Do A N Thie T Ke Sieu Am Ma NG Die U Pha Phased Array

BÁO CÁO ĐỒ ÁN THIẾT KẾ
Mục lục
DANH MỤC CÁC TỪ VIẾT TẮT ........................................................................ 4
DANH MỤC HÌNH ẢNH ....................................................................................... 5
LỜI NÓI ĐẦU ......................................................................................................... 7
PHẦN 1: PHƯƠNG PHÁP ĐO KHÔNG PHÁ HỦY ......................................... 8
1.1. Kiểm tra không phá hủy mẫu là gì? ............................................................... 8
1.2. Ưu điểm ............................................................................................................. 8
1.3. Các phương pháp được sử dụng trong NDT ................................................. 9
1.4. Ứng dụng của phương pháp NDT ................................................................ 12
PHẦN 2: PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM ................................................................ 13
CHƯƠNG 1: TỔNG QUAN VỀ PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM ......................... 14
1.1. Giới thiệu về phương pháp siêu âm .............................................................. 14
1.2. Ưu điểm của phương pháp ............................................................................ 14
1.3. Nhược điểm của phương pháp ...................................................................... 14
1.4. Ứng dụng ......................................................................................................... 14
CHƯƠNG 2: CƠ SỞ HOẠT ĐỘNG CỦA PHƯƠNG PHÁP .......................... 15
2.1. Cơ sở của phương pháp ................................................................................. 15
2.2. Những đặc điểm của sóng âm ....................................................................... 15
2.3. Góc tới hạn của khúc xạ ................................................................................ 17
3.1. Thiết bị xung phản xạ .................................................................................... 19
3.1.1. Thiết bị A-scan............................................................................................. 19
3.1.2. Thiết bị B-scan ............................................................................................. 19
3.1.3. Thiết bị C-scan............................................................................................. 20
Lê Văn Được – 20130971 KTHN K58 1

3.2. Điện tử thiết bị xung phản xạ ........................................................................ 20
3.2.1. Cung cấp nguồn ........................................................................................... 20
3.2.3. Bộ thu/phát ................................................................................................... 20
3.2.2. Đầu dò ........................................................................................................... 21
3.2.4. Bộ phận hiển thị và định thời gian.............................................................. 21
3.3. Các chức năng điều khiển.............................................................................. 21
CHƯƠNG 4: HOẠT ĐỘNG VÀ LÝ THUYẾT CỦA ĐẦU ĐÒ ...................... 23
4.1 Giới thiệu .......................................................................................................... 23
4.1.1 Hiệu ứng áp điện ........................................................................................... 23
4.1.2 Vật liệu đầu dò ............................................................................................... 23
4.1.3 Tần số ............................................................................................................. 24
4.1.4 Các loại đầu dò ............................................................................................. 25
CHƯƠNG 5: CÁC PHƯƠNG PHÁP KIỂM TRA SIÊU ÂM .......................... 26
5.1. Kiểm tra tiếp xúc ............................................................................................ 26
5.1.1 Kỹ thuật sóng dọc .......................................................................................... 26
5.1.2. Kỹ thuật xung vọng ...................................................................................... 26
5.1.3. Kỹ thuật truyền qua ...................................................................................... 27
5.1.4. Kỹ thuật truyền chùm tia góc....................................................................... 27
5.1.5. Kỹ thuật sóng bề mặt .................................................................................... 27
5.2. Kiểm tra nhúng............................................................................................... 28
5.2.1. Kỹ thuật nhúng tiêu chuẩn .......................................................................... 28
5.2.2. Kỹ thuật dò bánh xe ..................................................................................... 28
PHẦN 3: SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA PHASED ARRAY ............................ 29
CHƯƠNG 1: PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA ....................... 29

1.2 So sánh siêu âm mảng điều pha với siêu âm truyền thống ......................... 29
2.2 Sử dụng đơn giản............................................................................................. 33
2.3. Khả năng của máy .......................................................................................... 33
CHƯƠNG 3: THÔNG SỐ KỸ THUẬT CỦA MÁY ......................................... 35
3.1 Bộ phát xung .................................................................................................... 35
3.2 Bộ thu................................................................................................................ 35
3.3 Quét và hiển thị ............................................................................................... 36
3.4 Thông số chung ................................................................................................ 37
3.5 Các tiêu chuẩn kiểm tra được hỗ trợ/ và công nhận ................................... 38
4.1. Giới thiệu về ASME ....................................................................................... 40
4.2. Quy trình của tiêu chuẩn ............................................................................... 40

DANH MỤC CÁC TỪ VIẾT TẮT
Từ viết tắt Tiếng Anh Tiếng Việt

NDT Non-destructive Testing Kiểm tra không phá hủy
ASME Armerican Society of Hiệp hội kỹ sư cơ khí Hoa Kỳ
Mechanical Engineer

DANH MỤC HÌNH ẢNH

Hình 1.1 Phương pháp NDT……………………………………………………8
Hình 1.2. Thiết bị siêu âm……………………………………………..……….9
Hình 1.3. Sơ đồ bố trí chiếu chụp……………………………………………...10
Hình 1.4. Mô phỏng phương pháp chất lỏng thẩm thấu……………………….11
Hình 1.5 Sơ đồ bố trí phương pháp dòng điện xoáy. ………………………….12
Hình 2.1 Mô tả chung về phương pháp siêu âm………………………………..13
Hình 2.2 Sóng âm……………………………………………………………...15
Hình 2.3. Định luật snell………………………………………………………..16
Hình 2.4 Sóng dọc……………………………………………………………...17
Hình 2.5 Sóng ngang…………………………………………………………...18
Hình 2.6 Sóng bề mặt…………………………………………………………..18
Hình 2.7 Tín hiệu hiển thị trên màn hình của thiết bị A-scan……….…………19
Hình 2.8 Hiển thị B-scan của những bất liên tục………………………………20
Hình 2.9 Một số đầu dò………………………………………………………...21
Hình 2.10 Bộ phận của đầu dò…………………………………………………23
Hinh 2.11 Đầu dò dạng chổi quét sơn………………………………………….25
Hinh 2.12 Đầu dò kép………………………………………………………….25
Hinh 2.11 Đầu dò bánh xe……………………………………………………..25
Hình 2.14 Đầu dò sóng dọc …………………………………………………...26
Hình 2.15 kĩ thuật truyền qua………………………………………………….27
Hình 2.16 Các thiết bị trong kiểm tra nhúng…………………………………..28
Hình 3.1. Máy dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha – Phased Array…..29
Hình 3.2 Nhân viên đang kiểm tra mối hàn…………………………………...30

Hình 3.3 Sonatest VEO - Máy dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha -
Phased Array…………………………………………………………………..31
Hình 3.4 Nguyên lí hoạt động của biến tử đầu dò…………………………….32
Hình 3.5 Yêu cầu với khối chuẩn phẳng………………………………………42
Hình 3.5 Yêu cầu với khối chuẩn ống………………………………………....42
Hình 3.6 Appendix1. Độ tuyến tính dọc……………………………………….43

LỜI NÓI ĐẦU

Việt Nam đang trong giai đoạn tiến lên công nghiệp hóa, hiện đại hóa đất
nước. Chúng ta đang xây dựng một nền công nghiệp hiện đại như một tiền đề
đưa Việt Nam trở thành một quốc gia phát triển. Một nền công nghiệp xem là
mạnh, hiện đại chỉ khi chúng ta có được các sản phẩm công nghiệp với chất
lượng tốt, kỹ thuật cao. Để có được một sản phẩm có chất lượng cao nhất, kỹ
thuật cao nhất ngoài các công đoạn thiết kế và gia công tốt thì vai trò của việc
kiểm tra chất lượng sản phẩm là một công đoạn vô cùng quan trọng.
Ngày nay, với sự phát triển của khoa học công nghệ chúng ta đã có rất nhiều
phương pháp kiểm tra đánh giá chất lượng sản phẩm hoặc một chi tiết sản phẩm
kỹ thuật. Một trong những phương pháp đó là kiểm tra không phá hủy bằng
phương pháp siêu âm.
Phương pháp siêu âm rất hiệu quả và được ứng dụng rộng rãi trong việc phát
hiện các khuyết tật bên trong chi tiết. Phương pháp này thường ứng dụng để:
kiểm tra mối hàn, mối nối bằng đinh tán, vết nứt và khuyết tật bên trong đường
ống, đo chiều dày của ống, bể chứa và vỏ tàu, kiểm tra quá trình tổn thất vật liệu
do mài mòn và ăn mòn, đo lưu lượng dòng chảy. Đặc biệt phương pháp siêu âm
mảng điều pha – phased array hiện nay là tiên tiến nhất công nghệ Phased array
(chùm tia xiên tách pha) tạo ra một chùm tia siêu âm với các thông số có thể đặt
trước tuỳ chọn: góc, khoảng hội tụ, điểm hội tụ qua các phần mềm.
Báo cáo đồ án thiết kế này bao gồm:
- PHẦN 1: PHƯƠNG PHÁP ĐO KHÔNG PHÁ HỦY
- PHẦN 2: PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM
- PHẦN 3: SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA PHASED ARRAY

PHẦN 1: PHƯƠNG PHÁP ĐO KHÔNG PHÁ HỦY

1.1. Kiểm tra không phá hủy mẫu là gì?
- Kiểm tra không phá hủy mẫu (Non –Destructive testing – NDT) bao gồm các
phương pháp dùng để thử nghiệm, kiểm tra, đánh giá, chuẩn đoán và giám sát
các sản phẩm, công trình công nghiệp mà không làm ảnh hưởng đến khả năng sử
dụng của chúng.
Hình 1.1 Phương pháp NDT
1.2. Ưu điểm
- So với lĩnh vực kiểm tra phá hủy mẫu là phá hủy mẫu cần kiểm tra làm cho
vật mẫu mất đi khả năng sử dụng ban đầu của nó, hơn nữa việc kiểm tra này sẽ
lấy kết quả của một hay một vài mẫu đại diện cho toàn bộ sản phẩm điều này
cực kì nguy hiểm bởi vật mẫu lấy ngẫu nhiên xắc xuất không thể đại diện cho
chất lượng của toàn bộ sản phẩm.
- Phát hiện được các khuyết tật từ giai đoạn nguyên liệu từ tránh đầu tư đưa vào
sản suất các nguyên liệu kém chất lượng dẫn đến tạo ra sản phẩm lỗi, kém chất
lượng phải bỏ đi làm tăng lên chi phí sản suất.
- Cải thiện quy trình sản suất bằng cách kiểm tra dây truyền sản suất trước và
sau khi cải tiến từ đó có những quyết định chính xác có cơ sở.
- Tăng cường sự an toàn bằng cách kiểm tra định kì thiết bị máy móc, cơ sở sản
xuất để phát hiện sớm các khuyết tật hỏng hóc từ đó có những thay đổi kịp thời.

- Phát hiện các sản phẩm lỗi để loại bỏ sớm giúp nâng cao uy tín với đối tác,
nâng cao khả năng cạnh tranh của sản phẩm.
1.3. Các phương pháp được sử dụng trong NDT
- Siêu âm kiểm tra:
Sử dụng chùm sóng siêu âm để rọi vào trong vật cần kiểm tra và thu lại song
phản xạ trên cơ sở phân tích các sóng phản xạ ta được xác định được các khuyết
tật, vết nứt tách tầng … của sản phẩm.
Hình 1.2. Thiết bị siêu âm
- Ưu điểm:
+Khả năng xuyên thấu cao,
+Phát hiện được các khuyết tật nhỏ, nhanh và tự động.
- Nhược điểm:
+Khó kiểm tra các vật mẫu có cấu tạo phức tạp
+Hướng của khuyết tật có khả năng ảnh hưởng đến khả năng phát hiện khuyết
tật, yêu cầu nhân viên có trình độ.

- Chụp ảnh phóng xạ:
+ Dùng tia X hay tia gamma chiếu xuyên qua vật mẫu phía sau dùng một tấm
phim thu nhận bức xạ dựa vào phân tích sự suy giảm của bức xạ mà ta có thông
tin về sản phẩm.
Hình 1.3. Sơ đồ bố trí chiếu chụp.
- Ưu điểm:
+ Sử dụng trên hầu hết các vật liệu.
+Kết quả có thể trực tiếp thấy và lưu trữ lại được.
+Nhạy phát hiện khuyết tật thể tích.
- Nhược điểm:
+ Phải tiếp xúc được với hai phía của sản phẩm.
+ Khó kiểm tra được vật có hình dạng phức tạp.
+ Phải đảm bảo an toàn bức xạ.

- Chất lỏng thẩm thấu:
+Để phát hiện vết nứt của mối hàn, bề mặt kim loại đặc biệt các vật liệu không
nhiễm từ như thép không rỉ người ta phun một lớp chất lỏng có khả năng thẩm
thấu cao và dễ nhìn, nếu trên bề mặt vật liệu có vết nứt chất lỏng sẽ thẩm thấu
vào đọng lại, sau đó phun thêm một lớp gọi là “chất hiện màu” làm cho chất đã
ngấm vào vết nứt hiện rõ lên từ đó giúp ta nhận biết được vết nứt rất nhỏ mà
bình thường mắt ta không nhận biết được.
Hình 1.4. Mô phỏng phương pháp chất lỏng thẩm thấu
- Ưu điểm:
+Nhạy với vết nứt bề mặt, thiết bị vật nhũ tương đối rẻ.
+ Quá trình thực hiện tương đối đơn giản.
- Nhược điểm:
+ Chỉ phát hiện được các khuyết tật trên bề mặt.
+ Vật liệu được kiểm tra phải không xốp, bề mặt vật liệu phải không nóng, thô,
nhám.

- Phương pháp dòng điện xoáy:
Dựa trên hiện tượng cảm ứng điện từ, đầu dò sẽ sản sinh ra dòng điện xoáy
trong vật liệu dòng điện thu được mạnh hay yếu phụ thuộc vào vật liệu có
khuyết tật hay không.
Hình 1.5 Sơ đồ bố trí phương pháp dòng điện xoáy.
- Ưu điểm:
+ Nhạy phát hiện vết nứt trên hay sát bề mặt của những vật liệu dẫn điện như
nhôm, sắt,…cho kết quả tức thì, dễ tự động hóa.
- Nhược điểm:
+ Chỉ áp dụng cho vật liệu dẫn điện, khó phát hiện được khuyết tật nằm sâu bên
trong vật liệu, đòi hòi nhân viên phải có trình độ.
1.4. Ứng dụng của phương pháp NDT
- Phương pháp NDT được sử dụng rộng rãi trong hầu hết các ngành công
nghiệp như cơ khí, dầu khí, đóng tàu, hàng không, thực phẩm, …
+ Trong dầu khí NDT được sử dụng để kiểm tra chất lượng, độ an toàn, toàn ven
của ống dẫn, bồn chứa dàn khoan,…
+ Trong chế tạo máy NDT sử dụng để kiểm tra các sản phẩm đúc, nén, kéo
...đặc biệt là các mối hàn của cấu kiện.
+ Trong hàng không NDT sử dụng để bảo trì và kiểm tra mức độ an toàn của
máy bay dân sự cũng như quân sự.

PHẦN 2: PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM

Khoa học siêu âm có lịch sử lâu đời, từ thế kỷ 19, với các tên tuổi lớn như:
Lamb, Rayleigh, Curie, Lippman, Lebedev, Sokolov…, Phát triển liên tục cho
đến ngày nay. Việc chuyển ngành khoa học này thành các kỹ thuật kiểm tra siêu
âm hiện đại ứng dụng trong cuộc sống, có lẽ đã xuất phát từ yêu cầu thực tế lúc
bấy giờ như là: Nỗ lực phát hiện tàu ngầm trong Chiến tranh thế giới lần I, thảm
hoạ tàu Titanic va núi băng 1912,sự phát triển kỹ thuật vô tuyến điện tử và radar
những năm 30-40 thế kỷ trước. Những hệ thống dò khuyết tật siêu âm xung dội
hiện đại hoàn chỉnh đầu tiên đầu tiên đã cùng được độc lập thiết kế bởi các nhà
khoa học Anh, Đức và Hoa Kỳ vào các năm 42-47: Sproul,Trost và Gotz,
Firestone. Từ đây, các nguyên lí chủ yếu phát hiện khuyết tật bằng kỹ thuật xung
dội là giống như ngày nay, sự phát triển mạnh xảy ra chủ yếu trong lĩnh vực :
máy móc, điện tử và xử lí số liệu,…
Hình 2.1 Mô tả chung về phương pháp siêu âm.
Ngày nay độ phức tạp và chi phí cho những máy móc, thiết bị và dụng cụ đòi
hỏi quy trình sản xuất và kiểm tra để đảm bảo độ tin cậy lớn nhất. Để thực hiện
độ tin cậy như vậy, tiêu chuẩn kiểm tra đã được thiết lập và kết quả kiểm tra
phải thỏa mãn tiêu chí đã được định sẵn trong các tiêu chuẩn kỹ thuật đó.Trong
số các quy trình kiểm tra NDT sẵn có, kiểm tra siêu âm là một trong những
phương pháp được sử dụng rộng rãi nhất.phương pháp này thường được sử dụng
để đo chiều dày hoặc để kiểm tra cấu trúc bên trong của vật liệu để tìm những
bất lien tục có thể như các lỗ trống hoặc các vết nứt.

CHƯƠNG 1: TỔNG QUAN VỀ PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM

1.1. Giới thiệu về phương pháp siêu âm
Sử dụng siêu âm để phát vào trong vật liệu và ghi nhận các phản xạ của vật liệu
trên cơ sở phân tích sóng phản xạ ta có thể phát hiện các khuyết tật bên trong
nếu có.
1.2. Ưu điểm của phương pháp
- Có độ nhạy cho phép phát hiện khuyết tật nhỏ.

- Khả năng xuyên thấu cao.
- Có độ chính xác trong việc phát hiện vị trí và kích thước của khuyết tật.
- Cần phát hiện một phía của vật được kiểm tra.
- Cho phép kiểm tra nhanh và tự động.
1.3. Nhược điểm của phương pháp
- Hình dạng của vật kiểm tra dẫn đến gây khó khăn trong việc kiểm tra.
- Khó kiểm tra các vật liệu có cấu tạo bên trong phức tạp.
- Cần phải sử dụng chất tiếp âm.
- Đầu dò phải được tiếp xúc phù hợp với bề mặt mẫu.
- Hướng của khuyết tật có ảnh hưởng đến khả năng phát hiện khuyết tật.
- Nhân viên kiểm tra phải có nhiều kinh nghiệm.
1.4. Ứng dụng
- Kiểm tra các khuyết tật mối hàn trong các ống dẫn dầu, khí, hóa chất.
- Kiểm tra các khuyết tật mối hàn trong các nồi hơi nhiệt, bồn .
- Kiểm tra sự tách lớp bề dầy trong vật liệu: như vật liệu đúc, mối hàn chữ T
(ống, ống dạng nhánh và tấm), mối hàn đối đầu

CHƯƠNG 2: CƠ SỞ HOẠT ĐỘNG CỦA PHƯƠNG PHÁP

2.1. Cơ sở của phương pháp
- Phương pháp siêu âm sử dụng sóng âm là những dao động cơ học có khả năng
truyền qua các môi trường rắn, lỏng, khí. Sóng này truyền trong môi trường cho
trước với những vận tốc riêng, theo hướng có thể đoán trước khi tới mặt phân
cách giữa các môi trường chúng sẽ phản xạ hay truyền qua theo những nguyên
tắc khác nhau, dựa vào phân tích các sóng phản xạ ta có được các thông tin về
vật mẫu.
Hình 2.2. Sóng âm.
2.2. Những đặc điểm của sóng âm
- Tần số âm là tần số dao động của nguồn âm, trong kiểm tra đo đạc tần số âm
dao động với tần số trong khoảng từ 500 Khz đến 10Mhz. Kí hiệu là f, đơn vị
Hz.
- Vận tốc âm là vận tốc của sóng âm lan truyền trong môi trường với những vận
tốc khác nhau nó phụ thuộc vào mật độ của môi trường và độ đàn hồi của môi
trường, sóng âm không thể lan truyền trong chân không. Kí hiệu v, đơn vị m/s.
- Chu kỳ là thời gian để sóng âm đi được 1 bước sóng.
- Bước sóng là quãng đường sóng âm đi được trong 1 chu kỳ trong môi trường
mà nó truyền qua. Kí hiệu λ giữa chu kỳ và vận tốc có liên hệ.

λ = v/f (m) (1)
Trong đó:
λ : bước sóng (m).
v : vận tốc âm (m/s).
f : tần số Hz.
- Góc phản xạ và khúc xạ:
+ Năng lượng âm trong tần số siêu âm có tính định hướng cao và chùm tia sử
dụng để phát hiện khuyết tật được xác định rõ ràng. Trong các trường hợp sóng
âm phản xạ ở mặt phân cách, góc tới bằng góc phản xạ. Chùm tia tới vuông góc
với bề mặt sẽ phản xạ thẳng trở lại, còn chùm tia tới bề mặt dưới một góc thì sẽ
phản xạ cũng bằng góc đó.
+ Năng lượng âm truyền từ vật liệu này sang vật liệu khác sẽ đổi hướng theo
định luật khúc xạ của Snell.ta có công thức: (2)
I: là góc giữa tia sáng đi từ môi trường 1 tới mặt phẳng phân cách và pháp
tuyến của mặt phẳng phân cách hai môi trường.
r :là góc giữa tia sáng đi từ mặt phân cách ra môi trường 2 và pháp tuyến của
mặt phẳng phân cách hai môi trường.
n1: là chiết suất môi trường 1.
n2: là chiết suất môi trường 2.
Hình 2.3. Định luật snell.

2.3. Góc tới hạn của khúc xạ
- Chùm âm đi qua môi trường như nước hoặc plastic khúc xạ khi đi vào môi
trường thứ hai với một góc tới. Đối với góc tới nhỏ, chùm âm khúc xạ và chuyển
đổi dạng sóng, và kết quả là kết hợp cả sóng dọc và sóng ngang. Vùng giữa góc
tới vuông góc và góc tới hạn thứ nhất không hữu ích cho kiểm tra siêu âm như
vùng sau góc tới hạn thứ nhất vì lúc đó chỉ có sóng ngang được tạo ra
- Góc tới hạn thứ nhất:
+ Khi góc tới tăng lên, góc tới hạn thứ nhất đạt tới khi góc khúc xạ chùm âm
sóng dọc đạt 90 độ, ở điểm đó chỉ có sóng ngang tồn tại trong môi trường thứ
hai. Khi lựa chọn đầu dò góc sóng ngang, hoặc khi điều chỉnh đầu dò nhúng ở
góc tới để tao sóng ngang thì cần xem xét hai điều kiện.
+ Thứ nhất: sóng dọc khúc xạ phải phản xạ toàn phần như vậy chùm âm thâm
nhập chỉ giới hạn là sóng ngang.
+ Thứ hai: Sóng ngang khúc xạ phải đi vào chi tiết kiểm tra theo yêu cầu của
tiêu chuẩn kiểm tra,trong kiểm tra bằng phương pháp nhúng, góc tới hạn thứ
nhất được tín đảm bảo rằng chùm âm đi vào chi tiết kiểm tra.
+ Khi góc tới tiếp tục tăng lên, góc tới hạn thứ hai đạt tới khi góc chùm âm sóng
ngang khúc xạ 90 độ, ở điểm này, các sóng ngang phản xạ và trong trường hợp
kiểm tra tiếp xúc với chi tiết kiểm tra ở trong môi trường không khí thì sẽ tạo ra
sóng bề mặt, trong kiểm tra nhúng, môi trường lỏng nhớ rằng sóng bề mặt đã
được tạo ra trong kiểm tra thí nghiệm trên chi tiết kiểm tra ngâm trong chất lỏng.
2.4. Các loại sóng âm
Hình 2.4 sóng dọc
- Sóng dọc hay còn gọi là sóng nén được đặc trưng bởi sự dao động của các hạt
cùng hướng với phương truyền sóng.

Hình 2.5 sóng ngang
- Sóng ngang được đặc trưng bởi sự dao động của các hạt có hướng vuông góc
với phương truyền sóng.
- Sóng bề mặt hay còn gọi là sóng Rayleigh: các hạt có quỹ đạo chuyển động
hình ê líp và truyền qua bề mặt của vật liệu, chiều sâu chỉ khoảng một bước
sóng.
hình 2.6 sóng bề mặt
- Sóng dạng tấm hay còn gọi là sóng Lamb là một dạng dao động phức tạp
trong các tấm mỏng có chiều dày vật liệu nhỏ hơn bước sóng và dạng sóng
nàytruyền trong toàn bộ tiết diện của môi trường.
-Sóng âm có thể được chuyển từ dạng này sang dạng khác. Thông thường sóng
ngang được tạo ra trong vật liệu kiểm tra bằng cách truyền sóng dọc vào vật liệu
dưới một góc đã chọn trước.

CHƯƠNG 3: THIẾT BỊ DÙNG TRONG SIÊU ÂM

3.1. Thiết bị xung phản xạ
Hệ thống kiểm tra siêu âm phải kể đến một trong ba loại: A-scan. B-scan, C-
scan, nó chủ yếu lien quan đến hiển thị trên màn hình của thiết bị siêu âm được
sử dụng, chúng có chung mạch điện tử cơ bản sự khác nhau chủ yếu là thông tin
ra biểu diễn trên màn hình.
Tất cả máy Scan làm việc với cùng một nguyên lí phản xạ ánh sáng hoặc truyền
dẫn. Hình ảnh được đặt úp xuống bên trong Scanner nó có bao gồm nguồn sáng
chiếu vào hình ảnh và những thiết bị cảm biến để thu nhận ánh sáng phản xạ từ
nguồn sáng tới hình ảnh. Trong tường hợp máy ảnh kỹ thuật số, nguồn sáng là
mặt trời hoặc ánh sáng nhân tạo. Khi thiết bị scan lần đầu tiên được giới thiệu,
nhiều nhà sản xuất dùng bóng đèn huỳnh quang làm nguồn sáng.
3.1.1. Thiết bị A-scan
- Là phương pháp biểu diễn tín hiệu mà nó hiển thị tín hiệu quay trở lại từ vật
liệu kiểm tra trên màn hình.
- Dựa vào thông tin về biên độ và khoảng cách ta có được thông tin khách quan
về sản phẩm.
Hình 2.7 Tín hiệu hiển thị trên màn hình của thiết bị A-scan.
3.1.2. Thiết bị B-scan
- Hiển thị hai chiều về mặt phẳng cắt ngang chi tiết kiểm tra. Thường được sử
dụng trong những ứng dụng như theo dõi ăn mòn và phát hiện tách lớp trong
kim loại và vật liệu tổng hợp. Nó hiển thị vật liệu kiểm tra mà nhìn như cắt, nó
biểu diễn, trong tiết diện, bất cứ những mặt phản xạ trong hoặc trang thái tồn tại
trên bề mặt đối diện.

Hình 2.8 Hiển thị B-scan của những bất liên tục
3.1.3. Thiết bị C-scan
- Hiển thị thông thường khác của dữ liệu kiểm tra siêu âm sử dụng hình chiếu
bằng được gọi là C-scan. Trong phương pháp này, đầu dò quét đều trên khắp
khu vực kiểm tra thường sử dụng thiết bị định vị cơ học tự động. Tín hiệu thu
được được chuyển qua sự thay đổi màu hoặc mật độ thang đo xám.
- Được tạo từ dữ liệu A-scan, hình chiếu bằng của chi tiết kiểm tra được tạo ra
sử dụng chỉ tiêu tín hiệu dựa trên chiều cao xung và thời gian xung để xác định
màu và mật độ thang xám ở mỗi vị trí.
- Hình dạng thu được liên quan với kích cỡ và hình dạng của bề mặt phảnxạ
trong chi tiết kiểm tra và giải đoán dễ dàng bằng trực giác.
3.2. Điện tử thiết bị xung phản xạ
- Thiết bị xung phản xạ có mạch điện tử tương tự và cung cấp các chức năng
thông thường cơ bản, tên của các mạch thay đổi từ thiết bị phải cung cấp yếu tố
cần thiết tùy thuộc vào nhà chế tạo tuy nhiên mỗi thiết bị phải cung cấp các yếu
tố cần thiết cụ thể.
3.2.1. Cung cấp nguồn

- Thường điều khiển bằng công tắc tắt/mở và cầu chì, sau khi bật nguồn một vài
thiết bị có thể bị trễ một khoảng thời gian nhất định, nguồn điện được cung cấp
từ lưới điện hoặc từ pin với các thiết bị xách tay.
3.2.3. Bộ thu/phát
- Bộ thu phát là nguồn của nhóm tín hiệu ngắn năng lượng cao của năng lượng
điện áp dụng vào đầu dò, xung trở về từ chi tiết kiểm tra được thu bởi đầu dò,
gửi tới bộ khuếch đại và gửi tới bộ hiển thị.

3.2.2. Đầu dò
- Đầu dò là thiết bị chuyển đổi năng lượng từ dạng này sang dạng khác, đầu dò
siêu âm bao gồm đĩa áp điện mỏng, đôi khi được gọi là biến tử hoặc tinh thể và
giá đỡ của nó, đĩa đó chuyển đổi năng lượng điện sang sóng âm và đưa dao động
vào chi tiết kiểm tra, nó cũng thu nhận dao động âm phản xạ trong chi tiết kiểm
tra và chuyển đổichúng thành tín hiệu điện cho khuếch đại và hiển thị.
Hình 2.9 Một số đầu dò
3.2.4. Bộ phận hiển thị và định thời gian

- Thiết bị định giờ là nguồn của tất cả những tín hiệu nhịp độ phát xung, và đôi
khi dược gọi là bộ tạo nhịp.
3.3. Các chức năng điều khiển
- Bộ điều khiển được cung cấp các mạch khác nhau của thiết bị như cung cấp
nguồn, bộ phát/xung, bộ định thời và hiển thị.
- Điều khiển khuếch đại: điều chỉnh lượng khuếch đại tín hiệu trở về từ đầu dò
trước khi hiển thị trên màn hình.
- Điều khiển dạng đầu dò: Bộ chuyển đổi xác định nếu thiết bị sẽ điều khiển và
hiển thị hoạt động của một hay hai đầu dò, khi chuyển chế độ một đầu dò, thiết
bị sẽ phát và thu nhóm tín hiệu năng lượng điện ngắn qua cáp đồng trục vào đầu
dò đơn. Khi chuyển chế độ kép, thiết bị phát tín hiệu ở một đầu thu tín hiệu ở
một đầu.
- Điều khiển dải thô, dải tinh và trễ:

+ Cung cấp phương tiện tác động lên màn hình để điều chỉnh hiển thị theo trục
ngang thường biểu diễn thời gian, quãng đường, …
+ Điều khiển dải thô, tinh: Cho phép thực hiện một phần cơ bản của quá trình
chuẩn hóa.
- Thiết bị bàn phím: Cho phép điều chỉnh tất cả các chức năng cần thiết cho
chuẩn hóa thiết bị để chuẩn bị cho kiểm tra thực tế.
- Điều khiển On/Off: Cho phép hoặc dừng nguồn vào các thiết bị.
- Hiển thị Display/Status: Cho phép chuyển đổi giữa các dạng hiển thị trên màn
hình.
- Điều khiển Gian: Điều khiển khuếch đại.
- Điều khiển Reject: Loại bỏ các tín hiệu A-scan không mong muốn.
- Điều khiển Zero Ofset: Bù cho sự trễ trong truyền âm lien quan đến đầu dò,
cáp và chất tiếp âm.
- Điều khiển Range: Thiết lập dải màn hình A-scan có thể nhìn thấy.
- Điều khiển Velocity: Điều chỉnh thiết lập thiết bị để phù hợp với vận tốc âm
trong chi tiết kiểm tra.
- Điều khiển chỉnh lưu: Điều chỉnh dạng sóng hiển thị trên màn hình giữa 4 loại
gồm chỉnh lưu cả sóng, chỉnh lưu nửa (+), chỉnh lưu nửa (-), dạng sóng radio.
- Điều khiển sự chấn âm: Tối ưu hình dạng sóng cho phép đo đọ phân giải cao
và cho sự lựa chọn đầu dò cụ thể.
- Điều khiển tần số : Cho phép lựa chọn thiết lập tần số sao cho tạo ra sự biểu
diễn màn hình như mong muốn cho đầu dò cụ thể được chọn trong kiểm tra đó.
- Ngoài ra, các điều khiển khác có thể bao gồm trên thiết bị, tùy thuộc vào yêu
cầu của bên mua cho những đặc tính bổ xung, những đặc tính như vậy bao gồm:
hiệu chỉnh biên độ khoảng cách(DAC), cảnh báo được đặt ngưỡng,…

CHƯƠNG 4: HOẠT ĐỘNG VÀ LÝ THUYẾT CỦA ĐẦU ĐÒ

4.1 Giới thiệu
- Trong kiểm tra siêu âm, cảm biến chủ yếu của hệ thống là đầu dò. Đầu dò là sự
kết hợp của nhiều bộ phận, nó thực hiện nhiều chức năng, tất cả đều tập trung
xung quanh biến tử áp diện và hoạt động mà nó thực hiện.
Hình 2.10 Bộ phận của đầu dò
4.1.1 Hiệu ứng áp điện

- Tính áp điện piezoelectricity là tính chất của vật liệu tinh thể gồm tinh thể tự
hiên của muối thạch anh, muối rochelle và toumaline, gốm gia công.
- Khi áp lực cơ học tác dụng vào một trong những vật liệu đó, cấu trúc tinh thể
này tạo ra điện áp tỉ lệ với áp lực đó, khi điện trường tác động thì cấu rúc của nó
thay đổi hình dạng.
- Để tạo chùm siêu âm, một bộ phận của thiết bị siêu âm, được gọi là bộ phát
xung, áp dụng xung điện tần số cao qua cáp đồng trục tới tinh thể áp điện chứa
trong đầu dò.
4.1.2 Vật liệu đầu dò
- Vật liệu áp điện thường được sử dụng từ những năm 1930 đến 1980 là thạch
anh, gốm phân cực, barium và litithum sulfate, trong đó litithum sulfate là vật

liệu tốt nhất. Ngày nay tinh thể trong cảm biến thông thường nhất gồm barium
titance, metaniobate chì và zirconate titance chì.
- Cấu trúc, hình dạng và kích thước của phần tử gốm ngày nay có thể điều chỉnh
để thỏa mãn những yêu cầu cho mục đích xác định. Gốm được chế tạo từ
zirconate chì, titance chì biểu thị độ nhạy cao hơn và nhiệt độ hoạt động cao hơn
so với gốm cấu trúc khác.
4.1.3 Tần số
- Tần số đầu dò là yếu tố xác định sử dụng của nó, tùy thuộc vào vật liệu kích
thước,… mà sử dụng đầu dò có tần số thích hợp.
- Phần lớn kiểm tra siêu âm sử dụng tần số giữa 0,2 va 25 Mhz,với kiểm tra tiếp
xúc giới hạn 10 Mhz.
- Những tiêu chí lựa chọn đầu dò:
+ Tấn số của đầu dò càng cao, chùm âm càng thẳng, độ nhạy và độ phân giải
lớn hơn nhưng suy giảm lớn và khả năng xuống sâu kém.
+ Tần số càng thấp xuống càng sâu và ít suy giảm nhưng độ nhạy và phân giải
thấp.
+ Ở bất cứ tần số nào,đầu dò càng lớn,chùm tia càng thẳng nhưng độ nhạy ít
hơn.
+ Khi kiểm tra vật liệu đúc cấu trúc thô yêu cầu tần số không cao dưới 2,25
Mhz là đủ, với gỗ và bê tông tần số thấp hơn nữa.

4.1.4 Các loại đầu dò
Hinh 2.11 Đầu dò dạng chổi quét sơn.
Hình 2.12 Đầu dò kép.
Hình 2.13 Đầu dò bánh xe.

CHƯƠNG 5: CÁC PHƯƠNG PHÁP KIỂM TRA SIÊU ÂM

5.1. Kiểm tra tiếp xúc
Thực hiện với một trong hai kỹ thuật cơ bản: kiểm tra tiếp xúc và kiểm tra
nhúng. Trong kiểm tra tiếp xúc, đầu dò tiếp xúc trực tiếp với chi tiết kiểm tra.
Hiển thị từ đầu dò tiếp xúc thường biểu diễn xung phát ban đầu và phản xạ từ
mặt trước như trùng nhau hoặc rất gần nhau. Có 4 kỹ thuật cơ bản:
5.1.1 Kỹ thuật sóng dọc

Thực hiện bằng cách phát chùm âm vuông góc với bề mặt của chi tiết kiểm tra
để thu được xung phản xạ từ bề mặt đáy hoặc từ các bất liên tục nằm giữa hai bề
mặt.
5.1.2. Kỹ thuật xung vọng
- Có thể sử dụng đầu dò đơn hay đầu dò kép. Đầu dò đơn hoạt động cả hai chức
năng phát và thu, phát ra chùm xung sóng dọc vào chi tiết kiểm tra và thu phản
xạ từ bề mặt đáy và từ các bất liên tục nào nằm trên đường chùm âm. Đầu dò
kép hữu dụng khi kiểm tra vật liệu có bề dày mỏng, hình dạng không đều, thô
ráp, một đầu dò phát một đầu dò thu
Hình 2.14 Đầu dò sóng dọc

5.1.3. Kỹ thuật truyền qua
- hai đầu dò hai bên, một đầu thu một đầu phát. Đầu phát phát tín hiệu qua vật
liệu đến đầu thu ở bên kia vật liệu, bất cứ bất liên tục nào sẽ làm suy giảm tín
hiệu đến đầu thu bên kia.
Hình 2.15 Kỹ thuật truyền qua
5.1.4. Kỹ thuật truyền chùm tia góc
Sóng âm được truyền vào chi tiết kiểm tra theo một góc xác định trước vào bề
mặt kiểm tra.
5.1.5. Kỹ thuật sóng bề mặt
Thường được sử dụng để kiểm tra vật liệu mối hàn, đường ống, dạng tấm và
cho chi tiết kiểm tra có dạng không đều mà đầu dò chùm tai thẳng không có khả
năng tiếp xúc tất cả các bề mặt.
Sử dụng sóng bề mặt chỉ lan truyền trên hoặc gần bề mặt của vật liệu rắn. để tạo
ra sóng này cần sử dụng thêm đầu dò plastic.

5.2. Kiểm tra nhúng
Trong kiểm tra nhúng, đầu dò chịu nước được sử dụng ở một khoảng cách nào
đó từ chi tiết kiểm tra, và chùm tia siêu âm được lan truyền vào vật liệu qua
đường hoặc cột nước.
Hình 2.16 Các thiết bị trong kiểm tra nhúng
5.2.1. Kỹ thuật nhúng tiêu chuẩn
Trong kỹ thuật này, cả hai đầu dò đều nằm trong nước. chùm âm được dẫn qua
nước vào vật liệu, sử dụng hoặc là sóng dọc hoặc là sóng trượt. trong nhiều hoạt
động quét tự động, chùm âm hội tụ được sử dụng để phát hiện bất liên tục gần
bề mặt hoặc để xác định những bất kiên tục nhỏ với chùm âm tập trung.
Trong kiểm tra nhúng, đầu dò sóng dọc được sử dụng để sử dụng kiểm tra sóng
dọc và sóng trượt cho chi tiết kiểm tra ngâm trong đó. Góc vào của sóng siêu âm
được điều chỉnh để kiểm tra toàn diện cho hướng của bất liên tục được tiên đoán
trước.
5.2.2. Kỹ thuật dò bánh xe
Biến thể của phương pháp nhúng trong đó chùm âm được phát ra qua một lốp
chứa đầy nước vào chi tiết kiểm tra. Đầu dò gắn ở trục bánh xe, được giữ cố
định trong khi bánh xe và lốp quay tự do.

PHẦN 3: SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA PHASED ARRAY

CHƯƠNG 1: PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA
1.1 Giới thiệu về phương pháp siêu âm mảng điều pha
Kỹ thuật Phased Array cho phép người sử dụng điều khiển các tham số chẳng
hạn như góc chùm tia siêu âm và khoảng cách tiêu cự để tạo ra ảnh của phần tử
kiểm tra, nâng cao khả năng dò khuyết tật và tăng tốc độ kiểm tra, thêm nữa, với
việc sử dụng công nghệ máy tính tiên tiến, dữ liệu có thể được ghi lưu trữ lâu
dài cho quá trình xử lý và tạo báo cáo, thiết kế chắc chắn của veo, giao diện
người dùng thân thiện và trợ giúp trực tuyến đã mang sức mạnh của kỹ thuật
Phased Array cho kỹ thuật viên hiện trường, các ứng dụng điển hình gồm: kiểm
tra mối hàn, biểu đồ hóa sự gặm mòn, kiểm tra trong lĩnh vực hàng không và
kiểm tra vật liệu hỗn hợp composite.
Hình 3.1. Máy dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha - Phased Array.
1.2 So sánh siêu âm mảng điều pha với siêu âm truyền thống
- Phương pháp truyền thống:
+ Đầu dò chỉ có một biến tử và biến tử chỉ phát tia siêu âm theo hướng xác
định, sau đó dựa trên giá trị năng lượng phản xạ để đánh giá độ đồng nhất của
vật liệu, hình dạng, cũng như vị trí khuyết tật trong vật liệu. để phát hiện khuyết
tật, đầu dò phải di chuyển sao cho tia siêu âm chạm vào khuyết tật, chọn góc sao
cho tia phản xạ từ khuyết tật phản xạ lại phải có năng lượng đủ lớn.
+ Các tín hiệu hiển thị ở dạng xung lên,khó giải đoán kể cả với người có kiến
thức về phương pháp siêu âm, phương pháp phụ thuộc lớn vào trình độ và kinh
nghiệm của kỹ thuật viên.

- Phương pháp siêu âm mảng điều pha:
+ Đầu dò có từ 16 đến 256 biến tử riêng biệt, có thể phát riêng biệt các xung,
như một đầu dò truyền thống, các biến tử được kích hoạt độc lập với nhau thông
qua phần mềm đã được cài sẵn trong thiết bị.
+ Hiển thị dưới nhiều dạng khác nhau như: A-scan, B-scan, C-scan,… tức là có
thể hiển thị dưới dạng những mặt cắt khác nhau đi qua khuyết tật. Ngoài ra, một
số thiết bị trang bị các phần mềm có thể hiển thị hình ảnh dưới dạng hình chiếu
đứng, bằng, cạnh như trong vẽ kĩ thuật thông thường, các phần mềm này có thể
hoạt động một cách tự động nên không phụ thuộc nhiều vào trình độ của người
kĩ thuật viên. Toàn bộ thông tin và hình ảnh của khuyết tật xuất ra dưới dạng pdf
lên không thể can thiệp vào tình hình của khuyết tật vật mẫu được.
1.3. Ứng dụng
- Kiểm tra khuyết tật đường hàn.
Hình 3.2 Nhân viên đang kiểm tra mối hàn
- Dò khuyết tật chi tiết đúc, chi tiết gia công.
- Kiểm tra ăn mòn đường ống, bồn áp lực.

CHƯƠNG 2: NGUYÊN LÍ VÀ NHỮNG ĐẶC TÍNH CỦA MÁY
Trong chương này ta sẽ tìm hiểu về thiết bị cụ thể là thiết bị siêu âm mảng điều
phased array- sonatest VEO. VEO là sản phẩm được sản xuất theo hướng kỹ
thuật mới hiện đại của hãng Sonatest mang đến một sản phẩm có tính năng tiên
tiến, đặc tính cao cấp, điều khiển dễ dàng,….
Hình 3.3 Sonatest VEO - Máy dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha -
Phased Array
2.1 nguyên lí hoạt động của máy
- Siêu âm mảng điều pha sử dụng đầu dò tổ hợp pha có từ 16 đến 256 biến tử
riêng biệt, mỗi biến tử có thể tạo xung riêng rẽ. Chúng có thể được sắp xếp theo
vòng tròn, dải hay hình dạng phức tạp. Các đầu dò này có thể thiết kế cho sử
dụng trực tiếp hay kết hợp với phần mềm máy tính tạo ra đầu dò góc hoặc cũng
có thể sử dụng cho kỹ thuật nhúng với sóng âm truyền qua nước tới chi tiết kiểm
tra. Tần số đầu dò thường nằm trong khoảng 2MHz đến 10MHz . Tổ hợp đầu dò
gồm nhiều máy tính tinh vi có khả năng điều khiển đầu dò đa biến tử, thu nhận
và số hóa xung rồi quay lại biểu diễn trên các chuẩn khác nhau. Hệ thống tổ hợp
pha có thể quét chùm tia dưới dạng khúc xạ hoặc theo dọc thẳng, hoặc hội tụ ở
những độ sâu khác nhau, do đó tăng tính linh hoạt và thiết lập trong kiểm tra.

Hình 3.4 Nguyên lí hoạt động của tổ hợp biến tử đầu dò.
- Hệ thống tổ hợp pha sử dụng các nguyên tắc vật lí để tạo pha, thay đổi thời
gian phát xung giữa các xung siêu âm từ các phần tử theo cách sao cho từng mặt
sóng tạo bởi mỗi từng biến tử của dãy kết hợp với nhau để tăng thêm hay triệt
tiêu năng lượng theo chiều có thể dự đoán để hướng và tạo hình dạng cho tia
một cách hiệu quả. Nó được thực hiện bởi các dao động của biến đầu dò ở
những khoảng thời gian khác nhau chút ít. Thường các biến tử dao động theo
nhóm từ 4 đến 32 để tăng độ nhạy một cách hiệu quả bằng cách giảm độ mở của
chùm tia không mong muốn và hội tụ sắc nét hơn. Phần mềm sử dụng các định
luật về hội tụ để thiết lập thời gian trễ phát xung cho từng nhóm biến tử nhằm
tạo ra chùm tia có hình dạng như mong muốn phù hợp với khả năng của đầu dò,
đặc tính của phần mềm cũng như kích thước hình học và tính chất của vật liệu
kiểm tra.Chuỗi xung được lập trình chọn bởi phần mềm hoạt động của thiết bị
sau đó từng sóng âm được đưa vào vật liệu kiểm tra. Những sóng âm đó sẽ kết
hợp với nhau tăng thêm hoặc triệt tiêu để tạo thành một sóng đơn sơ cấp truyền
qua vật liệu kiểm tra và phản xạ lại từ các vết nứt, bất liên tục, mặt đáy và các
mặt phân cách khác như sóng siêu âm thông thường chùm tia có thể hướng theo
các góc, tiêu cự, kích thước tiêu điểm khác nhau theo cách mà chùm đầu dò đơn
có khả năng kiểm tra vật liệu phối cảnh khác nhau. Sự hướng chùm tia xảy ra rất
nhanh nên quét với nhiều góc độ sâu hội tụ khác nhau có thể thực trong một
phần nhỏ của giây. Xung phản xạ lại được thu bởi các biến tử khác nhau hoặc
nhóm các biến tử và thời gian được thay đổi cần thiết cho sự thay đổi của phần
trễ sau đó tổng hợp lại. Không giống những đầu dò biến tử thông thường hợp
nhất các thành phần chùm tia đập vào biến tử, đầu dò tổ hợp pha có thể chọn
những sóng âm phản xạ về theo thời gian và biên độ tại mỗi biến tử khi phần
mềm của thiết bị đã xử lí, thông tin sẽ được hiển thị bất cứ dạng nào.

2.2 Sử dụng đơn giản
Hệ menu tương tác ứng dụng và thao tác làm việc, với việc thiết đặt và thao tác
trở nên nhanh chóng. Các tính năng Trợ giúp và Đồ thuật được tích hợp hướng
dẫn người sử dụng thiết lập tác vụ dò quét và các gợi ý hướng dẫn nhằm đảm
bảo veo luôn vận hành ở mức độ cao nhất. Giao diện mô hình quét 3D Scanplan
giúp quan sát tức thời cho các cấu hình thiết lập và sự truyền sóng siêu âm trong
vật liệu, kể trong các ứng dụng sử dụng nhiều đầu dò quét phức tạp.
Các đồ thuật thiết đặt các tham số tốc độ âm, trễ nêm đầu dò, TCG, DAC,
TOFD nhanh và hiệu quả và hiệu chuẩn bộ mã hóa được cung cấp như là tiêu
chuẩn. Trạng thái hiệu chuẩn được chỉ thị rõ trên màn hình thông quá hệ đèn
hiệu đơn giản, để người vận hành có thể chắc chắn rằng veo đã được hiệu chuẩn
cho tác vụ kiểm tra khuyết tật.
Menu duyệt sử dụng bánh xe cuộn thế hệ thứ hai của Sonatest giúp chọn nhanh
các tham số, các phím tắt truy cập đến các chức năng và ký tự sử dụng thường
xuyên. Các phím Start, Stop và Record quen thuộc cho phép chuyển nhanh
chóng giữa chế độ thiết đặt, thu thập dữ liệu và chế độ ghi.
2.3. Khả năng của máy
Thiết bị VEO mạnh mẽ phá cách một cấp độ tính năng mới trong một thiết bị
cầm tay, tối đa hóa hiệu suất làm việc tại hiện trường. Bản đồ kiểm tra
(Inspection Plan) biểu diễn theo ảnh 2D và 3D ở đó, các đầu dò được định vị
trên vật kiểm tra, đơn giản hóa thiết đặt kiểm tra và là ảnh tham chiếu cho bản
báo cáo kết quả. Tất cả các điều chỉnh tới luật tiêu cự là tức thời, với độ phân
giải góc tới 0.1o và lên tới 1024 luật tiêu cự mà không làm mất đi tính năng. Đa
kỹ thuật quét từ các đầu dò khác nhau có thể được hiển thị và đánh giá tại cùng
một thời điểm. Quan sát đa dò quét hình quạt, dò quét trên, dò quét cạnh và dò
quét đáy, cộng với C-Scan là được hỗ trợ bởi veo. Kiểm tra TOFD và Phased
Array có thể được thực hiện theo kỹ thuật tandem và với file dữ liệu đến 2GB
cho phép kiểm tra cho hiệu quả các chi tiết lớn. Dữ liệu dạng sóng được lưu
trựctiếp tới thẻ nhớ USB và dễ dàng cho sao lưu và truyền tới máy tính PC.
- Nhiều kỹ thuật quét (Multi Scans)
VEO - Có thể được cài đặt cấu hình để hiển thị nhiều ảnh quét trên màn hình.
Điều này cho phép người dùng lựa chọn quan sát các ảnh quét quan trọng cho
kiểm tra khai tác tối đa các ưu việt của màn hình. Các ảnh quét hình quạt, ảnh
quét trên, ảnh quét cạnh và ảnh quét đáy có thể được kết hợp lại với nhiều ảnh

A-Scan và TOFD. Con trỏ và thước đo được sử dụng để nhận biết khuyết tật
trong các ảnh quét, còn các công cụ đo cung cấp thông tin về đến kích thước
khuyết tật và các chú thích.
- Tin cậy
VEO - Được Thiết kế chắc chắn và có độ tin cậy cao là các đặc tính thiết yếu
yêu cầu trong lĩnh vực NDT. Thời gian dừng máy sẽ tổn hao chi phí và cần được
giảm thiểu để đảm bảo hiệu suất sử dụng tối đa.
VEO - Có khung máy cứng bên trong, gắn chống sốc và được bao bọc ngoài bởi
than vỏ bọc hấp thụ va đập và đảm bảo độ kín theo chuẩn IP65. Được thiết kế
với nhiều tính năng để thuận tiện làm việc tại hiện trường, thiết bị veo được lắp
ráp với các khớp đặt camera tiểu chuẩn bên dưới và 4 điểm gá phía sau cho lắp
giá ba chân và các phụ kiện thiết bị khác. Thêm nữa, bốn móc treo ở 4 góc máy
cho phép veo được lắp vào vào dây mang thuận tiện khi thao tác cũng như di
chuyển đồng thời tạo cảm giác thoải mái khi dò quét khuyết tật. veo hoạt động
bằng hai pin cho phép chuyển đổi nhanh, do đó, giảm thiểu được thời gian dừng
máy và nâng cao độ tin cậy tính năng máy tại hiện trường.

CHƯƠNG 3: THÔNG SỐ KỸ THUẬT CỦA MÁY
3.1 Bộ phát xung
- Cấu hình: 16:64 (16 kênh phát/thu; điều khiển lên tới 64 biến tử)
- Chế độ kiểm tra: Phản xạ và truyền qua
- Cổng cắm đầu dò: I-PEX
- Điện thế xung phát: -50 đến -150 V (theo bước 10V)
- Dạng xung: Xung âm dạng vuông (với ActiveEdge)
- Độ rộng xung: 10 ns tới 500 ns
- Thời gian Edge: <10ns trong tải 50 Ohm
- Trở kháng đầu ra: <16 Ohm
- Đồng bộ hóa bộ ghi: Mã hóa vị trí hoặc tự do (theo cơ sở thời gian)
- Dải trễ hội tụ Tx/Rx: 0 – 10 µs (độ phân giải 2.5 ns)
3.2 Bộ thu
- Dải tăng âm: 0 – 80 dB, bước chỉnh 0.5 dB
- Trở kháng đầu vào: 50 Ohm
- Dải tần: 300 KHz – 30 MHz (-3dB)
- Thu nhận số liệu
- Cấu trúc: Cấu trúc trễ và tổng đầy đủ
- Tốc độ lấy mẫu: 50/100 MSPS
- Độ phân giải ADC: 12 bit/mẫu
- Độ rộng mẫu dữ liệu: 16 bit/mẫu
- Ghi dữ liệu: Các dữ liệu thô được lưu đầy đủ
- Chiều dài A-Scan tối đa: 8192 mẫu (32 m trong thép LW, tốc độ lấy mẫu 50
MSPS, lấy mẫu phụ 1:128)
- Tần số xung lặp lại tối đa: 20 KHz

- Số lượng luật hội tụ: Lên tới 1024
- Kiểu hội tụ: Hội tụ theo độ sâu không đổi, theo đường truyền âm không đổi, độ
lệch dọc không đổi
- Xử lý: Làm nhẵn, trung bình, chia tỷ lệ, giữ cực đại
- Bộ lọc: Đa băng tần dải hẹp và dải rộng
- Lấy mẫu phụ: 1:1 tới 1:128
- Chỉnh lưu: RF, toàn sóng, nửa sóng dương, nửa sóng âm
- Đồng bộ hóa: Được tham chiếu trên xung ban đầu hoặc cổng, hỗ trợ IFT
- Chế độ quét: Đa phép quét S/L-Scan và 01 ToFD
3.3 Quét và hiển thị
- Các phép quét hỗ trợ: S-Scan và L-Scan.
- Hiển thị thời gian thực: S, L, B, C-Scan, Top và End-View.
- Bảng màu hiển thị: Cầu vồng, thang xám và phổ màu.
 Con trỏ
- Kiểu: Vuông góc theo hệ tọa độ Đề Các, hộp 2D, góc
- Đo: Chiều dài truyền âm, độ sâu, khoảng cách bề mặt, đỉnh góc trong hộp 2D
và hộp góc 2D
 DAC
- Số điểm: 16
- Số lượng đường DAC: 1 với 3 đường cong DAC phụ (trên mỗi luật hội tụ
trong PA)
- Tăng âm hiệu chỉnh theo thời gian TCG
- Số điểm: 16
- Dải tăng âm: 0-60 dB
- Độ dốc tăng âm tối đa: > 50dB/µs

 Cổng
- Cổng A-Scan: 4 cổng trong A-scan (3 A-Scan được trích ra từ S/L-Scan)
- Kích hoạt cổng: Sườn/đỉnh xung S/L-Scan: 2 “cổng 2D” trong mỗi S/L-Scan
- Đèn LED cảnh báo: 1 (đồng bộ hóa trên tất cả các cổng và DAC)
- Tính năng đo trong hiển thị A-Scan: đỉnh xung, sườn xung, phản hồi tới phản
hồi
3.4 Thông số chung
 Bộ lưu dữ liệu
- Bên trong: 6GB (tiêu chuẩn)
- Bên ngoài: USB 8GB có thể rút nóng (tiêu chuẩn)
- Chỉ bị giới hạn bởi khả năng của khóa USB
- Tốc độ truyền: Tới USB lên tới 23MB/giây ở chế độ ghi, 27MB/giây ở chế độ
đọc
- Kích thước têp dữ liệu: 2GB (hệ thống tệp FAT32)
- Tốc độ quét điển hình: 10 đến 15 cm/giây
- Chiều dài quét điển hình: >10m
 Màn hiển thị
- Kích thước: 25.9 cm (10.2 inch) màn hình rộng
- Độ phân giải: 1024 x 600 pixel
- Màu: 250K (65535 màu cho bảng màu quét)
- Kiểu màn hình: TFT LCD
- Các cổng I/O
- Các cổng USB: 3 cổng USB (480 Mbps)
- Ethernet: Gbit Ethernet (1000 Mbps)
- Đầu ra Video: VGA tương tự (1024 x 600) I/O

- Mã hóa vị trí: Mã hóa 1 hoặc 2 trục vuông góc (kết nối LEMO)
- Đầu dây đơn và đầu vào vi sai.
- Pin và nguồn nuôi
+ Kiểu pin: Pin Li-Ion thông minh
+ Số lượng pin: 02
+ Hoạt động: 1 hoặc 2 pin, nguồn DC
+ Thay pin: Có thể trao đổi nóng – không yêu cầu dụng cụ hỗ trợ
+ Sạc pin: Sạc pin ở trong thiết bị, đang hoạt động hoặc không
+ Thời gian hoạt động: Liên tục trong 6+ giờ (hoạt động điển hình)
 Thông số khác
- Kích thước: Cao 220 mm x Rộng 335 mm x Dày 115 mm (8.66 in x 13.19 in x
4.52 in)
- Trọng lượng: 5.28 kg (11.6 lb) với 01 pin; 5.75 kg (12.6 lb) với 02 pin
- Nhiệt độ hoạt động: -10 ºC - +40 ºC (14 ºF – 104 ºF)
- Nhiệt độ cất giữ: -25 ºC - +70 ºC (-13 ºF – 158 ºF)
- Độ ẩm tương đối: 5 – 95 % RH
- Cấp bảo vệ môi trường: Đạt IP 65
- Bảo hành: 01 năm
- Tiêu chuẩn hiệu chuẩn: EN 12668
3.5 Các tiêu chuẩn kiểm tra được hỗ trợ/ và công nhận
- ASME Code Case 2235-9 Use of Ultrasonic Examination in Lieu of

Radiography
- ASME Code Case 2541 Use of Manual Phased Array Ultrasonic Examination
Section V ASME
- ASTM E2491 Standard Guide for Evaluating Performance Characteristics of

Phased-Array Ultrasonic Examination Instruments and Systems

- ASTM E2700 Standard Practice for Contact Ultrasonic Testing of Welds

Using Phased Array
- CEN EN 583-6 - Nondestructive testing - Ultrasonic examination - Part 6 -

TOFD as a Method for Defect Detection and Sizing
- BSI BS7706 - Guide to Calibration and Setting-Up of the Ultrasonic TOFD

Technique for the Detection, Location, and Sizing of Flaws
 Bộ veo tiêu chuẩn gồm có
- Thiết bị chính VEO 16:64, VEO 16:128
- Chứng chỉ hiệu chuẩn
- Khóa truy xuất sử dụng UT Studio Single
- USB Memory Stick (8GB)
- 02 pin Lithium-Ion
- Hướng dẫn sử dụng Anh/Việt
- Tấm bảo vệ màn hình chống lóa
- Va li vận chuyển.

CHƯƠNG 4: BỘ TIÊU CHUẨN CHO KIỂM TRA SIÊU ÂM

Ta sẽ sử dụng chuẩn ASME của hoa kì để đánh giá quá trình và kết quả của
việc kiểm tra bằng phương pháp siêu âm đối với mối hàn.
4.1. Giới thiệu về ASME
- ASME là viết tắt của cụm từ “AMERICAN SOCIETY OF MECHANICAL

ENGINEERS” (Hiệp hội kỹ sư cơ khí của Mỹ): Bao gồm các quy định quản lý
việc: thiết kế, chế tạo, kiểm tra lò hơi và bình, bồn chịu áp lực, nhằm kiểm soát
chất lượng thiết bị và đảm bảo an toàn cho người sử dụng.
4.2. Quy trình của tiêu chuẩn
Điều 1phạm vi
Cần tham khảo thêm các yêu cầu:
- Trình độ/chứng chỉ
- Đánh giá,trình diễn,chấp nhận quy trình
- Đặc trưng hệ thống
- Lưu trữ, kiểm soát khối chuẩn
- Phạm vi kiểm tra
- Tiêu chuẩn chấp nhận
- Lưu trữ hồ sơ .
Điều 2- quy trình

- Kiểm tra phải tiến hành theo quy trình văn bản, với các nội dung ít nhất như
bảng 1
- Nội dung/thông số chủ yếu và không chủ yếu
- Nội dung chủ yếu thay đổi thì quy trình
cần được xem xét đánh giá lại

Bảng 1 Bảng yêu cầu kiểm tra với phương pháp siêu âm.
Điều 3-Thiết bị-máy siêu âm

- Máy siêu âm xung dội,tấn số hoạt động ít
nhất từ 1 đến 5 MHz, có bậc thay đổi Gain là
2dB hoặc ít hơn
- Vị trí phím điều chỉnh Reject nên để OFF
Có chế độ hoạt động một hoặc hai đầu dò
- Đầu dò nên 1 đến 5 MHz trừ khi cần thay đổi do khả năng xuyên hoặc độ phân
giải yêucầu
-Chất tiếp âm không được gây hại cho vật liệu kiểm tra
- Kiểm tra hợp kim gốc Nickel, hàm lượng lưu huỳnh phải không lớn hơn
250ppm
-Kiểm tra thép không rỉ hoặc titan, hàm
lượng clo và flo phải không lớn hơn 250ppm
Điều 3-Thiết bị - Khối chuẩn
- Sử dụng lỗ khoan sườn, đáy bằng,rãnh khắc…để xây dựng mức đối chứng ban

đầu
- Vật liệu đồng cấp, không tách lớp đáng kể, xử lý nhiệt đồng cấp và loại
có thể hàn đắp giống vật liệu kiểm tra bề mặt tương đương.
Điều 3-Thiết bị - Khối chuẩn
- Vật liệu phẳng dùng khối chuẩn phẳng
- Vật liệu kiểm tra cong (không phải ống) có đường kính lớn hơn 20” : dùng
khối phẳng
- Đường kính vật liệu bằng 0.9 đến 1.5 lần đường kính khối chuẩn sử dụng
vật liệu ống dùng khối chuẩn ống
Hình 3.5 Yêu cầu với khối chuẩn phẳng.
- Khối chuẩn ống

Một phần của ống giống ống kiểm tra. L bằng MAX của (200mm và 8T) chiều
sâu rãnh trong phạm vi 8% và 11% T. Chiều rộng lớn nhất 6mm. Chiều dài nhỏ
nhất 25mm.

Hình 3.5. Khối chuẩn ống.
Điều 4 -Nhận dạng vùng hàn kiểm tra

- Vị trí mối hàn và nhận dạng của chúng phải thể hiện trên bản vẽ mối hàn có
thẻ đóng đấu, không sâu quá 1.2mm
- Mối hàn đánh dấu bằng hệ thống các điểm đối chứng: đường trung tâm, các
đoạn chiều dài dọc theo mối hàn.
- Kỹ thuật
+ Tia thẳng sóng dọc
+ Tia xiên sóng dọc
+ Nhúng hoặc tiếp xúc
+ Các kỹ thuật khác tương đương hoặc độ nhạy tốt hơn có thể dùng: hình ảnh
máy tính, chùm tia tách pha array.
-Vật liệu cấu trúc hạt thô

+ Phải chỉnh sửa quy trình
+ Sử dụng mẫu mô phỏng
+ Đầu dò tia xiên sóng dọc một hoặc hai biến tử.
Điều 5 - Chuẩn
- Độ tuyến tính dọc theo Appendix I
- Độ tuyến tính phím điều khiển biên độ theo Appendix II.
- Tần suất 03 tháng một lần cho hai nội dung trên chuẩn cho toàn bộ hệ thống
UT và phạm vi chiều dày kiểm tra bề mặt, chất tiếp âm, nêm, tiếp hợp,các phím
Reject, filter, damping…khi chuẩn,kiểm tra chuẩn, kiểm tra giống nhau.
- Nhiệt độ sai khác giữa khối chuẩn và bề mặt kiểm tra trong 140C.
Hình 3.6 Appendix1. Độ tuyến tính dọc

- Appendix1. Độ tuyến tính dọc
+ Đặt đầu dò lên mẫu chuẩn, thu hai chỉ thị, chỉ thị lớn cao gấp hai lần chỉ thị
bé.
+ Đặt chỉ thị lớn bằng 80% màn hình, điều chỉnh gain chỉ thị lớn từ 100% đến
20% với bước tăng giảm 10%.
+ Đọc chỉ thị nhỏ, biên độ của nó phải bằng 50% chỉ thị lớn ±5% chiều cao màn
hình.
- Appendix 2. Độ tuyến tính phím/núm điều khiển biên độ (gain)

+ Đặt đầu dò lên mẫu chuẩn, thu chỉ thị cực đại từ lỗ 1/2T.
+ Điều chỉnh gain như bảng dưới, chỉ thị phải nằm trong giới hạn qui định.
+ Chiều cao chỉ thị đặt trên màn hình, % Giá trị dB thay đổi Giới hạn biên độ
chỉ thị trên màn hình.
Bảng 2: độ tuyến tính phím/núm điều khiển biên độ.

Điều 6 - Chuẩn
- Chuẩn phạm vi và chuẩn mức đối chứng ban đầu PRL
- Tia xiên : Điểm đầu tiên 80%±5%FSH (PRL)
- Chuẩn cho ống cần ít nhất 03 điểm
- Xác nhận chuẩn phạm vi và độ nhạy khi bất kỳ thành phần nào của hệ thống
thay đổi, kết thúc kiểm tra hoặc đợt kiểm tra mỗi 4 giờ thay người xác nhận
chuẩn, điểm phạm vi thay đổi quá 10% giá trị hoặc 5% FWS% tuỳ theo giá trị
nào lớn hơn: hiệu chỉnh lại, ghi hồ sơ kiểm tra, kiểm tra lại các chỉ thị được ghi
nhận kể từ lần cuối các giá trị chuẩn có giá trị, điểm độ nhạy thay đổi quá 20%
hoặc 2dB thì phải hiệu chỉnh lại, ghi hồ sơ kiểm tra cáo, nếu độ nhạy tăng quá
20%, kiểm tra lại các chỉ thị được ghi nhận kể từ lần cuối các giá trị chuẩn có
giá trị nếu độ nhạy giảm quá 20%, xoá bỏ tất cả kết quả trước, kiểm tra lại toàn
bộ
Điều 7-Kiểm tra
- Độ chồng lắp ít nhất 10% diện tích biến tử có thể vừa di chuyển vừa xoay đầu
dò PRR phải phù hợp tốc độ dò quét không quá 150mm/s mức dò quét phải cao
hơn ít nhất 6dB so với PRL. Bề mặt dò quét phải phù hợp tiếp âm và không gây
nhiễu kiểm tra
- Dò quét bất liên tục dọc trục mối hàn
- Dò quét bất liên tục ngang trục mối hàn
- Mối hàn bị hạn chế: sử dụng thêm tia thẳng
- Mối hàn không tiếp cận được: Phải báo cáo
Điều 8-Đánh giá
- Chỉ thị không liên quan: cấu trúc hạt, hình dạng…
- Chỉ thị tách lớp trong kim loại cơ bản phải báo cáo
- Chỉ thị vượt quá 20% PRL phải khảo sát để đánh giá chấp nhận hay loại bỏ
theo quy phạm áp dụng
Điều 9 HỒ SƠ
- Chỉ thị chấp nhận ghi hồ sơ theo quy phạm áp dụng
- Chỉ thị không chấp nhận phải ghi hồ sơ, gồm loại,vị trí, kích thước.
Hồ sơ - Báo cáo kiểm tra

a. qui trình n. nhận dạng, vị trí mối hàn dò
b. máy siêu âm (số sêri) quét
c. đầu dò (số seri, tần số, kích thước) o. bề mặt dò quét, điều kiện
d. góc tia sử dụng p. bản vẽ, hồ sơ vị trí chỉ thị
e.chất tiếp âm loại bỏ phát hiện, vùng sửa

f. cáp (loại, chiều dài chữa.

g. Thiết bị đặc biệt, nêm,.. q. vùng khó hay không tiếp cận.
h.phần mềm máy tính r. tên, bậc trình độ nhân viên
i. nhận dạng khối chuẩn kiểm tra.
j. mô phỏng. s. ngày, giờ kiểm tra(b đến m có thể
k. mức đối chứng. viết trong hồ sơ riêng).
l. số liệu chuẩn (phản xạ, biên
độ, giá trị đọc khoảng cách)
m. số liệu mô phỏng
Chỉ thị chấp nhận và không chấp nhận
- Chứng chỉ năng lực nhân viên kiểm tra NDT

+ Nhà chế tạo phải chứng nhận nhân viên thực hiện và đánh giá kiểm tra siêu
âm theo qui trình cơ quan chủ quản của họ.
+ ASNT SNT-TC-1A phải được sử dụng như hướng dẫn cho việc xây dựng qui
trình đào tạo và cấp chứng chỉ.
+ Chương trình ACCP hoặc CP189 có thể dùng để thực hiện yêu cầu thi và
trình diễn của SNT-TC-1A
+ Việc cung cấp đào tạo, kinh nghiệm, đánh giá và chứng nhận nhân viên NDE
phải được mô tả trong Hệ thống kiểm soát chất lượng của nhà chế tạo.
- Tiêu chuẩn chấp nhận
+ Chỉ thị vượt 20%PRL phải khảo sát để đánh giá CRACK,LOF,LOP không
chấp nhận
+ Chỉ thị dài biên độ vượt 100%PRL và chiều dài vượt chiều dài giới hạn không
chấp nhận
+ Chiều dài giới hạn
Lgh = 6mm với t ≤ 19mm
Lgh = t/3 với 19mm<t≤57mm
Lgh = 19mm với t>57mm
t là chiều dày mối hàn không tính gia cường được phép
t là chiều dày của phần mỏng hơn của mối hàn đối đầu có hai chiều dày khác
nhau
Mối hàn fillet thấu hoàn toàn phải tính cả chiều dày họng
- Nhà chế tạo:
+ Phải chuẩn bị báo cáo kiểm tra, phải lưu một bản báo cáo cho đến khi Thanh
tra ký xác nhận (hoặc ít nhất 05 năm, PW52).
+ Báo cáo phải có các thông tin như yêu cầu ở trên.
+ Phải lưu hồ sơ khu vực sửa chữa và kết quả kiểm tra lại khu vực này.
+Phải lưu hồ sơ tất cả những chỉ thị các vị trí không phải sửa chữa nhưng có

biên độ vượt quá 50% PRL: vị trí, biên độ, kích thước, độ sâu dưới bề mặt và
loại bất liên tục.
TÀI LIỆU THAM KHẢO
-Tiêu chuẩn ASME, 2007.
-Sách: kiểm tra siêu âm của TS. Nguyễn Trọng My, KS. Nguyễn TRọng Quốc
Khánh.
-Internet: www.google.com, http://mayquangpho.org,

http://cokhicongnghiep.com ,…


Do A N Thie T Ke Sieu Am Ma NG Die U Pha Phased Array

Uploaded by

Document Information

Original Title

Copyright

Available Formats

Share this document

Share or Embed Document

Sharing Options

Did you find this document useful?

Is this content inappropriate?

Copyright:

Available Formats

Do A N Thie T Ke Sieu Am Ma NG Die U Pha Phased Array

Uploaded by

Copyright:

Available Formats

BÁO CÁO ĐỒ ÁN THIẾT KẾ

DANH MỤC HÌNH ẢNH ....................................................................................... 5

LỜI NÓI ĐẦU ......................................................................................................... 7

PHẦN 1: PHƯƠNG PHÁP ĐO KHÔNG PHÁ HỦY ......................................... 8

1.1. Kiểm tra không phá hủy mẫu là gì? ............................................................... 8

1.2. Ưu điểm ............................................................................................................. 8

1.3. Các phương pháp được sử dụng trong NDT ................................................. 9

1.4. Ứng dụng của phương pháp NDT ................................................................ 12

PHẦN 2: PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM ................................................................ 13

CHƯƠNG 1: TỔNG QUAN VỀ PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM ......................... 14

1.1. Giới thiệu về phương pháp siêu âm .............................................................. 14

1.2. Ưu điểm của phương pháp ............................................................................ 14

1.3. Nhược điểm của phương pháp ...................................................................... 14

1.4. Ứng dụng ......................................................................................................... 14

CHƯƠNG 2: CƠ SỞ HOẠT ĐỘNG CỦA PHƯƠNG PHÁP .......................... 15

2.1. Cơ sở của phương pháp ................................................................................. 15

2.2. Những đặc điểm của sóng âm ....................................................................... 15

2.3. Góc tới hạn của khúc xạ ................................................................................ 17

3.1. Thiết bị xung phản xạ .................................................................................... 19

3.1.1. Thiết bị A-scan............................................................................................. 19

3.1.2. Thiết bị B-scan ............................................................................................. 19

3.1.3. Thiết bị C-scan............................................................................................. 20

Lê Văn Được – 20130971 KTHN K58 1

3.2. Điện tử thiết bị xung phản xạ ........................................................................ 20

3.2.1. Cung cấp nguồn ........................................................................................... 20

3.2.3. Bộ thu/phát ................................................................................................... 20

3.2.2. Đầu dò ........................................................................................................... 21

3.2.4. Bộ phận hiển thị và định thời gian.............................................................. 21

3.3. Các chức năng điều khiển.............................................................................. 21

CHƯƠNG 4: HOẠT ĐỘNG VÀ LÝ THUYẾT CỦA ĐẦU ĐÒ ...................... 23

4.1 Giới thiệu .......................................................................................................... 23

4.1.1 Hiệu ứng áp điện ........................................................................................... 23

4.1.2 Vật liệu đầu dò ............................................................................................... 23

4.1.3 Tần số ............................................................................................................. 24

4.1.4 Các loại đầu dò ............................................................................................. 25

CHƯƠNG 5: CÁC PHƯƠNG PHÁP KIỂM TRA SIÊU ÂM .......................... 26

5.1. Kiểm tra tiếp xúc ............................................................................................ 26

5.1.1 Kỹ thuật sóng dọc .......................................................................................... 26

5.1.2. Kỹ thuật xung vọng ...................................................................................... 26

5.1.3. Kỹ thuật truyền qua ...................................................................................... 27

5.1.4. Kỹ thuật truyền chùm tia góc....................................................................... 27

5.1.5. Kỹ thuật sóng bề mặt .................................................................................... 27

5.2. Kiểm tra nhúng............................................................................................... 28

5.2.1. Kỹ thuật nhúng tiêu chuẩn .......................................................................... 28

5.2.2. Kỹ thuật dò bánh xe ..................................................................................... 28

PHẦN 3: SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA PHASED ARRAY ............................ 29

CHƯƠNG 1: PHƯƠNG PHÁP SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA ....................... 29

Lê Văn Được – 20130971 KTHN K58 2

2.2 Sử dụng đơn giản............................................................................................. 33

2.3. Khả năng của máy .......................................................................................... 33

CHƯƠNG 3: THÔNG SỐ KỸ THUẬT CỦA MÁY ......................................... 35

3.1 Bộ phát xung .................................................................................................... 35

3.3 Quét và hiển thị ............................................................................................... 36

3.4 Thông số chung ................................................................................................ 37

4.1. Giới thiệu về ASME ....................................................................................... 40

4.2. Quy trình của tiêu chuẩn ............................................................................... 40

Lê Văn Được – 20130971 KTHN K58 3

DANH MỤC CÁC TỪ VIẾT TẮT

Từ viết tắt Tiếng Anh Tiếng Việt

Lê Văn Được – 20130971 KTHN K58 4

DANH MỤC HÌNH ẢNH

Hình 1.2. Thiết bị siêu âm……………………………………………..……….9

Hình 1.3. Sơ đồ bố trí chiếu chụp……………………………………………...10