Professional Documents
Culture Documents
3. ELEKTROOTPORNE
MJERNE TRAKE
167
fiksirao je za nosei sloj papira. Krajeve ice zadebljao je terminalima za konektore (slika
7.1).
168
3.2
l0
l0
l1
F,
3
1
l1
l1 l0 l1
l0
l0
(3.0)
169
170
dL
(3.5)
L
Istovremeno je poprena deformacija:
dL da db
p = n= =
=
(3.6)
L
a
b
gdje je:
- Poissonov koeficijent.
Zamjenom izraza 3.6 u 3.4 dobija se:
n =
dR d
dL
= + ( 1+2 ) (3.7)
R
L
Predpostvaljajui da je promjena u duini i specifinom otporu provodnika mala (to je sluaj
sa metalnim mjernim trakama), lanovi vieg reda se mogu zanemariti pa je promjena
otpora provodnika:
R
L
+ ( 1+ 2 )
(3.8)
R
L
L
dobija se relativna promjena elektrinog otpora
L
provodnika s njegovim relativnim izduenjem u obliku:
Dijeljenjem prethodnog izraza sa
R
R
Kt=
=
+ (1+2 ) (3.9)
L L
L
L
Izraz 3.8 predstavlja deformacionu osjetljivost mjerne trake odnosno tzv. faktor trake. Ujedno,
faktor trake je osnovna karakteristika mjerne trake koja zavisi od materijala njenog
provodnika (mjernog vlakna).
Na osnovu jednaine 3.8 moemo zakljuiti da deformaciona osjetljivost mjerne trake je
rezultat uticaja dva faktora: relativne promjene specifinog elektrinog otpora provodnika
171
R R
R
R
Kt=
=
(3.10)
L
n
L
Na osnovu relacije 3.10 dobija se jednaina mjerne trake koja direktno povezuje uzdunu
deformaciju mjerne trake sa promjenom njenog elektrinog otpora u obliku:
n =
1 R
(3.11)
Kt R
Relacija 3.11 ima veliki praktini znaaj u mjerenjima deformacija n gdje instrument
(mjerno pojaalo) registruje promjenu R , a faktor mjerne trake K t i njen elektrini
otpor R definie proizvoa. Ona jasno prikazuje da je ostvarena deformacija konstrukcije
proporcionalna promjeni otpora osjetljivog (provodnikog) dijela mjerne trake. To znai da bi
se dobili pouzdani rezultati mjerenja deformacija potrebno je da faktor trake bude konstantan
na cijelom opsegu mjerenja tj. za sve mogue vrijednosti deformacija na ispitivanoj
konstrukciji.
Na slian nain prethodno opisanom mogu se uspostaviti relacije za mjerne trake od
monokristalnih poluprovodnika. Savremeni mjerni sistemi su povezani sa raunarom koji
posjeduju softvere za unos vrijednosti faktora trake i ostalih parametara tako da se mogu
direktno dobiti vrijednosti ostvarenih deformacija ili napona na konstrukciji.
3.3
U principu elektrootporne mjerne trake se mogu podijeliti na trake sa: icom, folijom i
poluprovodnikom. Danas najiru primjenu imaju folijske mjerne trake.
Mjerne trake sa icom imaju mreicu nastalu cik-cak namotavanjem ice u oblik meandra
kako bi se postigla to vea promjena elektrinog otpora na to manjoj mjernoj duini bazi
mjerenja. Mreica je osnovni element svake mjerne trake i njen nain izrade direktno utie na
karakteristike i kvalitet trake.
ica kod ovih traka ima prenik izmeu 20 25 m. Mreica se najee postavlja
izmeu tankog noseeg i pokrivnog dijela trake izraenog od plastike (ranije papira) koji se
zatim meusobno lijepe tvorei jednu cjelinu. Nosei dio trake ima izuzetno delikatnu ulogu
da deformacije sa konstrukcije koja se ispituje, na to je mogue vjerniji nain, prenese do
osjetljivog dijela mjerne trake tj. mjernog vlakna.
172
Folijsku (tampanu) mjernu traku sainjava mjerno vlakno nainjeno od tanke metalne
folije i smjeteno izmeu nosaa i pokrivnog sloja trake (slika 7.3). Specijalnim postupkom
foto-grebanja (photo etching), koji predstavlja visoko precizni i strogo kontrolisani hemijski
proces korozije, se na metalnoj foliji tampa mjerno vlakno zajedno sa premazom otpornim na
kiseline. Zatim se metalna povrina izlae dejstvu kiseline koja nagriza i odstranjuje
premazom nezatienu povrinu.
Materijal mjernog vlakna najee je uraen od konstantan folije debljine 2 do 10 m, a
materijal nosaa i pokrivnog sloja je poliamid debljine izmeu 25 i 55 m. Uobiajena
debljina mjerne trake je oko 75 m. Folijska mjerna traka se izrauje s kontaktim icama ili
bez njih kada se kablovi dovode do kontaktnih izvoda na traci. Kontaktne ice i mjesta slue
za povezivanje mjernih traka u Vistonov mjerni most.
Pokrivni sloj
~ 75 m
Nosa
Mjerno vlakno
Kontakti
Aktivna duina
173
Kako je specifini otpor silicijuma oko 1000 puta vei od otpora legura metala koji se
koriste za izradu tampanih ili ianih mjernih traka, nije neophodno praviti namotaje.
174
Poluprovodnike mjerne trake, zbog visokog faktora trake (koeficijenta osjetljivosti) i visoke
elektrine otpornosti, se obino koriste za mjerenja vrlo malih deformacija (reda 0,001 m/m)
ili kada se eli dobiti jak elektrini signal kako bi se izbjegla upotreba elektronskih mjernih
pojaala. To je mogue, jer je napon reda nekoliko volti, umjesto nekoliko milivolti to je
sluaj prilikom upotrebe ianih ili folijskim mjernim trakama. Takoer, ove trake su sastavni
dio odreenih minijaturnih mjernih instrumenata (senzora). Poluprovodnike mjerne trake se
uspjeno koriste kako za dinamika tako i za kratkotrajna statika mjerenja.
Meutim, poluprovodnike trake imaju veliki nedostatak, a to je znaajna osjetljivost
elektrinog otpora i faktora trake na promjenu temperature. Osim toga, poluprovodnike
mjerne trake su znatno skuplje od klasinih mjernih traka, ograniene su na manje
deformacije (oko 3000 ili m/m) i problematine za postavljanje na zakrivljenim
povrinama. Uslijed relativno velike promjene elektrinog otpora sa deformacijom, njihov
odnos vie nije linearan (kao to je sluaj kod klasinih traka). Time faktor poluprovodnikih
mjernih traka nije konstantan nego zavisi od deformacije i elektrinog otpora. Ipak
zahvaljujui dopingu i elektronici navedeni uticaji temperature se mogu u znaajnoj mjeri
ublaiti.
3.4
Sastav
Konstantan
areni
konstantan
Karma
Nikrom
Izoelastik
Faktor
(osjetljivosti
)
trake,
Kt
2,1
Specifina
elektrina
otpornost
, m
Temperaturni
koeficijent el.
otpora 10-6,
K-1
Koeficijent
termike
dilatacije 106
, K-1
10
2,1
0,49
10
2,0
1,35
10
2,1
0,98
300
400
3,6
1,12
175
470
0,49
Napomena: Navedene karakteristike materijala znaajno variraju sa malom promjenom u sastavu kao i sa
postupcima hladne ili termike obrade.
175
176
U sluaju ravanskog naponskog stanja kada su poznati pravci glavnih napona koriste se
pravougaone rozete s dva mjerna vlakna. Svako mjerno vlakno je predvieno za odreivanje
jednog glavnog napona i to du njegove aktivne duine. Meutim, na slici .... a) radi se o
mjernoj rozeti sa duplim mjernim vlaknima koja zapravo mjere isti glavni napon, tako da se
dobija dvostruko jaa osjetljivost (jai izlazni signal) nego sa jednim vlaknom. U poglavlju
(......) je dokazano da su glavni naponi meusobno okomiti te su stoga mjerna vlakna na ovim
rozetama postavljena pod uglom od 90. Rozete s dva mjerna vlakna se mogu svrstati u T i V
rozete. Kod T rozeta jedno vlakno je postavljeno uzdu rozete (sl......b, c i d), dok su kod V
tipa oba vlakna postavljena pod uglom 45 u odnosu na uzdunu osu rozete (sl. ..... e i f).
Svojom konstrukcijom V rozete su predviene za mjerenje tangencijalnih napona pri uvijanju
ili smicanju. Postavljanjem uzdune ose V rozete na obod vratila u ravan sa njegovom osom,
rozeta e izmjeriti smiuu deformaciju xy.
Ukrtena mjerna vlakna (sl. c i sl.....d) omoguavaju smjetanje rozete na manjem
prostoru i tanije mjerenje deformacija/napona u taki, ali pri veim elektrinim naponima
napajanja dolazi do zagrijavanja na mjestu ukrtanja mjernih vlakana. Takoer, jedan od
nedostataka su i razliite udaljenosti vlakana od povrine mjernog objekta to je posebno
izraeno u sluaju savijanja tankih dijelova konstrukcija ili zakrivljenih povri.
177
Na bazi izmjerenih deformacija du tri pravca mjernih vlakana, prozvoljno zalijepljene rozete,
mogu se odrediti intenziteti i pravci glavnih deformacija odnosno glavnih napona
(poglavlje ......)
Mjerne trake sa etiri mjerna vlakna omoguavaju formiranje Vistonovog punog mosta
sa samo jednom trakom. U sluaju kada pravci glavnih napona zaklapaju uglove 0/90 moe
se primjeniti specijalna mjerna traka T puni most (sl. ....a). Ako glavni naponi zaklapaju
uglove 45 u odnosu na osu mjerne trake (optereenje konstrukcija na uvijanje i smicanje)
tada se koristi tzv. X rozeta (sl. ....b).
178
Lanci sadre deset pojedinanih mjernih vlakana (sl... a, b i c) ili pet grupa sa po tri vlakna tj.
rozete (sl. ...d). Na kraju lanca nalazi se dodatno vlakno koje se moe neovisno postaviti na
odgovarajuu lokaciju i koristiti kao kompenzaciona ili dodatna mjerna traka. Mjerna vlakna
mogu biti postavljena paralelno sa uzdunom osom lanca traka (sl. ...a), okomito na uzdunu
osu (sl. ...b) ili kombinovano tj. naizmjenino jedno vlakno je postavljeno paralelno, a drugo
okomito na uzdunu osu lanca traka (sl....c).
Mjerne trake za analizu irenja pukotina poveavaju svoj elektrini otpor proporcionalno
irenju pukotine uslijed kidanja tankih niti vlakna trake (sl. a). Osim intenziteta irenja
pukotine, u zavisnosti od konstrukcije trake, moe se pratiti i pravac irenja, jer se vlakna
pojedino povezuju i ine zasebne provodnike (sl. ...b).
179
U mjerne trake specijalne namjene spadaju trake za velike deformacije koje se mogu
kretati u intervalu 10% (sl. ...a). One se koriste za mjerenje deformacija izvan zone
elastinosti, kao i na materijalima velike deformabilnosti kao to je plastika, guma i sl. Za
izradu ovih mjernih traka se koriste specijalne podloge, a za njihovo povezivanje sa
konstrukcijom posebna ljepila.
Za teke uslove rada u agresivnim sredinama (hemijska i prehrambena industrija,
brodogradnja i sl.) koriste se mjerne trake smjetene u kapsule od specijalne plastike (sl. ...b).
Kablovi koji vode od konektora su izolirani sa teflonom, a ukupna debljina mjerne trake je
0,65 mm.
181
182
Za sluaj due trake (l1) izmjerena veliina deformacije (1) je znaajno manja nego
maksimalna deformacija (4) izmjerena najkraom trakom (l4). Stoga, ako je promjena
gradijenta dilatacija izuzetno velika, nelinearna i odvija se po nepoznatoj zavisnosti treba
koristiti to krae trake (po mogunosti krae od 2 mm). Na osnovu prethodno reenog moe
se zakljuiti da bi idealna duina mjerne trake za mjerenje maksimalnih napona na mjestima
koncentratora napona bila jednaka nuli, ali trenutno tehnoloka ogranienja omoguavaju
izradu mjernih traka sa aktivnom duinom od minimalno 0,2 mm. Takoer, kod kratkih
mjernih traka izraeniji su problemi vezani za transfer deformacije na mjerno vlakno i njeno
zagrijavanje uslijed Jouleovog efekta zbog slabog odvoenja toplote sa male povrine trake.
S druge strane, kada se radi o kontinualnoj, linearnoj i poznatoj raspodjeli deformacija
kod ispitivanja mainskih konstrukcija u principu treba koristiti due mjerne trake. Osim toga,
one se jednostavnije i efikasnije postavljaju na ispitivanu konstrukciju.
Duina mjerne trake se takoer odreuje u zavisnosti od homogenosti materijala
ispitivanog objekta. U sluaju mjerenja na nehomogenim materijalima (kompoziti, drvo i sl.)
potrebno je koristiti due mjerne trake da se izbjegne situacija da ona registruje lokalne
deformacije pojedinih sastojaka kompozita (-1 -6) umjesto globalne deformacije
kompozita kao cjeline (b), (sl. ...). Na taj nain se dobija srednja aritmetika vrijednost
183
184
izolacije imaju manji uticaj sa niskootpornim mjernim trakama. Optimalan izbor u veini
sluajeva predstavljaju 120 mjerne trake.
Neophodno je da mjerna traka tokom provedenog ispitivanja ima konstantan faktor trake
tj. pokazuje linearan odgovor na deformaciju koja se nalazi unutar granice elastinosti. Osim
toga poeljno je da mjerna traka prati i izvjesnu plastinu deformaciju konstrukcije. Za mjerne
trake od konstantana nelinearna karakteristika se javlja u oblasti izrazito velikih deformacija
tek iznad 50 10-3 m/m. U principu kako se poveava veliina deformacije, koeficijent
osjetljivosti trake ima tendenciju smanjivanja.
185
Faktor trake definie proizvoa na osnovu testiranja uzorka iz svake prozvodne serije.
Nemogue je procesom proizvodnje postii tano odreenu vrijednost faktora trake.
Proizvoai stoga propisuju nominalnu srednju vrijednost faktora trake sa moguim
odstupanjima u procentima od oko 1%.
U principu, potrebno je da mjerna traka ima to vei koeficijent osjetljivosti. Naalost,
porast koeficijenta osjetljivosti vodi ka porastu koeficijenta termike dilatacije mjerne trake,
to je nepoeljno. Za statika ispitivanja najee se upotrebljavaju mjerne trake od
konstantana jer ima nizak koeficijent termike dilatacije, ali ujedno i nizak faktor trake. S
druge strane, za udarna dinamika ispitivanja, budui da temperatura zbog kratkotrajnosti
mjerenja nema znaajniji uticaj na kvalitet rezultata, mogue je upotrebljavati mjerne trake od
izoelastika, koji ima visok faktor trake (tab....).
Faktor trake se mijenja pod uticajem temperature i zavisi od materijala mjernog vlakna.
Isto tako, greka nastala ovom pojavom zavisi od materijala trake i temperature ispitivanja
konstrukcije. U sluaju mjernih traka od konstantana i karme unutar uobiajenog opsega
temperaturnih promjena uticaj nestabilnosti faktora trake nije znaajan i u osnovi je linearan
(sl...).
186
q
R
=K u (1+ p ) n ()
R
n
Kp
gdje je q=
koeficijent poprene osjetljivosti mjerne trake.
Ku
Konstantna vrijednost faktora trake, koju propisuju proizvoai, dobivena je ispitivanjem
pri jednoosnom naponskom stanju pa se javlja greka kada se mjerna traka koristi u
ravanskom naponskom stanju. Ispitivanje se provodi na kalibracionoj gredi i konzoli
izloenim dejstvu konstantnog momenta savijanja kao i pri direktnom aksijalnom zatezanju ili
187
R
=K u n ( 1c q )
R
Uporeujui izraz (**) sa (3.10) dobija se:
K t =K u ( 1c q ) ( )
Prilikom ispitivanja (badarenja) trake deformacija n se odreuje specijalnim
ekstenzometrom u zavisnosti od optereenja. Mjerna traka koja se eli testirati se postavlja na
kalibracionu gredu, konzolu ili tap od elika sa vrijednosti Poissonovog koeficijenta
c =0,285 . Aktivni pravac trake se postavlja u pravcu uzdune deformacije na gredi,
konzoli ili tapu. Nakon optereenja, mjeri se promjena otpora trake R pa se faktor trake
K t odreuje putem relacije (3.10). Faktor mjerne trake se utvruje na bazi srednje
vrijednosti mjerenja na najmanje pet istih mjernih traka.
Greka uzrokovana poprenom osjetljivosti mjerne trake nee biti prisutna samo u dva
specijalna sluaja:
- kada su Poissonovi koeficijenti materijala konstrukcije i kalibracione grede, konzole
p
ili tapa identini tj. kada vrijedi c =
.
n
- kada je koeficijent transverzalne (poprene) osjetljivosti q=0 .
Veliina ove greke izraena u procentima moe se odrediti putem relacije:
,n n
=
100()
n
gdje je ,n izmjerena deformacija dobivena na osnovu faktora trake datog od proizvoaa
koja ne uzima efekte poprene osjetljivosti mjerne trake i definisana sa:
R
R
,n =
(')
Kt
Uvoenjem jednaine (***) u izraz (*) dobija se:
Kt n
p
R
=
(1+ q )
R 1c q
n
188
1c q
()
p
1+ q
n
Stoga, uvoenjem relacije (*****) u izraz (/) dobija se procenat greke pri zanemarivanju
poprene osjetljivosti mjerne trake:
p
q( + c )
n
=
100
1c q
Izraz (*****) slui za korekciju uticaja poprene osjetljivosti. Korekcije treba poduzeti kada
se koriste mjerne trake sa velikom vrijednosti koeficijenta poprene osjetljivosti ili se
mjerenja izvode u ravnom stanju napona.
Kada je ravansko stanje deformacija poznato (jednoosno stanje napona) mjeri se jedna
deformacija, a druga se dobija na bazi Poissonovog koeficijenta pa se koristi relacija (*****).
Meutim, kako bi uzeli u obzir transverzalnu osjetljivost u sluaju nepoznavanja ravanskog
polja napona neophodno je eksperimentalnim putem izmjeriti deformacije u dva okomita
pravca. Ako su ,n i ,p izmjerene deformacije u uzdunom i poprenom pravcu mjerne
trake tada je na osnovu izraza (*****) evidentno da je:
/
+q p
'n = n
1 c q
'p =
p +q n
( /)
1 c q
'
( n q p )()
1c q
n=
2
1q
'
189
( p q 'n)( )
1c q
p=
1q 2
Relacija (******) daje zavisnost greke od koeficijenta poprene osjetljivosti q i odnosa
p
. Grafiki prikaz relacije dat je na slici ..., gdje se moe primjetiti da greka moe biti
n
p
znaajna u situacijama kada su koeficijent poprene osjetljivosti i/ili odnos
veliki.
n
'
Dijagram na slici (...) moe se koristiti za odreivanje greke u sluaju jednoosnog naponskog
p
polja sa poznavanjem Poissonovog koeficijenta tj. kada je poznat odnos
kao i u sluaju
n
istog uvijanja cilindrinih predmeta ( 1= 2 .
Eksperimentalnim istraivanjem uticaja poprene osjetljivosti folijskih mjernih traka na
rezultate mjerenja primjeeno je:
- u oblasti irokih poprenih veza pri poprenoj deformaciji na zatezanje javlja se mala
pozitivna promjena otpora (slika ...b i c). Ovaj proces je ogranien na malo podruje
na krajevima mjernog vlakna. Iz tih razloga je ovaj efekat izraeniji kod kratkih
mjernih vlakana, jer je dio deformisanog mjernog vlakna vei. Navedeni zakljuak je
potvren mjerenjima iji su razultati prikazani na (slici ....).
190
191
192
193
= m t +
T
Kt
=0
Kt
feritnom eliku, austenitnom eliku, aluminijumu, titanijumu, sivom livu, kvarcu, plastinim
materijalima i sl. koje daju minimalnu prividnu deformaciju za propisani dijapazon
temperatura.
196
R
R
n =
(' ' )
Kt
Prikazani rezultati vrijede iskljuivo za odreeni tip mjerne trake. Ipak, mjerne trake koje
posjeduju mjerna vlakna razliitog oblika ili sastava legure, a ponaaju se na slian nain,
moe se rei da su podesne za mjerenje velikih deformacija.
Ovdje treba napomenuti da nelinearnost mjerne trake i strujnog etvrt mosta u velikoj mjeri se
meusobno kompenziraju.
Mikrostrukturalne promjene u materijalu mjernog vlakna koje prate plastinu deformaciju
mjerne trake mijenjaju temperaturni koeficijent elektrinog otpora vlakna. Iz tog razloga,
mjerne trake za velike deformaciije ne mogu se izraivati kao temperaturno kompenzacione.
Maksimalna deformacija mjerne trake moe se jedino postii sa propisnim ljepljenjem. Ovo
podrazumijeva adekvatnu deformaciju i vrstou spoja kao i ispravnu aplikaciju.
197
Iako je ovaj proces ogranien na relativno usko podruje mjernog vlakna, on ima vei
uticaj na kraa mjerna vlakna. Takoer, folijske mjerne trake pokazuju manje puzanje u
odnosu na iane jer iroki zavreci zavojaka prenose silu preko vee povrine to smanjuje
smiui napon.
Veliine koje definiu karakteristiku puzanja su: povrina poprenog presjeka elemenata
mjernog vlakna, broj elemenata, materijal nosaa mjerne trake, tip ljepila i njegova debljina,
temperatura i vlaga. Vie temperature poveavaju puzanje dok nie smanjuju.
U principu karakteristike puzanja mjernih traka se daju u vidu tzv. TTC
(time/temperature/creep, vrijeme/temperatura/puzanje) dijagrama koji se dobijaju na osnovu
ispitivanja mjernog mjesta kao cjeline koju sainjavaju postavljena mjerna traka i za tu
namjenu upotrebljeno ljepilo, a nikada za samu mjernu traku. Ovdje treba napomenuti da je
puzanje kod savremenih mjernih traka beznaajno.
Mehaniki histerezis mjerne trake je razlika izmeu izmjerene vrijednosti deformacije
trake pri njenom optereenju i rastereenju pri istoj deformaciji konstrukcije. Zapravo na
dijagramu izmjerena/stvarna deformacija javlja se odstupanje od linearnosti tako da se kriva
optereenja ne poklapa sa krivom rastereenja ime se formira tzv. histerezna petlja.
Mehaniki histerezis se definie kao najvea razlika izmjerena u nuli po apscisi za krivu
izmjerena/stvarna deformacija u kompletnom ciklusu optereenja i rastereenja sa ekstremnim
vrijednostima od 1000 m/m i 1000 m/m (slika ...).
198
Slino kao i kod puzanja, mehaniki histerezis ne zavisi samo od mjerne trake, ve i od
ljepila i drugih dijelova koji formiraju mjerno mjesto. Ispitivanja pokazuju da se histerezis
smanjuje nakon odreenog broja ciklusa i najee definie za prvi i trei ciklus optereenja.
Takoer, histerezis je izraeniji kod mjernih traka sa kraim mjernim vlaknima.
Veliina histerezisa i odstupanja od linearnosti zavisi od stepena plastinih deformacija u
materijalu mjernog vlakna, nosaa, intenzitetu deformacije i kvalitetu ljepila. Za ispravno
instalirane trake, veliina histerezisa je obino mala i ne zahtjeva korekciju.
3.6.1 Temperatura
Mnoge uticaje temperature na mjerna mjesta ne mogu se ispravno razmotriti, ako se
posmatraju u cjelini. Stoga e se ovdje dati reference na poglavlja koja su uglavnom
prethodno objanjena i daju detaljnije informacije o uticajima temperature:
2.3.4 Termiko irenje
3.2.3 Specijalne mjerne trake (za visoke temperature)
3.2.5 Mjerni opseg
3.3.4 Temperaturni odziv mjernog mjesta
199
3.6.2 Vlanost
Zajedno sa temperaturom, vlanost je glavni razlog nestabilnosti mjerenja trakama. Promjene
u vlanosti tokom mjerenja poveavaju nekontrolisane promjene take nule to se, posebno
kod statikih mjerenja (mjerenja referiranih ka nuli), manifestuje kao greka u rezultatu
mjerenja. Ponekad vlanost moe imati i uticaj na osjetljivost. Stepen uticaja zavisi od
veliine promjene i trenutnog stanja relativne vlanosti.
Vlaga koja prodre do mjernog mjesta mijenja elektrinu otpornost izolacije izmeu mjerne
trake i objekta ispitivanja kao i izmeu elemenata mjernog vlakna, djelujui kao promjenljiva
elektrina premosnica du mjerne trake. Ekstremni sluajevi se javljaju kod primjene
keramikih sredstava za spajanje (sredstva za spajanje u sluaju visokih temperatura)
prouzrokovanih njihovom visokom higroskopnosti. Promjene u sadraju vlage dovode do
bubrenja ili skupljanja nosaa mjernog vlakna i ljepila. U najgorem sluaju ljepljeni spoj
moe biti uniten pa mjerna traka postaje djelimino ili potpuno odvojena od objekta
ispitivanja.
Veliki procenat vlanosti moe dovesti do korozionih oteenja mjerne trake. Direktno
naponsko polje izmeu mjernog vlakna i objekta ispitivanja moe prouzrokovati pojavu
polarizacije u slojevima izolacije ime se mjerno mjesto u potpunosti izbacuje van funkcije.
Prisustvo drugih reaktivnih supstanci npr. morski zrak i industrijski zagaivai zraka
pojaavaju uticaj vlage.
Problemi vezani za vlanost nisu vezani samo za mjernu traku. Slabljenje izolacije elektrinih
vodova i izolacije pratee mjerne opreme takoer dovode do greaka. Koliko je vano utvrditi
razlog problema, efikasnije ih je sprijeiti u nastanku. Iz tog razloga tokom proizvodnje
mjerne trake koriste se materijali koji veu za sebe veoma malu koliinu vlage. Naalost, ne
postoje odgovarajui izolacioni materijali i ljepila koji ne apsorbiraju vlagu uopte. Stoga je
vano poduzeti adekvatne mjere zatite. One zavise od vrste medija (ne samo vlaga ili voda,
ve i prisustvo drugih supstanci), zahtjevanog stepena tanosti, trajanja mjerenja i odravanja
mjernog mjesta. Za kratkotrajna mjerenja u suhim prostorijama i laboratorijama nisu potrebne
posebne mjere zatite, dok dugotrajna mjerenja na otvorenom prostoru ili pod vodom
zahtjevaju sveobuhvatne zatitne mjere. Takoer, dugotrajna mjerenja bilo koje instalacije
mjernih traka trebaju imati odreenu zatitu protiv vlage.
200
201
R1
R4
V s V 4=
V
R 1+ R 2
R3 + R 4 s
R 1+ R 2 R 3 + R 4
Na osnovu relacije (?) se moe zakljuiti da je most izbalansiran tj. u ravnotei (V o = 0) kada
vrijedi: R1R3 = R2R4
(...)
U najoptijem sluaju uslov (...) se moe zadovoljiti i sa etiri meusobno razliita otpornika,
dok su ei sluajevi kada su dva susjedna meusobno jednaka (R 1 = R2 i R3 = R4) odnosno
kada su svi jednaki (R1 = R2 = R3 = R4).
Izraz ... predstavlja veoma vanu relaciju koja pokazuje da bilo kakva promjena otpora na
jednoj grani mosta moe se uravnoteiti na drugoj grani mosta odnosno bie registrovana na
mjernom ureaju.
202
Razmotrimo inicijalno uravnoteen most, tako da vrijedi R1R3 = R2R4 pa je Vo= 0. Zatim su
otpori R1, R2, R3 i R4 se mijenjali sa R1, R2, R3 i R4 tj. prouzrokovana je
neuravnoteenost mosta. Naponski izlaz sa mosta uzrokovan promjenom otpora moe se
odrediti koristei relaciju (?):
R
+ R1
R
R
+ R2
R
2 ( 4 + R 4)
V o =
Koristei relaciju ... (R1 = R2 i R3 = R4) i zanemarujui lanove drugog reda (RxRy) dobija
se:
R1 ( R3 + R 4 )R 3 ( R1+ R2 ) +2 R3 R12 R1 R 4
V o=
Vs
4 R 1 R3 +2 R1 R 3+ 2 R1 R 4+ 2 R3 R1 +2 R 3 R 2
Relacija se moe dodatno pojednostaviti zanemarivanjem relativno malih lanova (R xRy) u
nazivniku, tako da se dobija:
V o R 1 R 3 R 1 R 4 R3 R 1 R 3 R 2 2 R 3 R 1 2 R 1 R 4
=
+
V s 4 R 1 R3 4 R 1 R 3 4 R 1 R 3 4 R1 R 3 4 R 1 R 3
4 R 1 R3
Odnosno:
V o R 3 R4 R 1 R 2 R 1 R 4
=
+
V s 4 R3 4 R 3 4 R 1 4 R 1 2 R 1 2 R 3
Imajui u vidu da je R1 = R2 i R3 = R4 konano se dobija:
V o 1 R 1 R2 R 3 R 4
=
V s 4 R1
R2
R3
R4
Koristei jednainu promjene otpora mjerne trake (izraz 3.11) dobija se:
V o Kt
= ( + ) ( .)
Vs 4 1 2 3 4
203
3.7.1 etvrtmost
etvrtmost predstavlja Wheatstoneov most sa samo jednom aktivnom mjernom trakom (sl. ..).
Otpornik R1 predstavlja aktivnu mjernu traku koja prati deformaciju objekta, dok su otpornici
R2 (SL. ..b) i R3 (sl. ...c) pasivne trake koje su identine aktivnim, ali nisu izloene
deformaciji. U ovom sluaju koriste se za kompenzaciju uticaja temperature. Ostale dvije
odnosno tri grane sadre fiksne otpornike (grane unutar povrine ograniene isprekidanim
linijama). Ove otpornike dopunjava mjerno pojaalo i slue za kompletiranje mosta.
204
V s R1 Kt
= 1 V s
4 R1
4
Sasvim je jasno zbog ega su mjerne trake toliko rasprostranjene u avio i autoindustriji.
Moda je manje oigledna primjena u monitoringu graevinskih struktura, raketa, brodova,
dizajniranju kuanskih aparata i sportske opreme, medicini i hirurgiji. Mjerne trake su lagane,
malih dimenzija, pa ih moemo upotrijebiti na teko pristupanim mjestima. Mogu se prekriti
vodonepropusnim voskom, i kao takve koristiti pod vodom. Velika prednost upotrebe mjernih
traka je mogunost izvoenja mjerenja s vee udaljenosti od mjernog mjesta, i istovremeno
prikupljanje rezultata i njihova obrada s vie mjernih mjesta.
U zavisnosti od namjene, mjerne trake se izrauju razliitih oblika i veliina. Postavljamo
ih najee lijepljenjem na pripremljenu povrinu radnog predmeta, koristei odgovarajui
pribor (slika 7.4).
205
a)
b)
c)
206
MT1
MT1
MT1
FF
MT2
MT2
F
F
FF
FF
a)
b)
MT1
MT1
MT1
MT1
F
F
F
MT3
MT3
FF
c)
MT3
MT3
MT2
MT2
MT4MT4
FF
d)
Slika
7.7
a)
b)
Dijagonalni polumost
Dijagonalni polumost
s dvije kompenzacione
mjerne trake
MT1
RC
MT3
RC
i 1 3 2 1
c)
MT1
MT3
i 1 3 2 1
Puni most
MT1
MT2
MT3
MT4
MT1
MT2
MT3
MT4
i 2 (1 2 ) 2 ( 1 1 )
2 (1 ) 1
i 2 (1 2 ) 2 ( 1 1 )
2 (1 ) 1
d)
208
Upotrebom dvije aktivne trake spojene u dijagonalni polumost moemo pojaati izlazni
mjerni signal (slika 7.7c). Da bi istovremeno izbjegli uticaj savijanja i temperature na izlazni
mjerni signal, okomito postavljamo dvije mjerne trake na gornju i donju povrinu (slika 7.7d).
Dvije mjerne trake paralelne sa tapom potrebno je povezati umjesto otpornika R 1 i R3, dok je
dvije okomito postavljene mjerne trake potrebno spojiti kao R 2 i R4 u Vistonov most (slika
7.6a). U sluaju pojave savijanja, mjerne trake paralelne sa tapom e registrovati deformacije
istog intenziteta, ali suprotnih smjerova (zatezanje i pritisak). Kako imaju isti predznak unutar
Vistonovog mosta, meusobno e se ponititi. Isto vrijedi za mjerne trake postavljene
normalno na tap. Na ovaj nain je eliminisan uticaj savijanja na izlazni signal, tako da se
mjere jedino deformacije nastale usljed djelovanja aksijalnog optereenja. Izmjerena
vrijednost deformacije, izmeu ostalog, zavisi od: vrste Vistonovog mosta, naina
postavljanja mjernih traka i njihovog broja. Nain odreivanja izmjerene vrijednosti
deformacija u sluaju aksijalnog optereenja prikazan je tabelom 7.1.
MT1
MT1
MT2
F
a)
b)
MT1
MT2
MT3
MT4
209
c)
Slika 7. 9 Naini postavljanja mjernih traka u sluaju savijanja
Nedostatak ove instalacije je mogunost pojave greke usljed uticaja temperature, koji se
ne moe ponititi. Temperatura e uticati na oitanje deformacije. Kao i u sluaju aksijalnog
optereenja, postoje dva naina da se ovaj problem rijei. Prvi je primjenom dvije aktivne
mjerne trake spojene u Vistonov most na mjestima otpora R 1 i R2, ili upotreba jedne aktivne i
kompenzacione mjerne trake. Ovaj most je poznat pod nazivom polumosno elektrino kolo
(slika 7.6b i 7.8b). U ovom sluaju je, usljed savijanja grede, gornja mjerna traka (MT1)
izloena zatezanju dajui pozitivnu deformaciju. Mjerna traka s donje strane (MT2) izloena
je pritisku dajui negativnu deformaciju. Meutim, kako je mjerna traka MT2 povezana u
Vistonov most kao otpor R2, koji ima negativan predznak (uticaj na izlazni signal mosta),
dolazi do sabiranja njihovih izlaznih signala (tabela 7.2). Na ovaj nain dobijamo dvostruko
vei mjerni signal koji je pouzdaniji. Takoer, prednost Vistonovog polumosta je u injenici
da je izlazni signal obje mjerne trake isti bez obzira na uticaj deformacija nastalih usljed
aksijalnog optereenja ili uticaja temperature. Ovi izlazni signali e se u Vistonovom mostu
meusobno ponititi, tako da e ostati samo izlazni signal nastao usljed savijanja.
Instalaciju Vistonovog polumosta moemo unaprijediti upotrebom dvije dodatne mjerne
trake, tako da dobijamo puni most koji ima po dvije trake na gornjoj i donjoj strani grede
(slika 7.8c).
Tabela 7. 2 Nain odreivanja izmjerene vrijednosti deformacije u sluaju savijanja
Vrsta Vistonovog
mosta
etvrtmost
Otpornici/mjerne trake u
Vistonovom mostu
R1
MT1
MT2
R2
R3
R4
RC
RC
RC
RC
RC
etvrtmost s
kompenzacionom
mjernom trakom
Dijagonalni polumost
MT1
MT1
MT2
RC
RC
MT1
MT2
MT3
MT4
Polumost
MT1
MT2
RC
RC
Puni most
MT1
MT2
MT3
MT4
210
MT2
Izmjerena vrijednost
deformacije
i 1 2 3 4
i 1 sg
Slika
7.8
a)
i 2 sd
i 1 sg
i 2 sd
i 1 ( 2 ) 2 1 2 s
b)
i 1 ( 2 ) 3 ( 4 )
4 1 4 s
c)
i 1 2 1 1
(1 ) 1 (1 ) sg
i 2 (1 2 ) 2 (1 1 )
2 (1 ) 1 2 (1 ) sg
sg
Za ova mjerenja posebno su podesne X rozete (slika 7.9), koje posjeduju etiri mjerna vlakna
postavljena u pravcima 45 u odnosu na osu vratila. Neoptereena vlakna X mjerne rozete
jednake su duine i imaju isti elektrini otpor (slika 7.9a).
a)
b)
211
Kada se mjerna rozeta deformie usljed uvijanja, dva mjerna vlakna se izduuju, a druga
dva skrauju. Elektrini otpor se poveava u izduenim vlaknima, a smanjuje u skraenim.
Ova promjena otpora proporcionalna je momentu uvijanja vratila M t i precizno je moemo
mjeriti Vistonovim mjernim mostom.
Osim primjene X rozeta, moemo koristiti V rozete (slika 7.10a i b) s dva mjerna vlakna
pod 45 u odnosu na osu vratila.
Mt
Mt
Mt
MT4
MT1
MT1
MT2
a)
MT3
MT2
b)
Izmjerena vrijednost
deformacije
i 1 2 3 4
Slika
7.10
i 1 2 2 1 2 45
a)
i 1 ( 2 ) 3 ( 4 )
4 1 4 45
b)
Otpornici/mjerne trake u
Vistonovom mostu
Dijagonalni polumost
R1
MT1
R2
MT2
R3
RC
R4
RC
MT1
MT2
MT3
MT4
Ms
Ms
MT1g
Fh
MT1d
213
g d
2
(7. 0)
g d
2
(7. 0)
a)
z s
b)
z s
214
U situacijama kada je intenzitet i pravac dva glavna napona nepoznat koristimo rozete.
Potrebno je izvesti mjerenje tri deformacije za odreivanje tri nepoznate. Ova mjerenja
izvodimo za poznate pravce definisane rasporedom na rozeti. Tako postoje rozete s mjernim
vlaknima orijentisanim pod uglovima: 0 , 45 , 90 i 0 , 60 , 120 (slika 7.13). Koristei
rezultate ovih mjerenja, i relacije koje povezuju izmjerene deformacije s glavnim
deformacijama, odreujemo vrijednosti traenih nepoznatih.
215