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手機光譜儀在教學實驗上的應用

作者:林靖恩
指導教授:施宙聰

摘要:
普物實驗中若要測量波長往往必須使用要價不斐的光譜儀,而我們參考了 Young-Gu Ju [1]製作的手
機光譜儀後進行改良,並且應用於測量約十到數十微米的樣品厚度和半定量的計算膠帶的雙折射性
質。

原理:
光在從一種介質進入另一種介質時會發生反射,若存在兩個介面,那兩個介面的反射光會有干涉
發生,我們就能據此計算介面間的距離。現在考量最簡單的情形,如圖一。那在光線垂直入射下發
生建設性干涉的條件就是
2d
+ϕ=m, m=0 , 1 ,2 , ⋯
λ (1)
其中ϕ 是在玻璃中行進或於介面反射所造成的相位差,與 m 無關
因此對於相鄰的波峰,他們波數的差

Δ ~ν= Δ ( 1λ )= 2d1 (2)


是一個與~ν 無關的數。我們能藉由白光中不同波長的成分會有不同的干涉情形來推出這兩片玻璃的間
距 d。
第二個實驗的進行方式是讓進入膠帶的光線的偏振方向與膠帶的主軸夾45 ° ,如圖二。那光線在穿
過膠帶後沿著兩個軸方向的電場會有不同的相位。兩者的相位差是
2 π (∆ n) d
λ
其中∆n 是兩個軸折射率的差,d 是膠帶的厚度。從圖二(b)可以看出,若平行光軸和垂直光軸的電場
在穿出後的相位差恰好是
2 mπ , m ∈ z
則穿出後的光為與原本偏振方向平行的偏振光,若相位差是
(2 m+ 1)π , m ∈ z
則穿出後的光為與原本偏振方向垂直的偏振光。
與前一個實驗類似,我們可以找出對應到局域亮度最亮和最暗的波數,若將他們按順序排,相鄰的
波數差會是
1
Δ ~ν=
2 (∆ n) d (3)

1
圖一 兩片玻璃間有空氣

圖二(a)入射光在兩軸有相同的分量(b)若兩軸上
的相位差為2 mπ 則穿出的光如黃線為線偏振,若
為(2 m+ 1) π 則如紅線為與原來方向垂直的線偏
振,其他情形為橢圓偏振(其中 m=¿
0,1,2 , ⋯)。

手機光譜儀:
我們所改良的手機光譜儀主要由三個部分組成,分別是最前端的狹縫,中段的紙外殼,和用來固
定於手機上的支架。圖三展示的是完成的手機光譜儀。因為狹縫的寬度直接地影響到光譜的解析度,
因此我們直接請工廠以雷射切割機在金屬片上切割出約 0.1mm 的狹縫。接著,用跟 Young-Gu Ju 相
同的方法製造中段的紙製外殼,裡頭黏上了市售的穿透式光柵。最後,由於我們的應用需要多次拍
攝,因此希望手機與光譜儀間盡量地穩固,於是我們利用 3D 印表機製造大小剛好且可拆卸的支架,
最後將三者以雙面膠黏成一體。

(a) (b)
圖三 (a)從後方拍的手機光譜儀。 (b)光譜儀前方的狹縫

應用:
2
我們的第一個應用是測量薄樣品的厚度,我們選用的材料是資料夾和保鮮膜。製作樣品的方法是
先切下一個與載玻片差不多大的薄膜,再在薄膜中間以美工刀切割出一個約 1cm×1cm 的方格,最後
以兩片載玻片夾住薄膜,並以長尾夾固定。完成的樣品如圖四。
測量的方法是我們將 LED 所發出的光匯聚於樣品表面,而不同波長會在載玻片間有不同的干涉情
形,而用手機光譜儀拍攝反射光並分析強度分布就能計算出樣品的厚度,圖五是實驗裝置架設的情
形。在測量時我們固定拍攝時的各種參數,並在所有樣品的拍攝完成後再拍攝汞燈做為參考光譜,
讓我們能對應照片中的位置與波長的關係。
第二個應用是我們能夠測量透明膠帶的雙折射性質。膠帶在製程中由於應力有特定方向,使得膠
帶在光學上並不是各向同性的,我們能夠測量偏振光通過樣品後光線在某偏振方向上的強度,藉此
得到光沿著光軸和沿著與光軸垂直的軸時兩者折射率的差。圖六是製作完成的樣品。我們製作樣品
的方式是使用美工刀直接割下一塊膠帶,再將其黏於載玻片上。由於我們取的膠帶面積不大,因此
大致上是平坦的。使用這種方式能夠免去重複黏膠帶時造成氣泡或拉伸形變。
實驗裝置架設的俯視圖如圖七,我們讓 LED 發出的光通過一個小孔後以透鏡聚焦,並讓光線依序
通過第一個偏振片,樣品,第二個偏振片,最後進入手機光譜儀。
在測量時我們必須先找到樣品的主軸,通常很接近樣品放置後的鉛直方向,我們只要稍微轉動前
後的偏振片,找出穿過的光強度最弱的角度,將其定為 0 度。接著我們將前方的偏振片轉到 45 度,
而後方轉到負 45 度後放置手機光譜儀拍攝一張照片,再轉到正 45 度後拍攝另一張照片,最後拿掉
樣品拍攝一張照片作為強度的基準,以便之後強度的歸一化。

圖四 製作完成的實驗一樣品

圖五 實驗一裝置示意圖。(a)直流電源供應器。
(b)裝有 LED 燈的支架。(c)小孔,目的在於使照
在樣品上的光範圍較小。(d)凸透鏡,焦距約
圖六 製作完成的實驗二樣品 10cm。(e)半反射鏡,用以使反射光進入手機光
譜儀。(f)樣品被放置於支架上。(g)手機光譜儀
置於三腳架上

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圖七 實驗二裝置示意圖。(a)直流電源供應器。(b)裝有 LED 燈的支架。(c)小孔,目的在於使照在樣
品上的光範圍較小。(d)凸透鏡,焦距約 10cm。(e)偏振片。(f)樣品被放置於支架上。(g)手機光譜儀
置於三腳架上。
結果與討論:
圖八是我們量測薄膜厚度所拍到的照片,我們可以利用分析軟體 ImageJ 來找出各個建設性干涉
(局域的亮度最大) 的位置,並用圖九的參考汞燈來對應位置與波長的關係,在我們得到照片上的位
置與波長的對應關係後,我們可以找出各個波峰所對應的波長 λ ,取其倒數得到波數~ν 。最後依據式
2 將波數與對應到第幾個波峰做圖如圖十,就能得到線性的關係,而圖中的斜率即為 1
2d
此外,從圖九能估得手機光譜儀的解析約 2.4nm。

圖八 手機光譜儀拍攝薄膜樣品 圖九 手機光譜儀拍攝參考汞燈

圖十 波數對波峰數做圖

如此我們便得到這個樣品的厚度約 28 μm,這個量測方法對十到數十微米的間隙都適用。

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對於膠帶的雙折射性,我們把兩個偏振片方向的光強度除以沒有放樣品時的光強度,並以此做歸
一化,接著我們可以利用 LED 光的強度本身的分布來得到位置與波長的關係,便可得到單純因為雙
折射造成的強度變化和波長的關係,如圖十一。接著,我們可以按照式 3 的關係把局域強度最大值
和最小值的波數找出來並作圖,如圖十二

對於不同厚度的樣本會有不同的斜率,最後我們可以用螺旋測微器量測膠帶的厚度(先量測膠帶加
載玻片的厚度再扣掉載玻片本身的厚度)並用這個數據得到膠帶沿兩個軸折射率的差。
在這個實驗中我們使用的是北極熊 18mm×20m 的膠帶,所量到的折射率差約是 0.0090。不同廠牌略
有差異,大致與 Augusto Belé ndez, Elena Ferná ndez, Jorge Francé s and Cristian Neipp[2]的結果相符

第二個實驗中由於手機儲存的亮度並不與原始的亮度成正比以及環境存在一些背景光,因此在歸
一化後會造成強度分布的形狀與理論有所差異,但若以我們的需求(找到局域極值)並不會有太大的
影響。

結論:
在這兩個實驗中使用手機光譜儀來替代傳統的光譜儀能達到良好的解析以及足夠精準的結果,這
樣不僅降低了實驗的成本亦能使學生練習如何使用開放式的工具。此外如何善用近年新科技所帶來
的各項便利也是目前愈來愈重要的技能,這份論文所使用的實驗架設也鼓勵學生做出其他的應用,
例如將第一項實驗用於測量鍍膜的厚度[3],或是將第二項實驗的膠帶換成糖水,改而量測旋光性[4]。

參考資料:
[1] Young-Gu Ju, “Fabrication of a low-cost and high-resolution papercraft smartphone spectrometer”,
Physics Education 55, 035005 (2020)
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6552/ab6c3e

[2] Augusto Belé ndez, Elena Ferná ndez, Jorge Francé s and Cristian Neipp, “Birefringence of cellotape:
Jones representation and experimental analysis”, Eur. J. Phys. 31, 551–561 (2010)
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/0143-0807/31/3/012

[3] Dereth J. Drake, Christiana G. Epperson and Savanna L. Burks, “A Thin Film Interference Laboratory
Experiment for Introductory Physics” , The Physics Teacher 58, 272 (2020)
https://doi.org/10.1119/1.5145477

5
[4] Jason Anderson, Catherine Gillen, Jacqueline Wright, Charles S. Adams, and Ifan G. Hughes, “Optical
rotation of white light” , American Journal of Physics 88, 247 (2020)
https://doi.org/10.1119/10.0000390

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