Предмет: бездротові телекомунікаційні системи.

Практична робота №2
Тема: інтенсивність відмов електронних елементів.
Мета: визначити інтенсивність відмов електронних елементів.
Виконав: Кириченко Максим Вікторович
Вступ.
Основні показники надійності
Надійність – здатність виконувати задані функції в заданих умовах
експлуатації зі збереженням параметрів в установлених межах.
Відмова – подія, яка призводить до припинення виконання функції або до
виходу параметра за межі допуску.
Надійність має дві властивості: безвідмовність та відновлюваність.
Безвідмовність – властивість системи зберігати дієздатність протягом
заданого часу у визначених умовах експлуатації.
Відновлюваність – здатність системи відновлювати дієздатність після
відмови.
Відновлюваність включає в себе поняття ремонтопридатності і
обслуговуваності.
Ремонтопридатність характеризує внутрішні властивості системи.
Обслуговуваність – зовнішні фактори
Ймовірність відмови
(1)

, (2)
,
де P(t) - ймовірність безвідмовної роботи
 (3)

N0 - число систем (елементів), поставлених на випробування;

n(t) - число систем (елементів), які відмовили за час t.
Інтенсивність відмов (для виробів, що не відновлюються)

(4)
де ∆n- приріст числа відмов в інтервалі від t до t + ∆t.

Зміна інтенсивності відмов в часі змінюється за законом

Рис.1. Зміна інтенсивності відмов з часом

для ділянки 2

. (5)

Напрацювання на відмову - середній час роботи між відмовами

 (6)

де п - число відмов за час випробувань t;

/, - час справної роботи від і=0 до і - тої відмови.
При експоненціальному законі

(7)

Cередній термін с лужби

. (8)
Cередній час відновлення

(9)
де tві - час, затрачений на відновлення i-тої відмови;
n- число відмов - завершених відновлень.
Коефіцієнт готовності
 (10)
Інтенсивність відмов електронних компонентів наведена в табл.5.

Таблиця 1
Інтенсивність відмов електронних елементів
Назва елемента А,*10 -6 г.
1 Мікросхеми 0,13
2 Конденсатор SMD 0,08
3 Резистор SMD 0,04
4 Діод SMD 0,2
5 Транзистор 0,75
6 Дросель SMD 0,08
7 Кнопка 0,75
8 З’єднання пайкою 0,01
Примітка: SMD - виконання для поверхневого монтажу.

Загальна інтенсивність відмов пристрою визначається сумою значень λ

для всіх елементів

N
Λ= ∑ λі mі
І=1
(11)
де λі -інтенсивність відмови кожного типу елементів; mі - кількість
елементів даного типу.
 Шляхи підвищення надійності: зменшення λ, зменення Тв, використання
резервування - холодного та гарячого.
Для сучасного обладнання Т0 = 5000 -100000 .

Основні принципи конструювання і виробництва радіоелектронної

апаратури

Для провідників визначається струм плавлення

(12)
Основні вимоги до апаратури - забезпечити її функціонування в умовах
експлуатації: механічні впливи - утримувати міцність при синусоїдальних
вібраціях, резонансі, акустичному шумі; кліматичні впливи - температура, волога,
атмосферний тиск.
Крім того - вимоги безпеки (електр., шкідливі випромінення), ергономіки
(зручність експлуатації), технічної естетики.
Визначаються максимальні розміри функціональних вузлів - по
функціональному признаку, по зручності корпусування, ремонту, експлуатації.
 Завдання.
Визначити вірогідність поломки пристрою.
ЕЛЕМЕНТ КІЛЬКІСТЬ ІНТЕНСИВНІСТЬ ВІДМОВ, А *
10^(-6)
ТРАНЗИСТОРИ 7 0.75
МІКРОСХЕМИ 3 0.13
РЕЗИСТОРИ 12 0.04
КОНДЕНСАТОРИ 8 0.08
КНОПКИ 2 0.75
З'ЄДНАННЯ 18 0.01
ПАЙКОЮ
ДРОСЕЛЬ 4 0.08
ДІОД 5 0.2
Результати.
Для розрахунку вірогідності поломки пристрою використаємо формулу
Бернуллі
P = 1 - (1-p₁)(1-p₂)...(1-pn)
де P - загальна вірогідність поломки пристрою; p₁...pn - вірогідність поломки
кожного компонента.
Інтенсивність відмови кожного елемента виражена в А * 10^-6, і додамо нові дані
про елементи, які з'явились:
НАЗВА ЕЛЕМЕНТА ІНТЕНСИВНІСТЬ ВІДМОВИ, А * 10^-
6
МІКРОСХЕМИ 0.13
КОНДЕНСАТОР SMD 0.08
РЕЗИСТОР SMD 0.04
ДІОД SMD 0.2
ТРАНЗИСТОР 0.75
ДРОСЕЛЬ SMD 0.08
КНОПКА 0.75
З'ЄДНАННЯ ПАЙКОЮ 0.01
ОПЕРАТИВНА ПАМ'ЯТЬ 0.05
ТВЕРДОТІЛИЙ 0.1
НАКОПИЧУВАЧ
Для розрахунку загальної вірогідності поломки пристрою використаємо формулу:
P = 1 - (1-λ1)^n1 * (1-λ2)^n2 * ... * (1-λk)^nk
де λi - інтенсивність відмови і-го елемента в А * 10^-6, а ni - кількість елементів i-
го типу в пристрої.
Підставляємо відповідні значення і отримуємо:
P = 1 - (1-0.13)^3 * (1-0.08)^8 * (1-0.04)^12 * (1-0.2)^5 * (1-0.75)^7 * (1-0.08)^4 * (1-
0.75)^2 * (1-0.01)^18 * (1-0.05)^2 * (1-0.1)^1
P ≈ 0.0407
Отже, оцінка загальної вірогідності поломки пристрою становить близько 4.07%.
Зважаючи на те, що ця оцінка є консервативною, реальна вірогідність може бути
нижчою. Однак, для забезпечення надійності пристрою, можна застосувати
додаткові заходи, такі як дублювання компонентів, застосування більш надійних
компонентів або захист від перенапруг.

Висновки: за допомогою розрахунку вірогідності поломки електронних елементів

в пристрої можна зробити висновки щодо надійності пристрою та його елементів.
Для досягнення більш високої надійності пристрою можна звернути увагу на
елементи з більшою інтенсивністю відмов, тобто на ті, які швидше можуть вийти з
ладу. Також можна звернути увагу на використання більш надійних елементів або
дублювання елементів з більш високою інтенсивністю відмов для забезпечення
більш високої надійності пристрою. Розрахунок вірогідності поломки електронних
елементів також є важливим для планування термінів планового технічного
обслуговування та ремонту пристроїв з метою забезпечення їх ефективної роботи
на тривалий термін.