You are on page 1of 9

SVEUČILIŠTE JOSIPA JURJA STROSSMAYERA U OSIJEKU

STROJARSKI FAKULTET U SLAVONSKOM BRODU

FLEKSIBILNI OBRADNI SUSTAVI

Prezime i ime: Žuljević Nikola


JMBAG: 0152207398
Pregledao:

Slavonski Brod,2020.
PRINCIP RADA MJERNIH LETVI – OPTIČKIH I MAGNETSKIH

1 OPTIČKA MJERENJA
Pod optičkim instrumentima razumijeva se kombinacija optičkih sustava,
ogledala, dijafragmi i ostalih dijelova. Njihova konstrukcija i namjena su vrlo složene i
raznolike, počevši od običnog povećala, preko fotografskog aparata, raznih dalekozora pa
sve do elektronskog mikroskopa. Svi imaju zajednički zadatak da daju što jasnije likove
predmeta koji se s pomoću njih preslikavaju.
1.1 POVEĆALO
Najjednostavniji optički instrument sastoji se obično od jedne
sabirne leće male žarišne daljine i naziva se povećalo (slika 1.1). Promatrani predmet h1,
postavlja se na malu udaljenost od leće, p < f. U tom slučaju dobiva se uspravan uvećan
virtualan lik h2.

Slika 1.1 Lupa

Položaj povećala bira se tako da se drži u neposrednoj blizini oka, tako da je


približno udaljenost oka od lika jednako 1. Oko bez povećala najjasnije vidi na daljini
jasnog vida a to je za normalno od 20 do 25 cm.
Uvećanje optičkih instrumenata definira se kao omjer tangensa kuta pod kojim se
vidi predmet kroz optički instrument i tangensa kuta pod kojim se vidi predmet bez
optičkog instrumenta.
Tangens kuta pod kojim se vidi predmet kroz povećalo je tg φ = h2 /1, a tangens
kuta pod kojim se vidi predmet bez povećala je tg θ = h1 /s. Po definiciji, uvećanje je
jednako:

tg ϕ h2 s
u= =
tg ϴ h1 l

1.2 OPTIČKI TELESKOP


Optički teleskop sastoji se od objektiva i okulara povezanih s pomoću cijevi (tubusa) i po
potrebi, od malog dalekozora, uređaja za praćenje promjene položaja nebeskih tijela zbog
rotacije Zemlje, te od uređaja za snimanje, analiziranje i pretvorbu slike u elektronički oblik.
Posebnu vrstu optičkih teleskopa čine teleskopi za promatranje Sunca, koji se rabe danju,
obično su robusne izvedbe i nepokretni, a svjetlost se usmjerava prema pretvorniku slike u
elektronički oblik s pomoću celostata (moderniji oblik heliografa).
Postoje tri osnovne vrste optičkih teleskopa: refraktorski teleskop, reflektorski teleskop i
katadiopteri.
Refraktorski teleskop je s optičkom lećom kao objektivom. Prvi refraktori imali su
jednostavne leće s pogrješkama. Veće akromatske leće izrađivane su od 18. stoljeća, pošto je
Joseph von Fraunhofer svladao tehniku izradbe optičkih stakala. Refraktori su omiljeni za
vizualna opažanja u amaterskoj astronomiji; upotrebljavaju se za opažanje Sunca i u astrometriji.
Reflektorski teleskop je teleskop kojem je objektiv zrcalo (primarno zrcalo), a razlikuju se
prema položaju i svojstvima sekundarnog zrcala i ostalih elemenata kojima se svjetlost dovodi u
položaj povoljan za gledanje, snimanje (registriranje) ili spektralnu i polarizacijsku analizu
svjetlosti. Reflektori su najveći teleskopi jer su zrcala optički i mehanički pogodnija,
upotrebljavaju se u infracrvenom,vidljivom i ultraljubičastom području, a na satelitima se rabe i
za stvaranje slike rendgenskih izvora. Nove generacije teleskopa upotrebljavaju aktivnu optiku
( dijelovi tankog ili mozaičnog zrcala pomiču se servo polugama radi podržavanja točnog oblika
površine) i tzv. adaptivnu optiku (optički se prate nehomogenosti u atmosferi pred teleskopom, a
njihov se utjecaj u dijelovima sekunde kompenzira malim savitljivim zrcalom postavljenim na
put zraka). Svojstva teleskopa znatno se poboljšavaju novim tehnikama detekcije (elektronički
uređaj CCD, zapravo poluvodička fotografija) i računalnom obradbom slike, koja također
omogućuje automatsko dobivanje podataka. Kombinacija refraktora i reflektora omogućuje
konstrukciju s velikim vidnim poljem, što je pogodno za astrografe, a imaju i široku primjenu
kao teleobjektivi.
Katadiopteri za skupljanje svjetlosti koriste sustav leća i zrcala. Takva konstrukcija
omogućava veliku žarišnu daljinu unutar relativno kratke optičke cijevi. Ovisno o položajima
leća i zrcala postoje mnoge vrste katadioptera. Najveći svjetski teleskopi su većinom
katadiopteri.
Dodatnu opremu optičkih teleskopa čine: fotometar, svjetlomer, interferometar, svjetloskop.
Fotometar je instrument za mjerenje jakosti svjetlosti. Temelji se na uspoređivanju
osvijetljenosti neke površine od strane poznatog izvora svjetlosti i osvijetljenosti koja potječe od
nepoznatog izvora. Stariji tipovi fotometara mjere zatamnjenje, udaljavanje ili primicanje izvora
koje je potrebno da bi se izjednačila osvijetljenost dviju površina; mjeri se pomoću vizualnog
uspoređivanja (vizualni fotometar). Danas su u primjeni samo fotoelektrični fotometri s
fotoćelijama osjetljivima na zračenje. Za pouzdana mjerenja važno je točno poznavati ovisnost
osjetljivosti fotoćelije (fotoelementa) o valnoj duljini zračenja. Linearna ovisnost postiže se
uporabom prikladnih filtara. Kod fotometrije vrlo slabih izvora koriste se fotoćelije s dodatnim
elektronskim sklopom za umnožavanje sekundarnih elektrona kako bi se dobila struja mjerljive
veličine. Fotoelektrični fotometri primjenjuju se u astronomskim i meteorološkim ispitivanjima (
npr. u aktinometriji), u kemijskim i fizičkim istraživanjima i analizama (npr. u kolorimetriji i
spektrofotometriji) i drugo. Postoje i fotometri za uspoređivanje svjetlosti različitih boja
(heterokromni fotometar). Na slici 1.2 je prikazan fotometar.

Slika 1.2 Fotometar


Svjetlomer je dio fotografske ili filmske opreme, fotometar koji mjereći svjetlosnu jakost
omogućuje određivanje elemenata ekspozicije, tj. otvor objektiva i trajanje eksponiranja. Obično
je sastavni dio fotografskog aparata, ili je samostalan uređaj. Kao dio fotografskog aparata
najčešće služi za određivanje elemenata ekspozicije mjerenjem svjetlosti kroz objektiv aparata ,
te za odabir načina mjerenja svjetlosti (npr. po cijeloj površini motiva, ili u pojedinoj točki). Kao
samostalan uređaj često se rabi u profesionalnoj fotografiji i na filmu, npr. pri snimanju u
protusvjetlosti, očitavanju elemenata ekspozicije uz približavanje objektu snimanja ili na
standardnoj površini. Kod nekih svjetlomjera jačina svjetlosti mjeri se iz smjera snimanja, a kod
drugih na objektu snimanja (uz korištenje odgovarajućega filtra koji je sastavni dio svjetlomjera).
U fotografiji se rabe i svjetlomjeri koji mjere svjetlost pod vrlo uskim vidnim kutom, a služe za
određivanje elemenata ekspozicije pri snimanju bljeskalicom, ili pak služe za rad u fotografskom
laboratoriju.
Interferometar je mjerni instrument koji elektromagnetske ili mehaničke valove izvora prima
s pomoću dvaju ili više objektiva (detektora) pa se s pomoću pruga interferencije valova provode
precizna mjerenja. Polovicom 20. stoljeća po načelima optičke interferometrije, konstruirani su
radiointerferometri sastavljeni od dvaju i više radio teleskopa kojima je izbjegnuta gradnja
velikih antena i znatno povećano kutno razlučivanje (dugobazična interferometrija). Danas se
optički interferometri široko koriste za brojne namjene u spektroskopiji, astronomiji, fizici,
geodeziji i drugim znanostima, industriji i drugo. Ultrazvučni interferometri omogućavaju
precizno određivanje brzina ultrazvuka u tekućinama.
Među najvažnije spekroskopske tehnike koje se temelje na međudjelovanju tvari s
elektromagnetskim zračenjem ubrajaju se:
 na apsorpciji i na emisiji zračenja:
spektroskopija ultraljubičastoga zračenja i
vidljivoga zračenja, infracrvenoga zračenja,
rendgenskoga zračenja i gama zračenja
 samo na apsorpciji: spektroskopija
mikrovalnog zračenja, elektronske
paramagnetske rezonancije (EPR ili ESR) i
nuklearne magnetske rezonancije te
fotoelektronska spektroskopija
 samo na emisiji: spektroskopija fluorescencjie
 na raspršenju: Ramanova spektroskopija
 na polarizaciji: spektroskopija optičke
rotacijske disperzije i cirkularnoga dikroizma

Najvažnije spektroskopske tehnike koje se temelje na međudjelovanju tvari sa subatomskim i


drugim česticama (elektroni, protoni, neutroni, ioni) jesu: Augerova elektronska spektroskopija,
neutronska spektroskopija, masena spektrometrija. Uvođenjem lasera kao izvora zračenja
mnogostruko se povećala osjetljivost mnogih spektroskopskih tehnikai moć razlučivanja
spektara (laserska spektroskopija), te su proširene mogućnosti istraživanja strukture atoma i
molekula (spektrometar, fotometar).
1.3 OPTIČKI MIKROSKOP
Optički mikroskop na svakom kraju metalne cijevi (tubusa) imaju po jedan sustav leća: na
donjem kraju, iznad predmeta koji se promatra, objektiv, a na gornjem kraju okular.
Objektiv je u suvremenim mikroskopima sastavljen od više optičkih leća malene žarišne
duljine, koje djeluju kao jedinstvena sabirna ili konveksna leća. Kako bi se dobila što jasnija
slika, u takvim su sustavima ispravljene pogreške leća (kromatska i sferna aberacija,
zakrivljenost ravnine slike).
S obzirom na način upotrebe, objektivi mikroskopa mogu biti suhi, za mala i srednja
povećanja, i imerzijski, radi dovođenja predmeta što bliže objektivu i povećanja indeksa loma za
velika povećanja. Prednja optička leća ovih posljednjih uranja se pri upotrebi u cedrovo ulje
(koje ima jednak indeks loma kao i staklo), čime se povećava moć razlučivanja mikroskopa.
Većina suvremenih optičkih mikroskopa ima po nekoliko različitih objektiva koji se mogu
mijenjati.
Okular je obično složen od dviju ili više jednostavnih leća koje djeluju kao jedna konveksna
ili sabirna leća. Upotrebljavaju se i mikroskopi s dvama okularima (binokularni mikroskopi), s
pomoću kojih se predmet može istodobno promatrati s oba oka. Predmet koji se promatra nalazi
se na stoliću mikroskopa; osvjetljuje se odozdo, ako je tanak i proziran, s pomoću sfernog zrcala
i kondenzora, ili odozgo (npr. kod metalografskoga mikroskopa), ako se promatraju pojedinosti
na ravnoj neprozirnoj površini. Objektiv iznad predmeta stvara njegovu uvećanu sliku; ta se slika
promatra okularom, koji ju ponovno uvećava, tako da je konačno uvećanje umnožak uvećanja
dobivenih objektivom i okularom.
Osim sposobnosti uvećavanja, važna je značajka mikroskopa njegova moć razlučivanja. To je
najmanja udaljenost na kojoj se dva susjedna dijela u nekoj strukturi još mogu vidjeti odvojeno,
a ovisi o takozvanoj numeričkoj aperturi objektiva i o duljini vala svjetlosti koja služi za
rasvjetu. Po tzv. Reyleighovu kriteriju mogu se razlučiti dva dijela minimalno udaljena za:

0,61∗λ
d=
n∗sinϴ

gdje je:

𝝀 – valna duljina svjetlosti


n – indeks loma sredstva u kojem se promatra (zrak cedrovo ulje ili drugo)

Recipročna vrijednost 1/d naziva se moć razlučivanja. Tehnički je udaljenost d ograničena na


manju vrijednost i za najsavršenije instrumente i iznosi približno 0,25 μm.
2 MAGNETSKA MJERENJA

2.1 BALISTIČKI GALVANOMETAR


Za mjerenje magnetskog toka balistički galvanometar spojimo s mjernim svitkom čije su
dimenzije usklađene s rasporom u kojemu mjerimo magnetski tok (slika 2.1). Svitak postavimo
okomito na silnice polja, a onda ga naglo izvučemo iz polja. U tom trenutku u njemu se inducira
naponski impuls ovisan o broju zavoja svitka i magnetskom toku. U strujnom krugu u kojem je
galvanometar pojavi se određena količina elektriciteta o kojoj zavisi koliki je otklon
galvanometra. Ako znamo konstantu galvanometra odredimo vrijednost magnetskog toka kojeg
zatvara svitak:

N*ϴ = KB*α1

Slika 2.1 Mjerenje balističkim galvanometrom

Kako se radi o homogenom polju iz geometrije svitka možemo izračunati i gustoću


magnetskog toka B. Za mjerenje magnetskog polja, pri serijskom mjerenju permanentnih
magneta kod brojila ili mjerne instrumente, radije ćemo upotrijebiti mjerače magnetskog toka
(fluksmetre). Njihova prednost u usporedbi s balističkim galvanometrom je u tome što je njihovo
pokazivanje praktički neovisno o brzini promjene magnetskog toka (brzini pomicanja svitka), pa
se otklon galvanometra lako očita.

2.2 MJERENJE HALLOVOM SONDOM


U ovom mjerenju koristimo se Hallovim efektom koji je naročito izražen kod poluvodiča,
kao što su indijev arsenid, indijev antimonid i silicij.Pločicu napravljenu od jednog od navedenih
materijala stavimo u magnetsko polje gustoće B, tako da je polje okomito na pločicu, a pločicu
spojimo na konstantnu istosmjernu struju, u poprečnom smjeru se pojavi Hallov napon, koji je
razmjeran gustoći magnetskog toka:
I ∗B
UH = RH* = k*B
d

RH – Hallova konstanta
d – debljina pločice

Hallov napon mjerimo instrumentom, a osnovni mjerni spoj prikazan je na slici 2.2. Uzbudnu
struju dobivamo iz istosmjernog izvora, a podešavamo je pomoću promjenjivog otpora. Kod
tvorničkih izvedbi mjerila, na skali instrumeta je označena vrijednost na koju treba namjestiti
struju.

Slika 2.2 Hallova sonda

Hallove sonde se izrađuju u raznim oblicima i dimenzijama, ovismo o potrebama mjerenja.


Mogu se izrađivati vrlo malih dimenzija (debele nekoliko desetinki milimetra), mjerenje
magnetskih polja je omogućeno u vrlo malim zračnim rasporima, Mjerni opseg za mjerenja u
zraku je od 0,005 do 2 T. Za manje ili veće gustoće magnetskog polja koristimo posebne
izvedbe. Mjerna točnost kreće se u okviru − ¿ ¿1 %.
+¿ ¿

2.3 MJERENJE OTPORNOM SONDOM


Kod mjerenja magnetskog polja otpornom sondom koristimo se pojavom da se omski otpor
nekih materijala mijenja ovisno o magnetskom polju toliko da se ta pojava može koristiti u
mjerne svrhe. Ova pojava jako je izražena kod bizmuta. Spirale izrađene od bizmuta postave se u
magnetsko polje, čiju gustoću želimo mjeriti. Spiralu uključimo u jednu granu Wheatstoneovog
mosta. Otpor spirale iznosi od 5 do 20 Ω, ali pri promjeni magnetskog toka za 0,1 T otpor se
povećava za otprilike 5%.

2.4 MAGNETOMETRI
Za brzo mjerenje magnetskog polja u zraku, upotrebljavamo magnetometre. Magnetsku
indukciju određujemo na osnovi zakretnog momenta permanentnog magneta dovedenog u
magnetsko polje. Magnetometar postavimo tako da kazaljka pokazuje nulu, što nam pokazuje
smjer polja. Zatim zakrećemo kućište dok ne dobijemo maksimalni otklon, što znači da je os
magneta okomita na polje. Otklon kazaljke pokazuje mjerenu indukciju. Koristimo ih za
mjerenja od 10-8 do 0,5 T. Na slici 2.3 je prikazan magnetometar.

Slika 2.3 Magnetometar

2.5 MJERENJE MAGNETSKE INDUKCIJE POMOĆU SILE NA VODIČE


Sila koja djeluje na vodič (slika 2.4) duljine l, protjecan strujom I u polju magnetske indukcije B
je:
Slika 2.4 Mjerenje magnetske indukcije pomoću sile na vodiče
Ovakav postupak se ne koristi mnogo u praksi. Koristimo ga samo u ekstremno točnim
mjerenjima (0,005%). Struju mjerimo najpreciznim kompenzatorima i provodi se kroz vodiče
namotane na pravokutnu ploču, obješenu za jedan krak precizne analitičke vage.

2.6 MJERENJE ROTIRAJUĆIM ILI TITRAJUĆIM SVITKOM


U ovom slučaju mjerimo napon koji se inducira u svitku koji rotira ili titra određenom
frekvencijom. Izmjenični napon koji se inducira u svitku s N zavoja, površine A, a rotira
jednolikom brzinom n iznosi:

⇒ Uℑ
Uim = 2πnNABm Bm =
2 πnNA

Inducirani izmjenični napon ispravljamo komutatorom na osi mjernog svitka, ili poluvodičkim
ispravljačem i mjerimo ga instrumentom s pomičnim svitkom. Na sličan način mjerimo gustoću
magnetskog toka titrajućim svitkom, koji titra frekvencijom od nekoliko kHz, pri čemu se u
njemu inducira napon koji mjerimo.

You might also like