Střední průmyslová škola elektrotechnická v Brně, Kounicova 16

Jméno a vvvvvvvvv
příjmení: Petr XXX Třída: S4P Skupina: 1

LABORATORNÍ CVIČENÍ Z ELEKTROTECHNICKÝCH MĚŘENÍ

Název úlohy: Sériový rezonanční LC obvod Č. úl.: 11

Zkoušené předměty: sériový rezonanční LC obvod

Datum měření: 15.2 2006 Počet stran: 9

Datum odevzdání: 5.4 2006 Počet grafických příloh: 1

Podpis žáka: Klasifikace:

Zadání, schéma, měřící přístroje, rozbor úlohy, postup měření, zpracování měření, hodnocení výsledků

Zadaní:
• Předem určete a zdůvodněte chování sériového rezonančního obvodu (s rezistorem i bez rezistoru v
sérii).
• Spočítejte a změřte rezonanční frekvenci.
• Spočtěte provozní Q sériového rezonančního obvodu (s rezistorem i bez rezistoru v sérii).
• Určete pro jednotlivá měření šířku rezonančního pásma.
• Pro jednotlivá měření vyneste rezonanční křivku sériového rezonančního obvodu (s rezistorem i bez
rezistoru v sérii).

Schéma zapojení:
Č. 1 Č. 2 Č. 3
Rozbor:

1 Sériový rezonanční obvod

Sériový rezonanční obvod se ve zbytku obvodu při určité frekvenci chová jako indukčnost nebo
kapacita. Napětí na cívce působí přímo proti napětí na kondenzátoru a naopak. Při určité frekvenci
(rezonanční frekvenci), se stane, že působení indukčnosti cívky a kapacity kondenzátoru se navzájem zcela
vyruší. Při této frekvenci kmitá energie z kapacity do cívky a naopak. Proud, který slouží k vzájemné
výměně energie teče přes větev sériového rezonančního obvodu a uzavírá se přes napěťový zdroj dodávající
vstupní napětí. Kdyby byl obvod napájen proudovým zdrojem, pak by nekmital, protože proud by se musel
uzavírat přes teoreticky nekonečný odpor proudového zdroje a výměna energie mezi cívkou a
kondenzátorem by byla vysoce neefektivní, většina energie by se totiž spotřebovala na vnitřním odporu
proudového zdroje, místo, aby byla předána cívce.
Z výše uvedeného plyne, že energie vložená do kondenzátoru (cívky), v podobě elektrického napětí
objevujícího se na svorkách součástky, se začne přelévat pomocí proudu přes zbytek obvodu, na kterém
vznikne úbytek napětí, do cívky (kondenzátoru). Do cívky (kondenzátoru) se tímto uloží energie
z kondenzátoru (cívky) zmenšená o úbytek energie na zbytku obvodu. Jelikož ovšem zdroj kmitá ve stejné
frekvenci jako rezonanční obvod, tak mu neustále dodává energii. Napětí nebo-li energie, kterou si
kondenzátor a cívka „přehazují“ neustále roste, ale s tím roste i úbytek napětí (energie) na zbytku obvodu při
„přehazování“ energie sériovým rezonančním obvodem. Tímto způsobem stoupne energie, která se v
sériovém rezonančním obvodu „přehazuje“ na hodnotu při které je úbytek energie na zbytku obvodu stejný
jako energie přidávaná zdrojem. Důsledkem je, že na cívce nebo na kondenzátoru je možno naměřit
mnohokrát větší napětí než na zdroji, kterým je obvod napájen. Měříme-li napětí na celém sériovém
rezonančním obvodu, pak bychom měly naměřit nulový rozdíl napětí. Ovšem to je teoreticky, prakticky má
cívka vnitřní odpor, a proto naměříme malé napětí na tomto vnitřním odporu. Viz schéma skutečné cívky:

.
 Při výpočtu rezonanční frekvence vyjdeme z faktu, že při rezonanci se absolutní hodnota impedance
cívky musí rovnat absolutní hodnotě impedance kondenzátoru. Nebo-li součet impedance cívky a impedance
kondenzátoru se při této frekvenci musí rovnat 0 (nastává zkrat).
Matematické odvození rezonanční frekvence:
1 jω L ⋅ jω C + 1
jω L + =0⇔ =0⇐
jω C jω C
⇒ jωL ⋅ jωC + 1 = 0 ⇔ ω 2 LC = 1 ⇐
1 1
⇒ =ω ⇔ = f REZONANCE
LC 2π LC
Sériový rezonanční obvod v sérii s rezistorem

Tento rezonanční obvod je skutečně to co měříme. Těžko lze dosáhnout toho, aby v sériovém
rezonančním obvodu neexistoval sériově připojený odpor ať už v podobě elektrického odporu drátů,
vnitřního odporu zdroje či cívky.
Odpor dle výše uvedené úvahy neposunuje rezonanční frekvenci, pouze má vliv na úbytek
„přehazované“ energie v sériovém rezonančním obvodu. A tím mění výsledný ustálený stav. Nebo-li Q
sériového rezonančního obvodu.
Q sériového rezonančního obvodu lze spočítat jako podíl rezonanční frekvence a šířky
rezonančního pásma. Šířka rezonančního pásma je definována poklesem o tři decibely od maximální
hodnoty napětí na jedné ze součástek v rezonančním obvodu při rezonanční frekvenci.
Také ho lze při rezonanční frekvenci spočítat jako poměr napětí na jedné ze součástek (kondenzátor,
cívka) ku napětí na celém rezonančním obvodu.
2 Rozbor měření na sériovém rezonančním obvodu
Při měření se vychází z předpokladu, že měřícím přístrojem a zdrojem nesmíme ovlivnit měřený obvod.
Z toho důvodu se použije napěťový zdroj na vstupu, který by teoreticky měl mít nulový odpor. Odpor na
vstupu, by nám změnil Q sériového rezonančního obvodu (viz výše). Při reálném měření použijeme výstup
generátoru s co nejnižším vnitřním odporem (75 Ω). Při měření voltmetrem použijeme osciloskopickou
sondu – konkrétně 1:10, která 10x zvětší vstupní odpor voltmetru a 10x zmenší vstupní kapacitu voltmetru.
To vše děláme z důvodu snížení ovlivnění obvodu. Osciloskopická sonda viz resultát.
Ovšem od teď veškeré odečítané napětí na voltmetru je 10x větší než ukazuje voltmetr.
Osciloskopická sonda je kompenzovaný dělič. Viz Schéma:

Vychází se z toho, že aby se dělící poměr zachoval pro všechny frekvence tak poměr reaktancí Rs s
Cs a Ri s Ci musí být pro všechny frekvence stejný, tudíž se musí rovnat jejich časové konstanty (RsCs=RiCi).
Sériovým sečtením kondenzátorů se sníží vstupní kapacita a sériovým sečtením rezistorů se zvýší vstupní
odpor.
Měření šířky rezonančního pásma
Před měřením šířky rezonančního pásma a všech hodnot do rezonanční křivky musíme nejprve najít
hodnotu napětí na jedné ze součástek v sériovém rezonančním obvodu při rezonanční frekvenci, ke které
budeme dále vztahovat veškeré další měření. Volbu součástky, na které budeme měřit napětí do rezonanční
křivky, provedeme dle toho, jak měření na ní ovlivní měřený obvod. Měření na kondenzátoru přidá kapacitu
sondy ke kapacitě kondenzátoru. Takže se musíme rozhodnout, zda je kapacita sondy zanedbatelná, vůči
kapacitě kondenzátoru na kterém hodláme měřit. V případě, že ne tak připojíme pomocný odpor, na kterém
budeme měřit (ovlivní Q). V obou dvou případech ovlivníme rezonanční frekvenci sériového rezonančního
obvodu, jde jen o to jak moc.
Dále změříme napětí na součástce při rezonanční frekvenci. Pokud možno přímo v decibelech.
Jestliže nemáme možnost měřit přímo v decibelech. Změříme hodnotu ve voltech. Naměřenou hodnotu pak
dodatečně zlogaritmujeme desítokovím logaritmem a vynásobíme dvaceti. Jelikož pro rezonanční křivku
potřebujeme 20 krát logaritmus poměru naměřených hodnot pro určité frekvence ku hodnotě naměřené pro
rezonanční frekvenci, tak můžeme vhodně využít jednoho pravidla, pro počítaní s logaritmy:
 
 = 20 log(U X ) − 20 log(U REZONANCE )
UX
20 log
 U REZONANCE 
Dle tohoto pravidla můžeme od každé další naměřené hodnoty v Db (jestliže měříme ve V, budeme
logaritmovat a násobit dvaceti) odečíst naměřenou hodnotu v Db při rezonanci a bude se výsledná hodnota
v Db rovnat tomu jako bychom logaritmovaly a násobili dvaceti poměr námi naměřeného napětí ku napětí
naměřeného při rezonanci.
Šířka rezonančního pásma je definovaná jako absolutní hodnota rozdílů frekvencí, při nichž klesne
měřené napětí na jedné ze součástek na sériovém rezonančním obvodu vůči rezonanci (napětí při rezonanci
je 0Db) o 3Db.
Při měření na voltmetru umožňujícím odečítat v Db je jednoduché zjistit frekvence, při nichž napětí
poklesne o 3Db vůči rezonančnímu napětí na součástce. Stačí jen přelaďovat generátor (směrem k vyšším i
nižším frekvencím) a sledovat kdy se ukáže na voltmetru o 3 Db méně.
U obyčejného voltmetru je postup obdobný, ale nejdříve si musíme vypočítat, jaké napětí na
voltmetru bude odpovídat poklesu o 3 Db vůči napětí při rezonanční frekvenci. Vztah, dle kterého to lze určit
je následující:

 U   U  −3  U 
AU [Db ] = 20 log MĚĚŘENÉ  ⇒ −3Db = 20 log MĚĚŘENÉ  ⇔ = log MĚĚŘENÉ 
 U REZONANCE   U REZONANCE  20  U REZONANCE 
Dále vzorec odlogaritmuji
−3
 U 
10 20
=  MĚĚŘENÉ  ⇒ 0,708 ⋅ U REZONANCE ≅ U MĚĚŘENÉ
 U REZONANCE 
Krom poklesu o 3 Db (šířky rezonančního pásma) a rezonanční frekvence naměříme několik dalších
hodnot a následně vyneseme do grafu rezonanční křivky.
.
Postup měření:
Před vlastním měřením je třeba zkontrolovat funkčnost přístrojů a zahřát je. Po zahřátí je třeba
ozkoušet a popřípadě doladit osciloskopickou sondu. Doladění osciloskopické sondy pro voltmetr může být
dosti velký problém viz závěr.
Dále změříme pomoci RLC můstku hodnoty jednotlivých součástek (kondenzátoru, cívky a
zatěžovacích rezistorů). Obsluha RLC můstku je jednoduchá. Tlačítkem zvolíme co má měřit (R, C, L, G)
volbu rozsahu provede sám. Pokud bude neustale prohazovat rozsahy (nebude se moci rozhodnout) pak stačí
ve správný okamžik vypnout automatickou volbu.
Z naměřených hodnot spočítáme rezonanční frekvenci dle výše odvozeného vztahu (thomsonova
1
vzathu): = f REZONANCE
2π LC
Dle vypočtené rezonanční frekvence se budeme přibližně řídit při hledání skutečné rezonanční
frekvence. Zapojíme obvod dle schématu č. 1, 2 nebo 3 (podle toho, který obvod chceme měřit). Volbu na,
které součástce budeme měřit, nechávám ve schématech naznačenou občas na kondenzátor, občas na
rezistor, dle toho jak probíhalo naše měření, ale obecně muže být situace jiná viz rozbor. Vybereme si, na
které součástce v sériovém rezonančním obvodu budeme měřit viz rozbor. A na této součástce najdeme, při
jaké frekvenci je hodnota napětí na této součástce maximální, následně tuto frekvenci prohlásíme za
naměřenou hodnotu rezonanční frekvence. Změříme hodnoty frekvencí pro pokles o 3 Db viz rozbor.
Vypočteme šířku rezonančního pásma jako rozdíl horní hranice rezonančního pásma a dolní hranice
rezonančního pásma viz rozbor. Vypočteme provozní Q jako podíl naměřené rezonanční frekvence a šířky
rezonančního pásma. Dále naměříme několik dalších vhodně zvolených bodů do grafu rezonanční křivky a
zaneseme je.
Zpracování měření:
Naměřené hodnoty součástek pomocí RLC můstku jsou:
R1 = 329Ω
R2 = 32,9Ω
C = 328 pF
L = 1,247 mH
Výpočet rezonanční frekvence:
1 1
f REZONANCE = = = 248857,07 Hz
2π LC 2π 1,247 mH ⋅ 328 pF

Měření rezonanční frekvence frekvence:

Naměřená rezonanční frekvence pro schéma č.1: 243 kHz
Naměřená rezonanční frekvence pro schéma č.2: 244 kHz
Naměřená rezonanční frekvence pro schéma č.3: 244 kHz

Nezatížený sériový
rezonanční obvod Zatížený sériový rezonanční Zatížený sériový rezonanční
(schéma č. 1) obvod (schéma č. 2) obvod (schéma č. 3)
f Au f U Au f U Au
[kHz] [Db] [kHz] [mV] [Db] [kHz] [mV] [Db]
100 -23,5 150 17 -21,8 100 8 -19,2
150 -20,0 200 40 -14,4 120 10 -16,8
220 -9,2 220 71 -9,4 180 25 -9,2
225 -8,5 225 80 -8,4 190 29 -8,0
230 -6,0 230 100 -6,4 200 35 -6,4
236 -3,0 238 150 -3,0 210 42 -4,8
240 -1,0 240 173 -1,7 218 50 -3,0
243 0,0 244 210 0,0 230 63 -1,3
250 -3,0 250 198 -0,5 244 73 0,0
255 -5,5 256 150 -3,0 250 72 -0,1
260 -8,5 260 122 -4,7 260 68 -0,6
265 -10,5 265 100 -6,4 270 57 -2,1
270 -11,5 270 80 -8,4 277 50 -3,0
300 -19,0 350 20 -20,4 290 40 -5,2
- - 400 14 -23,5 300 34 -6,6
- - - - - 350 22 -10,4
- - - - - 400 15 -13,7

Výpočet provozního Q:
f REZONACE 243kHz
Pro schéma č. 1: Q = = = 17,357; B1 = 14kHz
f HORNÍ − f DOLNÍ 250kHz − 236kHz

f REZONACE 244kHz
Pro schéma č. 2: Q = = = 13,556; B2 = 18kHz
f HORNÍ − f DOLNÍ 256kHz − 238kHz

f REZONACE 244kHz
Pro schéma č. 3: Q = = = 4,136; B3 = 59kHz
f HORNÍ − f DOLNÍ 277 kHz − 218kHz
 Graf rezonanční křivky sériového rezonančního obvodu
Au[Db] Modrá - scháma č. 3 Zelená - schéma č.2 Červená - schéma č.1

0 Db

-5 Db

-10 Db

-15 Db

-20 Db

-25 Db
100 kHz 150 kHz 200 kHz 250 kHz 300 kHz 350 kHz 400 kHz 450 kHz
f [kHz]
Resultát:
Všechny body zadání byly splněny. Chování sériového rezonančního obvodu s rezistorem i bez rezistoru
v sérii bylo určeno a zdůvodněno. Rezonanční frekvence byla spočítána a změřena pro všechny tři schémata.
Provozní Q bylo spočteno z naměřených hodnot. Šířka rezonančního pásma byla pro jednotlivá měření
určena a rezonanční křivky vyneseny.
Rezonanční křivky vyšli dle očekávání. Je jasně patrno, že rezonanční křivka sériového rezonančního
obvodu s větším rezistorem má větší útlum než rezonanční křivka sériového rezonančního obvodu s menším
rezistorem (z tabulky v grafu je to poměrově). Také jde vidět, že změna rezistoru neovlivnila rezonanční
frekvenci, zato změna připojení osciloskopické sondy rezonanční frekvenci posunula (cca o 1kHz).
Poznámka: mlčky se v měření přešlo seřízení osciloskopické sondy. Osciloskopická sonda ve
skutečnost není vůbec seřízená. Předpokládá se totiž, že měření probíhá na tak vysokých frekvencích, že
v děliči, který tvoří osciloskopická sonda s voltmetrem, se silně uplatňují kapacity, jimiž jsou přemostěny
rezistory ve voltmetru a v sondě. I když sonda nedělí v poměru, který při měření známe, nevadí to, měříme
totiž poměrově a dělící poměr sondy a voltmetru úplně z měření vypadne a neovlivní výsledek. Důležité je
pouze to, aby se dělící poměr při měření neměnil. A to je zajištěno tím, že se měří nad frekvencemi zlomu
jednotlivých impedancí v děliči sonda-voltmetr.
 POUŽITÉ MĚŘÍCÍ PŘÍSTROJE A POMŮCKY

Přístroj Výrobce
Označení Rozsah Evidenční číslo Poznámka
Pomůcka Typ přístroje

G generátor - - 88-23-321 -
Tesla
V milivoltmetr 1mV-300V 849 -
BM 579
Tesla
M Měřič RCLG - 1711 -
BBM 591

- - - - - -
- - - - - -