Professional Documents
Culture Documents
Wykonawca:
Cel ćwiczenia:
Celem ćwiczenia jest poznanie:
- podstawowej wielkości elektrycznej – rezystancji – dla elementów liniowych oraz
nieliniowych
- parametrów typowych omomierzy oraz warunków poprawnej ich eksploatacji,
- typowych metod pomiaru rezystancji elementów liniowych i nieliniowych o wartościach od
pojedynczych omów do kilku megaomów,
- warunków decydujących o doborze metody oraz układu pomiarowego oraz poznanie
źródeł błędów w tych pomiarach.
Spis przyrządów:
-amperomierz analogowy LM-3 kl.0,5%
-multimetr cyfrowy Uni-T 803 oraz Agilent/HP
-zasilacz stabilizowany Unitra Typ5121
-opornik dekadowy
-dzielnik napięcia
-siatka rezystorowa
-przewody elektryczne
1. Bezpośrednie pomiary rezystancji omomierzem
1.1. Elementy liniowe
Do wykonania pomiarów należy podłączyć przyrządy (zasilacz, omomierz cyfrowy,
badany element) według następującego schematu:
Rys. 1. Połączeniowy oraz ideowy schemat pomiarowy pomiaru rezystancji metodą bezpośrednią.
Tabela pomiarowa dla elementów liniowych, pomiar przy użyciu multimetra UNI-T 803
l.p Rzm Rzak ∆r a[%]+n cyfr ∆Rzm δRzm Rzm ± ∆Rzm
1 100,4Ω 600Ω 0,1 0,8%+3 0,308 0,30% 100,4±0,308Ω
2 0,426kΩ 6kΩ 0,001 0,5%+2 0,002 0,47% 0,426±0,002kΩ
3 50,47kΩ 60kΩ 0,01 0,5%+2 0,023 0,04% 50,47±0,023kΩ
Opis oznaczeń:
Δr – rozdzielczość
a[%]+ n cyfr lub a[%]+ b[%] – dokładność omomierza podana przez producenta
Rzakr – zakres omomierza
Rzm – rezystancja wskazywana przez omomierz
Wykorzystane wzory:
∆𝑹𝒛𝒎 = ∆𝒑 𝑹 + ∆𝒅 𝑹
𝒂[%] 𝟎, 𝟖%
∆𝒑 𝑹 = 𝑹𝒛𝒎 ∙ = 𝟏𝟎𝟎, 𝟒 ∙ ≈ 𝟎, 𝟎𝟎𝟖[𝜴]
𝟏𝟎𝟎 𝟏𝟎𝟎
∆𝒅 𝑹 = 𝒏 ∙ ∆𝒓 𝑹 = 𝟑 ∙ 𝟎, 𝟏 = 𝟎, 𝟑[𝜴]
𝒃[%]
∆𝒅 𝑹 = 𝑹𝒛𝒎 ∙
𝟏𝟎𝟎
∆𝑹𝒛𝒎 = 𝟎, 𝟎𝟎𝟖 + 𝟎, 𝟑 = 𝟎, 𝟑𝟎𝟖[𝜴]
𝜹𝑹𝒛𝒎 =
Wnioski:
Wiadomo, że charakterystyka prądowo-napięciowa diody jest nieliniowa, czyli nie da się jej
opisać analitycznie za pomocą równania prostej.
Patrząc na wyniki pomiarów zauważyć można, że rezystancja tego elementu nieliniowego
zmienia się wraz z kolejnymi pomiarami. Czyli tak jak tego się spodziewaliśmy.
Z powodu bardzo wysokiej rezystancji woltomierza (HP 34401A), która wynosi ok.10GΩ,
wartość mierzona rezystancji będzie praktycznie identyczna jak Rzm , a wartość błędów
systematycznych będzie pomijalnie mała.
𝒂[%]
∆𝒑 𝑰 = 𝑰𝑨 ∙ [𝒎𝑨]
𝟏𝟎𝟎
∆𝒅 𝑰 = 𝒏 ∙ ∆𝒓 𝑰 [𝒎𝑨]
∆𝑰𝑨
𝜹𝑰𝑨 = ∙ 𝟏𝟎𝟎[%]
𝑰𝑨
Woltomierz cyfrowy
∆𝑼𝑽 = ∆𝒑 𝑼 + ∆𝒅 𝑼 [𝑽]
𝒂[%]
∆ 𝒑 𝑼 = 𝑼𝑽 ∙ [𝑽]
𝟏𝟎𝟎
𝒃[%]
∆𝒅 𝑼 = 𝑼𝒛𝒂𝒌𝒓 ∙ [𝑽]
𝟏𝟎𝟎
∆𝑼𝑽
𝜹𝑼𝑽 = ∙ 𝟏𝟎𝟎[%]
𝑼𝑽
Wartości rezystancji etc.
∆𝑹𝒛𝒎 = 𝑹𝒛𝒎 ∙ 𝜹𝑹𝒛𝒎
𝜹𝑹𝒛𝒎 = 𝜹𝑼𝑽 + 𝜹𝑰𝑨
−𝑹𝟐 𝒛𝒎
∆𝒎 𝑹 =
(𝑹𝑽 − 𝑹𝒛𝒎 )
Wnioski: Układ PPN sprawdza się lepiej do pomiaru średnich i małych rezystancji, natomiast
układ PPP do wysokich.
2.2. Metoda porównawcza
Do wykonania pomiarów należy przyłączyć przyrządy (zasilacz, 2x woltomierz cyfrowy,
element wzorcowy, element liniowy) według następującego schematu:
Wykorzystane wzory:
∆𝑼𝒙/𝑵 = ∆𝒑 𝑼 + ∆𝒅 𝑼 [𝑽]
𝒂[%]
∆𝒑 𝑼𝒙/𝑵 = 𝑼𝒙 ∙ [𝑽]
𝟏𝟎𝟎
∆𝒅 𝑼𝒙 = 𝒏 ∙ ∆𝒓 𝑼 [𝑽]
𝒃[%]
∆𝒅 𝑼𝑵 = 𝑼𝒛𝒂𝒌𝒓 ∙ [𝑽]
𝟏𝟎𝟎
∆𝑼𝒙/𝑵
𝜹𝑼𝒙/𝑵 = ∙ 𝟏𝟎𝟎[%]
𝑼𝒙/𝑵
−𝑹𝟐𝒛𝒎
𝜟𝒎𝑹𝒛𝒎 = 𝑹𝒛𝒎 − 𝑹𝒙 = (𝑹 = 10000002,137 Ω
𝒗 −𝑹𝒛𝒎 )
𝑹𝟐 𝑼𝒗
𝑹𝒙 = 𝑹𝒛𝒎 + 𝒑 = 𝑹𝒛𝒎 + (𝑹𝒛𝒎 ) = 𝑼 = 2,137Ω
𝒛𝒎 (𝑱𝑨 − 𝒗 )
𝑹𝒗
𝚫𝐦𝐑 = 𝐑𝐳𝐦 − 𝐑𝐱 = 𝐑 𝐀 = 10 Ω
𝐔𝐯
𝐑 𝐱 = 𝐑 𝐳𝐦 + 𝐩 = 𝐑 𝐳𝐦 − 𝐑 𝐀 = 𝐉𝐀
− 𝐑 𝐀 = 0,716 Ω
4. Pomiary rezystancji elementu nieliniowego
4.1. Pomiar charakterystyki prądowo-napięciowej oraz wyznaczenie rezystancji
statycznych i dynamicznych
Opis oznaczeń:
U – napięcie [V]
U(U) – błąd pomiaru napięcia [V]
I – natężenie [A]
U(I) – błąd pomiaru natężenia [A]
R – rezystancja [Ω]
U(R) – błąd pomiaru rezystancji [Ω]
∆R – rezystancja dynamiczna[Ω]
I(U)
0,3
0,25
0,2
I(A)
0,15
0,1
0,05
0
0,7 0,72 0,74 0,76 0,78 0,8 0,82 0,84
U(V)
(𝟎, 𝟓% ∙ 𝑰 + 𝟑 ∙ 𝟎, 𝟎𝟏)𝟐
𝑼𝒃(𝑰) = √
𝟑
𝟏 −𝑼 𝟐
𝑼(𝑹) = √ ∙ 𝑼𝒃(𝑼)𝟐+ ( ) ∙ 𝑼𝒃(𝑰)𝟐
𝑰𝟐 𝑰𝟐
𝑼𝒌 − 𝑼𝒑
∆𝑹 =
𝑰𝒌 − 𝑰𝒑
Uk, Ik – napięcie, natężenie końcowe
Up, Ip – napięcie, natężenie początkowe
Wnioski:
Tak samo jak w pierwszym punkcie zauważyć można, że charakterystyka prądowo-
napięciowa diody jest nieliniowa. Wraz ze wzrostem napięcia, natężenia zmienia się o coraz
większą wartość (można zauważyć to na wykresie), diodę można traktować jako źródło
napięciowe, ponieważ spadek napięcia na diodzie nie zależy od prądu płynącego przez diodę.
Opór na diodzie maleje wraz ze wzrostem natężenia.