普通物理學實驗報告 滑線電位計

物理一 丁安磊
B10202051
指導助教：謝礎帆

實驗日期：2022/03/25

1 簡介
當通過電流為 I、電動勢為 ε 之電池連接導線構成迴路時，由於內電阻 r 的存在，電池的兩端
的電位降落 V 為
V = ε − Ir (1)

使用伏特計或三用電表測量時，只能測得電池的端電壓而無法測量電池電動勢。而滑線電位計
利用工作電源於一均勻電阻滑線形成一在長度上線性變化的電位，將待測電路先串聯一個對於
電流敏感且低電阻的檢流計形成外接電路，再將外接電路並聯於滑線上，如圖 1 。透過調整與
滑線並聯的長度，使得檢流計之讀數為零而外接電路上無電流。

圖 1: 簡單迴路
圖 2: 簡單迴路

1
 使外接電路上沒有電流有兩個方便之處：首先，外接電路形成一個獨立於滑線的部分，若外
接電路為一電池（見圖 5 與圖 7 ），從式 (1) 可知，無電流通過時電池的端電壓正好是其電動
勢。另外，外接電路無電流時表示滑線沒有自外接電路汲取電流，故滑線上的電位下降率保持
不變。因此，我們可以透過一個已知電動勢的電池來確定滑線上的電位下降率，並以此測量其
他電池的的電動勢。更進一步，可以設定待測電路為一個電阻 R 與電動勢為 ε 與內電阻為 r 之
電池並聯，當檢流計讀數為零時，待測電路形成一個獨立的簡單迴路，如圖 2 ，且可以確定電
阻與電池兩端的電位差，透過改變電阻 R 的值，可以求出電池的電動勢與內電阻值。

2 器材
將本次實驗使用的器材列點如下，其實拍圖如圖 3 所示

• 工作電源：提供滑線電位計的工作電動勢 εW

• 電阻滑線：具有直尺的均勻電阻線，總長 6 公尺，共分六段，其材質為 Nichrome 80。轉

折處為銅線連接，其電阻很小可以忽略。

• 檢流計：有三種靈敏度（5V、1V、GALV），使用時依序從靈敏度低往高讀值。

• 標準電池：用於校正，其標準電動勢為 εstd = 1.50 V

• 待測電池：其電動勢 εX 未知

• 電阻箱：為多個電阻串聯，任意選取兩接點可組合出多種電阻值。

圖 3: 實驗器材實拍圖

2
3 步驟

校正滑線電位計

1. 連接器材如圖 4 ，其電路圖如圖 5 。

2. 固定 A、C 點，移動 B、D 點1 ，使檢流計的讀數為零。

3. 紀錄 AB 線段長 Lstd ，計算 DC 段電壓下降率 k = εstd /Lstd 。

4. 此後不再移動 D 點，若後續實驗進行中不小心移動到 D 點則需要重新校正。

圖 4: 滑線電位計校正配置圖

圖 5: 滑線電位計校正電路圖

1 一般選取 B 點使得 AB 長度為 150 cm，目的是取 k = 1.5/150 = 0.01 V/cm 方便後續計算，然而本次實驗中如果

這樣選取，使檢流計讀數為零的 D 點會非常靠近銅線接點，故 B 點也進行調整使得 D 點選取位置能夠遠離接點

3
方法一：測量待測電池的電動勢

1. 將待測電池接上電源並替換掉標準電池，如圖 6 所示，其電路圖如圖 7 所示。

2. 移動 B 點使檢流計讀數為零，利用此時的 AB 線段長 LX 換算 AB 電位差 VAB = kLX ，

即為待測電池的電動勢 εX
LX
εX = εstd (2)
Lstd

圖 6: 測量待測電池的電動勢之配置圖

圖 7: 測量待測電池的電動勢之電路圖

4
方法二：測量待測電池的電動勢與內電阻

1. 將待測電池與電阻箱的上的電阻並聯，如圖 8 所示，其電路圖如圖 9 所示。

2. 改變電阻箱上的兩接點變換不同的電阻值，移動 B 點使檢流計讀數為零，量測 AB 線段
長換算 AB 電位差 VAB 。

3. 此時外迴路會形成一個獨立於電位計的迴路，外迴路電流 I 與電池電動勢 εX 與內電阻 r

關係式為
VAB = IR = εX − Ir

由第二個等號可解得 I = εX /(R + r)，故

R
VAB = IR = εX − Ir = εX (3)
R+r

4. 關閉電源，收拾器材，並作圖分析待測電池的電動勢 εX 與內電阻 r。

圖 8: 測量待測電池的電動勢與內電阻之配置圖

5
圖 9: 測量待測電池的電動勢與內電阻之電路圖

6
4 結果

4.1 原始實驗數據

校正滑線電位計

改變 D 點位置使檢流計讀數為零後，測量 AB 線段長 Lstd = 160 cm。可得 DC 上電壓下降率

k = εstd /Lstd = 9.38 × 10−3 V/cm。

方法一：測量待測電池的電動勢

將標準電池替換成待測電池，改變 B 點位置使檢流計讀數為零後，測量 AB 線段長 LX =

141.2 cm，得待測電池的電動勢為 εX = VAB = kLX = 1.32 V 。

方法二：測量待測電池的電動勢與內電阻

選取不同的電阻 R，檢流計的讀數為零時紀錄 AB 之間的電阻線長度 LX = AB，可得 AB 之間

電位差 VAB = kLX 與電位計外迴路之電流 I = VAB /R，結果紀錄於下表 1 。為了避免記號上
的繁複，以下開始以 V 代替 VAB 。

4.2 數據分析

在「方法二」中，需要進行三種作圖：V -R 圖、V -I 圖與 1/V -1/R 圖，以分析待測電池的電動

勢與內電阻值。

V -R 圖

將表 1 中 V 對 R 作圖如下圖 10 所示。由式 (3) 可知

R
V = εX (4)
R+r

V -R 圖類似飽和曲線，即當 R 逐漸增加時，V 將趨於一個最大值。當 R ≫ r 時 V = εX 。另

外，當電阻箱電阻與待測電池內電阻相等時（R = r），V 為其最大值的一半（V = εX /2）
選取 R = 1000 Ω 時測得 V 值作為 V -R 圖之最大值 εX = 1.28 V ，則 εX /2 = 0.64 V，選取
表 1 中 R = 20 Ω 與 R = 30 Ω 兩數據點進行內插，可得待測電池之內電阻 r = 24.5 Ω

7
 表 1: 測量待測電池的電動勢與內電阻時的數據

R LX = AB VAB = kLX I

Ω cm V A

1000 136.00 1.28 1.28 × 10−3

800 135.70 1.27 1.59 × 10−3
500 133.85 1.25 2.51 × 10−3
300 130.30 1.22 4.07 × 10−3
100 111.20 1.04 1.04 × 10−2
75 103.05 0.966 1.3 × 10−2
50 93.90 0.880 1.8 × 10−2
35 81.55 0.765 2.2 × 10−2
30 75.95 0.712 2.4 × 10−2
20 61.55 0.577 2.9 × 10−2
15 52.10 0.488 3.3 × 10−2
10 40.50 0.380 3.8 × 10−2
5 24.15 0.226 5 × 10−2

1.2

1
VAB (V)

0.8

0.6

0.4

0.2
0 200 400 600 800 1,000
R(Ω)

圖 10: V − R 圖，其中兩紅色虛線分別為 V = εX 與 V = εX /2

8
V -I 圖

將表 1 中 VAB 對 R 作圖並進行迴歸直線分析，如下圖 11 所示。由式 (3) 可知

V = (−r)I + εX (5)

故 圖 11 截 距 即 為 待 測 電 池 的 電 動 勢 εX = 1.30 V ， 而 斜 率 的 負 值 為 待 測 電 池 的 內 電 阻
r = 24.5 Ω 。

Data
1.2 Fitted: y = −24.5x + 1.30

1
VAB (V)

0.8

0.6

0.4

0.2

0 1 2 3 4
I(A) ·10−2

圖 11: V − I 圖 (R2 = 0.9981)

1/V -1/R 圖

由式 (4) 可得  
1 r 1 1
= + (6)
V εX R εX
將表 1 中 V 與 R 取倒數後，將 1/V 對 1/R 作圖並進行迴歸直線分析，如下圖 12 所示。可知
截距的倒數即為待測電動勢 εX = 1/0.780 = 1.28 V 。而待測內電阻為 r = slope · εX = 23.5 Ω
方法一和方法二中三種圖形分析所得出的待測電動勢與待測內電阻及其平均值和變異數由下
表 2 所列出。

9
 4
1/VAB (V−1 )

1
Data
Fitted: y = 18.4x + 0.780
0
0 5 · 10−2 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3
1/R(Ω−1 )

圖 12: 1/V − 1/R 圖 (R2 = 0.9995)

表 2: 實驗數據結果整理

εX (V) r(Ω)

方法一 1.32 X
V -R 圖 1.28 24.5
V -I 圖 1.30 24.5
1/V -1/R 圖 1.28 23.5

平均值 1.30 24.2

標準差 0.02 0.6

10
4.3 誤差與不確定度討論

4.3.1 使用 V -R 圖造成的誤差

對於圖 10 進行分析時，將 R = 1000 Ω 對應之電壓為其最大值，但從最後得到的待測內電阻

r = 24.5 Ω，僅相差兩個數量級，故 R ≫ r 的前提並沒有成立。因此，利用 V -R 圖直接分析會
造成 εX 的低估。使用更高的電阻 R 可以降低此誤差。
另外，由於圖形為凹口向下，故實際內插所得之內電阻值 rinterp 應較實際內電阻值 r 為
低，如圖 13 所示。選取更多的電阻值（例如：將電阻箱替換為刻度更精細的可變電阻）可以
降低此誤差。然而，在 V -R 圖中得出的 r 並沒有小於其他兩種圖所得出的 r，原因是圖 10 在
V = εX /2 為劇烈上升的部分而接近直線，故內插法造成的偏差可以忽略。

圖 13: 內插造成的待測內電阻值低估之示意圖

4.3.2 迴歸直線係數的不確定度

由於在方法二我們利用線性迴歸的方式求得待測電動勢與內電阻，此處先討論迴歸直線係數的
不確定度的計算
對於數據組 (xi , yi ), i = 1, · · · , N ，迴歸直線 yi ∼ axi + b 之係數為
P P P P
n x i yi − x i yi (x − xave ) yi
a= P 2 P 2 = P i2 (7)
n xi − ( xi ) xi − nx2ave
P P P P 2
x i y i x i − yi x i
b= P P = yave − axave (8)
( xi )2 − n x2i

11
假設 xi 沒有不確定度（在本次實驗中為 I 與 1/R），a, b 的不確定度分別為 ua , ub ，有
X  ∂a 2 X 
(xi − xave )
2
2
ua = uy = P uy (9)
∂yi i x2i − nx2ave i
X  ∂b 2 X  P 2 P 2
x −x x
u2b = u yi = P i 2 i 2 2 i u yi (10)
∂yi n xi − n xave
其中 xave , yave 分別為 xi 與 yi 的平均值。
對於圖 11 中的迴歸直線 V = (−r)I + εX ，可得待測電動勢、內電阻的不確定度分別為

uεX = ub (11)

ur = ua (12)

而對於圖 12 中的迴歸直線，εX = 1/b 的不確定度為

ub
uεX = (13)
b2
r = aεX = a/b 的不確定度為 r
a u a 2  u b 2
ur = + (14)
b a b

4.3.3 校正滑線電位計後 D 點因疏忽被移動

在校準滑線電位計之後，可能在之後的實驗過程移動到 D 點，影響後續的結果分析所使用的電
壓下降率 k，若 k 值在實驗中偏離原始值 1%，則在「方法一」中同樣使 εX = kLX 偏離 1%。
而在「方法二」中則使得每個 Vi 帶 1% 的誤差 σVi = Vi /100，對於「V -I 圖迴歸直線分析」
結果中的 εX 與 r，從節 4.3.2 的結果可得

σεX = 5 × 10−3 V, σr = 2 × 10−1 Ω

將會分別造成了 0.4% 與 0.7% 的相對不確定度。對於「1/V -1/R 圖迴歸直線分析」結果中的 εX

與 r，可求得
σεX = 9 × 10−3 V, σr = 4 × 10−1 Ω

將會分別造成了 0.7% 與 1.5% 的相對不確定度。

改善此誤差的方法為在校正後小心不要觸碰到 D 點，可以在每次測量時候檢查 D 點位置是
否移動，若不小心移動到則需要重新校正。

4.3.4 接點位置的不確定
√
依照 B 類不確定度公式，刻度尺的最小刻度為 1 mm，接點位置的不確定度為 u = 1 mm/2 3 =
0.3 mm，故 LX 與 Lstd 的不確定度 uL 皆為兩邊接點位置不確定度的組合
p
uL = u2 + u2 = 0.4 mm

12
由式 (2) 可得 V 的不確定度為
s 2  2 p
uL uL uL L2X + L2std
uV = V + =V (15)
LX Lstd LX Lstd

在「方法一」中，可得待測電動勢 εX = V 的不確定度為 5 × 10−4 V，相對不確定度為

uεX /εX = 0.04 %
在「方法二」中，對於「V -I 圖迴歸直線分析」結果中的 εX 與 r，從節 4.3.2 的結果可得

σεX = 3 × 10−4 V, σr = 5 × 10−3 Ω

將會分別造成了 0.03% 與 0.02% 的相對不確定度。而對於「1/V -1/R 圖迴歸直線分析」結果中

的 εX 與 r，可求得
σεX = 6 × 10−5 V, σr = 5 × 10−3 Ω

將會分別造成 0.005% 與 0.02% 的相對不確定度。

綜上所述，直尺刻度讀取造成的不確定度很小可以忽略，然而，使用鱷魚夾連接線路時，由
於鱷魚夾帶有寬度而非一個準確的點，可能會造成 LX 與 Lstd 有更大的誤差，降低此誤差的方
法為每次讀取鱷魚夾位置時以同樣的視角與讀取方式來記錄 AB 段的長度。

滑線接點處的銅線

在第 2 部分中，提到了本次實驗使用的六公尺電阻滑線的轉折處為銅線連接，由於銅線的電阻
率較小而在本次實驗的分析中被忽略。現在，對其實際造成的影響進行定量分析。
Nichrome 80 的 電 阻 率 為 ρwire = 1.09 × 10−6 Ωm， 而 銅 線 的 電 阻 率 為 ρcopper = 1.68 ×
10−8 Ωm，估計銅線的實際長度約為 ℓcopper = 7 cm 且其截面積 A 與六公尺電阻線相同。故經過
一次銅線接點所造成電壓可以對應到一個電阻線的等效長度 ℓ，銅線與（AB 段）電阻線的電壓
比為
Vcopper ℓ Rcopper ρcopper ℓcopper
= = = (16)
Vwire L Rwire ρwire L
其中最後一個等號由電阻公式 R = ρL/A 得到，整理後可得等效長度約為
ρcopper ℓcopper 1.68 × 10−8 Ωm
ℓ= = · (7 cm) = 0.1 cm (17)
ρwire 1.09 × 10−6 Ωm
進行校正時的 AB 段電阻線經過了銅線接點一次，故實際的電壓下降率應為
εstd
k= (18)
Lstd + ℓ
而後續兩次實驗中，若 AB 段長度 LX > 100 cm，則經過了銅線接點一次，故實際量測到的 AB
段電壓為
LX + ℓ
V = k(LX + ℓ) = εstd (19)
Lstd + ℓ

13
若 LX < 100 cm，則沒有經過經過接點
LX
V = kLX = εstd (20)
Lstd + ℓ
對於式 (19)，ℓ（從 ℓ = 0 偏離）造成 V 的不確定度為
 
 ∂V  Lstd − LX

uV =   ℓ = εstd ℓ (21)

∂ℓ ℓ=0 L2std

而對於式 (20)，ℓ 造成 V 的不確定度為

 
 ∂V  LX
uV =  
 ℓ = εstd ℓ (22)
∂ℓ ℓ=0 L2std

在「方法一」中，待測電動勢 εX = V 的不確定度為
160.0 cm − 141.2 cm
uεX = (1.5 V) (0.1 cm) = 1.1 × 10−4 V (23)
(160.0 cm)2
相對不確定度為 uεX /εX = 0.01 %。
在「方法二」中，對於「V -I 圖迴歸直線分析」結果中的 εX 與 r，從節 4.3.2 的結果可得

σεX = 2 × 10−4 V, σr = 4 × 10−3 Ω

將會分別造成了 0.02% 與 0.02% 的相對不確定度。而對於「1/V -1/R 圖迴歸直線分析」結果中

的 εX 與 r，可求得
σεX = 3 × 10−5 V, σr = 2 × 10−3 Ω

將會分別造成 0.002% 與 0.008% 的相對不確定度。

可以發現銅線電阻的影響的確非常小，故忽略銅線接點是合理的方法。

4.3.5 檢流計的影響

在進行檢流計讀數為零的讀取時，可能因為人為的讀取偏差，使得檢流計有實際上有電流通過，
假設檢流計上通過的電流為 IG ，在 GALV 檔位時最小刻度為 1 µA = 1 × 10−6 µA，因讀取偏差
產生 IG 應也在此數量級。在檢流計有電流通過下，前述推導過程需要被修正如下（因為我們不
知道標準電池的內電阻，所以校正滑線電位計時 IG 造成的影響無法估計，故此處假設校正時沒
有讀取偏差）
若在「方法一」中產生讀取偏差，則電路圖需要修正，如下圖 14 。因此有

εX − IG r = kLX

可解得
LX
εX = εstd + IG r
Lstd

14
 圖 14: 方法一中電路圖的修正

相較於式 (2) 偏差了 IG r

而若在「方法二」中產生讀取偏差，則電路圖需要修正，如下圖 15 。因此有

VAB = kLX = IR R = εX + (IG − IR )r

可解得
V = (εX + IG r) + (−r)IR

和  
1 1 r 1
= +
V εX + I G r ε X + I G r R
故在進行「V -I 圖迴歸直線分析」與「1/V -1/R 圖迴歸直線分析」時，同樣都使待測電動勢偏
差了 IG r
估計 IG r = 1 × 10−6 A · 24.5 Ω = 2.45 × 10−5 V，遠小於 εX = 1.28 V。因此，在檢流計正常
運作的前提下，因人眼讀取偏差帶來的誤差應可忽略。
然而，若操作不當使檢流計過載而故障，在顯示零電流時實際上帶有，比如說，IG = 1 mA
的電流，將造成 εX 的偏差 IG r = 2.45 × 10−2 V，相對偏差則達到

IG r
= 2%
εX

此時誤差不可忽略。所以，使用檢流計測量外接電路中的電流時，需要依序從低靈敏度往高靈
敏度使用，以避免檢流計故障及其帶來的誤差。

15
圖 15: 方法二中電路圖的修正

16
5 問題討論

5.1 背景原理中的問題：為什麼只有當 B 的位置恰使得 VAB 等於 VPQ 之值

時，檢流計 G 的讀數才會是零？

由於檢流計的電阻很小可忽略，所以當 AB 電位差等於 PQ 之間的電位差時，就代表高電位的

那端與電池正極相同，且低電位的那端與電池負極電位相同。當兩端電位相同時也就代表不會
有電流流過，因此檢流計的讀數為零。

5.2 滑線電位計所使用的工作電池可能也有內電阻，線路上的各接點可能也有
內電阻，這些因素是否影響實驗結果？那麼標準電池的內電阻呢？

由於工作電池的功用只是在滑線上建立一個均勻的電位降落，只要每個步驟中都有確認外接電
路上的檢流計讀數為零而滑線上的電流保持恆定，工作電位的內電阻就不會影響滑線長度與下
降電位的正比關係。同樣地，線路的接點並不會影響滑線長度與電位降落的正比關係，所以說
此接點的電阻也不會影響到實驗結果。最後，因為每個步驟中外接電路上的電流為零，因此標
準電池的內電阻並不會影響到電位與實驗結果。同理，檢流計很小的內電阻也更不可能影響到
實驗結果。

5.3 檢視本實驗的數據，請問在什麼條件下可以說電池「沒電」了？

乾電池放電的原理，是利用電池內部的氧化還原反應，在正極和負極之間產生電位差，而乾電
池沒電的由於隨著電池的使用反應會逐漸達平衡而使電動勢下降，而使端電壓降至零。而蓄電
池沒電的過程則是由於使用過程中由於膨脹、過充或過放電使得內電阻上升，由式 (1) 可知端
電壓會因此下降直到消失。然而，在本實驗中有三種電池，其中標準電池僅在校正時使用故此
處無法討論其持續使用而沒電的情形，其餘待側電池與工作電池皆是以外接電源作為能量來源，
故推測其內部構造僅是由電源串聯電阻器而構成，所以電動勢與內電阻都不會變化，但我們可
以轉而討論電流的增大對於端電壓的影響。對於待側電池，由圖 11 中的擬合曲線可知，外迴路
中的電流 I 達到 53 mA 時會使得待側電池的端電壓為零，即待測電池「沒電」。

5.4 若待測電池的電動勢增為約原來的五倍，利用本實驗的器材架構，可以如
何測量出此待測電池的電動勢？

由於電阻滑線能利用的長度最大為 Lmax = 600 cm，故使用本次實驗儀器可測得之最大電動勢為

εmax = kLmax = 5.6 V

17
當待測電池的電動勢增為約原來的五倍 (≈ 7.5 V)，則實驗儀器需要進行調整才能夠測量。只要
將工作電源的電動勢 εX 提高（至少要提升為原來的約 7.5/5.6 = 1.34 倍），即可以使得其在滑
線上建立的更大電位下降率 k，進而使得滑線電位計能夠測量更大的電動勢。

References
1
林敏聰、石明豐等 (2021)。《國立台灣大學普通物理實驗》。國立臺灣大學出版中心。

18
A 附錄: 助教簽名

圖 16: 滑線電位計

19
圖 17: 磁滯曲線助教簽名

圖 18: 磁滯曲線實驗紀錄

20
圖 19: 光學性質助教簽名

圖 20: 光學性質實驗紀錄 1

圖 21: 光學性質實驗紀錄 2

21
圖 22: 霍爾效應助教簽名

22
圖 23: 霍爾效應實驗紀錄 1

圖 24: 霍爾效應實驗紀錄 2

23