ΑΡΧΕΣ ΚΑΙ ΜΕΘΟΔΟΙ ΜΗ ΚΑΤΑΣΤΡΟΦΙΚΩΝ ΕΛΕΓΧΩΝ

Βασίλης Γράψας
∆ρ. Μηχανολόγος Μηχανικός ΕΜΠ
Γιώργος Καπασσάς
∆ιπλ. Μηχανολόγος Μηχανικός
ΑΡΧΕΣ
ΚΑΙ ΜΕΘΟ∆ΟΙ
ΜΗ
ΚΑΤΑΣΤΡΟΦΙΚΩΝ
ΕΛΕΓΧΩΝ
 Ορολογία και Κατηγοριοποίηση Ασυνεχειών

 Οπτικός Έλεγχος
 Έλεγχος με ∆ιεισδυτικά Υγρά
 Έλεγχος με Μαγνητικά Σωματίδια
 Βασική Ακτινοπροστασία
 Βιομηχανική Ακτινογραφία
 Έλεγχος με Υπερήχους
Έκδοση Α
|i|
Σελίδα Πνευματικών ∆ικαιωμάτων (Copyright Page)
Κάθε γνήσιο αντίτυπο φέρει την υπογραφή των συγγραφέων

(Every original copy bears the author’s signature)
ISBN: 978-960-93-7286-2
© Copyright κειμένου και έκδοσης:

Με επιφύλαξη παντός δικαιώματος.

Απαγορεύεται η αντιγραφή, αποθήκευση και διανομή της παρούσας εργασίας, εξ ολοκλήρου
ή τμήματος αυτής, για εμπορικό σκοπό. Επιτρέπεται η ανατύπωση, αποθήκευση και διανομή
για σκοπό µη κερδοσκοπικό, εκπαιδευτικής ή ερευνητικής φύσης, υπό την προϋπόθεση να
αναφέρεται η πηγή προέλευσης και να διατηρείται το παρόν μήνυμα. Ερωτήματα που
αφορούν τη χρήση της εργασίας για κερδοσκοπικό σκοπό πρέπει να απευθύνονται προς
τους συγγραφείς.
Επιστημονική επιμέλεια Βασικής Ακτινοπροστασίας:

∆ρ. Μαρία Καπασσά, Χημικός
Εικαστική επιμέλεια:
Γιώργος Κοπανάρης (Copanaris Design δημιουργικό γραφείο)
Νομική επιμέλεια:
Μαρίνα ∆ήμα, Συμβολαιογράφος
Τόπος και χρόνος έκδοσης:

Αθήνα 2015
Welding & NDT Institute

www.wndti.gr
info@wndti.gr
|ii|
Πρόλογος
Το πεδίο των Μη Καταστροφικών Ελέγχων συνιστά ένα κρίσιμο διεπιστημονικό

πεδίο, η εφαρμογή του οποίου διασφαλίζει την ορθή, αξιόπιστη και οικονομικά αποδοτική
λειτουργία μιας πληθώρας συστημάτων. Οι μέθοδοι των Μη Καταστροφικών Ελέγχων
αποτελούν ένα πανίσχυρο εργαλείο στα χέρια ενός κατάλληλα εκπαιδευμένου μηχανικού ή
τεχνικού αφού δίνουν τη δυνατότητα επιθεώρησης ενός υλικού ή ενός εξαρτήματος, χωρίς
αυτό να καταστρέφεται. Παράλληλα, παρέχει με τον καλύτερο δυνατό τρόπο μια βέλτιστη
ισορροπία μεταξύ του ποιοτικού ελέγχου και του κόστους-αποτελεσματικότητας και το
κυριότερο, χωρίς αρνητική επίδραση στη μετέπειτα χρήση τους.
Με άλλα λόγια, οι εμπλεκόμενοι σε αυτό το πεδίο πραγματοποιούν δοκιμές οι

οποίες στηρίζονται σε μεθόδους και τεχνικές των Μη Καταστροφικών Ελέγχων,
προκειμένου να εντοπίσουν εκείνες τις ασυνέχειες (ορατές ή μη) των υλικών που μπορεί να
οδηγήσουν σε προβληματικές καταστάσεις, όπως η συντριβή ενός αεροπλάνου, η αστοχία
ενός αντιδραστήρα, ο εκτροχιασμός ενός τρένου, η έκρηξη σε έναν αγωγό ή η κατάρρευση
μίας κατασκευής. Κατά τη διάρκεια της επιθεώρησης, ένας κατάλληλα εκπαιδευμένος
επιθεωρητής αναζητά τις πιθανές ασυνέχειες ενός αντικείμενου και ταυτοποιεί τη φύση και
το μέγεθός τους. Οι ασυνέχειες αυτές στη συνέχεια αξιολογούνται σύμφωνα με
προκαθορισμένα κριτήρια αποδοχής - απόρριψης, προκειμένου να καθοριστεί εάν
αποτελούν ελαττώματα, οπότε και το αντικείμενο απορρίπτεται.
Κύρια συνιστώσα της επιτυχούς εφαρμογής των μεθόδων των Μη Καταστροφικών

Ελέγχων αποτελεί η πιστοποιημένη εκπαίδευση. Είναι πολύ σημαντικό, το εμπλεκόμενο
προσωπικό να είναι γνώστης τόσο των δυνατοτήτων όσο και των περιορισμών που παρέχει
κάθε μέθοδος. Η αναγκαιότητα της εκπαίδευσης ενισχύεται και από το γεγονός ότι σπανίως
χρησιμοποιείται αποκλειστικά μόνο μια μέθοδος αφού η ύπαρξη μίας ασυνέχειας πρέπει να
επιβεβαιώνεται και από άλλη μέθοδο προκειμένου το αποτέλεσμα να θεωρείται αξιόπιστο.
Η απουσία από την ελληνική βιβλιογραφία ενός ολοκληρωμένου εγχειριδίου που

αφορά στο πεδίο των Μη Καταστροφικών Ελέγχων, που δημιουργεί έλλειμμα «ορθής»
γνώσης με σημαντικό αντίκτυπο στην κατάρτιση των μηχανικών, επιθεωρητών, στελεχών
και του τεχνικού προσωπικού της Ελληνικής Βιομηχανίας, της Ναυτιλίας, της
Πετροχημικής Βιομηχανίας και των Κατασκευών, μας οδήγησε στην απόφαση να γραφεί
το παρόν εγχειρίδιο.
Με αίσθημα ικανοποίησης και ευθύνης παραδίδουμε τo συγκεκριμένο πόνημα στην

ελληνική επιστημονική τεχνική κοινότητα, φιλοδοξώντας να αποτελέσει ένα βασικό και
ολοκληρωμένο εργαλείο - οδηγό στα χέρια όσων εμπλέκονται με τους Μη
Καταστροφικούς Ελέγχους τόσο στη θεωρία όσο και στην πράξη και ταυτόχρονα να
αποτελέσει το έναυσμα για περαιτέρω ανάπτυξη του συγκεκριμένου γνωστικού πεδίου.
Αθήνα, 21.10.2014
|iii|
|iv|
Προλογίζει ο Ομότιμος Καθηγητής του ΕΜΠ και Πρόεδρος της ΕΛΕΜΚΕ
Ιωάννης N. Πρασιανάκης
Πώς να προλογίσει κανείς ένα βιβλίο που αναφέρεται στην επιστήμη των Μη
Καταστροφικών Ελέγχων. Το βιβλίο «Αρχές και Μέθοδοι Μη Καταστροφικών Ελέγχων»
των συγγραφέων Β. Γράψα και Γ. Καπασσά, που αποτελεί ένα ευχάριστο ταξίδι στο χώρο
των ΜΚΕ μέσα από τις σκέψεις των συγγραφέων.
Με ιδιαίτερη χαρά βρίσκομαι σε τόπο για μένα ιερό και αγαπημένο, τον τόπο των
ΜΚΕ, που με συνδέει με τις χαρές της δημιουργίας για περισσότερα από 30 χρόνια.
Οι ΜΚΕ εμφανίζονται και εφαρμόζονται με την εμφάνιση της ζωής στον πλανήτη
μας. Τούτο επιτυγχάνεται με την βοήθεια των 5 αισθήσεων που η μητέρα φύση μας έχει
εφοδιάσει.
Αυτό γινόταν, όπως ακόμη γίνεται και σήμερα στο ζωικό βασίλειο από όλα τα ζώα
που με τη βοήθεια των αισθήσεων τους επικοινωνούν, επιβιώνουν, αναπαράγονται και
διαιωνίζονται χωρίς να κατέχουν τις γνώσεις της επιστήμης και της τεχνολογίας που ο
άνθρωπος σήμερα χρησιμοποιεί.
Ο άνθρωπος όμως, ανέπτυξε αυτή τη δυνατότητα έτσι ώστε φθάνουμε στον
4ο αιώνα π.χ. όπου οι αρχαίοι Έλληνες πρώτοι χρησιμοποιώντας τις αισθήσεις τους
μπορούσαν να ελέγχουν την ποιότητα των υλικών και των κατασκευών. Το γεγονός αυτό
επιβεβαιώνεται και από τις σχετικές επιγραφές της εποχής εκείνης σε μαρμάρινες πλάκες,
που σήμερα αποτελούν τα αρχαιότερα πρότυπα στον κόσμο. Τέτοιες είναι οι γνωστές
στήλες, της Ελευσίνας, των Αθηνών, του Ωρωπού και της Θάσου, οι οποίες κοσμούν τα
αντίστοιχα μουσεία της χώρας μας.
Ο υποκειμενικός αυτός τρόπος ποιοτικού ελέγχου λειτουργούσε μέχρι το 1895
οπότε ο Roentgen δημιούργησε την πρώτη ακτινογραφία, χρησιμοποιώντας πρώτος τις
ακτίνες Χ. Έτσι άρχισε η σύγχρονη περίοδος των ΜΚΕ φθάνοντας στο αποκορύφωμα
τους, με την εξέλιξη και των αντίστοιχων επιστημών όπως της Μηχανικής και της
Ψηφιακής τεχνολογίας, στη μορφή που εμείς σήμερα γνωρίζουμε.
Οι ΜΚΕ δε θα είχαν εξελιχθεί και δε θα προσέφεραν τόσα πολλά για την ασφάλεια
του κοινωνικού συνόλου εάν δεν είχε αναπτυχθεί η Μηχανική των Θραύσεων. Η επιστήμη
αυτή γεννάται μετά τον 2ο παγκόσμιο πόλεμο από τον Irwin (1957) με σκοπό να
ερμηνεύσει την πρόωρη αστοχία των υλικών, που μέχρι τότε δε μπορούσε να ερμηνεύσει η
κλασική μηχανική.
Αφού ερευνήθηκε η επίδραση των ατελειών που υπάρχουν στα υλικά κατά την
κατασκευή τους ή δημιουργούνται κατά τη λειτουργία τους, το πρόβλημα για τους
επιστήμονες ήταν να βρεθούν τρόποι εντοπισμού τους. Έτσι αναπτύσσονται και συνεχώς
εξελίσσονται αυτοί οι θεϊκοί τρόποι ελέγχου, ανίχνευσης και επιδιόρθωσης αυτών των
ελαττωμάτων των υλικών, οι ΜΚΕ. Πρώτα εφαρμόζονται στην Ιατρική για τον άνθρωπο
και πολύ αργότερα από τους Μηχανικούς για τον έλεγχο των υλικών, εξασφαλίζοντας έτσι
την ασφαλή λειτουργία κάθε είδους μικρού ή μεγάλου έργου και κατασκευής.
Τα οπτικά, ηλεκτρομαγνητικά και τα ηχητικά κύματα εφαρμοζόμενα κατάλληλα,
ανιχνεύουν έγκαιρα ατέλειες ή θεραπεύουν ανώδυνα και με μικρό κόστος υλικά και
ανθρώπους.
Η επιστήμη και τεχνολογία παρέχει πληθώρα οργάνων, υλικών και συσκευών για
την εφαρμογή όλων των ΜΚΜ. Όμως βασικής σημασίας για τη σωστή εφαρμογή τους
στον ποιοτικό έλεγχο, είναι η αυστηρή και τυποποιημένη εκπαίδευση και πιστοποίηση του
προσωπικού που τις εφαρμόζει.
Το έργο του υπογράφοντος, δηλαδή η προλόγιση αυτού του συγγράμματος, δεν
ήταν ιδιαίτερα δύσκολο, μιας και οι συγγραφείς του βιβλίου έχουν φροντίσει να
εφοδιάσουν το δημιούργημα τους με ελκυστικό και ιδιαίτερα εκπαιδευτικό περιεχόμενο.
|v|
Ξεκινώντας, ήδη από τον πρόλογο ο αναγνώστης προδιατίθεται για μια εις βάθος
εξερεύνηση της επιστήμης των ΜΚΕ. Το υλικό του βιβλίου τον ταξιδεύει σε ολόκληρο τον
συναρπαστικό κόσμο των ΜΚΕ.
Η μεγάλη διδακτική εμπειρία των συγγραφέων είναι εμφανής και τους βοηθάει να
προσεγγίσουν τις πιο δύσκολες έννοιες με ιδιαίτερο τρόπο ώστε να γίνονται άμεσα
αντιληπτές από τον αναγνώστη.
Το πόνημα τούτο, ένα εξαιρετικό έργο, παρουσιάζει περιληπτικά αλλά και με
λεπτομέρεια όπου χρειάζεται με υψηλού επιπέδου αυστηρά επιστημονικό τρόπο τις
κυριότερες ΜΚΜ αποτελούμενο από 7 κεφάλαια, εμπλουτισμένο με αρκετό καλαίσθητο
και σπάνιο φωτογραφικό υλικό.
Τι να επισημάνει κανένας περισσότερο. Την αναλυτική παρουσίαση της Ορολογίας
των ΜΚΜ, με την απόδοση της στην Ελληνική και Αγγλική γλώσσα κατά μοναδικό τρόπο,
ή την Οπτική ΜΚΜ που ακολουθεί. Η περιγραφή αυτής της μεθόδου γίνεται κατά τρόπο
που θα ζήλευε το καλύτερο αντίστοιχο σύγγραμμα ιατρικής και φυσικής. Μοναδικός είναι
και ο τρόπος παρουσίασης της μεθόδου των Διεισδυτικών Υγρών. Ενώ δεν υστερεί και η
παραστατική παρουσίαση της μεθόδου των Μαγνητικών Σωματιδίων.
Το μεγαλείο όμως αυτού του έργου φαίνεται στο κεφάλαιο της Ακτινοπροστασίας.
Το σημαντικότερο ίσως μέρος που αφορά τους ΜΚΕ, γιατί ασχολείται με την προστασία
του ανθρώπου και του περιβάλλοντος από τις επικίνδυνες ακτινοβολίες που χρησιμοποιούν
οι ακτινογραφικές μέθοδοι, οι οποίες ενώ δε δημιουργούν βλάβες στα εξεταζόμενα υλικά,
εάν δε χρησιμοποιηθούν κατάλληλα είναι ολέθριες για τον άνθρωπο. Στα περιορισμένα
πλαίσια ενός τέτοιου συγγράμματος με θαυμαστό τρόπο αναπτύσσονται και οι ΜΚΜ της
Βιομηχανικής Ακτινογραφίας και των Υπερήχων περιληπτικά μεν αλλά με κατανοητό και
πλήρη τρόπο.
Στο τέλος αναφέρεται η πληθωρική Ελληνική και ξένη βιβλιογραφία, όπως και οι
πηγές από το διαδίκτυο που οι συγγραφείς χρησιμοποίησαν και ολοκληρώνεται αυτό το
βιβλίο με τα κυριότερα διεθνή πρότυπα, προδιαγραφές και κανονισμούς ταξινομημένα
ξεχωριστά για κάθε ΜΚΜ.
Το θεωρώ χρήσιμο και αναγκαίο επιστημονικό εργαλείο, τόσο για όσους επιθυμούν
να εκπαιδευτούν και πιστοποιηθούν στους ΜΚΕ, όσο και για εκείνους που θα ήθελαν να
μάθουν σε βάθος την επιστήμη των ΜΚΕ.
Αποτελεί ένα επιστημονικό επίτευγμα στο χώρο των ΜΚΕ, που πράγματι έλειπε
από την Ελληνική βιβλιογραφία και είναι σίγουρο ότι θα συμβάλλει στην περαιτέρω
εφαρμογή των ΜΚΕ προς όφελος της Ελληνικής κοινωνίας.
Είναι γραμμένο από δύο εξαίρετους επιστήμονες, τον Β. Γράψα και τον
Γ. Καπασσά, οι οποίοι όπως είναι γνωστό γνωρίζουν σε βάθος την επιστήμη των ΜΚΕ και
οι οποίοι από χρόνια συμβάλλουν με τις γνώσεις τους στην εκπαίδευση του προσωπικού
ΜΚΕ αλλά και στον έλεγχο υλικών και κατασκευών με ΜΚΜ.
Εγώ τους συγχαίρω για αυτό το δημιούργημα τους και τους εύχομαι ο Θεός να τους
δίνει δύναμη για να συνεχίσουν αυτό το θεάρεστο έργο τους.
Ιωάννης Ν. Πρασιανάκης
Ομότιμος Καθηγητής ΕΜΠ
Πρόεδρος της ΕΛΕΜΚΕ
|vi|
ΠΕΡΙΕΧΟΜΕΝΑ
ΟΡΟΛΟΓΙΑ ΚΑΙ ΚΑΤΗΓΟΡΙΟΠΟΙΗΣΗ ΑΣΥΝΕΧΕΙΩΝ
1 Μη Καταστροφικοί Έλεγχοι ................................................................................... 3

1.1 Μη Καταστροφικοί Έλεγχοι - Πρώτο Ευρωπαϊκό Πρότυπο ..................................... 3
2. Ορολογία μη καταστροφικών ελέγχων................................................................... 8

2.1 Ένδειξη (indication) ................................................................................................... 8
2.2 Ασυνέχεια / Ατέλεια (discontinuity / flaw / imperfection) ........................................ 8
2.3 Ελάττωμα / Σφάλμα (defect)...................................................................................... 8
2.4 Ερμηνεία (interpretation) ........................................................................................... 8
2.5 Αξιολόγηση (evaluation) ........................................................................................... 8
2.6 Ψευδής ένδειξη (false indication) .............................................................................. 8
2.7 Μη σχετική ένδειξη (non relevant indication) ........................................................... 9
2.8 Αληθής σχετική ένδειξη (true relevant indication) .................................................... 9
2.9 Σύμφυτη ασυνέχεια (inherent discontinuity) ............................................................. 9
2.10 Ασυνέχεια πρωτογενούς διεργασίας (primary processing discontinuity) .................. 9
2.11 Ασυνέχεια δευτερογενούς / τελικής διεργασίας (secondary / finishing processing
discontinuity) ............................................................................................................. 10
2.12 Ασυνέχεια κατά τη λειτουργία (service discontinuity) .............................................. 10
3. Ασυνέχειες πρωτογενούς διεργασίας σε χυτά προϊόντα ........................................ 11

3.1 Πόροι (porosity) ......................................................................................................... 11
3.2 Κοιλότητες / οπές λόγω αερίων (gas induced cavities).............................................. 12
3.3 Μη μεταλλικά εγκλείσματα (nonmetallic inclusions) ................................................ 13
3.4 Διαφορισμός (segregation)......................................................................................... 14
3.5 Διακενώσεις συστολής (piping / shrinkage cavities) ................................................. 15
3.6 Κρυοπήγματα (cold shuts, unfused chaplets, unfused chills)..................................... 17
3.7 Θερμορωγμές (hot tears) ............................................................................................ 18
3.8 Επιφανειακή ρωγμή πλινθώματος (ingot crack) ........................................................ 19
3.9 Μετατόπιση καρδιάς (core shift) ............................................................................... 19
3.10 Φυσαλίδες (blows) ..................................................................................................... 19
3.11 Διακοπή ροής (misrun) .............................................................................................. 20
3.12 Τραχιά επιφάνεια (rough surface) .............................................................................. 20
3.13 Οπές από άμμο (sand holes)....................................................................................... 21
3.14 Σύντηξη άμμου (burn in) ........................................................................................... 22
3.15 Διείσδυση μετάλλου (burn on)................................................................................... 22
3.16 Διαβρώσεις άμμου (cuts and washes) ........................................................................ 23
3.17 Πτώσεις (drops) ......................................................................................................... 23
3.18 Ακαθαρσίες και σκουριές στο χυτό (dross and slags) ................................................ 24
3.19 Διαστολή της άμμου (expansion defects) .................................................................. 24
3.20 Οδοντώσεις σχήματος “V” (buckles) ......................................................................... 25
3.21 Φυλλοειδείς προβολές (expansion scabs) .................................................................. 25
4. Ασυνέχειες πρωτογενούς διεργασίας σε προϊόντα έλασης και σφυρηλάτησης ... 26

4.1 Αναδίπλωση (lap) ...................................................................................................... 26
4.2 Ραφή (seam) ............................................................................................................... 27
4.3 Επίμηκες έγκλεισμα (stringer) ................................................................................... 27
4.4 Διαστρωμάτωση (lamination) .................................................................................... 28
|vii|
4.5 Από-ελασματοποίηση (delamination) ........................................................................ 29

4.6 Ζωνοποίηση (banding) ............................................................................................... 29
4.7 Σκάσιμο / άνοιγμα σφυρηλάτησης (forging burst) .................................................... 29
4.8 Φολίδες / Νιφάδες (flakes) ......................................................................................... 30
5. Ασυνέχειες δευτερογενούς διεργασίας .................................................................... 31

5.1 Ρήγματα θερμικής κατεργασίας (heat treatment cracks) ............................................ 31
5.2 Ρήγματα μηχανικής κατεργασίας (machining tears) .................................................. 31
5.3 Ρήγματα λειάνσεως (grinding cracks) ........................................................................ 32
5.4 Ρήγματα επιμετάλλωσης (plating cracks) .................................................................. 32
6. Ασυνέχειες κατά τη λειτουργία ............................................................................... 33

6.1 Ρήγμα κοπώσεως (fatigue crack) ............................................................................... 33
6.2 Οξείδωση (oxidation)................................................................................................. 33
6.3 Διάβρωση (corrosion) ................................................................................................ 33
6.3.1 Ομοιόμορφη προσβολή (uniform attack) ................................................................... 34
6.3.2 Γαλβανική διάβρωση (galvanic corrosion) ................................................................ 34
6.3.3 Διάβρωση σχισμών (crevise corrosion) ..................................................................... 35
6.3.4 Τρηματική διάβρωση (pitting) ................................................................................... 36
6.3.5 Περικρυσταλλική διάβρωση (intergranular corrosion) .............................................. 37
6.3.6 Επιλεκτική αποκραμάτωση (selective leaching / parting) ......................................... 37
6.3.7 Φθορά - διάβρωση (erosion corrosion) ...................................................................... 37
6.3.8 Διάβρωση οφειλόμενη σε περιβαλλοντικούς παράγοντες (season cracking) ............ 38
6.3.9 Περιβαλλοντική ρηγμάτωση (environmental racking) .............................................. 39
6.3.10 Δυναμοδιάβρωση (Stress Corrosion Cracking / SCC) ............................................... 39
6.3.11 Sulfide Stress Cracking (SSC) ................................................................................... 40
6.3.12 Διάβρωση Κοπώσεως (corrosion fatigue) .................................................................. 40
6.3.13 Επίδραση υδρογόνου ................................................................................................. 41
6.3.14 Φλύκταινα υδρογόνου (hydrogen blistering) ............................................................. 41
6.3.15 Ψαθυροποίηση υδρογόνου (hydrogen embrittlement) ............................................... 42
6.3.16 Προσβολή υδρογόνου (hydrogen attack) ................................................................... 42
6.3.17 Απανθράκωση (decarburization) ............................................................................... 42
6.3.18 Διάβρωση λόγω τριβής .............................................................................................. 43
6.3.19 Μικροβιολογική διάβρωση (microbiologically influenced corrosion - MIC) ............ 43
6.4 Ρηγμάτωση λόγω υγρού μετάλλου (liquid metal cracking) ....................................... 44
6.5 Environmental cracking (API 945) ............................................................................ 44
6.6 Ρήγματα ερπυσμού (creep cracks) ............................................................................. 45
7. Ασυνέχειες συγκολλήσεων ....................................................................................... 47

7.1 Ρηγματώσεις (cracks)................................................................................................. 47
7.2 Ρηγμάτωση στερεοποίησης (solidification cracking) ................................................ 48
7.3 Ρηγμάτωση υδρογόνου (hydrogen induced cold cracking) ........................................ 49
7.4 Διαστρωματική ρηγμάτωση (lamellar tearing cracking)............................................ 50
7.5 Ρηγμάτωση αναθέρμανσης (reheat cracking, stress relaxation cracking) .................. 51
7.6 Ρηγματώσεις διακένωσης συστολής (shrink cracks, crater cracks) ........................... 52
7.7 Πόροι (porosity) ......................................................................................................... 53
7.8 Διακένωση συστολής κρατήρα (crater pipe) .............................................................. 55
7.9 Στερεά εγκλείσματα (solid inclusions) ...................................................................... 55
|viii|
7.9 Στερεά εγκλείσματα (solid inclusions) ...................................................................... 55

7.10 Ατελής τήξη (incomplete fusion) ............................................................................... 59
7.11 Ατελής διείσδυση ρίζας (incomplete root penetration) .............................................. 60
7.12 Κοιλότητα ρίζας (root concavity) .............................................................................. 61
7.13 Υποκοπή (undercut) ................................................................................................... 63
7.14 Ψυχρή επικάλυψη (overlap) ....................................................................................... 64
7.15 Υπερβολική διείσδυση (excess penetration) .............................................................. 65
7.16 Διαμπερής τήξη (burn through) ................................................................................. 65
7.17 Κακή ευθυγράμμιση (misalignment) και γωνιακή κακή ευθυγράμμιση (angular
misalignment) ............................................................................................................ 66
7.18 Ελλιπής πλήρωση (incompletely filled groove) ......................................................... 67
7.19 Υπερβολική ενίσχυση (excessive cap) ....................................................................... 67
7.20 Άναμμα τόξου (arc strike) .......................................................................................... 67
7.21 Σημάδια τροχίσματος (grinding marks, chipping mark, underflushing) .................... 68
7.22 Πιτσιλίσματα (spatter) ............................................................................................... 68
|ix|
ΟΠΤΙΚΟΣ ΕΛΕΓΧΟΣ
1. Εισαγωγή .................................................................................................................. 71
2. Η όραση .................................................................................................................... 71
2.1 Η βιοφυσική της όρασης ............................................................................................ 71
2.2 Οφθαλμοκινητικότητα ............................................................................................... 73
2.3 Ο σχηματισμός της εικόνας ....................................................................................... 75
2.4 Στερεοσκοπική όραση................................................................................................ 77
2.5 Φωτοπική όραση ........................................................................................................ 77
2.6 Σκοτοπική όραση ....................................................................................................... 77
2.7 Αντίληψη του χώρου.................................................................................................. 77
2.8 Επίδραση της κόπωσης και της υγείας στην ικανότητα οπτικής αντίληψης .............. 78
2.9 Προβλήματα συγκέντρωσης ...................................................................................... 79
2.10 Εξέταση οπτικής ικανότητας μικρών αποστάσεων .................................................... 79
2.11 Εξέταση οπτικής ικανότητας μεγάλων αποστάσεων ................................................. 79
2.12 Ικανότητα αντίληψης χρωμάτων................................................................................ 79
2.13 Οφθαλμαπάτες ........................................................................................................... 81
2.14 Παθολογικές καταστάσεις του ανθρώπινου οφθαλμού.............................................. 82
2.14.1 Υπερμετρωπία – πρεσβυωπία .................................................................................... 82
2.14.2 Μυωπία ...................................................................................................................... 82
2.14.3 Βλεφαρίτιδα ............................................................................................................... 83
2.14.4 Αμβλυωπία................................................................................................................. 83
2.14.5 Κερατόκωνος ............................................................................................................. 83
2.14.6 Διαβητική αμφιβληστροειδοπάθεια ........................................................................... 84
2.14.7 Πρεσβυωπία ............................................................................................................... 84
2.14.8 Ξηροφθαλμία ............................................................................................................. 84
2.14.9 Ηλικιακή ωχροπάθεια ................................................................................................ 85
2.14.10 Αστιγματισμός ........................................................................................................... 85
2.14.11 Στραβισμός ................................................................................................................ 85
2.14.12 Αμφιβληστροειδής και πληροφορίες για την αποκόλληση αμφιβληστροειδούς ....... 86
2.14.13 Καταρράκτης ............................................................................................................. 86
2.14.14 Γλαύκωμα .................................................................................................................. 86
2.14.15 Παθήσεις οπτικών νεύρων ......................................................................................... 87
2.14.16 Νυσταγμός ................................................................................................................. 87
2.14.17 Προβλήματα μετά από διαθλαστικές επεμβάσεις με Laser (LASIK, PRK) .............. 87
2.14.18 Διαθλαστικές ανωμαλίες ............................................................................................ 88
2.15 Προσομοιώσεις όρασης σε διάφορες παθήσεις ......................................................... 88
2.15.1 Προσομοίωση όρασης στη μελαγχρωστική αμφιβληστροπάθεια .............................. 88
2.15.2 Προσομοίωση όρασης στη μυωπία ............................................................................ 88
2.15.3 Προσομοίωση όρασης στο γλαύκωμα ....................................................................... 89
2.15.4 Προσομοίωση όρασης στην διαβητική αμφιβληστροειδοπάθεια .............................. 89
2.15.5 Προσομοίωση όρασης στην ηλικιακή εκφύλιση της ωχράς κηλίδας ......................... 89
3. Βασικές έννοιες οπτικής .......................................................................................... 90

3.1 Το φως ....................................................................................................................... 91
3.1.1 Φωτεινή ροή............................................................................................................... 91
3.1.2 Φωτεινή ένταση ή φωτοβολία.................................................................................... 92
3.1.3 Φωτισμός ................................................................................................................... 92
3.1.4 Φωτεινότητα .............................................................................................................. 92
|x|
3.1.5 Φωτομετρικός νόμος των αποστάσεων ...................................................................... 93

3.2 Ιδιότητες του φωτός ................................................................................................... 94
3.3 Ανάκλαση του φωτός ................................................................................................. 94
3.4 Διάθλαση του φωτός .................................................................................................. 95
3.5 Νόμοι της διάθλασης ................................................................................................. 99
3.6 Πόλωση του φωτός .................................................................................................... 100
3.7 Το λευκό φως ............................................................................................................. 100
3.8 Ο νόμος Muller-Lyer για την οφθαλμαπάτη .............................................................. 102
3.9 Μέτρηση του φωτός................................................................................................... 103
3.9.1 Μέτρηση του ορατού φωτός ...................................................................................... 103
4. Περιβαλλοντικές συνθήκες κατά τον έλεγχο.......................................................... 104

4.1 Καθαριότητα .............................................................................................................. 104
4.2 Φωτισμός ................................................................................................................... 104
4.3 Πρόσβαση και απόσταση παρατήρησης .................................................................... 105
4.4 Οπτικές γωνίες και αποστάσεις .................................................................................. 105
4.4.1 Μη καταστροφική εξέταση συγκολλήσεων με τήξη - οπτική εξέταση
(ΕΝ ISO 17637) ......................................................................................................... 106
4.4.1.1 Σκοπός ....................................................................................................................... 106
4.4.1.2 Συνθήκες παρατήρησης και εξοπλισμός .................................................................... 106
4.4.1.3 Πρόσβαση για επιθεώρηση ........................................................................................ 106
4.4.2 Άμεσος οπτικός έλεγχος (κατά ASME V) ................................................................. 107
4.4.3 Απομακρυσμένος οπτικός έλεγχος (κατά ASME V) ................................................. 107
4.5 Ατμοσφαιρικές συνθήκες ........................................................................................... 107
4.6 Φωτεινές πηγές .......................................................................................................... 108
4.6.1 Φως ημέρας ................................................................................................................ 108
4.6.2 Φακοί χειρός .............................................................................................................. 108
4.6.3 Λάμπες χειρός ............................................................................................................ 108
4.6.4 Επιτραπέζιες λάμπες με ρυθμιζόμενη κλίση / θέση ................................................... 108
4.6.5 Λαμπτήρες φθορισμού ............................................................................................... 109
4.6.6 Λαμπτήρες ατμών νατρίου και υδραργύρου .............................................................. 109
4.6.7 Στροβοσκοπικές φωτεινές πηγές ................................................................................ 109
4.6.8 Λαμπτήρες αλογόνου ................................................................................................. 109
5. Επιφανειακές συνθήκες ........................................................................................... 110

5.1 Καθαριότητα της ελεγχομένης επιφάνειας................................................................. 110
5.2 Μέθοδοι καθαρισμού ................................................................................................. 110
5.2.1 Εκτόξευση ξηρών αποξεστικών υλικών .................................................................... 110
5.2.2 Εκτόξευση υγρών....................................................................................................... 111
5.2.3 Εκτόξευση καθαρού νερού με υψηλή πίεση .............................................................. 111
5.2.4 Εκτόξευση νερού υψηλής πίεσης με αποξεστικό υλικό ............................................. 111
5.2.5 Εκτόξευση νερού χαμηλής πίεσης με αποξεστικό υλικό ........................................... 111
5.2.6 Καθαρισμός με ατμό, με η χωρίς εκτόξευση αποξεστικού υλικού ............................ 111
5.2.7 Εκτόξευση αέρα με νερό ............................................................................................ 112
5.2.8 Καθαρισμός με συρματόβουρτσα .............................................................................. 112
5.2.9 Καθαρισμός με διαλύτες χρωμάτων .......................................................................... 112
5.2.10 Καθαρισμός με διαλύτες ............................................................................................ 112
5.2.11 Απολίπανση με ατμούς .............................................................................................. 112
|xi|
5.2.12 Καθαρισμός με απορρυπαντικές ουσίες..................................................................... 113

5.2.13 Απολίπανση με υγρό .................................................................................................. 113
5.2.14 Καθαρισμός με υπέρηχους ......................................................................................... 113
6. Ποιότητα κατεργασμένης επιφάνειας..................................................................... 114

6.1 Αποκλίσεις μηχανολογικών επιφανειών από την επιπεδότητα .................................. 114
6.1.1 Σφάλμα μορφής επιφάνειας ....................................................................................... 115
6.1.2 Κυμάτωση επιφάνειας................................................................................................ 115
6.1.3 Τραχύτητα επιφάνειας ............................................................................................... 115
6.1.4 Μικροσκληρότητα, περιεκτικότητα σε άνθρακα και παραμένουσες τάσεις .............. 117
6.2 Επίδραση της ποιότητας επιφανείας στις ιδιότητες μηχανολογικών τεμαχίων .......... 118
6.3 Μέτρηση γεωμετρικών αποκλίσεων .......................................................................... 118
6.3.1 Ηλεκτρομηχανικά τραχύμετρα .................................................................................. 119
7. Οπτικά βοηθήματα και μετρητικές διατάξεις στον οπτικό έλεγχο ...................... 121
7.1 Οπτικά βοηθήματα ..................................................................................................... 121
7.1.1 Καθρέπτες .................................................................................................................. 121
7.2 Μικροσκόπια ............................................................................................................. 121
7.2.1 Αρχιτεκτονική μικροσκοπίου και μεγέθυνση ............................................................ 122
7.2.2 Επιμέρους συστήματα ................................................................................................ 123
7.3 Ενδοσκόπια ................................................................................................................ 124
7.3.1 Άκαμπτα ενδοσκόπια ................................................................................................. 124
7.3.2 Πανοραμικά ενδοσκόπια ............................................................................................ 125
7.3.3 Τεθλασμένα ενδοσκόπια ............................................................................................ 127
7.4 Οπτικές ίνες ............................................................................................................... 127
7.5 Όργανα ελέγχου συγκολλήσεων ................................................................................ 129
7.5.1 Παχύμετρο ................................................................................................................. 129
7.5.2 Μικρόμετρο ............................................................................................................... 130
7.6 Όργανα μέτρησης συγκολλήσεων.............................................................................. 131
8. Παράγοντες που επηρεάζουν τον οπτικό έλεγχο .................................................... 137

8.1 Θερμοκρασία ............................................................................................................. 137
8.2 Επίστρωση επιφανειών .............................................................................................. 137
8.3 Χρώμα........................................................................................................................ 138
8.3.1 Χρωματικός τόνος ..................................................................................................... 138
8.3.2 Φωτεινότητα (ή λαμπρότητα) .................................................................................... 138
8.3.3 Χρωματικός κορεσμός ............................................................................................... 138
9. Καταγραφή και αναφορά του ελέγχου ................................................................... 139

9.1 Καταγραφή των παρατηρήσεων ................................................................................ 139
9.2 Φωτογράφιση – Βιντεοσκόπηση ................................................................................ 139
9.3 Ρέπλικα ...................................................................................................................... 139
|xii|
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ ΔΙΕΙΣΔΥΤΙΚΑ ΥΓΡΑ
1. Εισαγωγή .................................................................................................................. 145

1.1 Πλεονεκτήματα της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών ............................................. 145
1.2 Μειονεκτήματα της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών.............................................. 146
1.3 Περιορισμοί της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών ................................................... 146
2. Ιδιότητες διεισδυτικών υγρών ................................................................................ 148

2.1 Τριχοειδές φαινόμενο (Capillary action) ................................................................... 148
2.2 Επιφανειακή τάση ...................................................................................................... 149
2.3 Διαβρεκτική ικανότητα .............................................................................................. 151
2.4 Ιξώδες ........................................................................................................................ 152
2.5 Ειδικό βάρος .............................................................................................................. 152
2.6 Σημείο ανάφλεξης ...................................................................................................... 153
2.7 Θιξοτροπισμός ........................................................................................................... 153
2.8 Διαλυτική ικανότητα .................................................................................................. 153
2.9 Μηχανισμός φθορισμού ............................................................................................. 153
2.10 Φωτεινότητα .............................................................................................................. 154
2.11 Σταθερότητα υπεριώδους φωτός ................................................................................ 154
2.12 Πυκνότητα ................................................................................................................. 154
2.13 Σημείο ανάφλεξης υγρού ........................................................................................... 155
2.14 Τοξικότητα ................................................................................................................. 155
2.15 Συνοχή ....................................................................................................................... 156
2.16 Συνάφεια .................................................................................................................... 156
2.17 Ευαισθησία διεισδυτή ................................................................................................ 156
2.18 Πως τα διεισδυτικά υγρά εισχωρούν στις ασυνέχειες ................................................ 157
3. Στάδια έλεγχου με τη χρήση των διεισδυτικών υγρών ......................................... 158

3.1 Φυσικές μέθοδοι καθαρισμού .................................................................................... 158
3.1.1 Αναγκαιότητα καθαρισμού της επιφάνειας................................................................ 158
3.1.2 Επιφανειακές συνθήκες που επηρεάζουν την μέθοδο των διεισδυτικών υγρών ........ 159
3.2 Χημικές μέθοδοι καθαρισμού .................................................................................... 159
3.2.1 Καθαρισμός με υπέρηχους ......................................................................................... 159
3.2.2 Περιγραφή διαδικασίας καθαρισμού σε λουτρό υπερήχων ....................................... 159
3.2.3 Δημιουργία υπερήχων ................................................................................................ 160
3.2.4 Εξοπλισμός ................................................................................................................ 160
3.2.5 Καθαρισμός με απορρυπαντικά ................................................................................. 161
3.2.6 Καθαρισμός με ατμό υπό πίεση ................................................................................. 161
3.2.7 Απολίπανση με ατμούς διαλύτη ................................................................................. 161
3.2.8 Αποσκωρίωση και αφαίρεση αλάτων ........................................................................ 161
3.2.9 Αποχρωματισμός ....................................................................................................... 162
3.2.10 Επιστρώσεις ............................................................................................................... 162
3.2.11 Χημική προσβολή (etching) ....................................................................................... 162
4. Βασικά βήματα της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών ........................................ 163

4.1 Προκαθαρισμός της επιφάνειας του δοκιμίου ........................................................... 165
4.2 Εφαρμογή διεισδυτικού υγρού ................................................................................... 165
4.2.1 Ορατοί διεισδυτές (Τύπος ΙΙ) ..................................................................................... 165
4.2.2 Φθορίζοντες διεισδυτές (Τύπος Ι) .............................................................................. 166
4.2.3 Διεισδυτές διπλής ευαισθησίας (Τύπος ΙΙΙ) ............................................................... 166
|xiii|
4.2.4 Επίπεδα ευαισθησίας ................................................................................................. 168

4.3 Εφαρμογή των διεισδυτικών υγρών ........................................................................... 168
4.4 Πλεονεκτήματα - μειονεκτήματα ορατών και φθοριζόντων διεισδυτών ................... 169
4.4.1 Ορατοί διεισδυτές ...................................................................................................... 169
4.4.2 Φθορίζοντες διεισδυτές .............................................................................................. 170
4.5 Έκπλυση για απομάκρυνση του πλεονάζοντος διεισδυτή – ξήρανση........................ 170
4.5.1 Διαλυτοαφαιρούμενοι διεισδυτές............................................................................... 171
4.5.2 Υδατοαφαιρούμενοι διεισδυτές ................................................................................. 171
4.5.3 Μεταγαλακτωματοποιούμενοι διεισδυτές ................................................................. 171
4.5.3.1 Ιδιότητες γαλακτωματοποιητών................................................................................. 171
4.5.3.2 Λιπόφιλος γαλακτωματοποιητής ............................................................................... 172
4.5.3.3 Υδρόφιλος γαλακτωματοποιητής............................................................................... 172
4.6 Εφαρμογή εμφανιστή ................................................................................................. 172
4.6.1 Ξηροί εμφανιστές ....................................................................................................... 173
4.6.2 Υγροί μη υδατικοί εμφανιστές (με βάση διαλύτη)..................................................... 174
4.6.3 Υγροί υδατικοί εμφανιστές (υδατικής βάσεως) ......................................................... 174
4.7 Εξόλκηση ................................................................................................................... 175
4.8 Επιθεώρηση ............................................................................................................... 175
4.9 Τελικός καθαρισμός του δοκιμίου ............................................................................. 177
5. Ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία ............................................................................. 178
6. Έλεγχος εξοπλισμού ................................................................................................. 179

6.1 Ειδική βαρύτητα ........................................................................................................ 179
6.2 Ένταση χρώματος ...................................................................................................... 179
6.3 Φθορίζων διεισδυτής.................................................................................................. 179
6.4 Γαλακτωματοποιητής................................................................................................. 179
6.5 Έκπλυση με νερό ....................................................................................................... 179
6.6 Εμφανιστής ................................................................................................................ 179
6.7 Υπεριώδης Ακτινοβολία ............................................................................................ 179
7. Δοκίμια ελέγχου........................................................................................................ 180

7.1 Δοκίμιο αναφοράς τύπου 1 (Test Block 1 according to EN ISO 3452-3) .................. 180
7.2 Δοκίμιο αναφοράς τύπου 2 (Test Block 2 according to EN ISO 3452-3) .................. 180
7.3 Δοκίμιο σύγκρισης αλουμινίου -Δοκίμιο ARB (Aeronautical Registration Board) .. 181
7.4 Δοκίμιο TAM PANEL - Δοκίμιο χρωμιούχου χάλυβα .............................................. 181
7.5 Διαιρούμενο δοκίμιο .................................................................................................. 181
7.6 Δοκίμιο χρωμιούχου νικελίου .................................................................................... 182
7.7 Δοκίμια Ardrox Runchek ........................................................................................... 183
8. Βασικά στάδια του ελέγχου με την μέθοδο των διεισδυτικών υγρών σύμφωνα
με το πρότυπο EN ISO 3452-1 ................................................................................. 184
8.1 Ανάλυση τεχνικών με τα πλεονεκτήματα / μειονεκτήματα ....................................... 185
8.2 Διαλυτοαφαιρούμενοι διεισδυτές και εμφανιστές υδατικής βάσης ........................... 186
8.3 Υδατοαφαιρούμενοι διεισδυτές και εμφανιστές υδατικής ή ξηράς βάσης................. 187
8.4 Μεταγαλακτωποιούμενοι διεισδυτές με χρήση λιπόφιλου γαλακτωματοποιητή και
εμφανιστή υδατικής ή ξηράς βάσης ........................................................................... 189
|xiv|
8.5 Μεταγαλακτωποιούμενοι διεισδυτές με χρήση υδρόφιλου γαλακτωματοποιητή και

εμφανιστή υδατικής ή ξηράς βάσης ........................................................................... 191
8.6 Σύγκριση υδρόφιλων και λιπόφιλων μεθόδων ........................................................... 193
9. Μέτρα προστασίας ................................................................................................... 194

9.1 Αποφυγή πυρκαγιάς ................................................................................................... 194
9.2 Τοξικότητα υλικών .................................................................................................... 194
9.3 Προστασία από την υπεριώδη ακτινοβολία ............................................................... 194
9.4 Ασφάλεια από χημικές ουσίες ................................................................................... 194
10. Ορολογία ................................................................................................................... 195
|xv|
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ ΜΑΓΝΗΤΙΚΑ ΣΩΜΑΤΙΔΙΑ
1. Εισαγωγή .................................................................................................................. 199

1.1 Πλεονεκτήματα της μεθόδου των μαγνητικών σωματιδίων ...................................... 200
1.2 Μειονεκτήματα της μεθόδου των μαγνητικών σωματιδίων....................................... 201
2. Βασικές έννοιες ......................................................................................................... 202

2.1 Διάκριση μαγνητών.................................................................................................... 202
2.2 Πόλοι του μαγνήτη .................................................................................................... 202
2.3 Μαγνητικό πεδίο ........................................................................................................ 204
2.3.1 Παραγωγή μαγνητικού πεδίου ................................................................................... 204
3. Φυσικές έννοιες και νόμοι ....................................................................................... 205

3.1 Νόμος του Coulomb .................................................................................................. 205
3.2 Μεγέθη του μαγνητικού πεδίου ................................................................................. 205
3.3 Μαγνητική επαγωγή - μαγνητική διαπερατότητα ...................................................... 206
3.4 Μαγνητική ροή .......................................................................................................... 207
3.5 Ένταση του μαγνητικού πεδίου ................................................................................. 208
3.6 Διαρροή του μαγνητικού πεδίου ................................................................................ 209
4. Ταξινόμηση των υλικών σύμφωνα με τις μαγνητικές τους ιδιότητες ................. 211
4.1 Παραμαγνητισμός ...................................................................................................... 211
4.2 Διαμαγνητισμός ......................................................................................................... 213
4.3 Σιδηρομαγνητισμός .................................................................................................... 214
4.4 Αντισιδηρομαγνητισμός............................................................................................. 215
4.5 Ο μαγνητικός περιοδικός πίνακας.............................................................................. 215
4.6 Βρόγχος υστέρησης ................................................................................................... 217
5. Μαγνητικά υλικά ..................................................................................................... 220

5.1 Υλικά μόνιμων μαγνητών .......................................................................................... 220
5.2 Μαλακά και σκληρά μαγνητικά υλικά ....................................................................... 220
5.2.1 Μαλακά μαγνητικά υλικά .......................................................................................... 221
5.2.1.1 Μαλακά σιδηρομαγνητικά υλικά ............................................................................... 223
5.2.2 Σκληρά μαγνητικά υλικά ........................................................................................... 223
5.2.2.1 Σκληρά σιδηρομαγνητικά υλικά ................................................................................ 224
5.3 Καμπύλη μαγνήτισης ................................................................................................. 225
5.4 Θερμοκρασία Curie.................................................................................................... 229
6. Ηλεκτρομαγνητισμός ............................................................................................... 230

6.1 Σχέση ηλεκτρισμού και μαγνητισμού ........................................................................ 230
6.2 Μαγνητικό πεδίο σωληνοειδούς ................................................................................ 230
6.3 Ηλεκτρομαγνήτες ....................................................................................................... 231
6.4 Τύποι ρεύματος .......................................................................................................... 232
6.5 Σύγκριση ενδείξεων χρησιμοποιώντας διαφορετικούς τύπους ρεύματος .................. 234
6.6 Επιδερμικό φαινόμενο ............................................................................................... 235
6.7 Ανιχνευσιμότητα ασυνεχειών .................................................................................... 236
6.8 Προκαθορισμός και προετοιμασία επιφανείας .......................................................... 236
6.9 Διαμήκης και κυκλική μαγνήτιση .............................................................................. 237
6.9.1 Κυκλική μαγνήτιση .................................................................................................... 238
6.9.2 Διαμήκης μαγνήτιση .................................................................................................. 239
|xvi|
7. Τεχνικές μαγνήτισης ................................................................................................ 241

7.1 Χρήση μόνιμου μαγνήτη............................................................................................ 241
7.2 Πεταλοειδής ηλεκτρομαγνήτης .................................................................................. 241
7.3 Χρήση ακροδεκτών.................................................................................................... 244
7.4 Τεχνική κεντρικού αγωγού ........................................................................................ 246
7.5 Μετωπική επαφή ........................................................................................................ 248
7.6 Χρήση άκαμπτου πηνίου ........................................................................................... 249
7.7 Χρήση εύκαμπτου πηνίου .......................................................................................... 251
7.8 Μαγνητικό πεδίο γύρω από ηλεκτρικό αγωγό ........................................................... 252
7.9 Μηχανήματα μαγνήτισης πολλαπλών διευθύνσεων .................................................. 253
7.10 Απομαγνήτιση ............................................................................................................ 254
7.11 Περιορισμοί της απομαγνήτισης ................................................................................ 257
7.12 Ξηρή μέθοδος............................................................................................................. 258
7.13 Υγρή μέθοδος............................................................................................................. 259
7.14 Εφαρμογή των μαγνητικών σωματιδίων .................................................................... 260
7.15 Γεωμετρικά χαρακτηριστικά και υλικά μαγνητικών σωματιδίων .............................. 260
7.16 Ορατά και φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια ............................................................ 261
7.17 Φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια ............................................................................. 262
7.18 Σύγκριση και επιλογή ξηρής ή υγρής μεθόδου .......................................................... 263
7.19 Σύγκριση και επιλογή ορατών ή φθοριζόντων μαγνητικών σωματιδίων ................... 264
8. Συνθήκες παρατήρησης ........................................................................................... 265

8.1 Παρατήρηση ενδείξεων ορατών και φθοριζόντων σωματιδίων ................................. 265
8.2 Το υπεριώδες φως (black light).................................................................................. 266
8.3 Λάμπες υπεριώδους φωτός ........................................................................................ 266
9. Όργανα μέτρησης μαγνητισμού .............................................................................. 269

9.1 Το φαινόμενο Hall ..................................................................................................... 269
9.2 Όργανα μετρήσεων μαγνητικού πεδίου ..................................................................... 269
9.3 Δείκτης μαγνητικού πεδίου (γκαουσόμετρο) (field indicator) ................................... 270
9.4 Μετρητής φαινομένου HALL (gauss/tesla) ............................................................... 270
9.5 Δείκτης μαγνητικού πεδίου ........................................................................................ 272
10. Έλεγχος των υλικών και λειτουργικοί έλεγχοι ...................................................... 274

10.1 Έλεγχος των υλικών................................................................................................... 274
10.2 Λειτουργικοί έλεγχοι ................................................................................................. 274
10.3 Ποσοτικός δείκτης ποιότητας (quantitative quality indicator - QQI) ........................ 276
10.4 Δείκτες μαγνητικού πεδίου ........................................................................................ 277
11. Μέτρα προστασίας ................................................................................................... 278
12. Μονάδες μέτρησης, διάγραμμα σιδηρομαγνητικών στοιχείων (Fe, Co, Ni) ....... 280
|xvii|
ΒΑΣΙΚΗ ΑΚΤΙΝΟΠΡΟΣΤΑΣΙΑ
1. Εισαγωγή στις βασικές έννοιες της φυσικής των ακτινοβολιών .......................... 283
1.1 Το άτομο και η δομή του ........................................................................................... 283
1.1.1 Το μοντέλο του Thomson ή το μοντέλο του «σταφιδόψωμου» ................................. 283
1.1.2 Το μοντέλο του Rutherford ή το «πλανητικό» μοντέλο ............................................. 284
1.1.3 Το μοντέλο του Bohr ................................................................................................. 284
1.1.4 Τι ισχύει σήμερα για το άτομο; .................................................................................. 285
1.2 Κατάταξη των στοιχείων - O Περιοδικός Πίνακας .................................................... 286
1.3 Ισότοπα ...................................................................................................................... 289
1.4 Μόρια και ιόντα ......................................................................................................... 289
1.5 Διέγερση ενός ατόμου και χαρακτηριστική ακτινοβολία .......................................... 290
1.6 Ιονισμός (ή ιοντισμός) ενός ατόμου........................................................................... 290
1.7 Μηχανισμός παραγωγής και απορρόφησης φωτονίων .............................................. 291
1.7.1 Διέγερση με κρούση .................................................................................................. 291
1.7.2 Διέγερση με απορρόφηση ακτινοβολίας .................................................................... 291
1.8 Ακτινοβολία πέδης ..................................................................................................... 292
1.9 Ακτίνες Χ ................................................................................................................... 292
1.9.1 Παραγωγή και φύση των ακτινών Χ .......................................................................... 292
1.9.2 Απορρόφηση των ακτίνων Χ ..................................................................................... 293
1.9.3 Φάσμα των ακτινών Χ ............................................................................................... 293
1.9.3.1 Γραμμικό φάσμα ........................................................................................................ 294
1.9.3.2 Συνεχές φάσμα ........................................................................................................... 294
1.9.4 Χρήσεις των ακτίνων Χ ............................................................................................. 294
2. Ραδιενέργεια ............................................................................................................. 295

2.1 Το μέγεθος και η δομή των πυρήνων - Πυρηνική σταθερότητα ................................ 295
2.2 Ραδιοϊσότοπα ............................................................................................................. 296
2.3 Ραδιενέργεια .............................................................................................................. 296
2.3.1 Διάσπαση α ................................................................................................................ 296
2.3.2 Διάσπαση β ................................................................................................................ 298
2.3.2.1 Διάσπαση β- ............................................................................................................... 299
2.3.2.2 Διάσπαση β+ .............................................................................................................. 299
2.3.3 Διάσπαση γ ................................................................................................................ 300
2.3.4 Νετρόνια .................................................................................................................... 300
2.3.5 Διεισδυτική ικανότητα και θωράκιση των ακτινοβολιών .......................................... 301
2.3.6 Διαχωρισμός των σωματιδίων α, β και γ ................................................................... 301
2.3.7 Ενεργότητα ραδιενεργού δείγματος και νόμος των ραδιενεργών διασπάσεων.......... 302
2.3.7.1 Χρόνος υποδιπλασιασμού ή χρόνος ημίσειας ζωής ................................................... 303
3. Βασικές έννοιες αλληλεπίδρασης ακτινοβολίας και ύλης ..................................... 305

3.1 Μηχανισμοί αλληλεπίδρασης φωτονίων-ύλης ........................................................... 305
3.1.1 Φωτοηλεκτρικό φαινόμενο ........................................................................................ 305
3.1.2 Το φαινόμενο Compton ............................................................................................. 306
3.1.3 Δίδυμη γένεση............................................................................................................ 307
3.2 Μηχανισμοί εξασθένισης (attenuation) της ακτινοβολίας κατά τη διάδοση της ....... 307
3.2.1 Γεωμετρική εξασθένιση: Σχέση έντασης-απόστασης ................................................ 308
3.2.2 Εξασθένιση της ακτινοβολίας λόγω αλληλεπίδρασης με την ύλη: Νόμος της
εκθετικής εξασθένισης ............................................................................................... 310
3.2.2.1 Πάχος υποδιπλασιασμού (HVL) ................................................................................ 311
|xviii|
4. Βασικές έννοιες δοσιμετρίας ................................................................................... 314

4.1 Το ηλεκτρομαγνητικό φάσμα .................................................................................... 314
4.2 Ιοντίζουσες και μη ιοντίζουσες ακτινοβολίες ............................................................ 315
4.3 Πηγές ακτινοβολίας ................................................................................................... 315
4.4 Τρόποι έκθεσης στην ακτινοβολία ............................................................................. 316
4.5 Δοσιμετρία – εκφράσεις δοσιμετρίας ........................................................................ 317
4.5.1 Απορροφούμενη δόση (D) ......................................................................................... 317
4.5.2 Ισοδύναμη δόση (ΗΤ) ................................................................................................ 318
4.5.3 Ενεργός δόση (Εeff)................................................................................................... 319
4.5.4 Ρυθμός δόσης (Dose rate) .......................................................................................... 320
4.5.5 Ετήσιες δόσεις από πηγές ακτινοβολίας (φυσικές ή τεχνητές) .................................. 321
4.5.6 Παράγοντες που επηρεάζουν τη δόση ....................................................................... 323
5. Ανίχνευση ιοντιζουσών ακτινοβολιών .................................................................... 324

5.1 Όργανα ανίχνευσης και μέτρησης ............................................................................. 324
5.1.1 Ανιχνευτές ακτινοβολίας με αέριο ............................................................................. 324
5.1.1.1 Ανιχνευτές Geiger-Mueller ........................................................................................ 324
5.1.1.2 Αναλογικοί ανιχνευτές ............................................................................................... 325
5.1.1.3 Ανιχνευτές ιονισμού .................................................................................................. 325
5.1.2 Ανιχνευτές σπινθηρισμού .......................................................................................... 326
5.1.3 Δοσίμετρα .................................................................................................................. 326
5.1.3.1 Δοσιμέτρηση επαγγελματικά εκτιθέμενων σε ακτινοβολίες ...................................... 326
5.1.3.2 Είδη δοσίμετρων ........................................................................................................ 327
6. Βιολογικές επιδράσεις των ακτινοβολιών .............................................................. 331

6.1 Το κύτταρο ως θεμελιώδης δομική και λειτουργική μονάδα ..................................... 331
6.2 Κυτταρική διαίρεση ................................................................................................... 333
6.3 Επίδραση των ακτινοβολιών στο κύτταρο ................................................................. 334
6.3.1 Άμεσα αποτελέσματα ................................................................................................ 337
6.3.2 Απώτερα (στοχαστικά) αποτελέσματα ...................................................................... 338
6.4 Συγκριτικές επιπτώσεις ακτινοβολιών ....................................................................... 339
7. Εξοπλισμός βιομηχανικής ακτινογραφίας ............................................................. 341

7.1 Πρότυπα εξοπλισμού γ ακτινογραφίας ...................................................................... 341
7.2 Συσκευές γ ακτινογραφήσεων ................................................................................... 341
7.3 Ασφαλής χρήση εξοπλισμού ακτίνων γ ..................................................................... 343
7.4 Πηγές γ ακτινογραφήσεων ......................................................................................... 344
7.5 Συσκευές ακτίνων Χ .................................................................................................. 345
7.5.1 Ασφαλής χρήση εξοπλισμού ακτίνων Χ .................................................................... 346
7.6 Ασφάλεια ακτινογραφικού εξοπλισμού ..................................................................... 346
8. Σύστημα ακτινοπροστασίας .................................................................................... 348

8.1 Διεθνές σύστημα ακτινοπροστασίας .......................................................................... 348
8.2 Βασικές αρχές ακτινοπροστασίας (εθνικό σύστημα) ................................................. 349
8.2.1 Αρχή της Αιτιολόγησης ............................................................................................. 350
8.2.2 Αρχή της Βελτιστοποίησης (Αρχή της ALARA - Αs Low As Reasonable
Achievable) ................................................................................................................ 350
|xix|
8.2.3 Αρχή των Ορίων Δόσεων........................................................................................... 351

8.3 Ακτινοπροστασία προσωπικού .................................................................................. 352
8.3.1 Ταξινόμηση και οριοθέτηση ζωνών ........................................................................... 352
8.3.2 Ταξινόμηση των εκτιθέμενων εργαζόμενων .............................................................. 353
8.3.3 Εκτίμηση και εφαρμογή των μέτρων για την ακτινοπροστασία των εκτιθέμενων
εργαζομένων .............................................................................................................. 353
8.3.4 Ιατρική παρακολούθηση εκτιθέμενων εργαζόμενων ................................................. 354
8.4 Βιομηχανικές ακτινογραφήσεις ................................................................................. 354
8.4.1 Κατηγορίες εργαστηρίων βιομηχανικών ακτινογραφήσεων...................................... 355
8.4.2 Έκδοση αδειών λειτουργίας για εργαστήρια βιομηχανικών ακτινογραφήσεων ........ 356
8.4.3 Συγκρότηση και λειτουργία εργαστηρίων ................................................................. 357
8.4.4 Ιατρική επίβλεψη προσωπικού................................................................................... 358
8.4.5 Απαιτήσεις της Ελληνικής Επιτροπής Ατομικής Ενέργειας ...................................... 359
9. Επιτόπιες ακτινογραφήσεις ..................................................................................... 360

9.1 Ελεγχόμενες περιοχές ................................................................................................ 360
9.2 Ασφάλεια κατά την επιτόπια ακτινογραφία ............................................................... 360
10. Αποθήκευση και μεταφορά πηγών ......................................................................... 362

10.1 Αποθήκευση πηγών ................................................................................................... 362
10.2 Μεταφορά πηγών ....................................................................................................... 362
10.2.1 Τύποι δεμάτων μεταφοράς ......................................................................................... 363
10.2.2 Κατηγοριοποίηση και σήμανση δεμάτων .................................................................. 364
10.2.3 Έκδοση άδειας μεταφοράς ραδιενεργού πηγής για βιομηχανική χρήση.................... 366
11. Καταστάσεις έκτακτης ανάγκης από ραδιολογικά ατυχήματα ............................ 367

11.1 Καταστάσεις έκτακτης ανάγκης................................................................................. 367
11.2 Περιεχόμενο των σχεδίων έκτακτης ανάγκης ............................................................ 367
11.3 Εξοπλισμός έκτακτης ανάγκης .................................................................................. 368
11.4 Διαδικασίες έκτακτης ανάγκης .................................................................................. 368
11.4.1 Γενικές απαιτήσεις ..................................................................................................... 369
11.4.2 Ανακοίνωση και έκθεση ατυχήματος ........................................................................ 369
11.5 Δυνατότητα αποφυγής κατάστασης έκτακτης ανάγκης ............................................. 370
|xx|
ΒΙΟΜΗΧΑΝΙΚΗ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΑ
1. Εισαγωγή .................................................................................................................. 373
2. Ιδιότητες της ύλης.................................................................................................... 376

2.1 Το άτομο και η δομή του ........................................................................................... 376
2.2 Τι ισχύει σήμερα για το άτομο; .................................................................................. 377
2.3 Ατομικός αριθμός (Ζ) ................................................................................................ 379
2.4 Μαζικός αριθμός (Α) ................................................................................................. 379
2.5 Μόρια και Ιόντα ......................................................................................................... 379
2.6 Ιονισμός ή ιοντισμός .................................................................................................. 380
2.7 Ισότοπα ...................................................................................................................... 380
2.8 Ραδιενεργά ισότοπα ή ραδιοϊσότοπα ......................................................................... 381
2.9 Διέγερση ενός ατόμου και χαρακτηριστική ακτινοβολία .......................................... 382
2.10 Ραδιενέργεια .............................................................................................................. 383
2.11 Μεταστοιχείωση πυρήνων ......................................................................................... 383
2.12 Σειρές διασπάσεως ..................................................................................................... 383
2.13 Διάσπαση α ή ακτινοβολία α ..................................................................................... 384
2.14 Διάσπαση β ................................................................................................................ 385
2.15 Διάσπαση β- ............................................................................................................... 385
2.16 Διάσπαση β+ .............................................................................................................. 386
2.17 Διάσπαση με σύλληψη ηλεκτρονίων ......................................................................... 387
2.18 Διάσπαση γ ή ακτινοβολία γ ...................................................................................... 387
2.19 Ακτινοβολία νετρονίων.............................................................................................. 388
3. Αλληλεπίδραση ακτινοβολιών με την ύλη ............................................................. 389

3.1 Μηχανισμοί αλληλεπίδρασης ακτινοβολίας και ύλης ............................................... 389
3.2 Σκέδαση Rayleigh ...................................................................................................... 390
3.3 Φωτοηλεκτρικό φαινόμενο ........................................................................................ 390
3.4 Σκέδαση Compton ..................................................................................................... 391
3.5 Δίδυμη γένεση............................................................................................................ 391
4. Τύποι ακτινοβολίας .................................................................................................. 393

4.1 Φυσικές και τεχνητές πηγές ακτινοβολίας ................................................................. 394
4.1.1 Φυσικές πηγές ακτινοβολίας ...................................................................................... 394
4.1.2 Τεχνητές πηγές ακτινοβολίας..................................................................................... 394
4.2 Πλεονεκτήματα και μειονεκτήματα των ισοτόπων στην βιομηχανική ακτινογραφία 394
4.3 Δημιουργία ακτινοβολίας γ στη βιομηχανική ακτινογραφία ..................................... 395
4.4 Διεισδυτικότητα ......................................................................................................... 395
4.5 Ραδιενεργός διάσπαση ............................................................................................... 395
4.6 Ενεργότητα πηγής ...................................................................................................... 396
4.7 Ειδική ενεργότητα...................................................................................................... 396
4.8 Εξασθένιση (decay) ................................................................................................... 397
4.9 Εξασθένιση της ακτινοβολίας λόγω αλληλεπίδρασης με την ύλη: Νόμος της
εκθετικής εξασθένισης ............................................................................................... 397
4.10 Χρόνος υποδιπλασιασμού ή χρόνος ημισείας ζωής ................................................... 399
4.11 Πάχος υποδιπλασιασμού ............................................................................................ 400
5. Συσκευές έκθεσης ακτίνων γ ................................................................................... 403

5.1 Κάψουλα ισοτόπου .................................................................................................... 403
|xxi|
5.2 Κατηγοριοποίηση των συσκευών έκθεσης ................................................................ 405

5.3 Χειρισμός και φύλαξη συσκευών ακτίνων γ .............................................................. 406
5.4 Κατευθυντήρες (collimators) ..................................................................................... 409
5.5 Σύγκριση μεταξύ ακτίνων Χ και γ ............................................................................. 410
6. Δευτερεύουσα ακτινοβολία – σκεδάζουσα ακτινοβολία ....................................... 411

6.1 Υποκοπή ακτινογραφικού φιλμ (Undercut) ............................................................... 412
6.2 Βέλτιστη γωνία ακτινογράφησης ............................................................................... 413
7. Φίλτρα και ενισχυτικές πλάκες για την βελτίωση της ακτινογραφικής εικόνας 414
7.1 Φίλτρα ........................................................................................................................ 414
7.2 Ενισχυτικές πλάκες .................................................................................................... 415
7.3 Μολύβδινες ενισχυτικές πλάκες ................................................................................ 415
7.4 Ενισχυτικές πλάκες χάλυβα – χαλκού........................................................................ 416
7.5 Φθορίζουσες ενισχυτικές επιφάνειες (fluorescent screens) ....................................... 416
7.6 Φθορίζουσες ενισχυτικές επιφάνειες άλατος (fluorescent salt screens) ..................... 416
7.7 Φθορομεταλλικές πλάκες (fluorometallic screens) .................................................... 416
8. Ακτίνες Χ .................................................................................................................. 418

8.1 Ακτινοβολία πέδης (bremsstrahlung)......................................................................... 420
8.2 Ενεργειακό φάσμα ακτίνων Χ ................................................................................... 420
8.3 Προσεγγιστικοί συντελεστές ισοδυναμίας ................................................................. 423
8.4 Συστήματα ακτινοβολίας υψηλής ενέργειας .............................................................. 423
8.5 Το Βήτατρο ................................................................................................................ 424
8.6 Το Κύκλοτρο.............................................................................................................. 424
8.7 Γραμμικός επιταχυντής Lineac (Linear Accelerator) ................................................. 725
8.8 Ρυθμίσεις γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ............................................................. 426
8.8.1 Χρόνος έκθεσης ......................................................................................................... 426
8.8.2 Ένταση ακτίνων Χ (mA) ........................................................................................... 426
8.8.3 Ενέργεια ακτίνων Χ (keV) ......................................................................................... 426
9. Ακτινογραφικό φιλμ ................................................................................................ 428

9.1 Γενικά ........................................................................................................................ 428
9.2 Σύσταση φιλμ............................................................................................................. 428
9.3 Γαλάκτωμα................................................................................................................. 428
9.4 Τύποι φιλμ ................................................................................................................. 430
9.5 Ταχύτητα φιλμ ........................................................................................................... 430
9.6 Λανθάνουσα εικόνα ................................................................................................... 432
9.7 Στάδια επεξεργασίας .................................................................................................. 432
9.7.1 Εμφάνιση (development) ........................................................................................... 432
9.7.2 Λουτρό διακοπής (stopbath) ...................................................................................... 434
9.7.3 Σταθεροποιητής (fixing) ............................................................................................ 434
9.7.4 Πλύσιμο (washing) .................................................................................................... 434
9.7.5 Λουτρό μείωσης επιφανειακής τάσης ........................................................................ 434
9.7.6 Στέγνωμα φιλμ (drying) ............................................................................................. 434
9.8 Δοχεία ........................................................................................................................ 434
9.9 Χειροκίνητη επεξεργασία και σκοτεινός θάλαμος ..................................................... 435
9.10 Αυτόματη επεξεργασία .............................................................................................. 436
|xxii|
9.11 Χειρισμός φιλμ .......................................................................................................... 437

9.12 Συσκευασία φιλμ ....................................................................................................... 437
9.13 Αποθήκευση ακατέργαστων φιλμ .............................................................................. 438
9.14 Αποθήκευση επεξεργασμένων φιλμ........................................................................... 438
9.15 Επιλογή ακτινογραφικού φιλμ ................................................................................... 438
9.16 Τεχνική διπλού φιλμ .................................................................................................. 439
9.17 Αντιστάθμιση με την χρήση ενός φιλμ ...................................................................... 439
9.18 Τεχνικές διπλού φιλμ ................................................................................................. 440
9.19 Ψηφιακή απεικόνιση και επεξεργασία απουσία ακτινογραφικού φιλμ...................... 440
9.20 Ψηφιοποίηση του συμβατικού ακτινογραφικού φιλμ ................................................ 441
10. Ακτινογραφική πυκνότητα ...................................................................................... 443

10.1 Πυκνόμετρο (densitometer) ....................................................................................... 444
10.2 Διαφανοσκόπιο (viewer) και ερμηνεία ακτινογραφιών ............................................. 445
11. Ιδιότητες ακτινογραφικών φιλμ ............................................................................. 447

11.1 Αντίθεση ακτινογραφικού φιλμ ................................................................................. 447
11.2 Ευκρίνεια ακτινογραφικού φιλμ ................................................................................ 447
11.3 Η χαρακτηριστική καμπύλη ....................................................................................... 448
11.4 Μη ικανοποιητικές ακτινογραφίες ............................................................................. 450
11.5 Τα σφάλματα και οι αιτίες τους κατά την επεξεργασία του ακτινογραφικού φιλμ.... 451
12. Υπολογισμός έκθεσης .............................................................................................. 454

12.1 Κατασκευή διαγράμματος έκθεσης............................................................................ 454
12.1.1 Προκαταρκτικά διαγράμματα .................................................................................... 454
12.1.2 Εκθέσεις ..................................................................................................................... 455
12.1.3 Μέτρηση της πυκνότητας .......................................................................................... 455
12.1.4 Κατασκευή προκαταρκτικών διαγραμμάτων ............................................................. 455
12.1.5 Διάγραμμα έκθεσης ................................................................................................... 456
12.2 Συντελεστής σχετικής έκθεσης (relative exposure factor) ......................................... 458
12.3 Απόλυτος χρόνος έκθεσης (absolute exposure time) ................................................. 459
12.4 Υπολογισμοί έκθεσης για ακτίνες γ ........................................................................... 459
12.5 Exposure calculations using gamma slide rule .......................................................... 461
13. Ποιότητα ακτινογραφικής απεικόνισης ................................................................. 462

13.1 Ακτινογραφική αντίθεση ........................................................................................... 463
13.2 Ακτινογραφική ευκρίνεια .......................................................................................... 463
13.3 Εγγενής δυσκρίνεια (inherent unsharpness) Uf ......................................................... 464
13.4 Γεωμετρική δυσκρίνεια (geometric unsharpness) Ug ................................................ 466
13.5 Συνολική δυσκρίνεια (total unsharpness) Ut.............................................................. 468
13.6 Επιλογή ακτινοβολίας γ ............................................................................................. 469
13.7 Σκληρότητα ακτινοβολίας και ακτινογραφική αντίθεση ........................................... 469
13.8 Αντίθεση αντικείμενου .............................................................................................. 470
13.9 Εύρος ακτινογράφησης .............................................................................................. 471
13.10 Αντίθεση ακτινογραφικού φιλμ ................................................................................. 471
13.11 Γεωμετρικοί παράγοντες ............................................................................................ 473
13.12 Παράγοντες ακτινογραφικού φιλμ και ενισχυτικών πλακών ..................................... 474
13.13 Ποιότητα ακτινογραφίας ............................................................................................ 475
|xxiii|
13.14 Ακτινογραφική ευαισθησία (sensitivity) .................................................................... 475

13.15 Συνοπτική παρουσίαση των παραγόντων που επηρεάζουν την ποιότητα της
ακτινογραφικής απεικόνισης...................................................................................... 475
14. Υπολογισμοί στη βιομηχανική ακτινογραφία ........................................................ 477

14.1 Προσδιορισμός του μεγέθους του αποτελεσματικού εστιακού σημείου (effective
focal spot) .................................................................................................................. 477
14.2 Υπολογισμός της γεωμετρικής δυσκρίνειας συναρτήσει της απόστασης πηγής -
ακτινογραφικού φιλμ ................................................................................................. 479
14.3 Νόμος των αντίστροφων τετραγώνων ....................................................................... 481
14.4 Σχέση έκθεσης – απόστασης πηγής-φιλμ................................................................... 482
14.5 Σχέση έκθεσης – πυκνότητας ακτινογραφικού φιλμ .................................................. 484
14.6 Ρύθμιση της έκθεσης για την παραγωγή διαφορετικής ακτινογραφικής πυκνότητας 485
14.7 Ρύθμιση της έκθεσης για τη χρήση διαφορετικού τύπου ακτινογραφικού φιλμ ........ 485
14.8 Η χρήση της χαρακτηριστικής καμπύλης με το διάγραμμα έκθεσης ......................... 486
14.9 Υπολογισμός μεγέθυνσης .......................................................................................... 488
14.10 Υπολογισμός της δέσμης κάλυψης ............................................................................ 489
14.11 Προσδιορισμός του βάθους της ασυνέχειας .............................................................. 490
15. Ενδείκτες ποιότητας εικόνας (image quality indicator - IQI) .............................. 492
15.1 Ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου σύρματος (Wire type IQI ) σύμφωνα με το
πρότυπο EN 462-1 ..................................................................................................... 494
15.2 Ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου βαθμίδας/οπής (Step/hole type IQI ) σύμφωνα
με το πρότυπο EN 462-2 ............................................................................................ 495
15.3 Ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου οπής σύμφωνα με τον ASTM 1025 USA ......... 496
15.4 AFNOR NF A04-304 France ..................................................................................... 497
15.5 Ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου διπλού σύρματος (DUPLEX IQI) ..................... 497
16. Προτεινόμενες τεχνικές ακτινογράφησης σύμφωνα με το EN ISO 17636-1 ....... 500

16.1 Μονή εικόνα μονό τοίχωμα / πανοραμική (single wall single image / panoramic) ... 500
16.2 Μονή εικόνα μονό τοίχωμα (single wall single image) ............................................. 500
16.3 Διπλή εικόνα διπλό τοίχωμα ή ελλειπτική (double wall double image / elliptic) ...... 501
16.4 Διπλή εικόνα διπλό τοίχωμα ή κάθετη (double wall double image / perpendicular) . 501
16.5 Διπλό τοίχωμα μονή εικόνα (double wall single image)............................................ 502
17. Πρότυπες ακτινογραφίες ......................................................................................... 503
|xxiv|
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ ΥΠΕΡΗΧΟΥΣ
1. Εισαγωγή .................................................................................................................. 511

1.1 Ιστορική αναδρομή .................................................................................................... 511
2. Φυσική των υπερήχων ............................................................................................. 516

2.1 Κύματα....................................................................................................................... 516
2.2 Τα είδη των κυμάτων ................................................................................................. 516
2.3 Ελαστικό κύμα και ιδιότητες ..................................................................................... 516
2.4 Ακουστικό φάσμα ...................................................................................................... 518
2.5 Τύποι μηχανικών κυμάτων (Wave modes) ................................................................ 519
2.5.1 Διαμήκη κύματα ή κύματα συμπίεσης (Longitudinal / Compression waves) ............ 520
2.5.2 Εγκάρσια ή διατμητικά κύματα (Transverse / Shear waves) ..................................... 522
2.5.3 Επιφανειακά κύματα (Surface) ή κύματα Rayleigh ................................................... 524
2.5.4 Κύματα πλακών - ελασμάτων ή κύματα Lamb (Plate waves) ................................... 526
2.6 Συχνότητα, μήκος κύματος, ταχύτητα κύματος ......................................................... 527
2.7 Ένταση του ήχου (dB) ............................................................................................... 528
2.7.1 Μονάδα έντασης ήχου ............................................................................................... 528
2.8 Φαινόμενα του ήχου .................................................................................................. 530
3. Ανάκλαση και διάθλαση του ήχου .......................................................................... 532

3.1 Ανάκλαση και διάθλαση του ηχητικού κύματος (νόμος του Snell) ........................... 532
3.2 Μετασχηματισμός σημάτων ...................................................................................... 536
3.3 Εφαρμογές νόμου Snell ............................................................................................. 536
3.4 Ακουστική αντίσταση (Acoustic impedance) ............................................................ 536
3.5 Υπολογισμός κρίσιμων γωνιών για perspex και χάλυβα ........................................... 538
4. Μετατροπείς και συσκευές υπερήχων .................................................................... 540

4.1 Παραγωγή υπερήχων, πιεζοηλεκτρισμός (πιεζοηλεκτρικό φαινόμενο) ..................... 540
4.2 Υλικά πιεζοηλεκτρικών κρυστάλλων ........................................................................ 542
4.3 Πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς .................................................................................... 543
4.3.1 Μονοί πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς επαφής ............................................................. 544
4.3.2 Μετατροπείς τύπου μωσαϊκού και τύπου βούρτσας .................................................. 544
4.3.3 Πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς διπλού στοιχείου ........................................................ 546
4.3.4 Γωνιακοί μονού κρυστάλλου ..................................................................................... 546
4.3.5 Μετατροπείς μαλακού άκρου .................................................................................... 547
4.3.6 Μετατροπείς ακροφύσιου ύδατος .............................................................................. 547
4.3.7 Κυλιόμενοι μετατροπείς – Μετατροπείς με τροχίσκους ............................................ 548
4.3.8 Μετατροπείς με πέλμα καθυστέρησης ....................................................................... 548
4.3.9 Βυθιζόμενοι μετατροπείς ........................................................................................... 549
4.4 Συχνότητα, εύρος ζώνης, διάρκεια κυματομορφής και απόσβεση............................. 549
4.5 Παραγωγή υπερήχων με τη μέθοδο της μαγνητοσυστολής - (EMAT) ...................... 550
4.6 Επιλογή μετατροπέα .................................................................................................. 552
4.7 Υλικό σύζευξης .......................................................................................................... 556
4.8 Καλώδια σύνδεσης..................................................................................................... 557
4.9 Αρχή λειτουργίας ανιχνευτών ασυνεχειών Α σάρωσης ............................................. 558
5. Γεωμετρικά χαρακτηριστικά της ηχητικής δέσμης.............................................. 561

5.1 Νεκρή ζώνη................................................................................................................ 563
5.2 Εγγύς ζώνη ή ζώνη Fresnel ........................................................................................ 563
|xxv|
5.3 Ζώνη διάβασης ή απομακρυσμένη ζώνη ή απώτατη ζώνη ή ζώνη Fraunhofer ......... 564
5.4 Πλευρικοί λοβοί ......................................................................................................... 569
5.5 Διάρκεια παλμού ........................................................................................................ 569
5.6 Μήκος παλμού ........................................................................................................... 570
5.7 Ευαισθησία και διακριτική ικανότητα (resolution) .................................................... 570
5.8 Γωνία ηχητικής δέσμης και σημείο εξόδου σε γωνιακούς μετατροπείς .................... 571
5.9 Χάραξη του σχεδίου απόκλισης της ηχητικής δέσμης (BEAM SPREAD
PATTERN) ................................................................................................................ 572
5.10 Συχνότητα επαναλήψεως παλμού (Pulse repetition frequency - P.R.F) .................... 572
5.11 Αρχικός παλμός ......................................................................................................... 573
5.12 Αποδυνάμωση του ήχου ............................................................................................ 574
5.13 Απόκριση δέκτη ......................................................................................................... 576
5.14 Μέθοδοι σάρωσης (απεικονίσεις) .............................................................................. 577
5.14.1 Α Σάρωση (A-Scan) ................................................................................................... 577
5.14.2 Β Σάρωση (B-Scan) ................................................................................................... 578
5.14.3 C Σάρωση (C-Scan) ................................................................................................... 579
6. Μέθοδοι και τεχνικές ............................................................................................... 580

6.1 Μέθοδοι ελέγχου........................................................................................................ 580
6.2 Τεχνική βύθισης (Immersion testing) ........................................................................ 580
6.3 Τεχνικές ελέγχου........................................................................................................ 581
6.3.1 Τεχνική παλμού-ηχούς ............................................................................................... 582
6.3.2 Τεχνική της διέλευσης ............................................................................................... 582
6.3.3 Τεχνική των δίδυμων μετατροπέων (Pitch - Catch) ................................................... 583
6.4 Έλεγχος κυλινδρικών δοκιμίων ................................................................................. 584
7. Τεχνικές συγκριτικής αξιολόγησης ασυνεχειών .................................................... 585

7.1 Καμπύλη διόρθωσης - απόστασης - έντασης (καμπύλη DAC) .................................. 585
7.2 Διάγραμμα απόστασης - ενίσχυσης - μεγέθους (διάγραμμα DGS ή AVG) ............... 585
8. Τεχνικές διαστασιολόγησης ασυνεχειών ................................................................ 587

8.1 Διαδικασία τεχνικής πτώσης κατά 6dB για κάθετο και γωνιακό μετατροπέα ........... 587
8.2 Τεχνική πτώσης κατά 6dB με κάθετο μετατροπέα .................................................... 588
8.3 Τεχνική πτώσης κατά 6dB με γωνιακό μετατροπέα .................................................. 588
8.4 Διαδικασία τεχνικής πτώσης κατά 20dB με γωνιακό μετατροπέα............................. 589
8.5 Τεχνική πτώσης κατά 20dB ....................................................................................... 590
8.6 Τεχνική της εξίσωσης με κάθετο μετατροπέα ........................................................... 592
8.7 Τεχνική του μέγιστου εύρους με κάθετο μετατροπέα ................................................ 592
8.8 Τεχνική του μέγιστου εύρους με γωνιακό μετατροπέα .............................................. 593
9. Δοκίμια βαθμονόμησης και η χρήση τους .............................................................. 594

9.1 BLOCK No 1 (A2, V1) / International Institute of Welding (IIW) ........................... 594
9.2 BLOCK No 2 (A4, V2) .............................................................................................. 596
9.3 BLOCK A5 / Institute of Welding (I.O.W) ............................................................... 597
9.4 BLOCK A6 ................................................................................................................ 598
9.5 BLOCK A7 ................................................................................................................ 598
|xxvi|
10. Έλεγχος του εξοπλισμού .......................................................................................... 599

10.1 Γραμμικότητα χρονικής βάσης (timebase linearity) .................................................. 599
10.2 Γραμμικότητα της ενίσχυσης (amplifier linearity) .................................................... 599
10.3 Βαθμονόμηση εύρους χρονικής βάσης (timebase range calibration)......................... 599
10.4 Λόγος σήματος προς θόρυβο (Signal to noise ratio) .................................................. 600
10.5 Σημείο εξόδου της ηχητικής δέσμης του μετατροπέα (Probe index, index point) ..... 600
10.6 Έλεγχος γωνίας γωνιακού μετατροπέα (Probe angle check) ..................................... 600
10.7 Προσδιορισμός του προφίλ της ηχητικής δέσμης (Beam profile determination) ...... 600
11. Βαθμονόμηση μετατροπέων και τρόποι σάρωσης................................................. 602

11.1 Βαθμονόμηση κάθετου μετατροπέα σε εύρος 0 – 100mm ........................................ 602
11.2 Η μέθοδος των πολλαπλών αντηχήσεων.................................................................... 602
11.3 Διαφορετικά υλικά ..................................................................................................... 603
11.4 Ανίχνευση ασυνεχειών με κάθετο μετατροπέα .......................................................... 603
11.5 Σάρωση με κάθετο μετατροπέα ................................................................................. 604
11.6 Σάρωση με γωνιακό μετατροπέα ............................................................................... 605
11.7 Παράγοντες προβολής της ηχητικής δέσμης (Skip factors) ....................................... 607
11.8 Οι λόγοι των πλευρών των τριγώνων που απαντώνται για τις τρεις συνηθέστερες
γωνίες του μετατροπέα............................................................................................... 608
11.9 Παράγοντας ομοκεντρικότητας ................................................................................. 608
11.10 Περίθλαση από το άκρο του ρήγματος (Crack Tip Diffraction) ................................ 609
12. Παχυμέτρηση με χρήση υπερήχων ......................................................................... 611

12.1 Χρήση παχύμετρου υπερήχων ................................................................................... 611
12.2 Χρήση ανιχνευτή ασυνεχειών .................................................................................... 611
12.3 Κριτήρια αποδοχής / απόρριψης ................................................................................ 612
13. Διεξαγωγή ελέγχου συγκολλήσεων ......................................................................... 613

13.1 Διαδικασίες πριν τον έλεγχο συγκολλήσεων ............................................................. 613
13.2 Έλεγχος συγκολλήσεων ............................................................................................. 614
13.3 Μέθοδοι σάρωσης ...................................................................................................... 616
13.4 Οδηγίες εργασίας για την εφαρμογή ελέγχου ............................................................ 616
14. Ερμηνείες ασυνεχειών .............................................................................................. 618

14.1 Σχήμα και μέγεθος σήματος....................................................................................... 618
14.2 Ασυνέχειες συγκολλήσεων ........................................................................................ 619
14.3 Απεικονίσεις ασυνεχειών σε συγκολλήσεις ............................................................... 620
14.4 Ασυνέχειες σε χυτά και σφυρήλατα ........................................................................... 623
14.5 Ασυνέχειες σε ελάσματα ............................................................................................ 624
15. Παραδείγματα υπολογισμών στους υπερήχους ..................................................... 626
16. Πίνακας ταχυτήτων διαμηκών και εγκάρσιων κυμάτων και ακουστικής

αντίστασης σε διάφορα υλικά ................................................................................. 628
|xxvii|
Τυπολόγιο................................................................................................................................ 629
Βιβλιογραφία .......................................................................................................................... 643
Πρότυπα, Προδιαγραφές και Κανονισμοί ............................................................................ 651
|xxviii|
ΟΡΟΛΟΓΙΑ ΚΑΙ
ΚΑΤΗΓΟΡΙΟΠΟΙΗΣΗ
ΑΣΥΝΕΧΕΙΩΝ
|1|
|2|
1. MΗ ΚΑΤΑΣΤΡΟΦΙΚΟΙ ΕΛΕΓΧΟΙ
Με τον όρο Μη Καταστροφικοί Έλεγχοι (Μ.Κ.Ε) εννοούμε όλες τις μεθόδους

εξέτασης υλικών, κατασκευών και μηχανημάτων, οι οποίες δεν επηρεάζουν τη δομή του
υλικού και τη δυνατότητα μελλοντικής χρήσης του. Οι Μ.Κ.Ε όπως αναφέρονται στο
πρότυπο EN ISO 9712, περιλαμβάνουν τις εξής μεθόδους:
ΟΠΤΙΚΟΣ ΕΛΕΓΧΟΣ - VT
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ ΔΙΕΙΣΔΥΤΙΚΑ ΥΓΡΑ -PT
ΜΑΓΝΗΤΙΚΟΣ ΕΛΕΓΧΟΣ - MT
ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΟΣ ΕΛΕΓΧΟΣ - RT
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ ΥΠΕΡΗΧΟΥΣ - UT
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ ΔΙΝΟΡΕΥΜΑΤΑ - ET
ΥΠΕΡΥΘΡΟΣ ΘΕΡΜΟΓΡΑΦΙΚΟΣ ΕΛΕΓΧΟΣ - TT
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ ΑΚΟΥΣΤΙΚΗ ΕΚΠΟΜΠΗ - AT
ΕΛΕΓΧΟΣ ΔΙΑΡΡΟΗΣ - LT
ΕΛΕΓΧΟΣ ΠΑΡΑΜΟΡΦΩΣΗΣ - ST
Προκειμένου να εισαχθεί ομαλά ένας υποψήφιος στο πεδίο των Μη Καταστροφικών

Ελέγχων, κρίνεται αναγκαία μια εκτενής αναφορά στην ορολογία που χρησιμοποιείται.
1.1 Mη Καταστροφικοί Έλεγχοι - Πρώτο Ευρωπαϊκό Πρότυπο
Πότε ξεκίνησε η εφαρμογή των Μη Καταστροφικών Ελέγχων; Ιστορικά, η πρώτη

αναφορά περί Μη Καταστροφικών Ελέγχων γίνεται στη Γένεση του Κόσμου, σύμφωνα με
την οποία ο Θεός δημιούργησε τον ουρανό, τη γη και τον κόσμο και στη συνέχεια
διαπίστωσε ότι όλα ήταν τέλεια. Θεωρητικά, αυτός ήταν και ο πρώτος Μη Καταστροφικός
Έλεγχος και πιο συγκεκριμένα ο πρώτος Οπτικός Έλεγχος.
Πέρα όμως από τη θεωρία, οι Μη Καταστροφικοί Έλεγχοι είναι μια σχετικά παλιά
μεθοδολογία, η οποία πρακτικά εφαρμοζόταν ακόμα και στον ελλαδικό χώρο. Η πρώτη
σωζόμενη γραπτή προδιαγραφή χρονολογείται στα 337π.Χ. και καταγράφεται σε στήλη
από πεντελικό μάρμαρο, στην οποία αναγράφονται οι όροι για την κατασκευή χάλκινων
εμπολίων και πόλων για τους κίονες του πρωστόου του Τελεστηρίου της Ελευσίνας.
Στο μουσείο της Ελευσίνας εκτίθεται μια ενεπίγραφη στήλη του 4ου αιώνα π.Χ που
ανακαλύφθηκε από τον Δ. Φίλιο το 1894 και μελετήθηκε από τον καθηγητή και επί σειρά
ετών πρόεδρο του Διοικητικού Συμβουλίου του ΕΛΟΤ κ. Γ. Βαρουφάκη.
Σύμφωνα λοιπόν με τον καθηγητή το περιεχόμενο του κειμένου αναφέρεται σε μια
παραγγελία για την κατασκευή των μπρούντζινων συνδέσμων (εμπολίων και πόλων), που
θα έμπαιναν ανάμεσα στους σπονδύλους των κιόνων της Φιλώνειας Στοάς. Ένα όμορφο
κτίσμα του τότε διάσημου αρχιτέκτονα Φίλωνα, που θα αναγειρόταν μπροστά σε ένα
παλαιότερο, το Τελεστήριο. Η επιγραφή δίνει με σχολαστικότητα τις διαστάσεις τους, που
διέφεραν ανάλογα με τη θέση τους. Τα εμπόλια, πάντα σύμφωνα με την επιγραφή, είχαν
κυβικό σχήμα, ενώ οι πόλοι κυλινδρικό. Μια ενδιαφέρουσα πληροφορία είναι ότι οι πόλοι
έπρεπε να κατασκευαστούν στον τόρνο: «…Τους δε πόλους τορνεύσει κατά το
παράδειγμα…». Σύμφωνα δηλαδή, με το δείγμα. Αυτό αποτελεί μια σημαντική
πληροφορία, διότι σημαίνει ότι χρησιμοποιούσαν τον τόρνο για τη διαμόρφωση του
σκληρού κρατερώματος (κ. μπρούντζου).
|3|
Στο σημείο αυτό θα πρέπει να πω, ότι ο τόρνος ήταν πολύ γνωστός από τους
προϊστορικούς ακόμη χρόνους. Ο Όμηρος μας μιλάει για τα τορνευτά λέχη, δηλαδή τα
τορνευτά πόδια καρέκλας ή κρεβατιού. Ναι, αλλά για την κατεργασία του ξύλου και όχι
μετάλλων. Για τα μέταλλα όμως και ιδιαίτερα εκείνα που έχουν μεγάλη σκληρότητα, όπως
είναι τα κρατερώματα (κ. μπρούντζοι), θα έπρεπε να χρησιμοποιούν κοπτικά εργαλεία από
σκληρό χάλυβα. Που σημαίνει, ότι τον 4ο αιώνα π.Χ. θα είχαν φτάσει σε ένα αρκετά
υψηλό επίπεδο στον τομέα της παραγωγής, αλλά και της θερμικής κατεργασίας του
χάλυβα. Όλα αυτά βέβαια ήταν προ πολλού γνωστά στους αρχαίους Έλληνες
μεταλλουργούς. Αλλά η εν λόγω επιγραφή αποτελεί την πρώτη γραφτή μαρτυρία της
εισαγωγής του τόρνου στην ιστορία των μετάλλων στον ελλαδικό χώρο.
Υπάρχει, όμως και κάτι άλλο, πολύ σημαντικό, τουλάχιστο για έναν που ασχολείται
με την ποιότητα και τον έλεγχό της. Σε κάποιο σημείο του κειμένου της επιγραφής
αναφέρεται με αυστηρότητα η σύνθεση, που θα έπρεπε να έχουν οι σύνδεσμοι: “... χαλκού
δε εργάσεται Μαριέως, κεκραμένου την δωδεκάτην, τα ένδεκα μέρη χαλκού, το δε
δωδέκατον καττιτέρου...”. Σε ελεύθερη απόδοση σημαίνει: «... ο χαλκός, που στην
πραγματικότητα είναι κρατέρωμα και όχι καθαρός χαλκός, θα έπρεπε σύμφωνα με την
επιγραφή, να παραχθεί στο Μάριον της Κύπρου, μεγάλο εμπορικό και μεταλλουργικό
κέντρο της εποχής εκείνης και στα δώδεκα μέρη να περιέχει 11 χαλκό και το 1/12
κασσίτερο (δηλ., στο δικό μας δεκαδικό σύστημα περίπου 8,33 με 8,5%». Εδώ θα πρέπει
να σημειώσω, ότι το 12 είναι υποπολλαπλάσιο του 60, που στους κλασικούς χρόνους
αποτελούσε τη βάση του τότε χρησιμοποιούμενου αριθμητικού βαβυλωνιακού
συστήματος. Ένα σύστημα, που και σήμερα χρησιμοποιούμε σε πολλές περιπτώσεις, όπως
στη γεωμετρία, αστρονομία, στη μέτρηση του χρόνου, αλλά και στην καθημερινή μας ζωή.
Όταν, λοιπόν, διάβασα αυτό το σημείο της επιγραφής, που, όπως ανέφερα, μιλάει
για τη σύνθεση του κράματος των συνδέσμων, ένιωσα μεγάλη συγκίνηση για το μεγάλο
μήνυμα, που δεχόμουνα εκείνη τη στιγμή από τη μακρινή αρχαιότητα. Ένα μήνυμα, ότι οι
αρχαίοι μας πρόγονοι θα εφήρμοζαν αυστηρές προδιαγραφές στις παραγγελίες τους και
οπωσδήποτε έναν εμπειρικό έλεγχο ποιότητας των κραμάτων χαλκού. Κι αυτό, γιατί, αν
δεν γινόταν έλεγχος, οι προδιαγραφές δεν θα είχαν καμιά αξία και ο κίνδυνος της νοθείας
θα ήταν μεγάλος. Εδώ θα πρέπει να σημειώσω, ότι μία άλλη ενεπίγραφη στήλη, που
αναφέρεται στην κατασκευή του ανθεμίου της Αθηνάς πάνω στην Ακρόπολη μας
πληροφορεί ότι η τιμή του χαλκού ήταν 35 δραχμές το τάλαντο, ενώ εκείνη του
κασσιτέρου 230 δρχ., δηλαδή περίπου 7 φορές μεγαλύτερη. Με βάση τον αριθμό των
κιόνων, τον αριθμό των σπονδύλων, των διαστάσεων των εμπολίων και πόλων, που δίνει
με ακρίβεια η επιγραφή και την πυκνότητα του μπρούντζου (8,9kg/dm3), υπολόγισα ότι το
βάρος τους ξεπερνούσε τους τρεις τόνους, για την ακρίβεια 3.300kg. Μπορεί η
περιεκτικότητα σε κασσίτερο να ήταν μόνον 8,33%, όμως η τιμή του κασσιτέρου
αποτελούσε το 37% της συνολικής αξίας του κράματος, αφού, όπως είπαμε, η τιμή του
ήταν 7 φορές μεγαλύτερη από εκείνη του χαλκού.
Όλα αυτά ενισχύουν την άποψη, ότι οπωσδήποτε θα υπήρχε ένας εμπειρικός τρόπος
ελέγχου ποιότητας. Υπολόγισα, ακόμη, ότι αν ο ανάδοχος της παραγγελίας μείωνε την
προσθήκη σε κασσίτερο κατά 2 με 3% δηλ., αντί να προσθέσει 8.5% πρόσθετε 6 ή 5%,
τότε το περιθώριο του παράνομου κέρδους θα ήταν αντίστοιχα 500 με 740 τοτινές δραχμές
στην κάθε περίπτωση. Ποσόν πολύ μεγάλο για την εποχή εκείνη.
Η παραπάνω μελέτη οδηγεί στο συμπέρασμα, ότι η ενεπίγραφη στήλη της
Ελευσίνας αποτελεί ούτε λίγο, ούτε πολύ το αρχαιότερο Ευρωπαϊκό Πρότυπο.
|4|
Εικόνα 1.1: Η πρώτη σωζόμενη γραπτή προδιαγραφή, σε στήλη στην Ελευσίνα
Η πιο πρόσφατη εφαρμογή των Διεισδυτικών Υγρών, αναφέρεται γύρω στο 1850,
όπου ο έλεγχος ρηγματώσεων σε σιδηροτροχιές πραγματοποιούνταν με τη βοήθεια
κιμωλίας και λαδιού ως μέσο διείσδυσης. Αξίζει να σημειωθεί ότι οι Μ.Κ.Ε
χρησιμοποιήθηκαν ευρύτατα κατά τη διάρκεια των Παγκοσμίων Πολέμων, ιδίως η
ακτινογραφία, η οποία μέχρι τότε χρησιμοποιούνταν κυρίως σε ιατρικές εφαρμογές.
Ιστορικά, μια έκρηξη που σημειώθηκε στο λέβητα μιας αμαξοστοιχίας στο Hartford
του Connecticut το Μάρτιο του 1854 και είχε ως αποτέλεσμα το θάνατο 12 ανθρώπων,
θεωρείται το χρονικό ορόσημο για την επικράτηση της εφαρμογής των Μ.Κ.Ε. Το πόρισμα
που προέκυψε, καταδείκνυε ως επιτακτική την αναγκαιότητα για εφαρμογή τακτικών
προληπτικών Μ.Κ.Ε, οι οποίοι θα διασφάλιζαν τους εργαζόμενους και τους επιβάτες. Δέκα
χρόνια αργότερα, η πολιτεία του Connecticut νομοθέτησε Κανονισμό Επιθεώρησης
Λεβήτων και εισήγαγε την απαίτηση για πιστοποιητικό λέβητα.
|5|
Εικόνα 1.2: Το εργαστήριο ακτίνων Χ του Dr. H. Lester
Το 1920, ο Dr. H. Lester κατασκεύασε εργαστήριο ακτίνων Χ στη Βοστώνη,

προκειμένου να αναπτύξει τεχνικές ακτινογράφησης χυτών και συγκολλήσεων με στόχο τη
βελτιστοποίηση της ποιότητας των υλικών του αμερικανικού στρατού.
Εικόνα 1.3: Μονάδα μαγνητικών σωματιδίων
|6|
Ένα ακόμα σιδηροδρομικό ατύχημα, αποτέλεσε την αιτία ανάπτυξης νέων τεχνικών
στη Μέθοδο των Μαγνητικών Σωματιδίων. Πρωτοπόροι ήταν οι Dr. Elmer Sperry και H.
C. Drake, οι οποίοι χρησιμοποίησαν το μαγνητικό πεδίο για την ανίχνευση ασυνεχειών στις
σιδηροτροχιές. Για το σκοπό αυτό ίδρυσαν την εταιρεία Sperry Rail Service. Αργότερα, το
1929, τα σκήπτρα στο συγκεκριμένο τομέα ανέλαβε η εταιρεία Magnaflux Corporation.
Εικόνα 1.4: Μονάδα μαγνητικών σωματιδίων της Magnaflux (Courtesy of CJH Collection)
Εικόνα 1.5: Γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ (Courtesy of C. Hellier)
Τέλος, το 1941, ιδρύθηκε η Αμερικανική Ένωση για το Βιομηχανικό Ράδιο και τις
ακτίνες Χ (American Industrial Radium και X-ray Society), η οποία αποτέλεσε τον
πρόδρομο της σημερινής Αμερικανικής Ένωσης Μη Καταστροφικών Ελέγχων (American
Society for Non Destructive Testing).
|7|
2. ΟΡΟΛΟΓΙΑ ΜΗ ΚΑΤΑΣΤΡΟΦΙΚΩΝ ΕΛΕΓΧΩΝ
2.1 Ένδειξη (indication)
Με τον όρο ένδειξη εκφράζεται η πιθανότητα ύπαρξης ασυνέχειας μετά τη

διενέργεια μιας μεθόδου Μ.Κ.Ε. Η ένδειξη απαιτεί περαιτέρω διερεύνηση, αξιολόγηση και
ερμηνεία για τη κρισιμότητά της.
2.2 Ασυνέχεια / Ατέλεια (discontinuity / flaw / imperfection)
Πρόκειται για έναν όρο που χρησιμοποιείται ευρέως και δηλώνει τη διακοπή της
κανονικής δομής του υλικού είτε την ύπαρξη ξένων σωμάτων σε αυτό. Μπορεί να σημαίνει
την απώλεια της ομοιογένειας στα μηχανικά, μεταλλουργικά ή φυσικά χαρακτηριστικά του
δοκιμίου. Μία ασυνέχεια δεν αποτελεί απαραίτητα ελάττωμα / σφάλμα, καθώς αυτό
καθορίζεται από τα κριτήρια αποδοχής / απόρριψης.
2.3 Ελάττωμα / Σφάλμα (defect)
Πρόκειται για μια ασυνέχεια που καθιστά το δοκίμιο ακατάλληλο για τη χρήση που
προορίζεται. Το ελάττωμα ή σφάλμα στην ουσία απορρίπτεται σύμφωνα με τα κριτήρια
αποδοχής / απόρριψης. Μία ή περισσότερες ασυνέχειες ενδέχεται να αποτελούν σφάλμα σε
κάποιες περιπτώσεις και σε κάποιες άλλες όχι. Αυτό οφείλεται στο γεγονός ότι ο ορισμός
του σφάλματος αλλάζει ανάλογα με τον τύπο του αντικειμένου, την κατασκευή του, το
υλικό του και τις προδιαγραφές που εφαρμόζονται κάθε φορά.
2.4 Ερμηνεία (interpretation)
Είναι η εύρεση της αιτίας που δημιούργησε μια ένδειξη. Ως πρώτο βήμα, η ερμηνεία
της ένδειξης δίνει την δυνατότητα κατάταξης της ως αληθούς, σχετικής ή μη σχετικής. Ως
δεύτερο βήμα και εφόσον χρειάζεται, βρίσκεται η ασυνέχεια που δημιούργησε την ένδειξη
μέσα στο υλικό.
2.5 Αξιολόγηση (evaluation)
Η τεκμηριωμένη απόφαση για το αν μια ασυνέχεια αποτελεί ελάττωμα ή σφάλμα

(μη αποδεκτή ασυνέχεια) ή αποτελεί ατέλεια (αποδεκτή ασυνέχεια).
2.6 Ψευδής ένδειξη (false indication)
Πρόκειται για ένδειξη που σχηματίζεται από αίτια άσχετα με τις φυσικές αρχές μιας
μεθόδου Μ.Κ.Ε. Ψευδείς ενδείξεις μπορούν να εμφανιστούν σε όλες τις μεθόδους των
Μ.Κ.Ε. Σε πολλές περιπτώσεις οφείλονται σε μη συμμόρφωση του επιθεωρητή με τη
διαδικασία ή ακόμη και από απροσεξία κατά την εφαρμογή της μεθόδου.
Για παράδειγμα, μια ψευδής ένδειξη στη μέθοδο των Μαγνητικών Σωματιδίων δεν
οφείλεται στη διαρροή του μαγνητικού πεδίου λόγω ύπαρξης μίας ασυνέχειας, αλλά
ενδεχομένως σε βαρυτική συγκράτηση των μαγνητικών σωματιδίων ή λόγω της υψηλής
τραχύτητας επιφανείας. Αντίστοιχα, μια ένδειξη κατά την εφαρμογή της μεθόδου των
Διεισδυτικών Υγρών δεν οφείλεται στο τριχοειδές φαινόμενο και την εξόλκηση του
διεισδυτή, αλλά συνήθως σε κακή εφαρμογή της μεθόδου, κυρίως στα στάδια προ-
καθαρισμού ή αφαίρεσης του πλεονάζοντος διεισδυτή.
|8|
Μια ψευδής ένδειξη στον Ακτινογραφικό Έλεγχο μπορεί να συμβεί για παράδειγμα
λόγω της ευαισθησίας του ακτινογραφικού φιλμ στην πίεση, στα χημικά επεξεργασίας των
φιλμ, στο φως, στις μηχανικές καταπονήσεις όπως η κάμψη, οι πτυχώσεις, οι γρατσουνιές
και άλλοι τρόποι κακού χειρισμού. Όλα αυτά πρέπει να αποφεύγονται διότι μπορεί να
προκαλέσουν σύγχυση κατά την ερμηνεία. Οι ψευδείς ενδείξεις στον Έλεγχο με
Υπερήχους μπορεί να προκύψουν από ηλεκτρικές παρεμβολές λόγω αλληλοεπιδράσεων
σύζευξης του μετατροπέα-υλικού σύζευξης-δοκιμίου, αλλά σε γενικές γραμμές είναι
εύκολο να εντοπισθούν και να διορθωθούν.
Η παρουσία ψευδούς ένδειξης απαιτεί συνήθως επανάληψη της δοκιμής, αφού
εξαλειφθούν πρώτα τα πιθανά αίτια, διότι ενδέχεται να καλύπτει τις αληθείς σχετικές
ενδείξεις. Σε γενικές γραμμές, οι ψευδείς ενδείξεις είναι μη προβλέψιμες και δεν
παρουσιάζουν επαναληψιμότητα.
2.7 Μη σχετική ένδειξη (non relevant indication)
Οι μη σχετικές ενδείξεις οφείλονται σε κανονικές ή γνωστές συνθήκες στο τμήμα

του δοκιμίου. Οι αναμενόμενες μη σχετικές ενδείξεις προκαλούνται από αλλαγές της
διατομής και της γεωμετρίας του δοκιμίου, σε συγκόλληση διαφορετικών υλικών, ύπαρξη
σφηνοδρόμων, σπειρωμάτων και οπών. Οι μη σχετικές ενδείξεις ενδέχεται και αυτές να
καλύψουν σχετικές ενδείξεις, ωστόσο σπάνια απαιτείται η επανάληψη της δοκιμής, καθώς
το αίτιο δεν μπορεί να απομακρυνθεί τελείως.
Μη σχετικές ενδείξεις δεν είναι δύσκολο να εντοπιστούν, όταν ο επιθεωρητής
γνωρίζει την ύπαρξη τους, τις πιθανές αιτίες και τα χαρακτηριστικά τους. Η γνώση του
δοκιμίου που εξετάζεται, η διαμόρφωση του, οι διαδικασίες κατασκευής, ο τύπος του
υλικού και τα χαρακτηριστικά του είναι δυνατόν να συμβάλουν στην ακριβή ερμηνεία των
ενδείξεων αυτών. Οι μη σχετικές ενδείξεις είναι συνήθως προβλέψιμες, παρουσιάζουν
επαναληψιμότητα και εμφανίζονται συνήθως στις μεθόδους των Διεισδυτικών Υγρών και
των Μαγνητικών Σωματιδίων.
2.8 Αληθής σχετική ένδειξη (true relevant indication)
Πρόκειται για ένδειξη που σχηματίζεται λόγω της ύπαρξης μιας άγνωστης
ασυνέχειας στο εξεταζόμενο δοκίμιο. Μια αληθής σχετική ένδειξη απαιτεί αξιολόγηση,
προκειμένου το δοκίμιο να γίνει αποδεκτό ως έχει, να επισκευαστεί ή να απορριφθεί.
2.9 Σύμφυτη ασυνέχεια (inherent discontinuity)
Πρόκειται για ασυνέχεια που δημιουργήθηκε στο στάδιο της αρχικής τήξης και
στερεοποίησης του μετάλλου (όταν το βασικό μέταλλο περνά από την τηγμένη στην
στερεά φάση).
2.10 Ασυνέχεια πρωτογενούς διεργασίας (primary processing discontinuity)
Πρόκειται για ασυνέχεια που δημιουργήθηκε στην αρχική επεξεργασία του

πλινθώματος (πρωτόχυτου - ingot), σε κατεργασίες όπως η έλαση (rolling), η
σφυρηλάτηση (forging), η χύτευση (casting), η ολκή (drawing) κ.α. Κατά την αρχική ή
πρωτογενή διαμόρφωση του μετάλλου στο επιθυμητό σχήμα ή μέγεθος, μπορεί να
εμφανιστούν ασυνέχειες. Σημειώνεται ότι η συγκόλληση (welding) κατατάσσεται στις
πρωτογενείς διεργασίες.
|9|
2.11 Ασυνέχεια δευτερογενούς / τελικής διεργασίας (secondary / finishing
processing discontinuity)
Πρόκειται για ασυνέχεια που δημιουργήθηκε στην τελική επεξεργασία υλικών και
κατασκευών, όπως οι θερμικές κατεργασίες, οι μηχανουργικές κατεργασίες, η
επιμετάλλωση ή λείανση και η διαμόρφωση.
2.12 Ασυνέχεια κατά τη λειτουργία (service discontinuity)
Πρόκειται για ασυνέχεια που δημιουργήθηκε μετά το πέρας όλων των κατεργασιών,
κατά τη διάρκεια αλλά και εξαιτίας της λειτουργίας του εξαρτήματος ή της κατασκευής
λόγω της διάβρωσης, της οξείδωσης και της κόπωσης, ιδίως όταν αυτό υποβάλλεται σε
ακραίες συνθήκες λειτουργίας. Οι συνθήκες λειτουργίας όπως η στατική ή δυναμική
καταπόνηση, το περιβάλλον λειτουργίας και η συντήρηση επηρεάζουν άμεσα την
αναμενόμενη διάρκεια ζωής του εξαρτήματος ή της κατασκευής.
|10|
3. ΑΣΥΝΕΧΕΙΕΣ ΠΡΩΤΟΓΕΝΟΥΣ ΔΙΕΡΓΑΣΙΑΣ ΣΕ ΧΥΤΑ ΠΡΟΪΟΝΤΑ
3.1 Πόροι (porosity)
Οι πόροι προκαλούνται λόγω της παρουσίας αερίου (Ο2, Η2, Ν2 και CO), το οποίο
διαλύεται στο τήγμα και κατακρημνίζεται στα όρια των κόκκων, καθώς το χυτό ψύχεται. Η
συνολική ποσότητα του αερίου που σχηματίζει ορατές φυσαλίδες ή πόρους εξαρτάται από
την ποσότητα του αερίου στο διάλυμα και από το ρυθμό ψύξης. Το μέγεθος και το σχήμα
των πόρων εξαρτάται από το μηχανισμό στερεοποίησης του συγκεκριμένου κράματος, από
τις τάσεις συρρίκνωσης και τη σύνθεση του τήγματος σε σχέση με τη διαλυτότητα του
υδρογόνου. Καθένας από αυτούς τους παράγοντες συμβάλλει στην τελική μορφή και
κατανομή των πόρων. Οι πόροι βρίσκονται συνήθως στο εσωτερικό και εμφανίζονται σε
δύο βασικές μορφές, τους στρογγυλόμορφους και τους επιμήκεις.
Οι πόροι αερίου μπορεί να ταξινομηθούν ως εξής:
α) πόροι (porosity): μικρές στρογγυλόμορφες κοιλότητες
β) αεριοπές (gas hole): μεγαλύτερες στρογγυλόμορφες κοιλότητες και
γ) επιμήκεις οπές ή σκωληκοειδείς οπές (Wormhole): κοιλότητες αερίων με σημαντικό
μήκος και σκωληκοειδή μορφή.
Οι πόροι εγκλωβίζονται στο χυτό, εμφανιζόμενοι αυτοτελώς ή σε μορφή
διακενώσεως συστολής (shrinkage cavities). Διαφέρουν από τα εγκλείσματα, αφού
πρόκειται για αέριες μάζες και όχι για στερεά σώματα εγκλωβισμένα στο σώμα του χυτού.
Εικόνα 3.1: Πόροι σε χυτό
Εικόνα 3.2: Πόροι σε ελατό προϊόν (αριστερά).

Εμφάνιση πόρων στην αξονική γραμμή σε πρωτόχυτο (δεξιά)
|11|
Εικόνα 3.3: Εμφάνιση πόρων σε χυτό αλουμινίου
3.2 Κοιλότητες / οπές λόγω αερίων (gas induced cavities)
Πρόκειται για κοιλότητες που δημιουργήθηκαν στο σώμα του χυτού από
εγκλωβισμένο αέρα ή από αέρια εκλυόμενα κατά τη στερεοποίηση. Οι κυριότερες μορφές
τους είναι οι εξής:
Βελονοειδείς Οπές (pinholes)
Πρόκειται για λεπτές επιμήκεις οπές, διαμέτρου μικρότερης των 1,6mm, με άξονα
κάθετο στην επιφάνεια του χυτού, προκαλούμενες από φυσαλίδες αερίων που οφείλονται
κυρίως στην παρουσία υγρασίας και επομένως στην παραγωγή υδρογόνου (H2). Στην
ακτινογραφία εμφανίζονται ως μικρές, συγκεντρωμένες, στρογγυλόμορφες ενδείξεις.
Αεριοπές (gasholes, blowholes, wormholes)
Πρόκειται για εγκλείσματα αερίων (κυρίως CO2), διαμέτρου μεγαλύτερης των
1,6mm. Εάν τα αέρια εκλύονται από το καλούπι (mould) ή την καρδιά (core), αναφέρονται
με τον αγγλικό όρο blowholes. Οι λεγόμενες σκωληκοειδείς οπές (wormholes) έχουν
κυκλική περίπου διατομή, αναπτύσσονται κάθετα στην επιφάνεια του χυτού και φτάνουν
ως την επιφάνεια.
Αεροθύλακες (airlocks)
Δημιουργούνται από αέρα που εγκλωβίστηκε στο χυτό κατά τη χύτευση, συνήθως
κοντά στην εξωτερική επιφάνεια του χυτού. Στην ακτινογραφία εμφανίζονται όπως οι
αεριοπές, αλλά κατά κανόνα έχουν πιο λείο περίγραμμα.
Εικόνα 3.4: Blowholes (αριστερά). Pinholes (δεξιά)
|12|
Εικόνα 3.5: Airlocks
Εικόνα 3.6: Gasholes (αριστερά). Blowholes (δεξιά)
3.3 Μη μεταλλικά εγκλείσματα (nonmetallic inclusions)
Είναι προϊόντα χημικών αντιδράσεων και φυσικών επιδράσεων, αλλά και της
ρύπανσης που προκαλείται κατά τη διάρκεια τήξης και χύτευσης του μετάλλου.
Κατηγοριοποιούνται ανάλογα με την προέλευση τους σε ενδογενή και εξωγενή
εγκλείσματα. Τα ενδογενή εγκλείσματα είναι συνήθως πολύ μικρού μεγέθους.
Δημιουργούνται στο μέταλλο και είναι αποτέλεσμα χημικών αντιδράσεων. Τα εξωγενή
εγκλείσματα προκαλούνται από την παγίδευση ξένων σωμάτων ενώ το μέγεθός τους
ποικίλλει σε μεγάλο βαθμό ανάλογα με την πηγή προέλευσής τους.
Τα μη μεταλλικά εγκλείσματα είναι συνήθως οξείδια και σουλφίδια που παρέμειναν
στο τηγμένο μέταλλο κατά τη διάρκεια της αρχικής χύτευσης. Οι ιδιότητες αυτών των
εγκλεισμάτων είναι διαφορετικές από τις αντίστοιχες του μετάλλου που χυτεύεται.
Συνήθως έχουν ακανόνιστα σχήματα με αποτέλεσμα να αυξάνουν τις εσωτερικές τάσεις
στο υλικό, μειώνοντας την αντοχή του.
Οι μικρές συγκεντρώσεις εγκλεισμάτων δεν αποτελούν συνήθως πρόβλημα, οι
μεγαλύτερες όμως ενδέχεται να δημιουργήσουν επιμήκη εγκλείσματα (stringers) κατά την
έλαση.
Τα μη μεταλλικά εγκλείσματα επιδρούν στις ιδιότητες του χάλυβα, όπως τη
διαμορφωσιμότητα, τη σκληρότητα, την κατεργασιμότητα και την αντοχή στη διάβρωση.
Σε γενικές γραμμές, όσο λιγότερα και μικρότερα είναι τα μη μεταλλικά εγκλείσματα, τόσο
υψηλότερης ποιότητας είναι ο χάλυβας. Επομένως, η ανάλυση και τεκμηρίωση των μη
μεταλλικών εγκλεισμάτων είναι σημαντική για τον έλεγχο της ποιότητας.
|13|
Εικόνα 3.7: Μη μεταλλικό έγκλεισμα
Sulfide Alumina Silicate Globular Oxide

Εικόνα 3.8: Διάφοροι τύποι μη μεταλλικών εγκλεισμάτων
3.4 Διαφορισμός (segregation)
Διαφορισμός εντοπίζεται στις διαφορές της σύνθεσης των υλικών (συνεπώς και στις
μηχανικές ιδιότητες) οι οποίες προκαλούνται από τη συγκέντρωση ορισμένων κραματικών
στοιχείων σε περιορισμένες περιοχές. Αυτές οι διαφορές στη σύνθεση μπορεί να
αντισταθμιστούν σε επόμενες κατεργασίες εν θερμώ. Ωστόσο κάποιες εξακολουθούν να
παραμένουν.
Κατά τη στερεοποίηση του πλινθώματος (ingot), ορισμένα στοιχεία
συγκεντρώνονται ως αδιάλυτα στις τελευταίες υγρές εσωτερικές περιοχές και προκαλούν
χημική ανομοιογένεια. Συνήθως αυτό δεν παρατηρείται σε καθαρά μέταλλα. Ο
διαφορισμός είναι αποτέλεσμα, κυρίως, των διαφορών στην πυκνότητα και στη
θερμοκρασία. Σε ανθρακούχους χάλυβες, τα στοιχεία που προκαλούν το διαφορισμό είναι
αυτά που ή παραμένουν αδιάλυτα ή σχηματίζουν σύνθετες ενώσεις χαμηλότερου σημείου
πήξης από το υπόλοιπο μέταλλο, π.χ. θείο, φώσφορος, μαγγάνιο και πυρίτιο.
Η ανακατανομή του διαλυόμενου στοιχείου κατά τη διάρκεια της στερεοποίησης
ενός κράματος, η ανομοιογενής δηλαδή κατανομή του από το κέντρο προς την περιφέρεια
του σχηματιζόμενου στερεού κόκκου, οδηγεί στο φαινόμενο του διαφορισμού. Ανάλογα µε
την έκταση που συμβαίνει ο διαφορισμός, διακρίνεται στο μακροδιαφορισµό και στο
μικροδιαφορισµό.
Μακροδιαφορισµός
Είναι η χημική ανομοιογένεια σε όλη την έκταση ενός μεταλλικού πλινθώματος
χύτευσης (χελώνας) που δεν είναι δυνατόν να εξαλειφθεί µε ανόπτηση.
Ο μακροδιαφορισμός αναφέρεται στη μακροσκοπική μεταβολή της χημικής σύστασης
μέσα σε ένα χυτό κράμα. Υπό συνθήκες κανονικού μακροδιαφορισμού, το τελευταίο μέρος
του κράματος που στερεοποιήθηκε είναι και το πλουσιότερο στην ποσότητα του
κραματικού στοιχείου. Υπό συνθήκες όμως αντίστροφου μακροδιαφορισμού, το τελευταίο
μέρος του κράματος που στερεοποιήθηκε περιέχει και το μικρότερο ποσοστό του
κραματικού στοιχείου.
|14|
Μικροδιαφορισµός
Είναι η χημική ανομοιογένεια σε κλίμακα κόκκου (δενδριτών). Οφείλεται στην
ταχεία στερεοποίηση ενός κράματος και εντοπίζεται, συνήθως, στα τμήματα του
πλινθώματος που στερεοποιούνται ταχύτατα. Κατά το µικροδιαφορισµό εμφανίζονται
φάσεις που δεν προβλέπονται από τα αντίστοιχα διαγράμματα ισορροπίας.
Κατά τη στερεοποίηση του τήγματος στον τύπο, οι δενδρίτες που σχηματίζονται
λόγω του μικροδιαφορισµού, εμφανίζουν διαφορετική χηµική σύσταση στο κέντρο τους
από αυτήν των εξωτερικών τους περιοχών. Το υγρό το οποίο στερεοποιείται τελευταίο
μεταξύ των κλάδων των δενδριτών, είναι πλουσιότερο σε διαλυόμενο στοιχείο από τις
ζώνες που στερεοποιούνται αρχικά.
Κατά το μικροδιαφορισμό, οι μεταβολές της χημικής σύστασης του χυτού κράματος
εμφανίζονται σε μικροσκοπική κλίμακα και κυρίως μέσα στα όρια των κόκκων. Ο
μικροδιαφορισμός μπορεί να επηρεάσει έμμεσα τις μηχανικές ιδιότητες ενός κράματος.
Η εμφάνιση του μικροδιαφορισμού μπορεί να μειωθεί δραστικά με θερμική
κατεργασία ομογενοποίησης. Είναι γνωστό ότι το φαινόμενο της διάχυσης είναι πολύ αργή
διαδικασία στη στερεή φάση οπότε και η επίδρασή του στο μακροδιαφορισμό είναι
μειωμένη.
Εικόνα 3.9: Διαφορισμός με ταυτόχρονη ύπαρξη θερμορωγμής (αριστερά).

Σχηματική αναπαράσταση μικροδιαφορισμού σε πρωτόχυτο χάλυβα (δεξιά)
3.5 Διακενώσεις συστολής (piping / shrinkage cavities)
Κατά τη διάρκεια της στερεοποίησης, το τήγμα συρρικνώνεται δημιουργώντας μία

κοιλότητα σχήματος ανεστραμμένου κώνου στην κορυφή του πλινθώματος. Η κοιλότητα
αυτή μπορεί να παρουσιαστεί επιφανειακά ή υποεπιφανειακά. Εάν δεν αφαιρεθεί τελείως
πριν την περαιτέρω κατεργασία (έλαση ή σφυρηλάτηση), θα εμφανιστεί στο τελικό προϊόν
ως μία επιμήκης υποεπιφανειακή ασυνέχεια. Επιπρόσθετα, η κοιλότητα αυτή (pipe) μπορεί
να δημιουργηθεί κατά τη διάρκεια της εξέλασης (extrusion), όταν η οξειδωμένη επιφάνεια
της μπιγιέτας ρέει προς το εσωτερικό της.
Πρόκειται για δημιουργία κεντρικής και συνήθως υποεπιφανειακής κοιλότητας,
λόγω συστολής του χυτού κατά τη φάση στερεοποίησης του πλινθώματος (ingot).
Υπάρχουν τρεις τουλάχιστον διαφορετικές μορφές διακένωσης: η δενδροειδής κοιλότητα
(dendritic), η νηματοειδής (filamentary) και η σπογγοειδής (sponge types).
Μακροδιακενώσεις (macroshrinkage, piping)
Πρόκειται για διακεκριμένες κοιλότητες, μεγάλων σχετικά διαστάσεων, στον
κεντρικό άξονα συνήθως του χυτού. Σχετίζονται ιδιαίτερα με τον κακό σχεδιασμό της
τροφοδοσίας (στην περίπτωση αυτή αναφέρονται ως piping). Η ορθή τεχνική χύτευσης
μεταφέρει τις μακροδιακενώσεις στον ανατροφοδότη (riser). Για την αποφυγή τους είναι
σημαντική η κατευθυνόμενη στερεοποίηση του υγρού μετάλλου.
|15|
Εικόνα 3.10: Μακροδιακένωση (αριστερά) και αξονική διακένωση (δεξιά)
Μικροδιακενώσεις (microshrinkage)
Δημιουργούνται προς το τέλος της στερεοποίησης, λόγω εγκλωβισμού υγρού στο
στερεό μέταλλο.
Αξονικές Διακενώσεις (centreline / filamentary shrinkage)
Πρόκειται για διακλαδωμένες, αλληλοσυνδεόμενες και εκτεταμένες διακενώσεις
που συνήθως ακολουθούν τον άξονα του χυτού ή τη διεύθυνση των κιονοειδών (columnar)
κρυστάλλων σε περιπτώσεις μη κατευθυνόμενης στερεοποίησης. Ως ακτινογραφική εικόνα
μοιάζουν αρκετά με θερμορωγμή (hot tear).
Εικόνα 3.11: Αξονικές διακενώσεις
Εικόνα 3.12: Διακένωση (αριστερά), δενδροειδείς (dendritic) και νηματοειδείς (filamentary)

διακενώσεις (στο κέντρο), σπογγοειδείς (sponge types) διακενώσεις (δεξιά)
Τα πιθανά αίτια δημιουργίας τους είναι:

 η υψηλή θερμοκρασία του τήγματος
 η ακαταλληλότητα του κράματος για τη συγκεκριμένη μέθοδο χύτευσης
 οι λανθασμένες θέσεις στις οποίες βρίσκονται οι θυρίδες
 η ανυπαρξία, το μικρό μέγεθος ή η λανθασμένη θέση των θρεπτικών μαζών στα
παχέα τμήματα.
|16|
3.6 Κρυοπήγματα (cold shuts, unfused chaplets, unfused chills)
Το κρυόπηγμα συνήθως παρουσιάζεται στην επιφάνεια του χυτού ή κοντά σε αυτή

ως αποτέλεσμα της συνάντησης δύο ρευμάτων υγρού μετάλλου (ή μετάλλου και στερεού)
υπό θερμοκρασία που δεν επιτρέπει την πλήρη ενοποίηση. Ειδική περίπτωση
κρυοπήγματος αποτελεί η μη τήξη του στηρίγματος της καρδιάς του χυτού (unfused
chaplet) ή του τεμαχίου ψύξης (unfused chill). Απεικονίζονται σε μια ακτινογραφία ως
ρωγμές ή ραφές με λεία ή στρογγυλεμένα άκρα.
Αυτή η ασυνέχεια χύτευσης προκαλείται από μια στιγμιαία διακοπή της ροής του
μετάλλου με αποτέλεσμα τη μερική στερεοποίηση. Η ψύξη σχηματίζει μια επίστρωση
οξειδίου στην επιφάνεια που αποτρέπει τη σύντηξη του τηγμένου μέταλλου, το οποίο
συνεχίζει να τροφοδοτείται στο καλούπι. Το κρυόπηγμα έχει συνήθως στενή μορφή και
επεκτείνεται στην επιφάνεια του χυτού.
Τα πιθανά αίτια δημιουργίας των κρυοπηγμάτων είναι:
 ο κακός σχεδιασμός των θυρίδων με αποτέλεσμα την άνιση τροφοδότηση μετάλλου
στην κοιλότητα του τύπου
 το ψυχρό τήγμα
 η στιγμιαία διακοπή της εγχύσεως
 το υψηλό ποσοστό υγρασίας στην άμμο
 η υψηλή συμπίεση της άμμου
 το χαμηλό πορώδες που επιφέρει την παγίδευση αερίων
 η χαμηλή εκχυτικότητα του τήγματος.
Οι προτεινόμενες διορθωτικές κινήσεις είναι η βελτίωση των ιδιοτήτων έγχυσης
του τήγματος προσθέτοντας για παράδειγμα πυρίτιο σε κράμα αργιλίου ή φώσφορο σε
κράμα μπρούντζου.
Εικόνα 3.13: Κρυόπηγμα
Εικόνα 3.14: Αποτύπωση κρυοπήγματος σε ακτινογραφικό φιλμ (αριστερά) και

κρυόπηγμα σε χυτό αλουμινίου (δεξιά)
|17|
3.7 Θερμορωγμές (hot tears)
Προκύπτουν κατά το τελικό στάδιο της στερεοποίησης, όταν το χυτό έχει ακόμη
πολύ μικρή ολκιμότητα, λόγω των υψηλών εσωτερικών τάσεων κατά τη συστολή
(διαφορετικοί ρυθμοί συστολής σε γειτνιάζουσες περιοχές). Πρόκειται για ρωγμές στα όρια
των κόκκων (περικρυσταλλικές), η ανάπτυξη των οποίων ευνοείται από σημεία απότομης
αλλαγής της διατομής, αλλά και από την παρουσία θείου (S) και φωσφόρου (P). Στον
Ακτινογραφικό Έλεγχο αποτυπώνονται στο φιλμ με τη μορφή κυματοειδούς γραμμής.
Οι θερμορωγμές είναι τραχιές, ακανόνιστες εσωτερικές ή εξωτερικές ρωγμές οι
οποίες δημιουργούνται αμέσως μετά τη στερεοποίηση του μετάλλου. Επιπρόσθετα, ο
κακός σχεδιασμός χύτευσης με απότομες αλλαγές του χυτού ή με απότομες γωνίες οδηγούν
στο σχηματισμό θερμορωγμών. Τέλος, οι θερμορωγμές μπορεί να περιοριστούν ή ακόμη
και να εξαλειφθούν με βελτιωμένο σχεδιασμό, σωστή στερεοποίηση με ομοιόμορφο ρυθμό
ψύξης και έλεγχο της σκληρότητας του καλουπιού.
Εικόνα 3.15: Θερμορωγμές σε πλάκα αλουμινίου (slab) οι οποίες οδήγησαν σε ολική θραύση
Εικόνα 3.16: Θερμορωγμές σε μπιγιέτα διέλασης αλουμινίου
Εικόνα 3.17: Θερμορωγμές σε χυτά
Οι ρωγμές οι οποίες δημιουργήθηκαν από υψηλή θερμοκρασία διακρίνονται

εύκολα, διότι η επιφάνεια θραύσεως έχει οξειδώσεις και χρωματισμούς λόγω της
θερμοκρασίας, ενώ αυτές που δημιουργήθηκαν από χαμηλή θερμοκρασία έχουν καθαρή
επιφάνεια θραύσεως.
|18|
Τα πιθανά αίτια δημιουργίας των θερμορωγμών είναι:
 τα τοιχώματα καλουπιού τα οποία είναι συμπιεσμένα και υποχωρούν δύσκολα
 οι μικρές καμπυλώσεις των γωνιών, άρα και οι μεγαλύτερες συγκεντρώσεις τάσεων
 ο αποχωματισμός του χυτού ο οποίος έγινε πριν αυτό αποψυχθεί
 η πρόχειρη κατασκευή του μοδέλου
 ο μεγάλος συντελεστής συστολής του μετάλλου ψύξης σε υψηλές θερμοκρασίες.
3.8 Επιφανειακή ρωγμή πλινθώματος (ingot crack)
Δημιουργείται λόγω επιφανειακών τάσεων συστολής κατά τη ψύξη. Δημιουργεί

ραφές (seam) κατά την έλαση.
Εικόνα 3.18: Επιφανειακή ρωγμή πλινθώματος
3.9 Μετατόπιση καρδιάς (core shift)
Συμβαίνει συνήθως κατά τη διάρκεια της χύτευσης, όταν η καρδιά μετατοπίζεται ή

εκτοπίζεται προκαλώντας σοβαρό σφάλμα στη γεωμετρία του χυτού.
Εικόνα 3.19: Μετατόπιση καρδιάς
3.10 Φυσαλίδες (blows)
Προκαλούνται, όταν τα παραγόμενα αέρια (κατά τη χύτευση σε καλούπι άμμου)

αναπτύσσουν πίεση ικανή να τους επιτρέψει να διεισδύσουν στη μεταλλική μάζα του χυτού
πριν αυτή στερεοποιηθεί.
Εικόνα 3.20: Φυσαλίδες
|19|
Οι φυσαλίδες εμφανίζονται ως σφαιρικές ή ακανόνιστες κοιλότητες με λεία ή
τραχιά τοιχώματα. Μερικές φορές δύσκολα γίνεται διάκριση μεταξύ φυσαλίδας και
διακενώσεως. Πυρήνες με υγρασία ή έλλειψη οπών εξαερισμού έχουν τάση δημιουργίας
φυσαλίδων.
Τα πιθανά αίτια δημιουργίας των φυσαλίδων είναι:
 οι μη επαρκείς οπές εξαερισμού
 οι υγροί πυρήνες
 η υψηλή υγρασία της άμμου του καλουπιού
 τα σημεία με υψηλή υγρασία λόγω προγενέστερης επισκευαστικής εργασίας
 κάποιος πυρήνας πλούσιος σε οργανικό συνδετικό κόκκων.
3.11 Διακοπή ροής (misrun)
Είναι η μη ολοκλήρωση της χύτευσης ενός καλουπιού. Εάν η επιφάνεια της

κοιλότητας που δεν χυτεύθηκε έχει σχήμα κοίλο, αυτό υποδηλώνει παγίδευση αερίου. Εάν
έχει σχήμα κυρτό, τότε υποδηλώνει ψυχρό τήγμα.
Τα πιθανά αίτια διακοπής της ροής είναι:
 η αργή χύτευση
 το ψυχρό μέταλλο χυτεύσεως
 η ανεπαρκής ρευστότητα του τήγματος
 η χαμηλή θερμοκρασία χύτευσης
 το μικρό ύψος του κατακόρυφου αγωγού
 ο στενός οριζόντιος αγωγός ή θυρίδες
 το μικρό πορώδες της άμμου
 το ψυχρό μέταλλο λόγω υγρής άμμου.
Εικόνα 3.21: Διακοπή ροής
3.12 Τραχιά επιφάνεια (rough surface)
Πρόκειται για τραχύτητα επιφάνειας υψηλότερη της αναμενόμενης.

Τα πιθανά αίτια τραχιάς επιφάνειας είναι:
 το μη καθαρό μοδέλο
 η χονδρόκοκκη ή μη κοσκινισμένη επιφανειακή άμμος
 η μη συμπιεσμένη άμμος
 η χρήση μεγάλης ποσότητας άμμου διαχωρισμού (σεπάρι) μεταξύ των δύο τεμαχίων
 το πολύ θερμό μέταλλο
 η υψηλή υγρασία της άμμου χυτηρίου
 το μεγάλο ύψος του κατακόρυφου αγωγού και άρα η μεγάλη πίεση τήγματος.
|20|
Εικόνα 3.22: Τραχιά επιφάνεια χυτού
Εικόνα 3.23: Αμερικανική Ένωση Χυτηρίων C-9. Πρότυπο σύγκρισης τραχύτητας επιφανείας
από 20 έως 900 rms
3.13 Οπές από άμμο (sand holes)
Οι οπές είναι αποτέλεσμα της ύπαρξης ψηγμάτων χαλαρής άμμου μέσα στην
κοιλότητα. Συχνά οι οπές περιέχουν άμμο και στην περίπτωση χυτών αλουμινίου
εμφανίζονται στην κάτω επιφάνειά τους.
Εικόνα 3.24: Οπές από άμμο
Τα πιθανά αίτια εμφάνισης οπών από άμμο είναι:

 η μη απομάκρυνση της χαλαρής άμμου από την κοιλότητα του καλουπιού προ της
χυτεύσεως
 η χαμηλή υγρασία της άμμου
 η χαμηλή συμπίεση της άμμου
 η χαμηλή συνεκτικότητα της άμμου
 η επιπόλαιη προπαρασκευή της άμμου.
|21|
3.14 Σύντηξη άμμου (burn in)
Το ελάττωμα της σύντηξης άμμου συμβαίνει, όταν ένα λεπτό στρώμα άμμου
συντήκεται με τη μεταλλική επιδερμίδα του χυτού και σχηματίζει μία υαλώδη ανώμαλη
επιφάνεια. Συμβαίνει συχνότερα στις θερμότερες περιοχές του χυτού.
Τα πιθανά αίτια της σύντηξης άμμου είναι:
 η μεγάλη θερμοκρασία τήγματος
 η αυξημένη υγρασία στην άμμο
 ο λανθασμένος σχεδιασμός θυρίδων και θρεπτικών μαζών που δημιουργούν θερμά
σημεία στον τύπο
 οι ανεπαρκείς καμπυλώσεις των εσωτερικών γωνιών του χυτού
 τα λεπτά τοιχώματα άμμου τα οποία περιβάλλονται από παχιά τμήματα χυτού.
Εικόνα 3.25: Σύντηξη άμμου
3.15 Διείσδυση μετάλλου (burn on)
Πρόκειται για ασυνέχεια κατά την οποία μάζα άμμου υπό μορφή φλοιού, είναι
συγκολλημένη στο χυτό λόγω διείσδυσης τήγματος εσωτερικά. Αυτή η άμμος δε μπορεί να
αφαιρεθεί με αμμοβολή παρά μόνο με τρόχισμα.
Τα πιθανά αίτια της διείσδυσης μετάλλου είναι:
 η μεγάλη θερμοκρασία τήγματος
 η μεγάλη εκχυτότητα τήγματος
 η μη ομαλή διανομή του μετάλλου στην κοιλότητα λόγω κακού σχεδιασμού
θυρίδων.
Εικόνα 3.26: Διείσδυση μετάλλου
|22|
3.16 Διαβρώσεις άμμου (cuts and washes)
Το συγκεκριμένο ελάττωμα προκύπτει, όταν το σχήμα της κοιλότητας του

καλουπιού αλλάζει λόγω διάβρωσης της άμμου από τη ροή του τήγματος ή λόγω
χαλάρωσης της άμμου κατά την απομάκρυνση του μοδέλου. Το ελάττωμα εμφανίζεται στο
χυτό ως εγκλωβισμός ψηγμάτων άμμου στην επιφάνειά του ή στη μάζα του.
Εικόνα 3.27: Διαβρώσεις άμμου
Τα πιθανά αίτια των διαβρώσεων άμμου είναι:

 η πολύ ξηρή άμμος
 το μοδέλο με μικρή κλίση στις κάθετες επιφάνειες που προξενεί χαλάρωση της
άμμου των τοιχωμάτων
 η πρόχειρη ανάμειξη κατά την προπαρασκευή της άμμου
 η υψηλή ταχύτητα του τήγματος λόγω κακού σχεδιασμού των θυρίδων.
3.17 Πτώσεις (drops)
Το ελάττωμα της πτώσης προκύπτει όταν τμήματα των τοιχωμάτων της κοιλότητας
καταρρέουν εντός της κοιλότητας.
Τα πιθανά αίτια των πτώσεων είναι:
 η πολύ ξηρή άμμος
 η συσσώρευση λεπτόκοκκης άμμου
 η απρόσεκτη μετακίνηση του τύπου με ύπαρξη χτυπημάτων και κραδασμών.
Εικόνα 3.28: Πτώσεις
|23|
3.18 Ακαθαρσίες και σκουριές στο χυτό (dross and slags)
Οι ακαθαρσίες εμφανίζονται συνήθως στις επιφάνειες που είναι στο άνω μέρος του
καλουπιού. Ακόμη και ο σχολαστικός καθαρισμός των ακαθαρσιών της επιφάνειας του
τήγματος δε μπορεί να προσφέρει επαρκή προφύλαξη, εάν δε σχεδιαστεί σωστά το
σύστημα αγωγών διόδου του μετάλλου. Το πρώτο μέταλλο που εισχωρεί στο σύστημα
αγωγών, εισάγει συνήθως και παρασύρει κατά την διαδρομή του τέτοια υλικά, ενώ
ταυτόχρονα ψύχεται έντονα. Συνεπώς, η δημιουργία λεκάνης πρώτου τήγματος στο τέλος
του οριζόντιου αγωγού κρίνεται απαραίτητη.
Τα πιθανά αίτια των ακαθαρσιών και των σκουριών στο χυτό είναι:
 ο μη προσεκτικός καθαρισμός του μετάλλου
 ο λανθασμένος σχεδιασμός συστήματος θυρίδων. Κανονικά οι θυρίδες
κατασκευάζονται στο άνω μέρος του πλαισίου, ενώ ο οριζόντιος αγωγός στο κάτω
μέρος του
 η ανυπαρξία λεκάνης πρώτου τήγματος στο τέλος του οριζοντίου αγωγού
 η κακή επιλογή του μετάλλου και η σωστή τήξη, συλλίπανση και απαερίωση.
Εικόνα 3.29: Ακαθαρσίες και σκουριές σε χυτό
3.19 Διαστολή της άμμου (expansion defects)
Οι αστοχίες που δημιουργούνται είναι διαφόρων τύπων, όπως ακανόνιστες

αυλακώσεις στην επιφάνεια του χυτού κοντά στις θυρίδες και στο κάτω μέρος του. Η
θερμότητα του εισερχόμενου τήγματος προξενεί διαστολή-συμπίεση και κύρτωση της
επιφανειακής άμμου, ενώ το μέταλλο αντιγράφει τη μορφή της άμμου.
Εικόνα 3.30: Διαστολή της άμμου
|24|
3.20 Οδοντώσεις σχήματος “V” (buckles)
Μπορεί να εμφανισθούν σε όλες τις επιφάνειες, συνήθως όμως εμφανίζονται στις

οριζόντιες. Η θερμότητα του μετάλλου διαστέλλει την άμμο, ενώ τα τοιχώματα της
κοιλότητας παραμορφώνονται προς τα έσω και ρηγματώνονται, οπότε το μέταλλο
αντιγράφει τη ρωγμή χωρίς να διεισδύει στην άμμο.
Εικόνα 3.31: Οδοντώσεις σχήματος V
3.21 Φυλλοειδείς προβολές (expansion scabs)
Είναι ακανόνιστοι λεπτοί φυλλοειδείς σχηματισμοί, οι οποίοι ενώνονται με την

επιφάνεια του χυτού σε μερικά σημεία παρουσία άμμου μεταξύ τους. Αυτό συμβαίνει, διότι
το μέταλλο μετά την εκτόνωση και θραύση της άμμου ρέει κάτω από την επιφάνεια
θραύσεώς της, δημιουργώντας αυτές τις προβολές.
Τα πιθανά αίτια των φυλλοειδών προβολών είναι:
 η αργή χύτευση: το μέταλλο ρέει αργά
 η υψηλή υγρασία της άμμου
 η ισχυρά συμπιεσμένη άμμος
 το μεγάλο ποσοστό λεπτόκοκκης άμμου
 η φτωχή ή μη κανονική ανάμειξη της άμμου
 το σύστημα αγωγών διόδου του μετάλλου είναι υποδιαστασιολογημένο.
Εικόνα 3.32: Φυλλοειδείς προβολές
|25|
4. ΑΣΥΝΕΧΕΙΕΣ ΠΡΩΤΟΓΕΝΟΥΣ ΔΙΕΡΓΑΣΙΑΣ ΣΕ ΠΡΟΪΟΝΤΑ ΕΛΑΣΗΣ
ΚΑΙ ΣΦΥΡΗΛΑΤΗΣΗΣ
Η συγκεκριμένη κατηγορία αναφέρεται στις ασυνέχειες που προκαλούνται κατά τη

διάρκεια της θερμής ή ψυχρής διαμόρφωσης όπως η διέλαση, η σφυρηλάτηση, η έλαση, η
ολκή, η συγκόλληση, κ.λπ. Σημειώνεται ότι ορισμένες από τις σύμφυτες ασυνέχειες
ενδέχεται να διαδοθούν.
4.1 Αναδίπλωση (lap)
Η ασυνέχεια αυτή εμφανίζεται σε προϊόντα έλασης, διέλασης, αλλά και

σφυρηλάτησης (forging lap). Πρόκειται για τη δημιουργία επιφανειακής πτυχής, η οποία
στη συνέχεια γίνεται επίπεδη. Οι αναδιπλώσεις μπορεί να προκληθούν από ελαττωματικές
ή υπερμεγέθεις μήτρες. Δημιουργούνται συνήθως από κακό ή ακατάλληλο σχεδιασμό της
μήτρας, γι’ αυτό και πολλές φορές κατηγοριοποιούνται ως σφάλματα γεωμετρίας.
Εικόνα 4.1: Αναδιπλώσεις
|26|
4.2 Ραφή (seam)
Παρατηρείται σε επιμήκη προϊόντα έλασης και σφυρηλάτησης, ράβδους, άξονες και

σύρματα. Προέρχονται από την επιμήκυνση ασυνεχειών πλινθωμάτων (επιφανειακές
ρωγμές, αεριοπές και αναδιπλώσεις). Συνήθως, η ραφή είναι ανοικτή στην επιφάνεια και
παράλληλη προς τη διεύθυνση της κατεργασίας.
Οι ραφές είναι επιμήκεις επιφανειακές ασυνέχειες που δημιουργούνται σε σωλήνες
ή ράβδους κατά τη διάρκεια της έλασης, της διέλασης ή της σωληνοποίησης. Οι
συγκεκριμένες ασυνέχειες παρουσιάζονται ως περιοχές ελλιπούς πλήρωσης, οι οποίες
μπορεί να προκύψουν λόγω ύπαρξης πόρων ή ρηγμάτων στο δοκίμιο. Οι ραφές μπορεί
επίσης να προκύψουν από τη χρήση ελαττωματικών μητρών ή λόγω ελλιπούς λίπανσης ή
υπερδιαστασιολόγησής τους.
Εικόνα 4.2: Ραφές σε κοχλία
Εικόνα 4.3: Ραφές κατά την έλαση προϊόντων
4.3 Επίμηκες έγκλεισμα (stringer)
Πρόκειται για μη μεταλλικό έγκλεισμα, παράλληλο στη διεύθυνση ροής του

μετάλλου κατά την έλαση ή σφυρηλάτηση, επιφανειακό ή υπο-επιφανειακό. Προέρχεται
από την επιμήκυνση προϋπαρχόντων εγκλεισμάτων.
Τα μη μεταλλικά εγκλείσματα είναι ακαθαρσίες, όπως σκωρία, οξείδια και
σουλφίδια, τα οποία υπάρχουν στο πρωτόχυτο. Κατά την έλαση των μπιγιετών σε ράβδους,
οι ακαθαρσίες επιμηκύνονται. Αυτά τα προσανατολισμένα εγκλείσματα στο τελικό προϊόν
αναφέρονται ως μη μεταλλικά εγκλείσματα ή με τον αγγλικό όρο “stringers”. Μπορεί να
εμφανίζονται επιφανειακά ή υποεπιφανειακά και είναι συνήθως μικρά σε μήκος και
παράλληλα με τη ροή των κόκκων.
|27|
Εικόνα 4.4: Επιμήκη εγκλείσματα
4.4 Διαστρωμάτωση (lamination)
Πρόκειται για επίπεδη ασυνέχεια. Παρουσιάζεται σε επίπεδες μορφές χαλύβων

(ελάσματα, ταινίες), παράλληλα με τη διεύθυνση της έλασης. Οι δυο επιφάνειες του υλικού
ενδέχεται να διαχωρίζονται από λεπτό στρώμα οξειδίων. Δημιουργείται κατά την έλαση
προϋπάρχοντων διακενώσεων (pipes), ραφών (seams), εγκλεισμάτων (inclusions),
διαφορισμών (segregation), αεριοπών (blowholes) και ρωγμών (fissure cracks).
Ανιχνεύονται αποκλειστικά με την μέθοδο των υπερήχων και συγκεκριμένα με τη χρήση
καθέτου μετατροπέα.
Εικόνα 4.5: Ανάπτυξη διαστρωμάτωσης λόγω ύπαρξης μη μεταλλικών εγκλεισμάτων
Εικόνα 4.6: Διαστρωμάτωση
|28|
4.5 Από-ελασματοποίηση (delamination)
Η από-ελασματοποίηση ή διεπιφανειακή ρωγμή είναι μια ρωγμή που ξεκινά και

αναπτύσσεται μεταξύ των διαφόρων στρώσεων ενός σύνθετου υλικού (composite).
Εικόνα 4.7: Από-ελασματοποίηση
4.6 Ζωνοποίηση (banding)
Καθώς το πλίνθωμα σφυρηλατείται ή υπόκειται σε έλαση / διέλαση, οι διαφορισμοί

που ενδέχεται να υπάρχουν επιμηκύνονται και η διατομή τους ελαττώνεται. Κατά τη
συνέχιση της εργασίας, οι διαφορισμοί εξακολουθούν να επιμηκύνονται και να
ελαττώνονται, ενώ παρουσιάζονται ως πολύ λεπτές παράλληλες γραμμές ή ζώνες. Ο
σχηματισμός αυτός είναι γνωστός ως ζωνοποίηση. Γενικά, δε θεωρείται κρίσιμη ασυνέχεια.
Ωστόσο, μπορεί να οδηγήσει σε διαστρωματική ρηγμάτωση (lamellar tearing).
4.7 Σκάσιμο / άνοιγμα σφυρηλάτησης (forging burst)
Πρόκειται για επιφανειακή ή εσωτερική ρηγμάτωση του υλικού κατά τη

σφυρηλάτηση (αλλά ενδεχομένως και σε περιπτώσεις έλασης). Σε γενικές γραμμές,
προκαλείται από ακατάλληλες τεχνικές σφυρηλάτησης, θερμοκρασία χαμηλότερη από την
θερμοκρασία σφυρηλάτησης ή μεγάλα φορτία κατεργασίας.
Οι εσωτερικές ρηγματώσεις σφυρηλασίας σχηματίζονται σε υψηλές θερμοκρασίες
λόγω της παρουσίας σύμφυτων ασυνεχειών, οι οποίες επιμηκύνονται κατά τη διάρκεια της
διαδικασίας διαμόρφωσης.
Οι εξωτερικές ρηγματώσεις σφυρηλασίας σχηματίζονται, όταν το τμήμα του
αντικειμένου που σφυρηλατείται έχει πολύ λεπτά τοιχώματα.
|29|
Εικόνα 4.8: Ενδεικτικές εικόνες από σκασίματα-ανοίγματα σφυρηλάτησης
Εικόνα 4.9: Σκασίματα σε χαλύβδινο σφυρήλατο βαρελοειδές δοκίμιο (αριστερά),

σκάσιμο σε μπιγιέτα (δεξιά)
4.8 Φολίδες / Νιφάδες (flakes)
Οι φολίδες/νιφάδες είναι εσωτερικές ρηγματώσεις που μπορεί να προκύψουν στο

χάλυβα, ως αποτέλεσμα των εσωτερικών τάσεων που προκαλούν οι μεταλλουργικοί
μετασχηματισμοί και της μειωμένης διαλυτότητας του υδρογόνου εξαιτίας της γρήγορης
ψύξης. Οι φολίδες/νιφάδες δημιουργούνται συνήθως σε μεγάλες διατομές και βαριά
χαλύβδινα προϊόντα σφυρηλάτησης. Ορισμένα κράματα είναι πιο ευαίσθητα από άλλα στο
συγκεκριμένο τύπο ασυνέχειας.
Εικόνα 4.10: Φολίδες σε χαλύβδινο προϊόν σφυρηλάτησης
|30|
5. ΑΣΥΝΕΧΕΙΕΣ ΔΕΥΤΕΡΟΓΕΝΟΥΣ ΔΙΕΡΓΑΣΙΑΣ
5.1 Ρήγματα θερμικής κατεργασίας (heat treatment cracks)
Οι ρωγμές θερμικής κατεργασίας εμφανίζονται κυρίως κατά τη διάρκεια της βαφής,

ιδίως όταν η εμβάπτιση του δοκιμίου για την ταχεία ψύξη του γίνεται σε λάδι. Κατά τη
διάρκεια της βαφής, η επιφάνεια ψύχεται αμέσως μετά την επαφή του υγρού, ενώ η ψύξη
στον πυρήνα του υλικού είναι πιο αργή. Αυτή η διαφορά στην ταχύτητα ψύξης προκαλεί
παραμένουσες τάσεις στο δοκίμιο, ενώ ενδέχεται να οδηγήσει σε ρωγμές στην επιφάνεια,
εάν η εναπομένουσα τάση εφελκυσμού είναι μεγαλύτερη από την αντοχή του υλικού.
Στους χάλυβες, ο ωστενίτης μετασχηματίζεται σε φερρίτη και μαρτενσίτη κατά την ψύξη.
Αυτός ο μετασχηματισμός καταλήγει σε αύξηση του όγκου του δοκιμίου με αποτέλεσμα
την πρόκληση τάσεων εφελκυσμού στην επιφάνειά του καθώς ο μετασχηματισμός και η
στερεοποίηση της επιφάνειας γίνονται γρηγορότερα σε σχέση με τον πυρήνα του.
Πιθανότερα σημεία εμφάνισης των ρηγμάτων θερμικής κατεργασίας είναι οι θέσεις
απότομης αλλαγής διατομής και οι εγκοπές διαφόρων μορφών.
Εικόνα 5.1: Ρήγματα θερμικής κατεργασίας
5.2 Ρήγματα μηχανικής κατεργασίας (machining tears)
Παρουσιάζονται στην επιφάνεια του υλικού, κυρίως λόγω ακατάλληλου ή

φθαρμένου κοπτικού εργαλείου ή έλλειψης ψυκτικού μέσου. Πρόκειται για μικρού μήκους
ρηγματώσεις, ακανόνιστων διευθύνσεων που υπάρχουν συνήθως σε μαλακούς χάλυβες.
Ανιχνεύονται εύκολα με τη μέθοδο των Μαγνητικών Σωματιδίων.
Εικόνα 5.2: Ρήγματα μηχανικής κατεργασίας
|31|
5.3 Ρήγματα λειάνσεως (grinding cracks)
Η λείανση σκληρυμένων επιφανειών προκαλεί συνήθως επιφανειακές ρηγματώσεις.

Η τοπική υπερθέρμανση λόγω της ανεπαρκούς ψύξης, οι ακατάλληλοι τροχοί λείανσης, η
πολύ γρήγορη πρόωση και το μεγάλο βάθος κατεργασίας αποτελούν αιτίες αυτών των
θερμικών ρηγμάτων. Πρόκειται για ρήγματα μικρού βάθους και αιχμηρά στη ρίζα τους. Σε
γενικές γραμμές εμφανίζονται σε ορθή γωνία σε σχέση με την κατεύθυνση λείανσης, ενώ
συνήθως, αλλά όχι πάντα, εμφανίζονται σε πολλαπλές διευθύνσεις. Τα ρήγματα λειάνσεως
μειώνουν την αντοχή στην κόπωση του δοκιμίου, ενώ θεωρούνται υψηλής επικινδυνότητας
για το υλικό, αφού ενεργούν ως σημεία συγκέντρωσης τάσεων (stress raisers).
Εικόνα 5.3: Ρήγματα λειάνσεως
5.4 Ρήγματα επιμετάλλωσης (plating cracks)
Οι χαλύβδινες επιφάνειες μεγάλης σκληρότητας (και μεγάλων εσωτερικών τάσεων)

παρουσιάζουν ρηγματώσεις κατά τη φάση της ηλεκτρο-επικάλυψης (electroplating) ή του
θερμού γαλβανισμού ή άλλης θερμής επικάλυψης ή ακόμα κατά το χημικό καθαρισμό που
προηγήθηκε (συνήθως μέσω προσβολής pickling/etching).
Πρόκειται για εξαιρετικά επικίνδυνα ρήγματα διαφόρων διευθύνσεων, τα οποία
προσομοιάζουν εξαιρετικά με τα ρήγματα θερμικής κατεργασίας. Μπορεί να οδηγήσουν
σύντομα σε κόπωση του υλικού και οφείλονται στις υπάρχουσες εσωτερικές τάσεις, αλλά
και στην επίδραση υδρογόνου.
Εικόνα 5.4: Ρήγματα επιμετάλλωσης
|32|
6. ΑΣΥΝΕΧΕΙΕΣ ΚΑΤΑ ΤΗ ΛΕΙΤΟΥΡΓΊΑ
6.1 Ρήγμα κοπώσεως (fatigue crack)
Πρόκειται για ρήγμα σε υλικά τα οποία υφίστανται δυναμική καταπόνηση πάνω από
το όριο κόπωσης. Ξεκινά σχεδόν πάντα από επιφανειακές μικροατέλειες, με αιχμηρό
συνήθως άκρο ή σημεία συγκέντρωσης τάσεων όπως απότομες αλλαγές διατομής και
εγκοπές και εξελίσσεται σταδιακά μεν, αλλά σχετικά γρήγορα σε περιοχές ομόκεντρες της
αρχικής ασυνέχειας (δακτύλιοι). Ένα τέτοιου είδους ρήγμα παρουσιάζεται
ενδοκρυσταλλικά (transgranular), διασπώντας τους κόκκους του υλικού. Πρόκειται για μια
εξαιρετικά επικίνδυνη ασυνέχεια, η οποία οδηγεί σύντομα σε θραύση του υλικού. Η
ανίχνευση της στα πρώιμα στάδια σχηματισμού της είναι υψίστης σημασίας.
Εικόνα 6.1: Ρήγματα κοπώσεως
6.2 Οξείδωση (oxidation)
Ο όρος οξειδοαναγωγή περιγράφει το μηχανισμό κατά τον οποίο μεταβάλλεται ο

αριθμός οξείδωσης των ατόμων των στοιχείων που συμμετέχουν. Η διαδικασία της
οξειδοαναγωγής μπορεί να γίνεται σχετικά απλά και γρήγορα, όπως η οξείδωση του
άνθρακα από το οξυγόνο προς διοξείδιο του άνθρακα, ή μπορεί να είναι μια πολύπλοκη
διαδικασία, όπως η οξείδωση της γλυκόζης στους οργανισμούς, η οποία επιτυγχάνεται
μέσω πολύπλοκων διεργασιών μεταφοράς ηλεκτρονίων.
Οι αντιδράσεις στις οποίες παρατηρείται μεταβολή του αριθμού οξείδωσης των
στοιχείων που συμμετέχουν ονομάζονται οξειδοαναγωγικές αντιδράσεις και ταξινομούνται
σε διάφορες κατηγορίες όπως, αντιδράσεις σύνθεσης, αντιδράσεις αποσύνθεσης,
αντιδράσεις απλής αντικατάστασης κ.λπ. Για το σημαντικό ρόλο των οξειδοαναγωγικών
αντιδράσεων αρκεί να αναφερθεί ότι οι βασικές βιολογικές αντιδράσεις καθώς και οι
αντιδράσεις καύσης οι οποίες αποτελούν την κύρια πηγή ενέργειας, είναι αντιδράσεις
οξειδοαναγωγής. Εκτός από αυτές όμως, πολυάριθμες είναι οι αντιδράσεις οξειδοαναγωγής
που έχουν μεγάλη σημασία στην τεχνολογία για την παραγωγή χρήσιμων προϊόντων, ενώ
άλλες έχουν ιδιαίτερη περιβαλλοντική σημασία.
6.3 Διάβρωση (corrosion)
Γενικά, ο όρος διάβρωση περιγράφει τα φαινόμενα τα οποία οφείλονται στην

αλληλεπίδραση ενός υλικού (κυρίως των μετάλλων) με το εξωτερικό του περιβάλλον και
οδηγούν σταδιακά στην υποβάθμιση των ιδιοτήτων του ή / και στη χημική μετατροπή του.
Η διάβρωση των μετάλλων οφείλεται κυρίως στην οξείδωσή τους από διάφορα
οξειδωτικά μέσα και μπορεί να είναι επιφανειακή ή να προχωρά σε βαθύτερα στρώματα,
υπονομεύοντας το χρόνο ζωής των μεταλλικών αντικειμένων.
|33|
Χαρακτηριστικό παράδειγμα διάβρωσης σε βάθος είναι το σκούριασμα των
σιδερένιων και χαλύβδινων αντικειμένων λόγω της επίδρασης οξυγόνου διαλυμένου σε
νερό (ατμοσφαιρική υγρασία, υγρασία εδάφους, επιφανειακά στρώματα της θάλασσας).
Εικόνα 6.2: Φαινόμενο διάβρωσης
Αντιδιαβρωτική προστασία
Για την προστασία των σιδερένιων και χαλύβδινων αντικειμένων από τη διάβρωση
υπάρχουν διάφορες τεχνικές και υλικά επίστρωσης. Τα υλικά επίστρωσης (αντιδιαβρωτικές
βαφές και λιπαντικά) προστατεύουν την επιφάνεια των αντικειμένων από το ατμοσφαιρικό
οξυγόνο. Τον ίδιο σκοπό εξυπηρετεί και ο γαλβανισμός (επιψευδαργύρωση) και
γενικότερα η επιμετάλλωση, δηλαδή η επίστρωση των επιφανειών με λιγότερο ευπαθή
μέταλλα, όπως για παράδειγμα το νικέλιο και το χρώμιο. Τέλος, υπάρχει και η μέθοδος της
καθοδικής αντιδιαβρωτικής προστασίας, η οποία χρησιμοποιείται επιπρόσθετα στη βαφή
με άσφαλτο για υπόγειους σωλήνες και δοχεία, όπως και στις υδραυλικές εγκαταστάσεις
από χάλυβα και μεταλλάκτες θερμότητας. Παρόλα αυτά, η διάβρωση του σιδήρου
παραμένει ένα σημαντικό οικονομικό και περιβαλλοντικό πρόβλημα, καθώς εκτιμάται ότι
το ποσοστό των σιδερένιων και χαλύβδινων αντικειμένων που αχρηστεύονται κάθε χρόνο
λόγω διάβρωσης, αντιστοιχεί στο 1/3 με 1/4 της παγκόσμιας παραγωγής χυτοσιδήρου και
χάλυβα, η οποία κυμαίνεται περίπου στο ένα δισεκατομμύριο μετρικούς τόνους (mmt)
ετησίως (περίπου το 95% της παγκόσμιας παραγωγής ακατέργαστων μετάλλων).
Η διάβρωση ταξινομείται στις παρακάτω βασικές κατηγορίες:
6.3.1 Ομοιόμορφη προσβολή (uniform attack)
Πρόκειται για τη συχνότερη περίπτωση διάβρωσης, μέσω χημικής προσβολής της

επιφάνειας και σχεδόν ομοιόμορφη ελάττωση του πάχους του μετάλλου.
6.3.2 Γαλβανική διάβρωση (galvanic corrosion)
Όταν δύο διαφορετικά μέταλλα βρίσκονται σε αγώγιμη επαφή μεταξύ τους σε

διαβρωτικό περιβάλλον τότε διαβρώνεται σχεδόν αποκλειστικά το μη ευγενές μέταλλο. Η
φύση αυτής της διάβρωσης είναι καθαρά ηλεκτροχημική και ονομάζεται γαλβανική ή
επαφής.
Διαφορετικά μέταλλα και κράματα έχουν διαφορετικά ηλεκτροχημικά δυναμικά (ή
δυναμικά διάβρωσης) στον ίδιο ηλεκτρολύτη. Το ηλεκτροχημικό δυναμικό των διαφόρων
μετάλλων και των κραμάτων που μετράται σε έναν κοινό ηλεκτρολύτη (π.χ. φυσικό
θαλασσινό νερό) και παρατίθενται σε μορφή πίνακα καλείται ηλεκτροχημική σειρά. Το
ηλεκτροχημικό δυναμικό πρέπει να μετράται για όλα τα μέταλλα και τα κράματα στον ίδιο
ηλεκτρολύτη, κάτω από τις ίδιες περιβαλλοντικές συνθήκες (θερμοκρασία, pH, ταχύτητα
ροής κ.λπ). Σε διαφορετική περίπτωση, τα δυναμικά δεν είναι συγκρίσιμα.
Η διαφορά δυναμικού μεταξύ δύο ανόμοιων μετάλλων είναι η κινητήρια δύναμη για
τη γαλβανική προσβολή του ενεργού μετάλλου (άνοδος). Το ρεύμα ρέει μέσω του
ηλεκτρολύτη από το πιο ευγενές μέταλλο (κάθοδος) στο λιγότερο ευγενές (άνοδος),
|34|
διαβρώνοντάς το. Η αγωγιμότητα του ηλεκτρολύτη επηρεάζει το βαθμό της γαλβανικής
προσβολής.
Κατά τη γειτνίαση δύο διαφορετικών μετάλλων μέσα σε αγώγιμο διάλυμα, το πιο
ηλεκτραρνητικό από τα δύο διαλύεται. Ο χάλυβας είναι οξειδωτικός και προστατεύεται
μόνο από την παρουσία αναγωγικών μετάλλων, όπως ο ψευδάργυρος, το καθαρό
αλουμίνιο, το κάδμιο και το μαγνήσιο.
Εικόνα 6.3: Γαλβανική διάβρωση
6.3.3 Διάβρωση σχισμών (crevice corrosion)
Πρόκειται για την τοπική προσβολή πάνω ή δίπλα σε μία σχισμή μεταξύ δύο
ενωμένων επιφανειών. Η σχισμή μπορεί να διαμορφώνεται μεταξύ δύο μετάλλων ή ενός
μετάλλου και ενός μη μεταλλικού υλικού. Η ζημιά που προκαλείται από τη διάβρωση
σχισμής περιορίζεται συνήθως σε ένα μέταλλο σε περιοχή εντός ή κοντά στις συνδεόμενες
επιφάνειες.
Στην Εικόνα 6.4, ο σωλήνας από ανοξείδωτο χάλυβα τύπου 316 υπέστη διάβρωση
σχισμής εξαιτίας της σχισμής μεταξύ του σωλήνα και του ελάσματος.
Η διάβρωση σχισμής παρουσιάζεται πιο έντονα σε επιφάνειες κάτω από κεφαλές κοχλιών
και ήλων, μεταξύ επικαλυπτόμενων μετάλλων, μεταξύ φλαντζών κ.λπ. Η διάβρωση
σχισμών συνδέεται συχνά με μικρές ποσότητες λιμνάζοντος διαλύματος ή ηλεκτρολύτη
που έχει αιχμαλωτιστεί σε σχισμές και συνδέσεις ή σε επιφανειακές εναποθέσεις και
καταπλάσματα.
Η διάβρωση σχισμής ξεκινά λόγω διαφοράς στη συγκέντρωση ορισμένων χημικών
συστατικών, συνήθως του οξυγόνου. Έξω από την σχισμή (κάθοδος), η περιεκτικότητα σε
οξυγόνο και το ρΗ είναι αυξημένα ενώ, η περιεκτικότητα σε χλωρίδια είναι χαμηλή.
Μόλις σχηματιστεί η σχισμή, ο μηχανισμός διάδοσής της είναι όμοιος με τον μηχανισμό
της τρηματικής διάβρωσης.
Πρόληψη:
Απαιτείται η χρήση μετωπικής συγκόλλησης αντί λυόμενων συνδέσεων με κοχλίες.
Απαιτείται η εξάλειψη των σχισμών σε υφιστάμενες συγκολλήσεις επικάλυψης με συνεχή
συγκόλληση.
Απαιτείται η χρήση μη απορροφητικών παρεμβυσμάτων (φλάντζες) όπως π.χ. από PTFE
(τεφλόν).
Απαιτείται η χρήση κραμάτων αυξημένης αντοχής σε διάβρωση σχισμών (ASTM G48).
Εικόνα 6.4: Διάβρωση σχισμών
|35|
6.3.4 Τρηματική διάβρωση (pitting)
Η τρηματική διάβρωση είναι η τοπική διάβρωση μιας μεταλλικής επιφάνειας, η

οποία περιορίζεται σε ένα σημείο ή μικρή περιοχή με την μορφή τοπικών κοιλοτήτων. Η
τρηματική διάβρωση είναι μία από τις πιο καταστροφικές μορφές διάβρωσης και
ανιχνεύεται δύσκολα. Η Εικόνα 6.5 απεικονίζει τη διάβρωση σε διφασικό ανοξείδωτο
χάλυβα (SAF2304 duplex) μετά από έκθεση σε διάλυμα χλωριούχου νατρίου (NaCl 3,5%).
Εικόνα 6.5: Τρηματική διάβρωση σε διφασικό ανοξείδωτο χάλυβα (SAF2304 duplex)
Η τρηματική διάβρωση συνήθως προσβάλλει μέταλλα και κράματα, όπως κράματα

αλουμινίου, ανοξείδωτο χάλυβα, όταν το λεπτό προστατευτικό στρώμα (φιλμ οξειδίου) έχει
καταστραφεί χημικά ή μηχανικά. Οι τοπικές κοιλότητες που δημιουργούνται μπορεί να
οδηγήσουν ταχέως σε διάτρηση του αντικειμένου.
Η τρηματική διάβρωση απαντάται συχνότερα σε περιβάλλον χλωρίου.
Αναπτύσσεται, συνήθως, κατά τη διεύθυνση της βαρύτητας, σε οριζόντια τμήματα του
μετάλλου και προκαλείται από επικαθήμενες σταγόνες νερού, ακαθαρσιών, υγρασίας, κ.λπ.
Σε ένα ομοιογενές περιβάλλον, η τρηματική διάβρωση προκαλείται από το υλικό το
οποίο μπορεί να περιέχει εγκλείσματα. Σημειώνεται ότι το θειούχο μαγγάνιο είναι ο κύριος
ένοχος για την έναρξη της τρηματικής διάβρωσης σε χάλυβες. Στις περισσότερες
περιπτώσεις, στην έναρξη της τρηματικής διάβρωσης συμβάλλουν, τόσο το περιβάλλον
όσο και το υλικό. Η αντίσταση ενός υλικού στην τρηματική διάβρωση αξιολογείται και
κατατάσσεται με βάση την κρίσιμη θερμοκρασία τρηματικής διάβρωσης (CPT), σύμφωνα
με πρότυπο της ASTM.
Πρόληψη:
Απαιτείται η σωστή επιλογή των υλικών με αντοχή στο περιβάλλον λειτουργίας τους.
Απαιτείται έλεγχος του pH, της συγκέντρωσης των χλωριδίων και της θερμοκρασίας.
Απαιτείται η καθοδική και / ή ανοδική προστασία.
Απαιτείται η χρήση κραμάτων αυξημένης αντοχής στην τρηματική διάβρωση (ASTM
G48).
Εικόνα 6.6: Τρηματική διάβρωση
|36|
6.3.5 Περικρυσταλλική διάβρωση (intergranular corrosion)
Η παρουσία εφελκυστικών τάσεων στα όρια των κόκκων μπορεί να οδηγήσει σε

ρηγμάτωση στα όρια τους. Ο τύπος της συγκεκριμένης διάβρωσης ονομάζεται
περικρυσταλλική διάβρωση.
Η ταυτοποίηση αυτού του τύπου διάβρωσης απαιτεί συνήθως την εξέταση της
μικροδομής του υλικού με μικροσκόπιο αν και μερικές φορές είναι και οπτικά
αναγνωρίσιμη, όπως στην περίπτωση διάβρωσης τύπου weld decay. Απαντάται κυρίως σε
ωστενιτικούς ανοξείδωτους χάλυβες τύπου 18-8, σε θερμοκρασίες 500°C - 800°C και
σχετίζεται με τη χαμηλή διαλυτότητα του χρωμίου στο χάλυβα σε αυτές τις θερμοκρασίες.
Επομένως, σχετίζεται και με την ύπαρξη χαμηλού περιεχομένου σε χρώμιο στα όρια των
κόκκων.
Ο τύπος διάβρωσης weld decay είναι μια μορφή περικρυσταλλικής διάβρωσης.
Απαντάται συνήθως στους ανοξείδωτους χάλυβες και ορισμένα κράματα νικελίου.
Συμβαίνει λόγω της ευαισθησίας της θερμικά επηρεαζόμενης ζώνης κατά την διάρκεια της
συγκόλλησης. Η περικρυσταλλική διάβρωση απαντάται ακόμη σε κράματα αλουμινίου και
αλουμινίου-ψευδαργύρου.
Πρόληψη:
Απαιτείται η χρήση ανοξείδωτου χάλυβα χαμηλής περιεκτικότητας σε άνθρακα (π.χ. 304L,
316L).
Απαιτείται η χρήση κραμάτων τιτανίου (τύπου 321) ή νιοβίου (τύπου 347).
Το τιτάνιο και το νιόβιο δημιουργούν ισχυρά καρβίδια. Αντιδρούν με τον άνθρακα για να
σχηματίσουν τα αντίστοιχα καρβίδια εμποδίζοντας έτσι την μείωση του χρωμίου.
Απαιτείται η εφαρμογή θερμικής κατεργασίας (ανόπτηση) μετά τη συγκόλληση.
Εικόνα 6.7: Περικρυσταλλική διάβρωση όπως φαίνεται στο μικροσκόπιο
6.3.6 Επιλεκτική αποκραμάτωση (selective leaching / parting)
Πρόκειται για την επιλεκτική αφαίρεση ενός στοιχείου του κράματος, μέσω του
μηχανισμού διάβρωσης. Το πιο κοινό παράδειγμα είναι η αφαίρεση ψευδαργύρου από
κράματα ορειχάλκου.
6.3.7 Φθορά - διάβρωση (erosion corrosion)
Πρόκειται για μια διεργασία επιτάχυνσης της διάβρωσης, λόγω της σχετικής
κίνησης ενός διαβρωτικού υγρού και του μετάλλου που προσβάλλεται. Η μηχανική τριβή
και φθορά επιταχύνει τη διάβρωση, όπως στις περιπτώσεις πτερωτής φυγοκεντρικής
αντλίας. Μέταλλα τα οποία προστατεύονται από τη διάβρωση μέσω επιφανειακού φιλμ
οξείδωσης (όπως το αλουμίνιο, ο μόλυβδος, οι ανοξείδωτοι χάλυβες) υφίστανται ισχυρή
προσβολή από αυτόν τον τρόπο διάβρωσης. Το ίδιο συμβαίνει και με τα μαλακά μέταλλα,
όπως ο χαλκός και ο μόλυβδος.
|37|
Η περίπτωση της σπηλαίωσης εμφανίζεται συνήθως σε πτερωτές αντλιών, πτερωτές
πλοίων και αεριοστρόβιλους (gas turbines).
Ειδική περίπτωση αποτελεί η διάβρωση που αποδίδεται με τον αγγλικό όρο fretting
corrosion, η οποία συμβαίνει στην περιοχή επαφής δύο μετάλλων υπό συνθήκες
μεταβαλλόμενου φορτίου. Απαντάται επίσης και με τους αγγλικούς όρους friction
oxidation, wear oxidation, chafing και false brinelling (διότι μοιάζει με τα σημάδια που
αφήνει η ομώνυμη δοκιμή σκληρότητας).
Εκτός από την επαφή και τη δόνηση υπό φορτίο, απαιτείται έστω και ελάχιστη
ολίσθηση μεταξύ των επιφανειών, όπως π.χ. σε κοχλιωτές συνδέσεις και στα σημεία του
άξονα όπου εδράζονται τα έδρανα κύλισης (ρουλεμάν). Δεν αναπτύσσεται σε περιπτώσεις
συνεχούς κίνησης, όπως στα διαρκώς κινούμενα μέρη του ρουλεμάν. Παρουσιάζεται
συνήθως σε ατμοσφαιρικό περιβάλλον και παράγει επιφανειακά οξείδια τα οποία μπορεί να
οδηγήσουν σε απώλεια της απαραίτητης σύσφιξης αλλά και σε κόπωση, λειτουργώντας ως
σημεία συγκέντρωσης τάσεων (stress raisers). Εμφανίζεται κυρίως σε ωστενιτικούς
ανοξείδωτους χάλυβες και κράματα αλουμινίου ή τιτανίου.
6.3.8 Διάβρωση οφειλόμενη σε περιβαλλοντικούς παράγοντες (season cracking)
Ο αγγλικός όρος “Season Cracking” ήταν ο πρώτος όρος που χρησιμοποιήθηκε για
να περιγράψει τις ρηγματώσεις που προκαλούνται λόγω περιβαλλοντικών συνθηκών,
φαινόμενο το οποίο παρουσιάστηκε σε ορειχάλκινα φυσίγγια, τα οποία αποθηκεύονταν σε
στάβλους κατά τη διάρκεια της εποχής των μουσώνων.
Στα τέλη του 19ου αιώνα η Ινδία ήταν υπό βρετανική κυριαρχία. Κατά τη διάρκεια
των βροχερών μηνών της εποχής των μουσώνων, όπου η στρατιωτική δραστηριότητα ήταν
μειωμένη, τα πυρομαχικά αποθηκεύονταν στους στάβλους έως την επαναχρησιμοποίηση
τους κατά τους «ξηρούς» μήνες. Ωστόσο, πολλά φυσίγγια βρίσκονταν ρηγματωμένα.
Το 1921, το φαινόμενο ερμηνεύθηκε σε ικανοποιητικό βαθμό από τους Moor,
Beckinsale και Mallisinson. Η αμμωνία από τα ούρα των αλόγων, σε συνδυασμό με τις
παραμένουσες τάσεις προκαλούσαν ρηγματώσεις στα ορειχάλκινα φυσίγγια. Ο όρος
“Season Cracking” αντικαταστάθηκε αργότερα από τον όρο “Stress Corrosion cracking” o
οποίος με τη σειρά του αντικαταστάθηκε από τον πιο γενικό όρο “Environmental
cracking”.
Εικόνα 6.8: Διάβρωση οφειλόμενη σε περιβαλλοντικούς παράγοντες
|38|
6.3.9 Περιβαλλοντική ρηγμάτωση (environmental racking)
Η περιβαλλοντική ρηγμάτωση αναφέρεται στην ψαθυρή θραύση ενός όλκιμου

υλικού στο οποίο ο βασικός παράγοντας πρόκλησής της είναι η διαβρωτική επίδραση του
περιβάλλοντος. Η περιβαλλοντική ρηγμάτωση είναι ένας ευρύς όρος ο οποίος
περιλαμβάνει την κόπωση διάβρωσης, την υψηλή θερμοκρασία, την επίδραση υδρογόνου,
τη φλύκταινα υδρογόνου, την ψαθυροποίηση υδρογόνου, το “season cracking”, τη
δυναμοδιάβρωση, το “caustic cracking” και το “sulfide stress cracking”.
Εικόνα 6.9: Περιβαλλοντική ρηγμάτωση
6.3.10 Δυναμοδιάβρωση (Stress Corrosion Cracking / SCC)
Πρόκειται για θραύση υπό την ταυτόχρονη παρουσία εφελκυστικών τάσεων και
διαβρωτικού περιβάλλοντος σε ευαίσθητα στον συγκεκριμένο τύπο διάβρωσης υλικά. Η
επιφάνεια του μετάλλου δεν παρουσιάζει διάβρωση πρακτικά, παρότι αναπτύσσονται προς
το εσωτερικό της πολύ λεπτά ρήγματα. Στην περίπτωση του ορείχαλκου ο σχετικός
αγγλικός όρος είναι “season cracking” ενώ για το χάλυβα “caustic embrittlement”. Η
θραύση παρατηρείται σε τάσεις πολύ κατώτερες από τις επιτρεπόμενες. Το φαινόμενο
αναπτύσσεται στους ανοξείδωτους χάλυβες σε περιβάλλον χλωρίου ή θαλασσινού νερού
και μάλιστα πιο έντονα από ότι στους κοινούς χάλυβες. Παρότι το αποτέλεσμα μοιάζει με
ψαθυρή θραύση, πρόκειται για τυπικά αποτελέσματα διάβρωσης. Η θραύση είναι
συνηθέστερα περικρυσταλλική (intergranular) αλλά μπορεί να εμφανιστεί και ως
ενδοκρυσταλλική (trangranular), ακόμη και στο ίδιο υλικό. Προχωρά συνήθως κάθετα
στην εφαρμοζόμενη τάση. Αύξηση της τάσης οδηγεί σε ταχύτερη εμφάνιση του
φαινομένου, ενώ υπάρχει ένα όριο κάτω από το οποίο δεν εμφανίζεται. Η τάση μπορεί να
είναι εσωτερική (παραμένουσα, θερμική, λόγω συγκόλλησης, κ.α.) ή εξωτερική, αρκεί να
είναι εφελκυστική. Το φαινόμενο παρότι δεν είναι απόλυτα κατανοητό, οφείλεται στη
συγκέντρωση τάσεων στα άκρα ενός σημείου που προσβλήθηκε από διάβρωση. Η
εφελκυστική τάση, με τη σειρά της, διακόπτει τη συνέχεια του προστατευτικού φιλμ
οξειδίου και επιτρέπει την περαιτέρω διείσδυση της διάβρωσης. Το φαινόμενο προχωρά
αργά, έως ότου φθάσει σε ένα κρίσιμο βάθος, οπότε παρατηρείται ταχεία μηχανική
θραύση, λόγω ελάττωσης της φέρουσας διατομής του υλικού. Πιθανή παρουσία ατομικού
υδρογόνου οδηγεί σε ψαθυροποίηση της μεταλλικής δομής με ταυτόχρονη αύξηση της
έντασης του φαινομένου.
Πρόληψη:
Απαιτείται η αποφυγή χημικού περιβάλλοντος που προκαλεί τη δυναμοδιάβρωση.
Απαιτείται ο έλεγχος της σκληρότητας και των τάσεων (παραμένουσες ή φόρτισης).
Απαιτείται η χρήση υλικών ανάλογα με το περιβάλλον λειτουργίας τους.
|39|
Απαιτείται έλεγχος της θερμοκρασίας λειτουργίας και / ή του ηλεκτροχημικού δυναμικού
του κράματος.
Εικόνα 6.10: Δυναμοδιάβρωση
Εικόνα 6.11: Παράγοντες πρόκλησης δυναμοδιάβρωσης
6.3.11 Sulfide Stress Cracking (SSC)
Πρόκειται για ρηγμάτωση του μετάλλου υπό τη συνδυασμένη δράση τάσεων

εφελκυσμού και διάβρωσης, παρουσία νερού και υδρόθειου. Είναι ιδιαίτερα διαδεδομένη
σε κράματα σιδήρου, στις συγκολλήσεις και σε χάλυβες που έχουν σκληρότητα
μεγαλύτερη από 22 στην κλίμακα Rockwell C.
Ατομικό υδρογόνο διαχέεται στο χάλυβα και προκαλεί αύξηση της ευθραυστότητας
σε πολύ στενές ζώνες της θερμικά επηρεαζόμενης ζώνης των συγκολλήσεων. Η
ρηγμάτωση ξεκινά σε περιοχές υψηλών τάσεων εφελκυσμού (εναπομενουσών ή
ασκούμενων), οδηγώντας σε διάδοση των ρηγματώσεων με κατεύθυνση κάθετη προς την
τάση εφελκυσμού.
Πρόληψη:
Απαιτείται έλεγχος του επιπέδου των τάσεων και της σκληρότητας.
Απαιτείται εφαρμογή θερμικής κατεργασίας μετά τη συγκόλληση.
Απαιτείται αποφυγή πηγών υδρογόνου.
6.3.12 Διάβρωση Κοπώσεως (corrosion fatigue)
Στην περίπτωση εναλλασσόμενου φορτίου είναι γνωστό το φαινόμενο της κόπωσης,

όπου το υλικό αστοχεί σε φορτία πολύ κατώτερα της αντοχής του. Οφείλεται σε
μικρορήγματα τα οποία ξεκινούν κυρίως από επιφανειακές ατέλειες και αναπτύσσονται
αργά μέσα στο υλικό, μέχρι να οδηγήσουν σε ψαθυρή θραύση. Στην περίπτωση
ταυτόχρονης παρουσίας διαβρωτικού περιβάλλοντος, η αντοχή του υλικού σε κόπωση
ελαττώνεται σημαντικά, καθώς αναπτύσσεται το φαινόμενο της διάβρωσης κόπωσης.
|40|
Πρόληψη:
Απαιτείται η μείωση της κόπωσης ελαχιστοποιώντας τις δονήσεις κραδασμών και τις
διακυμάνσεις της πίεσης.
Απαιτείται η μείωση της διάβρωσης με τη χρήση κραμάτων υψηλής ανθεκτικότητας στη
διάβρωση κόπωσης.
Απαιτείται η μείωση της διάβρωσης με τη χρήση επιστρώσεων και αναστολέων για την
καθυστέρηση της έναρξης ρηγμάτων διάβρωσης κόπωσης.
6.3.13 Επίδραση υδρογόνου
Πρόκειται για την επίδραση του υδρογόνου στο μέταλλο. Το ατομικό υδρογόνο (Η)
έχει την ιδιότητα να διαλύεται στο χάλυβα και σε άλλα μέταλλα, ενώ το μοριακό υδρογόνο
(Η2) είναι πρακτικά αδιάλυτο. Επομένως, όλες οι αστοχίες λόγω παρουσίας υδρογόνου
προέρχονται από ατομικό υδρογόνο. Πηγές ατομικού υδρογόνου είναι πολλές, όπως για
παράδειγμα οι διεργασίες διάβρωσης, ηλεκτρόλυσης, ηλεκτροεπικάλυψης και καθοδικής
προστασίας καθώς και η επίδραση του ατμοσφαιρικού οξυγόνου. Το ατομικό υδρογόνο
που αναπτύσσεται στα εσωτερικά τοιχώματα δεξαμενών, σωληνώσεων ή μετάλλων,
διαλύεται στο μέταλλο. Αρκετή από την ποσότητα του ατομικού υδρογόνου είναι ικανή να
«διασχίσει» το μέταλλο και να βγει στην επιφάνεια του μετάλλου σχηματίζοντας μοριακό
υδρογόνο.
6.3.14 Φλύκταινα υδρογόνου (hydrogen blistering)
Η αστοχία αυτή προκύπτει όταν το ατομικό υδρογόνο συναντήσει διακένωση μέσα

στο υλικό όπου βρίσκεται διαλυμένο, με αποτέλεσμα τη συγκέντρωσή του και το
σχηματισμό μοριακού υδρογόνου. Επιπρόσθετα αυξάνεται η πίεση, αναπτύσσοντας
εξαιρετικά υψηλές εσωτερικές τάσεις, που προκαλούν διαστολή της διακένωσης
(blistering, delamination). Το είδος αυτό της ασυνέχειας είναι ιδιαίτερα συχνό στην
πετροχημική βιομηχανία, κυρίως όταν υπάρχουν ίχνη σουλφιδίων, κυανιδίων και
φωσφόρου. Τα κράματα νικελίου έχουν υψηλή αντοχή στο φαινόμενο, το οποίο
παρατηρείται κυρίως σε μαλακούς και όλκιμους χάλυβες χαμηλής περιεκτικότητας σε
άνθρακα.
Εικόνα 6.12: Φλύκταινα υδρογόνου
|41|
6.3.15 Ψαθυροποίηση υδρογόνου (hydrogen embrittlement)
Παρότι ο γενικός όρος είναι ψαθυροποίηση υδρογόνου (hydrogen embrittlement),

για την περιγραφή του φαινομένου χρησιμοποιούνται επίσης οι όροι ‘hydrogen stress
cracking’ και ‘sulfide stress cracking’.
Το φαινόμενο παρατηρείται κυρίως σε φερριτικούς και μαρτενσιτικούς χάλυβες. Ο
ακριβής μηχανισμός σχηματισμού τους δεν είναι γνωστός. Το αποτέλεσμα ωστόσο, είναι η
δημιουργία ψαθυράς δομής, στα σημεία όπου το εισερχόμενο ατομικό υδρογόνο
αλληλεπιδρά με τη δομή του μετάλλου και οδηγεί σε θραύση υπό την επίδραση
εσωτερικών ή εξωτερικών τάσεων (θραύση υδρογόνου / hydrogen induced cold cracking,
HICC). Η ψαθυροποίηση λόγω υδρογόνου είναι ισχυρότερη στην περίπτωση που υπάρχουν
ήδη υψηλές τάσεις στο μέταλλο. Η υψηλή θερμοκρασία δεν ευνοεί την ψαθυροποίηση
υδρογόνου και το φαινόμενο παρατηρείται κυρίως σε χάλυβες με υψηλή αντοχή.
Μοναδικός τρόπος αντιμετώπισης του φαινομένου είναι η παρεμπόδιση σχηματισμού
ατομικού υδρογόνου (π.χ. με τη χρήση ηλεκτροδίων χαμηλού υδρογόνου και την
απομάκρυνση της υγρασίας κατά την ηλεκτροσυγκόλληση) είτε η άμεση αφαίρεση του
διαλυμένου ατομικού υδρογόνου (π.χ. με θέρμανση του μετάλλου στους 150°C - 200°C). Η
παρουσία νικελίου ή μολυβδαινίου ευνοεί τον αποκλεισμό του φαινομένου.
Η διάκριση μεταξύ ψαθυροποίησης υδρογόνου και δυναμοδιάβρωσης έγκειται στην
ανοδικότητα ή καθοδικότητα του μετάλλου. Εάν το μέταλλο λειτουργεί ως κάθοδος (ευνοεί
επομένως το σχηματισμό ιόντων υδρογόνου σε ατομικό υδρογόνο (H+ + e- → H) τότε
συμβαίνει ψαθυροποίηση του υδρογόνου. Εάν όμως, το μέταλλο λειτουργεί ως ανοδικό
(παράγει θετικά ιόντα), τότε συμβαίνει δυναμοδιάβρωση. Είναι όμως γνωστό ότι και σε
αυτή την περίπτωση η επίδραση του υδρογόνου οδηγεί σε ψαθυροποίηση, ιδιαίτερα με
μαρτενσιτοποίηση των ανοξείδωτων χαλύβων της σειράς 304 ή με την ψαθυροποίηση στα
άκρα ρωγμών του μετάλλου.
6.3.16 Προσβολή υδρογόνου (hydrogen attack)
Πρόκειται για φαινόμενο που επίσης παρατηρείται σε χάλυβες παρουσία υδρογόνου

και υψηλής θερμοκρασίας. Σχετίζεται με την αλληλεπίδραση του υδρογόνου και ενός
κραματικού στοιχείου του χάλυβα (π.χ. χρώμιο), οδηγώντας σε αλλοίωση της
κρυσταλλικής δομής και ελάττωση της αντοχής.
6.3.17 Απανθράκωση (decarburization)
Κατά την επαφή του υδρογόνου με το χάλυβα σε υψηλές θερμοκρασίες, είναι

δυνατόν να αφαιρεθεί άνθρακας από την κρυσταλλική δομή του μετάλλου, με ταυτόχρονη
παραγωγή μεθανίου: C + 2H2 → CH4. Η απανθράκωση αυτή, αν και αργή διεργασία,
οδηγεί σε σημαντική ελάττωση της αντοχής του χάλυβα, η οποία σε συνδυασμό με
ενδεχόμενο εγκλωβισμό του μεθανίου σε μικρές διακενώσεις του μετάλλου και ανάπτυξη
υψηλών εσωτερικών τάσεων, μπορεί να επιφέρει θραύση. Το φαινόμενο δεν παρατηρείται
σε ωστενιτικούς ανοξείδωτους χάλυβες, ενώ απαλύνεται με την προσθήκη χρωμίου και
μολυβδαινίου.
|42|
6.3.18 Διάβρωση λόγω τριβής
Η διάβρωση λόγω τριβής αναφέρεται στην επιδείνωση της διεπιφάνειας ανάμεσα σε

επιφάνειες που βρίσκονται σε επαφή, ως αποτέλεσμα της διάβρωσης και της ταλάντωσης-
ολίσθησης μεταξύ των δύο επιφανειών. Διάβρωση λόγω τριβής αναμένεται σε
μηχανολογικά στοιχεία τα οποία έχουν σχεδιαστεί ώστε να μην ολισθαίνουν μεταξύ τους.
Ωστόσο, με την παρουσία των κραδασμών και των μεταβολών της πίεσης, αυτό δεν είναι
εφικτό έχοντας ως συνέπεια την ολίσθησή τους, όπως συμβαίνει για παράδειγμα σε κοχλίες
και βίδες όταν δονούνται.
Πρόληψη:
Απαιτείται η σωστή λίπανση των επιφανειών.
Απαιτείται ο τακτικός και προληπτικός έλεγχος της λίπανσης.
6.3.19 Μικροβιολογική διάβρωση (microbiologically influenced corrosion - MIC)
Η μικροβιολογική διάβρωση είναι η υποβάθμιση των μετάλλων, λόγω της

μεταβολικής δραστηριότητας των μικροοργανισμών. Υπάρχουν περίπου δώδεκα βακτήρια
που προκαλούν μικροβιολογική διάβρωση στον ανθρακούχο χάλυβα, στον ανοξείδωτο
χάλυβα, στα κράματα αλουμινίου και χαλκού σε νερά και εδάφη με pH 4 - 9 και
θερμοκρασία 10°C - 50°C.
Τα βακτήρια αυτά ταξινομούνται σε αερόβια και αναερόβια. Τα αναερόβια
βακτήρια είναι υπεύθυνα για τις περισσότερες περιπτώσεις επιταχυνόμενης διάβρωσης σε
πλοία και υπεράκτιες χαλύβδινες κατασκευές. Τα αερόβια βακτήρια συνδέονται συχνά με
την τρηματική διάβρωση στις συγκολλήσεις ανοξείδωτων χαλύβων.
Πρόληψη:
Απαιτείται ο τακτικός μηχανικός καθαρισμός.
Απαιτείται η χημική επεξεργασία με βιοκτόνα για τον έλεγχο του πληθυσμού των
βακτηρίων.
Απαιτείται η πλήρης αποστράγγιση και ξηρή αποθήκευση.
Εικόνα 6.13: Μικροβιολογική διάβρωση
|43|
6.4 Ρηγμάτωση λόγω υγρού μετάλλου (liquid metal cracking)
Πρόκειται για φαινόμενο όμοιο με τη ρηγμάτωση λόγω παρουσίας υδρογόνου

(HIC). Προκαλείται όταν χάλυβες υψηλής αντοχής έρθουν σε επαφή με ορισμένα
χαρακτηριστικά μέταλλα σε υγρή κατάσταση. Για παράδειγμα, ο τηγμένος ψευδάργυρος,
το αλουμίνιο ή ο μόλυβδος μπορεί να προκαλέσουν θραύση σε ωστενιτικούς ανοξείδωτους
χάλυβες. Ο χαλκός, ο κασσίτερος, ο ψευδάργυρος, ο μόλυβδος και το κάδμιο μπορεί να
προκαλέσουν θραύση σε κοινούς χάλυβες και ο υδράργυρος στον ορείχαλκο. Το φαινόμενο
παρατηρείται συχνά στην περίπτωση συγκόλλησης γαλβανισμένων ή επικαδμιωμένων
χαλύβων, εάν δεν αφαιρεθεί καλά με χημικό ή μηχανικό τρόπο η επιμετάλλωση.
Εικόνα 6.14: Ρηγμάτωση λόγω υγρού μετάλλου
Η παρουσία θείου στο χάλυβα προκαλεί τέτοιου είδους ρωγμές. Εάν η συγκόλληση
γίνει με μεγάλη προσφορά θερμότητας, το θείο που βρίσκεται στη θερμικά επηρεαζόμενη
ζώνη (Θ.Ε.Ζ) διαλύεται στο χάλυβα και επανεμφανίζεται στη διάρκεια της στερεοποίησης
με τη μορφή σουλφιδίων τα οποία ψαθυροποιούν τα όρια των κόκκων και μειώνουν
σημαντικά την αντοχή του χάλυβα. Στην περίπτωση αυτή, ο χάλυβας καλείται καμένος
(burned). Η παρουσία χαλκού μπορεί επίσης να δημιουργήσει τέτοιου είδους ρωγμές. Οι
ρωγμές αυτές είναι πολύ μικρές και μπορεί να γίνουν η απαρχή της ρηγμάτωσης
υδρογόνου.
6.5 Environmental cracking (API 945)
Ρηγματώσεις τέτοιου τύπου αναπτύσσονται όταν ο χάλυβας παρουσιάζει υψηλές

τιμές σκληρότητας, υψηλές παραμένουσες τάσεις ή και τα δύο ταυτόχρονα. Σε κάποιες
περιπτώσεις, οι ρηγματώσεις εκκινούν από το βασικό μέταλλο και συγκεκριμένα από
ανάμματα τόξου. Έχουν ανιχνευθεί τέσσερις τύποι ρηγματώσεων σε χάλυβες
διυλιστηριακών εφαρμογών και κυρίως σε μονάδες αμίνης:
 Sulfide Stress Cracking (SSC).
 Hydrogen Induced Cracking (ΗΙC).
 Stress Oriented Hydrogen Induced Cracking (SOΗΙC).
 Alkaline Stress Corrosion Cracking (ASCC).
Οι τρεις πρώτοι μηχανισμοί αναφέρονται σε χάλυβες μονάδων αμίνης με
περιεκτικότητα σε υδρόθειο (H2S). Αντιθέτως, ο μηχανισμός Alkaline Stress Corrosion
Cracking (ASCC) αναπτύσσεται σε χάλυβες που κυκλοφορεί καθαρή αμίνη. Ο μόνος
τρόπος περιορισμού των παραπάνω μηχανισμών είναι μέσω ανόπτησης στους 593°C -
649°C διάρκειας περίπου μιας ώρας για 25mm πάχους υλικού.
|44|
Το φαινόμενο που αποδίδεται με τον αγγλικό όρο “Sulfide Stress Cracking” (SSC)
ορίζεται ως η ρηγμάτωση του υλικού υπό τη δράση των κατάλληλων τάσεων και
διάβρωσης, παρουσία οξειδίων του θείου ή υδρόθειου. Ουσιαστικά, αποτελεί μια μορφή
της ρηγμάτωσης υδρογόνου (HIC).
Εικόνα 6.15: Sulfide Stress Cracking (αριστερά). Hydrogen Induced Cracking (δεξιά)
Η ρηγμάτωση υδρογόνου, όπως αναφέρθηκε και παραπάνω, αποτελεί ρηγμάτωση η

οποία προκαλείται από την ένωση επίπεδων ανοιγμάτων (hydrogen blisters), τα οποία
δημιουργούνται υπό την πίεση του εγκλωβισμένου υδρογόνου στο εσωτερικό τους.
Εικόνα 6.16: Stress Oriented Hydrogen Induced Cracking (αριστερά).

Alkaline Stress Corrosion Cracking (δεξιά)
6.6 Ρήγματα ερπυσμού (creep cracks)
Όταν ένα μέταλλο βρίσκεται σε θερμοκρασία μεγαλύτερη από 40% - 50% της
απόλυτης θερμοκρασίας τήξης του και υποβάλλεται σε υψηλή τάση, συνεχίζει να
παραμορφώνεται συνεχώς έως την θραύση του. Αυτό το είδος παραμόρφωσης καλείται
ερπυσμός.
Σύμφωνα με το ρυθμό προόδου της παραμόρφωσης, διακρίνονται τρία στάδια της
παραμόρφωσης ερπυσμού:
α) αρχικό στάδιο (ή πρωτογενής ερπυσμός): ο ρυθμός καταπόνησης είναι σχετικά υψηλός
αλλά μειώνεται με την αύξηση της διάρκειας καταπόνησης.
β) δεύτερο στάδιο (ή δευτερογενής ερπυσμός): ο ρυθμός καταπόνησης φθάνει σε μία
ελάχιστη τιμή και σταθεροποιείται.
γ) τρίτο στάδιο (ή τριτογενής ερπυσμός): ο ρυθμός καταπόνησης αυξάνεται εκθετικά με
την τάση οδηγώντας το δοκίμιο σε θραύση.
|45|
Εικόνα 6.17: Στάδια ερπυσμού (αριστερά). Ρήγμα ερπυσμού (δεξιά)
Τα ρήγματα ερπυσμού αναπτύσσονται συνήθως στο τέλος του δευτέρου και στην
αρχή του τρίτου σταδίου και τελικά οδηγούν σε θραύση του δοκιμίου. Ωστόσο, όταν ένα
δοκίμιο φτάσει στο τρίτο στάδιο, η διάρκεια ζωής του ολοκληρώνεται. Συνεπώς, ο
ερπυσμός πρέπει να ανιχνεύεται (με παρακολούθηση της παραμόρφωσης) κατά το δεύτερο
στάδιο, το οποίο διαρκεί μεγαλύτερο χρονικό διάστημα από τα τρία στάδια. Για τους
χάλυβες, η προσθήκη κραματικών στοιχείων, όπως το μολυβδαίνιο και το βολφράμιο
μπορεί να αυξήσουν την αντοχή στον ερπυσμό. Επιπρόσθετα, οι θερμικές κατεργασίες
(όπως η ανόπτηση) μπορεί να αυξήσουν τη διάρκεια ζωής ενός δοκιμίου που υποβάλλεται
σε συνθήκες ερπυσμού.
|46|
7. ΑΣΥΝΕΧΕΙΕΣ ΣΥΓΚΟΛΛΗΣΕΩΝ
7.1 Ρηγματώσεις (cracks)
Οι ρηγματώσεις αποτελούν γραμμικές ασυνέχειες οι οποίες προκαλούνται, κυρίως,

λόγω παραμενουσών τάσεων. Οι ρηγματώσεις μπορεί να είναι διαμήκεις, εγκάρσιες, να
βρίσκονται στους πόδες, στην ενίσχυση (καπάκι), στη ρίζα, στο κέντρο της συγκόλλησης,
στην περιοχή του λουτρού, στη θερμικά επηρεαζόμενη ζώνη ή στο μητρικό υλικό. Οι
ρηγματώσεις μπορεί να έχουν εμφάνιση ομαλή ή οδοντωτή, να υπάρχουν ως μεμονωμένες
διακεκομμένες γραμμές, να διακλαδίζονται, ενώ άλλες να έχουν πολλαπλές κατευθύνσεις.
Αξίζει να αναφερθεί ότι οι ρηγματώσεις δεν είναι αποδεκτές από κανέναν κανονισμό και
κριτήριο αποδοχής / απόρριψης.
Το υλικό, η θερμοκρασία προθέρμανσης, η θερμοκρασία μεταξύ των πάσων, η
διαμόρφωση των άκρων, ο τύπος αναλώσιμων συγκόλλησης και η θερμική κατεργασία
μετά τη συγκόλληση είναι σημαντικές παράμετροι (αναγράφονται σε κάθε διαδικασία
συγκόλλησης - WPS) και σχεδιάζονται με γνώμονα την ελαχιστοποίηση της πιθανότητας
δημιουργίας ρηγματώσεων.
Εικόνα 7.1: Θέσεις ανάπτυξης ρηγματώσεων σε συγκόλληση
Εικόνα 7.2: Εγκάρσια ρηγμάτωση (αριστερά). Εγκάρσια και διαμήκης ρηγμάτωση (στο
κέντρο). Ρήγμα στον πόδα της συγκόλλησης (δεξιά)
Οι ρηγματώσεις που προκαλούνται κατά τη συγκόλληση κατηγοριοποιούνται ως εξής:

 ρηγματώσεις στερεοποίησης (solidification cracking)
 ρηγματώσεις λόγω παρουσίας υδρογόνου (hydrogen induced cracking)
 ρηγματώσεις υγρού μετάλλου (liquid metal cracking)
 περιβαλλοντικές ρηγματώσεις (environmental cracking)
 ρηγματώσεις ελάσματος (lamellar tearing tracking)
 ρηγματώσεις αναθέρμανσης (reheat cracking).
|47|
7.2 Ρηγμάτωση στερεοποίησης (solidification cracking)
Η συγκεκριμένη ρηγμάτωση συμβαίνει κατά τη διάρκεια της στερεοποίησης της

συγκόλλησης. Αποκαλείται και θερμή ρηγμάτωση (hot cracking). Παρουσιάζεται σε
χάλυβες που περιέχουν μεγάλο ποσοστό θείου, το οποίο προκαλεί μείωση της ολκιμότητας
του υλικού σε υψηλές θερμοκρασίες. Για να δημιουργηθεί η ρηγμάτωση κατά τη διάρκεια
της στερεοποίησης, πρέπει να υπάρχουν υψηλές εφελκυστικές τάσεις. Αυτές προκαλούνται
από τη συστολή του μετάλλου της συγκόλλησης. Οι ρωγμές στερεοποίησης εμφανίζονται
συνήθως σε διαμήκη μορφή, στο κέντρο της συγκόλλησης λόγω του διαφορισμού των
ακαθαρσιών που υπάρχουν. Σε σχέση με άλλες ρωγμές, η εμφάνισή τους είναι πολύ πιο
ομαλή.
Εικόνα 7.3: Ρηγμάτωση στερεοποίησης
Εικόνα 7.4: Πραγματικές ρηγματώσεις στερεοποίησης
|48|
7.3 Ρηγμάτωση υδρογόνου (hydrogen induced cold cracking)
Το υδρογόνο μπορεί να προέρχεται από υγρασία στην ατμόσφαιρα, ρύπανση της

συγκόλλησης κατά τη διάρκεια της προετοιμασίας της ή υγρασία που συγκρατείται από την
πάστα του ηλεκτροδίου. Το υδρογόνο εισέρχεται στη συγκόλληση μέσω του βολταϊκού
τόξου. Στην περίπτωση χειροκίνητης συγκόλλησης με ηλεκτρόδιο (ΜΜΑ) και
συγκόλλησης βυθιζόμενου τόξου (SAW), το είδος της πάστας επηρεάζει το ποσοστό του
υδρογόνου που εισέρχεται στο λουτρό της συγκόλλησης.
Η έντονη θερμότητα που παράγεται από το τόξο είναι αρκετή για να διασπάσει το
μοριακό υδρογόνο (Η2) στην ατομική του μορφή (Η). Τα άτομα του υδρογόνου, λόγω του
μικρού τους μεγέθους, μπορούν πολύ εύκολα να διεισδύσουν ανάμεσα στα άτομα του
σιδήρου, όσο η συγκόλληση είναι ακόμα ζεστή. Όταν λοιπόν η συγκόλληση είναι ζεστή, τα
άτομα του σιδήρου παρουσιάζουν μεγαλύτερη κινητικότητα, αφήνοντας έτσι μεγαλύτερα
κενά μεταξύ τους. Καθώς η συγκόλληση ψύχεται, το μεγαλύτερο ποσοστό υδρογόνου
διαχέεται στο μητρικό υλικό και στην ατμόσφαιρα. Ένα ποσοστό όμως παραμένει
παγιδευμένο μέσα στη συγκόλληση, καθώς τα κενά μεταξύ των ατόμων του σιδήρου
μικραίνουν στη διάρκεια της στερεοποίησης. Κάτω από τους 160°C - 200°C το υδρογόνο
επανέρχεται στη μοριακή του μορφή (Η2). Τα άτομα του υδρογόνου «έλκονται» μεταξύ
τους καθώς η συγκόλληση ψύχεται και συγκεντρώνονται με τη μορφή φυσαλίδων σε
οποιοδήποτε κενό υπάρχει διαθέσιμο. Όταν ο αριθμός μορίων υδρογόνου είναι μεγάλος,
ασκείται πίεση της τάξης των 60.000 - 200.000psi. Λόγω αυτής της εσωτερικής πίεσης, η
μικροδομή του υλικού αντιδρά με έναν από τους δύο παρακάτω τρόπους:
 Μπορεί να παραμορφωθεί ελαφρά για να ελαττωθεί η πίεση. Αυτό συμβαίνει όταν
το μέταλλο είναι όλκιμο, π.χ. περλιτικός χάλυβας.
 Μπορεί να αποχωριστεί τελείως για να ελαττωθεί η πίεση, δηλαδή να δημιουργήσει
ρηγμάτωση. Αυτό συμβαίνει εάν το μέταλλο είναι ψαθυρό, π.χ. μαρτενσιτικός
χάλυβας.
Στις συγκολλήσεις, οι ρωγμές που προκαλούνται από την παρουσία υδρογόνου,
εμφανίζονται συνήθως στη θερμικά επηρεαζόμενη ζώνη. Πρέπει να σημειωθεί ότι συνήθως
(αλλά όχι απαραίτητα) χρειάζεται και μία εξωτερική τάση για να δημιουργηθεί μία ρωγμή
και να επεκταθεί. Οι χαμηλές θερμοκρασίες μειώνουν τη δυσθραυστότητα του χάλυβα, ενώ
αυξάνουν την πίεση που ασκείται από το μοριακό υδρογόνο.
Εικόνα 7.5: Περιπτώσεις ρηγμάτωσης λόγω παρουσίας υδρογόνου
|49|
Προκειμένου λοιπόν να δημιουργηθεί ρηγμάτωση υδρογόνου πρέπει να συντρέχουν
οι ακόλουθες προϋποθέσεις:
 να υπάρχει παρουσία υδρογόνου
 να υπάρχει μικροδομή επιρρεπής στη ρηγμάτωση (συνήθως ψαθυρή αλλά όχι
απαραίτητα, οι μαρτενσιτικές δομές είναι οι πλέον επιρρεπείς)
 να υπάρχει τάση
 η θερμοκρασία να είναι χαμηλότερη από 200°C.
Η ρηγμάτωση υδρογόνου / ψυχρορωγμή μπορεί να αναπτυχθεί πολλές ώρες μετά
την πλήρη στερεοποίηση. Συγκολλήσεις επιρρεπείς σε τέτοιες ρηγματώσεις ελέγχονται
μετά από 24 έως και 72 ώρες σύμφωνα με το ευρωπαϊκό πρότυπο EN 13480.
Εικόνα 7.6: Παράγοντες πρόκλησης ρηγμάτωσης υδρογόνου
Πρόληψη:
Προθέρμανση (για να επιβραδυνθεί ο ρυθμός ψύξης και έτσι να αποφευχθεί ο σχηματισμός
ευπαθούς μικροδομής).
Διατήρηση συγκεκριμένης θερμοκρασίας μεταξύ των πάσων.
Θέρμανση μετά την ολοκλήρωση της συγκόλλησης (για τη μείωση της περιεκτικότητας σε
υδρογόνο επιτρέποντας σε αυτό να διαφύγει από την περιοχή συγκόλλησης).
Θερμική κατεργασία (για τη μείωση των τάσεων που παραμένουν και την εξάλειψη των
ευπαθών μικροδομών).
Μείωση του ποσοστού υδρογόνου με την κατάλληλη επιλογή της διαδικασίας
συγκόλλησης και των αναλώσιμων (π.χ. συγκόλληση TIG αντί για ΜΜΑ, χρήση βασικής
επένδυσης στα ηλεκτρόδια).
Χρήση τεχνικής πολλαπλών πάσων.
Χρήση ξηρών προστατευτικών αερίων.
Σωστός καθαρισμός της συγκόλλησης.
7.4 Διαστρωματική ρηγμάτωση (lamellar tearing cracking)
Η διαστρωματική ρηγμάτωση έχει χαρακτηριστική κλιμακωτή (step like) εμφάνιση.

Μπορεί να εμφανιστεί στο μητρικό υλικό ή στη θερμικά επηρεαζόμενη ζώνη χαλύβων με
μικρή ολκιμότητα κατά την κάθετη διεύθυνση. Παρουσιάζεται στο όριο τήξης της
συγκόλλησης και είναι παράλληλη με την επιφάνεια του ελάσματος ή του σωλήνα,
συμβαίνει μόνο δηλαδή κατά τη διεύθυνση έλασης του μητρικού υλικού. Απαντάται σε
συνδέσεις τύπου Τ, Κ και Υ ή σε γωνιακές συγκολλήσεις μεγάλου πάχους. Αποτελεί
σοβαρή ασυνέχεια, κυρίως σε φερριτικούς χάλυβες και χάλυβες δοχείων υπό πίεση. Η
παρουσία υδρογόνου αυξάνει σημαντικά τις πιθανότητες διαστρωματικής ρηγμάτωσης
στους χάλυβες. Προκαλείται συνήθως από επιρρεπή μικροδομή με μειωμένη
δυσθραυστότητα κατά το πάχος του ελάσματος αλλά και από ενεργοποίηση
προϋπάρχουσας μικρής ασυνέχειας στο έλασμα (π.χ. ύπαρξη ατελούς τήξης, κ.λπ).
|50|
Απαντάται συνηθέστερα σε φερριτικούς χάλυβες, χάλυβες δοχείων υπό πίεση και
χάλυβες αντοχής στον ερπυσμό.
Εικόνα 7.7: Μορφή διαστρωματικής ρηγμάτωσης
Εικόνα 7.8: Τυπικές θέσεις εμφάνισης διαστρωματικής ρηγμάτωσης
Εικόνα 7.9: Τυπικές θέσεις εμφάνισης διαστρωματικής ρηγμάτωσης
7.5 Ρηγμάτωση αναθέρμανσης (reheat cracking, stress relaxation cracking)
Η ρηγμάτωση αυτή παρουσιάζεται κυρίως στη θερμικά επηρεαζόμενη ζώνη,

ιδιαίτερα σε χάλυβες χαμηλής κραμάτωσης και κατά τη διάρκεια μετα-συγκολλητικών
θερμικών διεργασιών ή λειτουργίας της συγκόλλησης σε υψηλές θερμοκρασίες. Οι
περισσότεροι χάλυβες, όταν θερμαίνονται σε θερμοκρασίες υψηλότερες των 600°C,
παρουσιάζουν αύξηση της ψαθυρότητας της χονδρόκοκκης περιοχής της θερμικά
επηρεαζόμενης ζώνης. Το πρόβλημα οξύνεται σε μεγαλύτερα πάχη χάλυβα τα οποία
περιέχουν χρώμιο, χαλκό, μολυβδαίνιο, βανάδιο, νιόβιο και τιτάνιο. Το θείο και ο
φώσφορος επηρεάζουν επίσης την κατάσταση. Τυπικοί χάλυβες ευαίσθητοι σε αυτό το
φαινόμενο είναι οι τύπου 2Cr-Mo-V, π.χ. χάλυβες ερπυσμού. Οι ρωγμές αυτές μπορεί να
|51|
περιοριστούν με τη σωστή προετοιμασία των ποδών της συγκόλλησης, αποφυγή των
ατελών διεισδύσεων, τη χρήση ηλεκτροδίων με τη χαμηλότερη επιτρεπόμενη αντοχή και
την ελεγχόμενη αποτατική ανόπτηση.
Εικόνα 7.10: Ρήγματα αναθέρμανσης
7.6 Ρηγματώσεις διακένωσης συστολής (shrink cracks, crater cracks)
Διακένωση συστολής (shrinkage) είναι δυνατόν να συμβεί και στην περίπτωση της
συγκόλλησης, αν και αποτελεί κυρίως φαινόμενο της χύτευσης. Ρήγματα λόγω διακένωσης
συστολής σχηματίζονται συνήθως στην επιφάνεια της συγκόλλησης, στη ζώνη τήξης αλλά
και στο μέταλλο βάσης, εγκάρσια ή παράλληλα στη συγκόλληση. Χαρακτηριστικό είδος
μηχανισμού ρήγματος λόγω διακένωσης συστολής, αποτελεί το ρήγμα κρατήρα (crater
crack) στο τελείωμα ενός πάσου (κορδονιού), το οποίο έχει συνήθως γεωμετρία
αστεροειδούς σχήματος. Τα ρήγματα κρατήρα ενδέχεται να προκληθούν και από απότομη
διακοπή της συγκολλητικής διαδικασίας.
Εικόνα 7.11: Τύποι ρηγματώσεων κρατήρα
Εικόνα 7.12: Τύποι ρηγματώσεων κρατήρα
|52|
7.7 Πόροι (porosity)
Πρόκειται για μεμονωμένες ή συγκεντρωμένες φυσαλίδες αερίων, οι οποίες

εγκλωβίζονται στο λουτρό της συγκόλλησης. Τα αέρια αυτά είναι κυρίως οξυγόνο,
υδρογόνο, άζωτο και μονοξείδιο του άνθρακα τα οποία προέρχονται από την ατμόσφαιρα
του τόξου, τις τοπικές ακαθαρσίες και την υγρασία των επιφανειών σύνδεσης, των
αναλωσίμων (όπως τα ηλεκτρόδια και τα αέρια συγκόλλησης) ή από χημικές αντιδράσεις
κατά τη συγκόλληση. Ανιχνεύονται κυρίως με τις μεθόδους της ακτινογραφίας και των
υπερήχων. Αν πρόκειται για επιφανειακούς πόρους, ανιχνεύονται με τη μέθοδο των
μαγνητικών σωματιδίων (ακόμα και αν πρόκειται για ελάχιστα υποεπιφανειακούς), καθώς
και με τη μέθοδο των διεισδυτικών υγρών. Οι πόροι διαφέρουν από τα εγκλείσματα ως
προς το ότι είναι αέριες μάζες και όχι στερεά εγκλωβισμένα σώματα. Η κατανομή και η
μορφή των πόρων έχουν μεγάλη σημασία σε ότι αφορά τα κριτήρια αποδοχής / απόρριψης.
Εικόνα 7.13: Πόροι σε συγκόλληση
Οι πόροι λαμβάνουν διάφορες μορφές, κυρίως στρογγυλόμορφες, επιμήκεις

(βελονοειδείς-pinholes) και σκωληκοειδείς (wormholes). Ανάλογα με την εμφάνισή τους
κατηγοριοποιούνται ως εξής:
 Ομοιόμορφα κατανεμημένοι πόροι (uniformly scattered porosity): στην περίπτωση
αυτή οι πόροι είναι ομοιόμορφα κατανεμημένοι στο σώμα της συγκόλλησης. Το
μέγεθος των επιμέρους πόρων ποικίλει από διαμέτρους μm έως <1/8inch (3mm).
 Συστοιχίες πόρων (cluster porosity): πολλές φορές οι πόροι εμφανίζονται σε
συστοιχίες οι οποίες απέχουν μεταξύ τους. Οφείλονται κυρίως σε αλλαγή των
συνθηκών συγκόλλησης, σε σταματήματα-ξεκινήματα, κ.λπ.
 Γραμμικότητα πόρων (linear porosity): η γραμμικότητα εμφανίζεται συνήθως στη
ρίζα και θεωρείται ειδική υποπερίπτωση της ατελούς διείσδυσης.
 Σκωληκοειδής οπή (wormhole): επιμήκης κοιλότητα με εγκλωβισμένα αέρια.
 Πορώδης ρίζα (hollow bead): πόροι κατά μήκος της ρίζας.
 Ψαροκόκκαλο (herringbone porosity): σκωληκοειδείς οπές οι οποίες είναι
διατεταγμένες σε σχηματισμό ψαροκόκκαλου.
Εικόνα 7.14: Ομοιόμορφα κατανεμημένοι πόροι (Uniformly Scattered Porosity). Συστάδα

πόρων (Clustered Porosity). Γραμμικοί πόροι (Linear Porosity)
|53|
Εικόνα 7.15: Γραμμικοί πόροι (linear porosity) (αριστερά).
Σκωληκοειδείς οπές (wormholes) (δεξιά)
Εικόνα 7.16: Συστάδα πόρων σε μακροσκοπικό έλεγχο (αριστερά). Συστάδα πόρων

(συγκόλληση με backing strip) (στο κέντρο). Πόροι στην ρίζα (δεξιά)
Εικόνα 7.17: Διάφορες περιπτώσεις πόρων
Πίνακας 7.1: Αίτια δημιουργίας των πόρων και μέτρα πρόληψης

Αίτια Πρόληψη
Υγρά συλλιπάσματα, υπερβολική παρουσία
Απαιτείται χρήση ηλεκτροδίων και
υγρασίας στην προετοιμασία της συγκόλλησης,
συλλιπασμάτων μετά από ξήρανση
διαβρωμένα ηλεκτρόδια και ελαττωματικός
και σε καλή κατάσταση.
βόρακας.
Γράσα / υδρογονάνθρακες / υγρασία στην Απαιτείται καθαρισμός της
επιφάνεια. επιφάνειας.
Παγιδευμένος αέρας στα προστατευτικά αέρια Απαιτείται έλεγχος των συνδέσεων
(MIG/MAG TIG). παροχής.
Εσφαλμένη / ανεπαρκής αποξείδωση των Απαιτείται χρήση ηλεκτροδίων με
ηλεκτροδίων. επαρκή προσθήκη αποξειδωτικών.
Χαμηλή ένταση του ρεύματος, υψηλή τάση τόξου Απαιτείται σωστή ρύθμιση των
ή μεγάλο μήκος τόξου. παραμέτρων.
Υψηλός ρυθμός ροής προστατευτικών αερίων ο Απαιτείται βελτιστοποίηση του
οποίος οδηγεί σε στροβιλισμούς ρυθμού ροής των προστατευτικών
(MIG / MAG TIG). αερίων.
|54|
7.8 Διακένωση συστολής κρατήρα (crater pipe)
Πρόκειται για κοιλότητα η οποία προκαλείται από τη συστολή του μετάλλου στο
τέλος ενός πάσου, εκεί όπου η πηγή της θερμότητας απομακρύνεται από το μέταλλο. Η
διακένωση συστολής κρατήρα είναι ασυνέχεια που προκαλείται από συστολή και δεν θα
πρέπει να συγχέεται με τη διαμπερή τήξη ή με τους πόρους.
Εικόνα 7.18: Διακένωση συστολής κρατήρα
Η πλήρωση του κρατήρα είναι ένα ιδιαίτερο πρόβλημα στη συγκόλληση TIG λόγω
της χαμηλής προσαγόμενης θερμότητας. Για την πλήρωση του κρατήρα, είναι αναγκαίο να
μειωθεί το ρεύμα συγκόλλησης (slope out) σταδιακά έως ότου σβήσει το τόξο.
7.9 Στερεά εγκλείσματα (solid inclusions)
Ο συγκεκριμένος όρος χρησιμοποιείται για να περιγράψει στερεά μη μεταλλικά

σώματα (slag inclusions), όπως σκωρία, οξείδια, βόρακα, συλλιπάσματα ή μεταλλικά
σώματα (tungsten inclusions), όπως βολφράμιο από συγκόλληση TIG, σύρμα ή χαλκό σε
περίπτωση ημιαυτόματης συγκόλλησης, κ.λπ., τα οποία βρίσκονται εγκλωβισμένα στο
λουτρό της συγκόλλησης ή μεταξύ του υλικού της συγκόλλησης και του βασικού
μετάλλου. Ανιχνεύονται κυρίως με ακτινογραφικό έλεγχο με τη μέθοδο των υπερήχων και
σπανιότερα με τις μεθόδους των μαγνητικών σωματιδίων και των διεισδυτικών υγρών.
Τα εγκλείσματα κατηγοριοποιούνται σε: εγκλείσματα βόρακα (slag inclusions),
εγκλείσματα από συλλιπάσματα (flux inclusions), εγκλείσματα οξειδίων (oxide inclusions)
και εγκλείσματα βολφραμίου (tungsten inclusions).
Εικόνα 7.19: Εμφάνιση στερεού εγκλείσματος σε συγκόλληση (μακρογραφία)
|55|
Εγκλείσματα βόρακα (slag inclusions): Ο βόρακας είναι ένα παγιδευμένο, μη
μεταλλικό κατάλοιπο στη συγκόλληση και προέρχεται από την πάστα του ηλεκτροδίου.
Γραμμικά εγκλείσματα βόρακα παρουσιάζονται μόνο στους πόδες της συγκόλλησης ενός
πάσου. Μεμονωμένα εγκλείσματα βόρακα μπορούν να υπάρχουν οπουδήποτε στην έκταση
της συγκόλλησης, όπως για παράδειγμα μεταξύ των πάσων. Σε περιπτώσεις συγκολλήσεων
πολλαπλών πάσων με την μέθοδο ΜΜΑ, η πάστα του ηλεκτροδίου απομακρύνεται με
τρόχισμα μετά από την ολοκλήρωση κάθε πάσου.
Εικόνα 7.20: Εμφάνιση στερεών εγκλεισμάτων στη συγκόλληση
Εικόνα 7.21: Παράλληλες γραμμές εγκλεισμάτων σε συγκόλληση (μακρογραφία)
Εικόνα 7.22: Παράλληλες γραμμές εγκλεισμάτων σε κάτοψη συγκόλλησης
|56|
Πίνακας 7.2: Αίτια δημιουργίας των εγκλεισμάτων βόρακα και μέτρα πρόληψης
Ελλιπής απομάκρυνση της σκωρίας από την
Απαιτείται σωστός καθαρισμός-αφαίρεση
επιφάνεια σε συγκολλήσεις πολλαπλών
της σκωρίας μεταξύ των πάσων.
πάσων.
Απαιτείται έλεγχος της θέσης συγκόλλησης
για τον έλεγχο της σκωρίας. Ο συγκολλητής
Ροή σκωρίας μπροστά από το τόξο.
καλείται να διορθώσει τη γωνία
συγκόλλησης (γωνία του ηλεκτροδίου).
Απαιτείται εξομάλυνση της επιφάνειας
Εγκλωβισμός της σκωρίας στην επιφάνεια.
συγκόλλησης.
Ο συγκολλητής καλείται να διορθώσει την
Λάθος ταχύτητα συγκόλλησης.
ταχύτητα συγκόλλησης.
Ο συγκολλητής καλείται να διορθώσει το
Πολύ μεγάλο τόξο.
μέγεθος του τόξου.
Εγκλείσματα από συλλιπάσματα (flux inclusions): Μπορεί να παγιδευτούν στο

λουτρό της συγκόλλησης κατά τη διάρκεια της συγκόλλησης. Η συγκεκριμένη ασυνέχεια
είναι ακανόνιστης μορφής και έτσι διαφοροποιείται από τους πόρους αερίου. Εμφανίζεται
μόνο στην περίπτωση συγκόλλησης με τις μεθόδους χειροκίνητης συγκόλλησης με
ηλεκτρόδιο (ΜΜΑ), βυθιζόμενου τόξου (SAW), καθώς και στη συγκόλληση με χρήση
σωληνωτών ηλεκτροδίων (FCAW).
Πίνακας 7.3: Αίτια δημιουργίας εγκλεισμάτων από συλλιπάσματα και μέτρα πρόληψης
Άτηκτη ροή συλλιπάσματος λόγω Απαιτείται έλεγχος των ηλεκτροδίων και
κατεστραμμένης επένδυσης. χρήση χωρίς κατεστραμμένες επενδύσεις.
Αποτυχία τήξης του συλλιπάσματος και Απαιτείται αλλαγή του σύρματος.
παγίδευση του στη συγκόλληση Απαιτείται σωστή ρύθμιση των
(SAW ή FCAW). παραμέτρων της συγκόλλησης.
Εγκλείσματα βολφραμίου (tungsten inclusions): Προκαλούνται από την ακίδα

βολφραμίου κατά την συγκόλληση με μη καταναλισκόμενο ηλεκτρόδιο βολφραμίου (TIG).
Αυτή η ατέλεια αποτυπώνεται στο ακτινογραφικό φιλμ ως μία πιο φωτεινή περιοχή καθώς
το βολφράμιο απορροφά μεγαλύτερες ποσότητες ακτινοβολίας Χ ή γ με αποτέλεσμα να
μην αμαυρώνει το ακτινογραφικό φιλμ.
Εικόνα 7.23: Έγκλεισμα βολφραμίου
|57|
Πίνακας 7.4: Αίτια δημιουργίας εγκλεισμάτων βολφραμίου και μέτρα πρόληψης
Η ακίδα βολφραμίου πρέπει να κρατηθεί
Επαφή του άκρου της ακίδας στο τήγμα εκτός του λουτρού. Απαιτείται η χρήση
(λουτρό). υψίσυχνου ρεύματος για την έναρξη του
τόξου (HF start).
Επαφή του υλικού πλήρωσης με το καυτό Απαιτείται η αποφυγή της επαφής μεταξύ
άκρο της ακίδας. ηλεκτροδίου και υλικού πλήρωσης.
Μόλυνση του άκρου της ακίδας με Απαιτείται η μείωση της ένταση του τόξου.
πιτσιλίσματα από το λουτρό της Απαιτείται η σωστή ρύθμιση του ρυθμού
συγκόλλησης. ροής του προστατευτικού αερίου.
Απαιτείται η μείωση της έντασης του τόξου.
Η υπέρβαση της έντασης του ρεύματος για
Απαιτείται η αντικατάσταση της διαμέτρου
δεδομένο μέγεθος ή τύπο ηλεκτροδίου.
του ηλεκτροδίου με μεγαλύτερη.
Επέκταση της ακίδας του ηλεκτροδίου πέρα
από την κανονική απόσταση από το Απαιτείται η μείωση της απόστασης και/ή
σφικτήρα (collet) με αποτέλεσμα την της έντασης της συγκόλλησης.
υπερθέρμανσή του.
Ανεπαρκής επαφή του σφικτήρα (collet) με
Απαιτείται σφίξιμο του σφικτήρα (collet).
την ακίδα.
Απαιτείται ρύθμιση της ροής του
Ανεπαρκής ροή προστατευτικού αερίου ή προστατευτικού αερίου, προστασία της
υπερβολική παρουσία ρεύματος αέρα με συγκολλημένης περιοχής, εξασφάλιση της
αποτέλεσμα την οξείδωση του άκρου του ροής προστατευτικού αερίου για
ηλεκτροδίου. τουλάχιστον 5sec μετά το σβήσιμο του
τόξου.
Απαιτείται αντικατάσταση του
ηλεκτροδίου. Απαιτείται επιλογή της
Ρηγματωμένο ηλεκτρόδιο. σωστής έντασης ρεύματος για την
επιλεγμένη διάμετρο της ακίδας
βολφραμίου.
Απαιτείται επιλογή του κατάλληλου
Ακατάλληλο προστατευτικό αέριο.
προστατευτικού αερίου.
Εγκλείσματα χαλκού (copper inclusions): Προέρχεται από την τήξη του ακροφυσίου
του πιστολιού ή από την επαφή του ακροφυσίου με το λουτρό σε συγκολλήσεις μη
καταναλισκόμενου ηλεκτροδίου (TIG) και σε συγκολλήσεις με τη χρήση αδρανών ή
ενεργών προστατευτικών αερίων (MIG / MAG).
Εικόνα 7.24: Εγκλείσματα χαλκού
|58|
Πίνακας 7.5: Αίτια δημιουργίας εγκλεισμάτων χαλκού και μέτρα πρόληψης
Ελλιπής απομάκρυνση της σκωρίας από την
Απαιτείται σωστός καθαρισμός-αφαίρεση
επιφάνεια σε συγκολλήσεις πολλαπλών
της σκωρίας μεταξύ των πάσων.
πάσων.
Απαιτείται έλεγχος της θέσης
συγκόλλησης για τον έλεγχο της σκωρίας.
Ροή σκωρίας μπροστά από το τόξο.
Ο συγκολλητής καλείται να διορθώσει τη
γωνία συγκόλλησης (γωνία πιστολιού).
Απαιτείται η εξομάλυνση της επιφάνειας
Εγκλωβισμός της σκωρίας στην επιφάνεια.
Εγκλείσματα οξειδίων (oxide inclusions) κατά την συγκόλληση: Η συγκεκριμένη

ασυνέχεια είναι ακανόνιστης μορφής και επομένως διαφοροποιείται από τους πόρους
αερίου. Τα εγκλείσματα οξειδίων εμφανίζονται συνήθως στις συγκολλήσεις κραμάτων
αλουμινίου. Είναι αποτέλεσμα της μη ικανοποιητικής προστατευτικής ατμόσφαιρας αερίων
λόγω ρύπανσης και των στροβιλισμών των αερίων στο λουτρό της συγκόλλησης.
Πίνακας 7.6: Αίτια δημιουργίας εγκλεισμάτων οξειδίων και μέτρα πρόληψης

Απαιτείται σωστός προκαθαρισμός
Σκουριασμένη επιφάνεια.
(τρόχισμα) πριν τη συγκόλληση.
7.10 Ατελής τήξη (incomplete fusion)
Πρόκειται για ασυνέχεια η οποία οφείλεται στη μη επιτυχή ανάπτυξη της

θερμοκρασίας τήξης του υλικού συγκόλλησης. Για την εμφάνιση πλήρους τήξης απαιτείται
η τήξη και ενός τμήματος των τοιχωμάτων της συγκόλλησης. Η ατελής τήξη αποτελεί
εξαιρετικά επικίνδυνη ασυνέχεια και απαντάται σε συγκολλήσεις τόξου (ΜΜΑ και TIG)
και λιγότερο σε περιπτώσεις βυθιζόμενου τόξου (SAW) ή electroslag. Ανιχνεύεται κυρίως
με τη μέθοδο των υπερήχων και σπανιότερα με τις μεθόδους του ακτινογραφικού ελέγχου
(λόγω της γωνίας ακτινογράφησης), των μαγνητικών σωματιδίων και των διεισδυτικών
υγρών. Στην Εικόνα 7.25 απεικονίζεται ένα τυπικό παράδειγμα ατελούς τήξης. Ατελής
τήξη μπορεί να εμφανιστεί μεταξύ των πάσων (Lack of Interrun Fusion, LOIF), στο
τοίχωμα του λουτρού (Lack of Sidewall Fusion, LOSF) και στους πόδες της ρίζας (Lack of
Root Fusion, LORF).
Εικόνα 7.25: Ατελής τήξη στο τοίχωμα (Β) και στο εσωτερικό του λουτρού (Α)
|59|
Εικόνα 7.26: Ατελής τήξη τοιχώματος (αριστερά). Ατελή τήξη μεταξύ των πάσων (κέντρο).
Ατελής τήξη στον πόδα της ρίζας (δεξιά)
Πίνακας 7.7: Αίτια δημιουργίας ατελούς τήξης και μέτρα πρόληψης

Απαιτείται αύξηση της τάσης ή / και του
Χαμηλή προσαγόμενη θερμότητα στη ρεύματος συγκόλλησης.
συγκόλληση. Απαιτείται μείωση της ταχύτητας
Οξείδια, επικαθίσεις, ρύποι στην Απαιτείται βελτίωση της διαδικασίας
προετοιμασμένη επιφάνεια. προετοιμασίας των άκρων.
Χαμηλό ρεύμα τόξου με αποτέλεσμα τη Απαιτείται αύξηση της έντασης του
χαμηλή ρευστότητα του τήγματος. ρεύματος.
Απαιτείται μείωση της ταχύτητας
Υψηλή ταχύτητα συγκόλλησης.
Απαιτείται μείωση της διαμέτρου του
Μεγάλη διάμετρος ηλεκτροδίου (MMA).
ηλεκτροδίου.
Θέση συγκόλλησης ‘κατεβατό’. Απαιτείται αλλαγή θέσης σε ‘ανεβατό’.
Μεγάλο πρόσωπο ρίζας Απαιτείται μείωση του προσώπου της ρίζας
(root face). (root face).
Μικρό διάκενο ρίζας Απαιτείται το σωστό διάκενο ρίζας
(root gap). (root gap).
Απαιτείται σωστή γωνία ηλεκτροδίου. Ο
Εσφαλμένη γωνία ηλεκτροδίου ή χειρισμού. συγκολλητής πρέπει να είναι πλήρως
εξειδικευμένος και ικανός.
Απαιτείται η εξασφάλιση σωστής
Κακή ευθυγράμμιση στη ρίζα.
ευθυγράμμισης.
7.11 Ατελής διείσδυση ρίζας (incomplete root penetration)
Η ασυνέχεια αυτή οφείλεται στην αποτυχία διείσδυσης του ηλεκτροδίου στη ρίζα
της συγκολλητής σύνδεσης.
Ο συγκεκριμένος τύπος ασυνέχειας είναι πιο πιθανό να συμβεί σε συγκολλήσεις
αναλώσιμου ηλεκτροδίου (MIG, MAG, FCAW, MMA και SAW), όπου το υλικό
πλήρωσης εναποτίθεται «αυτόματα», καθώς το τόξο καταναλώνει το ηλεκτρόδιο, το σύρμα
ή τη ράβδο. Ο συγκολλητής σε αυτές τις διεργασίες συγκόλλησης έχει περιορισμένο έλεγχο
του λουτρού συγκόλλησης. Έτσι, η διεργασία συγκόλλησης με μη καταναλισκόμενο
ηλεκτρόδιο (TIG) κατά την οποία ο συγκολλητής ελέγχει την ποσότητα του υλικού
πλήρωσης ανεξάρτητα της διείσδυσης, είναι λιγότερο επιρρεπής σε αυτόν τον τύπο
ασυνέχειας.
|60|
Εικόνα 7.27: Ατελής διείσδυση ρίζας σε συγκόλληση μονού και διπλού V επίπεδου ελάσματος
Εικόνα 7.28: Ακτινογραφία ατελούς διείσδυσης ρίζας
Πίνακας 7.8: Αίτια δημιουργίας ατελούς διείσδυσης ρίζας και μέτρα πρόληψης
Τα άκρα δεν έχουν υποστεί σωστή Απαιτείται η σωστή προετοιμασία των
προετοιμασία. άκρων που είναι καθοριστικής σημασίας.
Απαιτείται αύξηση της τάσης ή / και του
Χαμηλή προσαγόμενη θερμότητα στη ρεύματος συγκόλλησης.
συγκόλληση. Απαιτείται μείωση της ταχύτητας
Απαιτείται μείωση της διαμέτρου του
Μεγάλη διάμετρος ηλεκτροδίου (MMA).
ηλεκτροδίου.
Θέση συγκόλλησης ‘κατεβατό’. Απαιτείται αλλαγή θέσης σε ‘ανεβατό’.
Μεγάλο πρόσωπο ρίζας Απαιτείται μείωση του προσώπου της ρίζας
(root face). (root face).
Μεγάλο ή μικρό διάκενο ρίζας Απαιτείται το σωστό διάκενο ρίζας
(root gap). (root gap).
Απαιτείται η χρήση της σωστής γωνίας
Εσφαλμένη γωνία ηλεκτροδίου ή ηλεκτροδίου. Ο συγκολλητής πρέπει να
χειρισμού. είναι εξειδικευμένος και με επαρκή
δεξιότητα.
Η ταχύτητα της συγκόλλησης είναι πολύ Απαιτείται βελτιστοποίηση τόσο της
μεγάλη, για τη συγκεκριμένη τιμή ταχύτητας συγκόλλησης όσο και της τιμής
ρεύματος. του ρεύματος
Κακή ευθυγράμμιση των προς συγκόλληση Απαιτείται η εξασφάλιση της σωστής
ελασμάτων (ύπαρξη high-low). ευθυγράμμισης της συγκολλητής σύνδεσης.
7.12 Κοιλότητα ρίζας (root concavity)
Πρόκειται για ρηχή κοιλότητα η οποία προκαλείται λόγω της συρρίκνωσης της
ρίζας σε μετωπική συγκόλληση. Συναντάται και με τον όρο αναρρόφηση (suckback,
underwashing). Η τήξη του πάσου της ρίζας από το δεύτερο πάσο μπορεί να προκαλέσει
επίσης κοιλότητα ρίζας.
|61|
Η συγκεκριμένη ασυνέχεια απαντάται συχνά στη συγκόλληση με μη
καταναλισκόμενο ηλεκτρόδιο βολφραμίου (TIG) και ο κύριος λόγος πρόκλησής της είναι η
κακή προετοιμασία των άκρων. Πιο συγκεκριμένα ευθύνεται για αυτήν το μεγάλο διάκενο
της ρίζας και σε ορισμένες περιπτώσεις και το πολύ μικρό διάκενο της ρίζας. Η πιθανότητα
σχηματισμού κοιλότητας ρίζας αυξάνεται στις μεγάλες ταχύτητες συγκόλλησης.
Εικόνα 7.29: Κοιλότητα ρίζας σε επίπεδο έλασμα
Εικόνα 7.30: Πραγματικές περιπτώσεις κοιλότητας ρίζας
Πίνακας 7.9: Αίτια δημιουργίας κοιλότητας ρίζας και μέτρα πρόληψης

Το πρόσωπο της ρίζας είναι πολύ
Απαιτείται η σωστή προετοιμασία των
μεγάλο
άκρων η οποία είναι καθοριστική.
(και στα δυο άκρα).
Απαιτείται η αύξηση της τάσης ή / και του
ρεύματος συγκόλλησης.
Το τόξο δεν έχει αρκετή ενέργεια.
Απαιτείται η μείωση της ταχύτητας
Υπερβολική πίεση του αερίου στην
Απαιτείται η μείωση της πίεσης του
πλευρά της ρίζας σε συγκολλήσεις
προστατευτικού αερίου.
(TIG).
Απαιτείται η αύξηση της ενέργειας
Ανεπαρκής ισχύς τόξου.
του τόξου.
Απαιτείται επανεκπαίδευση του
Έλλειψη δεξιότητας του συγκολλητή.
συγκολλητή.
Ροή σκωρίας στο αυλάκι του
προσωρινού υποστηρικτικού Απαιτείται ελαχιστοποίηση της ροής
διείσδυσης της ρίζας της σκωρίας με σωστή κλίση.
(backing bar).
|62|
7.13 Υποκοπή (undercut)
Η ασυνέχεια αυτή συναντάται ως αυλάκωση στο μητρικό υλικό στις ακμές της
συγκόλλησης. Προκαλείται από την τήξη του βασικού μετάλλου χωρίς ταυτόχρονη
εναπόθεση υλικού πλήρωσης. Οι υποκοπές κατηγοριοποιούνται σε συνεχείς,
διακοπτόμενες και υποκοπές μεταξύ των πάσων.
Η συγκεκριμένη ασυνέχεια προκαλείται συνήθως από ακατάλληλες παραμέτρους
Επιπρόσθετα, σε εργασίες επιδιόρθωσης των υποκοπών, πρέπει να δίνεται ιδιαίτερη
βαρύτητα στον έλεγχο της προσαγόμενης θερμότητας από τη συγκόλληση. Εάν το λουτρό
της συγκόλλησης είναι πολύ μικρό, ο ρυθμός ψύξης μετά τη συγκόλληση είναι υψηλός, με
αποτέλεσμα την αύξηση της σκληρότητας του βασικού μετάλλου και κατά συνέπεια τη
δημιουργία μικροδομής επιρρεπούς στη ρηγμάτωση λόγω υδρογόνου (hydrogen cracking).
Εικόνα 7.31: Υποκοπές στην ενίσχυση (καπάκι), στη ρίζα και μεταξύ των πάσων
Εικόνα 7.32: Υποκοπές
Πίνακας 7.10: Αίτια δημιουργίας υποκοπών και μέτρα πρόληψης

Απαιτείται μείωση της έντασης του
Υπερβολική ένταση ρεύματος.
ρεύματος.
Απαιτείται βελτιστοποίηση του μήκους του
Μεγάλο μήκος τόξου.
τόξου.
Απαιτείται μείωση της ταχύτητας
Μεγάλη ταχύτητα συγκόλλησης.
Απαιτείται η εύρεση της σωστής
Εσφαλμένη γωνία ηλεκτροδίου.
γωνίας ηλεκτροδίου.
Υπερβολικός κυματισμός λόγω κακού Απαιτείται μείωση του κυματισμού
χειρισμού. του ηλεκτροδίου ή του πιστολιού.
Τήξη των άνω άκρων της συγκολλητής
Απαιτείται μείωση της προσαγόμενης
σύνδεσης λόγω της υψηλής έντασης του
ενέργειας, ιδίως στα ελεύθερα άκρα τα οποία
ρεύματος ή της μεγάλης ταχύτητας
ενδέχεται να υπερθερμανθούν.
Απαιτείται εξασφάλιση του σωστού
Λανθασμένη επιλογή προστατευτικού
προστατευτικού αερίου για το συγκεκριμένο
αερίου (MAG).
υλικό.
|63|
7.14 Ψυχρή επικάλυψη (overlap)
Πρόκειται για επικάλυψη της σύνδεσης με ηλεκτρόδιο, χωρίς να υπάρχει τήξη του
μετάλλου βάσης.
Η ψυχρή επικάλυψη αποτελεί ασυνέχεια η οποία εμφανίζεται στους πόδες της
συγκόλλησης και προκαλείται λόγω της μη σύντηξης του υλικού εναπόθεσης με το βασικό
μέταλλο.
Η ψυχρή επικάλυψη συνδέεται συχνά με την παρουσία υποκοπής, ιδίως στην
περίπτωση γωνιακής συγκόλλησης. Αν ο όγκος του υλικού εναπόθεσης είναι πολύ μεγάλος
σε γωνιακή συγκόλληση (fillet weld) και σε κατακόρυφη θέση συγκόλλησης (ΡΒ), τότε το
υλικό εναπόθεσης ρέει λόγω της βαρύτητας προς τα κάτω, με αποτέλεσμα τη δημιουργία
υποκοπής στο άνω άκρο και ψυχρής επικάλυψης στο κάτω.
Εικόνα 7.33: Υποκοπή πόδα και ψυχρή επικάλυψη (αριστερά). Ψυχρή επικάλυψη (δεξιά)
Πίνακας 7.11: Αίτια δημιουργίας ψυχρής επικάλυψης και μέτρα πρόληψης

Κακός χειρισμός του ηλεκτροδίου Απαιτείται επανεκπαίδευση του
(MMA). συγκολλητή.
Υψηλή προσαγόμενη θερμότητα / χαμηλή
Απαιτείται μείωση της προσαγόμενης
ταχύτητα συγκόλλησης η οποία προκαλεί
θερμότητας ή περιορισμός του μεγέθους του
αυξημένη επιφανειακή ροή σε γωνιακές
πάσου με τη χρήση πολλαπλών πάσων.
συγκολλήσεις.
Προτιμάται η επίπεδη θέση συγκόλλησης
Ακατάλληλη θέση συγκόλλησης.
(flat position).
Λανθασμένη επιλογή του τύπου της Απαιτείται αλλαγή του ηλεκτροδίου με
επένδυσης του ηλεκτροδίου με αποτέλεσμα κατάλληλη επένδυση για γρηγορότερη πήξη
την αυξημένη ρευστότητά του. ώστε να μειωθεί η ρευστότητα.
|64|
7.15 Υπερβολική διείσδυση (excess penetration)
Η συγκεκριμένη ασυνέχεια έγκειται στο «κρέμασμα» της ρίζας και μπορεί να είναι
τοπική ή συνεχόμενη. Ουσιαστικά πρόκειται για διείσδυση του υλικού πλήρωσης η οποία
ξεπερνά τα προκαθορισμένα όρια από τα κριτήρια αποδοχής / απόρριψης.
Σημειώνεται ότι η διατήρηση ενός λουτρού με ομοιόμορφες διαστάσεις απαιτεί
μεγάλη δεξιότητα από το συγκολλητή, ιδιαίτερα στις συγκολλήσεις σωληνώσεων. Η
δυσκολία αυξάνεται αν υπάρχει περιορισμένη πρόσβαση προς τη συγκόλληση ή στενή
προετοιμασία των άκρων (μικρό διάκενο ρίζας). Η χρήση μόνιμων ή προσωρινών
υποστηρικτικών μέσων (backing bars) βοηθούν στον έλεγχο της διείσδυσης.
Εικόνα 7.34: Υπερβολική διείσδυση
Πίνακας 7.12: Αίτια δημιουργίας υπερβολικής διείσδυσης και μέτρα πρόληψης

Απαιτείται μείωση της τάσης ή / και του
ρεύματος συγκόλλησης.
Αυξημένα ποσά προσαγόμενης θερμότητας.
Απαιτείται αύξηση της ταχύτητας
Λανθασμένη προετοιμασία συγκόλλησης,
Απαιτείται βελτιστοποίηση της
δηλαδή υπερβολικό διάκενο ρίζας, έλλειψη
προετοιμασίας των άκρων.
υποστηρικτικών μέσων (backing bars).
Απαιτείται η χρήση του κατάλληλου
Χρήση ακατάλληλου ηλεκτροδίου για την
ηλεκτροδίου για τη συγκεκριμένη θέση
συγκεκριμένη θέση συγκόλλησης.
Έλλειψη δεξιοτήτων από το συγκολλητή.
7.16 Διαμπερής τήξη (burn through)
Πρόκειται για τοπική καταστροφή του λουτρού λόγω υπερβολικής διείσδυσης, με

αποτέλεσμα τη δημιουργία οπής στη συγκόλληση. Οι διαμπερείς τήξεις εμφανίζονται
συνήθως στη ρίζα μετωπικών συγκολλήσεων. Η συγκεκριμένη ασυνέχεια προκαλείται
κυρίως λόγω της έλλειψης δεξιοτήτων του συγκολλητή.
Εικόνα 7.35: Διαμπερής τήξη
|65|
Πίνακας 7.13: Αίτια δημιουργίας διαμπερούς τήξης και μέτρα πρόληψης
Απαιτείται αύξηση της ταχύτητας
Ακατάλληλη ταχύτητα συγκόλλησης.
Υπερβολική ένταση του ρεύματος Απαιτείται μείωση της έντασης του
συγκόλλησης. ρεύματος συγκόλλησης.
Υπερβολικό τρόχισμα του πάσου της ρίζας,
Απαιτείται προσεκτικό τρόχισμα του πάσου
το οποίο μπορεί να επιτρέψει στο δεύτερο
της ρίζας.
πάσο να διαπεράσει το πρώτο.
Έλλειψη δεξιοτήτων από το συγκολλητή.
Απαιτείται σωστή διαμόρφωση των άκρων
Υπερβολικό τρόχισμα του προσώπου της
της συγκόλλησης και επανεκπαίδευση του
ρίζας (root face).
Απαιτείται η εξασφάλιση σωστού διάκενου
Υπερβολικό διάκενο ρίζας (root gap).
ρίζας (root gap).
7.17 Κακή ευθυγράμμιση (misalignment) και γωνιακή κακή ευθυγράμμιση

(angular misalignment)
Πρόκειται για κακή κοπή ή τοποθέτηση ή συγκράτηση των τεμαχίων κατά την
προετοιμασία τους πριν την τελική συγκόλληση. Ειδική περίπτωση αποτελεί το υψηλό-
χαμηλό (high-low), που μπορεί να προκαλέσει και ατελή διείσδυση.
Εικόνα 7.36: Κακή ευθυγράμμιση
Η κακή ευθυγράμμιση δεν αποτελεί στην πραγματικότητα ασυνέχεια αλλά σφάλμα

στην προετοιμασία της συγκολλητής σύνδεσης. Ακόμη και μια πολύ μικρή κακή
ευθυγράμμιση μπορεί να αυξήσει δραστικά τις τοπικές διατμητικές τάσεις μίας
συγκολλητής σύνδεσης και να προκαλέσει κάμψη.
Πίνακας 7.14: Αίτια δημιουργίας κακής ευθυγράμμισης και μέτρα πρόληψης

Απαιτείται ο επαρκής έλεγχος της
Ανακριβείς διαδικασίες συναρμολόγησης ή ευθυγράμμισης πριν από τη συγκόλληση σε
παραμόρφωση από άλλες συγκολλήσεις. συνδυασμό με τη χρήση σφιγκτήρων και
σφηνών.
Υπερβολική έλλειψη επιπεδότητας σε Απαιτείται έλεγχος της ακρίβειας των
ελάσματα θερμής έλασης. ελασμάτων πριν από την συγκόλληση.
|66|
7.18 Ελλιπής πλήρωση (incompletely filled groove)
Πρόκειται για συνεχόμενο ή διακεκομμένο διαμήκες κανάλι στην επιφάνεια της

κόλλησης που δημιουργείται από έλλειψη υλικού. Το κανάλι αυτό μπορεί να παρουσιαστεί
στο κέντρο της κόλλησης στο ένα άκρο της ή και στα δύο.
Εικόνα 7.37: Ελλιπής πλήρωση της ενίσχυσης (καπάκι) της συγκόλλησης
Πίνακας 7.15: Αίτια δημιουργίας ελλιπούς πλήρωσης και μέτρα πρόληψης

Ελλιπής εναπόθεση συγκολλητικού Απαιτείται αύξηση του αριθμού των
υλικού. πάσων.
Ακανόνιστη επιφάνεια λουτρού.
7.19 Υπερβολική ενίσχυση (excessive cap)
Πρόκειται για εναπόθεση υλικού πλήρωσης στην ενίσχυση (καπάκι) της

συγκόλλησης πάνω από τα αποδεκτά όρια.
Εικόνα 7.38: Υπερβολική ενίσχυση συγκόλλησης
7.20 Άναμμα τόξου (arc strike)
Είναι επιφανειακά σημειακά σημάδια από άναμμα του ηλεκτρικού τόξου στο
μέταλλο βάσης, κοντά στην περιοχή της συγκόλλησης. Τα ανάμματα τόξου δημιουργούν
πολύ ψαθυρή δομή, ειδικά σε χάλυβες με υψηλή περιεκτικότητα σε άνθρακα και
αποτελούν σημεία έναρξης ρηγμάτων γι’ αυτό και πρέπει να αφαιρούνται με λείανση.
Εικόνα 7.39: Άναμμα τόξου
|67|
Πίνακας 7.16: Αίτια δημιουργίας ανάμματος τόξου και μέτρα πρόληψης
Το ηλεκτρόδιο ξεφεύγει από τον Απαιτείται επανεκπαίδευση του
έλεγχο του χειριστή. συγκολλητή.
Φθαρμένη μόνωση της λαβής του
Απαιτείται τακτικός έλεγχος των
ηλεκτροδίου ή μη σωστή επαφή της
συνδέσεων.
γείωσης.
Μειωμένη πρόσβαση. Απαιτείται βελτίωση της πρόσβασης.
7.21 Σημάδια τροχίσματος (grinding marks, chipping mark, underflushing)
Πρόκειται για σημάδια από κακοτεχνίες ή υπερβολικό τρόχισμα σε περιοχές κοντά

στη συγκόλληση.
7.22 Πιτσιλίσματα (spatter)
Πρόκειται για σταγόνες τήγματος συγκόλλησης, οι οποίες εκτοξεύονται από το τόξο

της συγκόλλησης και στερεοποιούνται σε γειτονικές περιοχές.
Εικόνα 7.40: Πιτσιλίσματα σε συγκόλληση
Πίνακας 7.17: Αίτια δημιουργίας πιτσιλίσματος και μέτρα πρόληψης

Απαιτείται μείωση της έντασης του
Υψηλό ρεύμα συγκόλλησης.
ρεύματος.
Απαιτείται μείωση του μήκους του
Μαγνητικό φύσημα. τόξου ή χρήση εναλλασσόμενου
ρεύματος.
Απαιτείται χρήση ξηρών
Υγρά ηλεκτρόδια.
ηλεκτροδίων.
Ακατάλληλες ρυθμίσεις στις Απαιτείται τροποποίηση των
συγκολλήσεις MAG. ρυθμίσεων (ένταση / τάση).
Απαιτείται αύξηση του ποσοστού του
Λανθασμένη επιλογή αργού. Ωστόσο ένα πολύ υψηλό
προστατευτικού αερίου (100% CO2). ποσοστό αργού στο μείγμα μπορεί να
οδηγήσει σε ατελή διείσδυση.
Τα πιτσιλίσματα προσδίδουν μία κακή εμφάνιση στη συγκόλληση. Ωστόσο, δεν

επηρεάζουν την ακεραιότητα της. Δεδομένου ότι προκαλούνται συνήθως από υπερβολικό
ρεύμα συγκόλλησης, αποδεικνύουν ότι οι παράμετροι συγκόλλησης δεν είναι ιδανικές, με
πιθανό αποτέλεσμα την πρόκληση άλλων ασυνεχειών στην εσωτερική δομή της
|68|
|69|
|70|
1. ΕΙΣΑΓΩΓΗ
O οπτικός έλεγχος αποτελεί έναν από τους πιο σημαντικούς Μη Καταστροφικούς

Ελέγχους, η αξία του οποίου για πολλά χρόνια υποτιμήθηκε. Ιστορικά, αποτέλεσε την
πρώτη μέθοδο που χρησιμοποιήθηκε, ωστόσο η αξία της αναγνωρίσθηκε τα τελευταία
χρόνια. Σ’ αυτό συνέβαλε σίγουρα η ώθηση που δόθηκε από το Εκπαιδευτικό Ερευνητικό
Κέντρο Ηλεκτρικής Ενέργειας (Electric Power Research Institute-ERPI) στις αρχές της
δεκαετίας του 1980. Το κέντρο αυτό ήταν το πρώτο που υποστήριξε και προώθησε
εκπαιδευτικό πρόγραμμα στον οπτικό έλεγχο διάρκειας 120 ωρών. Η αναγνώριση του
οπτικού ελέγχου ως μιας βασικής μεθόδου Μη Καταστροφικών Ελέγχων συνεχίστηκε με
την ένταξη του οπτικού ελέγχου στις προδιαγραφές του Αμερικάνικου κώδικα ASME και
συγκεκριμένα στην ενότητα XI «Περί κανόνων για την επιθεώρηση εξαρτημάτων (μερών)
ενός πυρηνικού σταθμού» (Rules for In-service Inspection of Nuclear Power Plant
Components). Η εκπαίδευση στο πεδίο του οπτικού ελέγχου πραγματοποιούνταν σύμφωνα
με το πρότυπο ΑΝSI N45.2.6, ενώ η εξέταση και η πιστοποίηση σύμφωνα με την
προτεινόμενη διαδικασία SNT-TC-1A. Αργότερα, ο οπτικός έλεγχος αποτέλεσε ξεχωριστό
κεφάλαιο ελέγχου στον κώδικα ASME V, άρθρο 9 «Περί Οπτικού Ελέγχου» (Article 9
Visual Examination).
Ως Οπτικός Έλεγχος ορίζεται η απευθείας εξέταση ενός δοκιμίου με γυμνό οφθαλμό
ή με κατάλληλες διατάξεις μεγέθυνσης.
2. Η ΟΡΑΣΗ
Η όραση ή οπτική αντίληψη είναι μία από τις πέντε αισθήσεις του ανθρώπου. Το
όργανο αντίληψης είναι τo μάτι, ενώ το αντικείμενο της αντίληψης είναι το φως και
ειδικότερα το τμήμα εκείνο του ηλεκτρομαγνητικού φάσματος με μήκος κύματος εύρους
από 400 έως 700nm. Θεωρείται η πιο σημαντική από τις αισθήσεις, καθώς με αυτήν γίνεται
άμεσα αντιληπτός ο εξωτερικός χώρος. Το 30% περίπου του ανθρώπινου εγκεφάλου
ασχολείται με την επεξεργασία και ερμηνεία των ερεθισμάτων της όρασης.
2.1 Η βιοφυσική της όρασης
Η αίσθηση της όρασης έχει τρεις κύριες συνιστώσες:

 τους οφθαλμούς που εστιάζουν σε μια εξωτερική εικόνα η οποία αποτυπώνεται
στον φωτοευαίσθητο αμφιβληστροειδή χιτώνα
 ένα σύστημα εκατομμυρίων νευρώνων που μεταφέρουν την πληροφορία στον
εγκέφαλο
 τον εγκέφαλο όπου γίνεται η επεξεργασία της πληροφορίας.
Το μάτι λειτουργεί ακριβώς όπως μια φωτογραφική μηχανή, ή ακριβέστερα, η
φωτογραφική μηχανή λειτουργεί όπως ακριβώς το μάτι. Ο βολβός παρομοιάζεται με ένα
σκοτεινό θάλαμο. Όπως οι ακτίνες συγκεντρώνονται από τον κρυσταλλοειδή φακό
μεγέθυνσης της φωτογραφικής μηχανής και περνούν από το διάφραγμα της φωτογραφικής
μηχανής για να εστιαστούν και να αποτυπωθούν ως εικόνα στο ευαίσθητο φωτογραφικό
φιλμ, έτσι και οι ακτίνες συγκεντρώνονται από τον κερατοειδή, στη συνέχεια περνούν από
το άνοιγμα κόρης για να εστιαστούν και να αποτυπωθούν ως εικόνα στον
αμφιβληστροειδή. Στη συνέχεια η εικόνα αποκωδικοποιείται στον εγκέφαλο.
|71|
Πιο αναλυτικά, ο βολβός περιβάλλεται από έναν ινώδη εξωτερικό χιτώνα, λευκό,
σκληρό, ανθεκτικό και αδιαφανή, που λέγεται σκληρός χιτώνας. Στο πρόσθιο μέρος του
ματιού βρίσκεται ο κερατοειδής, ο οποίος είναι σφαιρικός, διαυγής, διάφανος και επιτρέπει
στο φως να περνά.
Εικόνα 2.1: Μεταφορά της εικόνας από τον οφθαλμό στον εγκέφαλο
Πίσω από τον κερατοειδή βρίσκεται η ίριδα, το χρωματιστό τμήμα του ματιού
(καστανό, πράσινο, γαλάζιο, κλπ). Η ίριδα αφήνει στη μέση ένα στρογγυλό άνοιγμα, την
κόρη, για να περνά το φως. Η ίριδα έχει μύες που προκαλούν συστολή (μύση) ή διαστολή
(μυδρίαση), ανάλογα με τις συνθήκες φωτός που επικρατούν. Αυτό γίνεται
αντανακλαστικά από το αυτόνομο νευρικό σύστημα. Το συμπαθητικό αυτόνομο νευρικό
σύστημα προκαλεί τη μυδρίαση και το παρασυμπαθητικό τη μύση. Όταν υπάρχει πολύ
φως, προκαλείται μύση, ενώ όταν είναι σκοτάδι οι κόρες διαστέλλονται για να περάσει
περισσότερο φως.
Ο κερατοειδής και η ίριδα σχηματίζουν μία γωνία, τη γωνία του πρόσθιου θαλάμου.
Ο πρόσθιος θάλαμος είναι γεμάτος από ένα διαυγές υγρό, το υδατοειδές υγρό, το οποίο
διατηρεί τη σύσταση στο πρόσθιο τμήμα του ματιού. Η γωνία διαδραματίζει σημαντικό
ρόλο στο γλαύκωμα (αν είναι κλειστή ή ανοικτή), διότι από αυτήν παροχετεύεται το
υδατοειδές υγρό μέσω του διηθητικού ηθμού, ενός ιστού με ανοίγματα, δοκίδες, που
διηθούν το υγρό.
Πίσω από την ίριδα βρίσκεται ο κρυσταλλοειδής φακός, ο οποίος έχει μέγεθος
περίπου φακής. Ο κερατοειδής μαζί με τους φακούς διαθλούν και συγκεντρώνουν τις
ακτίνες του φωτός στον αμφιβληστροειδή, όπου εστιάζονται πάνω στην ωχρά. Ο φακός
έχει τη δυνατότητα να αυξομειώνει το σχήμα του, μεταβάλλοντας ταυτόχρονα και τη
διαθλαστική του δύναμη με το μηχανισμό της προσαρμογής. Επομένως, «ζουμάροντας»,
εστιάζει στην εικόνα, ανάλογα με το αν κάποιος κοιτά μακριά ή κοντά.
Πίσω από το φακό, το οπίσθιο τμήμα της κοιλότητας του βολβού αποτελείται από
το υαλοειδές σώμα, ένα ζελατινώδες, διαφανές υλικό. Έχει μεγάλη ελαστικότητα και
αντίσταση. Ο σκληρός χιτώνας εσωτερικά περιβάλλεται από το χοριοειδή χιτώνα, ο οποίος
είναι πλούσιος σε αιμοφόρα αγγεία.
Τέλος, στο εσώτερο τμήμα του ματιού βρίσκεται ο αμφιβληστροειδής ή νεύρινος
χιτώνας. Ο αμφιβληστροειδής αποτελείται από πολλές επιμέρους στιβάδες. Το φωτεινό
ερέθισμα προσλαμβάνεται από τα φωτοευαίσθητα κύτταρα, τα κωνία και τα ραβδία, και
μέσω πολύπλοκων μηχανισμών μετατρέπεται σε νευρικό ερέθισμα. Τα γαγγλιακά νευρικά
κύτταρα προσλαμβάνουν το ερέθισμα και το μεταφέρουν μέσω του οπτικού νεύρου.
|72|
Το οπτικό νεύρο έχει τη μορφή ενός κορδονιού. Σχηματίζεται από όλες τις νευρικές
ίνες του αμφιβληστροειδούς. Οι ρινικές ίνες των δύο οπτικών νεύρων χιάζονται στο οπτικό
χίασμα, πάνω από την υπόφυση ενώ, οι κροταφικές νευρικές ίνες παραμένουν αχίαστες.
Στη συνέχεια μέσω της οπτικής οδού του εγκεφάλου, καταλήγουν στο πίσω μέρος της
κεφαλής, στον οπτικό φλοιό, που εντοπίζεται στην πληκτραία σχισμή του ινιακού λοβού.
2.2 Οφθαλμοκινητικότητα
Υπεύθυνοι για την κινητικότητα του ματιού είναι έξι μύες: τέσσερις ορθοί μύες, o
έσω ορθός, o έξω ορθός, o άνω ορθός, o κάτω ορθός και δύο λοξοί μύες, o άνω λοξός και o
κάτω λοξός. Οι μύες συσπώνται ανάλογα με την κίνηση του βλέμματος, στρέφοντας το
βολβό προς την επιθυμητή κατεύθυνση.
Ο κρυσταλλοειδής φακός λόγω της ελαστικότητας του μπορεί να αλλάζει σχήμα,
ώστε να εστιάζει τις φωτεινές ακτίνες τόσο από κοντινά όσο και από μακρινά αντικείμενα.
Ο αμφιβληστροειδής χιτώνας καλύπτει εσωτερικά το χοριοειδή και περιέχει δύο ειδών
φωτοευαίσθητα κύτταρα: τα ραβδία, τα οποία είναι υπεύθυνα για την όραση σε αμυδρά
φωτιζόμενους χώρους, και τα κωνία, τα οποία χρησιμεύουν για την όραση στο φως και την
αντίληψη των χρωμάτων.
Τα ραβδία σε κάθε μάτι είναι περίπου 120 εκατομμύρια. Είναι κατανεμημένα
ανομοιόμορφα στον αμφιβληστροειδή, πολύ ευαίσθητα σε φωτεινή ακτινοβολία μήκους
κύματος 360-680nm με μέγιστη ευαισθησία σε μήκος κύματος ίσο με 550nm. Είναι
ευαίσθητα στο αμυδρό φως, στην κίνηση και στις μικρές διαφορές της φωτεινής έντασης,
θυσιάζοντας βέβαια ποσοστό των λεπτομερειών και του χρώματος των αντικειμένων
(σκοτοπική όραση-περιφερική όραση).
Τα κωνία σε κάθε μάτι είναι περίπου 6-7 εκατομμύρια. Βρίσκονται συγκεντρωμένα
στην περιοχή της ωχράς κηλίδας και, όπως και τα ραβδία, απουσιάζουν εντελώς από το
τυφλό σημείο. Είναι ευαίσθητα στο λαμπρό φως, οι χρωστικές τους εμφανίζουν
διαφορετικά φάσματα απορρόφησης του φωτός, με κορυφές στα 570, 540 και 450nm οι
οποίες συσχετίζονται με την τριχρωματική θεωρία της έγχρωμης όρασης.
Εικόνα 2.2: Στρώματα φωτοευαίσθητων κυττάρων του αμφιβληστροειδούς
Ο αριθμός των οπτικών νευρικών ινών είναι περίπου 1 εκατομμύριο. Τα κωνία του
κεντρικού βοθρίου συνδέονται το καθένα χωριστά με μια νευρική ίνα, ενώ τα υπόλοιπα
κωνία και ραβδία (100 ραβδία μαζί) μοιράζονται μία οπτική νευρική ίνα.
|73|
Εικόνα 2.3: Ανατομία του οφθαλμού
Εικόνα 2.4: Ανατομία του οφθαλμικού βολβού
|74|
Εικόνα 2.5: Ανατομία του αμφιβληστροειδούς
Στο κέντρο του αμφιβληστροειδούς βρίσκεται το οπτικό νεύρο, μια κυκλική, οβάλ
σχηματισμού, λευκή επιφάνεια, διαστάσεων περίπου 2•1,5mm. Από το κέντρο του οπτικού
νεύρου ξεκινούν τα βασικότερα αιμοφόρα αγγεία του αμφιβληστροειδούς. Σε περίπου 17°
(4,5 - 5mm) προς τα αριστερά του, φαίνεται η σχεδόν ωοειδής, ελεύθερη αιμοφόρων
αγγείων, σκούρα περιοχή, το βοθρίο, το οποίο βρίσκεται στο κέντρο της περιοχής της
ωχράς κηλίδας.
2.3 Ο σχηματισμός της εικόνας
Το φως εισέρχεται στον οφθαλμό, διαθλάται στα διάφορα μέσα, φτάνει στον
αμφιβληστροειδή όπου και μετατρέπεται σε νευρικό παλμό ο οποίος οδεύει μέσω των
νευρικών κυττάρων του οπτικού νεύρου προς τον εγκέφαλο. Στον εγκέφαλο γίνεται η
επεξεργασία του σήματος και η αντίληψη της εικόνας.
Εικόνα 2.6: Σχηματική αναπαράσταση των διαθλαστικών μέσων με τους αντίστοιχους

δείκτες διάθλασης
Εικόνα 2.7: Διάθλαση του φωτός
|75|
Η διαθλαστική ισχύς του ματιού μετράται σε διοπτρίες και είναι ίση με το
αντίστροφο της εστιακής απόστασης σε μέτρα:
1
D = -----------------------------------------
Εστιακή απόσταση (m)
Στον κερατοειδή και στον κρυσταλλοειδή φακό, οι φωτεινές ακτίνες διαθλώνται. Ο

βαθμός διάθλασης εξαρτάται από την καμπυλότητα των επιφανειών τους και από τη
σχετική ταχύτητα του φωτός σε αυτές.
Ο οφθαλμός έχει την ιδιότητα να μεταβάλλει την κυρτότητα των επιφανειών του με
τη βοήθεια ακτινικών και κυκλικών μυϊκών ινών που τον περιβάλλουν, να προσαρμόζει το
μέγεθός του και τελικά να εστιάζει σε αντικείμενα που βρίσκονται σε διάφορες
αποστάσεις.
Εικόνα 2.8: Προσαρμογή του ανθρώπινου οφθαλμού
Εικόνα 2.9: Η όραση λειτουργεί ως ένα κλειστό κύκλωμα έγχρωμης τηλεόρασης
|76|
2.4 Στερεοσκοπική όραση
Είναι η ελάχιστη οριζόντια διαφορά των δύο αμφιβληστροειδικών εικόνων, η οποία

προκαλεί την αίσθηση του βάθους. Αντιστοιχεί στο κατώφλι της στερεοσκοπικής όρασης
και καθορίζει την στερεοσκοπική οξύτητα. Η στερεοσκοπική οξύτητα μετριέται σε
δευτερόλεπτα τόξου (sec/arc).
Η στερεοσκοπία ή στερεοσκοπική όραση είναι η οπτική ανάμιξη δύο
πανομοιότυπων αλλά όχι ίδιων εικόνων σε μία, με αποτέλεσμα την οπτική αντίληψη της
στερεότητας και του βάθους. Στον ανθρώπινο εγκέφαλο, η στερεοσκοπία προκύπτει από
πολύπλοκους μηχανισμούς που σχηματίζουν μία τρισδιάστατη αντίληψη μέσω της
συσχέτισης κάθε σημείου (ή συνόλου σημείων) στο ένα μάτι, με ένα αντίστοιχο σημείο (ή
σύνολο σημείων) στο άλλο μάτι. Έτσι λοιπόν, προσδιορίζονται οι θέσεις των σημείων στον
ανέκφραστο οπτικά άξονα z (βάθους).
2.5 Φωτοπική όραση
Φωτοπική όραση (ή φοβική όραση) ονομάζεται η κατάσταση κατά την οποία το

μάτι προσαρμόζεται στο φως - μετά από μερικά λεπτά έκθεσης σε φωτεινότητα
μεγαλύτερη από 3,0cd/m2. Καθώς τα κωνία λειτουργούν αποτελεσματικότερα σε
μεγαλύτερες φωτεινές εντάσεις, η φωτοπική όραση μετριάζεται κυρίως από τα ευαίσθητα
στο χρώμα κωνία, με αποτέλεσμα την καθαρή έγχρωμη όραση.
2.6 Σκοτοπική όραση
Σκοτοπική όραση ονομάζεται η κατάσταση κατά την οποία το μάτι προσαρμόζεται

στο σκοτάδι, σε χαμηλά επίπεδα φωτεινότητας, κάτω από 3,0•10-5cd/m2. Η διαδικασία
αυτή απαιτεί αρκετό χρόνο που κυμαίνεται από 30 - 45 λεπτά, ανάλογα με τις αρχικές τιμές
έκθεσης στο φως. Μόνο τα ραβδία είναι ευαίσθητα στις χαμηλές εντάσεις φωτός οπότε οι
διαφορές στην ένταση μπορούν να εντοπιστούν, αλλά η αντίληψη των χρωμάτων είναι
ελάχιστη ή απουσιάζει.
2.7 Αντίληψη του χώρου
Η όραση έχει άμεση σχέση με την τρισδιάστατη αντίληψη του χώρου. Η επικάλυψη
των οπτικών πεδίων βοηθά στον υπολογισμό της τρισδιάστατης υφής τους και τον
υπολογισμό της απόστασής τους μέσω του τριγωνισμού.
Σύμφωνα με τη μέθοδο αυτή, η οποία χρησιμοποιείται και σε επιστήμες όπως η
τοπογραφία, υπάρχει ένα νοητό τρίγωνο που ορίζεται από τα δύο μάτια και το αντικείμενο.
Γνωρίζοντας την απόσταση των ματιών και τις γωνίες στις οποίες τα μάτια βλέπουν το
αντικείμενο, μπορούμε να υπολογίσουμε την απόσταση του αντικειμένου από το πρόσωπο.
Σημαντικό είναι ότι η αντίληψη του χώρου δε γίνεται μόνο με την όραση, αλλά και με
άλλες αισθήσεις, όπως η ακοή ή ακόμη και η αφή. Σημειώνεται ότι η μέθοδος του
τριγωνισμού μπορεί να εφαρμοστεί, τόσο για τους ήχους, όσο και για την αντίληψη της
θερμότητας από απόσταση. Οι άνθρωποι που έχουν χάσει την όραση τους αλλά και
οργανισμοί, όπως η νυχτερίδα, μπορούν να συνδυάσουν ερεθίσματα από άλλες αισθήσεις
για να έχουν μία τρισδιάστατη αντίληψη του περιβάλλοντός τους. Οι επιστήμονες θεωρούν
ότι σε ανθρώπους που έχουν χάσει την όραση τους, σημαντικά μέρη του εγκεφάλου που
ασχολούνται με την επεξεργασία της όρασης λειτουργούν κανονικά, δηλαδή «βλέπουν»
όπως και οι υπόλοιποι άνθρωποι, αλλά με διαφορετικό τρόπο.
|77|
Επιπλέον, όσοι έχουν χάσει την όραση τους, έχουν ένα ελάχιστο ερέθισμα όρασης
(συνήθως περιφερική όραση ή υποδοχείς φωτός που καθορίζουν τη λειτουργία του ύπνου)
ή μπορούν να αισθανθούν τη θερμότητα, δηλαδή την υπέρυθρη ακτινοβολία. Κάποιοι
επιστήμονες υποστηρίζουν ότι δεν υπάρχουν «τυφλοί» άνθρωποι, αλλά άνθρωποι «που δε
βλέπουν καλά».
Εικόνα 2.10: Η μέθοδος του τριγωνισμού. Γνωρίζοντας την απόσταση των δύο σημείων και
τις γωνίες, υπολογίζεται η απόσταση του αντικειμένου
Η αντίληψη του χώρου επηρεάζεται από την κόπωση του ανθρώπινου οργανισμού,
καθώς και την υγεία των ματιών του παρατηρητή.
2.8 Επίδραση της κόπωσης και της υγείας στην ικανότητα οπτικής αντίληψης
Η παρατήρηση είναι μια ενεργητική διαδικασία κατά τη διάρκεια της οποίας ο

εγκέφαλος επεξεργάζεται και ερμηνεύει συνεχώς μεταβαλλόμενες εικόνες. Η κόπωση
μειώνει την αποδοτικότητα και την ικανότητα όρασης του παρατηρητή. Η παρατεταμένη
χρήση των ματιών με λανθασμένο φωτισμό και από άβολη θέση πρέπει να αποφεύγεται.
Επίσης, σημαντικό είναι να αποφεύγεται η κόπωση των μυών των ματιών, ειδικά όταν
αυτή προκαλείται από σφάλματα διάθλασης.
Αδυναμία συγκέντρωσης στο αντικείμενο και ρυθμική ταλάντευση του ματιού και
των βλεφάρων μπορεί να προκληθούν λόγω κόπωσης των μυών των ματιών, οδηγώντας σε
αναποτελεσματικούς οπτικούς ελέγχους. Υπάρχουν πολλές ασθένειες που μπορεί να
επηρεάσουν αρνητικά την όραση, ενώ γενικά η κακή υγεία μειώνει την ικανότητα
επεξεργασίας του εγκεφάλου με αποτέλεσμα τις ανακριβείς ερμηνείες των δεδομένων.
Προκειμένου ο οπτικός έλεγχος να είναι αποτελεσματικός και ο επιθεωρητής να
διαθέτει το μέγιστο βαθμό ανιχνευσιμότητας, απαιτείται ένα σύνολο συνθηκών οι οποίες
συχνά είναι μη επιτεύξιμες, εκτός αν βρισκόμαστε σε συνθήκες εργαστηρίου ή αίθουσας
δοκιμών.
Οι κυριότεροι παράγοντες που μπορούν να ελεγχθούν είναι η εκπαίδευση, η
εμπειρία, ο φωτισμός, οι συνθήκες του περιβάλλοντος και ο εξοπλισμός. Καθίσταται
σαφές, λοιπόν, ότι η ακριβής παρατήρηση των φυσικών δεδομένων απαιτεί ιδανικές
συνθήκες περιβάλλοντος, κατάλληλη εκπαίδευση και εμπειρία ώστε να μειωθούν τα
προβλήματα που σχετίζονται με την ικανότητα αντίληψης.
|78|
2.9 Προβλήματα συγκέντρωσης
Ένας επιθεωρητής μπορεί να συγκεντρώνεται με ακρίβεια σε κάποια καθορισμένη

εργασία μόνο για μικρό χρονικό διάστημα, ειδικά σε έλεγχο ρουτίνας. Προκειμένου να
ξεπεραστούν οι δυσκολίες, απαιτούνται αλλαγές του οπτικού πεδίου, ακόμη κι αν αυτό
σημαίνει να κοιτάζει κανείς για λίγο σε κάποιο σημείο διαφορετικό από εκείνο της
εργασίας του. Προκειμένου να ελεγχθεί η ικανότητα όρασης διενεργείται εξέταση οπτικής
ικανότητας μικρών και μεγάλων αποστάσεων.
2.10 Εξέταση οπτικής ικανότητας μικρών αποστάσεων
Διεξάγεται με ή χωρίς γυαλιά όρασης, συνήθως σε απόσταση 300 - 400mm, με τη

χρήση κατάλληλων πινάκων ανάγνωσης. Εναλλακτικά, μπορεί να χρησιμοποιηθεί κάποιος
πίνακας Jaeger. Πρόκειται για τυποποιημένο πίνακα ανάγνωσης, με μεγέθη κειμένου που
ξεκινούν από 1Jaeger (J1 - πολύ μικρά γράμματα) και φτάνουν έως τα 20Jaeger (J20 -
μεγάλα γράμματα). Είναι μια εξέταση που γίνεται εύκολα, καθώς απαιτεί την ανάγνωση
μιας μικρής παραγράφου από καθορισμένη απόσταση.
Η όραση μπορεί επίσης να ελεγχθεί με συγκεκριμένα μηχανήματα. Τα μηχανήματα
αυτά δημιουργούν μοτίβο όλων των σχημάτων και μεγεθών και χρησιμοποιούνται για έναν
γρήγορο έλεγχο ή για την ταξινόμηση της οπτικής ικανότητας. Αν κάποιος αποτύχει στον
έλεγχο που διενεργείται με αυτά τα μηχανήματα, υποβάλλεται στην συνέχεια σε
ακριβέστερη εξέταση με τη χρήση κάποιου από τους τυποποιημένους πίνακες ανάγνωσης.
2.11 Εξέταση οπτικής ικανότητας μεγάλων αποστάσεων
Όπως και για την εξέταση της οπτικής ικανότητας σε μικρές αποστάσεις, έτσι και
στην αντίστοιχη μεγάλων αποστάσεων μπορούν να χρησιμοποιηθούν τυποποιημένοι
πίνακες ανάγνωσης ή μηχανήματα. Όταν η εξέταση γίνεται με τη χρήση πίνακα
ανάγνωσης, αυτός πρέπει να τοποθετείται σε απόσταση 6m και να περιλαμβάνει γράμματα
διαφόρων μεγεθών.
2.12 Ικανότητα αντίληψης χρωμάτων
Το ανθρώπινο μάτι αντιλαμβάνεται τρία χρώματα, το κόκκινο, το πράσινο, το μπλε

και την ένταση του φωτός στο ορατό φάσμα της ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας. Με
βάση αυτά, επεξεργάζεται την εικόνα που λαμβάνει και αντιλαμβάνεται και τα υπόλοιπα
χρώματα σύμφωνα με το προσθετικό μοντέλο σύνθεσης χρωμάτων που χρησιμοποιείται
και στις οθόνες.
Άλλοι οργανισμοί μπορούν να δουν και άλλες συχνότητες εκτός από το ορατό φως.
Για παράδειγμα, οι σκύλοι βλέπουν ένα μέρος από τις υπέρυθρες. Άλλοι οργανισμοί δεν
αντιλαμβάνονται συχνότητες που μπορεί να δει ο άνθρωπος, όπως ορισμένα ψάρια στα
βάθη των ωκεανών τα οποία δε μπορούν να δουν το κόκκινο χρώμα. Ορισμένοι οργανισμοί
βλέπουν τον κόσμο με περισσότερα ή λιγότερα χρώματα από τον άνθρωπο. Για
παράδειγμα, τα μάτια του χαμαιλέοντα διακρίνουν δεκαπέντε χρώματα.
Ανθρώπινες παθήσεις που σχετίζονται με την αντίληψη των χρωμάτων είναι η
δυσχρωματοψία, η μερική και η ολική αχρωματοψία. Στην περίπτωση της
δυσχρωματοψίας γίνεται σύγχυση μεταξύ των βασικών και παράγωγων χρωμάτων.
Ονομάζεται και δαλτονισμός, λόγω του διάσημου χημικού Dalton, ο οποίος έπασχε από τη
συγκεκριμένη ασθένεια.
|79|
Η μερική αχρωματοψία είναι η πάθηση κατά την οποία δεν γίνονται αντιληπτά
κάποια από τα τρία βασικά χρώματα, άρα και των παραγώγων τους. Όταν και τα τρία
βασικά χρώματα δεν γίνονται αντιληπτά, τότε η πάθηση χαρακτηρίζεται ως ολική
αχρωματοψία. Επομένως, κάποιος ο οποίος πάσχει από ολική αχρωματοψία βλέπει σε
κλίμακα του γκρι, όπως στις παλιές ασπρόμαυρες τηλεοράσεις.
Εικόνα 2.11: Ικανότητα αντίληψης χρωμάτων
Εκτός από την αντίληψη των χρωμάτων στα μάτια, τα κωνία και τα ραβδία, υπάρχει
και ένας άλλος ειδικός υποδοχέας για την αντίληψη της ημέρας ή της νύχτας. Είναι γνωστό
ότι αυτή η πληροφορία είναι θεμελιώδης για όλους τους οργανισμούς διότι επηρεάζει το
βιολογικό τους κύκλο, ενώ κάποιοι οργανισμοί διαθέτουν υποτυπώδη μάτια με τα οποία
μπορούν να αντιληφθούν μόνο αυτήν. Ο αριθμός των ματιών και η θέση τους δεν είναι ίδια
σε όλους τους οργανισμούς. Τα σπονδυλωτά έχουν ένα ζευγάρι μάτια κάτω από το μέτωπό
τους, μπροστά στο κεφάλι τους, στη μέση περίπου του προσώπου τους σε οριζόντια
διάταξη. Αυτό επιτρέπει την εποπτεία κατά μήκος του ορίζοντα, όπου συνήθως βρίσκονται
όλες οι μορφές που χρειάζεται να αντιληφθεί ένας σπονδυλωτός οργανισμός. Ακόμα και τα
μάτια των ψαριών βρίσκονται σε οριζόντια διάταξη. Τα οπτικά πεδία των ματιών μπορούν
να επικαλύπτονται αρκετά, λίγο ή καθόλου. Όσο περισσότερο επικαλύπτονται, όπως για
παράδειγμα στον άνθρωπο, τόσο περισσότερο επιτρέπουν την πιο εύκολη τρισδιάστατη
αντίληψη και τον υπολογισμό του βάθους. Όσο λιγότερο επικαλύπτονται, τόσο
περισσότερο επιτρέπουν την αντίληψη γύρω-γύρω από τον οργανισμό, όπως για
παράδειγμα στο άλογο. Συνήθως τα σπονδυλωτά, μπορούν να δουν με τα μάτια, τόσο
πάνω, όσο και κάτω, εκτός από το σαλάχι που λόγω του σωματοτύπου του, μπορεί να δει
μόνο προς τα πάνω.
Άλλοι οργανισμοί έχουν περισσότερα μάτια στο κεφάλι τους: Η μύγα έχει δύο
ομάδες από πάρα πολλά μάτια. Όμως, το κάθε μάτι βλέπει μόνο ένα κομμάτι της εικόνας.
Σε συνδυασμό με το σχήμα των ομάδων, η μύγα διαθέτει στερεοσκοπική όραση. Η
αντίληψη της είναι γρηγορότερη από αυτήν του ανθρώπου. Μερικές αράχνες έχουν
τέσσερα ζευγάρια μάτια στο κεφάλι τους, ένα για κάθε κατεύθυνση, ενώ και αυτές έχουν
στερεοσκοπική όραση.
Ορισμένοι οργανισμοί που δεν έχουν κεφαλή διαθέτουν υποτυπώδη μάτια, για την
ακρίβεια απλούς φωτοϋποδοχείς σε άλλα μέρη του σώματος. Χαρακτηριστικό παράδειγμα
αποτελεί ο αστερίας ο οποίος έχει ένα φωτοϋποδοχέα σε κάθε πλοκάμι.
Υπάρχουν και οργανισμοί με διαφορετικό επίπεδο εστίασης και οξύτητας όρασης.
Για παράδειγμα ο άνθρωπος δε μπορεί να διακρίνει αντικείμενα μικρότερα από ένα
χιλιοστό, ενώ ο αετός μπορεί να διακρίνει ένα ποντίκι από πολύ μεγάλο υψόμετρο.
Φυσικά, υπάρχουν και οργανισμοί που λόγω ασθενειών, γενετικών ή επίκτητων,
προσωρινών ή μόνιμων, δε διαθέτουν ικανοποιητική όραση ή είναι τυφλοί.
|80|
2.13 Οφθαλμαπάτες
Η όραση και η επεξεργασία της στον εγκέφαλο στηρίζεται στην αποτύπωση του
ειδώλου στον αμφιβληστροειδή χιτώνα και στην ευθύγραμμη πορεία του φωτός.
Αξιοσημείωτο είναι ότι δε βλέπουμε τις ίδιες τις ακτίνες φωτός και τη διαδρομή τους, αλλά
το είδωλο που σχηματίζουν στον αμφιβληστροειδή χιτώνα. Υπάρχουν, όμως, μερικά
φαινόμενα οπτικής στα οποία δεν ισχύει η ευθύγραμμη πορεία του φωτός ή το είδωλο στον
αμφιβληστροειδή είναι παραπλανητικό. Τότε η όραση εξαπατάται και «βλέπει»
αντικείμενα ή φαινόμενα που στην πραγματικότητα δεν υπάρχουν και τα οποία
ονομάζονται οφθαλμαπάτες. Υπάρχουν πολλών ειδών οφθαλμαπάτες κάποιες από τις
οποίες αφορούν όμοια σχήματα, αδυναμίες του προοπτικού σχεδίου, υιοθέτηση των
χρωμάτων του περιβάλλοντος, μοτίβα, γρήγορη εναλλαγή σχεδίων, αλλαγή μέσου
διάδοσης του φωτός και άλλα. Τέτοιες τεχνικές εφαρμόζονται στη φύση από τα θηράματα
για να παραπλανήσουν την όραση των θυτών τους. Συνήθως, χρωματίζουν το δέρμα τους
με χρώματα και σχέδια όμοια με το περιβάλλον τους, ώστε να συγχέονται με αυτό.
Χαρακτηριστικό παράδειγμα είναι ο χαμαιλέοντας. Δύο χαρακτηριστικές οφθαλμαπάτες
που συμβαίνουν στον άνθρωπο είναι η οφθαλμαπάτη με το αγγείο και η οφθαλμαπάτη της
ερήμου. Στην πρώτη απεικονίζεται ένα ακαθόριστο σχήμα που μπορεί να είναι αγγείο ή
δύο άνθρωποι. Η άλλη συμβαίνει στην έρημο. Λόγω υπερβολικής ακτινοβολίας ο αέρας
δεν έχει παντού την ίδια θερμοκρασία, με αποτέλεσμα οι ακτίνες φωτός να κάμπτονται.
Έτσι, μερικές γαλάζιες ακτίνες από τον ουρανό φτάνουν στα μάτια του παρατηρητή από
κάτω. Ο παρατηρητής νομίζοντας πως το φως έρχεται ευθύγραμμα βλέπει λίμνες και
οάσεις στη μέση της ερήμου.
Εικόνα 2.12: Οφθαλμαπάτη αγγείου ή ανθρώπου
Εικόνα 2.13: Οφθαλμαπάτη με εναλλαγή της διάθεσης των δύο προσώπων
|81|
Παρατηρώντας την Εικόνα 2.13 από τη θέση που βρίσκεται κάποιος, εύκολα
διαπιστώνει τον κ. Θυμωμένο στα αριστερά και την κα. Ήρεμη στα δεξιά. Αν μετακινηθεί
από τη θέση που βρίσκεται κάνοντας πέντε, σχετικά μεγάλα βήματα προς τα πίσω θα
διαπιστώσει ότι αλλάζουν μεριές! Αυτή η παραίσθηση δημιουργήθηκε από τους Phillippe
G. Schyns και Aude Oliva στο Πανεπιστήμιο της Γλασκώβης, αποδεικνύοντας ότι ίσως να
μη βλέπει κανείς πάντα αυτό που πραγματικά υπάρχει!
2.14 Παθολογικές καταστάσεις του ανθρώπινου οφθαλμού
2.14.1 Υπερμετρωπία - πρεσβυωπία
Υπερμετρωπία είναι η διαθλαστική πάθηση στην οποία το είδωλο των αντικειμένων

δε σχηματίζεται στον αμφιβληστροειδή αλλά πίσω από αυτόν. Συνήθως οφείλεται στο ότι ο
βολβός είναι μικρότερος από το φυσιολογικό με συνέπεια κάποιος που πάσχει από
υπερμετρωπία να βλέπει θολά κυρίως κοντά, αλλά και μακριά. Η προσπάθεια να
υπερνικήσει κάποιος αυτή την αδυναμία προκαλεί κόπωση στα μάτια, η οποία ονομάζεται
κοπιωπία ή ασθενωπία.
Οι υπερμέτρωπες εκδηλώνουν νωρίτερα πρεσβυωπία και μερικές φορές στα παιδιά
εκδηλώνεται ένα είδος στραβισμού που ονομάζεται προσαρμοστικός συγκλίνων. Αυτός
οφείλεται στην αυξημένη προσπάθεια για αντιρρόπηση η οποία προκαλεί σύγκλιση των
δυο ματιών. Τα άτομα με υπερμετρωπία έχουν προδιάθεση για οξύ γλαύκωμα, το οποίο
οφείλεται στο μικρό μήκος του προσθίου θαλάμου.
Η διάγνωση της υπερμετρωπίας γίνεται με έναν απλό οφθαλμολογικό έλεγχο κατά
τον οποίο μετράται η οπτική οξύτητα του ατόμου για την μακρινή και την κοντινή όραση.
Η υπερμετρωπία μπορεί να αντιμετωπιστεί με:
 γυαλιά με θετικούς σφαιρικούς φακούς
 φακούς επαφής, τορικούς, μαλακούς φακούς επαφής ή ημίσκληρους φακούς
 διαθλαστικές επεμβάσεις.
Εικόνα 2.14: Σύγκριση του σημείου εστίασης στην κανονική όραση και στην υπερμετρωπία
2.14.2 Μυωπία
Η μυωπία είναι διαθλαστική ανωμαλία του ματιού κατά την οποία οι ακτίνες του
φωτός δεν συγκεντρώνονται στον αμφιβληστροειδή, αλλά σε κάποιο σημείο μπροστά από
αυτόν. Έτσι, ο μύωπας αδυνατεί να δει καθαρά τα αντικείμενα που βρίσκονται μακριά και
κλείνει ελαφρώς τα μάτια του. Αυτό προκύπτει και από την ετυμολογία της λέξης
(μύω+οψ, που σημαίνει κλείνω τα μάτια). Η μυωπία διακρίνεται σε απλή και παθολογική.
Η απλή μυωπία εμφανίζεται από την παιδική ηλικία, συνήθως μεταξύ των 5 και 12 ετών
και είναι είτε κληρονομική είτε οφείλεται σε λανθασμένο τρόπο θέασης όπως, ανάγνωση
με κακό φωτισμό, από πολύ κοντινή απόσταση κ.λπ. Η παθολογική μυωπία εμφανίζεται
στην εφηβεία και επιδεινώνεται αργότερα.
|82|
Η μυωπία διορθώνεται με τη χρησιμοποίηση αποκλινόντων φακών (γυαλιά), φακών
επαφής ή εγχείρηση ακτίνων λέιζερ PRK για όσους έχουν ήπια ή μέτρια μυωπία και
LASIK για όσους έχουν μεγάλη μυωπία. Συνήθως η μυωπία μετριέται σε διοπτρίες και
διακρίνεται σε:
 ήπια μυωπία, μέχρι τρεις διοπτρίες
 μέτρια μυωπία, από τρεις ως έξι διοπτρίες
 μεγάλη μυωπία, από έξι διοπτρίες και πάνω.
Όσοι έχουν μεγάλη μυωπία είναι περισσότερο πιθανό να υποστούν αποκόλληση του
αμφιβληστροειδούς ή να εμφανίσουν και άλλα συμπτώματα όπως φευγαλέες σκιές
(μυγάκια).
Εικόνα 2.15: Σύγκριση του σημείου εστίασης στην κανονική όραση και στη μυωπία
2.14.3 Βλεφαρίτιδα
Είναι μια συχνή κατάσταση που προκαλεί φλεγμονή των βλεφάρων. Είναι δύσκολη
στην αντιμετώπιση γιατί παρουσιάζει τάση υποτροπιασμού.
2.14.4 Αμβλυωπία
Η αμβλυωπία είναι η συχνότερη αιτία μειωμένης όρασης από το ένα μάτι στην
παιδική ηλικία. Προκαλείται λόγω ασύμμετρου οπτικού σήματος στον αναπτυσσόμενο
παιδικό εγκέφαλο από ένα κατά τα άλλα φυσιολογικό μάτι. Το μάτι αυτό μερικές φορές
ονομάζεται «τεμπέλικο». Το 3% των παιδιών στις Ηνωμένες Πολιτείες εμφανίζουν
αμβλυωπία.
Το μυαλό και το μάτι λειτουργούν μαζί για την όραση. Στην αμβλυωπία η όραση
του ενός ματιού είναι μειωμένη διότι ο εγκέφαλος προτιμά την καθαρότερη εικόνα από το
άλλο μάτι. Αυτό έχει ως αποτέλεσμα το μάτι που νοσεί να «τεμπελιάζει».
2.14.5 Κερατόκωνος
Ο κερατόκωνος είναι μία μη φλεγμονώδης πάθηση του κερατοειδούς, η οποία

χαρακτηρίζεται από την παρουσία μίας προοδευτικής παραμόρφωσης της επιφάνειάς του.
Ο κερατοειδής παίρνει σταδιακά μία «κωνική» μορφή, παραμορφώνοντας το είδωλο που
σχηματίζεται στο βυθό του ματιού.
Εικόνα 2.16: Διαφορά του φυσιολογικού ματιού σε σχέση με αυτό που παρουσιάζει
κερατόκωνο
|83|
2.14.6 Διαβητική αμφιβληστροειδοπάθεια
Είναι μια επιπλοκή του διαβήτη και προκαλείται από βλάβη των μικρών αγγείων
του αμφιβληστροειδούς, που είναι το «φιλμ» του ματιού. Αποτελεί βασική αιτία τύφλωσης,
προσβάλλει και τα δυο μάτια ενώ αρχικά μπορεί να μην έχει συμπτώματα.
Εικόνα 2.17: Βλάβες που σχετίζονται με τη διαβητική αμφιβληστροειδοπάθεια
2.14.7 Πρεσβυωπία
Η πρεσβυωπία είναι η απώλεια της ικανότητας εστίασης σε κοντινά αντικείμενα.

Εμφανίζεται σε μεγαλύτερες ηλικίες, μεταξύ 40-45 ετών. Η όρασή για τα μακρινά
αντικείμενα παραμένει καθαρή ενώ το διάβασμα της εφημερίδας πρέπει να γίνεται από
αρκετά πιο μακρινή θέση από τη φυσιολογική.
Εικόνα 2.18: Σύγκριση του σημείου εστίασης στην κανονική όραση και στη μυωπία
2.14.8 Ξηροφθαλμία
Η ξηροφθαλμία οφείλεται στην μη ικανή ποσότητα δακρύων που παράγει το μάτι ή

στην παραγωγή δακρύων τα οποία δεν έχουν τη σωστή σύσταση και εξατμίζονται γρήγορα.
Μαζί με την ξηροφθαλμία συνυπάρχει συνήθως και ένας βαθμός φλεγμονής της
οφθαλμικής επιφάνειας. Αν για τη συγκεκριμένη κατάσταση δε πραγματοποιηθεί θεραπεία,
ενδέχεται να οδηγήσει σε πόνο, έλκη και ουλές του κερατοειδούς με κάποια απώλεια
όρασης. Μόνιμη απώλεια όρασης από ξηροφθαλμία θεωρείται σπάνια. Η ξηροφθαλμία
μπορεί να εμποδίσει κάποιες δραστηριότητες όπως, τη χρήση υπολογιστή, το
παρατεταμένο διάβασμα και να μειώσει την ανοχή σε ξηρή ατμόσφαιρα όπως για
παράδειγμα στην καμπίνα του αεροπλάνου.
|84|
2.14.9 Ηλικιακή ωχροπάθεια
Είναι μια νόσος που σχετίζεται με τη γήρανση που προοδευτικά καταστρέφει την
κεντρική οξεία όραση. Η κεντρική όραση είναι απαραίτητη για να δει κάποιος καθαρά τα
αντικείμενα, για το διάβασμα ή την οδήγηση. Προσβάλλει την ωχρά κηλίδα και των δύο
ματιών, ωστόσο είναι ανώδυνη. Διακρίνεται σε δύο μορφές, την ξηρή και την υγρή. Σε
μερικές περιπτώσεις εξελίσσεται τόσο αργά που γίνεται δύσκολα αντιληπτή από τον
ασθενή, ενώ σε άλλες γρηγορότερα οδηγώντας σε απώλεια όρασης. Αποτελεί τη συχνότερη
αιτία απώλειας όρασης σε άτομα μεγαλύτερα των 60 χρονών στο δυτικό κόσμο.
2.14.10 Αστιγματισμός
Στον αστιγματισμό, ο κερατοειδής χιτώνας ή ο φακός του ματιού παρουσιάζει μία

ανισομερή καμπυλότητα. Συνήθως ο αστιγματισμός συνυπάρχει με τη μυωπία ή την
υπερμετρωπία. Κύριο χαρακτηριστικό του είναι ότι δεν αυξάνεται αλλά ούτε και μειώνεται
με το χρόνο.
Ένα παιδί που έχει αστιγματισμό βλέπει ελαφρώς παραμορφωμένο το περίγραμμα
των σχημάτων με αποτέλεσμα να βλέπει θολά, να ζαλίζεται όταν διαβάζει και να
κουράζονται τα μάτια του.
Στον αστιγματισμό, η επιφάνεια του ματιού (κερατοειδής) δεν είναι σφαιρική αλλά
είναι πιο οβάλ με αποτέλεσμα να μην επιτρέπει στο μάτι να εστιάσει καθαρά. Ο
κερατοειδής είναι η πιο σημαντική διαθλαστική επιφάνεια του ματιού.
Εικόνα 2.19: Σύγκριση του σημείου εστίασης στην κανονική όραση και στον αστιγματισμό
2.14.11 Στραβισμός
Ονομάζεται η νευροµυϊκή διαταραχή των ματιών, κατά την οποία οι άξονες της
όρασης των δύο ματιών δεν κατευθύνονται ταυτόχρονα στο σημείο προσήλωσης.
Στραβισμός είναι μια κατάσταση στην οποία το ένα μάτι δεν είναι
ευθυγραμμισμένο, δηλαδή κοιτάζει ευθεία μπροστά, ενώ το άλλο στρέφεται προς τα μέσα,
έξω, πάνω ή κάτω. Οι στραβισμοί μπορεί να είναι μόνιμοι και συνεχώς εμφανείς ή
διαλείποντες, δηλαδή εμφανείς μόνο σε συγκεκριμένες στιγμές. Συνήθως εμφανίζεται στα
τρία πρώτα χρόνια της ζωής κάποιου, ωστόσο μερικές φορές μπορεί να εμφανιστούν
αργότερα.
Εικόνα 2.20: Είδη στραβισμού
|85|
2.14.12 Αμφιβληστροειδής και πληροφορίες για την αποκόλληση
αμφιβληστροειδούς
Οι αποκολλήσεις αναπτύσσονται σε αμφιβληστροειδείς οι οποίοι έχουν κάποια

τρύπα ή ρωγμή. Αυτό επιτρέπει σε κάποιο υγρό να περάσει από μέσα και να τον
ξεκολλήσει, όπως μια ταπετσαρία ξεκολλάει από την υγρασία.
Όταν ξεκολλήσει ο αμφιβληστροειδής δεν μπορεί να σχηματίσει καθαρή εικόνα
και η όραση γίνεται θολή και αμυδρή.
Εικόνα 2.21: Φυσιολογικός οφθαλμός και οφθαλμός με αποκόλληση
2.14.13 Καταρράκτης
Ο καταρράκτης είναι η θόλωση του φυσιολογικού καθαρού φακού και μπορεί να

αναπτυχθεί λόγω γήρανσης, μεταβολικών διαταραχών, τραυμάτων ή κληρονομικότητα. Η
όραση μειώνεται διότι ο καταρράκτης είναι σαν να βλέπουμε μέσα από θολό γυαλί.
Εμφανίζεται με την πάροδο του χρόνου σε μεγαλύτερες ηλικίες, ιδιαίτερα μετά τα 60 έτη.
Εικόνα 2.22: Φυσιολογικός οφθαλμός και οφθαλμός με καταρράκτη
2.14.14 Γλαύκωμα
Είναι ένα σύνολο καταστάσεων του οφθαλμού στις οποίες υπάρχει βλάβη του
οπτικού νεύρου, το οποίο είναι το «καλώδιο» που μεταφέρει τις εικόνες από τον
αμφιβληστροειδή (φιλμ του ματιού) στον εγκέφαλο. Κυριότερος, αλλά όχι μοναδικός,
παράγοντας κινδύνου για την ανάπτυξη γλαυκώματος είναι η αυξημένη ενδοφθάλμια
πίεση.
Εικόνα 2.23: Φυσιολογικός οφθαλμός και οφθαλμός με γλαύκωμa
|86|
2.14.15 Παθήσεις οπτικών νεύρων
Οποιαδήποτε πάθηση που προσβάλλει το οπτικό νεύρο μπορεί να προκαλέσει οξεία

απώλεια όρασης. Τα κορικά αντανακλαστικά είναι ανώμαλα σε ετερόπλευρη προσβολή
(relative afferent pupillary defect, RAPD). Η οφθαλμοσκοπική εικόνα του οπτικού νεύρου
αρχικά μπορεί να είναι εντός φυσιολογικών ορίων.
Εικόνα 2.24: Παθήσεις οπτικών νεύρων
2.14.16 Νυσταγμός
Ο νυσταγμός είναι μια ακούσια επαναλαμβανόμενη κίνηση των ματιών.

Εμφανίζεται συνήθως τους πρώτους μήνες της ζωής και παραμένει για πάντα. Οι κινήσεις
είναι κατά κανόνα οριζόντιες, αλλά μπορεί να είναι και κάθετες ή κυκλικές.
2.14.17 Προβλήματα μετά από διαθλαστικές επεμβάσεις με Laser (LASIK, PRK)
Γενικά και οι δύο τεχνικές (LASIK, PRK) είναι πολύ ασφαλείς, αλλά όπως σε κάθε
χειρουργική επέμβαση, πάντοτε υπάρχει κάποιος κίνδυνος που μπορεί να συγκριθεί
περίπου με τον κίνδυνο από τη χρήση φακών επαφής. Το laser αλλάζει στο μάτι μόνο την
καμπυλότητα του κερατοειδούς. Επομένως, δεν αυξάνει τον κίνδυνο για άλλες οφθαλμικές
παθήσεις που σχετίζονται με την προυπάρχουσα διαθλαστική ανωμαλία. Για παράδειγμα,
ένα μάτι που έχει μυωπία 8 βαθμών έχει μεγαλύτερο κίνδυνο να πάθει αποκόλληση
αμφιβληστροειδή, γλαύκωμα ή ωχροπάθεια στο μέλλον σε σχέση με ένα φυσιολογικό και
αυτός ο κίνδυνος ούτε αυξάνεται, ούτε μειώνεται μετά την επέμβαση. Τέλος, το laser δεν
επηρεάζει τη φυσιολογική διαδικασία της γήρανσης και έτσι ακόμα και μετά από μια
επιτυχημένη επέμβαση χρειάζονται γυαλιά πρεσβυωπίας (για κοντινή όραση) στην ηλικία
περίπου των 45 ετών.
Εικόνα 2.25: Οφθαλμός με πρόβλημα μετά από διαθλαστική επέμβαση
|87|
2.14.18 Διαθλαστικές ανωμαλίες
Οι διαθλαστικές ανωμαλίες περιλαμβάνουν τη μυωπία, την υπερμετρωπία, τον

αστιγματισμό και την πρεσβυωπία. Μπορεί να υπάρχουν μόνες τους ή σε συνδυασμό. Είναι
πολύ συχνές παθήσεις των ματιών. Προκαλούν όλες θολή όραση είτε για μακρινή
απόσταση είτε για κοντινή ή και για τα δύο.
Εικόνα 2.26: Πρακτικές βελτίωσης ανωμαλιών όρασης
2.15 Προσομοιώσεις όρασης σε διάφορες παθήσεις
2.15.1 Προσομοίωση όρασης στη μελαγχρωστική αμφιβληστροπάθεια
Στη μελαγχρωστική αμφιβληστροειδοπάθεια, οι ασθενείς χάνουν αρχικά την

περιφερική τους όραση. Ωστόσο, διατηρούν την κεντρική τους όραση που σε προχωρημένα
στάδια οδηγεί σε σωληνοειδή όραση (σα να βλέπει κάποιος μέσα από σωλήνα).
Εικόνα 2.27: Προσομοίωση όρασης στη μελαγχρωστική αμφιβληστροπάθεια
2.15.2 Προσομοίωση όρασης στη μυωπία
Στη μυωπία, οι ασθενείς βλέπουν θολά τα μακρινά αντικείμενα και καθαρά τα

κοντινά.
Εικόνα 2.28: Προσομοίωση όρασης στη μυωπία
|88|
2.15.3 Προσομοίωση όρασης στο γλαύκωμα
Στο γλαύκωμα χάνεται αρχικά η περιφερική όραση ενώ στα τελικά στάδια εκλείπει
και η κεντρική όραση με συνέπεια την τύφλωση.
Εικόνα 2.29: Προσομοίωση όρασης στο γλαύκωμα
2.15.4 Προσομοίωση όρασης στην διαβητική αμφιβληστροειδοπάθεια
Στη διαβητική αμφιβληστροειδοπάθεια μπορεί να χαθεί τόσο η κεντρική, όσο και η

περιφερική όραση λόγω οιδήματος- ισχαιμίας της ωχράς κηλίδας ή υαλοειδικής
αιμορραγίας και αποκόλλησης του αμφιβληστροειδούς.
Εικόνα 2.30: Προσομοίωση όρασης στη διαβητική αμφιβληστροειδοπάθεια
2.15.5 Προσομοίωση όρασης στην ηλικιακή εκφύλιση της ωχράς κηλίδας
Στην ηλικιακή εκφύλιση της ωχράς κηλίδας επηρεάζεται η κεντρική όραση, η οποία
είναι υπεύθυνη για την αντίληψη των λεπτομερειών και των ορίων, χωρίς να επηρεάζεται η
περιφερική, ακόμα και στα προχωρημένα στάδια.
Εικόνα 2.31: Προσομοίωση όρασης στην ηλικιακή εκφύλιση της ωχράς κηλίδας
|89|
3. ΒΑΣΙΚΕΣ ΕΝΝΟΙΕΣ ΟΠΤΙΚΗΣ
Το μάτι μπορεί να προσαρμόζεται σε μεταβαλλόμενες συνθήκες φωτισμού. Η

διαδικασία αυτή απαιτεί χρόνο και μπορεί να περάσουν έως και 30 λεπτά ώσπου να
επιτευχθεί πλήρης ευαισθησία, όταν ο φωτισμός μεταβάλλεται από υψηλά σε χαμηλά
επίπεδα και αντιστρόφως. Ο χρόνος προσαρμογής επηρεάζεται επίσης από τις διάφορες
παθήσεις, από την κόπωση του ατόμου, από τις χημικές αντιδράσεις εντός του οργανισμού
και τα φάρμακα ενώ, σε γενικές γραμμές αυξάνει με την ηλικία. Όλα αυτά, σε συνδυασμό
με περιβαλλοντικούς παράγοντες όπως η θερμοκρασία, ο θόρυβος, η σκόνη, καθώς επίσης
και η στάση του σώματος, μπορεί να δημιουργήσουν εντυπώσεις που απέχουν πολύ από
την πραγματική εικόνα του αντικειμένου που υποβάλλεται σε οπτικό έλεγχο. Η
ψυχολογική κατάσταση, οι εντάσεις και τα συναισθήματα ενός ατόμου που εκτελεί τον
οπτικό έλεγχο επηρεάζουν τις εκτιμήσεις του σχετικά με την ορατότητα των αντικειμένων,
αλλά και την απόδοση του κατά τον οπτικό έλεγχο κάτω από διάφορες συνθήκες. Κατά τον
οπτικό έλεγχο, θα πρέπει να υιοθετείται και να τηρείται πιστά μια συγκεκριμένη πολιτική
για την διαδικασία των ελέγχων σε συνδυασμό με τα σχετικά πρότυπα.
Όταν κάποιος βλέπει μια εικόνα ή μια σκηνή, το κάθε μάτι καταγράφει την
παρατήρηση από ελαφρώς διαφορετική οπτική γωνία, δημιουργώντας δύο αντίστοιχες
εικόνες του ίδιου αντικειμένου ή της ίδιας σκηνής. Αυτό επιτρέπει στον εγκέφαλο να
παράγει τρισδιάστατες εικόνες των αντικειμένων και να δημιουργεί την αίσθηση του
βάθους και της απόστασης. Κάτι που είναι σημαντικό και πρέπει να λαμβάνεται υπόψη,
είναι ο συντελεστής προσδοκίας ή η εκ των προτέρων προγραμματισμένη συνθήκη για ό,τι
αναμένεται να βρεθεί κατά την επιθεώρηση. Με άλλα λόγια, μπορεί να υπάρξει
επηρεασμός από μια αρνητική ή θετική προκατάληψη, δηλαδή αν ειπωθεί σε κάποιον να
ψάξει σε ένα αντικείμενο για ελαττώματα, εκείνος μπορεί να βρει ελαττώματα ακόμα κι αν
δεν υπάρχουν.
Πολλές εταιρείες διαθέτουν δείκτες ποιότητας εικόνας τύπου οπής διάφορων
μεγεθών και ζητούν από τον οπτικό ελεγκτή να προσδιορίσει τη μικρότερη οπή που
μπορούν να διακρίνουν. Για παράδειγμα, μια εταιρεία δημιούργησε μια κενή εικόνα
διεισδυτόμετρου χωρίς οπές και κάποιοι ελεγκτές διέκριναν οπές στην κενή εικόνα. Αυτοί
οι λανθασμένοι εντοπισμοί αποδεικνύουν την ανάγκη για βελτιωμένα, τυποποιημένα τεστ
για την αξιολόγηση του προσωπικού στον οπτικό έλεγχο.
Ο οπτικός έλεγχος πρέπει να διεξάγεται σε καθαρό, άνετο περιβάλλον με επαρκή
φωτισμό. Πρέπει να υπάρχει άνετη πρόσβαση στα εξαρτήματα που ελέγχονται. Ιδιαίτερη
προσοχή πρέπει να δίνεται στην ασφάλεια, στη θέση εργασίας, στη φυσική κατάσταση του
ελεγκτή και στις ατμοσφαιρικές συνθήκες. Το αντικείμενο που εξετάζεται θα πρέπει να
είναι καθαρό και να μην έχει εξωτερικά προστατευτικά επιχρίσματα. Κάθε μηχάνημα που
πρόκειται να χρησιμοποιηθεί πρέπει να έχει ελεγχθεί ως προς την ακρίβεια των
αποτελεσμάτων του ενώ ο υπεύθυνος του ελέγχου θα πρέπει να γνωρίζει και να κατανοεί
τη λειτουργία του. Οι διαδικασίες που ακολουθούνται πρέπει να είναι καταγεγραμμένες,
όλες οι σχετικές προδιαγραφές πρέπει να είναι προσβάσιμες και τα αποτελέσματα όλων
των παρατηρήσεων πρέπει να παρουσιάζονται με σαφή τρόπο. Στη συνέχεια θα
επικεντρωθούμε στον παράγοντα που επηρεάζει περισσότερο τον οπτικό έλεγχο, το φως.
|90|
3.1 Το φως
Το φυσικό φως είναι σύνθεση πολλών κυμάτων με διάφορα επίπεδα ταλάντωσης

των ηλεκτρικών και μαγνητικών τους πεδίων και τυχαίες διευθύνσεις διάδοσης. Το φως
ερεθίζει τον οπτικό βολβό, παράγει μέσω φωτοχημικών μηχανισμών, οι οποίοι λαμβάνουν
χώρα στον αμφιβληστροειδή χιτώνα, το νευρικό ερέθισμα, το οποίο επεξεργασμένο
κατάλληλα μεταφέρεται μέσω του οπτικού νεύρου στον εγκέφαλο δημιουργώντας την
οπτική αίσθηση. Η παρουσία του φωτός είναι απολύτως απαραίτητη σε κάθε ανθρώπινη
δραστηριότητα και ιδίως στον οπτικό έλεγχο. Ανεπαρκής ή λανθασμένος φωτισμός μπορεί
να προκαλέσει αρνητικές συνέπειες στον επιθεωρητή, όπως μείωση της οπτικής αντίληψης
ή ικανότητας. Τα κυριότερα μεγέθη και μονάδες μέτρησης του φωτισμού αναφέρονται
αναλυτικά στη συνέχεια. Στο σημείο αυτό προς διευκόλυνση των αναγνωστών δίνεται ο
ορισμός της στερεάς γωνίας Ω.
Ως στερεά γωνία Ω λοιπόν, ορίζεται το πηλίκο του τμήματος επιφάνειας μιας
σφαίρας, που αποκόπτεται από κώνο ο οποίος έχει κορυφή το κέντρο της σφαίρας, προς το
τετράγωνο της ακτίνας, δηλαδή:
Ω = Α/r2
Ως μονάδα στερεάς γωνίας ορίζεται το στερακτίνιο (sterad ή Sr).
Στη συνέχεια αναλύονται τα βασικά φωτομετρικά μεγέθη και δίνονται οι μονάδες τους.
3.1.1 Φωτεινή ροή
Η φωτοβόλος ροή Φe ή αλλιώς οπτική ισχύς είναι η ενέργεια (σε Joules) που
εκπέμπεται από μία πηγή ανά μονάδα χρόνου και εκφράζεται ως: Φe = dE/dt. Η φωτοβόλος
ροή έχει διαστάσεις ισχύος. Μονάδα μέτρησης είναι το 1Watt (= J/s).
Ως φωτεινή ροή ΦV ορίζεται η φωτομετρικά σταθμισμένη μέση τιμή της φωτοβόλου
ακτινοβολίας. Είναι δηλαδή η ενέργεια ανά μονάδα χρόνου που εκπέμπεται από μία πηγή
σε ορατά μήκη κύματος. Ειδικότερα, η φωτεινή ροή υπολογίζεται, αφού σταθμιστεί η
φωτοβόλος ακτινοβολία σε κάθε μήκος κύματος με τη συνάρτηση V(λ) που προσδιορίζει
την απόκριση του οφθαλμού σε διαφορετικά μήκη κύματος και επομένως αποτελεί ένα
σταθμισμένο άθροισμα της ισχύος σε όλο το ορατό φάσμα.
Μονάδα της φωτεινής ροής είναι το 1 Lumen. Το Lumen είναι η μονάδα της
φωτεινής ροής και ορίζεται ως η φωτεινή ροή που εκπέμπεται από ισότροπη πηγή
φωτοβολίας 1Cd, μέσα σε στερεά γωνία 1Sterad. Ισχύει δηλαδή: 1Lumen = 1Cd•1Sterad.
Αν η πηγή εκπέμπει μονοχρωματικό φως ισχύος Φe σε Watts, η φωτεινή ροή ΦV σε
Lumen υπολογίζεται από τη σχέση: ΦV = 683ΦeVλ, η οποία ισχύει για αυστηρά
μονοχρωματικό φως. Σημειώνεται ότι η τιμή της Vλ λαμβάνεται από σχετικούς πίνακες.
Όταν το φως δεν είναι μονοχρωματικό, δηλαδή η πηγή εκπέμπει περισσότερα από ένα
μήκη κύματος, η παραπάνω σχέση δεν ισχύει. Στην περίπτωση αυτή η σχέση μεταξύ της
φωτεινής ροής και της ροής ακτινοβολίας δίνεται από τη σχέση:
Όπου: Φe,λ: η φασματική κατανομή της ισχύος, δηλαδή η ακτινοβόλος ροή ανά μονάδα
μήκους κύματος και Κm ένας συντελεστής αναλογίας.
|91|
3.1.2 Φωτεινή ένταση ή φωτοβολία
Η φωτεινή ένταση ή φωτοβολία μιας σημειακής πηγής προς μια συγκεκριμένη

διεύθυνση είναι το πηλίκο της φωτεινής ροής dΦ ανά μονάδα στερεάς γωνίας dΩ, με άξονα
αυτή τη διεύθυνση. Ισχύει δηλαδή: I = dΦ/dΩ
Μονάδα μέτρησης της φωτοβολίας είναι η μία Candela (= Lm/Sr).
Θεωρείται θεμελιακή μονάδα στη φωτομετρία και ορίζεται ως το 1/60 της
φωτοβολίας που εκπέμπεται κάθετα από επιφάνεια λευκόχρυσου εμβαδού 1cm2 στη
θερμοκρασία τήξης του (1.769°C). Ένας νεότερος ορισμός της Candela (1979) την
προσδιορίζει ως τη φωτοβολία ισότροπης πηγής, η οποία εκπέμπει μονοχρωματική
ακτινοβολία μήκους κύματος 555nm με φωτοβόλο ροή ίση με 1/683watt/στερεακτίνιο.
3.1.3 Φωτισμός
Ο φωτισμός είναι η πυκνότητα της φωτεινής ροής που δέχεται ένα σημείο μιας
επιφάνειας, κάθετα τοποθετημένης στη διεύθυνση διάδοσης του φωτός και ορίζεται ως το
πηλίκο της φωτεινής ροής ανά μονάδα επιφάνειας δηλαδή:
B = dΦ/dΑ
Όπου:
dΦ: η προσπίπτουσα φωτεινή ροή.
dΑ: στοιχειώδες τμήμα της επιφάνειας που περιέχει το σημείο.
Μονάδα φωτισμού είναι το 1Lux. Το 1Lux ορίζεται ως ο ομοιόμορφος φωτισμός
επιφάνειας 1m2 από φωτεινή ροή 1Lumen. Ισχύει ότι 1Lux = 1Lumen/m2.
3.1.4 Φωτεινότητα
Για να γίνει κατανοητή η έννοια της φωτεινότητας, αρκεί να θεωρήσει κάποιος μια
ακτίνα φωτός ως έναν απειροελάχιστο κώνο με την κορυφή του σε ένα σημείο μιας
επιφάνειας. Έστω ότι ο κώνος σχηματίζει στοιχειώδη στερεά γωνία dΩ. Αν το σημείο
τομής της ακτίνας με την επιφάνεια βρίσκεται σε ένα στοιχειώδες τμήμα dΑ της
επιφάνειας, τότε η εγκάρσια τομή της ακτίνας είναι dΑcosθ, όπου θ είναι η γωνία μεταξύ
της ακτίνας και της καθέτου στην επιφάνεια.
Σύμφωνα με τα παραπάνω, ως φωτεινότητα (Lv) ορίζεται η φωτεινή ροή που
αναδύεται ανά μονάδα στερεάς γωνίας από μια στοιχειώδη επιφάνεια dΑ προς
συγκεκριμένη διεύθυνση και ανά μονάδα φαινόμενης επιφάνειας κάθετης προς αυτή τη
διεύθυνση:
LV = d2Φ/dΩ dΑ cosθ
Όπου:
dΦ: η φωτεινή ροή που εκπέμπεται (ή ανακλάται) από στοιχειώδες τμήμα επιφάνειας dΑ
μέσα από στερεά γωνία dΩ.
Η φωτεινότητα μετράται σε Lm Sr-1 m-2 ή Cd/m2.
Στον Πίνακα 3.1 που ακολουθεί δίνονται αναλυτικά τα φωτομετρικά μεγέθη και οι
μονάδες τους.
Σημειώνεται ότι ενώ η Candela είναι η θεμελιώδης μονάδα στο σύστημα SI, η
φωτεινή ροή (Lumen) είναι η πλέον βασική φωτομετρική ποσότητα, καθώς τα υπόλοιπα
φωτομετρικά μεγέθη ορίζονται σε σχέση με το Lumen (με τον αντίστοιχο συντελεστή).
|92|
Πίνακας 3.1: Φωτομετρικά μεγέθη και οι μονάδες τους
Μονάδα
Σύμβολο Ελληνικός όρος Αγγλικός όρος Ορισμός
SI
Φv Φωτεινή ροή Luminous flux 1Lm
Φωτεινή ένταση ή Luminous 1Cd =
I I = dΦ/dΩ
Φωτοβολία Intensity 1Lm/Sr
1Lx =
Β Φωτισμός Illuminance B = dΦ/dA
1Lm/m2
1Cd•m-2 =
L Φωτεινότητα Luminance LV = d2Φ/dΩdAcosθ 1Lm Sr-1
m2
Φωτεινή σχετική Luminous
M B = dΦ/dA 1Lm/m2
ικανότητα exitance
Luminous
Q Φωτεινή ενέργεια 1Lm•sec
energy
Total luminous
Φολ Ολική φωτεινή ροή 1Lm
Flux
3.1.5 Φωτομετρικός νόμος των αποστάσεων
Αν θεωρήσει κάποιος μία σημειακή φωτεινή πηγή από την οποία αναδύεται φωτεινή
ροή ΦV, τότε το ποσό της φωτεινής ροής που εκπέμπεται ανά μονάδα στερεάς γωνίας προς
δεδομένη διεύθυνση ορίζει τη φωτοβολία (φωτεινή ένταση) της πηγής δηλαδή:
I = dΦ/dΩ (Lm/Sr)
Για παράδειγμα, η φωτοβολία από μία σφαίρα που εκπέμπει συνολική φωτεινή ροή
προς όλες τις διευθύνσεις θα είναι: I = Φ/4π (Lm/Sr) λόγω του ότι η συνολική στερεά
γωνία είναι Ω = 4πSr (αποδεικνύεται από τη σχέση Ω = Α/r2 αν θεωρήσουμε ότι Α = 4πr2
που είναι η επιφάνεια της σφαίρας).
Αν υπολογίσουμε επομένως το φωτισμό Β σημειακής πηγής σε σφαιρική επιφάνεια
γύρω από την πηγή, θα έχουμε: Β = Φ/Α = 4πΙ/4πr2 => Β = I/r2
Η παραπάνω σχέση περιγράφει το φωτομετρικό νόμο των αποστάσεων, δηλαδή ο
φωτισμός Β που δέχεται μία επιφάνεια κάθετα τοποθετημένη προς τη διεύθυνση της
φωτεινής ροής μιας σημειακής πηγής σταθερής φωτοβολίας Ι, είναι αντιστρόφως ανάλογη
με το τετράγωνο της απόστασης.
Εικόνα 3.1: Σχηματική παράσταση του φωτομετρικού νόμου των αποστάσεων. Η φωτεινή
ροή που αναδύεται από σημειακή πηγή μέσα σε στερεά γωνία, κατανέμεται σε όλο και
μεγαλύτερες επιφάνειες, με αποτέλεσμα ο φωτισμός να μειώνεται αντιστρόφως ανάλογα με το
τετράγωνο της απόστασης.
|93|
3.2 Ιδιότητες του φωτός
Το φως μπορεί να ανακλάται, να διαθλάται, να περιθλάται και να πολώνεται. Αυτές

είναι ιδιότητες των κυμάτων. Το φως μπορεί να περιγραφεί ως μια κυματική κίνηση, η
οποία διαδίδεται ευθύγραμμα στο κενό με ταχύτητα 3•108m/s. Κάθε κύμα διαθέτει ένα
μήκος κύματος, μια συχνότητα και μια ταχύτητα διάδοσης. Το μήκος κύματος συνήθως
μετράται σε νανόμετρα (1nm ισούται με 10-9m) και η συχνότητα σε Hertz (Hz) ή κύκλους
ανά δευτερόλεπτο.
Εικόνα 3.2: Γραφική απεικόνιση ενός κύματος (αριστερά) και ηλεκτρομαγνητικό φάσμα
(δεξιά)
3.3 Ανάκλαση του φωτός
Όταν μια φωτεινή δέσμη που διαδίδεται σε ένα μέσο συναντήσει μια επιφάνεια, η
οποία διαχωρίζει το αρχικό μέσο διάδοσης από ένα άλλο οπτικό μέσο, τότε ένα μέρος της
ανακλάται προς το αρχικό μέσο διάδοσης, ενώ ένα άλλο μέρος της συνεχίζει να διαδίδεται
στο δεύτερο μέσο. Η Εικόνα 3.3 απεικονίζει την ανάκλαση σε μια λεία επιφάνεια. Για την
ανάκλαση ισχύουν δύο νόμοι:
 η ανακλώμενη ακτίνα, η προσπίπτουσα ακτίνα και η κάθετη στην επιφάνεια
ανάκλασης βρίσκονται όλες στο ίδιο επίπεδο
 η γωνία πρόσπτωσης (i) και η γωνία ανάκλασης (r) είναι ίσες.
Εικόνα 3.3: Ανάκλαση σε επίπεδη επιφάνεια θi = θr
Στο σημείο αυτό είναι χρήσιμο να αναφερθεί ο συντελεστής ανάκλασης R. Ο

συντελεστής ανάκλασης R (ή συντελεστής μετάδοσης T) ορίζεται ως το πηλίκο της
ενέργειας που ανακλάται (ή διαδίδεται στην) από την μονάδα επιφάνειας στην μονάδα του
χρόνου προς την ενέργεια που προσπίπτει στη μονάδα επιφάνειας στη μονάδα του χρόνου.
Όταν το φως διαδίδεται από ένα οπτικά πυκνότερο σε ένα αραιότερο μέσο και
προσπίπτει στη διαχωριστική επιφάνεια με γωνία μεγαλύτερη από την κρίσιμη, συμβαίνει
|94|
ολική ανάκλαση. Τότε το φως δε διαθλάται αλλά επιστρέφει στο ίδιο μέσο ακολουθώντας
τους νόμους της ανάκλασης στην αλλαγή της πορείας του.
Κρίσιμη γωνία (ή οριακή γωνία) θcrit. ονομάζεται η γωνία πρόσπτωσης που
αντιστοιχεί σε γωνία διάθλασης 90°, όταν το φως διαδίδεται από οπτικά πυκνότερο σε
αραιότερο μέσο.
Για το φως που κατευθύνεται από το γυαλί στον αέρα, η κρίσιμη γωνία είναι 41,1°.
Η κρίσιμη γωνία είναι γενικά μικρή, όταν ένα μέσο έχει μεγάλο δείκτη διάθλασης και το
άλλο είναι ο αέρας. Στο διαμάντι η κρίσιμη γωνία είναι 24°. Η μικρή κρίσιμη γωνία είναι ο
λόγος που ένα κατεργασμένο διαμάντι (με πολλές έδρες) λαμποκοπά στο φως. Το
μεγαλύτερο μέρος του φωτός που εισέρχεται στο διαμάντι, υφίσταται ολική ανάκλαση στις
διάφορες έδρες του. Για να εξέλθει πρέπει να προσπέσει σχεδόν κάθετα σε αυτές.
Εικόνα 3.4: Πρίσματα ολικής ανάκλασης: (α) η φωτεινή ακτίνα με ολική ανάκλαση
εκτρέπεται κατά 90° (β) εκτρέπεται κατά 180° (αντιστρέφεται η πορεία της)
3.4 Διάθλαση του φωτός
Η διάθλαση είναι το φυσικό φαινόμενο της εκτροπής της ευθύγραμμης τροχιάς

διάδοσης που υφίστανται τα φωτεινά ή άλλα κύματα, όταν διέρχονται από ένα μέσο σε ένα
άλλο. Στην οπτική, διάθλαση φωτός χαρακτηρίζεται κάθε οπτικό φαινόμενο της εκτροπής
της διεύθυνσης των φωτεινών ακτίνων κατά τη μετάβασή τους από ένα διαπερατό μέσο
διάδοσης με δείκτη διάθλασης n1 σε άλλο μέσο διάδοσης με δείκτη διάθλασης n2 ≠ n1.
Εικόνα 3.5: Διάθλαση φωτός (θ1 = 60°)
|95|
Όταν το φως εισέρχεται από ένα αραιότερο μέσο σε ένα πυκνότερο, τότε οι
διαθλώμενες ακτίνες πλησιάζουν την κάθετο στη διαχωριστική επιφάνεια ενώ όταν
εισέρχονται από το πυκνότερο στο αραιότερο μέσο, απομακρύνονται από την κάθετο.
Σημειώνεται ότι ένα αραιό οπτικό μέσο 1 έχει μικρότερο δείκτη διάθλασης από ένα
πυκνότερο μέσο 2, ισχύει δηλαδή n1<n2. Το φως διαδίδεται γρηγορότερα σε ένα αραιότερο
οπτικό μέσο 1, σε σχέση με ένα πυκνότερο μέσο 2, ισχύει δηλαδή u2<u1. Επιπρόσθετα,
όταν το φως διέρχεται από ένα οπτικά αραιότερο μέσο 1 σε ένα οπτικά πυκνότερο μέσο 2,
το μήκος κύματος μειώνεται, ισχύει δηλαδή λ2<λ1.
Σημειώνεται ότι όταν το φως διαπερνά τη διαχωριστική επιφάνεια δύο μέσων (π.χ.
από τον αέρα στο γυαλί), η συχνότητα f παραμένει αμετάβλητη. Αυτό γίνεται σαφές, αν
σκεφτεί κανείς το εξής: το φως είναι κύμα, άρα ο αριθμός των μηκών κύματος που
προσπίπτουν στη διαχωριστική επιφάνεια ανά μονάδα χρόνου, είναι ίσος με τον αριθμό
των μηκών κύματος που διέρχονται από αυτήν ανά μονάδα χρόνου. Αν δεν συνέβαινε
αυτό, η διαχωριστική επιφάνεια έπρεπε να δημιουργεί νέα κύματα ή να εξαφανίζει τα ήδη
υπάρχοντα. Ωστόσο, δεν έχει παρατηρηθεί τέτοιος μηχανισμός. Αυτό σημαίνει ότι η
συχνότητα παραμένει σταθερή, καθώς το φως διέρχεται από τη διαχωριστική επιφάνεια.
Στο φαινόμενο της διάθλασης οφείλεται και το γεγονός ότι ορισμένα αντικείμενα
ορατά στο μάτι, φαίνονται να βρίσκονται σε διαφορετική θέση από αυτή που πραγματικά
είναι. Στην Εικόνα 3.6, παρατηρεί κάποιος ότι ακτίνες φωτός που εκπέμπονται από μία
φωτεινή πηγή που βρίσκεται στον πυθμένα μιας πισίνας, όταν εξέρχονται από το νερό στον
αέρα, εκτρέπονται από την πορεία τους με αποτέλεσμα ο παρατηρητής να βλέπει τη
φωτεινή πηγή πιο ψηλά από ότι πραγματικά βρίσκεται.
Εικόνα 3.6: Ο παρατηρητής βλέπει τη φωτεινή πηγή πιο ψηλά από την πραγματική της θέση
|96|
Πίνακας 3.2: Δείκτες διάθλασης διαφόρων υλικών υπολογισμένοι με φως μήκους κύματος
λ0 = 589nm (κίτρινο χρώμα του νατρίου στο κενό)
ΥΛΙΚΟ ΔΕΙΚΤΗΣ ΔΙΑΘΛΑΣΗΣ
Αέρια (0°C, 1Atm) -
Αέρας 1,000293
Διοξείδιο του άνθρακα CO2 1,00045
Στερεά
Πάγος (H2O) 1,309
Ορυκτό άλας (NaCl) 1,544
Χαλαζίας (SiO2) 1,544
Φθορίτης (CaF2) 1,434
Ορυκτό ζιρκόνιο (ZrO2, SiO2) 1,923
Αδάμας (C) 2,417
Ύαλοι (τυπικές τιμές) 1,5 – 1,9
Υγρά σε θερμοκρασία 20°C -
Μεθανόλη CH3OH 1,329
Νερό H2O 1,333
Αιθανόλη C2H5OH 1,360
Τετραχλωράνθρακας CCl4 1,460
Γλυκερίνη 1,473
Βενζόλιο 1,501
Η σχέση που συνδέει τη γωνία πρόσπτωσης με τη γωνία διάθλασης, ως προς την

κάθετο, στη διαχωριστική επιφάνεια είναι γνωστή ως «Νόμος του Snell» και δίνεται στην
συνέχεια.
sinθ1 v1 n2
------------------------- = ---------------------- = ----------------------
sinθ2 v2 n1
Εικόνα 3.7: Διάθλαση του φωτός: θ1>θ2 διότι n1<n2
Για μικρές γωνίες θ είναι δυνατό να γίνει η προσέγγιση sinθ ≈ θ. Από αυτή την
προσέγγιση προκύπτουν και τα γεωμετρικά σφάλματα των φακών. Προκύπτει λοιπόν ότι
στο κενό η πορεία των φωτεινών ακτίνων παραμένει αμετάβλητη, όταν δεν εκτρέπεται από
|97|
βαρυτικά πεδία. Το ίδιο συμβαίνει όταν διαδίδονται μέσα σε ισόπυκνο διαπερατό μέσο π.χ.
νερό, γυαλί κ.λπ.
Στην περίπτωση που οι φωτεινές ακτίνες διερχόμενες από ένα μέσο πέσουν κάθετα
στην επιφάνεια του άλλου, τότε η γωνία πρόσπτωσης είναι μηδενική. Αυτό έχει ως
αποτέλεσμα η γωνία διάθλασης να είναι και αυτή μηδενική. Για παράδειγμα, ακτίνες
φωτός οι οποίες προσπίπτουν κάθετα στην διεπιφάνεια αέρα-νερού δεν αλλάζουν
διεύθυνση διάδοσης. Στη συνέχεια δίνονται κάποιοι βασικοί ορισμοί.
Ως γωνία πρόσπτωσης χαρακτηρίζεται η γωνία που σχηματίζεται από την διεύθυνση
διάδοσης της προσπίπτουσας ακτίνας με την κάθετη στο σημείο πρόσπτωσής της.
Ως γωνία διάθλασης χαρακτηρίζεται η γωνία που σχηματίζεται από τη διαθλώμενη ακτίνα
με την ίδια κάθετο του σημείου εισόδου στο διαπερατό μέσο. Όταν ακτίνες φωτός
κινούνται από ένα αραιότερο μέσο σε ένα πυκνότερο, η γωνία διάθλασης είναι πάντα
μικρότερη της γωνίας πρόσπτωσης. Το αντίθετο ακριβώς συμβαίνει όταν η ακτίνα φωτός
περνά από ένα πυκνότερο σε ένα αραιότερο μέσο.
Ως επίπεδο διάθλασης χαρακτηρίζεται το επίπεδο που ορίζεται από την
προσπίπτουσα και την ανακλώμενη ακτίνα.
Ως κανονική διάθλαση ορίζεται η εκτροπή μιας ακτίνας όταν περνά από ένα μέσο
σε ένα άλλο, με τα μέσα να χωρίζονται μεταξύ τους με μια λεία επιφάνεια.
Ως δείκτης διάθλασης (index of refraction) χαρακτηρίζεται το μέτρο της εκτροπής
που υφίσταται μια ακτίνα που διέρχεται από ένα διαπερατό μέσο σε ένα άλλο. Ορίζεται ως
ο λόγος της ταχύτητας διάδοσης του φωτός στο κενό c προς την ταχύτητα διάδοσης στο
υπό εξέταση διαπερατό μέσο v.
Ισχύει δηλαδή:
c
n = -----------
v
Από τον παραπάνω ορισμό προκύπτει ότι ο δείκτης διάθλασης του κενού ισούται με
τη μονάδα. Επομένως, στην περίπτωση που έχουμε διάδοση ακτινοβολίας από το κενό σε
ένα οπτικό μέσο με δείκτη διάθλασης n, ο τελευταίος μπορεί να οριστεί συναρτήσει των
γωνιών πρόσπτωσης και διάθλασης, θ1 και θ2 αντίστοιχα:
sinθ1
n = ------------------
sinθ2
Κάθε διαπερατό μέσο έχει δείκτη διάθλασης που εξαρτάται από τα φυσικά
χαρακτηριστικά του. Στην ιδιότητα αυτή στηρίζονται πολλοί έλεγχοι τροφίμων. Για
παράδειγμα, το αγνό βούτυρο έχει διαφορετικό δείκτη από τον αντίστοιχο του νοθευμένου.
Ο δείκτης διάθλασης δεν είναι σταθερός αλλά εξαρτάται από το μήκος κύματός του φωτός.
Το φαινόμενο αυτό, η εξάρτηση δηλαδή της ταχύτητας του φωτός και του δείκτη
διάθλασης από το μήκος κύματος, ονομάζεται διασκεδασμός. Στην Εικόνα 3.8
απεικονίζεται η εξάρτηση του δείκτη διάθλασης ενός οπτικού υλικού (χαλαζία) από το
μήκος κύματος στο κενό λ0. Η τιμή του δείκτη διάθλασης, όπως φαίνεται μειώνεται καθώς
αυξάνεται η τιμή του μήκους κύματος. Φως μεγαλύτερου μήκους κύματος έχει μεγαλύτερη
ταχύτητα σε ένα μέσο από φως μικρότερου μήκους κύματος.
|98|
Εικόνα 3.8: Εξάρτηση του δείκτη διάθλασης από το μήκος κύματος
Ως διπλή διάθλαση ορίζεται το φαινόμενο εκείνο κατά το οποίο μια φωτεινή ακτίνα
που προσπίπτει σε ένα διαθλαστικό σώμα διαχωρίζεται σε δύο διαθλώμενες ακτίνες. Η μία
από τις δύο αυτές ακτίνες ονομάζεται τακτική και η άλλη έκτακτη.
Τέτοια διαθλαστικά διαπερατά σώματα (ονομαζόμενα και διπλοθλαστικά) είναι όλοι
οι κρύσταλλοι εκτός εκείνων που κρυσταλλώνονται κατά το κυβικό κρυσταλλικό σύστημα.
Το φαινόμενο αυτό παρατηρήθηκε πρώτη φορά στον «ιρλανδικό κρύσταλλο» (πρόκειται
για καθαρό ανθρακικό ασβέστιο σε κρυσταλλική μορφή).
3.5 Νόμοι της διάθλασης
Από όλα όσα προαναφέρθηκαν προκύπτουν οι παρακάτω νόμοι:

 το επίπεδο διάθλασης είναι κάθετο στη διαθλαστική επιφάνεια
 το πηλίκο του ημιτόνου της γωνίας πρόσπτωσης προς το ημίτονο της γωνίας
διάθλασης είναι σταθερό για δύο ορισμένα οπτικά μέσα, δηλαδή:
sin a
----------------- = c (σταθερό)
sin β
 το πηλίκο των ταχυτήτων διάδοσης του φωτός ανάμεσα στα δύο μέσα που
συμβαίνει η διάθλαση ορίζεται ως δείκτης διάθλασης ορισμένου μέσου για
συγκεκριμένη ακτινοβολία και θερμοκρασία.
Ο Κλαύδιος Πτολεμαίος φαίνεται να είναι ο πρώτος που μελέτησε και διατύπωσε

τους νόμους του φαινομένου της διάθλασης γύρω στον 2ο αιώνα μ.Χ. στην Αλεξάνδρεια.
Από τα πειράματά του εξήγαγε τους ακόλουθους νόμους διάθλασης:
 Το επίπεδο που σχηματίζεται από την ακτίνα πρόσπτωσης και διάθλασης είναι
κάθετο προς την επιφάνεια του διαπερατού μέσου στο οποίο παρατηρείται η
διάθλαση.
 Η σχέση που υπάρχει μεταξύ γωνίας πρόσπτωσης και γωνίας διάθλασης είναι
αριθμός σταθερός (σήμερα καλείται δείκτης διάθλασης).
|99|
Ο νόμος του Snell περιγράφτηκε για πρώτη φορά γύρω στο 984 μ.Χ. από τον Ιμπν
Σαλ (Ibn Sahl) σε ένα χειρόγραφο κείμενο. Ο Σαλ χρησιμοποιούσε το συγκεκριμένο νόμο
για να προσδιορίσει το σχήμα των φακών που συγκεντρώνουν το φως χωρίς γεωμετρική
παραμόρφωση (ανακλαστικοί φακοί). Το 1602, ο Τόμας Χάριοτ (Thomas Harriot),
ξαναπεριγράφει το νόμο του Snell, χωρίς ωστόσο να εκδώσει το έργο του. Το 1637, ο Ρενέ
Ντεκάρτ (René Descartes) στο έργο του «Λόγος περί της Μεθόδου» εξήγαγε τον ίδιο νόμο.
Ωστόσο, αρκετοί ήταν οι επικριτές του, όπως ο Πιέρ Φερμά (Pierre de Fermat), ο οποίος
τον κατηγόρησε ότι εργάστηκε αντίστροφα προς μια απάντηση που ήδη γνώριζε, με
σοφιστική συλλογιστική. Ο Φερμά κατέληξε στην ίδια λύση βασιζόμενος αποκλειστικά
στην αρχή του ελάχιστου χρόνου.
3.6 Πόλωση του φωτός
Το φως είναι ηλεκτρομαγνητικό κύμα. Προκειμένου να γίνει κατανοητό το

φαινόμενο της πόλωσης, αρκεί η μελέτη μόνο του ηλεκτρικού κύματος. Αν λοιπόν το
επίπεδο ταλάντωσης του ηλεκτρικού πεδίου ενός ηλεκτρομαγνητικού κύματος είναι
σταθερό με το χρόνο, τότε το κύμα ονομάζεται γραμμικά πολωμένο. Επομένως, το φως
είναι γραμμικά πολωμένο, όταν το επίπεδο ταλάντωσης του ηλεκτρικού του πεδίου έχει
έναν καθορισμένο προσανατολισμό στο χώρο και μία καθορισμένη διεύθυνση διάδοσης.
Το φυσικό φως που δέχεται κάποιος απευθείας από μια φωτεινή πηγή, επειδή προέρχεται
από πολλά άτομα ή μόρια, έχει αντιστοίχως πολλά επίπεδα ταλάντωσης και συνεπώς δεν
είναι πολωμένο.
Εικόνα 3.9: (α) Το φυσικό φως και (β), (γ) Το γραμμικά πολωμένο φως
3.7 Το λευκό φως
Όπως φαίνεται στην Εικόνα 3.10, λόγω του ότι ο δείκτης διάθλασης του πρίσματος
είναι μεγαλύτερος του οπτικού μέσου που τον περιβάλλει, η ακτίνα του φωτός διαθλάται
προσεγγίζοντας την κάθετη ενώ όταν η ακτίνα εξέρχεται από το πρίσμα απομακρύνεται
από την κάθετη. Είναι φανερό ότι η εξερχόμενη ακτίνα εκτρέπεται κατά γωνία φ από την
αρχική της πορεία. Η γωνία φ ονομάζεται γωνία εκτροπής.
|100|
Εικόνα 3.10: Ακτίνα φωτός που διαθλάται από πρίσμα εκτρέπεται κατά γωνία φ
Έστω μια δέσμη λευκού φωτός που προσπίπτει πάνω σε ένα πρίσμα. Οι ακτίνες που
εξέρχονται από το πρίσμα εκτρέπονται και διασκορπίζονται στο χώρο εξόδου, ενώ
ταυτόχρονα το λευκό φως αναλύεται σε μια πολύχρωμη συνεχή ταινία που περιλαμβάνει
γνωστά χρώματα. Η ταινία αυτή ονομάζεται φάσμα του λευκού φωτός. Τα χρώματα του
φάσματος με σειρά μείωσης του μήκους κύματος είναι: ερυθρό, πορτοκαλί, κίτρινο,
πράσινο, κυανό και ιώδες. Τα χρώματα αυτά δεν αναλύονται σε άλλα απλούστερα και αν
τα συνθέσουμε ξανά, αναπαράγεται το λευκό φως.
Εικόνα 3.11: Απεικόνιση του διασκεδασμού που προκαλείται σε δέσμη λευκού φωτός και
ανάλυση του φάσματος
Παρατηρώντας την Εικόνα 3.11 φαίνεται ότι οι ιώδεις ακτίνες εκτρέπονται

περισσότερο, ενώ οι ερυθρές λιγότερο σε σχέση με τις υπόλοιπες που βρίσκονται ανάμεσα
τους. Αυτό οδηγεί στο συμπέρασμα ότι η γωνία εκτροπής εξαρτάται από το μήκος κύματος
κάθε χρώματος.
Συμπερασματικά, προκύπτει ότι το φως εμφανίζει τα εξής χαρακτηριστικά σε σχέση
με τη διάδοση του σε οπτικά μέσα:
 κάθε μονοχρωματική ακτίνα φωτός, όταν διαδίδεται σε ένα συγκεκριμένο οπτικό
μέσο, χαρακτηρίζεται από ένα μοναδικό μήκος κύματος, που είναι η ταυτότητα του
χρώματος για το μέσο αυτό
 ο δείκτης διάθλασης του οπτικού μέσου έχει διαφορετική τιμή για κάθε χρώμα
 η γωνία εκτροπής κάθε χρώματος, όταν αυτό διέρχεται από ένα οπτικό μέσο,
εξαρτάται από το μήκος κύματος του χρώματος και όσο μεγαλύτερο είναι το μήκος
κύματος, τόσο μικρότερη είναι η γωνία εκτροπής.
Εικόνα 3.12: Το πρίσμα Π1 αναλύει το λευκό φως, όμως το Π2 απλώς εκτρέπει την κίτρινη
ακτίνα
|101|
Πίνακας 3.3: Τα χρώματα του ορατού φάσματος και ο δείκτης διάθλασης ανά χρώμα
Περιοχή μηκών Περιοχή συχνοτήτων
Χρώμα Δείκτης διάθλασης
κύματος (nm) (Hz)
12
Ερυθρό ~ 630 - 700nm ~ 476 - 429•10 Hz 1,513
Πορτοκαλί ~ 590 - 630nm ~ 510 - 476•1012Hz 1,514
Κίτρινο ~ 560 - 590nm ~ 535 - 510•1012Hz 1,517
Πράσινο ~ 500 - 560nm ~ 600 - 535•1012Hz 1,519
Κυανό ~ 440 - 500nm ~ 680 - 600•1012Hz 1,528
Ιώδες ~ 400 - 440nm ~ 750 - 680•1012Hz 1,532
Εικόνα 3.13: Μήκη κύματος χρωμάτων του ορατού φάσματος
Η αντίληψη ενός χρώματος παραμένει ίδια σε οποιοδήποτε μέσο διάδοσης. Αυτό

εξηγείται από το γεγονός ότι η συχνότητα η οποία είναι υπεύθυνη για το ερέθισμα στο
μάτι, είναι αμετάβλητη σε όλα τα μέσα διάδοσης του φωτός. Δηλαδή το κόκκινο χρώμα
φαίνεται κόκκινο απ’ όσα οπτικά μέσα και αν περάσει το φως πριν φθάσει στο μάτι.
3.8 Ο νόμος Muller-Lyer για την οφθαλμαπάτη
Ο Νόμος του Muller-Lyer χρησιμοποιείται από τους ψυχοφυσικούς και αναφέρει

ότι: τα απλά σημεία και οι γραμμές έχουν μεγαλύτερη σημασία από τη μεταξύ τους σχέση.
Τα κλειστά σχήματα ή αντικείμενα φαίνεται να ξεχωρίζουν περισσότερο από τα ανοικτά
σχήματα.
Εικόνα 3.14: Ποιο από τα δύο σχήματα σε κάθε ζεύγος είναι μακρύτερο;
|102|
Οι νόμοι αυτοί φανερώνουν ότι ο εγκέφαλος επιλέγει συγκεκριμένα αντικείμενα,
δείχνοντας τους μεγαλύτερη προτίμηση σε σχέση με άλλα. Για παράδειγμα, ο εγκέφαλος
δίνει μεγαλύτερη προσοχή σε ένα κλειστό, στερεό αντικείμενο σε σχέση με τα ανοικτά
σχήματα. Κάθε αντικείμενο, εντός του οπτικού πεδίου, κωδικοποιείται και αποθηκεύεται
σε συγκεκριμένο σημείο του εγκεφάλου και όταν χρειαστεί ανακαλείται για να
δημιουργήσει μια ολοκληρωμένη εικόνα. Μερικές φορές, ανακαλούνται λάθος αντικείμενα
και τοποθετούνται σε λάθος θέσεις, δημιουργώντας έτσι μια οφθαλμαπάτη και
προκαλώντας λανθασμένη κατανόηση της πραγματικής εικόνας. Σε αυτό οφείλεται κατά
ένα μέρος η διαφορά μεταξύ των όσων βλέπει κάποιος και της πραγματικής εικόνας.
3.9 Μέτρηση του φωτός
Το ανθρώπινο μάτι είναι το κύριο μέσο ανίχνευσης του λευκού φωτός. Ωστόσο,
υπάρχουν διάφορα όργανα ανίχνευσης του φωτός, όπως τα φωτοαγώγιμα κύτταρα, οι
φωτοδίοδοι, τα φωτοτρανζίστορ, το φωτογραφικό φιλμ τα οποία μπορούν να μετρήσουν τις
ιδιότητες του ακτινοβολούμενου φωτός, παρέχοντας ακριβή δεδομένα που δε μπορεί να
δώσει η απλή αξιολόγηση με το μάτι. Η διαδικασία μέτρησης του φωτός ονομάζεται
φωτομετρία. Τα φωτόμετρα και τα πεδιόμετρα είναι τα όργανα που χρησιμοποιούνται στη
φωτομετρία. Πρόκειται για φορητά ή μη μεταφερόμενα εργαστηριακά μηχανήματα. Τα μη
μεταφερόμενα εργαστηριακά μηχανήματα είναι και τα πιο ακριβή. Το πεδιόμετρο είναι ένα
όργανο που χρησιμοποιείται για την ανίχνευση και τη μέτρηση της ακτινοβολούμενης
ηλεκτρομαγνητικής ενέργειας. Το φωτόμετρο ή λουξόμετρο είναι ένας ειδικός τύπος
πεδιομέτρου, το οποίο μετρά μόνο το ορατό τμήμα της ακτινοβολούμενης ενέργειας.
3.9.1 Μέτρηση του ορατού φωτός
Τα φωτόμετρα χρησιμοποιούνται για τη μέτρηση της φωτεινής ενέργειας εντός του

ορατού τμήματος του φάσματος. Δίνουν ενδείξεις για την ένταση του φωτός, τη φωτεινή
ισχύ, την πυκνότητα της προσπίπτουσας φωτεινής ισχύος, τη φωτεινότητα, την κατανομή
του φωτός, την ανάκλαση και τη διάδοση του φωτός. Το φασματοσκόπιο μετρά τη
φασματική κατανομή των χρωμάτων ή διαχωρίζει επιλεκτικά τα μήκη κύματος. Οι
εμφανείς διαφορές στην ένταση διαφόρων φωτεινών πηγών μπορεί να οφείλονται στις
διαφορές της δυνατότητας των οργάνων μέτρησης να ανιχνεύουν διαφορετικά μήκη
κύματος (φασματική απόκριση). Αυτό πρέπει να λαμβάνεται υπόψη, όταν
πραγματοποιείται οποιαδήποτε μέτρηση του ορατού φωτός.
Υπάρχουν πολλοί τύποι φωτόμετρων. Για παράδειγμα, ένας τύπος περιλαμβάνει ένα
φωτόμετρο για το ορατό φως και ένα πεδιόμετρο για το υπεριώδες. Η επιλογή του
φωτόμετρου εξαρτάται από διάφορους παράγοντες όπως την ένταση της φωτεινής πηγής,
τα μήκη κύματος του φωτός της πηγής, την επιθυμητή ακρίβεια, το χώρο που
πραγματοποιείται ο έλεγχος (εσωτερικός ή εξωτερικός).
|103|
4. ΠΕΡΙΒΑΛΛΟΝΤΙΚΕΣ ΣΥΝΘΗΚΕΣ ΚΑΤΑ ΤΟΝ ΕΛΕΓΧΟ
Το περιβάλλον μέσα στο οποίο πρόκειται να διεξαχθεί ο οπτικός έλεγχος, απαιτεί

ιδιαίτερη προσοχή. Οι πιο σημαντικοί παράγοντες που πρέπει να λαμβάνονται υπόψη είναι:
 η καθαριότητα
 ο φωτισμός
 η δυνατότητα πρόσβασης
 οι ατμοσφαιρικές συνθήκες (θερμοκρασία, υγρασία κ.λπ.)
 η ασφάλεια.
4.1 Καθαριότητα
Η καθαριότητα αποτελεί βασική προϋπόθεση για έναν ακριβή οπτικό έλεγχο. Το

αντικείμενο που εξετάζεται πρέπει να είναι καθαρό στον βαθμό που απαιτείται για έναν
ακριβή οπτικό έλεγχο. Σε ορισμένες περιπτώσεις, όπως για παράδειγμα κατά τον έλεγχο
εξαρτημάτων κρίσιμης σημασίας, το αντικείμενο που εξετάζεται πρέπει να είναι απολύτως
καθαρό και να μην έχει χώματα, γράσα, άλατα, υλικά συγκόλλησης και προστατευτικά
επιχρίσματα.
Ο χώρος διεξαγωγής του ελέγχου πρέπει να είναι επίσης καθαρός, ώστε να
εμποδίζεται η μεταφορά ρύπων στα δείγματα που εξετάζονται και στον εξοπλισμό ελέγχου.
Οι συνθήκες καθαριότητας επιτυγχάνονται εύκολα μέσα σε ένα κέντρο δοκιμών ή
εργαστήριο. Όμως στον έλεγχο μεγάλων εγκαταστάσεων όπου δεν είναι δυνατή η
μεταφορά τους και το περιβάλλον λειτουργίας τους είναι μη ελεγχόμενο ο επιθεωρητής
είναι υποχρεωμένος να πραγματοποιήσει τον έλεγχο κάτω από δύσκολες συνθήκες.
4.2 Φωτισμός
Ιδιαίτερη προσοχή πρέπει να δίνεται στο διάχυτο φωτισμό του χώρου στον οποίο
διεξάγονται οι έλεγχοι. Οι ανακλάσεις και οι σκιές από τον σκελετό του κτιρίου, από τους
τοίχους, τα παράθυρα, την οροφή και το δάπεδο, επηρεάζουν την οπτική αντίληψη και τα
αποτελέσματα των ελέγχων. Ο χώρος διεξαγωγής των ελέγχων πρέπει να φωτίζεται σωστά.
Η συνιστώμενη αναλογία φωτισμού είναι 3:1 μεταξύ του αντικειμένου που ελέγχεται και
του σκοτεινού φόντου και 1:3 μεταξύ του εν λόγω αντικειμένου και του διάχυτου
φωτισμού.
Διάφοροι ψυχολογικοί παράγοντες μπορεί να επηρεάσουν την απόδοση του
ελεγκτή. Τα χρώματα και τα μοτίβα των τοίχων φαίνεται να επιδρούν στη διάθεση του
ατόμου. Αυτό είναι ιδιαίτερα σημαντικό κατά τον οπτικό έλεγχο εξαρτημάτων κρίσιμης
σημασίας ή πολύ μικρού μεγέθους. Σε γενικές γραμμές, ένας ελεγκτής έχει βέλτιστη
διάθεση όταν είναι χαλαρός, χωρίς ωστόσο να αισθάνεται ανία και όταν είναι σε
εγρήγορση, χωρίς όμως να είναι νευρικός. Για τη συμπλήρωση του φωτισμού που
απαιτείται για τον οπτικό έλεγχο, όλα τα χρώματα μέσα στο χώρο πρέπει να έχουν
ανοικτούς τόνους. Στην αντίθετη περίπτωση, το 50% του διαθέσιμου φωτός μπορεί να
απορροφάται από τους σκούρους τοίχους και το δάπεδο. Ένα χρώμα ή μοτίβο με έντονη
αντίθεση μπορεί να προκαλέσει νευρικότητα και τελικά κόπωση. Τα ψυχρά χρώματα, όπως
το μπλε συνιστώνται για χώρους εργασίας με υψηλές στάθμες θορύβου.
Το ανθρώπινο μάτι λειτουργεί αποτελεσματικότερα στο φως της ημέρας. Όμως ένας
έλεγχος μπορεί να είναι απαραίτητο να γίνει σε ώρες της ημέρας με λιγότερο φως ή κατά
τις νυχτερινές ώρες. Κατά την εργασία με φωτισμό διαφορετικό από το φως της ημέρας, το
μάτι μπορεί επίσης να λειτουργήσει αποτελεσματικά, αν υπάρξει ο κατάλληλος χρόνος για
να προσαρμοστεί. Για τον οπτικό έλεγχο, η επαρκής λαμπρότητα ή φωτεινότητα της
|104|
επιφάνειας που εξετάζεται αποτελεί σημαντικό παράγοντα και εξαρτάται από την
ανακλαστικότητα και την ένταση της φωτεινής πηγής. Η υπερβολική λαμπρότητα
επηρεάζει την ικανότητα κάποιου να βλέπει ευκρινώς και κατά συνέπεια επηρεάζει
αρνητικά τον έλεγχο κρίσιμων εξαρτημάτων. Για την ένταση του φωτός η ελάχιστη
συνιστώμενη τιμή είναι τα 160lx για γενικό οπτικό έλεγχο και τα 500lx για τον έλεγχο
κρίσιμων εξαρτημάτων. Ενδέχεται κάποια πρότυπα να απαιτούν υψηλότερες ελάχιστες
τιμές.
4.3 Πρόσβαση και απόσταση παρατήρησης
Αν πρόκειται να διεξαχθεί ακριβής οπτικός έλεγχος χωρίς οπτικά βοηθήματα, οι

παρατηρήσεις πρέπει να γίνουν από απόσταση 300mm. Η απ’ ευθείας πρόσβαση δεν είναι
πάντα εφικτή. Μπορεί για παράδειγμα, ο έλεγχος να γίνεται στο εσωτερικό αγωγών μικρής
διαμέτρου ή μικρών θαλάμων, στο εσωτερικό θαλάμων καύσης ή εσωτερικής καύσης, σε
κινητήρες ώσεως (jet) ή σε περιβάλλοντα εχθρικά λόγω ακτινοβολίας, επικίνδυνων
χημικών ουσιών ή υψηλής θερμότητας.
Όταν η δυνατότητα πρόσβασης είναι περιορισμένη, ο έλεγχος μπορεί να γίνει με τη
χρήση ειδικού εξοπλισμού.
4.4 Οπτικές γωνίες και αποστάσεις
Η αναλυτική ικανότητα του ματιού εξαρτάται από τη γωνία και την απόσταση από
την επιφάνεια που εξετάζεται. Το μάτι ενός μέσου ανθρώπου μπορεί να αντιληφθεί το
γωνιακό διαχωρισμό δύο σημείων πάνω σε ένα δείγμα σε απόσταση 300mm. Αυτό
σημαίνει ότι η βέλτιστη ανάλυση είναι περίπου 0,09mm σε απόσταση 300mm και 0,18mm
σε απόσταση 600mm.
Εικόνα 4.1: Ελάχιστη γωνία και απόσταση παρατήρησης
Ο άμεσος οπτικός έλεγχος πρέπει να διεξάγεται σε αποστάσεις από 250mm έως

600mm με γωνία τουλάχιστον 30° μεταξύ του ματιού και της επιφάνειας που εξετάζεται.
Το θάμπωμα των ματιών από την υπερβολική λαμπρότητα της επιφάνειας μπορεί να
ελαχιστοποιηθεί με τη μείωση του ποσοστού του φωτός που φτάνει στα μάτια. Αυτό
επιτυγχάνεται με την αύξηση της γωνίας μεταξύ της πηγής της λαμπρότητας και της
γραμμής της όρασης, με την αύξηση του διάχυτου φωτισμού στην περιοχή γύρω από την
πηγή της λαμπρότητας ή με τη μείωση της έντασης της φωτεινής πηγής.
|105|
Το θάμπωμα που προκαλείται στα μάτια από τα σταθερά φωτιστικά σώματα είναι
πιο δύσκολο να ελεγχθεί.
Τα φωτιστικά σώματα της οροφής πρέπει να είναι τοποθετημένα όσο το δυνατόν
ψηλότερα πάνω από την γραμμή της όρασης και πρέπει να διαθέτουν προστατευτικό
κάλυμμα για τη μείωση της έντασης του φωτός υπό γωνία μεγαλύτερη των 45° ως προς το
οπτικό πεδίο. Τα φωτιστικά σώματα εργασίας πρέπει να διαθέτουν προστατευτικό κάλυμμα
υπό γωνία τουλάχιστον 25° ως προς την οριζόντια διεύθυνση. Αυτά τα προστατευτικά
καλύμματα πρέπει να εξασφαλίζουν τον επαρκή φωτισμό του σημείου διεξαγωγής των
ελέγχων.
4.4.1 Μη καταστροφική εξέταση συγκολλήσεων με τήξη - οπτική εξέταση

(ΕΝ ISO 17637).
4.4.1.1 Σκοπός
Το συγκεκριμένο πρότυπο καλύπτει τον οπτικό έλεγχο συγκολλητών συνδέσεων

μεταλλικών υλικών. Ο έλεγχος πραγματοποιείται συνήθως μετά τη συγκόλληση, ωστόσο
ύστερα από συμφωνία με τον πελάτη μπορεί να πραγματοποιηθεί και σε ενδιάμεσα στάδια.
4.4.1.2 Συνθήκες παρατήρησης και εξοπλισμός
Η φωτεινότητα στην επιφάνεια πρέπει να είναι 350lux κατ’ ελάχιστο. Η

προτεινόμενη τιμή φωτεινότητας είναι τα 500lux. Κατά την εκτέλεση άμεσης οπτικής
επιθεώρησης, πρέπει να δίνεται η δυνατότητα παρατήρησης από απόσταση 600mm από
την επιφάνεια και η γωνία που σχηματίζουν τα μάτια με το οριζόντιο επίπεδο να είναι όχι
μικρότερη από περίπου 30°.
Εικόνα 4.2: Πρόσβαση για οπτικό έλεγχο
4.4.1.3 Πρόσβαση για επιθεώρηση
Ο απομακρυσμένος έλεγχος με τη βοήθεια ενδοσκοπίων, οπτικών ινών και

καμερών, πρέπει να προκαθορίζεται και να εγκρίνεται από τον πελάτη. Για να επιτευχθεί
καλή αντίθεση μεταξύ των ασυνεχειών και του φόντου, μπορεί να χρησιμοποιηθεί μια
επιπλέον πηγή φωτός. Σε κρίσιμες περιπτώσεις, καλό είναι να χρησιμοποιείται
συμπληρωματικά ακόμα μία μέθοδος μη καταστροφικού ελέγχου.
|106|
4.4.2 Άμεσος οπτικός έλεγχος (κατά ASME V)
Ο άμεσος οπτικός έλεγχος όταν η πρόσβαση είναι επαρκής, μπορεί συνήθως να γίνει
σε απόσταση έως και 600mm (24inch) από την επιθεωρούμενη επιφάνεια και υπό γωνία
όχι μικρότερη από 30 μοίρες. Μπορούν επίσης να χρησιμοποιηθούν καθρέπτες για τη
βελτίωση της οπτικής γωνίας, καθώς και μεγεθυντικοί φακοί, όταν κρίνεται απαραίτητο.
Φωτισμός λευκού φωτός, φυσικός ή τεχνητός για την οπτική εξέταση
συγκεκριμένου τμήματος ή εξαρτήματος επίσης μπορεί να χρησιμοποιηθεί όταν κρίνεται
απαραίτητο. Η ελάχιστη ένταση του φωτός στην επιφάνεια της επιθεωρούμενης περιοχής
πρέπει να είναι 1.000lux (100footcandles). Η φωτεινή πηγή, η τεχνική που χρησιμοποιείται
καθώς και το επίπεδο φωτισμού, πρέπει να επαληθεύεται μία φορά και να τεκμηριώνεται
στην αναφορά ελέγχου.
Επιπρόσθετα, η επιθεώρηση σύνθετων υλικών για την εξέταση της υποεπιφανειακής
κατάστασής τους, συγκαταλέγεται και στον άμεσο οπτικό έλεγχο. Στον άμεσο οπτικό
έλεγχο ημιδιαφανών αντικειμένων, χρησιμοποιείται βοηθητικός τεχνητός φωτισμός. Ο
φωτισμός πρέπει να παρέχεται με ένταση ικανή να φωτίζει και να διαχέει το φως
ομοιόμορφα μέσα από την περιοχή ή περιφερειακά της επιθεωρούμενης επιφάνειας. Ο
περιβάλλων φωτισμός πρέπει να ρυθμίζεται με τέτοιο τρόπο ώστε να αποφεύγονται
ανακλάσεις από την επιφάνεια του επιθεωρούμενου αντικειμένου και θα πρέπει να είναι
λιγότερος από το φωτισμό που εφαρμόζεται, εντός ή περιφερειακά του επιθεωρούμενου
αντικειμένου. Η τεχνητή πηγή φωτισμού πρέπει να έχει επαρκή ένταση ώστε να
επιτρέπεται η διάδοση του φωτός μέσα από το ημιδιαφανές αντικείμενο.
4.4.3 Απομακρυσμένος οπτικός έλεγχος (κατά ASME V)
Σε ορισμένες περιπτώσεις, ο απομακρυσμένος οπτικός έλεγχος μπορεί να

υποκαταστήσει τον άμεσο οπτικό έλεγχο. Στον απομακρυσμένο οπτικό έλεγχο μπορεί να
χρησιμοποιηθούν οπτικά βοηθήματα όπως, καθρέπτες, τηλεσκόπια, ενδοσκόπιο, οπτικές
ίνες, κάμερες ή άλλα κατάλληλα μέσα. Αυτά τα συστήματα πρέπει να έχουν δυνατότητα
ανάλυσης τουλάχιστον ισοδύναμη με εκείνη που επιτυγχάνεται με τον άμεσο οπτικό
έλεγχο.
4.5 Ατμοσφαιρικές συνθήκες
Η θερμοκρασία και η υγρασία πρέπει να έχουν μέσες τιμές ώστε οι συνθήκες

εργασίας να είναι όσο το δυνατόν πιο άνετες. Σημειώνεται ότι υπάρχουν κανονισμοί
σχετικά με τις ελάχιστες επιτρεπόμενες θερμοκρασίες για την εργασία. Έτσι λοιπόν, η
ελάχιστη θερμοκρασία είναι 16°C μετά την πρώτη ώρα. Υπάρχουν επίσης προτάσεις
σχετικά με τον υπερβολικό συνωστισμό ατόμων στο χώρο και τον εξαερισμό. Οι κακές
ατμοσφαιρικές συνθήκες μπορεί να επηρεάσουν την ικανότητα αντίληψης του ελεγκτή και
να οδηγήσουν σε ανακριβή αποτελέσματα. Τα εργαστήρια ή τα κέντρα δοκιμών πρέπει να
εξασφαλίζουν σχετικά άνετες συνθήκες, αλλά όταν ο έλεγχος πρέπει να γίνει σε εξωτερικό
χώρο ή σε κάποιο εργοτάξιο, το περιβάλλον δεν είναι δυνατόν να ελεγχθεί. Επομένως, ο
ελεγκτής πρέπει να κάνει την καλύτερη εκτίμηση που μπορεί, σημειώνοντας σε ορισμένες
περιπτώσεις τις ατμοσφαιρικές συνθήκες που επικρατούσαν τη στιγμή του ελέγχου.
|107|
4.6 Φωτεινές πηγές
Το φως που απαιτείται για τον οπτικό έλεγχο μπορεί να παρασχεθεί από ένα πλήθος
πηγών. Η πηγή του φωτός πρέπει να επιλέγεται ανάλογα με την εφαρμογή του οπτικού
ελέγχου, εκτός αν καθορίζεται στις προδιαγραφές της διαδικασίας. Οι συνθήκες διάχυτου
φωτισμού μπορούν επίσης να ποικίλλουν. Ένας έντονος διάχυτος φωτισμός με μεγάλη
λαμπρότητα επηρεάζει αρνητικά τον έλεγχο, όπως επίσης και ένας αδύναμος, διάχυτος
φωτισμός μικρής έντασης, ο οποίος δημιουργεί σκιές στο σημείο διεξαγωγής του ελέγχου.
Το μονοχρωματικό φως είναι το φως μίας συχνότητας. Στην πράξη, δε μπορεί να υπάρξει
πραγματικά μονοχρωματικό φως. Ωστόσο, υπάρχουν πηγές οι οποίες εκπέμπουν μια στενή
ζώνη μηκών κύματος. Σημειώνεται ότι η απόδοση μιας φωτεινής πηγής ισούται με το λόγο
της συνολικής φωτεινής ισχύος (lumens) προς τη συνολική ακτινοβολούμενη ενέργεια. Η
συνολική απόδοση της φωτεινής πηγής είναι ο λόγος της συνολικής φωτεινής ισχύος προς
τη συνολική ενέργεια που καταναλώνεται.
Για τον οπτικό έλεγχο χρησιμοποιούνται συνήθως φωτεινές πηγές οι οποίες
αναφέρονται στη συνέχεια.
4.6.1 Φως ημέρας
Το φως της ημέρας είναι το καλύτερο φως που μπορεί να χρησιμοποιηθεί, καθώς
παρέχει τη βέλτιστη κατανομή μηκών κύματος για το ανθρώπινο μάτι. Η χρήση του φωτός
ημέρας δεν είναι πάντα εφικτή. Το φως μιας συννεφιασμένης ημέρας δίνει πολύ καλύτερα
αποτελέσματα από το φως μιας ηλιόλουστης ημέρας. Σημειώνεται τέλος ότι, όταν ο
έλεγχος απαιτεί τη χρήση μονοχρωματικού φωτός, μπορεί να χρησιμοποιηθούν φίλτρα για
τη δημιουργία φωτός ενός συγκεκριμένου μήκους κύματος.
4.6.2 Φακοί χειρός
Διαθέτουν λαμπτήρα πυράκτωσης με νήμα από βολφράμιο και λειτουργούν με

μπαταρία τάσης έως 12V. Ένας φακός είναι φορητός, ανθεκτικός και εύχρηστος, αλλά δεν
κατανέμει επαρκώς το φως και η ένταση του μπορεί να είναι ανεπαρκής.
4.6.3 Λάμπες χειρός
Είναι λάμπες που λειτουργούν με χαμηλή τάση. Συνδέονται στην πρίζα και
διαθέτουν λαμπτήρες πυράκτωσης με νήμα από βολφράμιο. Για την παραγωγή των τάσεων
λειτουργίας τους (κάτω από 10V) χρησιμοποιείται μετασχηματιστής. Είναι φορητές και
εύχρηστες, ωστόσο και αυτές δεν κατανέμουν επαρκώς το φως και μπορεί να προκαλέσουν
θάμπωμα των ματιών του χειριστή λόγω υπερβολικής λαμπρότητας.
4.6.4 Επιτραπέζιες λάμπες με ρυθμιζόμενη κλίση / θέση
Οι λάμπες αυτές διαθέτουν λαμπτήρες πυράκτωσης με νήμα από βολφράμιο και

λειτουργούν με την τάση του δικτύου (συνδέονται δηλαδή στην πρίζα). Είναι πολύ
χρήσιμες καθώς, μπορούν να ρυθμίζονται σε οποιαδήποτε κλίση και να τοποθετούνται έτσι
ώστε, να δίνουν την καλύτερη δυνατή εικόνα. Τα μειονεκτήματα τους είναι ίδια με αυτά
που αναφέρονται για τις λάμπες χειρός, αλλά είναι χρήσιμες για την αποφυγή του
θολώματος των ματιών λόγω υπερβολικής λαμπρότητας.
|108|
4.6.5 Λαμπτήρες φθορισμού
Φθορισμός είναι η ιδιότητα μερικών χημικών ουσιών να ακτινοβολούν φως, όταν

προσπίπτει σε αυτές αόρατη ακτινοβολία μικρού μήκους κύματος. Ένας κοινός λαμπτήρας
φθορισμού αποτελείται από τον κυλινδρικό σωλήνα και τα νήματα. Ο κυλινδρικός
σωλήνας είναι ένας γυάλινος σωλήνας με εσωτερικό επίχρισμα φθορίζουσας ουσίας, η
οποία έχει την ιδιότητα να μετατρέπει το αόρατο υπεριώδες φως σε ορατό. Ο σωλήνας
περιέχει τα αέρια αργό (Ar) και άζωτο (Ν) σε χαμηλή πίεση και σταγόνα υδραργύρου (Hg).
Τα νήματα είναι δύο και βρίσκονται στα δύο άκρα (τάπες) του γυάλινου σωλήνα.
Οι λαμπτήρες φθορισμού λειτουργούν είτε με μπαταρία, είτε με σύνδεση στο
ηλεκτρικό δίκτυο. Παρέχουν ένα απαλό ομοιόμορφο φως που μπορεί να φωτίσει μεγάλες
περιοχές. Είναι καλοί για φωτιστικά σώματα οροφής και για το συνολικό φωτισμό του
χώρου, αν η ένταση δεν αποτελεί πρόβλημα.
4.6.6 Λαμπτήρες ατμών νατρίου και υδραργύρου
Είναι σωλήνες εκκένωσης αερίου. Εκπέμπουν μόνο συγκεκριμένα μήκη κύματος,

οπότε χρησιμοποιούνται συνήθως μόνο όταν δεν υπάρχει διαθέσιμη άλλη φωτεινή πηγή.
Δε συνιστώνται για τον οπτικό έλεγχο.
4.6.7 Στροβοσκοπικές φωτεινές πηγές
Χρησιμοποιούν ένα συγχρονισμένο παλμό φωτός για την επιθεώρηση ταχέως

κινούμενων εξαρτημάτων. Τα περιστρεφόμενα / κινούμενα εξαρτήματα φαίνονται να είναι
ακίνητα, οπότε μπορούν να ελεγχθούν με μεγαλύτερη ακρίβεια.
4.6.8 Λαμπτήρες αλογόνου
Είναι λαμπτήρες πυράκτωσης με νήμα βολφραμίου - αλογόνου. Η παρουσία μιας

μικρής ποσότητας ιωδίου βοηθά ώστε το νήμα βολφραμίου να μην εξαερώνεται, κάτι που
έχει ως αποτέλεσμα τη μεγαλύτερη διάρκεια ζωής του νήματος. Αυτό επιτρέπει στο
λαμπτήρα να λειτουργεί σε υψηλότερες θερμοκρασίες, παρέχοντας ένα πολύ λευκό φως.
Έχουν τη μεγαλύτερη φωτεινή απόδοση από όλους τους τύπους λαμπτήρων και
συνιστώνται όταν η ένταση του φωτός αποτελεί πρόβλημα.
|109|
5. ΕΠΙΦΑΝΕΙΑΚΕΣ ΣΥΝΘΗΚΕΣ
Υπάρχουν διάφοροι παράγοντες, οι οποίοι διαμορφώνουν τις επιφανειακές

συνθήκες που μπορεί να επηρεάσουν την απόδοση ενός οπτικού ελέγχου. Οι παράγοντες
αυτοί περιλαμβάνουν: την καθαριότητα, το χρώμα, την κατάσταση, τη γεωμετρία, το
μέγεθος, τη θερμοκρασία και την υφή της επιφάνειας, τον τύπο του υλικού και την ύπαρξη
επιστρώσεων / επιχρίσεων στην επιφάνεια.
5.1 Καθαριότητα της ελεγχόμενης επιφάνειας
Το αντικείμενο ή εξάρτημα που θα ελεγχθεί πρέπει να καθαρίζεται σωστά πριν από

τον έλεγχο. Μια ρυπαρή επιφάνεια δίνει διαφορετική εικόνα του φινιρίσματος, εμποδίζει
τον οπτικό έλεγχο και μπορεί να καλύψει τα ελαττώματα που υπάρχουν. Η καταλληλότερη
μέθοδος καθαρισμού για κάθε περίπτωση εξαρτάται από διάφορους παράγοντες, όπως οι
ιδιότητες του δείγματος που εξετάζεται, το είδος των ρύπων που πρέπει να αφαιρεθούν, η
απαιτούμενη εμπειρία, η δυνατότητα πρόσβασης και το κόστος. Τα παραδείγματα που
αναφέρονται στην συνέχεια είναι χαρακτηριστικά:
Ένα μεγάλο, ακλόνητα στερεωμένο εξάρτημα δεν είναι δυνατόν να βυθιστεί σε
κάποια δεξαμενή με διαλυτικό, αλλά μπορεί να καθαριστεί με βούρτσα. Το αλουμίνιο
αντιδρά με τα αλκάλια, οπότε οι καθαριστικές ουσίες που περιέχουν βάσεις δεν πρέπει να
χρησιμοποιούνται σε εξαρτήματα από αλουμίνιο. Ορισμένοι διαλύτες μπορεί να
επηρεάσουν το υπό εξέταση εξάρτημα ή να το διαβρώσουν. Ο καθαρισμός με αποξεστικά
μέσα μπορεί να προκαλέσει ζημιά στην επιφάνεια κάποιου εξαρτήματος.
5.2 Μέθοδοι καθαρισμού
Οι επιφάνειες των δοκιμίων μπορεί να έχουν συγκολλητικά υλικά ή ρύπους που

απαιτούν διαφορετικές μεθόδους αφαίρεσης. Οι κυριότερες μέθοδοι καθαρισμού είναι:
 η εκτόξευση ξηρών αποξεστικών υλικών
 η εκτόξευση υγρών
 ο καθαρισμός με συρματόβουρτσα
 το τρίψιμο με τροχό
 η απόξεση
 ο καθαρισμός με πιστόλι ακίδων
 ο καθαρισμός με φλόγα
 ο καθαρισμός με διαλύτες χρωμάτων
 η απολίπανση με ατμό
 ο καθαρισμός με διαλύτες
 ο καθαρισμός με απορρυπαντικές ουσίες
 ο καθαρισμός με υπερήχους.
5.2.1 Εκτόξευση ξηρών αποξεστικών υλικών
Ο καθαρισμός με εκτόξευση ξηρών αποξεστικών υλικών πραγματοποιείται με ένα

συγκεντρωμένο ρεύμα μικρών αποξεστικών σωματιδίων. Το αποξεστικό υλικό μπορεί να
είναι μεταλλικό ή ορυκτό, όπως άμμος, σκωρία, ρινίσματα, τεμάχια και σφαιρίδια χάλυβα
ή επεξεργασμένου σιδήρου. Τα υλικά αυτά εκτοξεύονται πάνω στην επιφάνεια για να
απομακρύνουν ιζήματα αλάτων, σκουριές ή βαφές τα οποία υπάρχουν προσκολλημένα σε
αυτήν. Τυχόν γράσα ή λάδια πρέπει να αφαιρούνται πριν την εκτόξευση των αποξεστικών
|110|
υλικών. Η διαδικασία εκτόξευσης καθαρίζει την επιφάνεια και ανάλογα με το αποξεστικό
υλικό μπορεί να την εκτραχύνει. Όταν η διαδικασία χρησιμοποιείται σε αντικείμενα από
χάλυβα, ορισμένα αποξεστικά υλικά (ειδικά τα ρινίσματα σιδήρου) παραμορφώνονται
λόγω πλαστικής κρούσης, αυξάνοντας έτσι τη σκληρότητα της επιφάνειας. Με την
διαδικασία αυτή, μπορεί να κλείσουν κάποιες μικρές ρωγμές της επιφάνειας και να μην
είναι πλέον διακριτές.
5.2.2 Εκτόξευση υγρών
Οι μέθοδοι εκτόξευσης υγρών ενδείκνυνται για την αφαίρεση χλωριούχων ενώσεων

από τις επιφάνειες αλλά και για την αφαίρεση τοξικών επικαλύψεων, όπως τα φιλμ
κόκκινου μολύβδου, διότι δε δημιουργούν σκόνη. Ωστόσο, όλες οι μέθοδοι καθαρισμού με
εκτόξευση υγρών έχουν μειονεκτήματα παρόμοια με αυτά των αντίστοιχων μεθόδων
εκτόξευσης στερεών όπως: τη διαθεσιμότητα και τη διαδικασία αποχέτευσης του νερού,
την παραγωγή και τη διαδικασία απομάκρυνσης της λάσπης (ειδικά στην περίπτωση
ψεκασμού αποξεστικών υγρών), το επιπρόσθετο κόστος της προμήθειας και της ανάμιξης
των διαλυμάτων προστασίας του υποστρώματος από τη σκουριά, καθώς και το πρόβλημα
του στεγνώματος των μεγάλων επιφανειών.
5.2.3 Εκτόξευση καθαρού νερού με υψηλή πίεση
Κατά τη μέθοδο αυτή χρησιμοποιούνται πιέσεις έως 35.000p.s.i., οι οποίες είναι

ιδιαίτερα επικίνδυνες. Τα πλεονεκτήματα της μεθόδου αυτής είναι:
 η απλότητα στη χρήση
 η ευελιξία και η δυνατότητα μετακίνησης (φορητός εξοπλισμός)
 η καταλληλότητα της στην αφαίρεση υδατοδιαλυτών ρύπων
 η καταλληλότητα της στην αφαίρεση της σκωρίας εξέλασης με τη χρήση υψηλών
πιέσεων.
5.2.4 Εκτόξευση νερού υψηλής πίεσης με αποξεστικό υλικό
Στην μέθοδο αυτή χρησιμοποιούνται πιέσεις έως 20.000p.s.i., οι οποίες είναι ιδιαίτερα
επικίνδυνες. Τα πλεονεκτήματα αυτής της μεθόδου είναι τα ίδια με τα αντίστοιχα της
μεθόδου εκτόξευσης καθαρού νερού. Ωστόσο, με τη συγκεκριμένη μέθοδο μπορούν επίσης
να αφαιρεθούν ισχυρά συγκολλημένοι ρύποι και να δημιουργηθεί η κατάλληλη επιφάνεια.
5.2.5 Εκτόξευση νερού χαμηλής πίεσης με αποξεστικό υλικό
Πραγματοποιείται με πίεση 100p.s.i. Η μέθοδος αυτή θεωρείται ιδιαίτερα

ελεγχόμενη. Με τη μέθοδο αυτή μπορεί να αφαιρεθεί ένα στρώμα βαφής από ένα σύστημα
πολλαπλών στρωμάτων. Στα μειονεκτήματα της μεθόδου περιλαμβάνονται το υψηλό
κόστος και η χαμηλή αποτελεσματικότητα.
5.2.6 Καθαρισμός με ατμό, με ή χωρίς εκτόξευση αποξεστικού υλικού
Πραγματοποιείται με πίεση περίπου 100p.s.i. Η μέθοδος αυτή είναι ιδανική για

επιφάνειες που έχουν ρύπους από λάδια, γράσα κ.λπ. Στα μειονεκτήματα της μεθόδου
περιλαμβάνονται το υψηλό κόστος και η χαμηλή αποτελεσματικότητα.
|111|
5.2.7 Εκτόξευση αέρα με νερό
Στο ρεύμα αέρα / αποξεστικού υλικού εγχέεται καθαρό νερό ή διάλυμα νερού με
κατάλληλη χημική ουσία προστασίας του υποστρώματος από τη σκουριά.
5.2.8 Καθαρισμός με συρματόβουρτσα
Ο καθαρισμός με χειροκίνητη ή ηλεκτροκίνητη συρματόβουρτσα αποτελεί μια

αποτελεσματική μέθοδο αφαίρεσης της μεγαλύτερης ποσότητας των λιγότερο ισχυρών
συγκολλητικών υλικών. Ο καθαρισμός αυτός, συγκρινόμενος με τη μέθοδο εκτόξευσης
αποξεστικών υλικών, δεν είναι τόσο αποτελεσματικός για τις επιφάνειες που είναι
καλυμμένες με άλατα ή βαφές.
5.2.9 Καθαρισμός με διαλύτες χρωμάτων
Μία από τις πιο αποτελεσματικές μεθόδους αφαίρεσης στρωμάτων βαφής, χωρίς
κίνδυνο να προκληθεί μηχανική ζημιά στο βασικό μέταλλο, είναι η χρήση κατάλληλου
διαλύτη χρωμάτων. Η βαμμένη επιφάνεια «μαλακώνει» και στη συνέχεια το στρώμα της
βαφής μπορεί να αφαιρεθεί με απόξεση ή με πλύση. Οι διαλύτες χρωμάτων είναι οργανικοί
διαλύτες ή μίγματα οργανικών διαλυτών ειδικά παρασκευασμένα για την αφαίρεση
διάφορων τύπων βαφής. Σημειώνεται ωστόσο ότι δεν καθαρίζουν αποτελεσματικά τα
χώματα, τα άλατα, τα γράσα κ.λπ.
5.2.10 Καθαρισμός με διαλύτες
Οι διαλύτες που μπορούν να διασπούν επιφανειακούς ρύπους που έχουν ως βάση το

γράσο ή το λάδι είναι ιδιαίτερα αποτελεσματικοί για την αφαίρεση ασθενών
συγκολλητικών ουσιών από την επιφάνεια των εξαρτημάτων. Προκειμένου να υπάρξει ένα
σωστό αποτέλεσμα, μέσω εμβάπτισης ή με βούρτσισμα ή με σκούπισμα, απαιτείται
υπομονή και επιμονή, ενώ ενδέχεται να απαιτηθούν επανειλημμένες προσπάθειες αν οι
ρύποι είναι πολλοί. Δεν απαιτείται ειδικός εξοπλισμός, αν και ο καλός εξαερισμός είναι
απαραίτητος ώστε η διαδικασία να είναι ασφαλής. Η μέθοδος καθαρισμού με διαλύτες
μπορεί να χρησιμοποιηθεί σε μεγάλα ή μικρά εξαρτήματα, σε εσωτερικούς ή εξωτερικούς
χώρους. Απαιτείται προσοχή ώστε να διασφαλίζεται ότι ο διαλύτης δεν αντιδρά με το υλικό
που ελέγχεται.
5.2.11 Απολίπανση με ατμούς
Η πραγματική απολίπανση με ατμούς συνίσταται στην εμβάπτιση του εξαρτήματος

που πρέπει να καθαριστεί σε ατμούς διαλύτη, όπως το 1,1,1 - τριχλωροαιθάνιο. Θεωρείται
η πλέον αποτελεσματική μέθοδος για την αφαίρεση γράσων, λαδιών και ημισυγκολλητικών
επιφανειακών ρινισμάτων. Η μέθοδος αυτή απαιτεί ειδικό εξοπλισμό και είναι περισσότερο
χρήσιμη για εξαρτήματα που καθαρίζονται σε εργοστασιακό χώρο καθαρισμού. Απαιτεί
ειδική δεξαμενή με θερμαντήρα και σωλήνες συμπύκνωσης, οι οποίοι εμποδίζουν τον ατμό
να διαφύγει έξω από την δεξαμενή. Η παραγωγή του 1,1,1 τριχλωροαιθανίου έχει πλέον
απαγορευτεί και αντί αυτού σήμερα χρησιμοποιείται το τριχλωροαιθυλένιο.
|112|
5.2.12 Καθαρισμός με απορρυπαντικές ουσίες
Οι απορρυπαντικές ουσίες, αλκαλικές ή όξινες, χρησιμοποιούνται για τον

καθαρισμό επιφανειών που δεν έχουν πολλούς ρύπους. Τα ιζήματα γράσων ή λαδιών και
ειδικά τα ιζήματα μεγάλου πάχους, είναι πολύ δύσκολο να αφαιρεθούν. Πρόκειται για μια
ασφαλή μέθοδο.
5.2.13 Απολίπανση με υγρό
Η απολίπανση με υγρό είναι μία συχνά χρησιμοποιούμενη μέθοδος εναλλακτική της

απολίπανσης με ατμό. Τα απολιπαντικά υγρά είναι αποτελεσματικά για την αφαίρεση
γράσων και τον καθαρισμό εξαρτημάτων, αλλά παρουσιάζουν το μειονέκτημα του μεγάλου
απαιτούμενου χρόνου καθαρισμού, λόγω της ανάγκης στεγνώματος σε φούρνους και του
κόστους του επιπλέον εξοπλισμού.
5.2.14 Καθαρισμός με υπέρηχους
Ο καθαρισμός με υπέρηχους, εφόσον υπάρχει η δυνατότητα να εφαρμοστεί,

αποτελεί τη βέλτιστη λύση καθαρισμού. Πρόκειται για έναν αποδοτικό και απόλυτα
ασφαλή τρόπο καθαρισμού. Οι υπέρηχοι δε χαράσσουν, δε φθείρουν και δε δημιουργούν
κοιλότητες στα αντικείμενα όπως συμβαίνει με τις συμβατικές μεθόδους καθαρισμού.
|113|
6. ΠΟΙΟΤΗΤΑ ΚΑΤΕΡΓΑΣΜΕΝΗΣ ΕΠΙΦΑΝΕΙΑΣ
Για κάθε τεχνολογική εφαρμογή και προκειμένου να επιτυγχάνεται η βέλτιστη

απόδοση της επιφάνειας, στη φάση του σχεδιασμού του στερεού, όπως για παράδειγμα
ενός μεταλλικού εξαρτήματος μηχανής, προκαθορίζονται τα αποδεκτά γεωμετρικά όρια
της επιφανειακής τοπογραφίας του. Με άλλα λόγια δηλαδή, προκαθορίζεται η αποδεκτή
ποιότητα της επιφάνειας. Κατά τη λειτουργία του στερεού σώματος, ενδέχεται να
μεταβληθεί η ποιότητα της επιφάνειάς του, ιδιαίτερα στην περίπτωση που το σώμα
λειτουργεί σε επαφή με άλλο στερεό, σε διαβρωτικό περιβάλλον ή / και υπό καθεστώς
μηχανικών φορτίσεων. Έτσι λοιπόν, μια μηχανολογική «τεχνητή» επιφάνεια μπορεί να
θεωρηθεί ως μια μικρογραφία του ανάγλυφου της Γης, η οποία χαρακτηρίζεται από τη
συνύπαρξη βουνών, πεδιάδων και κοιλάδων.
Εικόνα 6.1: «Ποιότητα επιφάνειας» ενός «φυσικού» στερεού σώματος
Ο όρος ποιότητα επιφάνειας αναφέρεται στην κατάσταση του επιφανειακού

στρώματος ενός υλικού όπως αυτή προκύπτει μετά από μία ή περισσότερες κατεργασίες.
Χαρακτηρίζεται από επιμέρους όρους που αναφέρονται είτε στη γεωμετρική μορφή
(τραχύτητα - κυμάτωση - ίχνη επιφάνειας) είτε σε φυσικοχημικές και μηχανικές ιδιότητες
(μικροσκληρότητα, χημική σύσταση, παραμένουσες τάσεις, μικροδομή) της επιφάνειας.
Σημειώνεται ότι είναι δυνατόν ακόμη και μετά την τελική κατεργασία να διατηρούνται
κάποιες ιδιότητες, προερχόμενες από τις αρχικές κατεργασίες (έλαση, κοπή).
6.1 Αποκλίσεις μηχανολογικών επιφανειών από την επιπεδότητα
Η εικόνα ενός στερεού σώματος κοντά στην επιφάνεια, γενικά, έχει τη μορφή της
Εικόνας 6.2α. Μια μηχανολογική επιφάνεια παρουσιάζει γεωμετρικές αποκλίσεις από την
επιπεδότητα, δηλαδή το «απόλυτα λείο». Αυτές οι γεωμετρικές αποκλίσεις είναι
διαφορετικής τάξης μεγέθους, συνδέονται με τις συνθήκες κατεργασίας (ρύθμιση
εργαλειομηχανής, γεωμετρία κοπτικού άκρου, παράμετροι αφαίρεσης υλικού) και μπορούν
να προσεγγισθούν με κυματομορφές, όπως φαίνεται στην Εικόνα 6.2β.
Εικόνα 6.2: Σχηματική αναπαράσταση γεωμετρικών αποκλίσεων μηχανολογικών

επιφανειών. (α) Μορφή πραγματικής επιφάνειας και (β) Ανάλυση αποκλίσεων από την
επιπεδότητα
|114|
6.1.1 Σφάλμα μορφής επιφάνειας
Το σφάλμα μορφής μίας επιφάνειας συνδέεται με τη λανθασμένη ρύθμιση της

εργαλειομηχανής ή / και των παραμέτρων κατεργασίας. Μπορεί να είναι της τάξεως
μερικών χιλιοστών. Συνήθως γίνεται αντιληπτό ως σημαντική υψομετρική απόκλιση
μεταξύ του τμήματος της επιφάνειας που δημιουργείται στα πρώτα στάδια της κατεργασίας
και εκείνου που προκύπτει με την ολοκλήρωσή της. Για παράδειγμα, εάν κοπεί μια
μεταλλική ράβδος, δεδομένης διαμέτρου, με πριονοκορδέλα μικρότερου πάχους / πλάτους
από το προβλεπόμενο ή το προτεινόμενο από τον κατασκευαστή, οι τάσεις που
αναπτύσσονται κατά τη διάρκεια της κατεργασίας αλλάζουν τη διεύθυνση κοπής.
6.1.2 Κυμάτωση επιφάνειας
Η κυμάτωση που συνδέεται με ταλαντώσεις του μηχανήματος, κατά τη διάρκεια της

κατεργασίας, είναι της τάξεως του χιλιοστού και γίνεται αντιληπτή ως περιοδικά
επαναλαμβανόμενες μακροσκοπικές εξάρσεις / βυθίσεις του συνολικού ανάγλυφου. Για
παράδειγμα, εάν κατά το «πλάνισμα» της επιφάνειας ενός μεταλλικού δοκιμίου, αυτό δεν
έχει προσδεθεί / σταθεροποιηθεί ικανοποιητικά στο τραπέζι της μηχανής, η τελική
επιφάνεια μετά την κατεργασία εμφανίζει κυμάτωση.
6.1.3 Τραχύτητα επιφάνειας
Ο όρος τραχύτητα επιφάνειας χρησιμοποιείται για την περιγραφή των γεωμετρικών

αποκλίσεων της επιφάνειας από την επιπεδότητα οι οποίες οφείλονται:
Στη γεωμετρία, μακροσκοπική και μικροσκοπική, του κοπτικού άκρου ή του μέσου
απόξεσης που προκαλεί αφαίρεση υλικού, κατά την κατεργασία της επιφάνειας. Η
τραχύτητα που συνδέεται με τη γεωμετρία των κοπτικών άκρων είναι της τάξεως των
μερικών δεκάτων του χιλιοστού (μm).
Στις συνθήκες λειτουργίας της επιφάνειας. Είναι προφανές ότι οι επιφάνειες
συζευγμένων στοιχείων μηχανών που βρίσκονται σε σχετική κίνηση υφίστανται
εκτράχυνση ή λείανση κατά τη λειτουργία τους, ενώ η δράση χημικών παραγόντων από το
περιβάλλον, ενδέχεται να οδηγήσει στη διάβρωση της μεταλλικής επιφάνειας και στη
δημιουργία ενός εντονότερου ανάγλυφου.
Η γνώση και ο έλεγχος της τραχύτητας μια επιφάνειας είναι πολύ σημαντικά
στοιχεία, τόσο για την πρόβλεψη της διάρκειας ζωής μιας μεταλλικής κατασκευής, όσο και
για το μη καταστροφικό έλεγχο της κατά τη διάρκεια της λειτουργίας της. Οι επιφανειακές
εσοχές, οι βυθίσεις δηλαδή του ανάγλυφου, αποτελούν σημεία έναρξης ρωγμών στην
περίπτωση εναλλασσόμενων μηχανικών φορτίσεων (κόπωση) ή / και διάβρωσης, στην
περίπτωση λειτουργίας σε επιβαρυμένο χημικά περιβάλλον.
Η τραχύτητα της τελικής επιφάνειας επηρεάζεται από τις προεπιλεγμένες συνθήκες
κοπής, δηλαδή:
 το είδος του λιπαντικού
 το κατεργαζόμενο υλικό
 το υλικό και τη γεωμετρία του κοπτικού εργαλείου
 τις συνθήκες κατεργασίας
 διάφορους αστάθμητους παράγοντες, οι οποίοι δεν είναι εφικτό να ελεγχθούν, όπως
οι ταλαντώσεις και η ακρίβεια της εργαλειομηχανής.
Η τραχύτητα προκύπτει ως συνδυασμός ανωμαλιών επιφάνειας σχετικά μικρού
λόγου l/H (<50), σε αντιδιαστολή με την κυμάτωση που αντιστοιχεί σε λόγους l/H μεταξύ
50 και 1.000. Μακροαποκλίσεις μορφής αντιστοιχούν σε λόγο l/H > 1000.
|115|
Εικόνα 6.3: Τραχύτητα επιφάνειας
Το ύψος των ανωμαλιών κυμαίνεται από κλάσμα του 1μm έως και πάνω από 1mm.
Το σχήμα των ανωμαλιών έχει μεγάλη σημασία. Μυτερές κορυφές και κοιλάδες
ελαττώνουν τη φέρουσα επιφάνεια και οδηγούν σε ταχύτερη κόπωση του υλικού.
Γενικά, η μικρή τραχύτητα επιφάνειας και η κυμάτωση συνδέονται με ακριβέστερη
κατεργασία. Η τραχύτητα επιφάνειας χαρακτηρίζεται συνήθως από την αριθμητική μέση
απόκλιση Ra από τη «μέση γραμμή» της επιφάνειας μέσα σε ένα μήκος αναφοράς l και
προσεγγιστικά με χρήση διακριτών τιμών αντί της ολοκλήρωσης.
Όπου:
y(x): το προφίλ της επιφάνειας.
Μέση γραμμή: εμβαδό κοιλάδων = εμβαδό κορυφών.
Η τραχύτητα επιφάνειας μετράται επίσης και ως τιμή RMS, δηλαδή:
Τέλος, η τραχύτητα επιφάνειας μπορεί να οριστεί ως η απόσταση της ψηλότερης

κορυφής από τη βαθύτερη κοιλάδα. Συμβολίζεται ως Rmax. Ένας ακόμη τρόπος έκφρασης
της τραχύτητας είναι η μέση τιμή των δέκα κατ’ απόλυτη τιμή μέγιστων αποκλίσεων (5
κορυφών και 5 κοιλάδων) μέσα στο μήκος αναφοράς, συμβολιζόμενη με Rz. Η τοπογραφία
της επιφάνειας χαρακτηρίζεται και από άλλα μεγέθη:
Sm: η μέση απόσταση των ανωμαλιών τραχύτητας.
S: η μέση απόσταση των κορυφών.
tp: το σχετικό μήκος του προφίλ της επιφάνειας σε σχέση με το μήκος αναφοράς.
|116|
Τυπικές τιμές για τα παραπάνω μεγέθη είναι: Ra = 0,008-100μm, Rz και Rmax =
0,025-1.600μm, Sm και S = 0,002-12,5mm και tp = 10-90% ενώ, για το μήκος αναφοράς l =
0,01-25mm.
Εικόνα 6.4: Όροι και κοιλάδες επιφάνειας
Η τραχύτητα μιας επιφάνειας μετράται συνήθως με προφιλόμετρα, τα οποία πλέον

είναι και φορητά. Για τιμές τραχύτητας από 0,02 - 5μm, η αρχή λειτουργίας του είναι
παρόμοια με αυτή της βελόνας πικάπ που παράγει σήμα V ανάλογο της κατακόρυφης
μετατόπισης μιας βελόνας διαμαντιού η οποία ακολουθεί το προφίλ. Ένας άλλος τρόπος
άμεσης μέτρησης της τραχύτητας είναι οι οπτικοί αναλυτές (μικροσκόπιο) για τιμές
τραχύτητας μεταξύ 0,8 και 80μm. Επιπρόσθετα, η τραχύτητα μπορεί να μετρηθεί και
έμμεσα μέσω της σύγκρισης με τυποποιημένα πλακίδια.
Η πολύ χαμηλή τραχύτητα επιφάνειας, εκτός του αυξημένου κόστους που απαιτεί
για την επίτευξη της, δίνει αμφίβολο αποτέλεσμα, επειδή με τη λειτουργία σε πραγματικές
συνθήκες, η επιφάνεια αποκτά έτσι και αλλιώς μία μέση τραχύτητα που μπορεί να είναι
αρκετά υψηλότερη από την αρχική.
Σημειώνεται ότι η χαμηλή τραχύτητα μειώνει τον κίνδυνο κόπωσης λόγω
μικρότερων «εγκοπών» και για αυτό το λόγο οι στροφαλοφόροι άξονες ή οι δίσκοι
τουρμπίνων υφίστανται λείανση μετά την κοπή. Επίσης, η «στιβαρότητα» της επαφής
αυξάνει με τη μείωση της τραχύτητας: για επιφάνεια μετά από λείανση με 2,5 - 8μm ύψος
ανωμαλιών, η επιφάνεια επαφής είναι το 10% της ολικής επιφάνειας. Διάφορες τυπικές
τιμές τραχύτητας επιφάνειας Ra οι οποίες επιτυγχάνονται από διάφορες κατεργασίες
αποβολής υλικού δίνονται στη συνέχεια:
 για τόρνευση ή φρεζάρισμα, η εκχόνδριση αντιστοιχεί σε 12,5μm, ενώ η
αποπεράτωση σε 1,25 - 2,5μm
 η διάτρηση επιτυγχάνει τραχύτητα 2,5 - 6,3μm
 η γλύφανση, η οποία ακολουθεί τη διάτρηση, επιτυγχάνει τραχύτητα
0,32 - 1,25μm ενώ η λείανση κυμαίνεται σε τιμές έως 0,08 (lapping έως 0,63μm).
6.1.4 Μικροσκληρότητα, περιεκτικότητα σε άνθρακα και παραμένουσες τάσεις
Η μικροσκληρότητα των επιφανειακών στρωμάτων φανερώνει το βάθος επιρροής

της κατεργασίας. Με χρήση χαμηλού φορτίου (50 - 100gr) και διεισδυτή από διαμάντι,
εκτελούνται διεισδύσεις σε ισαπέχοντα σημεία στην επιφάνεια στην οποία μπορεί να έχει
δημιουργηθεί μικρή κλίση (0.5 - 2º) με ειδική μέθοδο (lapping κ.λπ.) που αφήνει
ανεπηρέαστη τη δομή της, έτσι ώστε κάθε διείσδυση να αντιστοιχεί σε μεγαλύτερο βάθος
κάτω από την αρχική επιφάνεια. Αν l είναι το μήκος διείσδυσης μέχρι το αποτύπωμα του
διεισδυτή να μην αλλάξει μέγεθος, τότε το βάθος επιρροής της κατεργασίας στο υλικό είναι
h = l•tanα.
|117|
Εικόνα 6.5: Έλεγχος μικροσκληρότητας
Η περιεκτικότητα σε άνθρακα (C) των επιφανειακών στρωμάτων επηρεάζει τη

διάρκεια ζωής. Για παράδειγμα, ένα απανθρακωμένο στρώμα μετά από σφυρηλάτηση
συνήθως αφαιρείται. Οι παραμένουσες τάσεις στα επιφανειακά στρώματα επηρεάζουν τη
λειτουργία του τεμαχίου. Εάν είναι εφελκυστικές, αυξάνουν τον κίνδυνο αστοχίας. Οι
θλιπτικές παραμένουσες τάσεις αυξάνουν τη διάρκεια ζωής του τεμαχίου και γι’ αυτό το
λόγο υπάρχουν ειδικές κατεργασίες, όπως η σφαιροβολή, οι οποίες προσδίδουν τέτοιες
τάσεις εκ των υστέρων, όπως για παράδειγμα σε ελατήρια. Οι παραμένουσες τάσεις
μετρώνται με τη βοήθεια ακτίνων Χ, οι οποίες ανιχνεύουν τη διαφορά απόστασης των
ατομικών επιπέδων σε φορτισμένο και αφόρτιστο υλικό. Επίσης, μετρώνται και με τη
βοήθεια καταστροφικών μεθόδων, δηλαδή αφαίρεσης υλικού τοπικά και μέτρησης της
προκύπτουσας παραμόρφωσης του υπολοίπου με ηλεκτρομηκυνσιόμετρα.
Οι επιφανειακές ρωγμές ανιχνεύονται με οπτικό έλεγχο, με διεισδυτικά υγρά ή με
μαγνητικά σωματίδια.
6.2 Επίδραση της ποιότητας επιφάνειας στις ιδιότητες μηχανολογικών τεμαχίων
Το 80% των αστοχιών συμβαίνουν λόγω φθοράς στις επιφάνειες επαφής. Η

τραχύτητα επηρεάζει το μηχανισμό φθοράς, κυρίως στην αρχή της ζωής των τεμαχίων,
οπότε και συμβαίνει διάτμηση των προεξοχών με συνέπεια την αύξηση του διακένου
ανάμεσα στα συνεργαζόμενα τεμάχια και την αύξηση του πραγματικού εμβαδού επαφής.
Μια πολύ λεία επιφάνεια δε συγκρατεί το λιπαντικό, ενώ μια πολύ τραχεία προκαλεί
συχνές ασυνέχειες του στρώματος λίπανσης. Μεγάλη σημασία έχει επίσης, η διεύθυνση της
σχετικής ολίσθησης των συνεργαζόμενων επιφανειών, σε σχέση με το ίχνος επιφάνειας
στην καθεμιά, αλλά και με τη διεύθυνση τυχόν κυματώσεων. Τέλος, η αύξηση της
μικροσκληρότητας μειώνει τη φθορά, αλλά μια πολύ υψηλή τιμή της προκαλεί το αντίθετο
αποτέλεσμα, λόγω θραύσης τεμαχιδίων της επιφάνειας. Αύξηση της μικροσκληρότητας
επιτυγχάνεται με επιφανειακές κατεργασίες, όπως η επαγωγική σκλήρυνση, η
ενανθράκωση, η εναζώτωση, η επικάλυψη με δέσμη plasma κ.λπ.
6.3 Μέτρηση γεωμετρικών αποκλίσεων
Το προφίλ μιας επιφάνειας προσδιορίζεται με την ιχνηλάτηση των ανωμαλιών της.

Αυτό πραγματοποιείται με τη χρήση τεχνικών που στηρίζονται σε μηχανικά, ηλεκτρικά ή
οπτικά φαινόμενα, τα οποία λαμβάνουν χώρα κατά τη σάρωση της επιφάνειας σε μια
ευθεία. Οι διατάξεις με τις οποίες επιτυγχάνεται η ιχνηλάτηση ονομάζονται προφιλόμετρα
ή τραχύμετρα. Ανάλογα με το φαινόμενο στο οποίο στηρίζεται η λειτουργία τους,
διακρίνονται σε ηλεκτρομηχανικά τραχύμετρα, μηχανικά τραχύμετρα, οπτικά
προφιλόμετρα, κ.λπ. Από το σύνολο των υφιστάμενων τεχνικών, οι ηλεκτρομηχανικές
αποδείχθηκαν οι πιο εύχρηστες και κατάλληλες για γρήγορη και αξιόπιστη αξιολόγηση της
ποιότητας της επιφάνειας, διότι επιτρέπουν, αφενός την άμεση καταγραφή/ αναπαραγωγή
της κατατομής και αφετέρου την ποσοτικοποίηση της με τον υπολογισμό διαφόρων μέτρων
τραχύτητας.
|118|
6.3.1 Ηλεκτρομηχανικά τραχύμετρα
Τα ηλεκτρομηχανικά τραχύμετρα στηρίζονται στην «ανάγνωση» του ανάγλυφου

μιας επιφάνειας, κατά μήκος μιας ευθείας γραμμής, η οποία έχει προεπιλεγεί, ενώ
ολισθαίνει πάνω σε αυτή ένας στυλίσκος ευαίσθητης ακίδας τυποποιημένης γεωμετρίας.
Εικόνα 6.6: Αρχή λειτουργίας ηλεκτρομηχανικών προφιλομέτρων: Ο στυλίσκος (1) με την

προσαρμοσμένη κατάλληλη αδαμάντινη ακίδα (2) ολισθαίνει παράλληλα στην επιφάνεια (3)
του αντικειμένου (5). Ακολουθώντας την κατατομή της επιφάνειας, ο στυλίσκος κινείται
κατακόρυφα (4) και οι κατακόρυφες μετατοπίσεις του καταγράφονται ως η μετρούμενη
(πράσινο χρώμα) κατατομή (6)
Οι χρησιμοποιούμενες διατάξεις που μετατρέπουν τις μηχανικές μετατοπίσεις σε

ηλεκτρικά σήματα ονομάζονται μορφοτροπείς ή στοιχεία αντίληψης (pick-ups) και
ανήκουν σε δύο βασικές κατηγορίες, οι οποίες διαφέρουν μεταξύ τους, κυρίως ως προς την
ικανότητα μέτρησης πολύ λείων επιφανειών περιγράφονται στην συνέχεια:
Διατάξεις διαμόρφωσης φέρουσας συχνότητας, στις οποίες η συχνότητα υψίσυχνου
εναλλασσόμενου ρεύματος εξαρτάται από τη θέση του στυλίσκου (ακίδας) του στοιχείου
αντίληψης: Η ευαισθησία τους και η ακρίβεια των λαμβανόμενων μετρήσεων είναι
ανεξάρτητες του μεγέθους της τραχύτητας της μετρούμενης επιφάνειας. Είναι πολύπλοκες
και επομένως πολύ ακριβές. Για αυτό το λόγο η χρήση τους περιορίζεται για
εργαστηριακές μετρήσεις.
Διατάξεις τάσης ή έντασης στις οποίες παράγεται ρεύμα ή διαφορά δυναμικού κατά
την κίνηση του στυλίσκου: Προκειμένου να είναι δυνατή η μετατροπή των υψομετρικών
διαφορών της κατατομής σε ηλεκτρικό σήμα, πρέπει οι μεταβολές της τάσης ή της έντασης
να είναι γρήγορες, ώστε να υπάρχει εναλλασσόμενο ηλεκτρικό μέγεθος με συχνότητα
μεγαλύτερη του 1Hz. Η ευαισθησία τους είναι μειωμένη, σε περιπτώσεις επιφανειών
μικρής τραχύτητας, αλλά για μετρήσεις σε συνήθεις μηχανολογικές επιφάνειες αποτελούν
το ενδεδειγμένο εργαλείο. Είναι απλές στο χειρισμό τους, σχετικά χαμηλού κόστους και
μπορούν να χρησιμοποιηθούν για επιτόπιες μετρήσεις.
Εικόνα 6.7: Τραχύμετρο εργαστηριακό (αριστερά) και εργοταξιακό (δεξιά)
|119|
Πίνακας 6.1: Αναμενόμενες τιμές τραχύτητας (Ra) και μέση απόσταση εξάρσεων του
ανάγλυφου, μετά από συνήθεις μηχανουργικές κατεργασίες μεταλλικών επιφανειών
Μέση Συνήθης Απόσταση Κορυφών (mm)
Κατεργασία Τραχύτητα
0,08 0,25 0,80 2,5 8,0
Ra (μm)
Υπερλείανση 0,05 – 0,20 √ √ √
Lapping 0,05 – 0,40 √ √ √
Honing 0,1 – 0,8 √ √
Λείανση 0,1 – 1,6 √ √ √
Τόρνευση με διαμάντι 0,1 – 0,4 √ √
Τόρνευση 0,4 – 6,3 √ √
Διάτρηση 0,4 – 6,3 √ √ √
Διάτρηση με εκγλύφανο 0,8 – 3,2 √ √
Φρεζάρισμα 0,8 – 6,3 √ √ √
Πλάνισμα 1,60 – 12,5 √ √ √
|120|
7. ΟΠΤΙΚΑ ΒΟΗΘΗΜΑΤΑ ΚΑΙ ΜΕΤΡΗΤΙΚΕΣ ΔΙΑΤΑΞΕΙΣ ΣΤΟΝ
ΟΠΤΙΚΟ ΕΛΕΓΧΟ
7.1 Οπτικά βοηθήματα
Τα οπτικά βοηθήματα πρέπει να τοποθετούνται περίπου στην κανονική απόσταση

ανάγνωσης, δηλαδή στα 300mm. Οι διατάξεις μεγέθυνσης με μεταβλητή κλίση /
χρησιμοποιούνται σε σταθερούς σταθμούς ελέγχου, μέσα στο μηχανουργείο, το κέντρο
ελέγχου ή το τμήμα επιθεωρήσεων. Οι συνήθεις έλεγχοι περιλαμβάνουν μηχανικά
εργαλεία, μικρά εξαρτήματα και υφάσματα.
7.1.1 Καθρέπτες
Σε περιπτώσεις όπου η πρόσβαση είναι περιορισμένη και η οπτική γωνία είναι

αναγκαστικά μικρή, μπορούν να γίνουν βελτιώσεις με τη χρήση καθρεπτών οι οποίοι
επιτρέπουν την παρατήρηση αντικειμένων που είναι κρυμμένα πίσω ή κάτω από άλλα
αντικείμενα, προσφέροντας επίσης την ευελιξία επίτευξης των βέλτιστων οπτικών γωνιών.
Οι καθρέπτες διατίθενται σε διάφορα σχήματα, μεγέθη και καμπυλότητες (κυρτοί, κοίλοι
και παραβολικοί καθρέπτες), με ρυθμιζόμενες και τηλεσκοπικές λαβές.
Η χρήση των καθρεπτών απαιτεί κατάλληλη εξάσκηση προκειμένου το φως να
ανακλάται σωστά και να επιτυγχάνεται η επιθυμητή ανακλώμενη εικόνα. Οι καθρέπτες
μπορούν επίσης να χρησιμοποιηθούν σε συνδυασμό με κάποια φωτεινή πηγή, αλλά η
χρήση τους είναι προφανώς περιορισμένη. Πριν την εμφάνιση των ινοσκοπίων,
αποτελούσαν τη μόνη μέθοδο για την παρατήρηση «κρυμμένων» σημείων.
Εικόνα 7.1: Είδη καθρεπτών
7.2 Μικροσκόπια
Με ένα μικροσκόπιο (microscope) μικρο-σκοπείται, παρατηρείται δηλαδή ένα

αντικείμενο, συνήθως μικρό, το οποίο βρίσκεται «κοντά». Το είδωλο, όπως παρατηρείται
μέσα από το μάτι ή την κάμερα που το καταγράφει, έχει μεγέθυνση αρκετά μεγαλύτερη της
μονάδας. Για να επιτευχθεί όμως αυτό, χρειάζεται η συνδυαστική δράση δύο ομάδων
φακών. Γι’ αυτό το λόγο ονομάζεται και σύνθετο μικροσκόπιο (compound microscope). Οι
ομάδες φακών στο μικροσκόπιο είναι το αντικειμενικό και το προσοφθάλμιο σύστημα. Το
πρώτο σύστημα, το αντικειμενικό (objective), είναι κοντά στο αντικείμενο και δημιουργεί
ένα πραγματικό είδωλο με μια πρωτογενή μεγέθυνση. Αυτό το ενδιάμεσο είδωλο είναι το
«αντικείμενο» του δεύτερου συστήματος, του προσοφθάλμιου (eye-piece), μέσω του
οποίου γίνεται η παρατήρηση.
|121|
Η εφεύρεση του σύνθετου μικροσκοπίου έχει τις ρίζες του στους τεχνίτες οπτικούς
στην Ολλανδία στα τέλη του 16ου αιώνα. Σημειώνεται ότι συνδέεται με την εφεύρεση του
τηλεσκόπιου, την ίδια περίπου εποχή.
Εικόνα 7.2: Το σύνθετο μικροσκόπιο του Janssen (1595) στο Middleburg Museum
(αριστερά) Το μικροσκόπιο του van Leeuwenhoek (1670)(δεξιά)
Για εργασίες που σχετίζονται με τη μικροσκοπία έχουν απονεμηθεί τέσσερα

βραβεία Nobel: το 1925 στον Richard Zsigmondy για το υπερ-μικροσκόπιο, το 1953 στον
Frits Zernike για το μικροσκόπιο αντίθεσης φάσης (phase-contrast microscope) και το 1986
στους Ernst Ruska για το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο και Gerd Binnig και Heinrich Rohrer
για το σαρωτικό μικροσκόπιο σήραγγας (scanning tunneling microscope).
7.2.1 Αρχιτεκτονική μικροσκοπίου και μεγέθυνση
Το μικροσκόπιο βασίζεται στη μεγέθυνση ενός μεγεθυμένου ειδώλου. Επομένως, η

συνολική μεγέθυνση είναι το γινόμενο των δύο επιμέρους μεγεθύνσεων, του πρωτογενούς
από τον αντικειμενικό και του δευτερογενούς από τον προσοφθάλμιο. Το είδωλο στο
μικροσκόπιο είναι φανταστικό και δε μπορεί να «σχηματιστεί» πάνω σε μια επιφάνεια.
Φαίνεται να «αιωρείται» στο χώρο πέρα από τον προσοφθάλμιο και ορισμένες φορές
«σχηματίζεται» αρκετά έξω από το ίδιο το όργανο, ακόμα και στο άπειρο.
Αν και πολύπλοκο οπτικό όργανο, η λειτουργία του βασίζεται σε ένα σύστημα δύο
θετικών φακών. Κοντά στο αντικείμενο είναι ο αντικειμενικός (εστιακή απόσταση fo) και
κοντά στο μάτι ο προσοφθάλμιος (fe), που απέχουν απόσταση d, δηλαδή οι εσωτερικές
τους εστίες απέχουν L. Η απόσταση L λέγεται οπτικό μήκος σωλήνα (optical tube length)
και είναι τυπικά 16-20cm. Η απόσταση d, δηλαδή η απόσταση αντικειμενικού-
προσοφθάλμιου λέγεται μηχανικό μήκος σωλήνα (mechanical tube length).
Εικόνα 7.3: Αρχιτεκτονική σύνθετου μικροσκοπίου
|122|
Το αντικείμενο βρίσκεται στη θέση xo μπροστά από τον αντικειμενικό φακό και το
αρχικό του είδωλο σχηματίζεται στη θέση xi, που πρέπει να είναι πολύ κοντά στην εστία
του προσοφθάλμιου φακού. Έτσι, οι ακτίνες από το είδωλο εξέρχονται παράλληλες από
τον προσοφθάλμιο.
Αυτό το ενδιάμεσο είδωλο είναι μεγεθυμένο, πραγματικό, αντεστραμμένο και
σχηματίζεται στην εστία του προσοφθάλμιου. Η μεγέθυνση που αντιστοιχεί σε αυτό είναι η
μεγεθυντική ισχύς του αντικειμενικού φακού (objective magnifying power).
Ο βασικός σκοπός ενός μικροσκοπίου είναι η παρατήρηση μικρών λεπτομερειών
ενός δείγματος και όχι τόσο η μεγέθυνση τους. Υπάρχει όριο στο πόσο χρήσιμη είναι η
μεγέθυνση σε ένα μικροσκόπιο που επιβάλλεται από τη διακριτική του ικανότητα. Ως
διακριτική ικανότητα ορίζεται η ελάχιστη απόσταση ανάμεσα σε δύο σημεία που τα είδωλα
τους διακρίνονται ως ξεχωριστά μεταξύ τους.
7.2.2 Επιμέρους συστήματα
Ανάλογα με τη χρήση, το σύστημα φωτισμού σε ένα μικροσκόπιο μπορεί να είναι

μέσα στο οπτικό σύστημα του αντικειμενικού φακού ή εξωτερικά. Έτσι, υπάρχει το
διασκοπικό μικροσκόπιο (diascopic), το οποίο παρατηρεί ένα λεπτό αντικείμενο, που
βρίσκεται πάνω σε μια καλυπτρίδα (microscope cover slide) και το φως διέρχεται μέσα από
αυτό, εστιάζει με τον αντικειμενικό φακό και μετά στον προσοφθάλμιο. Αυτό είναι το
κλασικό βιολογικό μικροσκόπιο.
Η άλλη κατηγορία είναι το επισκοπικό (episcopic), το οποίο παρατηρεί το
επιφανειακό αντικείμενο. Το φως διέρχεται μέσα από τον αντικειμενικό φακό και
ανακλάται από την επιφάνεια του αντικειμένου.
Εικόνα 7.4: Λεπτομερειακός χάρτης μικροσκοπίου
|123|
7.3 Ενδοσκόπια
Ο όρος ενδοσκόπιο προέρχεται από τις ελληνικές λέξεις ένδον και σκοπώ. Τα
ενδοσκόπια διατίθενται σε διάφορα μεγέθη και διακρίνονται σε αναλογικά και ψηφιακά.
Ένα ενδοσκόπιο αποτελείται από έναν λεπτό, εύκαμπτο ή άκαμπτο σωλήνα, ο οποίος
μεταφέρει φως στην περιοχή που εξετάζεται, ενώ παράλληλα μεταφέρει εικόνα στο
χειριστή. Σε ένα ενδοσκόπιο που χρησιμοποιεί οπτικές ίνες, ένα μέρος του οπτικού αγωγού
καταλαμβάνεται από τις οπτικές ίνες που οδηγούν το φως μέσα στην κοιλότητα και ο
υπόλοιπος από τις οπτικές ίνες που μεταφέρουν την εικόνα του εσωτερικού της κοιλότητας
στην ειδική οθόνη. Όταν ο οπτικός αγωγός μεταφέρει μόνο φως, οι οπτικές του ίνες δε
χρειάζεται να διατηρούν αυστηρή διάταξη και παραλληλία. Όταν ο οπτικός αγωγός
μεταφέρει εικόνες, οι οπτικές του ίνες πρέπει να διατηρούν αυστηρή διάταξη. Στην
συνέχεια περιγράφονται τα βασικά είδη ενδοσκοπίων.
Εικόνα 7.5: Τρόπος λειτουργίας του ενδοσκοπίου
7.3.1 Άκαμπτα ενδοσκόπια
Το άκαμπτο ενδοσκόπιο δημιουργήθηκε αρχικά για τον έλεγχο του διαμετρήματος

της κάνης των όπλων και των πυροβόλων όπλων. Η εικόνα στο προσοφθάλμιο τμήμα
δημιουργείται από έναν αντικειμενικό φακό, ένα πρίσμα, ένα σύστημα φακών
αναμετάδοσης και ένα προσοφθάλμιο φακό. Το μηχάνημα μπορεί να έχει σταθερή ή
ρυθμιζόμενη εστίαση και έτσι να είναι πιο χρήσιμο και ευέλικτο. Ένα άκαμπτο μικρό
ενδοσκόπιο περιλαμβάνει μία οπτική ίνα αντί για το σύστημα των φακών. Η ίνα έχει
διάμετρο περίπου 1mm και το διάφραγμα του φακού ισοδυναμεί με κάμερα σημειακής
οπής, με αποτέλεσμα άπειρο βάθος πεδίου.
Οι ρυθμίσεις της εστίασης μπορούν να βοηθήσουν ώστε να υπερνικώνται και να
αντισταθμίζονται οι διαφορές στην όραση των διάφορων χειριστών, ενώ ταυτόχρονα
επεκτείνουν το βάθος του οπτικού πεδίου δημιουργώντας πιο ευκρινή είδωλα.
|124|
Εικόνα 7.6: Τυπικό άκαμπτο ενδοσκόπιο
Εικόνα 7.7: Τυπικό εύκαμπτο ενδοσκόπιο
7.3.2 Πανοραμικά ενδοσκόπια
Διαθέτουν καθρέπτη σάρωσης μπροστά από το σύστημα των αντικειμενικών

φακών. Έτσι παρέχεται ένα ευρύ οπτικό πεδίο και διευκολύνεται η γρήγορη εξέταση του
εσωτερικού κυλίνδρων, αγωγών κ.λπ.
Σε υγρά ή αεριώδη περιβάλλοντα μπορούν να χρησιμοποιούνται υδατοστεγή ή
αεροστεγή ενδοσκόπια για εφαρμογές υψηλών θερμοκρασιών στο εσωτερικό κινητήρων.
Εικόνα 7.8: Τυπικό ενδοσκόπιο
|125|
Εικόνα 7.9: Εργασία με άκαμπτο ενδοσκόπιο
Εικόνα 7.10: Τυπικός έλεγχος με ενδοσκόπιο
Εικόνα 7.11: Τυπικά άκαμπτα και εύκαμπτα ενδοσκόπια
|126|
7.3.3 Τεθλασμένα ενδοσκόπια
Σχηματίζουν διάφορες γωνίες, επιτρέποντας την εξέταση περιοχών στις οποίες δεν
μπορούν να εισέλθουν τα άκαμπτα ενδοσκόπια. Τα ενδοσκόπια ορθής γωνίας
χρησιμοποιούνται για θέαση πίσω από ορθές γωνίες. Τα ενδοσκόπια ευρέως πεδίου
παρέχουν οπτικό πεδίο έως 120°. Τα ενδοσκόπια μινιατούρες έχουν ελάχιστη διάμετρο έως
1,75mm. Τα περισκοπικά ενδοσκόπια χρησιμοποιούνται για θέαση πάνω από άλλα
αντικείμενα.
Τα βαθμονομημένα ενδοσκόπια χρησιμοποιούνται για εξετάσεις ειδικού τύπου. Ο
εξωτερικός σωλήνας είναι βαθμονομημένος ώστε να δείχνει το βάθος διείσδυσης κατά την
διάρκεια του ελέγχου.
Εικόνα 7.12: Διαθέσιμες γωνίες θέασης ενδοσκοπίων
7.4 Οπτικές ίνες
Οι οπτικές ίνες αποτελούνται από πολύ λεπτά και εύκαμπτα υάλινα νήματα
διαμέτρου 9 - 30microns. Μέσω των νημάτων αυτών διαδίδεται το φως με διαδοχικές
ανακλάσεις στα εσωτερικά τους τοιχώματα, με αποτέλεσμα το φως να ακολουθεί την
πορεία των νημάτων ανεξάρτητα από το σχήμα τους. Η ιδιότητα αυτή επιτρέπει στο φως ή
στο είδωλο της εικόνας να διαδίδεται ακολουθώντας τεθλασμένες ή καμπύλες τροχιές
χωρίς επιπλέον οπτικό εξοπλισμό. Γίνεται κατανοητό λοιπόν ότι με τη βοήθεια των
οπτικών ινών μπορεί να «αναγκαστεί» μία φωτεινή δέσμη να ακολουθήσει όποια διαδρομή
επιθυμεί κάποιος. Μπορεί δηλαδή να ισχυριστεί κανείς ότι όπως με ένα εύκαμπτο λάστιχο
ποτίσματος μπορεί να οδηγηθεί το νερό από τη βρύση σε ένα σημείο του κήπου, έτσι και
με τις οπτικές ίνες μπορεί να «οδηγηθεί» το φως από μία ακίνητη πηγή σε οποιοδήποτε
σημείο θέλουμε. Για αυτό λέγεται ότι μία οπτική ίνα είναι ένας φωτοαγωγός ή
φωτοοδηγός.
Κάθε οπτική ίνα αποτελείται από τρία μέρη:
Την κεντρική γυάλινη κυλινδρική ίνα που ονομάζεται πυρήνας και είναι το τμήμα
στο οποίο διαδίδεται το φως.
Την επικάλυψη (απλή ή πολλαπλή), που είναι ένας ομόκεντρος με τον πυρήνα
κύλινδρος. Έχει μικρότερο δείκτη διάθλασης από τον πυρήνα, ώστε να προκαλούνται στο
φως συνεχείς ολικές ανακλάσεις. Η επικάλυψη αυτή ονομάζεται μανδύας και λειτουργεί ως
καθρέπτης.
Το περίβλημα το οποίο είναι ένα αδιαφανές πλαστικό.
|127|
Οι ίνες έχουν πολύ μικρή διατομή και διαδίδουν πολύ λίγο φως. Αυτός είναι και ο
λόγος που ομαδοποιούνται σε δέσμες αποτελούμενες από πολλές χιλιάδες ίνες, ώστε να
επιτυγχάνεται το απαιτούμενο επίπεδο φωτεινότητας.
Η εφαρμογή της διάδοσης του φωτός και της λήψης των ειδώλων απαιτεί τη χρήση
δύο ξεχωριστών δεσμών οπτικών ινών: μία για τη διάδοση του φωτός (οδηγός του φωτός)
και μία για τη λήψη (οδηγός του ειδώλου). Τα οπτικά νήματα των οδηγών του φωτός έχουν
διάμετρο περίπου 30micron και χρησιμοποιούνται σε δέσμες (δέσμη οδηγού του φωτός).
Τα οπτικά νήματα του οδηγού του ειδώλου έχουν διάμετρο 9 - 17microns, μικρότερη από
εκείνη των νημάτων του οδηγού του φωτός, διότι η διάμετρος των ινών είναι ένας από τους
παράγοντες που επηρεάζουν την ανάλυση. Στο ένα άκρο των ινών τοποθετείται ένας
αντικειμενικός φακός για την εστίαση της εικόνας, η οποία μεταδίδεται μέσω των οπτικών
ινών στο προσοφθάλμιο τμήμα όπου μπορεί πλέον να ρυθμιστεί ώστε να δημιουργεί ένα
ευκρινές είδωλο.
Εικόνα 7.13: Η διαδρομή του φωτός σε μια οπτική ίνα (αριστερά). Δομή μιας οπτικής ίνας
(δεξιά)
Εικόνα 7.14: Οπτικές ίνες
Σημειώνεται ότι το φως κατά το «ταξίδι» του μέσα σε μία οπτική ίνα εξασθενεί.
Αυτό συμβαίνει συνήθως:
 Λόγω απορρόφησης που οφείλεται στις ξένες προσμείξεις που υπάρχουν στο γυαλί
(Εικόνα 7.11α).
 Λόγω σκέδασης κατά την οποία το φως διεισδύει στο μανδύα και διασκορπίζεται.
Το φαινόμενο αυτό παρατηρείται εντονότερα, αν στην οπτική ίνα υπάρχουν
συνδέσεις (Εικόνα 7.11β).
 Λόγω της κακής κατασκευής (μικροδιακυμάνσεις) της διαμέτρου του πυρήνα
(Εικόνα 7.11γ).
 Λόγω μεγάλης καμπής της οπτικής ίνας (Εικόνα 7.11δ).
|128|
Αν ο πυρήνας ήταν κατασκευασμένος από κοινό γυαλί, όπως αυτό των τζαμιών των
σπιτιών, τότε το φως θα «ταξίδευε» μέσα στην ίνα το πολύ ένα μέτρο. Για το λόγο αυτό, το
γυαλί που χρησιμοποιείται για την κατασκευή του πυρήνα είναι μεγάλης καθαρότητας.
Έτσι το φως μεταφέρεται σε απόσταση πολλών χιλιομέτρων με πολύ μικρές απώλειες. Η
καθαρότητα του γυαλιού είναι τέτοια, ώστε, αν κάποιος ήθελε να αντικαταστήσει το κοινό
τζάμι ενός παραθύρου με τζάμι κατασκευασμένο από υλικό ίδιο με αυτό των οπτικών ινών,
τότε αυτό, για να έχει την ίδια απορρόφηση φωτός, θα έπρεπε να έχει πάχος περίπου 1km.
Εικόνα 7.15: Τέσσερις περιπτώσεις εξασθένησης του φωτός κατά το «ταξίδι» του μέσα στις
οπτικές ίνες
7.5 Όργανα ελέγχου συγκολλήσεων
Υπάρχουν διάφορα όργανα, με τα οποία μπορεί κανείς να ελέγξει τα

κατασκευαστικά χαρακτηριστικά των συγκολλήσεων. Ενδεικτικά αναφέρονται στην
συνέχεια κάποια από αυτά.
7.5.1 Παχύμετρο
Το παχύμετρο είναι ένα όργανο μέτρησης μηκών. Πρόκειται για ένα πολύ εύχρηστο
και ευρέως διαδεδομένο όργανο μέτρησης σε μηχανουργείο, για συνήθεις μετρήσεις μικρής
και μέσης ακρίβειας. Με το παχύμετρο είναι δυνατό να μετρηθούν πάχη, εξωτερικές
διάμετροι και βάθη οπών. Πρόκειται για βελτιωμένη μορφή κανόνα. Για την αύξηση της
διακριτικής ικανότητας του κανόνα χρησιμοποιείται η αρχή του Βερνιέρου. Ο βερνιέρος
είναι μια απλή και εύχρηστη διάταξη, η οποία επιτρέπει την αύξηση της διακριτικής
ικανότητας του οργάνου κατά τουλάχιστον μία τάξη μεγέθους, δηλαδή επιτρέπει μετρήσεις
με ακρίβεια 0,02mm.
Η αρχή λειτουργίας του βερνιέρου κάνει χρήση παράλληλα προς την κλίμακα
μέτρησης του κανόνα μια δεύτερη κινητή κλίμακα με κατάλληλο αριθμό υποδιαιρέσεων. Η
δεύτερη αυτή κλίμακα υποδιαιρείται σε 10 ίσα τμήματα που αντιστοιχούν σε 9
υποδιαιρέσεις της βασικής κλίμακας. Με τον τρόπο αυτό, όταν συμπίπτουν τα δύο 0,
συμπίπτει και το 9 της βασικής κλίμακας με το 10 της κλίμακας του βερνιέρου. Όταν η
κλίμακα του βερνιέρου μετατοπισθεί κατά μία υποδιαίρεση, το 0 του βερνιέρου θα
συμπέσει με το 1 της βασικής κλίμακας και το 10 του βερνιέρου με το 10 της βασικής.
Στο παχύμετρο υπάρχει βερνιέρος 20 υποδιαιρέσεων στην κλίμακα των εκατοστών
(cm) και 25 υποδιαιρέσεων στην κλίμακα των ιντσών (inch). Κατά συνέπεια το όργανο
αυτό μετρά με ακρίβεια 0,05mm.
|129|
Τα πρακτικά βήματα για τη μέτρηση με παχύμετρο είναι τα ακόλουθα:
 Εξετάζεται πρώτα η διακριτική ικανότητα του βερνιέρου, δηλαδή εάν πρόκειται για
μετρητικό με διακριτική ικανότητα 0,1 ή 0,05 ή 0,02mm (πολλές φορές
συμβολίζεται και ως 1/10, 1/20 και 1/50).
 Διαβάζονται μετά τα χιλιοστά στην ένδειξη της ακίνητης κλίμακας (κανόνας).
 Τέλος, διακρίνεται η γραμμή από τις διαβαθμίσεις του βερνιέρου που αποτελεί
προέκταση των γραμμών του κανόνα και βρίσκονται τα δεκαδικά. (Ιδιαίτερη
προσοχή χρειάζεται στη διακριτική ικανότητα του οργάνου ώστε να βρεθούν σωστά
τα δεκαδικά ψηφία της μέτρησης).
Εικόνα 7.16: Παχύμετρο (αριστερή μέτρηση 24,70mm, δεξιά μέτρηση 3,58mm)
7.5.2 Μικρόμετρο
Το μικρόμετρο είναι ένα όργανο ακριβείας για τη μέτρηση των διαστάσεων μικρών
αντικειμένων. Παρέχει ενδείξεις ακριβείας της τάξεως του 0,01mm. Μικρόμετρα υπάρχουν
σε διάφορα σχήματα και μεγέθη ανάλογα με το σκοπό που πρόκειται να χρησιμοποιηθούν.
Ο πιο διαδεδομένος τύπος μικρομέτρου, ο οποίος χρησιμοποιείται για την μέτρηση
εξωτερικών διαστάσεων είναι το μικρόμετρο με επίπεδους άκμονες ακρίβειας 0,01mm.
Ένας πρακτικός τρόπος μέτρησης με ένα μικρόμετρο είναι ο ακόλουθος:
 Διαβάζεται η ένδειξη που είναι ορατή στο σταθερό κανόνα, στο άκρο του
βαθμολογημένου τυμπάνου σε mm.
 Στη συνέχεια προσθέτονται τα δεκαδικά ψηφία (εκατοστά του χιλιοστού) που
διαβάζονται στο περιστρεφόμενο τύμπανο, στην ευθεία που τέμνεται με την κύρια
κλίμακα.
|130|
Εικόνα 7.17: Μικρόμετρο (μέτρηση 5,78mm)
7.6 Όργανα μέτρησης συγκολλήσεων
Στην προσπάθεια να μετρήσουμε τις κατασκευαστικές διαστάσεις των

συγκολλήσεων, τις διαστάσεις της φρέζας, το βάθος επιφανειακών ασυνεχειών, καθώς και
την υπερβολική διείσδυση στην ενίσχυση (καπάκι) ή στη ρίζα μετωπικών και γωνιακών
συγκολλήσεων, χρησιμοποιούνται οι ελεγκτήρες επιθεώρησης συγκολλήσεων που
φαίνονται στις εικόνες παρακάτω.
Εικόνα 7.18: Έλεγχος φρέζας συγκόλλησης (αριστερά).Έλεγχος λαιμού γωνιακής

συγκόλλησης (δεξιά)
|131|
Εικόνα 7.19: Έλεγχος γωνίας ελασμάτων (αριστερά). Έλεγχος λαιμού γωνιακής συγκόλλησης
(δεξιά)
Εικόνα 7.20: Έλεγχος ύψους καπακιού (αριστερά). Έλεγχος κακής ευθυγράμμισης(δεξιά)
Εικόνα 7.21: Διαστασιακός έλεγχος και έλεγχος ασυνεχειών
|132|
Εικόνα 7.22: Πλήρης σειρά μετρητών επιθεώρησης συγκολλήσεων
Ο οπτικός έλεγχος πραγματοποιείται με τη χρήση των οργάνων που δίνονται στον

Πίνακα 7.1 σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ISO 17637.
|133|
Πίνακας 7.1: Όργανα μέτρησης οπτικού ελέγχου και χαρακτηριστικά τους
Τύπος Συγκόλλησης
Απόκλιση ως
Γωνιακή συγκόλληση Ακρίβεια
Μετρούμενο Περιεχόμενη προς τη
(Fillet Weld) μέτρησης
Όργανα Ελέγχου Περιγραφή εύρος σε γωνία ή γωνία περιεχόμενη
Επίπεδη Κυρτή Μετωπική σε
Κοίλη συγκόλληση mm συγκόλλησης γωνία ή γωνία
συγκόλληση συγκόλληση συγκόλληση mm
(Concave Weld) συγκόλλησης
(Flat weld) (Convex Weld) (Butt Weld)
Simple weld gauge
X X - X 3 – 15 ≈ 0,5 90 Μικρή
Μετρά λαιμό γωνιακής
συγκόλλησης από 3-15mm,
και την ενίσχυση σε
μετωπικές συγκολλήσεις
Set of welding gauges

X X - X 3 – 12 - 90 Καμία
Μετρά λαιμό γωνιακής
συγκόλλησης από 3-12mm
Weld gauge with vernier
Μετρά το ύψος της ενίσχυσης X X - X 0 – 20 0,1 90 Καμία

σε μετωπικές συγκολλήσεις
αλλά και σε γωνιακές
συγκολλήσεις με περιεχόμενη
γωνία 60°, 70°, 80° και 90°
Set made weld gauge
X - - - 0 – 20 0,2 90 Καμία
Μετρά 7 πάχη λαιμού σε
γωνιακές συγκολλήσεις με
περιεχόμενη γωνία 90°
|134|
Three scale weld gauge
X X X X 0 – 15 0,1 90 X
Μετρά πάχος του λαιμού και
των ποδών σε γωνιακές
συγκολλήσεις καθώς και το
ύψος της ενίσχυσης σε
μετωπικές συγκολλήσεις
Gauge for checking profile of

fillet welds
- - - - - - - -
Μετρά το λαιμό σε γωνιακά
κολλήματα. Κάθε ελεγκτήρας
αντιστοιχεί σε μία διάσταση
Multi purpose gauge
X X X X 0 - 50 0,3 0 - 45 X
Μετρά τη γωνία της φρέζας,
το διάκενο, το ύψος του πόδα
(leg), το ύψος της ενίσχυσης,
την κακή ευθυγράμμιση, το
βάθος της υποκοπής
|135|
Universal weld gauge
Γωνιακές συγκολλήσεις:
Μετρά τη μορφή και τις
διαστάσεις X X X X 0 - 30 0,1 - ±25%
Μετωπικές συγκολλήσεις:
μετρά την κακή ευθυγράμμιση
των ελασμάτων, τη γωνία της
φρέζας, το διάκενο, το ύψος
της ενίσχυσης και το βάθος
της υποκοπής
Gap Gauge
- - - X 0-6 0,1 - -
Μετρά το διάκενο της ρίζας
Ηοοk gauge for misalignment
- - - X 0 - 100 0,05 - -
Μετρά την ευθυγράμμιση
μεταξύ δύο ελασμάτων ή
σωλήνων
Universal butt weld gauge
Μετρά τη γωνία της φρέζας, X X X X 0 - 30 0,1 - ±25%

το διάκενο, το πρόσωπο της
ρίζας το ύψος της ενίσχυσης,
το βάθος της υποκοπής, και τη
διάμετρο των αναλώσιμων
|136|
8. ΠΑΡΑΓΟΝΤΕΣ ΠΟΥ ΕΠΗΡΕΑΖΟΥΝ ΤΟΝ ΟΠΤΙΚΟ ΕΛΕΓΧΟ
8.1 Θερμοκρασία
Η θερμοκρασία των αντικειμένων που πρόκειται να υποβληθούν σε οπτικό έλεγχο

πρέπει να είναι κανονικά η θερμοκρασία δωματίου (περίπου 20°C). Ωστόσο, υπάρχουν
περιπτώσεις που αυτό δεν είναι εφικτό με αποτέλεσμα την πρόκληση διαστασιακών
προβλημάτων ή κινδύνου για την υγεία. Τα αντικείμενα με θερμοκρασία κάτω του μηδενός
ή πάνω από 60°C, μπορεί να προκαλέσουν τραυματισμό των χεριών αν δε γίνεται χρήση
προστατευτικών γαντιών. Η διαστασιακή σταθερότητα επηρεάζεται επίσης από την
θερμοκρασία, καθώς η βαθμονόμηση γίνεται συνήθως στους 20°C και κάθε εξάρτημα που
έχει θερμοκρασία διαφορετική από αυτή θα δώσει ανακριβείς μετρήσεις, τόσο όσον αφορά
το ίδιο, όσο και τα χρησιμοποιούμενα μηχανήματα.
Στη βιομηχανία ο οπτικός έλεγχος θερμών αντικειμένων από απόσταση είναι
συνήθης, καθώς με αυτόν τον τρόπο ελέγχεται η κατάσταση των εγκαταστάσεων και των
προϊόντων. Για παράδειγμα, η κατάσταση του εσωτερικού του θόλου των καμίνων και η
επένδυση των λαβίδων και των εργαλείων χύτευσης, εξετάζονται πριν από τη χύτευση κάθε
παρτίδας προϊόντων, διατηρώντας υγρή την τάφρο και ανεβάζοντας ξανά τη θερμοκρασία
της καμίνου ανά συγκεκριμένο χρονικό διάστημα ώστε να αποφεύγονται οι ζημιές στα
δύστηκτα υλικά λόγω των περιόδων αδράνειας και τα τυχόν προβλήματα στους καυστήρες.
Κατά τη διάρκεια της διαδικασίας κατασκευής, η επιθεώρηση των ράβδων καθαρού
μετάλλου πραγματοποιείται σε θερμοκρασία πάνω από 900°C, ενώ η επιθεώρηση των εν
θερμώ ελατών και σφυρήλατων προϊόντων γίνεται σε θερμοκρασία 960°C έως 1.250°C.
Επίσης η επιθεώρηση κινητήρων, λεβήτων και άλλων μηχανολογικών εγκαταστάσεων
πραγματοποιείται στις υψηλές θερμοκρασίες λειτουργίας τους.
8.2 Επίστρωση επιφανειών
Ο οπτικός έλεγχος της επίστρωσης μιας επιφάνειας είναι μια διαδικασία η οποία
απαιτεί ειδικές γνώσεις. Υπάρχουν πολλοί τύποι επιστρώσεων, όπως οι οργανικές βαφές
και οι μεταλλικές επιστρώσεις. Μπορεί επίσης να συναντήσει κανείς ανοδιωμένες
επιφάνειες. Οι επιφάνειες αυτές διαθέτουν ένα πολύ λεπτό επιφανειακό φινίρισμα πάχους
1 - 2μm το οποίο αποτελείται από ένα στρώμα οξειδίου που μπορεί εύκολα να
καταστραφεί.
Οι επιφάνειες πρέπει να ελέγχονται οπτικά, για τυχόν επιφανειακές ασυνέχειες, πριν
από την επίστρωση καθώς και για την ύπαρξη του κατάλληλου φινιρίσματος που
εξασφαλίζει τη σωστή συγκόλληση και την αντοχή της επίστρωσης. Αξίζει να αναφερθεί
ότι ο βαθμός προετοιμασίας της επιφάνειας καθορίζει συχνά τη διάρκεια ζωής της
επίστρωσης. Μερικές φορές, απαιτείται ο οπτικός έλεγχος μιας επιστρωμένης επιφάνειας
προκειμένου να ανιχνευθεί και να μετρηθεί η διάβρωση. Για να προσδιοριστεί η πλήρης
έκταση της διάβρωσης, απαιτείται η τοπική αφαίρεση της επίστρωσης της επιφάνειας.
Σημειώνεται ότι δε μπορούν όλες οι οργανικές βαφές να αφαιρεθούν με κάποιο διαλύτη.
Υπάρχουν διαφορετικοί τύποι βαφών και ορισμένοι από αυτούς μπορούν να αφαιρεθούν
μόνο με εκτόξευση αποξεστικών υλικών ή θέρμανση, απόξεση και ηλεκτρική
συρματόβουρτσα.
|137|
8.3 Χρώμα
Η ισχυρή αντίθεση χρωμάτων και μοτίβων, όπως αυτή ανάμεσα στο μαύρο και το
λευκό, το κόκκινο και το μπλε ή το κόκκινο και το πράσινο, πρέπει να αποφεύγεται κατά
την επιθεώρηση, καθώς μπορεί να δημιουργήσει προβλήματα και να επηρεάσει αρνητικά
την ικανότητα αντίληψης. Το χρώμα μιας επιφάνειας εξετάζεται βάσει των τριών κύριων
ιδιοτήτων του: του χρωματικού τόνου, της φωτεινότητας και του χρωματικού κορεσμού.
8.3.1 Χρωματικός τόνος
Τα χρώματα υποδιαιρούνται σε ομάδες με ίδιο τόνο, δηλαδή σε κόκκινα, κίτρινα,

πράσινα, μπλε, πορφυρά κ.λπ. Στην καθομιλουμένη, η ιδιότητα αυτή αναφέρεται συνήθως
ως απόχρωση.
8.3.2 Φωτεινότητα (ή λαμπρότητα)
Η φωτεινότητα ενός χρώματος προσδιορίζεται από την αναλογία του φωτός που
ανακλά, ανεξάρτητα από το χρωματικό τόνο και κορεσμό. Μπορεί με την πάροδο του
χρόνου να παρατηρηθεί μείωση στην ένταση του εκπεμπόμενου φωτός από μια τεχνητή
πηγή. Οι συνηθέστερες αιτίες είναι: η φθορά των πηγών φωτισμού καθώς και οι μη
καθαρές εγκαταστάσεις και πηγές φωτισμού.
8.3.3 Χρωματικός κορεσμός
Τα χρώματα που έχουν παρόμοιο τόνο και παρόμοια φωτεινότητα μπορεί να

διαφέρουν ως προς την ποσότητα ή την ένταση τους. Αυτή η ιδιότητα, η οποία ονομάζεται
χρωματικός κορεσμός, μπορεί να οριστεί ως η ένταση οποιουδήποτε χρωματικού τόνου
που προκύπτει από τη σύγκριση με ένα ουδέτερο γκρίζο χρώμα παρόμοιας φωτεινότητας.
Οι όροι χρώμα (chroma) και ένταση χρησιμοποιούνται επίσης με την ίδια έννοια.
|138|
9. ΚΑΤΑΓΡΑΦΗ ΚΑΙ ΑΝΑΦΟΡΑ ΤΟΥ ΕΛΕΓΧΟΥ
9.1 Καταγραφή των παρατηρήσεων
Οι παρατηρήσεις του επιθεωρητή κατά τη διάρκεια του οπτικού ελέγχου και η

ερμηνεία τους πρέπει να υποβάλλονται μέσω κατάλληλης αναφοράς ή έκθεσης η οποία
μπορεί να έχει την μορφή διαγραμμάτων, εικόνων ή γραπτής περιγραφής. Σε πολλές
περιπτώσεις, η προτιμώμενη μέθοδος είναι συνδυασμός εικόνας και κειμένου, δεδομένου
ότι η εικόνα επιδέχεται διαφορετικές ερμηνείες. Με άλλα λόγια δηλαδή η ερμηνεία είναι
υποκειμενική. Ο οπτικός έλεγχος απαιτεί τη χρήση μιας μεθόδου καταγραφής των
αποτελεσμάτων ώστε, οι παρατηρήσεις να είναι πιο αντικειμενικές, δηλαδή να μη
διαφέρουν μεταξύ διαφορετικών ανθρώπων.
9.2 Φωτογράφιση - Βιντεοσκόπηση
Η φωτογράφιση και η βιντεοσκόπηση αποτελούν εξαιρετικές μεθόδους καταγραφής

συγκεκριμένων οπτικών αποτελεσμάτων. Απαιτούν ωστόσο ιδιαίτερο χειρισμό και
δεξιότητες, προκειμένου να επιτυγχάνονται βέλτιστα αποτελέσματα.
9.3 Ρέπλικα
Παρέχει μια μόνιμη καταγραφή της επιφάνειας ενός εξαρτήματος. Η διαδικασία

αυτή χρησιμοποιείται για τη δημιουργία αντιγράφου της κατάστασης της επιφάνειας, το
οποίο απεικονίζει τυχόν ζημιές από κρούσεις, φθορές, διάβρωση και ρηγμάτωση. Το υλικό
που χρησιμοποιείται για την δημιουργία του αντιγράφου καθορίζει την ανάλυση της
λεπτομέρειας. Τα φιλμ που δίνουν τα καλύτερα αντίγραφα κατασκευάζονται από
νιτροκυτταρίνη και οξικό εστέρα της κυτταρίνης. Τα υλικά αυτά χρησιμοποιούνται όταν
αναμένεται διεξαγωγή μικροσκοπικού ελέγχου. Άλλα υλικά που χρησιμοποιούνται για την
δημιουργία των αντιγράφων είναι ο γύψος, διάφορα πλαστικά υλικά, η πλαστελίνη,
βερνίκια, διάφοροι τύποι πηλού, ελαστικά υλικά από σιλικόνη, ταινίες κ.λπ. Τα ελαστικά
υλικά από σιλικόνη έχουν την δυνατότητα να ρέουν μέσα στις ρωγμές, στα σκασίματα και
στα κοιλώματα.
Η εξέταση του αντιγράφου επιτρέπει το λεπτομερή έλεγχο και τη μέτρηση
συγκεκριμένων χαρακτηριστικών.
Εικόνα 9.1: Αρχές της δημιουργίας αντιγράφων με ταινία εστέρα κυτταρίνης η οποία παρέχει
μια αρνητική εικόνα της επιφάνειας: (α) εγκάρσια τομή της μικροδομής, (β) εφαρμογή της
μαλακωμένης ταινίας, (γ) σκλήρυνση του αντιγράφου και (δ) αφαίρεση του αντιγράφου
|139|
|140|
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ
ΔΙΕΙΣΔΥΤΙΚΑ ΥΓΡΑ
|141|
|142|
1. ΕΙΣΑΓΩΓΗ
O Μη Καταστροφικός Έλεγχος με Διεισδυτικά Υγρά πραγματοποιείται προκειμένου

να ανιχνεύονται ασυνέχειες ανοιχτές προς την επιφάνεια, όπως ρωγμές και πόροι σε στερεά
μη πορώδη υλικά. Ο μοναδικός περιορισμός της μεθόδου είναι η μη εφαρμογή της σε
πορώδη υλικά, όπως για παράδειγμα τα τούβλα, το σκυρόδεμα και το χαρτί. Η μέθοδος των
διεισδυτικών υγρών αποτελεί αρκετά ευέλικτη και οικονομική μέθοδο Μη Καταστροφικού
Ελέγχου που συνδυάζει μικρό χρόνο εφαρμογής, μικρό κόστος, εφαρμογή σε οποιοδήποτε
χώρο (εργοτάξιο ή εργαστήριο), καθώς και εφαρμογή σε μη πορώδη υλικά όπως ο
χάλυβας, ο ανοξείδωτος χάλυβας, τα κράματα χρωμίου, ο χαλκός, τα πλαστικά, το
αλουμίνιο και τα κράματα του.
Τα διεισδυτικά υγρά χρησιμοποιήθηκαν για πρώτη φορά το 1850, για την εύρεση
ρηγματώσεων στη βιομηχανία σιδηροδρόμων με τη χρήση κιμωλίας και λαδιού. Κατά την
εφαρμογή της μεθόδου κιμωλίας – λαδιού, γινόταν κάλυψη του υπό εξέταση δοκιμίου με
λάδι υψηλού ιξώδους, το οποίο αραιωνόταν με παραφίνη ή άλλα λάδια χαμηλού ιξώδους.
Μετά από κατάλληλο χρονικό διάστημα γινόταν αφαίρεση του πλεονάζοντος λαδιού με
στεγνά πανιά και εφαρμοζόταν στην επιφάνεια του δοκιμίου ένα μίγμα κιμωλίας και
αλκοόλης. Στη συνέχεια γινόταν παρατήρηση των περιοχών όπου η κιμωλία άλλαζε
χρωματισμό λόγω της επαφής της με το λάδι. Στις περιοχές αυτές υπήρχε και η υπόνοια
ύπαρξης ασυνέχειας. Τη δεκαετία του 1940 στα μέσα ανίχνευσης προστέθηκαν, εκτός από
τα ορατά και τα φθορίζοντα διεισδυτικά υγρά.
1.1 Πλεονεκτήματα της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών
Ο έλεγχος με διεισδυτικά υγρά:

 Βοηθά στην εξέταση όλων των εξωτερικών επιφανειών ενός αντικειμένου. Διάφορα
αντικείμενα, ακόμη και πολύπλοκης γεωμετρίας, μπορούν να βυθίζονται σε
διεισδυτή ή να ψεκάζονται με δυνατότητα πλήρους κάλυψης της επιφάνειας τους.
Σημειώνεται ότι άλλες μέθοδοι μη καταστροφικών ελέγχων καλύπτουν μια
συγκεκριμένη περιοχή ελέγχου, οπότε απαιτείται επανάληψη της μεθόδου για να
καλυφθεί όλη η επιθεωρούμενη περιοχή.
 Βοηθά στην ανίχνευση πολύ μικρών επιφανειακών ασυνεχειών. Η ευαισθησία της
μεθόδου μπορεί να ρυθμιστεί με την επιλογή των κατάλληλων υλικών και τεχνικών.
 Μπορεί να εφαρμοστεί σε ένα εύρος υλικών: από σιδηρούχα και μη σιδηρούχα
μέταλλα και κράματα έως κεραμικά, γυαλί καθώς και σε ορισμένους τύπους
οργανικών υλικών.
 Είναι μια σχετικά οικονομική μέθοδος ενώ ο εξοπλισμός που χρησιμοποιείται είναι
απλός. Εάν η περιοχή που πρόκειται να επιθεωρηθεί είναι μικρή, ο έλεγχος μπορεί
να γίνει με φορητό εξοπλισμό.
 Αυξάνει φαινομενικά το μέγεθος των ασυνεχειών με αποτέλεσμα οι ενδείξεις να
είναι πιο ορατές. Επιπρόσθετα, η θέση της ασυνέχειας, ο προσανατολισμός της και
το μήκος της απεικονίζονται στο ελεγχόμενο δοκίμιο, με αποτέλεσμα να
διευκολύνεται η ερμηνεία και η αξιολόγηση.
 Μπορεί να εφαρμοστεί για την επιθεώρηση όλων των προσβάσιμων επιφανειών.
|143|
1.2 Μειονεκτήματα της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών
 Ο έλεγχος με διεισδυτικά υγρά εξαρτάται από την ικανότητα διείσδυσης και

πλήρωσης των ασυνεχειών από τα διεισδυτικά μέσα ενώ μέσω της συγκεκριμένης
μεθόδου αποκαλύπτονται μόνο ασυνέχειες οι οποίες είναι ανοικτές στην επιφάνεια.
 Η κατάσταση της επιφάνειας ενός δοκιμίου που πρόκειται να ελεγχθεί αποτελεί
περιοριστικό παράγοντα. Γενικά, οι επιφάνειες πρέπει να είναι καθαρές και
απαλλαγμένες από οργανικούς ή ανόργανους ρύπους ώστε να μην εμποδίζετε η
δράση της διείσδυσης. Επίσης, οι εσωτερικές επιφάνειες των ασυνεχειών πρέπει να
είναι απαλλαγμένες από υλικά διάβρωσης, προϊόντα καύσης ή άλλους ρύπους που
θα μπορούσαν να περιορίσουν την είσοδο του διεισδυτή.
 Τα διεισδυτικά υγρά είναι συνήθως ελαιώδους βάσης, με ισχυρούς διαλύτες και
μεγάλη συγκέντρωση χρωστικών. Είναι ιδιαίτερα «επιθετικά» σε μερικά μη-
μεταλλικά υλικά, όπως το καουτσούκ ή τα πλαστικά. Επίσης, υπάρχει περίπτωση να
μην μπορούν να αφαιρεθούν από πορώδη υλικά ή από υλικά με επικαλύψεις.
 Λόγω της ελαιώδους βάσης των περισσότερων διεισδυτικών υγρών, η χρήση τους
αντενδείκνυται σε αντικείμενα από τα οποία δεν μπορούν να αφαιρεθούν πλήρως ή
σε αντικείμενα που πρόκειται να έρθουν σε επαφή με αέρια ή υγρό οξυγόνο. Τα
λάδια, ακόμη και σε πολύ μικρές ποσότητες, μπορεί να προκαλέσουν εκρηκτικό
περιβάλλον με την παρουσία οξυγόνου. Επομένως, πρέπει να χρησιμοποιούνται
μόνο εγκεκριμένα υλικά.
 Μερικά διεισδυτικά υγρά μπορεί να περιέχουν θείο και / ή ενώσεις αλογόνων
(χλωριούχα, φθοριούχα, βρωμιούχα και ιωδιούχα). Αυτές οι ενώσεις μπορούν να
προκαλέσουν ενδοκρυσταλλική διάβρωση ή και ρηγμάτωση λόγω
δυναμοδιάβρωσης (S.C.C) σε ωστενιτικούς ανοξείδωτους χάλυβες, αν δεν
απομακρυνθούν εντελώς πριν από τη θερμική κατεργασία ή άλλη έκθεση σε υψηλές
θερμοκρασίες. Τυχόν εγκλωβισμένες ενώσεις αλογόνων μπορεί επίσης να
προκαλέσουν διάβρωση σε κράματα τιτανίου, εάν δεν απομακρυνθούν πλήρως μετά
την ολοκλήρωση της επιθεώρησης και ενώ το αντικείμενο πρόκειται να υποβληθεί
σε υψηλές θερμοκρασίες.
1.3 Περιορισμοί της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών
Περιορισμένο άνοιγμα των ασυνεχειών στη επιφάνεια

(Restricted Flaw Openings)
Η επιθεώρηση με διεισδυτικά υγρά εξαρτάται από την ικανότητα του διεισδυτή να

εισέρχεται και να εξέρχεται από το άνοιγμα μιας ασυνέχειας. Οι διάφορες επιστρώσεις
βαφής ή επιμετάλλωσης, οι ρύποι, τα λάδια, τα γράσα ή οι ρητίνες, που καλύπτουν μια
ασυνέχεια μειώνουν την αποτελεσματικότητα της επιθεώρησης. Τυχόν επιστρώσεις στα
άκρα μιας ασυνέχειας εγκλωβίζουν το διεισδυτή προκαλώντας παρεμβολές υποβάθρου και
οδηγούν σε μείωση της αξιοπιστίας της μεθόδου. Επομένως, θα πρέπει να επιλέγεται
κάποια άλλη μέθοδος μη καταστροφικού ελέγχου, σε περίπτωση που μια τέτοια επίστρωση
δε μπορεί να αφαιρεθεί.
|144|
Επιφάνειες μετά από μηχανουργική κατεργασία
Μηχανικές κατεργασίες όπως η αμμοβολή, η λείανση, το βούρτσισμα, η

μεταλλοβολή, είναι δυνατόν να φράξουν ή να μειώσουν το άνοιγμα των επιφανειακών
ασυνεχειών. Σε κάθε περίπτωση, στις κατεργασίες που οδηγούν στο κλείσιμο των
ανοιγμάτων των επιφανειακών ασυνεχειών δεν πρέπει να γίνεται έλεγχος με διεισδυτικά
υγρά, εκτός εάν έχει προηγηθεί χημικός καθαρισμός (etching).
Πορώδεις επιφάνειες
Η εφαρμογή της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών δεν αποτελεί πρακτική επιλογή
για τα πορώδη υλικά. Χαρακτηριστικά παραδείγματα είναι κάποιοι τύποι επιφανειών
ανοδιωμένου αλουμινίου καθώς και διάφορες προστατευτικές επιστρώσεις σε άλλα
μέταλλα. Ο διεισδυτής εισέρχεται γρήγορα στους πόρους του υλικού όπου και παγιδεύεται.
Αυτό μπορεί να οδηγήσει σε υπόβαθρο το οποίο μειώνει την αντίθεση ή καλύπτει πιθανές
ενδείξεις ασυνεχειών. Τέλος, μπορεί να μην είναι δυνατή η αφαίρεση του διεισδυτή, μετά
την ολοκλήρωση της επιθεώρησης.
|145|
2. ΙΔΙΟΤΗΤΕΣ ΔΙΕΙΣΔΥΤΙΚΩΝ ΥΓΡΩΝ
2.1 Τριχοειδές φαινόμενο (Capillary action)
Η διείσδυση των υγρών εντός των ασυνεχειών βασίζεται στο τριχοειδές φαινόμενο.
Τριχοειδές ονομάζεται το φαινόμενο που παρουσιάζεται όταν υγρά έρθουν σε επαφή με
διάφορα στερεά σώματα. Για παράδειγμα, όταν μέσα σε ένα ποτήρι με νερό βυθίσουμε
έναν τριχοειδή σωλήνα, σύμφωνα με την αρχή των συγκοινωνούντων δοχείων, η ελεύθερη
επιφάνεια του νερού θα έπρεπε να βρίσκεται στο ίδιο ύψος και στο σωλήνα και στο ποτήρι.
Όμως κάτι τέτοιο δε συμβαίνει καθώς το νερό ανέρχεται μέσα στον τριχοειδή σωλήνα,
ψηλότερα από την ελεύθερη επιφάνεια του νερού που βρίσκεται στο ποτήρι (Εικόνα 2.1).
Η εξήγηση του φαινομένου των τριχοειδών σωλήνων αποδίδεται στις ελκτικές
δυνάμεις που αναπτύσσονται μεταξύ των μορίων διαφορετικών υλικών. Το νερό ανεβαίνει
στους τριχοειδείς σωλήνες του γυαλιού καθώς οι ελκτικές δυνάμεις μεταξύ των δύο
διαφορετικών υλικών που έρχονται σε επαφή, είναι μεγαλύτερες από αυτές που
αναπτύσσονται μεταξύ των ομοειδών μορίων του νερού.
Η κίνηση του νερού σε πορώδη υλικά όπως το σκυρόδεμα, χαρακτηρίζεται ως
τριχοειδές φαινόμενο. Τροφοδοτείται από τις δυνάμεις πρόσφυσης του νερού στους πόρους
του σκυροδέματος, καθώς και από τις δυνάμεις συνοχής του και κυρίως την επιφανειακή
τάση του. Είναι δηλαδή ένα μοριακό φαινόμενο. Η υγρασία που υπάρχει χαμηλά στους
τοίχους και «αναρριχάται» οφείλεται στα τριχοειδή φαινόμενα. Οι τριχοειδείς πόροι του
σκυροδέματος δρουν ως λεπτοί σωληνίσκοι όπου οι δυνάμεις πρόσφυσης και συνοχής
υπερνικούν τη βαρύτητα λόγω των μικροσκοπικών διαστάσεών τους και τροφοδοτούν την
ανοδική κίνηση.
|146|
Εικόνα 2.1: Τριχοειδές φαινόμενο
Η πίεση η οποία εκφράζει το τριχοειδές φαινόμενο ορίζεται από τον ακόλουθο τύπο:
2σ • cosθ
ΤΡΙΧΟΕΙΔΗΣ ΠΙΕΣΗ = ------------------------
r
Όπου:
σ: η επιφανειακή τάση
cosθ: το συνημίτονο της γωνίας επαφής
r: η ακτίνα της ασυνέχειας
Η γωνία που σχηματίζει η επιφάνεια του υγρού με την εσωτερική επιφάνεια του
σωλήνα ονομάζεται μηνίσκος (βλέπε Εικόνα 2.1). Ένας καλός διεισδυτής έχει γωνία
επαφής της τάξης των 6ο - 10ο. Ο κοίλος μηνίσκος αναφέρεται και ως θετικός μηνίσκος. Το
τριχοειδές φαινόμενο εξαρτάται και από άλλους παράγοντες οι οποίοι αναλύονται στην
συνέχεια.
2.2 Επιφανειακή τάση
Είναι η τάση των υγρών να ελαττώσουν την επιφάνειά τους. Αποτελεί μία από τις
ιδιότητες της ύλης η οποία παρατηρείται ως φυσικό φαινόμενο στην επιφάνεια των υγρών.
Τα μόρια στο εσωτερικό ενός υγρού δέχονται ελκτικές δυνάμεις από άλλα γειτονικά μόρια
από όλες τις διευθύνσεις. Η συνισταμένη των δυνάμεων αυτών είναι μηδέν. Αντίθετα, τα
επιφανειακά μόρια δέχονται ελκτικές δυνάμεις μόνο προς το εσωτερικό της μάζας του
υγρού, με αποτέλεσμα να μειώνεται η επιφάνεια του υγρού (οι σφαίρες έχουν το μικρότερο
δυνατό εμβαδόν επιφάνειας). Εξ αιτίας των δυνάμεων αυτών συσσωρεύονται περισσότερα
μόρια στο ίδιο εμβαδόν επιφανείας, με αποτέλεσμα να δημιουργείται ένα είδος
«επιδερμίδας» στην επιφάνεια του υγρού. Γενικά:
 η επιφανειακή τάση αποτελεί μέτρο των ελκτικών δυνάμεων προς το εσωτερικό του
υγρού
 όσο ισχυρότερες είναι οι διαμοριακές δυνάμεις τόσο μεγαλύτερη είναι η
επιφανειακή τάση
 στην επιφανειακή τάση οφείλεται το σφαιρικό σχήμα των σταγόνων του νερού
 η επιφανειακή τάση μειώνεται με την αύξηση της θερμοκρασίας.
|147|
Η έλξη των μορίων στην επιφάνεια ενός υγρού τείνει να «τραβήξει» τα μόρια πίσω
στη μάζα του υγρού αφήνοντας τον ελάχιστο αριθμό μορίων στην επιφάνεια. Απαιτεί
ενέργεια για να αυξήσει την περιοχή επιφάνειας ενός υγρού επειδή μια μεγαλύτερη περιοχή
επιφάνειας περιέχει περισσότερα μόρια.
Λαμβάνοντας υπόψη ότι για να αυξηθεί η επιφάνεια ενός υγρού απαιτείται ενέργεια,
προκύπτει ότι το πηλίκο της ενέργειας αυτής ανά μονάδα επιφάνειας ορίζεται ως
επιφανειακή τάση.
Λόγω της επιφανειακής τάσης ερμηνεύεται και το φαινόμενο κατά το οποίο το νερό
συμπεριφέρεται ως «ελαστική επιδερμίδα» και επιτρέπει στα έντομα να στέκονται και να
περπατούν πάνω σε αυτό.
Η επιφανειακή τάση μετριέται με ειδικό όργανο που λέγεται τασίμετρο. Πρόκειται
για μία διάταξη που περιλαμβάνει ένα δακτύλιο ο οποίος επιπλέει στην επιφάνεια του
υγρού. Αυτός συνδέεται κατάλληλα με ένα ζυγό ακριβείας. Έτσι, ο υπολογισμός της
επιφανειακής τάσης γίνεται με τη μέτρηση της δύναμης που απαιτείται για την απόσπαση
του δακτυλίου από τη συγκεκριμένη επιφάνεια. Η διαδικασία μέτρησης της επιφανειακής
τάσης ονομάζεται τασιμετρία.
Εικόνα 2.2: Σχέση επιφανειακής τάσης και θερμοκρασίας
Όταν κατά την εφαρμογή της Μη Καταστροφικής Μεθόδου των Διεισδυτικών

Υγρών αναφερόμαστε στην επιφανειακή τάση, εννοούμε την επιφανειακή τάση του
διεισδυτή.
Εικόνα 2.3: Δυνάμεις συνοχής σε ένα μόριο υγρού
|148|
Εικόνα 2.4: Ένα έντομο μπορεί να «περπατά» στην επιφάνεια του νερού λόγω της
επιφανειακής τάσης
2.3 Διαβρεκτική ικανότητα
Είναι η ικανότητα ενός υγρού να διαβρέχει μια επιφάνεια, να «απλώνεται» δηλαδή

πάνω σε αυτή. Η διαβρεκτική ικανότητα καθορίζει τη γωνία επαφής του υγρού. Επομένως,
όσο μεγαλύτερη είναι η γωνία επαφής, τόσο μικρότερη είναι η τριχοειδής δράση. Οι
περισσότεροι διεισδυτές έχουν γωνία μικρότερη από 5°, επομένως η διείσδυση πρακτικά
εξαρτάται από την επιφανειακή τάση του διεισδυτή.
Εικόνα 2.5: Διαβρεκτική ικανότητα
|149|
2.4 Ιξώδες
Με τον όρο ιξώδες χαρακτηρίζεται η ιδιότητα των υγρών αλλά και των αερίων να
παρουσιάζουν αντίσταση κατά τη ροή τους. Το ιξώδες αποτελεί το μέτρο της αντίστασης
ενός υγρού καθώς αυτό ρέει πάνω σε μια επιφάνεια και σχετίζεται με την εσωτερική τριβή.
Υγρά όπως το μέλι ή το σαμπουάν ρέουν αργά, ενώ το νερό ή η βενζίνη ρέουν γρήγορα. Το
ιξώδες ενός υγρού εξαρτάται από τη θερμοκρασία. Αύξηση της θερμοκρασίας, συνήθως,
οδηγεί σε μείωση του ιξώδους. Η αντίσταση αυτή που παρουσιάζουν τα ρευστά οφείλεται
στις εσωτερικές τριβές των μορίων τους. Όσο πιο παχύρρευστο είναι ένα υγρό, τόσο πιο
μεγάλο ιξώδες έχει. Για παράδειγμα, το μέλι έχει μεγαλύτερο ιξώδες από το λάδι.
Το ιξώδες μετριέται με ειδικό όργανο, το ιξωδόμετρο. Η μέτρηση γίνεται σε
«βαθμούς Engler», ή «βαθμούς Redwood», ή «βαθμούς Saybott». Αντίθετος όρος του
ιξώδους είναι η ρευστότητα. Επομένως, ένα υγρό που παρουσιάζει μεγάλο ιξώδες έχει
μικρή ρευστότητα και αντίστροφα. Σημειώνεται ότι τα μόνα υγρά που παρουσιάζουν
μεταβλητό ιξώδες είναι τα θιξοτροπικά μετά την ανάδευσή τους.
Το ιξώδες δεν έχει καμία επίδραση στην ικανότητα διείσδυσης. Μερικά ιδιαίτερα
παχύρρευστα υγρά έχουν καλή διεισδυτική ικανότητα, ενώ ορισμένα υγρά χαμηλού
ιξώδους, όπως για παράδειγμα το νερό, έχουν πολύ μικρή διεισδυτική ικανότητα.
Το ιξώδες επηρεάζει την ταχύτητα με την οποία ένας διεισδυτής εισέρχεται σε μια
ασυνέχεια. Επίσης, το ιξώδες καθορίζει το χρόνο που ένας διεισδυτής θα παραμείνει σε μια
επιφάνεια. Τα διεισδυτικά υψηλού ιξώδους προσκολλώνται στην επιφάνεια και απαιτούν
αυξημένη προσπάθεια για την αφαίρεση τους. Από την άλλη, τα λεπτόρρευστα διεισδυτικά,
δηλαδή τα υγρά χαμηλού ιξώδους, παραμένουν μικρό χρονικό διάστημα σε μια επιφάνεια
και δεν προλαβαίνουν να εισέλθουν σε μια ασυνέχεια.
Εικόνα 2.6: Υγρά με διαφορετικά ιξώδη
2.5 Ειδικό βάρος
Ειδικό βάρος είναι ο λόγος της μάζας μίας μονάδας όγκου του υλικού προς την μάζα
ίσου όγκου αποσταγμένου νερού. Είναι μέγεθος αδιάστατο. Το ειδικό βάρος δεν έχει
κάποια άμεση επίδραση στην απόδοση του διεισδυτή. Τα περισσότερα διεισδυτικά του
εμπορίου έχουν ειδικό βάρος μικρότερο από τη μονάδα, κυρίως επειδή είναι
κατασκευασμένα από οργανικά υλικά με χαμηλά ειδικά βάρη.
|150|
2.6 Σημείο ανάφλεξης
Το σημείο ανάφλεξης είναι η χαμηλότερη θερμοκρασία στην οποία οι ατμοί μιας

ουσίας αναφλέγονται στον αέρα, όταν αυτή εκτεθεί σε μια φλόγα. Το σημείο ανάφλεξης
δεν επηρεάζει την απόδοση ενός διεισδυτικού υγρού. Υψηλά σημεία ανάφλεξης είναι
επιθυμητά προκειμένου να μειώνεται ο κίνδυνος πυρκαγιάς. Τα διεισδυτικά υγρά και οι
λιπόφιλοι γαλακτωματοποιητές που πληρούν τις απαιτήσεις του προτύπου SAE AMS 2644
έχουν ένα ελάχιστο σημείο ανάφλεξης από 200°F (93°C), εάν πρόκειται να
χρησιμοποιηθούν σε ανοικτές δεξαμενές.
2.7 Θιξοτροπισμός
Ως θιξοτροπικά ή μη νευτώνεια ρευστά χαρακτηρίζονται συνήθως τα υγρά που

παρουσιάζουν ιδιότητες των φυσικών ρευστών αλλά σε μικρότερη κλίμακα, δηλαδή
χαμηλό ιξώδες ιδιαίτερα όταν υποβάλλονται σε ανάδευση και γίνονται περισσότερο
λεπτόρρευστα, όπως για παράδειγμα, το τυπογραφικό μελάνι, οι διάφορες βαφές
(ελαιοχρώματα κ.λπ.). Σε αυτή την κατηγορία επίσης, υπάγονται τα πυκνά αιωρήματα
καθώς και τα διάφορα πυκνά γαλακτώματα.
Ως θιξοτροπισμός ορίζεται η ιδιότητα ορισμένων ρευστών να χαμηλώνουν το
ιξώδες τους, όταν στα μόριά τους ασκούνται διατμητικές τάσεις. Για παράδειγμα, οι
ρητίνες γίνονται πιο λεπτόρρευστες όσο αυξάνονται οι φυγόκεντρες δυνάμεις (άρα όσο
αυξάνεται η ταχύτητα).
2.8 Διαλυτική ικανότητα
Η ορατότητα των ενδείξεων εξαρτάται από τις χρωστικές (φθορισμού ή ορατές) οι

οποίες είναι διαλυμένες μέσα στα διεισδυτικά λάδια. Τα λάδια που χρησιμοποιούνται στα
διεισδυτικά πρέπει να έχουν πολύ καλές διαλυτικές ιδιότητες. Πρέπει να «κρατούν» τη
χρωστική διαλυμένη ακόμα και σε θερμοκρασίες μεταφοράς ή αποθήκευσης. Εάν
διαχωριστεί ακόμα και μια μικρή ποσότητα, είναι δύσκολη έως αδύνατη η επαναφορά τους
στην αρχική κατάσταση, με αποτέλεσμα τη μείωση της απόδοσης της μεθόδου των
διεισδυτικών υγρών.
2.9 Μηχανισμός φθορισμού
Ο μηχανισμός του φθορισμού εμπλέκει δύο παράγοντες: την ατομική δομή του
φθορίζοντος υλικού και το επίπεδο ενέργειας ή το μήκος κύματος της πηγής ακτινοβολίας.
Το βασικό συστατικό της ύλης, το άτομο, αποτελείται από πρωτόνια, νετρόνια, και
ηλεκτρόνια. Τα πρωτόνια και τα νετρόνια σχηματίζουν ένα θετικά φορτισμένο πυρήνα, ενώ
τα αρνητικά φορτισμένα ηλεκτρόνια κινούνται σε τροχιές γύρω από τον πυρήνα.
Οι τροχιές έχουν διακριτά επίπεδα ενέργειας με καθορισμένο αριθμό ηλεκτρονίων.
Ένα υλικό φθορίζει μόνο αν α) η ενέργεια που συγκρατεί τα ηλεκτρόνια στις εξωτερικές
στάθμες είναι χαμηλή και β) υπάρχει κενός χώρος ηλεκτρονίων στην εξωτερική στιβάδα.
Όταν ένα φωτόνιο ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας πέσει σε ένα ηλεκτρόνιο ατόμου
φθορίζοντος υλικού, το ηλεκτρόνιο απορροφά μέρος της ενέργειας του φωτονίου και
μεταπηδά σε μια υψηλότερη ενεργειακή στάθμη. Το ηλεκτρόνιο είναι ασταθές σε αυτή την
κατάσταση και αμέσως επιστρέφει στην αρχική του θέση. Κατά την επιστροφή, το
ηλεκτρόνιο απελευθερώνει την ενέργεια ως ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία. Η
ηλεκτρομαγνητική ενέργεια που απελευθερώνεται έχει πάντα μεγαλύτερο μήκος κύματος
από την ακτινοβολία διέγερσης.
|151|
Έτσι, η υπεριώδης ακτινοβολία με μήκος κύματος 365nm προκαλεί κάποια
φθορίζοντα υλικά να απελευθερώσουν ενέργεια με μήκος κύματος από 400 έως 700nm.
Αυτό είναι το εύρος μήκους κύματος του ορατού φωτός. Το ανθρώπινο μάτι είναι πιο
ευαίσθητο στο κίτρινο-πράσινο φως με μήκος κύματος 510 - 560nm σε συνθήκες σκότους.
Οι περισσότερες βαφές παρασκευάζονται να εκπέμπουν σε αυτό το εύρος.
2.10 Φωτεινότητα
Ένας από τους πιο σημαντικούς παράγοντες για την αποτελεσματικότητα της
μεθόδου των διεισδυτικών υγρών είναι η ορατότητα της ένδειξης. Τα διεισδυτικά υγρά
περιέχουν χρωστικές ουσίες φθορισμού οι οποίες δεν είναι ιδιαίτερα διακριτές στο ορατό
ηλεκτρομαγνητικό φάσμα. Ωστόσο, όταν εκτίθενται σε υπεριώδη ακτινοβολία (365nm), οι
χρωστικές αυτές εκπέμπουν ορατό φως. Μάλιστα, η ποσότητα του φωτός που εκπέμπεται
είναι ανάλογη με την ποσότητα της χρωστικής ουσίας στο διεισδυτή. Το ποσό του ορατού
φωτός που εκπέμπεται όταν η φθορίζουσα χρωστική ουσία εκτίθεται σε υπεριώδη
ακτινοβολία, ορίζεται ως φωτεινότητα. Η φωτεινότητα εξαρτάται από την
αποτελεσματικότητα της συγκεκριμένης χρωστικής ουσίας να μετατρέπει την υπεριώδη
ακτινοβολία (μαύρο φως) σε ορατή και από την ποσότητα της χρωστικής ουσίας η οποία
διαλύεται στο διεισδυτή. Χρωστικές υψηλής απόδοσης είναι πιο φωτεινές από αντίστοιχες
χαμηλής απόδοσης, όταν εκτεθούν σε ακτινοβολία ίδιου μήκους κύματος και έντασης
υπεριώδους ακτινοβολίας.
2.11 Σταθερότητα υπεριώδους φωτός
Οι φθορίζουσες χρωστικές χάνουν την ικανότητά τους να φθορίζουν μετά από

παρατεταμένη έκθεση σε υπεριώδη ακτινοβολία. Η αντίσταση σε αυτήν την απώλεια
ονομάζεται σταθερότητα υπεριώδους φωτός.
2.12 Πυκνότητα
Αποτελεί βασικό χαρακτηριστικό της ύλης και συμβολίζεται με το ελληνικό γράμμα

ρ. Η πυκνότητα ενός σώματος ορίζεται ως το πηλίκο της μάζας του ανά μονάδα όγκου:
m
ρ = ------------
V
Μονάδα μέτρησης της πυκνότητας στο Διεθνές Σύστημα Μονάδων SI είναι το

1kgr/m3. Αρκετά συχνά όμως, ως μονάδα χρησιμοποιείται και το 1gr/cm3.
Η πυκνότητα των υγρών σωμάτων μεταβάλλεται ελάχιστα για μεγάλες αλλαγές
πίεσης και θερμοκρασίας και γι’ αυτό θεωρείται πρακτικά σταθερή. Στα αέρια σώματα, η
πυκνότητα τους αλλάζει, όταν μεταβάλλεται η πίεση ή / και η θερμοκρασία.
Η πυκνότητα ενός σώματος εκφράζει την ποσότητα μάζας του σώματος στη μονάδα
του όγκου. Όσο μεγαλύτερη είναι η μάζα στον ίδιο όγκο, τόσο μεγαλύτερη είναι και η
πυκνότητα του σώματος. Η πυκνότητα χαρακτηρίζει το πόσο «πυκνή» είναι η ύλη ενός
σώματος ή ενός υλικού.
|152|
Εικόνα 2.7: Η μεγαλύτερη ποσότητα μάζας στον ίδιο όγκο, αντιστοιχεί σε μεγαλύτερη
πυκνότητα
Η πυκνότητα δεν εξαρτάται από την ποσότητα του υλικού, αλλά αποτελεί κύριο
σταθερό χαρακτηριστικό κάθε υλικού. Για παράδειγμα, η πυκνότητα ενός σιδερένιου
συνδετήρα είναι ίδια με την πυκνότητα μιας σιδερένιας ράβδου, δηλαδή ίση με
7800kgr/m3.
Εικόνα 2.8: Τιμές πυκνότητας χαρακτηριστικών υλικών
2.13 Σημείο ανάφλεξης υγρού
Ορίζεται ως η χαμηλότερη θερμοκρασία στην οποία η φλόγα μπορεί να διαδοθεί

μέσω των ατμών στην υγρή επιφάνεια. Καθορίζεται από την τάση ατμών του υγρού. Η
πηγή θερμότητας δεν είναι απαραίτητο να είναι γυμνή φλόγα, αλλά μπορεί εξίσου
αποτελεσματικά να είναι μια θερμή επιφάνεια (π.χ. πλάκα θέρμανσης).
Το σημείο ανάφλεξης και η τάση ατμών των υγρών (που αποτελεί μέτρο της
πτητικότητας μιας ουσίας) έχουν ιδιαίτερη σημασία για τη διαχείριση των καυσίμων.
Καύσιμα με μεγάλη πτητικότητα παράγουν ατμούς σε θερμοκρασία περιβάλλοντος και σε
περίπτωση διαρροής είναι πολύ εύκολο να αναφλεγούν. Στην κατηγορία αυτή ανήκουν η
βενζίνη, η αιθυλική αλκοόλη, ο αιθέρας κ.ά. Λιγότερο πτητική είναι η κηροζίνη και ακόμη
πιο ασφαλές το πετρέλαιο (diesel) και το μαζούτ που αναφλέγεται δύσκολα λόγω της
μικρής τάσης των ατμών του.
2.14 Τοξικότητα
Τοξικότητα ονομάζεται η εγγενής ιδιότητα μια ουσίας να προκαλεί βλάβη σε έναν

οργανισμό. Μία τοξική ουσία μπορεί να εισέλθει στον οργανισμό μέσω της εισπνοής, της
κατάποσης ή της απορρόφησης από το δέρμα. Κάποια ανθρώπινα όργανα είναι ιδιαίτερα
ευαίσθητα στις τοξικές ουσίες. Το συκώτι για παράδειγμα προσβάλλεται από τις
ηπατοτοξίνες, τα νεφρά από τις νεφροτοξίνες, ενώ το αίμα από τις αιματοτοξίνες.
Η οξεία τοξικότητα αναφέρεται σε αντιδράσεις οι οποίες προκαλούνται σε μικρό
χρονικό διάστημα μετά από έκθεση σε μια χημική ουσία (σε αντίθεση με τη χρόνια
έκθεση).
Η τοξικότητα στην μέθοδο των Διεισδυτικών Υγρών αναφέρεται στο βαθμό
επικινδυνότητας του διεισδυτή και στις βλάβες που αυτός μπορεί να προκαλέσει, όταν
έρθει σε επαφή με το δέρμα ή κατά την εισπνοή του.
|153|
2.15 Συνοχή
Πρόκειται για την ελκτική δύναμη που αναπτύσσεται μεταξύ ίδιων μορίων, σε
αντιδιαστολή της συνάφειας που αναπτύσσεται μεταξύ διαφορετικών μορίων. Η ισχύς τους
καθορίζει τη φυσική κατάσταση του σώματος σε ορισμένη θερμοκρασία και πίεση. Στα
μεν στερεά, οι δυνάμεις συνοχής είναι ισχυρότερες, στα ρευστά ασθενέστερες και
ειδικότερα στα αέρια ακόμη πιο ασθενείς. Γενικά, οι δυνάμεις συνοχής είναι
ηλεκτροστατικής φύσης. Τόσο οι δυνάμεις συνοχής όσο και εκείνες της συνάφειας
αναπτύσσονται σε μικρή ακτίνα και η ισχύς τους ποικίλλει ανάλογα με τη φύση των
υλικών. Επισημαίνεται ότι στις δυνάμεις συνοχής οφείλεται το φαινόμενο της επιφανειακής
τάσης, καθώς και το ιξώδες που χαρακτηρίζει τα υγρά. Στις συνθήκες που ζούμε το νερό
είναι υγρό, ενώ το μεθάνιο είναι αέριο παρόλο που έχει παρόμοια μάζα ανά μόριο με το
νερό. Επομένως οι δυνάμεις συνοχής μεταξύ των μορίων του νερού είναι μεγαλύτερες σε
σχέση με τις αντίστοιχες μεταξύ των μορίων μεθανίου.
2.16 Συνάφεια
Πρόκειται για διαμοριακές ελκτικές δυνάμεις που αναπτύσσονται μεταξύ

διαφορετικών μορίων. Οι ελκτικές δυνάμεις συνάφειας αναπτύσσονται σε μικρή ακτίνα
δράσης, ενώ η ισχύς τους ποικίλλει ανάλογα με τη φύση των υλικών. Χάρη σ’ αυτές
διατηρούνται υγρές οι επιφάνειες των κυτταρικών μεμβρανών, τα σπέρματα απορροφούν
νερό και βλαστάνουν κ.ά. Για παράδειγμα, το φαινόμενο που παρουσιάζουν οι σταγόνες
της βροχής να «κολλούν» στα τζάμια των οχημάτων οφείλεται σε αυτές τις δυνάμεις.
Μπορεί να πει κανείς λοιπόν ότι οι δυνάμεις συνάφειας μεταξύ σταγόνων βροχής και
τζαμιών είναι ισχυρότερες από τις δυνάμεις συνοχής που ασκούνται μεταξύ των μορίων
των σταγόνων της βροχής.
2.17 Ευαισθησία διεισδυτή
Ο συγκεκριμένος όρος χρησιμοποιείται για να περιγράψει την απόδοση ενός

διεισδυτή. Αφορά στην ικανότητα των χαρακτηριστικών του να παράγουν ενδείξεις ακόμα
και σε πολύ μικρές και στενές ρηγματώσεις. Αυτά τα χαρακτηριστικά συνδέονται με τη
διείσδυση και τη φωτεινότητα. Το άνοιγμα της ασυνέχειας είναι συνήθως περιορισμένο και
ο κενός όγκος είναι τέτοιος που μόνο μία πολύ μικρή ποσότητα του διεισδυτή μπορεί να
εισχωρήσει. Η χρωστική ουσία του διεισδυτή πρέπει να εισχωρεί και να εξολκύεται από
την ασυνέχεια με τέτοιο τρόπο που να παράγει μια αξιοσημείωτη ένδειξη.
Επίπεδο 1 Επίπεδο 2
Επίπεδο 3 Επίπεδο 4
Εικόνα 2.9: Ενδείξεις που παρήχθησαν από διεισδυτή σε τέσσερα επίπεδα ευαισθησίας
χρησιμοποιώντας ξηρό εμφανιστή
|154|
2.18 Πώς τα διεισδυτικά υγρά εισχωρούν στις ασυνέχειες
Εάν το ένα άκρο ενός τριχοειδούς σωλήνα είναι κλειστό, όπως συμβαίνει στην
περίπτωση μίας ασυνέχειας, η τριχοειδής ανύψωση επηρεάζεται από τη συμπίεση του αέρα
που παγιδεύεται στο κλειστό άκρο.
Το φαινόμενο της τριχοειδούς δράσης επιτρέπει στο διεισδυτή να εισέρχεται στην
ασυνέχεια, ακόμη και όταν το αντικείμενο βρίσκεται σε ανεστραμμένη θέση, όπως για
παράδειγμα στην κάτω επιφάνεια μίας πτέρυγας. Η ικανότητα του διεισδυτή να εισέρχεται
και να εξέρχεται επιτυχώς στις ασυνέχειες σχετίζεται με τους παρακάτω παράγοντες:
 Υψηλή επιφανειακή τάση και μικρή γωνία επαφής είναι επιθυμητές ιδιότητες για
ένα διεισδυτή. Ωστόσο αυτές οι ιδιότητες είναι κατά κάποιον τρόπο
αντικρουόμενες. Η υψηλή επιφανειακή τάση τείνει να αυξήσει τη γωνία επαφής και
να μειώσει τη διαβρεκτική ικανότητα, αλλά ενισχύει την εισχώρηση του διεισδυτή
σε βρεγμένες επιφάνειες.
 Η τριχοειδής δράση αυξάνεται σε μικρές ασυνέχειες.
 Το ιξώδες δεν επηρεάζει την ικανότητα διείσδυσης, αλλά μπορεί να επηρεάσει το
χρόνο που απαιτείται για τη διείσδυση.
 Το σχήμα της ασυνέχειας μπορεί να επηρεάσει την ικανότητα διείσδυσης.
 Η θερμοκρασία επηρεάζει την επιφανειακή τάση.
 Η τραχύτητα των τοιχωμάτων της ασυνέχειας επηρεάζει την ικανότητα διείσδυσης.
 Πιθανοί ρύποι στην ασυνέχεια μπορεί να επηρεάσουν την ικανότητα διείσδυσης.
 Υπολείμματα καθαριστικών στην ασυνέχεια μπορεί να επηρεάσουν την ικανότητα
διείσδυσης.
|155|
3. ΣΤΑΔΙΑ ΕΛΕΓΧΟΥ ΜΕ ΤΗ ΧΡΗΣΗ ΤΩΝ ΔΙΕΙΣΔΥΤΙΚΩΝ ΥΓΡΩΝ
Δεδομένου ότι κατά τον έλεγχο με Διεισδυτικά Υγρά γίνεται προσπάθεια

εντοπισμού και της πιο μικρής επιφανειακής ασυνέχειας, η δυνατότητα ανίχνευσης
εξαρτάται όχι μόνο από τα χαρακτηριστικά των διεισδυτικών υγρών που χρησιμοποιούνται,
καθώς και τις συνθήκες φωτισμού της εξεταζόμενης περιοχής, αλλά και από τον όγκο του
διεισδυτικού υγρού που μπορεί να απορροφηθεί σε ορισμένο χρόνο.
Ο όγκος του υγρού ο οποίος μπορεί να εισχωρήσει σε μία ασυνέχεια εξαρτάται από:
 το βάθος της ασυνέχειας, καθώς και από το πλάτος της
 από την παρουσία ξένων σωμάτων μέσα στην ασυνέχεια, όπως υγρά, γράσα,
βερνίκια, οξείδια πύρωσης και άλλα κατάλοιπα πάσης φύσεως
 από την παρουσία των καταλοίπων που καλύπτουν το άνοιγμα της ασυνέχειας, όπως
σκουριές, οξείδια πύρωσης και διάφορες επιστρώσεις.
Γι’ αυτό το λόγο, η επιφάνεια που εξετάζεται πρέπει πριν τον έλεγχο να είναι πολύ
καλά καθαρισμένη και στεγνή.
3.1 Φυσικές μέθοδοι καθαρισμού
Οι μέθοδοι καθαρισμού ταξινομούνται σε δύο βασικές κατηγορίες: στις φυσικές και

στις χημικές μεθόδους.
Οι φυσικές μέθοδοι, όπως το βούρτσισμα με συρματόβουρτσα ή η εφαρμογή
αμμοβολής στην επιφάνεια, αφαιρούν τις προσμίξεις από την επιφάνεια του δοκιμίου,
ωστόσο δύσκολα απομακρύνουν τις προσμίξεις που μπορεί να υπάρχουν μέσα στην
ασυνέχεια. Συνεπώς, σταματούν ή μειώνουν την «εισβολή» του διεισδυτή. Εάν γίνει
καθαρισμός με αμμοβολή, πρέπει να ακολουθεί καθαρισμός του υλικού με χημική
προσβολή, δηλαδή χρήση κάποιου διαλυτικού πριν την εφαρμογή του διεισδυτή,
προκειμένου να εξομαλυνθεί η επιφάνειά του.
3.1.1 Αναγκαιότητα καθαρισμού της επιφάνειας
Η κατάλληλη προετοιμασία του αντικειμένου πριν από την εφαρμογή της μεθόδου
αποτελεί κρίσιμο στάδιο. Όπως έχει ήδη αναφερθεί, η επιτυχής ανίχνευση των ασυνεχειών
με την μέθοδο των διεισδυτικών υγρών εξαρτάται από την ικανότητα του διεισδυτή να
εισέρχεται και να εξέρχεται από τις ασυνέχειες. Η προκύπτουσα ένδειξη πρέπει να είναι
εύκολα διακριτή ώστε να μην συγχέεται με το υπόβαθρο. Συνθήκες επιφάνειας όπως
διάφορες επιστρώσεις ή ρύποι, μπορεί να μειώσουν την αποτελεσματικότητα του ελέγχου
παρεμβαίνοντας στην διαδικασία εισόδου και εξόδου ή παράγοντας ένα υψηλό
υπολειμματικό υπόβαθρο. Η μέθοδος των διεισδυτικών υγρών είναι αξιόπιστη μόνο όταν
το αντικείμενο που πρόκειται να επιθεωρηθεί είναι απαλλαγμένο από ρύπους.
Ξένα υλικά, τόσο στην επιφάνεια όσο και εντός της ασυνέχειας, οδηγούν σε
εσφαλμένα αποτελέσματα. Επομένως, ο καθαρισμός και η επιφανειακή επεξεργασία πρέπει
να γίνονται σε τέτοιο βαθμό, ώστε να εξαλείφονται οι παράγοντες που παρεμβαίνουν στην
εφαρμογή της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών.
|156|
3.1.2 Επιφανειακές συνθήκες που επηρεάζουν την μέθοδο των διεισδυτικών υγρών
Υπάρχουν τρεις βασικές κατηγορίες της κατάστασης της επιφάνειας που έχουν
αρνητικές συνέπειες στη επιθεώρηση με την μέθοδο των διεισδυτικών υγρών.
Οι κατηγορίες αυτές είναι: οι ρύποι, οι επιστρώσεις και οι επιφανειακές
παραμορφώσεις. Κάθε μια από αυτές τις κατηγορίες μπορεί να επηρεάσει δυσμενώς τη
μέθοδο των διεισδυτικών υγρών και πρέπει να διορθωθεί πριν ξεκινήσει η επιθεώρηση.
3.2 Χημικές μέθοδοι καθαρισμού
Ο χημικός προκαθαρισμός πρέπει να διεξάγεται με τη χρήση κατάλληλων χημικών

καθαριστικών, ώστε να απομακρύνονται κατάλοιπα όπως, γράσα, λάδια, μπογιά ή τα υλικά
της χημικής προσβολής.
Τα κατάλοιπα της διεργασίας του χημικού προκαθαρισμού μπορεί να αντιδράσουν
με το διεισδυτή και να ελαττώσουν πολύ την ευαισθησία του. Ιδιαίτερα τα οξέα και τα
χρωμικά, μειώνουν πολύ την ικανότητα φθορισμού των φθοριζόντων διεισδυτών, αλλά και
το χρωματισμό των διεισδυτών χρωματικής αντίθεσης.
Ως εκ τούτου, οι χημικές ουσίες πρέπει να απομακρύνονται από την εξεταζόμενη
επιφάνεια μετά το στάδιο του προκαθαρισμού, με τη χρήση κατάλληλων μεθόδων
καθαρισμού, οι οποίες ενδεχομένως να περιλαμβάνουν και έκπλυση με νερό (water
rinsing). Ωστόσο, ο χημικός καθαρισμός είναι μη αποτελεσματικός για την απομάκρυνση
σκουριάς ή πάστας ηλεκτροδίου.
3.2.1 Καθαρισμός με υπέρηχους
Ο καθαρισμός με υπέρηχους συνιστά την καλύτερη λύση καθαρισμού εφόσον

υπάρχει η δυνατότητα να εφαρμοστεί. Πρόκειται για απαλό και ασφαλή καθαρισμό. Οι
υπέρηχοι δε χαράσσουν, δε φθείρουν και δε δημιουργούν κοιλότητες στα αντικείμενα,
όπως συμβαίνει με τις συμβατικές μεθόδους καθαρισμού.
3.2.2 Περιγραφή διαδικασίας καθαρισμού σε λουτρό υπερήχων
Με μια διαδικασία που είναι γνωστή ως σπηλαίωση, δημιουργούνται εκατομμύρια

μικροσκοπικές φυσαλίδες μέσα σε υγρό μέσο, λόγω των εναλλαγών της πίεσης σε ένα
διάλυμα. Οι φυσαλίδες που υπόκεινται σε αυτά τα κύματα εναλλασσόμενης πίεσης
συνεχίζουν να αυξάνονται μέχρι να φτάσουν σε ένα συγκεκριμένο μέγεθος. Λίγο πριν την
κατάρρευση μιας φυσαλίδας έχει συγκεντρωθεί μια πολύ μεγάλη ποσότητα ενέργειας μέσα
σε αυτή. Όταν η κατάρρευση συμβαίνει κοντά σε σκληρή επιφάνεια, η φυσαλίδα
μετατρέπεται σε μια δέσμη εκτοξευόμενης ποσότητας, που κινείται με ταχύτητες ως και
400Km/h προς τη σκληρή επιφάνεια. Η θερμοκρασία μέσα σε μια φυσαλίδα σπηλαίωσης
μπορεί να είναι εξαιρετικά υψηλή, φτάνοντας ακόμα και τους 3.000ºC και με πίεση που
φτάνει μέχρι τα 10.000p.s.i. Αξιοσημείωτο είναι ότι οι συνθήκες αυτές πίεσης και
θερμοκρασίας δημιουργούνται στιγμιαία και σε καμία περίπτωση δε θέτουν σε κίνδυνο το
υπό καθαρισμό αντικείμενο ή το χειριστή του μηχανήματος. Με το συνδυασμό πίεσης,
θερμοκρασίας και ταχύτητας, η δέσμη αποδεσμεύει τις ρυπογόνες ουσίες από το
υπόστρωμα. Εξαιτίας του πολύ μικρού μεγέθους της δέσμης και της σχετικά μεγάλης
ενέργειας, ο καθαρισμός με υπέρηχους έχει τη δυνατότητα να φθάνει σε πολύ μικρές
εσοχές και να αφαιρεί αποτελεσματικά τους ρύπους που έχουν εγκλωβιστεί.
|157|
Εικόνα 3.1: Δημιουργία φυσαλίδων σε λουτρό υπερήχων
3.2.3 Δημιουργία υπερήχων
Για να δημιουργηθούν τα κύματα θετικής και αρνητικής πίεσης σε υδατικό μέσο,

απαιτείται η ύπαρξη μιας συσκευής μηχανικής δόνησης. Οι κατασκευαστές υπερήχων
χρησιμοποιούν ένα διάφραγμα συνδεδεμένο στους μετατροπείς υψηλής συχνότητας. Οι
μετατροπείς, οι οποίοι πάλλονται στη συχνότητα συντονισμού τους λόγω της ηλεκτρονικής
γεννήτριας υψηλής συχνότητας, προκαλούν ενισχυμένη δόνηση του διαφράγματος. Αυτή η
ενισχυμένη δόνηση είναι η πηγή των κυμάτων θετικής και αρνητικής πίεσης τα οποία,
προωθούνται μέσω του διαλύματος στη δεξαμενή. Η λειτουργία είναι παρόμοια με αυτή
ενός ηχείου αλλά απλά συμβαίνει σε υψηλότερες συχνότητες. Αφού διαδοθούν μέσα στο
νερό, αυτά τα κύματα πίεσης δημιουργούν το φαινόμενο της σπηλαίωσης.
Η συχνότητα συντονισμού του μετατροπέα καθορίζει το μέγεθος και τις διαστάσεις
των φυσαλίδων συντονισμού. Τυπικά, οι μετατροπείς υπερήχων που χρησιμοποιούνται
στον τομέα του καθαρισμού ποικίλλουν σε συχνότητες από 20ΚHz ως 80ΚHz. Οι
χαμηλότερες συχνότητες δημιουργούν μεγαλύτερες φυσαλίδες με περισσότερη ενέργεια
ενώ τείνουν να δημιουργούν μεγαλύτερα κοιλώματα σε αντίθεση με τις υψηλότερες
συχνότητες που δημιουργούν πολύ μικρότερα κοιλώματα.
3.2.4 Εξοπλισμός
Γενικά, οι δεξαμενές υπερήχων είναι ορθογώνιες και μπορούν να κατασκευαστούν

σχεδόν σε όλα τα μεγέθη. Οι μετατροπείς μπορούν να συγκολληθούν απευθείας στη
δεξαμενή ή να τοποθετηθούν υδατοστεγείς βυθιζόμενες μονάδες απευθείας στο υδατικό
διάλυμα. Σε μερικές περιπτώσεις, οι βυθιζόμενες μονάδες μπορούν να τοποθετηθούν στο
πάνω μέρος της δεξαμενής με κατεύθυνση προς τα κάτω. Στις εφαρμογές όπως η αφαίρεση
της βαφής ή της σκουριάς, μια βυθιζόμενη μονάδα τοποθετείται στο επάνω και μία στο
κάτω μέρος με ελάχιστη απόσταση μεταξύ τους έτσι ώστε να δημιουργείται ένα πεδίο
υψηλής ενέργειας.
Εικόνα 3.2: Λουτρό υπερήχων
|158|
3.2.5 Καθαρισμός με απορρυπαντικά
Η χρήση των απορρυπαντικών διευκολύνει την πλήρη απομάκρυνση των

ακαθαρσιών από την επιφάνεια του δοκιμίου προετοιμάζοντας κατάλληλα την επιφάνεια
για την επιθεώρηση με διεισδυτικά υγρά. Τα απορρυπαντικά που χρησιμοποιούνται σε
αυτή τη μέθοδο καθαρισμού πρέπει να είναι όξινα ή αλκαλικά, ενώ δεν πρέπει να είναι
διαβρωτικά για το υλικό. Η χρήση ισχυρών αλκαλικών ουσιών πρέπει να αποφεύγεται
καθώς υπάρχει κίνδυνος σχηματισμού χρωμικών ιόντων, τα οποία είναι «αόρατα» στο
υπεριώδες φως και επομένως οι πιθανότητες να χαθούν ενδείξεις αυξάνονται.
3.2.6 Καθαρισμός με ατμό υπό πίεση
Σε περίπτωση που το δοκίμιο δεν είναι δυνατόν να καθαριστεί με απορρυπαντικά,

χρησιμοποιείται η μέθοδος καθαρισμού με ατμό η οποία έχει εξαιρετικά αποτελέσματα. Ο
συγκεκριμένος καθαρισμός εφαρμόζεται συνήθως σε δοκίμια μεγάλων διαστάσεων. Ο
καθαρισμός με ατμό υπό πίεση σε συνδυασμό με τη χρήση αλκαλικών καθαριστικών ή
απορρυπαντικών παρέχει τόσο χημική όσο και ισχυρή μηχανική δράση σε υψηλές
θερμοκρασίες. Σε εργοταξιακές συνθήκες, ο καθαρισμός αντικειμένων και κατασκευών
γίνεται με κινητές μονάδες παραγωγής ατμού.
3.2.7 Απολίπανση με ατμούς διαλύτη
Η απολίπανση με ατμούς πτητικού διαλύτη εφαρμόζεται για την αφαίρεση γράσων

και ελαίων από μεταλλικά αντικείμενα στο πλαίσιο της προετοιμασίας τους για τον έλεγχο
με διεισδυτικά υγρά. Μια χαλύβδινη δεξαμενή εφοδιασμένη με θερμαντήρα, δεξαμενή
διαλύτη, συμπυκνωτήρα και αφαιρούμενο κάλυμμα χρησιμοποιείται για τη θέρμανση του
διαλύτη έως το σημείο βρασμού του, δημιουργώντας ένα ρεύμα ατμού πάνω από το
διαλύτη ενώ ο ατμός συμπυκνώνεται στη σχετικά ψυχρή επιφάνεια των δοκιμίων
διαλύοντας τους οργανικούς ρύπους. Κατά τη διάρκεια της εξάτμισης μόνο οι καθαροί
ατμοί του διαλύτη προσβάλουν το αντικείμενο. Η απολίπανση με ατμούς διαλύτη είναι
ιδιαίτερα κατάλληλη για την απομάκρυνση οργανικών ρύπων ενώ είναι αναποτελεσματική
στην απομάκρυνση στερεών ρύπων όπως τα βερνίκια και τα χρώματα καθώς και των
ρύπων της επιφανειακής διάβρωσης. Σημειώνεται ότι τα κράματα τιτανίου δεν πρέπει να
υπόκεινται σε απολίπανση με ατμούς διαλύτη ή να εκθέτονται σε αλογονούχους διαλύτες.
Αλογονούχοι είναι οι διαλύτες εκείνοι που περιέχουν αλογόνα, όπως χλώριο, φθόριο κ.λπ.
3.2.8 Αποσκωρίωση και αφαίρεση αλάτων
Η αφαίρεση της σκουριάς και των αλάτων μπορεί να ολοκληρωθεί με τη χρήση

οξέων και μερικές φορές με τη χρήση συρματόβουρτσας. Στη συρματόβουρτσα, πρέπει να
εφαρμόζεται μικρή δύναμη, ώστε να μην τραυματίζεται η επιφάνεια του δοκιμίου, αλλά και
για να μην φράσσονται οι επιφανειακές ασυνέχειες από ρινίσματα μετάλλου. Κατά την
αφαίρεση των αλάτων, πρέπει να επιλέγονται αντιδιαβρωτικά υλικά για το δοκίμιο. Μετά
την ολοκλήρωση της διαδικασίας, το δοκίμιο πρέπει να πλένεται και στη συνέχεια να
ξηραίνεται ώστε να προφυλάσσεται η επιφάνεια του από ακαθαρσίες, οι οποίες θα έφρασαν
τις επιφανειακές ασυνέχειες.
|159|
3.2.9 Αποχρωματισμός
Οποιοσδήποτε τρόπος αποχρωματισμού του δοκιμίου είναι αποδεκτός, εφόσον δεν

τραυματίζει την επιφάνεια του. Σε κάθε περίπτωση είναι προτιμότερο να χρησιμοποιούνται
διαλύτες και χημικά αφαίρεσης χρωμάτων (paint stripper, or paint remover), αντί να γίνεται
μηχανικός καθαρισμός ο οποίος επηρεάζει την επιφάνεια του δοκιμίου.
3.2.10 Επιστρώσεις
Οι επικαλύψεις (π.χ. βαφή, ανοδίωση, επιχρίσματα εναπόθεσης ατμών ιόντος (IVD),

επιχρωμίωση, κ.λπ.), πρέπει να εφαρμόζονται προκειμένου να προστατεύουν τις επιφάνειες
από τη διάβρωση και τη φθορά. Ωστόσο, μπορεί να έχουν πολλές δυσμενείς συνέπειες στη
διαδικασία ελέγχου με την μέθοδο των διεισδυτικών υγρών. Πολλές από τις επικαλύψεις,
όπως οι βαφές και τα επιχρίσματα IVD, είναι ελαστικότερες από το υπόστρωμα με
αποτέλεσμα να μην μπορούν να σχηματίσουν ανοίγματα όταν το μέταλλο βάσης
ρηγματωθεί.
Όταν συμβεί αυτό, το άνοιγμα της επιφάνειας γεφυρώνεται ή καλύπτεται,
αποτρέποντας την είσοδο του διεισδυτικού. Σε εξαρτήματα από αλουμίνιο με επίστρωση
αλουμινίου IVD, συνιστάται η επιθεώρηση με δινορεύματα, προκειμένου να λειτουργήσει
συμπληρωματικά του ελέγχου με διεισδυτικά υγρά σε κρίσιμα σημεία. Οι επιστρώσεις
αλουμινίου IVD είναι καθαρό αλουμίνιο αυξημένης ελαστικότητας (παραμορφώνονται
δηλαδή ευκολότερα) σε σχέση με το κράμα αλουμινίου (μέταλλο βάσης) με συνέπεια τη
δυσκολία ανίχνευσης ρηγμάτων κόπωσης με τη μέθοδο των διεισδυτικών υγρών. Οι
σκληρές επιστρώσεις, όπως η επιχρωμίωση, τα επιχρίσματα HVOF (High Velocity Oxygen
Fuel) μπορούν να ρηγματωθούν συχνά πριν από το υπόστρωμα, λόγω φθοράς της
επίστρωσης.
Βλάβες ή ρωγμές αυτών των σκληρών επικαλύψεων επιφάνειας μπορεί να
οδηγήσουν σε μη σχετικές ενδείξεις ή να δημιουργήσουν προβλήματα στην ορθή ερμηνεία
των σχετικών ενδείξεων.
Κάποια σκληρά επιστρώματα ανοδίωσης και βαφής μπορεί να εγκλωβίσουν το
διεισδυτή κατά τη διαδικασία της αφαίρεσής του προκαλώντας υψηλό υπολειμματικό
υπόβαθρο ή ψευδείς ενδείξεις. Ειδικότερα κάποιες επιστρώσεις, όπως το χρώμιο, απαιτούν
εξειδικευμένες μεθόδους ηλεκτροχημικής ή μηχανικής απομάκρυνσης και δεν θα
συζητηθούν περαιτέρω. Οι τυπικές μέθοδοι για την αφαίρεση επιστρώσεων περιγράφονται
στις επόμενες σελίδες.
3.2.11 Χημική προσβολή (etching)
Η χημική προσβολή εφαρμόζεται συνήθως σε μαλακά υλικά και κράματα, ιδίως

όταν έχουν υποστεί κάποια μηχανουργική κατεργασία όπως τόρνευση, φρεζάρισμα,
λείανση ή άλλη κατεργασία. Η χημική προσβολή πραγματοποιείται με τη χρήση οξέων ή
αλκαλίων τα οποία στη συνέχεια εξουδετερώνονται. Μετά την εξουδετέρωση, το δοκίμιο
πλένεται και ακολουθεί ξήρανση. Ο καθαρισμός για την απομάκρυνση όλων των
καταλοίπων από τη χημική προσβολή και εξουδετέρωση πρέπει να είναι επιμελής.
|160|
4. ΒΑΣΙΚΑ ΒΗΜΑΤΑ ΤΗΣ ΜΕΘΟΔΟΥ ΤΩΝ ΔΙΕΙΣΔΥΤΙΚΩΝ ΥΓΡΩΝ
Τα βασικά βήματα που ακολουθούνται για την εφαρμογή της μεθόδου είναι τα εξής:
 Προκαθαρισμός της επιφάνειας του δοκιμίου: Ο καθαρισμός πραγματοποιείται για
να απομακρυνθούν οι ρύποι και οι επιστρώσεις από την επιφάνεια του δοκιμίου. Ο
καθαρισμός είναι ένα κρίσιμο στάδιο της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών και
τονίζεται λόγω της επίδρασης του στα αποτελέσματα των επιθεωρήσεων. Ρύποι,
υγρασία και επιστρώσεις στο εσωτερικό των ασυνεχειών ή στην επιφάνεια μπορεί
να μειώσουν την αποτελεσματικότητα της μεθόδου.
 Εφαρμογή του διεισδυτή - χρόνος διείσδυσης: Μετά την ολοκλήρωση του
καθαρισμού και την επιμελή ξήρανση, ο διεισδυτής που περιέχει χρωστική ουσία
εφαρμόζεται στην επιφάνεια του δοκιμίου ή τμήματος του δοκιμίου που πρόκειται
να επιθεωρηθεί. Ο διεισδυτής παραμένει στην επιφάνεια για ένα χρονικό διάστημα,
ώστε να μπορέσει να εισέλθει και να γεμίσει οποιαδήποτε ασυνέχεια ανοιχτή στην
επιφάνεια.
 Έκπλυση για απομάκρυνση του πλεονάζοντος διεισδυτή – ξήρανση: Μετά από ένα
χρονικό διάστημα παραμονής του διεισδυτή (dwell period), αυτός απομακρύνεται
από την επιφάνεια του αντικειμένου.
 Εφαρμογή εμφανιστή: Ο εμφανιστής βοηθά στην εξόλκυση του διεισδυτή που έχει
παγιδευτεί στις ασυνέχειες βελτιώνοντας ταυτόχρονα την ορατότητα των ενδείξεων.
 Επιθεώρηση: Μετά την εφαρμογή του εμφανιστή, το επόμενο στάδιο είναι η οπτική
εξέταση υπό κατάλληλες συνθήκες φωτισμού για να εντοπισθούν οι σχετικές
ενδείξεις.
 Καταγραφή των ενδείξεων: Η καταγραφή των ενδείξεων μπορεί να
πραγματοποιηθεί για παράδειγμα: με γραπτή περιγραφή, με σκαρίφημα ή
φωτογραφία.
 Μετακαθαρισμός του δοκιμίου: Το τελικό βήμα είναι ο μετακαθαρισμός του
δοκιμίου. Αυτό το βήμα είναι πολύ σημαντικό, καθώς τα υπολείμματα του διεισδυτή
μπορεί να έχουν αρνητικές επιπτώσεις στο δοκίμιο.
Εικόνα 4.1: Βήματα εφαρμογής της μεθόδου των Διεισδυτικών Υγρών
|161|
Εικόνα 4.2: Προκαθαρισμός της επιφάνειας Εικόνα 4.3: Εφαρμογή του διεισδυτή
Εικόνα 4.4: Καθαρισμός του διεισδυτή Εικόνα 4.5: Εφαρμογή του εμφανιστή
Αξίζει να σημειωθεί ότι σε εργαστηριακές εφαρμογές ο έλεγχος με τη μέθοδο των

διεισδυτικών υγρών, πραγματοποιείται σε σταθμούς ελέγχου σε σειρά (Εικόνα 4.6).
Εικόνα 4.6: Σταθμός ελέγχου για εφαρμογή της μεθόδου των Διεισδυτικών Υγρών
|162|
4.1 Προκαθαρισμός της επιφάνειας του δοκιμίου
Η επιφάνεια του δοκιμίου της συγκόλλησης πρέπει να καθαρίζεται από άλατα,

σκουριά, βαφή, ανόργανες ύλες, λάδια, νερό, κ.λπ., προκειμένου να επιτυγχάνεται η
διείσδυση του διεισδυτή όπως και η ανάπτυξη και η ενίσχυση του τριχοειδούς φαινομένου.
Ειδικότερα, τα σταγονίδια από νερό ή υγρασία μπορούν να εμποδίσουν τη διείσδυση,
επομένως η εφαρμογή του διεισδυτή πρέπει να γίνεται σε ξηρή επιφάνεια.
Ένας καλός καθαρισμός, για παράδειγμα με λείανση ή με χημική προσβολή, είναι
ικανός να καταστήσει ορατά αρκετά επιφανειακά ρήγματα ή επιφανειακές ασυνέχειες.
Για την αφαίρεση οργανικών και άλλων ουσιών χρησιμοποιούνται διαλύτες
(solvents), απορρυπαντικά ή γαλακτωματοποιητές. Για τον καλύτερο καθαρισμό του
δοκιμίου εφαρμόζεται συχνά και η τεχνική καθαρισμού με υπέρηχους (συνήθως με
συχνότητα πάνω από 20KHz). Ωστόσο, η αποτελεσματικότερη μέθοδος καθαρισμού είναι
η μέθοδος με απολίπανση ατμού (vapour degreasing), κατά την οποία ατμοί διαλύτη
διαλύουν τις οργανικές ύλες, διεισδύοντας ακόμα και μέσα στις ασυνέχειες. Το δοκίμιο
τοποθετείται σε ζώνη ψυχρού αέρα, πάνω από το λουτρό του διαλύτη. Αυτό έχει ως
συνέπεια οι ατμοί να υγροποιούνται και λόγω της βαρύτητας να επιστρέφουν ως σταγόνες
υγρού στο λουτρό, παρασύροντας και τις διαλυμένες οργανικές ύλες.
Η αφαίρεση των ανόργανων ρύπων, όπως οι σκουριές και τα άλατα, γίνεται με
μηχανικό τρόπο ή με χημικά μέσα (χημική προσβολή ή προσβολή της επιφάνειας με
αλκαλικά οξέα). Μεγάλη προσοχή απαιτείται κατά τον καθαρισμό με αμμοβολή ή το
τρόχισμα, καθώς με τις διεργασίες αυτές είναι δυνατόν να φράξουν οι είσοδοι των
ασυνεχειών λόγω της άμμου ή των ρινισμάτων. Πολλές φορές τέτοιοι καθαρισμοί
απαγορεύονται από τις αντίστοιχες προδιαγραφές. Εναλλακτικά οι καθαρισμοί αυτοί
ακολουθούνται από χημική προσβολή ώστε να καθαριστούν και να αποφράξουν οι είσοδοι
των ασυνεχειών.
4.2 Εφαρμογή διεισδυτικού υγρού
Οι διεισδυτές (penetrants) σύμφωνα με το ευρωπαϊκό πρότυπο ΕΝ ISO 3452-1

κατατάσσονται σε τρεις τύπους: τους φθορίζοντες (Type I), τους ορατούς (Type II), και
τους διεισδυτές διπλής ευαισθησίας (Type III).
4.2.1 Ορατοί διεισδυτές (Τύπος ΙΙ)
Είναι έντονα χρωματισμένοι (κόκκινου χρώματος) και έχουν υψηλό βαθμό

διείσδυσης. Η επιθεώρηση για ύπαρξη ασυνεχειών γίνεται κάτω από καλές συνθήκες
φωτισμού. Γενικά, ως καλή πρακτική θεωρείται η χρήση προϊόντων της ίδιας οικογένειας.
Το ευρωπαϊκό πρότυπο ΕΝ ISO 3452-1 ορίζει ως οικογένεια προϊόντων “product family”
τον διεισδυτή, το μέσο αφαίρεσης του διεισδυτή (εκτός από την μέθοδο Α) και τον
εμφανιστή. Όταν ο έλεγχος γίνεται σύμφωνα με το EN ISO 3452-2 ο διεισδυτής και το
μέσο αφαίρεσης του διεισδυτή πρέπει να είναι από τον ίδιο κατασκευαστή.
Ο ορατός διεισδυτής περιέχει μια κόκκινη χρωστική διαλυμένη σε διεισδυτή
ελαιώδους βάσης. Η ορατότητα ενισχύεται περαιτέρω, καθώς ακολουθεί η εφαρμογή μίας
στρώσης λευκού εμφανιστή. Ο λευκός εμφανιστής, σε φυσικό ή λευκό φως, δίνει ένα
φόντο υψηλής αντίθεσης.
|163|
Εικόνα 4.7: Ενδεικτική φωτογραφία από έλεγχο με ορατό διεισδυτή (Type II)
4.2.2 Φθορίζοντες διεισδυτές (Τύπος Ι)
Κατά τον έλεγχο με φθορίζοντα διεισδυτικά υγρά, τα εξεταζόμενα δοκίμια

φθορίζουν υπό την επίδραση υπεριώδους φωτός. Ο έλεγχος πραγματοποιείται σε σκοτεινό
θάλαμο, οπότε και οι φθορίζουσες ενδείξεις κιτρινοπράσινου χρώματος γίνονται ορατές.
Ορισμένες χημικές ενώσεις έχουν την ικανότητα να εκπέμπουν ορατό φως όταν
εκτίθενται στην υπεριώδη ακτινοβολία (UV-A, με μήκος κύματος από 320 - 400nm). Αυτή
η ιδιότητα ονομάζεται φθορισμός. Οι διεισδυτές τύπου Ι παρέχουν εξαιρετική ευαισθησία
ανίχνευσης σε μικρές επιφανειακές ασυνέχειες με πολύ μικρές ποσότητες φθοριζόντων
διεισδυτών εκπέμποντας υψηλές ορατές ενδείξεις όταν εκτίθεται στο υπεριώδες φως.
Εικόνα 4.8: Ενδεικτική φωτογραφία από έλεγχο με φθορίζοντες διεισδυτές
4.2.3 Διεισδυτές διπλής ευαισθησίας (Τύπος ΙΙΙ)
Υπάρχουν επίσης εναλλακτικά συστήματα διεισδυτικών υγρών, όπως αυτά της

διπλής ευαισθησίας (τύπος ΙΙΙ), που χρησιμοποιούνται σε συνθήκες ελλιπούς φωτισμού,
φιλτραρισμένων σωματιδίων που χρησιμοποιούνται σε πορώδη υλικά, θιξοτροπικών υγρών
που χρησιμοποιούνται για εργασία σε συγκολλήσεις στις θέσεις ανεβατό και ουρανού.
Επίσης χρησιμοποιούνται για τον έλεγχο συστημάτων υγρού οξυγόνου (LOX), σε δοκίμια
που έρχονται σε επαφή με υγρό οξυγόνο. Αυτή η κατηγορία των διεισδυτικών υγρών
χρησιμοποιείται σπάνια σε βιομηχανικές εφαρμογές.
Ανάλογα με τον τρόπο με τον οποίο απομακρύνονται από το δοκίμιο οι διεισδυτές
διακρίνονται στις ακόλουθες μεθόδους (βλέπε Πίνακα 4.1):
 Αφαιρούμενοι με νερό (Υδατοδιαλυτοί) (Μέθοδος Α).
 Αφαιρούμενοι με λιπόφιλο γαλακτωματοποιητή (Μέθοδος Β).
 Αφαιρούμενοι με διαλύτη (Μέθοδος C).
 Αφαιρούμενοι με υδρόφιλο γαλακτωματοποιητή (Μέθοδος D).
 Υδατοδιαλυτοί / Διαλυτοδιαλυτοί (Μέθοδος E).
|164|
Πίνακας 4.1: Ταξινόμηση διεισδυτικών υγρών.
(Απόσπασμα από το πρότυπο EN ISO 3452-1:2013)
Testing products
Penetrant Excess penetrant remover Developer

Type Denomination Method Denomination Form Denomination
I Fluorescent penetrant A Water a Dry powder
Post-emulsifiable,
II Colour contrast B b Water soluble
lipophilic
III Penetrant C Solvent (liquid): c
Dual-purpose -Class 1, halogenated
Solvent-based (non-
(fluorescent colour -Class 2, non-halogenated
aqueous for Type I)
contrast penetrant) -Class 3, special
application
D Post-emulsifiable, Solvent-based (non-
hydrophilic d aqueous for Type II
and III)
E Water-and solvent- e Special application
removable f Special application
For specific cases, it is necessary to use penetrant testing products complying with particular requirements with
regards to flammability, sulfur, halogen and sodium content and other contaminants. See ISO 3452-2.
a The class of Method C is not part of the designation.
(Απόσπασμα από το πρότυπο EN ISO 3452-2:2013)
Testing products
Penetrant Excess penetrant remover Developer

Type Denomination Method Denomination Form Denomination
I Fluorescent penetrant A Water a Dry
b Water soluble
II Colour contrast penetrant B Lipophilic emulsifier
c Water suspendable
III Dual-purpose C Solvent (liquid): d Solvent-based (non-
(fluorescent colour Class 1 Halogenated aqueous for Type I)
contrast penetrant) Class 2 Non-halogenated
Class 3 Special
application
D Hydrophilic emulsifier Solvent-based (non-
e aqueous for Types II
and III)
Ea Water and solvent
f Special application
removable
a Method E relates to application. Penetrant material qualified for method A are also consider qualified for method
E.
|165|
4.2.4 Επίπεδα ευαισθησίας
Τα επίπεδα ευαισθησίας σύμφωνα με το πρότυπο EN ISO 3452-2 πρέπει να

καθορίζονται ξεχωριστά για τους διεισδυτές, τα μέσα αφαίρεσης του πλεονάζοντος
διεισδυτή, τους εμφανιστές και τις οικογένειες υλικών. Τα επίπεδα ευαισθησίας
διαφορετικών τύπων διεισδυτών είναι μη συγκρίσιμα.
Τα επίπεδα ευαισθησίας για την οικογένεια των φθοριζόντων διεισδυτών πρέπει να
καθορίζονται από προϊόντα αναφοράς:
 επίπεδο ευαισθησίας 1/2 (πολύ χαμηλό)
 επίπεδο ευαισθησίας 1 (χαμηλό)
 επίπεδο ευαισθησίας 2 (μεσαίο)
 επίπεδο ευαισθησίας 3 (υψηλό)
 επίπεδο ευαισθησίας 4 (πολύ υψηλό).
Το επίπεδο ευαισθησίας 1/2 ισχύει για διεισδυτή Τύπου Ι και μέθοδο αφαίρεσης του
πλεονάζοντος διεισδυτή Α.
Τα επίπεδα ευαισθησίας για την οικογένεια των ορατών διεισδυτών πρέπει να
καθορίζονται με χρήση του δοκιμίου αναφοράς τύπου 1 σύμφωνα με το πρότυπο EN ISO
3452-3:
 επίπεδο ευαισθησίας 1 (κανονικό)
 επίπεδο ευαισθησίας 2 (υψηλό).
Δεν υπάρχουν επίπεδα ευαισθησίας για την οικογένεια των διεισδυτών διπλής
ευαισθησίας όταν χρησιμοποιούνται σε σύστημα φθοριζόντων διεισδυτών. Ωστόσο τα
επίπεδα ευαισθησίας των διεισδυτών διπλής ευαισθησίας μπορεί να ταξινομηθούν
σύμφωνα με την κατηγοριοποίηση των ορατών διεισδυτών.
4.3 Εφαρμογή των διεισδυτικών υγρών
Μετά τον προκαθαρισμό της επιφάνειας, η εφαρμογή του διεισδυτή μπορεί να

πραγματοποιηθεί με ψεκασμό, με επάλειψη με τη βοήθεια ενός μαλακού πινέλου ή με
εμβάπτιση του δοκιμίου σε δεξαμενή.
Σχήμα 4.9: Εφαρμογή του διεισδυτή με ψεκασμό
Ωστόσο, ο αποτελεσματικότερος τρόπος εφαρμογής ενός διεισδυτή είναι με βύθιση

και στράγγιση (dip and drain). Κατά την εφαρμογή αυτή, το δοκίμιο βυθίζεται για λίγο στο
λουτρό του διεισδυτή και στη συνέχεια τοποθετείται σε σχάρα για να στραγγίσει από τον
πλεονάζοντα διεισδυτή. Η θερμοκρασία του δοκιμίου, όσο και της επιφάνειας του αλλά και
η θερμοκρασία περιβάλλοντος κατά την εφαρμογή του διεισδυτή πρέπει να βρίσκεται στο
θερμοκρασιακό εύρος των 10°C - 50°C, σύμφωνα με το ΕΝ ISO 3452-1.
|166|
Ο διεισδυτής δεν εισχωρεί στην ασυνέχεια από μόνος του. Η διαδικασία
υποβοηθείται από το τριχοειδές φαινόμενο και στη συνέχεια ο διεισδυτής εξολκύεται προς
την επιφάνεια του δοκιμίου με τη βοήθεια του εμφανιστή. Η θερμοκρασία κατά την
εφαρμογή των διεισδυτικών υγρών πρέπει να κυμαίνεται από 5°C έως και 50°C, εκτός και
αν ορίζεται διαφορετικά από τις προδιαγραφές του κατασκευαστή. Υψηλότερες
θερμοκρασίες επιβραδύνουν τη διεισδυτική ικανότητα του διεισδυτή, λόγω της εξάτμισης
των πτητικών συστατικών του και οδηγούν σε μια σημαντική αύξηση του χρόνου
διείσδυσης (περίπου διπλασιασμό για κάθε 10°C). Στην αντίθετη περίπτωση χαμηλές
θερμοκρασίες προκαλούν μερική εναιώρηση του διεισδυτικού υγρού. Ο χρόνος διείσδυσης
(dwell time), δηλαδή ο χρόνος επαφής του διεισδυτικού υγρού με την επιφάνεια του
δοκιμίου, κυμαίνεται από 5 έως 60min και εξαρτάται από τη θερμοκρασία περιβάλλοντος,
το είδος του υλικού και το μέγεθος της ασυνέχειας. Για συγκολλήσεις, ο χρόνος διείσδυσης
κυμαίνεται από 10 έως 30min. Μικρή προθέρμανση του δοκιμίου, πριν την εφαρμογή του
διεισδυτή, βοηθά στη διείσδυση, καθώς ανοίγει τα τοιχώματα της ασυνέχειας και
απομακρύνει την υγρασία και τους πτητικούς ρυπαντές. Η χρήση θερμού διεισδυτή δεν
ενδείκνυται.
Το μεγαλύτερο πρόβλημα στην περίπτωση των μεγάλων χρόνων διείσδυσης είναι
ότι, γίνεται πιο δύσκολη η αφαίρεση του επιφανειακού διεισδυτή λόγω της στερεοποίησης
του. Με την εφαρμογή ενός νέου διεισδυτή στην επιφάνεια για 1 - 2min, η δυσκολία αυτή
παύει να υφίσταται. Απαιτείται ειδική προσοχή στην περιεκτικότητα του διεισδυτή σε θείο
(S), αλογόνα (φθόριο - F, χλώριο - Cl, βρώμιο - Br, ιώδιο - I) και αλκαλικές ουσίες, καθώς
και όλων των υγρών που έρχονται σε επαφή με το δοκίμιο. Αυξημένη περιεκτικότητα των
προαναφερθέντων στοιχείων και ουσιών οδηγεί σε ενδοκρυσταλλική διάβρωση και
ρηγμάτωση λόγω δυναμοδιάβρωσης (S.C.C). Προς αποφυγή των φαινομένων αυτών,
θεωρείται σκόπιμο να αφαιρεθεί ο πλεονάζων διεισδυτής, γαλακτωματοποιητής ή
εμφανιστής από τους ανοξείδωτους χάλυβες και τα κράματα αλουμινίου.
Γενικά ένα καλός διεισδυτής πρέπει να:
 διεισδύει σε μικρές επιφανειακές ασυνέχειες
 μην απομακρύνεται εύκολα
 αφαιρείται εύκολα από την επιφάνεια του δοκιμίου
 εξολκύεται εύκολα
 έχει έντονο χρωματισμό ή φθορισμό
 είναι άοσμος, μη αναφλέξιμος, μη τοξικός και να διατηρείται αναλλοίωτος όταν
αποθηκεύεται ή χρησιμοποιείται.
4.4 Πλεονεκτήματα - μειονεκτήματα ορατών και φθοριζόντων διεισδυτών
4.4.1 Ορατοί διεισδυτές
 Απαιτούνται ειδικές συνθήκες φωτισμού της περιοχής ελέγχου.

 Δεν είναι αναγκαία η παροχή ρεύματος.
 Κατά τον έλεγχο του δοκιμίου δεν καταπονείται η όραση του επιθεωρητή και ως εκ
τούτου υπάρχει η δυνατότητα ελέγχου δοκιμίων για μεγαλύτερο χρονικό διάστημα.
 Οι ορατοί διεισδυτές είναι κατάλληλοι για λείες επιφάνειες καθώς ένας εμφανιστής
πρέπει να επικαλύπτει ομοιόμορφα τις επιφάνειες του δοκιμίου, ώστε να
εξαλείφεται η πιθανότητα υψηλής φωτεινότητας από τις υπάρχουσες συνθήκες
φωτισμού.
|167|
4.4.2 Φθορίζοντες διεισδυτές
 Απαιτούνται ειδικές συνθήκες φωτισμού της περιοχής ελέγχου.

 Είναι πιο δαπανηρή μέθοδος σε σχέση με τους ορατούς διεισδυτές.
 Υπάρχει μεγαλύτερος λόγος οπτικής αντίθεσης μεταξύ υπόβαθρου και της ένδειξης
της ασυνέχειας, με αποτέλεσμα την αύξηση οπτικής ευαισθησίας της μεθόδου.
 Δεν απαιτείται λευκό υπόβαθρο και ως εκ τούτου χρησιμοποιούνται περισσότεροι
ξηροί εμφανιστές οι οποίοι εφαρμόζονται σε μικρές ποσότητες και ελαττώνουν το
χρόνο μετακαθαρισμού.
 Είναι ιδανικοί για τον έλεγχο δοκιμίων σε γραμμή παραγωγής.
 Απαιτείται μεγάλη προσοχή για την αποφυγή ρύπανσης: για παράδειγμα από
διεισδυτή στα χέρια του χειριστή, δακτυλικά αποτυπώματα κατά την επαφή με το
δοκίμιο ή κατά τη μεταφορά δοκιμίων σε διαφορετικές δεξαμενές ελέγχου.
 Απαιτούνται διαλείμματα για τους χειριστές σε τακτά χρονικά διαστήματα ώστε να
ξεκουράζουν την όραση τους από την επίμονη παρατήρηση. Όταν επικρατούν
συνθήκες φωτισμού χαμηλής έντασης, τα διαλείμματα επιβάλλεται να είναι
περισσότερα.
 Οι ιδιότητες των φθοριζόντων διεισδυτών μεταβάλλονται σε υψηλές θερμοκρασίες
(μεγαλύτερες από 50°C).
 Ισχυρά οξέα και αλκαλικές ουσίες, μπορεί να απελευθερώσουν χρωμικά ιόντα τα
οποία δεν διεγείρονται με υπεριώδες φως (UV-A). Ως εκ τούτου αυξάνεται η
πιθανότητα να χαθούν μικρές φθορίζουσες ενδείξεις.
4.5 Έκπλυση για απομάκρυνση του πλεονάζοντος διεισδυτή – ξήρανση
Μετά το τέλος του χρόνου διείσδυσης ξεκινά η διαδικασία αφαίρεσης του

πλεονάζοντος επιφανειακού διεισδυτή. Η συντριπτική πλειονότητα των διεισδυτών είναι
ελαιώδους βάσης και επομένως η αφαίρεσή τους γίνεται με διαλύτη ή με
γαλακτωματοποιητές (απορρυπαντικά). Οι γαλακτωματοποιητές είναι ουσίες οι οποίες
έχουν ένα ελαιοδιαλυτό και ένα υδατοδιαλυτό τμήμα. Έτσι, τα έλαια / λίπη διαλύουν ένα
τμήμα κατά το πρώτο στάδιο, ενώ το υπόλοιπο τμήμα διαλύεται στο νερό.
Μετά την αφαίρεση του πλεονάζοντος διεισδυτή, ακολουθεί στέγνωμα / ξήρανση
της επιφανείας, διότι ο εμφανιστής πρέπει να εφαρμοστεί σε ξηρή επιφάνεια. Όταν κατά
την ξήρανση χρησιμοποιείται κλίβανος με ανακυκλούμενο αέρα χαμηλή πίεσης, η
θερμοκρασία του θερμού αέρα δεν πρέπει να ξεπερνά τους 70°C. Όμως, ακόμα και σε αυτή
την περίπτωση η θερμοκρασία που μετράται στην επιφάνεια του δοκιμίου δεν πρέπει να
ξεπερνά τους 50°C σύμφωνα με το ΕΝ ISO 3452-1. Η αφαίρεση του πλεονάζοντος
διεισδυτή μπορεί να γίνει με τρεις μεθόδους: αφαίρεση με διαλύτη, αφαίρεση με νερό και
μεταγαλακτωματοποίηση.
Σύμφωνα με το πρότυπο EN ISO 3059 κατά την αφαίρεση του πλεονάζοντος
φθορίζοντος διεισδυτή η ένταση του υπεριώδους φωτός πρέπει να είναι τουλάχιστον
1W/m2 (100μW/cm2) και ο φωτισμός λιγότερος από 100lux. Γενικά, πρέπει να
αποφεύγεται η παρατεταμένη έκθεση σε ένταση υπεριώδους φωτός μεγαλύτερη από
50W/m2 (5.000μW/cm2).
Επιπρόσθετα το ίδιο πρότυπο ορίζει ότι η αφαίρεση του πλεονάζοντος ορατού
διεισδυτή πρέπει να γίνεται σε συνθήκες φωτισμού κατ’ ελάχιστο 350lux.
|168|
4.5.1 Διαλυτοαφαιρούμενοι διεισδυτές
Κατά τη μέθοδο αυτή, ο πλεονάζων διεισδυτής αφαιρείται με τη βοήθεια καθαρών

πανιών ή χαρτιού που δεν αφήνει κατάλοιπα ή ίχνη. Εφαρμόζεται ο διαλύτης στο πανί και
απομακρύνεται ο πλεονάζοντας διεισδυτής κινώντας τα δύο υγρά προς μια κατεύθυνση.
4.5.2 Υδατοαφαιρούμενοι διεισδυτές
Οι υδατοαφαιρούμενοι διεισδυτές αφαιρούνται από την επιφάνεια του υλικού με

έκπλυση μόνο με νερό. Η έκπλυση με νερό γίνεται με ψεκασμό ή με βύθιση σε λουτρό με
ανάδευση του νερού.
Για να εξαλειφθεί ο κίνδυνος απομάκρυνσης του διεισδυτή από τις ασυνέχειες, η
έκπλυση πραγματοποιείται κάτω από συγκεκριμένες συνθήκες. Η διαδικασία
απομάκρυνσης του πλεονάζοντα διεισδυτή με ψεκασμό γίνεται με ρεύμα νερού, με πίεση
όχι μεγαλύτερη από 2bar, υπό γωνία προς την επιφάνεια του δοκιμίου και σε απόσταση
μεγαλύτερη από 300mm από αυτό. Η θερμοκρασία του νερού πρέπει να κυμαίνεται από
15°C έως 30°C και η αφαίρεση του φθορίζοντος διεισδυτή να γίνεται σε σκοτεινό θάλαμο
και κάτω από υπεριώδες φως.
Το επόμενο στάδιο είναι η ξήρανση του δοκιμίου ή σε ρεύμα θερμού αέρα ή σε
κλίβανο.
4.5.3 Μεταγαλακτωματοποιούμενοι διεισδυτές
Πρόκειται για τη πιο σύγχρονη μέθοδο που αναπτύχθηκε για την ανίχνευση
ασυνεχειών πολύ μικρού βάθους και πλάτους όπως τα ρήγματα κοπώσεως. Οι
μεταγαλακτωματοποιούμενοι διεισδυτές δίνουν τον υψηλότερο βαθμό ευαισθησίας. Οι
γαλακτωματοποιητές αναμιγνύονται με το διεισδυτή που υπάρχει στην επιφάνεια του
υλικού και τον μετατρέπουν σε υδατοδιαλυτό. Αυτό οφείλεται στη μη ικανότητα του
γαλακτωματοποιητή να αναμιχθεί με το διεισδυτή που έχει ήδη εισχωρήσει στην
ασυνέχεια. Οι γαλακτωματοποιητές εφαρμόζονται πάντα με βύθιση και όχι με βούρτσισμα
ώστε να αποφεύγεται η ανομοιόμορφη κατανομή.
4.5.3.1 Ιδιότητες γαλακτωματοποιητών
Οι γαλακτωματοποιητές πρέπει να έχουν τις παρακάτω ιδιότητες:

 πρέπει να μετατρέπουν το διεισδυτή σε υδατοαφαιρούμενο
 όταν αναμιγνύονται με το διεισδυτή να ενεργούν αρκετά αργά ώστε να υπάρχουν
περιθώρια αντίδρασης
 όταν αναμιγνύονται με το διεισδυτή, ο χρόνος της διαδικασίας
γαλακτωματοποίησης να μην είναι υπερβολικά μεγάλος
 να είναι άοσμοι και απαλλαγμένοι από τοξικές ουσίες.
Υπάρχουν δύο κατηγορίες γαλακτωματοποιητών, σύμφωνα με το πρότυπο
ΕΝ ISO 3452-1: Οι λιπόφιλοι (lipophilic) και οι υδρόφιλοι (hydrolhilic). Οι λιπόφιλοι
γαλακτωματοποιητές δεν «ανέχονται» περιεκτικότητα σε νερό πάνω από 5%, δρουν με
διάχυση μέσα στον επιφανειακό διεισδυτή και εφαρμόζονται με βύθιση ή ψεκασμό (για
χρόνο από 0,5 έως 3min). Ο χρόνος εφαρμογής του λιπόφιλου γαλακτωματοποιητή είναι
εξαιρετικά κρίσιμος και καθορίζεται μόνο πειραματικά. Οι γαλακτωματοποιητές φθορίζουν
ελαφρώς πορτοκαλί χρώμα, υπό το υπεριώδες φως, έτσι ώστε να διακρίνονται από τους
διεισδυτές.
|169|
4.5.3.2 Λιπόφιλος γαλακτωματοποιητής
Ο λιπόφιλος γαλακτωματοποιητής είναι ελαιώδους βάσης. Όταν έρθει σε επαφή με

το διεισδυτή, τον καθιστά υδατοαφαιρούμενο ώστε οι δύο υγρές ουσίες να διαλύονται
αμοιβαία. Κατά την εφαρμογή του, ο γαλακτωματοποιητής διαλύει τον πλεονάζοντα
διεισδυτή μέσω μιας διαδικασίας αραίωσης και ανάμιξης των ουσιών. Η όλη διεργασία
στηρίζεται στο βέλτιστο χρόνο γαλακτωματοποίησης, καθώς ο γαλακτωματοποιητής έχει
την τάση να διαλύει το διεισδυτή σε ρηχές και πλατιές ασυνέχειες. Ως εκ τούτου μπορεί να
χαθούν ενδείξεις κατά την έκπλυση με νερό.
4.5.3.3 Υδρόφιλος γαλακτωματοποιητής
Οι υδρόφιλοι γαλακτωματοποιητές δρουν επιφανειακά ως απορρυπαντικά,

διαλύοντας το νερό και εφαρμόζονται με βύθιση ή ψεκασμό για μεγαλύτερο χρόνο. Μετά
την εφαρμογή του γαλακτωματοποιητή, ο πλεονάζων διεισδυτής αφαιρείται με ρεύμα
νερού, όπως στην περίπτωση του υδατοαφαιρούμενου διεισδυτή και ακολουθεί ξήρανση
του δοκιμίου, όπως ήδη αναφέρθηκε. Ο χρόνος διείσδυσης των υδρόφιλων
γαλακτωματοποιητών είναι περίπου 2min.
Πίνακας 4.2: Χαρακτηριστικοί χρόνοι διείσδυσης για διάφορα υλικά

Χρόνος
Υλικό Είδος Σφάλματος
Διείσδυσης
Χυτά από κράμα αλουμινίου Πορώδες 5 - 15min
Συγκολλήσεις Ρωγμές 10 - 30min
Μαγγανιούχος χάλυβας Αναδιπλώσεις 10 - 30min
Συγκολλήσεις Πορώδες 10 - 30min
Σφυρήλατα από ανοξείδωτο
Αναδιπλώσεις 10 - 60min
χάλυβα
Συγκολλήσεις Ρωγμές 10 - 60min
Γυαλί Ρωγμές 5 - 30min
Δοκίμια που έχουν υποστεί
Ρωγμές από τρόχισμα 10 - 20min
σκλήρυνση
Πλαστικά Ρωγμές 2 - 30min
4.6 Εφαρμογή εμφανιστή
Ο εμφανιστής (developer) βοηθά το διεισδυτή που βρίσκεται μέσα στην ασυνέχεια

να έρθει στην επιφάνεια του δοκιμίου μέσω εξόλκησης (Εικόνα 4.10). Ο διεισδυτής
διαχέεται στον εμφανιστή της επιφάνειας και έτσι αυξάνεται η ικανότητα παρατήρησής
του. Προσφέρει χρωματική αντίθεση στα ορατά διεισδυτικά, ενώ αυξάνει την ένταση της
φωτεινότητας της ένδειξης στα φθορίζοντα διεισδυτικά, λόγω των πολλαπλών στρωμάτων
σκόνης που παρέχει. Αν περιέχει διαλύτη βοηθά ακόμα περισσότερο την εξόλκηση.
Υπάρχουν δύο τύποι εμφανιστών: οι ξηροί εμφανιστές και οι εμφανιστές σε υγρή μορφή.
Οι τελευταίοι κατηγοριοποιούνται σε υγρούς μη υδατικούς εμφανιστές και σε υγρούς
υδατικούς εμφανιστές. Η επιλογή του τύπου του εμφανιστή εξαρτάται από τις
|170|
προδιαγραφές του κατασκευαστή, καθώς και από τον τύπο του διεισδυτή που
χρησιμοποιείται.
Εικόνα 4.10: Εφαρμογή εμφανιστή
Ο ψεκασμός του εμφανιστή πρέπει να γίνεται από απόσταση μεγαλύτερη των

300mm και αφού έχει ολοκληρωθεί το στάδιο της ξήρανσης.
4.6.1 Ξηροί εμφανιστές
Οι ξηροί εμφανιστές απαντώνται σε μορφή σκόνης (πούδρα) με μεγάλο ειδικό

βάρος. Εφαρμόζονται στο δοκίμιο με ειδικό πιστόλι ηλεκτροστατικής βαφής ή σε ειδικό
θάλαμο σκόνης. Οι ξηροί εμφανιστές είναι οι λιγότερο ευαίσθητοι (Εικόνα 4.11).
Όταν χρησιμοποιούνται ξηροί εμφανιστές σε μορφή σκόνης (πούδρας) ή υγροί μη
υδατικοί εμφανιστές (εναιώρημα σε διαλύτη), το δοκίμιο πρέπει να είναι τελείως στεγνό. Η
διαδικασία πρέπει να γίνεται σε θερμοστατικό φούρνο με παροχή ζεστού αέρα. Η
θερμοκρασία μέσα στον φούρνο πρέπει να κυμαίνεται από 65°C έως 85°C και το δοκίμιο
θα πρέπει να παραμένει στο φούρνο μέχρι να στεγνώσει. Αν γίνει υπέρβαση αυτών των
θερμοκρασιών, μπορεί να συμβεί εξάτμιση του παραμένοντος διεισδυτικού υγρού. Ο
χρόνος ξήρανσης πρέπει να είναι όσο το δυνατόν μικρότερος για το επιθυμητό
αποτέλεσμα. Αυτό εξαρτάται από το σχήμα, το μέγεθος και το είδος των ασυνεχειών που
πρόκειται να ελεγχθούν. Οι ξηροί εμφανιστές λοιπόν, είναι ιδανικοί για τραχιές επιφάνειες
και για δοκίμια με σύνθετο σχήμα.
Εικόνα 4.11: Εφαρμογή ξηρού εμφανιστή
|171|
4.6.2 Υγροί μη υδατικοί εμφανιστές (με βάση διαλύτη)
Οι υγροί μη υδατικοί εμφανιστές είναι εναιωρήματα λεπτής σκόνης σε διαλύτη.

Εφαρμόζονται στο δοκίμιο με πιστόλι ψεκασμού ή με βύθιση σε δεξαμενή. Ο εμφανιστής
απλώνεται με τέτοιο τρόπο ώστε να δημιουργηθεί ένα λεπτό, ελαφρύ και ομοιόμορφο
άσπρο στρώμα για να εμφανιστούν οι ασυνέχειες. Υπάρχει περίπτωση, ο εμφανιστής να
μην μπορεί να έρθει σε επαφή με το διεισδυτή αν υπάρχουν πολύ στενές και μικρές
ασυνέχειες. Ο διαλύτης θα γεφυρώσει το διάκενο, έτσι ώστε να φέρει σε επαφή το
διεισδυτή με τον εμφανιστή. Οι εμφανιστές αυτοί είναι πιο ευαίσθητοι από όλους τους
υπόλοιπους.
4.6.3 Υγροί υδατικοί εμφανιστές (υδατικής βάσεως)
Οι υγροί υδατικοί εμφανιστές σχηματίζουν εναιώρημα στο νερό ή μπορεί να είναι

πλήρως διαλυτοί σε νερό (προμηθεύονται υπό μορφή σκόνης). Αν ο εμφανιστής είναι
εναιώρημα σε νερό, πριν τη χρήση του απαιτείται μια ασθενής ανακίνηση του μίγματος,
ώστε η πούδρα να διατηρείται αιωρούμενη στο μίγμα. Όταν αφαιρεθεί ο πλεονάζων
διεισδυτής και η επιφάνεια του υλικού είναι ακόμη υγρή, απλώνεται ο εμφανιστής είτε με
τη μέθοδο της βύθισης σε δεξαμενή είτε με ψεκασμό ώστε να παραχθεί ένα λεπτό
ομοιόμορφο στρώμα το οποίο θα καλύπτει το δοκίμιο.
Πίνακας 4.3: Λίστα εμφανιστών και κατάταξη ανάλογα με την ευαισθησία τους
ΕΜΦΑΝΙΣΤΗΣ / ΕΦΑΡΜΟΓΗ SENSITIVITY
(DEVELOPER / APPLICATION) (ΕΥΑΙΣΘΗΣΙΑ)
ΞΗΡΗ ΣΚΟΝΗ - ΕΜΒΑΠΤΙΣΗ ΛΙΓΟΤΕΡΗ ΕΥΑΙΣΘΗΣΙΑ
(DRY POWDER - DIP IMMERSION) (LEAST SENSITIVE)
ΞΗΡΗ ΣΚΟΝΗ - ΝΕΦΟΣ ΣΚΟΝΗΣ
(DRY POWDER - DUST CLOUD)
ΞΗΡΗ ΣΚΟΝΗ
(DRY POWDER - FLUIDISED BED)
ΞΗΡΗ ΣΚΟΝΗ - ΗΛΕΚΤΡΟΣΤΑΤΙΚΗ ΒΑΦΗ
(DRY POWDER - ELECTROSTATIC SPRAY)
ΥΔΑΤΟΕΝΑΙΩΡΗΣΙΜΟΣ - ΕΜΒΑΠΤΙΣΗ
(WATER SUSPENDABLE - IMMERSION)
ΥΔΑΤΟΔΙΑΛΥΤΟΣ - ΕΜΒΑΠΤΙΣΗ
(WATER SOLUBLE - IMMERSION)
ΥΔΑΤΟΕΝΑΙΩΡΗΣΙΜΟΣ - SPRAY
(WATER SUSPENDABLE – SPRAY)
ΥΔΑΤΟΔΙΑΛΥΤΟΣ - SPRAY
(WATER SOLUBLE - SPRAY)
ΠΛΑΣΤΙΚΟΥ ΦΙΛΜ - SPRAY
(PLASTIC FILM - SPRAY
ΜΗ ΥΔΑΤΙΚΟΣ - SPRAY ΠΕΡΙΣΣΟΤΕΡΗ
(NON-AQUEOUS - SPRAY) ΕΥΑΙΣΘΗΣΙΑ
(MOST SENSITIVE)
|172|
4.7 Εξόλκηση
Μόλις το δοκίμιο περάσει από το στάδιο της ξήρανσης είναι πολύ πιθανό η
εξόλκηση να γίνει αυτόματα και να ληφθούν άμεσα οι πρώτες ενδείξεις. Στη συνέχεια και
μετά την παρέλευση του χρόνου εμφάνισης μπορεί να γίνει η επιθεώρηση των δοκιμίων για
ύπαρξη τυχόν ασυνεχειών. Συγκεκριμένα, ο έλεγχος για την ανίχνευση ασυνεχειών πρέπει
να γίνει άμεσα, μετά την εφαρμογή του εμφανιστή και συνεχώς μέχρι την παρέλευση του
χρόνου εμφάνισης (10 - 30min). Ο χρόνος εμφάνισης είναι ο χρόνος που μεσολαβεί μεταξύ
της εφαρμογής του εμφανιστή και της εμφάνισης της ένδειξης. Ο χρόνος αυτός
προσδιορίζεται πειραματικά και εξαρτάται από τον τύπο του εμφανιστή που
χρησιμοποιείται.
Εικόνα 4.12: Έλεγχος για εμφάνιση ασυνεχειών αμέσως μετά την εφαρμογή του εμφανιστή
και μετά την παρέλευση 10min
4.8 Επιθεώρηση
Κατά τη διάρκεια της επιθεώρησης, όλες οι εξεταζόμενες περιοχές του δοκιμίου

πρέπει να φωτίζονται επαρκώς, ώστε να επιτυγχάνεται έντονη οπτική αντίθεση μεταξύ
πιθανής ένδειξης και φόντου. Οι συνθήκες παρατήρησης περιλαμβάνουν το χρωματισμό,
το επίπεδο φωτισμού του χώρου και την οπτική αντίθεση μεταξύ ένδειξης και φόντου.
Σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ISO 3452-1, το ελάχιστο επίπεδο φωτισμού στην
εξεταζόμενη επιφάνεια του δοκιμίου για τους ορατούς διεισδυτές (Type II) πρέπει να είναι
κατ’ ελάχιστο 500lux (1.000lux κατά ASME V) ενώ το πρότυπο EN ISO 3059 σε κάποιες
περιπτώσεις επιτρέπει επίπεδο φωτισμού έως και 1.000lux. Ο περιορισμός αυτός
αναφέρεται στους ορατούς διεισδυτές ώστε να επιτυγχάνεται η μέγιστη απόδοση
παρατήρησης. Ο έλεγχος του ορατού φωτός πραγματοποιείται με τη βοήθεια του
φωτόμετρου (Εικόνα 4.13).
Αντίθετα, κατά τη χρήση φθοριζόντων διεισδυτών (Type I) ο χώρος ελέγχου πρέπει
να είναι σκοτεινός, ώστε να είναι ορατή η ακτινοβολία που εκπέμπεται από το φθορίζοντα
διεισδυτή. Ο χώρος λοιπόν πρέπει να είναι αμυδρά φωτισμένος και να χρησιμοποιείται
λάμπα υπεριώδους ακτινοβολίας κατά τη διαδικασία έλεγχου του δοκιμίου. Η ένταση της
υπεριώδους ακτινοβολίας σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ISO 3452-1 κατά την επιθεώρηση
με φθορίζοντες διεισδυτές πρέπει να είναι 10W/m2 (1.000μW/cm2) ενώ το μέγιστο επίπεδο
φωτισμού καθορίζεται στα 20lux. Επίσης ορίζεται ότι, η περίοδος προσαρμογής του
ανθρώπινου οφθαλμού στο χαμηλό επίπεδο φωτισμού που επικρατεί στο χώρο ελέγχου
πρέπει να είναι τουλάχιστον 1min.
|173|
Εικόνα 4.13: Φωτόμετρο
Εικόνα 4.14: Λάμπες υπεριώδους ακτινοβολίας
Στα φθορίζοντα διεισδυτικά υγρά, ο έλεγχος για ασυνέχειες γίνεται με τη χρήση

υπεριώδους ακτινοβολίας και συγκεκριμένα λάμπας UV-A (Εικόνα 4.14).
Τα φθορίζοντα διεισδυτικά υγρά έχουν την ιδιότητα να απορροφούν τα μικρά μήκη
κύματος, όταν επιδρά σε αυτά υπεριώδης ακτινοβολία (200 - 400nm) και να την
επανεκπέμπουν ως ενέργεια μεγαλύτερου μήκους κύματος στο πεδίο του ορατού φάσματος
(530 - 580nm). Η πιο επικίνδυνη περιοχή αυτών των κυμάτων είναι μεταξύ 200 - 320nm.
Συνεπώς, έκθεση σε αυτά τα μήκη κύματος μπορεί να προκαλέσει εγκαύματα, καταστροφή
των ιστών και βλάβες στην όραση.
Για την προστασία από την υπεριώδη ακτινοβολία, χρησιμοποιείται ένα φίλτρο το
οποίο εξαλείφει τα επικίνδυνα μήκη κύματος και περιορίζει το εύρος της υπεριώδους
ακτινοβολίας στα 320 - 400nm. Η ακτινοβολία περνώντας από το φίλτρο μετατρέπεται σε
ακτινοβολία με μήκος κύματος 365nm, το οποίο είναι ικανό να ενεργοποιήσει τους
φθορίζοντες διεισδυτές για να παράξουν φθορίζον φως.
Παλαιότερα η λυχνία υπεριώδους ακτινοβολίας πριν από κάθε έλεγχο, έπρεπε να
προθερμαίνεται για 15min ώστε να φτάνει το μέγιστο της απόδοσης της, κάτι το οποίο
πλέον δεν απαιτείται. Η ένταση φωτεινότητας της λυχνίας υπεριώδους φωτός πάνω στην
επιφάνεια του δοκιμίου πρέπει να συμφωνεί με τις αντίστοιχες προδιαγραφές. Η ένταση
μπορεί να μετρηθεί με ειδικό όργανο το οποίο ονομάζεται ραδιόμετρο.
Το ραδιόμετρο αποτελείται από ένα φθορίζον κεκλιμένο επίπεδο, γωνίας κλίσης 45°
και στηρίζεται σε ένα μαύρο πλαίσιο πλάτους 5mm (Εικόνα 4.15). Μετακινώντας το
φθορίζον επίπεδο και εκθέτοντάς το στο υπεριώδες φως, πρέπει να εκπέμπει ένα
ομοιόμορφο απαλό φως. Εάν το εξωτερικό πλαίσιο του επιπέδου είναι αρκετά πιο φωτεινό
από τη φθορίζουσα οθόνη, το επίπεδο πρέπει να αντικαθίσταται. Όταν η φθορίζουσα οθόνη
είναι σωστά τοποθετημένη, το κεντρικό σημείο πρέπει να είναι ακριβώς 70mm από τον
αισθητήρα του φωτόμετρου. Το κεντρικό σημείο του επιπέδου χρησιμοποιείται επίσης και
για την κατακόρυφη τοποθέτηση της λυχνίας UV-A.
|174|
Εικόνα 4.15: Μετρητής έντασης υπεριώδους φωτός
4.9 Τελικός καθαρισμός του δοκιμίου
Μετά το τέλος του ελέγχου, το δοκίμιο πρέπει να καθαριστεί (διαδικασία

μετακαθαρισμού) ώστε να απομακρυνθούν τα κατάλοιπα των διεισδυτών και των
εμφανιστών. Η διεργασία αυτή πρέπει να γίνει πριν περάσει μεγάλο χρονικό διάστημα και
στεγνώσουν ο διεισδυτής και ο εμφανιστής, κάτι το οποίο θα δυσκόλευε την απομάκρυνσή
τους. Η διεργασία του μετακαθαρισμού είναι απαραίτητη διότι μερικοί ωστενιτικοί
χάλυβες είναι ευαίσθητοι στο θείο και το χλώριο, οπότε ακόμα και ελάχιστες ποσότητες
τους μπορεί να προκαλέσουν καταστροφή των κραμάτων. Οι υγροί εμφανιστές είναι επίσης
αλκαλικής βάσης με αποτέλεσμα να διαβρώνουν την επιφάνεια των δοκιμίων, ιδίως σε
περιβάλλον εργασίας με αυξημένη υγρασία.
|175|
5. ΗΛΕΚΤΡΟΜΑΓΝΗΤΙΚΗ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑ
Το ορατό φως έχει μήκη κύματος μεταξύ 400 και 700nm (4.000 - 7.000Angstrom).
Σε μικρότερα μήκη κύματος (100 - 400nm) εκπέμπεται το υπεριώδες φως (ultraviolet). Το
υπεριώδες χωρίζεται σε τρεις ζώνες: την UV-A (315 - 400nm), την UV-B (280 - 315nm)
και την UV-C (100 - 280nm).
Το τμήμα UV-A ονομάζεται υπεριώδες ή μαύρο φως (black light). Ενώ τα τμήματα
UV-B και UV-C θεωρούνται βλαπτικά για τους ζωντανούς ιστούς και οργανισμούς, το
μαύρο φως θεωρείται ακίνδυνο, ακόμα και με άμεση όραση.
Εικόνα 5.1: Μήκος κύματος ακτινοβολιών
|176|
6. ΕΛΕΓΧΟΣ ΕΞΟΠΛΙΣΜΟΥ
O έλεγχος του εξοπλισμού πραγματοποιείται σύμφωνα με το ευρωπαϊκό πρότυπο

ΕΝ 3452-2, ώστε να εξασφαλίζεται ότι διατηρείται η ευαισθησία του εξοπλισμού.
Ενδεικτικοί έλεγχοι παρουσιάζονται στη συνέχεια:
6.1 Ειδική βαρύτητα

Μετράται με τη χρήση βαθμονομημένου υγρόμετρου. Η ειδική βαρύτητα αυξάνεται
με την εξάτμιση των πιο πτητικών συστατικών. Ο κατασκευαστής πρέπει να παρέχει τις
κατάλληλες πληροφορίες που αφορούν την ειδική βαρύτητα.
6.2 Ένταση χρώματος

Για ορατό διεισδυτή: 5ml του διεισδυτή αναμιγνύονται με 100ml διχλωρομεθανίου.
Το ίδιο διάλυμα πραγματοποιείται με έναν διεισδυτή αναφοράς. Οι αντιθέσεις των
χρωμάτων συγκρίνονται σε σωλήνες Nessler.
6.3 Φθορίζων διεισδυτής

Δύο διηθητικά χαρτιά βυθίζονται, το ένα στον υπό μελέτη διεισδυτή και το άλλο
στον διεισδυτή αναφοράς. Τα χαρτιά ξηραίνονται και ελέγχονται υπό υπεριώδη
ακτινοβολία. Αν υπάρχει αισθητή διαφορά στην αντίθεση εκτελούνται επιπρόσθετοι
έλεγχοι όπως, εμποτισμός του σκοτεινότερου δείγματος με διχλωρομεθάνιο και μέτρηση
της έντασης (σε περίπτωση ορατών διεισδυτών) ή τοποθέτηση του χαρτιού σε ραδιόμετρο
και ακτινοβόληση με υπεριώδη ακτινοβολία (σε περίπτωση φθοριζόντων διεισδυτών).
6.4 Γαλακτωματοποιητής
1. Η ευαισθησία του γαλακτωματοποιητή πρέπει να ελέγχεται με τη βοήθεια ενός
δοκιμίου ελέγχου.
2. Για υδρόφιλους γαλακτωματοποιητές χρησιμοποιείται η τεχνική της βύθισης. Όταν
το χρώμα του μίγματος γίνει λαδί, πρέπει να αντικαθίσταται / ανανεώνεται.
3. Για τον έλεγχο της ευαισθησίας χρησιμοποιείται ένα διαθλασίμετρο.
6.5 Έκπλυση με νερό

Η θερμοκρασία του νερού πρέπει να είναι στα αποδεκτά όρια και το νερό να μην
περιέχει έλαια.
6.6 Εμφανιστής
Οι εμφανιστές πρέπει να ελέγχονται ως προς την περιεκτικότητά τους σε διεισδυτές.
Οι ξηροί εμφανιστές πρέπει να είναι σε μορφή πούδρας.
6.7 Υπεριώδης Ακτινοβολία

Ο έλεγχος της ακτινοβολίας πραγματοποιείται με τη βοήθεια του ραδιόμετρου.
Εικόνα 6.1: Διάταξη για τον έλεγχο φθορίζοντος διεισδυτή
|177|
7. ΔΟΚΙΜΙΑ ΕΛΕΓΧΟΥ
Για την εξέταση των επιπέδων ευαισθησίας της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών
υπάρχουν τα παρακάτω δοκίμια ελέγχου:
7.1 Δοκίμιο αναφοράς τύπου 1 (Test Block 1 according to EN ISO 3452-3)
Το δοκίμιο αναφοράς τύπου 1 χρησιμοποιείται για να προσδιορίσει το επίπεδο

ευαισθησίας τόσο για τους ορατούς όσο και τους φθορίζοντες διεισδυτές. Αποτελείται από
τέσσερις πλάκες ορείχαλκου με πάχος επιμετάλλωσης νικελίου-χρωμίου 10, 20, 30 και
50μm αντίστοιχα. Οι επιφανειακές εγκάρσιες ρηγματώσεις έχουν προκληθεί στην
επιφάνεια του δοκιμίου κατά την τάνυση στην διαμήκη διεύθυνση του. Ο λόγος μήκους -
βάθους κάθε ρηγμάτωσης είναι περίπου της τάξεως 1/20. Τα δοκίμια με πάχος 10, 20 και
30μm χρησιμοποιούνται για τον προσδιορισμό της ευαισθησίας των φθοριζόντων
διεισδυτών. Για τον προσδιορισμό της ευαισθησίας των ορατών διεισδυτών
χρησιμοποιούνται οι πλάκες με πάχος επιμετάλλωσης 30 και 50μm.
Εικόνα 7.1: Δοκίμιο τύπου 1
7.2 Δοκίμιο αναφοράς τύπου 2 (Test Block 2 according to EN ISO 3452-3)
Το δοκίμιο αναφοράς τύπου 2 χρησιμοποιείται για τον τακτικό έλεγχο της απόδοσης
των ορατών και των φθοριζόντων διεισδυτικών υγρών.
Είναι κατασκευασμένο από ανοξείδωτο χάλυβα. Η μισή επιφάνεια του δοκιμίου
είναι επικαλυμμένη με χρώμιο και η υπόλοιπη επιφάνεια χωρισμένη σε τέσσερις περιοχές
διαφορετικής τραχύτητας (Ra = 2,5, 5, 10 και 15μm) για τον έλεγχο της αφαίρεσης του
πλεονάζοντος διεισδυτή. Η επιχρωμιωμένη περιοχή έχει πέντε αστεροειδή ρήγματα
διαφορετικής διαμέτρου (3, 3,5, 4, 4,5και 5,5 mm). Αυτά τα αστεροειδή ρήγματα
κατασκευάζονται πιέζοντας μία σφαίρα στην οπίσθια πλευρά με μεταβλητή δύναμη.
Εικόνα 7.2: Δοκίμιο τύπου 2
|178|
7.3 Δοκίμιο σύγκρισης αλουμινίου - Δοκίμιο ARB (Aeronautical Registration
Board)
Το συγκεκριμένο δοκίμιο είναι κατασκευασμένο από κράμα αλουμινίου (τύπος

2024-Τ-3). Το δοκίμιο αυτό θερμαίνεται στους 525°C για 4min. Αμέσως μετά,
τοποθετείται μέσα σε δεξαμενή που περιέχει κρύο νερό. Η απότομη αλλαγή της
θερμοκρασίας οδηγεί στη ρηγμάτωση της επιφάνειας του δοκιμίου. Μέσω μηχανουργικής
κατεργασίας δημιουργείται στο δοκίμιο μια αυλάκωση από το ένα άκρο στο άλλο, ακριβώς
στο μέσο της επιφάνειας του, έτσι ώστε να υπάρχουν δύο ξεχωριστές, αλλά παρακείμενες
επιφάνειες για την εφαρμογή διαφορετικών διεισδυτικών υγρών προκειμένου να γίνει
σύγκριση της αποτελεσματικότητάς τους. Το δοκίμιο ARB χρησιμοποιείται, τόσο για την
αξιολόγηση διεισδυτικών υγρών, όσο και διαφορετικών τεχνικών, αλλά και συνθηκών.
Εικόνα 7.3: Δοκίμιο ARB
7.4 Δοκίμιο TAM PANEL - Δοκίμιο χρωμιούχου χάλυβα
Στην εύθραυστη επιφάνεια του συγκεκριμένου δοκιμίου το οποίο είναι

επικαλυμμένο με χρώμιο δημιουργούνται ρωγμές με τη βοήθεια μηχανικού οδοντωτού
τροχού. Το μέγεθος των ρωγμών προσδιορίζεται από το πάχος της χρωμιούχου επικάλυψης
και από την πίεση που εξασκεί ο οδοντωτός τροχός. Το δοκίμιο είναι όμοιο με το μισό
τμήμα της επιφάνειας Tam / Sherwin. Το υπόλοιπο μισό τμήμα της τραχιάς επιφάνειας
χρησιμοποιείται για έλεγχο των διεργασιών γαλακτωματοποίησης.
Εικόνα 7.4: Δοκίμιο χρωμιούχου χάλυβα
7.5 Διαιρούμενο δοκίμιο
Το διαιρούμενο δοκίμιο αποτελείται από δύο τεμάχια σωλήνα συνδεδεμένα μεταξύ

τους με μπουλόνια. Η συνολική κατασκευή είναι σκοπίμως ελαττωματική, ώστε να μπορεί
να γίνει έλεγχος για την ύπαρξη ρωγμών. Ένα λεπτό παρέμβυσμα από αντιμόνιο διαχωρίζει
προσεκτικά τα δύο τεμάχια.
|179|
Σε μια καθορισμένη ροπή σύσφιξης, η εξεταζόμενη ρωγμή μπορεί να πάρει
τέσσερις διαφορετικές διαστάσεις πλάτους 0,001inch, 0,002inch, 0,003inch και 0,004inch.
Υπάρχουν και εναλλακτικά μεγέθη πλάτους παρεμβυσμάτων. Η δομική κατασκευή του
συγκεκριμένου δοκιμίου ευνοεί τον καθαρισμό και την επαναχρησιμοποίηση του.
Εικόνα 7.5: Διαιρούμενο δοκίμιο
7.6 Δοκίμιο χρωμιούχου νικελίου
Στο συγκεκριμένο δοκίμιο οι ρηγματώσεις προκαλούνται από κάμψη του

ελάσματος. Στη συνέχεια το δοκίμιο κόβεται στα δύο και αυτό επιτρέπει στα δύο μέρη να
προσβάλλονται από διαφορετικά διεισδυτικά υγρά και να γίνεται σύγκριση των
αποτελεσμάτων.
Εικόνα 7.6: Δοκίμιο χρωμιούχου νικελίου
Εικόνα 7.7: Σύγκριση τεσσάρων δοκιμίων χρωμιούχου νικελίου σε διαφορετικά επίπεδα

ευαισθησίας
|180|
7.7 Δοκίμια Ardrox Runchek
Τα πλακίδια αυτά είναι κατασκευασμένα από εποξειδική ρητίνη. Περιέχουν

μικροασυνέχειες στην μία πλευρά τους και είναι μίας χρήσεως.
Εικόνα 7.8: Δοκίμια Ardrox Runchek
|181|
8. ΒΑΣΙΚΑ ΣΤΑΔΙΑ ΤΟΥ ΕΛΕΓΧΟΥ ΜΕ ΤΗΝ ΜΕΘΟΔΟ ΤΩΝ
ΔΙΕΙΣΔΥΤΙΚΩΝ ΥΓΡΩΝ ΣΥΜΦΩΝΑ ΜΕ ΤΟ ΠΡΟΤΥΠΟ EN ISO 3452-1
Εικόνα 8.1: Διάγραμμα εφαρμογής των σταδίων της μεθόδου των Διεισδυτικών Υγρών
|182|
8.1 Ανάλυση τεχνικών με τα πλεονεκτήματα / μειονεκτήματα
Στο παρόν κεφάλαιο θα αναλυθούν λεπτομερώς τα στάδια των τεχνικών της

μεθόδου των διεισδυτικών υγρών με ταυτόχρονη συγκριτική ανάλυση των
πλεονεκτημάτων και μειονεκτημάτων τους.
Εικόνα 8.2: Διαλυτοαφαιρούμενη μέθοδος, υδατοαφαιρούμενη μέθοδος και

μέθοδος μεταγαλακτωματοποίησης
Σημείωση:
Ο μετακαθαρισμός δεν περιλαμβάνεται ως στάδιο κατά την αρίθμηση των σταδίων
κάθε μεθόδου.
|183|
8.2 Διαλυτοαφαιρούμενοι διεισδυτές και εμφανιστές υδατικής βάσης
Στάδια
1. Προκαθαρισμός επιφάνειας δοκιμίου.
2. Εφαρμογή διεισδυτή.
3. Απομάκρυνση του πλεονάζοντος διεισδυτή με διαλύτη.
4. Εφαρμογή εμφανιστή.
5. Επιθεώρηση.
6. Μετακαθαρισμός.
Πλεονεκτήματα
 Φορητότητα εξοπλισμού.
 Για την έκπλυση απαιτείται μόνο ο διαλύτης και όχι νερό.
 Ικανοποιητική μέθοδος για έλεγχο σημειακών σφαλμάτων.
 Εύκολη επανεξέταση των δοκιμίων.
Μειονεκτήματα
 Εύφλεκτα υλικά.
 Κατανάλωση αρκετού χρόνου για την απομάκρυνση του πλεονάζοντος διεισδυτικού
υγρού.
 Δεν συνιστάται για χρήση σε ανοικτές δεξαμενές.
 Δυσκολία στην εφαρμογή σε τραχιές επιφάνειες, όπως χυτά υλικά.
Εικόνα 8.3: Τεχνική διαλυτοαφαιρούμενου διεισδυτή
|184|
8.3 Υδατοαφαιρούμενοι διεισδυτές και εμφανιστές υδατικής ή ξηράς βάσης
Στάδια
3. Έκπλυση με νερό για απομάκρυνση του πλεονάζοντος διεισδυτή.
4. Ξήρανση της επιφάνειας.
 Απλή και εύκολη διαδικασία έκπλυσης.
 Αποδοτική μέθοδος για υλικά μικρού μεγέθους.
 Αποτελεσματική μέθοδος για τραχιές επιφάνειες.
 Καλή μέθοδος για σφηνόδρομους και σπειρώματα κοχλιών.
 Τα στάδια της μεθόδου είναι απλά και εφαρμόζονται σε σύντομο χρονικό διάστημα.
 Σχετικά οικονομική μέθοδος.
 Αναξιόπιστη μέθοδος σε περίπτωση επανεξέτασης δοκιμίου.
 Υπερβολική έκπλυση μπορεί να επιφέρει απομάκρυνση του διεισδυτή από τις
ασυνέχειες.
 Ρύπανση του διεισδυτή κατά την επαφή του με το νερό.
Εικόνα 8.4: Χρήση υδατοαφαιρούμενου διεισδυτή και εφαρμογή εμφανιστή υδατικής ή ξηράς
βάσης
|185|
Εικόνα 8.5: Τεχνική υδατοαφαιρούμενου διεισδυτή
|186|
8.4 Μεταγαλακτωποιούμενοι διεισδυτές με χρήση λιπόφιλου
γαλακτωματοποιητή και εμφανιστή υδατικής ή ξηράς βάσης
Στάδια
3. Εφαρμογή λιπόφιλου γαλακτωματοποιητή.
4. Έκπλυση με νερό για απομάκρυνση του διεισδυτή.
Εικόνα 8.6: Χρήση λιπόφιλου γαλακτωματοποιητή
 Μεγαλύτερη ευαισθησία για ερμηνεία και αξιολόγηση λεπτών και μικρών
ασυνεχειών.
 Ευκολία στην έκπλυση με νερό στο στάδιο της γαλακτωματοποίησης.
 Ικανοποιητική μέθοδος για πλατιές και ρηχές ασυνέχειες.
 Το δοκίμιο εμβαπτίζεται στον λιπόφιλο γαλακτωματοποιητή και στη συνέχεια
απομακρύνεται αμέσως για να στραγγίσει.
 Απαιτείται πρόσθετος εξοπλισμός.
 Ο χρόνος παραμονής του λιπόφιλου γαλακτωματοποιητή είναι κρίσιμος.
 Υπάρχει δυσκολία απομάκρυνσης του διεισδυτικού υγρού από σπειρώματα,
σφηνόδρομους, τυφλές οπές, τραχιές επιφάνειες, κ.λπ.
|187|
Εικόνα 8.7: Τεχνική λιπόφιλου γαλακτωματοποιητή
|188|
8.5 Μεταγαλακτωποιούμενοι διεισδυτές με χρήση υδρόφιλου
γαλακτωματοποιητή και εμφανιστή υδατικής ή ξηράς βάσης
Στάδια
3. Πρώτο στάδιο έκπλυσης με νερό για απομάκρυνση του πλεονάζοντος διεισδυτή.
4. Εφαρμογή υδρόφιλου γαλακτωματοποιητή.
5. Δεύτερο στάδιο έκπλυσης με νερό.
Εικόνα 8.8: Χρήση υδρόφιλου γαλακτωματοποιητή
 Μεγαλύτερη ευαισθησία για ερμηνεία και αξιολόγηση λεπτών και μικρών
 Ευκολία στην έκπλυση με νερό στο στάδιο της γαλακτωματοποίησης.
 Δεν απομακρύνεται ο διεισδυτής αν υπάρχει υπερβολική έκπλυση.
 Ο χρόνος παραμονής του υδρόφιλου γαλακτωματοποιητή δεν είναι κρίσιμος
 Περιλαμβάνει περισσότερα στάδια.
 Απαιτείται πρόσθετος εξοπλισμός.
 Υπάρχει δυσκολία απομάκρυνσης του διεισδυτικού υγρού από σπειρώματα,
σφηνόδρομους, τυφλές οπές, τραχιές επιφάνειες, κ.λπ.
|189|
Εικόνα 8.9: Τεχνική υδρόφιλου γαλακτωματοποιητή
|190|
8.6 Σύγκριση υδρόφιλων και λιπόφιλων μεθόδων
Υδρόφιλος γαλακτωματοποιητής Λιπόφιλος γαλακτωματοποιητής

Παρέχεται συμπυκνωμένος Παρέχεται έτοιμος προς χρήση
Υδατικής βάσης όταν αναμειγνύεται Ελαιώδους βάσης
Χαμηλό ιξώδες Υψηλό ιξώδες
Περιορισμένη ανοχή σε ανάμειξη με το Αναμειγνύεται με διεισδυτές σε όλες τις
διεισδυτή συγκεντρώσεις
Αναμειγνύεται με νερό σε όλες τις
Περιορισμένη ανάμειξη με νερό
συγκεντρώσεις
Εφαρμόζεται με εμβάπτιση ή ψεκασμό
Εφαρμόζεται με εμβάπτιση
(spray)
Δράση: εμβάπτιση σε απορρυπαντικά και Δράση: η διάχυση ενεργοποιείται με
έκπλυση με τρίψιμο τρίψιμο
Μειωμένη απώλεια του εμφανιστή Κρίσιμος χρόνος γαλακτωματοποίησης
|191|
9. ΜΕΤΡΑ ΠΡΟΣΤΑΣΙΑΣ
Κατά την εργασία με διεισδυτικά υγρά απαιτείται η τήρηση όλων των μέτρων
προστασίας όπως αυτά αναφέρονται στο πρότυπο EN 571, καθώς και στην ελληνική
νομοθεσία (Π.Δ. 16/1996, Υ.Α. Β. 20683/2134/1987 και Υ.Α. οικ. Β 3312/705/1995).
9.1 Αποφυγή πυρκαγιάς
Κατά τη χρήση συσκευών αεροζόλ πρέπει να αποφεύγεται η έκθεση σε οποιαδήποτε

εστία είναι δυνατόν να προκαλέσει ανάφλεξη. Επιπρόσθετα, λόγω του μεγάλου ειδικού
βάρους των διαλυτικών (σπρέι), έχουν την τάση να συγκεντρώνονται στα χαμηλότερα
επίπεδα, με αποτέλεσμα να υπάρχει κίνδυνος ανάφλεξης. Επομένως, στο χώρο διεξαγωγής
της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών είναι απαραίτητη η ύπαρξη κατάλληλου εξαερισμού.
9.2 Τοξικότητα υλικών
Κατά τη χρήση συσκευών αερολυμάτων (αεροζόλ) υπάρχει η πιθανότητα

δημιουργίας τοξικού ατμού, επικίνδυνου για την υγεία του χειριστή, καθώς και ερεθισμού
του δέρματος, σε περίπτωση που τα χημικά έρθουν σε επαφή με το δέρμα του. Για το λόγο
αυτό απαιτείται η λήψη όλων των αναγκαίων προφυλάξεων όπως: μάσκες προσώπου,
εξαερισμός χώρου, κατάλληλη προστατευτική ενδυμασία κ.λπ.
9.3 Προστασία από την υπεριώδη ακτινοβολία
Κατά τον έλεγχο των δοκιμίων με τη χρήση φθορίζοντα διεισδυτή, ιδιαίτερη

προσοχή απαιτείται κατά τη χρήση της λυχνίας υπεριώδους φωτός. Η εκπεμπόμενη
ακτινοβολία της λυχνίας πρέπει να κατευθύνεται προς το εξεταζόμενο δοκίμιο και να
αποφεύγεται η επαφή με τα μάτια ή το δέρμα του χειριστή.
Τα φίλτρα που χρησιμοποιούνται στις λυχνίες υπεριώδους ακτινοβολίας πρέπει να
ελέγχονται ανά τακτά χρονικά διαστήματα, για τυχόν ρηγματώσεις ενώ σε περίπτωση
υπεριώδους ακτινοβολίας μικρότερης των 320nm να αντικαθίστανται. Επίσης, πρέπει να
αποφεύγεται η χρήση φωτοχρωματικών γυαλιών διότι με την επίδραση της υπεριώδους
ακτινοβολίας μαυρίζουν και εμποδίζουν την ανίχνευση των ασυνεχειών.
9.4 Ασφάλεια από χημικές ουσίες
Κάθε φορά που εμπλέκονται στη διαδικασία διάφορα χημικά, είναι απαραίτητο να
λαμβάνονται τα απαραίτητα προληπτικά μέτρα, όπως προβλέπεται από τα δελτία
δεδομένων ασφαλείας (MSDS) για τις χημικές ουσίες. Πριν από την εργασία με μια
οποιαδήποτε χημική ουσία, συνιστάται η αναθεώρηση του δελτίου δεδομένων ασφαλείας
(MSDS) έτσι ώστε να εφαρμόζονται όλες οι σωστές πρακτικές ασφάλειας και υγιεινής.
Μερικά από τα διεισδυτικά υλικά είναι εύφλεκτα και επομένως θα πρέπει να
χρησιμοποιούνται και να αποθηκεύονται σε μικρές ποσότητες. Η χρήση τους πρέπει να
γίνεται μόνο σε καλά αεριζόμενο χώρο, ενώ οι πηγές ανάφλεξης πρέπει να αποφεύγονται.
Οι χειριστές πρέπει να φορούν γυαλιά προστασίας. Πολλά από τα χημικά που
χρησιμοποιούνται περιέχουν καθαριστικές ουσίες και διαλύτες που μπορούν να
προκαλέσουν δερματίτιδα. Γάντια και λοιπός προστατευτικός εξοπλισμός πρέπει να
χρησιμοποιείται ώστε να περιορίζεται η επαφή με τις χημικές ουσίες.
|192|
10. ΟΡΟΛΟΓΙΑ
Angstrom (Ǻ)
Μονάδα μήκους, η οποία χρησιμοποιείται για το μήκος κύματος των ακτινοβολιών.
Υπόβαθρο (background)
Η επιφάνεια του δοκιμίου από την οποία διακρίνεται μία ένδειξη. Μπορεί να είναι είτε η
φυσική επιφάνεια είτε το στρώμα του εμφανιστή.
Μαύρο ή υπεριώδες φως (black light)

Ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία με μήκος κύματος εύρους από 315 - 400nm.
Φίλτρο μαύρου φωτός (black light filter)

Φίλτρο το οποίο επιτρέπει τη διέλευση του μαύρου φωτός, ενώ απορροφά άλλα μήκη
κύματος.
Εξόλκηση (blotting)
Η δράση του εμφανιστή κατά τέτοιο τρόπο ώστε να εξωθεί το διεισδυτή από τις ασυνέχειες
και να επιταχύνει την εμφάνιση των ενδείξεων.
Αντίθεση (contrast)
Η διαφορά στην ορατότητα (φωτεινότητα ή χρωματισμό) μεταξύ της ένδειξης και του
υποβάθρου.
Σφάλμα (defect)
Μία ή περισσότερες ασυνέχειες των οποίων οι ενδείξεις υπερβαίνουν τα κριτήρια
αποδοχής.
Εμφανιστής (developer)
Υλικό το οποίο εφαρμόζεται στην επιφάνεια του δοκιμίου, για να επιταχύνει την εμφάνιση
του διεισδυτή στην επιφάνεια και να αυξήσει την αντίθεση των ενδείξεων.
Διαβρεκτική Δράση (wetting action)

Η ικανότητα των υγρών να «απλώνονται» και να διαβρέχουν τις στερεές επιφάνειες.
Ορατό φως (visible light)

Ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία με μήκος κύματος 400 - 700nm.
Ιξώδες (viscocity)
Η ιδιότητα των υγρών να παρουσιάζουν αντίσταση κατά τη ροή.
Διαλύτης (solvent)
Μέσο αφαίρεσης διεισδυτή (πτητικό υγρό).
Έκπλυση (rinse)
Διεργασία αφαίρεσης των υλικών της εξέτασης από την επιφάνεια του δοκιμίου, με τη
χρήση υγρού (συνήθως νερού).
|193|
Προκαθαρισμός (precleaning)
Η απομάκρυνση όλων των ρύπων της επιφανείας του δοκιμίου, ώστε να μην εμπλακούν
στη διεργασία εφαρμογής της μεθόδου.
Μεταγαλακτωματοποίηση (Post Emulsification)

Τεχνική για την αφαίρεση του πλεονάζοντος διεισδυτή, με τη χρήση ξεχωριστού
γαλακτωματοποιητή.
Υδατοαφαιρούμενος διεισδυτής (Water washable penetrant)

Υγρός διεισδυτής που περιέχει γαλακτωματοποιητή.
Ορατός διεισδυτής (Visible Penetrant)

Υγρός διεισδυτής, συνήθως με κόκκινο χρώμα.
Διεισδυτής αφαιρούμενος με διαλύτη (solvent removable penetrant)

Υγρός διεισδυτής, ο οποίος αφαιρείται από την επιφάνεια του δοκιμίου με σκούπισμα με
πανί χωρίς χνούδι ή με πανί ελαφρά νοτισμένο με διαλύτη.
Μεταγαλακτωποιούμενος διεισδυτής (Post-emulsifiable penetrant)

Υγρός διεισδυτής ο οποίος με την προσθήκη ξεχωριστού γαλακτωματοποιητή γίνεται
υδατοαφαιρούμενος.
Φθορίζων διεισδυτής (Fluorescent Penetrant)

Διεισδυτής που εκπέμπει ορατή ακτινοβολία όταν διεγείρεται από υπεριώδες φως.
Διεισδυτής (Penetrant)
Υγρό διάλυμα ή εναιώρημα βαφής (ορατής ή φθορίζουσας) ικανό να διεισδύει σε
ασυνέχειες ανοικτές στην επιφάνεια.
Χημική προσβολή (Etching)

Η απομάκρυνση υλικών από την επιφάνεια, με χημικές ή ηλεκτροχημικές μεθόδους.
Γαλακτωματοποιητής (Emulsifier)
Υγρό το οποίο επιδρά σε ελαιώδεις ουσίες και τις καθιστά υδατοαφαιρούμενες.
Χρόνος γαλακτωματοποίησης (Emulsification Time)

Ο χρόνος κατά τον οποίο ο γαλακτωματοποιητής παραμένει στο δοκίμιο για να δράσει
στον διεισδυτή πριν την αφαίρεση του πλεονάζοντος διεισδυτή.
Χρόνος διείσδυσης (Dwell time / penetration time)

Ο συνολικός χρόνος κατά τον οποίο ο διεισδυτής βρίσκεται σε επαφή με την επιφάνεια του
δοκιμίου, συμπεριλαμβανομένου του χρόνου εφαρμογής του και του χρόνου
στραγγίσματος.
Χρόνος ξήρανσης (Drying Time)

Ο χρόνος που απαιτείται για να στεγνώσει ένα δοκίμιο με υδατοαφαιρούμενο διεισδυτή ή
υδατικό εμφανιστή.
|194|
Λιπόφιλος γαλακτωματοποιητής (Lipophilic Emulsifier)
Γαλακτωματοποιητής ελαιώδους βάσης.
Υδρόφιλος γαλακτωματοποιητής (Hydrolhilic Emulsifier)

Γαλακτωματοποιητής υδατικής βάσης.
Φούρνος ξήρανσης (Drying Oven)

Φούρνος ο οποίος χρησιμοποιείται για την αύξηση του ρυθμού εξάτμισης του νερού
έκπλυσης ή του νερού ενός υδατικού εμφανιστή, από την επιφάνεια του δοκιμίου.
Χρόνος αποστράγγισης (Drain Time)

Ο χρόνος που απαιτείται για να στραγγίσει ο πλεονάζων διεισδυτής από το δοκίμιο.
Έκπλυση με εμβάπτιση (Dip Rinse/Dip Washing)

Μέθοδος απομάκρυνσης του πλεονάζοντος διεισδυτή, όπου το δοκίμιο εμβαπτίζεται σε
δεξαμενή με ανακινούμενο νερό ή άλλο μέσο απομάκρυνσης.
Χρόνος εμφάνισης (Developing Time)

Ο χρόνος μεταξύ της εφαρμογής του εμφανιστή και του ελέγχου του δοκιμίου.
Διαλυτός εμφανιστής (Soluble Developer)

Εμφανιστής πλήρως διαλυτός.
Μη υδατικός εμφανιστής (non aqueous developer)

Εναιώρημα σωματιδίων εμφανιστή μέσα σε διάλυμα.
Ξηρός εμφανιστής (Dry Developer)

Μία λεπτόκοκκη και εύκολα ιπτάμενη σκόνη.
Υδατικός εμφανιστής (Aqueous Developer)

Εναιώρημα σωματιδίων εμφανιστή μέσα σε νερό.
Εμφανιστής (Developer)
Υλικό το οποίο εφαρμόζεται στην επιφάνεια του δοκιμίου για να επιταχύνει την εμφάνιση
του διεισδυτή στην επιφάνεια και να αυξήσει την αντίθεση των ενδείξεων.
Υπόβαθρο (background)
Η επιφάνεια του δοκιμίου από την οποία διακρίνεται μία ένδειξη. Πρόκειται είτε για
φυσική επιφάνεια είτε για το στρώμα του εμφανιστή.
|195|
|196|
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ
ΜΑΓΝΗΤΙΚΑ
ΣΩΜΑΤΙΔΙΑ
|197|
|198|
1. ΕΙΣΑΓΩΓΗ
Ο Αριστοτέλης αποδίδει την πρώτη επιστημονική θεωρία του μαγνητισμού στον

Θαλή (περίπου 630 - 543π.Χ.). Στην Κίνα, η πρώτη αναφορά στο μαγνητισμό
καταγράφεται σε ένα βιβλίο του 4ου αιώνα π.Χ. που ονομάζεται «Βιβλίο του Άρχοντα της
Κοιλάδας των Δαιμόνων»: «Ο μαγνητίτης κάνει το σίδηρο να πλησιάζει ή αυτός έλκει
αυτόν». Η παλαιότερη αναφορά στην έλξη μιας βελόνας εμφανίζεται σε ένα έργο του
Louen-Heng το οποίο γράφτηκε μεταξύ του 20 και 100 μ.Χ. «Ο μαγνητίτης έλκει τη
βελόνα». Ο Κινέζος επιστήμονας Shen Kuo (1031-1095) ήταν ο πρώτος που έγραψε για
την πυξίδα με μαγνητική βελόνα και βελτίωσε την ακρίβεια της ναυσιπλοΐας,
χρησιμοποιώντας την αστρονομική θεωρία του πραγματικού Βορρά (Dream Pool Essays,
1088 μ.Χ.). Είναι γνωστό ότι έως τον 12ο αιώνα, οι Κινέζοι γνώριζαν να χρησιμοποιούν
την πυξίδα μαγνητίτη στη ναυσιπλοΐα. Οι Έλληνες ανακάλυψαν το συγκεκριμένο ορυκτό
στη Μαγνησία της Μικράς Ασίας και το ονόμασαν «μαγνητίτη», από όπου προέρχεται και
η λέξη μαγνήτης. Οι μαγνητικές ιδιότητες του μαγνητίτη οφείλονται στην επίδραση του
γήινου μαγνητικού πεδίου με την πάροδο των αιώνων. Ο Δανός Χανς Κρίστιαν Έρστεντ
(Hans Christian Oersted) ανακάλυψε το μαγνητικό πεδίο που παράγεται από έναν αγωγό
που διαρρέεται από ρεύμα, λόγω του ότι προκαλεί κίνηση στους δείκτες μιας γειτονικής
πυξίδας. Αργότερα, οι Μπεκερέλ (Becquerel) και Φαραντέι (Faraday) ανακάλυψαν ότι όλες
οι μορφές της ύλης επηρεάζονται από το μαγνητισμό.
Η πρώτη γνωστή χρήση του μαγνητισμού για την επιθεώρηση ενός δοκιμίου
χρονολογείται το 1868. Ελέγχθηκαν οι κάννες των κανονιών για ασυνέχειες αφού
μαγνητίζονταν, ενώ στη συνέχεια μια μαγνητική πυξίδα σύρονταν κατά μήκος. Οι
«επιθεωρητές» κατάφερναν να εντοπίσουν ασυνέχειες παρακολουθώντας τη βελόνα της
πυξίδας. Ο έλεγχος αυτός συνιστούσε μεν μια μορφή Μη Καταστροφικού Ελέγχου,
ωστόσο ο όρος δε χρησιμοποιήθηκε ευρέως παρά μόνο μετά το Δεύτερο Παγκόσμιο
Πόλεμο.
Μόλις στις αρχές της δεκαετίας του 1920, ο William Hoke συνειδητοποίησε ότι τα
χρωματισμένα μεταλλικά ρινίσματα μπορούσαν να χρησιμοποιηθούν με το κατάλληλο
μαγνητικό πεδίο ως μέσο εντοπισμού ασυνεχειών. Ο Hoke παρατήρησε ότι επιφανειακές ή
υποεπιφανειακές ασυνέχειες σε ένα μαγνητισμένο δοκίμιο προκαλούσαν διαρροή του
μαγνητικού πεδίου εντός και εκτός του δοκιμίου ή τμήματος του. Αυτή η παρατήρησή του
ενέτεινε την προσοχή του στο μηχανουργείο όπου και διαπίστωσε ότι τα μεταλλικά
χαλύβδινα ρινίσματα σχημάτιζαν σχέδια στο πρόσωπο του δοκιμίου τα οποία και
αντιστοιχούσαν στις ρηγματώσεις της επιφάνειας του. Εφαρμόζοντας μια λεπτή σκόνη
σιδηρομαγνητικού υλικού στα επιθεωρούμενα μέρη προκάλεσε τη συσσώρευση σκόνης
πάνω στις ασυνέχειες σχηματίζοντας μια ορατή ένδειξη.
Στις αρχές της δεκαετίας του 1930, η επιθεώρηση με τη μέθοδο των μαγνητικών
σωματιδίων αντικατέστησε τη μέθοδο ελαίου-κιμωλίας (πρώιμη μορφή της μεθόδου των
Διεισδυτικών Υγρών) και επιλέχτηκε από τη βιομηχανία σιδηροδρόμων στην επιθεώρηση
λεβήτων ατμομηχανών, τροχών και αξόνων.
Σήμερα, η μέθοδος των μαγνητικών σωματιδίων χρησιμοποιείται ευρέως στον
έλεγχο για την ανίχνευση ασυνεχειών σε ένα μεγάλο εύρος υλικών και εξαρτημάτων στους
περισσότερους κλάδους της βιομηχανικής δραστηριότητας. Για παράδειγμα, η επιθεώρηση
μηχανολογικών εξαρτημάτων αγωνιστικών αυτοκινήτων υψηλών επιδόσεων, όπως μέρη
του κινητήρα, το σύστημα μετάδοσης αλλά και η αξιολόγηση των συγκολλήσεων σε
γέφυρες, δεξαμενές αποθήκευσης και άλλες κρίσιμες διατάξεις ασφαλείας
πραγματοποιούνται με τη μέθοδο των μαγνητικών σωματιδίων.
|199|
Εικόνα 1.1: Μηχάνημα μαγνητικών σωματιδίων κατασκευασμένο το 1928 από την εταιρία
Equipment and Engineering Company Ltd. (ECO) Strand, Ηνωμένο Βασίλειο
Ο έλεγχος με μαγνητικά σωματίδια αποτελεί μια από τις πιο γνωστές μεθόδους Μη
Καταστροφικών Ελέγχων για ανίχνευση επιφανειακών και ελάχιστα υποεπιφανειακών
ασυνεχειών. Εφαρμόζεται σε σιδηρομαγνητικά υλικά, γεγονός το οποίο καθιστά τη μέθοδο
μη εφαρμόσιμη σε ωστενιτικούς χάλυβες, αλουμίνιο και χαλκό όπου βρίσκουν εφαρμογή
άλλοι Μη Καταστροφικοί Έλεγχοι.
Η μέθοδος των μαγνητικών σωματιδίων εφαρμόζεται για την ανίχνευση ρωγμών και
άλλων ασυνεχειών στις επιφάνειες των σιδηρομαγνητικών υλικών. Η ευαισθησία της
μεθόδου είναι μεγαλύτερη για επιφανειακές ασυνέχειες και μειώνεται ραγδαία με την
αύξηση του βάθους των ασυνεχειών κάτω από την επιφάνεια του δοκιμίου.
Χαρακτηριστικές ασυνέχειες που μπορεί να ανιχνευθούν με τη μέθοδο αυτή είναι τα
ρήγματα (cracks), οι αναδιπλώσεις (laps), οι ραφές (seams), τα κρυοπήγματα (cold shuts)
και οι διαστρωματώσεις (lamations). Γενικά, η εφαρμογή της συγκεκριμένης μεθόδου
πραγματοποιείται μαγνητίζοντας την περιοχή που πρόκειται να επιθεωρηθεί και
εφαρμόζοντας σιδηρομαγνητικά σωματίδια στην επιφάνεια. Τα μαγνητικά σωματίδια που
εφαρμόζονται στην επιφάνεια με την επίδραση του μαγνητικού πεδίου συσσωρεύονται
πάνω από τις ασυνέχειες οι οποίες προκαλούν τη διαρροή του μαγνητικού πεδίου.
Οποιαδήποτε τεχνική και εάν χρησιμοποιείται για να παραχθεί η μαγνητική ροή στο
δοκίμιο ή σε τμήμα του δοκιμίου, η μέγιστη ευαισθησία επιτυγχάνεται από γραμμικές
ασυνέχειες οι οποίες είναι προσανατολισμένες κάθετα στη μαγνητική ροή. Για τη
βελτιστοποίηση της αποτελεσματικότητας στην ανίχνευση των ασυνεχειών, κάθε περιοχή
πρέπει να εξετάζεται τουλάχιστον δύο φορές, με τη μαγνητική ροή κατά τη διάρκεια της
πρώτης εξέτασης να είναι σχεδόν κάθετη προς τη μαγνητική ροή της δεύτερης.
1.1 Πλεονεκτήματα της μεθόδου των μαγνητικών σωματιδίων
 Πρόκειται για την πλέον κατάλληλη και ευαίσθητη μέθοδο εντοπισμού

επιφανειακών και ελάχιστα υποεπιφανειακών ασυνεχειών. Είναι περισσότερο
ευαίσθητη από τα Διεισδυτικά Υγρά και οριακά περισσότερο ευαίσθητη από τα
Δινορεύματα.
 Είναι μέθοδος γρήγορη και απλή στην εφαρμογή της.
 Οι χειριστές μπορούν να μάθουν εύκολα και γρήγορα τη μέθοδο.
 Δεν υπάρχουν περιορισμοί στο μέγεθος και στο σχήμα του δοκιμίου.
 Εντοπίζει ασυνέχειες που είναι γεμάτες από ξένα σώματα (σε αντίθεση με τα
διεισδυτικά υγρά).
|200|
 Δεν απαιτεί επιμελή προκαθαρισμό.
 Δε δημιουργείται πρόβλημα από τυχόν επικαλύψεις βαφών ή μη μαγνητικών
επιστρώσεων, προκειμένου για μικρά πάχη (πρακτικά έως 50μm, ενίοτε και
περισσότερο).
 Επιδέχεται αυτοματοποίηση.
 Είναι σχετικά οικονομική μέθοδος.
 Σε σχέση με τη μέθοδο των διεισδυτικών υγρών, είναι ευκολότερη και γρηγορότερη
μέθοδος (με εξαίρεση την εφαρμογή της σε πολύ μεγάλες επιφάνειες).
 Μπορεί να εντοπίζονται ασυνέχειες μη ανοικτές στην επιφάνεια.
1.2 Μειονεκτήματα της μεθόδου των μαγνητικών σωματιδίων
 Η εφαρμογή της μόνο σε σιδηρομαγνητικά υλικά.

 Η αδυναμία εντοπισμού ασυνεχειών σε μεγάλο βάθος.
 Η απαίτηση για δύο τουλάχιστον μαγνητίσεις διαφορετικού προσανατολισμού.
 Πολλές φορές χρειάζεται απομαγνήτιση, πριν και μετά την εφαρμογή της μεθόδου.
 Η απαίτηση για ισχυρά ηλεκτρικά ρεύματα, σε μεγάλα χυτά και σφυρήλατα.
 Η προσοχή που χρειάζεται για την αποφυγή καψιμάτων και υπερθέρμανσης στα
σημεία επαφής.
 Το γεγονός ότι σε μεγάλο αριθμό μικρών δοκιμίων είναι χρονοβόρα η ατομική
μαγνήτιση, όπως επίσης και στην περίπτωση πολύ μεγάλων επιφανειών ή μηκών.
 Η γνώση και εμπειρία που απαιτείται για την ερμηνεία των ενδείξεων (όχι όμως
όπως στην περίπτωση της ακτινογραφίας, των υπερήχων και των δινορευμάτων).
Προκειμένου να αντιληφθεί κανείς τη θεωρία των μαγνητικών σωματιδίων, πρέπει

να κατανοήσει τις βασικές αρχές του μαγνητισμού.
|201|
2. ΒΑΣΙΚΕΣ ΕΝΝΟΙΕΣ
Μαγνήτης ονομάζεται κάθε σώμα που έχει την ικανότητα να έλκει μικρά ρινίσματα
σιδήρου με αποτέλεσμα τη δημιουργία μαγνητικού πεδίου στον περιβάλλοντα χώρο, ενώ η
σχετική ιδιότητα καλείται μαγνητισμός. Υλικά τα οποία έλκονται από ένα μαγνήτη
γίνονται και τα ίδια μαγνήτες, δηλαδή, έλκουν ρινίσματα σιδήρου, κατά την τριβή με άλλο
μαγνήτη ή έστω αν βρεθούν κοντά του, διατηρώντας μάλιστα μέρος από τις μαγνητικές
τους ιδιότητες.
2.1 Διάκριση μαγνητών
Οι μαγνήτες διακρίνονται σε φυσικούς και τεχνητούς. Οι τεχνητοί κατατάσσονται

σε μόνιμους, πρόσκαιρους ή παροδικούς μαγνήτες. Οι μεν φυσικοί μαγνήτες αποτελούν
τεμάχια του ορυκτού μαγνητίτη, ενώ αντίθετα οι τεχνητοί μαγνήτες είναι συνήθως
χαλύβδινοι και αποκτούν μαγνητικές ιδιότητες μετά από εξωτερική επίδραση. Στους
τεχνητούς μαγνήτες περιλαμβάνονται και τα μαγνητικά κράματα. Οι τεχνητοί μαγνήτες
κατασκευάζονται σε διάφορα σχήματα από τα οποία συνηθέστερα είναι η μαγνητική
βελόνα, η πρισματική ή κυλινδρική ράβδος, το πέταλο αλόγου ενώ λαμβάνουν ανάλογες
ονομασίες. Τέλος, μαγνητισμός εμφανίζεται και με τη διέλευση ηλεκτρικού ρεύματος μέσα
από πηνίο, ενώ οι μεγάλοι μαγνήτες που λειτουργούν με αυτό τον τρόπο ονομάζονται
ηλεκτρομαγνήτες.
2.2 Πόλοι του μαγνήτη
Αν βυθιστεί (ή πλησιάσει αρκετά) ένας ραβδόμορφος μαγνήτης σε ρινίσματα

σιδήρου, μπορεί κανείς να παρατηρήσει ότι αυτά συγκεντρώνονται στα δύο άκρα του
μαγνήτη. Τα άκρα αυτά καλούνται «πόλοι» ενώ, το ενδιάμεσο διάστημα «ουδέτερη ζώνη».
Αν ο ραβδόμορφος μαγνήτης περιστραφεί ελεύθερα στηριζόμενος για παράδειγμα
μόνο στο μέσο του, τότε θα προσανατολιστεί προς τη διεύθυνση μαγνητικού βορρά –
μαγνητικού νότου. Ο πόλος που δείχνει προς το γεωγραφικό βορρά ονομάζεται «βόρειος
πόλος του μαγνήτη» και συμβολίζεται με το λατινικό γράμμα «N», ενώ ο άλλος πόλος
«νότιος πόλος του μαγνήτη» και συμβολίζεται με το γράμμα «S». Εάν δύο μαγνήτες
πλησιάσουν μεταξύ τους, παρατηρείται ότι οι ομώνυμοι πόλοι απωθούνται (Ν-Ν, S-S), ενώ
οι ετερώνυμοι έλκονται (N-S). Η δύναμη έλξης ή άπωσης μεταξύ των πόλων είναι ανάλογη
του γινομένου των ποσοτήτων μαγνητισμού των δύο μαγνητών και αντιστρόφως ανάλογη
του τετραγώνου της μεταξύ τους απόστασης (Νόμος του Coulomb).
Εικόνα 2.1: Απεικόνιση γεωμαγνητικού πεδίου - Στοιχειώδεις μαγνήτες
|202|
Γενικά οι μαγνήτες εμφανίζουν τις εξής ιδιότητες:
Οι όμοιοι πόλοι απωθούνται.
Οι ετερώνυμοι πόλοι έλκονται.
Οι μαγνητικές γραμμές ξεκινούν από το βόρειο πόλο και κατευθύνονται προς το
νότιο.
Οι μαγνητικές γραμμές δεν τέμνονται.
Εικόνα 2.2: Έλξη αντίθετων πόλων (πάνω). Άπωση όμοιων πόλων (κάτω)
Εικόνα 2.3: Δυναμικές μαγνητικές γραμμές
|203|
2.3 Μαγνητικό πεδίο
Μαγνητικό πεδίο ονομάζεται γενικά ο χώρος μέσα στον οποίο παρατηρούνται

μαγνητικές δυνάμεις. Το μαγνητικό πεδίο περιβάλλει το μαγνήτη και χαρακτηρίζεται
ασθενές ή ισχυρό και ομοιόμορφο ή ανομοιόμορφο, ανάλογα με το αν οι μαγνητικές
γραμμές του είναι παράλληλες ή όχι.
Όταν παράγεται ένα τέτοιο πεδίο σε ένα συγκεκριμένο χώρο, είναι προφανές ότι
αλλάζει η ενέργεια στο χώρο αυτό, με αποτέλεσμα να ασκείται μια δύναμη. Η δύναμη αυτή
εντοπίζεται στην επιτάχυνση ενός κινούμενου ηλεκτρικού φορτίου μέσα στο πεδίο ή σε ένα
ρευματοφόρο αγωγό ή από τη ροπή που δημιουργείται σε ένα μαγνητικό δίπολο (π.χ.
ραβδόμορφος μαγνήτης, βελόνα πυξίδας) ή ακόμα και από την αλλαγή των στροφορμών
(sp) των ηλεκτρονίων στα άτομα.
Μια απεικόνιση του μαγνητικού πεδίου λαμβάνεται όταν ρινίσματα σιδήρου
τοποθετηθούν σε ένα χαρτί υπό την επίδραση ενός μαγνήτη. Τα σιδηρομαγνητικά
σωματίδια ακολουθούν τις γραμμές του μαγνητικού πεδίου, όπως ακριβώς στην Εικόνα
2.4. Η απεικόνιση αυτή ονομάζεται μαγνητογράφημα και οι γραμμές που εμφανίζονται
καλούνται γραμμές μαγνητικής ροής.
Εικόνα 2.4: Μαγνητικές δυναμικές γραμμές
2.3.1 Παραγωγή μαγνητικού πεδίου
Μαγνητικό πεδίο παράγεται όταν υπάρχει κίνηση ηλεκτρικού φορτίου. Η κίνηση

αυτή μπορεί να οφείλεται στο ηλεκτρικό ρεύμα που διαρρέει έναν αγωγό, όπως
ανακαλύφθηκε από τον Oersted το 1819. Ακόμα το μαγνητικό πεδίο παράγεται από ένα
μόνιμο μαγνήτη. Στην περίπτωση αυτή, το πεδίο δε δημιουργείται από συμβατικό
ηλεκτρικό ρεύμα αλλά από τις τροχιακές κινήσεις και τις στροφορμές (spins) των
ηλεκτρονίων, τα καλούμενα και αμπεριανά ρεύματα, μέσα στο μόνιμο μαγνήτη. Οι
κινήσεις αυτές των ηλεκτρονίων έχουν ως αποτέλεσμα τη μαγνήτιση στο εσωτερικό του
υλικού αυτού και τη δημιουργία του μαγνητικού πεδίου έξω απ’ αυτό. Το πεδίο αυτό ασκεί
δυνάμεις τόσο στους ρευματοφόρους αγωγούς, όσο και στους άλλους μόνιμους μαγνήτες.
|204|
3. ΦΥΣΙΚΕΣ ΕΝΝΟΙΕΣ ΚΑΙ ΝΟΜΟΙ
3.1 Νόμος του Coulomb
Ο Νόμος του Κουλόμπ που διατυπώθηκε από τον Γάλλο φυσικό Charles Augustin
de Coulomb, αναφέρεται τόσο στο μαγνητισμό όσο και στον ηλεκτρισμό. Προσδιορίζει το
μέτρο της ασκούμενης δύναμης μεταξύ δύο ποσοτήτων μαγνητισμού ή ηλεκτρισμού
αντίστοιχα. Έστω ότι δύο σημειακές ποσότητες μαγνητισμού m1 και m2, ομώνυμες ή
ετερώνυμες, βρίσκονται μεταξύ τους σε μια απόσταση r. Τότε σύμφωνα με το νόμο του
Κουλόμπ ισχύει ότι: Το μέτρο της δύναμης (ελκτικής ή απωστικής) που ασκείται μεταξύ
των δύο σημειακών ποσοτήτων μαγνητισμού είναι ανάλογο με το γινόμενο αυτών και
αντιστρόφως ανάλογο με το τετράγωνο της μεταξύ τους απόστασης.
Ο νόμος του Κουλόμπ εκφράζεται με τη μαθηματική σχέση:
m1 • m2
F = k • -------------------
r2
Όπου:
m1 και m2: σημειακές ποσότητες μαγνητισμού
r: η απόσταση μεταξύ των δύο σημειακών ποσοτήτων μαγνητισμού (σε μέτρα m)
k: η σταθερά αναλογίας που εξαρτάται από το μαγνητικό υλικό που υπάρχει μεταξύ των m1
και m2. Ονομάζεται «σχετική μαγνητική διαπερατότητα» και δίνεται από τη σχέση:
μ
k = -------------
4π
Όπου:
μ: η μαγνητική διαπερατότητα του μέσου. Για τον αέρα και το κενό η τιμή της είναι:
μ: 4π•10-7N/A2.
3.2 Μεγέθη του μαγνητικού πεδίου
Έστω ένα πηνίο με Ν σπείρες, το οποίο διαρρέεται από ηλεκτρικό ρεύμα εντάσεως
i. Το πηνίο είναι τυλιγμένο γύρω από ένα σιδηρομαγνητικό υλικό που αποτελεί τον πυρήνα
του. Στην περίπτωση αυτή, το μαγνητικό πεδίο που αναπτύσσεται από το πηνίο
περιορίζεται σχεδόν αποκλειστικά στο εσωτερικό του πυρήνα. Ο νόμος του Ampere ορίζει
την ένταση του μαγνητικού πεδίου στο εσωτερικό του πυρήνα, σύμφωνα με τη σχέση:
H • l = Ni
Όπου:
H: ένταση του μαγνητικού πεδίου. Η διεύθυνση και η φορά της έντασης του μαγνητικού
πεδίου ταυτίζονται με τη διεύθυνση και τη φορά των μαγνητικών γραμμών.
Επομένως, όπως προκύπτει από τον παραπάνω τύπο, το μέτρο της έντασης του μαγνητικού
πεδίου στο εσωτερικό του πυρήνα είναι:
|205|
Ni
H = --------------
l
Όπου:
Ni: αμπεροστροφές (Αt)
H: ένταση του μαγνητικού πεδίου σε At/m
Εικόνα 3.1: Μεγέθη του μαγνητικού πεδίου σε πηνίο με πυρήνα από σιδηρομαγνητικό υλικό
3.3 Μαγνητική επαγωγή - μαγνητική διαπερατότητα
Εάν τοποθετήσουμε ένα δοκίμιο από υλικό που μπορεί να μαγνητιστεί μέσα σε ένα
μαγνητικό πεδίο και παρατηρήσουμε τις δυναμικές γραμμές του πεδίου, θα δούμε ότι ένας
μεγάλος αριθμός τους περνά μέσα από το δοκίμιο. Συγχρόνως, το υλικό μαγνητίζεται και
σχηματίζεται νότιος πόλος στο άκρο στο οποίο εισέρχονται οι μαγνητικές γραμμές, ενώ ο
βόρειος πόλος σχηματίζεται στο άκρο από το οποίο εξέρχονται οι δυναμικές γραμμές.
Ο αριθμός των δυναμικών γραμμών μέσα στο δοκίμιο, ανά μονάδα επιφανείας η
οποία είναι κάθετη στη διεύθυνση των μαγνητικών δυναμικών γραμμών, ονομάζεται
μαγνητική επαγωγή (Β).
Ισχύει η σχέση:
Β=μ•H
Όπου:
Β: η μαγνητική επαγωγή σε Tesla στο SI, σε Gauss στο Ηλεκτρομαγνητικό Σύστημα
(ΗΜΣ)
μ: η μαγνητική διαπερατότητα του υλικού, η οποία περιγράφει τη μαγνητική συμπεριφορά
του υλικού
Η: η ένταση του μαγνητικού πεδίου σε Α/m
Σημειώνεται ότι: 1Tesla = 1N/A•m = 104Gauss
Η μαγνητική διαπερατότητα του υλικού εκφράζει το πόσο ισχυρά μαγνητίζεται ένα

υλικό και στο διεθνές σύστημα μονάδων μετράται σε N/A2. Στο ΗΜΣ η μαγνητική
διαπερατότητα μετράται σε Gauss/Oersted. Η μαγνητική διαπερατότητα του αέρα ή του
κενού (μ0) θεωρείται, στο μεν ΗΜΣ ίση με τη μονάδα (1G/Oe), στο δε διεθνές σύστημα
|206|
μονάδων ίση με 4π•10-7H/m (σημειώνεται ότι το 1Henry είναι η μονάδα ηλεκτρικής
αυτεπαγωγής).
Λαμβάνοντας υπόψη τη σχέση μαγνητικής επαγωγής και έντασης του μαγνητικού
πεδίου στο ΗΜΣ, είναι προφανές ότι αυτά τα δύο μεγέθη εκφράζουν ουσιαστικά συναφείς
φυσικές έννοιες. Ωστόσο, μιλά κανείς για ένταση του μαγνητικού πεδίου όταν εξετάζεται ο
χώρος εκτός του δοκιμίου, ενώ για μαγνητική επαγωγή όταν εξετάζεται τι συμβαίνει μέσα
στο δοκίμιο.
Η μαγνητική διαπερατότητα μ οποιουδήποτε υλικού, συνδέεται με την αντίστοιχη
του κενού μέσω της σχετικής μαγνητικής διαπερατότητας μr:
μ = μr • μ0
Όπου:
μ0: η μαγνητική διαπερατότητα του κενού / αέρα
μr: η σχετική μαγνητική διαπερατότητα του υλικού (αδιάστατο μέγεθος)
Η μαγνητική διαπερατότητα των υλικών δεν είναι σταθερή αλλά εξαρτάται από την
κατάσταση μαγνήτισης του υλικού. Έτσι, τα παραμαγνητικά υλικά έχουν σχετική
μαγνητική διαπερατότητα ελάχιστα μεγαλύτερη από 1 (π.χ. 1,003 οι ανοξείδωτοι χάλυβες).
Τα διαμαγνητικά υλικά διαθέτουν σχετική διαπερατότητα ελαφρώς μικρότερη από 1, π.χ.
0,996.
Μονάδα μέτρησης της μαγνητικής επαγωγής είναι το 1Tesla (T). Από τις δύο
προηγούμενες εξισώσεις προκύπτει ότι: 1T = 1V/m2.
Πίνακας 3.1: Σχετική μαγνητική διαπερατότητα σιδηρομαγνητικών υλικών

ΣΧΕΤΙΚΗ ΜΑΓΝΗΤΙΚΗ
ΣΙΔΗΡΟΜΑΓΝΗΤΙΚΑ ΥΛΙΚΑ
ΔΙΑΠΕΡΑΤΟΤΗΤΑ
Σίδηρος (99% από ανόπτηση σε Η) 200,000
Σίδηρος (99,8% από ανόπτηση) 6,000
Σίδηρος (98,5% ψυχρή έλαση) 2,000
Νικέλιο (99% από ανόπτηση) 600
Κοβάλτιο (99% από ανόπτηση) 250
Χάλυβας (0,9% Άνθρακας) 100
Απόσπασμα από το Εγχειρίδιο Μη Καταστροφικών Ελέγχων, Τόμος 6, Αμερικάνικη
Εταιρεία μη Καταστροφικών Δοκιμών,
2η Έκδοση, 1988
3.4 Μαγνητική ροή
Η μαγνητική ροή εκφράζει τον αριθμό των μαγνητικών γραμμών που περνούν
κάθετα από μια επιφάνεια 1m2. Με άλλα λόγια, ο συνολικός αριθμός των μαγνητικών
γραμμών που περνά από μια επιφάνεια S, εκφράζεται από το μέγεθος της μαγνητικής ροής
Φ. Αν το μέτρο της μαγνητικής ροής είναι σταθερό σε όλη την επιφάνεια S και το
διάνυσμά της είναι κάθετο στην επιφάνεια, τότε ισχύει η εξίσωση:
Φ=Β•S
Εάν η επιφάνεια σχηματίζει γωνία α με τη διεύθυνση των μαγνητικών γραμμών, τότε:
Φ = Β • S • cosα
|207|
Εικόνα 3.2: Μαγνητική ροή υπό διαφορετικές γωνίες
Στο διεθνές σύστημα μονάδων, μονάδα της μαγνητικής ροής είναι το 1 Weber (Wb).
Ισχύουν επίσης οι ισοδυναμίες: 1Wb = 1V•s = 1N•m/A = 1Tesla•m2.
Η πυκνότητα της μαγνητικής ροής μετράται σε αριθμό δυναμικών γραμμών ανά
μονάδα επιφανείας και ουσιαστικά εκφράζει τη μαγνητική επαγωγή.
Ισχύει ότι: 1Tesla = 1Wb/m2 = 108 δυναμικές γραμμές/m2.
Στο ΗΜΣ ισχύει ότι: 1Gauss = 1 γραμμή/cm2 = 10-4Tesla.
Επομένως, η μαγνητική ροή που προκαλεί το ρεύμα i στον πυρήνα της Εικόνας 3.1,
με διατομή S και μέσο μήκος l, είναι ίση με:
Ni • S
Φ = μ • -----------------
l
3.5 Ένταση του μαγνητικού πεδίου
Εάν τοποθετήσουμε μία ποσότητα μαγνητισμού m μέσα σε ένα ομογενές μαγνητικό

πεδίο, το οποίο βρίσκεται στο κενό ή στον αέρα, θα ασκηθεί σε αυτή δύναμη F, σύμφωνα
με τη σχέση:
F = μ0 • H • m
Όπου:
Η: η ένταση του μαγνητικού πεδίου σε Α/m (ή σε N/Cb)
μ0: η μαγνητική διαπερατότητα του κενού, ίση με 4π•10-7N/A2
Από την τελευταία ισότητα και το νόμο του Coulomb προκύπτει:
Η = m / 4πr2
Όπου:
Η: η ένταση του μαγνητικού πεδίου, μετρούμενη σε Α/m (ή σε N/Cb)
Στο ΗΜΣ η ένταση του μαγνητικού πεδίου μετράται σε Oersted (1Α/m = 4π/1000 Oe).
|208|
3.6 Διαρροή του μαγνητικού πεδίου
Όταν ένα σιδηρομαγνητικό υλικό τοποθετηθεί μέσα σε ένα μαγνητικό πεδίο, τότε οι
δυναμικές γραμμές του πεδίου διαταράσσονται και ένας μεγάλος αριθμός τους εισέρχεται
μέσα από αυτό. Εάν αφεθούν ρινίσματα μαλακού σιδήρου πάνω στο δοκίμιο, τότε αυτά θα
συγκεντρωθούν μόνο επάνω στους πόλους, εκεί δηλαδή όπου οι δυναμικές γραμμές
εισέρχονται ή εξέρχονται από το δοκίμιο. Εάν όμως το δοκίμιο έχει μία ασυνέχεια (π.χ.
ρήγμα) κάθετη στις δυναμικές γραμμές, το κενό ή ο αέρας (ή άλλο μη σιδηρομαγνητικό
υλικό) που βρίσκεται στην ασυνέχεια δε μπορεί να «παραλάβει» το σύνολο των δυναμικών
γραμμών που υπάρχουν στο σιδηρομαγνητικό υλικό. Συνεπώς, υπάρχει και πάλι διατάραξη
του μαγνητικού πεδίου, με τις δυναμικές γραμμές να απλώνονται στο χώρο γύρω από την
ασυνέχεια, ώστε η πυκνότητα της μαγνητικής ροής μέσα σε αυτήν να γίνεται τόση όση
επιτρέπει η μαγνητική διαπερατότητα.
Επομένως, οι δυναμικές γραμμές εξέρχονται αρχικά από το δοκίμιο, δημιουργώντας
έναν τοπικό βόρειο μαγνητικό πόλο. Μετά την ασυνέχεια, το υλικό τις συγκεντρώνει και
πάλι, δημιουργώντας έτσι ένα τοπικό νότιο μαγνητικό πόλο. Το φαινόμενο αυτό καλείται
«διαρροή της μαγνητικής ροής» (magnetic flux leakage) και το τοπικό μαγνητικό πεδίο
«πεδίο διαρροής» (leakage field) ή «διαρρέον μαγνητικό πεδίο».
Εάν τώρα αφεθούν ρινίσματα μαλακού σιδήρου πάνω στο δοκίμιο και εφόσον το
διαρρέον μαγνητικό πεδίο είναι αρκετά ισχυρό, αυτά θα συγκεντρωθούν πάνω στους
τοπικούς πόλους. Προκειμένου για ένα ρήγμα που το πλάτος του είναι πολύ μικρό, η
ένδειξη που θα σχηματιστεί θα είναι μια γραμμή από ρινίσματα σιδήρου κατά μήκος του
ρήγματος.
Εικόνα 3.3: Διαρροή μαγνητικού πεδίου
Εικόνα 3.4: Διαρροή μαγνητικού πεδίου σε ασυνέχειες
|209|
Εικόνα 3.5: Διαρροή μαγνητικού πεδίου σε σημεία αλλαγής της διάστασης του κοχλία
|210|
4. ΤΑΞΙΝΟΜΗΣΗ ΤΩΝ ΥΛΙΚΩΝ ΣΥΜΦΩΝΑ ΜΕ ΤΙΣ ΜΑΓΝΗΤΙΚΕΣ
ΤΟΥΣ ΙΔΙΟΤΗΤΕΣ
Σιδηρομαγνητικά ονομάζονται τα υλικά που μαγνητίζονται έντονα, έχουν δηλαδή

πολύ μεγάλη σχετική μαγνητική διαπερατότητα. Τέτοια υλικά είναι ο σίδηρος, οι
περισσότεροι χάλυβες, το κοβάλτιο, το νικέλιο και ορισμένα κράματά τους. Τα
σιδηρομαγνητικά υλικά έλκονται ισχυρά από άλλους μαγνήτες.
Παραμαγνητικά είναι τα υλικά που έλκονται ελάχιστα από ένα μαγνήτη και
μαγνητίζονται επίσης ελάχιστα. Η σχετική μαγνητική διαπερατότητά τους είναι ελάχιστα
μεγαλύτερη της μονάδας. Παραμαγνητικά υλικά είναι το αλουμίνιο, ο λευκόχρυσος, το
μαγγάνιο, το αργίλιο, καθώς και οι ωστενιτικοί χάλυβες (π.χ. οι ανοξείδωτοι χάλυβες
σειράς 300).
Διαμαγνητικά είναι τα υλικά που έχουν σχετική μαγνητική διαπερατότητα λίγο
μικρότερη της μονάδας και απωθούνται ελαφρά από τους μαγνήτες. Η πλειονότητα των
φυσικών στοιχείων και υλικών είναι διαμαγνητικά, όπως ο χαλκός, ο άνθρακας και το
υδρογόνο.
Εικόνα 4.1: Ταξινόμηση υλικών
4.1 Παραμαγνητισμός
Τα υλικά τα οποία παρουσιάζουν μαγνητική διαπερατότητα λίγο μεγαλύτερη της

μονάδας και πολύ μικρή θετική μαγνητική επιδεκτικότητα (χ ≈ 10-6 - 10-2) ονομάζονται
παραμαγνητικά υλικά και το μαγνητικό φαινόμενο που προκαλούν ονομάζεται
παραμαγνητισμός.
Ο παραμαγνητισμός δημιουργείται από τον προσανατολισμό των μαγνητικών
ροπών των ατόμων ή των μορίων κατά τη διεύθυνση του εφαρμοζόμενου εξωτερικού
μαγνητικού πεδίου, με αποτέλεσμα την αύξηση της έντασης του ασκούμενου μαγνητικού
πεδίου. Τα παραμαγνητικά υλικά έλκονται ελαφρά από ένα μόνιμο μαγνήτη. Το μαγνήσιο
(Mg), το μολυβδαίνιο, (Mo), το λίθιο (Li) και το ταντάλιο (Ta) αποτελούν παραδείγματα
παραμαγνητικών υλικών.
Όπως ο διαμαγνητισμός, έτσι και ο παραμαγνητισμός είναι φαινόμενο που
εμφανίζεται μόνο όταν τα υλικά βρίσκονται υπό την επίδραση ενός μαγνητικού πεδίου.
Οταν αυτά απομακρυνθούν από το μαγνητικό πεδίο, οι μαγνητικές ροπές των ατόμων
προσανατολίζονται και πάλι τυχαία με αποτέλεσμα το υλικό να μην παρουσιάζει πλέον
μαγνήτιση. Στην Εικόνα 4.3 φαίνεται η μεταβολή της μαγνήτισης (Μ) σε συνάρτηση με
την ένταση του εφαρμοζόμενου πεδίου (Η) για δύο υλικά, ένα με παραμαγνητική και ένα
με διαμαγνητική συμπεριφορά. Επίσης, επειδή η θερμική κίνηση επηρεάζει τον
προσανατολισμό των μαγνητικών ροπών των ατόμων, σε ένα παραμαγνητικό υλικό η
αύξηση της θερμοκρασίας ευνοεί την άτακτη διευθέτηση των μαγνητικών διπόλων με
αποτέλεσμα τη μείωση της παραμαγνητικής του συμπεριφοράς. Η εξάρτηση του
|211|
παραμαγνητισμού από τη θερμοκρασία περιγράφεται από το νόμο Curie, σύμφωνα με τον
οποίο η μαγνητική επιδεκτικότητα χ ενός παραμαγνητικού υλικού είναι αντιστρόφως
ανάλογη της απόλυτης θερμοκρασίας Τ:
χ=C/T
Όπου:
χ: η μαγνητική επιδεκτικότητα
C: η χαρακτηριστική σταθερά του υλικού
T: η απόλυτη θερμοκρασία
Τα αλκάλια, μερικά από τα στοιχεία μετάπτωσης όπως το τιτάνιο, οι σπάνιες γαίες,

το οξυγόνο, ο λευκόχρυσος, το αλουμίνιο και τα περισσότερα άλατα του σιδήρου είναι
παραμαγνητικά υλικά. Ο παραμαγνητισμός, όπως και ο διαμαγνητισμός δεν παρουσιάζει
ενδιαφέρον σε τεχνολογικές εφαρμογές.
Εικόνα 4.2: Διάγραμμα μαγνητικής επιδεκτικότητας σε σχέση με την θερμοκρασία
Εικόνα 4.3: Παραμαγνητικό υλικό
Εικόνα 4.4: Μεταβολή της μαγνήτισης σε συνάρτηση με τη μαγνητική διέγερση για τον
λευκόχρυσο (Pt) με παραμαγνητική συμπεριφορά και το βισμούθιο (Bi) με διαμαγνητική
συμπεριφορά
|212|
4.2 Διαμαγνητισμός
Υπό την επίδραση ενός εξωτερικού μαγνητικού πεδίου τα τροχιακά των ατόμων
μεταβάλλονται διότι σύμφωνα με το νόμο του Laplace, ένα ηλεκτρικό φορτίο όταν κινείται
μέσα σε ένα μαγνητικό πεδίο αποκλίνει από την πορεία του. Aυτή η τροποποίηση των
τροχιακών και επομένως των μαγνητικών ροπών των ατόμων, οδηγεί στο σχηματισμό
μικρών μαγνητικών διπόλων μέσα στα άτομα, τα οποία αντιτίθενται στο εξωτερικό πεδίο,
με συνέπεια την εμφάνιση ενός αρνητικού μαγνητικού αποτελέσματος που είναι γνωστό ως
διαμαγνητισμός. Αυτό οδηγεί στην άπωση των διαμαγνητικών υλικών από τα μαγνητικά
υλικά. Η σχετική μαγνητική διαπερατότητα των διαμαγνητικών υλικών είναι λίγο
μικρότερη της μονάδας και η μαγνητική επιδεκτικότητά τους είναι αρνητική και πολύ
μικρή (χ ≈ -10-6).
Το φαινόμενο του διαμαγνητισμού είναι αντιστρεπτό, δηλαδή εάν το υλικό
απομακρυνθεί από το μαγνητικό πεδίο εξαφανίζονται οι επαγόμενες μαγνητικές ροπές που
αντιτίθενται στο πεδίο και το υλικό δε διατηρεί μόνιμο μαγνητισμό.
Η διαμαγνητική συμπεριφορά συμβαίνει σε όλα τα υλικά, αλλά σε πολλά από αυτά
δεν εκδηλώνεται στην πράξη διότι επικαλύπτεται από άλλα πιο ισχυρά φαινόμενα με
θετικά μαγνητικά αποτελέσματα, όπως ο παραμαγνητισμός και ο σιδηρομαγνητισμός.
Τα ευγενή αέρια και ορισμένα υλικά όπως ο χρυσός (Au), ο χαλκός (Cu), ο άργυρος
(Ag), ο χαλαζίας (SiO2), το πυρίτιο (Si), το διαμάντι είναι διαμαγνητικά. Η διαμαγνητική
συμπεριφορά δεν έχει ιδιαίτερο ενδιαφέρον για τεχνολογικές εφαρμογές.
Εικόνα 4.5: Διαμαγνητικό υλικό
Εικόνα 4.6: Παραμαγνητισμός και διαμαγνητισμός
|213|
4.3 Σιδηρομαγνητισμός
Ορισμένα υλικά, όπως ο σίδηρος (Fe), το κοβάλτιο (Co) και το νικέλιο (Ni), υπό την
επίδραση ενός εξωτερικού μαγνητικού πεδίου αποκτούν μεγάλη μαγνήτιση, μέρος της
οποίας διατηρούν ως μόνιμη μαγνήτιση και μετά την απομάκρυνση του μαγνητικού πεδίου.
Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται σιδηρομαγνητισμός ενώ τα υλικά που εμφανίζουν αυτή τη
συμπεριφορά καλούνται σιδηρομαγνητικά και παρουσιάζουν πολύ σημαντικές
τεχνολογικές εφαρμογές.
Εικόνα 4.7: Σιδηρομαγνητικό υλικό
Η μαγνητική συμπεριφορά των σιδηρομαγνητικών υλικών οφείλεται στο

σχηματισμό μαγνητικών περιοχών ή περιοχών Weiss εντός αυτών, ακόμα και χωρίς την
ύπαρξη εξωτερικού μαγνητικού πεδίου, στις οποίες τα ατομικά μαγνητικά δίπολα, που
οφείλονται στην ύπαρξη ασύζευκτων ηλεκτρονίων σε 3d τροχιακά, αλληλεπιδρούν μεταξύ
τους και προσανατολίζονται παράλληλα και ομόρροπα. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται
αυθόρμητη μαγνήτιση. Σε ένα υλικό που δεν έχει εκτεθεί σε μαγνητικό πεδίο, ο
προσανατολισμός των μαγνητικών ροπών στις μαγνητικές περιοχές είναι τυχαίος με
αποτέλεσμα να μην εμφανίζεται μόνιμη μαγνήτιση. Οι μαγνητικές περιοχές είναι μικρές
περιοχές εντός των κρυσταλλικών κόκκων του υλικού, πολύ μικρότερου μεγέθους από τους
κόκκους. Τα όρια των μαγνητικών περιοχών, σε αντιστοιχία με τα όρια των κόκκων,
διαχωρίζουν τις γειτονικές μαγνητικές περιοχές μεταξύ τους και ονομάζονται τοιχώματα.
Στα τοιχώματα των μαγνητικών περιοχών υπάρχει ένας αριθμός ατόμων κατά πολύ
μεγαλύτερος του αριθμού των ατόμων στα όρια των κόκκων και ο προσανατολισμός των
μαγνητικών ροπών σε αυτά μεταβάλλεται σταδιακά από τον προσανατολισμό της μιας από
τις δύο γειτονικές μαγνητικές περιοχές προς τον προσανατολισμό της άλλης.
Εικόνα 4.8: Σχηματική αναπαράσταση των μαγνητικών περιοχών σε ένα σιδηρομαγνητικό

υλικό. Οι μαγνητικές ροπές των ατόμων σε κάθε μαγνητική περιοχή είναι παράλληλα
διευθετημένες λόγω της αυθόρμητης μαγνήτισης. Οι μαγνητικές ροπές στις διάφορες
μαγνητικές περιοχές, εάν το υλικό δεν έχει εκτεθεί σε μαγνητικό πεδίο, έχουν τυχαίο
προσανατολισμό
|214|
Εικόνα 4.9: Σχηματική αναπαράσταση της διεύθυνσης των μαγνητικών ροπών στο τοίχωμα
μεταξύ δύο γειτονικών μαγνητικών περιοχών
4.4 Αντισιδηρομαγνητισμός
Σε ορισμένα υλικά, παρουσία μαγνητικού πεδίου, παρατηρείται αντιπαράλληλος

προσανατολισμός των μαγνητικών ατομικών ροπών με αποτέλεσμα το μηδενισμό της
εσωτερικής μαγνητικής ροπής τους. Τέτοια συμπεριφορά παρουσιάζουν τα στοιχεία
μετάπτωσης όπως το χρώμιο (Cr) και οι ενώσεις τους με αμέταλλα, όπως το οξείδιο του
μαγγανίου (MnO), το οξείδιο του νικελίου (NiO) και το θειούχο μαγγάνιο (MnS). Η
διαφορά μεταξύ σιδηρομαγνητισμού και αντισιδηρομαγνητισμού έγκειται στις
αλληλεπιδράσεις μεταξύ γειτονικών ατόμων.
Στον περιοδικό πίνακα στοιχείων, το μόνο στοιχείο που εμφανίζει
αντισιδηρομαγνητισμό σε θερμοκρασία δωματίου είναι το χρώμιο (Cr). Τα
αντισιδηρομαγνητικά υλικά είναι παρόμοια με τα σιδηρομαγνητικά. Ωστόσο, οι
αλληλεπιδράσεις ανάμεσα σε γειτονικά άτομα οδηγούν σε μία μη παράλληλη παράταξη
των ατομικών μαγνητικών ροπών. Κατά συνέπεια, το μαγνητικό πεδίο καταργείται και το
υλικό εμφανίζεται να συμπεριφέρεται με τον ίδιο τρόπο όπως ένα παραμαγνητικό υλικό.
Οι ουσιαστικές ιδιαιτερότητες ενός μαγνητικού υλικού είναι χαρακτηριστικές του
υλικού και δεν επηρεάζονται από τη μικροδομή (π.χ. το μέγεθος κόκκου, την κρυσταλλική
κατεύθυνση κόκκων κ.λπ.). Αυτές οι ιδιαιτερότητες περιλαμβάνουν και τη θερμοκρασία
Curie, το μαγνητικό κορεσμό και τη μαγνητοκρυσταλλική ανισοτροπία.
Το φαινόμενο του αντισιδηρομαγνητισμού δεν παρουσιάζει ενδιαφέρον σε
τεχνολογικές εφαρμογές.
4.5 Ο μαγνητικός περιοδικός πίνακας
Τα στοιχεία του περιοδικού πίνακα είναι χωρισμένα στις τέσσερις κατηγορίες

μαγνήτισης σε θερμοκρασία δωματίου.
Τα παραμαγνητικά και διαμαγνητικά υλικά είναι περίπου ίδιου αριθμού και
αποτελούν την πλειονότητα των στοιχείων του περιοδικού πίνακα. Τα στοιχεία που
εμφανίζονται ως σιδηρομαγνητικά είναι τρία, ο σίδηρος (Fe), το κοβάλτιο (Co) και το
νικέλιο (Ni), ενώ ως αντισιδηρομαγνητικό εμφανίζεται μόνο ένα στοιχείο, το χρώμιο (Cr).
Η Εικόνα 4.11 απεικονίζει το «δέντρο της οικογένειας του μαγνητισμού».
Παρουσιάζει δηλαδή, όλα τα είδη μαγνητισμού της ύλης και τη μεταξύ τους σύνδεση. Σε
κάθε είδος μαγνητισμού εκτός από το όνομά του, εμφανίζεται το αντίστοιχο διάγραμμα
καθώς και ο τρόπος εμφάνισης του μικροσκοπικά.
|215|
Προκειμένου να αποφευχθούν οι παρανοήσεις, τα στοιχεία έχουν ομαδοποιηθεί
χρωματικά όπως φαίνεται στη συνέχεια:
 Σιδηρομαγνητικά
 Αντισιδηρομαγνητικά
 Παραμαγνητικά
 Διαμαγνητικά
1 2
H He
3 4 5 6 7 8 9 10
Li Be B C N O F Ne
11 12 13 14 15 16 17 18
Na Mg Al Si P S Cl Ar
19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36
K Ca Sc Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se Br Kr
37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54
Rb Sr Y Zr Nb Mo Tc Ru Rh Pd Ag Cd In Sn Sb Te I Xe
55 56 57 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86
Cs Ba La Hf Ta W Re Os Ir Pt Au Hg Ti Pb Bi Po At Rn
87 88 89
Fr Ra Ac
58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71
Ce Pr Nd Pm Sm Eu Gd Tb Dy Ho Er Tm Yb Lu
Εικόνα 4.10: Μαγνητικός περιοδικός πίνακας
Εικόνα 4.11: Δέντρο της οικογένειας του μαγνητισμού
|216|
4.6 Βρόχος υστέρησης
Ας παρατηρήσουμε την Εικόνα 4.12. Υποθέτουμε ότι ο πυρήνας είναι αρχικά

απομαγνητισμένος και ότι το πηνίο τροφοδοτείται από εναλλασσόμενο ρεύμα. Όταν το
ρεύμα μεταβάλλεται στην περιοχή ab, λαμβάνεται η καμπύλη μαγνήτισης του υλικού ΑΒ.
Καθώς το ρεύμα μειώνεται, στο τμήμα bc, η μαγνητική ροή δεν ακολουθεί την καμπύλη
μαγνήτισης. Η μεταβολή της ροής στο τμήμα BC, είναι διαφορετική από εκείνη κατά την
αύξηση του ρεύματος στην περιοχή ab. Στο τμήμα bc του ρεύματος, ο πυρήνας
απομαγνητίζεται. Στο σημείο c, όπου το ρεύμα και η μαγνητεγερτική δύναμη μηδενίζονται,
η μαγνητική ροή είναι διάφορη του μηδενός και έχει μια τιμή C. Το φαινόμενο αυτό
ονομάζεται μαγνητική υστέρηση. Η μαγνητική ροή στο σημείο C ονομάζεται παραμένουσα
ροή (residual flux). Το μέγεθος της παραμένουσας ροής εξαρτάται από το είδος του
σιδηρομαγνητικού υλικού. Στα υλικά κατασκευής των ηλεκτρικών μηχανών, ο παραμένων
μαγνητισμός είναι ίσος με 2-3% της ονομαστικής τιμής. Αντίθετα, στην κατασκευή των
τεχνητών μόνιμων μαγνητών χρησιμοποιούνται σιδηρομαγνητικά υλικά, με υψηλό
παραμένοντα μαγνητισμό.
Για να απομαγνητιστεί ο πυρήνας, δηλαδή για το μηδενισμό της ροής, πρέπει να
αντιστραφεί η πολικότητα του ρεύματος, άρα και της μαγνητεγερτικής δύναμης. Η
μαγνητεγερτική δύναμη που απομαγνητίζει τον πυρήνα D και η οποία αντιστοιχεί στο
ρεύμα d, ονομάζεται συνεκτική δύναμη (coercive). Ο πυρήνας μαγνητίζεται κατά την
αντίθετη φορά, καθώς το ρεύμα αυξάνεται σε αρνητικές τιμές, μέχρι την τιμή Ε, η οποία
αντιστοιχεί στην περιοχή κορεσμού. Το σημείο Ε είναι συμμετρικό ως προς το Β. Το ρεύμα
τείνει να μηδενιστεί στο τμήμα ef ενώ παράλληλα ελαττώνεται η μαγνητική ροή. Η
παραμένουσα αρνητική μαγνητική ροή F μηδενίζεται, όταν το ρεύμα λάβει τη θετική τιμή
g. Στο σημείο b του ρεύματος, η ροή έχει λάβει ξανά τη μέγιστη θετική τιμή της Β. Έτσι,
ολοκληρώνεται ο βρόχος υστέρησης του πυρήνα (καμπύλη ΒCDEFGB). Ο κορεσμός των
σιδηρομαγνητικών υλικών οφείλεται στον πλήρη προσανατολισμό των περιοχών Weiss,
όταν η μαγνητεγερτική δύναμη έχει υψηλή τιμή. Οι αρχικά τυχαία προσανατολισμένες
περιοχές Weiss του υλικού, έχουν την τάση να ακολουθούν τη διεύθυνση και τη φορά του
εξωτερικά επιβαλλόμενου μαγνητικού πεδίου. Αυτός είναι ο λόγος που τα
σιδηρομαγνητικά υλικά έχουν πολύ μεγάλη μαγνητική διαπερατότητα. Όταν όλες οι
περιοχές Weiss προσανατολιστούν στο επιβαλλόμενο πεδίο, κάθε περαιτέρω αύξηση της
μαγνητεγερτικής δύναμης προκαλεί μια ασήμαντη αύξηση της ροής, όση δηλαδή θα ήταν
στον αέρα (κορεσμός). Με την απομάκρυνση της επιβαλλόμενης μαγνητεγερτικής
δύναμης, οι περιοχές Weiss δε ξαναπαίρνουν τις αρχικές τυχαίες κατευθύνσεις τους. Έτσι,
το υλικό παραμένει μαγνητισμένο, δηλαδή γίνεται μόνιμος μαγνήτης. Για την πλήρη
απομαγνήτιση του υλικού πρέπει να εφαρμοστεί μια μαγνητεγερτική δύναμη με αντίθετη
φορά. Επομένως, πρέπει να προσφερθεί στο υλικό ενέργεια για την απομαγνήτισή του,
όπως ακριβώς έγινε και κατά τη διαδικασία της μαγνήτισης.
Όσο μεγαλύτερη είναι η παραμένουσα ροή, τόσο μεγαλύτερη είναι η ενέργεια που
απαιτείται για την απομαγνήτιση του υλικού. Η ενέργεια της απομαγνήτισης, εκτός από τη
μαγνητεγερτική δύναμη, μπορεί να έχει τη μορφή θερμότητας ή μηχανικού χτυπήματος. Η
απαίτηση παροχής ενέργειας στα σιδηρομαγνητικά υλικά για την απομαγνήτισή τους,
προκαλεί τις απώλειες υστέρησης. Οι απώλειες υστέρησης ενός υλικού εξαρτώνται από το
εμβαδό του βρόχου υστέρησης. Όσο μικρότερο είναι το εμβαδόν του, δηλαδή όσο
μικρότερες είναι οι τιμές της παραμένουσας ροής και της συνεκτικής δύναμης, τόσο
μικρότερες είναι οι απώλειες υστέρησης. Οι απώλειες υστέρησης και οι απώλειες εξαιτίας
των δινορευμάτων προκαλούν τη θέρμανση του πυρήνα και ονομάζονται απώλειες πυρήνα
(core losses).
|217|
Εικόνα 4.12: Βρόχος υστέρησης
Διαπερατότητα (Permeability)
Η μεγάλη σχετική διαπερατότητα είναι η πιο σημαντική ιδιότητα που έχουν τα

μαλακά σιδηρομαγνητικά υλικά. Η διαπερατότητα των σιδηρομαγνητών δεν είναι σταθερή
σε σχέση με τις τιμές του μαγνητικού πεδίου. Αντίθετα, για να προσδιοριστεί η
διαπερατότητα είναι απαραίτητη η μέτρηση της μαγνητικής επαγωγής Β συναρτήσει της
έντασης Η σε ένα μεγάλο εύρος τιμών της τελευταίας, ώστε να προκύψει η καμπύλη
υστέρησης. Λόγω του ότι τα υλικά αυτά εμφανίζουν υψηλή διαπερατότητα,
χρησιμοποιούνται ως συμπυκνωτές της διερχόμενης μαγνητικής ροής. Οι μόνιμοι μαγνήτες
(σκληρά μαγνητικά υλικά) δεν έχουν τόσο υψηλές τιμές επιδεκτικότητας. Ωστόσο, έχουν
μεγάλη αντίσταση απομαγνήτισης, η οποία αποτελεί πολύ σημαντική ιδιότητα.
Παραμένουσα μαγνήτιση (Residual Magnetism)
Οι σιδηρομαγνήτες μπορούν να μαγνητιστούν σχετικά μόνιμα. Με άλλα λόγια,

διατηρούν τη μαγνήτισή τους ακόμα και όταν απομακρυνθούν από το μαγνητικό πεδίο που
τα μαγνήτισε. Ίσως αυτή είναι η πιο εμφανής ιδιότητα των σιδηρομαγνητών. Η διατήρηση
της μαγνήτισης είναι το στοιχείο που διακρίνει τους περισσότερους σιδηρομαγνήτες από
τους παραμαγνήτες, οι οποίοι παρά το ότι προσανατολίζουν τα μαγνητικά τους δίπολα στη
διεύθυνση ενός εφαρμοζόμενου μαγνητικού πεδίου Η, δε μπορούν να διατηρήσουν τη
μαγνήτισή τους αφού απομακρυνθεί το πεδίο.
Έτσι λοιπόν, όταν το εξωτερικό πεδίο μηδενιστεί, το σιδηρομαγνητικό υλικό
εμφανίζει μία παραμένουσα μαγνητική επαγωγή Βr, η οποία οφείλεται στην παραμένουσα
μαγνήτιση Μr. Τα δύο μεγέθη συνδέονται με τη σχέση:
B r = μ0 • M r
Ιδιαίτερη σημασία στις ιδιότητες των σιδηρομαγνητικών υλικών έχει η

παραμένουσα μαγνήτιση του υλικού, όταν κατά τη διάρκεια επιβολής του εξωτερικού
πεδίου έχει ήδη επέλθει μαγνήτιση κορεσμού.
|218|
Συνεκτική δύναμη (Coercive Force)
Ως συνεκτική δύναμη στο μαγνητισμό ορίζεται η αντίθετη μαγνητική δύναμη που

πρέπει να εφαρμοστεί έτσι ώστε, να απαλειφθεί η παραμένουσα μαγνήτιση του μέχρι αυτό
να απομαγνητιστεί.
Αντιστασιμότητα (Reluctance)
Ως αντιστασιμότητα στο μαγνητισμό ορίζεται η αντίσταση ενός υλικού στην

εδραίωση της μαγνητικής ροής. Συνεπώς, ένα υλικό υψηλής διαπερατότητας έχει χαμηλή
αντιστασιμότητα και το αντίστροφο. Η αντιστασιμότητα ενός υλικού καθορίζει το μέγεθος
της ροής που παράγεται από μία δεδομένη μαγνητική δύναμη. Η αντιστασιμότητα στο
μαγνητισμό αντιστοιχεί με την ηλεκτρική αντίσταση σε ένα ηλεκτρικό κύκλωμα.
Συγκρατησιμότητα (Retentivity)
Η συγκρατησιμότητα ενός μαγνητικού υλικού είναι η ιδιότητα του να συγκρατεί σε

μεγαλύτερο ή μικρότερο βαθμό ένα ορισμένο ποσό παραμένουσας μαγνήτισης, όταν η
δύναμη μαγνήτισης απομακρύνεται μετά την επίτευξη του μαγνητικού κορεσμού στο
υλικό.
|219|
5. ΜΑΓΝΗΤΙΚΑ ΥΛΙΚΑ
5.1 Υλικά μόνιμων μαγνητών
Ο φυσικός μαγνητίτης είναι οξείδιο του σιδήρου (Fe3Ο4), το οποίο μαγνητίστηκε με

την πάροδο των αιώνων από το γήινο μαγνητικό πεδίο. Μέχρι τον 19ο αιώνα ο μαγνητίτης
ήταν ο ισχυρότερος μόνιμος μαγνήτης σε χρήση, παρότι κατασκευάζονταν μαγνήτες από
χάλυβα, οι οποίοι όμως ήταν ασθενείς και όχι ιδιαίτερα αξιόπιστοι.
Στις αρχές του 20ου αιώνα αναπτύχθηκαν ισχυροί χαλύβδινοι μαγνήτες, που
περιέχουν βολφράμιο, χρώμιο, κοβάλτιο ή μολυβδαίνιο. Ωστόσο, πολύ γρήγορα
ξεπεράστηκαν (δεκαετία 1930) με την εμφάνιση μαγνητών από Alnico (κράμα σιδήρου,
αλουμινίου, νικελίου και κοβαλτίου), το οποίο χρησιμοποιείται ακόμα και σήμερα,
ιδιαίτερα σε θερμοκρασίες άνω των 500°C.
Κατά τη δεκαετία του 1950 αναπτύχθηκαν από την εταιρία Philips, μόνιμοι
μαγνήτες από συνθετικά οξείδια του σιδήρου, οι λεγόμενοι φερρίτες. Έκτοτε, λόγω
χαμηλού κόστους κατασκευής και υψηλής αξιοπιστίας, έχουν ευρεία χρήση.
Η τέταρτη κατηγορία υλικών μόνιμων μαγνητών είναι τα κράματα κοβαλτίου και
σπάνιων γαιών (όπως το σαμάριο και το νεοδύμιο). Εμφανίστηκαν στη δεκαετία του 1970
και βρήκαν πολύ γρήγορα εμπορικές εφαρμογές, λόγω της υψηλής μαγνήτισης και της
μικρής ποσότητας όγκου υλικού. Κατά τη δεκαετία του 1980 εμφανίστηκαν οι λεγόμενοι
«νεομαγνήτες» από κράμα σιδήρου και σπάνιων γαιών, που αντικατέστησαν τους μαγνήτες
κοβαλτίου - σπάνιων γαιών, λόγω συνδυασμού υψηλής ισχύος και χαμηλού κόστους
κατασκευής.
Η ανακάλυψη των νεομαγνητών άνοιξε το δρόμο της αντικατάστασης των
ηλεκτρομαγνητών από μόνιμους μαγνήτες, ιδιαίτερα σε περιπτώσεις απαιτήσεων μικρού
όγκου, όπως πολλές περιπτώσεις ηλεκτρικών συσκευών, μικρών ηλεκτροκινητήρων,
ρομποτικής, κατασκευής αισθητήρων (όπως αισθητήρες συστήματος ABS αυτοκινήτων)
αλλά και στην τεχνολογία των ηλεκτρονικών υπολογιστών (όπως κατασκευή οδηγών
δισκετών και εκτυπωτών).
Όσον αφορά στο σχήμα των μόνιμων μαγνητών, εμφανίζεται μεγαλύτερη
παραμένουσα μαγνήτιση, όσο η μάζα του μαγνήτη είναι μακριά από τους πόλους, γι’ αυτό
και ευνοϊκά σχήματα είναι τα πεταλοειδή και τα βελονοειδή.
5.2 Μαλακά και σκληρά μαγνητικά υλικά
Ονομάζονται μαγνητικώς μαλακά εκείνα τα σιδηρομαγνητικά υλικά που έχουν πολύ

μεγάλη μαγνητική διαπερατότητα (μαγνητίζονται πολύ εύκολα), ενώ χάνουν το
μεγαλύτερο μέρος της μαγνήτισής τους μόλις απομακρυνθούν από το εξωτερικό μαγνητικό
πεδίο (μικρή συγκρατησιμότητα – retentivity, μικρή παραμένουσα μαγνήτιση – permanent
magnetism). Τέτοια υλικά είναι τα οξείδια του σιδήρου που χρησιμοποιούνται στη μέθοδο
των μαγνητικών σωματιδίων και οι περισσότεροι μαλακοί χάλυβες.
Μαγνητικώς σκληρά υλικά είναι εκείνα τα σιδηρομαγνητικά υλικά που
μαγνητίζονται δύσκολα (έχουν δηλαδή μικρή σχετική μαγνητική διαπερατότητα και
απαιτούν ισχυρό εξωτερικό μαγνητικό πεδίο για να μαγνητιστούν), ενώ απομαγνητίζονται
δύσκολα, διατηρώντας μεγάλο μέρος της μαγνήτισής τους όταν απομακρυνθούν από το
πεδίο (μεγάλη συγκρατησιμότητα, μεγάλη παραμένουσα μαγνήτιση). Τέτοια υλικά είναι οι
σκληροί χάλυβες με υψηλό περιεχόμενο σε άνθρακα που χρησιμοποιούνται για την
κατασκευή μόνιμων μαγνητών.
|220|
Ανάλογα με το μέγεθος και το σχήμα του βρόχου υστέρησης των μόνιμων
μαγνητικών υλικών, αυτά διακρίνονται σε μαλακά και σκληρά μαγνητικά υλικά και έχουν
διαφορετικές εφαρμογές. Ένα μαλακό μαγνητικό υλικό μαγνητίζεται και απομαγνητίζεται
εύκολα. Ο βρόχος υστέρησής του είναι στενός με μικρές τιμές έντασης του συνεκτικού
πεδίου για τις οποίες μηδενίζεται η μαγνητική επαγωγή του υλικού. Για το λόγο αυτό, τα
μαλακά μαγνητικά υλικά χρησιμοποιούνται ως πυρήνες μετασχηματιστών, κινητήρων και
γεννητριών. Αντιθέτως, τα σκληρά μαγνητικά υλικά που μαγνητίζονται και
απομαγνητίζονται δύσκολα, παρουσιάζουν ευρείς βρόχους υστέρησης και μεγάλες τιμές
έντασης του συνεκτικού πεδίου, με αποτέλεσμα να χρησιμοποιούνται ως μόνιμοι μαγνήτες.
Εικόνα 5.1: Βρόχοι υστέρησης για α) ένα μαλακό μαγνητικό υλικό β) για ένα σκληρό μαγνητικό
υλικό
Αρχικά, τα μαλακά και σκληρά μαγνητικά υλικά είχαν μικρή και μεγάλη
σκληρότητα αντίστοιχα. Σήμερα όμως, η φυσική σκληρότητα ενός μαγνητικού υλικού δεν
υποδεικνύει απαραίτητα εάν αυτό είναι και μαγνητικά μαλακό ή σκληρό υλικό.
5.2.1 Μαλακά μαγνητικά υλικά
Οι επιθυμητές ιδιότητες ενός μαλακού μαγνητικού υλικού είναι η μεγάλη μαγνητική

διαπερατότητα και ο λεπτός βρόχος υστέρησης (όσο λεπτότερος, τόσο καλύτερα), ώστε να
μαγνητίζεται εύκολα. Μερικά από τα πιο σημαντικά μαλακά μαγνητικά υλικά είναι τα
κράματα σιδήρου-πυριτίου (Fe-Si), τα κράματα νικελίου-σιδήρου (Ni-Fe) και τα άμορφα ή
υαλώδη μέταλλα. Στα κράματα νικελίου-σιδήρου (Ni-Fe) προστίθενται και άλλα μεταλλικά
στοιχεία, όπως το κοβάλτιο (Co), το μολυβδαίνιο (Mo), το χρώμιο (Cr). Τα κράματα αυτά
αναφέρονται με τη αγγλική ορολογία permalloys, ενώ συχνά χρησιμοποιούνται και άλλοι
όροι όπως ο όρος υπερκράματα (αγγλικός όρος superalloys), ο οποίος καθιερώθηκε μετά
τον Β΄ Παγκόσμιο Πόλεμο για να περιγράψει μια ομάδα κραμάτων, που χρησιμοποιούνταν
σε αεροτουρμπίνες αεροπλάνων, μηχανές πυραύλων και στις βιομηχανίες χημικών και
πετρελαίου. Ένας άλλος όρος που χρησιμοποιείται είναι ο αγγλικός όρος mu-metal, ο
|221|
οποίος προέρχεται από το ελληνικό γράμμα μ που συμβολίζει τη διαπερατότητα
(permeability).
Μια επίσης σημαντική ιδιότητα για ένα μαλακό μαγνητικό υλικό είναι η μεγάλη
μαγνητική επαγωγή κορεσμού. Προκειμένου να μετακινηθούν τα τοιχώματα των
μαγνητικών περιοχών, κατά τη μαγνήτιση και απομαγνήτιση ενός μαλακού μαγνητικού
υλικού, απορροφάται ενέργεια, η οποία κατά τη διάρκεια ενός κύκλου μαγνήτισης
εκφράζεται από το εμβαδόν του βρόχου υστέρησης. Η ενέργεια αυτή, που αντιστοιχεί σε
απώλειες ενέργειας λόγω μαγνητικής υστέρησης, εκλύεται στη συνέχεια από το υλικό με
την μορφή θερμότητας. Η παρουσία ακαθαρσιών, στοιχείων κραματοποίησης,
κρυσταλλικών ατελειών δομής, κατακρημνισμάτων και γενικότερα αταξιών δομής στο
υλικό που δρουν ως εμπόδια στη μετακίνηση των τοιχωμάτων των μαγνητικών περιοχών,
οδηγεί τόσο σε αύξηση των απωλειών ενέργειας λόγω μαγνητικής υστέρησης όσο και του
εμβαδού του βρόχου υστέρησης. Αντίθετα, όσο τελειότερη είναι η κρυσταλλική δομή του
υλικού τόσο λιγότερα εμπόδια βρίσκουν τα όρια των μαγνητικών περιοχών κατά τη
μετακίνησή τους και επομένως, τόσο μικρότερο είναι και το εμβαδόν του βρόχου
υστέρησης.
Συνεπώς, μαλακά μαγνητικά υλικά με πολύ στενούς βρόχους υστέρησης είναι
γενικώς μαγνητικά υλικά καθαρά ή ελαφρώς κραματοποιημένα, τα οποία μάλιστα έχουν
υποστεί κατάλληλες θερμικές κατεργασίες ώστε να μειωθεί όσο το δυνατόν περισσότερο η
πυκνότητα των αταξιών δομής σε αυτά.
Η αύξηση της συχνότητας του εναλλασσόμενου ηλεκτρικού ρεύματος, αυξάνει τις
απώλειες ενέργειας σε ένα μετασχηματιστή με πυρήνα μαλακού μαγνητικού υλικού, καθώς
η αύξησή της συνεπάγεται αύξηση των κύκλων που διαγράφει ο βρόχος υστέρησης στη
μονάδα του χρόνου και άρα και των διαδοχικών μετακινήσεων των τοιχωμάτων των
μαγνητικών περιοχών προς τη μία ή την άλλη κατεύθυνση.
Ένα μεταβαλλόμενο μαγνητικό πεδίο, το οποίο δημιουργείται από κάποιο
εναλλασσόμενο ρεύμα σε έναν μετασχηματιστή με ηλεκτρικά αγώγιμο μαγνητικό πυρήνα,
προκαλεί την ανάπτυξη διαφορών δυναμικού εντός του υλικού, οι οποίες οδηγούν στην
εμφάνιση ρευμάτων. Τα επαγόμενα αυτά ρεύματα ονομάζονται δινορεύματα (eddy
currents) και σε αυτά οφείλονται οι απώλειες ενέργειας με τη μορφή θερμότητας λόγω του
φαινομένου Joule. Οι απώλειες ενέργειας λόγω δινορευμάτων είναι ιδιαίτερα σημαντικές
σε υψηλές συχνότητες λόγω της εκδήλωσης του επιδερμικού φαινομένου. Ενας τρόπος
ώστε να μειωθούν αυτές οι απώλειες είναι η επιλογή μαγνητών από ηλεκτρομονωτικά
υλικά ή υλικών με πολύ μεγάλες τιμές ηλεκτρικής αντίστασης. Μαλακά μαγνητικά υλικά
από σιδηρομαγνητικά οξείδια, τα οποία ως κεραμικά υλικά είναι μονωτικά,
χρησιμοποιούνται για το λόγο αυτό σε πολλές ηλεκτρομαγνητικές εφαρμογές υψηλής
συχνότητας. Επίσης, κατασκευάζονται και χρησιμοποιούνται υλικά για πυρήνες
μετασχηματιστών με στρωματική ή φυλλόμορφη δομή. Τα υλικά αυτά αποτελούνται από
φύλλα σιδηρομαγνητικών υλικών λεπτού πάχους (από κάποια μm έως 1mm), μεταξύ των
οποίων παρεμβάλλεται στρώμα μονωτικού υλικού, το οποίο εμποδίζει τα επαγόμενα
δινορεύματα να κινούνται από το ένα μαγνητικό στρώμα στο άλλο.
5.2.1.1 Μαλακά σιδηρομαγνητικά υλικά
Τα περισσότερα από τα μαλακά σιδηρομαγνητικά υλικά έχουν τη βασική σύσταση

των κυβικών φερριτών (MO•Fe2O3), όπου Μ ένα δισθενές ιόν όπως Fe2+, Mn2+ και Ni2+.
Χρησιμοποιούνται ως πυρήνες μετασχηματιστών, σε εξαρτήματα τηλεοράσεων και
συστημάτων ήχου, μαγνητικές κεραίες, μαγνητικές κεφαλές εγγραφής. Τα υλικά αυτά ως
μονωτικά, έχουν μικρές απώλειες λόγω δινορευμάτων και χρησιμοποιούνται σε εφαρμογές
υψηλών συχνοτήτων.
|222|
Για παράδειγμα, φερρίτες πολυκρυσταλλικού Νi-Zn χρησιμοποιούνται για την
κατασκευή μαγνητικών κεφαλών εγγραφής, διότι οι συχνότητες λειτουργίας είναι πολύ
υψηλές και η χρήση μεταλλικών κραμάτων είναι προβληματική εξ αιτίας των μεγάλων
απωλειών λόγω δινορευμάτων.
Πίνακας 5.1: Ιδιότητες ορισμένων μαλακών μαγνητικών υλικών

Μέγιστη Ένταση Ειδική Απώλειες
μαγνητική συνεκτικού Επαγωγή ηλεκτρική ενέργειας
Υλικό διαπερατότητα πεδίου κορεσμού Bs αντίσταση σε 15 kG
μ H (Α/m) (T) . και 60Hz
max c ρ (μΩ cm) (W/kg)
Χάλυβας Fe- 3
5x10 80 2,1 10 2,8
0,05%C
Μη
3
προσανατολισμένο 7x10 40 2 60 0,9
Fe-Si
Προσανατολισμένο 4
4x10 8 2 47 0,3
Fe-Si
78 Permalloy Ni- 5
10 4 1,1 16 ≈2
22%Fe
Mumetal 77%Ni-
5
16%Fe, 5%Cu, 10 4 0,6 62
2%Cr
Supermalloy
6
79%Ni-16%Fe, 10 0,1 0,8 60
5%Mo
Supermendur 4
6x10 1,6 2,4 27
49%Fe,49%Co,2%V
Άμορφο Fe B 5
80 20 3,2 1,5 ≈200 0,3
3x10
ανοπτημένο
5.2.2 Σκληρά μαγνητικά υλικά
Τα σκληρά μαγνητικά υλικά χαρακτηρίζονται από μεγάλες τιμές έντασης

συνεκτικού πεδίου και μεγάλες τιμές παραμένουσας μαγνητικής επαγωγής. Έτσι, οι βρόχοι
υστέρησης των σκληρών μαγνητικών υλικών είναι ευρείς και υψηλοί και το εμβαδό τους
είναι πολύ μεγαλύτερο από το αντίστοιχο των μαλακών.
Μερικά από τα πιο σημαντικά σκληρά μαγνητικά υλικά είναι τα κράματα
αλουμινίου - νικελίου - κοβαλτίου (ALNICO), τα κράματα σπάνιων γαιών, τα κράματα
νεοδυμίου - σιδήρου - βορίου και τα κράματα σιδήρου - χρωμίου - κοβαλτίου.
Τα υλικά αυτά μαγνητίζονται με τη βοήθεια ενός αρκετά ισχυρού μαγνητικού
πεδίου, ώστε να προσανατολιστούν οι μαγνητικές περιοχές στο εσωτερικό τους σύμφωνα
με τη διεύθυνση του εφαρμοζόμενου πεδίου. Από τη στιγμή που μαγνητίζονται, είναι
δύσκολο να απομαγνητιστούν, οπότε συμπεριφέρονται ως μόνιμοι μαγνήτες. Μέρος της
ενέργειας του πεδίου μετατρέπεται σε δυναμική ενέργεια, η οποία αποθηκεύεται στον
παραγόμενο μόνιμο μαγνήτη. Άρα, ένας μαγνητισμένος μόνιμος μαγνήτης βρίσκεται σε μια
ενεργειακά αναβαθμισμένη κατάσταση συγκριτικά με έναν μη μαγνητισμένο μαγνήτη.
Η ισχύς ενός μόνιμου (σκληρού) μαγνητικού υλικού σχετίζεται άμεσα με το μέγεθος
του βρόχου υστέρησης. Η ισχύς αυτή μετράται από το μέγιστο ενεργειακό γινόμενο
(ΒΗ)max, το οποίο είναι η μέγιστη τιμή του γινομένου της μαγνητικής επαγωγής Β και της
έντασης του πεδίου Η που προσδιορίζεται στο δεύτερο τεταρτημόριο του βρόχου
μαγνήτισης και αντιστοιχεί στην απομαγνήτιση του υλικού.
|223|
Η Εικόνα 5.2 δείχνει τη μεταβολή του γινομένου (ΒΗ) για ένα σκληρό μαγνητικό
υλικό, καθώς και τη μέγιστη τιμή του γινομένου αυτού. Tο μέγιστο ενεργειακό γινόμενο
αντιστοιχεί στο εμβαδόν του μέγιστου ορθογωνίου, το οποίο είναι δυνατό να εγγραφεί στο
δεύτερο τεταρτημόριο του βρόχου υστέρησης του υλικού. Μονάδα μέτρησης του
γινομένου ΒΗ στο διεθνές σύστημα μονάδων είναι το 1J/m3. Στο σύστημα CGS οι
αντίστοιχες μονάδες του ενεργειακού γινομένου είναι G•Oe.
5.2.2.1 Σκληρά σιδηρομαγνητικά υλικά
Μια κατηγορία σκληρών φερριτών που χρησιμοποιούνται ως μόνιμοι μαγνήτες

είναι οι εξαγωνικοί φερρίτες του γενικού τύπου MO 6Fe2O3. O πιο σημαντικός φερρίτης
από την ομάδα αυτή είναι ο φερρίτης βαρίου (ΒaO 6Fe2O3), ο οποίος κατασκευάστηκε το
1952. Πρόσφατα, οι φερρίτες αυτοί άρχισαν να αντικαθίστανται από φερρίτες στροντίου,
με γενικό τύπο (SrO 6Fe2O3) οι οποίοι έχουν καλύτερες μαγνητικές ιδιότητες.
Οι φερρίτες αυτοί είναι χαμηλού κόστους και πυκνότητας και έχουν υψηλή ένταση
συνεκτικού πεδίου. Χρησιμοποιούνται ευρύτατα σε γεννήτριες, διακόπτες και κινητήρες.
Επιπρόσθετα, χρησιμοποιούνται σε εξαρτήματα μηχανισμών θυρών και σε παιχνίδια.
Παράγονται με την τεχνική της κονιομεταλλουργίας, όπου οι σκόνες των υλικών
συμπιέζονται παρουσία μαγνητικού πεδίου, αποκτώντας σημαντική μαγνητοκρυσταλλική
ανισοτροπία.
Εικόνα 5.2: Σχηματική παράσταση της καμπύλης του ενεργειακού γινομένου (ΒΗ) ως προς
τη μαγνητική επαγωγή (Β) ενός σκληρού μαγνητικού υλικού που προσδιορίζεται από το
τεταρτημόριο απομαγνήτισης του βρόχου υστέρησης. Το μέγιστο ενεργειακό γινόμενο (ΒΗ)max
αποτελεί μέτρο της ισχύος του μαγνητικού υλικού
|224|
Πίνακας 5.2: Ιδιότητες ορισμένων σκληρών μαγνητικών υλικών
Παραμένουσα Ένταση συνεκτικού Μέγιστο ενεργειακό
Υλικό επαγωγή πεδίου γινόμενο (ΒΗ)
max
Βr (Τ) H (Α/m) 3
c (kJ/m )
3
Χάλυβας Fe-1%C 0,9 4x10 1,6
36Co χάλυβας: 36Co - 3,75W - 4
0,96 1,8x10 7,4
5,75Cr - 0,8 C
4
Alnico 2: 12Al, 26Ni, 3Cu, 63Fe 0,7 5,2x10 13
Alnico 5: 8Al, 15Ni, 24Co, 3Cu, 4
1,2 5,7x10 40
50Fe
Alnico 5 DG 4
1,3 5,6x10 52
(προσανατολισμένων κόκκων)
. 5
Φερρίτης Βa (ΒaO 6Fe O ) 0,4 1,9x10 28
2 3
5
77Pt, 23Co 0,6 3,4x10 76
4
Remalloy: 12Co, 17Mo, 71Fe 1 1,8x10 8,7
4
Vicalloy 2: 13V, 52Co, 35Fe 1 3,6x10 24
5
Sm Co 0,9 6,9x10 159
5
6
Fe Nd B 1,3 1,1x10 318
14 2 1
Alnico: κράμα Al-Ni-Co-Fe που χρησιμοποιείται για την κατασκευή ισχυρών μόνιμων μαγνητών που είναι έως
και 25 φορές ισχυρότεροι από τους χαλύβδινους μαγνήτες.
5.3 Καμπύλη μαγνήτισης
Κατά την επίδραση ενός μαγνητικού πεδίου σε ένα σιδηρομαγνητικό υλικό οι

μαγνητικές περιοχές αρχίζουν να προσανατολίζονται παράλληλα προς αυτό. Αρχικά, οι
περιοχές των οποίων οι μαγνητικές ροπές είναι ευνοϊκά προσανατολισμένες ως προς το
πεδίο επεκτείνονται σε βάρος των περιοχών με διαφορετικό προσανατολισμό. Η ανάπτυξη
αυτή των περιοχών γίνεται με μετατόπιση των τοιχωμάτων τους. Στην αρχή αυτό γίνεται με
ιδιαίτερη δυσκολία και μπορεί να απαιτηθεί μεγάλη αύξηση της έντασης του μαγνητικού
πεδίου προκειμένου να προκληθεί μια μικρή μαγνήτιση. Αυτό φαίνεται από τη μικρή κλίση
της γραφικής παράστασης της επαγωγής Β ή της μαγνήτισης Μ με την ένταση του
μαγνητικού πεδίου (Εικόνα 5.3). Στη συνέχεια, καθώς αυξάνεται η ένταση του πεδίου, η
ανάπτυξη των περιοχών αυτών γίνεται ευκολότερα. Επομένως, αυξάνεται η αντίστοιχη
κλίση της γραφικής παράστασης και η μαγνητική επιδεκτικότητα. Όταν ολοκληρωθεί η
ανάπτυξη των ευνοϊκά προσανατολισμένων περιοχών και αυξηθεί σημαντικά η ένταση του
εφαρμοζόμενου πεδίου, αρχίζει να συμβαίνει περιστροφή των μαγνητικών περιοχών,
γεγονός που απαιτεί σημαντικά μεγαλύτερη ενέργεια από αυτή για την ανάπτυξη των
ευνοϊκά προσανατολισμένων μαγνητικών περιοχών, με αποτέλεσμα η κλίση της καμπύλης
Β ή Μ ως προς Η να μειώνεται. Αυτό συνεχίζεται μέχρι όλες σχεδόν οι περιοχές να
προσανατολιστούν παράλληλα προς το πεδίο, οπότε και το υλικό αποκτά μια μέγιστη
μαγνητική επαγωγή η οποία ονομάζεται μαγνητική επαγωγή κορεσμού. Η καμπύλη της
Εικόνας 5.3 αποτελεί την καμπύλη της αρχικής μαγνήτισης ενός σιδηρομαγνητικού υλικού.
Μειώνοντας τώρα την ένταση του μαγνητικού πεδίου προς το μηδέν, η καμπύλη
μεταβολής της μαγνήτισης δεν ακολουθεί αυτή της αρχικής μαγνήτισης και μάλιστα όταν η
ένταση του πεδίου μηδενιστεί παραμένει στο υλικό μια ποσότητα μαγνητικής επαγωγής
που ονομάζεται παραμένουσα επαγωγή. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται υστέρηση και η
παραμένουσα επαγωγή σημαίνει ότι παρά το μηδενισμό της έντασης του πεδίου, ένας
αριθμός μαγνητικών περιοχών με προσανατολισμό σύμφωνο με τη διεύθυνση του πεδίου
παραμένει στο υλικό.
|225|
Για το μηδενισμό της επαγωγής του υλικού, απαιτείται η εφαρμογή ενός αντίθετου
πεδίου έντασης Ηc, το οποίο ονομάζεται συνεκτικό πεδίο ή μηδενίζουσα διέγερση. Εάν η
ένταση του αντίθετου πεδίου αυξηθεί ακόμα περισσότερο, το υλικό τελικά θα φθάσει στη
κατάσταση μαγνητικού κορεσμού στο αντίθετο πεδίο. Με την απομάκρυνση του αντίθετου
πεδίου, η μαγνητική επαγωγή παίρνει τη τιμή της παραμένουσας επαγωγής και στη
συνέχεια, εάν εφαρμοστεί θετικό πεδίο, η καμπύλη Β-Η θα ακολουθήσει την καμπύλη
ολοκληρώνοντας έναν πλήρη κύκλο. Η κλειστή καμπύλη ονομάζεται βρόχος υστέρησης
και σε οποιαδήποτε περαιτέρω επιβολή στο υλικό ενός μεταβαλλόμενου πεδίου, η
μαγνητική επαγωγή θα ακολουθεί το βρόχο αυτό.
Το εμβαδόν του βρόχου υστέρησης αποτελεί μέτρο των απωλειών ενέργειας σε ένα
πλήρη κύκλο μαγνήτισης και απομαγνήτισης του υλικού.
Εάν επαναληφθεί η διαδικασία με διαφορετικά υλικά, παρατηρεί κανείς ότι τα
μαγνητικώς μαλακά υλικά έχουν λεπτό και όρθιο βρόχο, μεγάλη μαγνητική διαπερατότητα,
μικρή παραμένουσα μαγνήτιση, μικρή συγκρατησιμότητα και μικρό συνεκτικό πεδίο.
Αντίθετα, τα μαγνητικώς σκληρά υλικά έχουν φαρδύ και πλαγιαστό βρόχο, μικρή
μαγνητική διαπερατότητα, μεγάλη παραμένουσα μαγνήτιση, μεγάλη συγκρατησιμότητα
και μεγάλο συνεκτικό πεδίο.
Εικόνα 5.3: Καμπύλη αρχικής μαγνήτισης ενός σιδηρομαγνητικού υλικού. Σχηματική

αναπαράσταση της ανάπτυξης και περιστροφής των μαγνητικών περιοχών κατά τη μαγνήτιση
μέχρι κορεσμού υπό την επίδραση ενός μαγνητικού πεδίου
|226|
|227|
Εικόνα 5.4: Καμπύλη μαγνήτισης και απομαγνήτισης του μαλακού σιδήρου
Εικόνα 5.5: Βρόχος μαγνήτισης
Εικόνα 5.6: Πυκνότητα μαγνητικού πεδίου ανάλογα με το υλικό
|228|
5.4 Θερμοκρασία Curie
Σε ένα σιδηρομαγνητικό υλικό, η αύξηση της θερμοκρασίας αυξάνει τη θερμική

κίνηση των ατόμων με αποτέλεσμα τη δυσκολία ευθυγράμμισης των ατομικών μαγνητικών
ροπών στις μαγνητικές περιοχές. Όταν η θερμοκρασία φθάσει μια κρίσιμη τιμή Τc, η οποία
ονομάζεται θερμοκρασία Curie, οι μαγνητικές ροπές των ατόμων αποπροσανατολίζονται
και παρατηρείται μετάβαση από τη σιδηρομαγνητική στην παραμαγνητική συμπεριφορά. Η
μαγνητική επαγωγή κορεσμού στη θερμοκρασία Curie μηδενίζεται, όπως φαίνεται στην
Εικόνα 5.7, η οποία απεικονίζει τη μεταβολή της μαγνητικής επαγωγής ενός
σιδηρομαγνητικού υλικού σε συνάρτηση με τη θερμοκρασία.
Όταν το υλικό ψυχθεί σε θερμοκρασία χαμηλότερη της θερμοκρασίας Curie, οι
μαγνητικές περιοχές ξανασχηματίζονται και το υλικό επανακτά τις σιδηρομαγνητικές του
ιδιότητες. Οι θερμοκρασίες Curie των κυριότερων σιδηρομαγνητικών στοιχείων είναι: για
το σίδηρο 770°C, για το κοβάλτιο 1.131°C και για το νικέλιο 358°C. Η θερμοκρασία Curie
πρέπει να λαμβάνεται υπόψη όταν χρησιμοποιούνται σιδηρομαγνητικά υλικά σε διάφορες
διατάξεις, ώστε εάν απαιτείται, τα υλικά αυτά να διατηρούν τις μαγνητικές τους ιδιότητες
στις θερμοκρασίες που αναπτύσσονται. Συνεπώς, πρέπει να έχουν θερμοκρασία Curie
σημαντικά μεγαλύτερη της θερμοκρασίας λειτουργίας τους. Αντίθετα, εάν η μαγνητική
συμπεριφορά τους δεν είναι επιθυμητή (π.χ. σε όργανα μετρήσεων), η θερμοκρασία Curie
πρέπει να είναι μικρότερη της θερμοκρασίας χρήσης τους. Η θερμοκρασία Curie ενός
υλικού μπορεί να τροποποιηθεί με κατάλληλη κραματοποίηση.
Εικόνα 5.7: Μεταβολή της μαγνητικής επαγωγής κορεσμού σιδηρομαγνητικού υλικού σε

συνάρτηση με τη θερμοκρασία. Η σιδηρομαγνητική συμπεριφορά μηδενίζεται πάνω από τη
θερμοκρασία Curie (Tc). Οι στοιχειώδεις ατομικές μαγνητικές ροπές σημειώνονται με βέλη
|229|
6. ΗΛΕΚΤΡΟΜΑΓΝΗΤΙΣΜΟΣ
Εάν διοχετευθεί ηλεκτρικό ρεύμα εντάσεως I σε ένα μακρύ ευθύγραμμο αγωγό,

τότε παράγεται μαγνητικό πεδίο γύρω από αυτόν με δυναμικές γραμμές οι οποίες
διατάσσονται σε ομόκεντρες περιφέρειες κύκλων γύρω από τον αγωγό. Οι δυναμικές
γραμμές σε κάθε σημείο του αγωγού, βρίσκονται σε επίπεδο κάθετο προς τον αγωγό.
Συνεπώς, γίνεται αναφορά για «κυκλικό μαγνητικό πεδίο» (circular magnetic field), σε
αντίθεση με την περίπτωση του ραβδόμορφου ή πεταλοειδούς μαγνήτη, όπου υπάρχει
«διαμήκες μαγνητικό πεδίο» (longitudinal magnetic field).
Η ένταση του μαγνητικού πεδίου είναι ανάλογη της έντασης του ρεύματος Ι και
αντιστρόφως ανάλογη της απόστασης r από το κέντρο του αγωγού. Όσον αφορά τη
διεύθυνση και τη φορά του διανύσματος της έντασης του μαγνητικού πεδίου και εφόσον
θεωρηθεί ως συμβατική, η φορά του ηλεκτρικού ρεύματος από το (+) προς το (-),
εφαρμόζεται ο κανόνας του δεξιού χεριού (Εικόνα 6.1).
Εικόνα 6.1: Κανόνας δεξιού χεριού
6.2 Μαγνητικό πεδίο σωληνοειδούς
Καλείται σωληνοειδές (solenoid) ή ευθύγραμμο πηνίο (Εικόνα 6.2), η διάταξη που

λαμβάνεται εάν τυλιχθεί ένας αγωγός γύρω από έναν κύλινδρο. Κατά τη διοχέτευση
ηλεκτρικού ρεύματος στον αγωγό, παράγεται μαγνητικό πεδίο με χαρακτηριστικά διπόλου,
δηλαδή παρουσιάζονται δύο ετερώνυμοι μαγνητικοί πόλοι, όπως και στην περίπτωση του
ραβδόμορφου μαγνήτη. Το μαγνητικό πεδίο του σωληνοειδούς προκύπτει από την
πρόσθεση των μαγνητικών πεδίων που παράγονται σε κάθε σπείρα.
Εάν θεωρηθεί συμβατική η φορά του ηλεκτρικού ρεύματος από το (+) στο (-), τότε
αναφορικά με τη διεύθυνση και φορά του μαγνητικού πεδίου στο εσωτερικό του
σωληνοειδούς, ισχύει ο κανόνας του δεξιού χεριού. Η ένταση του μαγνητικού πεδίου στο
εσωτερικό ενός σωληνοειδούς με μεγάλο μήκος (τουλάχιστον πενταπλάσιο της διαμέτρου
των σπειρών) είναι ανάλογη του αριθμού των σπειρών αλλά και της έντασης του
ηλεκτρικού ρεύματος. Πρακτικά, η αύξηση της διαμέτρου του πηνίου με σταθερή ένταση
ρεύματος συνεπάγεται ελάττωση της έντασης του μαγνητικού πεδίου.
Εικόνα 6.2: Το σωληνοειδές ισοδυναμεί με ευθύγραμμο μαγνήτη
|230|
6.3 Ηλεκτρομαγνήτες
Στο εσωτερικό ενός σωληνοειδούς μεγάλου μήκους εισάγεται μία ράβδος μαλακού
σιδήρου. Εάν διοχετευθεί ρεύμα στον αγωγό του σωληνοειδούς, η ράβδος μαγνητίζεται
ισχυρά λόγω μαγνητικής επαγωγής, παρουσιάζοντας πόλους στα σημεία των πόλων του
σωληνοειδούς. Η διάταξη αυτή αποτελεί ένα ηλεκτρομαγνήτη. Η μαγνήτιση του μαλακού
σιδήρου είναι παροδική και διαρκεί όσο και η διέλευση του ρεύματος.
Εικόνα 6.3: Το σωληνοειδές ισοδυναμεί με ευθύγραμμο μαγνήτη
Η μαγνητική επαγωγή είναι ανάλογη του ηλεκτρικού ρεύματος, του αριθμού των
σπειρών του πηνίου και της μαγνητικής διαπερατότητας του σιδήρου. Εάν αντί για μαλακό
σίδηρο, τοποθετηθεί στο εσωτερικό του πηνίου ένα σιδηρομαγνητικά σκληρό υλικό (π.χ.
χάλυβας υψηλού άνθρακα), τότε αυτό μετατρέπεται σε μόνιμο μαγνήτη. Επιπρόσθετα,
τοποθετώντας ένα σιδηρούχο πυρήνα εντός του πηνίου, το μαγνητικό πεδίο ενισχύεται-
αυξάνεται εκατοντάδες φορές.
Εικόνα 6.4: Ηλεκτρομαγνήτης
|231|
6.4 Τύποι ρεύματος
Το ηλεκτρικό ρεύμα χρησιμοποιείται συχνά για να δημιουργήσει το μαγνητικό

πεδίο στα δοκίμια κατά τη διάρκεια επιθεώρησης με τη μέθοδο των μαγνητικών
σωματιδίων. Το εναλλασσόμενο και συνεχές ρεύμα είναι οι δύο βασικοί τύποι ρεύματος
που χρησιμοποιούνται από μονοφασικό 110Volts έως τριφασικό 440Volts. Ο τύπος
ρεύματος συχνά τροποποιείται ώστε να παρέχεται το κατάλληλο πεδίο μέσα στο
εξεταζόμενο δοκίμιο. Επιπρόσθετα, ο τύπος του χρησιμοποιούμενου ρεύματος επηρεάζει
τα αποτελέσματα των επιθεωρήσεων. Ακολουθεί μία σύντομη περιγραφή των τύπων
ρεύματος που χρησιμοποιούνται στην επιθεώρηση με τη μέθοδο των μαγνητικών
σωματιδίων.
Συνεχές Ρεύμα - Direct current (DC)

Στο συνεχές ρεύμα (DC), το ηλεκτρικό φορτίο ρέει συνεχώς προς μία κατεύθυνση
υπό σταθερή τάση. Μια μπαταρία αποτελεί την πιο απλή πηγή συνεχούς ρεύματος. Όπως
ήδη αναφέρθηκε, το ρεύμα «ρέει» προς μία διεύθυνση, δηλαδή από το θετικό στον
αρνητικό πόλο (συμβατική φορά). Στην πραγματικότητα, τα ηλεκτρόνια ρέουν αντίθετα,
δηλαδή από τον αρνητικό προς τον θετικό πόλο (πραγματική φορά). Η επιθεώρηση
υποεπιφανειακών ασυνεχειών συνιστάται να γίνεται με συνεχές ρεύμα, επειδή παράγει
μαγνητικό πεδίο που διεισδύει βαθύτερα στο δοκίμιο. Στα σιδηρομαγνητικά υλικά, το
μαγνητικό πεδίο που παράγεται από το συνεχές ρεύμα διεισδύει γενικά στο σύνολο της
διατομής του δοκιμίου. Αντιθέτως, το μαγνητικό πεδίο που παράγεται με τη χρήση
εναλλασσόμενου ρεύματος συγκεντρώνεται σε ένα λεπτό επιφανειακό στρώμα του
δοκιμίου.
Εναλλασσόμενο Ρεύμα - Alternating current (AC)

Στο εναλλασσόμενο ρεύμα, το ηλεκτρικό φορτίο αντιστρέφει τη διεύθυνση του με
ένα ρυθμό της τάξεως των 50 (στην Ευρώπη) ή 60 (στις Η.Π.Α) κύκλων ανά δευτερόλεπτο
(50Hz - 60Hz). Καθώς το εναλλασσόμενο ρεύμα είναι άμεσα διαθέσιμο στις περισσότερες
βιομηχανικές και οικιακές εγκαταστάσεις, η χρήση του είναι πρακτικότερη κατά την
επιθεώρηση με μαγνητικά σωματίδια. Ωστόσο, όπως προαναφέρθηκε, η χρήση του επάγει
ένα μαγνητικό πεδίο το οποίο περιορίζεται σε μία στενή περιοχή στην επιφάνεια του
δοκιμίου. Αυτό οφείλεται στο λεγόμενο επιδερμικό φαινόμενο (skin effect), το οποίο
συμβαίνει επειδή το μεταβαλλόμενο μαγνητικό πεδίο δημιουργεί δινορεύματα (eddy
currents) στο εξεταζόμενο δοκίμιο. Τα δινορεύματα παράγουν ένα μαγνητικό πεδίο που
αντιτίθεται στο πρωτογενές πεδίο, μειώνοντας με αυτό τον τρόπο την καθαρή μαγνητική
ροή κάτω από την επιφάνειά του. Ως εκ τούτου, η χρήση εναλλασσόμενου ρεύματος
συνιστάται μόνο όταν ο έλεγχος περιορίζεται στην ανίχνευση επιφανειακών ασυνεχειών.
Ανορθωμένο Εναλλασσόμενο Ρεύμα - Rectified Alternating Current

Η επίδραση του επιδερμικού φαινομένου περιορίζει τη χρήση του εναλλασσόμενου
ρεύματος, δεδομένου ότι πολλές εφαρμογές απαιτούν επιθεώρηση για την ανίχνευση
υποεπιφανειακών ασυνεχειών. Το εναλλασσόμενο ρεύμα μπορεί να μετατραπεί σε ρεύμα
που μοιάζει πολύ με το συνεχές μέσω της διαδικασίας ανόρθωσης. Με τη χρήση των
ανορθωτών, η αντιστροφή της διεύθυνσης του εναλλασσόμενου ρεύματος μπορεί να
αντιμετωπιστεί, μετατρέποντάς το σε ρεύμα μίας διεύθυνσης. Οι τρεις τύποι ανόρθωσης
του εναλλασσόμενου ρεύματος που συνήθως χρησιμοποιούνται περιγράφονται στη
συνέχεια.
|232|
Ημιανορθωμένο Εναλλασσόμενο Ρεύμα - Half Wave Rectified Alternating Current
(HWAC)
Όταν μονοφασικό εναλλασσόμενο ρεύμα διέρχεται από έναν ανορθωτή, στο ρεύμα
«επιτρέπεται» η ροή του προς μία μόνο κατεύθυνση (μόνο τη θετική, αποκλείοντας την
αρνητική). Έτσι λοιπόν, παράγεται ρεύμα μίας κατεύθυνσης ή αλλιώς παλμικό ρεύμα. Το
ρεύμα αυξάνεται από μηδέν έως ένα μέγιστο και στη συνέχεια επιστρέφει στο μηδέν. Δεν
υπάρχει ρεύμα κατά τη διάρκεια της αντιστροφής του κύκλου καθώς αυτό είναι
αποκλεισμένο. Το ημιανορθωμένο ρεύμα επαναλαμβάνει τον ίδιο ρυθμό αντιστροφής της
πολικότητας όπως το εναλλασσόμενο ρεύμα (50Hz στην Ευρώπη) λαμβάνοντας όμως το
ήμισυ της έντασής του στην έξοδο συγκριτικά με το εναλλασσόμενο (AC).
Το ημιανορθωμένο εναλλασσόμενο ρεύμα συχνά απαντάται ως ημιανορθωμένο ή
παλμικό συνεχές ρεύμα (DC). Αυτή η παλμικότητα του ημιανορθωμένου εναλλασσόμενου
ρεύματος (HWAC), βοηθά τα μαγνητικά σωματίδια αυξάνοντας την κινητικότητά τους.
Αυτή η αύξηση της κινητικότητας είναι ιδιαίτερα σημαντική ιδίως στην ξηρή μέθοδο των
μαγνητικών σωματιδίων.
Η παλμικότητα αυτή βελτιώνει σημαντικά την ευαισθησία κατά την επιθεώρηση. Το
ημιανορθωμένο εναλλασσόμενο ρεύμα χρησιμοποιείται πιο συχνά στους ηλεκτρομαγνήτες
ΥΟΚΕ.
Πλήρως Ανορθωμένο Εναλλασσόμενο Ρεύμα Μίας Φάσης - Full Wave Rectified

Alternating Current (FWAC) (Single Phase)
Η πλήρης ανόρθωση αναστρέφει το αρνητικό ρεύμα σε θετικό αντί να το αποκλείει.
Αυτό παράγει ένα παλλόμενο συνεχές ρεύμα (DC) χωρίς παύση μεταξύ των παλμών. Το
φιλτράρισμα γίνεται συνήθως για να μειωθεί η απότομη εναλλαγή της πολικότητας του
ανορθωμένου ρεύματος. Αν και η κινητικότητα των μαγνητικών σωματιδίων δεν είναι τόσο
καλή όσο στο ημιανορθωμένο εναλλασσόμενο ρεύμα (HWAC) λόγω της μείωσης της
παλμικότητας, εντούτοις η διείσδυση του μαγνητικού πεδίου είναι βελτιωμένη.
Πλήρως Ανορθωμένο Εναλλασσόμενο Ρεύμα Τριών Φάσεων - Three Phase Full Wave
Rectified Alternating Current
Τριφασικό ρεύμα χρησιμοποιείται συχνά στην τροφοδοσία του βιομηχανικού
εξοπλισμού, καθώς παρέχει ευνοϊκότερη και ισχυρότερη μεταφορά της ισχύος. Αυτό το
είδος του ηλεκτρικού ρεύματος συνίσταται στον έλεγχο με μαγνητικά σωματίδια διότι,
όταν ανορθώνεται και φιλτράρεται, το προκύπτον ρεύμα μοιάζει πολύ με το συνεχές (DC).
Ο σταθερός εξοπλισμός μαγνητικών σωματιδίων με τριφασικό εναλλασσόμενο ρεύμα έχει
συνήθως τη δυνατότητα να μαγνητίζει με εναλλασσόμενο ή συνεχές ρεύμα (τριφασικό
πλήρως ανορθωμένο), παρέχοντας στον επιθεωρητή τα πλεονεκτήματα του εκάστοτε
επιλεγμένου τύπου ρεύματος.
Η μαγνήτιση ενός αγωγού εξαρτάται από τη μέγιστη τιμή της έντασης Ι του
ρεύματος. Εφόσον χρησιμοποιείται συνεχές ρεύμα, η ένδειξη του αμπερομέτρου δείχνει
αυτή τη μέγιστη τιμή. Στην περίπτωση όμως χρήσης εναλλασσόμενου ρεύματος (AC), τα
αμπερόμετρα είναι συνήθως τύπου RMS (root mean square) και δείχνουν την ενεργό τιμή,
όπου Ιεν = 0,707•Ιmax.
|233|
Εικόνα 6.5: Τύποι ρεύματος
6.5 Σύγκριση ενδείξεων χρησιμοποιώντας διαφορετικούς τύπους ρεύματος
Στην Εικόνα 6.6 γίνεται σύγκριση των λεπτών επιφανειακών ρηγμάτων ενός
στιλβωμένου πείρου εμβόλου, με τη χρήση εναλλασσόμενου ρεύματος, συνεχούς ρεύματος
και ανορθωμένου τριφασικού εναλλασσόμενου ρεύματος αντίστοιχα. Χρησιμοποιήθηκαν
τέσσερις τιμές ρεύματος σε κάθε περίπτωση με την τεχνική κεντρικού αγωγού. Οι ενδείξεις
που παράγονται με εναλλασσόμενο ρεύμα είναι εντονότερες από τις ενδείξεις με συνεχές
ρεύμα σε όλες τις τιμές ρεύματος, αν και η διαφορά είναι πιο έντονη στις χαμηλότερες
τιμές ρεύματος. Οι ενδείξεις με συνεχές και ανορθωμένο τριφασικό ρεύμα είναι
συγκρίσιμες σε όλες τις περιπτώσεις.
Εικόνα 6.6: Σύγκριση των ενδείξεων από επιφανειακά ρήγματα σε δοκίμιο το οποίο
μαγνητίστηκε με εναλλασσόμενο, συνεχές και τριφασικό ανορθωμένο εναλλασσόμενο ρεύμα
|234|
6.6 Επιδερμικό φαινόμενο
Η αντίσταση ενός αγωγού ο οποίος διαρρέεται από εναλλασσόμενο ρεύμα είναι

μεγαλύτερη από την αντίσταση του ίδιου αγωγού όταν αυτός διαρρέεται από συνεχές
ρεύμα. Η διαφορά αυτή στην αντίσταση ενός αγωγού οφείλεται αποκλειστικά στη
διαφορετική κατανομή της πυκνότητας του ρεύματος πάνω στη διατομή του αγωγού. Στο
εναλλασσόμενο ρεύμα παρατηρείται μεγαλύτερη πυκνότητα ρεύματος στην επιφάνεια των
αγωγών από ότι στο κέντρο τους. Το φαινόμενο αυτό χαρακτηρίζεται με τον όρο
επιδερμικό φαινόμενο. Το επιδερμικό φαινόμενο οφείλεται σε επαγωγικά φαινόμενα τα
οποία προκαλούνται από το χρονικά μεταβαλλόμενο ηλεκτρικό ρεύμα.
Όπως γίνεται σαφές, λόγω του επιδερμικού φαινομένου το ρεύμα δε διαρρέει
ολόκληρη τη διατομή ενός αγωγού. Ένα μέγεθος που χαρακτηρίζει το εύρος του
επιδερμικού φαινομένου είναι το βάθος διείσδυσης δ (επιδερμικό βάθος). Σε απόσταση δ
από την επιφάνεια του αγωγού, η πυκνότητα του ρεύματος έχει τιμή ίση με το 1/e της
αρχικής της τιμής στη επιφάνεια του αγωγού.
Το βάθος διείσδυσης δίνεται από τον τύπο:
ρ
δ = (--------------------)1/2
π•f•μ
Όπου:
δ: βάθος διείσδυσης
ρ: η ειδική αντίσταση του υλικού
μ: η μαγνητική διαπερατότητα του υλικού
f: η συχνότητα
Από τη βιβλιογραφία είναι γνωστό ότι η επίδραση του επιδερμικού φαινομένου

είναι σημαντική ιδιαίτερα για μεγάλες διατομές αγωγών στις οποίες η κατανομή της
πυκνότητας ρεύματος καλύπτει μόνο τα στρώματα κοντά στην επιφάνεια. Με την αύξηση
της διατομής του αγωγού, το επιδερμικό φαινόμενο γίνεται ισχυρότερο. Για τις διατομές
των αγωγών μέσης τάσης, η επίδραση του επιδερμικού φαινομένου κατά τη μελέτη
θερμικής καταπόνησης των αγωγών θεωρείται αμελητέα.
Εδώ πρέπει να σημειωθεί ότι οι επιπτώσεις του επιδερμικού φαινομένου είναι πιο
σημαντικές σε χαμηλές θερμοκρασίες, διότι αυξάνει η μέση ελεύθερη διαδρομή των
ηλεκτρονίων και μπορεί να φθάσει την τάξη μεγέθους του πάχους του αγώγιμου
επιφανειακού στρώματος, με αποτέλεσμα τη μεγάλη αύξηση της ηλεκτρικής αντίστασης
του αγωγού. Επιπρόσθετα, το επιδερμικό φαινόμενο του εναλλασσόμενου ρεύματος είναι
μικρότερο στις χαμηλές συχνότητες με αποτέλεσμα τη βαθύτερη διείσδυση των
μαγνητικών δυναμικών γραμμών. Στα 25Hz, η διείσδυση είναι πολύ βαθύτερη και σε
συχνότητες από 10Hz και κάτω, η επίδραση του επιδερμικού φαινομένου είναι σχεδόν
ανύπαρκτη.
Στην περίπτωση ενός πηνίου, ο συνδυασμός του εναλλασσόμενου ρεύματος και της
αυτεπαγωγής του πηνίου δημιουργεί το επιδερμικό φαινόμενο στο υλικό που μαγνητίζεται,
δηλαδή η μαγνητική ροή είναι ισχυρότερη στην εξωτερική επιφάνεια του υλικού.
Το ημιανορθωμένο ρεύμα παρουσιάζει λιγότερο έντονο επιδερμικό φαινόμενο και
άρα μεγαλύτερη διείσδυση της μαγνήτισης, ενώ το συνεχές δίνει τη μέγιστη διείσδυση.
Γενικά, κατά τη μαγνήτιση με εναλλασσόμενο ηλεκτρικό ρεύμα, η μαγνητική
επαγωγή έχει μεγαλύτερη τιμή κοντά στην επιφάνεια (επιδερμίδα) του υλικού, ενώ με
|235|
ημιανορθωμένο ή συνεχές ηλεκτρικό ρεύμα επιτυγχάνεται μεγαλύτερη διείσδυση της
μαγνήτισης στο εσωτερικό της διατομής του υλικού.
Εικόνα 6.7: Επιδερμικό φαινόμενο με συνεχές και εναλλασσόμενο ρεύμα
6.7 Ανιχνευσιμότητα ασυνεχειών
Διάφοροι παράγοντες επηρεάζουν την ευαισθησία της μεθόδου των μαγνητικών

σωματιδίων όπως η μέθοδος και η τεχνική που χρησιμοποιούνται, το είδος και οι ιδιότητες
των σωματιδίων καθώς και η μαγνητική διαπερατότητα του υλικού. Συνήθως, απαιτείται
σχετική μαγνητική διαπερατότητα του δοκιμίου τουλάχιστον ίση με 250 και μάλιστα για
μεγαλύτερη ευαισθησία άνω του 500. Συχνά, η μαγνητική διαπερατότητα λαμβάνει τιμές
άνω του 1500.
Όσον αφορά στις ίδιες τις ασυνέχειες, υπάρχει επίσης σειρά παραγόντων που
καθορίζουν την ανιχνευσιμότητά τους. Στη συνέχεια παρατίθενται οι κυριότεροι:
 Το μέγεθος, το σχήμα και ο προσανατολισμός της ασυνέχειας. Είναι σημαντικό να
διακόπτεται μεγάλος αριθμός δυναμικών γραμμών, ώστε το διαρρέον μαγνητικό
πεδίο να είναι αρκετά ισχυρό. Ευνοούνται ασυνέχειες με μεγάλο μήκος, επιμήκεις
(μεγάλου λόγου ύψους προς πλάτος) και προσανατολισμένες κάθετα στη διεύθυνση
του μαγνητικού πεδίου, όπως και ασυνέχειες μεγάλου ύψους (βάθους).
 Το άνοιγμα της ασυνέχειας στην επιφάνεια δεν πρέπει να είναι αρκετά μεγάλο.
Στενές ασυνέχειες παράγουν ισχυρότερη ένδειξη.
 Η αιχμηρότητα των άκρων της ασυνέχειας, ιδιαίτερα για υποεπιφανειακές
ασυνέχειες. Γενικά ευνοούνται ασυνέχειες αιχμηρών άκρων παρά
στρογγυλευμένων.
 Το βάθος της ασυνέχειας, κάτω από την επιφάνεια του δοκιμίου (προκειμένου για
υποεπιφανειακές ασυνέχειες). Ωστόσο, δεν αποτελεί τον κρισιμότερο παράγοντα.
 Η μαγνητική διαπερατότητα του υλικού (ευνοούνται ασυνέχειες με παραμαγνητικό
ή διαμαγνητικό υλικό).
6.8 Προκαθορισμός και προετοιμασία επιφάνειας
Οι περιοχές που επιθεωρούνται πρέπει να είναι απαλλαγμένες από ακαθαρσίες,

σκουριές, γρέζια, λίπη, λάδια, πιτσιλίσματα (spatters) συγκολλήσεων και άλλες ξένες ύλες
οι οποίες, είναι δυνατόν να επηρεάσουν την ευαισθησία του ελέγχου. Εφόσον ολοκληρωθεί
ο καθαρισμός τους, πρέπει να ακολουθεί ξήρανση.
Ο προκαθαρισμός γίνεται με τη χρήση απορρυπαντικών, με οργανικούς διαλύτες,
διαλύτες αφαίρεσης χρωμάτων, με ατμοκαθαρισμό, αμμοβολή, καθαρισμό με υπέρηχους,
μηχανικό καθαρισμό, καθώς και με οποιοδήποτε μέσο το οποίο δεν επηρεάζει την
εφαρμογή της μεθόδου των μαγνητικών σωματιδίων.
Λεπτές επιστρώσεις από κάδμιο, χρώμιο ή μία μόνο στρώση βαφής, εφόσον είναι σε
καλή κατάσταση, δεν επηρεάζουν τη διαδικασία ελέγχου και επομένως δεν είναι αναγκαίο
να αφαιρεθούν. Δοκίμια ή τμήματα αυτών που έχουν υποστεί επιδιορθώσεις στην αρχική
|236|
λεπτή στρώση βαφής, μπορεί να απαιτούν αφαίρεση της. Μη σιδηρομαγνητικές
επιστρώσεις πάχους έως περίπου 50μm, όπως αδιάσπαστες ισχυρά προσκολλημένες
στρώσεις βαφής, δεν επηρεάζουν συνήθως την ευαισθησία ανίχνευσης.
Διάφορες δοκιμές έχουν δείξει ότι κάθε είδους μη μαγνητικές επιστρώσεις πάχους
άνω των 0,076mm (0,003inch), ενδέχεται να επηρεάσουν σοβαρά το σχηματισμό των
ενδείξεων από τα μαγνητικά σωματίδια σε πολύ μικρές ασυνέχειες. Παχύτερες επιστρώσεις
μειώνουν την ευαισθησία. Υπό αυτές τις συνθήκες, πρέπει να επαληθεύεται η ευαισθησία
του ελέγχου. Οι απαιτήσεις ποιότητας επιφάνειας εξαρτώνται από το μέγεθος και τον
προσανατολισμό των ασυνεχειών που πρόκειται να ανιχνευθούν. Επίσης, οι επιφάνειες
πρέπει να είναι προετοιμασμένες, έτσι ώστε οι σχετικές ενδείξεις να μπορούν να
διακριθούν με σαφήνεια από τις αντίστοιχες ψευδείς.
Πρέπει να υπάρχει επαρκής οπτική αντίθεση μεταξύ των ενδείξεων και της
επιθεωρούμενης επιφάνειας. Για την τεχνική ορατών μαγνητικών σωματιδίων (όχι
φθοριζόντων), μπορεί να είναι απαραίτητο να εφαρμόζεται μία ομοιόμορφη λεπτή στρώση
εγκεκριμένης βαφής για την ενίσχυση της αντίθεσης. Είναι πιθανό να απαιτείται για τη
βελτίωση της κατάστασης της επιφάνειας η χρήση γυαλόχαρτου ή τοπική λείανση ώστε να
επιτρέπεται η ακριβής ερμηνεία των ενδείξεων. Σε κάθε περίπτωση, ο προκαθαρισμός ή η
προετοιμασία της επιφάνειας του δοκιμίου δεν πρέπει να είναι επιζήμια για το δοκίμιο ή
την ποιότητα της επιφάνειας του.
6.9 Διαμήκης και κυκλική μαγνήτιση
Υπάρχουν δύο βασικά είδη μαγνητικού πεδίου που χρησιμοποιούνται στη μέθοδο
των μαγνητικών σωματιδίων:
 Το «διαμήκες» (longitudinal), όπου οι δυναμικές γραμμές σχηματίζουν κλειστό
βρόχο εξερχόμενες από το δοκίμιο (βόρειος μαγνητικός πόλος) και εισερχόμενες
πάλι σε αυτό (νότιος μαγνητικός πόλος).
 Το «κυκλικό» (circular), στο οποίο οι δυναμικές γραμμές σχηματίζουν ομόκεντρους
κύκλους, χωρίς να υπάρχουν μαγνητικοί πόλοι.
Τα δύο είδη πεδίου δεν είναι δυνατόν να συνυπάρχουν. Εάν ένα δοκίμιο μαγνητιστεί
κατά το ένα πεδίο και εφαρμοστεί μαγνητίζουσα δύναμη από το άλλο πεδίο, εάν μεν η
μαγνήτιση είναι λιγότερο ισχυρή από την υπάρχουσα, το πρώτο πεδίο εξακολουθεί να
υπάρχει ενώ δεν εμφανίζεται καθόλου το δεύτερο. Αν όμως είναι ισχυρότερη, τότε το
πρώτο αναιρείται και υπάρχει μόνο το δεύτερο.
Εικόνα 6.8: Ανίχνευση ασυνεχειών με κυκλική μαγνήτιση
|237|
Εικόνα 6.9: Ανίχνευση ασυνεχειών με διαμήκη μαγνήτιση
Γενικά, στον έλεγχο με μαγνητικά σωματίδια χρησιμοποιούνται, τόσο το κυκλικό

όσο και το διαμήκες μαγνητικό πεδίο.
Η ελάχιστη πυκνότητα μαγνητικής ροής στην επιφάνεια του δοκιμίου πρέπει να
είναι 1Tesla. Αυτή η πυκνότητα μαγνητικής ροής σύμφωνα με το EN ISO 9934-1
επιτυγχάνεται σε ελαφρά κραματωμένους και χαμηλής περιεκτικότητας σε άνθρακα
χάλυβες (low alloy and low carbon steels) με υψηλή σχετική διαπερατότητα και ένταση
πεδίου 2kA/m. Για χάλυβες, με χαμηλότερη σχετική διαπερατότητα, απαιτείται αύξηση της
έντασης του πεδίου. Εάν η μαγνήτιση είναι υπερβολικά υψηλή, μπορεί να παρουσιαστούν
ενδείξεις υποβάθρου (background indications), οι οποίες ενδέχεται να καλύψουν τις
σχετικές ενδείξεις.
6.9.1 Κυκλική μαγνήτιση
Κυκλική μαγνήτιση επάγεται σε ένα δοκίμιο στην περίπτωση που αυτό διαρρέεται
από ηλεκτρικό ρεύμα οπότε και υπάρχει άμεση μαγνήτιση (direct magnetization) ή όταν
ηλεκτρικό ρεύμα διαρρέει ένα ηλεκτρικά αγώγιμο υλικό και το δοκίμιο βρίσκεται
περιφερειακά του διαρρέοντος υλικού, οπότε υπάρχει έμμεση μαγνήτιση (indirect
magnetization). Αλλιώς, το δοκίμιο τίθεται μέσα σε ένα μαγνητικό πεδίο που έχει
δημιουργηθεί έξω από αυτό.
Άμεση μαγνήτιση (head shot)

Άμεση μαγνήτιση επιτυγχάνεται όταν ηλεκτρικό ρεύμα περάσει μέσα από ένα
δοκίμιο, όπως φαίνεται στην Εικόνα 6.10.
Εικόνα 6.10: Άμεση μαγνήτιση
|238|
Άμεση μαγνήτιση χρησιμοποιώντας διάταξη ακροδεκτών
Μία άλλη μέθοδος δημιουργίας κυκλικού μαγνητικού πεδίου είναι η χρήση
διάταξης ακροδεκτών. Η χρήση των ακροδεκτών ενδείκνυται όταν το μέγεθος ή η θέση του
δοκιμίου δεν επιτρέπει τη χρήση της άμεσης ή έμμεσης μαγνήτισης όπως φαίνεται στην
Εικόνα 6.11. Η χρήση διάταξης ακροδεκτών είναι πιο αποτελεσματική, όταν η απόσταση
μεταξύ των ακροδεκτών κυμαίνεται από τα 150 - 200mm.
Εικόνα 6.11: Άμεση μαγνήτιση με τη χρήση διάταξης ακροδεκτών
Έμμεση μαγνήτιση
Κατά τη δημιουργία κυκλικού μαγνητικού πεδίου με έμμεση μαγνήτιση, το δοκίμιο
που πρόκειται να μαγνητιστεί, τοποθετείται κατά τέτοιον τρόπο ώστε το μαγνητικό πεδίο
να επάγεται από τον αγωγό που διαρρέεται από ηλεκτρικό ρεύμα. Αυτός ο τρόπος έμμεσης
μαγνήτισης είναι γνωστός και ως τεχνική κεντρικού αγωγού (central conductor technique)
όπως φαίνεται στην Εικόνα 6.12. Η χρήση αυτής της τεχνικής εξαλείφει το ενδεχόμενο
καψίματος του δοκιμίου από το ηλεκτρικό ρεύμα στα σημεία επαφής.
Εικόνα 6.12: Έμμεση μαγνήτιση
6.9.2 Διαμήκης μαγνήτιση
Η διαμήκης μαγνήτιση σε ένα δοκίμιο επιτυγχάνεται με τη χρήση διαμήκους

μαγνητικού πεδίου από ένα πηνίο ή σωληνοειδές.
Πηνίο (ή σωληνοειδές)
Όταν το μήκος ενός δοκιμίου είναι αρκετές φορές μεγαλύτερο της διαμέτρου του,
τότε το δοκίμιο μπορεί να μαγνητιστεί επιτυχώς, αν τοποθετηθεί κατά μήκος του
μαγνητικού πεδίου του πηνίου, όπως φαίνεται στην Εικόνα 6.13.
Σημειώνεται ότι στο πηνίο η ένταση του μαγνητικού πεδίου είναι ανάλογη της έντασης του
ηλεκτρικού ρεύματος και των σπειρών του πηνίου. Γι’ αυτό, η ένταση του μαγνητικού
πεδίου σε ένα πηνίο μετριέται συνήθως σε αμπεροστροφές.
|239|
Εικόνα 6.13: Δοκίμιο στο εσωτερικό πηνίου
Συσκευή YOKE
Η συσκευή YOKE χρησιμοποιείται για τη μαγνήτιση κατά μήκος ενός δοκιμίου.
Ουσιαστικά η συσκευή, αποτελεί ένα προσωρινό πεταλοειδή μαγνήτη κατασκευασμένο
από μαλακό, χαμηλής συγκρατησιμότητας σίδηρο ο οποίος μαγνητίζεται από ένα μικρό
πηνίο που είναι τυλιγμένο περιφερειακά της ράβδου σιδήρου.
Όταν η συσκευή YOKE τοποθετηθεί σε ένα δοκίμιο, η μαγνητική ροή που εξέρχεται από
το βόρειο πόλο και κατευθύνεται προς το νότιο επάγει ένα τοπικό διαμήκες μαγνητικό
πεδίο στο δοκίμιο.
Εικόνα 6.14: Μαγνήτιση δοκιμίου με συσκευή ΥOKE
|240|
7. ΤΕΧΝΙΚΕΣ ΜΑΓΝΗΤΙΣΗΣ
7.1 Χρήση μόνιμου μαγνήτη
Ένας μόνιμος μαγνήτης (permanent magnet) μπορεί να επάγει διαμήκες μαγνητικό

πεδίο σε ένα δοκίμιο ή σε τμήμα αυτού. Παρότι η χρήση μόνιμων μαγνητών δε συνίσταται
από τις περισσότερες αμερικάνικες προδιαγραφές, οι ευρωπαϊκές προδιαγραφές συνήθως
την επιτρέπουν, αφού είναι η μόνη τεχνική που δε δημιουργεί κινδύνους ανάφλεξης (λόγω
χρήσης ηλεκτρικού ρεύματος) σε χώρους αυξημένου κινδύνου. Για τους μόνιμους
μαγνήτες απαιτείται συνήθως ανυψωτική ικανότητα 18Kg. Εφόσον οι δυναμικές γραμμές
κατευθύνονται από τον ένα πόλο στον άλλο, οι ασυνέχειες που ανιχνεύονται έχουν γωνία
45° έως 90° προς αυτή τη διεύθυνση. Οι μόνιμοι μαγνήτες έχουν συνήθως πεταλοειδές
σχήμα με σπαστούς βραχίονες, ώστε να μπορεί να ρυθμιστεί η απόσταση μεταξύ των
πόλων.
Εικόνα 7.1: Ανίχνευση ασυνεχειών με φυσικό μαγνήτη
7.2 Πεταλοειδής ηλεκτρομαγνήτης
Το συνηθέστερο μέσο μαγνήτισης είναι οι πεταλοειδείς ηλεκτρομαγνήτες (YOKE).

Έχουν σπαστούς βραχίονες (συνήθως με δύο αρθρώσεις έκαστος) ώστε να μεταβάλλεται η
απόσταση μεταξύ των πόλων, αλλά και να μπορούν να τοποθετηθούν σε σημεία που δε
βρίσκονται στο ίδιο επίπεδο. Οι δυναμικές γραμμές εξέρχονται από το βόρειο πόλο και
κατευθύνονται προς το νότιο ενώ οι ανιχνευόμενες ασυνέχειες έχουν διεύθυνση 45° έως
90° σε σχέση με τη γραμμή που ενώνει τους πόλους. Ο ηλεκτρομαγνήτης αποτελείται από
ένα πηνίο με πυρήνα μαλακού σιδήρου. Ορισμένες φορές υπάρχει ρύθμιση της έντασης του
ρεύματος, άρα και της μαγνητικής ροής.
Συνήθως χρησιμοποιείται ηλεκτρομαγνήτης εναλλασσόμενου ρεύματος (AC), αλλά
υπάρχουν και ηλεκτρομαγνήτες ημιανορθωμένου ή πλήρως ανορθωμένου ρεύματος. Συχνά
απαιτείται ανυψωτική δύναμη 4,5Kg (10lb) για ηλεκτρομαγνήτες εναλλασσόμενου
ρεύματος, 18Kg (40lb) για ηλεκτρομαγνήτες συνεχούς ρεύματος ή πλήρως ανορθωμένου
ρεύματος και 22,5Kg (50lb) για μόνιμους μαγνήτες.
Εικόνα 7.2: Ανίχνευση ασυνεχειών με ηλεκτρομαγνήτη
|241|
Εικόνα 7.3: Συσκευή YOKE (αριστερά) και πεταλοειδής ηλεκτρομαγνήτης (δεξιά)
Εικόνα 7.4: Τυπική μεθοδολογία ελέγχου συγκολλήσεων με πεταλοειδή ηλεκτρομαγνήτη
|242|
7.3 Χρήση ακροδεκτών
Οι ακροδέκτες (prods) χρησιμοποιούνται κυρίως σε μεγάλα δοκίμια, αλλά και στην

περίπτωση ελέγχου συγκολλήσεων (συνήθως με ξηρή μέθοδο και ημιανορθωμένο ρεύμα).
Γύρω από το σημείο επαφής του κάθε ακροδέκτη παράγονται δύο κυκλικά μαγνητικά πεδία
με δυναμικές γραμμές ομόκεντρους κύκλους. Επισημαίνεται ότι δε συνιστάται η χρήση
ακροδεκτών σε εξαρτήματα ή τμήματα εξαρτημάτων της αεροδιαστημικής βιομηχανίας.
Εικόνα 7.5: Διάταξη ακροδεκτών
|243|
Συχνά απαιτείται ρεύμα 100A (peak) ανά ίντσα απόστασης ακροδεκτών.
Ανιχνεύονται ασυνέχειες παράλληλες (και έως 45°) σε σχέση με την ευθεία των
ακροδεκτών. Προκειμένου για μεγάλα χυτά ή σφυρήλατα δοκίμια, κατασκευάζονται
αυτοματοποιημένες διατάξεις με πολλούς ακροδέκτες που ενεργοποιούνται διαδοχικά για
σύντομο χρονικό διάστημα (κλάσματα του δευτερολέπτου), ενώ έχει προηγηθεί η έγχυση
των μαγνητικών σωματιδίων (overall method). Χρησιμοποιείται ανορθωμένο ή πλήρως
ανορθωμένο ρεύμα. Συνιστάται η απόσταση μεταξύ των ακροδεκτών να μην είναι
μικρότερη από 2inch (50mm) ή μεγαλύτερη από 8inch (200mm).
Οι τιμές του ρεύματος μαγνήτισης που αναφέρθηκαν ή θα αναφερθούν στη συνέχεια
είναι απλά ενδεικτικές και θεωρείται απαραίτητο να ανατρέχει κανείς στην εφαρμοστέα
προδιαγραφή για τις ακριβείς απαιτήσεις και υπολογισμούς.
Εικόνα 7.6: Διάταξη ακροδεκτών
Σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ΙSO 9934-1, το ρεύμα στους ακροδέκτες υπολογίζεται

σύμφωνα με τον ακόλουθο τύπο:
Ι = 2,5 • Η • d (για d ≤ 200mm)
Όπου:
Ι: η ένταση του ρεύματος σε Α
d: η απόσταση των ακροδεκτών σε mm
Η: η ένταση του πεδίου σε kA/m
Εναλλακτικά, η περιοχή επιθεώρησης μπορεί να είναι ένας κύκλος εγγεγραμμένος

μεταξύ των ακροδεκτών, αλλά εξαιρουμένης της περιοχής σε απόσταση 25mm
περιφερειακά του κάθε ακροδέκτη. Στην περίπτωση αυτή:
Ι=3•Η•d
Οι δύο παραπάνω τύποι δίνουν αξιόπιστο αποτέλεσμα μόνο όταν η ακτίνα

καμπυλότητας της επιφάνειας ελέγχου υπερβαίνει το ήμισυ της απόστασης των
ακροδεκτών.
|244|
Εικόνα 7.7: Τυπική μεθοδολογία ελέγχου συγκολλήσεων με ακροδέκτες με τη χρήση ρεύματος
έντασης ≥ 5A/mm (r.m.s.)
|245|
7.4 Τεχνική κεντρικού αγωγού
Είναι γνωστό ότι εάν ηλεκτρικό ρεύμα περάσει μέσα από έναν αγωγό, παράγεται
κυκλικό μαγνητικό πεδίο γύρω από αυτόν. Η τεχνική κεντρικού αγωγού είναι κατάλληλη
για δακτυλιοειδή δοκίμια ή δοκίμια μορφής σωλήνα. Η πυκνότητα μαγνητικής ροής είναι
μέγιστη στην εσωτερική επιφάνεια του δοκιμίου και στα σημεία που έρχονται σε επαφή με
τον κεντρικό αγωγό, ενώ ελαττώνεται όσο μεγαλώνει η απομάκρυνση από αυτή
(κατευθυνόμενοι προς την εξωτερική επιφάνεια) ανάλογα με το πάχος του δοκιμίου. Η
πυκνότητα της μαγνητικής ροής μειώνεται απότομα στον αέρα και κατόπιν ελαττώνεται
εκθετικά, όσο μεγαλώνει η απομάκρυνση από την εξωτερική επιφάνεια του δοκιμίου.
Η απαιτούμενη ένταση για την τεχνική κεντρικού αγωγού δίνεται από τον τύπο:
I=H•p
Όπου:
Ι: η ένταση του ρεύματος σε A
H: η ένταση του πεδίου σε kA/m
p: η περίμετρος του δοκιμίου σε mm
Εάν το δοκίμιο είναι σωλήνας ή παρόμοιου σχήματος, η ένταση πρέπει να

υπολογίζεται σύμφωνα με την εξωτερική διάμετρο κατά την επιθεώρηση της εξωτερικής
επιφάνειας και σύμφωνα με την εσωτερική διάμετρο κατά την επιθεώρηση της εσωτερικής
επιφάνειας.
Εικόνα 7.8: Τεχνική κεντρικού αγωγού
|246|
Εικόνα 7.9: Κατανομή της μαγνητικής ροής σε κεντρικό αγωγό και σε κυλινδρικό δοκίμιο
Εικόνα 7.10: Τεχνική κεντρικού αγωγού
Εικόνα 7.11: Αποτελεσματική περιοχή επιθεώρησης με την τεχνική κεντρικού αγωγού
|247|
7.5 Μετωπική επαφή
Κατά τη μετωπική επαφή (headstock-tailstock), το δοκίμιο διαρρέεται από

ηλεκτρικό ρεύμα που εισέρχεται από το ένα άκρο του και εξέρχεται από το άλλο. Επάγεται
κυκλικό μαγνητικό πεδίο με διεύθυνση κάθετη προς αυτή του ηλεκτρικού ρεύματος.
Επομένως, αφού ανιχνεύονται ασυνέχειες κάθετες προς τη διεύθυνση της μαγνητικής
επαγωγής, η τεχνική αυτή καταδεικνύει ασυνέχειες παράλληλες και μέχρι γωνία 45° σε
σχέση με τη διεύθυνση του ηλεκτρικού ρεύματος.
Οι αμερικάνικες προδιαγραφές απαιτούν συνήθως ένταση ρεύματος (peak) 300 -
800A/inch (12 - 32A/mm) διαμέτρου του δοκιμίου, αν και συχνά στην πράξη η τιμή αυτή
αποδεικνύεται πολύ μεγάλη. Οι σχετικές βρετανικές προδιαγραφές απαιτούν 7,5A/mm, που
αντιστοιχεί σε μαγνητική επαγωγή τουλάχιστον ίση με 0,72Tesla, στην επιφάνεια του
δοκιμίου. Γενικότερα, ρεύμα έως 500Α/inch (20A/mm) ή λιγότερο αποτελούν καλή
πρακτική. Για την ανίχνευση εγκλεισμάτων ή όταν επιθεωρούνται κράματα χαμηλής
μαγνητικής διαπερατότητας, χρησιμοποιούνται υψηλότερα ρεύματα έως 800Α/inch
(32Α/mm).
Η μετωπική επαφή συνιστάται κυρίως για επιμήκη δοκίμια και εφαρμόζεται σε
ειδικές μονάδες πάγκου (bench unit). Χρησιμοποιείται εναλλασσόμενο ρεύμα για
επιφανειακές ασυνέχειες και ημιανορθωμένο ή πλήρως ανορθωμένο ρεύμα για
υποεπιφανειακές ασυνέχειες.
Η απαιτούμενη ένταση ρεύματος δίνεται από τον τύπο:
I=H•p
Όπου:
Στην περίπτωση δοκιμίου με διαφορετικές διατομές, χρησιμοποιείται μία ενιαία

τιμή ρεύματος που υπολογίζεται με βάση τη μεγαλύτερη διατομή και εφόσον ο λόγος της
μέγιστης προς την ελάχιστη διατομή είναι μικρότερος από 1,5:1.
Εικόνα 7.12: Μονάδα πάγκου (Bench unit)
|248|
Εικόνα 7.13: Άμεση μαγνήτιση με μετωπική επαφή σε δακτυλιοειδές δοκίμιο
7.6 Χρήση άκαμπτου πηνίου
Είναι γνωστό ότι το πηνίο / σωληνοειδές, όταν διαρρέεται από ηλεκτρικό ρεύμα,
παράγει διαμήκες μαγνητικό πεδίο. Το πεδίο είναι εναλλασσόμενο, ημιανορθωμένο ή
συνεχές, ανάλογα με το ηλεκτρικό ρεύμα που χρησιμοποιείται. Εάν το δοκίμιο τοποθετηθεί
μέσα στο πηνίο, παράγεται αντίστοιχη μαγνητική επαγωγή και επομένως μπορούν να
ανιχνευθούν ασυνέχειες κάθετες προς τη μαγνητική επαγωγή, δηλαδή περιμετρικές ως
προς τον άξονα του δοκιμίου.
Κατά τη χρήση άκαμπτου πηνίου ελικοειδούς μορφής, το βήμα μεταξύ των σπειρών
πρέπει να είναι μικρότερο από το 25% της διαμέτρου του πηνίου.
Για μικρά δοκίμια στα οποία ο λόγος μήκους προς διάμετρο είναι μικρότερος από 5,
συνιστάται η χρήση μαγνητιζόμενων προσθηκών αύξησης του μήκους. Έτσι, μειώνεται το
ρεύμα που απαιτείται για να επιτευχθεί η απαραίτητη μαγνήτιση.
Τα δοκίμια που ελέγχονται συνήθως με πηνίο είναι επιμήκους μορφής, διότι μόνο
σε αυτή την περίπτωση όπου ο λόγος του μήκους προς τη διάμετρο του δοκιμίου (L/D)
είναι μεγάλος υπάρχει ισχυρή μαγνήτιση. Η λειτουργική μαγνητική διαπερατότητα δίνεται
από τον τύπο:
6L
μeff = -----------------
D-5
Εάν το δοκίμιο τοποθετηθεί κεντρικά στο πηνίο, τότε ο απαιτούμενος αριθμός

αμπεροστροφών του πηνίου δίνεται από τη σχέση:
43.000 • R
ΝΙ = -----------------------
μeff
Όπου:
Ν: ο αριθμός των στροφών του πηνίου
Ι: η ένταση του ρεύματος (peak)
R: η ακτίνα του πηνίου
Σύμφωνα με το ΕΝ ΙSO 9934-1, προκειμένου να επιτύχουμε ισχυρότερη μαγνήτιση

με μικρότερη τιμή ΝΙ, τοποθετούμε συνήθως το δοκίμιο σε επαφή με τις σπείρες, οπότε
ισχύει ο τύπος:
|249|
0,4H • K
ΝΙ = ----------------------
L/D
Όπου:
N: ο αριθμός των σπειρών (3-5)
L/D: o λόγος του μήκους προς τη διάμετρο με ελάχιστο το 5:1 και μέγιστο το 20:1, ιδανικό
μέγεθος το 12-15:1 (στην περίπτωση δοκιμίων μη κυκλικών διατομών, D = περίμετρος/π)
Η: η ένταση του μαγνητικού πεδίου σε kA/m
Κ: 22.000 για A.C και FWR, 11.000 για HWR, 32.000 για D.C
Όταν τα δοκίμια έχουν λόγο L/D μεγαλύτερο από 20, ο λόγος θεωρείται ότι είναι
20. Για δοκίμια με χαμηλό λόγο (δηλαδή L/D < 5), ο παραπάνω τύπος δίνει αυξημένες
τιμές ρεύματος. Για να μειωθεί το ρεύμα, πρέπει να χρησιμοποιούνται μαγνητιζόμενες
προσθήκες αύξησης του μήκους προκειμένου να αυξηθεί το αποτελεσματικό μήκος του
δοκιμίου.
Οι δύο παραπάνω τύποι ισχύουν με την προϋπόθεση ότι ο συντελεστής πλήρωσης
του πηνίου (επιφάνεια διατομής δοκιμίου προς επιφάνεια διατομής πηνίου) είναι
μικρότερος από 1/10. Στην περίπτωση κυκλικού δοκιμίου με μικρό μήκος, μια συνήθης
πρακτική, προκειμένου να αυξηθεί ο λόγος L/D, είναι να τοποθετηθεί σε επαφή με το
δοκίμιο ένας άλλος κύλινδρος ίδιας περίπου διαμέτρου και χωρίς ασυνέχειες.
Στην περίπτωση δοκιμίου μεγάλου μήκους θεωρούμε συνήθως επαρκή τη
μαγνήτισή του εφόσον το μήκος του δοκιμίου εξέχει από κάθε πλευρά του πηνίου όχι
περισσότερο από την ακτίνα του. Σε αντίθετη περίπτωση, απαιτείται μετακίνηση, είτε του
πηνίου γύρω από το δοκίμιο, είτε του δοκιμίου μέσα στο πηνίο και επανάληψη του
ελέγχου.
Οι συσκευές πάγκου (bench units) που προαναφέρθηκαν στην άμεση μαγνήτιση με
μετωπική επαφή, μπορούν επίσης να δεχθούν πηνίο αλλά και ακροδέκτες, όπως επίσης
μπορούν να παράγουν μαγνητική ροή, μέσω δύο πόλων τους οποίους έχουν για αυτό το
λόγο.
Εικόνα 7.14: Χρήση άκαμπτου πηνίου
|250|
Εικόνα 7.15: Χρήση άκαμπτου πηνίου
Εικόνα 7.16: Ανίχνευση ασυνεχειών με πηνίο
7.7 Χρήση εύκαμπτου πηνίου
Για να επιτευχθεί το απαιτούμενο μαγνητικό πεδίο με τη χρήση συνεχούς ή

ανορθωμένου ρεύματος, η τιμή του ρεύματος που διαρρέει το καλώδιο πρέπει να έχει
ελάχιστη τιμή:
I = 3H • [ T + (Y2 / 4T)]
Όπου:
T: το πάχος του τοιχώματος του δοκιμίου σε mm, ή η ακτίνα του εάν είναι συμπαγής
ράβδος
Υ: η απόσταση μεταξύ των γειτονικών περιελίξεων του πηνίου σε mm
Για να επιτευχθεί το απαιτούμενο μαγνητικό πεδίο με τη χρήση εναλλασσόμενου

ρεύματος, η τιμή του ρεύματος που διαρρέει το καλώδιο πρέπει να έχει ελάχιστη τιμή:
I = 3H • [10 + (Y2 / 40)]
Εικόνα 7.17: Χρήση εύκαμπτου πηνίου
|251|
Εικόνα 7.18: Τυπική μεθοδολογία ελέγχου με εύκαμπτο καλώδιο ή πηνίο
(για διαμήκη ρήγματα)
7.8 Μαγνητικό πεδίο γύρω από ηλεκτρικό αγωγό
Εάν ένας κυλινδρικός αγωγός διαρρέεται από ηλεκτρικό ρεύμα, μέσα και γύρω από
αυτόν επάγεται κυκλικό μαγνητικό πεδίο.
Στην περίπτωση μη σιδηρομαγνητικού αγωγού και συνεχούς ρεύματος, η πυκνότητα
μαγνητικής ροής είναι μηδενική στο κέντρο του αγωγού και αυξάνεται ευθέως ανάλογα με
την απόσταση από το κέντρο, όσο προχωρά κανείς προς την εξωτερική επιφάνεια, όπου και
έχει τη μεγαλύτερη τιμή (F). Στη συνέχεια, ελαττώνεται εκθετικά, λαμβάνοντας τιμή F/2 σε
απόσταση 2R από το κέντρο του αγωγού, F/3 σε απόσταση 3R κ.ο.κ.
Εάν ο μη σιδηρομαγνητικός αγωγός είναι κοίλος εσωτερικά, τότε η πυκνότητα
μαγνητικής ροής είναι μηδενική στο εσωτερικό του αγωγού και μέχρι την εσωτερική
επιφάνεια ενώ στη συνέχεια αυξάνεται (περισσότερο απότομα από ότι στην περίπτωση
πλήρους αγωγού), μέχρι να λάβει τη μέγιστη τιμή (F) στην εξωτερική επιφάνεια.
Εάν ένας συμπαγής και ένας κοίλος αγωγός έχουν την ίδια εξωτερική διάμετρο και
διαρρέονται από ρεύμα της ίδιας έντασης, η πυκνότητα μαγνητικής ροής είναι ίδια στην
εξωτερική επιφάνεια των δύο αγωγών. Στη συνέχεια, η πυκνότητα μαγνητικής ροής
ελαττώνεται, όπως ακριβώς και στην περίπτωση του πλήρους αγωγού.
Εάν χρησιμοποιηθεί ένας συμπαγής αγωγός από σιδηρομαγνητικό υλικό, ο οποίος
διαρρέεται από συνεχές ρεύμα, τότε η πυκνότητα μαγνητικής ροής στην εξωτερική
επιφάνεια έχει τιμή μ•F, όπου μ η σχετική μαγνητική διαπερατότητα του υλικού. Ακριβώς
έξω από τον αγωγό, η πυκνότητα της μαγνητικής ροής ελαττώνεται φτάνοντας στην ίδια
τιμή (F), όπως και στην περίπτωση του μη σιδηρομαγνητικού αγωγού και στη συνέχεια
|252|
ελαττώνεται και πάλι εκθετικά, πάνω στην ίδια καμπύλη όπως και στην περίπτωση του μη
σιδηρομαγνητικού αγωγού.
Αντίστοιχη κατάσταση υπάρχει και στην περίπτωση του κοίλου σιδηρομαγνητικού
αγωγού που διαρρέεται από συνεχές ρεύμα. Εάν χρησιμοποιηθεί εναλλασσόμενο ρεύμα,
τότε η κατάσταση στο εσωτερικό του αγωγού είναι διαφορετική από ότι προηγουμένως,
λόγω του επιδερμικού φαινομένου.
Έτσι, στην περίπτωση ενός πλήρους σιδηρομαγνητικού αγωγού, η πυκνότητα
μαγνητικής ροής αυξάνεται (από την τιμή μηδέν στο κέντρο του αγωγού) πολύ αργά στην
αρχή και απότομα όσο πλησιάζει κανείς την εξωτερική επιφάνεια του αγωγού, φθάνοντας
στη μέγιστη τιμή (μ•F) ακριβώς πάνω σ’ αυτή. Στη συνέχεια ελαττώνεται απότομα (στον
αέρα) και συνεχίζει στην ίδια καμπύλη, όπως στην περίπτωση του συνεχούς ρεύματος.
Ανάλογη είναι και η περίπτωση κοίλου σιδηρομαγνητικού αγωγού που διαρρέεται από
εναλλασσόμενο ρεύμα.
Εικόνα 7.19: Μαγνητικό πεδίο γύρω από ηλεκτρικό αγωγό
7.9 Μηχανήματα μαγνήτισης πολλαπλών διευθύνσεων
Τα μηχανήματα μαγνήτισης πολλαπλών διευθύνσεων επιτρέπουν τη μαγνήτιση ενός

δοκιμίου σε δύο διευθύνσεις, κατά μήκος και περιφερειακά, με συνεχή διαδοχή της
μαγνήτισης. Στα μηχανήματα μαγνήτισης πολλαπλών διευθύνσεων, η ένταση του
μαγνητικού πεδίου είναι ίση και προς τις δύο διευθύνσεις. Αυτά τα ταχέως εναλλασσόμενα
μαγνητικά πεδία παράγουν ένα πεδίο μαγνήτισης διαφορετικών διευθύνσεων με
αποτέλεσμα την ανίχνευση ασυνεχειών σε περισσότερες από μία διευθύνσεις.
Ακριβώς όπως στα συμβατικά μηχανήματα εφαρμογής της υγρής μεθόδου, το
ηλεκτρικό ρεύμα που χρησιμοποιείται για τη μαγνήτιση στα μηχανήματα μαγνήτισης
πολλαπλών διευθύνσεων, επιτυγχάνεται με εναλλασσόμενο, ημιανορθωμένο ή πλήρως
ανορθωμένο ρεύμα. Μπορεί επίσης να χρησιμοποιηθεί ένας συνδυασμός ρευμάτων
|253|
ανάλογα με τις απαιτήσεις της εφαρμογής. Γενικά, η μαγνήτιση πολλαπλών διευθύνσεων
μπορεί να χρησιμοποιηθεί σε ένα μεγάλο αριθμό παραγωγικών εφαρμογών και σε γραμμές
παραγωγής με μεγάλο αριθμό επιθεωρήσεων, μειώνοντας αρκετά το χρόνο επιθεώρησης
αλλά και το κόστος των αναλώσιμων. Στις μέρες μας αποτελεί πλέον μια ευρέως αποδεκτή
τεχνική στους τομείς της αυτοκινητοβιομηχανίας, της αεροδιαστημικής και των
σιδηροδρομικών βιομηχανιών και έχει απλοποιήσει τις πολλαπλές διαδικασίες
επιθεώρησης.
Εικόνα 7.20: Μηχάνημα μαγνήτισης πολλαπλών διευθύνσεων (MAGNAFLUX)
7.10 Απομαγνήτιση
Παρότι δεν απαιτείται πάντοτε, η απομαγνήτιση είναι ένα απαραίτητο βήμα του
ελέγχου με μαγνητικά σωματίδια, ιδιαίτερα εκεί όπου η παραμένουσα μαγνήτιση μπορεί να
δημιουργήσει (κατά τη χρήση του δοκιμίου) προβλήματα σε γειτονικά ευαίσθητα
ηλεκτρομαγνητικά όργανα, να προκαλέσει μαγνητικό φύσημα κατά την
ηλεκτροσυγκόλληση, να έλξει ρινίσματα τα οποία ή θα επηρεάσουν αρνητικά το δοκίμιο
όπως στην περίπτωση ρουλεμάν ή οδοντωτών τροχών ή θα προκαλέσουν δυσλειτουργίες
όπως στην περίπτωση εργαλείων ή δοκιμίων που θα υποστούν μηχανική κατεργασία.
Η παραμένουσα μαγνήτιση είναι ανεπιθύμητη στην περίπτωση που το δοκίμιο θα
επανελεγχθεί με μαγνητική επαγωγή λιγότερο ισχυρή από την παραμένουσα. Γι’ αυτό το
λόγο συνιστάται η απομαγνήτιση ως πρώτο στάδιο του επανελέγχου.
Κατά την κατεργασία του υλικού, το παραμένον μαγνητικό πεδίο ενδέχεται να
προκαλέσει προβλήματα προσελκύοντας σωματίδια στην επιφάνειά του. Έτσι για
παράδειγμα, μπορεί να παρεμποδιστεί η λείανση του, η κοπή του ή η συγκόλληση του. Στις
περιπτώσεις όπου το παραμένον μαγνητικό πεδίο είναι πολύ μεγάλο, η απόδοση του υλικού
ως τμήματος μίας κατασκευής, κατά την λειτουργία της, επηρεάζεται αρνητικά. Η
προσέλκυση σωματιδίων σε περιστρεφόμενα εξαρτήματα είναι πιθανόν να οδηγήσει σε
δυσλειτουργία, πολύ περισσότερο δε όταν υπάρχουν τριβόμενες επιφάνειες. Επίσης, ισχυρά
|254|
μαγνητικά πεδία αποτελούν αιτία δημιουργίας τριβής μεταξύ κινούμενων μερών, όπως για
παράδειγμα μεταξύ ενός εμβόλου και των τοιχωμάτων του κυλίνδρου. Μαγνητικά πεδία
που παραμένουν σε ένα τμήμα μίας κατασκευής μπορεί να επηρεάσουν ευαίσθητα όργανα.
Ακόμα και ελαφρώς μαγνητισμένα μέρη ενός αεροσκάφους είναι ικανά να προκαλέσουν
λανθασμένες ενδείξεις στη μαγνητική πυξίδα. Επιπρόσθετα, κατά τον καθαρισμό μίας
επιφάνειας, η παρουσία παραμένοντος μαγνητικού πεδίου εμποδίζει την απομάκρυνση
μεταλλικών σωματιδίων.
Δεν απαιτείται συνήθως απομαγνήτιση στην περίπτωση δοκιμίων από πολύ μαλακό
χάλυβα, σε έτοιμες συγκολλήσεις, σε περιπτώσεις θερμικής κατεργασίας (μετά την
εφαρμογή της μεθόδου) πάνω από τη θερμοκρασία Curie ή στην περίπτωση μαγνήτισης
(στη συνέχεια) με ισχυρότερο πεδίο άλλης διεύθυνσης. Η παραμένουσα μαγνήτιση
συνήθως θεωρείται αμελητέα όταν έχει τιμή μικρότερη των 3 Gauss (στην επιφάνεια του
δοκιμίου).
Πλήρης απομαγνήτιση επιτυγχάνεται μόνο με θέρμανση πάνω από το σημείο Curie
(650°C έως 870°C για τα περισσότερα μέταλλα, 770°C για το σίδηρο). Ωστόσο, αυτό δεν
είναι εφαρμόσιμο στο πεδίο, ενώ στα εξαρτήματα αεροσκαφών η θέρμανση στη
θερμοκρασία Curie μπορεί να καταστρέψει συνολικώς ή μερικώς το επιθεωρούμενο
εξάρτημα.
Απομαγνήτιση επιτυγχάνεται επίσης με σφυρηλάτηση του δοκιμίου. Πρακτικά
όμως, εκτελείται απομαγνήτιση εφαρμόζοντας στο δοκίμιο διαδοχικά μαγνητίζουσα
μειούμενη συνεχώς δύναμη και με αντίστροφη φορά. Χρειάζεται προσοχή στο εξής: η
πρώτη μαγνήτιση (απομαγνήτισης) πρέπει να παράγει μαγνητική ροή μεγαλύτερη από την
παραμένουσα. Απομαγνήτιση μπορεί να πραγματοποιηθεί και με συνεχές ρεύμα, αλλά
πρακτικά είναι καλύτερο να χρησιμοποιείται εναλλασσόμενο, διότι η φορά του αλλάζει
αυτόματα και δεν απαιτούνται ειδικές ηλεκτρικές διατάξεις.
Το κυκλικό μαγνητικό πεδίο είναι δυσκολότερο να ανιχνευθεί σε σχέση με το
διαμήκες διότι δεν παρουσιάζει πόλους. Απομακρύνεται όμως εύκολα με την εφαρμογή
ενός επιμήκους πεδίου, ισχυρότερου από το υπάρχον κυκλικό. Γι’ αυτό συνιστάται να
προηγείται ο έλεγχος με κυκλικό πεδίο και να έπεται ο αντίστοιχος με διαμήκες, ώστε το
μεν (εξωτερικά αφανές) κυκλικό πεδίο να έχει απομακρυνθεί, ενώ η απομαγνήτιση του
τελικού (διαμήκους) πεδίου να είναι εύκολο να ελεγχθεί.
Οι διατάξεις απομαγνήτισης αποτελούνται συνήθως από ένα πηνίο, όπου είναι
δυνατόν είτε να απομακρύνεται το δοκίμιο είτε να ελαττώνεται σταδιακά η ένταση της
μαγνητίζουσας δύναμης. Απομαγνήτιση μπορεί να επιτευχθεί και με YOKE
εναλλασσόμενου ρεύματος, περνώντας το δοκίμιο μέσα από το διάκενο των πόλων ή
απομακρύνοντας αργά το YOKE από την επιφάνεια του δοκιμίου.
Απομαγνήτιση μπορεί επίσης να πραγματοποιηθεί με τη χρήση εύκαμπτων αγωγών
γύρω από το δοκίμιο. Εάν χρησιμοποιείται πηνίο και μετατόπιση του δοκιμίου μέσα και
μακριά από αυτό, είναι πολύ χρήσιμο να περιστρέφεται το δοκίμιο, τόσο κυκλικά όσο και
εγκάρσια, ως προς τον άξονα του πηνίου.
Μετά την απομαγνήτιση των δοκιμίων και εφόσον αυτά είναι εξαιρετικά επιμήκη
όπως για παράδειγμα άξονες και σωλήνες, είναι πολύ σημαντικό να αποθηκεύονται κατά
τη διεύθυνση ανατολής - δύσης, διότι η διεύθυνση βορρά - νότου μπορεί και πάλι να
προξενήσει μαγνήτιση λόγω του γήινου μαγνητικού πεδίου.
Μαγνήτιση μπορεί να επιτευχθεί ακόμα και αν αποθηκευτούν υλικά κοντά σε
τεχνητά πεδία, όπως για παράδειγμα αυτά που δημιουργούνται από ισχυρές ηλεκτρικές
μηχανές ή ηλεκτροφόρα καλώδια μεγάλης έντασης ρεύματος. Εξ’ άλλου,
αποτελεσματικότερος τρόπος πρόληψης της μαγνήτισης επιτυγχάνεται όταν επιμήκη
δοκίμια τοποθετούνται προσανατολισμένα στη διεύθυνση ανατολής-δύσης, για να
αποφευχθεί η μαγνήτιση από την επίδραση του γήινου μαγνητικού πεδίου.
|255|
Η απομαγνήτιση ενός υλικού δεν είναι απαραίτητη όταν το δοκίμιο πρόκειται να
υποβληθεί σε θερμική κατεργασία ή σε περιπτώσεις όπου η παραμένουσα μαγνήτιση δεν
έχει καμία ουσιαστική επίδραση σε ένα χυτό ή μία συγκόλληση, ή όταν το δοκίμιο
πρόκειται να μαγνητιστεί σε άλλη διεύθυνση με την ίδια ή μεγαλύτερη ένταση.
Εικόνα 7.21: Συσκευές απομαγνήτισης
Εικόνα 7.22: Απομαγνήτιση
|256|
7.11 Περιορισμοί της απομαγνήτισης
Συχνά απαιτείται πλήρης απομαγνήτιση, ωστόσο δεν είναι δυνατό να επιτευχθεί.

Όλες οι πρακτικές μέθοδοι απομαγνήτισης αφήνουν κάποια παραμένουσα μαγνήτιση
(residual magnetism) στο δοκίμιο. Επομένως, το καλύτερο που μπορεί να γίνει είναι να
μειωθεί το μαγνητικό πεδίο σε ένα επίπεδο αποδεκτό για το συγκεκριμένο δοκίμιο. Είναι
εξαιρετικά δύσκολη η πλήρης απομαγνήτιση του χάλυβα, εφόσον αυτός έχει υποστεί
μαγνήτιση. Στην πραγματικότητα, είναι εξαιρετικά δύσκολη για πρακτικούς λόγους και
όπως προαναφέρθηκε ο μοναδικός τρόπος απομαγνήτισης είναι η θέρμανση του δοκιμίου
σε θερμοκρασία Curie και η ψύξη του τοποθετώντας το σε κατεύθυνση ανατολής-δύσης
για να αποφευχθεί η μαγνήτιση από το γήινο μαγνητικό πεδίο. Η μέθοδος απομαγνήτισης
με θέρμανση στη θερμοκρασία Curie δε χρησιμοποιείται σχεδόν ποτέ διότι εκτός από ότι
είναι πρακτικά ανέφικτη, μία θέρμανση στην θερμοκρασία Curie επηρεάζει τις ιδιότητες
του δοκιμίου.
Το μαγνητικό πεδίο της Γης μπορεί να καθορίσει το κατώτατο όριο της πρακτικής
απομαγνήτισης. Είναι πολύ πιθανό, μεγάλα επιμήκη δοκίμια όπως σωληνοειδείς
κατασκευές, να παραμείνουν μαγνητισμένα σε ένα επίπεδο που καθορίζεται από το φυσικό
μαγνητικό πεδίο της γης, παρά την ορθή και ολοκληρωμένη τεχνική απομαγνήτισης.
Πολλά εξαρτήματα ή τμήματα αυτών εμφανίζονται έντονα μαγνητισμένα από το
φυσικό μαγνητικό πεδίο της γης και μόνο. Έχει παρατηρηθεί ότι κατά τη μεταφορά ενός
εξαρτήματος και ενώ αυτό ήταν απομαγνητισμένο, στο σημείο τοποθέτησης ή εφαρμογής
του να εμφανίζεται μαγνητισμένο. Δεν είναι ασυνήθιστο, μέρη αεροσκαφών από χάλυβα
να εμφανίζονται μαγνητισμένα ενώ η τοποθέτηση τους είχε ολοκληρωθεί σε πολύ μικρό
πρότερο χρονικό διάστημα και ενώ δεν είχαν παραμείνει κοντά σε σκόπιμο ή εκούσια
παραγόμενο μαγνητικό πεδίο. Επίσης, εξαρτήματα ή τμήματα τους μπορεί να
μαγνητιστούν όταν βρίσκονται κοντά σε γραμμές μεταφοράς ηλεκτρικής ενέργειας υψηλής
τάσης.
Εικόνα 7.23: Σταθερή μονάδα απομαγνήτισης
|257|
7.12 Ξηρή μέθοδος
Τα μαγνητικά σωματίδια είναι δυνατόν να εφαρμοστούν ως ξηρή σκόνη

(ρινίσματα), όταν πρόκειται για την «ξηρή μέθοδο» (dry method). Ωστόσο μπορεί να
βρίσκονται και μέσα σε υγρό φορέα (συνήθως πετρελαιοειδή, λάδι ή νερό), οπότε
αναφέρεται κανείς στην «υγρή μέθοδο» (wet method). Αντίστοιχη κατάταξη γίνεται για
ξηρή σκόνη / πούδρα (dry powder) ή για μαγνητική μελάνη (magnetic ink). Η υγρή
μέθοδος είναι σε γενικές γραμμές περισσότερο ευαίσθητη από την ξηρή, διότι πρακτικά
παρέχει μεγαλύτερη δυνατότητα κινητικότητας των μαγνητικών σωματιδίων πάνω στο
δοκίμιο. Υπάρχουν περιπτώσεις όμως, όπως για παράδειγμα ο έλεγχος συγκολλήσεων με
ακροδέκτες και ημιανορθωμένο ρεύμα, όπου προτιμάται η ξηρή μέθοδος.
Τα ξηρά μαγνητιζόμενα σωματίδια εφαρμόζονται με κατάλληλα μέσα, όπως
φούσκες (bulds) ή πιστόλια πεπιεσμένου αέρα. Η ιδανική εφαρμογή θα ήταν να
κατακάθονται στο δοκίμιο ως ένα ομοιόμορφο νέφος και με ελάχιστη ταχύτητα. Στην υγρή
μέθοδο χρησιμοποιείται έγχυση, εμβάπτιση ή ψεκασμός. Εάν ο υγρός φορέας είναι το νερό,
το οποίο είναι οικονομικότερο και ασφαλέστερο σε σχέση με τα πετρελαιοειδή,
απαιτούνται συνήθως αντιδιαβρωτικά πρόσθετα, διαβρεκτικοί παράγοντες, πρόσθετα για
την αποφυγή σχηματισμού αφρού (antifoaming), καθώς και άλλα πρόσθετα ειδικής
χρησιμότητας.
1. 2. 3.
4. 5. 6.
Εικόνα 7.24: Στάδια εφαρμογής της ξηρής μεθόδου
Τα στάδια εφαρμογής της ξηρής μεθόδου αναφέρονται στη συνέχεια.

1. Προκαθαρισμός του δοκιμίου.
2. Εφαρμογή μαγνητικού πεδίου στο δοκίμιο.
3. Εφαρμογή των σιδηρομαγνητικών σωματιδίων ενώ συνεχίζεται η εφαρμογή του
μαγνητικού πεδίου.
4. Απομάκρυνση των πλεοναζόντων μαγνητικών σωματιδίων με ρεύμα αέρα χαμηλής
πίεσης.
5. Ερμηνεία και αξιολόγηση των ενδείξεων.
6. Περιστροφή της συσκευής YOKE κατά 90 μοίρες και επανάληψη των σταδίων 2-5.
Διενεργείται καθαρισμός και απομαγνήτιση του δοκιμίου εφόσον απαιτείται.
|258|
Η χρήση εναλλασσόμενου ή ημιανορθωμένου ηλεκτρικού ρεύματος για τη
μαγνήτιση του δοκιμίου, προσφέρει μεγαλύτερη κινητικότητα στα μαγνητιζόμενα
σωματίδια επάνω στο δοκίμιο, προκειμένου να σχηματιστεί ένδειξη. Πρακτικά, δε
χρησιμοποιούνται ποτέ ξηρά σωματίδια με συνεχές ή πλήρως ανορθωμένο ρεύμα διότι η
κινητικότητά τους πάνω στο δοκίμιο είναι απαγορευτικά μικρή.
Η ξηρή μέθοδος είναι ιδανική για υποεπιφανειακές ασυνέχειες και μάλιστα σε
βάθος λίγο μεγαλύτερο από μερικά χιλιοστά της ίντσας. Εφαρμόζεται πάντα με
εναλλασσόμενο ή ημιανορθωμένο ρεύμα, για να παρέχεται καλύτερη κινητικότητα στα
σωματίδια. Είναι απλούστερη, τόσο σε εξοπλισμό όσο και σε τρόπο εφαρμογής σε σχέση
με την υγρή. Επιπρόσθετα, τα ξηρά μαγνητικά σωματίδια είναι πιο κατάλληλα σε τραχιές
επιφάνειες όπως για παράδειγμα αυτές των χυτών.
7.13 Υγρή μέθοδος
Η υγρή μέθοδος (και μάλιστα με συνεχή και όχι παραμένουσα μαγνήτιση) είναι η
πλέον ευαίσθητη ιδιαίτερα για μικρές, λεπτές και αβαθείς ασυνέχειες ενώ τα μαγνητικά
σωματίδια παρουσιάζουν τη μέγιστη κινητικότητα. Η υγρή συνεχής μέθοδος με φθορίζοντα
σωματίδια είναι η πλέον ευαίσθητη για ανίχνευση μικρών ρηγμάτων κόπωσης. Απαιτεί
μαγνήτιση για κλάσματα του δευτερολέπτου, σε αντίθεση με την ξηρή που απαιτεί
μαγνήτιση μεγαλύτερης διάρκειας.
Ο φορέας των σωματιδίων στην υγρή μέθοδο είναι συνήθως ένα παράγωγο
απόσταξης του πετρελαίου, με χαμηλό ιξώδες (πολύ βασικό χαρακτηριστικό), χαμηλής
περιεκτικότητας σε θείο και με υψηλό σημείο ανάφλεξης.
Χρησιμοποιείται επίσης το νερό, ιδίως σε περιπτώσεις κινδύνου ανάφλεξης του
λαδιού, αφού εμπλουτιστεί με διαβρεκτικούς παράγοντες, αντιδιαβρωτικά υλικά,
παράγοντες για την αποφυγή σχηματισμού αφρού και άλλα συστατικά, με αντίστοιχη
αύξηση του κόστους.
Τα μαγνητιζόμενα σωματίδια της υγρής μεθόδου διατίθενται είτε σε μορφή πάστας
(ιδιαίτερα στις Η.Π.Α) είτε ως ξηρές σκόνες. Έχουν χρώμα μαύρο, κόκκινο ή φθορίζον.
Προκειμένου για μικρές ποσότητες και για εργοταξιακές εφαρμογές διατίθενται συνήθως
υπό μορφή σπρέι. Ένας πρακτικός κανόνας που ακολουθείται για την ευαισθησία της
επιθεώρησης είναι ότι το ιξώδες του υγρού μέσου δεν πρέπει να υπερβαίνει τα
3centistokes (cSt).
Για μεγάλες ποσότητες και για εργοστασιακή ή εργαστηριακή εφαρμογή,
παρασκευάζεται υγρό διάλυμα, σύμφωνα με κατάλληλες προδιαγραφές. Σημαντικός
παράγοντας είναι η ποσότητα των στερεών σωματιδίων, η οποία και ελέγχεται μέσω
ογκομετρικού σωλήνα (Sutherland tube), όπου αυτά καθιζάνουν. Παράλληλα καθιζάνουν
και τυχόν ακαθαρσίες και μάλιστα ως ξεχωριστό στρώμα, οπότε ελέγχεται εύκολα η
ποιότητα του λουτρού. Χαρακτηριστικό είναι ότι η συγκέντρωση των φθοριζόντων
σωματιδίων είναι πολύ μικρότερη από αυτή των ορατών (της τάξης του 1/10), κυρίως λόγω
της μεγαλύτερης αντίθεσης και ευαισθησίας που προσφέρουν (και επομένως και του πολύ
ισχυρού υπόβαθρου). Εξάλλου, ακριβώς λόγω της μεγάλης ευαισθησίας και του ισχυρού
υπόβαθρου, δε χρησιμοποιείται η υγρή φθορίζουσα μέθοδος, όταν αναμένονται σχετικά
μεγάλες ασυνέχειες ή όταν υπάρχει βεβαιότητα εκτεταμένων μη σχετικών ενδείξεων όπως,
σε ακατέργαστα χυτά, ατρόχιστες συγκολλήσεις και γενικά επιφάνειες με υψηλή
τραχύτητα.
|259|
Εικόνα 7.25: Σύγκριση ευαισθησίας διαφόρων μεθόδων ελέγχου με μαγνητικά σωματίδια
7.14 Εφαρμογή των μαγνητικών σωματιδίων
Για τη συνεχή μέθοδο μαγνήτισης, τα μαγνητικά σωματίδια εφαρμόζονται λίγο πριν

και κατά τη διάρκεια της μαγνήτισης. Η εφαρμογή των μαγνητικών σωματιδίων
διακόπτεται πριν τον τερματισμό της μαγνήτισης. Πρέπει να δίνεται επαρκής χρόνος στις
ενδείξεις για την ανάπτυξη τους πριν από τη μετακίνηση του δοκιμίου. Στην περίπτωση
εφαρμογής ξηρών μαγνητικών σωματιδίων, πρέπει να εφαρμόζονται κατά τέτοιο τρόπο,
ώστε να ελαχιστοποιείται η διατάραξη των ενδείξεων.
Κατά τη διάρκεια εφαρμογής της μαγνητικής μελάνης, πρέπει να αφήνεται να
ρεύσει στην επιφάνεια με πολύ μικρή πίεση, έτσι ώστε τα σωματίδια να συγκεντρώνονται
στην ένδειξη.
Μετά την εφαρμογή της υγρής μεθόδου, το δοκίμιο πρέπει να αφήνεται ώστε να
στραγγίσουν τα υγρά και να βελτιωθεί η αντίθεση των ενδείξεων.
7.15 Γεωμετρικά χαρακτηριστικά και υλικά μαγνητικών σωματιδίων
Τα μαγνητικά σωματίδια έχουν διάφορα σχήματα (κυρίως επιμήκη και σφαιρικά),

διαστάσεις και χρώματα. Για κάθε εφαρμογή, είναι πολύ κρίσιμο το εύρος (και η αναλογία)
των διαστάσεων αλλά και η αναλογία επιμήκων προς σφαιρικά σωματίδια. Οι ξηρές
σκόνες περιέχουν πιο μεγάλα μαγνητικά σωματίδια σε σχέση με τις μελάνες και
αποτελούνται κυρίως από επιμήκη σωματίδια. Τα περισσότερα μίγματα ξηρών μαγνητικών
σωματιδίων έχουν διαστάσεις σωματιδίων με αναλογίες L/D μεταξύ ενός και δύο.
Τα σωματίδια των μελανών έχουν γενικά μικρότερο μέγεθος σε σχέση με αυτά της
ξηρής σκόνης και περιέχουν μεγαλύτερο αριθμό σφαιρικών σωματιδίων (για να
διακόπτεται η αλυσίδα της ένδειξης διότι τα επιμήκη σωματίδια, μαγνητιζόμενα,
συμπεριφέρονται ως μικροί ραβδόμορφοι μαγνήτες). Το μέγιστο μέγεθος των σωματιδίων
που χρησιμοποιούνται σε μελάνες είναι 40 - 60μm, ενώ υπάρχουν (σε μικρή αναλογία) και
σωματίδια μήκους έως 1/8μm. Πιο αναλυτικά, σύμφωνα με το ΕΝ 9934-2 τα υγρά
σωματίδια έχουν διαστάσεις από 1,5 - 40μm ενώ οι αντίστοιχες των ξηρών σωματιδίων
είναι μεγαλύτερες ή ίσες των 40μm.
|260|
Το ειδικό βάρος των σωματιδίων κυμαίνεται μεταξύ 5 και 8Kg/lt. Τα μαγνητικά
σωματίδια που χρησιμοποιούνται ως ξηρή σκόνη προέρχονται συνήθως από μαλακό
σίδηρο ενώ αυτά της υγρής μεθόδου από οξείδια του σιδήρου.
Η μαγνητική διαπερατότητα των μαγνητικών σωματιδίων είναι αρκετά υψηλή,
χωρίς όμως αυτό να αποτελεί τον κύριο παράγοντα ευαισθησίας. Εξάλλου, η μαγνητική
διαπερατότητα κάθε υλικού εξαρτάται από την κατάσταση μαγνήτισης. Συνήθως, ως τιμή
της μαγνητικής διαπερατότητας για κάθε υλικό, ορίζεται η μέγιστη τιμή της ενώ στην
περίπτωση των μαγνητικών σωματιδίων, ενδιαφέρει κυρίως η αρχική τους μαγνήτιση, διότι
το διαρρέον μαγνητικό πεδίο είναι ασθενές. Συχνά, υλικά υψηλής μέγιστης διαπερατότητας
παρουσιάζουν μικρότερη αρχική διαπερατότητα από άλλα υλικά, με σχετικά μικρότερη
μέγιστη διαπερατότητα.
Όσον αφορά στο συνεκτικό πεδίο και στη συγκρατησιμότητα των μαγνητιζόμενων
σωματιδίων, απαιτούνται χαμηλές τιμές για πολλούς και εύκολα κατανοητούς λόγους.
Ωστόσο, μία μικρή τιμή συγκρατησιμότητας είναι επιθυμητή, τόσο στην ξηρή όσο και στην
υγρή μέθοδο, προκειμένου να εξασφαλιστεί μεγαλύτερη κινητικότητα των σωματιδίων.
Εικόνα 7.26: Ξηρά μαγνητικά σωματίδια
7.16 Ορατά και φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια
Σε γενικές γραμμές, τα μαγνητιζόμενα σωματίδια που χρησιμοποιούνται, τόσο στη

ξηρή όσο και στην υγρή μέθοδο, επικαλύπτονται από τον κατασκευαστή με ορατή ή
φθορίζουσα βαφή. Το συνηθέστερο ορατό χρώμα είναι το μαύρο, αν και στις Η.Π.Α,
χρησιμοποιούνται μαγνητικά σωματίδια γκρι, κίτρινου και κόκκινου χρώματος. Ιδιαίτερα
στην Ευρώπη, πριν από την εφαρμογή των ορατών σωματιδίων, είναι συνήθης η
επικάλυψη του δοκιμίου με ένα λευκό υπόστρωμα (white contrast), προκειμένου να
αυξηθεί η χρωματική αντίθεση των ενδείξεων.
Η αντίθεση ένδειξης - υποβάθρου γίνεται μέγιστη στην περίπτωση των φθοριζόντων
μαγνητικών σωματιδίων. Απαιτείται βεβαίως υπεριώδες φως (ultraviolet light, UV-A)
ώστε, να ενεργοποιηθεί η φθορίζουσα βαφή, καθώς και συνθήκες σχετικού σκότους κατά
την εξέταση. Όμως, λόγω ακριβώς της μεγάλης αντίθεσης μεταξύ της φωτεινής ένδειξης
και του σκοτεινού υποβάθρου, η ευαισθησία της μεθόδου είναι ασύγκριτα μεγαλύτερη από
την αντίστοιχη των ορατών σωματιδίων. Ακριβώς γι’ αυτό το λόγο (και παρότι η
συγκέντρωση σωματιδίων στις φθορίζουσες μελάνες είναι πολύ μικρότερη από ότι στις
ορατές), η μέθοδος των φθοριζόντων μαγνητικών σωματιδίων εφαρμόζεται μόνο ως υγρή
μέθοδος και στην περίπτωση που αναζητούνται μικρές σχετικά ασυνέχειες.
|261|
Για ακόμη μεγαλύτερη ευαισθησία χρησιμοποιούνται βαφές που φθορίζουν στο
κίτρινο - πράσινο χρώμα (μήκος κύματος περίπου 550 - 570nm), στο οποίο το ανθρώπινο
μάτι είναι περισσότερο ευαίσθητο, σε συνθήκες σκότους.
Όπως αναφέρθηκε, όλα τα μαγνητιζόμενα σωματίδια έχουν επικάλυψη με ορατή ή
φθορίζουσα βαφή. Σε κάθε περίπτωση, η ικανότητα του ανθρώπινου οφθαλμού να
εντοπίζει την ύπαρξη ένδειξης εξαρτάται και από το λόγο αντίθεσης (contrast ratio) της
ένδειξης και του υποβάθρου της. Στην περίπτωση αντίθεσης μαύρου-άσπρου (π.χ. ορατά
μαγνητικά σωματίδια), ο λόγος αντίθεσης είναι πρακτικά της τάξης του 9:1, ενώ για
αντίθεση κόκκινου-άσπρου (όπως στα ορατά διεισδυτικά) της τάξης του 6:1. Πρακτικά,
στην περίπτωση φθοριζόντων ουσιών, ο λόγος αντίθεσης εύκολα φτάνει την τιμή 300:1.
Ωστόσο, εφικτές είναι επίσης και τιμές 1000:1. Θεωρητικά, ο λόγος ορατής αντίθεσης δε
μπορεί να ξεπεράσει το 33:1, ενώ είναι άπειρος θεωρητικά στην περίπτωση φθορίζοντος
αντικειμένου μαύρου υποβάθρου.
Αυτός είναι ένας από τους λόγους για τους οποίους η μέθοδος με φθορίζοντα
σωματίδια είναι περισσότερο ευαίσθητη από τη μέθοδο ορατών σωματιδίων, απλά επειδή
αυξάνεται η ικανότητα αντίληψης της ένδειξης.
Άλλος λόγος είναι ότι σε συνθήκες άπλετου φωτισμού, το ανθρώπινο μάτι διακρίνει
μεν πολύ καλά χρωματικές διαφορές αλλά δε διακρίνει μικρές πηγές φωτός. Τα πράγματα
αντιστρέφονται σε πολύ χαμηλές συνθήκες φωτισμού. Μάλιστα, λόγω του φαινομένου με
τον αγγλικό όρο halation, οι μικρές πηγές φωτός σε σκοτεινό περιβάλλον φαίνονται
μεγαλύτερες από ότι πραγματικά είναι (και άρα εντοπίζονται ευκολότερα). Επίσης, σε
συνθήκες πολύ χαμηλού φωτισμού, το μάτι οδηγείται σε υπάρχουσες πηγές φωτός. Έτσι
και πάλι η φθορίζουσα βαφή είναι πιο ευαίσθητη, απλά διότι δημιουργεί ένδειξη
ευκολότερα αντιληπτή. Εξάλλου, το ανθρώπινο μάτι είναι ικανό να διακρίνει διαφορά
φωτεινότητας της τάξης του 10 - 15%. Γενικά, σε συνθήκες υψηλού φωτισμού το
ανθρώπινο μάτι βλέπει μέσω των κωνίων (cones), ενώ σε συνθήκες χαμηλού φωτισμού
μέσω των ραβδίων (rods), τα οποία είναι έως και σαράντα φορές πιο ευαίσθητα.
Εικόνα 7.27: Υγρά ορατά και φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια
7.17 Φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια
Φθορισμός ονομάζεται το φαινόμενο κατά το οποίο ένα υλικό απορροφά ενέργεια

ορισμένου μήκους κύματος και ταυτόχρονα εκπέμπει φως διαφορετικού μήκους κύματος
(κατά το φωσφορισμό η εκπομπή συνεχίζει και μετά την απορρόφηση).
Όταν τα φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια εκτίθενται στο υπεριώδες φως (black
light) εκπέμπουν ένα πολύ ορατό κίτρινο-πράσινο χρώμα. Οι ενδείξεις που παράγονται
διακρίνονται εύκολα διότι τα φθορίζοντα σωματίδια παρέχουν πολύ ισχυρότερες ενδείξεις
σε πολύ μικρές ασυνέχειες σε σχέση με τις αντίστοιχες ενδείξεις των μη φθοριζόντων
μαγνητικών σωματιδίων.
|262|
Οι φθορίζουσες βαφές των μαγνητιζόμενων σωματιδίων απορροφούν υπεριώδες
φως μήκους κύματος 350 - 400nm, με μέγιστη απόδοση στα 365nm, όπου και η μέγιστη
απόδοση του φίλτρου της λάμπας. Εκπέμπουν φως μήκους κύματος 475 - 575nm, δηλαδή
κιτρινοπράσινης απόχρωσης. Το χρώμα αυτό έχει το πλεονέκτημα, αφενός να μη συγχέεται
με το φυσικό χρώμα φθορισμού οργανικών ουσιών (περίπου μπλε) και αφετέρου είναι
εύκολα ορατό για το ανθρώπινο μάτι, ακόμα και σε πολύ μικρή ένταση.
Γενικά, συνιστάται πολύ χαμηλός φωτισμός περιβάλλοντος (10 - 32lux, ανάλογα με
τη χρησιμοποιούμενη προδιαγραφή). Το απόλυτο σκοτάδι, αν και είναι επιθυμητό από
άποψη ελέγχου, πρέπει να αποφεύγεται για λόγους ασφαλείας. Η ένταση του υπεριώδους
φωτός πάνω στο δοκίμιο πρέπει να ελέγχεται. Οι προδιαγραφές απαιτούν ένταση
τουλάχιστον 800μW/cm2 (συνήθως 1.000), συχνά 1.500 και μερικές φορές 3.000μW/cm2.
Συνιστάται παραμονή στο σκοτεινό θάλαμο τουλάχιστον 5min, πριν αρχίσει ο έλεγχος,
ώστε οι οφθαλμοί να προσαρμοστούν στις συνθήκες πολύ χαμηλού φωτισμού. Συνιστάται
επίσης, η χρήση γυαλιών τα οποία απορροφούν το υπεριώδες φως, για να μη κουράζονται
τα μάτια και να βελτιώνονται οι συνθήκες παρατήρησης.
Πρέπει επίσης να αποφεύγονται τα λευκά ρούχα διότι τα απορρυπαντικά συνήθως
περιέχουν και φθορίζουσες βαφές στην περιοχή του μπλε (για επίπλαστη αίσθηση
καθαρότητας, λόγω φθορισμού από το υπεριώδες φως του ήλιου και των λαμπτήρων).
Εάν κοιτάξει κανείς απευθείας τη λάμπα μαύρου φωτός, ενδέχεται να δει φωτεινά σημάδια
αλλά και οι οφθαλμοί μας να φαίνονται φωτεινοί στους παρευρισκόμενους (λόγω
φθορισμού ουσιών μέσα στο μάτι). Το φαινόμενο αυτό είναι αβλαβές και προσωρινό μεν,
ωστόσο, μπορεί να φέρει αμηχανία και παροδική ομιχλώδη όραση.
Τέλος, σύμφωνα με το ΕΝ 9934-2 η μέγιστη περιεκτικότητα σε θείο και αλογόνα
στα αναλώσιμα μαγνητικών σωματιδίων ορίζεται σε 200 ppm ±10.
Εικόνα 7.28: Επιθεώρηση με φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια
7.18 Σύγκριση και επιλογή ξηρής ή υγρής μεθόδου
Σε γενικές γραμμές, η επιλογή της ξηρής ή της υγρής μεθόδου εξαρτάται από τους
ακόλουθους παράγοντες:
 Τον τύπο των ασυνεχειών (επιφανειακές ή υποεπιφανειακές). Η ξηρή μέθοδος
παρουσιάζει μεγαλύτερη ευαισθησία στην ανίχνευση υποεπιφανειακών ασυνεχειών.
 Τις διαστάσεις των επιφανειακών ασυνεχειών. Η υγρή μέθοδος είναι συνήθως
καλύτερη στον εντοπισμό πολύ λεπτών, μικρών και μικρού βάθους ασυνεχειών.
 Την ευκολία εφαρμογής. Η ξηρή μέθοδος με μία φορητή μονάδα ημιανορθωμένου
ρεύματος είναι εύκολη στην χρήση σε μεγάλα δοκίμια τόσο σε εργαστηριακές όσο
και σε εργοταξιακές εφαρμογές.
Η μέθοδος ξηρής σκόνης υπερέχει στον εντοπισμό ασυνεχειών που βρίσκονται εξ’
ολοκλήρου κάτω από την επιφάνεια, λόγω της υψηλής διαπερατότητας και του επιμήκους
σχήματος των μαγνητικών σωματιδίων.
|263|
Το εναλλασσόμενο ρεύμα σε συνδυασμό με την ξηρή μέθοδο είναι πολύ καλή
επιλογή για επιφανειακά ρήγματα τα οποία δεν είναι πολύ λεπτά, αλλά όχι ιδανική μέθοδος
για ασυνέχειες που βρίσκονται έστω και ελάχιστα κάτω από την επιφάνεια. Όταν
απαιτείται ανίχνευση πολύ λεπτών επιφανειακών ρηγμάτων, η υγρή μέθοδος θεωρείται
ανώτερη, ανεξάρτητα από τη μορφή του ρεύματος που εφαρμόζεται.
Σε ορισμένες περιπτώσεις, με την επιλογή συνεχούς ρεύματος και της υγρής
μεθόδου εντοπίζονται καλύτερα οι ενδείξεις των ασυνεχειών που βρίσκονται ακριβώς κάτω
από την επιφάνεια.
Η υγρή μέθοδος προσφέρει το πλεονέκτημα της εύκολης και πλήρους κάλυψης της
επιφάνειας δοκιμίων όλων των διαστάσεων και σχημάτων. Η ξηρή μέθοδος
χρησιμοποιείται συχνά για επιτόπιους σημειακούς ελέγχους.
7.19 Σύγκριση και επιλογή ορατών ή φθοριζόντων μαγνητικών σωματιδίων
Η επιλογή του χρώματος των μαγνητικών σωματιδίων σχετίζεται με την καλύτερη

αντίθεση, δηλαδή την αντίθεση του υπόβαθρου (φόντου) και της επιθεωρούμενης
επιφάνειας στην οποία πρόκειται να εφαρμοσθούν.
Οι διαφορές στην ορατότητα μεταξύ των μαύρων, των γκρι και κόκκινων
μαγνητικών σωματιδίων είναι σημαντικές για ένα φόντο το οποίο μπορεί να είναι σκοτεινό
ή φωτεινό και το οποίο μπορεί να εμφανίζεται σε διαφορετικά επίπεδα φωτισμού.
Τα μαύρα μαγνητικά σωματίδια διακρίνονται καλύτερα στις ελαφρά χρωματισμένες
επιφάνειες ενώ το γκρι στις πιο σκούρες επιφάνειες.
Τα κόκκινα μαγνητικά σωματίδια είναι πιο ορατά σε γυαλισμένες επιφάνειες, ιδίως
όταν ο φωτισμός προέρχεται από λαμπτήρες πυρακτώσεως.
Εάν η ένδειξη είναι δύσκολα ορατή, ο επιθεωρητής πρέπει να δοκιμάσει κάποιο
άλλο χρώμα μαγνητικών σωματιδίων. Στην περίπτωση της υγρής μεθόδου, η απόλυτη
ορατότητα και αντίθεση επιτυγχάνεται με τη χρήση των φθοριζόντων μαγνητικών
σωματιδίων.
Τέλος, η επιθεώρηση με φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια και την υγρή μέθοδο
αποκλειστικά, καθώς τα φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια δεν εφαρμόζονται με την ξηρή
μέθοδο, βρίσκει εφαρμογή όλο και περισσότερο, κυρίως λόγω της ευκολίας διάκρισης
ακόμη και πολύ μικρών ενδείξεων.
|264|
8. ΣΥΝΘΗΚΕΣ ΠΑΡΑΤΗΡΗΣΗΣ
Ακριβώς όπως ο φωτισμός είναι ένα σημαντικό στοιχείο στη διαδικασία ελέγχου,
έτσι είναι και η απόκριση του ματιού στις συνθήκες φωτισμού. Μία ειδική, μικρή ομάδα
κυττάρων στο πίσω μέρος του ματιού μεταβιβάζει πληροφορίες στον εγκέφαλο για την
ποσότητα του φωτός που υπάρχει, με αποτέλεσμα η κόρη του ματιού να συστέλλεται ή να
διαστέλλεται. Η συστολή και η διαστολή της κόρης του ματιού δεν είναι στιγμιαία.
Επομένως, πρέπει να δοθεί χρόνος στα μάτια για να προσαρμοστούν στις μεταβαλλόμενες
συνθήκες φωτισμού. Κατά την επιθεώρηση με φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια, πρέπει να
δίνεται χρόνος στους οφθαλμούς του επιθεωρητή ώστε να προσαρμοστούν στις συνθήκες
χαμηλού φωτισμού στο θάλαμο ελέγχου πριν ξεκινήσει να ανιχνεύει ενδείξεις. Για τις
περισσότερες διαδικασίες απαιτείται χρόνος προσαρμογής τουλάχιστον ενός λεπτού.
Ορισμένες προδιαγραφές συνιστούν χρόνο προσαρμογής πέντε λεπτών, εφόσον ο
επιθεωρητής εισέρχεται στο σκοτεινό θάλαμο μετά από έκθεση σε άμεσο ηλιακό φως. Οι
επιθεωρητές πρέπει να τηρούν προσεκτικά τον απαιτούμενο χρόνο προσαρμογής,
δεδομένου ότι είναι αρκετά εύκολο να παραβλέψουν μια ένδειξη, όταν τα μάτια δεν έχουν
προσαρμοστεί στις συνθήκες χαμηλού φωτισμού.
Εικόνα 8.1: Ανθρώπινος οφθαλμός
Όταν το υπεριώδες φως εισέρχεται στο ανθρώπινο μάτι, το υγρό του ματιού
φθορίζει. Η κατάσταση αυτή αποδίδεται με τον αγγλικό όρο ocular fluorescence και ενώ
θεωρείται ακίνδυνη, είναι ενοχλητική και όσο διαρκεί επηρεάζει την όραση. Όταν
εργάζεται κανείς σε συνθήκες υπεριώδους φωτός, πρέπει να είναι προσεκτικός ώστε να μην
κοιτά απευθείας το υπεριώδες φως και να αποφεύγει τις άμεσες ανακλάσεις από τις λάμπες.
Χρησιμοποιούνται ειδικά γυαλιά με φίλτρα έτσι ώστε, να αποκόπτεται η υπεριώδης
ακτινοβολία, επιτρέποντας στο κίτρινο-πράσινο φως από το φθορισμό των ενδείξεων να
φτάνει στο μάτι. Οι επιθεωρητές δεν πρέπει ποτέ να φορούν σκούρα ή φωτοχρωμικά
γυαλιά διότι σκουραίνουν και φιλτράρουν την ακτινοβολία UV-A μειώνοντας την
ικανότητα του επιθεωρητή στην ανίχνευση των ασυνεχειών.
8.1 Παρατήρηση ενδείξεων ορατών και φθοριζόντων σωματιδίων
Σύμφωνα με τα πρότυπα EN ISO 9934-1 και EN ISO 3059 κατά την εφαρμογή της
μεθόδου των ορατών μαγνητικών σωματιδίων απαιτείται επίπεδο φωτεινότητας
τουλάχιστον 500lux. Σημειώνεται ότι σύμφωνα με την ASME V απαιτούνται 1.000lux.
Κατά την επιθεώρηση με φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια, το επίπεδο
φωτεινότητας δεν πρέπει να ξεπερνά τα 20lux στην επιφάνεια του δοκιμίου σύμφωνα με τα
πρότυπα EN ISO 9934-1, EN ISO 3059 και την ASME V.
|265|
Εικόνα 8.2: Μετρητής έντασης ορατού φωτός
8.2 Το υπεριώδες φως (black light)
Το ορατό φως έχει μήκη κύματος μεταξύ 400 και 700nm (4.000 έως
7.000Angstrom). Αντίστοιχα, το υπεριώδες φως έχει μικρότερα μήκη κύματος (100 έως
400nm) και χωρίζεται σε τρεις ζώνες: UV-A (315 - 400nm), UV-B (280 – 315nm) και
UV-C (100 - 280nm).
Το τμήμα UV-A ονομάζεται και μαύρο φως (black light). Ενώ τα τμήματα UV-B
και UV-C θεωρούνται βλαπτικά για τους ζωντανούς ιστούς και οργανισμούς, το μαύρο
φως θεωρείται ακίνδυνο, ακόμα και με άμεση όραση. Γενικά, συνιστάται χαμηλός
φωτισμός περιβάλλοντος κατά την εξέταση με φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια. Το
απόλυτο σκοτάδι, αν και επιθυμητό από άποψη ελέγχου, πρέπει να αποφεύγεται για λόγους
ασφαλείας. Πάνω στο δοκίμιο πρέπει να ελέγχεται η ένταση του υπεριώδους φωτός.
Σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ISO 3059 και τον ASME V απαιτείται ένταση υπεριώδους
φωτός τουλάχιστον 1.000μW/cm2 και ένταση ορατού φωτός στα 20lux.
Εικόνα 8.3: Μετρητής έντασης υπεριώδους φωτός
8.3 Λάμπες υπεριώδους φωτός
Στο εμπόριο διατίθενται λάμπες υπεριώδους φωτός τύπου πυρακτώσεως

(incandescent) ή σωληνοειδούς τύπου όπως οι λάμπες φθορισμού ή οι λάμπες ατμών
υδραργύρου. Οι δύο πρώτες κατηγορίες δίνουν μικρές εντάσεις και χρησιμοποιούνται
κυρίως βοηθητικά. Σημειώνεται ότι οι συνήθεις λάμπες τύπου πυρακτώσεως πρέπει να
τοποθετούνται οριζόντια και όχι κάθετα (όπως οι κοινές λάμπες πυρακτώσεως), διότι
εκπέμπουν από το πλάι τους. Έχουν και αυτές ιδιαίτερο τρόπο έναυσης, συνεπώς το
σβήσιμο της λάμπας και η επανεκκίνησή της (σκόπιμα ή λόγω αύξησης της θερμοκρασίας)
απαιτεί την αναμονή λίγων λεπτών, ώστε η ένταση να φτάσει στην επιθυμητή τιμή.
|266|
Οι λάμπες υπεριώδους φωτός που συνήθως χρησιμοποιούνται είναι αυτές των
ατμών υδραργύρου. Παράγουν υπεριώδες αλλά και ορατό φως, της τάξης των 300 -
670nm, με μέγιστη ένταση στα 365nm. Το φίλτρο όμως που φέρουν απορροφά τα μικρά
μήκη κύματος καθώς και το μεγαλύτερο μέρος του ορατού φάσματος επιτρέποντας την
εκπομπή μηκών κύματος μεταξύ 300 - 400nm (δηλαδή υπεριώδες φως αλλά και ελάχιστο
ορατό ιώδες).
Εικόνα 8.4: Το φάσμα της υπεριώδους ακτινοβολίας, του ορατού φωτός και της υπέρυθρης
ακτινοβολίας
Για λόγους ασφαλείας, το φίλτρο πρέπει να ελέγχεται τακτικά για πιθανά

γδαρσίματα και βεβαίως να μη χρησιμοποιείται αν ραγίσει ή σπάσει. Για βέλτιστη
απόδοση, το φίλτρο πρέπει να καθαρίζεται τακτικά από σκόνες ή άλλους ρύπους.
Η ακτινοβολία μέγιστης έντασης η οποία περνά από το φίλτρο εντοπίζεται στα
365nm, δηλαδή εκεί όπου παρουσιάζεται η μέγιστη ένταση παραγωγής φωτός αλλά και το
σημείο ενεργοποίησης των βαφών που φθορίζουν.
Το τόξο υδραργύρου δημιουργείται ανάμεσα σε δύο ηλεκτρόδια τοποθετημένα σε
κρυστάλλινη κάψουλα με πλήρωση από αέριο νέον, όπου υπάρχει και το βοηθητικό
ηλεκτρόδιο για την έναυση του τόξου, μέσω θέρμανσης και εξάτμισης του υδραργύρου. Το
βοηθητικό ηλεκτρόδιο τροφοδοτείται με ρεύμα μέσω ηλεκτρικής αντίστασης. Ολόκληρο το
σύστημα τροφοδοτείται από μετασχηματιστή, ώστε να περιορίζεται η τιμή της έντασης του
ρεύματος στα βασικά ηλεκτρόδια.
Η κάψουλα με τα προαναφερθέντα τρία ηλεκτρόδια είναι τοποθετημένη σε γυάλινο
περίβλημα. Το μπροστινό τμήμα του περιβλήματος έχει κατάλληλη κυρτότητα, ώστε να
εστιάζεται το φως της λάμπας. Η επιλογή του εκπεμπόμενου φάσματος γίνεται κυρίως
μέσω κατασκευαστικής ρύθμισης της πίεσης στην εσωτερική κρυστάλλινη κάψουλα. Οι
λάμπες που χρησιμοποιούνται συνήθως είναι μέσης πίεσης (συνήθως 10atm). Ειδικότερα,
οι λάμπες ατμών υδραργύρου που χρησιμοποιούνται συνήθως είναι τύπου spot 100Watt.
Εάν η λάμπα υπερθερμανθεί σβήνει (γι’ αυτό και συνιστάται η αφαίρεση του
φίλτρου και ο καθαρισμός τόσο του φίλτρου, όσο και της λάμπας), ενώ κάθε σβήσιμό της
(σκόπιμα ή λόγω υπερθέρμανσης) έχει συνέπειες στη διάρκεια ζωής της, καθώς για κάθε
άναμμα καταναλώνεται υλικό των ηλεκτροδίων. Επίσης, η υψηλή τάση δικτύου μπορεί να
επιφέρει μείωση της διάρκειας ζωής της λάμπας. Χαμηλή τάση έχει ως συνέπεια το
σβήσιμό της.
|267|
Μία λάμπα φτάνει στην πλήρη απόδοση της, πέντε λεπτά τουλάχιστον από τη
στιγμή που ανάβει. Εάν σβήσει, τότε χρειάζεται τουλάχιστον 10 λεπτά για να φτάσει στην
πλήρη απόδοση. Αυτός είναι και ένας άλλος λόγος για τον οποίο η λάμπα δεν πρέπει να
σβήνει, παρά μόνο στο τέλος της εργασίας.
Στο εμπόριο κυκλοφορούν λάμπες υπεριώδους φωτός οι οποίες φτάνουν στη
μέγιστη απόδοσή τους πάρα πολύ γρήγορα μετά το άναμμα, ακόμη και μετά από
επαναλαμβανόμενα ανοίγματα και σβησίματα.
Εικόνα 8.5: Λάμπες UV-A τέταρτης γενιάς φορητές και σταθερές
Εικόνα 8.6: Λάμπες UV-A υψηλής έντασης (60.000μW/cm2 στα 400mm)
|268|
9. ΟΡΓΑΝΑ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΜΑΓΝΗΤΙΣΜΟΥ
9.1 Το φαινόμενο HALL
Κατά την επίδραση μαγνητικού πεδίου σε ρευματοφόρους αγωγούς, εκτός από την
εμφάνιση της μαγνητικής δύναμης Laplace, παρατηρείται και το φαινόμενο Hall τo οποίο
ανακαλύφθηκε το 1879 από τον Edwin Hall. Το φαινόμενο αυτό προκαλείται από τη
μονομερή απόκλιση των φορέων φορτίου, λόγω της αλληλεπίδρασης με το μαγνητικό
πεδίο.
Ανεπαίσθητο από τους συνήθεις συρμάτινους αγωγούς, γίνεται αντιληπτό σε
ρευματοφόρους αγωγούς όπως είναι τα πλακίδια ορισμένου πάχους, των οποίων οι
εγκάρσιες διαστάσεις είναι συγκρίσιμες προς το μήκος τους. Το φαινόμενο Hall
αξιοποιείται για τη μέτρηση του μαγνητικού πεδίου αλλά και για τον προσδιορισμό της
κατεύθυνσής του.
9.2 Όργανα μετρήσεων μαγνητικού πεδίου
Δεδομένου ότι δεν είναι πρακτικά εφικτό να μετρηθεί η πραγματική ισχύς του
μαγνητικού πεδίου μέσα σε ένα υλικό, όλες οι συσκευές μέτρησης μετρούν το πεδίο έξω
από αυτό. Υπάρχει ένας αριθμός διαφορετικών συσκευών που μπορούν να
χρησιμοποιηθούν για την ανίχνευση και τη μέτρηση του εξωτερικού μαγνητικού πεδίου. Οι
δύο συσκευές που χρησιμοποιούνται συνήθως κατά την επιθεώρηση με τη μέθοδο των
μαγνητικών σωματιδίων είναι ο δείκτης πεδίου και ο μετρητής Hall effect, ο οποίος και
καλείται γκαουσόμετρο. Έχουν αναπτυχθεί διάφοροι μετρητές οι οποίοι χρησιμοποιούνται
για να προσδιορίσουν την κατεύθυνση και την ισχύ του μαγνητικού πεδίου χωρίς να
κάνουν ποσοτική μέτρηση.
Το όργανο το οποίο μπορεί να πραγματοποιήσει τέτοια ποσοτική μέτρηση είναι ο
μετρητής μαγνητικής ροής (flux meter) που έχει όμως εφαρμογή μόνο σε δοκίμια
κατάλληλου σχήματος. Αποτελείται από ένα πηνίο στο οποίο τοποθετείται το
μαγνητισμένο δοκίμιο. Μέσω ενός γαλβανομέτρου μετράται η μέση τιμή της μαγνητικής
ροής στο εσωτερικό του πηνίου και κατά τη διεύθυνση του άξονα του πηνίου. Επομένως,
μπορεί να υπολογιστεί η μέση τιμή της πυκνότητας μαγνητικής ροής μέσα στο δοκίμιο.
Εναλλακτικά, το πηνίο μπορεί να διαμορφωθεί με κατάλληλη περιτύλιξη ενός εύκαμπτου
αγωγού στο δοκίμιο.
Άλλη κατηγορία οργάνων είναι οι μετρητές μαγνητικού πεδίου (magnetic field
meters), οι οποίοι μετρούν την ένταση του πεδίου στον αέρα. Ουσιαστικά, μετρούν την
εφαπτομενική συνιστώσα της έντασης (Η) του πεδίου κοντά στην επιφάνεια του δοκιμίου,
δηλαδή τη συνισταμένη που είναι παράλληλη προς την επιφάνεια του. Παρότι συχνά αυτά
τα όργανα είναι βαθμομημένα σε Gauss, ουσιαστικά δίνουν μετρήσεις σε Oersted
(υπενθυμίζεται ότι στο ΗΜΣ οι αριθμητικές τιμές τους συμπίπτουν).
Επειδή η τιμή της εφαπτομενικής συνισταμένης της έντασης Η είναι ίδια σε κάθε
πλευρά της εξωτερικής επιφάνειας του δοκιμίου, εάν είναι γνωστή η μαγνητική
διαπερατότητα του υλικού (πράγμα επίσης δύσκολο αφού και αυτή εξαρτάται από την
ένταση του πεδίου), μπορεί να υπολογιστεί η μαγνητική επαγωγή μέσα στο υλικό και
κοντά στην εξωτερική επιφάνεια του.
Η κύρια εφαρμογή όμως των μετρητών μαγνητικού πεδίου είναι η εύρεση της
διεύθυνσης του πεδίου και η συγκριτική παρατήρηση της έντασης του. Έτσι, εάν είναι
γνωστή η μέτρηση που απαιτείται για να υπάρχει επαρκής μαγνήτιση, μπορεί κάποιος στη
συνέχεια να βασιστεί στην επίτευξη αυτής της τιμής της εφαπτομενικής συνιστώσας της
|269|
έντασης Η, χωρίς να ενδιαφέρεται για την πραγματική τιμή της πυκνότητας μαγνητικής
ροής.
Οι μετρητές μαγνητικού πεδίου βασίζονται συχνά στο φαινόμενο Hall παρότι
υπάρχουν και άλλες αρχές πάνω στις οποίες μπορούν να αναπτυχθούν.
9.3 Δείκτης μαγνητικού πεδίου (γκαουσόμετρο) (field indicator)
Οι δείκτες πεδίου είναι μικρές μηχανικές συσκευές που χρησιμοποιούν ένα πτερύγιο
από μαλακό σίδηρο το οποίο εκτρέπεται από ένα μαγνητικό πεδίο. Η Εικόνα 9.1 δείχνει
την εσωτερική λειτουργία ενός τέτοιου δείκτη πεδίου. Το πτερύγιο συνδέεται με μια
βελόνα που περιστρέφεται μετακινώντας το δείκτη σε μία βαθμονομημένη κλίμακα. Η
βαθμονομημένη κλίμακα μπορεί να ρυθμιστεί και να βαθμονομηθεί έτσι ώστε να μπορούν
να ληφθούν ποσοτικές πληροφορίες. Ωστόσο, το εύρος μέτρησης των δεικτών του πεδίου
είναι συνήθως μικρό λόγω των μηχανικών περιορισμών της διάταξης. Το γκαουσόμετρο
της Εικόνας 9.1 μπορεί να μετρήσει σε ένα εύρος από -20 έως +20Gauss. Αυτό το
περιορισμένο φάσμα το καθιστά καταλληλότερο για τη μέτρηση της παραμένουσας
μαγνήτισης μετά την απομαγνήτιση.
Εικόνα 9.1: Γκαουσόμετρο
9.4 Μετρητής φαινομένου HALL (gauss/tesla)
O μετρητής φαινομένου Hall είναι μια ηλεκτρονική συσκευή που παρέχει ψηφιακή
ένδειξη της έντασης του μαγνητικού πεδίου σε Gauss ή Tesla. Οι μετρητές χρησιμοποιούν
ένα πολύ μικρό αγωγό ή ημιαγωγό στο άκρο της κεφαλής ο οποίος διαρρέεται από ρεύμα.
Σε ένα μαγνητικό πεδίο, η δύναμη που ασκείται στα κινούμενα ηλεκτρόνια τείνει να τα
ωθεί προς τη μία πλευρά του αγωγού. Μια συσσώρευση φορτίου στις πλευρές των αγωγών
ισορροπεί αυτή τη μαγνητική επίδραση, παράγοντας μια μετρήσιμη τάση μεταξύ των δύο
πλευρών του. Η παρουσία αυτής της μετρήσιμης εγκάρσιας τάσης ονομάζεται φαινόμενο
Hall.
Εικόνα 9.2: Σχηματική αναπαράσταση μετρητή Hall
|270|
Η τάση που δημιουργείται (Vh) σχετίζεται με το εξωτερικό μαγνητικό πεδίο
σύμφωνα με την ακόλουθη εξίσωση:
I • B • Rh
Vh = ------------------------
b
Όπου:
Vh: η παραγόμενη τάση
I: η ένταση του συνεχούς ρεύματος του στοιχείου
B: η συνιστώσα του μαγνητικού πεδίου η οποία είναι κάθετη στην ένταση του συνεχούς
ρεύματος του στοιχείου Hall
Rh: ο συντελεστής Hall του στοιχείου Hall
b: το πάχος του στοιχείου Hall
Εικόνα 9.3: Μετρητής έντασης μαγνητικού πεδίου
Οι κεφαλές είναι διαθέσιμες με εφαπτόμενο (εγκάρσιο) ή αξονικά τοποθετημένο

στοιχείο. Η προμήθεια αυτών των κεφαλών μπορεί να γίνει σε ένα εύρος μεγεθών και
σχημάτων και σε διαφορετικές κλίμακες μέτρησης. Το στοιχείο της κεφαλής τοποθετείται
στο μαγνητικό πεδίο, έτσι ώστε οι μαγνητικές δυναμικές γραμμές να τέμνουν κάθετα τις
κύριες διαστάσεις του στοιχείου της κεφαλής. Η τοποθέτηση και ο προσανατολισμός του
στοιχείου της κεφαλής είναι πολύ σημαντικός παράγοντας για τη σωστή μέτρηση του
μαγνητικού πεδίου.
Επιπρόσθετα, οι συγκεκριμένες συσκευές μπορούν να μετρήσουν την παραμένουσα
μαγνήτιση μετά την απομαγνήτιση του δοκιμίου. Στα μειονεκτήματα τους
συγκαταλέγονται η περιοδική βαθμονόμησή τους και η αδυναμία χρήσης τους σε
εφαρμογές μαγνήτισης πολλαπλών διευθύνσεων.
|271|
Εικόνα 9.4: Τυπική χρήση της κεφαλής του μετρητή έντασης μαγνητικού πεδίου
9.5 Δείκτης μαγνητικού πεδίου
Μία εντελώς διαφορετική κατηγορία οργάνων είναι οι δείκτες μαγνητικού πεδίου

(magnetic field indicators). Χρησιμοποιούνται για την εύρεση της διεύθυνσης του
μαγνητικού πεδίου στον αέρα, κοντά στην επιφάνεια του υλικού (πρόκειται πάλι για την
εφαπτομενική συνιστώσα του πεδίου). Δεν παρέχουν καμία ποσοτική πληροφορία ενώ
χρειάζεται προσοχή διότι δίνουν ένδειξη ακόμα και πάνω σε μη σιδηρομαγνητικό υλικό.
Άρα, η παρουσία ισχυρής ένδειξης σε ένα δείκτη δε σημαίνει ότι υπάρχει αρκετή
μαγνητική επαγωγή, αν προηγουμένως δεν έχει ελεγχθεί ότι το υλικό είναι
σιδηρομαγνητικό.
Οι συνηθέστεροι δείκτες μαγνητικού πεδίου είναι τύπου ASME, τύπου Berthold
(όπου η απόσταση των γραμμών ένδειξης από την επιφάνεια του δοκιμίου μπορεί να
αλλάξει), τύπου κέρματος κ.λπ.
Οι δείκτες μαγνητικού πεδίου πρέπει να χρησιμοποιούνται απαραιτήτως κατά τον
έλεγχο με μαγνητικά σωματίδια, προκειμένου να επιβεβαιώνεται η ύπαρξη πεδίου, η
διεύθυνση του και να ρυθμίζεται τόσο συγκριτικά όσο και εμπειρικά η ένταση του.
Εικόνα 9.5: Δείκτης μαγνητικού πεδίου Berthold
Εικόνα 9.6: Δείκτης μαγνητικού πεδίου ASME
|272|
Εικόνα 9.7: Δείκτης μαγνητικού πεδίου Castrol (τύπου ταινίας) ή Ely strips
|273|
10. ΕΛΕΓΧΟΣ ΤΩΝ ΥΛΙΚΩΝ ΚΑΙ ΛΕΙΤΟΥΡΓΙΚΟΙ ΕΛΕΓΧΟΙ
10.1 Έλεγχος των υλικών
Έλεγχος των υλικών πραγματοποιείται κυρίως στις περιπτώσεις ανακυκλώμενων

υγρών μαγνητικών σωματιδίων, ορατών ή φθοριζόντων. Εκτελείται με καθίζηση σε ειδικό
ογκομετρικό σωλήνα (π.χ. τύπου Sutherland) και ελέγχεται το στρώμα σωματιδίων που
καθιζάνει ανά μονάδα όγκου ορατής ή φθορίζουσας μελάνης.
Ως ενδεικτικές τιμές, αναφέρονται στη συνέχεια αυτές που καθορίζει το βρετανικό
πρότυπο BS 4069:1982.
 Μαύρες μελάνες: καθιζάνον στρώμα μεταξύ 1,25% και 3,5% κατ’ όγκο.
 Φθορίζουσες μελάνες: καθιζάνον στρώμα μεταξύ 0,1% και 0,3% κατ’ όγκο.
Ελέγχεται επίσης, η ύπαρξη στρώματος άλλων στερεών (συνήθως σκόνες /
ακαθαρσίες). Οι προδιαγραφές καθορίζουν τα επιτρεπτά μεγέθη των σωματιδίων (σε ξηρές
πούδρες ή μελάνες) και το σημείο ανάφλεξης του υγρού φορέα (συνήθως ≤ των 65°C).
Εικόνα 10.1: Ογκομετρικός σωλήνας τύπου Sutherland
10.2 Λειτουργικοί έλεγχοι
Οι λειτουργικοί έλεγχοι σχετίζονται, τόσο με την ποιότητα των υλικών, όσο και με
τη σωστή λειτουργία του συστήματος.
Πρότυπο δοκίμιο ketos (Betz)

Το πρότυπο δοκίμιο ketos (Betz) χρησιμοποιείται για την αξιολόγηση και τη
σύγκριση της συνολικής απόδοσης καθώς και την ευαισθησία τόσο της ξηρής, όσο και της
υγρής μεθόδου, με ορατά ή φθορίζοντα μαγνητικά σωματίδια χρησιμοποιώντας την τεχνική
κεντρικού αγωγού. Πρέπει να υποβληθεί σε ανόπτηση στους 900°C, ψύξη με ρυθμό 28°C
ανά ώρα μέχρι τους 540°C και στη συνέχεια ψύξη στον αέρα σε θερμοκρασία
περιβάλλοντος. Το υλικό και η θερμική κατεργασία είναι σημαντικές μεταβλητές για την
κατασκευή του συγκεκριμένου δοκιμίου. Το δοκίμιο μαγνητίζεται με κυκλικό μαγνητικό
πεδίο και με πλήρως ανορθωμένο εναλλασσόμενο ρεύμα το οποίο διαρρέει τον κεντρικό
αγωγό διαμέτρου από 1inch έως 1 1/4inch (25mm έως 32mm) μέσω της κεντρική οπής του
δοκιμίου. Ο κεντρικός αγωγός πρέπει να έχει μήκος μεγαλύτερο από 16inch (400mm).
|274|
Η ένταση του ρεύματος που εφαρμόζεται πρέπει να είναι 1.400, 2.500 και 3.400Α.
Ο ελάχιστος αριθμός των οπών που εμφανίζονται είναι τρεις, πέντε και έξι, αντίστοιχα.
Το δοκίμιο πρέπει να εξετάζεται με υπεριώδες ή ορατό φως, ανάλογα με τον τύπο
των μαγνητικών σωματιδίων που εφαρμόζονται. Η δοκιμή αυτή πρέπει να εκτελεστεί στις
τρεις προαναφερθείσες τιμές ρεύματος εφόσον η μονάδα χρησιμοποιηθεί σε αυτές ή
υψηλότερες εντάσεις του ρεύματος. Κατά τον έλεγχο δεν πρέπει να γίνεται υπέρβαση των
τιμών έντασης που αναφέρθηκαν. Αν η δοκιμή δεν αποκαλύπτει τον απαιτούμενο αριθμό
των οπών, ο εξοπλισμός πρέπει να τεθεί εκτός λειτουργίας και η αιτία για την απώλεια της
ευαισθησίας να διορθωθεί. Αυτός ο έλεγχος πρέπει να γίνεται τουλάχιστον μία φορά την
εβδομάδα.
Δοκίμιο αναφοράς τύπου 1 (Reference block type 1)

Στο συγκεκριμένο δισκοειδές δοκίμιο αναφοράς εμπεριέχονται δύο τύποι
ασυνεχειών στην επιφάνεια του. Πρέπει να ενσωματώνει χονδρά και λεπτά ρήγματα, τα
οποία παράγονται με λείανση και με δυναμοδιάβρωση αντίστοιχα. Το δοκίμιο μαγνητίζεται
με την τεχνική κεντρικού αγωγού μέσω της οπής που φέρει στο κέντρο του. Η αξιολόγηση
των ενδείξεων γίνεται με ορατά μαγνητικά σωματίδια ή άλλο τρόπο σύγκρισης. Το υλικό
του συγκεκριμένου δοκιμίου είναι χάλυβας (Grade 90MnCrV8), το πάχος του είναι
ορισμένο στα 9,70mm±0,05mm και υπόκειται σε θερμική κατεργασία σκλήρυνσης στους
860°C±10°C για δύο ώρες και βαφή σε λάδι για να επιτευχθεί σκληρότητα επιφανείας από
63HRC έως 70HRC. Η μαγνήτιση επιτυγχάνεται με την τεχνική κεντρικού αγωγού και
συνεχές ρεύμα έντασης 1.000Α (peak).
Εικόνα 10.2: Πρότυπο δοκίμιο ketos (Betz) προσομοίωσης υποεπιφανειακών ασυνεχειών
Εικόνα 10.3: Δοκίμιο αναφοράς type 1 με ρηγματώσεις (Grinding cracks, Stress corrosion
cracks)
|275|
10.3 Ποσοτικός δείκτης ποιότητας (quantitative quality indicator - QQI)
Οι δείκτες διεύθυνσης και έντασης του μαγνητικού πεδίου (QQI) είναι δοκίμια για
τη μέθοδο των μαγνητικών σωματιδίων με τεχνητές ασυνέχειες που χρησιμοποιούνται για
την επαλήθευση της διεύθυνσης και της σχετικής έντασης του μαγνητικού πεδίου.
Χρησιμοποιούνται επίσης, για την εξισορρόπηση πεδίων με πολλαπλές κατευθύνσεις
αυξάνοντας την παραγωγικότητα καθώς ελαχιστοποιούν τον αριθμό των μαγνητίσεων.
Επιπρόσθετα, σε συνδυασμό με το γκαουσόμετρο αποτελούν το μοναδικό τρόπο
επαλήθευσης της διαδικασίας ελέγχου σε ένα συγκεκριμένο δοκίμιο. Χρησιμοποιούνται
μόνο με την υγρή μέθοδο και με συνεχή μαγνήτιση και μπορούν να χρησιμοποιηθούν
αρκετές φορές εφόσον καθαρίζονται και αποθηκεύονται με σωστό τρόπο. Μειονέκτημα
τους αποτελεί η εύκολη καταστροφή τους από αδέξιο χειρισμό.
Εικόνα 10.4: Ποσοτικοί δείκτες ποιότητας. Στην κάτω δεξιά εικόνα διακρίνεται η ένδειξη
μετά από την εφαρμογή μαγνητικού πεδίου
|276|
10.4 Δείκτες μαγνητικού πεδίου
Οι νέοι δείκτες μαγνητικού πεδίου χρησιμοποιούνται για την ανίχνευση της έντασης
και της διεύθυνσης του μαγνητικού πεδίου κατά την εφαρμογή της μεθόδου των
μαγνητικών σωματιδίων. Κατασκευάζονται από χάλυβα ο οποίος βρίσκεται ανάμεσα σε
δύο πλάκες ορείχαλκου και έχουν σχεδιαστεί για επαναλαμβανόμενη χρήση τόσο με την
υγρή όσο και με την ξηρή μέθοδο. Πληρούν τις απαιτήσεις του προτύπου
ASTM E 1444-11, Παράρτημα A3.
Γενικά, οι νέοι δείκτες μαγνητικού πεδίου παρουσιάζουν ευκολία στη χρήση, είναι
κατάλληλοι για μη αεροναυπηγικές εφαρμογές, είναι πιο ανθεκτικοί από τους δείκτες
διεύθυνσης και έντασης του μαγνητικού πεδίου (QQI) και τέλος είναι κατάλληλοι για
πολλαπλές χρήσεις.
Όπως προαναφέρθηκε, μπορούν να χρησιμοποιηθούν τόσο με την υγρή όσο και με
την ξηρή μέθοδο αλλά δεν ενδείκνυται η χρήση τους σε μαγνητικά πεδία πολλαπλών
διευθύνσεων. Επίσης, η ακαμψία τους μπορεί να αποτρέψει την εφαρμογή τους σε
περιπτώσεις που απαιτείται η στενή επαφή της δοκιμαστικής ταινίας με το δοκίμιο.
Εικόνα 10.5: Νέοι δείκτες μαγνητικού πεδίου
|277|
11. ΜΕΤΡΑ ΠΡΟΣΤΑΣΙΑΣ
Η εκτεταμένη έκθεση της επιδερμίδας σε υγρό φορέα λαδιού μπορεί να οδηγήσει

στην υπερβολική της ξήρανση, διαλύοντας τα προστατευτικά έλαια που η ίδια παράγει με
ενδεχόμενη δευτερογενή μόλυνση.
Συνιστάται λοιπόν κατά τον έλεγχο, η χρήση κατάλληλης προστατευτικής κρέμας
χεριών. Μετά το πέρας της εργασίας, τα χέρια πρέπει να πλένονται προσεκτικά με ζεστό
νερό και σαπούνι και να ακολουθεί επάλειψη με ειδική κρέμα χεριών. Συνιστάται επίσης, η
χρήση ποδιάς και γαντιών, προστατευτικών γυαλιών και μάσκας (ιδιαίτερα κατά την
εφαρμογή του λευκού υποστρώματος στα ορατά μαγνητικά σωματίδια). Δε πρέπει να
χρησιμοποιούνται γάντια και ρούχα νοτισμένα με φορέα λαδιού.
Προσοχή επίσης πρέπει να δίνεται στα τόξα (arcing) τα οποία μπορεί να
προκληθούν από κακή επαφή των κεφαλών της μονάδας πάγκου (bench unit) και του
δοκιμίου. Αυτά τα τόξα ή το υπερβολικό ρεύμα μαγνήτισης μπορεί να προκαλέσουν
τραυματισμούς στα μάτια του επιθεωρητή ενώ αποτελούν επίσης αιτία ανάφλεξης των
εύφλεκτων υγρών μαγνητικών σωματιδίων. Πρέπει πάντα να εξασφαλίζεται η κατάλληλη
ηλεκτρική επαφή μεταξύ των κεφαλών της μονάδας και του επιθεωρούμενου δοκιμίου έτσι
ώστε αυτή η πιθανότητα να αποτρέπεται. Οι κεφαλές της μονάδας πάγκου (bench unit)
πρέπει να λιπαίνονται με υγρά μαγνητικά σωματίδια πριν την ενεργοποίηση τους ώστε να
μειώνεται η πιθανότητα δημιουργίας τόξου.
Για λόγους ασφαλείας, είναι απαραίτητα τα κατάλληλα πυροσβεστικά μέσα στο
χώρο εργασίας και ο σωστός εξαερισμός (φυσικός ή τεχνητός). Όταν χρησιμοποιείται
υπεριώδες φως (black light), είναι απαραίτητος ο τακτικός έλεγχος του φίλτρου για
γδαρσίματα έτσι ώστε να πραγματοποιείται άμεσα η αντικατάστασή του. Όσον αφορά τη
χρήση του ηλεκτρικού ρεύματος, εφαρμόζονται οι γενικοί κανόνες προστασίας όπως
ορίζονται από την νομοθεσία και από τις προδιαγραφές ασφαλείας και υγείας στους
εργασιακούς χώρους.
Η ασφαλής διαχείριση των μαγνητικών σωματιδίων (υγρών ή ξηρών), διέπεται από
τα Δελτία Δεδομένων Ασφαλείας Υλικού (MSDS). Οι προμηθευτές οφείλουν να παρέχουν
επικαιροποιημένα δελτία δεδομένων ασφαλείας υλικών δωρεάν σε όλους τους αποδέκτες.
Τα δελτία δεδομένων ασφαλείας αποτελούν το βασικό εργαλείο για τη διασφάλιση ότι οι
παρασκευαστές, οι εισαγωγείς και οι διανομείς κοινοποιούν επαρκείς πληροφορίες κατά
μήκος της αλυσίδας εφοδιασμού προκειμένου οι τελευταίοι να μπορούν να λαμβάνουν όλα
τα αναγκαία μέτρα για την προστασία της υγείας και της ασφάλειας στο χώρο εργασίας,
καθώς και την προστασία του περιβάλλοντος. Κύριος σκοπός των Δελτίων Δεδομένων
Ασφαλείας (MSDS) είναι να δίνουν τη δυνατότητα στους εργοδότες να προσδιορίζουν την
ύπαρξη επικίνδυνων χημικών παραγόντων στο χώρο εργασίας και να εκτιμούν εάν από τη
χρήση τους προκύπτει οποιοσδήποτε κίνδυνος για την υγεία και την ασφάλεια των
εργαζομένων ή / και το περιβάλλον. Οι πληροφορίες που περιέχονται στα Δελτία
Δεδομένων Ασφαλείας πρέπει να πληρούν τις απαιτήσεις της Κοινοτικής Οδηγίας
98/24/ΕΚ για την προστασία της υγείας και ασφάλειας των εργαζομένων κατά την εργασία
από κινδύνους οφειλόμενους σε χημικούς παράγοντες.
Σύμφωνα με την ελληνική νομοθεσία (Υ.Α. 195/2002) ένα Δελτίο Δεδομένων
Ασφαλείας πρέπει να περιλαμβάνει τα ακόλουθα:
1. Στοιχεία της ουσίας / παρασκευάσματος και της εταιρείας/ επιχείρησης.
2. Σύσταση / στοιχεία για τα συστατικά.
3. Προσδιορισμό των κινδύνων (ταξινόμηση, σύμβολα, φράσεις R).
4. Πρώτες βοήθειες.
5. Μέτρα για την καταπολέμηση της πυρκαγιάς.
6. Μέτρα για την αντιμετώπιση μίας τυχαίας έκλυσης.
|278|
7. Χειρισμό και αποθήκευση.
8. Έλεγχο της έκθεσης στο προϊόν και ατομική προστασία.
9. Φυσικές και χημικές ιδιότητες.
10. Σταθερότητα και αντιδρασιμότητα.
11. Τοξικολογικά στοιχεία.
12. Οικολογικά στοιχεία.
13. Στοιχεία σχετικά με τη διάθεση/ εξάλειψη.
14. Στοιχεία σχετικά με τη μεταφορά.
15. Στοιχεία σχετικά με τις κανονιστικές διατάξεις.
16. Άλλα στοιχεία.
Τα Δελτία Δεδομένων Ασφαλείας χρονολογούνται και επικαιροποιούνται με

μέριμνα των υπευθύνων για τη διάθεση των χημικών ουσιών και παρασκευασμάτων στην
αγορά.
|279|
12. Μονάδες μέτρησης, διάγραμμα σιδηρομαγνητικών στοιχείων (Fe, Co, Ni)
1W/m2 = 0,1mW/cm2 = 100μW/cm2

1fc = 10,764Lux
1Ǻ = 10-10m
1nm = 10-9m
°C = 5/9•(°F-32)
1bar = 14,5p.s.i. = 100.000pascal
Πίνακας 12.1
SI Units SI Units CGS Units
Quantity
(Sommerfeld) (Kennelly) (Gaussian)
Field H A/m A/m Oersteds
Flux Density
B Tesla Tesla Tesla
(Magnetic Induction)
Flux Φ Weber Weber Maxwell
Magnetization Μ A/m - erg/Oe-cm3
Πίνακας 12.2
Conversion between CGS and SI magnetic units
Quantity CGS SI
Magnetic Field H = 1Oe H = 1000/4π A/m
Magnetic Induction B = 1Gauss B = 10-4Tesla
-1 -3
Magnetization M = 1erg Oe cm M = 10-3A/m
ΔΙΑΓΡΑΜΜΑ ΣΙΔΗΡΟΜΑΓΝΗΤΙΚΩΝ ΣΤΟΙΧΕΙΩΝ (Fe, Co, Ni)
|280|
ΒΑΣΙΚΗ
ΑΚΤΙΝΟΠΡΟΣΤΑΣΙΑ
|281|
|282|
1. ΕΙΣΑΓΩΓΗ ΣΤΙΣ ΒΑΣΙΚΕΣ ΕΝΝΟΙΕΣ ΤΗΣ ΦΥΣΙΚΗΣ ΤΩΝ
ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΩΝ
1.1 Το άτομο και η δομή του
Το άτομο είναι ένα απειροελάχιστο σωματίδιο. Ως άτομο ορίζεται το μικρότερο

σωματίδιο ενός στοιχείου που μπορεί πάρει μέρος στο σχηματισμό χημικών ενώσεων. Ήδη
από τον 5ο π.Χ. αιώνα, οι Έλληνες φιλόσοφοι Δημόκριτος και Λεύκιππος υποστήριζαν ότι
η ύλη αποτελείται από πολύ μικρά σωματίδια, τα οποία δε μπορούν να διαιρούνται
απεριόριστα και γι’ αυτό ονομάστηκαν άτομα (δηλαδή άτμητα). Υποστήριζαν
επιπρόσθετα, ότι η ύλη αποτελείται από άτομα που διαφέρουν μεταξύ τους κατά το σχήμα
και κατά το μέγεθος. Η ατομική θεωρία του Δημόκριτου ήταν μία από τις φιλοσοφικές
θεωρίες των αρχαίων Ελλήνων. Δεν υπήρχε καμία πειραματική παρατήρηση για την
υποστήριξή της. Η θεωρία του Δημόκριτου καταπολεμήθηκε από τον Πλάτωνα, τον
Αριστοτέλη και τους μαθητές τους και έπεσε στην αφάνεια μέχρι το 19ο αιώνα. Στις αρχές
του 19ου αιώνα, ο Άγγλος χημικός Dalton επανέφερε την ατομική θεωρία διατυπώνοντας
ότι οι δομικές μονάδες της ύλης είναι τα άτομα και τα μόρια.
Εικόνα 1.1: Ο Δημόκριτος
Ωστόσο, τα άτομα του Dalton ήταν συμπαγή και αδιαίρετα, κάτι που καταρρίφθηκε
με την ανακάλυψη των πρωτονίων, των ηλεκτρονίων και των νετρονίων, δηλαδή των
υποατομικών σωματιδίων. Σημαντικό σταθμό στην εξέλιξη των επιστημονικών ιδεών για
το άτομο αποτέλεσε η ανακάλυψη του ηλεκτρονίου από τον Thomson στο τέλος του 19ου
αιώνα. Η ανακάλυψη του ηλεκτρονίου ως συστατικού του ατόμου έδειξε ότι το άτομο έχει
εσωτερική δομή και συνεπώς δεν είναι άτμητο. Επειδή η ύλη είναι ηλεκτρικά ουδέτερη,
κατέληξε στο συμπέρασμα ότι και τα άτομα της ύλης είναι ηλεκτρικά ουδέτερα και
επομένως, το άτομο έχει ίσες ποσότητες θετικού και αρνητικού φορτίου. Τέλος, τα
πειράματα έδειξαν ότι η μάζα του τμήματος που είναι θετικά φορτισμένο είναι μεγαλύτερη
από τη μάζα του αρνητικά φορτισμένου τμήματος, δηλαδή των ηλεκτρονίων του ατόμου.
1.1.1 Το μοντέλο του Thomson ή το μοντέλο του «σταφιδόψωμου»
Ο Thomson πρότεινε ένα μοντέλο σύμφωνα με το οποίο το άτομο αποτελείται από

μια σφαίρα θετικού φορτίου, ομοιόμορφα κατανεμημένου, μέσα στην οποία είναι
ενσωματωμένα τα ηλεκτρόνια, όπως ακριβώς οι σταφίδες μέσα σε ένα σφαιρικό
σταφιδόψωμο.
|283|
Εικόνα 1.2: Το άτομο σύμφωνα με το μοντέλο του Thomson
1.1.2 Το μοντέλο του Rutherford ή το «πλανητικό» μοντέλο
Ο Rutherford πραγματοποίησε τα πρώτα πειράματα για να διερευνήσει την

εσωτερική δομή του ατόμου. Τα αποτελέσματα των πειραμάτων του ήλθαν σε αντίθεση με
το πρότυπο του Thomson. Για να ερμηνεύσει τις παρατηρήσεις του, πρότεινε ένα μοντέλο
σύμφωνα με το οποίο το άτομο αποτελείται από μία πολύ μικρή περιοχή στην οποία είναι
συγκεντρωμένο όλο το θετικό φορτίο και σχεδόν όλη η μάζα του. Η περιοχή αυτή
ονομάζεται πυρήνας. Ο πυρήνας περιβάλλεται από ηλεκτρόνια. Τα ηλεκτρόνια κινούνται
γύρω από τον πυρήνα σε κυκλικές τροχιές, όπως οι πλανήτες γύρω από τον ήλιο, γιατί αν
ήταν ακίνητα, θα έπεφταν πάνω στον πυρήνα εξαιτίας της ηλεκτρικής έλξης που δέχονται
από αυτόν. Το μοντέλο του Rutherford ονομάζεται και πλανητικό μοντέλο του ατόμου,
γιατί αποτελεί μικρογραφία του ηλιακού πλανητικού συστήματος.
Εικόνα 1.3: Το άτομο σύμφωνα με το μοντέλο του Rutherford
1.1.3 Το μοντέλο του Bohr
Ο Bohr ανέπτυξε ένα μαθηματικό μοντέλο στηριγμένο στους νόμους της φυσικής,
θεμελιώνοντας και μαθηματικά το ατομικό του πρότυπο. Απέδειξε ότι το «πλανητικό
μοντέλο» του Rutherford για το άτομο ήταν σωστό, αλλά τα ηλεκτρόνια κινούνται σε
«επιτρεπτές» τροχιές συγκεκριμένης ενέργειας. Κάθε μία από τις τροχιές αυτές
συμβολίζεται με έναν ακέραιο αριθμό n, ο οποίος ονομάζεται κβαντικός αριθμός.
Η μικρότερη ακτίνα επιτρεπόμενης τροχιάς του ηλεκτρονίου ονομάζεται ακτίνα του
Bohr και είναι ίση με r1 = 0,53•10-10m.
|284|
Εικόνα 1.4: Το άτομο σύμφωνα με το μοντέλο του Bohr
Οι ακτίνες των άλλων επιτρεπόμενων τροχιών του ηλεκτρονίου δίνονται από την
εξίσωση: rn = n2r1, όπου n είναι ακέραιος θετικός αριθμός ο οποίος, όπως έχει ήδη
αναφερθεί, ονομάζεται κύριος κβαντικός αριθμός και μπορεί να πάρει τιμές από ένα μέχρι
άπειρο: n = 1, 2, 3, …, ∞.
Όταν το ηλεκτρόνιο κινείται στις επιτρεπόμενες τροχιές, έχει ολική ενέργεια που
δίνεται από την εξίσωση: En = E1/n2. Όσο πιο μεγάλη είναι η απόσταση από τον πυρήνα,
τόσο μεγαλύτερη είναι η ενέργεια. Όταν το ηλεκτρόνιο κινείται στην τροχιά με τη
μικρότερη ακτίνα (n = 1), τότε έχει την ελάχιστη ενέργεια, που είναι ίση με E1 = -13,6eV.
Οι τιμές της ενέργειας είναι αρνητικές. Η μεγαλύτερη τιμή της ενέργειας είναι Ε = 0.
Αντιστοιχεί σε n → ∞ και r → ∞ και περιγράφει την κατάσταση κατά την οποία το
ηλεκτρόνιο έχει απομακρυνθεί από το άτομο (ιονισμός). Η φυσική σημασία του αρνητικού
πρόσημου της ολικής ενέργειας είναι ότι απαιτείται προσφορά ενέργειας, για να
απομακρυνθεί το ηλεκτρόνιο σε περιοχή εκτός του ηλεκτρικού πεδίου του πυρήνα.
Σημαντική σημείωση
Το ηλεκτρονιοβόλτ είναι η ενέργεια που μεταβιβάζεται σε ένα ηλεκτρόνιο, όταν

αυτό επιταχύνεται μέσω διαφοράς δυναμικού 1V. Το ένα ηλεκτρονιοβόλτ (1eV) ισούται με
1,6•10-19J.
1.1.4 Τι ισχύει σήμερα για το άτομο;
H σημερινή κοινώς αποδεκτή εικόνα για το άτομο συνοψίζεται ως εξής: η μάζα του
ατόμου είναι συγκεντρωμένη σε έναν πολύ μικρό χώρο που ονομάζεται πυρήνας. Ο
πυρήνας συγκροτείται από πρωτόνια (p), που φέρουν θετικό ηλεκτρικό φορτίο και από
ουδέτερα νετρόνια (n). Ο πυρήνας καθορίζει τη μάζα του ατόμου. Έτσι, η μάζα του ατόμου
είναι το άθροισμα της μάζας των πρωτονίων και νετρονίων (mατόμου = mπρωτονίων + mνετρονίων).
Γύρω από τον πυρήνα και σε σχετικά μεγάλες αποστάσεις απ’ αυτόν, κινούνται τα
ηλεκτρόνια (e), υπό μορφή νέφους, που φέρουν αρνητικό ηλεκτρικό φορτίο και είναι
υπεύθυνα για τη χημική συμπεριφορά των ατόμων.
|285|
Εικόνα 1.5: H εξέλιξη του ατομικού προτύπου
Ο χώρος που περιβάλλει τον πυρήνα στον οποίο διευθετούνται τα ηλεκτρόνια,

καθορίζει το μέγεθος του ατόμου. Όπως έχει ήδη αναφερθεί, τα άτομα είναι ηλεκτρικά
ουδέτερα, καθώς τα πρωτόνια και τα ηλεκτρόνια έχουν αντίθετο στοιχειώδες ηλεκτρικό
φορτίο και ο αριθμός των πρωτονίων είναι ίσος με τον αριθμό των ηλεκτρονίων.
Πίνακας 1.1: Μάζα και φορτίο των υποατομικών σωματιδίων

Σωματίδιο Σχετική Σχετικό
Θέση Μάζα (gr) Φορτίο (C)
(σύμβολο) μάζα φορτίο
Ηλεκτρόνιο Γύρω από
9,11•10-28 1/1.830 -1,60•10-19 -1
(e) τον πυρήνα
Πρωτόνιο (p) Πυρήνας 1,67•10-24 1 +1,60•10-19 +1
Νετρόνιο (n) Πυρήνας 1,67•10-24 1 0 0
1.2 Κατάταξη των στοιχείων - O Περιοδικός Πίνακας
Ο περιοδικός πίνακας αποτελεί απόδειξη ότι τα χημικά στοιχεία εκδηλώνουν

γενικές τάσεις και συγκροτούν οικογένειες με παραπλήσιες ιδιότητες. Ο σημερινός
περιοδικός πίνακας είναι αποτέλεσμα πολλών προσπαθειών.
Ο Ρώσος χημικός Mendeleev θεωρείται ο βασικός συντελεστής και υπεύθυνος για
την ανάπτυξη του περιοδικού πίνακα με την σημερινή του μορφή. Ο Mendeleev κατέταξε
τα 63 μέχρι τότε γνωστά στοιχεία κατ’ αυξανόμενη σχετική ατομική μάζα έχοντας τη
διορατικότητα να αφήνει κενές θέσεις για τα στοιχεία που δεν είχαν ακόμα ανακαλυφθεί
και έτσι το 1869 κατέληξε σε μια ορθογώνια διάταξη που μοιάζει με το σύγχρονο
περιοδικό πίνακα.
Το 1913 ο Moseley έδωσε το σημερινό τρόπο ταξινόμησης των στοιχείων στον
περιοδικό πίνακα κατά σειρά αυξανόμενου ατομικού αριθμού (Ζ).
|286|
Ο ατομικός αριθμός Ζ είναι ο αριθμός των πρωτονίων του πυρήνα ενός ατόμου. Ο
ατομικός αριθμός αποτελεί την ταυτότητα ενός στοιχείου. Ο ατομικός αριθμός εκφράζει
και τον αριθμό των ηλεκτρονίων του ουδετέρου ατόμου και συνεπώς καθορίζει την
ηλεκτρονιακή δομή, η οποία με τη σειρά της διαμορφώνει και τη χημική συμπεριφορά του
στοιχείου.
Το άθροισμα των πρωτονίων και νετρονίων του πυρήνα ενός ατόμου (δηλαδή των
νουκλεονίων) είναι ο μαζικός αριθμός, Α (A = p+n). Ισχύει δηλαδή: Α = Ζ+Ν.
Ένα χημικό στοιχείο απεικονίζεται όπως φαίνεται στη φόρμα που ακολουθεί. Κάτω
αριστερά φαίνεται ο ατομικός του αριθμός, ενώ πάνω αριστερά ο μαζικός του αριθμός. Για
παράδειγμα ο σίδηρος: 5626Fe έχει μαζικό αριθμό 56 και ατομικό αριθμό 26, δηλαδή
περιέχει στον πυρήνα του 26 πρωτόνια και 30 νετρόνια.
Επιπρόσθετα, όταν λέμε ότι ο ατομικός αριθμός του νατρίου (Na) είναι 11,
εννοούμε ότι το άτομο του νατρίου έχει 11 πρωτόνια στον πυρήνα του, αλλά και 11
ηλεκτρόνια γύρω από τον πυρήνα. Επειδή όμως ο ατομικός αριθμός είναι ο καθοριστικός
αριθμός για το είδος του κάθε στοιχείου, μπορούμε να πούμε ότι κάθε άτομο στη φύση που
έχει στον πυρήνα του 11 πρωτόνια, είναι άτομο νατρίου.
Η σύγχρονη μορφή του περιοδικού πίνακα δομείται από οριζόντιες σειρές και
κατακόρυφες στήλες. Κάθε οριζόντια σειρά καταλαμβάνεται από στοιχεία που τα άτομά
τους έχουν «χρησιμοποιήσει» τον ίδιο αριθμό στιβάδων για την κατανομή των
ηλεκτρονίων τους. Οι οριζόντιες αυτές σειρές του πίνακα ονομάζονται περίοδοι. Ο αριθμός
μάλιστα της περιόδου στην οποία ανήκει το στοιχείο, δείχνει τον αριθμό των στιβάδων στις
οποίες έχουν κατανεμηθεί τα ηλεκτρόνια του.
Στον περιοδικό πίνακα, υπάρχουν συνολικά επτά περίοδοι. Κατά μήκος μιας
περιόδου υπάρχει συνήθως βαθμιαία μεταβολή ιδιοτήτων π.χ. κάθε περίοδος (εξαιρείται η
πρώτη) αρχίζει με ένα δραστικό μέταλλο (αλκάλιο) και τελειώνει με ένα αδρανές αέριο
(ευγενές αέριο), έχοντας στην προτελευταία θέση ένα πολύ δραστικό αμέταλλο (αλογόνο).
Δηλαδή, κατά μήκος μιας περιόδου έχουμε ελάττωση του μεταλλικού και αύξηση του
αμέταλλου χαρακτήρα.
Οι λανθανίδες και ακτινίδες, που ανήκουν στην έκτη και έβδομη περίοδο
αντίστοιχα, θα έπρεπε κανονικά να τοποθετηθούν στην ίδια θέση του περιοδικού πίνακα
(εκεί που είναι το λανθάνιο (La) και το ακτίνιο (Ac) αντίστοιχα). Όμως, προκειμένου να
αποφύγουμε το «συνωστισμό» τις τοποθετούμε έξω από το κυρίως «σώμα» του περιοδικού
πίνακα, σε δύο σειρές στο κάτω μέρος του πίνακα.
|287|
Εικόνα 1.6: O περιοδικός πίνακας των στοιχείων
Οι κατακόρυφες στήλες του περιοδικού πίνακα αποτελούν τις ομάδες και

καταλαμβάνονται από στοιχεία με ανάλογες ιδιότητες. Οι ομάδες χαρακτηρίζονται με τους
λατινικούς αριθμούς I έως VIII. Διακρίνονται στις κύριες με το χαρακτηρισμό Α και στις
δευτερεύουσες με το χαρακτηρισμό Β.
Στοιχεία που ανήκουν στην ίδια κύρια ομάδα έχουν τον ίδιο αριθμό ηλεκτρονίων
στην εξωτερική τους στιβάδα, ο οποίος ταυτίζεται με τον αύξοντα αριθμό της ομάδας. Γι’
αυτό το λόγο εμφανίζουν έντονες ομοιότητες. Επομένως, αν γνωρίζουμε τις ιδιότητες ενός
μέλους της ομάδας, μπορούμε να προβλέψουμε και τις ιδιότητες των υπόλοιπων μελών της
ομάδας.
Η σύγχρονη αρίθμηση των ομάδων γίνεται με αριθμούς από 1 έως 18. Τα μέταλλα
της 1ης ομάδας ονομάζονται αλκάλια, της 2ης ομάδας αλκαλικές γαίες, ενώ της 3ης ομάδας
γαίες. Τα στοιχεία της 17ης ομάδας ονομάζονται αλογόνα και της 18ης ομάδας ευγενή αέρια.
Εικόνα 1.7: Διαγραμματική απεικόνιση της κατανομής των ηλεκτρονίων σε στιβάδες. Η

ηλεκτρονιακή δομή των ατόμων, εμφανίζει μια περιοδικότητα η οποία τελικά εκφράζεται
στον περιοδικό πίνακα
Ο περιοδικός πίνακας αποτελεί χρήσιμο βοήθημα για την ανακάλυψη νέων

τεχνητών στοιχείων ενώ διευκολύνει επίσης τη μελέτη των φυσικών και χημικών ιδιοτήτων
και των μεθόδων παρασκευής των στοιχείων. Επιπρόσθετα, δίνει τη δυνατότητα
πρόβλεψης της συμπεριφοράς ενός στοιχείου για το είδος του δεσμού που μπορεί να
δημιουργήσει, καθώς και για τη συμπεριφορά των ενώσεών του, με βάση τη συμπεριφορά
των γειτονικών του στοιχείων. Για παράδειγμα, τα αλκάλια και οι αλκαλικές γαίες έχουν
πολλά κοινά χαρακτηριστικά.
|288|
1.3 Ισότοπα
Πυρήνες που ανήκουν στο ίδιο χημικό στοιχείο και έχουν τον ίδιο αριθμό
πρωτονίων (Ζ) αλλά όχι και τον ίδιο αριθμό νετρονίων (Ν) ονομάζονται ισότοποι. Ο
ατομικός αριθμός χαρακτηρίζει το στοιχείο, ενώ ο µαζικός αριθµός χαρακτηρίζει το
ισότοπο. Με άλλα λόγια, τα ισότοπα είναι άτομα του ίδιου στοιχείου με διαφορετική μάζα.
Συνεπώς, τα ισότοπα του ίδιου στοιχείου έχουν:
 ίδιο αριθμό πρωτονίων και ηλεκτρονίων
 διαφορετικό αριθμό νετρονίων.
Η ονομασία ισότοπα προέκυψε από το γεγονός ότι αφού τα άτομα αυτά περιέχουν
τον ίδιο αριθμό πρωτονίων στον πυρήνα τους, άρα έχουν ίδιο ατομικό αριθμό (Z),
καταλαμβάνουν την ίδια θέση (τόπο) στον περιοδικό πίνακα. Κλασσικό παράδειγμα
αποτελούν τα ισότοπα του υδρογόνου, όπως φαίνεται και στην Εικόνα 1.8.
Εικόνα 1.8: Τα ισότοπα του υδρογόνου
Το πρώτο ισότοπο είναι το πρώτιο, το οποίο έχει ένα πρωτόνιο στον πυρήνα του και
κανένα νετρόνιο. Το δεύτερο ισότοπο είναι το δευτέριο, το οποίο έχει ένα πρωτόνιο και ένα
νετρόνιο στον πυρήνα του, ενώ το τρίτο ισότοπο, το τρίτιο έχει ένα πρωτόνιο και δύο
νετρόνια στον πυρήνα του.
Πρέπει να σημειωθεί ότι τα ισότοπα ενός στοιχείου έχουν τον ίδιο αριθμό
ηλεκτρονίων, αφού αυτός στα ουδέτερα άτομα, είναι ίσος με τον αριθμό των πρωτονίων.
Συνεπώς, τα ισότοπα ενός στοιχείου έχουν τις ίδιες χημικές ιδιότητες. Τα ισότοπα ενός
στοιχείου δε βρίσκονται με την ίδια αφθονία στη φύση. Για παράδειγμα, ο άνθρακας (C)
έχει τέσσερα ισότοπα:
Απ’ αυτά το πλέον διαδεδομένο στη φύση είναι ο 126C που απαντάται σε ποσοστό
99%, ενώ τα υπόλοιπα βρίσκονται σε πολύ μικρότερα ποσοστά.
1.4 Μόρια και ιόντα
Μόριο είναι το μικρότερο κομμάτι μιας καθορισμένης ουσίας (ένωσης ή στοιχείου)

που μπορεί να υπάρξει ελεύθερο, διατηρώντας τις ιδιότητες της ύλης από την οποία
προέρχεται. Τα μόρια στην περίπτωση των χημικών στοιχείων συγκροτούνται από ένα
|289|
είδος ατόμων, π.χ. O2, Ν2, O3, Ρ4, ενώ στην περίπτωση των χημικών ενώσεων από δύο ή
περισσότερα είδη ατόμων, π.χ. Η2O, CH4, C12H22O11.
Τα άτομα είναι ηλεκτρικά ουδέτερα, αφού όπως αναφέρθηκε προηγουμένως έχουν
τον ίδιο αριθμό πρωτονίων και ηλεκτρονίων. Τα άτομα όμως μπορούν να μετατραπούν σε
ιόντα με αποβολή ή με πρόσληψη ενός ή περισσοτέρων ηλεκτρονίων. Τα ιόντα των
ατόμων που έχουν θετικό ηλεκτρικό φορτίο, δηλαδή έχουν αποβάλλει ηλεκτρόνια
ονομάζονται κατιόντα, π.χ. Na+ και εκείνα που έχουν αρνητικό ηλεκτρικό φορτίο, δηλαδή
έχουν προσλάβει ηλεκτρόνια ονομάζονται ανιόντα, π.χ. Cl-.
Επομένως, αν θεωρήσουμε ότι ένα ουδέτερο άτομο έχει τρία (3) πρωτόνια, τέσσερα
(4) νετρόνια και τρία (3) ηλεκτρόνια, το κατιόν του θα αποτελείται από τρία (3) πρωτόνια,
τέσσερα (4) νετρόνια και δύο (2) ηλεκτρόνια, ενώ το ανιόν του από τρία (3) πρωτόνια,
τέσσερα (4) νετρόνια και τέσσερα (4) ηλεκτρόνια.
1.5 Διέγερση ενός ατόμου και χαρακτηριστική ακτινοβολία
Η θεμελιώδης κατάσταση ενός ατόμου είναι η κατάσταση με τη χαμηλότερη

ενέργεια. Αν ένα άτομο που βρίσκεται στη θεμελιώδη κατάσταση, απορροφήσει ενέργεια,
τότε ηλεκτρόνιο από τροχιές χαμηλότερης ενέργειας μπορεί να μεταπηδήσει σε άλλες
επιτρεπόμενες τροχιές, υψηλότερης ενέργειας, οι οποίες βρίσκονται μακρύτερα από τον
πυρήνα.
Η μετάβαση ενός ηλεκτρονίου του ατόμου από μία τροχιά χαμηλής ενέργειας σε
άλλη υψηλότερης ονομάζεται διέγερση του ατόμου. Η ενέργεια που απαιτείται για τη
διέγερση του ατόμου ονομάζεται ενέργεια διέγερσης.
Τα ηλεκτρόνια κινούνται σε συγκεκριμένες τροχιές (στιβάδες) καθορισμένης
ενέργειας. Ένα ηλεκτρόνιο θα απορροφήσει την ενέργεια που του προσφέρεται, μόνο εάν
αυτή είναι ίση με την ενεργειακή διαφορά που χωρίζει την τροχιά αυτή από μια άλλη
υψηλότερης ενέργειας. Αν η ενέργεια που του προσφέρεται είναι μεγαλύτερη ή μικρότερη
από αυτήν την ενεργειακή διαφορά, τότε το ηλεκτρόνιο την αγνοεί.
Το διεγερμένο άτομο παραμένει στην κατάσταση διέγερσης για ελάχιστο χρονικό
διάστημα (της τάξης του 10-8s) και επανέρχεται στη θεμελιώδη κατάσταση. Η επάνοδος
του ηλεκτρονίου στη θεμελιώδη κατάσταση μπορεί να γίνει είτε απευθείας με ένα άλμα,
όπου και εκπέμπεται ένα φωτόνιο, είτε με περισσότερα διαδοχικά άλματα, όπου και
εκπέμπονται τόσα φωτόνια όσα και τα άλματα που πραγματοποιεί. Η ακτινοβολία που
εκπέμπεται είναι διαφορετική από άτομο σε άτομο και είναι χαρακτηριστική του είδους του
ατόμου. Για τον λόγο αυτόν ονομάζεται χαρακτηριστική ακτινοβολία. Με άλλα λόγια,
ανιχνεύοντας την ακτινοβολία αυτή μπορούμε να προσδιορίσουμε το είδος του ατόμου που
την εξέπεμψε.
1.6 Ιονισμός (ή ιοντισμός) ενός ατόμου
Μερικές φορές είναι δυνατόν το άτομο να απορροφήσει τόσο μεγάλη ενέργεια,

ώστε το ηλεκτρόνιο του να απομακρυνθεί από τον πυρήνα, σε περιοχή όπου δεν ασκείται
ηλεκτρική δύναμη σε αυτό από τον πυρήνα. Το ηλεκτρόνιο απομακρύνεται οριστικά από
τον πυρήνα και το άτομο μετατρέπεται σε θετικό ιόν. Η απομάκρυνση ενός ηλεκτρονίου
του ατόμου σε περιοχή εκτός του ηλεκτρικού πεδίου του πυρήνα ονομάζεται ιονισμός του
ατόμου.
Η ελάχιστη ενέργεια που απαιτείται, για να απομακρυνθεί το ηλεκτρόνιο του
ατόμου από τη θεμελιώδη τροχιά σε περιοχή εκτός του ηλεκτρικού πεδίου του πυρήνα,
ονομάζεται ενέργεια ιονισμού. Σημειώνεται, ότι τη θέση του ηλεκτρονίου που
απομακρύνθηκε την καταλαμβάνει άλλο ηλεκτρόνιο, από υψηλότερη τροχιά, με
αποτέλεσμα την εκπομπή χαρακτηριστικής ακτινοβολίας.
|290|
1.7 Μηχανισμός παραγωγής και απορρόφησης φωτονίων
1.7.1 Διέγερση με κρούση
Όταν ένα σωματίδιο (π.χ. ηλεκτρόνιο, ιόν ή άτομο) συγκρουστεί με ένα άτομο, που
βρίσκεται για παράδειγμα, στη θεμελιώδη κατάσταση, τότε το ηλεκτρόνιο του ατόμου
μπορεί να απορροφήσει ικανή ποσότητα ενέργειας και να μεταπηδήσει σε τροχιά
μεγαλύτερης ενέργειας, με αποτέλεσμα το άτομο να διεγερθεί. Το διεγερμένο άτομο
επανέρχεται μετά από ελάχιστο χρόνο στη θεμελιώδη κατάσταση. Η επάνοδος αυτή μπορεί
να γίνει είτε με ένα απευθείας άλμα στη θεμελιώδη κατάσταση, με ταυτόχρονη εκπομπή
ενός φωτονίου, είτε με περισσότερα ενδιάμεσα άλματα από τροχιά σε τροχιά, με
ταυτόχρονη εκπομπή περισσότερων φωτονίων. Χαρακτηριστική είναι η Εικόνα 1.9 για το
άτομο του υδρογόνου.
Εικόνα 1.9: (α) Το άτομο του υδρογόνου στη θεμελιώδη κατάσταση πριν από την κρούση με
το ηλεκτρόνιο (β) Το άτομο σε διεγερμένη κατάσταση (γ) Το άτομο επανέρχεται στη
θεμελιώδη κατάσταση εκπέμποντας ένα φωτόνιο
1.7.2 Διέγερση με απορρόφηση ακτινοβολίας
Ας θεωρήσουμε ότι ένα άτομο βρίσκεται στη θεμελιώδη κατάσταση και απορροφά
ένα φωτόνιο, που έχει τόση ενέργεια όση ακριβώς απαιτείται για να μεταπηδήσει ένα
ηλεκτρόνιο από τη κατάσταση που αντιστοιχεί σε κβαντικό αριθμό n = 1 στην κατάσταση
που αντιστοιχεί σε κβαντικό αριθμό n = 2. Μετά από ελάχιστο χρονικό διάστημα, το
διεγερμένο άτομο επανέρχεται στην αρχική κατάσταση εκπέμποντας ένα φωτόνιο, που έχει
μήκος κύματος ίσο με το μήκος κύματος του φωτονίου που απορρόφησε. Επομένως, οι
ενέργειες των δύο φωτονίων είναι ίσες.
Εικόνα 1.10: Το άτομο απορροφά ένα φωτόνιο και μεταβαίνει από τη θεμελιώδη κατάσταση
στην πρώτη διεγερμένη κατάσταση
|291|
1.8 Ακτινοβολία πέδης
Η ακτινοβολία πέδης οφείλεται στην πέδηση, δηλαδή στο φρενάρισμα που

προκαλείται στα ηλεκτρικά φορτισμένα σωματίδια από την άπωση του ηλεκτρικού πεδίου
των ατόμων. Όταν ένα ηλεκτρόνιο διασχίζει ένα υλικό, δέχεται συνεχώς ηλεκτρικές
δυνάμεις από τα άτομα του υλικού με αποτέλεσμα να μειώνεται συνεχώς η ταχύτητα του
μέχρι τελικά να σταματήσει. Η ενέργεια που χάνει το ηλεκτρόνιο κατά τη διάρκεια της
επιβράδυνσης του εκπέμπεται υπό τη μορφή ακτινοβολίας (φωτόνια). Η ακτινοβολία αυτή
ονομάζεται ακτινοβολία πέδης.
1.9 Ακτίνες Χ
Προς το τέλος του 19ου αιώνα ο Γερμανός φυσικός Roentgen μελέτησε τις
ιδιότητες των ηλεκτρονίων που επιταχύνονταν από ηλεκτρικό πεδίο μέσα σε σωλήνα
χαμηλής πίεσης και έπεφταν σε μεταλλικό στόχο. Ο Roentgen παρατήρησε ότι όταν μία
φθορίζουσα ουσία πλησίαζε στο σωλήνα, αυτή ακτινοβολούσε φως, ενώ όταν πλησίαζε ένα
φωτογραφικό φιλμ, αυτό μαύριζε. Υποστήριξε λοιπόν ότι τα φαινόμενα αυτά οφείλονταν
σε ένα νέο άγνωστο και μυστηριώδη τύπο ακτίνων τις οποίες ονόμασε ακτίνες Χ. Το
σύμβολο Χ χρησιμοποιήθηκε από το Roentgen για να δηλώσει την άγνωστη μέχρι τότε
φύση των ακτίνων, όπως στην Άλγεβρα το σύμβολο Χ χρησιμοποιείται για να συμβολίσει
μία άγνωστη ποσότητα. Οι ακτίνες Χ ονομάζονται και ακτίνες Roentgen.
Εικόνα 1.11: Wilhelm Roentgen
1.9.1 Παραγωγή και φύση των ακτινών Χ
Η συσκευή που χρησιμοποιήθηκε από τον Roentgen αποτελείται από ένα γυάλινο
σωλήνα ο οποίος είναι εφοδιασμένος με δύο ηλεκτρόδια, την άνοδο και την κάθοδο. Η
κάθοδος θερμαίνεται και εκπέμπει ηλεκτρόνια. Όσο μεγαλύτερη είναι η θερμοκρασία της
καθόδου, τόσο μεγαλύτερος είναι ο αριθμός των ηλεκτρονίων που εκπέμπονται στη
μονάδα του χρόνου. Μεταξύ της ανόδου και της καθόδου εφαρμόζεται υψηλή τάση, η
οποία επιταχύνει τα ηλεκτρόνια. Ο σωλήνας περιέχει αέριο σε πολύ χαμηλή πίεση (της
τάξης των 10-7atm), ώστε να περιορίζονται οι συγκρούσεις των ηλεκτρονίων με τα μόρια
του αερίου. Τα ηλεκτρόνια προσπίπτουν στην άνοδο με μεγάλη ταχύτητα.
|292|
Εικόνα.1.12: Συσκευή παραγωγής ακτινών Χ
Η άνοδος εκπέμπει μια πολύ διεισδυτική ακτινοβολία που ονομάζεται ακτινοβολία

Χ. Επειδή αναπτύσσεται πολύ υψηλή θερμοκρασία στην άνοδο, το υλικό του
συγκεκριμένου ηλεκτροδίου πρέπει να είναι δύστηκτο μέταλλο, ενώ ψύχεται για να μη
λιώνει.
Οι ακτίνες Χ λοιπόν, παράγονται, όταν ηλεκτρόνια μεγάλης ταχύτητας που έχουν
επιταχυνθεί από υψηλή τάση, προσπίπτουν σε μεταλλικό στόχο. Σημειώνεται ότι είναι
αόρατη ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία που έχει μήκη κύματος πολύ μικρότερα από τα
μήκη κύματος των ορατών ακτινοβολιών.
Η ένταση λειτουργίας της γεννήτριας επηρεάζει το μήκος κύματος των ακτίνων Χ
που παράγονται και άρα τη διεισδυτική τους ικανότητα. Όταν αυξάνεται η ένταση της
γεννήτριας, η ταχύτητα των ηλεκτρονίων αυξάνεται, ωστόσο αυτό προκαλεί μείωση του
μήκους κύματος. Αύξηση στην έντασης της γεννήτριας και άρα μείωση του μήκους
κύματος έχει αντίθετη επίδραση στην αντίθεση και στην ευκρίνεια της ακτινογραφικής
απεικόνισης.
1.9.2 Απορρόφηση των ακτίνων Χ
Όταν οι ακτίνες Χ διαπερνούν οποιοδήποτε υλικό, τότε ένα μέρος της ακτινοβολίας
απορροφάται από το υλικό. Η απορρόφηση της ακτινοβολίας εξαρτάται από τη φύση του
υλικού, το μήκος κύματος της ακτινοβολίας και το πάχος του υλικού.
Ειδικότερα:
 Όσο μεγαλύτερος είναι ο ατομικός αριθμός (Ζ) των ατόμων του υλικού που
απορροφά την ακτινοβολία, τόσο μεγαλύτερη είναι η απορρόφηση της
ακτινοβολίας.
 Όταν οι ακτίνες Χ διαπερνούν μια πλάκα που έχει ορισμένο πάχος, τότε η
απορρόφηση των ακτινών αυξάνεται όσο αυξάνεται το μήκος κύματος της
ακτινοβολίας. Οι ακτίνες Χ που έχουν μικρά μήκη κύματος είναι περισσότερο
διεισδυτικές και ονομάζονται σκληρές ακτίνες, ενώ οι ακτίνες που έχουν μεγάλα
μήκη κύματος είναι λιγότερο διεισδυτικές και ονομάζονται μαλακές ακτίνες.
 Όσο μεγαλύτερο είναι το πάχος του υλικού, τόσο μεγαλύτερη είναι και η
απορρόφηση της ακτινοβολίας μέσα στο υλικό αυτό.
1.9.3 Φάσμα των ακτινών Χ
Το φάσμα της ακτινοβολίας Χ είναι σύνθετο. Αποτελείται από ένα συνεχές φάσμα
πάνω στο οποίο εμφανίζονται μερικές γραμμές (γραμμικό φάσμα). Τα δύο είδη φάσματος
οφείλονται σε δύο διαφορετικές διεργασίες παραγωγής και εκπομπής των ακτινών Χ.
|293|
1.9.3.1 Γραμμικό φάσμα
Τα κινούμενα ηλεκτρόνια καθώς επιταχύνονται συγκρούονται με τα άτομα του

υλικού της ανόδου, τα οποία διεγείρονται. Ένα ηλεκτρόνιο των εσωτερικών στιβάδων του
ατόμου μεταπηδά σε άλλη επιτρεπόμενη τροχιά μεγαλύτερης ενέργειας. Η κενή θέση του
ηλεκτρονίου μπορεί να συμπληρωθεί από ένα ηλεκτρόνιο του ατόμου που βρίσκεται στις
εξωτερικές στιβάδες, με ταυτόχρονη εκπομπή ενός φωτονίου.
Επειδή οι επιτρεπόμενες τιμές της ενέργειας του ατόμου είναι καθορισμένες, οι
συχνότητες των φωτονίων που εκπέμπονται θα είναι και αυτές καθορισμένες. Το φάσμα
του φωτός που εκπέμπει το άτομο θα αποτελείται από γραμμές που είναι χαρακτηριστικές
του υλικού της ανόδου.
Η ενέργεια που απαιτείται για να εκδιωχθεί ένα ηλεκτρόνιο από μια εσωτερική
τροχιά είναι μεγάλη, γι’ αυτό θα πρέπει και η ενέργεια του ηλεκτρονίου που προκαλεί τη
διέγερση να είναι επίσης μεγάλη. Άρα, βασική προϋπόθεση είναι το ηλεκτρόνιο να έχει
επιταχυνθεί από μεγάλη διαφορά δυναμικού.
1.9.3.2 Συνεχές φάσμα
Ένα ηλεκτρόνιο μπορεί να επιβραδυνθεί εξαιτίας της αλληλεπίδρασής του με τα

άτομα του στόχου. Όπως έχουμε αναφέρει, ένα επιταχυνόμενο (ή επιβραδυνόμενο) φορτίο
εκπέμπει ακτινοβολία. Η απώλεια της κινητικής ενέργειας (Κα-Κτ) του ηλεκτρονίου θα
είναι ίση με την ενέργεια του φωτονίου hf που εκπέμπεται.
Δηλαδή: hf = Κα-Κτ
Το ηλεκτρόνιο μπορεί να χάσει όλη ή μέρος της ενέργειάς του σε μία κρούση,
δηλαδή μπορεί να ακινητοποιηθεί μετά από μία ή περισσότερες κρούσεις. Επειδή κατά τις
κρούσεις των ηλεκτρονίων με τα άτομα του στόχου, τα ηλεκτρόνια μπορεί να χάσουν
οποιοδήποτε μέρος της ενέργειάς τους, συμπεραίνουμε ότι τα φωτόνια που εκπέμπονται θα
έχουν οποιαδήποτε τιμή ενέργειας που θα είναι μικρότερη ή ίση της αρχικής ενέργειας του
ηλεκτρονίου. Επομένως, το φάσμα της ακτινοβολίας αυτής θα είναι συνεχές. Το μικρότερο
μήκος κύματος λmin της ακτινοβολίας εκπέμπεται, όταν η ενέργεια ενός ηλεκτρονίου
μετατρέπεται σε ενέργεια ενός φωτονίου σε μία μόνο κρούση. Έτσι, αντικαθιστώντας Κτ =
0 στην πιο πάνω σχέση έχουμε: hf = Κα.
Η κινητική ενέργεια Κα του ηλεκτρονίου είναι ίση με την ενέργεια eV που αποκτά
μέσω της τάσης V που το επιταχύνει. Αντικαθιστώντας Kα = e•V στην παραπάνω σχέση,
παίρνουμε: hf = eV και επειδή f = c•λmin, βρίσκουμε: h•c•λmin = e•V, οπότε λmin = e•V/h•c
Παρατηρούμε ότι το ελάχιστο μήκος κύματος εξαρτάται μόνο από την τάση V που
εφαρμόζεται μεταξύ της ανόδου και της καθόδου.
1.9.4 Χρήσεις των ακτίνων Χ
Οι ακτίνες Χ χρησιμοποιούνται στην ιατρική και στη βιομηχανία. Ειδικότερα για τη

βιομηχανία, οι ακτίνες Χ χρησιμοποιούνται για να διαπιστωθεί η ύπαρξη ασυνεχειών στο
εσωτερικό των μεταλλικών αντικειμένων. Οι ασυνέχειες εντοπίζονται από το γεγονός ότι
προκαλούν λιγότερη ή περισσότερη απορρόφηση.
|294|
2. ΡΑΔΙΕΝΕΡΓΕΙΑ
2.1 Το μέγεθος και η δομή των πυρήνων - Πυρηνική σταθερότητα
Έχει βρεθεί, μετά από πειράματα που πραγματοποιήθηκαν, ότι η ακτίνα του ατόμου
είναι της τάξης των 10-10m και η ακτίνα του πυρήνα μεγέθους τάξης μεταξύ των 10-15 και
10-14m. Ο πυρήνας λοιπόν, έχει ακτίνα μερικές δεκάδες χιλιάδες φορές μικρότερη από την
ακτίνα του ατόμου. Για να γίνει αυτό αντιληπτό, μπορούμε να κάνουμε την εξής
παρομοίωση: το άτομο είναι σαν ένα μεγάλο στάδιο και ο πυρήνας του σαν ένα κεράσι στο
κέντρο του. Συνεπώς, το άτομο είναι σχεδόν άδειο στο εσωτερικό του.
Ο πυρήνας ενός ατόμου διατηρείται σταθερός παρόλο που τα πρωτόνια απωθούνται
μεταξύ τους λόγω του ομώνυμου φορτίου τους. Αυτό οφείλεται στην ισχυρά ελκτική
πυρηνική δύναμη που ασκείται μεταξύ των νουκλεονίων. Έτσι, αντισταθμίζεται η άπωση
των θετικά φορτισμένων πρωτονίων.
Εικόνα 2.1: Το πυρηνικό τσαμπί
Η πυρηνική δύναμη έχει τα εξής χαρακτηριστικά:

 Δεν κάνει διάκριση μεταξύ πρωτονίων και νετρονίων. Είναι δηλαδή ίδια μεταξύ
πρωτονίου - πρωτονίου, πρωτονίου - νετρονίου και νετρονίου - νετρονίου.
 Δρα μόνο μεταξύ γειτονικών νουκλεονίων και μόνο σε πολύ κοντινές αποστάσεις.
Έτσι, όταν η απόσταση μεταξύ των κέντρων δύο νουκλεονίων είναι μεγαλύτερη από
4•10-15m, η ισχυρή πυρηνική δύναμη είναι σχεδόν μηδενική.
Πυρήνες με εξαιρετικά μεγάλο αριθμό νουκλεονίων χαρακτηρίζονται ως ασταθείς
και προκειμένου να βρεθούν σε κατάσταση ελάχιστης ενέργειας διασπώνται σε
μικρότερους μέσω της σχάσης. Ασταθείς είναι και οι πυρήνες με μικρό αριθμό
νουκλεονίων οι οποίοι προκειμένου να βρεθούν σε κατάσταση ελάχιστης ενέργειας
ενώνονται και σχηματίζουν ένα μεγαλύτερο πυρήνα.
Λογικά, θα αναμέναμε ότι η μάζα ενός πυρήνα είναι ίση με το άθροισμα των μαζών
των νουκλεονίων του. Ωστόσο, έχει βρεθεί πειραματικά ότι η μάζα ενός πυρήνα είναι
μικρότερη από το άθροισμα των μαζών των νουκλεονίων του. Η ιδιότητα αυτή των
πυρήνων, να έχουν μάζα μικρότερη από το άθροισμα των μαζών των νουκλεονίων τους,
είναι γενική για κάθε πυρήνα. Η διαφορά της μάζας ΜΠ ενός πυρήνα από το άθροισμα των
μαζών των ελεύθερων νουκλεονίων του ονομάζεται έλλειμμα μάζας και παριστάνεται ως
ΔΜ. Για έναν πυρήνα με Ζ πρωτόνια και Ν νετρόνια ορίζουμε ως έλλειμμα μάζας ΔΜ τη
διαφορά ΔΜ = Zmp+Nmn-MΠ.
|295|
Η ισοδύναμη ενέργεια που αντιστοιχεί στο έλλειμμα μάζας ονομάζεται ενέργεια
σύνδεσης ΕΒ και υπολογίζεται από τη σχέση: EB = (ΔΜ)•c2. Αυτή ακριβώς η ενέργεια
σύνδεσης εκφράζει την ελάχιστη απαιτούμενη ενέργεια που πρέπει να δώσουμε για να
απομακρύνουμε μεταξύ τους τα πρωτόνια και τα νετρόνια που αποτελούν τον πυρήνα,
ώστε να μην υπάρχει καμία αλληλεπίδραση μεταξύ τους. Αν διαιρέσουμε την ενέργεια
σύνδεσης με το πλήθος των νουκλεονίων, παίρνουμε την ενέργεια σύνδεσης ανά
νουκλεόνιο. Η ενέργεια σύνδεσης ανά νουκλεόνιο μετράει τη σταθερότητα ενός πυρήνα.
Όσο μεγαλύτερη είναι η ενέργεια σύνδεσης ανά νουκλεόνιο, τόσο σταθερότερος είναι ο
πυρήνας.
Η ενέργεια σύνδεσης ανά νουκλεόνιο των περισσότερων πυρήνων κυμαίνεται
μεταξύ των τιμών 7MeV/νουκλεόνιο και 9MeV/νουκλεόνιο, όπως φαίνεται και στην
Εικόνα 2.2. Όπως παρατηρούμε, η ενέργεια σύνδεσης ανά νουκλεόνιο αυξάνεται γρήγορα
στα ελαφριά στοιχεία, έχει ένα πλατύ μέγιστο στην περιοχή με Α = 56 έως Α = 60 περίπου
και μειώνεται αργά στα μεσαίου βάρους και βαριά στοιχεία. Όμως οι διαφορές, αν και
φαίνονται μικρές, είναι σημαντικές. Παρατηρούμε επίσης ότι η αιχμή της καμπύλης στο
Α = 4 δείχνει την ιδιαίτερη σταθερότητα της δομής του σωματίου α.
Εικόνα 2.2: Ενέργεια σύνδεσης ανά νουκλεόνιο με βάση τον ατομικό αριθμό
Το μηδέν της ενέργειας αντιστοιχεί στην κατάσταση των ελεύθερων νουκλεονίων.

Η έγχρωμη περιοχή είναι αυτή των πιο ευσταθών πυρήνων. Όταν κάποιος πυρήνας πολύ
μεγάλου μαζικού αριθμού διασπάται, είτε αυθόρμητα είτε τεχνητά σε δύο άλλους πυρήνες
μεσαίων μαζικών αριθμών (φαινόμενο σχάσης), η ενέργεια σύνδεσης ανά νουκλεόνιο είναι
μεγαλύτερη στους νέους πυρήνες που προκύπτουν. Ομοίως, όταν δύο ή περισσότεροι πολύ
ελαφροί πυρήνες στο αριστερό μέρος της καμπύλης, συνενώνονται προς σχηματισμό ενός
μεγαλύτερου με Α≤60 (φαινόμενο σύντηξης), η ενέργεια σύνδεσης ανά νουκλεόνιο είναι
μεγαλύτερη στο νέο πυρήνα που προκύπτει. Συνεπώς, στις διαδικασίες αυτές, οι πυρήνες
που παράγονται είναι ενεργειακά σταθερότεροι ενώ αποδεσμεύεται συνολικά ενέργεια την
οποία εκμεταλλευόμαστε.
2.2 Ραδιοϊσότοπα
Είδαμε προηγουμένως ότι ισότοπα ονομάζονται τα άτομα του ίδιου στοιχείου που
έχουν τον ίδιο αριθμό πρωτονίων, αλλά διαφορετικό αριθμό νετρονίων. Υπάρχουν φυσικά
και τεχνητά ισότοπα των χημικών στοιχείων. Με δεδομένο ότι το πρώτο ραδιενεργό
στοιχείο που απομονώθηκε ήταν το ράδιο, όλα τα ισότοπα στοιχείων τα οποία είναι
ραδιενεργά, δηλαδή εμφανίζουν την ιδιότητα της ραδιενέργειας, ονομάζονται
ραδιοϊσότοπα.
|296|
Τα ραδιοϊσότοπα διαφορετικών στοιχείων ονομάζονται ραδιονουκλεΐδια. Για
παράδειγμα το 21Η και το 31Η είναι ραδιοϊσότοπα, ενώ το 21Η και ο 126C είναι
ραδιονουκλεΐδια. Στη φύση απαντώνται τρεις ραδιενεργές σειρές ραδιονουκλεϊδίων: η
σειρά του ουρανίου 238, του θορίου και του ακτινίου.
Σημειώνεται ότι όλα τα στοιχεία με ατομικό αριθμό μεγαλύτερο του βισμουθίου
(ατομικός αριθμός βισμουθίου 83) είναι ραδιενεργά και είναι στοιχεία που προκύπτουν,
είτε από την σχάση του ουρανίου -235 είτε του ουρανίου -238 είτε του θορίου (Th 232).
Εικόνα 2.3: Φυσικά ραδιονουκλεΐδια: ραδιενεργή σειρά του θορίου
Στη βιομηχανική ραδιογραφία χρησιμοποιούνται κυρίως τα ραδιοϊσότοπα του

κοβαλτίου Co 60, του ιριδίου Ir 192 και του σεληνίου Se 75. Σημειώνεται ότι τo κοβάλτιο
60 παράγεται με βομβαρδισμό του κοβαλτίου 59 με νετρόνια μέσα σε αντιδραστήρα.
Ομοίως, το ιρίδιο 192 παράγεται με βομβαρδισμό του ιριδίου 191 με νετρόνια.
2.3 Ραδιενέργεια
Οι περισσότεροι από τους πυρήνες, που υπάρχουν στη φύση ή έχουν παραχθεί
τεχνητά στο εργαστήριο, είναι ασταθείς. Διασπώνται δηλαδή σε άλλους πυρήνες οι οποίοι
είναι σταθερότεροι. Η διαδικασία κατά την οποία ένας πυρήνας μετατρέπεται σε έναν άλλο
πυρήνα διαφορετικού στοιχείου ονομάζεται μεταστοιχείωση.
Όταν ένας πυρήνας μετατρέπεται αυθόρμητα σε άλλο πυρήνα, εκλύεται ενέργεια με
ταυτόχρονη εκπομπή ακτινοβολίας. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται ραδιενέργεια. Η
έκλυση της ενέργειας γίνεται συνήθως με έναν από τους τρόπους που περιγράφονται στη
συνέχεια. Σημειώνεται ότι οι έννοιες της εκπομπής σωματιδίων α, σωματιδίων β και
φωτονίων γ, που περιγράφονται παρακάτω, αποδίδονται και ως ακτινοβολίες α, β και γ
αντίστοιχα.
2.3.1 Διάσπαση α
Η ακτινοβολία α οφείλεται στην αυθόρμητη διάσπαση ενός πυρήνα (μητρικός) σε

έναν μικρότερο (θυγατρικός) και σε ένα σωμάτιο α. Το σωμάτιο α είναι ένας πυρήνας
ηλίου (42He) ο οποίος αποτελείται από δύο πρωτόνια και δύο νετρόνια. Όταν λοιπόν
συμβαίνει εκπομπή σωματίων α από ένα βαρύ πυρήνα που λέγεται μητρικός, ο μαζικός
αριθμός μειώνεται κατά 4 και ο νέος πυρήνας, που λέγεται θυγατρικός, είναι σταθερότερος.
|297|
A
→ A-4Z-2Y+42He
ZX
Ας θεωρήσουμε για παράδειγμα, τη ραδιενεργό διάσπαση α του Ουρανίου (23892U).
238 234 4
92U → 90Th+ 2He
Εικόνα 2.4: Ραδιενεργός διάσπαση α του ουρανίου 23892U
Παρατηρούμε ότι ο αριθμός των πρωτονίων στο αριστερό μέλος είναι ίσος με τον
αντίστοιχο στο δεξιό μέλος (δηλαδή 92 = 90+2), επειδή αυτό επιβάλλει η διατήρηση του
φορτίου. Επίσης ο συνολικός μαζικός αριθμός στο αριστερό μέλος είναι ίσος με τον
αντίστοιχο στο δεξιό μέλος (δηλαδή 238 = 234+4), επειδή αυτό επιβάλλει η διατήρηση του
συνολικού αριθμού των νουκλεονίων.
Σημειώνεται ότι σε μία διάσπαση α, η μάζα του μητρικού πυρήνα είναι μεγαλύτερη
από το άθροισμα των μαζών του θυγατρικού πυρήνα και του σωματίου α. Κατά τη
διάσπαση η διαφορά των μαζών εκδηλώνεται ως κινητική ενέργεια του θυγατρικού πυρήνα
και του σωματίου α.
2.3.2 Διάσπαση β
Είναι το φαινόμενο κατά το οποίο από έναν πυρήνα εκπέμπεται ένα ηλεκτρόνιο
(διάσπαση β-) ή ένα ποζιτρόνιο (διάσπαση β+).
Εικόνα 2.5: Διάσπαση β
|298|
2.3.2.1 Διάσπαση β-
Η ακτινοβολία β- οφείλεται στην αυθόρμητη διάσπαση ενός πυρήνα, ο οποίος

ονομάζεται μητρικός σε έναν θυγατρικό και ένα ηλεκτρόνιο (σωματίδιο β-). Ο θυγατρικός
πυρήνας έχει ένα πρωτόνιο περισσότερο και ένα νετρόνιο λιγότερο. Έτσι, για παράδειγμα,
ένας πυρήνας 146C διασπάται σε έναν πυρήνα 147N ενώ συγχρόνως εκπέμπεται και ένα
ηλεκτρόνιο.
14 14 -
6C → 7N+e +ve
Εικόνα 2.6: Διάσπαση β-
Το γεγονός ότι κατά τη διάσπαση ενός πυρήνα μπορεί να εκπέμπεται ένα

ηλεκτρόνιο δε σημαίνει ότι το ηλεκτρόνιο αυτό προϋπήρχε μέσα στο μητρικό πυρήνα.
Αυτό που συμβαίνει είναι ότι η εκπομπή ενός ηλεκτρονίου οφείλεται στη διάσπαση ενός
νετρονίου του πυρήνα σε ένα πρωτόνιο, ένα ηλεκτρόνιο και ένα αντινετρίνο:
1 1 -
0n → 1p+e +ve
Έτσι, ο αριθμός των πρωτονίων (Ζ) στο θυγατρικό πυρήνα αυξάνεται κατά 1, ενώ ο
αριθμός των νετρονίων μειώνεται κατά 1, οπότε ο συνολικός αριθμός των νουκλεονίων (Α)
δε μεταβάλλεται.
2.3.2.2 Διάσπαση β+
Τo αντίθετο από την διάσπαση β- συμβαίνει στην διάσπαση β+. Ο μητρικός πυρήνας
διασπάται και μεταστοιχειώνεται σε ένα θυγατρικό και ένα ποζιτρόνιο. Το ποζιτρόνιο είναι
ένα ηλεκτρόνιο με θετικό φορτίο. Ο θυγατρικός πυρήνας έχει ένα πρωτόνιο λιγότερο και
ένα νετρόνιο περισσότερο.
Το ποζιτρόνιο προκύπτει από τη μετατροπή ενός πρωτονίου σε ένα νετρόνιο και ένα
ποζιτρόνιο. Μία χαρακτηριστική περίπτωση διάσπασης β+ είναι η διάσπαση του πυρήνα
του νατρίου ως εξής:
22 22 +
11Na → 10Ne+e +ve
|299|
Δηλαδή κατά τη διάσπαση β+ ο μητρικός πυρήνας ΑΖΧ μεταστοιχειώνεται στο
θυγατρικό ΑΖ-1Χ. Όμοια με τη διάσπαση β-, το γεγονός ότι κατά τη διάσπαση β+ εκπέμπεται
από τον πυρήνα ένα ποζιτρόνιο e+ και ένα νετρίνο ve δε σημαίνει ότι αυτά τα δύο
σωματίδια υπήρχαν μέσα στον πυρήνα. Στην ουσία η πραγματική φύση της διάσπασης β+
είναι η διάσπαση ενός πρωτονίου σε ένα νετρόνιο, ένα ποζιτρόνιο (e+) και ένα νετρίνο του
ηλεκτρονίου (ve) ή συμβολικά: 11p → 10n+e++ve
2.3.3 Διάσπαση γ
Πολύ συχνά ένας πυρήνας, μετά από μία διάσπαση α ή β, μεταστοιχειώνεται σε

άλλον πυρήνα, ο οποίος βρίσκεται σε μία διεγερμένη ενεργειακή στάθμη. Ο νέος
διεγερμένος πυρήνας μεταπίπτει σε μία χαμηλότερη ενεργειακή στάθμη με ταυτόχρονη
εκπομπή ενός ή περισσότερων φωτονίων. Η διαδικασία αυτή είναι παρόμοια με τη
διαδικασία εκπομπής φωτός από άτομα, όταν ηλεκτρόνια μεταπίπτουν από ανώτερες
ενεργειακές στάθμες σε χαμηλότερες.
Εικόνα 2.8: Αποδιέγερση πυρήνα Rn* με εκπομπή ακτινοβολίας γ
Τα φωτόνια που εκπέμπονται κατά τις αποδιεγέρσεις πυρήνων ονομάζονται ακτίνες

ή σωματίδια γ και έχουν πολύ υψηλές ενέργειες σε σχέση με τις ενέργειες των φωτονίων
του ορατού φωτός. Ένα παράδειγμα εκπομπής ακτινών γ είναι το παρακάτω:
222 222
86Rn* → 86Rn+γ
Το σύμβολο (*) δηλώνει διεγερμένη στάθμη. Πρέπει να τονιστεί ότι κατά την
εκπομπή της ακτινοβολίας γ δεν αλλάζει ούτε ο ατομικός, ούτε ο μαζικός αριθμός του
πυρήνα. Γενικά στη φύση υπάρχουν πολλά ραδιενεργά στοιχεία που διασπώνται
αυθόρμητα. Συχνά, όταν ένας ραδιενεργός πυρήνας διασπάται, ο θυγατρικός πυρήνας
μπορεί να είναι κι αυτός ασταθής. Τότε συμβαίνει μια σειρά διαδοχικών διασπάσεων μέχρι
να καταλήξουμε σε ένα σταθερό πυρήνα.
2.3.4 Νετρόνια
Αν ένας πυρήνας έχει μικρό αριθμό νουκλεονίων, ωστόσο παρουσιάζει σημαντικό

πλεόνασμα νετρονίων, είναι δυνατό να διασπαστεί με εκπομπή νετρονίου. Έτσι λοιπόν,
προκύπτει ένας θυγατρικός πυρήνας και ένα νετρόνιο. Η διάσπαση αυτή είναι σπάνια και
απαντάται κυρίως στα τεχνητά ραδιοϊσότοπα.
|300|
2.3.5 Διεισδυτική ικανότητα και θωράκιση των ακτινοβολιών
Τα σωματίδια α, β και γ, που εκπέμπονται στις διασπάσεις α, β και γ των πυρήνων,

έχουν διαφορετική διεισδυτική ικανότητα. Έτσι λοιπόν, η ακτινοβολία α έχει πολύ μικρή
διεισδυτική ικανότητα καθώς μπορεί να αποκοπεί ακόμα και με ένα φύλλο χαρτιού.
Η ακτινοβολία β χαρακτηρίζεται από περιορισμένη διεισδυτικότητα και μπορεί να
θωρακιστεί με πάχος υλικού μικρού ατομικού αριθμού όπως φύλλων αλουμινίου πάχους
λίγων εκατοστών.
Η ακτινοβολία γ χαρακτηρίζεται από σημαντική διεισδυτικότητα. Μπορεί να
θωρακιστεί μόνο με υλικά υψηλού ατομικού αριθμού όπως ο μόλυβδος κατάλληλου
πάχους ή άλλα υλικά αυξημένου πάχους όπως το σκυρόδεμα.
Τέλος η ακτινοβολία νετρονίων χαρακτηρίζεται από σημαντική διεισδυτικότητα και
μπορεί να θωρακιστεί με τη χρήση υλικών μικρού σχετικά ατομικού αριθμού όπως το νερό,
η παραφίνη κ.λπ. Τα σωματίδια α και β, επειδή είναι φορτισμένα, κατά τη διέλευσή τους
μέσα από την ύλη χάνουν σταδιακά την ενέργειά τους αφού αλληλεπιδρούν ηλεκτρικά με
αυτήν. Τα φωτόνια γ στην πορεία τους, είτε χάνουν όλη την ενέργειά τους με μία
αλληλεπίδραση κατά την οποία απορροφώνται είτε περνούν ανεπηρέαστα.
Εικόνα 2.9: Υλικά θωράκισης ανά είδος ακτινοβολίας
2.3.6 Διαχωρισμός των σωματιδίων α, β και γ
Τα σωματίδια α, β και γ μπορούν να διαχωριστούν με τη βοήθεια ενός μαγνητικού

πεδίου. Τα θετικά φορτισμένα σωματίδια α αποκλίνουν προς μια κατεύθυνση από το πεδίο,
τα αρνητικά φορτισμένα σωματίδια β αποκλίνουν προς την αντίθετη κατεύθυνση και η
ηλεκτρικά ουδέτερη ακτινοβολία γ δεν αποκλίνει καθόλου.
Ιδιότητες ακτίνων Χ και γ

 Δεν ανιχνεύονται από τις ανθρώπινες αισθήσεις.
 Έχουν δυσμενείς επιπτώσεις στον ανθρώπινο οργανισμό.
 Είναι διεισδυτικές.
 Κινούνται σε ευθεία γραμμή.
 Ιονίζουν τα αέρια.
 Μπορεί να σκεδαστούν.
|301|
 Αποτελούν τμήμα του ηλεκτρομαγνητικού φάσματος και διαδίδονται με την
ταχύτητα του φωτός.
 Υπακούουν το νόμο του αντίστροφου τετραγώνου.
 Επιδρούν στο φωτογραφικό φιλμ.
 Προκαλούν φθορισμό σε κάποια υλικά.
 Μπορεί να διαθλαστούν, να πολωθούν και να υποστούν περίθλαση.
Εικόνα 2.10: Διαχωρισμός ακτινοβολιών α, β και γ από μαγνητικό πεδίο
2.3.7 Ενεργότητα ραδιενεργού δείγματος και νόμος των ραδιενεργών διασπάσεων
Έστω ένα δείγμα από άτομα ραδιενεργού στοιχείου. Ο αριθμός των ραδιενεργών
πυρήνων ελαττώνεται με την πάροδο του χρόνου καθώς αυτοί διασπώνται. Το φαινόμενο
αυτό όμως είναι καθαρά στατιστικό, αφού δε μπορούμε να προβλέψουμε ποιος πυρήνας θα
διασπαστεί και ποια χρονική στιγμή.
Ας υποθέσουμε ότι σε ένα ραδιενεργό δείγμα, στο χρόνο t, παραμένουν
αδιάσπαστοι Ν πυρήνες. Ο αριθμός των πυρήνων ΔΝ που διασπώνται σε χρονικό διάστημα
t+Δt έχει βρεθεί ότι είναι ανάλογος του Ν και του Δt δηλαδή:
ΔΝ = - λ • Ν • Δt
Όπου λ η σταθερά της διάσπασης, που χαρακτηρίζει κάθε ραδιενεργό υλικό. Το

πρόσημο (-) δηλώνει ότι πρόκειται για μείωση του αριθμού των πυρήνων.
Σημειώνεται ότι για ένα ραδιενεργό υλικό η πιθανότητα ενός πυρήνα να διασπαστεί
μέσα σε 1s είναι χαρακτηριστική σταθερή του υλικού και ονομάζεται σταθερά διάσπασης.
Μονάδα μέτρησης της σταθεράς λ είναι το s-1. Η σταθερά λ είναι μεγάλη για ραδιενεργούς
πυρήνες που διασπώνται γρήγορα και μικρή γι’ αυτούς που διασπώνται αργά.
Η σχέση ΔΝ = -λ•Ν•Δt μετασχηματίζεται σε ΔΝ/Δt = -λ•Ν. Η απόλυτη τιμή του
ρυθμού μεταβολής του αριθμού των πυρήνων │ΔΝ/Δt│ ονομάζεται ενεργότητα του
δείγματος (Α). Επομένως │ΔΝ/Δt│ = λ•Ν. Με άλλα λόγια, η ενεργότητα ραδιενεργού
πηγής (Α) εκφράζει το πλήθος των ραδιενεργών διασπάσεων που συμβαίνουν στη μονάδα
του χρόνου. Στο διεθνές σύστημα μονάδων S.I, μονάδα ενεργότητας είναι το 1Becquerel
(1Bq) και ορίζεται ως μία διάσπαση ανά δευτερόλεπτο (1Bq = 1 διάσπαση/s). Άλλη
μονάδα μέτρησης της ενεργότητας είναι το 1Curie (1Ci). Το 1Ci ισούται με 3,7•1010Βq.
Στην βιομηχανική ακτινογραφία χρησιμοποιείται το 1GBq, το οποίο ισούται με 109Βq.
Συνεπώς 1Ci ισούται με 37GBq.
|302|
Έχει βρεθεί ότι σε μια ποσότητα ραδιενεργού υλικού, ο αριθμός των αδιάσπαστων
πυρήνων Ν μετά από χρόνο t δίνεται από την σχέση:
N = N0 • e-λt
Όπου:
Ν0: είναι ο αριθμός των αρχικών αδιάσπαστων ραδιενεργών πυρήνων τη στιγμή που άρχισε
η παρατήρηση
e: είναι η βάση των φυσικών λογαρίθμων και ισούται αριθμητικά με 2,7
Η παραπάνω μαθηματική σχέση ονομάζεται νόμος των ραδιενεργών διασπάσεων.
Αντίστοιχα, ο αριθμός των πυρήνων που έχουν διασπαστεί σε χρόνο t δίνεται από την
σχέση:
N0 - N = N0 (1 - e-λt)
2.3.7.1 Χρόνος υποδιπλασιασμού ή χρόνος ημίσειας ζωής
Κάποια στιγμή, το πλήθος των ραδιενεργών πυρήνων που θα έχουν μείνει

αδιάσπαστοι θα είναι το μισό του αρχικού πλήθους Ν. Ο χρόνος που χρειάστηκε για να
συμβεί αυτό, δηλαδή ο αριθμός των ραδιενεργών πυρήνων να μειωθεί στο μισό του
αρχικού αριθμού N0, ονομάζεται χρόνος υποδιπλασιασμού ή χρόνος ημίσειας ζωής Τ1/2.
Για παράδειγμα: Έστω ότι ένα στοιχείο έχει χρόνο ημίσειας ζωής Τ1/2 = 6 ώρες και
διαθέτουμε αρχικά N0 = 100 πυρήνες αυτού του στοιχείου. Σε έξι ώρες περιμένουμε ότι θα
έχουν απομείνει 50 πυρήνες. Μετά από άλλες έξι ώρες (δηλαδή 2Τ1/2) θα έχουν μείνει 25
πυρήνες, κοκ.
Πίνακας 2.1: Αριθμός διασπασμένων και αδιάσπαστων πυρήνων σε διάφορους χρόνους

Πυρήνες που παραμένουν
Μετά από χρόνο (t) Πυρήνες που διασπάστηκαν
αδιάσπαστοι
Τ1/2 Ν0/2 Ν0/2
2Τ1/2 Ν0/4 3Ν0/4
3Τ1/2 Ν0/8 7Ν0/8
Αν στη σχέση N = N0•e-λt, βάλουμε Ν = Ν0/2 για t = Τ1/2 έχουμε:

Ν0/2 = N0e-λ•T1/2 ή 1/2 = e-λ•T1/2
Λογαριθμίζοντας έχουμε: ln½ = lne-λ•T1/2 από όπου, εφαρμόζοντας τις ιδιότητες των
λογαρίθμων έχουμε:ln1-ln2 = -λ•Τ1/2•lne. Όμως ln1 = 0, lne = 1, οπότε -ln2 = - λ•Τ1/2
δηλαδή: Τ1/2 = ln2/λ. Σημειώνεται ότι επειδή ln2 = 0,693, η παραπάνω σχέση γίνεται Τ1/2 =
0,693/λ. Για κάθε ραδιενεργό πυρήνα, οι χρόνοι ημίσειας ζωής είναι χαρακτηριστικοί.
Υπάρχουν πυρήνες με χρόνους υποδιπλασιασμού 10-20s ή και λιγότερο, ενώ υπάρχουν
αντίστοιχα ραδιενεργοί πυρήνες με χρόνους υποδιπλασιασμού που κυμαίνονται από 10-3s
μέχρι και περισσότερο από 1015 χρόνια.
|303|
Εικόνα 2.11: Γραφική απεικόνιση του νόμου των ραδιενεργών διασπάσεων
Εικόνα 2.12: Ενδεικτικοί χρόνοι ημίσειας ζωής ραδιενεργών πυρήνων
Εμπέδωση
Το καίσιο Cs 137 έχει χρόνο ημίσειας ζωής Τ1/2 = 30 χρόνια. Αν μια πηγή καισίου
έχει σήμερα ενεργότητα 800GBq, τότε:
Σε 30 χρόνια θα έχει ενεργότητα 400GBq
Σε 60 χρόνια θα έχει ενεργότητα 200GBq κοκ.
|304|
3. ΒΑΣΙΚΕΣ ΕΝΝΟΙΕΣ ΑΛΛΗΛΕΠΙΔΡΑΣΗΣ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ ΚΑΙ ΥΛΗΣ
Οι παράμετροι που καθορίζουν τον τρόπο αλληλεπίδρασης της ακτινοβολίας,

δηλαδή των φωτονίων με την ύλη, είναι η ενέργεια του φωτονίου και το είδος του υλικού
(ατομικός αριθμός Ζ) που διασχίζουν. Σημειώνεται ότι η ενέργεια όλων των ακτινοβολιών
που έχουμε αναφέρει μέχρι στιγμής μετριέται σε keV ή σε MeV (1ΜeV = 1000keV). Στην
συνέχεια αναλύονται οι βασικοί μηχανισμοί αλληλεπίδρασης της ακτινοβολίας με την ύλη.
3.1 Μηχανισμοί αλληλεπίδρασης φωτονίων-ύλης
3.1.1 Φωτοηλεκτρικό φαινόμενο
Ως φωτοηλεκτρικό φαινόμενο ορίζεται το φαινόμενο κατά το οποίο, όταν πάνω σε

μια επιφάνεια προσπίπτει φως, απελευθερώνονται ηλεκτρόνια. Αν η ενέργεια ενός
φωτονίου είναι χαμηλή, δηλαδή μικρότερη των 50keV, τότε η αλληλεπίδραση του με την
ύλη γίνεται μέσω του φωτοηλεκτρικού φαινομένου. Το φωτόνιο απορροφάται από ένα
ηλεκτρόνιο των εσωτερικών στιβάδων ενός ατόμου (θυμίζουμε ότι είναι ένα ισχυρά
συνδεδεμένo ηλεκτρόνιο). Το ηλεκτρόνιο αυτό έχοντας απορροφήσει την ενέργεια του
φωτονίου είναι σε θέση να εγκαταλείψει το άτομο και να απελευθερωθεί από αυτό. Το
ηλεκτρόνιο αυτό ονομάζεται και φωτοηλεκτρόνιο.
Στο σημείο αυτό σημειώνεται ότι εκπομπή φωτοηλεκτρονίων συμβαίνει μόνο όταν
η συχνότητα της προσπίπτουσας ακτινοβολίας είναι μεγαλύτερη ή ίση μιας ορισμένης
συχνότητας, η οποία είναι χαρακτηριστική για κάθε μέταλλο. Αυτή η οριακή συχνότητα
ονομάζεται συχνότητα κατωφλίου (f0). Ο αριθμός των ηλεκτρονίων που αποσπώνται από
το μέταλλο ανά μονάδα χρόνου είναι ανάλογος της έντασης της φωτεινής ακτινοβολίας που
προσπίπτει στο μέταλλο. Η ταχύτητα με την οποία εξέρχονται τα ηλεκτρόνια δεν εξαρτάται
από την ένταση της φωτεινής ακτινοβολίας αλλά μόνο από τη συχνότητά της και αυξάνεται
όταν η συχνότητα της ακτινοβολίας μεγαλώνει.
Εικόνα 3.1: Το φωτοηλεκτρικό φαινόμενο
Τη θέση του ηλεκτρονίου που απομακρύνθηκε καταλαμβάνει άλλο ηλεκτρόνιο από

υψηλότερη ενεργειακά στάθμη με ταυτόχρονη εκπομπή χαρακτηριστικής ακτινοβολίας. Το
άτομο του υλικού θα είναι φορτισμένο θετικά (+1) αφού έχασε ένα ηλεκτρόνιο, άρα έχουμε
ιονισμό του ατόμου.
|305|
Εικόνα 3.2: Μηχανισμός αλληλεπίδρασης ακτινοβολίας-ύλης με φωτοηλεκτρικό φαινόμενο
και εκπομπή χαρακτηριστικής ακτινοβολίας
3.1.2 Το φαινόμενο Compton
Αν η ενέργεια του φωτονίου είναι σχετικά υψηλή, δηλαδή μεγαλύτερη των 50keV,
τότε πιθανότερη αλληλεπίδραση αποτελεί το φαινόμενο Compton. Τo φωτόνιο αρχικής
ενέργειας Ea αλληλεπιδρά με ένα εξωτερικό ηλεκτρόνιο δίνοντας του μέρος της ενέργειας
του (θυμίζουμε ότι είναι ένα χαλαρά συνδεδεμένο ηλεκτρόνιο). Το ηλεκτρόνιο αυτό
έχοντας περίσσεια ενέργειας εγκαταλείπει το άτομο. Το άτομο ιονίζεται αφού χάνει ένα
ηλεκτρόνιο και φορτίζεται θετικά. Το φωτόνιο συνεχίζει την πορεία του, όμως αλλάζει η
διεύθυνση του, σκεδάζεται και έχει μικρότερη ενέργεια Eτ αφού μέρος της έδωσε στο
ηλεκτρόνιο. Η αλλαγή διεύθυνσης του φωτονίου έχει εύρος από 0 έως 180 μοίρες.
Εικόνα 3.3: Η γεωμετρία του φαινομένου Compton
Αν η γωνία σκέδασης είναι 180 μοίρες, τότε λέμε ότι έχουμε οπισθοσκέδαση. Στο
τέλος του φαινομένου έχουμε ένα σκεδασμένο φωτόνιο μικρότερης ενέργειας από την
αντίστοιχη αρχική και ένα ελεύθερο ηλεκτρόνιο το οποίο έχει αποσπαστεί από την
εξωτερική τροχιά του ατόμου.
Με άλλα λόγια, κατά το φαινόμενο Compton, υπάρχει αλλαγή του μήκους κύματος
της ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας κατά τη σκέδασή της από φορτισμένα σωματίδια. Το
σκεδαζόμενο τμήμα της ακτινοβολίας έχει μήκος κύματος μεγαλύτερο από το μήκος
κύματος της προσπίπτουσας ακτινοβολίας και άρα μικρότερη συχνότητα. Η μεταβολή του
μήκους κύματος ανάμεσα στην προσπίπτουσα και τη σκεδαζόμενη δέσμη εξαρτάται μόνο
από τη γωνία ανάμεσα στις δύο δέσμες.
|306|
Εικόνα 3.4: Μηχανισμός αλληλεπίδρασης ακτινοβολίας-ύλης μέσω του φαινομένου Compton
3.1.3 Δίδυμη γένεση
Οι μέχρι τώρα αλληλεπιδράσεις που αναφέρθηκαν συμβαίνουν μεταξύ ενός

φωτονίου και των ηλεκτρονίων του ατόμου του υλικού. Στην προκειμένη περίπτωση, η
αλληλεπίδραση συμβαίνει μεταξύ ενός φωτονίου και του πυρήνα του ατόμου.
Κατά τη συγκεκριμένη αλληλεπίδραση, το φωτόνιο εξαφανίζεται και στη θέση του
εμφανίζεται ένα ηλεκτρόνιο και ένα ποζιτρόνιο τα οποία κινούνται σε αντίθετες
κατευθύνσεις. Το ποζιτρόνιο είναι ένα ηλεκτρόνιο με θετικό φορτίο. Ουσιαστικά λοιπόν,
κατά τη διάρκεια του φαινομένου, έχουμε μετατροπή της ενέργειας (φωτόνιο) σε μάζα
(ηλεκτρόνιο και ποζιτρόνιο).
Εικόνα 3.5: Δίδυμη γένεση
Σημειώνεται ότι για να γίνει η παραγωγή του ζεύγους πρέπει η ενέργεια του
φωτονίου να είναι τουλάχιστον ίση με τη συνολική ενέργεια ηρεμίας των δύο σωματιδίων,
δηλαδή στην περίπτωση ηλεκτρονίου-ποζιτρονίου 1,022ΜeV.
3.2 Μηχανισμοί εξασθένισης (attenuation) της ακτινοβολίας κατά τη διάδοση της
Δύο είναι οι βασικοί μηχανισμοί εξασθένισης της ακτινοβολίας κατά τη διάδοση

της:
 η γεωμετρική εξασθένιση
 η εξασθένιση της λόγω αλληλεπίδρασης της με την ύλη.
|307|
3.2.1 Γεωμετρική εξασθένιση: Σχέση έντασης-απόστασης
Πρόκειται για την εφαρμογή του νόμου του αντιστρόφου τετραγώνου της
απόστασης. Δηλαδή η ένταση της ακτινοβολίας μειώνεται αντιστρόφως ανάλογα με το
τετράγωνο της απόστασης από την πηγή της.
r02
Ιx = I0 ---------------
rx2
όπου Ι0 η ένταση της ακτινοβολίας (σε mSv/h) σε απόσταση r0 (σε m) και Ix η ένταση της
ακτινοβολίας (σε mSv/h) στη νέα απόσταση rx (σε m).
Εικόνα 3.6: Απεικόνιση της σχέσης έντασης-απόστασης
Διπλασιάζοντας την απόσταση από την πηγή, η ένταση της ακτινοβολίας

ελαττώνεται κατά 4 φορές. Τριπλασιάζοντας την απόσταση από την πηγή, η ένταση της
ακτινοβολίας ελαττώνεται κατά εννέα φορές. Επομένως, κάθε φορά που υψώνουμε το λόγο
των αποστάσεων στο τετράγωνο βρίσκουμε τη μείωση της έντασης.
Πίνακας 3.1: Ρυθμοί έκθεσης σε απόσταση ενός μέτρου από διάφορε πηγές
Πηγή Αποτέλεσμα στο 1m
R/h/Ci μSv/h/GBq
Κοβάλτιο 60 1,32 357
Καίσιο 134 0,87 235
Καίσιο 137 0,33 89
Ιρίδιο 192 0,48 130
Θούλιο 170 0,0025 0,68
Για την μετατροπή R/h/Ci σε μSv/h/GBq διαιρώ με 0,0037
|308|
Εικόνα 3.7: Γραφική απεικόνιση ρυθμού δόσης-απόστασης
Εμπέδωση 1
Εμπέδωση 2
Ποια είναι η ασφαλής απόσταση εργασίας για μια πηγή Ιr 192 370GBq. Δίνεται ο
ρυθμός δόσης για το Ιr 192 ίσος με 130μSv/h/GBq στο 1m.
Απάντηση
Εφαρμόζεται ο νόμος των αντίστροφων τετραγώνων:

Ιx/Io = ro2/rx2 όπου rx είναι το ζητούμενο, Ιx = 7,5mSv/h, Io = 370GBq•130mSv/h/GBq, ro =
1m. Αντικαθιστώντας προκύπτει ότι η ασφαλής απόσταση εργασίας είναι rx≈ 80m.
|309|
3.2.2 Εξασθένιση της ακτινοβολίας λόγω αλληλεπίδρασης με την ύλη: Νόμος της
εκθετικής εξασθένισης
Η αλληλεπίδραση είναι τυχαίο γεγονός και μπορούμε να μιλήσουμε μόνο για την
πιθανότητα να συμβεί. Αναφέραμε ήδη, ότι οι παράμετροι που καθορίζουν τον τρόπο
αλληλεπίδρασης της ακτινοβολίας με την ύλη είναι η ενέργεια του φωτονίου και το είδος
του υλικού (ατομικός αριθμός Ζ και πάχος).
Το μέγεθος που περιγράφει την πιθανότητα αλληλεπίδρασης φωτονίου-ύλης ανά
μονάδα μήκους διαδρομής σε αυτή ονομάζεται γραμμικός συντελεστής εξασθένισης μ και
εξαρτάται από την ενέργεια του φωτονίου και το είδος του υλικού (ατομικό αριθμό και
πάχος).
Η πιθανότητα ανά μονάδα διαδρομής για το φωτοηλεκτρικό φαινόμενο είναι
σημαντικότερη για χαμηλές ενέργειες και υλικά μεγάλης πυκνότητας και μεγάλου
ατομικού αριθμού, η πιθανότητα για το φαινόμενο Compton είναι σημαντικότερη σε
μεσαίες και υψηλές ενέργειες, μεγάλη πυκνότητα αλλά ανεξάρτητη του ατομικού αριθμού,
ενώ η πιθανότητα για δίδυμη γένεση είναι σημαντικότερη για υψηλές ενέργειες
(>1,022ΜeV) και υλικά μεγάλης πυκνότητας και μεγάλου ατομικού αριθμού.
Για να μπορέσουμε να μελετήσουμε μια δέσμη σωματιδίων ή φωτονίων πρέπει να
γνωρίζουμε την ενέργεια και την ένταση της. Ως ένταση μιας δέσμης ορίζεται το πλήθος
των σωματιδίων ή των φωτονίων που περνούν από μια επιφάνεια εμβαδού 1cm2 σε ένα
δευτερόλεπτο (1s). Με άλλα λόγια, αν μια δέσμη φωτονίων έχει ένταση 1.000
φωτόνια/cm2•s αυτό σημαίνει ότι μέσα σε ένα δευτερόλεπτο περνούν από μια επιφάνεια
ενός τετραγωνικού εκατοστού 1.000 φωτόνια.
Ας υποθέσουμε ότι μια δέσμη φωτονίων έχει αρχική ένταση Io και εισέρχεται σε
υλικό πάχους x. Κάποια φωτόνια, σύμφωνα με τους μηχανισμούς που αναλύθηκαν θα
σκεδαστούν, άλλα θα αλληλεπιδράσουν με το υλικό, άλλα θα απορροφηθούν και κάποια
δεν θα αλληλεπιδράσουν.
Εικόνα 3.8: Εξασθένιση λόγω αλληλεπίδρασης με την ύλη
|310|
Η ένταση Ιx της δέσμης των φωτονίων που εξέρχονται από το υλικό χωρίς να
αλληλεπιδράσουν δίνεται από τη σχέση:
Ix = I0 • e-μx
Όπου Ιο είναι η αρχική ένταση της δέσμης, μ είναι ο γραμμικός συντελεστής

εξασθένισης που αναφέρθηκε παραπάνω, x το πάχος του υλικού και e η βάση των φυσικών
λογαρίθμων (ισούται με 2,7). Η παραπάνω σχέση ονομάζεται εκθετικός νόμος της
εξασθένισης.
Στην Εικόνα 3.9 δίνεται η γραφική παράσταση του νόμου της εκθετικής
εξασθένισης σε σχέση με το πάχος x του υλικού. Όπως διακρίνεται, η ένταση της
ακτινοβολίας μειώνεται εκθετικά καθώς αυξάνεται το πάχος του υλικού το οποίο διαπερνά.
Εικόνα 3.9: Γραφική απεικόνιση του νόμου εκθετικής εξασθένισης
3.2.2.1 Πάχος υποδιπλασιασμού (HVL)
Ως πάχος υποδιπλασιασμού (Half Value Layer) ορίζεται το πάχος δεδομένου υλικού

που απαιτείται για να μειώσει την ένταση μιας δέσμης φωτονίων στο μισό της αρχικής. Τo
πάχος υποδιπλασιασμού εξαρτάται από την ενέργεια των φωτονίων και το είδος του
υλικού. Για παράδειγμα, για ενέργεια φωτονίων 150keV, το πάχος υποδιπλασιασμού του
μολύβδου είναι 0,30mm ενώ για το σκυρόδεμα 22,32mm. Γίνεται αμέσως αντιληπτό
δηλαδή ότι ο μόλυβδος έχει μεγαλύτερη ικανότητα να εξασθενεί τα φωτόνια.
Πίνακας 3.2: Παραδείγματα του πάχους υποδιπλασιασμού σε γεννήτριες παραγωγής ακτίνων

Χ διαφορετικής ενέργειας ακτινοβολίας με φύλλο μολύβδου και σκυρόδεμα
Ενέργεια Φύλλο μολύβδου Σκυρόδεμα
φωτονίων ΗVL (mm) ΗVL (mm)
50keV 0,06 4,32
100keV 0,27 15,10
150keV 0,30 22,32
200keV 0,52 25,00
250keV 0,88 28,00
300keV 1,47 31,21
400keV 2,50 33,00
1.000keV 7,90 44,45
|311|
Ένα πάχος υποδιπλασιασμού μπορεί να εξασθενίσει την ένταση της ακτινοβολίας
στο μισό. Εάν χρησιμοποιηθούν δύο πάχη υποδιπλασιασμού, η ένταση θα μειωθεί τέσσερις
φορές. Εάν χρησιμοποιηθούν τρία πάχη υποδιπλασιασμού, η ένταση θα μειωθεί εννιά
φορές. Γενικότερα, ν πάχη υποδιπλασιασμού θα μειώσουν την ένταση μιας δέσμης 2ν
φορές.
Η σχέση που συνδέει το πάχος υποδιπλασιασμού με το γραμμικό συντελεστής
εξασθένισης μ είναι:
ΗVL = ln2/μ ή 0,693/μ. Η τελευταία σχέση προκύπτει εύκολα εάν στη σχέση Ix =
I0•e-μx αντικαταστήσουμε όπου x = ΗVL και Ix = I0/2. Αναλυτικότερα, θα έχουμε:
I0/2 = I0•e-μ•ΗVL ή ½ = e-μ•ΗVL ή ln1/2 = lne-μ•ΗVL ή ln1-ln2= -μ•ΗVL•lne. Δεδομένου ότι
ln1 = 0, lne = 1, έχουμε: -ln2 = -μ•ΗVL ή ΗVL = ln2/μ ή ΗVL = 0,693/μ αφού
ln2 = 0,693.
Εμπέδωση 1
Έστω μια πηγή Cs 137 που περιβάλλεται από 0,7cm μολύβδου.

Τι αποτέλεσμα έχει ο περιβάλλων μόλυβδος;
Εάν η πηγή ήταν Cο 60 θα επαρκούσε αυτό το πάχος μολύβδου ώστε να έχει το ίδιο
αποτέλεσμα στην ακτινοβολία;
Δίνονται:
Για το Καίσιο 137, HVL για μόλυβδο 0,7cm
Για το Κοβάλτιο 60, HVL για μόλυβδο 1,2cm
Απάντηση
Θα μειώσει την ένταση της ακτινοβολίας στο μισό.

Όχι διότι το κοβάλτιο έχει διαφορετικό πάχος υποδιπλασιασμού, συνεπώς δεν
επαρκεί η θωράκιση των 0,7cm.
Εμπέδωση 2
Ποιο είναι το πάχος υποδιπλασιασμού ενός υλικού με γραμμικό συντελεστή

εξασθένισης 0,4/cm;
Απάντηση
Εφαρμόζοντας τον τύπο ΗVL = 0,693/μ έχουμε ΗVL = 0,693/0,4cm-1 = 1,73cm.
Εμπέδωση 3
Μια γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ 250keV παράγει 6,2mSv/h σε 1m. Πόσο

πρέπει να είναι το πάχος του σκυροδέματος που πρέπει να τοποθετηθεί ώστε ο
εκπεμπόμενος ρυθμός δόσης να είναι 7,5μSv/h; Δίνεται το πάχος υποδιπλασιασμού για το
σκυρόδεμα με γεννήτρια 250keV ίσο με 28mm.
Απάντηση
Χρειάζεται να μετατρέψουμε το ρυθμό δόσης της γεννήτριας από mSv/h σε μSv/h.

Επομένως 6,2mSv/h=6,2•103μSv/h = 6.200μSv/h
Θέλουμε ο ρυθμός δόσης από 6.200μSv/h να μειωθεί στο 7,5μSv/h.
|312|
Έχουμε λοιπόν:
1ΗVL → 6.200/21 = 3.100μSv/h

2ΗVL → 6.200/22 = 1.550μSv/h
3ΗVL → 6.200/23 = 775μSv/h
4ΗVL → 6.200/24 = 387,5μSv/h
5ΗVL → 6.200/25 = 193,75μSv/h
6ΗVL → 6.200/26 = 96,875μSv/h
7ΗVL → 6.200/27 = 48,43μSv/h
8ΗVL → 6.200/28 = 24,21 μSv/h
9ΗVL → 6.200/29 = 12,1μSv/h
10ΗVL →6.200/210 = 6,05μSv/h
Επομένως θα χρειαστούν 10HVL δηλαδή 10•28mm σκυρόδεμα για να μειωθεί ο

ρυθμός δόσης στην επιθυμητή τιμή.
|313|
4. ΒΑΣΙΚΕΣ ΕΝΝΟΙΕΣ ΔΟΣΙΜΕΤΡΙΑΣ
4.1 Το ηλεκτρομαγνητικό φάσμα
Όπως προκύπτει μέχρι στιγμής η ακτινοβολία μπορεί να είναι σωματιδιακή

(ηλεκτρόνια, σωματίδια α και β, πρωτόνια, νετρόνια) ή κυματική (φωτόνια). Η κυματική
ακτινοβολία ονομάζεται και ηλεκτρομαγνητική. Οι ακτίνες Χ και γ, τα μικροκύματα, τα
κύματα κινητής τηλεφωνίας, τα ραδιοκύματα δεν είναι τίποτε άλλο παρά φωτόνια. Το
ηλεκτρομαγνητικό κύμα αποτελείται από ένα ηλεκτρικό και ένα μαγνητικό κύμα. Δηλαδή,
είναι ένα πεδίο με δύο χαρακτηριστικά, την ένταση E του ηλεκτρικού πεδίου και την
ένταση Β του μαγνητικού πεδίου των οποίων τα διανύσματα είναι κάθετα μεταξύ τους και
μεταβάλλονται από θέση σε θέση και από στιγμή σε στιγμή. Γι’ αυτό το λόγο
χαρακτηρίζονται ως δύο τοπικά και χρονικά μεταβαλλόμενα μεγέθη (E και Β). Οι εντάσεις
των πεδίων E και Β παίρνουν ταυτόχρονα τη μέγιστη και ελάχιστη τιμή, δηλαδή έχουν την
ίδια φάση και διαδίδονται με την ίδια ταχύτητα c.
Εικόνα 4.1: Στιγμιότυπο ηλεκτρομαγνητικού κύματος
Η ταχύτητα διάδοσης του ηλεκτρομαγνητικού κύματος (c), η συχνότητα (f) και το

μήκος κύματος (λ) συνδέονται με τη σχέση c = λ•f η οποία ονομάζεται θεμελιώδης
εξίσωση της κυματικής.
Οι ιδιότητες της ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας καθορίζονται από την ενέργεια
των φωτονίων που την αποτελούν. Το εύρος αυτής της ενέργειας αποτελεί και το
ηλεκτρομαγνητικό φάσμα.
Εικόνα 4.2: Το ηλεκτρομαγνητικό φάσμα.
|314|
Σημειώνεται ότι το ορατό φως καταλαμβάνει μια πολύ μικρή περιοχή του
φάσματος. Όσο προχωράμε προς τα δεξιά της Εικόνας 4.2, το μήκος κύματος μειώνεται,
άρα η ενέργεια αυξάνεται. Το αντίθετο συμβαίνει όσο προχωράμε προς τα αριστερά. Κάθε
φωτόνιο μιας ακτινοβολίας έχει ενέργεια που δίνεται από τη σχέση E = h•f, όπου f η
συχνότητα και h μια σταθερά, που ονομάζεται σταθερά του Planck και έχει τιμή
h = 6,626•10-34J•s.
4.2 Ιοντίζουσες και μη ιοντίζουσες ακτινοβολίες
Οι ακτινοβολίες, ανάλογα με το εάν προκαλούν ιοντισμό ή όχι στην ύλη

διακρίνονται σε ιοντίζουσες και μη ιοντίζουσες αντίστοιχα.
Πιο αναλυτικά, οι ιοντίζουσες ακτινοβολίες είναι οι ακτινοβολίες που μεταφέρουν
ενέργεια ικανή να εισχωρήσει στην ύλη, να προκαλέσει ιοντισμό των ατόμων της, δηλαδή
βίαιη απομάκρυνση ηλεκτρονίων και δημιουργία ιόντων, να διασπάσει βίαια χημικούς
δεσμούς και να προκαλέσει βιολογικές βλάβες σε ζώντες οργανισμούς. Οι γνωστότερες
ιοντίζουσες ακτινοβολίες είναι οι ακτίνες Χ και γ.
Μη ιοντίζουσες ακτινοβολίες είναι οι ακτινοβολίες που μεταφέρουν σχετικά μικρή
ενέργεια, ανίκανη να προκαλέσει ιοντισμό, ικανή όμως να προκαλέσει ηλεκτρικές, χημικές
και θερμικές επιδράσεις στα κύτταρα, ενώ μπορούν να είναι άλλοτε επιβλαβείς και άλλοτε
ευεργετικές. Ειδικότερα, μη ιοντίζουσες ακτινοβολίες είναι οι ηλεκτρομαγνητικές
ακτινοβολίες στις οποίες εντάσσονται τα στατικά ηλεκτρικά και μαγνητικά πεδία, όπως
είναι αυτά που δημιουργούνται στο φυσικό περιβάλλον, τα ραδιοκύματα και τα
μικροκύματα που εκπέμπονται από κεραίες επικοινωνιών (π.χ. κεραίες ραδιοφωνίας και
τηλεόρασης, σταθμούς βάσης κινητής τηλεφωνίας, συστήματα ραντάρ κ.ά.), καθώς και η
υπέρυθρη, η ορατή και η υπεριώδης ακτινοβολία.
Εικόνα 4.3: Πηγές μη ιοντιζουσών ακτινοβολιών
4.3 Πηγές ακτινοβολίας
Οι πηγές ακτινοβολίας ανάλογα με την προέλευση τους διακρίνονται σε φυσικές και

τεχνητές. Φυσικές πηγές ακτινοβολίας είναι τα φυσικά ραδιενεργά στοιχεία όπως το ράδιο,
το ουράνιο, το θόριο, το κάλιο που υπάρχουν από το σχηματισμό της γης και βρίσκονται
στο έδαφος και στο υπέδαφος, στον αέρα, στο νερό και στην τροφή και υπάρχουν από το
σχηματισμό της γης.
Χαρακτηριστικό φυσικό ραδιοϊσότοπο που υπάρχει σε τροφή, κυρίως στις
μπανάνες, αλλά και στο ανθρώπινο σώμα είναι το κάλιο (Κ 40). Αξιοσημείωτη είναι και η
περίπτωση του αερίου ραδονίου το οποίο προέρχεται από τη διάσπαση του ραδίου. Το
ραδόνιο βρίσκεται στο νερό, στο υπέδαφος και στα οικοδομικά υλικά. Επειδή ανήκει στα
ευγενή αέρια είναι αδρανές. Θεωρείται ύποπτο για πρόκληση καρκίνου του πνεύμονα, ενώ
αποτελεί έναν από τους βασικότερους ρύπους εσωτερικών χώρων αφού έχει την τάση να
συσσωρεύεται κυρίως σε υπόγειους χώρους. Ο ήλιος και η κοσμική ακτινοβολία από τα
|315|
ουράνια σώματα, η ακτινοβολία από το μαγνητικό πεδίο της γης και οι κεραυνοί στην
ατμόσφαιρα αποτελούν επίσης φυσικές πηγές ακτινοβολίας. Σημειώνεται ότι ο ρυθμός
ακτινοβόλησης αυξάνει με το υψόμετρο.
Ως τεχνητές πηγές ακτινοβολίας θεωρούνται τα μηχανήματα παραγωγής
ακτινοβολιών, τα υπολείμματα των πυρηνικών δοκιμών και τα τεχνητά ραδιοϊσότοπα που
χρησιμοποιούνται σε διάφορες εφαρμογές όπως στην ιατρική, στη βιομηχανία και στην
έρευνα.
Εικόνα 4.4: Φυσικές και τεχνητές πηγές ακτινοβολίας και η σχέση της με το υψόμετρο
Υπολογίζεται ότι εάν αναλυθεί στρώμα εδάφους πάχους 30 εκατοστών που

περιλαμβάνεται σε ένα γήπεδο διαστάσεων ενός τετραγωνικού μιλίου, θα προκύψουν
περίπου 3 τόνοι ουρανίου, 6 τόνοι θορίου και 1 γραμμάριο ραδίου.
Ακόμα και ο άνθρωπος αποτελεί πηγή ακτινοβολίας. Τα βασικά ισότοπα που
απαντώνται σε όλους τους ανθρώπους παρατίθενται στον πίνακα 4.1. Στην Ελλάδα, πηγές
ακτινοβολίας αποτελούν ο ερευνητικός αντιδραστήρας στο ΕΚΕΦΕ «Δημόκριτος», οι
μονάδες αποστείρωσης νοσοκομειακού υλικού Co 60 καθώς και οι πηγές Co 60
συστημάτων τηλεθεραπείας σε νοσηλευτικά ιδρύματα, οι πηγές Ir 192 και Cs 137 σε
συστήματα βραχυθεραπείας σε νοσηλευτικά ιδρύματα, διάφορες βιομηχανικές πηγές
καθώς και βιομηχανικές πηγές ακτινογραφήσεων Co 60, Ir 192 και Se 75, τα
ραδιοφάρμακα στα τμήματα Πυρηνικής Ιατρικής και τέλος τα ραδιοϊσότοπα και οι
ραδιενεργές πηγές για εκπαιδευτικούς και ερευνητικούς σκοπούς.
Πίνακας 4.1: Βασικά ισότοπα στο ανθρώπινο σώμα

Ισότοπα στο ανθρώπινο σώμα Συγκέντρωση (nCi)
Κ 40 120
Ru 87 9,2
C 14 9
H3 1
Ra 226 0,1
4.4 Τρόποι έκθεσης στην ακτινοβολία
Έκθεση είναι το μέτρο της ισχύος ενός πεδίου ακτινοβολίας σε κάποιο σημείο.
Κατά την έκθεση σε ιοντίζουσα ακτινοβολία εναποτίθεται ενέργεια στα κύτταρα των
ακτινοβολούμενων ιστών. Η ακτινοβόληση μπορεί να είναι είτε εξωτερική από την
κοσμική ακτινοβολία ή τις ακτινογραφίες, είτε εσωτερική από ραδιοϊσότοπα στη τροφή,
στον αέρα κ.λπ. Σε ό,τι αφορά στην εξωτερική ακτινοβόληση: τα φωτόνια λόγω της
μεγάλης διεισδυτικότητας τους μπορούν να φτάσουν σε μεγάλο βάθος μέσα στο σώμα και
να προκαλέσουν ιοντισμό. Τα ηλεκτρόνια έχουν μικρότερο βάθος διείσδυσης και μπορούν
να προκαλέσουν επιφανειακές βλάβες.
|316|
Μονάδα της έκθεσης στο Διεθνές Σύστημα Μονάδων είναι το 1Coulomb/kg το
οποίο ισούται με 3,880Roentgens.
Εικόνα 4.5: Τρόποι ακτινοβόλησης
Τα σωματίδια α έχουν πολύ μικρή διεισδυτική ικανότητα, ωστόσο μπορούν να

απορροφηθούν από τα ρούχα.
Σε ότι αφορά στην εσωτερική ακτινοβόληση τα πράγματα αντιστρέφονται. Τόσο τα
σωματίδια α, όσο και τα ηλεκτρόνια λόγω της μικρής τους διεισδυτικότητας απορροφώνται
μέσα στα όργανα και μπορεί να προκαλέσουν σημαντικές βλάβες. Αντιθέτως, ένα μεγάλο
ποσοστό των φωτονίων μπορεί να διαφύγει από το σώμα χωρίς να αλληλεπιδράσει με
αυτό.
4.5 Δοσιμετρία – εκφράσεις δοσιμετρίας
Οι ιοντίζουσες ακτινοβολίες προκαλούν δυσμενή βιολογικά αποτελέσματα. Στην

συνέχεια αναλύεται η έννοια της δόσης ιοντίζουσας ακτινοβολίας.
4.5.1 Απορροφούμενη δόση (D)
Έστω ότι ένα σώμα μάζας m ακτινοβολείται. Σύμφωνα με τους μηχανισμούς

αλληλεπίδρασης τα φωτόνια θα αποθέσουν ενέργεια Ε στη μάζα m του υλικού που
ακτινοβολήθηκε.
Ως απορροφούμενη δόση D ορίζεται ο λόγος της ενέργειας που απορροφήθηκε από
το υλικό προς τη μάζα του:
E
D = -----------
m
Με άλλα λόγια, απορροφούμενη δόση ονομάζεται η ποσότητα της ενέργειας που

μεταφέρεται από την ακτινοβολία στην ύλη ανά χιλιόγραμμο μάζας. Μονάδα της
απορροφούμενης δόσης είναι το 1Gray (1Gy) που όπως προκύπτει από τον παραπάνω τύπο
ισούται με 1J/kg. Σημειώνεται στο σημείο αυτό ότι παλαιότερα, η χρησιμοποιούμενη
μονάδα της απορροφούμενης δόσης ήταν το 1rad.
|317|
Στο σημείο αυτό πρέπει να τονιστεί το εξής: η απορροφούμενη δόση είναι
ανεξάρτητη του είδους της ιοντίζουσας ακτινοβολίας που προσβάλλει ένα υλικό. Δηλαδή
αν ακτινοβοληθεί ένα σώμα μάζας 3kg με ακτίνες Χ και απορροφήσει ενέργεια 15Joule, η
απορροφούμενη δόση με βάση τον παραπάνω τύπο θα είναι 15Joule/3kg = 5Gy. Ίδια
ωστόσο θα είναι η απορροφούμενη δόση αν το υλικό ακτινοβοληθεί με ηλεκτρόνια και
απορροφήσει ίδια ποσότητα ενέργειας.
Στην πράξη, επειδή το 1Gy είναι αρκετά μεγάλη μονάδα μέτρησης χρησιμοποιούμε
τα υποπολλαπλάσια του: 1Gy = 103mGy = 106μGy. Αρχικά για να εκτιμηθούν ποσοτικά τα
αποτελέσματα της επίδρασης της ακτινοβολίας θεσπίστηκε μια μονάδα ακτινοβολίας η
οποία ονομάστηκε rad (radiaton absorbed dose). Εκφράζει τη δόση ραδιενέργειας (ή την
ποσότητα ακτινοβολίας γενικότερα) η οποία αποθέτει 0,01J ενέργειας ανά χιλιόγραμμο
μάζας του ιστού που την απορροφά. Ισχύει ότι 1Gy = 100rads ή 1rad = 10-2Gy. Στον ιστό
το 1rad προκαλεί περίπου δύο ιονισμούς σε 1μm3.
4.5.2 Ισοδύναμη δόση (ΗΤ)
Κάθε είδος ακτινοβολίας έχει διαφορετική επίδραση στους ιστούς. Για παράδειγμα,
αν ένας οφθαλμός ακτινοβοληθεί με φωτόνια και απορροφήσει δόση 2Gy και ένας άλλος
οφθαλμός ακτινοβοληθεί με σωματίδια α και απορροφήσει ίδια δόση, οι βιολογικές βλάβες
στη δεύτερη περίπτωση αναμένεται να είναι μεγαλύτερες.
Προκειμένου λοιπόν να ληφθεί υπόψη η βιολογική επιβάρυνση που προκαλεί η
ακτινοβολία σε έναν ιστό, χρησιμοποιείται η έννοια της ισοδύναμης δόσης. Η ισοδύναμη
δόση ΗΤ που έλαβε ένας ιστός Τ, ισούται με το γινόμενο της απορροφούμενης δόσης D με
ένα συντελεστή WR o οποίος εξαρτάται από το είδος της ακτινοβολίας, δηλαδή:
ΗΤ = D • WR
Μονάδα μέτρησης της ισοδύναμης δόσης είναι το 1Sievert (Sv). Σημειώνεται ότι
παλαιότερα, η χρησιμοποιούμενη μονάδα της ισοδύναμης δόσης ήταν το 1rem.
Στην πράξη, επειδή το 1Sv είναι αρκετά μεγάλη μονάδα μέτρησης, χρησιμοποιούμε
τα υποπολλαπλάσια του: 1Sv = 103mSv = 106μSv. Στη βιβλιογραφία χρησιμοποιείται ως
μονάδα της ισοδύναμης δόσης και το 1rem (radiation equivalent mass). Ένα rem είναι η
ποσότητα ακτινοβολίας η οποία επιφέρει ένα συγκεκριμένο βιολογικό αποτέλεσμα. Ένα
rem είναι η απορροφούμενη δόση από έναν ιστό, η οποία έχει την ίδια βιολογική δράση με
ένα rad ακτινών Χ. Σημειώνεται ότι 1Sv = 100rems ή 1rem = 10-2Sv = 10mSv.
Πίνακας 4.2: Τιμές συντελεστή WR με βάση το είδος ακτινοβολίας

Είδος ακτινοβολίας Συντελεστής στάθμισης ακτινοβολίας WR
Φωτόνια (Χ και γ) όλων των ενεργειών 1
Ηλεκτρόνια 1
Πρωτόνια 2-5
Σωμάτια α, θραύσματα σχάσης, βαρέα ιόντα 20
Νετρόνια 5 - 20 ανάλογα με την ενέργεια
Με βάση τον Πίνακα 4.2, αν επανέλθουμε στο παράδειγμα με τους οφθαλμούς, θα

διαπιστώσουμε το εξής: στον οφθαλμό που ακτινοβολήθηκε με φωτόνια και απορρόφησε
δόση ακτινοβολίας 2Gy η ισοδύναμη δόση είναι ΗΤ = 2Sv•1 = 2Sv, ενώ αντίστοιχα, στον
οφθαλμό που ακτινοβολήθηκε με σωματίδια α και απορρόφησε ίδια δόση ακτινοβολίας η
ισοδύναμη δόση είναι ΗΤ = 2Sv•20 = 40Sv.
|318|
Από τους παραπάνω υπολογισμούς είναι προφανές ότι η βιολογική βλάβη από τα
σωμάτια α είναι εικοσαπλάσια σε σχέση με την αντίστοιχη που προκαλούν τα φωτόνια.
Εμπέδωση 1
Ένας ιστός δέχεται ακτινοβολία γ 2mGy και ακτινοβολία α 1mGy. Πόση είναι η
ισοδύναμη δόση;
Απάντηση
ΗΤ = (2mGy•1)+(1mGy•20) = 22mSv
Εμπέδωση 2
Ποια είναι η ισοδύναμη δόση εργαζόμενου σε ακτινοβολίες γ 20mGy, σε

ακτινοβολία νετρονίων 5mGy και ηλεκτρόνια 1mGy;
Απάντηση
Συνολική ισοδύναμη δόση ΗΤ = (20mGy•1)+(5mGy•20)+(1mGy•1) = 121mSv
4.5.3 Ενεργός δόση (Εeff)
Κάθε ιστός έχει διαφορετική ευαισθησία στην ακτινοβολία. Προκειμένου να ληφθεί

υπόψη η συνολική επιβάρυνση της υγείας από την ακτινοβόληση ενός οργάνου ή ενός
ιστού, χρησιμοποιείται η έννοια της ενεργού δόσης. Ως ενεργός δόση ορίζεται το σύνολο
των σταθμισμένων ισοδύναμων δόσεων για όλους τους εκτιθέμενους ιστούς. Η ενεργός
δόση (Εeff ) είναι το γινόμενο της ισοδύναμης δόσης (ΗΤ) που έλαβε ένας συγκεκριμένος
ιστός (Τ) επί έναν συντελεστή WT o οποίος εξαρτάται από το είδος του ιστού δηλαδή:
Eeff = HT • WT
ή αναλυτικότερα
Eeff = HT • WT = D • WR • WT
Η ενεργός δόση μετράται σε Sievert (Sv) και αναφέρεται σε ολόσωμη δόση. Στον
Πίνακα 4.3 δίνονται οι τιμές του συντελεστή WT για διάφορους ιστούς. Όσο πιο μεγάλος
είναι ο συντελεστής WT τόσο πιο ραδιοευαίσθητος είναι ένας ιστός. Για παράδειγμα: ο
μυελός των οστών είναι πιο ραδιοευαίσθητος από ότι ο οισοφάγος.
Πίνακας 4.3: Τιμές συντελεστή WT με βάση το είδος του ιστού για τον υπολογισμό
της ενεργού δόσης
Ιστός Συντελεστής WT
Μυελός των οστών, κόλον, πνεύμονες, στομάχι, μαστός,
επινεφρίδια, εξωθωρακική περιοχή, χοληδόχος, καρδιά, νεφροί,
0,12
λεμφικοί αδένες, μύες, επιθήλιο στόματος, πάγκρεας, προστάτης,
λεπτό έντερο, σπλήνας, θύμος αδένας, μήτρα/τράχηλος
Γονάδες 0,08
Ουροδόχος κύστη, οισοφάγος, ήπαρ, θυρεοειδής 0,04
Επιφάνεια οστών, εγκέφαλος, σιελογόνοι αδένες, δέρμα 0,01
|319|
Σημειώνεται ότι στην περίπτωση που ακτινοβοληθούν περισσότερα από ένα όργανα
τότε για να υπολογίσουμε τη συνολική επιβάρυνση προσθέτουμε την ενεργό δόση που
έλαβε το καθένα από αυτά. Πρέπει να τονιστεί το εξής: η διαφορά μεταξύ ισοδύναμης και
ενεργού δόσης είναι ότι η ισοδύναμη δόση λαμβάνει υπόψη το είδος της ακτινοβολίας, ενώ
η ενεργός δόση λαμβάνει υπόψη τόσο το είδος της ακτινοβολίας όσο και το είδος του ιστού
ή του οργάνου που ακτινοβολείται.
Προκειμένου να εμπεδωθεί το παραπάνω, παρατίθεται σχετικό παράδειγμα: Έστω
ότι ένας εργαζόμενος ακτινοβολήθηκε στο θώρακα και στο δέρμα. Υποθέτουμε ότι η
απορροφούμενη δόση ήταν ίδια και στις δύο περιπτώσεις με τιμή 0,02mGy (Η τιμή είναι
αυθαίρετη προκειμένου να εξυπηρετήσει τις ανάγκες του παραδείγματος). Θέλουμε να
υπολογίσουμε τη συνολική ενεργό δόση που έλαβε ο εργαζόμενος.
Για το θώρακα η ενεργός δόση ήταν:
Eeff = D•WR•WT = 0,02mGy•1•0,12 = 0,0024mSv
ενώ για το δέρμα η ενεργός δόση ήταν:
Eeff = D•WR•WT = 0,02mGy•1•0,04 = 0,0008mSv
Παρατηρούμε λοιπόν ότι ενώ η απορροφόμενη δόση είναι ίδια, οι αντίστοιχες
ενεργές δόσεις διαφέρουν σημαντικά. Η συνολική ενεργός δόση που έλαβε ο εργαζόμενος
είναι το άθροισμα των επιμέρους δόσεων δηλαδή: 0,0024mSv+0,0008mSv = 0,0032mSv.
4.5.4 Ρυθμός δόσης (Dose Rate)
Ως ρυθμός δόσης ορίζεται η δόση (ενέργεια ανά μονάδα μάζας) στη μονάδα του
χρόνου. Ο ρυθμός δόσης ισούται με:
Δόση
Ρυθμός δόσης = ------------------
Χρόνος
Ο ρυθμός δόσης μπορεί να αναφέρεται σε απορροφούμενη δόση (mGy/h, μGy/h),

σε ισοδύναμη δόση (mSv/h, μSv/h) ή σε ενεργό δόση (mSv/h, μSv/h).
Ειδικότερα για τις ακτίνες γ: O ρυθμός δόσης είναι ανάλογος της ενεργότητας της πηγής
και εξαρτάται από το ραδιονουκλεΐδιο. Ο διπλασιασμός της ενεργότητας οδηγεί σε
διπλασιασμό του ρυθμού δόσης.
Πίνακας 4.4: Η αύξηση της ενεργότητας οδηγεί σε ανάλογη αύξηση του ρυθμού δόσης
Ρυθμός δόσης στο 1m
Ισότοπο
400GBq 1TBq
Ιr 192 50mSv/h 125mSv/h
Για τις ακτίνες Χ: ο ρυθμός δόσης είναι ανάλογος του ρεύματος της λυχνίας. Έτσι, ο
διπλασιασμός του ρεύματος της λυχνίας οδηγεί σε διπλασιασμό του ρυθμού δόσης.
Σημειώνεται ότι στη βιβλιογραφία αναφέρεται ότι ο μέγιστος στιγμιαίος επιτρεπτός ρυθμός
δόσης είναι 7,5μSv/h.
|320|
4.5.5 Ετήσιες δόσεις από πηγές ακτινοβολίας (φυσικές ή τεχνητές)
Στον Πίνακα 4.5 δίνονται οι ετήσιες δόσεις από διάφορες φυσικές και τεχνητές
πηγές ακτινοβολίας.
Πίνακας 4.5: Ετήσιες δόσεις από διάφορες φυσικές και τεχνητές πηγές ακτινοβολίας
Φυσικές Πηγές mSv/έτος Τεχνητές Πηγές mSv/έτος
Κοσμική
0,39 Ιατρική 0,90
ακτινοβολία
Γήινη
0,46 Ραδιενεργός επίπτωση 0,05
ακτινοβολία
Ραδόνιο 1,30 Καταναλωτικά προϊόντα 0,10
Ραδιονουκλεΐδια
0,23 Πυρηνική ενέργεια 0,03
στο σώμα
Σύνολο 2,40 Σύνολο 1,08
Στον Πίνακα 4.6 δίνονται συγκριτικά οι δόσεις από διάφορες πηγές ακτινοβολίας.
Πίνακας 4.6: Συγκριτικές δόσεις από διάφορες πηγές ακτινοβολίας

Δόση Αποτέλεσμα
0,1μSv/h Τυπικό φυσικό υπόβαθρο
0,3μSv/h Τυπικό φυσικό υπόβαθρο μετά τη βροχή
Οδοντιατρική ακτινογραφία ή πτήση μετ’
0,1mSv
επιστροφής πάνω από τον Ατλαντικό
Μέση ετήσια δόση από τη φυσική
1 - 8mSv σε ένα χρόνο
ραδιενέργεια στην Ευρώπη
Όριο δόσης για τους επαγγελματικά
20mSv σε ένα χρόνο
εκτιθέμενους
Θανατηφόρα για τους περισσότερους
5.000mSv (δόση σε μερικές ώρες)
ανθρώπους
Σημειώνεται εδώ ότι η συνολικά επιτρεπτή δόση σε ολόκληρη τη ζωή ενός

ανθρώπου δίνεται από την σχέση 5•(Ν-18) rem, όπου Ν η ηλικία του εξεταζόμενου
ατόμου.
Εμπέδωση
Ένας άνδρας ηλικίας 26 ετών έλαβε κατ’ έτος τις παρακάτω δόσεις:
18→0rem
19→2rem
20→8rem
21→1rem
22→16rem
23→0rem
24→5rem
25→3rem
Ζητείται να υπολογιστεί η αθροιστική δόση που έχει λάβει και να συγκριθεί με την
αντίστοιχη επιτρεπόμενη.
|321|
Απάντηση
Η επιτρεπόμενη δόση είναι 5•(Ν-18) rem δηλαδή 5•(26-18) rem ή 40rem ή 400mSv.
Η αθροιστική δόση είναι (0+2+8+1+16+0+5+3) rem δηλαδή 35rem ή 350mSv.
Παρατηρούμε ότι η αθροιστική δόση υπολείπεται κατά 50mSv της επιτρεπόμενης.
4.5.6 Παράγοντες που επηρεάζουν τη δόση
Η θωράκιση, η απόσταση και ο χρόνος είναι οι τρεις βασικοί παράγοντες που

επηρεάζουν τη δόση.
Εικόνα 4.6: Παράγοντες που επηρεάζουν τη δόση
Σε ό,τι αφορά στη θωράκιση: σε γενικές γραμμές, όσο πιο πυκνό είναι ένα υλικό
τόσο μεγαλύτερη θωράκιση παρέχει. Η πιο αποτελεσματική θωράκιση παρέχεται από το
απεμπλουτισμένο ουράνιο. Χρησιμοποιείται κυρίως σε κάμερες ακτίνων γ. Το
απεμπλουτισμένο ουράνιο και άλλα βαρέα μέταλλα όπως το βολφράμιο, είναι πολύ
αποτελεσματικά στη θωράκιση από την ακτινοβολία, επειδή τα άτομα τους είναι
«πακεταρισμένα» πολύ σφικτά. Ο μόλυβδος και το σκυρόδερμα είναι τα πιο συχνά
χρησιμοποιούμενα υλικά θωράκισης, κυρίως επειδή είναι άμεσα διαθέσιμα.
Σε ό,τι αφορά στην απόσταση: όσο πιο μακριά από την πηγή ακτινοβολίας
βρίσκεται ένας εργαζόμενος, τόσο πιο μικρή είναι η δόση που λαμβάνει. Η χρήση
μηχανισμών τηλεχειρισμού ενδείκνυται ως μέτρο προστασίας.
Εικόνα 4.7: Η απόσταση αποτελεί βασικό στοιχείο στην ακτινοπροστασία
|322|
Σε ότι αφορά στο χρόνο: η δόση της ακτινοβολίας είναι ανάλογη με το χρόνο. Ως εκ
τούτου, ένα άτομο δεν πρέπει να μένει κοντά σε μια πηγή ακτινοβολίας περισσότερο από
όσο χρειάζεται. Εάν ένα όργανο μετράει ρυθμό δόσης 4mR/h σε μια συγκεκριμένη θέση,
τότε ένα άτομο που παραμένει σε αυτή τη θέση για μια ώρα θα εισπράξει συνολική δόση
4mR. Σε ένα διάστημα δύο ωρών, η δόση που θα λάβει θα είναι 8mR. Η εξίσωση που
ακολουθεί είναι χαρακτηριστική:
Δόση = Ρυθμός δόσης • Χρόνος
Πριν την είσοδο σε έναν χώρο ακτινοβόλησης γίνεται ο απαραίτητος σχεδιασμός.

Προκειμένου να μειωθεί ο χρόνος παραμονής και άρα η δόση, ένας εργαζόμενος δεν
πρέπει να περιφέρεται ασκόπως στην περιοχή, ενώ συστήνεται η ευθεία διαδρομή προς τη
ρυπασμένη περιοχή. Το βασικό μότο είναι «Εργαζόμαστε γρήγορα και αποτελεσματικά».
Εμπέδωση 1
Ένας τεχνικός είναι μέσα σε μια περιοχή για 10 λεπτά και ο μετρητής έχει ένδειξη
5mR/h. Πόση δόση λαμβάνει ο τεχνικός;
Απάντηση
10min = 1/6h = 0,166h

Συνολική δόση = 5mR/h•0,166h = 0,83mR
Εμπέδωση 2
Ένας τεχνικός δε θέλει να λαμβάνει δόση περισσότερη από 1,0mR. Ποιος είναι ο
μέγιστος χρόνος που ο τεχνικός μπορεί να μείνει στην περιοχή, αν ο ρυθμός δόσης είναι
5mR/h;
Απάντηση
1,0mR/5mR/h = 0,2h ή 12min
|323|
5. ΑΝΙΧΝΕΥΣΗ ΙΟΝΤΙΖΟΥΣΩΝ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΩΝ
Η ραδιενέργεια δεν είναι ανιχνεύσιμη από τις ανθρώπινες αισθήσεις. Επομένως

είναι απαραίτητη η χρήση ανιχνευτικών διατάξεων οι οποίες, είναι ευαίσθητες σε τέτοιες
ακτινοβολίες. Οι συσκευές αυτές πρέπει να πληρούν μια σειρά προδιαγραφών, έτσι ώστε
να καθίσταται δυνατή η χρήση τους. Κατά την αλληλεπίδραση τους με την ύλη, προκαλούν
διεγέρσεις και ιονισμούς με τελικό αποτέλεσμα τη μεταφορά ενέργειας στην ύλη με τη
μορφή θερμότητας.
5.1 Όργανα ανίχνευσης και μέτρησης
Το μέγεθος που μετράει ένας ανιχνευτής είναι η δόση (mGy, mSv) ή ο ρυθμός
δόσης (mGy/h, mSv/h). Οι ακτινοβολίες που μπορούν να ανιχνευτούν είναι οι ακτινοβολίες
α, β, γ, Χ και νετρονίων. Η ένδειξη των ανιχνευτών είναι είτε ψηφιακή είτε αναλογική, ενώ
η κλίμακα μέτρησης είναι: χαμηλή (0 - 100μSv/h), μεσαία (0 - 10mSv/h) και υψηλή (0 -
10Sv/h)
5.1.1 Ανιχνευτές ακτινοβολίας με αέριο
Οι ανιχνευτές ακτινοβολίας με αέριο αποτελούν μια κατηγορία φορητών

ανιχνευτών, η λειτουργία των οποίων βασίζεται σε μια κοινή αρχή. Πρόκειται για
θαλάμους με αέριο, μέσα στον οποίο δημιουργούνται ιόντα τα οποία αλληλεπιδρούν με την
ακτινοβολία. Τα ιόντα αυτά συλλέγονται από ηλεκτρόδια με την εφαρμογή διαφοράς
δυναμικού και με ειδικές ηλεκτρικές διατάξεις μετρώνται δημιουργώντας ένα ηλεκτρικό
σήμα. Το ηλεκτρικό σήμα μετατρέπεται σε δόση (mGy) ή ρυθμό δόσης (mGy/hr) ή σε
συμβάντα (counts ή counts/s) ανάλογα με τον τύπο της συσκευής. Ανάλογα με το εύρος της
τάσης λειτουργίας τους διαφοροποιούνται και κατατάσσονται σε 3 κατηγορίες: τους
ανιχνευτές Geiger-Mueller, τους ανιχνευτές ιοντισμού και τους αναλογικούς ανιχνευτές.
Λόγω της φύσης των ανιχνευτών αερίου, οι δυνατότητες ανίχνευσης που προσφέρουν
περιορίζονται στην κατηγορία των ιοντιζουσών ακτινοβολιών. Όπως έχει ήδη αναφερθεί,
οι ιοντίζουσες ακτινοβολίες, χαρακτηρίζονται από αρκετά υψηλή ενέργεια και έτσι
μπορούν να προκαλέσουν ιοντισμό στα άτομα των αερίων που χρησιμοποιούνται στους
συγκεκριμένους ανιχνευτές.
5.1.1.1 Ανιχνευτές Geiger-Mueller
Ο ανιχνευτής Geiger-Mueller χρησιμοποιείται για τη μέτρηση των επιπέδων της

ακτινοβολίας ενός χώρου. Έχει τη δυνατότητα να ανιχνεύσει φωτόνια και ηλεκτρόνια με
απλή ρύθμιση της θέσης του παραθύρου εισόδου του. Ο χρόνος απόκρισης των
συγκεκριμένων ανιχνευτών είναι μεγαλύτερος από τον αντίστοιχο των ανιχνευτών
ιοντισμού, ενώ φτάνουν εύκολα σε κορεσμό δηλαδή τερματισμό ένδειξης, όταν βρεθούν σε
πεδίο υψηλών επιπέδων ακτινοβολίας. Οι συγκεκριμένοι ανιχνευτές διαθέτουν και ηχητική
προειδοποίηση για την ύπαρξη ακτινοβολίας σε ένα χώρο. Σημειώνεται ότι με τη χρήση
των συγκεκριμένων ανιχνευτών δεν είναι δυνατή η διάκριση των ακτινοβολιών.
Η απόκριση των ανιχνευτών Geiger-Mueller εξαρτάται σε μεγάλο βαθμό από την
ενέργεια των φωτονίων. Αυτός είναι και ο λόγος που όταν πραγματοποιούνται
ακτινογραφήσεις με ακτίνες Χ δε χρησιμοποιούνται γενικά οι συγκεκριμένοι ανιχνευτές.
Ωστόσο, μπορούν να χρησιμοποιηθούν σε ακτινογραφήσεις με ιρίδιο (Ir 192) και σελήνιο
(Se 75).
|324|
Εικόνα 5.1: Απεικόνιση διάταξης ανιχνευτή Geiger-Mueller
Στο σημείο αυτό πρέπει να τονιστεί ότι όταν ενεργοποιηθεί το ηχητικό σήμα σε μια
συσκευή ανίχνευσης δε σημαίνει πάντα ότι η ακτινοβολία έχει υπερβεί τα επιτρεπτά όρια.
Το ηχητικό σήμα ενεργοποιείται είτε αυτόματα με την ανίχνευση ακτινοβολίας είτε όταν
ξεπεραστεί μια τιμή την οποία έχει ρυθμίσει ο χρήστης της συσκευής. Μόνο εάν ο χρήστης
ρυθμίσει τη συσκευή έτσι ώστε να ειδοποιεί όταν υπερβαίνει το επιτρεπτό όριο, υπάρχει
όντως υπέρβαση. Προσοχή απαιτείται κατά το κλείσιμο του ανιχνευτή Geiger-Mueller
αφού η τάση πρέπει να μειώνεται αργά. Σε καμία περίπτωση ο χειριστής δεν πρέπει να
κλείνει απότομα την τάση διότι ο ανιχνευτής καταστρέφεται. Τα ανιχνευτικά συστήματα
Geiger-Mueller βαθμονομούνται βάσει μιας πρότυπης πηγής ακτινοβολίας. Συνήθως η
πηγή αυτή είναι το ραδιοϊσότοπο καίσιο 137. Η ακρίβεια τους είναι της τάξεως του ±15%
και μετρούν την ιοντίζουσα ακτινοβολία σε συμβάντα ανά δευτερόλεπτο (counts/sond).
Εικόνα 5.2: Aνιχνευτής Geiger-Mueller
5.1.1.2 Αναλογικοί ανιχνευτές
Οι αναλογικοί ανιχνευτές ανιχνεύουν σωματίδια α και ηλεκτρόνια.

Χρησιμοποιούνται σε ερευνητικά εργαστήρια.
5.1.1.3 Ανιχνευτές ιονισμού
Οι ανιχνευτές ιονισμού έχουν σταθερή απόκριση σε ένα ευρύ φάσμα ενεργειών

φωτονίων ενώ δε φτάνουν εύκολα σε κορεσμό, σε αντίθεση με τους ανιχνευτές Geiger-
Mueller. Χρησιμοποιούνται για μετρήσεις ακτινοβολίας χώρου, κυρίως στον τομέα των
βιομηχανικών ακτινογραφήσεων ενώ με την προσθήκη κατάλληλου εξαρτήματος μπορούν
να ανιχνεύσουν και ηλεκτρόνια. Ο χρόνος απόκρισης τους είναι μικρότερος από τον
αντίστοιχο των ανιχνευτών Geiger-Mueller.
|325|
5.1.2 Ανιχνευτές σπινθηρισμού
Στους ανιχνευτές σπινθηρισμού η ιοντίζουσα ακτινοβολία αλληλεπιδρά με το

σπινθηριστή και έτσι η απορροφούμενη ενέργεια μετατρέπεται σε ορατό φως. Το ορατό
φως συλλέγεται από ειδικές διατάξεις, τους φωτοπολλαπλασιαστές και το φως
μετατρέπεται σε ηλεκτρικό σήμα. Το υλικό των ανιχνευτών σπινθηρισμού είναι συνήθως
κρύσταλλος ιωδιούχου νατρίου (NaI).
Το βασικό πλεονέκτημα των ανιχνευτών σπινθηρισμού σε σχέση με τους ανιχνευτές
αερίου είναι ότι εκτός από το επίπεδο της ακτινοβολίας μπορούν να μας πληροφορήσουν
και για την ενέργεια της. Ειδικότερα, ο πλαστικός σπινθηριστής έχει τη δυνατότητα
εντοπισμού α ή β ακτινοβολίας.
Εικόνα 5.3: Ανιχνευτής σπινθηρισμού NaI.
5.1.3 Δοσίμετρα
5.1.3.1 Δοσιμέτρηση επαγγελματικά εκτιθέμενων σε ακτινοβολίες
Η ατομική δοσιμέτρηση των επαγγελματικά εκτιθέμενων σε ιοντίζουσες

ακτινοβολίες και η τήρηση του Εθνικού Αρχείου Δόσεων, πραγματοποιείται από τα
εξειδικευμένα εργαστήρια της Ελληνικής Επιτροπής Ατομικής Ενέργειας. Σύμφωνα με τον
κανονισμό ακτινοπροστασίας, η ατομική δοσιμέτρηση των επαγγελματικά εκτιθέμενων
είναι υποχρεωτική. Οι βιομηχανικοί ακτινογράφοι πρέπει να φορούν δοσίμετρο καθ’ όλη
τη διάρκεια της εργασίας τους με ιοντίζουσες ακτινοβολίες.
Εικόνα 5.4: Από αριστερά προς τα δεξιά: α) Δοσίμετρο σώματος β) Δοσίμετρα καρπού
γ) Δοσίμετρα δακτύλου δ) Δοσίμετρα νετρονίων
Σκοπός της ατομικής δοσιμέτρησης είναι η εκτίμηση της ισοδύναμης και της
ενεργού δόσης για τον έλεγχο και τη μείωση της δόσης ακτινοβολίας στους εργαζόμενους,
τη βελτίωση των πρακτικών και μεθόδων που χρησιμοποιούνται σε διάφορες εφαρμογές
και την παρακολούθηση των συστημάτων ακτινοπροστασίας. Επιπρόσθετα, η ατομική
δοσιμέτρηση αποτελεί ένα μέσο πληροφόρησης για τη δόση σε περίπτωση ατυχήματος. Η
τήρηση του Εθνικού Αρχείου Δόσεων προσφέρει στοιχεία στους δοσιμετρούμενους και
στους υπεύθυνους ακτινοπροστασίας για ιατρικούς και νομικούς λόγους.
|326|
Η στατιστική επεξεργασία των αποτελεσμάτων προσφέρει στοιχεία για την
αξιολόγηση του συστήματος ακτινοπροστασίας μιας χώρας. Η ατομική δοσιμέτρηση από
εξωτερική ακτινοβόληση γίνεται με το ατομικό δοσίμετρο, μια μικρή συσκευή που
συνήθως τοποθετείται στο ύψος του στήθους και χρησιμοποιείται για την καταγραφή της
δόσης που δέχεται ο εργαζόμενος. Στην Ελλάδα δοσιμετρούνται σε μηνιαία βάση, περίπου
10.000 εργαζόμενοι με δοσίμετρα άκρων και 100 εργαζόμενοι με δοσίμετρα νετρονίων.
5.1.3.2 Είδη δοσίμετρων
Υπάρχουν διάφορα είδη ατομικών δοσίμετρων, όπως τα δοσίμετρα αμέσου

αναγνώσεως, τα ηλεκτρονικά δοσίμετρα, τα δοσίμετρα με φιλμ και τα δοσίμετρα
θερμοφωταύγειας.
Εικόνα 5.5: Είδη δοσίμετρων (από αριστερά προς τα δεξιά): α) Δοσίμετρα αμέσου
αναγνώσεως β) Ηλεκτρονικά δοσίμετρα γ) Δοσίμετρα με φιλμ δ) Δοσίμετρα θερμοφωταύγειας
Το δοσίμετρο που χρησιμοποιείται συνήθως είναι το δοσίμετρο θερμοφωταύγειας

(Thermo - luminescent dosimeter, TLD), το οποίο θεωρείται εξαιρετικά αξιόπιστο. Από το
2000 αντικατέστησε το φωτογραφικό φιλμ (Film Badges). Τα πλεονεκτήματά του είναι η
ευαισθησία και το χαμηλό όριο ανίχνευσης, η μεγαλύτερη ακρίβεια, η δυνατότητα
επαναχρησιμοποίησης και η σχετική ανθεκτικότητα του στις διάφορες κλιματολογικές
συνθήκες.
Η αρχή λειτουργίας του δοσίμετρου θερμοφωταύγειας βασίζεται στο φαινόμενο της
θερμοφωταύγειας. Θερμοφωταύγεια είναι η χαρακτηριστική ιδιότητα ορισμένων υλικών να
απορροφούν ενέργεια από ιοντίζουσα ακτινοβολία, να την αποθηκεύουν και να την
αποδίδουν κατά τη θέρμανση τους, μετατρέποντας την σε φωτεινή ακτινοβολία. Σύμφωνα
με το φαινόμενο αυτό το ποσό της ενέργειας που έχει απορροφήσει το δοσιμετρικό υλικό,
μετά από έκθεσή του σε ιοντίζουσες ακτινοβολίες, μετατρέπεται σε φωτεινή ενέργεια,
αφού θερμανθεί κατάλληλα. Η ποσότητα της εκπεμπόμενης φωτεινής ενέργειας εξαρτάται
από την ποσότητα ακτινοβολίας που έχει απορροφηθεί και μπορεί μετά από κατάλληλη
βαθμονόμηση και υπολογισμούς να δώσει την εκτίμηση της δόσης.
Στα δοσίμετρα θερμοφωταύγειας χρησιμοποιούνται ανόργανα υλικά, μονωτές ή
ημιαγωγοί όπως, το φθοριούχο λίθιο (LiF) με προσμείξεις μαγνησίου (Mg) και τιτανίου
(Ti), το βορικό λίθιο (Li2B4O7), το θειικό και το φθοριούχο ασβέστιο (CaSO4, CaF2). Το
ποσό της φωτεινής ενέργειας που αποδίδουν τα δοσίμετρα θερμοφωταύγειας είναι
ενδεικτικό της δόσης που έχουν απορροφήσει. Τα συγκεκριμένα δοσίμετρα
χρησιμοποιούνται ευρύτατα στην ατομική δοσιμέτρηση των επαγγελματικά εκτιθέμενων
ατόμων σε ακτινοβολία. Τα υλικά θερμοφωταύγειας που χρησιμοποιούνται από την
Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας στην ατομική δοσιμέτρηση είναι δύο ειδών:
 το φθοριούχο λίθιο (LiF) για τον υπολογισμό της ολόσωμης δόσης και
 το βορικό λίθιο (Li2B4O7) και φθοριούχο λίθιο (LiF) για τον υπολογισμό της δόσης
στα άκρα.
|327|
Εδώ θα πρέπει να σημειωθεί ότι ορισμένα υλικά θερμοφωταύγειας όπως το
φθοριούχο λίθιο (LiF) με προσμείξεις μαγνησίου (Mg) και τιτανίου (Τi), είναι ισοδύναμα
του ιστού, κάτι που σημαίνει ότι κατά την απορρόφηση της ακτινοβολίας προσομοιάζουν
τον ανθρώπινο ιστό.
Τα δοσίμετρα θερμοφωταύγειας, ανάλογα με την εφαρμογή τους, απαντώνται σε
διάφορες μορφές όπως σκόνης και μικρών κρυστάλλων. Ένα δοσίμετρο αποτελείται από
μία έως τέσσερις παστίλιες δοσιμετρικού υλικού, έναν υποδοχέα όπου τοποθετούνται οι
παστίλιες, μία θήκη με κατάλληλα φίλτρα, τον κωδικό αριθμό του δοσίμετρου και τέλος
μια εξωτερική διαφανή θήκη με κλιπ ή λουράκι για την στερέωσή του στο στήθος ή τον
καρπό του εργαζόμενου.
Εικόνα 5.6: Σχηματική απεικόνιση δοσίμετρου
Το όριο ανίχνευσης ενός δοσίμετρου με LiF είναι 0,01mSv και με Li2B4O7 0,05mSv
ενώ η απόσβεση του σήματος με το χρόνο είναι περίπου 10% μέσα σε ένα τρίμηνο.
Κάθε δοσίμετρο, αφού συναρμολογηθεί και πριν σταλεί στους εργαζομένους για
χρήση, ελέγχεται και βαθμονομείται. Τα διαθέσιμα δοσίμετρα από την Ελληνική Επιτροπή
Ατομικής Ενέργειας (ΕΕΑΕ) είναι:
 Το ολόσωμο δοσίμετρο για τις ακτινοβολίες γ ή Χ, το οποίο αποτελείται από μια
διαφανή θήκη, μια δεύτερη θήκη με κατάλληλα φίλτρα, ανοικτό παράθυρο και τον
κωδικό αριθμό, 1 - 4 παστίλιες δοσιμετρικού υλικού (LiF) κατά περίπτωση. Το
χρώμα των δοσίμετρων που αποστέλλονται στους δοσιμετρούμενους αλλάζει κάθε
μήνα ώστε να γίνεται εύκολα αντιληπτή στους εργαζόμενους η αλλαγή τους κάθε
μήνα.
 Το δοσίμετρο νετρονίων το οποίο αποτελείται από δύο παστίλιες LiF 600 και δύο
παστίλιες LiF 700. Στην εξωτερική τους θήκη υπάρχει φίλτρο καδμίου (Cd) και
πλαστικό.
 Το δοσίμετρο άκρων το οποίο φέρεται στο περικάρπιο και είναι χρώματος μπλε.
 Το δοσίμετρο δακτύλων το οποίο τοποθετείται σε ειδική προστατευτική θήκη.
Σωστή χρήση του δοσίμετρου (Πηγή ΕΕΑΕ)
 Το δοσίμετρο σώματος φοριέται στο στήθος και πάνω από τα ρούχα.

 Το δοσίμετρο καρπού χρώματος μπλε και χωρίς φίλτρα αλουμινίου προσαρμόζεται
στον καρπό του χεριού με τα κατάλληλα λουράκια. Στην κατάσταση αποστολής
χαρακτηρίζεται με το «X».
 Τα δοσίμετρα που φοριούνται κάτω από τα ρούχα σημαίνονται με το «Π» στις
καταστάσεις αποστολής και είναι χρώματος γκρι.
 Δοσίμετρο δακτύλων χορηγείται κατά περίπτωση.
|328|
 Το δοσίμετρο τοποθετείται κατά τέτοιον τρόπο ώστε να φαίνεται ο κωδικός
αριθμός.
 Στη πίσω όψη του δοσίμετρου αναγράφεται ο μήνας χρήσης του, ώστε ο
εργαζόμενος να ελέγχει εύκολα αν το δοσίμετρο που φέρει είναι το σωστό.
 Το δοσίμετρο δεν πρέπει να καλύπτεται από άλλα αντικείμενα.
 Σε περίπτωση έκτακτης ανάγκης είναι δυνατή η αποστολή του δοσίμετρου στην
ΕΕΑΕ για άμεση μέτρηση κατόπιν συνεννόησης.
 Οι παστίλιες που βρίσκονται μέσα στο δοσίμετρο είναι ευαίσθητες. Δεν πρέπει να
έρχονται σε επαφή με τα χέρια ή να βρίσκονται σε περιβάλλον με πολλή ζέστη και
πολύ φως. Τονίζεται ότι θα πρέπει να αποφεύγονται οι μηχανικές κακώσεις.
 Το δοσίμετρο είναι προσωπικό. Κάθε εργαζόμενος οφείλει να φορά το δοσίμετρο
που αντιστοιχεί σε αυτόν, σύμφωνα με τις καταστάσεις αποστολής.
 Αν ένας υπάλληλος αποχωρήσει, δεν πρέπει να δοθεί το δοσίμετρό του σε άλλο
άτομο, διότι η δόση που τυχόν θα καταγράψει θα χρεωθεί σε αυτόν που αποχώρησε.
 Τα δοσίμετρα χορηγούνται κάθε μήνα. Δοσίμετρα παλαιότερα των τριών μηνών δεν
μπορούν να μετρηθούν. Οι καταστάσεις αποστολής πρέπει να παραμένουν στο
αρχείο του συνεργαζόμενου με την ΕΕΑΕ φορέα και να μην επιστρέφονται στο
Τμήμα Δοσιμετρίας.
Προετοιμασία των οργάνων μέτρησης
Πριν την είσοδο σε πεδίο ακτινοβολιών
 Ελέγχουμε αν οι μπαταρίες είναι γεμάτες.

 Τοποθετούμε τον ανιχνευτή στη θέση ON τουλάχιστον για πέντε λεπτά.
 Τοποθετούμε στη θέση ON το ακουστικό σήμα ένδειξης ύπαρξης ακτινοβολίας.
 Ελέγχουμε αν λειτουργεί το όργανο με χρήση πηγής ελέγχου.
 Ελέγχουμε και συγκρατούμε την ένδειξη του φυσικού υποστρώματος (BKG). Οι
ενδεικτικές τιμές BKG είναι 0,05 - 0,1mSv/h, 5 - 10mR/h (0,01mR/h).
Κατά την είσοδο στο πεδίο ακτινοβολιών
 Προσαρμόζουμε την κατάλληλη κλίμακα μέτρησης του οργάνου, ώστε η ένδειξη να

μην τερματίζει.
 Ελέγχουμε συχνά την ένδειξη του οργάνου.
Εντός του πεδίου ακτινοβολιών
 Εκτίμηση κινδύνου.
 Ακτινοβολία λόγω ραδιενεργού πηγής ή ραδιορύπανσης υπάρχει εάν η ένδειξη του
οργάνου είναι 3 - 4 φορές μεγαλύτερη από το φυσικό υπόστρωμα (BKG).
|329|
Συμπερασματικά
 Σε ένα πεδίο συμβάντος πάντα έχουμε υπόψη μας τους κινδύνους από ακτινοβολίες.
 Ποτέ δεν εισερχόμαστε στο πεδίο ακτινοβολιών χωρίς τον κατάλληλο εξοπλισμό.
 Πάντα γνωρίζουμε τη χρήση των οργάνων ανίχνευσης.
 Πάντα αντιστοιχίζουμε τη μέτρηση με την επικινδυνότητα και γνωρίζουμε πότε να
αποφύγουμε την πρόσβαση ή την παραμονή σε πεδίο ακτινοβολιών.
 Πάντα συμβουλευόμαστε τους ειδικούς σε θέματα ακτινοβολιών.
|330|
6. ΒΙΟΛΟΓΙΚΕΣ ΕΠΙΔΡΑΣΕΙΣ ΤΩΝ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΩΝ
Από πειράματα που έχουν γίνει στο εργαστήριο καθώς και από τις μελέτες των
πυρηνικών βομβαρδισμών στη Χιροσίμα και στο Ναγκασάκι έχει βρεθεί ότι η ολόσωμη
ακτινοβόληση με δόση 4Gy είναι ικανή να επιφέρει το θάνατο στο 50% των εκτιθέμενων
μέσα σε εξήντα ημέρες. Εξετάζοντας το θέμα από ενεργειακή άποψη, η θανατηφόρα δόση
των 4Gy αποδίδει στο σώμα ενέργεια λιγότερη από μια κουταλιά ζάχαρη! Με άλλα λόγια
δηλαδή, η ενέργεια που προσλαμβάνει ο οργανισμός δεν γίνεται καν αντιληπτή. Η
επιβλαβής δράση των ιοντιζουσών ακτινοβολιών έγκειται στη βλάβη που επιφέρουν στο
θεμελιώδες δομικό στοιχείο της ζωής, το κύτταρο.
6.1 Το κύτταρο ως θεμελιώδης δομική και λειτουργική μονάδα
Η επιβλαβής δράση των ιοντιζουσών ακτινοβολιών συνίσταται στη βλάβη που

επιφέρουν στο θεμελιώδες δομικό στοιχείο της ζωής, το κύτταρο. Σήμερα γνωρίζουμε ότι
το κύτταρο είναι η μικρότερη μονάδα που μπορεί να τρέφεται, να αναπνέει, να
αναπαράγεται, να εμφανίζει δηλαδή τα χαρακτηριστικά της ζωής. Ο ανθρώπινος
οργανισμός συνίσταται από τρισεκατομμύρια κύτταρα. Τα κύτταρα αυτά εμφανίζουν
σημαντική ποικιλομορφία που αφορά στο μέγεθος, στο σχήμα, στο χρώμα κ.λπ. Παρ’ όλο
που προέρχονται από ένα αρχικό κύτταρο, το ζυγωτό, με αλλεπάλληλες μιτωτικές
διαιρέσεις, αποκτούν τελικά διαφορετικά μορφολογικά και λειτουργικά χαρακτηριστικά με
τη διαδικασία της διαφοροποίησης. Τα χαρακτηριστικά αυτά τους επιτρέπουν να επιτελούν
αποτελεσματικά τις εξειδικευμένες λειτουργίες τους.
Εικόνα 6.1: Το κύτταρο
Μορφολογικά όμοια κύτταρα που συμμετέχουν στην ίδια λειτουργία αποτελούν

έναν ιστό. Υπάρχουν πολλά είδη κυττάρων διαφορετικά μεταξύ τους. π.χ. τα κύτταρα των
νεύρων, των αγγείων, του ήπατος, του λίπους κ.λπ. Η ορθή λειτουργία τους εξασφαλίζει τη
σωστή λειτουργία ολόκληρου του σώματος.
|331|
Τα κύτταρα, εκτός των άλλων, ρυθμίζουν διαδικασίες και αναπαράγονται. Τα
βασικά χημικά στοιχεία που απαντώνται σε ένα κύτταρο είναι ο άνθρακας (C), το
υδρογόνο (H), το οξυγόνο (Ο), το άζωτο (Ν), ο φώσφορος (Ρ) και το θείο (S). Τα κύτταρα
αποτελούνται από οργανικά και ανόργανα συστατικά. Μέσα στο κύτταρο υπάρχουν
πρωτεΐνες, υδατάνθρακες, λιπίδια, νουκλεϊνικά οξέα (DNA, RNA) και ανόργανες ενώσεις
όπως οξέα και βάσεις.
Η κυριότερη ανόργανη ένωση που υπάρχει στο κύτταρο είναι το νερό. Στον πυρήνα
του κυττάρου βρίσκεται το DNA και σε μεγάλα ποσά το RNA. Ο πυρήνας του κυττάρου
ελέγχει την κυτταρική διαίρεση, τον πολλαπλασιασμό και τις βιοχημικές αντιδράσεις που
πραγματοποιούνται μέσα σε αυτό. Το DNA είναι υπεύθυνο για τη μεταφορά της γενετικής
πληροφορίας και καθοδηγεί τη διαδικασία παραγωγής των πρωτεϊνών. Είναι το κέντρο
πληροφοριών και το βασικότερο συστατικό του κυττάρου. Η δομή του DNA ομοιάζει με
διπλή έλικα. Αποτελείται από συνδυασμούς 4 βάσεων: την αδενίνη (Α), την κυτοσίνη (C),
τη γουανίνη (G) και τη θυμίνη (T) οι οποίες ενώνονται με δεσμούς υδρογόνου.
Εικόνα 6.2: Οι τέσσερις αζωτούχες βάσεις του DNA. Η αδενίνη συνδέεται με τη θυμίνη με
δύο δεσμούς υδρογόνου και η γουανίνη συνδέεται με την κυτοσίνη με τρεις δεσμούς
υδρογόνου
|332|
Εικόνα 6.3: Σχηματική απεικόνιση της διπλής έλικας του DNA
6.2 Κυτταρική διαίρεση
Η ανάπτυξη των οργανισμών, η ανανέωση των ιστών, όπως για παράδειγμα του
δέρματος, η επούλωση μιας πληγής απαιτούν τον κυτταρικό πολλαπλασιασμό. Τα νέα
κύτταρα που προκύπτουν πρέπει να περιέχουν τον ίδιο αριθμό χρωμοσωμάτων και τις ίδιες
γενετικές πληροφορίες με το αρχικό. Αυτό εξασφαλίζεται στην κυτταρική διαίρεση, με μια
διαδικασία που ονομάζεται μίτωση.
Πριν από την έναρξη της κυτταρικής διαίρεσης, προηγείται η αντιγραφή του DNA
και συνεπώς ο διπλασιασμός της γενετικής πληροφορίας. Μετά την αντιγραφή, κάθε
χρωμόσωμα αποτελείται από τα δύο αντίγραφα του DNA που ονομάζονται αδελφές
χρωματίδες. Αυτές είναι συμμετρικές και όμοιες, επειδή αποτελούνται από ίδια μόρια DNA
και είναι ενωμένες σε μία περιοχή τους, το κεντρομερίδιο. Κατά την έναρξη της μίτωσης
τα χρωμοσώματα συσπειρώνονται και αρχίζουν να μετακινούνται, ώστε να διαταχθούν σε
ένα επίπεδο. Στη συνέχεια, οι δύο αδελφές χρωματίδες κάθε χρωμοσώματος αποχωρίζονται
και απομακρύνονται. Το κυτταρόπλασμα διαιρείται και δημιουργούνται δύο νέα κύτταρα.
Η διαδικασία πραγματοποιείται σε τέσσερα στάδια: την πρόφαση, τη μετάφαση, την
ανάφαση και την τελόφαση. Η μίτωση δηλαδή είναι μια διαδικασία που ευνοεί τη γενετική
σταθερότητα.
Εικόνα 6.4: Φάσεις της μίτωσης σε κύτταρο
|333|
Υπάρχει και ένας άλλος μηχανισμός διαίρεσης, η μείωση, η οποία πραγματοποιείται
στα αναπαραγωγικά κύτταρα. Η έκφραση «τα όμοια γεννούν όμοια» που συνοψίζει τη
βασική αρχή της κληρονομικότητας, ότι οι οργανισμοί μεταβιβάζουν τα χαρακτηριστικά
τους στους απογόνους τους, επιβεβαιώνεται μέσα από τη συγκεκριμένη βιολογική
διαδικασία. Κατά τη διαδικασία της διαίρεσης η γενετική πληροφορία μεταδίδεται από το
μητρικό κύτταρο στο θυγατρικό. Αν κάτι δεν πάει καλά σε αυτή τη διαδικασία, το
θυγατρικό κύτταρο θα είναι δυσλειτουργικό ή νεκρό. Επίσης, αν το μητρικό κύτταρο για
κάποιο λόγο είναι μεταλλαγμένο, τότε το θυγατρικό του θα είναι και αυτό μεταλλαγμένο
αφού είναι πιστό αντίγραφο του.
Η σημασία της μειωτικής διαίρεσης είναι να διατηρηθεί σταθερός ο αριθμός των
χρωμοσωμάτων κατά την αμφιγονική αναπαραγωγή των οργανισμών, από γενιά σε γενιά.
Εικόνα 6.5: Σχηματική απεικόνιση των φάσεων της μείωσης
6.3 Επίδραση των ακτινοβολιών στο κύτταρο
Η ιοντίζουσα ακτινοβολία μπορεί να επιφέρει σημαντικές βλάβες στον πυρήνα του

κυττάρου. Δύο είναι οι τρόποι δράσης της ακτινοβολίας στον κυτταρικό πυρήνα: Ο άμεσος
και ο έμμεσος.
Ο άμεσος τρόπος είναι η απευθείας επίδραση της ακτινοβολίας στο μόριο του DNA
ή σε άλλα μεγαλομόρια, όπως τα ένζυμα, οι πρωτεΐνες ή το RNA. Για παράδειγμα, αν το
ιόν που θα σχηματιστεί από την επίδραση της ακτινοβολίας προσβάλλει μια πρωτεΐνη, τότε
είναι πιθανό να σπάσει τους δεσμούς που την συγκροτούν ή να αλλάξει το σχήμα της,
καθιστώντας την μη λειτουργική. Αν χτυπηθεί κάποιο ένζυμο, τότε θα επηρεαστεί η
βιοχημική αντίδραση στην οποία συμμετέχει όπως για παράδειγμα η σύνθεση των
πρωτεϊνών και το αποτέλεσμα θα είναι η ελλειμματική παραγωγή κάποιου σημαντικού
συστατικού για το κύτταρο.
|334|
Ο έμμεσος τρόπος είναι η αλληλεπίδραση της ακτινοβολίας με μόρια του νερού. Η
ακτινοβολία προκαλεί ιοντισμό σχηματίζοντας ελεύθερες ρίζες στο ενδοκυτταρικό
περιβάλλον, οι οποίες είναι πολύ δραστικές. Οι ελεύθερες ρίζες είναι προϊόντα της
ραδιόλυσης του νερού, το οποίο βρίσκεται σε μεγάλες ποσότητες μέσα στο κύτταρο. Οι
ρίζες αυτές προσβάλλουν το DNA και του προκαλούν θραύσεις. Ωστόσο, θραύσεις στην
αλυσίδα του DNA προκαλούνται και από τα άμεσα «χτυπήματα» της ακτινοβολίας.
Εικόνα 6.6: Μηχανισμός σχηματισμού ελευθέρων ριζών
Τα απλά σπασίματα της έλικας του DNA είναι εφικτό να αποκατασταθούν μέσω
των διορθωτικών μηχανισμών που διαθέτει το κύτταρο. Τα διπλά σπασίματα είναι πολύ
δύσκολο να διορθωθούν, συνεπώς οδηγούν σε μετάλλαξη ή θάνατο του κυττάρου.
Εικόνα 6.7: Απλό και διπλό σπάσιμο της έλικας του DNA από την δράση ελευθέρων ριζών
|335|
Επομένως υπάρχουν τρεις περιπτώσεις που ακολουθούν την ακτινοβόληση του
κυττάρου και αποδίδονται στην Εικόνα 6.8.
ΕΠΙΖΟΝ ΚΥΤΤΑΡΟ
ΕΠΙΔΙΟΡΘΩΣΗ
ΒΛΑΒΗΣ
ΑΜΕΣΑ
ΑΠΟΤΕΛΕΣΜΑΤΑ
ΘΑΝΑΤΟΣ ΚΥΤΤΑΡΟΥ
ΑΠΩΤΕΡΑ
(ΣΤΟΧΑΣΤΙΚΑ)
ΑΠΟΤΕΛΕΣΜΑΤΑ
ΤΟ ΚΥΤΤΑΡΟ ΖΕΙ
ΜΕΤΑΛΛΑΓΜΕΝΟ
Εικόνα 6.8: Περιπτώσεις από τα αποτελέσματα της ακτινοβόλησης
Αν θανατωθεί σημαντικός αριθμός κυττάρων έχουμε την εμφάνιση άμεσων

αποτελεσμάτων. Δηλαδή, οι συνέπειες του κυτταρικού θανάτου εμφανίζονται σε σχετικά
μικρό χρονικό διάστημα, το οποίο εξαρτάται από το είδος των κυττάρων. Για παράδειγμα,
μπορεί να εμφανιστεί δερματική πληγή από τη θανάτωση δερματικών κυττάρων ή
αιμορραγία από τη θανάτωση κυττάρων του εντέρου.
Στην περίπτωση που το κύτταρο επιζήσει, αλλά είναι μεταλλαγμένο έχουμε την
εμφάνιση απώτερων (στοχαστικών) αποτελεσμάτων. Ως τέτοια νοούνται, η εμφάνιση
καρκίνου ή η μετάδοση αλλοιωμένης κληρονομικής πληροφορίας στους απογόνους.
Εικόνα 6.9: Εγκαύματα δέρματος από ακτινοβολία Χ.
|336|
6.3.1 Άμεσα αποτελέσματα
Τα άμεσα αποτελέσματα προέρχονται από τη θανάτωση των κυττάρων και

εμφανίζονται σε σχετικά σύντομο χρονικό διάστημα δηλαδή ημέρες ή εβδομάδες μετά τη
ακτινοβόληση (εξαίρεση αποτελεί ο καταρράκτης).
Ο θάνατος ενός κυττάρου δεν ισοδυναμεί με αποτέλεσμα στην υγεία ενός ατόμου. Η
μαζική καταστροφή, η οποία συμβαίνει μόνο σε υψηλές δόσεις ακτινοβολίας, οδηγεί σε
βιολογικό αποτέλεσμα. Έχει βρεθεί ότι, τα άμεσα αποτελέσματα συμβαίνουν μετά την
υπέρβαση μιας συγκεκριμένης τιμής δόσης, η οποία ονομάζεται κατώφλι. Αν λοιπόν η
δόση που έλαβε ένας ιστός ή όργανο είναι μικρότερη από τη δόση κατωφλίου για την
εμφάνιση ενός άμεσου αποτελέσματος, τότε η πιθανότητα εμφάνισης της βλάβης είναι
μηδενική. Αν όμως η δόση υπερβεί το κατώφλι, η βλάβη θα εμφανιστεί και με τη αύξηση
της δόσης θα αυξηθεί και η σοβαρότητα της.
Εικόνα 6.10: Η πιθανότητα εμφάνισης βλάβης αυξάνεται μετά την υπέρβαση της τιμής
«κατωφλίου»
Πίνακας 6.1: Άμεσα αποτελέσματα: βλάβες, συμπτώματα, δόση κατωφλίου και χρόνος
εκδήλωσης
Χρόνος
Βλάβη Συμπτώματα Δόση κατωφλίου
εκδήλωσης
Σύνδρομο
Λεμφοπενία,
αιμοποιητικού 2Gy 24 ώρες
αιμορραγία, αναιμία
συστήματος
Σύνδρομο Ναυτία, εμετός,
γαστρεντερικού διάρροια, έλκη, 7Gy 7 εβδομάδες
συστήματος εντερική αιμορραγία
Εγκεφαλικό οίδημα,
Σύνδρομο κεντρικού μείωση του Θάνατος 1 - 4
50Gy
νευρικού συστήματος ενδοαγγειακού όγκου ημέρες
αίματος
Από τον Πίνακα 6.1 καθίσταται προφανές ότι οι δόσεις κατωφλίου είναι αρκετά
μεγάλες. Αρκεί να ληφθεί υπόψη ότι από μια τυπική ακτινογραφία θώρακος λαμβάνεται
δόση 0,0005Gy ενώ από μια ολόσωμη αξονική τομογραφία 0,015Gy. Με άλλα λόγια, οι
δόσεις από κοινές διαγνωστικές εξετάσεις είναι τουλάχιστον 1.000 φορές μικρότερες από
τις δόσεις κατωφλίου. Υψηλές τιμές δόσης, οι οποίες πλησιάζουν ή ξεπερνούν τις δόσεις
κατωφλίου εμφανίζονται μόνο σε σοβαρά πυρηνικά ατυχήματα, σε απροσεξία κατά το
χειρισμό πολύ ισχυρών ραδιενεργών πηγών και στην ακτινοθεραπεία.
|337|
6.3.2 Απώτερα (στοχαστικά) αποτελέσματα
Αντίθετα με τα άμεσα, τα απώτερα (στοχαστικά) αποτελέσματα δεν παρουσιάζουν

κατώφλι εμφάνισης ενώ η πιθανότητα εμφάνισης τους ξεκινά από πολύ μικρές δόσεις. Τα
στοχαστικά αποτελέσματα προέρχονται από μεταλλάξεις των κυττάρων, οι οποίες
προκαλούν βλάβες που εμφανίζονται μετά από αρκετά μεγάλο χρονικό διάστημα (20 - 30
χρόνια) στο άτομο ή στους απογόνους του ή δεν εμφανίζονται καθόλου. Στα στοχαστικά
αποτελέσματα γίνεται λόγος αποκλειστικά για πιθανότητα εμφάνισης. Στην κατηγορία των
στοχαστικών αποτελεσμάτων περιλαμβάνεται ο καρκίνος και η λευχαιμία. Η δόση από
ακτινοβολία, στην ουσία αυξάνει την πιθανότητα που ήδη υπάρχει να εμφανιστεί βλάβη.
Επίσης, η πιθανότητα αυξάνει με τη δόση.
Εικόνα 6.11: Τα στοχαστικά αποτελέσματα δεν έχουν «κατώφλι» και η πιθανότητα να

εμφανιστούν ξεκινάει από χαμηλές δόσεις
Πίνακας 6.2: Διάφορα στοχαστικά αποτελέσματα και αύξηση της πιθανότητας εμφάνισης
τους από την ακτινοβολία. Ως φυσιολογική πιθανότητα νοείται η πιθανότητα εμφάνισης της
βλάβης για λόγους άσχετους από την ακτινοβολία
Αύξηση Φυσιολογική
Βλάβη Χρόνος πιθανότητας πιθανότητα
εμφάνισης εμφάνισης
Θανατηφόρος καρκίνος 20 - 30 χρόνια 5% ανά Sv 25%
Μη θανατηφόρος
20 - 30 χρόνια 1% ανά Sv
καρκίνος
Λευχαιμία 8 - 10 χρόνια 5% ανά Sv 0,015%
Γενετικά αποτελέσματα Επόμενες γενεές 1,3% ανά Sv 3 - 6%
Σημειώνεται εδώ ότι οι βλάβες αυτές είναι πιθανό να προκληθούν και από άλλους
παράγοντες άσχετους με την ακτινοβολία (π.χ. το περιβάλλον, τη διατροφή, τον τρόπο
ζωής, την κληρονομικότητα).
Η πιθανότητα εμφάνισης θανατηφόρου καρκίνου κατά τη διάρκεια ζωής του

ανθρώπου είναι 25%. Αν κάποιος υποβληθεί σε εξέταση ολόσωμης τομογραφίας, η δόση
που δέχεται είναι 0,015Sv. Η δόση αυτή αυξάνει την πιθανότητα εμφάνισης καρκίνου στα
επόμενα 20 έτη κατά 0,075%. Παρατηρούμε ότι η αύξηση της πιθανότητας είναι σχεδόν
αμελητέα σε σχέση με την ίδια την πιθανότητα (25%).
|338|
6.4 Συγκριτικές επιπτώσεις ακτινοβολιών
Όπως αναφέρθηκε, τα άμεσα αποτελέσματα εκδηλώνονται σε σχετικά σύντομο

χρονικό διάστημα (ημέρες ή εβδομάδες) και προκαλούνται μόνο όταν η δόση ξεπεράσει
μια δόση κατωφλίου, η οποία είναι συνήθως υψηλή.
Τα στοχαστικά αποτελέσματα εμφανίζονται μετά από μεγάλο χρονικό διάστημα
(κάποια έτη), χαρακτηρίζονται από κατώφλι δόσης ενώ κάθε δόση που απορροφάται
αυξάνει την ήδη υπάρχουσα πιθανότητα εμφάνισης τους.
Εικόνα 6.12: Δερματικές βλάβες άκρων εργαζομένου στο Yanango του Περού ο οποίος
εκτέθηκε σε αθωράκιστη πηγή Ir 192 (αριστερά). Βλάβες στα χέρια από υψηλή δόση ακτίνων
Χ (δεξιά)
Σημειώνεται ότι από απόψεως βιολογικών αποτελεσμάτων, η δόση ακτινοβολίας

λαμβάνεται αθροιστικά. Κάθε δόση που λαμβάνεται προστίθεται στις προηγούμενες. Αυτό
πρέπει να υπολογίζεται στο σχεδιασμό των συστημάτων ακτινοπροστασίας και στη
θέσπιση των ορίων δόσεων για τα άτομα του κοινού πληθυσμού και τους εργαζόμενους με
ακτινοβολίες.
Στον Πίνακα 6.3 παρουσιάζονται οι συγκριτικές επιπτώσεις ακτινοβολιών σε σχέση
με άλλες αιτίες απώλειας χρόνων ζωής.
Πίνακας 6.3: Συγκριτικές επιπτώσεις ακτινοβολιών σε σχέση με άλλες αιτίες απώλειας

χρόνων ζωής
Αιτία Απώλεια (χρόνος)
20 τσιγάρα ημερησίως 6 έτη
Υπέρβαρος (ανά 15%) 2 έτη
Κατανάλωση αλκοόλ 1 έτος
Αγροτικά ατυχήματα 320 ημέρες
Οικοδομικά ατυχήματα 227 ημέρες
Τροχαία ατυχήματα 207 ημέρες
Ατυχήματα στο σπίτι 74 ημέρες
Επαγγελματικά εκτιθέμενοι (20mSv/y) από 18 - 65
ετών 51 ημέρες
(470mSv σύνολο)
Φυσικοί κίνδυνοι (σεισμοί, κεραυνοί, πλημμύρες) 7 ημέρες
Οι ακτινοβολίες ενέχουν μεγαλύτερο κίνδυνο για τα παιδιά από ότι για τους
ηλικιωμένους. Χαρακτηριστικός είναι ο Πίνακας 6.4 που ακολουθεί.
|339|
Πίνακας 6.4: Ηλικιακό εύρος και πολλαπλασιαστικός κίνδυνος
Ηλικία ομάδας (χρόνια) Πολλαπλασιαστικός κίνδυνος
<10 x3
10 - 20 x2
20 - 30 x1,5
30 - 50 x0,5
50 - 80 x0,3
80+ Αμελητέος κίνδυνος
Στον Πίνακα 6.5 αναφέρονται ενδεικτικά συμπτώματα από την ακτινοβολία για
διάφορες τιμές ολόσωμης δόσης σε 24ώρη βάση.
Πίνακας 6.5: Παραδείγματα ολόσωμης δόσης σε 24ώρη βάση και συμπτώματα για ένα άτομο
100 - 200Rem
Πρώτη ημέρα Δεν υπάρχουν σαφή συμπτώματα
Πρώτη εβδομάδα Δεν υπάρχουν σαφή συμπτώματα
Δεύτερη εβδομάδα Δεν υπάρχουν σαφή συμπτώματα
Τρίτη εβδομάδα Απώλεια της όρεξης, αίσθημα κακουχίας, πονόλαιμος και διάρροια
400 - 500Rem
Πρώτη ημέρα Ναυτία, εμετός και διάρροια κατά τις πρώτες ώρες
Πρώτη εβδομάδα Τα συμπτώματα μπορεί να συνεχίσουν
Δεύτερη εβδομάδα Τριχόπτωση, απώλεια όρεξης
Αιμορραγία, φλεγμονές στο στόμα και στο λαιμό, διάρροια,
Τρίτη εβδομάδα
ισχνότητα
Τέταρτη εβδομάδα Ραγδαία ισχνότητα και ρυθμός θνησιμότητας περίπου 50%
|340|
7. ΕΞΟΠΛΙΣΜΟΣ ΒΙΟΜΗΧΑΝΙΚΗΣ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΑΣ
7.1 Πρότυπα εξοπλισμού γ ακτινογραφίας
Το ISO 3999:2004 αποτελεί το διεθνές πρότυπο για τις συσκευές και το βοηθητικό
εξοπλισμό. Για τις ραδιενεργές πηγές το αντίστοιχο πρότυπο είναι το ISO 2919:2012.
Επιπρόσθετα, για τα δοχεία μεταφοράς (containers) το διεθνές πρότυπο είναι το IAEA TS-
R-1. Σημειώνεται ότι τα πιστοποιητικά των δοχείων μεταφοράς και των ραδιενεργών
πηγών είναι απαραίτητα.
7.2 Συσκευές γ ακτινογραφήσεων
Οι συσκευές γ ακτινογραφήσεων ανάλογα με τη δυνατότητα μετακίνησης τους

διακρίνονται σε φορητές (Class P), κινητές (Class M) και σταθερές (Class F). Οι φορητές
είναι οι πιο συχνά χρησιμοποιούμενες, μπορούν να μεταφερθούν από έναν ακτινογράφο
ενώ συνήθως χρησιμοποιούνται με ιρίδιο (Ir 192) και σελήνιο (Se 75).
Εικόνα 7.1: Φορητές συσκευές γ ακτινογραφήσεων
Οι φορητές πηγές διακρίνονται σε δύο κατηγορίες:

Κατηγορία Ι: η πηγή δεν εξέρχεται από τη συσκευή-θέση ακτινοβόλησης. Η πηγή
μετακινείται σε θέση έκθεσης μέσω κλείστρου ή βαλβίδας αέρα. Η συγκεκριμένη
κατηγορία συσκευών θεωρείται πιο ασφαλής στη χρήση, ωστόσο έχουν περιορισμένη
ικανότητα λήψης σε δύσκολα σημεία.
Εικόνα 7.2: Φορητές συσκευές γ ακτινογραφήσεων Κατηγορία I
Κατηγορία ΙΙ: η πηγή εξέρχεται από τη συσκευή μέσω ενός οδηγού σωλήνα. Ο
χειρισμός της συσκευής για λόγους ακτινοπροστασίας γίνεται από απόσταση. Η
συγκεκριμένη κατηγορία προσφέρει τη δυνατότητα εφαρμογής της ακτινογραφίας σε
δύσκολα σημεία, ωστόσο απαιτεί αυξημένα μέτρα προστασίας.
|341|
Εικόνα 7.3: Φορητή συσκευή γ ακτινογραφήσεων Κατηγορία IΙ
Οι κινητές συσκευές γ ακτινογραφήσεων μεταφέρονται σε βαγονέτα-τρόλεϊ ενώ

συνήθως χρησιμοποιούνται με κοβάλτιο (Co 60).
Εικόνα 7.4: Κινητές συσκευές γ ακτινογραφήσεων
Οι σταθερές συσκευές γ ακτινογραφήσεων είναι πακτωμένες σε συγκεκριμένο χώρο

με ειδικές σχεδιαστικές απαιτήσεις. Είναι μεγάλου βάρους και συνήθως χρησιμοποιούνται
με κοβάλτιο (Co 60) με εύρος ενεργότητας 18.500 - 37.000GBq.
Εικόνα 7.5: Σταθερή συσκευή γ ακτινογραφήσεων
Γενικά, στις συσκευές γ ακτινογραφήσεων απαιτείται απομακρυσμένος χειρισμός.
|342|
Εικόνα 7.6: Απομακρυσμένος χειρισμός συσκευών γ ακτινογραφήσεων
Στο τέλος του οδηγού σωλήνα τοποθετείται ένας κατευθυντήρας (collimator) που
περιορίζει την ακτινοβολία. Ο κατευθυντήρας αποτελεί μια μορφή θωράκισης. Οι
κατευθυντήρες κατασκευάζονται από μόλυβδο, βολφράμιο ή απεμπλουτισμένο ουράνιο,
χρησιμοποιούνται σε πανοραμική ή κατευθυνόμενη λήψη ενώ μειώνουν τις απαιτήσεις
ακτινοπροστασίας.
Εικόνα 7.7: Είδη κατευθυντήρων (collimators)
7.3 Ασφαλής χρήση εξοπλισμού ακτίνων γ
Κατά τη διάρκεια της εργασίας με εξοπλισμό ακτίνων γ, χρειάζεται μεγάλη

προσοχή. Πολλά ατυχήματα συμβαίνουν διότι η πηγή δε μπορεί να επιστρέψει στην
κρύπτη. Γι’ αυτό πρέπει να χρησιμοποιείται ανιχνευτής, ώστε να ελέγχεται εάν η πηγή
επανήλθε στη θέση της μετά την έκθεση. Η περίπτωση να μην ανιχνευτεί μια πηγή που
μένει ακάλυπτη ενέχει υψηλό κίνδυνο.
Ειδικότερα με τις συσκευές μετάγγισης πηγών, αυτές χρησιμοποιούνται για την
αλλαγή της παλιάς πηγής με καινούργια (μετάγγιση) και η θωράκιση γίνεται συνήθως με
απεμπλουτισμένο ουράνιο ενώ έχουν μηχανισμούς ασφαλείας για την αποτροπή της
τυχαίας εξόδου της πηγής κατά τη μετάγγιση.
|343|
Εικόνα 7.8: Έλεγχος της έκθεσης σε ακτινοβολία
7.4 Πηγές γ ακτινογραφήσεων
Η πηγή γ ακτινοβολίας έχει συνήθως κυλινδρική μορφή ή μορφή δισκίου και

περιβάλλεται από κάψουλα (πολλές φορές αναφέρεται και ως χάπι) η οποία
κατασκευάζεται συνήθως από ανοξείδωτο χάλυβα ή τιτάνιο. Το μέγεθος ποικίλει από
διάμετρο 0,5mm σε μορφή δισκίου, έως 4•4mm σε μορφή κυλίνδρου. Ο σχεδιασμός τους
γίνεται σύμφωνα με το ISO 2919:2012 ειδικής μορφής (special form). Ο έλεγχος διαρροής
γίνεται από τον κατασκευαστή ενώ εκδίδεται πιστοποιητικό της πηγής. Οι σχεδιαστικές
απαιτήσεις αφορούν στα επίπεδα ακτινοβολίας και στους μηχανισμούς ασφαλείας. Οι
πηγές ακτινοβολίας γ είναι ανθεκτικές στις περιβαλλοντικές συνθήκες (π.χ. θερμοκρασία,
υγρασία, σκόνη).
|344|
Εικόνα 7.9: Κυλινδρική κάψουλα
Εικόνα 7.10: Εικόνες κατεστραμμένων πηγών γ-ακτινογραφήσεων
Έλεγχοι καλής λειτουργίας του εξοπλισμού γ ακτινογραφίας

Απαιτούνται περιοδικοί έλεγχοι και έλεγχοι ρουτίνας. Η περιοδική επιθεώρηση
γίνεται μόνο από τον κατασκευαστή ή από ειδικά εκπαιδευμένο προσωπικό υπό τις οδηγίες
του κατασκευαστή. Όλα τα ανταλλακτικά πρέπει να είναι σύμφωνα με τις προδιαγραφές
του κατασκευαστή ενώ κάθε τροποποίηση απαιτεί τη συναίνεση του κατασκευαστή. Ο
εξοπλισμός πρέπει να παραμένει καθαρός και τυχόν λάσπη ή χώμα πρέπει να
απομακρύνεται. Ο έλεγχος ρουτίνας γίνεται συνήθως πριν από κάθε ακτινογραφική
εργασία προκειμένου να ανιχνευτούν τυχόν ανωμαλίες που θα μπορούσαν να οδηγήσουν
σε κάποιο ατύχημα.
7.5 Συσκευές ακτίνων Χ
Οι συσκευές ακτινογράφησης ακτίνων Χ δίνουν καλύτερη ποιότητα ακτινογραφικής

απεικόνισης σε σχέση με τις αντίστοιχες της γ ακτινογράφησης. Έχουν τη δυνατότητα
μεταβολής της ενέργειας των φωτονίων και μικρότερες απαιτήσεις ακτινοπροστασίας.
Επιπρόσθετα, δε χρειάζονται ειδική διαχείριση μετά το πέρας της ωφέλιμης χρήσης τους.
Οι συσκευές ακτίνων Χ δε χρειάζονται ανανέωση. Δεν εκπέμπουν ακτινοβολία όταν δεν
συνδέονται με κάποια πηγή ενέργειας. Ωστόσο, έχουν περιορισμένη φορητότητα και
χρειάζονται οπωσδήποτε παροχή ηλεκτρικής ενέργειας.
|345|
Οι συσκευές ακτίνων Χ είναι κατευθυνόμενης δέσμης (directional) όπου γίνεται
χρήση κατευθυντήρα για τον περιορισμό της δέσμης στην επιθυμητή κατεύθυνση και
πανοραμικής λήψης (panoramic) όπου υπάρχει δυνατότητα λήψης σε γωνία 360ο.
Μπορούμε δηλαδή με μια έκθεση να πετύχουμε πολλαπλές λήψεις. Οι συσκευές ακτίνων Χ
αποτελούνται από μια κονσόλα ελέγχου (keV - mA - χρονοδιακόπτης), συστήματα
ασφάλειας (interlocks), συστήματα προειδοποίησης (warning signals) καθώς και κλειδί
ενεργοποίησης χειριστηρίου.
7.5.1 Ασφαλής χρήση εξοπλισμού ακτίνων Χ
Για την ασφαλή χρήση εξοπλισμού ακτίνων Χ, η κατεύθυνση της δέσμης πρέπει να
είναι σε διεύθυνση αντίθετη από περιοχές με προσωπικό. Η μονάδα ελέγχου (Control Unit,
Panel) πρέπει να βρίσκεται όσο το δυνατόν μακρύτερα από τη χρήσιμη δέσμη.
Η δόση που λαμβάνει ένας ακτινογράφος εξαρτάται από το μήκος του καλωδίου.
Έτσι λοιπόν, το μήκος του καλωδίου που συνδέει τη μονάδα ελέγχου με τη λυχνία πρέπει
να είναι μεγαλύτερο από:
 10m για μονάδα 100keV
 15m για μονάδα 200 - 250keV
 20m για περισσότερα από 250keV.
Τα προειδοποιητικά σήματα μπορεί να είναι ακουστικά, φωτεινά ή συνδυασμός
αυτών και πρέπει να δίνονται λίγο πριν και κατά τη διάρκεια της ακτινογραφικής έκθεσης,
ώστε να καθίσταται γνωστό ότι η πηγή παραγωγής ακτίνων πρόκειται να ενεργοποιηθεί ή
ότι είναι σε λειτουργία. Τα δύο σήματα πρέπει να είναι διαφορετικά και ευδιάκριτα και να
λειτουργούν αυτόματα. Τα προειδοποιητικά σήματα πρέπει να λειτουργούν κοντά στη
λυχνία (σημείο μέγιστου κινδύνου) και στη μονάδα ελέγχου. Ο εξοπλισμός των ακτίνων Χ
πρέπει να είναι γειωμένος προς αποφυγή περιστατικών ηλεκτροπληξίας.
7.6 Ασφάλεια ακτινογραφικού εξοπλισμού
Ο ακτινογραφικός εξοπλισμός πρέπει να διατηρείται σε καλή, καθαρή και ασφαλή

κατάσταση. Πρέπει να ελέγχεται πριν και μετά τη χρήση του από υπεύθυνο πρόσωπο. Τα
αποτελέσματα των ελέγχων πρέπει να καταγράφονται, καθώς επίσης πρέπει να
καταγράφονται τα σφάλματα και οι επεμβάσεις που γίνονται. Σημειώνεται ότι στην
περίπτωση χρήσης πηγής ακτίνων γ, πρέπει να χρησιμοποιείται μετρητής ακτινοβολίας
κατά τον έλεγχο. Ο εξοπλισμός πρέπει να είναι κλειδωμένος και τα κλειδιά να τα έχουν
μόνο εξουσιοδοτημένα πρόσωπα.
Κάθε συσκευή πρέπει να έχει οπωσδήποτε σήμανση:
 με το διεθνές σύμβολο της ιοντίζουσας ακτινοβολίας
 με τη λέξη «ΡΑΔΙΕΝΕΡΓΟ» με γράμματα, όχι μικρότερα από 10mm σε ύψος μαζί
με μια λακωνική προειδοποίηση στη γλώσσα της χώρας που χρησιμοποιείται
 με το χημικό σύμβολο και τον ατομικό αριθμό του ραδιονουκλεϊδίου (π.χ. Ir 192,
Co 60)
 με τη μέγιστη επιτρεπτή ενεργότητα της πηγής
 με το πρότυπο με το οποίο συμμορφώνεται η συσκευή
 με το όνομα του κατασκευαστή, το νούμερο του μοντέλου και το σειριακό αριθμό.
|346|
Έλεγχοι καλής λειτουργίας εξοπλισμού ακτίνων Χ

Για την καλή λειτουργία του εξοπλισμού των ακτίνων Χ, απαιτείται η διενέργεια
ελέγχων ρουτίνας και τυπικών ελέγχων από τον κατασκευαστή ή κάποιον ειδικό. Όλα τα
ανταλλακτικά πρέπει να είναι σύμφωνα με τις οδηγίες του κατασκευαστή ενώ κάθε
τροποποίηση απαιτεί την συναίνεση του τελευταίου.
Οι περιοδικοί έλεγχοι σχετίζονται με:
 τον έλεγχο της ηλεκτρικής ασφάλειας, συμπεριλαμβανομένων των δοκιμών για την
ηλεκτρική μόνωση των καλωδίων
 τον καθαρισμό ή την αντικατάσταση των φίλτρων στο σύστημα ψύξης
 τον έλεγχο για τυχόν διαρροή ακτινοβολίας Χ από το σωλήνα
 τον έλεγχο για την διασφάλιση της καλής κατάστασης των καλωδίων
 δοκιμές σε όλες τις ασφάλειες και διακόπτες
 δοκιμές σε όλους τους μόνιμα εγκατεστημένους ανιχνευτές ακτινοβολίας.
Ο έλεγχος ρουτίνας γίνεται συνήθως πριν από κάθε ακτινογραφική εργασία
προκειμένου να ανιχνευτούν τυχόν ανωμαλίες που θα μπορούσαν να οδηγήσουν σε κάποιο
ατύχημα. Ελέγχεται λοιπόν αν όλα τα κλείστρα είναι σε λειτουργία, όλες οι
προειδοποιητικές λυχνίες και τα φώτα λειτουργούν κανονικά, ότι δεν υπάρχει διαρροή
υγρού από το ψυκτικό σύστημα, ότι τα καλώδια είναι σε καλή κατάσταση και ότι δεν
υπάρχει ορατή ζημιά στον εξοπλισμό.
Μείωση λαμβανόμενης δόσης

Στην πράξη η δόση που λαμβάνει ένας ακτινογράφος μπορεί να μειωθεί:
 Με τη χρήση ακτινογραφικής τεχνικής που ελαχιστοποιεί τη δόση του χειριστή.
 Με τη χρήση θαλάμου με δυνατότητα τηλεχειρισμού. Η χρήση ανιχνευτή μετά την
έκθεση διασφαλίζει ότι η πηγή επανήλθε στην κρύπτη.
 Με τη χρήση κατευθυντήρα για ελαχιστοποίηση του μεγέθους της δέσμης.
 Με επιλογή της ελάχιστης ενεργότητας της πηγής ώστε να έχουμε λογικούς χρόνους
έκθεσης και την ελάχιστη δυνατή δόση στο ακτινογράφο.
 Με την ελαχιστοποίηση του αριθμού των εκθέσεων.
|347|
8. ΣΥΣΤΗΜΑ ΑΚΤΙΝΟΠΡΟΣΤΑΣΙΑΣ
Η ανακάλυψη των ακτινοβολιών έγινε προς το τέλος του 19ου αιώνα. Το 1895
ανακαλύφθηκε η ακτινοβολία Χ από τον Roentgen, το 1896 ο Becquerel ανακάλυψε τη
φυσική ραδιενέργεια ενώ το 1898 το ζεύγος Curie απομόνωσε το ραδιενεργό πολώνιο και
το ράδιο. Ωστόσο, μετά τις παραπάνω ανακαλύψεις εκτός από τη γνώση και την εμπειρία
που αποκτήθηκε για την αξιοποίηση τους σε διάφορες εφαρμογές, έγινε αντιληπτή η
ικανότητα τους να προκαλούν σοβαρές βλάβες στην υγεία από την αλόγιστη χρήση τους.
Με σκοπό λοιπόν τη μελέτη των βλαπτικών συνεπειών των ακτινοβολιών στον
άνθρωπο και παράλληλα την αναζήτηση μέτρων και κανόνων προστασίας για την
ελαχιστοποίηση τους, ιδρύθηκε το 1928 η Διεθνής Επιτροπή Ακτινολογικής Προστασίας ή
Ακτινοπροστασίας (International Committee on Radiological Protection-ICRP). Έκτοτε και
μέχρι σήμερα, με συστάσεις που εκδίδει κατά καιρούς η συγκεκριμένη επιτροπή,
καθορίζεται διεθνώς η πολιτική σε θέματα ακτινοπροστασίας.
Ως ακτινοπροστασία ορίζεται η επιστήμη που έχει ως αντικείμενο την προστασία
του ανθρώπου και του περιβάλλοντος από τις ακτινοβολίες, με ταυτόχρονη διατήρηση του
οφέλους που προκύπτει από την ορθολογική χρήση τους σε διάφορους τομείς όπως η
βιομηχανία, η υγεία, η ενέργεια και η έρευνα.
8.1 Διεθνές σύστημα ακτινοπροστασίας
Αντικείμενο του συστήματος της ακτινοπροστασίας μιας χώρας είναι η παροχή

υψηλής ασφάλειας στα άτομα που εκτίθενται σε ιοντίζουσες ακτινοβολίες, με παράλληλη
επιδίωξη να διατηρηθούν τα οφέλη που προκύπτουν από την χρήση τους. Το διεθνές
σύστημα ακτινοπροστασίας στηρίζεται σε επιστημονικά δεδομένα που αφορούν στη
βλαπτικότητα των ακτινοβολιών και είναι αποτέλεσμα μακροχρόνιων, συστηματικών,
επιδημιολογικών και ραδιοβιολογικών μελετών σε πληθυσμούς που ακτινοβολήθηκαν με
μεγάλες δόσεις ακτινοβολίας.
Εικόνα 8.1: Οι συστάσεις της ακτινοπροστασίας γίνονται από την ICRP και βασίζονται στα
ερευνητικά αποτελέσματα της UNSCEAR
Τα αποτελέσματα αυτά παρακολουθεί η Επιστημονική Επιτροπή του Οργανισμού

των Ηνωμένων Εθνών για τις Επιδράσεις της Ατομικής Ακτινοβολίας (UNSCEAR-United
Nations Scientific Committee on the Effects of Atomic Radiation) και ενημερώνει σχετικά
την επιστημονική κοινότητα με περιοδικές εκδόσεις της.
Οι συστάσεις της Διεθνούς Επιτροπής Ακτινοπροστασίας στηρίζονται στα
επιστημονικά δεδομένα της Επιστημονικής Επιτροπής του Οργανισμού των Ηνωμένων
Εθνών, τα οποία αποτελούν αντικείμενο μελέτης και επεξεργασίας των υποομάδων
εργασίας της επιτροπής.
|348|
Το 1996, ο Διεθνής Οργανισμός Ατομικής Ενέργειας (IAEA) υιοθέτησε το
προτεινόμενο από τη Διεθνή Επιτροπή Ακτινολογικής Προστασίας (ICRP) σύστημα
ακτινοπροστασίας και εξέδωσε τα Διεθνή Βασικά Πρότυπα Ασφάλειας για την Προστασία
έναντι των Ιοντιζουσών Ακτινοβολιών (International Basic Safety Standards for Protection
against Ionising Radiation-BSS).
H Ευρωπαϊκή Ένωση με βάση τα Διεθνή Πρότυπα Ασφαλείας (ΒSS), εξέδωσε το
1996 και 1997, δύο οδηγίες (96/29 και 97/43 της Euratom) αναφορικά με την
ακτινοπροστασία του κοινού, των εργαζομένων και των ασθενών αντίστοιχα, οι οποίες
σύμφωνα με τη συνθήκη της Euratom όφειλαν να ενσωματωθούν στη νομοθεσία των
κρατών-μελών της Ευρωπαϊκής Ένωσης. Το 2001 εξεδόθησαν στη χώρα μας οι ισχύοντες
κανονισμοί ακτινοπροστασίας (ΚΥΑ 1014, ΦΕΚ 216Β΄, 6/3/2001), οι οποίοι εναρμονίζουν
την ελληνική νομοθεσία με τις οδηγίες της Euratom.
Τo 2008, η Διεθνής Επιτροπή Ακτινολογικής Προστασίας (ICRP) δημοσίευσε νέες
συστάσεις (ICRP-103), βασισμένες σε επικαιροποιημένα επιστημονικά δεδομένα
(UNSCEAR, 2000) και στην εμπειρία που αποκομίστηκε διεθνώς από την εφαρμογή των
συστάσεων της από το 1991. Με βάση λοιπόν τις νέες συστάσεις της ICRP άρχισε η
αναθεώρηση, τόσο του διεθνούς, όσο και του Ευρωπαϊκού συστήματος ακτινοπροστασίας.
Στη συνέχεια περιγράφονται συνοπτικά οι αρχές ακτινοπροστασίας, όπως αυτές
προβλέπονται από την ICRP-60 (1991) και εφαρμόζονται στα διεθνή BSS (1996), τις
οδηγίες της Ευρωπαϊκής Ένωσης (1996-1997) και τους Εθνικούς Κανονισμούς
Ακτινοπροστασίας (2001).
Στην Ελλάδα η εθνική ρυθμιστική αρχή, στους τομείς της ασφάλειας των
ακτινοβολιών και της πυρηνικής ασφάλειας είναι η Ελληνική Επιτροπή Ατομικής
Ενέργειας (ΕΕΑΕ).
8.2 Βασικές αρχές ακτινοπροστασίας (εθνικό σύστημα)
Ως σύστημα ακτινοπροστασίας ορίζεται το σύνολο των μέτρων και ελέγχων για την
ανίχνευση και περιορισμό των παραγόντων εκείνων οι οποίοι, κατά τη διάρκεια μιας
οποιασδήποτε πρακτικής, έργου ή δραστηριότητας με ιοντίζουσες ακτινοβολίες ενδέχεται
να αποτελέσουν κίνδυνο για τους εργαζομένους και τον πληθυσμό. Το σύστημα
ακτινοπροστασίας αποσκοπεί στην προστασία ανθρώπων, αγαθών και περιβάλλοντος από
τις επιβλαβείς επιδράσεις των ιοντιζουσών ακτινοβολιών που προέρχονται από τις
ειρηνικές χρήσεις τους.
Τα μέτρα και οι έλεγχοι εφαρμόζονται σε όλες τις πρακτικές που συνεπάγονται
κινδύνους από ιοντίζουσες ακτινοβολίες, οι οποίες εκπέμπονται από φυσικές ή τεχνητές
πηγές ή και από φυσικά ισότοπα στην περίπτωση που αυτά έχουν υποστεί επεξεργασία
λόγω της ιδιότητας τους ως σχάσιμων ή αναπαραγωγικών υλικών. Οι πρακτικές αυτές
αφορούν στην παραγωγή, κατοχή, χρήση, αποθήκευση, εισαγωγή και εξαγωγή,
επεξεργασία, χειρισμό, εμπορία, μεταφορά και απόρριψη ραδιενεργών ουσιών, φυσικών ή
τεχνητών, συμπεριλαμβανομένων των σχάσιμων, κατοχή και χρήση μηχανημάτων
παραγωγής ιοντιζουσών ακτινοβολιών και στη χρήση ηλεκτρικών συσκευών που
εκπέμπουν ιοντίζουσες ακτινοβολίες και περιέχουν μέρη που λειτουργούν σε διαφορά
δυναμικού μεγαλύτερη των 5keV. Κάθε φυσικό ή νομικό πρόσωπο προκειμένου να προβεί
σε οποιαδήποτε πρακτική πρέπει να έχει την ειδική άδεια που προβλέπεται από την κείμενη
νομοθεσία.
Η Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας, αρμόδια για θέματα ακτινοπροστασίας
συντάσσει και μεριμνά για την εφαρμογή των κανονισμών και εισηγείται πρόσθετα μέτρα
οποτεδήποτε κρίνει σκόπιμο, προκειμένου να εξασφαλίζεται ο περιορισμός των ατομικών
και συλλογικών δόσεων, που προκύπτουν από τις τρεις βασικές αρχές:
|349|
α) την αρχή της Αιτιολόγησης
β) την αρχή της Βελτιστοποίησης
γ) την αρχή των Ορίων Δόσεων.
8.2.1 Αρχή της Αιτιολόγησης
Κάθε εφαρμογή που ενέχει έκθεση ή δυνητική έκθεση ενός ατόμου σε ιοντίζουσα
ακτινοβολία πρέπει να αποφέρει ικανοποιητικό όφελος στα εκτιθέμενα άτομα ή στο
κοινωνικό σύνολο, έτσι ώστε να αντισταθμίζεται η πιθανή βλάβη την οποία αυτή μπορεί να
προκαλέσει. Με άλλα λόγια, οι πρακτικές που αναφέρθηκαν προτού εγκριθούν για πρώτη
φορά πρέπει να κριθούν αιτιολογημένα βάσει κοινωνικο-οικονομικών ή άλλων
πλεονεκτημάτων που παρέχουν σε σχέση με τη βλάβη στην υγεία που μπορεί να
προκαλέσουν.
Μη αιτιολογημένες εκθέσεις απαγορεύονται!
Εικόνα 8.2: Το όφελος από την χρήση ιοντιζουσών ακτινοβολιών πρέπει να είναι
αιτιολογημένο
8.2.2 Αρχή της Βελτιστοποίησης (Αρχή της ALARA - Αs Low As Reasonable

Achievable)
Κάθε έκθεση που οφείλεται σε μια αιτιολογημένη πρακτική ή μια πηγή πρέπει να
προγραμματίζεται ώστε το μέγεθος των συνεπαγόμενων δόσεων, ο αριθμός των
εκτιθέμενων ατόμων και η πιθανότητα να προκύψουν μη αναμενόμενες εκθέσεις να
διατηρούνται τόσο χαμηλά, όσο είναι λογικά εφικτό. Συνεπώς, όλες οι πηγές παραγωγής
ακτινοβολιών πρέπει να προσφέρουν την καλύτερη δυνατή προστασία και ασφάλεια έτσι
ώστε το μέτρο της ενεχόμενης έκθεσης, η πιθανότητα μη αναμενόμενης έκθεσης και ο
αριθμός των εκτιθέμενων ατόμων να είναι τόσο μικρά, όσο αυτό είναι λογικά εφικτό
λαμβάνοντας υπόψη οικονομικούς και κοινωνικούς παράγοντες.
Στο παραπάνω πλαίσιο λοιπόν, καθορίζονται από την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής
Ενέργειας γενικά περιοριστικά επίπεδα δόσεων που αφορούν στην προστασία του
πληθυσμού και των εργαζομένων. Για κάθε πηγή καθορίζονται κατά τη φάση σχεδιασμού
από τον υπεύθυνο ακτινοπροστασίας ειδικά περιοριστικά επίπεδα δόσεων, τα οποία
εγκρίνονται από την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας. Τα περιοριστικά επίπεδα
δόσεων αντιστοιχούν σε τιμές μετρήσιμων μεγεθών που καθορίζονται στη φάση
σχεδιασμού της ακτινοπροστασίας και για κάθε πηγή πρέπει να διασφαλίζουν ότι τα
αθροιστικά αποτελέσματα από την ετήσια απελευθέρωση περιορίζονται σε τέτοιο βαθμό
ώστε η ενεργός ετήσια δόση να μην υπερβαίνει τα αντίστοιχα όρια δόσεων. Για ολόκληρο
|350|
το σώμα ή για σημαντικό μέρος του, η ετήσια εξωτερική έκθεση συνίσταται να μην
υπερβαίνει τα 5/10 των ορίων δόσης, δηλαδή τα 10mSv για ολόσωμη έκθεση.
Σημειώνεται ότι τα περιοριστικά επίπεδα δόσεων δεν πρέπει να συγχέονται με τα
όρια δόσης τα οποία αναφέρονται στην ατομική δόση που μπορεί να λάβει ένα
μεμονωμένο άτομο από όλες τις πρακτικές που μπορεί να ενέχουν κίνδυνο έκθεσης στο
παρόν και στο άμεσο μέλλον. Η χρήση των περιοριστικών επιπέδων δόσεων εξασφαλίζει
την τήρηση των ορίων δόσεων. Αντίθετα με τα όρια δόσεων των οποίων η υπέρβαση
απαγορεύεται, η υπέρβαση των περιοριστικών επιπέδων δόσεων δεν επιτάσσει την άμεση
απομάκρυνση του εργαζόμενου από την ενασχόληση του με ιοντίζουσες ακτινοβολίες. Στις
συστηματικές υπερβάσεις βέβαια, διενεργείται επανέλεγχος και αναθεώρηση του
συστήματος ακτινοπροστασίας αν τελικώς κριθεί ότι απαιτείται.
8.2.3 Αρχή των Ορίων Δόσεων
Οι ατομικές εκθέσεις σε ακτινοβολία που οφείλονται στο σύνολο των πηγών στα
πλαίσια των εγκεκριμένων πρακτικών, πρέπει να υπόκειται σε όρια δόσεων, η υπέρβαση
των οποίων θεωρείται μη αποδεκτή. Στα όρια αυτά δεν περιλαμβάνονται οι δόσεις που
οφείλονται στην ακτινοβολία από ιατρικές εκθέσεις για διαγνωστικούς και θεραπευτικούς
σκοπούς. Δεν επιτρέπεται η υπέρβαση των ορίων δόσεων που καθορίζονται από τη
νομοθεσία, παρά μόνο σε ειδικές περιπτώσεις και αφού ληφθεί υπόψη η Αρχή της
Αιτιολόγησης.
Τα όρια ενεργού δόσεως θεσπίστηκαν με σκοπό τον περιορισμό του κινδύνου σε
αποδεκτά επίπεδα των επαγγελματικά εκτιθέμενων και των μεμονωμένων ατόμων του
κοινού από τα στοχαστικά αποτελέσματα των ακτινοβολιών.
Άτομα κάτω των 18 ετών και μητέρες που γαλουχούν απαγορεύεται να είναι
επαγγελματικά εκτιθέμενοι εργαζόμενοι. Για ολόσωμη έκθεση το όριο της ενεργού δόσης
επαγγελματικά εκτιθέμενων είναι 20mSv κατά τη διάρκεια ενός έτους και 100mSv σε
περίοδο πέντε συνεχόμενων ετών. Ωστόσο, είναι δυνατόν η ενεργός δόση κατά τη διάρκεια
ενός έτους να φτάνει τα 50mSv με την προϋπόθεση ότι τα πέντε προηγούμενα συνεχόμενα
έτη συμπεριλαμβανομένου και του τρέχοντος, η ενεργός δόση δεν έχει υπερβεί τα 100mSv.
Για μεμονωμένα άτομα του κοινού, το όριο της ενεργού δόσης για ολόσωμη έκθεση
έχει καθοριστεί σε 1mSv κατά τη διάρκεια ενός έτους για το σύνολο των εφαρμοζόμενων
πρακτικών.
Πίνακας 8.1: Όρια δόσεων για επαγγελματικά εκτιθέμενους και για μεμονωμένα άτομα
του κοινού
Εργαζόμενοι Πληθυσμός (κοινό)
20mSv/έτος
Ολόσωμη δόση 1mSv/έτος
(κατά μέσο όρο σε 5 έτη)
Φακός ματιού 150mSv/έτος 15mSv/έτος
Δέρμα 500mSv/έτος 50mSv/έτος
Άκρα 500mSv/έτος -
Εάν με οδηγία της η Ευρωπαϊκή Ένωση καθορίσει νέα όρια, η Ελληνική Επιτροπή
Ατομικής Ενέργειας τα εφαρμόζει με έκδοση νέας Υπουργικής Απόφασης.
|351|
8.3 Ακτινοπροστασία προσωπικού
Το επιστημονικό, τεχνικό και βοηθητικό προσωπικό που συμμετέχει στην άσκηση

οποιασδήποτε πρακτικής, η οποία ενέχει κινδύνους από ιοντίζουσες ακτινοβολίες, πρέπει
να είναι κατάλληλα εκπαιδευμένο. Την εποπτεία και άμεση ευθύνη για την εφαρμογή των
κανονισμών έχουν ο υπεύθυνος ακτινοπροστασίας (πτυχιούχος θετικών επιστημών με
μεταπτυχιακή εκπαίδευση ή αποδεδειγμένη πολυετή εμπειρία στην ακτινοπροστασία) και ο
υπεύθυνος ασφαλείας της πηγής (κάτοχος των προσόντων του υπευθύνου
ακτινοπροστασίας). Η επάρκειά τους αναγνωρίζεται από την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής
Ενέργειας μετά από αίτηση και προσωπική συνέντευξη. Οι εκθέσεις εργαζομένων που
οφείλονται σε ατύχημα ή σε κατάσταση έκτακτης ανάγκης καταχωρούνται στον ιατρικό
τους φάκελο.
Στη συνέχεια αναφέρονται οι βασικές αρχές για την προστασία των επαγγελματικά
εκτιθέμενων:
 προκαταρκτική αξιολόγηση της φύσης και του μεγέθους του κινδύνου της
ακτινοβολίας και εφαρμογή της βελτιστοποίησης της ακτινοπροστασίας
 ταξινόμηση των χώρων εργασίας σε διάφορες ζώνες
 ταξινόμηση των εργαζομένων σε διάφορες κατηγορίες
 εφαρμογή κατάλληλων μέτρων ελέγχου-παρακολούθησης για τις διάφορες ζώνες
και συνθήκες εργασίας
 ιατρική παρακολούθηση των εργαζομένων.
8.3.1 Ταξινόμηση και οριοθέτηση ζωνών
Στους χώρους εργασίας λαμβάνονται μέτρα όπου υπάρχει περίπτωση έκθεσης σε

ιοντίζουσες ακτινοβολίες που υπερβαίνει το 1mSv/ έτος ή ισοδύναμη δόση 1/10 των ορίων
δόσεων για τους φακούς των οφθαλμών (1/10•150mSv = 15mSv), το δέρμα
(1/10•500mSv = 50mSv) και τα άκρα (1/10•500mSv = 50mSv).
Κάθε περιοχή μέσα στην οποία ενδέχεται να γίνει υπέρβαση των 6mSv ετησίως
ορίζεται ως ελεγχόμενη ζώνη. Η ελεγχόμενη ζώνη πρέπει να είναι σαφώς οριοθετημένη με
κατάλληλη σήμανση ενώ μέσα σε αυτή επιτρέπεται η πρόσβαση μόνο στο
εξουσιοδοτημένο προσωπικό, το οποίο έχει λάβει κατάλληλες οδηγίες. Το περιβάλλον
εργασίας πρέπει να ελέγχεται συνεχώς. Πρέπει να πραγματοποιούνται μετρήσεις της
ραδιενέργειας, των δόσεων και των ρυθμών δόσεων και να καταγράφονται τα
αποτελέσματα. Η σήμανση πρέπει να πληροφορεί για τον τύπο της ζώνης, τη φύση των
πηγών και των κινδύνων που απορρέουν. Ανάλογα με τον κίνδυνο που απορρέει από τις
πηγές και τις αντίστοιχες εργασίες πρέπει να εκδίδονται σχετικές οδηγίες.
Εικόνα 8.3: Σήμανση ελεγχόμενης περιοχής
|352|
Κάθε περιοχή στην οποία ενδέχεται να γίνει υπέρβαση του 1mSv ετησίως και η
οποία δε θεωρείται ελεγχόμενη ζώνη ορίζεται ως επιβλεπόμενη ζώνη. Οι ελάχιστες
απαιτήσεις για τις επιβλεπόμενες περιοχές περιλαμβάνουν την επίβλεψη του
περιβάλλοντος χώρου από τον υπεύθυνο ακτινοπροστασίας, την τοποθέτηση κατάλληλης
σήμανσης για τον τύπο της ζώνης, τη φύση των πηγών και των κινδύνων που απορρέουν
και την έκδοση οδηγιών εργασίας από τον υπεύθυνο ακτινοπροστασίας ανάλογα με τον
κίνδυνο.
Εικόνα 8.4: Σήμανση επιβλεπόμενης περιοχής
Σημειώνεται ότι η επιχείρηση ή ο οργανισμός πρέπει να ελέγχει τις συνθήκες

εργασίας και στις δύο κατηγορίες ζωνών.
8.3.2 Ταξινόμηση των εκτιθέμενων εργαζόμενων
Οι επαγγελματικά εκτιθέμενοι εργαζόμενοι κατατάσσονται σε δύο κατηγορίες, την

κατηγορία Α και την κατηγορία Β.
Στην Κατηγορία Α κατατάσσονται οι εκτιθέμενοι εργαζόμενοι που ενδέχεται να
δεχτούν ενεργό δόση μεγαλύτερη από 6mSv/έτος ή ισοδύναμη δόση μεγαλύτερη από τα
3/10 των ορίων δόσης για τους φακούς οφθαλμών (δηλ. 3/10•150 = 45mSv/έτος), το δέρμα
(δηλ. 3/10•500 = 150mSv/έτος) και τα άκρα (δηλ. 3/10•500 = 150mSv/έτος). Σε αυτούς
ανήκουν οι ακτινολόγοι, οι πυρηνικοί ιατροί, οι ακτινοφυσικοί, οι τεχνολόγοι-ακτινολόγοι,
οι επεμβατιστές ιατροί, οι χειριστές εμφανιστές, οι παρασκευαστές ραδιοφαρμάκων καθώς
και το προσωπικό των εργαστηρίων ακτινογραφήσεων.
Στην Κατηγορία Β κατατάσσονται οι εκτιθέμενοι εργαζόμενοι που δεν
κατατάσσονται στην κατηγορία Α δηλαδή οι εργαζόμενοι που ενδέχεται να δεχτούν δόση
από 1mSv έως 6mSv/έτος. Σε αυτήν την κατηγορία ανήκουν το τεχνικό και νοσηλευτικό
προσωπικό που απασχολείται συστηματικά στις ελεγχόμενες ζώνες.
8.3.3 Εκτίμηση και εφαρμογή των μέτρων για την ακτινοπροστασία των
εκτιθέμενων εργαζομένων
Σε γενικές γραμμές οι επαγγελματικά εκτιθέμενοι πρέπει να ενημερώνονται για τους

κινδύνους και τις προφυλάξεις μέσα από την εκπαίδευση τους. Απαγορεύεται η
ενασχόληση κάποιου ως επαγγελματικά εκτιθέμενου εάν η εκπαίδευση του δεν έχει
αναγνωριστεί από την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας και δεν υπάρχει ιατρική
γνωμοδότηση.
Η εφαρμογή των μέτρων προστασίας των εκτιθέμενων εργαζόμενων επιβλέπεται
από τον υπεύθυνο της ακτινοπροστασίας και περιλαμβάνει:
|353|
 την προκαταρκτική αξιολόγηση και τον έλεγχο των σχεδίων εγκαταστάσεων
 τον περιοδικό έλεγχο της αποτελεσματικότητας των μέσων και των τεχνικών
προστασίας
 την τακτική βαθμονόμηση των οργάνων μέτρησης πεδίων ακτινοβολιών
 την έγκριση λειτουργίας νέων ή τροποποιημένων πηγών
 τη συστηματική παρακολούθηση της ατομικής δοσιμέτρησης.
Τα αποτελέσματα καταχωρούνται σε ειδικό βιβλίο, θεωρούνται από τον υπεύθυνο
ακτινοπροστασίας και υπόκεινται στον έλεγχο της Ελληνικής Επιτροπής Ατομικής
Ενέργειας.
Το είδος και η συχνότητα εκτίμησης της έκθεσης του χώρου εργασίας καθορίζεται
από τον υπεύθυνο ακτινοπροστασίας. Η εκτίμηση της έκθεσης γίνεται μέσω:
 Της παρακολούθησης των χώρων εργασίας και την συλλογική επίβλεψη: το είδος
και η συχνότητα της εκτίμησης της έκθεσης του χώρου εργασίας περιλαμβάνει
μετρήσεις των εξωτερικών ρυθμών δόσης και της ροής των σωματιδίων με ένδειξη
για την φύση τους και την ποιότητα των σχετικών ακτινοβολιών.
 Της μέτρησης των ατομικών δόσεων: η Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας
είναι ο αρμόδιος φορέας που συντονίζει την ατομική δοσιμέτρηση του προσωπικού
που ασχολείται επαγγελματικά με τις ιοντίζουσες ακτινοβολίες. Στην περίπτωση
που ο επαγγελματικά εκτιθέμενος έλαβε δόση μεγαλύτερη των 6mSv/έτος, ο
υπεύθυνος ακτινοπροστασίας οφείλει να διευκρινίσει τα αίτια ή να προτείνει τη
λήψη μέτρων.
Τα αποτελέσματα της εκτίμησης των ατομικών δόσεων πρέπει να υποβάλλονται σε
εξουσιοδοτημένο ιατρό. Η Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας τηρεί το επίσημο
αρχείο δόσεων όλων των δοσιμετρούμενων στην ελληνική επικράτεια ενώ κάθε εργοδότης
είναι υποχρεωμένος να παρέχει στην Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας τις
πληροφορίες που ζητούνται.
8.3.4 Ιατρική παρακολούθηση εκτιθέμενων εργαζόμενων
Η ιατρική παρακολούθηση των εκτιθέμενων εργαζομένων είναι υποχρεωτική και

περιλαμβάνει:
 Ιατρική εξέταση πριν την πρόσληψη (ιστορικό, πλήρη κλινική εξέταση,
εργαστηριακές εξετάσεις, γενική εξέταση ούρων και αίματος, ακτινογραφία
θώρακος και ειδικές κλινικές εξετάσεις - οφθαλμολογική εξέταση κ.λπ.).
 Περιοδική επίβλεψη της υγείας ώστε να διαπιστώνεται η ικανότητα των
εργαζομένων στην συνέχιση άσκησης των καθηκόντων τους. Διενεργείται κατά
προτίμηση το πρώτο τρίμηνο κάθε ημερολογιακού έτους και περιλαμβάνει πλήρη
κλινική εξέταση, γενική εξέταση αίματος και ούρων, οφθαλμολογική εξέταση και
πλήρη κλινικο-εργαστηριακό έλεγχο.
8.4 Βιομηχανικές ακτινογραφήσεις
Όπως έχει ήδη αναφερθεί, βασική αρχή της ακτινοπροστασίας είναι να παρέχει τα
κατάλληλα πρότυπα ασφαλείας στους εμπλεκόμενους, χωρίς ωστόσο να περιορίζει
αδικαιολόγητα τα οφέλη των πρακτικών που προκαλούν την έκθεση σε ακτινοβολίες.
Στόχος της ακτινοπροστασίας είναι η ασφάλεια και η προστασία των ατόμων, της
κοινωνίας και του περιβάλλοντος από τις βλαβερές συνέπειες της ραδιενέργειας, με την
καθιέρωση και τη διατήρηση αποτελεσματικών διαδικασιών ενάντια στους ραδιολογικούς
κινδύνους από τις πηγές ακτινοβολίας.
|354|
Όλα τα παραπάνω εφαρμόζονται: α) στο σχεδιασμό και στην κατασκευή των
εγκαταστάσεων βιομηχανικής ακτινογραφίας β) στο σχεδιασμό, στην κατασκευή, στη
λειτουργία, στη συντήρηση και στον αφοπλισμό των συσκευών παραγωγής ιοντιζουσών
ακτινοβολιών γ) κατά τη μεταφορά, την κατοχή και τη χρήση κλειστών ραδιενεργών
πηγών.
Βασικές συνιστώσες για την παροχή πλήρους ακτινοπροστασίας είναι η ρυθμιστική
αρχή και ο νομοθέτης, ο κατασκευαστής ή ο προμηθευτής του εξοπλισμού, ο υπεύθυνος
ακτινοπροστασίας και η διοίκηση ενός οργανισμού και τέλος οι ακτινογράφοι και οι
βοηθοί τους.
Η ρυθμιστική αρχή και ο νομοθέτης αναπτύσσουν τη σχετική νομοθεσία, εγκρίνουν
και ελέγχουν τις εφαρμοζόμενες πρακτικές, αναπτύσσουν τις σχετικές πολιτικές και
παρέχουν συμβουλές, ενώ προβλέπουν τη διενέργεια περιοδικών ελέγχων.
Ο κατασκευαστής ή ο προμηθευτής του εξοπλισμού σχεδιάζει και κατασκευάζει
ασφαλή εξοπλισμό, σύμφωνα με τις διεθνώς αποδεκτές προδιαγραφές, επιδιορθώνει τις
βλάβες του εξοπλισμού, αναπτύσσει και εφαρμόζει σύστημα διασφάλισης ποιότητας ενώ
δηλώνει στη ρυθμιστική αρχή τις πωλήσεις των πηγών.
Ο υπεύθυνος ακτινοπροστασίας (ή η διοίκηση ενός οργανισμού) λαμβάνει τις
απαραίτητες εγκρίσεις και άδειες από τις αρμόδιες αρχές για την πραγματοποίηση των
ακτινογραφήσεων, παρέχει τις απαραίτητες εγκαταστάσεις, τον εξοπλισμό και την
εκπαίδευση, αναπτύσσει και διανέμει στο προσωπικό τις οδηγίες εργασίας και τις
διαδικασίες έκτακτης ανάγκης, ορίζει με σαφήνεια τις αρμοδιότητες σε σχέση με την
ασφάλεια των πηγών και επιβλέπει την τήρηση των κανονισμών ακτινοπροστασίας.
Οι ακτινογράφοι και οι βοηθοί τους πρέπει να εξοικειώνονται με τον εξοπλισμό, να
ακολουθούν τις πρακτικές ασφαλούς εργασίας, να χρησιμοποιούν τον παρεχόμενο
εξοπλισμό ασφαλείας όπως το προσωπικό δοσίμετρο, να διακόπτουν την εργασία όταν οι
όροι δεν είναι ασφαλείς, να ελέγχουν και να συντηρούν τον εξοπλισμό καθώς και να
επικοινωνούν με τον υπεύθυνο ακτινοπροστασίας.
8.4.1 Κατηγορίες εργαστηρίων βιομηχανικών ακτινογραφήσεων
Τα εργαστήρια βιομηχανικών ακτινογραφήσεων κατατάσσονται στις ακόλουθες

τέσσερις κατηγορίες, ανάλογα με το είδος της εγκατάστασης και τον αριθμό των
χρησιμοποιούμενων πηγών.
Κατηγορία Ρ-1: Υπάρχει μόνιμη εγκατάσταση ακτινογράφησης με ακτίνες Χ ή γ
(συσκευές ή χώρος όπου τελούνται μονίμως ακτινογραφήσεις, εντός του οποίου
αποκλείεται η παραμονή ατόμου κατά την εκτέλεση ακτινογραφήσεων).
Στις εγκαταστάσεις περιλαμβάνονται: συσκευές με θωρακισμένη λυχνία παραγωγής
ακτίνων Χ και ενσωματωμένη φθορίζουσα οθόνη, θωρακισμένος χώρος τύπου «καμπίνας»
για εκτέλεση ακτινογραφήσεων μέσω φθορίζουσας οθόνης ευρισκόμενης εκτός του χώρου,
θωρακισμένος χώρος για λήψη ακτινογραφιών.
Κατηγορία Ρ-2: Γίνεται χρήση μέχρι πέντε (5) πηγών ακτίνων Χ ή γ.
Κατηγορία Ρ-3: Γίνεται χρήση περισσότερων των πέντε (5) πηγών ακτίνων Χ ή γ.
Κατηγορία Ρ-4: Είναι ανεξάρτητα του είδους της εγκατάστασης και του αριθμού
των χρησιμοποιούμενων πηγών. Στην κατηγορία αυτή εντάσσονται τα εργαστήρια που
ανήκουν σε Δημόσιους Οργανισμούς και επιχειρήσεις, σε Νομικά Πρόσωπα Δημοσίου
Δικαίου, σε εργοστάσια και γενικά πρόκειται για εργαστήρια όπου η εκτέλεση των
ακτινογραφήσεων δεν αποτελεί πλήρη και αποκλειστική απασχόληση.
|355|
8.4.2 Έκδοση αδειών λειτουργίας για εργαστήρια βιομηχανικών ακτινογραφήσεων
Για την αδειοδότηση ενός εργαστηρίου βιομηχανικών ακτινογραφήσεων

απαιτούνται:
H έκδοση άδειας σκοπιμότητας: Εκδίδεται από την Γενική Γραμματεία Έρευνας και
Τεχνολογίας και ισχύει για ένα έτος.
Η έκδοση άδειας λειτουργίας του εργαστηρίου: Χορηγείται με Κοινή Υπουργική
Απόφαση (ΚΥΑ) των Αρμοδίων Υπουργών μετά την έκδοση πιστοποιητικού
καταλληλότητας από την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας περί της
καταλληλότητας των εγκαταστάσεων, των μηχανημάτων και των συνθηκών λειτουργίας
του εργαστηρίου από άποψη ακτινοπροστασίας. Η άδεια έχει χρονική ισχύ 2 χρόνια.
Εκδίδεται από την Γενική Γραμματεία Έρευνας και Τεχνολογίας και ανανεώνεται από την
Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας.
Για την έκδοση πιστοποιητικού καταλληλότητας από την Ελληνική Επιτροπή
Ατομικής Ενέργειας, η τελευταία πρέπει να εγκρίνει την κατασκευή του εργαστηριακού
χώρου μετά την προσκόμιση από τους ενδιαφερόμενους των παρακάτω δικαιολογητικών:
 άδεια σκοπιμότητας
 μελέτη ακτινοπροστασίας, η οποία συντάσσεται από τον υπεύθυνο
ακτινοπροστασίας και περιλαμβάνει την κάτοψη του εργαστηριακού χώρου καθώς
και των γειτονικών χώρων υπό κλίμακα 1:50, λεπτομέρειες κατασκευής της
κρύπτης, τις απαιτούμενες θωρακίσεις και τον εξοπλισμό.
Η ισχύς της προέγκρισης είναι διετής.
Μετά τη χορήγηση της προέγκρισης, ο εργοδότης προβαίνει στην κατασκευή του

και ειδοποιεί εγγράφως την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας.
Η ειδοποίηση συνοδεύεται από:
 καταστάσεις με ονοματεπώνυμο, ηλικία και ειδικότητα ατόμων που πρόκειται να
απασχοληθούν στο εργαστήριο, καθώς και επικυρωμένα φωτοαντίγραφα των
ιατρικών εξετάσεων κατά την πρόσληψη τους
 καταστάσεις με εργαστηριακό εξοπλισμό
 βεβαιώσεις εκπαίδευσης προσωπικού στην ακτινοπροστασία.
Η Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας διενεργεί επιτόπιο έλεγχο

ακτινοπροστασίας και εφόσον ικανοποιούνται οι απαιτήσεις των κανονισμών, εκδίδει το
πιστοποιητικό καταλληλότητας.
Για την ανανέωση της άδειας λειτουργίας των εργαστηρίων βιομηχανικών
ακτινογραφήσεων απαιτούνται:
 αίτηση του εργαστηρίου προς την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας
 καταστάσεις με ονοματεπώνυμο, ηλικία και ειδικότητα των ατόμων που
απασχολούνται στο εργαστήριο
 καταστάσεις με τον εργαστηριακό εξοπλισμό
 δήλωση μεταβολών εργαστηρίου στις οποίες αναφέρονται οι μεταβολές που έχουν
γίνει στο εργαστήριο ή βεβαιώνεται ότι δεν έχει πραγματοποιηθεί καμιά μεταβολή.
Η Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας νομιμοποιείται να διακόψει τη

λειτουργία ενός εργαστηρίου ή να επαναφέρει σε ισχύ την άδεια λειτουργίας.
|356|
8.4.3 Συγκρότηση και λειτουργία εργαστηρίων
Το προσωπικό που απαιτείται για τη στελέχωση των εργαστηρίων

ακτινογραφήσεων περιλαμβάνει:
 τον υπεύθυνο ακτινοπροστασίας
 τον υπεύθυνο ασφαλείας της πηγής για όλες τις κατηγορίες Ρ-1, Ρ-2, Ρ-3 ενώ για
την κατηγορία Ρ-4 ο ως άνω υπεύθυνος ορίζεται μόνο στην περίπτωση χρήσης
μόνιμης εγκατάστασης ακτινογράφησης
 ακτινογράφο/ους με τεκμηριωμένη εκπαίδευση για την εκτέλεση της εργασίας
του/τους
 βοηθό/ους ακτινογράφου και μαθητευόμενους.
Οι ακτινογραφήσεις πρέπει να πραγματοποιούνται αποκλειστικά από συνεργείο
ακτινογραφήσεων. Ως συνεργείο ακτινογραφήσεων, νοείται ομάδα από δύο - τουλάχιστον -
άτομα, εκ των οποίων ο ένας τουλάχιστον είναι ακτινογράφος.
Για τις κατηγορίες Ρ-1, Ρ-2, Ρ-4, απαιτείται η στελέχωση του εργαστηρίου με ένα
(1) τουλάχιστον συνεργείο ακτινογραφήσεων. Για την κατηγορία Ρ-3, απαιτείται η
στελέχωση του εργαστηρίου με δύο (2) τουλάχιστον συνεργεία ακτινογραφήσεων.
Ο εργοδότης υποχρεώνεται να αναφέρει αμέσως στην Ελληνική Επιτροπή Ατομικής
Ενέργειας κάθε μεταβολή στο προσωπικό, στις εγκαταστάσεις και στον εξοπλισμό του
εργαστηρίου, καθώς και οποιοδήποτε ατύχημα ή συμβάν.
Σε περιπτώσεις που καθίσταται ανέφικτη η παρουσία του υπεύθυνου
ακτινοπροστασίας ή του υπευθύνου ασφάλειας πηγής, λόγω ταυτόχρονης απασχόλησής
τους σε διαφορετικές περιοχές απασχόλησης συνεργείων ακτινογράφησης του ίδιου
εργαστηρίου, ο υπεύθυνος ασφάλειας της πηγής μπορεί να αναθέτει την ευθύνη για την
ασφάλεια της πηγής στο ακτινογράφο του συνεργείου.
Σημειώνεται ότι ο υπεύθυνος ακτινοπροστασίας ή ο υπεύθυνος ασφάλειας πηγής
εκπαιδεύει το προσωπικό, σύμφωνα με εγκεκριμένο εκπαιδευτικό πρόγραμμα για θέματα
ακτινοπροστασίας από την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας. Μετά το πέρας της
εκπαίδευσης του προσληφθέντος, ο υπεύθυνος ακτινοπροστασίας ή ο υπεύθυνος ασφάλειας
της πηγής, ενημερώνει εγγράφως την Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας, η οποία
κατά την κρίση της ελέγχει και με εξετάσεις την επάρκεια των γνώσεων του
εκπαιδευθέντος και παρέχει τη σχετική έγκριση.
Ειδικότερα και αναφορικά με τις εγκαταστάσεις και τον εξοπλισμό των
εργαστηρίων Ρ-2 και Ρ-3, η κρύπτη φυλάξεως πηγών πρέπει να είναι χώρος ισόγειος ή
υπόγειος, αυτοτελούς απομονωμένου οικήματος και ελάχιστης επιφάνειας 15m2. Πρέπει να
ασφαλίζεται με ειδική αντικλεπτική κλειδαριά και να είναι πυρασφαλής. Η κρύπτη πρέπει
να απέχει 30m από κατοικημένο χώρο και να φέρει σύστημα συναγερμού
ενεργοποιούμενου σε περίπτωση διάρρηξης. Το σύστημα συναγερμού πρέπει να συνδέεται
με το τοπικό Αστυνομικό Τμήμα.
Ο υπόλοιπος εξοπλισμός πρέπει να περιλαμβάνει ατομικά δοσίμετρα και δοσίμετρα
άμεσης ανάγνωσης με κλίμακα ανάγνωσης 0 - 2mSv, καθώς και φορητό βομβητή
ενεργοποιούμενο από πεδίο ακτινοβολίας ορισμένης έντασης. Για συλλογική χρήση κατά
τη λειτουργία του εργαστηρίου απαιτούνται φορητοί ανιχνευτές - τουλάχιστον 2 - τύπου
Geiger-Mueller ή θαλάμου ιοντισμού και με δυνατότητα προσδιορισμού ρυθμού έκθεσης
0 - 0,02mSv/hr και 0 - 10mSv/hr, φωτεινό-ηχητικό σηματοδότη πεδίου ακτινοβολίας, υλικά
περίφραξης και πινακίδες σήμανσης ελεγχόμενης περιοχής διαστάσεων 21,5•29cm2, με το
σήμα της ραδιενέργειας και χρωματισμό κατά τα διεθνή πρότυπα. Πάνω στην πινακίδα
πρέπει να αναγράφεται με μαύρο χρώμα «ΠΡΟΣΟΧΗ ΡΑΔΙΕΝΕΡΓΕΙΑ» ή «ΠΡΟΣΟΧΗ
ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑ» κατά περίπτωση. Επιπρόσθετα, πρέπει να υπάρχουν πινακίδες
διαστάσεων 10•10cm2 με το σήμα της ραδιενέργειας και χρωματισμό κατά τα διεθνή
|357|
πρότυπα, πινακίδες με οδηγίες άμεσων ενεργειών για περιπτώσεις ατυχημάτων, μολύβδινα
σκάγια και μολυβδόφυλλα για πρόχειρη θωράκιση της πηγής, σφυρίχτρες για
προειδοποίηση ατόμων που προσεγγίζουν το χώρο ακτινογραφήσεων και τέλος αυτοκίνητο
κλειστό ημιφορτηγό με αντικλεπτικό σύστημα.
Τα τηρούμενα αρχεία ενός εργαστηρίου ακτινογραφήσεων πρέπει να είναι τα
ακόλουθα:
 αρχεία ατομικής δοσιμέτρησης προσωπικού
 αρχεία πραγματοποιηθεισών ακτινογραφήσεων
 αρχεία μεταφοράς πηγών ραδιοϊσοτόπων
 αρχεία φόρτισης συσκευών ακτινογράφησης
 αρχεία βαθμονόμησης πεδίου ακτινοβολίας
 αρχεία ελέγχου συστημάτων ασφάλειας
 αρχεία εκπαίδευσης προσωπικού.
8.4.4 Ιατρική επίβλεψη προσωπικού
Το προσωπικό των εργαστηρίων βιομηχανικής ακτινογράφησης ανήκει στην

κατηγορία Α των εκτιθέμενων εργαζομένων. Ως εκ τούτου, η ατομική δοσιμέτρηση είναι
υποχρεωτική καθώς επίσης και η ιατρική εξέταση πριν την πρόσληψη αλλά και η
περιοδική επίβλεψη της υγείας.
Η ιατρική εξέταση πριν από την πρόσληψη, έχει ως σκοπό να διαπιστωθεί, εάν ο εν
λόγω εργαζόμενος είναι ικανός να απασχολείται ως εργαζόμενος της κατηγορίας Α στη
θέση στην οποία πρόκειται να τοποθετηθεί. Περιλαμβάνει: ιστορικό, στο οποίο
αναφέρονται και όλες οι προηγούμενες γνωστές εκθέσεις σε ιοντίζουσα ακτινοβολία που
είναι αποτέλεσμα είτε των μέχρι τότε ενασχολήσεων του εργαζόμενου, είτε γνωστών
ιατρικών εξετάσεων και θεραπειών, καθώς και: α) πλήρη κλινική εξέταση β)
εργαστηριακές εξετάσεις δηλαδή γενική εξέταση ούρων, γενική εξέταση αίματος
(αιματοκρίτη, αιμοσφαιρίνη, αριθμό λευκών και ερυθρών αιμοπεταλίων, λευκοκυτταρικό
τύπο και δικτυοερυθροκύτταρα), ακτινογραφία θώρακος γ) ειδικές κλινικές εξετάσεις
(οφθαλμολογική εξέταση που να περιλαμβάνει ειδικότερα και την εξέταση του φακού του
οφθαλμού και ψυχιατρική εξέταση). Εάν προκύψουν παθολογικά ευρήματα από τις
παραπάνω εξετάσεις, πρέπει να γίνεται πλήρης κλινικοεργαστηριακός έλεγχος για τη
διερεύνηση του παθολογικού ευρήματος. Ο εξουσιοδοτημένος ιατρός πρέπει να λαμβάνει
υπόψη ενδεχόμενη γενετική επιβάρυνση όπως για παράδειγμα η μελαγχρωματική
ξηροδερμία.
Η περιοδική επίβλεψη της υγείας των εργαζομένων πρέπει να αποτελεί αντικείμενο
τακτικών εξετάσεων, για να διαπιστώνεται, αν αυτοί συνεχίζουν να είναι ικανοί για την
άσκηση των καθηκόντων τους. Οι εξετάσεις αυτές εξαρτώνται από το είδος και την έκταση
της έκθεσης σε ιοντίζουσες ακτινοβολίες και από την κατάσταση της υγείας του
εργαζομένου. Οι περιοδικές εξετάσεις γίνονται κατά προτίμηση το πρώτο τρίμηνο κάθε
ημερολογιακού έτους, εκτός εάν οι υπηρεσιακές ανάγκες ορίζουν άλλη χρονική κατανομή.
Οι εξετάσεις αυτές περιλαμβάνουν πλήρη κλινική εξέταση, γενική εξέταση ούρων, γενική
εξέταση αίματος (αιματοκρίτη, αιμοσφαιρίνη, αριθμό λευκών και ερυθρών, αιμοπεταλίων,
λευκοκυτταρικό τύπο και δικτυοερυθροκύτταρα), οφθαλμολογική εξέταση που πρέπει να
περιλαμβάνει και την εξέταση του φακού του οφθαλμού. Σε περίπτωση παθολογικού
ευρήματος πρέπει να γίνεται πλήρης κλινικός εργαστηριακός έλεγχος.
Η κατάσταση της υγείας κάθε εργαζόμενου της κατηγορίας Α ελέγχεται
τουλάχιστον μία φορά το χρόνο, προκειμένου να καθοριστεί εάν παραμένει ικανός να
εκτελέσει τα καθήκοντά του. Η φύση των εν λόγω ελέγχων, οι οποίοι μπορούν να
διενεργηθούν όσες φορές κρίνει αναγκαίο ο εξουσιοδοτημένος ιατρός, εξαρτάται από τον
τύπο της εργασίας και από την κατάσταση υγείας του συγκεκριμένου εργαζομένου.
|358|
Ο εξουσιοδοτημένος ιατρός ή οι εξουσιοδοτημένες υγειονομικές υπηρεσίες
εργασίας μπορεί να υποδείξουν την ανάγκη ιατρικής επίβλεψης και μετά την παύση της
εργασίας για όσο διάστημα κρίνουν αναγκαίο ώστε, να διαφυλαχθεί η υγεία του
ενδιαφερόμενου ατόμου.
8.4.5 Απαιτήσεις της Ελληνικής Επιτροπής Ατομικής Ενέργειας
Ο εργοδότης υποχρεούται να υποβάλλει εκθέσεις στην Ελληνική Επιτροπή

Ατομικής Ενέργειας στις παρακάτω περιπτώσεις:
 Ατυχήματος: η έκθεση συντάσσεται από τον υπεύθυνο ακτινοπροστασίας ή τον
υπεύθυνο ασφάλειας της πηγής και περιλαμβάνει λεπτομερώς τις συνθήκες και τα
αίτια που προκάλεσαν το ατύχημα καθώς και τα ληφθέντα μέτρα ακτινοπροστασίας.
Η έκθεση υποβάλλεται αμέσως στην Ελληνική Επιτροπής Ατομικής Ενέργειας.
 Ανάληψης έργου διάρκειας μεγαλύτερης του μηνός: η έκθεση υποβάλλεται δύο
εβδομάδες πριν από την έναρξη του έργου και αναφέρει λεπτομέρειες για τις
συνθήκες ακτινογράφησης και τους χώρους ακτινογραφήσεων (το βαθμό
καταλήψεως των γειτονικών χώρων, το ωράριο ακτινογραφήσεων και την ακριβή
τοποθεσία των περιοχών εκτέλεσης ακτινογραφήσεων κατά την πρόοδο των
εργασιών).
 Ακτινογραφήσεων σε κατοικημένους χώρους: Η έκθεση υποβάλλεται δύο
εβδομάδες πριν την έναρξη και αμέσως μετά το πέρας των ακτινογραφήσεων. Για
τις ακτινογραφήσεις αυτές απαιτείται γραπτή έγκριση της Ελληνική Επιτροπής
Ατομικής Ενέργειας.
Η Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας προβαίνει σε περιοδικούς και έκτακτους
ελέγχους στα εργαστήρια και στους τόπους ακτινογραφήσεων, προκειμένου να
διαπιστώσει την καταλληλότητα των εγκαταστάσεων, των μηχανημάτων και των
συνθηκών λειτουργίας από άποψη ακτινοπροστασίας.
Ο εργοδότης είναι υποχρεωμένος να παρέχει στον ελεγκτή της Ελληνικής
Επιτροπής Ατομικής Ενέργειας οποιαδήποτε διευκόλυνση για τη διενέργεια του ελέγχου,
καθώς και τα αιτούμενα στοιχεία που σχετίζονται με την εφαρμογή των μέτρων
ακτινοπροστασίας κατά τη λειτουργία του εργαστηρίου.
Η ΕΕΑΕ κρίνει κατά περίπτωση και για όλες τις κατηγορίες των εργαστηρίων την
επάρκεια των προσόντων του υπεύθυνου ακτινοπροστασίας ή του υπεύθυνου ασφάλειας
της πηγής.
|359|
9. ΕΠΙΤΟΠΙΕΣ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΗΣΕΙΣ
9.1 Ελεγχόμενες περιοχές
Οι επιτόπιες ακτινογραφίες πρέπει να πραγματοποιούνται σε περιοχές με ειδικά

μέτρα ασφαλείας. Η ελεγχόμενη περιοχή, η οποία είναι σχεδιασμένη έτσι ώστε μέσα σε
αυτήν να πραγματοποιηθεί η ακτινογραφία πρέπει να οριστεί κατά τέτοιον τρόπο που να
μην γίνονται υπερβάσεις των επιτρεπόμενων δόσεων στο κοινό. Το τυπικό εύρος του
ρυθμού δόσης είναι 2,5 - 25mSv/hr.
Η οριοθέτηση των ελεγχόμενων περιοχών μπορεί να γίνει: α) με πινακίδες οι οποίες
έχουν το σήμα της ραδιενέργειας β) με διάφορα εμπόδια, όπως οι μπάρες, τα σκοινιά ή
ακόμα και τοιχώματα γ) με διάφορα συστήματα προειδοποίησης (επιτήρηση μέσω
οπτικοακουστικών μέσων).
Η περιφρούρηση της ελεγχόμενης περιοχής αποτελεί σημαντικό στοιχείο. Η είσοδος
επιτρέπεται μόνο στο εξουσιοδοτημένο προσωπικό. Το σημείο ελέγχου έναρξης-παύσης
της ακτινογράφησης βρίσκεται εκτός της ελεγχόμενης περιοχής.
Σε ότι αφορά στη θωράκιση, είναι γνωστό ότι η κατάλληλη θωράκιση μειώνει το
εύρος της ελεγχόμενης περιοχής καθώς και τη δόση που εισπράττουν οι ακτινογράφοι.
Χρησιμοποιούνται λοιπόν φύλλα, σκάγια ή και τούβλα μολύβδου. Επίσης
χρησιμοποιούνται οι διαθέσιμες θωρακίσεις όπως, τοίχοι, οχήματα ή παρεμφερή
αντικείμενα καθώς και κατευθυντήρες από απεμπλουτισμένο ουράνιο, βολφράμιο ή
μόλυβδο.
9.2 Ασφάλεια κατά την επιτόπια ακτινογραφία
Η ασφάλεια αποτελεί πρώτιστη προϋπόθεση κατά τη διάρκεια των επιτόπιων

ακτινογραφήσεων. Επιτυγχάνεται μέσω της χρήσης προσωπικών δοσιμέτρων
θερμοφωταύγειας ή με φιλμ άμεσης ανάγνωσης και με προκαθορισμένο επίπεδο
συναγερμού (beeper). Ένα δοσίμετρο είναι αυστηρά προσωπικό ενώ κατά τη διάρκεια των
ακτινογραφήσεων πρέπει να ελέγχεται. Τα δοσίμετρα θερμοφωταύγειας είναι ατομικά και
πραγματοποιούν μηνιαία καταγραφή δόσεων. Τα δοσίμετρα άμεσης ανάγνωσης παρέχουν
ένδειξη της έκθεσης σε πραγματικό χρόνο. Ο ακτινογράφος πρέπει να το ελέγχει περιοδικά.
Στα προσωπικά δοσίμετρα οι μετρητές ρυθμού δόσης παρέχουν στιγμιαίο και ευδιάκριτο
σήμα προειδοποίησης σε πεδίο υψηλής ακτινοβολίας.
Σε ότι αφορά στους φορητούς ανιχνευτές χώρου: για κάθε ομάδα εργασίας πρέπει
να είναι διαθέσιμος ένας τουλάχιστον φορητός ανιχνευτής χώρου. Πρέπει να είναι
κατάλληλοι, τόσο για τη μέτρηση της ενέργειας όσο και του τύπου της ακτινοβολίας καθώς
και ανθεκτικοί στις καιρικές συνθήκες. Πρέπει να βαθμονομούνται περιοδικά και να έχουν
φωτισμό για συνθήκες χαμηλού εξωτερικού φωτός. Τα όργανα χειρός μερικές φορές είναι
ογκώδη και συνήθως διαθέτουν διάφορες κλίμακες για να καλυφθεί το απαραίτητο εύρος.
Ο χειριστής πρέπει να ελέγχει το μετρητή ακτινοβολίας, καθώς η πηγή εκτίθεται
από τη συσκευή: το επίπεδο ακτινοβολίας μπορεί να αυξηθεί απότομα αφού η πηγή από τη
θέση θωράκισης μεταφέρεται σε θέση έκθεσης. Ο χειριστής πρέπει επίσης να ελέγχει το
μετρητή ακτινοβολίας κατά την απόσυρση. Το επίπεδο ακτινοβολίας μπορεί να αυξηθεί
απότομα καθώς η πηγή επιστρέφει στη συσκευή και στη συνέχεια να μειωθεί απότομα στα
επίπεδα του υπόβαθρου καθώς η πηγή εισέρχεται στη θωράκιση. Εάν τα επίπεδα
ακτινοβολίας δε μειωθούν στο υπόβαθρο, αυτό δείχνει πιθανό πρόβλημα. Ο χειριστής
πρέπει να καθορίσει γιατί τα επίπεδα ακτινοβολίας δε μειώθηκαν, για παράδειγμα
ενδέχεται η πηγή να είναι κολλημένη στον οδηγό- σωλήνα. Εάν η πηγή δεν επιστρέψει στη
|360|
θωρακισμένη θέση, η κατάσταση πρέπει να αντιμετωπιστεί ως ατύχημα οπότε πρέπει να
ακολουθηθούν οι κατάλληλες διαδικασίες.
Είναι σημαντικός ο έλεγχος για την επιστροφή της πηγής στη θέση θωράκισης.
Ειδικότερα, εάν χρησιμοποιούνται ακτίνες Χ, πρέπει να πραγματοποιείται έλεγχος
προκειμένου να βεβαιώνεται ότι η εκπομπή της ακτινοβολίας έχει τερματιστεί.
Έλεγχος της ακτινοβολίας πρέπει να διενεργείται μετά από κάθε έκθεση
προκειμένου να εξασφαλίζεται ότι η πηγή έχει επιστρέψει στην θωρακισμένη θέση ή ότι η
εκπομπή ακτινοβολίας έχει τερματιστεί. Επιπροσθέτως, έλεγχοι πρέπει να εκτελούνται και
μετά την αποθήκευση της συσκευής.
Πρόσθετες προφυλάξεις από την γ-ακτινοβολία

 Ο κατάλληλος εξοπλισμός.
 Η επιθεώρηση του εξοπλισμού πριν από κάθε χρήση.
 Η περιοδική συντήρηση και το καταρτισμένο προσωπικό.
 Ο καθημερινός έλεγχος του οδηγού σωλήνα και του καλωδίου κίνησης.
 Ο καθημερινός έλεγχος του συνδέσμου της πηγής.
 Η πραγματοποίηση ετήσιας συντήρησης.
Εικόνα 9.1: Ο καθημερινός έλεγχος του οδηγού σωλήνα, του καλωδίου κίνησης και του
συνδέσμου της πηγής αποτελούν βασικά σημεία της ακτινοπροστασίας
Πρόσθετες προφυλάξεις για την ακτινοβολία Χ

 Πρέπει να εξασφαλίζεται η μη τυχαία μετακίνηση όλου του εξοπλισμού.
 Πρέπει να πραγματοποιείται έλεγχος στα καλώδια για την στεγανότητα τους και στο
χειριστήριο ότι λειτουργεί σωστά και ότι οι φωτεινές ενδείξεις λειτουργούν όταν η
λυχνία είναι ανοικτή.
 Πρέπει να διενεργείται έλεγχος του χρονομέτρου ώστε να εξασφαλίζεται ο
τερματισμός της έκθεσης.
|361|
10. ΑΠΟΘΗΚΕΥΣΗ ΚΑΙ ΜΕΤΑΦΟΡΑ ΠΗΓΩΝ
10.1 Αποθήκευση πηγών
Όταν μια πηγή δε χρησιμοποιείται ούτε μεταφέρεται, πρέπει να φυλάσσεται. Η

κατάλληλη αποθήκευση της πρέπει να εξασφαλίζει την προστασία της από τις καιρικές
συνθήκες και το περιβάλλον (π.χ. διαβρωτικούς παράγοντες), την αντοχή της σε περίπτωση
πυρκαγιάς, τη θωράκιση της, τον εξαερισμό και την ασφάλεια της. Η αποθήκευση των
πηγών ελαχιστοποιεί την πιθανότητα κλοπής αλλά και φυσικής φθοράς τους. Με άλλα
λόγια, κατά την αποθήκευση, οι πηγές πρέπει να είναι επαρκώς θωρακισμένες και
απομονωμένες από άλλα επικίνδυνα υλικά, ενώ πρέπει η πρόσβαση σε αυτές να είναι
ελεγχόμενη και τα κλειδιά να φυλάσσονται από εξουσιοδοτημένα άτομα τα οποία
καταγράφουν όλες τις μετακινήσεις των πηγών. Η αποθήκη πρέπει να έχει εξωτερικές
πινακίδες και ανακοινώσεις. Πρέπει να φέρει το διεθνές σήμα της ιοντίζουσας
ακτινοβολίας (BS 3510 / 68) και τη λέξη «ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑ» (Radiation).
Τα κοντέινερ αποθήκευσης μπορεί να είναι μικρά δοχεία μολύβδου ενώ ετικέτες
πρέπει να αναγράφουν εξωτερικά το ραδιενεργό υλικό που περιέχουν. Ειδικότερα, οι
κρύπτες φύλαξης ραδιενεργών πηγών προσφέρουν προστασία από τις περιβαλλοντικές
συνθήκες, επαρκή θωράκιση, αντοχή στη φωτιά και μέγιστη ασφάλεια. Κατά την
αποθήκευση των πηγών πρέπει να τηρούνται αρχεία με τη θέση και την περιγραφή των
πηγών (π.χ. ραδιοϊσότοπα και ενεργότητα), καθώς και λεπτομέρειες διάθεσης (disposal).
Τα αρχεία πρέπει να ενημερώνονται τακτικά.
Πριν την αγορά μιας πηγής πρέπει να υπογράφεται συμβόλαιο με την
κατασκευαστική εταιρεία για τη διαδικασία απόσυρσης της. Σημειώνεται ότι οι
εξασθενημένες πηγές είναι ακόμη ραδιενεργές, ως εκ τούτου η διαδικασία απόσυρσης τους
απαιτεί μεγάλη προσοχή.
10.2 Μεταφορά πηγών
Μεταφορά ονομάζεται η διαδικασία κατά την οποία πραγματοποιείται η ασφαλής

προετοιμασία, συσκευασία και μεταφορά ραδιενεργών υλικών, ώστε να ελαχιστοποιηθούν
οι κίνδυνοι από τις ιοντίζουσες ακτινοβολίες (βλέπε σχετικά «Κανονισμοί για την Ασφαλή
μεταφορά ραδιενεργών υλικών» του Διεθνούς Οργανισμού Ατομικής Ενέργειας ΔΟΑΕ,
Safety Series No 6, Vienna 1996, 1985, 1986 και 1988, Νο 37 1987 και Νο. 87 1988 και
στην Οδηγία 1493/93 Εuratom της Ε.Ε βάσει της οποίας εκδόθηκε το ΠΔ 22/97). Ως
αποστολή χαρακτηρίζεται κάθε δέμα ή δέματα ή φορτίο ραδιενεργών υλικών που
παρουσιάζεται για μεταφορά από τον αποστολέα. Ως αποστολέας χαρακτηρίζεται το
φυσικό ή νομικό πρόσωπο ή η κρατική υπηρεσία που ετοιμάζει μια αποστολή για
μεταφορά και ορίζεται ως αποστολέας στα φορτωτικά έγγραφα. Η μεταφορά περιλαμβάνει
οδική, σιδηροδρομική, θαλάσσια ή αεροπορική μετακίνηση.
Η μεταφερόμενη συσκευασία μπορεί να είναι κιβώτιο, βαρέλι ή ανάλογος
υποδοχέας. Κατά τη διάρκεια της μεταφοράς τα κοντέινερ πρέπει να είναι κλειδωμένα, ενώ
θα πρέπει να υπάρχει και ένας ανιχνευτής ακτινοβολίας ανοικτός σε περίπτωση διαρροής.
Ο κάθε μεταφορέας ακολουθεί ένα κατάλληλα σχεδιασμένο πρόγραμμα μεταφοράς το
οποίο ανασχεδιάζεται όταν απαιτείται ενώ αναθεωρείται κάθε τρία χρόνια.
|362|
10.2.1 Τύποι δεμάτων μεταφοράς
Τα ραδιενεργά υλικά για να μεταφερθούν συσκευάζονται σε δέματα τα οποία

φέρουν την κατάλληλη σήμανση. Η ποσότητα (ενεργότητα) των ραδιενεργών υλικών και η
μορφή τους καθορίζουν τον τύπο δέματος που θα χρησιμοποιηθεί για τη συσκευασία και τη
μεταφορά τους (στην Ελλάδα ο όρος μεταφορά ραδιενεργών υλικών αφορά στη
συντριπτική πλειονότητα τη μεταφορά ραδιοφαρμάκων).
Εικόνα 10.1: Απεικονιστική εξήγηση του όρου «κόλο»
Η συσκευασία και το ραδιενεργό περιεχόμενο της το οποίο είναι έτοιμο προς

αποστολή ονομάζεται κόλο. Οι τύποι δεμάτων σύμφωνα με τους διεθνείς κανονισμούς
ασφαλούς μεταφοράς ραδιενεργών υλικών είναι:
Α) Εξαιρούμενο δέμα: χρησιμοποιείται για τη μεταφορά μικρών ποσοτήτων
ραδιενεργών υλικών. Η θωράκιση του είναι στοιχειώδης, ο ρυθμός δόσης της ακτινοβολίας
στην εξωτερική επιφάνεια είναι μηδενικός και δεν υπάρχει εξωτερική σήμανση.
Απαραίτητη κρίνεται η ύπαρξη επιγραφής με την ένδειξη «ΡΑΔΙΕΝΕΡΓΟ» σε εσωτερική
επιφάνεια του δέματος. Για τη μεταφορά των εξαιρουμένων δεμάτων πρέπει το επίπεδο
ακτινοβολίας σε οποιοδήποτε σημείο της εξωτερικής επιφάνειας της συσκευασίας να μην
υπερβαίνει τα 5μSv/h. Σε περίπτωση καταστροφής του δέματος, ο ραδιολογικός κίνδυνος
είναι ελάχιστος, σχεδόν μηδενικός και δεν απαιτείται η λήψη ειδικών μέτρων.
Εικόνα 10.2: Τα ραδιοφάρμακα μεταφέρονται και ως εξαιρούμενα δέματα
Β) Δέμα τύπου Α: χρησιμοποιείται για τη μεταφορά ποσοτήτων ραδιενεργών

υλικών μεγαλύτερων από αυτών που μεταφέρονται ως εξαιρούμενα δέματα. Το περίβλημα
τους είναι χάρτινο, πλαστικό ή μεταλλικό. Η θωράκιση τους γίνεται με μόλυβδο, ενώ
αντέχουν στις ομαλές συνθήκες μεταφοράς. Σε περίπτωση ατυχήματος, όπως για
παράδειγμα η καταστροφή του εσωτερικού αεροστεγούς περιβλήματος, ο ραδιολογικός
κίνδυνος περιορίζεται στην περιοχή του δέματος και απαιτείται η λήψη προστατευτικών
μέτρων (π.χ. αποκλεισμός της περιοχής γύρω από το δέμα και απορρύπανση).
|363|
Εικόνα 10.3: Δέματα τύπου Α
Γ) Δέμα τύπου B: μέσω αυτού του τύπου δέματος μεταφέρονται μεγάλες ποσότητες
ραδιενεργού υλικού όπως Co 60 ενεργότητας 250TBq. Μπορεί να είναι μεταλλικά βαρέλια
ή τεράστια κοντέινερς με βαριά θωράκιση. Ενέχουν ραδιολογικό κίνδυνο σε αεροπορικό
ατύχημα και γι’ αυτό απαιτείται η εφαρμογή ειδικών προστατευτικών ενεργειών.
Εικόνα 10.4: Κοντέινερς που ανήκουν στα δέματα τύπου Β
Δ) Δέμα τύπου C: χρησιμοποιείται για την μεταφορά πολύ μεγάλων ποσοτήτων

ραδιενεργού υλικού. Η θωράκιση τους αντέχει σε συνθήκες ατυχήματος ακόμα και
αεροπορικού.
Σημειώνεται ότι οι κενές συσκευασίες που περιείχαν ραδιενεργά υλικά μπορούν να
μεταφερθούν ως εξαιρούμενα δέματα με την προϋπόθεση ότι βρίσκονται σε καλή
κατάσταση και είναι κλεισμένες ασφαλώς. Όλες οι προειδοποιητικές σημάνσεις από
προηγούμενη μεταφορά αφαιρούνται ή καλύπτονται.
10.2.2 Κατηγοριοποίηση και σήμανση δεμάτων
Κάθε δέμα πρέπει να φέρει ετικέτες ανάλογα με την κατηγορία στην οποία ανήκει
με σκοπό την αναγνώριση των δεμάτων που περιέχουν ραδιενεργά υλικά και του
περιεχομένου τους σε περίπτωση ατυχήματος ή καταστροφής, την παροχή οδηγιών
χειρισμού και αποθήκευσης τους, καθώς και ελέγχου της ακτινοβόλησης των μεταφορέων.
Τα δέματα, εκτός των εξαιρούμενων, κατατάσσονται σε τέσσερις κατηγορίες: Ι-
Λευκό, ΙΙ-Κίτρινο, ΙΙΙ-Κίτρινο και ΙΙΙ-Κίτρινο με αποκλειστική χρήση, με βάση το Δείκτη
Μεταφοράς (Transport Index-TI) και το μέγιστο ρυθμό δόσης σε οποιοδήποτε σημείο στην
επιφάνεια του δέματος. Ο δείκτης μεταφοράς είναι ο μοναδικός αριθμός που δίνεται σε ένα
δέμα, υπερδέμα ή εμπορευματοκιβώτιο ο οποίος χρησιμοποιείται για να ελέγχεται η
|364|
έκθεση σε ακτινοβολία. Όταν ο δείκτης μεταφοράς ικανοποιεί μια κατηγορία και ο
μέγιστος ρυθμός δόσης μια άλλη, στο δέμα δίνεται η μεγαλύτερη κατηγορία δείκτη
μεταφοράς (Transport Index-TI).
Ο δείκτης μεταφοράς δίνεται από την σχέση ΔΜ = μέγιστος ρυθμός δόσης στο 1,0m
(μSv/h)/10 ή ΔΜ = μέγιστος ρυθμός δόσης στο 1,0m (mSv/h)•100. Η τιμή αυτή
στρογγυλοποιείται στο πρώτο δεκαδικό ψηφίο, εκτός αν είναι μικρότερο του 0,05 οπότε
θεωρείται μηδέν.
Πίνακας 10.1: Κατηγορίες δεμάτων με βάση το δείκτη μεταφοράς και το μέγιστο ρυθμό
δόσης στην επιφάνεια
Μέγιστος ρυθμός
Δείκτης
δόσης στην Κατηγορία Σήμανση
μεταφοράς
επιφάνεια
0 Έως 5μSv/h Ι - Λευκό
>5μSv/h έως
>0 έως 1 II - Κίτρινο
0,5mSv/h
>0,5mSv/h έως
>1 έως 10 ΙΙΙ - Κίτρινο
2mSv/h
ΙΙΙ-Κίτρινο* (Πρέπει
να μεταφέρεται υπό
>2mSv/h έως
>10 καθεστώς
10mSv/h
αποκλειστικής
χρήσης).
Πρέπει να τονιστεί ότι ο ρυθμός δόσης στην επιφάνεια δεν πρέπει να ξεπερνά ποτέ
τα 10mSv/h για οποιαδήποτε μεταφορά ακόμα και αν μεταφέρονται δέματα υπό συνθήκες
αποκλειστικής χρήσης.
Σε μεταφορές με αποκλειστική χρήση ο ρυθμός δόσης δεν πρέπει να υπερβαίνει τα
2mSv/h σε οποιοδήποτε σημείο της εξωτερικής επιφάνειας του οχήματος,
συμπεριλαμβανομένης της άνω και κάτω επιφανείας ή στην περίπτωση ανοικτού οχήματος,
σε οποιοδήποτε σημείο των κατακόρυφων επιπέδων στα άκρα του οχήματος, στην άνω
επιφάνεια του φορτίου και στην κάτω εξωτερική επιφάνεια του οχήματος και τα 0,1mSv/h
σε οποιοδήποτε σημείο 2m από τις εξωτερικές πλευρικές επιφάνειες του οχήματος ή από τα
αντίστοιχα κατακόρυφα επίπεδα στην περίπτωση μεταφοράς με ανοικτά οχήματα.
|365|
Σύμφωνα με την κείμενη διεθνή και εθνική νομοθεσία δεν επιτρέπεται η μεταφορά
δεμάτων με επιβατικό αεροπλάνο αν το άθροισμα των δεικτών μεταφοράς του συνόλου
των δεμάτων ξεπερνά το 50. Κάθε ετικέτα πρέπει να αναφέρει το περιεχόμενο του δέματος
(ραδιονουκλεΐδιο, κ.ά.), την ενεργότητα και το δείκτη μεταφοράς.
10.2.3 Έκδοση άδειας μεταφοράς ραδιενεργού πηγής για βιομηχανική χρήση
Για την έκδοση μεμονωμένης άδειας για τη μεταφορά μιας ραδιενεργού πηγής για
βιομηχανική χρήση, απαιτείται σχετική αίτηση του ενδιαφερόμενου, ο ορισμός του
υπευθύνου μεταφοράς, η ημερομηνία μεταφοράς, ο καθορισμός της διαδρομής, του τύπου
και αριθμού κυκλοφορίας του οχήματος μεταφοράς, καθώς και στοιχεία του οδηγού και
των επιβαινόντων.
|366|
11. KΑΤΑΣΤΑΣΕΙΣ ΕΚΤΑΚΤΗΣ ΑΝΑΓΚΗΣ ΑΠΟ ΡΑΔΙΟΛΟΓΙΚΑ
ΑΤΥΧΗΜΑΤΑ
Η Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας σύμφωνα με το θεσμικό πλαίσιο

λειτουργίας της είναι ο αρμόδιος φορέας για την πρόληψη και αντιμετώπιση καταστάσεων
έκτακτης ανάγκης με εμπλοκή ραδιενεργού υλικού.
11.1 Καταστάσεις έκτακτης ανάγκης
Οι καταστάσεις έκτακτης ανάγκης μπορεί να συμβούν με εμπλοκή είτε του

εξοπλισμού ακτινογραφήσεων γ ακτινοβολίας είτε του εξοπλισμού ακτινογραφήσεων
ακτίνων Χ. Αναφορικά με τις καταστάσεις έκτακτης ανάγκης που εμπλέκουν ακτινοβολία
γ, πρέπει να τονιστεί ότι υπάρχει μεγάλη πιθανότητα για σοβαρές βλάβες ή θάνατο. Η πιο
κοινή υπερέκθεση σε τέτοιου είδους ατύχημα είναι στα άκρα. Ο σχεδιασμός κατάλληλων
ενεργειών μπορεί να αποτρέψει τις σοβαρές βλάβες σε μια έκτακτη ανάγκη.
Καταστάσεις έκτακτης ανάγκης με εμπλοκή ακτίνων γ μπορεί να συμβούν όταν:
 υπάρξει αποτυχία στην πλήρη απόσυρση της πηγής και στην επαλήθευση της θέσης
της
 υπάρξει βλάβη στον οδηγό σωλήνα με συνέπεια η πηγή να κολλήσει σε θέση
έκθεσης στον οδηγό σωλήνα
 υπάρξει αποσύνδεση της πηγής από το καλώδιο ελέγχου
 κλαπεί ή χαθεί η πηγή ή και η συσκευή
 υπάρξει δυσλειτουργία του συστήματος ασφαλείας
 υπάρξει ρύπανση λόγω διαρροής της πηγής.
Για τις καταστάσεις έκτακτης ανάγκης με εμπλοκή ακτίνων Χ, υπάρχει μεγαλύτερη

πιθανότητα για τοπική υπερέκθεση, ωστόσο είναι ευκολότερη η επαναφορά σε κατάσταση
ασφάλειας. Έτσι λοιπόν, καταστάσεις έκτακτης ανάγκης με εμπλοκή ακτίνων Χ μπορεί να
συμβούν:
 όταν υπάρξει βλάβη του αυτόματου χρονομέτρου
 τελείως τυχαία, με κατά λάθος ενεργοποίηση της συσκευής
 εάν αποτύχει ο τερματισμός της έκθεσης
 όταν υπάρχουν ελαττωματικά συστήματα ασφαλείας
 από φυσική ζημιά ή από φθορά της θωράκισης
 από διάφορες αιτίες πρόκλησης καταστάσεων έκτακτης ανάγκης όπως η πυρκαγιά ή
η ύπαρξη μη εξουσιοδοτημένων ατόμων μέσα στην ελεγχόμενη περιοχή.
11.2 Περιεχόμενο των σχεδίων έκτακτης ανάγκης
Ένα πλήρες σχέδιο έκτακτης ανάγκης πρέπει να περιλαμβάνει:

 Πληροφορίες για το πότε θα πρέπει να εφαρμόζεται.
 Την απαιτούμενη εκπαίδευση για τους εργαζόμενους, οι οποίοι θα κληθούν να
εφαρμόσουν τις διαδικασίες.
 Περιγραφή και πληροφορίες σχετικά με τη διαθεσιμότητα του εξοπλισμού για την
αντιμετώπιση καταστάσεων έκτακτης ανάγκης.
 Τεχνικά στοιχεία και δεδομένα που σχετίζονται με την προστασία από ακτινοβολίες.
 Τις διαδικασίες που πρέπει να ακολουθούνται στα διάφορα στάδια όπως:
(i) Το αρχικό στάδιο (ii) το στάδιο του σχεδιασμού, το οποίο περιλαμβάνει, τόσο το
σχεδιασμό όσο και τις δοκιμές του σταδίου αποκατάστασης (iii) το στάδιο
|367|
αποκατάστασης για την ανάκτηση του ελέγχου της κατάστασης (iv) το στάδιο μετά
την έκτακτη ανάγκη, ώστε να εξασφαλιστεί η επιστροφή στη φυσιολογική
κατάσταση (v) το στάδιο σύνταξης της αναφοράς, συμπεριλαμβανομένης και της
αξιολόγησης των δόσεων (vi) παραπομπή σε ιατρικούς εμπειρογνώμονες σε
περίπτωση υπερβολικής έκθεσης.
 Τον ορισμό των προσώπων που πρόκειται να εφαρμόσουν τα διάφορα στάδια του
σχεδίου.
 Τον ορισμό όλων των προσώπων και φορέων με τους οποίους πρέπει να γίνει
επικοινωνία κατά τα διάφορα στάδια του σχεδίου, καθώς και οι σχετικοί
τηλεφωνικοί αριθμοί, φαξ και ηλεκτρονικές διευθύνσεις.
11.3 Εξοπλισμός έκτακτης ανάγκης
Στη φάση του προγραμματισμού και της προετοιμασίας πραγματοποιείται

πρωτίστως αξιολόγηση των κινδύνων (risk assessment). Σημαντικό στοιχείο αποτελεί η
απόκτηση εξοπλισμού έκτακτης ανάγκης, η καταγραφή-αποτύπωση των διαδικασιών σε
περιπτώσεις έκτακτης ανάγκης καθώς και η εκπαίδευση για την αντιμετώπιση των
καταστάσεων έκτακτης ανάγκης.
Ο εξοπλισμός της έκτακτης ανάγκης αποτελείται από μετρητές και ανιχνευτές
ακτινοβολίας, προσωπικό προστατευτικό εξοπλισμό (στολές, ποδονάρια) και δοσίμετρα.
Επιπροσθέτως, στον εξοπλισμό έκτακτης ανάγκης περιλαμβάνονται λαβίδες χειρισμού, οι
οποίες δίνουν τη δυνατότητα διατήρησης απόστασης από τη ραδιενεργό πηγή και ένα
κιβώτιο εργαλείων το οποίο περιέχει εργαλεία για τη συντήρηση των συσκευών, καθώς και
για την αποκατάσταση της πηγής.
Εικόνα 11.1: Είδη εξοπλισμού έκτακτης ανάγκης
Τέλος, στον εξοπλισμό έκτακτης ανάγκης περιλαμβάνονται ένα θωρακισμένο

κοντέινερ, ένα κουτί πρώτων βοηθειών, επιγραφές και αυτοκόλλητα προειδοποίησης
ραδιενέργειας, καθώς επίσης διάφορα εμπόδια και σχοινιά. Τα υλικά θωρακίσεων όπως οι
σακούλες με σκάγια μολύβδου επιτρέπουν τη μείωση των δόσεων έτσι ώστε η
αποκατάσταση να γίνει με την ελάχιστη δόση. Βασικό στοιχείο είναι η ενημέρωση όλου
του προσωπικού για την ακριβή θέση του εξοπλισμού έκτακτης ανάγκης. Στον εξοπλισμό
έκτακτης ανάγκης περιλαμβάνεται εξοπλισμός επικοινωνίας (κινητά τηλέφωνα κ.λπ.),
καθώς και εγχειρίδια χρήσης του εξοπλισμού.
11.4 Διαδικασίες έκτακτης ανάγκης
Σε συνέχεια της απόκτησης του απαραίτητου εξοπλισμού, ο υπεύθυνος του

εργαστηρίου πρέπει να προετοιμάσει γραπτές οδηγίες προς όλους τους εμπλεκόμενους στο
σχέδιο έκτακτης ανάγκης.
Έτσι λοιπόν, στο παραπάνω πλαίσιο, το σχέδιο έκτακτης ανάγκης πρέπει:
 να προσδιορίζει τα αρμόδια πρόσωπα
 να είναι διαθέσιμο κάθε στιγμή στα αρμόδια πρόσωπα
 να περιέχει συνοπτικές και ξεκάθαρες οδηγίες
 να διευκρινίζει τις άμεσες ενέργειες που πρέπει να γίνουν.
|368|
11.4.1 Γενικές απαιτήσεις
Στις γενικές απαιτήσεις μιας έκτακτης ανάγκης εντάσσεται πρωταρχικώς η

αναγνώριση της ύπαρξης αυτής της ανώμαλης κατάστασης, η οποία μπορεί να προέλθει
από διάφορες αιτίες όπως ο ελαττωματικός ή ο ανεπαρκής εξοπλισμός ή ακόμα και από τις
πολλές ώρες εργασίας. Σημαντικός παράγοντας είναι η εκτέλεση κάθε ενδεδειγμένης
διαδικασίας διάσωσης, καθώς και η απομάκρυνση όλου του προσωπικού από την περιοχή.
Επιβάλλονται, η καταμέτρηση των ρυθμών δόσης και η επιβεβαίωση ότι η ελεγχόμενη
περιοχή έχει οριοθετηθεί.
Επιπροσθέτως, δύο από τις βασικές γενικές απαιτήσεις είναι η διατήρηση της
επιστασίας μέσα στην ελεγχόμενη περιοχή, καθώς και η ενημέρωση του υπευθύνου
ακτινοπροστασίας για την κατάσταση.
Εάν κριθεί απαραίτητο:
 προχωρά η εκκένωση της περιοχής
 αναζητείται τεχνική βοήθεια
 ειδοποιείται η ρυθμιστική αρχή
 προετοιμάζεται έκθεση του συμβάντος
 γίνεται υπολογισμός των δόσεων
 γίνεται επισκευή ή αντικατάσταση του εξοπλισμού.
11.4.2 Ανακοίνωση και έκθεση ατυχήματος
Τα ατυχήματα ανακοινώνονται με βάση την ένταση και τη σπουδαιότητα τους.

Πρέπει να αναφερθούν μέσα στα χρονικά όρια τα οποία καθορίζονται από την εθνική αρχή.
Η ρυθμιστική αρχή ανταποκρίνεται μόλις ειδοποιηθεί. Η έκθεση αποστέλλεται στη
ρυθμιστική αρχή. Η τελευταία μελετά την έκθεση του ατυχήματος για την καταλληλότητα
των διορθωτικών και προληπτικών ενεργειών καθώς και για την πιθανότητα να συμβεί
πάλι παρόμοιο περιστατικό.
Η ρυθμιστική αρχή αποκρίνεται:

 λαμβάνοντας υπόψη όλες τις σχετικές λεπτομέρειες
 αξιολογώντας την επίδραση που μπορεί να έχει το ατύχημα
 αξιολογώντας εάν απαιτείται εξωτερική βοήθεια π.χ. κάποιος καταρτισμένος
εμπειρογνώμονας ή κατασκευαστής
 καθορίζοντας εάν η ιατρική βοήθεια είναι απαραίτητη
 καθορίζοντας εάν είναι απαραίτητη μια πιο διεξοδική έρευνα.
Τα περιεχόμενα της έκθεσης ατυχήματος πρέπει να περιλαμβάνουν:

 την περιγραφή του συμβάντος με λεπτομέρειες για τον εμπλεκόμενο εξοπλισμό
(αριθμό μοντέλου, σειριακό αριθμό κ.λπ.)
 ενέργειες που έγιναν για να διορθώσουν ή να μετριάσουν τις συνέπειες
 ενέργειες που έγιναν για να αποτρέψουν μελλοντικά παρόμοια περιστατικά
 τα αίτια του συμβάντος
 λεπτομέρειες για το προσωπικό που συμμετείχε στο περιστατικό
συμπεριλαμβάνοντας το επίπεδο κατάρτισης και εκπαίδευσής τους
 λεπτομέρειες για τον εξοπλισμό που χρησιμοποιήθηκε στο περιστατικό
 αξιολογήσεις των δόσεων.
|369|
11.5 Δυνατότητα αποφυγής κατάστασης έκτακτης ανάγκης
Προκειμένου να αποφεύγονται επικίνδυνα και ανεπιθύμητα συμβάντα, είναι βασικό

ο κάθε εμπλεκόμενος να τηρεί τις υποχρεώσεις του. Στην συνέχεια αναφέρονται συνοπτικά
οι υποχρεώσεις του κάθε εμπλεκόμενου.
Υποχρεώσεις εργαζομένων: Ο κάθε εργαζόμενος οφείλει να ακολουθεί τις
διαδικασίες και συγκεκριμένα να χρησιμοποιεί τα όργανα ελέγχου ακτινοβολίας για να
ελέγξει ότι η πηγή έχει επιστρέψει στη θωρακισμένη θέση. Πρέπει να υπάρχει συνεχής
επίβλεψη της εργασίας. Σε γενικές γραμμές οι ακτινογράφοι οφείλουν: α) να είναι
κατάλληλα εκπαιδευμένοι β) να ακολουθούν τους κανονισμούς γ) να εφαρμόζουν τα μέτρα
ασφαλείας, πριν, μετά και κατά τη διάρκεια της έκθεσης δ) να κάνουν τακτικές
επιθεωρήσεις του εξοπλισμού πριν τη χρήση ε) να κάνουν κατάλληλη χρήση του
εξοπλισμού έκτακτης ανάγκης στ) να παραμένουν ψύχραιμοι.
Υποχρεώσεις ρυθμιστικής αρχής: Η ρυθμιστική αρχή οφείλει να ελέγχει την
ασφαλή χρήση των πηγών ακτινοβολίας. Οι έλεγχοι πρέπει να προγραμματίζονται και να
πραγματοποιούνται ακόμη και σε μακρινές τοποθεσίες.
Υποχρεώσεις διοίκησης: Η διοίκηση πρέπει να έχει το συνεχή έλεγχο του έργου.
Επίσης πρέπει να μεριμνά ώστε οι εργαζόμενοι με ελλιπή εκπαίδευση να μην εμπλέκονται
στις διαδικασίες.
Σε περίπτωση ατυχήματος:
 δεν αγγίζουμε την πηγή με τα χέρια
 ειδοποιούμε τους συναδέλφους
 περιφράσσουμε την περιοχή
 απομακρύνουμε όλα τα μη εξουσιοδοτημένα άτομα εκτός της οριοθετημένης
περιοχής
 αναφέρουμε το ατύχημα σε ένα υπεύθυνο άτομο
 δεν θέτουμε σε κίνδυνο τον εαυτό μας για να αντιμετωπίσουμε καταστάσεις
έκτακτης ανάγκης χωρίς να έχουμε επαρκή εκπαίδευση στον τομέα
Διασφάλιση ποιότητας
Το σύστημα διασφάλισης ποιότητας αποτελεί το σύνολο των οδηγιών και
συστηματικών ενεργειών που έχουν ως στόχο τη βελτίωση της λειτουργίας των
βιομηχανικών εργαστηρίων ακτινογράφησης. Ο τελικός στόχος των ενεργειών αυτών είναι
η πραγματοποίηση της ακτινογράφησης με το μέγιστο δυνατό αποτέλεσμα και την
ελάχιστη δυνατή δόση λαμβάνοντας υπόψη όλες τις παραμέτρους.
Στο πλαίσιο αυτό μεταξύ άλλων περιλαμβάνονται:

 ο έλεγχος της ποιότητας του εξοπλισμού
 η βαθμονόμηση των οργάνων μέτρησης
 η διαρκής εκπαίδευση και επιμόρφωση του προσωπικού
 η τήρηση των αρχείων
 ο σχεδιασμός διορθωτικών και προληπτικών ενεργειών
 απαιτείται η συνεργασία όλων των μελών του προσωπικού τα οποία έχουν
διακριτούς ρόλους.
|370|
ΒΙΟΜΗΧΑΝΙΚΗ
ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΑ
|371|
|372|
1. ΕΙΣΑΓΩΓΗ
Είναι γεγονός ότι πολλά μηχανικά επιτεύγματα των τελευταίων ετών οφείλονται
στις δοκιμαστικές μεθόδους των Μη Καταστροφικών Ελέγχων, οι οποίες προσδιορίζοντας
την εσωτερική δομή ενός υλικού, διασφαλίζουν την ικανοποιητική χρήση του χωρίς να το
καταστρέφουν ή να το φθείρουν.
Η ακτινογραφία σήμερα είναι μια από τις πιο σπουδαίες και ευέλικτες μεθόδους των
Μη Καταστροφικών Ελέγχων οι οποίες χρησιμοποιούνται στην σύγχρονη βιομηχανία.
Μέσω της χρήσης ακτίνων υψηλής διεισδυτικότητας όπως οι ακτίνες Χ και γ, αλλά και
άλλων μορφών ακτινοβολίας, η ακτινογραφία παρέχει μια μόνιμη και ορατή απεικόνιση
της εσωτερικής κατάστασης ενός αντικειμένου, δίνοντας πληροφορίες οι οποίες όταν
αξιολογηθούν οδηγούν σε συμπεράσματα σχετικά με τις ασυνέχειες του. Μόνο κατά τη
διάρκεια της προηγούμενης δεκαετίας, τα στοιχεία από εκατομμύρια απεικονίσεις σε φιλμ
επέτρεψαν στη βιομηχανία να εξασφαλίσει την αξιοπιστία των προϊόντων της ενώ
ταυτόχρονα παρείχαν την κατάλληλη πληροφόρηση για την πρόληψη ατυχημάτων και κατ’
επέκταση της διάσωσης ανθρώπινων ζωών.
Δεδομένου ότι το οικονομικό όφελος είναι σημαντικό κριτήριο, η αξία της
ακτινογραφίας έγκειται ως ένα βαθμό στη δυνατότητά της να αποφέρει κέρδος στο χρήστη.
Αυτό είναι ιδιαίτερα σημαντικό στις μηχανουργικές εργασίες, καθώς στις γραμμές
παραγωγής επιτρέπονται μόνο αντικείμενα χωρίς ασυνέχειες. Επίσης, είναι ισοδύναμα
σημαντική, όταν οικονομικότερα υλικά ή κατασκευαστικές μέθοδοι μπορούν να
χρησιμοποιηθούν αντί για ακριβότερα και στα οποία η εσωτερική κατάσταση ενός
προϊόντος είναι μια μόνο παράμετρος της ποιότητας. Οι πληροφορίες που συγκεντρώνονται
από τη χρήση της ακτινογραφίας βοηθούν το μηχανικό στον καλύτερο σχεδιασμό ενός
προϊόντος ενώ διασφαλίζουν την εταιρεία παραγωγής διατηρώντας ένα ενιαίο και υψηλό
επίπεδο ποιότητας στα προϊόντα της. Καθίσταται σαφές λοιπόν, ότι όλα αυτά συντελούν
τόσο στην ικανοποίηση του πελάτη όσο και στην ενδυνάμωση της αξιοπιστίας των
κατασκευαστών.
Η βιομηχανική ακτινογραφία είναι εξαιρετικά ευέλικτη με τεράστιο εύρος
εφαρμογών. Το μέγεθος των αντικειμένων που ελέγχονται ακτινογραφικά μπορεί να
ποικίλει από μέρη μικρο-ηλεκτρονικών εξαρτημάτων έως γιγάντια εξαρτήματα πυραύλων.
Ακτινογραφικός έλεγχος μπορεί να πραγματοποιηθεί πρακτικά σε οποιοδήποτε προϊόν
προέρχεται από γνωστό υλικό καθώς επίσης και σε προϊόντα που προέρχονται από
διαδικασίες επεξεργασίας υλικών (χύτευση, συγκόλληση, σφυρηλασία, έλαση κ.λπ.). Ο
ακτινογραφικός έλεγχος εφαρμόζεται σε οργανικά και ανόργανα υλικά, σε στερεά, υγρά,
ακόμα και αέρια. Η ακτινογράφηση σε βιομηχανικό επίπεδο μπορεί να εφαρμοστεί είτε για
μία περιστασιακή εξέταση ενός ή περισσοτέρων τεμαχίων είτε για την εξέταση
εκατοντάδων δειγμάτων ανά ώρα. Αυτό ακριβώς το ευρύ φάσμα εφαρμογών της οδήγησε
στην ίδρυση ανεξάρτητων επαγγελματικών εργαστηρίων ακτίνων Χ και γ καθώς επίσης και
ακτινογραφικών τμημάτων μέσα στα εργοστάσια παραγωγής.
Η έρευνα και η ανάπτυξη στο πεδίο της ακτινογραφίας για την κάλυψη των διαρκώς
αυξανόμενων και μεταβαλλόμενων αναγκών της βιομηχανίας έχει οδηγήσει στη χρήση και
άλλων πηγών ακτινοβολίας όπως οι γεννήτριες νετρονίων και τα ραδιενεργά ισότοπα.
Επιπλέον, έχουν κατασκευαστεί γεννήτριες ακτίνων Χ πολλών keV οι οποίες παράγουν
εξαιρετικά διεισδυτική ακτινοβολία, νέα και βελτιωμένα φιλμ ακτίνων Χ καθώς και
αυτόματοι επεξεργαστές ενώ αναβαθμίζονται συνεχώς οι εξειδικευμένες τεχνικές
ακτινογραφίας.
|373|
Η χρήση πηγών ισοτόπων και πηγών ακτίνων Χ βρίσκει εφαρμογή σε δύο κυρίως
τομείς της βιομηχανίας, τη μέτρηση ποιοτικών χαρακτηριστικών των υλικών και τη
βιομηχανική ακτινογραφία.
Η μέτρηση ποιοτικών χαρακτηριστικών περιλαμβάνει τη χρήση σταθερών και
φορητών συσκευών με ισότοπα χαμηλής ενεργότητας ή πηγές παραγωγής ακτίνων Χ για τη
γρήγορη μέτρηση συγκεκριμένων ποιοτικών χαρακτηριστικών, όπως η πυκνότητα, το
πάχος του υλικού, η χημική σύσταση, κ.λπ.
Όπως γίνεται αντιληπτό, η βιομηχανική ακτινογραφία αποτελεί μία από τις
κυριότερες μεθόδους Μη Καταστροφικών Ελέγχων (Non Destructive Testing) και
περιλαμβάνει τους εξής τομείς: τη Βασική Ακτινοπροστασία (Basic Radiation Safety -
BRS), την Ερμηνεία της Ακτινογραφίας (Radiographic Interpretation - RI) και την Τεχνική
της Ακτινογράφησης (Radiographic Testing - RT). Με λίγα λόγια, μέσω της βιομηχανικής
ακτινογραφίας γίνεται χρήση των ιοντιζουσών ακτινοβολιών προκειμένου να ελεγχθεί το
εσωτερικό διαφόρων κατασκευών (σωληνώσεων, μεταλλικών κατασκευών, δεξαμενών,
τοιχωμάτων, κ.λπ.) χωρίς όμως να καταστρέφεται η δομή τους.
Στην Ελλάδα η χρήση της βιομηχανικής ακτινογραφίας ποικίλλει από καθαρά
βιομηχανικές εφαρμογές, όπως o έλεγχος μεταλλικών σωληνώσεων φυσικού αερίου,
δεξαμενών αποθήκευσης ρευστών διαφόρων πυκνοτήτων, μεταλλικών ελασμάτων και
αντικειμένων ή συγκολλητών συνδέσεων, μέχρι για ερευνητικούς σκοπούς, όπως στην
αρχαιολογία για τη διερεύνηση της εσωτερικής κατάστασης αλλά και της χρονολόγησης
ιστορικών ευρημάτων με την μέθοδο της ραδιοχρονολόγησης χρησιμοποιώντας άνθρακα
14 (C 14).
Εικόνα 1.1: Ακτινογραφία του θραύσματος Α του μηχανισμού των Αντικυθήρων
Εικόνα 1.2: Ακτινογραφίες της μούμιας του Τουταγχαμών
|374|
Η ακτινοβολία που χρησιμοποιείται στην βιομηχανική ακτινογραφία εκπέμπεται
από γεννήτριες παραγωγής ακτίνων Χ ή από πηγές ισοτόπων που παράγουν γ ακτινοβολία
(ραδιενεργά ισότοπα). Η διαδικασία περιλαμβάνει τη ακτινογράφηση του αντικειμένου με
ιοντίζουσες ακτινοβολίες και την αποτύπωση του στο αντίστοιχο μέσο απεικόνισης
(ακτινογραφικό φιλμ στην συμβατική ακτινογραφία, πλάκα φωσφόρου στην ψηφιακή
ακτινογραφία “Computed Radiography - CR” και άκαμπτο επίπεδο πάνελ στην άμεση
ακτινογραφία “ Digital or Direct Radiography - DR”). Η ποιότητα και η ποσότητα της
ακτινοβολίας που διέρχεται μέσα από τα υλικά εξαρτάται από το πάχος του υλικού και την
πυκνότητά του. Επιπρόσθετα, οι διαφορές στην ένταση της διερχόμενης ακτινοβολίας
αποτυπώνονται ως διαφορές αμαύρωσης, δίνοντας στον επιθεωρητή τη δυνατότητα
ελέγχου της εσωτερικής δομής του υλικού για τυχόν ύπαρξη ασυνεχειών, χωρίς ωστόσο
την καταστροφή ή φθορά του αντικειμένου. Τα λεπτότερα πάχη επιτρέπουν την
ευκολότερη διέλευση των ακτινοβολιών και την απεικόνιση στο μέσο αποτύπωσης (φιλμ)
με εντονότερη αμαύρωση (πιο μαύρες περιοχές), ενώ τα παχύτερα τμήματα οδηγούν στην
εξασθένηση των ακτινοβολιών και επομένως στην απεικόνιση πάνω στο μέσο αποτύπωσης
με λιγότερο έντονη αμαύρωση (πιο άσπρες περιοχές). Στην Εικόνα 1.3 απεικονίζεται μία
βασική διάταξη ακτινογραφίας.
Η διεισδυτικότητα της ακτινοβολίας εξαρτάται από το μήκος κύματός της, το οποίο
με τη σειρά του εξαρτάται, για μεν τις ακτίνες Χ από την ονομαστική τάση της λυχνίας
(keV), για δε τις ακτίνες γ από το είδος του ισότοπου. Η ένταση της ακτινοβολίας
εξαρτάται από την ένταση του ρεύματος της λυχνίας (mA) και από την ενεργότητα της
πηγής για τις ακτίνες γ.
Οι ακτινογραφήσεις ανάλογα με τις απαιτήσεις των ελέγχων και του έργου,
μπορούν να πραγματοποιηθούν είτε εντός κλειστού εργαστηρίου είτε επιτόπου στο
εργοτάξιο. Και στις δύο περιπτώσεις απαιτείται η λήψη επιπρόσθετων μέτρων
ακτινοπροστασίας, τα οποία περιγράφονται αναλυτικά και στον ελληνικό κανονισμό
ακτινοπροστασίας της Ελληνικής Επιτροπής Ατομικής Ενέργειας.
Εικόνα 1.3: Βασική διάταξη βιομηχανικής ακτινογραφίας
|375|
2. ΙΔΙΟΤΗΤΕΣ ΤΗΣ ΥΛΗΣ
2.1 Το άτομο και η δομή του
Ως άτομο ορίζεται το μικρότερο σωματίδιο ενός στοιχείου, που μπορεί να λάβει

μέρος στο σχηματισμό χημικών ενώσεων. Ήδη από τον 5ο π.Χ. αιώνα, οι Έλληνες
φιλόσοφοι Δημόκριτος και Λεύκιππος υποστήριζαν ότι η ύλη αποτελείται από πολύ μικρά
σωματίδια, τα οποία δε μπορούν να διαιρούνται απεριόριστα και γι' αυτό ονομάστηκαν
άτομα (δηλαδή άτμητα). Επιπρόσθετα, υποστήριζαν ότι η ύλη αποτελείται από άτομα που
διαφέρουν μεταξύ τους κατά το σχήμα και κατά το μέγεθος. Η ατομική θεωρία του
Δημόκριτου ήταν μία από τις φιλοσοφικές θεωρίες των αρχαίων Ελλήνων. Δεν υπήρχε
καμία πειραματική παρατήρηση για την υποστήριξή της. Η θεωρία αυτή καταπολεμήθηκε
από τον Πλάτωνα, τον Αριστοτέλη και τους μαθητές τους και έπεσε στην αφάνεια μέχρι το
19ο αιώνα. Στις αρχές του 19ου αιώνα, ο Άγγλος χημικός Dalton επανέφερε την ατομική
θεωρία διατυπώνοντας ότι, οι δομικές μονάδες της ύλης είναι τα άτομα και τα μόρια.
Εικόνα 2.1: Ο Δημόκριτος
Ωστόσο, τα άτομα του Dalton ήταν συμπαγή και αδιαίρετα, κάτι που καταρρίφθηκε
με την ανακάλυψη των πρωτονίων, των ηλεκτρονίων και των νετρονίων, δηλαδή των
υποατομικών σωματιδίων. Σημαντικό σταθμό στην εξέλιξη των επιστημονικών ιδεών για
το άτομο αποτέλεσε η ανακάλυψη του ηλεκτρονίου από τον Thomson στο τέλος του 19ου
αιώνα. Η ανακάλυψη του ηλεκτρονίου έδειξε ότι το άτομο έχει εσωτερική δομή και
συνεπώς δεν είναι άτμητο. Επειδή η ύλη είναι ηλεκτρικά ουδέτερη, κατέληξε στο
συμπέρασμα ότι και τα άτομα της ύλης είναι ηλεκτρικά ουδέτερα και επομένως, το άτομο
έχει ίσες ποσότητες θετικού και αρνητικού φορτίου. Τέλος, τα πειράματα έδειξαν ότι η
μάζα του τμήματος που είναι θετικά φορτισμένο είναι μεγαλύτερη από τη μάζα του
αρνητικά φορτισμένου τμήματος, δηλαδή των ηλεκτρονίων του ατόμου.
|376|
2.2 Τι ισχύει σήμερα για το άτομο;
H σημερινή κοινώς αποδεκτή εικόνα για το άτομο συνοψίζεται ως εξής: Η μάζα του
ατόμου είναι συγκεντρωμένη σε έναν πολύ μικρό χώρο που ονομάζεται πυρήνας. Ο
πυρήνας συγκροτείται από πρωτόνια (p), που φέρουν θετικό ηλεκτρικό φορτίο και από
ουδέτερα νετρόνια (n). Ο πυρήνας καθορίζει τη μάζα του ατόμου. Επομένως, η μάζα του
ατόμου είναι το άθροισμα της μάζας των πρωτονίων και νετρονίων (mατόμου = mπρωτονίων +
mνετρονίων). Γύρω από τον πυρήνα και σε σχετικά μεγάλες αποστάσεις απ’ αυτόν, κινούνται
τα ηλεκτρόνια (e), υπό μορφή νέφους, τα οποία έχουν αρνητικό ηλεκτρικό φορτίο και είναι
υπεύθυνα για τη χημική συμπεριφορά των ατόμων.
Εικόνα 2.2: H εξέλιξη του ατομικού προτύπου
Στο χώρο που περιβάλλει τον πυρήνα διευθετώνται τα ηλεκτρόνια. Ο χώρος αυτός
καθορίζει το μέγεθος του ατόμου.
Πίνακας 2.1: Μάζα και φορτίο των υποατομικών σωματιδίων

Σωματίδιο Σχετική Σχετικό
Θέση Μάζα (gr) Φορτίο (C)
(σύμβολο) μάζα φορτίο
Ηλεκτρόνιο Γύρω από
9,11•10-28 1/1.830 -1,60•10-19 -1
(e) τον πυρήνα
Πρωτόνιο (p) Πυρήνας 1,67•10-24 1 +1,60•10-19 +1
Νετρόνιο (n) Πυρήνας 1,67•10 -24
1 0 0
Εικόνα 2.3: Το ηλεκτρονιοβόλτ είναι η ενέργεια που μεταβιβάζεται σε ένα ηλεκτρόνιο, όταν
αυτό επιταχύνεται μέσω διαφοράς δυναμικού 1V. Ένα ηλεκτρονιοβόλτ (1eV) ισούται με
1,6•10-19J
|377|
Εικόνα 2.4: Περιοδικός πίνακας στοιχείων
|378|
2.3 Ατομικός αριθμός (Ζ)
Ο ατομικός αριθμός Ζ είναι ο αριθμός των πρωτονίων του πυρήνα ενός ατόμου. Ο
ατομικός αριθμός αποτελεί την ταυτότητα ενός στοιχείου ενώ εκφράζει και τον αριθμό των
ηλεκτρονίων του ουδετέρου ατόμου και συνεπώς καθορίζει την ηλεκτρονιακή δομή, η
οποία με τη σειρά της διαμορφώνει και τη χημική συμπεριφορά του στοιχείου.
Σημειώνεται ότι, όταν λέμε ότι ο ατομικός αριθμός του νατρίου (Na) είναι 11,
εννοούμε ότι το άτομο του νατρίου έχει 11 πρωτόνια στον πυρήνα του. Επειδή όμως ο
ατομικός αριθμός είναι ο καθοριστικός αριθμός για κάθε στοιχείο, μπορούμε να πούμε ότι
κάθε άτομο στη φύση που έχει στον πυρήνα του 11 πρωτόνια είναι άτομο νατρίου.
2.4 Μαζικός αριθμός (Α)
Το άθροισμα των πρωτονίων και νετρονίων, δηλαδή των νουκλεονίων του πυρήνα
ενός ατόμου είναι ο μαζικός αριθμός, Α (A = p+n). Ισχύει επομένως: Α = Ζ+Ν.
Ένα χημικό στοιχείο απεικονίζεται όπως φαίνεται στην Εικόνα 2.5. Κάτω αριστερά
σημειώνεται ο ατομικός του αριθμός, ενώ πάνω αριστερά ο μαζικός του αριθμός. Για
παράδειγμα ο σίδηρος: 5626Fe έχει μαζικό αριθμό 56 και ατομικό αριθμό 26, δηλαδή
περιέχει στον πυρήνα του 26 πρωτόνια και 30 νετρόνια.
Εικόνα 2.5 Απεικόνιση χημικού στοιχείου
2.5 Μόρια και Ιόντα
Μόριο είναι το μικρότερο κομμάτι μιας καθορισμένης ουσίας (ένωσης ή στοιχείου)

που μπορεί να υπάρξει ελεύθερο, διατηρώντας τις ιδιότητες της ύλης από την οποία
προέρχεται. Τα μόρια στην περίπτωση των χημικών στοιχείων συγκροτούνται από ένα
είδος ατόμων, π.χ. O2, Ν2, O3, Ρ4 ενώ στην περίπτωση των χημικών ενώσεων από δύο ή
περισσότερα είδη ατόμων, π.χ. Η2O, CH4, C12H22O11.
Τα άτομα είναι ηλεκτρικά ουδέτερα. Μπορούν να μετατραπούν σε ιόντα με
αποβολή ή με πρόσληψη ενός ή περισσοτέρων ηλεκτρονίων.
Ως ιόν χαρακτηρίζεται ένα άτομο ή το σύνολο ατόμων που φέρουν ηλεκτρικό
φορτίο. Ετυμολογικά ως όρος χρησιμοποιήθηκε πρώτη φορά από τον Μάικλ Φαραντέι
(Michael Faraday) το 1834, ο οποίος τον επινόησε από τη μετοχή ουδετέρου γένους του
αρχαιοελληνικού ρήματος «ιέναι», σε μια προσπάθεια να εξηγήσει το λόγο που κατά την
ηλεκτρόλυση ενός διαλύματος τα, άγνωστης μέχρι τότε φύσης, σωματίδια όδευαν προς την
άνοδο ή την κάθοδο.
Τα ιόντα των ατόμων που έχουν θετικό ηλεκτρικό φορτίο, δηλαδή έχουν αποβάλλει
ηλεκτρόνια ονομάζονται κατιόντα, π.χ. Na+ ενώ εκείνα που έχουν αρνητικό ηλεκτρικό
φορτίο, δηλαδή έχουν προσλάβει ηλεκτρόνια ονομάζονται ανιόντα, π.χ. Cl-.
Επομένως, αν θεωρήσουμε ότι ένα ουδέτερο άτομο έχει 3 πρωτόνια, 4 νετρόνια και
3 ηλεκτρόνια, το κατιόν του θα έχει 3 πρωτόνια, 4 νετρόνια και 2 ηλεκτρόνια, ενώ το ανιόν
του 3 πρωτόνια, 4 νετρόνια και 4 ηλεκτρόνια.
|379|
2.6 Ιονισμός ή ιοντισμός
Μερικές φορές είναι δυνατόν το άτομο να απορροφήσει τόσο μεγάλη ενέργεια,

ώστε το ηλεκτρόνιο του να απομακρυνθεί από τον πυρήνα, σε περιοχή όπου δεν ασκείται
ηλεκτρική δύναμη σε αυτό από τον πυρήνα. Το ηλεκτρόνιο απομακρύνεται οριστικά από
τον πυρήνα και το άτομο μετατρέπεται σε θετικό ιόν. Η απομάκρυνση ενός ηλεκτρονίου
του ατόμου σε περιοχή εκτός του ηλεκτρικού πεδίου του πυρήνα ονομάζεται ιονισμός του
ατόμου.
Η ελάχιστη ενέργεια που απαιτείται για να απομακρυνθεί το ηλεκτρόνιο του ατόμου
από τη θεμελιώδη τροχιά σε περιοχή εκτός του ηλεκτρικού πεδίου του πυρήνα, ονομάζεται
ενέργεια ιονισμού. Σημειώνεται, ότι τη θέση του ηλεκτρονίου που απομακρύνθηκε την
καταλαμβάνει άλλο, από υψηλότερη τροχιά, με αποτέλεσμα την εκπομπή χαρακτηριστικής
ακτινοβολίας. Το φαινόμενο παρατηρείται σε όλες τις καταστάσεις της ύλης. Ιονισμός είναι
δυνατό να συμβεί είτε μετά από τη σύγκρουση δύο σωματιδίων τα οποία έχουν μεγάλη
ταχύτητα (ιονισμός κρούσης) είτε μετά από απορρόφηση της ενέργειας μιας ακτινοβολίας
(ιονισμός με απορρόφηση).
Σύμφωνα με τη θεωρία του Βοhr, τα ηλεκτρόνια περιφέρονται σε καθορισμένες
τροχιές γύρω από τους πυρήνες των ατόμων, έχοντας καθορισμένη ενέργεια σε κάθε
τροχιά. Αν τώρα, για οποιοδήποτε λόγο, η ενέργεια ενός ηλεκτρονίου αυξηθεί, τότε το
ηλεκτρόνιο ή θα μεταπηδήσει σε μία τροχιά μεγαλύτερης ενέργειας ή θα απομακρυνθεί
εντελώς από το άτομο, δηλαδή θα μεταβεί στο άπειρο. Η ενέργεια ιονισμού για τα
ηλεκτρόνια της εξωτερικής ηλεκτρονικής τροχιάς είναι μικρότερη σε σχέση με την
αντίστοιχη των εσωτερικότερων τροχιών. Αυτό σημαίνει ότι όταν προσδίδεται ενέργεια σε
ένα άτομο, η οποία μπορεί να απορροφηθεί από τα ηλεκτρόνια και της οποίας η τιμή είναι
ίση ή μεγαλύτερη από την ενέργεια ιονισμού των ηλεκτρονίων της εξωτερικής τροχιάς,
πιθανότατα πρώτα θα απομακρυνθεί ή θα απομακρυνθούν τα ηλεκτρόνια της εξωτερικής
τροχιάς.
Κατά τον ιονισμό, το άτομο μετατρέπεται σε θετικό ιόν. Αυτά τα ηλεκτρόνια που
απομακρύνονται κινούνται με διαφορετικές ταχύτητες και σε διάφορες κατευθύνσεις ενώ
μερικά συγκρούονται με άλλα άτομα τα οποία απορροφούν μέρος της ενέργειας και
παράγουν ακτινοβολίες Χ μικρότερης ενέργειας. Επομένως, δημιουργείται και
δευτερεύουσα ή σκεδάζουσα ακτινοβολία.
Ο ιονισμός που παρατηρείται στη Γη (φυσικός ιονισμός έξω από το εργαστήριο)
είναι μικρής έκτασης και οφείλεται κατά κύριο λόγο στην υπεριώδη ακτινοβολία του
ήλιου. Αντίθετα, σε μεγάλα ύψη από την επιφάνεια της Γης (80 - 400χλμ.) συμβαίνουν πιο
έντονα φαινόμενα ιονισμού. Η ζώνη αυτή της ατμόσφαιρας, που ονομάζεται γι’ αυτό το
λόγο ιονόσφαιρα, δέχεται έντονο βομβαρδισμό από ηλεκτρομαγνητικές ακτινοβολίες και
κοσμικές ακτίνες υψηλής ενέργειας.
2.7 Ισότοπα
Ως ισότοπα χαρακτηρίζονται τα άτομα του ίδιου χημικού στοιχείου που έχουν

διαφορετικό αριθμό νετρονίων στον πυρήνα τους. Ο όρος ισότοπο επινοήθηκε το 1913,
από τον Βρετανό χημικό Φρέντερικ Σόντυ (Frederick Soddy) σε μια προσπάθεια του να
αποδώσει το γεγονός ότι καταλαμβάνουν την ίδια θέση στον περιοδικό πίνακα (ίσος +
τόπος).
Όλα τα ισότοπα ενός στοιχείου έχουν ίδιο ατομικό αριθμό και επομένως τις ίδιες
χημικές ιδιότητες, παρουσιάζοντας διαφορά μόνο στον μαζικό αριθμό. Οι χημικές ιδιότητες
κάθε ατόμου καθορίζονται από τον αριθμό των ηλεκτρονίων που βρίσκονται στις στιβάδες.
Για το λόγο αυτό τα ισότοπα του ίδιου στοιχείου έχουν τις ίδιες χημικές ιδιότητες. Ωστόσο,
|380|
τα ισότοπα μπορεί να παρουσιάζουν διαφορετικές φυσικές ιδιότητες όπως για παράδειγμα
στην πυκνότητα.
Ένα ισότοπο καθορίζεται από τον μαζικό του αριθμό, δηλαδή τον αριθμό των
νουκλεονίων. Σημειώνεται ότι τα νετρόνια δεν επηρεάζουν τις χημικές ιδιότητες των
στοιχείων, ωστόσο συντελούν στη διαμόρφωση της τιμής της ατομικής μάζας των ατόμων
των στοιχείων. Αυτό έχει ως συνέπεια τα ισότοπα να διακρίνονται μεταξύ τους από τις
ατομικές μάζες τους. Σημαντική διαφορά μεταξύ των ισοτόπων είναι ότι τα περισσότερα
από αυτά είναι ασταθή, ενώ μερικά μόνο είναι σταθερά. Συνήθως τα ασταθή ισότοπα είναι
ραδιενεργά και γι’ αυτό ονομάζονται και «ραδιοϊσότοπα».
Κάθε ισότοπο προσδιορίζεται από το όνομα του στοιχείου ακολουθούμενο από μία
παύλα και τον μαζικό αριθμό του (π.χ. ήλιο-3, ήλιο-4, άνθρακας-12, άνθρακας-14,
ουράνιο-235, ουράνιο-239 κ.λπ.). Ως χημικό σύμβολο του ισοτόπου χρησιμοποιείται
ομοίως το χημικό σύμβολο του στοιχείου, π.χ. «C» για τον άνθρακα, με δύο αριθμούς στα
αριστερά. Ο αριθμός πάνω αριστερά αποδίδει τον μαζικό αριθμό του ισότοπου ενώ ο
αντίστοιχος κάτω αριστερά τον ατομικό αριθμό του στοιχείου, π.χ. 32He, 42He, 126C, 146C,
92U, και
235 239
92U.
Όπως γίνεται αντιληπτό, ο αριθμός κάτω αριστερά παραμένει σταθερός για το ίδιο
στοιχείο. Επειδή όμως αυτός ο αριθμός είναι γνωστός από το σύμβολο του στοιχείου, τις
περισσότερες φορές παραλείπεται και διατηρείται μόνο ο αριθμός πάνω αριστερά δηλαδή ο
μαζικός αριθμός. Έτσι γίνεται μια απλούστευση για τα παραπάνω όπως δίνεται στη
συνέχεια: 3 He, 4 He, 12 C, 14 C, 235 U και 239 U.
Ο άνθρακας για παράδειγμα έχει τρία ισότοπα 126C, 136C και 146C γνωστά και ως
άνθρακας C 12, άνθρακας C 13 και άνθρακας C 14. Γενικά τα ισότοπα διακρίνονται σε
τρεις βασικές κατηγορίες: τα ραδιενεργά ή ραδιοϊσότοπα, τα αρχέγονα ισότοπα και τα
σταθερά ισότοπα. Το απλούστερο άτομο είναι το ισότοπο του υδρογόνου, πρώτιο, το οποίο
έχει ατομικό αριθμό 1 και μαζικό αριθμό 1. Αποτελείται δηλαδή από ένα πρωτόνιο και ένα
ηλεκτρόνιο. Το ισότοπο του υδρογόνου το οποίο αποτελείται από ένα νετρόνιο επιπλέον
ονομάζεται δευτέριο ή υδρογόνο H 2. Το ισότοπο του υδρογόνου το οποίο αποτελείται από
3 νετρόνια ονομάζεται τρίτιο ή υδρογόνο H 3.
2.8 Ραδιενεργά ισότοπα ή ραδιοϊσότοπα
Υπάρχουν φυσικά και τεχνητά ισότοπα των χημικών στοιχείων. Με δεδομένο ότι το
πρώτο ραδιενεργό στοιχείο που απομονώθηκε ήταν το ράδιο, όλα τα ισότοπα στοιχείων τα
οποία είναι ραδιενεργά, δηλαδή εμφανίζουν την ιδιότητα της ραδιενέργειας, ονομάζονται
ραδιοϊσότοπα.
Τα ραδιοϊσότοπα διαφορετικών στοιχείων ονομάζονται ραδιονουκλεΐδια. Για
παράδειγμα το 21Η και το 31Η είναι ραδιοϊσότοπα ενώ το 21Η και ο 126C είναι
ραδιονουκλεΐδια. Στη φύση απαντώνται τρεις ραδιενεργές σειρές ραδιονουκλεϊδίων: η
σειρά του ουρανίου 238, του θορίου και του ακτινίου.
Σημειώνεται ότι όλα τα στοιχεία με ατομικό αριθμό μεγαλύτερο του βισμουθίου
(ατομικός αριθμός βισμουθίου 83) είναι ραδιενεργά και είναι στοιχεία που προκύπτουν είτε
από την σχάση του ουρανίου-235 είτε του ουρανίου-238 είτε του θορίου-232. Στη
βιομηχανική ακτινογραφία χρησιμοποιούνται κυρίως τα ραδιοϊσότοπα του κοβαλτίου-60,
του ιριδίου-192 και του σεληνίου-75. Σημειώνεται ότι τo κοβάλτιο-60 παράγεται με
βομβαρδισμό του κοβαλτίου-59 με νετρόνια μέσα σε αντιδραστήρα. Ομοίως, το ιρίδιο-192
παράγεται με βομβαρδισμό του ιριδίου-191 με νετρόνια.
|381|
Εικόνα 2.6: Φυσικά ραδιονουκλεΐδια: ραδιενεργή σειρά του θορίου
Πίνακας 2.2: Χρησιμοποιούμενα ισότοπα στην βιομηχανική ακτινογραφία

Χαρακτηριστικά Πηγών γ
Χρόνος Ενέργειες Ισοδύναμο Πάχος
Εκπεμπόμενη
Ισότοπο Ημίσειας πηγής γ σε σε μηχανή Χάλυβα
Ενέργεια*
Ζωής MeV Χ σε keV mm
Κοβάλτιο 60 5,26 χρόνια 1,32 1,17 - 1,33 1200 50 - 200mm
Σελήνιο 75 118,5 ημέρες 0,203 0,066 - 0,401 400 4 - 28mm
Καίσιο 137 30 χρόνια 0,33 0,66 700 45 - 75mm
Ιρίδιο 192 74 ημέρες 0,48 0,29 - 0,61 600 12 - 70mm
Υττέρβιο 169 31 ημέρες 0,125 0,063 - 0,308 300 2 - 17mm
Θούλιο 170 127 μέρες 0,0025 0,052 - 0,084 80 1 - 13mm
* Εκπεμπόμενη ενέργεια σε Roentgens ανά curie ανά ώρα στο 1 μέτρο (R/Ci/Hr at 1 meter)
Για να μετατρέψουμε τα R/h/Ci σε μSv/h/GBq διαιρούμε με 37 και πολλαπλασιάζουμε με 10.000
2.9 Διέγερση ενός ατόμου και χαρακτηριστική ακτινοβολία
Η θεμελιώδης κατάσταση ενός ατόμου είναι η κατάσταση με τη χαμηλότερη

ενέργεια. Αν ένα άτομο που βρίσκεται στη θεμελιώδη κατάσταση, απορροφήσει ενέργεια,
τότε ηλεκτρόνιο από τροχιές χαμηλότερης ενέργειας μπορεί να μεταπηδήσει σε άλλες
επιτρεπόμενες τροχιές, υψηλότερης ενέργειας, οι οποίες βρίσκονται μακρύτερα από τον
πυρήνα.
Η μετάβαση ενός ηλεκτρονίου του ατόμου από μία τροχιά χαμηλής ενέργειας σε
άλλη υψηλότερης ονομάζεται διέγερση του ατόμου. Η ενέργεια που απαιτείται για τη
διέγερση του ατόμου ονομάζεται ενέργεια διέγερσης.
Τα ηλεκτρόνια κινούνται σε συγκεκριμένες τροχιές καθορισμένης ενέργειας. Ένα
ηλεκτρόνιο θα απορροφήσει την ενέργεια που του προσφέρεται, μόνο εάν αυτή είναι ίση με
την ενεργειακή διαφορά που χωρίζει την τροχιά στην οποία βρίσκεται από μια άλλη
υψηλότερης ενέργειας. Αν η ενέργεια που του προσφέρεται είναι μεγαλύτερη ή μικρότερη
από αυτήν την ενεργειακή διαφορά, τότε το ηλεκτρόνιο την αγνοεί.
|382|
Το διεγερμένο άτομο παραμένει στην κατάσταση διέγερσης για ελάχιστο χρονικό
διάστημα (της τάξης του 10-8s) και επανέρχεται στη θεμελιώδη κατάσταση. Η επάνοδος
του ηλεκτρονίου στη θεμελιώδη κατάσταση μπορεί να γίνει είτε απευθείας με ένα άλμα,
οπότε εκπέμπεται ένα φωτόνιο, είτε με περισσότερα διαδοχικά άλματα, οπότε εκπέμπονται
τόσα φωτόνια όσα και τα άλματα που πραγματοποιεί. Η ακτινοβολία που εκπέμπεται είναι
διαφορετική από άτομο σε άτομο και είναι χαρακτηριστική του είδους του ατόμου. Για τον
λόγο αυτό ονομάζεται χαρακτηριστική ακτινοβολία. Με άλλα λόγια, ανιχνεύοντας την
ακτινοβολία αυτή, μπορούμε να προσδιορίσουμε το είδος του ατόμου που την εξέπεμψε.
2.10 Ραδιενέργεια
Οι περισσότεροι από τους πυρήνες που υπάρχουν στη φύση ή έχουν παραχθεί
τεχνητά στο εργαστήριο, είναι ασταθείς. Διασπώνται δηλαδή σε άλλους πυρήνες οι οποίοι
είναι σταθερότεροι. Η διαδικασία κατά την οποία ένας πυρήνας μετατρέπεται σε έναν άλλο
πυρήνα διαφορετικού στοιχείου ονομάζεται μεταστοιχείωση. Όταν ένας πυρήνας
μετατρέπεται αυθόρμητα σε άλλον πυρήνα, εκλύεται ενέργεια με ταυτόχρονη εκπομπή
ακτινοβολίας. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται ραδιενέργεια.
2.11 Μεταστοιχείωση πυρήνων
Με τον όρο μεταστοιχείωση στην πυρηνική φυσική χαρακτηρίζεται η μετατροπή

ενός χημικού στοιχείου σε ένα άλλο. Μια τέτοια μετατροπή στοιχείου μπορεί να γίνει μόνο
όταν αλλάξει ο αριθμός πρωτονίων του πυρήνα ενός ατόμου, οπότε και διαφοροποιείται ο
ατομικός αριθμός του στοιχείου. Οι πυρηνικές αντιδράσεις προκαλούν αυτήν ακριβώς την
αλλαγή του αριθμού των πρωτονίων. Έτσι, προκύπτει ένα διαφορετικό στοιχείο με
διαφορετικό ατομικό αριθμό. Οι αρχικοί πυρήνες ονομάζονται μητρικοί ενώ οι
παραγόμενοι θυγατρικοί. Κατά τη μεταστοιχείωση ενδέχεται να δημιουργηθούν και
τεχνητά στοιχεία δηλαδή χημικά στοιχεία που δεν υπάρχουν στη φύση. Χαρακτηριστικό
παράδειγμα μεταστοιχείωσης αποτελεί η παραγωγή πλουτωνίου με βομβαρδισμό ουρανίου
από νετρόνια μέσα σε πυρηνικό αναπαραγωγικό αντιδραστήρα.
Η ενέργεια που απελευθερώνεται κατά τη ραδιενεργό διάσπαση, είτε με τη μορφή
κινητικής ενέργειας των σωματίων είτε με τη μορφή ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας,
προέρχεται από μετατροπή μέρους της μάζας του αρχικού πυρήνα σε ενέργεια. Οι κύριοι
μηχανισμοί ραδιενεργού διάσπασης αναφέρονται επιγραμματικά στην συνέχεια και
αναλύονται διεξοδικά στις επόμενες ενότητες.
• α - διάσπαση
• β- διάσπαση
• β+ διάσπαση
• σύλληψη τροχιακού ηλεκτρονίου
• γ - διάσπαση
2.12 Σειρές διασπάσεως
Στις σειρές διασπάσεως 238U => 206Pb, 235U => 207Pb και 232Th => 208Pb, που
αποτελούν τη βάση για τρεις διαφορετικές και ανεξάρτητες μεθόδους προσδιορισμού της
ηλικίας γεωλογικών σχηματισμών, παράγονται αρκετά σωματίδια α και β, σε μία
ακολουθία ενδιάμεσων ραδιενεργών προϊόντων.
|383|
Ένα τέτοιο παράδειγμα δίνεται στην Εικόνα 2.6, όπου μπορεί κανείς να διακρίνει
ότι όταν το μητρικό ραδιενεργό 238U (ατομικός αριθμός 92, μαζικός αριθμός 238)
διασπάται, εκπέμπει οκτώ σωματίδια α και έξι σωματίδια β πριν μετατραπεί στο σταθερό
θυγατρικό 206Pb (ατομικός αριθμός 82, μαζικός αριθμός 206). Αυτό φυσικά επιτυγχάνεται
με τις διαδοχικές μετατροπές σε διάφορα στοιχεία. Εκπομπή οκτώ σωματιδίων α σημαίνει
εκπομπή 8•2 = 16 πρωτονίων και 8•2 = 16 νετρονίων, δηλαδή συμβαίνει μείωση του
μαζικού αριθμού του μητρικού ισοτόπου κατά 32 και του ατομικού του αριθμού κατά 16.
Ομοίως, εκπομπή έξι σωματιδίων β σημαίνει εκπομπή έξι ηλεκτρονίων από τον πυρήνα
του, που έχει ως αποτέλεσμα την αύξηση του ατομικού αριθμού κατά έξι χωρίς ωστόσο να
μεταβάλλεται ο μαζικός αριθμός. Έχουμε δηλαδή συνολικά μείωση του μαζικού αριθμού
κατά 32 (238 => 206) και του ατομικού αριθμού κατά 10 (92 => 82).
Εικόνα 2.7: Σειρά ραδιενεργού διάσπασης στο πιο κοινό ισότοπο του ουρανίου (U 238).
Πριν τη δημιουργία του τελικού προϊόντος της διάσπασης (Pb 206) παράγονται διάφορα
ισότοπα ως ενδιάμεσα προϊόντα
2.13 Διάσπαση α ή ακτινοβολία α
Η ακτινοβολία α οφείλεται στην αυθόρμητη διάσπαση ενός μητρικού πυρήνα σε ένα

μικρότερο θυγατρικό και σε ένα σωμάτιο α. Το σωμάτιο α είναι ένας πυρήνας ηλίου (42He)
ο οποίος αποτελείται από δύο πρωτόνια και δύο νετρόνια. Όταν λοιπόν συμβαίνει εκπομπή
σωματίων α από ένα βαρύ πυρήνα, που λέγεται μητρικός, ο μαζικός αριθμός μειώνεται
κατά 4 και ο νέος πυρήνας, που λέγεται θυγατρικός είναι σταθερότερος. Ισχύει δηλαδή:
ZX →
A A-4 4
Z - 2Y+ 2He
Ας θεωρήσουμε για παράδειγμα, τη ραδιενεργό διάσπαση α του ουρανίου (23892U).
92U →
238 234 4
90Th+ 2He
Παρατηρούμε ότι ο αριθμός των πρωτονίων στο αριστερό μέλος είναι ίσος με τον
αντίστοιχο στο δεξί μέλος (δηλαδή 92 = 90+2), επειδή αυτό επιβάλλει η διατήρηση του
φορτίου.
|384|
Εικόνα 2.8: Ραδιενεργός διάσπαση α του ουρανίου 23892U
Επίσης ο συνολικός μαζικός αριθμός στο αριστερό μέλος είναι ίσος με τον
αντίστοιχο στο δεξί μέλος (δηλαδή 238 = 234+4), επειδή αυτό επιβάλλει η διατήρηση του
συνολικού αριθμού των νουκλεονίων.
Σημειώνεται ότι όταν συμβαίνει μία διάσπαση α, η μάζα του μητρικού πυρήνα είναι
μεγαλύτερη από το άθροισμα των μαζών του θυγατρικού πυρήνα και του σωματίου α.
Κατά τη διάσπαση, η διαφορά των μαζών εκδηλώνεται ως κινητική ενέργεια του
θυγατρικού πυρήνα και του σωματίου α.
Τα σωματίδια α χαρακτηρίζονται από μικρή διεισδυτικότητα και χαμηλή ταχύτητα
της τάξεως περίπου των 16.000Km/s με μία μέση διαδρομή μόνο μερικά εκατοστά στον
αέρα μέχρι να ακινητοποιηθούν.
2.14 Διάσπαση β
Είναι το φαινόμενο κατά το οποίο εκπέμπεται από τον πυρήνα ένα ηλεκτρόνιο
(διάσπαση β-) ή ένα ποζιτρόνιο (διάσπαση β+).
2.15 Διάσπαση β-
Η ακτινοβολία β- οφείλεται στην αυθόρμητη διάσπαση ενός πυρήνα ο οποίος

ονομάζεται μητρικός σε έναν θυγατρικό και ένα ηλεκτρόνιο (σωματίδιο β-). Ο θυγατρικός
πυρήνας έχει ένα πρωτόνιο περισσότερο και ένα νετρόνιο λιγότερο. Έτσι για παράδειγμα, ο
πυρήνας 146C διασπάται σε πυρήνα 147N ενώ συγχρόνως εκπέμπεται και ένα ηλεκτρόνιο.
6C → 7N+e +ve
14 14 -
|385|
Εικόνα 2.10: Διάσπαση β-
Το γεγονός ότι κατά τη διάσπαση ενός πυρήνα μπορεί να εκπέμπεται ένα

ηλεκτρόνιο, δε σημαίνει ότι το ηλεκτρόνιο αυτό προϋπήρχε μέσα στο μητρικό πυρήνα.
Αυτό που συμβαίνει είναι ότι η εκπομπή ενός ηλεκτρονίου οφείλεται στη διάσπαση ενός
νετρονίου του πυρήνα σε ένα πρωτόνιο, ένα ηλεκτρόνιο και ένα αντινετρίνο: 10n → 11p+e-
+ve. Έτσι ο αριθμός των πρωτονίων Ζ στο θυγατρικό πυρήνα αυξάνεται κατά 1, ενώ ο
αριθμός των νετρονίων μειώνεται κατά 1, οπότε ο συνολικός αριθμός των νουκλεονίων Α
δε μεταβάλλεται.
Τα σωματίδια β κινούνται ταχύτερα σε σχέση με τα σωματίδια α. Είναι μικρά και
ελαφριά και μπορούν να κινηθούν έως 3 μέτρα μέσα στον αέρα ή 1mm σε φύλλο
μολύβδου.
2.16 Διάσπαση β+
Τo αντίθετο από την διάσπαση β- συμβαίνει στην διάσπαση β+. Ο μητρικός πυρήνας
διασπάται και μεταστοιχειώνεται σε ένα θυγατρικό και ένα ποζιτρόνιο. Το ποζιτρόνιο είναι
ένα ηλεκτρόνιο με θετικό φορτίο. Ο θυγατρικός πυρήνας έχει ένα πρωτόνιο λιγότερο και
ένα νετρόνιο περισσότερο.
Εικόνα 2.11: Διάσπαση β+
Το ποζιτρόνιο προκύπτει από την μετατροπή ενός πρωτονίου σε ένα νετρόνιο και
ένα ποζιτρόνιο. Μία χαρακτηριστική περίπτωση διάσπασης β+ είναι η διάσπαση του
πυρήνα του νατρίου ως εξής:
11Na → 10Ne+e +ve
22 22 +
Δηλαδή κατά τη διάσπαση β ο μητρικός πυρήνας ΑΖΧ μεταστοιχειώνεται στον

+
θυγατρικό ΑΖ-1Χ.
Όμοια με τη διάσπαση β-, το γεγονός ότι κατά τη διάσπαση β+ εκπέμπεται από τον
πυρήνα ένα ποζιτρόνιο e+ και ένα νετρίνο ve, δε σημαίνει ότι αυτά τα δύο σωμάτια υπήρχαν
μέσα στον πυρήνα. Στην ουσία η πραγματική φύση της διάσπασης β+ είναι η διάσπαση
ενός πρωτονίου σε ένα νετρόνιο, ένα ποζιτρόνιο (e+) και ένα νετρίνο του ηλεκτρονίου (ve)
ή συμβολικά: 11p → 10n+e++ve
|386|
2.17 Διάσπαση με σύλληψη ηλεκτρονίων
Διάσπαση συμβαίνει και όταν ένα από τα ηλεκτρόνια της εσωτερικής τροχιάς
«συλλαμβάνεται» από τον πυρήνα και μετασχηματίζει ένα πρωτόνιο σε νετρόνιο. Με τη
διαδικασία αυτή το φορτίο του πυρήνα ελαττώνεται κατά μία μονάδα χωρίς όμως
ουσιαστική μεταβολή της μάζας του.
Παράδειγμα μιας τέτοιας διαδικασίας είναι η αντίδραση:
40
Κ+τροχιακό e- => 40Ar+γ+ενέργεια
Στην εξίσωση αυτή, το γ αντιπροσωπεύει ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία υψηλής
ενέργειας, η οποία εκπέμπεται από ένα διεγερμένο πυρήνα, ο οποίος μεταπίπτει σε μια
λιγότερο διεγερμένη κατάσταση.
Εικόνα 2.12: Διάσπαση με σύλληψη ηλεκτρονίων
2.18 Διάσπαση γ ή ακτινοβολία γ
Πολύ συχνά ένας πυρήνας, μετά από μία διάσπαση α ή β, μεταστοιχειώνεται σε

άλλο πυρήνα, ο οποίος βρίσκεται σε μία διεγερμένη ενεργειακή στάθμη. Ο νέος
διεγερμένος πυρήνας μεταπίπτει σε μία χαμηλότερη ενεργειακή στάθμη με ταυτόχρονη
εκπομπή ενός ή περισσότερων φωτονίων. Η διαδικασία αυτή είναι παρόμοια με τη
διαδικασία εκπομπής φωτός από άτομα, όταν ηλεκτρόνια μεταπίπτουν από ανώτερες
ενεργειακές στάθμες σε χαμηλότερες.
Τα φωτόνια που εκπέμπονται κατά τις αποδιεγέρσεις πυρήνων ονομάζονται ακτίνες
ή σωματίδια γ και έχουν πολύ υψηλές ενέργειες σε σχέση με τις ενέργειες των φωτονίων
του ορατού φωτός. Ένα παράδειγμα εκπομπής ακτινών γ είναι το παρακάτω:
86Rn* →
222 222
86Rn+γ
Εικόνα 2.13: Αποδιέγερση πυρήνα Rn* με εκπομπή ακτινοβολίας γ
|387|
Το σύμβολο (*) δηλώνει διεγερμένη στάθμη.
Πρέπει να τονιστεί ότι, κατά την εκπομπή της ακτινοβολίας γ δεν αλλάζει ούτε ο
ατομικός, ούτε ο μαζικός αριθμός του πυρήνα. Γενικά, στη φύση υπάρχουν πολλά
ραδιενεργά στοιχεία που διασπώνται αυθόρμητα. Συχνά, όταν ένας ραδιενεργός πυρήνας
διασπάται, ο θυγατρικός πυρήνας μπορεί να είναι κι αυτός ασταθής. Τότε συμβαίνει μια
σειρά διαδοχικών διασπάσεων, μέχρι να καταλήξουμε σε ένα σταθερό πυρήνα.
Σημειώνεται ότι στη ακτινογραφία χρησιμοποιούνται κυρίως οι ακτίνες γ.
2.19 Ακτινοβολία νετρονίων
Όταν ένας πυρήνας έχει μικρό αριθμό νουκλεονίων, ενώ ο αριθμός των νετρονίων
του είναι σχετικά μεγάλος, είναι δυνατό να διασπαστεί με εκπομπή νετρονίου. Έτσι λοιπόν,
προκύπτει ένας θυγατρικός πυρήνας και ένα νετρόνιο. Η διάσπαση αυτή είναι σπάνια και
απαντάται κυρίως στα τεχνητά ραδιοϊσότοπα.
Η ακτινοβολία νετρονίων αποτελείται από μία ροή νετρονίων τα οποία δε φέρουν
ηλεκτρικό φορτίο. Παράγονται από πυρηνικούς αντιδραστήρες, επιταχυντές και
ραδιοϊσότοπα. Τα ταχέως κινούμενα νετρόνια που παράγονται πρέπει να επιβραδυνθούν
πριν χρησιμοποιηθούν στην ακτινογραφία. Αυτά τα βραδέως κινούμενα πλέον νετρόνια τα
οποία έχουν και χαμηλότερη ενέργεια, καλούνται θερμικά νετρόνια.
|388|
3. ΑΛΛΗΛΕΠΙΔΡΑΣΗ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΩΝ ΜΕ ΤΗΝ ΥΛΗ
Η ακτινοβολία είναι ενέργεια σε μορφή κυμάτων ή κινούμενων υποατομικών

σωματιδίων. Διακρίνεται σε δύο μεγάλες κατηγορίες ανάλογα με την ενέργεια και την
επίδρασή της στην ύλη: την ιοντίζουσα και τη μη ιοντίζουσα. Όλοι δεχόμαστε ακτινοβολία
από διάφορες φυσικές και τεχνητές πηγές οι οποίες βρίσκονται παντού γύρω μας. Η
ακτινοβολία επιδρά στον οργανισμό με πολύπλοκο τρόπο, άλλοτε ευεργετικά και άλλοτε
βλαβερά, ανάλογα με το είδος, την ένταση και την ενέργεια που μεταφέρει.
Ως φωτονιακές ακτινοβολίες χαρακτηρίζονται οι ακτίνες Χ και οι ακτίνες γ. Οι
ακτίνες αυτές είναι ηλεκτρομαγνητικής φύσεως και διαφέρουν μεταξύ τους μόνο ως προς
την προέλευσή τους δηλαδή τον τρόπο παραγωγής τους.
Ως ακτίνες Χ χαρακτηρίζονται οι ακτινοβολίες που εκπέμπονται από τις
αποδιεγέρσεις ατόμων ή κατά τις επιβραδύνσεις ηλεκτρονίων μεγάλης ταχύτητας.
Ως ακτίνες γ χαρακτηρίζονται οι ακτινοβολίες που εκπέμπονται κατά τις αποδιεγέρσεις
πυρήνων ή που δημιουργούνται κατά το φαινόμενο της εξαύλωσης.
Η ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία όπως οι ακτίνες Χ συμπεριφέρονται άλλοτε ως
σωματίδια και άλλοτε ως κύματα. Τα σωματίδια αυτά αντιστοιχούν σε αυτοτελή πακέτα
ενέργειας που ονομάζονται quanta ή φωτόνια. Τα φωτόνια ταξιδεύουν με την ταχύτητα του
φωτός και η ενέργεια που κάθε φωτόνιο μεταφέρει εξαρτάται από τη συχνότητα του.
c
E = h • f = h ---------
λ
Όπου:
E: η ενέργεια φωτονίου (Joule ή eV)
h: η σταθερά του Planck ( 6,626•10-34J•s) ή (4,135•10-18keV•s)
f: η συχνότητα της ακτινοβολίας (Hz)
c: η ταχύτητα του φωτός (3•108m/s)
λ: το μήκος κύματος της ακτινοβολίας (nm)
3.1 Μηχανισμοί αλληλεπίδρασης ακτινοβολίας και ύλης
Οι βασικοί μηχανισμοί αλληλεπίδρασης της ακτινοβολίας με την ύλη, οι οποίοι

οδηγούν στη μείωση της έντασης της ιοντίζουσας ακτινοβολίας αναλύονται στη συνέχεια.
Η ένταση λοιπόν της ιοντίζουσας ακτινοβολίας, μειώνεται με τουλάχιστον έναν από τους
παρακάτω τρόπους:
• Τη σκέδαση Rayleigh
• Το φωτοηλεκτρικό φαινόμενο
• Το φαινόμενο Compton ή σκέδαση Compton
• Το φαινόμενο δίδυμης γένεσης
|389|
3.2 Σκέδαση Rayleigh
Σε αυτή τη διαδικασία, τα φωτόνια εκτρέπονται από τα εξωτερικά ηλεκτρόνια χωρίς

να επηρεάσουν το ενεργειακό δυναμικό ή να απελευθερώσουν ηλεκτρόνια. Στην
διαδικασία αυτή οφείλεται περίπου το 20% της συνολικής σκέδασης της εκπεμπόμενης
ακτινοβολίας. Η σκέδαση κατά Rayleigh βρίσκει εφαρμογή σε ακτινοβολία χαμηλής
ενέργειας, η οποία διαπερνά στοιχεία με υψηλό ατομικό αριθμό.
Εικόνα 3.1: Σκέδαση Rayleigh
3.3 Φωτοηλεκτρικό φαινόμενο
Όταν ακτίνες Χ χαμηλής σχετικά ενέργειας διέρχονται μέσα από ένα υλικό και το
φωτόνιο συγκρουστεί με ένα ηλεκτρόνιο του ατόμου του υλικού, τότε το ηλεκτρόνιο αυτό
έχοντας απορροφήσει την ενέργεια του φωτονίου εγκαταλείπει την εσωτερική τροχιά του
ατόμου. Αυτό το φαινόμενο ονομάζεται φωτοηλεκτρικό φαινόμενο και λαμβάνει χώρα στο
αντικείμενο, στο ακτινογραφικό φιλμ και στα φίλτρα που χρησιμοποιούνται.
Εικόνα 3.2: Φωτοηλεκτρικό φαινόμενο
Όπως ήδη αναφέρθηκε, η διαδικασία αυτή βρίσκει εφαρμογή σε ακτινοβολίες

χαμηλής σχετικά ενέργειας, π.χ. χαμηλότερες από 100keV για χάλυβα καθώς και σε
ακτινοβολίες υψηλότερης ενέργειας έως και 2MeV, όταν διαπερνούν υλικά με υψηλό
ατομικό αριθμό.
|390|
3.4 Σκέδαση Compton
Σε αυτή τη διαδικασία ένα φωτόνιο αλληλεπιδρά με ένα ηλεκτρόνιο εξωτερικής

τροχιάς δίνοντας του μέρος της ενέργειας του (θυμίζουμε ότι είναι ένα χαλαρά
συνδεδεμένο ηλεκτρόνιο). Το ηλεκτρόνιο αυτό έχοντας περίσσεια ενέργειας εγκαταλείπει
το άτομο. Το άτομο ιονίζεται και φορτίζεται θετικά. Το φωτόνιο συνεχίζει την πορεία του,
ωστόσο αλλάζει η διεύθυνση του, σκεδάζεται και έχει μικρότερη ενέργεια Eτ αφού έδωσε
μέρος της στο ηλεκτρόνιο. Η αλλαγή διεύθυνσης του φωτονίου έχει εύρος από 0 έως 180
μοίρες.
Αν η γωνία σκέδασης είναι 180 μοίρες τότε λέμε ότι έχουμε οπισθοσκέδαση. Στο
τέλος λοιπόν του φαινομένου έχουμε ένα σκεδασμένο φωτόνιο μικρότερης ενέργειας από
την αντίστοιχη αρχική και ένα ελεύθερο ηλεκτρόνιο το οποίο έχει αποσπαστεί από την
εξωτερική τροχιά του ατόμου.
Στο φαινόμενο Compton αλλάζει το μήκος κύματος της ηλεκτρομαγνητικής
ακτινοβολίας κατά τη σκέδασή της από φορτισμένα σωματίδια. Το σκεδαζόμενο τμήμα της
ακτινοβολίας έχει μήκος κύματος μεγαλύτερο από το μήκος κύματος της προσπίπτουσας
ακτινοβολίας και άρα μικρότερη συχνότητα. Η μεταβολή του μήκους κύματος ανάμεσα
στην προσπίπτουσα και τη σκεδαζόμενη δέσμη εξαρτάται μόνο από τη γωνία ανάμεσα στις
δύο δέσμες.
Η σκέδαση Compton αρχίζει να παρατηρείται για ενέργεια ακτινοβολίας της τάξεως
των 100keV έως 10ΜeV.
Εικόνα 3.3: Σκέδαση ή φαινόμενο Compton
3.5 Δίδυμη γένεση
Μέχρι τώρα oι αλληλεπιδράσεις που αναφέρθηκαν συμβαίνουν μεταξύ ενός

φωτονίου και των ηλεκτρονίων του ατόμου ενός υλικού. Στην προκειμένη περίπτωση η
αλληλεπίδραση συμβαίνει μεταξύ ενός φωτονίου και του πυρήνα του ατόμου. Κατά την
συγκεκριμένη αλληλεπίδραση, το φωτόνιο εξαφανίζεται και στη θέση του εμφανίζονται
ένα ηλεκτρόνιο και ένα ποζιτρόνιο τα οποία κινούνται σε αντίθετες κατευθύνσεις. Το
ποζιτρόνιο είναι ένα ηλεκτρόνιο με θετικό φορτίο. Ουσιαστικά λοιπόν, κατά τη διάρκεια
του φαινομένου έχουμε μετατροπή της ενέργειας του φωτονίου σε μάζα αποτελούμενη από
ένα ηλεκτρόνιο και ένα ποζιτρόνιο. Στη συνέχεια, το ποζιτρόνιο και το ηλεκτρόνιο
συγκρούονται μεταξύ τους εκπέμποντας δύο φωτόνια τα οποία απορροφώνται με κάποιον
ή κάποιους από τους μηχανισμούς που έχουν αναφερθεί.
Το φαινόμενο της δίδυμης γένεσης συμβαίνει για ενέργεια ακτινοβολίας άνω των
1,02ΜeV.
|391|
Σημειώνεται ότι για να γίνει η παραγωγή του ζεύγους πρέπει η ενέργεια του
φωτονίου να είναι τουλάχιστον ίση με την ολική ενέργεια ηρεμίας των δύο σωματιδίων,
δηλαδή στην περίπτωση ηλεκτρονίου-ποζιτρονίου 1,02ΜeV.
Εικόνα 3.4: Δίδυμη γένεση
|392|
4. ΤΥΠΟΙ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ
Τα ηλεκτρομαγνητικά κύματα ταξιδεύουν σε δέσμες και σύμφωνα με τη θεωρία των

κβάντων (quantum), δεν είναι συνεχόμενα κύματα αλλά πακέτα ενέργειας. Κάθε πακέτο
ενέργειας αποτελείται από συνδυασμούς μηκών κύματος. Ως μήκος κύματος λ ορίζεται η
απόσταση μεταξύ δύο διαδοχικών κορυφών ενός κύματος. Όσο μικρότερο είναι το μήκος
κύματος, τόσο μεγαλύτερη είναι η διεισδυτικότητα της ακτινοβολίας.
Εικόνα 4.1: Φάσμα ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας
Το μήκος κύματος υπολογίζεται από τη σχέση: λ = c/f η οποία προκύπτει από την
βασική εξίσωση της κυματικής: c = λ•f. Η ενέργεια ενός φωτονίου δίνεται από την σχέση
Ε = h•f, όπου h η σταθερά του Planck ίση με 6,626•10-34J•s ή 4,135•10-15eV•s.
Το μήκος κύματος στο ηλεκτρομαγνητικό φάσμα ποικίλει από τα μεγαλύτερα μήκη
(στα ραδιοκύματα) έως τα πολύ μικρά μήκη κύματος της κοσμικής ακτινοβολίας. Οι
ακτινοβολίες Χ και γ έχουν μήκη κύματος πολύ μικρότερα από του ορατού φωτός και της
υπεριώδους ακτινοβολίας. Τα εύρη των μηκών κύματος του ορατού φωτός, της υπέρυθρης
ακτινοβολίας (UV), της ακτινοβολίας Χ, της ακτινοβολίας γ και της κοσμικής
ακτινοβολίας φαίνεται στον Πίνακα 4.1.
Πίνακας 4.1: Ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία και μήκος κύματος

Ηλεκτρομαγνητική Ακτινοβολία Μήκος Κύματος (nm)
Ορατό Φως ≈700 - 400
UV ακτινοβολία ≈400 - 100
Χ ακτινοβολία ≈0,025 - 0,003
γ ακτινοβολία ≈0,015 - 0,001
Βήτατρο και γραμμικοί επιταχυντές ≈0,001 - 0,00004
Κοσμική ακτινοβολία <0,000025
Οι ακτινοβολίες Χ έχουν ένα ευρύ φάσμα μηκών κύματος. Τα μήκη κύματος

εξαρτώνται από την κινητική ενέργεια λόγω της αλληλεπίδρασης των ταχύτατα
κινουμένων ηλεκτρονίων και των υποατομικών σωματιδίων. Στις γεννήτριες παραγωγής
ακτίνων Χ η διαφορά δυναμικού μεταξύ της καθόδου και της ανόδου (στόχου) καθορίζει
την ταχύτητα των ηλεκτρονίων. Το ηλεκτρικό κύκλωμα της γεννήτριας επηρεάζει επίσης
το μήκος κύματος. Μικρά μήκη κύματος παράγονται στη μέγιστη τιμή του
εναλλασσόμενου ρεύματος, ενώ μεγάλα μήκη κύματος παράγονται στην αρχή και στο
|393|
τέλος των κύκλων. Τα ισότοπα παράγουν ακτινοβολία γ με διακριτά μήκη κύματος τα
οποία είναι σταθερά για ένα δεδομένο ισότοπο.
4.1 Φυσικές και τεχνητές πηγές ακτινοβολίας
4.1.1 Φυσικές πηγές ακτινοβολίας
Συνήθως, ως φυσική πηγή ακτινοβολίας χρησιμοποιείται το ράδιο. Τα συγκεκριμένα

ισότοπα δίνουν μια πολύ σκληρή ακτινοβολία, η οποία τα καθιστά ιδιαίτερα κατάλληλα για
την εξέταση αντικειμένων μεγάλου πάχους.
Ένα από τα μειονέκτημα αυτών των φυσικών πηγών ακτινοβολίας, εκτός από το
υψηλό τους κόστος, είναι το μέγεθός τους, αφού οι διαστάσεις τους δεν είναι αρκετά
μικρές, ώστε να παραχθούν καλής ποιότητας ακτινογραφίες. Στις μέρες μας η χρήση των
φυσικών πηγών ακτινοβολίας έχει αντικατασταθεί από τις τεχνητές πηγές ακτινοβολίας.
4.1.2 Τεχνητές πηγές ακτινοβολίας
Οι τρεις βασικές μέθοδοι παραγωγής τεχνητών ραδιοϊσότοπων είναι με

βομβαρδισμό νετρονίων στον πυρηνικό αντιδραστήρα, με διαχωρισμό σχάσιμων πυρήνων
και με επιταχυντές φορτισμένων σωματιδίων.
Οι τεχνητές πηγές ακτινοβολίας στη βιομηχανική ακτινογραφία είναι αποτέλεσμα
της ακτινοβόλησης μέσα σε έναν πυρηνικό αντιδραστήρα. Με αυτόν τον τρόπο, ήδη από το
1947 έχουν παραχθεί ραδιενεργά ισότοπα σε σχετικά μεγάλες ποσότητες, με ικανοποιητική
καθαρότητα και σε επαρκή συγκέντρωση. Η συγκέντρωση είναι εξαιρετικά σημαντική στη
βιομηχανική ακτινογραφία επειδή το μέγεθος της πηγής πρέπει να είναι όσο το δυνατόν
μικρότερο. Άλλοι παράγοντες από τους οποίους εξαρτάται η καταλληλότητα μίας πηγής
στην βιομηχανική ακτινογραφία είναι το μήκος κύματος και η ένταση της ακτινοβολίας, ο
χρόνος ημισείας ζωής και η ειδική ενεργότητα της πηγής. Σημειώνεται ότι, είναι διαθέσιμα
πολλά τεχνητά ραδιοϊσότοπα, ωστόσο μόνο ορισμένα από αυτά είναι κατάλληλα για τη
βιομηχανική ακτινογραφία.
4.2 Πλεονεκτήματα και μειονεκτήματα των ισοτόπων στην βιομηχανική

ακτινογραφία
• Δεν απαιτούν παροχή ηλεκτρικής ενέργειας (ευκολία χρήσης στο πεδίο).
• Η προμήθεια τους γίνεται σε ένα εύρος διαστάσεων πηγής, ανάλογα με την
εφαρμογή.
• Έχουν μεγάλο εύρος στην επιλογή της ενέργειας της ακτινοβολίας.
• Έχουν αυξημένη σκληρότητα ακτινοβολίας (άρα μεγαλύτερη ικανότητα διείσδυσης)
συγκριτικά με τις συμβατικές γεννήτριες παραγωγής ακτίνων Χ.
• Δεν απενεργοποιούνται.
• Το επίπεδο ενέργειας (δηλαδή η σκληρότητα ακτινοβολίας) δε μπορεί να ρυθμιστεί.
• Η ένταση της ακτινοβολίας δε μπορεί να ρυθμιστεί.
• Έχουν περιορισμένη διάρκεια ζωής, η οποία καθορίζεται από το χρόνο ημίσειας
ζωής του ισότοπου.
• Δημιουργούν μικρότερη αντίθεση σε σύγκριση με τον εξοπλισμό παραγωγής
ακτίνων Χ
|394|
4.3 Δημιουργία ακτινοβολίας γ στη βιομηχανική ακτινογραφία
Η ακτινοβολία γ στη βιομηχανική ακτινογραφία εκπέμπεται από τεχνητά

ραδιενεργά ισότοπα, τα ραδιονουκλεΐδια. Ένα ραδιενεργό ισότοπο είναι η ασταθής
κατάσταση ενός στοιχείου, το οποίο διαθέτει διαφορετικό αριθμό νετρονίων σε σχέση με
αυτόν στην κατάσταση ευστάθειας.
Ο διαφορετικός αριθμός νετρονίων οδηγεί σε μεταβολή της μάζας, επομένως ο
μαζικός αριθμός Α θα είναι διαφορετικός. Ωστόσο, ο ατομικός αριθμός Ζ παραμένει ο
ίδιος.
Εάν ένα υλικό είναι ραδιενεργό, εκπέμπει ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία, η οποία
είναι το αποτέλεσμα διασπάσεων των ραδιενεργών ισοτόπων. Οι διασπάσεις των ισοτόπων
ανά μονάδα χρόνου αποτελεί την ενεργότητα της πηγής και μετριέται σε Curies (Ci) ή
Becquerels (Bq).
4.4 Διεισδυτικότητα
Η ενεργότητα των ραδιενεργών ισοτόπων δε σχετίζεται με τη διεισδυτικότητα της

ακτινοβολίας που παράγουν οι ακτινοβολίες γ. Η διεισδυτικότητα εξαρτάται από το μήκος
κύματος της ακτινοβολίας. Για παράδειγμα, το κοβάλτιο-60 διαθέτει εξαιρετικά μεγάλη
διεισδυτικότητα και μπορεί να χρησιμοποιηθεί για ακτινογράφηση ελασμάτων με πάχος
μεγαλύτερο από 200mm, διότι η ακτινοβολία γ που εκπέμπει έχει πολύ μικρό μήκος
κύματος.
Στην βιομηχανική ακτινογραφία, όπως ήδη έχουμε αναφέρει, χρησιμοποιούνται
κυρίως τρία ισότοπα: το ιρίδιο-192, το σελήνιο-75 και το κοβάλτιο-60. Η πηγή από
σελήνιο είναι αρκετά εύχρηστη καθώς επιτρέπει ελαφρύτερη συσκευή έκθεσης σε σχέση
με το ιρίδιο. Λόγω του μέσου επιπέδου ενέργειας αποτελεί συχνά μια καλή εναλλακτική
λύση σε σύγκριση με τις γεννήτριες Χ, καθώς δεν απαιτεί παροχή ηλεκτρικής ενέργειας.
4.5 Ραδιενεργός διάσπαση
Όταν ένα άτομο υποβάλλεται σε ραδιενεργό διάσπαση, εκπέμπει μία ή περισσότερες

μορφές ακτινοβολίας επαρκούς ενέργειας ώστε να ιονίσει τα άτομα με τα οποία
αλληλεπιδρά. Η ιοντίζουσα ακτινοβολία μπορεί να αποτελείται από υποατομικά σωματίδια
υψηλής ταχύτητας τα οποία αποβάλλονται από τον πυρήνα ή την ηλεκτρομαγνητική
ακτινοβολία (ακτίνες γ) που εκπέμπεται από τον πυρήνα.
Ακριβώς με τον ίδιο τρόπο που τα ηλεκτρόνια ενός ατόμου απορροφούν ορισμένη
ενέργεια και διεγείρονται σε μια από τις καταστάσεις διεγέρσής του, έτσι και τα
νουκλεόνια ενός πυρήνα, όταν βρεθούν με περίσσεια ενέργειας, δηλαδή με ενέργεια που
είναι μεγαλύτερη από εκείνη που χαρακτηρίζει τη θεμελιώδη κατάστασή τους, απορροφούν
ενέργεια και τότε λέγεται ότι ο πυρήνας αυτός βρίσκεται σε μια από τις επιτρεπόμενες
καταστάσεις διεγέρσής του. Ένας πυρήνας που βρίσκεται σε διεγερμένη κατάσταση είναι
δυνατό να μεταπέσει σε μια άλλη λιγότερο διεγερμένη (χαμηλότερη στάθμη) ή ακόμα και
στη θεμελιώδη, με την εκπομπή ενός ή περισσοτέρων φωτονίων, ενέργειας ίσης προς τη
διαφορά των αντίστοιχων σταθμών διέγερσης. Το φαινόμενο αυτό χαρακτηρίζεται ως
αποδιέγερση του πυρήνα. Τα φωτόνια που προκύπτουν κατά αυτό τον τρόπο έχουν
συνήθως ενέργειες μεγαλύτερες από τις ενέργειες των φωτονίων που προκύπτουν κατά τις
ατομικές αποδιεγέρσεις και αποτελούν την ακτινοβολία γ.
|395|
Πίνακας 4.2: Φάσμα ακτινοβολίας των ραδιενεργών ισοτόπων και ονομαστικές τιμές
Αριθμός
Ονομαστική
Ισότοπο φασματικών Βασικά ενεργειακά επίπεδα
τιμή
γραμμών
Κοβάλτιο 60 2 1,17 και 1,34MeV 1,25ΜeV
Καίσιο 137 1 0,66MeV 0,66ΜeV
Ιρίδιο 192 >10 0,3, 0,31, 0,32, 0,47 και 0,6MeV 0,45ΜeV
Σελήνιο 75 >4 120, 140 και 400keV 320keV
Υττέρβιο 169 >6 0,06 και 0,2MeV 200keV
Θούλιο 170 2 52 και 84keV 72keV
Με βάση τα στοιχεία του φάσματος καθίσταται σαφές ότι το κοβάλτιο-60, το

καίσιο-137 και το ιρίδιο-192 παράγουν ακτινοβολία υψηλής ενέργειας η οποία είναι
κατάλληλη για την χρήση σε υλικά μεγάλου πάχους.
Από την άλλη πλευρά, το υττέρβιο-169 είναι μια πηγή που παράγει σχετικά μαλακή
ακτινοβολία και με σχετικά μικρές διαστάσεις πηγής της τάξεως των 0,5mm. Είναι
κατάλληλο για ακτινογραφική εξέταση σε περιμετρικές συγκολλήσεις σωλήνων μικρής
διαμέτρου και σε λεπτά πάχη τοιχώματος, με την πηγή τοποθετημένη κεντρικά ώστε η
συγκόλληση να μπορεί να εκτεθεί ομοιόμορφα σε μία έκθεση, όπως φαίνεται στην Εικόνα
4.2.
Εικόνα 4.2: Πηγή υττέρβιου-169 τοποθετημένη στο κέντρο για την έκθεση περιφερειακής
συγκόλλησης
4.6 Ενεργότητα πηγής
Ως ενεργότητα μιας ραδιενεργής πηγής ορίζεται ο αριθμός των πυρήνων της πηγής
που διασπάται ανά δευτερόλεπτο. Μονάδα μέτρησης της ενεργότητας είναι το 1Becquerel
(Bq). Ένα Becquerel ισοδυναμεί με μία διάσπαση ανά δευτερόλεπτο (1Bq = 1/s).
Παλαιότερη μονάδα μέτρησης της ενεργότητας είναι το 1Curie. Ένα Curie ισοδυναμεί με
37GBq.
4.7 Ειδική ενεργότητα
Η συγκέντρωση της ενεργότητας ή η σχέση της μάζας του ραδιενεργού υλικού και
της ενεργότητάς του καλείται ειδική ενεργότητα. Η ειδική ενεργότητα εκφράζεται ως ο
αριθμός των Curie (Ci) ή Becquerel (Βq) ανά μονάδα μάζας ή όγκου (Ci/gr) ή (Βq/gr). Ένα
γραμμάριο κοβαλτίου-60 έχει ενεργότητα περίπου 50Curies ενώ το ιρίδιο-192 έχει
ενεργότητα 350Curies ανά γραμμάριο υλικού.
|396|
Στον Πίνακα 4.3 φαίνεται ότι μια πηγή Ir 192 διαστάσεων 2mm•2mm έχει
ενεργότητα 50Ci ενώ μια πηγή Co 60 ίδιων διαστάσεων έχει ενεργότητα 15Ci.
Προκειμένου να αυξηθεί η ενεργότητα, πρέπει να αυξηθεί το μέγεθος της πηγής.
Προκύπτει λοιπόν ότι το Ir 192 έχει μεγαλύτερη ειδική ενεργότητα από το Co 60.
Πίνακας 4.3: Μέγεθος πηγών και μέγιστη ενεργότητα

Ενεργότητα σε Curie
Διαστάσεις Πηγών
1Curie = 37GBq
Διάμετρος (mm) Μήκος (mm) Ir 192 Co 60
1,0 1,0 7,0 1,5
2,0 1,0 30 8,0
2,0 2,0 50 15
3,0 2,0 95 32
3,0 3,0 140 45
3,0 4,0 180 90
4,0 4,0 210 120
4.8 Εξασθένιση (decay)
Εξασθένιση είναι η διαδικασία μετασχηματισμού ενός ραδιονουκλεϊδίου με

ταυτόχρονη μείωση της ενεργότητάς του. Η εξασθένιση των ραδιενεργών ισοτόπων μπορεί
να συμβεί με:
• εκπομπή άλφα σωματιδίων
• εκπομπή βήτα σωματιδίων
• εγκλωβισμό ηλεκτρονίων ή εκπομπή ποζιτρονίου
• εκπομπή ακτινοβολίας γ (φωτονίων)
• τήξη
4.9 Εξασθένιση της ακτινοβολίας λόγω αλληλεπίδρασης με την ύλη: Νόμος της
εκθετικής εξασθένισης
Η αλληλεπίδραση είναι τυχαίο γεγονός και μπορούμε να μιλήσουμε μόνο για την
πιθανότητα να συμβεί. Αναφέραμε ήδη, ότι οι παράμετροι που καθορίζουν τον τρόπο
αλληλεπίδρασης της ακτινοβολίας με την ύλη είναι η ενέργεια του φωτονίου και το είδος
του υλικού (ατομικός αριθμός Ζ και πάχος).
Το μέγεθος που περιγράφει την πιθανότητα αλληλεπίδρασης φωτονίου-ύλης ανά
μονάδα μήκους διαδρομής σε αυτή ονομάζεται γραμμικός συντελεστής εξασθένισης (μ)
και εξαρτάται από την ενέργεια του φωτονίου και το είδος του υλικού.
Η πιθανότητα ανά μονάδα διαδρομής για το φωτοηλεκτρικό φαινόμενο είναι
μεγαλύτερη για χαμηλές ενέργειες και υλικά μεγάλης πυκνότητας και μεγάλου ατομικού
αριθμού, η πιθανότητα για το φαινόμενο Compton είναι μεγαλύτερη σε μεσαίες και υψηλές
ενέργειες, μεγάλη πυκνότητα αλλά ανεξάρτητη του ατομικού αριθμού, ενώ η πιθανότητα
για δίδυμη γένεση είναι μεγαλύτερη για υψηλές ενέργειες (>1,022ΜeV) και υλικά μεγάλης
πυκνότητας και μεγάλου ατομικού αριθμού.
Για να μελετήσουμε μια δέσμη σωματιδίων ή φωτονίων πρέπει να γνωρίζουμε την
ενέργεια και την ένταση της. Ως ένταση μιας δέσμης ορίζεται το πλήθος των σωματιδίων ή
των φωτονίων που περνούν μέσα από μια επιφάνεια εμβαδού 1cm2 σε ένα δευτερόλεπτο.
Με άλλα λόγια, αν μια δέσμη φωτονίων έχει ένταση 1.000 φωτόνια/cm2•s αυτό σημαίνει
|397|
ότι μέσα σε ένα δευτερόλεπτο περνούν από μια επιφάνεια ενός τετραγωνικού εκατοστού
1.000 φωτόνια.
Ας υποθέσουμε ότι μια δέσμη φωτονίων έχει αρχική ένταση Io και εισέρχεται σε ένα
υλικό πάχους x. Κάποια φωτόνια, σύμφωνα με τους μηχανισμούς που αναλύθηκαν θα
σκεδαστούν, άλλα θα αλληλεπιδράσουν με το υλικό, άλλα θα απορροφηθούν και κάποια
άλλα δε θα αλληλεπιδράσουν.
Εικόνα 4.3: Εξασθένιση λόγω αλληλεπίδρασης με την ύλη
αλληλεπιδράσουν δίνεται από την σχέση:
Ix = I0•e-μx
όπου Ι0, είναι η αρχική ένταση της δέσμης, μ ο γραμμικός συντελεστής εξασθένισης, x το
πάχος του υλικού και e η βάση των φυσικών λογαρίθμων. Η παραπάνω σχέση ονομάζεται
νόμος της εκθετικής εξασθένισης.
Στην Εικόνα 4.4 δίνεται η γραφική παράσταση του νόμου της εκθετικής
εξασθένισης σε σχέση με το πάχος x του υλικού. Όπως φαίνεται, η ένταση της
ακτινοβολίας μειώνεται εκθετικά καθώς αυξάνεται το πάχος του υλικού το οποίο διαπερνά.
Εικόνα 4.4: Γραφική απεικόνιση του νόμου εκθετικής εξασθένισης
|398|
4.10 Χρόνος υποδιπλασιασμού ή χρόνος ημισείας ζωής
Έστω N0 o αριθμός των αρχικών αδιάσπαστων πυρήνων ενός ισοτόπου. Κάποια

στιγμή, το πλήθος των ραδιενεργών πυρήνων που θα έχουν μείνει αδιάσπαστοι θα είναι το
μισό του αρχικού πλήθους Ν0. Ο χρόνος που χρειάστηκε για να συμβεί αυτό δηλαδή, ο
χρόνος που απαιτήθηκε ώστε ο αριθμός των ραδιενεργών πυρήνων να μειωθεί στο μισό του
αρχικού αριθμού N0, ονομάζεται χρόνος υποδιπλασιασμού ή χρόνος ημισείας ζωής Τ1/2.
Για παράδειγμα: Έστω ότι ένα στοιχείο έχει χρόνο ημισείας ζωής Τ1/2 = 6 ώρες και
διαθέτουμε αρχικά N0 = 100 πυρήνες αυτού του στοιχείου. Σε έξι ώρες θα έχουν απομείνει
50 πυρήνες. Μετά από άλλες έξι ώρες (δηλαδή 2Τ1/2) θα έχουν μείνει 25 πυρήνες, κοκ.
Πίνακας 4.4: Αριθμός διασπασμένων και αδιάσπαστων πυρήνων σε διάφορους χρόνους

Πυρήνες που παραμένουν
Μετά από χρόνο (t) Πυρήνες που διασπάστηκαν
αδιάσπαστοι
Τ1/2 Ν0/2 Ν0/2
2Τ1/2 Ν0/4 3Ν0/4
3Τ1/2 Ν0/8 7Ν0/8
Έχει βρεθεί ότι σε μια ποσότητα ραδιενεργού υλικού, ο αριθμός των αδιάσπαστων
πυρήνων Ν μετά από χρόνο t δίνεται από την σχέση N = N0•e-λt. Αν στη σχέση N = N0•e-λt,
θέσουμε Ν = Ν0/2 για t = Τ1/2 έχουμε: Ν0/2 = N0e-λ•T1/2 ή 1/2 = e-λ•T1/2.
Λογαριθμίζοντας έχουμε: ln½ = lne-λ•T1/2 από όπου, εφαρμόζοντας τις ιδιότητες των
λογαρίθμων έχουμε: ln1-ln2 = -λ•Τ1/2•lne. Όμως ln1 = 0, lne = 1, οπότε -ln2 = - λ•Τ1/2
δηλαδή: Τ1/2 = ln2/λ
Σημειώνεται ότι επειδή ln2 = 0,693, η παραπάνω σχέση γίνεται Τ1/2 = 0,693/λ
Εικόνα 4.5: Γραφική απεικόνιση του νόμου των ραδιενεργών διασπάσεων
Ο χρόνος ημίσειας ζωής είναι χαρακτηριστικός για κάθε ραδιενεργό πυρήνα.

Υπάρχουν πυρήνες με χρόνους υποδιπλασιασμού 10-20s ή και λιγότερο, ενώ υπάρχουν και
ραδιενεργοί πυρήνες με χρόνους υποδιπλασιασμού που κυμαίνονται από 10-3s μέχρι και
περισσότερο από 1015 χρόνια.
Ο χρόνος ημίσειας ζωής λοιπόν είναι ο απαιτούμενος χρόνος ώστε η ενεργότητα
ενός ισοτόπου να μειωθεί στο μισό. Μετά από μία ημίσεια ζωή, η έκθεση θα πρέπει να
διπλασιαστεί προκειμένου το ακτινογραφικό φιλμ να διαθέτει την ίδια πυκνότητα.
|399|
Για τον υπολογισμό της ενεργότητας ενός ισοτόπου παρέχονται από τον
κατασκευαστή ειδικοί πίνακες από όπου μπορεί να εξαχθεί η ενέργεια της πηγής σε κάθε
χρονική στιγμή. Εναλλακτικά, η ενεργότητα μπορεί να υπολογισθεί μέσω γραφήματος.
Εικόνα 4.6: Χρόνος ημισείας ζωής και εξασθένιση Ir 192
4.11 Πάχος υποδιπλασιασμού
Ως πάχος υποδιπλασιασμού (Half Value Layer) ορίζεται το πάχος δεδομένου υλικού

που απαιτείται για να μειώσει την ένταση μιας δέσμης φωτονίων στο μισό της αρχικής. Τo
πάχος υποδιπλασιασμού (στη βιβλιογραφία αναφέρεται και ως Half Value Thickness-
HVT) εξαρτάται από την ενέργεια των φωτονίων και το είδος του υλικού. Για παράδειγμα,
για ενέργεια φωτονίων 150keV, το πάχος υποδιπλασιασμού του μολύβδου είναι 0,30mm
ενώ για το σκυρόδεμα 22,32mm. Γίνεται αντιληπτό λοιπόν ότι ο μόλυβδος έχει μεγαλύτερη
ικανότητα να εξασθενεί την ενέργεια των φωτονίων.
Μεταβάλλοντας την ένταση της ακτινοβολίας, αυξομειώνοντας την ένταση του
ρεύματος της γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ, το πάχος υποδιπλασιασμού δε
μεταβάλλεται. Ωστόσο, αν μεταβληθεί το μήκος κύματος της ακτινοβολίας, το πάχος
υποδιπλασιασμού θα μεταβληθεί και αυτό.
Σημειώνεται ότι αρκετές φορές απαντάται και το πάχος υποδεκαπλασιασμού (Τenth
Value Layer -TVL), το οποίο ορίζεται ως το πάχος δεδομένου υλικού που απαιτείται για να
μειώθει η ένταση μιας δέσμης φωτονίων κατά 10 φορές. Μερικές φορές στη βιβλιογραφία
αναφέρεται και ως Tenth Value Thickness (ΤVT).
Πίνακας 4.5: Παραδείγματα πάχους υποδιπλασιασμού σε γεννήτριες παραγωγής ακτίνων Χ

διαφορετικής ενέργειας ακτινοβολίας με φύλλο μολύβδου και σκυρόδεμα
Ενέργεια Φύλλο μολύβδου Σκυρόδεμα
φωτονίων ΗVL (mm) ΗVL (mm)
50keV 0,06 4,32
100keV 0,27 15,10
150keV 0,30 22,32
200keV 0,52 25,00
250keV 0,88 28,00
300keV 1,47 31,21
400keV 2,50 33,00
1.000keV 7,90 44,45
|400|
Πίνακας 4.6: Παραδείγματα πάχους υποδιπλασιασμού σε ισότοπα με τη χρήση
διαφορετικών υλικών
Πηγή ΗVL σε mm
Σκυρόδεμα Χάλυβας Μόλυβδος Βολφράμιο Ουράνιο
Ir 192 44,50 12,70 4,80 3,30 2,80
Co 60 60,50 21,60 12,50 7,90 6,90
Σημείωση:
Οι τιμές που παρουσιάζονται σε αυτή τη σελίδα προορίζονται για εκπαιδευτικούς

σκοπούς.
Εικόνα 4.7: Μείωση της ακτινοβολίας σε σχέση με το πάχος υποδιπλασιασμού
Ένα πάχος υποδιπλασιασμού μπορεί να εξασθενίσει την ένταση της ακτινοβολίας

στο μισό. Εάν χρησιμοποιηθούν δύο πάχη υποδιπλασιασμού, η ένταση θα μειωθεί τέσσερις
φορές. Εάν χρησιμοποιηθούν τρία πάχη υποδιπλασιασμού, η ένταση θα μειωθεί εννιά
φορές. Γενικότερα, ν πάχη υποδιπλασιασμού θα μειώσουν την ένταση μιας δέσμης 2ν
φορές.
Η σχέση που συνδέει το πάχος υποδιπλασιασμού με το γραμμικό συντελεστή
εξασθένισης μ είναι: ΗVL = ln2/μ ή 0,693/μ. Η σχέση προκύπτει εύκολα εάν
χρησιμοποιώντας τη σχέση Ix = I0•e-μx αντικαταστήσουμε όπου x = ΗVL και Ix = I0/2.
Αναλυτικότερα θα έχουμε I0/2 = I0•e-μ•ΗVL ή ½ = e-μ•ΗVL ή ln1/2 = lne-μ•ΗVL ή ln1-
ln2= -μ•ΗVL•lne. Δεδομένου ότι ln1 = 0 και lne = 1, θα έχουμε -ln2= -μ•ΗVL ή ΗVL =
ln2/μ ή ΗVL = 0,693/μ αφού ln2 = 0,693.
To πάχος υποδιπλασιασμού μπορεί να χρησιμοποιηθεί για να εξηγήσει την αντίθεση
του αντικειμένου σε συνάρτηση με το μήκος κύματος.
|401|
Πίνακας 4.7: Πάχος υποδιπλασιασμού με τη χρήση μολύβδου
Πάχος υποδιπλασιασμού σε
Πηγή Μέση ενέργεια σε MeV
mm μολύβδου
Cs 137 0,66 8,40
Co 60 1,25 12,50
Ir 192 0,45 4,80
Se 75 0,32 2,00
Yb 169 0,20 1,00
Tm 170 0,072 0,60
Το αριστερό σχήμα της Εικόνας 4.8 δείχνει ότι χρησιμοποιώντας δύο πάχη
υποδιπλασιασμού η ενέργεια υποτετραπλασιάζεται ενώ χρησιμοποιώντας τέσσερα πάχη
υποδεκαεξαπλασιάζεται. Αντίστοιχα, το δεξί σχήμα δείχνει ότι χρησιμοποιώντας ένα πάχος
υποδιπλασιασμού, η ενέργεια υποδιπλασιάζεται ενώ με δύο πάχη υποτετραπλασιάζεται.
Επομένως, ενδεχόμενη ακτινογράφηση του αριστερού δοκιμίου θα διαθέτει υψηλότερη
ακτινογραφική αντίθεση σε σχέση με το ακτινογράφημα του δεξιού δοκιμίου. Όσο
μικρότερη είναι η ενέργεια, τόσο μεγαλύτερο είναι το μήκος κύματος, τόσο ασθενέστερη
είναι η ακτινοβολία, τόσο μικρότερη διείσδυση επιτυγχάνεται, τόσο μεγαλύτερη είναι η
αντίθεση του αντικειμένου και κατά συνέπεια τόσο μεγαλύτερη είναι η αντίθεση της
ακτινογραφικής απεικόνισης.
Επιπρόσθετα, η ακτινογραφική πυκνότητα του αριστερού δοκιμίου είναι μικρότερη
από αυτή του αντίστοιχου δεξιού, αν οι δύο εκθέσεις είναι ίδιες και επομένως προκειμένου
η πυκνότητα των δύο ακτινογραφημάτων να είναι ίδια πρέπει να αυξηθεί ο χρόνος
έκθεσης.
Εικόνα 4.8: Διατάξεις με διαφορετικά πάχη υποδιπλασιασμού
Σημείωση:
Οι τιμές που παρουσιάζονται σε αυτή τη σελίδα προορίζονται για εκπαιδευτικούς

σκοπούς.
|402|
5. ΣΥΣΚΕΥΕΣ ΕΚΘΕΣΗΣ ΑΚΤΙΝΩΝ γ
5.1 Κάψουλα ισοτόπου
Όλες οι πηγές ακτίνων γ παρέχονται σε ερμητικά σφραγισμένη κάψουλα, η οποία

πρέπει να είναι ανθεκτική στη διάβρωση, κατασκευασμένη από κράμα monel, βανάδιο,
τιτάνιο ή ανοξείδωτο χάλυβα 316. Το τιτάνιο χρησιμοποιείται για το Yb 169 και ο
ανοξείδωτος χάλυβας για το Ir 192 και το Co 60.
Ο προμηθευτής μαζί με την πηγή παρέχει και ένα πιστοποιητικό, το οποίο αναφέρει
τον τύπο της πηγής, τον αύξοντα αριθμό της, την ενεργότητα της σε μια συγκεκριμένη
ημερομηνία καθώς και το γράφημα εξασθένισης της. Το μέγεθος της κάψουλας
υπαγορεύεται από την ειδική ενεργότητα της πηγή. Οι εξωτερικές διαστάσεις της
κυλινδρικής κάψουλας είναι περίπου 5,5•15mm, όπως φαίνεται στην Εικόνα 5.1.
Εικόνα 5.1: Τομή κάψουλας
Το μέγεθος του ισοτόπου ποικίλει με διαμέτρους από 0,5mm έως 4,0mm. Τυπικές
διατάξεις ισοτόπων έχουν τις παρακάτω διαστάσεις:
• λεπτοί δίσκοι: διαμέτρου 3,0mm και πάχους 1mm
• κύλινδροι: ύψους έως 4,0mm
• σφαιρικοί: διαμέτρου 0,6 - 3,0mm.
Γενικά οι διαστάσεις της πηγής του ισοτόπου διαφοροποιούνται ανάλογα με τον
κατασκευαστή αλλά σε γενικές γραμμές ένα ισότοπο σφαιροειδούς μορφής έχει τυπικές
διαστάσεις 1,5•1,5mm.
Τα ισότοπα που συνήθως χρησιμοποιούνται στη βιομηχανική ακτινογραφία καθώς
και τα χαρακτηριστικά τους δίνονται στον Πίνακα 5.1.
Πίνακας 5.1: Ιδιότητες και εφαρμογές ισοτόπων που χρησιμοποιούνται στη

βιομηχανική ακτινογραφία
Χρόνος
Ενεργότητα
Πηγή ημισείας Ακτινογραφούμενο υλικό και πάχος
(MeV)
ζωής
Πλαστικό, ξύλο, ελαφριά κράματα, ½inch
Tm 170 127 μέρες 0,084 and 0,54 χάλυβα ή ισοδύναμο πάχος διαφορετικού
υλικού
1½inch - 2½inch χάλυβα ή ισοδύναμο πάχος
Ir 192 71 μέρες 0,137 to 0,651
διαφορετικού υλικού
1inch - 3½inch χάλυβα ή ισοδύναμο πάχος
Cs 137 33 έτη 0,66
2½inch - 9inch χάλυβα ή ισοδύναμο πάχος
Co 60 5,3 έτη 1,17 and 1,33
|403|
Εικόνα 5.2: Κάψουλα με ισότοπο
Εικόνα 5.3: Εύκαμπτη σύνδεση
Αντίθετα με τις ακτίνες Χ, οι οποίες εκπέμπουν ένα σύνθετο φάσμα, η ακτινοβολία

γ εκπέμπει σε μονογραμμικά φάσματα (μονοχρωματική ακτινοβολία). Αποτελείται δηλαδή
από φωτόνια ορισμένων ενεργειών, που αντιστοιχούν στις διαφορές ενεργειών των
αντίστοιχων σταθμών ενέργειας των αποδιεγερμένων πυρήνων. Η Εικόνα 5.4 παρουσιάζει
το εκπεμπόμενο φάσμα για το Co 60 και το Ir 192.
Εικόνα 5.4: Φάσμα από ισότοπο Co 60 (αριστερά συμπαγείς γραμμές) και

Ir 192 (δεξιά διακεκομμένες γραμμές)
|404|
5.2 Κατηγοριοποίηση των συσκευών έκθεσης
Σύμφωνα με το πρότυπο BS 5650 (ISO 3999:2004), οι διατάξεις των ραδιενεργών

ισοτόπων ταξινομούνται στις ακόλουθες κατηγορίες, ανάλογα με τη συσκευή έκθεσης στην
οποία αποθηκεύονται τα ραδιενεργά ισότοπα.
Κλάση P: συσκευή έκθεσης σχεδιασμένη να μεταφέρεται από έναν άνθρωπο.
Κλάση M: συσκευή έκθεσης σχεδιασμένη να μεταφέρεται με κατάλληλο εξοπλισμό.
Κλάση F: σταθερή εγκατάσταση (καμπίνα) σε καθορισμένη περιοχή.
Η καμπίνα ασφαλίζει με ειδικό μηχανισμό, ηλεκτρονικά ή με κλειδί για
περιορισμένη πρόσβαση. Σε κάθε περίπτωση, το εξωτερικό περιβάλλον δεν επηρεάζεται
από τις συνθήκες που επικρατούν εντός της καμπίνας.
Συνηθισμένοι τύποι φορητών κλωβών είναι:
• κατηγορία Ι: Shutter type
• κατηγορία II: Rotation type
• κατηγορία III: Projection type.
Στις συσκευές έκθεσης της κατηγορίας I, η πηγή δεν εξέρχεται από τη συσκευή
κατά την έκθεση. Στην κατηγορία II, το ραδιενεργό ισότοπο βγαίνει εκτός της συσκευής
έκθεσης μέσω μίας ντίζας, ενώ η διαδικασία εκτελείται χειρωνακτικά, μηχανικά ή
πνευματικά. Οι συσκευές έκθεσης κατηγορίας I λειτουργούν μόνο με απομακρυσμένο
έλεγχο και κυρίως για τη ακτινογράφηση χυτών και σφυρήλατων.
Κατά την ακτινογράφηση με ακτίνες γ χρησιμοποιείται το ισότοπο το οποίο είναι
προσαρμοσμένο στην άκρη ενός εύκαμπτου συνδέσμου (pigtail). Με την βοήθεια της
ντίζας και ενός χειριστηρίου, η πηγή εξωθείται από την συσκευή έκθεσης στο άκρο ενός
εύκαμπτου σωλήνα. Το άκρο της σωλήνωσης φτάνει στο σημείο που θέλουμε να
ακτινογραφήσουμε. Μετά το πέρας της έκθεσης, το ραδιενεργό ισότοπο επιστρέφει στην
αρχική του θέση εντός της συσκευής έκθεσης. Η συσκευή έκθεσης αυτού του τύπου
ονομάζεται συσκευή έκθεσης τύπου S.
Εικόνα 5.5: Συσκευές έκθεσης
|405|
5.3 Χειρισμός και φύλαξη συσκευών ακτίνων γ
Η μεταφορά και ο χειρισμός των κλειστών πηγών υπόκεινται σε αυστηρούς διεθνείς

κανονισμούς ασφαλείας, καθώς μια πηγή εκπέμπει συνεχώς ακτινοβολία προς όλες τις
κατευθύνσεις, σε αντίθεση με μία γεννήτρια ακτίνων Χ η οποία εφόσον απενεργοποιηθεί
παύει να εκπέμπει ακτινοβολία. Κατά τη μεταφορά και τη χρήση, η πηγή πρέπει να
τοποθετείται στην ειδικά διαμορφωμένη κρύπτη, η οποία είναι κατασκευασμένη από υλικό
το οποίο απορροφά την ακτινοβολία, ενώ η πηγή είναι τοποθετημένη στην συσκευή
έκθεσης. Το επίπεδο της ακτινοβολίας στην εξωτερική επιφάνεια της συσκευής έκθεσης
δεν πρέπει να υπερβαίνει το ανώτατο καθορισμένο όριο.
Όπως ο κλωβός ασφαλείας, έτσι και η συσκευή έκθεσης πρέπει να είναι στιβαρή
κατασκευή και να λειτουργεί με ασφάλεια κάθε στιγμή. Η συσκευή έκθεσης πρέπει επίσης
να είναι υδατοστεγής και να αντέχει σε κρούσεις. Επιπλέον, το υλικό απορρόφησης της
ακτινοβολίας, όπως ο μόλυβδος, πρέπει να έχει αντοχή στην τήξη. Αυτό απαιτεί ένα
περίβλημα κατασκευασμένο από υλικό με υψηλό σημείο τήξης, όπως για παράδειγμα ο
χάλυβας. Εκτός από το μόλυβδο, ως υλικό θωράκισης χρησιμοποιείται ένα κράμα με πολύ
υψηλή περιεκτικότητα σε βολφράμιο (97%) το οποίο εκτός των άλλων είναι και δύστηκτο.
Επίσης, ένα άλλο υλικό που χρησιμοποιείται για τη θωράκιση της συσκευής
έκθεσης είναι το απεμπλουτισμένο ουράνιο το οποίο παρουσιάζει τη μεγαλύτερη
απορρόφηση ακτινοβολίας. Μειονέκτημα αυτού του υλικού είναι ότι έχει μια ελάχιστη
ραδιενέργεια, η οποία αποτελεί και το λόγο για τον οποίο σε ορισμένες χώρες δεν
επιτρέπεται η χρήση του.
Το απεμπλουτισμένο ουράνιο είναι παραπροϊόν της διαδικασίας του εμπλουτισμού
του ουρανίου που εφαρμόζεται στη βιομηχανία της πυρηνικής ενέργειας. Λόγω της υψηλής
πυκνότητας και της διαθεσιμότητάς του χρησιμοποιείται στη πολεμική βιομηχανία ως
βαριά θωράκιση σε άρματα, σε αντιαρματικά βλήματα και σε πύραυλους. Τα όπλα
απεμπλουτισμένου ουρανίου θεωρούνται συμβατικά και μπορούν να χρησιμοποιηθούν
χωρίς περιορισμούς από τις ένοπλες δυνάμεις.
Στις ειρηνικές εφαρμογές, το απεμπλουτισμένο ουράνιο χρησιμοποιείται ως
αντίβαρο στα αεροπλάνα, ως έρμα στα σκάφη και ως θωράκιση στα μηχανήματα
ακτινοθεραπείας και στη μεταφορά ραδιενεργών πηγών.
Υπάρχουν διάφορες λύσεις για το ζήτημα τόσο της ασφαλούς αποθήκευσης μιας
πηγής, όσο και του απολύτως ασφαλούς τρόπου χειρισμού της. Δύο τρόποι που
χρησιμοποιούνται συχνά για το σκοπό αυτό είναι η τοποθέτηση της πηγής εντός
περιστρεφόμενου κυλίνδρου και η τοποθέτηση της σε συσκευή έκθεσης τύπου S όπως
φαίνεται στην Εικόνα 5.6.
Εικόνα 5.6: Πηγή εντός συσκευής έκθεσης τύπου περιστρεφόμενου κυλίνδρου (αριστερά).
Συσκευή έκθεσης τύπου S (δεξιά)
|406|
Η συσκευή έκθεσης τύπου S συνήθως παρέχεται με μία διάταξη η οποία επιτρέπει
στην πηγή να εξέρχεται από τη συσκευή έκθεσης με τη βοήθεια ενός εύκαμπτου καλωδίου
(σχεδιασμός Teleflex) όπως φαίνεται στην Εικόνα 5.7.
Με τον τρόπο αυτό είναι δυνατόν να επεκταθεί το εύκαμπτο καλώδιο κατά τέτοιο
τρόπο ώστε η πηγή να μετακινείται με ασφάλεια αρκετά μέτρα έξω από τη συσκευή
έκθεσης στην επιθυμητή θέση.
Εικόνα 5.7: Διαδρομή πηγής σε θέση έκθεσης
Στην Εικόνα 5.8 παρουσιάζεται μία συσκευή έκθεσης τύπου S με πηγή ισοτόπου
σελήνιο 75, δοχείο με ελαστικό σωλήνα και σπειροειδή σύνδεσμο. Το ραδιοϊσότοπο
σελήνιο 75 έγινε δημοφιλές λόγω των νέων τρόπων παραγωγής του (εμπλουτισμός) οι
οποίοι οδήγησαν σε ένα πολύ καλύτερο συντελεστή k. Έτσι, για μια δεδομένη ενεργότητα
πηγής επιτυγχάνεται ένα πολύ μικρότερο μέγεθος της πηγής. Αυτό οδηγεί σε μια καλύτερη
και ευκρινέστερη ποιότητα ακτινογραφικής απεικόνισης σε σχέση με την αντίστοιχη, η
οποία μπορούσε να επιτευχθεί με την παλαιά μέθοδο παραγωγής του σεληνίου 75.
Με ένα μέσο επίπεδο ενεργότητας της τάξεως των 320keV, το σελήνιο 75 μπορεί να
αντικαταστήσει τον εξοπλισμό ακτίνων Χ για ένα εύρος παχών από 5mm έως 30mm στο
χάλυβα. Η αντικατάσταση αυτή εξαλείφει την ανάγκη για ηλεκτρική ενέργεια, κάτι το
οποίο εξυπηρετεί τις ακτινογραφήσεις σε απομακρυσμένες ή δυσπρόσιτες περιοχές. Τέλος,
σημειώνεται ότι η συσκευή έκθεσης του σεληνίου 75 είναι ελαφρύτερη από αυτή του
ιριδίου 192.
Εικόνα 5.8: Συσκευή έκθεσης τύπου S για Σελήνιο 75
|407|
Για τη ακτινογράφηση σε εργοτάξια με μεγάλο αριθμό προσωπικού στην περιοχή,
όπως για παράδειγμα σε υπεράκτιες εγκαταστάσεις ή σε αίθουσες συναρμολόγησης, έχουν
αναπτυχθεί συσκευές έκθεσης περιστρεφόμενου κυλίνδρου με κατευθυντήρες
(collimators), έτσι ώστε η δέσμη της ακτινοβολίας να κατευθύνεται στο σημείο που
απαιτείται. Έτσι, το ποσό της ακτινοβολίας το οποίο εκπέμπεται, απορροφάται από το
υλικό του κατευθυντήρα επιτρέποντας στο προσωπικό να εργάζεται με ασφάλεια σε
απόσταση λίγων μέτρων, ενώ η έκθεση βρίσκεται σε εξέλιξη. Τέτοιες συσκευές έκθεσης με
κατευθυντήρες είναι γνωστές με την ονομασία «CARE» (Confined Area Radiation
Equipment) ή «LORA» (Low Radiation).
Εικόνα 5.9: Συσκευή έκθεσης με κατευθυντήρα σε περιφερειακή συγκόλληση σωλήνα
Χωρίς κατευθυντήρα, η ελάχιστη απόσταση ασφάλειας είναι πάνω από 10 μέτρα (σε
όλες τις κατευθύνσεις). Οι συσκευές έκθεσης με κατευθυντήρα είναι ιδιαίτερα κατάλληλες
για συχνές και επαναλαμβανόμενες εκθέσεις όπως κατά τη ακτινογράφηση συγκολλήσεων
σε σωλήνες με διάμετρο μικρότερη από 300mm.
Στην Εικόνα 5.9 διακρίνεται μία τέτοια συσκευή έκθεσης με κατευθυντήρα κατά τη
ακτινογράφηση διπλού τοιχώματος. Για μεγαλύτερη απόσταση πηγής - φιλμ (S.F.D)
χρησιμοποιούνται μεγαλύτεροι κατευθυντήρες.
Η συγκεκριμένη συσκευή έκθεσης είναι κατάλληλη για πηγή ιριδίου 192 με
ενεργότητα μεγαλύτερη από 1.000GBq και ζυγίζει μόνο 20Kg. Για το σελήνιο 75 ένα
παρόμοιο σύστημα (Saferad) έχει βάρος 15Kg. Διάφοροι παράγοντες όπως η διάβρωση, οι
μηχανικές βλάβες, οι χημικές αντιδράσεις, η φωτιά, η έκρηξη μπορούν να προκαλέσουν
διαρροή σε μία κλειστή πηγή και να τη μετατρέψουν σε ανοικτή. Συνεπώς, συνιστάται να
γίνονται τακτικά υποχρεωτικοί έλεγχοι μέσω των οποίων ανιχνεύονται οι διαρροές σε
αρχικό στάδιο.
Οι συσκευές έκθεσης πρέπει να φυλάσσονται στην ειδική κρύπτη του κτιρίου η
οποία έχει προβλεφθεί για τον σκοπό αυτό. Κατά τη μεταφορά του εξοπλισμού με
μεταφορικό μέσο, η συσκευή πρέπει να είναι τοποθετημένη στην ειδική κρύπτη. Η κρύπτη
πρέπει να είναι κλειδωμένη και το κλειδί να το έχει εξουσιοδοτημένο άτομο. Οι συσκευές
ραδιενεργών ισοτόπων πρέπει να μην υφίστανται κακομεταχείριση.
|408|
Εικόνα 5.10: Παλαιός τύπος συσκευής έκθεσης Torch type που πλέον δε χρησιμοποιείται
(αριστερά). Shutter type (category I type to BS 5650) (δεξιά)
Εικόνα 5.11: Rotating type (category I type to BS 5650) (αριστερά).

Projection type (category II type BS 5650) (δεξιά)
5.4 Κατευθυντήρες (collimators)
Οι κατευθυντήρες χρησιμοποιούνται με πηγές ακτίνων γ για λόγους ασφαλείας και

προκειμένου να περιοριστεί η εκπεμπόμενη ακτινοβολία προς μια συγκεκριμένη
κατεύθυνση. Επίσης χρησιμοποιούνται για τη βελτίωση της ποιότητας της ακτινογραφικής
εικόνας, μειώνοντας την σκεδαζόμενη ακτινοβολία από τοιχώματα ή αντικείμενα κοντά
στη δέσμη της ακτινοβολίας. Οι κατευθυντήρες κατασκευάζονται συνήθως από βολφράμιο.
Εικόνα 5.12: Τυπικές διατάξεις κατευθυντήρων (collimators)
|409|
5.5 Σύγκριση μεταξύ ακτίνων Χ και γ
Ασφάλεια
Η χρήση των ακτίνων Χ σε γενικές γραμμές είναι ασφαλέστερη σε σύγκριση με τη
χρήση ακτινοβολίας γ, διότι οι πρώτες παράγονται από γεννήτρια, με άνοιγμα και κλείσιμο
του διακόπτη εκκίνησης. Αντιθέτως, οι γ ακτινοβολίες εκπέμπουν συνεχώς και γι’ αυτό η
πηγή (το ισότοπο) πρέπει να επιστρέφει εντός της συσκευής έκθεσης με το τέλος της
ακτινογράφησης.
Ποιότητα ακτινογραφικής απεικόνισης

Με την προϋπόθεση ότι το πάχος του υλικού, ο τύπος του φιλμ, η απόσταση πηγής-
φιλμ, πηγής-αντικειμένου και λοιποί παράγοντες παραμένουν σταθεροί, οι ακτίνες Χ
παράγουν καλύτερα αποτελέσματα και καλύτερη ποιότητα ακτινογραφικής απεικόνισης σε
σχέση με την ακτινοβολία γ.
Ωστόσο, το ισότοπο υττέρβιο-169 παράγει ακτινογραφίες η ποιότητα των οποίων
μπορεί να συγκριθεί με την αντίστοιχη των ακτίνων Χ. Αν το μήκος κύματος της
ακτινοβολίας γ είναι το ίδιο με το μήκος κύματος των ακτίνων X, τότε η ποιότητα της
ακτινογραφικής απεικόνισης είναι ίδια.
Εξοπλισμός
Η συσκευή έκθεσης με πηγή ακτινοβολίας γ παρουσιάζει σχετική ευκολία χρήσης
ενώ είναι μικρότερων διαστάσεων σε σχέση με τον ογκώδη εξοπλισμό των γεννητριών
ακτίνων Χ. Επίσης, το μέγεθος του εξοπλισμού των ακτίνων γ επιτρέπει τη χρήση τους σε
χώρους περιορισμένης πρόσβασης, όπως rack σωληνώσεων, σκαλωσιές κ.λπ.
Κόστος
Γενικά, το αρχικό κόστος απόκτησης μίας συσκευής ακτίνων γ είναι μικρότερο από
αυτό των γεννητριών ακτίνων Χ. Ωστόσο, λόγω του χρόνου ημίσειας ζωής, τα ισότοπα
πρέπει να αντικαθίστανται ανά τακτά διαστήματα.
Ευκολία χειρισμού
Η ένταση των ακτίνων Χ ρυθμίζεται από το χειριστήριο ελέγχου. Η ένταση της
ακτινοβολίας γ δε μπορεί να ρυθμιστεί.
Ιδιότητες των ακτινοβολιών Χ και γ

• Είναι ηλεκτρομαγνητικές ακτινοβολίες και κινούνται με την ταχύτητα του φωτός
στο κενό.
• Η ενέργεια τους είναι αντιστρόφως ανάλογη του μήκους κύματος.
• Δεν επηρεάζονται από ηλεκτρικά και μαγνητικά πεδία.
• Κινούνται σε ευθεία γραμμή.
• Μπορούν να διεισδύσουν στην ύλη.
• Απορροφούνται και σκεδάζονται από την ύλη.
• Ιονίζουν την ύλη.
• Προκαλούν φθορισμό σε κάποια υλικά.
• Είναι αόρατες, άοσμες και άχρωμες.
• Είναι επιβλαβείς έως καταστροφικές για τους ζωντανούς οργανισμούς.
Η βασική διαφορά των ακτινοβολιών Χ και γ έγκειται στον τρόπο παραγωγής της
ακτινοβολίας.
|410|
6. ΔΕΥΤΕΡΕΥΟΥΣΑ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑ – ΣΚΕΔΑΖΟΥΣΑ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑ
Κατά τη λήψη μιας ακτινογραφίας πρέπει να λαμβάνεται υπόψη η δευτερεύουσα ή

σκεδάζουσα ακτινοβολία. Τα φωτόνια που σκεδάζονται προκαλούν απώλεια της αντίθεσης
και της ευκρίνειας στο ακτινογραφικό φιλμ. Η δευτερεύουσα ακτινοβολία είναι το
αποτέλεσμα της πρόσκρουσης της πρωτεύουσας ακτινοβολίας σε ένα αντικείμενο ή σε ένα
τοίχωμα ή στην οπίσθια πλευρά του ακτινογραφικού φιλμ (πλευρική ή οπίσθια σκέδαση).
Ο έλεγχος της πλευρικής σκέδασης και πιο συγκεκριμένα ο περιορισμός της μπορεί να
επιτευχθεί με την τοποθέτηση του φιλμ μακριά από τα σημεία τα οποία προκαλούν τη
δευτερεύουσα ακτινοβολία, εφόσον αυτό είναι εφικτό ή τοποθετώντας κατευθυντήρες οι
οποίοι περιορίζουν την απόκλιση της πρωτεύουσας ακτινοβολίας από την κεντρική της
δέσμη.
Σημειώνεται ότι η σκέδαση της ακτινοβολίας αποτελεί ένα πρόβλημα, τόσο κατά
την ακτινογράφηση με ακτίνες Χ όσο και με ακτίνες γ.
Εικόνα 6.1: Σκεδαζόμενη ακτινοβολία
Για να ελέγξουμε την οπίσθια σκέδαση σύμφωνα και με το πρότυπο ΕΝ ISO 17636-
1 ή ASME V απαιτείται η τοποθέτηση ενός μολυβδογράμματος σχήματος «Β», ύψους
μεγαλύτερου ή ίσου των 10mm και πάχους μεγαλύτερου ή ίσου των 1,5mm στο πίσω
μέρος του ακτινογραφικού φιλμ. Εάν το μολυβδόγραμμα αποτυπωνόταν στο
ακτινογραφικό φιλμ αυτό θα σήμαινε ταυτόχρονα και την ύπαρξη οπίσθιας σκέδασης.
Η σκεδαζόμενη ακτινοβολία είναι λιγότερο διεισδυτική σε σύγκριση με την
πρωτεύουσα ακτινοβολία και έχει μεγαλύτερο μήκος κύματος. Επειδή οι σκεδαζόμενες
ακτινοβολίες είναι λιγότερο διεισδυτικές μπορούν να ανακοπούν από ένα φύλλο μολύβδου.
Αυτός είναι και ο λόγος που χρησιμοποιούνται μολύβδινες επιφάνειες φίλτρων και
διαφραγμάτων.
Ο έλεγχος και περιορισμός της οπίσθιας σκέδασης επιτυγχάνεται με τη χρήση
κασέτας με ένα φύλλο μολύβδου πάχους 0,010inch. Αποτελεί συχνή πρακτική η
τοποθέτηση ενός φύλλου μολύβδου πάχους 0,005inch μπροστά και 0,010inch πίσω από το
ακτινογραφικό φιλμ.
|411|
Αν και η εξάλειψη της σκέδασης της ακτινοβολίας δεν είναι εφικτή, υπάρχουν
αρκετοί πρακτικοί τρόποι περιορισμού της. Τα μέσα για τη μείωση των επιπτώσεων της
σκεδαζόμενης ακτινοβολίας επιλέγονται με γνώμονα το κόστος, την ευκολία και την
αποτελεσματικότητα.
Εικόνα 6.2: Διάφορες μορφές μολυβδογραμμάτων
6.1 Υποκοπή ακτινογραφικού φιλμ (Undercut)
Ένα άλλο πρόβλημα που συχνά πρέπει να ελέγχεται κατά την παραγωγή μια
ακτινογραφίας είναι η υποκοπή ακτινογραφικού φιλμ (undercut). Εδώ χρειάζεται να
επισημανθεί ότι δεν πρέπει να συγχέεται η υποκοπή του ακτινογραφικού φιλμ με τον όρο
υποκοπή ο οποίος αναφέρεται στις ασυνέχειες των συγκολλήσεων. Δοκίμια με οπές, κοίλες
περιοχές ή απότομες αλλαγές πάχους είναι πιθανό να προκαλούν υποκοπή ακτινογραφικού
φιλμ (undercut). Η υποκοπή ακτινογραφικού φιλμ αποτυπώνεται σε αυτό ως σημείο
αυξημένης αμαύρωσης σε περιοχές μετάβασης από ένα πάχος σε ένα άλλο διαφορετικό
πάχος. Αυτό οδηγεί στην απώλεια ανάλυσης, στη θόλωση του ακτινογραφικού φιλμ στην
περιοχή μετάβασης και συμβαίνει λόγω της σκέδασης εντός του ακτινογραφικού φιλμ.
Στα άκρα ενός δοκιμίου ή στις περιοχές μετάβασης από παχύτερη σε λεπτότερη
διάσταση, η ένταση της ακτινοβολίας που φθάνει στο ακτινογραφικό φιλμ είναι πολύ
μεγαλύτερη από ότι στις παχύτερες περιοχές του δοκιμίου. Το αυξημένο επίπεδο της
έντασης της ακτινοβολίας που φθάνει στο ακτινογραφικό φιλμ οδηγεί σε ένα αυξημένο
επίπεδο σκέδασης εντός του φιλμ. Πρέπει επίσης να σημειωθεί ότι όσο πιο «γρήγορο» είναι
ένα φιλμ (χονδρόκοκκο), τόσο πιο πιθανό είναι να συμβεί υποκοπή ακτινογραφικού φιλμ.
Η σκέδαση από τα τοιχώματα του δοκιμίου συμβάλλει επίσης στην υποκοπή
ακτινογραφικού φιλμ, αλλά έχει διαπιστωθεί ότι η σκέδαση εντός του αποτελεί την κύρια
αιτία πρόκλησής της. Για τον έλεγχο της υποκοπής ακτινογραφικού φιλμ χρησιμοποιούνται
φύλλα μολύβδου ή υγροί απορροφητές οι οποίοι τοποθετούνται εντός των οπών ή
περιφερειακά ενός δοκιμίου.
Εικόνα 6.3: Υποκοπή ακτινογραφικού φιλμ (Undercut)
|412|
6.2 Βέλτιστη γωνία ακτινογράφησης
Πειραματικά έχει αποδειχθεί ότι υπάρχει μια βέλτιστη γωνία μεταξύ της πηγής και
της ασυνέχειας, υπό την οποία αναδεικνύεται οποιαδήποτε υπαρκτή ασυνέχεια. Αν δηλαδή
η γωνία που σχηματίζεται μεταξύ της πηγής και μίας πιθανής ασυνέχειας είναι μικρότερη
από 8o, η ασυνέχεια αποτυπώνεται στο ακτινογραφικό φιλμ. Για αποκλίσεις γωνιών
μεγαλύτερες των 20o η ασυνέχεια δεν αποτυπώνεται στο μέσο αποτύπωσης.
Εικόνα 6.4: Γωνία ακτινογράφησης
Εικόνα 6.5: Πειραματική αναπαράσταση ασυνέχειας (εγκάρσιας ρηγμάτωσης) υπό

διαφορετικές γωνίες ακτινογράφησης
Ενδεικτικά, στην Εικόνα 6.5 απεικονίζονται τρεις περιπτώσεις στις οποίες η πηγή
σχηματίζει γωνία με την ασυνέχεια 0o, 10ο και 20ο. Όπως φαίνεται, για γωνίες μεγαλύτερες
των 10ο η ασυνέχεια δεν καταγράφεται, όπως θα έπρεπε στο ακτινογραφικό φιλμ.
Χαρακτηριστικά αναφέρουμε ότι η συνήθης ασυνέχεια η οποία δεν απεικονίζεται λόγω
γωνίας είναι η ατελής τήξη καθώς και η διαστρωμάτωση υλικού.
|413|
7. ΦΙΛΤΡΑ ΚΑΙ ΕΝΙΣΧΥΤΙΚΕΣ ΠΛΑΚΕΣ ΓΙΑ ΤΗΝ ΒΕΛΤΙΩΣΗ ΤΗΣ
ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΗΣ ΕΙΚΟΝΑΣ
7.1 Φίλτρα
Όταν μία μεταλλική πλάκα, συνήθως από μόλυβδο ή χαλκό, τοποθετείται μεταξύ
της πηγής και του δοκιμίου, η πρωτεύουσα ακτινοβολία ανακόπτεται οδηγώντας σε
ακτινογραφική εικόνα χαμηλότερης αντίθεσης.
Αυτό μπορεί να αντισταθμιστεί από ένα μεταλλικό φίλτρο τοποθετημένο κάτω από
το δοκίμιο (μεταξύ δοκιμίου και ακτινογραφικού φιλμ). Το φίλτρο αυτό προκαλεί
μεγαλύτερη απορρόφηση της μαλακότερης σκεδάζουσας ακτινοβολίας η οποία διέρχεται
μέσα από το δοκίμιο σε σχέση με την αντίστοιχη της πρωτεύουσας, σκληρότερης
ακτινοβολίας. Επομένως, η συγκεκριμένη διαδικασία βελτιώνει την ποιότητα της
ακτινογραφικής εικόνας.
Εάν τα άκρα του δοκιμίου δε βρίσκονται κοντά στο ακτινογραφικό φιλμ ένα
σημαντικό ποσό της πρωτογενούς ακτινοβολίας σκεδάζεται, οδηγώντας σε θάμπωμα
(fogging) του ακτινογραφικού φιλμ. Αυτή η διασπορά μπορεί να αποτραπεί τοποθετώντας
φύλλα μολύβδου μεταξύ του δοκιμίου και του ακτινογραφικού φιλμ, όπως απεικονίζεται
στην Εικόνα 7.1.
Η μείωση της αντίθεσης με τη χρήση φίλτρων είναι επίσης επιθυμητή όταν
πρόκειται να ακτινογραφήσουμε δοκίμιο μεταβλητού πάχους με τη χρήση μονού
ακτινογραφικού φιλμ. Το τυπικό πάχος του φίλτρου είναι: 0,1 - 0,25mm μολύβδου για
300keV και 0,25 - 1mm μολύβδου για 400keV.
Εικόνα 7.1: Σκεδάζουσα ακτινοβολία από το δοκίμιο 1 προκαλεί αλλοίωση στην θέση Β, το
δοκίμιο 2 στην θέση Α κ.ο.κ εκτός και αν τοποθετηθούν πλάκες μολύβδου
|414|
7.2 Ενισχυτικές πλάκες
Σε γενικές γραμμές, λιγότερο από το 1% της ενέργειας της ακτινοβολίας

απορροφάται από το φιλμ για την παραγωγή της λανθάνουσας εικόνας. Το υπόλοιπο
ποσοστό διέρχεται μέσω του ακτινογραφικού φιλμ χωρίς να χρησιμοποιηθεί. Για την
περαιτέρω αξιοποίηση της διαθέσιμης ακτινοβολίας, το ακτινογραφικό φιλμ τοποθετείται
ανάμεσα σε δύο ενισχυτικές πλάκες οι οποίες απορροφούν τη σκεδασμένη ακτινοβολία που
παράγεται από τη μαλακή ακτινοβολία. Για αυτό το σκοπό, χρησιμοποιούνται διαφορετικοί
τύποι υλικού.
7.3 Μολύβδινες ενισχυτικές πλάκες
Οι ενισχυτικές πλάκες αποτελούνται από δύο φύλλα μολύβδου κολλημένα σε μια

λεπτή βάση χαρτιού ή χαρτονιού, μεταξύ των οποίων τοποθετείται το ακτινογραφικό φιλμ.
Πρόκειται για τις εμπρόσθιες και οπίσθιες πλάκες.
Το πάχος της εμπρόσθιας πλάκας (πλευρά προς την πηγή) πρέπει να ταιριάζει με τη
σκληρότητα της ακτινοβολίας που χρησιμοποιείται, έτσι ώστε να διαπεραστεί από την
πρωτογενή ακτινοβολία και να αποκόψει όσο το δυνατόν περισσότερη δευτερεύουσα
ακτινοβολία.
Η εμπρόσθια πλάκα μολύβδου είναι συνήθως πάχους 0,02 - 0,15mm. Η εμπρόσθια
πλάκα δε λειτουργεί μόνο ως ενισχυτής της πρωτογενούς ακτινοβολίας, αλλά και ως
φίλτρο απορρόφησης της μαλακότερης σκεδασμένης ακτινοβολίας. Το πάχος της οπίσθιας
πλάκας δε θεωρείται κρίσιμο και συνήθως είναι περίπου 0,25mm. Η επιφάνεια των
ενισχυτικών μολύβδινων πλακών είναι γυαλισμένη για να βρίσκεται σε άμεση επαφή με
την επιφάνεια του ακτινογραφικού φιλμ. Ελαττώματα όπως γρατσουνιές ή ρωγμές στην
επιφάνειά της αποτυπώνονται στο ακτινογραφικό φιλμ και επομένως πρέπει να
αποφεύγονται. Στο εμπόριο υπάρχουν επίσης ενισχυτικές πλάκες με ενσωματωμένες
πλάκες μολύβδου συσκευασμένες σε κενό αέρος ώστε να εξασφαλίζεται η τέλεια επαφή
μεταξύ γαλακτώματος και μολύβδου.
Συνοψίζοντας μπορεί κανείς να πει ότι οι μολύβδινες ενισχυτικές πλάκες
βελτιώνουν την αντίθεση και τη λεπτομέρεια της ακτινογραφικής εικόνας ως αποτέλεσμα
της μειωμένης σκεδάζουσας ακτινοβολίας και ελαττώνουν το χρόνο έκθεσης για την ίδια
πυκνότητα ακτινογραφικού φιλμ.
Εικόνα 7.2: Ακτινογραφία με χρήση και χωρίς χρήση μολύβδινων ενισχυτικών πλακών
|415|
7.4 Ενισχυτικές πλάκες χάλυβα - χαλκού
Για ακτινοβολία υψηλής ενέργειας, ο μόλυβδος δεν αποτελεί το καλύτερο υλικό για
τις ενισχυτικές πλάκες. Για ακτίνες γ και πηγή κοβαλτίου (Co 60), ο χαλκός ή ο χάλυβας
έχουν αποδειχθεί ότι παράγουν καλύτερη ποιότητα ακτινογραφιών από τις πλάκες
μολύβδου. Για γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ της τάξεως των 5 - 8MeV οι πλάκες
χαλκού παράγουν καλύτερες ακτινογραφίες από τις μολύβδινες ενισχυτικές πλάκες
οποιουδήποτε πάχους.
7.5 Φθορίζουσες ενισχυτικές επιφάνειες (fluorescent screens)
Ο όρος φθορισμός (συχνά συγχέεται με το φωσφορισμό) χρησιμοποιείται για να

αποδώσει τη χαρακτηριστική ιδιότητα μιας ουσίας να εκπέμπει άμεσα φως υπό την
επίδραση της ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας. Όταν σταματήσει η ακτινοβολία σταματά
και ο φθορισμός. Το φαινόμενο αυτό βρίσκει εφαρμογή στην ακτινογραφία με μέσο
αποτύπωσης το ακτινογραφικό φιλμ. Όσο περισσότερο εκτίθενται ορισμένες ουσίες σε
ιοντίζουσα ακτινοβολία τόσο περισσότερο φως εκπέμπουν.
Οι φθορίζουσες ενισχυτικές επιφάνειες κατασκευάζονται από μεταλλικά άλατα και
τοποθετούνται και στις δύο πλευρές του φιλμ. Χρησιμοποιούνται γιατί βελτιώνουν την
ποιότητα του ακτινογραφικού ειδώλου και μειώνουν τη σκεδασμένη ακτινοβολία και τον
απαιτούμενο χρόνο έκθεσης.
Ο όρος φωσφορισμός χρησιμοποιείται για να περιγράψει το ίδιο φαινόμενο
φωταύγειας, αλλά μόλις παύσει η ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία, το φως εξασθενεί με
αργό ρυθμό (after-glow).
Η Μη Καταστροφική Μέθοδος της Ακτινογραφίας εκμεταλλεύεται το «φαινόμενο
μνήμης» το οποίο παρουσιάζουν κάποιες φωσφορικές ενώσεις αποθηκεύοντας τη
λανθάνουσα ακτινογραφική εικόνα, προκειμένου αυτή να γίνει αργότερα ορατή με τη
βοήθεια της διέγερσης με λέιζερ.
7.6 Φθορίζουσες ενισχυτικές επιφάνειες άλατος (fluorescent salt screens)
Οι φθορίζουσες ενισχυτικές πλάκες άλατος αποτελούνται από μία λεπτή, εύκαμπτη

βάση επικαλυμμένη με μία φθορίζουσα στρώση που αποτελείται από μικροκρυστάλλους
κατάλληλου μεταλλικού άλατος (σπάνιων γαιών συνήθως βολφραμικού ασβεστίου) το
οποίο φθορίζει όταν εκτίθεται σε ακτινοβολία. Η ακτινοβολία προκαλεί το φωτισμό της
ενισχυτικής πλάκας. Η ένταση του φωτός είναι ανάλογη της έντασης της ακτινοβολίας. Οι
συγκεκριμένες ενισχυτικές πλάκες μειώνουν το χρόνο έκθεσης αλλά έχουν πολύ κακή
ποιότητα (χαμηλή ευκρίνεια). Χρησιμοποιούνται μόνο σε βιομηχανικές ακτινογραφίες
όταν απαιτείται δραστική μείωση του χρόνου έκθεσης, σε συνδυασμό με την ανίχνευση
μεγάλων ασυνεχειών.
7.7 Φθορομεταλλικές πλάκες (fluorometallic screens)
Εκτός από τις μολύβδινες και τις φθορίζουσες ενισχυτικές πλάκες, υπάρχουν και οι
φθορομεταλλικές πλάκες οι οποίες σε κάποιο βαθμό συνδυάζουν τα πλεονεκτήματα και
των δύο. Αυτές οι πλάκες παρέχονται με ένα φύλλο μολύβδου μεταξύ της βάσης του φιλμ
και του στρώματος φθορισμού. Υπάρχει η τάση, αυτός ο τύπος ενισχυτικών πλακών να
χρησιμοποιείται σε συνδυασμό με το λεγόμενο RCF φιλμ (Rapid Cycle Film) τύπων F6 ή
F8 (πολύ γρήγορα φιλμ). Για να επιτευχθούν ικανοποιητικές ακτινογραφίες με
|416|
φθορομεταλλικές πλάκες, πρέπει να χρησιμοποιούνται σε συνδυασμό με τον κατάλληλο
τύπο F φιλμ.
Χρησιμοποιώντας την κατάλληλη φθορομεταλλική πλάκα, είναι δυνατόν να
επιτευχθούν αξιόλογες μειώσεις στο χρόνο έκθεσης και στην απαιτούμενη τάση (keV) της
γεννήτριας. Επίσης, λόγω της αποκοπής από τις επιφάνειες των σκεδαζόμενων
ακτινοβολιών η ποιότητα της ακτινογραφικής εικόνας είναι καλύτερη σε σχέση με την
αντίστοιχη των φθοριζουσών ενισχυτικών πλακών. Οι πλάκες αυτές ωστόσο δε
χρησιμοποιούνται λόγω του υψηλού κόστους.
Πίνακας 7.1: Συγκριτικός πίνακας των ενισχυτικών πλακών

Ποιότητα
Τύπος Πλάκας Ταχύτητα Συντελεστής μείωσης χρόνου
Εικόνας
Μολύβδινες 1 3 2-4
Φθορίζουσες 4 1 8-15
Φθορομεταλλικές 3 2 5-10
Χωρίς Πλάκα 2 4 -
|417|
8. ΑΚΤΙΝΕΣ Χ
Το 1895 ο φυσικός Wilhelm Conrad Roentgen ανακάλυψε ένα νέο είδος

ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας, τις ακτίνες Χ.
Εικόνα 8.1: Wilhelm Conrad Roentgen 1845-1923
Εικόνα 8.2: Από τις πρώτες ακτινογραφίες του Roentgen
Οι ακτίνες Χ παράγονται όταν ηλεκτρόνια υψηλής ενέργειας προσπίπτουν πάνω σε

υλικά μεγάλου ατομικού αριθμού. Τα ηλεκτρόνια αυτά προκαλούν αφενός μεν διεγέρσεις
και ιονισμούς των ατόμων της ύλης, αφετέρου δε λόγω της επιβράδυνσης τους στα
ηλεκτρικά πεδία των πυρήνων των ατόμων, εκπέμπουν ακτινοβολία πέδης (Braumstalung).
Όταν τα άτομα αποδιεγείρονται, εκπέμπονται φωτόνια καθορισμένων ενεργειών,
χαρακτηριστικών των ατόμων από τα οποία αποτελείται το υλικό της ανόδου. Τα φωτόνια
αυτά και τα φωτόνια της ακτινοβολίας πέδης αποτελούν τις ακτίνες Χ. Σήμερα οι ακτίνες Χ
παράγονται αποκλειστικά με τη βοήθεια σωλήνων Coolidge, που πρωτοκατασκευάστηκαν
το 1913 από τον W.D. Coolidge ο οποίος εισήγαγε και τη βασική σχεδίαση. Η λυχνία
Coolidge είναι ένας σωλήνας υψηλού κενού αέρος (πίεση <10-6mmHg) με δύο ηλεκτρόδια,
την κάθοδο και την άνοδο.
Εικόνα 8.3: Εφαρμογές των ακτίνων Χ (αριστερά) και λυχνία ακτίνων Χ (δεξιά)
|418|
Οι γεννήτριες παραγωγής ακτίνων Χ είναι ηλεκτρικές μηχανές των οποίων η
θερμιονική κάθοδος και άνοδος είναι τοποθετημένες μέσα σε κατάλληλα διαμορφωμένο
γυάλινο σωλήνα υψηλού κενού, τη λεγόμενη λυχνία.
Πηγή των ηλεκτρονίων είναι η κάθοδος η οποία έχει τη μορφή σπειροειδούς
σύρματος το οποίο θερμαίνεται μέσω τάσης. Η θερμοκρασία του νήματος καθορίζει την
ποσότητα των ηλεκτρονίων που εκπέμπονται. Όσο η θερμοκρασία αυξάνει, τόσα
περισσότερα ηλεκτρόνια εκπέμπονται.
Η άνοδος (στόχος) αποτελείται από δύστηκτο υλικό (συνήθως βολφράμιο), υψηλού
ατομικού βάρους πάνω στο οποίο προσπίπτουν ηλεκτρόνια με μεγάλη ταχύτητα, με
αποτέλεσμα την παραγωγή ακτινών Χ και θερμότητας. Σημειώνεται ότι περίπου το 1 - 3%
της ενέργειας μετατρέπεται σε ακτίνες Χ. Αντί για βολφράμιο στην άνοδο μπορεί να
χρησιμοποιηθεί χρυσός, μολυβδαίνιο, πλατίνα ή χαλκός. Επιπρόσθετα, ανάλογα με τις
ανάγκες κάθε εφαρμογής η άνοδος μπορεί να είναι σταθερή ή περιστρεφόμενη. Το σημείο
κρούσης πάνω στο στόχο ονομάζεται σημείο εστίασης (focal spot). Καλό είναι, η περιοχή
αυτή να έχει μεγάλο μέγεθος έτσι ώστε να αποτρέπεται η υπερθέρμανσή της. Όμως ένα
εστιακό σημείο μεγάλου μεγέθους έχει επίπτωση στην ποιότητα της ακτινογραφικής
απεικόνισης. Άλλωστε το σημείο εστίασης πρέπει να είναι όσο το δυνατό μικρότερο έτσι
ώστε να προσδίδει αυξημένη ευκρίνεια στη ακτινογραφική απεικόνιση. Η ψύξη της ανόδου
επιτυγχάνεται με τη χρήση αέρα, λαδιού ή νερού.
Η ροή των φωτονίων πάνω στην επιφάνεια του ακτινοβολούμενου υλικού δεν είναι
σταθερή, αλλά μεταβάλλεται λόγω της γωνίας υπό την οποία εκπέμπονται τα φωτόνια από
την άνοδο της λυχνίας. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται φαινόμενο Heel. Όπως φαίνεται και
στην Εικόνα 8.4, η ροή της ακτινοβολίας ελαττώνεται σχετικά γρήγορα από την κεντρική
ακτίνα της δέσμης προς την πλευρά της ανόδου και αυξάνεται προς την πλευρά της
καθόδου.
Το γεγονός ότι οι εντάσεις ποικίλλουν κατά τέτοιο τρόπο προκαλεί ορατές διαφορές
στην πυκνότητα που παράγεται στο ακτινογραφικό φιλμ.
Εικόνα 8.4: Λυχνία ακτίνων Χ (αριστερά). Φαινόμενο Heel (δεξιά)
Εικόνα 8.5: Σωλήνας Coolidge ακτίνων Χ ο οποίος κατασκευάστηκε από την General
Electric το 1913 (αριστερά). Λυχνίες παραγωγής ακτίνων Χ (δεξιά)
|419|
8.1 Ακτινοβολία πέδης (bremsstrahlung)
Η ακτινοβολία πέδης οφείλεται στην πέδηση δηλαδή στο φρενάρισμα που

προκαλείται στα ηλεκτρικά φορτισμένα σωματίδια από το ηλεκτρικό πεδίο των ατόμων. Ας
υποθέσουμε ότι ένα ελεύθερο ηλεκτρόνιο διασχίζει ένα υλικό. Το ηλεκτρόνιο δέχεται
συνεχώς ηλεκτρικές δυνάμεις από τα άτομα του υλικού με αποτέλεσμα να μειώνεται
συνεχώς η ταχύτητα του ώσπου στο τέλος σταματά εντελώς. Η ενέργεια που χάνει το
ηλεκτρόνιο κατά τη διάρκεια της επιβράδυνσής του εκπέμπεται υπό τη μορφή
ακτινοβολίας. Η ακτινοβολία αυτή ονομάζεται ακτινοβολία πέδης. Το ποσό της
ακτινοβολίας πέδης που παράγεται, αυξάνει με την ενέργεια του ηλεκτρονίου και
μεγιστοποιείται σε υλικά με μεγάλο ατομικό αριθμό.
Η ακτινοβολία πέδης δημιουργείται εντός του υλικού-στόχου κατά την εξασθένιση
των φωτονίων καθώς αυτά περνούν μέσα από το υλικό του στόχου. Η δέσμη εξασθενεί
περαιτέρω από το παράθυρο (window) της λυχνίας κενού το οποίο συνήθως
κατασκευάζεται από αλουμίνιο ή βηρύλλιο.
Εικόνα 8.6: Ακτινοβολία πέδης
8.2 Ενεργειακό φάσμα ακτίνων Χ
Το φάσμα των ακτίνων Χ αποτελείται από ένα συνεχές και ένα γραμμικό φάσμα,
είναι δηλαδή σύνθετο.
Το συνεχές φάσμα έχει καθορισμένη ανώτατη τιμή ενέργειας φωτονίων και
παρουσιάζει ένα μέγιστο, ενώ το γραμμικό φάσμα, εμφανίζεται με τη μορφή αιχμηρών
κορυφών πάνω στο συνεχές φάσμα. Τα μήκη κύματος των κορυφών αυτών είναι
χαρακτηριστικά του υλικού κατασκευής της ανόδου.
Το μικρότερο μήκος κύματος του φάσματος δίνεται από τον τύπο του Duane-Hunt:
1,234
λ = ---------------
keV
|420|
Όπου:
λ: το μήκος κύματος (nm)
keV: η τάση μεταξύ ανόδου και καθόδου
Το γραμμικό φάσμα οφείλεται στην παραγωγή φωτονίου μετά από διέγερση λόγω
κρούσης και είναι χαρακτηριστικό του υλικού της ανόδου. Συνεπώς, το γραμμικό φάσμα
αποτελείται από φωτόνια με συχνότητες χαρακτηριστικές του είδους των ατόμων της
ανόδου και η μορφή του φάσματος των ακτίνων Χ εξαρτάται τόσο από το υλικό της
ανόδου (γραμμικό φάσμα) όσο και από τη διαφορά δυναμικού μεταξύ ανόδου και καθόδου
(συνεχές φάσμα).
Εικόνα 8.7: Σχετική ένταση συναρτήσει του μήκους κύματος
Το σχήμα του φάσματος διαφέρει ανάλογα με τη γεννήτρια και εξαρτάται από την
ενέργεια των ηλεκτρονίων τα οποία προσκρούουν πάνω στο στόχο. Το φάσμα εξαρτάται
επίσης από το φίλτρο ή αλλιώς παράθυρο (window) που ενδέχεται να χρησιμοποιείται στη
γεννήτρια το οποίο συνήθως κατασκευάζεται από γυαλί, βηρύλλιο, αλουμίνιο, ή
συνδυασμό τους.
Εικόνα 8.8: Φίλτρα βηρυλλίου γεννητριών ακτίνων Χ
Εικόνα 8.9: Το φάσμα ακτίνων Χ μολυβδαινίου (Μο) για διάφορες τιμές τάσης (αριστερα).
Ηλεκτρονική δομή του ατόμου του μολυβδαινίου (δεξιά)
|421|
Η ενέργεια η οποία αποδίδεται σε ένα ηλεκτρόνιο, λόγω της διαφοράς δυναμικού
μεταξύ ανόδου και καθόδου μετράται σε eV. Επίσης, πολλές φορές κατά την αναφορά σε
γεννήτριες παραγωγής ακτίνων Χ, η ενέργειά τους εκφράζεται εν συντομία σε V αντί για
eV. Τέλος, είναι εσφαλμένη η έκφραση ότι η γεννήτρια εκπέμπει σε 120keV, μιας και δεν
εκπέμπει σε ένα μόνο μήκος κύματος (μονοχρωματική) αλλά σε φάσμα μηκών κύματος.
Εικόνα 8.10: Ποιοτικά χαρακτηριστικά ακτινοβολίας Χ
Στη συνέχεια παρατίθεται ένας πίνακας με τυπικές γεννήτριες ακτίνων Χ και τις
εφαρμογές τους. Ο χρόνος έκθεσης σε αυτού του είδους τις ακτινοβολίες υπολογίζεται
μέσω των διαγραμμάτων έκθεσης που παρέχει ο κατασκευαστής της γεννήτριας σε
συνάρτηση και με άλλες παραμέτρους.
Πίνακας 8.1: Σχέση keV και πάχους διείσδυσης

Μέγιστη
Τάση Εφαρμογές και όρια πάχους διείσδυσης κατά
Ενισχυτικές πλάκες
Γεννήτριας προσέγγιση
(keV)
Λεπτά πάχη των περισσότερων μετάλλων,
μέτριο πάχος για γραφίτη και βηρύλλιο, μικρά
50 Χωρίς
ηλεκτρονικά στοιχεία και εξαρτήματα, ξύλο,
πλαστικό κ.λπ.
Χωρίς ή με
5inch αλουμίνιο ή ισοδύναμο
150 Μολύβδινες πλάκες
Φθορομεταλλικές 1inch χάλυβα ή ισοδύναμο
Μολύβδινες πλάκες 1½inch χάλυβα ή ισοδύναμο
300
Μολύβδινες πλάκες 4inch χάλυβα ή ισοδύναμο
400
Φθορομεταλλικές 3½inch χάλυβα ή ισοδύναμο
Μολύβδινες πλάκες 4½inch χάλυβα ή ισοδύναμο
1.000
2.000 Μολύβδινες πλάκες 8inch χάλυβα ή ισοδύναμο
Μολύβδινες πλάκες 16inch χάλυβα ή ισοδύναμο
8 - 25MeV
|422|
8.3 Προσεγγιστικοί συντελεστές ισοδυναμίας
Τα διαγράμματα έκθεσης αναφέρονται κυρίως σε χάλυβα ή και αλουμίνιο. Κατά τη

ακτινογράφηση άλλων υλικών, ο υπολογισμός του χρόνου έκθεσης γίνεται με τη βοήθεια
των συντελεστών ισοδυναμίας και με υλικό αναφοράς (για το οποίο υπολογίζονται οι
χρόνοι έκθεσης) το χάλυβα.
Πίνακας 8.2: Προσεγγιστικοί πίνακες ισοδυναμίας
8.4 Συστήματα ακτινοβολίας υψηλής ενέργειας
Όπως ήδη έχουμε αναφέρει, υπάρχουν πολλοί διαφορετικοί τρόποι με τους οποίους
μπορεί να παραχθεί ακτινοβολία. Στην βιομηχανική ακτινογραφία οι δύο πιο συχνά
χρησιμοποιούμενες πηγές ακτινοβολίας είναι με τεχνητά ραδιοϊσότοπα και με γεννήτριες
παραγωγής ακτίνων Χ.
Πολλά από τα φυσικά και τεχνητά ραδιοϊσότοπα καθώς και τα συμβατικά
συστήματα ακτίνων Χ, παρουσιάζουν περιορισμούς όσο αναφορά στην ενέργεια την οποία
παράγουν.
Στις μεγαλύτερες επιστημονικές εξελίξεις μπορούμε να εντάξουμε τους επιταχυντές
σωματιδίων υψηλής ενέργειας, καθώς η επιστημονική έρευνα για τα υποατομικά
σωματίδια δεν θα ήταν εφικτή χωρίς την εξέλιξη τους. Γενικά, ως επιταχυντής σωματιδίων
ορίζεται μια ειδική μηχανική διάταξη η οποία μπορεί να επιταχύνει σωματίδια σε πολύ
μεγάλες ταχύτητες. Στη πραγματικότητα, ο επιταχυντής σωματιδίων επιταχύνει δέσμες
φορτισμένων σωματιδίων (π.χ. πρωτονίων και ηλεκτρονίων) κατά μήκος μιας τροχιάς,
χρησιμοποιώντας ηλεκτρικά και μαγνητικά πεδία.
Όταν πλέον οι δέσμες των σωματιδίων αυτών αναπτύξουν πολύ μεγάλη ταχύτητα
οδηγούνται σε σύγκρουση με άλλα σωματίδια τα οποία καλούνται σωματίδια - στόχοι.
Άλλες φορές, δέσμες σωματιδίων που κινούνται σε αντίθετες κατευθύνσεις συγκρούονται
στο εσωτερικό του επιταχυντή με συνέπεια να δημιουργούν νέα σωματίδια. Ειδικές
ανιχνευτικές διατάξεις καθώς και υπολογιστές μπορούν και καταγράφουν τις τροχιές των
|423|
σωματιδίων αυτών καθώς επίσης τις εκτροπές και τροχιές των νέων σωματιδίων που
προκύπτουν μετά τις συγκρούσεις των πρώτων.
Υπάρχουν δύο βασικοί τύποι επιταχυντών, οι γραμμικοί και οι κυκλικοί.
8.5 Το Βήτατρο
Ο καθηγητής Donald Kerst κατασκεύασε τον πρώτο επιταχυντή βασισμένο στο

φαινόμενο της επαγωγής στο Πανεπιστήμιο του Illinois το 1940. Το βήτατρο
χρησιμοποιείται για να επιταχύνει τα ηλεκτρόνια (σωματίδια β) για την παραγωγή
ακτινοβολίας Χ υψηλής ενέργειας.
Το πρώτο βήτατρο παρήγαγε ενέργεια ακτινοβολίας περίπου της τάξεως των 2MeV.
Η συνεχής εξέλιξη του οδήγησε στην παραγωγή ενέργειας ακτινοβολίας μεγαλύτερης των
300MeV.
Το ηλεκτρόνιο ή οποιοδήποτε φορτισμένο σωμάτιο εισέρχεται στο χώρο ενός
μεταβαλλόμενου μαγνητικού πεδίου, επιταχύνεται από το εξ επαγωγής ηλεκτρικό πεδίο και
αποκτώντας ταχύτητα, διαγράφει καμπυλόγραμμη τροχιά λόγω της επίδρασης του
μαγνητικού πεδίου. Με κατάλληλη ρύθμιση των δύο πεδίων η τροχιά μπορεί να είναι
κυκλική. Η ενέργεια αυξάνει λόγω του επαγομένου ηλεκτρικού πεδίου σε κάθε
περιστροφή.
Το βήτατρο υπερέχει ως προς το κύκλοτρο στις μεγάλες ταχύτητες (ενέργειες),
οπότε τίθεται ένα όριο στη λειτουργία του τελευταίου, λόγω της σχετικιστικής μεταβολής
της μάζας των επιταχυνόμενων ηλεκτρονίων (ή οποιωνδήποτε επιταχυνόμενων σωματίων),
με έντονο το φαινόμενο για ηλεκτρόνια, που έχουν μικρή μάζα. Με το βήτατρο
επιτυγχάνεται επιτάχυνση ηλεκτρονίων σε ενέργειες δεκάδων ή και εκατοντάδων
εκατομμυρίων Volts.
Εικόνα 8.11: Βήτατρο του 1942 ενέργειας 6MeV (αριστερά). Σύγχρονο βήτατρο ενέργειας
9MeV (δεξιά)
8.6 Το Κύκλοτρο
Το Κύκλοτρο είναι ο πρώτος κυκλικός επιταχυντής φορτισμένων υποατομικών

σωματιδίων. Ανακαλύφθηκε από τον Leó Szilárd και κατασκευάστηκε από τον Ernest
Lawrence, του Πανεπιστημίου της Καλιφόρνια. Ο πρώτος επιταχυντής ήταν ένα κύκλοτρο
πρωτονίων ενέργειας 1ΜeV, ο οποίος χρησιμοποιούσε μαγνήτη 11inch.
Η συσκευή χρησιμοποιεί ηλεκτρική ενέργεια η οποία μετατρέπεται σε κινητική
ενέργεια μέσω των σωματιδίων που επιταχύνονται. Σημαντική καινοτομία του κυκλότρου
ήταν ότι επιτάχυνε σωματίδια χωρίς τη χρήση υψηλών τάσεων.
Η βασική διαφορά με το γραμμικό επιταχυντή είναι ότι επιταχύνει τα σωματίδια σε
κυκλικές τροχιές. Αυτό επιτυγχάνεται με την εφαρμογή σταθερού εξωτερικού μαγνητικού
πεδίου του οποίου οι δυναμικές γραμμές έχουν διεύθυνση κάθετη στο διάνυσμα της
|424|
ταχύτητας των σωματιδίων. Το μαγνητικό πεδίο έντασης Β, ασκεί δύναμη Lorenz (F) σε
κάθε κινούμενο φορτίο με ταχύτητα v.
Εικόνα 8.12: Γαλλικό κύκλοτρο του 1937 κατασκευασμένο στην Ζυρίχη, (αριστερά).
Σύγχρονο κύκλοτρο για την παραγωγή ραδιοϊσοτόπων (δεξιά)
8.7 Γραμμικός επιταχυντής Lineac (Linear Accelerator)
Ένας γραμμικός επιταχυντής επιταχύνει φορτισμένα σωματίδια (ηλεκτρόνια,

πρωτόνια ή βαρέα ιόντα) σε ευθύγραμμη τροχιά. Τα φορτισμένα σωματίδια εισέρχονται
στον πρώτο σωλήνα ολίσθησης μέσω ενός ηλεκτρικού πεδίου. Από τη στιγμή που
βρίσκονται μέσα στο σωλήνα ολίσθησης προστατεύονται από το πεδίο και κινούνται με
σταθερή ταχύτητα. Όταν φθάσουν στο επόμενο κενό, επιταχύνονται από το πεδίο και πάλι
μέχρι να φθάσουν στον επόμενο σωλήνα ολίσθησης. Αυτό συνεχίζεται με αποτέλεσμα τα
σωματίδια να συγκεντρώνουν όλο και περισσότερη ενέργεια σε κάθε κενό μέχρι να
εγκαταλείψουν τον επιταχυντή. Οι σωλήνες ολίσθησης είναι απαραίτητοι διότι χωρίς
αυτούς το εναλλασσόμενο πεδίο που χρησιμοποιείται θα επιδρούσε στα σωματίδια με
εναλλασσόμενο τρόπο. Οι σωλήνες ολίσθησης προστατεύουν τα σωματίδια για την
χρονική περίοδο κατά την οποία το πεδίο τα επιβραδύνει.
Εικόνα 8.13: Γραμμικοί επιταχυντές Linac 1 & 2 (CERN)
8.8 Ρυθμίσεις γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ
Οι τρεις βασικές ρυθμίσεις των γεννητριών παραγωγής ακτίνων Χ είναι ο χρόνος

έκθεσης, η ρύθμιση της έντασης (mA) και η ρύθμιση της τάσης (keV).
|425|
8.8.1 Χρόνος έκθεσης
Ο χρόνος έκθεσης ρυθμίζεται συνήθως σε λεπτά ή δευτερόλεπτα. Όταν

ενεργοποιηθεί η γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ, αρχίζει η χρονομέτρηση. Ο χρόνος
έκθεσης καθορίζει εν μέρει και το ποσό της ενέργειας που πρόκειται να φτάσει στο
8.8.2 Ένταση ακτίνων Χ (mA)
Η ένταση της δέσμης των ακτινών Χ (mA) καθορίζει την ένταση και την ποσότητα
των ακτινοβολιών Χ. Όταν αυξάνεται η ένταση της γεννήτριας, αυξάνεται η ένταση του
ρεύματος η οποία διέρχεται από το πηνίο, αυξάνοντας τη θερμοκρασία του, με συνέπεια
την αύξηση της έντασης και τον αριθμό των ηλεκτρονίων που εκπέμπονται στην κάθοδο.
Όσο μεγαλύτερη είναι η ένταση των ηλεκτρονίων που προσκρούουν στο στόχο, τόσο
μεγαλύτερη είναι η ένταση των ακτινοβολιών Χ που παράγονται.
Ανάλογα με τη γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ, η ένταση για συμβατικές
εφαρμογές κυμαίνεται από 0,5 - 12mA και αναφέρεται στην ένταση του ρεύματος μεταξύ
ανόδου και καθόδου. Συνήθως η ένταση ρυθμίζεται στη μέγιστη ή κοντά στη μέγιστη τιμή
της γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ, προκειμένου να ελαχιστοποιείται ο χρόνος έκθεσης.
Αν τα mA πολλαπλασιαστούν με το χρόνο ακτινοβόλησης (σε seconds ή minutes),
προκύπτουν τα mA•s ή mA•min. Ο αριθμός των φωτονίων που εκπέμπονται στη μονάδα
του χρόνου για συγκεκριμένη τιμή keV καθορίζεται από τα mA•s ή mA•min.
8.8.3 Ενέργεια ακτίνων Χ (keV)
Η τιμή της τάσης της γεννήτριας (keV) καθορίζει τη μέγιστη ενέργεια των
εκπεμπόμενων φωτονίων, επομένως και τη διεισδυτική ικανότητα των ακτίνων Χ. Η
ενέργεια των ακτίνων Χ καθορίζει το μήκος κύματος ή την ποιότητα της ακτινοβολίας ενώ
πρακτικά επηρεάζει και τη διεισδυτικότητα των ακτινοβολιών. Όσο αυξάνει η ενέργεια,
αυξάνεται και η ταχύτητα των ηλεκτρονίων τα οποία κατευθύνονται από την κάθοδο προς
την άνοδο. Μεγαλύτερη διεισδυτικότητα εμφανίζουν οι ακτίνες Χ υψηλής ενέργειας και
μικρού μήκους κύματος. Η αύξηση των keV οδηγεί σε μείωση του μήκους κύματος και
μείωση της αντίθεσης και της ευκρίνειας της ακτινογραφικής απεικόνισης.
Οι τιμές της ενέργειας των ακτίνων Χ αφορούν στις μέγιστες τιμές διαφοράς
δυναμικού μεταξύ ανόδου και καθόδου.
Πίνακας 8.3: Σχέση τάσης και ποιότητας ακτίνων Χ σε συνδυασμό με το πάχος

υποδιπλασιασμού
Γεννήτρια παραγωγής
Ποιότητα των ακτίνων Χ (HVL) από χάλυβα σε mm
ακτίνων Χ
Πολύ μαλακές Λιγότερο από 20keV
Μαλακές 20 - 60keV
Σχετικά μαλακές 60 - 150keV 0,5 - 2
Σκληρές 150 - 300keV 2-7
Πολύ σκληρές 300 - 3.000keV 7 - 20
Πάρα πολύ σκληρές Περισσότερο από 3.000keV >20
|426|
Πίνακας 8.4: Σχέση τάσης και έντασης για το χαρακτηρισμό των ακτίνων Χ
Χαμηλή ένταση ρεύματος Υψηλή ένταση ρεύματος
(mΑ) (mΑ)
Χαμηλή
Μαλακές ακτίνες Χ χαμηλής Μαλακές ακτίνες Χ υψηλής
τάση
έντασης έντασης
(keV)
Υψηλή τάση Σκληρές ακτίνες Χ υψηλής
Σκληρές ακτίνες Χ χαμηλής έντασης
(keV) έντασης
Εικόνα 8.14: Γεννήτριες παραγωγής ακτίνων Χ 300KeV, 225keV, 200keV και 160keV
Εικόνα 8.15: Ρύθμιση των παραμέτρων έκθεσης από την μονάδα ελέγχου
|427|
9. ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΟ ΦΙΛΜ
9.1 Γενικά
Το γνωστικό πεδίο που έχει αντικείμενο τη διερεύνηση των επιδράσεων της έκθεσης
σε ακτινοβολίες και της εμφάνισης στα φωτοευπαθή γαλακτώματα ονομάζεται
«ευαισθητομετρία». Με τις μεθόδους της ευαισθητομετρίας προσδιορίζονται οι
φωτογραφικές ιδιότητες των υλικών που χρησιμοποιούνται στη ακτινογράφηση.
Η γνώση των χημικών διεργασιών σχηματισμού της εικόνας είναι απαραίτητη για τη
σωστή ερμηνεία των ακτινογραφημάτων και γι’ αυτό το λόγο θα αναπτυχθούν
εκτενέστερα.
9.2 Σύσταση φιλμ
Τα ακτινογραφικά φιλμ δε διαφέρουν σε γενικές γραμμές από τα συνηθισμένα

φωτογραφικά φιλμ που χρησιμοποιούνται στη φωτογραφία. Και τα δύο αποτελούνται από
ένα στρώμα γαλακτώματος, ευαίσθητο στην ακτινοβολία, το οποίο τοποθετείται πάνω σε
μια ελαστική, διάφανη ταινία, τη βάση.
Η διαφορά τους από τα κοινά φωτογραφικά φιλμ είναι ότι το στρώμα του
γαλακτώματος τοποθετείται και στις δύο πλευρές της βάσης, πράγμα που αυξάνει την
ταχύτητα και άρα την ευαισθησία του φιλμ ενώ βελτιώνει την αντίθεση της τελικής
εικόνας. Το ακτινογραφικό φιλμ αποτελείται συνήθως από επτά στρώματα: τη βάση (από
πολυεστέρα ή ζελατίνα) και τρία στρώματα σε κάθε πλευρά, τα οποία αποτελούνται από το
λεπτό υπόστρωμα που συνδέει το γαλάκτωμα με τη ζελατίνα, το φωτοευπαθές γαλάκτωμα
και το προστατευτικό στρώμα από πορώδη σκληρή ζελατίνα.
Η κατασκευή ενός ακτινογραφικού φιλμ με τα παραπάνω στρώματα είναι μια
σύνθετη διαδικασία που γίνεται σε συνθήκες φωτισμού ασφαλείας ή απόλυτου σκότους. Οι
απαιτήσεις για καθαριότητα και έλεγχο των υλικών και των διαδικασιών είναι εξαιρετικά
υψηλές, προκειμένου να ληφθεί ένα αξιόπιστο τελικό προϊόν.
9.3 Γαλάκτωμα
Πρόκειται για ένα υλικό ευαίσθητο στην ακτινοβολία. Αποτελείται κυρίως από
μικροσκοπικούς αλογονούχους κρυστάλλους αργύρου, οι οποίοι είναι διασκορπισμένοι
μέσα στη ζελατίνα. Πριν την εμφάνιση και τη σταθεροποίηση του στρώματος εμφανίζει
μια ανοιχτοπράσινη αδιαφανή απόχρωση. Μετά από την έκθεση στην ιοντίζουσα
ακτινοβολία, οι κρύσταλλοι αντιδρούν χημικά με τα διαλύματα εμφάνισης και
μετατρέπονται σε ορατό άργυρο σχηματίζοντας τη ακτινογραφική εικόνα.
Το γαλάκτωμα μετασχηματίζεται όταν αναμειχθεί με διάλυμα νιτρικού αργύρου και
αλάτων με ζελατίνα. Ο ρυθμός και η θερμοκρασία της ανάμειξης είναι πολύ σημαντικοί
παράγοντες και επηρεάζουν τη κοκκομετρία του φιλμ. Γρήγορη ανάμειξη σε χαμηλή
θερμοκρασία δίνει γαλακτώματα με λεπτόκοκκη δομή ενώ αργή ανάμειξη σε μεγαλύτερες
θερμοκρασίες δίνει χονδρόκοκκη δομή. Τα γαλακτώματα με χονδροειδείς κόκκους είναι
ταχύτερα από εκείνα με λεπτούς κόκκους και χαμηλότερης ακτινογραφικής ποιότητας, ενώ
τα εξαιρετικά γρήγορα φιλμ έχουν γαλακτώματα με ιωδιούχο άργυρο. Το μέγεθος των
κόκκων σχετίζεται επίσης με τη δυνατότητα ανίχνευσης ασυνεχειών μικρών διαστάσεων,
όπως για παράδειγμα, λεπτές ρωγμές ή πολύ μικρούς πόρους. Συνεπώς, όσο μεγαλύτεροι
είναι οι κόκκοι, τόσο μεγαλύτερη είναι η πιθανότητα να μην ανιχνευτούν ασυνέχειες
μικρών διαστάσεων. Ο αριθμός των κόκκων είναι περίπου 109/cm2 επιφάνειας στρώματος.
Το μέγεθός τους για τα λεπτόκοκκα φιλμ κυμαίνεται από 0,2 - 0,5μm, ενώ για τα
|428|
χονδρόκοκκα το μέσο μέγεθος φθάνει το 1μm. Ο καθαρός άργυρος που περιέχεται στο
στρώμα του φωτοευπαθούς γαλακτώματος κυμαίνεται από 2 - 6mgr/cm2.
Το κρίσιμο σημείο στην κατασκευή ενός φιλμ είναι η επίστρωση του γαλακτώματος
η οποία πρέπει να γίνεται σε ατμόσφαιρα απαλλαγμένη από σκόνες. Σε πρώτη φάση
τοποθετείται το υπόστρωμα που αποτελείται από ένα μίγμα ζελατίνας και διαλυτικού της
βάσης. Το διαλυτικό «τρώει» και κάνει τραχιά την επιφάνεια της βάσης, ενώ παράλληλα
αποθέτει ζελατίνα η οποία στη συνέχεια αποτελεί το συνδετικό στρώμα ανάμεσα στη βάση
και το γαλάκτωμα. Το γαλάκτωμα τοποθετείται πάνω στο υπόστρωμα σε αυστηρά
ελεγχόμενες συνθήκες θερμοκρασίας και υγρασίας. Η τεχνική της επικάλυψης πρέπει να
εξασφαλίζει τη δημιουργία ενός στρώματος γαλακτώματος με συγκεκριμένο πάχος, το
οποίο πρέπει να παρακολουθείται για τη διαστασιακή του ακρίβεια. Προκειμένου να
προστατευτεί το γαλάκτωμα το οποίο έχει ευαισθησία στην ακτινοβολία και στις μηχανικές
καταπονήσεις, τοποθετείται πάνω από αυτό ένα λεπτό προστατευτικό στρώμα από πορώδη,
σκληρή και καθαρή ζελατίνα η οποία το προφυλάσσει από όλες τις καταπονήσεις που
συνεπάγεται η χρήση του κατά την εκτέλεση των ακτινογραφημάτων.
Το φιλμ μετά την κατασκευή του κόβεται σε πρότυπες διαστάσεις και τοποθετείται
σε αδιαφανείς φακέλους για την προστασία του από το φως.
Εικόνα 9.1: Στρώσεις ακτινογραφικού φιλμ
|429|
9.4 Τύποι φιλμ
Η ταχύτητα του φιλμ καθορίζεται από την έκθεση που απαιτείται για να επιτευχθεί η
απαιτούμενη αμαύρωση. Τα φιλμ διακρίνονται ανάλογα με την κοκκομετρία και την
ταχύτητά τους:
• Στα χονδρόκοκκα (medium grain): δίνουν ακτινογραφική απεικόνιση χαμηλής
ποιότητας αλλά είναι γρήγορα ως προς το χρόνο έκθεσης.
• Στα πολύ χονδρόκοκκα (coarse grain): δίνουν ακτινογραφική απεικόνιση χαμηλής
ποιότητας αλλά είναι εξαιρετικά γρήγορα ως προς το χρόνο έκθεσης.
• Στα λεπτόκοκκα (fine grain): δίνουν υψηλής ποιότητας ακτινογραφική απεικόνιση
αλλά είναι αργά ως προς το χρόνο έκθεσης.
• Στα πολύ λεπτόκοκκα (ultra fine grain): δίνουν υψηλής ποιότητας ακτινογραφική
απεικόνιση αλλά είναι εξαιρετικά αργά, ως προς το χρόνο έκθεσης.
9.5 Ταχύτητα φιλμ
O συντελεστής φιλμ είναι ένας παράγοντας ο οποίος συσχετίζει την ταχύτητα με τη

χαρακτηριστική καμπύλη του φιλμ. Συνήθως χρησιμοποιείται η κλίμακα SCRATA. Όσο
πιο μικρός είναι ο συντελεστής στην κλίμακα αυτή, τόσο πιο γρήγορο είναι το φιλμ.
Ένα φιλμ με συντελεστή 10 είναι δύο φορές πιο γρήγορο, συγκρινόμενο με ένα φιλμ
με συντελεστή 20. Αυτό σημαίνει ότι ένα φιλμ με συντελεστή 20 απαιτεί τέσσερα λεπτά
έκθεσης ενώ ένα αντίστοιχο με συντελεστή 10 απαιτεί δύο λεπτά προκειμένου να
επιτευχθεί η ίδια πυκνότητα.
Πίνακας 9.1: Τύποι φιλμ σύμφωνα με την κλίμακα SCRATA

Συντελεστής
Κατασκευαστής Κωδικοποίηση Ταχύτητα Κοκκομετρία
Φιλμ
Πολύ
AGFA RCF Γρήγορο
Χονδρόκοκκο
Πολύ
DUPONT NDT 91 Γρήγορο
Χονδρόκοκκο
Μέτρια
DUPONT NDT 75 Χονδρόκοκκο 20
Ταχύτητα
Μέτρια
KODAK CX Χονδρόκοκκο 25
Ταχύτητα
Μέτρια
KODAK AX Χονδρόκοκκο 30
Ταχύτητα
Μέτρια
AGFA D7 Χονδρόκοκκο 35
Ταχύτητα
DUPONT NDT 55 Αργό Λεπτόκοκκο 80
AGFA D4 Αργό Λεπτόκοκκο 95
KODAK MX Αργό Λεπτόκοκκο 120
Πολύ
AGFA D2 Πολύ Αργό 200
Λεπτόκοκκο
Το εύρος των βιομηχανικών φιλμ περιλαμβάνει τους ακόλουθους τύπους με σειρά

αυξανόμενης ταχύτητας και κόκκωσης: D2, D3, D4, D5, D7 και D8 και τα πολύ γρήγορα
ακτινογραφικά φιλμ F6 και F8.
|430|
Το εξαιρετικά λεπτόκοκκο D2 χρησιμοποιείται για την ακτινογράφηση πολύ μικρών
αντικειμένων, όταν εφαρμόζεται οπτική μεγέθυνση για να εντοπισθούν πολύ μικρές
λεπτομέρειες. Το D3 αποτελεί εναλλακτική λύση για το D2 και είναι εξαιρετικά κατάλληλο
σε περιπτώσεις πολύ μικρών εξαρτημάτων που απαιτούν μεγάλους συντελεστές
μεγέθυνσης της εικόνας. Το D8 χρησιμοποιείται για την εξέταση μεγάλων χυτών και σε
περιπτώσεις ελέγχου οπλισμένου σκυροδέματος.
Πίνακας 9.2: Τύποι φιλμ και συντελεστές σχετικής έκθεσης

ΤΥΠΟΣ
ΣΥΝΤΕΛΕΣΤΗΣ ΣΧΕΤΙΚΗΣ ΕΚΘΕΣΗΣ
ΦΙΛΜ
100keV 200keV 300keV Ir 192
Co 60
(1) (2) (3) (4)
D2 9,0 7,0 8,0 9,0
D3 4,1 4,3 5,0 5,0
D4 3,0 2,7 3,0 3,0
D5 1,7 1,5 1,5 1,5
D7 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0
D8 0,6 0,6 0,6 0,6
RCF+F6 (5) 0,174 0,132 0,389 0,562
RCF+F8 (5) 0,03 0,022 0,035 0,040
(1) χωρίς ενισχυτικές πλάκες μολύβδου

(2) με ενισχυτικές πλάκες μολύβδου πάχους 0,027mm
(3) με ενισχυτικές πλάκες μολύβδου πάχους 0,027mm
(4) με ενισχυτικές πλάκες μολύβδου πάχους: εμπρόσθια 0,10mm και οπίσθια 0,15mm
(5) με φθορομεταλλικές πλάκες (RCF)
Στην ακτινογραφία η σχέση μεταξύ της έκθεσης και της προκύπτουσας πυκνότητας
αναφέρεται συνήθως ως ταχύτητα του φιλμ. Σε αντίθεση με τα φωτογραφικά φιλμ τα οποία
φέρουν ένα αριθμό DIN ή ASA, στην βιομηχανική ακτινογραφία δεν υπάρχει ένα διεθνώς
αναγνωρισμένο σύστημα συμβολισμού της ταχύτητας του φιλμ.
Ο γενικά αποδεκτός τρόπος για τη μέτρηση της ταχύτητας του ακτινογραφικού φιλμ
είναι να υπολογισθεί η έκθεση που απαιτείται για να επιτευχθεί μια πυκνότητα 2,0
χρησιμοποιώντας μια συγκεκριμένη τεχνική επεξεργασίας. Οι διάφορες τιμές της σχετικής
έκθεσης παρουσιάζονται στον Πίνακα 9.2.
Ο συντελεστής σχετικής έκθεσης δεν εξαρτάται μόνο από την ένταση της
ακτινοβολίας, αλλά και από τον χρόνο έκθεσης, ως εκ τούτου δεν έχει σταθερή τιμή.
Αποτελεί κοινή πρακτική να συγκρίνεται ο σχετικός συντελεστής έκθεσης με τον
αντίστοιχο του φιλμ D7, ο οποίος έχει ένα συντελεστή αναφοράς ίσο με 1,0.
|431|
Εικόνα 9.2: Η ποιότητα της ακτινογραφικής απεικόνισης σε σχέση με την ταχύτητα του
ακτινογραφικού φιλμ
9.6 Λανθάνουσα εικόνα
Η παρασκευή γαλακτώματος αλογονούχου αργύρου ελέγχεται με μεγάλη ακρίβεια,

ώστε στο τελικό προϊόν κάθε κρύσταλλος να έχει στην επιφάνειά του πολύ μικρές
ποσότητες θειούχου αργύρου οποίος αποτελεί το κέντρο ευαισθησίας. Κάθε κρύσταλλος
αλογονούχου αργύρου περιβάλλεται από πλεονάζοντα βρωμιούχα ιόντα τα οποία
σχηματίζουν ένα φράγμα. Όταν ο αλογονούχος κρύσταλλος εκτίθεται σε ακτινοβολία
γίνονται χημικές μεταβολές οι οποίες δημιουργούν μία κηλίδα μεταλλικού αργύρου στο
κέντρο ευαισθησίας και δίπλα σ’ αυτό ένα κενό στη θέση του φράγματος των βρωμιούχων
ιόντων (η διεργασία είναι φωτολυτικού χαρακτήρα).
Οι κηλίδες του αργύρου που σχηματίζονται στους ισχυρά ακτινοβολούμενους
κρυστάλλους αποτελούν τη λανθάνουσα εικόνα που ονομάζεται έτσι επειδή οι κηλίδες
είναι τόσο μικρές και σχεδόν αόρατες. Στις θέσεις έκθεσης με ισχυρή ακτινοβολία
δημιουργείται ένας πολύ μεγάλος αριθμός κηλίδων αργύρου, ενώ στις θέσεις όπου η
ακτινοβολία είναι ασθενέστερη, οι κηλίδες είναι λιγότερες. Η λανθάνουσα εικόνα στη
συμβατική ακτινογραφία ανιχνεύεται μόνο με χημικά μέσα. Πριν και μετά την έκθεση,
αλλά πριν από το στάδιο της εμφάνισης του φιλμ, η λανθάνουσα εικόνα έχει μία
γυαλιστερή ανοιχτό-πράσινη εμφάνιση.
9.7 Στάδια επεξεργασίας
9.7.1 Εμφάνιση (development)
Η λανθάνουσα εικόνα γίνεται ορατή μετά την εμφάνιση. Εμφάνιση είναι η χημική
επεξεργασία του φιλμ κατά την οποία ο βρωμιούχος άργυρος μετατρέπεται μέσω της
ακτινοβολίας σε μαύρο μεταλλικό άργυρο.
Ag(+)+Br(-) +e- → Ag0+Br(-)
Η ποσότητα του βρωμιούχου αργύρου που μετατρέπεται σε μαύρο μεταλλικό
άργυρο εξαρτάται από το χρόνο δράσης του διαλύματος (συνήθως 5 έως 8 λεπτά) και τη
θερμοκρασία του.
Τα ιόντα του βρωμίου παραμένουν στο διάλυμα. Η δράση αυτή είναι επιλεκτική και
συνεπώς η αντίδραση πρέπει να γίνεται μόνο με τους κρυστάλλους που έχουν εκτεθεί στην
ακτινοβολία και να αφήνονται ανέπαφοι οι υπόλοιποι κρύσταλλοι.
|432|
Ο ιδανικός εμφανιστής λοιπόν, πρέπει να επιδρά μόνο στους κρυστάλλους που
περιέχουν τη λανθάνουσα εικόνα και να αφήνει τελείως ανέπαφους τους υπολοίπους.
Πρακτικά όμως, ένας αριθμός κρυστάλλων που δεν έχει ακτινοβοληθεί μετατρέπεται σε
μεταλλικό άργυρο στη διάρκεια της εμφάνισης. Έτσι, αμαυρώνονται οι επιφάνειες που δεν
έχουν εκτεθεί σε ακτινοβολία, φαινόμενο που είναι γνωστό ως χημική ομίχλη. Η
πυκνότητα D που δημιουργείται από αυτή τη διαδικασία είναι της τάξεως του 0,1-0,3 και
είναι αποδεκτή από το πρότυπο ΕΝ ISO 17636-1.
Ο εμφανιστής είναι ένα αλκαλικό διάλυμα, το οποίο αραιώνεται με νερό σε
αναλογία που καθορίζεται από τον κατασκευαστή, π.χ. 1 μέρος εμφανιστή με 4 μέρη
νερού. Τα διάφορα συστατικά που περιέχει ο εμφανιστής είναι τα εξής:
• Ο επιταχυντής, ο οποίος αφαιρεί την προστατευτική επίστρωση και προκαλεί τη
διόγκωση της επίστρωσης που περιέχει το βρωμιούχο άργυρο.
• Ένα συστατικό το οποίο μετατρέπει μόνο τους κόκκους του βρωμιούχου αργύρου
που έχουν εκτεθεί σε ακτινοβολία σε μαύρο μεταλλικό άργυρο.
• Ένα συντηρητικό, το οποίο εμποδίζει την οξείδωση του εμφανιστή.
Προκειμένου να εμποδιστεί ο σχηματισμός φυσαλίδων αέρα στην επιφάνεια του
γαλακτώματος, ο οποίος θα προκαλέσει κηλίδες στο φιλμ και για να είναι βέβαιο ότι ο
εμφανιστής διεισδύει σε όλες τις περιοχές του γαλακτώματος ομοιόμορφα, πρέπει να
γίνεται ανάδευση των φιλμ τα πρώτα 30 δευτερόλεπτα κατά την τοποθέτηση τους στο
λουτρό του εμφανιστή. Μετά από αυτό, το φιλμ πρέπει να αναδεύεται σε τακτά χρονικά
διαστήματα για την πρόληψη σφαλμάτων όπως γραμμές ή ραβδώσεις.
Εικόνα 9.3: Οι κόκκοι του βρωμιούχου αργύρου σε ακτινογραφικό φιλμ (αριστερά). Μη

εκτεθειμένοι κόκκοι ακτινογραφικού φιλμ (κέντρο). Εκτεθειμένοι κόκκοι του βρωμιούχου
αργύρου (δεξιά)
Εικόνα 9.4: Αποτέλεσμα της ανεπαρκούς ανάδευσης του φιλμ στο στάδιο της εμφάνισης
|433|
9.7.2 Λουτρό διακοπής (stopbath)
Πριν οδηγηθεί το φιλμ στο στάδιο της σταθεροποίησης, οδηγείται στο λουτρό
διακοπής. Το λουτρό διακοπής είναι ένα διάλυμα οξικού οξέος και νερού (30ml οξέος/1lt
νερού) μέσα στο οποίο εμβαπτίζεται το φιλμ (για 30 έως 60 δευτερόλεπτα και θερμοκρασία
ίδια με αυτή του διαλύματος εμφάνισης) για να αποφευχθεί η πολύ γρήγορη
σταθεροποίηση και εξουδετέρωση των υπολειμμάτων του εμφανιστή τα οποία υπάρχουν
μετά την αφαίρεση του φιλμ από τον εμφανιστή, αλλά και για να αποφευχθεί ο
σχηματισμός ραβδώσεων ή ομίχλης (dichroitic fog) στο φιλμ.
Εάν το φιλμ δεν οδηγηθεί στο λουτρό διακοπής, πρέπει να ξεπλυθεί με νερό για
μερικά λεπτά αμέσως μετά την έξοδο του από το στάδιο της εμφάνισης.
9.7.3 Σταθεροποιητής (fixing)
Στη συνέχεια ακολουθεί το στάδιο της σταθεροποίησης. Ο σταθεροποιητής είναι

διάλυμα οξέος που αφαιρεί τους μη εκτεθειμένους στην ακτινοβολία κρυστάλλους
βρωμιούχου αργύρου, σκληραίνοντας επίσης την επίστρωση του φιλμ. Μεγαλύτερος
χρόνος σταθεροποίησης είναι τα 15 λεπτά σε θερμοκρασία από 18°C έως 20°C.
Με την τοποθέτηση του φιλμ στο λουτρό σταθεροποίησης, κατά τα πρώτα 30
δευτερόλεπτα, πρέπει να γίνεται ανάδευση.
9.7.4 Πλύσιμο (washing)
Με το πλύσιμο αφαιρείται ο σταθεροποιητής από την επιφάνεια του φιλμ. Το

πλύσιμο γίνεται με νερό και ο χρόνος πλυσίματος (περίπου 30 λεπτά για θερμοκρασία από
15°C έως 26°C) είναι διπλάσιος του χρόνου σκλήρυνσης.
9.7.5 Λουτρό μείωσης επιφανειακής τάσης
Μετά το πλύσιμο του φιλμ σχηματίζονται σταγόνες στην επιφάνεια του, με

αποτέλεσμα στα σημεία αυτά να δημιουργούνται σημάδια λόγω της επιφανειακής τάσης
του υγρού. Για το λόγο αυτό, το φιλμ εμβαπτίζεται σε διάλυμα 5-10ml ανά λίτρο υγρού
μείωσης της επιφανειακής τάσης.
9.7.6 Στέγνωμα φιλμ (drying)
Το στέγνωμα των φιλμ γίνεται μέσα σε ειδικούς φούρνους ξήρανσης, εντός των
οποίων κυκλοφορεί φιλτραρισμένος ζεστός αέρας ή εντελώς ελεύθερα σε θερμοκρασία
περιβάλλοντος.
9.8 Δοχεία
Οι περισσότερες από τις παραπάνω διαδικασίες γίνονται μέσα σε δοχεία, τα οποία

είναι κατασκευασμένα από ανοξείδωτο χάλυβα ή πλαστικό και έχουν τέτοιο βάθος, ώστε
το ακτινογραφικό φιλμ να τοποθετείται κάθετα. Το πλύσιμο τους γίνεται με ζεστό νερό ή
με διάλυμα οξέος.
Επισημαίνουμε ότι η διαδικασία επεξεργασίας των φιλμ προδιαγράφεται από τους
κατασκευαστές. Επομένως, πρέπει κανείς να διαβάζει και να ακολουθεί τις οδηγίες και τις
συστάσεις τους και να λαμβάνει όλα τα απαραίτητα μέσα ατομικής προστασίας. Οι
κατασκευαστές πλέον διαθέτουν στο εμπόριο και υγρά εμφάνισης φιλικά στο περιβάλλον,
|434|
ανακυκλώσιμα και ασφαλή για την υγεία, στα οποία απουσιάζουν πλήρως το υδροκυανίου
και οι αλδεΰδες.
Εικόνα 9.5: Οικολογικά υγρά εμφάνισης
9.9 Χειροκίνητη επεξεργασία και σκοτεινός θάλαμος
Η χειροκίνητη επεξεργασία αρχίζει στο σκοτεινό θάλαμο. Ο σκοτεινός θάλαμος

πρέπει να βρίσκεται σε μία κεντρική τοποθεσία, δίπλα στο αναγνωστήριο (reading room)
και σε μια λογική απόσταση από την περιοχή έκθεσης. Για αυξημένη φορητότητα
εξοπλισμού και για εργοταξιακές απαιτήσεις, συχνά τοποθετούνται σε οχήματα τύπου
pickup και ρυμουλκούμενα (trailer).
Ένα οργανωμένο εμφανιστήριο πρέπει να διαθέτει χώρο για «στεγνές» (γέμισμα και
άδειασμα κασετών με ακτινογραφικά φιλμ) και για «υγρές» εργασίες. Ο φωτισμός
περιλαμβάνει άσπρο φως, καθώς και φωτισμό ασφαλείας. Ο σκοτεινός θάλαμος διαιρείται
σε περιοχές με φωτισμό διαφορετικών εντάσεων. Στην περιοχή της έντονης έντασης
πλένονται τα φιλμ και τοποθετούνται για στέγνωμα, στην περιοχή μέσης έντασης γίνεται η
εμφάνιση των φιλμ και η σταθεροποίηση τους και στην περιοχή με την μικρότερη ένταση
ανοίγονται τα κουτιά και γεμίζονται οι κασέτες. Κατά το χειρισμό του φιλμ απαιτείται
μεγάλη καθαριότητα. Ο σκοτεινός θάλαμος, τα διάφορα εργαλεία που χρησιμοποιούνται
και ο πάγκος εργασίας πρέπει να διατηρούνται καθαρά.
Κάθε βήμα κατά την επεξεργασία του ακτινογραφικού φιλμ πρέπει να υλοποιείται
κατάλληλα για τη σωστή εμφάνιση του ακτινογραφικού φιλμ. Η έκπλυση από τα
υπολείμματα χημικών ουσιών για τη μέγιστη συντήρηση του ακτινογραφικού φιλμ είναι
βασική διαδικασία μετά την αποπεράτωση της επεξεργασίας του. Οι στόχοι της
επεξεργασίας είναι δύο: ο πρώτος, η σωστή επεξεργασία του και ο δεύτερος η
προετοιμασία του ακτινογραφικού φιλμ για την αρχειοθέτηση και αποθήκευσή του. Οι
ακτινογραφίες κρατούνται ως αρχεία ακόμη και για 20 έτη ως αποδεικτικό της
επιθεώρησης.
|435|
Εικόνα 9.6: Στάδια επεξεργασίας ακτινογραφικού φιλμ
9.10 Αυτόματη επεξεργασία
Στις μέρες μας τα δοχεία και η χειροκίνητη εμφάνιση έχουν αντικατασταθεί από την
αυτόματη επεξεργασία με τα αυτόματα εμφανιστήρια. Τα αυτόματα εμφανιστήρια είναι
μηχανήματα εμφάνισης όπου όλες οι φάσεις της επεξεργασίας των φιλμ γίνονται αυτόματα
(σε λιγότερο από 12 λεπτά). Χρησιμοποιούνται μόνο όταν ο όγκος εργασίας καθιστά την
χρήση τους οικονομική.
Για την παρακολούθηση της απόδοσης του επεξεργαστή, εκτός από τις ιδανικές
συνθήκες θερμοκρασίας και των μηχανικών ελέγχων, πρέπει να διενεργούνται χημικοί
έλεγχοι και έλεγχοι ευαισθησίας για τον εμφανιστή και το σταθεροποιητή.
Οι χημικοί έλεγχοι περιλαμβάνουν τη μέτρηση των τιμών του pH του εμφανιστή και
του σταθεροποιητή, καθώς και των αντιστοιχών υλικών αναπλήρωσής τους. Επίσης, πρέπει
να παρακολουθείται το ειδικό βάρος και το επίπεδο του αργύρου. Ιδανικά, το pH πρέπει να
μετράται καθημερινά και είναι σημαντικό να καταγράφεται καθώς παρέχει χρήσιμες
πληροφορίες.
Οι καθημερινές μετρήσεις των τιμών του pH του σταθεροποιητή μπορεί στη
συνέχεια να αναλύονται και με αυτόν τον τρόπο να παρατηρείται η τάση μεταβολής των
τιμών σε σύγκριση με τα κανονικά επίπεδα λειτουργίας ώστε να εντοπίζονται τα
προβλήματα. Οι έλεγχοι ευαισθησίας πρέπει να διενεργούνται προκειμένου να αξιολογείται
εάν η απόδοση των ακτινογραφικών φιλμ είναι η μέγιστη. Οι έλεγχοι αυτοί περιλαμβάνουν
τη μέτρηση του βασικού επιπέδου ομίχλης, την ταχύτητα, τη μέση κλίση (average gradient)
και πραγματοποιούνται σε θερμοκρασιακά διαστήματα του 1°C.
Το εύρος της μέτρησης της θερμοκρασίας εξαρτάται από τον τύπο των χημικών του
κατασκευαστή, καθώς και από το εάν ο εμφανιστής είναι ψυχρός ή θερμός. Αυτές οι τρεις
μετρήσεις, δηλαδή το επίπεδο ομίχλης, η ταχύτητα και η μέση κλίση, πρέπει στη συνέχεια
να απεικονίζονται γραφικά σε σχέση με τη θερμοκρασία και να συγκρίνονται με τα
διαγράμματα που παρέχονται από τον κατασκευαστή.
Η αυτόματη επεξεργασία των φιλμ, όχι μόνο συντομεύει το συνολικό χρόνο
επεξεργασίας του φιλμ, αλλά γενικότερα βελτιώνει την επαναληψιμότητα των
αποτελεσμάτων. Συνεπώς, η ποιοτική αναβάθμιση που επιτυγχάνεται με την χρήση της
αυτόματης εμφάνισης αυξάνει την αξιοπιστία της ακτινογραφίας ως μεθόδου μη
καταστροφικού ελέγχου.
|436|
Εικόνα 9.7: Αυτόματα εμφανιστήρια
9.11 Χειρισμός φιλμ
Απαιτείται προσεκτικός χειρισμός των φιλμ ενώ πρέπει να αποφεύγεται η

κακομεταχείριση τους. Κατά το γέμισμα των φιλμ δεν πρέπει να ασκούνται μεγάλες πιέσεις
πάνω στην κασέτα. Το άδειασμα των κασετών πρέπει και αυτό να γίνεται με ιδιαίτερη
προσοχή για να αποφεύγονται τυχόν τσακίσματα.
9.12 Συσκευασία φιλμ
Υπάρχουν διάφορες συσκευασίες φιλμ.

• Φιλμ σε φύλλα: είναι φιλμ μέσα σε προστατευτικό χάρτινο κάλυμμα το οποίο
μπορεί να παραμείνει πάνω στο φιλμ κατά την έκθεση για να το προφυλάξει από
τυχόν σημάδια που μπορεί να προκύψουν κατά το χειρισμό του.
• Φιλμ σε φάκελο: είναι φιλμ μέσα σε χάρτινο κάλυμμα (φωτοστεγής φάκελος) το
οποίο μπορεί να παραμείνει πάνω στο φιλμ κατά την έκθεση για να το προφυλάξει
από τυχόν σημάδια που μπορεί να προκύψουν από το χειρισμό του. Επιτυγχάνεται
οικονομία χρόνου διότι δεν απαιτείται γέμισμα και άδειασμα των κασετών.
• Φιλμ σε φάκελο με ενισχυτικά φίλτρα μολύβδου: είναι φιλμ που συσκευάζονται με
ενισχυτικά φίλτρα μολύβδου εντός χάρτινου καλύμματος (φωτοστεγής φάκελος) το
οποίο το προφυλάσσει από τυχόν σημάδια που μπορεί να προκύψουν κατά το
χειρισμό του. Επιτυγχάνεται οικονομία χρόνου διότι δεν απαιτείται γέμισμα και
άδειασμα των κασετών.
|437|
• Φιλμ σε ρολό: είναι φιλμ που χρησιμοποιούνται για την ακτινογράφηση
περιφερειακών συνήθως συγκολλήσεων μεγάλων διαμέτρων.
Εικόνα 9.8: Ακτινογραφικά φιλμ ενσωματωμένα σε φάκελο
9.13 Αποθήκευση ακατέργαστων φιλμ
Απαιτείται αυστηρός έλεγχος των αποθεμάτων φιλμ κατά την παραγγελία τους, την
αποθήκευση και τη χρήση τους, διότι τα φιλμ επηρεάζονται από τη γήρανση, έχουν δηλαδή
ημερομηνία λήξης, τη θερμοκρασία (η συνιστώμενη θερμοκρασία είναι οι 22°C), την
υγρασία (η συνιστώμενη υγρασία είναι 50 έως 60%) και την ακτινοβολία (για διάστημα
αποθήκευσης έως 3 μήνες η ακτινοβολία δεν πρέπει να υπερβαίνει τα 7μR/hr).
9.14 Αποθήκευση επεξεργασμένων φιλμ
Ένα από τα πλεονεκτήματα της ακτινογραφίας είναι η δυνατότητα αρχειοθέτησης

των φιλμ καθώς και η ψηφιοποίησή τους. Για το λόγο αυτό πρέπει τα φιλμ, κατά την
περίοδο της αρχειοθέτησης τους, να διατηρούνται σε καλή κατάσταση. Ο παράγοντας που
επηρεάζει το χρήσιμο χρόνο αρχειοθέτησης των φιλμ είναι η ποσότητα του θειϊκού άλατος
που παραμένει στην επιφάνεια του φιλμ, μετά την έκπλυσή του με διάλυμα του
σταθεροποιητή.
9.15 Επιλογή ακτινογραφικού φιλμ
Η επιλογή του φιλμ για τη ακτινογράφηση συγκεκριμένων αντικειμένων εξαρτάται

από ένα πλήθος διαφορετικών παραγόντων. Μερικοί από τους παράγοντες που πρέπει να
λαμβάνονται υπόψη κατά την επιλογή ενός φιλμ είναι το πάχος του υλικού, η ενέργεια της
ακτινοβολίας, η ποιότητα του ειδώλου και ο χρόνος έκθεσης.
Ειδικότερα, πρέπει να λαμβάνονται υπόψη:
• Η σύνθεση, το σχήμα και το μέγεθος του δοκιμίου που εξετάζεται και σε ορισμένες
περιπτώσεις, το βάρος και η θέση του.
• Ο τύπος της ακτινοβολίας που χρησιμοποιείται, αν πρόκειται για ακτίνες Χ από μια
γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ ή ακτίνες γ από μια ραδιενεργή πηγή.
• Τα διαθέσιμα keV της γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ ή η ένταση της
ακτινοβολίας γ για τα ισότοπα.
• H αναγκαιότητα για την επίτευξη αποτύπωσης υψηλής ακτινογραφικής ευκρίνειας ή
γρήγορης και οικονομικής έκθεσης μειωμένης ποιότητας.
Η επιλογή του ακτινογραφικού φιλμ εξαρτάται συνήθως από παράγοντες οι οποίοι
πολλές φορές αντιτίθενται μεταξύ τους. Συνεπώς, εάν απαιτείται υψηλή ευκρίνεια και
ευαισθησία, άρα και αυξημένη αντίθεση, ένα πιο αργό και λεπτόκοκκο ακτινογραφικό φιλμ
έχει καλύτερο αποτέλεσμα από ένα γρήγορο φιλμ.
|438|
Γενικά, στην επιθεώρηση συγκολλήσεων, όταν γίνεται προσπάθεια να ανιχνευτούν
μικρά ρήγματα, ένα ακτινογραφικό φιλμ κλάσης C2 ή C3 αποτελεί καλή πρακτική. Για την
επιθεώρηση χυτών ή γενικού τύπου ακτινογραφιών προτείνεται η χρήση ακτινογραφικού
φιλμ κλάσης C4 ή C5. Για επιθεωρήσεις μικρών δοκιμίων και κατασκευαστικών στοιχείων,
όπου το ακτινογράφημα μπορεί να ερμηνευθεί υπό συνθήκες μεγέθυνσης για την
ανίχνευση μικρών ασυνεχειών, προτιμάται ένα ακτινογραφικό φιλμ κλάσης C2 ή
ενδεχομένως και κλάσης C1. (Κατηγοριοποίηση των ακτινογραφικών φιλμ σύμφωνα με το
ΕΝ 584-1)
9.16 Τεχνική διπλού φιλμ
Για να ακτινογραφηθεί ένα αντικείμενο το οποίο έχει διαφορά στο πάχος του,
χρησιμοποιείται συνήθως ο μέσος όρος του πάχους του προκειμένου να υπολογιστεί ο
απαιτούμενος χρόνο έκθεσης, ώστε να επιτυγχάνεται πυκνότητα ακτινογραφικού φιλμ
τουλάχιστον 2. Όταν υπάρχουν μεγάλες διαφορές στο πάχος του μπορεί να προκληθεί υπό
ή υπέρ έκθεση στο ακτινογραφικό φιλμ. Σύμφωνα με το ΕΝ ISO 17636-1, υπάρχει ένας
περιορισμός στο εύρος των παχών τα οποία μπορεί να καλυφθούν από μία και μόνη
έκθεση.
Υπάρχουν αρκετοί πρακτικοί τρόποι για να αποφευχθεί η υπερβολική έκθεση των
λεπτότερων και η χαμηλή έκθεση των παχύτερων τμημάτων ενός αντικειμένου. Αυτοί
μπορούν να χωριστούν σε δύο κατηγορίες: την αντιστάθμιση με ένα φιλμ και την τεχνική
διπλού φιλμ.
9.17 Αντιστάθμιση με την χρήση ενός φιλμ
Για έκθεση με τη χρήση ενός φιλμ εφαρμόζονται οι παρακάτω τεχνικές:

• Μείωση της αντίθεσης με τη χρήση ενός φίλτρου στην γεννήτρια παραγωγής
ακτίνων Χ.
• Μείωση της αντίθεσης του αντικειμένου με την αύξηση της ενέργειας της
ακτινοβολίας (περισσότερα keV) ή χρησιμοποιώντας πηγές Ιριδίου 192 ή
Κοβαλτίου 60.
• Αντιστάθμιση της διαφοράς στο πάχος των τοιχωμάτων τοποθετώντας υλικό στο
σημείο Β της Εικόνας 9.9, παρόμοιας σύνθεσης με αυτό του αντικειμένου Α.
• Αντί της τοποθέτησης υλικού στο σημείο Β σύμφωνα με την προηγούμενη τεχνική,
γίνεται χρήση ενός ειδικού υλικού πλήρωσης (putty) που αποτελείται κυρίως από
μεταλλική σκόνη.
Εικόνα 9.9: Αντιστάθμιση με προσθήκη υλικού (αριστερά). Τεχνική διπλού φιλμ (δεξιά)
|439|
9.18 Τεχνικές διπλού φιλμ
• Πρόκειται για την τεχνική ταυτόχρονης έκθεσης δύο φιλμ διαφορετικής

ευαισθησίας, αλλά με ίδιες ενισχυτικές πλάκες, με μία έκθεση. Για παράδειγμα, θα
μπορούσε να χρησιμοποιηθεί ένα φιλμ τύπου D7 και D4. Αυτή η τεχνική είναι
λιγότερο πολύπλοκη και πιο πρακτική.
• Ταυτόχρονη έκθεση δύο φιλμ διαφορετικής ευαισθησίας, αλλά με διαφορετικές
ενισχυτικές πλάκες, με μία έκθεση.
• Δύο εκθέσεις σε ένα φιλμ ίδιας ευαισθησίας και με ίδια ενισχυτική πλάκα: μία
έκθεση βασιζόμενη στο λεπτότερο τοίχωμα και μία δεύτερη έκθεση βασιζόμενη στο
παχύτερο τοίχωμα.
• Δύο εκθέσεις σε ένα φιλμ ίδιας ευαισθησίας, αλλά ενισχυτικές πλάκες διαφορετικού
τύπου.
9.19 Ψηφιακή απεικόνιση και επεξεργασία απουσία ακτινογραφικού φιλμ
Στην Ψηφιακή Ακτινογραφία χρησιμοποιούμε πλάκες φωσφόρου ή ειδικά μη

εύκαμπτα πάνελ αντί για ακτινογραφικό φιλμ και η επεξεργασία της απεικόνισης γίνεται με
ηλεκτρονικό υπολογιστή. Αυτές οι τεχνικές αποτελούν μια εναλλακτική λύση και εκτός
από το γεγονός ότι παρουσιάζουν ένα εξαιρετικά μεγάλο δυναμικό εύρος συγκριτικά με τα
συμβατικά φιλμ, οι τεχνικές της Ψηφιακής Ακτινογραφίας εμφανίζουν μεγαλύτερη
ευαισθησία στην ακτινοβολία, απαιτώντας έτσι μικρότερη έκθεση. Αυτό με την σειρά του
οδηγεί σε συντομότερους χρόνους έκθεσης και μικρότερη ελεγχόμενη περιοχή (ζώνη
αποκλεισμού από την ακτινοβολία).
Μπορούμε να διακρίνουμε δύο βασικές τεχνικές της Ψηφιακής Ακτινογραφίας
απουσία του παραδοσιακού-συμβατικού ακτινογραφικού φιλμ:
• Ψηφιακή Ακτινογραφία μέσω εύκαμπτης επικαλυμμένης πλάκας φωσφόρου σε
συνδυασμό με επεξεργασία από ηλεκτρονικό υπολογιστή, τη λεγόμενη «Computed
Radiography», ή CR εν συντομία.
• Ψηφιακή Ακτινογραφία με άκαμπτο επίπεδο πάνελ από άμορφο πυρίτιο και άμεση
επεξεργασία μέσω ηλεκτρονικού υπολογιστή. Αναφέρεται ως «Ψηφιακή
Ακτινογραφία» ή DR εν συντομία και θεωρείται ως η πραγματική μέθοδος DR η
οποία μερικές φορές αναφέρεται και ως Άμεση Ακτινογραφία «Direct
Radiography».
Οι σημαντικές παράμετροι σύγκρισης της συμβατικής ακτινογραφίας με την
Ψηφιακή Ακτινογραφία είναι η ανάλυση (resolution), δηλαδή το μέγεθος του μικρότερου
ανιχνεύσιμου στοιχείου της ψηφιοποιημένης εικόνας, η ευαισθησία της αντίθεσης (contrast
sensitivity) δηλαδή το μέγεθος της μικρότερης ανιχνεύσιμης αλλαγής της οπτικής
πυκνότητας και το εύρος της τελευταίας.
Τα βασικά πλεονεκτήματα της Ψηφιακής Ακτινογραφίας σε σύγκριση με τη
συμβατική ακτινογραφία είναι τα εξής:
• Ο σύντομος χρόνος έκθεσης του αντικειμένου.
• Η ταχύτατη επεξεργασία.
• Η απουσία χημικών ουσιών και επομένως η μηδενική ρύπανση του περιβάλλοντος.
• Το χαμηλότερο λειτουργικό κόστος διότι δεν υπάρχουν αναλώσιμα.
• Η επαναχρησιμοποίηση των πλακών φωσφόρου και των πάνελς.
• Το μεγάλο δυναμικό εύρος έκθεσης με αποτέλεσμα μικρότερο αριθμό εκθέσεων.
• Η δυνατότητα υποβοηθούμενης αναγνώρισης των ασυνεχειών (ADR).
|440|
Εικόνα 9.10: Άκαμπτο πάνελ άμορφου πυριτίου (αριστερά) και εύκαμπτες πλάκες φωσφόρου
(δεξιά)
Εικόνα 9.11: Σαρωτής ανάγνωσης και επεξεργασίας των εύκαμπτων πλακών φωσφόρου
9.20 Ψηφιοποίηση του συμβατικού ακτινογραφικού φιλμ
Η ψηφιοποίηση της συμβατικής ακτινογραφίας, αν και δεν εντάσσεται στις τεχνικές

της Ψηφιακής Ακτινογραφίας, εντούτοις χρησιμοποιεί την ίδια τεχνολογία ψηφιοποίησης
και απεικόνισης της ακτινογραφικής εικόνας.
Η ψηφιοποίηση των συμβατικών ακτινογραφικών φιλμ γίνεται με σκοπό την
αποθήκευση και αρχειοθέτησή τους, παρέχοντας έτσι τα πλεονεκτήματα της
ελαχιστοποίησης του χώρου αποθήκευσης. Με την ολοκλήρωση της ψηφιοποίησης, τα
φιλμ καταγράφονται σε ψηφιακά αποθηκευτικά μέσα όπως CD-ROM, DVD κ.λπ.
Επομένως, δεν απαιτούνται οι συνθήκες συντήρησης και αποθήκευσης που
απαιτούνται για τα συμβατικά ακτινογραφικά φιλμ. Σημειώνεται ότι η αποθήκευση των
τελευταίων γίνεται σε θερμοκρασία χαμηλότερη των 24°C και σχετική υγρασία
χαμηλότερη από 60% έτσι ώστε να μην αλλοιώνονται με την πάροδο του χρόνου.
Ο εξοπλισμός της ψηφιοποίησης αποτελείται στην πραγματικότητα από ένα
γρήγορο υπολογιστή με ελεγχόμενο επίπεδο σαρωτή, ο οποίος σαρώνει το ακτινογραφικό
φιλμ, μετρώντας τη ακτινογραφική πυκνότητα, καθώς ψηφιοποιεί και αποθηκεύει τα
αποτελέσματα.
Το πρότυπο EN 14096-1:2005 (Non-destructive testing - Qualification of
radiographic film digitisation systems - Part 1: Definitions, quantitative measurements of
image quality parameters, standard reference film and qualitative control), καθορίζει τις
διαδικασίες για την αξιολόγηση των βασικών παραμέτρων απόδοσης της διαδικασίας
ψηφιοποίησης των ακτινογραφικών φιλμ όπως η ανάλυση, η γραμμικότητα, το εύρος
πυκνότητας, η ευαισθησία της αντίθεσης κ.λπ. Όλες αυτές οι παράμετροι μπορούν να
|441|
ενσωματωθούν στο λογισμικό του συστήματος μαζί με ένα πρότυπο φιλμ αναφοράς που
χρησιμοποιείται για τον έλεγχο της ποιότητας της διαδικασίας ψηφιοποίησης. Δεν αποτελεί
αντικείμενο του συγκεκριμένου προτύπου η επεξεργασία του σήματος και η απεικόνιση
των ψηφιοποιημένων δεδομένων.
Το πρότυπο EN 14096-2:2005 (Non-destructive testing - Qualification of
radiographic film digitisation systems - Part 2: Minimum requirements), καθορίζει τρεις
κατηγορίες ποιότητας ψηφιοποιημένων φιλμ για τις ανάγκες των Μη Καταστροφικών
Ελέγχων. Η επιλογή της κατηγορίας εξαρτάται από την ενέργεια της ακτινοβολίας, το
πάχος του υλικού που διείσδυσε η ακτινοβολία και από το επίπεδο ποιότητας του
συμβατικού ακτινογραφικού φιλμ. Δεν αποτελεί αντικείμενο του συγκεκριμένου προτύπου
η επεξεργασία του σήματος, η απεικόνιση και η αποθήκευση των ψηφιοποιημένων
δεδομένων.
Τέλος, η ψηφιοποίηση των συμβατικών ακτινογραφικών φιλμ σε γενικές γραμμές
βελτιστοποιεί τη διαχείριση των δεδομένων, ενώ καθιστά εύκολη τη μεταφορά και
αποστολή τους οπουδήποτε απαιτηθεί, προσφέροντας έτσι τη δυνατότητα απομακρυσμένης
ερμηνείας.
Εικόνα 9.12: Ψηφιοποίηση ακτινογραφικών φιλμ
|442|
10. ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΗ ΠΥΚΝΟΤΗΤΑ
Η ακτινογραφική πυκνότητα (οπτική, ή φωτογραφική ή πυκνότητα φιλμ) είναι ένα

μέτρο του βαθμού αμαύρωσης του ακτινογραφήματος. Τεχνικά, ονομάζεται μεταδιδόμενη
πυκνότητα (transmitted density), δεδομένου ότι ορίζει το ποσό του φωτός που διαπερνά το
Αν παρατηρήσουμε ένα ακτινογράφημα, θα δούμε ότι αποτελείται από περιοχές με
διαφορετική φωτεινότητα. Η φωτεινότητα αυτή ή η αμαύρωση της εικόνας είναι γνωστή
ως πυκνότητα. Αυτό σημαίνει ότι μια επιφάνεια μεγάλης πυκνότητας έχει απορροφήσει
περισσότερη ακτινοβολία και είναι πιο μαύρη από μία άλλη μικρότερης πυκνότητας.
Επιστημονικά η πυκνότητα είναι ο δεκαδικός λογάριθμος του λόγου της φωτεινής
ακτινοβολίας που προσπίπτει Ι0 προς τη φωτεινή ακτινοβολία που εξέρχεται από το φιλμ Ιt.
D = Log10 Ι0/Ιt
Συνεπώς, όταν η ένταση της φωτεινής ακτινοβολίας που διέρχεται είναι το 1/10
αυτής που προσπίπτει, η πυκνότητα είναι ίση με D = 1. Όταν ο λόγος είναι 1/100 έχουμε
D = 2, και όταν ο λόγος είναι 1/1000 έχουμε D = 3.
Για να αποκτήσουμε μία προσεγγιστική αντίληψη για τις επιφάνειες του
ακτινογραφήματος που αντιστοιχούν σε D = 1, μπορούμε να τοποθετήσουμε κάτω από
αυτό μια γραμμένη σελίδα από λευκό χαρτί και να το φωτίσουμε σε συνθήκες φωτισμού
δωματίου. Στις επιφάνειες εκείνες του ακτινογραφήματος που μόλις μπορεί να διαβαστεί το
κείμενο της σελίδας έχουμε πυκνότητα D = 1.
Στην πράξη, το συνηθισμένο εύρος πυκνοτήτων στα ακτινογραφήματα, κυμαίνεται
από D = 0,5 στις φωτεινότερες περιοχές, έως D = 4 στις πολύ σκοτεινές.
Πίνακας 10.1: Σχέση πυκνότητας και διαπερατότητας του ακτινογραφικού φιλμ

Αντίστροφο
Διαπερατότητα Ποσοστό
διαπερατότητας
ορατής διαπερατότητας Πυκνότητα φιλμ
ορατής
ακτινοβολίας ορατής log (I0/It)
ακτινοβολίας
(It/I0) ακτινοβολίας
(I0/It)
1,0 100% 1 0
0,1 10% 10 1
0,01 1% 100 2
0,001 0,1 % 1000 3
0,0001 0,01% 10000 4
0,00001 0,001% 100000 5
0,000001 0,0001% 1000000 6
0,0000001 0,00001% 10000000 7
Από τον Πίνακα 10.1 αντιλαμβανόμαστε ότι τιμή πυκνότητας 2 είναι το αποτέλεσμα
μόνο του 1% του προσπίπτοντος φωτός που διαπερνά το ακτινογραφικό φιλμ.
Τιμές πυκνότητας πάνω από 4 απαιτεί ισχυρά διαφανοσκόπια για την ερμηνεία και
αξιολόγηση της ακτινογραφίας. Για ακτινογραφίες που πρόκειται να ψηφιοποιηθούν, τιμές
πυκνότητας πάνω από 4 χρησιμοποιούνται συχνά από τα συστήματα ψηφιοποίησης μιας
και αυτά μπορούν να συλλάβουν και να επανεμφανίσουν ακτινογραφίες με τιμές
πυκνότητας έως και 6.
|443|
10.1 Πυκνόμετρο (densitometer)
Το πυκνόμετρο ή ντενσιτόμετρο χρησιμοποιείται για την ακριβή μέτρηση την

πυκνότητας σε οποιοδήποτε σημείο του ακτινογραφικού φιλμ.
Το πυκνόμετρο αποτελείται από ένα φωτοηλεκτρικό αισθητήρα ο οποίος μετρά την
ποσότητα του φωτός που διαδίδεται μέσα από το ακτινογραφικό φιλμ. Το φιλμ
τοποθετείται μεταξύ της πηγής φωτός και του φωτοηλεκτρικού αισθητήρα έτσι ώστε να
αναγνωστεί η πυκνότητα από το όργανο. Για τους περισσότερους τύπους πυκνόμετρων, το
μέγεθος της μετρούμενης επιφάνειας είναι περίπου 1mm2 και το εύρος μέτρησης
πυκνότητας κυμαίνεται από 0 έως 4.
Δεδομένου ότι η κλίμακα είναι λογαριθμική, αυτό ισοδυναμεί με ένα συντελεστή
104 σε πυκνότητα. Είναι πολύ σημαντική η τακτική βαθμονόμηση των πυκνόμετρων,
ιδιαίτερα κοντά στις τιμές 2,0 - 2,3 αφού σύμφωνα με το πρότυπο EN 444, αυτές είναι οι
ελάχιστες τιμές πυκνότητας (ανάλογα με την κλάση Α ή Β), που πρέπει να έχουν τα
ακτινογραφικά φιλμ, ώστε να υπάρχει δυνατότητα σωστής ερμηνείας της ακτινογραφίας. Η
περιοδική βαθμονόμηση θεωρείται απαραίτητη τουλάχιστον μία φορά το χρόνο σύμφωνα
με τους κώδικες.
Πριν την ερμηνεία της ακτινογραφίας τα πυκνόμετρα με τα οποία μετράται η
πυκνότητα των ακτινογραφικών φιλμ, βαθμονομούνται με τη βοήθεια βαθμονομημένης
ταινίας πυκνότητας (density strip), δηλαδή ταινίας με διαφορετικές πυκνότητες. Η ελάχιστη
πυκνότητα κυμαίνεται συνήθως από 1,5 έως και 2,5. Πιο αναλυτικά το πρότυπο
ΕΝ ISO 17636-1 ορίζει ελάχιστη οπτική πυκνότητα ≥2,0±0,1 για κλάση Α και ≥2,3±0,1 για
κλάση Β. Οι τιμές μπορούν να μειωθούν έως 1,5 για την κλάση Α και 2,0 για την κλάση Β
μετά από συνεννόηση των συμβαλλομένων μερών. Η μέγιστη πυκνότητα συνήθως είναι
3,0 έως 3,5-3,8. Οι ταινίες διαφορετικών πυκνοτήτων (density strips) χρειάζονται
προσεκτικό χειρισμό αφού είναι ευαίσθητες στις εκδορές. Επομένως, πρέπει να
συντηρούνται μέσα σε προστατευτικές μεμβράνες. Οι ταινίες διαφορετικών πυκνοτήτων
είναι πιστοποιημένες για ελάχιστη εγγυημένη διάρκεια ζωής τεσσάρων χρόνων.
Εικόνα 10.1: Μετρητής οπτικής πυκνότητας (Πυκνόμετρο)
Εικόνα 10.2: Density strips
|444|
10.2 Διαφανοσκόπιο (viewer) και ερμηνεία ακτινογραφιών
Η ερμηνεία των ακτινογραφιών πραγματοποιείται γενικά με την χρήση

διαφανοσκόπιου. Ωστόσο, έχει ξεκινήσει να εφαρμόζεται η ψηφιοποίηση των
ακτινογραφιών και η προβολή τους σε οθόνη υψηλής ανάλυσης. Οι κατάλληλες συνθήκες
θέασης είναι πολύ σημαντικές κατά την ερμηνεία μιας ακτινογραφίας. Οι συνθήκες
προβολής μπορεί να ενισχύσουν ή να υποβαθμίσουν τις μικρές λεπτομέρειες των
ακτινογραφιών.
Ένα διαφανοσκόπιο πρέπει να έχει τις εξής ιδιότητες: να παρέχει αρκετό φως ώστε
να φωτίζει όλες τις περιοχές του φιλμ και να διαχέεται ομοιόμορφα σε όλη την περιοχή
ελέγχου. Το χρώμα του φωτός είναι λευκό.
Σύμφωνα με το ΕΝ 25580, η απαιτούμενη λαμπρότητα της οθόνης εξαρτάται από
την πυκνότητα των ακτινογραφιών. Τα παρακάτω επίπεδα λαμπρότητας συνιστώνται για
την άντληση πληροφοριών σε διάφορα επίπεδα πυκνότητας. Η λαμπρότητα ή φωτεινότητα
της φωτισμένης ακτινογραφίας δεν πρέπει να είναι μικρότερη από 30cd/m2 για πυκνότητες
φιλμ ≤2,5 και 10cd/m2 για πυκνότητες φιλμ >2,5 και όπου είναι δυνατόν περίπου 100cd/m2
ή μεγαλύτερη. Αυτές οι ελάχιστες τιμές απαιτούν τη λαμπρότητα της οθόνης που φαίνεται
στον Πίνακα 10.2.
Πίνακας 10.2: Τιμές πυκνότητας ακτινογραφικού φιλμ και λαμπρότητας οθόνης

διαφανοσκοπίου
Πυκνότητα φιλμ Ελάχιστη λαμπρότητα οθόνης (cd/m2)
1,0 300
1,5 1.000
2,0 3.000
2,5 10.000
3,0 10.000
3,5 30.000
4,0 100.000
4,5 300.000
Το διαφανοσκόπιο είναι δυνατόν να διατίθεται με μηχανισμό για
συνεχή ρύθμιση της λαμπρότητας της οθόνης.
Η περιοχή πρέπει να είναι καθαρή και απαλλαγμένη από υλικά που αποσπούν την
προσοχή. Ο μεγεθυντικός φακός κρίνεται απαραίτητος κατά την ερμηνεία της
ακτινογραφίας. Άλλωστε αρκετά διαφανοσκόπια παρέχονται με προσαρμοσμένα
συστήματα μεγέθυνσης. Λεπτά βαμβακερά γάντια πρέπει να είναι διαθέσιμα και να
χρησιμοποιούνται από τον επιθεωρητή προκειμένου να αποφεύγονται τα δακτυλικά
αποτυπώματα πάνω στην ακτινογραφία. Ο περιβάλλων φωτισμός πρέπει να είναι χαμηλός
και συνιστάται να μην ξεπερνά τα 20lux όπως επίσης πρέπει να ρυθμίζεται κατά τέτοιο
τρόπο ώστε να αποφεύγονται οι ανακλάσεις του φωτισμού από την επιφάνεια του φιλμ.
Βασικό στοιχείο αποτελεί ότι κατά την ερμηνευτική διαδικασία απαιτούνται
τακτικά διαλείμματα για να ξεκουράζεται τόσο η όραση, αλλά και για να διασφαλίζεται το
διαφανοσκόπιο από την υπερθέρμανση (50% σε λειτουργία με μέγιστη διάρκεια 15s σε
θερμοκρασία χώρου 20°C). Μια διαδικασία προβολής των ακτινογραφιών, για παράδειγμα
από αριστερά προς τα δεξιά, ή από πάνω προς τα κάτω, κ.λπ. είναι χρήσιμη για να
αποτραπεί η εστίαση του επιθεωρητή σε μια μόνο περιοχή της ακτινογραφίας.
|445|
Είναι πραγματικά πολύ χρήσιμο ο επιθεωρητής να έχει δει το αντικείμενο που
ακτινογραφήθηκε για να ερμηνεύσει ασφαλέστερα μία ακτινογραφία. Ωστόσο, αυτό δεν
είναι πάντοτε εφικτό. Τέλος επισημαίνεται ότι η ερμηνεία των ακτινογραφιών είναι μια
επίκτητη δεξιότητα που συνδυάζει οπτική οξύτητα, γνώση των υλικών, των διαδικασιών
παραγωγής και των συναφών ασυνεχειών ενώ η τελειοποίηση της απαιτεί χρόνο.
Εικόνα 10.3: Βιομηχανικό διαφανοσκόπιο
|446|
11. ΙΔΙΟΤΗΤΕΣ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΩΝ ΦΙΛΜ
11.1 Αντίθεση ακτινογραφικού φιλμ
Αντίθεση είναι η διαφορά των πυκνοτήτων ανάμεσα σε δύο γειτονικές περιοχές με

ομοιόμορφη πυκνότητα. Έτσι, αν σε ένα ακτινογράφημα οι πυκνότητες δύο γειτονικών
περιοχών είναι D1 = 2,8 και D2 = 1,6 η αντίθεση είναι ίση με D1-D2 = 2,8-1,6 = 1,2.
11.2 Ευκρίνεια ακτινογραφικού φιλμ
Η ευκρίνεια ενός ακτινογραφήματος είναι ο βαθμός διαχωρισμού της εικόνας και

προσδιορίζεται από το πλάτος της μετάβασης από μια ομοιόμορφη πυκνότητα σε μια
διαφορετική, επίσης ομοιόμορφη. Όσο στενότερο είναι το πλάτος αυτό, τόσο καλύτερη
είναι η ευκρίνεια του ακτινογραφήματος. Στη συνέχεια παρατίθεται ένα διάγραμμα της
μεταβολής της πυκνότητας πάνω στον άξονα ενός φιλμ.
Εικόνα 11.1: Φιλμ με ίδια αντίθεση και διαφορετική ευκρίνεια.

Η ευκρίνεια του Β είναι μικρότερη από αυτή του Α.
Όπως φαίνεται και στην Εικόνα 11.1, στο φιλμ (Α) το πλάτος του μεταβατικού
στρώματος (L1) είναι μικρότερο από το πλάτος (L2) του φιλμ (Β) και συνεπώς, το (Α) έχει
μεγαλύτερη ευκρίνεια (δηλαδή βαθμό διαχωρισμού της εικόνας) από το (Β). Πρέπει επίσης
να σημειωθεί ότι στην περίπτωση που η αντίθεση δύο ακτινογραφημάτων είναι ίδια ενώ η
ευκρίνεια είναι διαφορετική, δίνεται η εντύπωση ότι το ακτινογράφημα με τη μεγαλύτερη
ευκρίνεια έχει και μεγαλύτερη αντίθεση. Συνεπώς, η αντίθεση και η ευκρίνεια επηρεάζουν
η μία την άλλη στην υποκειμενική (οπτική) εκτίμηση τους.
|447|
11.3 Η χαρακτηριστική καμπύλη
Η δόση της ακτινοβολίας που δέχεται μία επιφάνεια γαλακτώματος είναι ίση με το
γινόμενο της έντασης της ακτινοβολίας (Ι) που πέφτει στην επιφάνεια επί το χρόνο (t) που
διαρκεί αυτή η ακτινοβόληση. Η δόση (έκθεση) αυτή είναι διαφορετική για κάθε σημείο
του γαλακτώματος λόγω του ότι μετά τη διέλευση από το εξεταζόμενο δοκίμιο η
ακτινοβολία αποτελείται από διαφορετικές επιμέρους εντάσεις, ενώ ο χρόνος
ακτινοβόλησης είναι ο ίδιος.
Για κάθε τύπο φιλμ, η αμαύρωση του ακτινογραφικού φιλμ και η δόση της
ακτινοβολίας συνδέονται με μια συγκεκριμένη σχέση μεταξύ τους. Η σχέση αυτή
αποδίδεται από μια καμπύλη η οποία στον οριζόντιο άξονά της έχει τη δόση της
ακτινοβολίας και στον κάθετο την πυκνότητα. Η καμπύλη αυτή ονομάζεται καμπύλη
πυκνότητας ή χαρακτηριστική καμπύλη (Εικόνες 11.2 και 11.3).
Διαφορετικοί τύποι ακτινογραφικών φιλμ αποκρίνονται διαφορετικά σε μια
δεδομένη ποσότητα δόσης. Οι κατασκευαστές ακτινογραφικών φιλμ συνήθως
χαρακτηρίζουν το φιλμ με τέτοιο τρόπο ώστε να καθορίζεται η σχέση μεταξύ της
εφαρμοζόμενης δόσης και της προκύπτουσας πυκνότητας του φιλμ. Αυτή η σχέση
ποικίλλει συνήθως σε ένα εύρος πυκνοτήτων. Για το λόγο αυτό τα δεδομένα
παρουσιάζονται με τη μορφή μιας καμπύλης, όπως για παράδειγμα στο φιλμ της Kodak
ΑΑ400. Η καμπύλη (ως όρος) εκτός από χαρακτηριστική καμπύλη ή καμπύλη πυκνότητας
απαντάται και ως H και D καμπύλη (H and D curve) από τα αρχικά των ονομάτων Hurter
και Driffield, των επιστημόνων που ανέπτυξαν την χαρακτηριστική καμπύλη.
Εικόνα 11.2: Χαρακτηριστική καμπύλη
Για την αποτύπωση της χαρακτηριστικής καμπύλης χρησιμοποιείται επίσης η

σχετική έκθεση (relative exposure) η οποία εκφράζει το λόγο δύο εκθέσεων. Για
παράδειγμα, εάν ένα φιλμ εκτεθεί στα 100keV για 6mA•min και ένα δεύτερο φιλμ εκτεθεί
στην ίδια ενέργεια για 3mA•min, τότε η σχετική έκθεση θα είναι 2. Το αριστερό σχήμα
στην Εικόνα 11.3 δείχνει τις χαρακτηριστικές καμπύλες τριών φιλμ με τη σχετική έκθεση,
ενώ το αντίστοιχο δεξί δείχνει τη λογαριθμική σχετική έκθεση.
Οι χαρακτηριστικές καμπύλες μπορούν να χρησιμοποιηθούν για την προσαρμογή
της έκθεσης που χρησιμοποιήθηκε στην παραγωγή μιας ακτινογραφίας με μια
συγκεκριμένη πυκνότητα, σε μία νέα έκθεση που θα δώσει μια δεύτερη ακτινογραφία
υψηλότερης ή χαμηλότερης πυκνότητας ακτινογραφικού φιλμ. Οι καμπύλες μπορεί επίσης
να χρησιμοποιηθούν για να γίνει συσχέτιση της έκθεσης που παράγεται με έναν τύπο φιλμ
με την έκθεση που απαιτείται για να παραχθεί μια ακτινογραφία ίδιας πυκνότητας με ένα
διαφορετικό τύπο ακτινογραφικού φιλμ.
|448|
Εικόνα 11.3: Χαρακτηριστικές καμπύλες
Στην Εικόνα 11.4 απεικονίζονται τα τμήματα της χαρακτηριστικής καμπύλης: το

κάτω αριστερά τμήμα ονομάζεται πόδι (toe) (a-b), το μεσαίο τμήμα ονομάζεται
ευθύγραμμο τμήμα [straight line (linear) portion] (b-c) και το άνω δεξιά τμήμα καλείται
ώμος (shoulder) (c-d). Επειδή στην περιοχή του ώμου έχουμε πρακτικά πυκνότητες D = 4
οι οποίες δεν επιτρέπουν την ανίχνευση ασυνεχειών, η καμπύλη χρησιμοποιείται κυρίως
στο κεντρικό τμήμα της. Συνήθως, η χαρακτηριστική καμπύλη των βιομηχανικών φιλμ έχει
σχήμα S. Πρέπει να σημειωθεί ότι το ευθύγραμμο τμήμα (b-c) δεν είναι πραγματικά
ευθύγραμμο, αλλά συνεχίζει ελαφρά την πορεία του τμήματος (a-b) της καμπύλης.
Εικόνα 11.4: Τα επιμέρους τμήματα της χαρακτηριστικής καμπύλης
Οι πληροφορίες οι οποίες λαμβάνονται από μία χαρακτηριστική καμπύλη είναι οι

εξής:
• Η θέση της καμπύλης στον οριζόντιο άξονα καθορίζει την ταχύτητα του φιλμ.
• Η κλίση της κάθε καμπύλης δίνει πληροφορίες σε σχέση με την αντίθεση του φιλμ -
μεγάλη κλίση αντιστοιχεί σε υψηλή αντίθεση.
• Ο κατακόρυφος άξονας δίνει πληροφορίες για το εύρος των πυκνοτήτων.
|449|
11.4 Μη ικανοποιητικές ακτινογραφίες
Οι κυριότερες αιτίες λόγω των οποίων παράγονται μη ικανοποιητικές ακτινογραφίες

είναι οι ακόλουθες:
• Ομίχλη: μπορεί να προκληθεί από σκεδαζόμενη ακτινοβολία, από έκθεση του φιλμ
σε υψηλή θερμοκρασία, κακή αποθήκευση, κ.λπ.
• Υπερβολική αμαύρωση: μπορεί να προκληθεί από υπερβολική έκθεση σε ακτίνες Χ
ή γ και από υπερβολική εμφάνιση του φιλμ.
• Μειωμένη αμαύρωση: μπορεί να προκληθεί από μειωμένη έκθεση σε ακτίνες γ ή Χ,
από μειωμένη εμφάνιση του φιλμ και από την παρουσία ξένου σώματος ανάμεσα
στις μολύβδινες ενισχυτικές πλάκες και το φιλμ.
• Υψηλή ακτινογραφική αντίθεση: μπορεί να προκληθεί από την υψηλή αντίθεση του
αντικειμένου, από την υψηλή αντίθεση του φιλμ ή από συνδυασμό και των δύο.
• Χαμηλή ακτινογραφική αντίθεση: μπορεί να προκληθεί από τη χαμηλή αντίθεση
του αντικειμένου, από τη χαμηλή αντίθεση του φιλμ και από τη μειωμένη εμφάνιση.
• Θολωμένο φιλμ: μπορεί να προκληθεί από την υπερβολική έκθεση του φιλμ σε φως,
από τη μη ικανοποιητική αποθήκευση του φιλμ και από την μη ικανοποιητική
επεξεργασία του φιλμ.
• Γραμμές πάνω στο φιλμ: μπορεί να προκληθούν κατά τη διαδικασία της εμφάνισης
στο λουτρό διακοπής και σταθεροποίησης και στο στέγνωμα των φιλμ, από ξένα
αντικείμενα, χάραξη ή και γρατζουνιές.
Εικόνα 11.5: Σφάλματα σε ακτινογραφίες
Η Εικόνα 11. 5 παρουσιάζει διάφορα σφάλματα σε ακτινογραφίες:

Στην αριστερή εικόνα: Οι λέξεις FRONT και BACK είχαν χαραχθεί πάνω στις
μολύβδινες ενισχυτικές πλάκες, πριν την έκθεση ενός ελάσματος πάχους 1inch. Επίσης
έχουν τοποθετηθεί τρίχες μεταξύ των ενισχυτικών πλακών και του ακτινογραφικού φιλμ
πριν από τις δύο λέξεις οι οποίες έχουν αποτυπωθεί και στην ακτινογραφία.
Στη μεσαία εικόνα: Σημάδια από στατικό ηλεκτρισμό, μπορεί να προκληθούν κατά
τη διαδικασία γεμίσματος των κασετών με τα ακτινογραφικά φιλμ και τις ενισχυτικές
πλάκες.
Στη δεξιά εικόνα: Λευκό φιλμ μπορεί να προκύψει από την ύπαρξη νερού ή
ρευστού μέσα στο δοκίμιο κατά τη διάρκεια της ακτινογράφησης. Το κυκλικό σημείο (πιο
αχνό) έχει προκληθεί από την πίεση του φιλμ με κάποιο αντικείμενο πριν την έκθεση.
|450|
11.5 Τα σφάλματα και οι αιτίες τους κατά την επεξεργασία του ακτινογραφικού
φιλμ
Πριν αποδώσουμε μια συγκεκριμένη διαφορά στην πυκνότητα ενός ακτινογραφικού

φιλμ σε πιθανή ύπαρξη ασυνέχειας στο δοκίμιο, πρέπει να βεβαιωθούμε ότι αυτή η
διαφορά δεν οφείλεται σε λανθασμένο χειρισμό ή σε σφάλματα επεξεργασίας του
ακτινογραφικού φιλμ. Είναι επομένως απαραίτητο, ο ακτινογράφος να είναι σε θέση να
αναγνωρίζει τα εν λόγω σφάλματα κατά την ερμηνεία του ακτινογραφικού φιλμ, ώστε να
αποφεύγεται η επανάληψή τους. Συχνά, είναι δυνατό να εντοπίζονται σφάλματα που
οφείλονται σε λανθασμένη επεξεργασία. Τα πιο συνηθισμένα σφάλματα και οι πιθανές
αιτίες που τα προκαλούν, παρατίθενται στην συνέχεια:
Ανεπαρκής αντίθεση
α: Με κανονική πυκνότητα:
1. Πολύ σκληρή ακτινοβολία.
2. Υπερβολική έκθεση αντισταθμίζεται από τη μείωση του χρόνου εμφάνισης.
3. Ακατάλληλος εμφανιστής ή κακή ανάμειξή του.
4. Παρατεταμένη εμφάνιση σε πάρα πολύ ψυχρό λουτρό εμφανιστή.
β: Με ανεπαρκή πυκνότητα:
1. Ανεπαρκής εμφάνιση.
2. Εξαντλημένος εμφανιστής.
Υπερβολική αντίθεση (δηλαδή έλλειψη ενδιάμεσων τόνων)

1. Πολύ μαλακή ακτινοβολία.
2. Ανεπαρκής έκθεση, η οποία αντισταθμίζεται από την παρατεταμένη εμφάνιση.
Γενική έλλειψη πυκνότητας

1. Πολύ μαλακή ακτινοβολία.
2. Ανεπαρκής έκθεση, η οποία αντισταθμίζεται από την παρατεταμένη εμφάνιση.
Γενική υπερβολική πυκνότητα

1. Υπερβολική έκθεση.
2. Παρατεταμένη εμφάνιση ή εμφάνιση σε πολύ υψηλή θερμοκρασία.
Ανεπαρκής ευκρίνεια
1. Πολύ μικρή απόσταση πηγής-αντικειμένου.
2. Μετατόπιση της πηγής ή του αντικειμένου κατά τη διάρκεια της έκθεσης.
3. Πολύ μεγάλη απόσταση αντικείμενου-φιλμ.
4. Πολύ μεγάλες διαστάσεις της πηγής ή του εστιακού σημείου.
5. Κακή επαφή μεταξύ του φιλμ και των ενισχυτικών πλακών.
6. Λάθος τύπος ενισχυτικής πλάκας.
|451|
Γκρίζα ομίχλη (τοπική ή γενική) (Grey fog)
1. Ακατάλληλος φωτισμός ασφαλείας στο σκοτεινό θάλαμο.
2. Υπερβολική έκθεση στο φωτισμό ασφαλείας (σε διάρκεια ή πολύ κοντά στο φιλμ).
3. Τυχαία έκθεση σε ακτίνες Χ, γ ή λευκό φως.
4. Υπερβολική σκεδάζουσα ακτινοβολία.
5. Ληγμένο φιλμ ή αποθήκευση σε ακατάλληλες συνθήκες (ground fog).
6. Η χαμηλή έκθεση αντισταθμίστηκε από υπερβολική εμφάνιση.
8. Η κασέτα του φιλμ μαζί με το φιλμ εκτέθηκαν σε θερμότητα (π.χ. ηλιακή ακτινοβολία,
θερμότητα από θερμαντικά σώματα, κ.λπ.).
9. Ακατάλληλο κλείσιμο της κασέτας (edge fog).
Κίτρινη ομίχλη (Yellow fog)

1. Παρατεταμένη εμφάνιση σε πολύ οξειδωμένο εμφανιστή.
2. Εξαντλημένο λουτρό στερέωσης.
3. Ανεπαρκές ξέπλυμα μεταξύ των σταδίων εμφάνισης και στερέωσης.
Σημείωση: Μπορεί να περάσουν μήνες πριν από την εμφάνιση της κίτρινης ομίχλης.
Διχρωική ομίχλη (Dichroic fog)

(δηλαδή πρασινοκίτρινο από ανακλώμενο φως και ροζ με φωτισμό από οπίσθιο φωτισμό)
1. Εμφανιστής μολυσμένος με σταθεροποιητή.
2. Ανεπαρκές ξέπλυμα του εμφανιστή μετά την εμφάνιση και εν συνεχεία στερέωση του σε
εξαντλημένο σταθεροποιητή.
3. Το φιλμ κόλλησε με άλλο φιλμ όταν τοποθετήθηκε στο σταθεροποιητή (σε αυτή την
περίπτωση η εμφάνιση συνεχίστηκε στο λουτρό στερέωσης).
4. Παρατεταμένη εμφάνιση σε εξαντλημένο εμφανιστή.
5. Το φιλμ σταθεροποιήθηκε εν μέρει σε λουτρό εξαντλημένου σταθεροποιητή, εκτέθηκε
σε λευκό φως και στη συνέχεια σταθεροποιήθηκε και πάλι.
Στίγματα ομίχλης
Γκριζωπά στίγματα ομίχλης εμφανίζονται γενικά όταν το φιλμ είναι ληγμένο ή έχει
αποθηκευτεί σε ακατάλληλες συνθήκες, π.χ. σε υγρό περιβάλλον.
Υπόλευκη εναπόθεση
1. Υψηλή σκληρότητα του νερού που χρησιμοποιήθηκε για την ανάμειξη του εμφανιστή ή
του σταθεροποιητή.
2. Υπερβολική σκληρότητα του νερού έκπλυσης.
3. Ανεπαρκής έκπλυση μετά την εμφάνιση.
Διαφανή στίγματα (Clear patches)

1. Μικρά σημειακά στίγματα με αιχμηρά άκρα: δεν έγινε ανάδευση στο φιλμ τα πρώτα 30
δευτερόλεπτα της εμφάνισης.
2. Σταγόνες σταθεροποιητή ή νερού έπεσαν στο φιλμ πριν την εμφάνιση.
3. Σημάδια από μηχανική βλάβη στο γαλάκτωμα πριν την έκθεση.
4. Σημάδια λόγω ταχείας και ανομοιόμορφης ξήρανσης του φιλμ (αυτό συμβαίνει όταν
υπάρχουν ακόμα σταγονίδια νερού στο φιλμ κατά την τοποθέτησή του στο θάλαμο
ξήρανσης).
5. Διαφανή στίγματα μπορεί να προκύψουν από το κόλλημα του φιλμ με ένα άλλο φιλμ ή
στα τοιχώματα της δεξαμενής κατά τη διάρκεια της εμφάνισης.
6. Τα γράσα στο φιλμ επιβραδύνουν ή εμποδίζουν τη διείσδυση του εμφανιστή.
|452|
7. Ενισχυτικές πλάκες σε κακή κατάσταση.
8. Ξένα σώματα (π.χ. μεταλλικά σωματίδια) μεταξύ του φιλμ και της ενισχυτικής πλάκας
κατά τη διάρκεια της έκθεσης.
9. Μπορεί να προκύψουν μικρά, σαφή, κοίλα σημεία (συνήθως με σκούρα άκρα) όταν το
γαλάκτωμα έχει υποβληθεί σε τοπική επίθεση βακτηρίων. Αυτό γενικά είναι αποτέλεσμα
της αργής ξήρανσης σε θερμό κλίμα με αυξημένη υγρασία, ιδίως εάν υπάρχουν ακαθαρσίες
στο νερό έκπλυσης.
Διαφανείς γραμμές ή ραβδώσεις

1. Ο φάκελος του φιλμ έχει χαραχθεί με αιχμηρό αντικείμενο πριν την έκθεση.
2. Ανεπαρκής ανάδευση του φιλμ κατά την διάρκεια της εμφάνισης.
3. Ανομοιόμορφη ξήρανση (το φιλμ έχει καθαριστεί απρόσεκτα μετά την έκπλυση).
4. Σταγόνες από το σταθεροποιητή ή από το λουτρό διακοπής έχουν πέσει στο γαλάκτωμα
πριν την εμφάνιση.
Διαφανή (λευκά) σημάδια

1. Διαφανή σημάδια ημισελήνου μπορεί να εμφανιστούν όταν το φιλμ έχει καμφθεί πριν
την έκθεση.
2. Δακτυλικά αποτυπώματα στο φιλμ απεικονίζονται όταν το αγγίξουμε με λερωμένα
δάχτυλα π.χ. με γράσα, υγρά σταθεροποιητή και λουτρού διακοπής ή οξέα.
Σκούρα στίγματα (Dark patches)

1. Σταγόνες εμφανιστή έχουν πέσει πάνω στο φιλμ πριν την εμφάνιση.
2. Σταγόνες νερού έχουν πέσει πάνω στο φιλμ πριν την εμφάνιση.
3. Σημάδια ηλεκτρικής εκκένωσης, ειδικά με χαμηλή σχετική υγρασία του αέρα.
4. Σημάδια μηχανικής βλάβης στο γαλάκτωμα μετά την έκθεση.
Σκούρες γραμμές ή ραβδώσεις

1. Το γαλάκτωμα έχει χαραχθεί μετά την έκθεση.
2. Ο φάκελος που περιέχει το φιλμ έχει χαραχθεί με ένα αιχμηρό αντικείμενο μετά την
έκθεση.
3. Ανεπαρκή ανάδευση του φιλμ κατά τη διάρκεια της εμφάνισης.
4. Ανομοιόμορφη ξήρανση.
5. Νερό ή εμφανιστής έχει κυλήσει στην επιφάνεια του γαλακτώματος πριν την εμφάνιση.
Σκούρα σημάδια
1. Σκούρα σχήματα ημισελήνου μπορεί να εμφανιστούν όταν το φιλμ έχει καμφθεί (π.χ. με
τα δύο δάχτυλα) μετά την έκθεση.
2. Δακτυλικά αποτυπώματα (πχ από λερωμένα δάκτυλα).
3. Ηλεκτρική εκκένωση (βλέπε dark patches).
|453|
12. ΥΠΟΛΟΓΙΣΜΟΣ ΕΚΘΕΣΗΣ
Η σωστή έκθεση ενός δοκιμίου είναι μία διαρκής διαδικασία δοκιμής και διόρθωσης
των σχετικών παραμέτρων, ώστε να επιτευχθεί η κατάλληλη αποτύπωση στο
ακτινογραφικό φιλμ. Οι μεταβλητές που επηρεάζουν το τελικό αποτέλεσμα είναι πολλές.
Ορισμένες από αυτές που επηρεάζουν την πυκνότητα του ακτινογραφικού φιλμ είναι οι
εξής:
• Το φάσμα της ακτινοβολίας που παράγεται από τη γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ.
• Η διαφορά δυναμικού μεταξύ ανόδου και καθόδου.
• Η ένταση του ρεύματος που χρησιμοποιείται για την παραγωγή των ακτίνων Χ.
• Ο χρόνος έκθεσης.
• Η απόσταση πηγής - ακτινογραφικού φιλμ.
• Το υλικό του ακτινογραφούμενου δοκιμίου.
• Το ποσό της σκεδάζουσας ακτινοβολίας.
• Ο τύπος του ακτινογραφικού φιλμ.
• Η συγκέντρωση των χημικών ουσιών κατά την επεξεργασία του φιλμ και ο χρόνος
εμφάνισης.
12.1 Κατασκευή διαγράμματος έκθεσης
Η κατασκευή του διαγράμματος έκθεσης απαιτεί ένα δοκίμιο διαφορετικών παχών

(step wedge) κατασκευασμένο από το ίδιο υλικό με αυτό που πρόκειται να ακτινογραφηθεί.
Η αύξηση του πάχους μεταξύ κάθε διαδοχικού βήματος είναι σταθερή, αλλά διαφέρει για
διαφορετικά υλικά από 0,5mm έως αρκετά χιλιοστά. Για επιθεώρηση με τη χρήση
γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ 175keV, το πάχος του σφηνοειδούς βαθμωτού δοκιμίου
(step wedge) μπορεί να αυξάνεται κατά 0,5 ή 1,0mm σε κάθε βαθμίδα, ενώ για γεννήτριες
υψηλότερης τάσης η αύξηση μπορεί να είναι της τάξης των 2-3mm.
Εικόνα 12.1: Σφηνοειδές βαθμωτό δοκίμιο (Step wedge)
12.1.1 Προκαταρκτικά διαγράμματα
Πριν την κατασκευή του διαγράμματος έκθεσης, είναι χρήσιμο να κατασκευαστεί το

διάγραμμα «πυκνότητας - πάχους» για το εύρος τάσης της χρησιμοποιούμενης γεννήτριας
παραγωγής ακτίνων Χ (στην προκειμένη περίπτωση 175keV) καθώς και το διάγραμμα
«keV - πάχους».
Τα δύο αυτά προκαταρκτικά διαγράμματα κατασκευάζονται με βάση τα ακόλουθα
δεδομένα:
|454|
1. Τη γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ.
2. Την ενέργεια πηγής 60-200keV, ένταση πηγής 5-10mA.
3. Χωρίς φίλτρα.
4. Την απόσταση πηγής - φιλμ: 800mm.
5. Το υλικό: χάλυβας.
6. Χωρίς ενισχυτικές πλάκες.
7. Τον τύπο του ακτινογραφικού φιλμ: D7.
8. Την πυκνότητα: 2,0.
9. Το εμφανιστήριο: αυτόματο, 8 min στους 28°C με εμφανιστή G135.
12.1.2 Εκθέσεις
Ρυθμίζοντας την ένταση της γεννήτριας στα 8mA και με χρόνο έκθεσης 1min
(δηλ. 8mA•min) οι ακτινογραφήσεις του σφηνοειδούς βαθμωτού δοκιμίου (step wedge)
πραγματοποιούνται με τάση γεννήτριας, 75, 90, 105, 120, 135, 150, 165, 180 και 195keV.
Για κάθε έκθεση χρησιμοποιείται μια μόνο στενή περιοχή του φιλμ. Η ίδια διαδικασία
επαναλαμβάνεται στα 10mA και με χρόνο έκθεσης 20min (δηλαδή 200mA•min).
12.1.3 Μέτρηση της πυκνότητας
Μετά την εμφάνιση των ακτινογραφικών φιλμ, πραγματοποιείται μέτρηση της

πυκνότητας όλων των βημάτων με το πυκνόμετρο.
12.1.4 Κατασκευή προκαταρκτικών διαγραμμάτων
Οι πυκνότητες μετρούνται και σημειώνονται πάνω στο διάγραμμα για το

συγκεκριμένο πάχος στο οποίο ελήφθησαν. Στη συνέχεια, τα σημεία αυτά ενώνονται, για
τη συγκεκριμένη τιμή τάσης. Το αποτέλεσμα είναι δύο προκαταρκτικά διαγράμματα στα
8mA•min και στα 200mA•min όπως φαίνεται στην Εικόνα 12.2.
Εικόνα 12.2: Διαγράμματα «πυκνότητας - πάχους»
Τα προκαταρκτικά διαγράμματα «πυκνότητας - πάχους», όπως περιγράφηκε,

παρέχουν τα στοιχεία που απαιτούνται για την προετοιμασία του τελικού διαγράμματος
έκθεσης. Για να εξαλειφθούν τυχόν ανακρίβειες, κατασκευάζεται ένα ενδιάμεσο διάγραμμα
(με βάση τα αντίστοιχα προκαταρκτικά) για πυκνότητα 2,0 χρησιμοποιώντας τα δεδομένα
που έχουν ήδη καταγραφεί.
|455|
Τέλος κατασκευάζουμε το τελευταίο προκαταρκτικό διάγραμμα «τάσης γεννήτριας
- πάχους» όπως φαίνεται στην Εικόνα 12.3 με τις καμπύλες στα 8mA•min και στα
200mA•min.
Εικόνα 12.3: Διάγραμμα «τάσης - πάχους»
12.1.5 Διάγραμμα έκθεσης
Οι γεννήτριες παραγωγής ακτίνων Χ συνοδεύονται από ένα διάγραμμα έκθεσης για

χάλυβα ή αλουμίνιο. Στον οριζόντιο άξονα δίνεται το πάχος του υλικού σε χιλιοστά και
στον κάθετο άξονα η τιμή της έκθεσης σε mA•min. Για μία δεδομένη τιμή ενέργειας
ακτινοβολίας, για παράδειγμα 150keV και έκθεση 8mA•min για πυκνότητα 2,0, μπορεί να
ακτινογραφηθεί δοκίμιο πάχους 4,5mm ενώ με έκθεση 200mA•min, με ίδια τιμή ενέργειας
ακτινοβολίας (150keV) μπορεί να ακτινογραφηθεί δοκίμιο με πάχος 15,2mm.
Ενώ, από την καθημερινή εργασία μπορεί να διαμορφωθεί σταδιακά μια βάση
δεδομένων, είναι καλύτερο και αποδοτικότερο να γίνεται χρήση των διαγραμμάτων
έκθεσης. Εκτός από την εξοικονόμηση χρόνου, δίνει μια εγγύηση απόδοσης,
ελαχιστοποιώντας την ανάγκη για πολλαπλές εκθέσεις. Αποτελεί άλλωστε και έναν
εξαιρετικό τρόπο για εξοικείωση με τον εξοπλισμό, ενώ ο χρόνος και τα χρήματα που θα
διατεθούν για αυτή την διαδικασία αποσβένονται σε μεταγενέστερο στάδιο.
Κάθε γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ μπορεί στην πράξη να έχει διαφορετικά
αποτελέσματα, ακόμα κι αν είναι του ίδιου τύπου. Επισημαίνεται ότι ακόμη και το
διαφορετικό μήκος καλωδίου μεταξύ της μονάδας ελέγχου και την πηγής μπορεί να
επηρεάσει το τελικό αποτέλεσμα.
Εικόνα 12.4: Διάγραμμα έκθεσης γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ 200keV
|456|
Εικόνα 12.5: Ενδεικτικό διάγραμμα έκθεσης γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ
(YXLON.XPO 225)
|457|
Τα διαγράμματα έκθεσης για ακτίνες γ κατασκευάζονται με τρόπο παρόμοιο με
αυτόν που περιγράφηκε.
Εικόνα 12.6: Διάγραμμα έκθεσης κοβαλτίου (Co 60)
Εικόνα 12.7: Διάγραμμα έκθεσης ιριδίου (Ir 192)
12.2 Συντελεστής σχετικής έκθεσης (relative exposure factor)
Ο συντελεστής σχετικής έκθεσης μπορεί να χρησιμοποιηθεί για τη μετατροπή ενός

διαγράμματος έκθεσης, από έναν τύπο φιλμ σε έναν άλλο για την ίδια ενέργεια
ακτινοβολίας. Αυτοί οι συντελεστές δεν είναι σταθεροί για διαφορετικές ενέργειες
ακτινοβολίας και επομένως πρέπει να χρησιμοποιούνται με προσοχή. Στον Πίνακα 12.1
παρουσιάζονται κάποια παραδείγματα συντελεστών σχετικής έκθεσης για ακτινογραφικά
φιλμ της εταιρίας AGFA. Πρόκειται για συντελεστές με τους οποίους μπορεί να αυξηθεί ή
να μειωθεί ο χρόνος έκθεσης με τη χρήση διαφορετικών τύπων φιλμ, από αυτόν για τον
οποίο έχει κατασκευαστεί το διάγραμμα έκθεσης. Βέβαια, λόγω της μεγάλης διαφοράς
στην ποιότητα της ακτινοβολίας που εκπέμπεται από διάφορους τύπους εξοπλισμού
ακτίνων Χ και τα διαφορετικά χαρακτηριστικά των διαφόρων τύπων βιομηχανικών
ακτινογραφικών φιλμ, πρέπει να δίνεται ιδιαίτερη προσοχή στην εφαρμογή αυτών των
συντελεστών.
Για τα ραδιενεργά ισότοπα, τα οποία δίνουν μια σταθερή ποιότητα ακτινοβολίας
(σκληρότητα / ενέργεια), οι σχετικοί συντελεστές έκθεσης που αναφέρονται μπορούν να
χρησιμοποιηθούν με αρκετή ασφάλεια.
|458|
Πίνακας 12.1: Παραδείγματα συντελεστών σχετικής έκθεσης για ακτινογραφικά φιλμ της
εταιρίας AGFA
ΤΥΠΟΣ FILM SYSTEM
ΣΥΝΤΕΛΕΣΤΗΣ ΣΧΕΤΙΚΗΣ ΕΚΘΕΣΗΣ
ΦΙΛΜ CLASS
EN ASTM E
100keV 200keV 300keV Ir 192 Co 60
584-1 1815
D2 9,0 7,0 8,0 9,0 C1 SPECIAL
D3 4,1 4,3 5,0 5,0 C2 1
D4 3,0 2,7 3,0 3,0 C3 1
D5 1,7 1,5 1,5 1,5 C4 1
D7 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 C5 2
D8 0,6 0,6 0,6 0,6 C6 3
RCF+F6 0,174 0,132 0,389 0,562
RCF+F8 0,03 0,022 0,035 0,040
12.3 Απόλυτος χρόνος έκθεσης (absolute exposure time)
O Πίνακας 12.2 δίνει τους απόλυτους χρόνους έκθεσης για διαφορετικές πηγές
ακτινοβολίας σε χάλυβα διαφόρων παχών.
Πίνακας 12.2: Απόλυτοι χρόνοι έκθεσης για διαφορετικές πηγές ακτινοβολίας σε χάλυβα
διαφόρων παχών
Γεννήτρια X Πηγή γ Linac
Ενέργεια 100keV 250keV 300keV 400keV 1,25keV 8MeV
mA 3 10 10
S.F.D (mm) 500 700 700 1.000 2.000 5.000
Τύπος φιλμ D4 D7 D4 D7 D4 D7 D4 D7 D7 D7
Πάχος υλικού Χρόνος έκθεσης σε s
15mm 50 10
25mm 100 20 70 15 80
50mm 1.080 210 660 210 6.300 1.980 1.680
100mm 6.300
150mm 32.400 10
200mm 30
400mm 4.200
12.4 Υπολογισμοί έκθεσης για ακτίνες γ
Για να ληφθεί η τιμή της έκθεσης από το διάγραμμα έκθεσης, απαιτούνται οι

παρακάτω πληροφορίες:
• Το πάχος συγκόλλησης.
• Η ενεργότητα της πηγής από το διάγραμμα εξασθένισης της πηγής.
• Ο τύπος του φιλμ.
Από το διάγραμμα έκθεσης του Ir 192, επιλέγουμε το πάχος της συγκόλλησης και
ακολουθούμε την καμπύλη για πυκνότητα 2,0.
Στην συνέχεια παρατίθεται σχετικό παράδειγμα.
Πάχος συγκόλλησης: 20mm
D: 2,0
Ενεργότητα πηγής Ir 192: 15Ci
|459|
Από το διάγραμμα, η έκθεση (για πυκνότητα 2,0 και πάχος συγκόλλησης 20mm)
είναι 5,1Ci•h.
5,1 Ci•h x 60min = 306Ci•min.
E = M•Τ => T = E/M => T = 306/15 = 20,4min.
Ο χρόνος έκθεσης στα 900mm με ενεργότητα πηγής 15Ci = 20,4min.
Εάν μεταβάλλουμε την απόσταση πηγής - φιλμ στα 600mm, τότε:
D22 6002
E2 = --------------•E1 => E2 = ---------------•20,4 = 9min.
D12 9002
Ο νέος χρόνος έκθεσης με απόσταση πηγής- φιλμ 600mm και ενεργότητα πηγής
15Ci θα είναι 9min.
|460|
12.5 Exposure calculations using gamma slide rule
Ο συγκεκριμένος τρόπος υπολογισμού της έκθεσης παρέχει μεγάλη ακρίβεια με την

προϋπόθεση ότι είναι διαθέσιμες οι ακόλουθες πληροφορίες:
• η ταχύτητα του φιλμ
• η απαιτούμενη πυκνότητα
• η ενεργότητα της πηγής σε Ci
• η απόσταση πηγής - φιλμ (S.F.D)
• το πάχος του υλικού.
Εικόνα 12.8: Κανόνας (slide rule) για το Ir 192 ο οποίος κατασκευάστηκε από την Technical
Operations, Inc Arlington, Massachusetts για την βιομηχανική ακτινογραφία.
Ημερομηνία πνευματικών δικαιωμάτων 1955.
Εικόνα 12.9: Υπολογισμός χρόνου έκθεσης για πηγές Co 60 και Ir 192
|461|
13. ΠΟΙΟΤΗΤΑ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΗΣ ΑΠΕΙΚΟΝΙΣΗΣ
Ο βασικός στόχος κατά την ακτινογράφηση ενός δοκιμίου είναι η ποιοτική

αποτύπωση κάθε λεπτομέρειας στο ακτινογραφικό φιλμ. Αυτό απαιτεί προσεκτικό έλεγχο
ενός αριθμού διαφορετικών μεταβλητών οι οποίες, μπορούν να επηρεάσουν την τελική
ποιότητα αποτύπωσης στο ακτινογραφικό φιλμ. Η ακτινογραφική ευαισθησία είναι το
μέτρο της ποιότητας αποτύπωσης που σχετίζεται με την αποτύπωση της μικρότερης
ανιχνεύσιμης λεπτομέρειας ή ασυνέχειας. Η ακτινογραφική ευαισθησία εξαρτάται από το
συνδυασμό των επιδράσεων δύο ανεξάρτητων συνόλων μεταβλητών. Το ένα σύνολο
μεταβλητών επηρεάζει την αντίθεση (contrast) και το άλλο σύνολο την ευκρίνεια
(definition) της ακτινογραφικής εικόνας.
ΠΟΙΟΤΗΤΑ
ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΗΣ
ΑΠΕΙΚΟΝΙΣΗΣ
ΑΝΤΙΘΕΣΗ ΕΥΚΡΙΝΕΙΑ
(CONTRAST) (DEFINITION)
ΑΝΤΙΘΕΣΗ ΤΟΥ ΑΝΤΙΘΕΣΗ ΤΟΥ ΓΕΩΜΕΤΡΙΚΟΙ ΠΑΡΑΓΟΝΤΕΣ

ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟΥ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΟΥ ΠΑΡΑΓΟΝΤΕΣ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΟΥ
ΦΙΛΜ ΦΙΛΜ
ΔΙΑΦΟΡΕΤΙΚΗ ΤΥΠΟΣ ΦΙΛΜ ΔΙΑΣΤΑΣΕΙΣ ΠΗΓΗΣ ΤΥΠΟΣ ΦΙΛΜ

ΑΠΟΡΡΟΦΗΣΗ ΣΤΟ (ΚΟΚΚΟΜΕΤΡΙΑ) (ΚΟΚΚΟΜΕΤΡΙΑ)
ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟ
ΜΗΚΟΣ ΚΥΜΑΤΟΣ ΧΗΜΙΚΕΣ ΟΥΣΙΕΣ ΑΠΟΣΤΑΣΗ ΠΗΓΗΣ ΤΥΠΟΣ

ΠΡΩΤΟΓΕΝΟΥΣ ΥΓΡΩΝ ΕΜΦΑΝΙΣΗΣ ΦΙΛΜ ΕΝΙΣΧΥΤΙΚΩΝ
ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ
ΠΛΑΚΩΝ
ΔΕΥΤΕΡΕΥΟΥΣΑ ΣΥΓΚΕΝΤΡΩΣΗ ΑΠΟΣΤΑΣΗ ΜΗΚΟΣ ΚΥΜΑΤΟΣ

ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑ ΑΠΟ ΧΗΜΙΚΩΝ ΟΥΣΙΩΝ ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟΥ ΠΡΩΤΟΓΕΝΟΥΣ
ΥΓΡΩΝ ΕΜΦΑΝΙΣΗΣ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ
ΣΚΕΔΑΣΕΙΣ ΦΙΛΜ
ΧΡΟΝΟΣ ΚΑΙ ΚΙΝΗΣΗ ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟΥ ΧΡΟΝΟΣ

ΚΑΤΑ ΤΗΝ ΔΙΑΡΚΕΙΑ ΤΗΣ
ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑ ΕΚΘΕΣΗΣ ΕΜΦΑΝΙΣΗΣ
ΕΜΦΑΝΙΣΗΣ
ΑΝΑΔΕΥΣΗ ΤΟΥ ΓΩΝΙΑ ΜΕΤΑΞΥ ΤΗΣ ΠΗΓΗΣ

ΚΑΙ ΤΩΝ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΩΝ
ΑΛΛΟΙ ΠΑΡΑΓΟΝΤΕΣ
ΕΠΕΞΕΡΓΑΣΙΑΣ ΤΟΥ ΦΙΛΜ
ΦΙΛΜ ΤΟΥ ΣΗΜΕΙΟΥ
ΕΝΔΙΑΦΕΡΟΝΤΟΣ
ΣΥΝΟΛΙΚΗ ΠΥΚΝΟΤΗΤΑ ΑΠΟΤΟΜΕΣ ΑΛΛΑΓΕΣ ΣΤΙΣ

ΔΙΑΣΤΑΣΕΙΣ ΤΟΥ
ΤΟΥ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΚΟΥ
ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟΥ (ΜΕΤΑΒΟΛΕΣ
ΦΙΛΜ ΣΤΟ ΠΑΧΟΣ)
ΧΡΗΣΗ ΚΑΙ ΤΥΠΟΣ

ΕΝΙΣΧΥΤΙΚΩΝ ΠΛΑΚΩΝ
|462|
13.1 Ακτινογραφική αντίθεση
Ακτινογραφική αντίθεση είναι η διαφορά αμαύρωσης μεταξύ δύο περιοχών μιας

ακτινογραφίας, ουσιαστικά η διαφορά της πυκνότητας. Η ακτινογραφική αντίθεση
εξαρτάται από την αντίθεση του αντικειμένου και του ακτινογραφικού φιλμ.
Η αντίθεση καθιστά ευκολότερη τη διάκριση των χαρακτηριστικών της περιοχής
ενδιαφέροντος, από τις γειτονικές περιοχές. Η Εικόνα 13.1 δείχνει τη διαφορά αντίθεσης
μεταξύ δύο ακτινογραφιών στο ίδιο δοκίμιο (step wedge). Η αριστερή ακτινογραφία έχει
ένα υψηλό επίπεδο αντίθεσης, ενώ η δεξιά έχει ένα χαμηλότερο επίπεδο αντίθεσης.
Ενώ και στις δύο ακτινογραφίες το πάχος του δοκιμίου παραμένει ίδιο η
ακτινογραφία με μεγαλύτερη αντίθεση χρησιμοποιεί μεγαλύτερο εύρος τιμών
ακτινογραφικής πυκνότητας για να δείξει αυτή τη διαφοροποίηση. Και στις δύο
ακτινογραφίες υπάρχει ένα μικρό σημείο ίδιας πυκνότητας το οποίο εντοπίζεται
ευκολότερα στη ακτινογραφία με μεγαλύτερη αντίθεση. Όταν μία ακτινογραφία
αποτελείται μόνο από μαύρους και άσπρους τόνους και όχι ενδιάμεσους αντίστοιχους
χρωματικούς, τότε η αντίθεση χαρακτηρίζεται ως υψηλή ενώ όταν εμφανίζονται στο
ακτινογραφικό φιλμ χρωματικοί τόνοι παρόμοιας πυκνότητας, η αντίθεση είναι χαμηλή.
Η ιδανική αντίθεση πρέπει να είναι όσο το δυνατόν υψηλότερη, ώστε να είναι
δυνατόν να ανιχνευτεί ακόμη και η πιο μικρή ασυνέχεια.
Εικόνα 13.1: Ακτινογραφική αντίθεση
13.2 Ακτινογραφική ευκρίνεια
Ως ακτινογραφική ευκρίνεια ορίζεται η απότομη μετάβαση από μία περιοχή

συγκεκριμένης ακτινογραφικής πυκνότητας σε μία άλλη περιοχή διαφορετικής
ακτινογραφικής πυκνότητας. Όπως και η ακτινογραφική αντίθεση, έτσι και η
ακτινογραφική ευκρίνεια καθιστά ευκολότερη τη διάκριση των χαρακτηριστικών της
περιοχής ενδιαφέροντος, από τις γειτονικές περιοχές, αλλά με έναν εντελώς διαφορετικό
τρόπο.
Στο αριστερό φιλμ της Εικόνας 13.2, η ακτινογραφία έχει ένα υψηλό επίπεδο
ευκρίνειας ενώ το δεξί φιλμ έχει χαμηλότερο επίπεδο ευκρίνειας. Στην ακτινογραφία
υψηλής ευκρίνειας είναι δυνατόν να φανεί η απότομη αλλαγή στο πάχος του δοκιμίου (step
wedge) η οποία μεταφράζεται σε απότομη αλλαγή της ακτινογραφικής πυκνότητας.
Ο μικρός κύκλος στο αριστερό φιλμ εντοπίζεται ευκολότερα (ακτινογραφία υψηλής
ευκρίνειας) σε αντίθεση με τον ίδιο κύκλο στο δεξί φιλμ (ακτινογραφία χαμηλής
ευκρίνειας). Μπορεί κανείς να πει ότι η λεπτομέρεια που απεικονίζεται στη ακτινογραφία
είναι ισοδύναμη με τη φυσική αλλαγή που υπάρχει στο σφηνοειδές βαθμωτό δοκίμιο (step
wedge). Με άλλα λόγια, παρήχθη μια πιστή οπτική απεικόνιση του σφηνοειδούς βαθμωτού
δοκιμίου (step wedge).
|463|
Στο δεξί φιλμ, η ακτινογραφική πηγή δεν παρήγαγε μια πιστή οπτική απεικόνιση.
Τα σημεία αλλαγής της διάστασης του σφηνοειδούς βαθμωτού δοκιμίου (step wedge) είναι
θολά. Αυτό αποδεικνύεται από τη σταδιακή μετάβαση από την υψηλή στη χαμηλή
πυκνότητα ακτινογραφίας στο ακτινογράφημα.
Εικόνα 13.2: Ακτινογραφική ευκρίνεια
Δεδομένου ότι η ακτινογραφική αντίθεση και ευκρίνεια δεν εξαρτώνται από τους
ίδιους παράγοντες, είναι δυνατόν να παραχθούν ακτινογραφίες με τις ακόλουθες ιδιότητες:
• χαμηλή αντίθεση και χαμηλή ευκρίνεια
• υψηλή αντίθεση και χαμηλή ευκρίνεια
• χαμηλή αντίθεση και καλή ευκρίνεια
• υψηλή αντίθεση και καλή ευκρίνεια
Υπάρχουν πολλοί παράγοντες που επηρεάζουν την ευκρίνεια της ακτινογραφίας,
όπως η γεωμετρία του δοκιμίου και ο τύπος του φιλμ. Ωστόσο, τέλεια ευκρίνεια είναι
αδύνατο να επιτευχθεί λόγω της ύπαρξης γεωμετρικής και ενδογενούς δυσκρίνειας.
Η ακτινογραφική ευκρίνεια μπορεί να μετρηθεί χρησιμοποιώντας έναν ειδικό τύπο
IQI, το λεγόμενο διπλού σύρματος (DUPLEX IQI). O τύπος διπλού σύρματος, σύμφωνα με
το ΕΝ 462-5, αποτελείται από παράλληλα σύρματα πλατίνας ή βολφράμιου απομειούμενου
πάχους. Το πάχος των συρμάτων είναι συνήθως ίσο με το διάκενο μεταξύ τους. Αν κατά τη
διάρκεια μιας ακτινογράφησης, δύο διαδοχικά σύρματα απεικονισθούν ως ένα, αυτό
αποτελεί ένδειξη μικρής ευκρίνειας. Σύμφωνα με το ΕΝ 462-5 η ευκρίνεια ισούται
συνήθως με U = 2d, όπου d το πλάτος του σύρματος.
Οι γεωμετρικοί παράγοντες του εξοπλισμού και της ακτινογραφικής εγκατάστασης,
τα ακτινογραφικά φιλμ και οι ενισχυτικές πλάκες επιδρούν στην ακτινογραφική ευκρίνεια.
Οι γεωμετρικοί παράγοντες περιλαμβάνουν τις διαστάσεις της πηγής της ακτινοβολίας, την
απόσταση πηγής - φιλμ, την απόσταση αντικειμένου - φιλμ, την κίνηση της πηγής, του
δοκιμίου ή του μέσου αποτύπωσης κατά τη διάρκεια της έκθεσης, τη γωνία της πηγής και
την απότομη αλλαγή του πάχους του αντικειμένου ή της πυκνότητας του.
13.3 Εγγενής δυσκρίνεια (inherent unsharpness) Uf
Πρόκειται για τη δυσκρίνεια που δημιουργείται από τα ηλεκτρόνια που εκπέμπονται

από εκτεθειμένους κρυστάλλους. Η εγγενής δυσκρίνεια αυξάνεται με τη μείωση του
μήκους κύματος.
Κατά την έκθεση του ακτινογραφικού φιλμ προσβάλλονται οι κρύσταλλοι του
αλογονούχου αργύρου σχηματίζοντας κόκκους αργύρου όχι μόνο τοπικά, αλλά σε μία
ευρύτερη περιοχή του περιβάλλοντα όγκου του γαλακτώματος. Αυτή η περιοχή
αντιπροσωπεύει τη λεγόμενη εγγενή δυσκρίνεια ή δυσκρίνεια του φιλμ.
Έτσι, ακόμη και απουσία της γεωμετρικής δυσκρίνειας, εάν η ενέργεια της
ακτινοβολίας είναι αρκετά υψηλή, μπορεί να προκληθεί εγγενής δυσκρίνεια. Εάν ένα
|464|
έλασμα χάλυβα με απότομη αλλαγή του πάχους ακτινογραφηθεί με ακτινοβολία Χ υψηλής
ενέργειας, θα προκύψει μια βαθμιαία μετάβαση της πυκνότητας κατά μήκος του
ακτινογραφικού φιλμ όπως στην Εικόνα 13.3.
Ελλείψει εγγενούς δυσκρίνειας, στο ακτινογραφικό φιλμ θα απεικονιστεί μια πολύ
απότομη μετάβαση μεταξύ των δύο διαφορετικών πυκνοτήτων, όπως φαίνεται στο σχήμα a
της Εικόνας 13.3. Στην πράξη, η αλλαγή της πυκνότητας θα απεικονιστεί όπως φαίνεται
στα σχήματα b και c.
Το πλάτος αυτής της μεταβατικής περιοχής (Uf), εκφράζεται σε χιλιοστά και
αποτελεί το μέτρο της εγγενούς δυσκρίνειας.
Εικόνα 13.3: Εγγενής δυσκρίνεια
Ο Πίνακας 13.1 και το διάγραμμα της Εικόνας 13.4 δείχνουν τις πειραματικά
προσδιοριζόμενες τιμές της εγγενούς δυσκρίνειας για ακτινογραφικά φιλμ που εκτίθενται
σε διάφορα επίπεδα ενέργειας ακτινοβολίας. Αυτές οι τιμές βασίζονται στη χρήση φίλτρων
και μολύβδινων ενισχυτικών πλακών. Παχύτερες ενισχυτικές πλάκες, παράγουν ελαφρώς
υψηλότερες τιμές. Εάν δε χρησιμοποιηθούν ενισχυτικές πλάκες, η τιμή της Uf είναι 1,5 έως
2 φορές μικρότερη. Η εγγενής δυσκρίνεια επηρεάζεται κυρίως από την ένταση της
ακτινοβολίας και το είδος των ενισχυτικών πλακών που χρησιμοποιούνται, ενώ ο τύπος του
ακτινογραφικού φιλμ δεν επιδρά στην τιμή της.
Η απόσταση μεταξύ ακτινογραφικού φιλμ και ενισχυτικής πλάκας έχει μεγάλη
σημασία στην αριθμητική τιμή της εγγενούς δυσκρίνειας. Η καλή επαφή μεταξύ του
ακτινογραφικού φιλμ και της ενισχυτικής πλάκας είναι κρίσιμος παράγοντας και μπορεί να
επιτευχθεί με συσκευασία υπό κενό.
Πίνακας 13.1: Σχέση εγγενούς δυσκρίνειας και ενέργειας ακτινοβολίας

Ενέργεια ακτινοβολίας Uf σε mm
50 0,05
100 0,10
200 0,15
400 0,20
2 0,32
8 0,60
31 1,00
Se 75 (320keV) 0,18
Ir 192 (450keV) 0,25
Co 60 (1,25keV) 0,35
|465|
Εικόνα 13.4: Διάγραμμα απεικόνισης των τιμών της εγγενούς δυσκρίνειας (Uf) σε συνάρτηση
με την ενέργεια της ακτινοβολίας (MeV)
Από τις τιμές συμπεραίνουμε ότι, όταν αυξάνεται η ενέργεια της ακτινοβολίας,
αυξάνεται και η εγγενής δυσκρίνεια.
13.4 Γεωμετρική δυσκρίνεια (geometric unsharpness) Ug
Η γεωμετρική δυσκρίνεια αναφέρεται στην απώλεια της ευκρίνειας ως αποτέλεσμα

των γεωμετρικών παραγόντων του ακτινογραφικού εξοπλισμού και των ρυθμίσεων του. Η
γεωμετρική δυσκρίνεια ή penumbra αναπτύσσεται στο περίγραμμα του ακτινογραφικού
φιλμ.
Το εν λόγω φαινόμενο συμβαίνει διότι η ακτινοβολία δεν προέρχεται από ένα μόνο
σημείο, αλλά από μία περιοχή συγκεκριμένων διαστάσεων. Ας παρατηρήσουμε την Εικόνα
13.5 στην οποία απεικονίζονται δύο πηγές διαφορετικών διαστάσεων και ας
ακολουθήσουμε την πορεία της ακτινοβολίας από τις άκρες της πηγής προς τα άκρα του
αντικειμένου, τα σημεία όπου η ακτινοβολία θα εκθέσει το ακτινογραφικό φιλμ και το
προφίλ των πυκνοτήτων κατά μήκος του ακτινογραφικού φιλμ.
Στην αριστερή πλευρά της Εικόνας 13.5, η ακτινοβολία προέρχεται από πηγή
σχετικά μικρών διαστάσεων. Με δεδομένο ότι όλη η ακτινοβολία προέρχεται ουσιαστικά
από το ίδιο σημείο, θα υπάρχει πολύ μικρή γεωμετρική δυσκρίνεια στο ακτινογραφικό
φιλμ.
Στο δεξί τμήμα της Εικόνας 13.5, οι διαστάσεις της πηγής είναι μεγαλύτερες και οι
διαφορετικές διαδρομές της ακτινοβολίας από τα όρια του αντικειμένου και πιο
συγκεκριμένα από τα όρια της εγκοπής, θα αυξήσουν τη γεωμετρική δυσκρίνεια. Κατά
συνέπεια, τα όρια της εγκοπής δεν θα είναι ευδιάκριτα.
Εικόνα 13.5: Γεωμετρική δυσκρίνεια
|466|
Οι τρεις παράμετροι που καθορίζουν τη γεωμετρική δυσκρίνεια είναι οι διαστάσεις
της πηγής, η απόσταση αντικειμένου - φιλμ (O.F.D.) και η απόσταση πηγής - φιλμ
(S.F.D.).
Η γεωμετρική δυσκρίνεια υπολογίζεται από τη σχέση:
s • O.F.D s • O.F.D
Ug = -------------------- (άμεση επαφή αντικειμένου - φιλμ) ή ----------------------------
S.O.D S.F.D – O.F.D
Όπου:
s: η μέγιστη διάσταση της πηγής ή του εστιακού σημείου
O.F.D: η απόσταση αντικειμένου - φιλμ (object to film distance)
S.F.D: η απόσταση πηγής - φιλμ (source to film distance)
S.O.D: η απόσταση πηγής - αντικειμένου (source to object distance)
Ας μελετήσουμε το παράδειγμα εύρεσης της διάστασης της πηγής για το ισότοπο

της Εικόνας 13.6.
s = √(22+22) = 2,82mm
Οι διαστάσεις της πηγής δίνονται από τον κατασκευαστή της, τόσο για τη γεννήτρια
παραγωγής ακτίνων Χ, όσο και για τα ραδιοϊσότοπα. Μείωση του μεγέθους της πηγής
οδηγεί σε μείωση της γεωμετρικής δυσκρίνειας. Για δεδομένο μέγεθος πηγής, η
γεωμετρική δυσκρίνεια μπορεί να μειωθεί με την αύξηση της απόστασης πηγής -
αντικειμένου αλλά αυτό σημαίνει και μείωση της έντασης της ακτινοβολίας.
Συνήθως γίνεται προσπάθεια να διατηρείται όσο το δυνατόν μικρή απόσταση
αντικειμένου-φιλμ για να έχουμε και μειωμένη γεωμετρική δυσκρίνεια, ενώ βέλτιστα
αποτελέσματα επιτυγχάνονται όταν το φιλμ είναι σε άμεση επαφή με το αντικείμενο.
|467|
Υπάρχουν ωστόσο, περιπτώσεις όπου αυτό δεν είναι εφικτό, με αποτέλεσμα την
αύξηση της γεωμετρικής δυσκρίνειας και τη μείωση της ακτινογραφικής ευκρίνειας. Οι
κώδικες και τα πρότυπα που χρησιμοποιούνται στη βιομηχανική ακτινογραφία απαιτούν
περιορισμένη γεωμετρική δυσκρίνεια. Ενδεικτικά αναφέρεται ότι οι επιτρεπόμενες τιμές
γεωμετρικής δυσκρίνειας κυμαίνονται στο 1/100 του πάχους του αντικειμένου με μέγιστο
όριο το 1mm. Επίσης, τιμή γεωμετρικής δυσκρίνειας της τάξεως των 0,25mm συχνά
ορίζεται ως μέγιστη.
Λόγω του ότι είναι δύσκολη η άμεση μέτρηση της γεωμετρικής δυσκρίνειας στο
ακτινογραφικό φιλμ, ο υπολογισμός γίνεται έμμεσα μέσω του τύπου που αναφέρθηκε. Με
βάση όσα αναφέρθηκαν μπορούμε να συνοψίσουμε λέγοντας ότι για τις ακτίνες Χ και γ:
• Η πηγή ακτινοβολίας πρέπει να είναι όσο το δυνατόν μικρότερων διαστάσεων.
• Η απόσταση ανάμεσα στην πηγή ακτινοβολίας και το φιλμ πρέπει να είναι όσο το
δυνατόν μεγαλύτερη.
• Το φιλμ πρέπει να εφάπτεται στο αντικείμενο που ακτινογραφείται.
• Η κεντρική δέσμη της ακτινοβολίας πρέπει να είναι κάθετη στο φιλμ.
• Το επίπεδο μέγιστου ενδιαφέροντος πρέπει να είναι παράλληλο στο φιλμ.
13.5 Συνολική δυσκρίνεια (total unsharpness) Ut
Η συνολική δυσκρίνεια καθορίζεται από το συνδυασμό της γεωμετρικής και της

ενδογενούς δυσκρίνειας. Στην πράξη, ο τύπος που ακολουθεί δίνει την καλύτερη
προσέγγιση για τη συνολική δυσκρίνεια ενός ακτινογραφικού φιλμ.
Ut = (Ug2 + Uf2)1/2
Σε γενικές γραμμές, αν μία τιμή δυσκρίνειας (Ug ή Uf) είναι μεγαλύτερη από το
διπλάσιο της τιμής μιας άλλης, η συνολική δυσκρίνεια είναι ίση με τη μεγαλύτερη τιμή ενώ
εάν και οι δύο τιμές είναι ίσες, η συνολική δυσκρίνεια είναι περίπου √2 = 1,4 φορές της
ενιαίας τιμής.
Εάν κριθεί απαραίτητο, η γεωμετρική δυσκρίνεια μπορεί να μειωθεί με την αύξηση
της απόστασης πηγής - φιλμ. Αυτό μπορεί να γίνει σε περιορισμένο βαθμό, διότι σε αυτή
την περίπτωση ο χρόνος έκθεσης θα ήταν μεγάλος. Ως συμβιβαστική λύση, η βέλτιστη
απόσταση πηγής - φιλμ (S.F.D) επιλέγεται όταν Ug = Uf.
|468|
13.6 Επιλογή ακτινοβολίας γ
Καθώς δεν είναι δυνατή η μεταβολή της ενέργειας ακτινοβολίας που εκπέμπεται
από μία πηγή ακτίνων γ, είναι αναγκαίο να υποδείξουμε ένα εύρος παχών τα οποία
μπορούν να εξεταστούν ικανοποιητικά με διαφορετικά ισότοπα. Το ανώτατο όριο
ενεργότητας των πηγών καθορίζεται από τις πηγές που διατίθενται στο εμπόριο ενώ το
αντίστοιχο κατώτατο όριο καθορίζεται από τη μείωση της ακτινογραφικής αντίθεσης και
γενικότερα από τη μειωμένη ποιότητα του ακτινογραφήματος. Επομένως, το κατώτερο
όριο εξαρτάται και από τον απαιτούμενο βαθμό ανίχνευσης της πιο μικρής λεπτομέρειας.
Όταν αυτό είναι ανεπαρκές σε σύγκριση με ότι είναι δυνατόν να επιτευχθεί με τη χρήση
εξοπλισμού ακτίνων Χ, μπορεί να επιλεγεί ένας άλλος τύπος ισότοπου, ο οποίος παρέχει
μειωμένη ενέργεια ακτινοβολίας.
Στον Πίνακα 13.2 φαίνεται το εύρος των παχών που συνιστάται για διαφορετικές
πηγές ακτίνων γ. Ο πίνακας ισχύει για χάλυβα. Εάν, για λόγους ευκολίας,
χρησιμοποιούνται ακτίνες γ σε μικρού πάχους δοκίμια τα οποία θα μπορούσαν να
ακτινογραφηθούν και με ακτίνες Χ, πρέπει να γίνει σαφές ότι οι προκύπτουσες
ακτινογραφίες με ακτίνες γ θα είναι κατώτερης ποιότητας σε σύγκριση με τις αντίστοιχες
των ακτίνων Χ.
Πίνακας 13.2: Εύρος παχών (σε mm) για την εξέταση χάλυβα με ακτίνες γ με διαφορετικά
ραδιοϊσότοπα
Τεχνική τυπικής Τεχνική υψηλής
Tύπος πηγής
ευαισθησίας σε mm ευαισθησίας σε mm
Co 60 30 - 200 60 - 150
Ir 192 10 - 80 20 - 70
Se 70 5 - 40 10 - 30
Yb 169 1 - 15 3- 10
Tm 170 1 - 10 4-8
13.7 Σκληρότητα ακτινοβολίας και ακτινογραφική αντίθεση
Η σκληρότητα της ακτινοβολίας εξαρτάται από το μήκος κύματος. Η ακτινοβολία

ονομάζεται σκληρή, όταν το μήκος κύματος της ακτινοβολίας είναι μικρό και μαλακή όταν
το μήκος κύματος είναι μεγάλο. Η ποιότητα της ακτινοβολίας στις ακτίνες Χ εξαρτάται
από την τάση (keV) της γεννήτριας.
Πίνακας 13.3: Συγκριτικές τιμές της ποιότητας της ακτινοβολίας (σκληρότητα) συναρτήσει
της τάσης της γεννήτριας
Πάχος υποδιπλασιασμού για
Σκληρότητα ακτινοβολίας Τάση γεννήτριας
χάλυβα (mm)
Πολύ μαλακές Λιγότερο από 20keV -
Μαλακές 20 - 60keV -
Αρκετά μαλακές 60 - 150keV 0,5 - 2
Σκληρές 150 - 300keV 2-7
Πολύ σκληρές 300 - 3000keV 7 - 20
Πάρα πολύ σκληρές Περισσότερο από 3000keV >20
|469|
Όταν αυξάνεται η σκληρότητα της ακτινοβολίας, αυξάνει αντίστοιχα και το πάχος
υποδιπλασιασμού. Η ακτινογραφική αντίθεση μειώνεται με την αύξηση του εύρους
ακτινογράφησης. Στο κάτω μέρος της Εικόνας 13.8 απεικονίζεται η μεγαλύτερη αντίθεση
μεταξύ δύο παχών, ενώ στο πάνω μέρος το εύρος ακτινογράφησης είναι το μεγαλύτερο.
Εικόνα 13.8: Ακτίνες Χ σε δοκίμιο (step wedge) στα 150keV (πάνω) και 80keV (κάτω)
13.8 Αντίθεση αντικείμενου
Ως αντίθεση αντικειμένου ορίζεται ο λόγος των εντάσεων της ακτινοβολίας που

διαπερνά δύο επιλεγμένα τμήματα ενός αντικειμένου. Η αντίθεση του αντικειμένου
εξαρτάται από τις διαφορετικές απορροφήσεις της ακτινοβολίας στο αντικείμενο.
Εξαρτάται δηλαδή από τη φύση του αντικειμένου, το μήκος κύματος της πρωτεύουσας
ακτινοβολίας και την ένταση και κατανομή της δευτερεύουσας ακτινοβολίας λόγω
σκέδασης. Η αντίθεση του αντικειμένου δεν εξαρτάται από το χρόνο έκθεσης, από την
ένταση της γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ, από την απόσταση πηγής-αντικειμένου και
από την επεξεργασία του ακτινογραφικού φιλμ.
Αντικείμενα με ομοιόμορφο πάχος παρουσιάζουν μειωμένη αντίθεση. Η αντίθεση
του αντικειμένου μειώνεται όσο αυξάνεται η ενέργεια της προσπίπτουσας ακτινοβολίας.
Επίσης, η σκεδαζόμενη ακτινοβολία μειώνει την αντίθεση του αντικειμένου.
Οι διαφορετικές απορροφήσεις εντός του δοκιμίου επηρεάζουν και το επίπεδο της
αντίθεσης στην ακτινογραφία. Όσο μεγαλύτερη είναι η διαφορά στο πάχος ή στην
πυκνότητα μεταξύ δύο περιοχών του αντικειμένου, τόσο μεγαλύτερη είναι η διαφορά στη
ακτινογραφική αντίθεση ή πυκνότητα.
Ωστόσο, είναι δυνατόν να ακτινογραφηθεί ένα συγκεκριμένο αντικείμενο και να
προκύψουν δύο ακτινογραφίες με εντελώς διαφορετικά επίπεδα αντίθεσης.
Η ακτινογράφηση με ακτίνες X χρησιμοποιώντας χαμηλή τάση γεννήτριας παράγει
σε γενικές γραμμές μια ακτινογραφία υψηλής αντίθεσης, καθώς η αντίθεση του
αντικειμένου αυξάνει. Αυτό συμβαίνει λόγω της χαμηλής ενέργειας της ακτινοβολίας η
οποία εξασθενεί ευκολότερα.
Επομένως, ο λόγος των φωτονίων που διαδίδεται μέσα σε μία λεπτή περιοχή προς
μία αντίστοιχη παχιά θα είναι μεγαλύτερος με χαμηλή ενέργεια ακτινοβολίας. Αυτό με τη
σειρά του θα έχει ως αποτέλεσμα το φιλμ να εκτεθεί σε αντίστοιχα μεγαλύτερο ή
μικρότερο βαθμό στις δύο περιοχές.
|470|
Εικόνα 13.9: Όσο αυξάνει η ενέργεια της ακτινοβολίας, μειώνεται η ακτινογραφική αντίθεση
του αντικειμένου καθώς περισσότερα μήκη κύματος διαπερνούν το αντικείμενο
13.9 Εύρος ακτινογράφησης
Σε γενικές γραμμές, όσο αυξάνει η αντίθεση, το εύρος ακτινογράφησης (latitude)

μειώνεται. Το εύρος ακτινογράφησης αναφέρεται στο εύρος των παχών που μπορούν να
απεικονιστούν με μία έκθεση. Αυτό πρακτικά σημαίνει ότι περισσότερες περιοχές
διαφορετικών παχών θα είναι ορατές στο ακτινογραφικό φιλμ. Ενδεικτικά αναφέρουμε ότι
το κοβάλτιο (Co 60) παρέχει υψηλό ακτινογραφικό εύρος. Αντίθετα, η ακτινοβολία Χ
χαμηλής ενέργειας παρέχει μικρό ακτινογραφικό εύρος.
13.10 Αντίθεση ακτινογραφικού φιλμ
Η αντίθεση του ακτινογραφικού φιλμ αναφέρεται στη διαφορά πυκνότητας δύο

γειτονικών περιοχών η οποία προκύπτει λόγω του τύπου του ακτινογραφικού φιλμ, του
τρόπου που πραγματοποιήθηκε η έκθεσή του και του τρόπου που ολοκληρώθηκε η
επεξεργασία του (θερμοκρασία και χρόνος εμφάνισης). Η έκθεση ενός φιλμ για να
παραχθούν μεγαλύτερες τιμές ακτινογραφικής πυκνότητας, αυξάνει σε γενικές γραμμές και
την αντίθεση του ακτινογραφικού φιλμ.
Επομένως, αν σε ένα ακτινογραφικό φιλμ οι πυκνότητες δύο γειτονικών περιοχών
είναι D1 = 2,9 και D2 = 1,4, η αντίθεση είναι ίση με D1 - D2 = 2,9 - 1,4 = 1,5.
Από την χαρακτηριστική καμπύλη, προκύπτει ότι όταν ένα ακτινογραφικό φιλμ δεν
έχει δεχτεί πολλές αλληλεπιδράσεις φωτονίων (κάτι το οποίο θα οδηγούσε σε
ακτινογραφικό φιλμ χαμηλής πυκνότητας) η κλίση της καμπύλης είναι χαμηλή.
Μία τυπική χαρακτηριστική καμπύλη, η οποία απεικονίζει τον τρόπο που ένα
ακτινογραφικό φιλμ ανταποκρίνεται στις διαφορετικές ποσότητες έκθεσης στην
ακτινοβολία, απεικονίζεται στην Εικόνα 13.10.
|471|
Εικόνα 13.10: Τυπική χαρακτηριστική καμπύλη ακτινογραφικού φιλμ
Στη μικρή σκιασμένη περιοχή της καμπύλης της Εικόνας 13.10, χρειάζεται μια
μεγάλη αλλαγή στην έκθεση, η οποία θα παράγει μια μικρή αλλαγή στην πυκνότητα του
ακτινογραφικού φιλμ. Επομένως, η ευαισθησία του ακτινογραφικού φιλμ είναι σχετικά
χαμηλή.
Όπως φαίνεται από το διάγραμμα, όταν μεταβάλλεται η λογαριθμική σχετική
έκθεση από 0,75 σε 1,4, η αλλαγή στην πυκνότητα του ακτινογραφικού φιλμ αυξάνεται
από 0,20 σε 0,30. Ωστόσο, σε πυκνότητες πάνω από 2,0, η κλίση της χαρακτηριστικής
καμπύλης για τα περισσότερα ακτινογραφικά φιλμ φτάνει στο μέγιστο της.
Στη μεγάλη σκιασμένη περιοχή της καμπύλης, μια σχετικά μικρή μεταβολή της
έκθεσης οδηγεί σε μια σχετικά μεγάλη αλλαγή στην πυκνότητα του ακτινογραφικού φιλμ.
Για παράδειγμα, η αλλαγή της λογαριθμικής σχετικής έκθεσης από 2,4 σε 2,6 μεταβάλλει
την πυκνότητα του ακτινογραφικού φιλμ από 1,75 έως 2,75. Ως εκ τούτου, η ευαισθησία
του ακτινογραφικού φιλμ είναι υψηλή σε αυτή την περιοχή της καμπύλης. Σε γενικές
γραμμές, η υψηλότερη συνολική πυκνότητα ακτινογραφικού φιλμ που μπορεί εύκολα να
αναγνωστεί ή ψηφιοποιηθεί έχει και το υψηλότερο επίπεδο αντίθεσης παρέχοντας έτσι και
τις πιο χρήσιμες πληροφορίες για το επιθεωρούμενο δοκίμιο.
Μολύβδινες ενισχυτικές πλάκες πάχους 0,1 - 0,4mm μειώνουν τη σκεδάζουσα
ακτινοβολία για επίπεδα ενέργειας χαμηλότερα των 150keV. Πάνω από αυτό το επίπεδο
ενέργειας θα εκπέμπονταν ηλεκτρόνια προσβάλλοντας περισσότερο το ακτινογραφικό φιλμ
και αυξάνοντας έτσι την πυκνότητα και την αντίθεση του ακτινογραφικού φιλμ. Οι
φθορίζουσες ενισχυτικές πλάκες παράγουν ορατό φως όταν εκτίθενται στην ακτινοβολία.
Συνεπώς το φως θα εκθέσει περαιτέρω το ακτινογραφικό φιλμ αυξάνοντας την αντίθεση.
|472|
13.11 Γεωμετρικοί παράγοντες
Η επίδραση του μεγέθους της πηγής, της απόστασης πηγής - φιλμ και της
απόστασης αντικειμένου - φιλμ στη ακτινογραφία αναπτύχθηκαν λεπτομερώς στα
προηγούμενα κεφάλαια. Εν συντομία, για να επιτευχθεί το βέλτιστο επίπεδο
ακτινογραφικής ευκρίνειας πρέπει το εστιακό σημείο της πηγής να βρίσκεται πιο κοντά
στην πηγή, οι διαστάσεις της πηγής να είναι μικρές, η απόσταση πηγής - φιλμ να είναι όσο
το δυνατόν πιο μεγάλη και η απόσταση αντικειμένου - φιλμ όσο το δυνατόν πιο μικρή.
Αυτό φαίνεται και σχηματικά στην Εικόνα 13.11.
Εικόνα 13.12: Γωνία ακτινογράφησης
|473|
Η γωνία ακτινογράφησης όπως αναφέρεται, δηλαδή η γωνία της ακτινοβολίας και
κάποια χαρακτηριστικά του αντικειμένου επιδρούν στη ακτινογραφική ευκρίνεια. Για
παράδειγμα, εάν η ακτινοβολία δεν είναι παράλληλη προς τη γραμμική ασυνέχεια μίας
συγκόλλησης, η απεικόνιση στο ακτινογραφικό φιλμ δε θα είναι ευδιάκριτη, θα φαίνεται
παραμορφωμένη και εκτός πραγματικής θέσης. Αυτό έχει ως αποτέλεσμα τη μείωση της
ακτινογραφικής ευκρίνειας.
Απότομες αλλαγές στο πάχος ή στην πυκνότητα ενός αντικειμένου δίνουν αυξημένη
ευκρίνεια, σε σύγκριση με περιοχές βαθμιαίας αλλαγής του πάχους ή της πυκνότητας ενός
αντικειμένου. Μερικές φορές είναι δύσκολο να εντοπίσουμε τα όρια ενός αντικειμένου
λόγω αυτής της βαθμιαίας αλλαγής στο πάχος του. Τέλος, οποιαδήποτε κίνηση του
αντικειμένου, της πηγής ή του ακτινογραφικού φιλμ κατά τη διάρκεια της έκθεσης, μειώνει
τη ακτινογραφική ευκρίνεια ενώ αρκετές φορές οι δονήσεις από μηχανήματα προκαλούν
ελάττωση της ακτινογραφικής ευκρίνειας γι’ αυτό πρέπει να απομονώνονται.
Εικόνα 13.13: Ακτινογραφική ευκρίνεια
13.12 Παράγοντες ακτινογραφικού φιλμ και ενισχυτικών πλακών
Το τελευταίο σύνολο παραγόντων αφορά στο ακτινογραφικό φιλμ και στη χρήση
των φθοριζόντων ενισχυτικών πλακών. Ένα λεπτόκοκκο ακτινογραφικό φιλμ παράγει μια
ακτινογραφική εικόνα με υψηλότερη ευκρίνεια συγκριτικά με ένα αντίστοιχο χονδρόκοκκο
για τις ίδιες παραμέτρους έκθεσης. Καθώς το μήκος κύματος της ακτινοβολίας
ελαττώνεται, αυξάνεται η διείσδυση όπως και το φαινομενικό κοκκώδες του
ακτινογραφικού φιλμ. Επίσης, η παρατεταμένη ανάπτυξη του ακτινογραφικού φιλμ κατά
την επεξεργασία του αυξάνει το φαινομενικό κοκκώδες. Τέλος, ένα ληγμένο
ακτινογραφικό φιλμ δεν πρέπει να χρησιμοποιείται διότι δημιουργεί ομιχλώδη στίγματα
στη ακτινογραφική εικόνα και γενικά οδηγεί σε ακτινογραφίες χαμηλής ευκρίνειας.
Η χρήση φθοριζόντων ενισχυτικών πλακών οδηγεί επίσης σε ακτινογραφική εικόνα
μειωμένης ευκρίνειας. Ο λόγος για τον οποίο χρησιμοποιούνται οι φθορίζουσες ενισχυτικές
πλάκες είναι επειδή η προσπίπτουσα ακτινοβολία τις αναγκάζει να εκπέμπουν φως κατά
την διάρκεια της έκθεσης. Το φως που εκπέμπουν διαχέεται σε όλες τις κατευθύνσεις,
εκθέτοντας τις παρακείμενες περιοχές του ακτινογραφικού φιλμ, καθώς και τις περιοχές
που είναι σε άμεση επαφή με την προσπίπτουσα ακτινοβολία. Οι φθορίζουσες ενισχυτικές
πλάκες προκαλούν κηλίδες στη ακτινογραφική εικόνα.
|474|
13.13 Ποιότητα ακτινογραφίας
Υπάρχουν δύο τρόποι με τους οποίους μπορούμε να μετρήσουμε τη ακτινογραφική

ποιότητα: με την πυκνότητα και με την ευαισθησία. Η πυκνότητα μπορεί να μετρηθεί με το
πυκνόμετρο και η ευαισθησία με τους ενδείκτες ποιότητας εικόνας (image quality indicator
- IQI). Η μέτρηση της ευαισθησίας μίας ακτινογραφίας είναι ένας τρόπος μέτρησης της
ικανότητας μίας ακτινογραφικής τεχνικής να ανιχνεύει ασυνέχειες μικρών διαστάσεων.
13.14 Ακτινογραφική ευαισθησία (sensitivity)
Σε γενικές γραμμές, ο όρος χρησιμοποιείται για να δείξει την ικανότητα ανίχνευσης

της μικρότερης λεπτομέρειας ή ασυνέχειας. Ο όρος ακτινογραφική ευαισθησία στη
ακτινογραφία ορίζεται ως η συνολική εκτίμηση της ποιότητας που σχετίζεται με την
ικανότητα της ακτινογραφικής τεχνικής να ανιχνεύει μικρές ασυνέχειες και να τις
απεικονίζει στο ακτινογραφικό φιλμ.
Η ακτινογραφική ευαισθησία επηρεάζεται άμεσα από τη ακτινογραφική αντίθεση
και ευκρίνεια και κατά συνέπεια από όλους τους παράγοντες που τις επηρεάζουν. Συνεπώς,
η έλλειψη αυτών των δύο παραγόντων, θα σήμαινε αυτομάτως και έλλειψη ευαισθησίας.
13.15 Συνοπτική παρουσίαση των παραγόντων που επηρεάζουν την ποιότητα της
ακτινογραφικής απεικόνισης
Οι παράγοντες που επηρεάζουν την ποιότητα της ακτινογραφικής εικόνας είναι:
1. η αντίθεση
2. η δυσκρίνεια
3. το μέγεθος των κόκκων
1. Η ακτινογραφική αντίθεση εξαρτάται από:
• την ενέργεια της ακτινοβολίας

• το εύρος των παχών
• τη σκεδάζουσα ακτινοβολία
• την ύπαρξη μπροστινής και οπίσθιας ενισχυτικής πλάκας
• το συνδυασμό ενισχυτικής πλάκας - ακτινογραφικού φιλμ
• την επαφή ενισχυτικής πλάκας - ακτινογραφικού φιλμ
• τη θέση της ασυνέχειας, το βάθος και τον προσανατολισμό
2. Η δυσκρίνεια εξαρτάται από:
• τις διαστάσεις της πηγής

• το πάχος του αντικειμένου
• την απόσταση πηγής - φιλμ
• την ενέργεια ακτινοβολίας (σκληρότητα)
• το συνδυασμό ενισχυτικής πλάκας - ακτινογραφικού φιλμ
• την επαφή ενισχυτικής πλάκας - ακτινογραφικού φιλμ
|475|
3. Το μέγεθος των κόκκων του ακτινογραφικού φιλμ εξαρτάται από:
• τον τύπο του ακτινογραφικού φιλμ

• τον τύπο της ενισχυτικής πλάκας
• τη διαδικασία επεξεργασίας του φιλμ
• την ενέργεια της ακτινοβολίας (σκληρότητα)
|476|
14. ΥΠΟΛΟΓΙΣΜΟΙ ΣΤΗ ΒΙΟΜΗΧΑΝΙΚΗ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΑ
14.1 Προσδιορισμός του μεγέθους του αποτελεσματικού εστιακού σημείου

(effective focal spot)
Το μέγεθος του αποτελεσματικού εστιακού σημείου είναι ένα σημαντικό

χαρακτηριστικό της γεννήτριας παραγωγής ακτίνων Χ και καθορίζεται από τον
κατασκευαστή. Σε γενικές γραμμές ακολουθείται ότι «όσο πιο μικρό, τόσο καλύτερα».
Εικόνα 14.1: 450keV, 2,5mm focal spot Χαμηλή ευκρίνεια (αριστερά)

450keV, 0,4mm focal spot Αυξημένη ευκρίνεια (δεξιά)
Το εστιακό σημείο είναι μια κρίσιμη παράμετρος της έκθεσης για μια συγκεκριμένη
εφαρμογή, επομένως η ακρίβεια των πληροφοριών του κατασκευαστή είναι ζωτικής
σημασίας. Έως το 1999, το πρότυπο EN 12543-1 περιέγραφε μια τυποποιημένη μέθοδο,
την οποία όμως δεν υιοθετούσαν οι κατασκευαστές, καθώς απαιτούσε ακριβό εξοπλισμό
και χρονοβόρα διαδικασία για τον καθορισμό του εστιακού σημείου. Οι αριθμοί που
βασίζονται στη Διεθνή Ηλεκτροτεχνική Επιτροπή (International Electrotechnical
Commission- IEC) αναφέρονται σε έναν πίνακα από τον οποίο μπορούν να εξαχθούν οι
διαστάσεις των εστιακών σημείων σε χιλιοστά. Αυτές οι διαστάσεις που δίνονται
προσεγγιστικά, στην πραγματικότητα είναι ανακριβείς για να υπολογιστεί η ευκρίνεια της
ακτινογραφικής απεικόνισης που είναι και το ζητούμενο. Οι κατασκευαστές των
γεννητριών ακτίνων Χ εφαρμόζουν συνήθως τη λεγόμενη τεχνική της σημειακής οπής
(Sténopé pinhole technique) για να καθορίζουν το μέγεθος του εστιακού σημείου. Η
τελευταία μέθοδος είναι αποδεκτή και οδηγεί σε οριακά μικρότερο μέγεθος του
αποτελεσματικού εστιακού σημείου. Η εύρεση του μεγέθους του αποτελεσματικού
εστιακού σημείου για πανοραμική γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ είναι πιο πολύπλοκη.
Εικόνα 14.2: Διάταξη εστίασης
|477|
Το μέγεθος του εστιακού σημείου σε μία γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ μπορεί
να μεταβληθεί με την πάροδο του χρόνου. Για να προσδιορίσουμε το μέγεθος του
αποτελεσματικού εστιακού σημείου για τους μετέπειτα υπολογισμούς της δυσκρίνειας
ακολουθούμε την παρακάτω διαδικασία:
• Σε ένα φύλλο μολύβδου πάχους περίπου 4mm κατασκευάζεται στο κέντρο μία οπή
διαμέτρου 0,25mm και τοποθετείται το φύλλο μολύβδου ακριβώς στο μέσο της
απόστασης πηγής-φιλμ.
• Η έκθεση δεν πρέπει να είναι υπερβολική διότι το ακτινογραφικό φιλμ θα θολώσει
στο σημείο της οπής, με αποτέλεσμα να έχουμε μειωμένη ευκρίνεια. Η εικόνα που
θα αποτυπωθεί στο ακτινογραφικό φιλμ θα έχει τις διαστάσεις του εστιακού
σημείου αυξημένο κατά το διπλάσιο της διαμέτρου της οπής.
• Υπολογίζεται το μέγεθος του εστιακού σημείου μετρώντας τη συνολική διάμετρο
του αποτυπώματος στο φιλμ, αφαιρώντας το διπλάσιο της διαμέτρου της οπής.
Εικόνα 14.3: Προσδιορισμός του μεγέθους του εστιακού σημείου
Η μέθοδος είναι εφαρμόσιμη σε γεννήτριες παραγωγής ακτίνων Χ με τάση

λειτουργίας έως 250keV. Πάνω από αυτή την τάση, το πάχος του μολύβδου που απαιτείται
καθιστά τη μέθοδο μη πρακτική (το εστιακό σημείο δε μπορεί να απεικονιστεί λόγω της
μικρής οπής σε παχιά πλάκα). Έτσι, η συγκεκριμένη τεχνική δε μπορεί να χρησιμοποιηθεί
για υψηλής ενέργειας ακτίνες Χ ή για ευρέως χρησιμοποιούμενα ραδιοϊσότοπα, λόγω της
πολυπλοκότητας που αποκτά εξαιτίας των εργαστηριακών συνθηκών.
Εικόνα 14.4: Απεικόνιση του εστιακού σημείου με κατάλληλη έκθεση (αριστερά.).

Υπερβολική έκθεση (δεξιά) η οποία οδηγεί στην παραμόρφωσή του
|478|
14.2 Υπολογισμός της γεωμετρικής δυσκρίνειας συναρτήσει της απόστασης
πηγής - ακτινογραφικού φιλμ
Στα προηγούμενα κεφάλαια περιγράφηκαν οι επιδράσεις της γεωμετρικής

δυσκρίνειας και η δυνατότητα διευθέτησης της τιμής της ρυθμίζοντας την απόσταση πηγής
- φιλμ.
Για να επιτευχθεί μία ακτινογραφία υψηλής ευκρίνειας και αντίθεσης και άρα να
απεικονιστούν ακόμη και οι πιο μικρές λεπτομέρειες, πρέπει να περιοριστεί στο ελάχιστο η
συνολική δυσκρίνεια. Το επίπεδο ενέργειας της ακτινοβολίας επιλέγεται από τα
διαγράμματα και χρησιμοποιείται ως οδηγός στην συνολική διαδικασία.
Δεν είναι αναγκαίο να προσπαθήσουμε να κρατήσουμε τη γεωμετρική δυσκρίνεια
πολύ χαμηλότερα από την τιμή της ενδογενούς δυσκρίνειας, διότι σε αυτή την περίπτωση,
ούτως ή άλλως, η ενδογενής δυσκρίνεια προσδιορίζει τη συνολική δυσκρίνεια.
Εάν ο στόχος είναι να καταστήσουμε τη γεωμετρική δυσκρίνεια ίση με την
αριθμητική τιμή της ενδογενούς δυσκρίνειας, η απόσταση πηγής - φιλμ (S.F.D) που
απαιτείται μπορεί να υπολογιστεί με τον ακόλουθο τύπο:
t (Ut + 1,4 • s)
S.F.D = ----------------------------
Ut
Όπου:
S.F.D: η απόσταση πηγής - φιλμ
Ut: η συνολική δυσκρίνεια
t: το πάχος αντικειμένου
s: οι διαστάσεις της πηγής
Σημειώνεται ότι οι μονάδες των παραπάνω μεγεθών είναι σε χιλιοστά.
Σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ISO 17636-1 για τον καθορισμό της ελάχιστα
αποδεκτής απόστασης πηγής-αντικειμένου fmin, μπορεί να χρησιμοποιηθεί το νομόγραμμα
της Εικόνας 14.5.
Εικόνα 14.5: Νομόγραμμα για τον καθορισμό της ελάχιστης απόστασης S.Ο.D (fmin)
συναρτήσει της απόστασης O.F.D και του μεγέθους της πηγής σύμφωνα με το
ΕΝ ISO 17636-1
|479|
Σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ISO 17636-1 η ελάχιστη απόσταση πηγής -
αντικειμένου δίνεται από τον τύπο:
f/d ≥ 7,5•b2/3 για τεχνικές κλάσης A (class A)
f/d ≥ 15•b2/3 για τεχνικές κλάσης B (class B)
Όπου:
f: η ελάχιστη απόσταση S.O.D σε mm.
d: το μέγεθος της πηγής σε mm.
b: η απόσταση O.F.D σε mm (το πάχος του υλικού αθροίζεται με την απόσταση
αντικειμένου-φιλμ στην περίπτωση που το φιλμ δεν εφάπτεται στο αντικείμενο).
Η ελάχιστη απόσταση fmin επιλέγεται, όποτε είναι πρακτικό, έτσι ώστε ο λόγος της
προς το μέγεθος της πηγής d να μην είναι μικρότερος από τις τιμές που προκύπτουν από
τις παραπάνω εξισώσεις: Εάν b<1,2t, η διάσταση b στις εξισώσεις (1) και (2) και στην
Εικόνα 14.5 αντικαθίσταται από το ονομαστικό πάχος t. Για τον καθορισμό της ελάχιστα
αποδεκτής απόστασης πηγής-αντικειμένου fmin, μπορεί να χρησιμοποιηθεί το
νομογράφημα της Εικόνας 14.5. Το νομογράφημα βασίζεται στις εξισώσεις (1) και (2). Για
την κλάση Α, εάν πρέπει να ανιχνευθούν επίπεδες ασυνέχειες, η ελάχιστη απόσταση fmin
θα είναι η ίδια με αυτή της κλάσης Β, προκειμένου να ελαττωθεί η γεωμετρική δυσκρίνεια
κατά ένα συντελεστή 2. Σε κρίσιμες εφαρμογές υλικών, ευαίσθητων σε ρηγματώσεις,
χρησιμοποιούνται ακτινογραφικές τεχνικές περισσότερο ευαίσθητες από την κλάση Β.
Κατά τη χρήση της ελλειπτικής ή της κάθετης τεχνικής, η απόσταση b αντικαθίσταται από
την εξωτερική διάμετρο De του σωλήνα, τόσο στις εξισώσεις (1) και (2) όσο και στο
νομογράφημα της Εικόνας 14.5. Όταν η πηγή είναι έξω από το αντικείμενο και το φιλμ
στην άλλη πλευρά του (τεχνική διπλού τοιχώματος μονής εικόνας), η απόσταση πηγής-
αντικειμένου εξαρτάται μόνο από το πάχος του τοιχώματος (όχι από την διάμετρο του).
Ας αναλύσουμε ένα παράδειγμα.
Έστω ότι η απόσταση αντικειμένου φιλμ είναι 80mm και το αντικείμενο πρέπει να
ακτινογραφηθεί με μία γεννήτρια ακτίνων Χ με διάσταση αποτελεσματικού εστιακού
σημείου 3mm. Για τη βασική τεχνική ακτινογράφησης (κλάση Α) να υπολογισθεί η
ελάχιστη απόσταση S.O.D.
Δίνονται:
b: 80mm
d: 3mm
Λύση
Ισχύει f/d = 7,5•b2/3
Αντικαθιστώντας προκύπτει f = 7,5•802/3•3=> f = 416mm.
Συνεπώς η ελάχιστη απόσταση πηγής - αντικειμένου πρέπει να είναι 416mm.
|480|
416
Εικόνα 14.6: Νομόγραμμα που αφορά στο παραπάνω παράδειγμα
14.3 Νόμος των αντίστροφων τετραγώνων
Όπως ήδη έχει εξηγηθεί, η επίδραση της γεωμετρικής δυσκρίνειας μπορεί να

μειωθεί με την αύξηση της απόστασης πηγής - φιλμ.
Μία από τις ιδιότητες της ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας είναι ότι η ένταση της
είναι αντιστρόφως ανάλογη του τετραγώνου της απόστασης της από την πηγή. Πρόκειται
για το «Νόμο των αντίστροφων τετραγώνων». Τόσο οι ακτίνες X, όσο και η ακτινοβολία γ
υπακούουν στο συγκεκριμένο νόμο. Δηλαδή, η ένταση της ακτινοβολίας ανά μονάδα
επιφάνειας του ακτινογραφικού φιλμ είναι αντιστρόφως ανάλογη με το τετράγωνο της
απόστασης πηγής - φιλμ (S.F.D).
Ι1 D22
--------------- = ---------------
Ι2 D12
Όπου:
Ι1: η ένταση σε απόσταση D1
D1: η απόσταση 1 από την πηγή
Όπως φαίνεται στην Εικόνα 14.7, σε απόσταση 2F από την πηγή, μια δέσμη
ακτίνων θα καλύπτει μια έκταση (b) τέσσερις φορές μεγαλύτερη από την έκταση (a) σε
απόσταση F.
Κατά συνέπεια, η ένταση ανά μονάδα επιφάνειας για την περιοχή (b) θα είναι το 1/4
της αντίστοιχης τιμής για την περιοχή (a). Αυτό σημαίνει ότι εάν όλες οι άλλες παράμετροι
παραμείνουν σταθερές, σε απόσταση 2F, o χρόνος έκθεσης πρέπει να πολλαπλασιαστεί επί
τέσσερα ώστε το ακτινογραφικό φιλμ να αποκτήσει την ίδια πυκνότητα. Ο νόμος των
αντίστροφων τετραγώνων έχει προφανώς οικονομικούς και πρακτικούς περιορισμούς όσον
αναφορά την απόσταση πηγής - φιλμ (S.F.D).
|481|
Εικόνα 14.7: Νόμος των αντίστροφων τετραγώνων
14.4 Σχέση έκθεσης – απόστασης πηγής-φιλμ
Κατά τη ακτινογράφηση ενός αντικειμένου πολλές φορές απαιτείται η αλλαγή της

απόστασης πηγής ακτινογραφικού φιλμ. Δεδομένου ότι η ένταση της πηγής μεταβάλλεται
αντιστρόφως ανάλογα με το τετράγωνο της απόστασης από την πηγή, η απαιτούμενη
έκθεση πρέπει να ρυθμίζεται ανάλογα τις συνθήκες. Όταν είναι γνωστή η έκθεση σε μία
απόσταση, αυτή η πληροφορία μπορεί να χρησιμοποιηθεί για τον υπολογισμό της νέας
έκθεσης σύμφωνα με την παρακάτω εξίσωση.
Ε1 S.F.D12 C1 • T1 S.F.D12
--------------- = ----------------- ή --------------- = -----------------
Ε2 S.F.D22 C2 • T2 S.F.D22
Όπου:
E1: η έκθεση σε απόσταση S.F.D1, C1: η ένταση πηγής σε mA, T1: ο χρόνος έκθεσης
σε min ή s
σε min ή s
S.F.D1: η απόσταση πηγής-φιλμ για την έκθεση 1
Ας αναλύσουμε τρία παραδείγματα.
Παράδειγμα 1
Μια έκθεση των 560mA•s παράγει μία αποδεκτή ακτινογραφία σε απόσταση πηγής
- φιλμ 700mm. Ποια πρέπει να είναι η νέα έκθεση, αν η απόσταση πηγής - φιλμ μειωθεί
στα 500mm;
|482|
Δίνονται:
E1: 560mA•s
S.F.D1: 700mm
S.F.D2: 500mm
Λύση
Επιλύοντας την παραπάνω εξίσωση ως προς E2 έχουμε:
Ε1•S.F.D22 560mA•s•(500mm)2
E2 = -------------------- = ------------------------------------ => E2 = 285mA•s
S.F.D12 (700mm)2
Χρόνος έκθεσης 1,86min και ένταση ρεύματος 5,6mA παράγει μία αποδεκτή
ακτινογραφία σε μία απόσταση πηγής - φιλμ 700mm. Ποιος είναι ο χρόνος έκθεσης για να
παραχθεί μία παρόμοια ακτινογραφία σε απόσταση πηγής - φιλμ 500mm.
Δίνονται:
T1: 1,86min
S.F.D1: 700mm
S.F.D2: 500mm
Λύση
Επιλύοντας την παραπάνω εξίσωση ως προς T2 έχουμε:
T1•S.F.D22 1,86•(500mm)2
T2 = ------------------- = ----------------------------- => Τ2 = 0,94min ή 56,4s
S.F.D12 (700mm)2
Μια έκθεση με ρεύμα γεννήτριας Χ στα 5,6mA και απόσταση πηγής - φιλμ 700mm
παράγει μία αποδεκτή ακτινογραφία. Στα πόσα mA πρέπει να ρυθμίσουμε την γεννήτρια,
εάν μεταβάλουμε την απόσταση πηγής - φιλμ στα 500mm;
Δίνονται:
C1: 5,6mA
S.F.D1: 700mm
S.F.D2: 500mm
Λύση
Επιλύοντας την παραπάνω εξίσωση ως προς C2 έχουμε:
C1•S.F.D22 5,6•(500mm)2
C2 = --------------- = ----------------------------- => C2 = 2,85mA
S.F.D12 (700mm)2
|483|
14.5 Σχέση έκθεσης – πυκνότητας ακτινογραφικού φιλμ
Όταν είναι αναγκαία η προσαρμογή της πυκνότητας του ακτινογραφικού φιλμ,

μπορεί να χρησιμοποιηθεί ο λόγος έκθεσης-πυκνότητας ακτινογραφικού φιλμ για να
εκτιμηθεί η απαραίτητη έκθεση, η οποία θα επιφέρει την αναμενόμενη μεταβολή της
ακτινογραφικής πυκνότητας. Στο ευθύγραμμο τμήμα της χαρακτηριστικής καμπύλης των
ακτινογραφικών φιλμ, φαίνεται ότι ο διπλασιασμός της έκθεσης επιφέρει διπλασιασμό
στην πυκνότητα του ακτινογραφικού φιλμ. Ως εκ τούτου, η ακόλουθη εξίσωση μπορεί να
χρησιμοποιηθεί για να εκτιμηθεί η μεταβολή της έκθεσης που απαιτείται για να παραχθεί η
επιδιωκόμενη αλλαγή στη ακτινογραφική πυκνότητα φιλμ. Ένας άλλος, πιο ακριβής
τρόπος υπολογισμού της έκθεσης είναι με τη χρήση της χαρακτηριστικής καμπύλης του
ακτινογραφικού φιλμ, κυρίως όταν η τιμή της μίας έκθεσης βρίσκεται εκτός του εύρους
του ευθύγραμμου τμήματος της χαρακτηριστικής καμπύλης.
Ε1 Ε2
----------------- = -----------------
FD1 FD2
*
Αυτή η εξίσωση είναι προσεγγιστική και ισχύει μόνο για το ευθύγραμμο τμήμα της χαρακτηριστικής
καμπύλης του ακτινογραφικού φιλμ.
Όπου:
E1: η έκθεση 1
FD1: η πυκνότητα του ακτινογραφικού φιλμ από την έκθεση 1
FD2: η πυκνότητα του ακτινογραφικού φιλμ από την έκθεση 2
Έστω ότι μια έκθεση 6mA•min επιφέρει ακτινογραφική πυκνότητα 1,5. Τι έκθεση
απαιτείται για να επιτευχθεί ακτινογραφική πυκνότητα 2,5; Θεωρούμε ότι και οι δύο
ακτινογραφικές πυκνότητες βρίσκονται εντός του εύρους του ευθύγραμμου τμήματος της
χαρακτηριστικής καμπύλης.
Δίνονται:
E1: 6mA•min
FD1: 1,5
FD2: 2,5
Λύση
Επιλύοντας την παραπάνω εξίσωση ως προς E2 έχουμε:
Ε1•FD2 6mA•min•2,5
E2 = --------------- = ------------------------- => E2 = 10mA•min
FD1 1,5
|484|
14.6 Ρύθμιση της έκθεσης για την παραγωγή διαφορετικής ακτινογραφικής
πυκνότητας
Ας υποθέσουμε ότι το φιλμ A της Εικόνας 14.8 εκτέθηκε σε 140keV και 1mA για
10s και το προκύπτον ακτινογραφικό φιλμ έχει πυκνότητα 1,0. Οι προδιαγραφές απαιτούν
συνήθως, η πυκνότητα να είναι πάνω από 2,0. Από την χαρακτηριστική καμπύλη του φιλμ
(Εικόνα 14.8 αριστερά), εντοπίζονται οι σχετικές εκθέσεις της πραγματικής και της
επιθυμητής πυκνότητας και η αναλογία αυτών των δύο τιμών χρησιμοποιείται για να
ρυθμιστεί η νέα έκθεση.
Από το αριστερό γράφημα της Εικόνας 14.8 καθορίζουμε πρώτα τη διαφορά μεταξύ
της σχετικής έκθεσης της πραγματικής και της επιθυμητής πυκνότητας. Τίθεται ο στόχος
για επίτευξη πυκνότητας 2,5. Από το διάγραμμα προκύπτει ότι για πυκνότητα 1,0 η
λογαριθμική σχετική έκθεση είναι 1,62 (Ε1) και για πυκνότητα 2,5 την οποία στοχεύουμε, η
λογαριθμική σχετική έκθεση είναι 2,12 (Ε2). Η διαφορά μεταξύ των δύο λογαριθμικών
σχετικών εκθέσεων είναι 0,5.
Συνεπώς προκύπτει ότι: log E2-log E1 = 2,12-1,62 = 0,5
Από τους λογαρίθμους γνωρίζουμε ότι y = logbx δηλαδή x = logb-1(y) =by (αντιλογάριθμος)
Συνεπώς 100,5 = 3,16.
Ως εκ τούτου, η αρχική έκθεση με πυκνότητα 1 πρέπει να πολλαπλασιαστεί 3,16
φορές για να επιτευχθεί πυκνότητα 2,5. Η τιμή της αρχικής πραγματικής έκθεσης ήταν
10mA•s (1mA για 10s ή 10mA για 1s), συνεπώς η νέα έκθεση πρέπει να είναι 10mA•s x
3,16 ή 31,6mA•s σε 140keV.
Εικόνα 14.8: Χρήση χαρακτηριστικής καμπύλης
14.7 Ρύθμιση της έκθεσης για τη χρήση διαφορετικού τύπου ακτινογραφικού φιλμ
Για τη ρύθμιση της έκθεσης κατά την εναλλαγή δύο διαφορετικών τύπων
ακτινογραφικού φιλμ χρησιμοποιείται η χαρακτηριστική καμπύλη του ακτινογραφικού
φιλμ. Η θέση των χαρακτηριστικών καμπυλών των διαφόρων φιλμ κατά μήκος του άξονα
Χ, σχετίζεται με την ταχύτητα του ακτινογραφικού φιλμ.
Όσο πιο δεξιά απεικονίζεται η χαρακτηριστική καμπύλη στο γράφημα, τόσο πιο
αργή είναι η ταχύτητα του ακτινογραφικού φιλμ. Σημειώνεται ότι οι δύο καμπύλες που
πρόκειται να χρησιμοποιηθούν πρέπει να έχουν παραχθεί με την ίδια ενέργεια
ακτινοβολίας (keV).
|485|
Ας υποθέσουμε ότι μια αποδεκτή ακτινογραφία με πυκνότητα 2,5 παρήχθη
εκθέτοντας το φιλμ A για 30 δευτερόλεπτα σε 1mA (30mA•s) σε 130keV. Θα πρέπει να
ακτινογραφήσουμε το δοκίμιο με το φιλμ Β.
Η έκθεση μπορεί να ρυθμιστεί ακολουθώντας την παραπάνω μέθοδο, εφόσον οι δύο
χαρακτηριστικές καμπύλες παρήχθησαν με περίπου την ίδια ποιότητα ακτινοβολίας. Για το
συγκεκριμένο παράδειγμα, οι χαρακτηριστικές καμπύλες των ακτινογραφικών φιλμ Α και
Β απεικονίζονται στο διάγραμμα που δείχνει τη σχετική έκθεση σε λογαριθμική κλίμακα.
Η σχετική έκθεση που παρήγαγε μια πυκνότητα 2,5 στο ακτινογραφικό φιλμ Α είναι 68.
Η σχετική έκθεση που παρήγαγε μια πυκνότητα 2,5 στο ακτινογραφικό φιλμ Β είναι 140.
Η σχετική έκθεση του ακτινογραφικού φιλμ Β είναι περίπου διπλάσια από εκείνη του A ή
για μεγαλύτερη ακρίβεια 2,06 φορές μεγαλύτερη.
Ως εκ τούτου, για να παραχθεί μια ακτινογραφία με πυκνότητα 2,5 με το
ακτινογραφικό φιλμ Β, η έκθεση πρέπει να είναι 30mA•s x 2,06 ή 61,8mA•s.
14.8 Η χρήση της χαρακτηριστικής καμπύλης με το διάγραμμα έκθεσης
Στο ακόλουθο παράδειγμα η τάση της γεννήτριας και η απόσταση πηγής - φιλμ
(S.F.D) θεωρούνται σταθερές, ενώ η επεξεργασία του φιλμ ολοκληρώθηκε σε αυτόματο
εμφανιστήριο και εμφανιστή G135 στους 28°C και κύκλο επεξεργασίας 8min.
Παράδειγμα της επίδρασης του πάχους του αντικειμένου στην πυκνότητα του
ακτινογραφικού φιλμ.
Απαιτείται ακτινογράφηση χάλυβα πάχους 12 και 15mm σε ακτινογραφικό φιλμ
D7. Το παρακάτω διάγραμμα έκθεσης δείχνει ότι στα 160keV και σε απόσταση S.F.D
70cm, χρησιμοποιώντας 10mA•min, θα λάβουμε πυκνότητα ακτινογραφικού φιλμ 2 για
πάχος αντικειμένου 15mm.
Ερώτηση
Τι πυκνότητα ακτινογραφικού φιλμ θα λάβουμε εάν ακτινογραφήσουμε αντικείμενο
πάχους 12mm στις ίδιες συνθήκες ακτινογράφησης;
Φιλμ: D7
Υλικό: χάλυβας
Πυκνότητα: 2,0
S.F.D: 70cm
Ενισχυτικές πλάκες: 0,02mm μολύβδου
Αυτόματο εμφανιστήριο με εμφανιστή G135 στους 28°C και κύκλο επεξεργασίας 8min.
Εικόνα 14.9: Διάγραμμα έκθεσης και χαρακτηριστική καμπύλη φιλμ D7
|486|
Απάντηση
Το παραπάνω διάγραμμα έκθεσης δείχνει ότι για πυκνότητα D = 2,0 σε

ακτινογραφικό φιλμ D7 και για πάχος αντικειμένου 15mm από χάλυβα, απαιτείται έκθεση
10mA•min (σημείο Α του διαγράμματος).
Υπό τις ίδιες συνθήκες ακτινογράφησης, το αντικείμενο πάχους 12mm θα απαιτήσει
έκθεση 5mA•min (σημείο Β στο διάγραμμα), δηλαδή λόγο έκθεσης 10/5.
Η έκθεση στο αντικείμενο πάχους 12mm είναι δύο φορές μεγαλύτερη από αυτή στο
αντικείμενο πάχους 15mm. Ο λογάριθμος αυτής της αναλογίας ισούται με: 0,3 (log1010/5 =
log102 = 0,3).
Η χαρακτηριστική καμπύλη του παραπάνω διαγράμματος για ακτινογραφικό φιλμ
D7 δείχνει ότι πυκνότητα ακτινογραφικού φιλμ 2,0 αντιστοιχεί σε λογαριθμική σχετική
έκθεση 2,2 (σημείο C του διαγράμματος).
Στα 12mm, η λογαριθμική σχετική έκθεση (log. rel. exp.) είναι: 2,2+0,3 = 2,5.
Η αντίστοιχη πυκνότητα για λογαριθμική σχετική έκθεση 2,5 είναι 3,5 (σημείο Δ
του διαγράμματος).
Παράδειγμα της επίδρασης της έκθεσης στην αντίθεση του ακτινογραφικού φιλμ.
Ας υποθέσουμε ότι μια έκθεση 15mA•min χρησιμοποιείται σε μία ακτινογράφηση

με ακτινογραφικό φιλμ D7 και τόσο η πυκνότητα όσο και η αντίθεση του ακτινογραφικού
φιλμ προέκυψαν αρκετά χαμηλές μετά την επεξεργασία του ακτινογραφικού φιλμ. Η
υψηλότερη και χαμηλότερη πυκνότητα του ακτινογραφικού φιλμ είναι μόνο 1,5 και 0,5
αντίστοιχα. Η πρόθεση μας ήταν να πετύχουμε πυκνότητα ακτινογραφικού φιλμ 3,0.
Ερώτηση
Πόσος χρόνος έκθεσης θα απαιτηθεί για την ίδια ένταση ακτινοβολίας και πόση
αύξηση της αντίθεσης θα μπορούσε να επιτευχθεί;
Εικόνα 14.10: Χαρακτηριστική καμπύλη ακτινογραφικού φιλμ D7
|487|
Απάντηση
Από τη χαρακτηριστική καμπύλη φαίνεται ότι για τις πυκνότητες 1,5 και 0,5, οι
αντίστοιχες τιμές της λογαριθμικής σχετικής έκθεσης είναι 2,15 και 1,65.
Δεδομένου ότι δεν πρέπει ξεπεράσουμε την τιμή 3,0 της ακτινογραφικής
πυκνότητας, η περιοχή που έδωσε πυκνότητα 1,5 στην πρώτη έκθεση θα πρέπει τώρα να
εμφανίζει τιμή ακτινογραφικής πυκνότητας όχι μεγαλύτερη από 3,0.
Από τη χαρακτηριστική καμπύλη διαπιστώνουμε ότι πυκνότητα 3,0 αντιστοιχεί σε
λογαριθμική σχετική έκθεση 2,45 και η διαφορά μεταξύ των δύο τιμών είναι
2,45-2,15 = 0,3.
Αυτό σημαίνει ότι ο χρόνος έκθεσης πρέπει να διπλασιαστεί (100,3 ≈ 2), δηλαδή:
2•15mA•min = 30mA•min.
Εάν διπλασιαστεί ο χρόνος έκθεσης, η λογαριθμική σχετική έκθεση της
χαμηλότερης τιμής πυκνότητας που μετρήθηκε αρχικά θα αυξηθεί κατά 0,3 δηλαδή
1,65+0,3 = 1,95. Η αντίστοιχη τιμή της πυκνότητας από το διάγραμμα προκύπτει ότι είναι
1,0.
Η μέση κλίση της χαρακτηριστικής καμπύλης μεταξύ της μεγαλύτερης και της
μικρότερης πυκνότητας της αρχικής ακτινογραφίας ήταν (1,5-0,5)/(2,15-1,65) = 2,0.
Η μέση κλίση της χαρακτηριστικής καμπύλης για τη νέα ακτινογραφία είναι
(3,0-1,0)/(2,45-1,95) = 4,0. Συνεπώς η μέση τιμή της αντίθεσης θα διπλασιαστεί.
14.9 Υπολογισμός μεγέθυνσης
Κάποιες φορές είναι αναγκαίο η απόσταση μεταξύ του αντικειμένου και του
ακτινογραφικού φιλμ να μεγαλώνει ώστε να επιτυγχάνεται μεγέθυνση στην απεικόνιση του
αντικειμένου στο ακτινογραφικό φιλμ. Η μεγέθυνση είναι ιδιαίτερα χρήσιμη όταν το
αντικείμενο που πρόκειται να ακτινογραφηθεί και οι λεπτομέρειες που εμπεριέχονται σε
αυτό είναι πολύ μικρές. Επίσης, βοηθά τον ενδιαφερόμενο να δει κάποιο χαρακτηριστικό
που σε άλλη περίπτωση θα ήταν πολύ μικρό για να το διακρίνει. Βέβαια, η μεγέθυνση
προκαλεί μείωση της ευκρίνειας της εικόνας διότι μεγεθύνει τη γεωμετρική δυσκρίνεια.
Γενικά, όσο μεγαλύτερη είναι η απόσταση αντικειμένου - φιλμ, τόσο μεγαλύτερη είναι η
μεγέθυνση που πετυχαίνουμε. Η μεγέθυνση μπορεί να υπολογιστεί χρησιμοποιώντας τον
ακόλουθο τύπο.
S.O.D + O.F.D
M = ----------------------------
S.O.D
Όπου:
Μ: η μεγέθυνση
S.O.D: η απόσταση πηγής - αντικειμένου
O.F.D: η απόσταση αντικειμένου - φιλμ
Υπολογίστε την γεωμετρική μεγέθυνση όταν η απόσταση πηγής - αντικειμένου

80cm και η απόσταση αντικειμένου - φιλμ είναι 30cm.
Δίνονται:
S.O.D: 80cm
O.F.D: 30cm
|488|
Λύση
Επιλύοντας την παραπάνω εξίσωση έχουμε:

M = (S.O.D+O.F.D)/S.O.D = (80cm+30cm)/80cm => M = 1,375.
Εικόνα 14.11
14.10 Υπολογισμός της δέσμης κάλυψης
Η γωνία δέσμης του κώνου που παράγεται από μία γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ
καθορίζει την απόσταση μεταξύ της γεννήτριας και του αντικειμένου που απαιτείται έτσι
ώστε να αποτυπωθεί ολόκληρο ή μέρος του αντικειμένου που ακτινογραφούμε.
Εάν η κωνική δέσμη διαιρεθεί στο μισό, τότε για το ορθογώνιο τρίγωνο που
προκύπτει ισχύει:
b = S.O.D • εφ (θ°/2)
Λόγω του ότι Χ = 2•b και b = S.O.D•εφ (θ°/2) προκύπτει ότι X = 2•S.O.D•εφ (θ°/2)
Εικόνα 14.12: Δέσμη κάλυψης
|489|
Παράδειγμα
Υπολογίστε τη διάμετρο της περιοχής κάλυψης της παρακάτω γεννήτριας

παραγωγής ακτίνων Χ όταν το αντικείμενο είναι τοποθετημένο σε απόσταση 500mm από
την πηγή.
Δίνονται:
θ° = 60°
S.O.D = 500mm
Εικόνα 14.13: Γεννήτρια παραγωγής ακτίνων Χ
Λύση
Περιοχή κάλυψης (X) = 2•S.O.D•εφ θ°/2 => Χ = 2•500•0,577 => Χ = 577mm
14.11 Προσδιορισμός του βάθους της ασυνέχειας
Οι δύο βασικοί τρόποι εντοπισμού της θέσης (σε βάθος) μίας ασυνέχειας μέσα σε
ένα δοκίμιο είναι η μέθοδος της στερεογραφίας (stereo radiography) και η μέθοδος της
παράλλαξης (parallax method ή tube shift method). Η μέθοδος της παράλλαξης μπορεί να
εφαρμοστεί όταν ο εντοπισμός του βάθους της ασυνέχειας σε επισκευαστικές εργασίες
είναι κρίσιμος, καθώς και σε δοκίμια μεγάλου πάχους, για παράδειγμα πάνω από 50mm.
Ωστόσο χρησιμοποιείται σπανίως καθώς η μέθοδος των υπερήχων μπορεί να δώσει
αξιόπιστα αποτελέσματα ταχύτερα και οικονομικότερα. Η μέθοδος χρησιμοποιείται αφού
έχουμε ανιχνεύσει την ασυνέχεια. Εφαρμόζονται δύο εκθέσεις (1/2 της συνολικής έκθεσης
για κάθε έκθεση), σημειώνοντας τη μεταξύ τους απόσταση (Sd) έτσι ώστε να λάβουμε
διπλή εικόνα (double image) σε ένα φιλμ.
Η θέση του βάθους υπολογίζεται με τον τύπο:
(Fd • S.F.D)
d = -----------------------------
(Sd + Fd)
Όπου:
d: το βάθος της ασυνέχειας μετρούμενο από την πλευρά του φιλμ
Fd: η απόσταση των ενδείξεων της ασυνέχειας στο φιλμ μετά τις δύο εκθέσεις
Sd: η απόσταση μεταξύ της πρώτης και της δεύτερης έκθεσης
|490|
Εικόνα 14.14: Μέθοδος της παράλλαξης (Parallax method)
Η μέθοδος της στερεογραφίας για τον προσδιορισμό του βάθους είναι πιο σύνθετη
και απαιτούνται δύο ξεχωριστά φιλμ τα οποία στην συνέχεια ερμηνεύονται ταυτόχρονα με
τη χρήση καθρεφτών. Ωστόσο χρησιμοποιείται σπάνια.
|491|
15. ΕΝΔΕΙΚΤΕΣ ΠΟΙΟΤΗΤΑΣ ΕΙΚΟΝΑΣ
(IMAGE QUALITY INDICATOR - IQI)
Στο παρελθόν θεωρείτο αποδεκτό ότι για να εκτιμηθεί η πιο μικρή ανιχνεύσιμη
ασυνέχεια, αρκούσε να τοποθετηθεί ένας δείκτης ποιότητας εικόνας ανάλογου πάχους στο
επιθεωρούμενο αντικείμενο κατά τη διάρκεια της έκθεσης. Αυτή η διαδικασία υποτίθεται
εγγυόταν ότι θα μπορούσαν να ανιχνευθούν οι ασυνέχειες ορισμένου μεγέθους,
εκφραζόμενες σε ποσοστό του πάχους του υλικού. Στην πράξη ωστόσο αποδείχθηκε ότι
αυτό ήταν ανέφικτο. Ειδικότερα στην περίπτωση πολύ μικρών ρηγμάτων, δε μπορεί ποτέ
να υπάρξει εγγύηση ότι αυτά πράγματι απουσιάζουν όταν δεν αποτυπωθούν οι ενδείξεις
τους στο ακτινογραφικό φιλμ.
Ωστόσο, είναι λογικό να αναμένεται ότι τουλάχιστον η ποιότητα των
ακτινογραφιών και φυσικά όλη η υπόλοιπη διαδικασία, όπως για παράδειγμα η
επεξεργασία του φιλμ, πληροί ορισμένες προϋποθέσεις. Η πιθανότητα ανίχνευσης
ασυνεχειών είναι υψηλή και συνεπώς είναι πιο εύκολο να εντοπιστούν όταν η ποιότητα της
ακτινογραφικής απεικόνισης είναι υψηλή.
Για να είναι σε θέση να εκτιμηθεί και να προσδιοριστεί και ποσοτικά η ποιότητα της
ακτινογραφίας, πρέπει να μετατραπεί σε μια αριθμητική τιμή με τη χρήση ενδεικτών
ποιότητας εικόνας (IQI). Οι ενδείκτες ποιότητας εικόνας είναι ευρύτερα γνωστοί στις
Η.Π.Α ως πενετράμετρα (penetrameters). Οι ενδείκτες ποιότητας εικόνας αποτελούνται
συνήθως από μια σειρά συρμάτων αυξανόμενου πάχους ή μια σειρά από μικρές πλάκες
διαφορετικού πάχους με ενσωματωμένες οπές αυξανόμενης διαμέτρου και τοποθετούνται
κάθετα στον άξονα της συγκόλλησης από την πλευρά της πηγής.
Αν και οι τεχνικές τους περιγράφονται διαφορετικά μέσα από τους κώδικες και τις
προδιαγραφές, εν τούτοις συμφωνούν στα ακόλουθα βασικά σημεία:
• Ένας δείκτης ποιότητας εικόνας πρέπει να τοποθετείται στην επιφάνεια του
αντικειμένου από την πλευρά της πηγής σε σχέση με το τμήμα που υποβάλλεται σε
έλεγχο.
• Εάν δεν είναι δυνατή η τοποθέτησή στην πλευρά της πηγής, τότε μπορεί να
τοποθετηθεί στην πλευρά του φιλμ και να υποδεικνύεται με τη χρήση
μολυβδογράμματος «F» ακριβώς δίπλα στη σήμανση «ενδείκτες ποιότητας εικόνας»
(Ε.Π.Ε).
• Το υλικό του δείκτη ποιότητας εικόνας πρέπει να είναι ίδιο με το επιθεωρούμενο
υλικό.
Η ποιότητα απεικόνισης μίας ακτινογραφίας ορίζεται ως ο αριθμός του λεπτότερου
ορατού σύρματος. Η ποιότητα απεικόνισης μπορεί επίσης να εκφραστεί ως ποσοστό του
πάχους του αντικειμένου που ακτινογραφήθηκε. Αν για παράδειγμα η διάμετρος του
λεπτότερου ορατού σύρματος είναι 0,2mm και το πάχος υλικού στο σημείο της έκθεσης
είναι 10mm, τότε μπορεί να αναφέρεται ως ποιότητα εικόνας 2%.
Όπως τονίστηκε παραπάνω, η χρήση ενός δείκτη ποιότητας εικόνας δεν εγγυάται
τον εντοπισμό ασυνέχειας συγκρίσιμου μεγέθους. Θα ήταν λάθος να πούμε ότι επειδή ένα
σύρμα 2% του πάχους του αντικειμένου μπορεί να αποτυπωθεί στο ακτινογραφικό φιλμ,
μια ρωγμή παρόμοιου μεγέθους μπορεί επίσης να ανιχνευθεί. Όπως ήδη έχουμε αναφέρει,
ο προσανατολισμός της ασυνέχειας έχει καθοριστικό ρόλο στην ανιχνευσιμότητά της.
Η ευαισθησία της προκύπτουσας ακτινογραφίας, ισούται με την αριθμητική τιμή
του πάχους του μικρότερου σύρματος διαιρούμενο με το πάχος του αντικειμένου στην
περιοχή που ακτινογραφήθηκε.
Κάποιες προδιαγραφές απλά καθορίζουν τον ελάχιστο αριθμό των συρμάτων που
είναι ορατά στο ακτινογραφικό φιλμ.
|492|
Thickness of thinnest wire visible • 100
IQI Sensitivity% = ------------------------------------------------------------------
Thickness of specimen
Σύμφωνα με τον παραπάνω τύπο, όσο μικρότερη είναι η αριθμητική τιμή της
ευαισθησίας, τόσο μεγαλύτερη είναι η ευαισθησία.
Υπάρχουν διάφοροι τύποι IQI, αλλά οι τέσσερις από αυτούς που χρησιμοποιούνται
πιο συχνά είναι:
• Ο τύπος σύρματος (wire type) (χρησιμοποιείται στις περισσότερες Ευρωπαϊκές
χώρες).
• Ο τύπος οπών (step/hole type) (χρησιμοποιείται περιστασιακά στη Γαλλία, αλλά
γενικά αποδεκτός είναι ο τύπος σύρματος).
• Μικρές πλάκες με οπές (small plates with drilled holes) (χρησιμοποιούνται στον
ASME αν και πλέον ο τύπος σύρματος είναι επίσης αποδεκτός).
• Duplex IQI.
Η περιγραφή και η προέλευση των βασικότερων τύπων δεικτών ποιότητας εικόνας

μπορεί να βρεθεί στα παρακάτω πρότυπα:
EN 462-01 Europe
BS 3971 Great Britain
ASTM 747 USA
ASTM 1025 USA
AFNOR NF A04-304 France
Και οι δύο τύποι ASTM 747 και ASTM 1025 έχουν αναπτυχθεί και τυποποιηθεί
στις Η.Π.Α και χρησιμοποιούνται πλέον παγκοσμίως.
Εικόνα 15.1: Ενδείκτες ποιότητας εικόνας
|493|
15.1 Ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου σύρματος (Wire type IQI ) σύμφωνα με
το πρότυπο EN 462-1
Σύμφωνα με το πρότυπο EN 462-1, οι ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου σύρματος

(Ε.Π.Ε) κατηγοριοποιούνται σε τέσσερις τύπους. Κάθε ένας από αυτούς αποτελείται από
επτά σύρματα διαφορετικής διαμέτρου και ίσης απόστασης μεταξύ τους.
Τα σύρματα του συγκεκριμένου τύπου IQI κατασκευάζονται από χάλυβα,
αλουμίνιο, τιτάνιο ή χαλκό, ανάλογα με τον τύπο του υλικού που πρόκειται να εξεταστεί.
Σε κάθε ενδείκτη ποιότητας εικόνας, το υλικό του σύρματος υποδεικνύεται με τον
αντίστοιχο συμβολισμό: Fe για το χάλυβα, Αl για αλουμίνιο, Ti για τιτάνιο και Cu για τον
χαλκό.
Σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ 462-1, οι Ε.Π.Ε τύπου σύρματος βασίζονται σε μία
σειρά δεκαεννέα συρμάτων διαφορετικών διαμέτρων όπως φαίνεται στον Πίνακα 15.2. Η
σειρά έχει κατηγοριοποιηθεί σε τέσσερις επικαλυπτόμενες κατηγορίες των επτά συρμάτων
η καθεμιά. Αναλυτικότερα, οι κατηγορίες έχουν ως εξής: W1 έως W7, W6 έως W12, W10
έως W16 και W13 έως W19. Τα σύρματα τοποθετούνται παράλληλα μεταξύ τους και το
μήκος τους είναι 10mm, 25mm και 50mm.
Για τους Ε.Π.Ε τύπου σύρματος σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ 462-3, ο αριθμός του
λεπτότερου σύρματος, που είναι ακόμη ορατό στην ακτινογραφία, λαμβάνεται ως η
επιτευχθείσα τιμή ποιότητας απεικόνισης. Η απεικόνιση του σύρματος είναι αποδεκτή ως
ορατή μόνο εάν είναι καθαρά ορατό ένα συνεχές μήκος τουλάχιστον 10mm, σε μία περιοχή
ομοιόμορφης πυκνότητας.
Γενικά, η τιμή της ποιότητας απεικόνισης πρέπει να προσδιορίζεται για κάθε
ακτινογραφία. Εάν έχουν ληφθεί μέτρα, ώστε να είναι σίγουρο ότι παράγονται
ακτινογραφίες παρόμοιων αντικειμένων και περιοχών ελέγχου, με ταυτόσημη έκθεση και
τεχνικές εμφάνισης και δεν είναι πιθανή καμία διαφορά στην τιμή ποιότητας απεικόνισης,
τότε η τελευταία δε χρειάζεται να επαληθεύεται για κάθε ακτινογραφία. Σημειώνεται ότι η
έκταση επαλήθευσης της ποιότητας απεικόνισης είναι αντικείμενο μεταξύ των
συμβαλλόμενων μερών.
Εικόνα 15.2: IQI (Wire type)
|494|
Πίνακας 15.1: Κατηγορίες Ε.Π.Ε τύπου σύρματος
15.2 Ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου βαθμίδας/οπής (Step/hole type IQI )

σύμφωνα με το πρότυπο EN 462-2
Σύμφωνα με το πρότυπο EN 462-2, ο συγκεκριμένος τύπος βασίζεται σε ένα

σύστημα δεκαοχτώ διαφορετικών βαθμίδων και οπών (Η1 έως Η18). Οι τελευταίες έχουν
κατηγοριοποιηθεί σε τέσσερις κατηγορίες αποτελούμενες από έξι διαδοχικές οπές και
βαθμίδες. Αναλυτικότερα οι κατηγορίες έχουν ως εξής: Η1 έως Η6, Η5 έως Η10, Η9 έως
Η14 και Η13 έως Η18.
Βαθμίδες με πάχος μικρότερο των 0,8mm πρέπει να περιέχουν δύο οπές της ίδιας
διαμέτρου, ενώ βαθμίδες ίσες ή μεγαλύτερες από 0,8mm πρέπει να περιέχουν μία οπή. Η
μικρότερη απόσταση από το κέντρο της οπής έως το άκρο της βαθμίδας ή της άλλης οπής
της ίδιας βαθμίδας, πρέπει να ισούται με τη διάμετρο της οπής αυξημένη κατά 1mm. Οι
οπές πρέπει να βρίσκονται κάθετα στην επιφάνεια χωρίς να έχουν λοξοτομημένα άκρα.
Σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ 462-2, η επιλογή των ενδεικτών ποιότητας εικόνας γίνεται
σύμφωνα με το υλικό και το πάχος του εξεταζόμενου αντικειμένου.
Για τους Ε.Π.Ε τύπου βαθμίδας/οπής σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ 462-3, ο αριθμός
της μικρότερης οπής που είναι ορατή στην ακτινογραφία πρέπει να λαμβάνεται ως η τιμή
ποιότητας απεικόνισης. Όταν η βαθμίδα περιέχει δύο οπές, πρέπει να είναι ορατές και οι
δύο.
Εικόνα 15.3: IQI (Step/hole)
|495|
Πίνακας 15.2: Κατηγορίες Ε.Π.Ε τύπου βαθμίδας/οπής
15.3 Ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου οπής σύμφωνα με τον ASTM 1025 USA
Οι πλάκες έχουν σήμανση η οποία υποδεικνύει το πάχος σε χιλιοστά της ίντσας.

Κάθε πλάκα έχει τρεις οπές διαμέτρων 1Τ, 2Τ και 4Τ, όπου Τ το πάχος της πλάκας. Αρχικά
ήταν συνήθης πρακτική να χρησιμοποιείται μία πλάκα στο 2% του πάχους του
αντικειμένου. Σήμερα χρησιμοποιούνται επίσης πλάκες 1% και 4% του πάχους του
αντικειμένου.
Τουλάχιστον τρεις πλευρές της πλάκας πρέπει να είναι ορατές στη ακτινογραφία. Το
πάχος του πενετράμετρου σε σχέση με το πάχος του αντικειμένου ορίζει την ευαισθησία
αντίθεσης (contrast sensitivity). Το μέγεθος της μικρότερης ορατής οπής ορίζει την
ευαισθησία της λεπτομέρειας (detail sensitivity).
Πίνακας 15.1
Επίπεδο Ισοδύναμο (%) Επίπεδο Ισοδύναμο (%)
1 - 1T 0,7 2 - 2T 2,0
1 - 2T 1,0 2 - 4T 2,8
2 - 1T 1,4 4 - 2T 4,0
Εικόνα 15.4: IQI (ASTM 1025 USA)
|496|
15.4 AFNOR NF A04-304 France
Η προέλευση των συγκεκριμένων τύπων Ε.Π.Ε είναι γαλλική. Πρόκειται για

μεταλλικά πλακίδια διαφορετικής βαθμίδας και ίδιου υλικού με το επιθεωρούμενο
αντικείμενο. Το πάχος της κάθε βαθμίδας αυξάνεται με αριθμητική πρόοδο. Κάθε βαθμίδα
έχει μία ή περισσότερες οπές με διάμετρο ίση με το πάχος της.
Οι πιο κοινοί τύποι είναι ορθογώνια πλακίδια με τετράγωνες βαθμίδες, διαστάσεων
15•15mm και εξαγωνικά πλακίδια με τριγωνικές βαθμίδες διαστάσεων 14mm. Βαθμίδες
λεπτότερες από 0,8mm έχουν δύο οπές της ίδιας διαμέτρου. Μία βαθμίδα θεωρείται ορατή
όταν όλες οι οπές της αποτυπώνονται καθαρά στο ακτινογραφικό φιλμ.
Το γαλλικό πρότυπο AFNOR NF A04-304 περιλαμβάνει μια προσθήκη, η οποία
ορίζει το «δείκτη ορατότητας» (index of visibility).
Σε κάθε ακτινογραφία καταγράφονται τα εξής:
Ο αριθμός των ορατών οπών (a) και ο αριθμός των οπών (b) διαμέτρου ίσης ή
μεγαλύτερης από το 5% του πάχους του αντικειμένου που ακτινογραφείται.
Ο δείκτης ορατότητας (Ν) δίνεται από τον τύπο: N = a-b.
Η τιμή του Ν μπορεί να είναι θετική, αρνητική ή μηδενική.
Η ποιότητα της εικόνας βελτιώνεται, όσο αυξάνεται η τιμή του Ν.
Εικόνα 15.5: IQI (AFNOR NF A04-304)
15.5 Ενδείκτες ποιότητας εικόνας τύπου διπλού σύρματος (DUPLEX IQI)
Ο Ε.Π.Ε διπλού σύρματος (DUPLEX IQI) περιγράφεται στο πρότυπο EN 462-5.

Αποτελείται από έναν αριθμό ζευγών (duplex) συρμάτων ή λεπτών λωρίδων από πλατίνα ή
βολφράμιο, με μέγεθος που σταδιακά μειώνεται και με φθίνουσα απόσταση για κάθε
ζεύγος. Αποτελείται από δεκατρία στοιχεία τοποθετημένα σε μία διαφανή, άκαμπτη,
πλαστική θήκη, ενώ κάθε στοιχείο αποτελείται από ένα ζεύγος συρμάτων κυκλικής
διατομής. Επίσης, το πάχος ενός ζεύγους συρμάτων είναι συνήθως ίσο με το διάκενο
ανάμεσα τους. Εάν ένα ζεύγος παράλληλων συρμάτων αποτυπώνεται ως ενιαίο σύρμα,
τότε διαπιστώνουμε ότι έχουμε χαμηλή ευκρίνεια ακτινογραφήματος. Η ακτινογραφική
αποτύπωση πρέπει να εξετάζεται με μεγεθυντικό φακό τετραπλάσιας ισχύος (x4). Κατά την
αξιολόγηση θέτουμε ως κριτήριο το μεγαλύτερο ζεύγος συρμάτων το οποίο απεικονίζεται
ως ενιαίο στο ακτινογραφικό φιλμ και αυτό θεωρείται ως κατώφλι διακριτικότητας.
Σύμφωνα με το ΕΝ 462-5, ισχύει U = 2d, όπου d: το πλάτος του σύρματος και η απόσταση
μεταξύ των συρμάτων κάθε ζεύγους.
Οι Ε.Π.Ε διπλού σύρματος (DUPLEX IQI) υπάρχουν εδώ και δεκαετίες, αλλά
πλέον δε χρησιμοποιούνται στη συμβατική ακτινογραφία λόγω του υψηλού κόστους και
|497|
της περιορισμένης δυνατότητας εφαρμογής τους. Ωστόσο, χρησιμοποιούνται όλο και
περισσότερο στην ψηφιακή ακτινογραφία γιατί είναι απολύτως κατάλληλοι για τον
προσδιορισμό της αντίθεσης, της ευκρίνειας και της δυσκρίνειας.
Τέλος, επισημαίνεται ότι οι Ε.Π.Ε διπλού σύρματος δεν αποτελούν εναλλακτική
μέθοδο Ε.Π.Ε τύπου σύρματος ή βαθμίδας/οπής, διότι αναφέρονται μόνο στην ασάφεια (ο
αριθμός του μεγαλύτερου διακρινόμενου στοιχείου σύμφωνα με τον πίνακα του ΕΝ 462-5).
Εικόνα 15.6: DUPLEX IQI
Είναι σημαντικό να κατανοήσουμε ότι οποιαδήποτε αποδεκτή τιμή Ε.Π.Ε βασίζεται

σε ένα συγκεκριμένο τύπο Ε.Π.Ε και στο πάχος του αντικειμένου που ακτινογραφείται.
Εφόσον η ευαισθησία του IQI εκφράζεται σε ποσοστό του πάχους του αντικειμένου, μία
μικρότερη αριθμητική τιμή υποδεικνύει μια υψηλότερη ακτινογραφική ευαισθησία και ως
εκ τούτου καλύτερη ποιότητα εικόνας.
Η επιλογή των Ε.Π.Ε ή και του αποδεκτού αριθμού συρμάτων τα οποία πρέπει να
είναι ορατά κατά την ερμηνεία γίνεται σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ISO 17636-1 και τους
πίνακες που εμπεριέχονται σε αυτό, ανάλογα με το πάχος του ελάσματος του δοκιμίου.
Εικόνα 15.7: Διαφορετικοί τύποι IQI.
|498|
Τεχνική απλού τοιχώματος. Ο Ε.Π.Ε στην πλευρά της πηγής.
Τεχνική διπλού τοιχώματος. Διπλή απεικόνιση. Ο Ε.Π.Ε στην πλευρά της πηγής.
Τεχνική απλού τοιχώματος. Απλή ή Διπλή απεικόνιση. Ο Ε.Π.Ε στην πλευρά του φιλμ.
|499|
16. ΠΡΟΤΕΙΝΟΜΕΝΕΣ ΤΕΧΝΙΚΕΣ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΗΣΗΣ ΣΥΜΦΩΝΑ ΜΕ ΤΟ
EN ISO 17636-1
Οι προτεινόμενες τεχνικές ακτινογράφησης αναφέρονται στο πρότυπο ΕΝ ISO

17636-1 και είναι οι ακόλουθες:
• Ακτινογράφηση μονής εικόνας μέσω ενός τοιχώματος (SINGLE WALL SINGLE
IMAGE): η ακτινοβολία περνά μέσα από ένα μόνο τοίχωμα του υλικού το οποίο
εξετάζεται για αποδοχή ή μη. To φιλμ τοποθετείται εσωτερικά, αν πρόκειται για
σωλήνα και η πηγή εξωτερικά.
• Ακτινογράφηση μονής εικόνας μέσω ενός τοιχώματος (SINGLE WALL SINGLE
IMAGE): η ακτινοβολία περνά μέσα από ένα μόνο τοίχωμα του υλικού το οποίο
εξετάζεται για αποδοχή ή μη. To φιλμ τοποθετείται εξωτερικά, αν πρόκειται για
σωλήνα και η πηγή εσωτερικά, ώστε να προκύψει η λεγόμενη πανοραμική λήψη.
• Ακτινογράφηση μονής εικόνας μέσω δυο τοιχωμάτων (DOUBLE WALL SINGLE
IMAGE): η ακτινοβολία περνά μέσω δύο τοιχωμάτων και εξετάζεται μόνο το
τοίχωμα το οποίο βρίσκεται στην πλευρά του φιλμ.
• Ακτινογράφηση διπλής εικόνας μέσω δυο τοιχωμάτων (DOUBLE WALL DOUBLE
IMAGE): η ακτινοβολία περνά μέσω δυο τοιχωμάτων και καταγράφονται και τα
δύο στη ακτινογραφία. Είναι η λεγόμενη ελλειπτική λήψη.
16.1 Μονή εικόνα μονό τοίχωμα / πανοραμική (single wall single image /
panoramic)
Στην περίπτωση αυτή η πηγή τοποθετείται στο εσωτερικό του σωλήνα και τα φιλμ
περιμετρικά της συγκόλλησης στην πλευρά της ενίσχυσης (καπάκι).
Εικόνα 16.1
16.2 Μονή εικόνα μονό τοίχωμα (single wall single image)
Η μέθοδος χρησιμοποιείται για διαμέτρους >100mm όπου υπάρχει πρόσβαση. Το

μόνο μειονέκτημα της τεχνικής αυτής είναι ο αριθμός των απαιτούμενων εκθέσεων.
Χρησιμοποιείται συνήθως σε σωλήνες μεγάλων διαμέτρων, δοχεία και δεξαμενές. Ο
ελάχιστος αριθμός εκθέσεων καθορίζεται στο πρότυπο ΕΝ ISO 17636-1.
|500|
Εικόνα 16.2
16.3 Διπλή εικόνα διπλό τοίχωμα ή ελλειπτική (double wall double image / elliptic)
Η τεχνική αυτή εφαρμόζεται για διαμέτρους D<100mm και πάχος τοιχώματος

t>8mm. Απαιτούνται τουλάχιστον δύο εκθέσεις (0ο και 90ο).
Εικόνα 16.3
Για τον υπολογισμό της απόστασης τοποθέτησης της πηγής από τον κεντρικό άξονα
της συγκόλλησης (offset) εφαρμόζουμε τον παρακάτω τύπο:
S.O.D
Offset = 1,2 • W • -----------------
De
Όπου:
Offset: η απόσταση τοποθέτησης της πηγής από τον κεντρικό άξονα της συγκόλλησης
W: το πλάτος συγκόλλησης
S.O.D: η απόσταση πηγής-αντικειμένου (μετρούμενη κάθετα)
De: η εξωτερική διάμετρος του σωλήνα
16.4 Διπλή εικόνα διπλό τοίχωμα ή κάθετη (double wall double image /
perpendicular)
Σύμφωνα με το πρότυπο ΕΝ ISO 17636-1 όταν είναι δύσκολο να εφαρμοστεί η

ελλειπτική τεχνική (Εικόνα 16.4), μπορεί να εφαρμοστεί η κάθετη τεχνική για διαμέτρους
D≤100mm αλλά, σε αυτή την περίπτωση απαιτούνται τρεις εκθέσεις ανά 120° ή 60°.
|501|
Εικόνα 16.4 Εικόνα 16.5
16.5 Διπλό τοίχωμα μονή εικόνα (double wall single image)
Η τεχνική αυτή (Εικόνα 16.5) εφαρμόζεται σε όλες τις περιπτώσεις που δε μπορεί
να εφαρμοστεί η πανοραμική έκθεση. Για συνήθεις περιπτώσεις, η πηγή τοποθετείται υπό
γωνία 85° περίπου ως προς την ευθεία της συγκόλλησης και του φιλμ. Ο ελάχιστος αριθμός
των εκθέσεων καθορίζεται στο πρότυπο ΕΝ ISO 17636-1.
|502|
17. ΠΡΟΤΥΠΕΣ ΑΚΤΙΝΟΓΡΑΦΙΕΣ
Inadequate Weld Reinforcement
Offset or Μismatch
Excessive Reinforcement
Internal Undercutting
|503|
External Undercutting
Suck Back
Slag
Porosity
|504|
Cluster Porosity
Cracks
Incomplete Penetration
Lack of Fusion
|505|
Cold Lap
Tungsten Inclusions
Oxide Inclusions
Burn – Through
|506|
Cavity Shrinkage Filamentary Shrinkage
Sponge Shrinkage Gas Porosity
Inclusions Sand Inclusions
Cracks Core Shifts
|507|
|508|
ΕΛΕΓΧΟΣ ΜΕ
ΥΠΕΡΗΧΟΥΣ
|509|
|510|
1. ΕΙΣΑΓΩΓΗ
Ο έλεγχος με υπερήχους χρησιμοποιείται στη βιομηχανία πάνω από εξήντα χρόνια.

Οι νόμοι της φυσικής που διέπουν τη διάδοση των ηχητικών κυμάτων υψηλής συχνότητας
μέσα σε ένα στερεό υλικό, χρησιμοποιούνται για την ανίχνευση ασυνεχειών όπως ρήγματα,
πόρους, εσωτερικές ασυνέχειες σε μέταλλα, σύνθετα υλικά, πλαστικά και κεραμικά, αλλά
και για τη μέτρηση του πάχους τους και την ανάλυση των ιδιοτήτων τους. Ο έλεγχος με
υπερήχους είναι ένας κατεξοχήν Μη Καταστροφικός Έλεγχος, ασφαλής στη χρήση του.
Αποτελεί έναν καθιερωμένο έλεγχο σε πολλές βιομηχανικές εφαρμογές, κυρίως σε αυτές
που περιλαμβάνουν συγκολλήσεις μετάλλων.
Η ανάπτυξη του ελέγχου με υπερήχους παράλληλα με τις εξελίξεις στο χώρο της
ηλεκτρονικής και αργότερα των υπολογιστών έδωσε νέα ώθηση στο συγκεκριμένο Μη
Καταστροφικό Έλεγχο. Οι αρχικές μελέτες στην Ευρώπη και τις Ηνωμένες Πολιτείες
Αμερικής τη δεκαετία του 1930 απέδειξαν ότι τα ηχητικά κύματα υψηλής συχνότητας
μπορούν να προκαλούν αντηχήσεις όταν προσπίπτουν σε ασυνέχειες ή στα όρια ενός
υλικού, παράγοντας κυματομορφές οι οποίες απεικονίζονται στην οθόνη ενός
παλμογράφου.
Η ανάπτυξη των ραντάρ κατά τη διάρκεια του Δευτέρου Παγκοσμίου Πολέμου
βοήθησε στην περαιτέρω έρευνα των υπερήχων. Το 1945 o Αμερικανός επιστήμονας Floyd
Firestone από το Πανεπιστήμιο του Michigan κατοχύρωσε με δίπλωμα ευρεσιτεχνίας μια
συσκευή που ονομάστηκε Supersonic Reflectoscope. Η συγκεκριμένη συσκευή έγινε
γνωστή ως ο πρώτος εμπορικός υπερηχητικός ανιχνευτής ασυνεχειών ο οποίος στηρίζεται
στην τεχνική παλμού - ηχούς, τεχνική η οποία χρησιμοποιείται έως τις μέρες μας.
Στα τέλη της δεκαετίας του 1940, ερευνητές στην Ιαπωνία καινοτόμησαν με τη
χρήση των υπερήχων στη διαγνωστική ιατρική. Χρησιμοποίησαν εξοπλισμό Β σάρωσης
(B-Scan) ο οποίος παρείχε μια δισδιάστατη εικόνα της τομής των στρωμάτων του ιστού. Οι
πρώτες εκδόσεις των ιατρικών σαρωτών χρησιμοποιούνταν ήδη από τη δεκαετία του 1960
για την ανίχνευση και την περιγραφή ασθενειών όπως οι όγκοι και οι πέτρες στη χολή. Στη
δεκαετία του 1970, η μέθοδος των υπερήχων χρησιμοποιήθηκε κυρίως στη μέτρηση του
πάχους των εξαρτημάτων σε περιπτώσεις όπου υπήρχε πρόσβαση μόνο από τη μία πλευρά,
αλλά και για τη μέτρηση του εναπομείναντος πάχους τοιχωμάτων σε μεταλλικούς αγωγούς
και δεξαμενές.
Οι τελευταίες εξελίξεις στο χώρο των υπερήχων αφορούν στις τεχνικές
επεξεργασίας ψηφιακών σημάτων και στη μείωση του κόστους των μικροεπεξεργαστών
που ξεκίνησε τη δεκαετία του 1980. Αυτό οδήγησε στην τελευταία γενιά ανιχνευτών με
αξιόπιστες φορητές συσκευές και συστήματα ελέγχου σε πραγματικό χρόνο για την
ανίχνευση ασυνεχειών, τη μέτρηση του πάχους και την απεικόνιση των ηχητικών κυμάτων.
1.1 Ιστορική αναδρομή
Ο Σοβιετικός επιστήμονας Sergei Υ Sokolov ο οποίος γεννήθηκε το 1897 στο

Λένινγκραντ και φοίτησε στο Ηλεκτροτεχνικό Ινστιτούτο του Λένινγκραντ πρότεινε το
1928 και παρουσίασε αργότερα την τεχνική της διέλευσης για την ανίχνευση ασυνεχειών
σε μέταλλα. Ο ίδιος εξέλιξε την ιδέα που είχε προτείνει στα τέλη της δεκαετίας του 1920
σε μια εποχή που δεν υπήρχε η απαιτούμενη τεχνολογία για την υλοποίηση της. Πρότεινε
ότι μία τέτοια τεχνική θα μπορούσε να χρησιμοποιηθεί για την ανίχνευση «ανωμαλιών» σε
στερεά, όπως τα μέταλλα.
|511|
Όπως συμβαίνει με μεγάλο μέρος της πρόωρης εκμετάλλευσης των υπερήχων, στη
Γερμανία στις αρχές της δεκαετίας του 1930 πραγματοποιήθηκαν εκτεταμένες εργασίες για
την ανίχνευση ελαττωμάτων σε μέταλλα. O Muhlhauser κατοχυρώνει με δίπλωμα
ευρεσιτεχνίας ένα σύστημα για τη μετάδοση υπερηχητικής ενέργειας στο δοκίμιο που
πρόκειται να ελεγχθεί χρησιμοποιώντας δύο μετατροπείς.
Το 1935 ο Sokolov δημοσίευσε λεπτομέρειες του πειραματικού σχεδιασμού των
γεννητριών χαλαζία και μεθόδους σύζευξης των μετατροπέων με το δοκίμιο, προκειμένου
να επιτευχθεί η μέγιστη μεταφορά ενέργειας, καθώς επίσης και διάφορες μεθόδους
ανίχνευσης της υπερηχητικής ενέργειας μετά τη διάδοσή της σε ένα δοκίμιο. Πρότεινε
επίσης την πρώτη «υπερηχητική κάμερα», η οποία μπορούσε να απεικονίσει μια
πραγματική εικόνα ενός ελαττώματος. Για το σκοπό αυτό χρησιμοποιούσε ηχητικά κύματα
με συχνότητα 3.000MHz, τα οποία επιτύγχαναν μία ανάλυση ίση με εκείνη του οπτικού
μικροσκοπίου. Ωστόσο, η ανάλυση των πειραματικών διατάξεων που κατασκεύασε δεν
ήταν αρκετά καλές για να χρησιμοποιηθούν σε πρακτικό επίπεδο.
Στη Γερμανία το 1936 ο Raimar Pohlman ανέπτυξε μία υπερηχητική μέθοδο
απεικόνισης η οποία βασιζόταν στη μετάδοση με τη χρήση ακουστικών φακών και
μετατροπή της προκύπτουσας ακουστικής εικόνας σε μία οπτική εικόνα παρατήρησης του
σημείου ενδιαφέροντος. Η συσκευή αυτή έγινε γνωστή με την ονομασία “Pohlman cell”
και χρησιμοποιήθηκε ευρέως στα τέλη του Β’ Παγκοσμίου Πολέμου όταν ο έλεγχος με
υπερήχους σε υλικά έγινε απαραίτητος για την επιλογή των πυρομαχικών στα
αντιαεροπορικά πυρά του Βερολίνου.
Το 1939, ερευνητές στο Βρετανικό Ινστιτούτο Σιδήρου και Χάλυβα αποφάσισαν να
διερευνήσουν τη δυνατότητα ανίχνευσης τριχοειδών ρωγμών στο χάλυβα με τη χρήση
υπερηχητικών κυμάτων χρησιμοποιώντας μια συσκευή τύπου Pohlman, αλλά διαπίστωσαν
ότι η ευαισθησία που παρείχε ήταν ανεπαρκής.
Το 1942 ο Donald Sproule προσάρμοσε με επιτυχία την αρχή λειτουργίας των
ηχητικών κυμάτων για την ανίχνευση ελαττωμάτων στο χάλυβα. Η συσκευή έκανε χρήση
ξεχωριστών μετατροπέων για την εκπομπή και λήψη των ηχητικών κυμάτων.
Σχεδόν την ίδια περίοδο, ο αμερικανός επιστήμονας Floyd Firestone επινόησε το
ανακλασιόμετρο “Reflectoscope”. Πρόκειται για μια συσκευή που βασιζόταν σε παρόμοιες
αρχές, αλλά εκμεταλευόταν ένα μετατροπέα για την εκπομπή και λήψη των ηχητικών
κυμάτων. Ο ίδιος επιστήμονας προέβη στις ακόλουθες παρουσιάσεις και κατοχύρωσε τα
παρακάτω διπλώματα ευρεσιτεχνίας από το 1940 έως το 1951:
1940 Συσκευή ανίχνευσης ασυνεχειών και όργανο μέτρησης.
1943 Μέθοδος ελέγχου με συντονισμό. Μέθοδος ελέγχου με επιφανειακά και εγκάρσια
κύματα και αντίστοιχες συσκευές.
1945 Υπερηχητικό ανακλασιόμετρο “Reflectscope”, συσκευή ελέγχου της εσωτερικής
δομής σε στερεά με εφαρμογή ηχητικών κυμάτων.
1946 Βελτιώσεις στο υπερηχητικό ανακλασιόμετρο “Reflectscope”. Πόλωση των ηχητικών
κυμάτων.
1948 Τεχνικές με το υπερηχητικό ανακλασιόμετρο “Reflectscope”.
1951 Μέθοδος και μέσα για την παραγωγή και την αξιοποίηση των παλμικών κυμάτων σε
ελάσματα.
|512|
Εικόνα 1.1: Πρώιμα στάδια ελέγχου με τη μέθοδο των υπερήχων με συσκευές
Krautkrämer (1950)
Εικόνα 1.2: Type A supersonic reflectoscope
Οι κυριότερες εξελίξεις με χρονολογική σειρά στην Ακουστική και στους

Υπερήχους συνοψίζονται παρακάτω:
1822 Ο Colladen χρησιμοποιεί υποβρύχιο κουδούνι για να υπολογίσει την ταχύτητα του
ήχου στα νερά της λίμνης της Γενεύης.
1830 Ο Savart αναπτύσσει ένα μεγάλο οδοντωτό τροχό για την παραγωγή πολύ υψηλών
συχνοτήτων.
1842 Ο Joule ανακαλύπτει το φαινόμενο της μαγνητοσυστολής.
1845 Ο Stokes διερευνά την επίδραση του ιξώδους στην εξασθένιση.
1860 Ο Tyndall αναπτύσσει τη λεγόμενη “sensitive flame” για να ανιχνεύσει κύματα
υψηλής συχνότητας.
|513|
1866 Ο Kundt χρησιμοποιεί λεπτόκοκκη σκόνη σε ένα σωλήνα για τη μέτρηση της
ταχύτητας του ήχου.
1876 Ο Galton εφευρίσκει το λεγόμενο «σφύριγμα» υπερήχων “ultrasonic whistle”.
1877 Ο Rayleigh με το έργο του “The Theory of Sound” θέτει τα θεμέλια της σύγχρονης
ακουστικής.
1880 Οι αδελφοί Pierre και Jacques Curie ανακαλύπτουν το πιεζοηλεκτρικό φαινόμενο.
1890 Ο Koenig, μελετώντας τα όρια ακουστικότητας, παράγει δονήσεις έως και 90.000Hz.
1903 Ο Lebedev και οι συνεργάτες του αναπτύσσουν ένα πλήρες σύστημα υπερήχων για
την μελέτη της απορρόφησης των κυμάτων.
1912 Η βύθιση του Τιτανικού οδηγεί σε προτάσεις σχετικά με τη χρήση των ακουστικών
κυμάτων για τον εντοπισμό των παγόβουνων.
1912 Ο Richardson παίρνει το πρώτο δίπλωμα ευρεσιτεχνίας για ένα υποβρύχιο σόναρ.
1914 Ο Fessenden κατασκευάζει το πρώτο σόναρ στις Ηνωμένες Πολιτείες, το οποίο
μπορούσε να ανιχνεύσει παγόβουνα σε απόσταση δύο μιλίων.
1915 Ο Langevin από τον οποίο προήλθε η σύγχρονη επιστήμη των υπερήχων μέσα από τη
μελέτη με τίτλο «Υδρόφωνα» για τον εντοπισμό υποβρυχίων.
1921 Ο Cady ανακαλύπτει το χαλαζία ως σταθερό ταλαντωτή.
1922 Ο Hartmann αναπτύσσει τη γεννήτρια υπερήχων με εκτόξευση αέρα.
1925 Ο Pierce αναπτύσσει το υπερηχητικό συμβολόμετρο.
1926 Οι Boyle και Lehmann ανακαλύπτουν το φαινόμενο των φυσαλίδων και τη
σπηλαίωση σε υγρά με τη βοήθεια υπερήχων.
1927 Οι Wood και Loomis περιγράφουν τα αποτελέσματα της έντασης των υπερήχων.
1928 Ο Pierce αναπτύσσει το μετατροπέα μαγνητοσυστολής.
1928 Οι Herzfeld και το Rice αναπτύσσουν τη μοριακή θεωρία για τη διασπορά και την
απορρόφηση του ήχου στα αέρια.
1928 Ο Sokolov προτείνει τη χρήση των υπερήχων για την ανίχνευση ελαττωμάτων.
1930 Οι Debye, Sears, Lucas και Biquard ανακαλύπτουν την περίθλαση του φωτός με τη
βοήθεια υπερήχων.
1930 Ο Harvey αναφέρει τις φυσικές, χημικές και βιολογικές επιδράσεις των υπερήχων
στους μικροοργανισμούς και τα κύτταρα.
1931 Ο Mulhauser απόκτα δίπλωμα ευρεσιτεχνίας για τη χρήση δύο μετατροπέων
υπερήχων για την ανίχνευση των ατελειών στα στερεά.
1937 Ο Sokolov εφευρίσκει έναν υπερηχητικό σωλήνα εικόνας.
1938 Οι Pierce και Griffin ανιχνεύουν τις υπερηχητικές κραυγές των νυχτερίδων.
1939 Ο Pohlman διερευνά τις θεραπευτικές χρήσεις των υπερήχων.
1940 Ο Firestone στις Ηνωμένες Πολιτείες Αμερικής και ο Sproule στη Βρετανία,
ανακαλύπτουν την υπερηχητική ανίχνευση ελαττωμάτων με την τεχνική παλμού-ηχούς σε
μέταλλα.
1940 Tο σόναρ αναπτύσσεται και χρησιμοποιείται για την ανίχνευση υποβρυχίων.
1941 Τα "Reflectoscopes" αναπτύσσονται ευρέως και χρησιμοποιούνται στις μη
καταστροφικές δοκιμές των μετάλλων.
1942 Οι αδελφοί Dussik κάνουν την πρώτη προσπάθεια ιατρικής απεικόνισης με
υπερήχους.
1944 Οι Lynn και Putnam χρησιμοποιούν επιτυχώς τα κύματα των υπερήχων για να
καταστρέψουν εγκεφαλικούς ιστούς σε ζώα.
1945 Ανακαλύπτονται νέα πιεζοηλεκτρικά κεραμικά, όπως το τιτανικό βάριο.
1948 Έναρξη εκτεταμένων μελετών στις Ηνωμένες Πολιτείες και στην Ιαπωνία για την
ιατρική απεικόνιση των υπερήχων.
1954 Ο Jaffe ανακαλύπτει τα νέα πιεζοηλεκτρικά κεραμικά όπως το lead titanate-zirconate.
|514|
Εικόνα 1.3: Ένα από τα πρώτα εμπορικά μοντέλα ανακλασιόμετρου “Reflectoscope”.
Κατασκευάστηκε στις αρχές του 1950 από την εταιρία Sperry στο Danbury, Connecticut
Εικόνα 1.4: Μεταγενέστερο μοντέλο της εταιρίας Sperry το 1958
Εικόνα 1.5: Τέσσερις γερμανικοί ανιχνευτές ασυνεχειών στη δεκαετία του 1950.
Krautkramer (πάνω αριστερά), Siemens (πάνω δεξιά),
Lehfeldt (κάτω αριστερά), Karl Deutsch (κάτω δεξιά)
|515|
2. ΦΥΣΙΚΗ ΤΩΝ ΥΠΕΡΗΧΩΝ
2.1 Κύματα
Κύμα ονομάζεται η διάδοση μίας διαταραχής που μεταφέρει ενέργεια και ορμή µε
σταθερή ταχύτητα.
Ελαστικό µέσο ονομάζεται κάθε υλικό µέσο, το οποίο έχει τις εξής ιδιότητες:
• Αποτελείται από σωματίδια, τα οποία πληρούν το µέσο χωρίς διάκενα.
• Τα σωματίδια αυτά συνδέονται μεταξύ τους µε ελαστικές δυνάμεις.
Αν για κάποιο λόγο ένα σωματίδιο Σ απομακρυνθεί από τη θέση ισορροπίας του,
τότε εμφανίζεται µια δύναμη η οποία τείνει να το επαναφέρει στη θέση ισορροπίας του.
Ταυτόχρονα, δέχονται δυνάμεις και τα γειτονικά σωματίδια, οπότε απομακρύνονται και
αυτά από τις θέσεις ισορροπίας τους. Με τον τρόπο αυτό, η διαταραχή που προκλήθηκε
στο σωματίδιο Σ διαδίδεται σταδιακά από το ένα σημείο του ελαστικού μέσου στο άλλο
και προς όλες τις διευθύνσεις µε ορισμένη ταχύτητα. Όταν το µέσο είναι οµογενές και
ισότροπο (δηλαδή έχει τις ίδιες φυσικές ιδιότητες σε όλα τα σημεία), η ταχύτητα είναι ίδια
προς όλες τις διευθύνσεις.
Κατά τη διάδοση ενός κύματος μεταφέρεται ενέργεια και ορμή από ένα σημείο του
μέσου σε άλλο, όχι όμως και ύλη. Αν ένα σωματίδιο Σ (η πηγή των κυμάτων) εκτελεί
εξαναγκασμένη ταλάντωση µε την επίδραση μιας εξωτερικής περιοδικής δύναμης, τότε η
ενέργεια που προσφέρεται συνεχώς στο σωματίδιο αυτό μεταφέρεται προς όλες τις
διευθύνσεις µε ορισμένη ταχύτητα. Όταν το κύμα φθάσει σε ένα οποιοδήποτε σωματίδιο
του μέσου, αυτό αρχίζει να εκτελεί εξαναγκασμένη ταλάντωση και αποκτά ενέργεια
(κινητική και δυναμική), η οποία μεταφέρεται στα γειτονικά του σωματίδια. Έτσι, µε τη
διαδικασία αυτή γίνεται μεταφορά της ενέργειας που παρέχεται στην πηγή Σ των κυμάτων
από το εξωτερικό αίτιο, χωρίς να γίνεται μεταφορά ύλης, αφού τα σωματίδια του μέσου
εκτελούν εξαναγκασμένες ταλαντώσεις γύρω από τις θέσεις ισορροπίας τους. Όταν η
ταλάντωση της πηγής Σ είναι απλή και αρμονική, τότε το παραγόμενο κύμα ονομάζεται
αρμονικό κύμα.
2.2 Τα είδη των κυμάτων
Τα κύματα, ανάλογα µε το μηχανισμό παραγωγής και διάδοσης τους, διακρίνονται

σε δύο βασικές κατηγορίες:
• Στα μηχανικά κύματα: είναι η διάδοση μίας διαταραχής σε ένα ελαστικό µέσο. Τα
μηχανικά κύματα (σεισμικά, υδάτινα, ηχητικά κ.λπ.) διαδίδονται µόνο σε υλικά
σώματα που έχουν την ικανότητα να δέχονται και να μεταβιβάζουν προσωρινές
παραμορφώσεις.
• Στα ηλεκτρομαγνητικά κύματα: είναι η διάδοση μιας ηλεκτρομαγνητικής
διαταραχής και είναι εγκάρσια. Τα ηλεκτρομαγνητικά κύματα (φωτεινά κύματα,
ραδιοκύματα, ακτίνες Χ, ακτίνες γ) διαδίδονται και στο κενό µε ταχύτητα
c = 3•108m/s.
2.3 Ελαστικό κύμα και ιδιότητες
Ο ήχος είναι παλμικές κινήσεις των μορίων ενός στερεού, υγρού ή αερίου σώματος
και διαδίδεται ως κύμα στο σώμα αυτό. Στα μεν αέρια διαδίδεται με πυκνώματα ή
αραιώματα, στα δε στερεά ως διαταραχή της θέσης των ατόμων του στερεού η οποία
διαδίδεται στα διπλανά άτομα μέσα από τους ελαστικούς δεσμούς του σώματος μέχρι να
|516|
φτάσει στην άλλη άκρη. Τα υγρά είναι «παράξενα» και παρουσιάζουν ομοιότητες τόσο με
τα αέρια όσο με τα στερεά.
Ένας καλός τρόπος για να κατανοήσουμε τον τρόπο διάδοσης των κυμάτων είναι ο
εξής: έστω ότι κάποιος κρατά μια κλωστή τεντωμένη σε ένα δωμάτιο όπου υπάρχει ησυχία
και χτυπά ελαφρά με το δάχτυλό του ή με ένα μολύβι τη χορδή. Η χορδή θα ταλαντωθεί
και θα ακουστεί ο ήχος που παράγεται. Κάπως έτσι παράγεται και ο ήχος από τις χορδές
της κιθάρας.
Όλοι έχουν μια φυσική εμπειρία των ελαστικών κυμάτων και της διάδοσης τους,
όπως για παράδειγμα τα θαλάσσια κύματα, οι σημαίες που κυματίζουν, οι χορδές που
πάλλονται κ.λπ. Για τη δημιουργία του ελαστικού κύματος, πρέπει να προϋπάρξει μία
ελαστική διαταραχή σε κάποιο σημείο ενός μέσου, για παράδειγμα μια ρίψη ενός
βότσαλου στη θάλασσα ή το χτύπημα μιας χορδής.
Τα μόρια του μέσου αρχίζουν να ταλαντώνονται και ταυτόχρονα διαδίδουν την
ταλάντωση αυτή στα γειτονικά τους μόρια, με συγκεκριμένη ταχύτητα, δημιουργώντας
έτσι ένα κύμα ελαστικότητας. Κύμα ελαστικότητας ονομάζεται η διάδοση μιας ελαστικής
διαταραχής, μέσα σε ένα ελαστικό μέσο, με ορισμένη ταχύτητα.
Ο ήχος προκαλείται από μηχανικές δονήσεις. Για να διαδοθεί ο ήχος πρέπει να
υπάρχει κάποιο μέσο το οποίο διατηρεί αυτές τις μηχανικές δονήσεις. Συνεπώς, ο ήχος δε
μπορεί να διαδοθεί στο κενό.
Τα μόρια ενός υλικού δονούνται μεταφέροντας ενέργεια το ένα στο άλλο και έτσι ο
ήχος «διαπερνά» το υλικό. Η ικανότητα διατήρησης του ήχου εξαρτάται από την
ελαστικότητα και την πυκνότητα του υλικού. Με δεδομένο ότι αυτές οι ιδιότητες ποικίλουν
από υλικό σε υλικό, κάποια υλικά είναι περισσότερο ηχοδιαπερατά. Κατά συνέπεια, η
πυκνότητα και η ελαστικότητα είναι οι κύριες παράμετροι από τις οποίες εξαρτάται η
ταχύτητα του ήχου.
Συνεπώς, η ενέργεια είναι εκείνη που διαδίδεται και μεταφέρεται μέσω των
ταλαντώσεων των μορίων και όχι η ύλη. Κάθε κύμα ελαστικότητας έχει τρία
χαρακτηριστικά:
α) Την ταχύτητα διάδοσής του (v).
β) Τη συχνότητα του κύματος (f), δηλαδή το πόσες φορές στη μονάδα του χρόνου ένα
ταλαντούμενο μόριο περνά από το αρχικό σημείο (ή το ίδιο σημείο). Η περίοδος (Τ) είναι
το αντίστροφο της συχνότητας, δηλαδή ο χρόνος μιας πλήρους ταλάντωσης ενός μορίου
(T = l/f).
γ) Το μήκος κύματος (λ), δηλαδή την απόσταση που διανύει ένα κύμα, στο διάστημα που
ένα μόριο εκτελεί μια πλήρη ταλάντωση.
Η ταχύτητα διάδοσης είναι το γινόμενο της απόστασης που διανύει το κύμα σε κάθε
ταλάντωση ενός μορίου επί τον αριθμό των ταλαντώσεων που λαμβάνουν χώρα στη
μονάδα του χρόνου, δηλαδή:
v=λ•f
Όπου:
λ: μήκος κύματος σε mm
v: ταχύτητα διάδοσης κύματος σε mm/s
f: συχνότητα σε Hz
|517|
Η Εικόνα 2.1 που ακολουθεί αποτελεί στιγμιότυπο ενός κύματος, όπου
παριστάνεται η ταλάντωση των μορίων και το μήκος κύματος.
Εικόνα 2.1: Στιγμιότυπο ενός κύματος
Σε ένα ομογενές σώμα στο οποίο διαδίδεται ένα ελαστικό κύμα, όλα τα μόρια έχουν
την ίδια συχνότητα ταλάντωσης και την ίδια ταχύτητα διάδοσης. Με άλλα λόγια, η
συχνότητα, το μήκος κύματος και η ταχύτητα διάδοσης του είναι σταθερά για το
συγκεκριμένο σώμα και κύμα.
Τα ηχητικά κύματα δεν είναι τίποτε άλλο παρά κύματα ελαστικότητας που
διαδίδονται κυρίως στον αέρα και έχουν κατάλληλη συχνότητα και ένταση ώστε να μας
προκαλούν το αίσθημα της ακοής.
Ο ήχος, ως ελαστικό κύμα, διαδίδεται σε στερεά, υγρά και αέρια σώματα, αλλά όχι
στο κενό, σε αντίθεση με το φως. Διαδίδεται υπό μορφή ζωνών συμπίεσης (compression
zone) και υποπίεσης (rarefied zone) των μορίων του σώματος που το μεταφέρει:
Συνοψίζοντας:
Ταχύτητα: είναι η απόσταση που διανύει το κύμα στη μονάδα του χρόνου.
Μήκος κύματος: είναι η απόσταση μεταξύ δύο διαδοχικών κορυφών του κύματος.
Περίοδος: είναι ο χρόνος που απαιτείται για έναν πλήρη κύκλο.
Συχνότητα: είναι ο αριθμός των κύκλων ανά δευτερόλεπτο.
2.4 Ακουστικό φάσμα
Τα ηχητικά κύματα δηλαδή οι παλμικές κινήσεις των μορίων ενός στερεού, υγρού ή
αερίου φτάνουν στο πτερύγιο του αυτιού μας, κατευθύνονται προς τον ακουστικό πόρο και
καταλήγουν στο τύμπανο. Το τύμπανο συντονίζεται και δονείται ακολουθώντας την
παλμική κίνηση των μορίων του αέρα. Πίσω από το τύμπανο υπάρχει ο μηχανισμός του
μεσαίου αυτιού που λειτουργεί ως μοχλός. Αποτελείται από τρία οστάρια, τη σφύρα, τον
άκμονα και τον αναβολέα που αποτελούν την κινητή γέφυρα. Η σφύρα συνδέεται με το
τύμπανο. Συλλαμβάνει τις ηχητικές δονήσεις τις οποίες οδηγεί στον άκμονα και τον
αναβολέα όπου ενισχύονται και οδηγούνται στο εσωτερικό αυτί. Στο εσωτερικό αυτί, ο
κοχλίας είναι γεμάτος υγρό. Έτσι, η μηχανική ενέργεια μετατρέπεται σε κύματα
υδραυλικής πίεσης. Η κίνηση αυτή μεταδίδεται στον κοχλιακό πόρο και το όργανο του
Κόρτι, μια ακολουθία από τριχοειδή κύτταρα και από εκεί στο ακουστικό νεύρο.
|518|
Τα τριχοειδή κύτταρα δεν έχουν ίδιο μήκος και πίσω από το καθένα υπάρχει μια
απόληξη ακουστικού νεύρου. Κάθε τριχοειδές κύτταρο δονείται με μια παλμική κίνηση και
έτσι γίνεται αντιληπτός ο ήχος.
Το εύρος της συχνότητας του ήχου για να γίνει αντιληπτός από το ανθρώπινο αυτί
είναι μεταξύ 16 και 20.000Hz (20KHz) ενώ πρέπει να έχει και την κατάλληλη ένταση. Οι
ήχοι με συχνότητα μικρότερη των 16Ηz ονομάζονται υπόηχοι, ενώ οι ήχοι με συχνότητα
μεγαλύτερη των 20KHz καλούνται υπέρηχοι. Οι υπέρηχοι χρησιμοποιούνται στους Μη
Καταστροφικούς Ελέγχους σε συχνότητες από 100.000Hz (100KHz) έως 25.000.000Ηz
(25MHz). Οι τιμές των συχνοτήτων που χρησιμοποιούνται περισσότερο κυμαίνονται
μεταξύ 1 και 10MHz.
Εικόνα 2.2: Το ακουστικό φάσμα
2.5 Τύποι μηχανικών κυμάτων (Wave modes)
Τα μηχανικά κύματα ταξινομούνται σε τρεις κατηγορίες: στα διαμήκη, στα

εγκάρσια και στα επιφανειακά κύματα. Ακολουθεί αναλυτική περιγραφή των μηχανικών
κυμάτων τα οποία σχετίζονται με τη Μη Καταστροφική Μέθοδο των υπερήχων.
|519|
Εικόνα 2.3: Διαμήκη και εγκάρσια κύματα
2.5.1 Διαμήκη κύματα ή κύματα συμπίεσης (Longitudinal / Compression waves)
Διαμήκη κύματα ονομάζονται τα κύματα των οποίων η διεύθυνση διάδοσης είναι

παράλληλη στη διεύθυνση της ταλάντωσης των σωματιδίων που αποτελούν το μέσο
διάδοσης. Με την κίνηση που πραγματοποιούν τα σωματίδια του μέσου στα διαμήκη
κύματα, παρατηρούνται πυκνώματα και αραιώματα. Τα διαμήκη κύματα διαδίδονται σε
στερεά, υγρά και αέρια σώματα.
|520|
Εικόνα 2.4: Μετατροπέας (ηχοβολέας) με πιεζοηλεκτρικό στοιχείο το οποίο εκτελεί
διαμήκεις ταλαντώσεις
Παραδείγματα διαμηκών κυμάτων είναι τα ηχητικά κύματα ή μια διαταραχή που

διαδίδεται στις σπείρες ενός ελατηρίου.
Πύκνωμα ονομάζεται το σημείο στο οποίο υπάρχει η μέγιστη τιμή του
διαταρασσόμενου μεγέθους. Στο παράδειγμα του ελατηρίου αντιστοιχεί σε πύκνωμα στις
σπείρες.
Αραίωμα ονομάζεται το σημείο στο οποίο υπάρχει η ελάχιστη τιμή του
διαταρασσόμενου μεγέθους. Στο παράδειγμα του ελατηρίου αντιστοιχεί σε αραίωμα στις
σπείρες. Μεταξύ ενός εγκάρσιου και ενός διαμήκους κύματος ίδιας συχνότητας, ίδιου
πλάτους, στην ίδια περιοχή του ίδιου μέσου, μεγαλύτερη ταχύτητα έχει το διαμήκες.
Εικόνα 2.5: Διάδοση διαμήκους κύματος
|521|
Γενικά, τα διαμήκη κύματα έχουν τη μεγαλύτερη ταχύτητα διάδοσης από όλους
τους τύπους κυμάτων. Επομένως, για δεδομένη συχνότητα και μέσα διάδοσης, από τον
τύπο v = λ•f , προκύπτει ότι έχουν και το μεγαλύτερο μήκος κύματος και επομένως, όπως
θα δούμε στη συνέχεια, τη μικρότερη αποδυνάμωση του ήχου αλλά και τη μικρότερη
ευαισθησία. Τα διαμήκη κύματα παρουσιάζουν επίσης τη μικρότερη εγγύς ζώνη (Ν) και τη
μεγαλύτερη γωνία απόκλισης της ηχητικής δέσμης για δεδομένη διάμετρο κρυστάλλου,
υλικό και συχνότητα διάδοσης.
Στο χάλυβα, τα διαμήκη κύματα δημιουργούνται όταν η γωνία πρόσπτωσης της
δέσμης στη μεμβράνη είναι μικρότερη από 27,4° περίπου. Οι μετατροπείς που παράγουν
διαμήκη κύματα έχουν συνήθως γωνία πρόσπτωσης και διάθλασης περίπου ή ακριβώς 0°.
Υπολογισμός ταχύτητας διάδοσης στα διαμήκη κύματα
Η ταχύτητα διάδοσης στα διαμήκη κύματα εξαρτάται από την πυκνότητα του μέσου
διάδοσης και το μέτρο ελαστικότητας Ε του υλικού. Η σχέση που αποδίδει αυτή την
εξάρτηση δίνεται στη συνέχεια:
E • (1 - μ)
VL = [-----------------------------]1/2
ρ (1 + μ) (1 - 2μ)
Όπου:
VL: ταχύτητα διαμήκους κύματος (m/s)
E: μέτρο ελαστικότητας του Young (N/m2)
ρ: πυκνότητα (Kg/m3)
μ: λόγος του Poisson [(E - 2G) / 2G]
Για το χάλυβα όπου Ε = 210•109N/m2 και ρ = 7,85•103kg/m3 προκύπτει ότι η

ταχύτητα διάδοσης ενός διαμήκους κύματος είναι 6.000m/s, ενώ για το αλουμίνιο περίπου
6.400m/s.
2.5.2 Εγκάρσια ή διατμητικά κύματα (Transverse / Shear waves)
Εγκάρσια κύματα ονομάζονται τα κύματα των οποίων η διεύθυνση διάδοσης είναι

κάθετη στη διεύθυνση της ταλάντωσης των σωματιδίων που αποτελούν το μέσο διάδοσης.
Στα εγκάρσια κύματα εμφανίζονται μέγιστα και ελάχιστα που ονομάζονται «όροι» και
«κοιλίες» αντίστοιχα.
Εικόνα 2.6: Παραγωγή και διάδοση ενός εγκάρσιου κύματος
|522|
Διαδίδονται μόνο σε στερεά σώματα, διότι τα υγρά και τα αέρια δεν παρουσιάζουν
ελαστικότητα σε εγκάρσια φόρτιση. Έχουν ταχύτητα διάδοσης στο ίδιο υλικό περίπου ίση
με τη μισή της αντίστοιχης ενός διαμήκους δηλαδή:
VT ≈ ½ VL
Επομένως, για ένα εγκάρσιο και ένας διαμήκες κύμα με την ίδια συχνότητα, το
εγκάρσιο έχει τη διπλάσια περίπου ευαισθησία και πολύ μεγαλύτερη αποδυνάμωση. Για
την ίδια διάμετρο στοιχείου (κρυστάλλου) με εκείνη των διαμηκών, έχουν μεγαλύτερη
εγγύς ζώνη και μικρότερη γωνία απόκλισης δέσμης. Στο χάλυβα, τα εγκάρσια κύματα
παράγονται μόνο εάν η γωνία πρόσπτωσης (α) της δέσμης στη μεμβράνη είναι μεταξύ 28°
έως 56°, όπως φαίνεται στην Εικόνα 2.7.
Εικόνα 2.7: Γωνία πρόσπτωσης δέσμης στη μεμβράνη
Υπολογισμός ταχύτητας διάδοσης στα εγκάρσια κύματα
Για τον υπολογισμό της ταχύτητας των εγκάρσιων κυμάτων, ο τύπος γίνεται:
E G
VT = [----------------------]1/2 ή [------------]1/2
2ρ • (1 + μ) ρ
Όπου:
VT: ταχύτητα εγκάρσιων κυμάτων m/s
G: μέτρο διάτμησης (N/m2)
Ο χάλυβας παρουσιάζει τη μεγαλύτερη ταχύτητα διάδοσης εγκαρσίων κυμάτων

(περίπου 3.230m/s), ενώ στο αλουμίνιο η αντίστοιχη ταχύτητα είναι 3.130m/s.
Όπως αναφέρθηκε, τα υγρά και τα αέρια δεν παρουσιάζουν ελαστικότητα σε
διάτμηση. Επομένως μέσα σε αυτά διαδίδονται μόνο τα διαμήκη κύματα.
Όσο μεγαλύτερη είναι η ελαστικότητα ενός μέσου, τόσο ισχυρότεροι είναι οι δεσμοί
μεταξύ των μορίων του και επομένως τόσο μεγαλύτερη είναι και η ταχύτητα διάδοσης του
υπέρηχου.
|523|
Επιπρόσθετα, όσο πυκνότερο είναι ένα υλικό, τόσο μικρότερη είναι η ταχύτητα
διάδοσης για μια δεδομένη ελαστικότητα του μέσου. Γενικά, οι ταχύτητες διάδοσης στα
αέρια είναι χαμηλές, στα υγρά υψηλότερες και στα στερεά μέγιστες. Αυτή η αύξηση στις
ταχύτητες είναι αποτέλεσμα της αυξανόμενης ελαστικότητας και όχι της αυξανόμενης
πυκνότητας (ρ αέρια < ρ υγρά < ρ στερεά), η οποία πρακτικά θα μείωνε την ταχύτητα διάδοσης.
Για παράδειγμα το νερό έχει πυκνότητα 1.000Kg/m3 με ταχύτητα διάδοσης σε αυτό
1.480m/s, ενώ ο χάλυβας έχει πυκνότητα 7.800Kg/m3 με αντίστοιχη ταχύτητα διάδοσης
5.830m/s. Εύκολα διαπιστώνει κανείς ότι παρά τις διαφορές στις πυκνότητες των δύο
μέσων, η ταχύτητα διάδοσης στο χάλυβα (ισχυροί δεσμοί μορίων) είναι πολύ μεγαλύτερη
από την αντίστοιχη στο νερό (χαλαροί δεσμοί μορίων), λόγω της μεγάλης διαφοράς στην
ελαστικότητα των δύο μέσων.
2.5.3 Επιφανειακά κύματα (Surface) ή κύματα Rayleigh
Πρόκειται για κύματα που διαδίδονται μόνο στην επιφάνεια στερεών, των οποίων το
πάχος είναι σημαντικά μεγαλύτερο από το μήκος του κύματος και σε βάθος ενός περίπου
μήκους κύματος. Τα επιφανειακά κύματα μπορούν να αποσβεσθούν με τη χρήση νερού ή
ορυκτελαίου ή απλώς θέτοντας ένα δάκτυλο πάνω στην επιφάνεια που διαδίδονται. Η
παραγωγή επιφανειακών κυμάτων γίνεται με κατάλληλη γωνία πρόσπτωσης (2η κρίσιμη
γωνία), ώστε το διαθλώμενο εγκάρσιο κύμα να σχηματίζει γωνία 90° με τον κάθετο στη
διεπιφάνεια άξονα.
Εικόνα 2.8: Διάδοση επιφανειακών κυμάτων
Τα επιφανειακά κύματα ταξιδεύουν στην επιφάνεια ακόμη και αν αυτή παρουσιάζει

ελαφρά καμπυλότητα ενώ ανακλώνται όπου συναντούν ακμές ή γωνίες.
Τα δονούμενα σωματίδια που διαδίδουν επιφανειακά κύματα, κινούνται σε
ελλειπτική τροχιά. Η ταχύτητα των επιφανειακών κυμάτων είναι περίπου ίση με το 92%
της ταχύτητας των εγκάρσιων κυμάτων στο ίδιο υλικό.
(0,87 + 1,12μ)
VS = [------------------------------] • VT
(1 + μ)
Όπου:
VS: ταχύτητα των επιφανειακών κυμάτων m/s
|524|
Χαρακτηριστική ιδιότητα αυτών των επιφανειακών κυμάτων είναι η έλλειψη
ευαισθησίας στις ανωμαλίες μίας επιφάνειας. Αυτή η ιδιότητα τους αξιοποιείται για την
ανίχνευση ασυνεχειών που βρίσκονται κοντά στην επιφάνεια. Γενικά τα επιφανειακά
κύματα δε βρίσκουν συχνά εφαρμογή στη βιομηχανία. Η χρήση τους είναι μεγαλύτερη
κυρίως στην αεροναυπηγική.
Τα επιφανειακά κύματα διεγείρονται με γωνιακό μετατροπέα τύπου σφήνας από
συνθετικό υλικό.
Στους μετατροπείς επιφανειακών κυμάτων για χάλυβες, η γωνία πρόσπτωσης των
διαμηκών κυμάτων, στα όρια plexiglas - χάλυβα, πρέπει να ισούται με 27° 30΄ (1η κρίσιμη
γωνία). Υπό αυτή τη γωνία ελέγχου (1η κρίσιμη γωνία), δίπλα στο υποεπιφανειακό κύμα,
διαδίδεται ισχυρό εγκάρσιο κύμα. Αναφορικά με το υψηλό επίπεδο σημάτων διατάραξης, ο
έλεγχος με επιφανειακά κύματα διενεργείται χρησιμοποιώντας δύο γωνιακούς μετατροπείς,
από τους οποίους ο ένας έχει το ρόλο του πομπού, ενώ ο άλλος του δέκτη των
ανακλώμενων ηχητικών κυμάτων (Pitch-Catch ή Tandem).
Εικόνα 2.9: Διάταξη γωνιακών μετατροπέων για τον έλεγχο με

υποεπιφανειακά κύματα
Η ηχητική δέσμη των υποεπιφανειακών κυμάτων έχει πολύπλοκη μορφή,

διαφορετική από την αντίστοιχη της ηχητικής δέσμης των διαμηκών κυμάτων. Το μέγιστο
του εύρους της ακουστικής πίεσης σε αυτή την ηχητική δέσμη, άρα και η μεγαλύτερη
ανιχνευσιμότητα σφαλμάτων, αντιστοιχεί σε μερικά χιλιοστά. Διάφοροι τύποι ηχητικών
κυμάτων και σχηματική αναπαράσταση των ταλαντευόμενων μορίων δίνονται στην Εικόνα
2.10.
Εικόνα 2.10: Τύποι ηχητικών κυμάτων και σχηματική αναπαράσταση των μορίων που
ταλαντώνονται: α) κατάσταση ηρεμίας β) διαμήκες κύμα γ) εγκάρσιο κύμα δ) επιφανειακό
κύμα ε) συμμετρικό κύμα πλάκας στ) ασύμμετρο κύμα πλάκας
|525|
2.5.4 Κύματα πλακών - ελασμάτων ή κύματα Lamb (Plate waves)
Τα κύματα Lamb είναι ένας τύπος κυμάτων o οποίος αποτελεί ουσιαστικά

συνδυασμό διαμηκών και επιφανειακών κυμάτων ή εγκάρσιων και επιφανειακών. Σε
γενικές γραμμές, εμφανίζονται στην περίπτωση λεπτών ελασμάτων πάχους λίγων μηκών
κύματος.
Όταν υπερηχητικές δονήσεις διαδίδονται σε σχετικά λεπτά ελάσματα πάχους
μερικών μόνο μηκών κύματος, η μεταφορά ενέργειας λαμβάνει τη μορφή κυμάτων
«ελασμάτων». Η τροχιά των μορίων ομοιάζει με την ελλειπτική τροχιά των επιφανειακών
κυμάτων, αλλά είναι αρκετά πιο πολύπλοκη. Υπάρχουν δύο βασικοί τύποι κυμάτων Lamb,
τα συμμετρικά (symmetrical) και τα ασύμμετρα (asymmetric), καθώς και πολλοί
δευτερεύοντες (1ος, 2ος, 3ος κ.λπ.).
Χαρακτηριστικό των κυμάτων Lamb είναι ότι όλο το λεπτό έλασμα δονείται ως ένα
σώμα. Η ταχύτητα τους εξαρτάται από πολλούς παράγοντες όπως το υλικό διάδοσης, η
συχνότητα, η γωνία πρόσπτωσης, το πάχος του ελάσματος. Η μετατόπιση των μορίων στην
τομή της πλάκας κατά τη διάδοση των κυμάτων Lamb με συμμετρική μορφή πρώτης
τάξεως, φαίνεται στην Εικόνα 2.11. Χαρακτηριστική ιδιότητα των κυμάτων αυτών είναι η
διαμήκης ταλάντωση των μορίων στην κεντρική περιοχή. Καθώς τα κύματα Lamb
διαδίδονται με ασύμμετρη μορφή, τα μόρια της κεντρικής ζώνης εκτελούν εγκάρσιες
ταλαντώσεις.
Εικόνα 2.11: Μετατόπιση των μορίων στην τομή της πλάκας κατά τη διάδοση των κυμάτων
Lamb με συμμετρική μορφή πρώτης τάξεως
|526|
Τα κύματα Lamb διεγείρονται με λοξή πρόσπτωση των διαμηκών κυμάτων στην
επιφάνεια του ελεγχόμενου αντικειμένου. Εφαρμόζονται, τόσο η τεχνική της βύθισης, με
την οποία η δέσμη των κυμάτων οδηγείται στην επιφάνεια του ελεγχόμενου δοκιμίου
διαμέσου υγρού στρώματος, όσο και η τεχνική επαφής με γωνιακό μετατροπέα
τεθλασμένης σφήνας. Το προσπίπτον στο έλασμα διαμήκες κύμα διαθλάται, σχηματίζοντας
σε γενικές γραμμές, διαθλασμένες διαμήκεις και εγκάρσιες δέσμες. Οι δέσμες αυτές
ταξιδεύουν στη διεύθυνση του μήκους του ελάσματος, ενώ στη συνέχεια ανακλώνται στην
άνω και κάτω επιφάνεια. Το αποτέλεσμα της επαλληλίας αυτών των δεσμών είναι η
δημιουργία των κυμάτων Lamb. Η ταχύτητα διάδοσης αυτής της ίδιας φάσης Vf των
ταλαντώσεων κατά μήκος του ελάσματος είναι η ταχύτητα ολίσθησης του μετώπου του
διαθλασμένου κύματος, κατά μήκος της ελεύθερης επιφάνειας της πλάκας. Η ταχύτητα
διάδοσης Vf εξαρτάται τόσο από τη γωνία διάθλασης α, όσο και από την ταχύτητα
διάδοσης των διεγειρόμενων κυμάτων.
VL
Vf = ---------------
sina
Εικόνα 2.12: Δημιουργία κύματος ελάσματος με διάθλαση
2.6 Συχνότητα, μήκος κύματος, ταχύτητα κύματος
Στο Διεθνές Σύστημα μονάδων, η συχνότητα f ενός κύματος μετράται σε κύκλους

ανά δευτερόλεπτο (c.p.s) ή Hertz (Hz).
1Hz: 1 κύκλος / δευτερόλεπτο
1KHz: 1.000 κύκλοι / δευτερόλεπτο = 103Hz
1MHz: 1.000.000 κύκλοι / δευτερόλεπτο = 103KHz
Η κύρια συχνότητα του μετατροπέα αναγράφεται σε αυτόν από τον κατασκευαστή.
Η μικρότερη ανιχνεύσιμη ασυνέχεια θεωρείται πρακτικά ίση με το μισό του μήκους
κύματος της συχνότητας του μετατροπέα στο υλικό διάδοσης.
λ
dmin ≈ ---------
2
|527|
2.7 Ένταση του ήχου (dB)
Ένταση του ήχου ονομάζεται η ισχύς του ήχου ή του ηχητικού κύματος ανά μονάδα
επιφανείας. Είναι η ενέργεια που μεταφέρει το ηχητικό κύμα ανά μονάδα επιφανείας στη
μονάδα του χρόνου. Ένας ήχος είναι ισχυρός ή ασθενής ανάλογα με το πλάτος των
παλμικών κινήσεων. Όσο μικρότερο είναι το πλάτος, τόσο πιο ασθενής είναι ο ήχος, ενώ
όσο μεγαλύτερο είναι το πλάτος τόσο πιο ισχυρός είναι ο ήχος. Το όριο πόνου για το
ανθρώπινο αυτί λόγω της έντασης του ήχου είναι τα 120dB. Η έκθεση σε ήχους λοιπόν,
άνω των 120dB είναι επικίνδυνη και μπορεί να οδηγήσει σε προβλήματα ακοής ή σε
κώφωση. Επιπρόσθετα, παρατεταμένη και συνεχής έκθεση σε ήχους άνω των 90dB
δημιουργεί προβλήματα στην ακοή.
2.7.1 Μονάδα έντασης ήχου
Η μονάδα μέτρησης της έντασης του ήχου στο διεθνές σύστημα μονάδων είναι το
1W/m2. Στο ανθρώπινο αυτί, η ελάχιστη ένταση που γίνεται αντιληπτή είναι της τάξεως
των 10-12W/m2 και αντιστοιχεί σε ηχητική πίεση 20μPa, η τιμή της οποίας αποτελεί και το
όριο της ακουστότητας.
Στο Πίνακα 2.1 δίνονται κάποιες τυπικές εντάσεις ήχου.
Πίνακας 2.1: Τυπικές εντάσεις ήχου

ΤΥΠΙΚΕΣ ΕΝΤΑΣΕΙΣ ΗΧΟΥ Πίεση (Pa) Decibel (dB)
Κατώφλι ακοής 0,00002 0
Ήσυχο γραφείο 0,002 40
Θόρυβος από ξυπνητήρι σε απόσταση 1m 0,2 80
Μηχανοστάσιο πλοίου 20 120
Μηχανή turbo - jet στα 25m 200 140
Η μονάδα Ντεσιμπέλ εκφράζει τη διαφορά στάθμης ενός ήχου έντασης Ι προς την
ένταση του κατωφλίου ακουστότητας (10-12W/m2).
Ως στάθμη έντασης ήχου (Sound Intensity Level, SIL) ορίζεται το δεκαπλάσιο του
δεκαδικού λογάριθμου της έντασης του ήχου προς την ένταση του κατωφλίου
ακουστότητας. Η μαθηματική σχέση που δίνει τη συσχέτιση αυτή είναι:
I
LI = 10 log10 ------------
Iref
όπου Ι η μέση ενεργός τιμή της έντασης και Iref η τιμή αναφοράς ίση με 10-12W/m2.
Αύξηση της στάθμης κατά 10dB αντιστοιχεί σε ήχο δεκαπλάσιας έντασης, κατά
20dB αντιστοιχεί σε ήχο εκατονταπλάσιας έντασης, ενώ κατά 30dB η ένταση του ήχου
αυξάνει 103 φορές. Τους ήχους που διαφέρουν κατά 10dB, οι περισσότεροι άνθρωποι τους
αντιλαμβάνονται ως ήχους διπλάσιας ακουστότητας.
Ο ήχος και ο υπέρηχος ως κύματα που μεταφέρουν ενέργεια, έχουν ως
χαρακτηριστικό και την ένταση. Για τη σύγκριση της ηχητικής έντασης (ή ηχητικής
πίεσης) δύο ήχων, χρησιμοποιείται η λογαριθμική κλίμακα με βάση το 10 και ως μονάδα
το 1Bell. Στην πράξη, ως μονάδα χρησιμοποιείται το ένα δέκατο (0,1) του Bell, δηλαδή το
1dB (ντεσιμπέλ).
|528|
Η σχέση μεταξύ δύο ήχων πίεσης H1 και H2 σε dB ή απλούστερα η ένταση ήχου
δίνεται από τον τύπο:
H12
10 log10 -------------- = dB
H22
H1
20 log10 ------------ = dB
H2
Όπου:
dB: Decibel
H1: το ύψος του 1ου σήματος (100%)
H2 : το ύψος του 2ου σήματος (% του Η1)
Ο λόγος Η1/Η2 καλείται και συντελεστής αύξησης (Gain Factor).
Επειδή στην οθόνη της συσκευής υπερήχων η πίεση, δηλαδή το πλάτος του
κύματος, μεταφράζεται σε ύψος του σήματος, προκύπτει ότι ο διπλασιασμός του ύψους
σήματος οδηγεί σε αύξηση της έντασης (gain) κατά 6dB ενώ, ο δεκαπλασιασμός του σε
αύξηση κατά 20dB.
Από τις ιδιότητες των λογαρίθμων προκύπτει ότι υποδιπλασιασμός του σήματος
οδηγεί σε μείωση της έντασης του ήχου κατά 6dB ενώ, ο υποδεκαπλασιασμός του σήματος
οδηγεί σε μείωση της έντασης κατά 20dB.
Πίνακας 2.2: Βοηθητικός πίνακας υπολογισμών λογαρίθμων

log101 = 0 άρα 20log101 = 0
log102 = 0,3 άρα 20log102 ≈ 6
log105 = 0,7 άρα 20log105 ≈ 14
log1010 = 1 άρα 20log1010 = 20
log10(1/2) = -0,3 άρα 20log10(1/2) ≈ -6
log10(1/5) = -0.7 άρα 20log10(1/5) ≈ - 14
log10(1/10) = -1 άρα 20log10(1/10) = -20
Πρέπει να σημειωθεί ότι σε ορισμένους ανιχνευτές ασυνεχειών εάν αποκοπούν από

την ένδειξη τα μικρότερα ανεπιθύμητα σήματα, επηρεάζεται δυσμενώς η γραμμικότητα της
ενίσχυσης. Η σχέση των dB με το ύψος του σήματος φαίνεται στον Πίνακα 2.3.
Πίνακας 2.3: Σχέση έντασης ήχου σε σχέση με το ύψος του σήματος

dB Η2 Πτώση Σήματος Η1:Η2
20 10% 90% 10:1
14 20% 80% 5:1
12 25% 75% 4:1
10 33% 67% 3:1
6 50% 50% 2:1
2 80% 20% 5:4
|529|
2.8 Φαινόμενα του ήχου
Ανάκλαση
Όταν ένα ξένο σώμα διαφορετικής ύλης από αυτή του μέσου διάδοσης
παρεμβάλλεται στην κατεύθυνση των ηχητικών κυμάτων, τότε αυτά υφίστανται ανάκλαση.
Αν για παράδειγμα, κάποιος σταθεί μπροστά από έναν τοίχο και χειροκροτήσει, τα κύματα
που θα φτάσουν στον τοίχο θα αναγκαστούν να αλλάξουν κατεύθυνση. Αν το εμπόδιο
βρίσκεται σε απόσταση μεγαλύτερη από 17m, τότε ο κρότος που δημιουργήθηκε
επαναλαμβάνεται. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται ηχώ. Αν το εμπόδιο βρίσκεται σε
απόσταση μικρότερη από 17m, τότε ο ήχος απλώς δυναμώνει. Το φαινόμενο αυτό
ονομάζεται αντήχηση και στηρίζεται στο γεγονός ότι τα ηχητικά κύματα ανακλώνται και
επιστρέφουν ενισχυμένα όταν συναντήσουν ένα πολύ κοντινό εμπόδιο.
Περίθλαση
Τα ηχητικά κύματα που ανακλώνται αλλάζουν γωνία κατεύθυνσης. Τα κύματα που
περνούν γύρω από ένα εμπόδιο ή που το διαπερνούν (λόγω για παράδειγμα κάποιου
ανοίγματος) έχουν τη δυνατότητα να κυρτώνονται και να γεμίζουν το χώρο πέρα του
εμποδίου. Αυτή η ιδιότητα ονομάζεται περίθλαση.
Διάθλαση
Όταν η φύση του υλικού μέσου διάδοσης αλλάζει σταδιακά, τότε τα κύματα μπορεί
να αλλάξουν κατεύθυνση. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται διάθλαση και παρατηρείται για
παράδειγμα, όταν ο ήχος ταξιδεύει σε στρώματα αέρα διαφορετικής θερμοκρασίας.
Παρεμβολή
Όταν ηχητικά κύματα που παράγονται από δυο διαφορετικές πηγές διαδίδονται στο
ίδιο μέσο, η διατάραξη που επιδέχεται κάθε μάζα προκύπτει από το άθροισμα των
μετατοπίσεων που θα επιδεχόταν από κάθε κύμα ξεχωριστά. Το φαινόμενο αυτό
ονομάζεται παρεμβολή. Η παρεμβολή μπορεί να είναι καταστροφική όταν τα ηχητικά
κύματα ακυρώνουν πλήρως τη μετατόπιση που θα σημειωνόταν σε σημείο του μέσου.
Το φαινόμενο Ντόπλερ
Είναι το φαινόμενο κατά το οποίο ένας παρατηρητής αντιλαμβάνεται διαφορετική
συχνότητα ήχου από αυτήν που εκπέμπει η πηγή λόγω της σχετικής κίνησης μεταξύ τους.
Όταν ο παρατηρητής και η πηγή είναι ακίνητοι ή κινούνται με ίσες (διανυσματικά)
ταχύτητες δεν εμφανίζεται φαινόμενο Doppler, δηλαδή ο παρατηρητής ακούει τον ήχο της
πηγής με τη πραγματική του συχνότητα.
Όταν ο παρατηρητής κινείται και η πηγή είναι ακίνητη, η συχνότητα του ήχου που
αντιλαμβάνεται είναι fA = (υ±υΑ)•fS/υ
Ήχος στο διάστημα

Ο ήχος δε διαδίδεται στο διάστημα, λόγω απουσίας μέσου διάδοσης.
Σκέδαση, περίθλαση και συμβολή ηχητικών κυμάτων

Τα τρία φαινόμενα που μπορεί να συμβούν σε ένα κύμα, όταν συναντήσει στη
διαδρομή του κάποιο εμπόδιο είναι η σκέδαση, η περίθλαση και η συμβολή.
Εάν η διάμετρος d του εμποδίου είναι αρκετά μικρότερη από το μήκος κύματος λ του
ηχητικού κύματος (d<<λ), τότε το εμπόδιο δεν επηρεάζει τη διάδοση του κύματος.
|530|
Εάν d = λ, τότε το εμπόδιο επηρεάζει έντονα τη διάδοση του κύματος. Ανάλογα με
τον προσανατολισμό των εμποδίων, το κύμα υφίσταται ανακλάσεις και διαδίδεται προς
διάφορες κατευθύνσεις με αποτέλεσμα την εξασθένισή του. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται
σκέδαση.
Εάν d>λ (και όχι d>>λ), τότε το ηχητικό κύμα παρακάμπτει το εμπόδιο και
διαδίδεται μέσα στο υλικό. Το φαινόμενο αυτό ονομάζεται περίθλαση.
Στην περίπτωση που το ηχητικό κύμα από ανάκλαση υπερτίθεται στο αρχικό,
λαμβάνει χώρα το φαινόμενο της συμβολής δύο κυμάτων. Ανάλογα με τη διαφορά φάσης
και συχνότητας των δύο κυμάτων, μπορεί να συμβεί ενίσχυση ή εξασθένιση του τελικού
κύματος.
|531|
3. ΑΝΑΚΛΑΣΗ ΚΑΙ ΔΙΑΘΛΑΣΗ ΤΟΥ ΗΧΟΥ
3.1 Ανάκλαση και διάθλαση του ηχητικού κύματος (νόμος του Snell)
Όταν ένα ηχητικό κύμα προσπίπτει σε μία επιφάνεια διαφορετικής ακουστικής

αντίστασης (acoustic impedance), τότε συμβαίνουν ταυτόχρονα ανάκλαση (reflection),
διάθλαση (refraction) και μετατροπή τύπου (mode conversion).
Εικόνα 3.1: Πορεία ηχητικού κύματος που προσπίπτει σε μια επιφάνεια
Οι σχετικές γωνίες πρόσπτωσης, ανάκλασης και διάθλασης σχετίζονται μέσω του

νόμου του Snell, ο οποίος αναλύεται στη συνέχεια.
sinθL1 sinθL2 sinθT1 sinθT2

Snell’s Law: --------------- = --------------- ή --------------- = ---------------
VL1 VL2 VT1 VT2
Όπου:
L: δείκτης για διαμήκη κύματα με 1 και 2 για τα μέσα διάδοσης 1 και 2.
Τ: δείκτης για εγκάρσια κύματα με 1 και 2 για τα μέσα διάδοσης 1 και 2.
V: η ταχύτητα διάδοσης του κύματος (στο μέσο 1 ή 2) με δείκτη L για διαμήκες και Τ για
εγκάρσιο κύμα.
Ανάκλαση διαμήκους σε διάμηκες κύμα
Εικόνα 3.2 Η γωνία ανάκλασης είναι πάντα ίση με τη γωνία πρόσπτωσης στο ίδιο μέσο
|532|
Εφαρμόζοντας τον νόμο του Snell θα έχουμε:
ημθL1 ημθL΄1
-------------- = -------------- => ημθL1•VL΄1 = ημθL΄1•VL1 =>
VL1 VL΄1
ημθL΄1•VL1
ημθL1 = -------------------- => ημθL1 = ημθL΄1 (VL1 = VL΄1 γιατί το κύμα δεν αλλάζει μέσο διάδοσης)
VL΄1
Ανάκλαση διαμήκους σε εγκάρσιο κύμα
Εικόνα 3.3: Ανάκλαση διαμήκους σε εγκάρσιο κύμα
ημθL1 ημθΤ1
----------------- = -----------------
VL1 VT1
Αν λάβουμε υπόψη μας ότι:
VL1 ≈ 2VT1, τότε ημθL1 ≈ 2ημθΤ1 συνεπώς ημθΤ1 < ημθL1 θα έχουμε:
ημθL1 ημθΤ1
--------------- = --------------- => ημθL1•VΤ1 = ημθΤ1•VL1 =>
VL1 VΤ1
ημθΤ1•2VΤ1
ημθL1•VΤ1 = ημθΤ1•2VΤ1 => ημθL1 = ---------------------- =>
VΤ1
ημθL1 = 2ημθΤ1 => ημθL1 > ημθΤ1
|533|
Διάθλαση διαμήκους σε διάμηκες κύμα
Εικόνα 3.4: Πρόσπτωση διαμήκους κύματος και διάθλαση σε διαφορετικό μέσο
ημθL1 ημθL2
------------------- = -------------------
VL1 VL2
Όταν VL1 < VL2, τότε θL1 < θL2
(π.χ. από νερό σε χάλυβα ή από ακρυλικό σε χάλυβα)
Εικόνα 3.5: Η πρώτη κρίσιμη γωνία
Υπενθυμίζουμε ότι όταν αυξάνεται η γωνία, αυξάνεται και το ημίτονο της και το
αντίστροφο.
Αν η γωνία θL1 αυξηθεί τόσο, ώστε η γωνία θL2 να γίνει ίση με 90°, τότε η γωνία θL1
ονομάζεται 1η κρίσιμη γωνία:
ημθL2 = 90ο = 1
ημθL1 ημθL2 VL1

--------------- = --------------- => ημθ L1 = ---------------
VL1 VL2 VL2
|534|
Διάθλαση διαμήκους σε εγκάρσιο κύμα
Εάν η γωνία πρόσπτωσης γίνει μεγαλύτερη από την 1η κρίσιμη, στο μέσο 2
διαδίδεται μόνο το εγκάρσιο κύμα.
Εικόνα 3.6: Διάθλαση διαμήκους σε εγκάρσιο
ημθL1 ημθΤ2
---------------- = ----------------
VL1 VΤ2
Εάν VL1 < VT2, τότε θΤ2 > θL1

(π.χ. από ακρυλικό σε χάλυβα)
Αν η γωνία θL1 αυξηθεί κατάλληλα ώστε η γωνία θΤ2 να γίνει ίση με 90°, τότε η
γωνία θL1 ονομάζεται 2η κρίσιμη γωνία:
ημθT2 = 90ο = 1
ημθL1 ημθΤ2 VL1

---------------- = ---------------- => ημθL1 = ----------------
VL1 VΤ2 VΤ2
Εικόνα 3.7: Η δεύτερη κρίσιμη γωνία
|535|
Εάν η γωνία πρόσπτωσης γίνει περίπου ίση με τη 2η κρίσιμη, λαμβάνει χώρα
μετατροπή τύπου και το εγκάρσιο κύμα μετατρέπεται σε επιφανειακό. Εάν η γωνία
πρόσπτωσης γίνει αρκετά μεγαλύτερη από τη 2η κρίσιμη, στο μέσο 2 δε διαδίδεται κανένα
ηχητικό κύμα.
3.2 Μετασχηματισμός σημάτων
Λόγω ανάκλασης και διάθλασης στην επιφάνεια του μέσου στο οποίο εφάπτεται ο
μετατροπέας, είναι δυνατό να συμβούν μετασχηματισμοί των σημάτων, καθώς και
μεταβολή της ταχύτητας του κύματος. Ένα τέτοιο παράδειγμα μετασχηματισμού είναι όταν
το διαμήκες κύμα που σχηματίζεται στη σφήνα του γωνιακού μετατροπέα, διαπερνά την
επιφάνεια μεταξύ της σφήνας και της επιφάνειας του δοκιμίου και διαθλάται σε εγκάρσιο
κύμα υπό συγκεκριμένη γωνία.
Ένα άλλο παράδειγμα μετασχηματισμού που επιδιώκουμε να αποφύγουμε είναι
όταν εγκάρσια κύματα μετασχηματίζονται σε διαμήκη. Αυτό συμβαίνει κατά τον έλεγχο
ρίζας σε συγκόλληση μονού V με γωνιακό μετατροπέα. Ένα μέρος των υπερήχων που
εισέρχεται στην κοιλότητα της ρίζας ανακλάται κάθετα προς τη διεύθυνση του καπακιού
της συγκόλλησης και αν υπερβεί κάποια κρίσιμη γωνία το κύμα θα μετασχηματιστεί από
εγκάρσιο σε διαμήκες.
3.3 Εφαρμογές νόμου Snell
Με αξιοποίηση του νόμου του Snell παράγονται και διαδίδονται μόνο εγκάρσια
κύματα σε ένα υλικό, με συγκεκριμένη γωνία διάθλασης, παρά το γεγονός ότι το στοιχείο
του μετατροπέα εκπέμπει μόνο διαμήκη κύματα.
Τα εγκάρσια κύματα παράγονται στο χάλυβα σε γωνίες μεταξύ 38° και 80° και
συνήθως σε τυποποιημένες τιμές από 45°, 60° και 70°. Ο νόμος του Snell βρίσκει
εφαρμογή όχι μόνο στην περίπτωση των ηχητικών κυμάτων, αλλά και γενικότερα όπως για
παράδειγμα στα ηλεκτρομαγνητικά κύματα.
3.4 Ακουστική αντίσταση (Acoustic impedance)
Γενικά όταν ένας μετατροπέας χρησιμοποιείται για να εκπέμψει ένα ηχητικό κύμα
εντός του δοκιμίου, ένα μόνο μέρος του κύματος κατορθώνει να διαπεράσει το δοκίμιο. Το
υπόλοιπο μέρος του κύματος ανακλάται από τη διεπιφάνεια των δύο υλικών. Το ποσό της
ηχητικής ενέργειας που ανακλάται εξαρτάται από το λόγο της ακουστικής αντίστασης.
Ο όρος ακουστική αντίσταση εκφράζει την αντίσταση του υλικού κατά τη διάδοση
μέσα σε αυτό ενός ηχητικού κύματος. Η ακουστική αντίσταση αποτελεί και την αιτία της
αποδυνάμωσης - εξασθένισης του ήχου εντός του δοκιμίου.
Ως ακουστική αντίσταση Ζ (Acoustic Impedance) ορίζεται το γινόμενο της
πυκνότητας ρ του υλικού μέσα στο οποίο διαδίδεται το κύμα και της ταχύτητας διάδοσης
του κύματος v.
Z=p•v
Όταν ένα κύμα υπερήχων διαπερνά δύο δοκίμια με την ίδια ακουστική αντίσταση
(λόγος 1:1) και σε στενή επαφή δεν παρουσιάζεται καμία ανάκλαση, τότε θεωρητικά σε
αυτή την περίπτωση έχουμε 100% διάδοση του κύματος των υπερήχων. Στην πράξη, αυτό
είναι αρκετά δύσκολο να επιτευχθεί χωρίς τη χρήση κάποιου υλικού σύζευξης. Το υλικό
σύζευξης έχει διαφορετική ακουστική αντίσταση από αυτή του δοκιμίου και συνεπώς
|536|
επηρεάζει την ποσότητα του ηχητικού κύματος που θα ανακλαστεί ή θα διαθλαστεί. Στις
επιφάνειες που διαχωρίζουν δύο μέσα διάδοσης µε διαφορετική ακουστική αντίσταση (Ζ),
παρατηρείται μερική έως σχεδόν ολική ανάκλαση της ηχητικής δέσμης.
Σε μία διεπιφάνεια μεταξύ μέσων διαφορετικής ακουστικής αντίστασης, ένα μέρος
της συνολικής ενέργειας του ηχητικού κύματος (EI) ανακλάται και επιστρέφει στο μέσον 1
(E) και ένα μέρος συνεχίζει να διαδίδεται στο μέσο 2 (ET). Το ποσοστό της ενέργειας που
ανακλάται (E) στη διεπιφάνεια υπολογίζεται από τον παρακάτω τύπο:
ER (Z2 – Z1)2
------------ = -----------------------
EI (Z1 + Z2)2
Όπου:
Z1: η ακουστική αντίσταση του μέσου 1
Ο παραπάνω τύπος ισχύει για την ενέργεια ή την ένταση του ήχου. Ο λόγος ER/EI
καλείται και δείκτης ανάκλασης (reflection factor). Στη διαχωριστική επιφάνεια μεταξύ
δύο μέσων διάδοσης µε ίσες περίπου ακουστικές αντιστάσεις (Ζ1 ≈ Z2), ο δείκτης
ανάκλασης είναι πολύ μικρός και επομένως και το ποσοστό ανάκλασης είναι επίσης μικρό.
Επομένως, ανακλάται ελάχιστη ηχητική ενέργεια.
Αντίθετα, όταν η ακουστική αντίσταση ενός μέσου είναι πολύ μεγαλύτερη της
αντίστοιχης ενός άλλου (Ζ1>Ζ2 ή Ζ2>Ζ1), ο δείκτης ανάκλασης είναι μεγάλος και το
μεγαλύτερο ποσοστό της ενέργειας της ηχητικής δέσμης ανακλάται.
Το ποσοστό της ενέργειας που διαδίδεται είναι:
ET ER 4 • Z1 • Z2
------------- = 1 - ------------- = -----------------------
EI EI (Z1 + Z2)2
O λόγος ET/EI καλείται και δείκτης διάδοσης (Transmitted Factor).
Ας μελετήσουμε στη συνέχεια δύο παραδείγματα.
α. Διεπιφάνεια λαδιού / χάλυβα

Ζ1 = 0,15•107kg/m2/s Z2 = 4,6•107kg/m2/s
2
ER (Z2–Z1)
----------- = -------------------- = 0,88
EΙ (Z2+Z1)2
Άρα το 88% της ενέργειας ανακλάται και μόνον το 12% διαδίδεται.
|537|
β. Διεπιφάνεια χάλυβα / αέρα

Ζ1 = 4,6•107kg/m2/s Z2 = 330kg/m2/s (δηλαδή Ζ1>Ζ2)
ER/EΙ ≈ 1
Άρα πρακτικά το 100% της ενέργειας ανακλάται.
Πίνακας 3.1: Πυκνότητα, ταχύτητα διαμηκών και εγκαρσίων κυμάτων και ακουστική
αντίσταση διαφόρων υλικών
Πυκνότητα ρ Ταχύτητα VL Ταχύτητα VT Ακουστική

Υλικό 3 Αντίσταση Ζ
(kg/m ) (m/s) (m/s) (kg/m2/s)
Αλουμίνιο 2.710 6.350 3.130 17,2•106
Χαλκός 8.900 4.660 2.260 41,8•106
Μόλυβδος 11.400 2.160 700 24,6•106
Χάλυβας 7.850 5.920 3.230 45,6•106
Quartz 15,3•106
(χαλαζίας) 2.650 5.760 2.200
Perspex - 3,2•106
Plexiglas 1.180 2.730 1.430
Νερό (20 C)
o
1.000 1.480 - 1,5•106
Αέρας 1,3 330 - 330
Λάδι λιπάνσεως 870 1.740 - 1,5•106
3.5 Υπολογισμός κρίσιμων γωνιών για perspex και χάλυβα
1η κρίσιμη γωνία πρόσπτωσης θL1 = 27,46
ημθL1 ημθL2
Νόμος του Snell: ----------------- = ---------------------
VL1 VL2
ΘL1 = Γωνία πρόσπτωσης
ΘL2 = 90° Γωνία διάθλασης – διάδοσης
VL1 = 2.730m/s = 2,73Km/s (ταχύτητα διάδοσης στο perspex) 1
VL2 = 5.920m/s = 5,92Km/s (ταχύτητα διάδοσης στον χάλυβα) 2
ημθL1 ημθL2 ημθL2•VL1
--------------- = --------------- => ημθL1 = ------------------------ =>
VL1 VL2 VL2
ημ 90°•2,73 1•2,73
ημθL1 = --------------------- => ημθL1 = ----------------- =>
5,92 5,92
ημθL1 = 0,4611 => θL1 = 27,46 (1η κρίσιμη γωνία)
|538|
2η κρίσιμη γωνία πρόσπτωσης θL1 = 57,69
ΘL1 = Γωνία πρόσπτωσης

ΘΤ2 = 90° Γωνία διάθλασης – διάδοσης
VL1 = 2.730m/s = 2,73km/s (ταχύτητα διάδοσης στο perspex) 1
VΤ2 = 3.230m/s = 3,23km/s (ταχύτητα διάδοσης στον χάλυβα) 2
ημθL1 ημθΤ2 ημθΤ2•VL1
------------- = --------------- => ημθL1 = ------------------------- =>
VL1 VΤ2 VΤ2
ημ 90°•2,73 1•2,73
ημθL1 = ---------------------- => ημθ L1 = -------------------- =>
3,23 3,23
ημθL1 = 0,8452 => θL1 = 57, 69 (2η κρίσιμη γωνία)
Εικόνα 3.8: 1η και 2η κρίσιμη γωνία
|539|
4. ΜΕΤΑΤΡΟΠΕΙΣ ΚΑΙ ΣΥΣΚΕΥΕΣ ΥΠΕΡΗΧΩΝ
4.1 Παραγωγή υπερήχων, πιεζοηλεκτρισμός (πιεζοηλεκτρικό φαινόμενο)
Υπάρχουν δύο τρόποι παραγωγής υπερήχων:

1. μέσω του πιεζοηλεκτρισμού
2. μέσω του φαινομένου της μαγνητοσυστολής.
Στη μέθοδο υπερήχων χρησιμοποιείται σχεδόν αποκλειστικά το πιεζοηλεκτρικό

φαινόμενο.
Το πιεζοηλεκτρικό φαινόμενο ανακαλύφθηκε το 1880 από τους Pierre και Jacques

Curie. Στηρίζεται στην ιδιότητα κάποιων υλικών, κυρίως κρυσταλλικών αλλά και μερικών
κεραμικών, να παράγουν ηλεκτρική τάση όταν δέχονται κάποια μηχανική τάση ή
ταλάντωση.
Το ευθύ πιεζοηλεκτρικό φαινόμενο χρησιμοποιείται ευρέως για την έναυση
διατάξεων μετατροπής. Κατά το αντίστροφο φαινόμενο, το υλικό υπόκειται σε μηχανική
παραμόρφωση, όταν βρεθεί κάτω από ηλεκτρική τάση. Γενικά, το πιεζοηλεκτρικό
φαινόμενο είναι ανισοτροπικό, παρουσιάζεται δηλαδή σε υλικά με κρυσταλλική δομή
χωρίς κέντρο συμμετρίας και αποτελεί φαινόμενο πρώτης τάξης. Στην περίπτωση κάποιων
κεραμικών υλικών κάτω από μια κρίσιμη θερμοκρασία, γνωστή και ως θερμοκρασία Curie,
δημιουργούνται μέσα στον κρύσταλλο ηλεκτρικά δίπολα τυχαίου προσανατολισμού. Κατά
τη διαδικασία πόλωσης, με την παρουσία ισχυρού ηλεκτρικού πεδίου, τα δίπολα αυτά
τείνουν να ευθυγραμμιστούν σε ένα ηλεκτρικό δίπολο. Μετά τη διαδικασία ψύξης και την
απομάκρυνση του πεδίου πόλωσης, τα ηλεκτρικά δίπολα δε μπορούν να επιστρέψουν στις
αρχικές τους θέσεις και το υλικό γίνεται μόνιμα πιεζοηλεκτρικό, με δυνατότητα να
μετατρέπει τη μηχανική ενέργεια σε ηλεκτρική και αντίστροφα. Η ιδιότητα αυτή χάνεται
μόνο όταν η θερμοκρασία υπερβεί τη θερμοκρασία Curie ή όταν η διάταξη μετατροπής
υποβληθεί σε ένα πολύ ισχυρό ηλεκτρικό πεδίο. Το πιεζοηλεκτρικό φαινόμενο
εφαρμόζεται ευρέως στην ακουστική.
Εικόνα 4.1: Εφαρμογή του πιεζοηλεκτρικού φαινομένου σε ένα απλό ακουστικό
Όταν εφαρμόζεται εναλλασσόμενη ηλεκτρική τάση σε ένα στοιχείο (κρύσταλλο),

τότε αυτό διαστέλλεται και συστέλλεται, παράγοντας δόνηση υψηλής συχνότητας.
Επομένως λειτουργεί ως πομπός υπερήχων.
|540|
Εικόνα 4.2: Πιεζοηλεκτρικό στοιχείο κατά την εφαρμογή ηλεκτρικής τάσης
Όταν το πιεζοηλεκτρικό στοιχείο δέχεται κύματα πίεσης (υπέρηχο, άρα το στοιχείο

λειτουργεί ως δέκτης), αυτά μετατρέπονται σε ηλεκτρική τάση, η οποία ενισχύεται και
οδηγείται στις πλάκες Υ του παλμογράφου. Επομένως, εμφανίζεται ύψος σήματος ανάλογα
με την ένταση του επιστρέφοντος ήχου. Το χρονικό διάστημα που παρήλθε από το
έναυσμα ως την επιστροφή του ήχου, μέσω των πλακών Χ, τοποθετεί το σήμα στην
οριζόντια κλίμακα. Πρόκειται για τη συνήθη περίπτωση απεικόνισης, δηλαδή την Α
σάρωση (Α-Scan). Οι μετρήσεις γίνονται πάντοτε από το μηδέν της οθόνης έως τον
αριστερό πόδα του σήματος.
Πιεζοηλεκτρικές ιδιότητες εμφανίζουν οι κρύσταλλοι χαλαζία (Quartz), το θειικό
λίθιο (Li2SO4), το τιτανικό βάριο και άλλα υλικά. Ένας μετατροπέας μπορεί να έχει ένα
μόνο στοιχείο (πομπό και δέκτη) ή δύο (διπλός μετατροπέας) ή πολλαπλά στοιχεία
(συστοιχία στοιχείων - μετατροπέας Phased Array).
Οι πιεζοηλεκτρικοί κρύσταλλοι τεμαχίζονται κατά τον άξονα Χ ή κατά τον άξονα
Υ, ανάλογα με τον αρχικό τεμαχισμό του κρυσταλλικού υλικού. Οι κρύσταλλοι που
χρησιμοποιούνται στον έλεγχο με υπερήχους, τεμαχίζονται κατά τον άξονα των Χ, λόγω
του είδους της δόνησης που παράγουν. Αυτό σημαίνει ότι η μεγαλύτερη όψη του
κρυστάλλου τεμαχίζεται κάθετα προς τον άξονα των Χ του κρυσταλλικού υλικού.
Εικόνα 4.3: Κοπή και δομή πιεζοηλεκτρικού κρυστάλλου
Η συχνότητα του κρυστάλλου καθορίζεται από το πάχος του και την ακουστική
ταχύτητα και τα μεγέθη αυτά συνδέονται με τον παρακάτω τύπο:
|541|
v
t = -----------
2f
Όπου:
t: το πάχος κρυστάλλου σε mm
v: η ταχύτητα του ήχου στο υλικό του κρυστάλλου σε mm/s
f: η συχνότητα με την οποία πάλλεται ο κρύσταλλος σε Hz
Από τον τύπο προκύπτει ότι όσο πιο λεπτός είναι ο κρύσταλλος, τόσο υψηλότερη
είναι η εκπεμπόμενη συχνότητα.
4.2 Υλικά πιεζοηλεκτρικών κρυστάλλων
Τα πιεζοηλεκτρικά στοιχεία (συνήθως αποκαλούνται «κρύσταλλοι») είναι τριών

ειδών: α) κρύσταλλοι χαλαζία (quartz) β) πολωμένα κεραμικά (polarized ceramics) γ)
στοιχεία από θειικό λίθιο (Lithium Sulphate). Στην συνέχεια αναλύεται κάθε είδος
ξεχωριστά.
α. Κρύσταλλοι χαλαζία (quartz): Πρόκειται για κρυσταλλικό οξείδιο του πυριτίου
(SiO2), το οποίο χαρακτηρίζεται από υψηλή χημική, ηλεκτρική και θερμική σταθερότητα.
Είναι αδιάλυτο, σκληρό και με υψηλή αντίσταση στη φθορά. Είναι όμως πομπός πολύ
μικρής απόδοσης αλλά και δέκτης χωρίς ιδιαίτερα ικανοποιητικά χαρακτηριστικά.
Οι κρύσταλλοι χαλαζία μπορεί να κοπούν κάθετα στον άξονα Χ, οπότε, παράγουν
διαμήκη κύματα και κάθετα στον άξονα Y, οπότε παράγουν εγκάρσια κύματα. Αυτό όμως
δεν είναι τόσο σημαντικό, διότι τα εγκάρσια κύματα παράγονται με μετατροπή τύπου μέσω
κατάλληλης γωνίας πρόσπτωσης διαμήκους κύματος (μεγαλύτερη από την 1η και
μικρότερη από την 2η κρίσιμη γωνία).
Το πάχος του κρυστάλλου επιδρά άμεσα στο παραγόμενο μήκος κύματος (t = λ/2)
και γι’ αυτό λεπτοί κρύσταλλοι μεγάλων συχνοτήτων (π.χ. 10 - 15ΜΗz) χρησιμοποιούνται
μόνο στη τεχνική βύθισης διότι στη μέθοδο επαφής η θραύση τους είναι ευκολότερη.
β. Πολωμένα κεραμικά (polarized ceramics): Στη φυσική τους μορφή, οι
κρύσταλλοι ενός κεραμικού πολυκρυσταλλικού υλικού, είναι ατάκτως προσανατολισμένοι
με αποτέλεσμα οι πιεζοηλεκτρικές τους ιδιότητες να αλληλοαναιρούνται. Για να πολωθούν
αυτά τα κεραμικά, πρέπει να θερμανθούν στην αντίστοιχη θερμοκρασία Curie και να
υποβληθούν σε ηλεκτροστατικό πεδίο. Μετά από αυτή τη διαδικασία, το πολωμένο
κεραμικό υλικό, συμπεριφέρεται ως πιεζοηλεκτρικός μεταλλάκτης και διατηρεί την
ιδιότητα του αυτή μέχρι να θερμανθεί εκ νέου έως τη θερμοκρασία Curie.
Η θερμοκρασία Curie για το τιτανικό βάριο είναι περίπου 100 - 120°C, αν και οι
πιεζοηλεκτρικές ιδιότητες αυτού του υλικού αρχίζουν να εξασθενούν για θερμοκρασίες
πάνω από 70°C. Επίσης, ο πρώτος λόγος για τον οποίο οι συνήθεις μετατροπείς δε
χρησιμοποιούνται σε υλικά θερμοκρασίας άνω των 50°C είναι η πιθανότητα μείωσης της
απόδοσης του κρυστάλλου. Ο δεύτερος λόγος είναι ότι τα χαρακτηριστικά της βάσης του
μετατροπέα αρχίζουν να αλλάζουν, οπότε μεταβάλλεται η ταχύτητα και κατά συνέπεια και
η γωνία της ηχητικής δέσμης στους γωνιακούς μετατροπείς.
Τα πολωμένα κεραμικά παρουσιάζουν εξαιρετικές ιδιότητες πομπού (πολύ μεγάλη
απόδοση). Είναι αδιάλυτα αλλά έχουν μικρό χρόνο ζωής και γίνονται ψαθυρά.
Αντικαθιστούν τους κρυστάλλους χαλαζία σε όλο και μεγαλύτερη κλίμακα. Τα πιο γνωστά
κεραμικά για υπερήχους είναι το τιτανικό βάριο (barium titanate), ο μετανιοβικός
μόλυβδος (lead metaniobate), ο ζιρκονικός μόλυβδος (lead zirconate) και ο
ζιρκονικοτιτανικός μόλυβδος (lead zirconate titanate).
|542|
γ. Στοιχεία από θειικό λίθιο (Lithium Sulphate): Ως δέκτες είναι οι
αποτελεσματικότεροι. Ωστόσο, ως πομποί είναι μέτριοι. Είναι διαλυτοί στο νερό και
αρκετά ψαθυροί. Σε αυτούς ανήκουν ενδεικτικά ο χαλαζίας (SiO2), το θειικό λίθιο
(Li2SO4), το τιτανικό βάριο (BaTiO3), το ζιρκόνιο του μολύβδου (PbZrO3). Μεταξύ των
προαναφερθέντων, ο χαλαζίας και το τιτανικό βάριο έχουν την πιο ευρεία χρήση.
Πίνακας 4.1: Υλικά πιεζοηλεκτρικών κρυστάλλων

Φυσικής προέλευσης Τεχνητά κατασκευασμένοι Κεραμικοί
Τιτανικό βάριο (BaTiO3)
Ζιρκονικός μόλυβδος
Χαλαζίας (SiO2)
(PbZrO3)
Τουρμαλίνης
Θειικό λίθιο (Li2SO4) Ζιρκονικοτιτανικός
Na (Mg, Fe)3
μόλυβδος (PZT)
Al6B3Si6O27 (OH,F)4
Μετανιοβικός μόλυβδος
(PbNb2O6)
Στα μειονεκτήματα των σύγχρονων υλικών κρυστάλλων περιλαμβάνονται η χαμηλή

μηχανική αντοχή, δηλαδή η ευθραυστότητα τους και η γήρανση τους.
Πίνακας 4.2: Πλεονεκτήματα και μειονεκτήματα υλικών πιεζοηλεκτρικών κρυστάλλων

Κρυσταλλικό υλικό Πλεονεκτήματα Περιορισμοί
Σταθερότητα / Αντοχή στη Χαμηλές πιεζοηλεκτρικές
Χαλαζίας
φθορά ιδιότητες
Άριστος δέκτης / Εύκολη
Θειικό λίθιο Υδατοδιαλυτός
απόσβεση
Άριστος πομπός με καλές
πιεζοηλεκτρικές ιδιότητες /
Τιτανικό βάριο Κρίσιμη θερμοκρασία
Μπορεί να εστιάσει την
ηχητική δέσμη
Καλές πιεζοηλεκτρικές
Ζιρκονικός μόλυβδος
ιδιότητες
Ζιρκονικοτιτανικός Καλή εκπομπή και σχετικές
Δύσκολη επαργύρωση
μόλυβδος ιδιότητες
4.3 Πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς
Το κρυσταλλικό στοιχείο τοποθετείται σε κατάλληλο περίβλημα και σε απόλυτη

επαφή με το υλικό υποστήριξης (backing material), ώστε να επιτυγχάνεται μικρή διάρκεια
παλμού. Το υλικό υποστήριξης είναι συνήθως μία έποξυ-ομάδα, δηλαδή πλαστικό με
ισχυρή απορρόφηση. Μπροστά από τον κρύσταλλο υπάρχει ακρυλικό υλικό (perspex),
προκειμένου ο κρύσταλλος να διαφυλάσσεται από την τριβή, τη φθορά ή από τη θραύση.
Αυτό το ακρυλικό υλικό μπορεί να έχει και μορφή «σφήνας», ώστε να δίνεται η κατάλληλη
γωνία πρόσπτωσης στη διεπιφάνεια perspex - δοκιμίου (γωνιακοί μετατροπείς).
|543|
Προκειμένου να έχουμε καλύτερη επαφή μετατροπέα - δοκιμίου, μπορούμε να
χρησιμοποιήσουμε ειδικά «παπουτσάκια» από ακρυλικό υλικό (contact shoes), με
καμπυλότητα ίδια με αυτή του δοκιμίου. Μπορούμε να χρησιμοποιήσουμε επίσης στοιχεία
από ακρυλικό ως φακούς εστίασης (focus lenses), κυλινδρικούς ή σφαιρικούς, για
γραμμική και σημειακή εστίαση αντίστοιχα.
Στην περίπτωση της τεχνικής βύθισης, εκτός από τους κλασσικούς βυθιζόμενους
μετατροπείς, έχουμε και τις περιπτώσεις συνδυασμού μετατροπέα - στήλης νερού (bubbler)
ή μετατροπέα - ακροφυσίου (squirter / water jet) ή ακόμη και μετατροπέα - ελαστικής
ρόδας (wheel transducer). Το ηλεκτρικό σήμα από και προς τον κρύσταλλο οδηγείται μέσω
ενός ομοαξονικού καλωδίου (coaxial cable), για την αποφυγή παρεμβολών και ηλεκτρικών
θορύβων.
Εικόνα 4.4: Σφήνες για έλεγχο δοκιμίων με καμπυλότητα
|544|
Εικόνα 4.5: Μετατροπείς (μινιατούρες) για έλεγχο στην αεροναυπηγική
4.3.1 Μονοί πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς επαφής
Οι μονοί πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς έχουν ένα μονό κρύσταλλο και λειτουργούν

με την τεχνική παλμού - ηχούς (pulse-echo). Με λίγα λόγια, ένας μετατροπέας μονού
στοιχείου εκπέμπει προς το δοκίμιο παλμούς μερικών μηκών κύματος με διαλείμματα
μερικών υποπολλαπλασίων του δευτερολέπτου (μs). Στα ενδιάμεσα χρονικά διαστήματα
που ο μετατροπέας αδρανεί, δέχεται τον ανακλώμενο παλμό από το άλλο άκρο του υλικού
ή από οποιαδήποτε ασυνέχεια του.
Εικόνα 4.6: Μονοί πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς επαφής
4.3.2 Μετατροπείς τύπου μωσαϊκού και τύπου βούρτσας
Προκειμένου να επιτυγχάνεται ταυτόχρονη σάρωση μεγαλύτερης σχετικά

επιφάνειας, κατασκευάζονται μετατροπείς με κρυστάλλους τύπου μωσαϊκού ή τύπου
βούρτσας. Οι κρύσταλλοι τύπου μωσαϊκού (mosaic transducer) αποτελούνται από
πολλαπλά στοιχεία τα οποία διεγείρονται είτε ταυτόχρονα είτε με συγκεκριμένη χρονική
καθυστέρηση, οπότε λειτουργούν ως γραμμική συστοιχία (linear array).
Οι κρύσταλλοι τύπου βούρτσας (paint brush transducer) αποτελούνται συνήθως από
ένα μόνο στοιχείο με μεγάλο λόγο μήκους προς πλάτος. Μπορούν να κάνουν ταυτόχρονα
σάρωση σε μεγάλο σχετικά μήκος του δοκιμίου γρηγορότερα, ωστόσο δεν παρέχουν την
ίδια ευαισθησία και διακριτική ικανότητα όπως οι μικρότεροι κρύσταλλοι.
|545|
4.3.3 Πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς διπλού στοιχείου
Οι μετατροπείς διπλού στοιχείου έχουν δύο κρυστάλλους οι οποίοι λειτουργούν

συνεχώς, ο ένας ως πομπός υπερήχων και ο άλλος ως δέκτης. Οι κρύσταλλοι είναι ελαφρώς
κεκλιμένοι, υπό γωνία 0ο έως και 12ο, ανάλογα με τη χρήση τους. Έτσι, αυξάνεται η
ευαισθησία του μετατροπέα στα μικρά βάθη. Μεταξύ των δύο κρυστάλλων υπάρχει ένας
διαχωριστής από φελλό που αποτρέπει την αλληλεπίδραση και ανάμιξη των ηχητικών
κυμάτων.
Οι μετατροπείς διπλού στοιχείου πλεονεκτούν έναντι των μονών αφού δεν
παρουσιάζουν νεκρή ζώνη και έτσι μπορούν να ανιχνεύσουν ασυνέχειες πολύ κοντά στην
επιφάνεια του εξεταζόμενου υλικού. Επίσης, χρησιμοποιούνται εκτενώς στις μετρήσεις
διάβρωσης και σε τραχιές επιφάνειες αλλά δεν παρέχουν τόσο καλή ευαισθησία στην
παχυμέτρηση σε σχέση με άλλους μετατροπείς.
Εικόνα 4.7: Πιεζοηλεκτρικοί μετατροπείς διπλού στοιχείου
4.3.4 Γωνιακοί μετατροπείς μονού κρυστάλλου
Οι μετατροπείς μονού κρυστάλλου έχουν μόνο έναν κρύσταλλο τόσο για την
εκπομπή όσο και για τη λήψη υπερήχων. Ο ανιχνευτής ασυνεχειών ελέγχει τη λειτουργία
του μετατροπέα εκπέμποντας έναν παλμό ενέργειας και στη συνεχεία ενεργοποιεί το
κύκλωμα λήψης «ακούγοντας» κάθε ήχο που επιστρέφει μεταξύ των παλμών. Το κύκλωμα
πρέπει να ενεργοποιηθεί γρηγορότερα και πριν από την πλήρη απόσβεση του κρυστάλλου.
Έτσι, ο δέκτης συλλαμβάνει τις τελευταίες δονήσεις του κρυστάλλου από τον προηγούμενο
παλμό του, κάθε φορά που ενεργοποιείται και τις απεικονίζει στην οθόνη ως νεκρή ζώνη.
Αυτό ελαχιστοποιεί την πιθανότητα ανίχνευσης ασυνεχειών που βρίσκονται κοντά στην
επιφάνεια.
Οι γωνιακοί μετατροπείς φέρουν ένα σφηνοειδές στέλεχος επαφής από πλεξιγκλάς
που ονομάζεται πέλμα ή παπουτσάκι, πάνω στο οποίο επικάθεται ο κρύσταλλος. Η γωνία
της σφήνας καθορίζει τη γωνία με την οποία ο υπέρηχος προσπίπτει στη διαχωριστική
επιφάνεια (γωνία προσπτώσεως). Στη συνέχεια, σύμφωνα με το νόμο του Snell, από αυτή
τη γωνία καθορίζεται και η γωνία με την οποία ο ήχος διαπερνά το δοκίμιο (γωνία
διαθλάσεως).
Το ηχοαπορροφητικό υλικό (υλικό απόσβεσης), στο πίσω μέρος του κρυστάλλου
ελέγχει το μήκος των παλμών υπερήχων, απορροφώντας την ηχητική ενέργεια και
παράγοντας οξείς και βραχείς παλμούς. Το μήκος του παλμού είναι ο κύριος παράγοντας
που καθορίζει τη διακριτική ικανότητα του οργάνου. Οι γωνιακοί μετατροπείς
χρησιμοποιούνται κυρίως στον έλεγχο των συγκολλήσεων.
Εικόνα 4.8: Γωνιακοί μετατροπείς μονού κρυστάλλου
|546|
4.3.5 Μετατροπείς μαλακού άκρου
Αποτελούνται από μαλακό διάφραγμα προσαρμοσμένο στη μπροστινή όψη του

κρυστάλλου με τη βοήθεια βιδωτού δακτυλίου. Ο χώρος μεταξύ του διαφράγματος και του
κρυστάλλου καταλαμβάνεται από υλικό σύζευξης για απομάκρυνση του αέρα. Το μαλακό
διάφραγμα προσαρμόζεται στις ανωμαλίες της επιφάνειας του δοκιμίου, καθιστώντας το
μετατροπέα αυτό ιδανικό για τραχιές ή ανομοιόμορφες επιφάνειες όπως αυτές των χυτών.
Εικόνα 4.9: Μετατροπείς μαλακού άκρου
4.3.6 Μετατροπείς ακροφύσιου ύδατος
Αποτελούνται από ένα κέλυφος με ακροφύσιο μέσα στο οποίο βρίσκεται ο

μετατροπέας. Το κέλυφος τροφοδοτείται με νερό που εκτοξεύεται από το ακροφύσιο
σχηματίζοντας στήλη ύδατος προς την επιφάνεια του δοκιμίου. Ο ήχος διαδίδεται μέσα από
αυτή την υδάτινη στήλη. Λόγω της ελαστικότητας του υλικού σύζευξης (νερό), ο
συγκεκριμένος μετατροπέας μπορεί να χρησιμοποιηθεί σε τραχείες ή ανομοιόμορφες
επιφάνειες.
Οι μετατροπείς ακροφύσιου ύδατος βρίσκουν συνήθως εφαρμογή σε συστήματα
αυτόματης σάρωσης υπερήχων και μπορούν να εφοδιαστούν με τροχό – οδηγό ώστε να
ακολουθούν το σχήμα του δοκιμίου. Μπορούν επίσης να χρησιμοποιηθούν σε συστοιχίες
για σάρωση μεγαλύτερων επιφανειών.
Εικόνα 4.10: Μετατροπέας ακροφύσιου ύδατος
|547|
4.3.7 Κυλιόμενοι μετατροπείς – Μετατροπείς με τροχίσκους
Σε αυτό το μετατροπέα ο κρύσταλλος βρίσκεται στον άξονα του τροχίσκου και ο

ήχος διαδίδεται μέσα από το μαλακό υλικό του τροχίσκου στο υλικό του δοκιμίου. Ένας
σύνδεσμος με φορτισμένο ελατήριο υποχρεώνει το μετατροπέα να ακολουθεί το σχήμα του
δοκιμίου και να εφάπτεται σωστά σε τραχείες ή ανομοιόμορφες επιφάνειες. Οι κυλιόμενοι
μετατροπείς χρησιμοποιούνται με τρόπο παραπλήσιο των μετατροπέων ακροφύσιου
ύδατος. Το κυριότερο πλεονέκτημα τους είναι ότι δε χρειάζεται εξωτερικό υλικό σύζευξης.
Χρησιμοποιούνται κυρίως στις αεροδιαστημικές βιομηχανίες.
Εικόνα 4.11: Κυλιόμενος μετατροπέας
4.3.8 Μετατροπείς με πέλμα καθυστέρησης
Πρόκειται για μετατροπείς παρόμοιας κατασκευής με τους αντίστοιχους μαλακού

άκρου. Η διαφορά τους έγκειται στο γεγονός ότι είναι εφοδιασμένοι με ένα μακρύ άκρο
από πλεξιγκλάς αντί για διάφραγμα. Το μήκος αυτού του άκρου υπερκαλύπτει το χρόνο
που απαιτείται για την επιστροφή της ηχούς από την άνω επιφάνεια του δοκιμίου στον
κρύσταλλο. Αυτό φέρνει την ηχώ της άνω επιφάνειας (F.S.E) σε μεγαλύτερη απόσταση
στον οριζόντιο άξονα της απεικόνισης (άξονα του χρόνου) δηλαδή πέρα από τη νεκρή
ζώνη. Έτσι, είναι δυνατή η ανίχνευση ασυνεχειών που βρίσκονται κοντά στην επιφάνεια, η
μέτρηση υλικών μικρού πάχους αλλά και η ανίχνευση αποκόλλησης (delamination) σε
σύνθετα υλικά. Οι μετατροπείς αυτοί είναι συνήθως υψηλής συχνότητας, οπότε έχουμε
μικρή νεκρή αλλά και αυξημένη εγγύς ζώνη. Η τελευταία περιέχεται στο μετατροπέα και
όχι στο δοκίμιο, πράγμα εξαιρετικά χρήσιμο για την ανίχνευση και τον προσδιορισμό του
μεγέθους των ασυνεχειών που βρίσκονται κοντά στην επιφάνεια.
Εικόνα 4.12: Μετατροπείς με πέλμα καθυστέρησης
|548|
4.3.9 Βυθιζόμενοι μετατροπείς
Οι συγκεκριμένοι μετατροπείς χρησιμοποιούν μια στήλη ή δεξαμενή με νερό για τη

σύζευξη της ηχητικής δέσμης στο δοκίμιο. Μπορούν να χρησιμοποιηθούν για τη
βελτιστοποίηση της σύζευξης της ηχητικής δέσμης σε αιχμηρές ακτίνες, αυλακώσεις ή
κανάλια.
Εικόνα 4.13: Βυθιζόμενοι μετατροπείς
4.4 Συχνότητα, εύρος ζώνης, διάρκεια κυματομορφής και απόσβεση
Ως εύρος ζώνης (bandwidth) ορίζουμε το τμήμα των συχνοτήτων εντός

καθορισμένων ορίων πλάτους. Πρέπει να σημειωθεί ότι οι τυπικοί μετατροπείς που
χρησιμοποιούνται στους Μη Καταστροφικούς Ελέγχους δεν παράγουν ηχητικά κύματα σε
μία μόνο συχνότητα, αλλά σε μία περιοχή συχνοτήτων με κεντρική συχνότητα την
ονομαστική συχνότητα του μετατροπέα. Το βιομηχανικό πρότυπο καθορίζει αυτό το εύρος
ζώνης στα -6dB (ή το ήμισυ του πλάτους).
Επιπρόσθετα, ως διάρκεια κυματομορφής (waveform duration) ορίζουμε τον αριθμό
των επαναλήψεων ενός κύματος που παράγεται από το μετατροπέα κάθε φορά που
πάλλεται. Ένας μετατροπέας με στενό εύρος ζώνης (narrow bandwidth) έχει περισσότερους
κύκλους από έναν αντίστοιχο με ευρύτερο εύρος ζώνης (broader bandwidth). Η διάμετρος
του στοιχείου, το υλικό υποστήριξης, ο τρόπος διέγερσης του μετατροπέα έχουν επίδραση
στη συνολική διάρκεια της κυματομορφής.
Πίνακας 4.3: Σύγκριση χαρακτηριστικών μεγάλου και μικρού εύρους ζώνης μετατροπέων
ΜΕΤΑΤΡΟΠΕΙΣ ΜΕΓΑΛΟΥ ΕΥΡΟΥΣ ΜΕΤΑΤΡΟΠΕΙΣ ΜΙΚΡΟΥ ΕΥΡΟΥΣ
ΖΩΝΗΣ ΖΩΝΗΣ
Υψηλή απόσβεση Χαμηλή απόσβεση
Μικρό μήκος παλμού Μεγαλύτερο μήκος παλμού
(συνήθως 1 έως 2 κύκλοι) (συνήθως 3 έως 4 κύκλοι)
Μικρή νεκρή ζώνη Μεγάλη νεκρή ζώνη
Αυξημένη διακριτική ικανότητα Μειωμένη διακριτική ικανότητα
Ανεπαρκής διείσδυση Καλή διείσδυση
|549|
Πίνακας 4.4: Κατηγοριοποίηση μετατροπέων σύμφωνα με το εύρος συχνοτήτων
Στενό εύρος ζώνης
15 - 30% Καλύτερη ανιχνευσιμότητα
(Narrow bandwidth)
Μεσαίο εύρος Καλή ανιχνευσιμότητα και
31 - 75%
(Medium bandwidth) διαστασιολόγηση
Μεγάλο εύρος ζώνης
76 - 110% Καλύτερη διαστασιολόγηση
(Broad (wide) bandwidth)
BROADBAND
Time axis Frequency axis
NARROWBAND
Time axis Frequency axis
4.5 Παραγωγή υπερήχων με τη μέθοδο της μαγνητοσυστολής - (EMAT)
Οι ηλεκτρομαγνητικοί ακουστικοί μετατροπείς παράγουν υπερήχους στο τμήμα του

δοκιμίου που πρόκειται να επιθεωρηθεί αντί του μετατροπέα. Ένας μετατροπέας που
λειτουργεί με τη μέθοδο της μαγνητοσυστολής, αποτελείται από ένα μαγνήτη και ένα πηνίο
σύρματος και χρησιμοποιεί τη δύναμη Lorentz και τη δύναμη μαγνητοσυστολής για να
δημιουργήσει ένα ακουστικό κύμα μέσα στο ίδιο το δοκίμιο. Το πηνίο του στοιχείου
δημιουργεί μαγνητικό πεδίο, το οποίο ταλαντεύεται σε συχνότητα υπερήχων. Το πεδίο
εξαναγκάζει τη δοκό σε δόνηση και οι δονήσεις διατρέχουν όλο το μήκος της ράβδου.
Όταν φθάσουν στο άλλο άκρο επιστρέφουν, συλλαμβάνονται από το στοιχείο που εκείνη
τη στιγμή λειτουργεί ως δέκτης και καταγράφονται από τον ανιχνευτή. Δεν απαιτείται
υλικό σύζευξης, καθιστώντας τη μέθοδο κατάλληλη στην επιθεώρηση θερμών και ψυχρών
επιφανειών. Η μέθοδος της μαγνητοσυστολής (EMAT) επάγει υπερηχητικά κύματα σε ένα
δοκίμιο με δύο αλληλεπιδρώντα μαγνητικά πεδία.
Εικόνα 4.14: Περιγραφή της αρχής της μαγνητοσυστολής
|550|
Ένα πεδίο σχετικά υψηλής συχνότητας (RF) που παράγεται από ηλεκτρικά πηνία
αλληλεπιδρά με ένα πεδίο χαμηλής συχνότητας ή ένα στατικό πεδίο που προκαλείται από
τους μαγνήτες για να δημιουργήσει το κύμα στην επιφάνεια του δοκιμίου. Οι
ηλεκτρομαγνητικοί ακουστικοί μετατροπείς (EMATs) είναι το μόνο πρακτικό μέσο για την
παραγωγή διατμητικών κυμάτων, τα οποία έχουν μία οριζόντια πόλωση (SH κύματα) και
τα οποία δεν ταξιδεύουν μέσω υλικών σύζευξης χαμηλής πυκνότητας.
Εικόνα 4.15: Σχηματική περιγραφή ενός ηλεκτρομαγνητικού ακουστικού μετατροπέα
Οι ηλεκτρομαγνητικοί ακουστικοί μετατροπείς (Electromagnetic Acoustic

Transducers) αποτελούνται από ένα μόνο στοιχείο, το οποίο παράγει το φαινόμενο της
μαγνητοσυστολής εκπέμποντας και λαμβάνοντας τα κύματα των υπερήχων. Μερικά από τα
πλεονεκτήματα των ηλεκτρομαγνητικών ακουστικών μετατροπέων είναι τα ακόλουθα:
• Δεν απαιτούν την αφαίρεση του επιχρίσματος.
• Δεν επηρεάζονται από επιφανειακούς ρυπαντές.
• Δεν επηρεάζονται από την οξείδωση.
• Δεν απαιτούν την εφαρμογή υλικού σύζευξης (ξηρός έλεγχος).
• Εφαρμόζονται με άμεση επαφή ή σε μικρή απόσταση από την επιφάνεια του
δοκιμίου.
• Χρησιμοποιούνται για τον έλεγχο ασυνεχειών κοντά στην επιφάνεια.
• Μπορεί να εφαρμοστούν σε επιφάνειες με υψηλές θερμοκρασίες*.
• Δεν επηρεάζονται από την υψηλή τραχύτητα επιφανείας.
• Μπορούν να χρησιμοποιηθούν στην επιθεώρηση ωστενιτικών χαλύβων.
• Μπορούν να χρησιμοποιηθούν σε σωλήνες μικρής διαμέτρου.
• Ο νόμος του Snell για τη διάθλαση δεν εφαρμόζεται και η γωνία του μετατροπέα δεν
επηρεάζει την κατεύθυνση της διάδοσης του κύματος.
• Μπορούν να παράγουν διάφορους τύπους κυμάτων χρησιμοποιώντας διαφορετικούς
συνδυασμούς πηνίων RF και μαγνητών.
• Το μεταλλικό δαχτυλίδι προστατεύει την επιφάνεια από την φθορά και ρυθμίζεται για
τη βελτιστοποίηση του μαγνητικού πεδίου
*Προδιαγραφές θερμοκρασίας 0° - 60°C σε άμεση και συνεχή επαφή και 80°C σε

διακοπτόμενη επαφή, που ορίζεται σε 10s σε επαφή με δοκίμια και 60s για τον χρόνο
ψύξης.
|551|
4.6 Επιλογή μετατροπέα
Η σωστή επιλογή μετατροπέα σε έναν έλεγχο με τη μέθοδο των υπερήχων

επηρεάζεται από τις παραμέτρους του ελέγχου και του υλικού του συγκεκριμένου
δοκιμίου. Μεταξύ αυτών των παραμέτρων περιλαμβάνονται το είδος και το μέγεθος των
ασυνεχειών που θα ανιχνευθούν, το είδος του υλικού και η απόσταση που πρέπει να
διατρέξει ο ήχος μέσα στο υλικό. Στους Πίνακες 4.5 και 4.6 παρατίθενται οι ιδιότητες των
μετατροπέων σύμφωνα με δύο κριτήρια επιλογής, τη συχνότητα και τη διάμετρο.
Πίνακας 4.5: Επίδραση της συχνότητας στις ιδιότητες ενός μετατροπέα

ΧΑΜΗΛΗ ΣΥΧΝΟΤΗΤΑ ΥΨΗΛΗ ΣΥΧΝΟΤΗΤΑ
Μεγάλο μήκος κύματος Μικρό μήκος κύματος
Περισσότερος διασκορπισμός δέσμης Λιγότερος διασκορπισμός δέσμης
Βραχύτερη εγγύς ζώνη Μακρύτερη εγγύς ζώνη
Καλύτερη διεισδυτικότητα Χειρότερη διεισδυτικότητα
Λιγότερη αποδυνάμωση Περισσότερη αποδυνάμωση
Μεγαλύτερη νεκρή ζώνη Μικρότερη νεκρή ζώνη
Λιγότερη ευαισθησία Περισσότερη ευαισθησία
Πίνακας 4.6: Επίδραση της διαμέτρου στις ιδιότητες ενός μετατροπέα

ΜΕΓΑΛΗ ΔΙΑΜΕΤΡΟΣ ΜΙΚΡΗ ΔΙΑΜΕΤΡΟΣ
Λιγότερος διασκορπισμός δέσμης Περισσότερος διασκορπισμός δέσμης
Μακρύτερη εγγύς ζώνη Βραχύτερη εγγύς ζώνη
Αυξημένη διεισδυτικότητα Περιορισμένη διεισδυτικότητα
Λιγότερη αποδυνάμωση (λόγω
Περισσότερη αποδυνάμωση
διασκορπισμού)
Ευκολότερη σύζευξη σε καμπύλες
Δυσκολία σύζευξης σε καμπύλες επιφάνειες
επιφάνειες
Περισσότερη κάλυψη σε επίπεδες
Λιγότερη επικάλυψη σε επίπεδες επιφάνειες
επιφάνειες
Η άλλη επιλογή που γίνεται είναι μεταξύ μετατροπέων μονού και διπλού στοιχείου.
Τα πλεονεκτήματα του μετατροπέα μονού στοιχείου είναι η καλύτερη διεισδυτικότητα για
ίδιο μέγεθος μετατροπέα διπλού στοιχείου. Επίσης ο μετατροπέας μονού στοιχείου δεν έχει
σημείο εστίασης, λειτουργεί αποδοτικά σε μεγαλύτερο πεδίο και είναι οικονομικότερος.
Το κύριο πλεονέκτημα του μετατροπέα διπλού στοιχείου είναι ότι δεν υπάρχει
νεκρή ζώνη στην οθόνη. Αυτό σημαίνει μεγαλύτερη διακριτική ικανότητα για σφάλματα
που βρίσκονται κοντά στην επιφάνεια. Όπως φαίνεται από τους πίνακες, μεγαλύτερη
ευαισθησία έχουν οι μετατροπείς μεγαλύτερης συχνότητας.
Ως ευαισθησία ορίζεται η ικανότητα ανίχνευσης μικρών ασυνεχειών. Όσο
μεγαλύτερη είναι η συχνότητα ενός μετατροπέα, τόσο μικρότερο είναι το μήκος κύματος
και το μέγεθος του ανακλαστήρα που μπορεί να ανιχνευθεί από το μετατροπέα.
Σε γενικές γραμμές είναι αποδεκτό ότι ο μικρότερος ανακλαστήρας που μπορεί να
ανιχνευθεί από ένα μετατροπέα είναι ίσος με το μισό του μήκους κύματος του. Έτσι, ένας
μετατροπέας με μεγάλο μήκος κύματος και χαμηλής συχνότητας δε μπορεί να ανιχνεύσει
μικρούς ανακλαστήρες. Επισημαίνεται επίσης ότι το ιδανικό μήκος κύματος ενός
μετατροπέα πρέπει να είναι τουλάχιστον δεκαπλάσιο του μεγέθους των κόκκων του
υλικού.
|552|
Η επιλογή του κατάλληλου μετατροπέα αποτελεί βασική προϋπόθεση για την
εξασφάλιση της βέλτιστης απόδοσης σε κάθε εφαρμογή με τη μέθοδο των υπερήχων. Είναι
αναγκαίο να εξεταστεί το υλικό που μετράται, το εύρος του πάχους που πρέπει να
καλυφθεί, η γεωμετρία και η θερμοκρασία του δοκιμίου. Γενικά έχει αναπτυχθεί ένα
μεγάλο εύρος μετατροπέων με διάφορα ακουστικά χαρακτηριστικά που καλύπτει τις
ανάγκες των βιομηχανικών εφαρμογών. Χαμηλές συχνότητες μικρότερες των 2,25ΜΗz
πρέπει να χρησιμοποιούνται για τη βελτιστοποίηση της διείσδυσης κατά τη μέτρηση
δοκιμίων μεγάλου πάχους, υψηλής εξασθένισης και σκέδασης. Για τη βελτίωση της
ευαισθησίας σε δοκίμια λεπτά, χαμηλής εξασθένισης και σκέδασης συνιστώνται
συχνότητες υψηλότερες από 5ΜΗz.
Σε γενικές γραμμές, τα πλέον αξιόπιστα και με υψηλή επαναληψιμότητα
αποτελέσματα λαμβάνονται με μετατροπείς υψηλής συχνότητας και μικρής διαμέτρου.
Μετατροπείς μικρής διαμέτρου πετυχαίνουν αποτελεσματικότερη σύζευξη με το δοκίμιο
και επιτρέπουν λεπτότερο στρώμα σύζευξης με δεδομένη πίεση σύζευξης. Επιπλέον, οι
μετατροπείς μεγαλύτερης συχνότητας παράγουν σήματα σε ταχύτερους χρόνους,
ενισχύοντας με αυτόν τον τρόπο την ακρίβεια των μετρήσεων.
Από την άλλη πλευρά, οι ακουστικές ιδιότητες ή η κατάσταση της επιφάνειας του
δοκιμίου μπορεί να απαιτούν μειωμένη συχνότητα μετατροπέα προκειμένου να
ξεπεραστούν η κακή σύζευξη ή / και η εξασθένιση ή σκέδαση εντός του δοκιμίου.
Στις περιπτώσεις μέτρησης της διάβρωσης χρησιμοποιούνται μετατροπείς διπλού
στοιχείου. Οι μετατροπείς διπλού στοιχείου είναι ανθεκτικοί στην έκθεση σε υψηλές
θερμοκρασίες και ιδιαίτερα ευαίσθητοι στην ανίχνευση τρηματικής διάβρωσης (pitting).
Ωστόσο, δε συνιστώνται για εφαρμογές μέτρησης υψηλής ακρίβειας. Τα κριτήρια για την
κατάλληλη επιλογή του μετατροπέα αναλύονται στην συνέχεια.
Υλικό: Το είδος του υλικού και το εύρος του πάχους που μετράται είναι σημαντικοί
παράγοντες στην επιλογή του μετατροπέα. Μηχανολογικά υλικά όπως τα μέταλλα, τα
κεραμικά ή το γυαλί τα οποία επιτρέπουν τη διάδοση των υπερήχων μπορεί να μετρηθούν
εύκολα σε ένα μεγάλο εύρος πάχους. Τα περισσότερα πλαστικά απορροφούν την ηχητική
ενέργεια πιο γρήγορα από τα μεταλλικά υλικά και συνεπώς έχουν πιο περιορισμένο εύρος
μέγιστου πάχους. Το καουτσούκ, το fiberglass και πολλά σύνθετα υλικά προκαλούν ισχυρή
αποδυνάμωση των υπερήχων και συχνά απαιτούν μετατροπείς υψηλής διείσδυσης με
βελτιστοποιημένους παλμοδότες και δέκτες (pulser / receivers) για λειτουργία χαμηλής
συχνότητας.
Πάχος: Το εύρος πάχους υπαγορεύει επίσης τον τύπο και τις διαστάσεις του
μετατροπέα που πρέπει να επιλεγεί. Γενικά, τα λεπτά υλικά μετρώνται σε υψηλές
συχνότητες ενώ τα παχύτερα ή υλικά αυξημένης εξασθένισης μετρώνται με χαμηλές
συχνότητες. Οι μετατροπείς με πέλμα καθυστέρησης (delay line) χρησιμοποιούνται συχνά
σε πολύ λεπτά υλικά, αν και τόσο οι συγκεκριμένοι μετατροπείς όσο και οι βυθιζόμενοι
μετατροπείς έχουν ένα πιο περιορισμένο μέγιστο μετρήσιμο πάχος λόγω της
αλληλεπίδρασης των πολλαπλών αντηχήσεων στη διεπιφάνεια. Σε περιπτώσεις που
αφορούν σε περιοχές με μεγάλο εύρος παχών ή / και πολλαπλών υλικών, μπορεί να
απαιτούνται περισσότεροι μετατροπείς.
Γεωμετρία: Καθώς η καμπυλότητα της επιφάνειας που πρόκειται να μετρηθεί
αυξάνει, η αποτελεσματικότητα σύζευξης μεταξύ του μετατροπέα και του δοκιμίου
μειώνεται. Έτσι, καθώς η καμπυλότητα αυξάνει, το μέγεθος του μετατροπέα πρέπει να
μειώνεται. Η μέτρηση σε πολύ κοίλες ή κυρτές επιφάνειες, μπορεί να απαιτεί ειδικά
διαμορφωμένους μετατροπείς με πέλμα καθυστέρησης ή βυθιζόμενους μετατροπείς για τη
σωστή σύζευξη του ήχου. Μετατροπείς με πέλμα καθυστέρησης και βυθιζόμενοι
μετατροπείς μπορεί επίσης να χρησιμοποιηθούν για τη μέτρηση σε αυλακώσεις, κοιλότητες
και παρόμοιες περιοχές περιορισμένης πρόσβασης.
|553|
Θερμοκρασία: Οι μετατροπείς επαφής μπορεί γενικά να χρησιμοποιηθούν σε
επιφάνειες έως περίπου 50°C. Η χρήση των περισσότερων μετατροπέων επαφής σε
θερμότερα υλικά μπορεί να οδηγήσει σε μόνιμη βλάβη λόγω των θερμικών επιδράσεων
διαστολής στο στοιχείο. Σε τέτοιες περιπτώσεις, πρέπει πάντα να χρησιμοποιούνται
μετατροπείς με πέλμα καθυστέρησης ανθεκτικό στη θερμοκρασία ή βυθιζόμενοι
μετατροπείς, ή μετατροπείς υψηλής θερμοκρασίας διπλού στοιχείου.
Μετρήσεις σε θερμοκρασίες πάνω από 50°C αποτελούν μία ειδική κατηγορία.
Πολλοί μετατροπείς διπλού στοιχείου που χρησιμοποιούνται σε εφαρμογές μέτρησης
διάβρωσης έχουν σχεδιαστεί για να είναι ανθεκτικοί σε υψηλές θερμοκρασίες, σε
ορισμένες περιπτώσεις μάλιστα έως 500°C με σύντομη επαφή. Ωστόσο οι συμβατικοί
μετατροπείς επαφής καταστρέφονται μετά από έκθεση σε θερμοκρασίες μεγαλύτερες των
50°C.
Η ταχύτητα του ήχου σε όλα τα υλικά αλλάζει καθώς μεταβάλλεται η θερμοκρασία
τους. Γενικότερα, οι θερμοκρασιακές αυξομειώσεις επιδρούν περισσότερο στα πλαστικά
και στο καουτσούκ, σε σχέση με τα μέταλλα και τα κεραμικά. Για μέγιστη ακρίβεια, ο
μετατροπέας πρέπει να βαθμονομείται στην ίδια θερμοκρασία με αυτή που πρόκειται να
μετρήσει. Τέλος, σε θερμοκρασίες μεγαλύτερες των 100°C συνιστάται και η χρήση του
κατάλληλου υλικού σύζευξης.
Εικόνα 4.16: Διαστάσεις διαμέτρου μετατροπέα και σύζευξη
|554|
Μετατροπέας διαμέτρου 20mm & 1MHz / Μετατροπέας διαμέτρου 20mm & 2MHz
Μετατροπέας διαμέτρου 20mm & 9MHz

Εικόνα 4.17: Προσομοίωση μετατροπέα διαμέτρου 20mm με διαφορετικές συχνότητες
|555|
4.7 Υλικό σύζευξης
Προκειμένου να εξασφαλιστεί η διάδοση του υπέρηχου από το μετατροπέα στο

εξεταζόμενο δοκίμιο, πρέπει να παρεμβληθεί ένα υλικό σύζευξης (couplant), για τους εξής
λόγους:
1. Την απομάκρυνση του αέρα, ακόμα και σε μορφή μικρών φυσαλίδων, ο οποίος έχει
χαμηλή ακουστική αντίσταση. Η απομάκρυνση του αέρα αποτελεί τον κυριότερο
λόγο καθώς μία διεπιφάνεια με αέρα ανακλά μάλλον παρά επιτρέπει τη διάδοση του
ηχητικού κύματος εντός του υλικού.
2. Στη μέθοδο επαφής (contact test) το υλικό σύζευξης πρέπει να προσκολλάται σε
όλες τις επιφάνειες ακόμη και σε αυτές με αυξημένη τραχύτητα έτσι ώστε να
επιτυγχάνεται η ομαλή κύλιση του μετατροπέα πάνω στο δοκίμιο και επιπλέον να μη
προκαλείται γρήγορη φθορά σε αυτόν.
Συνεπώς, το υλικό σύζευξης στη μέθοδο επαφής, πρέπει να έχει και λιπαντικές ιδιότητες.
Οι κυριότερες ιδιότητες ενός καλού υλικού σύζευξης συνοψίζονται στη συνέχεια:
α. Να έχει ακουστική αντίσταση ενδιάμεση εκείνης του μετατροπέα και του δοκιμίου
(και μάλλον πιο κοντά προς αυτή του δοκιμίου).
β. Να έχει εύκολη εφαρμογή και συγκράτηση πάνω στο δοκίμιο, αλλά ταυτόχρονα να
είναι σχετικά εύκολη η απομάκρυνση του μετά την αποπεράτωση του ελέγχου.
γ. Να μην είναι διαβρωτικό.
δ. Να μην είναι τοξικό ή επικίνδυνο για την υγεία.
ε. Να έχει χαμηλή περιεκτικότητα σε αλογόνα.
στ. Να διαβρέχει καλά όλες τις επιφάνειες τόσο του δοκιμίου όσο και του μετατροπέα
και να μην επιτρέπει τη δημιουργία ακόμα και πολύ μικρών φυσαλίδων.
Στη τεχνική βύθισης (immersion method) χρησιμοποιείται το νερό ως υλικό
σύζευξης. Στη μέθοδο επαφής (contact method) ως υλικά σύζευξης χρησιμοποιούνται το
λάδι, το λίπος, η γλυκερίνη και το νερό μαζί με διαβρεκτικό παράγοντα. Εναλλακτικά,
χρησιμοποιούνται και άλλα υλικά για την επιλογή των οποίων σημαντικό παράγοντα
αποτελεί η κατάσταση της επιφάνειας του δοκιμίου. Όσο πιο ανώμαλη ή τραχιά είναι η
επιφάνεια ενός δοκιμίου, τόσο πιο παχύρρευστο (ή μεγαλύτερου ιξώδους) πρέπει να είναι
το υλικό σύζευξης. Υλικό σύζευξης υπάρχει επίσης σε μορφή γέλης (gel) ή πάστας αλλά
για πολύ τραχιές επιφάνειες, μπορεί να χρησιμοποιηθεί και λεπτό φύλλο ελαστικού.
Όποιο και αν είναι το υλικό σύζευξης κατά τη μέθοδο με επαφή, το στρώμα του
πρέπει να είναι λεπτό και με ομοιόμορφο πάχος για να αποφεύγεται η απώλεια ηχητικής
ενέργειας ή η παραμόρφωση του σήματος και η δημιουργία μη σχετικών ενδείξεων (non
relevant indications).
Εικόνα 4.18: Υλικά σύζευξης σε διαφορετικές μεθόδους
|556|
4.8 Καλώδια σύνδεσης
Το μήκος των καλωδίων που συνδέουν τους μετατροπείς με τη συσκευή υπερήχων

έχει μήκος από ένα έως δύο μέτρα. Γενικά, δε συνιστάται η χρήση καλωδίων μεγάλου
μήκους, εκτός εάν απαιτείται από τις συνθήκες της δοκιμής. Το μέγιστο μήκος του
καλωδίου που μπορεί να χρησιμοποιηθεί σε μια συγκεκριμένη περίπτωση εξαρτάται από
τον τύπο του μετατροπέα και το ελάχιστο πάχος που πρέπει να μετρηθεί. Οι μετατροπείς
διπλού στοιχείου μπορεί να χρησιμοποιηθούν με πολύ μεγαλύτερο μήκος καλωδίου από ότι
οι μετατροπείς μονού στοιχείου, ενδεχομένως και εκατό μέτρα με τις κατάλληλες ρυθμίσεις
της συσκευής. Ιδιαίτερη προσοχή πρέπει να δίνεται στην εξασθένιση του σήματος, στο
καλώδιο και στην αντιστάθμιση του χρόνου διέλευσης του παλμού μέσω του καλωδίου.
Το καλώδιο του μετατροπέα αποτελεί αναπόσπαστο μέρος κάθε ανιχνευτή
ασυνεχειών με υπερήχους ή παχύμετρου υπερήχων. Συνήθως, εκτός από την εξασφάλιση
ότι δεν είναι σπασμένο, φθαρμένο ή κατά κάποιο τρόπο ελαττωματικό, δεν αποτελεί
αντικείμενο προσοχής για ένα χειριστή. Η πλειονότητα των ελέγχων με υπερήχους
εκτελούνται στο συμβατικό εύρος συχνοτήτων από 500ΚΗz έως 20MHz, με το μήκος των
καλωδίων των μετατροπέων να μην υπερβαίνει τα δύο περίπου μέτρα. Ωστόσο, σε
εφαρμογές που πραγματοποιούνται σε υψηλότερες συχνότητες ελέγχου ή με μακρύτερα
καλώδια, είναι σημαντικό οι χειριστές να γνωρίζουν τις πιθανές επιπτώσεις της αύξησης
του μήκους του καλωδίου και την προσαρμογή τους ανάλογα με τις ανάγκες του εκάστοτε
ελέγχου.
Υπάρχουν τέσσερις παράγοντες που έχουν καθοριστική σημασία, καθώς αυξάνει το
μήκος του καλωδίου και ειδικότερα όταν αυτό έχει μήκος πάνω από περίπου είκοσι μέτρα.
Οι παράγοντες αυτοί είναι:
• οι ανακλάσεις από τα καλώδια (cable reflections)
• η αποδυνάμωση από τα καλώδια (cable attenuation)
• η χρονική καθυστέρηση των καλωδίων (cable delay)
• ο θόρυβος των καλωδίων (cable noise pickup).
Εικόνα 4.19: Κατηγοριοποίηση καλωδίων
|557|
4.9 Αρχή λειτουργίας ανιχνευτών ασυνεχειών Α σάρωσης
Η βασική αρχή ελέγχου των δοκιμίων με τη χρήση υπερήχων συνίσταται στη

μελέτη των ανακλάσεων που λαμβάνονται από το άλλο άκρο του υλικού ή από ενδεχόμενη
ασυνέχεια. Τα κύρια στοιχεία στη διαδικασία ελέγχου με υπερήχους είναι η εκπομπή του
παλμού ή του σήματος από το μετατροπέα, η σαφής απεικόνιση των ανακλώμενων
σημάτων στην οθόνη του παλμογράφου και η φάση της ενίσχυσης.
Οι ανιχνευτές ασυνεχειών που βασίζονται στη μέθοδο παλμού - ηχούς έχουν το
πλεονέκτημα της άμεσης πρόσβασης από τη μία πλευρά του αντικειμένου, απαιτούν
σχετικά μικρή ισχύ γεννήτριας, ενώ επιτυγχάνουν σημαντικό βάθος διείσδυσης (έως και
2m). Κατά τη μέθοδο παλμού - ηχούς χρησιμοποιείται ένας μονός μετατροπέας, που στην
προκειμένη περίπτωση είναι ο μετατροπέας εκπομπής-λήψης ή ένας διπλός μετατροπέας.
Η γεννήτρια παλμών, γνωστή και ως χρονομετρητής, είναι ένα κύκλωμα που ελέγχει
το συγχρονισμό του ανιχνευτή ασυνεχειών. Στέλνει ταυτόχρονα ένα ηλεκτρικό σήμα τόσο
στην γεννήτρια χρονικής βάσης όσο και στον πομπό παλμών. Οι συχνότητες αυτών των
σημάτων ονομάζονται PRF/PRR (Pulse Repetition Frequency / Pulse Repetition Rate,
συχνότητα επαναλήψεως παλμού / ρυθμός επαναλήψεως παλμού). Η συχνότητα
επανάληψης των παλμών (pulse repetition frequency) πρέπει να είναι μεγάλη για να
υπάρχουν ενισχυμένα (φωτεινά) σήματα στον παλμογράφο αλλά και δυνατότητα μεγάλης
ταχύτητας σάρωσης. Ωστόσο, η εξαιρετικά μεγάλη συχνότητα επανάληψης παλμών μπορεί
να δημιουργήσει μη σχετικές ή ψευδείς ενδείξεις. Η γεννήτρια παλμών ελέγχεται συνήθως
αυτόματα έπειτα από κατάλληλη ρύθμιση πεδίου και καθορίζει το μέγιστο βάθος ελέγχου
και τη βέλτιστη ταχύτητα σάρωσης.
Η γεννήτρια χρονικής βάσης, μόλις λάβει το σήμα από την γεννήτρια παλμών, το
μετατρέπει σε γραμμική κίνηση της δέσμης ηλεκτρονίων και την απεικονίζει επί της
οθόνης στη διεύθυνση του οριζόντιου άξονα (άξονα των Χ) σαν μία φωτεινή γραμμή.
Ο πομπός παλμών είναι το κύκλωμα που λαμβάνει το ηλεκτρικό σήμα από τη
γεννήτρια παλμών στέλνοντας ένα στιγμιαίο σήμα της τάξεως των 1 έως 2KV για την
ενεργοποίηση του μετατροπέα. Ο μετατροπέας μετατρέπει την ηλεκτρική ενέργεια που
λαμβάνει από τον πομπό παλμών σε παλμούς υπερήχων μέσω ενός πιεζοηλεκτρικού
κρυστάλλου (Tx). Ο υπέρηχος που επιστρέφει από το υλικό του δοκιμίου μετατρέπεται
πάλι σε ηλεκτρική ενέργεια από το μετατροπέα (Rx) και στέλνεται στον ενισχυτή.
Ο ενισχυτής με τη σειρά του λαμβάνει και ενισχύει τους εισερχόμενους ηλεκτρικούς
παλμούς. Η ενίσχυση είναι της τάξεως 10.000 έως 100.000 φορές, ενώ το εισερχόμενο με
το εξερχόμενο σήμα πρέπει να βρίσκονται σε γραμμική σχέση. Ο ενισχυτής πρέπει επίσης
να είναι σε θέση να επεξεργάζεται σήματα διαφόρων συχνοτήτων έτσι ώστε να καλύπτει
ένα ευρύ φάσμα διαφορετικών μετατροπέων.
Οι ενισχυτές μεγάλου εύρους (broad band amplifiers) δέχονται ένα ευρύ φάσμα
συχνοτήτων και απεικονίζουν με ακρίβεια το σχήμα του σήματος. Αυτό βελτιστοποιεί τον
εντοπισμό ασυνεχειών αλλά ο λόγος σήματος / θορύβου είναι ασθενής. Έτσι, η ανίχνευση
των ασυνεχειών επηρεάζεται δυσμενώς, υπάρχει δηλαδή μείωση της ευαισθησίας λόγω
υψηλής στάθμης θορύβου.
Οι ενισχυτές μικρού εύρους (narrow band amplifiers) απομονώνουν τα μέρη του
σήματος που είναι εκτός συχνότητας λειτουργίας. Αυτό δημιουργεί ένα καθαρότερο σήμα
(αν και η απεικόνιση του εισερχομένου σήματος δεν είναι πραγματική), που σημαίνει ότι η
ενίσχυση (gain) μπορεί να αυξηθεί, αυξάνοντας την ευαισθησία ανίχνευσης των
ασυνεχειών. Το μειονέκτημα σε αυτή την περίπτωση είναι ότι η παραμορφωμένη μορφή
του σήματος καθιστά δυσκολότερη την αξιολόγηση των ασυνεχειών.
|558|
Ο ρυθμιστής αποδυνάμωσης ή έντασης ήχου (attenuator or gain) μειώνει ή αυξάνει
την ενίσχυση, μειώνοντας ή αυξάνοντας την τάση ή τη φόρτιση και εκφόρτιση στον
κατακόρυφο άξονα της οθόνης (άξονα των Υ) και ελέγχει το ύψος του σήματος επί της
οθόνης. Η λογαριθμική μεταβολή της ενίσχυσης δηλαδή η λογαριθμική αύξηση ή μείωση
της πραγματοποιείται χωρίς να επηρεάζει τη γραμμικότητα του ενισχυτή.
Η συμπίεση σήματος ή απόρριψη (suppression or reject or grass cutting) μειώνει τη
στάθμη θορύβου (γρασίδι) επί της οθόνης ανεβάζοντας τη χρονική βάση, αλλά με
ταυτόχρονη δυσμενή επίδραση στη γραμμικότητα του ενισχυτή (amplifier linearity). Η
συμπίεση του σήματος χρησιμοποιείται συνήθως στις παχυμετρήσεις. Μερικοί σύγχρονοι
ψηφιακοί ανιχνευτές ασυνεχειών διαθέτουν «γραμμική συμπίεση» διατηρώντας τη
γραμμικότητα του ενισχυτή ενώ στην οθόνη απεικονίζεται το ποσοστό συμπίεσης ως
ποσοστό του ύψους του σήματος. Για παράδειγμα, συμπίεση 50% υποδηλώνει ότι όλα τα
σήματα με ύψος κάτω από το 50% της οθόνης έχουν αφαιρεθεί ενώ τα εναπομείναντα
διατηρούν το ύψος τους επί της οθόνης χωρίς καμία μεταβολή.
Η λυχνία καθοδικών ακτινών (C.R.T.) αποτελείται από μία λυχνία κενού με
φωσφορίζουσα επικάλυψη φορτισμένη θετικά στην εσωτερική πλευρά της εμπρόσθιας
επιφάνειας, μία πηγή καθοδικών ακτίνων στην άλλη άκρη, ένα πηνίο εστίασης και δύο
ζεύγη αντιθέτων πλακών για τον έλεγχο της κατακόρυφης και οριζόντιας απόκλισης της
δέσμης των ηλεκτρονίων. (Οι κατακόρυφες πλάκες της λυχνίας καθοδικών ακτινών
δημιουργούν την οριζόντια μετακίνηση της δέσμης των ηλεκτρονίων ενώ οι οριζόντιες την
κατακόρυφη).
Η πηγή παράγει ηλεκτρόνια τα οποία έλκονται από τη θετικά φορτισμένη
επικάλυψη στο μπροστινό τμήμα της λυχνίας. Καθώς τα ηλεκτρόνια εκπέμπονται, περνούν
μέσα από το πηνίο εστιάσεως που τα συγκεντρώνει σε ευθεία δέσμη και τα κατευθύνει
μεταξύ των οριζόντιων και κατακόρυφων πλακών, όπου έλκονται από όσες από αυτές
έχουν θετικό φορτίο ή υπόκεινται σε ηλεκτρική τάση. Αυτό προκαλεί εκτροπή της δέσμης,
η οποία αποκλίνει προς την αντίστοιχη πλάκα καταλήγοντας στην εμπρόσθια όψη της
λυχνίας δηλαδή επί της οθόνης προκαλώντας τη λάμψη της (λόγω πρόσκρουσης των
ηλεκτρονίων στην φωσφορίζουσα επικάλυψη) η οποία και απεικονίζεται ως ένα φωτεινό
στίγμα επί της οθόνης.
Αυτό το στίγμα μετατρέπεται σε σήματα απλά με την απόκλιση της δέσμης από τις
οριζόντιες και κατακόρυφες πλάκες.
Εικόνα 4.20: Διάγραμμα ροής ανιχνευτή ασυνεχειών Α σάρωσης
|559|
Εικόνα 4.21: Λυχνία καθοδικών ακτινών
|560|
5. ΓΕΩΜΕΤΡΙΚΑ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΑ ΤΗΣ ΗΧΗΤΙΚΗΣ ΔΕΣΜΗΣ
Οι συμβατικοί μετατροπείς μονού στοιχείου διαμήκους κύματος λειτουργούν ως ένα

έμβολο που παράγει μηχανικές δονήσεις υψηλής συχνότητας ή αλλιώς μηχανικά ηχητικά
κύματα. Όταν εφαρμόζεται ηλεκτρική τάση, το πιεζοηλεκτρικό στοιχείο του μετατροπέα
παραμορφώνεται δηλαδή πάλλεται διαστελλόμενο και συστελλόμενο σε κάθετη διεύθυνση.
Όταν σταματά να βρίσκεται υπό ηλεκτρική τάση, τυπικά για χρόνο λιγότερο από 1μs, το
στοιχείο επανέρχεται στην αρχική του θέση, παράγοντας έναν παλμό ή αλλιώς ένα
μηχανικό ηχητικό κύμα. Στη συνέχεια γίνεται αναφορά στις θεμελιώδεις λειτουργικές
ιδιότητες των μετατροπέων που χρησιμοποιούνται στο Μη Καταστροφικό Έλεγχο με
υπερήχους:
Τύπος: Ο μετατροπέας προσδιορίζεται ανάλογα με τη λειτουργία του ως
μετατροπέας επαφής (contact) ή βύθισης (immersion) ή ανάλογα με το πέλμα χρονικής
καθυστέρησης (delay line) και τη γωνία της ηχητικής δέσμης (angle beam). Τα
χαρακτηριστικά του δοκιμίου που επιθεωρείται όπως, η τραχύτητα της επιφάνειας, η
θερμοκρασία, η προσβασιμότητα του, η θέση της ασυνέχειας στο υλικό καθώς και η
ταχύτητα ελέγχου είναι καθοριστικής σημασίας στην επιλογή του τύπου του μετατροπέα.
Διάμετρος: Η διάμετρος, το μήκος και το πλάτος του ενεργού στοιχείου επηρεάζουν
την ανιχνευτική ικανότητα και την ευαισθησία του μετατροπέα.
Συχνότητα: Στην πλειονότητα τους οι βιομηχανικοί μετατροπείς έχουν ένα εύρος
συχνοτήτων που κυμαίνεται από 500KHz έως 20MHz. Ωστόσο υπάρχουν και μετατροπείς
με εύρος συχνοτήτων από 50KHz έως και πάνω από 200MHz. Η διεισδυτικότητα ενός
μετατροπέα σε ένα δοκίμιο αυξάνεται με τη μείωση της συχνότητας ενώ η διακριτική του
ικανότητα (resolution) και η ευκρίνεια εστίασης αυξάνεται με την αύξηση της συχνότητας.
Εύρος Ζώνης (το τμήμα των συχνοτήτων εντός καθορισμένων ορίων): Πρέπει να
σημειωθεί ότι οι τυπικοί μετατροπείς που χρησιμοποιούνται στους Μη Καταστροφικούς
Ελέγχους δεν παράγουν ηχητικά κύματα σε μία μόνο συχνότητα, αλλά σε μία περιοχή
συχνοτήτων με κεντρική συχνότητα τη λεγόμενη ονομαστική συχνότητα του μετατροπέα.
Το βιομηχανικό πρότυπο καθορίζει αυτό το εύρος ζώνης στα -6dB (ή το ήμισυ του
πλάτους).
Διάρκεια παλμού (ο αριθμός των επαναλήψεων ενός κύματος που παράγεται από το
μετατροπέα κάθε φορά που πάλλεται): Ένας μετατροπέας με στενό εύρος ζώνης έχει
περισσότερους κύκλους από ένα μετατροπέα με ένα πιο μεγάλο εύρος ζώνης. Η διάμετρος
του στοιχείου, το υλικό υποστήριξης, η ηλεκτρική ρύθμιση και ο τρόπος διέγερσης του
μετατροπέα επιδρούν στη συνολική διάρκεια του παλμού.
Ευαισθησία: Είναι η σχέση μεταξύ του πλάτους του παλμού διέγερσης και της
επιστρεφόμενης ηχούς που λαμβάνονται από ένα καθορισμένο ανακλαστήρα.
Εικόνα 5.1: Προφίλ ηχητικής δέσμης κάθετου μετατροπέα
|561|
Προφίλ ηχητικής δέσμης: Η ηχητική δέσμη προσομοιάζει με στήλη η οποία
εκπέμπεται και μετά από ένα σημείο διευρύνεται διαστελλόμενη έως ότου αποδυναμωθεί
πλήρως όπως φαίνεται στην Εικόνα 5.1.
Εικόνα 5.2: Περιοχές υψηλής και χαμηλής ακουστικής ενέργειας εντός της ηχητικής δέσμης
του μετατροπέα
Στην Εικόνα 5.2 με κόκκινο χρώμα εντός της ηχητικής δέσμης απεικονίζονται οι
περιοχές αυξημένης ακουστικής ενέργειας, ενώ με πράσινο και μπλε χρώμα απεικονίζονται
οι περιοχές χαμηλής ακουστικής ενέργειας.
Η ηχητική δέσμη που εκπέμπεται από ένα μετατροπέα παρουσιάζει τρεις ζώνες: τη
νεκρή ζώνη (dead zone), την εγγύς ζώνη (near field) ή ζώνη Fresnel και την απώτατη ζώνη
(far field) ή ζώνη Fraunhofer.
Η εγγύς ζώνη είναι η περιοχή κοντά στο μετατροπέα όπου η ηχητική πίεση περνά
μέσα από μια σειρά μέγιστων και ελάχιστων καταλήγοντας στο τελευταίο μέγιστο επί του
άξονα σε απόσταση Ν από το «πρόσωπο» του μετατροπέα. Η εγγύς ζώνη (Ν) καθορίζει τη
φυσική εστίαση του μετατροπέα.
Εικόνα 5.3: Σχηματική αναπαράσταση του ηχητικού κύματος που εξέρχεται από το
μετατροπέα
Η δέσμη υπερήχων που παράγεται από κάθε παλμό (pulse) έχει συγκεκριμένα
γεωμετρικά χαρακτηριστικά όσον αφορά στην ένταση της. Κοντά στον κρύσταλλο, η
μέγιστη ένταση παρουσιάζεται στον οριζόντιο άξονα και ελαττώνεται απότομα με την
απομάκρυνση από αυτόν. Παράλληλα, παρουσιάζονται τοπικά μέγιστα και ελάχιστα πίεσης
τα οποία καλούνται πλευρικοί λοβοί (side lobes).
|562|
5.1 Νεκρή ζώνη
Η νεκρή ζώνη εμφανίζεται στην οθόνη ως προέκταση του αρχικού παλμού. Είναι ο
χρόνος κρούσης του μετάλλου και ελαχιστοποιείται από τον αποσβεστήρα πίσω από τον
κρύσταλλο. Σφάλματα ή άλλοι ανακλαστήρες, οι οποίοι βρίσκονται στην περιοχή της
νεκρής ζώνης της δέσμης δεν ανιχνεύονται. Η νεκρή ζώνη μπορεί να φανεί στην αρχή του
διαγράμματος Α σάρωσης αλλά μόνο με μονό μετατροπέα. Η νεκρή ζώνη αυξάνεται, όσο
μειώνεται η συχνότητα του μετατροπέα.
Σε αυτή τη ζώνη, κατά τη μέθοδο εξέτασης με επαφή, είναι αδύνατο να γίνει
ανίχνευση ασυνεχειών, διότι καταλαμβάνεται από τον αρχικό παλμό και είναι τόσο
μεγαλύτερη, όσο μικρότερη είναι η συχνότητα των υπερήχων.
Με τη τεχνική βύθισης, ο αρχικός παλμός, ο οποίος παράγεται από την ίδια τη
συσκευή, μπορεί να «απομακρυνθεί» από τα σήματα της ελεύθερης επιφάνειας του
εξεταζόμενου υλικού, με ανάλογο πάχος νερού. Η νεκρή ζώνη μπορεί να εξουδετερωθεί με
τη χρήση διπλών (δίδυμων) μετατροπέων (dual / twin probes).
Εικόνα 5.4: Απεικόνιση της νεκρής ζώνης
5.2 Εγγύς ζώνη ή ζώνη Fresnel
Η ανομοιομορφία στην κατανομή της έντασης (άρα και πίεσης) εξαρτάται από τα
χαρακτηριστικά του κρυστάλλου και το υλικό υποστήριξης πίσω από αυτόν. Ολόκληρη
αυτή η ζώνη καλείται «εγγύς ζώνη» ή ζώνη Fresnel. Σε αυτή τη ζώνη, οι ανακλαστήρες
μπορεί να εμφανίζονται μεγαλύτεροι ή μικρότεροι από τις πραγματικές τους διαστάσεις. Το
ύψος του σήματος στην οθόνη του ανιχνευτή είναι ασταθές. Συνεπώς είναι επιθυμητό να
διατηρούμε το μήκος της εγγύς ζώνης όσο το δυνατό μικρότερο. Για κυκλικό κρύσταλλο,
το μήκος της εγγύς ζώνης Ν δίνεται από τον τύπο:
D2 D2 • f
N = -------------- => N = ---------------
4•λ 4•v
|563|
Όπου:
Ν: εγγύς ζώνη σε mm
D: διάμετρος κρυστάλλου σε mm
Για τετράγωνο κρύσταλλο έχουμε:
1,3 • Q2 • f
N = ----------------------
4v
Όπου:
Q: η λειτουργική πλευρά του κρυστάλλου σε mm
Η εγγύς ζώνη πρέπει να είναι στενή, ώστε να γίνεται ανίχνευση των ασυνεχειών
κοντά στην επιφάνεια του δοκιμίου. Η εγγύς ζώνη μπορεί να μειωθεί, με ελάττωση της
διαμέτρου του κρυστάλλου ή της συχνότητας της δέσμης.
5.3 Ζώνη διάβασης ή απομακρυσμένη ζώνη ή απώτατη ζώνη ή ζώνη Fraunhofer
Η επόμενη σημαντική ζώνη είναι η ζώνη διάβασης ή απομακρυσμένη ζώνη

(transition zone), όπου η πίεση του ήχου παραμένει περίπου σταθερή στον κεντρικό άξονα,
αλλά μειώνεται κατά την απομάκρυνση του από αυτόν.
Εικόνα 5.5: Απεικόνιση εγγύς και απομακρυσμένης ζώνης κάθετου μετατροπέα
Σε απόσταση μεγαλύτερη ή ίση από 3Ν, η πίεση στην κεντρική ακτίνα (δηλ. πάνω
στον άξονα της δέσμης) μεταβάλλεται αντιστρόφως ανάλογα με την τετραγωνική ρίζα της
απόστασης για τα κυλινδρικά κύματα, ενώ για τα σφαιρικά μεταβάλλεται αντιστρόφως
ανάλογα με την απόσταση. Η ζώνη αυτή καλείται και απώτατη ζώνη ή ζώνη Fraunhofer
(Far zone / Fraunhofer zone). Η απεικόνιση της πίεσης της ηχητικής δέσμης κατά τη
διάδοση της καλείται πολικό διάγραμμα.
Υπενθυμίζεται ότι τα κύματα διαδίδονται μέσω της μεταφοράς ενέργειας από το ένα
σωματίδιο στο άλλο στο μέσο διάδοσης. Εάν τα σωματίδια δεν είναι ευθυγραμμισμένα
άμεσα προς τη διεύθυνση διάδοσης της ηχητικής δέσμης, μέρος της ηχητικής ενέργειας
διαδίδεται υπό γωνία (κάτι ανάλογο συμβαίνει όταν μία μπάλα χτυπά μια άλλη μπάλα
ελαφρώς εκτός κέντρου).
|564|
Υπενθυμίζεται επίσης ότι η ένταση του ήχου είναι ανάλογη με το τετράγωνο της
πίεσης ενώ το πλάτος του σήματος είναι ανάλογο της πίεσης. Ουσιαστικά στη ζώνη
διάβασης, η δέσμη αποκλίνει, με αποτέλεσμα την εξασθένιση της έντασης του ήχου
ανάλογα με την απόσταση από τον κρύσταλλο, ακριβώς όπως μια φωτεινή δέσμη
εξασθενεί όταν απομακρύνεται από ένα φακό. Ο βαθμός απόκλισης της δέσμης εξαρτάται
από το μέγεθος του κρυστάλλου και από το μήκος κύματος όπως φαίνεται στον επόμενο
τύπο:
K•λ Κ•v
sin A = --------------- => sin A = -----------------
D D•f
Όπου:
A: γωνία απόκλισης (σε μοίρες)
Κ: συντελεστής
Για κυκλικό μετατροπέα, ο συντελεστής Κ ισούται με 1,22 για πίεση 0%, 0,87 για
πίεση 10% (-20dB), 0,51 για πίεση 50% (-6dB).
Για ορθογώνιο μετατροπέα ο συντελεστής Κ ισούται με 0,74 για πίεση 10%
(-20dB) και 0,44 για πίεση 50% (-6dB).
Από την παραπάνω εξίσωση είναι προφανές ότι η απόκλιση της ηχητικής δέσμης
(beam spread) αυξάνει με χαμηλότερες συχνότητες και μικρότερες διαμέτρους. Μία
μεγάλη γωνία απόκλισης της ηχητικής δέσμης μπορεί να προκαλέσει πτώση της ηχητικής
ενέργειας ανά μονάδα επιφάνειας σε συνάρτηση με την απόσταση. Ουσιαστικά η
ευαισθησία μειώνεται σε μικρότερους ανακλαστήρες ενώ σε ορισμένες εφαρμογές που
απαιτούνται μεγάλες διαδρομές ηχητικής δέσμης, η ευαισθησία μπορεί να βελτιωθεί με τη
χρήση υψηλότερης συχνότητας και / ή με μετατροπείς μεγαλύτερης διαμέτρου. Έτσι, στο
σχεδιασμό των μετατροπέων πρέπει να λαμβάνεται υπόψη, η μικρότερη απόκλιση της
ηχητικής δέσμης για το μικρότερο μήκος της εγγύς ζώνης. Η γωνία Α καλείται γωνία
απόκλισης (divergence angle) και είναι χαρακτηριστική για κάθε μετατροπέα και υλικό
διάδοσης. Στην απομακρυσμένη ζώνη, το ύψος των παλμών ακολουθεί τους παρακάτω
νόμους:
Για μεγάλες ασυνέχειες (μεγαλύτερες από το πλάτος της δέσμης υπερήχων) ισχύει ο
νόμος της αντιστροφής, δηλαδή το ύψος του παλμού είναι αντιστρόφως ανάλογο της
απόστασης. Για παράδειγμα, αν διπλασιαστεί η απόσταση, το ύψος του παλμού
υποδιπλασιάζεται (μειώνεται κατά 6dB).
Για μικρές ασυνέχειες (μικρότερες από το πλάτος της δέσμης υπερήχων) ισχύει ο
νόμος των αντίστροφων τετραγώνων, δηλαδή το ύψος είναι αντιστρόφως ανάλογο του
τετραγώνου της απόστασης. Για παράδειγμα, αν διπλασιαστεί η απόσταση, το ύψος του
παλμού υποτετραπλασιάζεται (μειώνεται κατά 12dB).
|565|
Εικόνα 5.6: Ανακλάσεις σε ίδιο βάθος από μεγάλους και μικρούς ανακλαστήρες
|566|
Η Εικόνα 5.7 παρουσιάζει την απόκλιση της ηχητικής δέσμης σε διαφορετικά υλικά
για σταθερή διάμετρο και διαφορετική συχνότητα μετατροπέα
Εικόνα 5.7: Απόκλιση της ηχητικής δέσμης σε διαφορετικά υλικά, για σταθερή διάμετρο και
διαφορετική συχνότητα μετατροπέα
Συμπερασματικά σημειώνεται ότι για σταθερή διάμετρο και καθώς αυξάνεται η

συχνότητα του μετατροπέα, η απόκλιση της ηχητικής δέσμης ελαττώνεται.
|567|
Η Εικόνα 5.8 παρουσιάζει την απόκλιση της ηχητικής δέσμης σε διαφορετικά υλικά
για διαφορετική διάμετρο και σταθερή συχνότητα μετατροπέα.
Εικόνα 5.8: Απόκλιση της ηχητικής δέσμης σε διαφορετικά υλικά, για διαφορετική διάμετρο
και σταθερή συχνότητα μετατροπέα
Συμπερασματικά αναφέρουμε ότι για σταθερή συχνότητα και καθώς αυξάνεται η

διάμετρος του μετατροπέα η απόκλιση της ηχητικής δέσμης ελαττώνεται.
|568|
5.4 Πλευρικοί λοβοί
Οι πλευρικοί λοβοί είναι δευτερεύοντα ηχητικά κύματα, ως προς την κύρια δέσμη
υπερήχων, τα οποία παράγονται στο εμπρόσθιο τμήμα του μετατροπέα. Μπορεί να
προκαλέσουν μη επιθυμητούς παλμούς, κυρίως σε τραχιές επιφάνειες καθώς και ασαφείς
ενδείξεις στην οθόνη της συσκευής υπερήχων.
ΠΛΕΥΡΙΚΟΙ ΛΟΒΟΙ
ΚΥΡΙΟΣ ΛΟΒΟΣ
Εικόνα 5.9: Απεικόνιση πλευρικών λοβών και κύριου λοβού
Για εγκάρσια κύματα, η ελάχιστη διαθλώμενη γωνία σε χάλυβα είναι περίπου 33°
έως 35°. Σε αυτό το εύρος γωνιών μπορεί να δημιουργηθούν πλευρικοί λοβοί και για αυτό
χρησιμοποιούνται γωνίες μετατροπέων μεγαλύτερες των 40°. Όσο πιο στενή είναι η δέσμη
υπερήχων, δηλαδή όσο πιο μικρή είναι η γωνία απόκλισης, τόσο πιο αποδυναμωμένοι είναι
οι πλευρικοί λοβοί.
5.5 Διάρκεια παλμού
Στις σύγχρονες συσκευές, η δέσμη υπερήχων παράγεται με τη φόρτιση ενός

πυκνωτή η οποία αποδίδεται στη συνέχεια στο μετατροπέα υπερήχων. Η τάση αυτή
μετατρέπεται σε μηχανική δόνηση από έναν πιεζοηλεκτρικό κρύσταλλο. Η συμπεριφορά
του κρυστάλλου προσομοιάζει με τη συμπεριφορά ενός ελατηρίου που φορτίζεται και στη
συνέχεια αφήνεται να ταλαντωθεί. Το ελατήριο επιμηκύνεται και συσπειρώνεται αρκετές
φορές μέχρι να επανέλθει στο αρχικό του μήκος. Αυτός ο κύκλος συσπείρωσης και
επιμήκυνσης είναι η αιτία σχηματισμού του παλμού υπερήχων.
Εικόνα 5.10: Δημιουργία και απόσβεση παλμού (αποσβεννυόμενος παλμός)
|569|
5.6 Μήκος παλμού
Το μήκος του παλμού πρέπει να είναι μικρό και οξύ, έτσι ώστε τα αναπαραγόμενα
σήματα στην οθόνη CRT να είναι ευδιάκριτα και καθαρά. Για να μειωθεί το μήκος του
παλμού, χρησιμοποιείται ένα μέσο απόσβεσης που απορροφά την ενέργεια, όπως ακριβώς
το αμορτισέρ ενός αυτοκινήτου αποσβένει τις ταλαντώσεις κατά την κίνηση του οχήματος.
Με τον τρόπο αυτό, το μήκος του παλμού μπορεί να μειωθεί από 3 έως 5 κύκλους.
Ο ιδανικός παλμός έχει μήκος περίπου 2 κύκλους, αλλά αυτά τα επίπεδα απόσβεσης
είναι αρκετά δύσκολα με τους εμπορικούς μετατροπείς που διατίθενται. Ο παλμός πρέπει
να αποσβέννυται γρήγορα, τόσο στο ηλεκτρικό κύκλωμα, όσο και στον πομπό,
προκειμένου να επιτυγχάνεται μεγαλύτερη διακριτική ικανότητα, ιδιαίτερα κοντά στην
επιφάνεια του δοκιμίου. Πάντως, ένας παλμός μεγαλύτερης διάρκειας παρουσιάζει
μικρότερη αποδυνάμωση και άρα διείσδυση σε μεγαλύτερο βάθος.
Η απόσβεση λοιπόν, καθορίζει το μήκος του παλμού. Ένας άλλος παράγοντας που
καθορίζει το μήκος κύματος είναι η συχνότητα. Υψηλή συχνότητα οδηγεί σε μικρό μήκος
κύματος, άρα και σε μικρότερο μήκος παλμού. Τέλος, το μήκος του παλμού επηρεάζει τη
διακριτική ικανότητα (resolution).
5.7 Ευαισθησία και διακριτική ικανότητα (resolution)
Διακριτική ικανότητα ονομάζεται η ικανότητα διαχωρισμού στον άξονα του χρόνου

(οριζόντιος άξονας), δύο ή περισσότερων ανακλαστήρων που βρίσκονται σε κοντινή
απόσταση μεταξύ τους, όσον αφορά στη διαδρομή της ηχητικής δέσμης (beam path
length).
Έστω δύο ασυνέχειες που βρίσκονται εντός της ίδιας ηχητικής δέσμης και σε
απόσταση 3mm. Αν το μήκος του παλμού είναι μεγαλύτερο από 3mm, τότε οι παλμοί από
τις δύο ασυνέχειες θα περιλαμβάνονται στον ίδιο φάκελο, όπως φαίνεται στο αριστερό
σχήμα της Εικόνας 5.11. Αν το μήκος του παλμού ήταν μικρότερο από 3mm, τότε τα
σήματα θα ήταν διακριτά και ευανάγνωστα, όπως στο δεξί σχήμα της Εικόνας 5.11.
Εικόνα 5.11: Διακριτική ικανότητα
Όσο μικρότερο λοιπόν είναι το μήκος κύματος του παλμού, τόσο καλύτερη είναι η
διακριτική ικανότητα, τόσο μικρότερη είναι η διείσδυση και άρα και η ενέργεια. Η
ευαισθησία (sensitivity) ενός μετατροπέα χαρακτηρίζεται από τη μικρότερη ασυνέχεια που
μπορεί να ανιχνεύσει.
|570|
Από τη σχέση:
D2 D2 • f
N = -------------- => N = ------------------
4λ 4v
διαπιστώνουμε ότι για σταθερή συχνότητα, όσο αυξάνεται η διάμετρος, τόσο αυξάνεται η
εγγύς ζώνη. Επομένως, περιορίζονται η ευαισθησία και η διακριτική ικανότητα για
ασυνέχειες κοντά στην επιφάνεια. Η ευαισθησία και η διακριτική ικανότητα για περιοχές
μετά την εγγύς ζώνη είναι μεγαλύτερες, όσο μικρότερο είναι το μήκος κύματος.
Από τη σχέση:
K•λ Κ•v
sin A = ---------------- => sin A = -----------------
D D•f
διαπιστώνουμε ότι όσο αυξάνει η διάμετρος ή η συχνότητα, τόσο μειώνεται η γωνία

απόκλισης και επομένως η δέσμη είναι στενότερη, προσφέροντας καλύτερη ευαισθησία και
διακριτική ικανότητα. Το φαινόμενο όμως αυτό αντίκειται στο γεγονός, ότι η
αποδυνάμωση του ήχου είναι μεγαλύτερη, όσο μεγαλύτερη είναι η συχνότητα (ή όσο
μικρότερο είναι το μήκος κύματος) λόγω της σκέδασης. Πάντως, για υλικά που
παρουσιάζουν έντονο πρόβλημα αποδυνάμωσης του ήχου (για παράδειγμα, τα
χονδρόκοκκα υλικά όπως ο ανοξείδωτος χάλυβας ή το χυτό αλουμίνιο) προτιμάται μεγάλη
διάμετρος μετατροπέα και χαμηλή συχνότητα. Για έλεγχο κοντά στην επιφάνεια του υλικού
προτιμάται μικρή διάμετρος (για μικρή εγγύς ζώνη), μετατροπέας διπλού στοιχείου (για
μηδενική νεκρή ζώνη) και μεγάλη συχνότητα (για μεγάλη ευαισθησία). Όσο αυξάνει το
πάχος του υλικού, προτιμάται χαμηλότερη συχνότητα για μικρή γεωμετρική αποδυνάμωση
του ήχου και μεγαλύτερο μετατροπέα (για στενότερη δέσμη). Γενικά, όποτε είναι δυνατό,
προτιμάται μεγάλη συχνότητα, για καλύτερη ευαισθησία και διακριτική ικανότητα.
5.8 Γωνία ηχητικής δέσμης και σημείο εξόδου σε γωνιακούς μετατροπείς
Πριν από τη χρήση ενός γωνιακού μετατροπέα, είναι απαραίτητο να βρεθεί το

σημείο εξόδου του κεντρικού άξονα της ηχητικής δέσμης από το μετατροπέα (index point),
καθώς και η γωνία αυτού του άξονα με τον κάθετο στην επιφάνεια του δοκιμίου άξονα. Οι
έλεγχοι αυτοί πρέπει να είναι τακτικοί, διότι με τη φθορά του ακρυλικού στη βάση του
μετατροπέα, είναι δυνατό να αλλάξει τόσο το σημείο εξόδου, όσο και η γωνία της ηχητικής
δέσμης. Είναι βέβαια προφανές λόγω του νόμου του Snell ότι η γωνία της ηχητικής δέσμης
εξαρτάται και από το εξεταζόμενο υλικό. Έτσι, ένας εγκάρσιος μετατροπέας με
ονομαστική γωνία 60° έχει σχεδιαστεί ώστε να δίνει γωνία διάθλασης του εγκαρσίου
κύματος στο χάλυβα ίση με 60°.
Ο κάθετος μετατροπέας 0° είναι αυτός που διαδίδει ηχητικά κύματα σε γωνία 90°
ως προς την επιφάνεια. Ένας γωνιακός μετατροπέας 60° διαδίδει ηχητικά κύματα με γωνία
60°, δηλαδή υπό γωνία 30° ως προς την επιφάνεια. Σε κάθε γωνιακό μετατροπέα
αναγράφεται η γωνία και η συχνότητα εκπομπής.
|571|
Εικόνα 5.12: Γωνία ηχητικής δέσμης και σημείο εξόδου ενός γωνιακού μετατροπέα
5.9 Χάραξη του σχεδίου απόκλισης της ηχητικής δέσμης (BEAM SPREAD
PATTERN)
Για κάθε μετατροπέα και υλικό διάδοσης, είναι δυνατόν τόσο θεωρητικά, αλλά
κυρίως πρακτικά, να χαράξουμε το διάγραμμα απόκλισης της ηχητικής δέσμης (Beam
spread Pattern) για 50% ή 10% (συνήθως) της πίεσης σε σχέση με την πίεση πάνω στον
κεντρικό άξονα. Θεωρητικά, αυτό επιτυγχάνεται με τον υπολογισμό του μήκους Ν της
εγγύς ζώνης και της γωνίας απόκλισης θ° της ηχητικής δέσμης. Πρακτικά, γίνεται με
ελάττωση του σήματος κατά 50% (-6dB) ή 90% (-20dB) και χάραξη των χαρακτηριστικών
σημείων. Το σχέδιο απόκλισης της ηχητικής δέσμης είναι πολύ χρήσιμο, κυρίως για την
οριοθέτηση των ασυνεχειών συγκολλήσεων με τη χρήση γωνιακού μετατροπέα.
5.10 Συχνότητα επαναλήψεως παλμού (Pulse repetition frequency - P.R.F)
Η συχνότητα επανάληψης παλμού (P.R.F.) ή ρυθμός παλμού (P.R.R.) είναι ο

αριθμός των παλμών της υπερηχητικής ενέργειας που εγκαταλείπει το μετατροπέα σε
ορισμένο χρόνο (συνήθως ανά δευτερόλεπτο). Κάθε ενεργειακός παλμός που εγκαταλείπει
το μετατροπέα πρέπει να επιστρέψει πριν ξεκινήσει ο επόμενος. Σε διαφορετική περίπτωση
συγκρούονται δημιουργώντας τα λεγόμενα φαντάσματα ή απατηλές αντηχήσεις που
εμφανίζονται στην οθόνη. Ο χρόνος που απαιτείται για να διανύσει ο παλμός όλη την
απόσταση από το μετατροπέα έως την επιστροφή του είναι γνωστός ως χρόνος
μεταβίβασης.
Ο χρόνος μεταξύ δύο συνεχών παλμών που εγκαταλείπουν το μετατροπέα, είναι
γνωστός ως μεσοδιάστημα. Συμπεραίνεται λοιπόν ότι ο χρόνος μεταβίβασης πρέπει να
είναι συντομότερος από το μεσοδιάστημα, αλλιώς εμφανίζονται απατηλές ενδείξεις.
Πρακτικά το μεσοδιάστημα πρέπει να είναι σχεδόν πενταπλάσιο από το χρόνο
μεταβίβασης.
ΔΙΑΝΥΘΕΝ ΔΙΑΣΤΗΜΑ (mm)

ΧΡΟΝΟΣ ΜΕΤΑΒΙΒΑΣΗΣ (μs) = -----------------------------------------------------
TAXYTHTA (Km/s)
|572|
1
ΜΕΣΟΔΙΑΣΤΗΜΑ (μs) = -------------------------
P.R.F (MHz)
Ελάχιστο μεσοδιάστημα (θεωρητικά) = Χρόνος μεταβίβασης
Ελάχιστο μεσοδιάστημα (στην πράξη) = 5•(Χρόνος μεταβίβασης)
Χρόνος μεταβίβασης (μs) / transit time

Διανυθέν διάστημα (mm) / distance travelled
Ταχύτητα (km/s) / velocity
Μεσοδιάστημα / clock interval
Οι τυπικές τιμές συχνότητας επαναλήψεως παλμού (P.R.F.) κυμαίνονται από 10Hz

έως 1.000Hz ή μεγαλύτερες. Μια υψηλή τιμή συχνότητας επανάληψης παλμού επιτρέπει
ταχύτερη σάρωση και απόκτηση δεδομένων, ενώ μια χαμηλή συχνότητα επανάληψης
παλμού εξοικονομεί διάρκεια ζωής της μπαταρίας της συσκευής και περιορίζει το θόρυβο
ιδίως στις μεγάλες διαδρομές της ηχητικής δέσμης.
5.11 Αρχικός παλμός
Ο αρχικός παλμός (initial pulse ή main bang) αποτελεί ένα σήμα το οποίο δεν έχει
σημασία κατά τη βαθμονόμηση της συσκευής ανίχνευσης ασυνεχειών και καταλαμβάνει
συνήθως το αριστερό μέρος της οθόνης.
Εικόνα 5.13: Εμφάνιση του αρχικού παλμού στην οθόνη
Όταν ένας μετατροπέας τοποθετείται σε ένα δοκίμιο χάλυβα, ένα ποσοστό των
ηχητικών κυμάτων ανακλάται στη διεπιφάνεια παπουτσάκι μετατροπέα - χάλυβα και ένα
ποσοστό διαδίδεται εντός του δοκιμίου. Όταν η ηχητική ενέργεια «χτυπά» την οπίσθια
επιφάνεια στο δοκίμιο χάλυβα, όλη σχεδόν η ενέργεια ανακλάται στη διεπιφάνεια χάλυβα /
αέρα και επιστρέφει στην διεπιφάνεια χάλυβα / Perspex. Σε αυτό το σημείο, ένα ποσοστό
της ηχητικής ενέργειας διαδίδεται στο μετατροπέα προκαλώντας το αρχικό σήμα (1), ενώ
το υπόλοιπο ανακλάται πίσω στο χάλυβα και η διαδικασία επαναλαμβάνεται μέχρι την
αποδυνάμωση της ηχητικής ενέργειας.
|573|
Η απόσταση μεταξύ των αντηχήσεων αντιπροσωπεύει το πάχος του δοκιμίου
χάλυβα. Έτσι λοιπόν, εφόσον τοποθετήσουμε το μετατροπέα στο δοκίμιο βαθμονόμησης
Α2, στην περιοχή πάχους 25mm οι ηχώ θα απεικονίζονται με διαφορά 25mm. Σημειώνεται
ότι εάν χρησιμοποιηθεί ένας μετατροπέας μονού στοιχείου, η αρχική ηχητική ενέργεια η
οποία ανακλάται πίσω προς το μετατροπέα θα δημιουργήσει ένα σήμα στην αρχή της
οθόνης (F), το οποίο θα βρίσκεται πολύ κοντά στον αρχικό παλμό και θα συνυπάρχει μαζί
με τη νεκρή ζώνη, η οποία θα είναι και αυτή ορατή στην οθόνη. Εάν χρησιμοποιηθεί
μετατροπέας διπλού στοιχείου (ένα στοιχείο για εκπομπή και ένα για λήψη) τότε δε θα
είναι ορατό, ούτε το σήμα από την μετωπική επιφάνεια, ούτε από τη νεκρή ζώνη.
Εικόνα 5.14: Μετατροπέας με παπουτσάκι και απεικόνιση των παλμών
5.12 Αποδυνάμωση του ήχου
Όταν ο ήχος διαδίδεται σε ένα μέσο, η ένταση του μειώνεται σε συνάρτηση με την
απόσταση. Σε ιδανικά υλικά, η ηχητική πίεση (πλάτος σήματος) μειώνεται μόνο κατά τη
διάδοση του κύματος. Ωστόσο, όλα τα φυσικά υλικά, παράγουν ένα αποτέλεσμα το οποίο
αποδυναμώνει περαιτέρω τον ήχο. Αυτή η επιπλέον αποδυνάμωση είναι αποτέλεσμα της
σκέδασης και της απορρόφησης. Η σκέδαση είναι η ανάκλαση του ήχου σε κατευθύνσεις
διαφορετικές από την αρχική κατεύθυνση της διάδοσης. Η απορρόφηση είναι η μετατροπή
της ηχητικής ενέργειας σε άλλες μορφές ενέργειας. Το συνδυαστικό αποτέλεσμα της
σκέδασης και της απορρόφησης ονομάζεται αποδυνάμωση. Η αποδυνάμωση των υπερήχων
είναι ο ρυθμός απόσβεσης του κύματος καθώς αυτό διαδίδεται μέσω του υλικού.
Ως αποδυνάμωση του ήχου ορίζεται η απώλεια της έντασης της ηχητικής δέσμης,
καθώς περνά μέσα από ένα μέσο. Εξαρτάται από τις φυσικές ιδιότητες του υλικού.
Η αποδυνάμωση της έντασης του ήχου οφείλεται:
1) Σε γεωμετρικούς παράγοντες.
2) Στην ανάκλαση - σκέδαση - διασκορπισμό στους κόκκους του υλικού.
3) Στην απορρόφηση μέσα στο υλικό.
4) Στην ακουστική αντίσταση του υλικού.
5) Στη χαρακτηριστική ακουστική αντίσταση των ασυνεχειών.
6) Στην έλλειψη ομοιογένειας του υλικού.
7) Στην ανισοτροπία.
|574|
Για μήκη κύματος μικρότερα του 1/3 του μεγέθους των κόκκων του υλικού, η
αποδυνάμωση είναι μεγάλη και οφείλεται κυρίως σε ανακλάσεις του ήχου (φαινόμενο
σκέδασης) στα όρια των κόκκων ή στα όρια πολύ μικρών ασυνεχειών.
Όταν το μήκος κύματος είναι μεγαλύτερο, τότε η αποδυνάμωση οφείλεται κυρίως
σε απορρόφηση του ηχητικού κύματος λόγω μετατροπής σε θερμότητα τριβής (σε
ανομοιογένειες του υλικού) και το φαινόμενο της αποδυνάμωσης της ηχητικής ενέργειας
είναι λιγότερο έντονο.
Και στις δύο περιπτώσεις όμως εξακολουθεί να υπάρχει αποδυνάμωση, κατά τον
άξονα της ηχητικής δέσμης για λόγους γεωμετρίας, διότι η αρχική ενέργεια κατανέμεται σε
μεγαλύτερη επιφάνεια, άρα η ένταση και η πίεση του ήχου ελαττώνονται, όσο
απομακρυνόμαστε από το σημείο εκπομπής.
Όπως αυξάνεται η συχνότητα του ηχητικού κύματος, αυξάνεται και η εξασθένιση,
λόγω της δόνησης περισσοτέρων μορίων και της αυξημένης ευαισθησίας σε μικρούς
ανακλαστήρες μεγέθους παραπλήσιου του μήκους κύματος του ηχητικού κύματος.
Γενικά η απορρόφηση μειώνεται με τη μείωση της συχνότητας, ενώ η σκέδαση
μειώνεται όταν μειώνεται η συχνότητα ή / και το μέγεθος του κόκκου.
Υλικά όπως χυτά και ωστενιτικοί ανοξείδωτοι χάλυβες, προκαλούν υψηλή
αποδυνάμωση λόγω της μεγαλύτερης δομής των κόκκων τους. Ο παράγοντας
αποδυνάμωσης ενός υλικού είναι μετρήσιμο μέγεθος και εκφράζεται σε dB/mm.
Φυσική αποδυνάμωση συμβαίνει επίσης λόγω απόκλισης της δέσμης στην απώτατη
ζώνη. Για παράδειγμα, αν υποτεθεί ότι χρησιμοποιείται μετατροπέας διαμηκών κυμάτων,
το εύρος της ηχούς της οπίσθιας όψης μειώνεται κατά το ήμισυ (-6dB) κάθε φορά που
διπλασιάζεται η απόσταση από το μετατροπέα.
Οι φυσικές ιδιότητες και οι συνθήκες φόρτισης μπορεί να σχετίζονται με την
εξασθένιση. Η εξασθένιση συχνά χρησιμεύει ως εργαλείο μέτρησης που οδηγεί στην
ανάπτυξη θεωριών εξήγησης ενός φυσικού ή χημικού φαινομένου που μειώνει την ένταση
των υπερήχων.
Ο παρακάτω τύπος δίνει τη σχέση που συνδέει την ηχητική πίεση και την
εξασθένιση σε ένα συγκεκριμένο μήκος ηχητικής διαδρομής.
p = p0 • e-α d
Όπου:
p: η ηχητική πίεση στο τέλος της ηχητικής διαδρομής
p0: η ηχητική πίεση στην αρχή της ηχητικής διαδρομής
e: η βάση των φυσικών λογαρίθμων (e ≈ 2.71828)
α: ο συντελεστής απόσβεσης
d: το μήκος της ηχητικής διαδρομής.
Οι βασικές κατηγορίες υλικών που υπάρχουν είναι τρεις, ανάλογα με τη

δυνατότητα-εύρος απόσβεσης ενός υπερηχητικού κύματος και αναφέρονται στη συνέχεια:
Α) Υλικά με χαμηλή απόσβεση, μικρότερη των 10dΒ/m. Πρόκειται για το χάλυβα
και τα χαμηλά κράματα του, το σφυρήλατο σίδηρο, το γυαλί, την πορσελάνη κ.λπ.
Β) Υλικά με μέση απόσβεση μέχρι 100dΒ/m, όπως τα υψηλά κράματα χάλυβα, ο
χυτοσίδηρος, ο ορείχαλκος, ο μόλυβδος κ.λπ.
Γ) Υλικά με υψηλή απόσβεση, πάνω από 100dΒ/m. Σε αυτή την κατηγορία ανήκουν
τα πλαστικά, το λάστιχο, το σκυρόδεμα, το ξύλο κ.λπ. Αυτά τα υλικά εμφανίζουν
δυσκολίες κατά τον έλεγχο. Συνήθως χρησιμοποιούνται πολύ λεπτά δοκίμια αυτών των
υλικών, έτσι ώστε η συνολική απόσβεση να είναι περιορισμένη και να μπορούν να
εξαχθούν ασφαλή συμπεράσματα.
|575|
Στον παραπάνω τύπο, το p0 εκφράζει το μη εξασθενημένο πλάτος του κύματος που
διαδίδεται σε κάποια θέση. Το p είναι το πλάτος του κύματος αφού έχει διανύσει απόσταση
z από την αρχική θέση. Το α είναι ο συντελεστής απόσβεσης του κύματος που διαδίδεται
στη διεύθυνση z. Οι διαστάσεις του α είναι nepers / μήκος. Οι μονάδες της τιμής
εξασθένισης σε Nepers ανά μέτρο (Np/m) μπορεί να μετατραπούν σε ντεσιμπέλ / μήκος
διαιρώντας με 0,1151. Το Ντεσιμπέλ είναι πιο συνηθισμένη μονάδα, όταν
αντιπαραβάλλονται τα πλάτη των δύο σημάτων.
Η εξασθένιση είναι γενικά ανάλογη με το τετράγωνο της συχνότητας του ήχου. Οι
τιμές της εξασθένισης συχνά δίνονται για μία μόνο συχνότητα ή μπορεί να δοθεί μια μέση
τιμή εξασθένισης για πολλές συχνότητες.
Επίσης, η πραγματική τιμή του συντελεστή εξασθένισης για ένα δεδομένο υλικό
εξαρτάται σε μεγάλο βαθμό από τον τρόπο με τον οποίο έχει κατασκευαστεί το υλικό.
Έτσι, κάποιες τιμές της εξασθένισης δίνουν μια γενική ένδειξη που δεν είναι υποχρεωτικά
αξιόπιστη. Σε γενικές γραμμές, μια αξιόπιστη τιμή της εξασθένισης μπορεί να επιτευχθεί
μόνο με τον πειραματικό καθορισμό της για ένα συγκεκριμένο υλικό που χρησιμοποιείται.
H εξασθένιση μπορεί να προσδιοριστεί με την αξιολόγηση των πολλαπλών
οπίσθιων ανακλάσεων σε μια τυπική οθόνη Α σάρωσης. Μετράται ο αριθμός των
ντεσιμπέλ μεταξύ δύο γειτονικών σημάτων και η τιμή αυτή διαιρείται με το χρονικό
διάστημα μεταξύ τους. Ο υπολογισμός αυτός παράγει ένα συντελεστή εξασθένισης Ut σε
ντεσιμπέλ ανά μονάδα χρόνου. Η τιμή αυτή μπορεί να μετατραπεί σε nepers/μήκος με την
ακόλουθη εξίσωση:
0,1151
α = ----------------- • Ut
v
Όπου:
v: είναι η ταχύτητα του ήχου σε m/s
Ut: σε dB/s
5.13 Απόκριση δέκτη
Σε σχέση με την ιδιοσυχνότητά του η οποία καθορίζεται από το πάχος του (t = λ/2),
ένας κρύσταλλος πάλλεται και σε άλλες συχνότητες κοντινές της κεντρικής.
Ένα χαρακτηριστικό του συστήματος υπερήχων είναι το εύρος των συχνοτήτων, το
οποίο απεικονίζεται στην οθόνη του παλμογράφου, χωρίς σημαντική μεταβολή. Ένα
σύστημα υπερήχων χαρακτηρίζεται ως μεγάλου εύρους (broad - banded), όταν αυτό το
πεδίο συχνοτήτων είναι μεγάλο, οπότε και έχουμε πιστή αναπαράσταση του ανακλώμενου
ήχου, υψηλή διακριτική ικανότητα (σε βάθος) αλλά και υψηλό θόρυβο. Μικρή διάρκεια
παλμού δίνει μεγάλο εύρος απόκρισης. Αντίθετα, όταν η απόκριση είναι σημαντική μόνο
πολύ κοντά στην ονομαστική συχνότητα του μετατροπέα, τότε μιλά κανείς για στενό εύρος
και υπάρχει σημαντική παραμόρφωση σημάτων αλλά μεγαλύτερη διείσδυση στο υλικό.
Όσο γρηγορότερα αποσβένεται ένας παλμός, τόσο μεγαλύτερο είναι το εύρος
συχνοτήτων και η διακριτική ικανότητα (σε βάθος) αλλά ταυτόχρονα, τόσο μειωμένη είναι
η διείσδυση στο υλικό.
Επίσης, συστήματα με μεγάλο εύρος συχνοτήτων παρουσιάζουν μεγάλο θόρυβο και
επομένως πρακτικά μικρότερη ευαισθησία. Συστήματα μικρού εύρους συχνοτήτων
παρουσιάζουν μεγαλύτερη ευαισθησία, μεγαλύτερη διείσδυση, μικρότερο θόρυβο αλλά και
μεγαλύτερη παραμόρφωση του σήματος που οδηγεί σε χειρότερη διακριτική ικανότητα
κοντά στην επιφάνεια του δοκιμίου. Μάλιστα, στις περιπτώσεις μικρού εύρους
|576|
συχνοτήτων, ο παλμός μερικές φορές λόγω της μεγάλης διάρκειας του, μπορεί και να
αποκρύψει ή να αλλοιώσει τελείως τα σήματα από ασυνέχειες κοντά στην επιφάνεια.
Στη συνέχεια παρουσιάζονται οι σχέσεις μεταξύ κάποιων χαρακτηριστικών του
μετατροπέα.
Μεγάλη συχνότητα μετατροπέα
• Στενή δέσμη (μικρή γωνία απόκλισης).

• Μεγάλη εγγύς ζώνη.
• Μικρή διείσδυση / μεγάλη αποδυνάμωση λόγω σκέδασης.
Μεγάλη διάμετρος μετατροπέα
• Μεγάλη διείσδυση / ισχυρότερο σήμα.

• Αρχικώς φαρδιά δέσμη αλλά κατόπιν στενότερη (μικρή γωνία απόκλισης άρα καλή
ευαισθησία και διακριτική ικανότητα σε σχέση με ένα μικρό μετατροπέα και μεγάλα
βάθη, αλλά κακή κοντά στην επιφάνεια).
• Μεγάλη εγγύς ζώνη.
Μετατροπέας διπλού στοιχείου
• Μηδενική νεκρή ζώνη, ιδανική για έλεγχο κοντά στην επιφάνεια του δοκιμίου.
Μετατροπείς μεγάλου εύρους (broad banded)
• Σύντομος παλμός, άρα μικρή νεκρή ζώνη, υψηλή διακριτική ικανότητα κοντά στην
επιφάνεια.
• Μικρός συντελεστής Q, υψηλή ευαισθησία σε βάθος και καλή απόκριση σήματος.
• Μικρή διείσδυση.
• Υψηλός θόρυβος.
5.14 Μέθοδοι σάρωσης (απεικονίσεις)
Τα δεδομένα κατά τον έλεγχο με υπερήχους μπορούν να συλλέγονται και να

απεικονίζονται σε διαφορετικές μορφές. Οι τρεις πιο συνηθισμένες μορφές απεικόνισης
είναι γνωστές ως Α, Β και C σάρωση. Κάθε απεικόνιση παρέχει ένα διαφορετικό τρόπο
θεώρησης και αξιολόγησης της περιοχής του υλικού που πρόκειται να επιθεωρηθεί. Οι
σύγχρονες συσκευές υπερήχων μπορεί να εμφανίσουν τα δεδομένα και στις τρεις
απεικονίσεις ταυτόχρονα.
5.14.1 Α Σάρωση (A-Scan)
Είναι το συνηθέστερο σύστημα που χρησιμοποιείται στη χειροκίνητη μέθοδο

επιθεώρησης με τη χρήση υπερήχων. Απεικονίζει την ανακλώμενη ενέργεια σε μία οθόνη
με μορφή σημάτων. Ο οριζόντιος άξονας της οθόνης, όπως φαίνεται και στην Εικόνα 5.15,
απεικονίζει το χρόνο που παρέρχεται ή την απόσταση, ενώ αντίστοιχα ο κατακόρυφος
άξονας απεικονίζει, το εύρος σήματος ή την ηχητική ενέργεια που επιστρέφει στο
μετατροπέα. Συνεπώς, η θέση της ασυνέχειας μπορεί να εντοπισθεί από την θέση του
σήματος επί του άξονα της χρονικής βάσης (οριζόντιος άξονας), ενώ από το σχήμα και τη
|577|
συμπεριφορά του σήματος κατά την κίνηση του μετατροπέα συμπεραίνεται και ο τύπος της
ασυνέχειας.
Μειονέκτημα του συστήματος είναι ότι, τα σήματα χρειάζονται ερμηνεία, κάτι που
σημαίνει ότι για την εφαρμογή απαιτείται περισσότερη εμπειρία και ικανότητα. Στα
πλεονεκτήματα του συστήματος περιλαμβάνονται η ευκολία μεταφοράς και ο μικρότερος
χρόνος που απαιτείται για την έναρξη λειτουργίας του.
Εικόνα 5.15: Α Σάρωση
5.14.2 Β Σάρωση (B-Scan)
Απεικονίζει μία τομή (εγκάρσια) του πάχους του δοκιμίου, με σάρωση κατά μήκος
της επιφάνειας. Η εικόνα δίνει μία προσωρινή απεικόνιση τους καταγράφοντας τα ψηφιακά
δεδομένα. Το εύρος του λαμβανόμενου σήματος είναι ανάλογο της λαμπρότητας του
ειδώλου, ενώ ο συγχρονισμός της κίνησης του μετατροπέα με την απεικόνιση μπορεί να
αναπαριστά τις διαστάσεις του σφάλματος. Στην περίπτωση ασυνέχειας μέσα σε χαλύβδινο
έλασμα, η ασυνέχεια σχηματίζει διαχωριστική επιφάνεια με τον αέρα, επομένως το πάχος
της δεν απεικονίζεται στην οθόνη.
Εικόνα 5.16: Β Σάρωση
|578|
5.14.3 C Σάρωση (C-Scan)
Αυτή η σάρωση απεικονίζει την κάτοψη της επιφάνειας σάρωσης, ενώ τυχόν
ασυνέχειες απεικονίζονται ως περιοχές διαφορετικής φωτεινότητας σε σύστημα εκτύπωσης
ή αποτύπωσης, που συγχρονίζεται με την κίνηση του μετατροπέα καθώς αυτός διατρέχει
την επιφάνεια του δοκιμίου. Το μεγάλο πλεονέκτημα του συστήματος είναι η άμεση και
μόνιμη καταγραφή. Στα μειονεκτήματα του συγκαταλέγονται η ανυπαρξία ένδειξης του
βάθους ή του προσανατολισμού της ασυνέχειας και η χρονοβόρα προετοιμασία της
εγκατάστασης.
Η C σάρωση εκτελείται συνήθως με αυτοματοποιημένη διάταξη και την τεχνική
βύθισης.
Εικόνα 5.17: C Σάρωση
Εικόνα 5.18: Απεικόνιση σαρώσεων Α, Β, C, D
|579|
6. ΜΕΘΟΔΟΙ ΚΑΙ ΤΕΧΝΙΚΕΣ
6.1 Μέθοδοι ελέγχου
Η πιο διαδεδομένη τεχνική ελέγχου είναι η μέθοδος επαφής, κατά την οποία
πραγματοποιείται άμεση επαφή του μετατροπέα με το δοκίμιο, αφού πρώτα παρεμβληθεί
ένα λεπτό και ομοιόμορφο στρώμα υλικού σύζευξης.
Εικόνα 6.1: Μέθοδος επαφής
6.2 Τεχνική βύθισης (Immersion testing)
Σε αντιδιαστολή με την προηγούμενη μέθοδο, στην τεχνική βύθισης, τόσο ο

μετατροπέας όσο και το δοκίμιο βρίσκονται μέσα στο υλικό σύζευξης. Παραλλαγές της
τεχνικής βύθισης είναι οι μέθοδοι της στήλης νερού (bubbler), ακροφύσιου (squirter) και
ελαστικής ρόδας (wheel), οι οποίες διενεργούνται σε εργαστήρια ή εξειδικευμένα τμήματα
βιομηχανίας. Το σύστημα χρησιμοποιεί μετατροπέα συμπιεστικών κυμάτων
προσαρμοσμένο σε ένα φορέα που ολισθαίνει σε οδηγό πάνω από ένα δοχείο νερού, όπου
βρίσκεται βυθισμένο το δοκίμιο. Ο φορέας επιτρέπει στο μετατροπέα να αποκτά κλίση
διαφόρων γωνιών. Με μεταβολή της γωνίας και με τιμές μεγαλύτερες από αυτές των
κρίσιμων γωνιών δημιουργούνται διάφορες γωνίες διάθλασης εγκαρσίων κυμάτων,
ανάλογα με τις απαιτήσεις της δοκιμής. Ο οδηγός επιτρέπει στο μετατροπέα να κινείται
επάνω από το δοκίμιο. Πολλές φορές, αυτό τοποθετείται σε περιστρεφόμενη βάση στον
πυθμένα του δοχείου και περιστρέφεται κατά τη διάρκεια της σάρωσης. Συχνότητες
μετατροπέα έως 25ΜΗz είναι συνήθεις στη τεχνική βύθισης. Επομένως, με αλλεπάλληλες
σαρώσεις κατά πλάτος του δοκιμίου και σε διαφορετικές θέσεις του μήκους του,
επιτυγχάνεται μέσω «απομνημόνευσης» των σημάτων από τη συσκευή, η αποτύπωση της
κάτοψης της ασυνέχειας.
Τα επιφανειακά κύματα είναι εξαιρετικά περιορισμένα σε συστήματα καταβύθισης,
αφού είναι οριακά κύματα και για τη διάδοση τους χωρίς αποδυνάμωση απαιτείται
διαχωριστική επιφάνεια στερεού - αερίου. Η τεχνική βύθισης είναι ιδανική για δοκίμια
συμμετρικά και μικρού μεγέθους, κυρίως σε αυτοματοποιημένες διατάξεις ελέγχου και
σαρώσεις τύπου Β ή C.
Η βαθμονόμηση γίνεται συνήθως με μετατροπέα επαφής και με τη βοήθεια
ρυθμιστικού δοκιμίου. Το υδάτινο κενό μεταξύ του μετατροπέα και της εμπρόσθιας
επιφάνειας του δοκιμίου αφαιρείται από την οθόνη έτσι ώστε το μηδέν της οριζόντιας
κλίμακας να αντιστοιχεί σε αυτήν την επιφάνεια. Η ταχύτητα των υπερήχων στο χάλυβα
είναι τετραπλάσια από την αντίστοιχη στο νερό.
|580|
Εικόνα 6.2: Τεχνική βύθισης
Επομένως, όταν πρόκειται για δοκιμή χαλύβδινων στοιχείων, το υδάτινο διάστημα

πρέπει να είναι μεγαλύτερο του ενός τετάρτου του πάχους του χάλυβα. Διαφορετικά, τα
ανακλώμενα σήματα από την εμπρόσθια επιφάνεια εμφανίζονται πριν από τα αντίστοιχα
της οπίσθιας και η ηχώ της εμπρόσθιας επιφάνειας εμφανίζεται στην οθόνη, στην περιοχή
της δοκιμής, αποκρύπτοντας τυχόν σφάλματα του δοκιμίου που βρίσκονται σε αυτό το
βάθος.
Στην πράξη το υδάτινο κενό προσδιορίζεται στο 1/4 του πάχους του υλικού.
Εικόνα 6.3: Απεικονίσεις κατά τον έλεγχο με την τεχνική βύθισης
6.3 Τεχνικές ελέγχου
Η τεχνική παλμού - ηχούς χρησιμοποιεί την επιστρεφόμενη ηχώ (πίσω ηχώ ή ηχώ
από ασυνέχεια στο δοκίμιο). Η τεχνική διέλευσης χρησιμοποιεί τον ήχο που διαπερνά το
δοκίμιο (απουσία σήματος σημαίνει ύπαρξη ασυνέχειας σε άγνωστο βάθος μέσα στο
δοκίμιο).
Όταν χρησιμοποιούνται διαφορετικοί μετατροπείς ως πομπός και δέκτης αλλά από
την ίδια πλευρά του δοκιμίου, η τεχνική λέγεται pitch-catch (για παράδειγμα tandem για
κεντρική περιοχή υλικών ή συγκολλήσεων μεγάλου πάχους).
|581|
6.3.1 Τεχνική παλμού-ηχούς
Ένα σύστημα που αποστέλλει παλμούς με μορφή ενέργειας υπερήχων και στη
συνέχεια συλλαμβάνει την ανακλώμενη ηχητική ενέργεια (ηχώ) ονομάζεται σύστημα
παλμού - ηχούς. Οι μετατροπείς που χρησιμοποιούνται μπορεί να είναι μονού ή διπλού
στοιχείου.
Ο μετατροπέας μονού στοιχείου εκπέμπει παλμούς ενέργειας με ρυθμό συνήθως
από 150 έως 1.000Hz. Μεταξύ αυτών των παλμών ενεργοποιείται το κύκλωμα λήψης, το
οποίο συλλαμβάνει κάθε επιστρεφόμενη ηχώ.
Ο μετατροπέας διπλού στοιχείου είναι εφοδιασμένος με έναν κρύσταλλο εκπομπής
και έναν λήψης. Ο πομπός αποστέλλει παλμούς, με τον ίδιο ρυθμό όπως και
προηγουμένως, αλλά με παύσεις μεταξύ των παλμών, ενώ ο δέκτης βρίσκεται συνεχώς σε
κατάσταση λήψης (ακοής).
Ως πλεονεκτήματα του συστήματος παλμού - ηχούς θεωρούνται: α) το γεγονός ότι
οι θέσεις των ασυνεχειών μπορεί να εντοπιστούν με ακρίβεια και β) ότι απαιτείται
πρόσβαση μόνο από την μία πλευρά του δοκιμίου. Μειονέκτημα του συγκεκριμένου
συστήματος αποτελεί το γεγονός ότι ο ήχος πρέπει να διατρέξει το υλικό δύο φορές (μπρος
- πίσω) κάτι που προκαλεί μεγαλύτερη αποδυνάμωση.
Εικόνα 6.4: Τεχνική παλμού-ηχούς
6.3.2 Τεχνική της διέλευσης
Η τεχνική αυτή εφαρμόζεται κυρίως σε αυτοματοποιημένα συστήματα. Κατά τη

συγκεκριμένη τεχνική χρησιμοποιούνται δύο μετατροπείς, ένας για κάθε πλευρά του
δοκιμίου. Ο ένας μετατροπέας χρησιμοποιείται για να εκπέμπει παλμούς ενέργειας και ο
άλλος για να τους λαμβάνει. Το λαμβανόμενο ενεργειακό σήμα μεταφέρεται σε
προκαθορισμένη στάθμη πάνω στην οθόνη και η παρουσία της ασυνέχειας εξακριβώνεται
με τη μείωση του εύρους ή την πλήρη εξαφάνιση αυτού του σήματος. Σε
αυτοματοποιημένα συστήματα, το σήμα μπορεί να ρυθμιστεί έτσι ώστε να φθάσει ή να
υπερβεί ένα όριο πάνω στην οθόνη. Αυτό σημαίνει ότι το τμήμα της οθόνης στην περιοχή
του σήματος θα προκαλέσει ηχητική προειδοποίηση, εάν το σήμα δε φθάσει την
προκαθορισμένη στάθμη.
Τα πλεονεκτήματα της τεχνικής αυτής, βασίζονται στο γεγονός, ότι ο ήχος πρέπει
να διατρέξει το υλικό μόνο κατά τη μία διεύθυνση, δηλαδή μπορεί να δοκιμαστούν υλικά
με ιδιότητες υψηλής αποδυνάμωσης και μεγαλύτερου πάχους, καθώς επίσης και να
χρησιμοποιηθούν μετατροπείς υψηλότερης συχνότητας.
|582|
Τα μειονεκτήματα αυτής της τεχνικής είναι η ανυπαρξία ένδειξης σχετικής με το
βάθος της ασυνέχειας και η υποχρεωτική πρόσβαση από τις δύο πλευρές του δοκιμίου για
την τοποθέτηση των μετατροπέων. Στα μειονεκτήματα συγκαταλέγονται επίσης, η
απαίτηση της απόλυτης ευθυγράμμισης των μετατροπέων. Επιπλέον, ενδεχόμενη μεταβολή
των συνθηκών σύζευξης προκαλεί μεταβολή του σήματος, με αποτέλεσμα τα σήματα
τελικώς να εκτιμηθούν λανθασμένα ως ασυνέχειες.
Εικόνα 6.5: Τεχνική της διέλευσης
6.3.3 Τεχνική των δίδυμων μετατροπέων (Pitch - Catch)
Σε αυτήν την τεχνική χρησιμοποιούνται δύο μετατροπείς, ένας εκπομπής και ένας
λήψης, τη στιγμή που και οι δύο βρίσκονται στην ίδια επιφάνεια του δοκιμίου. Οι
μετατροπείς βρίσκονται σε σταθερή απόσταση μεταξύ τους, έτσι ώστε οι παλμοί από το
μετατροπέα εκπομπής που θα ανακλαστούν από μία ασυνέχεια, να κατευθυνθούν προς το
μετατροπέα λήψης και να δημιουργηθεί το σήμα πάνω στην οθόνη. Η απόσταση μεταξύ
των μετατροπέων εξαρτάται από τη γωνία του μετατροπέα, το πάχος του υλικού και το
βάθος των αναμενόμενων ασυνεχειών. Η συγκεκριμένη τεχνική χρησιμοποιείται για την
ανίχνευση ασυνεχειών προκαθορισμένου βάθους όπως είναι οι ασυνέχειες στη ρίζα
συγκόλλησης διπλής αύλακος (διπλό V). Το πλεονέκτημα αυτής της τεχνικής είναι ότι
ανιχνεύονται εύκολα κατακόρυφες ασυνέχειες που εντοπίζονται εξαιρετικά δύσκολα με
κάθετους μετατροπείς. Ως μειονέκτημα της μεθόδου θεωρείται ο εντοπισμός ασυνεχειών
μόνο προκαθορισμένου βάθους.
Εικόνα 6.6: Τεχνική των δίδυμων μετατροπέων
|583|
6.4 Έλεγχος κυλινδρικών δοκιμίων
Στην περίπτωση ελέγχου κυλινδρικών δοκιμίων, εάν χρησιμοποιηθεί η μέθοδος

επαφής με κάθετο μετατροπέα στο ένα άκρο τους και εφόσον έχουν αρκετό μήκος, θα
παρατηρηθούν αλλεπάλληλες μετατροπές τύπου του ήχου, καθώς η δέσμη θα «ανοίγει» και
θα «κτυπά» στα πλευρικά του τοιχώματα. Έτσι έχουμε παραγωγή πολλαπλών σημάτων
στην οθόνη, χωρίς ωστόσο ο έλεγχος να είναι αποτελεσματικός.
Τα κυλινδρικά δοκίμια ελέγχονται συνήθως με την τεχνική βύθισης (immersion
testing), τη χρήση κάθετου μετατροπέα και γωνία πρόσπτωσης μεγαλύτερη από την πρώτη
κρίσιμη, ώστε να υπάρχει εγκάρσιο κύμα μέσα στο δοκίμιο.
Όπως έχει ήδη αναφερθεί, η ταχύτητα των υπερήχων στο χάλυβα είναι τετραπλάσια
από την αντίστοιχη στο νερό. Επομένως, όταν πρόκειται για δοκιμή χαλύβδινων δοκιμίων,
το υδάτινο διάστημα, πρέπει να είναι μεγαλύτερο του ενός τετάρτου του πάχους του
χάλυβα. Σε αντίθετη περίπτωση, τα ανακλώμενα σήματα από την εμπρόσθια επιφάνεια
ακούγονται πριν από τα αντίστοιχα της οπίσθιας και η ηχώ της εμπρόσθιας επιφάνειας
εμφανίζεται πάνω στην οθόνη, στην περιοχή της δοκιμής, αποκρύπτοντας έτσι τυχόν
σφάλματα του δοκιμίου που βρίσκονται σε αυτό το βάθος.
Στην πράξη και εμπειρικά, αυτό το υδάτινο κενό πρέπει να είναι τουλάχιστον ίσο με
το 1/4 του πάχους του υλικού.
Εικόνα 6.7: Έλεγχος κυλινδρικού δοκιμίου με τεχνική βύθισης και εγκάρσια κύματα, με
χρήση κάθετου μετατροπέα
Εικόνα 6.8: Τεχνική στήλης νερού και ακροφύσιου
|584|
7. ΤΕΧΝΙΚΕΣ ΣΥΓΚΡΙΤΙΚΗΣ ΑΞΙΟΛΟΓΗΣΗΣ ΑΣΥΝΕΧΕΙΩΝ
7.1 Καμπύλη διόρθωσης - απόστασης - έντασης (καμπύλη DAC)
Στην περίπτωση της Α σάρωσης, η ένταση του ανακλώμενου ήχου είναι τόσο
μικρότερη, όσο βαθύτερα βρίσκεται ο ανακλαστήρας στο υλικό (λόγω αποδυνάμωσης).
Προκειμένου να είναι δυνατή η ποιοτική και όχι ποσοτική σύγκριση των ανακλαστήρων
που βρίσκονται σε διαφορετικά βάθη, κατασκευάζεται η καμπύλη DAC, χρησιμοποιώντας
είτε οπές επίπεδου πυθμένα (flat bottomed holes), στην περίπτωση των κάθετων
μετατροπέων είτε πλευρικές οπές (side drilled holes) στην περίπτωση των γωνιακών
μετατροπέων.
Το υψηλότερο σήμα από την κοντινότερη οπή τοποθετείται στο 80% της οθόνης και
κατόπιν, με σταθερή ενίσχυση σημειώνεται το ύψος των υπόλοιπων οπών. Η καμπύλη αυτή
ονομάζεται 100% καμπύλη DAC, ενώ με μετάθεσή της στο μισό λαμβάνεται η ομόλογη
καμπύλη 50% (-6dB).
Οι καμπύλες DAC (διαφορετικές για κάθε συσκευή, μετατροπέα και υλικό)
χρησιμοποιούνται για την αποδοχή ή απόρριψη ασυνεχειών, βάσει των σχετικών οδηγιών
της χρησιμοποιούμενης προδιαγραφής (π.χ. απορρίπτεται ότι υπερβαίνει την καμπύλη
100% DAC ή 50% DAC).
Εικόνα 7.1: Καμπύλη διόρθωσης - απόστασης - έντασης στη περίπτωση της Α σάρωσης
7.2 Διάγραμμα απόστασης - ενίσχυσης - μεγέθους (διάγραμμα DGS ή AVG)
Το διάγραμμα απόστασης - ενίσχυσης μεγέθους χρησιμοποιεί μία σειρά από

καταγεγραμμένες καμπύλες, οι οποίες αντιπροσωπεύουν ανακλαστήρες διαφορετικού
μεγέθους σε σχέση με τη διαδρομή της ηχητικής δέσμης και της ενίσχυσης.
Από την εταιρία Krautkramer δίνονται οι λεγόμενες κλίμακες DGS (DGS scales) για
κάθε μετατροπέα ξεχωριστά, όπου γίνεται σύγκριση του μεγέθους της ασυνέχειας και
πρότυπων ανακλαστήρων διαφόρων μεγεθών (π.χ. διαμέτρου 1, 2 ή 3mm), υπό την
προϋπόθεση φυσικά ότι η φύση και η γωνία της ασυνέχειας (ως προς την προσπίπτουσα
δέσμη) είναι ίδια με αυτές του πρότυπου ανακλαστήρα. Οι κλίμακες DGS είναι αποδεκτές
από ορισμένες μόνο προδιαγραφές (κυρίως γερμανικές και όχι αμερικάνικες) για την
αποδοχή ή απόρριψη μίας ασυνέχειας εντός του υλικού.
|585|
Εικόνα 7.2: Διάγραμμα απόστασης- ενίσχυσης μεγέθους
|586|
8. ΤΕΧΝΙΚΕΣ ΔΙΑΣΤΑΣΙΟΛΟΓΗΣΗΣ ΑΣΥΝΕΧΕΙΩΝ
Υπάρχουν τέσσερις βασικές τεχνικές που χρησιμοποιούνται με τους κάθετους

μετατροπείς, για το προσδιορισμό του μεγέθους της ασυνέχειας και οι οποίες είναι:
• η τεχνική πτώσης -6dB

• η τεχνική εξίσωσης
• η τεχνική μέγιστου εύρους
• η τεχνική με τη χρήση διαγράμματος D.G.S.
Επίσης, υπάρχουν τρεις βασικές τεχνικές για τους γωνιακούς μετατροπείς για το
προσδιορισμό του μεγέθους της ασυνέχειας, οι οποίες είναι:

• η τεχνική μέγιστου εύρους
8.1 Διαδικασία τεχνικής πτώσης κατά 6dB για κάθετο και γωνιακό μετατροπέα
Η τεχνική πτώσης κατά 6dB εκτελείται επιτυγχάνοντας ηχώ από μια θέση όπου ο
ανακλαστήρας (ασυνέχεια στην προκειμένη περίπτωση) βρίσκεται μπροστά σε όλο το
εύρος της ηχητικής δέσμης. Μετακινούμε στη συνέχεια το μετατροπέα άρα και την ηχητική
δέσμη, έτσι ώστε το σήμα της ηχητικής δέσμης να μειωθεί στο μισό ύψος του αρχικού
παλμού (-6dΒ). Θεωρείται τότε ότι μόνο η μισή ηχητική δέσμη προσπίπτει στον
ανακλαστήρα και επομένως το άκρο του βρίσκεται πάνω στον άξονα της ηχητικής δέσμης.
Αυτή η τεχνική μπορεί να εφαρμοστεί μόνον σε ασυνέχειες μεγαλύτερες από το
εύρος της ηχητικής δέσμης και μόνον όταν παρουσιάζεται μικρή μεταβλητότητα του ύψους
της ηχούς κατά μήκος αυτής της διεύθυνσης.
Η τεχνική είναι κατάλληλη τόσο για κάθετους όσο και για γωνιακούς μετατροπείς.
Χρησιμοποιείται κυρίως για εύρεση μεγέθους επίπεδης διαστρωμάτωσης (lamination) σε
δοκίμια τύπου ελάσματος και για τη μέτρηση μήκους γραμμικών ασυνεχειών σε
συγκολλήσεις.
Μπορεί επίσης να χρησιμοποιηθεί για την εύρεση του πλάτους ασυνεχειών, οι
οποίες βρίσκονται κάθετα στον άξονα της ηχητικής δέσμης και οι οποίες εμφανίζουν μικρή
μεταβλητότητα στο ύψος της ηχούς, όπως για παράδειγμα η εκτεταμένη ατελής πλευρική
τήξη συγκόλλησης.
Στη συνέχεια περιγράφεται λεπτομερώς η διαδικασία:
1. Βρίσκεται ο κεντρικός άξονας της ηχητικής δέσμης και το σημείο εξόδου από το
μετατροπέα. Το εύρος της δέσμης πρέπει να είναι συμμετρικό γύρω από τον άξονα
της.
2. Βαθμονομείται με ακρίβεια η «χρονική βάση».
3. Γίνεται σάρωση κατά μήκος ή εγκάρσια στην ασυνέχεια και δίνεται προσοχή στο
σχήμα του «φακέλου» σημάτων. Εάν η ηχώ μεταβάλλεται λίγο και η ένταση της
πέφτει απότομα στα ακραία σήματα, τότε τα σημεία λίγο πριν πέσει απότομα η ηχώ
λαμβάνονται ως σημεία εκκίνησης για τη μέθοδο -6dΒ (σημεία Χ και XI στο
«φάκελο» σημάτων).
|587|
4. Ακινητοποιείται ο μετατροπέας πάνω από ένα ακραίο σημείο, λίγο πριν πέσει
απότομα το ύψος της ηχούς. Αυξάνεται το ύψος αυτό στο 80 έως 100% του πλήρους
ύψους της οθόνης. Μετακινείται ο μετατροπέας ώστε αυτό το ύψος να πέσει κατά
6dΒ (δηλαδή στο μισό).
5. Σχεδιάζεται η θέση του άκρου της ασυνέχειας, έχοντας υπόψη τη θέση του
μετατροπέα, τη γωνία της ηχητικής δέσμης (γωνιακός μετατροπέας) και τη
διαδρομή δέσμης (σημείο Χ είτε X1 στο σχέδιο του αντικειμένου).
6. Επαναλαμβάνονται τα βήματα 4 έως 5 στο άλλο ακραίο σημείο της ασυνέχειας και
συνδέονται τα (σχεδιασμένα) σημεία Χ και X1 , ώστε να ληφθεί το μέγεθος και η
θέση της ασυνέχειας (γραμμή Χ-Χ1 στο σχέδιο του αντικειμένου).
Στην περίπτωση μεγάλων επίπεδων ασυνεχειών, επαναλαμβάνονται τα βήματα 3

έως 6 σε διαφορετικές θέσεις, κατά μήκος της ασυνέχειας.
Εικόνα 8.1: Τεχνική πτώσης 6dB για διαστασιολόγηση ασυνέχειας
8.2 Τεχνική πτώσης κατά 6dB με κάθετο μετατροπέα
Η τεχνική αυτή χρησιμοποιείται για τον προσδιορισμό του μεγέθους μεγάλων

ασυνεχειών όπως για παράδειγμα για ασυνέχειες μεγαλύτερες του διασκορπισμού της
ηχητικής δέσμης, όπως είναι οι ασυνέχειες επιπέδου διαχωρισμού λόγω ελασματοποίησης
(laminations), όπου ο μετατροπέας μετακινείται εκτός ορίου του ανακλαστήρα, μέχρι η
στάθμη του σήματος να μειωθεί κατά 50% (-6dB). Εκείνη την στιγμή η θέση του κέντρου
του μετατροπέα σημειώνεται επάνω στην επιφάνεια του υλικού. Τότε ο μετατροπέας
βρίσκεται σε τέτοια θέση ώστε η μισή ηχητική δέσμη να πέφτει επάνω στην ασυνέχεια και
η άλλη μισή εκτός. Εάν αυτό επαναληφθεί γύρω από τον ανακλαστήρα, το μέγεθος και το
σχήμα του αποτυπώνονται επάνω στην επιφάνεια του υλικού.
8.3 Τεχνική πτώσης κατά 6dB με γωνιακό μετατροπέα
Χρησιμοποιείται για τον προσδιορισμό των διαστάσεων ασυνεχειών μεγαλύτερων

από την ηχητική δέσμη, όπως είναι το μήκος ατελούς πλευρικής τήξης σε μία συγκόλληση.
Ο μετατροπέας κινείται προς το εξωτερικό της ασυνέχειας μέχρι το εύρος του σήματος να
μειωθεί κατά 50% (αντιστοιχεί σε 6dB). Σε αυτό το σημείο, η θέση του κέντρου του
μετατροπέα σημειώνεται επάνω στην επιφάνεια του δοκιμίου.
|588|
Τότε ο μετατροπέας βρίσκεται σε τέτοια θέση ώστε η μισή ηχητική δέσμη να είναι
πάνω στην ασυνέχεια και η άλλη μισή εκτός. Εάν αυτό επαναληφθεί και στο άλλο άκρο της
ασυνέχειας, η απόσταση μεταξύ των σημείων ισοδυναμεί με το μήκος της.
Εικόνα 8.2: Τεχνική πτώσης κατά 6dB με κάθετο μετατροπέα
8.4 Διαδικασία τεχνικής πτώσης κατά 20dB με γωνιακό μετατροπέα
Η τεχνική της μέτρησης διαστάσεων ασυνέχειας με πτώση 20dB βασίζεται στην

ακριβή εύρεση των άκρων της, χρησιμοποιώντας τις ακμές της ηχητικής δέσμης για πτώση
κατά 20dB από τον κεντρικό άξονα.
Αυτή η τεχνική, όπως και η τεχνική μέγιστης έντασης, χρησιμοποιείται για τη
μέτρηση ασυνεχειών κάθε μεγέθους, εφόσον αυτές προξενούν ηχώ μεταβλητού ύψους
κατά τη διεύθυνση της μέτρησης.
Μπορεί να εφαρμοστεί για τη μέτρηση μήκους, πλάτους ή και βάθους ασυνέχειας.
Πρέπει να γίνει σωστή επιλογή της κατεύθυνσης σάρωσης και της γωνίας της ηχητικής
δέσμης, ώστε να βρεθεί η ηχώ από τον τελευταίο «ανακλαστήρα» της ασυνέχειας και να
αναγνωριστεί στην οθόνη.
Στη συνέχεια περιγράφεται λεπτομερώς η διαδικασία:
1. Σχεδιάζεται ο κεντρικός άξονας της δέσμης και τα όρια πτώσης 20dB (1/10 του
αρχικού ύψους) με τη χρήση δοκιμίου με πλευρικές οπές σε διαφορετικό βάθος από
την επιφάνεια του δοκιμίου.
2. Βαθμονομείται με ακρίβεια η «χρονική βάση».
3. Πραγματοποιείται σάρωση κατά μήκος ή εγκάρσια στην ασυνέχεια και βρίσκεται η
τελευταία σημαντική ηχώ (σε κάθε άκρο της, σημεία Χ και X1 στο «φάκελο»
σημάτων της Εικόνας 8.3).
4. Γίνεται διακοπή στο ένα από τα δύο ακραία σήματα της ασυνέχειας.
Μεγιστοποιείται η τελευταία ηχώ, μετακινώντας το μετατροπέα και αυξάνεται στο
80 έως 100% του πλήρους ύψους οθόνης.
5. Ελαττώνεται η ένταση κατά 20dB, σημειώνεται το ύψος της ηχούς στην οθόνη και
γίνεται μετάβαση στα αρχικά dB.
|589|
6. Μετακινείται ο μετατροπέας αργά, ώστε να απομακρυνθεί η δέσμη από την
ασυνέχεια μέχρι να μειωθεί η ηχώ κατά 20dB, δηλαδή στο ύψος της οθόνης που
σημειώθηκε στο βήμα 5. Καταγράφεται η θέση του μετατροπέα και η διαδρομή της
δέσμης.
7. Για να ελεγχθεί η μέτρηση που έγινε στο προηγούμενο βήμα, συνεχίζεται η
μετακίνηση του μετατροπέα μέχρι να μηδενιστεί η ηχώ και στη συνέχεια
μετακινείται ο μετατροπέας προς την αντίθετη κατεύθυνση, μέχρι η ηχώ να φθάσει
πάλι στο ύψος που σημειώθηκε στο βήμα 5. Καταγράφεται ξανά η θέση του
μετατροπέα και η διαδρομή της ηχητικής δέσμης.
8. Σχεδιάζεται η θέση της ασυνέχειας στην κατάλληλη ακμή πτώσης 20dB της δέσμης
και γνωρίζοντας τη θέση του μετατροπέα, σημειώνεται αυτό το ακραίο σημείο σε
σκαρίφημα του εξεταζόμενου αντικειμένου (Χ είτε XI στο σχέδιο του
αντικειμένου).
9. Επαναλαμβάνονται τα βήματα 4 έως 9 και για το άλλο ακραίο σήμα της ασυνέχειας
και συνδέονται τα δύο σημεία, ώστε να ληφθεί το μέγεθος, η θέση και ο
προσανατολισμός της (γραμμή Χ - XI στο σχέδιο του αντικειμένου). Όποτε είναι
δυνατόν, επαναλαμβάνεται η μέτρηση και από άλλη διεύθυνση και / ή με άλλη
γωνία δέσμης, ώστε να επιβεβαιωθεί ότι τα άκρα της ασυνέχειας έχουν βρεθεί
σωστά.
Οι μετρήσεις γίνονται σε αρκετές θέσεις, κατά μήκος επίπεδων ή τρισδιάστατων

Εικόνα 8.3: Τεχνική πτώσης 20dB για διαστασιολόγηση ασυνέχειας
Τα άκρα Χ και Χ1 της ασυνέχειας σημειώνονται επάνω στις ακμές πτώσης 20dB
του διαγράμματος απόκλισης της δέσμης.
8.5 Τεχνική πτώσης κατά 20dB
Αυτή η τεχνική χρησιμοποιείται για ασυνέχειες μικρότερες από το πλάτος της

ηχητικής δέσμης, όπως για παράδειγμα είναι το μέγεθος της εγκάρσιας διατομής ατελούς
πλευρικής τήξης μίας συγκόλλησης. Για την εφαρμογή της σε σύστημα απεικόνισης
σχεδιάζεται ηχητική δέσμη 20dB, η οποία δημιουργείται από το χρησιμοποιούμενο
μετατροπέα. Το σήμα από την ασυνέχεια σε πρώτη φάση μεγιστοποιείται. Έτσι σε αυτή
την θέση, η κεντρική ηχητική δέσμη προσπίπτει κάθετα στη διεύθυνση της ασυνέχειας,
όπως φαίνεται στο σχήμα 1 της Εικόνας 8.5. Στη συνέχεια, ο μετατροπέας κινείται προς τα
εμπρός και προς τα έξω της ασυνέχειας μέχρι η στάθμη του σήματος να πέσει στο 10% της
πραγματικής της τιμής.
|590|
Σε αυτή τη θέση του μετατροπέα, το πίσω μέρος της ηχητικής δέσμης βρίσκεται στο
άνω άκρο της ασυνέχειας, όπως φαίνεται στο σχήμα 2 της Εικόνας 8.5. Αυτό το σημείο
αντιπροσωπεύει το άνω άκρο της ασυνέχειας.
Εάν κινηθεί εκ νέου ο μετατροπέας προς τα πίσω, προσπεραστεί το μέγιστο, φθάσει
σε θέση όπου το σήμα πέφτει πάλι στο 10% του μέγιστου, τότε θα απεικονιστεί το σημείο
στο μπροστινό μέρος της δέσμης, όπως στο σχήμα 3 της Εικόνας 8.5. Αυτό το σημείο
αντιπροσωπεύει το κάτω άκρο της ασυνέχειας.
Εικόνα 8.5: (1) Η ηχητική δέσμη βρίσκεται στο κέντρο της ασυνέχειας. (2) Η ηχητική δέσμη
βρίσκεται στο άνω άκρο της ασυνέχειας. (3) Η ηχητική δέσμη βρίσκεται στο κάτω άκρο της
ασυνέχειας
|591|
8.6 Τεχνική της εξίσωσης με κάθετο μετατροπέα
Αυτή η τεχνική είναι παρόμοια με την τεχνική της πτώσης κατά 6dB με τη διαφορά
ότι ο μετατροπέας κινείται εκτός του περιγράμματος του ανακλαστήρα μέχρι το σήμα να
εξισωθεί με την ανερχόμενη Back Wall Echo (B.W.E). Σε αυτή τη θέση, το κέντρο του
μετατροπέα σημειώνεται επάνω στην επιφάνεια, συνεχίζοντας πάλι τη διαδικασία πέριξ της
περιμέτρου του ανακλαστήρα, μέχρι να αποτυπωθεί το περίγραμμα κατά σχήμα και
μέγεθος.
Εικόνα 8.6: Τεχνική της εξίσωσης με κάθετο μετατροπέα
Τόσο η τεχνική των -6dB, όσο και η τεχνική της εξίσωσης αποδίδουν
αποτελεσματικά σε μεγάλους ανακλαστήρες, ενώ τους μικρούς τους μεγεθύνουν. Πρέπει
να ληφθεί υπόψη ότι για τη σωστή εφαρμογή αυτών των μεθόδων, οι ασυνέχειες πρέπει να
βρίσκονται στο μεσαίο επίπεδο του ελάσματος, αλλιώς η ακρίβεια του καθορισμού του
μεγέθους επηρεάζεται αντίστροφα.
8.7 Τεχνική του μέγιστου εύρους με κάθετο μετατροπέα
Χρησιμοποιείται για τον προσδιορισμό του μεγέθους μικρών ασυνεχειών, όπως τα

εγκλείσματα ή για τον προσδιορισμό μεγέθους πολυεδρικών σφαλμάτων, όπως είναι οι
ρωγμές. Η τεχνική συνίσταται στην κίνηση του μετατροπέα μακριά από την ασυνέχεια,
μέχρι να εξαφανιστούν τα σήματα και στη συνέχεια στην αργή επαναφορά του μετατροπέα
στην προηγούμενη θέση και στην παρακολούθηση όλων των σημάτων, μέχρι κάποιο από
τα σήματα να μεγιστοποιηθεί. Τότε, η θέση του μετατροπέα σημειώνεται όπως στις άλλες
μεθόδους, για να προσδιοριστεί το περίγραμμα της ελαττωματικής περιοχής. Με αυτή την
τεχνική εξακριβώνεται το τελευταίο μεμονωμένο έγκλεισμα μίας ομάδας εγκλεισμάτων ή η
τελευταία έδρα μίας ρωγμής και γίνεται γνωστό το ολικό μέγεθος της ασυνέχειας ή της
περιοχής.
|592|
Εικόνα 8.7: Τεχνική του μέγιστου εύρους με κάθετο μετατροπέα
8.8 Τεχνική του μέγιστου εύρους με γωνιακό μετατροπέα
Η τεχνική αυτή χρησιμοποιείται για τον προσδιορισμό του μεγέθους ασυνεχειών

μικρής επιφάνειας, όπως είναι τα εγκλείσματα ή το πορώδες ή ακόμα τα πολυεδρικά
σφάλματα, όπως οι ρωγμές. Η τεχνική συνίσταται στην κίνηση του μετατροπέα εκτός της
επιφάνειας της ασυνέχειας μέχρι την πλήρη εξαφάνιση του σήματος και την επαναφορά
προς τα πίσω με παρατήρηση του συνόλου των παραγόμενων σημάτων, έως την πρώτη
θέση όπου κάποιο από αυτά τα σήματα μεγιστοποιείται.
Τότε η ασυνέχεια αποτυπώνεται στην κεντρική δέσμη στο σύστημα απεικόνισης.
Εάν η διαδικασία αυτή εκτελεστεί και στις δύο διευθύνσεις, τότε λαμβάνονται τα δύο άκρα
της κατά πλάτος της διατομής της ασυνέχειας. Η τεχνική επαναλαμβάνεται κινώντας το
μετατροπέα πλαγίως για τον προσδιορισμό του μήκους της ασυνέχειας με σήμανση της
θέσης του κέντρου του μετατροπέα.
Με αυτή την τεχνική εξακριβώνεται το τελευταίο μεμονωμένο έγκλεισμα μίας
ομάδας εγκλεισμάτων ή η τελευταία έδρα μίας ρωγμής, καθώς και το ολικό μέγεθος της
ασυνέχειας ή της επιφάνειας. Μπορεί να χρησιμοποιηθεί επίσης για την αποτύπωση του
σχήματος ενός σφάλματος, καθώς και για την παρακολούθηση μιας κατάστασης, όπου ο
προσδιορισμός του μεγέθους είναι κρίσιμος, με απεικόνιση κάθε μεμονωμένου σήματος
μίας ομάδας ατελειών στη θέση της μεγιστοποίησης τους.
Εικόνα 8.8: Τεχνική μέγιστου εύρους με γωνιακό μετατροπέα
|593|
9. ΔΟΚΙΜΙΑ ΒΑΘΜΟΝΟΜΗΣΗΣ ΚΑΙ Η ΧΡΗΣΗ ΤΟΥΣ
Στην συνέχεια δίνονται οι ανοχές των διαστάσεων και το υλικό για το δοκίμιο No 1
(A2, V1).
Ανοχές διαστάσεων: ±0,1mm
Υλικό: φερριτικός χάλυβας χαμηλής ή μέσης περιεκτικότητας άνθρακα
καθησυχασμένος (killed) με εξομάλυνση για λεπτόκοκκη κρυσταλλική δομή.
9.1 BLOCK No 1 (A2, V1) / International Institute of Welding (IIW)
Εικόνα 9.1: Δοκίμιο Α2, V1
Χρήση κάθετου μετατροπέα διαμηκών κυμάτων
Βαθμονόμηση
Ο κάθετος μετατροπέας μπορεί να ρυθμιστεί έτσι ώστε να χρησιμοποιηθούν οι

αντηχήσεις (BWE) από διαφορετικά πάχη π.χ. 5, 10, 25, 100 και 200mm. Μπορεί επίσης
να μετρηθεί, χωρίς μεγάλη ακρίβεια στην περιοχή του Perspex με πάχος 23mm όπου θα
δώσει ένα πάχος 50mm καθώς έχει βαθμονομηθεί στο χάλυβα. Ο λόγος της ταχύτητας του
ήχου στο χάλυβα σε σχέση με την ταχύτητα στο Perspex είναι 5.960 προς 2.740 (50:23).
Τουλάχιστον δύο επιστρεφόμενες ηχώ είναι απαραίτητες για τη βαθμονόμηση κάθετου
μετατροπέα. Η περιοχή του δοκιμίου βαθμονόμησης με πάχος 91mm χρησιμοποιείται για
τη βαθμονόμηση της οθόνης για εγκάρσιους μετατροπείς χρησιμοποιώντας μετατροπέα με
διαμήκη κύματα. Εφόσον τοποθετηθεί ένας κάθετος μετατροπέας στο σημείο του δοκιμίου
με πάχος 91mm και η ηχώ τοποθετηθεί στην περιοχή 5 και 10 του σταυρονήματος, τότε η
οθόνη είναι βαθμονομημένη για ένα εύρος 0-182mm διαμηκών κυμάτων. Αυτό ισοδυναμεί
με 0-100mm εγκάρσιων κυμάτων, καθώς ο λόγος ταχυτήτων διαμηκών και εγκαρσίων
κυμάτων είναι 1,82:1 (5.960 : 2.740).
|594|
Μέτρηση της νεκρής ζώνης με μετατροπέα μονού στοιχείου
Τοποθετείται ο μετατροπέας στην περιοχή των 5mm στο δοκίμιο βαθμονόμησης.
Εάν το σήμα που λαμβάνεται είναι ορατό εκτός της νεκρής ζώνης, συμπεραίνεται ότι η
νεκρή ζώνη είναι μικρότερη από 5mm (νεκρή ζώνη < 5mm). Εάν το σήμα δεν είναι ορατό,
τότε τοποθετείται ο μετατροπέας στην περιοχή του δοκιμίου με πάχος 10mm. Εάν τώρα το
σήμα είναι ορατό, τότε η νεκρή ζώνη είναι μεγαλύτερη από 5 και μικρότερη από 10mm. Σε
περίπτωση που το σήμα δεν είναι ακόμη ορατό, τότε ο μετατροπέας τοποθετείται στο
σημείο του δοκιμίου με πάχος 15mm. Αυτή η διαδικασία πραγματοποιείται με μη
βαθμονομημένη οθόνη. Εναλλακτικά, η οθόνη μπορεί να βαθμονομηθεί και το μήκος της
νεκρής ζώνης να διαβαστεί απευθείας από τη συσκευή ανίχνευσης ασυνεχειών.
Διακριτική ικανότητα
Η διακριτική ικανότητα του κάθετου μετατροπέα μπορεί να ελεγχθεί
χρησιμοποιώντας τρεις περιοχές διαφορετικού πάχους στο δοκίμιο βαθμονόμησης γύρω
από τη σχισμή, κάτω από το κέντρο της ακτίνας των 100mm. Τοποθετώντας το μετατροπέα
κάτω από τη σχισμή και με βαθμονομημένη οθόνη φαίνεται ο διαχωρισμός των σημάτων
μεταξύ των 85, 91 και 100mm.
Εικόνα 9.2: Έλεγχος διακριτικής ικανότητας κάθετου μετατροπέα
Απόδοση μετατροπέα
Ο μετατροπέας τοποθετείται στην περιοχή του Perspex και σημειώνεται ο αριθμός
των επιστρεφόμενων ηχώ (BWEs). Ένας καλός μετατροπέας δίνει τρεις επιστρεφόμενες
ηχώ.
Μετατροπέας εγκάρσιων κυμάτων
Σημείο εξόδου ηχητικής δέσμης (index point)

Ο μετατροπέας τοποθετείται στην περιοχή του τόξου με ακτίνα 100mm και
κατεύθυνση της ηχητικής δέσμης προς την ακτίνα. Μετατοπίζοντας το μετατροπέα εμπρός
και πίσω βρίσκεται το σημείο όπου μεγιστοποιείται ο παλμός και σταθεροποιείται ο
μετατροπέας. Σημειώνεται η θέση του μετατροπέα. Το σημείο αυτό καταδεικνύει το σημείο
εξόδου του κεντρικού άξονα της ηχητικής δέσμης του μετατροπέα (index point).
Για γωνιακούς μετατροπείς, ο ανακλαστήρας πρέπει να είναι κάθετος στην ηχητική
δέσμη και να υπάρχει μέθοδος λήψης επαναλαμβανόμενων σημάτων. Τα σήματα
λαμβάνονται κάθε 100mm και έτσι μπορούν να χρησιμοποιηθούν για τη βαθμονόμηση της
οθόνης. Για παράδειγμα, εάν χρειαστεί να βαθμονομηθεί η οθόνη σε μία κλίμακα από 0
έως 200mm, πρέπει να τοποθετηθεί η πρώτη ηχώ στην θέση της κλίμακας που αντιστοιχεί
στο 50 και η δεύτερη στη θέση που αντιστοιχεί στο 100.
|595|
Εικόνα 9.2: Έλεγχος του σημείου εξόδου της ηχητικής δέσμης
Βαθμονόμηση μετατροπέα εγκάρσιων κυμάτων

Για τη βαθμονόμηση του μετατροπέα εγκάρσιων κυμάτων χρησιμοποιείται η ακτίνα
100mm του δοκιμίου και οι επιστρεφόμενες αντηχήσεις που προκύπτουν από το
σταθεροποιημένο σημείο εξόδου της ηχητικής δέσμης.
Έλεγχος γωνιακού μετατροπέα εγκάρσιων κυμάτων

Μεγιστοποιώντας τα ανακλώμενα σήματα από τη διάμετρο των 50mm του Perspex,
σημειώνουμε το σημείο εξόδου της ηχητικής δέσμης του μετατροπέα, σε σχέση με τα
χαραγμένα διαβαθμισμένα σημεία του δοκιμίου έτσι ώστε να διαβαστεί η τιμή της γωνίας
όπου το σήμα μεγιστοποιείται. Ένας ακόμα πιο σωστός έλεγχος πραγματοποιείται
χρησιμοποιώντας την ανάκλαση από την οπή διαμέτρου 1,5mm.
Απόδοση μετατροπέα εγκάρσιων ηχητικών κυμάτων

Μεγιστοποιείται το σήμα από την ακτίνα των 100mm και ρυθμίζεται το σήμα στο
100% της οθόνης. Σημειώνεται η τιμή των dB. Αυτή η τιμή μπορεί να χρησιμοποιηθεί για
να συγκριθούν οι διαφορετικοί μετατροπείς ή για να ελεγχθεί ο μετατροπέας που
χρησιμοποιείται καθημερινά για αποκλίσεις.
9.2 BLOCK No 2 (A4, V2)
Εικόνα 9.3: Δοκίμιο Α4, V2
|596|
Χρήση μετατροπέα διαμηκών κυμάτων
Βαθμονόμηση
Το συγκεκριμένο δοκίμιο διατίθεται σε διαφορετικά πάχη, ενώ ως βαθμονομημένο
απαντάται σε πάχη 12,5mm, 20mm, 25mm. Οι επιστρεφόμενες αντηχήσεις
χρησιμοποιούνται για τη βαθμονόμηση του κάθετου μετατροπέα σε συνάρτηση με το
επιλεγμένο πάχος του δοκιμίου.
Χρήση μετατροπέα εγκάρσιων κυμάτων
Βαθμονόμηση μετατροπέα
Με κατεύθυνση της ηχητικής δέσμης προς την ακτίνα των 25mm, τα σήματα
λαμβάνονται στα 25mm, 100mm, 175mm, 250mm, 325mm κ.λπ.
Με κατεύθυνση της ηχητικής δέσμης προς την ακτίνα των 50mm, τα σήματα λαμβάνονται
στα 50mm, 125mm, 200mm, 275mm, 350mm κ.λπ.
Σημείο εξόδου της ηχητικής δέσμης

Χρησιμοποιώντας την ακτίνα των 25 ή 50mm, μεγιστοποιείται το ανακλώμενο
σήμα και σημειώνεται η θέση του μετατροπέα ακολουθώντας την ίδια διαδικασία όπως στο
δοκίμιο No1 ή A2 ή V1. Επισημαίνεται ότι για να βρεθεί με μεγαλύτερη ακρίβεια το
σημείο εξόδου της ηχητικής δέσμης, είναι προτιμότερο να χρησιμοποιηθεί το δοκίμιο No1
ή A2 ή V1.
Έλεγχος της γωνίας του γωνιακού μετατροπέα

Μεγιστοποιείται η επιστρεφόμενη ηχώ από την οπή και ελέγχεται το σημείο εξόδου
της ηχητικής δέσμης με τα χαραγμένα διαβαθμισμένα σημεία του βαθμονομημένου
δοκιμίου.
Ο έλεγχος της νεκρής ζώνης, της διακριτικής ικανότητας και της γωνίας του
μετατροπέα εγκάρσιων κυμάτων με τη χρήση των δοκιμίων A2 και Α4 είναι
προσεγγιστικός. Πιο εξειδικευμένα, δοκίμια βαθμονόμησης για αυτές τις μετρήσεις είναι
τα δοκίμια Α5, Α6 και Α7 τα οποία παρέχουν μεγαλύτερη ακρίβεια μετρήσεων και
καλύτερη επαναληψιμότητα αποτελεσμάτων όπως αναφέρεται στο πρότυπο EN 12668 - 3.
9.3 BLOCK A5 / Institute of Welding (I.O.W)
Το συγκεκριμένο δοκίμιο μπορεί να χρησιμοποιηθεί ως δοκίμιο βαθμονόμησης για

μετατροπείς διαμηκών κυμάτων. Ωστόσο, η βασική του χρήση είναι ως δοκίμιο αναφοράς
για μετατροπείς διαμηκών και εγκαρσίων κυμάτων. Χρησιμοποιείται κυρίως για το
σχεδιασμό του προφίλ της ηχητικής δέσμης και τον έλεγχο της ευαισθησίας του
μετατροπέα αξιοποιώντας τις πλευρικές οπές ως ανακλαστήρες αναφοράς.
Οι πέντε πλευρικές οπές από τη μία πλευρά του δοκιμίου, οι οποίες βρίσκονται σε
μικρή απόσταση μεταξύ τους είναι χρήσιμες για τον έλεγχο την διακριτικής ικανότητας
των γωνιακών μετατροπέων.
Εικόνα 9.4: Δοκίμιο BLOCK A5
|597|
9.4 BLOCK A6
Μπορεί να χρησιμοποιηθεί για την εύρεση της κεντρικής συχνότητας κάθετου και
γωνιακού μετατροπέα, εφόσον υπάρχει συσκευή με απεικόνιση σημάτων σε μορφή RF (η
απεικόνιση ανορθωμένων σημάτων μορφής Video display δεν είναι κατάλληλη). Μπορεί
επίσης να χρησιμοποιηθεί για την εύρεση του μήκους του παλμού και του μήκους της
νεκρής ζώνης. Χρησιμοποιείται για την εύρεση της διακριτικής ικανότητας σε βάθος
(depth resolution) κάθετων μετατροπέων.
9.5 BLOCK A7
Χρησιμοποιείται για την ακριβή εύρεση της διακριτικής ικανότητας σε βάθος,

μετατροπέων εγκάρσιων κυμάτων.
|598|
10. ΕΛΕΓΧΟΣ ΤΟΥ ΕΞΟΠΛΙΣΜΟΥ
Οι ανιχνευτές ασυνεχειών πρέπει να ελέγχονται περιοδικά για να επιβεβαιώνεται η

ορθότητα και η ακρίβεια των αποτελεσμάτων όπως προδιαγράφεται στο πρότυπο
EN 12668 - 3.
Επιγραμματικά αναφέρονται ορισμένοι από τους ελέγχους:
• Γραμμικότητα χρονικής βάσης (timebase linearity).
• Γραμμικότητα της ενίσχυσης (amplifier linearity).
• Βαθμονόμηση εύρους χρονικής βάσης (timebase range calibration).
• Λόγος σήματος προς θόρυβο (signal to noise ratio).
• Σημείο εξόδου ηχητικής δέσμης του μετατροπέα (probe index index point).
• Έλεγχος γωνίας γωνιακού μετατροπέα (probe angle check).
• Προσδιορισμός του προφίλ της ηχητικής δέσμης (beam profile determination).
• Έλεγχος διακριτικής ικανότητας (resolution check).
10.1 Γραμμικότητα χρονικής βάσης (timebase linearity)
Πραγματοποιείται για το εύρος που πρόκειται να χρησιμοποιηθεί, με την

τοποθέτηση του μετατροπέα διαμηκών κυμάτων στο δοκίμιο βαθμονόμησης, έτσι ώστε να
ληφθούν πολλαπλές ηχώ. Βαθμονομείται η οθόνη τοποθετώντας την πρώτη και την
τελευταία ηχώ εντός του επιθυμητού εύρους, στις σωστές αντίστοιχες θέσεις τους σε σχέση
με τη χρονική βάση και βεβαιώνεται ότι οι ενδιάμεσες αντηχήσεις βρίσκονται στις σωστές
αντίστοιχες θέσεις τους. Η ανοχή σύμφωνα με το πρότυπο EN 12668 ορίζεται στο ±2% σε
ολόκληρο το εύρος της χρονικής βάσης. O έλεγχος γίνεται σε εβδομαδιαία βάση
τουλάχιστον.
10.2 Γραμμικότητα της ενίσχυσης (amplifier linearity)
Ο μετατροπέας τοποθετείται στο δοκίμιο βαθμονόμησης, έτσι ώστε να ληφθεί ένα

ανακλώμενο σήμα από την εγκάρσια οπή διαμέτρου 1,5 ή 5mm. Με τη χρήση του κέρδους
ρυθμίζεται το ύψος του σήματος στο 80% της οθόνης. Με αύξηση του κέρδους κατά 2dB,
το σήμα φτάνει στο 100% της οθόνης. Σε αυτό το σημείο μειώνεται το κέρδος κατά 8dB,
οπότε το ύψος του σήματος πρέπει να μειωθεί στο 40% του συνολικού ύψους της οθόνης.
Μειώνοντας το κέρδος κατά 12dB διαπιστώνεται ότι το νέο ύψος του σήματος βρίσκεται
στο 10% του συνολικού ύψους της οθόνης, ενώ μειώνοντας κατά 6dB, το σήμα θα φτάσει
το 5% της οθόνης. Η ανοχή σύμφωνα με το πρότυπο EN 12668 ορίζεται περίπου για κάθε
βήμα της παραπάνω διαδικασίας στο ±5%. O έλεγχος γίνεται σε εβδομαδιαία βάση
τουλάχιστον.
10.3 Βαθμονόμηση εύρους χρονικής βάσης (timebase range calibration)
Γίνεται έλεγχος της ικανότητας του εξοπλισμού που πρόκειται να βαθμονομεί στα
απαιτούμενα εύρη. O έλεγχος γίνεται σε εβδομαδιαία βάση τουλάχιστον.
|599|
10.4 Λόγος σήματος προς θόρυβο (Signal to noise ratio)
Ο μετατροπέας τοποθετείται στο δοκίμιο βαθμονόμησης έτσι ώστε να ληφθεί ένα

ανακλώμενο σήμα από την εγκάρσια οπή. Χρησιμοποιώντας το κέρδος (gain) ρυθμίζεται
το σήμα στο 20% του συνολικού ύψους της οθόνης και σημειώνεται η αριθμητική τιμή του
κέρδους σε dB. Αυξάνεται το κέρδος μέχρι το ύψος από το γρασίδι (grass) ή πιο σωστά του
θορύβου (noise) να φτάσει στο 20% του συνολικού ύψους της οθόνης στην ίδια θέση της
χρονικής βάσης και σημειώνεται η νέα αριθμητική τιμή του κέρδους σε dB. Η διαφορά στις
αριθμητικές τιμές των δύο μετρήσεων σε dB χρησιμοποιείται για τη σύγκριση
διαφορετικών συσκευών ή για την παρακολούθηση του εξοπλισμού που χρησιμοποιείται.
Ο λόγος σήματος προς θόρυβο 3:1 απαιτείται συχνά ως ο ελάχιστος. Ελέγχεται το
σύστημα μετατροπέα-συσκευής υπερήχων. Χρησιμοποιούνται τα δοκίμια Α2 (με οπή
1,5mm) ή τα δοκίμια Α4 (με οπή 1,5 ή 5mm) αλλά μπορεί να χρησιμοποιηθεί και το
δοκίμιο Α5 ή το Α6 για ασυνέχειες κοντά στην επιφάνεια. Συνιστάται να εκτελείται
τουλάχιστον μία φορά την ημέρα για κάθε μετατροπέα.
10.5 Σημείο εξόδου της ηχητικής δέσμης του μετατροπέα (Probe index, index
point)
Πρόκειται για το σημείο του μετατροπέα από όπου εξέρχεται ο κεντρικός άξονας
της ηχητικής δέσμης. Σε ότι αφορά στους γωνιακούς μετατροπείς, λόγω της φθοράς του
ακρυλικού πέλματος, το σημείο εξόδου αλλάζει. Επομένως, είναι απαραίτητο να ελέγχεται
σε ημερήσια βάση με τη χρήση δοκιμίου Α2 ή Α4. Η ανεκτή απόκλιση είναι της τάξεως
του ±1mm. Τα βήματα του ελέγχου αυτού αναφέρθηκαν στην ενότητα «Δοκίμια
βαθμονόμησης και η χρήση τους».
10.6 Έλεγχος γωνίας γωνιακού μετατροπέα (Probe angle check)
Πρόκειται για την εύρεση της γωνίας διάθλασης του κεντρικού άξονα της ηχητικής
δέσμης γωνιακού μετατροπέα. Χρησιμοποιείται το δοκίμιο Α5 ενώ για γρήγορο και μη
ακριβή έλεγχο μπορεί να χρησιμοποιηθούν τα δοκίμια Α2 και Α4. Συνιστάται έλεγχος σε
ημερήσια βάση. Η ανεκτή απόκλιση είναι της τάξεως των ±1,5°.
Τα βήματα του ελέγχου αναφέρθηκαν στο κεφάλαιο 9. Πιο ακριβής έλεγχος
επιτυγχάνεται με σχεδιασμό του προφίλ της ηχητικής δέσμης χρησιμοποιώντας το δοκίμιο
Α5, όπως αναφέρεται στην επόμενη παράγραφο.
10.7 Προσδιορισμός του προφίλ της ηχητικής δέσμης (Beam profile

determination)
Απόκλιση ηχητικής δέσμης με πτώση 20dB

Αν και η απόκλιση της ηχητικής δέσμης μπορεί να υπολογιστεί, στην πράξη
χαράσσεται γραφικά με τη χρήση του ρυθμιστικού δοκιμίου Α5, σε διάφορα βάθη οπών
αναφοράς. Πριν από τη χάραξη του προφίλ της ηχητικής δέσμης, πρέπει να ελεγχθεί το
σημείο εξόδου της ηχητικής δέσμης του μετατροπέα (index point). Ο μετατροπέας
τοποθετείται πάνω από μία από τις οπές και όταν μετατοπίζεται το σήμα από αυτήν την
οπή μεγιστοποιείται και το κέρδος ρυθμίζεται έτσι ώστε να φτάσει στο 100% του
συνολικού ύψους οθόνης. Τότε, η θέση του σημείου εξόδου του μετατροπέα μαρκάρεται
πάνω στο ρυθμιστικό δοκίμιο. Στη συνέχεια, ο μετατροπέας κινείται προς τα εμπρός μέχρι
το σήμα να πέσει στο 10% του ύψους της οθόνης και πάλι σημειώνεται η νέα θέση του
κέντρου εκπομπής επάνω στο δοκίμιο. Τώρα η οπή βρίσκεται στην οπίσθια ακτίνα της
|600|
ηχητικής δέσμης που έχει ένταση 10% (-20dB). Η απόσταση μεταξύ των δύο σημείων του
δοκιμίου εκφράζει την απόσταση ανάμεσα στο κέντρο της ηχητικής δέσμης και της
οπίσθιας ακτίνας. Η ίδια διαδικασία επαναλαμβάνεται κατά την αντίθετη κατεύθυνση
(προς τα πίσω) για να βρεθεί το προπορευόμενο όριο της ηχητικής δέσμης. Αυτό
επαναλαμβάνεται σε τρεις τουλάχιστον οπές διαφορετικού βάθους, ώστε να βρεθεί το
προφίλ της ηχητικής δέσμης. Τα σημεία από το δοκίμιο μεταφέρονται σε διάγραμμα ώστε
να προκύψει η αναπαράσταση της ηχητικής δέσμης ή μεταφέρονται σε σύστημα
απεικόνισης που χρησιμοποιείται στον προσδιορισμό του προφίλ και του μεγέθους των
Εικόνα 10.1: Διάγραμμα απόκλισης 20dB κάθετης ηχητικής δέσμης
Εικόνα 10.2: Διάγραμμα απόκλισης με πτώση 20dB γωνιακής ηχητικής δέσμης 60ο
Εικόνα 10.3: Προσδιορισμός του προφίλ της ηχητικής δέσμης
|601|
11. ΒΑΘΜΟΝΟΜΗΣΗ ΜΕΤΑΤΡΟΠΕΩΝ ΚΑΙ ΤΡΟΠΟΙ ΣΑΡΩΣΗΣ
11.1 Βαθμονόμηση κάθετου μετατροπέα σε εύρος 0 – 100mm
Υπάρχουν δύο μέθοδοι βαθμονόμησης:

• Η μέθοδος των πολλαπλών ηχώ.
• Η μέθοδος της καθυστέρησης.
Απλώνεται το υλικό σύζευξης στο δοκίμιο βαθμονόμησης Α2 και τοποθετείται ο
μετατροπέας στο πάχος των 25mm για να επιτευχθούν πολλαπλές ηχώ.
Στην οθόνη απαιτείται εύρος κλίμακας 100mm, οπότε αρκούν οι 4 ανακλάσεις ήχου
για να καταλάβουν αυτό το πεδίο (4•25 = 100). Το πεδίο ρυθμίζεται κατά τέτοιο τρόπο,
ώστε να δώσει τέσσερα σήματα στην οθόνη. Στη συνέχεια, χρησιμοποιώντας την
καθυστέρηση (probe delay), τοποθετείται το σήμα της πρώτης ηχούς στο 1/4 (25mm) του
ολικού μήκους της κλίμακας. Αυτή η διαδικασία επαναλαμβάνεται μέχρι και τα τέσσερα
σήματα να πάρουν τις αντίστοιχες θέσεις τους.
Αυτή η βασική διαδικασία εφαρμόζεται σε διαφορετικές κλίμακες με τη χρήση
διαφορετικών παχών. Διαιρώντας το πεδίο δια του πάχους βρίσκουμε τον αριθμό των
απαιτούμενων ανακλάσεων και κατανέμοντας σε ίσα διαστήματα στην οθόνη τα σήματα
αυτών των ανακλάσεων, επιτυγχάνεται το επιθυμητό πεδίο.
Εικόνα 11.1: Βαθμονόμηση κάθετου μετατροπέα
11.2 Η μέθοδος των πολλαπλών αντηχήσεων
Μία άλλη μέθοδος για την ακριβή μέτρηση του πάχους είναι με τη χρήση της
μεθόδου των πολλαπλών αντηχήσεων. Αυτό επιτυγχάνεται βαθμονομώντας την οθόνη σε
μεγάλο εύρος έτσι ώστε να είναι διακριτός ο αριθμός (n) των επαναλαμβανόμενων
σημάτων από το πάχος του βαθμονομημένου δοκιμίου. Σημειώνεται ότι το (n) αναφέρεται
στον αριθμό των καθαρών επαναλαμβανόμενων σημάτων τον οποίο μπορεί κάποιος να
διακρίνει στην οθόνη. Συνεπώς, διαιρώντας το πάχος του δοκιμίου με τον αριθμό των
επαναλαμβανόμενων σημάτων υπολογίζεται με ακρίβεια το πάχος του δοκιμίου.
Στο παρακάτω παράδειγμα, η έκτη ηχώ διακρίνεται με ευκολία. Διαιρώντας τη με το
μήκος της διαδρομής της ηχητικής δέσμης, 45mm στην προκειμένη περίπτωση, λαμβάνεται
το πάχος του δοκιμίου.
|602|
Εικόνα 11.2: Η έκτη ηχώ η οποία διαιρούμενη με το μήκος της διαδρομής της ηχητικής
δέσμης δίνει το πάχος του δοκιμίου (45mm/6 = 7,5mm)
11.3 Διαφορετικά υλικά
Όταν γίνεται έλεγχος σε υλικά διαφορετικά του χάλυβα, η ταχύτητα διάδοσης του
ήχου μπορεί να διαφέρει. Σε αυτήν την περίπτωση, πρέπει να λαμβάνεται υπόψη η διαφορά
στη ταχύτητα του υλικού και του βαθμονομημένου δοκιμίου και να χρησιμοποιείται για να
αντισταθμίσει τις διαφορές που λαμβάνονται στις μετρήσεις. Σε αντίθετη περίπτωση πρέπει
να κατασκευαστεί δοκίμιο βαθμονόμησης όμοιο με το δοκίμιο που πρόκειται να μετρηθεί.
Η παρακάτω εξίσωση μπορεί να χρησιμοποιηθεί για να αντισταθμιστούν οι διαφορές
εφόσον έχει γίνει βαθμονόμηση χρησιμοποιώντας δοκίμιο χάλυβα.
ΤΑΧΥΤΗΤΑ ΤΟΥ ΔΟΚΙΜΙΟΥ • ΑΝΑΓΝΩΣΗ ΤΗΣ ΧΡΟΝΙΚΗΣ ΒΑΣΗΣ

ΠΡΑΓΜΑΤΙΚΟ ΠΑΧΟΣ = ------------------------------------------------------------------------------------------------------
ΤΑΧΥΤΗΤΑ ΒΑΘΜΟΝΟΜΗΜΕΝΟΥ ΔΟΚΙΜΙΟΥ
Εάν η ταχύτητα στο δοκίμιο είναι άγνωστη αλλά μπορεί να μετρηθεί το πάχος του,
τότε η πρώτη μπορεί να υπολογιστεί με μετασχηματισμό της παραπάνω εξίσωσης ως εξής:
ΠΡΑΓΜΑΤΙΚΟ ΠΑΧΟΣ • ΤΑΧΥΤΗΤΑ ΒΑΘΜΟΝΟΜΗΜΕΝΟΥ ΔΟΚΙΜΙΟΥ

ΤΑΧΥΤΗΤΑ ΤΟΥ ΔΟΚΙΜΙΟΥ = -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------
ΑΝΑΓΝΩΣΗ ΤΗΣ ΧΡΟΝΙΚΗΣ ΒΑΣΗΣ
11.4 Ανίχνευση ασυνεχειών με κάθετο μετατροπέα
Όταν χρησιμοποιείται ένας κάθετος μετατροπέας για την ανίχνευση ασυνεχειών,

πρέπει να λαμβάνονται υπόψη διάφοροι παράμετροι. Για παράδειγμα, τι εύρος πρέπει να
χρησιμοποιείται για την ακρίβεια μέτρησης και για δοκίμιο με επικάλυψη. Αναφορικά με
την επιλογή του μετατροπέα, πρέπει να συνυπολογίζεται η αποδυνάμωση που προκαλεί το
υλικό και το μέγεθος της ασυνέχειας. Επιπρόσθετα, πρέπει να προσδιορίζεται το επίπεδο
ευαισθησίας που πρέπει να χρησιμοποιείται ώστε να βεβαιώνεται ότι θα εντοπιστούν οι
ασυνέχειες για το συγκεκριμένο δοκίμιο από διαφορετικούς χειριστές με τη χρήση
διαφορετικού εξοπλισμού. Η επιλογή του μετατροπέα και του εύρους αναπτύχθηκαν σε
προηγούμενες ενότητες.
|603|
Ευαισθησία
Υπάρχουν διάφορες μέθοδοι για να ρυθμιστεί η ευαισθησία του ελέγχου:
• Η μέθοδος του επιπέδου οπίσθιας επιστρεφόμενης ηχώ.
• Η μέθοδος του επιπέδου θορύβου.
• Η μέθοδος με τη χρήση ανακλαστήρων αναφοράς.
• Η μέθοδος με τη χρήση καμπύλης σχεδιασμένης από ανακλαστήρες αναφοράς.
Οπίσθια επιστρεφόμενη ηχώ (Back wall echo / b.w.e)

Το υλικό σύζευξης απλώνεται στο δοκίμιο. Τοποθετείται ο μετατροπέας και
αυξάνεται το κέρδος μέχρι η οπίσθια επιστρεφόμενη ηχώ να φτάσει στο επιθυμητό επίπεδο.
Το επίπεδο ποικίλλει ανάλογα με το ύψος της οπίσθιας επιστρεφόμενης ηχώ, δηλαδή εάν
τεθεί η οπίσθια ηχώ στο 100% της οθόνης θα υπάρχει προφανώς μεγαλύτερη ευαισθησία
από ότι εάν την θέταμε στο 50% της οθόνης. Η οπίσθια επιστρεφόμενη ηχώ
χρησιμοποιείται με κάθετο μετατροπέα, καθώς ένας αντίστοιχος γωνιακός δε μπορεί να
λάβει επιστρεφόμενη ηχώ από την οπίσθια επιφάνεια του δοκιμίου.
Επίπεδο θορύβου
Το υλικό σύζευξης απλώνεται στο δοκίμιο. Ο μετατροπέας τοποθετείται και
αυξάνεται το κέρδος μέχρι οι ανακλάσεις από τους κόκκους του δοκιμίου να φτάσουν στο
προκαθορισμένο επίπεδο. Αυτό συνήθως είναι 2 - 3mm του ύψους της οθόνης, στο μέγιστο
βάθος του δοκιμίου, αλλά είναι προτιμότερο να εκφράζεται σε ποσοστό επί του συνολικού
ύψους της οθόνης καθώς υπάρχει διαφοροποίηση των συσκευών στο ύψος της οθόνης. Η
ευαισθησία μπορεί να ρυθμιστεί αυξάνοντας ή μειώνοντας το επίπεδο ή προσθέτοντας και
αφαιρώντας τα dB του κέρδους (gain).
Ανακλαστήρες αναφοράς
Μία συχνά χρησιμοποιούμενη μέθοδος για να οριστεί η ευαισθησία είναι η
μεγιστοποίηση του σήματος από έναν ανακλαστήρα αναφοράς στο μέγιστο βάθος του
δοκιμίου, σε προκαθορισμένο επίπεδο, για παράδειγμα επί του συνολικού ύψους της
οθόνης. Ο ανακλαστήρας αναφοράς πρέπει να έχει τη μορφή συγκεκριμένου ανακλαστήρα
για παράδειγμα μία εγκάρσια πλευρική οπή ή μία εγκοπή στην κάτω επιφάνεια του
δοκιμίου (πυθμένας) ή μία πραγματική ασυνέχεια ή μια προσομοιωμένη ασυνέχεια
γνωστών διαστάσεων και τύπου.
11.5 Σάρωση με κάθετο μετατροπέα
Όταν γίνεται σάρωση για ανίχνευση ασυνεχειών, ο τρόπος της σάρωσης που θα
χρησιμοποιηθεί εξαρτάται πολλές φορές από το μέγεθος των αναμενόμενων ασυνεχειών.
Οι δύο βασικοί παράγοντες που λαμβάνονται υπόψη είναι η απόσταση μεταξύ των
σαρώσεων (pitch), η επικάλυψη (η επιφάνεια κατά την οποία μία σάρωση υπερκαλύπτει
την επομένη) καθώς και ο τρόπος ή η διεύθυνση της σάρωσης. Εάν το βήμα είναι
μικρότερο από το μέγεθος του μετατροπέα, τότε υπάρχει επικάλυψη μεταξύ των
σαρώσεων. Εάν το βήμα είναι μεγαλύτερο από το μέγεθος του μετατροπέα, τότε μεταξύ
των σαρώσεων υπάρχει κενό. Εάν επιτρέπεται ή όχι να υπάρχει κενό εξαρτάται από το
μέγεθος της ασυνέχειας και το μέγεθος του δοκιμίου.
|604|
Για παράδειγμα σε μεγάλο δοκίμιο, όπου οι ασυνέχειες είναι άνω των 100mm, το
βήμα μεταξύ των σαρώσεων μπορεί να είναι 75mm, άσχετα από το μέγεθος του
μετατροπέα, επειδή η σάρωση ανά 75mm μπορεί να εντοπίσει τις ασυνέχειες με μέγεθος
μεγαλύτερο των 100mm.
Εικόνα 11.3: Σάρωση με κάθετο μετατροπέα
11.6 Σάρωση με γωνιακό μετατροπέα
Ο αρχικός παλμός και η νεκρή ζώνη που εξετάστηκαν σε προηγούμενες ενότητες,

ισχύουν και για τους γωνιακούς μετατροπείς. Για τους τελευταίους, οι τύποι σάρωσης
αφορούν τον τρόπο χειρισμού του μετατροπέα καθώς και τον τρόπο κίνησης του. Οι
συνηθέστεροι τύποι που αναφέρονται σε πρότυπα και διαδικασίες εφαρμογής είναι:
Τροχιακή σάρωση
Σε αυτόν τον τύπο σάρωσης, ο χειρισμός του μετατροπέα γίνεται κατά τοξοειδή
κίνηση σε μία προσπάθεια συνεχούς εστίασης της ηχητικής δέσμης σε σταθερό
ανακλαστήρα. Συχνά χρησιμοποιείται για ανίχνευση πόρων, όταν υπάρχει δυνατότητα
διατήρησης του σήματος με τροχιακή σάρωση.
Περιστροφική σάρωση
Ο μετατροπέας ταλαντεύεται πάνω σε ένα σταθερό σημείο, εκπέμποντας
αποτελεσματικά την ηχητική δέσμη γύρω από αυτό το σημείο. Χρησιμοποιείται για
αναγνώριση πολυεδρικών, επιπεδόμορφων ή πολλαπλών ασυνεχειών, καθώς και για τη
διαμήκη σάρωση συγκολλήσεων στις οποίες δεν έχει αφαιρεθεί το καπάκι (ατρόχιστη
ενίσχυση).
Πλευρική σάρωση
Ο μετατροπέας κινείται πλάγια κατά μήκος μιας προκαθορισμένης σταθερής
γραμμής. Χρησιμοποιείται για τη σάρωση ρίζας, σε συγκολλήσεις μονού αύλακα τύπου V
ή για τη διαστασιολόγηση του μήκους σε διαμήκη ασυνέχεια.
Σάρωση βάθους
Ο μετατροπέας κινείται εμπρός - πίσω, στο επίπεδο της ηχητικής δέσμης, όπως στον
προσδιορισμό της θέσης μίας ασυνέχειας ή στη μεγιστοποίηση του σήματος μιας
εγκάρσιας οπής για τη ρύθμιση της ευαισθησίας.
Άλλες σαρώσεις, όπως «σάρωση ρίζας», «εγκάρσια σάρωση» κ.λπ., είναι ειδικού
τύπου σαρώσεις ασυνεχειών ή ορισμένης περιοχής (σάρωση ρίζας για την περιοχή της
ρίζας, εγκάρσια σάρωση για εγκάρσιες ασυνέχειες).
|605|
Εικόνα 11.4: Σάρωση με γωνιακό μετατροπέα
11.7 Παράγοντες προβολής της ηχητικής δέσμης (Skip factors)
Στη σάρωση με γωνιακούς μετατροπείς, χρησιμοποιούνται συστήματα αποτύπωσης

για την εμφάνιση του βάθους και της θέσης των ασυνεχειών από την κεντρική ηχητική
δέσμη του μετατροπέα, με γνωστό το μήκος της ηχητικής δέσμης (sound path) που
εμφανίζεται στη οθόνη και την επιφανειακή απόσταση (surface distance) από ένα σημείο
αναφοράς επάνω στο δοκίμιο. Το σύστημα βασίζεται στον υπολογισμό των στοιχείων
ορθογωνίων τριγώνων. Έτσι, τα βάθη και οι θέσεις μπορούν να προσδιορισθούν
τριγωνομετρικά, με τη χρήση της γωνίας του μετατροπέα και του μήκους της ηχητικής
δέσμης που εμφανίζεται στη γραμμή της χρονικής βάσης πάνω στην οθόνη.
Εικόνα 11.5: Παράγοντες προβολής της ηχητικής δέσμης
|606|
Για τον υπολογισμό του αναμενόμενου μήκους της ηχητικής δέσμης ενός
ανακλαστήρα, όταν δίνονται το βάθος και η γωνία του μετατροπέα εφαρμόζεται ο τύπος:
Sound Path = Depth / cosθR
Για τον υπολογισμό της οριζόντιας απόστασης, όταν δίνονται το μήκος της ηχητικής
δέσμης και η γωνία του μετατροπέα εφαρμόζεται ο τύπος:
SURFACE DISTANCE = SOUND PATH • sinθR
Για τον υπολογισμό του βάθους ενός ανακλαστήρα, όταν δίνονται το μήκος της
ηχητικής δέσμης και η γωνία του μετατροπέα εφαρμόζεται ο τύπος:
DEPTH 1 LEG = SOUND PATH • cosθR
DEPTH 2 LEG = 2Thickness – (SOUND PATH • cosθR)
SKIP DISTANCE = 2Thickness • tanθR
HALF SKIP DISTANCE = Thickness • tanθR
|607|
11.8 Οι λόγοι των πλευρών των τριγώνων που απαντώνται για τις τρεις
συνηθέστερες γωνίες του μετατροπέα
Εικόνα 11.6: Λόγοι των πλευρών των τριγώνων για τις τρεις συνηθέστερες γωνίες
11.9 Παράγοντας ομοκεντρικότητας
Σε περιφερειακή δοκιμή σωληνοειδών υλικών με τη χρήση γωνιακών μετατροπέων,

λόγω της καμπυλότητας, του πάχους του τοιχώματος και της γωνίας του μετατροπέα, η
ηχητική δέσμη δεν προσπίπτει πάντα στην εσωτερική επιφάνεια του υλικού. Η τιμή της
μικρότερης γωνίας μετατροπέα, η οποία είναι κατάλληλη για τη σάρωση και της
εσωτερικής επιφάνειας είναι υπολογίσιμο μέγεθος και ονομάζεται παράγοντας
ομοκεντρικότητας.
IR
sinθ = ---------------
OR
Όπου:
θ: η γωνία του μετατροπέα
IR: η εσωτερική ακτίνα
OR: η εξωτερική ακτίνα
Οι σωλήνες και γενικότερα τα προϊόντα με σωληνοειδή σχήμα μετρώνται σύμφωνα

με τη διάμετρο. Επομένως, ο παραπάνω τύπος μετασχηματίζεται ως εξής:
ID
sin θ = ---------------
OD
Όπου:
θ: η γωνία του μετατροπέα
ID: η εσωτερική διάμετρος
OD: η εξωτερική διάμετρος
|608|
11.10 Περίθλαση από το άκρο του ρήγματος (Crack Tip Diffraction)
Όταν η γεωμετρία του δοκιμίου είναι σχετικά απλή και γνωστός ο προσανατολισμός
της ασυνέχειας, τότε το μήκος του ρήγματος μπορεί να προσδιοριστεί με μία τεχνική
γνωστή ως «περίθλαση από το άκρο του ρήγματος».
Μια κοινή εφαρμογή της συγκεκριμένης τεχνικής περίθλασης είναι ο καθορισμός
του μήκους του ρήγματος το οποίο βρίσκεται στην οπίσθια επιφάνεια ενός ελάσματος
όπως, φαίνεται στην Εικόνα 11.7. Σε αυτήν την περίπτωση, όταν ένας γωνιακός
μετατροπέας σαρώνει πάνω από την περιοχή της ασυνέχειας, εμφανίζεται μια
επιστρεφόμενη ηχώ στην οθόνη εξαιτίας της ανάκλασης της ηχητική δέσμης από το κάτω
άκρο του ρήγματος (Εικόνα 11.7 πάνω).
Καθώς ο μετατροπέας μετατοπίζεται, εμφανίζεται επί της οθόνης μια δεύτερη αλλά
αρκετά ασθενέστερη ηχώ η οποία οφείλεται στην περίθλαση των ηχητικών κυμάτων από το
άνω άκρο του ρήγματος (Εικόνα 11.7 κάτω). Ωστόσο, δεδομένου ότι η απόσταση που
διανύεται από το κύμα περίθλασης είναι μικρότερη, το δεύτερο σήμα εμφανίζεται νωρίτερα
στη χρονική βάση της συσκευής.
Το ύψος του ρήγματος (h) είναι συνάρτηση της ταχύτητας των εγκαρσίων κυμάτων
στο υλικό (VT), της γωνίας πρόσπτωσης (θΤ) και της διαφοράς στο χρόνο άφιξης των δύο
σημάτων (dt). Δεδομένου ότι η γωνία της ηχητικής δέσμης και το πάχος του δοκιμίου είναι
η ίδια και στις δύο μετρήσεις, τα δύο τρίγωνα της Εικόνας 11.8 διαμορφώνονται με τέτοιο
τρόπο έτσι ώστε το ένα επικαλύπτει το άλλο.
Συνεπώς, τριγωνομετρικά αυτό μπορεί να εκφραστεί με την παρακάτω σχέση:
h = (Απόσταση dt) • cosθΤ
Ως εκ τούτου, το ύψος του ρήγματος (h) μπορεί να υπολογιστεί ως εξής:
VT • dt
h = (----------------) • cosθΤ
2
Εάν το υλικό είναι σχετικά παχύ ή το ρήγμα είναι σχετικά μικρό, το σήμα από την
ηχώ της βάσης του ρήγματος (κάτω άκρο) και το αντίστοιχο από την ηχώ της περίθλασης
(άνω άκρο) μπορεί να εμφανιστούν ταυτόχρονα στην οθόνη της συσκευής.
Αυτό αποδίδεται στην απόκλιση της ηχητικής δέσμης της οποίας το εύρος μπορεί να
καλύψει όλο το μήκος του ρήγματος. Σε αυτή την περίπτωση αν και η γωνία της ηχητικής
δέσμης που προσπίπτει στο κάτω άκρο είναι ελαφρώς διαφορετική από τη γωνία της
ηχητικής δέσμης που προσπίπτει στο άνω άκρο του ρήγματος, η προηγούμενη εξίσωση
εξακολουθεί να είναι σχετικά ακριβής και μπορεί να χρησιμοποιηθεί για την εκτίμηση του
μήκους της ρωγμής.
|609|
Εικόνα 11.7: Απεικόνιση του σήματος από το κάτω άκρο του ρήγματος (πάνω). Απεικόνιση
του σήματος περίθλασης από το άνω άκρο του ρήγματος (κάτω)
Εικόνα 11.8: Υπολογισμός του ύψους του ρήγματος
|610|
12. ΠΑΧΥΜΕΤΡΗΣΗ ΜΕ ΧΡΗΣΗ ΥΠΕΡΗΧΩΝ
Συνήθως οι παχυμετρήσεις έχουν τη μορφή πολλαπλών μετρήσεων σε

προκαθορισμένα σημεία ενός στοιχείου, όπως τοιχώματα λεβήτων ή ελάσματα πλοίων, με
τη χρήση συγκεκριμένου παχύμετρου (D-meter ή T-gauge) ή ανιχνευτή ασυνεχειών με A
σάρωση και κάθετο μετατροπέα. Η επιλογή του μετατροπέα εξαρτάται από το πάχος του
υλικού και τις ιδιότητες αποδυνάμωσης του.
12.1 Χρήση παχύμετρου υπερήχων
Τα παχύμετρα υπερήχων συνήθως είναι ρυθμισμένα από τον κατασκευαστή τους

για κάποιο συγκεκριμένο υλικό και φέρουν τον κατάλληλο μετατροπέα ή πρέπει να
βαθμονομούνται πριν από κάθε χρήση, με τη βοήθεια των κατάλληλων ρυθμιστικών
δοκιμίων. Μία τυπική διαδικασία ρύθμισης ενός ψηφιακού παχύμετρου περιγράφεται
παρακάτω.
Τίθεται σε λειτουργία ο διακόπτης τροφοδοσίας. Καθαρίζεται το άκρο του
στελέχους του μετατροπέα και μηδενίζεται ο μετατροπέας με πίεση του ανάλογου
πλήκτρου μηδενισμού. Επιλέγεται η λειτουργία ρύθμισης και ο μετατροπέας τοποθετείται
σε μία λεπτή διατομή του ρυθμιστικού δοκιμίου, μηδενίζεται εκ νέου και γίνεται εισαγωγή
του πραγματικού πάχους μέσα στη συσκευή.
Στη συνέχεια τοποθετείται ο μετατροπέας σε μία παχιά διατομή του ρυθμιστικού
δοκιμίου, πιέζεται το πλήκτρο «velocity» και γίνεται εισαγωγή του πραγματικού πάχους.
Τότε, το παχύμετρο ρυθμίζεται πλήρως και είναι έτοιμο για χρήση σε μετρήσεις από το ίδιο
υλικό, όπως αυτό του ρυθμιστικού δοκιμίου. Το παχύμετρο μπορεί να έχει και άλλες
επιλογές, όπως την ψηφιακή αποθήκευση των ενδείξεων, τις ρυθμίσεις ακρίβειας των
ενδείξεων, την καταγραφή του ελαχίστου πάχους, κ.λπ.
12.2 Χρήση ανιχνευτή ασυνεχειών
Ο ανιχνευτής ασυνεχειών Α σάρωσης (A-Scan) μπορεί να χρησιμοποιηθεί για

παχυμετρήσεις μεγάλου βαθμού ακριβείας, μετά από βαθμονόμηση σε μικρή κλίμακα ή με
τη μέθοδο των πολλαπλών ανακλάσεων πάνω στην οπίσθια επιφάνεια όπως έχει
περιγραφεί στις προηγούμενες ενότητες. Το πλεονέκτημα του ανιχνευτή ασυνεχειών σε
σχέση με το παχύμετρο είναι ότι η αναπαράσταση του σήματος που εικονίζεται στην
οθόνη, μπορεί να καταδείξει εάν η ένδειξη προέρχεται από την οπίσθια όψη ή από κάποια
ασυνέχεια που βρίσκεται μέσα στο υλικό.
Όταν χρησιμοποιείται ανιχνευτής ασυνεχειών για μετρήσεις σε επιφάνεια με
επικάλυψη ή χρωματισμένη, τότε η ένδειξη πρέπει να λαμβάνεται μεταξύ
επαναλαμβανόμενων σημάτων και όχι από το 0 έως το πρώτο σήμα. Όταν χρησιμοποιείται
ανιχνευτής ασυνεχειών, οι επικαλύψεις ή τα χρώματα δεν επηρεάζουν την ένδειξη, επειδή
η συσκευή αναγνωρίζει αυτόματα την απόσταση επανάληψης.
|611|
Εικόνα 12.1: Παχυμέτρηση με υπερήχους
12.3 Κριτήρια αποδοχής / απόρριψης
Σε μία εργασία παχυμέτρησης, μπορεί να ζητηθεί εκτός από την καταγραφή των
μετρήσεων και η αξιολόγηση τους. Αυτό μπορεί να γίνει με τη χρήση κριτηρίων
παραδοχής / απόρριψης ή βάσει εθνικών προτύπων ή βάσει γραπτών όρων της εν λόγω
εργασίας. Αποδεκτές αποκλίσεις μπορεί να δοθούν είτε υπό μορφή μέγιστου -ελάχιστου
πάχους είτε ως εκατοστιαία απόκλιση από κάποιο ονομαστικό πάχος. Για παράδειγμα:
ελάχιστο 13,5mm, μέγιστο 16,5mm, ή 15mm +1,5mm, ή 15mm ±10%. Τα δύο πρώτα
παραδείγματα είναι εύκολο να εφαρμοστούν, αλλά οι εκατοστιαίες αποκλίσεις δεν είναι
πάντα τόσο απλές όπως αυτή του 10%.
Για τον υπολογισμό της τιμής της απόκλισης από την επιτρεπτή απόκλιση όταν
αυτή δίνεται σε εκατοστιαία αναλογία και τον προσδιορισμό του μέγιστου -ελάχιστου
πάχους εφαρμόζεται ο τύπος.
t•n
ΑΠΟΚΛΙΣΗ = --------------
100
Όπου:
t: το πάχος του ελάσματος
n: εκατοστιαία απόκλιση
t•n
ΜΕΓΙΣΤΟ ΠΑΧΟΣ = t + -------------
100
t•n
ΕΛΑΧΙΣΤΟ ΠΑΧΟΣ = t - --------------
100
|612|
13. ΔΙΕΞΑΓΩΓΗ ΕΛΕΓΧΟΥ ΣΥΓΚΟΛΛΗΣΕΩΝ
13.1 Διαδικασίες πριν τον έλεγχο συγκολλήσεων
Η αποτελεσματικότητα και αξιοπιστία ενός ελέγχου με υπερήχους εξαρτάται σε

μεγάλο βαθμό από τη δεξιότητα του προσωπικού που εκτελεί τον έλεγχο, την ποιότητα της
συσκευής υπερήχων και την ικανότητα αυτών που βγάζουν τα τελικά συμπεράσματα από
τις παρατηρήσεις κατά τη διάρκεια του ελέγχου. Τα βασικά στάδια που πρέπει να
ακολουθηθούν προκειμένου να πραγματοποιηθεί ένας σωστός έλεγχος αναφέρονται στη
συνέχεια.
Οπτική επιθεώρηση
Η οπτική κατάσταση των συγκολλήσεων πρέπει να αναφέρεται. Ιδιαιτέρως, πρέπει
να αναφέρεται η μορφή των μετάλλων που συγκολλήθηκαν όπως η καμπυλότητα της
επιφάνειας, καθώς και τα πάχη των συγκολληθέντων μετάλλων βάσεως.
Προετοιμασία της επιφάνειας

Οι επιφάνειες του υλικού που πρόκειται να χρησιμοποιηθούν για τη διαδικασία της
σάρωσης θα πρέπει να επιτρέπουν την ελεύθερη κίνηση των μετατροπέων κατά τέτοιο
τρόπο, ώστε να υπάρχουν ικανοποιητικές συνθήκες για τη διάδοση των υπερηχητικών
κυμάτων. Επιπλέον, οι επιφάνειες και από τις δύο πλευρές της συγκόλλησης, πρέπει να
είναι ελεύθερες από σκόνες, χρώματα, σωματίδια λείανσης και μηχανικής κατεργασίας. Ο
καθαρισμός και η λείανση της επιφάνειας με τροχό είναι επιθυμητά στάδια.
Υλικό σύζευξης
Ένα υλικό σύζευξης, συνήθως υγρό, παρεμβάλλεται μεταξύ του μετατροπέα και της
επιφάνειας ώστε να επιτρέπεται η διάδοση της ηχητικής ενέργειας από το μετατροπέα στο
υπό έλεγχο δοκίμιο. Τυπικά υλικά σύζευξης είναι:
• το ελαφρύ μηχανικό λάδι
• το λάδι SAE-10 ή SAE-20
• το γράσο
• η γλυκερίνη
• το νερό.
Επιλογή μετατροπέων
Η επιλογή των γωνιακών μετατροπέων πρέπει να είναι τέτοια, ώστε η μέγιστη
πληροφόρηση να γίνεται στο λιγότερο δυνατό χρόνο. Επίσης, η συχνότητα των
μετατροπέων που θα επιλεγούν εξαρτάται από τη δομή και το μέγεθος των κόκκων του
υλικού, τις αποστάσεις που διασχίζει η ηχητική δέσμη, τη θέση των αναμενόμενων
ασυνεχειών, την απαραίτητη ακρίβεια μετρήσεων, κ.λπ.
Ενδεικτικά αναφέρονται τα ακόλουθα εύρη συχνοτήτων για τον έλεγχο των υλικών:
• 0,5 - 1,0ΜHz για τον έλεγχο χονδρόκοκκων υλικών
• 1,0 - 5,0ΜHz για το συνήθη έλεγχο των υλικών
• 5,0 - 10,0ΜHz για τον έλεγχο λεπτόκοκκων υλικών.
Επιπρόσθετες πληροφορίες
Πριν πραγματοποιηθεί έλεγχος μίας συγκόλλησης με υπερήχους, καλό είναι να
μελετηθούν:
|613|
• το υλικό των μετάλλων που συγκολλήθηκαν
• το υλικό του ηλεκτροδίου
• η μέθοδος συγκόλλησης
• αν έγινε προθέρμανση ή όχι
• αν ακολούθησε θερμική κατεργασία, ανόπτηση, κ.λπ.
έτσι ώστε ένας τεχνικός να είναι σε θέση να σχηματίσει μια πρώτη άποψη σχετικά με το
είδος των ασυνεχειών που πρόκειται να ανιχνευτούν.
13.2 Έλεγχος συγκολλήσεων
Οι συγκολλήσεις ελέγχονται σε τρία διακριτά βήματα τα οποία παρατίθενται στη

συνέχεια:
Έλεγχος του μετάλλου βάσης

Πραγματοποιείται έλεγχος των περιοχών σάρωσης του μετάλλου βάσης μέσω της
οποίας ο ήχος υπό τη μορφή εγκάρσιων κυμάτων ταξιδεύει προς την περιοχή ελέγχου της
συγκόλλησης. Αρχικά πρέπει να ελεγχθεί με μετατροπέα διαμηκών κυμάτων (κάθετο
μετατροπέα) ώστε να ανιχνευθούν τυχόν ασυνέχειες του μετάλλου βάσης, όπως για
παράδειγμα οι διαστρωματώσεις, οι οποίες μπορεί να επηρεάσουν την ερμηνεία των
αποτελεσμάτων του γωνιακού μετατροπέα, εμποδίζοντας την ηχητική δέσμη. Στην
ερμηνεία των αποτελεσμάτων από τον έλεγχο συγκόλλησης, πρέπει να ληφθούν υπόψη οι
ασυνέχειες του βασικού μετάλλου. Ωστόσο, η εύρεσή τους δεν είναι απαραίτητη για την
απόρριψη του μετάλλου βάσης. Αυτή η προκαταρκτική εργασία πραγματοποιείται επίσης
για να επιβεβαιωθεί το πάχος του υλικού και η απόσβεση των υπερήχων, αλλά και η
επίδραση της μορφής της επιφάνειας στη διάδοση των κυμάτων.
Έλεγχος της ρίζα της συγκόλλησης

Πραγματοποιείται έλεγχος της ρίζας της συγκόλλησης, σε απόσταση μισού βήματος
και προσέχοντας για σήματα που έρχονται λίγο πριν από την πλήρη διαδρομή της ηχητικής
δέσμης. Το μισό βήμα ορίζεται ως ½ SKIP = thickness • tanθR, όπου t το πάχος του υλικού
και θ η γωνία διάθλασης της ηχητικής δέσμης στο υλικό. Η διαδρομή της ηχητικής δέσμης
ορίζεται ως Sound path = Depth / cosθ°. Ο έλεγχος πρέπει να διενεργείται εκατέρωθεν της
συγκόλλησης εφόσον δίνεται δυνατότητα πρόσβασης.
Έλεγχος του λουτρού της συγκόλλησης

Πραγματοποιείται σάρωση σε απόσταση μισού έως ενός βήματος παρατηρώντας
την ύπαρξη σημάτων μεταξύ ενός και δύο πλήρων διαδρομών ηχητικής δέσμης. Ο έλεγχος
επαναλαμβάνεται εκατέρωθεν της συγκόλλησης και εκτελείται με δύο τουλάχιστον
γωνιακούς μετατροπείς διαφορετικής γωνίας διάθλασης.
Για λεπτά και μεσαία πάχη αρκούν μία ή δύο το πολύ ευθύγραμμες σαρώσεις,
παράλληλες στον άξονα της συγκόλλησης (προτιμότερη τεχνική από το ζικ - ζακ) σε
διαφορετικές αποστάσεις από τον άξονα, ώστε να σαρωθεί ολόκληρο το σώμα της
συγκόλλησης. Ιδιαίτερη προσοχή πρέπει να δίνεται στα σήματα στη θέση 1 SKIP-V/2 και 1
SKIP+V/2 (ίσως προκαλούνται από επιφανειακές υποκοπές) και στα σήματα στη θέση του
1 SKIP ακριβώς (ίσως προκαλούνται από τις επιφανειακές «ρυτιδώσεις» της
συγκόλλησης). Κάνοντας απόσβεση με λίγο υλικό σύζευξης και με το δάχτυλο του χεριού
διαπιστώνεται ότι τα σήματα «παίζουν» ή «χάνονται» αμέσως.
Μια ασυνέχεια μπορεί να προσδιοριστεί με ένα γωνιακό μετατροπέα κατά δύο

τρόπους: με την πρώτη ανάκλαση ή με τη δεύτερη.
|614|
Εικόνα 13.1: Έλεγχος συγκολλήσεων
Εικόνα 13.2: Οι τρεις μέθοδοι σάρωσης
|615|
13.3 Μέθοδοι σάρωσης
Είναι δυνατό να ερμηνευτεί ένα σήμα προερχόμενο από ασυνέχεια συγκολλήσεων

από τον παλμό ο οποίος απεικονίζεται στην οθόνη της συσκευής (A-Scan) αλλά και από τις
αλλαγές που παρουσιάζονται όταν πραγματοποιείται σάρωση σε διαφορετικές διευθύνσεις.
Ακολουθούν τρεις σαρώσεις, αφού βρεθεί η θέση κατά μήκος αλλά και εγκάρσια του
άξονα της συγκόλλησης στην οποία μεγιστοποιείται ο παλμός στην οθόνη, με την ηχητική
δέσμη κάθετα στον άξονα της συγκόλλησης.
Σάρωση 1: παράλληλα στον άξονα της συγκόλλησης.

Σάρωση 2: πλησιάζοντας ή αποκρινόμενοι από τον άξονα της συγκόλλησης.
Σάρωση 3: μικρή περιστροφή του μετατροπέα (έως 10°).
13.4 Οδηγίες εργασίας για την εφαρμογή ελέγχου
Τεχνική
Όταν ανιχνεύονται ασυνέχειες σε συγκολλήσεις, πρέπει να υπάρχουν διαθέσιμες οι
ακόλουθες πληροφορίες, οι οποίες περιλαμβάνονται συνήθως σε τεχνικά εγχειρίδια ή
έντυπα πληροφοριών.
Οι πληροφορίες αυτές αφορούν:
• Στις χαρακτηριστικές ιδιότητες του στοιχείου και την περιοχή που θα γίνει ο
έλεγχος.
• Στις ενέργειες που θα πραγματοποιηθούν, όταν ανιχνευτούν ασυνέχειες.
• Στο σκοπό του ελέγχου (τα σφάλματα που πρέπει να βρεθούν και κριτήρια
αποδοχής).
• Στον απαιτούμενο εξοπλισμό.
• Στη μέθοδο που θα χρησιμοποιηθεί και στη στάθμη ευαισθησίας (προεργασίες).
• Στη μέθοδο σάρωσης.
Στο φυλλάδιο οδηγιών πρέπει επίσης να αναφέρονται λεπτομέρειες σχετικές με τα

μέτρα ασφαλείας και τις ενέργειες που πρέπει να πραγματοποιούνται μετά τον έλεγχο,
όπως είναι ο καθαρισμός πριν ή μετά από τη διαδικασία του ελέγχου κ.λπ. Επίσης, πρέπει
να αναφέρονται το όνομα της εταιρίας, ένας μοναδικός αριθμός τεχνικής αναφοράς, το
όνομα και η υπογραφή του συντάκτη και η υπογραφή του εξουσιοδοτημένου ατόμου.
Περιοχή ελέγχου
Η δοκιμή μπορεί να γίνει σε ολόκληρη την επιφάνεια του δοκιμίου ή μόνο στη
συγκόλληση και τη θερμικά επηρεαζόμενη ζώνη. Αυτό όμως πρέπει να διευκρινίζεται.
Λαμβανόμενες ενέργειες
Όταν βρεθούν ασυνέχειες, μπορεί να ζητηθεί να περιγραφούν γραπτώς, με κάποιον
απεικονιστικό τρόπο (σκαρίφημα) ή σε μορφή κειμένου. Η συγκόλληση μπορεί να είναι
αποδεκτή ή απορριπτέα, σύμφωνα με τις ασυνέχειες που βρέθηκαν. Εάν πρέπει να
συνταχθεί έγγραφη αναφορά, τότε μαζί με την περιγραφή των ασυνεχειών πρέπει να
αναφερθεί και κάθε άλλη σχετική πληροφορία, όπως ο τύπος, το μέγεθος, οι συντεταγμένες
τους ως προς ένα συγκεκριμένο σημείο αναφοράς κ.λπ.
|616|
Σκοπός του ελέγχου
Σκοπός του ελέγχου είναι να προσδιοριστούν τα κριτήρια αποδοχής / απόρριψης
συγκεκριμένων ασυνεχειών όπως για παράδειγμα το μέγεθος και ο τύπος των σφαλμάτων
που θα αναφερθούν στην αναφορά ελέγχου ή ποιες ασυνέχειες καθιστούν τη συγκόλληση ή
το βασικό μέταλλο μη αποδεκτά. Ασυνέχειες στο βασικό μέταλλο που γειτνιάζουν με τη
συγκόλληση, περιορίζουν τις σαρώσεις με γωνιακούς μετατροπείς.
Εξοπλισμός
Πρέπει να περιγράφεται ο τύπος του ανιχνευτή ασυνεχειών, ο τύπος, το μέγεθος και
η συχνότητα των μετατροπέων, ο τύπος του υλικού σύζευξης καθώς και τα δοκίμια
βαθμονόμησης που χρησιμοποιήθηκαν.
Ευαισθησία
Η μέθοδος ρύθμισης και το επίπεδο της ευαισθησίας, πρέπει να αναφέρονται για
κάθε σάρωση που γίνεται, για παράδειγμα με τη χρήση 80% F.S.H., καμπύλης DAC που
χαράσσεται από πλευρικές οπές διαμέτρου 3mm με πρόσθεση 14dB στο κέρδος (gain). Η
πληροφορία αυτή μπορεί να περιέχεται στην προετοιμασία της δοκιμής μαζί με άλλες
πληροφορίες, όπως τις συνθήκες φωτισμού, τον καθαρισμό της επιφάνειας κ.λπ.
Μέθοδοι σάρωσης
Η μέθοδος σάρωσης καταγράφεται σε φυλλάδιο οδηγιών βήμα-βήμα ή γίνεται
αναφορά σε σχετικό εθνικό πρότυπο.
|617|
14. ΕΡΜΗΝΕΙΕΣ ΑΣΥΝΕΧΕΙΩΝ
14.1 Σχήμα και μέγεθος σήματος
Μόλις διαπιστωθεί ότι κάποιο σήμα αποτελεί ένδειξη ασυνέχειας, το επόμενο βήμα
είναι η εξακρίβωση του τύπου της ασυνέχειας. Αυτό γίνεται με την ερμηνεία του σχήματος
και του μεγέθους του σήματος καθώς και της ανταπόκρισης στην κίνηση του μετατροπέα,
τη θέση της ασυνέχειας στη συγκόλληση και την εξοικείωση με τα είδη των αναμενόμενων
Σήματα μεγάλου εύρους και οξείας μορφής, καταδεικνύουν λείους και επίπεδους
ανακλαστήρες, όπως οι μεγάλες επίπεδες ασυνέχειες, που είναι κάθετες στην ηχητική
δέσμη του μετατροπέα. Όταν χρησιμοποιούνται οι γωνιακοί μετατροπείς για έλεγχο
συγκολλήσεων, το οξύ σήμα υψηλού εύρους που ελαττώνεται αισθητά καθώς ο
μετατροπέας περιστρέφεται ελαφρά, ώστε η ηχητική δέσμη να μην είναι κάθετη στον
ανακλαστήρα, καταδεικνύει ατελή τήξη. Εάν η ασυνέχεια εντοπίζεται στο χείλος του
βασικού μετάλλου πριν από τη συγκόλληση, αυτό καταδεικνύει ατελή τήξη του πλευρικού
τοιχώματος. Εάν το σήμα εντοπίζεται στη μία από τις κάτω γωνίες του προσώπου της
ρίζας, αυτό καταδεικνύει ατελή τήξη ρίζας. Εάν εντοπίζεται και στις δύο κάτω γωνίες του
προσώπου της ρίζας (και από τις δύο πλευρές), ίσως να πρόκειται για ατελή διείσδυση στη
ρίζα της συγκόλλησης.
Η ερμηνεία συνεπώς της ασυνέχειας δεν εξαρτάται μόνο από τα χαρακτηριστικά του
σήματος, αλλά και από την θέση που αυτή βρίσκεται.
Σήματα χαμηλού εύρους είναι ενδεικτικά των ανακλαστήρων χαμηλής ή υψηλής
αποδυνάμωσης ή μη καθέτων στην ηχητική δέσμη. Παραδείγματα ανακλαστήρων χαμηλής
αποδυνάμωσης είναι οι διαχωριστικές επιφάνειες υλικών των οποίων η ακουστική
αντίσταση είναι χαμηλή, όπως για παράδειγμα τα υλικά επικάλυψης, που εφαρμόζονται για
τη βελτίωση των ιδιοτήτων των επιφανειών (υλικά μεταφοράς φορτίων ή αντιδιαβρωτικά).
Ανακλαστήρες υψηλής αποδυνάμωσης είναι εκείνοι που έχουν τραχιές επιφάνειες
όπως οι ρωγμές, οι μικρές και πολλαπλές ασυνέχειες όπως είναι οι πόροι ή τα εγκλείσματα,
τα οποία διασκορπίζουν τον ήχο, σε διαφορετικές κατευθύνσεις, μακριά από το
μετατροπέα. Λείοι ανακλαστήρες, μη κάθετοι στην ηχητική δέσμη, έστω και κατά λίγες
μοίρες κατευθύνουν τον ήχο μακριά από το μετατροπέα με αποτέλεσμα να υπάρχει μικρή,
αποδυναμωμένη ή καθόλου επιστρεφόμενη ηχώ.
Τα πολλαπλά σήματα προέρχονται συχνά από πολυεδρικές ή πολλαπλές ασυνέχειες,
όπως είναι τα ρήγματα, οι πόροι ή τα εγκλείσματα σκουριάς ή πάστας. Συνήθως οι ρωγμές
δίνουν υψηλότερη απόκριση από τους πόρους ή τα εγκλείσματα για το ίδιο μέγεθος, με την
ίδια ευαισθησία και για το ίδιο μήκος ηχητικής δέσμης. Τα σήματα μιας ρωγμής ή ενός
πόρου, αυξομειώνονται καθώς ο μετατροπέας περιστρέφεται.
Το σήμα από μία ρωγμή ελαττώνεται όταν ο μετατροπέας περιστρέφεται γύρω από
αυτή, ενώ το σήμα από τους πόρους ή τα εγκλείσματα μπορεί να διατηρηθεί, όταν
περιστρέφεται ο μετατροπέας. Αυτό συμβαίνει επειδή οι ασυνέχειες αυτής της μορφής
καταλαμβάνουν όγκο (είναι τριδιάστατες).
|618|
14.2 Ασυνέχειες συγκολλήσεων
Όπως αναφέρθηκε, η θέση όπου εμφανίζεται το σήμα, διαδραματίζει πολύ

σημαντικό ρόλο στην αναγνώριση του τύπου της ασυνέχειας. Μερικά παραδείγματα
ασυνεχειών περιγράφονται στη συνέχεια.
Μεμονωμένος σημειακός ανακλαστήρας,

π.χ. μεμονωμένος στρογγυλόμορφος πόρος
Το στιγμιότυπο της Α σάρωσης απεικονίζει έναν οξύ παλμό. Και στις τρεις
σαρώσεις, ο φάκελος του σήματος περιέχει ένα μόνο παλμό, ο οποίος εμφανίζει μέγιστο
για λίγο διάστημα και κατόπιν πέφτει ομαλά και μάλλον γρήγορα. Εάν πρόκειται για
επιμήκη πόρο παράλληλο στον άξονα της συγκόλλησης, τότε ο παλμός κρατά μέγιστο
ύψος για αρκετό διάστημα, κατά τη σάρωση 1.
Εικόνα 14.1: Στιγμιότυπο Α σάρωσης και φάκελος σήματος σε μεμονωμένο σημειακό

ανακλαστήρα
Συγκέντρωση πόρων
Η υπέρθεση των σημάτων της περίπτωσης μεμονωμένου πόρου είναι εμφανής.

Έτσι, κατά τη σάρωση 1 παρατηρούμε μεμονωμένους παλμούς να διαδέχονται ο ένας τον
άλλο (περισσότερο διακριτή από ότι στην περίπτωση ρήγματος).
Κατά τη σάρωση 2 (και εφόσον πρόκειται για πραγματική συγκέντρωση πόρων και
όχι για γραμμικούς πόρους), παρατηρούμε επίσης δύο, τρεις ή και τέσσερις παλμούς να
διαδέχονται ο ένας τον άλλο. Κατά τη σάρωση 3 παρατηρούμε επίσης διαδοχή παλμών, με
κορυφές σχετικά πιο απομακρυσμένες μεταξύ τους, από ότι στην περίπτωση ρήγματος.
Εικόνα 14.2: Στιγμιότυπο Α σάρωσης και φάκελος σήματος σε συγκέντρωση πόρων
|619|
Ασυνέχεια με πολλαπλά επίπεδα, π.χ. ρήγμα
Το στιγμιότυπο της Α σάρωσης απεικονίζεται με πολλαπλούς, κοντινούς, οξείς

ενωμένους παλμούς, δηλαδή εμφανείς κορυφές σε διαφορετικά ύψη του παλμού. Και στις
τρεις σαρώσεις στο φάκελο του σήματος, ο ένας παλμός διαδέχεται άμεσα τον άλλο, ώστε
κάθε κορυφή να γίνεται μέγιστη για μικρό χρονικό διάστημα. Χαρακτηριστική είναι η
σάρωση 3, όπου με κατάλληλη γωνία μετατροπέα, είναι δυνατό να δούμε δύο, τρεις ή και
τέσσερεις κορυφές στο ίδιο ύψος.
Εικόνα 14.3: Στιγμιότυπο Α σάρωσης σε ασυνέχεια με πολλαπλά επίπεδα
Εγκλείσματα βόρακα
Κατά τη σάρωση 1 παρατηρούνται δύο ή τρείς παλμοί να διαδέχονται ο ένας τον

άλλο. Κατά τη σάρωση 2 παρατηρείται στις περισσότερες θέσεις ένας και σε λιγότερες
θέσεις δύο παλμοί. Στη σάρωση 3 παρατηρείται ένας μόνο παλμός και σπανιότερα δύο,
εκτός εάν περιστραφεί αρκετά ο μετατροπέας.
Εικόνα 14.4: Στιγμιότυπα Α σάρωσης και πιθανοί φάκελοι σήματος σε εγκλείσματα βόρακα
Ατελής διείσδυση
Στην περίπτωση που η ρίζα έχει ενίσχυση (δηλαδή δεν είναι τροχισμένη), πρέπει να
παρακολουθείται συνεχώς το σήμα της. Εάν υπάρχει ατελής διείσδυση, τότε το σήμα της
ενίσχυσης μειώνεται σταδιακά, ενώ ταυτόχρονα εμφανίζεται μεγιστοποιημένος ένας οξύς
παλμός αρκετά νωρίτερα από το σήμα της ενίσχυσης.
Το φαινόμενο αυτό ενδέχεται να παρατηρηθεί και από τις δύο πλευρές του άξονα
της συγκόλλησης (κλασσική περίπτωση ατελούς διείσδυσης) είτε μόνο από τη μία πλευρά,
οπότε η ρίζα έχει μείνει ακόλλητη μόνο στη μία ακμή της (μονόπλευρη ατελής διείσδυση).
|620|
Κατά τη σάρωση 1, ο φάκελος σήματος ατελούς διείσδυσης περιέχει έναν έως δύο
παλμούς, ενώ κατά τη σάρωση 2 και 3 εμφανίζεται συνήθως ένας μόνο παλμός. Συχνά
παρατηρείται η εμφάνιση ενός σήματος νωρίτερα από το σήμα της ενίσχυσης της ρίζας,
χωρίς όμως να αυξάνει αρκετά και κυρίως χωρίς να μειώνεται σημαντικά ο παλμός της
ενίσχυσης. Τότε πρόκειται συνήθως για υποκοπή (undercut) στο πάσο της ρίζας.
Επιπρόσθετα, συχνά παρατηρείται αλλαγή στον παλμό ενίσχυσης της ρίζας και
βέβαια μεταβολή σε ύψος. Αυτό είναι αποτέλεσμα της αλλαγής ηλεκτροδίων (σταμάτημα -
ξεκίνημα πάσου) ή σχετίζεται με τη μορφή του πάσου της ρίζας.
Εικόνα 14.5: Στιγμιότυπα σάρωσης Α σάρωσης σε περίπτωση ατελούς διείσδυσης και

υποκοπής ρίζας
14.3 Απεικονίσεις ασυνεχειών σε συγκολλήσεις
|621|
14.6: Απεικονίσεις ασυνεχειών σε συγκολλήσεις
|622|
14.4 Ασυνέχειες σε χυτά και σφυρήλατα
Τα χυτά αντικείμενα, εφόσον δεν παρουσιάζουν υπερβολική αποδυνάμωση,

ελέγχονται κυρίως με κάθετο μετατροπέα για την ύπαρξη εγκλεισμάτων, πόρων και
διακενώσεων συστολής. Πολλές φορές χρησιμοποιείται η απώλεια της πίσω ηχούς, ως
ένδειξη ύπαρξης ασυνέχειας, παρά τα τυχόν ανακλώμενα σήματα.
Ως τεχνική διαστασιολόγησης χρησιμοποιείται κυρίως αυτή των -6dB (ακόμη και
όταν διαστασιολογούμε βάσει απώλειας πίσω ηχούς). Γωνιακοί μετατροπείς
χρησιμοποιούνται μόνο για την ανίχνευση ρηγμάτων, ιδιαίτερα στις θέσεις αλλαγής της
διατομής.
Εικόνα 14.7: Σήματα υπερήχων από διασκορπισμένα εγκλείσματα σε χυτά
Σήματα υπερήχων από διακένωση συστολής σε χυτά
Η διακένωση συστολής στα χυτά είναι δυνατό να δώσει στην οθόνη υπερήχων
αλλεπάλληλους αναγνωρίσιμους παλμούς σε διαφορετικά βάθη, με μικρό σχετικά ύψος ο
καθένας. Πολύ συχνά όμως παρατηρείται απλώς ένα αρκετά εκτεταμένο και υψηλού
θορύβου «γρασίδι».
Επομένως, δεν είναι δυνατό να αποδειχτεί η ύπαρξη διακένωσης συστολής με τη
χρήση τυχόν ανακλάσεων επί της οθόνης (πολύ περισσότερο μάλιστα να τη
διαστασιολογήσουμε). Γι’ αυτό η απώλεια της πίσω ηχούς χρησιμοποιείται τόσο ως
απόδειξη, όσο και ως εργαλείο διαστασιολόγησης.
Εικόνα 14.8: Στιγμιότυπο Α σάρωσης σε περίπτωση διακένωσης συστολής
|623|
Εικόνα 14.9: Σήματα υπερήχων από αναδιπλώσεις σφυρηλασίας (forging lap)
14.5 Ασυνέχειες σε ελάσματα
Εικόνα 14.10: Σήματα υπερήχων από διαστρωματώσεις (laminations)
Εικόνα 14.11: Σήματα υπερήχων από γραμμικά εγκλείσματα (linear inclusions)
|624|
Εικόνα 14.12: Αναδιπλώσεις ελατών προϊόντων (rolling lap)
|625|
15. ΠΑΡΑΔΕΙΓΜΑΤΑ ΥΠΟΛΟΓΙΣΜΩΝ ΣΤΟΥΣ ΥΠΕΡΗΧΟΥΣ
Μήκος κύματος
Υπολογίστε το μήκος κύματος ενός κάθετου μετατροπέα με ονομαστική συχνότητα

4MHz σε δοκίμιο χάλυβα:
Συχνότητα (f): 4MHz

Ταχύτητα διαμηκών κυμάτων (vsteel): 5.920m/s
λ = v / f => λ = 5.920m/s / 4MHz => λ = 5.920.000mm/s / 4.000.000Hz =>

λ = 1,48mm.
Εγγύς ζώνη
Υπολογίστε την εγγύς ζώνη κάθετου μετατροπέα διαμέτρου 10mm και ονομαστικής
συχνότητας 5ΜΗz σε δοκίμιο αλουμινίου:

Διάμετρος στοιχείου (D): 10mm
Ταχύτητα διαμηκών κυμάτων (valuminium): 6.350m/s
Ν = D2 / 4•λ => Ν = D2•f / 4•v => Ν = 10mm2•4MHz / 4•6.350m/s =>

Ν = 100mm•4.000.000Hz / 4•6.350.000mm/s =>
Ν = 15,748mm.
Ημιγωνία απόκλισης
Υπολογίστε την ημιγωνία απόκλισης για μετατροπέα διαμέτρου 10mm και

ονομαστικής συχνότητας 5ΜΗz σε δοκίμιο αλουμινίου:

Διάμετρος στοιχείου (D): 10mm
Ταχύτητα διαμηκών κυμάτων (valuminium): 6.350m/s
Συντελεστής Κ: 1,22
sin A = Κ•v / D•f => sin A = 1,22•6.350m/s / 10mm•4MHz =>

sin A = 1,22•6.350.000m/s / 10mm•4.000.000Hz => sin A = 0,193675 =>
A = 11,17°.
Νόμος του Snell
Υπολογίστε την προσπίπτουσα ηχητική δέσμη (perspex) η οποία παράγει μία

διαθλώμενη ηχητική δέσμη 60° σε δοκίμιο χάλυβα (α°: προσπίπτουσα ηχητική δέσμη).
Προσπίπτουσα ηχητική δέσμη (α°)

Διαθλώμενη ηχητική δέσμη (β°): 60°
Ταχύτητα διαμηκών κυμάτων στο perspex (VL): 2.730m/s
Ταχύτητα εγκαρσίων κυμάτων στο χάλυβα (Vs): 3.255m/s
|626|
sin α / sin β = VL/ Vs => sin α = VL•sin β / Vs =>
sin α = (2.730m/s • sin 60°) / 3.255m/s =>
sin α = 0,726 =>
α = 46,58°.
Χρόνος διέλευσης
Υπολογίστε το χρόνο που απαιτείται να «ταξιδέψει» ένα ηχητικό κύμα κάθετου

μετατροπέα σε δοκίμιο χάλυβα πάχους 25mm και να επιστρέψει σε αυτόν.
Απόσταση (D): 50mm (2•Πάχος δοκιμίου)

Ταχύτητα διαμηκών κυμάτων σε χάλυβα (v): 5.920m/s
Χρόνος διέλευσης (μs) = D (mm) / v (Km/s) =>

Χρόνος διέλευσης = 50mm / 5,92Km/s =>
Χρόνος διέλευσης = 8,446μs.
Μεσοδιάστημα
Υπολογίστε το χρόνο μεταξύ δύο παλμών όταν η συχνότητα επανάληψης παλμού

(PRF) έχει ρυθμιστεί στα 2KHz.
Μεσοδιάστημα = 1 / PRF (MHz) =>

Μεσοδιάστημα = 1 / 0,002MHz =>
Μεσοδιάστημα = 500μs
Μέγιστο πάχος ελέγχου
Υπολογίστε το μέγιστο πάχος σε δοκίμιο από χάλυβα το οποίο μπορούμε να

ελέγξουμε όταν η συχνότητα επανάληψης παλμού (PRF) είναι ρυθμισμένη στα 250μs.
v STEEL (LONGITUDINAL): 5.920m/s
Μεσοδιάστημα: 250μs
Μέγιστο πάχος ελέγχου = Χρόνος (μs) • Ταχύτητα (Km/s) / 2 =>

Μέγιστο πάχος ελέγχου = 250μs • 5,92Km/s / 2 =>
Μέγιστο πάχος ελέγχου = 740mm.
|627|
16. ΠΙΝΑΚΑΣ ΤΑΧΥΤΗΤΩΝ ΔΙΑΜΗΚΩΝ ΚΑΙ ΕΓΚΑΡΣΙΩΝ ΚΥΜΑΤΩΝ
ΚΑΙ ΑΚΟΥΣΤΙΚΗΣ ΑΝΤΙΣΤΑΣΗΣ ΣΕ ΔΙΑΦΟΡΑ ΥΛΙΚΑ
Conversion Factor: 1 m/s = 3.937•10-5 in/μs

Source: Nondestructive Testing Handbook 2nd Edition Volume 7
Ultrasonic Testing ASNT 1991 ed Paul McIntire
|628|
ΤΥΠΟΛΟΓΙΟ
sinθ1 v1 n2
------------------------- = ---------------------- = ----------------------
sinθ2 v2 n1
c
n = -----------
v
sinθ1
n = ------------------
sinθ2
sin a
----------------- = c (σταθερό)
sin β
2σ • cosθ
ΤΡΙΧΟΕΙΔΗΣ ΠΙΕΣΗ = ------------------------
r
Όπου:
σ: η επιφανειακή τάση
cosθ: το συνημίτονο της γωνίας επαφής
r: η ακτίνα της ασυνέχειας
m
ρ = ------------
V
m1 • m2
F = k • -------------------
r2
Όπου:
m1 και m2: σημειακές ποσότητες μαγνητισμού
r: η απόσταση μεταξύ των δύο σημειακών ποσοτήτων μαγνητισμού (σε μέτρα m)
k: η σταθερά αναλογίας που εξαρτάται από το μαγνητικό υλικό που υπάρχει μεταξύ των m1
και m2.
|629|
μ
k = -------------
4π
Όπου:
μ: η μαγνητική διαπερατότητα του μέσου. Για τον αέρα και το κενό η τιμή της είναι:
μ: 4π•10-7N/A2.
H • l = Ni
Όπου:
H: ένταση του μαγνητικού πεδίου. Η διεύθυνση και η φορά της έντασης του μαγνητικού
πεδίου ταυτίζονται με τη διεύθυνση και τη φορά των μαγνητικών γραμμών.
Ni
H = --------------
l
Όπου:
Ni: αμπεροστροφές (Αt)
H: ένταση του μαγνητικού πεδίου σε At/m
Β=μ•H
Όπου:
Β: η μαγνητική επαγωγή σε Tesla στο SI, σε Gauss στο Ηλεκτρομαγνητικό Σύστημα
(ΗΜΣ)
μ: η μαγνητική διαπερατότητα του υλικού, η οποία περιγράφει τη μαγνητική συμπεριφορά
του υλικού
Η: η ένταση του μαγνητικού πεδίου σε Α/m
μ = μr • μ0
Όπου:
μ0: η μαγνητική διαπερατότητα του κενού / αέρα
μr: η σχετική μαγνητική διαπερατότητα του υλικού (αδιάστατο μέγεθος)
Φ=Β•S
Αν το μέτρο της μαγνητικής ροής είναι σταθερό σε όλη την επιφάνεια S και το διάνυσμά
της είναι κάθετο στην επιφάνεια.
Φ = Β • S • cosα
Εάν η επιφάνεια σχηματίζει γωνία α με τη διεύθυνση των μαγνητικών γραμμών.
Ni • S
Φ = μ • -----------------
l
|630|
F = μ0 • H • m
Όπου:
Η: η ένταση του μαγνητικού πεδίου σε Α/m (ή σε N/Cb)
μ0: η μαγνητική διαπερατότητα του κενού, ίση με 4π•10-7N/A2
Η = m / 4πr2
Όπου:
Η: η ένταση του μαγνητικού πεδίου, μετρούμενη σε Α/m (ή σε N/Cb)
χ=C/T
Όπου:
χ: η μαγνητική επιδεκτικότητα
C: η χαρακτηριστική σταθερά του υλικού
T: η απόλυτη θερμοκρασία
Br = μ0 • Mr
ρ
δ = (--------------------)1/2
π•f•μ
Όπου:
δ: βάθος διείσδυσης
ρ: η ειδική αντίσταση του υλικού
μ: η μαγνητική διαπερατότητα του υλικού
f: η συχνότητα
Ι = 2,5 • Η • d (για d ≤ 200mm)

(ΕΝ ΙSO 9934-1)
Όπου:
d: η απόσταση των ακροδεκτών σε mm
Η: η ένταση του πεδίου σε kA/m
Ι=3•Η•d
(ΕΝ ΙSO 9934-1)
|631|
I=H•p
(ΕΝ ΙSO 9934-1)
Όπου:
6L
μeff = -----------------
D-5
43.000 • R
ΝΙ = -----------------------
μeff
Όπου:
Ν: ο αριθμός των στροφών του πηνίου
Ι: η ένταση του ρεύματος (peak)
R: η ακτίνα του πηνίου
0,4H • K
ΝΙ = ----------------------
L/D
Όπου:
N: ο αριθμός των σπειρών (3-5)
L/D: o λόγος του μήκους προς τη διάμετρο με ελάχιστο το 5:1 και μέγιστο το 20:1, ιδανικό
μέγεθος το 12-15:1 (στην περίπτωση δοκιμίων μη κυκλικών διατομών,
D = περίμετρος/π)
Η: η ένταση του μαγνητικού πεδίου σε kA/m
Κ: 22.000 για A.C και FWR, 11.000 για HWR, 32.000 για D.C
I = 3H • [T + (Y2 / 4T)]
Όπου:
T: το πάχος του τοιχώματος του δοκιμίου σε mm, ή η ακτίνα του εάν είναι συμπαγής
ράβδος
Υ: η απόσταση μεταξύ των γειτονικών περιελίξεων του πηνίου σε mm
|632|
I • B • Rh
Vh = ------------------------
b
Όπου:
Vh: η παραγόμενη τάση
I: η ένταση του συνεχούς ρεύματος του στοιχείου
B: η συνιστώσα του μαγνητικού πεδίου η οποία είναι κάθετη στην ένταση του συνεχούς
ρεύματος του στοιχείου Hall
Rh: ο συντελεστής Hall του στοιχείου Hall
b: το πάχος του στοιχείου Hall
ΔΝ = λ • Ν • Δt
Όπου:
λ: η σταθερά της διάσπασης, που χαρακτηρίζει κάθε ραδιενεργό υλικό.
ΔΝ: o αριθμός των πυρήνων που διασπώνται σε χρονικό διάστημα t+Δt
N = N0 • e-λt
Όπου:
N: ο αριθμός των αδιάσπαστων πυρήνων
Ν0: είναι ο αριθμός των αρχικών αδιάσπαστων ραδιενεργών πυρήνων τη στιγμή που άρχισε
η παρατήρηση
e: είναι η βάση των φυσικών λογαρίθμων και ισούται αριθμητικά με 2,7
Αντίστοιχα, ο αριθμός των πυρήνων που έχουν διασπαστεί σε χρόνο t δίνεται από την
σχέση:
N0 - N = N0 (1 - e-λt)
r02
Ιx = I0 ---------------
rx2
Όπου:
Ι0: η ένταση της ακτινοβολίας σε mSv/h σε απόσταση r0 (m)
Ix: η ένταση της ακτινοβολίας σε mSv/h στη νέα απόσταση rx (m)
|633|
αλληλεπιδράσουν δίνεται από την σχέση:
Ix = I0 • e-μx
Όπου:
Ιx: η ένταση Ιx της δέσμης των φωτονίων που εξέρχονται από το υλικό χωρίς να
αλληλεπιδράσουν
Ιο: η αρχική ένταση της δέσμης
μ: ο γραμμικός συντελεστής εξασθένισης
x: το πάχος του υλικού
e: η βάση των φυσικών λογαρίθμων (ισούται με 2,7)
Ως απορροφούμενη δόση D ορίζεται ο λόγος της ενέργειας που απορροφήθηκε από το

υλικό προς τη μάζα του:
E
D = ------------
m
Όπου:
D: η απορροφούμενη δόση σε Gray
Ε: η ενέργεια που απορροφήθηκε από το υλικό σε Joule
m: η μάζα του υλικού σε Kg
ΗΤ = D • WR
Όπου:
ΗΤ: η ισοδύναμη δόση που έλαβε ένας ιστός T σε Sievert
D: απορροφούμενη δόση σε Gray
WR: συντελεστής o οποίος εξαρτάται από το είδος της ακτινοβολίας
Eeff = HT • WT
Όπου:
Eeff: η ενεργός δόση για ολόσωμη δόση σε Sievert
ΗΤ: η ισοδύναμη δόση που έλαβε ένας ιστός T σε Sievert
WT: συντελεστής o οποίος εξαρτάται από το είδος του ιστού
Eeff = HT • WT = D • WR • WT
Δόση
Ρυθμός δόσης = -------------------
Χρόνος
Ο ρυθμός δόσης μπορεί να αναφέρεται σε απορροφούμενη δόση (mGy/h, μGy/h), σε
ισοδύναμη δόση (mSv/h, μSv/h) ή σε ενεργό δόση (mSv/h, μSv/h).
|634|
c
E = h • f = h ---------
λ
Όπου:
E: η ενέργεια φωτονίου σε Joule ή eV
h: η σταθερά του Planck ( 6,626•10-34J•s) ή (4,135•10-18keV•s)
f: η συχνότητα της ακτινοβολίας σε Hz
c: η ταχύτητα του φωτός (3•108m/s)
λ: το μήκος κύματος της ακτινοβολίας σε nm
1,234
λ = ----------------
keV
Όπου:
λ: το μικρότερο μήκος κύματος του φάσματος
D = Log10 Ι0/Ιt
Όπου:
D: Πυκνότητα ραδιογραφικού φιλμ
I0: η φωτεινή ακτινοβολία που προσπίπτει
It: η φωτεινή ακτινοβολία που εξέρχεται
s • O.F.D s • O.F.D
Ug = -------------------- (άμεση επαφή αντικειμένου - φιλμ) ή ----------------------------
S.O.D S.F.D – O.F.D
Όπου:
Ug: η γεωμετρική δυσκρίνεια
s: η μέγιστη διάσταση της πηγής ή του εστιακού σημείου
O.F.D: η απόσταση αντικειμένου - φιλμ (object to film distance)
S.F.D: η απόσταση πηγής - φιλμ (source to film distance)
S.O.D: η απόσταση πηγής - αντικειμένου (source to object distance)
Η συνολική δυσκρίνεια καθορίζεται από το συνδυασμό της γεωμετρικής και της

ενδογενούς δυσκρίνειας. Στην πράξη, ο τύπος που ακολουθεί δίνει την καλύτερη
προσέγγιση για τη συνολική δυσκρίνεια ενός ραδιογραφικού φιλμ.
Ut = (Ug2 + Uf2)1/2
Όπου:
Ug: η γεωμετρική δυσκρίνεια
Uf: η ενδογενής δυσκρίνεια
|635|
t (Ut + 1,4 • s)
S.F.D = ------------------------------
Ut
Όπου:
t: το πάχος αντικειμένου
s: οι διαστάσεις της πηγής
Ι1 D22
--------------- = ---------------
Ι2 D12
Όπου:
Ε1 S.F.D12 C1 • T1 S.F.D12
--------------- = ----------------- ή --------------- = -----------------
Ε2 S.F.D22 C2 • T2 S.F.D22
Όπου:
σε min ή s
σε min ή s
Ε1 Ε2
----------------- = -----------------
FD1 FD2
*
Αυτή η εξίσωση είναι προσεγγιστική και ισχύει μόνο για το ευθύγραμμο τμήμα της χαρακτηριστικής καμπύλης του ραδιογραφικού φιλμ.
Όπου:
FD1: η πυκνότητα του ραδιογραφικού φιλμ από την έκθεση 1
FD2: η πυκνότητα του ραδιογραφικού φιλμ από την έκθεση 2
|636|
S.O.D + O.F.D
M = ---------------------------
S.O.D
Όπου:
Μ: η μεγέθυνση
S.O.D: η απόσταση πηγής - αντικειμένου
O.F.D: η απόσταση αντικειμένου - φιλμ
(Fd • S.F.D)
d = -----------------------------
(Sd + Fd)
Όπου:
d: το βάθος της ασυνέχειας μετρούμενο από την πλευρά του φιλμ
Fd: η απόσταση των ενδείξεων της ασυνέχειας στο φιλμ μετά τις δύο εκθέσεις
Sd: η απόσταση μεταξύ της πρώτης και της δεύτερης έκθεσης
Thickness of thinnest wire visible • 100

IQI Sensitivity% = ------------------------------------------------------------------
Thickness of specimen
S.O.D
Offset = 1,2 • W • -----------------
De
Όπου:
Offset: η απόσταση τοποθέτησης της πηγής από τον κεντρικό άξονα της συγκόλλησης
W: το πλάτος συγκόλλησης
S.O.D: η απόσταση πηγής-αντικειμένου (μετρούμενη κάθετα)
De: η εξωτερική διάμετρος του σωλήνα
v=λ•f
Όπου:
|637|
E • ( 1 - μ)
VL = [‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐‐]1/2
ρ (1 + μ) (1 - 2μ)
Όπου:
VL: ταχύτητα διαμήκους κύματος (m/s)
V T ≈ ½ VL
E G
VT = [------------------------]1/2 ή [------------]1/2
2ρ • (1 + μ) ρ
Όπου:
VT: ταχύτητα εγκάρσιων κυμάτων m/s
G: μέτρο διάτμησης (N/m2)
(0,87 + 1,12μ)
VS = [------------------------------] • VT
(1 + μ)
Όπου:
VS: ταχύτητα των επιφανειακών κυμάτων m/s
λ
dmin ≈ ---------
2
Όπου:
dmin: η μικρότερη ανιχνεύσιμη ασυνέχεια
H1
20 log10 ------------ = dB
H2
Όπου:
dB: Decibel
H1: το ύψος του 1ου σήματος (100%)
H2 : το ύψος του 2ου σήματος (% του Η1)
|638|
sinθL1 sinθL2 sinθT1 sinθT2
Snell’s Law: ---------------- = ---------------- ή ---------------- = ----------------
VL1 VL2 VT1 VT2
Όπου:
L: δείκτης για διαμήκη κύματα με 1 και 2 για τα μέσα διάδοσης 1 και 2.
Τ: δείκτης για εγκάρσια κύματα με 1 και 2 για τα μέσα διάδοσης 1 και 2.
V: η ταχύτητα διάδοσης του κύματος (στο μέσο 1 ή 2) με δείκτη L για διαμήκες και Τ για
εγκάρσιο κύμα.
Z=p•v
ER (Z2 – Z1)2
------------ = ------------------------
EI (Z1 + Z2)2
Όπου:
ER/EI: δείκτης ανάκλασης
ET ER 4 • Z1 • Z2
------------- = 1 - ------------- = -----------------------
EI EI (Z1 + Z2)2
Όπου:
ET/EI: δείκτης διάδοσης
v
t = -----------
2f
Όπου:
t: το πάχος κρυστάλλου σε mm
v: η ταχύτητα του ήχου στο υλικό του κρυστάλλου σε mm/s
f: η συχνότητα με την οποία πάλλεται ο κρύσταλλος σε Hz
|639|
D2 D2 • f
N = -------------- => N = ---------------
4•λ 4•v
Όπου:
Ν: εγγύς ζώνη σε mm
Για τετράγωνο κρύσταλλο έχουμε:
1,3 • Q2 • f
N = ----------------------
4v
Όπου:
Q: η λειτουργική πλευρά του κρυστάλλου σε mm
K•λ Κ•v
sin A = --------------- => sin A = -----------------
D D•f
Όπου:
A: γωνία απόκλισης (σε μοίρες)
Κ: συντελεστής
Για κυκλικό μετατροπέα ο συντελεστής Κ ισούται με 1,22 για πίεση 0%, 0,87 για πίεση
10% (-20dB), 0,51 για πίεση 50% (-6dB).
Για ορθογώνιο μετατροπέα ο συντελεστής Κ ισούται με 0,74 για πίεση 10%
(-20dB) και 0,44 για πίεση 50% (-6dB).
ΔΙΑΝΥΘΕΝ ΔΙΑΣΤΗΜΑ (mm)

ΧΡΟΝΟΣ ΜΕΤΑΒΙΒΑΣΗΣ (μs) = -----------------------------------------------------
TAXYTHTA (Km/s)
1
ΜΕΣΟΔΙΑΣΤΗΜΑ (μs) = -------------------------
P.R.F (MHz)
|640|
p = p0 • e-α d
Όπου:
p: η ηχητική πίεση στο τέλος της ηχητικής διαδρομής
p0: η ηχητική πίεση στην αρχή της ηχητικής διαδρομής
e: η βάση των φυσικών λογαρίθμων (e ≈ 2.71828)
α: ο συντελεστής απόσβεσης
d: το μήκος της ηχητικής διαδρομής.
0,1151
α = ----------------- • Ut
v
Όπου:
v: είναι η ταχύτητα του ήχου σε m/s
Ut: σε dB/s
ΤΑΧΥΤΗΤΑ ΤΟΥ ΔΟΚΙΜΙΟΥ • ΑΝΑΓΝΩΣΗ ΤΗΣ ΧΡΟΝΙΚΗΣ ΒΑΣΗΣ

ΠΡΑΓΜΑΤΙΚΟ ΠΑΧΟΣ = ------------------------------------------------------------------------------------------------------
ΤΑΧΥΤΗΤΑ ΒΑΘΜΟΝΟΜΗΜΕΝΟΥ ΔΟΚΙΜΙΟΥ
ΠΡΑΓΜΑΤΙΚΟ ΠΑΧΟΣ • ΤΑΧΥΤΗΤΑ ΒΑΘΜΟΝΟΜΗΜΕΝΟΥ ΔΟΚΙΜΙΟΥ

ΤΑΧΥΤΗΤΑ ΤΟΥ ΔΟΚΙΜΙΟΥ = -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------
ΑΝΑΓΝΩΣΗ ΤΗΣ ΧΡΟΝΙΚΗΣ ΒΑΣΗΣ
Sound Path = Depth / cosθR
SURFACE DISTANCE = SOUND PATH • sinθR
DEPTH 1 LEG = SOUND PATH • cosθR
DEPTH 2 LEG = 2Thickness – (SOUND PATH • cosθR)
SKIP DISTANCE = 2Thickness • tanθR
HALF SKIP DISTANCE = Thickness • tanθR
|641|
|642|

ΒΙΒΛΙΟΓΡΑΦΙΑ
ΞΕΝΟΓΛΩΣΣΗ ΒΙΒΛΙΟΓΡΑΦΙΑ
1. Allan, L. (2005). A Guide to Developing NDT Certification Examinations,

American Society for Nondestructive Testing.
2. American Society for Nondestructive Testing (1977). Programmed Instruction
Book, Magnetic Particle Testing, PI-4-3, General Dynamics.
3. American Society for Nondestructive Testing (1980). ASNT Level III Study
Guide - Magnetic Particle Testing Method.
4. American Society for Nondestructive Testing (1981). Materials and Processes
for NDT Technology.
5. American Society for Nondestructive Testing (1989). Nondestructive Testing
Handbook, Vol. 6, 2nd Edition, Magnetic Particle Testing, Columbus, Ohio.
6. American Society for Nondestructive Testing (1992). ASNT Level III, Study
Guide - Ultrasonic Method.
7. American Society for Nondestructive Testing (1996). ASNT Level II Study
Guide - Magnetic Particle Testing Method.
8. American Society for Nondestructive Testing (1999). Non-destructive testing
Handbook, Vol. 2, 3rd Edition, Liquid Penetrant Testing, Columbus, Ohio.
9. American Society for Nondestructive Testing (2003). ASNT Level II Study
Guide: Magnetic Particle Testing Method, Ohio.
10. American Society for Nondestructive Testing (2003). ASNT Level III Study
Guide: Magnetic Particle Testing Method, Ohio.
11. American Society for Nondestructive Testing (2004). Magnetic Particle
Testing Classroom Training Book.
12. American Society for Nondestructive Testing (2005). Liquid Penetrant Testing
Classroom Training Book, Columbus, Ohio.
13. American Society for Nondestructive Testing (2011). Standard for
Qualification and Certification of Nondestructive Testing Personnel,
ANSI/ASNT, CP-189-2011.
14. American Society of Mechanical Engineers (2010). Boiler & Pressure Vessel
Code, Nondestructive examination, An International Code.
15. Andrews, R. (1963). Shell process foundry practice. American Foundrymen's
Society.
16. API 945, Avoiding Environmental Cracking in Amine Units (2012). Saraev
Octavian Publication.
17. Arcesi, A (Ed) (1983). The Plaster Mold Casting Handbook Hardcover, PMC
Association.
18. ASM Handbook Vol. 15: Casting (2008). ASM International.
19. Atkins, P. (2011). Φυσικοχημεία, Τόμος ΙΙ. Μτφ. Δεληγιάννης, Κ., Κοπιδάκης,
Ν., Κωτσόπουλος, Γ., Πυρπασόπουλος, Σ., Πανεπιστημικές Εκδόσεις Κρήτης,
Ηράκλειο.
20. Basic Principles of Gating & Risering (2008). 2nd Edition, prepared by the
AFS Gating and Risering Committee 5G, Cast Iron Division.
|643|

21. Betz, C. (1967). Principles of Magnetic Particle Testing. 1st Edition Magnaflux
Corp.
22. Betz, C. (1997). Principles of Magnetic Particle Testing. Glenview, Illinois:
Magnaflux Division of Illinois Tool Works.
23. Birks, A., Green, R., MacIntire, P. (1991). Ultrasonic Testing Non Destructive
Testing Handbook, Vol.7, American Society for Nondestructive Testing.
24. Cameron, J., Skofronick, J., Grant, R. (2002). Φυσική του ανθρώπινου
σώματος. Επιμέλεια έκδοσης: Γεωργίου, Ε., Γιακουμάκη, Ε., Κόττου, Σ.,
Νταλλές, K., Σερέφογλου, A., Σκυλάκου- Λουίζη, Α. Εκδόσεις Παριζιάνου.
25. Campbell, J.(2003). Castings. 2nd Edition, Butterworth-Heinemann.
26. Chemically bonded cores and molds(2000). American Foundry Society.
27. Colangelo, V. (1987). Analysis of Metallurgical Failures. 2nd Edition, Wiley
& Sons.
28. Convair Division of General Dynamics Corporation (1977). Nondestructive
Testing Classroom Training Handbook, 2nd Edition: Magnetic Particle
Testing, Fort Worth, Texas.
29. Convair Division of General Dynamics Corporation (1981). Non Destructive
Testing Classroom Training Handbook, 4th Edition: Liquid Penetrant Testing,
Fort Worth, Texas.
30. Cupola Handbook (1999). American Foundry Society, 6th Edition.
31. Engels, G., Wübbenhorst, H. (2007). 5000 Jahre Giessen von Metallen. Verlag:
Giesserei-Vlg.
32. Flinn, R. (1961). Copper, brass and bronze Castings, Non-Ferrous Founders'
Society, Inc., Cleveland.
33. Fox, M. (2006). Quantum Optics, An Introduction. Oxford University Press,
Μτφ. Παπαδόγγονας, Ι., Πανεπιστημιακές Εκδόσεις Κρήτης(2015), Ηράκλειο.
34. Fundamentals of Non-Destructive Testing (1977). Lessons 3 & 4: Magnetic
Particle Inspection, ASNT.
35. Fundamentals of Non-Destructive Testing (1977). Lesson 1, Introduction to
NDT, ASNT.
36. Griffiths, D. (1989). Introduction to electrodynamics, Prentice-Hall
International, 2nd Edition. Μτφ Αρβανιτίδης, Σ., Λαυρέντζος, Α., επιμ.
Δήτσας, Π., Κουρκουμέλη, Χ., Πανεπιστημαικές Εκδόσεις Κρήτης (1987),
Ηράκλειο.
37. Guide to Sand Additives (1987). American Foundry Society.
38. Hagemaier, D. (1977). Fundamentals of Non-Destructive Testing, Lesson 15:
Standards and Specifications, ASNT.
39. Halliday, D., Resnick, R. (1976). Φυσική. Μτφ. Πνευματικός-Πεπονίδης,
Επιστημονικές και Τεχνικές Εκδόσεις. Πνευματικού, Αθήνα.
40. Halmshaw, R. (1982). Applied Science Publishers Ltd. London and New
Jersey.
41. Halmshaw, R. (1991). Non-Destructive Testing, 2nd Edition. The British
Institute of Non-Destructive Testing.
42. Handbook of radiographic apparatus and techniques. (English) Publication for
the IIW by the Welding Institute, Abington, Cambridge, England.
|644|

43. Hellier, C. (2012). Handbook of Nondestructive Evaluation, 2nd Edition,

McGrawHill International Editions.
44. Hellier, C.(1977). Fundamentals of Non-Destructive Testing. Lesson 14:
Interpretation and Classification of Indications, ASNT.
45. Herman, E. (1974). Dimensional Repeatability of the Die Casting Process.
Society of Die Casting Engineers.
46. Hewitt, P. (2005). Οι έννοιες της φυσικής. Επιμέλεια Παπαδόγγονας, Γ.,
Μετάφραση Σηφάκη, Ε., Παπαδόγγονας, Γ. Πανεπιστημιακές Εκδόσεις
Κρήτης, Έκδοση 2η, Ηράκλειο.
47. Hummel, R. (1993). Electronic Properties of Materials, 3rd Edition, Springer-
Verlag New York, Inc.
48. ICRP Publication 103 (2007). Recommendations of the International
Commission on Radiological Protection. Annals of the ICRP Vol. 37, 2-4,
pp.1-132.
49. Inspection Technologies, Industrial Radiography, Image forming techniques
(2007). GE Inspection Technologies.
50. Institute of Corrosion, Training and Certification Scheme (2011). Corrosion
Management, No 104, Ruane & T P O’Neill, UK.
51. International Atomic Energy Agency (1996). International Basic Safety
Standards for Protection against Ionizing Radiation and for the Safety of
Radiation Sources Safety, Series No. 115, Vienna.
52. Kalpakjan, S. (1984). Manufacturing Processes for Engineering Materials,
Addison Wesley.
53. Kovan, V., Korsakov, V., Kosilova, A., Kalinin, M., Kapustin, N., Solodov, M.
(1979). Fundamentals of Manufacturing Engineering. MIR Publishers.
54. Krautkramer, J., Krautkramer, H. (1990). Ultrasonic Testing of Materials, 4th
Edition, Springer-Verlag New York, Inc.
55. Kurz, W., Fisher, D. (1986). Fundamentals of solidification, Trans Tech
Publications.
56. Lovejoy, D. (1993). Magnetic Particle Testing - A Practical Guide. Chapman
& Hall.
57. Macaw’s Encyclopedia of Pipeline Defects (2012). Macaw Engineering.
58. McMaster, R. (ed) (1959). Non-Destructive Testing Handbook. The Ronald
Press, New York.
59. Mold & Core Coatings Manual. 2nd Edition, Mold-Metal Interface Reactions
Committee of the AFS Molding Methods & Materials, Division 4, American
Foundry Society.
60. Mold & Core Test Handbook (2004). 3rd Edition, American Foundry Society.
61. Morrison, R., Boyd, R. (1992). Organic chemistry, Benjamin Cummings, 6th
Edition.
62. Nielsen, W. (2011). Metallurgy of Copper-Base Alloys. Western Reserve
Manufacturing, Copper Development Association Inc.
63. Non-destructive Testing Handbook (1989). Magnetic Particle Testing, Vol. 6,
ASNT.
64. Nondestructive Testing: Magnetic Particle Testing: Classroom Training
Handbook (1977), CT-6-3, General Dynamics.
|645|

65. Pain, J. (2005). The Physics of Vibrations and Waves. 6th Edition, Wiley Inc.
66. Patternmaker's manual (1986).American Foundrymen's Society.
67. Quinn, R., Sigl C. (ed) (1980). Radiography in Modern Industry, 4th Edition,
Eastman Kodak Company, Rochester, New York 14650.
68. Radiographic film systems: brochure issued by GE Inspection Technologies.
69. Ruane & TPO’Neill Issue 5 Ultrasonic inspection.
70. Simpson, B. (1948). History of the Metalcasting Industry.
71. Smith,W. (2010). Foundations of Materials Science and Engineering, 5th
Edition, Mc Graw Hill, International Editions.
72. SNT Level II Study Guide - Ultrasonic Testing Method (1999), ASNT.
73. Stryer, L. (1997). Βιοχημεία. Πανεπιστημιακές εκδόσεις Κρήτης, Ηράκλειο.
74. Taylor, J. (ed) (1996). Basic Metallurgy for Non-Destructive Testing, British
Institute of Non-Destructive Testing.
75. Tooling for Die Casting (2012). NADCA Product Specification Standards for
Die Castings
76. UNSCEAR, 2008. Sources and Effects of Ionizing Radiation, United Nations
Scientific Committee on the Effects of Atomic Radiation, Report to the
General Assembly with Scientific Annexes. Vol. I. United Nations, New York,
2010.
77. Verhoeven, J. (1975). Fundamentals of Physical Metallurgy. Wiley Inc.
78. Walkington, W. (2003). Die Casting Defects. North American Die Casting
Association, Arlington Heights, Illinois.
79. Walton, C., Opar, T. (ed) (1981). Iron Castings Handbook. Iron Castings
Society Inc.
80. Welding Institute (2009). Size Measurement and Characterization of Weld
Defects By Ultrasonic Testing, Part 1.
|646|

ΕΛΛΗΝΙΚΗ ΒΙΒΛΙΟΓΡΑΦΙΑ
1. Tάσιος, Θ.(1998). Αρχαία ελληνική τεχνολογία. Έκταση και σημασία των

αρχαίων ελληνικών τεχνολογικών επιτευγμάτων. Ένθετο 7 ημέρες, Εφ.
Καθημερινή της Κυριακής.
2. Αρχαία Ελληνική Τεχνολογία (2006). Πρακτικά 2ου Διεθνούς Συνεδρίου
Αρχαίας Ελληνικής Τεχνολογίας, Τεχνικό Επιμελητήριο Ελλάδας, Αθήνα.
3. Ασημέλλης, Γ.(2007). Μαθήματα Οπτικής. Εκδόσεις Μ. Τουμπούρου, έκδοση
2η, Αθήνα.
4. Ασημέλλης, Γ., Δρακόπουλος Π. (2011). Οπτικά όργανα απεικόνισης.
Εκδόσεις Μ. Τουμπούρου, Αθήνα.
5. Βαρουφάκης, Γ. (1996). Αρχαία Ελλάδα & ποιότητα: Η ιστορία και ο έλεγχος
των υλικών που σημάδεψαν τον ελληνικό πολιτισμό. Εκδόσεις Αίολος, Αθήνα.
6. Βαρουφάκης, Γ. (2005). Η ιστορία του σιδήρου από τον Όμηρο στον
Ξενοφώντα. Τα σιδερένια ευρήματα και η αρχαία ελληνική γραμματεία με το
μάτι ενός μεταλλουργού. Εκδόσεις Ελληνικά Γράμματα, Αθήνα.
7. Βασιλικιώτης, Γ. (1986). Χημεία Περιβάλλοντος. University Studio Press, 2η
Έκδοση, Θεσσαλονίκη.
8. Βατάλης, Α. (2007). Επιστήμη και τεχνολογία υλικών. Εκδόσεις Ζήτη,
Θεσσαλονίκη.
9. Γεωργάτσος, Ι. (1985). Βιοχημεία, Δομή μακρομορίων-Ένζυμα-Βιολογικές
Οξειδώσεις. Τόμος Α', Θεσσαλονίκη.
10. Γεωργάτσος, Ι. (1985). Βιοχημεία, ενδιάμεση ανταλλαγή της ύλης, μοριακή
πληροφορική. Τόμος Β', Θεσσαλονίκη.
11. Γιαννακουδάκης, Δ. (1986). Φυσική -χημεία ομογενών και ετερογενών
συστημάτων. Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο, Θεσσαλονίκη.
12. Δημητριάδης, Θ. (1989). Test Οξειδοαναγωγής. Εκδόσεις Γρηγόρη, Αθήνα.
13. Διαμαντούδης, Θ. (2000). Συγκολλήσεις μετάλλων. Θεσσαλονίκη.
14. Καγκαράκη, Κ. (1988). Μαθήματα στα ηλεκτροτεχνικά υλικά, Εκδόσεις
Αθανασόπουλος, Παπαδάμης, Αθήνα.
15. Καλογεροπούλου, Σ. (2011). Εργαστηριακές ασκήσεις τεχνολογίας υλικών,
ΤΕΙ Πειραιά, Αθήνα.
16. Κανονισμός Ακτινοπροστασίας (2001), ΦΕΚ 216 Β.
17. Κονοφάγος, Κ. (1967). Μεταλλογνωσία Τόμοι I-III. Αθήνα.
18. Λάζος, Χ. (1993). Μηχανική και τεχνολογία στην αρχαία Ελλάδα. Εκδόσεις
Αίολος, Αθήνα
19. Λεωνίδου, Δ. (1990). Αλληλεπιδράσεις ακτινοβολιών και ύλης - Δοσιμετρία -
Θωράκιση, Τεύχος Ασκήσεων, Αθήνα.
20. Μάζης, Α. (1975). Φυσική, Τόμος 3ος, Έκδοση 17η, Εστία, Αθήνα.
21. Μανωλκίδης, Κ., Μπέζας, Κ. (1976). Χημικές αντιδράσεις, Αθήνα.
22. Μάτης, Κ. Α., Γιαννακουδάκης, Δ. (1987). Φυσικές διεργασίες στη χημική
τεχνολογία, Εκδόσεις Ζήτη, Θεσσαλονίκη.
23. Μήτσου, Γ. (2011). Εργαστηριακές σημειώσεις: Φωτομετρικά μεγέθη - πολική
κατανομή φωτοβολίας. Εργαστήριο εφαρμογών οπτικής και Laser, ΤΕΙ
Αθήνας, Αθήνα.
|647|

24. Μόσιαλος, Σ., Βοσνιάκος Γ, Μανωλάκος Δ. (2004). Μοντέλα δυνάμεων κοπής

στην τόρνευση με βάση την ελαστική παραμόρφωση τεμαχίου, Πρακτικά 2ου
Πανελλήνιου Συνεδρίου Μεταλλικών Υλικών, 25-26 Νοεμβρίου, Αθήνα.
25. Μουρλάς, Α. (2011). Σημειώσεις εργαστηρίου τριβολογίας, ΤΕΙ Πειραιά,
Αθήνα.
26. Οδηγία 96/29 Euratom (31/5/96), «Για τον καθορισμό των βασικών κανόνων
ασφάλειας για την προστασία της υγείας των εργαζομένων και του
πληθυσμού».
27. Οικονόμου, Ε. (2010). Φυσική στερεάς κατάστασης, Τόμος Ι.
Πανεπιστημιακές Εκδόσεις Κρήτης, Ηράκλειο
28. Παντελής, Δ. (1996). Μη μεταλλικά τεχνικά υλικά, Εκδόσεις Παπασωτηρίου,
Αθήνα.
29. Παντελής, Δ. (2006). «Εισαγωγή στη μηχανουργική τεχνολογία», Ε.Μ.Π.,
Αθήνα.
30. Παπάζογλου, Β., Παπαδημητρίου, Γ.(1964). Επιστήμη και τεχνική των
συγκολλήσεων, Εκδόσεις ΕΜΠ, Αθήνα.
31. Παπάζογλου, Π (2008). Αρχαίων Ελλήνων επιστήμη, μηχανική και
τεχνολογία, Λευκωσία.
32. Πρασιανάκης, Ι. (1993). Μη Καταστροφικοί Έλεγχοι των υλικών - η μέθοδος
των υπερήχων, ΕΜΠ, Αθήνα.
33. Σαββάκης, Κ. (2000). Τεχνολογία υλικών – υλικά τεχνολογικών εφαρμογών,
2η έκδοση, Εκδόσεις Ίων, Αθήνα.
34. Τεχνικό Επιμελητήριο Ελλάδας (1993). Μη καταστροφικοί έλεγχοι. Πρακτικά
Ημερίδας ΤΕΕ (10-6-1993). Τεχνικά Χρονικά, τ. 5, 6/94.
35. Τζαβάρα, Α. (1981). Η δομή και οι ιδιότητες των υλικών. Μτφ., Επιμ., Τhe
structure and properties of materials in four volumes, Edited by J. Wulff,
Θεσσαλονίκη.
36. Τραχανάς, Σ. (2011). Κβαντομηχανική IΙ. Πανεπιστημιακές Εκδόσεις Κρήτης,
Ηράκλειο.
37. Τραχανάς, Σ. (2011). Κβαντομηχανική Ι. Πανεπιστημιακές Εκδόσεις Κρήτης,
Ηράκλειο.
38. Χαμόδρακα, Σ. (1993). Θέματα μοριακής βιοφυσικής. Εκδόσεις Συμμετρία,
Αθήνα.
39. Χρυσουλάκης, Ι., Παντελής, Δ. (2007). Επιστήμη και τεχνολογία των
μεταλλικών υλικών. Εκδόσεις Παπασωτηρίου, Αθήνα.
|648|

ΠΗΓΕΣ ΑΠΟ ΤΟ ΔΙΑΔΙΚΤΥΟ
1. http://eur-
lex.europa.eu/LexUriServ/LexUriServ.do?uri=CELEX:31980L0836:EL:HTM
L, Ιστοσελίδα πρόσβασης στο Δίκαιο της Ευρωπαϊκής Ένωσης, Οδηγία
80/836/Euratom του Συμβουλίου της 15ης Ιουλίου 1980 περί τροποποιήσεως
των οδηγιών για τον καθορισμό των βασικών κανόνων προστασίας της υγείας
του πληθυσμού και των εργαζομένων από τους κινδύνους που προκύπτουν από
ιοντίζουσες ακτινοβολίες, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Δεκέμβριος
2013.
2. http://thelibraryofmanufacturing.com/true_centrifugal_casting.html, True
Centrifugal Casting, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Φεβρουάριος 2015.
3. http://www.afsinc.org, American Foundry Society, Ημερομηνία τελευταίας
πρόσβασης: Δεκέμβριος 2014.
4. http://www.diecasting.org, North American Die Casting Association,
Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Φεβρουάριος 2015.
5. http://www.eeae.gr/gr/index.php?fvar=html/dosi/_dosim_used, Ελληνική
Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Ιούνιος
2014.
6. http://www.eeae.gr/gr/index.php?fvar=html/dosi/_odigies, Ελληνική Επιτροπή
Ατομικής Ενέργειας, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Νοέμβριος 2014.
7. http://www.eeae.gr/gr/index.php?menu=0&fvar=html/president/_info_radiatio
n_ion, Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας, Ημερομηνία τελευταίας
πρόσβασης: Σεπτέμβριος 2014.
8. http://www.industrialnoisecontrol.com, International Noise Control, Inc,
9. http://www.lavender-ndt.co.uk, Lavender NDT International, Ημερομηνία
τελευταίας πρόσβασης: Φεβρουάριος 2015.
10. http://www.radiochemistry.org, Αμερικάνικη Ένωση Ραδιοχημείας,
Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Μάιος 2014.
11. http://www.tinker.af.mil/shared/media/document/AFD-140606-042.pdf,
Technical Manual Non Destructive Inspection Methods, Basic Theory,
12. http://www-pub.iaea.org/MTCD/Publications/PDF/p1531interim_web.pdf,
International Atomic Energy Agency, General Safety Requirements Part 3
(Interim): Radiation Protection and Safety of Radiation Sources-International
Basic Safety Standards, IAEA Safety Standards for protecting people and the
environment, Vienna 2011, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Νοέμβριος
2014.
13. http://www-pub.iaea.org/MTCD/Publications/PDF/Pub1466_web.pdf,
International Atomic Energy Agency, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης:
Αύγουστος 2014.
14. https://orise.orau.gov/reacts/guide/index.htm, Guidance for Radiation Accident
Management, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Δεκέμβριος 2014.
|649|

15. https://www.nde-
ed.org/EducationResources/CommunityCollege/RadiationSafety/cc_rad-
safety_index.htm, NDE/NDT Resource Center, Ημερομηνία τελευταίας
πρόσβασης: Νοέμβριος 2014.
16. www.corrosionclinic.com, Corrosion Consulting Services, Ημερομηνία
τελευταίας πρόσβασης: Φεβρουάριος 2015.
17. www.eeae.gr, Ελληνική Επιτροπή Ατομικής Ενέργειας, Ημερομηνία
τελευταίας πρόσβασης: Οκτώβριος 2014.
18. www.eye-laser-surgery.gr, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Νοέμβριος
2014.
19. www.eyepathology.gr, Ινστιτούτο Οφθαλμικής Φλεγμονής και Παθολογίας
Οφθαλμού, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Νοέμβριος 2014.
20. www.innerspec.com, Innerspec Technologies, Ημερομηνία τελευταίας
21. www.mcm.aueb.gr/ment/semiotics/visper/visindex.html, Ημερομηνία
τελευταίας πρόσβασης: Σεπτέμβριος 2014.
22. www.nationalboard.org, The National Board of Boiler and Pressure Vessel
Inspectors, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Ιούνιος 2014.
23. www.nde-ed.org, NDE/NDT Resource Center, Ημερομηνία τελευταίας
24. www.nde-ed.org, NDT Resource Center, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης:
Οκτώβριος 2014.
25. www.ndt.net, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Νοέμβριος 2014.
26. www.ndtsupply.com, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Νοέμβριος 2014.
27. www.olympus-ims.com, Inspection and Measurement Systems, Ημερομηνία
28. www.orau.org, Oak Ridge Associated Universities, Ημερομηνία τελευταίας
29. www.physics.ntua.gr, Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών
Επιστημών του Εθνικού Μετσόβιου Πολυτεχνείου, Ημερομηνία τελευταίας
πρόσβασης: Ιούνιος 2014.
30. www.victor-aviation.com, Victor Aviation Service Inc, Ημερομηνία
31. www.wellcome.ac.uk/.../images/DNA_helix.jpg - Προσαρμογή από το ΚΠΕ
ΚΑΣΤΟΡΙΑΣ, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Οκτώβριος 2014.
32. www.xraylamp.webd.pl, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης: Ιούνιος 2014.
33. www.ob-ultrasound.net, Ημερομηνία τελευταίας πρόσβασης, Μάρτιος 2015
|650|

ΠΡΟΤΥΠΑ, ΠΡΟΔΙΑΓΡΑΦΕΣ ΚΑΙ ΚΑΝΟΝΙΣΜΟΙ
 EN ISO 17637 2003: Non-destructive testing of welds - Visual testing of fusion-

welded joints.
 ASME Boiler and Pressure Vessel Code, Section V, Article 9, Visual
Examination.
 BS ISO 6520-1: 2007. Welding and allied processes. Classification of geometric
imperfections in metallic materials. Fusion welding.
 ASTM E1417-05 Standard Practice for Liquid Penetrant Testing.

 EN ISO 3059: 2012: Non-destructive testing - Penetrant and magnetic particle
testing viewing conditions.
 EN ISO 3452-1: Non-destructive testing - Penetrant Testing - Part 1: General
principles.
 EN ISO 3452-2: Non-destructive testing - Penetrant Testing - Part 2: Testing of
penetrant materials.
 EN ISO 3452-3: Non-destructive testing - Penetrant Testing - Part 3: Reference
test blocks.
 EN ISO 3452-4: Non-destructive testing - Penetrant Testing - Part 4: Equipment.
 EN ISO 3452-5: Non-destructive testing - Penetrant Testing - Part 5: Penetrant
testing at temperatures higher than 50 degrees C.
 EN ISO 3452-6: Non-destructive testing - Penetrant Testing - Part 6: Penetrant
testing at temperatures lower than 10 degrees C.
 EN ISO 12706: 2001: Non-destructive testing - Terminology Terms Used in
Penetrant Testing.
 EN ISO 23277: 2006: Non-destructive testing of welds - Acceptance levels.
 EN 1289: Non-destructive examination of welds - Penetrant testing of welds -
Acceptance levels.
 ASME Boiler and Pressure Vessel Code, Section V, Art. 7, Magnetic Particle
Examination, 1995 ed.
 ASTM E1316 - 91b, Standard Terminology for Nondestructive Examinations,
Section G, Magnetic Particle Inspection (E269), 1991.
 ASTM Ε 125-63 (Reapproved 1985): Standard Reference Photographs for
Magnetic Particle Indications on ferrous Castings, 1985.
 ASTM Ε 709-80 (Reapproved 1985): Standard Practice for Magnetic Particle
Examination, 1985.
|651|

 BS 3683: Part 2 - Glossary of terms used in NDT-Magnetic Particle Flaw

Detection, BSI, 1985.
 BS 4069: Magnetic Flaw Detection Inks and Powders, BSI, 1982.
 BS 4489: Method for Measurement of UV-A Radiation, BSI, 1984.
 BS 5044: Contrast Aid Paints used in Magnetic Particle Flaw Detection, BSI,
AMD 1987.
 BS 6072: Magnetic Particle Flaw Detection, BSI, 1981.
 EN ISO 3059: 2012: Non-destructive testing - Penetrant and magnetic particle
testing viewing conditions.
 ISO 9934-1:2001: Magnetic particle testing - General principle.
 ISO 9934-2:2001: Magnetic particle testing - Detection media.
 PD 6513: Magnetic Particle Flaw Detection, BSI, 1985.
 T.O. 33B-1-1 NAVAIR 01-1A-16-1 TM 1-1500-335-23.
 ASME SE-142: Παρέχει στοιχεία για την ποιότητα του ειδώλου.

 ASME SE-94: Παρέχει οδηγίες για τις τεχνικές κατά την εργασία (υλικά που θα
ελεγχθούν, επιλογή φιλμ, κατεργασία, έλεγχο, αποθήκευση και διατήρηση
αρχείων). Δεν δίνονται οδηγίες για την αποδοχή ή μη των ασυνεχειών καθώς και
για την ακτινοπροστασία.
 DIN 8563 (85) part 3: Κατηγοριοποιεί τις συγκολλήσεις ανάλογα με την
ποιότητα τους.
 ΕΝ 1435: Ακτινογραφικός έλεγχος συγκολλητών συνδέσεων.
 ΕΝ 25580: Μη Καταστρεπτικές Δοκιμές - Βιομηχανικές ακτινογραφικές οθόνες
παρατήρησης (illuminators) - Ελάχιστες απαιτήσεις (ISO 5580: 1985).
 ΕΝ 444: Μη Καταστρεπτικές Δοκιμές - Γενικές αρχές για τον ακτινογραφικό
έλεγχο μεταλλικών υλικών, με χρήση ακτίνων Χ και γ.
 ΕΝ 462-1: Μη Καταστρεπτικές Δοκιμές - Ποιότητα εικόνας ακτινογραφημάτων
- Μέρος 1: Ενδείκτες ποιότητας εικόνας (Τύπου Σύρματος)- Προσδιορισμός της
τιμής ποιότητας εικόνας.
 ΕΝ 462-2: Μη Καταστρεπτικές Δοκιμές - Ποιότητα Εικόνας Ακτινογραφημάτων
- Μέρος 2: Ενδείκτες ποιότητας εικόνας (τύπου βαθμίδας/οπής), προσδιορισμός
της τιμής ποιότητας εικόνας.
- Μέρος 3: Κλάσεις ποιότητας εικόνας για σιδηρούχα υλικά.
- Μέρος 4: Πειραματική εκτίμηση των τιμών ποιότητας εικόνας και των πινάκων
ποιότητας εικόνας.
 ΕΝ 584-1: Μη Καταστρεπτικές Δοκιμές - Βιομηχανικά Ακτινογραφικά φιλμ -
Μέρος 1: Ταξινόμηση των συστημάτων φιλμ για βιομηχανική ακτινογραφία.
 ΕΝ 584-2: Μη Καταστρεπτικές Δοκιμές - Βιομηχανικά Ακτινογραφικά φιλμ -
Μέρος 2: Έλεγχος της επεξεργασίας των φιλμ μέσω τιμών αναφοράς (reference
value).
|652|

 EN ISO 17636-1 Non-destructive testing of welds – Radiographic testing – Part

1: X- and gamma-ray techniques with film
 ELOT EN 1435 Radiographic Examination of Welded Joints
 ELOT EN 25580 Βιομηχανικά ακτινογραφικά διαφανοσκόπια - ελάχιστες
απαιτήσεις.
 ELOT EN 444 Γενικές αρχές ακτινογραφικού ελέγχου μεταλλικών υλικών με
ακτίνες Χ και γ.
 ELOT EN 462-1 Image Quality Indicators.
 ELOT EN 462-2 Ποιότητα ακτινογραφικής απεικόνισης.
 ELOT EN 462-3 Κατηγορίες ποιότητας απεικόνισης για φερριτικά μέταλλα.
 ELOT EN 462-4 Πειραματικός προσδιορισμός τιμών ποιότητας εικόνας και
πινάκων ποιότητας εικόνας.
 ELOT EN 462-5 Ενδείκτες ποιότητας απεικόνισης (τύπου διπλού σύρματος,
προσδιορισμός της τιμής ασάφειας απεικόνισης.
 EN 12517-1:2006 RT Acceptance Levels.
 ASME Boiler and Pressure Vessel Code, Section V, Art. 4, Ultrasonic

Examination Methods for In-service Inspection, rev. 2010.
 ASME/ANSI B31.3: Chapter VI, Inspection, Examination and Testing, ed. 2010.
 ASTM E1065: Standard Guide for Evaluating Characteristics of Ultrasonic
Search Units, 1990.
 ASTM E1316: Standard Terminology for Nondestructive Examinations, Section
I, Ultrasonic Testing (E500), 1990.
 BS2704: Specification for calibration blocks for use in ultrasonic flaw detection,
BSI, 1978.
 BS3683: Part 4 - Glossary of terms used in NDT-Ultrasonic flaw detection, BSI,
1985.
 BS3923: Part 1 - Ultrasonic examination of welds, Methods for manual
examination of fusion welds in ferritic steels, BSI, 1986.
 BS4331: Assessing the performance characteristics of ultrasonic flaw detection
equipment, Part1 - Overall performance, on-site methods, 1978 Part2 - Electrical
performance, 1972 Part3 - Guidance on the in-service monitoring of probes
(excluding immersion probes), 1978.
 BS 5996: Methods for ultrasonic testing and specifying quality grades of ferritic
steel plate, BSI, 1993.
 BS 6208: Ultrasonic testing of ferritic steel castings including quality levels,
BSI, 1990.
 E 1001: Standard practice for detection and evaluation of discontinuities by the
immersed pulse-echo ultrasonic method using longitudinal waves, 1990.
 E 114-90: Standard practice for ultrasonic pulse-echo straight beam examination
by the contact method, 2010.
 E 164-90: Standard practice for ultrasonic contact examination of weldments.
|653|

 E 213-86: Standard practice for ultrasonic examination of metal pipe and tubing,
reap. 1990.
 E 273-83: Standard practice for ultrasonic examination of longitudinal welded
pipe and tubing, reap. 1989.
 E 317: Standard practice for evaluating performance characteristics of ultrasonic
pulse-echo testing systems without the use of electronic measurement
instrument, reap. 1990.
 E 494-89: Standard practice for measuring ultrasonic velocity in materials.
 E 797-90: Standard practice for measuring thickness by manual ultrasonic pulse-
echo contact method, 2010.
 EN 1714-97: Ultrasonic examination of welded joints, 1997.
 EN 17640: Non-destructive testing of welds, ultrasonic testing, techniques,
testing levels and assessment (ISO17640:2010).
 ISO 5817-92: Arc-welded joints in steel, guidance on quality levels for
imperfections, 1992.
 ISO 9765-90: Submerged arc-welded steel tubes for pressure purposes -
Ultrasonic testing of the weld seam for the detection of longitudinal and/or
transverse imperfections, 1990.
|654|

ΑΡΧΕΣ ΚΑΙ ΜΕΘΟΔΟΙ ΜΗ ΚΑΤΑΣΤΡΟΦΙΚΩΝ ΕΛΕΓΧΩΝ

Uploaded by

Document Information

Copyright

Available Formats

Share this document

Share or Embed Document

Sharing Options

Did you find this document useful?

Is this content inappropriate?

Copyright:

Available Formats

ΑΡΧΕΣ ΚΑΙ ΜΕΘΟΔΟΙ ΜΗ ΚΑΤΑΣΤΡΟΦΙΚΩΝ ΕΛΕΓΧΩΝ

Uploaded by

Copyright:

Available Formats

Βασίλης Γράψας

∆ρ. Μηχανολόγος Μηχανικός ΕΜΠ

 Ορολογία και Κατηγοριοποίηση Ασυνεχειών

Κάθε γνήσιο αντίτυπο φέρει την υπογραφή των συγγραφέων

© Copyright κειμένου και έκδοσης:

Με επιφύλαξη παντός δικαιώματος.

Επιστημονική επιμέλεια Βασικής Ακτινοπροστασίας:

Τόπος και χρόνος έκδοσης:

Welding & NDT Institute

Το πεδίο των Μη Καταστροφικών Ελέγχων συνιστά ένα κρίσιμο διεπιστημονικό

Με άλλα λόγια, οι εμπλεκόμενοι σε αυτό το πεδίο πραγματοποιούν δοκιμές οι

Κύρια συνιστώσα της επιτυχούς εφαρμογής των μεθόδων των Μη Καταστροφικών

Η απουσία από την ελληνική βιβλιογραφία ενός ολοκληρωμένου εγχειριδίου που

Με αίσθημα ικανοποίησης και ευθύνης παραδίδουμε τo συγκεκριμένο πόνημα στην

ΟΡΟΛΟΓΙΑ ΚΑΙ ΚΑΤΗΓΟΡΙΟΠΟΙΗΣΗ ΑΣΥΝΕΧΕΙΩΝ

1 Μη Καταστροφικοί Έλεγχοι ................................................................................... 3

2. Ορολογία μη καταστροφικών ελέγχων................................................................... 8

3. Ασυνέχειες πρωτογενούς διεργασίας σε χυτά προϊόντα ........................................ 11

4. Ασυνέχειες πρωτογενούς διεργασίας σε προϊόντα έλασης και σφυρηλάτησης ... 26

4.5 Από-ελασματοποίηση (delamination) ........................................................................ 29

5. Ασυνέχειες δευτερογενούς διεργασίας .................................................................... 31

6. Ασυνέχειες κατά τη λειτουργία ............................................................................... 33

7. Ασυνέχειες συγκολλήσεων ....................................................................................... 47

7.9 Στερεά εγκλείσματα (solid inclusions) ...................................................................... 55

3. Βασικές έννοιες οπτικής .......................................................................................... 90

3.1.5 Φωτομετρικός νόμος των αποστάσεων ...................................................................... 93

4. Περιβαλλοντικές συνθήκες κατά τον έλεγχο.......................................................... 104

5. Επιφανειακές συνθήκες ........................................................................................... 110

5.2.12 Καθαρισμός με απορρυπαντικές ουσίες..................................................................... 113

6. Ποιότητα κατεργασμένης επιφάνειας..................................................................... 114

8. Παράγοντες που επηρεάζουν τον οπτικό έλεγχο .................................................... 137

9. Καταγραφή και αναφορά του ελέγχου ................................................................... 139

1. Εισαγωγή .................................................................................................................. 145

2. Ιδιότητες διεισδυτικών υγρών ................................................................................ 148

3. Στάδια έλεγχου με τη χρήση των διεισδυτικών υγρών ......................................... 158

4. Βασικά βήματα της μεθόδου των διεισδυτικών υγρών ........................................ 163

4.2.4 Επίπεδα ευαισθησίας ................................................................................................. 168

5. Ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία ............................................................................. 178

6. Έλεγχος εξοπλισμού ................................................................................................. 179

7. Δοκίμια ελέγχου........................................................................................................ 180

8.5 Μεταγαλακτωποιούμενοι διεισδυτές με χρήση υδρόφιλου γαλακτωματοποιητή και

9. Μέτρα προστασίας ................................................................................................... 194

10. Ορολογία ................................................................................................................... 195

1. Εισαγωγή .................................................................................................................. 199

2. Βασικές έννοιες ......................................................................................................... 202

3. Φυσικές έννοιες και νόμοι ....................................................................................... 205

5. Μαγνητικά υλικά ..................................................................................................... 220

6. Ηλεκτρομαγνητισμός ............................................................................................... 230

7. Τεχνικές μαγνήτισης ................................................................................................ 241

8. Συνθήκες παρατήρησης ........................................................................................... 265

9. Όργανα μέτρησης μαγνητισμού .............................................................................. 269

10. Έλεγχος των υλικών και λειτουργικοί έλεγχοι ...................................................... 274

11. Μέτρα προστασίας ................................................................................................... 278

2. Ραδιενέργεια ............................................................................................................. 295

3. Βασικές έννοιες αλληλεπίδρασης ακτινοβολίας και ύλης ..................................... 305

4. Βασικές έννοιες δοσιμετρίας ................................................................................... 314

5. Ανίχνευση ιοντιζουσών ακτινοβολιών .................................................................... 324

6. Βιολογικές επιδράσεις των ακτινοβολιών .............................................................. 331

7. Εξοπλισμός βιομηχανικής ακτινογραφίας ............................................................. 341

8. Σύστημα ακτινοπροστασίας .................................................................................... 348

8.2.3 Αρχή των Ορίων Δόσεων........................................................................................... 351

9. Επιτόπιες ακτινογραφήσεις ..................................................................................... 360

10. Αποθήκευση και μεταφορά πηγών ......................................................................... 362

11. Καταστάσεις έκτακτης ανάγκης από ραδιολογικά ατυχήματα ............................ 367