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Complementos de Fisica - Ledesma
Complementos de Fisica - Ledesma
COMPLEMENTOS de FSICA
E.T.S. de Ingeniera Informtica
UNIVERSIDAD DE SEVILLA
ii
Copyright 2002 by Francisco L. Mesa Ledesma; esta informacin puede ser copiada, distribuida y/o modificada bajo ciertas condiciones, pero
viene SIN NINGUNA GARANTA; ver la Design Science License para ms
detalles.
Apuntes de CF
FLML
Prefacio
La presente coleccin de notas sobre Fsica Cuntica y Fsica del Estado Slido pretende ser una ayuda al estudiante en la asignatura cuatrimestral Complementos de Fsica de la E.T.S. de Ingeniera Informtica de la
Universidad de Sevilla. Aunque estas notas han sido inspiradas por diversas fuentes (permtaseme destacar y agradecer la importante contribucin
de los profesores de la ETS de Ingeniera Informtica del Departamento de
Fsica Aplicada 1 de la Universidad de Sevilla), cualquier defecto o error slo es atribuible al autor de estos apuntes. Es importante resaltar que estas
notas no pueden ni deben sustituir a otros textos ms elaborados sobre la
materia.
El objetivo principal de la materia presentada es dotar al alumno de
algunos de los fundamentos fsicos elementales en los que se basa el funcionamiento de los dispositivos y sistemas usados en Informtica. Gran
parte de la tecnologa actual de los computadores se basa en la Electrnica. Dado que la Electrnica consiste bsicamente en el control del flujo de
los electrones en materiales conductores y semiconductores, es evidente
la necesidad de estudiar el comportamiento de dichos electrones en metales y semiconductores. Este estudio se llevar a cabo mediante una serie
de temas introductorios de Fsica Cuntica y Atmica donde se presentan
las propiedades fundamentales de las partculas cunticas. Posteriormente se analiza el comportamiento de los electrones en metales y semiconductores, para lo cual debemos considerar sus caractersticas cunticas y
estadsticas. Finalmente, estudiaremos el comportamiento de la unin p-n
puesto que es la base de multitud de dispositivos electrnicos y optoelectrnicos usados en la tecnologa de los computadores.
F RANCISCO L. M ESA L EDESMA
Sevilla, febrero de 2002
III
iv
Apuntes de CF
FLML
ndice general
1. Fundamentos de Fsica Cuntica
1.1. Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11
15
15
17
18
20
21
24
25
29
29
32
32
33
36
40
40
40
44
NDICE GENERAL
vi
45
47
3. Materia Condensada
51
51
3.2. Gas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
53
53
55
3.3. Monocristal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
56
58
58
59
61
62
63
4.1. Fenomenologa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
63
65
65
67
68
69
69
70
73
73
74
Apuntes de CF
77
5.1.
Modelo cuntico del electrn ligado . . . . . . . . . . . . . . . .
77
79
81
84
86
5.4. Huecos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
90
92
FLML
NDICE GENERAL
vii
93
6.1. Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
93
94
96
96
98
98
98
109
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
FLML
Apuntes de CF
NDICE GENERAL
viii
133
163
165
C. Promedios estadsticos
167
Apuntes de CF
169
171
FLML
T EMA 1
Fundamentos de Fsica
Cuntica
1.1. Introduccin
De una forma muy genrica denominaremos Fsica Cuntica a la Fsica que se desarroll a principios del siglo XX para explicar el comportamiento de los fenmenos que ocurren a muy pequea escala (el mbito
microscpico donde los rdenes de magnitud involucrados son: distancia
1 , masa 1027 kg, energa 1019 J). Esta nueva Fsica complementa a
la denominada Fsica Clsica que se desarroll para ser aplicada en el mbito macroscpico (fenmenos que involucran rdenes de magnitud del
orden de 1 m, 1 kg, 1 J) y que podemos identificar, por ejemplo, con las leyes
de Newton, las ecuaciones de Maxwell, etc. Antes de introducir los fundamentos de la Fsica Cuntica, es conveniente resaltar que la Fsica Cuntica trajo consigo, adems de nuevos resultados, cambios conceptuales muy
importantes que afectan a la forma en la que habitualmente entendemos
el mundo que nos rodea. No obstante, cabe sealar que estos cambios conceptuales afectan drsticamente a nuestra visin del mundo microscpico
pero no tanto a la del mundo macroscpico (aunque obviamente muchos
fenmenos macroscpicos slo pueden entenderse con base en los principios de la Fsica Cuntica).
La Fsica siempre afronta el estudio de los fenmenos mediante el estudio de modelos, esto es, representaciones parciales de la realidad. Es entonces importante aclarar que lo que se estudia no es directamente la realidad sino el modelo que nosotros hacemos de ella. Usualmente, el modelo es una simplificacin de la realidad que recoge, no obstante, las caractersticas esenciales del aspecto fsico en el que estemos interesados. As,
si queremos estudiar el efecto de la gravedad sobre los cuerpos, un posible modelo elemental sera el suponer que los cuerpos son puntuales (su
masa est concentrada en un punto), que la gravedad es constante y que
se desprecia el efecto del rozamiento con el aire. Este modelo simplificado explicara satisfactoriamente, por ejemplo, el tiempo que tarda en caer
1
continuidad de la materia y la energa (es decir, la materia y la energa pueden tomar cualquier valor e intercambiarse en cualquier cantidad);
Cuando se afronta el estudio de los fenmenos microscpicos (por ejemplo, el estudio de los tomos), una primera posibilidad sera la de partir de
los modelos y categoras que se usaron con xito en el mbito macroscpico y extrapolarlos al nuevo mbito de muy pequeas escalas. En este sentido podramos considerar el tomo como un sistema de cargas puntuales
(algunas de ellas en movimiento) regidas por las leyes de la Electrodinmica. No obstante, al iniciar el estudio del mbito microscpico se observ
que la extrapolacin directa de los modelos macroscpicos llevaba irremediablemente a resultados muy dispares con la realidad. Hubo, por tanto,
que hacer un gran esfuerzo no slo para desarrollar muevas leyes fsicas
sino tambin para olvidar muchos de los conceptos y categoras vlidas
en el mbito macroscpico y buscar otros nuevos que fuesen aplicables al
mbito microscpico. Gran parte de la dificultad de la nueva Fsica Cuntica recae en el hecho de que las leyes que rigen el comportamiento del
mbito microscpico son tremendamente antiintuitivas.
Este primer tema mostrar, siguiendo un cierto orden cronolgico, los
fundamentos de la Fsica Cuntica; en concreto nos centraremos en la presentacin de las leyes bsicas y discutiremos algunas de sus consecuencias
ms inmediatas. Un buen entendimiento de estas leyes y sus consecuencias ser fundamental para la posterior comprensin del comportamiento de los electrones en los materiales conductores y semiconductores. En
consecuencia, la comprensin fsica de los fenmenos cunticos nos proporcionar la base necesaria para entender el funcionamiento de los mltiples dispositivos electrnicos y optoelectrnicos que son la base de la actual tecnologa de los computadores y previsiblemente nos dotar de la
base cientfica imprescindible para entender futuros desarrollos de la tecnologa informtica.
Apuntes de CF
FLML
1
1
1
= R
m < n( N) ,
(1.1)
m2 n2
que se conoce como formula de Rydberg-Ritz y donde R = 1,0967
107 m1 es la denominada constante de Rydberg. Para cada valor de
m y variando n se obtienen distintas familias de lneas espectrales
conocidas como las series del hidrgeno. Una expresin particular
para el espectro visible del H, conocido como serie de Balmer, fue
obtenida en 1885 por Balmer, siendo, no obstante un caso particular de la ley general (1.1) cuando m = 2. Es importante resaltar que la
frmula de Rydberg-Ritz es una ley completamente emprica que fue
propuesta en ese momento sin ninguna explicacin fsica que justificase el ajuste sorprendente de dicha expresin con los resultados
experimentales.
1 La explicacin clsica de este hecho se basa en la suposicin de que la temperatura es
una medida de la energa cintica media de las partculas que componen la materia. Dado
que la materia est compuesta de tomos y stos a su vez estn formados por partculas
cargadas, un cuerpo caliente puede considerarse como un conjunto de osciladores cargados (se supone que, debido a su menor masa, la carga negativa oscila en torno al ncleo de
carga positiva). Estos osciladores de carga emiten entonces radiacin electromagntica al
igual que lo hacen los dipolos elctricos oscilantes.
FLML
Apuntes de CF
(1.2)
curva terica
curva
experimental
Cuando la expresin terica (1.2) se comparaba con los datos experimentales (ver figura adjunta), se observaba una buena concordancia para
bajas frecuencias pero una discrepancia total para frecuencias altas. Esta
discrepancia es tan importante (para frecuencias muy altas R() tiende a
cero segn los datos experimentales mientras que el resultado terico tiende a infinito) que se conoce como catstrofe ultravioleta puesto que las
diferencias empiezan a ser muy importantes para frecuencias de radiacin
ultravioleta. La catstrofe ultravioleta es una clarsima constatacin de que
haba algo fundamentalmente errneo en la aplicacin de las leyes conocidas hasta ese momento al estudio del espectro de radiacin del cuerpo
negro.
Afortunadamente, en 1900 Planck incorpor un nuevo enfoque a este
problema que sorprendentemente conduca a una teora que se ajustaba
perfectamente a los resultados experimentales. La propuesta de Planck fue
que
Hiptesis de Planck
Constante de Planck
(1.3)
Apuntes de CF
n = 1, 2, . . . ,
(1.4)
FLML
1
= nh .
T
(1.5)
La anterior expresin, fruto de la hiptesis de Planck, indica que el intercambio energtico mnimo es h y que cualquier otro intercambio energtico siempre se produce en mltiplos de esta cantidad. Este resultado
tiene dos implicaciones muy destacadas:
1. La interaccin energtica entre dos sistemas no puede hacerse menor que h. Este resultado es abiertamente opuesto a la hiptesis
clsica de que la interaccin entre dos sistemas poda hacerse tan
pequea como se quisiera.
2. La energa puesta en juego en las interacciones est cuantizada. De
nuevo, este sorprendente resultado contradice la hiptesis acerca
del carcter continuo de la energa.
Es interesante finalmente notar que las consecuencias anteriores apenas tienen efecto en las interacciones entre sistemas macroscpicos. Ello
es debido a que los valores de energa puestos en juego en los intercambios energticos son generalmente mucho ms altos que h, por lo que
la existencia de una cantidad mnima de energa de intercambio apenas
difiere de la suposicin de que sta sea infinitesimal. Este hecho provoca
que la cuantizacin energtica sea prcticamente inapreciable haciendo,
por tanto, aceptable el hecho de que la energa se considere continua a
efectos prcticos.
FLML
Apuntes de CF
I2(n)
I1(n)
I2(n)>I1(n)
VAC
VR
VR
n0
La mayora de los anteriores resultados experimentales resultan realmente sorprendentes y contradictorias cuando se intentan interpretar a
partir de los postulados de la Fsica Clsica. En este marco, la luz es
una onda electromagntica cuya energa est repartida de forma continua en el frente de ondas;
su intensidad promedio, I , viene dada por la expresin
I=
1
0 cE 02 ,
2
(1.7)
Apuntes de CF
FLML
del metal, ste debe adquirir una energa suficiente para romper su ligadura con el metal, manifestndose el posible exceso de energa en forma
de energa cintica del electrn emitido. Desde este punto de vista, la luz
incidente en el ctodo ser la encargada de proporcionar (durante cierto intervalo de tiempo) la energa suficiente a cada electrn para que ste
puede salir del metal. No obstante, el clculo terico del tiempo requerido
para que se inicie la emisin proporciona un valor muchsimo mayor que
el observado experimentalmente (recurdese que el efecto fotoelctrico es
prcticamente instantneo). Por otra parte, si mantenemos fija la frecuencia y aumentamos la intensidad de la radiacin luminosa, esperamos de
acuerdo a la expresin (1.7) que llegue ms energa al metal y que, por tanto, la energa cintica de los fotoelectrones aumente. Hemos visto que la
experiencia contradice esta suposicin, mostrando que dicha energa cintica mxima no depende de la intensidad de la radiacin incidente sino
sorprendentemente de su frecuencia.
E JEMPLO 1.1 Calcule el tiempo que habra que esperar para que se produjese el
efecto fotoelctrico si una radiacin luminosa emitida por una fuente de luz de
P = 100 W y rendimiento luminoso = 8 % incide sobre un metal que est situado
a 1 m de distancia y cuya funcin trabajo es e = 4 eV. Suponga que el radio
aproximado de un tomo es r atomo = 1.
La intensidad luminosa, I , emitida por la fuente de luz que llega al metal es
I =
P
100
2
= 0,08
= W/m2 ,
4R 2
412
por lo que la potencia captada por cada tomo vendr dada por
2
P tomo = I r tomo
=
2
1020 = 2 1020 W .
FLML
Apuntes de CF
hn
Radiacin incidiendo
en el metal
Metal
electrn liberado
del metal
e
Ec
2. El efecto fotoelctrico es fruto de procesos individuales de intercambio instantneo de la energa del fotn con la del electrn.
El primer punto indica que Einstein concibe la onda electromagntica como un conjunto de paquetes discretos de energa h, esto es, la propia
energa de la onda estara cuantizada. El efecto fotoelctrico podra entonces verse como un conjunto de choques elsticos individuales entre los
fotones de la radiacin incidente y los electrones ligados del interior del
metal. Supuesta que la energa se conserva en este choque, el fotn cede toda su energa h al electrn, adquiriendo ste por tanto una energa
que sera empleada parcialmente para vencer la funcin trabajo, e , apareciendo la restante en forma de energa cintica, E c , esto es,
h = E c + e .
(1.9)
Dado que la expresin (1.6) relaciona la energa cintica de los fotoelectrones con el potencial de frenado, VR , tenemos que
E c = h e
eVr = h e ,
E c = eVR
lo que nos permite escribir finalmente
VR =
h
e
.
e
e
(1.10)
El sencillo desarrollo anterior muestra que existe una relacin lineal entre
VR y , siendo la pendiente de esta recta h/e. Tambin explica la existencia
de una frecuencia umbral, 0 = e /h, por debajo de la cual no puede existir
efecto fotoelctrico (puesto que la energa cintica asociada al electrn sera negativa). La expresin terica (1.10) coincide satisfactoriamente con
los resultados experimentales, confirmando la sorprendente hiptesis de
la naturaleza fotnica de la radiacin y proporcionando una prueba adicional de que la constante h introducida por Planck es una constante fundamental de la Naturaleza y no, simplemente, una constante arbitraria de
ajuste.
Dado que la emisin de fotoelectrones crece al aumentar la intensidad
de la radiacin, I , esta magnitud debe estar relacionada con el nmero de
choques y, en consecuencia, puede relacionarse con la densidad de fotones, N f (nmero de fotones por unidad de tiempo y rea), de la radiacin.
Podemos escribir, por tanto, que
I = N f ~ .
(1.11)
Por otra parte, dado que los fotones transportan una energa E , tambin deben transportar un momento lineal p. En su teora de la Relatividad
Apuntes de CF
FLML
E
,
c
(1.12)
donde se ha tenido en cuenta que la frecuencia de la onda, , est relacionada con su longitud de onda, , mediante = c.
mero de fotones por unidad de tiempo y rea que llegan al metal; (b) el momento
de cada uno de los fotones; y (c) la energa cintica de los fotoelectrones emitidos.
(a) Para calcular el nmero de fotones por unidad de tiempo y rea debemos
aplicar la expresin (1.11), para lo cual debemos obtener primero la frecuencia, , de la radiacin:
=
c
3 108
=
= 1,5 1015 Hz ,
2 107
I
3 103
fotones
=
3,017 1015
.
E 9,95 1019
m2 s
h 6,63 1034
=
3,31 1027 kgm/s
2 107
FLML
Apuntes de CF
10
1
0 cE 02 .
2
Fotones
Segn la interpretacin de Einstein, la radiacin electromagntica
puede considerarse como un conjunto discreto de paquetes de energa E = h, de modo que la intensidad de la radiacin, de acuerdo
con (1.11), puede escribirse como
I = N f ~ .
Segn la visin clsica, la intensidad de la onda depende del valor de
la amplitud del campo elctrico y segn la interpretacin fotnica, del nmero de fotones. En consecuencia, podemos observar que el nmero de
fotones debe ser proporcional al cuadrado de la amplitud del campo elctrico,
N f E 02 ,
(1.14)
donde debemos interpretar esta densidad de fotones, N f , en trminos puramente probabilsticos. Este hecho nos permite establecer un punto comn de relacin entre las visiones clsica y fotnica de la radiacin y establecer, en general, que
el cuadrado de la amplitud del campo elctrico de la onda
electromagntica, E 02 (r, t ), es proporcional a la probabilidad
de localizar en un instante t a los fotones en un dV centrado
en el punto r.
Desde el punto de vista del modelo fotnico, el campo elctrico de
la onda electromagntica juega el papel de una funcin matemtica que
determina la probabilidad de encontrar a los fotones en un determinado
punto e instante. En aquellos puntos donde el campo elctrico tenga un
valor alto de amplitud ser, por tanto, ms probable encontrar fotones que
all donde la amplitud presente un valor bajo. En la prctica, la conveniencia de usar uno de los dos modelos (OEM/fotones) vendr determinada
por la relacin entre la cantidad de energa de los fotones y la energa puesta en juego en la posible interaccin. Si la energa en la interaccin, E , es
del orden de la energa de los fotones, h, entonces se debe usar el modelo
fotnico. Por el contrario, si E h (esto es, si en la interaccin intervienen muchos fotones conjuntamente), el modelo ondulatorio ser ms
apropiado.
Apuntes de CF
FLML
11
1. En vez de las infinitas rbitas, con cualquier valor de radio, que son
permitidas por la Fsica Clsica, los electrones pueden tomar nicamente aquellas rbitas en las que se verifique que el mdulo de su
momento angular, L (L = r p, por lo que L = m e vr siendo m e =
9,1 1031 kg la masa del electrn, v el mdulo de la velocidad y r el
valor del radio), sea un mltiplo de ~:
L = m e vr = n ~
FLML
n = 1, 2, 3, . . .
(1.15)
Apuntes de CF
12
Ei
hn
Ef
2. Un electrn en una de las rbitas anteriores no emite radiacin electromagntica. Estas rbitas corresponden por tanto a estados estacionarios, es decir, estados en los que la energa del tomo es constante en el tiempo.
3. Si un electrn est inicialmente en una rbita de energa E i y transita hacia una rbita de menor energa E f , se emite radiacin electromagntica (un fotn) de frecuencia
=
Ei E f
h
(1.16)
Fc
(1.17)
me v 2
e2
.
=
r
40 r 2
(1.18)
o equivalentemente
v
Fe
Fc = Fe ,
(1.19)
(1.20)
siendo
r0 =
40 ~2
0,53
e 2 me
(1.21)
(1 = 1010 m).
El electrn en el tomo de hidrgeno slo puede tomar aquellas rbitas discretas cuyos radios verifiquen (1.20). Dado que la menor rbita que puede tomar el electrn en el tomo de hidrgeno es r 0 ,
este dato podra ser considerado como el tamao de dicho tomo.
Comprobaciones experimentales demuestran que r 0 coincide muy
aproximadamente con el tamao medido para el radio de los tomos de hidrgeno.
Apuntes de CF
FLML
13
1 1 e2
.
2 40 r
(1.23)
Dado que el radio de la rbita est cuantizado (r n = n 2 r 0 ), la energa del estado estacionario lo estar igualmente. En consecuencia la
energa del estado estacionario caracterizado por el nmero cuntico n puede escribirse como
E0
E0 E0
E n = 2 = E 0 , , , . . . ,
n
4
9
(1.24)
E=0
n=1
E1=-E0
E2=-E0 /4
(1.25)
FLML
E0
n i2
+
h
E0
n 2f
!
E0 1
1
=
,
h n 2f n i2
(1.26)
Apuntes de CF
14
1 E0 1
1
,
=
hc n 2f n i2
(1.27)
E JEMPLO 1.3 Un tomo de H es excitado de manera que al volver a su estado fundamental (de mnima energa) emite una radiacin de frecuencia =
2,9235 1015 Hz. Calcule el nmero cuntico del estado excitado as como su
radio.
Supuesto que E n sea la energa del estado excitado de nmero cuntico n,
sabemos que la energa, E , puesta en juego en la transicin ser
E = E n E 0 = h ,
por lo que
E n = E + E 0 = h + E 0
= 4,135 1015 eVs 2,9235 1015 s1 13,6eV = 1,51 eV .
Para calcular el nmero cuntico, debemos tener en cuenta que
En =
E0
,
n2
2 Un experimento muy relevante, llevado a cabo en 1914 por J. Frank y G. Hertz, demos-
tr empricamente que la cuantizacin de los estados energticos es una caracterstica comn de todos los tomos.
Apuntes de CF
FLML
15
por lo que
s
n=
E 0
=
En
13,6
3.
1,51
h
p
E
h
o bien
p = ~k
(1.28)
o bien
E = ~ .
(1.29)
Relaciones de de Broglie
(1.30)
FLML
p2
,
2m 0
(1.31)
Apuntes de CF
16
(1.33)
E JEMPLO 1.4 Calcular la longitud de onda asociada a (1) una pelota de tenis de
m = 50g y v = 40m/s; y (2) un electrn sometido a un potencial de aceleracin
V = 100V.
(1) En este caso, el momento lineal es
p = mv = 0,05 40 = 2 kgm/s
y la longitud de onda ser
=
h 6,6 1034
=
3,3 1034 m .
p
2
Apuntes de CF
FLML
17
a)
b)
q
V
eDetector
f
Monocristal
Detalle de reflexin
en monocristal
(1)
q
Admitiendo que los electrones presentan un comportamiento ondulatorio, la onda incidente se reflejar en cada uno de los planos atmicos
(ver detalle en Fig. 1.1b), existiendo una interferencia constructiva de las
ondas reflejadas en planos paralelos consecutivos si se cumple la condi-
FLML
(2)
diferencia de
camino
Apuntes de CF
18
(1.35)
h
h
,
=p
p
2m e eV
(1.36)
h
.
p
2d 2m e eV
(1.37)
El experimento de Davisson y Germer demostr que esta suposicin terica estaba en excelente acuerdo con la experiencia, confirmando fehacientemente que los electrones (y por ende, todas las partculas materiales)
presentaban un carcter ondulatorio.
E JEMPLO 1.5 En un dispositivo experimental como el del experimento de Davisson y Germer, los electrones son acelerados por un potencial V antes de incidir
sobre un monocristal de Ni cuya distancia entre planos atmicos es de 0.91. Si
el detector se sita en un ngulo = 40o , calcule el valor del potencial de aceleracin para el cual se detecta en ese ngulo el mximo de dispersin de primer orden.
Dado que 2 + = 180o , el ngulo relacionado con la posicin del detector
ser
180o 40o
=
= 70o .
2
El mximo de dispersin de primer orden ocurre cuando n = 1, esto es, para un
ngulo 1 que verifica
h
,
sen 1 =
p
2d 2m e eV
o equivalentemente para un potencial de aceleracin, V , dado por
V=
=
h2
8d 2 sen2
1 me e
(6,6 1034 )2
51,1 V .
8 (0,91 1010 )2 (0,9397)2 9,1 1031 1,6 1019
Apuntes de CF
FLML
19
(1.38)
(1.40)
Partcula localizada
Si una partcula est localizada existir entonces ms probabilidad
de encontrarla en algunos sitios que en otros. Consecuentemente
P (x, t ) debe depender de la posicin, lo cual se puede conseguir si
su funcin de onda asociada, (x, t ), viene dada por un grupo de ondas, por lo que podr expresarse como
(x, t ) =
FLML
k 0 +k
A(k)e j kx e j (k)t dk .
(1.41)
k 0 k
Apuntes de CF
20
vg =
d 1 dE
=
.
dk ~ dk
(1.42)
Es interesante resaltar que la funcin de onda, , no es una magnitud estadstica, en el sentido de que describa el comportamiento de un colectivo muy numeroso de partculas que se manifiestan simultneamente,
sino que es una propiedad intrnseca de cada partcula, independiente del colectivo3 . En este sentido, la interpretacin probabilstica de Born
nos impone una restriccin al conocimiento que podemos tener sobre la
partcula, es decir, todo lo que nos puede dar la Fsica Cuntica sobre la
posicin de una partcula es una informacin probabilstica acerca del posible resultado de una medida. Podemos ver que este hecho dota a nuestro
conocimiento sobre la partcula de cierta incertidumbre, hecho que ser
discutido con ms profundidad en el apartado siguiente.
Apuntes de CF
FLML
21
(1.43)
Dpx
q
p
Una manera de ver que la dualidad onda/corpsculo de la materia est intrnsecamente relacionada con el anterior principio de incertidumbre
puede obtenerse a partir de la determinacin de la posicin de una partcula hacindola pasar por una rendija de anchura x (sta sera justamente la incertidumbre en su posicin). Al pasar por la rendija, la partcula
sufrira difraccin debido a su carcter ondulatorio. El estudio de la difraccin de una onda plana que incide normal a la rendija muestra que, para
la configuracin mostrada en la figura, el primer mnimo de difraccin se
produce para un ngulo tal que
sen =
.
x
Dx
(1.44)
Dado que la partcula llegar a algn punto comprendido entre los dos mnimos mostrados en la figura, podemos ver que el mximo de incertidumbre de la componente x del momento ser
p x = p sen ,
(1.45)
donde p es el mdulo del momento de la partcula, que no habr cambiado al atravesar sta la rendija. Teniendo ahora en cuenta la relacin de de
Broglie (1.28) y las dos expresiones anteriores, podemos escribir
h
x
(1.46)
p x x = h .
(1.47)
p x =
y finalmente
FLML
Apuntes de CF
22
La Luna
Sabiendo que la masa de la Luna es m 6 1022 kg, que su velocidad media
Apuntes de CF
FLML
23
~
x
1028 kgm/s .
px
1025
La incertidumbre relativa para el momento, incluso intentando maximixarla, es tremendamente pequea; tanto que en la prctica sera totalmente
indetectable. Consecuentemente, para el caso de la Luna en su rbita alrededor de la Tierra, el concepto de trayectoria es aplicable.
Electrn en tomo de hidrgeno
Con el fin de obtener el mnimo de imprecisin en el momento, supongamos que la imprecisin en la determinacin de x es mxima, es decir, que
slo sepamos que el electrn est dentro del tomo. Dado que el tamao
del tomo vena dado por r 0 , entonces diremos que x r 0 1010 m y,
por tanto,
1024 kgm/s .
x
Ntese que la incertidumbre absoluta en el momento es mayor para el electrn que para la Luna. Para calcular p, tengamos en cuenta que la energa
cintica, E c , del electrn en la rbita fundamental ser
p x
0,5 ,
px
2 1024
esto es, una incertidumbre relativa muy importante, lo que indica claramente que no podramos hablar de la trayectoria del electrn en el tomo
de H.
FLML
h
.
a
Apuntes de CF
24
h2
,
(1.48)
2m
2ma 2
esto es, una partcula localizada no puede estar en reposo (con energa cintica nula).
(E c )min =
Principio de incertidumbre
energa-tiempo
E t ~ ,
(1.49)
.
E
Anlogamente, si un sistema permanece en cierto estado durante un tiempo no mayor que t , la energa en ese estado presentar una incertidumbre de al menos
.
t
Cuando hablamos de la incertidumbre en la energa de cierto estado debe entenderse que nos referimos a la incertidumbre en la energa puesta
en juego en la transicin a otro estado de referencia, usualmente el estado
fundamental.
E JEMPLO 1.7 Se sabe que el tiempo de vida media, , de cierto estado atmico es
de 100 s. Determine (1) la incertidumbre en la energa de dicho estado y (2) la
incertidumbre en la longitud de onda de la radiacin emitida en la transicin hacia
el estado fundamental, sabiendo que en sta se emite una radiacin de = 100 nm.
1. El tiempo de vida media es una medida del tiempo que tarda en realizarse
cierta transicin, por lo que podemos identificar t . La incertidumbre
en la energa puesta en juego en la transicin ser entonces
E
Apuntes de CF
~
t
1,009 1034
' 1020 J 6,25 102 eV .
104
FLML
25
hc
,
E
2
d
E = hc E = E
dE
E2
hc
=
(100 109 )2
1020 5 .
6,6 1034 3 108
100 nm
FLML
Apuntes de CF
26
Apuntes de CF
FLML
27
tal.
Sol.: E = 12,07 eV, p = 6,44 1027 kgm/s, = 1030 .
1.17: Para transiciones en tomos de hidrgeno correspondientes a n = 1, demuestre
que para valores muy grandes de n, la energa de
viene dada por E = 2 (m e c 2 /n 3 ),
la transicin
1 e2
siendo una constante adimensional, = 2 4
, cuyo valor numrico es 1/137.
0 hc
FLML
Apuntes de CF
28
Apuntes de CF
FLML
T EMA 2
Ecuacin de Schrdinger.
Aplicaciones
2.1. Ecuacin de Schrdinger
La primera formulacin que se realiz de la teora cuntica aport una
visin novedosa y revolucionara de multitud de fenmenos. No obstante, esta teora presentaba una seria de inconvenientes, entre los que cabe
destacar lo siguiente:
Slo era aplicable a sistemas peridicos.
No explicaba las diferentes probabilidades de transicin entre distintos niveles energticos.
No explicaba el espectro de los tomos multielectrnicos.
Asignaba trayectorias a los electrones, lo cual es incompatible con el
principio de incertidumbre.
Bsicamente, lo que faltaba era una teora unificadora que diera cuenta de
los diversos fenmenos cunticos, a saber: dualidad onda/corpsculo de
la radiacin/materia, principio de incertidumbre, naturaleza probabilstica de los fenmenos, etc.
Tal como ya se apunt en el Apartado 1.5.3, la descripcin de los fenmenos cunticos se realizar a travs de una funcin de onda, (r, t ),
que describe completamente el estado de un sistema dado. A partir de esta funcin de onda se podrn obtener los valores medios de las distintas
magnitudes observables asociadas al sistema as como la probabilidad de
encontrar a las partculas en distintos puntos del espacio. Puede, por tanto, concluirse que
30
~2 2
2m x 2
+ E p (x, t ) = j ~
.
t
(2.1)
probabilidad de encontrar a la
partcula en el instante t
entre x y x + dx
(2.3)
(en analoga con la expresin (C.5) del Apndice C). Para cualquier otra
magnitud, f (x), que sea funcin de x, su valor esperado podr calcularse
mediante
Z
f (x) =
f (x) dx .
(2.5)
Apuntes de CF
FLML
31
Estados estacionarios
Existen multitud de situaciones en las cuales la energa potencial, E p ,
del sistema no depende del tiempo sino nicamente de la posicin de los
distintos componentes del sistema, en cuyo caso tendremos que E p = E p (x)
(por ejemplo, la energa potencial electrosttica)2 . Para estas situaciones
encontramos que la funcin de onda puede escribirse como el producto
de dos funciones (x) y g (t ), de modo que (x, t ) = (x)g (t ). Al sustituir
esta forma de la funcin de onda en la ecuacin (2.1), obtenemos que
~2
d2 (x)
dg (t )
g (t )
+ g (t )E p (x)(x) = j ~ (x)
,
2m
dx 2
dt
1
~2 d2 (x)
1
dg (t )
+
E
(x)(x)
=
j
~
.
p
(x)
2m dx 2
g (t )
dt
(2.6)
~2 d2 (x)
2m
+ E p (x)(x) = E (x)
dx 2
dg (t )
jE
=
g (t ) .
dt
~
(2.7a)
(2.7b)
sistemas conservativos, en los cuales la fuerza que acta sobre el sistema se calcula a partir
del gradiente de la energa potencial, esto es,
F (x) =
FLML
dE p (x)
dx
Apuntes de CF
32
(2.10)
que NO depende del tiempo. En estos estados estados estacionarios la energa debe conservarse, viniendo sta dada precisamente por la variable E de
las ecuaciones (2.7a) y (2.7b).
En lo que sigue, se tratarn nicamente situaciones estacionarias, por
tanto, la funcin de onda (x) y la energa del sistema, E , se obtendr resolviendo la ecuacin (2.7a) , esto es,
Ecuacin de Schrdinger
independiente del tiempo
~2 d2 (x)
2m
dx 2
+ E p (x)(x) = E (x)
(2.11)
= E (x) ,
(2.12)
2m dx 2
que puede reescribirse, al redefinir
k2 =
2mE
~2
(2.13)
o equivalentemente
E = ~ =
~2 k 2
2m
(2.14)
como
d2 (x)
+ k 2 (x) = 0 .
dx 2
La solucin de esta ecuacin puede escribirse como
(2.15)
(x) = Ae j kx ,
Apuntes de CF
FLML
33
(2.16)
Si tenemos en cuenta las relaciones de de Broglie (E = ~, p = ~k), podemos comprobar que la solucin de la ecuacin de Schrdinger para una
partcula libre coincide con la expresin obtenida previamente en (1.40)
mediante razonamientos puramente heursticos.
Si en la expresin de la energa de la partcula libre,
E = p 2 /2m ,
sustituimos el valor de E y p por sus equivalentes segn de Broglie, obtenemos que
~2 k 2
,
~ =
2m
Ep(x)
2.2.2.
(
0,
si 0 x a
, en otro caso.
x
x=0
x=a
(2.17)
p
2mE
(2.19)
(2.20)
FLML
Apuntes de CF
34
por lo que
B = A .
(x) = A e+ j kx e j kx = C sen kx ,
donde C = 2 j A. Al imponer ahora la condicin (2.18) en el extremo x = a,
es decir: (a) = 0, tenemos que
sen ka = 0
ka = n ,
esto es,
,
n = 1, 2, 3, . . .
(2.21)
a
Es interesante notar que la condicin de contorno en x = a no ha fijado el
valor de la constante C sino ms bien el de la variable k y de aqu que los
posibles valores de la energa, teniendo en cuenta (2.20), vengan dados por
kn = n
Energa de la partcula en un
pozo monodimensional
En =
~2 kn2
2m
= n2
~2 2
2ma 2
= n2E0 , n 1 .
(2.22)
Apuntes de CF
h2
.
2ma 2
FLML
y(x)
35
|y(x)|
n=1
n=2
n=3
x=0
x=a
x=0
x=a
F IGURA 2.1: Aspecto de las funciones de onda y funciones densidad de probabilidad para distintos nmeros cunticos
Este hecho muestra de nuevo que la formulacin basada en la ecuacin de
Schrdinger es congruente con el principio de Heisenberg.
E JEMPLO 2.1 Calcule la longitud de onda mnima del fotn que debiera ser absorbido para que un electrn situado en el estado fundamental de un pozo monodimensional de paredes infinitas de anchura a = 2 transite hasta el tercer estado
excitado.
Si la energa del electrn en el estado fundamental en el pozo es
E0 =
~2 2
2m e a 2
(1,05 1034 )2 2
= 1,49 1018 J = 9,34 eV ,
2 9,1 1031 (2 1010 )2
FLML
Apuntes de CF
36
z
c
2.2.3.
a
x
Considrese una situacin en la que una partcula cuntica est confinada en cierta regin del espacio (por ejemplo, un paraleleppedo) de la
que no puede salir. Dicha situacin podra estar relacionada con la ausencia de fuerzas en el interior de la regin y una fuerza infinita en las paredes
impenetrables. Este caso, que podra describir la situacin de un electrn
libre en un slido, estara caracterizado por la siguiente energa potencial:
E p (x, y, z) =
(
0,
, en otra parte .
(2.24)
Para resolver la ecuacin de Schrdinger en este sistema (y as encontrar las funciones de onda y las energas de la partcula), debemos tener
en cuenta que ahora la energa potencial depende de las tres variables espaciales x, y y z, es decir, nos enfrentamos a un problema tridimensional.
Este hecho implica que la ecuacin de Schrdinger debe ser extendida al
caso tridimensional. Dado que las funciones de onda dependern de las
tres variables espaciales, = (x, y, z), la ecuacin de Schrdinger debe
incluir derivadas parciales con respecto a cada una de estas variables, por
lo que la extensin de la ecuacin (2.11) al caso 3D tendra la siguiente forma:
~2 2 2 2
+
+
+ E p (x, y, z) = E ,
(2.25)
2m x 2 y 2 z 2
o bien usando el operador 2 2 /x 2 + 2 /y 2 + 2 /z 2 ,
~2
2m
2 + E p (x, y, z) = E .
(2.26)
0 < y < b,
(2.27)
0<z <c ,
donde, de nuevo, k viene dado por (2.20). La ecuacin anterior puede resolverse por el mtodo de separacin de variables, el cual supone que la
Apuntes de CF
FLML
37
funcin de onda, (x, y, z), puede expresarse como el producto de tres funciones, cada una de las cuales depende nicamente de una de las variables
espaciales, esto es,
(x, y, z) = X (x)Y (y)Z (z) .
Al introducir esta solucin en (2.27), obtenemos el siguiente conjunto de
ecuaciones diferenciales ordinarias:
d2 X
+ k x2 X = 0 ,
dx 2
d2 Y
+ k y2 Y = 0 ,
dy 2
d2 Z
+ k z2 Z = 0 ,
dz 2
X (x) = 0 para 0 x a
(2.28a)
Y (y) = 0 para 0 y b
(2.28b)
Z (z) = 0 para 0 z c
(2.28c)
donde
k x2 + k y2 + k z2 = k 2 =
2mE
~2
(2.29)
, k y = n y , kz = nz ,
a
b
c
(2.30)
estando la funcin de onda de la partcula (esto es, cada estado del sistema) determinada por tres nmeros cunticos, (n x , n y , n z ) [n = 1, 2, 3, . . . ]
segn
r
n
ny
n
8
x
z
n x n y n z (x, y, z) =
sen
x sen
y sen
z .
(2.31)
abc
a
b
c
Teniendo en cuenta que segn (2.29)
E=
~2 k 2
2m
~2
2m
(k x2 + k y2 + k z2 )
(2.32)
!
2
~2 2 n x2 n y n z2
E nx n y nz =
+
+
,
(2.33)
2m a 2 b 2 c 2
expresin que muestra que la energa est cuantizada y que depende de
tres nmeros cunticos.
Funcin densidad de estados
Una situacin prctica interesante se presenta cuando el pozo de potencial es cbico, es decir, cuando a = b = c L. En este caso, cada estado
del sistema viene determinado de nuevo por la terna de nmeros cunticos (n x , n y , n z ), pudindose escribir ahora la energa de cada estado como
E nx n y nz =
FLML
~2 2
n 2 + n 2y + n z2
2mL 2 x
n x2 + n 2y + n z2
L
E0 ,
(2.34)
Apuntes de CF
38
~2 2
2mL 2
(2.35)
14E0
12E0
11E0
9E0
6E0
3E0
Energa
Degeneracin (g )
3E 0
6E 0
9E 0
11E 0
12E 0
(1, 1, 1)
(2, 1, 1), (1, 2, 1), (1, 1, 2)
(2, 2, 1) , (2, 1, 2), (1, 2, 2)
(3, 1, 1), (1, 3, 1), (1, 1, 3)
(2, 2, 2)
(1, 2, 3), (1, 3, 2), (2, 1, 3)
(2, 3, 1), (3, 1, 2), (3, 2, 1)
1
3
3
3
1
14E 0
Cubo microscpico
Cubo macroscpico
Podemos observar, por ejemplo, que para el valor de energa E = 14E 0 encontramos seis estados con distintos nmeros cunticos.
~2 2
2mL 2
(1034 )2 10
1033 J 1014 eV .
1030 (102 )2
Este valor tan diminuto para E hace que, a efectos prcticos, podamos
despreciar el hecho de que el espectro de energa est cuantizado y consideremos a la energa, E , como una variable continua ms bien que discreta. En consecuencia, incluso en un intervalo infinitesimal de energa,
d E , existirn muchos estados distintos. En esta situacin es conveniente
introducir el concepto de funcin densidad de estados, g (E ). Esta funcin
mide la densidad energtica de estados, es decir,
g (E )d E =
intervalo entre E y E + d E
Apuntes de CF
FLML
39
Para llevar a cabo el clculo anterior, considrese la construccin mostrada al margen en la que cada punto, de coordenadas (n x , n y , n z ), representa un estado cuntico distinto (ntese que n 1, por lo que los puntos
slo aparecen en el octante mostrado). La distancia, R, desde el origen a
cada uno de los puntos viene dada por
R 2 = n x2 + n 2y + n z2 ,
o equivalentemente, teniendo en cuenta la expresin de la energa dada
por (2.34),
1
E 2
.
(2.36)
R=
E0
La expresin anterior nos muestra que la distancia al origen de cada punto
en el espacio (n x , n y , n z ) depende de la energa del estado asociado a dicho
punto, es decir, R = R(E ). El nmero de estados con energas menores o
iguales que E puede, por tanto, calcularse muy aproximadamente como
el nmero de puntos cuya distancia al origen es menor que R(E ), esto es,
como el volumen de un octante de esfera3 de radio R:
N (E ) =
1
8
por lo que
N (E ) =
1 4
E 3/2
.
[R(E )]3 =
8 3
6 E 03/2
(2.37)
d
dN (E ) =
N (E ) dE = g (E )dE ;
dE
esto es,
dN =
4E o3/2
E 1/2 dE ,
(2.38)
(2.39)
g(E)
donde la constante C suele expresarse como
C=
4E o3/2
(2.40)
FLML
Apuntes de CF
40
Ep(x)
w
V0
x=L
y(x)
Considrese una partcula sometida a la barrera de potencial de anchura w y altura V0 mostrada en la figura adjunta y cuya energa total sea menor que la altura de la barrera (E < V0 ). En el presente caso, la condicin de
contorno no impone ahora que la funcin de onda tenga que anularse en
el borde de la barrera (x = L), por lo que (x = L) tomar un valor distinto
de cero. Teniendo en cuenta la propiedad de continuidad para la funcin
de onda y su derivada, podemos deducir que (x) tampoco ser nula en
el interior de la barrera ni a su derecha. Dado que (x) no se anula para
x > L + W (y, por tanto, tampoco lo hace |(x)|2 ), existir cierta probabilidad de encontrar al electrn ms all de la barrera. Aunque La presencia
del electrn en estos lugares parece indicar que el electrn haya saltado
la barrera de potencial (no podra hacerlo dado que tiene una energa insuficiente para ello), debemos interpretar este resultado considerando ms
bien que la partcula ha atravesado la barrera de algn modo. Este efecto, que podra visualizarse como un tunelamiento a travs de la barrera,
es un fenmeno puramente cuntico que no tiene ninguna analoga en la
Fsica Clsica, donde obviamente una partcula no puede saltar una barrera de potencial a no ser que tenga suficiente energa para ello (E debe
ser mayor que V0 ). Debe notarse que la amplitud de la funcin de onda ms
all de la barrera decrecer a medida que la anchura y la altura de la barrera
aumentan, de modo que para una barrera de potencial infinitamente alta
se recuperaran los resultados del pozo infinito.
Nmeros cunticos
Tal como ya se ha descrito, una de las caractersticas ms importantes de la ecuacin de Schrdinger es que es consistente con muchos de
los postulados de la Fsica Cuntica, hacindose stos explcitos cuando se
resuelve matemticamente la ecuacin. Esto ha sido observado, por ejemplo, en la cuantizacin de los niveles energticos para la partcula en un
pozo de potencial. En este sentido, podremos esperar que la aplicacin de
la ecuacin de Schrdinger a la resolucin del tomo de Hidrgeno reproduzca algunos de los postulados de Bohr, adems de proporcionar informacin adicional que permita explicar algunos de los resultados que el
Apuntes de CF
FLML
41
Ep(r)
= E .
(2.42)
2m
40 r
Afortunadamente esta ecuacin puede resolverse de forma analtica (sin
necesidad de mtodos numricos), aunque es una tarea de cierta complejidad matemtica que no ser expuesta aqu en detalle. Para resolver (2.42)
se aplicara de nuevo el mtodo de separacin de variables, tal y como ya
se us en la resolucin de (2.26), aunque ahora debido a la simetra esfrica
del potencial, la separacin de variables se realiza en coordenadas esfricas, esto es,
(r) = (r, , ) = R(r )()() .
z
r
q
r
f
x
(2.43)
FLML
Apuntes de CF
42
(2.45)
0
s
1
p
2
d
3
f
...
...
(2.47)
L z = ml ~ .
(2.48)
En presencia de un campo magntico, la aparicin de este nmero cuntico da lugar al efecto Zeeman. Este efecto consiste
en que cada raya espectral en ausencia de campo magntico se
desdobla en tres si B 6= 0.
Para explicar este hecho debemos considerar que un anlisis
semiclsico nos dice que el electrn con momento angular L
da lugar a un momento dipolar magntico, pm , cuya expresin
es
e
pm =
L.
(2.49)
2m e
Apuntes de CF
FLML
43
(2.50)
e
e~
LB =
Lz B ,
2m e
2m e
(2.51)
(2.52)
donde B = e ~/2m es una constante que se conoce como magnetn de Bohr y su valor es
B = 9,27 1024 Am .
La energa del estado descrito por la terna de nmeros cunticos (n, l , m l ) ser por tanto
E = E n + m l B B .
(2.53)
Energa en presencia de un
campo magntico
Esta ltima expresin indica que, en ausencia de campo magntico (B = 0), un estado con nmero cuntico l presenta una
degeneracin en la energa de 2l + 1; es decir, existen 2l + 1 estados (debido a los distintos valores de m l ) con el mismo valor
de energa. As se tiene que
estado l
degeneracin
s
1
p
3
d
5
f
7
...
...
Cada uno de los estados degenerados anteriores se desdoblar en 2l + 1 estados en presencia de un campo magntico. La
aparicin de estos nuevos valores de la energa hace que aparezcan ms rayas espectrales, de modo que cuando se tienen
en cuenta las reglas de seleccin (reglas que nos dicen que las
nicas transiciones entre estados permitidas son aquellas que
verifican l = 1, m l = 0, 1), cada una de las rayas espectrales
originales (cuando B = 0) se desdobla en tres.
E JEMPLO 2.2 Obtenga el valor del campo magntico aplicado a un gas de hidrgeno si existe una variacin mnima de 120 en la raya espectral correspondiente
a la transicin 3 2.
La frmula de Rydberg-Ritz, expresin (1.1), nos dice que la longitud de onda
correspondiente a una transicin con n = 3 y m = 2 es
1
1
1
= 1,0968 107 2 2
= = 6562,9 .
2
3
FLML
Apuntes de CF
44
2
d
E = E ,
=
dE
hc
de donde deducimos que
E =
hc
6,6 1034 3 108
=
1,2 108 = 5,5 1021 J .
2
(6,57 107 )2
Considerando ahora, segn (2.53), que la variacin mnima en la energa debido a la presencia de un campo magntico de mdulo B viene dada por
E = B B ,
al igualar las dos expresiones anteriores obtenemos que
B=
2.4.2.
E
5,5 1021
=
= 593,8 T .
B
9,27 1024
Aunque la aplicacin de la ecuacin de Schrdinger al tomo de hidrgeno justific muchos de los fenmenos asociados a dicho tomo, todava
existan algunos fenmenos que no pudieron ser explicados satisfactoriamente. Uno de estos fenmenos fue la estructura fina del hidrgeno, que
consiste en que cada una de las rayas espectrales de este elemento (en ausencia de campo magntico) en realidad estaba compuesta de dos rayas
muy prximas. Esto indicaba que la energa de los diferentes estados del
tomo no slo dependan del nmero cuntico principal sino tambin de
otro nmero cuntico no descrito por la ecuacin de Schrdinger. Para solventar este problema se postul la existencia de un momento angular intrnseco, S, llamado momento de spin. Esta nueva magnitud es una propiedad puramente cuntica, en el sentido de que no existe ninguna magnitud
clsica anloga4 . Similarmente a lo que suceda con el momento angular
orbital, L, el mdulo y la orientacin del momento angular de spin, S, podan relacionarse con dos nuevos nmeros cunticos s y m s segn
S=
s(s + 1) ~ ;
S z = ms ~ ;
s = 1/2
(2.54)
m s = 1/2 .
(2.55)
Dado que el nmero cuntico s slo toma un nico valor, no tiene sentido
considerarlo como un nmero cuntico adicional y por ello el cuarto nmero cuntico que define el estado del tomo de hidrgeno ser el m s . El
4 La introduccin del spin del electrn slo pudo ser justificado posteriormente por Di-
Apuntes de CF
FLML
45
e
S,
me
(2.56)
que es, por ejemplo, responsable del origen del campo magntico
natural que presentan ciertos materiales (imanes, ferritas, etc...). Debe notarse que, en presencia de un campo magntico externo, el anterior momento magntico tambin provocar la aparicin de una
energa potencial magntica en similitud con la expresin (2.50). En
concreto, la energa magntica vendra en este caso dada por
spin
E p,m =
e
e
SB =
Sz B ,
me
me
(2.57)
o equivalentemente
spin
E p,m = B B .
(2.58)
FLML
Apuntes de CF
46
1
0
1s
2
0
2s
1
2p
0
3s
3
1
3p
4
2
4d
0
4s
1
4p
2
4d
3
4f
0
5s
5
1
5p
...
...
Uno de los fenmenos cunticos que regir la configuracin de los electrones en los distintos estados se conoce como principio de exclusin de
Pauli, que puede enunciarse como
dos electrones en un sistema (tomo, slido,...) no pueden estar en el mismo estado cuntico.
En el caso del tomo multielectrnico, esto implica que no pueden poseer
la misma serie de nmeros cunticos. En consecuencia, teniendo en cuenta la degeneracin de los estados con el mismo nmero cuntico l (ya vista
en el Apartado 2.4.1) y la existencia de otra degeneracin simultnea debida al spin, cada estado caracterizado por l puede albergar el siguiente
nmero de electrones
estado l
nmero mximo de electrones
s
2
p
6
d
10
f
14
...
...
Otras consideraciones relevantes que surgen del anlisis de las funciones de onda del tomo multielectrnico son las siguientes:
La energa del electrn aumenta al incrementarse n dado que aumenta la distancia media del electrn al ncleo y ste ejerce menos
atraccin;
Para un n dado, los electrones con menor mdulo del momento angular tienen una probabilidad mayor de estar en regiones cercanas
al ncleo. Esto afecta a la carga efectiva del ncleo que siente el
electrn segn el grado de apantallamiento de la carga nuclear por
los dems electrones y, por consiguiente, explica la dependencia de
la energa con l y que para un valor dado de n, la energa crezca al
aumentar el valor de l ;
Si se tiene un electrn en cada uno de los m l estados asociados con
un l dado, la distribucin de la carga espacial tendr simetra esfrica.
Todas las consideraciones anteriores sirven para justificar la dependencia peridica de las propiedades fsicas y qumicas de los distintos elementos con respecto a su nmero atmico, conduciendo as a la clasificacin de los elementos en grupos y columnas que aparece en la Tabla Peridica. Dado que las propiedades de un elemento dependen fundamentalmente de su configuracin electrnica, la Tabla Peridica no es ms que
Apuntes de CF
FLML
47
una clasificacin de los elementos en funcin de esta configuracin. Ahora bien, debido a la dependencia de la energa de los estados tanto con n
como con l , el orden energtico con el que se ordenan los distintos estados
sigue la siguiente ley:
1s 2
2s2 2p6
3s2 3p6 3d1 0
2
6
1 0 1 4
4s 4p 4d 4f
2
6
5s 5p .....
1 0
1 0
1 4
1s 2s 2p 3s 3p 4s 3d 4p 5s 4d 5p 6s 4f .....
FLML
Apuntes de CF
48
Apuntes de CF
FLML
49
FLML
Apuntes de CF
T EMA 3
Materia Condensada
nmero tomos/m3
densidad de masa
distancia interatmica
Materia Condensada
Materia Gaseosa
51
52
MONOCRISTAL
Anisotropa
POLICRISTAL
Isotropa
estadstica
AMORFO
LQUIDO
GAS
Isotropa
Orden de corto alcance
Desorden
Monocristal:
Presenta fuertes interacciones entre sus partculas componentes (tomos, grupos de tomos,...), que estn casi en reposo (excepto por
pequeas oscilaciones) en un mnimo de energa potencial. Las partculas estn dispuestas segn un orden espacial bien determinado
que define una estructura peridica tridimensional. Ejemplos: mayora de metales puros, muchos compuestos inicos, ...
Policristal:
Est compuesto de pequeas regiones o granulos, cada una de las
cuales con la estructura de un monocristal de tamao y orientacin
irregular.
Amorfos:
Aunque sus componentes estn bsicamente en reposo, stos no presentan una estructura espacial bien definida. Ejemplo: vidrios, plsticos, madera, ....
Lquidos:
Sus componentes no presentan fuertes interacciones entre s por lo
que pueden moverse, dando lugar a que estas sustancias adopten la
forma de los recipientes que las contienen.
Gases:
Sus componentes apenas interaccionan entre s, estando dotados
bsicamente de energa cintica. Pueden considerarse como un caso
extremo de lquidos, presentando menos densidad que stos.
Apuntes de CF
FLML
3.2. Gas
3.2.
53
Gas
(3.1)
2
N E c ,
3
(3.2)
FLML
3 R
T,
2 NA
Apuntes de CF
54
E c =
siendo
kB =
3
kB T ,
2
R
= 1,38 1023 J/K = 8,63 105 eV/K ,
NA
(3.3)
(3.4)
Teorema de equiparticin de
la energa
1
E |grado de libertad = k B T .
2
(3.5)
E c =
1
1
2
mv = mv 2 .
2
2
3k B T
=
m
3RT
,
M
(3.6)
Apuntes de CF
FLML
3.2. Gas
55
3 8,314 300
516,95 m/s .
28 103
Es interesante notar que la anterior velocidad es del mismo orden de magnitud que la velocidad de propagacin del sonido en el gas, v son (recordemos que
el aire contiene aproximadamente un 70 % de N2 y que en el aire v son 340m/s),
aunque ciertamente debe ocurrir que v > v son .
(3.7)
FLML
Apuntes de CF
56
(3.8)
Funcin distribucin de
Maxwell-Boltzmann
E
.
f MB (E ) exp
kB T
(3.9)
En el caso de que las partculas del sistema sean cunticas, la funcin distribucin a usar es la funcin distribucin de Fermi-Dirac, que ser estudiada en el Tema 4.
3.3.
Monocristal
Apuntes de CF
FLML
3.3. Monocristal
57
Tal como muestra la Fig. 3.1, la red cristalina es una estructura puramente geomtrica que se forma mediante la traslacin peridica (de periodo T) de una malla o celdilla elemental.
+ T=
a
Celdilla
elemental
Red cristalina
F IGURA 3.1: Formacin de una red cristalina bidimensional a partir de la
repeticin peridica, con periodo T = n 1 a + n 2 b, de la celdilla elemental.
Una de las caractersticas esenciales de esta red cristalina es que pone de manifiesto la importancia que tiene la disposicin geomtrica de la
estructura espacial peridica del cristal con independencia de las unidades reales o motivos que la compongan. Este hecho puede observarse en
la construccin de la Fig. 3.2, donde se evidencia el hecho de que subyacente a la estructura reticular aparece la composicin de la red cristalina
con cierto motivo (tomo o grupo de tomos).
Red cristalina
Motivo
Estructura reticular
FLML
Apuntes de CF
58
3.4.
Estructuras reticulares
Cbica
[P]
Cbica centrada
en el interior (bcc)
[Ba,Cr,Cs,Fe,K,..]
Cbica centrada
en las caras (fcc)
[Ag,Al,Au,Cu,..]
(a)
(b)
Apuntes de CF
FLML
59
dos redes cbicas fcc interpenetradas y desplazadas una sobre la otra 1/4
sobre la diagonal del cubo, dando as lugar a una disposicin tetradrica
(ver Fig. 3.4b) en la que cada tomo puede considerarse localizado en el
centro de un tetraedro y formando un enlace con cada uno de sus cuatro
vecinos ms prximos. Segn veremos en temas posteriores, esta disposicin tetradrica determina alguna de las propiedades ms caractersticas
de los semiconductores.
nV
nF
+ nI +
,
8
2
(3.10)
E JEMPLO 3.2 Calcule la densidad del silicio sabiendo que la arista de su celdilla
unidad es a = 5,43 108 cm y que su peso atmico es A = 28,1 g.
Dado que el Si cristaliza en una red tipo diamante que est formada por 2 redes fcc interpenetradas, el nmero de tomos por celdilla elemental ser el doble
del de una red fcc. Para la red fcc tenemos que nV = 8, n I = 0 y n F = 6, por lo que
n c (fcc) =
8
6
+0+ = 4 .
8
2
Para el silicio tendremos, por tanto, que cada celdilla elemental tiene 8 tomos. Si
n es el nmero de tomos por unidad de volumen, entonces
Nmero de tomos por celdilla unidad n c
= 3
Volumen celdilla unidad
a
8
22
3
=
5 10 tomos/cm .
(5,43 108 )3
n=
FLML
A nc
,
N A a3
(3.11)
Apuntes de CF
60
28,1
5 1022 2,3 g/cm3 .
6,02 1021
ndice de coordinacin
En una celdilla elemental, el ndice de coordinacin es el nmero de
nodos reticulares adyacentes. Este ndice suele determinar el tipo de enlace que cohesiona a la sustancia.
Fraccin de empaquetamiento, f c
Considerando que cada nodo de la celda unidad es el centro de una
esfera rgida, de modo que las esferas se distribuyen de la forma ms compacta posible, definimos la fraccin de empaquetamiento como
fc =
(3.12)
R
a
p
1
2
R= p a=
a
4
8
y por tanto
4
4
3
n c Vesf
=
a3
p
2
=
0,74
6
f c (fcc) =
Apuntes de CF
p !3
2
a
4
a3
FLML
61
(1)
q
(2)
diferencia de
camino =2dsenq
F IGURA 3.5: Los rayos (1) y (2) reflejados en los planos especulares interferirn constructivamente cuando su diferencia de camino sea un mltiplo
entero de la longitud de onda.
Una primera y elemental explicacin de la difraccin de rayos X en cristales la proporcion W. L. Bragg, suponiendo que las ondas incidentes se
reflejaban especularmente en los distintos planos del cristal, de forma
que cada plano refleja nicamente una fraccin muy pequea de la radiacin total (en un cristal perfecto contribuiran de 103 a 105 planos atmicos en la formacin del haz reflejado). Supuesto, entonces, que cada plano
se comporta como un espejo semitransparente, aparecer un mximo de
difraccin siempre que los haces difractados procedentes de planos de tomos paralelos interfieran constructivamente. Esta condicin, conocida como ley de Bragg, exige que la diferencia de camino entre los haces (1) y (2)
de la Figura 3.5 sea un mltiplo de la longitud de onda, esto es,
2d sen n = n .
FLML
Apuntes de CF
62
Apuntes de CF
FLML
T EMA 4
4.1.
Fenomenologa
(4.1)
donde el parmetro R se conoce como resistencia del material (sus unidades son ohmios, 1 =1 V/A). Para un material filiforme de seccin constante, este parmetro viene dado por
R =
l
,
S
(4.2)
siendo la resistividad del material (este parmetro depende de las caractersticas internas del materia, siendo sus unidades m), l la longitud
del conductor y S su seccin. La ley de Ohm puede igualmente expresarse
como
J = E ,
(4.3)
(4.4)
la conductividad elctrica (sus unidades son (m)1 ) y E el el vector campo elctrico aplicado.
63
Conductor
64
(4.6)
Una posible clasificacin de los slidos en funcin del valor de la conductividad a temperatura ambiente los divide en: conductores, semiconductores y aislantes.
Conductores
d
< 0, la conductividad disminuye con la temperatura. En
dT
concreto se encuentra que
=
0
1 + (T T0 )
(4.8)
lns
Semiconductores
1/T
Apuntes de CF
(4.9)
FLML
65
4.2.
Este primer modelo, desarrollado a finales del siglo XIX y principios del
XX (despus del descubrimiento de los electrones en 1897), propone una
teora clsica para la conduccin elctrica en los metales. El modelo parte
del hecho de que muchos metales presentan estructuras reticulares y asume que las fuerzas de cohesin de los metales se deben al tipo particular
de enlace que presentan, esto es, el enlace metlico. En los slidos que
presentan este tipo de enlace, se supone que los portadores de carga de la
corriente sern los electrones libres que provienen de que cada tomo del
metal cede uno o varios de sus electrones de sus ltimas capas (electrones
de valencia) para formar una especie de gas de electrones comn a todo el
slido. La cohesin del slido se debe precisamente a la interaccin entre
los iones positivos y el gas de electrones libres que los rodea.
FLML
Apuntes de CF
66
(4.10)
eE
,
me
(4.11)
siendo el tiempo promedio entre colisiones. Dado que la densidad de corriente, J, puede escribirse como
J = n(e)va =
ne 2
E,
me
(4.12)
FLML
67
I
= nev a ,
S
I
.
Sne
(gr/m3 )
masa de 1 m3
=
.
masa de 1 mol
A
9 106
8,47 1028 m3 ,
64
0,1
8,47
7,4 m/s .
FLML
Apuntes de CF
68
(4.15)
E JEMPLO 4.2 Obtenga la conductividad del cobre a temperatura ambiente sabiendo que n = 9 1028 m3 y L 0 = 3,6 .
Teniendo en cuenta los datos anteriores y usando la expresin (4.15) tenemos
que
=
Apuntes de CF
FLML
69
La expresin (4.15) predice resultados para la conductividad ms bajos que los obtenidos experimentalmente.
No explica la aparente presencia de cargas positivas (predicha por el
efecto Hall) como portadores de carga en algunos metales.
Aunque no se ha tratado aqu, es tambin conveniente sealar que
este modelo predice un calor especfico (C v = d E /d T ) para los metales mucho mayor (del orden de 104 veces) que el observado experimentalmente.
Ep
Modelo monodimensional
de la Ep de los e en el
interior del conductor.
g (E ) =
E 1/2
(4.16)
4E 03/2
FLML
Apuntes de CF
70
~2 2
2m e a 2
(n x , n y , n z , m s )
La introduccin de este nuevo nmero cuntico introduce una nueva doble degeneracin (que no fue tenida en cuenta en el Apartado 2.2.3), de
modo que la funcin densidad de estados que debe usarse ser la dada en
(4.16) multiplicada por 2, esto es,
g(E)
g (E ) =
E 1/2 =
3/2
2E 0
=
E
(4.17)
1/2
fFD(E)
1
T=0K
T >0K
EF
(gas clsico) .
(4.18)
,
E EF
exp
+1
kB T
(4.19)
siendo E F la energa de Fermi que puede definirse, para nuestros propsitos, como el valor de energa para el cual la funcin distribucin vale 1/2.
Es interesante notar que tomando el lmite para valores altos de la energa (E E F ), el trmino exponencial es mucho mayor que la unidad en el
denominador de (4.19) y, en consecuencia, la distribucin de Fermi-Dirac
se hace bsicamente idntica a la distribucin de Maxwell-Boltzmann:
E E F
f FD (E ) f MB (E ) .
(4.20)
Apuntes de CF
FLML
71
fFD(E)
8kT
T=0K
|E E F | . 4k B T ,
T >0K
EF
T=3000K
(4.22)
kBT-EF
EF
dN
dE
T=0K
T >0K
E
dN (E ) = g (E ) f FD (E )dE g (E )
1 si E < E F
0 si E > E F
dE .
(4.23)
es decir,
en un metal, el nivel de Fermi, E F , puede identificarse
con el mximo valor de la energa correspondiente a un
estado ocupado, existiendo como mximo dos electrones en cada nivel de energa.
FLML
Apuntes de CF
72
(4.25)
N (E F ) =
g (E ) dE
0
EF
(4.26)
EF
E dN (E )
E c = Z0
dN (E )
0
= Z0
E C E 1/2 dE
=
EF
CE
1/2
dE
3
EF
5
(4.28)
(E dN puede interpretarse como la energa de aquellas partculas cuyos estados de energa estn comprendidos entre E y E + dE ).
Si queremos encontrar la temperatura, TgF , a la cual la energa de un
electrn en un gas clsico (3/2k B TgF ) sera igual a la energa obtenida previamente en (4.28) para un electrn en un gas cuntico, entonces al igualar
ambas energas
3
3
k B TgF = E F
2
5
encontramos que
2E F
TgF =
.
5k B
Puede comprobarse que esta temperatura es del orden de 104 K, lo que explicara porqu un aumento de la temperatura del gas de Fermi apenas
variar su energa promedio y por tanto el valor del calor especfico de este gas es tan bajo (con respecto al predicho por el modelo de Drude, en el
cual un aumento de la temperatura del gas s tiene un efecto muy apreciable sobre el valor de la energa promedio).
Apuntes de CF
FLML
73
(4.29)
FLML
Apuntes de CF
74
Apuntes de CF
FLML
75
4.11: El magnesio es un metal bivalente con un peso atmico de 24.32 g/mol y una densidad de 1.74 g/cm3 . (a) Cul es la densidad de electrones libres?; (b) Cul es la energa
de Fermi?; y (c) Cul es la longitud de onda de De Broglie de los electrones en el nivel de
energa de Fermi?.
Sol.: (a) 8,4 1028 m3 ; (b) E F = 7,07 eV; (c) = 4,62 .
4.12: Los niveles energticos electrnicos en un pozo infinito de potencial tridimensional estn dados por la expresin: E (n 1 , n 2 , n 3 ) = E 0 (n 12 + n 22 + n 32 ). Encontrar las diferencias
fraccionales, [E (n i , n j , n k )E (n i0 , n 0j , n k0 )]/E (n i , n j , n k ), en la energa entre los pares de estados dados por: (a) E (1, 1, 1) y E (1, 1, 2); (b) E (10, 10, 10) y E (9, 10, 11); y (c) E (100, 100, 100)
y E (99, 100, 101). (d) Qu conclusin puede ser deducida de estos resultados?
4.13: Si admitimos que, segn la teora cuntica del electrn libre, la energa media de un
electrn libre en el cobre viene dada por
2 kB T
kB T ,
E = 53 E F + 4
EF
calcule dicha energa a temperatura ambiente (E F = 7,03 eV) y compare el anterior valor
con la energa media a T = 0 K y con el valor clsico 3k B T /2.
Sol.: E (300 K) = 4,2182 eV, E (0 K) = 4,2180 eV, 3k B T /2 = 3,88 102 eV.
2E F 1/2
, como aqueme
lla que adquieren los electrones de conduccin en el gas de Fermi, calcule el recorrido libre
medio, L 0 , de los electrones en el oro sabiendo que E F = 5,53 eV y = 2,04 cm. Compare este valor con la distancia promedio entre tomos y discuta el resultado.
Sol. l= 4, 14 .
4.15: Calcule la energa de Fermi (el valor de la energa del ltimo estado lleno a T = 0 K)
para un conductor monodimensional que consta de 23 electrones en un pozo de potencial monodimensional de paredes infinitas y anchura 6 . Tenga en cuenta que el principio
de exclusin prohbe la existencia de ms de dos electrones en el mismo estado cuntico.
Sol. E F = 149, 4 eV.
FLML
Apuntes de CF
T EMA 5
~2 d2
2m e dx 2
+ E p (x) = E
(5.2)
siendo
E p (x) = E p (x + a) .
Esta tarea fue llevada a cabo por Bloch, quien encontr que la funcin de
onda de un electrn en la red peridica monodimensional deba ser del
tipo
(x) = u k (x)e j kx
(5.3)
77
E p (r) = E p (r + T)
78
Ep
e
Ep=-K r
(a)
(b)
F IGURA 5.1: (a) Energa potencial (o, simplemente, potencial) debida a la
interaccin culombiana de un electrn con un ion positivo. (b) Potencial
de un electrn en una red monodimensional de iones positivos.
con
u k (x) = u k (x + a) ,
que puede verse como la funcin de onda del electrn libre (e j kx ) modulada por una funcin u k (x) que presenta la misma periodicidad que la
red.
Operando con este tipo de funciones de onda encontraramos que los
niveles de energa del slido se agrupan en bandas de energa, segn nos
muestra la relacin E k en la Figura 5.2(a). La energa E = E (k) es una
F IGURA 5.2: (a) Relacin de dispersin E k para un electrn que se mueve en una red peridica monodimensional de periodo a. (b) Diagrama simplificado de bandas de energas permitidas y prohibidas.
funcin continua en ciertos intervalos de k que experimenta saltos para
determinados valores del nmero de ondas (k = n/a). Las bandas permitidas mostradas en la Figura 5.2(b) nos indican aquellos valores de energa
que puede tener el electrn mientras que las bandas prohibidas sealan
los valores de energa que no pueden ser tomados por el electrn.
Apuntes de CF
FLML
5.1.
Modelo cuntico del electrn ligado
79
a)
b)
E1
E2
F IGURA 5.3: Funcin de onda asociada con (a) estado fundamental y (b)
primer estado excitado de una partcula en un pozo de potencial finito.
Para el caso del pozo doble de potencial finito (Fig. 5.4a), un electrn
en el estado fundamental que est el pozo 1 tendr una funcin de onda,
1 (x), que slo ser distinta de cero en las proximidades de dicho pozo
(Fig. 5.4b). Anlogamente ocurrira para un electrn en el estado fundamental que estuviese en el pozo 2 al que le correspondera una funcin de
onda 2 (x) (Fig. 5.4c).
Si ahora se considera el caso de un electrn que pudiese estar con igual
probabilidad en cualquiera de los dos pozos, la funcin de onda, (x), que
FLML
Apuntes de CF
80
F IGURA 5.4: (a) Pozo doble finito monodimensional. (b) Funcin de onda
asociada de un electrn que est en el pozo 1 en el estado fundamental. (c)
Funcin de onda asociada de un electrn que est en el pozo 2 en el estado
fundamental. (d) Funcin de onda simtrica que representa a un electrn
que puede estar con igual probabilidad en ambos pozos. (e) Densidad de
probabilidad asociada con el caso anterior. (f ) Funcin de onda antisimtrica que representa a un electrn que puede estar con igual probabilidad
en ambos pozos. (g) Densidad de probabilidad asociada con el caso anterior.
represente este sistema debe tener las siguientes propiedades:1
1. (x) debe reflejar el hecho de que la partcula se encuentre con igual
probabilidad en ambos pozos, por lo que la densidad de probabilidad, |(x)|2 , debe ser simtrica con respecto al punto medio de los
dos pozos.
2. (x) debe presentar un aspecto similar en aquellas regiones correspondientes al caso de un electron localizado en un nico pozo.
1 Debe tenerse en cuenta que si (x) es una funcin de onda correspondiente a un nivel
de energa E cuya densidad de probabilidad asociada es |(x)|2 , (x) tambin ser solucin de la ecuacin de Schrdinger y tendr asociados los mismos valores de energa y
densidad de probabilidad que la funcin (x).
Apuntes de CF
FLML
5.1.
Modelo cuntico del electrn ligado
81
= C (1 + 2 )
= C (1 2 ) .
yS
yA
|yS|2
|yA|
ES=EA
FLML
Apuntes de CF
82
E2
E2
E1
E1
distancia
interatmica
F IGURA 5.6: Modificacin de los niveles energticos asociados a los electrones externos de un sistema de 2 tomos
El fenmeno de desdoblamiento observado para dos tomos puede
claramente extenderse a un sistema de ms tomos (por ejemplo 5, tal como muestra la Fig. 5.7). En este caso encontraremos que por cada nivel
original de las capas del tomo individual aparecern ahora tantos niveles
como tomos haya en el sistema multiatmico. Igualmente observamos
cmo los niveles de las capas ms externas (nivel E 2 ) sufre un desdoblamiento ms amplio que el correspondiente a las capas ms internas (nivel
E 1 ).
Si este modelo se sigue extendiendo hasta completar el nmero total
de tomos del slido (n 1028 m3 ), los niveles discretos de energas (correspondientes al despliegue de los niveles originales de los tomos individuales) apareceran ahora tan cerca que daran lugar a una configuracin
cuasicontinua de niveles energticos. Debido a esta naturaleza cuasicontinua de la energa, se dice que la configuracin energtica del slido muestra bandas de energa (ver Fig. 5.8).
Debido a que las propiedades fsicas de los slidos dependen bsicamente de la configuracin de las ltimas bandas de energa, stas sern la
Apuntes de CF
FLML
5.1.
Modelo cuntico del electrn ligado
83
E
E2
E2
E1
E1
a
distancia
interatmica
F IGURA 5.7: Modificacin de los niveles energticos asociados a los electrones externos de un sistema monodimensional de N tomos
E
3s
2N
3s
6N
2p
2p
2N
2s
2s
2N
Banda 1s
1s
F IGURA 5.8: Aparicin de bandas de energa fruto de la prdida de degeneracin de los niveles energticos asociados a los electrones de un slido
de mayor inters para la conductividad elctrica. La denominacin usual
para estas ltimas bandas es la siguiente:
Banda de Valencia (BV): es la banda de energa ms alta conteniendo electrones.
Bandas Prohibidas (BP): corresponden a aquellos valores de energa
en los cuales no hay niveles permitidos.
Banda de Conduccin (BC): Si la BV est parcialmente llena, esta
banda se denomina banda de conduccin y si la BV est totalmente
llena (a T = 0 K) entonces la BC ser aquella banda inocupada inmediatamente superior a la BV.
Debe notarse que la anterior discusin sobre la formacin de bandas
se basa en un modelo simplificado monodimensional que no ha tenido en
cuenta las caractersticas tridimensionales del cristal. Cuando stas se tienen en cuenta, la formacin de bandas de energa puede presentar algunas
variaciones importantes respecto al modelo simple presentado anteriormente. En concreto cabe destacar el fenmeno de hibridacin de bandas,
FLML
Apuntes de CF
84
5.2.
El modelo de bandas expuesto anteriormente podr explicar satisfactoriamente la existencia de conductores y semiconductores/aislantes. Debe notarse que para que los electrones respondan al campo elctrico externo (y por tanto contribuyan a la corriente elctrica), stos deben poder ganar energa y situarse en estados energticos superiores. En consecuencia, slo aquellos electrones que posean estados superiores prximos
disponibles vacos y permitidos respondern a la accin del campo elctrico externo. Siguiendo este mismo razonamiento podemos igualmente
concluir que aquellos electrones cuyas energas correspondan a las de una
banda completamente llena NO contribuirn a la corriente,
Jbanda llena = 0 .
(5.4)
Apuntes de CF
FLML
T=0 K
85
BC
Eg
BV
Aislante
BC
Semiconductor
(BC)
BV
BV
Conductor
F IGURA 5.9: Situacin de las bandas energticas ms externas para Aislante, Semiconductor y Conductor
la conductividad crecer a medida que la temperatura crezca, explicndose as la correcta dependencia de la conductividad con la temperatura para aislantes y semiconductores discutida en el Apartado
4.1.
En los conductores, la situacin energtica de los electrones ligados
en la BV parcialmente llena (o BC) es muy similar a la que se encontr en el Tema 4 para los electrones libres en el modelo de Sommerfeld dentro del pozo de potencial finito. (Esto explica porqu el
modelo de Sommerfeld fue exitoso al predecir las propiedades elctricas de los metales.) Por tanto, el comportamiento de la conductividad con la temperatura para los conductores segn el modelo de
bandas es igual al predicho por el modelo de Sommerfeld, esto es,
T 1 .
3s
Siguiendo los razonamientos anteriores, se podra ahora predecir el carcter elctrico de los slidos formados por distintos elementos. As para
un cristal formado por tomos de Na, cuyo nmero atmico es Z = 11 y de
configuracin 1s 2 2s 2 2p 6 3s 1 , es de esperar que su estructura de bandas sea
la mostrada en la figura adjunta. En principio, es de esperar que la banda
3s estuviese parcialmente llena y, por tanto, que esta banda constituyese
una Banda de Conduccin. En esta situacin, esperaramos que este solido fuese un conductor; suposicin que es plenamente confirmada por los
hechos experimentales.
Usando un razonamiento similar es de esperar igualmente que un slido cristalino de Mg (elemento de Z = 12 y configuracin electrnica
1s 2 2s 2 2p 6 3s 2 ) sea un aislante al tener su ltima banda con electrones totalmente llena. No obstante, experimentalmente se encuentra que el Mg
es un buen conductor. Para explicar esta importante discrepancia hay que
considerar que el modelo de formacin de bandas que se ha seguido es un
modelo monodimensional y, tal como se seal anteriormente, este modelo slo nos proporciona las guas bsicas para explicar la formacin de
bandas en los slidos tridimensionales. Los detalles especficos de las bandas de muchos slidos slo pueden explicarse a partir de un modelo que
tuviese en cuenta el carcter tridimensional del slido. En este sentido, ha
FLML
1N
2p
6N
2s
2N
1s
2N
tomo de Na
Slido de Na
2N
de 8N
Banda 3s3p
6N
Banda 2p
2N
Banda 2s
2N
Banda 1s
Situacin para Mg
Apuntes de CF
86
2N
de 4N
Banda 2p
2N
Banda 2s
2N
Banda 1s
Situacin aparente para C
E
2p
Eg
2s
1s
ro
Separacin
interatmica
E
Eg
de tenerse en cuenta que tanto el Na como el Mg presentan una hibridacin de las bandas 3s y 3p para formar una nica banda hbrida 3s3p que
tendr en total 8N estados energticos y, en consecuencia, tanto para el Na
como para el Mg esta ltima banda con electrones est parcialmente llena
y ambos slidos sern conductores.
Una discusin anloga puede hacerse para el caso del carbono cristalizado (diamante). El C tiene una configuracin electrnica 1s 2 2s 2 2p 2 ,
de modo que siguiendo el modelo monodimensional debera ser un buen
conductor. No obstante, el hecho de que el diamante sea un aislante excelente puede explicarse de nuevo a partir de la formacin de una banda
hbrida 2s2p con 8N estados. Tal como se puede ver en la figura, tras la
formacin de esta nica banda hbrida ocurre una posterior separacin de
esta banda en dos bandas que podemos llamar banda 2s2p inferior y banda 2s2p superior, cada una de ellas con 4N estados energticos. Cuando
se forma el diamante los 6N electrones del slido se situarn de manera
que 2N van a la banda 1s y los restantes 4N a la banda 2s2p inferior, dando lugar a que la ltima banda con electrones est totalmente llena. Dado
que la separacin entre la BV y BC en el diamante es grande (E g 6 eV), el
diamante sera muy buen aislante de acuerdo con el modelo de bandas.
Es importante notar que el Si y el Ge tienen la misma configuracin
electrnica en sus ltimas capas que el C, por lo que igualmente se producir el mismo tipo de hibridacin de bandas (banda 3s3p para Si y banda 4s4p para Ge) y, en consencuencia, los monocristales de Si y Ge sern
igualmente aislantes a T = 0 K. No obstante, la anchura de la banda prohibida entre BV y BC es menor en estos slidos que en el diamante, por lo
que de acuerdo con las discusiones al inicio de esta seccin, ambos slidos sern semiconductores a T > 0 K.
5.3.
Masa efectiva
Apuntes de CF
FLML
87
racin y las fuerzas externas dado que ser precisamente la masa efectiva
(m ) la que recoger el efecto global de las fuerzas internas.
E
Electrn libre
Antes de tratar el electrn ligado, repasaremos brevemente las caractersticas bsicas que se encontraron para el electrn libre. En concreto se
encontr que la energa del electrn libre (ver expresin (2.14)) vena dada
por la siguiente expresin:
2
E=
2m e
k2 .
(5.7)
Dado que en el presente caso slo actan sobre el electrn la fuerza externa
debido al campo elctrico aplicado (E ), tendremos que la ecuacin (5.6)
viene dada por
Fext = eE = m e a ,
(5.8)
eE
.
me
(5.9)
En el presente caso vemos que el electrn libre sufre una aceleracin inversamente proporcional al valor de su masa inercial m e , por lo que encontramos que m = m e .
Electrn ligado
En este caso ya discutimos que el electrn estaba sometido al efecto de
un potencial peridico del cristal, que obviamente est relacionado con la
existencia de fuerzas internas que actan sobre dicho electrn. Debido a la
presencia de estas fuerzas internas podemos asegurar que m 6= m e por lo
que debemos emplear algn modelo sencillo que nos permita encontrar
una expresin adecuada para la magnitud masa efectiva. En concreto usaremos un modelo semiclsico del electrn, es decir, haremos uso tanto de
argumentos clsicos como de argumentos cunticos en el anlisis.
Parte cuntica.
El movimiento del electrn se supone que est regido por las caractersticas de propagacin de su funcin de onda asociada. En este
sentido, la velocidad del electrn, v, vendr dada por la velocidad de
grupo de la onda,
d
.
vg =
dk
Dado que = E (k)/~ y v v g , la velocidad puede expresarse como
v(k) =
FLML
1 dE
.
~ dk
(5.10)
Apuntes de CF
88
dx
d t = eE vdt
dt
(5.11)
dv(k) 1 d dE
a=
,
=
dt
~ dt dk
o bien, intercambiando el order de integracin,
1 d dE
a=
.
~ dk dt
(5.13)
a=
que puede reescribirse al sustituir el valor de v(k) dado por (5.10) como
a=
eE 1 d2 E
~ ~ dk 2
(5.14)
o, equivalentemente,
a=
eE
1 d2 E
~2 dk 2
1 .
(5.15)
la respuesta del electrn ligado al campo elctrico externo aplicado puede verse como la de un electrn libre que estuviese dotado de una masa efectiva, m , dada por
m =~
Apuntes de CF
d2 E
dk 2
(5.16)
FLML
89
E
~2
dE
=
k
dk m e
luego segn (5.16)
~2
d2 E
=
,
dk 2 m e
m = me .
k
v
1 dE
~ dk
k
2
d E/dk
m*
esto es, se derivar la curva anterior y se invierte. Tras realizar esto, se pueden destacar los siguientes hechos:
1. m no presenta el mismo valor que m e .
2. m puede ser mayor que m e e incluso llegar a ser infinita.
3. m puede ser menor que m e e incluso ser negativa.
En concreto se ha obtenido que la masa efectiva es
positiva en el borde inferior de la banda y
negativa en el borde superior.
La variacin de los valores y signo de la masa efectiva del electrn bajo
el efecto conjunto y opuesto del campo elctrico externo y del potencial
peridico de la red puede interpretarse como un balance entre la accin
de las fuerzas provenientes del campo externo (a favor del movimiento) y
las fuerzas internas de la red (opuestas al movimiento). Cuando m > 0, el
FLML
Apuntes de CF
90
5.4. Huecos
BC
Eg
BV
El hecho de que la masa efectiva de los electrones en el borde superior de la banda sea negativa tiene unos efectos trascendentales sobre el
fenmeno de conductividad elctrica en el slido. En este sentido estudiaremos la contribucin a la corriente elctrica de los electrones de una
banda cuasillena. Esta situacin se encuentra tpicamente para un semiconductor intrnseco en el que algunos electrones del borde superior de la
BV migran hacia la BC por excitacin trmica. Como ya hemos discutido,
los electrones que han migrado a la BC contribuirn a la corriente elctrica
del modo usual a como lo hacen los electrones libres en los metales. Para
tratar la contribucin a la corriente elctrica de los electrones que permanecen en la BV (que se denominar Jresto ), analizaremos en primer lugar
una situacin que involucra a todos los electrones de la BV menos a uno.
Tal como ya se seal en el apartado 5.2, debemos notar que la corriente
elctrica de una banda totalmente llena es nula:
Jllena = 0 .
Esta corriente puede a su vez descomponerse en la corriente, Ji , producida por un nico electrn i situado en el borde superior de la BV ms
la producida por el resto de electrones de dicha banda, Jresto . Es claro que
esta ltima corriente describe la contribucin de los electrones de la banda
de valencia cuasillena, pudindose escribir como
Jresto = Jllena Ji = Ji ,
es decir, la corriente debida a todos los electrones de la BV menos el electrn i es equivalente a menos la corriente del electrn i situado en el borde
superior de la BV. Dado que
Ji = evi
y teniendo en cuenta que la velocidad, vi , puede escribirse, en analoga
con la expresin (4.11), como
vi = ai i ,
encontramos que
Jresto = eai i .
(5.17)
Apuntes de CF
FLML
5.4. Huecos
91
Fexterna eE
=
.
m i
m i
eE
.
|m i |
(5.18)
FLML
Apuntes de CF
92
(5.19)
La distribucin de estos dos tipos de portadores ser por tanto lo que determinar las propiedades elctricas de los semiconductores. Por este motivo, los temas siguientes dedicados al estudio de los semiconductores se
centrarn en analizar el comportamiento de los electrones en la BC y los
huecos en la BV.
Apuntes de CF
FLML
T EMA 6
Bandas de Energa en
Semiconductores
6.1. Introduccin
El estudio terico de los semiconductores fue realizado bsicamente
(Wilson, Shockley,...) en la dcada de los 30 del siglo XX. No obstante, el
uso tecnolgico de los semiconductores no se inici hasta unas dos dcadas despus debido, en gran parte, a la dificultad en la obtencin de muestras puras de material semiconductor. Desde un punto de vista tecnolgico, algunas de las caractersticas que hacen atractivos a los semiconductores pueden ser las siguientes:
Aparicin de dos tipos de portadores de carga: electrones (e ) en
BC y huecos (h+ ) en BV. El hecho de que la conduccin elctrica se
produzca por dos tipos de portadores ofrece una mayor flexibilidad
de diseo y ampla considerablemente las posibilidades tecnolgicas de estos materiales respecto a los conductores y/o aislantes.
Las propiedades fsicas de los semiconductores son altamente dependientes de la concentracin de impurezas aadidas al material.
Esto permite construir muestras de semiconductor con muy diversas caractersticas fsicas, propiedad que puede ser eficazmente usada para el diseo de dispositivos electrnicos y optoelectrnicos.
La mayora de los componentes electrnicos y optoelectrnicos pueden realizarse sobre la misma muestra de semiconductor por lo que
se pueden integrar en un mismo chip muchos dispositivos diferentes.
El inters prctico de los semiconductores se pone de manifiesto en su
amplia utilizacin en la tecnologa actual. Su uso es fundamental en
Microelectrnica.
Prcticamente todos los elementos usados en Electrnica pueden
93
94
Comunicaciones.
Los circuitos usados en los sistemas de comunicacin (circuitos de
baja y alta frecuencia) se realizan actualmente sobre substratos semiconductores.
Optoelectrnica.
Dada la posibilidad de interaccin de los semiconductores con la luz,
muchos de los dispositivos pticos y optoelectrnicos se realizan sobre la base de materiales semiconductores, por ejemplo: LED, lser
de inyeccin, clulas fotovoltaicas, etc.
6.2.
Generacin trmica
BC
BV
Apuntes de CF
FLML
95
T RANSICIONES D IRECTAS.
Este tipo de transiciones se da cuando el mnimo de la BC
coincide, para el mismo valor de k (usualmente k = 0), con el
mximo de la BV. Este hecho permite que pueda darse la mnima transicin energtica entre las dos bandas sin que haya un
cambio en el momento lineal (debido a que k no vara). En este
tipo de transiciones se absorbe un fotn simultneamente a la
transicin electrnica entre bandas.
T RANSICIONES I NDIRECTAS.
En este caso, la forma de las bandas es tal que el mnimo de
la BC y el mximo de la BV no ocurren para el mismo valor de
k. Este hecho implica que una transicin electrnica entre BV y
BC debe llevar aparejado un proceso que d cuenta del cambio
de momento lineal necesario. En la prctica esto implica que el
electrn debe primero realizar una transicin haca otro estado (usualmente un estado energtico provocado por la presencia de algn defecto en la red) y desde ah realizar la transicin
entre bandas sin intercambio de momento. En otras muchas
transiciones indirectas, el proceso de cambio de momento suele deberse a un intercambio de calor con la red.
Adicin de impurezas.
Si se aaden tomos de elementos que no estn en la columna IV
(usualmente llamados impurezas substitutorias), se produce un incremento de la concentracin de electrones en BC y/o huecos en BV.
La seleccin del tipo de impureza que se aade provocar un aumento considerable del nmero de e o bien de h+ . Es interesante notar
que este proceso de generacin, al contrario que los anteriores, no
genera pares de e /h+ sino que slo genera un tipo de portadores.
FLML
(6.1)
96
BC
BV
Apuntes de CF
A T = 0 K.
Dado que la estructura reticular tpica de los semiconductores es la
estructura tipo diamante (ver Apartado 3.4), cada uno de los tomos
del cristal aparece rodeado de cuatro vecinos prximos de manera
que forma un doble enlace covalente con cada uno de ellos (cada
tomo proporciona cuatro electrones) para obtener la configuracin
del octete. Esta configuracin no deja ningn electrn fuera de los
enlaces covalentes, por lo que el material se comporta como un aislante.
Desde el punto de vista del modelo de bandas, la anterior configuracin se traduce en la presencia de una Banda de Valencia completamente llena y una Banda de Conduccin completamente vaca
separadas por una banda prohibida de anchura E g .
FLML
97
A T > 0 K.
Debido a la agitacin trmica, existe cierta probabilidad de que alguno de los enlaces covalentes del cristal pueda romperse dando
lugar a un electrn que no est localizado en las inmediaciones de
un tomo particular (est deslocalizado y extendido por la red por lo
puede funcionar como un portador de carga para conducir una corriente a travs del cristal). A su vez, queda un enlace roto que puede
ser ocupado por alguno de los electrones adyacentes provocando de
esta manera otro posible movimiento adicional de cargas que puede
identificarse con la aparicin de un hueco1 .
BC
Dado que los electrones y huecos son generados trmicamente por parejas, la concentracin de electrones en BC debe ser igual a la concentracin de huecos en BV:
n = p ni .
(6.2)
Concentracin de e y h+ es la
misma en un semiconductor
intrnseco
(6.3)
1 Tal como muestra la figura adjunta, la aparicin de un par e /h+ en la red podra
tambin considerarse teniendo en cuenta que, en dicha red, un tomo con un enlace roto
puede verse como un tomo normal ms un par e /h+ . Para visualizar esto, consideremos que cada tomo de la red contribuye a los enlaces con cuatro de sus electrones y, en
este sentido, caractericemos cada tomo por sus cuatro electrones de valencia junto con
sus correspondientes cuatro protones que den cuenta de la neutralidad de la carga en el
tomo. En este sentido, un tomo normal ms un par e /h+ , tras la posible recombinacin de uno de los electrones ligados al tomo con el hueco, sera equivalente al tomo con
uno de sus enlaces rotos.
4
-
tomo normal +
+
par e / h
FLML
e y h que
se recombinan
tomo con un
enlace roto
Apuntes de CF
98
6.3.2.
fn(E)
1
f n (E ) =
EF
.
E EF
+1
exp
kB T
(6.4)
Para el caso de la probabilidad de ocupacin de huecos, f p (E ), debe notarse que la cantidad 1 f n (E ) representa la probabilidad de que un estado
electrnico de energa E est vaco, o dicho de otra manera, la probabilidad
de que este estado est ocupado por un hueco. Por tanto,
fp(E)
f p (E ) = 1 f n (E ) =
E
EF
,
EF E
exp
+1
kB T
(6.5)
BC
EC
EF
EV
BV
Apuntes de CF
FLML
99
siendo su forma grfica la mostrada en la Fig. 6.1. Debe notarse que el origen de la energa cintica, E E c , para los electrones libres se tomaba en
el fondo del pozo de potencial.
EF
E
g(E)
F IGURA 6.1: Funcin densidad de estados para electrones libres en un metal.
Si ahora se desea obtener la funcin densidad de estados para los electrones en BC y para los huecos en BV debemos tener en cuenta que, de
acuerdo a la discusin que se llev a cabo en el apartado 5.3, el tratamiento de los electrones/huecos en BC/BV es anlogo al de los electrones libres
en el modelo de Sommerfeld pero considerando que las partculas estn
dotadas ahora de cierta masa efectiva, m e para los electrones y m h para
los huecos.
El origen de energa cintica debe ser tomado ahora en el lmite inferior de la BC, cuyo valor se denotar como EC , para poder as dar
cuenta de que un electrn en el fondo del pozo formada por la BC
tenga ah su nivel de energa cero.
FLML
Apuntes de CF
100
(2m e )3/2
2~3 2
(E EC )1/2
(6.6)
E
BC
EC
EC
BV
gn(E)
Huecos en Banda de Valencia
Anlogamente al caso de los electrones en BC, la densidad de huecos
en BV, g p (E ), viene dada por
(2m h )3/2
(6.7)
(E V E )1/2 ,
2~3 2
donde el origen de energa cintica nula ha de tomarse en el borde superior
de BV, E E V y teniendo en cuenta adems que el sentido positivo de esta
energa debe tomarse en sentido decreciente.
g p (E ) =
E
BC
EV
BV
gp(E)
6.3.5. Distribucin energtica de huecos y electrones
La obtencin de la distribucin energtica de electrones en BC, d n/d E ,
y huecos en BV, d p/d E , se har a partir de las expresiones anteriores para
Apuntes de CF
FLML
101
dn
= g n (E ) f n (E ) = C n
dE
(E EC )1/2
,
E EF
exp
+1
kB T
(6.8)
BC
EC
EF
EV
BV
gn(E)
fn(E)
dn/dE
dp
= g p (E ) f p (E ) = C p
dE
(E V E )1/2
.
EF E
exp
+1
kB T
(6.9)
E
BC
EC
EF
EV
BV
gp(E)
fp (E)
dp/dE
FLML
Apuntes de CF
102
E
e
EF
METAL
g(E)
f (E)
BC
EF
BV
AISLANTE
BC
EF
BV
SEMICONDUCTOR
F IGURA 6.4: Distribucin de electrones, d n/d E , y huecos, d p/d E , en metales, aislantes y semiconductores
Apuntes de CF
FLML
103
Si ;
T=0 K
T>0K
+
P=>P + e
F IGURA 6.5: Estructura de bandas de un semiconductor dopado con impurezas donadoras. A bajas temperaturas, el nmero de transiciones de
electrones a la BC se debe principalmente a la presencia de los tomos donadores (ocurren pocas transiciones de origen trmico).
vo nivel de energa, E D , (con 2ND estados posibles) correspondiente a los
electrones deslocalizados de los tomos de impurezas donadoras. Este nivel de energa aparecer cercano al borde inferior de la BC y as, por excitacin trmica, existir una alta probabilidad de que los electrones de este
estado pasen a la BC y, por tanto, incrementen la concentracin de elec-
FLML
Apuntes de CF
104
3
-
tomo Si +
+
carga neg. fija + h
e y h que
se recombinan
tomo Al
F IGURA 6.6:
trones en dicha banda. Debe notarse que el aumento de electrones en esta
banda no va acompaado de un incremento anlogo de huecos en BV dado que la correspondiente carga positiva corresponde al ion de la impureza
donadora permanecer fijo en el cristal.
La discusin anterior tambin nos permite predecir cualitativamente
que la posicin del nivel de Fermi a T = 0 K debe estar situada entre E D y
EC , puesto que as aseguraramos que a 0 K no hay electrones en BC y el
nivel E = E D est lleno.
Si
Al
6.4.2. Semiconductor tipo p
De manera similar a lo que sucede para el semiconductor tipo n, la adicin de tomos de elementos correspondientes a la columna III (Ga, In, B,
Al) con slo tres electrones de valencia provoca que al sustituir a alguno
de los tomos originales del cristal semiconductor, uno de los enlaces covalentes quede incompleto. Este enlace incompleto puede ser fcilmente
completado por uno de los electrones de los enlaces adyacentes provocando de este modo que el enlace incompleto pueda vagar por el cristal
y contribuya a la corriente elctrica como un hueco.
T=0K
T>0K
Al=>Al + h
-
Apuntes de CF
FLML
105
p>>n
EC
e portadores minoritarios
EA
EV
h portadores mayoritarios
T=0K
T > 0 K (~50 K)
FLML
Apuntes de CF
106
BC
e
EF
h
BV
Semic. Intrnseco
BC
e
EF
h
BV
Semic. tipo n
BC
e
EF
h
BV
Semic. tipo p
F IGURA 6.8: Distribucin de electrones, d n/d E , y huecos, d p/d E , en semiconductores intrnsecos, tipo n y tipo p.
Apuntes de CF
FLML
107
FLML
Apuntes de CF
T EMA 7
Portadores de carga en
Semiconductores
7.1. Introduccin
Tal como se ha venido sealado, las propiedades elctricas de los semiconductores vienen bsicamente determinadas por la presencia de electrones en la BC y de huecos en la BV (dado que son estos portadores de carga los que determinen el flujo de corriente elctrica en el material). Por este motivo, este tema estar dedicado al estudio de las propiedades de estos
portadores de carga. En particular estudiaremos en primer lugar cuntos
portadores hay para poder as determinar los factores que influyen en la
conductividad elctrica del semiconductor. Posteriormente estudiaremos
la respuesta de un semiconductor al efecto de un campo externo, para lo
cual analizaremos los distintos tipos de corriente que aparecen y dedicaremos una especial atencin a un nuevo tipo de corriente (corriente de difusin) que surge fruto de una concentracin no uniforme de portadores.
Finalmente obtendremos las ecuaciones que determinan la distribucin
espacial de portadores en algunas situaciones de gran inters prctico.
(7.1)
donde n y p son las movilidades de los electrones y huecos respectivamente. Es interesante notar que las movilidades dependen inversamente
de la masa efectiva. Por ejemplo para electrones en BC, an analoga con la
expresin (4.12) para electrones libres en metales, se tiene que
Jn =
ne 2 n
E
m e
109
110
ne 2 n
,
m e
en
.
m e
(7.2)
n=
dn
dE =
BC d E
Z
BC
g n (E ) f n (E ) dE .
(7.3)
Condiciones de un conductor
no degenerado
EC E F kB T
(7.4a)
E F EV kB T ,
(7.4b)
1
E E F
f n (E ) =
exp
.
(7.5)
E EF
k B T E EC
exp
+1
kB T
Ntese que la anterior expresin aproximada de la funcin distribucin de
Fermi-Dirac tiene la misma forma que la funcin distribucin de MaxwellBoltzmann, tal como ya se discuti en (4.20). Dado que f n (E ) decae exponencialmente a cero para valores de energa alejados de EC (E EC ),
el lmite de integracin superior de la BC puede sustituirse por infinito,
de modo que la concentracin de electrones puede obtenerse con buena
aproximacin como
Z
n=
Apuntes de CF
EC
E EF
C n (E EC )1/2 exp
dE .
kB T
(7.6)
FLML
111
E EC
,
kB T
Z
EC E F
n = C n (k B T )3/2 exp
x 1/2 ex dx .
kB T
0
Teniendo ahora en cuenta que la integral que aparece en la expresin anp
terior est tabulada y que su valor es /2, encontramos finalmente que el
nmero de electrones por unidad de volumen en la BC puede expresarse
como
EC E F
,
(7.7)
n = NC exp
kB T
Concentracin de electrones
en BC
NC = 2
m e k B T
3/2
2~2
(7.8)
Concentracin de huecos en BV
E F EV
p = NV exp
kB T
(7.9)
NV = 2
m h k B T
2~2
3/2
(7.10)
m e,h
T (K) 3/2
NC ,V = 2,5
1025 m3 .
(7.11)
me
300
Es interesante notar que las expresiones obtenidas para n y p en (7.7) y
(7.9) son vlidas tanto para semiconductores intrnsecos como extrnsecos
en equilibrio trmico y que su clculo requiere el conocimiento previo de
la posicin del nivel de Fermi. De hecho puede observarse que a medida
que E F se aleja de EC (E V ) la concentracin de electrones(huecos) decrece
exponencialmente.
A partir de la posicin del nivel de Fermi para el semiconductor intrnseco, que ser denotado como E i , pueden obtenerse unas expresiones
FLML
Apuntes de CF
112
EC E i
,
n i = NC exp
kB T
E i EV
p i = NV exp
,
kB T
EF Ei
n = n i exp
k T
B
Ei EF
p = n i exp
.
kB T
(7.12)
(7.13)
EC E F
E F EV
np = NC exp
NV exp
k T
kB T
B
Eg
= NC NV exp
= Cte(T ; m , E g ) ,
kB T
(7.14)
esto es, el producto np slo depende de la temperatura y de ciertos parmetros del semiconductor (masas efectivas de electrones/huecos y la anchura de la BP). El resultado (7.14) nos dice entonces que a una temperatura fija, en un mismo semiconductor, el producto de la concentracin de
e en BC por la de h+ en BV permanece constante independientemente
del tipo y grado de dopaje del material.
El resultado anterior puede tambin obtenerse a partir de la combinacin de las expresiones (7.12) y (7.13), de donde obtendramos al multiplicarlas que
np = n i2 .
(7.15)
Esta ley conocida como ley de accin de masas muestra que el producto
de la concentracin de electrones en BC por huecos en BV para cualquier
semiconductor es siempre igual al cuadrado de la concentracin intrnseca
de electrones y/o huecos.
Apuntes de CF
FLML
113
El valor de n i puede a su vez relacionarse con los parmetros del semiconductor intrnseco combinando (7.14) con (7.15) para obtener
ni =
Eg
NC NV exp
.
2k B T
(7.16)
p
1,1 40
4,39 5,95 1024 exp
1,42 1015 m3 ,
2
En el apartado 5.2 se discuti que la anchura de la BP, E g , determinaba el que un slido fuese considerado aislante o bien semiconductor. La
expresin (7.16) muestra que la concentracin de electrones en la BC decrece exponencialmente al aumentar E g , justificando claramente porqu
el diamante (E g 6 eV) es un buen aislante y sin embargo el Si (E g 1 eV)
es un semiconductor.
E g (C)
p
NC NV C exp
n i (C)
2k B T
=
E
n i (Si) p
g (Si)
NC NV Si exp
2k B T
Despreciando las posibles pequeas diferencias existentes respecto a las masas
efectivas en el diamante y en el silicio obtenemos que
6 (eV)
exp
n i (C)
2,5 (eV)
2k B T
= exp
.
1 (eV)
n i (Si)
kB T
exp
2k B T
FLML
Apuntes de CF
114
n i (C)
2,5 (eV)
= exp
= exp(100) 1044 !! .
n i (Si)
0,025 (eV)
En el ejemplo 7.1 hemos obtenido que n i (Si) 1015 m3 y dado que la densidad
de electrones en BC para el diamante es 44 rdenes de magnitud menor que en el
silicio, podemos concluir que n i (C) es prcticamente nula; confirmando as que
el diamante es un aislante excelente.
Ecuacin de neutralidad
de la carga
n + N A = p + ND + .
(7.17)
Apuntes de CF
n i2
n
+ ND
n 2 (ND N A )n n i2 = 0 .
FLML
115
7.3.1.
ND N A
+
2
n i2
n
ND N A
2
+ n i2
(7.19)
(7.20)
Clculo aproximado de n y p
n i2
ND
(7.21)
.
(7.22)
Semiconductor tipo p
Si en este caso ND = 0, la ecuacin de neutralidad de la carga queda
como
n + NA = p .
Suponiendo de nuevo que la generacin de huecos por excitacin
trmica puede despreciarse frente a la generacin de huecos debido
a la ionizacin de las impurezas aceptoras, esto es, cuando
N A ni ,
entonces se cumplir que N A n y por tanto
p NA
n
FLML
n i2
NA
(7.23)
.
(7.24)
Apuntes de CF
116
ND = 0 .
Por otra parte, segn el dato para n i obtenido en el ejemplo 7.1, tenemos que
N A ni ,
por lo que podemos usar las aproximaciones (7.23) y (7.24) para obtener finalmente que
p 1019 m3
n
(1,42 1015 )2
2 1011 m3 .
1019
p
n
k B T ln
= 2E F EC E V .
k B T ln
NC
NV
Reescribiendo el segundo miembro de la expresin anterior como
2E F EC E V = 2(E F E V ) E g y teniendo en cuenta (7.11), encontramos
la siguiente expresin general para el nivel de Fermi en cualquier tipo de
semiconductor no-degenerado:
mh
3
1
n
E F = EV +
+ k B T ln
+ k B T ln
2
4
m e
2
p
Eg
(7.25)
Semiconductor intrnseco
En un semiconductor intrnseco se cumple que n = p, luego al operar
en (7.25), denominando como E i al nivel de Fermi intrnseco, se tiene que
Eg 1
NC
E i = EV +
+ k B T ln
2
2
NV
mh
Eg 3
= EV +
+ k B T ln
.
(7.26)
2
4
m e
La expresin anterior indica que el nivel de Fermi para un semiconductor
intrnseco se sita aproximadamente en el centro de la BP, desviado de ella
el factor 34 k B T ln(m h /m e ). Supuesto que la temperatura no es muy alta y
Apuntes de CF
FLML
117
Eg
2
Semiconductores extrnsecos
En el supuesto de que se cumplan las aproximaciones (7.4a) y (7.4b)
dadas en el apartado 7.3.1, la posicin del nivel de Fermi en semiconductores extrnsecos puede igualmente determinarse con facilidad.
Semiconductor tipo n
Dado que en este caso n p, la expresin (7.25) nos dice que la posicin del nivel de Fermi se desplazar claramente hacia el borde inferior de BC (tal y como ya se predijo anteriormente de una forma
cualitativa). Una expresin til para el clculo de E F se obtiene al
combinar las ecuaciones (7.7) y (7.21),
EC E F
ND = NC exp
,
kB T
y despejar E F , de donde
E F = EC kT ln
NC
.
ND
Partiendo de (7.25), un clculo ms detallado nos mostrara (ver figura adjunta) que el nivel de Fermi disminuye primero ligeramente con
la temperatura para acercarse posteriormente a la curva de E i a altas temperaturas. Esta tendencia puede entenderse si consideramos
que a altas temperaturas, todos los tomos de impurezas ya se han
ionizado y, en consecuencia, la concentracin de portadores de carga estar regida por los procesos de generacin trmica de pares
e /h+; es decir, el semiconductor extrnseco se comporta como uno
intrnseco a medida que aumenta la temperatura. Claramente esta
tendencia ocurre a temperaturas ms altas a medida que el nivel de
impurezas aumenta en la muestra (la curva A en la figura representa
menor nivel de dopaje que B y sta a su vez que C).
FLML
EC
ED
Ei
EV
T
Apuntes de CF
118
EC
Ei
EA
EV
T
Semiconductor tipo p
Segn la expresin (7.25), para un semiconductor tipo p (p n), la
posicin del nivel de Fermi se desplaza hacia el borde superior de BV.
De forma aproximada, se puede calcular E F sustituyendo (7.23) en la
expresin (7.9)
E F EV
N A = NV exp
kB T
y despejando de aqu E F para obtener
E F = E V + kT ln
NV
.
NA
(7.28)
E JEMPLO 7.4 Para el problema del Ejemplo 7.3, calcular la posicin del nivel de
Fermi a temperatura ambiente.
Dado que en el presente caso N A = 1019 m3 y que, segn el Ejemplo 7.1, NV =
5,95 1024 m3 , al sustituir en (7.28) obtenemos que
E F E V = kT ln
NV
5,95 1024
= 0,33 eV.
= 0,025 ln
NA
1019
Teniendo en cuenta que E g = 1,1 eV, comprobamos que el nivel de Fermi est
comprendido entre E V y E i .
Apuntes de CF
FLML
119
(7.29)
En los semiconductores (y al contrario de lo que ocurre en los metales), la conductividad muestra una dependencia con la temperatura tanto en las movilidades como en la concentracin intrnseca. Al
sustituir (7.16) en (7.29) obtenemos que
= e(n + p )
Eg
NC NV exp
.
2k B T
Eg
= 0 exp
,
2k B T
(7.30)
FLML
Apuntes de CF
120
1
1, 1
1
(T = 500 K)
4927
= exp
(T = 300 K)
2 8,625 105 500 300
y, por tanto,
(T = 500 K) 0,2 ( m)1 .
E
Movimiento
corriente
= ep pE
(7.31a)
J n,arr
= en nE .
(7.31b)
En este apartado se ver que adems de este tipo de corriente existe otro
tipo, denominado corriente de difusin, que aparece siempre que exista
una distribucin no uniforme de portadores de carga.
Apuntes de CF
FLML
121
d (x)
,
dx
d (x)
,
dx
(7.32)
7.5.2.
Corriente de difusin
FLML
Apuntes de CF
122
p (x) = D p
p(x)
Movimiento
n(x)
corriente
(7.33a)
(7.33b)
dp(x)
dp(x)
J p,dif (x) = (+e) D p
= eD p
(7.34a)
dx
dx
dn(x)
dn(x)
J n,dif (x) = (e) D n
= eD n
.
(7.34b)
dx
dx
Electrones y huecos se mueven en el mismo sentido si sus respectivas concentraciones varan del mismo modo. En este caso, sus corrientes de difusin resultan en sentidos opuestos.
(7.35)
(7.36)
Apuntes de CF
kB T
,
q
(7.37)
FLML
123
(7.38)
n(x)
p(x)
MOVIMIENTO
CORRIENTE
ARRASTRE
DIFUSIN
F IGURA 7.1: Sentido de las corrientes de difusin y de arrastre para electrones y huecos.
Es importante sealar que la corriente de arrastre es proporcional a la
concentracin de portadores, por lo que los portadores minoritarios apenas contribuiran a esta corriente de arrastre. Por otra parte, dado que la
corriente de difusin es proporcional al gradiente de la concentracin, entonces aunque la concentracin de minoritarios pudiera ser rdenes de
magnitud ms pequea que la de mayoritarios, su gradiente s puede ser
del mismo orden o incluso mayor y, en consecuencia, contribuir muy significativamente a la corriente de difusin y, por ende, a la corriente total.
Este importante resultado puede resumirse como
los portadores minoritarios pueden contribuir significativamente a la corriente total mediante procesos de difusin.
7.5.4.
FLML
Apuntes de CF
124
Semicond
Inhomog
I=0
A
Jp=Jp,d fi+Jp,arr
Jp,d fi
Ei
Por ejemplo si consideramos el caso de un semiconductor tipo p dopado inhomogneamente, p = p(x) (en la figura se representan los portadores de carga mviles), es claro que inicialmente existir una corriente de
difusin de huecos debido a la existencia de un gradiente no nulo en la
concentracin de huecos, J p,dif 6= 0. Dado que en el equilibrio la corriente
total de huecos es nula, esta corriente de difusin de huecos debe verse
compensada por una corriente de arrastre de huecos en sentido contrario.
Claramente, esta corriente de arrastre debe estar originada por la aparicin de un campo elctrico interno, E i , que sea responsable de la creacin
de dicha corriente.
Tal como se ha discutido en al Apartado 7.5.2, el origen de este campo
elctrico interno puede entenderse partiendo del hecho de que la muestra
era originalmente neutra. Podemos ver que existen dos tendencias contrapuestas en el semiconductor dopado no uniformemente. Por una parte
existe una tendencia hacia la inhomogeneidad de los portadores libres debido a la atraccin elctrica de las impurezas ionizadas que, buscando la
neutralidad local de la carga, tiende a igualar la distribucin de impurezas
ionizadas con la de portadores libres. Por otra parte, a causa de la difusin
(que solo afecta a las cargas mviles), existe una tendencia a la homogenizacin de la concentracin de portadores. Ambas tendencias tienden a
contrarrestarse, dando lugar a una distribucin final de portadores intermedia entre la distribucin inicial de impurezas y la homogenizacin total.
En este sentido, el proceso de difusin genera un movimiento neto de los
portadores de carga que provoca la aparicin de una densidad de carga neta, (x), en la muestra. A su vez, la aparicin de esta densidad de carga neta
dar lugar a un campo electrosttico y, consecuentemente, a un potencial
electrosttico, V (x), que estar relacionado con la densidad de carga, (x),
mediante la siguiente ecuacin:
d2V (x)
(x)
=
,
2
dx
(7.39)
dp(x)
J p (x) = e p p(x)E i (x) D p
=0,
dx
podemos obtener, tras despejar, la siguiente expresin para el campo elctrico interno:
Ei =
Dp
1 dp(x) k B T 1 dp(x) k B T d
=
=
lnp(x) .
p p(x) dx
e p(x) dx
e dx
(7.40)
Dado que este campo es irrotacional puro (proviene nicamente de las cargas elctricas), E i derivar de un potencial V ,
Ei =
dV (x)
,
dx
Apuntes de CF
(7.41)
FLML
125
2
1
Si integramos la ecuacin anterior entre dos puntos arbitrarios, 1 y 2,
Z 2
Z
kB T 2
dV =
d lnp ,
e
1
1
encontramos finalmente que
Jp,dif(x)
Jp,arr
Ei(x)
p2
kB T
ln
,
V21 =
e
p1
(7.42)
V2
1
Potencial
debido a una
concentracin de portadores
no uniforme
donde V21 = V2 V1 y p 1 , p 2 son las concentraciones de huecos en los puntos 1 y 2 respectivamente. Es interesante notar que la expresin anterior
nos dice que
la diferencia de potencial que se establece entre dos
puntos de una muestra de semiconductor no homogneo slo depende de la relacin entre las concentraciones en estos puntos y no de la distancia entre los puntos
o de la forma de la concentracin entre estos puntos.
A partir de (7.42), encontramos la siguiente relacin entre las concentraciones en funcin de la diferencia de potencial:
eV21
p2
= exp
.
(7.43)
p1
kB T
Si el proceso anterior se hubiese hecho para la corriente de electrones3 ,
procediendo de una forma anloga se hubiese llegado igualmente a que
n2
eV21
= exp
.
(7.44)
n1
kB T
Combinando ahora las expresiones (7.43) con (7.44) obtenemos que
p 2 n1
=
p 1 n2
n1 p 1 = n2 p 2 .
Dado que los puntos 1 y 2 son puntos arbitrarios y el producto de la concentracin de huecos por electrones viene fijado por la ley de accin de
masas (7.15), encontramos la siguiente expresin general de la ley de accin de masas:
n(x)p(x) = n i2 .
(7.45)
E JEMPLO 7.6 Una muestra de Si es dopada con tomos donadores de tal manera
que Nd (x) = N0 exp(ax). (a) Encuentre una expresin para el campo interno
supuesto que Nd n i . (b) Calcule el valor del campo si a = 1 (m)1 .
3 Notar que si p = p(x), esto implica que n = n(x) dado que donde hay mayor concentracin de huecos, habr mayor recombinacin y por tanto esto afectar a la concentracin
de electrones.
FLML
Apuntes de CF
126
kB T d
ln n(x) ,
e dx
kB T
a.
e
7.6.
Apuntes de CF
FLML
127
pares de e /h+ , entonces es conveniente introducir el concepto de velocidad de recombinacin neta, U , que se define como la diferencia entre la
velocidad de recombinacin y la de generacin interna,
U = R G int .
(7.46)
(7.48)
Ntese que en una situacin de no equilibrio no se cumplir la ley de accin de masas (np 6= n i2 ).
Si la concentracin de portadores fuera del equilibrio se expresa en trminos de la concentracin de portadores en equilibrio (lo cual se denotar
a partir de ahora con el subndice 0) y de la concentracin de portadores
en exceso (denotados por el smbolo ), podremos escribir que
n
= n 0 + n
p 0 + p .
(7.49a)
(7.49b)
n Concentracin de portadores
n 0 Concent. portad. en equilibrio
n Concent. de port. en exceso
U = r p 0 n + n 0 p + np .
(7.50)
Si suponemos que la accin externa genera el mismo nmero de electrones que de huecos [n(t = 0) = p(t = 0)], y puesto que los e y h+ se
recombinan por pares, entonces el exceso instantneo de ambos tipos de
portadores ser tambin idntico,
n(t ) = p(t ) .
Bajo este supuesto, en un semiconductor tipo n tal que p 0 n 0 y en condiciones de inyeccin dbil (esto es, n n 0 ), la velocidad de recombinacin neta puede aproximarse mediante
U = r n 0 p =
FLML
p
,
p
Inyeccin dbil
Semiconductor tipo n
Semiconductor tipo p
n n 0
p p 0
(7.51)
Apuntes de CF
128
p
t
p
=
t
g r
= G p,ext
g r
p
.
p
(7.52)
Apuntes de CF
FLML
incremento neto
del nmero de
huecos por unidad
de tiempo en d V
129
p
t
diferencia entre el
nmero de h+
entrando y saliendo
de d V en unidad tpo.
G ext
U [= R G int ]
transp
nmero de h+
generados en d V
en la unidad de tpo.
debido a accin ext.
velocidad de gener.
h+ en d V debido
a acciones externas
nmero de h+
recombinados en d V
en la unidad de tpo
velocidad de recomb.
neta de h+ en d V
La variacin de la concentracin debida a la generacin/recombinacin de portadores fue analizada en el Apartado 7.6 donde se obtuvo en
(7.52) para la concentracin de portadores minoritarios que
p
p
= G p,ext
.
t genrec
p
p
t
transp xx+x
1 J p (x) J p (x + x)
,
e
x
FLML
p(x, t )
t
=
transp
1 J p (x, t )
.
e
x
Apuntes de CF
130
p(x, t )
1 J p p
+G p,ext .
=
t
e x
p
(7.54)
+G n,ext .
t
e x
n
(7.55)
p
2 p p
= Dp
t
x 2
p
(7.57)
n
2 n n
= Dn
.
t
x 2
n
(7.58)
x=0
Se mantiene un exceso de
portaores para todo x
En x=0 , dp(x=0) = Dp
Apuntes de CF
FLML
131
p
d2 p
p
=
2 ,
2
dx
D p p L p
(7.59)
p
donde L p = D p p se conoce como longitud de difusin para huecos.
(Ntese que las derivadas que aparecen en la ecuacin son totales).
Dp
p0
p(x) = p 0 + p ex/L p .
(7.60)
FLML
Apuntes de CF
132
Apuntes de CF
FLML
T EMA 8
Unin p-n
8.1. Introduccin
Las aplicaciones elctricas y pticas ms interesantes de los semiconductores surgen cuando se dopan regiones vecinas con distintos tipos de
impurezas. En este sentido, la mayora de los dispositivos semiconductores usados en Electrnica contienen al menos una unin entre un material
tipo p y uno tipo n. Las uniones p-n son fundamentales para la realizacin
de funciones tales como la rectificacin, amplificacin y conmutacin tanto de seales electrnicas como optoelectrnicas. En consecuencia, podemos considerar a la unin p-n como el elemento bsico operativo de diversos componentes electrnicos y optoelectrnicos como diodo rectificador,
diodo Zener, diodo tnel, transistor bipolar, fotodiodo, LDR, clula fotovoltaica, diodo LED, lser de inyeccin, etc.
Para el estudio de la unin p-n se usar un modelo simplificado que es
la unin abrupta. Esta unin no es en sentido estricto la que se encuentra en los diversos dispositivos pero es suficientemente simple como para
poder ser tratada cualitativa y cuantitativamente y, por otro parte, es suficientemente realista como para ofrecer un comportamiento fsico muy
prximo al que ocurre en las uniones difusas.
En principio estudiaremos la unin p-n en equilibrio (esto es, sin accin externa) para despus analizar el efecto de una polarizacin externa
sobre la unin. En primer lugar estudiaremos este efecto desde un punto de vista cualitativo para posteriormente obtener las expresiones de las
diversas corrientes. Es interesante sealar el enorme cambio que se observa en la caracterstica I V de una unin p-n respecto a la caracterstica
de una muestra homognea de semiconductor dopado (que se comporta
como una simple resistencia). Aparecen nuevos efectos fsicos relacionados con la unin que abren muchas posibilidades al diseo de nuevos y
eficaces dispositivos.
Una vez realizado el estudio bsico de las corrientes de la unin, estudiaremos tambin su comportamiento optoelectrnico con el objetivo de
133
134
NA
S
Semiconductor
Intrnseco
n
8.2.1. Potencial de Contacto
Segn se discuti en el Apartado 7.5.2, al poner en contacto los dos lados de la unin p-n comenzar un proceso de difusin debido a la diferencia de concentracin de portadores en ambos lados de la unin. Se inicia
un flujo de huecos de p n y simultneamente un flujo de electrones de
p n . Este proceso de difusin (que intenta igualar las concentraciones
en ambos lados de la unin) contina hasta establecimiento de un campo
electrosttico interno suficientemente intenso como para oponerse al movimiento de las cargas (ver Apartado 7.5.4). La ausencia de corriente neta
en el equilibrio implica que
|J arrastre | = |J difusin | .
Los h+ que viajan desde p n provienen mayoritariamente de la ionizacin de las impurezas aceptoras en el lado p y, anlogamente, los e desde
p n , de la ionizacin de las impurezas donadoras en el lado n. Tal como
muestra la Fig. 8.1, este desplazamiento de portadores de carga, dejando
tras de s un defecto de carga fija, provoca la aparicin de una regin de
carga neta en las proximidades de la unin. Esta regin de carga neta, o
regin de carga espacial/regin de transicin, est compuesta por cierta
cantidad de cargas negativas fijas en el lado p y la misma cantidad de cargas positivas en el lado n. El campo electrosttico interno se genera debido
a la aparicin de estas cargas y es importante sealar que
el campo electrosttico est bsicamente localizado en
la regin de carga espacial,
dado que fuera de esta regin el resto de la muestra es neutro dando as lugar a que el campo apenas se extienda ms all de la zona de transicin. La
existencia de dicho campo electrosttico viene lgicamente acompaado
de la aparicin de una diferencia de potencial correspondiente, de tal modo que el potencial toma un valor Vn en la zona neutra n y Vp en la zona
Apuntes de CF
FLML
135
kT
p2
ln
q
p1
V21 Vn Vp = V0
y
p 2 p n0 ,
FLML
Apuntes de CF
136
V0 =
kT
N A ND
ln
.
q
n i2
(8.2)
Para obtener el diagrama de bandas de energa de la unin p-n mostrado en la Fig. 8.1 se ha hecho uso de las siguientes consideraciones:
El nivel de Fermi de una muestra en equilibrio no depende de la posicin (ver Apndice E).
La energa de los electrones y/o huecos en cada zona de la unin
estar afectada por la presencia del potencial electrosttico.
Teniendo en cuenta adems que p p0 y p n0 representan la concentracin
de huecos en equilibrio en los lados p y n fuera de la regin de carga, obtendremos haciendo uso de (7.9), que
E F p EV p
NV exp
p p0
kT
.
=
E F n EV n
p n0
NV exp
kT
Reescribiendo (8.1) como
p p0
p n0
qV0
= exp
kT
(8.3)
E F p EV p
qV0
E F n EV n
exp
= exp
exp
,
kT
kT
kT
lo que nos lleva a
E V p E V n = qV0 .
(8.4)
Apuntes de CF
FLML
137
(8.5)
ND x n0 = N A x p0 .
(8.6)
w
Zona
Neutra
Zona
Neutra
n
-xp0
x
xn0
y por tanto
Esta expresin nos dice que las distancias de las zonas de carga espacial
positiva y negativa son las mismas nicamente si ND = N A . A medida que
la concentracin de impurezas en una de estas zonas aumente, la longitud
de esta zona disminuye.
Si la anchura de la zona de carga espacial se denomina
w = x n0 + x p0 ,
(8.7)
1/2
2V0 1
1
w=
+
.
(8.8)
q
N A ND
E JEMPLO 8.1 En una muestra de Si dopada para formar una unin abrupta p-n
con N A = 4 1018 cm3 , ND = 1016 cm3 y = 120 calcule a) el potencial de contacto, b) la anchura de la regin de carga espacial en cada lado de la unin, y c)
el valor mximo del campo interno.
kT
N A ND
ln
0,85 V .
q
n i2
1/2
2(12 8,85 1012 )(0,85)
1
1
w=
+
0,334 m .
1,6 1019
4 1024 1022
FLML
x p0 = 8,3 .
Apuntes de CF
138
q NA
dE (x)
=
dx
0 < x < x n0
x p0 < x < 0 .
Integrando las anteriores ecuaciones y llamando E (0 ) = E (0 ) E 0 obtenemos la siguiente forma para el campo elctrico:
1,6 1019
= 5,1 106 V/m .
(12)(8,85 1012 )(1022 )(3,33 105 )
Apuntes de CF
FLML
139
Semiconductor
dopado
(a)
(b)
FLML
Apuntes de CF
140
(b)
Polarizacin directa
(V=Vf )
(c)
Polarizacin inversa
(V= -Vr )
Vr
Vf
w
p
(V0 -Vf )
Vn
V0
(V0+Vr)
Vp
q(V0 -Vf)
ECp
qV0
EFp
ECn
EFn
q(V0+Vr)
qVf
EVp
EVn
Flujo de
patculas
(1)
(2)
(3)
(4)
Corriente
Flujo de
patculas
Corriente
Flujo de
patculas
Corriente
(1) Difusin huecos
(2) Arrastre huecos
(3) Difusin electrones
(4) Arrastre electrones
Apuntes de CF
FLML
141
(8.9)
Corrientes de difusin.
En equilibrio, el campo elctrico interno se estableca de modo que
su efecto contrarrestaba exactamente la corriente de difusin. En la
situacin de no equilibrio impuesta por la polarizacin externa encontramos que
FLML
Apuntes de CF
142
Apuntes de CF
FLML
143
Polarizacin directa:
La corriente de difusin (p n ) es ahora claramente favorecida mientras que la corriente de arrastre (p n ) apenas vara.
Esto da lugar a un incremento considerable de la corriente total
en el sentido p n .
Ntese que la corriente de difusin en polarizacin directa puede
crecer indefinidamente mientras que esta corriente en polarizacin
inversa slo puede disminuir hasta hacerse nula.
= eq(V0 V )/kT .
(8.10)
p p0
p n (x n0 )
(8.11)
Concentracin de minoritarios en
el borde de la regin de transicin
del lado n
FLML
Apuntes de CF
144
(8.13)
(8.14)
(8.15)
I = I 0 eqV /kT 1 ,
(8.16)
p n = p n (x n0 ) p n0 = p n0 eqV /kT 1
(8.17)
n p = n p0 eqV /kT 1 .
(8.18)
Apuntes de CF
FLML
145
x p /L n
= n p0 (e
qV /kT
1)e
x p /L n
(8.19a)
,
(8.19b)
-xpo
xno
n
n(xp)
p(xn)
npo
xp
pno
xn
Dp
dp n (x n )
= qS
p n (x n ) ,
dx n
Lp
(8.20)
qSD p
Lp
p n =
qSD p
Lp
p n0 eqV /kT 1 .
(8.21)
FLML
qSD n
n p0 eqV /kT 1 .
Ln
(8.22)
Apuntes de CF
146
Dp
Dn
= qS
p n0 +
n p0 eqV /kT 1 .
Lp
Ln
Dado que la corriente total debe ser constante a travs del dispositivo (al
no haber generacin ni acumulacin de carga neta), la expresin anterior
nos proporciona justamente la corriente total para cada punto de la unin
p-n,
I = I 0 eqV /kT 1 ,
(8.23)
donde I 0 se conoce como corriente inversa de saturacin y tiene por valor
Dp
Dn
I 0 = qS
p n0 +
n p0 .
Lp
Ln
La ecuacin (8.23), vlida tanto para tensiones aplicadas positivas o negativas, dice que, en polarizacin directa, la corriente p n crece exponencialmente con la tensin aplicada mientras que en polarizacin inversa (V 0) tendremos una pequea corriente en sentido p n de valor
I I 0 . Claramente, la curva I V mostrada en la Fig. 8.2(b) es una representacin grfica de esta ecuacin.
Corrientes de portadores mayoritarios y minoritarios
La corriente del diodo segn (8.23) fue calculada considerando nicamente la corriente de difusin de minoritarios3 dado que se supuso despreciable la corriente de arrastre de minoritarios en las zonas neutras. Por
tanto, la corriente dada por (8.20) representaba la corriente de minoritarios (huecos) en la zona neutra n, es decir,
I
In(xn)
I p (x n ) =
Ip(xn)
xn
Corrientes en la zona neutra n
+
de una unin p -n
qSD p
Lp
p n exn /L p .
(8.24)
exista en equilibrio. Esta corriente de difusin de equilibrio era justamente igual a la corriente de arrastre en equilibrio, lo cual nos permitira interpretar (8.23) considerando que
I 0 eqV /kT es la corriente de difusin e I 0 la corriente de generacin (que no dependa del
voltaje aplicado).
Apuntes de CF
FLML
147
Lejos de la unin, la corriente en la zona neutra n es mantenida casi exclusivamente por e . Estos e deben fluir desde dentro de la regin neutra
hacia la unin para restituir aquellos e que se recombinaron con los h+ en
exceso y para proporcionar la inyeccin de e a la zona p. En ltima instancia, el suministro de estos e lo realiza la batera.
BC
BC
Eg
m
Transicin
Directa
Eg
Transicin
Indirecta
k
M
BV
BV
(a)
(b)
FLML
Apuntes de CF
148
2a
= 104 ,
que nos indica que las diferencias de momento requeridas en una transicin indirecta no pueden ser satisfechas nicamente por la participacin
de un fotn ptico. Debemos admitir entonces que la transicin anterior
debe realizarse con la participacin conjunta de otro proceso que proporcione la cantidad de momento requerido (en concreto, participa un fonn,
que puede verse como una oscilacin colectiva de la red). Por el contrario,
en el caso de una transicin directa, los pequeos cambios de momento
requeridos en el proceso s pueden ser satisfechos nicamente por un fotn.
tipo p
tipo n
tipo p
tipo n
BC
BC
EFn
Ec
EF
qV
EFp
BV
BV
Ev
(a)
(b)
Apuntes de CF
FLML
149
ENERGA LIBERADA EN
LA RECOMBINACIN
Tipo n
RECOMBINACIN DE
ELECTRONES Y HUECOS
+
Tipo p
REGIN DE
TRANSICIN
FLUJO NETO
DE ELECTRONES
+
F IGURA 8.7: Flujo de portadores en un diodo semiconductor polarizado directamente.
Si en estas recombinaciones predomina la emisin espontnea, se tiene un LED (light emitting diode) y si por el contrario, predominan las emisiones estimuladas, se produce una accin lser.
Si en los semiconductores de la situacin anterior se incrementan los
niveles de dopaje, el efecto de las impurezas aadidas puede llegar a distorsionar la estructura de bandas energticas del semiconductor. En el caso de un incremento de impurezas donadoras, la presencia de numerosos
electrones no localizados hace que el nivel de Fermi del semiconductor
aparezca en el interior de la Banda de Conduccin. En este caso el semiconductor se denomina degenerado. La Figura 8.8(a) muestra la situacin
energtica a la que se llega en la regin de transicin de una unin p-n
tipo n
tipo n
tipo p
tipo p
BC
EFn
BC
eV
EF
EC
EFp
BV
BV
EV
(a)
Estados electrnicos
llenos a T=0K
(b)
FLML
Apuntes de CF
150
Apuntes de CF
FLML
151
REGIN DE
TRANSICIN
Niveles
electrnicos
ocupados
BC
tipo n
tipo p
Niveles
electrnicos
vacos
BV
NIVEL LASER
SUPERIOR
Inversin de poblacin
entre estos 2 grupos
de niveles
NIVEL LASER
INFERIOR
f c (E 2 ) 1 f v (E 1 ) o bien f c (1 f v )
(8.26)
(8.27)
FLML
(8.28)
Apuntes de CF
152
E1 EF p
E2 EF n
f c1 = 1 + exp
y f v1 = 1 + exp
.
kT
kT
En vista de la anterior expresin, la condicin (8.28) viene dada por
E1 EF p
E2 EF n
exp
< exp
(8.29)
kT
kT
que puede reducirse a
EF n EF p > E2 E1 .
(8.30)
La condicin de inversin de poblacin se da, por tanto, para aquellos niveles E 2 de BC y niveles E 1 de BV que satisfagan la condicin (8.30), esto
es, los niveles de BC por debajo de E F n y los niveles de BV por encima de
E F p . Puesto que E 2 E 1 es necesariamente mayor que la anchura de la banda energtica, E g , podemos concluir finalmente que la condicin para que
exista inversin de poblacin en la regin de transicin de una unin p-n
directamente polarizada es
EF n EF p > E g
(8.31)
Apuntes de CF
FLML
153
los niveles superiores y vacos de dicha banda. Este exceso de energa ser
posteriormente liberado en forma de calor, dndose de esta manera transiciones energticas de valor h que pueden reducir considerablemente la
densidad de emisin estimulada y por tanto dificultar la realimentacin de
la accin lser.
Segn se indic anteriormente, cuando la corriente de alimentacin
del diodo lser es pequea, ste genera emisin espontnea, segn el mismo proceso que la emisin de un LED. Sin embargo, al aumentar la corriente de alimentacin (o anlogamente la tensin de polarizacin hasta
conseguir que se cumpla (8.31)), se alcanza un nivel umbral donde se invierte la poblacin de electrones y comienza la accin lser. Este fenmeno
puede observarse en la Figura 8.10 donde puede verse como por debajo
FLML
Apuntes de CF
154
Regin activa
Haz lser
Cara Reflectiva
Regin de
Transicin
Cara de salida
parcialmente
reflectante
Sustrato
PERFIL DEL
CONFINAMIENTO
NDICE DE
REFRACCIN
P-GaAs
GaAs
Capa Activa
N-GaAs
Lser de Homounin
Heterouniones
P-GaAlAs
GaAs
Capa Activa
N-GaAlAs
N-GaAs
Apuntes de CF
FLML
155
tas, IU /cm2 50000 A/cm2 que causaban muchas prdidas por calor (lo cual exiga trabajar a temperaturas de Helio lquido, T 77 K)
y una corta vida media de los dispositivos.
Heteroestructuras:
Las capas presentan distintos ndices de refraccin de forma que esto crea un efecto gua de onda (similar al de la fibra ptica) que confina la luz en la capa activa, segn se muestra en la Figura 8.12(b). Adems, si las capas adyacentes poseen bandas energticas prohibidas
de mayor anchura se reducir sustancialmente la absorcin por portadores libres. Este tipo de lseres puede ya funcionar en modo continuo a temperatura ambiente al ser IU /cm2 2000 4000 A/cm2 ,
IU 1, 2A.
El esquema con el que se realizan actualmente la mayora de los diodos lser comerciales consiste en una modificacin de la heteroestructura anterior que se muestra en la Figura 8.13. Esta estructura
proporciona confinamiento lateral para la luz, lo que reduce la corriente umbral hasta IU 60mA. Usando esta estructura, es posible
fabricar sobre el mismo sustrato semiconductor, muchos lseres en
paralelo y as conseguir potencias de hasta 10 vatios en modo continuo.
Contacto
p-Ga1-xAlxAs
Aislante
GaAs
Regin activa
0.2mm
n-Ga1-zAlzAs
n-Ga1-yAlyAs
3mm
Contacto
Sustrato
n-GaAs
Pozos cunticos
Un tipo de confinamiento distinto basado en fenmenos cunticos se
ha conseguido mediante el uso de capas de material muy finas ( 10 nm)
que se comportan respecto a los electrones como un pozo cuntico. La
idea bsica del pozo cuntico se consigue al intercalar una capa muy fina con una banda prohibida de anchura pequea entre capas gruesas con
anchuras de banda prohibida mayores. Los electrones que pasan por esta
configuracin de bandas pueden ser capturados en el pozo cuntico. Estos electrones capturados tienen suficiente energa para permanecer en
la Banda de Conduccin del material que forma la fina capa de pequea
FLML
Apuntes de CF
156
Longitud de onda
En general, los medios activos de los diodos lser presentan altas ganancias, de forma que no se requieren muchas oscilaciones en la cavidad
resonante para producir accin lser. Dado que tpicamente la regin que
acta de cavidad tiene una longitud de 300500m, los modos resonantes de esta cavidad estn ms separados que en otros lseres (cuyas cavidades resonantes son al menos de 1030 cm) y como resultado, la mayora
de los diodos lser normalmente oscilan a una sola frecuencia al mismo
tiempo. No obstante, debido a que la anchura de la curva de ganancia es
grande, el diodo lser puede emitir distintas longitudes de onda (saltando
de una resonante a otra) dando lugar a un funcionamiento bastante inestable. Este fenmeno puede solucionarse mediante el uso de dispositivos
aadidos de sintonizacin y estabilizacin.
Modulacin
Segn puede observarse en la Figura 8.10, la salida ptica del diodo
lser depende linealmente de la corriente que circula a travs de ste. Esta simple dependencia lineal hace que la modulacin del haz pueda conseguirse modulando directamente la corriente de alimentacin, constituyendo este hecho una de las principales ventajas de los lseres de inyeccin. Dado que la respuesta de la salida ptica a las variaciones de la corriente de alimentacin es muy rpida, se consiguen anchuras de banda
Apuntes de CF
FLML
157
FLML
Apuntes de CF
158
Detector
Luz reflejada
Bits de datos
Disco ptico
Lente de
focalizacin
Luz enfocada sobre
la marca que se lee
Apuntes de CF
FLML
159
Diodo Lser
Lente de
focalizacin
Area del disco calentada
para poder magnetizarla
Campo magnetizante
sobre el rea caliente
Electroimn
F IGURA 8.15: Esquema de grabacin de un disco magnetoptico.
haz focalizado de un diodo lser. Una vez que se ha alcanzado la temperatura adecuada, la pequea regin es magnetizada en la direccin impuesta
por un electroimn. Ntese que la grabacin de datos es puramente magntica, pero debido a que la magnetizacin se realiza en direccin normal
al disco y que se pueden magnetizar regiones muy localizadas, se consiguen unas densidades de almacenamiento de datos muy altas.
La lectura del disco magneto-ptico se realiza mediante un procedimiento similar al del CD-ROM, aunque en este caso se usa el hecho de que
FLML
Apuntes de CF
160
Corriente de
alimentacin
TRANSMISOR
DIODO
LSER
Seal
elctrica
DETECTOR
Seal de
pulsos de
salida
ELECTRNICA DE
DECODIFICACIN
Apuntes de CF
FLML
161
FLML
Apuntes de CF
Apndice A
Constantes fundamentales
Constante de Planck:
h=
6,626 1034 Js
4,136 1015 eVs
Velocidad de la luz:
c=
me =
9,109 1031 kg
e=
1,602 1019 C
mp =
1,673 1027 kg
Nmero de Avogadro:
NA =
Constante de Boltzmann:
kB =
163
Apndice B
(B.1)
(B.2)
Ec
= 2m 0 c 2 E c 1 +
,
2m 0 c 2
(B.3)
p
2m 0 E c 1 +
Ec
2m 0 c 2
1/2
(B.4)
h
p
2m 0 E c 1 +
Ec
2m 0 c 2
1/2 .
(B.5)
166
p
2mE c = mv .
(B.6)
y
h
.
= p
2mE c
Apuntes de CF
(B.7)
FLML
Apndice C
Promedios estadsticos
0
0
10
Calificacin (C)
P
Dado que 10
i =1 Ni = NTotal , la probabilidad de obtener una determinada nota vendr dada por
ni =
Ni
,
NTotal
(C.1)
P
obtenindose obviamente que 10
i =1 n i = 1. La funcin distribucin del sistema puede identificarse con n i .
167
168
10
X
n i F (C i ) .
(C.3)
i =1
(C.4)
(C.5)
El valor promedio de una funcin de x, por ejemplo f (x), puede obtenerse a partir de la funcin distribucin como
Z
(C.6)
f (x) = f (x)(x) dx .
Apuntes de CF
FLML
Apndice D
Propiedades de algunos
materiales semiconductores
Para el silicio (Si), germanio (Ge) y arsenuro de galio (GaAs) a
T = 300 K, encontramos que
Si
Ge
GaAs
Eg
(eV)
m e /m e
m h /m e
n
(cm2 /Vs)
p
(cm2 /Vs)
1.11
0.67
1.43
1.1
0.55
0.067
0.56
0.37
048
1350
3900
8500
480
1900
400
169
Apndice E
(E.2)
En equilibrio y para que no haya corriente neta debe cumplirse que el nmero de electrones por unidad de tiempo que pasan de 1 2 sea el mismo
que aquel que pase de 2 1, lo que implica que
g 1 f 1 g 2 (1 f 2 ) = g 2 f 2 g 1 (1 f 1 ) .
(E.3)
(E.4)
(E.5)
E E F 1 1
E E F 2 1
1 + exp
= 1 + exp
.
kB T
kB T
(E.6)
y por tanto
171
172
Apuntes de CF
(E.7)
FLML