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0 대한민국

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 석사학위 논문

IEC 61850 기반 디지털 변전소의 보호

적정성 평가를 위한 디지털 트윈
기술 개발
Development of Digital Twin Technology for Protection
Adequacy Evaluation of IEC61850 based Digital
Substations

명지대학교 대학원

전기공학과

하 광 민

지도교수 남 순 열

2022년 2월
 IEC 61850 기반 디지털 변전소의 보호
적정성 평가를 위한 디지털 트윈
기술 개발
Development of Digital Twin Technology for Protection

Adequacy Evaluation of IEC61850 based Digital

Substations

이 논문을 석사학위 논문으로 제출함.

2022년 2월

명지대학교 대학원
전기공학과
하 광 민
 IEC 61850 기반 디지털 변전소의 보호
적정성 평가를 위한 디지털 트윈
기술 개발
Development of Digital Twin Technology for Protection

Adequacy Evaluation of IEC61850 based Digital

Substations

명지대학교 대학원
전기공학과
하 광 민

상기자의 공학석사 학위논문을 인준함.

심사위원장 최 면 송 (인)
심사위원 강 상 희 (인)
심사위원 남 순 열 (인)

2022년 2월
 목 차

그림 목차 ················································································································· iii
표 목차 ························································································································ v
국문 초록 ················································································································· vi

제 1 장 서론 ························································································································· 1

제 2 장 본론 ························································································································· 3
제 1 절 IEC 61850 기반 디지털 변전소 ······································································ 3

1.1 IEC 61850 ··········································································································· 3

1.2 디지털 변전소 ···································································································· 6

제 2 절 디지털 트윈 모델링 ··························································································· 8

2.1 디지털 트윈 ······································································································· 8
2.2 전력 계통 모델링 ····························································································· 9
2.3 트윈 MU 개발 ································································································ 10
2.4 트윈 IED 개발 ································································································ 13
2.5 IEEE 1588 PTP ······························································································ 14
제 3 절 IEC61850 기반 중앙집중식 보호 ·································································· 18

3.1 중앙집중식 후비보호 시스템 ········································································ 18

3.2 비동기 데이터를 이용한 중앙집중식 배전 모선 후비보호 ···················· 20

3.3 리액턴스 효과 ·································································································· 21

제 4 절 사례 연구 ··········································································································· 24

4.1 시험 환경 구성 ································································································ 24

4.2 RTDS를 이용한 트윈 모델의 성능 검증 ··················································· 27

4.2.1 배전모선 후비 보호용 비율차동 계전 알고리즘 ···························· 27
4.2.2 송전선로 보호용 거리 계전 알고리즘 ·············································· 31

제 3 장 결론 ······················································································································· 34

- i -
참고문헌 ···················································································································· 35
부록 ····························································································································· 37
Abstract ···················································································································· 42

- ii -
 그림 목차

그림 1. IEC 61850 표준문서 관계도 ················································································ 4

그림 2. IEC 61850 맵핑 ········································································································ 4

그림 3. 디지털 변전소 시스템의 구성도 ··········································································· 7
그림 4. 디지털 트윈 개념도 ································································································· 8

그림 5. MMS Lite 서버 실행 화면 ···················································································· 9

그림 6. PSCAD 모의 계통도 ······························································································· 9
그림 7. MU에서의 SV 데이터 교환 ················································································· 11
그림 8. IEC 61850 9-2에 따른 SV 데이터셋 ······························································ 12
그림 9. 장치들 간의 데이터 교환 ····················································································· 14
그림 10. IED의 시각동기 필요조건 ·················································································· 15
그림 11. PTP 타임 스탬프 ································································································· 16
그림 12. 기존의 모선 보호 시스템 ··················································································· 19
그림 13. 중앙집중식 모선 보호 시스템 ··········································································· 19
그림 14. 정상상태 계통 ······································································································· 21
그림 15. 고장상태 계통 ······································································································· 21
그림 16. 정상상태의 벡터 다이어그램 ············································································· 22

그림 17. 고장상태의 벡터 다이어그램 ············································································· 22

그림 18. 양단 전원 고장상태 계통 ··················································································· 23
그림 19. 리액턴스 효과 ······································································································· 23

그림 20. AM5748 EVM보드의 볼록 다이어그램 ··························································· 24

그림 21. 시험 환경 ··············································································································· 25
그림 22. RTDS 모의 계통도 ······························································································ 25
그림 23. 디지털 트윈 모델링 - 하드웨어 ······································································· 26

그림 24. 디지털 트윈 모델링 - 소프트웨어 ··································································· 27

그림 25. 트윈모델의 내부고장 시 차동전류 ··································································· 28

그림 26. RTDS의 내부고장 시 차동전류 ········································································ 28

- iii -
그림 27. 트윈모델의 외부고장 시 차동전류 ··································································· 29

그림 28. RTDS의 외부고장 시 차동전류 ········································································ 30

그림 29. 기존 전원임피던스의 측정임피던스 ································································· 32

그림 30. 전원임피던스 1/2배의 측정임피던스 ································································ 32

그림 31. 전원임피던스 2배의 측정임피던스 ··································································· 33

- iv -
 표 목차

표 1. IEC 61850 표준 ············································································································ 5

표 2. PSCAD 모의 계통 파라미터 ··················································································· 10

표 3. Sampled Value 메시지의 포맷 ··············································································· 13

표 4. IEC 61850 9-2 와 IEC 61850 9-2 LE의 차이 ···················································· 13

표 5. PTP 방식과 NTP 방식의 차이 ·············································································· 17

표 6. 기존 보호 시스템과 중앙집중식 보호 시스템 ····················································· 20

표 7. 트윈모델과 RTDS의 Trip 신호 측정 시간 비교 ················································ 31

- v -
 IEC 61850 기반 디지털 변전소의 보호 적정성 평가를 위한

디지털 트윈 개발

하 광 민
명지대학교 대학원 전기공학과

지도교수 남 순 열

최근 IEEE PES PSRC (Power System Realying and Control Committee)

Working Group K15를 중심으로 디지털변전소에 대한 중앙집중식 보호기술 도입이
추진됨에 따라 디지털변전소 전체에 대한 보호적정성 확보가 요구되고 있다. 또한 개
별 전력기기를 보호하는 IED 각각에 대한 보호적정성 평가만으로는 한계가 있으며
전 세계적으로디지털변전소 보급확대와 함께 디지털변전소에 대한 중앙집중식 보호기
술 도입이 추진됨에 따라 디지털변전소 전체에 대한 보호적정성 확보가 요구되고 있
다. 하지만 전압, 전류를 포함한 전기신호를 이용하는 보호IED들로 구성된 기설변전소
에 대한 보호적정성 평가를 위해서는 고가의 RTDS 설비가 필수적이다. 특히 보호적
정성에 대한 상시평가를 위해서는 RTDS 설비의 지속적인 사용이 요구되므로 RTDS
설비를 이용한 보호적정성 상시평가는 현실적으로 큰 어려움을 갖고 있다.

본 논문에서 제안하는 방안은 디지털 변전소에 현실세계의 기계나 장비, 사물 등을

컴퓨터 속 가상세계에 구현하여 각종 모의실험 및 정보 취득이 가능한 디지털 트윈

기술을 도입함으로써 별도의 RTDS 설비 없이 보호적정성 상시평가 방법을 제시한다.
디지털변전소에 대한 가상 실시간모의가 가능할 수 있도록 가상 시간동기화 기반의

디지털트윈을 개발하고 이를 기반으로 전력계통의 상태변화를 반영한 고장 시나리오

에 따라 가상 실시간모의 수행이 이루어지는 보호적정성 상시평가기술을 개발함으로
써 디지털변전소 신뢰성 향상을위한 기반기술을 확보하고자한다. 이를 위해 디지털 변
전소를 PSCAD를 이용하여 트윈 계통 모델링을 수행하고 디지털 변전소에서 상호운
용성 확보를 위해 장치들 사이의 정보교환을 IEC61850 기반으로 개발하였고, 정밀한

시각 동기를 위해 IEEE1588 PTP를 적용하여 디지털 변전소의 트윈 모델링을 수행하

- vi -
였다. 본 논문에서 제안하는 방안을 검증하기위해 RTDS를 이용한 실시간 모의 시험

을 통해 모의 결과를 비교하였다.

주제어

IEC 61850, 디지털변전소, 디지털 트윈, 중앙집중식 보호, IED, MU, RTDS, PTP

- vii -
 제 1 장 서 론

현대의 디지털 변전소는 국제 표준 IEC61850에 따라 운영되고 있다. IEC61850은

변전소 자동화를 위한 통신규약 및 시스템 표준으로써 Edition 2.0으로 개편되어 변전
소뿐만 아니라 유틸리티 전반으로 범위가 확장되어 새로운 데이터 통신 서비스가 제

시되고, Edition 1.0에서 변전 자동화 시스템의 상호운용성에 미흡한 부분이 보완되었

으며 이를 기반으로 다양한 제품들이 시장에 출시되고 있다. IEC61850의 주 특징으로
XML을 기반으로 하는 SCL을 사용함으로 시스템 엔지니어링이 단순한 점이 있고, 구

조 및 통신 방법의 표준화를 통한 상호운용성 확보 등이 있다[1]. 최근 국내 전력회사

인 한국전력공사는 2013년부터 신규 154kV 변전소를 대상으로 디지털 변전소 구축을
진행하여 2020년 1월 기준 약 60개소의 디지털 변전소를 운전중에 있으며 2034년까지
기존에 운영 중인 기설변전소를 디지털 변전소로 전환하는 것을 목표로 디지털 전환
을 진행하고 있다[2]. 전 세계적으로도 신설 변전소뿐만 아니라 기설변전소에 대한 디
지털 전환을 통해 변전소 디지털화가 확대되는 추세이며, 변전소 디지털화는 아시아
시장 중심으로 2022년경에는 2015년 대비 54.2% 증가할 것으로 예상되며 변전소 노후
화로 인해 새로운 설비교체를 필요로 하는 북미와 유럽 등의 선진국에서도 그 필요성
이 확대되어 가고 있다[3].
일반적으로 기설 변전소에서는 보호 IED의 정정 값을 오프라인에서 결정한 이후에는
변전소 전체에 대한 보호 적정성을 평가하지 않고 보호시스템을 운영하고 있으므로

전력계통의 상태변화가 변전소 보호시스템에 반영되지 않는 문제점이 있다. 일예로서,

총 26개의 업체에 707억원 규모의 피해가 발생한 2011년 여수 국가산업단지 정전사고
는 인접 변전소 지락 고장에 대한 송전선로 보호 IED의 오동작에 연이은 모선 보호

IED의 오동작으로 인해 정전 규모가 확대되었으나[4] 변전소 전체에 대한 보호 적정

성 평가를 통해 보호 IED의 오동작을 예방함으로써 정전규모를 최소화할 수 있었을

것으로 판단되고 있다. 최근에는 IEEE PES PSRC Working Group K15를 중심으로
디지털변전소에 대한 중앙집중식 보호기술 도입이 추진됨에 따라 디지털변전소 전체

에 대한 보호적정성 확보가 요구되고 있다.[5]. 또한 개별 전력기기를 보호하는 IED

각각에 대한 보호적정성 평가만으로는 여수 국가산업단지 정전사고와 같은 대규모 정

- 1 -
전사고 예방에 한계가 있으며 전 세계적으로디지털변전소 보급확대와 함께 디지털변

전소에 대한 중앙집중식 보호기술 도입이 추진됨에 따라 디지털변전소 전체에 대한

보호적정성 확보가 요구되고 있다[6]. 하지만 전압, 전류를 포함한 전기신호를 이용하

는 보호IED들로 구성된 기설변전소에 대한 보호적정성 평가를 위해서는 고가의

RTDS 설비가 필수적이다. 특히 보호적정성에 대한 상시평가를 위해서는 RTDS 설비

의 지속적인 사용이 요구되므로 RTDS 설비를 이용한 보호적정성 상시평가는 현실적

으로 큰 어려움을 갖고 있다.

본 논문에서 제안하는 방안은 디지털 변전소에 현실 세계에서의 다양한 기계와 장비,

사물과 같은 하드웨어를 컴퓨터 속 가상으로 구현하여 각종 모의실험 및 정보 취득이

가능한 디지털 트윈 기술을 도입함으로써 별도의 RTDS 설비 없이 보호적정성 상시평

가 방법을 제시한다. 디지털변전소에 대한 가상 실시간모의가 가능할 수 있도록 가상

시간동기화 기반의 디지털트윈을 개발하고 이를 기반으로 전력계통의 상태변화를 반

영한 고장 시나리오에 따라 가상 실시간모의 수행이 이루어지는 보호적정성 상시평가

기술을 개발함으로써 디지털변전소 신뢰성 향상을위한 기반기술을 확보하고자한다. 이
를 위해 디지털 변전소를 PSCAD를 이용하여 트윈 계통 모델링을 수행하고 디지털
변전소에서 상호운용성 확보를 위해 장치들 사이의 정보교환을 IEC61850 기반으로 개
발하였고, 정밀한 시각 동기를 위해 IEEE1588 PTP를 적용하여 디지털 변전소의 트윈
모델링을 수행하였다[7]. 본 논문에서 제안하는 방안을 검증하기위해 RTDS를 이용한
실시간 모의 시험을 통해 모의 결과를 비교하였다.

- 2 -
 제 2 장 본 론

1. IEC61850 기반 디지털 변전소

1.1 IEC61850

IEC(국제 전기기술 위원회)에서 전력 시스템 관리 또는 관련 정보의 교환에 대한

국제표준화를 담당하는 TC 57에서 1995년 변전소 내 통신 표준화를 제안하였다. 제안

한 표준으로는 변전자동화에 대한 내용으로 표준번호는 IEC 61850으로 지정이 되었으

며, IEC 61850 Edition 1.0의 표제는 Communication Networks and System for
Substation Automation으로 변전소 내 시스템에 중점을 두었다고 한다면, 개정된
Edition 2.0에서는 Communication Networks and Systems for Power Utility
Automation으로 표제를 바꾸면서 그 적용 분야를 점차 확장하고 있다. IEC 61850 표

준은 기존의 통신 프로토콜에서 다루지 못한 데이터모델에 의미를 부여하였고 최신

통신 기술을 적용할 수 있도록 하였다. 또한, 변전소 구성 언어를 개발하여 시스템 설
정에 활용함으로써 변전 자동화 이외에 수력발전, 분산 전원, 풍력발전 등 스마트그리

드의 여러 도메인에서 적용하게 되었다. 이와 같은 IEC61850의 주 특징으로는 SCL의

사용으로 시스템 엔지니어링이 단순하다는 점이 있고 구조와 통신방법의 표준화를 통
한 상호운용성의 확보가 있다[8,9].

IEC61850 표준에서 여러 개의 표준문서가 발행되었다. IEC61850 표준문서는 용도 별

로 시스템, 구성, 데이터모델, 통신 네트워크 등 맵핑 및 통신의 적합성 시험으로 분류
하였다. 새로운 기능과 도메인의 확장으로 용도별로 구분된 표준문서도 확장되었으며,

따라서 여러 표준이 발행되었으며 각각 표준 문서간의 관계를 그림1에 나타내었다.

IEC 61850 표준은 표 1과 같다. 또한 IEC 표준의 개념이 명확하며 활용성이 뛰어나기
때문에 전력 유틸리티 자동화 분야 외에 다양한 다른 분야에서도 IEC61850 표준의 개
념을 활용하여 새로운 표준이 파생되고 있다[10-12].

- 3 -
그림 1 IEC 61850 표준문서 관계도

그림 2 IEC 61850 맵핑

- 4 -
표 1. IEC 61850 표준

Part Edition 2

1 개요 및 개론

2 용어 해설

3 일반 요구사항

4 시스템 및 프로젝트 관리

5 기능 및 장치모델에 대한 통신 요구사항

6 변전소 IED용 구성언어

7-1 기본원칙과 모델

7-2 추상 통신 서비스 인터페이스

7-3 공통 데이터 클래스

호환 가능한 논리노드 클래스와 데이터

7-4
클래스

8-1 MMS와 ISO/IEC 8802-2과의 맵핑

9-2 ISO/IEC 8802-3 통신에서 샘플 값 맵핑

10 통신 적합성 시험

- 5 -
1.2 디지털 변전소

현대의 디지털 변전소는 변압기, 차단기, 선로 등 이와 같은 다양한 전력 설비들을

보호 및 감시, 제어하는 지능형 전자장치와 이를 운영하는 상위 시스템 간에 정보를

공유하는 네트워크 기반의 디지털화가 가속화되고 있다. 디지털 변전소는 과거 변전소
의 계전기, RTU가 전기 신호를 기반으로하는 전력 설비에 대하여 단독으로 운전을

하던 시각에서 이를 구성하는 전자장치들의 상호 간의 데이터를 이용하여 변전소를

하나의 시스템에서 운전되는 것을 특징으로 하고있다. 디지털 변전소를 하나의 시스템

으로 동작할 때 중요한 것은 전자장치들이 특별한 교환이나 해석장치의 도움 없이 네

트워크의 연결만으로 정보를 교환할 수 있는 데이터와 인터페이스를 위하여 프로토콜
은 통일이 되어야만 하며, 이를위해 국내뿐만이 아니라 전 세계적으로 디지털 변전소
의 국제표준을 IEC61850으로 제정하며 이를 지원할 수 있는 전자 장치들을 사용하고
있다[13-15].
디지털 변전소는 과거의 변전소 운영시스템이 전기적 신호를 기반으로 하며 1:1의 장
치 간 연결 관계를 갖고 전력 설비를 단독으로 동작시키는 방식이 아니라, IED의 정
보 공유를 기반으로 하나의 시스템으로 운영하는 것을 중요한 특징으로 하고 있다. 또
한 변압기 및 송전선로 등 전력 설비들을 계측, 제어, 감시 및 보호하기 위하여 IED를
중심으로 하고 네트워크 시스템을 통한 변전소를 운영하는 상위 시스템 간에 데이터
를 공유하는 자동화 시스템을 갖추고 있다. 그림 3의 디지털 변전소 시스템의 구성도
와 같이 디지털 변전소는 Station Level, Bay Level, Process Level이라 불리는 3개의

레벨과 Station Bus, Process Bus라 불리는 2개의 통신 네트워크로 구성된다[16,17].

- 6 -
그림 3 디지털 변전소 시스템의 구성도

- 7 -
2. 디지털 트윈 모델링

2.1 디지털 트윈

디지털 트윈은 물리적 세계와 동일한 디지털 쌍둥이를 만드는 것으로 물리적 자산
의 상태를 피드백하는 동적인 모델이다. 나아가 현실 세계의 물리적 자산에 부착된 센

서를 통해 수집된 데이터를 가상에서 분석, 시물레이션을 통해 이를 현실 세계에 반영

할 수도 있다. 본 논문은 아래 그림4와 같이 디지털 변전소 시스템을 디지털 트윈 모
델링하여 가상 환경을 구성하고 고장 시나리오를 통해 분석, 시뮬레이션을 진행하였
다. 본 논문에서의 디지털 트윈 모델의 가상 변전소는 PSCAD/EMTDC를 사용하여

모의 계통을 모델링하였다. 또한 상호운용성의 확보를 위해 각 장치들은 IEC 61850기

반으로 개발하였으며, 이때 MMS Lite Library 6.2ver 툴을 사용하였다. MMS Lite 서
버의 실행화면은 그림 5와 같다.

그림 4 디지털 트윈 개념도

- 8 -
 그림 5 MMS Lite 서버 실행 화면

2.2 전력 계통 모델링

본 논문에서의 모의 계통은 아래 그림6 와 같고, 계통의 파라미터는 표2와 같다.

154kV – 22.9kV 계통으로 송전선로 4개와 배전선로 4개로 구성되어 있으며 모의 시
험은 배전 선로에서의 내부 고장과 외부고장의 사고를 모의 하였다.

그림 6 PSCAD 모의 계통

- 9 -
표 2. PSCAD 모의계통 파라미터

항 목 데이터 (%Z @100MVA Base) 비고

R1 + jX1 0.081 + j 0.866
Source #1
R0 + jX0 0.384 + j 1.956
전원단
R1 + jX1 0.213 + j 1.156
Source #2
R0 + jX0 0.939 + j 4.581
R1 + jX1 0.4596 + j 3.6354
R0 + jX0 2.5145 + j 11.0173
T/L #1 Y1 j 2.979 CT :

송전선로 선종 / 2000/5[A]
A410B / 25.991 [km]
긍장
PT :
선종 /
T/L #2 A410B / 8 [km] 154[kV] /
긍장
110[V]
Z12 = j 32.48
Z13 = j 43.5
변압기 154/22.9/6.6 총 부하:
Z23 = j 13.75
40[MVA]
1차측 LA접지, 2차측 NGR접지
R1 + jX1 19.3 + j 34.9
R0 + jX0 50.25 + j 115.25
D/L
배전선로 Y1 j 0.005
#1 ~ #4
선종 /
A160 / 4 / 5 / 6 / 7 [km]
긍장

또한, C Interface 기반의 UDM(User Defined Model)을 설계하여, 트윈 MU와의

TCP/IP 통신을 하도록 구성하고, 트윈 Actuator의 동작을 할 수 있도록 구성하였다.
TCP/IP UDM은 CT/PT의 전류 및 전압 데이터를 받아 MU로 전송하고, Actuator

UDM은 MMS_Lite Server를 실행시켜 GOOSE Trip신호를 수신받아 PSCAD의 차단

기를 동작시킨다.

2.3 트윈 Merging Umit 개발

MU는 전력계통의 고장 발생 시, 전력 설비의 보호 및 제어 동작 수행을 위해 CT

와 PT의 전류, 전압 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 실시간 데이터를 전송

- 10 -
하는 장치이다. 이때 전류, 전압의 아날로그 신호를 IEC 61850 9-2의 SV 데이터 포맷

으로 전송하며, 데이터 모델로는 TCTR과 TVTR의 LN을 사용한다. 61850 표준에서

제안한 MU에서의 SV데이터 교환은 그림 7과 같다. MU는 SV패킷의 지연 및 손실없

이 안정적인 Process Bus 기반의 통신을 위해 usec단위의 정밀한 시각 동기 기능이

필요하며 이를 위해 시각동기화 프로토콜인 IEEE 1588 PTP를 적용하였다.

SV 프로토콜은 일반적으로 전류 및 전압의 샘플링 된 값을 교환하기 위하여 사용된

다. 샘플링 된 아날로그 값은 TCTR 과 TVTR의 CDC 중 SAV에 속하지만 다른

CDC에 의한 값들 또한 전송할 수 있다. 흔히 IEC 61850-9-2 LE이라 부르는 SV는

UCAIug에서 발간한 가이드 라인을 이용한 방식으로서, IEC 61850-9-2의 SV 프로토

콜을 이용하여 계기용 변압기 및 변류기에 접속되어 있는 머징유닛의 사전 정의된 데

이터셋에 의해 샘플값을 전송한다. IEC 61850 9-2LE에 의한 SV 메시지의 데이터는

그림 8과 같고 전류 및 전압의 순시 데이터로 구성되어 있다[18,19].

그림 7 MU에서의 SV 데이터 교환

- 11 -
그림 8. IEC 61850-9-2 LE에 따른 SV데이터

- 12 -
표 3. Sampled value(SV) 메시지의 포맷

Parameter name Parameter type Parameter description

MsvID ObjectReference Control Block의 ID

DatSet VisibleString129 전송할 데이터를 정의한 데이터셋 레퍼런스

Sample [1…n] ObjectReference 데이터셋의 의해 참조 된 데이터 값

SmpCnt TimeStamp 샘플 값 카운터
SmpRate Int32u 샘플링 주파수
SmpMod Int32u 샘플링 모드
SmpSynch Int8u 샘플값 동기화에 이용한 클럭 신호
Simulation Boolean SV의 테스트 신호 여부

본 논문에서는 IEC 61850 9-2 LE가 아닌 61850 9-2를 따라 MU를 설계하였으며,

61850 9-2LE 와 61850 9-2의 차이는 표4와 같다[19].

표 4. IEC 61850 9-2와 IEC 61850 9-2LE의 차이

Area IEC 61850-9-2 IEC 61850-9-2LE

Sampling rate of 80 samples/period (protection and metering)

Free parameter
analog values 256 samples/period (power quality)

3 phase current + neutral current

Content of dataset Configurable
3 phase voltage + neutral voltage
Time
Not defined Optical pulse per second (1PPS)
synchronization
Logical device Content and naming Specified with rules for logical device name
"Merging Unit" is not specified and contained logical nodes

2.4 트윈 IED 개발

본 연구를 위해 개발한 트윈IED는 SIED(Smart IED) 3대와 중앙보호 IED 1대로

총 4대이며 SISCO사의 상용 IED 개발 툴로 사용되는 MMS Ease Lite Library 6.2ver

을 사용하여 개발하였다.

- 13 -
SIED는 변압기 2차측, 배전선로A,B의 전류,전압의 순시치 데이터를 MU로부터 수신

받아 DFT기반 페이저 크기, 위상 연산 이후 IEC 61850 8-1에서 정의하는 계측LN인

MMXU에 내부 맵핑 후 GOOSE로 중앙보호장치에 전송한다. 이때 GOOSE 송신 주기

는 50[ms]로 설계하였다.

중앙보호IED 서버PC로 구현 된 CPCU는 그림9에서 볼 수 있듯이 각 SIED로부터 전

압, 전류의 페이저 크기, 위상 데이터를 수신한다. 수신 후 후비보호 알고리즘을 수행

하고, 알고리즘 동작 후 고장을 판단하여 트립신호 LN인 PTRC를 송신한다. 이때

GOOSE 데이터의 수신은 SCD파일의 Input영역에서 정의하는 Exteref에 따라 각 LN

에 맵핑하여 알고리즘 연산 및 미러링을 수행한다. 각 장치 들간의 데이터 교환은 그

림X와 같다.

그림 9. 장치들 간의 데이터 교환

2.5 IEEE 1588 PTP

IEC 61850–9-3 에서는 IEEE 1588 PTP를 전력계통의 기준시간 동기화 프로토콜

로 제시한다. IEC 61850–5의 시각동기 요구조건을 만족하기 위한 PTP profile을 지정

- 14 -
하며, Grandmaster holdover, clockvlass adjustment 등 세부사항을 설정 한다. IEC

61850-5에서 정의하는 IED의 시각동기 조건은 그림10과 같다. PTP를 전력계통에 적

용하기 위해서 IEEE C37.238에 따라 시간동기화 시스템 구성이 필요하다[20-22]. PTP

는 LAN(Local Area Network) 망에 연결된 기기간 정밀 시각 동기를 위한 표준으로

Microsecnond 이하의 정밀도를 보장한다. 2002년 version1, 2008년 version2가 발간되

었다. 또한 정밀한 타임 스탬프를 이용하여 수 ns 이하로 측정된 값의 기록이 가능하

고 기존 네트워크 시각 프로토콜 NTP보다 더욱 정밀한 성능을 제공한다. PTP를 이용

하여 Slave clock을 Master clock에 동기시키기 위해서는 둘 사이에 동기 메시지 교환

이 필요하다. 기존의 NTP방식과 PTP방식의 차이는 표4와 같다. 동기 메시지의 교환

은 그림11처럼 나타난다.

그림 10. IED의 시각동기 필요조건

- 15 -
 그림 11. PTP 타임스탬프

이때 Master clock에 대한 Slave clock의 시각 차이  는

             (1)

식(1) 같이 나타낼 수 있으며,  은 Master clock에 대한 종속 clock의 위상 오프

셋이고   는 전송 지연이다. Slave clock에 대하여 Master clock의 시각 차이 
은 식(2)와 같이 표현된다.

             (2)

식(1)과 식(2)를 사용하여 요구되는 clock 오프셋과 전송 지연의 값은

           (3)
           (4)

식(3)과 식(4)와 같이 구해지며 이와 같은 값들을 보상해 줌으로써 시각 동기를 이루

게 된다.

- 16 -
표 5. PTP 방식과 NTP 방식의 차이

PTP NTP

정밀도 1 microsecond 1 millisecond

시각동기
Master - Slave Server - Client
운영 구조
하드웨어 지원
필요 불필요
필요 유무
시각동기
LAN WAN
네트워크 구성

- 17 -
3. IEC61850기반 중앙집중식 보호

3.1 중앙집중식 후비보호 시스템

IEC61850 중앙집중식 보호 시스템 환경에서 중앙 보호 장치(CPCU)가 수행하는

주요 역할은 변전소의 선로, 변압기, 모선 등의 전력 설비들에 대한 후비보호다. IEEE

워킹 그룹 리포트에서는 변전소 내에서 정확하게 시각동기를 맞춘 측정값을 이용하여
필요한 데이터를 수집 후 보호, 제어, 모니터링, 통신 기능을 구현할 수 있는 고성능

컴퓨팅 환경으로 구성된 시스템으로 정의한다. 현대의 IED의 발전은 정보를 집중시키
고 중앙 집중화된 데이터를 중앙 보호장치에 포함시킴으로 변전소의 중앙집중식 보호
시스템을 발전시킬 수 있게 되었다. 하지만 현재 일반적으로 사용하는 SNTP(Simple
Network Time Protocol)방식 또는 IEEE 1588 PTP 방식의 경우 SNTP는 밀리 초 단
위의 오차가 존재하고, PTP는 Slave-Master 간의 오류 발생으로 시각 동기 오차가
커질 경우가 존재한다. 이때 시각 비동기 상황에서 사용할 수 있는 알고리즘이 필요하
고, 본 논문에서는 비동기 상황에서 보호가 가능하도록 연구된 배전 모선 후비보호 알
고리즘을 적용하여 연구를 진행하였다. 기존의 모선보호 시스템은 그림12와 같고, 중
앙집중식 모선보호 시스템은 그림13과 같다. 현재 연구 중이고 나아갈 방향인 중앙집
중식 보호 시스템의 특징을 기존 보호 시스템과 비교하여 표 5에 나타내었다.

- 18 -
 그림 12. 기존 모선 보호 시스템

그림 13. 중앙집중식 모선 보호 시스템

- 19 -
표 6. 기존 보호 시스템과 중앙집중식 보호 시스템

특징 기존 보호 시스템 중앙집중식 보호 시스템

많은 계전기들이 개별적으로 식별, 제한된 수의 장치를 식별, 지정, 구
계전기 관리 지정, 구성, 테스트 및 유지 관리가 성, 테스트 및 유지 관리가 필요하
필요하다. 다.
변전소의 각 보호 IED에는 일반적
으로 다양한 기능을 사용할 수 있 기기 수가 줄어 관리가 쉬워지고,
기기 관리
는 수많은 구성 선택사항이 있지만 기존 보호 방식에 비해 기능 선택
각 기기들의 펌웨어 버전을 정기적 사항이 축소, 제한된다.
으로 업데이트 해주어야 한다.
여전히 숙련된 인력이 유지보수를
위해 필요하겠지만, 변전소 P&C
시스템 전체적으로 물리적 장치의
정기적인 유지보수를 위해 비싼 교
유지 보수 숫자가 적기 때문에 기존보다 적은
정 시험 장비와 숙련된 직원이 필
유지보수만 필요하다. 그렇기 때문
요하다.
에 변전소 크기에 비해 더 낮은 비
용으로 더욱 신뢰할 수 있는 시스
템이 설계될 수 있다.
다수의 보호 IED로 인해 사이버 기기의 수가 적기 때문에 사이버
보안
위협에 많은 타겟을 제공한다. 위협에 대한 관리가 수월하다.
통일 된 표준을 따르지 않아 상호 IEC 61850 기반으로 구성 되기 때
상호운용성
운용성 확보가 힘들다. 문에 상호운용성 확보에 유리하다.
CPC는 기기 동적 모델의 "게이트
기술에 따라 보호 IED의 경우 키퍼"가 된다. 계전기는 변전소와
RTU또는 Data Aggregator와 같은 변전소 사이의 정보 교환을 위한
변전소
장비와 통신 인터페이스가 없을 수 지능형 노드 역할을 한다.
마스터
도 있다. 하지만 최신 보호 IED들 수집 된 데이터는 동적 상태 추정
인터페이스
은 변전소 내, 외부로 데이터를 전 을 통해 정보로 변환되고, 이 정보
송하기 위한기술을 갖추고 있다. 는 변전소 사이에서 교환 되어 통
신 수요를 줄일 수 있다.

3.2 비동기 데이터를 이용한 중앙집중식 배전 모선 후비보호

IEC 61850 기반 중앙집중식 배전모선 후비보호에 사용한 알고리즘은 비동기 상황

에서 사용할 수 있는 전류차동 알고리즘이다. 각 Local IED간 시각동기 오차 발생시
전류 차동 보호의 오동작을 초래하기 때문에 시각 동기 오차의 보상이 필요하다. 이때

각 Local IED의 상전압 데이터를 이용하여 정상분 전압 계산을 수행하고 각 IED간의

정상분 전압의 위상차를 계산한다. IED 간의 전압 위상차만큼 전류의 위상 보상을 수

- 20 -
행한다. 이후 IED간의 전압 크기를 비교하여, 고장 발생시 모선의 정상분 전압의 크기

오차가 각 IED간 서로 다르다면 비동기 데이터로 판별하여, 차동 전류의 계산을 억제

하여 계전기의 오동작을 방지한다.

3.3 리액턴스 효과

리액턴스 효과란 고장저항과 부하전류의 결합 효과에 의해 측정 임피던스가 영향

을 받는 현상을 말한다. 그림 14와 그림 15 정상상태 및 고장상태 계통에서 부하조류

및 고장전류의 흐름을 나타낸 것이다.

그림 14. 정상상태 계통

그림 15. 고장상태 계통

정상상태에서는 계전기로 인입되는 전압, 전류는 각각 선로에서 측정되는 전압 및 부

하전류와 같고 이때의 전압, 전류 벡터 다이어그램은 그림 16과 같다. 선로에 고장이

발생하게 되면, 대부분의 전류는 고장 발생지점으로 흐르게 되고 아주 작은 부하전류
만이 부하단으로 흐르게 된다. 고장 발생지점에서 고장저항이 존재하게 되면 계전기에

서 측정되는 전압은 고장 발생 지점까지의 전압과 고장 저항에 걸리는 전압의 합, 계

- 21 -
전기에서 측정되는 전류는 고장발생지점으로 흐르는 고장전류와 부하단으로 흐르는

부하전류의 합으로 나타낼 수 있다.

그림 16. 정상상태의 벡터 다이어그램

그림 17. 고장상태의 벡터 다이어그램

그림 17은 고장상태에서의 전압, 전류 벡터 다이어그램을 나타낸 것으로, 계전기가

측정하는 계측 임피던스는 고장저항과 부하전류의 영향에 의해 측정 저항뿐만이 아니

라 측정 리액턴스 값도 영향을 받게 된다.

- 22 -
 그림 18. 양단 전원 고장상태 계통

그림 18과 같은 양단 전원 계통을 살펴보면, 고장 발생 지점으로 흐르는 고장 전류(  )

와 계전기 설치점의 전압(   ), 전류(  )는 아래와 같다.

                      (5)

               (6)

따라서, 계전기에서 측정되는 임피던스(   )는 다음과 같이 표현된다.

  
         ∣  ∣   (7)
           
 

그림19는 측정임피던스를 R-X 평면에 나타낸 것으로  이면 언더리치

(Underreach)하고,    이면 오버리치(Overreach)하게 되므로 리액턴스 검출 요소
에 기울기를 사용한다.

그림 19. 리액턴스 효과

- 23 -
4. 사례 연구

4.1 시험환경 구성

사례 연구를 위한시험 환경은 TI(Texas Instruments)사의 AM574X EVM보드로

구현된 IED 3대와 MU3대, 서버PC로 구현된 중앙보호 IED, RTDS, PSCAD/EMTDC

가 동작하는 PC 이다. 각 IED는 SISCO사의 MMS Ease Ltie LIbrary 6.2ver 기반으
로 개발하였다.
AM5748 EVM보드는 TMS 320C6678 멀티코어 DSP(digital signal processing)와
ARM 기반의 멀티프로세서 EVM이다. 또한 직접 AD Conversion이 불가능 하므로 TI

사의 ADS5788 ADC보드를 SPI(Serial Processor Interface)로 연결하여 사용하였다.

DSP와 ARM 사이의 데이터 교환은 IPC(Inter Processor Communication)가 사용된다.
AM5748 보드의 블록 다이어그램은 그림20과 같다.

그림 20. AM5748 EVM보드 블록 다이어그램

- 24 -
실제 시험환경은 그림 21과 같으며 EVM보드를 사용하여 모의시험을 진행하였을때의

시험환경이다.

그림 21. 시험 환경

RTDS 모의 계통은 RTDS 전용 소프트웨어인 RSCAD를 통해 모델링 하였다. 중앙

보호장치의 보호 알고리즘이 고장 판별 이후 트립 GOOSE LN인 PTRC를 RTDS로
송신하면, RTDS의 GTNET 카드가 GOOSE를 수신하여 RSCAD내의 GOOSE 수신
램프에 불이 들어온다. 또한 동작시간 타이머 세팅을 하여 RTDS에서 고장 모의를 한
순간 이후 RTDS에서 PTRC를 수신하는 순간까지의 시간을 나타낸다. RSCAD의 계

통은 그림22와 같고 PSCAD와 동일한 계통 파라미터를 사용하여 모델링 하였다.

- 25 -
 그림 22. RTDS 모의 계통도
본 논문에서 제안한 그림23과 같은 디지털 트윈 모델링을 통하여 RTDS와 트윈 모

델의 비교 시험을 진행하였다.

그림 23. 디지털 트윈 모델링 - 하드웨어

RTDS 대신 PSCAD와 트윈MU(가상서버)를 이용하여, 트윈 모델의 성능을 검증하였

다. 이때 EVM보드의 하드웨어 성능으로 인한 SV의 전송속도 한계로 인해 MU와

IED의 속도를 0.1배로 하여 모의 시험을 진행하였다.
이후 EVM 보드가 아닌 PC만을 사용하여 PC1(PSCAD), PC2(MU 3대), PC3(IED 3

대), PC4(CPCU) 소프트웨어만을 이용한 시험을 진행하여 비교하였다. Virtual Box를

사용하여 가상서버를 설계하고 트윈 MU와 트윈 IED를 동작하였다. 위와 같은 시험환
경에서 EVM보드 대신 가상서버를 사용하여 그림24와 같은 환경에서 진행한 모의 시

험 결과는 하드웨어 시험때와 동일한 결과를 얻을 수 있었다.

- 26 -
 그림 24. 디지털 트윈 모델링 - 소프트웨어

4.2 RTDS를 이용한 트윈 모델의 성능 검증

4.2.1 배전모선 후비 보호용 비율차동 계전 알고리즘

모의 시험으로는 배전모선 a상 지락 고장에서의 외부고장과 내부고장 시의 차동

전류를 비동기 상황, 전류의 위상 보상 이후 상황, 전압 비교 이후 상황 3가지 Case에

서 확인하고, Trip 신호의 측정 시간을 비교하였다. 비동기 상황에서 사용하는 알고리

즘을 테스트하기 위하여 PTP는 동작시키지 않은 상태로 모의시험을 진행하였다. 트윈
모델의 내부고장 시 차동 전류의 크기는 그림25와 같이 나타나고, RTDS 시험에서의

내부고장 시 차동 전류는 그림26과 같다.

- 27 -
그림 25. 트윈모델 내부고장시 차동전류

그림 26. RTDS 내부고장시 차동전류

- 28 -
그림과 같이 트윈 모델을 사용했을 때와 RTDS를 사용했을때의 차동 전류는 동일하

게 측정되었고, 비동기 상황, 전류의 위상 보상 이후, 전압 크기 비교 이후 모두 차전

류가 발생한 것을 확인할 수 있었다. 본 논문에서 적용한 전류 차동 알고리즘의 성능

을 확인하기 위해서는 외부고장에서의 차동 전류 그래프를 통해 확인할 수 있다. 트윈

모델의 외부 고장 시 차동 전류의 크기는 그림17와 같이 나타나고, RTDS 시험에서의

외부고장 시 차동 전류는 그림28과 같다.

그림 27. 트윈모델 외부고장시 차동전류

- 29 -
 그림 28. RTDS 외부고장시 차동전류

외부 고장시 시각 비동기 상황에서는 차동전류가 검출되어 계전기의 오동작을 야기

한다. 전류 위상 크기 비교 이후, 차동 전류가 1회 검출되고 검출 되지 않는다.

이때 과도상태의 전류로 인해 차동전류가 검출되므로 전압 크기 비교까지 진행하면
차동전류가 검출되지 않는 것을 확인할 수 있다. 트윈 모델 시험과 RTDS 시험에서

과도상태에서의 전류 크기가 다른 이유는 IED가 중앙보호 장치로 50[ms]로 GOOSE를

송신하여 매 실험을 할때마다 전류의 크기는 다르게 검출된다.
차동전류 측정 비교 시험 이후 Trip 신호 측정 시간을 비교하였다. 고장 시점부터 중
앙보호 장치로부터 Trip 신호를 수신받는 순간까지의 시간을 측정하였다. 표6의 단위
는 Second이고, 시험은 20회 반복하였다.

- 30 -
표 7. 트윈모델과 RTDS의 Trip 신호 측정 시간 비교

Twin Model RTDS

항목
Sec Cycle Sec Cycle

최대값 0.0968 5.8080 0.1152 6.9120

최소값 0.0630 3.7800 0.0623 3.7380

평균값 0.0756 4.5360 0.0890 5.3400

표준편차 0.0106 0.6360 0.0134 0.8040

트윈 모델의 Trip시간은 약 75.6ms이고, RTDS의 Trip시간은 약 89ms로 약간의 오

차가 존재한다. 오차의 이유는 트윈 모델의 Actuator와 RTDS의 GTNET카드가
GOOSE를 수신하는 방식의 오차로 판단된다. 위와 같은 RTDS를 이용한 모의 시험을
통해 디지털 변전소의 디지털 트윈 모델을 검증하였다.

4.2.2 송전선로 보호용 거리 계전 알고리즘

전력계통의 상태변화에 따른 계전기의 오/부동작을 확인하기 위하여 전력 계통의

상태변화를 전원임피던스의 변경으로 고려하고, 기존 계통의 전원임피던스일 때, 전원
임피던스가 기존의 1/2배 일 때, 전원임피던스가 2배 일 때의 상황에서 시험을 진행하
였다. 모의 조건으로는 각 상황에서 모두 동일하게 A상 지락 고장 상황이었고, 다른

조건으로는 고장저항 : 0 ~ 11 [ohm], 고장 거리 : 0.1 ~ 0.7 [pu]로 진행하였다. 거리

계전기의 Zone1의 동작영역은 75%로 설계하였다.

- 31 -
그림 29. 기존 전원임피던스의 측정임피던스

그림 30. 전원임피던스 1/2배의 측정임피던스

- 32 -
 그림 31. 전원임피던스 2배의 측정임피던스

위와 같은 그래프에서 고장저항 11[ohm], 고장 거리가 0.7[pu]일 때 기존 전원임피던

스의 크기인 그림 29와 그럼 30처럼 동작을 하지만 그림 31과 같이 전원임피던스의
크기가 증가함에 따라 거리계전기가 부동작 함을 확인할 수 있다. 그러므로 전원임피

던스 크기에 따라 리액턴스 요소 정정 값의 수정이 필요하다. 또한 이를 통해 IED의

정정 값 결정 이후에 변전소 전체에 대한 보호 적정성 평가의 필요성을 확인하였다.

- 33 -
 제3장 결 론

본 논문에서는 디지털 변전소의 디지털 트윈 환경에서 전력계통 상태의 변화가 생

겼을 때 계전기의 오/부동작을 확인하여 디지털 변전소에 대한 보호 적정성 상시평가

방식을 제안하였다. PSCAD를 이용한 디지털 트윈 모의 계통을 모델링하고 MU와

IED에 대한 디지털 트윈 모델을 설계하여 GOOSE, SV 통신을 이용해 데이터를 송수

신하는 이와 같은 환경의 디지털 트윈 모델을 개발하였다. 트윈 모델의 검증을 위해

RTDS를 이용해 동일한 계통으로 비교 시험을 진행하였고 검증을 통해 트윈 모델의

타당성을 확인하였다.
모의시험을 위해 RTDS, TI사의 AM5748 EVM 보드, 서버 PC를 이용하여 IEC
61850 기반 중앙집중식 후비보호 시스템 환경을 구성하였다. 중앙집중식 후비보호 시

스템에서 기존 Local IED 역할을 하는 IED와 중앙 보호 장치인 CPCU 간의 데이터

교환은 GOOSE를 이용하였고 각 기기들은 IEC 61850 개발 툴인 MMS Ease Lite
Library 6.2ver을 이용하여 구현하였다. IED에 적용한 알고리즘으로는 비동기 데이터

를 이용한 배전모선 후비보호 알고리즘으로 NTP 방식 또는 PTP 방식의 오류로 인해

시각동기가 맞지 않을때의 상황을 고려해 비동기 상황에서 모선전압의 위상을 기준으
로 측정 전류의 위상 보상을 수행하고 이후 모선 전압의 크기를 비교하여 차전류를

계산하는 전류 차동 알고리즘을 사용 하였다. 또한 전력계통 상태의 변화가 생겼을 때

계전기의 오/부동작을 확인을 위해 거리계전기 알고리즘을 사용하여 보호 적정성 평가
의 필요성을 확인하였다.

이와같은 모의 시험을 통해 본 논문에서 제안한 디지털 트윈 모델을 검증하여 기존

디지털 변전소의 보호적정성 평가를 위해 사용한 RTDS 대신 트윈 모델을 이용한 보

호적정성 평가가 가능함을 확인하였다.

- 34 -
 참 고 문 헌

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Substation Automation System in Korea,” The 18th IERE General Meeting and
Japan Forum, May 2018.
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Power System Applications, 2017.
[23] AM574x Industrial Development Kit (IDK) Evaluation Module (EVM)
Hardware User’s Guide, Texas Instruments, 2018

- 36 -
 부 록

<부록 1 > IED별 통신, 데이터셋, 논리노드 구성을 위한 SCL

-MU (1, 2, 3 구성 동일)

<IED name="IEDMU1">
<LDevice desc="description" inst="C1">
<DataSet name="PhsMeas1" desc="description">
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="TCTR" fc="MX"
doName="AmpSv" daName="instMag$f"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="2" lnClass="TCTR" fc="MX"
doName="AmpSv" daName="instMag$f"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="3" lnClass="TCTR" fc="MX"
doName="AmpSv" daName="instMag$f"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="TVTR" fc="MX"
doName="VolSv" daName="instMag$f"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="2" lnClass="TVTR" fc="MX"
doName="VolSv" daName="instMag$f"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="3" lnClass="TVTR" fc="MX"
doName="VolSv" daName="instMag$f"/>
</DataSet>
<SampledValueControl name="Volt"
datSet="PhsMeas1" smvID="VoltMulticast" confRev="1"
smpRate="1" nofASDU="1" multicast="true"
smpMod="SmpPerSec">
<IEDName apRef="S1">CPCU1</IEDName>
<SmvOpts sampleRate="true"
refreshTime="true" sampleSynchronized="true" dataSet="true"
security="true"/>
</SampledValueControl>
</LN0>
</LN>
<LN lnType="TCTR" lnClass="TCTR" inst="1">
</LN>
<LN lnType="TCTR" lnClass="TCTR" inst="2">
</LN>

- 37 -
 <LN lnType="TCTR" lnClass="TCTR" inst="3">
</LN>
<LN lnType="TVTR" lnClass="TVTR" inst="1">
</LN>
<LN lnType="TVTR" lnClass="TVTR" inst="2">
</LN>
<LN lnType="TVTR" lnClass="TVTR" inst="3">
</LN>
</LDevice>
</Server>
</AccessPoint>
</IED>

-IED (1, 2, 3 구성 동일)

<IED name="SIED1">
<LDevice desc="description" inst="C1">
<DataSet name="SIED1dataset" desc="description">
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="PhV.phsA" daName="cVal$mag$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="PhV.phsA" daName="cVal$ang$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="PhV.phsB" daName="cVal$mag$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="PhV.phsB" daName="cVal$ang$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="PhV.phsC" daName="cVal$mag$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="PhV.phsC" daName="cVal$ang$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="A.phsA" daName="cVal$mag$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="A.phsA" daName="cVal$ang$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="A.phsB" daName="cVal$mag$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="A.phsB" daName="cVal$ang$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="A.phsC" daName="cVal$mag$f" fc="MX"/>
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="MMXU"
doName="A.phsC" daName="cVal$ang$f" fc="MX"/>

- 38 -
 </DataSet>
<GSEControl name="PHASOR1_GOOSE"
datSet="SIED1dataset" appID="SIED1appID">
<IEDName apRef="S1">CPCU1</IEDName>
</GSEControl>
</LN0>
<LN lnType="LPHD" lnClass="LPHD" inst="1">
</LN>
<LN lnType="MMXU" lnClass="MMXU"
inst="1">
</LN>
<LN lnType="MSQI" lnClass="MSQI" inst="1">
</LN>
<LN lnType="GGIO" lnClass="GGIO" inst="1">
</LN>
</LDevice>
</Server>
</AccessPoint>
</IED>

-중앙보호장치

<IED name="CPCU1">
<LDevice desc="description" inst="C1">
<DataSet name="CPCU1dataset" desc="description">
<FCDA ldInst="C1" prefix="" lnInst="1" lnClass="PTRC"
doName="Op" daName="general" fc="ST"/>
</DataSet>
<GSEControl name="Trip1_GOOSE"
datSet="CPCU1dataset" appID="CPCU1appID">
<IEDName apRef="S1">IEDAC</IEDName>
</GSEControl>
<LN lnType="MMXU" lnClass="MMXU" inst="1">
<Inputs>
<ExtRef desc="To test GOOSE
Subscription" iedName="SIED1" ldInst="C1" prefix=""
lnClass="MMXU" lnInst="1" serviceType="GOOSE" srcLDInst="C1"
srcPrefix="" srcLNClass="LLN0" srcCBName="PHASOR1_GOOSE"
intAddr="MMXU1"/>
</Inputs>
</LN>
<LN lnType="MMXU" lnClass="MMXU" inst="2">

- 39 -
 <Inputs>
<ExtRef desc="To test GOOSE Subscription" iedName="SIED2"
ldInst="C1" prefix="" lnClass="MMXU" lnInst="1"
serviceType="GOOSE" srcLDInst="C1" srcPrefix=""
srcLNClass="LLN0" srcCBName="PHASOR2_GOOSE"
intAddr="MMXU2"/>
</Inputs>
</LN>
<LN lnType="MMXU" lnClass="MMXU" inst="3">
<Inputs>
<ExtRef desc="To test GOOSE
Subscription" iedName="SIED3" ldInst="C1" prefix=""
lnClass="MMXU" lnInst="1" serviceType="GOOSE" srcLDInst="C1"
srcPrefix="" srcLNClass="LLN0" srcCBName="PHASOR3_GOOSE"
intAddr="MMXU3"/>
</Inputs>
<Inputs>
<ExtRef desc="To test GOOSE
Subscription" iedName="SIED2" ldInst="C1" prefix=""
lnClass="GGIO" lnInst="1" serviceType="GOOSE" srcLDInst="C1"
srcPrefix="" srcLNClass="LLN0" srcCBName="PHASOR2_GOOSE"
intAddr="GGIO1"/>
</Inputs>
<Inputs>
<ExtRef desc="To test GOOSE
Subscription" iedName="SIED3" ldInst="C1" prefix=""
lnClass="GGIO" lnInst="1" serviceType="GOOSE" srcLDInst="C1"
srcPrefix="" srcLNClass="LLN0" srcCBName="PHASOR3_GOOSE"
intAddr="GGIO1"/>
</Inputs>
</LN>
<LN lnType="PTRC" lnClass="PTRC" inst="1">
</LN>
</LDevice>
</Server>
</AccessPoint>
</IED>

- Actuator

<IED name="IEDAC">
<LDevice desc="description" inst="C1">

- 40 -
 <LN lnType="PTRC" lnClass="PTRC" inst="1">
<Inputs>
<ExtRef desc="To test GOOSE
Subscription" iedName="CPCU1" ldInst="C1" prefix=""
lnClass="PTRC" lnInst="1" serviceType="GOOSE" srcLDInst="C1"
srcPrefix="" srcLNClass="LLN0" srcCBName="Trip1_GOOSE"
intAddr="PTRC1"/>
</Inputs>
</LN>
</LDevice>
</Server>
</AccessPoint>
</IED>

- 41 -
 Development of Digital Twin Technology for Protection Adequacy

Evaluation of IEC61850 based Digital Substations

Ha Kwang-min

Department of Electrical Engineering

Graduate School, Myongji University
Directed by Professor Nam Soon-ryul

In recent years, as the introduction of centralized protection technology for

digital substations has been promoted centered on IEEE PES PSRC (Power System
Realying and Control Committee) Working Group K15, it is required to secure
adequate protection for the entire digital substation. In addition, there is a limit to
only evaluating the protection adequacy of each IED that protects individual power
devices, and as the introduction of centralized protection technology for digital
substations is promoted along with the global expansion of digital substations, it is
required to secure protection adequacy for the entire digital substation. is becoming
However, expensive RTDS facilities are essential to evaluate the protection
adequacy of an existing substation composed of protection IEDs using electrical
signals including voltage and current. In particular, continuous use of RTDS
facilities is required for regular evaluation of protection adequacy, and therefore,
regular evaluation of protection adequacy using RTDS facilities is practically
difficult.
The method proposed in this paper is to implement the real-world machines,
equipment, and objects in the virtual world in the computer to the digital substation
and introduce a digital twin technology that enables various simulations and
information acquisition, so that protection adequacy is always evaluated without a
separate RTDS facility. suggest a way By developing a digital twin based on
virtual time synchronization so that virtual real-time simulation of digital substations
is possible, and based on this, we develop a protection adequacy evaluation
technology that performs virtual real-time simulation according to a failure scenario
that reflects changes in the state of the power system. We want to secure the base

- 42 -
technology for improving the reliability of substations. To this end, twin system
modeling was performed for digital substations using PSCAD, and information
exchange between devices was developed based on IEC61850 to secure
interoperability in digital substations. Modeling was performed. To verify the
method proposed in this paper, simulation results were compared through real-time
simulation tests using RTDS.

Keyword
IEC 61850, GOOSE, Digital substation, Digital twin, MU, IED, RTDS, PTP

- 43 -