Atomic force microscopy study of clay nanoplatelets and their impurities

The results of an in-depth study of 1 nm thick individual clay sheets by atomic force
microscopy (AFM) are presented. Several techniques have been employed, including lateral
force microscopy (LFM) and force modulation microscopy (FMM). The individual clay sheets,
also referred to as clay nanoplatelets in the literature, were found to be extremely compliant
and strongly adhered to a variety of substrates. In all cases, these nanoplatelets were
accompanied by mobile impurities that could not be separated from the nanoplatelets. A
detailed examination of these impurities using AFM suggests that they are comprised of low
molecular weight silicates as well as the intercalating salt used to process the
clay.Anunderstanding of the nature and chemistry of these impurities will be necessary as
models of these clays are developed for various applications, such as reinforcement in
composite materials or elements for molecular electronics.
Further, these clay nanoplatelets and their impurities present a novel two-dimensional
nanoscale system for future surface science studies using AFM and other methods.

The term clay refers to a class of materials generally

Made up of layered silicates that are similar to mica. While
these clay particles can span centimeters in lateral
dimensions, the in-plane dimensions of the individual clay
layers are on the order of a micron, and the thickness of
a single clay nanoplatelet is on the order of a nanometer.
These layered clays are characterized by strong intralayer
covalent bonds within the individual sheets comprising
the clay, with only weak van der Waals interactions
between adjacent clay sheets. These strong in-plane
covalent bonds have generated significant interest in the
use of these materials as a reinforcing element in composite
materials. However, because of the weak interaction
between adjacent clay sheets, a significant effort on
clayreinforced
polymers has focused on methods of intercalating
the polymer within the intralayer galleries, or
completely exfoliating the clays so that individual clay
sheets are dispersed within the polymer, to maximize the
contact area (and hence the interaction) between the
polymer and the clay. Brillouin scattering measurements
on bulk muscovite mica give in-plane moduli on the order
of 170 GPa, while the modulus perpendicular to the layers
is given as about 60 GPa.1 Experimental measurements
on clay particles give a much lower modulus value in the
C-direction.2 However, we are unaware of experiments
that have attempted to measure the modulus of an
individual clay nanoplatelet. Thus, the motivation of the
current work was to probe the mechanical properties of
individual clay nanoplatelets using AFM.
The interest in using clay as a reinforcing phase in a
polymer matrix composite was spurred by the pioneering
work by researchers at Toyota in the early 1990s.3-5 Since

that time, research into clay nanocomposites has exploded;

the reader is referred to recent review articles for an indepth
discussion of the current state of the art.6-13 In
general, the incorporation of the nanoclays into various
polymers has been shown to result in increases in tensile
properties (elastic modulus, tensile strength), decreased
thermal expansion coefficients and improved thermal
stability, increased swelling resistance, decreased gas
permeability, and improved flammability properties. A
new class of nanoclay-polymer composites, based on the
layer-by-layer assembly of individual clay nanoplatelets
and appropriate polymers, is also under development.14-17
Because of the large surface area of the clay nanoplatelets
within the nanocomposite, an understanding and control
of the clay surface are expected to play an important role
in the optimization of these material systems. Models of
the mechanical properties of the individual clay
nanoplatelets,
as input parameters into models of effective clay
nanocomposite behavior, will also be critical.
However, these clay nanoplatelets are interesting above
and beyond their use as an element of composite materials.
Because the individual clay platelet thicknesses are on
the order of 1 nm, with lateral dimensions on the micron
scale, they are the two-dimensional analogue of
zerodimensional
(quantum dots, nanoclusters) and onedimensional
(nanotube, nanowires) materials. In addition,
depending on their thermal and electrical properties, the
silicate nanoplatelets are a potential building block for
nanoscopic electrical devices. The presence of impurities
associated with the clay nanoplatelets, and the inability
to separate these nanoplatelets from the impurities,
complicate the surface chemistry of these materials.18,19
Unless methods are found for their removal, these

impurities will prevent accurate measurements of the

mechanical, electrical, and thermal properties of the
individual clay nanoplatelets.
Experimental Section
Reagent grade chemicals were used as delivered. Tetrahydrofuran
(THF), acetonitrile (ACN), N,N-dimethylformamide
(DMF), and dodecylamine were from Aldrich. 3Aminopropyltriethoxysilane
was from Alfa-Aesar, and toluene was from
Fisher. Waterwaspurified using a Barnstead
modelD6431threecartridge
filter system. Mica substrates were from Ted Pella,
and highly ordered pyrolytic graphite (HOPG) was from SPI.
Gold films were deposited with an Edwards model 306 e-beam
evaporation system. Ultrasonication was done using a Crest
model 175HT, 50 W bath.
Clay Characterization. All images were recorded on Park
Scientific model CP Research AFMs. Contact mode images were
made with Park Scientific microlevers with silicon nitride tips.
Tapping mode images weremadewith Park Scientific noncontact
ultralevers with silicon tips. (Note that Park Scientific is now
owned by Veeco.) Typical scan speeds were 1 or 2 Hz. The contact
mode set point was for a normal force of 1 nN. In tapping mode,
the resonant frequency was about 90 kHz, with small variations
from cantilever to cantilever. Time-of-flight secondary ion mass
spectrometry (TOF-SIMS) was performed using a Physical
Electronics model Thrift III.
Processing of Clays. A number of different clays samples
were examined in this work (see Table 1). Other than details of
lateral dimensions, all clays looked very similar by AFM. The
exfoliation, mechanical behavior, and presence of impurities also
appeared to be similar for all samples. Thus, our efforts focused
on the SOMASIF ME-300 sample, a synthetic clay made from
natural talc. According to the manufacturer (UniCoOP, Tokyo,
Japan), the clay is processed by heating talc in the presence of
Na2SiF6, such that the salt decomposes and the Na ions
intercalate between the silicate layers that comprise the talc.
Whenplaced in water and agitated, water can enter the galleries
and further swell the talc until it becomes completely exfoliated.
To study individual clay nanoplatelets viaAFM,it is necessary
to first fully exfoliate the clay crystals, followed by deposition on
a suitable substrate. Unless otherwise specified in the text, the
individual clay nanoplatelets were prepared in the following
manner. First, a few micrograms of the clay powder was placed
in 10 mL of pure water. The clays were exfoliated in a low-power
ultrasonic bath for 8-16 h. After this, the resulting suspension
was allowed to settle for a day or more. Sedimentation allows the
nonexfoliated clays to sink, while the fully exfoliated individual
clay sheets will stay in suspension for months. A drop of the
suspension is then placed on a substrate and allowed to stand
for a few minutes. The excess water is then removed by a
highvelocity
jet of compressed gas or is wicked away. Clay nanoplatelet
coverage on a substrate can be controlled by adjusting the
concentration of the suspension and the time it is exposed to the
substrate.

Results and Discussion

Initial Measurements of Individual Clay Nanoplatelets.
InitialAFMimages were obtained by depositing
the clay nanoplatelets on mica. Mica is ideal for this initial
imaging because it is atomically flat and adds nothing to
the topology of the system, making it easier to understand
the topological features of the clay nanoplatelets.Through
trial and error, it was possible to get nanoplatelets evenly
distributed in submonolayer coverage on the mica surface.

One can distinguish individual clay nanoplatelets by their

thickness, as they are 1 nm high in all AFM topology
images as shown in Figure 1. Areas where multiple clay
nanoplatelets are stacked on top of each other are also
visible in the image.
For these initial images of the nanoplatelets, contact
mode AFM was used in parallel with lateral force
microscopy (LFM). Because LFM is very sensitive to
differences in the chemistry of the surface, it would indicate
any differences in chemistry between the clays and the
mica substrate. This is mostly due to the effects of capillary
forces and the amount of adsorbed water on a sample
surface.20-23
AFM and LFM images of a clay nanoplateletsample directly
after deposition, and 5 days after deposition,on mica are
shown in Figure 2.

While the surface topology of the clay samples remains

unchanged, the
lateral force contrast has reversed over a period of days
(i.e., the clay nanoplatelets are light and dark respectively
in parts B and D of Figure 1). We believe (see discussion
below) that this change in lateral force contrast was due
to the migration of impurities. At room temperature these
impurities are highly mobile and strongly interact with
the AFM tip. In later experiments, it was discovered that
this change in contrast can be reversed by rinsing in water,
such that the friction on the clay nanoplatelets returns to
being lower than on the mica substrate. If the sample is
then dried by heating in an oven or by rinsing in ethanol,
the contrast again reverses so that friction on the
nanoplatelets is higher than the mica substrate. However,
after repeating this process several times, the friction on
the clay nanoplatelets remained higher than on the mica
substrate. Currently, we believe that this behavior is due
to a redistribution of impurities and their effect on the
local wetting properties of the sample. Rinsing does not
remove the impurities, which seem to be strongly attracted
to both the clay and the mica. However, the impurities
are mobile and seem to prefer to locate on the surface of
the clay nanoplatelets. After repeated rinsing they are
mostly moved to the top of the clays. The presence of these
impurities is significant, as they will alter the surface
chemistry of the nanoplatelets and are likely to impact
the use of fully exfoliated clays in applications.
Compliance of Individual Clay Nanoplatelets.
Disregarding the issue of impurities for the moment, one
of the long-term goals of our research is to understand the
mechanics of these clay nanoplatelets. Our first approach
was to place individual nanoplatelets across a very narrow
gap cut into a glass substrate in order to measure the
modulus via a force vs displacement curve on a suspended
nanoplatelet. To test this capability, a clay nanoplatelet
was deposited across a 100 nm wide scratch in a glass

substrate, as shown in Figure 3. Rather than spanning

the trench, the clay sinks into the scratch and readily
conforms to it. This is consistent with molecular models
that show that the clay nanoplatelets should be very
compliant in the out-of-plane direction.24
To test whether a smaller gap is necessary for the force
vs displacement drum-skin test, clay nanoplatelets were
deposited on a nanoporous alumina substrate with uniform
60 nm pores spaced 100 nm apart.25 However, similar to
our findings with the glass substrate, when placed on a
nanoporous alumina substrate the clay nanoplatelets sink
into the pores and appear wrinkled, as shown in Figure
4. The friction on the clay is lower than the alumina
substrate (see Figure 4b), similar to the case for the mica
substrate.
Returning to the issue of impurities, initial attempts to
separate the impurities from the clay nanoplatelets used
an electrophoretic technique. If the nanoplatelets are
charged, the application of an electric current might drive
the nanoplatelets to one of the gold electrodes and leave
any impurities in the water. The electrode was a 20 nm
thick polycrystalline gold film evaporated onto mica. These
gold electrodes were placed in an aqueous nanoplatelet
suspension, and a voltage was applied until a current of
about 1 mA could be detected. This method was not
successful, as very few nanoplatelets were found on the
positive electrode (and none on the negative electrode). A
few of the clay nanoplatelets that were found on the
positive electrode are shown in Figure 5. Because the
individual clay nanoplatelets are so compliant in the outofplane direction, the grains of the gold substrate can
clearly be seen below the clay plates. The friction is lower
on the clay nanoplatelets than on the supporting gold film.
On a few occasions, we observed large areas where the
clays formed almost complete monolayers. This may be
related to surface charge on the clay nanoplatelets. Under
an optical microscope, large rafts of the clays are sometimes
seen floating on the surface of the water as a sample
is drying, possibly indicating that the nanoplatelets order
themselves on the surface of the water and are then left
behind as the water film dries. On mica, water dries as
a more or less uniform film and does not break up into
small droplets. A tapping mode AFM image on mica
demonstrating this tiling effect is shown in Figure 6.
Force Modulation Microscopy on the Clay
Nanoplatelets.
As our previous results indicate, the extreme
out-of-plane compliance of the individual clay nanoplatelets
suggests that meaningful modulus values obtained
using a force vs displacement drum-skin test are unlikely.
However, there is a new AFM technique known as force
modulation microscopy (FMM) that can, in principle,
directly measure the modulus of a material at the surface.
In FMM, the normal force between the tip and sample is
modulated. The amplitude and phase of the response can
be used to calculate the contact stiffness of the surface of
the sample. In principle, these results can be used to
compute the modulus of the sample.

To test whether this new technique is sensitive to the

mechanical properties of the clay nanoplatelets, it is
necessary to deposit the nanoplatelets on a clean, atomically
flat substrate. Clearly, a textured substrate is not
suitable for such a technique, as the underlying substrate
effects will interfere with measurements on the system
under study (see Figure 5). Because mica is a layered
silicate and likely has mechanical properties similar to
the clays, highly oriented pyrolytic graphite (HOPG) was
selected as the substrate. A drop of clay suspension was
prepared as described earlier for the mica substrates.
However, because HOPG is hydrophobic, the clays did
not settle out evenly over the substrate surface. The
dynamics of the drying suspension were very different,
and the clays tended to pile into large clusters, making
it difficult (but not impossible) to find individual
nanoplatelets
on the substrate. The difference between the
individual clay nanoplatelet and the HOPG substrate is
quite obvious in the FMM image, as shown in Figure 7.
However, Figure 7 also shows that additional material
was adsorbed on the substrate. Because the FMM
technique is very sensitive to the surface of the sample,
any adsorbates could interfere with modulus measurements
using this technique.
AFMAnalysis of the Clay Impurities. In an attempt
to drive off these adsorbates for subsequent FM Manalysis,
the sample was heated to 100 C in air for an hour. Because
the clays did not settle out evenly over the substrate
surface, large clumps of clays were present (not shown)
that seem to hold large amounts of the impurity. Over
time, the impurity covers the whole HOPG substrate with
a thin film, as the impurity is much more mobile on HOPG
than on mica. This makes contact mode imaging of the
baked sample difficult, as shown in Figure 8. In the figure
there is one small clay nanoplatelet in the upper lef th and
corner
of the image; however, the impurity dominates
the image. This image was preceded by several 2 mscans,
which swept the impurities into two parallel lines. We
found that the more that the clays are exfoliated (by
increasing the amount of time the suspension is sonicated),
the more impurity is found to be present in the water. In
Figure 8, there are graphite step edges visible in theLFM
image, and the impurities seem to be attracted to these
edges and form lines.Atapping mode image of the impurity
on HOPG, shown in Figure 9, shows that heating the
sample drives the impurity to form a film that appears to
be ordered. As observed in the contact mode images in
Figure 8, the impurity is highly mobile on a graphite
surface and tends to collect along step edges on the HOPG
To better understand the role that the impurity(ies) is
(are) playing in ourAFMimages, a suspension of ME-300
was prepared. The ME-300 sample was filtered through
a 0.20 mdisk filter (Fisher #09-7190) so that most of the
clays are removed, leaving just the impurity. Only a few
drops of water passed through this filter before it was

completely clogged. But this was enough that we could

get data on concentrated impurities by AFM and TOFSIMS.
A drop of the filtrate was placed on a mica surface
and allowed to dry. After drying, a film formed on the
mica substrate as shown in Figure 10. It was almost
impossible to scan in contact mode. However, after the
AFM tip was treated with dodecylamine to reduce the
capillary force,21 amuchbetter image resulted (right image
in Figure 10). This is consistent with the impurity being
hydrophilic, as would be the case for a silicate or sodium
hydroxide/water complex. Some of this filtrate was placed
on a gold foil and analyzed via time-of-flight secondary
ion mass spectrometry (TOF-SIMS). The elements and
molecular fragments found by TOF-SIMS were consistent
with those in the starting material, namely, sodium,
fluorine, magnesium, and silicates.
The several different types of clay studied here were
found to be very similar. For example, AFM images of the
ME-100 sample suggest that the individual nanoplatelets
in that sample are the same lateral size as those for the
ME-300 sample (see Figure 11).35 After the sample had
dried for a day the lateral force image shows higher friction
on the clay nanoplatelets than the mica substrate,
suggesting that the ME-100 sample has a very similar
surface chemistry, and comparable impurities, as the
ME-300 sample.
Since impurities were found in all clay samples, tests
were conducted to prove that the ultrasonic dispersion
was not the source of the impurity due to breaking off of
small parts of the clay nanoplatelets. Thus, a simple
suspensionwasprepared by low-speed mechanical stirring
using a magnetic stir bar. After a week of gentle stirring,
the clays were well dispersed in water, but the impurity
was also still present. A tapping mode image of a sample
prepared in this way is shown in Figure 12. Note the
ordering of the impurity. There is just one nanoplatelet
in this image, in the lower center. The humidity was 50%
when this image was recorded. When tapping mode is
properly tuned, islands of water can be imaged;36 thus,
the islands imaged in Figure 12 are suspected to be mostly
water. Also evident in the image are small spheres
(diameters on the order of 5 nm) that are almost always
seen in tapping mode images of the clays and, as discussed
below, are believed to be sodium hydroxide.
At its core, AFM is a surface probe. Our results show
that these impurities can completely dominate AFM
measurements of the clay nanoplatelets and their properties.
As a further investigation into these small spherical
impurities, a sample of ME-300 was prepared and dried
in an oven at 100 C. Figure 13 is a tapping mode image
recorded at very low humidity (less than 5%). Note the
presence of many of the small spherical impurities.
Because these spheres look very similar to potassium
hydroxide particles noted by other researchers,37-39 we
believe they are sodium hydroxide formed by the reaction
of the original sodium intercalation ion with water. This
hypothesis was tested by placing a drop of pure water on the
surface in Figure 13. After a minute, the water was
flame tested and showed a bright orange flame indicative

of sodium. After rinsing and repeating the flame test, no

evidence of sodium was visible, which suggests that these
mobile sodium ions were removed. After rinsing in water,
the sample was checked again by AFM and the small
spheres were largely gone.
Attempts To Separate the Clays from the Impurity.
Numerous procedures to separate the nanoplatelets
from the impurities have been attempted. While
sedimentation
is the obvious first choice, once exfoliated both
the nanoplatelets and the associated impurities will stay
suspended in water for an indefinite amount of time.
Attempts to filter this nanoplatelet-impurity suspension
were not successful, as the pores of the filter were instantly
clogged by the nanoplatelets. Another method was to
deposit the clays on a mica surface, followed by drying
and subsequent rinsing with clean water; however, both
the clays and the impurities remained on the substrate.
Even when placed in boiling water for several hours, the
impurities were not removed, indicating that at least one
of the impurities is insoluble in water and cannot be
removed from the substrate once dried.
Because the clay is stable to very high temperatures,
attempts to drive off the impurities by heating the
substrate were undertaken. Clays on mica were heated
as high as 500 C, but the impurities remained on the
substrate. On glass, the clays were heated to a red heat
in a propane flame; while the clays were burned off, the
impurity still remained. As discussed earlier, dc
electrophoresis
as a means to separate the impurities from the
clays was also ineffective; thus, any surface charge on the
nanoplatelets is either very weak or screened in some
way.
A chemical method to separate the impurities from the
clay does not seem likely, as the water-insoluble impurity
is probably a silicate and thus very similar to the clays
themselves. However, an amine-terminated surface was
tested in the hopes that the clay nanoplatelets would stick
to the amine. The surface could then be washed before it
dries and the impurity flushed away, leaving the clay
behind. Our first attempt at this was to modify a mica
surface with 3-aminopropyltriethoxysilane by placing
several drops of the 3-aminopropyltriethoxysilane in
various organic solvents and then dipping a freshly cleaved
mica substrate into the solution for 1-5 min. Our
technique is a simplification of a solution-based silane
modification of silicon oxide surfaces reported by others.
40,41

Our results indicate that this method depends strongly

on the solvent used to deposit the silane on the mica
substrate. If toluene was used, a very flat (surface
roughness less than 0.5 nm rms) hydophobic surface
resulted on the mica substrate, but it had almost no affinity
for the clays. However, if ACN or DMF was used as the
solvent, the clays strongly adhered to the substrate surface.
Vigorous rinsing with pure water before the sample could
dry did not remove the clay plates, suggesting that when

ACN or DMF is used as solvent, the aminosilane is

crosslinking
and creating a surface with active silane groups
exposed. Conceivably, these silanes then react with the
clays and bind them to the surface through a covalent
bond. Unfortunately, any excess silanes at the surface
also tend to react strongly with the AFM tip. In Figure
In summary, several different exfoliated clays were
studied. The individual clay nanoplatelets are approximately
1 min the lateral direction and 1 nmthick. These
clay nanoplatelets are extraordinarily compliant and
readily conform to nanoscale surface features. In the
process of imaging these nanoplatelets, we found that the
clay sheets have substantial quantities of mobile impurities
that could not be separated from the clay nanoplatelets.
Because AFM is a surface probe, these impurities
interfere with precise AFM measurements, especially
FMM, of the individual clay sheets. The impurities are of
two types; one is water-soluble and appears to be sodium
and perhaps its counterions. The other impurity is
silicatebased
and water-insoluble and is mobile on an atomically
smooth surface. The precise nature and chemistry of these
impurities are currently unknown and the focus of
additional study in our lab.
The presence of the impurities, and the inability to
separate them from the clay nanoplatelets, is significant
and will impact the use of clay nanoplatelets in applications.
For example, because of their nanometer size, these
impurities will contribute a large surface area component
to a composite system as well as influence the interaction
of the clay nanoplatelets with the matrix. The presence
of these impurities will also interfere with nanoscale
measurements of the stiffness of a single clay sheet and
is undesirable for applications where the nanoplatelets
are to be used as a building block for molecular electronic
systems. It is our hope that this paper will stimulate
further interest in clay nanoplatelets and that an awareness
of the presence of these impurities will lead to the
development of rigorous clay purification methods

Se presentan los resultados de un estudio

en profundidad de 1 nm gruesas lminas
de arcilla individuales por microscopa de
fuerza atmica (AFM). Varias tcnicas se
han empleado, incluyendo la microscopa
de fuerza lateral (LFM) y microscopa de
fuerza de modulacin (FMM). Las lminas
de arcilla individuales, tambin conocidos
como nanoplatelets de arcilla en la
literatura,
se
encontr
que
eran
extremadamente compatible y fuertemente
adherido a una variedad de sustratos. En
todos los casos, estos nanoplatelets fueron
acompaadas por las impurezas mviles
que no poda separarse de los
nanoplatelets. Un examen detallado de

estas impurezas utilizando AFM sugiere

que se componen de silicatos de bajo peso
molecular, as como la sal de intercalacin
utilizados
para
procesar
la
clay.Anunderstanding de la naturaleza y de
la qumica de estas impurezas ser
necesario como se desarrollan modelos de
estas arcillas para diversas aplicaciones,
tales como refuerzo en materiales
compuestos o elementos para la
electrnica molecular.

El trmino "arcilla" se refiere a una clase de materiales en

general
Hecho de silicatos estratificados que son similares a la mica.
Mientras
estas partculas de arcilla pueden abarcar centmetros de lateral
dimensiones, las dimensiones en el plano de la arcilla
individuo
capas son del orden de una micra, y el espesor de
una sola nanoplatelet arcilla es del orden de un nanmetro.
Estas arcillas en capas se caracterizan por una fuerte intralayer
enlaces covalentes dentro de las hojas individuales que
comprenden
la arcilla, con slo el dbil de van der Waals
entre lminas de arcilla adyacentes. Estos fuertes en el plano
enlaces covalentes han generado un inters significativo en el
El uso de estos materiales como un elemento de refuerzo en
material compuesto
materiales. Sin embargo, debido a la interaccin dbil
entre hojas adyacentes de arcilla, un esfuerzo significativo en
clayreinforced
polmeros se ha centrado en mtodos de intercalante
el polmero dentro de las galeras intralayer o
exfoliante completamente las arcillas de modo que la arcilla
individuo
hojas se dispersan dentro del polmero, para maximizar la
rea de contacto (y por tanto la interaccin) entre el
polmero y la arcilla. Mediciones de dispersin de Brillouin

sobre mica moscovita mayor dar mdulos en el plano del

orden
de 170 GPa, mientras que el mdulo perpendicular a las capas
se da como aproximadamente 60 GPa. 1 Mediciones
experimentales
en la arcilla partculas dan un valor de mdulo mucho menor
en el
C -direccin. 2 Sin embargo, no somos conscientes de
experimentos
que han tratado de medir el mdulo de un
nanoplatelet arcilla individual. Por lo tanto, la motivacin de
la
trabajo actual era sondear las propiedades mecnicas de
arcilla individuo nanoplatelets utilizando AFM.
El inters en el uso de arcilla como una fase de refuerzo en
una
compuesto de matriz polimrica fue estimulado por el pionero
trabajar por investigadores de Toyota a principios de 1990. 3 5 Desde

Adems, estos nanoplatelets arcilla y sus

impurezas presentan un novedoso sistema
nanoescala bidimensional para futuros
estudios de la ciencia superficie utilizando
AFM y otros mtodos.

ese momento, la investigacin de nanocompuestos de arcilla

se ha disparado;
se remite al lector a los ltimos artculos de revisin para una
indepth
discusin sobre el estado actual de la tcnica. 6 - 13 En
en general, la incorporacin de las nanoarcillas en varias
polmeros se ha demostrado que el resultado en un aumento de
la traccin

propiedades (mdulo elstico, resistencia a la traccin),

disminucin de la
coeficientes de expansin trmica y trmica mejorada
estabilidad, aumento de la resistencia hinchazn, disminucin
de gas
permeabilidad, y la mejora de las propiedades de
inflamabilidad. La
nueva clase de nanoarcilla - compuestos de polmero, basado
en el
ensamblaje capa por capa de arcilla individuales nanoplatelets
y polmeros adecuados, tambin est en fase de desarrollo. 14 17

Debido a la gran superficie de las nanoplatelets de arcilla

dentro del nanocompuesto, la comprensin y el control
de la superficie de arcilla se espera que juegue un papel
importante
en la optimizacin de estos sistemas de materiales. Modelos
de
las propiedades mecnicas de los nanoplatelets de arcilla
individuales,
como parmetros de entrada en los modelos de arcilla efectiva
comportamiento nanocompuesto, tambin ser fundamental.
Sin embargo, estos nanoplatelets de arcilla son interesantes
por encima
y ms all de su uso como un elemento de materiales
compuestos.
Debido a que los espesores de plaquetas de arcilla individuales
son en
del orden de 1 nm, con dimensiones laterales en el micras
escala, son el anlogo bidimensional de zerodimensional
(Puntos cunticos, nanoclusters) y unidimensional
(nanotubos, nanocables) materiales. Adicionalmente,
en funcin de sus propiedades trmicas y elctricas, la
nanoplatelets silicato son un bloque potencial de construccin
de
dispositivos elctricos nanoscpicas. La presencia de
impurezas
asociado con los nanoplatelets de arcilla, y la incapacidad
separar estos nanoplatelets de las impurezas,
complicar la qumica de la superficie de estos materiales. 18,19
A menos que los mtodos se encuentran para su eliminacin,
stas
impurezas evitar mediciones precisas de la
propiedades mecnicas, elctricas y trmicas de la
nanoplatelets de arcilla individuales.
Seccion Experimental
Se utilizaron productos qumicos de grado reactivo como se entrega.
El tetrahidrofurano
(THF), acetonitrilo (ACN), N, N-dimetilformamida
(DMF), y dodecilamina eran de Aldrich. 3-aminopropiltrietoxisilano
era de Alfa-Aesar, y tolueno fue de
Fisher. Waterwaspurified usando un Barnstead
modelD6431threecartridge

sistema de filtro. Sustratos de mica fueron de Ted Pella,

y altamente ordenada grafito piroltico (HOPG) era de SPI.
Pelculas de oro fueron depositados en un modelo de Edwards 306 ebeam
sistema de evaporacin. Ultrasonidos se realiz utilizando una cresta
modelo 175HT, 50 W bao.
Caracterizacin de la arcilla. Todas las imgenes fueron grabadas
en el Parque
Modelo CP Cientfico AFMs investigacin. Imgenes en modo de
contacto eran
hecho con microlevers Parque Cientfico con puntas de nitruro de
silicio.
Tapping imgenes en modo sin contacto weremadewith Parque
Cientfico
ultralevers con puntas de silicio. (Tenga en cuenta que el Parque
Cientfico es ahora
propiedad de Veeco.) velocidades de exploracin tpicos eran 1 o 2
Hz. El contacto
punto de establecer el modo fuera por una fuerza normal de 1 nN. En
el modo de grabacin,
la frecuencia resonante fue de aproximadamente 90 kHz, con
pequeas variaciones
de voladizo a voladizo. Tiempo de vuelo de masas de iones
secundarios
espectrometra (TOF-SIMS) se realiz con un fsico
Modelo de Electrnica Thrift III.
Procesamiento de las arcillas. Un nmero de diferentes muestras de
arcillas
fueron examinados en este trabajo (ver Tabla 1). Aparte de los
detalles de
dimensiones laterales, todas las arcillas se vean muy similares por
AFM. La
exfoliacin, comportamiento mecnico, y la presencia de impurezas
tambin
pareci ser similar para todas las muestras. Por lo tanto, nuestros
esfuerzos se centraron
en la ME-300 muestra SOMASIF, una arcilla "sinttico" hecha de
talco natural. Segn el fabricante (Unicoop, Tokio,
Japn), la arcilla se procesa mediante el calentamiento de talco en
presencia de
Na 2 SiF 6, de tal manera que la sal se descompone y los iones Na
intercalado entre las capas de silicato que comprenden el talco.
Whenplaced en agua y agitado, el agua puede entrar en las galeras
y se hinchan an ms el talco hasta que se vuelve completamente
exfoliada.
Para estudiar arcilla individuo nanoplatelets viaAFM, es necesario
a primera exfoliar completamente los cristales de arcilla, seguido de la
deposicin sobre
un sustrato adecuado. A menos que se especifique lo contrario en el
texto, el
nanoplatelets de arcilla individuales se prepararon de la siguiente
forma. En primer lugar, unos pocos microgramos de polvo de arcilla
se coloc

en 10 ml de agua pura. Las arcillas se exfolian en un bajo consumo

de energa
bao de ultrasonidos durante 8-16 h. Despus de esto, la suspensin

Mientras que la superficie topologa de las muestras de

arcilla permanece inalterada, el

resultante
se deja reposar durante un da o ms. La sedimentacin permite que
las arcillas nonexfoliated a hundirse, mientras que el individuo
totalmente exfoliada
lminas de arcilla se quedarn en suspensin durante meses. Una
gota de la
la suspensin se coloca entonces sobre un sustrato y se deja reposar
por unos pocos minutos. El exceso de agua se elimin entonces por
un highvelocity
chorro de gas comprimido o es malo de distancia. Nanoplatelet
Arcilla
la cobertura sobre un sustrato se puede controlar mediante el ajuste de
la
concentracin de la suspensin y el tiempo que se expone a la
sustrato.

contraste fuerza lateral se ha invertido durante un perodo de

das
(Es decir, los nanoplatelets arcilla son claros y oscuros,
respectivamente
en las partes B y D de la figura 1). Creemos que (vase la
discusin
a continuacin) que este cambio en contraste fuerza lateral era
debido
a la migracin de impurezas. A temperatura ambiente estos
impurezas son altamente mviles e interactan fuertemente
con
la punta del AFM. En experimentos posteriores, se descubri
que
este cambio de contraste puede ser revertida mediante lavado
en agua,
de tal manera que la friccin en la arcilla nanoplatelets vuelve
a
siendo ms bajo que en el sustrato de mica. Si la muestra es
luego se sec por calentamiento en un horno o mediante
lavado en etanol,
el contraste se invierte de nuevo para que la friccin en el
nanoplatelets es ms alto que el sustrato de mica. Sin
embargo,
despus de repetir este proceso varias veces, la friccin en
los nanoplatelets arcilla permanecieron ms altos que en la
mica
sustrato. Actualmente, creemos que este comportamiento es
debido
a una redistribucin de las impurezas y su efecto sobre la
propiedades de humectacin locales de la muestra. El
enjuague no lo hace
eliminar las impurezas, que parecen estar fuertemente atrado
tanto a la arcilla y la mica. Sin embargo, las impurezas
son mviles y parecen preferir para localizar en la superficie
de
los nanoplatelets arcilla. Despus de enjuagar repetido que
son
en su mayora se traslad a la parte superior de las arcillas.
La presencia de estos
impurezas es significativo, ya que alterar la superficie
qumica de los nanoplatelets y puedan afectar
el uso de arcillas exfoliadas plenamente en las aplicaciones.
Cumplimiento de arcilla individuales Nanoplatelets.
Sin tener en cuenta el tema de impurezas, por el momento, una
de los objetivos a largo plazo de nuestra investigacin es
entender la
mecnica de estos nanoplatelets arcilla. Nuestro primer
enfoque
era colocar nanoplatelets individuales a travs de una muy
estrecha
brecha cortado en un sustrato de vidrio con el fin de medir la

Resultados y discusin
Las mediciones iniciales de arcilla Nanoplatelets
individual.
InitialAFMimages se obtuvieron mediante el depsito de
la arcilla nanoplatelets sobre mica. Mica es ideal para este
inicial
proyeccin de imagen, ya que es atmicamente plana y no
aade nada a
la topologa del sistema, por lo que es ms fcil de entender
las caractersticas topolgicas de la arcilla
nanoplatelets.Through
ensayo y error, fue posible conseguir nanoplatelets
uniformemente
distribuido en la cobertura submonolayer en la superficie de la
mica.
Se puede distinguir nanoplatelets arcilla individuales por su
espesor, ya que son 1 nm altos en todas topologa AFM
imgenes, como se muestra en la Figura 1. Las reas donde la
arcilla mltiple
nanoplatelets se apilan en la parte superior de cada otro son
tambin
visible en la imagen.
Por estas imgenes iniciales de los nanoplatelets, contactos
modo de AFM se utiliz en paralelo con fuerza lateral
microscopa (LFM). Debido a LFM es muy sensible a
las diferencias en la qumica de la superficie, se indicaran
cualquier diferencia en la qumica entre las arcillas y el
sustrato de mica. Esto se debe principalmente a los efectos de
capilaridad fuerzas y la cantidad de agua adsorbida sobre una
muestra . superficie 20 - 23 de
AFM y LFM imgenes de un nanoplateletsample arcilla
directamente despus de la deposicin, y 5 das despus de la
deposicin, en la mica se muestran en la Figura 2.

mdulo a travs de una fuerza vs curva de desplazamiento en

una suspendido
nanoplatelet. Para probar esta capacidad, un nanoplatelet
arcilla
se deposit en una amplia cero 100 nm en un vaso
sustrato, como se muestra en la Figura 3. En lugar de que
abarca
la zanja, los sumideros de arcilla en el cero y fcilmente
se ajusta a la misma. Esto es coherente con los modelos
moleculares
que muestran que los nanoplatelets arcilla deben ser muy
compatible en la direccin fuera del plano. 24
Para probar si un hueco ms pequeo es necesario para la
fuerza de
vs desplazamiento "tambor de piel de" prueba, nanoplatelets
arcilla eran
depositado sobre un sustrato de almina nanoporoso con
uniforme
60 poros espaciados nm 100 nm aparte. 25 Sin embargo,
similar a
nuestros hallazgos con el sustrato de vidrio, cuando se coloca
en una
sustrato de almina nanoporoso los nanoplatelets de arcilla se
hunden
en los poros y aparecen "arrugada", como se muestra en la
figura
4. La friccin en la arcilla es menor que la almina
sustrato (vase la figura 4b), similar al caso de la mica
sustrato.
Volviendo al tema de las impurezas, los intentos iniciales a
separar las impurezas de los nanoplatelets de arcilla utilizados
una tcnica electrofortica. Si los nanoplatelets son
cargada, la aplicacin de una corriente elctrica podra
conducir
los nanoplatelets a uno de los electrodos de oro y dejar
las impurezas en el agua. El electrodo fue un 20 nm
gruesa pelcula de oro policristalino evapor sobre mica.
Estos
electrodos de oro se colocaron en un nanoplatelet acuosa
suspensin, y una tensin se aplic hasta que una corriente de
aproximadamente 1 mA poda ser detectado. Este mtodo no
era
xito, ya que muy pocos nanoplatelets se encontraron en el
electrodo positivo (y ninguno en el electrodo negativo). La
algunas de las nanoplatelets arcilla que se encontraron en el
electrodo positivo se muestra en la Figura 5. Debido a que el
nanoplatelets arcilla individuales son tan compatibles en el
outofdireccin del plano, los granos del sustrato de oro puede
verse claramente por debajo de las placas de la arcilla. La
friccin es menor
en los nanoplatelets de arcilla que en la pelcula de oro de
soporte.

En algunas ocasiones, observamos grandes reas en las que los

arcillas forman monocapas casi completos. Esto puede ser
en relacin con la superficie de carga en los nanoplatelets
arcilla. Bajo
un microscopio ptico, grandes balsas de las arcillas son a
veces
visto flotando en la superficie del agua como una muestra
est secando, posiblemente, lo que indica que los nanoplatelets
orden
a s mismos sobre la superficie del agua y luego se dejan
detrs, como la pelcula de agua se seca. En la mica, el agua
se seca como
una pelcula y ms o menos uniforme no se rompen en
pequeas gotitas. A modo de imagen tocando AFM sobre
mica
demostrar este efecto de mosaico se muestra en la Figura 6.
Fuerza Modulacin Microscopa en la arcilla
Nanoplatelets.
A medida que nuestros resultados anteriores indican, la
extrema
fuera de plano cumplimiento de los nanoplatelets de arcilla
individuales
sugiere que los valores de mdulo significativa obtuvieron
utilizando una fuerza vs prueba de tambor de piel de
desplazamiento es poco probable.
Sin embargo, hay una nueva tcnica de AFM conocido como
vigor
microscopa de modulacin (FMM) que puede, en principio,
medir directamente el mdulo de un material en la superficie.
En FMM, la fuerza normal entre la punta y la muestra es
modulada. La amplitud y fase de la respuesta puede
ser utilizado para calcular la rigidez de contacto de la
superficie de
la muestra. En principio, estos resultados se pueden utilizar
para
calcular el mdulo de la muestra.
Para probar si esta nueva tcnica es sensible a la
propiedades mecnicas de los nanoplatelets de arcilla, es
necesario depositar los nanoplatelets en un lugar limpio,
atmicamente
sustrato plano. Claramente, un sustrato texturizado no es
adecuado para una tcnica tal, como el sustrato subyacente
efectos interferirn con las mediciones en el sistema de
en estudio (ver Figura 5). Debido a mica es un estratificado
silicato y probablemente tiene propiedades mecnicas
similares a
las arcillas, grafito piroltico altamente orientado (HOPG) era
seleccionado como el sustrato. Una gota de suspensin de
arcilla era
preparado como se describe anteriormente para los sustratos
de mica.
Sin embargo, debido HOPG es hidrfobo, las arcillas hicieron

No se conforme de manera uniforme sobre la superficie del

sustrato. La
dinmica de la suspensin de secado eran muy diferentes,
y las arcillas tienden a acumularse en grandes grupos, por lo
que
difcil (pero no imposible) encontrar nanoplatelets
individuales
sobre el sustrato. La diferencia entre el
nanoplatelet arcilla individuo y el sustrato es HOPG
bastante obvio en la imagen FMM, como se muestra en la
Figura 7.
Sin embargo, la Figura 7 tambin muestra que el material
adicional
se adsorbi sobre el sustrato. Debido a que el FMM
tcnica es muy sensible a la superficie de la muestra,
cualquier adsorbatos podran interferir con las mediciones de
mdulo
utilizando esta tcnica.
AFMAnalysis de las impurezas de la arcilla. En un intento
para eliminar estos adsorbatos para su posterior FM
Manalysis,
la muestra se calent a 100 C en aire durante una hora.
Porque
las arcillas no se asientan de manera uniforme sobre el sustrato
superficie, grandes cmulos de arcillas estaban presentes (no
mostrado)
que parecen contener grandes cantidades de la impureza.
Encima
tiempo, la impureza cubre todo el sustrato con HOPG
una pelcula delgada, como la impureza es mucho ms mvil
en el HOPG
que en mica.
Esto hace que el modo de contacto de
formacin de imgenes de la
muestra al horno difcil, como se muestra en la figura 8. En la
figura
hay una pequea nanoplatelet arcilla en el XX lef superior y
esquina
de la imagen; sin embargo, la impureza domina
la imagen. Esta imagen fue precedido por varios 2 mscans,
que barrieron las impurezas en dos lneas paralelas. Nosotros
encontrado que el ms que las arcillas se exfoliadas (por
aumentando la cantidad de tiempo que la suspensin se
someti a ultrasonidos),
el ms impureza se encuentra para estar presente en el agua.
En
La Figura 8, hay bordes de los escalones de grafito visibles en
theLFM
imagen, y las impurezas parecen ser atrados a estos
imagen modo de bordes y forma lines.Atapping de la
impureza
en HOPG, que se muestra en la Figura 9, muestra que el
calentamiento de la

muestra impulsa la impureza para formar una pelcula que

parece
ser ordenado. Como se observa en las imgenes en modo de
contacto en
La Figura 8, la impureza es altamente mvil en un grafito
superficial y tiende a acumularse a lo largo de los bordes de
paso en el HOPG
Para entender mejor el papel que la impureza (es) es
(Estn) jugando en ourAFMimages, una suspensin de ME300
se prepar. La muestra ME-300 se filtr a travs
un 0,20 filtro mdisk (Fisher # 09 a 7190), de modo que la
mayor parte de la
arcillas se retiran, dejando slo la impureza. Slo unos pocos
gotas de agua pasan a travs de este filtro antes de que fuera
completamente obstruido. Pero esto fue suficiente para que
pudiramos
obtener datos sobre impurezas concentradas por AFM y
TOFSIMS.
Una gota del filtrado se coloca sobre una superficie de mica
y se deja secar. Despus del secado, una pelcula formada
sobre la
sustrato mica como se muestra en la Figura 10. Era casi
imposible escanear en modo de contacto. Sin embargo,
despus de la
AFM punta fue tratado con dodecilamina para reducir el
fuerza capilar, 21 imagen amuchbetter resultado (imagen de la
derecha
en la Figura 10). Esto es consistente con ser la impureza
hidrfila, como sera el caso de un silicato de sodio o
/ complejo acutico de hidrxido. Algunos de este filtrado se
coloc
en una lmina de oro y se analizaron a travs de tiempo-devuelo secundaria
espectrometra de masas de iones (TOF-SIMS). Los
elementos y
fragmentos moleculares que han encontrado los TOF-SIMS
fueron consistentes
con los del material de partida, a saber, sodio,
flor, magnesio y silicatos.
Los diferentes tipos de arcilla fueron estudiados aqu
encontrado para ser muy similar. Por ejemplo, las imgenes
de AFM de la
Muestra ME-100 sugieren que los nanoplatelets individuales
en esa muestra son del mismo tamao lateral que los de la
ME-300 de la muestra (vase la Figura 11). 35 Despus de la
muestra tena
secado por un da la imagen de fuerza lateral muestra mayor
friccin
en los nanoplatelets arcilla que el sustrato de mica,
lo que sugiere que la muestra ME-100 tiene una muy similar
qumica de la superficie, y las impurezas comparables, como
el

Muestra de ME-300.
Dado que se encontraron en todas las impurezas de arcilla
muestras, pruebas
se llevaron a cabo para demostrar que la dispersin ultrasnica
no era la fuente de la impureza debido a la ruptura de las
pequeas partes de los nanoplatelets arcilla. De este modo,
un simple suspensionwasprepared por agitacin mecnica de
baja velocidad
usando una barra de agitacin magntica. Tras una semana de
agitacin suave,
las arcillas se dispersan bien en agua, pero la impureza
tambin todava estaba presente. Una imagen modo de
aprovechar de una muestra
preparado de esta manera se muestra en la Figura 12. Nota del
ordenamiento de la impureza. Slo hay una nanoplatelet
en esta imagen, en el centro inferior. La humedad era 50%
cuando se registr esta imagen. Cuando el modo de tocar es
bien afinadas, islas de agua se pueden obtener imgenes; 36
por tanto,
las islas fotografiadas en la Figura 12 son sospechosos de ser
en su mayora
agua. Tambin evidente en la imagen son pequeas esferas
(dimetros del orden de 5 nm) que son casi siempre
visto en el aprovechamiento de las imgenes en modo de las
arcillas y, como se discute
a continuacin, se considera que es hidrxido de sodio.
En su esencia, AFM es una sonda de superficie. Nuestros
resultados muestran
que estas impurezas pueden dominar por completo AFM
mediciones de las nanoplatelets de arcilla y sus propiedades.
Como una investigacin ms a fondo en estos pequeos
esfrica
impurezas, se prepar una muestra de ME-300 y se secaron
en un horno a 100 C. La Figura 13 es una imagen de modo
tapping
grabado en humedad muy baja (menos de 5%). Tenga en
cuenta la
presencia de muchas de las pequeas impurezas esfricas.
Debido a que estas esferas son muy similares al potasio
partculas de hidrxido observados por otros investigadores,
37-39 nos
Creo que son hidrxido de sodio formados por la reaccin
de la intercalacin de iones de sodio original con agua. Este
hiptesis fue probada colocando una gota de agua pura en la
superficie en la figura 13. Despus de un minuto, el agua estaba
llama a prueba y mostr una llama de color naranja brillante
indicativa
de sodio. Despus de enjuagar y repitiendo la prueba de la
llama, sin
evidencia de sodio era visible, lo que sugiere que estos
Se eliminaron los iones de sodio mviles. Despus de
enjuagar en agua,
la muestra se comprob de nuevo por AFM y la pequea
esferas haban desaparecido en gran parte.

Los intentos de separar la Arcillas de la impureza.

Numerosos procedimientos para separar las nanoplatelets
de las impurezas se han intentado. Mientras que la
sedimentacin
es la primera opcin obvia, una vez exfoliada ambos
los nanoplatelets y las impurezas asociadas permanecern
suspendida en agua durante un perodo indefinido de tiempo.
Los intentos de filtrar esta suspensin nanoplatelet-impureza
no tuvieron xito, ya que los poros del filtro fueron
instantneamente
obstruido por los nanoplatelets. Otro mtodo consista en
depositar las arcillas en una superficie de mica, seguido de
secado
y posterior aclarado con agua limpia; sin embargo, tanto
las arcillas y las impurezas permanecieron sobre el sustrato.
Incluso cuando se colocan en agua hirviendo durante varias
horas, la
impurezas no fueron quitados, lo que indica que al menos una
de las impurezas es insoluble en agua y no puede ser
retirado del sustrato una vez seca.
Debido a que la arcilla es estable a temperaturas muy altas,
los intentos para eliminar las impurezas por calentamiento de
la
se llevaron a cabo sustrato. Arcillas en mica se calentaron
tan alta como 500 C, pero las impurezas permanecieron en el
sustrato. En el vidrio, las arcillas se calentaron a un calor rojo
en una llama de propano; mientras que las arcillas se
queman, la
impureza an permaneca. Como se seal anteriormente, la
electroforesis dc
como un medio para separar las impurezas de la
arcillas tambin fue ineficaz; Por lo tanto, cualquier carga de
la superficie en el
nanoplatelets es o muy dbil o proyectado en algunos
manera.
Un mtodo qumico para separar las impurezas de la
arcilla no parece probable, ya que la impureza insoluble en
agua
es probablemente un silicato y por lo tanto muy similar a las
arcillas
s mismos. Sin embargo, una superficie terminado en amina
era
probado con la esperanza de que los nanoplatelets arcilla se
apegar
a la amina. La superficie podra entonces ser lavado antes de
que se
se seca y la impureza vacan, dejando la arcilla
detrs. Nuestro primer intento en esta era modificar una mica
la superficie con 3-aminopropiltrietoxisilano colocando
varias gotas de la 3-aminopropiltrietoxisilano en
diversos disolventes orgnicos y luego sumergiendo un recin
escindido
mica sustrato en la solucin durante 1 - 5 min. Nuestro

tcnica es una simplificacin de un silano basado en

soluciones
modificacin de superficies de xido de silicio reportados por
otros.
40,41

Nuestros resultados indican que este mtodo depende en gran

en el disolvente utilizado para depositar el silano sobre la mica
sustrato. Si se utiliz tolueno, un muy plana (superficie
rugosidad de menos de 0,5 nm RMS) de superficie
hydophobic
resultado sobre el sustrato de mica, pero tena casi ninguna
afinidad
para las arcillas. Sin embargo, si se utiliz ACN o DMF
como el
disolvente, las arcillas fuertemente adheridas a la superficie
del sustrato.
Aclarado vigoroso con agua pura antes de la muestra pudo
seca no quit las placas de arcilla, lo que sugiere que cuando
ACN o DMF se utiliza como disolvente, el aminosilano es la
reticulacin
y la creacin de una superficie con grupos silano activos
expuesta. Posiblemente, estos silanos entonces reaccionan
con el
arcillas y se unen a la superficie a travs de un enlace
covalente
bonos. Desafortunadamente, cualquier exceso de silanos en
la superficie
tambin tienden a reaccionar fuertemente con la punta del
AFM. En la figura
En resumen, varios diferentes arcillas exfoliadas eran
estudiado. Los nanoplatelets de arcilla individuales son
aproximadamente
1 min la direccin lateral y 1 nmthick. Estos
nanoplatelets arcilla son extraordinariamente adaptables y
adaptarn fcilmente a caractersticas de la superficie a
nanoescala. En el
proceso de obtencin de imgenes de estos nanoplatelets,
encontramos que la
lminas de arcilla tienen cantidades sustanciales de impurezas
mviles
que no podan ser separados de los nanoplatelets arcilla.
Debido AFM es una sonda de superficie, estas impurezas
interferir con las mediciones precisas de AFM, especialmente
FMM, de las lminas de arcilla individuales. Las impurezas
son de
dos tipos; uno es soluble en agua y parece ser de sodio
y tal vez sus contraiones. La otra impureza se silicatebased
y agua insoluble y es mvil en una atmicamente
superficie lisa. La naturaleza precisa y la qumica de stos
Actualmente se desconocen las impurezas y el foco de
estudio adicional en nuestro laboratorio.
La presencia de las impurezas, y la incapacidad de
separarlos de los nanoplatelets de arcilla, es significativo

y tendr un impacto en el uso de nanoplatelets arcilla en las

aplicaciones.
Por ejemplo, debido a su tamao de nanmetros, stos
impurezas contribuirn un gran componente de superficie
a un sistema de material compuesto as como la influencia de
la interaccin
de los nanoplatelets de arcilla con la matriz. La presencia
de estas impurezas tambin interferir con nanoescala
mediciones de la rigidez de una hoja nica y arcilla
es indeseable para aplicaciones donde el nanoplatelets
son para ser utilizado como un bloque de construccin para la
electrnica molecular
sistemas. Es nuestra esperanza que este trabajo estimule
ms inters en nanoplatelets arcilla y que la conciencia
de la presencia de estas impurezas dar lugar a la
desarrollo de mtodos de purificacin de arcilla riguroso