‫معاونت پژوهش و فناوری‬

‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪LSPR‬‬
‫‪Localized Surface Plasmon Resonance Spectroscopy‬‬

‫طیف‌سنج تشدید پالسمون سطحی‬

‫‪ LSPR‬یا پديده‌‌ی تشديد پالسمون‬
‫سطحي‪ ،‬برانگيختگي مد ارتعاش جمعي‬
‫الكترون‌هاي آزاد فصل مشترك فلز‬
‫و دي‌الكتريك مي‌باشد‪ .‬اين برانگيختگي‬
‫ناشي از برهمكنش امواج الكترومغناطيس‬
‫در ناحيه‌‌ی مرئي با الكترون‌‌هاي آزاد‬
‫نانو ذرات طال و نقره است‪ .‬امروزه‬
‫كاربرد اين پديده در شناسايي و آشكار‬
‫سازي مواد‪ ،‬گازهاي شيميايي و‬
‫مولكول‌‌هاي بيولوژيکی‪ ،‬موضوع مهم‬
‫تحقيقات بين رشته‌‌اي علوم پایه‪ ،‬فنی‬
‫مهندسی و علوم پزشکی مي‌‌باشد‪ .‬در‬
‫اين روش پاسخ الكترون‌‌هاي آزاد نانو‬
‫ذرات به ميدان الكترومغناطيس در‬
‫حضور بیومولکول‌‌ها به صورت تغييرات‬
‫در طول موج و شدت جذب قابل‬
‫مشاهده است‪ .‬این تغییرات در حضور‬
‫بیومولکولها قابل کالیبراسیون به غلظت‬
‫بیومولکول مورد آزمایش می باشد‪.‬‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪LSPR‬‬
‫‪Localized Surface Plasmon Resonance Spectroscopy‬‬

‫طیف‌سنج تشدید پالسمون سطحی‬

‫شرکت نانو مبنا ایرانیان‬
‫‪LSPR SPECT‬‬

‫قابلیت‌های دستگاه‪:‬‬
‫شناسایی بیومارکرها در تشخیص سرطان‬
‫تشخیص واکنش‌‌های بیومولکولی در داروسازی‬
‫تشخیص توالی‪ ،‬نقص وجهش‌‌های ژنتیکی‬
‫تشخیص ویروس‪ ،‬باکتری و سموم بیولوژی‬
‫تعیین گلوکز در تشخیص انواع دیابت‬
‫تشخیص گازهای بازدمی در بیماری‌‌های ریوی‬
‫تشخیص آالینده‌‌های هوا‪ ،‬مونواکسید کربن وترکیبات گوگرددار‬
‫تشخیص آالینده‌‌های آب و خاک و یونهای جیوه‬
‫تشخیص مواد مخدر و دوپینگ‬
‫بررسی فرایندهای پالسمونی در سلولهای خورشیدی‬
‫بررسی فرایندهای کاتالیستی‬
‫خدمات‪:‬‬
‫طیف‌‌سنجی تشدید پالسمون سطحی‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪TEM‬‬
‫‪Transmission Electron Microscope‬‬

‫میکروسکوپ الکترونی عبوری‬

‫این میکروسکوپ نوعی پروژکتور نمایش‬
‫اسالید در مقیاس نانو است که در آن‬
‫پرتوی الکترونی از نمونه عبور داده می‬
‫شود‪ .‬الکترون‌‌هایی که از جسم عبور‬
‫می‌‌کنند به پرده فسفرسانس برخورد‬
‫کرده سبب ایجاد تصویری از جسم بر‬
‫روی پرده می‌‌شوند‪ .‬قسمت‌‌های تاریک‌‌تر‬
‫بیانگر این امر هستند که الکترون‌‌های‬
‫کمتری از این قسمت جسم عبور کرده‌‌اند‬
‫(این بخش از نمونه چگالی بیشتری دارد)‬
‫و نواحی روشن‌‌تر مکان‌‌هایی هستند که‬
‫الکترون بیشتری از آنها عبور کرده است‬
‫(بخش های دارای چگالی کمتر)‪ .‬استفاده از‬
‫این میکروسکوپ گران و وقت‌‌گیر است‬
‫چرا که نمونه باید در ابتدا به شیوه‌‌ای‬
‫خاص آماده شود؛ لذا تنها در موارد‬
‫ویژه از میکروسکوپ الکترونی عبوری‬
‫استفاده می‌‌شود‪ .‬از این میکروسکوپ‬
‫جهت ریخت‌‌شناسی‪ ،‬تحلیل ساختار بلوری‬
‫(نحوه‌‌ی قرارگیری اتم‌‌ها در شبکه‌‌ی‬
‫بلوری) و ترکیب نمونه‌‌ها استفاده‬
‫می‌‌شود‪.‬‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪TEM‬‬
‫‪Transmission Electron Microscope‬‬

‫میکروسکوپ الکترونی عبوری‬

‫‪Zeiss‬‬
‫‪EM900‬‬

‫قابلیت‌های دستگاه‪:‬‬
‫تصویربرداری از نانوساختارها‬
‫تصویربرداری از نمونه‌های کامپوزیتی زمینه پلیمری و زیستی‬
‫مجهز به مخزن نیتروژن برای خنک نگه‌داشتن نمونه‌‬
‫مجهز به دوربین دیجیتال برای ثبت سریع تصاویر‬
‫خدمات‪:‬‬
‫تصویربرداری از نمونه‌های پودری و سوسپانسیون‬
‫تصویربرداری از نمونه‌های زیستی و پلیمری الیه‌نازک‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪DLS‬‬
‫‪Dynamic Light Scattering‬‬

‫دستگاه تفرق نور پویا‬

‫روش پراکنـدگی دینامیـکی نور یا تفرق‬
‫نور پویا که اصطالح ًا ‪ DLS‬نامیده می‌شود‪،‬‬
‫یکی از روش‌های مناسب برای تعیین‬
‫توزیع ابعاد ذرات است‪ .‬در این روش‪ ،‬از‬
‫روی حرکت براونی ذرات در فاز سیال‬
‫می‌‌توان توزیع ابعاد ذرات در یک محلول‬
‫را مشخص کرد‪ .‬سرعت حرکت براونی‬
‫ذرات با اندازه‌‌ی آنها در ارتباط است‬
‫(‌معادله‌‌ی استوک – انیشتین)‪ ،‬به‌طوری‌که‬
‫حرکت براونی ذرات بزرگ‌تر‪ ،‬آرام‌تر‬
‫از حرکت براونی ذرات کوچک‌تر است‪.‬‬
‫پس هرچه ذراتی که مورد آزمایش قرار‬
‫می‌گیرند بزرگ‌تر باشند‪ ،‬شدت نوسانات‬
‫و یا تغییرات الگوی نقطه‌ای آنها کند‌تر‬
‫خواهد بود و در نتیجه شیب نمودار‬
‫نزولی همبستگی در محدوده‌‌ی زمانی‬
‫مشخص‪ ،‬با شدت کمتری سقوط می‌کند‪.‬‬
‫با استفاده از الگوریتم‌های بدست آمده‬
‫از نرخ شیب نزولی نمودار همبستگی‪ ،‬این‬
‫دستگاه می‌تواند توزیع اندازه‌‌ی ذرات‬
‫مورد آزمایش را بر حسب شدت نور‬
‫متفرق شده از ذرات ارائه دهد‪.‬‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪DLS‬‬
‫‪Dynamic Light Scattering‬‬

‫دستگاه تفرق نور پویا‬

‫‪Malvern Instruments‬‬
‫‪3600 Nano ZS (red badge) ZEN‬‬

‫قابلیت‌های دستگاه‪:‬‬
‫امکان اندازه‌گیری ذرات ‪ 6.0‬نانومتر تا ‪ 6‬میکرون‬
‫امکان انجام آزمون در دماهای ‪ 15‬تا ‪ 60‬درجه‌‌ی سانتیگراد‬
‫خدمات‪:‬‬
‫تعیین توزیع اندازه‌‌ی ذرات‬
‫تعیین پتانسیل زتا‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪XRD‬‬
‫‪X-Ray Diffractometer‬‬

‫طیف‌‌سنج تفرق اشعه‌‌ی ایکس‬

‫پراش پرتوی ایکس (‪ )XRD‬یک روش‬
‫غیر مخرب و مناسب برای تعیین ترکیب‬
‫و خصوصیات کریستالی مواد است‪ .‬این‬
‫آزمون در نمونه‌‌های پودری و بالک‬
‫قابل انجام است‪ .‬الگوی پراش اشعه‌‌ی ‪X‬‬
‫مواد خالص‪ ،‬شکلی مشخص و منحصر‬
‫به فرد دارد‪ .‬شناسایی فازی از طریق‬ ‫‌‌‬
‫مقایسه‌ی الگوی پراش بدست آمده از‬
‫نمونه‌‌ی مجهول (‪ )Diffractogram‬با‬
‫الگوی استاندارد کریستال‌‌های ایده‌‌آل‬
‫ترکیبات‪ ،‬میسر می‌‌گردد‪.‬‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪XRD‬‬
‫‪X-Ray Diffractometer‬‬

‫طیف‌‌سنج تفرق اشعه‌‌ی ایکس‬

‫‪PANalytical‬‬
‫‪X’Pert PRO MPD‬‬

‫قابلیت‌های دستگاه‪:‬‬
‫شناسایی فازهای کریستالی‬
‫تعیین پهنای پیک در نصف ارتفاع (‪)FWHM‬‬
‫تعیین درصد فازهای کریستالی‬
‫انجام )‪ GIXRD (Grazing Incident XRD‬جهت آنالیز فازی‬
‫الیه‌‌های نازک‬
‫انجام )‪ LAXRD (Low Angle XRD‬جهت آنالیز نمونه‌‌های‬
‫نانو ساختار‬
‫انجام ‪ Azimuthal Scan‬در نمونه‌‌های فایبر برای تعیین‬
‫جهت‌‌یافتگی‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪SAXS‬‬
‫‪Small Angle X-ray Scattering‬‬

‫پراکندگی کوچک زاویه‌‌ی اشعه‌‌ی ایکس‬

‫‪ SAXS‬روش آنالیزی غیرمخرب است که‬
‫جهت شناسایی ساختار مواد نانو مقیاس‬
‫بکار می‌‌رود‪ .‬این روش اطالعاتی پیرامون‬
‫مشخصات ساختاری نانوپودرها‪ ،‬سل‌‌ها‬
‫و محلول‌‌های کلوئیدی‪ ،‬نانو‌کامپوزیت‌‌ها‬
‫و سیستم‌‌های متخلخل در محدوده‌‌ی‬
‫ابعاد ‪ 1-100 nm‬ارائه می‌‌دهد‪ .‬این آنالیز‬
‫را می‌‌توان بر روی مواد کریستالی یا‬
‫آمورف و آلی یا معدنی انجام داد و‬
‫پارامترهایی نظیر توزیع اندازه‌‌ی ذرات‪،‬‬
‫نسبت سطح به حجم و درجه‌‌ی پراکندگی‬
‫(‪ )degree of dispersion‬را بدست‬
‫آورد‪ .‬با ادامه‌‌ی آنالیز در زوایای بزرگتر‬
‫(‪ )WAXS‬می‌‌توان همزمان اطالعات فازی‬
‫و ترکیبی نمونه را نیز مشخص نمود‪.‬‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪SAXS‬‬
‫‪Small Angle X-ray Scattering‬‬

‫پراکندگی کوچک زاویه‌‌ی اشعه‌‌ی ایکس‬

‫‪PANalytical‬‬
‫‪X’Pert PRO MPD‬‬

‫قابلیت‌های دستگاه‪:‬‬
‫تعیین توزیع اندازه‌‌ی ذرات و حفرات‬
‫ارائه‌‌ی اطالعات زیر در مورد سیستم‌‌های نانوذرات‪:‬‬
‫اندازه‌‌ی متوسط ذرات‪ R20 ،‬و ‪R80‬‬
‫نسبت سطح به حجم ذرات‬
‫ِ‬
‫استاندارد اندازه‌‌ی ذرات‬ ‫میزان انحراف از میانگین‬
‫امکان ارائه‌‌ی همزمان آنالیز فازی و پارامترهای ساختاری‬
‫امکان انجام آنالیز در دمای پایین‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪XRR‬‬
‫‪X-Ray Reflectometer‬‬

‫بازتاب‌سنج اشعه‌‌ی ایکس‬

‫روش بــازتـاب‌سنــجی پـرتـوی ‪x‬‬
‫)‪ (X-Ray Reflectometry‬تکنیکی‬
‫غیرمخرب جهت شناسایی الیه‌‌های‬
‫نازک می‌‌باشد که اطالعات زیر را بر‬
‫اساس زاویه‌‌ی بازتاب کلی و اختالف‬
‫دانسیته‌‌ی الکترونی الیه‌‌ها‪ ،‬با دقتی قابل‬
‫قبول ارائه می‌‌دهد‪ .‬یکی از مزایای‬
‫این روش نسبت به سایر شیوه‌‌های‬
‫آنالیز سطوح همچون ‪ ،SEM‬عدم‬
‫نیاز به آماده‌‌سازی و برش مقاطع‬
‫مختلف نمونه است‪ .‬در سیستم موجود‬
‫با داشتن اطالعات دقیق پیرامون تعداد‬
‫و ترتیب الیه‌های موجود و با کمک‬
‫تحلیل نرم افزاری می‌‌توان ضخامت‪،‬‬
‫دانسیته و زبری الیه‌‌ها را با دقت باالیی‬
‫شبیه‌‌سازی نمود‪.‬‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪XRR‬‬
‫‪X-Ray Reflectometer‬‬

‫بازتاب‌سنج اشعه‌‌ی ایکس‬

‫‪PANalytical‬‬
‫‪X’Pert PRO MPD‬‬

‫قابلیت‌های دستگاه‪:‬‬
‫گرفتن طیف ‪ XRR‬نمونه‬
‫تعیین ضخامت‪ ،‬دانسیته و زبری الیه‌‌های موجود در نمونه‌‌های‬
‫الیه نازک‬
‫امکان ارائه‌‌ی همزمان آنالیز فازی و پارامترهای الیه‌‌ای‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪Mossbauer‬‬
‫‪Spectroscopy‬‬
‫طیف‌سنج موزبائر‬
‫طیف‌سنجی موزبائر (‪)Mossbauer‬‬
‫روشی غیرمخرب برای شناسایی فازها‪،‬‬
‫عیوب و نقایص کریستالی‪ ،‬خصوصیات‬
‫فیزیکی‪ ،‬شیمیایی‪ ،‬ساختاری و مغناطیسی و‬
‫بررسی پیوندهای ساختمانی و پارامترهای‬
‫وابسته به زمان است‪ .‬دستگاه موزبائر‬
‫با رزولوشن باال‪ ،‬قادر به آنالیز دقیق‬
‫انواع مختلف نمونه‌‌های مغناطیسی و‬
‫غیرمغناطیسی جامد حاوی آهن به دو‬
‫صورت پودری و ریبون است‪ .‬دستگاه‬
‫موزبائر موجود دارای دو آشکارساز‬
‫مجزا بوده و قادر به آنالیز همزمان‬
‫دو نمونه می‌‌باشد‪ .‬تکنیک موزبائر به‬
‫دلیل قابلیت‌های منحصر به فردش‪ ،‬روش‬
‫آنالیز متداولی در دنیا است و زمینه‌های‬
‫کاربردی آن‪ ،‬حوزه‌های وسیعی از تحقیقات‬
‫را در بر می‌گیرد‪ .‬طیف‌‌سنجی موزبائر‬
‫عالوه بر بخش‌‌های تحقیقاتی‪ ،‬در حوزه‌های‬
‫صنعتی نیز دارای کاربرد وسیعی بوده‬
‫و زمینه‌‌ی توسعه‌‌ی فناوری‌های نو را از‬
‫طریق امکان انجام آنالیزها و ارزیابی‌های‬
‫دقیق فراهم نموده ‌است‪.‬‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪Mossbauer‬‬
‫‪Spectroscopy‬‬
‫طیف‌سنج موزبائر‬
‫‪RAS‬‬
‫‪ Mossbauer Spectrometer 1201 SM‬‬

‫قابلیت‌های دستگاه‪:‬‬
‫اندازه‌‌گیری طیف عبوری ‪Mossbauer‬‬
‫امکان ارائه‌‌ی پارامترهای فوق ریز هسته‌‌ای‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪ICP/OES‬‬
‫‪Inductively Coupled Plasma‬‬
‫‪Optical Emission Spectroscopy‬‬

‫طیف‌سنج نشر اتمی‬

‫از مهم‌‌ترین روش‌‌های شناسایی‬
‫عناصر‪ ،‬بررسی طیف‌‌های نشری‬
‫آنها در محدوده‌‌ی طول موج‌‌های‬
‫مرئی و فرابنفش است که نیازمند‬
‫وجود منبع تهییج پرقدرت و دارای‬
‫یکنواختی باال می‌‌باشد‪ .‬این مهم امروزه‬
‫با پیشرفت منابع پالسما محقق شده‬
‫است‪ .‬آنالیز به روش ‪ ICP-OES‬یک‬
‫تکنیک مخرب است که در آن نمونه‌‌ی‬
‫محلول تحت شرایط پالسما‪ ،‬اتمیزه‬
‫و برانگیخته می‌‌گردد‪ .‬نشر حاصل از‬
‫برانگیختگی کلیه‌‌ی عناصر نمونه در‬
‫گستره‌‌ی مرئی و فرابنفش با الگوی‬
‫نشری نمونه‌‌های استاندارد مقایسه‬
‫شده و از این طریق نوع و مقدار هر‬
‫عنصر شناسایی می‌‌گردد‪.‬‬
 ‫معاونت پژوهش و فناوری‬
‫مرکز خدمات آزمایشگاهی‬

‫‪ICP/OES‬‬
‫‪Inductively Coupled Plasma‬‬
‫‪Optical Emission Spectroscopy‬‬

‫طیف‌سنج نشر اتمی‬

‫‪Varian‬‬
‫‪730-OES‬‬

‫قابلیت‌های دستگاه‪:‬‬
‫آنالیز همزمان ‪ 67‬عنصر در زمان بسیار کوتاه‬
‫آنالیز کمی عناصر از غلظت‌‌های بسیار پایین (در حدود‬
‫‪ )1.0 ppm‬تا چند درصد به طور همزمان‬
‫دارای سیستم ‪( Auto MAX‬تغییر اتوماتیک پارامترها برای‬
‫حصول بهترین نتیجه)‬
‫دارای پالسمای محوری (‪ )Axial‬که منجر به افزایش حساسیت‬
‫دستگاه برای مقادیر جزئی (‪ )Trace‬و انعطاف‌‌پذیری آن‬
‫برای اندازه‌‌گیری مقادیر بزرگتر می‌‌شود‪.‬‬
‫خدمات‪:‬‬
‫طیف‌‌سنجی نشر اتمی‬