I E C 61 1 80

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Edition 1 .0 201 6-06

I N TE R N ATI ON AL

STAN DAR D

N OR M E

I N TE R N ATI ON ALE
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i n si de

H i g h -vo l tag e test tech n i q u es for l ow-vol tag e eq u i pm en t – Defi n i ti on s, test an d

proced u re req u i rem en ts, test eq u i pm en t

Tech n i q u es d es essai s à h au te ten si o n pou r m atéri el à basse ten si on –

Défi n i ti o n s, exi g en ces et m od al i tés rel ati ves au x essai s, m atéri el d ' essai
IEC 61 1 80:201 6-06(en-fr)
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INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION

COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE

ICS 1 9.080 ISBN 978-2-8322-3366-5

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CONTENTS

FOREWORD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1 Scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2 N ormati ve references. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
3 Terms an d defin i tions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
3. 1 General terms . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
3. 2 Defini tions related to disrupti ve discharg e and test vol tag es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
3. 3 Ch aracteristics related to th e test equi pmen t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
3. 4 Ch aracteristics related to direct voltag e tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
3. 5 Ch aracteristics related to al ternatin g voltag e tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
3. 6 Ch aracteristics related to i m pu lse tests (see Fig u re 1 ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
3. 7 Defini tions relating to tolerance an d u ncertai n ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2
4 General requ iremen ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
4. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
4. 2 Atm osph eric condi ti ons for test procedu res and veri fication of test equ ipmen t . . . . . . 1 4
4. 3 Procedu res for qu al ificati on and use of measuring systems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
4. 3. 1 General principles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
4. 3. 2 Sch edu le of performance tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
4. 3. 3 Requ irements for the record of performance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
4. 3. 4 U ncertain ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
4. 4 Tests an d test requ iremen ts for an approved measu ring system an d i ts
componen ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
4. 4. 1 Calibration – Determ in ation of th e scale factor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
4. 4. 2 I n flu ence of l oad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
4. 4. 3 Dyn am ic beh avi ou r . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
4. 4. 4 Sh ort-term stabi li ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
4. 4. 5 Long -term stabi li ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
4. 4. 6 Am bien t temperature effect . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
4. 4. 7 U ncertain ty calcu lation of th e scale factor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
4. 4. 8 U ncertain ty calcu lation of ti me parameter m easu remen t (i mpu l se
vol tag es only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
5 Tests with direct vol tag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
5. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
5. 2 Test vol tag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
5. 2. 1 Requ irements for the test voltag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
5. 2. 2 Generation of the test vol tage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
5. 2. 3 M easurement of the test vol tage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
5. 3 Test procedu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
5. 3. 1 Wi thstand vol tage tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
6 Tests with alternatin g voltag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
6. 1 Test vol tag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
6. 1 . 1 Requ irements for the test voltag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
6. 1 . 2 Generation of the test vol tage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
6. 1 . 3 M easurement of the test vol tage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
6. 2 Test procedu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
6. 2. 1 Wi thstand vol tage tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
7 Tests wi th im pu lse vol tag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
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7. 1 Test vol tag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

7. 1 . 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
7. 1 . 2 Requ irements for the test voltag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
7. 1 . 3 Generation of the test vol tage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
7. 1 . 4 M easurement of the test vol tage and determi nation of impu lse shape . . . . . . . . . . . . 32
7. 2 Test procedu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
7. 2. 1 Veri fication of impu lse voltag e wavesh ape . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
7. 2. 2 I m pu lse vol tage tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
7. 3 M easu remen t of the test vol tag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
7. 3. 1 Requ irements for an approved measu ri ng system . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
7. 3. 2 U ncertain ty contribu tions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
7. 3. 3 Dyn am ic beh avi ou r . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
7. 3. 4 Requ irements for measu rin g instru men t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
8 Reference m easuremen t systems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
8. 1 Requ irements for reference m easu ring systems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
8. 1 . 1 Direct voltag e. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
8. 1 . 2 Al tern ating voltag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
8. 1 . 3 I m pu lse vol tages . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
8. 2 Calibrati on of a reference m easu ring system . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
8. 2. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
8. 2. 2 Reference m eth od: com parative measuremen t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
8. 3 I n terval between successive cal ibrati ons of reference measu rin g systems . . . . . . . . . . . . 34
8. 4 U se of reference measu rin g systems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
An nex A (i nformati ve) U ncertainty of m easu remen t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
A. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
A. 2 Terms an d defin i tions in additi on to 3. 7 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
A. 3 M odel fu nction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
A. 4 Type A evalu ati on of stan dard u ncertain ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
A. 5 Type B evalu ati on of stan dard u ncertain ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
A. 6 Combin ed standard u ncertainty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
A. 7 Expanded uncertain ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
A. 8 Effecti ve deg rees of freedom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
A. 9 U ncertain ty bu dg et . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
A. 1 0 Statemen t of th e measu remen t resu lt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
An nex B (i nformative) Example for the calcu lation of measu rin g uncertain ties in hi gh -
vol tage measu rem en ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
An nex C (in formati ve) Atmospheric correction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
C. 1 Standard reference atm osphere . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
C. 2 Atm osph eric correction factor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
C. 2. 1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
C. 2. 2 H u midity correcti on factor k2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
C. 2. 3 Ai r densi ty correction factor k1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
Bi bliog raph y . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49

Fi gu re 1 – Fu ll i mpu lse voltag e tim e parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1

Fi gu re 2 – Cal ibrati on by comparison over the ful l vol tage rang e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
Fi gu re 3 – U ncertain ty con tribu tions of the cal ibration (example wi th a m in i mu m of 5
vol tage levels) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
 –4– I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Fi gu re 4 – Shaded area for acceptable normalised am pli tu de-frequ ency responses of

measu ri ng systems in tended for sing le fundam ental frequ encies fnom (to be tested in
th e rang e (1 … . 7) fnom ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
Fi gu re 5 – Sh aded area for acceptable normalised am pli tu de-frequ ency responses of
measuri ng systems i ntended for a ran ge of fu ndam en tal frequencies fnom1 to fnom2 (to
be tested i n th e range fnom 1 to 7 fnom2 ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
Fi gu re 6 – 1 , 2/50 µs standard im pu lse voltage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
Fi gu re A. 1 – N ormal probabili ty distribu ti on p(x) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
Fi gu re A. 2 – Rectang u l ar probabil ity distribu tion p(x) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42

Table 1 – Tests requ ired for an approved direct vol tage measu ri ng system . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
Table 2 – M ini mum cu rren ts of the test circu i t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
Table 3 – Tests requ ired for an approved alternating vol tag e m easu ri ng system . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Table 4 – Tests requ ired for an approved i mpu lse voltag e measu ring system . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
Table A. 1 – Coverag e factor k for effecti ve deg rees of freedom ν eff ( p = 95, 45 %) . . . . . . . . . . . . . . . . 40
Table A. 2 – Sch ematic of an u ncertain ty bu dg et . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
Table B. 1 – Resul t of the comparison m easuremen t u p to 500 V at a sin g le vol tage level . . . . . 44
Table B. 2 – Su mm ary of resu lts for h = 5 voltag e levels ( VXmax = 500 V) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
Table B. 3 – U ncertain ty bu dg et of the assi gned scale factor FX . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
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I NTERNATI ONAL ELECTROTECHN I CAL COMMI SSI ON

____________

HIGH-VOLTAGE TEST TECHNIQUES FOR LOW-VOLTAGE EQUIPMENT –

Definitions, test and procedure requirements, test equipment
FOREWORD
1 ) Th e I n tern ati on al El ectrotech n i cal Com m i ssi on (I EC) i s a worl d wi d e org an i zati on for stan dard i zati on com pri si n g
al l n ati on al el ectrotech n i cal com m i ttees (I EC N ati on al Com m i ttees) . Th e obj ect of I EC i s to prom ote
i n tern ati on al co-operati on on al l q u esti on s con cern i n g stan dard i zati on i n th e el ectri cal an d el ectron i c fi el ds. To
th i s en d an d i n ad di ti on to oth er acti vi ti es, I EC pu bl i sh es I n tern ati on al Stan d ards, Tech n i cal Speci fi cati on s,
Tech n i cal Reports, Pu bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati on s (PAS) an d G u i d es (h ereafter referred to as “I EC
Pu bl i cati on (s) ”) . Th ei r preparati on i s en tru sted to tech n i cal com m i ttees; an y I EC N ati on al Com m i ttee i n terested
i n th e su bj ect d eal t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work. I n tern ati on al , g overn m en tal an d n on -
g overn m en tal org an i zati on s l i ai si n g wi th th e I EC al so parti ci pate i n th i s preparati on . I EC col l aborates cl osel y
wi th th e I n tern ati on al Org an i zati on for Stan d ard i zati on (I SO) i n accordan ce wi th con d i ti on s d eterm i n ed by
ag reem en t between th e two org an i zati on s.
2) Th e form al d eci si on s or ag reem en ts of I EC on tech n i cal m atters express, as n earl y as possi bl e, an i n tern ati on al
con sen su s of opi n i on on th e rel evan t su bj ects si n ce each tech n i cal com m i ttee h as represen tati on from al l
i n terested I EC N ati on al Com m i ttees.
3) I EC Pu bl i cati on s h ave th e form of recom m en d ati on s for i n tern ati on al u se an d are accepted by I EC N ati on al
Com m i ttees i n th at sen se. Wh i l e al l reason abl e efforts are m ad e to en su re th at th e tech n i cal con ten t of I EC
Pu bl i cati on s i s accu rate, I EC can n ot be h el d respon si bl e for th e way i n wh i ch th ey are u sed or for an y
m i si n terpretati on by an y en d u ser.
4) I n ord er to prom ote i n tern ati on al u n i form i ty, I EC N ati on al Com m i ttees u n d ertake to appl y I EC Pu bl i cati on s
tran sparen tl y to th e m axi m u m exten t possi bl e i n th ei r n ati on al an d reg i on al pu bl i cati on s. An y di verg en ce
between an y I EC Pu bl i cati on an d th e correspon d i n g n ati on al or reg i on al pu bl i cati on sh al l be cl earl y i n d i cated i n
th e l atter.
5) I EC i tsel f does n ot provi d e an y attestati on of con form i ty. I n d epen d en t certi fi cati on bodi es provi d e con form i ty
assessm en t servi ces an d , i n som e areas, access to I EC m arks of con form i ty. I EC i s n ot respon si bl e for an y
servi ces carri ed ou t by i n d epen d en t certi fi cati on bodi es.
6) Al l u sers sh ou l d en su re th at th ey h ave th e l atest edi ti on of th i s pu bl i cati on .
7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I E C or i ts di rectors, em pl oyees, servan ts or ag en ts i n cl u di n g i n d i vi du al experts an d
m em bers of i ts tech n i cal com m i ttees an d I EC N ati on al Com m i ttees for an y person al i n j u ry, property d am ag e or
oth er d am ag e of an y n atu re wh atsoever, wh eth er di rect or i n d i rect, or for costs (i n cl u d i n g l eg al fees) an d
expen ses ari si n g ou t of th e pu bl i cati on , u se of, or rel i an ce u pon , th i s I EC Pu bl i cati on or an y oth er I EC
Pu bl i cati on s.
8) Atten ti on i s d rawn to th e N orm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on . U se of th e referen ced pu bl i cati on s i s
i n di spen sabl e for th e correct appl i cati on of th i s pu bl i cati on .
9) Atten ti on i s d rawn to th e possi bi l i ty th at som e of th e el em en ts of th i s I EC Pu bl i cati on m ay be th e su bj ect of
paten t ri g h ts. I EC sh al l n ot be h el d respon si bl e for i d en ti fyi n g an y or al l su ch paten t ri g h ts.

I n tern ati onal Stan dard I EC 61 1 80 has been prepared by I EC techn ical commi ttee 42: H ig h-
vol tag e and h ig h-curren t test techn iqu es.

Th is 1 st edition of I EC 61 1 80 cancels an d replaces the 1 st edition of I EC 61 1 80-1 , issu ed in

1 992, and the 1 st edition of I EC 61 1 80-2, issu ed in 1 994.

The text of this standard i s based on th e foll owing docu men ts:

FDI S Report on voti n g

42/341 /FDI S 42/342/RVD

Fu ll i n formati on on the votin g for the approval of th is stan dard can be fou nd in the report on
votin g i ndicated i n the above table.

Th is pu bl ication has been drafted in accordance with th e I SO/I EC Directives, Part 2.

 –6– I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

The com mi ttee h as decided that the con ten ts of th is pu blicati on wi l l remain unchan ged u ntil
th e stabil ity date indicated on the I EC website u nder "http://webstore. iec. ch" in the data
related to the speci fic pu blication. At this date, the pu bl ication wil l be
• recon firmed,
• wi thdrawn ,
• replaced by a revised edition , or
• amended.

I M P O R TAN T – Th e 'col ou r i n si d e' l og o on th e c o ve r pag e of th i s pu bl i cati on i n d i cates

th at it con tai n s co l o u rs wh i ch are c o n s i d e red to be u s efu l fo r th e c o rrec t

u n d erstan d i n g of i ts con ten ts. U sers sh ou l d t h e refo re pri n t th i s d ocu m en t u sin g a

co l o u r pri n ter.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 –7–

HIGH-VOLTAGE TEST TECHNIQUES FOR LOW-VOLTAGE EQUIPMENT –

Definitions, test and procedure requirements, test equipment

1 Scope
Th is I n ternation al Standard is appl icable to:
– dielectric tests with direct voltag e;
– dielectric tests with al tern ating voltag e;
– dielectric tests with impu lse vol tage;
– test equ ipmen t used for dielectric tests on l ow-voltage equ ipmen t.
Th is standard is applicable on l y to tests on equi pmen t havin g a rated voltag e of not more than
1 kV a. c. or 1 , 5 kV d. c.

Th is standard is applicable to type and rou tin e tests for objects which are subjected to hi gh
vol tag e tests as speci fi ed by the techn ical comm ittee.

The test equ ipmen t com prises a voltag e g enerator an d a m easu ring system . Th is stan dard
covers test equ ipmen t i n wh ich th e measu ri ng system is protected ag ainst external
in terference and coupl in g by appropriate screeni ng , for example a con ti nu ous conductin g
shield. Th erefore, simple com parison tests are su fficien t to ensure val id resul ts.

Th is standard is not in ten ded to be u sed for electromag netic compatibility tests on el ectric or
electron ic equi pm en t

N OTE Tests wi th th e com bi n ati on of i m pu l se vol tag es an d cu rren ts are covered by I E C 61 000-4-5.

Th is standard provides th e relevan t techn ical com m ittees as far as possible with:
– defined terms of both g en eral and specific appl icabil ity;
– g eneral requ irements regarding test objects and test procedures;
– m eth ods for g eneration and m easu rem en t of test vol tag es;
– test procedures;
– m eth ods for th e evalu ation of test resu l ts and to i ndicate criteri a for acceptance;
– requ iremen ts concerni ng approved m easuring devices and ch ecki ng meth ods;
– m easu remen t uncertain ty.
Al tern ati ve test procedures may be requ ired and these shou ld be specified by the relevan t
techn ical commi ttees.

Care shou ld be taken if th e test object has vol tag e l im i ti ng devices, as they m ay in fluence the
resu l ts of the test. The rel evan t tech nical comm i ttees shou ld provide g ui dance for testing
objects equipped with vol tag e li mi tin g devices.

2 Normative references
The following docu men ts, in whole or in part, are n orm ati vel y referenced in this docu m en t and
are indispensabl e for i ts application . For dated references, on l y the edition ci ted appl ies. For
 –8– I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

u ndated references, th e latest edition of th e referenced docu men t (inclu din g an y

amendm en ts) appl ies.

I EC 60060-1 :201 0, High-voltage test techniques – Part 1: General definitions and test
requirements

I EC 60060-2:201 0, High-voltage test techniques – Part 2: Measuring systems

I EC 60068-1 :201 3, Environmental testing – Part 1: General and guidance

I EC 60335(all parts) : Household and similar electrical appliances – Safety

I EC 60664-1 :2007, Insulation co-ordination for equipment within low-voltage systems – Part 1:
Principles, requirements and tests

I EC 61 083-1 :2001 , Instruments and software used for measurement in high-voltage impulse
test – Part 1: Requirements for instruments

I EC 61 083-2:201 3, Instruments and software used for measurement in high-voltage and high-
current tests – Part 2: Requirements for software for tests with impulse voltages and currents

I SO/I EC Gu ide 98-3:2008, Uncertainty of measurement – Part 3: Guide to the expression of

uncertainty in measurements (GUM)

3 Terms and definitions

For th e pu rposes of th is docu men t, th e foll owing terms and defini tions appl y.

3.1 General terms

3.1 .1
clearance
distance between two condu cti ve parts along a strin g stretched across the shortest path
between these condu cti ve parts

[SOU RCE: I EC 60050-441 :1 984, 441 -1 7-31 ]

3.1 .2
creepage distance
sh ortest distance along the surface of a sol id i nsu latin g material between two condu cti ve
parts

[SOU RCE: I EC 60050-1 51 : 2001 , 1 51 -1 5-50]

3.2 Definitions related to disruptive discharge and test voltages

3.2.1
disruptive discharge
fai lu re of insu lation u nder electric stress, in wh ich the di scharge completel y bridges the
insu lation u nder test, redu cin g the voltag e between electrodes to practically zero

3.2.2
withstand voltage
specified voltag e valu e wh ich characterizes the insu lation of the object wi th regard to a
withstand test
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 –9–

N ote 1 to en try: U n l ess oth erwi se speci fi ed, wi th stan d vol tag es are referred to stan d ard referen ce atm osph eri c
con di ti on s (see 4. 2) .

3.3 Characteristics related to the test equipment

3.3.1
calibration
set of operations th at establ ish es, by reference to standards, th e relati onship which exists,
u nder speci fied condi tions, between an i ndication and a resu l t of a measurement

N ote 1 to en try: Th e d eterm i n ati on of th e scal e factor i s i n cl u d ed i n th e cal i brati on .

[SOU RCE: I EC 60050-31 1 :2001 , 31 1 -01 -09, modi fied: note modified]

3.3.2
type test
conformi ty test made on one or more i tems represen tati ve of th e produ cti on

N ote 1 to en try: For a m easu ri n g system , th i s i s a test perform ed on a com pon en t or on a com pl ete m easu ri n g
system of th e sam e d esi g n to ch aracteri ze i t u n d er operati n g con d i ti on s.

[SOU RCE: I EC 60050-1 51 : 2001 , 1 51 -1 6-1 6, modi fied:note added]

3.3.3
routine test
con formity test made on each indi vidu al i tem durin g or after man u facture

N ote 1 to en try: Th i s i s a test perform ed on each com pon en t or on each com pl ete m easu ri n g system to
ch aracteri ze i t u n d er operati n g con d i ti on s.

[SOU RCE: I EC 60050-1 51 : 2001 , 1 51 -1 6-1 7, modi fied:note added]

3.3.4
performance test
test performed on a complete m easurin g system to characterize i t u nder operatin g condi tions

3.3.5
test equipment
complete set of devices n eeded to generate and m easu re the test voltag e or cu rren t appl ied
to a test object

3.3.6
reference measuring system
measu ring system wi th i ts calibration traceable to relevan t national and/or in ternati onal
standards, and havin g su ffici ent accuracy an d stabili ty for u se in the approval of other
systems by m aking simu l taneous com parati ve measu remen ts wi th speci fic types of waveform
and rang es of vol tage

3.3.7
assigned scale factor
scale factor of a measu rin g system determ ined at th e most recen t performance test

N ote 1 to en try: A m easu ri n g system m ay h ave m ore th an on e assi g n ed scal e factor; for exam pl e, i t m ay h ave
several ran g es, each wi th a di fferen t scal e factor.

3.4 Characteristics related to direct voltage tests

3.4.1
value of the test voltage
arithmetic mean valu e
 – 10 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

3.4.2
ripple
periodic deviation from the arithm etic m ean valu e of the test voltag e

3.4.3
ripple amplitude
half the di fference between the maxim u m and m in i mu m valu es

N ote 1 to en try: I n cases wh ere th e ri ppl e sh ape i s n earl y si n u soi dal , tru e r. m . s. val u es m u l ti pl i ed by √ 2 are
acceptabl e for d eterm i n ati on of th e ri ppl e am pl i tu d e.

3.4.4
ripple factor
rati o of the ri pple ampl itu de to the valu e of test voltag e

3.5 Characteristics related to alternating voltage tests

3.5.1
peak value
average of th e m ag n itu des of the posi ti ve an d neg ative m axim um valu es

3.5.2
r.m.s. value
squ are root of the mean valu e of th e square of the vol tage valu es du ring a complete cycl e

3.5.3
true r.m.s. value
valu e obtai ned from

T
1
Irms =
T ∫ i (t) d t
0
2

where
0 is the time instan t ( t = 0) of an a. c. periodic wave, con ven ien t for th e beg inni ng of
i n tegration ;
T i s the tim e taken over an integ ral num ber of cycles;
i( t) i s the instantaneou s valu e of the cu rren t.
N ote 1 to en try: Th e tru e r. m . s. val u e can i n g en eral be cal cu l ated from a di g i ti zed record of an y peri odi c
waveform , provi d ed a su ffi ci en t n u m ber of sam pl es h ave been taken .

N ote 2 to en try: I n cases wi th varyi n g freq u en cy, n o stri ct form u l a for tru e r. m . s. val u e can be g i ven .

3.5.4
total harmonic distortion
THD
th e ratio of the rms value of th e h arm onic con ten t of an al ternati ng qu antity to the rms valu e of
th e fu n dam en tal componen t of th e qu an tity

[SOU RCE: I EC 60050-551 : 1 998, 551 -1 7-06]

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 11 –

3.6 Characteristics related to impulse tests (see Figure 1 )

U
1 ,0
B
0,9

0,5

0,3 A

0
T t
T ′
T1 = T/ 0,6
T1
T2 T = 0,3 T1 = 0,5 T
′

O O1 IEC

Figure 1 – Full impulse voltage time parameters

N ote 1 to en try: Osci l l ati on s are n eg l i g i bl e.

3.6.1
impulse voltage
in ten ti onall y appli ed aperi odic transi en t voltag e which u sual ly rises rapi dly to a peak val ue
and th en fal ls m ore slowly to zero

3.6.2
peak value
maximu m val ue

3.6.3
value of the test voltage
for an im pu lse wi th ou t overshoot or oscillati ons, its peak valu e

N ote 1 to en try: Th e d eterm i n ati on of th e peak val u e, i n th e case of osci l l ati on s or oversh oot on stan d ard
i m pu l ses, i s con si d ered i n I EC 60060-1 .

3.6.4
front time
T1
virtu al param eter defin ed as 1 /0, 6 tim es th e in terval T between th e i nstan ts when the i mpu lse
i s 30 % and 90 % of the peak valu e on the test vol tage cu rve (poin ts A and B, Fi gu re 1 )

3.6.5
virtual origin
O1
i nstan t preceding poi n t A, of th e test vol tage cu rve (see Fi gu re 1 ) by a time 0, 3 T1

N ote 1 to en try: For records h avi n g l i n ear ti m e scal es, th i s i s th e i n tersecti on wi th th e ti m e axi s of a strai g h t l i n e
d rawn th rou g h th e referen ce poi n ts A an d B on th e fron t.
 – 12 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

3. 6. 6
t i m e t o h a l f - va l u e
T2
virtu al param eter defined as th e tim e in terval between the virtu al orig in O1 and the instan t
when th e voltag e h as decreased to half th e peak valu e

3. 6.7
r e c o r d e d c u r ve
g raphical or dig ital represen tation of th e test data of an impu lse vol tag e

3.7 D e f i n i t i o n s r e l a t i n g t o t o l e r a n c e a n d u n c e rt a i n t y

3. 7. 1
t o l eran ce
perm itted difference between th e measu red valu e an d the specified value

3. 7. 2
u n c e rt a i n t y o f m e a s u r e m e n t
parameter, associ ated wi th th e resu l t of a measu rem en t, that characterizes the dispersi on of
th e values th at cou ld be reasonabl y attribu ted to th e measu ran d

N ote 1 to en try: U n certai n ty i s posi ti ve an d g i ven wi th ou t si g n .

[SOU RCE: I EC 60050-31 1 :2001 , 31 1 -01 -02]

3. 7. 3
e rr o r
measu red qu an ti ty valu e m inus a reference qu anti ty valu e

[SOU RCE: I SO/I EC Gu ide 98-3:2008, GU M 2. 3. 2]

3. 7. 4
s t a n d a rd u n c e rt a i n t y
u
u ncertai n ty of the resul t of a measuremen t expressed as a standard deviation

N ote 1 to en try: Th e stan d ard u n certai n ty associ ated wi th an esti m ate of a m easu ran d h as th e sam e di m en si on as
th e m easu ran d .

N ote 2 to en try: I n som e cases, th e rel ati ve stan d ard u n certai n ty of a m easu rem en t m ay be appropri ate. Th e
rel ati ve stan dard u n certai n ty of m easu rem en t i s th e stan d ard u n certai n ty d i vi d ed by th e m easu ran d , an d i s
th erefore di m en si on l ess.

[SOU RCE: I SO/I EC Gu ide 98-3:2008, GU M 2. 3. 1 ]

3. 7. 5
c o m b i n e d s t a n d a r d u n c e rt a i n t y
uc
standard u ncertain ty of th e resu l t of a m easurem ent wh en th at resu l t is obtained from the
valu es of a nu m ber of oth er qu antities, equal to th e posi ti ve squ are root of a sum of terms, th e
terms being th e variances or covariances of these other qu an ti ties weig hted accordi ng to how
the measu rem en t resu l t vari es with ch ang es i n these qu an ti ties

[SOU RCE: I SO/I EC Gu ide 98-3:2008, GU M 2. 3. 4]

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 13 –

3.7.6
expanded uncertainty
U
quan ti ty defi n ing an i n terval abou t the resu lt of a measurement that m ay be expected to
encompass a large fracti on of the distribution of valu es that cou l d reason abl y be attri bu ted to
the measu rand

N ote 1 to en try: Expan d ed u n certai n ty i s th e cl osest m atch to th e term “overal l u n certai n ty”.

N ote 2 to en try: Th e tru e, bu t u n kn own test-vol tag e val u e m ay l i e ou tsi d e th e l i m i ts g i ven by th e u n certai n ty
becau se th e coverag e probabi l i ty i s < 1 00 % (see 3. 7. 7) .

[SOU RCE: I SO/I EC Gu ide 98-3:2008, GU M 2. 3. 5, modi fied:n otes added]

3.7.7
coverage factor
k
nu m erical factor used as m u lti pli er of th e combined standard u ncertain ty in order to obtain an
expan ded uncertain ty

N ote 1 to en try: For 95 % coverag e probabi l i ty an d n orm al (G au ssi an ) probabi l i ty d i stri bu ti on th e coverag e factor
i s approxi m atel y k = 2.

[SOU RCE: I SO/I EC Guide 98-3:2008, GU M 2. 3. 6, modi fied:n ote added]

3.7.8
type A evaluation
meth od of evalu ation of an u ncertainty by statistical anal ysis of a series of observations

3.7.9
type B evaluation
meth od of evalu ation of an uncertainty by m eans oth er than statistical anal ysis of a series of
observati ons

3.7.1 0
national metrology institute
insti tu te design ated by n ational decision to develop and main tain nati onal measu remen t
standards for one or more quan ti ties

4 General requirements
4.1 General
U nless oth erwise speci fi ed by the relevan t techn ical committee, th e test object shoul d be
clean and dry, stabi lized to ambien t en vironm en tal condi tions and the vol tag e application shall
be as specified in the relevan t clau ses of th is standard. Th e test procedu res appl icable to
particu lar types of test objects, shou l d be speci fied by th e relevan t techn ical commi ttee,
havi ng reg ard to su ch factors as:
• th e requ ired accu racy of test resu l ts;
• th e ran dom natu re of the observed phen om en on an d any polarity depen dence of th e
m easu red ch aracteristics;
• th e possibi li ty of prog ressive deterioration wi th repeated vol tag e appl ications.
This inclu des for example, the polarity to be used, th e preferred order i f both polari ties are to
be used, th e nu mber of appl icati ons and th e i nterval between applications, and an y
condi tion in g and precondition ing .
 – 14 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

The connecti ons between the test equ ipmen t and th e object su bjected to th e high voltag e test
sh al l be direct and as sh ort as possible. Loops of the con nections shou ld be avoided to
mi nimize oscil lations on th e front of th e impu lse. The leads sh ou ld be as close to each oth er
as possible in order to min imize the area between the l eads.

These requ iremen ts sh al l also appl y for the quali fication of th e measurin g system , e. g . th e
test equ ipmen t to be cali brated and th e reference m easu ri ng system .

The man u factu rer of the test equ ipm en t shall g ive i n formati on on the ch aracteristics of the
test equ ipmen t, so that the generated vol tag e i s sti l l wi thi n th e allowed tolerances when
testin g the object subjected to th e h ig h vol tage test.

4.2 Atmospheric conditions for test procedures and verification of test equipment
The atm osph eric conditions for test procedures and the veri fication of test equ ipment shall be
th ose stated for testing in I EC 60068-1 :
Tem peratu re 1 5 °C to 35 °C
Ai r pressure 86 kPa to 1 06 kPa
Relati ve hu mi dity 25 % to 75 %
Absol u te hu m idi ty ≤ 22 g /m 3

The actual atm ospheric condi tions du ring th e test sh all be recorded.

For the pu rpose of testing , where the atmospheri c condi tions are within th e rang es speci fied
i n this stan dard, corrections to the test vol tag e du e to variati ons of the temperatu re, h u mi dity
and air pressu re do not n eed to be appl ied.

Wh en the atm ospheric conditions du rin g th e test are n ot within th e rang es speci fied i n th is
standard, the meth od in An nex C shal l be u sed, by ag reemen t, for test voltag e correction .

4.3 Procedures for qualification and use of measuring systems

4.3.1 General principles
Every approved measu ring system shall u nderg o i ni tial tests, fol lowed by peri odic
performance tests throug hou t i ts servi ce l ife, as specified in 4. 3. 2. Th e in i tial tests consist of
type tests an d rou ti ne tests.

The performance tests shal l prove that the measu ring systems can m easu re th e in ten ded test
voltag es within the u ncertainties g iven i n th is standard, and th at the measu remen ts are
traceabl e to nati onal and/or i ntern ational standards of m easuremen t. The system is approved
only for the arran g ements an d operati ng condi tions inclu ded in i ts record of performance, as
speci fied i n 4. 3. 3.

A m ajor requ iremen t for m easuring systems is stabi l ity with in the specified range of operating
condi ti ons so that th e scale factor remains constant over long periods.

The assi gn ed scale factor is determ in ed in the perform ance test by calibration . An y cal ibrati on
sh al l be traceable to nati on al and/or i n ternation al standards. The u ser shal l ensure that an y
calibration is perform ed by competen t personnel using reference measu ri ng systems and
su itabl e procedu res.

Altern ati vel y, an y user may ch oose to have the perform ance tests m ade by a nati on al
m etrolog y i nsti tu te or by a cal ibration l aboratory accredi ted for th e qu an ti ty to be cal ibrated.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 15 –

Cal ibrati ons performed by a n ational m etrolog y i nstitu te, or by a laboratory accredi ted for the
qu an tities calibrated and reported u nder th e accreditation , are considered traceable to
nati onal and/or in tern ation al standards.

I n all cases, th e u ser shal l inclu de th e test data in th e record of performance.

4.3.2 Schedule of performance tests

To main tain the qu ali ty of a m easu ring system , th e assign ed scale factor(s) sh all be
determined by periodic performance tests. The interval between performance tests shal l be
n ot long er th an 1 year u nl ess otherwise stated by the manufacturer an d based on experience
demonstrating l ong -term stabi li ty.

Performance tests shal l be made fol lowing major repairs to the m easu ri ng system an d
wh enever a circu it arrang em ent th at i s beyond the l im its g i ven in the record of perform ance is
to be u sed.

4.3.3 Requirements for the record of performance

The resu lts of al l tests, inclu ding th e con ditions u nder which the resu l ts were obtained, shall
be kept in th e record of perform ance (stored in paper format or electronicall y i f perm i tted by
quali ty systems and local laws) established an d m ain tained by th e u ser. The record of
performance shall un iqu ely identify th e componen ts of the m easuring system and sh all be
stru ctu red so that perform ance of the measuring system can be traced over time.

The record of performance shal l com prise at least the fol lowing information:
• General description of the measu ring system.
• Resu l ts of type an d rou tin e tests on th e measu ring system .
• Resu l ts of su bsequ en t perform ance tests on th e m easu ring system.
The g eneral descri ption of the m easu ri ng system u sual ly comprises main data and
capabi li ties of the measu ring system , such as th e rated operati ng voltag e, waveform(s) ,
rang e(s) of clearances, operating tim e, or maxim u m rate of voltag e appl ications. For man y
m easuring systems, in formation on th e transmission system as well as h ig h-vol tage and
g rou nd-retu rn arran gemen ts are importan t. I f requ ired, a descripti on is also g i ven of
componen ts of th e measu ring system , i nclu din g for example th e type and i den ti fication of the
m easuring instrum ent.

4.3.4 Uncertainty
The uncertain ty of al l m easu remen ts made u nder this I nternational Standard shall be
evalu ated according to I SO/I EC Gu ide 98-3. U ncertai n ty of m easu remen t shal l be
disting u ished from the tolerance. A pass/fail decisi on is based solely on th e measured valu e
in relation to th e pass/fail cri teria. The m easuremen t u ncertain ty sh all n ot be applied to the
measured valu e to make the pass/fai l decision . Procedures for evalu ating u ncertainties g iven
in 4. 4. 7 are specified in accordance wi th the principles of I SO/I EC Gu ide 98-3, and are
considered su fficien t for the i nstru men tation and measuremen t arrang emen ts common ly u sed
in h ig h-voltag e testin g . H owever, u sers m ay select other appropriate procedu res from
I SO/I EC Gu ide 98-3, som e of which are ou tl in ed in An nex A and An nex B.

I n g eneral, th e m easu ran d to be considered is the scale factor of th e measu ri ng system , bu t in

some cases oth er qu antities, such as the tim e param eters of an impu lse vol tag e and their
associ ated errors, shou ld also be considered.

N OTE 1 Oth er m easu ran d s for speci fi c con verti n g devi ces are i n com m on u se. For exam pl e, a vol tag e d i vi der i s
ch aracteri zed by th e vol tag e rati o an d i ts u n certai n ty i n th e assi g n ed m easu rem en t ran g es u sed . A vol tag e
tran sform er i s ch aracteri zed by th e rati o error, th e ph ase d i spl acem en t an d th e correspon di n g u n certai n ti es.
 – 16 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Accordi ng to th e I SO/I EC Gu ide 98-3, the uncertain ty of a measu remen t is determ i ned by
combin ing th e u ncertainty con tribu tions of Type A and Type B (see 4. 4. 7) . These contribu ti ons
are obtain ed from measu rem en t resu lts, manu factu rers’ han dbooks, cal ibration certi ficates
and from esti mati ng reasonable valu es of th e in flu ence quan ti ties du rin g the measu remen t.
I n flu ence qu an ti ti es considered in 4. 4 inclu de temperatu re effects, i n flu ence of th e load,
dynamic behaviour of the m easuring system and l ong and short term stability in fl uence. Oth er
effects, inclu di ng limi ted resolu ti on of the m easu ri ng instru m en t, m ay be i ncluded i f
necessary.

The u ncertai n ty shal l be g i ven as th e expanded u ncertainty for a coverag e probabil ity of
approximately 95 % correspon di ng to a coverage factor k=2 u nder the assu mption of a n ormal
distribu ti on .

N OTE 2 I n th i s I n tern ati on al Stan d ard , th e u n certai n ti es of th e scal e factor an d of vol tag e m easu rem en t (4. 4. 1 to
4. 4. 6) are expressed by th e rel ati ve u n certai n ti es i n stead of th e absol u te u n certai n ty n orm al l y con si d ered i n th e
I SO/I EC G u i de 98-3.

4.4 Tests and test requirements for an approved measuring system and its
components
4.4.1 Calibration – Determination of the scale factor
The assi gned scale factor of the m easu ring system shall be determ ined by calibration
accordin g to the speci fied performance tests. The assig ned scale factor is a sin gl e valu e for
th e assig ned m easu remen t rang e. I f necessary, several assig ned measurement ran g es with
different scal e factors may be defi ned.

Scale factor(s) is (are) determined for a complete m easu rin g system by comparison wi th a
reference measu ring system .

The inpu t vol tag e used for cal ibration shou ld be of the same type, frequ ency or waveform as
vol tag es to be measured. I f th is condi tion is n ot fu lfil led, the rel ated uncertai nty con tribu tions
sh al l be estimated.

Cal ibration sh all be performed by connecting a reference measuri ng system , traceabl e to a

n ational metrol og y insti tu te, in parallel with th e m easu ri ng system to be cal ibrated. Care shall
be taken to avoi d g rou nd loops between the converting device(s) and measuring i nstru men t(s) .
Si mu l taneous readin gs sh all be taken on both systems. Th e valu e of th e inpu t qu antity
obtained for each measuremen t by th e reference m easu ring system is divided by th e
correspondin g readi ng of th e instru m en t in the system un der test to obtai n a valu e Fi of i ts
scale factor. The procedu re is repeated n times to obtain th e m ean valu e Fg of th e scale
factor of th e system un der test at on e vol tage level Ug . The mean valu e is g i ven by:

n
1
Fg =
n
∑F
i =1
i, g

The rel ati ve standard deviation s g of Fg is gi ven by:

n
1 1
sg =
Fg n −1
∑ (F i =1
i, g − Fg ) 2

and th e Type A relati ve standard u ncertain ty u g of the mean valu e Fg is gi ven by (Annex A) :

sg
ug =
n
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 17 –

U su all y n o m ore than n = 1 0 indepen den t readi ng s are necessary.

For m easurem ent of di rect and alternatin g voltag es, in dependent readin g s sh ou ld be obtained
ei th er by appl ying the test voltag e and taking n readin g s or by appl yin g the test vol tage n
ti mes an d taking a reading each ti me. For im pu lse vol tages, n im pu lses are appl ied.

The scale factor determ ination shal l be made at th e mi nim um an d maxi mu m l evels of the
assig ned measuremen t rang e and on at least th ree approxim ately equ all y spaced
in termedi ate l evels (Fi g ure 2) . The assign ed scale factor F i s taken as the m ean valu e of all
scale factors Fg recorded at h voltag e l evels:

1 h
5
F = ∑F
h g =1
g for h ≥

Cal i brati on ran g e

Vol tag e

Assi g n ed m easu rem en t ran g e

IEC

Figure 2 – Calibration by comparison over the full voltage range

The standard uncertain ty of the determ ination of the assig ned scale factor F is obtained as
th e larg est of th e sing le standard u ncertain ties of type A (Fig u re 3) :

h
uA = max u .
g =1
g

The effect of a non -l in eari ty i n F is estim ated as a Type B standard u ncertai n ty expressed by:

uBo =
1 max F − 1 .
h
g

3 1 F
g=

A rou nded valu e Fo may be taken as the assig ned scal e factor i f the di fference between Fo
and F is in trodu ced as an u ncertain ty con tribu tion of Type B in th e estimate of th e expanded
u ncertai nty of the scale factor Fo .

The individu al scale factors and th eir u ncertainties at the h voltag e level s shoul d be g iven i n
th e calibration certificate.
 – 18 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

F2 ; u 2 F4 ; u 4

Vol tag e
F1 ; u 1

1 5 Fg 1 F5
F3 ; u 3 u B0 = m ax −1 = −1
F5 ; u 5 3 g =1 F 3 F

5
uA = m ax u g = u 3
g=1
IEC
Fi g u re 3 – U n c e rta i n t y c o n t ri b u t i o n s o f th e cal i b rat i o n

( e xa m p l e w i t h a m i n i m u m o f 5 vo l t a g e l e ve l s )

4. 4. 2 I n fl u en ce of l oad

Each comparison test sh all be made first wi th th e min imu m load (the reference measu ring
system alone) an d be repeated wi th th e m axi mu m load (resistive, capaciti ve, inducti ve or any
combin ati on of these) allowed by the m an u factu rer of the test equ ipmen t.

The u ncertain ty con tribu ti on of the load shall be taken in to accou n t by:

u Bl =
1 FMaxload
−1
3 FMinload

Th is is needed especially when the vol tag e is not directly measu red on the hig h-vol tag e side
at the test object terminals.
4.4.3 D yn a m i c b e h a v i o u r

4. 4. 3. 1 G en e ra l

The response of a componen t or a m easurin g system shal l be determ ined in conditi ons
representative of i ts u se, particu larl y clearances to earthed an d energ ized stru ctu res. The
preferred methods of measuremen t are the ampli tu de/frequency response for direct or
al ternatin g voltag es, and determi nation of the scale factors an d ti me.

N OTE Ad d i ti on al i n form ati on on u n i t step-respon se m easu rem en ts i s g i ven i n An n ex C of I EC 60060-2: 201 0.

A type B esti m ate of the relative standard u ncertain ty related to th e dyn am ic behaviou r is
g i ven by:

u B2 =
1 max F − 1
k
i

3 1 Fi=

wh ere k is th e n umber of scale factor determ inations with in a frequ ency rang e, or wi th in a
rang e of impulse tim e parameters defining the n omi nal epoch. Fi are th e indi vidual scale
factors an d F is th e mean scal e factor wi th in the n om in al epoch .
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 19 –

4. 4. 3. 2 D e t e r m i n a t i o n o f t h e a m p l i t u d e /fre q u e n c y r e s p o n s e

The system or componen t is su bjected to a sin usoidal i npu t of known am pli tu de, u su ally at
low level , and the ou tpu t is m easu red. Th is m easu rem en t is repeated for an appropriate ran g e
of frequ encies. The devi ations of th e scale factor are evalu ated according to the above
formu la (4. 4. 3. 1 ) .

4. 4. 3. 3 R e fe r e n c e m e t h o d fo r i m p u l s e vo l t a g e m e a s u r i n g s ys t e m s

Records of th e im pu lse voltag e taken for cal ibration of the scale factor descri bed in 4. 4. 1 are
used for the l im i ts of the nom inal epoch , and th e uncertain ty con tribu tion of voltag e an d tim e-
parameter measuremen ts sh al l be evalu ated according to the above formu la (4. 4. 3. 1 ) .

N OTE For add i ti on al i n form ati on on u n i t step respon se m easu rem en t an d eval u ati on , see An n ex C of I EC 60060-
2: 201 0.

4.4.4 S h o rt - t e r m s t a b i l i t y

The maxi mum vol tage of th e assi g ned m easuremen t rang e sh all be appl ied to the measurin g
system con ti nu ou sly (or at the assig ned rate for im pu lses) for a peri od appropriate to th e
an ticipated u se. The scale factor shal l be measu red as soon as the m aximu m vol tage has
been reached and again im mediatel y before the vol tage is reduced.

The peri od of vol tage appl ication sh ou ld n ot be longer th an the assig ned operating ti me, bu t
can be l im i ted to a time su fficien t to reach equ il i briu m .

N OTE Th e sh ort term stabi l i ty test i s i n ten d ed to cover th e effects of sel f-h eati n g on th e con verti n g d evi ce.

The resu l t of the test i s an estim ate of the chan g e of scale factor wi th in the voltag e
application tim e from wh ich the stan dard u ncertain ty con tribu ti on is obtain ed as a type B
estimate:

1 Fafter
u B3 = ⋅ −1 ,
3 Fbefore

where Fbefore and Fafter are the scale factors before and after th e short-term stabi li ty test.

4.4.5 Lo n g -term s tab i l i t y

The stabi l ity of th e scale factor sh all be considered an d evalu ated over a long time-span and
is usu al l y estim ated as an u ncertai nty con tribu tion val id for a projected ti m e of use (usu al l y
u ntil the next cali bration ) , Tuse . The evalu ation can be based on m anu factu rer’s data or on
resu l ts of a series of perform ance tests. The resul t of th e evalu ati on is an estimate of a
ch ang e of the scal e factor. Th e evalu ati on deli vers a standard u ncertain ty con tribu tion , which
is a type B estimate:

1 F2 Tuse
uB4 = ⋅ −1 ⋅ ,
3 F1 T2 − T1

wh ere F1 and F2 are the scale factors of two consecu ti ve performance tests made at ti mes T1
and T2.

I n cases where a n umber of performance test resu l ts are avai lable, the long -term stabi li ty can
be characterised by the type A con tribu ti on:
 – 20 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

 Fi
2
n 
Tuse ∑ 
i =1  Fm
− 1 
u B4 =  ,
Tmean n (n − 1 )
wh ere the resu l ts of repeated performance tests are the scale factors Fi, wi th a mean valu e
Fm and repeated wi th a m ean ti me in terval Tmean .
N OTE Th e l on g -term stabi l i ty i s u su al l y stated for a peri od of on e year.

4.4.6 Ambient temperature effect

The scale factor of a measu ring system can be affected by am bient temperature. This can be
qu antified by determ ination of the scale factor at di fferen t ambien t temperatu res or by
compu tations based on properties of componen ts. Details of test or calcu lations shall be
inclu ded in th e record of performance.

The resu l t of a test or calcu lati on is an estimate of a change of th e scale factor du e to ambien t
temperatu re. The related standard u ncertain ty is the foll owi ng type B esti mate:

u B5 = 1
⋅
FT − 1 ,
3 F
wh ere FT is th e scale factor at the considered tem perature an d F is th at at cali bration
temperatu re.

I f the deviation FT from F is g reater th an 1 %, a correction of th e scale factor is recom mended.

N OTE Sel f-h eati n g effect i s covered by th e sh ort-term stabi l i ty test.

A temperatu re correction factor for th e scale factor may be used in cases where the ambient
temperatu re varies over a wide rang e. An y temperatu re corrections to be used sh ou ld be
listed in the record of performance. For cases wh ere tem perature correcti on has been appl ied,
th e u ncertain ty u B5 of th e tem peratu re correction factor may be taken as th e uncertain ty
con tribu tion .

4.4.7 Uncertainty calculation of the scale factor

4.4.7.1 General
A si mpli fied procedure to determi ne the expan ded u ncertainty of the assig n ed scale factor F
of a measu ring system is g i ven h ere. I t is based on several assu mptions, which in man y
cases m ay be true, bu t sh ou ld be verified in each i ndi vidu al case. Th e mai n assu mpti ons are:
a) There is no correlation between the m easu remen t qu antities.
b) Standard u ncertain ties evalu ated by the meth od of Type B are assu med to have a
rectan gu lar distribu tion .
c) The larg est three uncertain ty contribu ti ons to u ncertain ty have approxi matel y equ al
m ag nitude.
These assum ptions lead to a procedu re of evalu ati on of the expan ded u ncertain ty of th e scal e
factor F, both for the cal ibration si tuati on and for the u se of an approved m easu ri ng system in
m easurements.

The expanded u ncertain ty of cali bration Ucal i s estim ated from the u ncertai nty of the
calibration of th e reference system and from i nfl uence of oth er quan ti ties expl ained i n this
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 21 –

clau se, such as stabil i ty of the reference m easu ri ng system an d ambien t parameters du ri ng
th e cali bration .

The expanded u ncertainty of a measurement UM of th e test qu an ti ty i s evalu ated from the

u ncertain ty of the cali bration of the scale factor of th e approved measurin g system and from
the in flu ence of oth er qu an tities discussed i n 4. 4, su ch as the stabil ity of the measuring
system and ambient parameters during the measu rem en t as th ey are not considered in the
calibration certi ficate.

Furth er m eth ods for estim ating uncertainty are g iven in th e I SO/I EC Guide 98-3:2008 and are
also described i n Ann ex A.

4.4.7.2 Uncertainty of the calibration

The relati ve expan ded u ncertai n ty of a cali bration of the scale factor Ucal is calcu lated from
th e u ncertainty of the reference measu ri ng system and the Type A and Type B u ncertain ties
expl ai ned i n th is clause:

N
Ucal = k ⋅ u cal = 2 2
u ref + u A2 + ∑u
i=0
2
Bi ,

wh ere:
k= 2 is th e coverage factor for a coverag e probabi li ty of approximately 95 % and
norm al distribu tion ;
u ref i s th e combin ed stan dard u ncertai nty of the scale factor of the reference
m easuring system at i ts calibration ;
uA i s the statistical Type-A u ncertainty in th e determ in ati on of the scale factor;
uB 0 i s th e non-l inearity con tribu tion to stan dard u ncertain ty determ ined during
calibration of th e scale factor (4. 4. 1 ) ;
uB i i s the con tribu tion to th e combined standard uncertain ty of the scale factor cau sed
by the ith infl uence qu an ti ty an d evalu ated as a Type B con tribu tion (An nex A) .
These contribu tions are related to the reference measurin g system, an d arise from
non-l inearity, sh ort- and l on g -term instabil i ties, etc. , and are determi ned ei th er by
additi onal measurements or estim ated from other data sou rces accordin g to 4. 4. 2
to 4. 4. 6. I nflu ences related to the approved measu ring systems, such as its short-
term stabil ity, an d resolu tion of the m easurement shal l also be taken in to accou nt
i f they are sig ni fican t du ri ng the cal ibrati on .
I n cases wh ere the assu mptions m en tioned above are n ot val id, the procedu res g i ven in
An nex A or, i f necessary, i n th e I SO/I EC Gu ide 98-3:2008 shal l be applied.

The nu mber N of Type B u ncertain ty con tribu tions may di ffer for the differen t types of test
vol tages (Clau ses 5 to 7) . M ore informati on on the Type B contri butions is g iven in the
rel evan t clau ses.

4.4.7.3 Uncertainty of measurement using an approved measuring system

Esti mation of the expan ded u ncertain ty of measu remen t of the test vol tage value is th e
responsibi li ty of th e user. H owever, th is estimation may be g iven for a defined rang e of
m easu remen t condi tions i n conjunction with the cal ibrati on certificate.

The relati ve expanded uncertain ty of measu remen t of the test voltag e valu e UM is calcu lated
from th e com bined standard u ncertain ty of the assi gned scale factor as determ ined in th e
calibration of the approved measu ring system and addi ti onal Type B uncertainty con tribu ti ons
expl ai ned i n th is clause:
 – 22 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

N
UM = k ⋅ uM = 2 u 2
cal + ∑ u B2 i ,
i =1

where:
k= 2 i s th e coverag e factor for a coverag e probabi lity of approximatel y 95 % and
n orm al distribu ti on ;
uM is the combi ned standard u ncertainty of the measu remen t using th e approved
m easuring system , valid for a projected ti me of u se, e. g . a cal i bration in terval;
u cal i s the combin ed standard u ncertai nty of th e scale factor of the approved
m easuring system determ ined at the cal ibrati on (see 4. 4. 7. 2) ;
uB i i s the con tribu ti on to the combined standard u ncertainty of th e scale factor of the
approved measu rin g system an d cau sed by the ith in flu ence qu antity, eval u ated
as a Type B con tribu tion . These con tribu tions are related to n ormal u se of the
approved measurin g system , an d arise from non-lineari ty, short- and long -term
instabi l iti es, etc. , and are determ ined accordi ng to 4. 4. 2 to 4. 4. 6 based eith er on
addi ti onal measu remen ts or estimated from other data sources. Other sig n ifican t
i n flu ences sh all also be taken in to accoun t, e. g . resolu tion of i nstrum en t display of
the approved measuring system .
The cali bration certificate may inclu de information on both th e u ncertai nty of the cali brati on ,
Ucal , and the relati ve expanded u ncertainty of m easu remen t of the test voltag e valu e, UM ,
when u sin g th e approved m easu ri ng system u nder stated, predefi ned condi tions.

I n cases where the assu mptions men tioned above in 4. 4. 7. 1 are not val id, the procedu res
g i ven i n Annex A or, i f necessary in th e I SO/I EC Gu ide 98-3:2008, shall be applied.

The nu mber N of Type B u ncertain ty contribu tions may differ for the different types of test
qu an ti ties (Clau ses 5 to 7, vol tag es and tim e parameters) .

4.4.8 Uncertainty calculation of time parameter measurement (impulse voltages only)

4.4.8.1 General
An approved measu ri ng system for impulse vol tages sh all be abl e to measure th e time
parameters ( T1 , T2 , ) with in th e speci fi ed u ncertai n ty l im i ts wh en the parameter lies within i ts
speci fied ran ge. For fron t ti me th is is u su all y the nom inal epoch . Th e experimen tal proof can
be g iven ei th er by th e comparison or th e compon ent m eth od.

N OTE Th e esti m ati on of th e u n certai n ty of ti m e param eters resu l ts i n an absol u te u n certai n ty val u e.

4.4.8.2 Uncertainty of the time parameter calibration

The fron t times T1 of n im pu lse vol tag es sh al l be evalu ated sim u ltaneou sly wi th the measuring
system under test, denoted by X, an d th e reference system , denoted by N . The error of th e
reference measurin g system is assum ed to be neg lig ible. The mean error of the fron t ti mes is:

n
1
ΔT1 =
n
∑ (T
i =1
1 X, i − T1 N, i )

and th e experimen tal standard deviation is:

n 2
1
s (ΔT1 ) =
n −1
∑ (∆T
i =1
1 ,i − ∆T1 )
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 23 –

wh ere ∆ T1 , i is th e ith di fference of the front tim es measured by the systems X an d N .

U su all y n o more than n = 10 independent readi ngs are necessary.

N OTE I n g en eral , th e fron t ti m es are eval u ated from th e sam e record s of N an d X, u sed to eval u ate th e peak
val u es for d eterm i n i n g th e scal e factor (cl au se 4. 4. 7) .

From s ( ∆ T1 ) , th e Type A standard u ncertain ty is calcu lated:

s (∆T1 )
uA = .
n

The com parison is performed at a sui table voltag e level u sin g at l east two fron t ti mes,
inclu din g the m in im u m and maxim u m T1 val ues of the nom inal epoch , for which th e measu ring
system is to be approved. An additional T1 valu e i n the middle of the nominal epoch can be
added. The standard u ncertain ty Type A of the ti m e param eter measu remen t is obtain ed as
th e larg est of the si ng le standard u ncertain ti es determined for the di fferen t T1 val ues. For
each of the di fferen t T1 valu es, the m ean error ∆ T1 , j is calcu lated as described above. Th e
overal l mean of the m ≥ 2 mean errors is:

1 m
ΔT1 m = ∑ ΔT1, j .
m 1 j=

The maximu m di fference between the in di vidual valu es ∆ T1 , j and th eir m ean value ∆ T1 m is
taken to determ ine the Type B u ncertainty u B by:

uB =
1 max m
ΔT1, j − ∆T1m .
3 1 j=

M ore g en eral, the reference m easurin g system N may be ch aracterised in the same man ner
by i ts mean error of the fron t time, den oted by ∆ T1 ref , as stated i n i ts calibration certi ficate for
th e nom inal epoch . The resu ltan t error of the calibrated system X itsel f for fron t time
m easurements is:

∆T1 cal = ∆T1 m + ∆T1 ref .

The expan ded u ncertainty of th e time param eter cal ibrati on , equal to th at of the resu l tant
m ean error, ∆ T1 cal , is determ ined by:

Ucal = k ⋅ ucal = 2 uref

2 + u2 + u2
A B ,

where:
u cal i s the combined standard u ncertain ty of the m ean front ti me error, ∆ T1 cal , of the
calibrated measu ring system ;
k= 2 is the coverage factor for a coverag e probabi li ty of approximately 95 % and
norm al distribu ti on;
u ref i s the com bin ed stan dard u ncertain ty of the mean fron t time error, ∆ T1 ref, of the
reference measu ring system ;
uA is Type A standard u ncertain ty of th e mean fron t ti me error, ∆ T1 m, of th e
cal ibrated measu ring system ;
 – 24 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

uB i s Type B standard u ncertai nty of the mean front ti m e error ∆ T1 m of th e calibrated

m easu ri ng system .
Addi tional con tribu tions to the expan ded u ncertain ty Ucal may be i mportan t in special cases
and sh al l be considered.

4.4.8.3 Uncertainty of time parameter measurement using an approved measuring

system
Esti mation of the expan ded u ncertainty of a ti me parameter measuremen t i s the responsibility
of the u ser. H owever, this esti mation m ay be gi ven for defined rang e of m easu ri ng condition s
in conju nction wi th the cal i bration certificate.

I f th e expan ded u ncertain ty of the ti me parameter calibration is less th an 70 % of the

expan ded u ncertainty specified for time param eter measu rem en t in this standard, it can
g enerall y be assu med th at the uncertain ty of th e approved m easu ring system for ti me
parameter measu remen t UM is equ al to Ucal .

The expanded u ncertain ty of th e tim e parameter measurement UM shall be calcu lated

accordin g to:

N
2 +
UM = k ⋅ u M = 2 u cal ∑ uB2i ,
i =1

wh ere:
u cal i s the combined standard u ncertain ty of the m ean front ti me error, ∆ T1 cal , of the
calibrated measu ring system ;
k= 2 is the coverage factor for a coverag e probabi li ty of approximately 95 % and
n orm al distribu tion ;
uB i i s the con tribu tion to the combin ed standard u ncertain ty of th e time parameter of
an im pu lse u sin g the approved measu ri ng system and cau sed by th e ith i n flu ence
qu antity and evaluated as a Type B con tribu tion . These con tribu tions are related
to normal u se of th e approved measuring system, and arise for example from
lon g-term instabi l iti es, software in flu ence, etc. , bu t also from th e i n flu ence of
having n on-perfect impu lse sh apes. Th ey are determi ned accordin g to 4. 4. 2 to
4. 4. 6, based ei th er on additional m easu remen ts or estim ated from other data
sou rces. I n some si tu ations further influ ences shal l also be taken into accou nt, e. g .
resolu tion of i nstru men t displays;
uM is the combin ed standard u ncertai nty of th e ti me parameter of an impu lse vol tag e
m easured wi th the approved measu ring system, valid for an projected peri od of
use.
Additional con tribu tions to the expan ded uncertain ty may be important i n special cases and
sh al l be considered when calcu lating UM , e. g . wh en the i mpu lse voltag e is su perimposed by
fron t oscillati ons.

Wh en the approved m easuring system is u sed to measu re impu lse voltag es wi thou t
osci ll ations, the measu red tim e param eter T1 m eas can be corrected by the resu l tant error ∆ T1 cal
of the relevan t tim e param eter determ ined in the cal ibrati on :

T1corr = T1meas − ΔT1 cal .

The same procedu res can be appli ed to other ti me parameters.

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 25 –

5 Tests with direct voltage

5.1 General
I n the area of low voltag e equ ipmen t, dielectric tests wi th direct vol tage cannot be covered by
tests wi th alternatin g voltag e where th e peak valu e equ als the direct test vol tag e. This is du e
to di fferen t effects of parti al discharge, leakag e currents and stress du rati on on th e i nsu lation .

5.2 Test voltage

5.2.1 Requirements for the test voltage
5.2.1 .1 Voltage shape
The test vol tag e, as applied to th e test object, shall be a direct voltag e with n ot more th an 3 %
ripple factor, u nless oth erwise speci fied by th e relevant technical comm i ttee.

Th e veri fi cati on of th e ri ppl e factor sh al l be d on e u n der worst l oad con di ti on s. I n cases

where th e rippl e shape is nearly sinusoidal, tru e r. m. s. valu es mu l tipl ied by √ 2 are acceptable
for determ ination of th e ripple am pl i tude.

I t i s importan t to main tain the d. c. voltag e wi th ou t sig ni fican t i ncrease in ri pple and to keep a
constan t arith metic mean val ue of the vol tage u p to the trippin g cu rren t.

5.2.1 .2 Tolerance
I f not otherwise speci fied by the relevan t tech nical comm i ttee, a tolerance of ± 3 % is
acceptable between the speci fied and the m easu red test voltag e valu es th rou g hou t the test.

5.2.2 Generation of the test voltage

The test voltag e is g eneral ly obtai ned by means of rectifiers or by con trolled electron ic
circu i ts. Th e requ i rem en ts to be m et by th e test vol tage source depend considerabl y upon the
type of apparatus which is to be tested an d on th e test conditi ons. Th ese requ iremen ts are
determi ned m ain l y by the val ue and natu re of the test current to be su pplied.

The sou rce ch aracteristics shoul d be such as to permi t chargi ng of the capaci tance of the test
object in a reason abl y sh ort time. The source, inclu di ng i ts storag e capaci tance, shoul d also
be adequ ate to su ppl y the leakag e, absorpti on and partial discharg e curren ts in order to
main tain the test voltag e wi th in th e tolerance of ± 3 %.

5.2.3 Measurement of the test voltage

5.2.3.1 Requirements for an approved measuring system
5.2.3.1 .1 General
The g eneral requ i rem en t is to m easu re th e test vol tage value (arithmetic m ean val ue) with an
expan ded u ncertain ty UM ≤ 3 %.

The u ncertainty lim its shall not be exceeded i n the presence of ripple, th e m ag nitude of which
i s wi th in th e l i mi ts specified i n 5. 2. 1 . 1 , for a pu rely resisti ve load at the m aximu m cu rren t and
at the min imu m test voltag e speci fied.

N OTE Atten ti on i s d rawn to th e possi bl e presen ce of al tern ati n g vol tag es cou pl ed to th e m easu ri n g system an d
affecti n g th e read i n g of th e m easu ri n g i n stru m en t.
 – 26 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

5.2.3.1 .2 Uncertainty contributions

For a direct voltag e measu ring system , the expan ded u ncertain ty of m easu rem en t UM shall be
eval uated wi th a coverag e probabil ity of 95 %, according to 4. 4. 7 and – if necessary –
An nex A and An nex B. Tests for assessin g contri bu tions to u ncertain ty wh ich are usu al l y
consi dered are su m marized in Table 1 . Other con tribu tions can be im portan t in some cases
and sh all also be consi dered.

5.2.3.1 .3 Dynamic behaviour for measuring voltage changes

The time constan t of the h ig h -voltag e m easu ri ng system shall n ot be greater than 0, 25 s for
th e m easurem ent of direct voltag es th at rise or fall with rates in th e order of 1 % of th e test
voltag e valu e per second.

N OTE I n g en eral , th e i n stru m en ts u sed for th e m easu rem en t of th e test vol tag e val u e (i . e. th e ari th m eti c m ean ) ,
are n ot affected by th e ri ppl e presen t. H owever, i f i n stru m en ts wi th fast respon se are u sed , i t m ay becom e
n ecessary to en su re th at th e m easu rem en t i s n ot adversel y affected by th e ri ppl e.

5.2.3.2 Tests on an approved measuring system

The tests according to 4. 4, su mm ari zed i n Table 1 , are necessary for th e qu ali ficati on of a
direct vol tage measuring system as wel l as for the estimation of the expanded u ncertain ty of
measuremen t.

The resu l ts of the type an d rou ti ne tests can be taken from manu factu rer's data. Rou tine tests
sh all be performed on each componen t.

Table 1 – Tests required for an approved direct voltage measuring system

Type of test Type test Routi ne test Performance test
I n fl u en ce of l oad 4. 4. 2
Dyn am i c beh avi ou r 4. 4. 3
Scal e factor at cal i brati on 4. 4. 1 4. 4. 1
Sh ort-term stabi l i ty 4. 4. 4
Lon g -term stabi l i ty 4. 4. 5 4. 4. 5
(i f appl i cabl e)
Am bi en t tem peratu re effect 4. 4. 6

5.3 Test procedures

5.3.1 Withstand voltage tests
The vol tag e shal l be appl ied to the test object startin g at a valu e su fficien tly low to preven t
an y effect of overvol tage du e to swi tch ing transi en ts. I t sh ou ld be raised su ffici ently slow to
perm it reading of the measuri ng instru m en ts, bu t not so slowly as to cause u nn ecessary
prolon g ation of stress to th e test object n ear th e test voltag e.

These requ iremen ts are, i n gen eral , met i f the rate of rise is abou t 5 % of the esti mated fin al
vol tage per second when the applied vol tage is above 75 % of th is vol tag e. I t shal l be
maintain ed for the specifi ed tim e and then redu ced by disch arg in g the sm oothing capaci tor
and th e test object throu g h a su i table resistor.

The test du ration at th e specified test vol tag e sh all be 60 s i f not specifi ed by th e rel evant
techn ical com m ittee.

The test du ration shoul d take in to consideration th at the tim e to reach the steady state voltag e
distribu tion depends on th e resistances and capacitances of th e test object components.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 27 –

The pol ari ty of th e vol tage or the order in wh ich vol tag es of each polarity are applied, and an y
requ ired devi ation from th e above specifications, sh ou ld be speci fied by th e relevan t technical
comm ittee.

U nless oth erwise speci fi ed by the relevan t techn ical committee, th e tripping cu rren t of the
g enerator shal l be adju sted to 1 0 m A for type tests of test objects.

For rou ti ne testin g , the tri pping cu rren t may be adjusted to lower l evels.

6 Tests with alternating voltage

6.1 Test voltage
6.1 .1 Requirements for the test voltage
6.1 .1 .1 Voltage waveshape
The al tern ating test vol tage, as appli ed to th e test object, shoul d g enerally h ave a frequ ency
in th e rang e 45 H z to 65 H z, normall y referred to as power-frequ ency test vol tage. Speci al
tests m ay be requ ired at frequencies considerably below or above this rang e, as specified by
a techn ical comm i ttee.

The vol tage wavesh ape shall be su bstan tiall y si nusoidal. Th e ratio between the peak valu e
an d th e r. m. s. val u e is √2 ± 3 %. The total harmonic distortion (TH D) of the test vol tage sh al l
be l ess than 5 % u nder fu ll l oad conditions.

The test vol tag e is the r. m . s. val ue.

N OTE I n th e area of l ow-vol tag e eq u i pm en t th e r. m . s. val u e i s u sed to speci fy th e test vol tag e, al th ou g h th e
i m portan t factor for breakd own i s th e peak val u e.

6.1 .1 .2 Tolerance
I f not oth erwise speci fied by th e rel evan t tech nical comm i ttee, a tolerance of ± 3 % is
acceptabl e between the speci fied and the measured test vol tag e valu es throu g hou t the test.

6.1 .2 Generation of the test voltage

6.1 .2.1 Requirements for the test circuit
One of the fol lowin g alternati ves sh all be used.

Alternative A:
At th e test vol tage, the prospecti ve short-circu it cu rren t at th e test object and th e tri pping
cu rren t of the g en erator sh all be in accordance wi th Table 2.

Table 2 – Minimum currents of the test circuit

Minimum currents
Testvoltage mA
V
prospective short-circuit current tripping current
≤ 4 000 200 1 00
> 4 000 an d ≤ 1 0 000 80 40
> 1 0 000 40 20

N OTE Th e val u es are i d en ti cal as i n I EC 60335.

 – 28 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

I f h ig h capaci ty l oadin g li m its the a. c. test voltag e, i t may be necessary to perform a d. c. test
as an al ternative where the direct test vol tag e equ als the peak val ue of th e al ternati ng voltag e.
The relevan t techn ical com m ittee shou ld speci fy wh en testing wi th direct voltag e is acceptable.

Alternative B:
I f the test voltag e is obtain ed by means of con trol led electron ic circu i ts, th e requ irem en t is to
su pply the leakag e, absorption and partial discharg e cu rren ts withou t voltage drops exceeding
3 % at the maximu m tri ppin g cu rren t accordin g to Table 2.

6.1 .3 Measurement of the test voltage

6.1 .3.1 Requirements for an approved measuring system
6.1 .3.1 .1 General
The g en eral requ irement i s to measu re th e test vol tage val u e (peak/√ 2 or r. m . s. valu e) at its
rated frequ ency wi th an expan ded u ncertain ty UM ≤ 3 %.

6.1 .3.1 .2 Uncertainty contributions

For an al ternati ng voltag e measu ring system the expan ded u ncertain ty UM sh al l be evalu ated
wi th a coverag e probability of 95 % accordin g to 4. 4. 7. Tests for assessing con tribu tions to
u ncertai n ty wh ich are usu all y considered are su mm arized in Table 3. Other con tribu ti ons can
be important i n some cases and shall also be consi dered.

6.1 .3.1 .3 Dynamic behaviour

The ampli tu de-frequ ency response of a measurin g system , in tended for operation at one
sing le fu ndam en tal frequency fnom, sh al l be with in th e marked area of Fig ure 4, derived from
the u ncertain ty requiremen ts. N umber pai rs i n th e diagram show the n orm al ised frequ ency
(logari th mic scale) an d the correspondin g devi ation at th e corn er poin ts of the lim it l in es.
Perform ance sh al l be proven from fnom to 7 fnom by tests or ci rcu i t analysis. Th e am plitude-
frequ ency response ou tside th is rang e is g i ven for in form ati on only.

A measu rin g system can also be approved for a rang e of fu ndamen tal frequ encies (e. g . 45 H z
to 65 H z) . I n th is case, th e scale factor shall be constan t wi th in 1 % from th e lowest
fu ndamental frequency fnom1 u p to the h ig hest fu ndamen tal frequ ency fnom2 . Th e ampl itude-
frequ ency response inside th e interval fnom1 to 7 fnom2 , sh al l be with in th e marked area of
Fi gu re 5. N um ber pairs in the diag ram show th e n orm al ised frequ ency and the corresponding
perm itted devi ation from th e ideal response at th e corner poi nts of the li m it l in es. Performance
sh all be proven from fnom1 to 7 fnom2 by tests or circu i t an al ysis. Th e am pli tu de-frequency
response ou tside this ran g e is g i ven for in form ation on ly.

Special requ iremen ts on dyn am ic behaviou r m ay be specified by the relevan t techn ical
comm i ttee.

N OTE 1 M easu ri n g system s com pl yi n g wi th th ese req u i rem en ts are con si d ered to h ave a freq u en cy respon se
su i tabl e for m easu rem en t of th e total h arm on i c di storti on (TH D) on th e test vol tag e.

N OTE 2 Th e freq u en cy respon se ou tsi d e th e m arked area, al th ou g h n ot req u i red, d oes represen t g ood practi ce.
 I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 29 –

0,2 fnom ; +1 5 % 7 fnom ; +1 5 %

fnom ; ±0%
Amplitude-frequency response G( f ) (dB)

0,2 fnom ; –1 5 % 7 fnom ; –1 5 %

f/ fnom
IEC

F i g u re 4 – S h a d e d a re a f o r a c c e p t a b l e n o rm a l i s e d a m p l i t u d e - fre q u e n c y
r e s p o n s e s o f m e a s u ri n g s ys t e m s i n t e n d e d fo r s i n g l e fu n d a m e n t a l fr e q u e n c i e s fnom
(to b e tested i n th e ran g e (1 … . 7) fnom )

fn om 1 ; +1 % 7 fnom2 ; +1 5 %
Am pl i tu d e-frequ en cy respon se G ( f ) (d B)

fn om 2 ; +1 %

fn om 2 ; –1 %

fn om 1 ; –1 % 7 fn om 2 ; –1 5 %

f / fn o m 1 fn om 1 fn om 2 f / fn om 2
IEC

F i g u re 5 – S h a d e d a re a f o r a c c e p t a b l e n o rm a l i s e d a m p l i t u d e - f re q u e n c y

r e s p o n s e s o f m e a s u ri n g s ys t e m s i n t e n d e d fo r a ra n g e o f f u n d a m e n t a l f re q u e n c i e s fnom 1
to fnom2 (to b e tested i n t h e ran g e fnom 1 to 7 fnom2 )
 – 30 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

6.1 .3.2 Dynamic behaviour test

To determine the dynami c behaviour, th e system i s su bjected to a sinu soidal i npu t of known
ampl itu de, usu all y at low level , an d th e ou tpu t is m easu red. Th is m easu rem en t is repeated for
th e ran g e of frequ enci es between 1 and 7 times the test frequ ency. The resu lt sh al l be in
accordance wi th 6. 1 . 3. 1 .

6.1 .3.3 Tests on an approved measuring system

The tests according to 4. 4, su mmarized in Table 3, are necessary for the qualification of an
alternating vol tage measu ring system , as well as for the estim ation of the expanded
u ncertai nty of measu remen t.

The resu l ts of the type an d rou ti ne tests can be taken from manu factu rer's data. Rou tine tests
sh all be performed on each u n it.

Table 3 – Tests required for an approved alternating voltage measuring system

Type of test Type test Routine test Performance test
Scal e factor at th e 4. 4. 1 4. 4. 1
cal i brati on
I n fl u en ce of l oad 4. 4. 2
Dyn am i c beh avi ou r 4. 4. 3/6. 1 . 3. 2
Sh ort-term stabi l i ty 4. 4. 4
Lon g -term stabi l i ty 4. 4. 5 4. 4. 5
(i f appl i cabl e)
Am bi en t tem peratu re effect 4. 4. 6

6.2 Test procedures

6.2.1 Withstand voltage tests
The a. c. test vol tag e shal l be raised u n iform l y from 0 V to th e test voltag e valu e wi th in not
more than 5 s.

I f n ot speci fied by the relevan t techn ical committee the test du ration at th e specified test
vol tage shall be 60 s and sh al l be in dependent of th e frequ ency in th e rang e from 45 H z to
65 H z.

For rou ti ne testin g , the tri pping cu rren t may be adjusted to lower l evels.

U nless oth erwise specified by the rel evan t technical comm i ttee, th e requi remen ts of the test
are satisfied i f no trippi ng of the test equ ipmen t occu rs.

I t is recommended that for safety reasons the cu rren t sh ou ld be redu ced to 3 m A.

7 Tests with impulse voltage

7.1 Test voltage
7.1 .1 General
For an impu lse measurin g system, the perform ance tests also show that its dynamic
performance is adequ ate for the speci fied m easu remen ts and that the level of an y
in terference is l ess than th e specified li m its.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 31 –

7.1 .2 Requirements for the test voltage

7.1 .2.1 Standard impulse voltage
The standard im pu lse vol tage is a sm ooth ful l im pu lse voltag e havin g a fron t ti me of 1 , 2 s
µ

and a time to hal f-valu e of 50 s and described as a 1 , 2/50 im pu lse, Fig u re 6. Other i mpu lse
µ

sh apes may be specified by th e relevan t techn ical comm i ttee. For oth er impu lse shapes, th e
relevan t tech nical commi ttee shal l defin e th e valu e of the test voltage, taking i nto accoun t the
type of test and test object.

U
1 ,0
B
0,9

0,5

0,3 A

0
1 ,2 sec
µ
t
T ′
T1 = T / 0,6
T1
50 sec
µ T = 0,3 T1 = 0,5 T
′

O O1
IEC

Figure 6 – 1 ,2/50 µs standard impulse voltage

7.1 .2.2 Tolerances on standard impulse
I f not oth erwise decided by th e relevan t tech nical comm i ttee, the foll owing differences are
accepted between specifi ed val ues for the standard im pu lse and th ose calcu lated from the
im pu lse waveform :
Peak value ± 3%
Fron t tim e ± 30 %
Ti me to hal f-valu e ± 20 %
I n com monly u sed impu lse g enerator ci rcu its, osci ll ations on that part of the impu lse-fron t
du ring wh ich th e vol tage does n ot exceed 90 % of the peak val ue have gen erally n eg lig i bl e
in fluence on test resu lts. The im pu lse shou ld be essentiall y u n idirecti onal.

I n speci fic cases, su ch as du rin g tests on low impedance objects, e. g . larg e capacitors, it m ay
be i mpossible to adjust th e shape of th e i mpu lse wi th in the tolerances recomm ended, to keep
th e oscil lations withi n the specified li mits, or to avoid a polari ty reversal. Such cases sh ou ld
be dealt wi th by the relevan t techn ical com mittee an d shou ld take in to accoun t the provisions
of I EC 60060-1 .

7.1 .3 Generation of the test voltage

The i mpu lse i s usu all y produ ced by an impu lse g enerator consistin g essentiall y of a nu mber
of capacitors th at are ch arg ed i n parall el from a direct vol tage source, then swi tch ed into
seri es and di scharged i nto an im pu lse-form i ng circu i t th at i nclu des th e test object.
 – 32 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

7. 1 . 4 M ea s u re m en t o f t h e t es t vo l t a g e a n d d ete rm i n a t i o n o f i m p u l s e s h a p e

The m easu remen t of the test voltag e valu e and the tim e parameters of the test voltag e shall
be made wi th approved measuri ng systems. Th e measu rem en t shal l be m ade wi th th e test
object in the circu it and, i n gen eral , the impu lse sh ape shall be checked for each test object.
Wh ere a nu m ber of test objects of the same desi g n an d size are tested under iden tical
conditi ons, th e shape needs onl y to be verified once. Where h ig h capacitive loading does not
al low th e im pu lse waveshape to be obtained wi th in the specified tol erances, it m ay be
necessary to adapt the test setu p or the devices.

N OTE For d i sru pti ve d i sch arg e see I EC 60060-1 : 201 0, Cl au se 7.

The measu remen t may be made with the impulse gen erator n ot connected to the test object
when the impedance of th e test object has a neg li gi ble effect on the amplitude an d waveform
of the test voltag e. Th is sh all be verifi ed prior to usin g th is measu remen t techn iqu e.

Determ in ation of th e im pu lse shape by calcul ation from the test circu it param eters is not
considered to be satisfactory.

More than on e impulse m ay be necessary to establ ish consisten t operation .

7. 2 Test pro c ed u re s

7. 2. 1 V e r i f i c a t i o n o f i m p u l s e vo l t a g e w a ve s h a p e

The waveshape of the im pu lse vol tage applied to the test object(s) shal l be veri fied u sing
peak val u es n ot less than 50 % of the test vol tag e level. I n the case of iden tical test objects,
th is verification on ly n eeds to be performed once at the beg inn ing of th e series.

7. 2. 2 I m p u l s e vo l t a g e t es t s

Fi ve im pu lses of th e speci fied shape an d of each polari ty shal l be appl ied at the im pu lse
vol tag e level. Th e requ iremen ts of the test are sati sfi ed i f no indicati on of disru pti ve discharg e
or partial breakdown is obtained.

N OTE 1 N on -su stai n ed di sru pti ve d i sch arg e i n wh i ch th e test obj ect i s m om en tari l y bri d g ed by a spark or arc m ay
occu r. Du ri n g th ese even ts th e vol tag e across th e test obj ect i s m om en tari l y red u ced to zero or to a very sm al l
val u e. Depen d i n g on th e ch aracteri sti cs of th e test ci rcu i t an d th e test obj ect, a recovery of di el ectri c stren g th m ay
occu r an d m ay even al l ow th e test vol tag e to reach a h i g h er val u e. Su ch an even t i s i n terpreted as a d i sru pti ve
d i sch arg e u n l ess oth erwi se speci fi ed by th e rel evan t Tech n i cal Com m i ttee.

N OTE 2 A d i sru pti ve di sch arg e i n a sol i d di el ectri c prod u ces perm an en t l oss of d i el ectri c stren g th ; i n a l i q u i d or
g aseou s d i el ectri c th e l oss m ay be on l y tem porary.

The relevan t techn ical comm ittee shall specify th e criteria for iden ti fication and evalu ati on of
partial breakdown , wh ere applicable.

7. 3 M e a s u re m e n t o f t h e t e s t vo l t a g e

7. 3. 1 R e q u i re m e n t s fo r a n a p p ro ve d m easu ri n g s ys t e m

The g en eral requ irements are:

to measu re th e test vol tag e valu e wi th an expanded uncertainty UM 1 ≤ 3 %;
to m easu re th e tim e parameters which defi ne the waveform wi th an expanded uncertain ty
UM 3 ≤ 1 0 %.
N OTE N o recom m en d ati on s are g i ven for th e m easu rem en t of vol tag e col l apse si n ce n o I EC apparatu s com m i ttee
h as yet speci fi ed a requ i rem en t.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 33 –

7. 3. 2 U n c e rta i n t y c o n t ri b u t i o n s

For a l ig h tnin g im pu lse voltag e measu ring system , the expan ded u ncertain ty of measu rem en t
UM shall be evalu ated with a coverag e probabil i ty of 95 %. Tests for assessin g con tri bu tions
to uncertainty wh ich are usu all y considered are su mm arized i n Table 4. Other con tri bu tions
can be i mportan t in some cases and sh all also be considered.

7. 3. 3 D yn a m i c b e h a v i o u r

The dynamic behaviou r of a measu ring system is adequ ate for the measuremen t of peak
vol tag e an d tim e parameters over the n om inal epoch for waveforms speci fied in the record of
performance wh en the expan ded u ncertain ty of th e time parameters m easurement is not
g reater than 1 0 %.

Ta b l e 4 – Te s t s re q u i re d fo r a n a p p ro ve d i m p u l s e vo l t a g e m e a s u ri n g s ys t e m

T yp e o f t e s t T yp e t e s t Rou ti n e test P e rfo rm an ce te s t

Scal e factor at th e cal i brati on 4. 4. 1 4. 4. 1

Ti m e param eter 4. 4. 8 4. 4. 8
I n fl u en ce of l oad 4. 4. 2
Dyn am i c beh avi ou r 4. 4. 3
Sh ort-term stabi l i ty 4. 4. 4
Lon g -term stabi l i ty 4. 4. 5 4. 4. 5
(i f appl i cabl e)
Am bi en t tem peratu re effect 4. 4. 6

7. 3. 4 R e q u i re m en t s fo r m e as u ri n g i n st ru m en t

The measurin g i nstru ment shall comply wi th I EC 61 083-1 and I EC 61 083-2.

8 R e fe re n c e m e a s u re m e n t s ys t e m s

8. 1 R e q u i rem en ts fo r refe re n c e m eas u ri n g s ys t e m s

8. 1 . 1 D i re c t vo l t a g e

The reference m easuring system shal l enable direct vol tage m easurement wi th an expanded
u ncertai n ty U ≤ 1 % over i ts ran g e of u se. Th e u ncertain ty shal l not be in fluenced by a ripple
M

factor up to 3 %.

8. 1 .2 Al t ern at i n g vo l t a g e

The reference measu rin g system sh all enable altern ati ng vol tag e m easu remen t wi th an
expanded uncertainty U ≤ 1 % over its rang e of use.
M

8. 1 .3 I m p u l s e vo l t a g e s

According to I EC 60060-2 the requ irements for an I mpu lse voltag e reference measu rin g
system are ≤ 1 % for the peak val u e an d ≤ 5 % for the tim e parameters.

8. 2 C al i b rat i o n o f a refere n c e m eas u ri n g s ys t e m

8. 2. 1 G en era l

The compliance of a reference measu ring system with the relevan t requ i remen ts g iven i n 8. 1
of this standard sh al l be sh own by the reference m eth od.
 – 34 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

8. 2. 2 R eferen ce m et h o d : c o m p a ra t i ve m e a su re m en t

The satisfactory performance of a reference m easu ring system shal l be sh own by calibration
ag ainst anoth er su i tabl e reference m easu ri ng system , wh ich itsel f is traceable to national or
in ternational standards of m easu remen t.

The satisfactory performance of an im pu lse reference m easu ri ng system shall be sh own by

cal ibrati on by comparison measu remen ts at the relevan t test vol tag e wi th waveforms of two or
more di fferen t front tim es covering th e range of th e nom inal epoch .

8. 3 I n t e rva l b e t w e e n s u c c e s s i ve c a l i b ra t i o n s o f re fe re n c e m e a s u ri n g s ys t e m s

The interval between calibrations shal l be determined accordi ng to nation al reg u lati ons. I f
th ere is no regu lation i t is recom mended that the cali brations shal l be repeated at l east once
every year.

8. 4 U s e o f refere n c e m eas u ri n g s ys t e m s

I t is recomm en ded that reference m easu ri ng systems shou ld be u sed onl y for com parative
measurements i n perform ance tests. H owever, a reference measurin g system may be u sed as
an approved m easu ring system provided i t is main tai ned in accordance wi th the requ iremen ts
of th is standard, and su ch use is shown n ot to affect its performance as a reference system.
An approved measuri ng system m ay n ot be used as a reference measu ring system.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 35 –

Annex A
(informative)

Uncertainty of measurement
A.1 General
Su bcl au se 4. 4 describes a simpl i fied procedure to evalu ate th e u ncertai nty of measu remen t
u nder condi tions usu all y applicable an d fu l ly su fficien t i n hi g h-voltag e measurement. I n some
cases it may, however, be n ecessary or desirable to evalu ate u ncertain ti es i n a more complex
man ner. Ann ex A g i ves a su rvey on h ow to proceed in these cases, an d An nex B describes an
application example.

Each measu rem en t of a quan ti ty is to some deg ree im perfect, an d the resu l t of a
measuremen t is only an approxi mation (“esti mate”) of the “tru e” valu e of th e measu rand. The
u ncertai nty of m easurem en t makes a clear statement on th e qu ality of a m easu remen t. I t
enables the user to compare an d weig h t the m easu remen t resu lts, e. g . obtained from di fferent
laboratori es, an d it provides informati on as to whether or not a m easurem ent resul t is wi th in
th e l imits speci fied by a standard. A Gu ide to the expression of U ncertainty i n M easu rement
(GU M) was first pu blished i n 1 993 by the I n ternati on al Org an ization for Standardization (I SO)
and has been re-issu ed in 2008, wi th m inor m odi fications as th e I SO/I EC Gu ide 98-3:2008. I t
is now the internationally accepted docu m en t for th e estimation of m easu remen t un certai nty.

The GU M as a gu ide provides g eneral ru les for evalu atin g and expressing u ncertai n ty in a
broad spectru m of measu rem en ts at variou s levels of uncertain ty. I t is th erefore necessary to
extract from the GU M a set of specific ru les that deals with th e speci fic fi eld of hi gh -voltag e
measuremen t and i ts level of accuracy and com plexi ty. Corresponding to th e basic principles
of th e GU M, u ncertain ties are g rou ped i nto two categories accordi ng to their methods of
evalu ation . Both methods are based on probabil i ty distribu ti ons of th e quan ti ties infl u enci ng
th e m easu remen t an d on standard u ncertain ties qu an tifi ed by vari ances or standard
deviati ons. Th is allows a u n iform treatment of both categ ories of u ncertain ti es and an
evalu ation of a combined stan dard u ncertai n ty of the measu ran d. Within the scope of this
standard, an expan ded u ncertain ty corresponding to a coverage probabili ty of approxi matel y
95 % is requi red.

The basic principles of th e GU M and exampl es of how to determ ine u ncertai n ties in h ig h
vol tage measu rem en ts are presen ted in the followin g cl auses. The form u lae and exam ples
g i ven herei n are vali d for u ncorrel ated in pu t qu anti ti es, wh ich i s often the case i n hi gh-vol tage
measuremen ts.

A.2 Terms and definitions in addition to 3.7

A.2.1
measurable quantity
attribu te of a phenomen on , body or su bstance th at may be disting u ish ed qualitativel y and
determi ned quan ti tati vely
A.2.2
value of a quantity
mag nitude of a particu lar qu antity g en eral ly expressed as u n it of measurem en t mu l tipli ed by a
nu m ber
A.2.3
measurand
speci fic quan ti ty su bjected to m easu remen t
 – 36 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

A.2.4
variance
expectation of the squ are of the deviation of a ran dom variable abou t its expectation
A.2.5
correlation
relati onsh ip between two or several random variables wi thin a distribu ti on of two or more
random variabl es
A.2.6
coverage probability
fraction , u sual ly larg e, of the distribu tion of valu es that as a resu l t of a m easu remen t cou ld
reasonabl y be attributed to the m easu ran d

A.3 Model function

Each measurement can be descri bed by a fu nctional relationship f:

Y = f ( X1 , X 2 , . . ., X i , . . ., X N ) (A. 1 )

where Y is th e m easu rand an d Xi are the di fferen t in pu t qu antities n um bered from 1 to N. I n

th e meani ng of th e GU M th e model fu nction f com prises all m easu remen t valu es, infl u encing
quan ti ties, corrections, correction factors, physical constants, and an y other data th at can
contribu te a sign i fican t amou n t to the valu e of Y an d its u ncertainty. I t m ay exist as a sin gl e or
m an i fold anal ytical or nu merical expression , or a combination of both . I n g eneral th e inpu t
quan ti ties Xi are random variabl es and described by observations xi (”i npu t esti mates”) h aving
specific probabi li ty distribu tions and bein g associated with standard u ncertain ties u ( xi) of Type
A or Type B. Th e com bin ati on of both types of u ncertain ty according to th e ru les of th e GU M
yields th e standard u ncertai nty u ( y ) of th e ou tpu t esti mate y .

N OTE 1 Th e m od el fu n cti on f i n (A. 1 ) i s al so val i d for th e i n pu t an d ou tpu t esti m ates x i an d y , respecti vel y.

N OTE 2 I n a seri es of observati on s, th e k’ th observed val u e of th e q u an ti ty Xi i s d en oted xik.

A.4 Type A evaluation of standard uncertainty

The eval uation method of Type A is appl ied to qu antities that vary randoml y and for wh ich n
independen t observations have been obtai ned u nder the same condi ti ons of m easu rem en t. I n
g eneral, a normal (Gau ssian ) probabil ity distribu tion of the n observations xik can be assu m ed
(Fi gu re A. 1 ) .

N OTE Xi m i g h t be a scal e factor, a test vol tag e val u e or a ti m e param eter wi th th e observati on s x ik.

The ari thmeti c m ean valu e xi of the observations xik is defin ed by:

n
1
xi =
n
∑x
k =1
ik , (A. 2)

wh ich is considered to be the best estim ate of Xi. I ts Type A standard u ncertain ty is equal to
th e experimen tal standard deviation of the m ean :

s ( xi )
u ( xi ) = s ( xi ) = (A. 3)
n
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 37 –

wh ere s ( x) is the experimen tal stan dard deviation (of the indi vidual values) :

n
1
s ( xi ) = ∑ ( xi k − xi )
2
. (A. 4)
n −1 k =1

The quadrati c valu es of s 2 ( xi) and s 2 ( xi ) are cal led sample variances an d vari ances of the
mean , respectively. Th e nu m ber of observations sh ou ld be n ≥ 1 0, otherwi se th e reliability of
a Type A evalu ation of standard u ncertain ty has to be checked by means of the effecti ve
deg rees of freedom (see Clau se A. 8) .

I n some cases a pooled estimate of variance sp2 may be available from a larg e nu mber of
previou s observations u nder well-defined conditions. Th en the standard uncertain ty of a
comparable measu remen t wi th a sm all nu mber n ( n = 1 , 2, 3, … ) is better esti m ated by
u ( xi ) = s p / n th an by form u la (A. 3) .

A.5 Type B evaluation of standard uncertainty

The eval u ation method of Type B appl ies to al l cases other th an the stati stical anal ysis of a
seri es of observations. The standard u ncertain ty of Type B is eval u ated by sci en tific ju dgm ent
based on all avai labl e in form ation on the possible variabil ity of an in pu t qu an ti ty Xi with
observations xi , such as th e:
• m eth od of evalu ati ng the qu an ti ties,
• u ncertai n ty of cal ibration of the measu ri ng system an d i ts componen ts,
• n on-linearity of di viders and measu rin g i nstru men ts,
• dynamic behavior, e. g . scale factor vari ation wi th frequ ency or impu lse shape,
• sh ort-term stabi l ity, self-h eating ,
• l on g -term stabil i ty, dri ft,
• ambien t conditions du ring measu remen t,
• proxim ity effect of nearby objects,
• effects cau sed by software used i n instru men ts or in evalu ation of resu l ts,
• l im i ted resolu tion of dig i tal instruments, readin g of analog u e instrum ents.
I n form ati on on th e inpu t quan ti ties an d u ncertai nties can be obtained from actu al and previ ous
measuremen ts, cal ibrati on certificates, data in h andbooks and stan dards, m anu facturer’s
specifications or kn owledge of th e ch aracteristics of relevan t materials or instru men ts. The
following cases of a Type B evalu ation of u ncertain ties can be identified:
a) Often on l y a sin g le in pu t val ue x i and its standard u ncertain ty u ( xi) is known , e. g . a sing le
m easu red valu e, a correction val u e or a reference val ue from li teratu re. This valu e and i ts
u ncertai n ty will be adopted i n the model fu nction (A. 1 ) . I n case u ( xi) is u nknown, it h as to
be calcu lated from oth er relevan t u ncertai nty data or be estimated on th e basis of
experience.
b) The u ncertain ty of a device is qu oted as a standard u ncertai n ty mu l tipl ied by th e coverage
factor k, e. g. the expanded standard u ncertain ty U of a dig ital vol tmeter in a calibration
certificate (Clau s A. 7) . When the vol tmeter is u sed in a complex measuring system it
con tribu tes to uncertain ty by:

U
u(x i ) = (A. 5)
k
 – 38 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

where k is th e coverag e factor. I nstead of expressing the expanded u ncertainty and

coverage factor, one may find a statem en t on the con fidence level, e. g . 68, 3 %, 95, 45 %
or 99, 7 %. I n g en eral, a n ormal distribu ti on according to Fig ure A. 1 can be assu med an d
th e statemen t on th e con fidence level is equ i valen t to the coverag e factor k = 1 , 2 or 3,
respecti vel y.
c) The val ue xi of an i npu t quan ti ty Xi i s estim ated to li e with in the in terval a - to a + wi th a
certain probabi li ty distribu ti on p ( xi) . Often there i s no specific knowledg e of p ( xi) and a
rectan gu lar distribu ti on of the probable values is then assu med (Figu re A. 2) . Then the
expected valu e of Xi is the m idpoi nt xi of the in terval :

xi =
(a − + a + ) (A. 6)
2
and the associated standard uncertai nty:

a
u ( xi ) = (A. 7)
3

where a = ( a + – a - ) /2.
I n som e cases other probabil ity distri bu tions m ay be m ore appropri ate, su ch as trapezoidal,
triang u lar or norm al distri bu tions.

N OTE Th e stan d ard u n certai n ty i s u ( x i ) = a /√6 for th e tri an g u l ar d i stri bu ti on an d u ( x i ) = σ for th e n orm al
d i stri bu ti on . Th i s m ean s th at th e rectan g u l ar d i stri bu ti on yi el d s a l arg er stan d ard u n certai n ty th an th e oth er
d i stri bu ti on s.

The I SO/I EC Gu i de 98-3:2008 states that a Type B u ncertain ty sh ou ld not be double-coun ted
if the particu lar effect h as already con tribu ted to a Type A u ncertain ty. Furth ermore, th e
eval uation of u ncertain ty shou l d be real istic and based on standard uncertainti es, avoidin g the
use of personal or an y other factors of safety to obtai n larg er u ncertainties than those
eval uated according to th e GU M . Often an i npu t qu an ti ty Xi has to be adju sted or corrected to
elim in ate systematic effects of sig n ificant m agn itu de, e. g . on th e basis of a temperatu re or
voltag e dependence. H owever, the u ncertai nty u ( xi) associated wi th this correction sh all still
be taken in to accou n t.

Dou ble-cou nti ng of u ncertai nty con tribu tions may occu r when a di gi tal recorder is used for
repeti ti ve i mpulse measu remen ts, e. g. when cal ibrati ng the scale factor. Th e dispersion of the
n measu remen t valu es produ cin g a Type A standard u ncertain ty may be partiall y caused by a
l i mi ted resolu tion of the recorder and i ts in tern al noise. Th e resolu tion does n ot n eed to be
consi dered ag ain , in fu l l, bu t rath er only in a smal l portion as a residual Type B uncertain ty.
H owever, i f th e di gi tal recorder is then u sed du ring an impu lse vol tage test to obtain a sing le
m easu remen t val ue, th e l im i ted resol u tion has to be considered in a Type B u ncertainty.

The evalu ation of Type B u ncertai n ties requ ires extensive kn owl edg e and experience on the
rel evan t physical relationsh ips, in flu ence qu anti ti es an d measuremen t techn iques. As the
evalu ation itsel f is not an exact science leading to on l y a sing le solu ti on, i t is not u ncomm on
th at experienced test en g ineers m ay ju dge the measuremen t process in a different m anner
and obtain di fferen t Type B uncertain ty valu es.

A.6 Combined standard uncertainty

Each stan dard u ncertain ty u ( xi) of th e estim ate xi of each in pu t quan ti ty Xi evalu ated by
m eth od Type A or Type B con tri bu tes to the standard u ncertai nty of the ou tpu t qu an tity by:

u i ( y ) = ci u ( xi ) (A. 8)
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 39 –

wh ere ci is th e sensitivi ty coeffici ent. I t descri bes how the ou tpu t esti mate y is i n flu enced by
sm all variations of the inpu t estim ate xi. I t can be evaluated di rectly as the partial derivati ve of
th e model fu nction f:

∂f ∂f
ci = X i = xi = , (A. 9)
∂X i ∂x i

or by using equ ivalent nu merical and experimental methods. The sign of c i may be positive or
n eg ati ve. I n cases where i npu t qu an titi es are uncorrelated, the sig n needs n ot be considered
fu rther since onl y the quadratic value of standard u ncertain ties is used in the next steps.

The N standard u ncertain ties u i( y ) defined by formu la (A. 8) contribu te to a com bined standard
u ncertain ty u c ( y ) of the ou tpu t quan ti ty according to the “law of propag ation of u ncertain ty”:

N
u c ( y ) = u12 ( y ) + u 22 ( y ) + ... + u N2 ( y ) = ∑u (y)
2 2
i (A. 1 0)
i =1

from which u c ( y ) is eval uated as the posi ti ve squ are root:

N N
uc ( y ) = ∑ u ( y ) = ∑ [c u( x )]
i =1
i
2

i =1
i i
2
. (A. 1 1 )

I f the ou tpu t qu an ti ty Y is a product or quotient of th e inpu t quanti ties Xi a simi lar relationship
as shown in (A. 1 0) and (A. 1 1 ) can be obtained for th e relati ve uncertainti es u c ( y ) /| y | and
u ( xi) /| xi | . The law of propag ation of uncertain ty thu s appl ies to both types of the model
fu nction for u ncorrelated i npu t qu antities.

I n a case where correl ation exists, li near terms will be present in the law of propag ation of
u ncertai nty, and th e sig n of th e sensi ti vity coefficients becom es relevant. Correlation occu rs
when , for example, the same instru ment is u sed for m easu ring two or more inpu t qu an ti ties.
To avoi d com plicated calcu lation , th e correlation can be removed by adding additional inpu t
qu antities i n the m odel fu nction f wi th appropriate corrections and u ncertainties. I n some
cases, the presence of correlated inpu t qu antities m ay even redu ce the combin ed u ncertain ty.
Taking correl ation in to accou n t is thus m ai n ly essen ti al for soph isticated u ncertai nty an al ysis
to ach ieve a very accu rate estimation of u ncertain ty. Correlati on wi l l not be discu ssed furth er
in this standard.

A.7 Expanded uncertainty

I n the field of hig h-voltage and h ig h-curren t m easu remen ts, as in most oth er i ndu strial
applications, a statemen t of u ncertain ty corresponding to a coverag e probabil i ty of
approxi matel y p = 95 % is requ ired. Th is is ach ieved by m ul ti plyin g th e combin ed standard
u ncertain ty u c ( y ) in (A. 1 1 ) by a coverag e factor k:

U = ku c ( y ) , (A. 1 2)

wh ere U is th e expanded u ncertain ty. Th e coverag e factor k = 2 is u sed i n cases wh ere a

n ormal distribu tion can be attribu ted to y and u c ( y ) has su ffici en t reliabil i ty, i . e. the effective
deg rees of freedom of u c ( y ) is su fficien tl y larg e (see Clause A. 8) . Otherwise a valu e k > 2 h as
to be determi ned to obtain p = 95 %.
 – 40 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

N OTE 1 I n som e ol d er stan d ard s th e term “overal l u n certai n ty” i s u sed . I n th e m aj ori ty of cases th i s term i s
i n terpreted as an expan d ed u n certai n ty U wi th th e coverag e factor bei n g equ al to 2.

N OTE 2 Si n ce u n certai n ti es are d efi n ed as posi ti ve n u m bers, th e si g n of U i s al ways posi ti ve. Of cou rse, i n cases
wh ere U i s u sed i n th e m ean i n g of an u n certai n ty i n terval , i t i s q u oted k as ± U.

A.8 Effective degrees of freedom

The assu mpti on of a n orm al distribu ti on of the expanded uncertain ty is, in g eneral, fu lfil led in
cases where several (i. e. N ≥ 3) u ncertai n ty componen ts of comparabl e val u e and well-
defined probabil ity distribu ti on (Gau ssian , rectang u lar, etc. ) contribu te to the combin ed
standard uncertain ty and wh ere the Type A uncertain ty i s based on n ≥ 1 0 repeated
observati ons. These con di tions are fu l fil led in man y cal ibrations of vol tag e m easu ri ng systems.
Wh en the assu mption of a normal distribu tion i s not ju sti fied, a valu e of k > 2 sh all be
eval uated to obtain a coverag e probabi li ty of approximatel y 95 %. The appropri ate coverag e
factor can be evalu ated on th e basis of th e effecti ve deg rees of freedom ν eff of the standard
u ncertain ty u c ( y ) :

uc4 ( y )
ν eff = , (A. 1 3)
N
ui4 ( y )
∑ νi
i =1

wh ere u i( y ) is g i ven by (A. 8) for i = 1 , 2, … , N and νi is the corresponding deg rees of freedom .
Rel iable valu es of ν i are:
• νi =n–1 for a Type A u ncertai nty based on n in dependen t observations,
• νi ≥ 50 for a Type B uncertain ty taken from a cali bration certi ficate, and wh en the
coverag e probabi li ty is stated to be not less than 95 %,
• νi =∞ for a Type B u ncertain ty assu m in g a rectan gu lar, Fi gu re A. 2, distribu ti on with in
a- and a+
The effecti ve degrees of freedom can th en be calcu lated by formu la (A. 1 3) and th e coverag e
factor be taken from Table A. 1 which is based on a t-distri bu tion evalu ated for a coverage
probabil ity of p = 95, 45 %. I f ν eff is n ot an in teg er in terpolate or tru ncate ν eff to the n ext lower
i n teger.

Table A.1 – Coverage factor k for effective deg rees of freedom ν eff ( p = 95,45 %)
ν eff 1 2 3 4 5 6 7 8 10 20 50 ∞
k 1 3, 97 4, 53 3, 31 2, 87 2, 65 2, 52 2, 43 2, 37 2, 28 2, 1 3 2, 05 2, 00

A.9 Uncertainty budget

The u ncertain ty bu dget of a measu remen t is a detailed analysis of all sou rces and valu es of
u ncertai nty according to the m odel fu nction f. The relevan t data shou ld be kept for inspecti on
in th e form of a table equal or comparabl e to Table A. 2. The last l in e indicates the valu es of
th e measu remen t resu lt y , the com bined uncertain ty u c ( y ) and th e effecti ve deg rees of
freedom νeff.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 41 –

Table A.2 – Schematic of an uncertainty budget

Quantity Value Standard Deg rees of Sensitivity Contribution to
uncertainty freedom coefficient combined
contribution standard
uncertainty
Xi xi u ( xi) νi / ν eff ci u i( y)

X1 x1 u ( x1 ) ν1 c1 u1 ( y)

X2 x2 u ( x2 ) ν2 c2 u2 ( y)

: : : : : :
XN xN u ( xN ) νN cN uN (y )

Y y ν eff uc(y)

N OTE Val i d ated software i s com m erci al l y avai l abl e or m ay be d evel oped by th e u ser from g en eral software th at
en abl es au tom ated cal cu l ati on of th e qu an ti ti es i n Tabl e A. 2 from th e m odel eq u ati on f.

A.1 0 Statement of the measurement result

I n cal ibration and test certificates the m easu rand Y shal l be expressed as y ± U for a coverage
probabili ty (or: level of con fidence) of approximately p = 95 %. The n um erical valu e of the
expan ded u ncertain ty U sh al l be rou nded to g ive not more than two sign i fican t fig u res. I f
rou n di ng down redu ces th e val ue by m ore than 0, 05 U, the rounded-u p valu e shall be u sed.
The nu merical val ue of y shall be roun ded to th e least sig n ifican t figu re that cou ld be affected
by the expan ded u ncertain ty.

EXAM PLE 1 Th e resu l t of a vol tag e m easu rem en t i s stated i n on e of th e fol l owi n g ways:
(227, 2 ± 2, 4) kV,
227, 2 × (1 ± 0, 01 1 ) kV, or
227, 2 × (1 ± 1 , 1 · 1 0 –2 ) kV.

An expl an atory n ote sh ou l d be ad d ed i n form i n g of th e coverag e probabi l i ty p an d th e coverag e factor k.

E XAM PLE 2 Th e fol l owi n g com pl ete word i n g i s recom m en d ed (th e term s i n brackets appl y to th e cases wh ere ν eff
< 50, i . e . k > 2,05 accord i n g to Tabl e A. 1 ) :

“Th e reported expan d ed u n certai n ty of m easu rem en t i s stated as th e u n certai n ty of m easu rem en t m u l ti pl i ed by th e
coverag e factor k = 2 (k = XX) , wh i ch for a n orm al d i stri bu ti on (t-d i stri bu ti on wi th ν eff = YY effecti ve deg rees of
freed om ) correspon ds to a coverag e probabi l i ty of approxi m atel y 95 %. Th e stan d ard u n certai n ty of m easu rem en t
h as been d eterm i n ed i n accord an ce wi th I EC 60060-2. ”
 – 42 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

p( x)

x
x −σ x x+σ
IEC

Th e sh ad ed area i n d i cates th e stan d ard u n certai n ty above an d bel ow xi i .

Figure A.1 – Normal probability distribution p ( x )

The shaded area in dicates the standard u ncertain ty above an d below xi i .

p( x)

2a
1
2a

a− x a+ x

2a
3
IEC

Th e sh ad ed area i n d i cates th e stan d ard u n certai n ty above an d bel ow xi i .

Figure A.2 – Rectangular probability distribution p(x)

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 43 –

An n e x B
(informative)

E xa m p l e fo r t h e c a l c u l at i o n o f m e a s u ri n g
u n c e rt a i n t i e s i n h i g h - vo l t a g e m e a s u rem e n t s

An AC m easu ring system of rated vol tage 500 V, den oted by X, i s calibrated by an accredi ted
cal ibration laboratory. The cal ibration is performed up to VXm ax = 500 V by com parison with a
reference measu ring system , denoted by N (Tabl e B. 1 ) . Th e scale factor an d the relati ve
expanded uncertain ty of the reference system N at 20 °C is FN = 1 , 025 and UN = 0, 8 % ( k=2) ,
inclu din g an u ncertain ty con tribu tion esti mated for th e l on g -term instabi li ty.

Du ri ng the cal ibrati on , ambien t temperatu re is (1 5 ± 2) °C. Since th e scale factor of N was
cal ibrated at 20 °C, i t is corrected by -0, 3 % according to its temperatu re coeffici ent, yi elding
the actu al valu e FN = 1 , 022 at 1 5 °C. This correction , h owever, is not very accu rate and,
furthermore, du e to the temperatu re vari ation within ± 2 °C durin g the calibration, th e probable
valu es of FN are assum ed to l ie with in an interval of ± 0, 001 arou nd FN wi th rectang u lar
distribu ti on. The compari son m easu remen ts are performed at h = 5 voltag e levels of abou t
20 %, 40 %, and 1 00 % of VXm ax . At each vol tag e level , si mu l taneous readin g s of the voltag es
VN and VX are taken for n = 1 0 voltag e applicati ons. Furth er i n vestig ations on the dynamic
behaviou r, sh ort-term stabi l ity, temperatu re in terval, an d i n terference sh ow an in flu ence on
th e scale factor of the test object, FX , wi th in ± 0, 2 % each. I ts long -term stabil i ty is estim ated
on the basis of the m anu factu rer’s data to l ie wi th in ± 0, 3 % u n til the n ext cal ibration .

The model equ ation for calcu latin g the valu e of FX and i ts combined standard u ncertai n ty can
be devel oped as follows. I n th e ideal case, both measu ri ng systems i ndicate the sam e valu e
of the AC test vol tage V (Table B. 1 ) :

V = FN VN = FX VX . (B. 1 )

Th is l eads to the basis formu la for calcu lating the scale factor of the system u nder test:

V
FX = N FN . (B. 2)
VX

As described above, the scale factors of both systems are subject to several in flu ence
quan ti ties such as dri ft, temperature, etc. They contribu te to the scale factor val ues and their
u ncertai nties as wel l. These con tribu tions are denoted here by ∆ FN , 1 , ∆ FN , 2 , … for the
reference system , an d by ∆ FX, 1 , ∆ FX, 2 , … for the system u n der test. I n g eneral , each
con tribu tion to th e scal e factor FN or FX consists of an error and a standard u ncertain ty. The
error is taken to correct the scale factor, th e correction bein g of opposite sig n. The uncertain ty
con tribu tion i s related to the relevan t scale factor FN or FX and evalu ated in a sim ilar way as
described in Clau se A. 5, i . e. , ei th er by assu m ing a rectangu lar probabili ty distribu tion with in
an in terval ± a i, leading to a stan dard u ncertain ty u i = a i /√3, or, i n th e case of a cal ibrated
componen t, by di vi di ng its expanded u ncertain ty U by the coverag e factor k. The contribution
∆ FN , m or ∆ FX, i needs n ot always h ave an error (or the error is assu m ed bein g n eg lig ibl y small) ,
and th en i t consists on ly of the u ncertain ty con tribu tion u i .

The basis formu la (B. 2) i s su pplemen ted by the contribu ti ons ∆ FN , m and ∆ FX, i to obtain the
complete model fu nction for determi ning th e scale factor FX an d i ts combined standard
u ncertai n ty. Si nce correlation between the i n fl uence quan ti ties is neg lected, (B. 2) can then be
wri tten i n the g en eral version :
 – 44 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

V  
FX − ∑ ΔFX,i = VN  FN − ∑ ΔFN, m  . (B. 3)
i X  m 

N OTE 1 As per d efi n i ti on , th e errors i n serted on both si d es of th e eq u ati on h ave a n eg ati ve si g n . Th ey are
d efi n ed as ∆ F = (i n d i cated val u e) – (correct val u e) .

For th e relevan t case, the scal e factor FX of the AC measuri ng system can be expressed by:

5
V
FX = N ( FN − ΔFN ) + ∆ FX,i ,
VX i =1
∑ (B. 4)

wh ere:
∆ FN i s the con tribu ti on cau sed by the l ower tem perature of th e reference system ,
∆ FX, 1 i s the con tribu tion caused by th e non lineari ty of th e qu oti en t,
∆ FX, 2 i s the con tribu tion cau sed by th e short-term i nstabi li ty of th e system un der test,
∆ FX, 3 i s the con tribu tion cau sed by th e lon g-term instabi li ty of th e system u n der test,
∆ FX, 4 i s the con tribu tion cau sed by th e dyn am ic behavi ou r of the system u nder test,
∆ FX, 5 i s the con tribu tion cau sed by th e temperatu re vari ation of the system u nder test.
N OTE 2 I n th i s exam pl e, ∆ FN con si sts both of a correcti on an d an u n certai n ty con tri bu ti on to th e scal e factor FN ,
wh ereas th e term s ∆ FX 1 to ∆ FX 5 con tri bu te on l y to th e u n certai n ty of th e scal e factor FX . For con ven i en ce, th e
u n certai n ty con tri bu ti on s ∆ FX 1 to ∆ FX 5 are d i rectl y rel ated to FX , i . e. th e sen si ti vi ty coeffi ci en ts of th ese i n pu t
q u an ti ti es h ave al read y been taken i n to con si d erati on .

The com parison m easu remen t at a sing le voltag e l evel between the measu ri ng system X an d
th e reference system N yields n = 1 0 pairs of m easured valu es VN and VX , from wh ich the
qu otien ts VN / VX , th eir mean and the experimen tal standard devi ation s ( VN / VX ) are calcu lated.
An example for th e valu es measu red at a voltag e level of abou t 40 % VXmax is g i ven in Table
B. 1 . I n the same man ner, th e quotien ts VN / VX an d stan dard devi ati ons s ( VN /VX ) are obtained
for in total h = 5 voltag e levels up to 500 V (Table B. 2) .

Table B.1 – Result of the comparison measurement up to 500 V at a single voltage level
Number of Reference system System under test Quotient
measurements
VN VX VN / VX
V V
1 1 91 , 4 1 90, 8 1 , 0031
2 1 91 , 6 1 90, 9 1 , 0037
3 1 90, 7 1 89, 9 1 , 0042
4 1 89, 9 1 89, 0 1 , 0048
5 1 90, 9 1 89, 9 1 , 0053
6 1 91 , 2 1 90, 3 1 , 0047
7 1 91 , 3 1 90, 4 1 , 0047
8 1 91 , 2 1 90, 4 1 , 0042
9 1 90, 6 1 89, 9 1 , 0037
10 1 91 , 3 1 90, 7 1 , 0031
M ean of VN / VX at abou t 40 % VXm ax 1 ,0042
Experi m en tal stan d ard devi ati on s ( VN / VX ) : 0,73*1 0 –3
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 45 –

Table B.2 – Summary of results for h = 5 voltage levels ( VXmax = 500 V)

g Voltag e level VN /VX ( / )
s VN VX
N o. % of VXmax
1 18 1 , 0032 0, 71 *1 0 - 3
2 38 1 , 0042 0, 73*1 0 - 3
3 63 1 , 0045 0, 81 *1 0 - 3
4 83 1 , 0065 0, 68*1 0 - 3
5 1 00 1 , 01 01 0, 85*1 0 - 3 (= s m ax )
Mean 1 ,0057

The mean of the five quotients VN / VX i n Table B. 2 is 1 , 0057. To be on th e safe side of the
u ncertai n ty estimation , th e Type A standard u ncertainty of VN / VX is eval uated from th e
m aximu m standard deviation s max = 0, 85 * 1 0 -3 according to (A. 3) :

s
u A = max =
0,85 ⋅ 10 3 = 0, 27 ⋅ 10 3 .
−
−

n 10
The deviation of the qu oti en ts VN /VX from th eir m ean characterises the n on li nearity of system
X. The maxi mu m deviati on is a1 = 4, 4*1 0 -3 at 1 00 % of VXm ax (Table B. 2) . Th e Type B
standard uncertain ty of VN / VX , ori g inating from n on li neari ty, is thu s a 1 /√3 = 2, 54*1 0 –3
accordin g to (A. 7) . Th is valu e is m u ltipl ied by the rel evan t sensi ti vity coefficien t
c 1 = ∂F X /∂( VN /VX ) = FN – ∆ FN = 1 , 025 – 0, 003 * 1 , 025 = 1 , 022 to obtain th e Type B
u ncertain ty con tribu tion :

u B1 =
a1
( FN − ∆FN ) = 4 , 4 * 10 3 −
1, 022 = 2, 6 * 10 3 . −

3 3
The val u es and standard u ncertain ties of all i npu t qu antities are entered on the ri g ht side of
th e model formu la (B. 4) . Th e model formu la can be evaluated man ual ly, using th e equ ations
g i ven in Annex A, or with the aid of speci al software wh ich sh ou ld be validated for cal cu lating
u ncertain ti es. The resu lt of the eval uation is sum marized in Table B. 3. I n the last l in e, the
assig ned scale factor FX , its combined standard u ncertain ty , and the effective deg rees of
freedom are g iven . The larg e val u e ν eff = 1 80 in dicates norm al distribu ti on of the probabl e
valu es of FX , and th u s k = 2 is val id (see Ann ex A, Table A. 1 ) .

The esti mate of u ncertainty is not very precise an d h ig h nu merical precision is not requ ired.
Fi nally, the complete resu l t of the calibration of th e approved measuring system is expressed
by the assigned scale factor an d its expanded uncertain ty:

FX = 1 , 028 ± 1 1 *1 0 -3 = 1 , 028(1 ± 0, 01 1 ) for a coverag e probability of n ot less than 95 %

( k = 2) .

The rel ative expan ded u ncertainty of the assig ned scal e factor is U = 1 , 1 %. Si nce i t con tains
an u ncertain ty con tribution of the lon g-term stabi li ty, i t can be appl ied as the expanded
u ncertai n ty of the test voltag e u n til the next cali bration of th e approved measuring system ,
provided the stability of the scal e factor is checked by i n termediate performance tests (see
4. 4) .

N OTE 3 Th e si m pl i fi ed m eth od of Cl au se 5 d el i vers an i den ti cal rel ati ve expan d ed u n certai n ty of th e assi g n ed
scal e factor.
 – 46 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Table B.3 – Uncertainty budget of the assigned scale factor FX

Quantity Value Standard Deg rees of Sensitivity Contribution to
uncertainty freedom coefficient combined
contribution standard
uncertainty
FN 1 , 025 0, 004 a 50 1 , 0057 4, 0*1 0 - 3
∆ FN 0, 003 0, 000577 b ∞ -1 , 0057 -0, 58*1 0 - 3
VN / VX 1 , 0057 0, 27*1 0 - 3 a 9 1 , 022 0, 28*1 0 - 3
∆ FX , 1 0 2, 60*1 0 - 3 b ∞ 1 2, 6*1 0 - 3
∆ FX , 2 0 1 , 1 9*1 0 - 3 b ∞ 1 1 , 2*1 0 - 3
∆ FX , 3 0 1 , 78*1 0 - 3 b ∞ 1 1 , 8*1 0 - 3
∆ FX , 4 0 1 , 1 9*1 0 - 3 b ∞ 1 1 , 2*1 0 - 3
∆ FX , 5 0 1 , 1 9*1 0 - 3 b ∞ 1 1 , 2*1 0 - 3
FX 1 , 0278 1 80 5, 54*1 0 - 3
a N orm al di stri bu ti on .
b Rectan g u l ar di stri bu ti on .
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 47 –

Annex C
(informative)

Atmospheric correction

C.1 Standard reference atmosphere

Tem peratu re t0 = 20 °C;
Absolu te pressu re p 0 = 1 01 3 hPa (1 01 3 mbar) ;
Absolu te h u mi dity h 0 = 1 1 g /m 3 .

An absolu te pressure of 1 01 3 h Pa corresponds to the h eig h t of 760 m m of the m ercu ry

colu mn in a m ercury barometer at 0 °C. I f the barometer h ei g ht is H m m of mercu ry, the
atmospheric pressure in h ectopascal i s approximately:
p = 1,333 H h Pa
Correction for temperatu re with respect to the h eig h t of the mercu ry colu mn is considered to
be neg lig ible.
I nstrum ents au tomatically correcting pressu re to sea l evel are not su itable an d shou ld not be
u sed.

C.2 Atmospheric correction factor

C.2.1 General
N ormal laboratory condi tions are speci fied in I EC 60068-1 :
Tem peratu re: 1 5 °C to 35 °C;
Ai r pressure: 860 h Pa to 1 060 h Pa at sea l evel ;
Relati ve hum i di ty 25 % to 75 %.
The appl ied test vol tage can be defin ed u nder normal l aboratory con di tions according to
I EC 60060-1 :

U = Kt * U0

wh ere
U is the applied test voltag e;
U0 i s the speci fied test voltag e;
Kt is the atmospheric correction factor.

The appli ed test vol tag e i s proportional to the correcti on factor Kt th at resu l ts from the produ ct
of two correction factors:
– th e air density correction factor k1
– th e hu m idi ty correction factor k 2
Kt = k1 * k2

C.2.2 Humidity correction factor k2

N o hu midi ty correction can at present be speci fied for l ow voltage equ ipmen t.
 – 48 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

H owever, wh en the relati ve hu mi dity exceeds abou t 80 %, th e disru ptive disch arg e appl ied
test voltag e becomes irreg u lar, especi al l y when th e disru pti ve discharge occu rs over an
insu lating su rface.

C.2.3 Air density correction factor k1

The air densi ty correcti on factor k1 depen ds on th e relati ve ai r density δ and can be g enerall y
expressed as:

k1 = δ m

The exponen t m is obtain ed from cu rve 1 of Fig u re A. 1 for th e speci fied rang es according to
I EC 60664-1 :
m = 0, 91 63 for 0, 001 < d ≤ 0, 01 mm ;
m = 0, 3305 for 0, 01 < d ≤ 0, 0625 mm;
m = 0, 6361 for 0, 0625 < d ≤ 1 m m;
m = 0, 8539 for 1 < d ≤ 1 0 mm ;
m = 0, 9243 for 1 0 < d ≤ 1 00 mm .
Wh en th e temperatu res t and t0 are expressed in deg rees Celsius and the atmospheric
pressu res p and p 0 are expressed in the sam e u ni ts, the relative ai r densi ty i s:

p 273 + t0
δ= ∗
p 0 273 + t

The correction is considered rel iable for 0, 8 < k1 < 1 , 05 .

I n I EC 60664-1 th e appl ied test voltag e is g i ven at 2 000 m. For calcu lation of the air densi ty
correction factor to define th e test vol tag e at an y al ti tude, the air pressu re at 2 000 m al ti tu de
p 0 = 80 kPa is to be reg arded as absolu te pressure.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 49 –

Bibliography
I EC 61 000-4-5:201 4, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-5: Testing and
measurement techniques – Surge immunity test

I EC 61 01 0-1 , Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and
laboratory use – Part 1: General requirements

I EC 61 01 0-2-030:201 0, Safety requirements for electrical equipment for measurement, control,

and laboratory use – Part 2-030: Particular requirements for testing and measuring circuits

_____________
 – 50 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

SOMMAI RE

AVAN T-PROPOS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
1 Domain e d’appl ication. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
2 Références n orm atives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
3 Termes et défin itions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
3. 1 Term es g énérau x . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
3. 2 Défini tions relati ves à l a décharge disruptive et au x tensions d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
3. 3 Caractéristiqu es relati ves au matériel d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
3. 4 Caractéristiqu es relati ves au x essais en tension con ti nue . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
3. 5 Caractéristiqu es relati ves au x essais en tension al ternati ve . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
3. 6 Caractéristiqu es relati ves au x essais de choc (voir Fig u re 1 ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
3. 7 Défini tions relati ves à l a tolérance et à l'i ncertitude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
4 Exi g ences général es. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
4. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
4. 2 Condi ti ons atm osphériques pou r l es m odal ités d'essai et l a vérification du
m atériel d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
4. 3 Procédu res de qu al ification et d'u ti lisation des systèmes de m esu re . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
4. 3. 1 Principes gén érau x . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
4. 3. 2 Calendrier des essais de détermi nation des caractéristiqu es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
4. 3. 3 Exig ences relatives au recu eil de caractéristi qu es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
4. 3. 4 I ncerti tu de . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
4. 4 Essais et exig ences d'essai pou r un système de m esure certifié et ses
composan ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
4. 4. 1 Étalonnage – Déterminati on du coeffi ci ent de conversi on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
4. 4. 2 I n flu ence de l a ch arg e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
4. 4. 3 Comportemen t dyn amiqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
4. 4. 4 Stabi li té à court terme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
4. 4. 5 Stabi li té à lon g terme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
4. 4. 6 Effet de l a températu re ambiante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
4. 4. 7 Calcu l d'incerti tu de du coefficient de con version . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
4. 4. 8 Calcu l d'incerti tu de de m esu re des paramètres de temps (tensions de
ch oc u n iquem en t) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
5 Essais en tension con tinu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
5. 1 Généralités . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
5. 2 Tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
5. 2. 1 Exig ences relatives à l a tensi on d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
5. 2. 2 Production de la tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
5. 2. 3 M esu rage de la tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
5. 3 M odal ités d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
5. 3. 1 Essais de tension de tenu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
6 Essais en tension al ternative . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
6. 1 Tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
6. 1 . 1 Exig ences relatives à l a tensi on d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
6. 1 . 2 Production de la tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
6. 1 . 3 M esu rage de la tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
6. 2 M odal ités d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
6. 2. 1 Essais de tension de tenu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 51 –

7 Essais avec tensi on de ch oc . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80

7. 1 Tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
7. 1 . 1 Générali tés . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
7. 1 . 2 Exig ences relatives à l a tensi on d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
7. 1 . 3 Produ ction de la tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 81
7. 1 . 4 M esu rage de la tension d'essai et détermination de la forme du choc . . . . . . . . . . . . 81
7. 2 M odal ités d’essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 81
7. 2. 1 Véri fication de l a forme d'onde de la tensi on de ch oc . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 81
7. 2. 2 Essais de tension de choc . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 81
7. 3 M esu rag e de la tension d'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
7. 3. 1 Exig ences relatives à u n système de mesure certifié . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
7. 3. 2 Contribu tions à l'incerti tude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
7. 3. 3 Comportemen t dyn amiqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
7. 3. 4 Exig ences relatives à l 'instrum en t de mesu re . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
8 Systèmes de mesu re de référence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
8. 1 Exi gences relati ves au x systèmes de mesure de référence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
8. 1 . 1 Tension conti nu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
8. 1 . 2 Tension alternati ve . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
8. 1 . 3 Tensions de ch oc . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
8. 2 Étalonnag e d'u n système de m esure de référence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
8. 2. 1 Générali tés . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
8. 2. 2 M éthode de référence: mesu rag e com parati f . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
8. 3 I n terval le entre les étalonnag es su ccessifs des systèmes de m esu re de
référence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
8. 4 U til isation des systèmes de mesure de référence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
An nexe A (in form ati ve) I ncerti tu de de mesure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
A. 1 Générali tés . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
A. 2 Term es et défin itions en complément à celles de 3. 7. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
A. 3 Fonction-m odèl e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
A. 4 Évalu ati on de Type A de l'incerti tu de-type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
A. 5 Évalu ati on de Type B de l'incerti tu de-type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 86
A. 6 I ncerti tu de-type composée . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
A. 7 I ncerti tu de él arg ie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
A. 8 Degrés de liberté réels . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
A. 9 Bi l an d'incerti tu de. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
A. 1 0 Expressi on du résu l tat de mesu re . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
An nexe B (in form ati ve) Exemple de calcu l d'incerti tu des de m esu re dans des
mesurag es de hau te tension . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
An nexe C (in form ative) Correction atm osphérique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
C. 1 Atm osph ère n orm al isée de référence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
C. 2 Facteu r de correction atm osphériqu e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
C. 2. 1 Générali tés . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
C. 2. 2 Facteu r de correction de l'hu m idi té k2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
C. 2. 3 Facteu r de correction de la densi té de l'air k1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
Bi bliog raph ie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98

Fi gu re 1 – Param ètres de temps pou r la tension de choc plein e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59

Fi gu re 2 – Étalonnag e par com paraison su r la plag e de pleine tension . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
 – 52 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Fi g ure 3 – Con tribu tions à l'i ncertitude de l'étalonnag e (exemple avec u n mi nimu m de
5 niveau x de tension) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
Fi gu re 4 – Zone ombrée de réponses ampl itu de-fréqu ence n orm alisées acceptables
de systèm es de mesu re prévus pour des fréquences fondamen tales u niqu es fnom (à
soum ettre à l'essai dans l a plage (1 … . 7) fnom) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
Fi gu re 5 – Zone ombrée de réponses ampl itu de-fréqu ence n orm alisées acceptables
de systèm es de mesu re prévus pour u ne plag e de fréquences fondamen tales fnom 1 à
fnom 2 (à sou mettre à l'essai dans la plag e fnom 1 à 7 fnom 2 ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
Fi gu re 6 – Tensi on de ch oc normal isée de 1 , 2/50 µs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
Fi gu re A. 1 – Loi normale de probabil ité p ( x) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
Fi gu re A. 2 – Loi rectang u laire de probabil i té p(x) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91

Tableau 1 – Essais exig és pou r u n système de mesu re certi fié de tensi on con ti nu e . . . . . . . . . . . . . 75
Tableau 2 – Couran ts m ini mums du circu i t d'ssai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
Tableau 3 – Essais exig és pour u n système de mesure certifié de tensi on al ternati ve . . . . . . . . . 79
Tableau 4 – Essais exig és pou r un système de mesu re certi fié de tensi on de choc . . . . . . . . . . . . . . 82
Tableau A. 1 – Facteu r d'élarg issemen t k pou r les degrés de l iberté réels ν eff
( p = 95, 45 %) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
Tableau A. 2 – Représentation schém atiqu e d'un bi lan d'i ncerti tu de . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
Tableau B. 1 – Résu ltat du mesu rag e de comparaison ju squ 'à 500 V à u n seu l niveau
de tension . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
Tableau B. 2 – Résu mé des résu l tats pou r h = 5 niveau x de tension ( VXmax = 500 V) . . . . . . . . . . . 94
Tableau B. 3 – Bil an d'incerti tu de du coefficien t de con version affecté FX . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
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COMMI SSI ON ÉLECTROTECHN I QUE I NTERNATI ONALE

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TECHNIQUES DES ESSAIS À HAUTE TENSION

POUR MATÉRIEL À BASSE TENSION –
Définitions, exigences et modalités relatives
aux essais, matériel d'essai
AVANT-PROPOS
1 ) La Com m i ssi on El ectrotech n i q u e I n tern ati on al e (I EC) est u n e org an i sati on m on di al e d e n orm al i sati on
com posée d e l 'en sem bl e d es com i tés él ectrotech n i qu es n ati on au x (Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC) . L’ I EC a pou r
obj et d e favori ser l a coopérati on i n tern ati on al e pou r tou tes l es q u esti on s d e n orm al i sati on d an s l es d om ai n es
d e l 'él ectri ci té et de l 'él ectron i q u e. A cet effet, l ’ I EC – en tre au tres acti vi tés – pu bl i e d es N orm es i n tern ati on al es,
d es Spéci fi cati on s tech n i q u es, d es Rapports tech n i qu es, d es Spéci fi cati on s accessi bl es au pu bl i c (PAS) et d es
G u i d es (ci -après dén om m és "Pu bl i cati on (s) d e l ’ I EC") . Leu r él aborati on est con fi ée à d es com i tés d 'étu d es, au x
travau x d esq u el s tou t Com i té n ati on al i n téressé par l e su j et trai té peu t parti ci per. Les org an i sati on s
i n tern ati on al es, g ou vern em en tal es et n on g ou vern em en tal es, en l i ai son avec l ’ I EC, parti ci pen t ég al em en t au x
travau x. L’ I EC col l abore étroi tem en t avec l 'Org an i sati on I n tern ati on al e d e N orm al i sati on (I SO) , sel on d es
con di ti on s fi xées par accord en tre l es d eu x org an i sati on s.
2) Les déci si on s ou accords offi ci el s d e l ’ I EC con cern an t l es q u esti on s tech n i q u es représen ten t, d an s l a m esu re
d u possi bl e, u n accord i n tern ati on al su r l es su j ets étu di és, étan t d on n é q u e l es Com i tés n ati on au x de l ’ I EC
i n téressés son t représen tés d an s ch aq u e com i té d ’ étu d es.
3) Les Pu bl i cati on s d e l ’ I EC se présen ten t sou s l a form e d e recom m an d ati on s i n tern ati on al es et son t ag réées
com m e tel l es par l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC. Tou s l es efforts rai son n abl es son t en trepri s afi n q u e l ’ I EC
s'assu re de l 'exacti tu d e du con ten u tech n i qu e d e ses pu bl i cati on s; l ’ I EC n e peu t pas être ten u e respon sabl e de
l 'éven tu el l e m au vai se u ti l i sati on ou i n terprétati on q u i en est fai te par u n q u el con q u e u ti l i sateu r fi n al .
4) Dan s l e bu t d 'en cou rag er l 'u n i form i té i n tern ati on al e, l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC s'en g ag en t, d an s tou te l a
m esu re possi bl e, à appl i q u er d e façon tran sparen te l es Pu bl i cati on s d e l ’ I EC d an s l eu rs pu bl i cati on s n ati on al es
et rég i on al es. Tou tes di verg en ces en tre tou tes Pu bl i cati on s d e l ’ I EC et tou tes pu bl i cati on s n ati on al es ou
rég i on al es correspon d an tes doi ven t être i n di q u ées en term es cl ai rs dan s ces dern i ères.
5) L’ I EC el l e-m êm e n e fou rn i t au cu n e attestati on d e con form i té. Des org an i sm es d e certi fi cati on i n d épen d an ts
fou rn i ssen t d es servi ces d 'éval u ati on d e con form i té et, dan s certai n s secteu rs, accèd en t au x m arq u es de
con form i té d e l ’ I EC. L’ I E C n 'est respon sabl e d'au cu n d es servi ces effectu és par l es org an i sm es d e certi fi cati on
i n d épen d an ts.
6) Tou s l es u ti l i sateu rs d oi ven t s'assu rer q u 'i l s son t en possessi on d e l a dern i ère éd i ti on de cette pu bl i cati on .
7) Au cu n e respon sabi l i té n e d oi t être i m pu tée à l ’ I E C, à ses adm i n i strateu rs, em pl oyés, au xi l i ai res ou m an d atai res,
y com pri s ses experts parti cu l i ers et l es m em bres d e ses com i tés d 'étu des et d es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC,
pou r tou t préj u d i ce cau sé en cas d e d om m ag es corporel s et m atéri el s, ou d e tou t au tre d om m ag e d e q u el qu e
n atu re q u e ce soi t, di recte ou i n di recte, ou pou r su pporter l es coû ts (y com pri s l es frai s d e j u sti ce) et l es
d épen ses d écou l an t de l a pu bl i cati on ou d e l 'u ti l i sati on d e cette Pu bl i cati on d e l ’ I EC ou d e tou te au tre
Pu bl i cati on d e l ’ I EC, ou au créd i t q u i l u i est accord é.
8) L'atten ti on est atti rée su r l es référen ces n orm ati ves ci tées d an s cette pu bl i cati on . L'u ti l i sati on de pu bl i cati on s
référen cées est obl i g atoi re pou r u n e appl i cati on correcte d e l a présen te pu bl i cati on .
9) L’ atten ti on est atti rée su r l e fai t q u e certai n s d es él ém en ts d e l a présen te Pu bl i cati on d e l ’ I EC peu ven t fai re
l ’ obj et d e d roi ts d e brevet. L’ I EC n e sau rai t être ten u e pou r respon sabl e d e n e pas avoi r i den ti fi é de tel s d roi ts
d e brevets et d e n e pas avoi r si g n al é l eu r exi sten ce.

La N orme in tern ati onale I EC 61 1 80 a été établie par le comi té d'étu des 42 de l'I EC:
Techni qu es d'essais à hau te tension et/ou à fort cou rant.

Cette prem ière édi tion de l 'I EC 61 1 80 an nu le et remplace la prem ière éditi on de l 'I EC 61 1 80-1 ,
pu bli ée en 1 992, et la prem ière édition de l'I EC 61 1 80-2, pu bliée en 1 994.
 – 54 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Le texte de cette norme est issu des docu ments su i van ts:

FDI S Rapport de vote

42/341 /FDI S 42/342/RVD

Le rapport de vote i ndiqu é dans le tabl eau ci -dessu s donne tou te in formation su r l e vote ayan t
abou ti à l 'approbation de cette norme.

Cette pu bl ication a été rédi g ée selon les Directives I SO/I EC, Partie 2.

Le com i té a déci dé qu e le con ten u de cette pu bl ication ne sera pas m odi fi é avan t l a date de
stabi l ité indiquée su r le si te web de l’I EC sous "http://webstore. iec. ch " dans les données
relati ves à la publ ication recherchée. A cette date, l a publication sera
• recon du ite,
• su pprimée,
• remplacée par u ne édition révisée, ou
• amendée.

I M P O R TAN T – L e l o g o "colour inside" qui s e t ro u ve s u r l a p a g e d e c o u ve rt u re d e c e t t e

pu bl i cati on i n d i q u e q u ' e l l e c o n t i e n t d es c o u l eu rs q u i s o n t c o n s i d é rée s co m m e u t i l es à

u n e b o n n e c o m p réh en s i o n d e son con ten u . Le s u t i l i s a teu rs d e vra i en t , par co n séq u en t,

i m p ri m er cett e p u b l i cati o n en u ti l i san t u n e i m pri m an t e co u l eu r.

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 55 –

TECHNIQUES DES ESSAIS À HAUTE TENSION

POUR MATÉRIEL À BASSE TENSION –
Définitions, exigences et modalités relatives
aux essais, matériel d'essai

1 Domaine d’application
La présente N orme in tern ationale est applicable:
– au x essais di électriques en tension con ti nu e;
– au x essais diélectriques en tension al ternati ve;
– au x essais diélectriques en tension de choc;
– au matériel d'essai u tilisé pou r effectuer des essais diélectriqu es su r des matériels à
basse tensi on.
La présen te N orme n 'est applicable qu 'au x essais de matériels don t la tensi on assig née ne
dépasse pas 1 kV en cou ran t al ternatif ou 1 , 5 kV en couran t con tinu .

La présen te N orme est applicable au x essais de type et au x essais in dividu els de séri e pou r
les objets qu i son t sou m is à des essais à hau te tensi on tels qu e spéci fiés par le comi té
d'étu des.

Le matériel d'essai est consti tu é d'u n g énérateu r de tension et d'un système de mesu re. La
présen te N orme concerne le matériel d'essai don t le système de mesu re est protég é con tre
les pertu rbations et les cou plag es externes par un systèm e d'écrans approprié, par exemple,
u n écran condu cteu r continu . En conséquence, des essais de com paraison si mples son t
su ffisan ts pou r assu rer la validi té des résu l tats.

La présen te N orme n 'est pas desti née à être u til isée pou r les essai s de compatibilité
électrom ag nétique de matériel électri qu e ou électron iqu e.

N OTE Les essai s q u i com bi n en t d es ten si on s et d es cou ran ts de ch oc son t cou verts par l 'I EC 61 000-4-5.

La présente n orm e spécifi e au tan t qu e possible au x com ités d'étu des concernés:
– des termes défi nis d'appl icati on g énérale ou particu l ière;
– des exigences g énérales relati ves au x objets en essai et au x m odali tés d'essai ;
– des m éthodes pou r produ ire et m esurer les tensions d'essai ;
– des m odali tés d’essai;
– des méthodes d'in terprétation des résu ltats d'essai et d'indicati on des critères
d'acceptation ;
– des exigences concern an t les disposi ti fs de m esure certi fiés et les méth odes de
véri fication ;
– u ne incerti tu de de mesure.
Des vari antes au x m odali tés d'essai peu ven t être exigées et i l con vien t qu ’el les soien t
spécifiées par les comi tés d'études concernés.

I l con vien t de déterm in er si l'objet en essai comporte des disposi ti fs l im i teurs de tension dans
l a m esu re où i ls peu ven t i nflu er su r les résu l tats de l'essai . I l convi en t qu e les comi tés
 – 56 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

d'étu des concern és fou rnissen t des l ig nes directrices concernan t l es essais au xquels son t
sou m is les objets équ ipés de disposi ti fs l im i teurs de tension .

2 Références normatives

Les docu men ts su i van ts son t ci tés en référence de m anière normati ve, en i n tégral ité ou en
partie, dans le présen t docum en t et son t indispensabl es pou r son appl ication. Pour les
références datées, seu le l ’édi tion ci tée s’appli qu e. Pour l es références non datées, la dern ière
édi tion du docu m en t de référence s’appli qu e (y compris les éven tu els amen dem en ts) .

I EC 60060-1 :201 0, Techniques des essais à haute tension – Partie 1: Définitions et exigences
générales

I EC 60060-2:201 0, Techniques des essais à haute tension – Partie 2: Systèmes de mesure

I EC 60068-1 :201 3, Essais d'environnement – Partie 1: Généralités et lignes directrices

I EC 60335 (tou tes les parties) : Appareils électrodomestiques et analogues – Sécurité

I EC 60664-1 :2007, Coordination de l’isolement des matériels dans les systèmes (réseaux) à
basse tension – Partie 1: Principes, exigences et essais

I EC 61 083-1 :2001 , Appareils et logiciels utilisés pour les mesures pendant les essais de choc
à haute tension – Partie 1: Prescriptions pour les appareils

I EC 61 083-2:201 3, Appareils et logiciels utilisés pour les mesures pendant les essais à haute
tension et haute intensité – Partie 2: Exigences pour le logiciel pour les essais avec des
tensions et des courants de choc

I SO/I EC Gu ide 98-3:2008, Incertitude de mesure – Partie 3: Guide pour l'expression de

l'incertitude de mesure (GUM)

3 Termes et définitions

Pou r l es besoins du présent docu m en t, les term es et défin i tions sui van ts s'appliquen t.

3.1 Termes généraux

3.1 .1
distance d'isolement
distance en tre deu x parti es condu ctrices le long d'u n fil ten du su ivant l e plu s cou rt trajet
possible en tre ces deu x parties condu ctrices

[SOU RCE: I EC 60050-441 :1 984, 441 -1 7-31 ]

3.1 .2
lig ne de fuite
distance la plu s cou rte, le long de l a su rface d'un isolan t solide, en tre deu x parties
condu ctrices

[SOU RCE: I EC 60050-1 51 : 2001 , 1 51 -1 5-50]

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 57 –

3.2 Définitions relatives à la décharge disruptive et aux tensions d'essai

3.2.1
décharge disruptive
défaillance de l'isolation sous u ne con train te électrique, pen dan t laqu elle l a décharg e cou rt-
circu i te complètem en t l'isolation en essai , rédu isan t la tension appl iqu ée en tre l es électrodes
à u ne valeu r prati qu emen t nu ll e

3.2.2
tension de tenue
valeu r de la tension spécifiée qu i caractérise l'isol ation de l 'objet en ce qu i concerne u n essai
de ten u e

N ote 1 à l 'arti cl e: Sau f spéci fi cati on con trai re, l es ten si on s d e ten u e se réfèren t au x con d i ti on s atm osph éri qu es
d e référen ce n orm al i sées (voi r 4. 2) .

3.3 Caractéristiques relatives au matériel d'essai

3.3.1
étalonnage
ensemble des opérations établ issant, en référence à des étal ons, la relati on qui existe, dans
les condi ti ons spéci fiées, en tre u ne indication et un résu l tat de m esu re

N ote 1 à l 'arti cl e: La déterm i n ati on d u coeffi ci en t d e con versi on est i n cl u se d an s l 'étal on n ag e.

[SOU RCE: I EC 60050-31 1 :2001 , 31 1 -01 -09, modifié:n ote modi fiée]

3.3.2
essai de type
essai de conformi té effectu é su r u ne ou plusieu rs en ti tés représen tati ves de l a produ ction

N ote 1 à l 'arti cl e: Pou r u n systèm e d e m esu re, i l s'ag i t d 'u n essai effectu é su r u n com posan t ou u n systèm e d e
m esu re com pl et d e l a m êm e con cepti on afi n d e l e caractéri ser d an s l es con d i ti on s d e fon cti on n em en t.

[SOU RCE: I EC 60050-1 51 : 2001 , 1 51 -1 6-1 6, modi fié:note ajou tée]

3.3.3
essai individuel de série
essai de conform ité effectu é sur chaqu e en ti té en cou rs ou en fi n de fabrication

N ote 1 à l 'arti cl e: I l s'ag i t d 'u n essai réal i sé su r ch aq u e com posan t ou ch aq u e systèm e d e m esu re com pl et afi n d e
l e caractéri ser d an s l es con d i ti on s d e fon cti on n em en t.

[SOU RCE: I EC 60050-1 51 : 2001 , 1 51 -1 6-1 7, modi fié: n ote ajou tée]

3.3.4
essai de détermination des caractéristiques
essai effectu é su r u n système de m esu re complet pou r en déterm in er les caractéristiques
dans les condi tions de fonctionnemen t

3.3.5
matériel d'essai
ensemble complet de moyens nécessaires pou r produ ire et mesurer la tension ou l e cou ran t
d'essai appliqué à u n objet en essai

3.3.6
système de mesure de référence
système de m esu re avec son étal onn age traçable par rapport à des étalons n ati onau x et/ou
in ternationau x pertinen ts et ayan t u n e exacti tude et u ne stabi li té su ffisantes pou r être u ti l isé
pour l'approbati on d'au tres systèmes par l'exécu tion de mesu rag es com parati fs sim u ltan és
avec des types de formes d'onde et des plag es de tensions spécifiques
 – 58 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

3.3.7
coefficient de conversion affecté
coefficien t de con version d'u n systèm e de mesu re déterminé l ors de l 'essai de détermi nation
des caractéristiques le plu s récen t

N ote 1 à l 'arti cl e: U n systèm e d e m esu re peu t avoi r pl u si eu rs coeffi ci en ts d e con versi on affectés; i l peu t avoi r par
exem pl e pl u si eu rs pl ag es, ch acu n e avec u n coeffi ci en t d e con versi on di fféren t.

3.4 Caractéristiques relatives aux essais en tension continue

3.4.1
valeur de la tension d'essai
valeu r arithm étiqu e moyenne

3.4.2
ondulation
écart péri odiqu e par rapport à la valeu r arith métiqu e moyenne de la tension d'essai

3.4.3
amplitude d'ondulation
moiti é de la di fférence en tre les valeu rs maxi males et m in imales

N ote 1 à l 'arti cl e: Dan s l es cas où l a form e d e l 'on d u l ati on est proch e d ’ u n e si n u soïd e, l es val eu rs effi caces vrai es
m u l ti pl i ées par √ 2 son t acceptabl es pou r l a déterm i n ati on d e l ’ am pl i tu d e d ’on d u l ati on .

3.4.4
facteur d'ondulation
rapport en tre l'ampl itu de d'ondu lation et l a valeu r de l a tension d'essai

3.5 Caractéristiques relatives aux essais en tension alternative

3.5.1
valeur de crête
moyenne des ampl i tudes des valeu rs positives et n égati ves maximales

3.5.2
valeur efficace
racine carrée de la valeu r moyenne des carrés des valeu rs qu e pren d la tension pen dan t u n
cycle com pl et

3.5.3
valeur efficace vraie
valeur obtenu e à partir de
T
I = 1
i t t
T ∫
2
eff
( ) d
0

où
0 est l e momen t ( t = 0) d'u ne onde périodiqu e à cou ran t al ternati f, adapté au débu t de
l 'in tégration ;
T est le temps u ti lisé sur u n nombre entier de cycles;
i( t) est la val eu r instan tan ée du cou rant.
N ote 1 à l 'arti cl e: La val eu r effi cace vrai e peu t en g én éral être cal cu l ée à parti r d 'u n en reg i strem en t n u m éri sé d e
tou te form e d 'on d e péri odi q u e, à con di ti on q u 'u n n om bre su ffi san t d 'éch an ti l l on s ai t été prél evé.

N ote 2 à l 'arti cl e: Dan s l es cas avec vari ati on d e l a fréq u en ce, au cu n e form u l e préci se et spéci fi q u e rel ati ve à l a
val eu r effi cace vrai e n e peu t être d on n ée.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 59 –

3.5.4
taux de distorsion harmonique totale
THD
rapport de la valeu r efficace du rési du harmoniqu e d'u ne grandeu r al tern ative à la val eur
efficace de la composante fondamentale de cette g randeur

[SOU RCE: I EC 60050-551 :1 998, 551 -1 7-06]

3.6 Caractéristiques relatives aux essais de choc (voir Figure 1 )

U
1 ,0
B
0,9

0,5

0,3 A

0
T t
T ′
T1 = T/ 0,6
T1
T2 T = 0,3 T1 = 0,5 T
′

O O1 IEC

Figure 1 – Paramètres de temps pour la tension de choc pleine

N ote 1 à l 'arti cl e: Les osci l l ati on s son t n ég l i g eabl es.

3.6.1
tension de choc
tensi on transi toire apériodi que appliqu ée in ten tionnellement qu i mon te en g énéral rapidem en t
à une val eur de crête, pui s plu s len tem ent tombe à zéro

3.6.2
valeur de crête
valeur m axim ale

3.6.3
valeur de la tension d'essai
pou r un ch oc sans dépassement ou osci ll ations, i l s'agi t de sa valeur de crête

N ote 1 à l 'arti cl e: La d éterm i n ati on d e l a val eu r d e crête, dan s l e cas d 'osci l l ati on s ou d 'u n d épassem en t avec des
ch ocs n orm au x, est pri se en con si d érati on d an s l 'I EC 60060-1 .

3.6.4
temps de montée
T1
paramètre virtu el défini comm e 1 /0, 6 fois l'in tervall e de temps T compris en tre les instan ts où
la tensi on attein t 30 % et 90 % de la valeu r de crête su r la cou rbe de tension d’essai (poi n ts A
et B, Fig u re 1 )
 – 60 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

3. 6.5
o r i g i n e vi r t u e l l e
O 1
i nstan t qui précède d'un e du rée de 0, 3 T1 , cel u i qui correspond au poin t A de la courbe de
tensi on d'essai (voir Figu re 1 )

N ote 1 à l 'arti cl e: Pou r l es en reg i strem en ts à éch el l e d e tem ps l i n éai re, i l s'ag i t de l 'i n tersecti on avec l 'axe d es
tem ps d 'u n e d roi te passan t par l es poi n ts d e référen ce A et B d u fron t.

3. 6.6
d u r é e j u s q u ' à l a m i - va l e u r
T2
paramètre vi rtu el défin i comm e l'in tervall e de temps com pri s en tre l’orig in e virtu el le O 1 et
l 'instan t où la tension a dimi nu é ju squ 'à la moi ti é de l a valeu r de crête

3.6.7
c o u rb e e n re g i s t ré e
représen tation g raphique ou n um ériqu e des donn ées d'essai d'u ne tension de choc

3.7 D é f i n i t i o n s r e l a t i ve s à l a t o l é ra n c e e t à l ' i n c e rt i t u d e

3. 7. 1
to l éran ce
différence perm ise entre la valeu r mesurée et la valeu r spéci fi ée

3. 7. 2
i n c e rt i t u d e d e m e s u r e
paramètre, associé à un résu ltat de mesu re, qu i caractérise la dispersion des valeurs qu i
pou rrai en t être raison nabl ement attribu ées au m esu ran de

N ote 1 à l 'arti cl e: L'i n certi tu de est posi ti ve et d on n ée san s si g n e.

[SOU RCE: I EC 60050-31 1 :2001 , 31 1 -01 -02]

3. 7. 3
e rr e u r
valeu r mesurée d'un e g randeur m oi ns u ne valeur de référence de la g randeu r

[SOU RCE: I SO/I EC Guide 98-3:2008, GU M 2. 3. 2]

3. 7. 4
i n c e rt i t u d e - t yp e
u
incertitude d'u n résu ltat de mesure expri mée sous la forme d'u n écart-type

N ote 1 à l 'arti cl e: L'i n certi tu de-type associ ée à u n e esti m ati on d 'u n m esu ran d e a l a m êm e di m en si on q u e l e
m esu ran d e.

N ote 2 à l 'arti cl e: Dan s certai n s cas, l 'i n certi tu de-type rel ati ve d 'u n e m esu re peu t être appropri ée. L'i n certi tu d e-
type rel ati ve d 'u n e m esu re est l 'i n certi tu d e-type di vi sée par l e m esu ran d e, et el l e est d on c san s di m en si on .

[SOU RCE: I SO/I EC Guide 98-3:2008, GU M 2. 3. 1 ]

3. 7. 5
i n c e rt i t u d e - t yp e c o m p o s é e
uc
i ncerti tu de-type du résu ltat d'u n e mesure obtenu à partir des val eu rs d'u n certain n ombre
d'incertitu des d'au tres g randeurs, ég ale à la racin e carrée positive de la somm e des di fférents
termes, ces termes étan t les variances ou covari ances des au tres grandeu rs pon dérées
i nterven ant dans le résul tat de mesure
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 61 –

[SOU RCE: I SO/I EC Guide 98-3:2008, GU M 2. 3. 4]

3.7.6
incertitude élargie
U
g ran deu r défin issan t un i ntervalle, au tour du résu l tat d'u n e m esu re, dont on pu isse s'atten dre
à ce qu'i l comprenn e u n e fraction élevée de la distri bu tion des val eu rs qu i pourraien t être
attribu ées raisonnablemen t au m esu rande

N ote 1 à l 'arti cl e: I n certi tu d e él arg i e est l 'expressi on correspon d an t l e pl u s étroi tem en t au term e “i n certi tu d e
g l obal e”.

N ote 2 à l 'arti cl e: La val eu r vrai e m ai s i n con n u e de l a ten si on d 'essai peu t se trou ver en d eh ors des l i m i tes
d on n ées par l 'i n certi tu d e car l a probabi l i té de cou vertu re est < 1 00 % (voi r 3. 7. 7) .

[SOU RCE: I SO/I EC Guide 98-3:2008, GU M 2. 3. 5, modi fié:notes ajou tées]

3.7.7
facteur d'élargissement
k
facteur n u méri que u til isé com me mu l tiplicateu r de l 'i ncertitude-type composée pou r obten ir
l'incerti tu de élarg ie

N ote 1 à l 'arti cl e: Pou r u n e probabi l i té d e cou vertu re d e 95 % et u n e l oi d e probabi l i té n orm al e (g au ssi en n e) , l e

facteu r d 'él arg i ssem en t est approxi m ati vem en t k = 2.

[SOU RCE: I SO/I EC Guide 98-3:2008, GU M 2. 3. 6, modi fié: note ajou tée]

3.7.8
évaluation de Type A
méth ode d'évalu ati on d'un e i ncerti tu de par analyse statistiqu e d'u ne série d'observations

3.7.9
évaluation de Type B
méth ode d'évalu ation d'u ne incerti tude par u n moyen au tre qu 'une analyse statistiqu e d'u ne
série d'observations

3.7.1 0
laboratoire national de métrologie
institu tion désig née par u ne décision nationale, ayan t pou r objet d'élaborer et de tenir à jour
des étalons de m esure nationau x pou r u n e ou plusieu rs g randeu rs

4 Exigences générales
4.1 Généralités
Sau f spécification con traire du comité d'étu des concerné, il con vi ent qu e l 'objet en essai soit
propre et sec, stabi lisé au x conditions en vironnemen tales am biantes, et l a tensi on doi t être
appli qu ée conformément au x spéci fications des articles correspondants de la présente n orm e.
I l convi en t qu e les modali tés d'essai appl icabl es à des types d'objets en essai particu liers
soien t spécifiées par le com ité d'étu des concerné, en tenan t compte des facteurs su ivants:
• l 'exactitude exig ée pou r l es résu l tats d'essai ;
• la natu re aléatoire du phénomène observé et l 'in flu ence de la polari té su r les
caractéristiqu es mesurées;
• la possi bi l ité d'u ne détérioration prog ressi ve en cas d'appl icati ons répétées de l a tension.
 – 62 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Ceci inclu t par exem ple, l a pol arité à appliqu er, l'ordre préférentiel si les deu x polari tés
doi ven t être appl iqu ées, l e nombre d'applicati ons, l'in tervalle de tem ps en tre applications et
tou t con di tion nemen t et précondi ti onn em ent.

Les connexions en tre le m atériel d'essai et l'objet soum is à l 'essai à hau te tension doivent
être directes et l es plus cou rtes possible. I l convien t d'évi ter les boucles de connexions afi n
de rédu ire l e pl u s possible les osci ll ati ons su r l e fron t du ch oc. I l con vien t qu e les condu cteu rs
soient le plus près possible les u ns des au tres afin de rédu i re le pl us possi ble l'espace en tre
les condu cteu rs.

Ces exig ences doivent ég alemen t s'appl iquer à l a qu alificati on du système de m esu re, par
exem ple, le m atériel d'essai à étalonn er et le système de m esu re de référence.

Le constru cteu r du m atériel d'essai doit fou rnir des i n formations concernan t les
caractéristiqu es du matéri el d'essai afin de pou voi r tou jou rs mai n tenir l a tensi on g énérée
dans les l im ites de tolérance adm ises lors de la véri fication de l 'objet sou m is à l'essai à hau te
tensi on .

4.2 Conditions atmosphériques pour les modalités d'essai et la vérification du

matériel d'essai
Les condi tions atmosphéri qu es pour l es modal ités d'essai et la vérification du matériel d'essai
doi ven t être con formes à cel les spécifiées pou r les essais décri ts dans l'I EC 60068-1 :
Tem pérature 1 5 °C à 35 °C
Pression atm osphériqu e 86 kPa à 1 06 kPa
H u m idité relati ve 25 % à 75 %
H u midité absolu e ≤ 22 g /m 3

Les con ditions atmosphéri qu es réelles pendant l'essai doi ven t être enreg istrées.

Pou r les besoins des essais, lorsqu e les condi ti ons atmosphériques se situen t dans les
plag es spécifiées dans la présen te N orme, il n'est pas n écessai re d'appliqu er des corrections
à l a tension d'essai du fai t des variati ons de températu re, d'h u midité et de pression
atmosphériqu e.

Lorsque les con ditions atmosphériqu es pen dant l 'essai ne se si tu en t pas dans les plag es
spéci fiées dans la présen te N orme, la m éthode présen tée à l'Annexe C doit être u tilisée, et
con ven ue par accord, pou r la correcti on de la tension d'essai.

4.3 Procédures de qualification et d'utilisation des systèmes de mesure

4.3.1 Principes généraux
Ch aqu e système de m esu re certi fié doit être sou mis à des essais in itiau x, sui vis d'essais de
détermination des caractéristiques péri odiqu es pendan t tou te sa du rée de vie, comm e cela
est spécifié en 4. 3. 2. Les essais in i ti au x compren nen t les essais de type et les essais
individu els de série.

Les essais de déterm ination des caractéristiques doi vent attester qu e l es systèmes de
m esu re peuven t mesurer les tensions d'essai prévu es dans l e domain e d'i ncertitu de don né
dans la présen te n orme, et qu e les mesurages son t traçabl es par rapport à des étalons
n ationau x et/ou in tern ationau x de mesure. Le système est certifié u niqu em en t pour ce qu i
concerne les disposi tions et l es con di tions de foncti onn emen t décri tes dans son recu eil de
caractéristiqu es, comme cela est spéci fié en 4. 3. 3.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 63 –

La stabil i té des systèm es de mesu re dans la plage spéci fiée pou r leu rs con ditions de
foncti onn ement consti tu e un e exigence majeu re perm ettan t de ce fait de main tenir le
coefficient de con versi on constan t du rant de long u es périodes.

Le coefficien t de con versi on affecté est détermi né par étal onn age l ors de l'essai de
détermi nation des caractéristiqu es. Tou t étalon nag e doi t être traçable par rapport à des
étalons n ationau x et/ou in ternationau x. L'u til isateu r doit s'assu rer que tou t étalonnag e est
réalisé par du personnel compétent u ti lisan t des systèmes de mesu re de référence et des
procédures adaptées.

U n u ti lisateu r peu t également choisir de faire réal iser les essais de déterm ination des
caractéristiqu es par un laboratoire national de métrolog ie ou par u n laboratoire d'étalonnag e
accrédi té pou r la g randeu r à étalonner.

Les étalonnag es réalisés par un laboratoire nati onal de métrolog ie, ou par u n laboratoire
accrédi té pou r les grandeu rs étalonnées et consig nées dans le cadre de l 'accrédi tation , son t
définis comm e traçables par rapport à des étal ons nation au x et/ou in tern ationau x.

Dans tou s l es cas, l'util isateur doit consig ner les données d'essai dans le recu eil de
caractéristiqu es.

4.3.2 Calendrier des essais de détermination des caractéristiques

Pou r conserver l a qu alité d'u n système de mesu re, son ou ses coefficien ts de con version
affectés doiven t être déterm in és par des essais de déterm ination des caractéristiqu es
périodiques. L'in tervalle en tre les essais de détermination des caractéristiqu es ne doit pas
dépasser 1 an sau f in dication con traire par le constru cteur et su r la base de l'expérience
dém on tran t u ne stabi li té à long terme.

Les essais de détermi nation des caractéristi qu es doi ven t être réalisés après des réparations
i mportan tes effectu ées su r le systèm e de mesu re et à chaqu e fois qu 'u ne con figu ration de
circu i t se trou vant en deh ors des l imi tes men ti onn ées dans le recuei l de caractéristiqu es doi t
être u tilisée.

4.3.3 Exigences relatives au recueil de caractéristiques

Les résu ltats de tou s les essais, y compris l es conditi ons dans lesqu el les l es résu ltats on t été
obten u s, doiven t être consig nés dans le recu ei l de caractéristiqu es (arch i vé en format papier
ou électron iqu e si l es systèmes qu alité et la lég islation local e l 'au torisen t) établi et tenu à jou r
par l'u tilisateu r. Le recuei l de caractéristiqu es doit identifier de façon u nique l es composan ts
du système de mesu re et doi t avoir un e stru cture permettan t de rendre traçabl es les
caractéristiqu es du systèm e de mesu re au fi l du temps.

Le recu eil de caractéristi qu es doi t au moins comporter les in formations su ivantes:

• U n e descripti on gén érale du système de mesure.
• Les résu ltats des essais de type et des essais individu els de série effectu és su r le
système de m esu re.
• Les résu l tats des essais de détermi nation des caractéristiqu es effectu és u l térieu rem en t
su r l e systèm e de mesu re.
La descri ption g énérale du système de mesure concerne g énéralemen t l es principal es
donn ées et fonctionnal ités du systèm e de mesu re, tell es qu e la tension de fonction nemen t
assig née, la ou les formes d'ondes, l a ou les plag es de distances d'isolemen t, la du rée de
foncti onn emen t ou la fréqu ence maxi mal e d'applications de tension . Les informations su r le
système de transm ission, ainsi qu e les con fi g urations à hau te tensi on et de mise à la terre
revêten t u n e im portance particu lière pour bon nombre de systèmes de mesure. Lorsqu 'el le est
exig ée, u ne description des constitu an ts du système de m esu re est également fou rn ie,
comprenant par exemple, le type et l'identification de l 'instru men t de mesu re.
 – 64 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

4. 3.4 I n c e rt i t u d e

L'incerti tu de de tou s l es m esu rages effectués selon l a présen te n orme internationale doi t être
évalu ée selon le Gui de I SO/I EC 98-3. L'incerti tu de de m esu re doit être différenciée de l a
tolérance. U n e décision de réussi te/échec est prise u ni qu emen t su r la base de la valeu r
m esu rée, en fonction des critères de réu ssite/éch ec. L'incerti tu de de mesu re ne doi t pas être
appliqu ée à la val eu r mesu rée pou r pren dre la décision de réussi te/échec. Les procédu res
d'évalu ation des i ncerti tu des indiquées en 4. 4. 7 son t spécifiées con form émen t au x principes
du Gu ide I SO/I EC 98-3. El les sont répu tées être adaptées au matériel et au x con fi g u rations
de m esu re cou ramm en t u til isés pou r les essais à hau te tensi on . Tou tefois, l es u ti lisateu rs
peu ven t ch oi sir d'au tres procédures appropriées dans le Gu ide I SO/I EC 98-3, don t certaines
son t présen tées à l’Annexe A et à l’An nexe B.

En g énéral, l e mesurande à prendre en considération est le coefficien t de conversion du

système de m esu re, m ais dans certains cas, i l convi en t égalemen t de pren dre en
consi dérati on d'au tres g randeurs, tel l es qu e les paramètres de tem ps d'u ne tensi on de choc
et les erreu rs qui y son t associ ées.

N OTE 1 D'au tres m esu ran des son t cou ram m en t u ti l i sés pou r d es d i sposi ti fs de con versi on spéci fi q u es. Par
exem pl e, u n d i vi seu r de ten si on est caractéri sé par l e rapport d e ten si on et son i n certi tu d e d an s l es éten d u es d e
m esu re affectées u ti l i sées. U n tran sform ateu r d e ten si on est caractéri sé par l 'erreu r d e rapport, l e d éph asag e et
l es i n certi tu d es correspon d an tes.

Selon l e Gu ide I SO/I EC 98-3, l 'incerti tu de de m esu re est déterm inée en com bin an t les
con tribu tions à l'i ncerti tu de de Type A et de Type B (voir 4. 4. 7) . Ces con tribu tions sont
obten ues à partir des résu ltats de mesure, des man uels des constru cteu rs et des certi ficats
d'étalonn age, et à partir de l'esti mati on de valeu rs raisonn ables des g randeurs d'in fluence au
cou rs du mesu rag e. Les g randeurs d'i nflu ence mentionn ées en 4. 4 comprennen t les effets de
la tem pérature, l'in flu ence de la charg e, le comportem ent dynam iqu e du systèm e de mesure,
ainsi que l 'influ ence de l a stabil i té à cou rt et à long termes. D'au tres effets, y compris l a
résolu tion l im itée de l 'i nstru men t de m esu re, peu ven t être ajou tés si nécessaire.

L'incerti tu de doi t être défin ie comme l 'incertitu de élargi e pou r u ne probabi li té de cou vertu re
d'en viron 95 % correspon dan t à u n facteu r d'él argissement k=2 dans l'h ypoth èse d'u n e l oi
norm ale.

N OTE 2 Dan s l a présen te N orm e i n tern ati on al e, l es i n certi tu des d u coeffi ci en t de con versi on et d e m esu re d e
ten si on (4. 4. 1 à 4. 4. 6) son t expri m ées par l es i n certi tu des rel ati ves au l i eu de l 'i n certi tu d e absol u e q u i est
n orm al em en t pri se en com pte d an s l e G u i de I SO/I EC 98-3.

4. 4 E ssai s et exi g en ces d ' essai p o u r u n s ys t è m e d e m e s u r e c e r t i f i é e t s e s

com posan ts

4.4.1 É tal on n ag e – D éterm i n ati on du co effi c i e n t d e c o n ve rs i o n

Le coeffici ent de con versi on affecté du système de m esure doi t être détermi né par étalon nag e
selon l es essais spécifiés de déterm in ation des caractéristiqu es. Le coefficient de conversion
affecté est u ne valeur uniqu e pour l'étendu e de m esure affectée. Si cela s'avère nécessai re,
plu sieu rs étendu es de m esu re affectées avec des coefficients de con version di fféren ts
peu vent être défi nies.

Le ou l es coefficien ts de con version son t détermin és pour u n système de m esu re complet par
comparaison à un systèm e de mesure de référence.

I l con vien t qu e la tension d'en trée u ti lisée pou r l'étalonn age soit iden tiqu e en termes de type,
fréqu ence et forme d'onde au x tensions à mesu rer. Si cette conditi on n 'est pas rempl ie, les
contribu tions à l'incerti tude concern ées doivent être esti mées.

L'étal onn ag e doi t être effectu é en connectan t u n système de mesu re de référence, traçable
par rapport à u n laboratoire nation al de métrolog ie, en parall èl e au système de mesu re à
étalonner. Des précau tions doi ven t être prises pou r éviter les bou cles de masse entre l e ou
l es dispositifs de con version et le ou les instru men ts de mesure. Des relevés de lecture
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 65 –

sim ul tanés doi ven t être effectu és su r les deu x systèmes. La valeur de la g ran deu r d'en trée
obten ue par l e systèm e de mesu re de référence pour ch aque m esu rag e est di visée par le
relevé de lecture correspondan t de l 'instru m en t dans le système en essai pou r obten ir une
valeu r Fi de son coefficien t de con versi on . La procédu re est répétée n fois pou r obteni r la
valeur m oyen ne Fg du coefficien t de con version du système en essai à un ni veau de tension
Ug . La valeu r moyenne est donn ée par:

∑F
1
F = i, g
n
g
i =1

L'écart-type rel atif s g de Fg est donné par:

∑
1 1
sg = F −F)
( i, g
2

Fg n −1
g
i =1

et l'i ncertitu de-type relative de Type A u g de l a valeu r moyenn e Fg est donnée par (An nexe A) :

sg
u = g
n

H abi tu ellemen t n = 1 0 rel evés in dépen dan ts au maxi mum son t n écessaires.
Pour le mesu rag e des tensi ons con tinu e et alternati ve, il con vien t d'obten ir des relevés
indépendan ts, soit en appli qu ant la tension d'essai et en effectu an t n rel evés, soit en
appli qu an t n fois la tension d'essai et en effectu an t u n relevé à ch aqu e fois. Pou r les tensions
de choc, n ch ocs son t appliqu és.

Le coefficien t de con versi on doit être détermi né au x n i veau x m in imu m et maxim um de

l 'éten due de m esure affectée et su r au moins trois ni veau x i ntermédiaires qu asiment
équ idistan ts (Fig u re 2) . Le coefficien t de conversion affecté F est pris ég al à la valeur
moyenne de tous les coeffici en ts de con version Fg enreg istrés à h niveau x de tension :

∑F
1
F = g pour h ≥ 5
h g =1

Pl ag e d’ étal on n ag e

Ten si on

Éten d u e d e m esu re affectée

IEC

Figure 2 – Étalonnage par comparaison sur la plag e de pleine tension

L'incerti tu de-type liée à la détermination du coefficien t de con version affecté F est défin ie
comm e la plu s él evée des incertitu des-types in dividu el les de Type A (Fig u re 3) :
 – 66 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

h
u A = max u g .
g =1

L'effet d'u ne non-linéari té dans F est estim é comm e étan t un e incerti tu de-type de Type B
exprimée par:

1 h Fg
uB 0 = max −1 .
3 g =1 F

U ne valeur arron die Fo peu t être retenu e com me étan t le coefficien t de conversion affecté si
l a di fférence en tre Fo et F est présen tée comme u ne con tribu ti on à l'incertitu de de Type B
dans l'esti mation de l 'incerti tu de él arg ie du coefficien t de conversion Fo .

I l con vi en t de men tionn er dans le certi ficat d'étalonnag e l es coefficien ts de con version
i ndi vidu els et l eu rs incertitudes au x h n i veau x de tension .

F2 ; u 2 F4 ; u 4

Ten si on
F1 ; u 1

1 5 Fg 1 F5
F3 ; u 3 u B0 = m ax −1 = −1
F5 ; u 5 3 g =1 F 3 F
5
uA = m ax u g = u 3
g=1
IEC

Fi g u re 3 – C o n t ri b u t i o n s à l ' i n c ert i t u d e d e l ' éta l o n n a g e

( e xe m p l e a ve c u n m i n i m u m d e 5 n i ve a u x d e t e n s i o n )

4.4.2 I n fl u en ce d e l a ch arg e

Chaqu e essai de com paraison doi t être effectu é d'abord avec la charg e m ini male (l e système
de mesu re de référence seu l) pu is répété avec la ch arge maximale (résisti ve, capaci ti ve,
inducti ve ou tou te combinaison de ces charges) au torisée par le constructeu r du m atériel
d'essai.

La con tri bu tion à l'incertitu de de l a ch arg e doit être prise en compte par:

1 FCh arg e max

u Bl = −1
3 FCh arg e min

Ceci est très i mportan t l orsqu e la tension n'est pas mesurée directemen t su r le côté h au te
tension au x born es de l'objet en essai.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 67 –

4.4.3 Comportement dynamique

4.4.3.1 Généralités
La réponse d'un composan t ou d'u n système de mesu re doi t être déterm in ée dans des
conditi ons représentatives de son util isation, en particu lier de ses distances d'isol emen t au x
stru ctu res sou s tension et à la terre. Les m éthodes de mesu re préféren tiel les son t la réponse
ampli tu de/fréquence pou r les tensions con tin u es ou altern ati ves, et la détermination des
coefficien ts de conversion et du temps.

N OTE Des i n form ati on s com pl ém en tai res su r l es m esu rag es d e répon se i n di ci el l e u n i tai re son t don n ées d an s
l 'An n exe C d e l 'I EC 60060-2: 201 0.

U ne estim ation de Type B de l'incerti tu de-type relati ve l iée au comportem en t dynami qu e est
donn ée par:

u B2 =
1 max F − 1
k
i

3 1 Fi=

où k est le n om bre de déterm inations de coeffici en t de con version dans u ne plag e de

fréqu ences, ou dans u ne plag e de param ètres de tem ps de chocs définissant la péri ode
n om in ale. Fi son t les coefficien ts de con version i ndi vidu els et F est l e coeffi ci ent de
con version moyen dans l a période nom inale.

4.4.3.2 Détermination de la réponse amplitude/fréquence

Le système ou l e composan t est sou m is à un e g ran deu r d'en trée sin usoïdal e d'ampl i tude
connu e, h abituel lemen t à bas ni veau , et la g randeur de sorti e est mesu rée. Ce mesu rag e est
répété pou r u ne plage de fréqu ences appropri ée. Les écarts du coefficien t de con version son t
évalu és selon la form u le ci-dessu s (4. 4. 3. 1 ) .

4.4.3.3 Méthode de référence pour les systèmes de mesure de la tension de choc

Des enreg istremen ts de l a tension de ch oc relevée pou r l'étalonnage du coefficien t de
con version décri t en 4. 4. 1 sont u ti lisés pou r les l im i tes de la période nom inale, et la
con tribu tion à l'incerti tu de de mesure de la tension et des paramètres de temps doi t être
évalu ée sel on la form u le ci-dessu s (4. 4. 3. 1 ) .

N OTE Pou r de pl u s am pl es i n form ati on s su r l e m esu rag e et l 'éval u ati on d e l a répon se i n di ci el l e u n i tai re, voi r
l 'An n exe C d e l 'I EC 60060-2: 201 0.

4.4.4 Stabilité à court terme

La tension m aximale de l'étendu e de mesure affectée doit être appli qu ée en perm anence au
système de mesure (ou à la fréqu ence affectée dans le cas de chocs) pendant une du rée
représen tative de l'u til isation prévu e. Le coefficien t de con versi on doi t être m esu ré dès qu e le
n iveau maxim al de tension a été attein t, et de nou veau immédi atemen t avan t la dimi nu tion de
la tensi on .

I l convien t qu e la période d'application de la tension n e soi t pas pl u s long u e que l a durée de

fonctionnemen t affectée, el le peu t cependan t être li mitée à u ne du rée su ffisan te pou r
attei ndre l 'équi l ibre.

N OTE L'essai d e stabi l i té à cou rt term e est d esti n é à cou vri r l es effets d e l 'au toéch au ffem en t su r l e d i sposi ti f d e
con versi on .

Le résu ltat de l'essai donne une estim ation de la variation du coeffici en t de con version
pendan t l a du rée d'appl ication de la tensi on perm ettan t de défini r l a contribu ti on à
l'incerti tu de-type com me u ne estim ati on de Type B:
 – 68 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

1 Faprès
u B3 = ⋅ −1 ,
3 Favant

où Favant et Faprès sont les coefficients de con version avan t et après l 'essai de stabil i té à court
terme.

4.4.5 Stabilité à long terme

La stabili té du coeffici ent de conversion doit être prise en considérati on et éval uée su r u ne
lon gu e du rée. Elle est en g énéral esti mée com me u ne contribu tion à l'incerti tude valide
pendan t un e du rée d'u til isation projetée (en g énéral jusqu 'au prochai n étalon nag e) , Tutilisation .
L'éval uation peu t être basée sur des données du constru cteu r ou su r les résul tats d'u ne série
d'essais de détermi nati on des caractéristiques. Le résu ltat de l'évalu ati on don ne u ne
estimation d'u ne vari ation du coefficient de conversion . L'évalu ati on fou rn it u ne con tri bu tion à
l'incerti tu de-type correspondan t à u ne esti mation de Type B:

1 F2 T
uB4 = ⋅− 1 ⋅ utilisation ,
3 F1 T2 − T1

où F1 et F2 son t les coeffici en ts de con version de deu x essais consécu ti fs de déterm ination
des caractéri stiqu es effectu és au x tem ps T1 et T2.

Lorsqu e plu sieu rs résu ltats d'essais de déterm ination des caractéristi qu es son t u til isabl es, la
stabi l ité à long terme peu t être caractérisée par la con tribu ti on de Type A:

2
n
 Fi 
Tutilisation
∑ 
i =1  Fm
− 1 
uB4 =  ,
Tmoyenne n (n − 1 )

pour laqu elle les résu l tats d'essais répétés de déterm in ation des caractéristiqu es son t les
coefficien ts de con version Fi , avec u ne valeu r moyenne Fm et avec u ne durée moyenne
Tmoyenne .

N OTE La stabi l i té à l on g term e est en g én éral décl arée pou r u n e péri ode d'u n e an n ée.

4.4.6 Effet de la température ambiante

Le coeffici en t de con versi on d'u n systèm e de mesu re peu t vari er en fonction de la
températu re am bi ante. Cette variation peu t être qu antifiée par la détermi nation du coefficien t
de con version à di fféren tes températu res am bian tes ou par des calcu ls basés su r les
caractéristiqu es des com posan ts. Les détails de l 'essai ou des calcu ls doi ven t être consi gnés
dans le recu eil de caractéristiqu es.

Le résul tat d'u n essai ou d'u n calcu l donne u ne esti mation de la vari ation du coefficien t de
con version du e à la températu re ambian te. L'incerti tu de-type l iée correspond à l 'estimation de
Type B su i van te:

1 FT
u B5 = ⋅ −1 ,
3 F
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 69 –

où FT est le coefficien t de con version à la températu re étu diée et F est celu i qu i correspon d à
la température d'étalon nag e.

Si l'écart FT par rapport à F est su périeur à 1 %, un e correcti on du coeffici en t de con version

est recommandée.

N OTE L'effet d e l 'au toéch au ffem en t est cou vert par l 'essai d e stabi l i té à cou rt term e.

U n facteur de correction de tem pérature pou r le coefficien t de con version peu t être u ti lisé
lorsque la variati on de la température ambian te est i mportan te. I l con vien t d’in diquer dans le
recu ei l de caractéristiqu es tou te correction de températu re à appliqu er. Dans les cas
d’applicati on d’u ne correction de tem pérature, l'incerti tu de u B5 du facteu r de correction de
températu re peu t être retenu e com me étant la con tribu tion à l'incerti tude.

4.4.7 Cal cu l d ' i n ce rt i t u d e d u c o effi c i e n t d e c o n ve rs i o n

4. 4. 7. 1 G én é ra l i t és

I l s’ag i t d’u ne procédu re simpl ifiée permettan t de détermi ner l'i ncertitude él argi e du coefficient
de con version affecté F d'u n système de m esu re. Elle est basée su r pl u si eu rs h ypothèses, qu i
peu ven t être vraies dans de nombreu x cas, mais qu'i l convi ent de vérifier dans ch aqu e cas
individu el. Les principales h ypoth èses son t l es su i van tes:
a) I l n'y a pas de corrélati on en tre les g randeurs de m esure.
b) Les i ncertitu des-types éval uées par la méthode de Type B son t censées avoir u ne
réparti tion rectang u l ai re.
c) Les trois contri bu tions à l 'i ncertitu de les pl us grandes ont des ampl i tudes
approximativemen t ég ales.
Ces h ypothèses don nen t lieu à un e procédure d'évalu ati on de l'i ncerti tu de élargi e du
coefficient de con versi on F, tan t pou r la situati on d'étalonnage qu e pou r l'u ti l isation d'un
système de m esu re certifi é dans les m esurages.

L'incertitu de élarg ie d'étalonnag e Ucal est estim ée à partir de l'incerti tu de de l 'étal onnag e du
système de référence et à partir de l 'in flu ence d'au tres g randeu rs détai llées dans l e présen t
article, tell es qu e la stabilité du système de m esu re de référence et les paramètres ambiants
pendan t l'étalonnage.

L'incerti tu de élarg i e de m esu re UM de la g ran deu r d'essai est évalu ée à partir de l 'incertitude
de l'étalonnag e du coeffi ci ent de con version du systèm e de mesure certifié et à partir de
l 'in flu ence d'au tres g randeurs présen tées en 4. 4, tel les qu e l a stabi li té du système de mesure
et les param ètres am biants pendant l e mesu rag e, qu i ne son t pas prises en com pte dans le
certi ficat d'étalonnag e.

D'au tres méthodes d'estimation de l'incerti tu de son t m en tionnées dans le Gu ide

I SO/I EC 98-3:2008 et son t ég alement décri tes dans l'Annexe A.

4. 4. 7. 2 I n c e rt i t u d e d e l ' ét al o n n a g e

L'incertitu de élarg ie relative d'un étal on nag e du coefficien t de con version Ucal est calcu lée à
partir de l'incertitu de du système de m esu re de référence et des i ncertitudes de Type A et de
Type B détaill ées dans le présen t article:

N
Ucal = k ⋅ u cal = 2 2
u ref + u A2 + ∑u
i=0
2
Bi ,

où :
 – 70 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

k= 2 est le facteur d'élarg issemen t pou r u n e probabilité de cou verture de 95 % en viron

et u ne loi n ormale;
u ref est l'incerti tu de-type composée du coefficien t de con version du système de mesure
de référence à son étal on nag e;
uA est l'incerti tu de statistique de Type A dans la déterm inati on du coeffi ci ent de
con version;
uB 0 est la contribu ti on de n on -lin éarité à l'incerti tu de-type déterm inée pendant
l'étalonnag e du coefficient de conversion (4. 4. 1 ) ;
uB i est la con tribu tion à l 'i ncertitu de-type composée du coefficien t de con version due à
la ièm e g randeur d'in fluence et éval uée com me con tribu tion de Type B (An nexe A) .
Ces con tribu tions son t li ées au système de m esu re de référence, et sont du es à la
n on-linéarité, au x i nstabili tés à cou rt et long terme, etc. Elles son t déterminées soit
par des mesu rag es supplémen taires, soit estim ées à parti r d'au tres sou rces de
donn ées selon 4. 4. 2 à 4. 4. 6. Les in flu ences liées au x systèmes de m esu re certifiés,
tel les qu e leu r stabil i té à court terme et la résol u ti on de mesu re, doi ven t ég alem en t
être prises en com pte si el les sont sig nificati ves pendant l'étalonnag e.

Lorsque les h ypoth èses su smen ti onnées ne sont pas val ables, les procédu res don nées dans
l 'An nexe A ou , si n écessaire, dans l e Gui de I SO/I EC 98-3:2008 doivent être appliqu ées.

Le nom bre N de con tribu tions à l'incerti tu de de Type B peu t di fférer selon les di fféren ts types
de tensions d'essai (Articles 5 à 7) . De plus ampl es in formations su r les con tribu tions de Type
B son t don nées dans l es articles correspon dan ts.

4. 4. 7. 3 I n c e r t i t u d e d e m e s u r e d é t e r m i n é e a v e c u n s ys t è m e d e m e s u r e c e r t i f i é

L'estim ation de l 'incerti tu de élarg ie de mesure de l a valeu r de la tension d'essai relève de la

responsabi li té de l 'u til isateur. Cependant, cette esti mation peu t être obtenu e pou r un e plag e
défi ni e de condi tions de m esu re conjoin temen t avec le certi ficat d'étal onn ag e.

L'incertitu de él arg ie relati ve de mesu re de la valeu r de l a tension d'essai UM est calcu lée à
partir de l'incerti tu de-type composée du coefficien t de conversion affecté tel le que déterm inée
dans l'étalon nag e du système de m esure certi fi é et des contribu tions su pplémen taires à
l'incerti tu de de Type B détai l lées dans le présent article:

N
UM = k ⋅ uM = 2 u 2
cal + ∑ u B2 i ,
i =1

où :
k= 2 est le facteu r d'élarg issem en t pour un e probabi li té de cou vertu re de 95 % en viron
et une loi n ormale;
uM est l'incerti tu de-type com posée de m esu re détermi née avec le systèm e de m esu re
certifié, valable pour u ne du rée d'util isation projetée, par exemple, u n in tervall e
d'étal onn age;
u cal est l'incerti tu de-type com posée du coefficien t de con version du système de mesure
certifié déterm inée à l'étalonnage (voir 4. 4. 7. 2) ;
uB i est la contribu ti on à l'incerti tu de-type composée du coefficien t de con versi on du
système de m esu re certifié et du e à l a ièm e g randeu r d'i nflu ence, évaluée comm e
con tribu tion de Type B. Ces con tribu tions son t l iées à l'u ti lisation normale du
système de m esu re certifi é et sont du es à la non-l inéari té, au x i nstabili tés à court et
lon g terme, etc. El les son t détermi nées soit selon 4. 4. 2 à 4. 4. 6 su r la base de
m esu rages su pplémen taires, soit estim ées à partir d'au tres sou rces de don nées.
D'au tres i n flu ences sig ni ficati ves doivent ég alem en t être prises en compte, par
exem pl e, l a résolu tion de l'affichage de l 'instru men t du système de mesu re certifi é.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 71 –

Le certi ficat d'étalonnag e peu t comprendre des in form ations concernan t à la fois l'incerti tu de
de l'étalon nage, Ucal , et l'i ncerti tu de élarg i e rel ati ve de mesure de la val eur de l a tension
d'essai, UM , lorsque l e système de m esu re certifi é est u til isé dans des conditions prédéfin ies
décl arées.

Lorsqu e les h ypothèses su sm en tionn ées en 4. 4. 7. 1 ne son t pas val ides, les procédures
donn ées dans l 'Annexe A ou , si nécessai re, dans le Gu ide I SO/I EC 98-3:2008, doi ven t être
appli qu ées.

Le nom bre N de contribu tions à l'incertitu de de Type B peu t di fférer selon les différen ts types
de g randeu rs d'essai (Arti cles 5 à 7, tensions et paramètres de tem ps) .

4. 4. 8 Cal cu l d ' i n c e rt i t u d e d e m e su re d es p ara m èt res d e te m p s (te n s i o n s d e c h o c

u n i q u em en t)

4. 4. 8. 1 G én é ral i t és

U n système de mesu re certi fié pour les tensions de ch oc doit être capable de mesu rer les
paramètres de temps ( T1 , T2 , ) dans le domai ne d'incerti tude spéci fié lorsqu e le paramètre
s'inscrit dans sa plag e spécifiée. Pou r l e temps de m ontée, il s'ag i t g énéralem en t de la
période nom inale. La preu ve expéri men tale peu t être apportée soit par la méth ode de
comparaison , soi t par la m éthode des constituan ts.

N OTE L'esti m ati on d e l 'i n certi tu de d es param ètres d e tem ps produ i t u n e val eu r d 'i n certi tu d e absol u e.

4. 4. 8. 2 I n c e rt i tu d e d e l ' é ta l o n n a g e d es p a ram ètres d e t em ps

Les temps de mon tée T1 des n tensions de choc doiven t être éval u és sim u ltan ément avec le
système de m esu re en essai, désig né par X, et le système de référence, désig né par N . Par
h ypothèse, l'erreu r du système de m esure de référence est considérée comme nég l ig eable.
L'erreur moyenne des temps de montée est:

1 n
ΔT1 =
n∑
(T 1 X, i − T1 N, i )
i =1

et l'écart-type expéri mental est:

n 2
1
s (ΔT1 ) =
n −1 ∑
(∆T 1 ,i − ∆T1 )
i =1

où ∆ T1 , i est la ièm e différence des temps de montée mesurée par l es systèmes X et N .

H abituell emen t, n = 1 0 relevés i ndépendan ts au m aximu m sont nécessai res.

N OTE En g én éral , l es tem ps d e m on tée son t éval u és à parti r d es m êm es en reg i strem en ts d e N et X, u ti l i sés
pou r éval u er l es val eu rs d e crête pou r d éterm i n er l e coeffi ci en t d e con versi on (4. 4. 7) .

L'incerti tu de-type de Type A est calcu lée à partir de s ( ∆ T1 ) :

u A = s (∆T1 ) .
n
La comparaison est réalisée à u n niveau de tension appropri é en u ti lisan t au moins deu x
temps de mon tée, y com pris les valeu rs m in imale et maxim ale T1 de la période nom inale,
pou r l aqu el le le système de m esu re doi t être certifi é. U ne valeu r supplémen taire T1 située au
 – 72 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

m il ieu de la période n omi nale peu t être ajou tée. L’i ncerti tu de-type de Type A de mesu re des
paramètres de temps obtenu e correspond à la plu s grande des incertitu des-types
individu ell es déterm in ées pou r les différentes valeu rs de T1 . Pou r chacune des différen tes
valeu rs T1 , l'erreu r m oyenne ∆ T1 , j est calcu lée comme décri t ci-dessu s. La moyenne g lobale
des m ≥ 2 erreu rs m oyennes est:

1 m
ΔT1 m = ∑ ΔT1, j .
m j =1

La différence maximal e en tre les valeu rs indi vidu elles ∆ T1 , j et leu r valeu r moyenne ∆ T1 m est
reten ue pour déterm iner l'incertitude de Type B u B par:

uB =
1 max m
ΔT1, j − ∆T1m .
3 1 j=

Plu s g énéralement, le système de mesure de référence N peu t être caractérisé de la m êm e

m anière par son erreu r moyenne du tem ps de m on tée, dési gn ée par ∆ T1 ref, com me cela est
déclaré dans son certi ficat d'étalonn age pou r la période nom inale. L'erreu r résu ltan te du
système étalonné X lu i-même pour les m esu rag es de tem ps de m on tée est:

∆T1 cal = ∆T1 m + ∆T1 ref .

L'incertitu de élarg ie de l'étalonnage des param ètres de temps, ég ale à cell e de l'erreu r
m oyenne résu l tante, Δ T1 cal , est détermi née par:

Ucal = k ⋅ ucal = 2 uref

2 + u2 + u2
A B ,
où :
u cal est l'incertitu de-type composée de l'erreur moyenn e de temps de mon tée, ∆ T1 cal , du
système de m esu re étalonné;
k= 2 est le facteu r d'élargissem en t pour un e probabi li té de cou vertu re de 95 % en viron
et une loi n ormale;
u ref est l'incertitude-type composée de l 'erreu r m oyenn e de tem ps de m on tée, ∆ T1 ref, du
système de m esu re de référence;
uA est l'i ncertitu de-type de Type A de l 'erreu r moyen ne de temps de m on tée, ∆ T1 m, du
système de m esure étalonné;
uB est l'i ncertitu de-type de Type B de l'erreu r moyen ne de temps de m on tée, ∆ T1 m, du
système de m esure étalonné.
Dans certains cas particu l iers, les con tribu tions su pplémen taires à l'incertitu de él argi e Ucal
peu ven t être i m portan tes et doi ven t être prises en consi dération.

4. 4.8.3 I n c e r t i t u d e d e m e s u r e d e s p a r a m è t r e s d e t e m p s d é t e r m i n é e a v e c u n s ys t è m e

d e m es u re c ert i fi é

L'estim ation de l'incertitu de élarg i e de mesure des param ètres de temps relève de la
responsabilité de l'u til isateur. Cependant, cette esti mation peu t être obtenu e pour u ne pl ag e
défi nie de conditions de m esure conjoin tement avec le certificat d'étal onn ag e.

Si l 'incertitude él arg ie de l'étalon nag e des paramètres de tem ps est i n férieu re à 70 % de

l'incerti tu de élarg ie de mesure des param ètres de temps spéci fi ée dans la présente n orm e, i l
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 73 –

est g énéralemen t possible de consi dérer qu e l'i ncertitude du système de m esu re certi fi é
u tilisé pour le mesu rag e des param ètres de temps UM est ég ale à Ucal .

L'incertitu de élarg ie de m esu re des paramètres de tem ps UM doi t être calcu lée selon :

N
2 +
UM = k ⋅ u M = 2 u cal ∑ uB2i ,
i =1

où :
u cal est l'incertitu de-type composée de l'erreur moyenn e de temps de mon tée, ∆ T1 cal , du
système de m esu re étalonné;
k= 2 est le facteu r d'élargissem en t pour un e probabi li té de cou vertu re de 95 % en viron
et une loi n ormale;
uB i est la con tribu ti on à l 'i ncertitu de-type com posée du param ètre de temps d'u n choc
détermi née avec le système de mesu re certi fié et du e à l a i èm e gran deu r d'in flu ence,
éval uée com me con tri bu tion de Type B. Ces contribu tions sont liées à l 'u ti lisation
n ormal e du système de m esu re certifi é, et sont du es par exemple à des instabil ités
à l ong term e, à l'in flu ence du log iciel , etc. , m ais ég alemen t à l 'in flu ence de
l 'im perfecti on de l eu rs formes de choc. El les son t déterm inées selon 4. 4. 2 à 4. 4. 6,
soit basées su r des mesu rages supplém en taires, soi t estim ées à parti r d'au tres
sources de don nées. Dans certain es si tu ations, d'au tres i nflu ences doi ven t
ég alemen t être prises en compte, par exem ple, l a résolu tion des affichag es des
i nstru men ts;
uM est l'incertitu de-type com posée du paramètre de tem ps d'u ne tension de choc
mesurée avec le système de m esu re certi fi é, val able pendan t u n e du rée
d'u ti lisation projetée.
Des con tri bu tions à l'incertitu de élargi e su pplém en taires peu vent être i mportan tes dans des
cas particu liers et doi ven t être prises en compte pou r calcu ler UM , par exemple, lorsqu e des
oscillati ons de front son t su perposées à la tension de ch oc.

Lorsqu e le système de mesu re certi fi é est u til isé pour mesu rer des tensions de choc sans
oscillati ons, l e param ètre de temps mesuré T1 me s peu t être corrig é par l'erreu r résu l tan te ∆ T1 cal
du param ètre de temps concerné, déterm in ée à l 'étalonnag e:

T1 corr = T1 mes − ΔT1 cal .

Les mêmes procédu res peu ven t être appliqu ées à d'au tres param ètres de temps.

5 Essais en tension continue

5.1 Généralités
Dans l e secteu r des matéri els à basse tension , les essais diélectri qu es en tension con ti nu e
ne peu ven t pas être cou verts par des essais en tension al tern ative pou r lesqu els la valeu r de
crête est ég ale à la tension d'essai con tinu e. Ceci est dû au x di fféren ts effets de décharg e
partielle, de couran ts de fu ite et de du rée de con train te su r l 'isolemen t.
 – 74 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

5.2 Tension d'essai

5.2.1 Exigences relatives à la tension d'essai
5.2.1 .1 Forme de la tension
La tension d'essai , tell e qu 'elle est appliquée à l'objet en essai , doit être u ne tension con ti nue
ayan t un facteu r d'ondu lation in féri eu r ou ég al à 3 %, sau f spécification con traire du comité
d'étu des concerné.

Le facteu r d 'on du l ati on doi t être véri fi é dan s l es con di ti on s de ch arg e l es pl u s défavorabl es.
Lorsqu e la forme de l 'ondu lation est proch e d’u ne sinusoïde, les val eu rs efficaces vraies
mu l ti pl iées par √ 2 son t acceptables pou r la déterm ination de l ’am pli tu de d’on du lation .

I l est importan t de main tenir la tensi on continu e sans au g men tati on sig n ificati ve de
l'ondul ati on et de conserver u n e valeu r arithmétiqu e moyenn e constan te de la tension
ju squ 'au couran t de déclenchemen t.

5.2.1 .2 Tolérance
Sau f spéci fication contraire du comi té d'étu des concerné, u ne tol érance de ± 3 % en tre les
valeu rs de la tension d'essai spéci fiées et mesurées est acceptable tou t au long de l'essai .

5.2.2 Production de la tension d'essai

La tension d'essai est g énéralem ent obten ue à l'ai de de redresseu rs ou par des ci rcu i ts
électron iqu es commandés. Les exig ences au xqu ell es l a sou rce de tensi on d'essai doit
satisfaire dépenden t dans un e larg e m esure du type d'apparei l devan t être soum is à l 'essai et
des condi ti ons d'essai. Ces exig ences son t déterm inées pri ncipalement par la valeu r et l a
natu re du cou ran t d'essai à fournir.

I l con vien t qu e l es caractéristiques de la sou rce perm etten t de charg er la capaci té de l'objet
en essai en u n temps raisonnabl em en t cou rt. I l con vien t qu e la sou rce, y compris sa capaci té
d’accum u lation, soi t ég al ement capable de fourni r l es cou ran ts de fu i te, d'absorption et de
décharge partiel le, afin de main tenir la tension d'essai dans les limi tes de tolérance de ± 3 %.

5.2.3 Mesurage de la tension d'essai

5.2.3.1 Exigences relatives à un système de mesure certifié
5.2.3.1 .1 Généralités
L'exig ence g énérale consiste à mesu rer la valeur de la tension d'essai (valeu r arith métiqu e
moyenne) avec u ne incertitude élarg ie UM ≤ 3 %.

Les l i mi tes d'incerti tu de n e doiven t pas être dépassées en présence d'un e on du lati on don t
l 'ampli tu de se si tu e dans l es limi tes spécifiées en 5. 2. 1 . 1 , pour une charg e pu remen t résistive
au cou ran t maximal et à la tension d'essai minim ale spéci fiés.

N OTE L'atten ti on est atti rée su r l a présen ce possi bl e de ten si on s al tern ati ves cou pl ées au systèm e d e m esu re et
affectan t l e rel evé d e l 'i n stru m en t de m esu re.

5.2.3.1 .2 Contributions à l'incertitude

Pou r u n système de m esu re de tension con ti nue, l'incerti tu de élargi e de mesure UM doit être
éval uée avec u ne probabili té de cou vertu re de 95 %, selon 4. 4. 7 et – si nécessaire –
l ’An nexe A et Ann exe B. Les essais vi san t à l'évalu ati on des con tribu ti ons à l 'i ncertitu de qu i
son t habituel lemen t envi sag ées son t résu més dans le Tabl eau 1 . D'au tres con tribu tions
peu ven t être i m portan tes dans certains cas et doiven t être également prises en compte.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 75 –

5.2.3.1 .3 Comportement dynamique pour la mesure des variations de tension

La constan te de temps du système de mesu re à h au te tensi on n e doi t pas être su périeure à
0, 25 s pou r l e mesurag e des tensions con tinu es dont les tau x d'aug mentation et de baisse
son t de l'ordre de 1 % de la val eu r de la tension d'essai par seconde.

N OTE En g én éral , l es i n stru m en ts u ti l i sés pou r l e m esu rag e d e l a val eu r d e l a ten si on d 'essai (c'est-à-d i re l a
m oyen n e ari th m éti q u e) n e son t pas affectés par l 'on d u l ati on exi stan te. Tou tefoi s, l orsq u e des i n stru m en ts à
répon se rapi d e son t u ti l i sés, i l peu t être n écessai re d e s'assu rer q u e l e m esu rag e n 'est pas al téré par l 'on d u l ati on .

5.2.3.2 Essais sur un système de mesure certifié

Les essais selon 4. 4, résu més dans le Tableau 1 , sont nécessaires pou r l a qu ali fication d'u n
système de m esu re de tensi on con tin ue, ainsi qu e pour l'esti m ation de l 'i ncertitude élarg i e de
mesu re.

Les résu l tats des essais de type et i ndi vi du els de séri e peu ven t être issus des don nées du
constru cteu r. Les essais individu els de série doiven t être effectu és su r chaqu e com posant.

Tableau 1 – Essais exig és pour un système de mesure certifié de tension continue

Type d'essai Essai de type Essai i ndi vi du el de Essai de
séri e détermi nati on des
caractéri sti q ues
I n fl u en ce de l a ch arg e 4. 4. 2
Com portem en t d yn am i q u e 4. 4. 3
Coeffi ci en t d e con versi on à l 'étal on n ag e 4. 4. 1 4. 4. 1
Stabi l i té à cou rt term e 4. 4. 4
Stabi l i té à l on g term e 4. 4. 5 4. 4. 5 (l e cas éch éan t)
Effet d e l a températu re am bi an te 4. 4. 6

5.3 Modalités d’essai

5.3.1 Essais de tension de tenue
La tensi on doit être appl iqu ée à l 'objet en essai à partir d'u ne valeu r su ffisammen t basse pou r
évi ter tou t effet de surtensi on dû au x ph énomènes transi toires de manœu vres. I l con vi en t
qu 'el le aug m en te assez l en tement pou r perm ettre la lecture des instru m en ts, m ais sans qu 'il
en résul te pou r au tan t u ne prolong ati on inu ti le de la con train te su r l 'objet en essai au
voisinag e de la tensi on d'essai .

Ces exigences son t, en g énéral , satisfaites si la vi tesse de mon tée est d'environ 5 % de l a
valeu r fi nale estim ée de la tension par seconde, lorsque la tension appliqu ée dépasse 75 %
de cette tension . Elle doi t être main tenu e pen dan t la du rée spécifiée puis di minu ée en
décharg ean t l e con densateu r de li ssag e et l 'objet en essai à travers u ne résistance
appropriée.

La du rée de l 'essai à la tension d'essai spécifiée doi t être de 60 s sau f spéci fication con traire
du comité d'études concerné.

I l convien t que la du rée de l'essai pren ne en consi dération le fai t qu e la durée n écessaire
pou r attei ndre l'état perman en t de répartition de tension dépend des résistances et des
capaci tés des composants de l'objet en essai .

I l con vien t qu e la pol arité de la tension ou l 'ordre dans lequel l es tensions de ch aqu e polarité
son t appl iquées, ainsi qu e tou t écart exig é par rapport au x spécifications ci-dessu s, soient
spéci fiés par le com ité d'étu des concerné.
 – 76 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Sau f spécification con traire du comité d'étu des concerné, le couran t de déclench em en t du
g énérateur doi t être aju sté à 1 0 m A pour les essais de type des objets en essai .

Pou r les essais individu els de série, le cou rant de décl ench em ent peu t être ajusté à des
ni veau x inférieurs.

6 E s s a i s e n t e n s i o n a l t e r n a t i ve

6. 1 Te n s i o n d ' e s s a i

6. 1 .1 E x i g e n c e s re l a t i ve s à l a t e n s i o n d ' e s s a i

6. 1 .1 .1 Form e d ' on d e d e l a ten s i on

I l con vien t qu e la tensi on d'essai al ternative, tel le qu 'ell e est appliqu ée à l 'objet en essai , ait
u ne fréqu ence gén éralem ent compri se dans u n e plag e en tre 45 H z et 65 H z, appelée
norm alem ent tension d'essai à fréqu ence in du strielle. Des essais spéciau x peu vent être
exig és à des fréqu ences très in férieures ou très su périeu res à cette plag e, sel on les
spécifications d’u n comité d'étu des.

La forme d’onde de la tensi on doit être voisin e de cel le d'un e sin u soïde. Le rapport en tre la
valeu r de crête et la valeu r efficace est égal à √ 2 ± 3 %. La distorsi on harmoni qu e total e (TH D)
de l a tension d'essai doit être in férieu re à 5 %, dans des condi tions de plein e charge.

La tension d'essai est la valeur efficace.

N OTE Dan s l e secteu r d es m atéri el s à basse ten si on , l a val eu r effi cace perm et d e spéci fi er l a ten si on d 'essai ,
bi en q u e l e facteu r d e cl aq u ag e i m portan t soi t l a val eu r d e crête.

6. 1 .1 .2 To l é ra n c e

Sau f spéci fication contraire du comi té d'études concerné, u ne tol érance de ± 3 % en tre les
valeu rs de la tension d'essai spécifiées et m esurées est acceptable tou t au l ong de l'essai .

6. 1 .2 Pro d u ct i on d e l a t en si on d ' ess ai

6. 1 .2.1 E x i g e n c e s re l a t i ve s a u c i rc u i t d ' e s s a i

L'u ne des varian tes su i van tes doit être u ti lisée.

Va r i a n t e A:

À l a tension d'essai , le cou ran t de court-circu i t présum é au n i veau de l 'objet en essai et le

courant de déclenchement du générateur doiven t être conformes au x valeurs indiquées dans le
Tableau 2.

Ta b l e a u 2 – C o u r a n t s m i n i m u m s d u c i rc u i t d ' s s a i

Cou ran ts m i n i m u m s
Ten s i o n d ' essai mA
V
co u ran t d e cou rt-ci rcu i t présu m é cou ran t d e d écl en ch em en t

≤ 4 000 200 1 00
> 4 000 et ≤ 1 0 000 80 40
> 1 0 000 40 20

N OTE Les val eu rs son t i d en ti q u es à cel l es d on n ées d an s l 'I EC 60335.

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 77 –

Lorsqu'u ne ch arg e de capaci té él evée li mi te la tension d'essai al ternative, i l peu t se révéler

nécessaire de réaliser en variante u n essai en tensi on con tin u e, pou r l equ el la tension d'essai
con ti nu e est ég al e à l a valeu r de crête de l a tension al ternative. I l convien t que l e comi té
d'étu des concerné spécifie le momen t con ven able pour réaliser u n essai en tension contin u e.

Variante B:
Lorsque la tensi on d'essai est obtenu e par des circu i ts él ectron iqu es com mandés, l'exig ence
consiste à fou rn ir les couran ts de fu i te, d'absorption et de décharg e parti elle sans qu e les
baisses de tensi on n e dépassent 3 % au cou ran t de décl enchement maximu m selon le
Tableau 2.

6.1 .3 Mesurage de la tension d'essai

6.1 .3.1 Exigences relatives à un système de mesure certifié
6.1 .3.1 .1 Généralités
L'exig ence g énérale consiste à mesu rer l a val eu r de la tension d'essai (valeu r de crête/√ 2 ou
valeu r efficace) à sa fréqu ence assi gn ée avec u ne incertitude élarg ie UM ≤ 3 %.

6.1 .3.1 .2 Contributions à l'incertitude

Pou r un système de mesu re de tension al ternative, l'incerti tu de élargi e UM doit être évalu ée
avec u ne probabi li té de cou vertu re de 95 %, sel on 4. 4. 7. Les essais visan t à l 'évalu ati on des
con tribu tions à l'incertitu de qu i son t h abitu ellemen t en visag ées son t résu més dans le Tableau
3. D'au tres con tribu ti ons peu vent être importantes dans certains cas et doiven t être
ég alemen t prises en compte.

6.1 .3.1 .3 Comportement dynamique

La réponse ampli tu de-fréqu ence d'u n systèm e de mesu re, destiné à fonction ner à un e seul e
fréqu ence fondamentale fnom , doi t se si tu er à l'i ntérieu r de la zone marquée de la Fig u re 4,
dédu i te des exi g ences relatives à l'i ncertitude. Les paires de nombres dans le diag ramme
i ndiqu ent l a fréqu ence normalisée (échel le log arith m iqu e) et l'écart correspondan t au x coins
des li gnes lim ites. La performance doit être démon trée de fnom à 7 fnom par des essais ou une
analyse de circu i t. La réponse ampli tu de-fréquence à l'extérieu r de cette plag e est donn ée
u ni qu emen t à ti tre d'in form ation .

U n système de m esu re peu t égalemen t être certifié pou r u ne plage de fréqu ences
fondamen tales (par exem ple, 45 H z à 65 H z) . Dans ce cas, le coefficien t de con version doi t
être constan t à 1 % près, de la fréqu ence fon damen tale la plus basse fnom1 ju squ 'à la
fréqu ence fon damen tal e l a pl us h au te fnom2 . La réponse ampl i tu de-fréqu ence dans l'intervalle
de fnom1 à 7 fnom2 , doi t se si tu er dans la zon e marqu ée de la Fi gu re 5. Les paires de n ombres
dans le di ag ram me indiqu en t la fréqu ence normalisée et l'écart correspondan t au torisé par
rapport à la réponse idéale au x coins des lig nes l im ites. La performance doi t être dém ontrée
de fnom1 à 7 fnom2 par des essais ou u ne anal yse de circu it. La réponse am plitude-fréqu ence à
l'extérieu r de cette plag e est donnée un iqu emen t à ti tre d'information .

Des exig ences spéciales su r le comportement dynamique peu ven t être spécifiées par le
com i té d'étu des concerné.

N OTE 1 Les systèm es d e m esu re con form es à ces exi g en ces son t répu tés avoi r u n e répon se en fréq u en ce
ad aptée au m esu rag e d e l a d i storsi on h arm on i q u e total e (TH D) su r l a ten si on d 'essai .

N OTE 2 La répon se en fréqu en ce à l 'extéri eu r d e l a zon e m arq u ée, bi en q u 'el l e n e soi t pas exi g ée, représen te
u n e bon n e prati q u e.
 – 78 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

0,2 fnom ; +1 5 % 7 fnom ; +1 5 %

fnom ; ±0%
Réponse amplitude-fréquence G( f ) (dB)

0,2 fnom ; –1 5 % 7 fnom ; –1 5 %

f/ fnom
IEC

F i g u re 4 – Z o n e o m b ré e d e r é p o n s e s a m p l i t u d e - f ré q u e n c e n o r m a l i s é e s
a c c e p t a b l e s d e s ys t è m e s d e m e s u re p r é vu s p o u r d e s f ré q u e n c e s
fon d am en tal es u n i q u es fnom (à s o u m e t t re à l ' e s s a i d a n s l a p l a g e ( 1 … . 7 ) fnom )

fn om 1 ; +1 % 7 fnom2 ; +1 5 %
Répon se am pl i tu d e-fréq u en ce G( f ) (d B)

fn om 2 ; +1 %

fn om 2 ; –1 %

fn om 1 ; –1 % 7 fn om 2 ; –1 5 %

f / fn o m 1 fn o m 1 fn o m 2 f / fn om 2
IEC

F i g u re 5 – Z o n e o m b ré e d e r é p o n s e s a m p l i t u d e - f ré q u e n c e n o r m a l i s é e s
a c c e p t a b l e s d e s ys t è m e s d e m e s u re p r é vu s p o u r u n e p l a g e d e f ré q u e n c e s

fo n d am en tal es fnom 1 à fnom 2 ( à s o u m e t t re à l ' e s s a i d a n s l a p l a g e fnom 1 à 7 fnom 2 )

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 79 –

6.1 .3.2 Essai de comportement dynamique

Pour déterm iner le comportement dynam ique, l e système est sou m is à u ne tension
sinusoïdale d'en trée d'am pli tu de con nue, h abi tu ellemen t faible, et la tensi on de sorti e est
mesurée. Ce m esu rage est répété pou r l a plag e de fréqu ences comprises en tre 1 fois et 7
fois la fréqu ence d'essai. Le résu ltat doi t être conforme à 6. 1 . 3. 1 .

6.1 .3.3 Essais sur un système de mesure certifié

Les essais selon 4. 4, résu més dans l e Tableau 3, son t nécessaires pou r la qu ali ficati on d'u n
système de m esure de tension al tern ati ve, ainsi que pour l'estimation de l'incerti tu de élargi e
de m esure.

Les résu ltats des essais de type et indivi du els de séri e peu ven t être issus des données du
constru cteur. Les essais individu els de série doivent être effectu és su r chaqu e un i té.

Tableau 3 – Essais exigés pour un système

de mesure certifié de tension alternative

Essai i ndi vi du el de Essai de

Type d'essai Essai de type séri e détermi nati on des
caractéri sti q ues
Coeffi ci en t d e con versi on à l 'étal on n ag e 4. 4. 1 4. 4. 1
I n fl u en ce d e l a ch arg e 4. 4. 2
Com portem en t d yn am i q u e 4. 4. 3/6. 1 . 3. 2
Stabi l i té à cou rt term e 4. 4. 4
Stabi l i té à l on g term e 4. 4. 5 4. 4. 5 (l e cas éch éan t)
E ffet d e l a températu re am bi an te 4. 4. 6

6.2 Modalités d’essai

6.2.1 Essais de tension de tenue
La tension d'essai altern ati ve doit être au gmen tée de man ière u n iform e en tre u n e tension
nu l le (0 V) et la valeu r de la tension d'essai dans u n laps de temps de 5 s au maxi mu m .

En l'absence de spécification du com ité d'études concerné, l a du rée d'essai à la tension

d'essai spéci fi ée doit être de 60 s et doit être in dépendan te de la fréqu ence dans l a pl ag e
comprise entre 45 H z et 65 H z.

Pou r les essais individu els de série, le cou rant de décl ench em ent peu t être ajusté à des
ni veau x inférieurs.

Sau f spéci fication contraire du comi té d'étu des concerné, l es exigences de l'essai son t
satisfai tes si au cun déclenchemen t du m atériel d'essai ne se produ i t.

Pou r des raisons de sécu rité, i l convi en t de rédu ire le couran t à 3 m A.

 – 80 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

7 Essais avec tension de choc

7.1 Tension d'essai
7.1 .1 Généralités
Pour u n système de mesu re des ch ocs, les essais de déterm ination des caractéristiqu es
indiquent ég al em en t qu e ses caractéristiqu es dynam iqu es sont adaptées au x mesurages
spécifiés et qu e le n i veau de tou te perturbati on est in féri eur au x l im i tes spéci fiées.

7.1 .2 Exigences relatives à la tension d'essai

7.1 .2.1 Tension de choc normalisée
I l s’ag i t d’u ne tensi on de choc pleine l isse ayan t u n temps de m on tée de 1 , 2 s et u ne du rée
µ

jusqu'à la mi-valeu r de 50 s, défin ie comme u ne tension de ch oc de 1 , 2/50 à la Fi gu re 6. Les

µ

au tres formes de choc peu ven t être spéci fiées par le com ité d’étu des concern é. Pou r d'au tres
formes de choc, le comité d'étu des concerné doi t définir la valeu r de la tension d'essai , en
tenan t com pte du type d'essai et de l'objet en essai.

U
1 ,0
B
0,9

0,5

0,3 A

0
1 ,2 sec
µ
t
T ′
T1 = T / 0,6
T1
50 sec
µ T = 0,3 T1 = 0,5 T
′

O O1
IEC

Figure 6 – Tension de choc normalisée de 1 ,2/50 µs

7.1 .2.2 Tolérances sur le choc normalisé
Sau f décision con traire du comi té d'études concerné, les di fférences su ivantes son t
acceptées en tre les valeu rs spéci fi ées pou r le choc normal isé et les valeurs calcu lées à partir
de l a forme d'onde de ch oc:
Valeur de crête ± 3%
Tem ps de mon tée ± 30 %
Du rée ju squ'à la mi-valeu r ± 20 %
Dans les circu i ts g énérateu rs de ch ocs usu els, des osci llations su r la partie du fron t de choc
pendan t laqu elle la tensi on n e dépasse pas 90 % de l a valeu r de crête on t g énéralemen t u n
effet nég ligeable su r les résu l tats d'essai . I l convi en t qu e l e choc soi t essentiell emen t
u ni polaire.

Dans des cas particu liers (l ors d'essais su r des objets ayan t u ne fai ble impédance, par
exem ple, des g ros con densateu rs) , il peu t être im possible d'ajuster la forme du ch oc, en
respectan t les tolérances recom mandées, pou r conserver l es osci l lati ons dans les limi tes
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 81 –

spécifiées, ou pou r évi ter u ne i nversion de polari té. I l convien t qu e de tels cas soien t trai tés
par le comi té d'études concerné et tiennent compte des dispositions de l'I EC 60060-1 .

7.1 .3 Production de la tension d'essai

Le choc est g énéralem en t produi t par u n g én érateu r de chocs qu i est constitué
essentiell emen t d'u n certain n ombre de condensateurs charg és en paral lèl e par une source
de tension con ti nu e, pu is m is en série et déch arg és dans un circu i t produ isan t l es ch ocs qu i
inclu t l'objet en essai.

7.1 .4 Mesurage de la tension d'essai et détermination de la forme du choc

Le m esu rage de l a valeu r de la tension d'essai et des paramètres de temps de la tension
d'essai doi t être réalisé au m oyen de systèm es de m esu re certi fiés. Le m esu rag e doit être
effectu é avec l'objet en essai dans l e circu i t et, en g énéral, l a forme du ch oc doi t être
con trôlée pour chaque objet en essai . Lorsqu e pl u si eurs objets en essai de m êmes
caractéristiqu es et de m êm es dimensions sont sou m is au x essais dans des condi ti ons
iden tiqu es, la form e du ch oc ne nécessi te qu 'un e seu le véri fication . Lorsqu'une charge de
capaci té élevée n e permet pas d'obtenir la forme d'onde de ch oc dans les tol érances
spécifiées, il peu t être nécessaire d'adapter l a con figu rati on d'essai ou les disposi ti fs
correspondan ts.

N OTE Pou r u n e d éch arg e di sru pti ve, voi r l 'Arti cl e 7 d e l 'I EC 60060-1 : 201 0.

Le mesurag e peu t être effectué sans raccorder le gén érateu r de chocs à l'objet en essai
lorsque l'impédance de ce derni er a u n effet nég li geable su r l'ampl itu de et l a forme d'onde de
la tensi on d'essai. Ceci doit être vérifi é avan t d'appl iqu er cette techn iqu e de m esure.

La déterm ination de la forme du choc par calcu l à parti r des paramètres du circuit d’essai
n'est pas reconnu e comme u ne techn iqu e adaptée.

Deu x chocs ou plus peuven t être nécessaires pou r établir u n foncti onn ement coh éren t.

7.2 Modalités d’essai

7.2.1 Vérification de la forme d'onde de la tension de choc
La forme d'onde de la tension de choc appl iquée à u n ou des objets en essai doit être vérifiée
en u til isan t des val eurs de crête non in férieures à 50 % du niveau de tension d'essai . Dans le
cas d'objets en essai i den ti qu es, i l est nécessai re d'effectuer cette vérifi cation un iqu em ent
u ne seu le foi s au débu t de l a série.

7.2.2 Essais de tension de choc

Cinq chocs de la forme spécifiée et de chaqu e polari té doi ven t être appl iqu és à la tension de
choc. Les exig ences de l'essai son t satisfaites si au cu n e indication de déch arg e disruptive ou
de cl aqu age parti el n'est constatée.

N OTE 1 Des d éch arg es di sru pti ves n on en treten u es pen d an t l esq u el l es l 'obj et en essai est m om en tan ém en t
cou rt-ci rcu i té par u n e éti n cel l e ou u n arc peu ven t se prod u i re. Pen d an t ces évén em en ts, l a ten si on au x born es d e
l 'obj et en essai est m om en tan ém en t réd u i te à zéro ou à u n e val eu r très fai bl e. Sel on l es caractéri sti q u es d u ci rcu i t
d 'essai et de l 'obj et en essai , l a ri g i d i té di él ectri q u e peu t être rétabl i e et peu t m êm e perm ettre à l a ten si on d 'essai
d 'attei n d re u n e val eu r pl u s él evée. U n tel évén em en t est con si d éré com m e u n e d éch arg e di sru pti ve sau f
spéci fi cati on con trai re d u com i té d 'étu d es con cern é.

N OTE 2 U n e d éch arg e d i sru pti ve d an s u n di él ectri qu e sol i d e occasi on n e l a perte d éfi n i ti ve d e l a ri g i di té
d i él ectri q u e; d an s u n di él ectri qu e l i q u i de ou g azeu x, cette perte peu t n 'être q u e m om en tan ée.

Le comi té d'études concerné doi t spécifier les cri tères pou r l'i den ti fication et l'évalu ation des
claquag es parti els, le cas échéant.
 – 82 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

7.3 Mesurage de la tension d'essai

7.3.1 Exigences relatives à un système de mesure certifié
Les exigences g énérales son t l es su i van tes:
m esu rer la valeur de la tensi on d'essai avec un e incertitu de élarg ie UM 1 ≤ 3 %;
m esu rer les paramètres de temps qu i défin issen t la forme d'onde avec u ne incerti tu de
élarg ie UM 3 ≤ 1 0 %.
N OTE Au cu n e recom m an d ati on n 'est fou rn i e pou r l e m esu rag e d e l a ch u te d e ten si on étan t don n é q u 'au cu n
com i té I EC en ch arg e d es apparei l s n 'a en core spéci fi é d 'exi g en ce.

7.3.2 Contributions à l'incertitude

Pour u n système de mesu re de tension de choc de fou dre, l 'incertitu de élarg ie de m esu re UM
doi t être évalu ée avec u ne probabi li té de cou vertu re de 95 %. Les essais visan t à l'évalu ati on
des con tribu tions à l 'i ncertitu de qu i sont habitu ellemen t en visag ées son t résu més dans le
Tableau 4. D'au tres con tribu tions peu ven t être i mportan tes dans certains cas et doiven t être
ég alemen t prises en com pte.

7.3.3 Comportement dynamique

Le comportem en t dynami qu e d'un système de mesu re est adapté au mesu rag e de la tension
de crête et des paramètres de tem ps sur la période nom i nale pou r les formes d'onde
spécifiées dans le recu eil de caractéristiqu es lorsqu e l'incerti tu de élarg ie de mesu re des
paramètres de temps n 'est pas su périeure à 1 0 %.

Tableau 4 – Essais exigés pour un système de mesure certifié de tension de choc

Essai i ndi vi du el de Essai de

Type d'essai Essai de type séri e détermi nati on des
caractéri sti q ues
Coeffi ci en t d e con versi on à l 'étal on n ag e 4. 4. 1 4. 4. 1
Param ètre d e tem ps 4. 4. 8 4. 4. 8
I n fl u en ce de l a ch arg e 4. 4. 2
Com portem en t dyn am i q u e 4. 4. 3
Stabi l i té à cou rt term e 4. 4. 4
Stabi l i té à l on g term e 4. 4. 5 4. 4. 5 (l e cas éch éan t)
Effet d e l a tem pératu re am bi an te 4. 4. 6

7.3.4 Exigences relatives à l'instrument de mesure

L'instru men t de mesu re doi t être conforme à l 'I EC 61 083-1 et à l'I EC 61 083-2.

8 Systèmes de mesure de référence

8.1 Exigences relatives aux systèmes de mesure de référence

8.1 .1 Tension continue
Le systèm e de mesure de référence doi t permettre l e mesu rag e de tensions con tinu es avec
u ne incerti tu de élarg i e U ≤ 1 % dans sa plag e d'u ti lisation . L'incerti tu de n e doi t pas être
M

in flu encée par un facteu r d'ondu lation jusqu 'à 3 %.

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 83 –

8. 1 .2 Te n s i o n a l t e rn a t i ve

Le système de mesu re de référence doit perm ettre le mesu rag e de tensions al ternatives avec
u ne incerti tu de élarg ie U ≤ 1 % dans sa plage d'util isation.
M

8. 1 . 3 Ten s i o n s d e ch oc

Selon l'I EC 60060-2, les exi gences rel atives à u n systèm e de mesu re de référence des
tensi ons de choc sont ≤ 1 % pou r la valeu r de crête et ≤ 5 % pou r les paramètres de temps.

8. 2 É t a l o n n a g e d ' u n s ys t è m e d e m e s u r e d e r é f é r e n c e

8. 2. 1 G én éra l i t és

La con form i té d'u n système de m esure de référence au x exig ences correspondantes données
en 8. 1 de la présente N orme doit être dém on trée par la m éthode de référence.

8. 2.2 M éth o d e d e référen ce : m e s u rag e c o m p arat i f

La caractéristiqu e de fonctionnemen t satisfaisan te d'u n système de m esu re de référence doi t

être démon trée par étalonnag e par rapport à u n au tre système de m esure de référence
approprié, qu i est lu i-même traçable par rapport à des étalons de mesure nation au x ou
i nternationau x.

La caractéristiqu e de fonctionnement satisfaisan te d'u n système de mesu re de référence de

ch oc doit être démon trée par étalonnage par des m esu rag es comparatifs à l a tension d'essai
appropriée avec des formes d'ondes de deu x temps de mon tée ou pl us cou vran t la plage de
l a période nominale.

8. 3 I n t e r v a l l e e n t r e l e s é t a l o n n a g e s s u c c e s s i f s d e s s ys t è m e s d e m e s u r e d e r é f é r e n c e

L'interval le en tre les étalon nag es doi t être déterm iné selon les rég lementations nation al es. En
l'absence de rég lemen tation , la recomm andati on spécifie qu e l es étalon nag es doi ven t être
répétés au m oins u ne fois par an .

8. 4 U t i l i s a t i o n d e s s ys t è m e s d e m e s u r e d e r é f é r e n c e

I l con vien t d'u ti liser les systèmes de mesu re de référence u ni quemen t pour des mesu rages
comparatifs dans les essais de détermination des caractéristiqu es. Tou tefois, u n système de
mesu re de référence peu t être u ti lisé comm e système de mesure certifié à con diti on qu 'i l
reste con form e au x exig ences de la présen te n orm e, et que cette u til isation n 'affecte pas ses
caractéristiqu es en tan t qu e système de référence. U n système de m esu re certifié peu t n e
pas être u til isé com me système de m esu re de référence.
 – 84 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

An n exe A

(informative)

I n certi tu d e d e m esu re

A. 1 G én é ral i tés

U ne procédu re si mpl ifiée d'évalu ati on de l 'i ncertitu de de mesure dans des condi ti ons
g énéralemen t applicables et total emen t su ffisan tes dans les mesu rag es de h au te tension est
décri te en 4. 4. Tou tefois dans certains cas, il peu t être nécessaire ou sou hai table d'éval uer
les incerti tu des de façon plu s complexe. L'An nexe A fou rnit une étu de su r l es modali tés à
su i vre dans ces cas, et l'An nexe B décri t u n exemple d'application .

Ch aqu e mesu rag e d'u ne g randeur est à un certain degré im parfai t, et le résul tat d'un
m esu rage n'est qu 'u ne approxi mati on ("estimati on ") de l a valeur "vraie" du mesu ran de.
L'incertitu de de mesu re donn e un e in dicati on clai re sur la qual ité d'un mesu rage. El le perm et
à l'u til isateu r de comparer et pon dérer les résu ltats de mesure, par exempl e, obtenu s de
l aboratoires di fféren ts, et el le donne des in formations sur l e fai t de détermi ner si un résu l tat
de m esure s'i nscri t ou non dans les limi tes spéci fiées par un e n orm e. U n Gu ide pou r
l 'expression de l'I ncerti tu de de Mesu re (GU M) a été pu bl ié u n e prem ière fois en 1 993 par
l 'Organisati on I n tern ati on ale de N orm alisati on (I SO) et a fai t l 'objet d'u ne nou velle édi tion en
2008, avec des modi fications mi neu res, en tant qu e Gu ide I SO/I EC 98-3:2008. I l constitue
désormais le docum en t accepté à l'échell e in tern ationale pou r l'esti mation de l'incerti tu de de
m esure.

Le GU M , en sa qu ali té de g ui de, fou rnit des règ les g énérales pour l 'évalu ation et l'expression
de l 'i ncertitu de dans un l arge spectre de mesu res à di vers n iveau x d'i ncertitu de. I l est donc
n écessaire d'extraire du GU M u n ensemble de règ les spéci fiqu es qui traiten t du dom aine
spéci fique des mesu rages de h au te tension et de son ni veau d'exactitu de et de complexi té.
Selon les principes fondamen tau x du GU M , les incertitudes son t grou pées en deu x catég ories
en fonction de leu rs méth odes d'évalu ati on . Ces deu x m éthodes son t basées su r des l ois de
probabili té des grandeu rs qu i in flu encen t le m esu rag e et sur des incerti tu des-types
quan ti fiées par l es variances ou les écarts-types. Cela permet u n traitement un i forme des
deu x catégori es d'incerti tu des et u ne évalu ation d'u n e i ncertitude-type composée du
m esu rande. Dans l e domain e d'appl ication de la présente N orm e, un e i ncertitude élargi e
correspondan t à un e probabil ité de cou verture de 95 % en viron est exig ée.

Les principes fondamen tau x du GU M et des exemples de la façon de déterminer les

incerti tu des dans l es mesu rag es de h au te tensi on son t présen tés dans les articles su ivan ts.
Les form ul es et les exemples donn és ici son t vali des pou r des g randeurs d'en trée non
corrélées, ce qu i est sou ven t le cas dans les mesu rag es de h au te tension .

A. 2 Te rm es e t d é fi n i ti o n s e n c o m p l é m e n t à c el l es d e 3 . 7

A. 2 . 1

g ra n d eu r m e s u ra bl e

attribu t d'u n phénom èn e, d'u n corps ou d'u ne su bstance qu i peu t être di sting u é
qu ali tati vemen t et déterm i né qu an ti tati vemen t
A. 2 . 2

va l e u r d ' u n e g r a n d e u r

ampl itu de d'u ne g randeu r particu l ière gén éralem en t exprimée sous la forme d'u ne u nité de
mesu re m ul ti pli ée par u n n om bre
A. 2 . 3

m e s u ran d e

g ran deu r spécifiqu e sou mise à m esu rage

I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 85 –

A. 2 . 4
va r i a n c e
espérance math ématiqu e du carré de l'écart d'u ne variable aléatoire autour de son espérance
math ématiqu e
A. 2 . 5
c o r ré l a t i o n
relati on en tre deu x variables aléatoires ou plu s dans une distribu tion de deu x vari ables
aléatoires ou pl u s
A. 2 . 6
p ro b a b i l i t é d e c o u ve rt u r e
fraction , habitu ellemen t g rande, d'un e distri bu tion de valeu rs qui , en tan t que résu ltat d'un
mesurag e, pou rrait être raisonnabl ement attribu ée au mesu rande

A. 3 Fon cti on -m od èl e

Chaqu e mesu rag e peu t être décrit par u ne rel ati on fonction nel l e f :

Y = f ( X1 , X 2 , . . ., X i , . . ., X N ) (A. 1 )

où Y est le m esu rande et Xi sont les différen tes g randeu rs d'en trée num érotées de 1 à N. Au
sens du GU M, la foncti on -modèle f comprend tou tes l es valeu rs de m esu re, tou tes l es
g randeurs d'infl uence, tou tes les corrections, tou s les facteurs de correction , tou tes les
constan tes ph ysi ques, et tou tes au tres donn ées qu i peu ven t contribu er dans u ne larg e
m esu re à la val eur de Y et à son incerti tu de. El le peu t se présen ter sou s la form e d'u ne
expression analyti que ou nu mériqu e u ni qu e ou m u ltiple, ou d'u ne combin aison des deu x. En
g énéral, les grandeu rs d'entrée Xi son t des variabl es aléatoires et son t décri tes par des
observations xi (”estimations d'entrée”) ayan t des lois de probabili té spécifiques et étan t
associ ées à des incertitudes-types u ( xi ) de Type A ou de Type B. La combin aison de ces deu x
types d'i ncerti tu des selon les règ les du GU M donne l'i ncertitu de-type u ( y ) de l 'estimati on de
sorti e y .

N OTE 1 La fon cti on -m od èl e f d an s (A. 1 ) est ég al em en t val i d e pou r l es esti m ati on s d 'en trée et d e sorti e x i et y ,
respecti vem en t.

N OTE 2 Dan s u n e séri e d 'observati on s, l a k’ è m e val eu r observée d e l a g ran d eu r Xi est dési g n ée par xik.

A. 4 É v a l u a t i o n d e Typ e A d e l ' i n c e rt i t u d e - t yp e

La méth ode d'évalu ation de Type A est appliquée à des g randeurs qui varien t de façon
aléatoire et pour lesqu ell es n observations indépendantes ont été obtenu es dans les mêm es
conditions de m esu re. En général , i l est possible de considérer par h ypoth èse u n e loi n ormale
(g au ssienne) de probabilité des n observations xik (Fig u re A. 1 ) .

N OTE Xi peu t être u n coeffi ci en t d e con versi on , u n e val eu r d e ten si on d 'essai ou u n param ètre d e tem ps avec l es
observati on s x ik.

La valeu r arith métiqu e moyenn e xi des observati ons xik est définie par:

n
1
xi =
n
∑x
k =1
ik , (A. 2)

qu i est répu tée être la mei ll eure estimation de Xi. Son incertitu de-type de Type A est ég ale à
l 'écart-type expérim en tal de la moyen ne:
 – 86 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

s ( xi )
u ( xi ) = s ( xi ) = (A. 3)
n

où s ( x) est l'écart-type expérimen tal (des valeu rs i ndi vidu el les) :

n
1
s ( xi ) = ∑ ( xi k − xi )
2
. (A. 4)
n −1 k =1

Les valeu rs quadratiqu es de s 2 ( xi) et s ( xi ) son t respecti vemen t appelées variances

2

d'échan ti ll ons et variances de la moyenn e. I l con vi en t que le nombre d'observations soit

n ≥ 1 0, sinon la fiabil ité d'u n e évalu ation de Type A de l'incerti tu de-type doit être véri fiée au
m oyen des degrés de l iberté réels (voir l'Article A. 8) .

Dans certains cas, une estim ation cu mu lée de la vari ance sp2 peu t être obten u e à partir d'u n
g rand n om bre d'observations an térieu res dans des con diti ons bi en définies. L'i ncertitu de-type
d'u ne mesure comparable avec u n peti t n ombre n ( n = 1 , 2, 3, … ) est alors m ieu x estimée par
u ( xi ) = s / n qu e par la formu le (A. 3) .
p

A. 5 É v a l u a t i o n d e Typ e B d e l ' i n c e rt i t u d e - t yp e

La méthode d'éval uation de Type B s'appl iqu e à tou s l es cas au tres qu e l 'analyse statistiqu e
d'u ne série d'observations. L'incerti tu de-type de Type B est évalu ée par u ne esti mation
scientifiqu e basée sur tou tes les informations dispon ibles concernant la variabilité possi ble
d'u ne g randeu r d'en trée Xi avec les observations xi , telles qu e:
• l a méth ode d'éval uation des g randeurs,
• l ’i ncerti tude d'étal onn age du système de m esu re et ses composants,
• l a n on-l inéarité des di viseu rs et instru men ts de m esu re,
• l e comportem en t dynamiqu e, par exemple, la variation du coefficien t de con versi on avec
l a fréqu ence ou avec la forme des chocs,
• l a stabi l ité à cou rt terme, l 'au toéchauffemen t,
• l a stabil ité à lon g terme, l a déri ve,
• l es conditions ambian tes pendan t le mesurag e,
• l’effet de proxim i té des objets limi trophes,
• les effets du s au l og ici el u ti lisé dans les instru men ts ou dans l 'évalu ation des résul tats,
• la résolu tion l i mi tée des instru m en ts nu m ériques, le rel evé des instru ments analog iqu es.
Les informati ons su r les g ran deu rs d'en trée et les i ncertitudes peu ven t être obtenu es à partir
de mesurag es réels et an térieu rs, de certi ficats d'étalonnag e, de données con tenues dans
des manu els et des normes, de spécifications du constructeu r ou de la conn aissance des
caractéristiqu es des matériau x ou instrum en ts pertinen ts. Les cas su ivants d'évalu ati on de
Type B des incertitu des peu ven t être iden tifiés:
a) Sou ven t u ne seu le valeur d'en trée xi et son incerti tu de-type u ( xi) son t con nues, par
exem ple, une seu le valeu r mesurée, u ne valeu r de correction ou un e valeur de référence
extraite des ou vrag es de référence. Cette valeur et son i ncertitude seron t adoptées dans
l a fonction -m odèl e (A. 1 ) . Dans l e cas où u ( xi) est inconn u e, el le doi t être calcu lée à partir
d'au tres donn ées d'incertitude perti nen tes ou estim ée su r la base de l 'expérience.
b) L'incertitu de d'u n disposi ti f est i ndiqu ée comme u ne incertitude-type m u ltipliée par le
facteu r d'élarg issemen t k, par exemple, l'i ncertitu de-type él arg ie U d'u n vol tm ètre
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 87 –

n u méri qu e dans u n certi ficat d'étalonnag e (Article A. 7) . Lorsqu e le voltmètre est util isé
dans u n système de m esu re complexe, sa con tribu tion à l'incertitu de est:

U
u(x i ) = (A. 5)
k
où k est le facteur d'élarg issemen t. Au lieu d'expri mer l'incerti tude élarg ie et le facteu r
d'élarg issemen t, u ne expression sur le n i veau de con fiance peu t être déterminée, par
exem pl e, 68, 3 %, 95, 45 % ou 99, 7 %. En g énéral, il est possi ble de considérer par
hypoth èse u ne l oi normale selon la Fi gu re A. 1 et l 'expression su r le n i veau de confiance
équ ivau t au facteur d'élarg issemen t k = 1 , 2 ou 3, respecti vem en t.
c) La val eu r xi d'u ne grandeu r d'en trée Xi est estimée comprise dans l'in terval le a - à a + avec
u ne certain e l oi de probabil ité p ( xi) . I l n'y a sou ven t pas de con naissance spécifiqu e de
p ( xi ) et i l est al ors considéré par h ypothèse u ne loi rectan g u laire des valeu rs probabl es
(Figure A. 2) . La valeu r attendu e de Xi est al ors l e poi nt m ilieu xi de l 'in terval le:

xi =
(a − + a + ) (A. 6)
2
et l'i ncertitude-type associée:

a
u ( xi ) = (A. 7)
3

où a = ( a + – a - ) /2.
Dans certains cas, d'au tres lois de probabil i té peu ven t être plus appropriées, telles que des
l ois trapézoïdal es, trian gu laires ou normales.

N OTE L'i n certi tu de-type est u ( x i ) = a / √ 6 pou r l a l oi tri an g u l ai re et u ( x i ) = σ pou r l a l oi n orm al e. Cel a si g n i fi e q u e l a
l oi rectan g u l ai re d on n e u n e pl u s g ran d e i n certi tu d e-type q u e l es au tres l oi s.

Le Gu i de I SO/I EC 98-3:2008 indique qu 'i l con vi ent de n e pas compter deu x fois u n e
incerti tu de-type de Type B si l'effet particu li er a déjà con tribu é à u ne incertitu de de Type A.
En ou tre, i l convi en t qu e l'évalu ation de l'incertitu de soi t réaliste et basée su r les incertitu des-
types, en évitan t d'u til iser des coefficien ts de sécu rité person nels ou au tres pour obteni r des
incerti tu des plu s élevées que celles qu i son t éval u ées selon le GU M . U ne g randeur d'entrée
Xi doit sou vent être aju stée ou corrig ée pou r éli m in er des effets systém atiqu es d'ampl itu de
sign ificati ve, par exem ple, su r la base d'u ne dépendance à l a tem pératu re ou à la tension .
Cepen dan t, l'incerti tu de u ( xi) associée à cette correction doi t toujou rs être prise en com pte.

Le dou bl e comptag e des con tribu ti ons à l'incertitu de peu t se produ ire lorsqu 'u n enreg istreu r
n um éri qu e est u til isé pour des m esurag es de chocs répéti tifs, par exemple, lors de
l 'étalon nag e du coeffici en t de con version . La dispersion des n valeu rs de m esure produisant
u ne incerti tu de-type de Type A peu t être du e partiel lemen t à la résolu tion lim itée de
l 'enreg istreur et à son bru it in terne. I l est inu tile de reprendre en considération la résolu tion
dans sa totali té, m ais il est en revanche u til e de tenir compte d'une petite partie de celle-ci
comm e i ncertitude de Type B résidu el le. Tou tefois, si l 'enregistreur nu m ériqu e est u tilisé
ensu i te au cou rs d'un essai de tension de choc pou r obtenir u ne seu l e valeu r de mesure, la
résolu tion l im i tée doit être prise en considérati on dans u ne incerti tu de de Type B.

L'éval uation des incertitu des de Type B exig e u ne conn aissance approfondie et u ne vaste
expérience des relations ph ysi qu es, g randeurs d'i n flu ence et techni qu es de mesure
concernées. Étant donné que l'évalu ation proprement dite n 'est pas une science exacte qu i
condu i t à un e solu tion u ni qu e, i l n 'est pas rare qu e des techn iciens d'essai expéri men tés
puissen t esti m er le processu s de m esu re d'u n e man ière différen te et obten ir des valeu rs
d'incerti tu des de Type B différentes.
 – 88 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

A. 6 I n c e rt i t u d e - t yp e c o m p o s é e

Chaqu e i ncerti tu de-type u ( xi) de l'esti m ation xi de chaqu e grandeu r d'entrée Xi évalu ée par la
m éthode de Type A ou de Type B con tri bue à l 'i ncertitu de-type de la g randeu r de sortie par:

u i ( y ) = ci u ( xi ) (A. 8)

où ci est le coefficien t de sensibi li té. I l décri t com men t l 'estim ation de sortie y est i nfl uencée
par de faibles variations de l'esti mation d'en trée xi . I l peu t être éval ué directem en t comme la
déri vée partiel le de l a fonction-m odèl e f:

∂f ∂f
ci = X i = xi = , (A. 9)
∂X i ∂x i

ou à l'ai de de méthodes n um éri qu es et expérimen tal es équi valen tes. Le sig ne de c i peu t être
posi ti f ou nég ati f. Lorsque les g ran deu rs d'en trée ne son t pas corrél ées, il est inu ti le de teni r
davantag e compte du sig ne, car seu le la valeu r qu adratiqu e des i ncertitudes-types est u tilisée
dans les étapes su i van tes.

Les N incerti tu des-types u i( y ) défin ies par la form u le (A. 8) con tribu ent à u ne incerti tu de-type
composée u c ( y ) de la g randeu r de sorti e selon la “loi de propag ation de l'incerti tu de”:

N
u c ( y ) = u12 ( y ) + u 22 ( y ) + ... + u N2 ( y ) = ∑u (y)
2 2
i (A. 1 0)
i =1

à partir de l aqu ell e u c ( y ) est évaluée comm e l a racine carrée positive:

N N
uc ( y ) = ∑
i =1
u i2 ( y ) = ∑ [c u( x )]
i =1
i i
2
. (A. 1 1 )

Si la g randeu r de sortie Y est u n produi t ou u n qu oti en t des g ran deu rs d'en trée Xi u ne relati on
simi laire tel le que présentée en (A. 1 0) et (A. 1 1 ) peu t être obtenue pou r les incerti tu des
rel atives u c ( y ) /| y | et u ( xi ) /| xi| . La loi de propag ati on de l'incerti tu de s'appl i qu e ainsi au x deux
types de la foncti on-modèle pou r des gran deu rs d'entrée non corrélées.

En présence d’une corrélati on, la loi de propag ati on de l 'incertitude comporte des termes
li néaires et le sig ne des coefficien ts de sensi bil ité devien t pertin ent. I l y a corrél ation lorsqu e,
par exempl e, le même instrum ent est u til isé pou r m esu rer deu x g randeu rs d'en trée ou pl us.
Pou r éviter de compl iquer le calcu l , la corrélation peu t être éli min ée en ajou tant des
g ran deu rs d'en trée suppl ém entaires dans la fonction -modèle f avec l es corrections et
incerti tu des appropriées. Dans certains cas, la présence de grandeu rs d'en trée corrélées peu t
mêm e rédu ire l'incerti tu de composée. La prise en compte de la corrélati on constitue ainsi le
principe essentiel appli cable à u ne anal yse élaborée des incerti tu des pou r obtenir un e
estimation très exacte de l'incertitude. La corrélation n'est pas davan tag e expl iquée dans la
présen te n orm e.

A. 7 I n cert i tu d e él arg i e

Dans le domain e des m esu rag es de hau te tension et de cou ran t él evé, comm e dans l a plu part
des au tres applications in dustrielles, un e déclaration d'incertitu de correspondant à u n e
probabil ité de cou verture de p = 95 % en viron est exig ée. Cela s'obtien t en mul ti plian t
l'incerti tu de-type com posée u c ( y ) dans (A. 1 1 ) par u n facteur d'élarg issemen t k:
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 89 –

U = ku c ( y ) , (A. 1 2)

où U est l'incerti tu de élarg ie. Le facteu r d'élarg issemen t k = 2 est u ti lisé dans les cas où une
l oi normale peu t être attribu ée à y et où u c ( y ) a u ne fiabi li té su ffisan te, c'est-à-dire qu e les
degrés de l iberté réels de u c ( y ) son t su ffisamm ent él evés (voir l 'Article A. 8) . Sinon , un e val eu r
k > 2 doi t être déterm inée pou r obteni r p = 95 %.

N OTE 1 Certai n es n orm es pl u s an ci en n es u ti l i sen t l e term e “i n certi tu d e g l obal e”. Dan s l a m aj ori té des cas, ce
term e est i n terprété com m e u n e i n certi tu d e él arg i e U avec l e facteu r d 'él arg i ssem en t ég al à 2.

N OTE 2 Dan s l a m esu re où l es i n certi tu d es son t d éfi n i es com m e d es n om bres posi ti fs, l e si g n e d e U est tou j ou rs
posi ti f. N atu rel l em en t, d an s l es cas où U est u ti l i sé au sen s d 'i n terval l e d 'i n certi tu d e, i l est d ési g n é par k com m e ± U.

A.8 Degrés de liberté réels

L'h ypoth èse d'u n e loi normale de l'i ncerti tu de élarg ie est, en g énéral , valide l orsqu e plu sieu rs
(c'est-à-dire N ≥ 3) composan tes d'incertitude de valeu r com parable et de loi de probabil ité
bien défin ie (gau ssi enne, rectang ulaire, etc. ) con tribu en t à l'incertitu de-type composée et
lorsque l'incerti tu de de Type A est basée su r n ≥ 1 0 observations répétées. Ces conditions
son t rempl ies dans de nombreu x étalonnages de systèmes de m esu re de tension . Lorsqu e
l'h ypothèse d'u ne loi n ormale n 'est pas justifiée, u ne val eur de k > 2 doit être évalu ée pour
obten ir u n e probabil ité de cou vertu re de 95 % en viron . Le facteu r d'élarg issemen t appropri é
peu t être évalu é su r la base des deg rés de liberté réels ν eff de l'i ncertitu de-type u c ( y ) :

uc ( y )
4
ν eff = , (A. 1 3)
ui ( y )
N 4

∑ νi
i =1

où u i( y ) est donné par l 'équ ation (A. 8) pou r i = 1 , 2, … , N et νi son t les deg rés de liberté
correspondan ts. Les valeu rs fiables de ν i son t les su ivantes:
• νi = n –1 pour u ne incertitu de de Type A basée su r n observations indépendan tes,
• νi ≥ 50 pour u ne i ncertitu de de Type B prise dans u n certificat d'étalonnag e, et lorsqu e
l a probabil ité de cou vertu re est déclarée ne pas être in férieure à 95 %,
• νi =∞ pour u ne incertitu de de Type B en prenan t pour hypothèse une loi
rectan gu laire (Fig u re A. 2) entre a - et a+
Les deg rés de liberté réels peu vent alors être calcu lés par l a formu le (A. 1 3) et le facteu r
d'élargissemen t peu t être pris dans le Tableau A. 1 qui est basé su r u ne loi de t évaluée pou r
u ne probabilité de cou vertu re de p = 95, 45 %. Si ν eff n'est pas un nombre en tier, i n terpol er ou
tronqu er la valeur de ν eff au nombre en tier i mmédiatem en t inférieur.

Tableau A.1 – Facteur d'élargissement k pour

les degrés de liberté réels νeff ( p = 95,45 %)
ν eff 1 2 3 4 5 6 7 8 10 20 50 ∞
k 1 3, 97 4, 53 3, 31 2, 87 2, 65 2, 52 2, 43 2, 37 2, 28 2, 1 3 2, 05 2, 00

A.9 Bilan d'incertitude

Le bi lan d'incerti tu de de mesu re est u ne an alyse détail lée de tou tes les sou rces et val eu rs
d'incertitu de selon la fonction-m odèl e f. I l con vien t de conserver les don nées pertinen tes en
vu e d'u n examen sous l a forme d'u n tableau iden ti qu e ou comparable au Tableau A. 2. La
 – 90 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

dern ière li g ne in di qu e l es valeu rs du résu ltat de m esu re y , l 'incertitude composée uc ( y) et les

deg rés de l iberté réels νeff .

Tableau A.2 – Représentation schématique d'un bilan d'incertitude

Grandeur Valeur Contribution à Degrés de Coefficient de Contribution à
l'incertitude- liberté sensibilité l'incertitude-
type type composée
Xi xi u ( xi ) νi / ν eff ci u i( y)

X1 x1 u ( x1 ) ν1 c1 u1 ( y )
X2 x2 u ( x2 ) ν2 c2 u2 ( y)

: : : : : :
XN xN u ( xN ) νN cN uN ( y)

Y y ν eff ( )
uc y

N OTE Des l og i ci el s val i d és son t d i spon i bl es d an s l e com m erce ou peu ven t être d ével oppés par l 'u ti l i sateu r à
parti r d e l og i ci el s g én érau x qu i perm etten t de cal cu l er au tom ati q u em en t l es g ran d eu rs d u Tabl eau A. 2 à parti r d e
l 'éq u ati on -m od èl e f.

A.1 0 Expression du résultat de mesure

Dans les certi ficats d'étalonnage et d'essai, le mesu ran de Y doit être expri m é sous la forme y
± U pou r un e probabi lité de cou vertu re (ou niveau de con fiance) de p = 95 % environ . La
valeu r n umériqu e de l 'i ncerti tu de élarg ie U doit être arrondie pou r donn er deu x chi ffres
sig ni ficatifs au m axi mum . Si l'arrondi par défaut rédu i t la valeur de plu s de 0, 05 U, l a val eu r
arron die par excès doit être u ti lisée. La val eur nu mériqu e de y doi t être arron die au chi ffre le
moins sign i ficati f qu i serai t su sceptible d'être affecté par l'incertitu de élarg ie.

EXEM PLE 1 Le résu l tat de m esu re d e ten si on est expri m é de l 'u n e d es façon s su i van tes:
(227, 2 ± 2, 4) kV,
227, 2 × (1 ± 0, 01 1 ) kV, ou
227, 2 × (1 ± 1 , 1 · 1 0 – 2 ) kV.

I l con vi en t d 'aj ou ter u n e n ote expl i cati ve pou r i n di q u er l a probabi l i té d e cou vertu re p et l e facteu r d 'él arg i ssem en t k.

EXE M PLE 2 Le l i bel l é com pl et su i van t est recom m an d é (l es term es en tre paren th èses s'appl i q u en t d an s l es cas
où ν eff < 50, c'est-à-di re k > 2,05 sel on l e Tabl eau A. 1 ) :

“L'i n certi tu de él arg i e d e m esu re i n d i qu ée correspon d à l 'i n certi tu de d e m esu re m u l ti pl i ée par l e facteu r
d 'él arg i ssem en t k = 2 (k = XX) , l eq u el pou r u n e l oi n orm al e (u n e l oi d e t présen tan t ν eff = YY d eg rés d e l i berté réel s)
correspon d à u n e probabi l i té d e cou vertu re d e 95 % en vi ron . L'i n certi tu d e-type de m esu re a été d éterm i n ée
con form ém en t à l 'I EC 60060-2. ”
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 91 –

p( x)

x
x −σ x x+σ
IEC

La zon e om brée représen te l 'i n certi tu d e-type au -d essu s et au -d essou s de xi i .

Figure A.1 – Loi normale de probabilité p ( x )

p( x)

2a
1
2a

a− x a+ x

2a
3
IEC

La zon e om brée représen te l 'i n certi tu d e-type au -d essu s et au -d essou s de xi i .

Figure A.2 – Loi rectang ulaire de probabilité p(x)

 – 92 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Annexe B
(informative)

Exemple de calcul d'incertitudes de mesure

dans des mesurages de haute tension
U n système de mesu re en cou rant al ternatif d'u ne tension assi g née de 500 V, désig né par X,
est étal onné par u n laboratoire d'étal onn age accrédité. L'étalonnag e est réal isé ju squ'à
VXm ax = 500 V par comparaison avec un systèm e de mesu re de référence, désig n é par N
(Tableau B. 1 ) . Le coeffici en t de con version et l 'incerti tu de élarg ie relati ve du système de
référence N à 20 °C sont respectivemen t FN = 1 , 025 et UN = 0, 8 % ( k = 2) , y com pris u n e
con tribu tion à l'i ncerti tu de esti mée pour l'i nstabil ité à l ong terme.

Lors de l'étalonnage, la tem pératu re ambian te est de (1 5 ± 2) °C. Étant donné qu e le

coefficien t de con version de N a été étal onn é à 20 °C, il est corrig é de -0, 3 % en fonction de
son coefficient de températu re, ce qu i donn e l a valeu r réel le FN = 1 , 022 à 1 5 °C. Cette
correction n 'est toutefois pas très exacte et, en ou tre, en raison de la variation de température
à ± 2 °C près au cou rs de l'étalonnage, les valeu rs probabl es de FN son t censées s'i nscrire
dans un in tervall e de ± 0, 001 au tou r de FN avec u ne l oi rectang ul aire. Les m esu rages de
comparaison son t effectu és à h = 5 n i veau x de tension d'envi ron 20 %, 40 % et 1 00 % de
VXm ax . À chaqu e n iveau de tension , des relevés de lecture sim ul tanés des tensions VN et VX
son t effectués pou r n = 1 0 appl icati ons de tension. Des étu des pl u s approfon dies su r le
comportemen t dynamiqu e, l a stabil ité à cou rt terme, l 'i ntervall e de températu re et les
perturbations in diquen t u ne in flu ence sur l e coeffici en t de con version de l 'objet en essai , FX ,
ch acun e ne dépassan t pas ± 0, 2 %. Sa stabi li té à long term e est estim ée su r l a base des
donn ées du constructeu r com me n e variant pas de plu s de ± 0, 3 % jusqu'à l'étalonnag e
su i van t.

L'équ ation-m odèle pour calcu ler la valeu r de FX et son incerti tu de-type composée peu t être
développée comm e su i t. Dans le cas idéal, les deu x systèmes de mesure in diqu en t la même
valeur de la tensi on d'essai al ternative V (Tableau B. 1 ) :

V = FN VN = FX VX . (B. 1 )

Ce qu i condu it à la formu le de base pour calcu ler le coeffici ent de con version du système en
essai :

V
FX = N FN . (B. 2)
VX

Comm e décrit ci-dessu s, les coefficien ts de conversi on des deu x systèmes son t cal cu lés en
fonction de plu sieu rs g randeurs d'influ ence tel les qu e la dérive, la tem pérature, etc. Ces
g ran deu rs contribu en t au x valeu rs du coeffici en t de con version et ég alemen t à l eu rs
incerti tu des. Ces con tribu tions son t dési g nées dans le cas présen t par ∆ FN , 1 , ∆ FN , 2 , … pour
l e système de référence et par ∆ FX, 1 , ∆ FX, 2 , … pour le système en essai. En g énéral, chaqu e
con tribu tion au coefficien t de con version FN ou FX se tradu i t par u ne erreu r et u ne incerti tu de-
type. L'erreu r est prise pour corrig er le coefficient de conversion , la correction étan t de sig ne
opposé. La con tribu tion à l'incertitude est l iée au coefficien t de con version concerné FN ou FX
et est évaluée d'u ne mani ère si milaire à celle décri te dans l 'Article A. 5, c'est-à-dire soi t en
considéran t par h ypoth èse u ne loi rectang u laire de probabi li té dans u n i ntervalle ± a i , ce qu i
condu it à un e i ncertitu de-type u i = a i /√ 3, soi t, dans le cas d'u n com posan t étalonné, en
di visan t son i ncertitu de élarg ie U par l e facteu r d'élarg issemen t k. I l n 'est pas nécessaire qu e
l a con tribu tion ∆ FN , m ou ∆ FX, i comporte tou jou rs u ne erreu r (ou l'erreu r est considérée par
h ypoth èse su ffisamm en t faible pou r être n ég li gée) , ell e est al ors consti tuée un i qu emen t de l a
contribu tion à l'incerti tude u i.
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 93 –

La formu le de base (B. 2) est complétée par l es con tribu tions ∆ FN , m et ∆ FX, i pou r obtenir la
fonction-modèl e complète permettant de déterm i ner le coefficien t de con version FX et son
i ncertitude-type composée. Dans la m esu re où la corrélation en tre les g randeurs d'i nflu ence
est nég ligée, (B. 2) peu t alors s'écrire dans la version g énérale:

V  
FX − ∑ ΔFX,i = VN  FN − ∑ ΔFN, m  . (B. 3)
i X  m 

N OTE 1 Par défi n i ti on , l es erreu rs i n sérées d an s l es d eu x m em bres d e l 'éq u ati on on t u n si g n e n ég ati f. El l es son t
d éfi n i es com m e étan t ∆ F = (val eu r i n d i qu ée) – (val eu r correcte) .

Pou r l e cas d'espèce, le coefficien t de con versi on FX du système de mesure en couran t

al ternati f peu t être exprim é par:

5
V
FX = N ( FN − ΔFN ) + ∆ FX,i ,
VX i =1
∑ (B. 4)

où :
∆ FN est la contribu ti on du e à la températu re plu s basse du systèm e de référence,
∆ FX , 1 est la con tribu ti on du e à l a non-l inéarité du qu otien t,
∆ FX , 2 est la con tribu ti on du e à l 'instabil ité à cou rt terme du système en essai,
∆ FX , 3 est la con tribu ti on du e à l 'instabil i té à long terme du systèm e en essai,
∆ FX , 4 est la con tribu ti on du e au com portem en t dynamiqu e du système en essai,
∆ FX , 5 est la con tribu ti on du e à l a vari ati on de tem pératu re du système en essai.
N OTE 2 Dan s cet exem pl e, ∆ FN con si ste à l a foi s en u n e correcti on et u n e con tri bu ti on à l 'i n certi tu d e d u
coeffi ci en t d e con versi on FN , tan di s q u e l es term es ∆ FX 1 à ∆ FX 5 con tri bu en t u n i q u em en t à l 'i n certi tu d e d u
coeffi ci en t d e con versi on FX . Par com m od i té, l es con tri bu ti on s à l 'i n certi tu de ∆ FX 1 à ∆ FX 5 son t d i rectem en t l i ées à
FX , c'est-à-d i re q u e l es coeffi ci en ts d e sen si bi l i té d e ces g ran d eu rs d 'en trée on t déj à été pri s en con si d érati on .

Le mesurag e de comparaison à u n seu l ni veau de tension entre le systèm e de mesure X et le

système de référence N fou rn i t n = 1 0 pai res de valeu rs mesu rées VN et VX , à partir
desqu el les les qu oti en ts VN / VX , leu r m oyenne et l 'écart-type expérim en tal s ( VN / VX ) son t
calcu lés. U n exemple pou r les valeu rs mesu rées à u n n iveau de tensi on d'en viron 40 % VXm ax
est donné dans le Tableau B. 1 . De m ême, les quotien ts VN / VX et les écarts-types s ( VN / VX )
son t obtenus pour u n total de h = 5 niveau x de tension ju squ 'à 500 V (Tableau B. 2) .
 – 94 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Tableau B.1 – Résultat du mesurage de comparaison

jusqu'à 500 V à un seul niveau de tension
Nombre de mesurag es Système de référence Système en essai Quotient
VN VX VN / VX
V V
1 1 91 , 4 1 90, 8 1 , 0031
2 1 91 , 6 1 90, 9 1 , 0037
3 1 90, 7 1 89, 9 1 , 0042
4 1 89, 9 1 89, 0 1 , 0048
5 1 90, 9 1 89, 9 1 , 0053
6 1 91 , 2 1 90, 3 1 , 0047
7 1 91 , 3 1 90, 4 1 , 0047
8 1 91 , 2 1 90, 4 1 , 0042
9 1 90, 6 1 89, 9 1 , 0037
10 1 91 , 3 1 90, 7 1 , 0031
M oyen n e d e VN / VX à en vi ron 40 % VXm ax 1 ,0042
Écart-type expéri m en tal s ( VN / VX ) : 0,73*1 0 –3

Tableau B.2 – Résumé des résultats pour h = 5 niveaux de tension ( VXmax = 500 V)
g Ni veau de tension VN/VX s ( VN/ VX)
N o. % d e VXmax
1 18 1 , 0032 0, 71 *1 0 - 3
2 38 1 , 0042 0, 73*1 0 - 3
3 63 1 , 0045 0, 81 *1 0 - 3
4 83 1 , 0065 0, 68*1 0 - 3
5 1 00 1 , 01 01 0, 85*1 0 - 3 (= s m ax )
Moyenne 1 ,0057

La moyenn e des cin q quotients VN/VX dans le Tableau B. 2 est de 1 , 0057. Du poi n t de vu e de
la fiabi lité de l'estimation d'incertitude, l'incerti tu de-type de Type A de VN/ VX est éval uée à
partir de l'écart-type maxi m um s m ax = 0, 85 * 1 0 -3 selon (A. 3) :

uA = s max =
0 , 85 ⋅ 10 −3
= 0, 27 ⋅ 10 − 3 .
n 10
L'écart des qu otien ts VN/VX par rapport à leu r moyen ne caractérise l a non-l in éari té du
système X. L'écart maxim u m est a1 = 4, 4*1 0 -3 à 1 00 % de VXm ax (Tabl eau B. 2) . L'incerti tu de-
type de Type B de VN/ VX, du e à la non-li néari té, est ainsi a 1 /√ 3 = 2, 54*1 0 –3 selon (A. 7) . Cette
valeur est mu l ti pl iée par le coefficien t de sensibi li té concern é c1 = ∂ F X/ ∂ ( VN/VX) = FN –
∆ FN = 1 , 025 – 0, 003 * 1 , 025 = 1 , 022 pou r obtenir la con tribu tion à l'incertitu de de Type B:

a ( FN − ∆FN ) = 4, 4 * 10 1, 022 = 2, 6 * 10 −3 .
−3
u B1 = 1
3 3
I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6 – 95 –

Les val eu rs et l es incerti tudes-types de tou tes les g randeu rs d'en trée son t saisies dans le
m em bre de droite de l a formu le-modèl e (B. 4) . La form u le-modèle peu t être évalu ée
m anu ell ement, à l'aide des équ ations donn ées dans l'Annexe A, ou au moyen d'u n log ici el
spéci al qu 'i l con vi en t de valider pou r l e calcu l des i ncerti tu des. Le résu ltat de l 'évalu ation est
résu mé dans l e Tabl eau B. 3. La dern ière lig ne in diqu e le coefficien t de con version affecté FX,
son incerti tu de-type com posée et les deg rés de l i berté réels. La valeu r élevée ν eff = 1 80
i ndique une l oi norm ale des valeu rs probables de FX, et donc k = 2 est val ide (voir l'An nexe A,
Tableau A. 1 ) .

L'estim ati on de l'incerti tu de n'est pas très précise et u ne précision nu m érique importante n'est
pas exig ée.
En fin, le résu l tat complet de l'étalonn age du système de mesu re certi fi é est exprimé par l e
coefficien t de con versi on affecté et son incerti tu de élargi e:

FX= 1 , 028 ± 1 1 *1 0 -3 = 1 , 028(1 ± 0, 01 1 ) pour u ne probabil ité de cou vertu re supérieu re ou

égale à 95 % ( k = 2) .

L'incertitu de élarg ie relati ve du coeffici en t de conversion affecté est U = 1 , 1 %. Étant donn é

qu 'el le compren d u ne con tribu tion à l'incerti tu de de la stabi li té à lon g terme, ell e peu t être
appli qu ée comm e incerti tu de él arg ie de la tension d'essai ju squ 'à l'étalonnage sui van t du
système de mesu re certifi é, à condi tion qu e la stabil i té du coefficien t de con versi on soi t
con trôlée par des essais i n termédiai res de déterm i nation des caractéristi qu es (voir 4. 4) .

N OTE 3 La m éth od e si m pl i fi ée d e l 'Arti cl e 5 fou rn i t u n e i n certi tu de él arg i e rel ati ve i d en ti qu e d u coeffi ci en t d e

con versi on affecté.

Tableau B.3 – Bilan d'incertitude du coefficient de conversion affecté FX

Grandeur Valeur Contribution à Degrés de Coefficient de Contribution à
l'incertitude-type liberté sensibilité l'incertitude-type
composée
FN 1 , 025 0, 004 a 50 1 , 0057 4, 0*1 0 -3
∆ FN 0, 003 0, 000577 b
∞ -1 , 0057 -0, 58*1 0 - 3
VN/ VX 1 , 0057 0, 27*1 0 - 3 a 9 1 , 022 0, 28*1 0 -3
∆ FX, 1 0 2, 60*1 0 - 3 b
∞ 1 2, 6*1 0 -3

∆ FX, 2 0 1 , 1 9*1 0 - 3 b
∞ 1 1 , 2*1 0 -3

∆ FX, 3 0 1 , 78*1 0 - 3 b
∞ 1 1 , 8*1 0 -3

∆ FX, 4 0 1 , 1 9*1 0 - 3 b
∞ 1 1 , 2*1 0 -3

∆ FX, 5 0 1 , 1 9*1 0 - 3 b
∞ 1 1 , 2*1 0 -3

FX 1 , 0278 1 80 5, 54*1 0 -3
a Loi n orm al e
b Loi rectan g u l ai re.
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Annexe C
(informative)

Correction atmosphérique
C.1 Atmosphère normalisée de référence
Tem pératu re t0 = 20 °C;
Pression absolu e p 0 = 1 01 3 hPa (1 01 3 mbar) ;
H u m idi té absolu e h 0 = 1 1 g /m 3 .

U n e pression absolu e de 1 01 3 hPa correspon d à u ne hau teur de 760 m m de la colonne de

m ercu re d'un baromètre à m ercu re à 0 °C. Si l a h au teu r barométrique est H m m de m ercu re,
l a pression atmosphériqu e en hectopascals est approxi mativemen t:
p = 1,333 H hPa
La correction de la hau teur de la colonne de m ercu re en fonction de la températu re est
répu tée être n ég li g eable.
Les instru men ts corri g ean t au tomati qu emen t la pression au n iveau de l a mer ne son t pas
adaptés et il con vien t de n e pas les u tiliser.

C.2 Facteur de correction atmosphérique

C.2.1 Généralités
Les con di tions de laboratoire normales son t spéci fi ées dans l'I EC 60068-1 :
Tem pératu re: 1 5 °C à 35 °C;
Pression atm osphérique: 860 h Pa à 1 060 hPa au n i veau de la mer;
H u m idité relati ve 25 % à 75 %.
La tensi on d'essai appli qu ée peu t être défin ie dans des con di tions de l aboratoire norm ales
con formémen t à l 'I EC 60060-1 :
U = Kt * U0
où
U est la tension d'essai appl iqu ée;
U0 est la tension d'essai spéci fiée;
Kt est le facteur de correction atm osphéri que.

La tensi on d'essai appliqu ée est proportionnel le au facteu r de correction Kt issu du produ it de

deu x facteu rs de correction :
– l e facteur de correction de la densi té de l'air k1
– l e facteur de correction de l'hu midi té k2
Kt = k1 * k2
C.2.2 Facteur de correction de l'humidité k2
Aucu ne correction de l 'hu midité n e peu t actu ellemen t être spéci fiée pour le matériel à basse
tension .

Tou tefois, lorsque l'hu midité relative dépasse 80 % en viron, l a tension d'essai appliqu ée de
décharg e disru ptive devi en t irrég u lière, notammen t lorsqu e la décharg e disru ptive se produ it
su r u n e surface isol ante.
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C.2.3 Facteur de correction de la densité de l'air k1

Le facteur de correction de la densi té de l 'air k1 dépend de la densi té de l'ai r relative δ et peu t
être g énéralemen t exprim é sous la forme:
k1 = δ m
L'exposan t m est obtenu à partir de la cou rbe 1 de la Fig ure A. 1 pour l es plag es spécifiées
con formément à l 'I EC 60664-1 :
m = 0, 91 63 pour 0, 001 < d ≤ 0, 01 mm ;
m = 0, 3305 pou r 0, 01 < d ≤ 0, 0625 m m ;
m = 0, 6361 pour 0, 0625 < d ≤ 1 mm;
m = 0, 8539 pou r 1 < d ≤ 1 0 m m ;
m = 0, 9243 pour 1 0 < d ≤ 1 00 mm.

Lorsque les températu res t et t0 son t expri mées en deg rés Celsiu s et lorsqu e les pressions
atmosphériqu es p et p 0 son t exprimées dans les mêmes uni tés, la densi té de l 'air relati ve est
l a su i van te:

p 273 + t0
δ= ∗
p 0 273 + t

La correction est répu tée fiabl e pou r 0, 8 < k1 < 1 , 05 .

Dans l'I EC 60664-1 , la tensi on d'essai appl iquée est don née à u ne altitu de de 2 000 m . Pou r
l e calcu l du facteur de correction de l a densi té de l'air qu i permet de défin ir la tensi on d'essai
à tou te al ti tu de, la pression atm osph ériqu e à un e al ti tu de de 2 000 m p 0 = 80 kPa doi t être
consi dérée comm e u ne pression absolu e.
 – 98 – I EC 61 1 80:201 6 © I EC 201 6

Bibliographie
I EC 61 000-4-5:201 4, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-5: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux ondes de choc

I EC 61 01 0-1 , Règles de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de régulation et de

laboratoire – Partie 1: Exigences générales

I EC 61 01 0-2-030:201 0, Règles de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de

régulation et de laboratoire – Partie 2-030: Exigences particulières pour les circuits de test et
de mesure

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