‫‪X‬‬ ‫التدريع ضد أشعة‬

‫إعداد‬
‫د‪ .‬رياض شويكاني‬
‫مقدمة‬
‫تعتمد بشكل رئيسي معظم الدراسات المتعلق بتدريع غرف األشعة السنية وأشعة غاما ذوات‬
‫الطاقة ما دون ‪ 10‬م‪.‬أ‪.‬ف على التقرير رقم ‪ 49‬الصادر عن المجلس الوطني للوقاية من األشعة‬
‫وقياسها (‪National Council for Radiation Protection and Measurements (NCRP 49),‬‬
‫‪ .)1979‬نحاول في هذه المحاضرة تلخيص ما يتعلق بتدريع غرف األشعة السينية وما يرافقها من‬
‫فرضيات واعتبارات‪.‬‬
‫يؤخذ التدريع من أجل الوقاية من أشعة أكس بشكل عام ضمن منحيين‪ :‬األول تدريع المنبع‬
‫والثاني تدريع المنشأة أو غرفة التشعيع‪ .‬أما تدريع المنبع‪ ،‬فهو مصمم ومصنع من قبل الشركة‬
‫الصانعة للمنبع وهو عبارة عن حاوية رصاصية تحوي أنبوب أشعة ‪.X‬‬
‫وقد حدد من قبل المنظمات الدولية حدود التعرض المسموح تسربها من تدريع أنابيب التشعيع‬
‫وذلك حسب استخداماتها حيث‪:‬‬
‫‪ -1‬من أجل التشخيص‪ :‬يجب أن تقلل كمية األشعة المتسربة من تدريع األنبوب إلى أقل من ‪0.1‬‬
‫رونتجن‪/‬ساعة على بعد ‪1‬م من الهدف عندما يعمل األنبوب عند التيار المستمر األعظمي له‬
‫عند أعلى معدل كمون ممكن‪.‬‬
‫‪ -2‬من أجل المعالجة‪ :‬يجب أن تقلل كمية األشعة المتسربة من تدريع األنبوب إلى أقل من‬
‫‪1‬روتنجن‪/‬ساعة على بعد ‪1‬م من المنبع وأقل ‪ 30‬رونتجن‪/‬ساعة عند أي نقطة تبعد ‪ 5‬سم‬
‫عن سطح تدريع المنبع عندما يعمل المنبع بأعظم معدل تيار وكمون ممكن‪.‬‬
‫أما من أجل منابع ‪ X‬غير الطبية فإن تدريع المنبع هو أي درع محيط بأنبوب توليد األشعة‪،‬‬
‫ويجب بشكل عام أن ال تزيد كمية األشعة المتسربة من هذا الدرع عندما يعمل المنبع من أجل أي‬
‫شدة عن ‪ 1‬رونتجن‪ /‬ساعة‪.‬‬
‫ونعني باألشعة المتسربة‪ :‬هي كل األشعة الناتجة عن المنبع ما عدا الحزمة األساسية المستخدمة‪.‬‬
‫أما تدريع المنشأة أو غرفة التشعيع فهو مصمم للحماية من األشعة الرئيسية‪ ،‬المتسربة والمتشتتة‪.‬‬
‫وهي تحوي كل من أنبوب األشعة مع تدريعة والمحيط الذي يتوضع فيه الهدف المشعع‪ .‬وفي‬
‫الحقيقة يصمم هذا التدريع من أجل حماية األشخاص المتواجدين خارج منطقة التشعيع‪ .‬ويتحدد‬
‫هذا التدريع بما يلي‪:‬‬

‫‪1‬‬
 ‫‪ -1‬أعلى قيمة لـلكيلوفولط المستخدمة في األنبوب‪.‬‬
‫‪ -2‬أعلى تيار (‪ )mA‬للحزمة‪.‬‬
‫‪ -3‬ضغط العمل (‪ )W‬ويعبر عنه عادة بـ ميلي أمبير دقيقة باألسبوع‪.‬‬
‫‪ -4‬معامل االستخدام (‪ )U‬وهو الجزء من ضغط العمل والذي تكون فيه الحزمة موجهة مباشرة‬
‫باالتجاه المطلوب‪.‬‬
‫‪ -5‬معامل التواجد أو االنشغال (‪ )The occupancy( )T‬وهو معامل يضرب به معامل ضغط‬
‫العمل لتصحيح درجة التواجد في المنطقة المدروسة‪ .‬فأعلى قيمة له هي الواحد من أجل‬
‫غرف التصوير والمعالجة‪.‬‬
‫من أجل تصميم تدريع المنشأة يقسم هذا التدريع إلى صنفين‪:‬أساسي أو أولي وثانوي (‪Primary‬‬
‫‪ .)and Secondary‬فيصمم الحاجز األولي للوقاية من الحزمة األساسية فيم يستخدم التدريع‬
‫الثانوي للوقاية من األشعة المتسربة والمتشتتة‪ .‬وفيما يلي طرق حساب سماكة هذه الحواجز‬
‫الوقائية‪.‬‬

‫الحواجز الوقائية األساسية أو األولية‪:‬‬

‫يعطى معدل التعرض األعظمي المتلقاة عند أي نقطة على مسافة ‪d‬م من الهدف في أنبوب أشعة‬
‫‪ X‬بالعالقة‪( :‬تستعمل هنا واحدة الرونتجن عوضاً عن الواحدة الدولية ‪ C/kg‬وذلك ألن أغلب‬
‫المعطيات المنشورة الخاصة بتصميم الدروع تعتمد على واحدة الرونتجن والعالقة بين الرونتجن‬
‫والواحدة الدولية هي‪) R = 2.58 x 10-5 C/kg 1:‬‬
‫‪P‬‬
‫‪Dm‬‬ ‫‪(R‬‬
‫‪keew‬‬
‫)‪/ (.......‬‬ ‫)‪1‬‬
‫‪T‬‬
‫حيث ‪ P‬معدل التعرض األسبوعي األعظمي المسموح به (‪ 0.1‬رونتجن باألسبوع للمناطق‬
‫المراقبة إشعاعياً و ‪ 0.01‬رونتجن باألسبوع للمنطقة غير المراقبة إشعاعياً وذلك من أجل القيم‬
‫القديمة لحدود الجرعة المكافئة والتي هي ‪ 5‬ميلي سيفرت لعامة الناس و‪ 50‬ميلي سيفرت‬
‫للعاملين‪ .‬يمكن أن تتغير قيم التعرض األسبوعي األعظمي المسموح بها تبعاً لتغيرات حدود‬
‫الجرعة)‪ .‬و‪ T‬معامل التواجد‪ .‬وبتطبيق قانون التربيع العكسي نجد أن معدل التعرض األعظمي‬
‫على مسافة ‪1‬م من المنبع هي‪:‬‬
‫‪d‬‬ ‫‪2‬‬
‫‪P‬‬
‫‪D 1  d 2 D‬‬ ‫‪m‬‬ ‫‪‬‬ ‫‪(R‬‬
‫‪keew‬‬
‫‪/‬‬ ‫‪ta‬‬
‫‪retem‬‬
‫)‪1 (.......‬‬ ‫)‪2‬‬
‫‪T‬‬
‫ويكون معدل التعرض عند األخذ بعين االعتبار معاملي ضغط العمل ومعامل االستخدام معطاة‬
‫بالعالقة‪:‬‬
‫‪D 1‬‬ ‫‪d P‬‬ ‫‪2‬‬
‫‪R Am‬‬ ‫‪‬‬
‫‪/ nim‬‬ ‫‪‬‬
‫‪K ‬‬ ‫‪‬‬ ‫‪‬‬ ‫‪ta‬‬
‫‪retem‬‬ ‫‪‬‬
‫‪1 (.......‬‬ ‫)‪3‬‬
‫‪W U‬‬‫‪ W U‬‬‫‪ T‬‬ ‫‪ keew‬‬ ‫‪‬‬

‫‪2‬‬
 ‫تبين األشكال (‪ )1‬إلى (‪ )5‬قياسات ‪ K‬من أجل حزمة عريضة من أشعة ‪ X‬من أجل طاقات‬
‫مختلفة وسماكات مختلفة من الرصاص والباطون‪.‬‬
‫وقد وجد تجريبياً أن نفوذية أشعة ‪ X‬عبر دروع سميكة تعتمد بشكل رئيسي على الفوتونات عالية‬
‫الطاقة في الحزمة‪.‬‬
‫يمكن استخدام األشكال (‪ )1‬إلى (‪ )5‬من أجل تصميم تدريع من أشعة ‪ X‬ضمن الحدود المذكورة‬
‫فيها‪ .‬فمن أجل تحديد سماكة التدريع األساسية تحسب قيمة ‪ K‬من المعادلة (‪ )3‬ومن ثم تسقط‬
‫قيمتها على المنحني المناسب لطاقة أشعة ‪ X‬المدروسة لمعرفة السماكة الالزمة من الدرع‪.‬‬

‫مثال (‪:)1‬‬
‫أحسب سماكة الباطون المطلوبة لحماية غرفة مراقبة إشعاعيا من الحزمة الرئيسية لجهاز معالجة‬
‫بأشعة أكس بكمون أعظمي ‪ 250‬كيلوفولط حيث ضغط العمل علية ‪ 20000‬ميلي أمبير‬
‫باألسبوع‪ .‬علماً أن بعد الغرفة ‪ 2.5‬م عن الهدف في أنبوب أشعة أكس وأن معامل االنشغال‬
‫يساوي ‪ ،1‬ومعامل االستخدام يساوي ‪.0.5‬‬

‫‪3‬‬
 ‫الشكل (‪)1‬‬

‫‪4‬‬
 ‫الشكل (‪)2‬‬

‫‪5‬‬
 ‫الشكل (‪)3‬‬

‫‪6‬‬
 ‫الشكل (‪)4‬‬

‫‪7‬‬
 ‫الشكل (‪)5‬‬

‫‪8‬‬
 ‫الدرع الوقائي الثانوي‪:‬‬
‫يستعمل الدرع الوقائي الثانوي من أجل الوقاية من األشعة المتسربة والمتشتتة‪ .‬فمن أجل حساب‬
‫التدريع الثانوي تحسب السماكة المطلوبة لكل من األشعة المتسربة واألشعة المتشتتة بشكل‬
‫منفصل‪ .‬تحدد سماكات الدرع لكل من األشعة المتسربة والمتشتتة بشكل منفصل‪ .‬وإ ذا وجد أن‬
‫السماكتين متساويتين عندها يمكن أن يضاف سماكة بمقدار سماكة نصفية واحدة للحصول على‬
‫السماكة المطلوبة‪ ،‬أما إذا كان أحد السماكتين أكبر من اآلخر بمقدار سماكة عشرية واحدة (‬
‫‪ ،)TVL‬عندها تكفي هذه السماكة‪.‬‬
‫تحدد متطلبات الدرع الوقائي الثانوي أيضاً من معطيات أنبوب أشعة ‪ X‬وقيمة الفولط المستخدم‬
‫والتيار باألسبوع‪ ،‬ومسافة المنطقة المشغولة‪ ،‬وطبيعة شغل هذه المنطقة‪.‬‬

‫األشعة المتشتتة‪:‬‬
‫تعتمد كثافة األشعة المتشتتة على زاوية التشتت‪ ،‬طاقة الحزمة الرئيسية وعلى منطقة التشتت‬
‫(مساحة الحقل المعرض)‪ .‬يجدول الجدول (‪ )1‬نسبة كثافة األشعة المتشتتة إلى الرئيسية عند‬
‫مسافة ‪1‬م من منطقة التشتت من أجل حقل تعريض مساحته ‪400‬سم‪.2‬‬

‫الجدول (‪ )1‬النسبة ‪ a‬للتعرض المتشتت من التعرض الرئيسي‪.‬‬

‫زاوية التشتت (من الشعاع المركزي)‬ ‫‪KVp‬‬
‫‪135‬‬ ‫‪120‬‬ ‫‪90‬‬ ‫‪60‬‬ ‫‪45‬‬ ‫‪30‬‬
‫‪0.0010‬‬ ‫‪0.0008‬‬ ‫‪0.00035‬‬ ‫‪0.00025‬‬ ‫‪0.0002‬‬ ‫‪0.0005‬‬ ‫‪50‬‬
‫‪0.0013‬‬ ‫‪0.0010‬‬ ‫‪0.0005‬‬ ‫‪0.00035‬‬ ‫‪0.00035‬‬ ‫‪0.00065‬‬ ‫‪70‬‬
‫‪0.0022‬‬ ‫‪0.0020‬‬ ‫‪0.0013‬‬ ‫‪0.0012‬‬ ‫‪0.0012‬‬ ‫‪0.0015‬‬ ‫‪100‬‬
‫‪0.0025‬‬ ‫‪0.0023‬‬ ‫‪0.0015‬‬ ‫‪0.0015‬‬ ‫‪0.0015‬‬ ‫‪0.0018‬‬ ‫‪125‬‬
‫‪0.0026‬‬ ‫‪0.0024‬‬ ‫‪0.0016‬‬ ‫‪0.0016‬‬ ‫‪0.0016‬‬ ‫‪0.0020‬‬ ‫‪150‬‬
‫‪0.0028‬‬ ‫‪0.0027‬‬ ‫‪0.0019‬‬ ‫‪0.0019‬‬ ‫‪0.0020‬‬ ‫‪0.0024‬‬ ‫‪200‬‬
‫‪0.0028‬‬ ‫‪0.0027‬‬ ‫‪0.0019‬‬ ‫‪0.0019‬‬ ‫‪0.0021‬‬ ‫‪0.0025‬‬ ‫‪250‬‬
‫‪0.0028‬‬ ‫‪0.0026‬‬ ‫‪0.0019‬‬ ‫‪0.0020‬‬ ‫‪0.0022‬‬ ‫‪0.0026‬‬ ‫‪300‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪0.0027‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪4000‬‬
‫‪0.0004‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪0.0006‬‬ ‫‪0.0011‬‬ ‫‪0.0018‬‬ ‫‪0.007‬‬ ‫‪6000‬‬

‫عندها سيعطى التعرض لألشعة المتشتتة‪ ،‬وذلك بافتراض أن كثافة األشعة المتشتتة تتغير بشكل‬
‫عكسي مع مربع المسافة عن المنطقة العاكسة وبشكل مباشر مع مساحة التشتت‪ ،‬بالمعادلة التالية‪:‬‬
‫‪a D u F‬‬
‫‪D‬‬ ‫‪S‬‬ ‫‪‬‬ ‫‪ (.......‬‬
‫‪t‬‬ ‫)‪4‬‬
‫‪(dces 004‬‬
‫)‬
‫حيث ‪ a‬نسبة كثافة األشعة المتشتتة إلى كثافة الحزمة الرئيسية‪.‬‬
‫‪ Du‬معدل التعرض عند نقطة التشتت‪.‬‬

‫‪9‬‬
 ‫‪ dsec‬المسافة بين نقطة التشتت والنقطة المدروسة‪.‬‬
‫‪ F‬مساحة حقل التشتت‪.‬‬
‫‪ t‬زمن التعريض‪.‬‬
‫فإذا دعونا ‪ Dn‬معدل التعرض على مسافة ‪1‬م من الهدف في أنبوب أشعة أكس من أجل تيار قدره‬
‫‪ 1‬ميلي أمبير (كما ويسمى عادة بمعدل التعرض النظامي "‪ ،)"normalized exposure rate‬وكان‬
‫العاكس على مسافة ‪ ،dsca‬وأن الدرع يوهن األشعة المتشتتة بالمعامل ‪ ،Bsx‬فمن أجل تعرض‬
‫أسبوعي مسموح قدره ‪ P‬من أجل تيار قدرة ‪ I‬أمبير وتعريض لمدة ‪ t‬ثانية يمكن أن نكتب‪:‬‬
‫‪aD‬‬ ‫‪ n I  t‬‬ ‫‪F‬‬
‫‪P  B xs D‬‬
‫‪ S  B xs ‬‬ ‫‪ (.......‬‬ ‫)‪5‬‬
‫‪(dces )  (dacs )004‬‬
‫‪2‬‬ ‫‪2‬‬

‫وبما أن ‪ I  t W T‬و ‪U  1‬من أجل األشعة المتشتتة وبحل المعادلة (‪ )5‬من أجل‬
‫‪B xs‬نجد أن‪:‬‬ ‫‪D n  K xu‬‬
‫‪P‬‬ ‫‪004‬‬
‫‪K xu ‬‬ ‫‪ (dces ) 2  (dacs ) 2  (.......‬‬ ‫)‪6‬‬
‫‪ T‬‬
‫‪aW‬‬ ‫‪F‬‬
‫من أجل حسابات تصميم الدروع تطبق عادة التسهيالت المحافظة الثالثة التالية‪:‬‬
‫أوالً‪ :‬أن طاقة األشعة المتشتتة ألشعة ‪ X‬ذات طاقة ال تزيد عن ‪ 500‬ك‪.‬أ‪.‬ف هي نفس طاقة‬
‫األشعة الرئيسية (أو الحزمة الرئيسية)‪.‬‬
‫ثانياً‪ :‬تنخفض طاقة األشعة الرئيسية ألشعة ‪ X‬المتولدة عند كمون أكبر من ‪ 500‬ك‪.‬ف عند‬
‫تشتتها إلى تلك المتولدة عن كمون قدره ‪ 500‬ك‪.‬ف‪ ،‬معدل تعرض األشعة المتشتتة بزاوية‬
‫‪ 90‬درجة عند مسافة ‪1‬م من المشتت تساوي ‪ %0.1‬من معدل التعرض الساقط على‬
‫المشتت‪.‬‬
‫حيث تعتمد الفرضيتان السابقتان على حقيقة أن فوتون األشعة الذي طاقته أقل من ‪ 500‬ك‪.‬أ‪.‬ف‬
‫يفقد طاقة صغيرة نسبياً عند تشتته‪ .‬فيما تنخفض طاقة أشعة ‪ X‬والتي تتشتت بزاوية ‪ 90‬درجة‬
‫إلى قيمة مساوية تقريباً في توزعها الطاقي إلى التوزع الطاقي ألشعة ‪ X‬المتولدة عن كمون ‪500‬‬
‫ك‪.‬ف‪.‬‬
‫لذلك عند تصميم الدرع ضد األشعة المتشتتة تستخدم منحنيات النفوذية المقابلة للكيلو فولط‬
‫المطبق من أجل طاقة ‪ X‬أصغر من ‪ 500‬ك‪.‬أ‪.‬ف‪ ،‬فيما تستخدم منحنيات نفوذية ‪ 500‬ك‪.‬ف‬
‫من أجل أشعة ‪ X‬ذات الطاقة األعلى‪.‬‬
‫وبما أنه افترض من أجل تصحيح درع األشعة المتشتتة من أجل طاقات ‪ X‬العالية أن كمية‬
‫األشعة المتشتتة تساوي تلك الصادرة عن ‪ 500‬ك‪.‬ف‪ ،‬تستخدم منحنيات نفوذية ‪ 500‬ك‪.‬ف لكل‬
‫األشعة المتشتتة الصادرة عن أنابيب عالية التوتر‪ .‬إال أنه يزداد خرج أجهزة أشعة ‪ X‬كلما زاد‬

‫‪10‬‬
 ‫الكيلو فولط المطبق‪ .‬ومن أجل تصحيح هذه الزيادة ينقص ‪ Kux‬بمعامل ‪ f‬قيمته تعتمد على‬
‫الكيلوفولط المطبق وبالتالي نحصل على المعادلة‪:‬‬
‫‪P  (dacs ) 2  (dces ) 2004‬‬
‫‪‬‬ ‫‪R Am‬‬ ‫‪‬‬
‫‪/ nim‬‬ ‫‪‬‬
‫‪K xu ‬‬ ‫‪‬‬ ‫‪‬‬
‫‪(.......‬‬ ‫) ‪7‬‬
‫‪a W  F  T  f‬‬ ‫‪ keew‬‬ ‫‪‬‬
‫عند مسافة ‪1‬م من المشتت‪.‬‬
‫والقيم المعتمد بشكل عام للمعامل ‪ f‬هي‪:‬‬
‫‪KV‬‬ ‫‪f‬‬
‫‪500 or less‬‬ ‫‪1‬‬
‫‪1000‬‬ ‫‪20‬‬
‫‪2000‬‬ ‫‪120‬‬
‫‪3000‬‬ ‫‪300‬‬

‫مثال (‪:)2‬‬
‫أحسب سماكة الدرع الالزم لحماية منطقة غير مراقبة من األشعة المتشتتة والناتجة عن جهاز‬
‫معالجة بأشعة أكس يعمل عند كمون أعظمي قدره ‪ 250‬ك‪.‬ف‪ .‬علماً بأن حمل العمل األسبوعي‬
‫هو ‪20000‬ملي أمبير دقيقة وبعد الهدف عن سطح جسم المعالج ‪ 50‬سم والمساحة األعظمية‬
‫للمعالجة هي ‪20‬سم ‪x 20‬سم وبعد المريض عن المنطقة غير المراقبة ‪3‬م ومعامل التواجد في‬
‫هذه المنطقة يساوي ‪.1‬‬

‫األشعة المتسربة‪:‬‬
‫بما أن كمية األشعة المسموح تسربها من درع أنبوب األشعة السينية ثابتة ومعروفة على بعد ‪1‬م‪،‬‬
‫فمن السهولة معرفة سماكة الدرع الثانوي عند أي مسافة إذا كانت طاقة األشعة المتسربة‬
‫معروفة‪ .‬تعتبر األشعة المتسربة وحيدة الطاقة بعد أن تصفى وتنقى خالل مرورها عبر الحاجز‬
‫الرصاصي المحيط باألنبوب ولذلك تكون السماكة النصفية معتمدة فقط على الكيلوفولط المطبق‬
‫على األنبوب‪.‬‬
‫فمن أجل أنابيب أشعة أكس التشخيصية فقد حدد أعلى تعرض مسموح به على بعد ‪1‬م من الهدف‬
‫ولمدة ساعة هو ‪ 0.1‬رونتجن وذلك عندما يعمل األنبوب بأعلى كمون وتيار ممكن له‪.‬‬
‫إن التعرض األسبوعي لألشعة المتسربة على مسافة ‪ d‬من جهاز أكس يعمل ‪ t‬دقيقة باألسبوع‬
‫يعطى بالعالقة‪:‬‬
‫‪0 .1 t‬‬
‫‪D‬‬ ‫‪L‬‬ ‫‪‬‬ ‫‪‬‬
‫‪(.......‬‬ ‫) ‪8‬‬
‫‪d 2 06‬‬
‫‪W U‬مساوياً إنتاج تيار حزمة اإللكترونات وزمن‬
‫لغايات التصميم يعتبر ضغط العمل ‪ T‬‬

‫التشغيل األسبوعي ‪ ،I  t‬وبما أن معامل االستخدام ‪ U‬يساوي الواحد من أجل األشعة المتسربة‬
‫فيمكن كتابة المعادلة (‪ )8‬بالشكل‪:‬‬

‫‪11‬‬
 ‫‪01‬‬‫‪. W T‬‬
‫‪D‬‬ ‫‪L‬‬ ‫‪‬‬ ‫‪ (.......‬‬ ‫)‪9‬‬
‫‪d 2 06  I‬‬
‫فإذا كان التعرض األسبوعي األعظمي المسموح به هو ‪ P‬وكان توهن الدرع الموضوع للحماية‬
‫‪B xL‬عندها يمكن أن نكتب‪:‬‬ ‫من األشعة المتسربة هو‬
‫‪W T‬‬ ‫‪‬‬
‫‪P  B xL D‬‬
‫‪ L  B xL  2‬‬ ‫‪(.......‬‬ ‫) ‪01‬‬
‫‪ I‬‬
‫‪d 006‬‬
‫‪B xL‬نجد‪:‬‬ ‫وبحل هذه المعادلة بالنسبة‬
‫‪P d 006‬‬
‫‪2‬‬
‫‪‬‬ ‫‪I‬‬
‫‪B xL ‬‬ ‫‪(.......‬‬ ‫) ‪11‬‬
‫‪W T‬‬
‫أما من أجل حافظات أنابيب أشعة أكس المستعملة من أجل المعالجة والتي ال يتجاوز فيها الكمون‬
‫المطبق عن ‪ 500‬ك‪.‬ف‪ ،‬فإن معدل التعرض األعظمي المسموح به هو ‪ 1‬رونتجن في الساعة‬
‫على بعد ‪1‬م من اهدف داخل األنبوب‪ .‬فيكون التوهين المطلوب من الدروع الثانوية باستعمال‬
‫المعادلة (‪ )11‬هو‪:‬‬
‫‪P d 206‬‬
‫‪ I‬‬
‫‪B xL ‬‬ ‫‪(.......‬‬ ‫) ‪21‬‬
‫‪W T‬‬
‫بينما من أجل أشعة أكس المتولدة بكمون أعلى من ‪ 500‬ك‪.‬ف‪ ،‬فإن الحاويات الحافظة لألنبوب‬
‫تجعل كثافة األشعة المتسربة على بعد ‪1‬م مساوياً ‪ %0.1‬من قيمة كثافة الحزمة الرئيسة‪ .‬عندها‬
‫سيكون التوهين المطلوب من الدروع الثانوية معطى بالعالقة‪:‬‬
‫‪0001‬‬ ‫‪P d 2‬‬
‫‪B xL ‬‬ ‫‪(.......‬‬ ‫) ‪31‬‬
‫‪ T‬‬
‫‪D nW‬‬
‫حيث ‪ Dn‬معدل التعرض النظامي‪.‬‬
‫يحسب عدد السماكات النصفية الالزمة للحصول على التوهين المطلوب باستعمال العالقة التالية‪:‬‬
‫‪1‬‬
‫‪B xL  (.......‬‬ ‫) ‪41‬‬
‫‪2n‬‬
‫حيث ‪ n‬عدد السماكات النصفية المطلوبة‪.‬‬
‫يحسب بعد ذلك سماكة الدرع المطلوبة باستعمال الجدول (‪ )2‬الذي يجدول السماكات النصفية‬
‫للكل من الرصاص و الباطون من أجل كمونات أعظميه مختلفة‪.‬‬

‫مث‪++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++‬ال (‪:)3‬‬
‫أحسب سماكة الدرع الثانوي الالزم للحماية من األشعة المتسربة من أنبوب أشعة أكس‬
‫الموصوف في المثال السابق‪ .‬حيث يعمل الجهاز عند كمون أعظمي يساوي ‪ 250‬ك‪.‬ف وتيار‬
‫يساوي ‪ 20‬ميلي أمبير‪ ،‬وضغط العمل األسبوعي هو ‪ 20000‬ميلي أمبير دقيقة‪ .‬علماً أن‬
‫المسافة بين جهاز األشعة والغرفة غير المراقبة هو ‪3‬م وأن معمل االنشغال يساوي ‪.1‬‬

‫الجدول (‪ )2‬السماكة النصفية والعشرية لكل من الرصاص والباطون‬

‫‪12‬‬
 ‫السماكة النصفية‬
‫الحديد (سم)‬ ‫الباطون (سم)‬ ‫الرصاص (مم)‬ ‫‪KVp‬‬
‫‪TVL‬‬ ‫‪HVL‬‬ ‫‪TVL‬‬ ‫‪HVL‬‬ ‫‪TVL‬‬ ‫‪HVL‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪1.5‬‬ ‫‪0.43‬‬ ‫‪0.17‬‬ ‫‪0.06‬‬ ‫‪50‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪2.8‬‬ ‫‪0.84‬‬ ‫‪0.52‬‬ ‫‪0.17‬‬ ‫‪70‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪5.3‬‬ ‫‪1.6‬‬ ‫‪0.88‬‬ ‫‪0.27‬‬ ‫‪100‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪6.6‬‬ ‫‪2.0‬‬ ‫‪0.93‬‬ ‫‪0.28‬‬ ‫‪125‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪7.4‬‬ ‫‪2.24‬‬ ‫‪0.99‬‬ ‫‪0.30‬‬ ‫‪150‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪8.4‬‬ ‫‪2.5‬‬ ‫‪1.7‬‬ ‫‪0.52‬‬ ‫‪200‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪9.4‬‬ ‫‪2.8‬‬ ‫‪2.9‬‬ ‫‪0.88‬‬ ‫‪250‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪10.4‬‬ ‫‪3.1‬‬ ‫‪4.8‬‬ ‫‪1.47‬‬ ‫‪300‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪10.9‬‬ ‫‪3.3‬‬ ‫‪8.3‬‬ ‫‪2.5‬‬ ‫‪400‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪11.7‬‬ ‫‪3.6‬‬ ‫‪11.9‬‬ ‫‪3.6‬‬ ‫‪500‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪14.7‬‬ ‫‪4.4‬‬ ‫‪26‬‬ ‫‪7.9‬‬ ‫‪1000‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪21‬‬ ‫‪6.4‬‬ ‫‪42‬‬ ‫‪12.5‬‬ ‫‪2000‬‬
‫‪-‬‬ ‫‪-‬‬ ‫‪24.5‬‬ ‫‪7.4‬‬ ‫‪48.5‬‬ ‫‪14.5‬‬ ‫‪3000‬‬
‫‪9.1‬‬ ‫‪2.7‬‬ ‫‪29.2‬‬ ‫‪8.8‬‬ ‫‪53‬‬ ‫‪16‬‬ ‫‪4000‬‬
‫‪9.9‬‬ ‫‪3.0‬‬ ‫‪34.5‬‬ ‫‪10.4‬‬ ‫‪56‬‬ ‫‪16.9‬‬ ‫‪6000‬‬
‫‪10.3‬‬ ‫‪3.1‬‬ ‫‪37.8‬‬ ‫‪11.4‬‬ ‫‪56‬‬ ‫‪16.9‬‬ ‫‪8000‬‬
‫‪10.5‬‬ ‫‪3.2‬‬ ‫‪39.6‬‬ ‫‪11.9‬‬ ‫‪55‬‬ ‫‪16.6‬‬ ‫‪10000‬‬

‫‪13‬‬
 ‫مثال‪:‬‬
‫ستستعمل الغرفة المبينة في الشكل (‪ )6‬للتشخيص اإلشعاعي‪.‬‬

‫الشكل (‪)6‬‬
‫ارتفاع السقف عن األرض ‪ 9‬أقدام و‪ 7‬أنش‪ .‬الغرفة الموجودة في الطابق األعلى مكتب ال عالقة‬
‫له بغرفة األشعة‪ .‬تقع هذه الغرفة في الطابق األرضي وال يوجد تحتها أي غرف‪ .‬صنع السقف‬
‫واألرض من الباطون بسماكة ‪ 5‬انشات الجدار ‪ A‬مصنوع من الباطون بسماكة ‪ 4‬أنش‪.‬‬
‫الجدران ‪ B‬و‪ C‬و ‪ D‬مصنوعة من قرميد مفرغ والصق رقيق‪ .‬المعدل األعظمي للجهاز الذي‬
‫سيوضع في الغرفة هو ‪ kVp 125‬و‪ 200‬ميلي أمبير‪ .‬ستعمل اآللة ‪ 5‬ساعة باألسبوع عند ‪3.5‬‬
‫ميلي أمبير من أجل التنظير الشعاعي‪ .‬كما ستعمل اآللة للتصوير الشع‪:‬اعي عند ‪ 200‬ميلي‬
‫أمبير لمدة ‪ 2‬دقيقة باألسبوع‪ .‬أحسب التدريع المطلوب للجدار األساسي ‪ A‬وللسقف والجدار ‪.B‬‬
‫وذلك باستعمال الفرضيات التالية‪:‬‬
‫‪-‬معامل التواجد أو اإلنشغال خلف الجدار ‪ A: T‬يساوي ¼ (من أجل الكراج)‪ ،‬وفي الطابق‬
‫‪1‬‬
‫‪.4‬‬ ‫العلوي يساوي الواحد وخلف الجدار ‪ B‬يساوي‬
‫‪-‬بفرض أن األنبوب موجود في منتصف المسافة بين السقف واألرض أي عند ارتفاع ‪ 5‬أقدام (‬
‫‪1.5‬سم) عن األرض‪ .‬ومن تصاميم الدروع يؤخذ عادة في حال كون المنبع في الطابق السفلي‬
‫مقياس السالمة على ارتفاع ‪ 3‬أقدام عن السطح العلوي‪.‬‬
‫‪-‬يمكن استعمال الجدول (‪ )3‬التالي لحساب المكافئ الباطوني للجدار ‪ B‬باستعمال مفهوم الكثافة‬
‫السمكية ( الكثافة ‪ x‬السماكة) واعتبار كثافة الباطون ‪ 2.35‬غ‪/‬سم‪.3‬‬

‫الجدول (‪ )3‬كثافة بعض المواد المستعملة في تركيب مواد البناء‪.‬‬

‫‪14‬‬
 Density of average sample
Material Density Rang g/cm3.
g/cm3.
Brick 1.6 – 2.5 1.93
Granite 2.60 – 2.70 2.63
Limestone 1.87 – 2.69 2.30
Marble 2.47 – 2.86 2.70
Sandplaster - 1.54
Sandstone 1.90 – 2.69 2.20
Siliceous concrete 2.25 – 2.40 2.35
Tile 1.6 – 2.5 1.90

15