UNIVERSIDAD

NACIONAL MAYOR DE
SAN MARCOS

FACULTAD: ING.ELECTRONICA, ELECTRICA Y

TELECOMUNICACIONES
ESCUELA: INGENIERIA ELECTRONICA
CURSO: MICRO/NANO SISTEMAS ELECTRONICOS
LABORATORIO Nro. 7: “MODELOS DE FALLOS A
NIVEL DE TRANSISTORES”
P
ALUMNO:

HORARIO: JUEVES 4-6 PM

 LABORATORIO N° 7

1. Considerando el circuito mostrado, se pide encontrar el vector (o los vectores) que permite
detectar en cada caso lo indicado. Emplear el método camino de sensibilización.

Hallar el número total de líneas del circuito

• 4 entradas: x1, x2, x3, x4

• 4 nodos internos: a, h, j, b
• 1 salida: F

Por lo tanto, se tiene en total 9 líneas.

a) Para el modelo Stuck-At-0, hallar los vectores de test para la línea h.
Asumiendo que h no presenta fallo SA0 se colocará a 1 lógico

=1

Luego se propagará este valor asumido a la salida. Por lo que las líneas tomarán los
siguientes valores:

0
=1

0 =1

Justificando el valor de las entradas

d 0
0 =1

1 0 =1

1 0

Para el caso de que hubiera falla:

0
 1
0 =0

1 0 =0

1 0

Entonces si h=1, el valor de F sería 1 por tanto no existe falla, pero si h=0, el valor de F
sería 0 entonces existiría falla SA0.

Por lo tanto, el vector de test sería:

< x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >

b) Para el modelo Stuck-At-1, hallar los vectores de test para la línea j.

Asumiendo que j no presenta fallo SA1 se colocará a 0 lógico

=0

Luego se propagará este valor asumido a la salida. Por lo que las líneas tomarán los
siguientes valores:
 Valores necesarios para no
0 enmascarar el valor de j en la
a salida cuando cambia a 1

=0/1
=1/0

1 0
b

Justificando el valor de las entradas, cuando los nodos a y b son 0.

x1 x2
0 0
1 0
1 1
1 1
x3 x4
1 1
1 1
0 1
1 1

Por lo tanto, los vectores de test serían:

< x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >, < 1,0,1,1 >, < 1,1,0,1 >, < 1,1,1,1 >,

Entonces aplicando estos vectores, si F=1, no existirá fallo; para el caso que F=1,
existirá fallo SA1 en la línea j.

1. Considerando el circuito mostrado, se pide encontrar el vector (o los vectores) para hacer el
test de todo el circuito según el modelo stuck-at-0 y stuck-at-1.
Determinar el conjunto mínimo de vectores.
a) Hallar el número total de líneas del circuito

• 4 entradas: x1, x2, x3, x4

• 4 nodos internos: a, h, j, b
• 1 salida: F

Por lo tanto, se tiene en total 9 líneas.

b) Para el modelo Stuck-At-0, hallar los vectores de test para todas las líneas del circuito.

Para x1

Asumiendo que x1 no presenta fallo SA0 se colocará a 1 lógico. Luego se propagará a la

salida. Por lo que las líneas tomarán los siguientes valores, justificando el valor de las
entradas:
 =1/0 0/1
1 0

d 0

1 0
=1/0
Entonces si x1=1, el valor de F sería 1 por tanto no existe falla, pero si x1=0, el valor de
F sería 0 entonces existiría falla SA0.

Por lo tanto, los vectores de test serían:

< x1,x2,x3,x4 > = < 1,1,0,1 >, < 1,1,1,1 >

Se repiten los mismos pasos para las líneas restantes.

Para x2

1 0
=1/0 0/1

0 0/1

1 0
=1/0
El vector de test sería: < x1,x2,x3,x4 > = < 1,1,0,1 >

Para x3
 d 0
0 1

=1/0 0/1

1 0
=1/0
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 1,0,1,1 >, < 0,0,1,1 > Para x4

0
0

=1/0 0/1
=1/0
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >, < 1,0,1,1 >,
< 1,1,0,1 >, < 1,1,1,1 >

Para a

0 a=1/0
1 0

0
d

1 0
=0/1
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,1,1,1 >, < 0,1,0,1 >, Para h
 0 0/1
0 =1/0

1 0

1 0
=1/0
El vector de test sería: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >

Para j

d 0
0 1

0 =1/0

1 0
=0/1
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 1,0,0,1 >, < 0,0,0,1 > Para b

0 =1/0
=0/1
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,0 >, < 1,0,1,0 >,
< 1,1,0,0 >, < 1,1,1,0 >
 Para F

0 =1

1 0

Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >, < 1,0,1,1 >,
< 1,1,0,1 >, < 1,1,1,1 >

c) Para el modelo Stuck-At-1, hallar los vectores de test para todas las líneas del circuito.

Para x1
Asumiendo que x1 no presenta fallo SA1 se colocará a 0 lógico. Luego se propagará a
la salida. Por lo que las líneas tomarán los siguientes valores, justificando el valor de
las entradas:

=0/1 1/0
1 0

d 0

1 0
=0/1
Entonces si x1=0, el valor de F sería 0 por tanto no existe falla, pero si x1=1, el valor de
F sería 0 entonces existiría falla SA1.

Por lo tanto, los vectores de test serían:

< x1,x2,x3,x4 > = < 0,1,0,1 >, < 0,1,1,1 >

Micro / Nano Sistemas Electrónicos Pág. 10

Se repiten los mismos pasos para las líneas restantes.

Para x2

0 0/1
=0/1 1/0

1 0

1 0
=1/0
El vector de test sería: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >

Para x3

d 0
0 1

=0/1 1/0

1 0
=0/1
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,0,1 >, < 1,0,0,1 >

Parax4

0
Micro / Nano Sistemas Electrónicos Pág. 11
 0
=0/1

=0/1 1/0

Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,0 >, < 1,0,1,0 >,
< 1,1,0,0 >, < 1,1,1,0 >

Para a

a=0/1

1 0
=1/0
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >, < 1,0,1,1 >,
< 1,1,0,1 >, < 1,1,1,1 >

Para h

0 1/0
1 =0/1

d 0

1 0
=0/1
El vector de test sería: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,1,0,1 >, < 0,1,1,1 >

Para j

Micro / Nano Sistemas Electrónicos Pág. 12

 0

=0/1

1 0
=1/0
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >, < 1,0,1,1 >,
< 1,1,0,1 >, < 1,1,1,1 >

Para b

1 b=1/0
=1/0
Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,1,1 >, < 1,0,1,1 >, < 1,1,0,1
>, < 1,1,1,1 >

ParaF

=0

Micro / Nano Sistemas Electrónicos Pág. 13

 Los vectores de test serían: < x1,x2,x3,x4 > = < 0,0,0,1 >, < 0,0,1,0 >,
< 0,1,0,1 >, < 0,1,1,1 >, < 1,0,0,1 >, < 1,0,1,0 >, < 1,1,0,0 >, < 1,1,1,0 >

d) Hallar el conjunto mínimo de vectores de test y la cobertura alcanzada

El conjunto mínimo de vectores son 5:

< 0,0,0,1 >, < 0,0,1,0 >, < 0,0,1,1 >, < 0,1,0,1 >, < 1,0,0,1 >, < 1,1,0,1 >

La cobertura alcanzada como se muestra en el cuadro anterior es del 100% (cuadros rojos),
esto debido a que es un circuito pequeño, por esta razón el circuito es testable.

Micro / Nano Sistemas Electrónicos Pág. 14