Professional Documents
Culture Documents
R̅ 0.640
Ϭ̅_bias 0.1953
Public #_x000D_
3.27701
Public #_x000D_
Ϭ_bias Độ lệch chuẩn của độ chêch (bias) của các phân nhóm (tính theo phương
pháp R trung bình)
SE_bias Sai số chuẩn của độ chệch (bias)
BIAS Độ chệch
%BIAS Là tỷ lệ % của độ chệch so với dung sai chế tạo (Dung sai chế tạo được
tính = 6 lần độ lệch chuẩn dài hạn)
T_bias Trị số thống kê T của kiểm nghiệm T (T test) cho độ chệch (bias)
T_crit Giá trị tới hạn của trị số thống kê T (tiếng Anh gọi là T_critical)
P Là xác suất xuất hiện của giả thuyết được kiểm nghiệm. Khi phân tích độ
chệch, giả thuyết được lập là "ĐỘ CHỆCH LÀ KHÔNG ĐÁNG KỂ / ĐỘ
CHỆCH = 0 / KHÔNG CÓ ĐỘ CHỆCH"
Judge Đánh giá
Public #_x000D_
Tính từ độ lệch chuẩn và Phản ánh mức độ biến động của giá trị trung bình
số bậc tự do DF của các tập hợp mẫu (Giả sử các tập hợp mẫu
được lấy lặp lại nhiều lần).
Sai số chuẩn được dùng để tính trị số thống kê T
của kiểm nghiệm giả thuyết cho độ chệch.
d2(*) table
Ký hiệu
g Số mẫu (part)
m Số lần đo lặp lại của 1 mẫu
Xi,j Lần đo thứ j của mẫu thứ i (i=1~m)
Y̅(i) Đường fit line Y̅(i) = a*X̅ (i)+b với Y̅(i) là trung bình của bias
X(i) Giá trị tham chiếu của mẫu thứ i (i = 1~g)
X̅ Giá trị tham chiếu trung bình của g mẫu
Yij Độ chệch của lần đo thứ j của mẫu thứ i
Y(i) Độ chệch trung bình của mẫu thứ i
Public #_x000D_
Public #_x000D_
Public #_x000D_
Public #_x000D_
Public #_x000D_