieżność wiązki odbitej od wad małychw przypadku
gdy częstotlr\rośćjest niźsza,nie zaleca śę stosowaniagłowic o częstotliwości ponad
4 MHz. 11ry badaniu złącTygrubvych możezachodzićkonieczność użyciagłowic o
częstotliwościachnawetl MHz.
Należ.ywybieraćgłowicetak, by koniec pola blislciegoprtypadałw obvarze, w któ.
rym qpodziewamy się wad.Uryslramywtedy najwiękvąwykrywalność.
Należyqprawdzać', czy układ ,,defektoskopgłowica'' Przeznaqzony do badaniazłą.
cza pośadana Ęle dostatecznyzapaswzmocnienia,by amplitudy ech najmniejszych
wad,które nalerywykryć na końcu zakresuobserwacjiprzekaczałyprzynajmniejo ó dB
amplitudęszumów.Przy oceniezapasuwzmocnienianależyuwzględnićrealnewarunki,
jakie vrystąpiąprry kontroli, a więc stanpowierzchnii tłumieniefal w materia|ezłącza'

43.3.8.ooenarozmigruwad sprowadzasię do:

- określenia
$edniry wady równoważnĄw prrypadkuwad małych,
- ołleśleńa&edniry wady równoważneji długości w prrypadku wad liniowych
a3.ló).
1rys.
Do ocenyrozmiaruwad stosujesię nakładanena ekranskaleoIlR.
43.3.9. Prryktady sytuacjiwystępującychpodczasbadaniaqpoinprzedstawionona rys.
43.t7- 43.2t.

)))) )

łłtittttit
il ń r ń r il il ń ń
,..o',"^ń
n\łPł.^i",ł,o o,c 7,o 1,5 5,o ',o 2,o !,5 o,s !,o d, [mm]

D.uGosĆ wADf

Rys. 43.16 Wyznaczanie dtugości wady ,Jiniowej''

Rys. 43.17 Przy badaniu spoin grubych

gtowicą pojedynczą zachodzi moźliwość
nie wykrycia dułch wad płas|rich'leżą.
rych w ptaszczyźniespoiny i prostopad.
Ęch do powierzchni blach

288
 Rys. 43.l8 Za pomocąukładutan.
dem możnawykrywać wady płas-
kie, prostopadłe do powierzchni
blach

PUrrroaow,
?oJoraarS QaowrcY

Rys.43.19 Ztączab|acho różnejgrubości

należybadaćod stlony blachy cieńvej

Rys.43.20 Badanie spoin klócców

Rys. 43.2l B a d a n i e z ł ą c z a t y p u , , T ' , z a p o r r r o c ąg ł o w i c s k o s n y c h l n o r m u | n y c l r

_)\()
 CzęśćVI

PoMtARY ULTRADŹWI
ĘKoWE

44. POMIAR GRUBOSCI

4.|. Zasdyogólne

W rrltradźwiękowychpomiarachgrubościścianelementów z materiałujednorodnego
wykorzystuje się proporcjonalność
drogi s fal ultradźwiękowychdo czasu t zużytegona
pokonanie tej drogi:

s:ct

Jeśliznamy prędkośćfal c w materialebadanegoelementu,to do wyznaczeniadrogi

_ w danym przypadku grubości- wystarczy zmierzyć czas upływającypomiędzy kolej.
nymi echami dna. Na tej zasadzie wykonuje się pomiary Za pomocą defektoskopu ultra.
dźwiękowegooraz ultradźwiękowychgrubościomierzycyfrowych. Pomiary są mozliwe
tylko wtedy, gdy kolejne echa dna nie zachodząna siebie. o granicznejdoktadnościpo.
miaru decyduje czas narastaniaimpulsu ultradźwiękowego.Największąrozdzielczość ech
uryskuje się przy zastosowaniu gtowic wytwarza1ących fale uderzeniowe, tj. głoiwc o
bardzo silnie tłumionym przetworniku. Przy wykorąlstaniu tych fal o odpowiednio wy.
sokiej częstotliwościmożna mierzyc grubościpłaskich blach stalowych począwszy od
0,2 mm.
Do pomiaru grubościelementów cienkościennychstosuje się teżinne techniki rr]tra.
dźwiękoweoparte nie na pomiarze czasu,|eczprzykładowo na pomiarach:
_ częstotliwości,przy której na grubościściankiuzyskuje się całkowitą ilośćpo.
łówek fali,
- częstotliwości drgań własnychścianki.

u.2. Pomiary grubościza pomocą defektod<opuultradźwiękowego

Za pomocą defektoskopów ultradŹwiękowych można mierzyć grubościścianekele-

mentów jednostronniedostępnych, wykorzystując albo gtowice normalne, albo głowice
podwójne. W pierwsrym prrypadku dolna granica mierzonych gubości jest zależnaod
zdolnościrozdzie\czej użytego układu ,,głowicadefektoskop'' i zwykle, dla stali nie jest
mniejszaod 3 milimetrów. Przy użyciugłowic podwójnych możnamiertyc grubościścia.
nek stalowych od l mm wantyżL. Największa doktadnośćpomiaru grubościścianek, przy
wykorzystaniu dęfektoskopuultradźwiękowegonie przekracza0,l mm.

f90
 Sposób pomiaru wyjaśniają przykŁady .

Przykład 1
7a pomocą defektoskopu i głowicy normalnej naleźyprzeprowadzić
kontolę grubościpŁuzcza
zbiornika z dokładnościąt 1 mm. Należ'y zaznaczyć obszary' w
których grubośćjest mńejsza od
16 mm. Nominalnagrubość wynosi l8 mm.
Rozwiązanie
Do pomiarów wybieramy głowicę, kt&a ptzy wzmocnieniu niezbędnym
do uzyskania wyttźne-
go echa dna płaszcza ma strefę maltwą znacznie mniejszą
od 18 mm. Stosujemy zakres obserwacji
Zo = (0 - 20) mm, d|a którego (ppc) = 2 mmldz. Zmianegubości *
l mm odpowiada przesunięcie
ccha dna o 0,5 działki. Grubości16 mm odpowiadapołoźenie
echa na ekranie = 8 dz.
7ffi
Należy zatem reagowaćna echa pojawiającesię na lewo od
8 działki poziomej skali ekranu.
Przyktad f
Należy zmierzyć grubośćpłaszczazbiornika jak w przykładzie
l, z dokładnością+ 0,l mm i za.
znaczyć obszaryw których grubość
jest mniejszaoł l7'5 .*.
Rozwiązanie
Jeślićhcemy uzyskać dokładność t 0,l mm, to na 0,l dziatkę ska|ipodstawyczasu
padać 0,l mm (granica rozróżnialnościpołożeniaimpulsu musi puy-
na skali). ż t"go.*y,,ll.", żepodziałka pod.
stawy czasupowinna wynosić

= 9'lT* =r Tm
(ppc)
0 , 1d z dz

Na catej szerokościekranu (l0 działek) ,,zmieścisię'' ty|ko l0 mm grubościpłaszcza,,'reszta,,

pozostanie za ekranem. Trzrba więc, wykorzystując
opóźnienie startu podstawy czasu wyskalować
zakres obserwacjiZo = (10 . 20) mm. Grubości
l7,5 mm oapowiada potoż",,i" echa na ekranie

= 7,5 dz

Należyzatemreagowaćna echo pojawiającesię

na lewo od 7,5 działki.
Przyk ład 3
Nominalna grubośćściankirury wynosi 8 mm.Za pomocą głowicy
podwójnej naleźywykryć
miejsca ubytków korozyjnych, przekraczaj
ących1,5 mm.
Rozwiązanie
Przyjmujemy zakres obserwacjiZo = 19 l0) mm. Głowicę
podwójną ustawiamykolejno na
schodku o grubości5 mm i l0 mm i doprowadzamy
echa dna ,.noato* oipowiednio na dziatkę
5 i 10. Nominalnej grubościodpowiada działka 8, a granicy
dopuszczalnychubytków korozyjnych
działka6,5. Na tej działcenaleźyustawićskrajbramki
monitora.

Wykorzystując do pomiaru nie pierwsze, lecz

dalsze echa dna, przy zastosowaniu
opóźnienia i wykorzystaniu najszybszego
w dysponowanym defetjosropie przesuwu
plamki' można odpowiednio zwiększyć
rlokładność pomiaru grubości lub lokalnych
zmian grubo.ści.

u3. Grubościomierzeultradźwiękowe

u.3.1.W grubościomierzach
ultradźwiekowvchwykorzystuje się elektroniczny pomiar

lel
czasu upływającegomiędry impulsem nadawczym i pierwszym echem dna, albo między
kolejnymi echami dna. Wskazania przyrządu skaluje się na wzorcu o znanej grubości.
-Stosuje
się analogowe wskaźniki grubości(wskaźniki wychyłowe) albo cyfrowe.
Przy takim pomiarze czasu nie jest potrzebna lampa oscyloskopowa'

z14.3.2.Grubościomierz ze wd<aźnikiemanalogowym. W grubościomierzachultradźwię-

kowych jest wiele zespbłów, takich samych' jak w defektoskopie.Nowe obwody to te'
które służądo ptzetwaruania czasu rnędry wybranymi impulsami na odpowiednie na-
pięcie, albo do pomiaru czasu w inny sposób.
Zasadę pracy układu służącegodo przetwarzania czasu między dwoma impulsami
na napięcie stałe proporcjonalnedo wartościtego czasu pokazuje rys.44.|. Gdy pierw.
szy impuls przeboczy plogową wartość,Ńład przekaŹnikowy wytwarua state napię-
cie. W czasie,gdy to stałe napięciejest podawanedo przetwornikaczasowo-napięciowe.
go, przetwornik ten wytwarza napięcie narastająceproporcjonalniedo czasu. Drugi im.
puls wyłącza układ przekaźnikowy i tym samym przęrywa pracę przetwornika czasowo.
napięciowego.Napięcie końcowe U7, jakie zdota wytworzyc przetwornik czasowo.na-
pięciowy jest więc proporcjonalnedo / upływającegomiędzy dwoma impulsami.

.lrlAD P R z E Ka źx t xotąt v

uk.ĄD PPzErwoRN,,<A
cf 'o|ł,o - NAPTSC]O6'EAO

Rys. 44.1 Schematplacy plzetwornika NapięcieU1jest proporcjonalne

czasowo.napięciowego. do
1i2
czasut międzyimpulsami

Zmieniającszybkoścnarastanianapięcia na wyjściutego przetwornikamożemyuzy.

skiwać różne proporcje między wartościączasu / a uzyskanym w tym czasie napięciem
U1. Pomiar wartości(I7,ktorajest po prostu amplitudą napięcia zmiennegoo częstotli
wósci równe3 częstotliwościpowtarzanianadajnika,realizujesię za pomocą przetwornika
napięciowego,do którego wyjściajest dotączony woltomierz.
Uproszczony schematblokowy grubościomierza ultradźwiękowegoze wskaŹnikiem
analogowym, przystosowanegodo pIacy z głowicą podwójną pokazano na rys. 44.2
obok poszczególnychzespołów przedstawionesą czasoweprzebieginapięć.
W podobny sposób działa gubościomierzpracujący z gtowicą normalną.W tym
przypadku impulsami stanowiącymisygnaty ,,start''i ,,stop'' dla przetwornikaczasowo.

29f
napięciowego Sąodpowiednio pierwsze i drugie echa dna. Dla uzyskania dużejrgzdńel-
czościpomialu przetwornik ultradźwiękow;,głowicy normalnejjest oddzielony od czoła
gł.owicygrubą warstw4 tworzywa sztucznego(ak w głowicy podwójnej) i jego drganiasą
podstawowejprzetwornika 10 MHz możnaw
bardzo silnie stłumione.Przy częstotliwości
ten sposób mierzyc grubości t 0pl mm.
blach stalowychod około 0,2 mm z dokładnością

A onoutePz\J.
('YsKAxu1E ęRu Bos

Ry s. 44.2 Schcm at pracy grubościomierza ze wskaźnikiem analogowym

44.3.3.Grubościomierzze wskaznikiem cyfrowym. W grubościomierzu ze wskaźnikiem

cyfrowym zamiast ptzetwaruaniaczasu na proporcjonalne napięcie, stosujesię elektro-
niczny licznik ilościdrgań, które wykonuje płytka kwarcowa o Znanejczęstotliwościw
czasie,gdy impuls ultradżwiękowyprzechodzi drogę do dna próbki i z powrotem.
Schemat blokowy takiego grubościomierza pokazano na rys. 44.3. Na sygnałgenera.
tora impulsów synchronizujących nadajnik pobudza przetwornik piezoelektryczny.
Układ opóŹniający wysyła z wybranym opóźnieniemimpuls uruchamiającyukład prze.
kaznikowy' Napięciewytworzonew układzieprzekaŹnikowymjest sygnałemdo rozpo.
częcia pracy generatorakwarcowego,wytwarzającegodrgania sinusoidalneo bardzo sta-
bilnej częstotliwości.Drgania te są przetwarzanena łatwiejszedo |iczenia impulqy pro-
stokątne.Pierwszeecho dna próbki przerywapracę układu przekaŹnikowego, a więc i
 generatora kwarcowego. Liczba drgań, jaką wykonat generator kwarcowy w czasie f mię-
dry momentem wejściafal do materiałua powstaniempierwszegoecha' jest proporcjo.
nalna do grubościścianki.Częstotliwośćdrgań płytki kwarcowej w generatorze jest tak
dobrana, by ilośćdrgań w czasie t odpowiadała liczbowo grubościściankibadanego ma.
teriału.
Dla róznych materiałów stosuje się różne rezonatory kwarcowe' Dokładnośćpomia-
ru grubościzaleĘ od częstotliwościdrgań rezonatora.
Jak tatwo zavvtairy,ć,grubościomierzultradźwiękowy może słuzyć również do po.
miaru prędkościfal w próbkach o znanei grubości.

ctot

Rys. 44'3 Schematpracy grubościomierza

ze wskaźnikiemcyfrowym

* u.4. Inrre techniki pomiaru grubości

4.4.l.Metoda modulacji częstotliwości(rezonansowa) polega na pomiarze częstotliwo.

ścifali, przy której uzyskuje się na grubościpróbki catkowitą ilośćpołówek fali (stoją.
cej). Jeślina powierzchni elementuumieścimyprzetwornik piezoelektryczny,do którego
będziemy doprowadzać napięcie zmienne z generatora'to przetwornik będzie wykony.
wał drgania wymuszone z częstotliwościąprzyłożonegonapięcia. W materialez którym
sprzężonyjest przetwornik będą się rozchodzić z prędkością c fale o tej samejczęstotli-
wości.Zmieniając częstotliwośćgeneratoramożna dobrać taką jej wartość/,' żena gru.

294
 bościpróbki g utworzy się pół długości
fali, tj. powstaniepierwszy rezonans

8=1+=,źfi

oznaką tego rezonansu jest zwiększenie poboru prądu wzbudzającego płynącego przez
głowicę. Przy dalszym wzrościeczęstotliwości,gdy osiągnieona wartość[ uzyskamy
drugi rezonans, charakteryzującysię tym, że na grubościpróbki utworzy się cała fala

}'"
- -r
E-2
I 4

Zwiększając dalej częstotliwośćgeneratorabędziemy otrzymywać kolejne zjawiska re.

zonansu'gdy spełnionabędzie zależnośc

\
n17
/\n

(44.r)
f

c:ni=

gdzieJ', jest częstotliwbścią

odpowiadającąn.temu kolejnemu rezonansowi.Kolejne zja.
wiska rezonansuzachodzą przy prryrostach częstotliwościA,f = fn+ -
] Ę odpowiada.
jących przyrostowi jednej połówki fali na drodze równej grubościpróbki. Częstotliwości
odpowiadającekolejnym rezonansomsą całkowitąwielokrotnoś ciąAf

f1, : n l'7 (44.2)

Wstawiając
44.2 do 44.l otrzymujemy

c
8=.l-n:r (44.3)

Do wyznaczania grubościna|eżywięc zmierzyc roż'nicęczęstotliwościA/ odpowiada.

jącąkolejnym zjawiskom lezonansu.
W grubościomierzachopartych na opisanej zasadzlę wystąpienie rezonansu jest sy.
gnalizowanesygnatem akustycznym lub pojawieniemsię impulsu na ekranie lampy oscy-
loskopowej w miejscuodpowiadającymczęstotliwości rezonansowej(skalapozioma ekra-
n u j e s t s k a l ąc z ę s t o t l i w o ś c i ) .

44.4.2.Metoda rezonansuimpulsu opiera się na pomiarze częstotliwości drgań własnych

płyty w obszarze' na który padająimpulsy ultradŹwiękowe.Pomiary prowadzi się meto.
dą zanurzeniową.
Głowica odbiorcza rejestrujeczęstotliwość tych drgań,która jest miarą grubości.
Elektroniczny uktad grubościomierzawskazujewprost wartośćgrubościpłyty. Pracujące
pozwalająna pomiary grubościod około 0,3 mm. Uzy.
na tej zasadziegrubościoml^erze
skiwanedoktadności pomiarusąbardzowysokiei osiągają wartość 0,00l mm.

:e-5
45. FoMIAR PRĘDKoŚCI FAL I.JLTRADŹWIĘKoWYCH

45.l. Zasadyogó|ne

W ośrodkujednorodnymfale ultradźwiękowe rozchodząsię ze stałąprędkością.

c i czasemt zachodziprostyzwiązek:
Między drogąs, prędkością

s=ct

hędkościfal ultradźwiękowychmożnazatemwznaczyć mierzącdrogęs i czas/, w cią.

gu któregofaledrogętę przebywają'
po czymobliczyć:
s
c=_
t

Drogę fali wyznaczamy mierząc mechanicznie grubośćbadanej próbki. Do pomiaru

czasu pzejściafal możesłużyćlampa oscyloskopowadefektoskopu,albo specjalnyprzy.
rząd pozwalającyna otrzymanie cyfrowegowskaźnikaczasu.
Prędkośćfal w materialemożna tei zmierzyc za pomocą ręfraktometruultradźwię.
kowego, bez potrzeby pomiaru drogi czy czasu przejściafali, wykorzystując zależności
między prędkościamifa| w graniczącychośrodkach,a kątami padaniai załamania.

4s.2. Pomiar prędkościfal za pomocą defektod<opu

podane niżejprzykłady
Sposób pomiaru wyjaśniają

Przykład l
bezwzględnąwartośćprędkościw dwóch prób-
Należyzmierzyć z możlrwieduźądokładnością
40'05 mm (rys. 45.l).
kach stalowycho grubości

Rozwiązanie
l' By uzyskać duźądoktadnośćpomiaru,trzebamierzyć czas przejścia na możliwiedługiejdro.
dze, a więc czasprzejścia moż|iwieodległegoecha.Po przyłożeniugłowicy do próbki okazu.
je się, żenajbardziejodlegtym echem ,'dna'',którcjest dostatecznieostlo zarysowane(by do.
kładnieustalić położeniejegoczoła)jestecho piętnaste,znajdującesię na 9 działceska.lipo.
ziomej.|mpuls,który utworzyłto echo przeszedł drogęl = 2 ' 15 .40'05 mm = l20l,5 mm.
2. Ustalamy' {v jakim przedzia|eczasowym _ licząc od momcntu wejściafali dopróbki _ znaj-
duje się l5 echo. Postugującsię wzorccm mikrosekundowym ,,l0 ps'' stwierdzamy'ż'e9
działkaska|i ckranu leży między 20 i 2l echem dna wzorca mikrosekundowego,czyll'wza.
kresie200 - 210t .
3. SkalujemyzakresobserwacjiZo = (200 _ 2 l 0) ps. Podziałkapodstawyczasuwynosi (ppc) =
= | tsldz. Przyktadamy głowicę do mierzonych próbek. Dla próbki nr l piętnasteecho wy.
stępujena działcea, = |,6 dza dla próbki nr 2' na działcca2 = 3,5 dz.
4. Obliczamy
rl = 200&s + (ppc)a1= 200 1l.s + l.óp\ = 20l'6trs

t 1 = foo 1ts+ (ppt') a2 = f}oprs + 3,5 ps = 203,-5tls

'()()
 'r=+=*+i#=
s,ese
t
s959
' mm
s

I
t
ł
I PROBKA WYZARZANA

i
I
ł
I WZORZEC ,,10 tts"

I
t
I PROBKA HARTOWANA

210i./6

I
I
ł PROBKA WYZARZANA
I
ii

t*1r4
200 205 2 1 0p s

Rys.45'l Pomiar prędkości fal podłużnych. llustracja do przykładu l

Przykład 2
Nalcży zmierzyć względną wartość prędkości c, fal podłużnych w krąźku z plt'ksiglasu o grubo.
ścixo = 23 lltm wprasowanynr do wz'otca W] ' Prędkośc fal podłużn}'clr rr, nlatc-riltlr'wzorca (stirl)
przyjmujcnry' równą c" = .i 940 mis.
 Rozwiązanie (rys'45.2)
1.Przykładamygtowicędokrązkaiskalujemyzakresobserwacjizo=Q3_46)mm,tzn.
za.
pieIwszeecho dna ustawiamyna 0 dz, a drugie na l0 dz. Droga fali odpowiadającatemu
kresowiobserwacjiwynosi2 gn= 46 mm, a proporcjonalną miarączasujestop j ]0_!1..
usta-
2. Przykładamy głowicę do pofiierzchni bocznej wzorca|,łI i pokręttem oP6ZNIENIE
wiamypierwszeechodnaĘ=zsmm)na0dz.Stwicrdzamy,żedrugieechoznajdujesięna
dzlałcea, = 4 '8 dz.
-
3. Z drugiegopomiaru obliczamy (ppc). Odcnkowi 0 a, w stali odpowiadaczas ls
2s-
tó .? = = 8ś2gs
*s

a stąd Is f gs
r rc&s
( p p c )= ą = . , % = | ' l ) 6 ;

Odcinkowi 0 - arw pleksiglasie odpowiada czas tp

2g"aP
t,=(vłc) op= ,"% =l7'5 l.ls

prędkośćcp wynosi

fgn
'p= = ! p " t . "= z . 6 f m m 26fO?
,p Bsap ps

45.3. Pomiar prędkościza pomocą próbników materiału

pomiaru czasu przejściafal ultra.
Produkowane są specjalne przyrządy, służącedo
nazwę fabryczną ,,próbnik ma-
dŹwiękowych przez próbkę .uie.litu. Przyrządy te mają
nie mają lampy oscyloskopowej.
teriałów,,. Podobnie jak grubościomierze'przyrządy te
głowicami: nadawczą i odbiorczą.
Badaną próbkę umilszczu się między dwiema
ultradŹwiękowych przez grubość
WskaŹnik cyfrowy pokazuje wartośćczasu przejściafal
przejŚcia.
próbki. e,ęótosc rat wylicza się, dzielącgruboścprzez CZas

4s.4. Pomiar prędkościza pomocą refraktrometru ultra&źwiękowego

współczynnika Zała-
Refraktometry to przyrządy służ4cedo wyznaczaniawartoścj
jest prędkość w jednym ośrodkui
fal
mania fal na granicy dwóń ośrodków.Jeśliznana
wartoścprędkościfal w drugim
wartośćwspó1czynnika załamania,to można wy]liczyc
refraktometr ultradŹwiękowy
ośrodkuz wzotu Snelliusa. Na tej samej zasadziedziała
przedstawionyschematyczniena rys' 45'3'
Pozwalaon''.,,.,,yćpręilkośćfalpowierzchniowychwmetalachzdokładnością
na powierzchniępróbki
t l m/s, na podstawrepo*iu.u kąta padania fal podłużnych
CIKRYT,przyktórympowstająfalepowierzchniowe.Próbkajestumieszczonanaobro-
cieczą.Wiązkafal ultra-
towej podstawlew osi cylindrycznegonaczynia wypełnionego
clŹwiękowychwysłanaprzezgłowicępołączonązdefektoskopempadanapowierzch.
naczynia,skąd po odbiciu
nię próbki porl k4tern o. oclbijasię, biegnierlo powierzchni

l()E
 wTacatą samą dro8ą do głowicy. obracając próbkę zmieniamy
kąt padania wiązki. Gdy
kąt ten osiąga wartośc krytyczną, amplituda odbitego impulsu przechodzi
przez mini.
mum. Prędkośćfal powierzchniowych c1ąob|icza się z zależności:

tin aKRyT = clcR

gdzie c - prędkośćfalw cieczy wypełniającejnaczynie.

Istotnym elementemrefraktometrujest preryzyjny przyrząddo pomiaru
kątów (go.
niometr).
Ecxo 7 EcHoz

0, 2 3 4 5 6 7 I gro

Ecłtol ecao2 ecxo3

Rys. 45.2 Ilustracjasposobu

pomlźuuprędkościfal podłuż.
nych w krĘku z pleksiglasu
Spas 6 7 I 9 r 0 wprasowanegodo wzorca WI
'p= c"
ts ap

c
rl
ql
o5

GLOW,CA

co=
epóBxa ń|,,

Rys. 45.3 Zasadapomiaruprędkościfal powierzchniowychza pomocąrefrak.

tometruu|tradźwiękowego

* 4ó. FoMIARY I KoNTRoLEF|zYCzr{YcH wŁAsNoŚcI METALI

46.|. Pomiar modułów sprężystości

Zwiękt między wartościamiprędkościfal poclłuznych'poprzecznych i powierzch-

niowych, a wartościami
modułów sprężystościpodająwzory (6.|) i(6.]). Jeślizmierzy.

l()9
 można
my prędkościc1 i c7 w badanym mateliale, to wartościmodułów sprężystości
wyticzyc zwzorów:.

,
+(+)'
er-' (46.1)

G=pr? (46.2)

r =!.-Ąs}L p ł t = 2 ( |+Ą p c | (46.3)

6.2. Pomiar wielkośclzrarna

Zmiana wielkościziarna powoduje zarówno wzrost wartościwspółczynnika tłumie-

nia jak również zwiększenie poziomu szumów strŃturalnych obserwowanychna ekranie
defektoskopu.obydwa efekty sąwykorzystywane do oceny rozmiarów ziarna.
Szumy strukturalnemożnaobserwowaćzarówno ptzy uzyciu głowic normalnychjak
i skośnych(rys. 46.l i |2.4). By uzyskać szumy strukturalneo dostatecznieduŹejampli-
tudzie przy małych średnicachziarn, trzeba zastosowaćdodatkowe wzmocnienieodbie-
ranych sygnałów. Dla oceny rozmiarów ziarna stosujesię zwykle metodę porównawcżą.
to znaczy amplitudy szumów strukturalnych uzyskaneprzy badaniu materiałuporównu.
je się z amplitudami u4yskanymi w takich samych warunkach na wzorcach o znanych
rozmiarach ziarn. W ten sposób można również ocenić rozkład wie]kościziarn wzdłuż
wiązki ultradźwiękowejgłowicy (ry s. 46.2).
D|a wyznaczenia rozmiaru ziarna na podstawie pomiarów współczynnika tłumienia
na|eĘ wydzie|ić ze zmierzonego współczynnika tłumienia część,która j est związana ty|-
ko z rozpraszaniemfal przez ziarna.W tym celu stosujesię pomiary współczynnika tłu-
mienia przy dwóch różnych częstotliwościach:
- niskiej f przy której rozpraszaniejest pomijalnie małe wobec pochłanianiaoraz
1,
wysokiej/2, przy której udział rozpraszaniaw tłumieniujest dominujący.
Różnica zmierzonych współczynnikow q. (fz) - ą (f t)jest miarą rozmiarów ziarna.
Porównanie ńinicy tak wyznaczonych współczynników w materia|ebadanym i w prób.
kach o znanym rozmiarze ziarna,pozwala na określenierozmiaru ziarna z dokładnością
do jednego numeru wg ASTM. Na rys. 46.3 przedstawionoporównanie wyników pomia.
rów rozmiaru ziarna przeprowadzonych na tych samych próbkach metodą ultradŹwię.
kową i metalograliczną.

46.3. Pomiar anizotropii

sprężyste
Materiaływalcowane,a szczególnieblachy cienkie.maj4 różnewłasności

-100
 \
\:\\_

ł
h1
f

Rys. 46.1 Schemat pomiaru wie|kości ziarnaza pomocą głowic skośnych

w kierunku walcowaniai w kierunku prostopadłymdo kierunku walcowania.Kierun.

kowy rozkład własnościjest w większości
przypadków zjawiskiemniekorzystnym.Do-
kładnepomiary prędkościfa| ultradźwiękowychwprowadzanychw różnychkierunkach

-l0l
 a

rnft
I

uł
IE

hhl !
L

0 t0

Rys. 46.2 Rozkład amplitud szumów

strukturalnych na ekranie odzwierciedla
rozkładwielkościziarn w próbce

Rys. 46.3 Porównanie rozmiaru ziarna wy-

znaczonego metodą ultradźwiękową (Dy)
i metalograficzną(Dm)

pozwalają na wyznaczenie kierunkowego rozktadu własnościsprężystych.Szczególnie

wygodniejest wykorzystywanie do tego celu pomiarów prędkościfa| powierzchniowych
Za pomocą refraktometru ultradźwiękowego.Na rys. 46.4 pokazano zależnośćprędkości
fal powierzchniowych od kierunku dla kilku blach, przeznaczonychna karoserie samo-
chodów. Miarą różnic prędkościsą wartościzmierzonych za pomocą refraktometruu]tra.
dźwiękowegoprzyrostów kąta krytycznego.

46.4. Pomiar grubościwantw

.leślina powierzchni materiału znajdujesię warstwao innych własnościach,

to pręd.
kośćfal powierzchniowychjest za|eżna odjej grubości.Za|eżnośćta możebyć wykorzy.
stana do pomiaru grubości,gdy grubośćwarstwy jest mniejsza od długościfali. Na rys.
46'5 przedstawionowyniki pomiaru prędkościfa| powierzchniowych dla blachy ze stali
konstrukryjnejpokrytej cienką warstwąblachy kwasoodpornejróżnejgrubości.

4ó.5. ocena wytrzymałościżeliwa szarego

Wykorzystujesię tu zarówno zależność jak

między tłumieniemfal i wytrzymatością,

302
 też'między prędkościąfal i wytrzymałościążeliwa.Ze wzrostem wytrrymatościnastę.
puje wzrost prędkościi spadektłumienia fal ultradźwiękowych.
Przez pomiar prędkościfal możnateżodróżnić żeliwoz grafitem płatkowym od sfe.
roidalnego.Widać to z rys. 46.6 na którym przedstawionozależnośćmiędzy prędkością
fal podłużnych, a wytrrymałościąna rozciąganie.W źeliwie z grafitem sferoidalnym
prędkośćfal podtużnych przekraczawartość5000 m/s. Dla żeliwatego pomiar prędko.
ścifal pozwala ocenić procent zawartościgrafitu.

900

lo0"

110"

Rys. 46.4 Rozkład kiel-unkowy prędkości fal powierzchniowych

w 4 ro-
dzajach blach zmierzony za pomocą refraktometr. ultradźwiękoweqo
(wg A. Brokowskiego)

K.6. Kontrola obróbki cieplnej

Przemiany zachodzą podczas obróbki cieplnej stali znajdują odbicie w jej własno.
ściachakustycznych, Na rys. 46.7 pokazano zmiany prędkościfal powierzchniowych w
stali narzędziowejpo różnejobróbce cieplnejw funkcji twardości.Próbki | i 3 to prób.
,2
ki miękkie w stanie dostawy. Próbki 4,5, 6 i 7 były hartowane z rożnychtempeiatur.
P r ó b k i 8 i 9 p o h a r t o w a n i u b y ł y o d p u s z c z a n e w t e m e p r a t u r z e z b y t n i s kl i0ei jl ,l b y ł y
odpuszczaneprawidłowo, zaś12 i 13 były odpuszczanew temperaturze zbytwysokiej.
Jak widać, pomiar prędkościfal powierzchniowych pozwala wyselekcjonować próbki
poddane nieprawidłowejobróbce cieplnej.
Skutki obróbki cieplnej możnaocenić przez ana|izęwidma impulsu przechodzącego
przez bad,anyelement. Segregacje,ziarna o różnym rozmiarzeitp. w różnym stopniu roz-

tol
praszająitłumiądrganiaoróżnejczęstotliwości,wwynikuczegoulegazmianiewidmo
ilustrujerys. 4ó.8.
częstotiiwoscioweimpulsu. Możliwościtego sposobu

.s
s
ł
a
B Rys. 4ó.5 Względne zmiany kąta krytycz-
c nego w zaleźności od grubościwalstwy (wy.
za pomocą refraktometru ultra.
"ni."on.go pod-
dźwiękowego) stali kwasoodpornej na
łożu stali konstrukcyjnej. Zmanie grubości
warstwy od 0 do 0,4 mm odpowiada zmia-
na kąta krytycznego przy częstotliwo.ści
5 MHz o |o , zaśprzy częstotliwościl0 MHz
zmianawynosi lo4O' (wg A'Brokowskiego)
6ąuaość weasrwv (mm)

000

B
ą
Ę
E
(
.tt
'o
o t00
{ GRAFIT Pł'Yl'KolvY
E
E
F

Rys. 46.6 Za|eżnośćmiędzy wytrzy. l

matością na rozciąganie R2 i pręd.
(wg
kością fal podłuźnych w żeliwie
H.E. Hendersona) eaęlxość F^L L [m/3J

304
 n
n
o5
t60 "4 6o?t3 fł
ę" Q,ł
$o
E, ł
"Ż)
nP m A m
btnlsJ
Rys. 46.7 Wpływ próbki cieplnej na wartośćprędkościfal powierzchniowych
w stali narzędziowej

Ę
)
L

q.
t
t

Rys. 4ó.8 Zmiany widma impul.

su spowodowane przejściempnez
próbki o różnej strukturze

l0-i
 C z ę ś ćV | |

TEORETYCZNE OCENY ROZMIAROW WAD

PODSTAV\TY

* 47. PoLE PRoMIENIoWANIAI oDBIoRU GŁowIcY

Pole promieniowania opisuje się rozkładem amplitud ciśnieniadziałającegona ele-

mentarny odbiornik umieszczany w różnych punktach pola.
Pole odbioru opisuje się rozkładem amplitud qygnału odebranego przez głowicę
ultradźwiękowąprzy działaniu na nią małego sferycznegoźrodłafal, umieszczonegow
różnych punktach przestrzeni. W praktyce, głowica ultradźwiękowajest najczęściej
jednocześnie i nadajnikiemi odbiornikiem fal.
Do wyznaczenia charakterystyki promieniowania stosuje się mały mikrofon sferycz.
ny. W celu określeniacharakterystyki nadawczoodbiorczej mierzy się zmiany echa kulki
o średnicyznacznie mniejszej od długościfali, przemieszczanejod punktu do punktu ba.
danej przestrzeni. Kulka taka jest wtórnym fuódłem fal ultradźwiękowych. Charaktery.
styka nadawczo.odbiorczajest określonazarówno własnościami nadajnikajak i reflekto.
ra. Użrycieinnego reflektora zamiast kulki zmnienia kształt tej charakterystyki.
Charakterystyką kierunkową przetwornika, używanego do wysyłania lub odbioru
fal, jest funkcja opisującareakcję przetwornika w zależności od kierunku wysyłanejlub
padającejfali dźwiękowej,w określonejpłaszczyźnie i dla określonejczęstotliwości. Cha.
rakterystyki kierunkowe mogą być :vqyznaczonęalbo rachunkowo - przez ana|Łę po|a
promieniowania przetwornika o znanym kształcie, rozmiarach i częstotliwościdrgań
- albo doświadczalnie.
Rozpatrzmy najprostszyprzypadek promieniowaniaukierunkowanego.Źródło punk
punktowe promieniuje fale równomiernie we wszystkich kierunkach i jego charaktery.
styka kierunkowa ma kształt kołowy. Ciśnienieakustyczne w odległości r w dowolnym
kierunku od źródław wolnej przestrzenidanejest wzorem:

A i(at- kr)
P: r e
(47.r)

g d z i ei - - l , @ = 2 T f , f - c z ę s t o t l i w o ś ć d r g at -ńc, z a s ' p =
{x_długośćfali.
Gdy pole jest utworzone przez fale wysytane z dwóch drgających źrodełpunktowych
rozktad ..:śnieniajest już za(eżnyod kierunku. obliczmy ciśnieniew punkcie A po|a
utworzon..go przez źródła punktowe 1 i 2 (rys. 47 .1) drgającew zgodnej fazie, przyjmu.
jąc' żeodlegtośćó między źródłamijest tnaław porównaniu z odległością r,
pdległościod źródeł l i 2 do punktu A wynoszą odpowiednio r - i sin o oraz
, + t sin o,a ciśnienia pI ip2 wytwarzanew punkcie A przezposzczególneźródła

306
 R y s .4 7 . 1 Interferencjafal wysłanych pruez źt&ła punttowe z{ J 8

A1 i<,lt ik(r_ł *
PI= r
e
"l (47.2)
"_

A2 iat , o ( r +j s i nO )
p2=; e (47.3)
"-
Ciśnieniew punkciel wynosi

A i<,:t- ikr , i4 sn O -tP sino

p = r1e e (e ^ +s A ) (47.4)

,ttb ^ - T b -..
l1-sin @
Po pomnożeniu(47.4) przez e - T_ sin O-
i wyrłżeniut.unkcjiwykładni.
"
czej przez trygonometry czną zgodrue z za|eżnością:

= cos @, * i sin c^lt

"i<'st
otrzymujemy wzór na amplitudę ciśnieniaw punkcie.4 pola:

(T
p=+sin sino)
(47.s)
^"Ę* o,

Wyrażenie sin (. . .)/2 sin (. . .) opisuje charakterystykękierunkowąźródłazł'ożonego

z dwóch źrodełpunktowych drgającychw przestrzeniswobodnej.
Przy rozpatrywaniuproblemów akustycznych wykorzystuje się pojęcie'potenc'iałutl

i ( )-
 wzorem
prędkościdrgań cząstekv [28]' określonego

-r'#
u - gradO= rj#-r# (47.6)

gdzie i, i, k _ wektory jednostkowe w kierunkach osi układu współrzędnych prosto-

kątnych X, Y, Z. Ciśnienieakustyczne jest proporcjonalne do potencjału prędkości.

* 48. PoLE PMETWoRNIKA NA DRGANIA PoDŁUZNE

4{l.1. ogólny opis pola

Przetwornik na drganiapodłużnejest źródłem zmiennegonaprężeniao amplitudzie

ozz , skierowanegoprostopadledo powierzchni badanegoelementu. Rozpatrzmy pole
akustyczne wytworzone przez ta|s przetwornik w punktach, których odległośćod jego
środkajest dużo większa od długościfali (r ) X). Szkic układ
przedstawiający współ-
rzędnych związanychz przetwornikiempokazano na rys. 48.l.

Rys. 48.l Układ współrzędnychprostokątnych

związanyghz przetwornitiem
.

Pole promieniowania takiego przetwornika punkcie B ciała stałego określa

([2e)str.42):

*u=
)ł#,lf^rco,t
-"ikrlp
rAB
ds,ł
N (48.1)

Fp

308
 gdzie: 9p _ potencjał skalarny w punkcie .B,
ozz - applituda naprężeniaprostopadłego
do powierzchni elementu w obsza-
rze dziat ania przetwornika
Fp - powierzchnia przetwornika
k = 2nl)t. - liczba falowa
<,s= 2 r f _ częstotliwość kołowa drgań
p - gęstośćmateriału
rAB - odległośćod punktu,4 powierzchniprzetwornikadopunktuBwewnątrz
elementu
@.ł,a - kąt między rAB a osiąZ przetwornika
R(@aB) - funkcja opisującakierunkowośćpromieniowaniaelementarnychźródeł
A, z ktorych składasię powierzchniaprzetwornika(w zakresieo = 0 ...
600 wartośćfunkcji wynosi w przyb|rtenlul/cos2 u,o, @.dązydo
*
do 90o wartośćfunkcji powoli malejedo zera).

W przypadku promieniowaniado cieczy odpowiednikiem naprężeniao"" jest ciśnie.

nie Po.
Przy promieniowaniufal do ciałastałegoza pomocąprzetwornikana drganiapodłuż-
ne w materialepowstają,obok głównej wiązki fal podłużnych,takżesłabszefale poprze-
czne. Amplituda fal poprzecznych rośnieze wzrostem kąta @a3. Fale te zwykle
nie prze.
szkadzająw interpretacjiobrazu oscyloskopowego,gdyż, ecńilctr dochodzą do głowicy
odbiorczej znacznie poźniej i nie interferują z fa\ami podłużnymi. W dalvych tozważ,a-
niach udział fal poprzecznychpominiemy.
Po|e wyznaczone przez rejestracjęecha małego reflektora kulistego (sferycznego)ma
postać:

I ikrag
*r=*pA , (48.2)
,AB

gdzie: ray - odległość od kulki B do punktu C przetwornika,A - stałabezwymiarowa.

Amplituda sygnału elekĘcznego wytworzonego na przetworniku jest proporc.ionalna
do amplitudy składowej normalnej naprężenia fali padającej. W prócesie
przetwaruania
energii mechanicznej fali na energię elektryczną zachodziuśrednianie'ygn"tó* przyjnro
wan1'chprzez poszczególnepunkty przetwornika - amplituda przyjętego impulsu jest
wartościąśrednią:

+,1f,,,0,,
Io,,l= Fp
(48.3)

Amp|ituda wytworzonego napięcia e|ektrycznego(a więc i wysokośćeclra na ekranie)

.ł09
jest proporcjonalnado o,, . Wyrażając ozz prizezpotencjat9, (wzór 47.7),
naprężenie
na wartośćnaprężenia docńodzącego do przetwornikapo odbiciu od małegoreflektora
kulistegootrrymuje się (po uprovczeniach)wyrażenie:

dzz = &Ą
Fp
o,)'=
(l+# t lozzl,z
Fp
(48.4)

Fp

Całka I w zakresie pola dalekego ma wartość:

zr(T sino)
t = lrP (48.s)
$ sin@

gdzie I, - funkcjaBesselapierwvegorzędu.
w punkcieB pola dale.
Amplituda echamałegoreflektorakulistegoumieszczonego
kiegoprzetwornikakotowegona fale podłużnejest więc

.T'-:l'=nł Ri(o)
|o*|=Ę|+1
(48.6)

z, (P sno)
gdzie R, (e) = -;!---.---: iest charakterystyką kierunkową promieniowania gło.
.-p sin @.
wicy.
Charakterystyki kierunkowe przy pracy metodą echa tj. charakterystyki nadawczo-
odbiorcze są kwadratem odpowiednich charakterystyk kierunkowych promieniowania.

8.2. Cifuienie akustyczne na oś wiązki

obliczenie wartościcałki / w obszarze pola bliskiego jest skomplikowane. ogranczy.

my się do opisania pola na osi przetwornika. Dla.rf:ne!.!o^rów leżących na osi przetwor.
,'ąn nii za|eĘ od rg, ąai 93 i równa się {z, + Ą. w tymprzypadku całka1ma
"fu
wartość:

, =,f*^,fł^ =,W
ęodpn o,o, *D,|a-,iĄ
=#Ett,,,
J, !,^B
rAB Jo
z (48.7)

I
Wyrażającfunkcje wykładniczeprzez try1onornetrycznei wstawiającwartośćcałki

3r0
 do wzoru (48.4) otrzymujemywzór na modułnaprężenia,
do któregojest proporqonal.
na amplitudaechakulki na ekranie:

|ą|=|,,4tt2sin+(
+D214- z)l (48.8)

Wartośćamplitudy echa matego reflektora sferycznego (a takze

wartośćciśnieniaw polu
promieniowania) przemieszczane8o wzdłuż,osi Z przetwornika
w głąb materiału osiąga
makrymalne wartościgdy

ł_
(V"t +D2l4-z)= (2n+t),
X

-(?n+ t)'X2
t i . d t a z_ D 2
" 4I(2n+t)

i minimalne,
gdy

__D2 +4\2n2
"----8 ; t r--

Kładąc n = 0 otrzymamy odległośćdo maksimum najdalszegood przetwornika

L- --t t ^
- -r-- D
4T2 - -- ^ , 2
(a8.9a)

Dla }. małegow porównaniu z D

N = D2l4\, (48.9b)

Najdalsze maksimum wyznacza koniec pola bliskiego. Dla dużych odległości

od prze.
twornika - w polu dalekim - wzór (48.8) można uprościć.Skorzystajmy
w tym celu z
przyb|iżenia

=! *, (48.I 0)
óz

które możnaprzyjąćdla D ( z' otrzymujemy.

rD2
I r r l = P s 2 s r l nT I z (48.11)

311
Da durych wartościz wyr?d.'enie będąceaĘumentemfunkcji sinusjest małei wartość
funkcji jest s:lmego
bliska wartości wyrażenia.Za|eż'nośc fali na osi wiązksp2
ciśnienia
* r*tqi odległości dla duzych odlegtościod przetwornikaprryjmuje więc postać:

(48.r2)
|,,|=p,*.ł=,,#
*nf
gdzieF, = L? jest powierzchnią przetwornika.
jest
Ze wzarv (48.12) wynika, że w polu dalekim ciśnieniena osi przetwornika
powierzchni przetwornika, a odwrotnie proporcjonalne do od-
wprost proporcjonalne do
ległościi do dtugościfali.
po.
Z)ogarytmujmy obydwie strony równania (48.|2) i dla uryskania skali decybeli
mnóżmy obydwie strony przez liczbę 20:

TP
20 lo916p7 = 20 logrc Po X - 20log6 z (48.l 3)

war.
Ponieważ pierwszy składnik po prawej stronie równania ma dla danego przypadku
(48.l3) przedstawia liniową zależność międry w
wyra'żonymi dec.
tośćstałą,równanie
ciśnieniana osi wiązki w polu dalekim, a odległością.
rybelach zmianami

€.3. Charakterystyka kierunkowa przetwornika kołowego i prostokątnego

pola dalekiego
Rozktad ciśnieniaw kierunku prostopadłym do osi wiązki w zakresie
ciśnieniapanującego na osi wiązki (w odlegto.
głowiry otrrymuje się przez pomnóżenie
promieniow aruaR' ( @) :
iyji,1 p,,", cńaraitery sti,kę kierunkową

= (48.14)
P(l), =const. P (z)' Rg(@)

przetwornika i stosunku jego wy.

Kształt charakterystyki kierunkow ej za|eżyod kształtu
miarów liniowyctr do długościfali wysytanej. Dla przetwornika kołowego

R8(o)=u* (48.1s)

gdzie: I, - funkcja Besselapierwszegorzędu, , : + sin @,D - średnica

przetworni.

ka, X - długośćfali, o _ kąt mierzony od osi przetwornika.

DlaprzetwornikaprostokątnegoobokachD1iD2charakterystykakierunkowama
postac:

sinxr srnX2
R g ( o r . o z )= - i
- (48.r 6
Ą

3t2
 *, =* s i n @ 1 ,x , = f sin@,

a dla przetwornika kwadratowego o boku D.'

R8(O) (48.17)

r=fsin@

Przebiegi funkcji (48.l5) oraz sin x/x są przedstawionena rys. 48.Z.Przykłady cha.
rakterystyk kierunkowych dla pola dalekiego przetwornika kołowego pokazano na rys.
48 '3. Y,łzoryte wyrażająteż charakterystyki kierunkowe pól płaskich reflektorów odpo.
wiednio kolistych, kwadratowych i prostokątnych.

4
ą
I
5
a
o
vl

. stn.r
Rys. 48.2 Przebiegi funkcji!!! l-
x x

Amplituda ciśnieniaw punkcie pola dalekiego odległym o y od osi przetwornika

kołowegoo średnicyD ma wartość

p(z,y):p,!#*#'o* (48.18)

gdzie o = arctg! jest kątemjaki tworzy promień poprowadzony od środkaprzetworni-

ka do rozpatrywinego punktu pola z osią Z przetvtornika.Wyrażenie(a8.15) opisuje
charakterystykę kierunkową dla fali monochromatycznejo częstotliwościc^ro.Stanowi
ono jednocześnie pierwsze przybliżeniecharakterystykikierunkowej przetwornikakoło.
wego pracującegoimpulsowo. Przy bardziej ścisłychrachunkach, dla impulsów krótko-
trwałych (o czasie trwania 2 - 3 okesy) na|eżyuwzględniać odpowiednie poprawki.
Skracanie czasu trwania impulsu powoduje poszerzeniecharakterystyki i zmniejszenie
bocznych ,,listków'' Dzieje się tak na skutek zmniejszeniawpływu zjawisk interferen.
cyjnych.
 Rys. 48.3 chalakterystyki kierunkowości
źródeł,
dla których Dl)l = 2 i D/}. -- 5

48.4. Cłrarakterystyka kierunkowa gtowicy skośnej

Pole wytworzone ptzez głowicę skośnąz klinem Ztworzywa sztucznego ma charak.

terystykę kierunkową zniekształconą dziataniem tego klina. Z dobrym przyblDeniem
kierunkowy rozkład promieniowania głowicy skośnejz przetwornikiem kwadratowym
opisuje za|eżność([30] str.329):

,inlffi (sino - sinco)]

R(a)= (48.1e)
rDf (sina - sinos)
ffi-

Wewzorze(48.l9)zastosowano oznaczeniazgodniezrys.48.4,tzn.:ao-kątzał'amarua,
c _ kąt bieżący,p - kąt padania na powierzchnię klina, D - wymiar przetwornika,
c _ prędkośćfal'poptzecznychw materialebadanym,/- częstotliwość.

48.5. Uproszczona analityczna postać charakterystyki kierunkowej

W celu uproszczeniawyrażeniana wielkośćecha wady posłużmysię przybliżonymi

wyraŹeniamina charakterystykękierunkową.

Il'1
 Rys. 48.4 Kierunkowy rozkład promieniowania głowicy skośnej(schemat)

Dla przetwornika kwadratowego można Wryjąć przybliżenie :

R(o)=Y=r-* (48.20)

Da przetwornika kołowego możnaposłużyćsię przybliżeniempolegająCymna za.

stąpieniu rozkładu ciśnieniaakustycznego wzdłuż,osi I w odległościz opisywanego
przezwzót

, , 211 (x)
p(z,y/=p[z/ (48.21)
x

rozkładem trójkątnym. Zasadę takiego prryb|ienia pokazano na rys. 48.5. Krzywą

dzwonową zastępujemytIójkątem o wysokościp (z) i podstawieodpowiędającejśrednicy
wiązki w odległości do zera, tj. dla sin @, = | ,22 n
y dla spadku ciśnienia
D
Korzystaj ąc z proporcji :

p (Aw) = o B _ y . t e @ ( A W )
p (z) (48.22)
OA y.tg@
o

Rys. 48.5 Szkic obrazującyzasadęprzybliżeniatrójkątnegocharakterystyki

-ll-s
 otrrymujemyostatecznieprzybliżonywzór na charakterystykękierunkową:

(48.23)

* 49.EcHo PŁASKIEGo REFLEKToRA w osl wlĄzKl

49.|. Sposób obliczania wielkościecha

Znajdźmy ogólne wyrażenie na wielkośćecha matej wady znajdującej się w odległo.

ściy od punktu z na osi wiązki wysyłanej przez przetwornik. Pomińmy tłumienie fal w
materiale. Ciśnieniew puŃcie z mawartośćp (z).
Ciśnieniew odległościyod punktu z na osi wiązki (rys. a9.l) wynosi

p (2,y) = p (z) Rr(@) (4e.1)

@ = arctgf
L

Rozkład ciśnieniaw polu dalekim wiązki fal odbitych od wady otrzymamy mnożąc
(49.|) ptzez charakterystykękierunkową wady:

p.(z,t) = p (z) Rt(@) Rw (@) (4e.2)

gdzieR' /oi jest charakterystykąkierunkową wady.

:C

o
!
o
N

(L

y od osiwiązkiz
Rys' 49.l Wadaw odległości

Dla uzyskania wyraż,enta

na amplitudę echa wady ł-odebranego pruez głowicę,na.
leży pomnoryć wyrażenie(49.2) przez ciśnienie
p, (z) na osi wiązki odbitej w odległo.

316
 ściz oraz przez chankterystykękierunkowągłowicypracującejjako odbiornik.
Ponie.
ważcharakterystykinadawczai odbiorczajedneji tej sameigiowiry sąidentyczne
,otrzy.
mujemy:

hw = A p (z) Rr(@) ny, (z) R_ (@) (4e.3)

gdzieA jest stałąuwzględniającaczułośćukładu odbiorczego.

Przy ręcznych badaniachultradźwiękowychdokonuj.ńy o..ny wady
w takim poło.
żeniu głowicy, przy którym uzyskuje się najwiękve echó wady,
a więc w położeniu,gdy
wada znajduje się na osi wiązki. Kąt o ma wtedy wartość0' a
chaiakterystyka kieńn.
kowa wartość1.

49.2, Echo dużegoreflektora

Rozpatrzmy zwiazek między odległością od gtowicy do reflektora a wielkościąecha

od tego reflektora ([3r]str. 75-gg). Na
rys. 49.2 przedstawionoodpowiedni szkic sytua-
cyjny. Duzy płaski reflektor odbija wiązkę tak, jak zwierciadło
ojbii" s*iutło. Wiązka
zawracabez zmiany kształtu i dochodzi z powrotem do głowicy
w taktm stanie,jaki mia.
łaby w od|egłości 2z od przetwornika.Amplituda echa zareiestrowanaprzez defektoskop
jest proporcjonalrtado amplitudy ciśnieniaakustycznego
w impulsie,który po odbiciu od
reflektora dochodzi do przetwornika. Ciśnienieto za|eży
od odległośc i z między prze.
twornikiem i reflektorem oraz od własnościsamej wiązki
ultradźwiękowej,a przede
wszystkim od jej kąta rozbieżności,czyli od wymiarów przetwornika
i długościfali.

Rys. 49.2 odbicie wiązki od dużegopłaskiegoreflektora

Jak wradomo(patrz48.l2),dla odlegtoŚcr wlększych od długosci pota DllsKlegocls.

nienie na osi wiązki ultradźwiękowejwytworzone1przez przetwornik kołowy z dobrym
przybliżeniemopisuje wzór:

p(z)=p, (4e.4)
?,

EdzieF, = r jest polem powierzchni przetwornika, tr długością fali ultradźwięko.

lzla
weJ,zaśpo ciśnieniemd|az = 0.
Impu|s,który wrócił do przetwornika po odbiciu od reflektora, przeszedt drogę2z,

It7
a więc ciśnieniew tym impulsie wynosi

r Dń2-
p-(z)=po#= 4'o 2z)',
(4e.s)

o przez defektoskopjest proporcjonalnado tego właśnie

Wysokośćecha wskarywaneg
ciśnienia:

h - - P * = r o# (4e.6)

Amplituda echa dużego reflektora, na prrykład dna badanego eleYnentujest zatem

wprost froporcjonalna do powierzchni przetwornika FO, a odwrotnie proporcjonalna do
długościfali tr i odległościz.

49.3. Echo małego reflektora kolistego

Mały' płaski reflektor nie odbija wtązki w sposób zwierciadlany, lecz działa jak no.
we źródło fali, podobnie do przetwornika piezoelektrycznego głowiry.
Zał'óżLmy,ż'ewiązka pada pod kątem 0o na środekpowierzchni płaskiego reflektora
kolistego o średnicymnĘszej od średnicyprzełroju poprzecznego wiązki w tej odle.
głości(rys. 49.3). Idąc za [3|| wyliczamy wartośćciśnienia p w impulsie,który po odbi.
ciu od reflektora spowoduje powstanie na ekranie defektoskopu echa wady.

s lnO'k$ sinA,.k$

.I
id
lNt ts T
Ir
dr
4I
N'if
R y s . 4 9 . 3 odbicie fal od małegopłaskiegoreflektora

Ciśnieniew impulsre padającym na reflektor wynosi:

rpsp(z)=,o # (4e.7)

ZakŁadamy,żewspółczynnik odbicia na granicy ,pśrodek-reflektor''' jest równy 1,

przy samejpowierzchni reflektorabę.
a więc ciśnieniew impulsie odbitym od reflekt<rra
dzie miało taką samąwartość.

318
 PonieważzałoĘ|iśmy,że reflektor ma mniejsząśrednicętltż'przetwornik głowiry
odbita wiązka ultradźwiękowama inny kvtałt, inną długość
pola bliskiegoi inny kąt
rozbieżnościrnż,wĄzka padająca.Ciśnienie
początkowew wiązcefal odbitych od reflek-
torawvnosi:

P1DB(z)=ppse(z) (4e.8)

zaściśnieniew impulsie dochodzącym do przetwornika (w odległościz od reflektora) da-

ne jest wzorem (49.7) , w którym zamiastPg trzebawstawićPoos(z), a zamiastFo wsta.
wić pole powierzchni reflektora F,, gdyż.jegowymiary derydują o kształcie wiązii odbi.
tej. Otrzymujemy:

hw-Pw=P(z)
Fw
Iz
=p,#ł (4e.e)

Aplituda echa małego reflektorajest więc wprost proporcjonalnado iloczynu powierzch-

ni przetwornika i reflektora i odwrotnie proporcjonalnado iloczynu kwadratów długości
fali i odległości
od głowicy do reflektora.Po wstawieniu

*rQ -f
F p: . t , F.= ź-

otrzymujemy

hw-pw=k## (4e.10)

-2
g d z i ek = p o - t 6

Zauważlmy,że amplituda echa reflektora dużego(wzor 49.t) zmienia się odwrotnie

proporcjonalnieod odległości, natomiast amplituda echa reflektora małego_ odwrotnie
proporcjonalnie od kwadratu odległości.Znajduje to odbicie na wykresie
oWR, gdzie
linia opisująca zmiany amplitudy echa reflektora dużego ma mnieisze nachylenie
niż
linie odpowiadające reflektorom mniejszym od średnicyprzetwornika.
DIa wyznaczenia przebiegu poziomu echa reflektorów w funkcji odległościw
za.
kresie pola bliskiego (z ( ff) należy posługiwać śę pełniejszym wyrazeniem,
opi.
sującym rozkład ciśnieniana osi wiązki ultradźwiękowej, co wy|aacza poza ramy
na.
srych pzważań. Przy wzrościeodległości,dla reflektora-duzego
otrzymuje się w tym
zakresie powolny spadek poziomu echa, zaśdla reflektorów mniejszych od przetwor.
nika poziomy ech przechodzą przez maksima i minima, co uniemóżliwia pewne okre.
ślenieśrednicy reflektora na podstawie pomiaru amplitudy jego echa i odległości
od
głowicy. Przykład za|eżności amplitudy echa od wielkościreńektora oraz od jego odte.
głościod głowicy pokazuje rys.49.4.

3le
 oWR dla głowicy B4S.N
Rys. 49.4 Za|eżnośś
a

Za|eżnośni (49 .6) i (49. l o) oraz wykles na rys. 49 .4 powtalrająna wyznaczenie śred.
nicy reflektora jeśliznamy poziom jego echa, poziom echa reflektora odniesieniai odle-
gtosc oo przetwornika, pod warunkiem, że odległość ta jest większa od długościpola
bli'ki.go. Jako reflektory odniesienia mogą być stosowane na przvkład powierzchnie
wzorców W] iW2'

olłR
49.4. Unormowana zależność

Gdy operuje się konkretnymi wartościamiśrednicyprzetwornikaD, średnicyreflek.

z, nięma|kazdej głowicy odpowiada inny wykreso|łR. Sytuację
tota d oraz odległości
możnaradykalnie zmienić przez wprowadzeniewartościunormowanych:
a) unormowanej średnicyR reflektora (wady)

R:+ (4e.11)

reflektora,D * średnica
d - średnica przetwornika;
b) unormowanejodlegtości.4reflektoraod przetwornika

A =ń- (4e.r2)

reflektora od przetwornika,,|/- długość

z - odległość pola bliskiego;

c) względnej wartościwzmocnienia Ę dla której poziomem odniesieniajest echo

dużegoreflektora znajdującegosię w odległościz= o.
Wyrażeniana amplitudy echa reflektorów dużego(49.6)imałego (a9.9) po uwzględ.
nieniu (49.l 1) i (49 .l 2) przyjmująpostać:

h--+po+ (4e.l 3)

hw-trzp, # (4e.r4)

Wzory (49.l3) i (49.l4) sąpodstawą

dla zbudowania wykresuoIłR,
unormowanego
(rys.49.5).

320
 2
-----A= z
N

Rys.49.5 Unormowany
wykresOWR

Unormowany wykles oWR moze być wykorzystywany do oceny rozmiarów wad

wykrytych za pomocą roż:nychgłowic i w różnych materiałach.Z unormowanegowy-
kresu oIllR można otrzymać nieunormowany wykres o|łR d|a danej głowicy, jeślizna.
my długosćjej pola bliskiego i średnicęprzetwornika(a ściś|ej
- skutecznąśrednicęprze-
twornika).
W przypadku głowic z kształtowanąwiązką (np. głowic z wiązkąskupionąlub roz-
proszoną) oraz głowic podwójnych - rozkład ciśnieniawzdtużlwiązki jest inny, niż to
opisująprzytoczone wzory . Dlatego teżi za|eżności
oIłR dla tych głowic mają odmienny
przebieg.

49.5. Echa reflektorów o wymiarach blis<ich średnicyprzetwornika

Jeś|iśrednica płaskiegoreflektorakolistegojest bliska średnicyprzetwornikaciśnie-

nie fali padającejnie jest równomiernie rczłożonewzd,łuź:'jego powierzchni i wskutek te.
go kształtodbitejwiązki zmicniasię.
Jeślitaki reflektor znajduje się w małejod|egłości od głowicy, to może się zd,arzyc,
że przetwornik gtowicy znajdziesię w polu b|iskim odbitej wiązki. W takich przypadkach
rejestrowanaamplituda echa wady może osiągnącwartościekstrema|ne,przeV'raczające
wartośćamplitudy echa dna znajdującegosię w takiej samej odległości.Na
rys. 49.6
pokazanozmiany stosunkuamplitudy echa wady do echa dna zmierzoneza pomocągło-
wicy o średnicy D = 12 mm' o częstotliwośc) 2'5 MHz [33]. Wady wzorcowew postaci
ptaskich den okrągłychotworów znajdowałysię w staliw odIegłości l00 mm od głowi.
cy. Amplituda echa wady początkoworośnieproporcjonalniedo powierzchniwady, po
czym narastanieamp|itudyjest powolniejszei gdy średnica wady osiągawartośćokoło
20 mm' amplitudaecha wady osiągamaksimum' które jest wyższeod amplitudy echa
dna.Przy daIszymwzrościeśrednicywady amplitudaecha rnalejci po kilku oscylac'jlch
zbliżasię do anlplitudyecltadna.

r- I
 Rys. 49.6 Zmiany stosunku amptitudy echa wady p',.,do echa dna po
przy zmianie średnicywady kolistej. Głowica 2,5 Loo|f. odległość
,głowica-wada:'l00 mm (w stali)

49.6. Echa reflektorów bardzo małych

Przpz ręflektory bardzo małe rozumiemy reflektory' których rczmiary są mniejsze

od długościfali. Rys. 49.7 pokazuje rozkład ciśnieniafali rozproszonej na kolistym ref-
lektorze zawartym w ciele stałym. Dla . 4 ( X fala rozploszona w kierunku głowicy ma
charakterystykę kołową, nieza\eż'nąpraktycznieod kształtu wady i orientacji powierzch-
ni wady względem kierunku fali padającej.W kierunku prostopadłymdo kierunku pada.
nia są promieniowanefale poprzeczne'których udział malejeze wzrostem rozmialów wa.
dy. Ciśnieniefali odbitej jest proporcjonalniedo trzeciej potęgi średnicywady i odwrot-
nie proporcjonalnedo kwadratu długościfali.

Folo godluzno
rozproSZOnO
I w kiarunku
L przcciwnYm
do toti -I F o l o P o d l u z n o
póaojqce.i rozprosfono
w klerunku toti
podojgce.i
Podojqco
f olO -.)
podfużno

Moty r.ft.ktol
folo
kotory d <I '1 lRozProszono
'poprzeczno

Rys. 49.7 Rozpraszanie fali podłużnej na małej wadzie kolistej

322
* 50. zALEavoŚĆ owR DLA RrrtrrtoRÓwNIEPŁAsKIcH

W poprzednimrczdzia|eomówiono zależność oWR dla małychpłaskichreflekto.

rów kołowych o wqpółczynnikuodbicia l i powierzchni ustawionejprostopadledo
kierunku osi wiązki. Amplituda h echa takich reflektorów malejeodwrotnie propor-
Qonalnieod kwadratuodległości z patrzwzór(49.l0):

h-+
Prawo odwrotnej proporcjonalności amplitudy echa do kwadratu odległościjest
spełnione również dla innych małych reflektorów, jak otwory z dnem sferycznym,
czy krótkie nacięcia o przekroju trójkątnym lub prostokątnym, a takźe dla krótkich re.
flektorów walcowych.
Gdy reflektorem jest boczna powierzchnia otworu walcowego o średniryd i długości
Ay, mniejszej od średnicywiązki, to amplituda echa maleje z kwadratem odległości

Fpav fd I
P-Po--r -; r (s0.1)
\r.z
Gdy reflektorem jest sfera, to amplituda echa jest proporcjonalna do jej średnicyd
i maleje takżeodwrotnie proporcjonalnie do kwadratu odległośoi

P:PoT;- I
7r,' ( so.2)

Dla reflektorów, których długośćjest większa od średnicywiązki, a szerokośćmieści

się w jej obrębie, za|eżność amplitudy od odległości jest inna. Gdy reflektoremjest po-
wierzchnia boczna otworu cylindrycznegoo średnicyd i długościAy, większej od średni.
cy wiązki, to amplituda echajest odwrotnie proporcjonalnado odległości w potędze l,5.

FptE
, =ro2j I ;;ł
l
- -};ł (s0.3)

Amplituda echa płaskiegodna rowka o szerokościAx i długościAy większej od roz.

miaru przekroju poprzecznegowiązki jest proporcjonalnado szerokościrowka A.r i po-
dobniejak w przypadku długiegootworu cylindrycznego, malejó odwrotnie proporcjo.
nalniedo odległości
w potędze 1,5:

-#
ł=ło_frŚ'.'F
t FnAx
(s0.4)
 Pomiary przoprowadzone na wadach naturalnych, wykazały ż'eza|eżnośc amplitudy
echa od odległości:
a) dla małych wad naturalnych,jak pęcherzekuliste i podłuż.ne, żużlejest taka sama
jak dlamałych płaskichreflektorów kolistych, tj. h - |lz2 :
b) dla łańcuchów pęcherzy, długich braków przetopu i długichżużlijesttaka sama
jak dla otworów poziomych, tj. h - |lz|.5;
c) ita auzyct' pęknięć (z powierzchniąchropowatą)jest taka sama,jak dla dużych
reflektorów płaskich,tj. h - | |z.
W związku ze stosowaniemdo nastawy czułościtakżereflektorów wzorcowych nie-
płaskich (na przykład bocznej powierzchni otworu okrągłego),zwróćmy uwagę, że re.
flektory te mogą spełnić rolę płaskich reflektorów kolistych Ęlko dla jednej odległości.
Przyczyną tego są, wspomniane wż.ej, odmienne prawa zmiany wielkościich ech z od-
ległością. Przykładowo, dla głowicy M$B-N2 wadą równowaznąwzgLędempoziomego
otworu\o średnicy4 mm w odległości500 mm jest płaska wada kołowa o średnicy
5,8 mm, ale gdy odległość wynosi 20 mm to średnicawady równoważnejwzględem tego
otworu ma wartość tylko 3 mm (rys. 50.l).

I Ę: Ą
\3 ę Ń
ź \
) \
\ \ x
\ \ \
\
\
L
d r =3 m m dr =5.8mm

MW B- 2N

a4 t
I
I
I

I
-6śo6s
I
\
\
--
./

reflektorów o różnych ksztattach. Pobocznica otworu

Rys. 50'1 llustracja ,,nierównowłźności''
okrągłegoo średnicy4 mm dla głowicy MWB.2N przedstawiasię z odległości 20 mm jako wada
500 mm
płaskao średnicy3 mm, a z odlegtości jako wada płaskao 6
średnicy mm

324
51. PRZETWORNIK Z MONOTONICZT{Y-IU POLEM BLISKIM
Występowanieekstremów ciśnieniaakustycznegona osi wiązki w zakresiepola blis.
kiego jest niekorzystne z punktu widzenia możliwości
oceny rozmiaru wady. Dla tego ce-
lu pożądanebyłoby uryskanie monotonicznegoprzebieguzmian ciśnienia w polu bliskim
przetwornika.Jedno z rozwtązańpolega na pobudzaniu przetwornika tak, by amplituda
prędkościjego drgań malała od środkado brzegów według funkcji rozkładu prawdopo.
dobieństwaGaussa.Wówczas na osi przetwornika' w polu bliskim uzyskuje się monoto.
niczną zmianę ciśnienia.Przetwornik taki w odróżnieniu od ,,tłokowego'' nazywa się
przetwornikiem Gaussa.Na rys. 5l.1 pokazano rozkład prędkościdrgań wzdtuż średnicy
takiego przetwornika. Taki rozktad drgań można osiągnąć albo przez odpowiednie
',ukształtowanie''tłumienia przetwornika lub dobór konturu elektrody na tylnej po-
wierzchnl przetwornika. Pokazana przykładowo na rys. 5l.2 elektrodaprzetwornikagau-
sowskiego,ma kształt ramion gwiazdy, tak dobrany, by powierzchnia pokryta metalęm
w pierścieniach współśrodkowychzmieniałasię wedługfunkcji Gaussa
r-
R3
a(r)=e

Ro - charakterystycznypromień przetwornika, na któ.

gdzie: r - promień pierścienia,
rym amplituda prędkości drgań maleje,,,e-krotnie'.(e = 2,7|) w porównaniuz ampli
tudąw jego środku.

Rozkład prędkości wzdłuż.średnicyprzetwornika Gaussa

Rys. 5 l.2 Kształt elektrodyprzetwornikaGaussa

-t: -i
 Stosowaniena przetwornikupiezoelektrycznymelektrod o różnychkonturachpo.
zwala uzyskać również inne efekty. Na przykład przez nał.ożenie na przetwornikelek.
trod w postaci centrycznycłrpierścieni do nadajnikaróżnychich kombi.
i pruyłączarue
nacji możnaotrzymać(z jednej i tej samejgtowiry) wiązki fal ultradźwiękowych o róż.
nydr długościach pola bliskiegoi o różnejrozbieżności.

* 52. szERoKoŚĆ oBWIEDNI ECHA REFLEKToRA

sf.l. obliczanie szerolrości ectra

obwiedni pr.y wględnym progu rejestrowa|ności

Szerokościąobwiedniechawady ^y (^w)przy względnymprogurejestrowalności

echanarywamyodległości Ly międry położeniamigłowicy -y i +y' w których ampli.
tuda eclra wady jest o Atl decybeli mniejszawzględemmaksymalnejamplitudy, uzy.
skiwanejw położeniuy= 0.
Dla wyliczeniaLy (LW)trzeba oblicryć wartość kąta@ (AĄ mtędzyosiąwiązki,
a kierunkiem,głowĘa-wad8'', gdY amplitudaecha wady h,fi)jest o All mniejszaod
wartościmaksymalnej gdyy = o i@ = o (rys.52.l):
uzyskiwanej,

LY ( AW) = 2 Y (LW) = 2 z tg@( AW) (s2.r)

Porównującamptitudyechwadydla @ = @(^w)i o = 0
otrrymujemy

nn(fl - A p(z) RLIr-( Lu)lpn(z) RwI@( Lw)l (s2.2)

hwb) Ap(z) nr(o) pn(z)R.(o)

PrryjmującRg(0) = | iRw(O)= l otrrymujemy

równanie:

-LW
-rc
lo
R, [o(A!/)]=
RA I@(AW)1. (s2.3)

Za|eżności (52.l) i (52.3) pozwa|ająwyznaczyć wartościszerokościobwiedni Ly (AW).

W tym celu do wzoru (49.4) należywstawić funkcje przedstawiająceodpowiednie cha.
rakterystyki kierunkowe.
Wyznaczmy szerokośćobwiedni małego płaskiego reflektora kolistego znajdujące.
go się w polu dalekim głowicy o przetworniku kwadratowym. W tym celu weźmy pod
uwagę wyrażeniena charakterystykękierunkową przetwornika kwadratowe8ow posta.
ci (a8.20), charakterystykę kierunkową reflektora kolistego w postaci (48.23)' prawa
zmian amplitud ciśnieniana osi przetwornikai wady odpowiednio wedługwzorow (49.4)
i (49.lo). Stosunek amplitud ech wady w położeniachy = 0 i y = y (Altl) wyraza się

3t6
 zgodniez wzorem(S2.2)następująco
:

+#=ro # =rr-#sin@)2(r- (s2.4)

"t",)
',a"x
l,.L
si! 9o = a-
h^u, = !, orazwyrażająct8
Zakładając oo = cosoo po pomlnlę.
V l - (r ,22ł),
ciu członówzawierających
sin @ w potędzewyiLszejniżdruga,otrzymujemyrównanie:

_AW
20
Bsin2o+ (€J)sino+(1o -1) = o (s2.s)

gdzieA= 1,22VdiB = nD:

3tr2
I

' LY(aw)

Rys. 52.l Schemat powstawania obwiedni małej wady

Z rownania (52.5) wyhczamy wartośćsin @, 'a uwzględniając (52.l) z przyb|iżeniem

sin € ) = tg o, otrzymujemy na ^y (^W) wyraż,enle:

327
 1 0 z 2 , ) . '- , 1 , , , ł (s2.6)

Przyjmującwe wzorze(52.6) ^w = 6 dB i Al|l = 20 dB otrzymamy wyrażeniana'

Ay (6 dB) orazLy (20 dB):

=
Ay(6dB) ,{L*#rO D' - ,lt' -It,ą#p--tl
+9fl-n'
,,,I
#
(s2;t)

1121
-- , ,l'l| , ,1 =l ,- -+' s > ł 1- |a1, l
ą}2 f, l .*| *
, 2*n -2 D 2
^y(2od}=#,,[t,o,1,1a,
(s2'8)

(52.7) przezD i pomijając składniki lfD2 otrzymu.

Dzieląc obydwie strony zależności
jemy uogólnioną zależność:

ły
Q
dB) = o,0.76A(/0ś7T, + 6J8 0,82R) (s2.e)
D

PodobnieZ wzolu(52.ó) otrzymujemy

ay - 0 . 8 2R ) ( s 2 . l o )
\ a W ) = 0 . 0 7 t6 f
D

Wpodobnysposóbmożnauzyskaćwyrażenianawielkoścprzesuwuwprzypadku
przetwornikówi wad o innych kształtach.Ze wzoru (52.6) widać,żewartość przesuwu
od długości fali, średnicy
A't, 1estwprost proporcjonalnado odległościz i za|eżyponadto
wady, wymiaru przetwornka oraz od przyjętej wartościAIl.
głowicy
Ńu .y'. 52.2 przedstawionowvniki pomiarów wykonanych przy użyciu
2T70ol0C (N = 20 mm),zaś n a r y s . 5 2 . 3w y n i k i u z y s k a n ez a p o m o c ąg ł o w i c y 7 0 o 1 8 C
4 T
(N = l l5 nlnl). Na osi poziomejodłozono unormowanyrozmiar wady dlD, a na osi pio.
A / _ (9 ! B )
n o w e ju n o r m o * n n .o , , . . u n i ę c i ;

.llfJ
ayso
D 2T7trroc
y.20rin
30
<L -G-
!{sł--
2.5

2.0

--Ł,_\ź{/,
,z/

Rys. 52.2 Względny przesuwgłowicyprzy

Lw = e dB w funkcji względnegorozmiaru
wady d/D przy ńżnych odległościach
,,gto-
o5 t0 r.5 u f
wica-wada''.Głowica2T70o 10c

W przypadku głowicy 2T7ool0c odległości 'głowica.wada,,mieściły się w zakre-

sie od l lV do l4,5 N' zaśdla głowicy 4T70o18c odległości zawafiebyłyod0,171/do
2'6 N. Z rysunku widać, iLe d|a z < 3,7,^/wartościAy (ó dB) małych wad o średnicy
d > 2 mm są mniejsze od D. Podobnie dla gtowicy 4T70ol8C wszystkie wartości
Ay (6 dB) < D, tj. odpowiadająwadom o rozmiarachd ś D.
Z rysunku 52.3 widać takirc, ze dla odległości,,głowica.wada,,z ( rV wartoŚct
Ay (6 dB) nie rosną Ze wzrostem odległości. W przypadku głowicy 4T70ol8c obser.
wuje się nawet za|eżność przeciwną,tzn.wraz ze zmniejszaniemsię odległości od 0,(5|y'
do 0'l7 1y'wartości^y (6 dB) narastają.Dopiero dLaz ) 0'551/ występujewzrost warto-
ściAy (ó dB) ze wzrostemod|egłości z.
Załoircniestałościciśnieniaakustycznegona całej powierzchni reflektora ogranicza
zastosowanie uzyskanych wyników teoretycznych tylko do reflektorów o rozmiafach
znacznie mniejszych od średnicyprzetwornika. Pruy wzrc.ście średnicyreflektora zał'oże-
nle to jest w coraz mniejszym stopniu spełnione(zmienia się charakterystykawiązki fali
padającegona powierzchnię reflektora, wiązka fal odbitych jest bardziejrozbieżnaw po.
równaniu z przypadkiemjednakowegociśnieniana całej powierzchni. Efekt ten prowa-
dzi do wzrostu wartościA7 dla reflektorów (wad), ktćlrych rozmiary zbltż,ająsię do roz.
miarórv przekroju popIzeczne1owiązki. Natomiast przy dalszym wzrościerozmiaru re.
flektora w kierunku przcsuwu głowicy, wartośćAy narastaproporcjonalniedo jego roz-
miaru. Przebieg zmian wartościAy (AW) w zależnościod rozmiaru reflektora d ma
kształt pokazany we współrzędnych unormowanychAylD i dlD na rys, 52.4'
Za|eżnośc między rozmiarem wady d w kierunku przesuwugłowicy i wartością prze.

-1:V
 !ysog 4T7f 18C
T N=115mm
t.:

Rys. 52.3 Za|eż'nośćwzględnego pnesuwu

Ay (6 dB) od względnego rozmiaru wady d/D
przy różnych odległościach,'głowica-wada''.
Gtowica 4T70ol8C

a
Ji
!
.9
t
q

a
o
Lt
P
I

Rys. 52.4 Za|eż'nośćunornowa.

nego przesunięcia od unormowa.
ą1ń ,| nego rozmiaru wady ptzy względ.
ronior dy P-dlI) nym progu rejestrowa|nościecha

.t-t0
 suwu Ay odpowiadającemu przyjętej zmianie amplitudy echa wady A|ł,gdy d jest więk.
sze od średnicywiązki fal ultradźwiękowych można zapisać:

d:Ay(^}Ą_b(^w (s2.rt)
We wzorze tym b (AĄ jest poprawką,którą trzeba odjąć od zmierzonej wartościprze.
suwu głowicy by uzyskać rzeczywisty rozmiar reflektora (wady) w kierunku przesuwrr
głowicy.
Wartośćpoprawki b (^|y) nie jest stała dla danej głowicy iza|eĘ zarówno od od.
-
ległościreflektora jak też,od kształtu jego krawędzi. Na
rysunku sz.s pokazano przy.
kładowo przebieg zmian wartościpoprawki d|a A|ł = (6 - óo) dB przy zmianach od-
ległości,,głowica-wada''od jednej do czterech długościpola bliskiego. Przedstawione
pomiary wykonane były za pomocą głowicy 2LN7. Wadą wzorcową było płaskie
dno
rowka o szerokości15 mm. D|a AW = ó dB wartośćpoprawki
3estbiiska zera, nieza|eż.
nie od odległości.Ze wzrostem AIl wartośćpoprawki rośniei ńasila się jej zależność od
odległości.
Taki przebieg zależnościuzyskanej doświadczalniejest zrozumiały w świetleoma.
wianego w tym rozdzia|e zutiązku między szerokościąobwiedni wady małej, a jej roz-
miarem.

ó0dB

E 50 dB
E
o {0 dB
t
).'
{
30 dB
.oł
o
J 20 dB
i
o
ą
o
r t0 dB

6dB

Rys. 52.5 Za|eź:ność

poprawkib (AW) od
Al/ i odległości ,,głowica-wada,, z/N
0 d t o 9 t o śZć/ N

52.2. Szerokościobwiedni przy statym progu rejestrowa|ności

echa

Wykres na rys. 52.6 przedstawia przykład za|einościmiędzy wielkościąprzesuwu

Ay, przy którym amplitudy echa wady przelrłaczająokreśloną stała wartość (staĘ
próg). W tym przypadku pomiary wykonano za pomocą głowicy 4T7oo10C przy od.
ległościz = 75 mm (1,8 rV). Mierzono długośćodcinków przesuwu Ly,na których
amplituda echa wady byŁa wyŻszaod amplitudy echa wady wzorcowej o średnicyd =

33r
2 mm uzyskaneBoz odległości75 mm. WartośćAy dla wady, której poziom echaprzy.
!ęto za próg rejestrowalnościwynoś oczywiściezero. Amplitudy ech wad o rosnących
wi
średnicach przekraczają próg rejestrowalnościo coraz większą wartość.Z wykesu
wady. Taki przebieg funk.
dać ostrą i jednoznaczn| zależnośćwartościAy od średnicy
cji pozwala na ocenę rozmiarów wad w kierunku przesuwu' jeśliodległość,głowica.
wada'' pozostajestała. .,' atto.E
Fd t. lll

------1

Rys. 52.6 Wielkośćprzesunięciagłowi

cy Ly, ptzy którym amplituda echa wa.
dy ptzekacza amplitudę wzorcowej
wady płaskiej o średnicyd, = 2 mm.
Głowica4T70oloc. odległość z = 1,8N
-.r....!otlrr"

Na rys. 52..7 zestawiono zależnościAylD od dlD uryskane przy progu rejestrowal-

nościna poziomie dlD = O,2 d|a głowic 4T70ol0c i 2T70ol0C z tej samej odległości
z = 75 mm. Dla głowicy 2T70ol0C (N = 20 mm) wartościLyleż'ąwyżejod odpowied.
nich wartościuryskanych przy badaniu za pomocą głowicy 4T70ol0C (N = 40 mm).

Rys. 52.7 Za|eź:nośc względnegoprze.

sunięcia AylD od dlD przy stałym progu
echa. Głowice 4T7ool0c
rejestrowalności
i 2T7oo10C. Próg czułościdlD = 0'2

W przypadku pierwszej głowicy odległość,,głowica.wada''wyrażonaw krotności

ługościpola bliskiego jest dwa razy większa. Teoretyczny opis zależnościszerokości
obńedni.LylD od dlD dajewzór (52.l0), w którym AW przyjmujewartościzmienne
= zlN.
odpowiednio do zmian rozmiaru wady R = dlD i odlegtościA

) 51-
 Na rysunku 52.8 pokazano podobne przebiegi uzyskane za pomocą głowic fT70o
18C i 4T70ol8C. w tfm przypadku próg rejestrowalnościwyznaczało echo wady o roz-
= = ,75
miarze dfD o,l1. Dla tych gtowic odległośćz mm, wyrażona w krotnościy'y',
wynosiła odpowiednio l ,l N i 0,55 N. Jak w poprzednim przykładzie widać wzrost war.

Rys. 52.8 Za|einośćAy/D oddlD przy

eclra
względnym progu rejestrowalności
dla głowic 2T70o18C i 4T70ol8C.
Próg czułościd/D= 0'L|

tościAy przy zwiększaniusię unormowanejodległości,,głowica.wada''. Narastanieodle.

głościz między głowicą i wadą przy tym samym progu rejestrowalności echa powoduje
malenie wartościAy. Decyduje o tym szybki spadek amplitudy echa wady, wynikający
Zarówno z rozbieżności wiązki jak i ze strat na tłumieniew materiale.
Dla praktycznego wykorzystania zależnościay : f(d) przy stałym progu rejestro-
walnościecha trzeba dysponować odpowiednimi wykresami tej zależności dla różnych
odlegtości,głowica-wada'',których przykładem są wykresy przedstawionena rys.52.9
i 5 2 . l 0 d l a o d l e g ł o ś c i=z 1 N j z = 2 N .

ttutl ty o r*, fr1 P.11!9

Rys. 52.9 Za|eżnośćunormowanegoprzesunięciaod unormowanegorozmiaru wady przy stałym
echa d|az = 1N
progurejestrowalności

333
 t;
ę

! lłvtfiOnł lvłifi*,r rdg P-dlD

Rys. 52.10 Za|eż.nośc unolmowanegoprzesunięciaod unormowanegorozmiaru wady przy stałym
echa d|a z = 2N
progu rejestrowalności

* sl. cIEŃ wADY KoLISTEJ

53.l. Ciśnienieakustyczne w strefie cienia wady ptaskiej

Przy pracy metodą przepvszczania do wykrywania i oceny wad korzysta się ze zmia.
ny amplitudy odebranegosygnału.Rozpatrzmy amplitudę ciśnieniaza płaskąwadąkoli.
stą, na którą pada płaska fala o ciśnieniupo.Pole akustyczne zawadą jestwynikiemń.
terferencji fal elementarnych, promieniowanych przez cząsteczkiznajdujące się na krawę.
dzi (obwodzie) wady kolistej. Początkowe ciśnienietych fal jest równe Pp. Rozkład ciś.
nienia w polu za płaskąwadą kolistąjest podobhy do rozkładu ciśnienia w wiązce fal od.
bitych (rys. 53.l) [3l ]. Za duiląwadą występuje obszar zupełnegocienia,występujeteż
pole bliskie i dalekie. W polu bliskim na osi wady występująmaksima i minima ciśnienia.
W dużejodlegtościod wady, większej niż 30 długościpola blis$iegowiązki odbitej
od wady, roŻnica między ciśnieniemna osi wiązki za wadą i ciśnieniemfali padającejna
nią jest prawie niezauważalna- nie prze|cacza |o %, w odległoścido ok.4.l/, ciśnienie
na osi wady jest mniejszeniż w fali padająceji malejew miarę zblriżania się do wady. Po-
cząwszy od odległościok. 4 N, ptzy zbliżaniu się do wady ciśnieniezawadą narastai
prry odlegtościokoło l /y'przekraczaprawie 2,5 krotnie wartośćciśnieniafali padającej.
W polu bliskim ciśnienieprzechodzi przez kolejne ekstrema.Podobnie jak w wiązce wy-
promieniowanejprzez przetwornik, czy odbitej od wady i tu na końcu pola bliskiegowy-
stępujenaturalneogniskowanie.
Jeśliprzyjąć, że |o % rczntcy ciśnieniastanowi dostatecznieduzy sygnałobęcności
w a d y ,t o z w y k r e s un a r y s . 5 3 . 1 ł a t w oo d c z y t a ć 'ż ew a d a t a b ę d z i e w y k r y t a t y l k o p r z y

334
 odległościodbiornika do wady mieszczącejsię w zakresie od ok. 30 // do ok'2,5 N.
W zakresieod 2 N do 0,5 Iy' ciśnieniew cieniu na osi wady jest większe od ciśnieniafali
padająceji w tym zakresie odległościnie można uryskać wskazania wady. Kolejny krót-
ki odcinek wykrywalnościprrypadaw odległościach od ok. 0,4.n/do ok. 0'3t\t

o-
o
c
o
c
:9
(J

05 20 50 100.N
z/N
0dte9tość
Rys.53.l Rozkładciśnienianaosizapłaskąwadąkolistąwfunkcjiodlegtościz/iy'odwady

53'2. Za|eżność
oWR dla metody przepuwczania

Rozpatrzmy sytuację jaka ma miejsce przy badaniu ultradŹwiękowym elementu za

pomocą dwóch wspótosiowo ustawionych głowic pracujących metodą przepuszczania.
Niech średnicaprzetwornika głowicy nadawczejwynosi D,, odbiorczejDo, i odległość
między głowicami z. Płaska wada kolista o średnicyd, znajdujesię w od1egłościz7 od
głowicy nadawczej.Szkic geometrii badania pokazuje
rys. 53.2 [3a]. Gdy między gło-
wicami nie występuje wada, to amplituda ciśnieniaimpulsu odbieranegojest równa:

,=ł,II|11 o,of
+ ",,eagj*o, ( s 3l.)

Fp Fn

gdziep, - amplituda ciśnieniaw sąsiedztwienadajnika (w ciele stałymjest to składowa

tensora naprężenia rAC - odległośćmiędzy punktem,4 nadajnika i C odbiornika;
k.ątmiędzy r4g l osią Z,F, _ powierzchnia nadajnika,.F', - powierzchnia od.
?4, '.
biornika,k = 2nl)r.
Wyrażeniepod całką przedstawiapole ultradźwiękowewytworzone przez punkt A
nadajnika' Całkowanie po powierzchni Fn prowa d'zido wyrazeniacałegopola promie-
niowania, zaścałkowaniepo powierzchni odbiornika F, pozwala wy|iczyc średniąwar.
toścciśnieniadziałaj4cego
na odbiornik.

-3-l.s
 Jeśliw obszarze między głowicami znajduje się wada, to sygnał odebrany wyraża się
wzorem:

,,=r.{I[,##cos
@67. a,1]ary11a,,
cos@767
w# (s3.2)

W wyrażeniu tym uwzględnia się, żekażdy punkt 87 płaszczyzny MN, w której |eżLy wa-
da, jest źródłem punktowym wysyłającym fale, o amplitudzie i fazie okeślonejprzez
amplitudę i fazę fa|i padającejna punkt B7 z nadajnika F,.Wadę o powierzchni F' uwa-
ża się za nieprzenikalną dla fal ultradźwiękowych,a więc amplituda fal wysyłanych
przez punkty B powierzchni wady jest równa zero. Taki opis zjawiskamożebyć przyję.
ty, gdy rozmiary wady są większe od długościfali.

Rys.53.2 Szkicgeometrii
badaniametodąprzepuszczania

Z punktu widzenia oceny wykrywalnościwad istotnajest znajomośćstosunkuamplt.

tudy p impulsu przechodzące1oprzez materiat w miejscu bez wad do amplitudy impulsu
pV, w prz'ypadkuobecnościwady. Dla uzyskania wyraŹeniaplp, naleĘ obliczyć catki
(53.l) i (53.2)' albo obliczyć wartośćwyrażeniastanowiącego różnicęłPw,W ogólnym
prrypadku obliczenia takie są bardzo złoircnei nie prowadządo prostych wzorów, które
moznaby stosowaćw praktyce. Dlatego zadanierozwiązujesię albo doświadczalnie, albo
w sposób przybliżony. W najbardziej interesującym przypadku, gdyśrednicanada1ntka i
odbiornika sąl ówne' przybliżonewyrażeniena plpw ma postać:

336
 o=r-#r'*1 -61;p-t (s3.3)

gdzie Ę = zl/zz

g2
(L 0.3
0.4
ol 0.5
'
-o
o
0.6
) o.7
o
E
.Y
o
c
J
o
o
|Ą

0 1 2 3 4 5 6 ? I910
0 d t e g t o ś óz / N
Rys. 53.3 Za|eżność
oWR dla metody pzepuvczania

W z g t ę d n e p r z e s u n i ę c i ey / D
Rys. 53.4 Zmiany stosunku amplitud impulsów w przypadku obecno.
ści wady. i bez wady P,/P PtzY y,rzemieszczaniuwady wzdłuź
osi y
rownolegle do powierzchrri przetworników nadawczego i odbiorczego

1-)
 Na osi piono.
Na rys. 53.3 pęedstawiono wykes oIłR dla metody plzepuszczania.
amplitud ciśnienia impulsów w miejscu bez wady p i z
wej odtożono *uitoś.i stosunku
jest odlegtość między gtowicami z wyrażona w
niaą p.. Na osi poziomej odłożona
pola bliikiego N głowicy nadawczej. Krzywe przedstawiają największe
l.'otnosli długości
= d/D, w funkcji odległości
wartości zmtłny p,lp dla wad o względnym rozmiarze R
między gtowicimi'na dawcząi odbiorczą. Przedstawiona rodzina krzywych dotycry przy-
g-= 0,5, tj. gdy wada znajduje się w płaszczyźnie|eż'ącej w środkuodległości mię.
paóku
i gdy znajduje się ona w położeniu powodującym naj.
dzy naóainiki.* i oóuio'nikiem,
przechodzącego z nadajnika do odbiornika. Położenie to nie
większe ósłabienieimpulsu
symetrii (oś Z). Jak widać, dla wad o
musi pokrywać się z osią ,,nadajnikodbiornik''
od średnicy przetwornika największe zmiany impulsu
średnicach znaczlie mnieisrych
- 3 N.
przechodzącegomają miejsce przy odlegtościmiędzy głowicamiw zakesie 2,5 N
Dla wad o rozmiarach bliskich rozmiarów przetworników wykrywalnośćmonotonicznie
malejeze wzrostemodlegtościmiędzy głowicami.
w pła.
Ńu ry,. 53.4 pokazino zmiany stosunku Pwlp podczas przemieszczenia wad
szczyźnieMN leżącejw potowie odległości między gtowicami, przy odległości ''nadaj-
nik.odbiornik'' równej l01/. Na osi poziomej odłożonoparametrylD będący unormo.
waną odległością migdzy osią wady i osią głowic. Potożenie wady na osi głowic wbale
: o zvtiązane
nie odpowiada największejwykrywalności.Maksymalnewartościptzy ylD
wystę-
,ą ob,,u.u-i podwyższonegociśnieniana osi wiązki w cieniu wady. Zjawisko to
" Na 53.5 pokazano wyznaczone doświadczal-
p.,i. tytto w przypadku wad kolistych. rys.
gło-
nie z.iuny amplitudy impulsu przechodzącegoprzy przesuwaniusię wady między
= 2,51/' Dla otlległościz zakresu 2 N - 31/ zbli
wicami wzdłuŻosi dla odległościz
(rośniePwlP)
żenie wady do którejśgłowicy powoduje zmniejszenieczułościmetody

(L

o:O

fio
50
o-
.Ęo
io
C
F
. ^ ^ . o '06

a0 07
fio 0.8
1.0
9 z.,ly

Rys. 53.5 Zmiany amplitudy impulsu odbieranego przy pftcmleszczanlu

wady wzdtuż osi z

Gdy odległośćmiędzy gtowicami jest równa 1 N przemieszczęnięwady nie zmienia war.

tościwskazania.Pewne osłabienięczułościprzy małejodległości wady do którejśz gło-

338
wic obserwuje się też dla małych wad w przypadku gdy z ż 5 l/. w praktyce do oceny
wykrywalnościmożna posługiwać się prostymi, półempĘcznymi zależnościami :

Fw
--F;
t_ 4:Y<tP't<l Bdy z <(4. ..s)li (s3.4)
Fn P

, -4F' .,? l< l- g d yz ż ( 4 . . . 5 ) 1 i (s3.s)

ę*

Jeśllwielkośc zmiany amplitudy impulsu wyliczona według wzorów (53.a) albo (53'5)
nie jest odpowiednio większa od zmian spowodowanych lokalnymi różnicami tłumienia
i sprzężenia-akustycznego,
to wada nie będzie mogłabyć wykryta.
D|a z ż (4 - 5) N można osiągnąćwzrost czułościbadania przy mniejszejgubości
badanegoelementu,przez wzrost częstotliwościi zwiększenie średnicygłowic.W
obsza.
rze z ś (4 - 5) Iy' wzrost czułościmożna osiągnąćprzez zmniejszenie
średnicy ptze.
twornika, z tym, że długośćpola bliskiego należy dobrać mniejszą 3-4 razy
od grubości
badanegoelementu, gdyzw tym zakresiewystępujenajlepszawykrywalność.
Jes1i metodę przepuszczaniastosuje się przy pracy w zanurzeniu, podane
tu wzory
i wykresy można stosować,jeślizamiast odległości między głowicamiz wstawićwiel.
kość

z6)
o+cL(zo+
cw (s3.6)

gd'zie:g - gruboścelementu,
cL - prędkoścfal podłużnychw materiale
badanegoelementu,
z, i z 6- grubośćwarstwy cieczy międ,zvnadajnikiemi odbiornikiem
a powierzchnią
elementu,
cw - prędkość fal w cieczy.
 Tablica I

NAJcZĘŚcIEJ sPoTYKANE oBcoJĘzYcZNE NAZwY ELEMENTÓWREGULACYJ.

r{YcHI PRLYŁ ĄCzI1t{IowYcHDEFEKToSKoPUULTRADŹwIĘKoWEGo

Nazwa polska Nazwa niemiecka Nazwa angielska

nadajnik Sender transmitter ( transmiter)

odbiornik Empfanger rcceiyer (rysiwer)
głowica Priifkopf transduoer (transdiuser)
energia
szerokość impu1su Impulsstarke power (pauer)
pulse width (pals uYt)
pulse energy (pals enerdży)
zakres obserwacji Priifbereich nnge (reindź)
test range (test ret'ndż)
wzmocnienie Verstdrkung gain (gejn)
podcięcie Unterdńckung reject (redżekt)
suppression (sapreszn)
prędkość Geschwindigkeit velocity (welosity)
opóźnienie Impulsverschicbung detay (dylei)
szerokośćbramki Monitor Blende gate width (gejt uyt)
próg monitora Monitorschwelle treshhold ( treszhould)
częstotliwość powtarzania Impuls Folgefrecuenz ropetition rate (reqetYszn reit)

Tablica II

wIELK9ŚCI I JEDNosTKl sTosowANE W BADANIAcHULTRADŹw4rowcu

Wielkość Jednostka
Lp Uwagi
sym- nazwa I svm-
wymnr
nazwa
bol I bor

I Długość L,l metr m l mikrometr = 1 prn= 16-6 tt.t

2 Masa kilogram kg
3 Czas sekunda I milisekunda = 1 ms = l0-3. 6
1 m i k r o s e k u n d a= I p s = 1 0 - 6 . s

Natężenie
prądu elek amper A
trycznego
5 kąt płaski radian rad I rad = 57,2960

340
 6 powierzchnia metr kwa-
dratowy m2
7 objętość metr sześcien-
ny m-
ó częstotliwość f herc ,| I kiloherc = I KHz = I 000H2
fl7 =: I megaherc= I MHz =
s
I 000 000 Hz
o prędkość metr na m
liniowa sekundę S
l0 gęstość kilogram na
(masy) metr kg
sześcienny m3
1l siła niuton "N)= r g l

N
ciśnienie, Pu= =
naprężentc Pa m2
=-kg
,n .r2
ll energia, pra-
ca, ciepło J=Nm=

= -2'kg
<2
J =
moc wat w w=
s
= . 2 'kg
qJ

naplęcle
elek tryczne
!=.2.te
A s3.A

natężenie fali wat na metr W=Lg

ultradŹwrę- kwadratowy m2 s3
kowej

opornośćaku. kg
styczna m2's

lJl
 Tablica III

DANE AKUsTYczNE MATERIAŁÓW

Prędkośćrozchodzenia się fal AkusĘczna

opornośćfa-
podłużnych .| poprzecznych lowa dla fal
Gęstość podłużnych
p cLlcr
z Y =c t P

Aluminium 2't00 6320 3130 r't064

1200 2500 3000
Araldit
1400 2590 36f6
Bakelit
2000 4600 9200
Beton
Bizmut 9800 2189 I 100 21364
Cyna 7300 3320 1610 f4f36
Cynk 7 100 4170 f4t0 2960't
1300 1920 f496
Gliceryna
1200 2300 2760
Guma twarda
Kadfn 8600 f780 1500 2390t1
f650 57 ó 0 15264
Kwarc
1700 5770 3050 9809
Magnez
Mledź 8900 4700 2f60 41830
81 0 0 4430 f120 3 5 8 83
Mosiądź
Nikiel 8800 5 63 0 f960 49544
870 t 74 0 l5 l4
Olej maszynowy
otów I 1400 f160 700 24624
I 0
Powietrze JJJ

Platyna 21400 3960 t670 84744

11 8 0 f't30 1430 3221
Pleksiglas
I 100 2620 1080 288f
Poliamid (nylon)
940 2340 9fs 2f00
PolieĘlen 2830
Polistyrol 1060 2670
1400 f395 I 060 3 3 53
PCV
f400 5600 3500 13440
Porcelana
6900 3500 2200 f4150
Staliwo 46629
7850 5940 3 2 50
Stal konstrukcYjna
Stal na wzorce kontrolne
7850 s920 32s0 46472
wliw2
10500 3600 l 59 0 37800
Srebro
3600 4260 f560 1 53 3 ó
Szkło r4482
2600 )J /U 3 5l 5
Szkło kwarcowe 25080
Tytan 5700 4400
18700 32AD 59840
Uran 74800
Węgliki spiekane I 1000 6800
1000 r480 1400
Woda
19100 54ó0 10426
Wolfram
19300 3f40 6f53f
Złoto
7f00 4600 331f0
żeliwo szare

1975
W e d t u g J . u . H Krautkramcr, Werkstoffprufung mit Ultraschall, Springer-Verlag'

341
 Tablica IV

DŁUGoŚĆ PoLA BLISKIEGoPRZETWoRNIKÓWKoł.owYcH

w RÓżNYCH oŚRoDKAcH

Częstotliwość
f' MHz 0,5 l 2 6 10

o środek D długośćpola bliskiego N

Rodzaj i prędkośćfa|
mm mm
uItradźwiękowych

5
LrL 3,6 11 l5,9 235 39,2
10
1'' l5,5 3 1, 6 63,6 94,0 156,8
WODA
15
I7,L 35,4 71,3 143,0 21r,7 ą\' R
fale L
20 3l,0 63,2 1f6,9 254,3 3',t
6,3 ś)1 )
C 1 = 1 4 8 0m / s 48,9 98,9 198,5 iq7 1 588,0 980,1
25
30 70,8 142,7 285,9 <1)) 846,8 1411,3
35 96,6 194,3 389,2 778,8 1152,6 I92r,0

1,5 3,9 8,6 12,9 f t,5

5
10 2,9 1q 16,9 34,6 51,7 86,2
PLEKSIGLAS 8,3 18,0 38,6
't7,8
15 I16,3 193,8
fale L
20 r5 , 8 33,8 ó8 '8 i 38,3 206,8 344,6
C g = 2 7 3 0m / s t{ { 53,r t07 ,7 216,2 323,1 53 8 , s
25 't7
37,4 76,8 155,3 311,3 465,2 s ,4
30
5l,4 104,6 2tt,5 423,7 633,3 1055 ,5
35

5 1) 3,6 5,9 9,9

)s 7,1 ls Ą 23,7
10 39,8
STAL 15 7,4 l7,0 35,3 53,4 89,7
fale L f0 4,9 t4,3 30,9 63,2 9s,0 1 59 , 4
C 1 = 5 9 2 0m / s 25 9,4 48,7 98,9 148,s 249,1
14,8 34,1 7n5 142,6 213,8
30 358,8
ft.2 47,0 96,2 194,3 291.0
35 488.4

'7 ''
5 1) 10,8 18,4
u,o
i' 29,0
10 t4,l 43,4 73,5
STAL
l5 l5,5 7)) 65,3 91,t 165,4
fale T t2,8
f0 28,l 5 7, 6 1ló'1 173,7 294,0
C 1 = 3 2 5 0m / s 2t,0
z5 44,4 90,3 181,5 271,4 459A
30 30,9 64,3 130,2 f6r,3 390,8 ó6l 'ó
35 42,7 87,8 t77,4 s?l a 900,4

N _ długość pola bliskiego, D _ średnica przetwornika, f _ częstotliwość, c prędkość rozcho.

dzenia się fal u|tradźwiękowych
0,94 ł _ Ń
Długośćpola bliskiego ob|iczono według wzoru N -
4A -

343
 Tablica V

zwIĄzEKMIĘDzYDŁUGoŚcIĄI L1JBczĘsToTLIwoŚcIĄ/FALt ŚREDNlcĄ

PRZBTWoRNIKA KoŁowEGo D A DŁt'JGoŚcĘ PoLA BLISKIEGo1/ I KĄTEM
RozBIEżNoŚclo (ol.t ó dBSPADKUCIŚNIEMA)
-
r^,
t _- - 0,94 D2 ).2 @ = arcsin0,7 a!t"
4tr-

)
4
lmm)
t0
&
60

ą
30

z0

Ę
-Ęp
Ę8
6

L EO 0 6 t0la6
T 76 5 4 '

34Ą
 et et c5 ct OCD
OP f\. łn \t a.rt €) t, I
C'
CD
ct
o
C'

F a
B
C'

rE
FI

a
ot
O

ta

ttl

Frz
N
F. ll

,9
'o
er
B
o
ro
c'

E,

{
C'
=
rh
s
V
= t-
z @
CT ct d

= oo
c) CD
Ę (o o

7 =

t-t5
 Tablica VII

wARToŚcI x/Ę w FI]NKCJIPoZIoMU UW DECYBELACH

U xlxo U X/Xo U X lXo xlXo

lasl lasl lasl Ios]

0,0 ,000 0'0 3,162 0,0 I,000 0,0 0'31ó

0,5 0,5 3,350 -0.5 0,944 ns 0,f99
,0s9
1,0 ,122 1,0 3548 - 1,0 0,891 1,0 0,282
1,5 ,189 1,5 3,758 - 1,5 0,841 1,5 0.266
2,0 ,259 2,0 3,981 - 2,0 0,794 f,0 0,25I
)< .,334 4,Żt'l -)5 0,750 )s 0,237
3,0 .,4r3 3,0 4467 - 3,0 0,708 t3,0 o,ff4
1ś .,496 1S 4,73f -ąs 0,668 t3J 0,211
4,0 1,585 .4,0 5,012 - 4,0 0,631 i4,0 0,200
4,5 1,679 .4,5 5,309 -4,5 0'59ó t45 0,188
5,0 l,'l'18 50 5,623 -5,0 0,562 t5,0 0 , 17 8
śś 1,884 5,957 0,531 | sś 0,168
6,0 r,995 r6,0 6,310 - 6,0 0,501 r6,0 0,158
ó'5 !,113 |ó'5 ó'683 - ó'5 0,4'13 r6,5 0,150
't,o'19 -'t,0 17,0 0,413
7,0 t.,239 r7,0 0,447
't,s t , 3 7| t7{ 't,499 o,4ff 17,5 0,133
8,0 ,.,512 r8,0 7,943 - 8,0 0,398 l8,0 0,126
8,5 ,-,661 t8 , 5 8,414 - 8,5 0,376 l 8, 5 0,119
9,0 ),818 r9,0 8,913 - 9,0 0,355 r9,0 o,l12
9,5 2,985 19,5 9,44r - 9,5 0 , 33 s r9 , 5 0't0ó
10,0 3,t62 10,0 10,000 10.0 0,316 20,0 0,100

X
U = 20loZr' LY = , , , ń
,

346
 Tablica VIII

wARToŚcI sl2,|"12oRAZ MI.IIÓW DRoGI FAL w FUNKCJI KĄTA ZAŁAMANH

GŁowIcYB

-T
'l
p _l
',
slz -l

Ist2 | ,,,

5o ,004g 0,087g 0,087L 0,996L

100 , 0 1 5g 0 , 1 76 g 0 , 1 7 4L 0,985L
150 o . ł śo 0,268 g 0,259 L 0,966L
200 ,064 g 0,364g 0,342 L 0,940L
f5" , 1 0 3g 0,466g 0,4f3 L 0'90ó L
100 155o 0 , 5 7 7g 0,500L 0 , 8 6 6L
JJ" ,22t g 0 , 7 0 0g 0 , 5 7 4L 0 , 8l 9 L
,305g
tno
0 , 8 3 9g 0,643L 0 , 7 6 6L
rcO
A r 4e I,000g 0,707L 0,'tl't L
500 J56g r,19f g 0,766L 0,643L
)J" ,743g 1,428g 0 , 8 1 9L 0,5'14L
600 ,000g 1 , 7 3 2g 0,866L 0J00 L
b5" ,366g 2 , 1 4 5g 0,906L 0,4f3L
700 ,9f4g 2 , 74 7 g 0,940L 0 , 3 4 fL
750 ,864g 3 , 7 3 fg 0,966L 0,259 L
900 ,759s 5'ó71g 0,985L 0 , 1 7 4L
950 .474g 1 1 , 4 3 g0 0,996L 0,087L

I
lvz = g.o, slz = gtgp a=Lsin0 b=Lcos0
B
 wARToŚcI FUNKCJI TRYGoNoMETRYCZ}IYCH

Tablica IX

TABLICA WARToŚCI FLINKCJISINUS I CosINUs

rl!tr+ł0. +
PoDrawkl
t'2't' 4''',6', 7',t',.g',

oo o,dm 0,m29 0.m58 0'00a7 0.0ll0 0.0145 0.017ó 89 369 1215t7 20

I 0176 0A{ aB 026t 0201 0320 0349 88 380 121617 202ts26
2 (plg 0in8 uu 0436 0465 0404 0523 cl 300 t2t6l? Ń2326
I $c3 0569 0581 0810 0640 06$ 0898 8€ 389 12l517 n%
I 0{88 VItl fi68 (It86 081{ 0843 0412 t5" 369 12r5r7 Ń x

0.Bzl 0,0001 0.0929 0,0968 0,0941 0,1018 0.1046 8ł 389 r2r411 m X

I l016 lclł 1l&l ||32 116l ll90 1219 83 309 L2|Ą|7 n
T l2t0 t2/B 1n6 t306 r&il 1383 13$ 82 389 121Ą17 na
I lsgl l42r 1{{9 l{78 160? 16g1 1604 8l 369 lr rłlz Ń8
0 166ł 1603 1&B l05o r0?9 1708 1738 to' 009 lllłl? 2 0a a !

t0" 0.17s 0,1?66 0,17$ 0.182 0,1851 0.1880 0,1s08 7S lllłl7 Ń 28

It 1008 lgtr, 1086 l89ł Ńz2 205r m79 7a rllłl? n 28
l1 uns 2lm 'rs 316{ 2193 ź2L nfi T7 ltl{t? n B
13 xM tna axto N ffi 2391 21LS t6 lt1{r? m 25
l{ 24tg 2łń7 2n6 2il1 263t1 2560 4586 75' ll l,l l? Ńa6

02ó88 0.ł}16 0'2n$ o,sn o,n@ 0't|8 o,nffi 71 368 lllłl? 8p,
IE n6 nu m2 2810 2868 2896 N)1 ?3 388 r 1 1 41 7 ńn'
3090 't2 368 ll 1{1? |9Żf
t7 2ry21 2962 'gl9 0m7 3036 0&n
l8 7L 388 11l{l? |9Ż
l9 06E ltl{18 t9''f

0,3ł'0 o.3ł,|8 0'3ł?6 0'36M o.35'ó 0.366? 0.358{ 69 368 111łl8 7922
2t 368ł 3811 3638 366 ss'l ctto 9'ł6 60 368 ll1ł16 ls fl21
t cl{6 nn 3800 3,an 385ł 3881 39o, gI 368 rll3l8 tg 21 21
B 39o, 3&x 3061 390? |0rł 4o{1 4067 68 368 llr316 ls 2| 2ł
Ą $4n ł00ł |Lzo |L17 łr?3 ąm .'EE 368 1ll3l8 tg 21 21

230 o.|lB o'|,53 0.ł'9 0..306 0'ł&l1 0'ł368 0.€8ł 6{ 3ó8 1l1316 1A 2L 21
ł30ł ł{10 ł|s {ł62 ł.t88 ł61ł łół0 03 0ó8 t01316 lA2L'4
n {ół0 ł688 1502 ł8r? 4843 ł669 ł@6 82 3ó8 l01316 18 2l Xl
I {@6 41Ń n$ 4in2 nm {823 {8{8 0l 068 101316 18 20 !l
,) |8|0 łel1 łE99 łm{ {960 1cI6 6oql óoo 968 lo13ló 18 20 23

0'ó@ 0'6ł'25 0'6(b0 0'6076 0.6100 0'6u6 0'6160 ó9 368 l01316 lEa)Ul
3t olm ól?6 6200 ózB 6250 6n6 6299 68 267 101216 tT'J''l
&l 6lB 6sał ó3ł8 6313 6$8 61if| ółł6 6? 26'.1 t0 12 16 lTmtl
&l 6{ł0 617I. 6ł96 ó619 66ł{ 6688 66{n ó8 ,67 l01216 1?t0łl
3{ lel 6810 r8ł{' 666ł 6088 67ll ó7s 2ó7 l0ulł l?l02r

3f, o''nt 0'6?m 0'67el 0'68ot 0'6$1 0'68ół 0.6al9 u 267 9l2lł 1?191l
s óB?8 600l ó026 69{8 6912 6s96 slo 6S 2ó7 012lł l0t921
gt ol8 ołr m86 6088 6111 8r3ł 816? ót 261 91,|1{ 16l82l
gE 6tó? 6180 en:| @6 &l{8 Ńl| e!&l 6l ,67 01llł 18l820
90 @ł 6}10 6'38 0361 6i}&l 8ł00 6ł,18 50" 267 0rl1{ r01820

4oo o,o|28 0,0ł60 0,6ł?:1 0.640{ 0.6617 0'8639 0'06€r {9 ,11 01113 16l8Al
łl 0601 06e! &xx 06c8 8648 86'10 6691 ł8 2ł7 sur3 16r1lo
atl @1 firr El34 er60 grn 8?s 6820 11 216 91113 161?19
ł8 6&!0 @{t 00&l 688ł 0005 @'E @ł7 ł} 218 81113 161?19
ata s,t? @6r @88 7000 ?030 ?050 ?071 f46 81012 16r7r0

|ł 1',t'g'.
fo' r0' 0' I I r'r'3' 4' S'6',
tt
#l
<- oos 15. + S. ]-l
-1-
T.ABLICAWARToŚCIFUNKCJISINUSI cosINUs
(ciąg dalszy)
{"! sln 45" - 90o ->

20' 30' 40', t' 2 3', ' ,5 ' 6 ' 1 ' ,8 ' 9 '
l0'

Ą5" 0,7071 0,7092 0,7112 0,713J 0,7153 0,7r?ir 0.71!3 246 81012 1416l8
'.1234 7254 7n4 1294 7314 43 2ĄB 81012
46 7193 7214 141618
7314 ?333 7353 73'.t3 i392 7-112 7$1 42 246 81012 141618
48 7431 7451 7170 7490 ?509 7528 7517 4l 246 81012 14l5l7
49 75Ą7 ?566 ?5B5 ?604 7623 7642, 7660 40" 246 I 9u 131517

50" 0,7660 0,76?9 0,7698 0,7716 0,7735 0.7753 0,77'.17 39 246 7 911 1315r?
7790 7808 ',1826 7B{4 7862 7BB0 38 245 7
7i7I 9rl 131416
7BB0 7B9B 7S16 7931 '/95r 7969 ?086 n 245 7 011 121416
63 ?griri 800-1 8021 8039 8056 8073 8030 36 235 7 910 t 2 1 ' 11 6
54 8000 8107 Al2ą 8141 Bl5B Bl75 8192 35" 7 810 121415

DJ' 0,811)2 0,8208 0.f)2'5 0.8t41 0,t|25u 0.8f74 0,8290 34 236 7 810 111315
56 8:Xl0 8307 8323 8339 8355 B3?1 B3B7 3rl 235 6 Bl0 ll13t.r
B3B7 1'(03 BllB 843.1 8,150 8.165 B.rB0 32 236 6 B I 11 12 1.1
8B B4B0 l]190 8511 8526 ti542 8557 Bit72 31 136 6 B I lt12 1.1
69 8572 B5BT 8601 8616 8631 86{6 8660 30' 134 6 7 I 101213

ó0" 0.8660 0,ri{i75 0,0683 0.8704 0.8718 0,8732 0.8746 134 679 10 11 13
61 ti746 8760 8',174 87BB BB02 8816 8829 2a 134 678 l0 ll 12
62 BB:t9 8843 BB57 &r0 8{134 8897 B9l0 ZI 134 578 9ll1?
63 B9r0 8923 8936 8949 U962 B{n5 B9BB 26 134 s6B 91012
B1)BB 9001 9013 0026 9038 9051 9063 25" 134 568 91011

ó5, 0,9063 0,9075 0,CoBB 0,9100 0.9112 0,e12{ 0,9135 124 567 81011
uri 9]li5 9r.ł7 9159 9171 9i82 9194 9305 123 567 8 I l0
67 9:0.i 9216 9228 9'39 0250 {l:]61 9:ł2 22 123 467 B 0 l0
68 ltnŻ 9283 U293 9tr04 9315 932r; 9336 2l 123 456 7 910
69 9336 9346 9356 93ii7 9d77 91187 9397 20" 12"1 456 7{t9

70'
I o,erozo,oro'r0.!r417
94,lĄ
0.9.126 0.9436 0,9'1.i6 0.{).r,'^a) 1 9
!)'1l|3 9492 9:r(]l] !)!l l IB 123
458
456
7Blt
?1 I rl t 5 I 165 f iI)
72 9511 p520 9528 9537 9516 1)555 !1,;i] 1a
123 :rl .1 5 (;7tJ
]
73 l 1ł563 !,572 9580 05{JB 959ti llljrlij li;13 345
gtilll 9021 9628 963(; 051,1 (/i':)2 9i,,ll 15" ll.t5 5(; ?

0.{$51r 0;9607 0,91i?{ 0,g{jl]1 0'9039 0,90l)ó (),1j''.(i]} l 4 ll2 3ĄĄ 5ti 7
?(; 9?03 9?10 9717 972..1 9730 1)i37 07.1.1 lu l12 3J4 556
77 97.11 9750 9757 9703 97b9 977it 9?111 12 23{ { 5 r;
78 utrJl 9737 97!3 9799 0805 CBrl gBlfi ll 112 23:l {5i;
79 9|lti !rri22 9{127 0833 0B3B 98.1J 9B1u lo' 112 2ilil .1 l5

E0' 0,984U 0,91J53 0.gtilt8 0,9ri(i3 0.ri{i6t}0,9872 0,93i7 I {)ll

8l 9tji7 9util g8Bti 9rJ:10 91191 911!9 990i| B 0lt ;t il .I
{)2 (]I](J3 9907 9Jll 9{ll4 cl)llJ 1|lł2l l]!J]s 7 0ll ll rl :t
u3 utjis 9929 9932 l)r)36 trl)ir) u{}12 Ulri5 6 0ll
u1 99.15 99.1łJ 995l. 9951 9!|:,I {|]]5l :Jl]liJ
I
5' 0ll I :,t :l

8.1', 0'l]lj62 0.Ś)!]ti'l o,'u'7 0,!ll]d$ 0'91-17l0,l]|)/'1 0 . l l : , i UI {

yl7{; 9!7rJ glllu 99UL gutiJ Jllrii t) rlrii I I'ol)1,|'vl(L
IJ? lrllri{i glru8 !)9u9 91)!0 Ul)!2 ljlr'rit l l l r l i z o l ) l i ( z i ! s l r . rw l ) ! t I l ( ( l
łliJ !,,iI 91,!5 l.lrr.rd 991)7 {)l'97 l)lr:rt} ! r l ' r \ l I
ltr) ll :rrllll 0.1)ll9rl 0.9u!9 l.(xx)l) 1.0UU0 I.0U00 I , 0 ( ! ) 0 0-
I

I
A
40' 30' 20' l0 o f' 3' 1', s', 6', '1' tt','
i ur) 5l)'

{- (u,ll io

iJ')
 TABLICAWARToŚCI FLrNKCJITANGENS t CoTANGENS
-R ts0o+45' -+
Popr&wkt
0,' t0 fo' 30' 40' 50' ó0,
l'2'3', 4',3',6', 7',B',e',

0.0000 0,0029 o.oo58 0,0087 0,0110 0,0145 0.0176 B9 369 l2 16 t7 f0 28

00
0176 0201 oŻ33 0262 0291 0320 0349 B8 369 L2 16 77 20 2g 28
1
0495 052,1 369 12 l5 18 20 Z3 28
0349 0c7B 0{07 013? 04€ 6 87
0582 0612 0641 06?0 0699 86 itov t2 16 18 20 23 28
3 0524 05s
12 16 18 21 23 28
1 06$9 0?29 0768 tr/8? 0816 0846 087rr 85" 369

212428
0,08?6 0,0904 0,0934 0,0963 0,0992 0,1022 0,1051 81 3 S 9 121618
50
2124n
I 1051 1080 1110 1139 1169 r10B rf28 83 9 8 o 1216l8
ft24n
1228 125? 7%37 1317 1346 1378 1405 82 3 o o 121618
xL2Ąn
8 r 1 0 5 1 1 3 5 1465 1495 7624 1554 1684 81 3 6 9 121618
212427
0 1584 1814 1644 1673 1703 1733 t?6i 80" 3 6 9 121618

't9 212'127
t0'' 0.1763 0.1793 0 , 1 8 2 30 , 1 8 5 30 , 1 8 8 30 . 1 9 1 40 ' 1 9 4 4 3 o s 121618
9035 2065 2006 2126 7B 3 o 9 121618 272427
1l 1044 1974 2004
2ź47 22'.18 230i) 6 0 121618 2|2Ą27
12 2126 zlsfl 2186 f2l7 11 3
2Lf32S
13 23m zj39 2g7o 2401 2Ą32 24(i2 21!|.'| 76 3 6 o 12l518
222528
14 2493 24 2t:55 25BG 2617 2B4B 261e 75' 3 6 9 121019

222t'28
o.267s 0,n7r 0.n42 O,2i't3 0.280j 0,28:160.28;7 3 6 9 13 16 l9
16" 2Ż25ż9
16 2867 2899 2931 2962 2994 302fi 31)"7 3 6 0 131619
3163 3185 3217 3111') 1 2 3 8 1O 13 10 19 f2 2A'..t(,1
lt 3057 3089 3l2l
t3 l2s
18 3249 3281 3314 3346 33?B 3411 3413 ?1 3 6lo 131610
35?4 360' ił640 70" 131620 232830
19 3443 3476 3508 3ilt 3 7lo

6.) 232730
fo" 0,3040 0,3rfl3 0,3700 0,3739 0,37?2 0,3805 0'38311 3 7ro 131720
f3n30
2L 3830 3872 3906 3939 3973 4000 4010 69 3 ?ro 131720
24ZI 3L
2f 4040 4014 4lo8 4142 4176 4210 42Ą5 ol 3 7 10 74 L7 f\
2Ą2B3L
9a 12Ą5 Ą279 4314 4348 43B3 4Ą!^7 4Ą62 6B 3 710 Lą772L
2$2832
2Ą 1452 ĄĄB7 4522 4551 4592 4628 46{i3 ó5.' 4 771 141821

252932
'<Ą 0.46G30.4699 o'4734 0'Ą77o 0.4806 0.4841 0'4877 64 4 ?11' 141821
25 29 l)3
26 4877 4913 4950 {98ti 5022 5059 50i)'ir 63 4 ? 11 7tt 18 22
.ż\f 20 30 33
5095 5t32 5t69 5206 5243 5280 5317 6f 4 ? 11 1.r)|B
26303'1
28 53r7 5354 5302 6430 5467 5r>()5 55111 61 4 011 151923
273|ijj
2S 6543 658r 5619 6658 5096 5735 577Ą ó0' ą n|2 15l923

.ls ,,\5
Ą 8 ,'2 20 24 27 3I
30" 0,5?74 0,5812 0,5851 0,5890 0,rr930 0.5969 0,(i009 51)
Ą 8 12 1ij 20 24 28 32 3(;
31 0001) r;048 (i088 6128 6168 {;208 6i)411 5t1
57 Ą B 12 16 20 25l 29 ?i] i\1
C)2Ą9 {;2B9 6330 6371 8712 e453 6{1r{
50 4 Bl3 77272a) 293338
33 619{ {i.536 6577 6Ct9 6661 6703 6745
4 913 172t28 303433
34 6?'15 6787 ri830 6873 6916 6!'59 7002 55',

54 9 13 LB 2226 31 35 40
3s' 0,7002 0,7016 0,7089 0,?133 0,7177 0,7221 0;t2u5 4
'72$i> 7310 ?355 7400 7ĄĄ5 7490 7536 l-r3 5 914 1823Ż| 32364t
't5:t6 75rll 76n 7673 7720 ??66 ?{lll} 52 5 914 tbzszs 9237',12
3B ? B I 3 T B G O ?907 7954 8002 80ir0 B0 )ll 5 l0 l,1 19 2Ą % 33 3B 4]:
39 B 0 9 B B l 4 6 Bl05 B2Ą3 8292 a3Ą2 t}ill}l 50' |t 10 15 2D 2ą 29 34 39 41

.t{)' 1 r , 8 3 ! ) l0 , 8 1 . 1 10,t]491 0,8541 0,8591 0,8{i12 0.8(i93 49 51015 202530 354045

1L { j r l l l l l 1 1 i 1 I 8?!)6 8847 BB39 81152 900',1 4B 5r016 912d3r 364147
'i,a {l{x)I 9057 9ll0 9l6J 92lZ 9Z1I -q323 5 11 16 21 27 32 37 '13 lB
.13 t):l:)ri c3B0 9135 9400 9541-1 0601 t)057 .10 6 11 l? ?,2 28 33 39 44 50
41 1r(;!r7 9713 97?0 9827 9884 9912 1,0000 45' 6111? 232931 404651

T
ó0 50 .t0' 30' t0' 4 ' , s '6, 1',A',g',
i
<_ cts {5. : 00. i}

350
 TABLICA WARToŚCI FUNKCJI TANGENS I coTANGENs
(ciągdalszy)
Ę |5. + cr -.+

n' PoDr.rLl
t0' 30' Ą, !t{l' @'
t'2'3', 1'J'.6'. 7'.f,'.9'

4f r,0000 r,qb8 1.0u7 r.0r?6 1,firl6 1.fip6 r.866 A 8ull8 2ł$s łlł?ó3
46 G|66 0{t8 un 0688 0609 0$1 gI2ł {3 6u18 268ry' {sł066
{I vn4 m86 m60 (prg wn toll 1106 ul 6l'19 58c38 ł5615|'
{8 1106 ll71 t1J| rm lm l{frt 1ó0{ łl ? l9 20 at 88.o .0 ól| 60
{9 toil l67t t&() u08 1778 t84T l9l8 ,Oo 71ł21 288ół1 {8ó662
g)o 1,1918 r,1988 r.Xbg t,3l3t t,WJ LgJlS t,wtg 30 1Lł'4 29${8 óoó066
61 zug 21:B ifł'n 257il M7 n'a nn 88 8ló&t $38ł6 63tla
62 n8 nng w 30iIt 3lll 3190 s'lo n 8162ł 3r89ł7 6ó0B7l
63 3s70 3361 8tl{n 3614 36y, 3880 ł784 38 8t62ó &lłlł9 686?{
6rl glu 3Bł8 39&l {0l9 {106 {l&l {28l 35" 91?r 86{8ó!l r60?8
55' |,1%1 r,4n0 l'..|ff) l.ł660 l'{oł1 l.{?&t l.{&26 gl 9182n s6ł666 8łm8a
6ó Ą8% {9l9 ó0r3 6108 6mł 6301 6899 3t! 10 19 29 88 ł8 67 6lt 76 80
oa 6389 Un 66Cl 669' 6798 69(x) 8003 3Ź| 1020ln ło60m 708l91
68 6003 61tr| &lu 8319 Błxr 663{ 06ł3 31 11ll&l tl3688ł 768686
69 66,(il 6/63 688{ osXt 7090 7W ?32r 300 ua|g{ ł6atm ?0ml(n
óo. |,732 r,7ł1 1'7ó0 |,7gI 1'?80 |,7vz l.8$ p l 2 ł ó 8 7 81011
61 1,80r r,816 1.829 r,8{it 1,856 1.808 r.881 % l 3 ł 6 6 8 0l0u
82 1'88r r.89ł r'0o7 r'92l l,936 l'e49 l's&r rI I 3 tl 6 7 0 lOl112
l,ffi! 1,gn 1.901 2.000 z,va 2,m6 2.060 ź, 1 3 { 6 ? 0 10r:118
6{ 2.050 2,066 2,081 z,WI 2,rt2 2,ya 2,1{6 2 3 6 8 t 0 lll81ł
6f 2'lł5 z,LgL 2,LTI 2'l9{ zljt 2,w 23{0 u 2 3 ó ? 8l0 ulłló
68 2,2ł8 z,ru 2,8) 2.300 2'318 3.sn 2'3oo n 2 ł B ? 0ll t8l61t
6'f 2'356 2,n6 2'391 2'4|ł 2'1u 2.|66 2'ł76 Ą 3 ł 0 8l0rjl lł16t8
68 2,ą76 2,4s8 2'6|7 2.638 2.6€ 0 2'6't| 2.006 2L z ł 7 0ll18 16l?D
69 2,605 2,628 2.661 2,At6 2.899 2,78 \In m" 2 6 7 0lllł l?t9lt
70' 2,747 2,n3 2,78 2,&t{ 2.860 z,An z.flX t9 I 6 I r0$r8 182ltB
7L. 2.90{ 2.8&l 2'8flJ 2.889 3.018 ąu7 3.qI8 l8 3 0 9 l2lól7 'JzBu
3.078 3'108 3.u0 3.17il 8'20ł 3.2g, s,nl tl 8 810 191010 9BA'o
73 3'271 3,306 3'3{0 3.gt0 3.{ul 3,łóo 3.|8? 10 ł ?u lłr8łl 2629&l
3,{€7 3'6an 3'6€6 3'600 3.8ł? 8,6as 3'7&l 15' ł 8l,l 16a)26 29sss7
7ł 3'732 3.776 3,821 3.8€ | '' t.gl{ 3,9trt {.oll 1,1 6 8l{ 19t3 18 Stvrł2
78 {'0l1 {.001 4.ll3 4'166 4310 ł,n6 {,s|t t3 6ltr0 2lrr&l s,łt|ł8
n {.$r ł.390 tl.4ł9 ł.óll {.67{ {.6t8 4'?06 l2 01219 2631&l |ltmó6
to 4'706 Ą'ns {8{it {.916 {,g8J 6'oos 6.t46 l1 ?1621 20.yrtt{ 616960
79 5'u6 6"22h 6.309 6'39€ 0.{85 6,6?6 6.6,l loo 9185 86r{6{t 6r?0?9
90" 5,6-|1 5,?69 6,871 6,978 8.08{ 6,1yt 8,31{ I
8t 8,31{ 6,{35 6,661 0.@l 6,821 0.968 7,u6 I
82 7'li5 ?.269 7.Ą29 7'6g0 7,no ?,963 8,l4ł 7 PoplBwkl obllczs 619g Damlęot
83 8'14,1 8'3{5 8.66ó 8,m 9.0t0 9366 8.6u 6
8{ 9,5r{ 9,?88 10,0,8 10.385 10,?12 tr,o69 11,{g) 50
85'
8.i
ll'{3 11.83 r2,?ś l2.7r t3'20 r3'?3 l{'30 ł Jożoll ,| ozna.za llczbę tnlnu5'
14,30 14.82 16.@ 16,35 !7,r7 18,97 19.08 3 Drzy ozyE ,r'< un, t,o zachodzt
87 r9'0B 2n2| 2l'47 n,n 24,64 2ó.{8 u,u 2 Drzybllżouó rÓwnoóó
88 ,64 3|,24 9{'3,ir 38'19 {2.96 ł9.10 67,n I głtr
^
89 67,8 68,?6 85.0,1 114,59 l?r.89 348,?.11 oo ctB,n'-ta(P--a')--;-

IA
a, 50, Ą, 30. 20' t0' 0' I I t'2' s', 4',s',6', 1'.t',9'.
tl
+ ctł 0" + l5" l_l

l5l
obowiązuje KARTA Nr
z dniem BADAN tA ULTRADŹW|ĘKoWEGo
Elementbadany

Nr rys. Gat. materiału I Faza produkcji

Szkic/Rys.

Miejsce na szkic badanego elementu

z zaznaczeniem stref i obszarów powierzchni badania

Strefa Obszar Kryteriaoceny jakości Technikabadania

Data Iopracował |Data I S p r a w d z i ł| D a t a IZatwierdzit

352
LITERATURA

Normy

1 PN-75/M-700s0 Badania nieniszczące.Metody ultradźwiękowe.Nazwy i określenia.

2. PN-7s/M-70051 Badania nieniszczącemetodami ultradźwiękowymi. Wzorzec kontrolny W l.
3. PN-7s/M-70054 Badania nieniszczącemetodami u|tradźwiękowymi.Wzorzec kontolny W2.
4. PN-7s/M-70056 Badanianieniszczącemetodami ultradźwiękowymi.Wzorce mikrosekundowe'
s. PN-77/M-70055 Badania nieniszczące. Metody ultradźwiękowe. Badanie spoin w złączach
doczołowych.
6. BN{8/0601-04 Badania ultradźwiękowe wyrobów hutniczych. Wykrywanie wad wzdtuż.
nych w rurach stalowych bez szwu.
7. BN-75/0ó01-09 Badania nieniszczące.Badanie odkuwek stalbwych metodą ultradźwiękową.
8. BN-73/0601-0s Badania ultradźwiękowewyrobów hutniczych. Badania blach grubych.
9. BN-7s/3s18-02/00
Nieniszczące metody badań. Wytyczne przeprowadzania badań ultadźwię-
kowych części pojazdów szynowych i elementów stalowych nawierzchni
kolejowych.
10. B N - 7 5 / 31s8 - 0 2 / 0Nieniszczące
1 metody badań. Badania ultradźwiękoweosi zestawów koło-
wych elektrycznych zespotów bakcyjnych 3000v.
11. BN-76/3518-02102 Nieniszczącemetody badań. Badania ultladźwiękoweosi zestawów koło-
wych lokomotyw elektrycznych.
12. BN-76/35 18-02107 Nieniszczące metody badań. Badania ulfuadźwiękowewieszaków belek bu.
jakowych oraz wieszaków maźniczych wózków wagonów osobowych'
13. BN-77/3s 18-02104 Nieniszczącemetody badań. Badania ultradźwiękoweosi zestawów koło-
wych w wagonacheksploatowanych.
14. B N - 7 7 / 3 5 1 8 - 0 2 Nieniszczące
/0s metody badań.Badaniaultradźwiękoweszvn w tofze.

Wydawnictwa ksiąźkowe

15. PawłowskiZ.,,,Badarua nieniszczące''.oDK SIMP' Warszawa1975

16. Krautkr.dmerJ-, Krautkriimer H., ,,Werkstoffpfirfungmit Ultraschall'', Spńnger Verlag, Berlin
17. Wehr J., ,,Pomiaryprędkościi tłumieniafal ultradzwiękowych'',PWN' Warszawa1972
l8. Muller E.A.w., ,,Handbuchder zerstórungsfreien Materialpriifung'',R. oldenburg Verlag,
Munchen1960
19. SharpeEd. R.S., ,,Researchtechniguesin nondestructivetesting",Academic Press,London 1970
20. MateriałySwiatowychKongresów Badań NieniszczącychWCNDT
2l. MateriałyKrajowych KonferencjiBadań NieniszczącychKKBN

Czasopisma

22. ,,Diefiektoskopija"czasopismoAtademii Nauk ZSSR - wydawnictwo ,Nauka"

23. ,"l\{aterialpńfung'',
Wydawca:DeutscherVerband fur Materialprufungund DeutscheGesellschaft
fur ZerstórungsfreiePriifverfahren
24. ,,MaterialsEvaluation", Wydawca:The American Society for NDT (ASNT)
25. ,,NondestructiveTesting",wydawca:IPC Scienceand rechnology press,wielka Brytania
26. ,.BritisńJourna|of NondestructiveTesting'',Wydawća:The NDT Society of Great Britain
27. ,,DasEcho", Wydawca:Krautkrimer GmbH

Literaturado rozdziatów 4.1-53

28. I. Malecki,Teoria fal i układów akustycznych,PWN, Warszawal9ó4
29. ErmołowJ.N'' Defektoskopija, Nr 3'|96,|,su.4f
30. Wri'stenbergH., Mundry E., Materialpnifunk, 13, 1971, stt. 329
3 1 . Krautkrimer J., Xrautkrimer H. Werkstoffpńfung mit Ultraschall, Springer.Verlag' 1966' str.
75-88
32. Ermotow I.N., Defektoskopija,Nl 4, 1970, str. 17
33. Ermołow I.N' Defektoskopija'Nr 4' 19ó7' str. 15
34. Ermotow I.N., Zawodskajałaboratońa,Nr ó, 1969, str. 703, Defektoskopija'Nr 2, 1976' str. 16
35. SchlengermanU., Das Krautkr?lmerTaschenbuch,Koln 1978.

- t o r uX 1 5 . 2 ,1 5 . 3
INDEKS RZECZOWY
- toru Y 13.4.2. 13;l .l
cień wady 5 3
A ciśnienieakustyczne 6.5
_ - w polu przetworńka 8.2' 48
częstotliwość 4.2
akustycznedanemateriałów,tabl.III _ głowicy 19.5
falowa,10.l .2, tab|.III
akustycznaoporność
- powtarzania13.3.1
amplituda4.3
- rezonansowa5.2
anizotropia6.3.5
- _ wtasnaukładu 5.1
pomiar46.3
czołofali 6.1.2
czułość badaniaf9.4' 30.4, 37.8
czytelność obrazu oscyloskopowego15.9
B

badaniadefektoskopowe
l. I
_ nieniszczące1.l D
_ ultradźwiękowe1.3
_ _ , rozwój badań 2.I decybele3
technologia 37 , tabelawartościtabl. 3.1, tabl. VII
badanie blach 3tt nomogramrys3.2
- m e t o d ąk o n t a k t o w ą
2.2' |6.I.2,29,3o,3|' decybelowyregulatorwzmocnienia13.4, 15.5
3f,33 defektoskopultradźwiękowy2.2
- - przepuszczania3i budowa 13
_ _ zanuxzeniową22,16.|.2,34 - -, parametrylS
- odkuwek4l zasady posługiwaniasię 14
_ odlewów 42 - - , elementyregulacji13.2,13.3,13.4,
- prętów 40 14.2, t4 .3, 14.4
- rur 39 dtugość fa|i6.4,37.4
_ złącz spawanych43 dokumentacjabadania37.10
badany element, znaczenie stanu powierzch- dopasowaniegłowicy do defektoskoptl14.2.2
ni 37,3 - - do powierzchni21.I,37 .2
kształtupowięrzchni37,2 dopuwczalność wad 25.9
bhp w badaniach ultradźwiękowych 37.|2 drganieswobodne5.1
bramkamonitora 13.6.1 - wymuszone5.2
dyfrakda 10.10,53
dynamikazobrazowania15.4
c d ź w i ę k6i . l . 5

charakterystyka kierunkowa 8.6, 47, 4 8 . 3 ,

48.4,48.5 E
_ pionowagłowicy skośnej 22.5
_ poziomagłowicy skośnej 22.5 - echa ptaskich reflektorów l8

354

t
 echodna 2.2, 18,28 _
grubościomierzultradźwiękowy 44.3
- fal transformowanych 28.3
_ reflektorapłaskiego18,49
- odniesienia20.1.1
H
- pozorne wady 28.4
emisjaakustyczna36.1 herc 4.2
holografia ultradźwiękowa36.4
Huygensazasada6. I.2, 6.2
F

fale 6. 1.1 I
_ akusĘczne6.l.5
- ciągłe6.l'4
impuls fal 6.1.4
- k u l i s t e6 . 1 . 2 , 6 . 2 , 4 7
infradźwiękió.1.5
- L a m b a9 . 5 . 3 8 . 4
interferencjafal 6.2
- Love'a 9.6
interpretacjaoscylogramu 28
- płyt owe 9.5, 38.4
_ p o d ł u ż n2e. 2 '6 . l . 3 ' 9 . 2
- podpowierzchniowe9.7
- poprLeczne J
2.2,6.1.3,9.3
- powierzchniowe2.2, 9,4, 24.1
- transformowane28.3 jednostki tabl. II
_ ultradźwiękowe 6.l.5
faza 4.4
funkcje trygonometryczne,wartościtabl. VIII K
kabelgłowicy l4.2.3
G karta badania37.l. l, tabl. X
kątgraniczny 10.6
- odbicia10.3.1
Seneratorpodstawyczasu 13.2 - padania10.3.1
- synchronizujący13.3
_ rozbieźności wiązki 8.4' |9.9, f|.4,22.5,
głowiceultraĆźwiękowe 2.2' 19
_ - do badania elementów gotących 24.4 tabl. V
_ zaŁamanja|o.3.|, 22.4
badań zanurzeniowych24.3 - zboczeniaosi wipki 21.3,22.6
dobór częstotliwości 37.ó
- rodzaju 37.5 kiloherc 4.2
- wie|kości koło Sperry.ego24.5
przetwornika37.7
- - , dopasowaniedo defektoskopu14.2.2 kontrolageometrii1.1
- obróbki cieplnej4ó.7
- - fal powierzchniowych 22.1,24.1 _ struktury 4ó
- - normahe fal podłużnych2.2,2|
- popnecznych 19.2 kontur wady, pozorny 25.2
- _ o skupionejwiązce|9.10,24.2 powierzchniowy 25.2
- - oponowe24.5 wymiary 25.2
- - podwójnel9.2 kryteria oceny wyników badania 37.l
- - podwójnefal podłuźnych2.2,23 kutarc 7 .2
- poprzecznych 19.2
- powierzchniowych19.2
- _ skośnefal podłużnych19.2 L
poprzecznych 2.2, 19.2,Zz
- - Sperry ego24.5 lampaoscyloskopowa2.2, 13.2
_ - ' sposób oznaczania |9.4 l a s e r7 . 5 , 3 6 . 4
sposób prowadzenia 3.I.9 |iniowość toru X 15.2
- - z wielomaprzetwornikami24.6 * - Y15.3
granicaośrodkówl0.1 lokalizacjawady 14.5,29.5, 30.5

355
 ośrodekspnęgający 2.2, L6
M

masatłumiąca19.l
materiały piezoeLektryczne 7 .2 P
megaherc4.2
metodaemisji akustycznej3ó.1 parametrydefektoskoPul5
_ drgań rezonansowych 3ó.2 - g ł o w i c yl 9 . 3 ' 1 9 . 5- 1 9 . 8
- impulsowaecha 2-1 - uktadu',defektoskop/głowica''20
- k o n t a k t o w af . 2 , 1 6 . 1 . 2 , 2 9 ,3 0 , 3 I ' 3 f , 3 3 , kontrola37.11
_ tożsamości dźwiękowej3ó.3 plan badania37.1
- przepuszczania2-2 ptynięcietoru X i Y 14.l.l
- zanurzeniowaf .2, 16.t.2, 34 podcięcie13.4.4'|4.3
metody akustYczne1.2.2 podstawaczasu2,2, 13.2
_ magneĘczne |.2.4 podziatka podstawyczasu 14.5.2
- radiologiczne1.2.3 p o l eb l i s k i e8 . 3 , 1 9 . 7 ,2 I . f , f f . f , 4 9 ,
_ wiroprądowel.2.5 tabl.IV i V
metrykagłowicy2|.8, f2.9, f3.7 - dalekie 8.3
mikrosekunda4.2 _ odbioru głowicy 47
milisekunda4.2 - promieniowaniagłowicy 47
moduł sprężystości podtużnej(Younga) 4.6.l' - ultradźwiękowe8.3
6.1.s,6.3.6, pomiar ańzotropii 46.3
monitor 13.6 grubości44
- prędkościfal 45
' warstw4ó.5
- modułówspręźystości 4ó.l
N
- wielkościziana 46.f
nadajnikimpulsów 2.2' 13.3 poziomecha 14.4
n a s a d kni a g ł o w i c 2
ę o . | ' 2 4 . 2 , 3 7 . f szumów elektronicznychl5.8
natężeniefali 6.6 wielkoś3 c i. 1 . 2
w decYbelach3.1.3
wzmocnienia14.4
prędkość fal 6.3
o grupowa6.3.2
- - f'azowa6.3.f
obszarczułości gtowicy podwójnej 23.3
fal płytowych9.5.3
- przejściowy pola 8.3.l
protokół badania37' l 0. l
_ przesuwugłowicy37.5,43.3
próbnik materiału48.3
obwiedniaecha 5 2 przebiegi okresowe 4
odbicie fal 10.3 przesłuch23.5
' - , mechanizml0.4
przetwornik z monotonicznym polem
- - od vczelinY w stali 11.4
- - poprzecznych od granicy ,'stal/powie- bliskim (Gaussa)5l
przetwornikielektromagnety czne 7 '3
trze" I 1.3 - magnetostrykcYine 7 .4
o d n a r o ż aI | . 5 , 3 9 . 2 - piezoelektrYczne f .2, 7 .f
odbiornik impulsów l 3.4 - ultradźwiękowe7
ogrriskogłowicy podwójnej 23.4
przygotowaniePowierzchni37'2
ogniskowa19.20
okres 4.2
opornośćfalowa 10.l
organizaĄa badań ultradźwię kowy ch 37 R
oscylogram2.2
interPretacja28 r e l . l e k t o r yu l t r a d ź w i ę k u l 7 . l ' 1 8 . 1
oscylogramywad 28.2 rcfraktometr ultradźwiękowy 46'4
_ _ , opiszdjęcia37.10.3 rezonans5.2
- - p o z o r n y c h2 8 . 3 , 2 8 . 4 r o z b i e ż n o śwć i ą z k i f a l 8 . 4 , 8 . 5 , 1 8 . 4

356
 w ściancerury 39.2 - przetwornixa18.6
rozdzie|czośćukładu,,defektoskop/. t o r X 1 4 . 1 1, 5 . 6
głowica''fo.4, 2|.7, 22.9 - Y 14.1,15.1
rozmiar wady 25 transformacja fal 10.3,14.1,15.3,15.4,
sposoby oceny 25.7 15.6
ocena metodąpomiaruprzesu.
nięciagłowicy29.|0,52
- pruez analizę widma czę.
U
stotliwości 25'8
_ za pomocą głowicy fal
ugięciefal 10.10
powierzchniowych 32.3 układdelta33.3
teoretyczne podstawy oceny - tandem33.2
47 -53 układy głowic 33
skali OWR 29.6 ultradźwięki 6.l.5
30.6 unonnowana odległośćwady |8.2.I
wykresuOWR 29.7 unornowany rozmiarwady 18.2.1
- 2 9 . 9 ,3 0 . 7 ,3 1 . 1 ,4 9 , 5 0 , 5 3
- wykresOWR 18.2.1
rozpraszaniewiązki tal l9-10
rozproszeniefal 10.9
ruch drgający5
- falowy 6 w
rzut drogi fal tabl. VI
wada duża 25.5
- ciągła25.4

s istotna25.8.7
liniowa25.4
_ mała25.3
sinus, tablica waltości funkcji tabl. VIII - ptaska25.1.2
s k a . l aO W R 1 8 . 3 , 2 9 . 6 , 3 0 . 6 punktowa25.3
pomocnicza do badania blach i spoin - przestrzenna f5.7.2
30.3 rczległa 25 .5
- skalowaniezakresuobserwacji 14.5, - równoważna25.6
2 9 . 3 , 3 0 . 3 , 3,r3. f2 . 2 wady dopuszczalne25.9
skok głowicy tabl. VI
, łączerue25.9.4
skupianiewiązkifal 19.10 nasilenie25.9.5
skuteczna średnicaprzetwornika 8.3.l, naturalne25. I
l9.8 szkodiwość 25.9.1
S n e l l i u s . a w z ó r7 0 . 3 . 2 wielkość 25.9.3
sprężystość postació.l.5 w i ą z k af a l 6 . l . 5 ' 8 . 1 ' l 8 . 6
sprzężenie akustyczne16.1.1 - odbitychl8.l
środek głowicy22.3
konturwiązki8.4.l ' 8.5
stabilnośćtoruXiYl0.6 - ultradźwiękowa dla metody echa
stratyprzeniesienia 27
t8 . 4 . 1
strefamartwa20.2,fl.6,2f .8
_ wpływu impulsu nadawczego20.3 pfzebieg w ściance rury 39.2
w i e l k o ś3ć. 1 . l
wzajemnego wpływuech 20.5 - ziama,pomiar 46.2
szerokość wiązki8.4
szumvstrukturalne , znaczenie 37.4
46.2
wielkości stosowane w badaniach ultra.
dźwiękowych tabl. II
współczynnir odbicia ciśnieniowy 10.7
T energetyczny 10.8
- przenikania dla metody echa 10.'l .2
t a n g e n s ,t a b l i c a w a r t o ś cfi u n k c j i t a b l . V I I I - przepuszczania clśnieniowy 10.7
tcchnika badania 37.4 energetyczny 10.8
t ł u m i c n i cf a l l 2 tłumienia 12.2, tabl. |2.1, 19.7.4,
r

tabl.42.1 30.7,48,tabl.IX
pomiar 26
wykorzystanie46.2
wzmocnienie,poziom 14.4
regulacjazasięgowa l 3.7.1 z
regulator decybelowY 13.4
wzorce l7 zakresobserwacji2.2, L4.5
- do sporządzania wykresów, skal dobót 29.2' 30.f ,3I.2
owR 17.7,17.8 zależność owR 18.2' l8.5' 48
- mikrosekundowe17.4 - - dla metodY PzePuszczania'53
- rurowe 39.6 załamaniefal 10.3
wzorzec kontrolny Wl l'1.2 mechańzm l0.4
- - w2 1',t.3 - - na granicY ,,woda/stal" 1 I .l
- schodkowy 17.5 z a p a s w z m o c n i e n i a2 0 . 1 , 2 1 . 5 , f 2 . 7
wykres,,droga-czas"I 3.5.3 zobrazowaniewad typu A 18.8.1
- o w R 1 8 . 2 . 1 .2 1 . 8 , 2 f . 9 , 2 9 . 7 , 3 0 . ' , 1 B 18.8.2
_ - głowicy podwójnej 23.6, 23.,| c 18.8.3
- - unonnowany 18.2.1, 29.8,29.9, zj awisko piezoelektry czne'l .f

358