Professional Documents
Culture Documents
YETENEK ANALİZLERİ
1
Cihaz Yetenek Analizi (Gage R&R)
2
Cihaz Yetenek Analizi ?
(Gage R&R)
• Bir ölçümün:
– Tekrarlanabilirlik (=Repeatability)
– Üretilebilirlik (=Reproducibility)
özelliklerini belirlemek için kullanılır.
3
Cihaz R&R – Tekrarlanabilirlik
(Repeatability)
Aynı parçanın, aynı ölçüm
aracı/sistemi ile tekrarlı ölçümlerinin
sonuçları arasındaki değişkenliği
belirler.
4
Cihaz R&R – Üretilebilirlik
(Reproducibility)
5
Cihaz Yetenek Analizi
Üretilebilirlik (Reproducibility)
6
Cihaz Yetenek Analizi
Tekrarlanabilirlik:
k
R i 1
i 1
Tekrar ; k operatör sayisi, d 2 icin k 1
k d2
Üretilebilirlik:
Üret Xenb Xenk
1
d 2 icin k
d2
7
ÖRNEK: 5 parça 3 operatör
tarafından 2’şer defa ölçülüyor…
Operatör 1 Operatör 2 Operatör 3
Parça Ölçüm Ort R Ölçüm Ort R Ölçüm Ort R
1 0,20; 0,10 0,15 0,10 0,10; 0,10 0,10 0,00 0,15; 0,15 0,15 0,00
2 0,20; 0,30 0,25 0,10 0,15; 0,25 0,20 0,10 0,25; 0,25 0,25 0,00
3 0,15; 0,10 0,12 0,05 0,20; 0,10 0,15 0,10 0,20; 0,15 0,18 0,05
4 0,30; 0,30 0,30 0,00 0,25; 0,30 0,28 0,05 0,20; 0,25 0,22 0,05
5 0,20; 0,15 0,18 0,05 0,15; 0,05 0,10 0,10 0,15; 0,05 0,10 0,10
8
Hesaplamalar …
(R1 R 2 R 3 ) 1
Tekrar 0.050
3 1.128
9
Değerlendirme …
• Cihaz yetenek analizi sonucunda;
– < %10 Ölçüm sistemi yeterli
– %10-%30 Ölçüm sistemi kabul edilebilir
(uygulamanın özelliği, cihaz maliyeti, tamir
maliyeti vb yönüyle)
– > %30 Ölçüm sistemi yeterli değil (nedenler
belirlenmeli ve düzeltici/önleyici önlemler
alınmalı)
10
SÜREÇ YETENEK ANALİZİ
• Sürecin performansından söz etmek
gerektiğinde birbirinden ayrı, fakat çok
önemli iki noktanın dikkate alınması
gerekir :
11
• Süreç yeteneği (process capability), sürecin
aynılığının göstergesidir.
• Süreç yeteneği, belirli bir kalite karakteristiği
için değişkenlik ölçüsüdür.
• Değişkenlik zaman içinde iki farklı şekilde
ele alınabilir.
1)Belirli bir anda var olan
değişkenlik,
2)Zaman içindeki değişkenlik.
12
• Süreç yetenek analizi (process capability
analysis) süreç yeteneğini ölçmeye yönelik
çalışmalara verilen addır.
Kullanılan Yöntemler:
• Histogram yöntemi
• Olasılık işaretlemesi (Normal, Q-Q)
• Kontrol grafiği yaklaşımı
• Süreç Yetenek Katsayısı
13
Histogram Yöntemi
• Verilerin histogramı çizilir.
• ASS ile ÜSS histogram üzerine işaretlenir.
• Sürecin değerlendirilmesi yapılır.
• Spesifikasyonu 250±40 kg olan tel üretim sürecindeki
kopma mukavemetine ilişkin veriler aşağıda verilmiştir
(Burnak, Örnek 8-1, s. 195).
Sınıflar 130-150 150-170 170-190 190-210 210-230 230-250 250-270 270-290 290-310
Frekans 2 6 8 12 30 22 11 5 4
14
ASS ÜSS
f i Di 22.420 f i ( Di X ) 2
X i
224,20 kg s i
120.236
34,85 kg
fi 100 n 1 99
i
15
Değerlendirme …
16
Olasılık İşaretlemesi
-Normal Olasılık Grafiği-
• Veriler artan düzende sıralanır.
• Her bir sırada (i) yer alan veriye (Xi) karşı gelen
birikimli olasılık (Pi),
i 0 .5
Pi
n
formülü ile belirlenir.
• Sıralı (Xi, Pi) ikilileri özel olarak hazırlanmış
normal olasılık kağıdına işaretlenir ve ikililer bir
doğru ile birleştirilir.
17
Burnak, Örnek-8.3, s. 203
Xi Pi Probability Plot of C1
Normal
12,15 0,01667 99
Mean 12,47
12,16 0,05000 95
StDev
N
0,1619
30
AD 0,674
12,21 0,08333 90
P-Value 0,071
80
12,25 0,11667 70
Percent
60
50
12,26 0,15000 40
30
12,30 0,18333 20
10
12,30 0,21667 5
.. .. 1
12,0 12,1 12,2 12,3 12,4 12,5 12,6 12,7 12,8 12,9
.. .. C1
18
Parametre Tahmini - µ
Probability Plot of C1
Normal
99
Mean 12,47
StDev 0,1619
95 N 30
AD 0,674
90
P-Value 0,071
80
70
Percent
60
50 50
40
30
20
10
5
12,466
1
12,0 12,1 12,2 12,3 12,4 12,5 12,6 12,7 12,8 12,9
C1
19
Parametre Tahmini - σ
Probability Plot of C1
Normal
99
Mean 12,47
StDev 0,1619
95 N 30
AD 0,674
90
P-Value 0,071
84,13
80
70
Percent
60
50 50
40
30
20
10
5 12,6279
12,466
1
12,0 12,1 12,2 12,3 12,4 12,5 12,6 12,7 12,8 12,9
C1
20
Değerlendirme …
21
Olasılık İşaretlemesi
Q-Q Grafiği
22
Burnak, Örnek-8.4, s. 207
(Yüzey Düzgünsüzlüğü; X-Ort =17,69, s = 2,64)
Sıra Xi Pi qi zi
1 13,4 (1-0,5)/16=0,031 (13,4-17,69)/2,64=-1,624 Φ(0,031)=-1,86
2 14,4 0,094 -1,245 -1,32
3 15,0 0,156 -1,018 -1,10
4 15,2 0,219 -0,942 -0,78
5 15,5 0,281 -0,829 -0,58
6 17,1 0,344 -0,223 -0,40
7 17,3 0,406 -0,147 -0,24
8 .. .. .. ..
9 .. .. .. ..
23
Q-Q Grafiği - Verilerin Dağılımı?
1,5
0,5
Q 0
-2 -1,5 -1 -0,5 0 0,5 1 1,5 2
-0,5
-1
-1,5
-2
Z
24
Süreç Yetenek Katsayısı
• Süreç yeteneğinin sayısal bir değerle ifade
edilmesi daha uygun olmaktadır.
• Süreç yetenek katsayısı (process capability
ratio - PCR;Cp) olarak adlandırılan bu
değer, üst ve alt spesifikasyon limitleri,
sırasıyla, ÜSL ve ASL, sürecin standart
sapması da olmak üzere,
25
ÜSL ASL
PCR Cp
6ˆ
olarak tanımlanır.
ÜSL ASL
Cpü Cpa
3
26
Uzun dönem süreç yetenek indeksi
ÜSL ASL
Cpk enk ;
3ˆ ˆ
ÜSL ASL
Cpm
6
ˆ 2 ( T ) 2
27
Önerilen Süreç Yetenek Katsayısı Değerleri
29
Cp – Spesifikasyon İlişkisi
30
Süreç Yeteneği ?
Yüksek Cpk Düşük Cpk
Spec Spec Spec Spec
(Lower) (Upper) (Lower) (Upper)
Out of Out of
Süreç Spec Spec
31
Cp – Cpk İlişkisi
32
Cp ve Cpk için güven aralıkları
21 / 2 2 / 2
Cp Cp Cp
n 1 n 1
2
1 Cpk
Cpk z / 2
9n 2n 2
33
Hangi süreç (uzun dönem)???
34
Süreç yeteneğinde iyileşme!
Süreç 1: µ = 130; σ = 10 - Süreç 2: µ = 145; σ = 10
1 2
35
• Süreç yetenek katsayısı ile sürecin,
spesifikasyon değerleri tarafından belirlenen
alanın ne kadarlık bir kısmını kullandığı
hesaplanabilir.
• Sözkonusu kullanım alanı, yüzde olarak,
1
P( )100
Cp
eşitliğiyle hesaplanır.
36
Makine Yetenek Analizi
37
Makine Yetenek Analizinde; Cp ve Cpk yerine
Cm ve Cmk sembolleri kullanılır ve
ÜSL ASL
Cm
6ˆ
ÜSL X X ASL
Cmk(üst) Cmk(alt)
ˆ 3ˆ
şeklinde hesaplanır.
38
39
40