13.04.

2006

SPC SECON EDITION YENİLİKLERİ

 Kontrol çizelgeleri kullanımında istatistiksel yönden dikkat edilecek hususlar(s/29-30)

 İPK uygulaması için hem ISO9000 hem TS2 açısından yerine getirlmesi
gerekenYönetimsel gereksinimler(s/37)
 Xort-R kontrol çizelgeleri yorumlama ve çizilmesinde detaylı açıklamalar (s/59-62)
 Kontrol dışı durum mesajları detaylı. (s/69-72)
 Özel sebep kriterleri detaylı(s/75)
 Xort-s, Median-R çizelgeleri için detaylı formüller(s/82-85)
 p,np,c,u niteliksel veri çizelgeleri formülleri detaylı(s/82-85)
 pre-kontrol, standartlaştırılmışXort-R,CuSum,EWMA gibi özel kontrol çizelgeleri
formülleri detaylı(s/104-112)
 Multivariate kontrol çizelgesi kullanımı hakkında bilgi(s/116-117)
 Regresyon çizelgeleri kullanımı hakkında bilgi (s/117-118)
 Proses yeterlilik indeksleri(Cp,Cpk,Pp,Ppk, CR,PR) detaylı (s/127-134)
 Tek yanlı spesifikasyonlarda proses yeterlilik indeksleri formülü (s/137-138)
 Normal olmayan dağılımlarda yapılması gerekenler detaylı(s/140-143)
 Özel bir yeterlilik indeksi olan Cpm formülü ve standart sapması (s/179)
 Yeterlilik indeksleri hesaplamasında örnek uygulama(s/185-190)

Çetin USTAOĞLU
Makina Yüksek Mühendisi
Kalite Güvence Müdürü