Professional Documents
Culture Documents
-Strojarstvo-
Kolegij: Biomehatronika
1. UVOD ............................................................................................................................................. 2
2. EIMSIJSKA TOPOGRAFIJA ....................................................................................................... 3
2.1. Scintigraf (skener).................................................................................................................... 4
2.2. Emisijska topografija korištenjem gama-kamere .................................................................... 6
2.3. Blok-shema gama kamere ....................................................................................................... 7
3. ZAKLJUČAK .................................................................................................................................. 9
4. LITERATURA .............................................................................................................................. 10
1
1. UVOD
2
1. Računalna obrada
2. Uništavanje pozitrona
3. Otkrivanje slučajnosti
4. Okviri za emisijske podatke
5. Vremenski odreĎeni arterijski ulazni podaci
6. Kinetički model
7. Psihološka mapa
Tek nakon interakcije pozitrona s elektronom njihove se mase anigiliraju, što znači
ponište, rezultat čega je nastanak dvaju fotona. Zato se pozitronska emisijska
tomografija zove i dvofotnska. [1]
2. EIMSIJSKA TOPOGRAFIJA
3
2.1. Scintigraf (skener)
Informacija koja se tim linijama nanosi može biti tamnija ili svjetlija, već prema
intenzitetu zračenja koje je kolimator na tim mjestima prikupio. Veći intezitet zračenja
prikazuje se kao veći broj vertikalnih kratkih crtica na jedinici duljine jedne linije. [1] To
se može vidjeti na slici 2.2.
4
Slika 2.2. Scintigrafije štitnjače [3]
Ove crne točke, kad se zumiraju, budu crtice koje upisuje pisač, a njihov je broj
razmjeran broju svjetlucanja u jedinici vremena, odnosno intenzivnosti γ-zračenja na
tom mjestu. Indikacija zračenja može se provesti brojčanim prikazom na svakom
mjestu skeniranja. Treći je mogući način da broj impulsa zračenja upravlja
intenzitetom svjetla svjetleće diode, a da se zapis točno iznad tog izvora. On bi moga
zbog što bolje rezolucije imati samo jedan otvor (provrt). Na takvom slučaju
osjetljivost je preslaba pa se danas kolimatori izvode s većim brojem otvora, kojih
može biti i do 100. Razmak meĎu otvorima je otprilike 0,5mm, a duljina provrta otvora
je nekoliko centimetara. Samo zrake koje idu gotovo paralelno s duljinom kanala
provrta mogu dosegnuti γ-zračenja, a to su one koje izlaze iz izvora zračenja
smještenog točno ispod kolimatora. Detektor γ-zračenja izvodi se od kristala natrij-
jodida (NaI) s primjesom talija (TI). Kristal Nal može imati promjer oko 7 cm, a
debljina mu je obično 4-5 cm. Kada taj kristal pogodi γ-zračenje, emitira fotone u
vidljivom području pa kristal svjetluca (scintilatira). Kako je to svjetlucanje slabo,
može se znatno pojačati fotomultiplikatorom, koji na svom izlazu daje promjene struje
u ovisnosti intenziteta, koji se mjeri na otporu R kao napon i pojačavaju se
pojačalom. Da se izbjegne utjecaj zračenja sa strane, a detektor zračenja,
fotomultiplikatorom i pretpojačalo smješteni su u olovni oklop koji može biti debeo i
do 20 mm zbog prodornijih γ-zračenja. Na izlazu iz pojačala ti naponi iznose od 0,1
do 10 V. Oni se sada mogu dovesti na analogno digitalni pretvornik i daljnja obrada
može se provesti digitalnim putom ili se mogu dovesti amplitude diskriminator, koji
5
može odabrati samo impulse kojima se amplituda napona nalazi u odreĎenim
granicama U1 i U2 koje predstavljaju energetski „prozor“. [1] (slika2.3.)
Slika 2.3. Razlika amplituda napona kojima se odreĎuje energetski „prozor“ [4]
6
Slika 2.4. Dijagramski prikaz gama-kamere [5]
Slika 2.4. prikazuje veliki kristal Nal(Tl) s fotomultiplikatorom, a ispod kristala nalazi
se kolimator s velikim brojem provrta. Njihov broj može biti i nekoliko tisuća. Iza
svakog je fotomultiplikatora pretpojačalo. Iza pretpojačala dolaze pojačala s matricom
otpora. Pojačanja pojačala su različita, a veća su što su dalje od središta. Ako
razmatramo pet pojačala smještenih duž osi x, njihova su pojačanja odabrana tako
da im se pojačanje poveća redom od 1. do 5. fotomultiplikatora, pa je najveće
pojačanje 5. pojačala. To je vidljivo na slici 2.5. Zbroj pojačanja tih pojačala imamo
na izlazu iz otporničke matrice kao napon ux+. S obrnutom kombinacijom pojačanja
imamo napon na izlazu matrice ux -. Ovdje je napon na izlazu 1. fotomultiplikatora
najveći, a 5. multiplikatora najmanji. Ako se uzme razlika zih napona ΔUx izlaza ux+ i
ux-, dobiva se da je ΔUx= ux+ -
ux- (slika 2.5.) koja pokazuje najveći napon pri
mikrobljesku što je nastao ispod fotomultiplikatora na mjestu najudaljenijem od
7
središnjeg fotomultiplikatora FM3 i to tako da je pozitivna vrijednost razlike napona
ΔUx na pozitivnom dijelu apscise, a negativna rastuća prema negativnom kraju
apscise. Na taj način dobiva lokacijski napon u smislu osi x. Isto tako mijenja
lokacijski napon u smislu osi y. Ako nema impulsa iz fotomultiplikatora, onda nema ni
razlike napona, ako se pak pojavi bljesak ispod fotomultiplikatora 5, pojavit će se
najveći pozitivan napon na x-pločicama katodne cijevi u zraka će biti otklonjena
maksimalno udesno. Ako se opet pojavi bljesak ispod fotomultiplikatora 1, pojavljuje
se najveći negativni napon na x-pločicama. U slučaju da se bljesak pojavio ispod
fotomultiplikatora 3, ΔUx, napon bi bio nula, a zraka elektrona u sredini katodne cijevi.
Tako se isto pojavljuju naponi u y smislu i u bilo kojem drugom smislu izmeĎu y-osi i
x-osi već prema veličini lokacijskih napona ΔUx, odnosno ΔUy, koji se dovode na x-
pločice katodne cijevi. Ako se zračenje pojavi u fotomultiplikatorima smještenim bliže
središtu kristala razlike napona ΔUx i ΔUy bilo na x-pločicama ili y-pločicama, ili
objema, bit će manji, a u središtu kristala gdje je smješten fotomultiplikator 3. napon
ΔUx i ΔUy je nula. Ti se naponi pojavljuju tek kad su vrednovani u smislu odabrane
energije impulsa (energetski signal). Ako se amplituda impulsa nastalog bljeskom
nalazi u energetskom „prozoru“, navedeni lokacijski naponi pojavit će se preko
linearne sklopke i diferencijalnih pojačala na otklonskim pločicama katodne cijevi.
Amplituda impulsa koju je odabrao diskriminator pojavit će se kao svijetla točka baš
na mjestu koje su odredili lokacijski naponi ΔUx i ΔUy. Svaki bljesak kao posljedica
kvanta zračenja, ako se nalazi u zadanom energetskom prozoru proizvodi svijetlu
točku na zastoru katodne cijevi upravljanjem Wehneltova cilindra, a u isto vrijeme
omogućuju zatvaranje linearne sklopke pojavu lokalnog napona ΔUx i ΔUy na
otklonskim pločicama katodne cijevi. To se ponavlja pro svakom bljesku dok tako
dobivene svijetle točke na zastoru katodne cijevi ne obilježe konture promatranog
organa, kakvo je vidljivo na slici 2.7. To nije jedini način izvedbe gama-kamere, kao
ni lokacije izvora zračenja. Kao detektor zračenja može se upotrijebiti plinski
luminescentni detektor. Na taj način ionizacojom inertnog plina u zatvorenom
prostoru mogu se dobiti i više od stotinu puta veće svjetline bljeska nego kod kristala
natrij-jodida. Kao plinovi upotrebljavaju se ksenon, Xe i kripton, Kr. Kvant zračenja
pro apsorpciji stvara oblak elektrona koji pod djelovanjem električnog polja izmeĎu 3
prstena (500V/cm) ulaze u snažno električno polje od 10 kV/cm meĎu elektrodama a
i b, koje izaziva svijetljenje u vidljivom području. To svijetlo pada na fotokatodu,
fotomultiplikatora, kada se proces nastavlja odvijati kao i u prethodnom slučaju.
8
Umjesto kompaktnog kristala natrij-jodida. Nal postoje izvedbe od kristala čistog
germanija, Ge, i rjeĎe silicija, Si, kojima su do blizu polovice debljine urezani utori
poprečno s jedne strane i po duljini s druge strane. [1]
1. Otpornička matrica
2. Fotomultiplikatori
3. Nal
4. Kolimator
5. Pojačala
6. Linearne sklopke
7. Amplitudni diskriminator energetske razine
8. Upravljanje intenzitetom mlaza elektrona na z – osi
9. Svjetlina
10. ΔU y
3. ZAKLJUČAK
9
referencom se podrazumijeva definicija mjerne jedinice, mjerni postupak ili mjerni
etalon. Ukoliko se mjerna sljedivost želi uspostaviti potrebno je provesti veliki broj
mjerenja pri korištenju različitih parametara. Pošto svako mjerenje iziskuje odreĎeno
vremensko razdoblje provoĎenje tog postupka postaje jako dugotrajno. Tu se mogu
iskoristiti simulacije, pošto vremena mjerenja na simulatoru ovise o specifikacijama
računala. Tako da na malo boljim računalima te simulacije traju po par minuta, što je
u odnosu na mjerenju na CT ureĎaju koje može potrajati i do nekoliko sati, značajna
prednost. Trenutno se u svijetu provode istraživanja o uspostavljanju mjerne sljedivoti
kod CT ureĎaja te se pritom koriste i simulacije. Ovaj postupak se još može
nadograditi, što će se nesumnjivo u budućnosti i dogoditi.
4. LITERATURA
[3] http://www.ijnm.in/article.asp?issn=0972-
3919;year=2015;volume=30;issue=4;spage=338;epage=340;aulast=Jain (Pristupljeno 11.09.2018.)
10