TRIBOLOGIA

Topografia de superfície
 Topografia de superfície

INTRODUÇÃO - a superfície de um sólido

delimita seu volume e define a região onde as
interações com o ambiente ocorrem.

 É a fronteira geométrica entre o sólido e o

ambiente;
 Corresponde a descontinuidade no arranjo periódico
dos átomos (defeito);
 o estado vibracional, separação interatômica e
estado eletrônico são muito diferentes daqueles dos
átomos do interior de um sólido.
 Topografia de superfície

 Tribologia está associada com a superfície e a

região próxima à superfície.
 Topografia de superfície

Estrutura Cúbica de corpo centrado mostrando o número de vizinhos mais

próximos de um átomo: (a) dentro de um solido; b) sobre sua superfície.
 Topografia de superfície

Superfície ideal: definida em termos das últimas camadas

atômicas com dimensão de apenas vários nanometros.

Superfície real: descreve uma região que se estende bem

abaixo da superfície, até a profundidade de vários
micrometros. As propriedades mecânicas, fisicoquímicas
e estruturais desta região difere consideravelmente
daquelas do ‘volume’ do material, bem como aquelas de
uma superfície ideal.
 Topografia de superfície
Uma superfície é constituída de várias camadas:

Detalhes de uma superfície sólida: textura da superfície (eixo vertical ampliado) e

camadas típicas da superfície
 Topografia de superfície
Physisorbed Layer – constituintes mais comuns são moléculas de
vapor d’água, oxigênio ou hidrocarbonetos do ambiente – 0,3 nm.
Forças fracas de Wan der Waals.
Chemisorbed Layer – há compartilhamento ou troca de elétrons dos
elementos e a superfície. Limitada a uma monocamada.
Chemically Reacted Layer – camada de óxidos (ou sulfetos, nitretos
e cloretos dependendo da atmosfera). 10 a 100 nm.
Beilby Layer – produzida pela fusão e cisalhamento da superfície na
usinagem. Subsequentemente endurecidas por têmpera quando
depositadas no material mais frio. 1 a 100 nm.
Deformed Layer – propriedades metalurgicas podem variar
consideravelmente do material durante a preparação da superfície.
Plasticamente deformadas e, as vezes, com tensão residual. 10 a 100
µm.
 Topografia de superfície
No processo de fabricação, o contato entre a superfície e a
ferramenta de usinagem modifica a estrutura cristalina das
camadas superficiais através de estresse mecânico e térmico.
 Topografia de superfície
I – zona de contaminação – consiste de uma camada de gases
adsorvidos, como vapor d’água, hidrocarbonetos e outros poluentes
atmosféricos. Esta camada se estende a poucos nanometros.
II – Segunda zona – feita de produtos que surgem da interação com
o ambiente e geralmente consiste de óxidos, cuja composição
depende tanto do metal base como do ambiente.
III – Terceira zona - estrutura do material que foi significativamente
encruado e onde a matriz cristalina foi destruída. Esta camada,
conhecida como camada de Beilby, se estende a profundidade de
cerca de um micrometro.
IV – Quarta zona – foi mecanicamente deformada pelo acúmulo de
tensão residual. Espessura vai de vários até dezenas de micrometros.
V – Quinta zona – corresponde a estrutura original do material sem
modificações.
 Topografia de superfície
É importante distinguir a topografia da superfície em escala atômica
de sua geometria em escala micrométrica.
Em escala atômica, a superfície aparece como uma série de
degraus/bordas e planos atômicos que contêm numerosos defeitos
pontuais.

Representação visual de defeitos em escala atômica sobre a superfície de um sólido

 Topografia de superfície
Caracterização de camadas de superfície
• MEV, MO → seção transversal (microestrutura);
• MET → estrutura microcristalina e densidade de discordâncias;
• DRX → estrutura cristalina da superfície;
• EDS → análise dos elementos da superfície;
• XPS, FIB entre outros → análises químicas e de espessura
 Topografia de superfície
Estrutura da superfície
Todas superfícies são rugosas → escala de amplição;

• Rugosidade → caracterizada por asperidades de

amplitude e espaçamento variáveis;
• Distribuição das asperidades:
• Direcional → torneamento, fresamento, etc.
• Homogênea → polimento, jateamento, etc.
• Superfícies:
• Isotrópica;
• Anisotrópica.
 Topografia de superfície
Estrutura da superfície
Estrutura da superfície inclui:
• Rugosidade → flutuações de pequeno comprimento de onda;
• Ondulação → irregularidade da superfície com maior
comprimento de onda;
• Orientação das irregularidades → direção principal do padrão de
superfície predominante;
• Falha → interrupções unidirecionais inesperadas;
 Topografia de superfície
Textura da superfície
São os desvios locais de uma superfície de um plano perfeitamente
liso:

Formas de produzir textura:

• Retífica, polimento, lapidação, eletroerosão, tornemento,
fresamento, laser, etc.;

Caracterização: através de perfilômetro.

 Topografia de superfície

Isotrópico – lixamento aleatório

Anisotrópico – lixamento unidirecional

Imagens de perfilometria óptica

tridimensional de vários tipos de Isotrópico – polimento aleatório
superfícies
 Topografia de superfície
Classificação dos Parâmetros de Rugosidade
Rugosidade → variações na altura da superfície em relação a um
plano de referência.
• 2D;
• 3D.

Parâmetros de rugosidade são normalmente classificados em 3

grupos de acordo com sua funcionalidade:
• Parâmetros de amplitude;
• Parâmetros de espaçamento;
• Parâmetros híbridos;
 Topografia de superfície
Classificação dos Parâmetros de Rugosidade
Parâmetros de amplitude → características verticais de desvios da
superfície. São os mais importantes para caracterizar uma superfície.
 Topografia de superfície
Classificação dos Parâmetros de Rugosidade
Parâmetros de espaçamento → características horizontais de
desvios da superfície. Como a amplitude da rugosidade, o
espaçamento dos picos da rugosidade é igualmente importante.
 Topografia de superfície
Classificação dos Parâmetros de Rugosidade
Parâmetros híbridos → são uma combinação das características
verticais e horizontais de desvio da superfície (combinação dos
parâmetros de amplitude e espaçamento).
Classificação dos Parâmetros de Rugosidade

• Processos de fabricação diferentes → texturas

de superfície diferentes.

• Aplicações diferentes → requerem diferentes

texturas → parâmetros de rugosidade diferentes
para avaliar a superfície.
Perfil de rugosidade e valores de rugosidade para uma superfície unidirecional
obtidos por perfilômetro óptico
Perfil uma superfície (a) anisotrópica e (b) isotrópica.
Perfil uma superfície (a) anisotrópica e (b) isotrópica.
 Parâmetros de Rugosidade
Parâmetros de Amplitude

Rugosidade média (Ra) é desvio aritmético da média. A média

aritmética dos valores absolutos das ordenadas de afastamento (yi),
dos pontos do perfil de rugosidade em relação à linha média, dentro
do percurso de medição (lm)

Unidade (µm)

1 L
Ra   z ( x) .dx
L 0
 Topografia de superfície

Linha média - é a linha paralela à direção geral do perfil, no

comprimento da amostragem, de tal modo que a soma das áreas
superiores, compreendidas entre ela e o perfil efetivo, seja igual à
soma das áreas inferiores, no comprimento da amostragem (le)

Perfil de uma superfície utilizado para calcular o valor de Ra.

 Topografia de superfície

 Ra – parâmetro mais usado universalmente para controle de

qualidade geral.
 Fácil de definir e de medir e útil para detectar variações gerais
sobre as características das alturas de uma superfície.
 Ra somente quantifica a magnitude “absoluta” das alturas das
asperidades.
 Insensível à distribuição espacial das alturas.

Medição de Ra.
 Topografia de superfície

Vários perfis de superfície que tem o mesmo valor de Ra

 Topografia de superfície

Valores de Ra para várias superfícies:

 Fundição > 10 µm
 Usinagem de desbaste: 3 – 10 µm

 Usinagem de acabamento: 1 – 3 µm

 Retífica e polimento: 0,2 – 1 µm

 Lapidação: 0,02 – 0,4 µm

 Topografia de superfície
Rq  é o valor r.m.s. da rugosidade – raiz quadrada do
desvio do perfil da linha média.
1 L 2
Rq   y ( x).dx
2

L 0
 Rq é muito similar ao Ra;
 Insensível a distribuição espacial das alturas das

asperidades;
 Mais sensível aos picos e vales pois seu valor é levado ao

quadrado no cálculo de Rq;

 Para uma distribuição gaussiana das alturas das

asperidades, Rq=1,25 Ra.

 Topografia de superfície
Descrição de um perfil por um número  informação
importante sobre a topografia é perdida;
 Para uma completa descrição da topografia 
distribuição de probabilidade das alturas da superfície e a
distribuição espacial dos picos e vales da superfície.
 Topografia de superfície
Topografia em escala micrométrica - Processos de usinagem como
torneamento, fresamento,
polimento, entre outros,
inevitavelmente induzem a
algum grau de rugosidade
superficial, que pode ser
descrita por uma função z(x,y)
que define os defeitos
topográficos em um ponto (x,y)
como mostrado na figura b e c.
a) Analise 3D de uma superfície e seção
transversal de um perfil desta superfície;
b) perfil de rugosidade da seção
transversal (a); c) p(z) é a função de
distribuição de alturas, (z) a altura média
e (Rt) a altura rugosidade total
 Estatística para definir uma
superfície
Para descrever a distribuição de alturas, é considerada a função
z(x,y) como um valor aleatório, introduzindo a função densidade de
probabilidade p(z):

p( z)dz  probz  z( x, y)  z  dz

Onde:



p ( z ) dz  1 para p(z)  0

p(z)dz representa a probabilidade que a altura a um ponto

coordenado (x,y) esteja entre z e z+dz.
 Topografia de superfície
Skewness – (RSK)

Usada para medir a simetria do perfil sobre a linha média -

caracteriza a assimetria de p(z) relativo a distribuição
Gaussiana. Um perfil da superfície onde a área total de
vales é menor que a área total de picos terá uma Sk
positiva e no caso oposto Sk será negativa.

 Pode ser usada para diferenciar superfícies que tem

formas diferentes e o mesmo valor de Ra.
 Topografia de superfície
Skewness

Coeficiente de assimetria (Sk) de um perfil de rugosidade relativo a um perfil Gaussiano

 Topografia de superfície
Kurtosis - (RKU)
 Usado para medir a ‘agudeza (sharpness)’ do perfil sobre

a linha média.
 caracteriza a forma do pico de p(z) relativo a distribuição

Gaussiana.
 Para Ek menor que 3, o número total de pontos da

vizinhança da linha média é maior que aquele para uma

distribuição normal. Ao contrário, quando Ek é maior que
3, a maioria dos pontos estão longe da curva média, que
resulta num perfil com muitos picos altos.
 Diferencia superfícies que tem formas diferentes e tem o

mesmo valor de Ra
 Topografia de superfície

Coeficiente de pico (Ek) de um perfil de rugosidade relativo a um perfil Gaussiano

 Topografia de superfície

Coeficiente de pico (Ek) de um perfil de rugosidade relativo a um perfil Gaussiano

 Topografia de superfície
Vários outros parâmetros de amplitude:
Rp  altura máxima dos picos;
Rv  profundidade máxima dos vales;
Rt  altura máxima do perfil;
Rpm  altura média dos picos;
Rvm  profundidade média dos vales;
Outros

Em muitas aplicações tribológicas, altura das asperidades mais

altas sobre a linha média é um parâmetro importante devido
ao dano que pode ser feito na interface por poucas
asperidades altas presentes em uma das duas superfícies
 Parâmetros de Rugosidade
Parâmetros de Espaçamento
Contagem de picos (Pc) -
Definido como o número local de picos, que é projetado sobre uma
faixa selecionada localizada acima e abaixo da linha média pela
mesma distância.
Importante no desempenho de superfícies de atrito, como freios.

Cálculo do parâmetro Pc dentro de uma faixa selecionada

 Parâmetros de Rugosidade
Outros Parâmetros de Espaçamento
Espaçamento médio de picos adjacentes (S)

Cálculo do espaçamento médio de picos locais adjacentes

 Parâmetros de Rugosidade
Outros Parâmetros de Espaçamento
Espaçamento médio sobre a linha média (Sm) -

Cálculo do espaçamento médio na linha média.

 Parâmetros de Rugosidade
Comprimento de suporte e Curva de razão de
suporte

Comprimento de suporte –

Definido como a porcentagem de um material sólido do perfil que

está a determinada altura.

Curva de razão de suporte –

Definida como a porcentagem do plano que intercepta material pela
profundidade do plano na superfície.
 Topografia de superfície

Curva de suporte de área ou curva de Abbott

 Técnicas de medição

Em geral, a topografia de uma superfície é medida

utilizando perfilômetros:

a) Contato;
b) Sem contato (óptico).
 Técnicas de medição
Método mais comum – RUGOSÍMETRO com agulha (stylus)
Fina agulha é puxada suave e constantemente sobre uma superfície

Resultado: gráfico que representa o deslocamento vertical da agulha

em função da distância percorrida ao longo da superfície.
 Técnicas de medição

Faixa de medição (distância entre

picos e vales) de um perfilômetro
típico:
10 nm a 1 mm
Técnicas de medição
 Técnicas de medição

Alumínio jateado com areia

Parâmetros de rugosidade da superfície: Ra = 3.1 µm, Rt = 40 µm, Sk = 0.03, Ek = 4.36
 Técnicas de medição

Esquema de um stylus
cônico de diamante Distorção de perfil devido a dimensões finitas do stylus
mostrando o ângulo do
cone e o raio de ponta.
 Técnicas de medição

Micrografia obtida em MEV de um traço feito por uma agulha de

rugosímetro mostrando o dano a uma superfície
 Técnicas de medição
Ampliação _ y
 10  5000
Ampliação _ x

Anamorfose

a) Perfil de uma superfície real muito ampliada, b) mesma superfície

com ampliação vertical 5 vezes maior e c) 50:1
 Técnicas de medição

 Inclinações das superfícies aparecem muito mais

íngremes do elas realmente são, raramente ultrapassam
10 °;
 Limitações da forma da agulha (diamante) - resistência;
 Todas agulhas produzem alguma distorção da superfície
devido às suas dimensões;
 Outra fonte de erros é a carga sobre a agulha que pode
distorcer ou danificar a superfície;
 Métodos óticos (sem contato) gravam o perfil da
superfície sem distorção ou dano (interferômetro ótico).
 Técnicas de medição
Sistemas ópticos

Princípio do microscópio confocal

 Técnicas de medição
Sistemas ópticos

Catálogo Taylor-Robson - Talysurf CCI Optical Profiling System

 Técnicas de medição

Impressão de um indentador esférico de óxido de alumínio sobre

uma superfície de cobre
 Técnicas de medição
Outros métodos:

 Microscópio de força atômica – AFM

 Microscópio de tunelamento
• Materiais metálicos e semicondutores;
• Resolução de Angstrons;
 Técnicas de medição
 Microscópio de tunelamento

O princípio de operação do microscópio de tunelamento

é baseado na medição da corrente elétrica que surge
devido ao ‘tunelamento’ (efeito túnel) entre um uma fina
sonda (probe) e a superfície da amostra quando estão
separadas por uma distância de poucos angströms (0,3–
1 nm), e sujeitas a uma diferença de potencial de poucas
dezenas de milivolts (10 mV to 1 V). Os ‘probes’ usados
são geralmente feitos de tungstênio ou de platina-irídio e
tem um raio de curvatura de poucos nanometros.
 Técnicas de medição
 Microscópio de tunelamento

Princípio do microscópio de tunelamento

 Técnicas de medição
 Microscópio de tunelamento

Com o movimento da sonda sobre a superfície, um

sistema de controle eletrônico mede a ‘corrente de
tunelamento’ e aproxima ou afasta a ponta da sonda da
superfície para garantir uma intensidade de corrente
constante. Gravando as variações da distância entre a
sonda e a superfície em função das coordenadas dos
pontos escaneados é obtida uma representação 3D em
escala atômica da topografia da superfície.
 Técnicas de medição
 Microscópio de tunelamento

Superfície de uma amostra de silício Si (111): os átomos de silício

aparecem claramente na figura.
 Técnicas de medição
 Microscópio de força atômica – AFM
Este microscópio é sensível a forças resultantes de
interações entre a superfície um uma fina sonda (probe)
fixada na ponta de um cantilever (placa de mola
helicoidal) com uma baixa constante (0,1–10 N .m–1).
Quando sujeita a estas forças (com intensidade na faixa
de 10–13–10–6 N) o cantilever é sujeito a uma deflexão de
poucas dezenas de nanometros que é gravado pela
medição da variação da deflexão de um feixe de laser na
extremidade do cantilever.
 Técnicas de medição
 Microscópio de força atômica – AFM

Microscópio de Força Atômica (AFM).

 Técnicas de medição
 Microscópio de força atômica – AFM

Imagem de um revestimento de cobre depositado sobre silício por

magnetron sputtering reativo, obtido por Microscopia de Força
Atômica.
 Técnicas de medição
QUANTIFICANDO RUGOSIDADE SUPERFICIAL

Necessário diferenciar elementos que compõe a superfície

 Técnicas de medição
Rugosidade  irregularidades de pequena escala de uma
superfície

Erro de forma  medida do desvio da forma ideal planejada (ex.:

plana, cilíndrica, esférica).
(distinção entre rugosidade e erro de forma é arbitrária)

Ondulação  ondulação periódica da superfície em escala

intermediária entre rugosidade e erro de forma.

Rugosímetros possuem filtros para eliminar irregularidades

mecânicos  ex.: patim
eletrônicos  ex.: rotinas – cut-off
 Técnicas de medição

Perfil efetivo, obtido com impressora Perfil de rugosidade (após filtro de

de rugosím. (sem filtrar ondulações) ondulação)

Gráficos gerados fornecem maioria da informação necessária para

descrever as superfícies ao longo de uma mesma direção, porém,
não fornecem informação simples e facilmente interpretada.

Valores numéricos que representam a superfície

 Mais comum  Ra – (Roughness average) rugosidade média
(µm)
 Técnicas de medição
Rugosímetro  informação bidimensional da superfície
(muitos tipos de acabamento são direcionais, ex.:
torneamento, fresamento, retífica, etc.)

Medida feita na direção das marcas de

usinagem  valor máximo da
rugosidade da superfície
(não fornece informações em direções
paralelas às marcas de usinagem)
Técnicas de medição

(a) Aço - retificado

(b) Aço – shot-blasted
(c) Torneado com diamante
Técnicas de medição
 Topografia de superfície

Linha média - é a linha paralela à direção geral do perfil, no

comprimento da amostragem, de tal modo que a soma das áreas
superiores, compreendidas entre ela e o perfil efetivo, seja igual à
soma das áreas inferiores, no comprimento da amostragem (le)

Perfil de uma superfície utilizado para calcular o valor de Ra.