Student: Dejan Pilipovi 16331

1/1/2011
NANOTEHNOLOGIJE
NANOMERENJA MEHANIKIH OSOBINA
(NANO MEASUREMENTS MECHANICAL PROPERTY)
Univerzitet u Novom Sadu
Fakultet tehnikih nauka
Departman za proizvodno
mainstvo
Profesori:
dr Kaka Damir- red.profesor
dr kori Branko red. profesor
Asistent:
M.Sc Aleksandar Mileti
Nanotehnologije Nanomerenja mehanikih osobina
Sadraj
Univerzitet u Novom Sadu .......................................................................................................... 1
Fakultet tehnikih nauka ............................................................................................................. 1
Departman za proizvodno mainstvo .......................................................................................... 1
Profesori: .................................................................................................................................... 1
dr Kaka Damir- red.profesor ..................................................................................................... 1
Sadraj ......................................................................................................................................... 2
0.Uvod ......................................................................................................................................... 4
1.0 Nanomeranja mehanikih osobina ........................................................................................ 5
2.0 Ureaji za merenje ................................................................................................................ 6
nanomehanikih osobina ............................................................................................................ 6
..................................................................................................................................................... 6
2.1 AFM i skeniranje Probe mikroskopiju .................................................................................. 6
2.2 STM mikroskop ................................................................................................................. 10
2.3 Princip rada AFM-a ............................................................................................................ 11
2.4 Instrument za merenje nanomehanikih osobina (nano indenter) ....................................... 13
2.5 Rezultati merenja nanoutiskivanjem .............................................................................. 14
2.6Ispitivanje tankih filmova prevlake ...................................................................................... 16
2.7 Odreivanje modula elastinosti i vrstoe kod savijanja .................................................. 18
2.8 Odreivanje elastinog modula ........................................................................................... 19
2.9 Ispitivanje ilavost loma ..................................................................................................... 21
2.91 Ispitivanje dinamike vrstoe .......................................................................................... 23
3.0 Merenje mehanikih osobina mikroobraenih struktura .................................................... 23
3.1 Lokalna mehanika spektroskopija Kontaktnim AFM ....................................................... 24
3.3 SLAM (T-SLAM) sa temperaturom kao promenljivom ..................................................... 25
4.0 Statike metode ispitivanja Mezozopski uzorci ............................................................... 25
4.1 Karbonske nanocevi upoznavanje sa osnovama morfologije i proizvodnih metoda ....... 26
4.2 Merenje mehanikih osobina ugljeninih nanocevi pomou SPM ..................................... 27
4.3 Mikrocevi i ispitivanje osobine elastinosti ........................................................................ 32
5.0 Zakljuak ............................................................................................................................ 34
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 2
~
Nanotehnologije Nanomerenja mehanikih osobina
6.0 Literatura ............................................................................................................................. 34
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 3
~
Nanotehnologije Nanomerenja mehanikih osobina
0.Uvod
refiks nano, u rei
nanotehnologija, dolazi iz grke
rei nanos, koja znai patuljak,
patuljast. To znai da se radi o vrlo malim
veliinama, tanije o milijarditom delu
metra. Slikovitije reeno, 100 nanometara
je hiljaditi deo vlasi kose. Dodue, pojam
nanotehnologija odnosi se uglavnom na
veliine do 100 nanometara.
P
Nano tehnologija je vrlo vana
nauka u 21. veku ije velike rezultate tek
oekujemo u budunosti u svetu medicine,
vojne industrije, raunarskim tehnologija
mainstvu i dr. Nanotehnologija je
mogunost upravljanja materijalima u nano
veliini radi stvarnja struktura koje imaju
nova svojstva zbog svoje veliine, oblika i
sastava. Ovi su oblici manji od 100 nm.
Nanometar je milioniti deo metra to je
gotovo 100.000 puta manje od preseka
ljudske vlasi i 100 puta manje od veliina
koje se danas komercijalno koriste u
proizvodnji.
Organizovanjem atoma u strukture
razliitih oblika i veliina u nano veliini,
mogue je upravljati razliitim osobinama,
ukljuujui elektrina, optika i fizika. U
nano veliini, ove osobine mogu biti bitno
razliita od osobina istog materijala u
veoj, uobiajenoj veliini. Kada se ova
tehnologija koristi u stvaranju konanog
proizvoda, dobijaju se prednosti
jedinstvnih osobina nano struktura. Do
skora se mislilo da su za formiranje
elemenata potrebne samo tri elementarne
estice : elektron, proton i neutron.
Meutim nova sazananja u nauci pokazala
su da se protoni i neutoni mogi deliti i da
se sastoje od po tri fundametalne gradivne
estice. Ta mala gradivna estica se zove
kvark i iznosi 10
-18
m i za sada se smatra
da je to najsitnija estica. Moe se
zakljuiti da je materijalni svet izraen od
kvarkova, elektrona, i neutralnog ,
elektronu pridruenog , neutrina.
Nanotehnologija se deli u etiri
osnovne grupe, poevi od jednostavnih
pasivnih nanostruktura, do molekularnih
nanosistema, koji su jo uvek u fazi
istraivanja i moemo ih oekivati u
budunosti. Proizvodi namenjeni zatiti
raznih povrina, metali, polimeri i
keramika pojaana nano strukturama
pripadaju pasivnim nano strukturama,
znai re je o materijalima koji su
namenjeni obavljanju samo jednog
zadatka.
Zahvaljujui sve intenzivnijem
razvoju, danas svatko moe svoj ivot
pojednostaviti koritenjem jednostavnih
proizvoda baziranih na nanotehnologiji,
koji pre svega omoguuju utedu novca i
slobodnog vremena.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 4
~
1.0 Nanomeranja mehanikih osobina
Eksperimenti kojima se mere
mehanike osobine nanoveliina su klju
za razumevanje mezozopskih i
nehomogenih materijala.
Najistaknutija tehnika za takvo
lokalno merenje implementira
mikroskopiju atomske sile (AFM) u
statinom reimu da bi se dobile krive sila-
odstojanja . Ovo daje silu primenjenu na
vrh i vrh-uzorak udaljenje to nam
omoguava da odredimo lokalno umanjene
Jungovog modula. Ipak, u praksi ove
vrednosti se ne mere direktno, ve umesto
toga primenjena sila koja je neutralizovana
od strane lepljivih i kapilarnih sila.
Takoe, od vrha igle do uzoraka udaljenje
mora biti dobijeno pomeranjem uzorka po
osi z (Z-piezo) zamene i skretanja nosaa,
a deava se da od toga na veini
instrumenata nije kalibrisano. Obino je
dostupna samo voltaa primenjena na
nelinearni i histeretiki Z-piazo element i
na nekalibrirano skretanje nosaa. Ove
dostupne informacije se moraju paljivo
kalibrisati i podesiti prema nainu
izvoenja eksperimenta . Procedura
kalibracije koja se vri prema nauniku
Radmaeru radi dobro samo kad je
primenjena na odgovarajue materijale,
kao to su bioloki i polimerni uzorci.
Dodatna potekoa je to kada je jedan kraj
konzole fiksiran, a njegova orijentacija
vrha i njegova pozicija na povrini uzorka
ne ostaju konstantne tokom dobijanja f-d
krive. Pomeranje vrha igle se vri po
povrini uzorka po x-y pravcu ose konzole
nosaaZa pravilan rezultat eksperimenta
nemoe se koristiti baza znanja iz
mehanike. I konano, nesigurnost oko
konkretnog oblika vrha i njegovog radiusa
dodatno komplikuju proceduru. Izazovi
vezani za instrumente su tako veliki da
primena statikog AFM (mikroskopija
atomske sile prim prev.) za dobijanje
apsolutnih vrednosti elastinih modula
korienjem komercijalnih instrumenata je
u najboljem sluaju teko, posebno na
tvrdim podlogama. A ovo je takoe i
motivacija za razvoj drugih tehnika.
Apsolutne vrednosti mehanikih osobina
teko su merljive, relativne mere ili mape
(slike fizikih osobina) su i dalje veoma
nepouzdane. Korienjem akustinih
vibracija AFM povrine uzorka, mogu se
videti njegove lokalne elastine i
neelastine osobine. Studije mezozopskih
uzoraka su ak i jo izazovnije jer teko je i
vremenski zahtevno locirati uzorak, koji je
specijalno ispravno pozicioniran. Ova
metod je dalje proiren i na bioloke
mikrocevi, gde je eksperiment izveden u
tenosti i u funkciji temperature.
Pouzdane mehanike mere moemo dobiti
kombinovanjem najboljeg od ova dva
ureaja, AFM i nanoindentera. Klasini
nanoindenteri koriste optiko
pozicioniranje vrha koje je neadekvatno u
nanosvetu. Skenirajui nanoindenter koristi
isti dijamantski vrh za oslikavanje (sa
mikronjutn silama) i merenje.
2.0 Ureaji za merenje
nanomehanikih osobina
Instrumenti koji se koriste za
ispitivanje osobina nanomehanikih
karaktersitika i tankih filmova se mogu
podeliti u dve grupe, odnosno dve metode.
Prva metoda se bazira na takastim probama
, a druga na komplementarjnoj metodi. U
ispitivanjima osobina one mogu da se
koriste zasebno ili u kombinaciji i jedne i
druge metode. Komplementarne metode
imaju iroki raspon mogunosti ispitivanja,
jedna od tehnika ispitivanja je i optiko
ispitivanje, kao to je metoda mikro
Raman metoda spektroskopija visoke
energije difrakcije svetlosti, pri emu se
koristi X-zraci, neutroni, ili elektroni za
mehanika ispitivanje izboina ili mehura.
Ispitivanje pomou takaste metode razvile
su se dve tehnologije ispitivanja,
ispitivanjem pomou igle i mikroindenter
metode (pomou utiskivanja). Obe metode
(slika 1 i 2) mogu da mere u dijapazonu
mera od 10 do 1000 nm duine skale.
S
lika 1 Prikaz eme rada instrumenta za ispitivanje [1]
Slika 2 Skica AFM mikroskopa sa piezo skenerom [1]
2.1 AFM i skeniranje Probe
mikroskopiju
Svi ureaji za ispitivanje
nanomehanikih osobina koriste
piezoelktrini stalak ili piezoelektrini vrh
oscilirajue igle. Sonda odnosno merna igla
moe biti napravljena kao volframova ica,
pri emu je taj oblik kupe mora biti poliran
elektrohemijski kako bi se mogao nalaziti
jedan atom na vrhu igle ili kompleks atoma
na vrhu igle i kako bi se sa njima moglo
lake manipulisati. Igla mikroskopa
atomskih sila (atomic force microscope
AFM) moe se videti na slici 2, koristi
se za prouavanje tribolokih fenomena
poput hrapavosti R
a
, R
max
i mnogo drugih
parametara hrapavosti, adhezije (privlaenja
molekula razliitih materijala), trenje,
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 6 ~
grebanja, troenja, utiskivanja, prenosa
materijala i podmazivanja. Prilikom
prouavanja materijala i ispitivanja na
AFM-u mikroskopu je primeena je
anizotropnost trenja u zavisnosti od pravca
skeniranja zbog hrapavosti i stanja
povrine, da je trenje na mikro nivou manje
od onoga na makro nivou da troenje
poinje kod nanobrazdi. Na veini
kontaktnih povrina
meu krutim materijama, kontakti su na
velikom broju povrinskih neravnina. Zbog
toga je potrebno prouavati pojave koje se
javljaju na kontaktu pojedinih neravnina
materijala koji se ispituje. Kod mikro i
nanoobjekata trenje i troenje jako zavisi
od povrinskih interakcija u nekoliko
atomskih slojeva i od podmazivanja
molekularno tankim filmovima. Instrumenti
koji se na ovom podruju koriste su:- ureaj
za merenje povrinskih sila (surface force
apparatus SFA): razvijen 1968. godini u
Sjedinjenim Amerikim Dravama, koristi
se za prouavanje statikih i dinamikih
osobina molekularno tankih filmova koji se
nalaze izmeu dve povrine koje su glatke
na molekularnom nivou. Kod SFA ureaja
(slika 3) se udaljenost meu povrinama
meri interferometrijskim principom do nivoa
od 0,1nm, dok je osetljivost merenja sila
do 10 nN. Kod merenja, sila trenja se stvara
mehanizmom za popreni pomak pri
razliitim brzinama i frekvencijama
oscilacija dok se istovremeno mere
normalne i poprene sile. Interferometrija
podrazumeva merenje koje se vri pomou
talasne duine svetlosti, koja je za odreenu
vrstu svetlosti , pritisak, temperaturu i
vlanost uvek ista. Svetosni zrak jedne
odreene svetlosti ima osim konstantne
talasne duine i nepromenjenu amplitudu
koja se naziva intezitet svetlosti. Za dnevnu
svetlost ili normalno osvetljnjenje je /2 i
iznosi 0,3 m.
2.2 STM mikroskop
Pretrani tunelirajui mikroskop
(scanning tunneling microscope STM) se
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 7 ~
Slika 3 SFA mikroskop i njegovi unutranji mehanizam za merenje interferometrijom [1]
koristi za dobijanje slike istih povrina
molekula sredstava za podmazivanje. Prvi
naunik koji je konstruisao ovakav
mikroskop za ispitivanje zvao se Giaever.
On je predvideo da se moe meriti pomou
razlike potencijala izmeu dva metala koji
su razdvojeni tankim izolacionim filmom.
Struja koja se puta u uzorak, poinje da
tee i zbog sposobnosti njenih elektrona
ona uspeva da prodire u potencijalne
barijere. Da bi se uopte moglo meriti
strujom tunela ovom metodom neophodno
je da dva metala budu na rastojanju 10nm, i
potrebno je uvesti i vakuum, kako vazduh
nebi mogao stvarati potekoe prilikom
merenja. Ovom vrstom merenja (skeniranja)
se sa lakoom moe utvrditi i definisati
poloaj odreenih atoma unutar metala.
Metalni vrh STM mikroskopa (jedna
elektroda od tunela struje) mora biti na
rastojanju od 0,3 do 1 nm u odnosu na
povrinu koja se istrauje, a druga elektroda
mora imati operativni napon koji iznosi od
10 mV do 1V. Vrh igle elektode STM
mikroskopa mora biti otar, esto se izrauje
integrisano sa konzolom za merenje.
Materijal od kojeg je napravljena igla moe
biti volframova ica ili platinumiridijum
(kompozit) ili zlato.

Slika 4 ematski prikaz skeniranja [1]
S
lika 5 Prikaz naina skeniranja STM [1]
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 8 ~
Slika 6 a)Igla od Wolframove ice , b) igla od
platinumiridijum [1]
2.3 Princip rada AFM-a
Mikroskop atomskih sila (AFM) se
koristi za topografska merenja povrina na
atomskom nivou, za merenje adhezije,
elektrostatskih sila, , neravnina, troenja,
utiskivanja, ali i za, nanoobradu. AFM je
takav mikroskop koji koristi fiziko raster
skeniranje povrine preko piezo-elektrine
keramike. Povrtana sprega se koristi radi
odravanja konstantne interakcije izmeu
probe i uzorka. Poloaj probe i povratni
signal se zapisuju u raunaru , a zatim se uz
pomo softwera interpretiraju kako bi se
dobila tridimenzionalna mapa priblinog
izgleda povrine.
ematski prikaz rada AFM mikroskopa je
prikazan na slici 7 .Otar vrh privren je
za kraj poluge (nosaa) i kree se preko
ispitivane povrine , pri emu se daje
povrtana informacija piezo-elektrinim
senzorima , zbog ega se omoguuje
odravanje konstantne sile na vrhu ili
konstantne visine vrha u odnosu na
povrinu uzorka koji se skenira. Pozicija
koja se nalazi izmeu vrha i posmatranog
predmeta se elektronski snimaju a zatim se
pomou posebnih programa prebacuje u
trodimenzionalnu sliku koja se dalje
softwerski obrauje i trai srednja vrednost
hrapavosti. Program omoguuje merenje
povrinske hrapavosti kao to je Ra , ali
moe i RMS takoe da se izvede kao opcija
merenja. U okviru odreivanja hrapavosti
koristi se nekoliko metoda . Jedna od
konvencionalnih metoda je kontaktna
metoda koja se najee koristi, bez
kontaktna metoda - to je metoda kada vrh
lebdi iznad povrine uzorka i detektuju se
privlane sile, tapkajua metoda koji
predstvalja znaajan napredak u primeni
AFM mikroskopa jer se oscilirajui vrh
naizmenino postavlja u kontaktu sa
povrinom uzorka i odvaja se od uzorka
kako bi se izbeglo klizanje po povrini
uzorka.Ovo je pogodno zbog toga to ne
dolazi do oteenja povrine uzorka koji se
meri.Na ovaj nain uzorak se opet moe
meriti i analizirati
S
lika 7 Prikaz eme funkcionisanja AFM mikroskopa[1]
AFM meri sile koje su manje od 1 nN
(primera radi , kap vode je teka 10 N,
trepavica 100 nN) Vrh dijamantske igle
iznosi (R = 10 100 nm) izraene
ultranano precizno vrh kupe je montirana na
fleksibilnu konzolu (krutosti < 1 N/m)
nagnutu za oko 10 . Sile (do 1 pN) se
odreuju merenjem savijanja konzole
(rezolucije do 20 pm) pomou optikih,
interferometrijskih i kapacitivnih principa ili
merenjem tunelirajue struje kao kod STM
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 9 ~
mikroskopa. Skoro uvek u eksperimentima
se savija uzorak se savija uzorak jer
savijanje konzole dovodi do vibracija.
Ugraivanjem senzora za merenje poprene
sile (ee torzije konzole), dobije se FFM
(ponekad zvan i lateral force microscope
LFM s .
Kod FFM-a se vertikalnim pomakom
iglom odreuje normalna sila na uzorak.
Dobijena sila prilikom merenja se odrava
konstantnom i na neravnim povrinama
stavljajui pomak igle u feedback
(povratnu) petlju gde funkciju senzora
pomaka ima laserski zrak koji je u sprezi sa
kvadrantnim fotodetektorom koji slui i za
merenja torzije konzole. Alternativa
laserskom zraku su kapacitivni senzori,
interferometrija, i piezo elektrini senzori.
Mehanike karakteristike konzole i igla
kljuni su faktori za dobijanje tanih
rezultata merenja, ukoliko nisu dobijeni
oekivani rezulatai ili je topografska slika
loa, onda je to siguran znak da se igla mora
menjati. One se odreuju elektronskim
mikroskopima ili merenjem sopstvene
frekvencije.
S
lika 8 Igla koja zajedno sa konzolom [1]
Merenje povrinske hrapavosti i sile trenja
se moe vriti komercijalnim AFM/FFM
mikroskopom. Uzorak koji se priprema
mora biti veliine do 10 x 10 mm
2
se
montira na PZT cev sa posebnim
elektrodama za savijanje u ravnini x-y po
mrei linija pretraivanja, i za savijanje po
vertikalnoj z osi. Igla se dovodi u kontakt sa
uzorkom (kontaktni modalitet rada). Kod
AFM-a su za ispitivanje velikih uzorka
senzori sile i skaner nalaze na glavi
mikroskopa. Tu se savija konzola ije
vibracije smanjuju rezoluciju merenja.
Veina AFM-a se moe koristiti u tzv.
tapping modu rada kada je kontakt igle sa
uzorkom isprekidan, tj. za vreme pretranog
savijanja konzola je pobuena sinusoidnim
vibracijama piezoelektrinog davaa
amplitude 20 100 nm , taj mod naziva se i
dynamic force microscopy pa igla
povremeno udara o povrinu uzorka pri
rezonantnoj frekvenciji konzole (70 400
Hz) dok se prosena kontaktna sila odrava
konstantnom. Taj mod minimizira uticaj
trenja pri topografskim merenjima mekih
povrina uzorka. , takoe nedolazi do
velikih oteenja prilikom merenja uzorka.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 10
~
2.4 Instrument za merenje
nanomehanikih
osobina (nano
indenter)
Osnovna razlika izmeu predhodno
opisanih ureaja (mikroskopa) i
nanoindentera je to to kod ispitivanja
nanoindenterom radni uzorak se ispituje
utiskivanjem piramide u njegovu povrinu, i
samim tim se oteuje njegova povrina.
Konvencionlano utiskivanje ili
mikroindention test podrazumeva pritiskanje
vrha poznate geometrije u povrinu uzorka
pri emu mora biti konstantna sila tog
pritiskanja. To podruje udubljenja koja se
stvara delovanjem utiskivajueg elementa u
povrinu uzorka koristi se za matematiko
preraunavanje nanotvrdoe . Razne vrste
utiskivanje koristi za merenje tvrdoe,
ukljuujui Rockwell, Vickers, i Knoop
testovi. Kod merenja tvrdoe
nanoutiskivanjem (nanoidentation) se
podruje utiskivanja postavi na nulu, i onda
se dijamantni vrh utiskuje rastuom
normalnom silom (koraci od 2 s).
Optereenjem kojim se deluje na dijamantni
vrh izaziva se preciznim, elektrostatikim
,elektromagnetski ili mehanikim silama,
dok se vertikalni pomak meri kapacitivnim
senzorom. Taj sistem optereenja se moe
montirati na AFM umesto uobiajene glave
mikroskopa.Uzorak se skenira pre i posle
utiskivanja ime se dobijaju odgovarajue
topografije. Tvrdoa se onda dobije delei
silu utiskivanja sa projekcijom utisnute
povrine.
Slika 9 Prikaz ureaja nanoindentera [3]
Slika 10 ema nanoindentera [1]
Nanoindenter ureaji su vrlo fleksibilni u
tom smislu to se mogu lako modifikovati
dodavanjem merenih dodataka akustinih
emisija za merenje faznih prelaza, za
merenje konstaktnog otpora faznih promena,
za merenje dielektrinog proboja pri emu
se pri ovom ispitivanju mora koristiti tvrdi
elestini pipak od vanadijumovog karbida
koji omoguava dobijanje vie informacija o
celom procesu. Akustino ispitivanje
primenjuje se kod piezolektrinog predavaa
koji stvara ravan talas koji je usresreen na
prevlaku radnog predmeta koji se posmatra.
Zvuni signal koji se reflektuje u zavisnosti
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 11
~
od akustinih karakteristika prevlake i na
koji nain utie athezija. Ovakva vrsta
ispitivanja je nekvantitativna i pripada
klasinim nerazarajuim metodama. Postoje
dodaci koji se dodaju nanoindenteru za
ispitivanje uticaja temperature i hemijsko
ponaanje povrine u samom nanokontaktu.
Razvoj metoda ispitivanja pomou
nanoindention ureaja se svakim danom sve
vie i vie razvija , pa je samim tim i tanost
sve vie verodostijnija.
2.5 Rezultati merenja
nanoutiskivanjem
Posebna i najvea primena
nanoutiskivanja je ispitivanje tvrdih prevlaka
koji se nanose na razliitim materijalima , i vri
se ispitivanje poboljavanja tvrdoe i tribolokih
karakteristika. Brojna istriivanja u ovom
domenu nauke uslovili su i razvoj komercijalne
opreme i tehnologije nanoenja velikog broja
razliitih prevlaka i refraktornih materijala sa
dobrim tribolokim karakteristikama u
odreenim uslovima njihove primene.
Alati koji se koriste za utiskivanje trostrane
dijamantne piramide (tzv. Berkovich-eve
piramide) uz silu utiskivanja od 1 nN i
rezolucije merenja pomaka od 0,4 pm. Otisak
snimljen mikroskopom se moe videti na slici
12.
S
lika 11 Prikaz metoda za merenje nano tvrdoe [1]
Nanoutiskivanjem dobijamo informacije o:
- Modulu elastinosti;
-Otpornosti na nastajanje pukotina: sa
Vickersovim utiskivaem (etvorostranina
dijamantna piramida) uz silu utiskivanja od
0,5N (dijagram na slici 13) dok se otisak
posmatra optikim mikroskopom, SEM-om
ili interferometrijskim metodama. Ponekad
se presek otiska, da bi se posmatralo, izree
fokusiranim jonima.
-Otpornosti materijala na habanje: konini
dijamanstki utiskiva sa poluprenikom
vrha od 1 m se povlai popovrini uzorka
a optereenje se poveava dok ne nastane
oteenje; dubina tragova se meri
pretraivanjem AFMom uz male (0,2 mN)
normalne sile.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 12
~
Slika
12 Prikaz otiska Berkovieve piramide.[3]
S
lika 13 Prikaz dijagrama sile utiskivanja [3]
Matematiki model za proraun se vri
prema formuli :
.................................................(1.0)
pri emu je:
H- dubina utiskivanja [nm];
P- sila utiskivanja [mN];
A- poprean presek vienja;
E- Modul elastinosti uzorka;
S- Vrednost kontaktne krutosti;
Jednaina (1.0) moe se primenti za
tanku prevlaku na supstratu, pod uslovom da
supstrat i prevlaka imaju iste elastine
osobine. Ako bi postojala velika razlika
modula prevlake i supstrata , postoji
mogunost da se dobija netana vrednost
modula elastinosti prevlake . Modul
elastinosti je vana karakteristike
nanoprevlaka, modul elastinsoti ima uticaj
na polje napona prevlake, odvajanje
prevlake od osnovnog materijala, lom
prevlake i zaostale napone koji se deavaju
unutar prevlake. Dijagrami sa slika 14 je
odreivanje modula elastinosti primenom
nanoindentera koji korisiti postupak kako je
ve ranije reeno utiskivanja, prema
profesoru Oliveru-Faru.

Slika 14 Prikaz merenja krutosti (SCM) [3]
S
lika 15 Ispitivanje elastinosti [3]

Slika 16 Ispitivanje viskoelastinosti[3]
Sa dijagrama na slici 14 i 15 mogu se videti
dijagrami ispitivanja koji pokazuju sloenu
funkciju zavistnosti od elastinih i
viskoelastinih osobina prevlaka i supstrata.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 13
~
A
S
E
A
P
H
2
ment) C(Displace A
2

2.6Ispitivanje tankih
filmova prevlake
Prevlake (one koje se koriste da bi se
promenila neka svojstva kao npr. tvrdoa
(karbidne presvlake), ili poput slojeva
oksida ili vlage) utiu na mehanika
svojstva na nanometarskim nivoima i na
povrinske sile. Merenje osobina tih tankih
slojeva je teko, jer na merenje utiu i
svojstva osnovnog materijala i stanja
povrina meu njima.
U principu, tvrdi elastini materijali
(visoki E i 0.2) e imati manje plastine
zone od mekih neelastinih materijala (niski
E i 0.2). Razliite kombinacije materijala
e onda dovesti do razliitih zona
plastinosti. Ako se koriste standardne
metode analize otiska, plastina zona i polje
elastinih deformacija moraju biti
ograniene na prevlaku i ne bi trebali da
zahvataju supstrat pri ispitivanju.
S
lika 17 Prikaz varijacije u plastinoj zoni za utiskivanje
na filmovima i osnovne podloge razliitih osobina. a)
Film i podloga imaju visoku Elastinost b) Film ima
visoku elastinsot, a podloga nisku leastinost, c) film
ima nisku elastinost a podloga visoku elastinost, d) i
film i podloga imaju nisku elastinost.[1]
Kod vrlo plitkih utiskivanja je to
teko postii, pa se koristi aproksimacija da
nanoutiskivanje mora biti plie od 10%
debljine presvlake. Ipak, FEM simulacije
pokazuju da se za meku presvlaku na
tvrdom supstratu moe ii i do 50%, ali da
to opada za vee 10% za tvrde presvlake na
mekim ima. Kada se vri ispitivanje jakih
presvlaka na mekim supstratima tada se
ponaaju kao elastine membrane.
Tehnika kombinacije mehanikih svojstava
prevlake i supstrata da bi se odredila ukupna
tvrdoa sustava se naziva pravilo
meavina (rule of mixtures) koje daje
izvaganu srednju vrednost tvrdoe H .
S
lika 18 Dva razliita reima deformacije kod
utiskivanja nanoindention filmova kod sluaja a)
pomera sa na gore prema spolja tvrda osnova, b) film
se ponaa kao membrana i deformie osnovu.[1]
Tvrdoa H se odreuje na osnovu formule:
............................................................(1.1)
Merenjem utiskivanja pokazuju da uticaj
supstrata na modul elastinosti presvlake
moe biti razliito od uticaja na tvrdou, jer
polja elastinih i plastinih deformacija
mogu imati razliite veliine (Slika 19).
S
lika 19 Prikaz opterenja prilikom utiskivanja
nanoindenterom [3]
Vieslojni materijali (multilayers
materijali od (sub)mikrometarskih slojeva
koje se esto nazivaju i superreetke
(superlattices)) mogu tako imati stvarnu
tvrdou koja moe biti i 100% vea od one
izraunate prema pravilu . Na slici 20 se
moe videti ema delovanja elastinosti kod
filma i supstrata.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 14
~
tot
s s p p
s p
s s p p
V
V H V H
V V
V H V H
H
+

+
+

Slika 20 Orjentacioni prikaz eme ponaanja
elastinosti kod filma i supstrata [3]
Novi mogui nain izraunavanja reakcije
utiskivanja pomou sledee formule (1.2):
...
............................................................(1.2)
Gde su :
f
: smicajni modul- film,

s
:smicajni modul substrata,
F : empirijska konstanta; F = 0.0626,
a

: kontaktni radijus,t

: debljina filma
D

: odnosi se modul krutost;
D=4a/(1-
a
) I
0
: Gaov visinski modul; as
a/t 0, I
0
1; as a/t , I
0
0
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 15
~
2.7 Odreivanje modula
elastinosti i vrstoe
kod savijanja
Za ispitivanje savijanjem koriste se
AFM ureaji koji na konzoli igle imaju
namontiranu trostranu piramidu iji je vrh
radijusa 200 nm. eljeno optereenje se
podeava pomou krutosti same gredice.
Neka uobiajna sila koja se koristi je reda
veliine 100 N kojim se optereuje gredica.
S
lika 21 Prikaz savijanja grede sa AFM-om [1]
Proces savijanja zapoinje se tako to se vrh
igle polako sputa do konzole za draanje
uzorka , a zatim polako se postavlja na
sredinu, pri emu se prvo optereuje malom
silom koja iznosi svega od 2-4 N (slika
21). Pri tome se puta laserski snop zraka
koji pada na povrinu igle a pomeranje same
konzole odbijeni zrak detektije se na
DVAfm. Ploica sa uzorkom nanogredica se
fiksira na nosivi deo konzole dvostranom
lepljivom trakom pa se sve mora posmatrati
optikim mikroskopom. Igla konzole
AFMa se mora paljivo dovesti u kontakt sa
gredicom koja se nalazi sredini duine.
Optereenje gredice se vri pomicanjem
AFM iglice sa odgovarajuim pomakom po
z-osi preko piezo pokretaa za, tipino, 2,5
m brzinom od 10 nm/s. Pomak piezo
pokretaa je jednak broju pomaka ispitivane
nanogredice D
gred
i konzole, koje se rauna
prema sledeoj formuli (1.3):
igle piezo grede
D D D
.........................(1.3)
a, optereenje na vrhu konzole se rauna
prema sledeoj formuli (1.4).
k D F F
igle igle grede

......................(1.4)
gde je k krtost vrha / konzole. Pomou ove
formule se moe dobiti dijagram izmeu
odnosa sile i deformacije. Mora se jo znati i
osetljivost fotodetektora S. Za tu svrhu se
igla gura u tvrdu dijamantnu povrinu, pri
emu e pomak piezoa i igle biti isti pa e
raunati prema sledeoj formuli:
1
]
1

V
nm
dV
D
S
AFM
PZT
;...........................(1.5)
gde je :
S- povrina,
AFM
dV
-signal koji se detektuje na senzoru,
PZT
D
-prenik posmatrane gredice
D
igle
kod merenja se dobija :
S dV D
AFM igle

.............................(1.6)
Prilikom merenja optereenja savijanja
gredice, treba voditi rauna i o otrini vrha
dijamanstke igle kojom se optereuje
gredica. Otar vrh igle kojim se vri
savijanje nije poeljno ispitivati kod veih
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 16
~
prenika gredice. Jer moe dovesti do toga
da igla izvri utiskivanje u gredu ali i ne i
savijanje. Zbog toga je vrlo vano odnos
izmeu otrine ili tupoe ugla vrha igle i
prenika gredice koji se ispituje. Ovo
istraivanje su sproveli inenjeri
Sundararajan i Bhushan kada su izvodili
eksperiment savijanja sa silikonskim
supstratima pri emu su vrili optereenje sa
silom od 120 N, pri emu se stvorilo
udubljenje manje od 8 nm. Ovo udubljenje
se moe smatrati minorno ili potpuno
zanemarljivo pomeranje gredice a kao
razlog moe se navesti da je igla kojom se
vrilo ispitivanje bila istroena. Zato kada se
vri ovaksva vrsta ispitivanja neophodno je
imati set sa via igla koje imaju razliite
vrednost otrine vrha , a posle odreenog
puta ispitivanja one se bacaju , jer dolazi do
njihovog habanja i troenja, to je ujedno i
jedan od razloga zbog kojeg moe doi do
netansoti prilikom merenja.
2.8 Odreivanje elastinog
modula
Pretpostavljajui, da se nalazimo u
elastinom podruju i da je materijal
izotropan. Pri tome treba voditi rauna da
gredice, zbog naina mikroobrade po visini
nemaju konstantnu irinu.
Za izraunavanje elastinosti gredica
koristi se sledea formula:
m
I
l
E

192
3
;.....................................(1.7)
Gde je :
E - modul elastinosti,
l - duina gredice,
I - moment inercije za dati popreni presek
gredice,
m
- je nagib pomeranje krive za vreme
savijnja.
Oblast momenata inercije za grede sa
trapezoidnim presekom se izraunava iz
sledece jednaine:

( )
3
2 1
2
2 2 1
2
1
36
4
t I
+
+ +

........................(1.8)
Gde je:
I - moment inercije
2 1

- su gornja i donja irina
posmatranog poprenog preseka
t - je debljina grede
Prema linearno-elastinoj teoriji iz
otpornosti materijala, za centralno
optereenje grede,trenutni dijagram je
prikazan na slici 22. Maksimalni momenti
koji se javljaju prilikom optereenja su
generisani na krajevima (negativan
momenat) a u sredini je pozitivan moment
kao to je prikazano na slici 22.
Naponom savijanja za gredu
proporcionalni su moment i pritisak ili
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 17
~
S
lika 22 Prikaz momenta inercije [1]
zatezanje u oblasti neutralne ose grede to
se zove linija nultog napona. Maksimalni
napon (
b
, u ovom sluaju savijanje ) je
proizveden na gornju povrinu na oba kraja
data je jednainom:
I
e F
MAX
b

8
1

.............................(1.9)
Gde je :
MAX
F
- maksimalno optereenje
1
e
- rastojanje od gornje povrine do
neutralne ravni koja se posebno rauna na
osnovu sledee formule:
( )
2 1
2 1
1
3
2 (


+
+

t
e
.............................. (2.0)
Vrednost momenta u centru grede je isti kao
i na krajevima, a zatezni napon u centru
ravni grede je manji od onih momenata koji
su na krajevima, zbog trapezoidnog
poprenog preseka grede to se rezultuje
injenicom da neutralna osa prilikom
savijanja blia donjoj povrini grede nego
gornjoj povrini.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 18
~
2.9 Ispitivanje ilavost
loma
Ispitivanje ilavosti loma je vaan
parametar za krte materijale kao to su
silicijum. ilavost je mera otpornosti
materijala prema krtom lomu.
Nanoispitivanje je pre svega udarno
savijanje sa brzim dejstvom sile. Merenje te
vrednosti AFM-om se vri uvoenjem
iljastog dijamantntskog vrha igle. Za
ispitivanje ilavsti loma pravilnu
metodologiju merenja dali su Sundararajan i
Bhushan, njihovi koraci merenja su ematski
prikazani na slici 23. Prvo se napravi
zarez radijusa r = 0.41.6 nm poznate
geometrije u podruju gde se javljaju
najvea vuna naprezanja, tj. na gornju
stranicu blizu privrenih krajeva gredice.
Koncentracija naprezanja koje e se tu javiti
prilikom savijanja e dovesti do loma
gredice. Dijamanstaka igla koja e se
koristiti trebalo bi da ima dijamantski vrh
poluprenika <100 nm). Optereenje kod
kojeg se to deava te dimenzije uvedene
pukotine se unesu u MKE model da bi se
dobili odgovarajui profili naprezanja. Na
slici 23 pod c) pokazuje MKE (metoda
konanih elemnata) simulacija jednog
takvog eksperimenta, koji otkriva da je
maksimalni napon na dnu zareza i iznosi od
10-17 GPa. Naponsko polje poinje se
koncentrisano iriti od vrha zareza sve do
kraja povrine epruvete. Veliina napona tj
stanja na vrhu zareza je definisano faktorom
inteziteta napona K
I
za linerano elastine
materijale. Ovo je vaan parametar jer se
koristi za izraunavanje napona prema
sledeoj formuli:
a K
..........................(2.1)
gde je :
K - ilavsot loma [Mpam];
a
- duina prsline.
Na osnovu poznate formule dobija se:
1
]
1

,
_

,
_

,
_

2
3
sin
2
sin 1
2
cos
2 r
K
I

...
.......................................................(2.2)
Gde je:
za svaku taku p (r, ) oko prsline.Faktor
inteziteta napona zavisi od geometrije tela
koji se ispituje. to je vee debljina uzorka
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 19
~
Slika 23 Prikaz (a) ispitivanje ilavosti materijala (b) trodimnezionalni prikaz 3D brazde dobijene AFM-om(c) Metoda
konanih elemenata prikazavinje elementa [1]
faktor inteziteta postaje najmanja i
konstantana.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 20
~
2.91 Ispitivanje dinamike
vrstoe
Ispitivanje nanodinamike vrstoe
je posebno vaan faktor kod MEMS i
NEMS strukture koje vibriraju ( RF
MEMS, comb - drives zglobovi na TI
DMD). Za odreivanje te veliine AFM-om
ispitivana struktura ciklino opterecuje .Da
bi se ostvario stalan kontakt izmeu igle
AFM-a i gredice, PZT-om se struktura
izdui za D
1
(otprilike 20% vrstoe kod
savijanja) dok je amplituda ciklinog
pomaka D
2
se primenjuje u kontinuitetu sve
do pucanja grede.Maksimalna frekvencija
od ciklinog opterecenja koji moe se
postici koricenjem AFM-a je 4.2Hz.
Vertikalno savijanje gredice se signalom
vrha prati tokom eksperimenta.
Da bi se usaglasila frenkfrencija , piezo
postolje daje konaan proirenje od 75 nm,
na svakih 300 S, kao to je prikazano na
slici 24.
Slika 24 ematski prikaz tehnike ispitivanje dinamike
vrstoe [1]
3.0 Merenje mehanikih
osobina
mikroobraenih
struktura
Merenje osobina struktura
nanomaterijala je vrlo zahtevno i teko zbog
njihove manipulacije prilikom ispitivanja.
Zbog toga se koristi metoda koja se zasniva
na merenju tankih filmova materijala koju
su specijalnom tehnologijom nanose na
osnovu , odnosno na supstrat. Kod tankih
filmova pogodno je meriti zaostale napone.
Tu se zakrivljenost meri pre i posle
taloenja filma na supstrat, pri emu
laserski snop kree se po povrini i meri
ugao odbijene refleksije svetlosti.
Alternativne tehnike koje se mogu koristiti
su : profilometrija, interferometrija ili AFM.
Postoje i druge tehnike koje se koriste za
merenje zakrivljenosti supstrata, jedna od
tehnika je i mogunost grejanja suspstrata
tokom merenja. Moe se koristiti i
nanoindenter odnosno nanoutiskivanje, pri
emu supstrat ne utie na izmerenu vrednost
kao to su tvrdoa, modul elastinosti,
otpornost na nastajanje pukotina
Na slici 25 moe se videti detektor
interferencijskih pruga, koji meri na bazi
laserske monohromatske svetlosti koji se
detektuju na senzoru. Detektor uoava
odstojanja dveju susednih istobojnih
interferentnih pruga. Neuravnjenost se tada
dobija sabiranjem interferentnih pruga i
mnoenjem zbira sa polovinom talasne
duine svetlosti kojom se vri merenje.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 21
~
Slika
25 Nanoindenter detektor povrina [1]
3.1 Lokalna mehanika
spektroskopija
Kontaktnim AFM
Mehanike osobine vrsih tela
(elastinost, neelastinost, plastinost) se
generalno mere na makroskopskim
uzorcima. Ali mnogi fenomeni nauke o
materijalima zahtevaju merenje mehanikih
osobina na povrini materijala ili izmeu
tankih slojeva naslaganih na toj istoj
povrini. Visoka prostorna rezolucija je
takoe bitna, na primer u sluajevima
viefaznih ili kompozitnih materijala, faznih
tranzicija, omekanja reetke u legurama
koje su sposobne da pamte svoj prvobitni
oblik, taloenje u lakim legurama, staklenoj
tranziciji amorfnih materijala.
U sluaju viefaznih materijala, kao to su
nano materijali, kompoziti, legure ili
polimerske smese, lokacija mehanizma
rasipanja u jednoj fazi mora biti odreena ili
kroz matematiko modelovanje ili kroz
zasebno izuavanje svake faze, i kada je to
mogue, bez promene njenog ponaanja.
Kasnije je to mogue samo u ogranienom
broju sluajeva zbog interakcija meu
razliitim fazama u materijalu. Na primer,
globalno ponaanje kompozita je uglavnom
uslovljeno osobinama naponskog zatezanja
izmeu vlakna i osnove, koji su kontrolisani
od strane unutranjih mehanikih osobina u
odreenom delu uzorka na koji se deluje i
konkretno dinamikom strukturnih greaka
ove oblasti. Oigledno je nemogue da se
pripremi uzorak sastavljen samo od tih
oblasti. Tako da e metod za lokalno
prouavanje dinamike strukturalnih greaka
i zato dati korake za razumevanje i
unapreivanje ovakvih materijala.
Razliite tehnike ispitivanja bazirane na
skenirajuoj mikroskopiji pomou sonde
(SPM) su razvijene da bi se registrovale
elastine i neelastine osobine povrina,
interfejsa ili faza nehomogenih materijala u
mikrometarskoj i nanometarskoj skali.
Skenirajua akustika mikroskopija (SAM),
razvijena sredinom sedamdesetih, ona
omoguuje da mikromaterijale izuavamo u
mikrometarskoj skali.
Meu razliitim istraenim nainima za
izuavanje lokalnih mehanikih osobina
materijala, nekoliko grupa poseduje tehnike
bazirane na mikroskopiji skenirajue sile
(SFM) [slika 26]. Za veinu njih, fokus je
stavljen na elastinost, korienjem
takozvanog reima modulirane sile (FEM)
na niskim frekvencijama. Reim modulirane
sile generalno koristi veliku amplitudu
(veu od 10nm), nisko frekventnu (nekoliko
kHz) vibraciju uzorka ispod SFM vrha.
Komponenta kretanja vrha na frekvenciji
pobude i glavnoj poziciji vrha daju nekoliko
slika o stanju povrine uzorka. Posebno su
interpretirane ulazni i izlazni deo faze sile
moluarnog reima na sobnoj temperaturi
kao tvrdoa (elastinost) i priguivanje
(viskoelastinost).
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 22
~
S
lika 26 ematski dijagram T-SLAM. Ultrazvuk je
generisan transduktorom koji je spojen sa generatorom
funkcija i postavljen ispod uzorka. Kretanje SFM vrha se
detektuje optiki. Signal kojim se ovo detektuje se dalje
pohranjuje u pojaiva za zakljuavanje, koji izdvaja
amplitudu i fazu koje su od znaaja za pomeranje
transduktora. Temperatura je kontrolisana sa malim
rezistivnim grejaemi merena termoelektrinom baterijom.
Ostatak mikroskopske glave na koju su namontirani vrh,
laser i fotodioda nisu predstavljeni na ovom dijagramu.[1]
Naunik koji se bavi
nanotehnologijama Mazeran je nedavno
pokazao da kontrastom reima modulatorne
sile dominiraju osobine trenja i da on daje
samo malo informacija o elastinosti. Zbog
tog razloga, neto je trebalo preduzeti u
prouavanja niskih frekvencija. Jedan nain
da se potisne uticaj trenja na kontrast je da
se koriste manje amplitude na viim
frekvencijama . Skenirajua mikroskopija na
bazi lokalnog ubrzanja (SLAM)
implementira ovu ideju: SLAM je
modifikacija skenirajue mikroskopije koja
radi na principu konstantnog kontakta. Njen
princip je da uzorak vibrira na frekvenciji
iznad rezonance vrh-uzorak sistema. U
ovom sluaju inercija vrha ga spreava da u
potpunosti prati nametnuti visokofrekventni
pomeraj, podstiui ne zanemarljive sile
koje su doprinele elastinoj deformaciji
uzorka. Kontaktna tvrdoa se dobija
merenjem rezidualnog pomeranja vrha.
Mapiranje kontaktne tvrdoe na razliitim
temperaturama sa SLAM je omoguilo
lokalnu mehaniku spektroskopiju. Neke
druge tehnike takoe koriste visoke
frekvencije samo sa drugaijim pristupom
elastinosti na sobnoj temperaturi svaka od
ovih visokofrekventnih tehnika je u
mogunosti da mapira odnosno prikae
osobine kao to su krutost i adhezija na
konstantnoj temperaturi sa vrlo visokom
bonom rezolucijom.
3.3 SLAM (T-SLAM) sa
temperaturom kao
promenljivom
Tehnika koja je ovde opisana
kombinuje bonu rezoluciju mikroskopije
skenirajuom silom sa i informacijom
dostupnom od temperaturnih senzora. To je
SLAM sa temperaturnom promenljivom.
Temperatura uzorka tokom SLAM merenja i
amplitude i faze pomeraja vrha omoguuje
da dobijemo podatke lokalne mehanike
spektroskopije. Prost model omoguava
interpretaciju ovog merenja u smislu
osobina materijala.
T-SLAM je baziran na SLAM i koristi dra
uzorka sa promenljivom temperaturom .
Jedan ultrasonini transduktor je postavljen
ispod uzorka u komercijalnoj mikroskopiji
skenirajuom silom (Slika 26) i pobuen
putem generatora funkcije.
4.0 Statike metode
ispitivanja
Mezozopski uzorci
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 23
~
4.1 Karbonske nanocevi
upoznavanje sa
osnovama morfologije i
proizvodnih metoda
Karbonske nanocevi (CNT) su
najnoviji oblik ugljenika, pronaene su
1991. godine od strane naunika Lijama.
Zbog svojih neverovatnih osobina ovo
otkrie je otvorilo potpuno novo polje za
istraivanja u fizici, hemiji i nauci o
materijalima. One poseduju jedinstvenu
kombinaciju minijaturne veliine (prenika
reda veliine priblino 1-50nm sa duinama
od priblino 10 m), niske gustine (sline
kao grafit) visoke krutoe, visoke jaine, i
velikog opsega elektronskih osobina
poluprovodljivosti. Njihovo polje primene
je ogromno i ukljuuje elemente za
poveanje vrstine u visoko vrstim
kompozitima, onda izvore elektrona u
ekranima sa emisionim poljem i male izvore
X-zraka, ultra jaki i otporni AFM vrhovi sa
velikim odnosom dimezija, u senzorima za
gas, i komponentama budunosti,
elektrotehnici nanorazmera. Kao dodatak,
oni predstavljaju iroko rasprostranjeni
sistem za izuavanje fundamentalne fizike
fenomena mezozopskih razmera. Jo ako to
se komercijalizuje postoji velika mogunost
u proizvodnji i nanotehnologiji, sigurno e
se nai primenu u mnogim ureajima koji su
nam u svakodnevnoj upotrebi.
Sa strukturalne take gledita,
ugljenine nanocevi se mogu zamisliti kao
umotani listovi grafita, grafin. Mogu se
izdvojiti dve grupe. Prva su nanocevi sa
veim brojem zidova (MWNT),
predstavljeni kao ruska lutka
babuka, tj. vie koncentrinih cevi
ugnjeenih jedna u drugu. Slika 27 a i b.
To su takoe prve CNT koje su dobijene
eksperimentalno. Unutranji prazan sloj
moe biti debljine od 0.342 do 0.375nm u
zavisnosti od prenika i broja ljuski od kojih
je i izgraena sama cev. isto radi
poreenja, unutranji prazan sloj grafita je
0.335nm, to nam sugerie relativno nisku
meusobnu interakciju slojeva (ljuski). Ova
injenica je potvrena u istraivanjima
mehanikih i elektronskih osobina
ugljeninih nanocevi.
Slika 27 ematski crte ukrtanja razliitih morfologija
ugljeninih nanocevi (a) i (b). Viezidne nanocevi koje se
sastoje od koncentrinih nanocevi (MWNT). (c) i (d) su
uad jednozidnih ugljeninih nanocevi koja se sastoje od
pojedinanih nanocevi koja su upletenai koje na okupu
dri van der Valova interakcija.[1]
Drugi tip ugljeninih nanocevi je u
sutini sainjen od umotanih pojedinanih
listova. To su jednozidne nanocevi (SWNT).
Tokom njihove proizvodnje, njihovi
prenici postaju priblino pripijeni, tako da
se one upletu u neku formu kristalnih uadi.
Slika 27 c) i d) prikazuju pojedinane cevi
koje se dre zajedno van der Valovom
silom.
Postoji nekoliko zasebnih metoda
proizvodnje. Najstariji je baziran na
hlaenju ugljenine plazme. Kada se napon
propusti izmeu dve grafitne elektrode u
inertnoj atmosferi, one postepeno isparavaju
i formiraju plazmu. Pri hlaenju, formira se
a koja sadri viezidne nanocevi. Ako
anoda sadri katalizatore kao to je kobalt
od elinih estica, formiraju se SWN uad.
Drugi nain proizvodnje CNT iz ugljenine
plazme laserskim topljenjem grafitne mete.
Smatra se, generalno, da ove metode
proizvodnje CNT daju njihov najbolji
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 24
~
kvalitet, mada se dobijaju male koliine i
bez mogunosti da se poveaju do razmere
industrijske proizvodnje. Druge metode se
baziraju na hemijskom taloenju pare
(CVD), katalitikom razlaganju razliitih
ugljovodonika, npr metana ili acetilena
pomeanih sa azotom ili vodonikom u
prisustvu katalizatora. Ovaj metod nudi
mogunost kontrole rasta nanocevi pomou
katalizatora, pa zbog toga mnogo vie
odgovara proizvodnji struktura u
nanorazmeri sa integrisanim CNT. Ova
metoda je takoe odgovarajua i za
proizvodnju CNTa u industrijskim
koliinama. Njegov glavni nedostatak je
vea koncentracija neispravnosti to kao
posledicu ima umanjenje mehanikih
osobina.
4.2 Merenje mehanikih
osobina ugljeninih
nanocevi pomou SPM
Mehanika merenja na CNT-u
izvrena pomou AFM su potvrdila teorijska
oekivanja njihovih mehanikih osobina.
Ova merenja ukljuuju merenje deformacije
pri kontrolisanim silama tako to se
fiksirane nanocevi pri savijaju ili sa boka ili
normalno a takoe se vri i istezanje
nanocevi koje su fiksirane na svojim
krajevima pomou AFM vrhova i
posmatraju se na elektronskom mikroskopu.
U ovakvim merenjima inenjerska
znanja iz mehanike kontinuuma i njeni
koncepti kao to je Jungov, modul smicanja
i snaga istezanja trebali da funkcioniu i u
nanorazmeri. Da bi se ovo moglo primeniti,
potrebno je takoe definisati i debljinu
zidova nanocevi, lisotva grafina, u okviru
aproksimacije kontinualnog snopa. Veina
naunika koji rade na ovom polju koriste
empirijsku vrednost od 0.34nm, koja je
priblina udaljenjima unutranjih slojeva
grafita kao debljinu nanocevi. Ipak, kada se
uporede razliiti rezultati treba znati to da
bi se utvrdilo relativno precizna merenja sile
pomeranja u makroskopske koliine kao
jungov ili modul smicanja, moramo uvesti
mnogobrojne geometrijske faktore,
ukljuujui i prenik i duinu. Ne doputa se
ak ni mala nepreciznost u odreivanju
ovih faktora zato to prenik d i duina l kao
l
3
dovodi do velike neizvesnosti kod
konanih rezultatata.
Prvo kvantitativno merenje Jungovih
modula ugljeninih nanocevi je prijavljeno
od strane naunika Vonga u kojima su
nanocevi (MWNT) i SiC nanorodi (slinih
dimenzija kao nanocevi) koje su bile
postavljene na ravnu povrinu, bono
savijene. Prvo su nanocevi nasumino rasute
po ravnoj povrini od MoS
2
pojedinanih
kristala koji su korieni zbog svog niskog
koeficienta trenja i skoro idealne glatke
povrine. Trenje izmeu cevi i substrata je
dodatno umanjeno tako to je celo merenje
vreno u vodi. Jedan kraj cevi je tada
privren za substrat taloenjem gomile
kockastih blokova kroz osenenu masku,
Slika 28 a-c. AFM mikroskop je korien da
bi se locirale i okarakterisale dimenzije
isturenih cevi. Snop je bono deformisan
pomou AFM vrha igle, sve dok u
odreenom momentu deformiteta, vrh nije
proao preko cevi, tako joj dozvoljavajui
da se vrati nazad u svoj prvobitan poloaj.
Tokom merenja, krive sila-udaljenja su
dobijene na odreenim pozicijama po
izabranom snopu, Slika 28 d-e.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 25
~
S
lika 28ema Vongovog eksperimenta. (a)nanocevi su
rasute po supstratu i privrene nataloenim SiO
blokova. (b) Prikaz blokova (svetlo) i supstrata MoS2
(tamno) pomou optikog mikrografa. Uporedna traka je
duine 8 m. (c) AFM slika SiC ispupenog nanoroda iz
bloka. Uporedna traka ispod je duine 500nm. Ista
postavka eksperimenta je koriena i za elastino
deformisanje MWNT. (d) vrh koji je prikazan kao
trougao se kree u pravcu strelice. Bona sila je
indukovana tragom na dnu. Pre nego to vrh doe u
kontakt sa snopom, bona sila ostaje konstantna i
jednaka sili trenja. Tokom savijanja, izmeren je linearni
porast u bonoj sili sa izvijanjem. Nakon to vrh proe
preko snopa, bona sila pada na svoju poetnu vrednost i
snop se brzo vrati nazad u svoj ravnoteni poloaj. (e)
ema fiksiranog snopa sa slobodnim krajem. Snop duine
L je podvrgnut optereenju P.[1]
Maksimalno savijanje nanocevi se
moe do odreenog stepena kontrolisati
pomou primene normalnog optereenja i na
ovaj nain se pucanje cevi moe izbei ili
kontrolisano izazvati. Primenjeno bono
optereenje P u smislu bonog pomeranja y
na mestu x du samog snopa izraunava se
na osnovu sledee formule:

,
_

+
x
L
L x
f
x
y
EI y x P
2
3
6 4
8
3 ) , (
.........
.......................................................(2.4)
gde je:
E -Jungov modul snopa;
I- je drugi momenat ukrtanja, jednak
d
4
/64 za zatvoreni cilindar prenika d,
f- je nepoznata sila trenja, ali uzimamo da je
mala zbog samog eksperimenta.
Bona sila, slika 28 a) je poznata
samo do faktora proporcionalnosti zato to
konstantna bone sile igle AFM-a nije bila
kalibrisana za ovo merenje. Ova neizvesnost
i efekat trenja su eliminisani tako to je
proraunata konstanta bone sile nanosnopa
prema sledeoj formuli:
E
x
d
k
dy
dP
3
4
64
3

.......................(2.5)
Srednja vrednost za Jungov modul za
MWNT je bila E = 1.30.6Tpa, slina onoj
za dijamant (E=1.2TPa). Takoe je uoen i
diskontinuitet u krivljenju krivih za vee
dimenzije, to je uzrok elastinom savijanju
nanocevi.
S
lika 29 (a) serije krivih udaljenja bone sile, koje je dobio
Vong za razliite pozicije du MWNT. (b) konstanta
bone opruge u funkciji pozicije na snopu. Kriva
odgovara formuli (y yyxx3) [1]
U drugoj seriji eksperimenata,
naunik Salvetat je izmerio Jungove module
izolovanih SWNTs i SWNT uadi, MWNTa
proizvedenog korienjem razliitih metoda
kao i modula SWNT uadi.
Eksperimentalna postavka koja im je
omoguila da izvedu merenja na tako
irokom opsegu CNT morfologija, ukljuila
je i merenje vertikalnog izvijanja rupa koje
premoavaju nanocevi na poroznoj
membrani.
U njihovom metodu za merenje, oni
su potopili CNT-ove u etanol i rasuli ih na
povrinu dobro ispolirane aluminijumske
Al
2
O
3
ultrafiltrirajue membrane. Cevi su se
uhvatile za povrinu zbog pojave van der
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 26
~
Valsove interakcije, povremeno preklapajui
rupe, Slika 29 a). Nakon to je izdvojena
pogodna nanocev, napravljena je serija
AFM slika pod razliitim optereenjima, u
kojoj je svaka slika odgovarala povrini (i
cevi) pod datim normalnim optereenjem.
Ekstrakovane poprene linije uzdu cevi su
otkrile vertikalnu deformaciju, Slika (29 b).
Za ceo opseg primenjenih normalnih
optereenja, zakrivljenje tanke, dugake
nanocevi na sredinjoj taki kao funkcija
normalne sile, F se moe smestiti u formulu
stegnutog snopa:
EI
FL
192
3

...........................(2.6)
gde je L- suspendovana duina cevi
S
lika 30 (a)AFM slika CNTa koji lei na poroznom
aluminijumskom filteru [(b)izmerena zavisnost
vertikalnog skretanja na primenjenoj nominalnoj sili.
Umetnuti dijagram objanjava poreenje slike uslikane
na cevi i iznad rupe [1]
Linija grafika ne prolazi kroz
poetak zato to sila koja deluje na nanocev
nije jednaka samoj nominalnoj sili. Ona
sadri konstantan uslov koji proizilazi iz
sile izmeu AFM vrha igle i cevi. Krivljenje
cevi je takoe uslovljeno interakcijom cevi i
supstrata, ali se obino ovo uzima kao
zanemarljivo.
Ova tehnika slikanja promenljivog
optereenja je odgovarajua za dobijanje
kvantitativne informacije da bi bili sigurni
da je AFM vrh igle na odgovarajuem mestu
kada deluje na cevicu. Formula (6.13) vai
samo kada su cevi dobro privrene za
supstrat, to je potvreno injenicom da
slike ne otkrivaju nikakvo rasipanje delova
cevi u kontaktu sa membranom.
Korienjem ove tehnike, pronaeni
su Jungovi moduli sa za SWNT-ove cevi .
Vrednosti za MWNT-ove pokazuju jaku
zavisnost od koliine poremeaja u
grafitnim slojevima: pronaena je prosena
vrednost E =870GPa za cevi koje su
uzgajane putem lunog pranjenja, dok
MWNT-ovi koji su uzgajani katalitiki, i za
koje je poznato da imaju veliku
koncentraciju nedostataka, mogu imati nizak
Jungov modul ak i do 12GPa.
Za iskrivljenje SWNT uadi, treba
uraunati i dodatni uslov u formuli
krivljenja zbog uticaja razmicanja izmeu
cevi koje ine jedno ue. Pojedinani CNT-
ovi se dre zajedno u cevi samo slabim van
der Valsovim interakcijama. Zato se uad
pre ponaaju kao spoj nezavisnih cevi nego
kao deblji snop. Tako da se samo izvijanje
cevi moe modelirati kao zbir savijanja
I E
FL
GA
FL
f
EI
FL
savijanja
s
smicanja savijanja
192 4 192
3 3
+
+
............
................................................(2.6)
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 27
~
Gde je:
fs -faktor oblika koji za cilindar iznosi 10/9,
G- je modul smicanja i A je povrina
poprenog preseka zraka.
E
savijanja -
je efektivni modul savijanja jednak
Jungovom modulu u sluaju kada se uticaj
smicanja moe zanemariti (za tanku
dugaku uad).
Jungov modul i modul smicanja se
zbog toga mogu praviti greke merenjem
E
savijanja
za vei skup uadi sa razliitim
odnosima prenika i duine. Za tanku uad
se mogu uzeti vrednosti Jungovog modula,
dok kod se debljih E
savijanja
polako pribliava
vrednosti G reda 10Gpa (videti sliku 30).
S
lika 31 vrednosti modula smicanja za 12 SWNT uadi
razliitih prenika. Izmereni Esavijanja za tanku uad se
odnosi na E dok se za deblju uad uzima vrednost
modula smicanja G [1]
Naunik Valter je privrstio uad
jednozidnih nanocevi ispod metalnog bloka
na oksidovanoj silikonskoj povrini, a onda
ih je oslobodio vlanim nagrizanjem, slika
31 a. SWNT je izvijen u boni poloaj
korienjem AFM vrha, slika 31 b. Kako je
suspendovana duina reda veliine nekoliko
m, SWNT ue se moe modelovati kao
elastina opruga razapeta izmeu blokova.
Zbog deformacije sve ove strune su
razapete. U prostom sluaju cevi koja lei
normalna na rov i AFM vrhu koji deformie
cev na sredini, sila F koja deluje na cev od
strane AFM vrha je data izrazom:
0
3
8 2
2 sin 2
L
kx
L
x
T T F
.........................
.................................(2.7)
Gde je:
T- predstavlja napetost opruge,
Lo - je njena duina u ravnotenom poloaju
k je konstanta opruge a x je bono izvijanje
u sredini.
Korienjem ove postavke, oni su
deformisali SWNT uad do maksimalne
napregnutosti od 5.80.9% i odredili donju
granicu od 457Gpa zatezne snage,
podrazumevajui da je vrednost Jungovog
modula 1.2Tpa.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 28
~
Tabela 1 Mehanike osobine ugljeninih nanocevi merene korienjem SPM metoda [1]
S
lika 32 (a) SEM slika SWNT ueta rastegnutog preko
kanala u silikonu pre i (b) posle nego to je deformisan
preko svog elastinog limita. (c) Delovanje bone sile na
jednozidnu nanocev u funkciji pomeranja AFM vrha.
[1]
Istraiva Kim je koristio postavku u
kojoj je SWNT ue umetnuto u metalne
elektrode smetene na silikonski supstratom
presvueni polimetilmetakrilat ili PMMA. U
njihovom eksperimentu cev se takoe moe
izraunati kao elastina opruga. Koristei
AFM vrh, oni su vertikalno deformisali ue i
dobili procenu da je E =0.4Tpa za Jungov
modul SWNT ueta.
Prvo direktno merenje osobina
elastinosti CNT-ova koje se nije oslanjalo
na snop ili ideju zatezanja opruge ukljuilo
je deformisanje MWNTova i SWNT uadi
po osnom naponu. Ovo je postignuto
identifikacijom i fiksiranjem naspramnih
krajeva MWNT-a ili SWNT uadi za dva
AFM vrha, a sve u SEM modu . AFM
vrhovi su integrisani na odvojene nosae,
jedan na strogoj konstantnoj sili iznad
20N/m, a drugi tako da odgovara konstanti
opruge 0.1N/m, slika 32.
S
lika 33 (a) SEM slika MWNTa namontiranog na
izmeu dva naspramna AFM vrha. (b)uveanje predela
istaknutog na slici (a) [1]
Prva ruica je onda pomerana
korienjem piezomotora. Na drugom kraju,
ruica se savijala pod pojavom optereenja
zatezanja. Onda su simultano mereni
savijanje druge ruice koje je odgovaralo sili
primenjenoj na nanocev i samo istezanje
nanocevi. Sila F je raunata kao F = kd;
gde je:
k -konstanta opruge fleksibilne AFM ruice
a d- je njen pomeraj u vertikalnom pravcu.
Naprezanje nanocevi je L/L, slika 33. Od
krive odnosa sile i naprezanja dobijene na
ovaj nain, Slika 33 b, odreeni su Jungovi
moduli u rasponu od 270-950Gpa.
S
lika 34 (a)princip eksperimenta izveden od strane Jua.
Kada se strogi nosapomera navie, donji, popustljivi
nosa se savija za vrednost d i nanocev se rastegla za
L. Kao rezultat, nanocev se zategla za L/L pod
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 29
~
dejstvom sile F=kd, gde je k konstanta elastinosti
donje AFM ruice.(b) grafik odnosa stresa i zatezanja
za razliite individualne MWNTove [1]
Posmatranjam iste te slomljene cevice u
TEMu otkrilo je da se nanocevi lome po
principu lomljenja po unutranjim
koricama, gde izgleda kao da je samo
spoljni sloj istrpeo optereenje. Nakon to se
slomi, sledi povlaenje unutranjih slojeva.
Tako je dobijeno da je prosena snaga
savijanja 14GPa, a osovinska snaga je
63GPa.vrsto prianjanje nanocevi na vrh
AFMa osigurano je taloenjem karbonskih
mateirjala indukovanih elektronskim
zrakom koncentrisanim na oblast kontakta.
Sva ova merenja elektrinih osobina
ugljeninih nanovlakana sumirana su u
tabeli 1 . Pre nego to se uporede, treba
imati na umu da su apsolutne vrednosti ovih
mehanikih konstanti relativno dosta
nesigurne zbog velikog uticaja preciznosti u
odreivanju prenika i duina cevi na krajnji
rezultat. Takoe, navedene vrednosti
predstavjaju srednje vrednosti rezultata
dobijenih na nekoliko cevi, sa izuzetkom
najnie vrednosti date za katalitiki
uzgojene MWNT-ove od strane naunika
Salvetata onda pojedinane vrednosti
individualnog SWNT ueta od strane
naunika Kima i najniih i najviih
vrednosti od strane naunika Jua. Takoe
treba imati na umu da su koncepti kao to su
Jungovi, moduli smicanja i zatezna sila,
uvedeni da bi se opisale makroskopske i
kontinualne strukture, tako da njihova
primena u opisivanju mezozopskih objekata
kao to su nanocevi ima svojih ogranienja.
Svi metodi koji su do sada prezentovani su u
svojoj prirodi jedno-molekulske metode, u
smislu da mere osobine samo individualnih
objekata. Tako da rezultati pojedinanih
eksperimenata predstavljaju osobine
konkretnog objekta i razlikuju se od sluaja
do sluaja zbog, na primer, defekata
rezultovanih samom proizvodnjom i
preiavanjem, ili zbog greke u samom
vrenju eksperimenta. Zbog toga, a u cilju
vrenja poreenja, mnogo je praktinije
korienje prosenih vrednosti za vie cevi.
Prosene vrednosti za sve Jungove module
visokokvalitetnih cevi su, uraunavajui tu i
eksperimentalnu greku, reda veliine 1TPa,
blizu onih koje ima dijamant (1.2TPa), dok
sila zatezanja moe biti i do trideset puta
vea od one koju ima elik (1.9GPa).
Katalitiki uzgajani MWNTovi sa Jungovim
modulima koji mogu biti niski i do 126
GPa definititivno ovde razoaravaju i
pokazuju da nain proizvodnje igra vanu
ulogu u kvalitetu ugljeninih nanocevi,
posmatrano sa aspekta njihovih mehanikih
osobina.
Budua unapreivanja u proizvodnji
i obradi na veliko su neophodna pre nego to
se one primene kao ultimativno vlakno za
ojaavanje. Ipak, napredak u merenju
mehanikih osobina CNT-a e nastaviti da
bude usko motivisan napretkom
manipulacija u nanorazmerama uopte.
4.3 Mikrocevi i ispitivanje
osobine elastinosti
Mikrocevi su vitalna bioloka
nanostruktura po dimenzijama i obliku
slina ugljeninim nanocevima. Ustvari
prvobitno ime koje je dato ugljeninim
nanocevima od strane njihovog pronalazaa
naunika Ijima je bilo mikrocevi
grafitinog ugljenika. Sa strukturalne take
gledita, one su dosta komplikovanije, to je
i uobiajeno za bioloke strukture. One se
samosklapaju u bafere koji se odravaju na
fiziolokim temperaturama od 37C iz
proteinskih podjedinica, i -tubulina, od
kojih svaki poseduje molekularnu teinu od
40kDa. Ove proteinske podjedinice su
vezane bone lance molekula, koji su
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 30
~
ureeni u vidu upljih cilindara sa spoljnim
prenikom od 25nm i unutranjim
prenikom od 15nm. Mikrocevi su
neverovatan materijal: unutar ivih elija
njihova duina neprestano varira; mogu se
ak i skroz rasklopiti i koristiti energiju u
obliku GTP.
Mikrocevi grade elijski citoskelet.
Kao dodatak, oni vre jo mnoge
jedinstvene vitalne funkcije: mogu se
koristiti kao ine du kojih se pomeraju
molekularni motori, pomau da se rastave
hromozomi tokom elijske deobe i formiraju
snopove koji pokreu spermu i neke
bakterije. Sve ove uloge su determinisane
njihovim strukturalnim i mehanikim
osobinama. Ipak i posle jedne decenije, jo
uvek postoje velike protivrenosti meu
vrednostima njihovih Jungovih modula koji
su navedeni u raznoj literaturi. Nekoliko
metoda je bilo primenjeno, kao to su
savijanje i uvezivanje mikrocevi
korienjem optikih pinceta ,
hidrodinamikog mlaza , termalno
indukovanih vibracija ili fluktuacije oblika ,
uvezivanja u vezikule ili gnjeenja AFM
vrhom . Ove metode su dali rezultate u
rapsonu od 1MPa do nekoliko GPa.
Poto su mikrocevi geometrino
sline nanocevima, Kis je koristio
konfiguraciju suspendovane cevi. Sva
merenja su izvrena u tenosti i na
kontrolisanim temperaturama da bi se
spreila degradacija proteina, tako da je
supstrat morao da bude tako napravljen da
osigura dobro prijanjanje cevi na podlogu.
Korien je silikon sa slojem od PMMA kao
podlogom. Prethodno su pripremljeni
prorezi na PMMA korienjem litografije
elektronskim snopom, to je omoguilo
merenje elastinog delovanja pojedinanih
mikrocevi koje su leale preko udubljena, a
kojih je bilo u etiri razliite veliine,
poevi od 80 pa do 200nm irine i 400nm
dubine. Slika 35.
S
lika 35 (a) pseudo 3D rendering pojedinane mikrocevi
razapete preko etiri rupe razliitih irina na PMMA.
(b)od promenljivog Ebending sa promenljivom
duinom, odreeni su Jungovi modul smicanja za
mikrocev prikazanu na (a) [1]
Rezultati merenja zavise od
prenika udubljenja, to jedino moe da
bude rezultat komponente smicanja unutar
samih mikrocevi. Kada se pojednostavi
deformacija mikrocevi se moe izraunati
na sledei nain:
G L
D D
E E
ext
savijanja
1
3
10 1 1
2
2
int
2
+
+
............
(2.8)
gde je :
D
ext
i D
int
-predstavljaju spoljni i unutranji
MT prenik. Modul smicanja se mogu
izraunati iz odnosa 1/E
savijanja
i (D
2
ext
+
D
2
ext
)/L
2
iz nagiba sprege, a inverzni Jungov
modul e biti jednak odseku na y-osi. Na
ovaj nain su simultano dobijeni modul
smicanja od G = 1.40.3GPa i donja granica
od E=150Mpa iz merenja na jednoj
mikrocevi.
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 31
~
Anizotropija dolazi iz injenice da su
mikrocevi izgraene od monomera koji su
vrsto uvezani po uzdunom pravcu, Veza
izmeu susednih lanaca je dosta slabija.
Zato mikrocevi treba posmatrati kao
anizotropine snopove, koji poseduju modul
E
savijanja
koja je zavisna od veliine kojom su
deformisane . Ovo je , respektivno, analogna
situacija onoj u SWNT uadima koja su
izgraena od krutih zasebnih SWNTova,
koji se dre zajedno pomou slabe van der
Valsove interakcije. Ovaj zakljuak moe
objasniti velike razlike u vrednostima
Jungovog modula koje su objavljivane u
literaturi u zadnjih desetak godina zbog
neadekvatnog izraunavanja.
Kao i u sluaju nanocevi, merenje
mehanikih osobina mikrocevi moe nam
pruiti vredan uvid u njihovu strukturu i
omoguiti nam dublje razumevanje
funkcionisanja ovih neverovatnih struktura.
5.0 Zakljuak
Da bi dolo do znaajnog napredka na polju
nauke veoma je vano fokusirati sredstva
istraivanja na prioritetne nauke koje se
bave istaivanjima iz oblasti
nanotehnologija i nanomaterijala.
Nanomaterijali , biomaterijali, ekomaterijali
i materijali za informacione tehnologije su
nosioci glavnog razvoja jednog savremenog
drutva. Osnovni ciljevi u
nanotehnologijama odsnose se na
istraivanje mehanikih osobina materijala,
prevlaka, otpornost na tvrdou , otbornost na
habanje, ilavost, posmatranje osobina
materijala na atomskom i molekularnom
nivou.
Nanotehnologije nalaze primenu u svim
granama industrije , u mainstvu, energetici,
medicini, hemiji, fizici, graevinarstvu i
poljoprivredi. Cilj nanotehnologije je da
donese nova saznanja i da ohrabri mala i
srednja preduzea o korienju potpuno
novih materijala i tehnologija.Novi nano
materijali imaju velike mogunosti u
razvoju jednog drutva. Investicije u
ispitivanje nanomehanikih osobina se kroz
odreen period viestruko vraa, zato vredi
ulagati u potpuno nove nanotehnologije.
6.0 Literatura
[1] Springer Handbook of Nanotechnology
Bharat Bhushan (Ed.)
[2] Branko kori, Damir Kaka
Karakterizacija povrina mikro i nano
prevlaka
[3] Warren Oliver Nanomechanics, Inc. The
Continuous Stiffness Measurement
Technique and Its Applications
Smer :Savremene tehnologije oblikovanja materijala Dejan
Pilipovi 16331 |
~ 32
~