Professional Documents
Culture Documents
第14章 半导体器件
第14章 半导体器件
电信学院 范馨燕
电信楼 742 , xyfan@tongji.edu.cn
考核方式:以期末闭卷考试为主,平时成绩为辅:
无杂质 稳定的结构
7 章目录 上一页 下一页 返回 退出
14.1 半导体的导电特性
半导体的导电特性:
热敏性:当环境温度升高时,导电能力显著增强
光敏性:(当受到光照时
可做成温度敏感元件,如热敏电阻
, 导电能力明显变化 )(。
可
做
成各种光敏元件 , 如光敏电阻、光敏二
极
管、光敏晶体管等 ) 。
掺杂性:往纯净的半导体中掺入某些杂质 , 导电能
力明显改变 ( 可做成各种不同用途的半导
体器件,如二极管、晶体管和晶闸管等)
。
8 章目录 上一页 下一页 返回 退出
14.1.1 本征半导体
完全纯净的、晶格完整的半导体,称为本征半导
体。
Si Si
价电子
Si Si
共价健
晶体中原子的排列方式 硅单晶中的共价键结构
共价键中的两个电子,称为价电子。
温度愈高,晶体中产生的自由电子便愈多。
在外电场的作用下 , 空
Si Si 穴吸引相邻原子的价电子来
填补,而在该原子中出现一
个空穴,其结果相当于空穴
Si Si
的运动 ( 相当于正电荷的移
空穴 动)。
价电子
当半导体两端加上外电压时,在半导体中将出现两部分电流
:
(1) 自由电子作定向运动 电子电流
(2) 价电子递补空穴 空穴电流
11 章目录 上一页 下一页 返回 退出
本征半导体的导电机理
自由电子和空穴都称为载流子。
自由电子和空穴成对地产生的同时 , 又不断复
合。在一定温度下,载流子的产生和复合达到动态平
衡,半导体中的载流子便维持一定的数目。
注意:
(1) 本征半导体中的载流子数目极少 , 其导电性能很差 ;
(2) 温度愈高,载流子的数目愈多 , 半导体的导电性
能也就愈好。所以,温度对半导体器件性能影响很大。
浓度差 多子的扩散运动
形成空间电荷区 扩散的结果
使空间电荷区变宽
。 15 章目录 上一页 下一页 返回 退出
14.2.2 PN 结的单向导电性
1. PN 结加正向电压 ( 正向偏置 ) P 接正、 N 接
PN 结变窄 负
--- - - - + + + + + +
--- - - - + + + + + + 内电场
--- - - - + + + + + + 被削弱,多
子的扩散加
P 内电场 N 强 , 形成较
外电场
IF – 大的扩散电
+
流。
U
PN 结加正向电压时, PN 结变窄,正向电流较大
,正向电阻较小, PN 结处于导通状态。
16 章目录 上一页 下一页 返回 退出
2. PN 结加反向电压 ( 反向偏置 )P 接负、 N 接正
- - - - - - + + + + + +
- - - - - - + + + + + +
- - - - - - + + + + + +
P 内电场 N
外电场
– +
U
P型硅
N型硅
用于集成电路制作工艺中。 PN 结结面积
可大可小,用于高频整流和开关电路中。
(d) 符
号 阳极 D 阴极
二极管
P – +N 死区电压 硅管 0.5V
反向电流在
一定电压范围 锗管 0.1V
内保持常数。 反向特性 外加电压大于死区
外加电压大于反向击穿 电压,二极管导通。
电压,二极管被击穿,失
去单向导电性。
22 章目录 上一页 下一页 返回 退出
PN 结加反向电压 ( 反向偏置 ) P 接负、 N 接正
PN 结变宽
- - - - - - + + + + + +
- - - - - - + + + + + +
- - - - - - + + + + + +
P 内电场 N
外电场
IR
– +
U
若二极管是理想的,正向导通时正向管压降为零,反向
截止时二极管相当于断开。
硅 0.6~0.7V
否则,正向管压降 锗 0.2~0.3V
分析方法:将二极管断开,分析二极管两端电位
的高低或所加电压 UD 的正负。
V 阳 = - 6 V V 阴 = - 12 V
V 阳 >V 阴 二极管导通
若忽略管压降,二极管可看作短路, UAB = - 6V
否则, UAB 低于- 6V 一个管压降,为- 6.3 V或- 6.7V
在这里,二极管起钳位作用。
V1 阳 = - 6 V , V2 阳 =0 V , V1 阴 = V2 阴 = - 12 V
UD1 = 6V , UD2 =12V
∵ UD2 >UD1 ∴ D2 优先导通, D1 截止。
若忽略管压降,二极管可看作短路, UAB = 0 V
12
流过 D2 的电流为 ID2 4mA 在这里, D2 起钳位
3 作用, D1 起隔离作用
D1 承受反向电压为- 6 V
。
28 章目录 上一页 下一页 返回 退出
例3 R
: 已知: u 18 sin t V
+ i
+ 二极管是理想的,试画出
D
ui uo
uo 波形。
8V
– –
ui 该电路为正限幅电路
参考点
18V
8V
t
二极管阴极电位为 8 V
ui > 8V ,二极管导通,理想二极管可看作短路 uo = 8V
ui < 8V ,二极管截止,理想二极管可看作开路 uo = ui
29 章目录 上一页 下一页 返回 退出
二极管的应用
二极管的应用广泛。根据二极管的单向导电
性,它可用于整流、检波、限幅、元件保护及在数字
电路中作为开关元件等。
使用注意
实际二极管应考虑其正向压降 ( 硅管 0.6 ~
0.7V ,
锗管 0.2 ~ 0.3V) 。
理想二极管正向压降为零,反向截止。
分析方法:将二极管断开。
若 V 阳 >V 阴,则二极管导通
;
若 V <V ,则二极管截止
30 章目录 上一页 下一页 返回 退出
14.4 稳压二极管
1. 符号和外形图 2. 伏安特性 I
–
+ 稳定电压 UZ
稳压二极管正常
工作时加反向电压。
UZ
O
稳压二极管反向 工作电流 U
击穿后,电流变化很 IZ
大,但其两端电压变 IZ 最大电流
化很小,利用此特性 UZ
IZM
,稳压管在电路中可
起稳压作用。 使用时要加限流电阻
31 章目录 上一页 下一页 返回 退出
稳压二极管
32 章目录 上一页 下一页 返回 退出
3. 主要参数
(1) 稳定电压 UZ
稳压二极管正常工作 ( 反向击穿 ) 时管子
两端的电压。
(2) 稳定电流 IZ 、最大稳定电流 IZM
C C
(a) 平面型 (b) 合金型
常见晶体管的外形图
38 章目录 上一页 下一页 返回 退出
双极型晶体管
39 章目录 上一页 下一页 返回 退出
结构特点:
集电区:
面积最大
集电极
C
基区:最薄,
集电结 掺杂浓度最低
N
基极 B P
B E EN
SiO2保护膜
铟球
P
发射结
N型硅 B N型锗 E 发射区:掺
P型硅 N型硅 发射极
P
杂浓度最高
铟球
C C
40 章目录 上一页 下一页 返回 退出
发射结 集电结 发射结 集电结
+
UBB 晶体管电流放大的实验电路
设 UCC= 6V ,改变可变电阻 RB , 则基极电
流 IB 、集电极电流 IC 和发射极电流 IE 都发生变化
,测量结果如下表所示。
43 章目录 上一页 下一页 返回 退出
晶体管电流测量数据
IB / mA 0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.10
IC / mA <0.001 0.70 1.50 2.30 3.10 3.95
IE / mA <0.001 0.72 1.54 2.36 3.18 4.05
结论 : (1) IE = IB + IC ,符合基尔霍夫定律
(2) IC IB , IC IE
(3) IC IB
把基极电流的微小变化能够引起集电极电流
较大
变化的特性称为晶体管的电流放大作用。
实质 : 用一个微小电流的变化去控制一个较大电
的变化,是 CCCS 器件。
44 章目录 上一页 下一页 返回 退出
(4) 要使晶体管起放大作用,发射结必须正向偏置,
集电结必须反向偏置。
IC IC
C
IB C + IB +
B B T
T UCE + UCE
+
E
UBE UBE E
IE
IE
电流方向和发射结与集电结的极性
(a) NPN 型晶体管; (b) PNP 型晶体管
I C I B (1 ) I C B O I B I C E O
若 IB = 0, 则 IC ICEO集射极穿透电流 , 温度 ICEO
忽 略 I C E O , 有 I C I B ( 常用公
式)
47 章目录 上一页 下一页 返回 退出
14.5.3 特性曲线
晶体管特性曲线即晶体管各电极电压与电流的
关系曲线,是晶体管内部载流子运动的外部表现,反
映了晶体管的性能 , 是分析放大电路的依据。
研究特性曲线的目的:
(1) 直观地分析管子的工作状态。
(2) 合理地选择偏置电路的参数 , 设计性能良好
的电路。
重点讨论应用最广泛的共发射极接法的特性曲线。
20 µA +
1 UBB
IB =0 共发射极电路
0 3 6 9
12 U /V
CE
3DG100 晶体管的输出特性曲线
51 章目录 上一页 下一页 返回 退出
2. 输出特性 I C f (U C E ) I B 常 数
晶体管有三种工作状态,因而输出特性
曲线分为三个工作区。 (1) 放大区
IC/mA 发射结处于正向偏置,
4 100 µA
集电结处于反向偏置,
80µA
3 晶体管工作于放大状态。
放 Q2 60 µA
2.3 IC = IB , 具有恒流特性。
2 Q 40 µA
1.5
大 1 对 NPN 型管:
区 20 µA
1 UBE 约为 0.7V
IB =0 ,
0 3 6 9 12 U /V U > U 。
CE CE BE
3DG100 晶体管的输出特性曲线
52 章目录 上一页 下一页 返回 退出
(2) 截止区
IB = 0 的曲线以下的区域称为截止区。
IC/mA 发射结和集电结均
4 100 µA 处于反向偏置。
80µA IB = 0 时 , IC = ICEO( 很
3
60 µA 小 )
对于硅管 , ICEO < 1A 。
2 40 µA 对于锗管 , ICEO 约为
1
20 µA 几十至几百微安。
IB =0
若忽略 ICEO :
0 3 6 9 12 U /V IC 0, UCE UCC
CE
截止区
53 章目录 上一页 下一页 返回 退出
(3) 饱和
在饱和区, IB IC
区 发射结和集电结均处于正向偏置,晶体管工作于
发射结和集电结均处于正向偏置,
,
饱和状态。
深度饱和时,
IC/mA 硅管 UCES 0.3V
4 100 µA
饱 ,
和 80µA
区 3 锗管 UCES
60 µA 0.1V 。
在模拟放大电路中
2 40 µA IC UCC/RC 。
,
20 µA
1 晶体管工作在放大状
IB =0 态。在数字电路中,
0 3 6 9 12 U /V 晶体管工作在截止或
CE
54
饱和状态。
章目录 上一页 下一页 返回
跳转 退出
当晶体管饱和时, UCE 0 ,发射极与集电
极之间如同一个开关的接通,其间电阻很小;当晶体
管截止时, IC 0 ,发射极与集电极之间如同一个
开关的断开,其间电阻很大,可见,晶体管除了有放
大作用外,还有开关作用。
晶体管三种工作状态时的电压和电流如下图所示。
U CC
IC IC 0 IC
UBC < 0 UBC < 0 UBC > 0 RC
IB + IB = 0 + IB +
+ UCE + UCE UCC + UCE 0
+ + +
UBE > 0 UBE ≤0 UBE > 0
3 80A B 0 .0 4
Q2 60A
2 Q1 由 Q1 和 Q2 点,得
40A
1 20A Δ IC 2 .3 1 .5
IB=0 40
Δ I B 0 .0 6 0 .0 4
0 3 6 9 12 UCE /V
在以后的计算中,一般作近似处理 =
。
58 章目录 上一页 下一页 返回 退出
2. 集 - 基极反向截止电流 ICBO
ICBO ICBO 是由少数载流
A + 子的漂移运动所形成
– + UCC 的电流,受温度的影
响大。
温度 ICBO
3. 集 - 射极反向截止电流 ( 穿透电流 )ICEO
– A +
ICEO 受温度影响大
IB= 0 。温度 ICEO ,所
ICEO +
UCC 以 IC 也相应增加。晶
体管的温度特性较差。
ICUCE = PCM
安全工作区
O
U(BR)CEO UCE
61 章目录 上一页 下一页 返回 退出
基本要求:
1. 掌握二极管的特性曲线及其等效电路;
2. 掌握稳压管的稳压条件。
3. 掌握三极管的结构;
4. 掌握三极管的结构,三极管的输入输出特性,会
进行状态判断。
( a. 掺杂浓度、 b. 温度)有关
2. 在杂质半导体中少子的数量与 b
。
( a. 掺杂浓度、 b. 温度)有关
。3. 当温度升高时,少子的数量 c
( a. 减少、 b. 不变、 c. 增多)
。4. 在外加电压的作用下, P 型半导体中的电流
主要是 b , N 型半导体中的电流主要是 a
。
( a. 电子电流、 b. 空穴电流)