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Fotoelasticidad

(END)

William Cobos Salcedo


Alejandro Melo Muñoz
Ever Martínez Barragán
Métodos de Análisis de Campos de
Tensiones
Planteamiento
Teórico
(Analítico)

Métodos Mét. Elementos


Análisis de Numéricos Finitos
Campo de
Tensiones
Extensometría
Técnicas
Experimentales
Fotoelasticidad
Fundamentos Teóricos
E = A Cos (k.x.w.t)
Donde:
• A= Amplitud
• w= Pulsación
• k= Número de ondas
• t= Tiempo

• Estudio de la Luz y
su
Comportamiento
Fundamentos Teóricos

• Longitud de Onda y
Espectro Visible
Fundamentos Teóricos
• Polarización de la luz

Fig.2 Polarización Lineal

Fig.1 Onda sin Polarizar.

Fig.3 Polarización Circular


Fundamentos Teóricos
• Refracción
Ley de Snell
Fundamentos Teóricos
• Índice de Refracción
Fundamentos Teóricos

• Birrefringencia
Fundamentos Teóricos

• Ley del Esfuerzo


Óptico
Fundamentos Teóricos

• Ley del Esfuerzo


Óptico
Polariscopio
Polariscopio Lineal o plano

Polariscopio Circular
Tipos de Polariscopio
Fotoelasticidad
Aplicaciones
Norma para la Aplicación de
Ensayos con Fotoelasticidad
• La Norma D4093-95: Método estándar para
pruebas de mediciones de birrefringencia y
tensiones residuales en materiales plásticos
(Reaprobada en el año 2010)
• Norma ASTM D4093: Standard Test Method
for Photoelastic Measurements of
Birefringence and Residual Strains in
Transparent or Translucent Plastic Materials
¡Muchas Gracias!
Formando líderes para la construcción de un
nuevo país en paz

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