Ryszard Poprawski

Wodzimierz Salejda

wiczenia laboratoryjne z fizyki

Cz I
Zasady opracowania wynikw pomiarw
Wydanie V

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocawskiej

Wrocaw 2005

Recenzenci

Ryszard CACH
Ewa DBOWSKA
Mirosaw DROZDOWSKI

Redaktor serii

Ludmia LEWOWSKA

Skad komputerowy
Marek J. BATTEK

Opracowanie redakcyjne
Maria IZBICKA

Projekt okadki

Ewa POPRAWSKA

Copyright by Ryszard Poprawski & Wodzimierz Salejda, Wrocaw 1996

OFICYNA WYDAWNICZA POLITECHNIKI WROCAWSKIEJ

Wybrzee Wyspiaskiego 27, 50-370 Wrocaw

ISBN 83-7085-924-0

Drukarnia Oficyny Wydawniczej Politechniki Wrocawskiej. Zam. nr 1114/2005.

Spis treci
Spis waniejszych oznacze . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Przedmowa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Wstp . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1. Pomiary wielkoci fizycznych . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Przykady pomiarw prostych . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Przykady pomiarw zoonych . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2. Obliczanie niepewnoci pomiarw . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1. Pojcia podstawowe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2. Statystyczna analiza wynikw i niepewno pomiarw . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.1. rednia arytmetyczna, wariancja i odchylenie standardowe (z prby) . . . . .
2.2.2. Wspczynnik korelacji (z prby) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.3. Histogramy . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.4. Gsto rozkadu prawdopodobiestwa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.5. Wykres normalny . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.6. Warto rednia i wariancja . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.7. Dystrybuanta rozkadu prawdopodobiestwa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.8. Standaryzowany rozkad normalny . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.9. Obliczanie prawdopodobiestw P(( k, + k)) dla rozkadu
normalnego . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.10. Gsto dwuwymiarowego rozkadu prawdopodobiestwa . . . . . . . . . . . .
2.2.11. Wspczynniki korelacji oraz macierz kowariancji i korelacji . . . . . . . . . .
2.2.12. Centralne twierdzenie graniczne . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.13. Rozkad dwumianowy i rozkad Poissona . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.14. Przyblianie rozkadu dwumianowego i rozkadu Poissona rozkadem
normalnym . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3. Opracowanie wynikw oraz niepewnoci pomiarw prostych . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.1. Obliczanie niepewnoci w przypadku maej liczby pomiarw za pomoc
dugoci przedziaw ufnoci . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.2. Okrelanie niepewnoci na podstawie klasy przyrzdw . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.3. Niepewnoci pomiarw miernikw cyfrowych . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.4. Zaokrglanie i zapis wynikw pomiarw oraz ich niepewnoci . . . . . . . . . . . . . . .
2.4.1. Zaokrglanie wartoci niepewnoci pomiaru. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.4.2. Zaokrglanie wynikw pomiarw . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.4.3. Zapisywanie wynikw pomiarw oraz ich niepewnoci . . . . . . . . . . . . . . . .
2.5. Odrzucanie wynikw pomiarw . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.6. Obliczanie niepewnoci w przypadku pomiarw zoonych . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.6.1. Nieskorelowane wielkoci wejciowe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

5
6
7
9
10
11
12
12
17
17
20
23
25
27
29
29
30
34
35
35
37
38
41
42
43
44
45
46
47
47
48
49
50
52

2.6.2. Skorelowane wielkoci wejciowe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55

2.6.2.1. Obliczanie niepewnoci metod rniczki zupenej . . . . . . . . . . . . 58
3. Graficzne opracowanie wynikw pomiarw . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
3.1. Rysowanie wykresw . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
3.1.1. Rysowanie wykresw we wsprzdnych biegunowych . . . . . . . . . . . . . . . . 68
3.2. Odczytywanie wartoci wielkoci fizycznych z wykresw . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
3.2.1. Wyznaczanie nachylenia wykresu . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
3.3. Linearyzacja zalenoci midzy wielkociami fizycznymi . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
4. Metody regresji . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
4.1. Regresja nieliniowa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
5. Komputerowe opracowanie wynikw . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
6. Zasady wykonywania wicze i opracowywania sprawozda . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
6.1. Wskazwki praktyczne dotyczce wykonywania wicze . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
6.2. Sprawozdanie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
7. Dodatek . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
7.1. Definicje jednostek podstawowych ukadu SI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
7.2. Przedrostki stosowane do oznaczania wielokrotnoci jednostek . . . . . . . . . . . . . . . 93
7.3. Tabele . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
Literatura uzupeniajca . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113

Spis waniejszych oznacze

X, Xi , Y
x, xi, y
x 0, y 0
rz
s, sx

x
x

wielkoci fizyczne,
wartoci wielkoci fizycznych,
jednostki wielkoci fizycznych,
warto dokadna (prawdziwa, rzeczywista) wielkoci fizycznej,
odchylenie standardowe,
bd pomiaru,
rednia arytmetyczna,
rednia arytmetyczna z duej liczby pomiarw,

p
bd przypadkowy,

bd systematyczny,
n
liczba pomiarw,
sx
odchylenie standardowe redniej arytmetycznej,
rxy
wspczynnik korelacji,
f(x)
gsto prawdopodobiestwa, funkcja rozkadu,
P
prawdopodobiestwo,
,
parametry rozkadu,
(x)
gsto standaryzowanego rozkadu normalnego,
F(x)
dystrybuanta,
xy
kowariancja,
B(m, p) rozkad dwumianowy,
P()
rozkad Poissona,
t(n, ) wspczynnik Studenta,

poziom ufnoci,
kl
klasa miernika,
Z
zakres miernika,
kld
klasa miernika cyfrowego,
rozdz
rozdzielczo miernika cyfrowego,
uy
zoona niepewno standardowa,
i
wspczynnik regresji,
p
niepewno przypadkowa,
w
niepewno wzgldna,
%
niepewno wzgldna wyraona w procentach.

PRZEDMOWA
Oddajemy do rk czytelnikw kolejne wydanie podrcznika do wicze laboratoryjnych z fizyki. Podrcznik jest adresowany do studentw pierwszych dwch lat
studiw wyszych uczelni technicznych i skada si z czterech czci noszcych
nastpujce tytuy:
1. Podstawy opracowania wynikw pomiarw.
2. Mechanika i termodynamika.
3. Elektryczno i magnetyzm.
4. Optyka.
W czci pierwszej przedstawiamy podstawowe zasady analizy niepewnoci pomiarw, metody opracowania i prezentacji wynikw pomiarw oraz tablice wartoci wielkoci fizycznych. Pragniemy podkreli, e metody analizy wynikw pomiarw s zgodne z aktualnymi zaleceniami ISO (International Organization for Standarization) oraz Gwnego Urzdu Miar.
Wspautorem rozdziaw 2.2, 2.6 i 4 jest profesor dr hab. Witold Klonecki, byy
pracownik naukowo-dydaktyczny Instytutu Matematyki PWr.
W pozostaych czciach podrcznika zamieszczono opisy wraz z obszernymi
wprowadzeniami do wszystkich wicze wykonywanych w Laboratorium Podstaw
Fizyki PWr. Opis kadego wiczenia rozpoczyna si zwizym sformuowaniem najistotniejszych zagadnie (w formie sw kluczowych), ktrych znajomo jest warunkiem koniecznym przystpienia do wykonywania danego wiczenia laboratoryjnego.
Mamy nadziej, e podrcznik ten uatwi studentom przygotowanie si do wicze laboratoryjnych z fizyki oraz opracowania wynikw pomiarw bez koniecznoci
sigania do wielu innych ksiek.
W internetowej witrynie dydaktycznej Instytutu Fizyki PWr. pod adresem:
http://www.if.pwr.wroc.pl/dydaktyka/LPF jest dostpne bezpatnie poprzednie wydanie podrcznika.
Autorzy dzikuj prof. dr. hab. Witoldowi Kloneckiemu za cenne uwagi i dyskusje oraz pani Alicji Szczygie za wykonanie rysunkw do wszystkich czci
podrcznika.
Autorzy i redaktorzy podrcznika

WSTP
Poznanie przez studentw podstawowych technik dowiadczalnych, zdobycie umiejtnoci przeprowadzania eksperymentw i opracowywania wynikw
pomiarw oraz szacowania niepewnoci pomiarw to najwaniejsze cele wicze laboratoryjnych z fizyki. Opanowanie tych zagadnie wymaga pewnego czasu
oraz dowiadczenia, ktre zdobywa si podczas wykonywania i opracowywania kolejnych wicze.
Zajcia laboratoryjne z fizyki rozpoczynaj si zebraniem organizacyjnym, na
ktrym studenci po zapoznaniu si z regulaminem pracowni fizycznej, sprawami
organizacyjnymi i porzdkowymi, otrzymuj harmonogram wicze na cay semestr.
W cigu tygodnia dzielcego zebranie organizacyjne od pierwszych zaj
student powinien zapozna si z tematyk pierwszego wyznaczonego wiczenia,
a take z podstawowymi metodami szacowania niepewnoci pomiarw.
Oto lista zagadnie, z ktrymi naley si zapozna przed przystpieniem do pierwszego wiczenia, niezalenie od jego tematu:
pomiary wielkoci fizycznych (rozdzia 1),
podstawy obliczania niepewnoci pomiarw (rozdzia 2),
zasady wykonywania wicze i opracowywania sprawozda (rozdzia 6).
W opisach wicze zasugerowano sposoby opracowania wynikw pomiarw oraz
metod obliczania ich niepewnoci. Podstawowe pojcia oraz ich definicje zostay
w tekcie wyrnione pogrubion czcionk, w celu wyranego oddzielenia ich od
przykadw i komentarzy.
Przed przystpieniem do kolejnego wiczenia naley zapozna si z metod
obliczania niepewnoci oraz sposobem opracowania wynikw przydatnym
wdanym wiczeniu. Taki sposb postpowania zapewnia zgromadzenie podczas
pomiarw danych niezbdnych do oblicze oraz pozwala stopniowo (przy wykonywaniu i opracowywaniu rezultatw kolejnych wicze) zapoznawa si z metodyk
opracowywania i prezentacji wynikw pomiarw.
Omwimy krtko zawarto podrcznika. W rozdziale pierwszym wprowadzono podstawowe pojcia dotyczce wielkoci fizycznych oraz ich pomiarw. Obszerne
przedstawienie zarwno przedmiotu jak i podstawowych zasad analizy niepewnoci pomiarw zamieszczone jest w rozdziale 2. Sposoby graficznego opracowywania wynikw pomiarw oraz metody regresji liniowej oraz nieliniowej zawieraj
odpowiednio rozdziay 3 i 4. Oprogramowanie uytkowe pozwalajce na szybkie
isprawne przeprowadzenie analizy niepewnoci pomiarw i sporzdzenie wykresw
przedstawiono w rozdziale 5. Zasady wykonywania pomiarw w Laboratorium Pod7

staw Fizyki oraz sporzdzania sprawozda omwiono w rozdziale 6. Dodatek zawiera definicje jednostek wielkoci podstawowych w ukadzie SI, wartoci staych
fundamentalnych, tablice staych niezbdnych podczas opracowywania wynikw pomiarw oraz tablice, w ktrych podano wasnoci fizyczne materiaw stanowicych
przedmiot bada. Tablice mog by przydatne do porwnania uzyskanych wynikw
pomiarw z danymi wyznaczonymi w laboratoriach naukowych i przemysowych.
Przytoczone w tekcie przykady stanowi ilustracj omawianych zagadnie, nie
s jednak wynikami konkretnych pomiarw i w adnym wypadku nie naley powoywa si na wystpujce w nich wartoci liczbowe.

1. POMIARY WIELKOCI FIZYCZNYCH

Przedmiotem fizyki dowiadczalnej s pomiary wielkoci fizycznych oraz poszukiwanie i opis zwizkw (praw fizycznych) midzy tymi wielkociami.
Wielkoci fizyczn nazywamy tak waciwo obiektu, substancji lub zjawiska, ktr mona porwna ilociowo z podobnymi waciwociami lub cechami innego obiektu, substancji lub zjawiska. Wielkoci fizyczne s wic waciwociami lub cechami obiektw, substancji lub zjawisk, ktre mona zmierzy.
Proces porwnywania wielkoci fizycznej z wielkoci przyjt za jednostk nazywamy pomiarem. Przykadami wielkoci fizycznych, za pomoc ktrych
opisujemy waciwoci obiektw, s: masa, gsto, temperatura, wymiary geometryczne, natomiast wielkociami charakteryzujcymi zjawiska s: prdko, przyspieszenie, sia, szybko zmian temperatury lub efekty cieplne, np. ciepo parowania,
ciepo waciwe itp.
Aby mc dokona pomiaru danej wielkoci fizycznej, naley okreli jednostk
tej wielkoci. Jednostki definiowane s za pomoc wzorca lub przez sprecyzowanie
sposobu ich pomiaru. W celu uniknicia dowolnoci w wyborze jednostek, a wic
umoliwienia porwnywania wynikw pomiarw, definicje jednostek fizycznych
zostay okrelone w umowach midzynarodowych. W wikszoci krajw, w tym
rwnie w Polsce, obowizuj jednostki ukadu midzynarodowego SI (System
International). Definicje jednostek ukadu SI, zatwierdzone przez midzynarodow
konferencj w 1991 roku, s zawarte w dodatku znajdujcym si w kocowej czci podrcznika.
Istnieje okrelona liczba wielkoci fizycznych, ktrych jednostki s zdefiniowane. Wielkoci takie nazywamy podstawowymi (w ukadzie SI jest ich siedem).
Pozostae wielkoci mona wyrazi za pomoc zwizkw (zazwyczaj praw fizycznych) midzy wielkociami podstawowymi. Wielkoci fizyczne, ktre mona wyrazi za pomoc wielkoci podstawowych nazywamy wielkociami pochodnymi. Jednostki podstawowe mona wybiera i definiowa w rny sposb. Za jednostki podstawowe przyjmuje si jednostki takich wielkoci fizycznych, ktre dziki odpowiednim przyrzdom i technice pomiarowej mona moliwie precyzyjnie
zmierzy, a ich wzorce moliwie prosto i dokadnie odtworzy. Naley zwrci
uwag, e adna wielko fizyczna nie moe by zmierzona z dokadnoci wiksz od dokadnoci z jak zdefiniowany jest aktualny wzorzec. W miar rozwoju
techniki pomiarowej ronie rwnie precyzja pomiarw. Wtedy, gdy jestemy w stanie mierzy jak wielko z precyzj wiksz od dokadnoci z jak okrelony jest

wzorzec, zachodzi potrzeba zmiany wzorca (przykadem jest wprowadzona niedawno

zmiana definicji metra).
Wynik dowolnego pomiaru x jest wartoci mianowan, ktr podajemy w nastpujcej postaci:
x = rX JX ,

(1.1)

gdzie: JX jednostka wielkoci fizycznej X (zazwyczaj jej symbol), a rX liczba

rzeczywista okrelajca liczb jednostek. Jak widzimy z postaci zapisu (1.1), podanie wartoci wielkoci fizycznej w postaci tylko liczby nie ma sensu (o ile nie jest
to wielko bezwymiarowa); np. stwierdzenie, e odlego midzy dwoma punktami wynosi 1,54 nic nie znaczy.
W przypadku podawania wartoci wielkoci obarczonej niepewnoci X wynik
pomiaru zapisujemy w postaci
x = (rX X) JX.

(1.2)

Niepewno pomiaru X jest miar rozrzutu wynikw pomiarw wielkoci fizycznej X.

Wyznaczanie wartoci wielkoci fizycznej moe skada si z kilku etapw,
zktrych najwaniejszymi s pomiary proste, obliczanie oceny wartoci wielkoci wyznaczanych na podstawie wynikw pomiarw prostych oraz analiza dokadnoci uzyskanej oceny.
Pomiary wielkoci fizycznych, ktrych wartoci wyznaczamy bezporednio
za pomoc odpowiednich przyrzdw bdziemy nazywali pomiarami prostymi (bezporednimi), a wielkoci tak wyznaczone wielkociami prostymi. Do takich wielkoci zaliczane s wielkoci podstawowe (patrz podrozdzia 7.1 zamieszczony w dodatku), ktrych pomiar polega na porwnaniu z wartoci przyjt
za jednostk, np. czas, odlego, kt, natenie prdu lub masa.
Istniej wielkoci, ktrych wartoci odczytujemy bezporednio ze skali przyrzdu mierzcego inn wielko fizyczn. Dziki prostej zalenoci funkcyjnej przyrzd moe by wyskalowany w jednostkach innej wielkoci fizycznej ni wielko
mierzona bezporednio. Wielkoci takie bdziemy rwnie nazywali wielkociami
prostymi, mimo e sam pomiar jest pomiarem porednim.
W przypadku pomiarw prostych nie ma potrzeby obliczania wartoci mierzonych, gdy odczytujemy je bezporednio ze skali przyrzdu pomiarowego.
Przykady pomiarw prostych
1. Pomiar napicia elektrycznego za pomoc woltomierza polega na pomiarze natenia prdu pyncego przez znan rezystancj. Korzystajc z prawa Ohma moemy amperomierz wyskalowa w jednostkach napicia i przyrzd nazwa woltomierzem.

10

2. Termometr cieczowy jest urzdzeniem wykorzystujcym liniowy zwizek midzy przyrostem objtoci cieczy a przyrostem temperatury. Wielkoci mierzon jest
przyrost objtoci cieczy, naniesiona za na nim skala jest skal temperatur.
3. Pomiar natenia owietlenia za pomoc luksomierza polega na pomiarze natenia prdu generowanego przez fotoogniwo, amperomierz mierzcy ten prd jest
wyskalowany w luksach.
Pomiar zoony polega na wykonaniu (najczciej rwnoczesnym) kilku pomiarw prostych. Korzystajc z zalenoci midzy wielkociami wyznaczonymi bezporednio obliczamy warto wielkoci fizycznej, ktr bdziemy nazywali zoon,
ataki sposb wyznaczania wielkoci fizycznej pomiarem zoonym.
Przykady pomiarw zoonych
1. Pomiar oporu elektrycznego polega zwykle na pomiarze natenia prdu oraz
napicia na badanej rezystancji. Warto oporu obliczamy korzystajc z prawa Ohma.
Zwrmy uwag na to, e jeeli opr zmierzymy za pomoc omomierza, to bdzie
on traktowany jako pomiar prosty. Gdy warto oporu wyznaczamy na podstawie
pomiarw napicia i natenia prdu, bdzie to pomiar zoony.
2. W celu wyznaczenia ciepa waciwego ciaa naley wyznaczy jego mas oraz
okreli przyrost temperatury spowodowany dostarczeniem okrelonej iloci ciepa.
W tym celu naley zway badane ciao, zmierzy jego temperatur pocztkow
ikocow oraz okreli dostarczone ciepo. Jeeli energia jest dostarczana za pomoc grzejnika elektrycznego, to naley zmierzy napicie, natenie prdu oraz czas
przepywu prdu przez grzejnik, a ponadto naley zna (lub wyznaczy) pojemno
ciepln grzejnika, czyli ilo ciepa potrzebn do ogrzania grzejnika o jeden stopie.
Z przytoczonych przykadw wynika, e pomiary zoone mog by bardzo skomplikowane i wymaga wielu pomiarw prostych i czsto dodatkowo znajomoci staych materiaowych lub staych fizycznych.
Wartoci x wielkoci fizycznej X s wyznaczane dowiadczalnie (mwimy s
mierzone). Warto dokadna (rzeczywista, prawdziwa), ktr oznaczymy przez
rznie jest znana.
Rodzi si pytanie, jak obliczy warto wielkoci zmierzonej, ktra bdzie dobrym oszacowaniem wartoci dokadnej rz oraz jak oszacowa dokadno pomiarw na podstawie skoczonej serii pomiarw nazywanej take prb? Zagadnienia
te stanowi przedmiot analizy niepewnoci pomiarw nazywanej do niedawna rachunkiem bdw.
Analiza niepewnoci pomiarw wymaga stosowania odpowiednich poj, ktre
zostan przedstawione w rozdziale 2. Pojcia te wprowadzimy zgodnie z zaleceniami organizacji midzynarodowych sformuowanymi w przewodniku Guide to the
Expression of Uncertainty in Measurement [1] oraz wytycznymi Gwnego Urzdu
Miar [2] (patrz rwnie opracowania i podrczniki [37, 9]).
11

2. OBLICZANIE NIEPEWNOCI POMIARW

Wynik nawet najstaranniej wykonanego pomiaru lub obserwacji obarczony jest
niepewnoci odzwierciedlajc niedokadno wartoci wielkoci zmierzonej. Analiza niepewnoci pomiarw jest bardzo istotnym etapem kadego eksperymentu zarwno w fazie jego projektowania, wykonywania jak i opracowywania uzyskanych
wynikw. W tym rozdziale przedstawimy podstawowe pojcia zwizane z analiz
niepewnoci pomiarw oraz przedstawimy najczciej stosowane metody okrelania tych niepewnoci.

2.1. Pojcia podstawowe

W roku 1995 uzgodniono nowe midzynarodowe normy [14, 6, 7] dotyczce
terminologii i zasad wyznaczania niepewnoci pomiarowych, ktrych statut prawny jest taki sam, jak uregulowa dotyczcych SI.
Wynikiem pomiaru nazywamy warto x przypisan wielkoci fizycznej X uzyskan drog pomiaru.
Niepewno pomiaru jest miar (zwizan z wynikiem pomiaru) charakteryzujc rozrzut wynikw pomiarw. Pod tym pojciem rozumiemy miar niedokadnoci, z jak zmierzono dan wielko fizyczn. Innymi sowy, niepewno pomiaru
oznacza ilociow miar naszej niepewnoci lub wtpliwoci co do wartoci wyniku pomiaru danej wielkoci fizycznej.
Niepewno pomiaru ma wiele przyczyn. Do najwaniejszych zaliczamy [6, 7]:
a) Niepen definicj wielkoci mierzonej (okrelenie danej wielkoci fizycznej jest
tymczasowe w tym sensie, e moe ulec zmianie wraz z rozwojem nauki).
b) Niedokadn realizacj tej definicji (przyrzd, miernik, wzorzec nie jest idealn
realizacj definicji wielkoci fizycznej, np. temperatur okrelamy jako cz
temperatury punktu potrjnego wody, ale nie istnieje idealnie czysta woda, pozbawiona jakichkolwiek domieszek; podobnie wzorzec czasu jest cile zwizany z prdkoci wiata, wic udokadnienie pomiaru prdkoci wiata wpynie
zapewne na wzorzec czasu).
c) Niereprezentatywno serii wynikw pomiarw (np. zbyt maa liczba pomiarw).
d) Niedokadn znajomo czynnikw zewntrznych (np. wpywu otoczenia na przebieg pomiarw) lub ich niedokadny pomiar.

12

e) Bdy popeniane przez obserwatora podczas odczytw wskaza przyrzdw analogowych.

f) Skoczon zdolno rozdzielcz stosowanych w pomiarach przyrzdw.
g) Niedokadno stosowanych wzorcw i materiaw odniesienia.
h) Niedokadne wartoci staych lub parametrw pochodzcych z innych rde.
i) Przyblienia i zaoenia upraszczajce przyjte w pomiarach lub procedurze pomiarowej.
j) Zmiany kolejnych wynikw pomiarw wielkoci mierzonej w pozornie identycznych warunkach.
Miar niepewnoci moe by np. odchylenie standardowe (patrz rozdzia 2.2),
poowa przedziau ufnoci odpowiadajcego okrelonemu poziomowi ufnoci (patrz
rozdzia 2.3.1) lub niepewno wynikajca z klasy przyrzdu pomiarowego (patrz
rozdzia 2.3.2). Niepewno pomiarw zawiera na og wiele skadnikw. Niektre
z nich wyznaczamy na podstawie statystycznej analizy wynikw serii pomiarw
(patrz rozdzia 2.2), inne obliczamy korzystajc z dodatkowych informacji oraz dowiadczenia nabytego przez osob wykonujc eksperymenty.
Zakadamy, e wynik pomiaru stanowi najlepsze w danych warunkach eksperymentalnych oszacowanie wartoci wielkoci mierzonej, a wszystkie skadniki niepewnoci pomiaru wnosz swj udzia do rozrzutu uzyskanych wynikw pomiarw.
Niepewnoci standardow nazywamy niepewno wyraon poprzez odchylenie standardowe s (patrz rozdz. 2.2).
Bdem pomiaru nazywamy rnic midzy wynikiem pomiaru x a wartoci rzeczywist rz wielkoci mierzonej:

= x rz.

(2.1)

Z uwagi na to, e warto rzeczywista rz nie jest znana dokadnie zamiast niej stosuje si jej ocen uzyskan na podstawie wynikw pomiarw. Zakadamy przy tym
[8], e warto prawdziwa rz istnieje i pozostaje staa podczas pomiarw, awynik
pomiaru stanowi jedynie oszacowanie mierzonej wartoci, ktrej prawdziwa warto
pozostaje nieznana. W przypadku skoczonej serii pomiarw prostych za ocen wartoci rzeczywistej przyjmuje si redni arytmetyczn x (patrz rozdz. 2.2).
Bdem przypadkowym p nazywamy rnic midzy wynikiem pomiaru
xawartoci redni z duej liczby pomiarw oznaczon symbolem x

p = x x
Niepewnoci przypadkow nazywamy rnic midzy wynikiem pomiaru
xawartoci redni x z serii pomiarw (prby)

p =x x

13

Powtarzajc wielokrotnie pomiar wielkoci fizycznej uzyskujemy rne wyniki.

Jeeli wyniki pomiarw obarczone s tylko bdami przypadkowymi, to rozkadaj
si one wok wartoci rzeczywistej rz, a ich rozrzut charakteryzuje dokadno
pomiaru.
Niepewnoci przypadkowe mog wynika z wasnoci badanego obiektu. Przypumy, e mierzymy wielokrotnie rednic drutu. rednica ta moe by rna
wrnych miejscach, a ponadto przekrj drutu moe nie by koowy.
Niepewnoci przypadkowe mog by cech przyrzdu pomiarowego, by wynikiem wpywu losowo zmieniajcych si czynnikw zewntrznych na dziaanie przyrzdu pomiarowego lub zachowanie si obiektu mierzonego. Niepewnoci przypadkowe mog by rwnie powodowane przez eksperymentatora, np.
przez rnice w docisku ruby mikrometrycznej, ustawienie ruby pod pewnym ktem do osi drutu w przykadzie omawianym wczeniej.
Niepewnoci przypadkowe odgrywaj bardzo istotn rol w pomiarach subiektywnych, to jest w pomiarach, podczas ktrych czujnikiem jest eksperymentator. Przykadami takich pomiarw s pomiary czasu za pomoc stopera, w ktrych
wynik jest uzaleniony od czasu reakcji eksperymentatora, pomiary optyczne,
wktrych naley stwierdzi jednakowe owietlenie dwch ssiadujcych ze sob obszarw (pomiary efektu Faradaya, pomiary sacharymetrem lub fotometrem), ostro
obrazu (pomiary ogniskowych soczewek oraz pomiary mikroskopowe), ostroci
plamki na ekranie oscyloskopu (pomiar stosunku e/m elektronu), jednakow barw,
zanik prdu w metodach mostkowych i kompensacyjnych.
Niepewnoci przypadkowych nie mona unikn, mona je jednak oszacowa
wykorzystujc metody statystyki matematycznej.
Bdem systematycznym nazywamy rnic midzy redni x z nieskoczonej serii pomiarw wykonanych w warunkach powtarzalnoci a wartoci rzeczywist rz wielkoci mierzonej
= x .
(2.4)

rz

Bdy systematyczne wynikaj ze zej jakoci lub rozregulowania przyrzdw

pomiarowych, niewaciwej metody pomiaru lub wpywu czynnikw zewntrznych
na wyniki pomiarw. Przykadem moe by pomiar dugoci za pomoc metalowej
linijki lub tamy mierniczej, na ktr naniesiono skal w temperaturze znacznie
odbiegajcej od temperatury, w ktrej odbywa si pomiar (linijka zmienia swoj dugo pod wpywem zmian temperatury). Innym przykadem bdu systematycznego
jest zaniedbanie siy wyporu dziaajcej na ciao w powietrzu podczas waenia. Bdy
systematyczne, spowodowane okrelon przyczyn, maj ten sam znak.
Eliminacja bdw systematycznych jest bardzo trudna i wymaga starannej
analizy warunkw pomiaru oraz doboru odpowiednich przyrzdw pomiarowych. Bdy systematyczne moemy zmniejszy wprowadzajc (jeeli jest to moliwe) odpowiednie poprawki.
14

Przykadem niech bdzie pomiar czasu zawodnikw biegncych na 100m. Niech

precyzyjny stoper elektroniczny bdzie uruchamiany za pomoc czujnika akustycznego umieszczonego na linii mety. Czujnik reaguje na wystrza startera, ktry stoi
obok linii startu. Zatrzymanie stopera odbywa si za pomoc fotokomrki. Czas potrzebny na to aby dwik dotar do mety wynosi okoo 0,3 s. Czas zmierzony przez
taki ukad pomiarowy bdzie wic zaniony.
W poprawnie zaprojektowanym ukadzie pomiarowym czujnik akustyczny powinien by umieszczony obok linii startu. Czas przejcia impulsu elektrycznego (rozchodzcego si z prdkoci wiata) od linii startu do mety jest do zaniedbania.
Gdybymy jednak mierzyli prdko czstki poruszajcej si z prdkoci zblion
do prdkoci wiata, to zaniedbanie czasu przejcia sygnau elektrycznego byoby
bdem dyskwalifikujcym uzyskany wynik.
Bdy pomiaru , bdy przypadkowe p oraz bdy systematyczne speniaj
nastpujc relacj:
= x = x x + x = +
(2.5)
rz

rz

Z relacji x = rz + + p wynika, e rezultaty pomiarw obarczonych bdem

systematycznym rozkadaj si wok wartoci przesunitej o wzgldem wartoci rzeczywistej. Krzywa a na rys. 2.1 przedstawia gsto prawdopodobiestwa
(patrz rozdziay 2.2.3 i 2.2.4) wynikw pomiarw obarczonych tylko bdami (niepewnociami) przypadkowymi. Funkcja ta osiga maksimum dla wartoci x = rz.
Krzywa b przedstawia funkcj rozkadu wynikw obarczonych bdem systematycznym oraz niepewnociami przypadkowymi.
W praktyce laboratoryjnej spotykamy
czasami bdy grube, ktre powstaj zazwyczaj wskutek pomyki eksperymentatora. Poniej omwimy kilka przykadw
bdw grubych.

Przykady

Rys. 2.1. Krzywe rozkadu wynikw

pomiarw: a obarczonych tylko niepewnociami przypadkowymi, b niepewnociami przypadkowymi oraz bdem
systematycznym , rz rzeczywista
warto wielkoci mierzonej

Mierzc rednic drutu rub mikrometryczn uzyskano wynik 2,34 mm, a zanotowano 2,34 m; podczas pomiaru wielkoci zoonej korzystano z kilku miernikw
i zamiast wskaza amperomierza zanotowano odczyt ze stopera (takie pomyki te
si zdarzaj). Bdy grube mog by spowodowane rwnie zastosowaniem nieodpowiedniej metody pomiarowej. Wyobramy sobie pomiar rednicy nitki wykona15

nej z weny za pomoc ruby mikrometrycznej. Przyrzd pomiarowy, ktrym dysponujemy, jest bardzo dokadny, odczyt jest prawidowy, a uzyskane wyniki s
bezwartociowe!
Zabawn ilustracj bdu grubego jest Ballada o pnocy pira Andrzeja
Waligrskiego, ktr zamieszczamy dziki yczliwoci i za zgod ony autora.

Ballada o pnocy
Andrzej Waligrski
Pradawnym czasom hod i cze,
Tyle w nich krzepkiej mocy!
Mia porwa dziewk Dreptakkne
W godzin po pnocy.
Wic ubra si w elazny zom
I siad w kozackie czno
I na zegarek spojrza on,
A ten wskazywa pnoc!
Zepchnli d na rwcy prd
Kneziowi dwa wasale
I oto kne opuci ld
I puci si na fale.
I dzielnie z nurtem walczy chwat,
A dnem o piasek szurn,
i spojrza znw na cyferblat,
A tam znw bya pnoc...
Lecz oto zara w krzakach ko
Ukryty tam przemylnie
Kne skoczy, chwyci cugle w do
I cwaem jak nie prynie!

I pdzi tak przez duszy czas,

Bo drog mia okln,
A kiedy wreszcie z konia zlaz
Zegar wskazywa pnoc...
Gdy za u zamku stan bram,
By porwa sw dzierlatk,
Nie zasta wcale panny tam,
Tylko niedu kartk:
Przemarzam i chce mi si je,
Znajd sobie inn durn
Panie spnialski! Buka, cze!
Kne spojrza znowu pnoc.
Zarycza Dreptak niczym lew
Lub jak armatni wystrza
I pomkn tam, gdzie widnia sklep
Starego zegarmistrza.
I wszed i stan chrobry m
I pord ez wyjka:
Dlaczego u mnie pnoc wci?
Bo to rzek mistrz jest kompas...

Jeli przytrafi si popeni bdy grube, zazwyczaj atwo jest je zauway.

Uwzgldnienie wyniku pomiaru obarczonego bdem grubym prowadzi do absurdalnych, a przez to atwo zauwaalnych wynikw. Rezultaty pomiarw obarczonych bdami grubymi naley odrzuci, a pomiary powtrzy.
Jak ju wspomniano, gwnymi celami analizy niepewnoci pomiarw s: okrelenie najlepszej w danych warunkach eksperymentalnych oceny wartoci rzeczywistej oraz obliczenie niepewnoci pomiarw. Zadania te realizujemy:
Za pomoc statystycznej analizy serii wynikw pomiarw; ten sposb nosi w literaturze rdowej [14, 6, 7, 914] nazw oceny niepewnoci metod A.
16

 Wykorzystujc dodatkowe niestatystyczne informacje np. wielko dziaki elementarnej przyrzdu lub klas przyrzdu; ten sposb nosi w literaturze przedmiotu
[14, 69]) nazw oceny niepewnoci metod B.
Statystyczne szacowanie niepewnoci pomiarw oparte jest na metodach rachunku prawdopodobiestwa oraz statystyki matematycznej [5]. Ten sposb szacowania
jest powszechnie wykorzystywany w laboratorium studenckim dlatego zostanie
omwiony w dalszej czci podrcznika.
W drugiej metodzie wykorzystuje si wszelkie dostpne informacje o czynnikach
wpywajcych na niepewnoci pomiarw np. dane z poprzednich pomiarw, posiadane dowiadczenie, znajomo zjawisk towarzyszcych pomiarowi, wasnoci przyrzdw pomiarowych i badanych materiaw lub obiektw, informacje podane przez
producenta itd. Ten sposb szacowania niepewnoci jest trudniejszy i wymaga znacznego dowiadczenia, z tego wzgldu nie jest stosowany w laboratorium studenckim.
Zainteresowanym niestatystycznymi metodami szacowania niepewnoci pomiarw
polecamy pozycje [18]) podane w spisie literatury.

2.2. Statystyczna analiza wynikw i niepewno pomiarw

Obecnie udzielimy odpowiedzi na postawione wczeniej pytania: Jak wyznaczy
warto wielkoci zmierzonej, ktra jest dobrym oszacowaniem wartoci dokadnej
rz? Jak oszacowa dokadno pomiarw na podstawie skoczonej serii pomiarw?
W statystycznej metodzie oceny niepewnoci pomiarowych zakada si, e mierzona wielko X jest zmienn losow, a wyniki {x1, ..., xn} jej n-krotnego pomiaru
traktuje si jako n-elementow, skoczon prb (skoczon seri) z nieskoczonej serii pomiarw, ktr tworz wszystkie moliwe do otrzymania wyniki pomiarw. Do tak zdefiniowanej skoczonej prby stosuje si metody rachunku prawdopodobiestwa i statystyki matematycznej [15]. Przyjcie takiego zaoenia oznacza, e wielko fizyczna X przyjmuje kad ze zmierzonych wartoci {x1, ..., xn}
zprawdopodobiestwami odpowiednio p1, ..., pn.
Przypadek, gdy wielko fizyczna X ma cigy zbir wartoci jest nieco trudniejszy i bdzie omwiony w rozdziaach 2.2.32.2.11.

2.2.1. rednia arytmetyczna, wariancja

i odchylenie standardowe z prby
Przypumy, e n-krotnie powtrzylimy pewien pomiar (w jednakowych stabilnych warunkach) i otrzymalimy seri rezultatww, ktre oznaczymy symbolami
x1, ..., xn i nazwiemy prb. Bdziemy zajmowa si tylko takimi pomiarami, ktrych
wyniki nie s identyczne. Ich nieidentyczno moe mie wielorakie przyczyny
niedoskonao przyrzdu pomiarowego, losowo zmieniajce si czynniki zewntrzne
17

dziaajce na przyrzd, niestabilno ukadu (inne przyczyny s wymienione w poprzednim rozdziale). Podczas pomiarw, w ktrych czujnikiem jest eksperymentator, jedn z przyczyn otrzymania rnych wynikw moe by zmienny czas reakcji lub subiektywne odczucie eksperymentatora. Podane tutaj przyczyny uzasadniaj przyjcie przez nas zaoenia o tym, e mierzona wielko fizyczna jest zmienn
losow.
Wielko rozrzutu wynikw pomiarw wok rzeczywistej wartoci mierzonej
zaley od sposobu ich wykonania. Im dokadniejszy jest przyrzd pomiarowy i im
wicej czynnikw wpywajcych na wyniki pomiaru bdzie kontrolowa eksperymentator, tym mniej bd si one rni midzy sob.
Do opisu zbioru wynikw pomiarw uywa si nastpujcych charakterystyk liczbowych (zwanych take wskanikami):
redniej arytmetycznej

x=

x1 + x2 + ... + xn 1 n
= xi ,
n
n i =1

(2.6)

wok ktrej le wyniki pojedynczych pomiarw,

wariancji (dokadniej wariancji z prby)

s x2 =

1
1 n
[( x1 x ) 2 + ( x2 x ) 2 + ... + ( xn x ) 2 ] =
( xi x ) 2 ,
n 1
n 1 i =1

(2.7)

ktra jest miar (jedn z wielu) niepewnoci pomiaru (rozrzutu) pojedynczych pomiarw wok redniej arytmetycznej x,
odchylenia standardowego pojedynczego pomiaru (dokadniej odchylenia standardowego pojedynczego pomiaru z prby)

sx =

1 n
( xi x ) 2 .
n 1 n=1

(2.8)

Poza wymienionymi tutaj wskanikami uywa si jeszcze wiele innych, np. median, kwartyle, skono i kurtoz (zostay one przedstawione w podrczniku [5]).
Miarami niepewnoci redniej arytmetycznej x s nastpujce ilorazy:

s x2 =

n
s x2
1
=
( xi x ) 2

n n( n 1) i =1

(2.9)

oraz

sx =

18

sx
n

n
1
( xi x ) 2 .
n(n 1) i =1

(2.10)

Liczb s x2 nazywamy wariancj (z prby), a liczb s x odchyleniem standardowym

(z prby) redniej arytmetycznej x.
Aby obliczy podane wskaniki charakteryzujce wyniki pomiarw, posugujemy si kalkulatorami lub komputerem. Prawie wszystkie kalkulatory obliczaj sumy
xi i sumy kwadratw xi2 , a majc te wielkoci, moemy obliczy wariancj
s x2 w prosty sposb z nastpujcego wzoru:
2

xi
1 n 2 i =1
s x2 =
x i
.
n 1 i =1
n

(2.11)

Przykad 1
Zmierzono 10 razy rednic drutu. Wyniki pomiarw zestawione s w drugiej
kolumnie tabeli 2.1. Naley obliczy redni arytmetyczn x, wariancj sx2, odchylenie standardowe sx oraz odchylenie standardowe s x redniej arytmetyczej x. Jeli dysponujemy kalkulatorem obliczamy najpierw sum 1,78 + 1,82 + ... + 1,78 =
17,99 oraz sum kwadratw 1,782 + 1,822 + ... + 1,782 = 32,3657 (patrz tabela 2.1).
redni arytmetyczn obliczamy wedug wzoru (2.6)

x=

17,99 mm
= 1,799 mm,
10
Tabela 2.1
i
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

xi [mm]

x i2

[mm2]

1,78
1,82
1,80
1,81
1,79
1,79
1,81
1,80
1,81
1,78

3,1684
3,3124
3,2400
3,2761
3,2041
3,2041
3,2761
3,2400
3,2761
3,1684

17,99

32,3657

19

wariancj wedug wzoru (2.11)

1
(17,99 mm ) 2
4
2
s x2 = 32,3657 mm 2
= 1,878 10 mm .
9
10

Odchylenie standardowe (oznaczone liczb sx) jest rwne pierwiastkowi kwadratowemu z wariancji:

s x = 1,878 10 4 mm 2
a odchylenie standardowe s x redniej x jest rwne odchyleniu standardowemu
sxpodzielonemu przez 10

sx =

1,370 10 2 mm
sx
=
= 0,433 10 2 mm .
10
10

2.2.2. Wspczynnik korelacji (z prby)

Jeli rwnoczenie mierzymy dwie wielkoci fizyczne X i Y, to wyniki pomiarw zapisujemy w postaci par (x1, y1), (x2, y2), ..., (xn, yn). Do opisu takiej prby uywa si, poza rednimi arytmetycznymi x i y, wariancjami sx2 i sy2 oraz odchyleniami
standardowymi sx i sy obu mierzonych wielkoci z osobna, wskanika okrelonego
wzorem
n

rx , y =

( xi x )( y i y )
i =1

( xi x ) ( yi y )
2

i =1

(2.12)

i =1

Jeli wprowadzimy oznaczenie

s x, y =

1 n
( xi x )( yi y ) ,
n 1 i =1

(2.13)

to otrzymujemy bardziej zwart posta tego wzoru

rx , y =

s x, y
sxsy

(2.14)

Aby obliczy wyraenie sx,y wystpujce w liczniku, naley skorzysta ze wzoru

20

s x, y

n
n

n
x
yi

i
1 n
i =1
i =1
=
xi yi
n 1 i =1
n

(2.15)

W celu obliczenia sx i sy naley posuy si wzorem (2.11).

Wspczynnik korelacji (lub korelacja z prby), charakteryzuje liniow zaleno pomidzy wynikami dwu rwnoczenie wykonanych pomiarw. Zauwamy, e
rx,y = ry,x oraz e rx,x = 1. Mona te udowodni, e wartoci tego wspczynnika
zawarte s w przedziale [1, +1]. Jeli przyjmuje on warto 1, to wszystkie punkty
(xi, yi) le na prostej tworzcej kt ostry z osi OX, a jeli 1, to kt rozwarty. Mae
wartoci wskazuj na to, e nie ma zwizku pomidzy mierzonymi wielkociami.
Jeli wykonujemy rwnoczenie wicej ni dwa pomiary, to moemy obliczy
wspczynniki korelacji dla kadej pary.
Przykad 2
W tabeli 2.2 podane s wyniki piciokrotnych rwnoczesnych pomiarw napicia V [V] i natenia prdu I [mA] oraz kta [rad].
Tabela 2.2
i

V
[V]

I
[mA]

[rad]

1
2
3
4
5

5,0
4,9
5,0
4,9
4,8

1,6
1,4
1,7
1,5
1,6

1,045
1,043
1,046
1,042
1,045

Moemy obliczy 3 wspczynniki korelacji: rV,I, rV, oraz rI,.

Znaczne uproszczenie w rachunkach uzyskujemy, gdy wyniki oblicze
pomocniczych zapiszemy w odpowiedniej tabeli dla pierwszego jak w tabeli 2.3.
Na podstawie wzorw (2.8) i (2.15) otrzymujemy
sV2 =

s I2

1
24,6 2
2
= 0,0070 V
121,06
4
5
2

1
7,8
= 12,22
= 0,0130 mA 2
4
5
21

Tabela 2.3
V

V2

I2

VI

5,0
4,9
5,0
4,9
4,8

1,6
1,4
1,7
1,5
1,6

25,00
24,01
25,00
24,01
23,04

2,56
1,96
2,89
2,25
2,56

8,00
6,80
8,50
7,35
7,68

24,6

7,8

121,06

12,22

38,39

oraz

sV , I =

1
24,6 7,8
38,39

= 0,0035 V mA .
4
5

Po podstawieniu obliczonych wielkoci do wzoru (2.14), znajdujemy

rV , I =

sV , I
sV sI

0,0035 V mA
= 0,3669 .
0,0837 V 0,1140 mA

Podobnie obliczamy pozostae dwa wspczynniki korelacji rV, = 0,3273 oraz

rI,= 0,8540. Zapisane w postaci macierzy

rV ,V

rI ,V
r ,V

rV , I
rI , I
r , I

0,37 0,33
rV , 1

1
0,85
rI , = 0,37
1
r , 0,33 0,85

tworz one tzw. macierz korelacji (z prby).

Wszystkie omwione tutaj wielkoci rednia arytmetyczna, wariancja, odchylenie standardowe i korelacja (z prby) maj pewn wan wasno, mianowicie,
stabilizuj1 si wok pewnych liczb, gdy liczba wykonanych pomiarw, na podstawie ktrych je obliczono, ronie. W tabeli 2.4 podano rednie arytmetyczne, odchyTabela 2.4
n
x

1Uyte

22

10
3,7138

20
3,7149

100

200

3,7173

3,7173

sx

(105)

10,084

10,791

9,167

8,953

sx

(105)

3,189

2,413

0,917

0,633

tutaj stwierdzenie stabilizuj si naley rozumie w sensie zmierzaj do, d do.

lenia standardowe oraz odchylenia standardowe redniej dla n = 10, 20, 100 i 200
pomiarw tej samej wielkoci fizycznej wykonanych w stabilnych warunkach.
Zwikszenie liczby pomiarw powinno tylko nieznacznie zmieni warto redniej
arytmetycznej x i odchylenia standarowego sx obliczonych na podstawie n = 200
pomiarw. Natomiast odchylenie standardowe redniej sx bdzie zblia si do zera
wraz ze wzrostem wielkoci prby.

2.2.3. Histogramy
Jeli wynikw pomiarw w prbie wielkoci X jest wiele, wygodnie jest je pogrupowa. W tym celu wyznaczamy najpierw najmniejsz xmin oraz najwiksz xmax
warto zmierzon, ktre okrelaj przedzia x min , x max , w ktrym le wszystkie
pozostae wyniki pomiarw. Nastpnie dzielimy przedzia x min , x max na k > 1 podprzedziaw (zazwyczaj o jednakowej dugoci) i znajdujemy liczby pomiarw nalecych do poszczeglnych podprzedziaw. Liczb k dobiera si tak, aby w kadym przedziale zawierao si kilkanacie pomiarw. Uzyskane wyniki przyjto przedstawia w tabeli (patrz tabela 2.5).
Przykad 3
W jednakowych warunkach zmierzono 200 razy czas opadania ciarka, przy
ustalonym momencie bezwadnoci, krzya Oberbecka. Uzyskane wyniki pomiarw
(przedstawione w caoci w tabelach 20 i 21) pogrupowane w k = 11 klasach (podprzedziaach) przedstawione s w tabeli 2.5. Liczby zawarte w trzeciej kolumnie,
nazywane zaobserwowanymi czstociami tworz tzw. szereg rozdzielczy, a w czwartej kolumnie skumulowany szereg rozdzielczy.
Tabela 2.5

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11

Grne granice
klas

Czstoci
zaobserwowane

Czstoci
skumulowane

3,695
3,700
3,705
3,710
3,715
3,720
3,725
3,730
3,735
3,740
+

1
6
12
29
36
42
37
23
8
5
1

1
7
19
48
84
128
163
186
194
199
200

23

Zazwyczaj czstoci te przedstawia si graficznie w postaci histogramw (zwanych histogramami empirycznymi. Histogram czstoci zaobserwowanych skonstruowany jest w ten sposb, e nad kadym przedziaem wykrelamy prostokt o wysokoci rwnej liczbie zawartych w nim obserwacji. Histogram czstoci skumulowanych rni si od poprzedniego tylko tym, e wysokoci prostoktw s rwne
skumulowanym czstociom. Rysunek 2.2 przedstawia histogram, a rys. 2.3 skumulowany histogram danych z tabeli 2.5.

granice klas

Rys. 2.2. Histogram danych zawartych w tabeli 2.5

granice klas

Rys. 2.3. Skumulowany histogram danych zawartych w tabeli 2.5

24

2.2.4. Gsto rozkadu prawdopodobiestwa

Histogramy maj podobn wasno jak rednie arytmetyczne i wariancje z prby.
Stabilizuj si, jeli liczba pomiarw wzrasta2. Ponadto, jeli liczba rnych pod
wzgldem wartoci pomiarw ronie, to moemy zwiksza liczb przedziaw, na
ktre dzielimy przedzia zawierajcy wszystkie obserwacje, a w konsekwencji otrzymywa coraz gadszy histogram. Funkcj, do ktrej zblia si histogram zaobserwowanych czstoci (unormowany tak, aby suma pl wszystkich prostoktw bya
rwna 1), nazywamy gstoci prawdopodobiestwa. Gstoci moe by kada
funkcja f(x) okrelona na zbiorze liczb rzeczywistych R, ktra spenia nastpujce
dwa warunki:
1. f(x) 0 dla wszystkich x R.
+

2.

f ( x)dx = 1.

(2.16)

Jeli wynik pomiaru mierzonej wielkoci podlega rozkadowi o gstoci f(x),

to prawdopodobiestwo tego, e bdzie on zawarty w przedziale (a,b) wyraa si
cak
b

P(( a, b)) = f ( x)dx .

(2.17)

Geometrycznie prawdopodobiestwo P((a, b)) przedstawia pole obszaru nad

przedziaem (a, b) pod wykresem funkcji f(x).
Jeli x reprezentuje wynik pomiaru jaki uzyska eksperymentator, gdy wykona
pomiar, to zamiast symbolu P((a,b)), oznaczajcego prawdopodobiestwo, e znajdzie si on w przedziale (a,b), bdziemy pisa P(a < x < b). Wzr (2.17) przyjmuje
wwczas posta
b

P( a < x < b) = f ( x)dx.

a

(2.18)

Interpretacja czstociowa prawdopodobiestwa P(a < x < b) jest nastpujca:

Jeli wyniki pomiaru mierzonej wielkoci podlegaj rozkadowi o gstoci f(x)
ijeli wykonamy seri n niezalenych pomiarw, to oczekujemy, e w przyblieniu P(a < X < b)100% wynikw pomiarw wpadnie do przedziau (a,b). Liczb
nP(a < X < b) nazywamy oczekiwan liczb obserwacji w przedziale (a,b) w prbie
o liczebnoci n.
2Ponownie

uyty zwrot stabilizuj si oznacza, e przy wzrocie liczby n pomiarw d

one do granicznej funkcji zwanej gstoci prawdopodobiestwa.
25

W bardzo wielu sytuacjach, jako gsto prawdopodobiestwa mona przyj

funkcj Gaussa (zalen od dwch parametrw R i R+) okrelon dla wszystkich liczb rzeczywistych x wzorem

exp
(x )2 .
(2.19)
2
2
2

Mona pokaza, e spenia ona warunki (2.16) dla podanych wartoci paramef ( x) =

trw i . Maksimum, wynoszce 1 ( 2 ) , osiga w punkcie x = ; jest symetryczna wzgldem prostej x = , tzn.
f( x) = f( + x)

(2.20)

dla wszystkich x > 0. Jeli gsto prawdopodobiestwa ma posta (2.19), to mwimy o rozkadzie normalnym. Oznacza si go symbolem N(,2). Rysunek 2.4 przedstawia wykres gstoci prawdopodobiestwa rozkadu normalnego N(10,1). Zakrelone pole przedstawia prawdopodobiestwo pojawienia si wyniku obserwacji
wprzedziale (8,9).

Rys. 2.4. Gsto rozkadu normalnego N(10, 1)

Czsto odpowiednim rozkadem prawdopodobiestwa jest te rozkad o gstoci postaci

exp( x), gdy x > 0,

f ( x) =
(2.21)
0,
gdy x 0,

gdzie > 0 jest parametrem rozkadu. Rozkad ten nazywamy rozkadem wykadniczym i oznaczamy go symbolem E(). Rysunek 2.5 przedstawia wykres gstoci
prawdopodobiestwa rozkadu wykadniczego E(2). Zakrelone pole przedstawia
prawdopodobiestwo pojawienia si obserwacji w przedziale (0,5, 1).
26

Rys. 2.5. Gsto rozkadu wykadniczego E(2)

2.2.5. Wykres normalny

Rozkad normalny jest czsto bardzo dogodnym opisem wynikw pomiarw.
Wzwizku z tym opracowano wiele metod, ktre wskazuj, czy zaoenie o normalnoci moemy przyj. Jedn z nich jest metoda graficzna, polegajca na skonstruowaniu tzw. wykresu normalnego. Tworz go punkty o wsprzdnych

3i 1
x (i ) , 1
,
(2.22)
3n + 1

gdzie n jest wielkoci prby, a x(i) jest i-t co do wielkoci obserwacj w prbie.
Symbol 1 oznacza funkcj odwrotn wzgldem funkcji
( x ) =

exp 2 t

dt ,

x R.

(2.23)

Jeli naniesione punkty nie ukadaj si wzdu prostej, to przyjcie zaoenia

onormalnoci rozkadu nie jest wskazane.
Przykad 4
Na rysunku 2.6 podano wykres normalny punktw o wsprzdnych (2.22) dla
20 pierwszych wynikw pomiarw czasu opadania ciarka krzya Oberbecka zamieszczonych w tabelach 20 i 21. Wypisano je, po uporzdkowaniu wedug wielkoci, w drugiej kolumnie w tabeli 2.6. Poniewa otrzymane punkty ukadaj si
wzdu prostej, zaoenie o normalnoci nie powinno budzi w tym przypadku wtpliwoci.
27

Rys. 2.6. Wykres normalny pomiarw x(i) zamieszczonych w tabeli 2.6

Tabela 2.6

28

x(i)

3i 1
1

61

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

3,696
3,701
3,707
3,709
3,709
3,712
3,714
3,714
3,717
3,717
3,719
3,719
3,719
3,721
3,721
3,723
3,723
3,725
3,730
3,733

1,841
1,392
1,121
0,914
0,740
0,587
0,446
0,313
0,186
0,062
0,062
0,186
0,313
0,446
0,587
0,740
0,914
1,121
1,392
1,841

Warto pamita o tym, e rozkad normalny stanowi tylko przyblienie rozkadw, jakim podlegaj wyniki pomiarw. Trudno na przykad wyobrazi sobie, aby
wynik pomiaru odlegoci by ujemny, gdy tymczasem konsekwencj kadego rozkadu normalnego jest dodatnie prawdopodobiestwo pojawienia si wyniku pomiaru
z przedziau (, 0). Prawdopodobiestwo to jest jednake zazwyczaj tak mae, e
mona je zignorowa.

2.2.6. Warto rednia i wariancja

Jeli unormowany histogram pomiarw stabilizuje si wok gstoci prawdopodobiestwa f(x), to:
rednia arytmetyczna x tych pomiarw stabilizuje si wok liczby okrelonej
przez cak

xf ( x)dx,

(2.24)

zwan wartoci redni,

wariancja (z prby) s2 stabilizuje si wok liczby okrelonej przez cak
+

2 = ( x ) 2 f ( x)dx,

(2.25)

zwan wariancj,
odchylenie standardowe (z prby) s stabilizuje si wok pierwiastka kwadratowego z wariancji , zwanego odchyleniem standardowym.
Zakadamy, e obie caki (2.24) i (2.25) istniej.
Za ocen wartoci redniej moemy wic przyj redni arytmetyczn x, za
ocen wariancji 2, wariancj (z prby) s2, a za ocen odchylenia standardowego
,odchylenie standardowe (z prby) s. Im wiksza bdzie liczba pomiarw, tym dokadniejsze bd te oceny. Wynika to z podanych wasnoci wartoci redniej i wariancji.
Jeli obliczymy caki (2.24) i (2.25) dla gstoci rozkadu normalnego N(, 2),
to okae si, e wartoci redni tego rozkadu jest parametr , a wariancj parametr 2 (tumaczy to uyte oznaczenia). Natomiast warto rednia i wariancja
wrozkadzie wykadniczym E() s odpowiednio rwne = 1/ i 2 = 1/2.

2.2.7. Dystrybuanta rozkadu prawdopodobiestwa

Jeli zaoymy, ze wynik pomiaru mierzonej wielkoci podlega rozkadowi normalnemu, moemy obliczy wielkoci przydatne do charakteryzowania niepewnoci otrzymanego wyniku pomiaru. Potrzebne bd do tego pewne nowe pojcia
iwzory, z ktrymi si teraz zapoznamy.
29

Funkcj rzeczywist okrelon dla kadego x R wzorem

F ( x) =

f (t )dt ,

(2.26)

gdzie f(x) jest gstoci prawdopodobiestwa, nazywamy dystrybuant. Z wasnoci (2.16) gstoci prawdopodobiestwa wynika, e
1. 0 F(x) 1.
2. F(x) jest funkcj niemalejc.
3. F() = 0, F(+) = 1.

(2.27)

Wartoci dystrybuanty F(x) w punkcie x R jest prawdopodobiestwo otrzymania wyniku pomiaru nalecego do przedziau (, x). Prawdopodobiestwo, e
wynik pomiaru x znajdzie si w przedziale (a, b), moemy za pomoc dystrybuanty
zapisa w nastpujcej postaci
P(a < x < b) = F(b) F(a).

(2.28)

Jeli histogram zaobserwowanych czstoci stabilizuje si po unormowaniu wok gstoci prawdopodobiestwa f(x), to histogram skumulowanych czstoci stabilizuje si wok dystrybuanty F(x) okrelonej wzorem (2.26).
Dystrybuanta rozkadu normalnego N(,2) wyraa si wzorem

F ( x) =

exp 2 2 (t )

dt ,

(2.29)

a dystrybuanta rozkadu wykadniczego wzorem

0,
gdy x 0 ,

F ( x) =
1 exp( x), gdy x > 0.

(2.30)

Wykres dystrybuanty rozkadu normalnego N(10, 1) przedstawiono na rys. 2.7,

arozkadu wykadniczego E(2) na rys. 2.8.

2.2.8. Standaryzowany rozkad normalny

Rozkad normalny z parametrem = 0 oraz parametrem = 1, czyli rozkad
N(0, 1), nazywamy standaryzowanym rozkadem normalnym. Gsto standaryzowanego rozkadu normalnego (oznaczana symbolem (x)) ma posta

1
exp x 2
2
2
a dystrybuanta (oznaczana symbolem (x)) posta

( x) =

30

(2.31)

Rys. 2.7. Dystrybuanta rozkadu normalnego N(10, 1)

Rys. 2.8. Dystrybuanta rozkadu wykadniczego E(2)

( x) =

1
2

exp 2 t

dt

(2.32)

Z symetrii wynika, e (x) + (x) = 1, a std

(x) = 1 (x).

(2.33)
31

Jeli wyniki x pomiaru X podlegaj rozkadowi normalnemu N(, 2), to unormowane wyniki pomiaru

x
(2.34)

podlegaj rozkadowi normalnemu N(0,1).

Jeli F(x) jest dystrybuant dowolnego rozkadu normalnego N(, 2), to atwo
pokaza, e
z=

x
F ( x) =
.
(2.35)

Jeli dysponujemy algorytmem obliczajcym wartoci dystrybuanty standaryzowanego rozkadu normalnego lub tablicami jej wartoci, to korzystajc ze wzoru
(2.35) moemy w prosty sposb obliczy wartoci dystrybuanty dowolnego rozkadu normalnego. Wartoci dystrybuanty standaryzowanego rozkadu normalnego podane s w tabeli 2 dodatku.
Przykad 5 (cd. przykadu 3)
W przykadzie 3 zosta skonstruowany histogram i skumulowany histogram 200
wynikw pomiarw pogrupowanych w 11 klasach (tabela 2.5). Otrzymany histogram
(rys. 2.2) sugeruje, e wyniki pomiarw mog podlega rozkadowi normalnemu. Aby
znale najlepiej dopasowan do niego gsto rozkadu normalnego, za ocen watoci redniej przyjmujemy redni arytmetyczn x = 3,717 (dokadniejsza warto x = 3,717395), a za ocen odchylenia standardowego odchylenie standardowe (z prby) s = 0,009111. Wykres gstoci normalnej z takimi parametrami zosta naoony na histogram, a wykres dystrybuanty, te z takimi parametrami, na skumulowany histogram (patrz rys. 2.9 i rys. 2.10).
Aby przekona si, jak dobrze rozkad normalny z wartoci redni x = 3,717
iodchyleniem standardowym s = 0,009111 pasuje do wynikw pomiarw, powinno
si te obliczy odpowiednie oczekiwane czstoci dla kadej z 11 dobranych klas.
Oczekiwan liczb obserwacji w dowolnym przedziale (a,b] obliczamy wedug wzoru

b 3,717
a 3,717
200P ((a, b)) = 200

.
0,009111
0,009111
Na przykad, jeli a = 3,720 oraz b = 3,725, to

3,725 3,717
3,720 3,717

= 200[ (0,835) (0, 26)]
200
0,009111
0,009111
= 200[0,798 0,613] = 200 0,186 = 37,105

32

jest oczekiwan liczb pomiarw w przedziale (3,720, 3,725]. Oczekiwane czstoci i oczekiwane skumulowane czstoci zapisano w dwch ostatnich kolumnach
wtabeli 2.7.
Zarwno wykres normalny przedstawiony na rys. 2.6 jak i tabela 2.7 wskazuj
na to, e wyniki pomiarw czasu opadania ciarka krzya Oberbecka podlegaj rozkadowi normalnemu.
Tabela 2.7
Czsto
zaobserwowana

3,695
3,700
3,705
3,710
3,715
3,720
3,725
3,730
3,735
3,740
+

1
6
12
29
36
42
37
23
8
5
1

Czsto
Czsto
Czsto
skumulowana oczekiwana skumulowana
zaobserwowana
oczekiwana
1
7
19
48
84
126
163
186
194
199
200

1,40
4,23
11,75
24,33
37,57
43,24
37,11
23,74
11,32
4,02
1,31

1,40
5,62
17,37
41,70
79,27
122,51
159,61
183,35
194,67
198,69
200,00

liczba obserwacji

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11

Grna
granica
klasy

grne granice klas

Rys. 2.9. Histogram danych z tabeli 2.5

wraz z gstoci dopasowania rozkadu normalnego
33

liczba obserwacji

grne granice klas

Rys. 2.10. Skumulowany histogram danych z tabeli 2.5

wraz z dystrybuant dopasowanego rozkadu normalnego

2.2.9. Obliczanie prawdopodobiestw P( k, + k)

dla rozkadu normalnego
Jeli w eksperymencie wyniki pomiarw podlegaj rozkadowi normalnemu
N(, 2), to prawdopodobiestwo tego, e pojedynczy wynik pomiaru X znajdzie si
w przedziale ( k, + k), gdzie k > 0, obliczamy korzystajc ze wzorw (2.33)
i (2.35), w nastpujcy sposb:

P( k < X < + k ) = F ( + k ) F ( k )
+ k
k
=

= 2 (k ) 1.

Z (2.36) i z tabeli 2 przedstawionej w dodatku otrzymujemy, e

P(( , + )) = 0,6827,
P(( 2, + 2)) = 0,9545,
P(( 3, + 3)) = 0,9973.

(2.36)

(2.37)

Ze wzorw tych wynika, e w przypadku, gdy wynik pomiaru X podlega rozkadowi normalnemu N(,2), to z prawdopodobiestwem w przyblieniu rwnym 0,68
znajdzie si on w przedziale ( , + ), z prawdopodobiestwem 0,95 w przedziale ( 2, + 2) oraz z prawdopodobiestwem 0,0997 w przedziale ( 3, +
3). A zatem, jeli n-krotnie powtrzamy pomiar, ktrego wynik podlega pewnemu
34

rozkadowi normalnemu, i jeli n jest due, to moemy oczekiwa, e w przyblieniu 68% pomiarw znajdzie si w przedziale (x sx, x + sx), 95 % w przedziale
(x 2sx, x + 2sx) oraz 99,7% w przedziale (x 3sx, x + 3sx).
Przykad 6
Jeli wyniki pomiarw czasu opadania ciarka, przy ustalonym momencie bezwadnoci, krzya Oberbecka podlegaj rozkadowi normalnemu, to procent pomiarw w przedziaach (x s, x + s) = (3,7083; 3,7265), (x 2s, x + 2s) = (3,6992;
3,7356) oraz (x 3s, x + 3s) = (3,6901; 3,7447) powinien by w przyblieniu odpowiednio rwny wyej podanym procentom (2.37). Z tabeli 21 odczytujemy, e wynosz one odpowiednio 66,5%, 95% oraz 100%. S wic bardzo bliskie wielkociom
oczekiwanym.

2.2.10. Gsto dwuwymiarowego rozkadu prawdopodobiestwa

Dla dwuwymiarowych wynikw pomiarw (wprowadzonych w podrozdziale
2.2.2; wtedy to dokonujemy jednoczesnego pomiaru wielkoci X i Y) naley konstruowa dwuwymiarowy histogram. Jeli liczba n pomiarw w serii bdzie wzrasta, to rwnie taki dwuwymiarowy histogram bdzie si stabilizowa wok pewnej dwuwymiarowej funkcji. Funkcj t nazywamy gstoci prawdopodobiestwa
i oznaczymy symbolem f(x, y). Jest ona okrelona dla wszystkich (x, y) R2 i ma
nastpujce wasnoci
1. f(x,y) 0.
+ +

2.

f ( x, y )dydx = 1.

(2.38)

Jeli zachodzi relacja f(x,y) = g(x)h(y), gdzie g(x) jest gstoci prawdopodobiestwa wielkoci X, a h(y) gstoci prawdopodobiestwa wielkoci Y, to mwimy, e
wielkoci X i Y s niezalene.

2.2.11. Wspczynniki korelacji oraz macierz kowariancji i korelacji

Wspczynnik korelacji rx,y rwnie stabilizuje si wok pewnej liczby, zwanej
korelacj. Jeli dwuwymiarowy histogram stabilizuje si wok gstoci f(x,y), to
wspczynnik korelacji rx,y stabilizuje si wok liczby
xy
,
x, y =
(2.39)

x

gdzie wyraenie w liczniku, nazywane kowariancj, okrelone jest wzorem

xy =

+ +

( x x )( y y ) f ( x, y)dydx ,

(2.40)

35

Wspczynnik korelacji przyjmuje warto z przedziau [1,+1], jest niezmienniczy wzgldem przeksztace liniowych oraz x,y = y,x, gdy xy = yx. Wartoci
+1 i 1 przyjmuje wtedy i tylko, gdy Y = aX + , a 0. Warto +1, gdy a > 0, oraz
1, gdy a < 0. Jeli X = Y, to xy = xx = x2 oraz x,x = 1.
Jeli wspczynnik x,y jest rwny zero, to mwimy, e wielkoci X i Y s nieskorelowane. Zauwamy, e niezalene wielkoci X i Y s nieskorelowane. Istotnie,
jeli f(x,y) = g(x)h(y), to xy = 0 i wtedy korelacja x,y = 0.
Parametry x2, y2, xy oraz yx zapisujemy w postaci macierzy

x2

yx

xy
,
2y

(2.41)

ktr nazywamy macierz kowariancji, a parametry x,x, y,y , x,y oraz y,x
w postaci macierzy

x, x

y, x
lub postaci

x, y
y , y

(2.42)

x, y
1
,

(2.43)
1
y, x
gdy x,x = y,y = 1. T macierz nazywamy macierz korelacji.
Jeli rwnoczenie mierzymy N wielkoci X1, X2, ..., XN, to moemy okreli
N(N1) kowariancji oraz tyle samo wspczynnikw korelacji, bo tyle jest rnych
par (Xi, Xj), i j. Macierz kowariancji i macierz korelacji bd wtedy macierzami
symetrycznymi o wymiarach N N, np. macierz korelacji bdzie miaa posta
1

X 2 , X1
...

X N , X 1

X1, X 2
1
...
X N ,X 2

... X 1 , X N
... X 2 , X N
...
... ,

...
1

(2.44)

gdzie Xi, Xj = Xj, Xi. Macierz korelacji z prby jest ocen macierzy korelacji.
Wprowadzone tutaj pojcia prawdopodobiestwo, gsto prawdopodobiestwa, warto rednia, wariancja i korelacja odnosz si do wyniku reprezentujcego pomiar okrelonej wielkoci fizycznej. S to pojcia abstrakcyjne, podobnie jak
np. punkt i odlego w geometrii. S one bardzo poyteczne, pomimo e nigdy nie
bdziemy zna ich dokadnych wartoci. Moemy je tylko ocenia na podstawie serii powtarzanych pomiarw lub zakada, e maj tak lub inn posta lub warto.

36

Oceny bd tym dokadniejsze, im wiksza bdzie prba, na podstawie ktrej zostan obliczone.

2.2.12. Centralne twierdzenie graniczne

Jeli x jest redni arytmetyczn wynikw n niezalenych powtarzanych pomiarw podlegajcych dowolnemu rozkadowi f(x) o wartoci redniej i wariancji 2
(o ile caka (2.25) jest skoczona), to jej warto rednia jest rwna , a wariancja
jest rwna 2/n. Dodatni pierwiastek kwadratowy z wariancji, czyli n , nosi
nazw odchylenia standardowego redniej x. Wariancja z prby (2.9) i odchylenie
standardowe redniej arytmetycznej (2.10) s odpowiednio ocenami wariancji i odchylenia standardowego redniej x .
Dowodzi si, e jeli x1, x2, ... , xn s pomiarami podlegajcymi rozkadom nor
malnemu N(, 2), to ich rednia arytmetyczna X te podlega rozkadowi normalnemu N(, 2/n). Wasno t wykorzystano we wzorach (2.9) i (2.10).
Centralne twierdzenie graniczne orzeka, e jeli wyniki niezalenych powtarzanych pomiarw podlegaj dowolnemu rozkadowi o gstoci prawdopodobiestwa
f(x), wartoci redniej i wariancji 2, to ich rednia arytmetyczna bdzie te miaa, jednake tylko w przyblieniu, rozkad normalny N(, 2/n). Im wiksza bdzie
seria pomiarw, tym przyblienie rozkadu redniej rozkadem normalnym bdzie
lepsze. Jak widzimy centralne twierdzenie graniczne jest matematycznym uzasadnieniem wzorw (2.9) i (2.10), na ktrych oparta jest statystyczna analiza niepewnoci
pomiarowych.
I tak na przykad, jeli wyniki niezalenych powtarzanych pomiarw podlegaj
rozkadowi wykadniczemu E(), to z centralnego twierdzenia granicznego wynika,
e ich rednia arytmetyczna ma gdy n jest due w przyblieniu rozkad normalny N(, 2/n), gdzie = 1/ oraz 2 = 1/2.
Jak wynika z centralnego twierdzenia granicznego, rednia arytmetyczna n niezalenych powtarzanych pomiarw o dowolnym rozkadzie f(x), wartoci redniej
i wariancji 2 ma dla duych n w przyblieniu rozkad normalny N(, 2/n), wic

P
<X <
0,6827
n
n

P 2
< X <2
0,9545
n
n

(2.45)

0,9973.
P 3
< X < 3
n
n

Tym samym im wiksze jest n, tym dokadniejsze s przyblienia.

37

2.2.13. Rozkad dwumianowy i rozkad Poissona

Rozkad prawdopodobiestwa, w ktrym dodatnie prawdopodobiestwo przypisane jest tylko liczbom naturalnym 0, 1, 2, ..., m i dla liczby 0 k m wyraa si
wzorem

m
p (k ) = p k (1 p) m k ,
(2.46)
k
gdzie m 1 i 0 < p < 1, nazywamy rozkadem dwumianowym (lub rozkadem Bernoulliego) i oznaczamy symbolem B(m, p). Rozkad ten jest dobrze okrelony, poniewa
m

p(k ) = 1.

k =0

(2.47)

Jeli m razy powtarzamy eksperyment, w ktrym moe zaj jeden z dwu moliwych wynikw, powiedzmy sukces z prawdopodobiestwem p albo poraka z prawdopodobiestwem 1 p, to prawdopodobiestwo tego, e pojawi si k sukcesw
wyraa si wzorem (2.46).
Mona atwo udowodni, e jeli m jest due, a p mae, to prawdopodobiestwo
p(k) jest w przyblieniu rwne ek/k!, gdzie = mp, czyli e

m
k
p (k ) = p k (1 p ) m k = q (k ) = e
(2.48)
k! .
k
Tabela 2.8 oraz rys. 2.11 pozwalaj porwna prawdopodobiestwa p(k) i q(k)
przy m = 20, p = 0,2 oraz = 4. Pokazuj one, e przyblienie jest dobre, nawet gdy
m nie jest zbyt due, a p zbyt mae.
Poniewa zachodzi rwno
+

q(k ) = 1

k =0

(2.49)

wic mona okreli graniczny rozkad prawdopodobiestwa, ktry kadej liczbie

naturalnej przypisuje dodatnie prawdopodobiestwo liczbie k prawdopodobiestwo
q(k). Tak zdefiniowany rozkad nazywamy rozkadem Poissona i oznaczamy symbolem P(). Rozkad Poissona ma liczne zastosowania w praktyce.
Jeli wielokrotnie (np. n razy) bdziemy obserwowa zjawisko, ktre podlega
rozkadowi dwumianowemu albo rozkadowi Poissona i obliczymy redni liczb
sukcesw, to bdzie si ona stabilizowa wok pewnych liczb, gdy n bdzie wzrasta. Dla rozkadu dwumianowego B(m,p) jest ona okrelona wzorem
m

kp(k ) = mp ,

k =0

38

(2.50)

Tabela 2.8
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

p(k)

p*(k)

q(k)

q*(k)

0,01153
0,05765
0,13691
0,20536
0,21820
0,17456
0,10910
0,05455
0,02216
0,00739
0,00203
0,00046
0,00009
0,00001
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000

0,01926
0,05593
0,11974
0,18906
0,22015
0,18906
0,11974
0,05593
0,01926
0,00489
0,00091
0,00013
0,00001
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000

0,01832
0,07326
0,14653
0,19537
0,19537
0,15629
0,10420
0,05954
0,02977
0,01323
0,00529
0,00192
0,00064
0,00020
0,00006
0,00002
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000

0,02783
0,06659
0,12098
0,17467
0,19741
0,17467
0,12098
0,06559
0,02783
0,00924
0,00240
0,00049
0,00008
0,00001
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000
0,00000

p(k)
q(k)
p*(k)

Rys. 2.11. Wykresy prawdopodobiestwa {p(k)}, {q(k)} oraz {p*(k)}

zamieszczonych w tabeli 2.8
39

a dla rozkadu Poissona P() wzorem

m

kq(k ) = .

(2.51)

k =0

Liczb mp nazywamy wartoci redni rozkadu dwumianowego B(m,p), a liczb

wartoci redni rozkadu Poissona P().
Przykad 7
W tabeli 2.9 podano liczb impulsw zarejestrowanych przez licznik GeigeraMllera w n = 208 jednakowych przedziaach czasu. Liczba Ok, k = 0, 1,..., 18 podaje liczb jednostek czasu, w ktrym zaobserwowano k impulsw. Liczba Ek(1)
przedstawia oczekiwan liczb jednostek czasu, w ktrych rejestrowanych jest
kimpulsw obliczonych przy zaoeniu, e podlega ona rozkadowi Poissona. Aby
j obliczy, naley najpierw oszacowa warto redni rozkadu Poissona wedug
wzoru

1 18
kOk = 10,322 .
208 k = 0
Tabela 2.9

40

Ok

Ek(1)

0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18

0
1
1
2
5
6
14
14
16
23
30
24
23
12
9
12
8
3
5

0,01
0,07
0,36
1,25
3,24
6,68
11,49
16,95
21,87
25,08
25,89
24,30
20,90
16,59
12,23
8,42
5,43
3,30
3,93

Ek(2)
0,23
0,40
0,92
1,96
3,77
6,60
10,48
15,14
19,85
23,65
25,60
25,16
22,47
18,23
13,43
8,99
5,46
3,02
2,65

Wwczas

10,322 k
.
k!
Zauwamy, e liczby obserwowane Ok tylko nieznacznie rni si od oczekiwanych Ek(1). Potwierdza to, e zaproponowany rozkad zosta trafnie dobrany.
E k(1) = 208e 10 ,322

2.2.14. Przyblianie rozkadu dwumianowego i rozkadu Poissona

rozkadem normalnym
Z centralnego twierdzenia granicznego wynika, e jeli m jest due oraz p mae,
to prawdopodobiestwa w rozkadzie dwumianowym B(m, p) moemy aproksymowa odpowiednimi prawdopodobiestwami obliczonymi na podstawie rozkadu normalnego:

m
1
p (k ) = p k (1 p) m k p (k ) =

k + 0, 5

1
(x )2 dx. (2.52)
exp
2
2 k 0,5
2

gdzie za naley wstawi mp, a za wyraenie mp(1 p) .

Rwnie, jeli jest due, to prawdopodobiestwa w rozkadzie Poissona P()
moemy aproksymowa za pomoc rozkadu normalnego N(, ):

q(k ) = e k

k
q (k ) =
k!

1
2

k + 0 ,5

1
exp
( x ) 2 dx .

2
k 0 ,5

(2.53)

Tabela 2.8 zawiera prawdopodobiestwa rozkadu dwumianowego B(20, 0,2)

irozkadu Poissona P(4) wraz z ich przyblieniami obliczonymi wedug wzorw
(2.52) i (2.53).
Przykad 8 (cd. przykadu 7)
Poniewa oceniona warto rednia jest dua, mona wic oczekiwa, e rozkad
normalny N(10,322, 10,322) powinien dobrze aproksymowa rozkad Poissona
P(10,322). Faktycznie, jeli obliczymy oczekiwane czstoci (podane w tab. 2.9)
wedug wzoru

E k( 2) = 208

k +0 , 5

1
exp
( x ) 2 dx ,
2 k 0,5

2
1

(2.54)

gdzie za wstawiamy 10,322, zaobserwujemy du zgodno. Pokazuj to te wykresy na rys. 2.12*.

*) Poniewa

suma pl prostoktw tworzcych histogram jest rwna 208, gsto pomnoono przez 208.
41

Rys. 2.12. Histogram czstoci Ok zapisanych w tabeli 2.9 oraz wykres

gstoci rozkadu normalnego N(10,322, 10,322)

2.3. Opracowanie wynikw oraz niepewnoci

pomiarw prostych
Dysponujc wynikami x1, x2, ..., xn pomiarw wielkoci fizycznej X (jeli pomiary nie s obarczone bdami systematycznymi), obliczamy redni arytmetyczn x, ktra stanowi oszacowanie wartoci rzeczywistej rz
n

x=

xi
i =1

(2.55)

n
Jako niepewno oceny x wielkoci rz przyjmujemy odchylenie standardowe
redniej arytmetycznej
n

sx =

sx
n

(xi x )2
i =1

n(n 1)

(2.56)

ktre przypominamy nosi nazw niepewnoci standardowej.

Wynik oblicze zapisujemy w postaci:

x = x sx .
42

(2.57)

Ponownie przypomnijmy, e wynik pomiaru jest wielkoci mianowan, dlatego obok wartoci liczbowej naley poda jednostk.
Wygodne jest wprowadzenie niepewnoci wzgldnej

sx
,
x
ktra jest wielkoci bezwymiarow podawan najczciej w procentach:

w =

% =

sx
100%.
x

(2.58)

(2.59)

2.3.1. Obliczanie niepewnoci w przypadku maej liczby pomiarw

za pomoc dugoci przedziaw ufnoci
Jeli seria zoona jest z niewielkiej liczby pomiarw, prawdopodobiestwo, e
przedziay ( x ksx , x + ksx ) , gdzie k =1, 2, 3, obejm warto rzeczywist rz jest
mniejsze ni dla duej liczby pomiarw (patrz podrozdzia 2.2.9). Aby otrzyma takie same prawdopodobiestwa dla maej liczby pomiarw, jak dla duej, naley
sx pomnoy przez pewien wspczynnik t(n,p), zaleny od liczby pomiarw n i danego prawdopodobiestwa p. Tak skonstruowany przedzia
(x t(n, p)s, x + t(n, p)s),
x

nazywany przedziaem ufnoci, obejmuje warto rzeczywist rz z zadanym prawdopodobiestwem p. Prawdopodobiestwo p z jakim przedzia ufnoci obejmuje
rznosi nazw poziomu ufnoci.
Kilka wartoci wspczynnikw t(n, p) dla maych n oraz trzech prawdopodobiestw p podano w tabeli 2.10. Obszerniejszy zestaw wspczynnikw t(n, p) podano w tabeli 1 (Dodatek). W wiczeniach laboratoryjnych korzystamy najczciej
z dwch poziomw ufnoci: p = 0,6827 oraz p = 0,9973.
Wspczynniki t(n, p) s kwantylami rozkadu Studenta (pseudonim W.S. Gosseta (18761937)). Teoria przedziaw ufnoci zostaa stworzona przez polskiego
uczonego T. Spaw-Neymana (18941981) w latach trzydziestych dwudziestego
wieku i naley do wanych osigni nauki wiatowej.
Tabela 2.10. Wartoci wspczynnikw Studenta dla trzech poziomw ufnoci p
n
p = 0,6827

10

20

41

1,837 1,321 1,197 1,142 1,111 1,091 1,077 1,067 1,059 1,024 1,013

p = 0,9545 13,968 4,527 3,307 2,869 2,649 2,517 2,429 2,366 2,320 2,126 2,064
p = 0,9973 235,777 19,206 9,219 6,620 5,507 4,904 4,530 4,277 4,094 3,400 3,199

43

Jak ju wiemy, jako miar niepewno redniej arytmetycznej x mona przyj

jej odchylenie standardowe, czyli sx. Inn miar niepewnoci redniej arytmetycznej, ktr uywa si, gdy seria pomiarw jest niedua, jest poowa przedziau ufnoci, czyli wielko t(n, p)sx. Podajc niepewno redniej arytmetycznej naley zaznaczy, w jaki sposb zostaa ona obliczona, a w przypadku, gdy wyraa si j przez
poow przedziau ufnoci, jaki poziom ufnoci p zosta przyjty. Nastpny przykad
pokazuje jak okreli niepewno redniej arytmetycznej w przypadku krtkiej serii pomiarw oporu za pomoc mostka.
Przykad 9
Czterokrotnie powtrzono pomiar pewnego oporu R, uzyskujc nastpujce wyniki (w ): x1 = 72,3, x2 = 71,9, x3 = 72,0, x4 = 71,8. Naley oszacowa mierzony
opr R za pomoc redniej arytmetycznej x i poda niepewno tej oceny wyraon
przez poow przedziau ufnoci t(n, p)sx przyjmujc poziom ufnoci p = 0,6827.
Korzystajc ze wzorw (2.6) i (2.10) otrzymujemy x = 72 oraz sx = 0,108 ,
aztabeli 2.10 odczytujemy t(4, 0,6287) = 1,197.
W takim razie poowa przedziau ufnoci wynosi
t(4, 0,6187)sx = 1,1970,108 = 1,293 .
Poszukiwan niepewnoci oceny x = 78 mierzonego oporu R, odpowiadaj-

c poziomowi ufnoci p = 0,6827, jest wielko 1,293 .

2.3.2. Okrelanie niepewnoci na podstawie klasy przyrzdw

W przypadku pomiarw, ktrych celem jest wyznaczenie zalenoci midzy dwoma lub wiksz liczb wielkoci fizycznych czsto brak jest czasu na to, by dla kadego punktu pomiarowego wykona odpowiednio du liczb pomiarw umoliwiajc obliczenie wartoci redniej oraz niepewnoci pomiaru poszczeglnych wielkoci. Podobna sytuacja ma miejsce w przypadku pomiarw wykonywanych w warunkach dynamicznych (zmieniajcych si w czasie prowadzenia dowiadcze), np.
pomiary zalenoci oporu metalu lub pprzewodnika od temperatury. Czsto wskazania miernikw powtarzaj si i wykonywanie serii pomiarowej jest niemoliwe.
W takich przypadkach korzystamy z pojcia klasy przyrzdu pomiarowego oznaczanej symbolem kl.
Klasa przyrzdu pomiarowego kl jest to wyraona w procentach warto
bezwzgldna ze stosunku maksymalnego dopuszczalnego na danym zakresie pomiarowym bdu pomiaru xmax do zakresu pomiarowego Z:

kl =

44

x max
100%.
Z

(2.60)

Aby obliczy maksymaln niepewno (bd) bezwzgldn pomiaru wykonanego za pomoc miernika o znanej klasie, naley skorzysta z rwnania

x max = m kl

Z
.
100

(2.61)

Klasa miernika jest podawana obok jego skali (dotyczy wikszoci miernikw
analogowych) lub w instrukcji obsugi.
Na niepewno pomiaru obliczon na podstawie klasy miernika skadaj si zarwno niepewnoci systematyczne jak i niepewnoci przypadkowe. Naley podkreli, e klasa miernika jest podana dla warunkw pomiaru okrelonych w instrukcji
obsugi, np. dla danego zakresu temperatur lub wilgotnoci, pionowego lub poziomego ustawienia miernika, okrelonego oporu doprowadze itp.
Korzystajc z miernikw analogowych o zmiennych zakresach naley dobiera zakres pomiarowy tak, aby wskazwka znajdowaa si (o ile jest to moliwe) powyej 2/3 skali. Zakresy pomiarowe miernikw analogowych s tak dobierane, aby spenienie tego zalecenia byo moliwe.
Aby uzasadni przedstawione wyej zalecenie, przypumy, e mierzymy prd
o nateniu I = 5 mA za pomoc miliamperomierza klasy 0,5 na zakresie 100 mA.
Maksymalna niepewno pomiaru obliczona na podstawie klasy miernika

0,5 100 mA
= 0,5 mA,
100
a maksymalna niepewno wzgldna %max = 10%. Jeeli pomiar wykonamy na zakresie 10 mA, to Imax = 0,05 mA a %max = 1%.
Korzystajc z miernikw elektrycznych naley oprcz wynikw pomiarw,
zanotowa zakresy, na ktrych wykonano pomiary oraz klas miernika. Bez tych
danych nie bdziemy w stanie oszacowa niepewnoci pomiarw!
I max =

2.3.3. Niepewnoci pomiarw miernikw cyfrowych

Niepewno pomiaru wykonanego miernikiem cyfrowym skada si
z niepewnoci przetwarzania ukadw analogowych miernika (np. nieliniowoci
wzmacniacza) oraz niepewnoci dyskretyzacji. Aby wyjani pojcie niepewnoci
dyskretyzacji, zwrmy uwag na to, e korzystajc z miernikw analogowych (wskazwkowych) jestemy w stanie odczyta wynik z wiksz dokadnoci ni dokadno dziaek elementarnych (moemy stwierdzi, e wskazwka znajduje si w pooeniu odpowiadajcym np. 15,5 dziaek skali). Odczytujc wynik z wywietlacza
miernika cyfrowego nie mamy takiej moliwoci, poniewa istnieje pewien zakres
sygnaw wejciowych, dla ktrych wskazania wywietlacza s takie same. Niepewno wynikajc z dyskretnoci miernika nazywamy niepewnoci dyskretyzacji lub
rozdzielczoci miernika oznaczana dalej za pomoc symbolu rozdz.
45

Niepewno przetwarzania miernikw cyfrowych podawana jest w procentach

wartoci mierzonej x i nazywana czsto klas miernika. Klas miernika cyfrowego
bdziemy oznacza przez kld (w celu odrnienia od klasy miernika analogowego).
Niepewno pomiaru miernika cyfrowego obliczamy korzystajc ze wzoru

kl d
x + rozdz .
(2.62)
100
Naley zaznaczy, e rozdzielczo miernika cyfrowego zaley od zakresu pomiarowego.
Dodajmy, e odchylenie standardowe u miernika cyfrowego, wynikajce z dyskretyzacji wynosi
x max =

u=

rozdz
12

(2.63)

Przykad 10
Mierzc napicie za pomoc woltomierza cyfrowego klasy 0,05 odczytano z wywietlacza wynik U = 225,3 V. Obliczy maksymaln niepewno Umax pomiaru
napicia. Rozdzielczo miernika rozdz = 0,1V. Korzystajc z wzoru (2.62) otrzymujemy

0,05
225,3 V + 0,1 V = (0,11265 + 0,1) 0,22 V.
100
Klasa miernikw cyfrowych jest podawana w instrukcji obsugi (w laboratorium
studenckim jest podana w instrukcji roboczej do danego stanowiska).
U max =

2.4. Zaokrglanie i zapis wynikw pomiarw

oraz ich niepewnoci
Wynik pomiaru powinien informowa o wartoci wielkoci zmierzonej, jednostkach w jakich jest ta wielko podana oraz dokadnoci z jak zostaa wyznaczona. Bez tych informacji wynik jest bezwartociowy!
Obliczajc warto redni x oraz eksperymentalne odchylenie standardowe
(2.10) redniej arytmetycznej s otrzymujemy zwykle liczby wielocyfrowe (zwaszcza
gdy korzystamy z pomocy kalkulatora lub komputera). Mona zapyta, czy podawanie wszystkich cyfr jest sensowne?
Przypomnijmy, e odchylenie standardowe s okrela przedzia wartoci wielkoci mierzonej, w ktrym warto rzeczywista znajduje si z prawdopodobiestwem
68,2%, natomiast w przedziale trzykrotnie wikszym warto rzeczywista znajduje
si prawie na pewno (patrz podrozdziay 2.2.9 i 2.2.12). Dochodzimy do wniosku,
46

e sens fizyczny maj najwyej dwie pierwsze cyfry znaczce niepewnoci pomiaru. Podawanie wartoci zmierzonej z dokadnoci wiksz ni dokadno niepewnoci jest pozbawione sensu.

2.4.1. Zaokrglanie wartoci niepewnoci pomiaru

Podczas zaokrglania wartoci niepewnoci pomiarw stosujemu nastpujce zasady:
1. Niepewnoci zaokrglamy zawsze w gr.
2. Wstpnie niepewnoci zaokrglamy do jednej cyfry znaczcej.
3. Jeeli wstpne zaokrglenie wartoci niepewnoci powoduje wzrost jej
wartoci o wicej ni 10%, to niepewno zaokrglamy z dokadnoci do dwch
cyfr znaczcych.
Sposb zaokrglania niepewnoci przedstawimy na przykadach.
Przykad 11
W wyniku oblicze eksperymentalnego odchylenia standardowego redniej arytmetycznej uzyskano wynik s = 0,0185421. Zaokrglajc ten wynik z dokadnoci
do jednej cyfry znaczcej otrzymujemy s 0,02. Wzgldna zmiana wartoci niepewnoci wynosi (0,020 0185)/0,0185 = 0,08, a wic mniej ni 10%. Zaokrglenie jest
dobre, niepewno zapisujemy jako s = 0,02.
Przykad 12
Warto niepewnoci s uzyskana z oblicze wynosi 254,495. Zaokrglajc wynik do penej liczby setek otrzymamy s = 300. Wzgldna zmiana wartoci niepewnoci jest rwna (300 254)/254 = 0,18, czyli wicej ni 10%. Zgodnie z podanymi
powyej zasadami musimy zaokrglenie przeprowadzi dla cyfry dziesitek, pozostawiajc cyfr setek bez zmian. W ten sposb zaokrglona poprawnie warto niepewnoci s = 260.

2.4.2. Zaokrglanie wynikw pomiarw

Na wstpie podajemy podstawow dla procesu zaokrglania wynikw pomiarw
regu:
Ogln zasad obowizujc podczas zaokrglania wynikw pomiarw jest
podawanie tych wynikw z dokadnoci do miejsca, na ktrym wystpuje ostatnia znaczca cyfra niepewnoci pomiaru.
Przypumy, e obliczajc redni arytmetyczn wielkoci, ktrej niepewno rozpatrywalimy w przykadzie pierwszym, uzyskano wynik x = 1,245467. Niepewno
pomiaru bya rwna 0,02. Wynik zaokrglamy z dokadnoci do dwch miejsc po
przecinku i uwzgldniajc niepewno, zapisujemy x = 1,250,02.

47

Zamy, e w przykadzie 12 uzyskano najbardziej wiarygodn warto wielkoci mierzonej x = 14521,985, niepewno po zaokrgleniu bya rwna 260, wynik pomiaru wraz z niepewnoci zapisujemy jako x = 14520260. Jest to jednak
troch mylcy zapis, o czym bdzie mowa na wstpie nastpnego podrozdziau.
Uwaga! Podawanie zbdnych cyfr zarwno w wynikach pomiarw, jak i wartociach
niepewnoci nie wiadczy o skrupulatnoci obliczajcego, lecz o niezrozumieniu podstaw analizy niepewnoci pomiarw!

2.4.3. Zapisywanie wynikw pomiarw oraz ich niepewnoci

Zalecane s cztery sposoby zapisu wynikw pomiarw oraz ich niepewnoci. Sposoby te przedstawimy na przykadach. Przypumy, e opracowujc wyniki pomiarw uzyskalimy x = 14520 z odchyleniem standardowym 260, dla innego pomiaru
z = 12,02248, a zoona niepewno standardowa (patrz rozdzia 2.6) tej oceny u =
0,00025.
1. x = 14520 z odchyleniem standardowym redniej 260,
z = 12,02248 ze zoon niepewnoci standardow 0,00025.
2. x = 14520(260), gdzie liczba w nawiasie oznacza odchylenie standardowe redniej,
z = 12,02248(25), gdzie liczba w nawiasie oznacza zoon niepewno standardow.
3. x = 14520(260), gdzie liczba w nawiasie oznacza odchylenie standardowe redniej,
z = 12,02248(0,00025), gdzie liczba w nawiasie oznacza zoon niepewno standardow.
4. x = 14520 260, gdzie liczba po znaku oznacza odchylenie standardowe redniej,
z = 12,02248 0,00025 gdzie liczba po znaku oznacza zoon niepewno standardow.
Jak wida, we wszystkich sposobach zapisu wynikw istotne jest okrelenie rodzaju niepewnoci pomiaru. W laboratorium studenckim, ze wzgldu na tradycj polecamy czwarty sposb.
Naley zwrci uwag na pierwszy przykad wyniku zapisany czwartym sposobem.
Wynik pomiaru x = 14520260 moe sugerowa, e zero jest cyfr dokadn, a tak
nie jest. Lepiej jest zapisa ten wynik w postaci wykadniczej x = (14,520,26)103,
korzystajc tylko z cyfr uwaanych za wiarygodne (znaczce). Czsto wygodnie jest
podawa wynik dobierajc odpowiednie jednostki. Jeeli omawiany wynik byby odlegoci wyraon w metrach, to zamiast pisa x = (14,520,26)103 m, moemy poda jego warto w kilometrach x = (14,520,26) km.
48

2.5. Odrzucanie wynikw pomiarw

Czytanie tego rozdziau polecamy tylko zainteresowanym; mona go traktowa
jako dodatek i opuci podczas pierwszego czytania.
Moe si zdarzy, e wikszo wynikw pomiarw ley w pobliu wartoci redniej, a jeden lub kilka (niewiele w stosunku do liczby pomiarw w serii) znacznie
odbiega od tej wartoci. Przykad mierzc rnic temperatur uzyskalimy nastpujce wyniki: 3,5; 3,9; 3,9; 3,4; 1,8 K. Rezultatem znacznie odbiegajcym od pozostaych (zym wynikiem) jest 1,8 K.
Pojawia si nastpujcy dylemat. Uwzgldniajc zy wynik popsujemy warto redniej arytmetycznej x wielkoci mierzonej, natomiast eksperymentalne odchylenie standardowe (2.10) redniej arytmetycznej s bdzie zawyone (uwzgldnienie zego pomiaru bdzie miao decydujcy wpyw na warto wyznaczanej niepewnoci). Z drugiej jednak strony, chcemy by uczciwi (chcemy unikn zarzutu
o naciganiu wynikw pomiarw). W takim przypadku najprociej byoby wielokrotnie powtrzy pomiary i sprawdzi, czy zy wynik powtarza si co pewien
czas (wystpuje z pewnym prawdopodobiestwem), czy te nie. Po wykonaniu dugiej serii pomiarw uwzgldnienie zego wyniku (nawet jeli jest on naprawd zy)
ma minimalny wpyw na wynik kocowy i dylemat przestaje istnie. Inaczej wyglda
sytuacja, gdy brakuje nam czasu na uzupenienie pomiarw lub gdy zy wynik zauwaylimy po wyjciu z laboratorium. W takiej sytuacji decyzja naley do nas.
Aby rozstrzygn problem powinnimy obliczy redni arytmetyczn z serii pomiarw oraz odchylenie standardowe a nastpnie sprawdzi (korzystajc
z wykresu funkcji Gaussa lub tabeli 2, zamieszczonej w dodatku), jakie jest prawdopodobiestwo wystpienia wyniku obarczonego tak duym odchyleniem od
redniej.
Warto redniej arytmetycznej przytoczonej na wstpie serii pomiarw jest rwna 3,4 K a s = 0,8. Wynik 1,8 K jest odlegy od redniej arytmetycznej o prawie 2s.
Prawdopodobiestwo wystpienia wyniku rnicego si od wartoci redniej o wicej ni 2 2s wynosi okoo 5% (patrz rys. 2.4 lub tabela 2). Jeeli wyniki serii
pomiarowej podlegaj rozkadowi normalnemu, to rednio jeden na dwadziecia wynikw pomiarw powinien rni si od wartoci redniej o wicej ni
2. W serii zoonej z szeciu pomiarw tylko k= 1/3 wynikw powinna spenia wymieniony wyej warunek (5% z 6 pomiarw to 0,3, czyli okoo 1/3 pomiaru). Z przytoczonych rozwaa wynika, e prawdopodobiestwo uzyskania tak zego wyniku (1,8 K) jest bardzo mae, dlatego te wynik ten wykluczamy. Kryterium
odrzucenia stanowi nierwno k < 1/2 (mniej ni 1/2 wyniku) kryterium Chauveneta (czytaj szowene).
Aby sformuowa kryterium Chauveneta, przypumy, e wykonalimy seri n
pomiarw pewnej wielkoci X, uzyskujc wyniki x1, x2, ..., xn. Korzystajc ze wszy49

stkich wynikw, obliczamy redni arytmetyczn x (2.55) oraz warto odchylenia

standardowego s (wzr (2.10) lub (2.56)). Jeeli jeden z wynikw znacznie rni si
od pozostaych, nazwiemy go wynikiem podejrzanym i oznaczymy przez xpod. Obliczamy wspczynnik podejrzenia

x x pod

(2.64)
.
s
Wspczynnik ten jest liczb okrelajc ile razy niepewno podejrzanego wyniku jest wiksza od odchylenia standardowego obliczonego dla danej serii pomiarowej, czyli o ile odchyle standardowych s podejrzany wynik xpod rni si od wartoci x.
Korzystajc z tabeli 2 zamieszczonej w dodatku, okrelamy prawdopodobiestwo
P tego, e wynik bdzie si rni od wartoci x o wicej ni wpod s odchyle standardowych (x traktujemy jako warto rzeczywist, a s jako odchylenie standardowe ). Mnoc prawdopodobiestwo P przez liczb pomiarw n, otrzymamy spodziewan liczb k pomiarw gorszych od podejrzanego

w pod =

k = Pn.

(2.65)

Jeeli obliczona w ten sposb warto k jest mniejsze od 1/2, to podejrzany

wynik xpod, zgodnie z kryterium Chauveneta, zostaje odrzucony.
Dalsze opracowanie danych polega na obliczeniu wartoci redniej arytmetycznej oraz odchylenia standardowego redniej arytmetycznej, na podstawie rezultatw,
zktrych odrzucilimy wynik zy (nieprawdopodobny). Poniewa liczba wynikw
zmniejszya si do piciu, podczas szacowania niepewnoci redniej kwadratowej
naleaoby skorzysta ze wspczynnikw Studenta.
Przedstawiony sposb postpowania mona powtrzy w odniesieniu do kolejnego podejrzanego wyniku. Warto jednak ostrzec przed naduywaniem tej procedury
i zwrci uwag na to, e ze wyniki pomiarw doprowadziy do wielu fundamentalnych odkry.

2.6. Obliczanie niepewnoci pomiarw zoonych

Omwione w rozdziale 2.2 sposoby statytstyczego obliczania niepewnoci dotyczyy pomiarw prostych, w trakcie ktrych wartoci wielkoci mierzonych byy odczytywane bezporednio ze skali przyrzdw pomiarowych. W wikszoci przypadkw wielko fizyczna Y nie jest mierzona bezporednio, lecz wymaga zmierzenia
wielkoci fizycznych X1, X2, ..., Xn, z ktrymi powizana jest okrelon relacj
Y = g(X1, X2, ..., Xn).
50

(2.66)

Wielkoci X1, X2, X3, ..., Xn bdziemy nazywali wielkociami wejciowymi, a Y

wielkoci wyjciow.
Zaleno funkcyjna okrelona wyraeniem (2.66) jest w praktyce laboratorium
studenckiego przedstawiona w postaci przejrzystego wzoru matematycznego.
Zamy, e wielko Xi zmierzylimy ni razy, a symbol xi,k oznacza k-ty wynik
jej pomiaru. Wielko Y (poprawnie warto redni wielkoci Y) mona oceni
na wiele sposobw. Tutaj zaprezentujemy dwa z nich.
Pierwszy z nich polega na przyjciu za ocen Y wartoci
y = g (x1 , x 2 ,..., x n ),

(2.67)

gdzie xi jest redni arytmetyczn wynikw pomiarw i-tej wielkoci fizycznej Xi,
tzn.

xi =

1
ni

ni

xi , k .
k =1

Drugi sposb, ktry moemy zastosowa, gdy n1 = n2 = ... = nn = n, polega na

przyjciu za ocen Y wartoci

y=
gdzie

1 n
yi ,
n i =1

(2.68)

y i = g (x1,i , x 2,i ,..., x n,i ).

Przykad 13
Przypumy, e mamy oceni pole przekroju drutu na podstawie pomiarw jego
rednicy. rednic drutu wielko wejciow oznaczmy przez D, a pole przekroju drutu wielko wyjciow przez P. Wielkoci D i P s funkcjonalnie zwizane relacj

1
D 2 .
4

Przypumy, e d1, d2,..., dn oznaczaj wyniki pomiarw rednicy, a d ich redni arytmetyczn, tzn.
P=

d1 + d 2 + ... + d n
.
n
Jeli zastosujemy pierwszy sposb oparty na wzorze (2.67), to ocen pola przekroju drutu jest
d=

51

()

2
d ,
4
a jeli drugi, oparty na wzorze (2.68), to
d12 + d 22 + ... + d n2
4
n

Przykad 14
Przypumy, e zadaniem pomiarowym jest ocena objtoci prbki pewnego
materiau w ksztacie prostopadocianu. Jeli A, B i C reprezentuj odpowiednio
wyniki pomiarw dugoci, szerokoci i wysokoci prostopadocianu, to
V = ABC.
(2.69)

Jeli a oznacza redni arytmetyczn pomiarw dugoci a1, ..., an, b redni arytmetyczn pomiarw szerokoci b , b , ..., b , a c redni arytmetyczn pomiarw
1

wysokoci c1, c2, ..., cn, to ocen objtoci prostopadocianu wedug wzoru (2.67)

jest iloczyn ab c, a wedug wzoru (2.68) wielko

1
(a b c + a 2 b2 c2 + ... + a n bn cn ).
n 1 1 1
Niepewno oceny wielkoci wyjciowej Y nazywamy niepewnoci zoon
ioznaczamy symbolem uy. Sposb jej obliczania zaley od tego, czy wielkoci wejciowe X1, X2, X3, ... , Xn bdziemy traktowa jako wielkoci nieskorelowane, czy
jako skorelowane.

2.6.1. Nieskorelowane wielkoci wejciowe

Jeli wielkoci X1, X2, X3, ... , Xn s nieskorelowane, to niepewno zoon uyceny
(2.67) wielkoci Y wyznacza si na podstawie wzoru
2

g
g
(s1 )2 +
u y =
x1
x 2

g
(s 2 )2 + ... +

x n

(s n )2 ,

(2.70)

g
(i = 1, 2,..., n) oznaczaj odpowiednio odchylenie standardowe
xi
redniej xi (patrz rozdziay 2.2.1 i 2.3) i warto pochodnej czstkowej funkcji (2.66)
w punkcie ( x1 , x2 ,..., xn ) .
Posugujc si symbolem sumy wzr (2.70) moemy zapisa w bardziej zwartej
postaci
gdzie si = s x i
i

52

 g
u y =
i =1 x i
n

(s i )2 .

(2.71)

W przypadku, gdy midzy wielkoci wyjciow Y a wielkociami wejciowymi zachodzi zaleno liniowa

Y = a1 X 1 + a 2 X 2 + .... + a n X n ,
(2.72)
gdzie a1, a2,..., an s znanymi wspczynnikami, to ocena wielkoci Y zgodnie z wzorem (2.67) przyjmuje posta
y = a1 x1 + a 2 x 2 + ... + a n x n .

(2.73)

Ocena wielkoci Y oparta na wzorze (2.68) ma w tym przypadku tak sam posta, poniewa

1 n
1 n
yi = (a1 xi ,1 + a 2 xi, 2 + ... + a n xi ,n ) = a1 x1 + a 2 x 2 + ... + a n x n

n i=1
n i =1
Jeli wielko wyjciowa zaley liniowo od wielkoci wejciowych (patrz (2.72)),
to g xi = a i i niepewno zoona (2.70) oceny (2.73) przyjmuje posta
y=

uy =

(a1 )2 (s1 )2 + (a 2 )2 (s 2 )2 + ... + (a n )2 (s n )2 .

(2.74)

Jeli zaleno midzy wielkoci wyjciow i wielkociami wejciowymi wyraa relacja

Y = c(X 1 )a1 (X 2 )a2 ...(X n )an ,

(2.75)

tzn. wielko wyjciowa jest iloczynem potg wielkoci wejciowych, gdzie c > 0,
aa1, a2, ..., an s znanymi liczbami (rnymi od zera), to niepewno zoona oceny
wielkoci Y (obliczona wedug wzoru (2.70), przy zaoeniu, e xi > 0)

y = c (x1 )a1 (x 2 )a2 ...(x n )an

wyraa si wzorem
2

a
a
a
u y = y 1 (s1 )2 + 2 (s 2 )2 + ... + n
x1
x2
xn

(s n )2 .

(2.76)

Aby otrzyma (2.76) naley obliczy pochodne czstkowe funkcji

y = g (x1 , x2 ,..., xn ) = c (x1 )a1 (x2 )a2 ...(xn )an

w punkcie ( x1 , x 2 ,..., x n ) i wstawi do wzoru (2.71). Najatwiej obliczy pochodn
stosujc metod pochodnej logarytmicznej, tzn. obliczy pochodne czstkowe funkcji
53

ln y = ln c + a1ln x1 + a 2 ln x 2 + ... + a n ln x n .

Poniewa

(ln y ) 1 y ai
=
= ,
y xi x i
x i
to pochodne czstkowe funkcji g obliczone w punkcie ( x1 , x 2 ,..., x n ) s nastpujcej postaci
a
g
= y i , i = 1, 2, ..., n.
xi
x i
Po podstawieniu do (2.70) otrzymujemy wzr (2.76).
Przykad 15 (cd. przykadu 13)
Poniewa w rozpatrywanym przypadku n = 1, przeto niepewno zoona (2.70)

oceny (d )2/4 wyraa si wzorem

uP =

ds ,
2 d

gdzie
n
1
2
di d .

n(n 1) i =1
Jeliby wykonano 10 pomiarw rednicy, a wyniki byyby takie jak w drugiej
kolumnie tabeli 2.11, to ocena pola przekroju drutu wynosiaby (/4)(1,799 mm)2 =
2,542 mm2, a zoona niepewno standardowa (/2)1,799 mm 0,433103 mm =
1,223 102 mm2.

sd =

Przykad 16 (cd. przykadu 14)

Poniewa w tym przypadku zaleno funkcyjna (2.69) jest postaci (2.75), to zoon niepewno standardow uV oceny objtoci V obliczamy wedug wzoru (2.76)
i otrzymujemy
2

1
1
1
(2.77)
uV = a b c (sa )2 + (sb )2 + (sc )2 ,
a
b


c
gdzie sa , sb oraz s c oznaczaj odpowiednio odchylenia standardowe rednich a,

b i c.
W tabeli 2.11 zawarte s wyniki dziesiciokrotnych pomiarw bokw prbki
materiau.
Na podstawie tych pomiarw naley oceni objto tej prbki i poda, przyj
mujc, e rednie arytmetyczne a, b i c s nieskorelowane, niepewno zoon uzy54

Tabela 2.11
Nr pomiaru

a [mm]

b [mm]

c[mm]

70,1
70,2
69,8
70,4
70,2
69,8
70,3
70,2
69,9
70,0
700,8

79,8
80,1
80,3
79,7
80,2
80,1
80,3
79,9
80,0
80,1
800,5

100,2
100,9
100,3
99,7
100,4
99,8
100,1
99,9
99,8
100,1
1001,2

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Suma
rednia
arytmetyczna

a = 70,09

b = 80,05

c = 100,12

Odchylenie
standardowe

sa 0,208

sb 0,201

sc 0,358

Odchylenie
standardowe
redniej

sa = 0,066

sb = 0,064

sc = 0,113

skanej oceny. Zaoenie to jest w peni uzasadnione, gdy pomiary dugoci, szerokoci i wysokoci prbki wykonano niezalenie od siebie. Ocena objtoci prbki wynosi

a b c = 70,09 mm80,05 mm100,12 mm = 561743,7345 mm3.

Zoon niepewno standardow u obliczamy wedug wzoru (2.77). Podstawiajc odpowiednie liczby podane w tabeli otrzymujemy uV = 938,9826 mm3. Uzyskany wynik moemy zapisa w postaci 561743,7345938,9826 mm3, lub po zaokrgleniu, w postaci V = (5620001000) mm3 = (5621)103 mm3 = (5621)106 m3,
ktry okrela wyznaczon dowiadczalnie ocen objtoci V i jej dokadnoci.

2.6.2. Skorelowane wielkoci wejciowe

Jeli X1, X2, X3, ... , Xn s skorelowane i jeli m1 = m2 =...= mn = m, to zoon
niepewno standardow uy oceny (2.67) wielkoci wyjciowej Y wyznaczamy ze
wzoru

uy =

g
x
i =1
i
n

n 1 n

g g
(s i )2 + 2
si s j ri, j ,

i =1 j =i +1 xi x j

(2.78)
55

gdzie si oraz

g
oznaczaj to samo co we wzorze (2.70), a
x i
m

ri , j =

(x i , k
k =1

(x i , k
k =1

x i ) x j ,k x j

xi )

(x j , k
k =1

xj

(2.79)

Czytelnikw zainteresowanych uzasadnieniem wzorw (2.70) i (2.78) okrelajcych zoone niepewnoci standardowe odsyamy do rozdziau 13 podrcznika [5] oraz
do opracowania [1].
Przykad 17
Opr R, reaktancja X i zawada Z pewnego obwodu elektrycznego prdu zmiennego wyraaj si poprzez amplitudy napicia V i natenia I prdu zmiennego oraz
przesunicie fazowe (, V i I s wielkociami wejciowymi, a wielkociami wyjciowymi s: R, X i Z) prawami Ohma postaci:

V
V
V
cos , X = sin , Z = .
I
I
I
Naley oszacowa opr R, reaktancj X oraz zawad Z na podstawie piciokrotnego rwnoczesnego pomiaru napicia V, natenia I oraz przesunicia fazowego .
Wyniki pomiarw s zebrane w tabeli 2.12.
Poniewa pomiary wielkoci wejciowych wykonuje si rwnoczenie, to powinno si je traktowa jako wielkoci skorelowane i niepewnoci wielkoci wyjcioR=

Tabela 2.12

56

k-numer pomiaru

V [V]

I [mA]

[rad]

1
2
3
4
5
rednia
arytmetyczna
Odchylenie
standardowe
redniej

5,007
4,994
5,005
4,990
4,999

19,663
19,639
19,640
19,685
19,678

1,0456
1,0438
1,0468
1,0428
1,0433

V = 4,9990

I = 19,6610

= 1,04446

sV = 0,0032

s I = 0,0095

s = 0,00075

Wspczynnik
korelacji

rV ,I = 0,36

rV , = 0,86

rI , = 0,65

wych oblicza wedug wzoru (2.78). W zwizku z tym naley obliczy, oprcz rednich arytmetycznych i odchyle standardowych rednich, take wspczynniki korelacji wedug wzoru (2.79). Wszystkie te wielkoci zostay zamieszczone take
wtabeli 2.12.
W drugiej kolumnie tabeli 2.13 zamieszczono oceny oporu R, reaktancji X
i zawady Z, a w trzeciej odpowiadajce im standardowe niepewnoci zoone uR,
uX i uZ obliczone wedug wzoru (2.78).
Tabela 2.13
Ocena yi obliczona na
podstawie wynikw
pomiarw []

Standardowa niepewnozoona uy obliczona na

i
podstawie wynikw
pomiarw

V
cos
I

y1 =R = 127,732

uR = 0,071
uR/R = 6,0104

V
sin
I

y2 =X = 219,847

uX = 0,295
uZ/X = 13,0104

y3 =Z = 254,260

uZ = 0,236
uZ/Z = 9,0104

Zaleno midzy ocen

wielkoci wyjciowej yi
a ocenami wielkoci wejcio
wych V , I ,

y1 = R =

y2 = X =

y3 = Z =

V
I

Przykad 18 (cd. przykadu 17)

Dla przykadu wyprowadzimy wzr na niepewnoci uZ. Jeli g (V , I ) =

g 1
1
= =Z ,
V I
V

V
, to
I

g
V
1
=
= Z .
2
I
I
(I )

Zatem, stosujc wzr (2.78), otrzymujemy

s
u Z = Z V
V

sI
+
I

s
2 V

V
2

sI

I

rV , I

0,0032 0,0095
0,0032 0,0095
( 0,36 )
= 254,26
+
2
4,9990 19,6610
4,9990 19,6610
= 2,362 10 1 ,
57

czyli zoona niepewno standardowa oceny zawady 254,26 wynosi 0,236 .

Wpodobny sposb otrzymujemy dwie pozostae niepewnoci uV, uI.
Druga metoda oceny wielkoci wyjciowych R, X i Z wynikajca ze wzoru (2.68)
sprowadza si do obliczenia Ri, Xi oraz Zi dla kadej trjki rwnoczesnych pomia

rw Vi, Ii oraz i, i = 1, 2, 3, 4, 5, a nastpnie obliczenia rednich R , X oraz Z . Wyniki tych oblicze zawarte s w tabeli 2.14.
Tabela 2.14
k-numer pomiaru

1
2
3
4
5
rednia
arytmetyczna
Odchylenie
standardowe
redniej

R=

V
cos
I
[]

V
sin
I
[]

X =

V
I
[]

Z=

127,67
127,89
127,51
127,71
127,88

220,32
219,79
220,64
218,97
219,51

254,64
254,29
254,84
253,49
254,04

R = 127,732

X = 219,847

Z = 254,260

s R = 0,071

s X = 0,295

s Z = 0,236

Wielkoci R, X i Z s skorelowane; ich wspczynniki korelacji wynosz:

ry1 , y2 = rR , X = 0,588 , ry1 , y3 = rR ,Z = 0,485 , ry2 , y3 = rX , Z = 0,993 .
W tym przypadku obie metody daj po zaokrgleniu do 3 miejsca po przecinku
te same oceny wielkoci R, X i Z. Rwnie uR sR, uX sX oraz uZ sZ.
Przedstawiony sposb obliczania niepewnoci moe by uzasadniony
w tych przypadkach, kiedy pomiary wykonuje si w grupach obejmujcych wielkoci V, I oraz . Nie mona go zastosowa, jeli wykonuje si n1 pomiarw napicia
V, n2 pomiarw natenia I oraz n3 pomiarw fazy , a n1 n 2 n3 .
Przyjcie dodatkowego zaoenia, e korelacje s rwne zeru, moe prowadzi
do innych wynikw.
2.6.2.1. Obliczanie niepewnoci metod rniczki zupenej
W tym rozdziale podamy jeszcze jeden wzr, wedug ktrego oblicza si niepewno zoon.
Mona go stosowa zarwno do skorelowanych jak i do nieskorelowanych
wielkoci wejciowych.
Dlatego jest najczciej stosowany w praktyce laboratorium studeckiego.
58

Oznaczmy odpowiednio przez x1, x2, ..., xn oceny wielkoci wejciowych wielkoci fizycznych X1, X2, ..., Xn, a przez u1, u2, ..., un niepewnoci tych ocen. Jeli
Y = g(X1, X2, ..., Xn), to niepewno uy oceny y = g(x1, x2, ..., xn) wielkoci Y, moemy okreli za pomoc wzoru

uy =

g
g
g
u1 +
u 2 + ... +
un ,
x1
x2
xn

(2.80)

gdzie, jak poprzednio, g xi oznacza warto pochodnej czstkowej funkcji

gwpunkcie (x1, x2, ..., xn).
Aby uzasadni ten wzr mona powoa si na wzr na rniczk zupen funkcji g, ktry ma nastpujc posta

dy =

g
g
g
dx1 +
dx2 + ... +
dxn .
x1
x2
xn

Traktujc przyrosty dxi jako niepewnoci oceny xi, a przyrost dy jako niepewno
oceny Y oraz przyjmiemy najmniej korzystny ukad znakw (aby zmaksymalizowa
sum po prawej stronie wzoru), to uzyskamy wzr (2.80).
Jeeli obliczamy niepewno zoon wedug wzoru (2.80), to mwimy, e obliczamy j metod rniczki zupenej.
W przypadku gdy wielko wyjciowa jest iloczynem potg wielkoci wejciowych (zachodzi (2.75)), niepewno oceny y = c (x1 )a1 (x2 )a2 ...(xn )an obliczana metod rniczki zupenej przyjmuje posta
u
u
u
u y = y a1 1 + a 2 2 + ... + a n n .
(2.81)

x1
x2
x n

Jeli wielkoci wejciowe s nieskorelowane, a niepewnociami u1, u2, ... , un

odchylenia standardowe s1 , s 2 ,..., s n , to zoona niepewno standardowa (2.71) nie
jest wiksza od zoonej niepewnoci (2.80), poniewa zachodzi nierwno
2

n
g
g
u y =
si
si .
i =1 xi
i =1 xi

Jeli natomiast wielkoci wejciowe s skorelowane, to niepewno (2.78) moe

by mniejsza lub wiksza od niepewnoci (2.80). Dodajmy, e ocena niepewnoci
obliczona wedug wzorw (2.70) i (2.78) jest dokadniejsza od oceny niepewnoci
obliczonej wedug wzoru (2.80).
Poniej przedstawiamy kilka przykadowych oblicze z wykorzystaniem wzorw
(2.80) i (2.81).

59

Przykad 19 (cd. przykadw 17 i 18)

Jeli zamiast wzoru (2.77) posuymy si wzorem (2.81), to niepewno oceny
objtoci prbki materiau wyraa si wzorem

s
s
s
uV = a b c a + b + c .
c
b
a
Po podstawieniu wartoci podanych w tabeli 2.11 otrzymujemy
0,066 0,064 0,113
uV = 70,09 80,05 100,12
+
+
= 1609,6804 m 3 .
70,09 80,05 100,12
Poprzedni wynik 938,9826 m3, uzyskany za pomoc wzoru (2.70), jest bliszy
odchyleniu standardowemu oceny objtoci ni wynik 1609,6804 m3 uzyskany metod rniczki zupenej.
Przykad 20
Przypumy, e chcemy wyznaczy zoon niepewno (niepewno oceny)
oporu zmierzonego za pomoc mostka Wheastonea. Warto oporu obliczamy korzystajc z rwnania

lx
,
lz
gdzie: R n = (1001) oznacza opr normalny, natomiast l x = (4502) mm
i lz = (10005) mm oznaczaj dugoci ramion mostka (oporw liniowych) odpowiadajcych rwnowadze mostka. Przyjmujc za wartoci mierzonych wielkoci fizycznych Rn = 100 , lx = 450 mm, lz = 1000 mm otrzymujemy Rx = 45 . Aby wyznaczy niepewno (2.80) tej oceny obliczamy pochodne czstkowe
R x = Rn

R l
Rx l x
R x Rn
Rx
,
= ,
=
= n2 x .
lz
Rn l z
lx
lz
lz
Korzystajc z (2.80) otrzymujemy
lx
R
R l
dRn + n dl x n2 x dl z .
lz
lz
lz
Po zastpieniu rniczki wielkoci prostych niepewnociami pomiarw oraz
wprowadzeniu wartoci bezwzgldnych do skadnikw sumy po prawej stronie ostatniego rwnania, otrzymamy na niepewno oceny oporu Rx = 45 wzr
dR x =

u Rz =

60

R l
R
lx
u Rn + n u lx + n2 x u lz .
lz
lz
lz

Podstawiajc wartoci liczbowe otrzymamy uRz = (0,45 + 0,2 + 0,225) = 0,875,

gdzie za wartoci niepewnoci przyjto: uRn = 1 , ulx = 2 mm, ulz = 5 mm. Po zaokrgleniu warto niepewno uRz jest rwna 1 .
Warto w tym miejscu zwrci uwag na to, e zapis skadnikw sumy wystpujcych w ostatnim wzorze umoliwia ocen wkadu wnoszonego przez niepewnoci poszczeglnych pomiarw prostych wielkoci do niepewnoci pomiaru zoonego.
Analiza wpywu poszczeglnych czynnikw na dokadno pomiarw jest
bardzo istotn czci dyskusji uzyskanych wynikw i wnioskw z wiczenia.
Przykad 21
Wykonalimy pomiary zalenoci oporu od temperatury dla pprzewodnika.
Naszym zadaniem jest narysowanie wykresu we wsprzdnych (y = ln R, x = 1/T ).
Przypumy, e wyniki odpowiadajce jednemu z punktw pomiarowych maj nastpujce wartoci: R = (1651) , T = (300,40,5) K, uR = 1 , uT = 0,5. Wielkoci, ktre naley nanie na wykres nie s wielkociami mierzonymi bezporednio,
lecz funkcjami wielkoci mierzonych. Niepewno z jak zostaa wyznaczona warto y = ln R obliczamy w bardzo prosty sposb (tym razem y jest funkcj tylko jednej zmiennej)

uy =

(ln R )dR = u R .
dR =
R
R
R

Podstawiajc warto niepewnoci uR = 1 otrzymujemy uy = uR /R = 1/165. Warto

zwrci uwag na to, e niepewno wyznaczenia uR/R zaley od wartoci R i maleje ze wzrostem R (nawet wtedy, gdy wszystkie wartoci R zmierzone zostay tym
samym miernikiem i na tym samym zakresie!).
Podobnie postpujemy szacujc niepewno z jak wyznaczono x = 1/T

u
x
1
dT =
dT = T2 .
T
T T
T
Po podstawieniu wartoci liczbowych otrzymujemy ux = uT/T 2 6106. Jak widzimy, ponownie warto niepewnoci wielkoci wyznaczanej zaley od wartoci
wielkoci mierzonej.
ux =

Przykad 22
W wielu przypadkach zachodzi potrzeba wyznaczenia niepewnoci wielkoci bdcych rnic wartoci mierzonych, np. zmiany dugoci lk l0 lub temperatury Tk T0.
Podobnie jak w poprzednim przykadzie, obliczamy rniczk zupen d(lk l0) =
d(lk) d(l0), zamiast rniczek podstawiamy wartoci niepewnoci, bierzemy pod
uwag przypadek sumowania si wartoci bezwzgldnych niepewnoci. Po wykonaniu tych czynnoci otrzymujemy niepewno pomiaru przyrostu ulk l0 = ulk + ul0.
61

Zwykle pomiaru dugoci pocztkowej i kocowej dokonujemy tym samym przyrzdem, w zwizku z czym pomiary te obarczone s takimi samymi niepewnociami. Wtedy moemy przyj, e ulk l0 = 2ulk = 2ul0. Uzyskany przez nas wynik (intuicyjnie oczywisty) okazuje si bardzo przydatny, gdy korzystamy ze skomplikowanych wzorw, w ktrych wystpuj rnice pewnych wielkoci. Wynik ten pozwala
znacznie zredukowa liczb zmiennych w wyraeniu na niepewno pomiaru zoonego.
Prostym przykadem niech bdzie obliczanie wspczynnika rozszerzalnoci termicznej. Z definicji jest to stosunek wzgldnego przyrostu dugoci do przyrostu
temperatury

lk l0
.
l 0 (Tk T0 )

W wyraeniu na niepewno wyznaczenia wspczynnika rozszerzalnoci termicznej wystpuj cztery wielkoci: dugo pocztkowa i kocowa oraz temperatury pocztkowa i kocowa. Jeeli skorzystamy z poprzedniego przykadu, to bdziemy mieli tylko niepewnoci pomiaru przyrostu dugoci oraz przyrostu temperatury i liczba zmiennych zredukuje si o poow! Musimy jednak pamita, e niepewnoci wyznaczenia przyrostw s tym razem, dwukrotnie wiksze od niepewnoci pomiarw samych wartoci.
Przykad 23
Obliczanie niepewnoci wzgldnej zilustrujemy na przykadzie wyznaczania
momentu bezwadnoci J bryy sztywnej, ktry obliczamy z zalenoci

T 2 mgd
,
4 2
gdzie: T okres maych drga bryy, m jej masa, d odlego rodka masy bryy
od punktu zawieszenia.
Przyjmijmy, e zmierzone wartoci wynosz: m = 0,5 kg, d = 0,1 m, T = 0,52 s,
aniepewnoci odpowiednich pomiarw: um = 0,001 kg, ud = 0,2 mm, uT = 0,005 s;
g = 9,81 m/s2 jest przyspieszeniem ziemskim, dla ktrego ug = 0,01 m/s2. Na podstawie wynikw pomiarw obliczamy warto momentu bezwadnoci
J=

T 2 mgd
= 0,003363 kg m 2 ,
2
4
a z (2.81), po uwzgldnieniu jawnej postaci J, otrzymujemy niepewno wzgldn
J=

ug
uJ
u
u
u
=2 T + m +
+ d
J
T
m
g
d
= 0,0192 + 0,002 + 0,001 + 0,002 0,025 = 2,5%,
62

a std niepewno bezwzgldn

u
u J = J J = 0,003363 0,025 kg m 2 = 0,000084075 kg m 2 .
J
Ostatecznie, warto momentu bezwadnoci
J = (0,003360,00009) kg m2 = (33,60,9)104 kg m2.
Przykad 24
Oto jeszcze inny przykad bardzo efektywnego zastosowania (2.81). Wspczynnik zaamania wiata n dla szka wyznaczamy m.in. na podstawie zmierzonej wartoci kta amicego pryzmatu oraz kta najmniejszego odchylenia posugujc
si nastpujcym wzorem:

+
sin
2
n=

sin
2

po zlogarytmowaniu ktrego otrzymujemy

+

ln (n ) = ln sin
ln sin .
2
2
Rniczka zupena tej funkcji wynosi
+


cos
d + d cos d
d (n )
2 2
2
2 2
=

.
d (ln (n )) =
n
+

sin
sin

2
2
Z ostatniej rwnoci po zastpieniu rniczek d , d niepewnociami pomiarowymi u, u otrzymujemy wzr na warto niepewnoci wzgldnej

un 1 +
1

+
= ctg
ctg u + ctg
u ,
n 2 2
2
2
2
a po pomnoeniu przez un wzr na niepewno bezwzgldn wspczynnika zaamania

63

+

+
+
cos
cos
cos sin

u
2
2
2 u
2
+
u n = n n =

n
2



sin
sin

sin 2
2
2
2

u
2 .

Tak sam posta wyraenia na un moemy otrzyma obliczajc rniczk zupen wspczynnika zaamania n, traktujc go jako funkcj zmiennych niezalenych
i i stosujc (2.80). Zainteresowanym proponujemy samodzielne sprawdzenie,
e tak jest.
Uwaga! Jeeli podczas oblicze wartoci niepewnoci zoonej bierzemy pod
uwag niepewnoci wynikajce z klas miernikw oraz niepewnoci wielkoci wyznaczonych na podstawie serii pomiarw metodami statystycznymi (opisanymi
wrozdziale 2.2), to warto pamita, e niepewnoci obliczone z klas miernikw s
maksymalnymi wartociami niepewnoci, tj. solidny producent zapewnia nas, e
niepewno poprawnie wykonanego pomiaru wyprodukowanym przez niego miernikiem nie jest wiksza od obliczonej na podstawie klasy! W takim przypadku za
niepewno pomiarw wielkoci wyznaczonych na podstawie serii pomiarw naley przyj u x = 3s x . Taki sposb postpowania zapewnia jednakowy poziom
ufnoci.

3. GRAFICZNE OPRACOWANIE
WYNIKW POMIARW
Celem pomiarw jest bardzo czsto potwierdzenie zwizku lub znalezienie zalenoci midzy wielkociami fizycznymi. Pomiar polega na wyznaczaniu wartoci
y wielkoci Y, odpowiadajcych wartociom x wielkoci X, ktre s zmieniane podczas dowiadczenia.
Przykadem moe by pomiar zalenoci natenia prdu od czstotliwoci
wobwodzie zawierajcym rezystancj, indukcyjno i pojemno elektryczn. Zadanie pomiarowe polega na wyznaczeniu zalenoci wielkoci Y (natenia prdu)
od wielkoci X (czstotliwoci) przy ustalonym napiciu zasilajcym badany ukad.
Wyniki takich pomiarw s przedstawiane najczciej w formie graficznej
wykresu ilustrujcego badany zwizek, w naszym przypadku zalenoci natenia
prdu od czstotliwoci. W nastpnym podrozdziale opisano zasady sporzdzania
wykresw w prostoktnym i biegunowym ukadzie wsprzdnych.

3.1. Rysowanie wykresw

Wykresy najczciej rysujemy we wsprzdnych kartezjaskich. Wykonujemy
je rcznie lub za pomoc komputera.
Wykresy sporzdzane rcznie rysujemy na papierze milimetrowym formatu A4
lub A5. Pierwsz czynnoci, jak musimy wykona jest dobr odpowiednich skal
na osiach y oraz x.
Dobierajc skale wykresu kierujemy si nastpujcymi zasadami:
1. Wykres powinien obejmowa wszystkie (lub prawie wszystkie) punkty pomiarowe.
2. Skale musz by tak dobrane, aby format wykresu by zbliony do kwadratu lub
formatu papieru milimetrowego.
3. Dziaki skali wykresu wybieramy tak, aby mona byo atwo znale wartoci
wsprzdnych punktu (wartoci wielkoci mierzonych) dziaki powinny mie
okrge wartoci (np. 5, 10, 20, 25 mm, nie za 5,5; 10,6; 12 mm) i odpowiada
rwnie okrgym wartociom wielkoci mierzonych, np. 1, 2, 4, 5, 10 jednostek.
Naley unika liczb 3 i 7 oraz ich wielokrotnoci.

65

4. Pocztek ukadu wsprzdnych wybieramy tak, aby wartoci najmniejsze leay w pobliu osi ukadu (wykres nie musi zaczyna si od zera!). Natomiast dugo osi dobieramy tak, aby wartoci maksymalne leay w pobliu ich kocw.
Rwnoczesne spenienie wymaga stawianych w punktach 24 wymaga pewnej
wprawy. Osie ukadu musz by opisane. Obok osi naley poda nazw wielkoci lub powszechnie stosowany skrt oraz jednostki, np. I [mA], U [kV], l [mm],
t [ms], T [K], natenie wiata [jednostki wzgldne]. Dziaki gwne (odpowiadajce okrgym wartociom) powinny by rwnie opisane. Przykady poprawnie i le dobranych skal i opisanych osi wykresw przedstawiono na rys. 3.1.
Po przygotowaniu osi na wykres nanosimy punkty pomiarowe. Punkty te nie
mog by oznaczane kropkami, poniewa podczas sporzdzania wykresu wikszo
z nich stanie si niewidoczna. Kropki su tylko do oznaczania pooenia punktw

le

Dobrze

Rys. 3.1. Przykady poprawnie i le dobranych i opisanych osi wykresw

pomiarowych przed ich waciwym oznaczeniem. Punkty pomiarowe zaznaczamy

kkami, krzyykami, trjktami lub innymi figurami geometrycznymi tak, aby
rodek figury znalaz si w miejscu o wsprzdnych odpowiadajcych danemu punktowi. Wielko figur oznaczajcych punkty pomiarowe dobieramy tak, aby
byy dobrze widoczne (rys. 3.2). Zwrmy uwag na to, e wynikiem eksperymentu
s punkty pomiarowe, nie za krzywa, za pomoc ktrej te punkty poczono!
Jeli zamieszczamy na jednym wykresie kilka zalenoci, to punkty pomiarowe
odpowiadajce poszczeglnym zalenociom powinny rni si wyranie, a ich opis
(legend) naley zamieci pod wykresem lub na wolnej czci wykresu (czci
wykresu, na ktrej brak jest punktw pomiarowych).
Na wykres, oprcz punktw pomiarowych, nanosimy niepewnoci pomiarw.
Niepewnoci zaznaczamy w postaci prostokta niepewnoci, ktrego rodek ley
66

Rys. 3.2. Oznaczanie niepewnoci pomiarw na wykresie

w punkcie pomiarowym, a boki s rwne podwjnej wartoci niepewnoci pomiaru. Zamiast prostokta mona nanie krzy, ktrego odcinki pionowy i poziomy maj dugoci odpowiadajce wartociom niepewnoci pomiarw.
W przypadku duej liczby punktw pomiarowych wystarczy zamieci niepewnoci pomiarw dla kilku punktw rozoonych rwnomiernie na wykresie (w pocztkowej, rodkowej i kocowej czci lub na pocztku i kocu przedziau,
wktrym niepewno ma sta warto). Jeeli niepewnoci pomiarw s mniejsze
od rozmiarw figur oznaczajcych punkty pomiarowe, to nie nanosimy ich na wykres,
jednake na wykresie lub pod nim powinna si znale odpowiednia informacja.
Rysujc krzyw odzwierciedlajc badan zaleno, naley pamita, e wikszo zjawisk obserwowanych w przyrodzie jest opisywana funkcjami gadkimi (rniczkowalnymi), dlatego czenie punktw pomiarowych krzyw aman jest
niedopuszczalne. Krzyw rysujemy tak, aby przechodzia w pobliu moliwie
najwikszej liczby punktw i aby lokalnie liczba punktw lecych po obu jej
stronach bya jednakowa. Jeeli zaleno midzy badanymi wielkociami jest liniowa, to prost rysujemy za pomoc przeroczystej linijki, gdy zaleno jest
nieliniowa korzystamy z przeroczystych krzywikw. Obecnie dostpne s krzywiki wykonane z elastycznych materiaw umoliwiajce dopasowanie ich ksztatu
do rysowanego wykresu.
Uwaga
Wykonujc pomiary, ktrych wyniki bdziemy przedstawiali w formie wykresu,
staramy si tak zmienia wartoci wielkoci mierzonych, aby odlegoci midzy
punktami byy w przyblieniu jednakowe. Zalecenie to jest suszne, jeeli badana
zaleno nie wykazuje osobliwoci. Kiedy zaleno wykazuje osobliwo (np. ostre
67

maksimum), z dala od niej punkty pomiarowe mog lee rzadziej, natomiast w jej
pobliu punkty pomiarowe powinny by wyznaczone gciej. Takie rozmieszczenie
punktw pomiarowych pozwala dokadnie okreli wsprzdne osobliwoci (np.
wsprzdne maksimum). Przykad poprawnie wykonanego wykresu zalenoci
wykazujcej maksimum przedstawiono na rys. 3.3.
Na wykresie mog by zamieszczone dodatkowe informacje i oznaczenia
potrzebne do dalszego opracowania wynikw. Na rysunku 3.3 zaznaczono czsto rezonansow, natenie prdu przy tej czstoci oraz szeroko powkow
krzywej rezonansowej. Informacje te potrzebne s do wyznaczenia dobroci ukadu
rezonansowego.

Rys. 3.3. Przykad poprawnie wykonanego wykresu

Niekiedy jest wskazane narysowanie najbardziej interesujcej czci wykresu

wpowikszeniu lub innej skali. Jeeli na wykresie znajduje si wolne miejsce, moemy je wykorzysta na zamieszczenie tego fragmentu. Rysujc ten fragment naley pamita o narysowaniu i opisaniu osi. Powikszona cz nie moe zasania
waciwego wykresu (stanowi tylko jego uzupenienie patrz rys. 3.4b).

3.1.1. Rysowanie wykresw we wsprzdnych biegunowych

Wykresy, jak ju wspomniano, najczciej rysujemy we wsprzdnych kartezjaskich. Niekiedy wskazane jest jednak narysowanie wykresu w innym ukadzie (np.
ukadzie biegunowym).
68

Przykadami takich wykresw s charakterystyki kierunkowe arwki lub rda

mikrofal klistronu. Na takich wykresach najpierw wybieramy rodek. Ze rodka
rysujemy promienie pod ktem, dla ktrego wykonano pomiar. Dugo promienia
odpowiada wartoci mierzonej. W sprzeday s gotowe papiery z naniesion podziak ktow i rwnoodlegymi wsprodkowymi okrgami, przeznaczone do rysowania wykresw we wsprzdnych biegunowych.
Rysowanie wykresw we wsprzdnych biegunowych sprawia niektrym studentom sporo kopotw, dlatego przedstawimy przykad takiego wykresu.
Przykad 25
Graficzne opracowanie wynikw badania charakterystyki kierunkowej klistronu.Wyniki pomiarw przedstawiono poniej.
[]
I [mA]

0,0

2,5

5,0

7,5

10,0

12,5

15,0

17,5

20,5

19,5

15,2

9,7

4,8

1,9

0,9

0,5

(Dokadno pomiaru kta = 0,5, pomiary prdu wykonano za pomoc miliamperomierza klasy 1. Trzy pierwsze pomiary prdu zostay wykonane na zakresie 30
mA, dwa kolejne na zakresie 10 mA, a pozostae na zakresie 3 mA).
Wykresy zalenoci natenia prdu od kierunku we wsprzdnych biegunowych
i kartezjaskich przedstawiono na rys. 3.4a i 3.4c. Porwnujc rysunki 3.4a i 3.4c
dochodzimy do wniosku, e rys. 3.4a bardziej przemawia do naszej wyobrani i lepiej ilustruje rozkad ktowy energii emitowanych mikrofal. Na rysunku 3.4b podano sposb nanoszenia niepewnoci pomiarw na wykresie we wsprzdnych biegunowych. Naley jednak zwrci uwag, e format rysunku 3.4a znacznie odbiega od kwadratu, a punkty pomiarowe przy wikszych ktach zlewaj si. Wykres
przedstawiony na rys. 3.4c jest mniej pogldowy, natomiast informacje o rozkadzie
ktowym s bardziej dokadne.
Wybr ukadu wsprzdnych naley do opracowujcego wyniki pomiarw.
Wybierajc ukad wsprzdnych, powinnimy zwraca uwag na pogldowo
iprzejrzysto wykresu.

3.2. Odczytywanie wartoci wielkoci fizycznych z wykresw

Czsto zachodzi konieczno odczytania z wykresu wartoci pewnych wielkoci fizycznych.
Przykad 26
Wykonalimy pomiary zalenoci siy termoelektycznej od temperatury dla termopary miedkonstantan (rys. 3.5), nastpnie wyznaczylimy krzyw stygnicia dla
69

b)
a)

c)

Rys. 3.4. Charakterystyka kierunkowa klistronu we wsprzdnych biegunowych (a)

oraz w ukadzie kartezjaskim (c). Rysunek (b) przedstawia sposb nanoszenia
niepewnoci pomiarw we wsprzednych biegunowych

stopu Wooda. Krzywa stygnicia (rys. 3.6) przedstawia zaleno siy termoelektrycznej od czasu, wyznaczonej wtedy, gdy jedno ze spoje termopary byo umieszczone
w stygncym stopie (drugie spojenie znajdowao si w mieszaninie wody z lodem).
Naszym zadaniem jest wyznaczenie temperatury krzepnicia stopu. Z krzywej
stygnicia wyznaczamy napicie odpowiadajce rodkowi plateau, natomiast z wy70

Rys. 3.5. Zaleno siy termoelektrycznej od temperatury

dla termopary miedkonstantan

Rys. 3.6. Krzywa stygnicia stopu Wooda

kresu zalenoci siy termoelektycznej od temperatury odczytujemy temperatur

krzepnicia.

3.2.1. Wyznaczanie nachylenia wykresu

Nachylenie krzywej (tangens kta nachylenia stycznej do krzywej) bdcej wykresem zalenoci midzy wielkociami fizycznymi ma okrelony sens fizyczny, np.
nachylenia zalenoci wyduenia wzgldnego ciaa i zalenoci wzgldnej zmiany
71

oporu od temperatury maj odpowiednio sens wspczynnika rozszerzalnoci termicznej i temperaturowego wspczynnika oporu.
Czsto powtarzanym przez studentw bdem jest pomiar kta nachylenia stycznej do wykresu (w przypadku zalenoci liniowej nachylenia prostej) za pomoc
ktomierza i wyznaczenie wartoci tangensa kta nachylenia. Argumentacja jest
nastpujca: pochodna funkcji jest rwna tangensowi kta nachylenia stycznej do
wykresu. Zwrmy jednak uwag na to, e dugo dziaki jest dobierana arbitralnie. Jeeli narysujemy dwa wykresy na podstawie tych samych danych dobierajc
rne dziaki, np. na osi x, to otrzymamy rne wartoci nachylenia! Dodajmy, e
na osiach s naniesione wartoci wielkoci fizycznych, a wic nachylenie jest wielkoci mianowan (w naszych przykadach 1/K).
Aby wyznaczy nachylenie stycznej do wykresu, naley z wykresu odczyta przyrost wielkoci naniesionej na osi x oraz odpowiadajcy mu przyrost wielkoci naniesionej na osi y. Obliczajc stosunek tych przyrostw otrzymamy warto tangensa nachylenia stycznej, czyli dy/dx (w przypadku zalenoci liniowej wspczynnik
kierunkowy a prostej y = ax + b).
Warto zwrci uwag na sposb szacowania dokadnoci, z jak wyznaczamy
warto wspczynnika kierunkowego prostej (stycznej).
W geometrii euklidesowej zakada si, e przez dwa punkty przechodzi tylko jedna prosta. W fizyce (i nie tylko) mamy do czynienia z punktami pomiarowymi, ktre
s obarczone okrelonymi niepewnociami punkty te s polami, ktrych powierzchnia jest okrelona wartociami niepewnoci pomiarw. Przez dwa punkty
pomiarowe mona przeprowadzi nieskoczenie wiele prostych (patrz rwie
artyku [8]). Trzy spord moliwych prostych przedstawiono na rysunku 3.7a. Za
wspczynnik kierunkowy prostej przechodzcej przez te punkty przyjmujemy warto wspczynnika wyznaczonego dla prostej oznaczonej przez k, natomiast proste
m i n s skrajnymi prostymi mieszczcymi si w granicach niepewnoci pomiarowych. Przyjmujemy, e maksymalna warto niepewnoci wyznaczenia wspczynnika kierunkowego jest rwna poowie rnicy midzy wartociami wspczynnikw wyznaczonych dla prostych m i n.
Z rysunku 3.7b wynika, e wzrost liczby punktw pomiarowych oraz rozszerzenie zakresu pomiaru umoliwia bardziej precyzyjne wyznaczenie parametrw prostej. Na rysunku przedstawiono sposb szacowania niepewnoci, z jakim wyznaczona
zostaa warto wspczynnika kierunkowego prostej. Wartoci wspczynnikw
aibwrwnaniu prostej, opisujcej zaleno midzy dwoma wielkociami fizycznymi, mona wyznaczy korzystajc z regresji liniowej, ktra zostanie omwiona
w rozdziale 4. Metoda ta pozwala oblicza take niepewnoci, jakimi obarczone s
wartoci tych wspczynnikw.

72

a)

b)

Rys. 3.7. Graficzne wyznaczanie wspczynnikw a i b prostej oraz ich niepewnoci

3.3. Linearyzacja zalenoci midzy wielkociami fizycznymi

Koczc omawianie graficznego opracowywania wynikw pomiarw, warto poruszy problem linearyzacji zalenoci midzy wielkociami fizycznymi, czyli takiego doboru skal na osiach wykresu lub wielkoci nanoszonych na wykres, ktry
pozwoli otrzyma zaleno liniow.
Tekst tego podrozdziau naley traktowa jako poradnik, ktry moe by przydatny
przy rozwizywaniu konkretnych problemw.
Przykad 27
Zaleno oporu pprzewodnika od temperatury jest opisana rwnaniem

73

 E
.
R = Ro exp
k BT
Jest to zaleno wykadnicza. Po zlogarytmowaniu jej obustronnie otrzymamy

ln( R ) = ln R0

E
.
k BT

Jeeli sporzdzimy wykres, na ktrym na osi OY odoymy ln (R), natomiast na

osi OX odoymy 1/T, to wykres ten bdzie prost, ktrej wspczynnik kierunkowy jest rwny E/kB. Wyznaczenie wartoci tego wspczynnika umoliwia obliczenie energii aktywacji nonikw adunkw E.
W przyrodzie i technice bardzo czsto obserwujemy zalenoci wykadnicze.
Oto kilka przykadw:
zaleno liczby rozpadw jder promieniotwrczych od czasu,
zaleno natenia promieniowania (natenie wiata lub fali sprystej) od
gruboci absorbenta,
zaleno prdkoci od czasu dla cia poruszajcych si w orodku lepkim, przy
zaoeniu, e na ciao dziaa sia oporu orodku proporcjonalna do prdkoci,
zaleno amplitudy drga tumionych od czasu,
zaleno temperatury ciaa stygncego od czasu,
zaleno natenia prdu od czasu przy rozadowaniu kondensatora,
prawa Moorea opisujce rozwj technologii mikroelektronicznej [15].
Mona postawi retoryczne pytanie: Co chyba czy te zalenoci?!
Sporzdzajc wykresy w skali plogarytmicznej (na osi y nanosimy wartoci
logarytmu z badanej wielkoci), moemy wyznaczy wartoci parametrw charakteryzujcych wymienione zjawiska, np.: okres poowicznego rozpadu, grubo pochaniania powkowego lub wspczynnik absorbcji, czas relaksacji lub logarytmiczny dekrement tumienia. Do rysowania tego typu wykresw przydatny jest specjalny papier milimetrowy ze skal plogarytmiczn (korzystajc z takiego papieru, nie
musimy logarytmowa wartoci zmierzonych).
Jeeli zwizek midzy wielkociami ma charakter potgowy, to zaleca si
wykona wykres w skali podwjnie logarytmicznej (tzn. na obu osiach ukadu
wsprzdnych naley zastosowa skal logarytmiczn).
Przykad 28
W niskich temperaturach ciepo waciwe cia staych zaley od temperatury bezwzgldnej w nastpujcy sposb: cp = KT (K = const). Cakowita energia emitowana przez ciao czarne zaley od jego temperatury bezwzgldnej

E = S SB T ,
74

gdzie S jest tu powierzchni ciaa, natomiast SB sta StefanaBoltzmanna. Logarytmujc ostatni zaleno otrzymamy
ln( E ) = ln( S SB ) + ln T .

Sporzdzajc wykres zalenoci ln(E) od ln(T) moemy wyznaczy wspczynnik kierunkowy prostej, a wic warto wykadnika , a take warto ln(SBS)
umoliwiajc wyznaczenie staej StefanaBoltzmanna SB.
Podamy sposoby linearyzacji jeszcze kilku typw zalenoci, z ktrymi moemy spotyka si w laboratorium.
Zaleno owietlenia E od odlegoci r od punktowego rda wiata okrelona jest rwnaniem E = I/r k. Rysujc wykres zalenoci E(1/r k) uzyskamy lini prost. Analiza eksperymentalnie uzyskanych wynikw pomiarw umoliwi nam okrelenie warunkw, w ktrych rdo wiata mona traktowa jako punktowe (rdo
wiata bdziemy uwaa za punktowe w zakresie takich r, dla ktrych speniona jest
przedstawiona wyej zaleno). Zwrmy uwag na to, e zaleno liniow mona uzyska, rysujc wykres w skali podwjnie logarytmicznej. Taki wykres umoliwia wyznaczenie wartoci wykadnika potgowego k. Decyzja o wyborze skali naley do opracowywujcego wyniki pomiarw i jest uzaleniona od celu, jaki chciano osign.
Zaleno przenikalnoci elektrycznej ferroelektrykw (oraz przenikalnoci magnetycznej ferromagnetykw) od temperatury, w pewnym otoczeniu temperatury przemiany fazowej, jest opisana prawem CurieWeissa = C/(T TC), gdzie: C jest sta
CurieWeissa, T temperatur, natomiast TC temperatur CurieWeissa. W tym
przypadku najczciej sporzdza si wykres zalenoci odwrotnoci przenikalnoci
elektrycznej 1/ jako funkcji temperatury T. Wykres taki umoliwia okrelenie zakresu stosowalnoci wspomnianego wyej prawa, wyznaczenie staej C oraz temperatury TC.
Rozpatrzmy zaleno owietlenia powierzchni od kta, jaki tworzy strumie
wiata z normaln do tej powierzchni. Owietlenie jest proporcjonalne do cosinusa
tego kta, E cos . Jeeli wykrelimy zaleno = arccos(E/E0), gdzie E oznacza
natenie owietlenia powierzchni przy danym kcie padania, natomiast E0 owietlenie tej powierzchni dla kta padania rwnego zeru, to otrzymamy zaleno liniow.
Z prawa Malusa wynika, e natenie wiata po przejciu przez ukad zoony
zpolaryzatora i analizatora jest dane rwnaniem I = I0 cos2 , gdzie I0 jest nateniem wiata, gdy paszczyzny przepuszczania polaryzatora i analizatora s rwnolege, natomiast jest ktem jaki tworz te paszczyzny. Przeksztacajc powysz
zaleno dostajemy = arc cos I I 0 . Jeeli wykrelimy zaleno y = arccos(x),
gdzie y = , natomiast x = I/I0, to otrzymamy prost (jeeli wykresem tej zalenoci jest prosta, to znaczy, e potwierdzilimy suszno prawa Malusa).

75

Ostatnim przykadem linearyzacji jaki omwimy jest zaleno wystpujca

wwiczeniu dotyczcym liniowego efektu elektrooptycznego.
Zaleno natenia wizki wiata I (po przejciu przez ukad optyczny) od napicia U przykadanego do komrki Pockelsa jest opisana rwnaniem

I = I 0 cos 2

kU
0 ,

gdzie: k staa, I0 maksymalna warto natenia wiata, 0 dugo fali wietlnej. Aby wyrazi natenie wizki przechodzcej przez ukad optyczny jako funkcj napicia, rwnanie przeksztacamy do postaci

arc cos

I
k
=
U.
I 0 0

Sporzdzajc wykres zalenoci arc cos I I 0 od napicia U otrzymamy lini

prost, ktrej tangens nachylenia wynosi k/0. Korzystajc z tego wykresu moemy wyznaczy napicie pfali, to jest napicie jakie naley przyoy do komrki
Pockelsa, aby ukad optyczny przeprowadzi ze stanu maksymalnego przepuszczania wiata do cakowitego wygaszania.
Przytoczone wyej przykady ilustruj, w jaki sposb, korzystajc z rnego typu
zalenoci (nawet bardzo skomplikowanych), przy umiejtym ich opracowaniu,
mona sprawnie wyznacza wartoci rnych wielkoci fizycznych. Podane w przykadach pojcia i zjawiska s opisane we wstpach do poszczeglnych wicze.

76

4. METODY REGRESJI
W wielu przypadkach zwizek midzy wielkoci wyjciow Y i wielkociami
wejciowymi X1, X2, ..., Xm fizycznymi jest dany zalenoci funkcyjn
Y = g (X 1 , X 2 ,..., X m , 1 , 2 ,..., l ),

(4.1)

ktr znamy z dokadnoci do parametrw 1 , 2 ,..., l .

Funkcja g (X 1 , X 2 ,..., X m , 1 , 2 ,..., l ) moe by funkcj zarwno liniow, jak i
nieliniow wzgldem parametrw 1 , 2 ,..., l (patrz przykady podane na kocu
tego rozdziau).
Wspczynniki 1 , 2 ,..., l wyznaczamy, na podstawie danych dowiadczalnych,
za pomoc metody regresji.
Zajmiemy si najpierw ocen wspczynnikw 0, 1 i na podstawie serii niezalenie wykonanych w warunkach powtarzalnoci pomiarw (xi, yi), gdzie i = 1, 2,
..., n, wielkoci fizycznych X oraz Y zwizanych ze sob zalenoci liniow

Y = 0 + 1 X + ,

(4.2)

w ktrej nieznanymi parametrami s wspczynniki 0 i 1 (m = 1); litera oznacza

tutaj niemierzaln wielko podlegajc rozkadowi normalnemu N(0, 2), ktrego
wariancja 2 nie jest znana. Tak okrelony model nazywa si modelem regresji liniowej, a parametry 0 i 1 wspczynnikami regresji. Prost o rwnaniu y = 0 +
1x nazywamy prost regresji.
Aby oceni wspczynniki regresji 0 i 1 zastosujemy metod najmniejszych kwadratw1. Polega ona na przyjciu za ocen parametrw wartoci 0 = b0 i 1 = b1, ktre
minimalizuj nastpujc sum kwadratw (std nazwa metoda najmniejszych
kwadratw)
n

Q = Q ( 0 , 1 ) = ( yi 0 1 xi )2 .
i =1

Jak wiadomo z analizy matematycznej, wartociami tymi bd rozwizania ukadu

rwna
n
Q
= 2 ( yi 0 1 xi ) = 0,
0
i =1
1W

tym podejciu zakadamy, e wartoci x1, x2, ..., xn s zmierzone dokadnie [5].

77

n
Q
= 2 (y i 0 1 xi )x i = 0,
1
i =1

ktre wyraaj si wzorami

b1 =

s ( x, y )
s 2 ( x)

b0 = y b1 x ,

(4.3)

gdzie

s (x, y ) =
s 2 (x ) =

1 n
(xi x )( yi y ),
n 1 i =1

1 n
(xi x )2 .

n 1 i =1

Jeli przyjmiemy, e wielkoci x1, x2, ..., xn s okrelone z du dokadnoci

(wstosunku do dokadnoci y-w), tak, e moemy uzna je za wielkoci dokadne,
to wariancje ocen b0 i b1 wyraaj si wzorami
n

x2

i =1 i
(b0 ) =
2,
2
n
ni =1 (xi x )

s 2 (b1 ) =

1
2

(xi x )
n
i =1

2.

(4.4)

Wariancj 2 moemy oceni na podstawie wzoru

s2 =

1 n
(yi b0 b1 xi )2 .
n 2 i =1

(4.5)

Wielko wyjciow Y (cilej jej warto redni) odnoszc si do wielkoci

wejciowej X oceniamy na podstawie wzoru
(4.6)

y = b0 + b1 x.

Niepewno zoon uy (odchylenie standardowe) oceny y = b0 + b1 x wyraa si

wzorem (patrz podrcznik [5])

uy =

1
(x x )2 s
+ n
,
n (xi x )2
i =1

gdzie x jest liczb nie mniejsz od najmniejszej wartoci zmierzonej i jednoczenie

nie wiksz od najwikszej wartoci zmierzonej.

78

W niektrych przypadkach naley przyj, e wspczynnik 0 jest rwny zeru,

czyli e model regresji jest postaci
Y = X + .

Wwczas ocen wspczynnika , wyznaczon metod najmniejszych kwadratw, jest

xi yi .
b = i =n1
i =1 xi2
n

Wariancja tej oceny (przy podobnych, jak poprzednio zaoeniach) wyraa si

wzorem

s 2 (b) =

i =1 xi2
n

a ocena wariancji 2 wzorem

s2 =

1 n
( yi bxi )2 .
n 1 i =1

Ocen Y, odnoszca si do wielkoci wejciowej X, jest

y = bx,
a jej niepewnoci zoon (patrz [5]) jest

uy =

x2

i =1 xi2
n

s.

O regresji liniowej wielokrotnej mwimy wtedy, gdy Y zaley liniowo od m>1

wielkoci wejciowych X1, X2, ..., Xm, tzn. gdy

Y = 0 + 1 X 1 + 2 X 2 + ... + m X m + .

(4.7)

Liniowo naley tutaj rozumie wzgldem wspczynnikw 0, 1, ..., m zwanych wspczynnikami regresji. Mona je rwnie oceni metod najmniejszych
kwadratw i wyznaczy ich odchylenia standardowe. Obliczenia wspczynnikw
regresji i ich odchyle standardowych zawiera kady pakiet programw do oblicze
statystycznych.

79

Pokaemy teraz jak wyznaczane s wspczynniki regresji w przypadku, gdy (4.1)

ma posta

Y = 0 + 1 X + 2 X 2 + ,

(4.8)

czyli, gdy Y jest funkcj kwadratow zmiennej X. Naszym zadaniem jest oszacowanie wspczynnikw regresji 0, 1, 2 na podstawie serii wynikw (xi, yi), i = 1, 2,
..., n. Sposb postpowania w tym przypadku jest analogiczny do przedstawionego
wyej.
Minimalizacja sumy kwadratw
n

Q = Q (b0 , b1 , b2 ) = ( yi b0 b1 xi b2 xi2 ) 2 .
i =1

prowadzi do liniowego ukadu trzech rwna:

n

i =1

i =1

i =1

nb0 + b1 xi + b2 (xi )2 = yi
n

i=1

i=1

i=1

i=1

(4.9)

b0xi + b1(xi )2 + b2 (xi )3 = xi yi

n

i =1

i =1

i =1

b0 (x i )2 + b1 (x i )3 + b2 (x i )4 =

(4.10)
n

(x i )2 y i .
i =1

(4.11)

Rozwizanie tego ukadu rwna mona otrzyma analitycznie za pomoc odpowiednich formu algebry liniowej albo numerycznie stosujc programy z pakietw [1629] wymienionych dalej w tym i nastpnym rozdziale.
Rozpatrzenie przypadku, gdy Y jest wielomianem m-tego (m 3) stopnia wzgldem X, jest w wietle tego co tutaj przedstawilimy zadaniem do prostym. Sprowadza si do rozwiazania ukadu rwna liniowych (m + 1)(m+ 1) wzgldem (m + 1)
niewiadomych.
Uwaga
U1. W przypadku aproksymacji wielomianem liczba punktw pomiarowych musi
by wiksza od stopnia wielomianu. Na pytanie o ile winna by wiksza, czytelnik
powinien odpowiedzie samodzielnie. Wskazwka! Naley uwanie przeczyta
podrozdzia dotyczcy regresji liniowej.
U2. Wiele programw uytkowych (arkusze kalkulacyjne, pakiety graficzne) ma
moliwo aproksymacji danych za pomoc wielomianw (ktrych stopie mona
ustala) lub funkcji innego typu (np. ln, exp itp). Podczas opracowywania wynikw
pomiarw zalecamy korzystanie z tego typu oprogramowania.
80

Przykady
Przykad 29
Wykonano seri n pomiarw oporu przewodnika R(Ti) w temperaturach Ti, ktrego
opr w temperaturze T0 jest znany i wynosi R0. Naley wyznaczy wspczynnik
temperaturowy oporu , korzystajc z liniowego prawa
R(Ti) = R0(1+ (Ti T0)).
Przykad 30
Wyznaczono dowiadczalnie wyduenia wzgldne li /l0 drutu o znanym polu
przekroju porzecznego S poddanego dziaaniu siy rozcigajcej Fi, gdzie i = 1, 2,
..., n. Naley wyznaczy modu Younga E. W obliczeniach korzystamy z prawa Hookea

F
l i
= i .
l0
SE
Przykad 31
Zmierzono opr elektryczny pprzewodnika R(Ti) w temperaturach Ti, gdzie
i=1, 2, ..., n. Naley wyznaczy warto przerwy energetycznej E wiedzc, e zaleno oporu od temperatury ma posta

E
,
Ri (Ti ) = R0 exp
k BT
gdzie kB jest sta Boltzmanna. Do oblicze E wygodnie jest zlogarytmowa za-

R
E
leno R(T) i wykorzysta wzr ln i =
, ktry okrela liniow zaleno
k BTi
R0
R
midzy ln i oraz 1/Ti. Rol wspczynnika kierunkowego a odgrywa tutaj czyn R0
E
.
nik
kB
Przykad 32
W obwodzie elektrycznym prdu zmiennego, zawierajcym opr R, indukcyjno
L oraz pojemno elektryczn C, zmierzono natenia skuteczne prdu Iisk, odpowiadajce zmienianym wartociom napi skutecznych Uisk, gdzie i = 1, 2, ..., n.
81

Naley wyznaczy zawad Z obwodu. W obliczeniach korzystamy z prawa Ohma

dla prdu przemiennego: Uisk = ZIisk.
Przykad 33
Zmierzono emitancj Ei modelu ciaa doskonale czarnego dla rnych wartoci
temperatury Ti tego ciaa, gdzie i = 1, 2, ..., n. Posugujc si prawem StefanaBoltzmanna E (T ) = SB T naley wyznaczy warto wspczynnika SB (staa StefanaBoltzmanna) oraz wykadnika wystpujcego przy T. Obliczenia uproszcz si
znacznie, jeli zlogarytmujemy obie strony rwnania opisujcego prawo Stefana
Boltzmanna. Wtedy ln E = ln + ln T .

4.1. Regresja nieliniowa

Model (4.1), ktry jest nieliniowy wzgldem parametrw, nazywamy modelem
regresji nieliniowej. Takim przykadem jest model wykadniczy

Y = 0 exp (1 X ) + .

(4.12)

Wszystkie symbole pojawiajce si w tym wzorze oznaczaj to samo co poprzednio. Jeli dysponujemy seri n niezalenych pomiarw (xi, yi), i = 1, 2, ..., n, (wykonanych w warunkach powtarzalnoci), to moemy nieznane wspczynniki 0 i1
rwnie oceni metod najmniejszych kwadratw. Teraz ocenami 0 i 1 bd liczby, oznaczmy je przez b0 i b1, ktre minimalizuj funkcj
n

Q = Q ( 0 , 1 ) = (yi 0exp (1 xi ))2 .

i =1

(4.13)

Jeli obliczymy pochodne czstkowe i przyrwnamy je do zera, to otrzymamy

nieliniowy ukad rwna
n

( yi 0 exp(1 xi )) = 0,
i =1

(4.14)

( yi 0 exp(1 xi ))xi exp(1 xi ) = 0.

i =1

(4.15)

Jak widzimy otrzymany ukad rwna nie ma prostego analitycznego rozwizania. Tego typu ukady rozwizujemy metodami numerycznymi. Opracowano wiele
metod komputerowych przyblionego rozwizywania takich ukadw rwna. Przy-

82

kadowo pakiet STATISTICA2 (opisany szczegowo w podrcznikach [1619]) zawiera procedury numeryczne oparte na metodzie Newtona (Quasi-Newton Method)
i metodzie sympleksowej (Simplex Procedure). Zainteresowanych odsyamy take
do innych pakietw oprogramowania opisanych w podrcznikach i opracowaniach
[2029]. Dodajmy, e pakiety STATISTICA oraz wikszo wymienionych w nastpnym rozdziale umoliwiaj dokonywanie analizy statystycznej wynikw pomiarowych.
2 Produkt

firmy StatSoft Inc, USA; jest dostpny w pracowni multimedialnej Wydziau Podstawowych Problemw Techniki Politechniki Wrocawskiej mieszczcej si w sali 140 gmachu
A-1. Szczegowe informacje dotyczce tego oprogramowania mona znale wInternecie pod
adresami http://www.statsoft.com/, http://www.statsoft.pl/.

83

5. KOMPUTEROWE OPRACOWANIE WYNIKW

Sprawozdanie z wykonanego wiczenia laboratoryjnego, obejmujce zagadnienia opisane w nastpnym rozdziale, moe by sporzdzone przy uyciu personalnego
komputera z wykorzystaniem standardowego edytora tekstu, pakietu graficznego,
arkusza kalkulacyjnego lub innego oprogramowania. Do tego celu polecamy programy pakietu Microsoft Office (edytor tekstu Word i arkusz kalkulacyjny Excel), procesory tekstu (np. TEX, LATEX, LAMEX) oraz pakiety graficzne Grapher, Origin
lub inne. Bardzo poyteczne s take nastpujce pakiety programw:
Matlab [2023] adres w Internecie http://www.mathworks.com.
Mathematica [24] adres elektroniczny http://www.wolfram.com).
MathCad [25, 26] adresy internetowe: http://www.mathcad.com, http://
www.mathsoft.com; ma wiele moliwoci edytora tekstu oraz arkusza graficznego
i kalkulacyjnego.
Derive [2729] adres strony domowej http://www.derive.com.
Maple adres w Internecie http://www.mapleapps.com.
Za ich pomoc mona dokonywa rwnie statystycznej analizy wynikw pomiarowych.
W witrynie dydaktycznej Instytutu Fizyki [30] pod adresem http://www.if.pwr.
wroc.pl/dydaktyka/LPF/programy/index.html znajduje si kilka programw, ktrymi mona posugiwa si bezpatnie. Niej podajemy list tych programw wraz
zkrtkimi opisami.
I. Program REDNIA jego autorem jest dr in. J. Szatkowski (adres strony domowej wInternecie: http://www.if.pwr.wroc.pl/~szatkowski). Pozwala oblicza
warto redni skoczonej serii pomiarw (prby) (patrz wzory (2.6), (2.55)),
niepewno standardow wartoci redniej (patrz wzory (2.10), (2.56)) oraz niepewno standardow pojedynczego pomiaru (patrz wzr (2.8)). Jest przeznaczony do pracy w systemie operacyjnym MS Windows 95/NT i zgodnych z nimi.
II. Program noszcy nazw srednia.pas (plik wykonawczy srednia.exe) autorstwa
dr. A. Kolarza. Jest zainstalowany take na komputerach w Laboratorium Podstaw Fizyki. Oblicza po wprowadzeniu wynikw pomiarw wartoci:
redniej x serii n pomiarw.
Odchylenia standardowego sx.
Eksperymentalnego odchylenia standardowego s x redniej arytmetycznej.

84

 Numer wyniku pomiarowego dajcego odchylenie maksymalne.

Procentow warto stosunku maksymalnego odchylenia do wartoci redniej.
Chcc skorzysta z programu naley uruchomi zintegrowane rodowisko Turbo Pascala (wersja wysza od 4. wcznie; zakadamy, e czytelnik potrafi posugiwa si Turbo Pascalem) albo zainicjowa plik srednia.exe znajdujcy si w katalogu C:\LABOR. Po uruchomieniu programu ukazuje si jego nazwa oraz informacja oautorze. Dalej postpujemy zgodnie z wywietlan instrukcj o nastpujcej
treci:

1. Po zapoznaniu si z tym opisem naciskamy ENTER.

2. W pierwszym kroku podajemy liczb pomiarw n nie mniejsz ni
2 i naciskamy ENTER.
3. Zadajemy liczb miejsc po przecinku, z ktr bd obliczane wyniki
i naciskamy ENTER.
4. Wprowadzamy z klawiatury kolejno n wartoci liczbowych bdcych wynikami pomiarw; poszczeglne dane akceptujemy naciskajc kadorazowo ENTER; wprowadzona i-ta warto ukazuje si na ekranie po
symbolach x[i]= ....
5. Wyniki oblicze s wywietlane na ekranie. Skada si na nie:
warto rednia, odchylenie standardowe, eksperymentalne odchylenie
standardowe wartoci redniej, numer wyniku pomiarowego dajcego odchylenie maksymalne, procentowa warto stosunku maksymalnego odchylenia do wartoci redniej.
6. Nacinicie ENTER powoduje pojawienie si graficznego obrazu
ilustrujcego rozrzut punktw pomiarowych wok redniej. Powinno to
uatwi eliminacj punktw pomiarowych obarczonych bdami grubymi.
7. Po zakoczeniu oblicze z pierwsz seri pomiarw, moemy kontynuowa obliczenia wybierajc opcj T (tak). Wtedy powtarzamy czynnoci opisane w punktach 27. Wybranie opcji N (nie)koczy funkcjonowanie programu.
8. Naciskajc ENTER (patrz pkt. 1) ponownie uruchamiamy program.

III.Program REGRESJA autorem jest dr in. J. Szatkowski. Umoliwia dopasowanie metod najmniejszych kwadratw prostej do danej serii pomiarw (patrz
rozdzia 4). Wyznacza wspczynnik kierunkowy 1, wyraz wolny 0 (patrz wzr
(4.2)) oraz ich niepewnoci (patrz wzory (4.4) i (4.5)). Ponadto program rysuje
wykresy. Umoliwia uywanie skal: liniowej i logarytmicznej. Jest przeznaczony
do pracy w systemie operacyjnym MS Windows 95/NT i zgodnych z nimi.
IV. Program REGRESJA jego autorem jest dr A. Kolarz. Dopasowuje metod najmniejszych kwadratw prost do danej serii pomiarw (patrz rozdzia 4). Wyznacza wspczynnik kierunkowy 1, wyraz wolny 0 (patrz wzr (4.2)) oraz ich
niepewnoci (patrz wzory (4.4) i (4.5)). Pracuje pod kontrol DOS. Jest dostpny dla uytkownikw na komputerach Laboratorium Podstaw Fizyki. Aby z niego skorzysta, naley przej do katalogu C:\LABOR i uruchomi plik regresja.exe
(lub zintegrowane rodowisko Turbo Pascala iwczyta plik regresja.pas). Tu
85

po zainicjowaniu wywietlany jest tytu procedury i informacja o autorze. Nacinicie dowolnego klawisza spowoduje ukazanie si okna zawierajcego instrukcj (tj. opis posugiwania si programem) o nastpujcej treci:
1. Po zapoznaniu si z tym opisem naciskamy dowolny klawisz.
2. W pierwszym kroku podajemy liczb pomiarw n nie mniejsz ni 3 i naciskamy ENTER.
3. Zadajemy liczb miejsc po przecinku (to jest liczb miejsc,
jak bd zawieray wyniki oblicze) i naciskamy ponownie ENTER.
4. Wprowadzamy z klawiatury kolejno n par wartoci liczbowych
reprezentujcych pomiary (xi,yi), ktre ukazuj si u dou ekranu. Dane akceptujemy naciskajc kadorazowo ENTER. Wprowadzone wartoci s wywietlane u gry ekranu pod symbolami x[i]
oraz y[i].
Uwaga
W przypadku podania dwch wartoci ; odpowiadajcych tej samej
wartoci :, program sygnalizuje bd i da poprawienia danych.
5. Wyniki oblicze zostan wywietlone na ekranie. S to
obliczone wartoci wspczynnika kierunkowego prostej b1 (patrz
wzr (4.3)) i wyrazu wolnego b0 (patrz wzr (4.3)) oraz wartoci ich niepewnoci: s2(b0) (patrz wzr (4.4)) i s2(b1) (patrz
wzr (4.4)).
6. Po zakoczeniu oblicze z pierwsz seri danych, moemy
kontynuowa obliczenia wybierajc opcj T. Wtedy powtarzamy
czynnoci opisane w punktach 25. Wybranie opcji N koczy funkcjonowanie programu.
7. Naciskajc ENTER ponownie uruchamiamy program.

V. Program NIEPEWNOCI autorem jest dr J. Peisert (adres strony domowej

wInternecie: http://www.if.pwr.wroc.pl/~peisert). Oblicza niepewnoci wielkoci
zoonych na podstawie niepewnoci wielkoci wejciowych (patrz rozdzia 2.6).
Jest przeznaczony do pracy w systemie operacyjnym MS Windows 95/NT i zgodnych z nimi.
VI. Program A_N jego autorem jest in. G. Zyko. Pozwala wyznacza wszystkie
wielkoci, o ktrych bya mowa w rozdziale 2 w zwizku z pomiarami prostymi
i zoonymi. Pracuje pod kontrol systemw operacyjnych MS Windows 95/NT
i zgodnych z nimi.

86

6. ZASADY WYKONYWANIA WICZE

I OPRACOWYWANIA SPRAWOZDA
Przed przystpieniem do wiczenia naley zapozna si z opisem danego wiczenia zamieszczonym w skrypcie. We wstpie do kadego wiczenia (lub grupy
wicze) wymienione s podstawowe zagadnienia zwizane z jego tematyk. Wikszo z nich jest opisana we wprowadzeniu do wiczenia. Jeeli jakie pojcie nie
zostao opisane we wstpie, obok niego znajduje si odsyacz do podrcznika zfizyki oglnej, w ktrym mona znale jego wyjanienie. Studentw obowizuje znajomo tych poj, znajomo zasady pomiaru, schematu ukadu pomiarowego oraz
sposobu opracowania wynikw pomiarw. Podczas kadego z wicze prowadzcy
moe sprawdza rwnie podstawowe wiadomoci dotyczce analizy niepewnoci
pomiarw, azwaszcza znajomo metody obliczania niepewnoci pomiarowych
przydatnej i polecanej do danego wiczenia.

6.1 Wskazwki praktyczne dotyczce wykonywania wicze

Pierwsz czynnoci, ktr naley wykona po przyjciu do laboratorium jest
porwnanie zestawu przyrzdw pomiarowych znajdujcych si na stanowisku zwykazem znajdujcym si w instrukcji roboczej. Brakujce przyrzdy lub prbki naley na czas pomiarw wypoyczy (na rewers) od prowadzcego wiczenia.
Po skompletowaniu przyrzdw i prbek naley zaproponowa i uzgodni zprowadzcym zajcia zadania pomiarowe. Zadania te mog by modyfikowane zalenie od przebiegu pomiarw.
Kolejn czynnoci jest zestawienie ukadu pomiarowego lub wykonanie pocze
elektrycznych zgodnie ze schematem lub opisem zawartym w instrukcji roboczej.
Wykonujc poczenia elektryczne korzystamy wycznie z przewodw znajdujcych si na danym stanowisku. W razie braku przewodw naley zwrci si do
prowadzcego. Nie wolno zabiera przewodw z ssiedniego stanowiska. Po wykonaniu pocze elektrycznych naley zwrci si do nauczyciela akademickiego
z prob osprawdzenie prawidowoci pocze. Ukady elektryczne mona wczy do sieci tylko w obecnoci prowadzcego, po uprzednim ich sprawdzeniu.
Za ewentualne szkody wynikajce z nieprzestrzegania tego zalecenia student ponosi pen odpowiedzialno, take materialn!
87

Przed przystpieniem do pomiarw naley zwrci uwag na wartoci graniczne

napi, nate prdu lub temperatury. Przekroczenie wartoci dopuszczalnych moe
spowodowa uszkodzenie lub zniszczenie przyrzdw pomiarowych, albo badanych
prbek. Informacje dotyczce dopuszczalnych wartoci napi, prdw, temperatury zawarte s w instrukcji roboczej.
Przed przystpieniem do waciwych pomiarw warto wykona pomiary prbne,
ktrych celem jest dobranie odpowiednich zakresw przyrzdw pomiarowych,
sprawdzenie poprawnoci dziaania caego zestawu pomiarowego oraz poszczeglnych przyrzdw, zorientowanie si w wartociach ekstremalnych mierzonych
wielkoci, pooenia ekstremw itd. Pomiary prbne umoliwi prawidowe zaplanowanie pomiarw liczby i ewentualnego rozmieszczenia punktw pomiarowych,
koniecznoci zmian zakresw pomiarowych itp.
Protok podpisany przez prowadzcego stanowi dowd wykonania pomiarw
oraz podstaw do ich opracowania. Protok naley zaczy do sprawozdania zwykonanego wiczenia. Zwracajc si do prowadzcego o podpisanie protokou, naley uzgodni sposb opracowania wynikw oraz obliczania ich niepewnoci.
Uwaga
1. Kady student powinien przygotowa oddzielny protok, chyba e prowadzcy postanowi inaczej.
2. Podczas pomiarw warto wykona obliczenia prbne, obliczenia takie pozwol
zorientowa si, czy uzyskane wyniki s sensowne, jakie stae potrzebne s do oblicze itd. W trakcie pomiarw warto rwnie szkicowa wykres w jednostkach wielkoci mierzonych bezporednio. Szkic taki pozwala na odpowiedni dobr punktw
pomiarowych oraz na zorientowanie si co do poprawnoci prowadzonych pomiarw.

6.2. Sprawozdanie
wiczenia w Laboratorium Podstaw Fizyki s wykonywane przewanie w grupach dwuosobowych. Wyniki pomiarw mog by opracowywane wsplnie, natomiast sprawozdanie kady ze studentw wykonuje samodzielnie. Sprawozdanie
moe by napisane odrcznie lub za pomoc dowolnego edytora tekstu. W sprawozdaniu nie naley umieszcza wstpu teoretycznego (w szczeglnie uzasadnionych przypadkach prowadzcy moe poleci opisanie pewnych zagadnie wformie zacznika do sprawozdania).
Kade sprawozdanie powinno zawiera niej wymienione elementy.
1. Nagwek. W nagwku naley poda swoje dane: imi i nazwisko, wydzia,
kierunek i rok studiw, numer grupy, dat wykonania pomiarw, temat i numer wiczenia oraz nazwisko prowadzcego.
88

2. Schemat ukadu pomiarowego, bieg promieni w przypadku wicze

zoptyki.
3. Wykaz zada pomiarowych.
4. Tabele z wynikami pomiarw oraz oblicze. Do kadego sprawozdania naley doczy protok z przeprowadzonych pomiarw podpisany przez prowadzcego.
5. Wzory, z ktrych korzystano podczas oblicze oraz przykadowe obliczenia.
Jeeli jakie obliczenia s wykonywane wielokrotnie, to wystarczy jeden przykad.
Dane zawarte w przykadowych obliczeniach musz pochodzi z tabel zawartych
wprotokle z pomiarw, a ich wyniki powinny by zamieszczone w tabeli, o ktrej
mowa w punkcie 4.
6. Wykresy. W przypadku pomiarw, ktrych celem jest zbadanie zwizkw
midzy wielkociami fizycznymi do sprawozdania naley doczy wykresy wykonane rcznie na papierze milimetrowym lub za pomoc komputera.
7. Dyskusja niepewnoci pomiarw. W dyskusji niepewnoci pomiarw naley poda informacje o tym, w jaki sposb oszacowano niepewnoci wynikw pomiarw wielkoci wyznaczonych bezporednio (eksperymentalne odchylenie standardowe wartoci redniej, bd maksymalny, poziom ufnoci, oszacowanie na podstawie klasy przyrzdu itd.).
W przypadku obliczania niepewnoci pomiarw zoonych metod rniczki
zupenej lub pochodnej logarytmicznej w sprawozdaniu powinno znale si wyprowadzenie wzoru, na podstawie ktrego obliczono niepewnoci. W pozostaych przypadkach wystarczy podanie wzorw, z ktrych korzystamy oraz przykadowych oblicze. Dane do tych oblicze musz pochodzi z protoku.
Bardzo wan czci dyskusji niepewnoci pomiarw s wnioski dotyczce
wkadu, jaki wnosz niepewnoci pomiarw poszczeglnych wielkoci do niepewnoci wyniku kocowego.
8. Wnioski. We wnioskach z wiczenia naley poda wartoci wielkoci wyznaczanych oraz ich niepewnoci, porwnanie uzyskanych wynikw z wartociami tabelarycznymi lub wynikami uzyskanymi innymi metodami, uwagi dotyczce metody
pomiarowej, wpywu czynnikw zewntrznych na przebieg i wyniki pomiarw.
Jeeli celem wiczenia byo sprawdzenie jakiego prawa lub wyznaczenie zalenoci midzy wielkociami fizycznymi, to we wnioskach naley stwierdzi, czy
uzyskane wyniki potwierdzaj to prawo lub czy uzyskana zaleno jest zgodna
zoczekiwan, jakie ograniczenia co do stosowalnoci sprawdzanego prawa lub badanej zalenoci wynikaj z otrzymanych wynikw.

89

7. DODATEK
7.1. Definicje jednostek podstawowych ukadu SI
Obecnie obowizujce definicje jednostek wielkoci podstawowych, uzupeniajcych oraz wybrane jednostki pochodne podajemy za U.S. Department of Commercy, National Institute of Standards and Technology (1993).

1. Odlego
METR m
Metr jest to odlego, jak przebywa
wiato w prni w czasie 1/299792458 s
Jednostk powierzchni w ukadzie SI jest m2.
Jednostk objtoci w ukadzie SI jest m3.

2. Czas
SEKUNDA s
Sekunda jest definiowana jako 9192631770 okresw
promieniowania elektromagnetycznego emitowanego
podczas przejcia elektronu midzy jednoznacznie
okrelonymi poziomami energetycznymi atomu cezu 133
Wzorzec czasu jest realizowany za pomoc zegara cezowego pracujcego w cile okrelonych warunkach.
Liczb okresw w jednostce czasu nazywa si czstotliwoci. Jednostk czstotliwoci w ukadzie SI jest herc (Hz). Jest to 1 okres na sekund.

90

3. Masa
KILOGRAM kg
Wzorcem jednostki masy (kilograma) jest cylinder
wykonany ze stopu platyny i irydu, przechowywany
w Midzynarodowym Biurze Miar i Wag w pobliu Parya
Jednostk siy w ukadzie SI jest niuton (N). Niuton jest si, ktra masie 1 kg
nadaje przyspieszenie 1 m/s2. 1 N = 1 kg m/s2.
Jednostk cinienia w ukadzie SI jest paskal (Pa). 1 Pa = 1 N/m2.
Jednostk pracy (energii) w ukadzie SI jest dul (J). 1 J = 1 Nm.
Jednostk mocy w ukadzie SI jest wat (W). 1 W = 1 J/s.

4. Temperatura
KELWIN K
Kelwin jest definiowany jako 1/273,16 cz temperatury
termodynamicznej punktu potrjnego wody

5. Natenie prdu
AMPER A
Amper jest zdefiniowany jako natenie prdu pyncego
w dwch dugich, rwnolegych przewodnikach, odlegych
o 1 m, znajdujcych si w prni, powodujcego powstanie siy
oddziaywania magnetycznego midzy tymi przewodnikami wynoszcej 2107 N na kady metr ich dugoci
Jednostk potencjau w ukadzie SI jest wolt (V). 1 V = 1 W/A
Jednostk oporu w ukadzie SI jest ohm (). 1 = 1V/A.

6. Natenie rda wiata

KANDELA cd
Natenie promieniowania o czstotliwoci 5401012 Hz,
emitowanego przez rdo jest rwne jednej kandeli, jeeli
moc 1/683 wata jest wypromieniowywana w kt bryowy
rwny jednemu steradianowi

91

Jednostki uzupeniajce
7. Kt paski
RADIAN rad
Radian jest to kt paski o wierzchoku umieszczonym
w rodku okrgu, ktrego ramiona wyznaczaj na okrgu uk
o dugoci rwnej promieniowi tego okrgu

8. Kt bryowy
STERADIAN sr
Steradian jest to kt sferyczny (bryowy) o wierzchoku
umieszczonym w rodku sfery, wyznaczajcy na jej
powierzchni wycinek, ktrego pole jest rwne
kwadratowi promienia tej sfery

9. Ilo substancji
MOL mol
Jeden mol jest to ilo substancji, w ktrej liczba moleku
jest rwna liczbie atomw zawartych w 0,012 kg wgla 12C

92

7.2. Przedrostki stosowane

do oznaczania wielokrotnoci jednostek
(za: U.S. Department of Commercy, National Institute of Standards and Technology, 1993)
wielokrotno

1 000 000 000 000 000 000 000 000

1 000 000 000 000 000 000 000
1 000 000 000 000 000 000
1 000 000 000 000 000
1 000 000 000 000
1 000 000 000
1000 000
1 000
100
10
1
0,1
0,01
0,001
0,000 001
0,000 000 001
0,000 000 000 001
0,000 000 000 000 001
0,000 000 000 000 000 001
0,000 000 000 000 000 000 001
0,000 000 000 000 000 000 000 001

= 1024
= 1021
= 1018
= 1015
= 1012
= 109
= 106
= 103
= 102
= 101
= 100
= 101
= 102
= 103
= 106
= 109
= 1012
= 1015
= 1018
= 1021
= 1024

przedrostek

symbol

yotta
zetta
exa
peta
tera
giga
mega
kilo
hekto
deka

Y
Z
E
P
T
G
M
k
h
da

decy
centy
milli
mikro
nano
piko
femto
atto
zepto
yocto

d
c
m

n
p
f
a
z
y

Uwagi:
1. W przypadku, gdy w jzyku polskim tradycyjnie stosowane s inne przedrostki ni uywane w jzyku angielskim, podano ich polsk wersj.
2. Jednostk wyjciow masy jest gram (jednostk podstawow jest kilogram!).

93

7.3. Tabele
Tabela 1. Wartoci wspczynnikw Studenta t(n, p). W pierwszej kolumnie podano wartoci
n 1, a w nastpnych wartoci wspczynnikw t(n, p) dla wartoci p z pierwszego wiersza.
n1
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34

94

p = 0,6827

p = 0,95

p = 0,9545

1,837
1,321
1,197
1,142
1,111
1,091
1,077
1,067
1,059
1,053
1,048
1,043
1,040
1,037
1,034
1,032
1,030
1,029
1,027
1,026
1,024
1,023
1,022
1,021
1,020
1,020
1,019
1,018
1,018
1,017
1,016
1,016
1,015
1,015

12,706
4,303
3,182
2,776
2,571
2,447
2,365
2,306
2,262
2,228
2,201
2,179
2,160
2,145
2,131
2,120
2,110
2,101
2,093
2,086
2,080
2,074
2,069
2,064
2,060
2,056
2,052
2,048
2,045
2,042
2,040
2,037
2,035
2,032

13,968
4,527
3,307
2,869
2,649
2,517
2,429
2,366
2,320
2,284
2,255
2,231
2,212
2,195
2,181
2,169
2,158
2,149
2,140
2,133
2,126
2,120
2,115
2,110
2,105
2,101
2,097
2,093
2,090
2,087
2,084
2,081
2,079
2,076

p = 0,9973
235,777
19,206
9,219
6,620
5,507
4,904
4,530
4,277
4,094
3,957
3,850
3,764
3,694
3,636
3,586
3,544
3,507
3,475
3,447
3,422
3,400
3,380
3,361
3,345
3,330
3,316
3,303
3,291
3,280
3,270
3,261
3,252
3,244
3,236

n1

p = 0,6827

p = 0,95

p = 0,9545

p = 0,9973

35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45
46
47
48
49
50
60
70
80
90
100

1,015
1,014
1,014
1,013
1,013
1,013
1,012
1,012
1,012
1,012
1,011
1,011
1,011
1,011
1,010
1,010
1,008
1,007
1,006
1,006
1,005

2,030
2,028
2,026
2,024
2,023
2,021
2,020
2,018
2,017
2,015
2,014
2,013
2,012
2,011
2,010
2,009
2,000
1,994
1,990
1,987
1,984

2,074
2,072
2,070
2,068
2,066
2,064
2,063
2,061
2,060
2,058
2,057
2,056
2,055
2,053
2,052
2,051
2,043
2,036
2,032
2,028
2,025

3,229
3,222
3,216
3,210
3,204
3,199
3,194
3,189
3,184
3,180
3,176
3,172
3,168
3,164
3,160
3,157
3,130
3,111
3,096
3,085
3,077

95

Tabela 2. Tablica wartoci funkcji

P(t ) = P ( t x + t ) =

1
2

+ t

exp

(x )2
dx ,
2 2

gdzie: jest wartoci rzeczywist wielkoci X, natomiast odchyleniem standardowym. Warto P(t) to prawdopodobiestwo otrzymania wyniku pomiaru o wartoci x nalecej do przedziau
t , + t . W tabeli podano take wartoci 1 P(t) okrelajce prawdopodobiestwo otrzymania wyniku pomiaru lecego poza przedziaem t , + t .
t
0,00
0,02
0,04
0,06
0,08
0,10
0,12
0,14
0,16
0,18
0,20
0,22
0,24
0,26
0,28
0,30
0,32
0,34
0,36
0,38
0,40
0,42
0,44
0,46
0,48

96

P(t)
0,0000
0,0160
0,0319
0,0478
0,0638
0,0797
0,0955
0,1113
0,1271
0,1428
0,1585
0,1741
0,1897
0,2051
0,2205
0,2358
0,2510
0,2661
0,2812
0,2961
0,3108
0,3255
0,3401
0,3545
0,3688

1 P(t)

P(t)

1 P(t)

1,0000
0,9840
0,9681
0,9522
0,9362
0,9203
0,9045
0,8887
0,8729
0,8572
0,8415
0,8259
0,8103
0,7949
0,7795
0,7642
0,7490
0,7339
0,7188
0,7039
0,6892
0,6745
0,6599
0,6455
0,6312

0,50
0,52
0,54
0,56
0,58
0,60
0,62
0,64
0,66
0,68
0,70
0,72
0,74
0,76
0,78
0,80
0,82
0,84
0,86
0,88
0,90
0,92
0,94
0,96
0,98

0,3829
0,3669
0,4108
0,4245
0,4381
0,4515
0,4647
0,4778
0,4907
0,5035
0,5161
0,5285
0,5407
0,5527
0,5646
0,5763
0,5878
0,5991
0,6102
0,6211
0,6319
0,6424
0,6528
0,6629
0,6729

0,6171
0,6031
0,5892
0,5755
0,5619
0,5485
0,5343
0,5222
0,5093
0,4965
0,4839
0,4715
0,4593
0,4473
0,4354
0,4237
0,4122
0,4009
0,3898
0,3789
0,3681
0,3576
0,3472
0,3371
0,3271

1,00
1,05
1,10
1,15
1,20
1,25
1,30
1,35
1,40
1,45
1,50
1,55
1,60
1,65
1,70
1,80
1,90
2,00
2,20
2,40
2,60
2,80
3,00
4,00
5,00

P(t)

1 P(t)

0,6827
0,3173
0,7063
0,2937
0,7287
0,2713
0,7499
0,2501
0,7699
0,2301
0,7887
0,2113
0,8064
0,1936
0,8230
0,1770
0,8385
0,1615
0,8529
0,1471
0,8664
0,1336
0,8789
0,1211
0,8904
0,1096
0,9011
0,0989
0,9109
0,0891
0,9281
0,0719
0,9426
0,0574
0,9545
0,0455
0,9722
0,0278
0,9836
0,0164
0,9907
0,0093
0,9949
0,0051
0,9973
0,0027
0,99994
6105
0,9999994 6107

Tabela 3. Wybrane stae fizyczne

Wielko
Prdko wiata w prni
Przenikalno elektryczna
prni
Przenikalno magnetyczna
prni
adunek elementarny
Staa Plancka
Liczba Avogadra
Masa spoczynkowa
elektronu
Masa spoczynkowa
protonu
Masa spoczynkowa
neutronu
Staa Faradaya
Staa Rydberga
Staa gazowa
Staa Boltzmanna
Staa StefanaBoltzmanna
Staa grawitacji
Magneton Bohra
adunek waciwy
elektronu
Staa Wiena
Temperatura punktu
potrjnego wody

Symbol

Warto i jednostki

Wzgldna
niepewno
standardowa

299792458 m/s

(dokadnie)

8,854187817...1012 F/m

(dokadnie)

0
e
h
NA

12,566370614...107 H/m
1,602176462(63)1019 C
6,62606876(52)1034 Js
6,02214199(47)1023 mol1

(dokadnie)
3,9108
7,8108
7,9108

me

9,10938188(72)1031 kg

7,9108

mp

1,67262158(13)1027 kg

7,9108

mn
F
R
R
kB
SB
G
B

1,67492716(13)1027 kg
96485,3415(39) C/mol
10973731,568549(83) m1
8,314472(15) J/molK
1,3806503(24)1023 J/K
5,670400(40)108 W/m2K4
6,673(10)1011 m3/s3kg
927,400899(37)1026 J/T

7,9108
4,0108
7,61012
1,7106
1,7106
7,0106
1,5103
4,0108

e/me
C

1,75880471011 C/kg
2,8978103 Km

TTr

273,1600 K

Wartoci staych fizycznych (z wyjtkiem trzech ostatnich wierszy) wyrwnane metod najmniejszych kwadratw dane z 1998 roku zalecane do uytku przez CODATA (Committee on Data
for Science and Technology of the International Council for Science). M. SUFFCZYSKI, P. JANISZEWSKI , Postpy Fizyki; tom 53, z. 1, s. 1718, Warszawa 2002.

97

Tabela 4. Zaleno parametru K od U: pomiar napicia powierzchniowego cieczy stalagmometrem

U
5000
250
58,1
24,6
17,7
13,0
12,0
11,5
11,0
10,5
10,0
9,5
9,0
8,5
8,0
7,8
7,6
7,4
7,2
7,0
6,9
6,8
6,7
6,6
6,5
6,4
6,3
6,2
6,1
6,0
5,9
5,8
5,7
5,6

K
0,15900
0,17200
0,19900
0,21500
0,22560
0,23050
0,23546
0,23702
0,23780
0,23875
0,23940
0,24035
0,24117
0,24195
0,24324
0,24440
0,24490
0,24538
0,24590
0,24640
0,25693
0,24720
0,24750
0,24777
0,24804
0,24836
0,24867
0,24897
0,24925
0,24952
0,24984
0,25015
0,25047
0,25078
0,25110

U
5,1
5,0
4,9
4,8
4,7
4,6
4,5
4,4
4,3
4,2
4,1
4,0
3,9
3,8
3,7
3,6
3,5
3,4
3,3
3,2
3,1
3,0
2,9
2,8
2,7
2,6
2,5
2,4
2,3
2,2
2,1
2,0
1,9
1,8
1,75

K
0,25273
0,25306
0,25340
0,25373
0,25407
0,25448
0,25472
0,25509
0,25545
0,25583
0,25620
0,25659
0,25697
0,25734
0,25772
0,25810
0,25848
0,25892
0,25937
0,25980
0,26024
0,26068
0,26110
0,26154
0,26198
0,26241
0,26286
0,26327
0,26370
0,26410
0,26450
0,26488
0,26518
0,26543
0,26553

U
1,50
1,45
1,40
1,38
1,36
1,34
1,32
1,30
1,28
1,26
1,24
1,22
1,20
1,18
1,16
1,14
1,12
1,10
1,08
1,06
1,04
1,02
1,00
0,95
0,90
0,85
0,80
0,75
0,70
0,65
0,626
0,597
0,570
0,541
0,512

K
0,26560
0,26560
0,26536
0,26528
0,26520
0,26510
0,26500
0,26490
0,26474
0,26460
0,26438
0,26418
0,26396
0,26372
0,26350
0,26324
0,26296
0,26264
0,26230
0,26190
0,26154
0,26115
0,26070
0,25960
0,25815
0,25645
0,25460
0,25255
0,25030
0,24770
0,24640
0,24450
0,24300
0,24300
0,24410

Aby wyznaczy napicie powierzchniowe cieczy na podstawie pomiarw wykonanych za pomoc stalagmometru, naley obliczy warto parametru U, nastpnie z tabeli odczyta warto K.
Wartoci parametru U oraz napicie powierzchniowe obliczamy ze wzorw: U = m/(R3),
= mgK/R, gdzie: m masa kropli, R promie kropli, gsto cieczy.

98

Tabela 5a. Wasnoci fizyczne wody

Temp.

Gsto

103 kg/m3

273
277
288
293
298
373

0,9998
1,0000
0,9991
0,9982
0,9970
0,9584

Ciepo
Napicie
Prno pary Lepko
Lepko
waciwe powierzchniowe
dynamiczna kinematyczna
103 J/kgK
102 N/m
103 Pa
103 Ns/m2
m2/s
4,2219
4,2056
4,1855
4,1796
4,1754
4,2123

7,564
7,492
7,349
7,275
7,197
5,885

0,6105
0,8134
1,7049
3,3378
3,1672
10,1325

1,798
1,567
1,140
1,005
0,894
0,284

1,792
1,567
1,141
1,007
0,896

Tabela 5b. Gsto wody w przedziale temperatur od 0 C do 10 C

t
C

Gsto
kg/m3

t
C

Gsto
kg/m3

t
C

Gsto
kg/m3

t
C

Gsto
kg/m3

0
0,5
1,0
1,5
2,0
2,5

999,841
999,872
999,905
999,923
999,941
999,955

3,0
3,5
3,7
4,0
4,3
4,4

999,965
999,971
999,972
999,973
999,972
999,972

4,5
5,0
5,5
6,0
6,5
7,0

999,972
999,965
999,955
999,941
999,924
999,902

7,5
8,0
8,5
9,0
9,5
10,0

999,877
999,849
999,817
999,781
999,742
999,700

Tabela 6. Zaleno gstoci pary wodnej nasyconej od temperatury

t
C
10
8
6
4
2
0
2
4
6

d
g/m3
2,1
2,5
3,0
3,5
4,1
4,8
5,6
6,4
7,3

t
C
8
10
12
14
16
18
20
22
24

d
g/m3
8,3
8,8
10,7
12,0
13,6
15,4
17,3
19,4
21,8

t
C

d
g/m3

t
C

d
g/m3

26
28
30
35
40
45
50
55
60

24,4
27,2
30,3
39,6
51,6
65,4
83,0
104,3
130,2

65
70
75
80
85
90
95
100
110

161,1
198,1
241,8
293,3
353,4
423,5
504,5
597,7
826,0

99

Tabela 7. Opr waciwy oraz wspczynniki temperaturowe oporu w temperaturze 293 K

Opr waciwy 106 m Wspczynnik temperaturowy K1

Materia
aluminium
konstantan
manganin
mied
nikielina
platyna
srebro
stal chromoniklowa
wolfram

3,8103
5,0106
4,0106
4,0103
2,3104
3,9103
3,8103
2,5104
4,1103

0,0278
0,50
0,43
0,0175
0,43
0,107
0,016
1,0
0,055

Tabela 8. Gsto cia staych

Materia

Gsto 103 kg/m3

aluminium
bakelit
beton
cyna
drewno (db)
drewno (sosna)
grafit
korek
kwarc (kryszta)
ld (273 K)
mied
zoto

2,71
1,3
1,4
7,2
0,60,9
0,30,6
2,3
0,220,26
2,65
0,92
8,9
13,9

Materia
mosidz
ow
platyna
porcelana
srebro
stal
szko oowiowe
szko potasowe
styropian
wolfram
elazo
nikiel

Gsto 103 kg/m3

8,48,8
11,34
21,37
2,22,5
10,51
7,67,9
2,95,9
2,62,8
0,04
19,1
7,86
8,90

Tabela 9. Wspczynniki przewodnictwa cieplnego k

100

Materia

k J/msK

Materia

k J/msK

mied
zoto
aluminium
elazo
mosidz
szko
kwarc topiony
ld
drewno

384
298
226
88
110
0,61,0
1,27
0,6
0,10,3

guma
korek
styropian
woda
bakelit
bawena
cega
powietrze 0 C
hel 0 C

0,25
0,04
0,03
0,609
2,2
0,182
0,85
0,024
0,144

Tabela 10a. Charakterystyka termopary miedkonstantan (typ T)

t C

270
260
250
240
230
220
210
200
190
180
170
160
150
140
130
120
110
100

E mV

t C

E mV

t C

E mV

t C

E mV

6,258
6,232
6,181
6,105
6,007
5,889
5,753
5,603
5,439
5,261
5,069
4,869
4,648
4,419
4,177
3,923
3,656
3,378

90
80
70
60
50
40
30
20
10
0,0
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50

3,089
2,788
2,475
2,152
1,819
1,475
1,121
0,757
0,383
0,000
0,195
0,391
0,589
0,789
0,992
1,196
1,403
1,611
1,822
2,035

55
60
65
70
75
80
85
90
90
100
110
120
130
140
150
160
170
180
190
200

2,250
2,476
2,607
2,908
3,131
3,357
3,584
3,813
4,044
4,277
4,749
5,227
5,712
6,204
6,702
7,207
7,718
8,235
8,757
9,286

210
220
230
240
250
260
270
280
290
300
310
320
330
340
350
360
370
380
390
400

9,820
10,360
10,905
11,456
12,011
12,572
13,137
13,707
14,281
14,860
15,443
16,030
16,621
17,217
17,816
18,420
19,027
19,638
20,252
20,910

Tabela 10b. Charakterystyka termopary elazokonstantan (typ J)

t C

E mV

t C

E mV

t C

E mV

t C

E mV

40
20
0
20

1,98
1,01
0,00
1,15

40
60
80
100

2,11
3,19
4,27
5,37

120
140
160
180

6,47
7,59
8,71
9,83

200
300
400
500

10,95
16,55
22,15
27,84

101

Tabela 10c. Charakterystyki najczciej stosowanych termoelementw

(zgodnie z PN-81/M-53854 (IEC 584))
Napicie termoelektryczne mV
Temp., C
200
100
0
100
200
300
400
500
600
700
800
900
1000
1100
1200
1300
1400
1500
1600
1700

Typ T

Typ J

Typ K

Typ S

Typ B

CuCuNi

FeCuNi

NiNiAl

PtRh10Pt

PtRh30PtRh6

5,603
3,378
0
4,277
9,286
14,860
20,869

7,890
4,632
0
5,269
10,777
16,325
21,846
27,388
33,096
39,130
45,498

5,891
3,553
0
4,095
8,137
12,207
16,395
20,640
24,902
29,128
33,277
37,325
41,269
45,108
48,828
52,398

0
0,645
1,440
2,323
3,260
4,234
5,237
6,274
7,345
8,448
9,585
10,754
11,947
13,155
14,368
15,576

0
0,033
1,178
0,431
0,786
1,241
1,741
2,430
3,154
3,957
4,833
5,777
6,783
7,845
8,952
10,094
11,257
12,426

Tabela 11. Praca wyjcia elektronw z metali

102

Metal

Praca wyjcia, eV

srebro
bar
elazo
potas
lit
ow
platyna
wolfram

4,70
0,52
4,71
2,25
2,49
4,05
5,55
4,54

Tabela 12. Wasnoci cieplne cia staych w temperaturze 20 C oraz ciepa i temperatury topnienia
Materia

aluminium
cyna
ld
mied
ow
szko
elazo
bizmut

Ciepo
waciwe

Ciepo
topnienia

Temperatura
topnienia

J/kgK

J/kg 103

895,8
224,4
2093,0
385,5
127
800
447,9
123,4

394
58
334
172
23

270
52,3

660
231,8
0,00
1083
327,4
8001400
1535
544,5

Wspczynnik
rozszerzalnoci
liniowej
105 K1
2,55
2,69
5,04
1,68
2,94
0,80,9
1,14
1,36

Tabela 13. Wasnoci fizyczne gazw w warunkach normalnych (T = 273 K, p = 105 Pa)
Gaz

Gsto
kg/m3

azot
dwutlenek wgla
hel
powietrze
tlen
wodr

1,25
1,98
0,179
1,29
1,47
0,09

Wspczynnik
lepkoci
103 Ns/m2
0,0175
0,0145
0,0196
0,0181
0,0203
0,0088

Ciepo
Ciepo
c
waciwe
waciwe
= p
cV
cp103 J/(kgK) cV103 J/(kgK)
1,038
0,846
5,240
1,009
0,916
14,269

0,745
0,653
3,161
0,270
0,653
10,132

1,40
1,30
1,66
1,40
1,40
1,41

103

Tabela 14. Wasnoci spryste cia staych w temperaturze 20 C

Materia

Gsto
kg/m3 103

bizmut
cyna
cynk
durall
glin
guma
ld
mied
mosidz
ow
stal
wolfram
elazo kute

Modu
Modu
Modu Wspczynik Prdko
Younga sztywnoci ciliwoci Poissona fali podunej
N/m21010 N/m21010 N/m21010
m/s

9,80
7,30
7,08
2,79
2,70
0,9
0,9168
8,89
8,44
11,34
7,83
18,9
7,85

3,2
4,7
8,4
7,3
6,8
0,01
0,5
10,5
10,5
1,6
21,9
36,2
21,7

1,2
1,8
3,8
2,7
2,5
0,00016
0,29
4,4
4,3
0,65
8,3
13,5
8,3

3,4
1,8
5,9
8,3
7,4

14,3
10,0

17,0
33,0
17,0

0,33
0,33
0,25
0,34
0,34
0,46

0,35
0,35
0,45
0,29
0,17
0,28

2200
2500
3700
6450
5104
3070
3260
3560
3500
1227
4990

5130

Tabela 15. Bezwzgldne wspczynniki zaamania wiata n, w temperaturze 293 K dla fali
o dugoci = 589 nm, n0 wspczynnik zaamania promienia zwyczajnego, ne promienia
nadzwyczajnego
Materia

powietrze
szko (crown lekki)
balsam kanadyjski
szko flint
diament
woda
alkohol etylowy
szpat islandzki

1,0003
1,5153
1,515
1,6085
2,417
1,3337
1,3624
n0 1,6585
ne 1,4864
n0 1,5343
ne 1,5533

kwarc

104

Tabela 16. Dugoci fal najczciej uywanych linii widmowych

Pierwiastek

Dugo fali nm

Barwa linii

Intensywno

wodr

397,01
410,77
434,05
486,13
656,28

fioletowa
fioletowa
fioletowa
niebiesko-zielona
czerwona

saba
saba
rednia
rednia
silna

hel

447,15
471,31
492,19
501,57
587,56
667,81
706,52

fioletowa
niebieska
niebiesko-zielona
zielona
ta
czerwona
czerwona

saba
silna
rednia
rednia
bardzo silna
rednia
rednia

rt

404,65
407,78
435,83
491,60
546,07
576,96
579,07
623,41

fioletowa
fioletowa
niebieska
niebiesko-zielona
zielona
ta
ta
czerwona

bardzo saba
saba
rednia
rednia
silna
bardzo silna (dublet)
bardzo silna (dublet)
saba

sd

588,99
589,59

ta
ta

bardzo silny
dublet

laser HeNe

632,8
1188,5
1177,7
1161,4

czerwona
podczerwie
podczerwie
podczerwie

bardzo silna,
niebezpieczna
dla oczu

laser rubinowy

694,3

czerwona

bardzo silna,
niebezpieczna
dla oczu

dioda laserowa

67010

czerwona

bardzo silna,
niebezpieczna
dla oczu

105

Tabela 17. Ukad okresowy pierwiastkw

Nad symbolem pierwiastka podana jest liczba atomowa, a pod symbolem liczba masowa skadu
izotopowego wystpujcego na powierzchni Ziemi. W nawiasach podano liczby masowe najbardziej stabilnego izotopu. Jednostk masy atomowej przyjto 1/12 masy atomowej wgla 12C

106

107

Tabela 18. Liniowe wspczynniki osabiania promieniowania rentgenowskiego i gamma (w cm1)

108

E
(MeV)

Al
= 2,7 g/cm3

Fe
= 7,89 g/cm3

Pb
= 11,3 g/cm3

NaJ
= 3,67 g/cm3

0,05
0,06
0,08
0,10
0,15
0,20
0,30
0,40
0,50
0,60
0,70
0,80
0,90
1,0
1,1
1,2
1,3
1,5
1,7
2,0
2,5
3,0

0,972
0,729
0,524
0,444
0,362
0,323
0,278
0,251
0,228
0,210
0,196
0,184
0,176
0,166
0,158
0,152
0,146
0,137
0,128
0,117
0,106
0,094

15,2
9,47
4,69
2,82
1,58
1,13
0,85
0,73
0,66
0,60
0,56
0,52
0,50
0,47
0,45
0,43
0,41
0,38
0,36
0,33
0,31
0,28

65,0
40,3
18,8
60,0
24,4
11,8
4,76
2,51
1,72
1,37
1,12
0,99
0,86
0,79
0,72
0,68
0,64
0,58
0,54
0,51
0,48
0,46

38,6
23,6
10,9
5,97
2,16
1,15
0,580
0,415
0,337
0,294

0,243

0,212

0,17

0,15

0,134

Tabela 19. Izotopy rda promieniowania

Izotop

22
11 Na

Energia kwantw

Okres poowicznego zaniku

MeV

T1/2

0,511

2,6 lat

1,28
27
12 Mg

0,79

9 miesicy

23
13

1,78

2,3 dni

56
25 Mn

0,84

2,6 godzin

54
25 Mn

0,845

313,5 dni

60
27

1,173

5,26 lat

Al

Co

1,332
65
30

Zn

1,115

246 dni

128
51Sb

0,687

2,7 lat

128
53 J

0,42

25 miesicy

133
56 Ba

0,44

9,5 lat

0,38
0,16
0,08
137
55 Cs

0,66

30 lat

204
81 Tl

0,91

2,7 lat

210
84 Ra

0,8

138 dni

240
90 Th

0,085

120 dni

233
90 Th

0,09

24 miesice

109

Rys. D.1. Zaleno gruboci pochaniania powkowego promieniowania

od energii kwantw dla aluminium i oowiu

110

Tabela 20. Czasy opadania ciarka przy ustalonym momencie bezwadnoci krzya Oberbecka
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25

1
3,719
3,725
3,721
3,709
3,709
3,701
3,717
3,721
3,723
3,696
3,733
3,714
3,714
3,719
3,712
3,723
3,707
3,730
3,717
3,719
3,716
3,723
3,719
3,707
3,728

2
3,738
3,730
3,719
3,714
3,731
3,714
3,731
3,727
3,709
3,713
3,726
3,715
3,710
3,718
3,704
3,718
3,722
3,722
3,708
3,732
3,740
3,708
3,707
3,718
3,731

3
3,709
3,708
3,709
3,721
3,711
3,715
3,698
3,725
3,722
3,714
3,719
3,734
3,720
3,720
3,716
3,700
3,728
3,739
3,717
3,725
3,712
3,714
3,719
3,716
3,721

4
3,705
3,712
3,699
3,722
3,726
3,715
3,724
3,726
3,714
3,722
3,708
3,729
3,707
3,708
3,720
3,708
3,718
3,723
3,714
3,722
3,712
3,734
3,702
3,731
3,720

5
3,702
3,727
3,726
3,710
3,729
3,702
3,700
3,718
3,719
3,710
3,723
3,721
3,717
3,709
3,722
3,718
3,714
3,711
3,724
3,727
3,718
3,727
3,702
3,715
3,718

6
3,730
3,737
3,723
3,710
3,721
3,695
3,723
3,717
3,700
3,711
3,719
3,717
3,729
3,707
3,719
3,737
3,724
3,711
3,702
3,708
3,714
3,712
3,730
3,704
3,711

7
3,714
3,717
3,729
3,710
3,716
3,724
3,742
3,717
3,725
3,715
3,727
3,711
3,714
3,723
3,722
3,708
3,717
3,728
3,719
3,723
3,714
3,725
3,704
3,714
3,722

8
3,705
3,718
3,715
3,707
3,725
3,712
3,721
3,707
3,726
3,721
3,717
3,714
3,720
3,729
3,722
3,708
3,709
3,718
3,720
3,710
3,713
3,712
3,703
3,717
3,730

x = 3,717395
s2 = 0,00008301
s = 0,00911120

111

Tabela 21. Uporzdkowane wedug wielkoci czasu opadania ciarka krzya Oberbecka zawarte
w tabeli 20
1
2
3
4
5
6
7
8
1
3,695
3,707
3,711
3,714
3,718
3,720
3,723
3,728
2
3,696
3,708
3,711
3,714
3,718
3,721
3,723
3,729
3
3,698
3,708
3,711
3,714
3,718
3,721
3,723
3,729
4
3,699
3,708
3,711
3,715
3,718
3,721
3,724
3,729
5
3,700
3,708
3,712
3,715
3,718
3,721
3,724
3,729
6
3,700
3,708
3,712
3,115
3,718
3,721
3,724
3,729
7
3,700
3,708
3,712
3,115
3,718
3,721
3,724
3,730
8
3,701
3,708
3,712
3,715
3,718
3,721
3,725
3,730
9
3,702
3,708
3,712
3,715
3,718
3,721
3,725
3,730
10
3,702
3,708
3,712
3,716
3,719
3,722
3,725
3,730
11
3,702
3,709
3,712
3,716
3,719
3,722
3,725
3,730
12
3,702
3,709
3,713
3,716
3,719
3,722
3,725
3,731
13
3,702
3,709
3,713
3,716
3,719
3,722
3,725
3,731
14
3,703
3,709
3,714
3,717
3,719
3,722
3,726
3,131
15
3,704
3,709
3,714
3,717
3,719
3,722
3,726
3,731
16
3,704
3,709
3,714
3,717
3,719
3,722
3,726
3,732
17
3,704
3,709
3,714
3,717
3,719
3,722
3,726
3,733
18
3,705
3,710
3,714
3,717
3,719
3,122
3,726
3,734
19
3,705
3,710
3,714
3,717
3,719
3,122
3,727
3,734
20
3,707
3,710
3,714
3,717
3,719
3,723
3,727
3,737
21
3,707
3,710
3,714
3,717
3,720
3,723
3,727
3,737
22
3,707
3,710
3,714
3,717
3,720
3,723
3,727
3,738
23
3,707
3,710
3,714
3,717
3,720
3,723
3,727
3,739
24
3,707
3,711
3,714
3,717
3,720
3,723
3,728
3,740
25
3,707
3,711
3,714
3,718
3,720
3,723
3,728
3,742

112

Literatura uzupeniajca
[1] Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement, opracowanie wydane przez
International Organization for Standarization (ISO), Genewa 1993.
[2] Wytyczne do obliczania i wyraania niepewnoci pomiaru, Gwny Urzd Miar, Warszawa1994.
[3] Essentials of expressing measurement uncertainty. The National Institute of Standards
and technology (NIST). Reference on Constants, Units, and Uncertainty, dokument elektroniczny dostepny w Internecie pod adresem: http://physics.nist.gov/cuu/Uncertainty.
[4] B.N. TAYLOR, CH. E. KUYATT, Guidelines for Evaluating and Expressing the Uncertainty
of NIST Measurement Results. NIST Technical Note 1297 (1994), dokument elektroniczny dostpny wInternecie pod adresem: http://physics.nist.gov/Pubs/guidelines.
[5] W. KLONECKI, Statystyka dla inynierw, PWN, Warszawa 1999.
[6] H. SZYDOWSKI, Midzynarodowe normy oceny niepewnoci pomiarw, Postpy Fizyki, 51, z. 2, s. 92, Warszawa 2000.
[7] A. ZIBA, Natura niepewnoci pomiaru a jego nowa kodyfikacja, Postpy Fizyki, 52,
z. 5, s. 238, Warszawa 2001.
[8] M.W. GUTOWSKI, Prosta dostatecznie gruba, Postpy Fizyki, 53, z. 4, s.181, Warszawa 2002.
[9] W. SALEJDA, R. POPRAWSKI, Podstawy analizy niepewnoci pomiarowych w studenckim
laboratorium podstaw fizyki, Wrocaw 2001; elektroniczny dokument dostpny w internetowej witrynie dydaktycznej Instytutu Fizyki PWr pod adresem: http://www.if.pwr.
wroc.pl/dydaktyka/LPF/index.html.
[10] J.R. TAYLOR, Wstp do analizy bdu pomiarowego, PWN, Warszawa 1995.
[11] H. SZYDOWSKI, Pracownia fizyczna, PWN, Warszawa 1994.
[12] G.L. SQUIRES, Praktyczna fizyka, PWN, Warszawa 1992.
[13] Praca zbiorowa pod red. H. Szydowskiego, Teoria pomiarw, PWN, Warszawa 1981.
[14] H. HNSEL, Podstawy rachunku bdw, WNT, Warszawa 1968.
[15] W. SALEJDA, Co wiedzie powinien inynier o fizycznej naturze informacji iprocesach
jej przetwarzania?, opracowanie dostpne w postaci dokumentu elektronicznego na stronie domowej autora: http://www.if.pwr.wroc.pl/~ssalejda.
[16] T. ZIELISKI, Jak pokocha statystyk, czyli STATISTICA do poduszki, Statsoft, Krakw
1999.
[17] P. KOBUS, R. PIETRZYKOWSKI, W. ZIELISKI, Statystyka z pakietem STATISTICA, Wyd.
Fundacja Rozwj SGGW, Warszawa 1998.

113

[18] A. LUSZNIEWICZ, T. SABY, Statystyka z pakietem komputerowym STATISTICA PL. Teoria i zastosowania, podrcznik zawiera CD, seria wydawnicza Academia Oeconomica,
Wydawnictwo C.H. Beck, Warszawa 2001.
[19] M. DOBOSZ, Wspomagana komputerowo statystyczna analiza wynikw bada, Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa 2001.
[20] B. MROZEK, Z. MROZEK, MATLAB. Uniwersalne rodowisko do oblicze naukowo-technicznych, Wyd. PLJ, Warszawa 1996.
[21] B. MROZEK, Z. MROZEK, MATLAB 5.X, SIMULINK 2.X: Poradnik uytkownika, Wyd.
PLJ, Warszawa 1998.
[22] M. WCISLIK, Wprowadzenie do systemu MATLAB, Wyd. Politechniki Kieleckiej, Kielce 2000.
[23] A. ZALEWSKI, R. CEGIELA, MATLAB obliczenia numeryczne i ich zastosowania, NAKOM, Pozna 1998.
[24] G. DRWAL i in., MATHEMATICA 4, Wyd. Pracowni Komputerowej Jacka Skalmierskiego,
Gliwice 2000.
[25] A. ZERO, MATHCAC 7.0, wyd. EXIT, Warszawa 1998.
[26] K. JAKUBOWSKI, MATHCAD 2000 PROFESSIONAL, Wyd. EXIT, Warszawa 2000.
[27] L. MAGIERA, Komputerowy rachunek symboliczny w przykadach zfizyki. Cz I. Mechanika, Oficyna Wyd. PWr., Wrocaw 1995; L. MAGIERA, General Physics Problem
Solving with CAS Derive, Nova Science Publishers, Inc., Huntington, New York 2001.
[28] A. MARLEWSKI, Derive 3.0, NAKOM, Pozna 1995.
[29] J. POPENDA, A. ANDRUCH-SOBILO, Matematyka na Derive, Wyd. Politechniki Poznaskiej,
Pozna 1997.
[30] Witryna dydaktyczna Instytutu Fizyki PWr dostpna w Internecie pod adresem: http://
www.if.pwr.wroc.pl/dydaktyka; na stronie http://www.if.pwr.wroc.pl/dydaktyka/LPF/
programy/index.html znajduje si oprogramowanie dydaktyczne omwione w rozdziale pitym.

3RGVWDZRZHSRM FLDL]DVDG\RSUDFRZDQLDZ\QLNyZSRPLDUyZ

SDWU]UR]G]LD\LSRGU F]QLND

Wynikiem pomiaru QD]\ZDP\ ZDUWR x SU]\SLVDQ ZLHONRFL IL]\F]QHM X uzy

VNDQ GURJ SRPLDUX

 

*

ru x a warWRFLUHGQL x z serii pomiarw (prby).

'\VSRQXMF Z\QLNDPL ^x1, x2, ... , xn` VHULL SRPLDUyZ ZLHONRFL IL]\F]QHM X MH*HOL
SRPLDU\QLHVREDUF]RQHE
GDPLV\VWHPDW\F]Q\PLREOLF]DP\ UHGQLDU\WPHW\F]Q
x  NWyUD VWDQRZL RV]DFRZDQLH ZDUWRFL U]HF]\ZLVWHM GRNDGQHM ZLHONRFL IL]\F]QHM X
1LHSHZQR FL SU]\SDGNRZ QD]\ZDP\Uy QLF PL G]\Z\QLNLHPSRPLD

]DSRPRF Z]RUXSDWU]UyZQLH 

x=

1 n
xi .
n i =1

Jako QLHSHZQR RFHQ\ x przyjmujemy

tmetycznej (2.10) SDWU]UyZQLH*

sx =

sx
n

UHGQLHM DU\-

n
1
(xi x )2 ,
n(n 1) i =1

RGFK\OHQLH VWDQGDUGRZH

NWyUHQRVLQD]Z QLHSHZQR FLVWDQGDUGRZHM

:LHONR 

1
(xi x )2

n 1 i =1

sx =

niem standardowym z prby, natomiast

GDQ

 Z]RUHP (2.8) nazywamy odchyle-

s x2 QRVLQD]Z
wariancji z prby (patrz wzr

(2.7)). Zarwno wariancja jak i odchylenie stanGDUGRZH V PLDUDPL QLHSHZQRFL

pojedynczego wyniku pomiaru.
:DUWRFL QLHSHZQRFL SRPLDUyZ ]DRNUJODP\ ]DZV]H Z JyU
 SDWU] UR]G]LD
2.4.). NiepeZQRFL ]DokUJODP\ QDMSLHUZ ] GRNDGQRFL GR MHGQHM F\IU\ ]QDF]FHM
*




-H HOL ZVW SQH ]DRNU JOHQLH SRZRGXMH Z]URVW ZDUWR FL QLHSHZQR FL R ZL FHM QL  

 

]DRNU JODP\M ]GRNDGQR FL GRGZyFKF\IU]QDF] F\FK

 

:\QLNL SRPLDUyZ ]DRNU JODP\ ] GRNDGQR FL  GR PLHMVFD QD NWyU\P Z\VW

 .

SXMHRVWDWQLDF\IUD]QDF] FDQLHSHZQR FL

staci

:\QLNL SRPLDUyZ SDWU] UR]G]LD  ]DSLVXMHP\ Z PLDQRZDQHM SR

x = x s x Z\MDQLDMF]QDF]HQLHOLF]E\ s x VWRMFHMSR]QDNX. ZapisuMFZ\QLNSRmiaru naOH*\SRGDMHGQRVWN

2ERZL]XMMHGQRVWNL]XNDGX6,

.ODVD SU]\U] GX SRPLDURZHJR

kl =

xmax
100%  MHVW WR Z\UD*RQD Z proZ

FHQWDFK ZDUWR  EH]Z]JO GQD ]H VWRVXQNX PDNV\PDOQHJR GRSXV]F]DOQHJR QD GDQ\P
]DNUHVLH SRPLDURZ\P E GX SRPLDUX

xmax do zakresu pomiarowego Z

SDWU] UR]G]LD

2.3.2.).

1LHSHZQR  SRPLDUX Z\NRQDQHJR PLHUQLNLHP F\IURZ\P VNDGD VL  ]

nie-

SHZQR FL SU]HWZDU]DQLD XNDGX DQDORJRZHJR RUD] QLHSHZQR FL G\VNUHW\]DFML

SDWU]UR]G]LD

-H*HOL ZLHONR IL]\F]QD QLH MHVW PLHU]RQD EH]SRUHGQLR OHF] Z\PDJD ]PLHU]HQLD

X1, X2 , ... , Xn]NWyU\PLMHVWSRZL]DQD]DOH*QRFL

Y = g(X1, X2, ... , Xn)
to taki pomiar nazywamy ]R*RQ\P.
:LHONRFL X1, X2, ... , Xn nazywamy ZLHONRFLDPL ZHMFLRZ\PL, natomiast Y nazywamy ZLHONRFLZ\MFLRZ.
:DUWRZLHONRFL YPR*QDRFHQLQDZLHOHVSRVREyZ-HGQ\P]W\FKVSRVREyZMHVW
SU]\M
FLH]DRFHQ
ZLHONRFLYZDUWRFL
y = g (x1 , x2 ,..., xn ) ,
NLONXZLHONR FLIL]\F]Q\FK

xi

gdzie:

 UHGQLH ZDUWRFL ZHMFLRZ\FK ZLHONRFL IL]\F]Q\FK PLHU]RQ\FK

 R]QDF]DM 

bezpoUHGQLR=DRFHQ
ZDUWRFLZLHONRFLYPR*QDUyZQLH*SU]\M

y=

1 m
yk
m k =1

(*)

gdzie: ykR]QDF]DZDUWRFLZLHONRFLZ\MFLRZHMY obliczone na podstawie wynikw pomiaUyZZLHONRFLZHMFLRZ\FKX]\VNDQ\FKZVNRF]RQHMVHULL]R*RQHM]k pomiarw.

-H*HOL ZLHONRFL X1, X2,...,Xn V nieskorelowane, to ]R*RQ QLHSHZQR VWDQGDUGRZuyRFHQ\ Z\]QDF]DVL
QDSRGVWDZLHZ]RUX
2

g
g
g
(s1 )2 +
(s2 )2 + ... +
(sn )2 . (**)
u y =
x1
x 2
x n
W przypadku, gdy ZLHONRZ\MFLRZDMHVWLORF]\QHPSRW
JZLHONRFLZHMFLRwych,


WR SRFKRGQH F] VWNRZH Z\VW SXM FH Z UyZQDQLX   QDMDWZLHM REOLF]\ VWRVXM F

pochodnej logarytmicznej UR]G]LD\L

-H*HOL ZLHONRFL ZHMFLRZH V skorelowane SDWU] UR]G]LD 

PHWRG

 WR ]R RQ  QLH

SHZQR VWDQGDUGRZ REOLF]DP\NRU]\VWDM F]UyZQDQLD

=R*RQ QLHSHZQR VWDQGDUGRZ ZLHONRFL zarwno skorelowanych jak i nieskorelowanych PR*QDRV]DFRZDPHWRGUy*QLF]NL]XSHQHMUR]G]LD

uy =
*

: SRZ\ V]\P UyZQDQLX

g
g
g
u1 +
u2 + ... +
un .
x1
x 2
x n

g / xn R]QDF]D SRFKRGQH F]VWNRZH IXQNFML g wielu zmien-

nych w punkcie x1, x2,...,xn, natomiast unMHVWQLHSHZQRFLRFHQ\ZLHONRFLIL]\F]QHMXn.

: ZLHOX SU]\SDGNDFK ]ZL]HN PL
G]\ ZLHONRFL Z\MFLRZ Y L ZLHONRFLDPLZHMFLRwymi X1, X2,...,Xn MHVW GDQ\ ]DOH*QRFL Y = g (X 1 , X 2 ,..., X n , 1 , 2 ,..., l ) ,


 

NWyU  ]QDP\ ] GRNDGQR FL  GR SDUDPHWUyZ

regresji UR]G]LD

1 , 2 ,..., l , ktre oceniamy

PHWRG