Bài 2

KHẢO SÁT HIỆN TƯỢNG NHIỄU XẠ ÁNH SÁNG

I. MỤC ĐÍCH
Khảo sát sự nhiễu xạ ánh sáng qua cách tử nhiễu xạ, từ đó xác định số cực đại chính nằm trong
hai cực tiểu chính bậc nhất và xác định bước sóng của ánh sáng laser.
II. CƠ SỞ LÝ THUYẾT
Định nghĩa: Hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng là hiện tượng tia sáng bị lệch khỏi phương truyền
thẳng khi đi gần các chướng ngại vật có kích thước nhỏ (vật nhỏ, lỗ tròn nhỏ, khe hẹp hoặc mép
biên ....)
Hiệu ứng này là một đặc tính chung của các hiện tượng sóng, được xuất hiện khi một phần
mặt sóng bị che khuất. Nếu gặp một vật cản trong suốt hoặc đục, một vùng của mặt sóng bị biến
đổi về biên độ hoặc pha, thì khi đó nhiễu xạ sẽ xảy ra. Những phần khác nhau của mặt sóng
truyền vượt khỏi vật cản sẽ giao thoa với nhau gây nên sự phân bố về mật độ năng lượng đặc thù
được gọi là bức tranh nhiễu xạ.
Định nghĩa: Cách tử phẳng là tập hợp một số lớn khe hẹp giống nhau (có độ rộng b) nằm song
song và cách đều nhau trên một mặt phẳng (hình 3)
Khoảng cách d giữa hai khe kế tiếp được gọi là chu kì của cách tử.
1
N=
Số khe hẹp trên một đơn vị chiều dài:
d được gọi là hằng số cách tử.

λ
Chiếu chùm sáng đơn sắc song song bước sóng vuông góc với mặt cách tử ( hình 3). Từ công
thức điều kiện cực đại cực tiểu nhiễu xạ của sóng phẳng do một khe ta thấy sự phân bố cường
độ sáng trên màn quan sát chỉ phụ thuộc vào phương của các chùm tia nhiễu xạ. Ðiều đó có
nghĩa là nếu dịch chuyển khe song song với chính nó về bên phải hay bên trái trong mặt phẳng
chứa khe đều không làm thay đổi ảnh nhiễu xạ. Vì vậy nếu ta đặt thêm khe thứ hai, thứ ba
v.v... .có độ rộng b và so sánh với khe thứ nhất, thì ảnh nhiễu xạ của từng khe riêng rẽ sẽ hoàn
toàn trùng nhau. Tuy nhiên ở đây vì các khe có thể coi là nguồn kết hợp, do đó ngoài sự nhiễu
xạ của từng khe còn có sự giao thoa của các chùm tia sáng nhiễu xạ từ các khe khác nhau, cho
nên sẽ có sự phân bố lại cường độ sáng trên màn quan sát làm cho ảnh nhiễu xạ trở nên phức tạp
hơn. Ta sẽ khảo sát hiện tượng này. - Ta có tất cả các khe hẹp đều cho cực tiểu nhiễu xạ tại
những điểm trên màn ảnh thỏa mãn điều kiện:
λ
sin ϕ=k
b với k = ±1,±2,±3... (4)
Những cực tiểu này được gọi là cực tiểu chính
 Hình 3. Cách tử phằng

Xét sự giao thoa của các chùm tia nhiễu xạ từ các khe hẹp truyền tới những vị trí nằm
trong khoảng giữa các cực tiểu chính. Hiệu quang lộ của hai tia nhiễu xạ tương ứng từ hai khe kế
L1 −L2=d sin ϕ
tiếp đến điểm M là:

Từ đó suy ra những tia nhiễu xạ có góc lệch j thoả mãn điều kiện :
d . sin ϕ=±m. λ

Hay
sin ϕ=±m. λ /d với m=0 ,1,2,3.... (5)

sẽ gây ra tại điểm M các dao động sáng cùng pha

và chúng tăng cường lẫn nhau. Khi đó, M sẽ là
điểm sáng và gọi là cực đại chính bậc k. Dễ dàng
nhận thấy cực đại chính trung tâm ứng với m = 0
và sin j = 0 nằm tại tiêu điểm F của thấu kính L.

Hình 4: Sự phân bố cường độ

sáng giữa hai cực tiểu chính
bậc nhất
Nếu cách tử có N khe hẹp thì giữa hai cực đại chính sẽ có N-1 cực tiểu phụ và N-2 cực đại phụ.
III. THIẾT BỊ VÀ TRÌNH TỰ THÍ NGHIỆM
III.1. THIẾT BỊ THÍ NGHIỆM
 Thiết bị thí nghiệm được trình bày trên hình 5, gồm có:
1. Nguồn phát tia laser bán dẫn.;
2. Khe hẹp, cách tử nhiễu xạ phẳng 2 khe, 3 khe, 4 khe, 5 khe.
3. Cảm biến photodiode silicon .
4. Bộ khuếch đại và chỉ thị cường độ vạch nhiễu xạ.
5. Thước trắc vi (Panme) có độ chia nhỏ nhất 0,01mm ;
6. Hệ thống giá đỡ thí nghiệm.
III.2 TRÌNH TỰ THÍ NGHIỆM
A. Bộ thiết bị khảo sát nhiễu xạ của tia laser.
Thiết bị gồm một diode laser DL, phát ra chùm tia laser màu đỏ chiếu vuông góc vào mặt
phẳng của cách tử. Chùm tia laser bị nhiễu xạ. Để xác định vị trí các cực đại nhiễu xạ và khảo sát
sự phân bố cường độ sáng của chúng, ta dùng một cảm biến quang điện silicon QĐ đặt trong một
hộp kín, phía trước có màn chắn sáng có khe hở rộng khoảng 0,2 - 0,3 mm. Hộp cảm biến QĐ
được gắn trên đầu trục của Panme P, nên có thể di chuyển được theo phương ngang. Cường độ
tia laser rọi vào cảm biến quang điện QĐ, chuyển đổi thành cường độ dòng điện, chạy qua một
điện trở. Hiệu điện thế rơi trên điện trở này được đo và chỉ thị bởi Milivon kế điện tử MV, có lối
vào là một ổ cắm 5 chân C.
B. Kiểm tra và điều chỉnh chuẩn trực cho hệ thống.
Để kết quả đo được chính xác, trước hết ta cần kiểm tra và điều chỉnh chuẩn trực cho hệ
thống, tức là điều chỉnh sao cho chùm tia laser tới đập thẳng góc vào bảng màn ảnh, đúng vị trí
trung tâm của cảm biến QĐ. Muốn vậy ta hãy thực hiện theo các bước sau :
1. Vặn Panme P đưa cảm biến QĐ về vị trí trung tâm (12,5 mm trên thân thước kép của
Panme).
 2. Nhấc bàn trượt có gắn cách tử ra khỏi giá quang học và đặt xuống mặt bàn. Cắm phích
điện của nguồn laser DL vào ổ điện ~220V và bật công tắc K 1 của nó, ta nhận được chùm tia laser
màu đỏ. Quan sát cảm biến QĐ xem chùm tia Laser có chiếu đúng vào tâm lỗ tròn trên mặt cảm
biến hay không. Nếu lệch, nới nhẹ các con ốc trên khớp đa năng để xoay nguồn laser DL sao cho
tia sáng rọi đúng vào tâm lỗ và vuông góc với bề mặt lỗ . Với hai phép xoay quanh 2 trục và 2
phép tịnh tiến dọc theo 2 trục của khớp vạn năng, ta hoàn toàn có thể điều chỉnh chuẩn trực chính
xác cho hệ thống.
3. Đặt bàn trượt có gắn cách tử trở lại giá quang học. Điều chỉnh vị trí cách tử nhờ khớp
nối đa năng của nó, sao cho tia laser dọi đúng vào tâm ( hình vuông) cách tử. Tiếp tục điều chỉnh
xoay cách tử sao cho tia phản xạ từ mặt cách tử quay ngược trở lại đúng vào lỗ ra của tia Laser.
Dịch chuyển bàn trượt dọc theo giá quang học đến vị trí sao cho thấu kính TK cách mặt cảm biến
QĐ đúng bằng tiêu cự của thấu kính thì chốt lại và giữ cố định khoảng cách này trong suốt quá
trình đo.
C. Quy “0” và điều chỉnh độ nhạy của Milivon kế điện tử MV.
1. Cắm phích lấy điện của Milivon kế điện tử MV vào ổ điện ~220V. Đặt núm chọn thang
đo của MV ở vị trí 10mV và vặn núm biến trở Rf của nó về vị trí tận cùng bên trái. Bấm khoá K
trên mặt MV, chờ khoảng 3 phút để bộ khuếch đại ổn định. Tiến hành điều chỉnh số 0 cho
Milivon kế điện tử MV bằng cách : che sáng hoàn toàn khe hở của cảm biến quang điện QĐ, vặn từ
từ núm biến trở "qui 0" ( lắp ngay dưới đồng hồ chỉ thị ) để kim đồng hồ MV chỉ đúng số 0 .
2. Để điều chỉnh độ nhạy thích hợp cho Milivon kế điện tử MV, ta vặn từ từ cán của
panme P sao cho cực đại sáng giữa (có cường độ sáng lớn nhất) của ảnh nhiễu xạ lọt vào đúng
giữa khe hở của cảm biến quang điện QĐ. Khi đó kim của Milivon kế điện tử MV lệch mạnh nhất.
Vặn núm xoay của biến trở Rf sao cho kim của Milivon kế điện tử MV lệch tới vạch cuối thang
đo ( 80 hoặc 90 ). (Nếu không đạt được độ lệch này, thì phải vặn chuyển mạch thang đo của MV
sang vị trí “1 mV ” ứng với độ nhạy lớn nhất cuả nó, và tiến hành điều chỉnh theo cách trên ).
D. Khảo sát sự phân bố cường độ sáng trong ảnh nhiễu xạ laser qua cách tử nhiễu xạ. Xác
định bước sóng của chùm tia laser
1. Ta có thể khảo sát sự phân bố cường độ sáng trong ảnh nhiễu xạ laser bằng cách khảo
sát sự biến thiên của hiệu điện thế U rơi trên hai đầu điện trở sun R theo vị trí x của các cực đại
sin     / b
chính nằm giữa hai cực tiểu chính ứng với .
Muốn vậy, ta vặn từ từ cán panme P để dịch chuyển khe hở của cảm biến quang điện QĐ
trong khoảng giữa hai cực tiểu chính bậc 1 trên ảnh nhiễu xạ. Mỗi lần chỉ dịch chuyển một
khoảng nhỏ bằng 0,05mm. Đọc và ghi giá trị hiệu điện thế U ứng với mỗi vị trí x trên panme P vào
bảng 2. Căn cứ các số liệu này, vẽ đồ thị để xác định chính xác vị trí đỉnh của các cực đại nhiễu
xạ, ta dịch chuyển panme P theo một chiều từng 0,01mm tại những điểm lân cận ở hai phía của các
đỉnh này để tìm thấy giá trị cực đại của hiệu thế U.
 2. Sau khi xác định được cực đại sáng giữa ứng với k = 0, vặn từ từ panme P để đo
khoảng cách a giữa hai cực đại nhiễu xạ bậc nhất ứng với k = 1 nằm đối xứng ở hai bên cực đại
sáng giữa. Thực hiện phép đo này 3 lần. Đọc và ghi giá trị của a trên thước panme vào bảng 3 .
2. Áp dụng công thức (5) đối với cực đại chính bậc 1 trong ảnh nhiễu xạ, ta suy ra công thức xác
định bước sóng
 của chùm tia laser:

 = d . sin  (7)

Đối với cực đại chính bậc 1 (hình 6) , góc khá nhỏ nên có thể coi gần đúng :
sinφ = tanφ= a/2f (8)
Thay (7) vào (8) , ta tìm được hệ thức :λ = a.d/2f (9)

Trường hợp thí nghiệm có sử dụng phần mềm Cassy Lab - Máy tính: Khảo sát sự phân bố
cường độ sáng và xác định bước sóng của chùm tia laser nhiễu xạ qua cách tử phẳng:
Khởi động phần mềm Cassy Lab
- Lấy tín hiệu từ Milivon kế điện tử MV cho vào UA1 của Cassy
-Trong thanh “Start” chọn “Program” và chọn “Cassy Lab”, nhấn đúp chuột vào UA1
- Trong của sổ “input setting” chọn “A veraged Valuse”. “left”.
- Trong cửa sổ “Measing parametes” chọ “ Manual”
- Cài đặt các mục tọa độ, ở đây hoành độ biểu thị tọa độ của các vạch nhiễu xạ, tung độ biểu thị
cường độ sáng.
- Muốn cài đặt trục tọa độ thì trong cửa sổ “setting” chọn “parameter Formula FFT”
* Khai báo cường độ sáng:
- Chọn “new quantity”
- Trong hộp “select quantity” điền vào tên đại lượng mới “cương độ sáng”
- Chọn “formula” điền công thức chỉ mối liên hệ đại lượng mới với các đại lượng cũ:
UA1/0.45*150
- Trong “symbol” I: Unit: Cd From: 0 To: 150
* Khai báo tọa độ vạch
- Chọn “new quantity”
- Trong hộp “select quantity” điền vào tên đại lượng mới “tọa độ vạch”
- Chọn “formula” điền công thức chỉ mối liên hệ đại lượng mới với các đại lượng cũ: (n-1)*0.1
- Trong “symbol” x: Unit: mm From: 0 To: 30
* Chọn hiển thị đồ thị I-x
- Trong “setting” chọn display”
- Chọn “new display”
- Trong hộp “ select display” ghi tên đồ thị I – x
- Trong X – Axis chọn x và Y – Axis chọn I
- Sau đó bấm F9 để bắt đầu đo, với mỗi lần dịch chuyển cảm biến trên màn quan sát 0.1 mm
(tương ứng với quay thước Panme 20 vạch chia) thì bấm một lần F9.
- Cách xác định tọa độ: Đưa chuột vào vị trí xác điịnh và kích chuột phải, chọn “set Market”, “
vertical line” hoặc “ horizontal line”, Sau đó chọn “set marker”, “text” để hiển thị các giá trị trên
màn hình.
- Đọc và ghi số liệu sau đây vào bảng
IV. CÂU HỎI KIỂM TRA
1. Định nghĩa hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng. Phân tích ảnh nhiễu xạ của chùm tia sáng song
song chiếu qua một khe hẹp .
2. So sánh ảnh nhiễu xạ của chùm tia sáng song song chiếu qua một cách tử phẳng với ảnh nhiễu
xạ của chùm tia sáng song song chiếu qua một khe hẹp. Nêu rõ các công thức xác định vị trí các
cực tiểu chính và của các cực đại chính trong ảnh nhiễu xạ .

3. Khi xác định bước sóng của tia laser nhiễu xạ qua cách tử, tại sao không đo trực tiếp khoảng
cách giữa cực đại chính bậc 1 và cực đại giữa (ứng với m = 0), mà lại đo khoảng cách a giữa
hai cực đại chính bậc 1 (ứng với m = 1 ) ?

4. Tại sao phải xác định bước sóng  của ánh sáng theo công thức (9)?
5. Hãy chứng minh công thức tính sai số tương đối của phép đo bước sóng ánh sáng  bằng
phương pháp nhiễu xạ của ánh sáng phẳng quan cách tử phẳng:
 BÁO CÁO KẾT QUẢ THÍ NGHIỆM
KHẢO SÁT HIỆN TƯỢNG NHIỄU XẠ ÁNH SÁNG
(theo mẫu gợi ý)
Xác nhận của giáo viên
Trường
Lớp ...................Tổ .....................
Họ tên .........................................
MỤC ĐÍCH THÍ NGHIỆM
............................................................................................................................................................
............................................................................................................................................................
............................................................................................................................................................
........................................................................................................................................
KẾT QUẢ THÍ NGHIỆM

- Chu kỳ của cách tử phẳng : d = ........... .(mm-1 )

- Độ chính xác của panme : .................... (mm)

 λ ( μm )
( mm ) λ ( μm )
Lần đo
a a ( mm )

TB

1. Tính sai số tương đối của phép đo :

Δλ Δd Δf Δa
δ= = + + =..................................................
λ d f a
2. Tính giá trị trung bình của phép đo :

a
λ=d⋅ =...........................................................
2f (mm )

3. Tính sai số tuyệt đối của phép đo :

 Δλ=δ. λ=............................................................... (mm )
4. Viết kết quả đo của phép đo :

λ=λ±Dλ=............................±.......................... (mm )