雷射光之折射與繞射

姓名: 曾淳鈺 學號: 108501030 實驗日期: 109.03.24

一、摘要
利用平板玻璃、單狹縫、雙狹縫、光柵，分別觀察光的折射、反射與繞射，實驗結果中平板玻璃反
射角之誤差較大，其他數據無太大誤差。

二、原理
1. Snell’s law
光在不同折射率的介質間傳遞時，兩介質介面會發生折射現象，且滿足關係式
n1*sinθ1 = n2*sinθ2，n1 為入射光經介質的折射率，θ1 為入射角，n2 為折射光
經介質的折射率，θ2 為折射角，由關係式得知，若兩介質之折射率不同則會發
生折射。

2. 單、雙狹縫繞射各物理量關係
單狹縫 : a*sinθ = mλ，θ很小可得，a*sinθ ≈ ax/z
a 狹縫寬度 θ觀察角度 λ光波波長 m 整數 x、z 如圖二標示。
第 m 暗紋位置: x= mλz/a m = 1、2、3... 暗紋間距: λz/a
中央亮帶位置: x=0 中央亮帶寬度: 2λz/a
其他亮帶位置: x = nλz/2a n = 3、5、7... 其他亮帶寬度: λz/a

雙狹縫 : b*sinθ = mλ，θ很小可得，b*sinθ ≈ bx/z

b 狹縫寬度 θ觀察角度 λ光波波長 m 整數 x、z 如圖三標示。
亮紋位置: x= mλz/b m = 0、1、2、3... (建設性干涉) 暗紋間距: λz/b
暗紋位置: x = nλz/2b n= 1、3、5... (破壞性干涉) 亮帶寬度: λz/b

3. 光柵位置與物理量關係
d*sinθ = mλ m = 1、2、3...
d 狹縫間距 θ觀察角度 λ光波波長 m 整數
第 m 亮紋位置: x = mλz/d m = 1、2、3... 亮帶寬度: λz/d
三、 實驗內容
1. 平板玻璃的折射率測量: 測出平板玻璃折射率與理論值之誤差
目的:
測量入射角、折射角，且已知空氣折射率 = 1.0003，並利用 Snell’s law 得出平板玻璃折射率。
步驟:
1.自訂一個方便計算的入射角
2.在雷射出口、平板玻璃入射點、折射後離開玻璃出射點、反射光束上任一點標記
3.描出平板玻璃上光束的入射、出射平面，並畫出法線
4.將標記的點連線畫出入射線與折射線，並利用直角三角形計算出折射角及反射角
5.利用 Snell’s law 得出平板玻璃折射率
6.重複 1 到 4 步驟 3 到 5 次
7.計算平均值及標準差

2. 狹縫與光柵的繞射
目的:
觀察雷射光在雙狹縫、單狹縫、光柵下繞射、干涉的圖形和暗、亮紋位置與間距，並計算狹縫間
距與理論值誤差。
步驟:
1.設置實驗裝置如下圖，S 1 為雙狹縫、單狹縫、光柵任一，S 2 為繞射圖形，z 為兩者間距，
雷射光束設置時需保持入射角與光學元件垂直。
2.觀察繞射圖形並辨識暗紋、亮紋位置
3.量測 S2 圖形中的條紋間距 deltax 和 z 距離。
4.由上述結果配合各元件的條紋間距關係式，推算狹縫寬度、間格的實驗值
5.改變 z 值重複 2 到 4 步驟 3 到 5 次
6.測量平均值及與理論值百分誤差
7.更改置於 S 1 之元件，重複 1 到 6 步驟

四、設備介紹
1. 氦氖雷射: 雷射光源，波長λ為 632.8nm
2. 平板玻璃: 折射率約為 1.55
3. 單狹縫、雙狹縫、光柵，各一: 用來觀察光束之繞射及干涉，單、雙狹縫之標示單位為 mm
，光柵標示為每單為長度的狹縫數。

4. 捲尺: 測量單狹縫、雙狹縫、光柵至繞射圖形的距離 z
.

五、實驗結果與討論
1. 平板玻璃的折射率測量

本實驗為利用 Snell’s law n1*sinθ1 = n2*sinθ2 測得平板玻璃之折射率，且得出反射角和折射角

數據中反射角誤差蠻大的，造成的原因可能是測量時圖沒畫好或量測長度時錯誤，而測得平板
玻璃折射率則無太大差距，但兩次入射角相同折射角卻不同可能也是上述原因造成誤差，但體來看
入射角越大折射角也越大，符合 Snell’s law。

2. 單狹縫干涉
由關係式 a(狹縫寬度) = λ*z / deltaX(條紋間距)，單位皆換成 m 可計算狹縫寬度實驗值，這次實驗的百
分誤差為 7%，誤差來源主要可能是測量狹縫間距 deltaX 時因為距離對肉眼來說略難辨識，而量測距
離 z 時有誤也可能是誤差原因。
 3. 雙狹縫干涉

由關係式 b(狹縫寬度) = λ*z / deltaX(條紋間距)，單位皆換成公尺 m 可計算狹縫寬度實驗值，這次實驗

的百分誤差約為 8%，誤差來源主要可能是測量狹縫間距 deltaX 時因為距離對肉眼來說略難辨識，而
量測距離 z 時有誤也可能是誤差原因。

4. 光柵
由關係式 d(狹縫間距) = λ / sinθ，可計算狹縫間距實驗值，誤差值為 3.9%，來源可能是測量 deltaX 或
z 距離，因為 deltaX 的量值較前 2 個實驗的大，故測量誤差較小。

六、 問題
1. 1. 波長對於干涉、繞射圖形會有甚麼影響？請分析說明。
i. A: 由條紋寬度之關係式 deltaX = λz / a 可得知，波長λ越大則條紋寬度越大，因為條紋寬大變大
的關係，繞射圖形變大在量測時能較準確，故可能減少實驗產生的誤差
2. 2. 雷射光照射到狹縫的角度，是否會影響後方的干涉或繞射的結果？請嘗試由干涉、繞射的原理，
進行推論並解釋之。
A: 是，光束在射入狹縫後，由惠更斯定理可視為狹縫中許多點波源(雙狹縫 2 個)向外發射，
而波程差 d 變為 d*cosθ，由關係式Δx=λz/d，可看出條紋間距Δx 變大。