Paut원리 및 Pa Probe설계와 적용사례

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나우기연주식회사
나우기연㈜는 고도의 산업 기술이 총체적으로 집약된 각종
설비들을 완벽하게 검사하여 신뢰성과 안전성뿐만 아니라 원가
절감 및 유지 보수를 통한 이용률 향상으로 기업의 생명력과
경쟁력을 보장해 주는 를 제공하는 비파괴
검사 장비 전문 제조 및 판매회사입니다 .
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• Phased-array 기술은 초음파 Probe 의 특성을

전자적으로 전환하는 기술 이다 .
• Array probe 는 각각의 구성 Element 의 송신

Pulse 와 수신 Echo 의 시간 지연을 조절하여
Beam 을 형성한다 .
• 결함 검출 및 분석에 Phased-array 기법을

적용할 수 있다 .
나우기연㈜ 경기도 성남시 중원구 상대원동 5442-1 크란츠테크노 304 호 T 031-745-0088 F 031-745-0099
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• 16CH 이상의 압전소자로 배열된 센서를 만들

어 , 전기적으로 펄스의 지연시간 (delay time) 을
조 절 함 으 로 초 음 파 의 전 파 방 향과 초점 거 리 를
자유롭게 조절하는 기능을 이용한 기술
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 Phased Array Probe 의 초음파 발생원리

Single Trigger Pulse
Time
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 Phased Array Probe

• 초음파의 발생
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 Phased Array Probe

• 초음파빔의 집속 및 조향
빔의 집속 빔의 조향
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 Phased Array Probe
• 일 반 적 인 Probe 의
기본적인 형태
• Phased Array Probe :

작은 크기의 진동자를
연속으로 배치 , 개별적으로
빔을 발생
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다수의 Element 로 나누어 개별적으로 활성화한다 .
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 Phased Array Probe Design
1 D linear array 2 D matrix
1 D annular array 2 D sectorial

annular
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Conventional UT probe 를 이용한 Beam steering( 송

신)
Huyghens 원리에 의해서 생성된 Wedge 내부의 Beam
은
송신하기 위하여 적당한 시간지연이 필요하다 .
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Conventional UT probe 를 이용한 Beam steering( 송

신)
Huyghens 원리로 Wedge 안에서 생성된 초음파는 수신 중 Angle beam wedge
안에서 지연된다 . Wedge 면에서 생성된 Beam 은 Wedge 구조상 간섭 , 상쇄작용을
통해 필요한 Wave 만을 Crystal 로 수신하게 된다 .
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Phased-array probe 를 이용한 Beam steering( 송

신)
Huyghens 원리로 생성된 Accoustic beam 적당한 전자적 시간 지연을 송신중에
인가한다 .
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Phased-array probe 를 이용한 Beam steering( 송

신)
적당한 전자적 시간 지연을 수신중 인가한다 . 적절한 Delay low 가 신호의 위상을
만들고 이 신호들이 결합되어 하나의 신호를 만들어 낸다 .
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Phased-array
신호처리
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• 작은 Focal spot 으로 초음파 Energy 를
집중할 수 있다 .
• 하나의 Probe 를 사용하여 다양한 깊이의

Beam focusing 을 할 수 있다 .
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• 비대칭 (e.g. 포물선 ) Focal law ( 시간 지연과 Element 위치 )
• 제한된 근거리 음장
• 유일하게 1D-array 로 Steering 면에서 Beam focusing 을 수행할 수

있다 .
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A2
N 
4

sin   0.5 
A
z
d
A
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F
K
N
F
d st   
A
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• Array Probe 에 의해 생성된 Beam 은

굴절각을 자유자재로 조절할 수 있다 .
• Single Probe 로 다양한 굴절각을

적용하여 검사할 수 있다 .
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• 비대칭 (e.g. linear) Focal law 를 적용할 수 있다 .
• 1 D-array 사용시 Steering 면을 실행할 수 있다 .
• Single probe 로 종파와 횡파를 동시에 발생시킬 수 있다 .
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• Steering 범위는 배열된 각 Element 의 폭에 의해서 결정된다 .

• 최대 Steering angle (-6dB 에서 ) 은 아래의 식으로 결정된다 .

sin  st  0.5 
e
• Steering 범위는 각도를 가진 Wedge 를 사용하여 수정할 수

있다 .
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 Phased Array Scanning

• Linear Scan
• Sectorial Scan
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• 물리적 움직임 없이 초음파 Beam

을 Probe 축 방향을 따라 주사할
수 있다 .
• 초음파 Beam 의 이동은 활성화 된

Element 의 시 간 다 중 송 신 에
의해서 실행된다 .
• Scanning 넓 이 는 다 음 의
요소들로 제한 받는다 .
- 배열된 Element 의 수
- 검사 장비의 Channel 수
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 Linear Scan(2)
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 Sectorial Scan
• 초 음 파 빔 을 굴 절 각 을
자유로이 조정 가능
• 하 나 의 탐 촉 자 로 여 러
굴절각의 탐상 가능
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 진동자 수에 따른 초음파 빔의 강도 (1)
1 Element
2 Elements
4 Elements
8 Elements
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 진동자 수에 따른 초음파 빔의 강도 (2)

Focusing 10 elements Focusing 16 elements Focusing 32elements
Aperture 10 x 10mm Aperture 16 x 10mm Aperture 32 x 10mm
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Focus = 30mm Focus = 60mm
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 DDF(Dynamic Depth Focusing) 기능을 이용한 개선
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 VC-Side(B) and VC-End(D) views Index axis
Scan axis
Usound
axis
Scan axis
Index axis
VC-SIDE(B) VIEW
Usound axis
VC-END(D) VIEW
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 VC-Tpo(C) views
VC-TOP(C) VIEW Index axis
Scan axis
Scan axis
Index axis
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 VC-Tpo(C) views
Usound
axis
Index axis VC-END(D) VIEW

Scan axis
Usound axis
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 VC-Tpo(C) views
Usound
axis

Scan axis
Usound axis
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 VC-Tpo(C) views
Usound
axis

Scan axis
Usound axis
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• 고속의 자동화된 탐상이 가능

• 빔의 특성을 전기적으로 제어하여 하나의 탐촉자를 이용
하여 여러 각도의 탐상 가능
• 빔의 집속
• 빔의 조향
• 복잡한 형상의 시험편에 적용 가능

• 데이터의 영구보존 가능
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• Array probe 의 원거리 음장에서 규칙적인 각도 배열의 Main beam 과

Grating lobe 를 가지게 된다 .
• Array lobe 는 유용한 Steering range 감소시키고 , 매우 복잡한 다중 Image

를 생성한다 .
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
 lobe  
p
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n=8 Array Main

p=9 lobe lobe
n=12
p=6
n=16
p=4.5
n=20
p=3.6
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0.5
0.75
Frequency (MHz)
1.25
1.5
Broa
d
band
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양쪽 (Primary 축과 Secondary 축 ) 의 beam steering 및 beam focusing 과

linear scanning 을 동시에 수행할 수 있다 .

sin  p  0.5 
pp

sin  s  0.5 
ps
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 용접부의 적용 (S-scan)
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 용접부의 적용 (Linear, Sectorial scan)
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 후판 용접부의 적용 (1)
Sectorial scan 을 적용하여 100mm 이상의

깊이에서 crack 검출
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 후판 용접부의 적용 (2)
Sectorial scan 과 용접부 profile 을 통하여 반사원 위치 식별
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 Bolt 의 적용 (1)
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 Bolt 의 적용 (2)
굴절각 -15~15 도 Sectorial scan 을 사용하여 bolt 전 체적 검사
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 Blade root 부의 검사
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 Tube to tubesheet 용접부의 검사
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 Tube 용접부의 검사
• 방사선 투과검사 image 와의 비교
RT 필름 Phased array image

사진
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• Phased-array 기술은 초음파 Probe 의 특성을

• Array probe 는 각각의 구성 Element 의 송신

• 결함 검출 및 분석에 Phased-array 기법을

• 16CH 이상의 압전소자로 배열된 센서를 만들

 Phased Array Probe 의 초음파 발생원리

 Phased Array Probe

 Phased Array Probe

 Phased Array Probe

• Phased Array Probe :

다수의 Element 로 나누어 개별적으로 활성화한다 .

 Phased Array Probe Design

1 D linear array 2 D matrix

1 D annular array 2 D sectorial

Conventional UT probe 를 이용한 Beam steering( 송

Conventional UT probe 를 이용한 Beam steering( 송

Phased-array probe 를 이용한 Beam steering( 송

Phased-array probe 를 이용한 Beam steering( 송

• 작은 Focal spot 으로 초음파 Energy 를

• 하나의 Probe 를 사용하여 다양한 깊이의

• 비대칭 (e.g. 포물선 ) Focal law ( 시간 지연과 Element 위치 )

• 유일하게 1D-array 로 Steering 면에서 Beam focusing 을 수행할 수

• Array Probe 에 의해 생성된 Beam 은

• Single Probe 로 다양한 굴절각을

• 비대칭 (e.g. linear) Focal law 를 적용할 수 있다 .

• 1 D-array 사용시 Steering 면을 실행할 수 있다 .

• Single probe 로 종파와 횡파를 동시에 발생시킬 수 있다 .

• Steering 범위는 배열된 각 Element 의 폭에 의해서 결정된다 .

• Steering 범위는 각도를 가진 Wedge 를 사용하여 수정할 수

 Phased Array Scanning

• 물리적 움직임 없이 초음파 Beam

• 초음파 Beam 의 이동은 활성화 된

 진동자 수에 따른 초음파 빔의 강도 (1)

 진동자 수에 따른 초음파 빔의 강도 (2)

Focus = 30mm Focus = 60mm

 DDF(Dynamic Depth Focusing) 기능을 이용한 개선

 VC-Side(B) and VC-End(D) views Index axis

Index axis VC-END(D) VIEW

Index axis VC-END(D) VIEW

Index axis VC-END(D) VIEW

• 고속의 자동화된 탐상이 가능

• 복잡한 형상의 시험편에 적용 가능

• Array probe 의 원거리 음장에서 규칙적인 각도 배열의 Main beam 과

• Array lobe 는 유용한 Steering range 감소시키고 , 매우 복잡한 다중 Image

n=8 Array Main

양쪽 (Primary 축과 Secondary 축 ) 의 beam steering 및 beam focusing 과

 용접부의 적용 (Linear, Sectorial scan)

Sectorial scan 을 적용하여 100mm 이상의

Sectorial scan 과 용접부 profile 을 통하여 반사원 위치 식별

굴절각 -15~15 도 Sectorial scan 을 사용하여 bolt 전 체적 검사

 Tube to tubesheet 용접부의 검사

RT 필름 Phased array image

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