FOTONİĞİN TEMELLERİ

OPTİK BİLEŞENLERLE İLETİM

Prof. Dr. Mustafa YÜKSEK

OPTİK BİLEŞENLERLE İLETİM
Bu konu kapsamında, optik dalgaların düzlem, prizma ve mercek gibi optik bileşenler tarafından iletimlerini inceleyeceğiz. Bu
bileşenlerin yüzeylerindeki yansımaların etkileri, ışığın skaler dalga optiği modeli kullanılarak uygun bir şekilde
hesaplanamayacağı için, ihmal edileceklerdir.

Şeffaf Bir Düzlemle İletim

İlk olarak, düzlemsel bir dalganın 𝑛 kırılma indisi ve boş alanla çevrili 𝑑 kalınlığındaki şeffaf bir plakadan iletimini düşünün.
Plakanın yüzeyleri 𝑧 = 0 ve 𝑧 = 𝑑 düzlemleridir ve gelen dalga 𝑧 yönünde hareket eder (aşağıdaki şekilde verilmektedir).

U (x, y, z) dalganın karmaşık genliği olsun. Dış ve iç yansımalar ihmal

edildiğinden, U (x, y, z) 'nin sınırlarda sürekli olduğu varsayılır.
𝑡 𝑥, 𝑦 = 𝑈(𝑥, 𝑦, 𝑑)/𝑈(𝑥, 𝑦, 0) oranı bu nedenle plakanın karmaşık
genlik geçirgenliğini temsil eder. 𝑈(𝑥, 𝑦, 𝑧) exp(−𝑗𝑛𝑘 𝑧) ile orantılı
olacak şekilde, gelen düzlem dalga plakası içinde 𝑛𝑘 , dalga sayılı bir
, ,
düzlem dalga olarak yayılmaya devam eder. Böylece , ,
=
exp −𝑗𝑛𝑘 𝑑 , ve
𝑡 𝑥, 𝑦 = exp(−𝑗𝑛𝑘 𝑑) (3.1) olur.
Buna, şeffaf düzlemin kompleks genlik iletimi denir. Burada düzlem
𝑛𝑘 𝑑 = 2𝜋( ) kadarlık bir faz kaymasına neden olur.
Eğer gelen düzlem dalga 𝑧 ekseniyle 𝜃 açısı yapıyorsa ve 𝑘 dalga vektörüne sahipse (aşağıdaki şekilde gösterildiği gibi), kırılan ve
iletilen dalgalar hala sırasıyla 𝑘 ve 𝑘 dalga vektörleri ve 𝜃 ve 𝜃 açılarına sahip düzlem dalgalardır, burada 𝜃 ve 𝜃 açıları
𝑠𝑖𝑛𝜃 = 𝑛𝑠𝑖𝑛𝜃 gibi Snell yasasıyla bağlıdırlar.
𝑈(𝑥, 𝑦, 𝑧) kompleks genliği düzlem içinde exp −𝑗𝑘 𝑟 =
𝑒𝑥𝑝 −𝑗𝑛𝑘 (𝑧𝑐𝑜𝑠𝜃 + 𝑥𝑠𝑖𝑛𝜃 ile orantılıdır, böylece 𝑈(𝑥, 𝑦, 𝑑)/𝑈(𝑥, 𝑦, 0)
düzleminin kompleks genlik iletimi 𝑡(𝑥, 𝑦) = 𝑒𝑥𝑝 −𝑗𝑛𝑘 (𝑑𝑐𝑜𝑠𝜃 + 𝑥𝑠𝑖𝑛𝜃
olur.

Değişken Kalınlıklı İnce Şeffaf Düzlem

Şimdi, 𝑑(𝑥, 𝑦) kalınlığı x ve y'nin bir fonksiyonu olarak yumuşak bir şekilde değişen ince şeffaf bir plakanın genlik geçirgenliğini,
gelen dalganın keyfi bir paraksiyel dalga olduğunu varsayarak belirledik. Plaka, optik bileşenin sınırları olarak kabul edilen 𝑧 =
0 ve 𝑧 = 𝑑 düzlemleri arasında yer almaktadır (aşağıdaki şekil).
 𝑥, 𝑦, 0 konumunun yakınında, gelen kısmi eksenel dalga, yerel olarak, z ekseni ile
küçük bir açı yapan bir yön boyunca hareket eden bir düzlem dalgası olarak kabul
edilebilir. Toplam 𝑑 − 𝑑(𝑥, 𝑦) genişliğinde ince hava katmanları ile çevrili ince bir
𝑑(𝑥, 𝑦) genişliğindeki levhayı geçer. (3.1) yaklaşıklık eşitliği ile uyumlu olarak lokal
iletim, 𝑑(𝑥, 𝑦) kalınlıklı malzemenin ince bir tabakası ve 𝑑 − 𝑑(𝑥, 𝑦) kalınlığındaki
ince bir hava tabakasının iletimlerinin ürünüdür, böylece 𝑡(𝑥, 𝑦) ≈
𝑒𝑥𝑝 −𝑗𝑛𝑘 𝑑(𝑥, 𝑦) 𝑒𝑥𝑝 −𝑗𝑘 𝑑 − 𝑑(𝑥, 𝑦) olur. Buradan,
𝑡(𝑥, 𝑦) ≈ ℎ 𝑒𝑥𝑝 −𝑗(𝑛 − 1)𝑘 𝑑(𝑥, 𝑦) (3.2) olur.
Burada, ℎ = exp(−𝑗𝑘 𝑑 ) sabit faz faktörüdür. Bu bağıntı paraksiyel yaklaşım
(bütün 𝜃 açıları küçük) ve 𝑑 kalınlığı yeteri kadar küçük (bütün
(x, y) 𝑛𝑜𝑘𝑡𝑎𝑙𝑎𝑟𝚤 𝑖ç𝑖𝑛 (𝑑 ⁄𝜆)𝜃 /2𝑛 ≪ 1) olduğunda geçerli olur.
İnce Mercekler
Değişken kalınlıktaki ince şeffaf bir plakanın karmaşık genlik geçirgenliği için genel ifade olan (3.2) eşitliği aşağıdaki şekilde
gösterilen planokonveks ince merceğe uygulanırsa.
Mercek 𝑅 yarıçaplı bir kürenin kapağı olduğundan dolayı (𝑥, 𝑦) noktasındaki
kalınlık 𝑑 𝑥, 𝑦 = 𝑑 − 𝑃𝑄=𝑑 − (𝑅 − 𝑄𝐶) veya 𝑑 𝑥, 𝑦 = 𝑑 − 𝑅 − [𝑅 −
(𝑥 + 𝑦 )] ⁄ ’dir. (3.3)
Bu ifade, yalnızca 𝑥 ve 𝑦'nin 𝑅 ile karşılaştırıldığında yeterince küçük olduğu
noktalar dikkate alınarak basitleştirilebilir, böylece 𝑥 + 𝑦 ≪ 𝑅 olur. Bu
⁄
durumda, 𝑅 − (𝑥 + 𝑦 ) ⁄
=𝑅 1− ≈𝑅 1− ve (3.3)
eşitliği 𝑑 𝑥, 𝑦 ≈ 𝑑 − ’yi verir. Bunu (3.2) eşitliğinde yerine koyarsak;
𝑡(𝑥, 𝑦) ≈ ℎ 𝑒𝑥𝑝 𝑗𝑘 (3.4) olur. Bu da ince bir merceğin iletimini
verir. Burada, 𝑓 = merceğin odak uzunluğu ve ℎ = exp(−𝑗𝑛𝑘 𝑑 )
sabit bir faz faktörüdür ve genellikle önemli değildir.
 Kırınım Izgaraları
Kırınım ızgarası, gelen dalganın fazını veya genliğini periyodik olarak modüle etmeye yarayan optik bir bileşendir. Periyodik
olarak değişen kalınlığa veya periyodik olarak derecelendirilmiş kırılma indisine sahip şeffaf bir plakadan yapılabilir. Yarıklar,
engeller veya soğurma elemanları gibi kırınım elemanlarının tekrarlayan dizileri de kullanılabilir. Yansıma kırınım ızgaraları,
genellikle bir cam alttaş üzerine buharlaştırılmış, periyodik olarak yönetilen ince alüminyum filmleri kullanılarak imal edilir.
Burada, kalınlığı periyodik olarak Λ periyodu ile x yönünde değişen 𝑧 = 0 düzlemine yerleştirilmiş ince şeffaf bir plakadan
yapılmış bir kırınım ızgarasını düşünün (aşağıdaki şekilde verilmektedir).
Bu plaka, 𝑧 eksenine göre küçük bir 𝜃 açısında
hareket eden, 𝜆 ≪ Λ dalga boyuna sahip bir olay
düzlem dalgasını 𝜃 = 𝜃 + 𝑞 (3.5)
küçük açılı birkaç düzlem dalgasına dönüştürür,
burada 𝑞 kırınım sırası olmak üzere, 𝑞 =
0, ±1, ±2, … . değerlerini alabilmektedir. Yandaki
şekilde gösterildiği gibi, kırılan dalgalar 𝜃 = 𝜆⁄Λ
açısıyla ayrılırlar. (3.5) denklemi sadece paraksiyel
yaklaşımda geçerlidir. Bu yaklaşım, Λ periyodu 𝜆
dalgaboyundan çok daha büyük olduğunda
uygulanabilir. Paraksiyel yaklaşım kullanılmadan
ince kırınım ızgaralarının daha genel bir analizi,
gelen düzlem dalgasının 𝜃 açılı birkaç düzlem
dalgasına dönüştürüldüğünü göstermektedir.
𝑆𝑖𝑛𝜃 = 𝑠𝑖𝑛𝜃 + 𝑞 (3.6)
Kırınım ızgaraları, filtre ve spektrum analizörü olarak kullanılırlar. 𝜃 açıları 𝜆 dalga boyuna (ve dolayısıyla 𝑣 frekansına) bağlı
olduğundan, gelen çok renkli bir dalga, ızgarayla spektral bileşenlerine ayrılır (aşağıdaki şekilde gösterilmektedir).

Kırınım ızgaraları spektroskopide çok sayıda uygulama alanı bulmaktadır.

Dereceli İndisli Optik Bileşenler

Bir prizmanın, merceğin veya kırınım ızgarasının etkisi, dalga cephesini önceden belirlenmiş bir şekilde bükmeye hizmet eden
gelen dalgaya kazandırdığı faz kaymasında yatar. Bu faz kayması, malzemenin kalınlığının optik eksenden enine mesafe ile
değişimine bağlı olarak kontrol edilir (sırasıyla prizma, mercek ve kırınım ızgarası durumunda doğrusal, ikinci dereceden veya
periyodik olarak). Aynı faz kayması bunun yerine sabit genişliğe sahip, ancak değişen kırılma indisine sahip şeffaf bir düzlemsel
plaka ile uygulanabilir. Genişliği 𝑑 olan ince şeffaf düzlemsel bir plakanın karmaşık genlik geçirgenliği ve dereceli kırılma indisi
𝑛(𝑥, 𝑦) şu şekildedir: 𝑡 𝑥, 𝑦 = 𝑒𝑥𝑝 −𝑗𝑛(𝑥, 𝑦)𝑘 𝑑 . 𝑥 ve 𝑦 ile uygun 𝑛(𝑥, 𝑦) değişkenler seçerek, herhangi bir sabit indisli
ince optik bileşenin eylemi yeniden üretilebilir.
 GİRİŞİM (İNTERFERANS)
Uzayın aynı bölgesinde aynı anda iki veya daha fazla optik dalga bulunduğunda, toplam dalga fonksiyonu, ayrı ayrı dalga
fonksiyonlarının toplamı şeklinde göz önüne alınabilir. Bu temel süperpozisyon ilkesi, dalga denkleminin doğrusallığından
kaynaklanmaktadır. Aynı frekanstaki tek renkli dalgalar için üst üste binme ilkesi, karmaşık genliklere de uygulanabilir. Bu,
Helmholtz denkleminin doğrusallığı ile tutarlıdır.
Üst üste binme ilkesi optik şiddet için geçerli değildir. İki veya daha fazla dalganın üst üste gelmesinin şiddeti, mutlaka
şiddetlerinin toplamı değildir. Farklılık, bu dalgalar arasındaki girişime atfedilir. Girişim, üst üste binen dalgalar arasındaki faz
ilişkisine bağlı olduğundan ışın optiği temelinde açıklanamaz.
Bu bölümde, aynı frekanstaki iki veya daha fazla tek renkli dalga arasındaki girişimi inceleyeceğiz.

İki Dalganın Girişimi

Karmaşık genlik 𝑈 (𝑟) ve 𝑈 (𝑟) 'nin iki tek renkli dalgası üst üste geldiğinde, sonuç aynı frekans ve karmaşık genliğe sahip;
𝑈 𝑟 = 𝑈 𝑟 + 𝑈 (𝑟) (3.7)
şeklindeki tek renkli bir dalgadır. 𝐼 𝑟 = 𝑈(𝑟) eşitliğine göre kurucu dalgaların şiddetleri 𝐼 = 𝑈 ve 𝐼 = 𝑈 olursa
toplam dalganın şiddeti; 𝐼 = 𝑈 = 𝑈 + 𝑈 = 𝑈 + 𝑈 + 𝑈 ∗ 𝑈 + 𝑈 𝑈 ∗ (3.8) olur.
Burada, 𝑟'ye açık bağımlılık, kolaylık sağlamak için ihmal edilmiştir.
⁄ ⁄
𝑈 = 𝐼 exp(𝑗𝜑 ) ve 𝑈 = 𝐼 exp(𝑗𝜑 ) (3.8) eşitliğinde yerine konulursa (burada 𝜑 𝑣𝑒 𝜑 iki dalganın fazlarıdır),
𝜑 = 𝜑 − 𝜑 olmak üzere, 𝐼 = 𝐼 + 𝐼 + 2 𝐼 𝐼 ⁄ 𝑐𝑜𝑠𝜑 (3.9) elde edilir.
Girişim denklemi olarak adlandırılan bu ilişki, aşağıdaki şeklin (a) kısmında verilen fazör diyagramının geometrisinden de
görülebilir; bu 𝑈 fazörünün büyüklüğü sadece kurucu fazörlerin büyüklüklerine değil aynı zamanda faz farkı 𝜑’ye de duyarlı
olduğunu göstermektedir.
İki dalganın toplam şiddeti, şiddetlerinin
toplamına eşit değildir (yandaki şeklin (b)
kısmı; İki dalga arasındaki girişime
atfedilen ek bir terim (3.9) eşitliğinde
mevcuttur. Bu terim, sırasıyla yapıcı veya
yıkıcı girişime karşılık gelen pozitif veya
negatif olabilir. Eğer 𝐼 = 𝐼 =𝐼 ise, o
zaman 𝐼 = 2𝐼 1 + 𝑐𝑜𝑠𝜑 =
4𝐼 𝑐𝑜𝑠 (𝜑⁄2) olur, böylece 𝜑 = 0
olduğunda, 𝐼 = 4𝐼 olur (yani, toplam
şiddet üst üste binen her bir dalga
şiddetinin 4 katına eşittir).

𝜑 = 𝜋 olması durumunda, dalgalar birbirlerini sönümlerler ve toplam şiddet 𝐼 = 0 olur. I şiddetinin faz farkı 𝜑'ye güçlü
bağımlılığı, ışık şiddetini tespit ederek faz farklılıklarını ölçmemize olanak tanır. Bu ilke çok sayıda optik sistemde
kullanılmaktadır.
 İnterferometreler
Her biri 𝑧 yönünde ilerleyen şiddetleri 𝐼 olan iki düzlem dalgasının üst üste binmesini ve bir dalganın diğerine göre bir d
⁄
mesafesi kadar geciktiğini düşünün, böylece ve 𝑈 = 𝐼 exp[−𝑗𝑘 𝑧 − 𝑑 ] olur. Bu iki dalganın şiddetlerinin toplamı 𝐼, 𝐼 =
𝐼 =𝐼 ve 𝜑 = 𝑘𝑑 = 2𝜋𝑑⁄𝜆 terimlerinin girişim eşitliği (3.9)’da yerine konulmasıyla;
𝐼 = 2𝐼 1 + 𝑐𝑜𝑠 2𝜋 (3.10) elde edilir.
𝐼‘nın 𝑑 gecikmesine bağımlılığı aşağıdaki şekilde gösterilmektedir.

Gecikme 𝜆'nın tam sayı katı ise, tam yapıcı girişim oluşur ve toplam şiddet
𝐼 = 4𝐼 olur. Öte yandan, d, 𝜆/2'nin tek tam sayı katı ise, tam yıkıcı girişim
oluşur ve 𝐼 = 0 olur. Ortalama şiddet, iki şiddetin 2𝐼 toplamıdır.
Bir girişim ölçer (interferometre), bir ışın ayırıcı kullanarak bir dalgayı iki
dalgaya bölen, eşit olmayan mesafelerle geciktiren, aynaları kullanarak
yeniden yönlendiren, başka (veya aynı) ışın ayırıcı kullanarak yeniden
birleştiren ve üst üste gelme şiddetini algılayan optik bir araçtır.
Üç önemli örnek, Mach-Zehnder interferometresi, Michelson interferometresi ve Sagnac interferometresi, aşağıdaki şekilde
gösterilmektedir.
Şiddet 𝜑 = 2𝜋𝑑 ⁄𝜆 = 2𝜋𝑛𝑑⁄𝜆 = 2𝜋𝑛𝑣𝑑⁄𝑐 ′a duyarlı olduğundan, (burada
𝑑 iki dalga tarafından kat edilen mesafeler arasındaki farklılık) interferometre
𝑑 mesafesi, 𝑛 kırılma indisi veya 𝜆 dalga boyunun küçük değişimlerini ölçmek
için kullanılabilir. Örneğin,
 Eğik İki Düzlem Dalganın Girişimi
⁄
Aşağıdaki şekilde gösterildiği gibi, biri 𝑧 doğrultusunda 𝑈 = 𝐼 exp −𝑗𝑘𝑧 , diğeri 𝑥 − 𝑧 düzleminde 𝑧 ekseniyle 𝜃 açısı
⁄
yapan 𝑈 = 𝐼 exp[−𝑗(𝑘𝑐𝑜𝑠𝜃𝑧 + 𝑘𝑠𝑖𝑛𝜃𝑥)] dalga denklemleriyle verilen eşit şiddetli iki düzlem dalga göz önünde
bulundurun. 𝑧 = 0 düzleminde, iki dalganın arasında 𝜑 = 𝑘𝑥𝑠𝑖𝑛𝜃 kadar faz farkı vardır, böylece (3.9) girişim denklemi;
𝐼 = 2𝐼 1 + cos(𝑘𝑠𝑖𝑛𝜃𝑥 (3.11) şiddetini verir.
Bu örnek, aşağıdaki şekilde gösterildiği gibi, 2𝜋⁄𝑘𝑠𝑖𝑛𝜃 = 𝜆⁄𝑠𝑖𝑛𝜃 periyotlu 𝑥 ekseni doğrultusunda sinüsoidal olarak değişir.

Örneğin, 𝜃 = 30°
olursa periyot 2𝜆
olur. Bu, kırınım
ızgarası olarak
kullanılmak üzere
yüksek
çözünürlüklü
sinüzoidal bir desen
basmanın bir
yöntemini
önermektedir.
Aynı zamanda, bir dalganın 𝜃 varış açısını bir referans dalgayla karıştırarak ve sonuçta ortaya çıkan şiddet dağılımını
kaydederek izlemek için bir yöntem önerir.

Çoklu Dalga Girişimi

Aynı frekanslı ve 𝑈 , 𝑈 , … … , 𝑈 kompleks genliklerine sahip 𝑀 tek renkli dalgalar eklendiğinde, sonuçta 𝑈 = 𝑈 + 𝑈 +
⋯ . +𝑈 kompleks genlikli tek renkli bir dalga elde edilir. Göreceli (rölatif) fazlarının bilinmesi gerektiğinden, dalgaların
𝐼 , 𝐼 , … … , 𝐼 gibi ayrı ayrı şiddetlerinin bilinmesi, 𝐼 = 𝑈 2 toplam şiddetinin bilinmesi için yeterli değildir.

Eş-Fazlı ve Eş-Genlikli Dalganın Girişimi

(3.12) kompleks genlikli 𝑀 dalganın girişimini inceleyelim.
Aşağıdaki şeklin (a) kısmında gösterildiği gibi, dalgalar 𝐼 şiddeti ve 𝜑 faz farklarına sahiptirler.

Süperpozisyonun (üst üste binme ilkesinin)

bir ifadesini türetmek için, ℎ = exp(𝑗𝜑)
tanımlaması yapıp
eşitliğinde yerine yazarsak, üst üste binen
dalganın kompleks genliği:

olur.
Buna karşılık gelen şiddet;

Buradan da;

(3.13) (𝑀 dalganın girişim denklemi)

elde edilir.

𝑀 = 5 için, yukarıdaki şeklin (b) kısmında gösterildiği gibi, 𝐼 şiddeti 𝜑 faz farkına güçlü bir şekilde bağlıdır.