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塑性力学大作业
分析报告
土木工程 学院(系) 力学 专业
题 目:微电子封装芯片焊接材料粘塑性本
构模型的验证
学 号: 211161
姓 名: 章永琦
日 期: 2021.12.18
软 件: ABAQUS
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摘要
在电子封装结构中,焊点工作条件复杂,工作温度通常在室温至 100℃之间。
而焊料熔点较低,高温条件导致材料易产生非弹性变形,进而导致焊接结构失效
和智能电路失效。因此,研究金属材料在高温下的非弹性变形有着巨大的工程意
义和经济价值。
和加载率下的应力-应变曲线,并与试验数据进行比较,验证模型的准确性。通
过拟合试验数据,对模型进行了相应的修正,对其中的参数进行了探讨,分析了
模型的缺点和需要改进的地方,总结了相关参数的变化规律,为进一步改进模型
提供了支持和帮助。
目 录
1 问题的背景…………………………………………………………………… 4
2 分析过程 …………………………………………………………………… 6
2.1 本构模型的建立…………………………………………………………… 6
2.2 程序编写…………………………………………………………………… 6
2.3 本构模型正确性验证……………………………………………………… 8
2.4 数据拟合………………………………………………………………… 10
3 结果分析…………………………………………………………………… 12
4 3D 堆叠电子封装结构跌落冲击载荷下的简单分析………………………… 13
参考文献 …………………………………………………………………………16
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1.问题的背景
金属材料在如今的生产生活中已不可或缺。随着科技的发展,各种各样的
材料被用于工程构件中,其中不乏航空航天、芯片制造等高端领域。在这些领
域中,对材料的力学性能要求越来越高,这就迫使人们更加注重构件材料的使
用、新型工艺的运用与相关设备的制造。为了满足不同领域对于材料的复杂要
求,加之天然材料已经不能满足生产生活的需要,不同组成成分的金属合金通
过不同的工艺逐渐开发出来,这类合金是由两种或两种以上的金属与金属或非
金属经一定方法和工艺所合成的具有金属特性的物质,其材料的力学性能也有
所不同。在材料的实际应用中,其塑性变形对于工程应用有着重大的影响,在
桥梁结构、钢结构等过程中,通常需要避免材料的塑性变形,而在冲压成形等
工艺工程中,是利用了材料的塑性变形能力。还有一些用于特定工况的特殊金
属材料,比如焊料,通常用于不同组件之间的焊接[1]。
随着集成电路的发展,电子芯片逐渐微型化,电子封装结构尺寸也在逐渐缩
小,这就伴随着焊点的微型化。如今的微焊点的尺寸已进入微米级,并在向纳米
级迈进。尺寸的缩小必然会导致微焊点密度增大,高密度的微焊点不仅对封装技
术要求更高,也对焊点的力学性能要求更高。但小尺寸与高密度使试验更加困难,
试验得到的数据准确性也将减小。因此采用成本更小,更加便捷的有限元数值模
拟软件对试验进行模拟越来越广泛。有限元分析在结构的设计开发中有着重要的
作为,通过分析可以寻找结构的缺陷,而要确保数值分析的精度与准确性,就需
要准确的本构模型。作为材料力学特性的数学表达,其表达的是材料加载下的应
力-应变关系(即应力张量与应变张量的关系)。材料的力学性能受到很多因素影
响,寻求适用范围更广、形式更便捷、准确性更高的本构模型,用于有限元分析
得到更加准确的结果。粘塑性变形在金属构件中尤为常见,由于焊点材料的熔点
比较低,而芯片工作时温度较高,在工作环境下将会产生不可恢复变形,且温度
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和加载率对焊点材料的力学性能既有较强的影响,因此为了提高有限元数值仿真
的准确性,需要开发更加准确的适用于金属材料在热-力加载条件下的粘塑性本
构模型。
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2.分析过程
2.1 本构模型的建立
McDowell 等人提出了一种考虑到热粘塑性的内变量本构模型,模型如下[13]:
𝑛 𝑛+1
𝑖𝑛
〈𝑆𝑣 〉 〈𝑆𝑣 〉
𝜀̇ = 𝐴( ) exp [𝐵 ( ) ] 𝜃𝑁
𝐷 𝐷
应力,𝑁为非弹性应变的流动方向,𝜃为内变量。
3
𝑆𝑣 = √ ‖𝑆 − 𝑎‖ − 𝑅
2
式中𝑆为应力偏张量,𝑎为背应力张量,𝑅为气体常数。
𝑆−𝑎
𝑁=
‖𝑆 − 𝑎‖
𝑄 𝑇𝑚
𝜃 = exp (− 𝑅𝑇) for 𝑇 ≥ 2
𝑚 2𝑄 𝑇 𝑇𝑚
𝜃 = exp {− 𝑅𝑇 [ln ( 2𝑇 ) + 1]} for 𝑇 ≤
𝑚 2
式中𝑄为材料激活能,𝑇𝑚 为材料熔点。
𝑆𝑣 粘性过应力通常小于𝐷参考应力,因此对其进行简化,简化过后的本构模型数
学形式如下:
𝑛
𝑖𝑛
〈𝑆𝑣 〉 𝑄
𝜀̇ = 𝐴( ) exp (− )
𝐷 𝑅𝑇
2.2 程序编写
UMAT(user defined material mechanical behavior) 用 户 材 料 子 程 序 , 是
存在数据传递,甚至共用一些变量,因此必须遵守有关书写格式,UMAT 中常用
的变量在文件开头予以定义,通常格式如下图所示:
图 1 变量定义
本构模型程序及参数设置如下:
图 2 本构模型程序图
图 3 参数设置
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2.3 本构模型正确性验证
单轴拉伸试验一般对单元体某一方向等速率拉伸。所以单轴拉伸加载
设置单一方向的位移约束随时间线性增长,最大位移量设置为 0.3(单元体线应
变为 0.3)。
改变加载率。如下图所示:
图 4 Input 文件
短时间步长和最长时间步长,在保证数据足够精确,曲线足够光滑的前提下,最
长时间步长越长,越能节省计算时间。所以,这里统一采用最长时间步长为 0.2、
0.5、1、3、5,分别对应拉伸所需时间 30(1%/s)、100(0.3%/s)、300(0.1%/s)、
1000(0.03%/s)、3000(0.01%/s)。
将编写好的本构模型程序接入 ABAQUS,其文件后缀名为.for,完成材料属性的
据,在绘图软件中与实验数据进行对比,若曲线不相符合,则调试参数重复模拟,
直至符合为止,并记录下参数大小。
图 6 25℃实验结果和模拟数据比较 图 7 50℃实验结果和模拟数据比较
图 8 75℃实验结果和模拟数据比较 图 9 100℃实验结果和模拟数据比较
图 8 125℃实验结果和模拟数据比较 图 9 150℃实验结果和模拟数据比较
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2.4 数据拟合
〈𝑆𝑣 〉
内变量参数 EN 对应本构模型表达式中 的幂次项 n,根据对试验数据的分
𝐷
果,最终得到每个温度下 EN 的近似值,并对数据进行拟合,拟合结果如下:
表 1 内变量参数 EN 数据
图 10 内变量参数 EN 拟合结果
EN 拟合模型为 EXP3P2,最终得到的拟合方程为:
−5 𝑥 2
𝑦 = 𝑒 6.525−0.026𝑥+2.646∗10
得到内变量参数 EN 的拟合方程后,对方程进行验证。观察拟合图像发
现,在温度为 298K(25℃)、323K(50℃)、348K(75℃)、398K(125℃)、
423K(150℃)时,拟合结果和所得近似值相差不大,在 373K(100℃)时有一定
察拟合数据与实验数据是否相符,以便对 EN 近似值进行修正。最终得到的仿
真结果如下:
图 11 拟合结果对比图像
表所示:
表 2 内变量参数 EN 修正数据
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3.结果分析
该材料弹性阶段的应力-应变关系能够很好的用该本构模型表示。在应变为
0.05-0.3 的非弹性阶段,模拟数据和实验结果也符合预期要求,表明材料的塑
段,模拟数据和实验结果有一定的误差,但在误差范围之内。考虑到在弹性阶段
和大部分非弹性阶段中,该本构模型能够很好地表征材料 Sn-3.0Ag-0.5Cu 的应
力-应变关系,虽然在小范围的屈服阶段存在一定误差,但是可以验证该本构模
型对于材料的正确性。
〈𝑆𝑣 〉
低的,最终将趋于 1。因此可知,该本构模型表达式中 的幂次项 n 应该为一个
𝐷
大于 1 的数。可以看出变量 EN 具有良好的单调性,并能用相关方程进行拟合。
但由于该本构模型在表征材料力学性能整体表现良好,可以认定该本构模型在描
述 Sn-3.0Ag-0.5Cu 合金材料单轴拉伸加载应力-应变关系的正确性。
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4. 3D 堆叠电子封装结构跌落冲击载荷下的简单分析
结构图如下:
图 12 3D 封装芯片结构剖面图
建立的有限元及离散模型如下:
图 13 各部分离散模型
将建立的本构模型赋予焊点材料属性,并设置约束和加载,模拟芯片跌落过
程,如下图所示:
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图 14 约束设置
图 15 加载设置
各部分应力图像如下:
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图 16 各部分应力图像
焊点处应力图像如下:
图 17 焊点处应力图像
经过简单的有限元模拟发现,芯片跌落碰撞时,焊点下部连接处外缘应力较
大,且靠近碰撞面的焊点受到的应力更大,为跌落冲击下的危险点。
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参 考 文 献