Professional Documents
Culture Documents
Công nghệ VLF
Công nghệ VLF
Chúng khá đắt tiền, lớn, nặng (660lb/300kg Baur – 770lb/350kg Seba) và được gắn vào
các xe chuyên dụng. Cả hai hãng sản xuất đã dần sản xuất những thiết bị nhỏ gọn hơn
và cơ động hơn. Thị trường đầu tiên của công nghệ này là ở châu Âu, phần còn lại của
thế giới cùng với Mỹ bị tụt hậu, phần lớn là do thiếu tiêu chuẩn và kinh nghiệm. Kỹ
thuật này vẫn chưa được chấp nhận cho đến tận cuối thập niên 90 khi mà các vấn đề
liên quan đến thí nghiệm điện áp DC với cáp điện môi rắn và nhu cầu cần một phương
pháp mới thay thế. Năm 1998, High Voltage, Inc. đến từ Mỹ (New Yord) giới thiệu
một dòng thiết bị VLF nhỏ gọn và rẻ tiền hơn. Các thiết bị nằm trong khả năng tài
chính và thực tế của nhiều doanh nghiệp, xu hướng này đã dần khởi sắc và nhiều doanh
nghiệp trên toàn thế giới đã để ý đến VLF. IEEE công bố VLF trong tiêu chuẩn
IEEE400-2001, một tiêu chuẩn thí nghiệm cho nhiều loại cáp và bắt đầu với công việc
này dựa vào một phần tài liệu thí nghiệm cho VLF (IEEE400.2- 2004). Tiêu chuẩn
VDE DIN cũng đã được ban hành ở Đức trong nhiều năm: VDE DIN 0276-620/62. Ở
thời điểm này, hầu như các nhà sản xuất đều sản xuất được ra các thiết bị nhỏ gọn và
chi phí thấp.
VLF cho thí nghiệm cáp
Cáp lực ban đầu được làm từ giấy cách điện, thường là tẩm dầu. Những sợi cáp này phù
hợp khi thí nghiệm bằng điện áp DC. Trong những năm 60, 70, cáp điện môi rắn được
giới thiệu, như High Molecular Weight (HMW), PVC và một số loại khác. Với loại cáp
mới này làm cho các phương pháp thí nghiệm cũ, cụ thể là điện áp DC tăng gấp 5 – 6
lần điện áp danh định. Loại cáp này được cho là có thể vận hành trong vòng 40 năm
nhưng lại bị sự cố khi mới chỉ vận hành 15 – 20 năm. Tại sao? Cáp HMW ban đầu
không được dập ép gấp 2 hoặc 3 lần như bây giờ, đảm bảo sạch sẽ nhất và phương pháp
ít gây nhiễm bẩn nhất. Không những nó phải chịu sự nhiễm bẩn, mà phương pháp này
của các nhà sản xuất để lại những lỗ trống và tạp chất bên trong vật liêu. Chất cách điện
này là nền tảng xuất hiện cây nước, điện tích không gian và một số vấn đề khác. Nhận
thức được rằng chất lượng sản xuất phải được cải thiện, các hãng sản xuất cáp bắt đầu
phương pháp dập ép nhiều lần trong việc sản xuất. Độ tinh khiết cách điện cáp được
đảm bảo tốt hơn và cải thiện toàn bộ cấu trúc. Cùng với đó, những vật liệu mới cũng
được sử dụng sớm như EPR và XLPE.
Hình 2 – Dòng điện rò trong cách điện dưới tác dụng của điện áp một chiều
3. Vấn đề gặp phải trên cách điện XLPE khi thí nghiệm bằng điện áp một chiều
tăng cao
Dưới tác dụng của điện áp DC sẽ tạo ra những điện tích không gian ( Space Charge)
trong cách điện và tồn tại trong thời gian rất dài. Khi cáp được đưa vào vận hành với
điện áp AC những điện tích không gian này sẽ gây ra ứng suất điện cục bộ và làm giảm
tuổi thọ cách điện.
Điện áp một chiều thí nghiệm điển hình bằng khoảng 2 đến 3 lần điện áp phá hủy
cách điện xoay chiều. Với điện áp cao như vậy là cần thiết cốt để phát hiện những
khuyết tật tiềm ẩn trong cách điện.
Tuy nhiên, việc sử dụng điện áp một chiều ở mức cao dễ gây ra hiện tượng quá
ứng suất trong cách điện. Với cáp lực cũ có thể bị phá hủy cách điện sau khi thử cao áp
DC mặc dù thực tế nó vẫn vận hành được dưới điện áp AC.
Ngược lại, sử dụng điện áp DC lại không mang lại hiệu quả trong việc tìm ra
những khuyết tật thật sự trong cách điện. Với một sợi cáp có khuyết tật, điện áp phá
hủy một chiều cao hơn nhiều so với điện áp phá hủy xoay chiều. Trong khi đó hầu hết
các phép thử Acceptance ngoài hiện trường người ta đều giảm giá trị điện áp thí
nghiệm DC xuống nhỏ hơn so với giá trị thí nghiệm xuất xưởng nên đôi khi vẫn không
phát hiện ra khuyết tật trong cách điện mà vẫn kết luận cách điện đạt tiêu chuẩn vận
hành. Vậy muốn phát hiện ra khuyết tật trong cách điện thì điện áp DC phải đủ cao. Rõ
ràng điều này dấy lên lo ngại về sự bất cập của phép thử cao áp DC với cáp lực XLPE.
4. AC VLF Testing – Thử cao áp tần số thấp là một lựa chọn
Với những vấn đề đã đề cập ở trên thì giải pháp thí nghiệm cáp lực bằng công nghệ
VLF (Very Low Frequency) lần đầu tiên được giới thiệu năm 1986 đã mở ra cho chúng
ta những thuận lợi và tiện ích nhất định. Điện áp thử AC với tần số 0,1Hz giúp công
suất của thiết bị thử giảm đi 500 lần so với thử AC tại tần số 50Hz. Trong thời gian dài
công nghệ này được dùng để thử nghiệm máy phát điện cỡ lớn.
Bảng 1: Số lần phá hủy cáp trong suốt thời gian thí nghiệm
Đi vào chi tiết, sự phân bố sự cố theo thời gian thí nghiệm được mô tả như hình 5.
Theo đó thì có đến 66% sự cố sẽ xuất hiện sau khi tiến hành phép thử 10 phút đầu tiên.
75% sự cố sẽ xuất hiện sau khi thử nghiệm 30 phút. 25% sự cố xuất hiện sau trong nửa
giờ còn lại.
Hình 2: Cấu trúc cơ bản của cáp lực XLPE (photo: Südkabel GmbH)
Điện dung C0 trong hình 3 mô tả khả năng hình học, R K là điện trở một chiều của cách
điện XLPE.
Phụ thuộc vào hằng số thời gian của thành phần RC tương ứng được xác định trong
công thức (4), tần số tự nhiên đảm bảo cho loại phân cực mang tính đặc trưng và phù
hợp với thời gian cần thiết để các phân tử lưỡng cực sắp thẳng hàng (phân cực hoàn
toàn).
tpol = Rpol x Cpol (4)
Thời gian này gọi là thời gian hồi phục và cũng được hiểu như là góc pha thay đổi giữa
cường độ điện trường E(t) và cảm ứng điện D(t). Hai giá trị này được liên hệ bởi hằng
số điện môi phức ԑ, ở đây góc pha dịch chuyển được vẽ với cả phần thực và phần ảo
của hằng số điện môi phức ԑ (công thức 5)
Hằng số điện môi phức ԑr theo công thức (5) mô tả hằng số điện môi chung bằng phần
thực ԑ’r và tổn hao điện môi bằng phần ảo ԑ”r
ԑr = ԑ’r – jԑ”r (6)
Ưu điểm chính của vật liệu cách điện PE tinh khiết là không có các điện cực và tổn hao
điện môi thấp Pdiel. Do đó, sự phân cực của các điện tích không gian có thể được bỏ
qua. Các nhánh liên kết trong chuỗi polyme của vật liệu XLPE tinh khiết gây ra các
khuyết tật trong cấu trúc đối xứng, mà dẫn đến hình thành các điểm lưỡng cực yếu. Tác
dụng của phân cực lưỡng cực (hệ số o) là ngăn cản bằng sự kết dính trong các chuỗi.
Các điện tích không gian và sự phân cực lưỡng cực xảy ra ở bề mặt của các lớp bán dẫn
trong cách điện XLPE.
Hình 6: Đồ thị hệ số tổn hao điện môi tan delta theo tần số
Hệ số điện môi nằm trong dải ԑr 103. Hệ số điện môi đặc trưng của vật liệu XLPE là
ԑr 2.3. Có thể kết luận là Cls Ch. Đường cong tính toán hệ số tổn hao điện môi tan delta
của mô hình 3 lớp được trình bày trên hình 6. Việc tính toán hệ số tổn hao điện môi tan
delta dựa vào kích thước hình học của cáp loại NA2XS2Y 20kV. Độ dầy của phần cách
điện chính là dh = 5.5 mm. Độ dầy thông thường của lớp bán dẫn là d ls = 1mm. Độ dẫn
điện của lớp bán dẫn bên trong được giả sử là K ls(i) = 0.001S.m-1 và lớp bên ngoài là
Kls(a) = 0.0005S.m-1. Các giá trị này tương ứng với yêu cầu trong IEC 62067:2006. Hằng
số điện môi của lớp bán dẫn được đặt đến 10 3. Hệ số tổn hao điện môi tan delta được
xác định bằng độ dẫn điện của cách điện chính Kh trong dải tần số thấp hơn xấp xỉ 10
Hz. Với việc tăng tần số, ảnh hưởng của lớp bán dẫn tăng lên. Thực tế này có thể được
giải thích bằng việc tăng ảnh hưởng của điện dung cách điện chính C h. Dòng điện chạy
qua điện dung của cách điện chính Ch gây ra tổn hao trên điện trở của lớp bán dẫn R ls.
Mẫu đo hệ số tổn hao điện môi tan delta theo tần số của cáp vận hành lão hóa được
trình bày trên hình 7. Tiến triển của hệ số tổn hao luôn dọc theo hai đường thẳng, mỗi
đường đặc trưng cho độ dẫn điện của cách điện chính và các lớp bán dẫn, hai đường
này được gọi theo nghiên cứu của SCHMIDT [5], LEGUENZA [8] và LUI [9].
Hình 7: Đồ thị hệ số tổn hao điện môi tan delta được đo trên cáp XLPE đã vận hành lâu
Đường thẳng với độ dốc âm làm tăng độ dẫn điện của cách điện chính và điện trở
Rh của mô hình 3 lớp trên hình 5. Việc tăng ảnh hưởng của các lớp bán dẫn và mạch
song song được mô tả bằng Cls // Rls làm độ dốc dương. Độ dẫn điện của cách điện
chính XLPE là hệ quả của lão hóa nhiệt dẫn đến toàn bộ đường cong dịch chuyển về
phía tần số cao hơn. Một ví dụ thực tế cho mô hình 3 lớp được hiển thị trên hình 8.
Trong trường hợp này, độ dẫn điện của cách điện XLPE được tăng đến Kh 10-13S.m-1.
Hình 8: Đồ thị tín toán hệ số tổn hao điện môi tan delta
Hình 10: Cách điện XLPE sau khi lão hóa nhiệt
Trong hình 10, tình trạng của mẫu cáp XLPE như mới được so sánh với mẫu cáp XLPE
bị lão hóa nhiệt. Việc phân tích cấu trúc của cách điện chính XLPE trước và sau khi lão
hóa nhiệt chỉ ra sự quá độ của cấu trúc XLPE trong vùng tinh thể. Sự thay đổi cấu trúc
này đã được nghiên cứu trong các công trình khác nhau.
Trong hình 11 thể hiện hình ảnh trên kính hiển vi nguyên tử của cáp mới và cáp bị lão
hóa nhiệt
Hình 11: Hình ảnh trên kính hiển vi nguyên tử của cáp mới và sau quá trình lão hóa
nhiệt
2.2 Sự phụ thuộc nhiệt độ của hệ số tổn hao điện môi tan delta
Hình 12 thể hiện sự phụ thuộc của hệ số tổn hao điện môi tan delta vào nhiệt độ của
cáp. Phép đo được thực hiện trên cáp mới.
Hình 12: Đồ thị thể hiện sự phụ thuộc nhiệt độ của hệ số tổn hao điện môi tan delta
Từ đồ thị, sự phụ thuộc mạnh vào nhiệt độ của hệ số tổn hao điện môi tan delta của vật
liệu cách điện XLPE trở nên rõ ràng. Thông tin về tình trạng cách điện cáp không thể
xác định nếu không biết nhiệt độ XLPE.
2.3 Hệ số tổn hao điện môi tan delta phụ thuộc vào sự lão hóa nhiệt
Hình 13 hiển thị kết quả các phép đo hệ số tổn hao điện môi tan delta theo tần số là một
hàm của sự lão hóa nhiệt. Giá trị tuyệt đối của hệ số tổn hao điện môi tan delta tăng
cùng với sự gia tăng lão hóa nhiệt của cách điện cáp. Đặc biệt trong dải tần số f < 10
Hz, hệ số tổn hao điện môi tan delta tăng với hệ số k 1000. Hình 13 cho thấy quá trình
lão hóa nhiệt rõ ràng ảnh hưởng lớn đến hệ số tổn hao điện môi tan delta và dẫn đến
thay đổi đường cong tổn hao điện môi. Sự thay đổi này làm dịch chuyển đường thẳng,
độ dẫn điện của cách điện chính gần như không đổi.
Hình 13: Hệ số tổn hao điện môi tan delta phụ thuộc vào quá trình lão hóa nhiệt
Hàm của hệ số tổn hao được tổng hợp lại bằng hai đường thẳng như hình 14. Khoảng
cách nhỏ nhất của các điểm giao nhau của cả hai đường cong di chuyển đến dải tần số
cao hơn.
Hình 14: Đồ thị miêu tả tổn hao điện môi tan delta thông qua đường đặc trưng cho độ
dẫn điện và
đường đặc trưng cho lớp bán dẫn
Đường cong được quan sát có thể dễ dàng được giải thích với các kết quả mô
hình 3 lớp trong mục 2, hình 5. Ở dải tần số lớn hơn 10Hz, ảnh hưởng của quá trình lão
hóa nhiệt đến hệ số tổn hao giảm xuống. Trong dải điện dẫn Kh những ảnh hưởng này
trở lên có hiệu quả. Hệ số tổn hao có thể được đo ở dải tần nhỏ hơn 10 Hz. Phép đo gần
với tần số vận hành không thể mô phỏng được ảnh hưởng của lão hóa. Nhiệt độ phép
đo có ảnh hưởng lớn đến hệ số tổn hao tan delta.
3. Tổng kết
Sự lão hóa của vật liệu cách điện liên quan trực tiếp đến hệ số tổn hao tan delta.
Nguyên nhân là sự thay đổi bề mặt phân tử dẫn đến tăng độ dẫn điện của cách điện
chính Kh.
Trong thời gian thí nghiệm, ảnh hưởng của quá trình lão hóa lên hệ số tổn hao cáp
trung thế cách điện XLPE 20 kV được phân tích. Phép đo được thực hiện bằng đốt
nóng đều cáp mẫu ở nhiệt độ δk = 90°C trong khoảng thời gian t = 2500h
Sự phân tích hệ số tổn hao điện môi tan delta trong một dải tần số rộng đưa ra ảnh
hưởng chủ yếu của lớp bán dẫn ở tần số 100 Hz và lớn hơn. Trong vùng tần số thấp
dưới 100 Hz, độ dẫn điện Kh của cách điện XLPE chiếm ưu thế. Sự tiến triển của hệ số
tổn hao tan delta luôn xấp xỉ với hai đường thẳng đại diện cho độ dẫn điện của cách
điện chính và các lớp bán dẫn.
Bằng việc nghiên cứu hệ số tổn hao tan delta trên một dải tần số rộng, các quá trình liên
quan đến các dải tần số khác nhau được phân tích. Việc phân tích này đủ để đánh giá
tình trạng của cách điện chính cho đến khi tần số đạt giá trị nhỏ nhất. Hiện tượng này
được xác định trong suốt quá trình nghiên cứu lão hóa trong dải tần số nhỏ hơn 100
Hz. Lão hóa nhiệt của cách điện XLPE có thể được theo dõi như sự tăng giá trị của độ
dẫn điện Kh trong miền tần số nhỏ hơn 100 Hz. Độ dốc của đường thẳng đặc trưng cho
độ dẫn điện còn lại chủ yếu là hằng số. Độ dẫn điện Kh của cách điện chính tăng lên
dẫn đến sự dịch chuyển nhỏ nhất dọc theo dải tần số đến các vùng tần số cao hơn.
Sự phát triển của thiết bị đo phù hợp để nghiên cứu chất lượng cách điện dường như chỉ
bao trùm dải tần số dưới 100 Hz. Ngoài ra, nó có hiệu quả về công suất cho các thiết bị
được phát triển.
Việc phân tích hệ số tổn hao tan delta ở tần số xác định mà không biết nhiệt độ
của cách điện chính là phương pháp không đủ điều kiện để mô tả quá trình lão hóa cơ
khí trong vật liệu cách điện XLPE. Trong bất cứ trường hợp nào, những ảnh hưởng của
nhiệt độ δk đều bao gồm những thông tin về tình trạng cách điện.
Với quá trình lão hóa nhiệt, sự phân cực bên trong vật liệu XLPE có ảnh hưởng khá
nhỏ đến hệ số tổn hao tan delta. Nhưng nó cần thiết để bổ sung nghiên cứu về tình trạng
lão hóa cơ khí, yếu tố cũng ảnh hưởng đến hệ số tổn hao. Đây là sự lão hóa về điện và
ảnh hưởng của độ ẩm lên vật liệu cách điện XLPE.
Những nghiên cứu về ảnh hưởng của điện và độ ẩm đã trình bày được xem xét trong
việc này. Nó sẽ được thực hiện trong các phép đo tương lại.
Phân tích trên kính hiển vi nguyên tử cho thấy sự thay đổi cấu trúc của chuỗi liên kết
polyethylene. Những vẫn đề này sẽ được nghiên cứu sâu hơn trong những bài nghiên
cứu sau.
Những phần phụ thuộc được mô tả của tổn hao điện môi được phân tích sử dụng mô
hình ba lớp, phải được kiểm tra bằng cách sử dụng thiết bị đo thích hợp.