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Application Notes

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AML8726-MX 媒体盒硬件调试指南 Sk
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Revision :V1.0
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Owner:HW MBX Team


Date:20131209
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1. 简介

本文主要针对 AML8726-MX 方案的媒体盒(后面简称为 MX)的硬件,进行调试方面的分析。本手


册指导有一定调试知识、能够熟练使用万用表、示波器等基本设备的硬件、软件工程师在样机调试阶
段的调试工作,主要包括以下几个方面的检查:
 基本检查(短路、断路、电源、RESET、晶振、CLK 等)
 启动检查(无电流、无串口信息、uboot 分析、无法升级、kernel 死机或重启、Flash 无法读写等)

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 显示检查(HDMI 无输出等)
 wifi 检查(wifi 无法连接、wifi 信号质量不好等)

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 以太网检查(以太网无法连接)
 AV 接口检查(CVBS、YPbPr、audio 等)

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 其它检查(IR、USB、OTG 等)
 USB 烧录常见问题诊断 Sk
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2. 基本检查

序号 检查项目 检查结果
1 目测 PCBA,确保没有明显的漏焊、虚焊、短路;
2 用万用表测量各路电源,确保没有短路现象;
3 用稳压电源限流上电,如供电没问题,用万用表测量各路电压及示波器其
纹波(设置 20mV,1uS、1mS 间隔);

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4 靠近 CPU 管脚测量 RESET_CPU 信号,确保复位信号正常;

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5 示波器测量 24M 晶振是否正常(万用表测量约 1.5V);
6 示波器测量 SD_CLK 是否有信号输出(万用表测量约 1.5V);
7 基本电压

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子序号 检查项目 电压(V) 纹波(mV) 备注
1 VDD_AO Sk 1.2V
2 VCCK 1.3V
3 VDDQ 1.5V
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4 VDDIO 2.8V
5 VDDIO_AO 3.3V
6 VCC3.3V 3.3V
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7 AVDD2.5V 2.5V
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<注 1> 调试时,请用稳压电源,限流 500mA 进行供电,避免有短路烧毁平台。


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<注 2> 若以上条件满足,系统约 60mA @12V。


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3.SD 卡升级启动检查
电压正常后,确认系统的复位信号、24M 晶振输出正常,就可以通过 SD 卡或 PC 工具对平台进行升级。
注:电压、电流正常,复位信号、24M 晶振 OK 后,焊接串口上电,会有一句打印信息 EEEE
I3000000032940xf100110303;77500EEEE I400000004294_M6_BL1_3431>2534313

检查项目 子序号 调试问题 检查结果


无电流 1 用万用表测量 12V,5V 电源是否正确;
2 测量 VDDIO_AO 输出是否正确

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3 用示波器测量每路电压,找出异常的电压,并进一步分
析;

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有电流,串口无 1 找一个好的平台确认启动卡是否 OK;
打印信息 2 插入启动卡,上电,观察电流是否有变化;

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如果没有变化,测量 CARD_VCC、CARD_DET、CARD_EN 是
否正常,并用示波器测量 SD_D0_B 和 SD_CMD_B 是否有
信号;
Sk
3 对于 SD 卡小板通过 FPC 连接的,确保信号连接良好,
并无短路情况;
to

4 确保串口线的正确连接(公板顺序为:GND、TX、RX、VCC);
用示波器测量 TX,上电时是否有信号输出;
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5 确保串口工具设置正确,如果是 USB 的,多试几次;


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uboot 分析 1 DDR 有问题:观察 lane00 等 (也有可能 CPU 端焊接故障


或 PCB 板故障):
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lane00 Success06  如果 fail,则 DDR3 低 8bit 有问



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lane01 Success06  如果 fail,则 DDR3 第二个 8bit


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有问题
lane02 Success06  如果 fail,则 DDR3 第三个 8bit
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有问题
lane03 Success06  如果 fail,则 DDR3 高 8bit 有问

2 观察 NAND 能否成功读到 ID 等信息,以确保 NAND 正常,
如下正常 ID 信息:
NAND device id: 2c 88 4 4b a9 0
NAND device: Manufacturer ID: 0x2c, Chip ID: 0x2c
(Micron C revision NAND 8GiB MT29F64G-C)

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检查项目 子序号 调试问题 检查结果


Kernel 读卡异 1 敲入:mmcinfo,查看 SD 卡是否正常,因为启动 u-boot
常 只需要 1bit 就 OK;
Device: SDIO Port B
Manufacturer ID: 0
OEM: 0
Name: Tran Speed: 40000000

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Rd Block Len: 512
SD version 1.10

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High Capacity: No
Capacity: 126353408

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Bus Width: 4-bit  如果为 1bit,那么检查 D1-D3,
查看哪根数据线有问题
2
Sk
敲入:mmcinfo;fatload mmc 0 82000000
recovery.img;bootm,来进行手动升级,并观察是否能够
正常跑;
to

3 如果出现升级界面,但无法升级,那么重新插拔卡,再
按按键选择升级文件,以避免 SD 读卡失败造成的升级不
e

成功;
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4 换其他升级卡,避免系统挑卡造成升级失败;
跑 Kernel 重启 1 u-boot 下测量 VCCK 和 DDR3_1.5V 的 DC 端和 CPU 端的电
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压,看是否有较大压降(或示波器直接测量 CPU 端电压,


看是否存在较大跌落);
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2 用万用表测量后端受控电压是否短路(CARD_VDD、wifi
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3.3V 等),如无法解决,用示波器测量确认哪路电压打开
造成的重启;
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跑 kernel 死机 1 测量 VCCK 和 DDR3_1.5V 的 DC 端和 CPU 端的电压,看是


否有较大压降(或示波器直接测量 CPU 端电压,看是否存
在较大跌落);
2 测量 DDR3 的极限频率(即由低到高测量,如 396M 开始);
3 如果 DDR3 频率较低,查看 PCB,确认是否 Layout 造成;
否则调整其时序等参数;

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检查项目 子序号 调试问题 检查结果


Flash 无法读 1 认真检查,确定 NAND 焊接没有问题;
写 2 确认 Nand Flash 为 MX code 中能够支持的,否则换成能
支持的 Flash 型号;
3 MX nand 控制器支持查询 R/B 和硬件查询,通过
NAND_D2(R123)来进行选择,确认硬件配置是否和软件一
致;

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4 Nand Flash 的 1PCS 1CE、1PCS 2CE、2PCS 1CE、2PCS 2CE
外围跳线不一样,根据原理图更改,并确保软件支持;

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5 从串口中查看 NAND 的 ID,并找资料确认 ID 是否正确

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6 不同型号的 NAND,pin38、39 处电压可能不一样,需要
根据 datasheet 进行确定:
7
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如果打印信息显示 Flash 受保护,那么测量 NAND 的 pin19
管脚是否为高电平(低电平为写保护);
8 测量 NAND 的 R/B 信号在平常是不是高电平;
to

9 测量各信号是否存在虚焊、短路的现象;
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注 1:可以从打印信息查看 SD 初始化是否成功。
ut

注 2:1PCS 4CE、2PCS 2CE 的 NAND FLASH 都只能支持没有 R/B 的配置,R123 不能焊接。


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注 3:NAND 必须为支持列表中支持的型号,且现代的 NAND 大部分需要 SPI NOR Flash,否则升级成


功,但无法启动。
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3.1 uboot 的烧录


调试中,u-boot 可能会损坏,或需要换 u-boot,此时不必要再重新升级整个 code,而是单独进行
u-boot 烧录即可。u-boot 的读取:
a)把 u-boot.bin 文件放到 SD 卡中,输入:
mmcinfo;fatload mmc 0:1 82000000 u-boot.bin

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sf probe 2;sf erase 0 60000;sf write 82000000 0 60000


注:u-boot.bin 为 u-boot 的名字,如果名字不一样,需要作相应的更改。
b) 在串口命令行输入:loady,然后在串口上通过 Ymode 在 PC 上把 u-boot 传输到 DDR3;

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Sk
烧录到 SPI NOR Flash:sf probe 2;sf erase 0 60000;sf write 82000000 0 60000
注:烧录完成后,需要输入:reset 来进行重启
3.2 u-boot 的分析
to

u-boot 的打印信息中可以分析很多东西:
EEEE I3000000032940xf100110303;77500EEEE I400000004294_M6_BL1_3431>2534313?
wait pll-0x03 target is 0204 now it is 0x00000203
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DDR clock is 516MHz with Low Power & 1T mode


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DX0DLLCR:40000000
DX0DQTR:ffffffff
tr

DX0DQSTR:3db05001
DX1DLLCR:40000000
is

DX1DQTR:ffffffff
DX1DQSTR:3db05001
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DX2DLLCR:40000000
DX2DQTR:ffffffff
DX2DQSTR:3db05001
DX3DLLCR:40000000
DX3DQTR:ffffffff
DX3DQSTR:3db05001
Stage 00 Result 00000000
Stage 01 Result 00000000
Stage 02 Result 00000000
Stage 03 Result 00000000

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HHH
Boot From SPI0x12345678
Boot from internal device 1st SPI RESERVED

System Started

U-boot-00000-gc84d104(m6_mbx_v1@next) (Jun 14 2013 - 15:18:15)

aml_rtc_init
aml rtc init first time!

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Clear HDMI KSV RAM
DRAM: 1 GiB

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relocation Offset is: 105ec000
NAND: Amlogic nand flash uboot driver, Version U1.06.017 (c) 2010 Amlogic Inc.
No NAND device found!!!

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NAND device id: 2c 68 4 4a a9 0
NAND device: Manufacturer ID: 0x2c, Chip ID: 0x2c (Micron C revision NAND 4GiB MT29F32G-C)
1 NAND chips detected Sk
onfi timing mode set failed: 49
#####aml_nand_init, with RB pins and chip->chip_delay:20
bus_cycle=10, bus_timing=10, start_cycle=10, end_cycle=10,system=5.0ns
to

Boot from internal device 1st SPI RESERVED——此处打印信息说明从内部 SPI 启动 u-boot


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DRAM: 1 GiB —— DDR3 为 1 GiB


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NAND device id: 2c 68 4 4a a9 0 ——NAND 的 ID,可确定 NAND 是否 OK


1 NAND chips detected ——只有 1PCS NAND Flash
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3.3 Flash 的读写


tr

擦除 SPI:sf probe 2 ---- 查找 SPI


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sf erase 0 60000 ---擦除


擦除 Nand Flash:nand erase 0
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擦除 Nand Flash:nand scrub 0


注:nand scrub 0 会擦除 nand 原厂的标识,一般不建议使用。
擦除 NAND 的 cache、data、media 分区:把 recovery.img 文件放到 SD 卡里,u-boot 串口界面下输
入:mmcinfo; fatload mmc 0 82000000 recovery.img; bootm, 或者按升级键进入升级界面,手动选择
擦除。
注:对于一些已经用过的 NAND,再次使用时,如果用 SD 卡和 PC 工具都无法升级,nand scrub 0
后,可用次方法清除 nand 的数据。此时不要放升级文件放到 SD 卡里面,否则会直接升级。

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3.4 普通 GPIO 的读写方式


GPIO 有输入、输出功能,首先必须设置 OEN,OEN 位为高,GPIO 为输入功能,OEN 位为低,为输出
功能;输出功能时,0 为输出低,1 为输出高。

u-boot 下 GPIO 的读写


读寄存器:md 寄存器地址
写寄存器:mw 寄存器地址 寄存器值
USB_PWR_CTL 控制范例:

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查找 Pinmux 知道,USB_PWR_CTL(GPIOD_9)的 OEN 为 2012[25]——寄存器 2012 的 bit25,OUT 为
2013[25];所以 u-boot 下 OEN 的控制地址为:c1100000 + 2012x4 = c1108048,OUT 的地址为:c110

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+ 2013x4 = c110804c。
读取 OEN 的值:md c1108048

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值为:c1108048: ffffffff,bit[25]为 1,所以 OEN 为输入状态;如果要控制 USB_PWR_CTL 为输出,
必须设置 bit[25]为 0;
写 OEN 的值:mw c1108048 fdffffff
Sk
读取 OUT 的值:md c110804c
写 OUT 的值:mw c110804c xxxxxxxx
to

注 1:为了确保正确控制,一般先控制 OUT,再控制 OEN。


注 2:写寄存器的值时,只能更改需要更改的 bit,否则更改其他,会造成其他异常情况。
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ut

系统启动后控制
读取寄存器:echo rc0xaaaa>/sys/class/amhdmitx/amhdmitx0/debug
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写寄存器:echo wc0xaaaa bbbbbbbb >/sys/class/amhdmitx/amhdmitx0/debug


举如下示范,打开 USB 限流开关的 5V 输出,需对 USB_PWR_CTL 进行控制:
tr

查看 GPIOD_9 做为 GPIO OUT 时的状态,寄存器地址为 2013[25]


is

echo rc0x2013>/sys/class/amhdmitx/amhdmitx0/debug
串口打印返回值为:
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[ 156.209132@0] CBUS reg[2013]=fffffff3


2013[25]=1,表明 GPIOD_9 的 OUT 值为 1

再读取 OEN 的值,寄存器地址为 2012[25]


echo rc0x2012>/sys/class/amhdmitx/amhdmitx0/debug
串口打印返回值为:
[ 15.441773@0] CBUS reg[2012]=ffdffff3,
2012[25]=1,表面此时 GPIOD_9 是做为输入状态

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可以把 2012[25]设置为 0,将 GPIOD_9 设置为 OUT 状态。


echo wc0x2012 fddffff3 >/sys/class/amhdmitx/amhdmitx0/debug
此时串口打印如下打印,表示设置成功:
[ 46.658500@0] write fddffff3 to CBUS reg[2012]
[ 46.658583@0] Read Back CBUS reg[2012]=fddffff3

这时候测量 USB_PWR_CTL 网络是输出高电平的,USB 限流开关的 5V 输出已打开;如再将 2013[25]


设置成 0(输出低)或者将 2012[25]设置成 1(OEN 设置成输入)都将关闭 USB 限流开关。

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备注:机器量产的 code 经常会把多余的打印信息关掉,此时需要先输入:

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echo 7 > /proc/sys/kernel/printk

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4.电源控制
4.1 VCCK 的控制
VCCK 为 CPU 的内核电压,是最重要的一个电源,MX 中的 VCCK 根据 CPU 的负载调节 CPU 的频率和 VCCK
的电压,电压调节范围为 1.01V-1.4V。不能更改 DC/DC 的反馈电压:FB=0.6V,否则导致 code 控制 VCCK
的电压有出入,造成死机。
请按照下表,测量实际电路中 VCCK 电压是否满足需求(u-boot 下操作):
步骤 命令 说明

n!
1 mw 0xc11080b8 0x4 1 //设置 pinmux
2 mw 0xc1108658 0x8003 1 //enable pwm

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3 mw 0xc1108650 0x1c 1 使用万用表测量,vcck 正常值约为 1.40v
4 md 0xc1108650 //读出刚才寄存器 0xf1108650 的设置值

yn
5 mw 0xc1108650 0x030019 1 使用万用表测量,vcck 正常值约为 1.35v
6 mw 0xc1108650 0x0b0011 1 使用万用表测量,vcck 正常值约为 1.21v
7 mw 0xc1108650 0x11000b 1 使用万用表测量,vcck 正常值约为 1.11v
Sk
8 mw 0xc1108650 0x170005 1 使用万用表测量,vcck 正常值约为 1.01v
to

注:VCCK 电压的不稳、电压不够,是造成死机的主要原因,所以在调试过程中,必须根据上面的
步骤,测量 VCCK 每级电压,是否和表格一直,否则需要软件做相应调整。——如果硬件参数不对造成的,
需要调整硬件参数。
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4.2 SD 卡电源控制注意事项
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CARD_EN 为 2.8V 的 GPIO 控制 3.3V 的电源,关闭时,不能设为 1(输出 2.8V),此时无法完全关闭,


需要把 OEN 设置为 1——输入,通过外部上拉拉高到 3.3V,其他完全关闭 MOS 管。

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5.HDMI

检查项目 子序号 调试问题 检查结果


HDMI 无输出 1 测量 HDMI_HPD 是否为高、HDMI_PW 是否为 5V;
2 测量 HDMI_AVDD33 和 HDMI_PLL_AVDD33 供电是否正常;
3 确认 HDMI 外围器件:R250、C213 焊接是否良好,值是否
正确;(HDMIREXT_5K 处的电压应该约为 0.6V);
4 HDMI 的 I2C 通讯是否成功,有无短路现象;

n!
5 HDMI 的高速差分信号是否有短路;HDMI 的座子是否正确,

oo
是否焊接良好;
6 检查 Layout,是否 HDMI 高速差分线的过孔太多、且没有
完整的参考平面;

yn
7 切换到 HDMI,并通过示波器测试以确认信号是否正确;
8 敲入:echo 720p > /sys/class/display/mode
Sk
,强制切换到 HDMI 输出(可把 720p 更改为 1080p 而输出
1080p),并通过示波器测量其信号;
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6.以太网检查

检查项目 子序 调试问题 检查结果



以太网无法连 LAN8720A/IP101GR
接 1 RJ45 座子是否有异常;
2 网络变压器焊接及供电是否正常;
3 PHY 芯片焊接是否正常,中心地焊盘是否接触良好;PHY

n!
芯片供电是否正常;

oo
4 25M 晶振焊接是否 OK,时钟输出是否正常;
5 50M CLK 的通路选择是否正确,目前我们是 PHY 芯片倍频
出 50M CLK 送给 CPU 做参考时钟,请测量 50M 是否正确;

yn
6 PHY 地址配置电阻焊接是否正常;
以太网信号质 1 25M 晶体频偏是否偏大,要求在 30ppm 以内;
Sk
量不好,丢包率 2 50M CLK 时钟是否稳定,是否存在较大抖动;
太高 3 测量 Tx/Rx 信号时序是否满足 PHY 芯片规格书需求
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6.1 LAN8720A 调试注意事项:


1)PHY 芯片内部工作后第 6pin VDDCR 电压约 1.2V;

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2)PHY 芯片内部工作后,第 24pin RBIAS 电压约 1.2V;


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3)R315 必须上件,否则 50M CLK 没有输出

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4)RMII_RST 复位是低电平复位,复位完成后会保持高电平
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6.2 IP101GR 调试注意事项

1) RMII & LED mode 配置要正确

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2)PHY 地址配置,注意使用不带指示灯的 RJ45 座子时不能把下面 PHY 地址配置电阻删除;
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3)IP101GR 芯片正常工作后,第 28pin 电压约为 1.1V

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4)IP101GR 芯片正常工作后,第 25pin 电压约为 1.2V

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7.wifi 检查

检查项目 子序 调试问题 检查结果



wifi 无法连接 USB wifi
1 确认 USBB 外围器件、wifi 等相关器件焊接良好;
2 确认软件配置正确,且 WIFI 供电正常;

n!
WL211(WL212)

oo
1 WL-211 焊接 R307,WL-212 焊接 R306,需要确认 code 对
应;
2 确定 WIFI 模块供电是否正常;

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3 在初始化时,确认模块的是否有稳定的 32.768KHz 时钟;
4 26M 晶振焊接是否 OK,时钟输出是否正常;
Sk
5 用示波器测量初始化时,PIN31(WIFI/BT_EN)是否为高
6 确认模块的 PIN30(电感 L20)是否约为 1.5V,否则更换电
感。
to

7 SDIO 信号是否在复位信号稳定后输出,SDIO 的 D0-D3、CMD


内部是否有上拉。
e

8 天线是否焊接好。
ut

wifi 信号质量 1 WIFI 天线是否焊接良好,接地端是否足够粗;


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不好 2 Layout 是否对天线做 50Ω的阻抗,是否严格按照天线规


tr

格书的 Layout 说明;


3 测量 26M 晶振的频偏,是否小于 15ppm。
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4 天线是否受机构影响较大,可以单独测试 PCBA 的信号质


D

量;
5 天线质量是否有问题,更改其他天线试试;
6 找 WIFI 模组厂家帮忙测试 RF 的输出/接收功率是否足够
大;

26M 晶振对 wifi 信号影响较大,需要严格选型。

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7.1 AMPAK wifi 调试注意事项


AMPAK 的 WIFI 有几个不同的 pin-to-pin 兼容的模块,在原理图设计和调试中,必须注意每个不
同模块对应的外围电路,做到原理图、BOM 正确,方便调试。
7.1.1 通用事项
A,WIFI、BT 等初始化前,32.768KHz 的 CLK 必须有输出;
B,VBAT 和 VDDIO 电源必须供电正常;
C,WL_REG_ON 必须等供电正常再拉高(给整个 wifi 模块供电);
D,26M 晶振的频偏对 wifi 信号质量影响较大,需要用 IQ-flex 测量并调整匹配电容确认。

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Sk
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注 1:32.768KHz 的时钟不准,占空比不是 50%,wifi 也可以工作,但 BT 工作会异常;


注 2:WL_REG_ON 没有控制(一直为高),会导致 wifi 无法工作。
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7.1.2 单 WIFI 模块——AP6181


A,26M 晶振输入为 pin10,即使用左上角的晶振(Y4);
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B,AP6181 时,PIN29 不能接电源,否则无法加载驱动(PIN29 脚接电源时,选择晶振输入端为
PIN30 管脚)。
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7.1.2 二合一模块——AP6210/AP6330
A,26M 的晶振从 pin30 管脚输入。
注 1:反相器 U11 的质量会影响时钟的质量;
注 2:此处也可以使用晶振,但成本太高。

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Sk
to

B,AP6330 带 FM,WIFI 支持 2.4G 和 5G 两个频段,其他和 AP6210 pin-to-pin。


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8.AV 接口检查

检查项目 子序号 调试问题 检查结果


左右声道没有 1 DAC 芯片 5V 供电是否正常;
声音输出 2 I2S 是否有波形,用示波器观察;
3 左右声道是否有波形输出;
4 有外加功放芯片的,检查功放 IC 是否被 mute;

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5 检查功放 IC 外围参数是否正确;
CVBS/YPbPr 无 1 板子同时有 CVBS 及 YPbPr 的,检查控制 Y 信号与 CVBS

oo
输出 状态切换的 GPIO 状态是否正确,模拟切换开关焊接是否
良好
2 检查 CVBS/YPbPr 信号管脚是否焊接良好,阻抗是否正确

yn
3 检查π型滤波器是否配置正确,可用镊子短路π型滤波
器观察是否有输出 Sk
4 检查 560R RSET 电阻焊接是否良好,阻值是否正常
5 检查 COMP 电容焊接是否良好
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9. 其它检查

检查项目 子序号 调试问题 检查结果


红外遥感无效 1 确认焊接是否正确;测量红外头供电是否正常;
2 用遥控器遥控时,用示波器测量是否有信号输出;
3 用万用表的二极管档测量确认 IR 管脚 CPU 端焊接是否良
好;
4 确认软件是否支持;

n!
USB 无法连接 1 检查 USB 座、共模电感等否焊接良好;

oo
鼠标、U 盘 2 测量 USB VCC5V 供电电平是否正常(4.75V--5.25V);
--USBB 口 3 检查 USBB_TXRTUNE 电阻 R42(200R 1%)是否焊接良好;
4 检查 HUB 芯片焊接、供电是否正常;

yn
5 测量 HUB 芯片 12M 晶体是否起振;
6 测量 HUB 阻容复位电路是否正常,检查 RREF 680R_1%电
Sk
阻是否需焊或短路;
7 观察记录串口打印信息。
to

无法连接 1 检查 USB 座、共模电感等是否焊接良好;


PC--USBA 口 2 测量 USBA_VBUS 电压是否正常(4.75V-5.25V);
3 测量 ID1 pin 是否为高电平(若为低电平,则 USBA 作为
e

HOST 功能);
ut

4 检查 USBA_TXRTUNE 电阻 R62(200R 1%)是否焊接良好;


5 确认软件是否支持 USB 功能。/系统 USB 的设置是“调试
ib

模式”还是“存储模式”
tr

6 观察记录串口打印信息。
OTG 无效 1 插入 USB Device 后,测量 ID pin 是否为低电平;
is

--USBA 口 2 测量 USB_PWR_CTL(U16.1)是否为高电平,VCC5V 电压是否


D

正常;
3 测量 USBA_VBUS 供电是否正常(4.75-5.25V);
4 检查 USBA_TXRTUNE 电阻 R62(200R 1%)是否焊接良好;
5 确认软件是否支持 USB HOST 功能;观察记录串口打印信
息;

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10. 其他调试命令
10.1 DDR3 频率的测试(uboot 需打开 CONFIG_CMD_DDR_TEST 这个宏)
d2pll 0x10232
注:32 为设定 DDR 的频率,为 38 为 16 进制数,设定频率为:(3x16+2)*12=600M,更改后两位设定
不同的 DDR 频率;
ddrtest 3

n!
注:为 u-boot 下测试频率,3 为设定测试次数;
设定频率后,直接跑系统,可测试该频率对系统的稳定性;

oo
10.2 手动升级

yn
把升级文件放到 SD 卡,插卡、上电启动 u-boot;
在 u-boot 下敲入:mmcinfo;fatload mmc 0:1 82000000 recovery.img;bootm
敲入“回车”并启动进入升级界面,选择升级文件升级; Sk
10.3 跑其他 Kernel
to

把目标 kernel 放到 SD 卡里,插卡上电启动


mmcinfo;fatload mmc 0:1 82000000 uImage.img;bootm
e

10.4 查看当前 CPU 工作频率


ut

cat /sys/devices/system/cpu/cpu0/cpufreq/scaling_cur_freq
ib
tr

10.5 查看 USB 烧录过程中 kernel 打印


is

busybox cat /tmp/recovery.log


D

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11、USB 烧录升级诊断(需结合串口打印)
11.1 空片升级 USB 端口不识别
a、检查 USB 端口座子焊接是否良好
b、在 USB 端口测量 D+/D-的对地阻抗,确认是否开路或相互短路;检查 R62 是否焊接 OK;

n!
oo
yn
c.测量供电电压是否正常
d.查看 CPU 复位信号是否正常
Sk
e.检查24MHz 晶振是否起振
to

备注:对于 SPI 里面已经烧写过 uboot 的机子,需要在上电时候用镊子短接 SPI 第5、6pin 管脚方可识


别 USB 端口。
e
ut

11.2 升级到8%失败
ib

这种绝大部分是主控、DDR 焊接问题,要么主控要么 DDR;


tr

如果只打印一颗 DDR 测试不过,则试着重吹该片 DDR;如下,第3片 DDR 测试未通过


is

EEEE I3000000032940xf100100303;77510EEEE I400000004294_M6_BL1_3003>2137333€€€€€?ù


D

wait pll-0x03 target is 0204 now it is 0x00000203

set ddr clock ok!

DX0DLLCR:40000000

DX0DQTR:ffffffff

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DX0DQSTR:3db05001

DX1DLLCR:40000000

DX1DQTR:ffffffff

DX1DQSTR:3db05001

DX2DLLCR:40000000

n!
DX2DQTR:fffff20f

oo
DX2DQSTR:3db05001

DX3DLLCR:40000000

yn
DX3DQTR:ffffffff

DX3DQSTR:3db05001
Sk
Stage 00 Result 00000000
to

Stage 01 Result 00000000

Stage 02 Result 00000020


e
ut

Stage 03 Result 00000000

pub failed
ib
tr
is

如果四片 DDR 都报错,则先吹主控,主控吹了不好再去吹这四颗 DDR。


D

EEEE I3000000032940xf100100303;77510EEEE I400000004294_M6_BL1_3003>2137333€€€€€?ù

wait pll-0x03 target is 0204 now it is 0x00000203

set ddr clock ok!

DX0DLLCR:40000000

DX0DQTR:fffeffff
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DX0DQSTR:3db05001

DX1DLLCR:40000000

DX1DQTR:fefff0ff

DX1DQSTR:3db05001

DX2DLLCR:40000000

n!
DX2DQTR:fffff20f

oo
DX2DQSTR:3db05001

DX3DLLCR:40000000

yn
DX3DQTR:fff00fff

DX3DQSTR:3db05001
Sk
Stage 00 Result 00002020
to

Stage 01 Result 00100020

Stage 02 Result 00001020


e
ut

Stage 03 Result 00002020

pub failed
ib
tr

11.3 升级到18%失败,串口打印 nand ecc 错误,如下


is
D

aml nand read data ecc failed at page:7424 blk 29 chip 0, readretry_failed_cnt:10

SANDISK NAND set partmeters here lower page: 0 and cur_case_num :9

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x4): value:0x10

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x5): value:0x0

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x7): value:0x20

aml nand read data ecc failed at page:7424 blk 29 chip 0, readretry_failed_cnt:11

Amlogic Confidential 28/31


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SANDISK NAND set partmeters here lower page: 0 and cur_case_num :10

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x4): value:0xb0

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x5): value:0x0

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x7): value:0xd0

aml nand read data ecc failed at page:7424 blk 29 chip 0, readretry_failed_cnt:12

SANDISK NAND set partmeters here lower page: 0 and cur_case_num :11

n!
aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x4): value:0xa0

oo
aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x5): value:0x0

yn
aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x7): value:0xd0

aml nand read data ecc failed at page:7424 blk 29 chip 0, readretry_failed_cnt:13
Sk
SANDISK NAND set partmeters here lower page: 0 and cur_case_num :12

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x4): value:0x90


to

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x5): value:0x0


e

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x7): value:0xd0


ut

aml nand read data ecc failed at page:7424 blk 29 chip 0, readretry_failed_cnt:14
ib

SANDISK NAND set partmeters here lower page: 0 and cur_case_num :13
tr

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x4): value:0xb0


is

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x5): value:0x0


D

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x7): value:0xc0

aml nand read data ecc failed at page:7424 blk 29 chip 0, readretry_failed_cnt:15

SANDISK NAND set partmeters here lower page: 0 and cur_case_num :14

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x4): value:0xa0

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x5): value:0x0

aml_nand_dynamic_read_load_register_value, REG(0x7): value:0xc0

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解决方法:这是 nand ecc 校验失败的提示,用 PC 工具先擦除一片 nand,重新升级一般可以升上去;如擦除后仍


然打印同样的信息,则可能是 nand 有问题,需更换 nand。

11.4 烧录到81%后失败,各电压正常,串口打印提示出现 rtc failed, reset rtc!


提示

n!
打印:

oo
[ 16.268865@1] error, the rtc serial communication abnormal, reset the rtc!

[ 16.369161@1] error, the rtc serial communication abnormal, reset the rtc!

yn
[ 16.469467@1] error, the rtc serial communication abnormal, reset the rtc!

原因:rtc 晶体不起振,初始化通不过
Sk
对策:用万用表测量 RTC 晶体两个管脚电压,正常起振的晶体两个管脚电压都在0.2V--0.5V 之间,测量
to

到电压偏出这个范围就是 RTC 异常了。可先检查晶体与主控的连通性,然后逐个排查晶体、匹配电容电


阻等。根据经验来看,晶体损坏的可能性最大。
e
ut

11.5 烧录到81%失败,串口打印打印到如下信息后停止;
ib

[ 0.560146@0] clkrate [ clk81 ] : 200000000


tr

[ 0.564319@0] clkrate [ usb0 ] : 12000000


is

[ 0.568337@0] clkrate [ usb1 ] : 0


D

[ 0.572623@0] print_constraints: dummy:

[ 0.575676@0] NET: Registered protocol family 16

[ 0.581061@0] ***vcck: vcck_pwm_initregister lm device 0

[ 0.585533@0] register lm device 1

[ 0.591956@0] usb_wifi_power Off

[ 0.592140@0] chip version=6b98e1b7

Amlogic Confidential 30/31


Amlogic Application Notes

[ 0.595591@0] vdac_switch_init_module

[ 0.599165@0] vdac_switch mode = 0

[ 0.602707@0] tv_init_module

[ 0.605394@0] major number 254 for disp

原因:wifi 电源短路。

这个阶段是在跑 kernel,wifi 的3.3V 电源 MOS 管将会打开,由于 MOS 管后级,打开瞬间将会导致 DC-DC

n!
过流保护或出现严重跌落而使系统卡死。

oo
yn
Sk
to
e
ut
ib
tr
is

Revision Date Owner Changes


D

1.0 Dec 9, 2013 HW MBX Team 首稿

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