Elektronmikroszkópia

A fénymikroszkópok feloldóképességénél és nagyításánál, mint láttuk, maga a fény

hullámhossza a fő korlátozó tényező.A felgyorsított elektronokkal, nagyságrendekkel
rövidebb hullámhossz és ezáltal, sokkal jobb feloldóképesség és nagyítás érhető el. A mai
elektronmikroszkópok atomi szintű (<1Å azaz 0,1nm) feloldóképességgel rendelkeznek, bár
ez a biológiai minták vizsgálatakor a gyakorlatban nem érhető el.

A fénymikroszkópi kép esetében az információkat a fényhullám hordozza: az

elektronmikroszkópok esetében (típusuktól függetlenül) egy adott, a nagyfeszültség által
meghatározott hullámhosszal vizsgálunk, azaz egyszínű képet kapunk. Míg a szem a
frekvenciát (a színt) és az intenzitást (az amplitúdó négyzetét) képes észlelni a szcintillációs
képernyőn csak az intenzitás különbségek segítségével vizsgálunk.

A kép ereje abban van, hogy elemeit egyidejűleg látjuk. A képek minőségét különböző
fogalmakkal jellemezzük. A képen egy részletet (foltot) akkor észlelünk, ha az a
környezetétől világosság (vagy szín) tekintetében eltér. Ezt az elkülönülést kontrasztosságnak
nevezzük. A hirtelen átmeneteket nevezzük a kép élességének. A részletek szélei a kontúrok.
A kép kielégítő élességét a kontúr élességből állapítjuk meg. A közeli és távoli tárgyrészletek
élessége a mélységélesség. Fontos szerepe van a plasztikusságnak, amit árnyékhatással
növelhetünk. Mindezen minden mikroszkópi eljárásnál érvényes kifejezéseknek a pásztázó
elektronmikroszkóp esetében különleges tartalma van. Az alábbiakban néhány fogalmat a
pásztázó elektronmikroszkóp szempontjából értelmezünk:

Felbontóképesség: Érzékszervünk a szem teljesítménye korlátozott. Egy tárgy két szomszédos

részletét, ha a belőlük jövő fénysugarak 1 szögpercnél kisebb szöget zárnak be, nem tudjuk
feloldani. A pásztázó elektronmikroszkóp esetében a felbontóképesség az elektronnyaláb
méretének a függvénye. A nyalábátmérő, csökkentése azonban az nyalábáram csökkenésével
jár együtt. Ez pedig egy kritikus határon túl egy zajos képet eredményez. A különböző
pásztázó elektronmikroszkópos eljárásoknak különböző az áramigénye.

Az elektronforrások fényessége: a katódok minőségének javításával növelhető. a katódok

minőségének javítása azonban megköveteli a vákuum javítását is.

A szférikus aberrációs koefficiens. (Az elektromágneses lencséknél is megtalálhatók a lencse

hibák: a szférikus aberráció, a kromatikus aberráció és a diffrakciós hiba.)

Mélységélesség: a mélységélesség annál nagyobb mennél kisebb a nagyítás. A kép nagyítását

a katódsugárcső képernyőjének szélessége és a mikroszkópban pásztázott terület
szélességének hányadosa adja meg. Adott nagyításon a nyaláb széttartását az objektívblende
sugara és a munkatávolság határozza meg.

Kontraszt: Két képpont közötti kontrasztot a két képpontból érkező jel intenzitása határozza meg.

Az elektronmikroszkóp felbontóképessége
A mikroszkópok felbontóképessége az Abbe törvény szerint döntően függ az alkalmazott fény
hullámhosszától. A látható fény hullámhossza (400
(400-800
800 nm) határt szab a felbontóképesség
javításának. Ha azonban másfajta sugárzással tudunk képet alkotni, amelynek hullámhossza
lényegesen kisebb a látható
ható fényénél, a felbontás és így a mikroszkóp nagyítása növelhető.
Ezt a sugarat találták meg az elektronsugárban, amely nemcsak elektronokból álló sugárként,
hanem hullámként is viselkedik. A sugár hullámhossza (az általában alkalmazott gyorsító
feszültség
ég mellett) körülbelül öt nagyságrenddel kisebb, mint a látható fényé, és a sugár
elektromágneses „lencsékkel” fókuszolható. Ezekből a lencsékből a harmincas évek elején a
fénymikroszkóp mintájára sikerült olyan optikai rendszert összeállítani, amellyel a
fénymikroszkópét messze meghaladó felbontást értek el. Míg a fénymikroszkóp
felbontóképességének határa 0,2 μm, a modern elektronmikroszkópoké
ópoké 0,1 és 0,2 nm között
van, tehát több mint ezerszer nagyobb.

Egy alap felszerelésű transzmissziós elektronmikroszk

elektronmikroszkópóp optikájának sémája. A
vákuumrendszer és a magasfeszültségű tápegység sincs feltüntetve.

A fénymikroszkóp a transzmissziós és a pásztázó mikroszkóp felépítése (anygatudomány-

virt.uni-pannon.hu)

Alapvetően két fő elektronmikroszkópos technikát, és ennek megfelelő készüléket kell

elkülönítenünk:

- a transzmissziós elektr
elektronmikroszkópot
onmikroszkópot (TEM) és a scanning elektronmikroszkópot
(SEM).
- A transzmissziós elektronmikroszkóp a minta átvilágításával, a fénymikroszkópokhoz
hasonló módon működik, de fény helyett gyorsított elektronokat, az optikai lencsék
 helyett pedig elektromágneses lencséket használ. A képet az elektronok
becsapódásának hatására fluoreszkáló ernyőn látjuk. A TEM-ben csak nagyon vékony
(kb. 50–100 nm) mintákat vizsgálhatunk, mivel az elektronok áthatolóképessége igen
gyenge. A képet leegyszerűsítve egy árnyképnek kell elképzelni, vagyis ahol a
mintában az elektronokat eltérítő nagy rendszámú elemek vannak, onnan kevés
elektron jut el az ernyőig és sötét lesz a kép, ahol pedig könnyű elemek vannak,
melyek nem tudják olyan mértékben eltéríteni az elektronokat az eredeti irányuktól ott
világos lesz a kép. Ezért festjük (kontrasztozzuk) az elektronmikroszkópos mintákat
nehézfémekkel.

A működés

Mivel az elektronok terjedéséhez légüres térre van szükség, az elektronmikroszkóp belsejében

nagy vákuumot kell létesíteni. Az elektronforrást V-alakban hajlított volfrám izzószál vagy
lantánhexaborid kristály képezi, amelyből felfűtve elektronok lépnek ki. Ezekből úgy
keletkezik sugár, hogy egy volfrám izzószál vagy lantánhexaborid kristály katód és egy tőle
bizonyos távolságban elhelyezett anód között nagy, 80-120 kV ún. gyorsítófeszültséget
létesítünk, amely az elektronokat felgyorsítja és az anód felé irányítja. Ez az elektronágyú.Az
anód nyílásán áthaladva az elektronsugár először a kondenzorlencséken fókuszálódik a
preparátumra, ezen átjutva pedig az objektív és a projektív lencséken halad keresztül. Végül
az erősen felnagyított kép fluoreszkáló ernyőre vetődik, ahol az az emberi szem számára is
láthatóvá válik. A kép élesre állítását az elektromágneses lencséken átfolyó áram erősségének
a változtatásával lehet elérni. Az össznagyítás a fénymikroszkóphoz hasonlóan itt is az egyedi
lencsék nagyításainak a szorzata. A leggyakrabban használt nagyítási tartomány a néhány
ezerszerestől a körülbelül 100;000-szeresig terjed. A kép az ernyő felemelésével egy alatta
elhelyezett fotolemezre is ráfényképezhető.

Elektronszóródás

Amint az elektronsugár a vizsgálandó preparátumba behatol, a kettő között bonyolult

kölcsönhatások lépnek fel. Ezek közül most csak az elektronok rugalmas és rugalmatlan
szóródásáról lesz szó.Ha az elektron egy atomot eltalál, az egyik lehetőség az, hogy
energiaveszteség nélkül, rugalmasan elpattanva megváltoztatja irányát (rugalmasan szórt
elektron). Más elektron az atommal ütközve azonban lefékeződhet, energiát veszít, és bár
irányát esetleg nem változtatja meg jelentősen, hullámhossza megváltozik (rugalmatlan
elektronszóródás).A rugalmatlanul szórt elektronok megváltozott hullámhosszuk (és így
különböző fókusztávolságuk) miatt zavarhatják a képalkotást (kromatikus hiba), ugyanakkor
az ütközés miatt vesztett energia különféle sugárzások formájában szabadul fel, amelyek
jellemzők az illető atomra és felhasználhatók a szöveten belül annak azonosítására.

A kép kialakulása

A preparátumon áthaladó elektronsugár egy része irányváltoztatás nélkül megy át, míg egyes
struktúrákon az elektronok szóródnak. A képalkotásban elsősorban a rugalmasan szórt
elektronokat használjuk fel, amelyeket egy szűk rekesz (objektív-diafragma) segítségével
kirekesztünk a képalkotásból. Az elektronszóró struktúrák tehát hiányoznak a
képalkotásból és így az elektronmikroszkópban árnyékot adnak. Kis rendszámú elemek az
elektronokat kevésbé szórják, ezért a szerves molekulák többsége alig ad árnyékot, ezzel
szemben a magasabb rendszámú elemek (ozmium, ólom, urán, volfrám, arany,ezüststb.) igen
erős árnyékot idéznek elő.Az elektronmikroszkópos preparátumot ilyen nehézfémek sóival
kezeljük, amelyek a minta egyes helyein lerakódva azoknak kontrasztot adnak, és így a
biológiai mintát alkalmassá teszik az elektronmikroszkópos vizsgálatra.

Nomenklatúra

Az elektronmikroszkópban árnyékot adó, tehát az elektronmikroszkópos képen sötétnek

látszó képleteket gyakran nevezik elektronsűrű vagy elektrondenz (electrondense)
struktúráknak. Ez a hibás, félreérthető és magyartalan elnevezés abból adódik, hogy az illető
struktúra az elektronok számára „sűrű”-nek fogható fel. A korrekt elnevezés a fentiek alapján:
elektronszóró, vagy egyszerűen csak sötét.

Az elektronmikroszkópos kép kontrasztja

A kép akkor ad erős kontrasztot, ha a képalkotásból elegendő számú rugalmasan ütközött

elektron rekesztődik ki. Ez nemcsak az atomok tömegétől függ, hanem a gyorsító
feszültségtől (magasabb feszültségnél nagyobb energiájú elektronok keletkeznek, melyek
kevésbé szóródnak) és az objektív-rekesz nyílásának az átmérőjétől (kisebb nyílás több szórt
elektront zár ki, ezzel nagyobb kontrasztot ad). A klasszikus elektronmikroszkópban (a
fénymikroszkóphoz hasonlóan) egy vékony preparátumon (ultravékony metszet vagy
felszínről készített replika) áthaladó elektronsugárból elektromágneses lencsékből álló
leképező rendszerrel nyerünk képet. Ezt az úgynevezett transzmissziós elektronmikroszkópot
megkülönböztetjük a pásztázó (scanning) elektronmikroszkóptól, amelyben a képalkotásra
egészen más elvet használnak fel.

Félvékony metszetek

Az ultramikrotómmal készített ún. félvékony/ félvastag (kb. 0.5-2.0 μm vastagságú)

metszeteket az anyag megfelelő területének kiválasztásához, vagy önálló, nagy nagyítású
fénymikroszkópos vizsgálatokhoz használják. Ehhez a metszetek - a beágyazó anyag (epoxy
típusú műgyanta) kioldása nélkül - toluidinkékkel vagy más bázikus festékeket, vagy
differenciáló festést alkalmazó módszerekkel megfesthetők

Elektronmikroszkópos mikrotechnika

Az elektronmikroszkópos mikrotechnika sok szempontból hasonló a fénymikroszkópos

mintaelőkészítéshez, és történelmileg abból is alakult ki. Mivel a nagy feloldóképesség a
legfinomabb mintakezelést igényli, szóba sem jöhetnek a koagulatív fixálószerek.
Elektronmikroszkópos vizsgálatokhoz a rutin fixálószer glutáraldehid a fehérjék
térhálósítására, és ozmium-tetroxida lipidek fixálására. Ez utóbbi további előnye, hogy
egyben kontrasztanyagként is működik, az ozmium erős elektronszóró képessége miatt. A
fixálandó anyagnak igen kisméretűnek kell lennie (egyik irányban maximum 2 mm), mivel a
fixálószer penetrációja lassú, és ez vastagabb minta esetén rossz fixálást eredményezne. A
fixálást mosás, majd víztelenítés követi. Ezután a mintát műgyantával kell átitatni (főként
epoxy, speciális esetben metakrilát), kiöntő formába helyezni, és polimerizáltatni. A minta
metszését (epoxy gyanta esetén) ún. káddal ellátott üveg, vagy gyémánt késsel végezzük.
Ennek lényege, hogy a vágás során a metszet ráúszik a kádban levő víz felszínére, ahonnan
könnyen összegyűjthető az elektronmikroszkóp mintatartójául szolgáló apró rácsra
(mikrostély vagy grid).
Ultramikrotóm: ezzel az eszközzel készíthetünk metszeteket az elektronmikroszkópos
vizsgálatokhoz. (Digitális Tankönyvtár)

Üvegkés és gyémánt kés. (Digitális Tankönyvtár)

Ebbe a kádba kerül a metszet. (Digitális Tankönyvtár)

Ezek a gridek, erre kerülnek a metszetek és így rakjuk be őket az elektronmikroszkópba. Ezek
átmérője 3 mm.(Digitális Tankönyvtár)

Mivel a pásztázó elektronmikroszkópot igen széles körben alkalmazzák a preparációs

technikáknak is igen nagy a változatossága.

A mintakészítésnek három alapelve van:

1. A minta felülete mindig tiszta kell, legyen. A SEM a minta felületét vizsgálja ezért
akármilyen módon állítottuk elő a felületet: töréssel, polírozással vagy vágással,
gondoskodnunk kell a felület tisztaságáról. A polírozáshoz vagy vágáshoz célszerű a mintákat
beágyazni.
2. Mindig a minta eredeti állapotának megőrzésére kell, törekedjünk. Figyelembe kell
vennünk a vákuum okozta esetleges zsugorító, szárító hatását is. Ennek kivédésére szilárd
anyagok esetében is alkalmazhatunk gyorsfagyasztást.

3. El kell kerülnünk a minta elektrosztatikus feltöltődését. Mintánkat elektronsugárzás éri,

amelynek hatására az elektronok egy része abszorbeálódhat. Amennyiben a minta rossz
vezető, helyileg elektrosztatikus feltöltődés állhat elő. Ez a feltöltődés hibát okozhat a
megfigyelésben. Az elektromos feltöltődéssel szemben, továbbá a jó kontraszt hatások elérése
érdekében alkalmazzuk a minta vékony vezető réteggel (szén és/vagy fémréteggel) való
bevonását. Erre a célra a hagyományos vákuumpárologtató berendezések. Ezekről a
későbbiekben szó lesz. A feltöltődést gátolja a kisfeszültséggel vagy a szokásosnál kevésbé jó
vákuumfeltételek mellett végzett vizsgálat is.

Mintaelőkészítés

Csak a felszín jó megőrzése a feladat

A fixálószer kiválasztása sem mindig kritikus.

A víztelenítés után a SEM-es vizsgálatokhoz a mintát egy igen vékony vezetőképes réteggel
kell bevonni, egyébként a belőtt elektronok nem vezetődnének el, és a minta töltődése nagyon
lerontaná a képalkotás lehetőségét.

A mintát legtöbbször arannyal, szénnel, vagy palládiummal (esetleg ezek keverékével) vonjuk
be, úgy, hogy a fémet nagy vákuumban a mintára gőzölögtetjük.

A vákuum miatt a mintának teljesen száraznak kell lennie.

A minták kiszárítását általában a kritikus pont szárító berendezéssel végezzük. A folyamat

lényege, hogy minden anyagnak van egy olyan, ún. kritikus pontja a nyomás-hőmérséklet
diagramon, amely értékek felett a folyadék és gáz fázis nem különíthető el, vagyis a felületi
feszültség megszűnik. Ez lehetővé teszi a mintából az adott anyag elpárologtatását oly módon,
hogy közben a felületi feszültség okozta struktúraváltozások elkerülhetők. Mivel a széndioxid
kritikus pontja viszonylag könnyen elérhető (7,38 MPa = 73,8 bar és 31,1°C) a víztelenítő
anyagot folyékony széndioxidra cseréljük ki, és ezt párologtatjuk el a készülékben. Ezek után
a száraz minta már fémgőzölhető és SEM-ben vizsgálható.

Kriotechnika

Az elektronmikroszkópos mintaelőkészítés egy alternatív lehetősége a minta hirtelen

lefagyasztása és bizonyos lépések alacsony hőmérsékleten történő kivitelezése. A kriofixálás
során a mintát olyan gyorsan kell lehűteni, hogy a benne levő víz ne tudjon jégkristályokká
alakulni, hanem eredeti formájában szilárduljon meg, vitrifikálódjon. A jégkristályok ugyanis
nagyobb térfogatúak, mint a víz és a kristályképződés is struktúra-roncsoló hatású. Ehhez a
mintát 108 fok/s sebességgel kell hűteni, ami csak a felszíni kb. 5–10 µm vastagságú rétegben
valósítható meg normál körülmények között. A nagy nyomású kriofixáló berendezésekkel ez
a vastagság kb. egy nagyságrenddel növelhető. A kriofixálást általában folyékony nitrogén
hőmérsékletére (-196°C) lehűtött propánnal végzik, mivel ez hatékonyabban hűt, mint az
állandó forrásban levő, és ezért gőzbuborékokat képző folyékony nitrogén. A folyékony
nitrogén hőmérsékletén gyakorlatilag minden reakció leáll, ezért ideális fixálási módszer.

Pásztázó vagy scanning elektronmikroszkóp

A pásztázó elektronmikroszkóp olyan elektronoptikai eszköz, amely a vizsgált tárgy

felszínének meghatározott területét irányított vékony elektronnyalábbal pontos minta szerint
végigpásztázza, az elektronsugár és a tárgy kölcsönhatásából származó jeleket erre alkalmas
detektorokkal érzékeli, és ezeket megfelelően feldolgozva, az elektronsugár mozgásával
szinkronizálva képileg (esetleg más formátumban, például spektrum) kijelzi. Mivel az
elektronsugár és a tárgy kölcsönhatásaként számos, az anyag adott felületére jellemző típusú
jel keletkezik, lehetővé válik a minta különböző tulajdonságainak képszerű megjelenítése,
vagy a vizsgált anyag tulajdonságainak, a vizsgálati terület helyének – képileg is azonosítható
– meghatározása. Ilyen módon a vizsgált anyag alaki (morfológiai) sajátosságain túlmenően, a
készülék felszereltségétől függően számos más tulajdonság is vizsgálható lehet (például a
kémiai összetétel). Mindezek ellenére a pásztázó elektronmikroszkóp legáltalánosabban
használt sajátossága az, hogy a vizsgált anyagok felszínének alaki tulajdonságairól nagy
felbontású és nagyítású, ugyanakkor nagy mélységélességű képet tud alkotni.

A scanning vagy pásztázó elektronmikroszkóp egy „fél” transzmissziós elektronmikroszkóp,

mivel elektronforrással, megvilágító lencserendszerrel ugyanúgy rendelkezik, mint a TEM, de
a mintába becsapódó elektronok nem a hagyományos képalkotási elvek szerint hozzák létre a
képet, ezért a képalkotó optika hiányzik. Az elektronsugár a lézer scanning mikroszkópokhoz
hasonlóan pontról-pontra pásztázza végig a mintát, és az onnan visszaszóródott, vagy a
mintában ionizáció révén keletkezett elektronokat detektáljuk. Ebből a pontonként kiváltott
jelből a számítógép hozza létre a képet. A SEM-ben ezért bármilyen vastag mintát
vizsgálhatunk, a kép csak a felszíni rétegből származó elektronokból jön létre. Ennek
megfelelően a SEM kép térhatású, viszonylag nagy mélységélességű felszíni leképezés.
(Digitális Tnakönyvtár)

Az elektronsugárzás és az elektronoptika

Az elektronmikroszkópok megalkotását az tette lehetővé, hogy felismerték: egy

elektronforrásként szolgáló katódból kilépő elektronok – a katód és a vele szemben
elhelyezett anód között nagy stabilitással beállított viszonylag nagy (10–100 kV)
feszültségkülönbséggel – erősen légritkított térben (vákuumban) felgyorsíthatók. Az így
létrehozott elektronsugárzás monokromatikus, hullámhossza a gyorsító feszültség függvénye,
és mivel töltött részecskék képezik, elektromos és mágneses terekkel kitéríthető, illetve ha
ezek a terek megfelelő görbületű axiális szimmetriával bírnak, lencseként viselkednek, így a
sugárzás fókuszálható. A De Broglie-képlet alapján minél magasabb a gyorsító feszültség,
annál alacsonyabb hullámhossz érhető el. Az alacsonyabb hullámhossz az Abbe-egyenlet
alapján nagyobb felbontóképességet tesz lehetővé. Végül is ez volt az elektronmikroszkópok
megalkotásának célja, mivel a fénysugárzás tartományában az alacsonyabb hullámhossz az
ultraibolya sugárzással véget ér, és az UV-mikroszkópok is különleges (kvarc) optikát
igényelnek, és nem is annyira a felbontóképesség növelésére, mint speciális célokra
(fluoreszcencia mikroszkópok) használhatóak. Sajnos az így elért nagyobb
felbontóképességnek is nagy „ára” volt, akár az elektronmikroszkópok műszaki paramétereit,
előállításuk és működtetésük költségességét, akár az anyagok vizsgálatra való előkészítésének
technológiai bonyolultságát, műszer- és munkaigényességét véve figyelembe. Biológiai
anyagoknál különösen nagy az anyagokat az előkészítés során érő torzító hatások jelentősége,
hiszen vákuumban vizsgálható, és még egyéb sajátos vizsgálati körülményeknek megfelelő,
erősen korlátozott méretű mintákat lehet csak vizsgálni.

A pásztázó elektronmikroszkóp nagyítása akár 5-6 nagyságrendben is változtatható, a

körülbelül 10-szerestől az 1 000 000-szoros nagyításig. Az optikai és a transzmissziós
elektronmikroszkópoktól eltérően a nagyítást nem a tárgylencse nagyítása határozza meg.
Bár a pásztázó elektronmikroszkópokban is lehet kondenzor és tárgylencse, szerepük nem a
tárgy leképezése, hanem a sugárnak egy pontra fókuszálása. Feltételezve, hogy az
elektronágyú elegendően kicsiny átmérőjű sugarat képes kibocsátani, a pásztázó
elektronmikroszkóp elviekben képes lenne kondenzor és objektívlencse nélküli működésre,
bár ekkor nem lenne túlságosan flexibilis, és nem lenne képes nagy felbontást elérni. A
nagyítást a PEM-ben a mintát letapogató raszter és a kijelző méreteinek aránya határozza
meg. Feltételezve, hogy a kijelzésre használt képernyő mérete adott, nagyobb nagyítás a
raszter méretnének csökkentésével érhető el, illetve fordítva. Emiatt a nagyítás az x, y
pásztázó tekercsekre adott árammal, vagy az x, y eltérítő tekercsekre adott feszültséggel
változtatható.

Hangya (Mikroszkóp klub)

A transzmissziós elektronmikroszkóp

A transzmissziós elektronmikroszkóp vagy TEM az elektronmikroszkópok egyik fajtája. Az

elektronmikroszkóp pedig a mikroszkópok olyan speciális formája, amely elektron
sugárnyalábot használ a megfigyelendő tárgy felnagyítására. A TEM a tárgyon áthaladt
sugarat érzékeli. A minta vastagságát, a TEM esetében ezt egy ultravékony lemez alakjában
kell szolgáltatni. A minta felnagyított képét optikailag közvetlenül megfigyelni nemcsak
binokuláris mikroszkóppal lehet, egy fluoreszkáló ernyőn, monitoron, hanem le is lehet
fényképezni, vagy elektronikusan is meg lehet örökíteni egy ún. CCD (charge-coupleddevice
vagy töltés-csatolt eszköz) segítségével.

A transzmissziós (átjáró sugaras) elektronmikroszkóppal (TEM) elsősorban a szövetek, sejtek

belső struktúráit tudjuk vizsgálni, míg a szkenning (pásztázó sugaras) elektronmikroszkóppal
(SEM) a sejtek, szövetek felületét tudjuk vizsgálni.

Az ultravékony metszeteket kisméretű, kör alakú rácsos vagy lyukas, hártyával bevont réz-
vagy nikkel-lemezekre (grid) teszik. A griden lévő metszetet nehézfém-vegyületekkel (pl.
uranil-acetát, ólom-citrát) kontrasztozzák, ami fokozza a nukleinsav-, illetve fehérjetartalmú
struktúrák elektronszórását, így ezek „elektrondenzek”, sötétebbek lesznek.

Az immunhisztokémia módszerei a transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálatokra is

alkalmasak. Az immunfestést végezhetjük a beágyazás és az ultravékony metszetek készítése
előtt (preembedding) és után (postembedding) is. Ezek drága és nehéz technikák, azonban
rendkívül specifikusak, mivel a másodlagos ellenanyagot kolloid méretű aranyszemcsékkel
jelölik, melyek az arany nagy atomsúlya miatt elektronmikroszkópban jól láthatók.

(Digitális Tankönyvtár)
Golgi készülék (wikiwand)

Mitokondrium (wikipédia)