Diferansiyel interferens Kontrast Mikroskobu Faz kontras mikroskobunun iyi bir versiyonudur.

Aralarnda bulunan tek fark k demetinin kullanmdan kaynaklanr. Bir k demeti rnekten geerken dieri ise ktan geemeyen k demetidir, deiik blgelerin farkl younluklar sayesinde krlma indisleri ile farkllklar ortaya koyar ve renkli bir grnt oluumunu salar. [1]

Kontrast arttrlarak 3 Boyutlu etki verilebilir [2]

Nomarski tarafndan gelitirilmi Diferensiyel Interferans Kontrast (DIC) mikroskobu biribirine dik ayla kutuplamtrlm iki nn interferans (Giriimi) prensibine dayanr. *2+

In kondansrnn altna yerletirilen polarizatr ile kutuplatrlr. ki prizmann birbirine yaptrlmasyla oluturulan kalsit tabakasyla Wollaston prizmas ortaya kar ve n bununla birbirine dik ayla ikiye ayrlr. *2+

Analizrden geen nlar oluan ara grntye karr ve kutuplam dalga olduu iin ek bilgi tar. rnekten iki n demeti geer ve objektife iki grnt halinde girer.

Atomik Kuvvet Mikroskobu Atomik kuvvet mikroskobu(AFM) kullanlarak atomik boyutta grntler lede edilerek yzey almalar yaplmaktadr.Radyasyon malzeme etkileimleri asndan byk neme sahip olan polimerlerin ve ileri teknoloji rn sper iletkenlerin yapm ve karakterizasyon almalarda yaplmaktadr. [1] Atomik kuvvet mikroskobu (AKM) ya da taramal kuvvet mikroskobu ok yksek znrlkl bir taramali kuvvet mikroskobudur. Ulalm znrlk bir ka nanometre leinde olup optik

tekniklerden en az 1000 kat fazladr. AKMnin ncl olan taramal tnelleme mikroskobu 1980lerin basinda Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer IBM Research - Zrihte gelitirilmi, aratrmaclara 1986 Nobel dl'n kazandrmtr*1+. Sonrasnda Binnig, Quate ve Gerber 1986da ilk atomik kuvvet mikroskobunu gelitirdiler. lk ticari AKM 1989da piyasaya srld. AKM, nano boyutta grntleme, lme ve malzeme ileme konusunda en gelimi aralardan biridir. *3+ Bilgi, mekanik bir ucun yzeyi alglamasyla toplanr. Elektronik kumand zerinde bulunan, kk fakat hassas hareketleri salayan piezoelektrik eler doruluu kesin hassas bir tarama salar. letken manivelalar kullanmak suretiyle numune yzeyindeki elektrik potansiyeli de taranabilir. Cihazn daha yeni ve gelimi versiyonlarnda, elektriksel iletkenlii ya da yzeydeki elektron iletimini alglamak iin utan akm geirilir. [3] AKM'nin temel alma prensibi AKM esnek bir maniveladan ve (yzeyi taramak iin kullanlan) buna bal sivri bir utan oluur. Manivela genellikle silikon ya da silikon nitrrdr. Nanometre leinde erilik yarap olan bir u tair. U, numune yzeyine yakn bir mesafeye getirilince, u ile yzey arasndaki kuvvetler Hooke kanunu uyarnca manivelann bklmesine yol aar. Duruma bal olarak AKM'de llen kuvvetler mekanik temas kuvveti, van der Waals kuvveti, klcallk kuvveti, kimyasal ba, elektrostatik kuvvet, manyetik kuvvet, Casimir kuvveti, znme kuvveti, vb... olabilir. Kuvvetler ile birlikte, dier baka zellikler ezamanl olarak zel tip alglama teknikleri ile llebilir(baknz Atomik kuvvet mikroskobunun blok diyagram [3] taramal sl mikroskopi, taramal joule genleme mikroskopisi, fotosl mikrospektroskopi, vs...). Genellikle maniveladaki bklme, manivelanin bir ucundan dedektre (bir dizi fotodiyot) yanstlan bir lazer n sayesinde llr. [3] Cam yzeyin AKM kullanlarak elde edilmis toporafyas. Yzeyin mikro ve nano detaylar malzemenin przlln gsteriyor. Grnt hacmi (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). [3] Eer u sabit bir ykseklikte tarama yaparsa, yzeye arpp hasar oluturma riski doar. Bu nedenle genellikle u ile yzey arasndaki kuvveti sabit tutmak ve mesafeyi ayarlamak amacyla bir negatif geri besleme mekanizmas kullanlr. Tipik olarak numune, z ynnde hareket edip ykseklii ayarlayan, x ve y ynnde hareket edip taramay salayan bir dizi piezoelektrik dzenek araclyla taranr. Buna alternatif olarak, herbiri x,y,z ynlerine karlk gelen piezokristalin ayakl dzenei sayesinde tarama yaplabilir. Bu dzenek tp tarayclarda grlen bozulmalar da ortadan kaldrr. Daha yeni dzeneklerde, tarama ucu dikey piezo taraycya monte edilirken, incelenen rnek baka

bir piezo grup kullanlarak X, Y dorultusunda taranr. Aca kan z = f(x,y) haritas yzeyin toporafyasn temsil eder. [3] AKM uygulamaya bal olarak eitli modlarda kullanlabilir. Bu grntleme modlar statik (temas) ya da dinamik (temassz) olabilir. Dinamik modlar manivelann akustik ya da manyetik yollarla titretirilmesini gerektirir ve yumuak yzeyler icin daha yaygn olarak kullanlr. [3]

Cam yzeyin AKM kullanlarak elde edilmis toporafyas. Yzeyin mikro ve nano detaylar malzemenin przlln gsteriyor. Grnt hacmi (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm).[3]

Confokal Lazer Taramal Mikroskop Ik kayna lazer olan optik mikroskoplarla Scanning Elektron mikroskop arasnda bir mikroskop eididir.Fluoresens iaretleyicilerle iaretlenen nkleik asit dizileri bu mikroskopla incelenmektedir.[1]

Faz Kontrast mikroskobu Genellikle boyanm ve canl hcrelerde allma zorluundan tercih sebebi olmaktadrlar.Grnen n effaf objedengeiinde,hcr e iindeki yaplarn

krma indisleri farkndan yararlan ve farkl yaplar ayrt etme prensibinde alr.Ik dalagalar canl hcreyi katederken bir organelle karlar ve yansr.Bunun sonucunda k dalgalar hcrelerden ayr fazlarda veya ayr zamanlarda karlar.Hava ile temas eden bir k dalgas gze gelen grntdeki hcre ksmlar farkl olarak ayrt edilebilir.Objektif ve kondansr mercekleri amplitd farklarn orataya koyan optik yzeyler bulundurduklarndan parlaklklar indirgenir,k dalgas rnei katederken btn noktalarda olan farkllklar kartr ve obje k mikroskobunda grlemezken ,burada salanm olan kontrastlk sayesinde detayl incelenebilir.Canl metaryal,hcre sitoplazmas bu mikroskop ile iyi gsterilmektedir. [1]

ekil 1Faz Kontrast Mikroskobu Fritz Zernike tarafndan bulunmutur [2]

Karanlk alan mikroskobu

Boyanm ya da canl rneklerin incelenmesinde kullanlr.Karanlk Alanda zel bir kondansr yardm ile kl bir grnt oluturmaktadr.Otradyografide gmlenen ksmlern ayrt edilmesini saglar.Tpta spiroket gibi bakterilerin ayrdedilmesinde nemli yer tutar.*1+ Aydnlk alan mikroskobunda grlemeyn ok saydam ya da znrlk snrnn altnda cisimlerin var olup olmadn kullanlr. Inlar rnee ekilde grld gibi yandan geldii iin sadece krlan nlar objektife girer. rnein sadece parlak olan kenarlar izlenir, i yaplar bozuktur. ncelenen rnein kalnl ve kullanlan kapatma ortam grnt kalitesini ok etkiler. Kondansr ve rnein ok temiz olmas gerekir. *3+

Fluoresans mikroskop

Aydnlanmasnda gl kaynaklar kullanan (ultra viole nler yayan ,civa veya xenon yakan ark lambalar)bir mikroskop eididir.Baz modellerinde lazer kullanmda gzlenen mikroskopta obje absorbe eden molekller ieriyosa onu farkl renklerde yayar.nceleme yaplacak materyelde zel boyalar vezel inceleme ilemleri kullanlr.Parazitoloji ve bakteriolojide nemli yer tutarlar.[1]

Aydnlanmasnda gl kaynaklar kullanan (ultra viole nler yayan ,civa veya xenon yakan ark lambalar)bir mikroskop eididir.Baz modellerinde lazer kullanmda gzlenen mikroskopta obje absorbe eden molekller ieriyosa onu farkl renklerde yayar.nceleme yaplacak materyelde zel boyalar vezel inceleme ilemleri kullanlr.Parazitoloji ve bakteriolojide nemli yer tutarlar. Floresans indkleme * Bu maddeler belirli dalga boyundaki absorbe edip, daha uzun dalga boyunda k olarak tekrar yaynlarlar. * Ultraviyole gibi grme snrmz dnda kalan bir k, floresan madde tarafndan absorbe edilip, grlebilen k spektrumu iinde bir dalga boyunda yanstldnda, grlebilir hale gelir. * Bu zellik floresan mikroskoplarda kullanlr.

Kaynaklar [1] http://tr.wikipedia.org/wiki/Mikroskop [2] Yaam Bilimleri Sunumu (http://bteml.biotek.ankara.edu.tr/wiki/images/4/41/YASAMBILIMLERI2.pdf) Prof. Dr. Alp CAN [3] http://tr.wikipedia.org/wiki/Atomik_kuvvet_mikroskobu [4] http://mikroskoplar.blogspot.com/2008/11/floresan-mikroskoplar.html