物理实验第２２卷第１２期 ３

闪光法测定不良导体热导率实验的研究与改进

赵 军 邓 毅段家ｆ氏
（北京大学物理系北京１００８７１）

摘 要：分析了“用闪光法测定不良导体热导率实验”中脉冲尖峰产生的原因，并在实验装置和数据处理方面
设计了减小和消除脉冲干扰的方法．
关键词：闪光法；热导率；脉冲尖峰；屏蔽；数据拟合
中图分类号：０５５１．３ 文献标识码：Ａ 文章编号：１００５－４６４２（２００２）１２－０００３－０５

Ｒｅｓｅａｒｃｈ ａｎｄ ｉｍｐｒｏｖｅｍｅｎｔ ｏｎ ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔ ｆｏｒ ｍｅａｓｕｒｉｎｇ

ｔｈｅｒｍａｌ ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｉｔｙ ｏｆ ｐｏｏｒ ｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｂｙ ｆｌａｓｈ ｍｅｔｈｏｄ

ＺＨＡＯ Ｊｕｎ ＤＥＮＧ Ｙｉ ＤＵＡＮ Ｊｉａ－ｑｉ

　 （Ｄｅｐａｒｔｍｅｎｔ ｏｆ Ｐｈｙｓｉｃｓ，Ｐｅｋｉｎｇ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ｂｅｉｊｉｎｇ，１００８７１）

Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｔｈｅ ｐａｐｅｒ ａｎａｌｙｚｅｓ ｔｈｅ ｒｅａｓｏｎｓ ｏｆ ｐｒｏｄｕｃｉｎｇ ｐｕｌｓｅ ｓｐｉｋｅ ｉｎ ｔｈｅ ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔ ｏｆ

ｍｅａｓｕｒｉｎｇ ｔｈｅｒｍａｌ ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｉｔｙ ｏｆ ｐｏｏｒ ｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｂｙ ｆｌａｓｈ ｍｅｔｈｏｄ．Ｔｈｅ ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔａｌ ａｐｐａｒａｔｕｓ

ａｎｄ ｄａｔａ ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ ｍｅｔｈｏｄ ａｒｅ ｄｅｓｉｇｎｅｄ ｉｎ ｏｒｄｅｒ ｔｏ ｒｅｄｕｃｅ ａｎｄ ｅｌｉｍｉｎａｔｅ ｔｈｅ ｄｉｓｔｕｒｂａｎｃｅ ｏｆ ｐｕｌｓｅ

ｓｐｉｋｅ．

Ｋｅｙ ｗｏｒｄｓ：ｆｌａｓｈ ｍｅｔｈｏｄ；ｔｈｅｒｍａｌ ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｉｔｙ；ｐｕｌｓｅ ｓｐｉｋｅ；ｓｈｉｅｌｄ；ｄａｔａ ｆｉｔｔｉｎｇ

对实验的影响，使用一个与样品温度采样装置
１ 引 言
相同的温度传感器测量环境温度，以达到温度
近年来，随着测量技术的进步，非稳态法测 补偿的作用，并将它置于光学架上的“对比盒”
不良导体热导率因测量时间短等一系列优点在 中．实验装置示意图见图１．对样品和环境的采
科研和生产中已经得到了广泛应用，但在国内 样值求差即得到实际的样品温升．氙灯加热原
大学物理实验中还不多见．北京大学物理系根 理见图２．
据非稳态法中的闪光法原理设计和开发了“用
闪光法测定不良导体热导率”实验［１］．该实验结
合了热学、光学、电子学实验的有关知识，并使
用计算机控制采集数据，是一个综合性很强的
实验．实验的基本思路是：对薄圆形试样的一个
表面用脉冲光源加热，根据另一表面温度随时 图１实验装置示意图

问变化的关系，确定热扩散率，进而根据材料的 原有计算热导率的方法是测量达到最大温

比热容和密度得到热导率．为了消除环境温度 升值的１／２时刻ｔ。／２，解热传导方程，得热导率
　万方数据
 ４ 物理实验第２２卷第１２期

同轴导线的回路．该回路一般由普通导线构成，
易受电磁辐射干扰，其环路面积为ｃｍ２数量级．
本实验装置在高压电源线上及信号线两端
分别套有磁环（磁导率为４ｋｐ。）进行磁屏蔽，因
此考虑干扰脉冲主要来自氙灯辐射的影响，而
忽略触发电源内部回路的影响．氙灯的灯头由
２根金属棒组成，主要的电磁发射集中于２个
电极间的放电，将氤灯放电看成电容放电．
图２氤灯加热原理 温升一时间曲线中，干扰脉冲频率的数量级
为 为１０Ｈｚ，椭球反光镜装置的尺度为０．１ｍ数量

Ａ一—１—．—３：８—ｐ—ｃ—Ｌ—ｚ 级．对于高频的电磁辐射（ＭＨｚ ＧＨｚ），反光

７ｃ‘ｔ：／ｚ
镜可将其汇聚于另一焦点处的样品附近．但是
其中ＪＤ为样品密度，ｃ为样品比热容，Ｌ为样品
高频的电磁辐射周期远远小于Ａ／Ｄ卡的转换
厚度．
时间（１０弘ｓ），因此其对测量结果的影响可略．另
然而在实验过程中，计算机采样得到的温
一方面，频率为ｌＯｋＨｚ的低频电磁信号，波长
升一时间关系图上会出现明显的脉冲尖峰（见图
为ｌＯｋｍ数量级，尺度仅为０．１ｍ的反光镜对
３）．该脉冲特点为：
其影响较小，可以忽略．因此对于低频信号可以
１）脉冲有一定幅度，从图上看出实验改进
　 采用缓变近似，视其为准静态连续变化的．则问
前脉冲幅度最大可以达到最大温升相同的数量
题简化为一个孤立的电极在空间中引起电场与
级（平均０．１℃）；
磁场的变化．由于电路是环路，电场不会在回路
２）随机性大，在不同的仪器上可能观察到
上产生电动势，因此电场不是脉冲尖峰产生的
幅度和方向不同的尖峰；
原因．
３）尖峰后面一般还跟随有温度的漂移，其
为计算样品附近的磁场Ｂ，设氙灯电极位
形式类似电容放电过程．
于坐标轴原点，ｚ轴为光轴方向，放电电流方向
脉冲尖峰给闪光时刻和初始温度的确定带
沿ｚ轴，在两极之间有准静态电流，则［２３
来一定的误差，影响实验结果．本文讨论尖峰产
生的原因，并在实验装置及数据处理方面设计
了几种方法，旨在克服脉冲尖峰的影响．
Ｂ一骶量半ｄｚ
其中，为脉冲氙灯的电流，以，ｅ，分别表示电流

０．２
（水平）方向单位矢量和从氙灯指向样品的单位
矢量，ｒ表示氙灯到样品的距离．ｊ。。为数百Ａ，
Ｂ一－．ＩＯ～Ｔ，在ｌｃｍ２的回路面积上，产生的感应
０．１

电动势Ｅ为
Ｅ—Ｂｓ｜＆
，，Ｓ
参考放电时间０．３ｍｓ，可得回路的感生电
图３瓷砖材料的温升一时间曲线 动势为０．１ｍＶ数量级，在温度响应上会产生
０．１℃的脉冲．我们认为这就是脉冲的来源．
２理论分析
２．２采集时刻对峰值大小的影响
２．１干扰脉冲的来源 由于采样频率仅为１０Ｈｚ，且放电时间很
经过反复的实验发现，干扰脉冲的主要来 短，所观察到峰值有一定偶然因素．假设，采集
　万方数据
源是样品盒内部用于连接ＰＮ结传感器与外部 数据是瞬时值（即忽略电路的积分、微分效应），
物理实验第２２卷第１２期 ５

．电路中电压的实际变化是指数衰减，即 原实验采用补偿电路，由ＡＤ／ＤＡ卡上引
Ｕ—Ｕｏｅ一“ 出２条套有磁环的同轴导线，分别接在样品盒
实验触发时使用“手动触发”功能，采样与 与对比盒上，然后用普通导线连接样品盒与对
放电是无关事件，因此实验中采样数据是电路 比盒内的ＰＮ结温度传感器．ＡＤ／ＤＡ卡置于
真实值的平均 计算机机箱内部，如果采用ＩＳＡ槽卡，则需在
丌 １

导＝击（１一ｅ一汀）一０．６３２
。 ７ ’
板卡上连接２段导线构成回路，而采用ＰＣＩ槽
Ｕ。 ∞丁、１
卡则不然．因此，装置中易受脉冲影响的部分为
方差为
样品盒与对比盒内的普通导线以及ＩＳＡ槽卡
△口一．彳１ Ｉ（ｕ一口）２ｄｔ一０．１８１Ｕｏ 上的联线．由于ＩＳＡ槽卡受脉冲干扰要比ＰＣＩ

式中丁为采样时间间隔，约等于０．１ｓ；∞为ＰＮ 严重的多，以下针对ＩＳＡ槽卡从电路角度分析

结温敏二极管的频率响应常量，约为１０Ｈｚ． 干扰的来源．

总之实测值可以较大地偏离真实最大值， 实验测得，整个回路的热噪声平均为

并围绕平均值进行随机的波动．因此即使测量 ０．０００ ７＂Ｃ（曲线标准差盯＝０．０００ ７２℃），见图

到的小峰值，可能是偶然现象，不一定是真正地 ４．判断削弱尖峰的效果就是用尖峰大小和此平

消除了脉冲影响，需要重复检验才能确定． 均值相比较．实际只观测到不小于０．０００ ７℃的

２．３ 电磁屏蔽的作用 尖峰．

首先考虑内径为Ｒ。，外径为Ｒ。，磁导率为
∥的均匀球壳，在均匀磁场Ｂ中，球壳内部磁场
　

∥一蕊Ｆ‰Ｂ
Ｂ７为［２］

在薄球壳情况下，设其半径为Ｒ，厚为△Ｒ，则

Ｂｋ锩Ｂ
肛凸Ｉ‘

利用上述公式估算方形壳，在数量级上仍是有
效的．
图４热噪声不例
对于实验中所使用的方形计算机的机箱
（３５．２ｃｍ Ｘ ２８．０ｃｍ×１２．０ｃｍ），内部电路受到 如果将样品盒与对比盒远离氙灯，实验可

机箱壳的有效屏蔽．Ｒ≈Ｏ．１ｍ，△Ｒ≈０．００１ｍ， 知相距超过０．５ｍ时，闪光所产生的脉冲尖峰

卢≈４ ０００ｌ－ｆｏ，因此Ｂ７≈Ｏ．０２５Ｂ． 很小，平均从０．１℃减小到０．０２℃以下（辐射总

为消除电磁场对样品盒的干扰，尝试进行 升温约０．３℃）；或者将样品盒与对比盒中一者

电磁屏蔽．将样品盒中非同轴导线部分用铁制 远离（大于０．５ｍ），另一者置于原地并用方形金

方形金属盒进行屏蔽．由于金属盒基本闭合，电 属盒进行屏蔽，脉冲同样显著减小．由此可见，

场屏蔽效果很好，其内部电场的影响可略，只考 样品盒与对比盒内的导线或者ＰＮ结温度传感
虑其磁场部分．Ｒ≈ｏ．０１ｍ，△Ｒ≈ｏ．００１ｍ，∥≈ 器是产生脉冲干扰的主要原因．
４ ０００／１０，因此Ｂ’≈Ｏ．００２ ５Ｂ． 实验中将ＩＳＡ槽卡上的导线长度缩短并
实验中也发现使用金属盒屏蔽样品可有效 绞接两股导线，脉冲尖峰进一步缩小，平均小于
减小尖峰的大小． ０．０１℃．因此，只要使样品盒与对比盒处于原位
（距氙灯０．１ｍ），注意将ＩＳＡ槽卡上的导线绞
３装置和数据处理方法的改进
接，同时把连接ＰＮ结的导线绞接，则可以初步
３．１装置分析与改进
　万方数据 达到削弱脉冲尖峰的目的．
 ６ 物理实验第２２卷第１２期

３．２电路的改进
脉冲峰主要成分为频率大于ｌＯＯＨｚ的正
弦波的叠加，为了消除这些高频信号，我们尝试
通过并联电容来解决，电路图见图５．并联电容
后，ＲＣ回路对高频信号电阻很小，因此玑端
的输出电压也很小，从而可以较好地消除尖峰．
ＰＮ结温度传感器的直流电阻为１～１０Ｑ，要求
电容为ｌＯＯｔ－Ｆ数量级．
图５并联电容电路图
表１的实验数据是仅改变样品盒的位置，
测量脉冲尖峰与样品盒相对脉冲氙灯位置的关 号表示样品在氙灯左边，各次测量值中的短线

系．对比盒已经拿到远处，排除了对比二极管的 表示无法观察到明显的尖峰．实验采用Ｃ一

影响．表中样品盒相对位置测量数据前的“一” １００弘Ｆ的电解电容．

表１测量数据

样品盒相 尖蜂大小／℃
取样标准差
对位置／ｃｍ 各次测量值 平均值

一１３．０ ０．０２５ ０．０１１ ６ ０．００２ ０．０２２ ０．００２ ０．０２８ ０．０１５ １ ０．０１２

元 —１２．０ ０．００９ ０．００３ ０．００９ ０．００９ ０．０５０ ０．０１０ ０．０１５ ０．０１７

并 　—１１．０ ０．００５ ０．００７ ０．０１１ ０．０１１ ０．００５ ０．０１４ ０．００８ ８ ０．００３ ７

联 —１０．０ ０．０１０ Ｏ．０１３ ０．０１３ ０．０１２ ０．０３３ ０．００５ ０．０１４ ３ ０．００９ ６

电 —９．０ ０．０１０ ０．０４６ ０．００９ ０．０３ｌ ０．０６４ ０．０１９ ０．０３０ ０．０２２

容 —８．０ ０．００８ ０．００９ ３ ０．００６ ０．０１８ ０．０２２ ０．０５０ ０．０１９ ０．０１６

—７．Ｏ一０．０７０ —０．００５ ０．０２７ —０．０９０ —０．０３９ —０．０１４ ～０．０３１ ８ ０．０４３ ３

～１３．Ｏ ０．００２ —０．００１ ７—０．０２３ —０．０００ ５ ０．００３ —０．０００ ５ ０．００９ ８

—１２．Ｏ ０．００３ ０．００３ —０．０１８ ０．００３ —０．００４ ２ ０．００２ —０．００１ ９ ０．００８ ４

有
一１１．Ｏ ０．００３ ０．００３ ３ ０．００２ ５—０。０１０ ０．００４ —０．００８ —０。０００ ９ ０．００６ ３
并
联 ——１０．０ ０．００１ ５ ０．００４ １——０．０１５ ０ ０．００５ ９ ０．００３——０．００３——０．０００ ６ ０．００７ ７

电 —９。０～Ｏ．０１１ —０．００４ ０．００６ ０．００４ ０。００３ ７ ０。００４ ４ ０，０００ ５ ０．００６ ６

容 —８．０ —０．００２ ７一Ｏ．０１３ ６ 一 一０．００４ ９—０．０１１ ６—０．００４ ６ ０．００６ ７

—７．Ｏ 一 一０．００３ ８ 一 一０．０２１ ２ ０．００１ ８—０．０１０ ９—０．００５ ７ ０．００８ ９

可以看到尖峰的大小在加电容后衰减为不 首先进行简化假设：脉冲的尖峰衰减得很
加电容时的１／ｌｏ，证明并联电容的方法是有效 快，对采集结果的整体影响很小，因此假设尖峰
的．并联电容后也出现了数个大于０．０１℃的尖 的作用仅仅是在闪光时，对整体数据有一个平
峰，我们认为是电容放电不完全，由剩余电荷所 移，可以引入２个未知参量，温度平移ＡＴ和时
致．并联电容对于实验结果如波形、响应等没有 间平移＆来描述数据的平移，衰减指数口＝
影响，其作用只是减小了峰高． 口／∥描述曲线形状．
３．３数据处理方法的改进 △丁，＆，口３个参量满足方程

除了在实验上设法消除尖峰外，我们也采
用了新的数据处理方法消除已存在的尖峰对数
丁一△丁一盖１＋２圣（一”ｅ～２也∽∽］
为了消去△丁，考虑温度稳定时的丁。
据结果的影响．
原有方法见文献［１］． 于ｍ一凹２盖
３．３．１根据少量数据点进行计算
　万方数据 因此
物理实验第２２卷第１２期 ７

ｃ—ＤＦ”２＾０＿∽
丁一丁。一是圣ｏｏ
分别测得数据曲线上的３点（丁。，ｔ，），（丁ｚ，ｔ２），
（丁。，ｔｓ）和Ｔ。，可得Ａｔ与ａ的二元超越方程组

丁。一丁。蚤（＿拶ｅ一２妇ｌｌ础’
丁２习“壹（＿１）一‰…

Ｔ。一Ｌ蚤（＿１）＾ｅ－“ｋ２础１也’
丁３一“妻（叫ｖ一２盹圳 图６ Ｔ—ｆ关系曲线

在同一台仪器上对于有不同峰值的数据，口
实验结果显示，所求得的ａ对于所取３点
值比较稳定．这样即使有不可忽略的脉冲峰，仍
的位置密切相关．由于ａ强烈依赖于曲线形状，
然可以计算得到比较可信的结果．因此，这种方
当只取少数点确定曲线形状的情况下，采样点
法排除了脉冲尖峰的影响，同时完善了数据处
温度的偏离可能导致有很大的误差．所以在曲
理方法．
线不精确时，仅用３点进行计算是有缺陷的，应
该多取一些点，进行曲线拟合． ４总 结

３．３．２最ｔＪ、＿－乘法［３１
　 本实验在原有的闪光法实验装置的基础
上面方法的主要不足之处在于有效数据使
上，就实验仪器本身和数据处理方法进行了讨
用的不够，可以考虑使用曲线拟合的方法．曲线
论．首先通过移走１只二极管的方法，排除它对
拟合的基本假设和上述的方法相同（只有平移
尖峰的影响，单纯考察闪光对近处二极管的影
偏离），设引入平移＆，△丁的理论曲线Ｔ（ｔ，Ａｔ，
响．这是本实验研究的基础，考察对象的单一化
ＡＴ，ｎ）为
使得考虑的问题简单易处理．然后我们发现脉
Ｔ（ｔ，Ａｔ，ＡＴ，口）一丁理论（￡一△ｚ）＋ＡＴ
冲的主要来源是连接ＰＮ结温度传感器和引线
实际测量的曲线为丁实际（￡），定义距离函数
之间的小回路，并采取措施消除脉冲尖峰．最后
Ｄｉｓｔ（Ａｔ，△Ｔ，口）＝
使用理论拟合的方法处理数据，提高了数据利
广

Ｉ［丁ｏ，Ａｔ，△丁，口）一丁实际（￡）］２ｄｔ
Ｊ
用率，使结果更可信，同时也使数据处理的过程
更加程序化．
在实际温度曲线来自不连续的数据序列情况下
衷心的感谢北京大学物理系吕斯骅、吴建
Ｄｉｓｔ（Ａｔ，ＡＴ，口）一
华教授，赵光圣和孙翠娥等老师的指导和帮助１
芝：［Ｔ（ｔｉ，Ａｔ，△ｒ，口）一瓦实际］２（☆＋１一ｔｆ）
ｉ

距离函数Ｄｉｓｔ（Ａｔ，△丁，口）的极值点口就是待求 ５参考文献

的ａ／Ｌ２．计算函数Ｄｉｓｔ（＆，凹，口）极值点的方 １杨光，姚坤，孙翠娥等．用闪光法测不良导体热导率
法是通过给定初值沿函数负梯度方向迭代以得 ［Ｊ］．物理实验，２００１，２１（４）：１１～１３，２１
到极小值点．图６给出了拟合曲线与实际测量 ２俞允强．电动力学简明教程［Ｍ］．北京：北京大学出
数据曲线的对照．图中实线表示实验测得的原 版社，１９９９

始数据，虚线表示散热修正后的曲线，点划线则 ３冯康．数值计算方法［Ｍ］．北京：国防工业出版社，
１９７８．１５６～１５７
表示用拟合结果作出的理论曲线．可以看到拟
（２００２—０６—２８收稿，２００２—０９—２０收修改稿）
合结果和散热修正曲线相当接近．
　万方数据