1 2
(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】 ６．６ｋＶ配電線（非接地系統）の母線
に設けた接地変圧器（ＧＰＴ）に接続され母線・各配電
線全体の地絡事故を検出する地絡過電圧継電器（ＯＶＧ
Ｒ）と、前記ＧＰＴ及び配電線（フィーダ）毎に設けた
零相変流器（ＺＣＴ）に接続されフィーダ毎の地絡事故
を各別に検出する地絡方向継電器（ＤＧＲ）とを用い、
母線・各配電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる対地アド
ミタンスを有し、かつ、各線間電圧が平衡している配電
系統（配電バンク）に対して、前記対地アドミタンスの
不平衡等に起因する残留零相電流及び残留零相電圧では
動作せず、一定の抵抗値以下又はコンダクタンス値以上
の１相地絡では動作するように、前記ＯＶＧＲ及びＤＧ
Ｒの整定（感度調整）と最小動作試験をおこなう配電線
地絡保護リレー試験方法において、
各フィーダに設けたＺＣＴの一次電流値（零相一次電流
値）を地絡していないときの残留分及び１回の母線の１
相地絡時について測定に基づき算出し、バンク全体の対
地零相アドミタンスと対地逆相アドミタンスをＧＰＴで
の測定に基づき算出し、これらの値を既知として各フィ
ーダの対地零相アドミタンスと対地逆相アドミタンスを
算出し、さらにａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又
はコンダクタンスで地絡したときの各フィーダの零相一
次電流値を算出し、かつ、対地静電容量不平衡を評価す
10 るようにした配電線地絡保護リレー試験方法であって、
少なくとも以下（１）∼（５）の処理手順又は試験手順
を包含することを特徴とする配電線地絡保護リレー試験
方法。
（１）ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に数通りの付加電
流を出力する。

3 4
（２）前記付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の
二次電流を測定する。
（３）付加電流に係る数通りの出力条件から、各別にＺ
ＣＴの一次電流と変流比を変数とする連立方程式を立
て、その解としてＺＣＴの一次電流値であるそれぞれ残
留零相一次電流値及び１回の母線の１相地絡操作に対す
る零相一次電流値を求める。
（４）ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、
残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相電圧を測定し、これら線間電圧、残留零相電圧、及
び１回の母線の１相地絡操作に対する零相電圧、並びに
地絡時の抵抗又はコンダクタンスの関係から導出される
計算式に基づき、バンク全体の対地零相アドミタンス及
び対地逆相アドミタンスを求める。
（５）上記手順（３）において求めた残留零相一次電流
値及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電流
値と、上記手順（４）において求めたバンク全体の対地
零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスとの関係か
ら導出される計算式に基づき、各フィーダの対地零相ア
ドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求め、さらに
ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタン
スで地絡したときの各フィーダの零相一次電流値を求め
る。
【請求項２】 付加電流の出力条件が、合成電流の大き
さがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるように設
定され、大きさが同じで位相が異なる３通りの電流であ
る請求項１記載の配電線地絡保護リレー試験方法。
【請求項３】 付加電流の出力条件が、合成電流の大き
さがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるように設
定され、位相が同じで大きさが異なる３通りの電流であ
る請求項１記載の配電線地絡保護リレー試験方法。
【請求項４】 付加電流の出力条件が、合成電流の大き
さがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるように設
定され、異なる２通りの電流である請求項１記載の配電
線地絡保護リレー試験方法。
【請求項５】 請求項１乃至４のいずれか１項記載の配
電線地絡保護リレー試験方法を、コンピュータ支援によ
り総合的にリレー試験手順を実行可能とした配電線地絡
保護リレー試験装置であって、
母線・各配電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる対地アド
ミタンスを有し、かつ、各線間電圧が平衡している配電
系統（配電バンク）に対して、
ＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯＶＧＲに端子接続した入
出力回路と、該入出力回路に接続した計測・出力装置
と、該計測・出力装置に接続したコンピュータ及びプリ
ンタを配備して、母線の１相地絡操作を含み、前記コン
ピュータからの指示操作により計測・出力装置及び入出
力回路を介してＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯＶＧＲに
対する入出力をおこない、かつ、これらの装置出力をデ
ータ取得して演算処理及び表示・出力処理をおこなうよ
(2) 特許第３３１２１７２号
うに装置系を構成するとともに、
前記装置系が、
ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に数通りの付加電流を出
力し、該付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の二
次電流を測定するための第一の測定手段、及び前記付加
電流に係る数通りの出力条件から、各別にＺＣＴの一次
電流と変流比を変数とする連立方程式を立て、その解と
してＺＣＴの一次電流値であるそれぞれ残留零相一次電
流値及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電
10 流値を求めるための第一の演算処理手段と、
ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、残留零
相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相電
圧を測定するための第二の測定手段、及びこれら線間電
圧、残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対
する零相電圧、並びに地絡時の抵抗又はコンダクタンス
の関係から導出される計算式に基づき、バンク全体の対
地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求める
ための第二の演算処理手段と、
各ＺＣＴにおける残留零相一次電流及び１回の母線の１
20 相地絡操作に対する零相一次電流を測定するか、又は前
記第一の演算処理手段の結果を参照取得するための第三
の測定手段、及び該第三の測定手段により得られた残留
零相一次電流値及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相一次電流値と、前記第二の演算処理手段の結果であ
るバンク全体の対地零相アドミタンス及び対地逆相アド
ミタンスとの関係から導出される計算式に基づき、各フ
ィーダの対地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタン
スを求め、さらにａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗
又はコンダクタンスで地絡したときの各フィーダの零相
30 一次電流値を求めるための第三の演算処理手段を具備し
てなり、
装置系から、ＯＶＧＲに対し前記第二の演算処理手段に
より得られたバンク全体の対地零相アドミタンス及び対
地逆相アドミタンスから算出されるａ，ｂ，ｃいずれか
１相が任意の抵抗又はコンダクタンスで地絡したときの
零相電圧値を入力し、ＤＧＲに対し該零相電圧値を入力
し、かつ、ＺＣＴを介して前記第三の演算処理手段によ
り算出されるａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又は
コンダクタンスで地絡したときの当該フィーダの零相一
40 次電流値を入力して、それぞれ動作信号の有無を取得す
ることにより、少なくともＯＶＧＲ及びＤＧＲの整定と
最小動作試験をおこなうようにしたことを特徴とする配
電線地絡保護リレー試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、６．６ｋＶ配電線
（非接地系統母線）に対して、接地変圧器（ＧＰＴ）、
零相変流器（ＺＣＴ）、地絡方向継電器（ＤＧＲ）、及
び地絡過電圧継電器（ＯＶＧＲ）とを用いてする配電線
50 地絡保護リレー試験方法及び装置に係り、詳しくは、母
 (3)
5 6
線・各配電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる対地アドミ
タンスを有し、かつ、各線間電圧が平衡している配電系
統（配電バンク）に対して、残留分と１回の母線の１相
地絡時の各配電線〔以下、フィーダ。〕に設けたＺＣＴ
の一次電流（被測定電流）の値を高精度に算出し、か
つ、各フィーダの対地零相アドミタンスと対地逆相アド
ミタンスを高精度に算出することにより、任意抵抗地絡
時の各フィーダの零相一次電流及び対地静電容量不平衡
を算出又は評価可能とする配電線地絡保護リレー試験方
法、及び該試験方法（試験手順）をコンピュータ支援に 10
より実行可能とする配電線地絡保護リレー試験装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、６．６ｋＶ配電線（非接地系
統母線）の地絡保護リレー試験では、活線作業である母
線の人工地絡操作を数十回試行することにより、地絡保
護リレーの構成機器であるＯＶＧＲ（バンク一括）、Ｄ
ＧＲ（フィーダ毎）の整定や動作・不動作試験をおこな
っている。
【０００３】図８に示すように、従来試験ではそれぞれ 20
の機器の操作や測定に作業員が必要であり、通常６名を
要している。実施する試験項目は、①残留測定（零相電
圧・零相電流測定）、②母線地絡特性、③線路位相特
性、④最小動作試験である。これらの目的と方法は以下
のとおりである。
【０００４】①残留測定（零相電圧・零相電流測定）
〔目的〕地絡保護リレーの誤動作がないようにリレーを
整定するため。
〔方法〕ＧＰＴ３次側に常時発生している零相電圧と、
ＺＣＴ２次側に常時発生しているフィーダ毎の零相電流 30
を測定する。
【０００５】②母線地絡特性
〔目的〕バンクの地絡特性の把握と、ＯＶＧＲ，ＤＧＲ
の零相電圧の整定値を定めるため。
〔方法〕各相について３∼16ｋΩの範囲で人工地絡し、
地絡抵抗に対する零相電圧、地絡電流を測定・記録す
る。また、零相電圧、地絡電流からバンク全体の充電電
流を求める。
【０００６】③線路位相特性
〔目的〕ＤＧＲを内部地絡（自フィーダの地絡時）では 40
確実に動作し、外部地絡（自フィーダ以外の地絡時）で
誤動作しないように整定するため。
〔方法〕地絡抵抗６ｋΩで人工地絡させ、内部地絡時と
外部地絡時の零相電圧、零相電流及び零相電圧基準の零
相電流の位相（差）を測定する。
【０００７】③最小動作試験
〔目的〕ＯＶＧＲ，ＤＧＲの整定後、これらが目標の検
出感度になっていることを調べる。
〔方法〕人工地絡により、それぞれのリレーが動作する
最大地絡抵抗値（零相電圧、零相電流における最小動作 50
特許第３３１２１７２号
値）と、動作しない最小地絡抵抗値を２５０Ω刻みで調
べる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来試験の手法では、安全に対する十分な配慮が必要であ
ると同時に、多大な労力と時間を要してきた。このた
め、より安全で、効率的な試験手法が望まれる。
【０００９】こうしたなかで本発明者は、研究過程で以
下の知見を有するにいたり、新たな試験方法及び装置の
開発を進めてきた。
【００１０】①地絡抵抗値に対する零相電圧、及びフィ
ーダの零相一次電流（値）を高精度に算出できれば、そ
の結果をＧＰＴ三次側、ＺＣＴ一次側に出力して試験が
おこなえること。
【００１１】②また、残留分と人工地絡時のフィーダの
零相一次電流（値）を知得できれば、フィーダの対地零
相アドミタンスと対地逆相アドミタンスを高精度に算出
できること。
【００１２】③さらに、これらの値を用いれば、任意抵
抗地絡時の各フィーダの零相一次電流（地絡電流）及び
対地静電容量不平衡を算出又は評価できること。
【００１３】④上記プロセスは、コンピュータ（パソコ
ン）の機能を利用して、計算、測定、制御がおこなえる
こと。したがって、より安全で、かつ、効率的なリレー
試験がおこなえること。
【００１４】本発明はこのような事情に鑑みなされたも
のであって、上記課題を解消し、コンピュータ支援によ
り総合的にリレー試験手順を実行可能な配電線地絡保護
リレー試験方法及び装置を提供するものである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】課題を解決するために本
発明は、６．６ｋＶ配電線（非接地系統）の母線に設け
た接地変圧器（ＧＰＴ）に接続され母線・各配電線全体
の地絡事故を検出する地絡過電圧継電器（ＯＶＧＲ）
と、前記ＧＰＴ及び配電線（フィーダ）毎に設けた零相
変流器（ＺＣＴ）に接続されフィーダ毎の地絡事故を各
別に検出する地絡方向継電器（ＤＧＲ）とを用い、母線
・各配電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる対地アドミタ
ンスを有し、かつ、各線間電圧が平衡している配電系統
（配電バンク）に対して、前記対地アドミタンスの不平
衡等に起因する残留零相電流及び残留零相電圧では動作
せず、一定の抵抗値以下又はコンダクタンス値以上の１
相地絡では動作するように、前記ＯＶＧＲ及びＤＧＲの
整定（感度調整）と最小動作試験をおこなう配電線地絡
保護リレー試験方法において、各フィーダに設けたＺＣ
Ｔの一次電流値（零相一次電流値）を地絡していないと
きの残留分及び１回の母線の１相地絡時について測定に
基づき算出し、バンク全体の対地零相アドミタンスと対
地逆相アドミタンスをＧＰＴでの測定に基づき算出し、
これらの値を既知として各フィーダの対地零相アドミタ
 (4)
7 8
ンスと対地逆相アドミタンスを算出し、さらにａ，ｂ，
ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタンスで地絡
したときの各フィーダの零相一次電流値を算出し、か
つ、対地静電容量不平衡を評価するようにした配電線地
絡保護リレー試験方法であって、少なくとも以下（１）
∼（５）の処理手順又は試験手順を包含することを特徴
とするものである。
（１）ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に数通りの付加電
流を出力する。
（２）前記付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の 10
二次電流を測定する。
（３）付加電流に係る数通りの出力条件から、各別にＺ
ＣＴの一次電流と変流比を変数とする連立方程式を立
て、その解としてＺＣＴの一次電流値であるそれぞれ残
留零相一次電流値及び１回の母線の１相地絡操作に対す
る零相一次電流値を求める。
（４）ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、
残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相電圧を測定し、これら線間電圧、残留零相電圧、及
び１回の母線の１相地絡操作に対する零相電圧、並びに 20
地絡時の抵抗又はコンダクタンスの関係から導出される
計算式に基づき、バンク全体の対地零相アドミタンス及
び対地逆相アドミタンスを求める。
（５）上記手順（３）において求めた残留零相一次電流
値及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電流
値と、上記手順（４）において求めたバンク全体の対地
零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスとの関係か
ら導出される計算式に基づき、各フィーダの対地零相ア
ドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求め、さらに
ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタン 30
スで地絡したときの各フィーダの零相一次電流値を求め
る。
【００１６】また、上記試験方法（手順）をコンピュー
タ支援により総合的に実行可能とした配電線地絡保護リ
レー試験装置であって、母線・各配電線の各相（ａ，
ｂ，ｃ）で異なる対地アドミタンスを有し、かつ、各線
間電圧が平衡している配電系統（配電バンク）に対し
て、ＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯＶＧＲに端子接続し
た入出力回路と、該入出力回路に接続した計測・出力装
置と、該計測・出力装置に接続したコンピュータ及びプ 40
リンタを配備して、母線の１相地絡操作を含み、前記コ
ンピュータからの指示操作により計測・出力装置及び入
出力回路を介してＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯＶＧＲ
に対する入出力をおこない、かつ、これらの装置出力を
データ取得して演算処理及び表示・出力処理をおこなう
ように装置系を構成するとともに、前記装置系が、ＺＣ
Ｔの一次側の試験用貫通線に数通りの付加電流を出力
し、該付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の二次
電流を測定するための第一の測定手段、及び前記付加電
流に係る数通りの出力条件から、各別にＺＣＴの一次電 50
特許第３３１２１７２号
流と変流比を変数とする連立方程式を立て、その解とし
てＺＣＴの一次電流値であるそれぞれ残留零相一次電流
値及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電流
値を求めるための第一の演算処理手段と、ＧＰＴにおい
て、いずれか一組の相の線間電圧、残留零相電圧、及び
１回の母線の１相地絡操作に対する零相電圧を測定する
ための第二の測定手段、及びこれら線間電圧、残留零相
電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相電
圧、並びに地絡時の抵抗又はコンダクタンスの関係から
導出される計算式に基づき、バンク全体の対地零相アド
ミタンス及び対地逆相アドミタンスを求めるための第二
の演算処理手段と、各ＺＣＴにおける残留零相一次電流
及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電流を
測定するか、又は前記第一の演算処理手段の結果を参照
取得するための第三の測定手段、及び該第三の測定手段
により得られた残留零相一次電流値及び１回の母線の１
相地絡操作に対する零相一次電流値と、前記第二の演算
処理手段の結果であるバンク全体の対地零相アドミタン
ス及び対地逆相アドミタンスとの関係から導出される計
算式に基づき、各フィーダの対地零相アドミタンス及び
対地逆相アドミタンスを求め、さらにａ，ｂ，ｃいずれ
か１相が任意の抵抗又はコンダクタンスで地絡したとき
の各フィーダの零相一次電流値を求めるための第三の演
算処理手段を具備してなり、装置系から、ＯＶＧＲに対
し前記第二の演算処理手段により得られたバンク全体の
対地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスから算
出されるａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコン
ダクタンスで地絡したときの零相電圧値を入力し、ＤＧ
Ｒに対し該零相電圧値を入力し、かつ、ＺＣＴを介して
前記第三の演算処理手段により算出されるたａ，ｂ，ｃ
いずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタンスで地絡し
たときの当該フィーダの零相一次電流値を入力して、そ
れぞれ動作信号の有無を取得することにより、少なくと
もＯＶＧＲ及びＤＧＲの整定と最小動作試験をおこなう
ようにしたことを特徴とするものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を添付図面を
参照しながら以下説明する。なお、この欄で参照する添
付図面は実施例においても参照される。
【００１８】上記発明方法の処理（試験）手順（１）∼
（３）〔及び上記発明装置の第一の測定手段及び演算処
理手段〕において、付加電流の出力条件は、合成電流の
大きさがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるよう
に設定され、大きさが同じで位相が異なる３通りの電流
を採用するものである。
【００１９】この場合の手法〔以下、手法Ｉ〕を以下に
述べる。あわせて、手法Ｉの測定回路の構成例を図１に
示す。図示するように、ＺＣＴ一次側の試験用貫通線に
付加電流を出力して、該付加電流とＺＣＴ一次電流（被
測定電流；未知）との合成電流の二次電流を測定し、出
 (5) 特許第３３１２１７２号
9 10

力条件ごとにＺＣＴの一次電流値と変流比を変数とする に計算式を示す。
連立方程式を立てて演算処理し、その解によりそれぞれ 【００２０】
の値を求める。（手法II及びIII において同じ。）以下 【数１】

【００２１】以上の計算式により、I0 ，φ，ｎが求まる 〔及び同装置の第一の測定手段及び演算処理手段〕にお

が、（１−５）式から、計算結果の精度を考慮すると、
Ｑ<<−１，すなわちI0 >>I0A 又はI0 <<I0A となるように
I0A を与えなければならない。このとき、I0 のおよその
値としては、ＺＣＴ二次値に、ＺＣＴ電流のしきい値以
上のときの変流比の概ねの値を乗じた値を用いればよ 30
い。なお、ＺＣＴ電流のしきい値の概ねの値と、しきい
値以上のときのＺＣＴ変流比の概ねの値を予め測定等に
より求めておく必要がある。
【００２２】また、同処理（試験）手順（１）∼（３）
いて、付加電流の出力条件は、合成電流の大きさがＺＣ
Ｔ電流のしきい値（既知）以上となるように設定され、
位相が同じで大きさが異なる３通りの電流を採用する場
合がある。
【００２３】この場合の手法〔以下、手法II〕を以下に
述べる。手法IIの測定回路の構成例を図２に示すととも
に、以下に計算式を示す。
【００２４】
【数２】

40

50
 (6) 特許第３３１２１７２号
11 12

20

【００２５】また、同処理（試験）手順（１）∼（３） 【００２６】この場合の手法〔以下、手法III 〕を以下

〔及び同装置の第一の測定手段及び演算処理手段〕にお に述べる。手法III の測定回路の構成例を図３に示すと
いて、付加電流の出力条件は、合成電流の大きさがＺＣ ともに、以下に計算式を示す。
Ｔ電流のしきい値（既知）以上となるように設定され、 【００２７】
異なる２通りの電流を採用する場合がある。 【数３】

【００２８】また、上記発明方法の処理（試験）手順
（４）〔上記発明装置の第二の測定手段及び演算処理手
段〕において、バンク全体の対地零相アドミタンス及び
対地逆相アドミタンスを求めるための導出過程（以下の
数４）を述べる。 40
【００２９】さらに、同処理（試験）手順（５）〔上記
発明装置の第三の測定手段及び演算処理手段〕におい
て、各フィーダの対地零相アドミタンス及び対地逆相ア
ドミタンスを求めるとともに、任意抵抗地絡時のフィー
ダの零相一次電流を求めるための導出過程（以下の数５
及び数６）を述べる。
【００３０】ここで、対象とする三相不平衡な対地アド
ミタンスをもつ配電バンクを図４に示す。また、以下の
導出過程（数式）で使用する添字ｋに関し、ｋ＝０は母
線、ｋ＝１，２，・・・ｎはフィーダの号数である。な
お、線間電圧は平衡しているものとする。
【００３１】
【数４】

50
 (7) 特許第３３１２１７２号
13 14

30

【００３２】 【数５】

【００３３】上記（21）、（22）、（24）、（25）、 にＧＰＴの変圧比を考慮した式を用いる。また、（27）
（27）∼（30）式での電圧は、ＧＰＴ一次電圧で表して ∼（30）式での零相電流はＺＣＴ一次電流で表してい
いる。ただし、線間電圧はＧＰＴ二次端子、零相電圧は る。
ＧＰＴ三次端子で測定されるので、実際にはこれらの式 50 【００３４】ここで、（24）、（25）式よりａ，ｂ相線

15
間電圧、残留零相電圧、１回の地絡に対する零相電圧を
測定すれば、バンク全体の対地零相アドミタンスと対地
逆相アドミタンスが求まることがわかる。さらに、（2
9）、（30）式よりフィーダの残留零相電流、１回の母
線地絡に対する零相電流を測定すれば（この２つは上述
の手法Ｉにより測定できる）、そのフィーダの対地零相
アドミタンスと対地逆相アドミタンスが求まることがわ
かる。
【００３７】上記（31）∼（36）式での電圧は、ＧＰＴ
一次電圧で表している。ただし、線間電圧はＧＰＴ二次
端子、零相電圧はＧＰＴ三次端子で測定されるので、実
際にはこれらの式にＧＰＴの変圧比を考慮した式を用い
る。また、零相電流はＺＣＴ一次電流で表している。な
お、これらの式で求めた値をＺＣＴ一次電流として出力
するときは、残留零相一次電流分を差し引いておく必要
がある。
【００３８】ここでは、式の導出のために、ａ相を人工
地絡した場合の零相電圧・零相電流測定を用いたが、地
絡相はｂ相あるいはｃ相でも同様に式を導くことができ
る。また、＜Ｖab ＞を電圧の基準として用いたが、上述
の（23）式により＜Ｖbc ＞，＜Ｖca ＞を用いることもで
きる。
【００３９】
【実施例】本発明の一実施例を添付図面を参照して以下
の順序で説明する。なお、以下の説明文中、＜＞はベク
トル量である。
【００４０】１．装置構成
２．零相一次電流測定
２−１．測定手法
２−２．有効性の検証
３．模擬配電バンクでの試験（説明一部省略）
４．実配電バンクでの試験（説明一部省略）
５．まとめ
【００４１】１．装置構成
図５に回路構成として示すように、本試験装置（Ｘ）へ
の入力信号は、ＧＰＴ二次側線間電圧＜Ｖab ＞、ＧＰＴ
三次側電圧＜Ｖ0 ＞、各フィーダのＺＣＴ二次側＜Ｉ0
＞でリレー盤の試験端子から入力される。また、リレー
(8) 特許第３３１２１７２号
16
【００３５】さらに、任意抵抗地絡時（ａ，ｂ，ｃ相が
任意のコンダクタンス＜Ｇ＞で地絡したとき）のフィー
ダの零相一次電流<Ik0aout >,<Ik0bout >,<Ik0cout > （外
部地絡）; <Ik0ain >,<Ik0bin >,<Ik0cin > （内部地
絡）は以下により求まる。
【００３６】
【数６】
20
動作信号も直接取り込む。出力は各地絡抵抗値に対して
計算された＜Ｖ0 ＞、一次側＜Ｉ0 ＞で、＜Ｖ0 ＞はリ
レー盤試験端子を経由してＯＶＧＲ及びＤＧＲに入力
し、一次側＜Ｉ0 ＞は各フィーダのＺＣＴに貫通させ
る。なお、ＧＰＴ二次側線間電圧＜Ｖab ＞は位相基準と
する。
【００４２】また、本発明の構成手段に係る実施例ブロ
ック図を図６に示す。図中、１がＧＰＴ、２がＺＣＴ、
３がＤＧＲ、４がＯＶＧＲ、５が入出力回路、６が計測
30 ・出力装置、11が第一の測定手段、12が第二の測定手
段、13が第三の測定手段、21が第一の演算処理手段、22
が第二の演算処理手段、23が第三の演算処理手段、PCが
コンピュータ（パソコン）、LPがプリンタ、及びＸが本
試験装置である。
【００４３】２．零相一次電流測定
２−１．測定手法
ＺＣＴの変流比は零相電流がある値〔しきい値〕以上に
なるとほぼ一定値となる。〔ＺＣＴ二次電流vs. 変流比
のデータプロットは図示を省略する。〕この特性を用
40 い、ＺＣＴ一次側の試験用貫通線に、フィーダの零相一
次電流との合成値の大きさがしきい値以上となるような
電流を２，３通り出力すれば、ＺＣＴ一次・二次電流に
関する連立方程式が得られる。〔上記の手法Ｉ∼III に
おいて既述。〕
【００４４】２−２．有効性の検証
上記２−１の測定手法の有効性を検証するために、模擬
配電バンクのＺＣＴを用いて試験を行った。試験回路を
図７に示す。
【００４５】ここで、フィーダは停電しておき、商用１
50 ００Ｖ電源、抵抗器、スライダックを用いてＺＣＴ一次
 (9) 特許第３３１２１７２号
17 18

回路に＜I0 ＞模擬電流を流した（出力）。I0 の値は50∼ I0 値に対して４回おこなった。なお、試験に使用したリ

1995ｍＡとした。通常、零相一次電流は多少変動してお
り、その変動を模擬するため、各回の試験の初めにスラ
イダックによりI0 の値を決めた後は、その調整をおこな
わなかった。
【００４６】また、リレー試験器を用いて付加電流＜I
0Am ＞＝I0A exp(ｊθm )[m=1,2,3]を流した。電流の大
きさI0A はI0 の値により適当に決め、位相θm は＜I0 ＞
の位相φを基準として位相計で測定し、３通りの付加電
流の位相差が互いに120 °となるように調整した。ＺＣ
Ｔの二次電流は、通常のリレー回路の中に電流計（内部
抵抗 1.2Ω固定）を挿入して測定した。試験は、各々の
レー試験器、位相計、ＺＣＴ二次電流測定用電流計は、
本発明装置の構成要素と同様のものである。
【００４７】試験結果を表１に示す。I0 入力値はスライ
ダックで調整した初期値であり、多少変動している。
I0 ，φ測定（算出）値は、４回の試験の変動範囲を示し
ている。I0 入力値と測定値の差はI0 で約１％以下、φで
２°以下であり、付加電流＜I0 Am ＞を適当に選べば、非
常に高い精度で零相一次電流値が求まることがわかっ
10 た。
【００４８】
【表１】

20

【００４９】このあと、３．模擬配電バンクでの試験、 【図１】本発明における手法Ｉの測定回路の構成例を示
及び４．実配電バンクでの試験を実行した。試験項目は す説明図である。
零相電圧・零相電流測定、対地アドミタンス計算、母線 【図２】同じく手法IIの測定回路の構成例を示す説明図
地絡特性計算、線路位相特性試験、及びリレー最小動作 である。
試験である。それぞれの試験方法（機器操作）及び試験 【図３】同じく手法III の測定回路の構成例を示す説明
結果については説明を省略する。 図である。
【００５０】５．まとめ 【図４】本発明が対象とする三相不平衡な対地アドミタ
①任意抵抗地絡時の零相一次電流をバンク全体・各フィ ンスをもつ配電バンクを示す説明図である。
ーダの対地アドミタンスから精度よく求めることができ 【図５】装置構成を説明する回路構成概要図である。
た。 30 【図６】装置構成を説明する実施例ブロック図である。
【００５１】②残留分及び３ｋΩ母線地絡時の零相一次 【図７】零相一次電流測定に係る試験回路の構成例を示
電流を、ＺＣＴ二次電流測定値から精度よく求めること す説明図である。
ができた。 【図８】従来の試験例を示す説明図である。
【００５２】③しきい値以上の零相電流に対するＺＣＴ 【符号の説明】
の変流比を表示し、零相二次電流測定回路の良否を判断 １ ＧＰＴ
することができた。 ２ ＺＣＴ
【００５３】これにより、線路位相特性試験、及びリレ ３ ＤＧＲ
ー（ＤＧＲ）最小動作試験でＺＣＴ一次回路への電流出 ４ ＯＶＧＲ
力が精度よくできるようになり、効率的なリレー試験が ５ 入出力回路
可能となった。 40 ６ 計測・出力装置
【００５４】 11 第一測定手段
【発明の効果】本発明は以上の構成よりなるものであ 12 第二測定手段
り、これによればコンピュータ支援により総合的にリレ 13 第三測定手段
ー試験手順を実行可能なので、より安全で、かつ、効率 21 第一演算処理手段
的なリレー試験をおこなうことができる。しかも、少人 22 第二演算処理手段
数（３名）で短時間（15分前後）に試験を遂行でき、リ 23 第三演算処理手段
レーをロックする時間の短縮が図れるので、運用上有益 PC コンピュータ（パソコン）
である。 LP プリンタ
【図面の簡単な説明】 Ｘ 配電線地絡保護リレー試験装置（本試験装置）
 (10) 特許第３３１２１７２号

【図１】 【図２】 【図３】

【図４】
【図５】

【図６】 【図７】
 (11) 特許第３３１２１７２号

【図８】

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(58)調査した分野(Int.Cl.7 ，ＤＢ名)
G01R 31/00
H02H 3/00 - 3/52