麥克森干涉儀

姓名: 曾淳鈺 學號: 108501030 實驗日期: 109.4.7

一、 摘要 :
了解光學系統的架設，麥克森干涉儀可將光分成兩道，兩道光進行疊加，進而產生干涉
現象並觀察干涉圖形。

二、 原理 :
1. 形成干涉: 利用麥克森干涉儀將入射光分成兩道，並且二者的振幅必須相近和注意光波
的相干性，行進波就能在特定的位置以固定的相位差進行疊加，產生穩定的干涉圖形，
此種方法稱為「波幅分割法」，由於兩道光非常相似，所以相干性非常高。
2. 麥克森干涉儀: 利用分光鏡將入射光分成反射和透射兩道，反射光反射到反射鏡 M1
，再由原路反射後穿過分光鏡至屏幕，而透射光則先穿過分光鏡至反射鏡 M2，由原路
反射至分光鏡，再透過分光鏡反射至屏幕，兩者的光程差 OPD = |2A – 2B| (1)，圖形中
若光程差為波長的整數倍，則為亮紋，本干涉儀有一旋鈕可對 M2 的位置進行微調，
進而在 A 保持不變下，改變 B 並改變光程差，干涉圖形會因為光程差持續改變持續地
重複亮暗。
3. 光程差與波長的關係: OPD = |2Δd| = Δmλ (2)，Δd 為 M2 持續地往某方向移動距離，Δm
為亮暗變化的週期次數，λ為入射光波
長。

三、 實驗內容
a. 架設麥克森干涉儀
1. 調整雷射支架反射鏡高度、傾斜角度(如圖二)
2. 將麥克森干涉儀放置於雷射支架的底板上，位置為能夠使雷射光垂直入射至反射
鏡 M2，如圖三(a)。
3. 因反射鏡 M2 在螺旋測微器的調整下會有很微小的位移運動，所以架設 M2 時，
周圍部分需預留間隙，如圖三(b)。
4. 耐心調整各光學元件的位置，並利用一些光點對光點的技巧，直到可觀察到同心
圓狀的干涉圖案。
 5. 旋轉螺旋側微器，觀察同心圓變化是否穩定。
b. 觀察干涉儀特性
1. 紀錄光學元件彼此之間的位置關係。
2. 描繪並紀錄干涉圖形與其尺寸。
3. 紀錄螺旋測微器的｢轉動方向｣與干涉圖形變化的關係。
c. 計算比例常數
1. 調整螺旋測微器以每 10 格一次(共 5 次)，並記錄螺旋測微器轉動後的長度變化量
ΔL
和干涉圖形週期變化次數Δm。(英制 1 格為 1/1000 inch)
2. 由關係式|2Δd| = Δmλ(2)，算出 M2 的位移Δd。
3. 計算比例常數 = Δd / ΔL。
d. 觀察光程差更大時的干涉圖形變化
1. 改變分光鏡到 M1 的距離 A。
2. 耐心調整各光學元件的位置，並利用一些光點對光點的技巧，直到可觀察到同心
圓狀的干涉圖案。
3. 觀察干涉圖形的變化，並記錄光學元件彼此的位置關係。

四、 設備介紹
1. 邁克森干涉儀基座、反射鏡，一組
反射鏡為 M2，可透過調整干涉儀基座測面的螺旋側微器，改變 M2 至分光鏡
的距離 B，並得到 M2 移動距離Δd (μm)。
2. 雷射、反射鏡、光源支架，一組
光源為氦氖雷射，波長為 632.8nm。
3. 凸透鏡、鏡座，一個
凸透鏡可使光束的發散角增大，並較容易觀察到干涉圖形。
 4. 分光鏡，一個
分光鏡將光分成反射和穿透兩道，為振幅分割。
5. 角度可調之反射鏡與其鏡座，一組
此反射鏡為 M1 可調整角度幫助我們更容易找到能形成清楚干涉圖形的各元件位置
關係。

五、 實驗結果與討論
1. 實驗數據

2. 討論數據
整體來說Δd 和ΔL 兩者呈現正相關，且斜率即為比例常數，由實驗數據中可以發現
當ΔL 增加時，即螺旋測微器轉動較多圈時誤差較小，會有此結果是因為當轉的圈數
較少時因為總體數較少，所以少算一次變化週期Δm 對數據的影響會較大，因此週期
數算錯即為主要的誤差原因。

六、 問題
1. 請說明在本實驗中｢凸透鏡｣的功能
A: 氦氖雷射發散角太小，凸透鏡可使光束的發散角增大，可較容易觀察干涉條紋，
且使干涉條紋為同心圓。
2. 本實驗中的干涉圖形為兩個光波所疊加而成之結果。在圖形中｢相鄰｣的兩條暗紋，代
表所對應之兩個光波的｢相位差｣與｢光程差｣分別是多少?
A: 相位差 = (2n+1)pi
光程差 = (2n+1) λ/2