Complementary XRD

Crystallite Size Determination

B ( FWHM )  Bi  Bc  Bs  BSF  ...
B ( FWHM )  Bi  Bc  Bs  BSF  ...

For a peak with a Lorentzian profile B  Bi  Bc  Bs  Br

For a peak with a Gaussian profile Br2  B 2  Bi2

Johann Carl Friedrich Gauss (1777-1855),

painted by Christian Albrecht Jensen
Scherrer’s formula For Gaussian line profiles and cubic crystals
 k
Bc 
LCos( B )
 → Wavelength
L → Average crystallite size ( to surface of specimen)
k → 0.94 [k  (0.89, 1.39)]
~ 1 (the accuracy of the method is only 10%)
‫محدوده استفاده از رابطه شرر‬
Strain broadening

Bs   Tan( B )
 → Strain in the material

Smaller angle peaks

should be used to
separate Bs and Bc
Separating crystallite size broadening and strain broadening

Br  Bc  Bs k
Bc  Bs   Tan( )
L Cos( )

k
Br    Tan( )
L Cos( )

k
Br Cos( )    Sin( )
L
Example of a calculation

Sample: Annealed Al
Radiation: Cu k ( = 1.54 Å)

Intensity →
Sample: Cold-worked Al
2 → Radiation: Cu k ( = 1.54 Å)

40 60 Intensity →

2 →
40
X-Ray Diffraction: A Practical Approach, C. Suryanarayana & M. Grant Norton, Plenum Press, New York (1998) 60
Annealed Al

Peak No. 2 () hkl Bi = FWHM () Bi = FWHM (rad)

1 38.52 111 0.103 1.8  10−3
2 44.76 200 0.066 1.2  10−3
3 65.13 220 0.089 1.6  10−3

Cold-worked Al

2 () Sin() hkl B () B (rad) Br2  B 2  Bi2 Br Cos (rad)

1 38.51 0.3298 111 0.187 3.3  10−3 2.8  10−3 2.6  10−3
2 44.77 0.3808 200 0.206 3.6  10−3 3.4  10−3 3.1  10−3
3 65.15 0.5384 220 0.271 4.7  10−3 4.4  10−3 3.7  10−3
k
 1.7 103 Grain Size ( L)  90 nm
L
 ‫‪Anistropic Size Broadening‬‬
‫• پهن شدن یک پیک در الگوی اشعه ایکس نتیجه اندازه کوچک‬
‫کریستالیت در جهت عمود بر جهتی است که پراش رخ داده است‬

‫‪http://prism.mit.edu/xray‬‬
 FWHM Crystallite
plane
(º) size
101*
001 0.9184 9.194
* 101 0.081 12.719
001 Mg(OH)2
102 0.924 13.635

102
* 110
* 110 0.385 41.603

*
* * *
 ‫پارامترهای دستگاهی‬

Goniometer ‫منبع تولید اشعه‬

Optics ‫ایکس‬
Superposition of
Divergence and
Penetration into K1 and K2 peaks
Receiving Slit
the sample
widths
‫پهنای طول موج خطوط‬
Kα2 ‫ و‬Kα1
Imperfect focusing Beam size
Size of the X-ray
source
 ‫ ورق طال‬: ‫مثال‬
Au Foil

10000

9000

8000

98.25 (400)
7000

6000

Counts
5000

4000

3000

2000

1000

0
95 95.5 96 96.5 97 97.5 98 98.5 99 99.5 100 100.5 101 101.5 102

2 Theta
 B = (98.3 - 98.2)*π/180 =
0.00174 (rad)

, λ = 1.54 Ǻ = 0.89*λ / (B Cos θB) t

= 0.89*1.54 Ǻ / ( 0.00174 * Cos (98.25/ 2 ) )
= 1200 Ǻ
Lattice Parameter Determination
‫ تعیین پارامتر شبکه‬-2
Θ1=80 sin Θ1=0.9848
Θ2=82 sin Θ2=0.9903

𝜟θ=2 , 𝜟sinθ=0.55%

Θ1=15 sin Θ1=0.2588

Θ2=17 sin Θ2=0.2923
𝜟θ=2 , 𝜟sinθ=12.94%
 ‫‪λ‬‬ ‫‪θ‬‬

‫مشتق گیری‬
‫‪2 𝜟d sinθ + 2d cosθ 𝜟θ = 0‬‬

‫‪𝜟d/d=-cot θ 𝜟θ‬‬

‫‪𝜟a/a=𝜟d/d=-cot θ 𝜟θ‬‬

‫برای اندازه گیری پارامتر شبکه با دقت باال از پیک‬

‫های پراش در زوایای ‪ θ 90°‬استفاده می شود‪.‬‬
‫با در اختیار داشتن اندیس های میلر‬
 1450 1600
Relative Intensity

35 37 39
2θ °
2θ, ° d (Å) ao (Å)
1450 °C 36.945 2.43106 8.0629

1600 °C 37.075 2.42284 8.03565

‫الگوی پراش اشعه ایکس یک پیش ماده در دماهای مختلف برای تعیین‬
‫دمای شروع جوانه زنی و پایان تشکیل یک ماده‬
Solid Solution
GRAPHITE
EXPANDED GRAPHITE
Advanced XRD

LA-XRD •
Grazing XRD •
SAXS •