T.C.

UKUROVA NVERSTES
MHENDSLK-MMARLIK FAKL TES
MADEN MHENDSL BLM

TANE BOYU ANALZ YNTEMLER ve ELEK

ANALZ LE ELDE EDLEN ERLERN
DEERLENDRLMES

HAZIRLAYAN
Soner TOP

DANIMAN
Prof. Dr. Mehmet YILDIRIM

ADANA
 TANE BOYU ANALZ YNTEMLER

1. Giri

Tane boyu analizi, cevher hazrlamann her admnda kullanlan bir yntemdir.
zellikle serbestlemenin saptanmasnda, krma, tme, snflandrma ve susuzlandrma gibi
birim ilemlerin tasarmnda, performans analizinde veya prosesin kontrol ve anlalmasnda
bavurulan ana aralardan biridir.
Tane irilik dalmnn tayininde birka yntem kullanlmaktadr. (izelge 1) Bu
yntemler vastasyla farkl fiziksel teknikler kullanarak bir tanenin boyutlar
belirlenmektedir.

izelge 1. Tane Boyut Analiz Yntemleri

Yntem Tane Boyutu (m)
Eleme (Kuru ve Ya) 100000-10 m
Eltrasyon 5 me kadar
Sedimantasyon 300-0.01 m
Elektriksel Diren 800-30 m
Mikroskop 0.001 me kadar
Mikroelek 10 me kadar
Lazer In Sanm -0.02 me kadar

ekil 1. Para Boyut Dalmn Belirleme Yntemleri

1
 2. Analiz Yntemleri

2.1.Eleme
Tane boyut analizleri genellikle 38 mikrona kadar olan iri boyutlarda standart
laboratuvar elekleri kullanlarak yaplmaktadr. Bunun nedeni yntemin ok basit ve az
masrafl oluu, ayrca malzemenin fraksiyonlarna rahatlkla ayrlabilmesidir. Ayrca geni bir
tane boyutu aralnda kullanlmaya imkan vermesi nedeniyle endstride kullanm yeri bulan
ve en yaygn bir ekilde kullanlan yntemdir.
Laboratuarda boyut dalmn belirlemek amacyla numune elek aklklar
birbirinden farkl olan bir dizi standart elekten geirilir. Eleme ilemine en byk delik
aklkl elekten balanarak gittike daha kk delik aklkl eleklerle devam edilir. Bu
ilem otomatik veya elle yaplabildii gibi kuru veya ya olarak ta gerekletirilebilir.
(Saklara ve Di., 2000)
Elle Eleme: 0,038 mmden iri taneler iin uygulanabilir. Bu tr elemede elekler teker
teker kullanlr. Eleme ilemine en iri elekten balanr. (Elek Analiz Deney Fy, T)
ekil 2. Elek dizisi

Otomatik Eleme: Genellikle ( 6mm - 0,038 mm) arasndaki tane boyutlarna

uygulanr.
ounlukla alt elekten oluan bir elek dizisi kullanlr ve eleme zinciri 5 ila 20 dakika
tutularak ROTAP ad verilen otomatik eleme cihazna taklr. (Elek Analiz Deney Fy, T)

2
 ekil 3. ROTAP Otomatik Eleme Cihaz

Kuru Eleme: Taneler aras topaklanma ve yapmann olmad numunelere

uygulanr. zellikle killi malzemelerde kuru eleme ileminin ok dikkatli uygulanmas
gerekir. Fraksiyonlara ait arlklar kullanlarak elek analiz izelgesi hazrlanr. (Elek Analiz
Deney Fy, T)
Ya Eleme: Genellikle kuru elemenin g olduu killi, yapkan ve ok kk boyutlu
malzemelerin elenmesinde kullanlr. Eleme ileminde en dk fraksiyondaki (-0.106 mm)
rn elde etmek amacyla filtre kd kullanlr. Eleme ileminden sonra elde edilen
malzemeler +105 oCdeki etvde sabit arla gelene kadar kurutulur. Fraksiyonlara ait
arlklar kullanlarak elek analiz izelgesi hazrlanr.
Eleme ilemlerinde ngiliz Standarlar (BS) ve Amerikan Standartlarna (ASTM) gre
elekler kullanlabilmektedir. (Elek Analiz Deney Fy, T)

3
 izelge 2. Amerikan ve ngiliz Standartlarna Gre Elek Serileri (Aytekin, 2000)

Elek Analizi izelgesi Aada grld zere hazrlanr ve Me, Elek alanna den
delik saysn belirtir.

4
 izelge 3. Ya ve Kuru Elek Analizi izelgesi
Tane rilii Elek stnde Kalan Arlk Kmlatif Elek Alt (%)
Me No (Tyler) Mm (g) (%)
8 2.36
10 1.7
14 1.18
20 0.850
28 0.600
35 0.425
Toplam
Deney Kayb (g)
Deney Kayb (%)

2.1.1. Elek Analizi ile Elde Edilen Erilerin Deerlendirilmesi

Elek Analizi ile elde edilen erilerin deerlendirilmesi srasnda aadaki
birletirilmi izelge kullanlmtr.

izelge 4. Numunenin Tane rilik Dalm (Birletirilmi izelge)

Tane rilii Arlk Kmlatif Dalm Normal Dalm Oran (d)
(mm) (%) E. . (%) E. A. (%) (% Arlk/d)
-25 1,51 0 -
1,51 100
-22 +16 11,06 6
12,57 98,49 1,84
-16 +8 26,14 8
38,71 87,43 3,27
-8 +4 30,15 4
68,86 61,29 7,54
-4 +3 6,44 1
75,3 31,14 6,44
-3 +2 4,29 1
79,59 24,7 4,29
-2 +1 5,37 1
84,96 20,41 5,37
-1 +0.5 1,82 0,5
86,78 15,04 3,64
-0.5 +0.106 4,64 0,394
91,42 13,22 11,78
-0.106 8,58 0,106
100 8,58 80,94
Toplam 100

5
 izelge 4te belirtilen (d) elek aralklar farkdr. Kmlatif elek st ve elek alt
deerleri ise elek alt % deerlerinin kmlatif toplamlardr. (Elek st: yukardan aa; elek
alt: aadan yukar)
izelge 5. Kmlatif Elek st-Elek Alt Erileri (Normal-Normal)

izelge 6. Kmlatif Elek st-Elek Alt Erileri (Log-Log)

Kmlatif elek st-elek alt erileri ile elenen malzemenin % kann, hangi tane
fraksiyonunda elek alt veya elek stne getii belirlenir. Ayrca elemenin hassasiyeti de elek
alt-elek st erilerinin akma noktasnn ordinatnn 50 olmas ile alakaldr. Eer elek alt-
elek st erileri ordinat ekseninde 50 deerinde akmyorsa; elemede bir sorun olduunun
gstergesidir.

6
 izelge 7. Normal Dalm Erisi (Blok Diyagram)

izelge 8. Normal Dalm Erisi (Noktasal Diyagram)

Yukardaki ekilden de grld zere malzemenin tane boyutuna gre dalm

homojen deildir. Malzeme 8 mm ve 0.106 mm olmak zere 2 noktada pik yapmtr. Bu
bakmdan malzeme yapsndan tr belirli boyut aralklarnda elek altna daha fazla rn
getii sylenebilir.

7
 Ayrma Tane riliinin Bulunmas
Trompa Gre Ayrma Tane rilii (dt)
Malzemenin hangi % arlkta elek altna girdii veya hangi % arlkta elek stne
gittiini belirlemek Tromp Erisi kullanarak hesaplamak mmkndr. Tromp erisinin genel
ekli S erisi eklindedir. Ve bu erinin yardm ile fiziksel ayrmann yan sra younluk
farkna gre zenginletirme yapan cihazlarn da tane irilik bileimlerini ve ayrma
hassasiyetlerini hesaplamak mmkndr. Erinin iziminde ordinat (y) ayrma oran saylar
(AOS) ve apsiste ise tane irilii alnr. Eriyi %50 AOS deerinde kesen tane iriliine ise
ayrma snr tane irilii (d50) denilmektedir. Erinin alm olduu ekil ayrma ileminin
ayrma hassasiyeti hakknda bir fikir verir. Eer Tromp Erisi ne kadar dik ve S eklini
koruyorsa ayrma ileminin hassasiyeti iyi denilebilir. Tromp erisi yatay veya yataya yakn
ekilde ise ayrma ileminin baarl olmad ve ayrmadan daha ziyade bir blme ilemi
yapld sylenebilir. (Bayat, 2009)
Terraya Gre Snflandrma Hassasiyetinin (Ep=Et) Saptanmas
Tromp erisinden yararlanarak Terraya gre snflandrma ileminin hassasiyeti
hesaplanabilir. Ayrma oran saysnn (AOS) %75 ve %25 olduu noktalardan Tromp erisini
kesen noktalardan apsise yani tane iriliine izdmleri d75 ve d25 olarak belirlenir.
Bu deerleri kullanarak;
Ep=(d75-d25)/2
Burada;
Ep=Et = Muhtemel Sapma
d75 = Ayrma oran says %75 olan apsis deeri (Tane rilii)
d25 = Ayrma oran says %25 olan apsis deeri (Tane rilii)
Et deerinin kk olmas ayrma ileminin baarl olduunu gstermektedir. (Bayat, 2009)
Ayrma Orannn Bulunmas
Snflandrma oran besleme malnn % kann iri mala ve % kann ince mala
daldn gstermektedir. Fraksiyon oranlar aadaki formller ile bulunur.
Vb+Vc=100
Vb=100-Vc
Vb*b+Vc*c=100*a
(100-Vc)*b+Vc*c=100*a
Vc=(b-a)/(b-c)
Burada;

8
Vb=nce maln besleme malna oran (%) Vc=ri maln besleme malna oran (%)
a =Besleme mal ince fraksiyon oran (%) b =nce maln ince fraksiyon oran (%)
c =ri maln ince fraksiyon oran (%)

izelge 9. Tromp ve Terraya gre Ayrma Snr Tane rilii ve Snflandrma Hassasiyeti
(Bayat, 2009)

izelge 10. Tromp ve Terraya Gre Ayrma Tane rilii (dt) (Bayat,2009)

9
 2.2. Sedimantasyon Yntemleri
Sedimantasyon yntemleri genel olarak kat tanelerin sv veya gaz bir ortam
ierisinde yerekimi kuvvetinin etkisiyle kelmeleri esasna dayanr. Akkan bir ortam
ierisinde bulunan hafif veya kk boyutlu taneler, kendilerinden daha iri veya daha ar
olan tanelere gre daha yava kelir. Dolaysyla, tanelerin akkan ortam ierisindeki
kelme hzlar bunlarn irilikleri hakknda bilgi verir.
Sedimantasyon yntemlerinde, kelme hz ve tane apn ilikilendiren Stokes
eitlii kullanlarak, tanelerin kelme hzlarndan tane boyu hesap edilir. Laminer ak
blgesinde:

Stokes (Ut=Terminal Hz (cm/s))

D=Tane ap (cm)
=Viskozite (g/cm*s)
g= 981 (cm/s2)
k=kat younluu (g/cm3) 10-4<Re<0.2
s=sv younluu (g/cm3) Re=(*Ut*D)/
Reynolds saysnn 0.2den byk deerleri iin Stokes kanunu doru sonular
vermez. Akkan ortam ierisinde hareket eden bir cisime bir diren sz konusudur ve bu

10
direncin deeri cismin hznn bir fonksiyonudur. Cismin hz arttka gsterilen diren te
artmaktadr. Fakat yle bir an vardr ki bu direncin deeri yerekimi kuvvetine edeer olur.
Bu andaki cismin hz sabit ve ivmesi sfrdr. Bu hza terminal tane hz (stokes) denir.
(Bayat, 2009)
Sedimantasyon yntemleri ierisinde kullanm en yaygn olanlar dekantasyon,
Andreasen pipet, fotosedimantasyon ve x-m sedimantasyonu olarak snflandrlabilir.
(Saklara ve Di, 2000)
2.2.1. Dekantasyon
nce boyutlu tanelerin analizinde kullanlan en basit ve en eski yntemlerden biridir.
lekli bir kap ierisindeki sspansiyondan belli zaman aralklarnda sifonlama yaplarak
farkl tane boyu fraksiyonlarnn elde edilmesine dayanr. Ayrmn yaplaca tane boylarna
ve sifonlama derinliine karar verildikten sonra, Stokes eitlii kullanlarak, bu boyutlar iin
kelme hzlar hesaplanr. Mesafe ve hz bilindii iin kelme zaman hesap edilebilir. En
iri tane boyu iin, belirlenen kelme zamannn sonunda kelme mesafesinin bittii
noktadan sifonlama yaplr. Bu ekilde, bu boyut ve daha iri olan ksmn kelme kabndan
dar alnmas salanr. Ayn ileme daha ince boylar iin de devam edilerek numune boyut
gruplarna ayrlr. Gnmzde, hassas almalarda bavurulan bir yntem olmamakla
birlikte, ucuz ve basit bir yntem oluu, yaygn olarak kullanmn salamtr. (Saklara ve
Di, 2000)
2.2.2. Andreasen Pipet
Andreasen pipet, zel ll, yarm litrelik silindirik bir cam kaptr. st ksmnda
bulunan 10 ml'lik hazneye, sspansiyonun alt ksmndan numune ekebilecek ekilde
tasarlanmtr. Deneylerde, %3-5 kat ieren sspansiyon, belli zaman aralklarnda hazneye
ekilerek Andreasen pipetten dar alnr ve numunenin boyutlandrlmas Stokes eitlii ile
yaplr. Kendi snf iindeki yntemlerle karlatrldnda, dk maliyeti Andreasen Pipet
ynteminin en byk avantaj olarak grlmektedir. (Saklara ve Di, 2000)
2.2.3. Fotosedimantasyon
Yntem, numune sspansiyonunun belli bir kesitinde, zamanla kelen tanelerin
neden olduu deriim deiiminin, kesitten geirilen k ile llmesine dayanr. kelme
kabndan geen k, kar tarafta bulunan bir fotosele ular ve buna bal bir galvonometre
yardmyla elektrik akm (foto-akm) olarak llr. Bylece, zamana bal olarak,
sspansiyonun lm zonunda oluan deriim azalmalar, elektrik akmndaki deiime
dntrlm olur. kme ykseklikleri ve buna karlk gelen kme zamanlar,
sspansiyon deriimi vb. parametreler bilindii iin Lambert-Beer yasas ve Stokes eitlii

11
kullanlarak tane boyu dalm belirlenir. In sspansiyondan getii lm zonunda,
kmenin balad ilk anlarda, aa ken tanelerin yerleri, yukardan gelenlerle
doldurulduu iin deriim deimeyecektir. Fakat, sspansiyonda bulunan en iri taneler
(dmax) lm zonunun yzeyinin altna getikten sonra, geen k veya llen elektrik
miktar artacaktr. nk srekli olarak dmax boyutundan daha ince taneler kecektir.
Bylece, sspansiyondaki en iri tanenin belirli bir derinlikten kmesi salandktan yani
boyut dalmndaki en iri boy bulunduktan sonra, herhangi bir t annda, kat deriimi
deiimine neden olan tane boylar (dst) veya fraksiyon snrlar Stokes eitlii kullanlarak
hesaplanr. Fraksiyon arlklarnn bulunmasnda Lambert-Beer yasasndan faydalanlr:
D=log(I/I0)
Burada;
D : Ik azalmas (optik younluk),
I0 : Saf sv varken elde edilen akm iddeti,
I : Herhangi bir t annda elde edilen akm
iddetidir.
Fotosedimantometre ile deney sresince (zamana bal olarak) optik younluktaki
deiim llr. Farkl kme yksekliklerinden okumalar yaplr. kmenin balatld an
ile okumalarn yapld ykseklik ve zaman bilindii iin bu yksekliklerde kecek
tanelerin Stokes ap bilinir.
Analizin ok dk bir kat deriiminde yaplmas gereklidir (hacimce %0,5-l kat).
Ayrca, analiz sresince sspansiyona dardan bir mdahale yaplamaz. Bylece tam bir
"serbest kelme" salanr. Zaman ve okuma derinlii ayar, bir model kullanlarak bilgisayar
kontrolnde gerekleir. Scaklk deiimi, viskoziteyi etkiledii iin analiz srasnda scaklk
sabit bir deerde tutulur. Fakat, daha iyi sonularn alnabilmesi iin, elde edilen verilere bir
model yardmyla ekil dzeltmesi yaplmas gerekmektedir. (Saklara ve Di, 2000)
2.2.4. X-In Sedimantasyonu
Yntem, fotosedimantasyonla benzer alma prensibine sahiptir. Fraksiyonlarn
boyutlandrlmas yine Stokes eitlii ile yaplr. Fakat, Lambert-Beer yasasnn bu sistem iin
tanm farkldr. Buna gre (I/I0) oran geirgenlik, -log(I/I0) ise absorbans olarak tanmlanr.
Bu durumda, teorinin X-n sedimantometre iin kullanm ekli aadaki eitlikteki gibidir:
T= (I/I0)= exp[-(as<|>s+ak(<|>k)L-ahL2]
Burada:
(I/I0) : Geirgenlik (T),
as, ak, ah: Srasyla; svnn, katnn ve hcre duvarnn x-n absorbsiyon sabitleri,

12
(|)s : Svnn arlk oran,
(|)k : Katnn arlk oran,
L1 : Hcrenin i genilii, (cm)
L2 : Toplam hcre duvar kalnl, cmdir.

ekil 4. X-In Sedimantometresi

izelge 11. X-In Sedimantometre Analiz Sonucu

En ok bilinen X-m sedimantometresi, Micromeritics firmasnn rettii Sedigraph

serisidir.

13
 Cihazn analiz aral 300-0,2 um olarak belirtilmekle birlikte bu durum Stokes
yasasnn snrlad alan amaktadr. Micromeritics mhendisleri, bu durumu Reynolds
saysnn maksimum bir deerde tutulmas ile aklamaktadr (Re < 0,3).
Bu yntemde, teorinin dnda, analizde k yerine X-isini kullanlmasnn getirdii
dier bir farkllk, analiz hcresi taramasnn daha hzl ve net bir ekilde yaplabilmesidir. Kil
gibi zgl yzey alan ok yksek olan malzemelerde de kme problemi olduundan, elde
edilen sonular yanltc olabilmektedir. Ayrca organik malzemeler iin absorblama
zelliklerinden dolay uygun bir yntem deildir. (Saklara ve Di, 2000)
2.3. Eltrasyon Yntemleri
Bu yntem sedimantasyonun tersi olarak yukar doru hareket eden hava veya su
akmnda taneciklerin snflandrlmas ilemidir. Byle bir akkan ortamda, iri taneler
yksek, ince taneler daha dk akkan hzlarnda kebilir. Bu dnce ile eltratrlerde
genellikle yksek akkan hzndan dk akkan hzna doru dizayn edilen kolonlar
kullanlr. Bylece, alt snr 5 ile 10 um arasnda deien fraksiyonlar elde edilebilmektedir.
Fraksiyonlarn snrlar Stokes Eitlii yardmyla hesaplanr. Eltrasyon tekniklerinin ana
dezavantaj olarak, akkann kolon iindeki hznn sabit olmamas gsterilmektedir.
zellikle Avustralya'da yaygn olarak kullanlmakta olan ok siklonlu boyutlandrc
(Cyclosizer) bu tip eltratrlere rnek olarak verilebilir. (Saklara ve Di, 2000; Bayat 2009)
2.3.1. ok Siklonlu Boyutlandrc
Aygt, genel olarak birbirine seri olarak bal ve ters yerletirilmi 5 adet
hidrosiklondan oluur. Pompa sistemi, termometre ve akler gibi donanmlarn yardmyla
ekipmana beslenen numune, siklonlarda 5 farkl fraksiyona ayrlr. Sistem, siklonlarn kesme
boylar 44, 33, 23, 15 ve 11 m olacak ekilde imal edilmitir. Kesme boyundaki bu d,
ak dorultusundaki her siklonda besleme giri ap ve dalma borusu (vortex) apndaki
azalmadan kaynaklanr. Baka bir deyile, merkezka kuvvetinin iddeti artrlarak daha ince
tanelerin bu kuvvetten etkilenmeleri salanr. (Saklara ve Di, 2000)

14
 ekil 5. Warman Cyclosizer (Bayat, 2009)

2.4. Mikroskop Yntemleri

Tanelerin dorudan gzlenip, lmlerinin yapld tek yntem olmasndan dolay
genellikle referans yntem olarak kabul edilir. Yntem, tanelerin referans daireler (graticules)
veya lekler yardmyla boyutlandrlarak, mikroskopta tane saymna dayanr. Baz
uygulamalarda mikroskop grnts fotoraflanarak da saym yaplmaktadr.
Mikroskopla tane boyu analizi, uzun zaman iinde dikkatin dalmamasn gerektirir.
Dolaysyla zaman alc ve yorucudur. Operatrn yetenei bu yntemde dierlerime gre
daha fazla nemlidir. Ayrca, tanelerin st ste gelmelerini nleyecek ekilde
homojendatlm numunenin mikroskop lameli zerine yerletirilmesi de yntemin
zorluklarmdandr. SEM (scanning electron microscopy) veya TEM (transmission electron
microscopy) gibi ileri teknolojik imkanlar kullanan mikroskoplarla 0,001 um'ye kadar analiz
yaplabilmektedir. (Saklara ve Di., 2000)
2.5. Mikroelek Yntemi
Elek akl mikron mertebesine kadar inebilen mikroeleklerin retimi ile elek analizi
5 m gibi ince boyutlara kadar yaplabilmektedir. Ancak, yntem pratikte nadiren
kullanlmaktadr. Buna neden olarak, Chatterjee (1998) insanlarn yeni gelimelere kar
isteksiz olmalarn gstermektedir.
Mikroeleklerle analiz genellikle 1 veya 5 gr numune kullanlarak ya eleme ile yaplr.
Burada karlalan ana problem, suyun yzey geriliminden dolay elein kk deliklerinin
kapanmas ve elemeye kar byk bir direncin olumasdr. Bunun nne geebilmek iin
ultrasonik veya elektromanyetik titreimciler, basn fark oluturan pompa sistemleri veya
bunlarn kombinasyonlarn ieren ya eleme dzenekleri gelitirilmitir. Elek analizinin

15
dayand tek fiziksel parametre tanenin boyutudur. Baka bir deyile analiz, younluktan
bamszdr. Bu durum yntemin en byk avantajdr.
Bugn mikroelekler ince dalmlarn analizi iin dier yntemlere gre daha az tercih
edilmektedirler. Bunun bir nedeni, mikroeleklerin ok nazik olmalarndan dolay operatrlerin
ynteme scak bakmamalar, aynca n samm ve elektriksel diren gibi yntemler ile
analizlerin daha pratik ve hzl olarak gerekletirilebilmesidir. (Finch, 1982)
2.6. Elektriksel Diren Yntemi
Genellikle "Coulter-Counter" olarak isimlendirilen bu yntem, tanelerin elektrik
akmna kar gsterdikleri diren ile bunlarn hacimleri arasndaki ilikiden faydalanlarak
yaplan tane boyu analizidir. Yntemi ilk gelitiren Coulter firmas olduu iin daha ok bu
adla anlan teknik, "Elzone" veya "Multisizer" gibi ticari isimlere de sahiptir. Klasik bir
coulter-counter cihaznn alma prensibi ekil 7 ve 8'de gsterilmitir.
ekil 6. Coulter Saycs

Bir elektrolit iindeki numune (10-20 mg), alt ksmnda dairesel bir aklk
bulunduran cam tpn iine vakumlanr (ekil 7). Bu akln ap, analizi yaplacak
numuneye gre pratikte 30 um'den 800 um'ye kadar deiebilir. Elektrotlar arasna uygulanan
potansiyel fark ile elektrik akm oluturulur. Taneler aklktan geerken, bu elektrik
akmna kar hacimleri ile orantl olarak diren gsterirler. ekil 7de bu durum ayrntl
olarak gsterilmitir.
lk lmde, en yksek diren farkn verecek akm deerine ayarlanarak ncelikle iri
tanelerin saym salanr. kinci lmde daha ince bir boyu lebilmek iin akm drlerek
daha dk bir diren farknda saym yaplr.

16
 ekil 7. Tanelerin lm Zonunda Alglanmas

Yntemin balca tartlan ynleri hatal gei ve son nokta belirlemesidir. Teoride
tanelerin idealde tp aklndan teker teker getikleri varsaylr. Fakat pratikte taneler, ikili,
l veya bir kme eklinde st ste gelerek aklktan geebilirler ve hatal okumalar
yaplabilir. Bunu nlemek iin analiz sonunda elde edilen ham veriler olaslk eitlikleri ile
dzeltilir. Bu amala gelitirilen eitlikler iinde Coulter Ltd. (1984)'in nerdii, muhtemel
hatal gei orannn %10 olma ihtimali iin kullanlan eitlik genel kabul grmtr. (Saklara
ve Di, 2000)
2.7. Lazer In Sanm
In sanm ifadesi; lazer n sanm, x-n sanm, ntron sanm,
velosimetre, turbidimetre, foton korelasyon spektroskopisi vb. birbirinden farkl birok teknik
iin kullanlan genel bir ifadedir. Bunlar ounlukla 1 m'nin altnda analiz yapan "sub-
mikron" taneciklere uygun tekniklerdir. Bu teknikler arasnda cevher hazrlama
mhendisliini ilgilendiren teknik, "dk al lazer n sanm" (Low Angle Laser Light
scattering-LALLS) veya daha genel adyla "lazer krnm" yntemidir.
Genel olarak lazer krnm cihazlarnda, n temel zelliklerinden faydalanlr. Ik
bir cisimle veya bir ortamla karlat zaman sanma urar. Ik sanm balca 4 farkl
fiziksel olay ierir. Bunlar; yansma, krlma, sourum ve krnmdr. Ik, younluu farkl
bir ortamla karlarsa normalle bir a yaparak yansr ve ortam geirgense krlr. Bir miktar
n ise taneler tarafndan sourulur. Krlma, sourumdan farkl bir fiziksel olay olmakla
birlikte, vektrel zmler ile krlma indisi, "gerek" ve "sourulan" krlma indisi eklinde
ksmlarna ayrlabilmektedir. Bu teknikte de, krlma indisinin tanelerce sorulan ksm
hesaplanarak, sourum bir lde dikkate alnr ve daha ayrntl sonular elde edilir. Ik,

17
kendi dalga boyu ile karlatrlabilecek bir engelle karlarsa, yansma ve krlmann
dnda ayrca "krnm"a urar ve o cismin kendine zg krnm deseni oluur. Krnm
deseni, n cisimle belli bir ada sanmdan meydana gelir. Bu desenin ekli, krnm as,
cismin geometrik yaps (ekli, irilii, yzey przll), opak veya saydaml (krlma
indisi) vb. deikenlere baldr.
Tipik bir lazer krnm aygtnn optik emas ekil 9da verilmitir. Bu aygtlarda, durayll
nedeniyle He-Ne lazeri (A=0.633 um) kullanlr. Numune bir vakum kayna yardmyla lazer
n iinden geirilir. In iinden geen taneler, boyutlar ile ters orantl alarda
saarlar, iri taneler kk alarda, ince taneler byk alarda n sanma uratrlar.
Sanan nlar yaknsak bir mercek zerinde toplanr ve dedektr zerine odaklanr.

ekil 8. He-Ne Lazer In Sanm Aygt

Dedektrden elde edilen btn veriler elektrik sinyaline dntrlr ve bilgisayara veri
olarak gnderilir. Sanma uramayan n ise, ayn mercein merkezi odaklama
zelliinden dolay dedektrn ortasnda bulunan k azalma dedektrnn (obscuration
dedector) zerine odaklanr. Bylece, bir anlk bir lm zamannda, m boyutlu tanelerden

18
elde edilen tm nlar dedektr tarafndan alglanm olur. Baka bir deyile, m boyutlu
tanelerin "0" sanm asndaki toplam krnm deseni verisi elde edilir. Bir tanecikten
sanan n, mercee ulamadan baka bir tane veya taneler ile karlap tekrar tekrar
sanma urayabilir. Sonuta, tane boyu dalmnda hataya sebep olan bu olaya oklu
sanm denir. Lazer krnm cihazlarnda karlalan bu sorunun alabilmesi iin, deney
srasnda hacimsel numune deriiminin minimum bir deerde tutulmas gerekir. Obskrsyon
dedektr ile Lambert-Beer yasas kullanlarak numunenin hacimsel deriimi deney sresince
srekli kontrol edilir. Bilgisayarda boyut dalmnn hesaplanmas ile birlikte tam bir analiz
sresi cihazdan cihaza 20-60 saniye arasnda deiir.
Lazer krnm teknii son yllarda olduka yaygnlamtr. Bunun balca nedenleri
olarak; ya veya kuru analiz yapabilme, analiz sresinin ksal, operatre baml olmamas,
tekrarlanabilirlik, kullanm basitlii, hemen hemen her eit numuneye uygulanabilir olmas,
3 gr'dan 80 gr'a kadar numune kullanlabilmesi, "on-line" sisteme dntrlebilmesi
saylabilir. Bunlara ek olarak, dinamik analiz aral da genitir. rnein, Beckman Coulter ve
Horiba firmalar 0,04-2000 um veya Malvern 0,5-3500 um aralnda analiz yapabilen
cihazlar retmektedir. Fakat, ISO 13320'de bu durumun gvenilir olmad, geni boyut
aralklarnda lazer krnm ynteminin znrlnn dt belirtilmektedir. (Saklara ve
Di., 2000)

19
KAYNAKLAR
Aytekin, M., Deneysel Zemin Mekanii, sayfa 75-80, Trabzon, 2000.
Bayat, O., Cevher Hazrlama Ders Kitab, sayfa 89-90-103, ukurova niversitesi,
yaynlanmam, 2009.
Bayat, O., Cevher Hazrlama Laboratuvar El Kitab Ders Kitab, sayfa 43-44-46-49-
58, ukurova niversitesi, yaynlanmam, 2009.
Coulter Electronics Ltd., Reference Manual for the Coulter-Counter Model D
(Industrial), Issue B, 1984.
Chatterjee, A., "Role of Particle Size in Mineral Processing at Tata Steel",
Int.J.Miner.Process., 53, s.1-14, 1998.
Elek Analizi Deney Fy, T.
Finch, J.A. ve Leroux, M., "Fine Sizing by Cyclosizer and Micro-sieve", CIM
Bulletin, 75, s.235-240, 1982.
ISO 13320, "Particle Size Analysis-Laser Diffraction Methods- Part-1: General
Principles", International Standard, 1999.
Saklara, S., Bayraktara, ., ner, M., nce Tane Boyu Analizinde Kullanlan
Yntemler, Madencilik Dergisi, Cilt-volume 39, Say 2, 2000.

20