Measurement

Systerm Analysis
Trần Thị Vân Anh
 I. Giới thiệu, mục đích và các định nghĩa
1. Giới thiệu:
- Chất lượng của dữ liệu đo lường được xác định bởi các thuộc tính thống kê của
nhiều phép đo thu được từ một hệ thống đo lường hoạt động trong các điều kiện
ổn định.
- Các thuộc tính thống kê được sử dụng phổ biến nhất để mô tả chất lượng của dữ
liệu là độ lệch và phương sai của hệ thống đo lường. Thuộc tính được gọi là độ
lệch đề cập đến vị trí của dữ liệu so với giá trị tham chiếu (chính) và thuộc tính
được gọi là phương sai đề cập đến mức độ lan truyền của dữ liệu.
- Nguyên nhân khiến dữ liệu đo đạc có chất lượng thấp là do có quá nhiều biến
thể do tác động của môi trường lên hệ thống đo lường.
 I. Giới thiệu, mục đích và các định nghĩa
1. Giới thiệu:

- Phân tích hệ thống đo lường là một loại thử nghiệm, trong đó bạn lặp đi lặp lại
cùng một mục bằng cách sử dụng những người hoặc những thiết bị khác nhau.
- MSA được dùng để định lượng mức độ thay đổi trong một phép đo xuất phát từ
chính hệ thống đo lường chứ không phải từ sự thay đổi cảu sản phẩm hoặc qui
trình.
- Giúp xác định được những cách thức mà một hệ thống đolường cần được cải
thiện.
 I. Giới thiệu, mục đích và các định nghĩa
2. Mục đích:

- Mục đích của phân tích hệ thống đo lường là để đủ điều kiện sử dụng một hệ
thống đo lường bằng cách định lượng độ chính xác và độ ổn định của nó.
- Phân tích hệ thống đo lường là bước quan trọng đầu tiên cần thực hiện trước mọi
quyết định dựa trên dữ liệu, bao gồm kiểm soát qui trình thống kê, phân tích
tương quan và hồi qui cũng như thiết kế thử nghiệm.
 I. Giới thiệu, mục đích và các thuật ngữ
3. Các định nghĩa:
- Độ chính xác(Accuracy): Độ chính xác đạt được khi giá trị đo lường có ít sai
lệch so với giá trị thực tế.Độ chính xác thông thường được kiểm tra bằng cách so
sánh giá trị trung bình của các phép đo lặp lại với giá trị tiêu chuẩn đã biết cho
đơn vị đó.
- Bias:Độ lệch là sự khác biệt giữa giá trị thực (giá trị tham chiếu) và giá trị trung
bình quan sát được của các phép đo cho cùng một đặc tính trên cùng một part.
Độ lệch là thước đo sai số hệ thống của hệ thống đo lường.
 I. Giới thiệu, mục đích và các thuật ngữ
3. Các định nghĩa:
- Độ lặp lại (Repeatability):Đạt được khi cùng một người thực hiện nhiều phép đo
trên cùng một vật phẩm hoặc một đặc tính cho ra cùng một kết quả mỗi lần.
- Độ tái lặp( Reproducibility): Đạt được khi các người khác( các thiết bị khác…)
nhận được kết quả tương tự như bạn nhận được khi đo lường cùng một vật phẩm
hoặc đặc tính.
- Độ ổn định(Stability):Đề cập đến khả năng hệ thống đo lường để tạo ra các giá trị
giống nhau theo thời gian khi đo cùng một mẫu.
 I. Giới thiệu, mục đích và các thuật ngữ
3. Các định nghĩa:

- Độ tuyến tính(Linearity):Là sự khác biệt cảu độ lệch trong suốt phạm vi hoạt
động(đo lường) dự kiến của thiết bị.
- Gage Repeatability and reproducibility( gage R&R): Là ước tính sự kết hợp về
độ lặp lại và khả năng tái lặp của hệ thống đo lường.Năng lực của hệ thống đo
lường tùy thuộc vào phương pháp được sử dụng có thể bao gồm hoặc không bao
gồm ảnh hưởng của thời gian.
 II. Phân tích hệ thống đo lường
1. Chất lượng của một hệ thống đo lường:

- Chất lượng của một hệ thống đo lường thường chỉ được xác định bởi các thuộc
tính thống kê của dữ liệu mà nó tạo ra theo thời gian.Các thuộc tính khác, chằng
hạn như chi phí, chính dễ sử dụng… cũng quan trọng ờ chỗ chúng góp phần tạo
nên tính mong muốn tổng thể của một hệ thống đo lường. Nhưng chính các thuộc
tính thống kê của dữ liệu được tạo ra sẽ quyết định chất lượng của hệ thống đo
lường.
 II. Phân tích hệ thống đo lường
2. Một số thuộc tính để xác định hệ thống đo lường là tốt:

- Thống kê phải ổn định theo thời gian.

- Độ biến thiên nhỏ so với độ biến thiến quá trình.
- Sự thay đổi nhỏ so với giới hạn đặc điểm kỹ thuật(dung sai)
- Độ phân giải hoặc khả năng phân biệt của thiết bị đo lường phải nhỏ so với giá
trị nhỏ hơn của dung sai thông số kỹ thuật hoặc độ mở rộng quy trình (biến thể).
Theo nguyên tắc thông thường, hệ thống đo lường phải có độ phân giải ít nhất
bằng 1/10 giá trị nhỏ hơn của dung sai thông số kỹ thuật hoặc khoảng cách quá
trình. Nếu độ phân giải không đủ tốt, hệ thống đo lường sẽ không nhận ra sự thay
đổi của quy trình, do đó làm giảm hiệu quả của nó
 II. Phân tích hệ thống đo lường
3. Các nguyên tắc cơ bản về phân tích hệ thống đo lường:

- Xác định số người thẩm định, số Sample part và số lần đọc lại.Số lượng part lớn
hơn và số lần đoc lặp lại cho ra kết quả với mức độ tin cậy cao hơn, nhưng các
con số phải được cân bằng với thời gian, chi phí và sự gián đoạn liên quan.
- Các thẩm định viên phải là người thường xuyên thực hiện phép đo và quen thuộc
với thiết bị và quy trình.
- Phải đảm bảo có một quy trình được lập thành văn bản và được tất cả các thẩm
định viên tuân theo.
 II. Phân tích hệ thống đo lường
3. Các nguyên tắc cơ bản về phân tích hệ thống đo lường:

- Chọn các sample part để đại diện cho toàn bộ quá trình trải rộng.Đây là một điểm
quan trọng .Nếu quá trình trãi rộng không được trình bày đầy đủ thì mức độ sai
số đo lường có thể bị cường điệu hóa.
- Nên đánh dấu vị trí đo chính xác trên từng part để giảm thiểu tác động của sự
thay đổi bên trong part.
- Các bộ phận phải được đánh số và các phép đo phải được thực hiện theo thứ tự
ngẫu nhiên để người thẩm định không biết số được gán cho từng part hoặc bất kỳ
giá trị đo lường nào trước đó cho part đó.Một bên thứ ba nên ghi lại các phép đo,
người thẩm định, số thử nghiệm và số của từng part trên cùng một bảng.
 II. Phân tích hệ thống đo lường
4. Phân tích kết quả:

 Các kết quả phải được đánh giá để xác định xem thiết bị đo có được chấp nhận
cho ửng dụng dự kiến cảu nó hay không.
− Lỗi lắp ráp hoặc cố định thiết bị đo:Khi thiết bị cố định được thiết kế không phù
hợp hoặc thiết bị đo được lắp ráp kém sẽ làm tăng sai số đo lường.Điều này
được thể hiện khi các phép đo hiển thị sự không ổn định của quá trình hoặc các
điều kiện ngoài tầm kiểm soát. Có thể là do thay đổi của thước đo quá mức hoặc
độ lặp lại kém và giá trị GRR kém.Khi đó cần xem lại hướng dẫn lắp ráp và
thiết lập để đảm bảo thiết bị đo được lắp ráp đúng cách.
 II. Phân tích hệ thống đo lường
4. Phân tích kết quả:

 Các kết quả phải được đánh giá để xác định xem thiết bị đo có được chấp nhận
cho ứng dụng dự kiến cảu nó hay không.
− Lỗi vị trí: thường được xác định bằng cách phân tích độ lệch và độ tuyến
tính.Sai số của độ lệch và dộ tuyến tính của một hệ thống đo lường là không thể
chấp nhận được nếu nó khác 0 một cách đáng kể hoặc vượt quá sai số tối đa cho
phép được thiết lập bởi qui trình hiệu chuẩn thiết bị đo.
 III. Gage R&R
1. Khái niệm về Gage R&R: