BỘ CÔNG THƯƠNG

TRƯỜNG ĐH CÔNG NGHIỆP THỰC PHẨM TP. HỒ CHÍ MINH

KIỂM TRA CHẤT LƯỢNG VẬT LIỆU

PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ TIA X

(XRD)

GVHD: TS.Nguyễn Học Thắng

Nhóm: 9
 TÊN THÀNH VIÊN

☺ Lê Thị Cẫm Tiên - 2004160182

☺ Phùng Thị Hồng Nhung - 2004160324
☺ Lê Thị Y Thoa - 200416062
 NỘI DUNG

TIA X

NHIỄU XẠ TIA X

THIẾT BỊ
 LỊCH SỬ HÌNH THÀNH

• Năm 1895 Rơntghen tình cờ phát

hiện ra tia X.
• Năm 1901 Ông đạt giải Nobel

• Max von Laue: quan sát và giải thích hiện

tượng nhiễu xa ̣tia X trên tinh thể vào năm
1912.
• Ông nhận giải Nobel năm 1914 cho công
trình này.
 LỊCH SỬ HÌNH THÀNH

W.H.Bragg và W.L.Bragg:
Nhận giải Nobel năm 1915 cho sự đóng góp trong
việc phân tích cấu trúc tinh thể bằng tia X
 TIA X
ĐỊNH NGHĨA

BẢN CHẤT TIA X

TÍNH CHẤT TIA X

CƠ CHẾ TẠO TIA X

ỨNG DỤNG
 ĐỊNH NGHĨA

• Tia X là bức xạ điện từ ở bước sóng ngắn,

năng lượng lớn.
• Nhiễu xạ (Diffraction) là hiện tượng quan sát
được khi sóng lan truyền qua khe nhỏ hoặc
mép vật cản.
 ĐỊNH NGHĨA

• Nhiễu xạ tia X là hiện tượng các chùm tia X nhiễu

xạ trên các mặt tinh thể của chất rắn do tính tuần
hoàn của cấu trúc tinh thể tạo nên các cực đại và
cực tiểu nhiễu xạ.
• Nhiễu xạ X-ray (XRD) là một kỹ thuật phân tích
không phá hủy
 BẢN CHẤT TIA X
Các thông số về tia X
• Năng lượng: 200eV – 1MeV
• Bước sóng: 10 nm – 1 pm
• Bước sóng thuận tiện cho nghiên cứu nhiễu xạ tia X
là 0,05 – 0,25 nm.
 TÍNH CHẤT TIA X
• Không nhìn thấy
• Truyền thẳng trong không gian tự do
• Phản xạ → bị che chắn bởi môi trường
• Hấp thụ → bị suy giảm bởi cường độ môi trường
• Truyền qua → có tính ‘thấu quang’ với nhiều môi trường
không trong suốt.
• Khúc xạ → bởi chiết xuất của môi trường vật chất
• Phản ứng quang hóa → tác dụng lên phim ảnh
 CƠ CHẾ TẠO TIA X
Tự nhiên
Tương tác của chúng với vật chất ở đây làm phát
sinh tia X theo hai cơ chế chính:
• Bức xạ hãm các hạt tích điện, phát ra photon có
dải năng lượng từ tia gamma đến tia X.
• Các photon của tia gamma và tia X năng lượng
cao tán xạ theo hiệu ứng Compton tạo ra tia X
thứ cấp.
 CƠ CHẾ TẠO TIA X
Nước vào
Nhân tạo

Nguồn điện
 ỨNG DỤNG
• Sử dụng trong Y tế:
- Chẩn đoán cấu trúc xương
- Chẩn đoán và điều trị nhiều bệnh tật một cách
nhanh chóng
• Phục vụ kiểm tra an ninh tại cửa khẩu:
- Xác định đồ vật bên trong hành lý gói kín hay
trong quần áo trên thân người.
- Quét dò kim loại, thu được thông tin tin cậy hơn
về đối tượng được quét.
 ỨNG DỤNG

• Hóa phân tích dùng tia X: phân tích thành

phần hóa học của vật rắn.
• Thiên văn học tia X: Thiên văn học tia X
nghiên cứu các vật thể vũ trụ ở các bước
sóng tia X
NHIỄU XẠ TIA X

ĐỊNH LUẬT BRAGG

CÁC PHƯƠNG PHÁP NHIỄU

XẠ
 ĐỊNH LUẬT BRAGG

Định luật Vulf-Bragg được đưa ra năm 1915 thể

hiện mối quan hệ giữa bước sóng tia X và khoảng
cách giữa các mặt phẳng nguyên tử.
Định luật Bragg giả thiết rằng mỗi mặt phẳng
nguyên tử phản xạ sóng tới độc lập như phản xạ
gương.
ĐỊNH LUẬT BRAGG
ĐỊNH LUẬT BRAGG

• Điều kiện để nhiễu xạ là:

𝑛𝜆 = 𝑆𝑄 + 𝑄𝑇
hay
𝑛𝜆 = 2𝑑ℎ𝑘𝑙 𝑠𝑖𝑛𝜃
n = 1, 2, 3,…gọi là bậc phản xạ.
 ĐỊNH LUẬT BRAGG

𝑛𝜆 = 2𝑑ℎ𝑘𝑙 𝑠𝑖𝑛𝜃
Phương trình trên chính là định luật Bragg biểu
thị mối quan hệ đơn giản giữa góc của các tia
nhiễu xạ với bước sóng tia x và khoảng cách giữa
các mặt phẳng nguyên tử 𝑑ℎ𝑘𝑙 .
 ĐỊNH LUẬT BRAGG
• Trong hầu hết các trường hợp, bậc phản xạ thứ
nhất được sử dụng, n = 1, do đó, định luật Bragg
được viết như sau:
𝜆 = 2𝑑ℎ𝑘𝑙 𝑠𝑖𝑛𝜃
• Khi n > 1, các phản xạ được gọi là phản xạ bậc
cao. Ta có thể viết phương trình như sau:
𝑑ℎ𝑘𝑙
𝜆=2 𝑠𝑖𝑛𝜃
𝑛
 ĐỊNH LUẬT BRAGG

• Định luật Bragg là điều kiện cần nhưng

chưa đủ cho nhiễu xạ tia X, vì nhiễu xạ chỉ
có thể chắc chắn xảy ra với các ô đơn vị
có các nguyên tử ở ô góc mạng.
CÁC PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ

1.Phương pháp Laue

2.Phương pháp quay đơn tinh thể
3.Phương pháp nhiễu xạ bột
 CÁC PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ
PHƯƠNG PHÁP LAUE
Là phương pháp chiếu chùm tia X đa sắc (λ thay đổi) lên
đơn tinh thể đứng yên, tia nhiễu xạ được ghi nhận bởi
các vết nhiễu xạ trên phim.
Ảnh nhiễu xạ gồm
một loạt các vết đặc
trưng cho tính đối
xứng của tinh thể.
 CÁC PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ
PHƯƠNG PHÁP QUAY ĐƠN TINH THỂ
Là chiếu chùm tia X đơn sắc (λ không đổi) lên đơn tinh thể
quay (θ thay đổi) quanh một phương tinh thể nào đó..

- Phim được đặt vào mặt

trong của buồng hình trụ
cố định
- Mẫu đơn tinh thể được gắn
trên thanh quay đồng trục
với buồng
CÁC PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ
PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ BỘT
Sử dụng các mẫu là mẫu đa
tinh thể
Sử dụng một chùm tia X song
song hẹp, đơn sắc, chiếu vào mẫu.
Quay mẫu và quay đầu thu
chùm nhiễu xạ trên đường tròn
đồng tâm.
-> phổ nhiễu xạ sẽ là sự phụ
thuộc của nhiễu xạ vào 2 lần góc
nhiễu xạ (2θ)
CÁC PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ
PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ BỘT
Đối với các mẫu màng mỏng,
cách thức thực hiện có một
chút khác, người ta chiếu tia X
tới dưới góc rất hẹp (để tăng
chiều dài tia X tương tác màng
mỏng), giữ cố định mẫu và chỉ
quay đầu thu.
=> Phương pháp nhiễu xạ bột cho phép xác định thành
phần pha, tỷ phần pha, cấu trúc tinh thể (các tham số
mạng tinh thể) và rất dễ thực hiện.
PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG THIẾT
BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO

Cấu tạo:

• Ống phát tia X

• Hệ thống làm mát tia X
• Hệ giác kế
• Detector
 PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG
THIẾT BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO
PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG THIẾT
BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO

• Hệ giác kế (Goniometer) được cơ

khí chính xác và điều khiển bởi
phần mềm đo nhiễu xạ X’Pert
Collector Data.
• Người dùng có thể tùy chọn góc
quét, thời gian quét và bước quét
(step size) trên máy tính kết nối với
hệ máy.
 PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG THIẾT
BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO

Hệ thống thu nhận chùm tia nhiễu xạ

(Detector) là thiết bị đếm số photon tia
X bị nhiễu xạ trên mẫu. Dectector là
một buồng hình trụ bên trong chứa hỗn
hợp xenon và mêtan, cửa sổ beryllium
của detector có kích thước 20 mm x
24mm.
 PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG THIẾT
BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO

Máy nhiễu xạ X X’PERT PRO do hãng Panalytical – Hà

Lan sản xuất năm 2005 có các thông số:

Ống phóng tia X

• Công suất tối đa: 2.2 kW
• Điện áp tối đa: 60 kV
• Cường độ dòng tối đa: 60 mA
 PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG
THIẾT BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO

Bộ đo góc
 Độ lặp lại góc: 0,0001º
 Dải đo góc 2θ: -40o đến 220o 2θ
 Tốc độ quét: từ 0,0001 đến 1,27 độ/giây Detector
 Khả năng đo: Có khả năng đọc hội tụ vạch
Phần mềm:Tích hợp pha nhận dạng với tinh thể học và bán
định lượng
 PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG
THIẾT BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO
Nhiễu xạ bột
Chuẩn bị mẫu: Các mẫu zeolite được chuẩn bị và tổng
hợp bằng phương pháp kết tinh thủy nhiệt. Các mẫu bột
này cần được nghiền mịn trước khi phân tích. Trong quá
trình nghiền các pha sẽ được trộn đều trong toàn bộ mẫu.
 PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG
THIẾT BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO
NGUYÊN LÍ HOẠT ĐỘNG

Cho một lớp mỏng mẫu bột đã nghiền và dàn thật

đều trên mặt kính làm giá đỡ, sau đó đặt vào hộp để
mẫu phân tích trên máy.
 PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG THIẾT
BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO

Trước khi đưa thiết bị vào hoạt động, các bước vận
hành sau phải được tuân thủ chính xác:

 Bật hệ thống làm lạnh.

 Bật nguồn cấp cho hệ thiết bị chính.
 Kiểm tra an toàn và tình trạng hoạt động của máy.
 Kiểm tra đèn báo hiệu xuất hiện tia X khởi đầu phía
trên đỉnh của thiết bị, kiểm tra đèn báo rò rỉ bức xạ
(Shutter open).
 PHÂN TÍCH ZEOLITE 4A BẰNG
THIẾT BỊ NHIỄU XẠ X X’PERT PRO
• Khởi động máy tính và phần mềm điều khiển Data Collector, kết
nối thiết bị với máy tính và chương trình điều khiển.
• Chờ 30 phút cho đến khi cao thế đạt 45 kV, dòng đạt 40 mA.Đo đạc
có thể được tiến hành.
• Cài đặt các thông số để quét mẫu : điện áp, góc theta, bước quét và
thời gian quét.
• Nhấn start để ghi phổ, lưu file dữ liệu phổ, sử dụng phần mềm để
xử lí phổ.
Phổ nhiễu xạ của zeolite 4A - 3
 ƯU NHƯỢC ĐIỂM PHƯƠNG PHÁP

Ưu điểm
– Dễ chuẩn bị mẫu hơn đơn tinh thể và có sự phản xạ từ tất cả
các pha hiện diện trong mẫu.
– Không phá hủy mẫu.
– Chỉ cần lượng mẫu ít, phân tích nhanh, quá trình phân tích
tương đối dễ thực hiện, độ chính xác cao.
 ƯU NHƯỢC ĐIỂM PHƯƠNG PHÁP

Nhược điểm
– Sự đối xứng của tinh thể không thấy được trực tiếp từ ảnh
nhiễu xạ.
– Các hỗn hợp đa pha có thể gặp khó khăn.
– Định hướng ưu tiên có thể dẫn đến việc xác định cường độ
của các vạch không chính xác.
– Thiết bị mắc tiền.
 Định tính

Xác định được thành phần hóa học và nồng độ các

chất có trong mẫu. Bởi vì mỗi chất có trong mẫu
cho trên ảnh nhiễu xạ một pha đặc trưng (cho một
hệ vạch nhiễu xạ tương ứng trên giản đồ nhiễu xạ).
Nếu mẫu gồm nhiều pha (hỗn hợp) nghĩa là gồm
nhiều loại ô mạng thì trên giản đồ nhiễu xạ sẽ tồn
tại đồng thời nhiều hệ vạch độc lập nhau. Phân tích
các vạch ta có thể xác định được các pha có trong
mẫu, đây là cơ sở để phân tích pha định tính.
 Định lượng
• Dựa vào cường độ của tia nhiễu xạ (I) phụ thuộc vào
nồng độ của pha tương ứng trong hỗn hợp. Nếu đo
được cường độ thì có thể xác định được nồng độ pha.
Các pha chưa biết trong vật liệu có thể xác định được
bằng cách so sánh số liệu nhận được từ giản đồ nhiễu
xạ tia X từ thực nghiệm với số liệu chuẩn trong thư
viện mẫu chuẩn, từ đó ta tính đựơc tỷ lệ nồng độ các
chất trong hỗn hợp.
• Định lượng bằng cách so sánh đường chuẩn