MICROSCOPIA

Magnificació: Relació entre la mida aparent d’un objecte (l’observada

el la imatge) i la mida real. S’expressa com nx (10x, 100x, etc.)

Resolució: Distancia mínima entre objectes distingibles. Reflecteix la

mida mínima del objecte que es pot observar.
No es poden resoldre dos punts separats per una distància igual a la λ
de la radiació utilitzada ⇒ difracció

Microscòpia òptica
Long. d’ona
Vermell λ= 700 nm - Blau λ= 400 nm

Resolució: Fins a 400 nm

Magnificació: 2000x

Normalment cal polir la mostra per

l’observació i “atacar-la” químicament
per a posar de manifest la
microestructura
⇓
Metal·lografia
 Àtoms

ESCALA DE MIDES I ÀMBIT DE TREBALL DE LES MICROSCOPIES

Molècules
Diàmetre ADN
Proteines

Ribosomes

Virus

Mitocòndria
Bactèrids
Cloroplasts
Eritrocits

Protozoos grans
Òvul humà

Escarabat

Cor humà

El Frosky
Microfotografies d’un acer hipoeutectoide (menys de 0.8% de C)
 Microscòpia electrònica
Utilitzem feixos d’electrons en lloc de radiacions⇒ la λ associada
depen de l’energia dels electrons (Equació de deBroglie λ = h/p)

E del electró λ associada (pm)

1 eV 1200
100 eV 120
10 keV 12
. La màxima resolució teòricament possible és de 4 pm i s’assoleix
amb energies de 100 keV

. Mai s’assoleix aquesta resolució per problemes tècnics

. Dos tipus SEM i TEM

Microscòpia electrònica d’escombrat (SEM)

Magnificació: ≈ 105x
Resolució: ≈ 5-10 nm
 · Solament es pot examinar la superfície dels materials
· Camp focal molt ampli
· Es pot analitzar la superfície del material

Microscòpia electrònica de transmisió (TEM)

Magnificació: ≈106x
Resolució: ≈ 0.5 nm

· El feix d’electrons d’alta energia atravesa la mostra

· La mostra ha de tenir un gruix ≈ 0.1 µm
· Pot afectar molt la naturalesa del material
 Imatge SEM d’un material mesoporos amb base SiO2
(a) Disposició dels tubs a al mostra (b)Model esquemàtic d’un tub
(c) Secció amb visió dels canals (d) Forma dels canals

Imatges TEM del mateix material, on s’observa la forma dels canals

interns

Nature 429, 281-284 (20 Maig 2004)

 Microscòpia d’efecte tunel (STM)

Magnificació: 109x Resolució: ≈ 10-10 m

Si x és la distància de la punta del cantilever a la

superfície:
I ∝ e-αx
I = corrent mecanoquàntica d’efecte túnel
Es pot mesurar la distància que s’ha de mantenir per a
que I sigui constant o a l’inrevés

És ideal per estudiar superficies

VACANTS EN UNA CAPA DE GRAFIT
Imatge STM calculada

La intensitat dels punts que apareixen a la imatge

depent de la densitat electrònica dels àtoms
Microscopi de forces atòmiques (AFM)
Superficie de grafic pirolitzat
Mesura forces
d’atracció i repulsió
entre la superfície de
la mostra i la punta
del cantilever. En
registra la interacció
No requereix corrent
elèctric ⇒ Menys
destructiu que STM;
es pot aplicar a
sistemes biològics
Imatge enregistrada en dissolució aquosa (AFM de
contacte suau) La punta llisca sobre una superfície tova. En
aquest cas, surfactants adsorbits a la interfase sol-liq i en
equilibri amb la solució del voltant
Matriu sòlida = grafit

tip

Graphit e (hydr ophobic)