Վիճակագրական եղանակով ռեզիստորների պարամետրերի

շեղման ցրվածության հետազոտումը

1.ԱՇԽԱՏԱՆՔԻ ՆՊԱՏԱԿԸ
Աշխատանքի նպատակն է հետազոտվող ռեզիստորների դիմադրության մեծության
բաշխվածության ուսումնասիրումը և վիճակագրական եղանակով ստացված տվյալների
մշակումը:

2.ՏԵՍԱԿԱՆ ՄԱՍ
2.1. Պատրաստման ընթացքում առաջացած շեղումները:
Նախապատրաստվածքների մշակման պրոցեսում մի շարք տեխնոլոգիական գործոնների
ազդեցության հետևանքով դետալների պարամետրերի իրական արժեքները շեղվում են
հաշվարկայինից և առաջանում է դրանց ցրում:
Պատրաստման ընթացքում առաջացած շեղումները կարելի է բաժանել երկու խմբի`
սիստեմատիկ և պատահական:
Սիստեմատիկ շեղումներն ունեն որոշակի արժեք և նշան (օրինակ` հաստոցի, գործիքի
մաշվածությունից առաջացած շեղումները): Նշվածներից առաջացած շեղումները փոխվում են
որոշակի օրինաչափությամբ (օրինակ` կախված ժամանակից, տեխնոլոգիական համակարգի
ջերմային բալանսի փոփոխությունից, մշակման հետևանքով առաջացած շեղումներից և այլն):
Պատահական շեղումները չունեն որոշակի արժեք և չեն ենթարկվում ակներև
օրինաչափության (օրինակ` մշակվող նյութի կարծրությունը, տեխնոլոգիական համակարգի
ջերմաստիճանի տատանումներից առաջացած շեղումները և այլն):

2.2 Պատահական մեծությունները և դրանց բաշխումը:

Պատահական են կոչվում այն մեծությունները , որոնք փորձարկման արդյունքում կարող
են ընդունել տարբեր արժեքներ: Պատահական մեծությունները բաժանվում են դիսկրետների և
անընդհատների:
Դիսկրետ պատահական մեծություններ կոչվում են այնպիսիք, որոնք կարող են ընդունել
միայն որոշակի ամբողջ արժեքներ (օրինակ` խոտան դետալների քանակը մշակված
խմբաքանակի մեջ):
Անընդհատ պատահական մեծություններ կոչվում են այնպիսիք, որոնք որոշակի
միջակայքում կարող են ընդունել ցանկացած արժեքներ (օրինակ` դետալի իրական չափը):
Պատահական մեծության արժեքների և դրանց համապատասխան
հավանականությունների ամբողջությունը կոչվում է պատահական մեծության բաշխում:

1
 Որոշակի պայմանների առկայության դեպքում պատահական մեծությունների բաշխումը
կարող է ենթարկվել որոշակի օրենքի (օրինակ` նորմալ բաշխման օրենքի):

Նորմալ բաշխման օրենքը (Գաուսի օրենքը):Այս օրենքին են ենթարկվում (նկ.1) բազմաթիվ

անընդհատ պատահական մեծություններ (օրինակ` ֆիզիկական պարամետրերը,
մակերևույթների խորդուբորդությունը, գծային և անկյունային չափերը և այլն):
Պարամետրերի արժեքների ցրումը, որն առաջանում է բազմաթիվ պատահական
գործոնների ազդեցության հետևանքով պետք է ենթարկվի նորմալ բաշխման օրենքին, եթե`
 բոլոր պատահական շեղումները հանրագումարային մեծության վրա իրենց
ազդեցությամբ միևնույն կարգի մեծություններ են (նրանց մեջ չկան գերիշխողներ),
 պատահական մեծությունները փոխադարձաբար անկախ են և դրանց
քանակը ժամանակի ընթացքում չի փոխվում:
Նորմալ բաշխման օրենքին ենթարկվող ֆունկցիան ունի հետևյալ տեսքը`
 ( x x )2
1
 ( x)  e 2 2
 2 ,
որտեղ  ( x ) - ը պատահական մեծության խտությունն է, x-ը պատահական մեծությունն է, x -
ը մաթեմատիկական սպասումը,  -ն միջին քառակուսային շեղումը:

 ( x)

0 t1
  t2 X

Նկ.1. Նորմալ բաշխման տեսակարար կոր

2.3 Պատրաստման ճշտությունը

Պատրասման ճշտությունը` պարամետրերի ցրման և թույլտվածքի դաշտի
համապատասխանությունն ապահովելու տեխնոլոգիան պրոցեսի հատկությունն է:
Պատրաստման ճշտությունը հիմնականում գնահատում են վիճակագրական եղանակով:
2.4 Պատրաստման ճշտության հետազոտման վիճագրական եղանակը:
2
 Պատրաստման ճշտության հետազոտման վիճակագրական վերլուծությունը կարելի է
կատարել երեք հիմնական եղանակներով` մեծ ընտրանքների, փոքր ընտրանքների և կետավոր
դիագրամների:
Այդ երեք եղանակների դեպքում հանրագումարային շեղումը որոշվում է առանց
սկզբնական սխալների վերլուծման, ի տարբերություն վերլուծական- հաշվարկային եղանակի:
Դա կատարվում է պատրաստված (պատրաստվող) խմբաքանակից որոշակի թվով դետալների
որևէ պարամետրի չափման միջոցով: Վիճակագրական եղանակն ունի այն առավելությունը, որ
բավականին պարզ եղանակների միջոցով կարելի է բացահայտել հետազոտվող
տեխնոլոգիական պրոցեսի ընդհանուր պատկերը:

2.5. Պատրաստման ճշտության վիճակագրական վերլուծությունը մեծ ընտրանքների

եղանակով:
Մեծ ընտրանքներով վիճակագրական վերլուծության էությունը կայանում է հետևյալում`
գլխավոր ամբողջությունից վերցնում են ընտրանք, որն իրենից ներկայացնում է անփոփոխ
պայմաններում պատրաստված մի խումբ դետալներ (դետալների քանակը պետք է 25-ից շատ
լինի): Չափվում են բոլոր դետալների այն պարամետրերը, ըստ որոնց հետազոտվելու է
պատրաստման ճշտությունը և ստացված արժեքների մաթեմատիկական մշակման միջոցով
արվում է եզրակացություն պատրաստման ճշտության մասին:

3. ՓՈՐՁՆԱԿԱՆ ՄԱՍ
1. Ստանալ ռեզիստորները լաբորանտից n=100 հատ, չափել նրանց դիմադրությունները,
չափման արդյունքները դասավորել աճման կարգով և գրանցել աղյուսակ 1-ում:
2. Որոշել ցրման L դաշտը; L=Xmax-Xmin
3. Վիճակագրական տվյալների մշակման հարմարության համար ցրման դաշտը
բաժանում են միջակայքերի (սովորաբար 7-ից 13):
h=L/(7-13):
4. Որոշել միջակայքի սահմանային արժեքները (աղյուսյակ 3)` 1-ին միջակայքի
արժեքներն են Xmin, 2-րդ միջակայքինը` Xmin+h, Xmin+2h …., 13-րդ միջակայքինը` Xmin+12h, Xmax:
5. Որոշել էմպիրիկ բաշխման հաճախականությունը f(i) ռեզիստորների քանակությունը,
որոնց չափերը գտնվում են տվյալ միջակայքում (աղյուսակ 3):
6. Անընդհատ բնույթի պատահական մեծության էմպիրիկ բաշխումը կարելի է
ներկայացնել աստիճանային գրաֆիկի (հիստոգրամի) և բեկյալ գծի (պոլիգոնի) տեսքով:
Կառուցել բաշխման պոլիգոնը` (բաշխման էմպիրիկ կորը) աբսցիսների առանցքի վրա
տեղադրել միջակայքերի միջին արժեքները, իսկ օրդինատների առանցքի վրա` դրանց
համապատասխան հաճախականությունները:
7. Որոշել էմպիրիկ բաշխումը բնութագրող պարամետրերը x և S-ը:
3
 m m

X i fi (X i  X )2 fi
X  i 1
, S i 1

n n
որտեղ X -ը միջին թվաբանական արժեքն է, S-ը` էմպիրիկ միջին քառակուսային շեղումը, X i-
ն` i-րդ միջակայքի միջին արժեքը, f i-ն` i-րդ միջակայքի հաճախականությունը, n-ը`
ռեզիստորների քանակը ընտրանքի մեջ, m-ը միջակայքերի թիվը:
8. Գտնել հավասարեցված կորի հաճախականությունները f i (աղյուսակ 4 ):
9. Ըստ X i և fi արժեքների կառուցել նորմալ բաշխման օրենքով հավասարեցված կորը:

 ( x)
-
x
x2
1

x
Նկ.2 Կորեր տարբեր X -ով

 ( x)
S3

S2 S1 > S 2> S3

S1

Նկ.3 Կորեր տարբեր S -ով

ԴԻՄԱԴՐՈՒԹՅԱՆ ՊԱՏՐԱՍՏՄԱՆ ՃՇՏՈՒԹՅԱՆ ՎԵՐԼՈՒԾՈՒԹՅՈՒՆԸ ԿԱՐԵԼԻ Է

ԿԱՏԱՐԵԼ ՄԻԱՅՆ ՊԱՏԱՀԱԿԱՆ ՄԵԾՈՒԹՅԱՆ ԲԱՇԽՄԱՆ ՕՐԵՆՔԸ ԸՆՏՐԵԼՈՒՑ ՀԵՏՈ:

4
 Եթե էմպիրիկ բաշխումը ենթարկվում է նորմալ բաշխման օրենքին, ապա դիմադրության
պատրաստման ճշտությունը կարելի է գնահատել հետևյալ եղանակներով: Ենթադրելով, որ
բաշխումը ենթարկվում է այդ օրենքին, որոշել`
ա) պրոցեսի ճշտությունը,
բ) ճշտության հնարավոր պաշարը,
գ) հնարավոր խոտանի տոկոսը:
1) Դիմադրության պատրաստման ճշտությունը կարելի է համարել բավարար, եթե ցրման
դաշտը` 6  -ն փոքր է թույլտվածքի դաշտից`  թ: Պատրաստման ճշտությունը գնահատվում է
 գործակցով:
Եթե   6S /   1 , պրոցեսի ճշտությունը բավարար է,
  6S /   1 , պրոցեսի ճշտությունը բավարար չէ:
2) Սակայն խոտան կարող է առաջանալ նաև պրոցեսի բավարար ճշտության դեպքում, եթե
սխալների պատճառով X - ը այնքան է շեղվել թույլտվածքի դաշտի միջին արժեքից X միջ

նկատմամբ, որ պարամետրի իրական արժեքները դուրս են ընկնում թույլտվածքի դաշտից:

Առանց խոտան դետալների անհրաժեշտ է, որպեսզի   1 ,  փ   թ
 փ= X - X ÙÇç , որտեղ  փ - փաստացի շեղումն է

 թ= X - X ÙÇç ,  թ=  / 2  3S  թ- թույլատրելի շեղումը

t1 - t 2
  - թույլտվածքի դաշտի կեսը:
2
Որոշել հնարավոր խոտանի տոկոսը:
Խոտանի տոկոսը որոշելու համար պետք է գտնել թույլտվածքի դաշտից դուրս գտնվող
մակերեսը` q-ն:
 X 1( 2)  X 
q  0.5  (t1 )  100  0.5     100
 S 
 
+ եթե X1> X կամ X2< X
- եթե X1< X կամ X2> X
որտեղ` X1-ը սահմանային ամենափոքր արժեքն է,
X2-ը սահմանային ամենամեծ արժեքն է,
 t  -ը որոշվում է 2-րդ աղյուսակից:
դ/ Որոշել ճշտության հնարավոր պաշարը` Q :
Q =  /  տ.թ.
 տ.թ.=6S+ X - X ÙÇç , որտեղ  տ.թ.-տեխնոլոգիական թույլտվածքն է:

5
4.ՕԳՏԱԳՈՐԾՎՈՂ ՍԱՐՔԵՐԸ ԵՎ ՆՅՈՒԹԵՐԸ
1. Օհմմետր – մարկա և ԳՈՍՏ
2. 100 ռեզիստոր
3. Հաղորդալարեր

5.ՀԱՇՎԵՏՎՈՒԹՅՈՒՆ
1. Տեսական մասի համառոտ նկարագիրը:
2. Չափման և հաշվարկի աղյուսակները:
3. Հիստոգրամայի /պոլիգոնի/ գրաֆիկը:
4. Հավանականությունների խտության կորը:
Ստուգիչ հարցեր  t  -ի կախվածությունը t-ից: