สาขาการวัด เครื่องมือ / พารามิเตอร / พิสัย ความสามารถของการวัดที่ดีที่สุด (±) มาตรฐาน / วิธี / เทคนิค มิติ Caliper JIS B 7507-1993 Up to 600 mm (Revision 2, 10 Nov 1998) Resolution : 0.1 mm 100 µm (Control no. MAP-2) : 0.05 mm 50 µm : 0.02 mm 20 µm : 0.01 mm 10 µm Dial Gauge JIS B 7503-1997 Up to 10 mm range (Revision 2, 5 Jan 1999) Resolution : 0.01 mm 10 µm (Control no. MAP-3) : 0.001 mm 1 µm Dial Test Indicator JIS B 7533-1990 Up to 1 mm range (Revision 2, 7 Aug 1997) Resolution : 0.01 mm 10 µm (Control no. MAP-4) Up to 0.28 mm range Resolution : 0. 002 mm 2 µm Height Gauge JIS B 7517-1993 Up to 600 mm range (Revision 2, 7 Aug 1997) Resolution : 0.05 mm 50 µm (Control no. MAP-5) : 0.02 mm 20 µm : 0.01 mm 10 µm สาขาการวัด เครื่องมือ / พารามิเตอร / พิสัย ความสามารถของการวัดที่ดีที่สุด (±) มาตรฐาน / วิธี / เทคนิค มิติ Micrometer JIS B 7502-1994 0 mm to 300 mm (Revision 2, 7 Aug 1997) Resolution : 0.01 mm 10 µm (Control no. MAP-6) : 0.001 mm 1 µm Digimatic Indicator In-house Calibration Resolution : 0.01 mm 0.01 µm Procedure : 0.001 mm 0.001 µm (Revision 1, 1 Jun 2001) (Control no. MAP-16)
Measuring Projector JIS B 7184 : 1999
Stage size : X & Y up to max 200 mm Resolution : 0.001 mm MAP-8A, Rev.3,1 Nov 2003 X axis indicating accuracy 3 µm Y axis indicating accuracy 3 µm Resolution : 0.0005 mm MAP-8B, Rev.4,1 Jun 2004 X axis indicating accuracy 3.0 µm Y axis indicating accuracy 3.0 µm Toolmaker’s Microscope JIS B 7153 : 1995 Stage size : X & Y up to max 200 mm Resolution : 0.001 mm MAP-9A, Rev.3,1 Nov 2003 X axis indicating accuracy 3 µm Y axis indicating accuracy 3 µm Resolution : 0.0005 mm MAP-9B, Rev.4,1 Jun 2004 X axis indicating accuracy 3.0 µm Y axis indicating accuracy 3.0 µm Roundness Measuring JIS B 7451-1997 Machines Probing Diameter MAP-10, Rev.4,1 Jun 2004 Up to 280 mm / 300 mm / 420 mm Resolution : 0.001 mm 1 µm : 0.0001 mm 0.1 µm : 0.00001 mm 0.10 µm สาขาการวัด เครื่องมือ / พารามิเตอร / พิสัย ความสามารถของการวัดที่ดีที่สุด (±) มาตรฐาน / วิธี / เทคนิค มิติ Countour Testing Machines MAP-11, Rev.4,1 Jun 2004 Tracing Range X-50 mm/ 100 mm/ 200 mm Z-18 mm/ 40 mm/ + 25 mm Resolution : 0.001 mm 2.5 µm : 0.0002 mm 2.5 µm : 0.00005 mm 2.5 µm Surface Roughness Testing JIS B 0651-1996 (Contact Type) MAP-12, Rev.4,1 Jun 2004 Measuring range – 8 µm 0.15 µm Resolution : 0.001 µm Measuring range – 80 µm 0.15 µm Resolution : 0.01 µm Measuring range – 800 µm 0.16 µm Resolution : 0.1 µm Coordinate Measuring ISO 10360-2 :2001 Machines (Contact Type) MAP-13A, Rev.4,1 Jun 2004 Range JIS B 7440-2 :1997 X< 450/ 600/ 1000/1200/1600 mm MAP-13B, Rev.4,1 Jun 2004 Y<450/ 600/ 1000/ 2000/3000 mm VDI/VDE 2617 & Z < 450 / 600 / 1000 mm ISO 10360-2 : 2001 Resolution : 0.001 mm 2 µm MAP-13C, Rev.1,1 Nov 2006 : 0.0005 mm 1.5 µm : 0.0002 mm 0.8 µm : 0.0001 mm 0.8 µm : 0.00001 mm 0.30 µm Coordinate Measuring MAP-14, Rev.4,1 Jun 2004 Machines (Non Contact Type) Range X< 200/ 400/ 600/ 800/ 1200 mm Y< 200/ 400/ 600/ 800/ 1200 mm Z< 100 / 150 / 200 mm Resolution : 0.0005 mm 3.0 µm : 0.0002 mm 3.0 µm : 0.0001 mm 1.5 µm : 0.00002 mm 1.50 µm สาขาการวัด เครื่องมือ / พารามิเตอร / พิสัย ความสามารถของการวัดที่ดีที่สุด (±) มาตรฐาน / วิธี / เทคนิค มิติ Linear / QM Height MAP-21, Rev.1,1 Feb 2006 Z < 300/450/600/750/1000 mm Resolution : 0.001 mm 1.6 µm : 0.005 mm 3.3 µm : 0.0001 mm 1.5 µm Hardness Tester MAP-18, Rev.1,1 Aug 2003 Rockwell Scale JIS B 7726-1997 90 to 95 HRB 0.63 HRB Rockwell Hardness Test 30 to 35 HRB 0.66 HRB In-direct Verification of 30 to 35 HRC 0.48 HRC Testing Machines 50 to 55 HRC 0.49 HRC 60 to 65 HRC 0.48 HRC Rockwell & MAP-18, Rev.1,1 Aug 2003 Rockwell Superficial Scale JIS B 7726-1997 90 to 95 HRB 0.63 HRB Rockwell Hardness Test 30 to 35 HRB 0.66 HRB In-direct Verification of 30 to 35 HRC 0.48 HRC Testing Machines 45 to 50 HRC 0.49 HRC 60 to 65 HRC 0.48 HRC 52 to 57 HR30N 0.40 HR30N 60 to 65 HR30N 0.40 HR30N 77 to 82 HR30N 0.40 HR30N 45 to 50 HR30T 0.81 HR30T 75 to 80 HR30T 0.80 HR30T Vickers Scale MAP-19, Rev.1,1 Aug 2003 200 HV10 2.00 HV JIS B 7725-1997 300 HV10 2.8 HV Vickers Hardness Test 500 HV10 5.0 HV In-direct Verification of 500 HV1 8.9 HV Testing Machines MicroVickers Scale 200 HV0.1 8.6 HV MAP-19, Rev.1,1 Aug 2003 500 HV1 9.0 HV JIS B 7725-1997 500 HV0.1 25.8 HV Vickers Hardness Test 500 HV0.01 89.1 HV In-direct Verification of 300 HV0.2 12.3 HV Testing Machines 700 HV0.2 34.2 HV สาขาที่ไดรับการรับรอง ISO/IEC 17025 : 2005 Mitutoyo (Thailand) Co.,Ltd. สาขาชลบุรี สาขาการวัด เครื่องมือ / พารามิเตอร / พิสัย ความสามารถของการวัดที่ดีที่สุด (±) มาตรฐาน / วิธี / เทคนิค มิติ Measuring Projector JIS B 7184 : 1999 Stage size : X & Y up to max 200 mm Resolution : 0.001 mm MAP-8A, Rev.3,1 Nov 2003 X axis indicating accuracy 3 µm Y axis indicating accuracy 3 µm Resolution : 0.0005 mm MAP-8B, Rev.4,1 Jun 2004 X axis indicating accuracy 3.0 µm Y axis indicating accuracy 3.0 µm Toolmaker’s Microscope JIS B 7153 : 1995 Stage size : X & Y up to max 200 mm Resolution : 0.001 mm MAP-9A, Rev.3,1 Nov 2003 X axis indicating accuracy 3 µm Y axis indicating accuracy 3 µm Resolution : 0.0005 mm MAP-9B, Rev.4,1 Jun 2004 X axis indicating accuracy 3.0 µm Y axis indicating accuracy 3.0 µm Roundness Measuring JIS B 7451-1997 Machines Probing Diameter MAP-10, Rev.4,1 Jun 2004 Up to 280 mm / 300 mm / 420 mm Resolution : 0.001 mm 1 µm : 0.0001 mm 0.1 µm : 0.00001 mm 0.10 µm Countour Testing Machines MAP-11, Rev.4,1 Jun 2004 Tracing Range X-50 mm/ 100 mm/ 200 mm Z-18 mm/ 40 mm/ + 25 mm Resolution : 0.001 mm 2.5 µm : 0.0002 mm 2.5 µm : 0.00005 mm 2.5 µm สาขาการวัด เครื่องมือ / พารามิเตอร / พิสัย ความสามารถของการวัดที่ดีที่สุด (±) มาตรฐาน / วิธี / เทคนิค มิติ Surface Roughness Testing JIS B 0651-1996 (Contact Type) MAP-12, Rev.4,1 Jun 2004 Measuring range – 8 µm 0.15 µm Resolution : 0.001 µm Measuring range – 80 µm 0.15 µm Resolution : 0.01 µm Measuring range – 800 µm 0.16 µm Resolution : 0.1 µm Coordinate Measuring ISO 10360-2 :2001 Machines (Contact Type) MAP-13A, Rev.4,1 Jun 2004 Range JIS B 7440-2 :1997 X < 450 / 600 / 1000 / 1200 / MAP-13B, Rev.4,1 Jun 2004 1600 mm VDI/VDE 2617 & Y < 450 / 600 / 1000 / 2000 / ISO 10360-2 : 2001 3000 mm MAP-13C, Rev.1,1 Nov 2006 Z < 450 / 600 / 1000 mm Resolution : 0.001 mm 2 µm : 0.0005 mm 1.5 µm : 0.0002 mm 0.8 µm : 0.0001 mm 0.8 µm : 0.00001 mm 0.30 µm Coordinate Measuring MAP-14, Rev.4,1 Jun 2004 Machines (Non Contact Type) Range X < 200 / 400 / 600 / 800 / 1200 mm Y < 200 / 400 / 600 / 800 / 1200 mm Z < 100 / 150 / 200 mm Resolution : 0.0005 mm 3.0 µm : 0.0002 mm 3.0 µm : 0.0001 mm 1.5 µm : 0.00002 mm 1.50 µm สาขาการวัด เครื่องมือ / พารามิเตอร / พิสัย ความสามารถของการวัดที่ดีที่สุด (±) มาตรฐาน / วิธี / เทคนิค มิติ Linear / QM Height MAP-21, Rev.1,1 Feb 2006 Z <300/450/600/750/1000mm Resolution : 0.001 mm 1.6 µm : 0.005 mm 3.3 µm : 0.0001 mm 1.5 µm Hardness Tester MAP-18, Rev.1,1 Aug 2003 Rockwell Scale JIS B 7726-1997 90 to 95 HRB 0.63 HRB Rockwell Hardness Test 30 to 35 HRB 0.66 HRB In-direct Verification of 30 to 35 HRC 0.48 HRC Testing Machines 50 to 55 HRC 0.49 HRC 60 to 65 HRC 0.48 HRC Rockwell & MAP-18, Rev.1,1 Aug 2003 Rockwell Superficial Scale JIS B 7726-1997 90 to 95 HRB 0.63 HRB Rockwell Hardness Test 30 to 35 HRB 0.66 HRB In-direct Verification of 30 to 35 HRC 0.48 HRC Testing Machines 45 to 50 HRC 0.49 HRC 60 to 65 HRC 0.48 HRC 52 to 57 HR30N 0.40 HR30N 60 to 65 HR30N 0.40 HR30N 77 to 82 HR30N 0.40 HR30N 45 to 50 HR30T 0.81 HR30T 75 to 80 HR30T 0.80 HR30T Vickers Scale MAP-19, Rev.1,1 Aug 2003 200 HV10 2.00 HV JIS B 7725-1997 300 HV10 2.8 HV Vickers Hardness Test 500 HV10 5.0 HV In-direct Verification of 500 HV1 8.9 HV Testing Machines MicroVickers Scale 200 HV0.1 8.6 HV MAP-19, Rev.1,1 Aug 2003 500 HV1 9.0 HV JIS B 7725-1997 500 HV0.1 25.8 HV Vickers Hardness Test 500 HV0.01 89.1 HV In-direct Verification of 300 HV0.2 12.3 HV Testing Machines 700 HV0.2 34.2 HV