LÝ THUYẾT NHIỄU XẠ

Nội dung
1. Nhiễu xạ. Phương pháp nhiễu xạ tia X,
nhiễu xạ notron, nhiễu xạ điện tử
2. Định luật Bragg
3. Cường độ nhiễu xạ
1. Nhiễu xạ. Phương pháp nhiễu xạ tia X, nhiễu
xạ notron, nhiễu xạ điện tử
Nguyên tắc của nhiễu xạ: chiếu
một chùm tia tới vào vật rắn.
Sóng tới các nguyên tử vật rắn,
tương tác với chúng, kích thích
chúng phát ra các sóng mới. Các
sóng tán xạ từ các nguyên tử
khác nhau này giao thoa với
nhau, do vậy ảnh nhiễu xạ thu
được có dạng sóng giao thoa có
các điểm với biên độ cực đại và
cực tiểu.

Trong vật lý, thường sử dụng

nhiễu xạ tia X, notron, điện
tử.
 Nơtron, điện tử: sóng với bước sóng tương đương

- Tại sao có nhiễu xạ tia X, nơtron, điện tử?

Trong tinh thể vật liệu, khoảng cách giữa các nguyên tử ~ Angstrom.
Bước sóng của tia X, notron có thể so sánh được với hằng số mạng
tinh thể.

Ứng dụng nhiễu xạ:

- Phân tích cấu trúc tinh thể, (chất lỏng)
- Xác định thành phần các pha trong mẫu đa tinh thể
- Xác định kích thước các hạt tinh thể (áp dụng cho các mẫu nano)
- Nghiên cứu màng mỏng
- Phân tích texture
…
1.1. Nhiễu xạ tia X
- Bước sóng:
- Khi tia X tới các nguyên tử của chất rắn, chúng làm các electron hóa trị của
nguyên tử dao động quanh vị trí cân bằng của chúng. Do vậy nguyên tử sẽ phát ra
các sóng điện từ với cùng tần số. Đây là hiện tượng tán xạ đàn hồi (tán xạ Rayleigh).
Các tia X tán xạ từ các nguyên tử khác nhau trong vật rắn giao thoa với nhau tạo ra
ảnh nhiễu xạ tia X
- Độ đâm sâu: cỡ ~ μm

1.2. Nhiễu xạ nơtron

- Sử dụng notron nhiệt có năng lượng E ~ 5 – 500 MeV (nếu E = 25.3MeV, λ=1.798
Å)
Nơtron có ưu điểm:
- Đô đâm sâu tốt cỡ ~ mm
- Nơtron tương tác với hạt nhân nguyên tử. Do vậy dùng nhiễu xạ nơtron có thể
phân biệt được các đồng vị.
- Nơtron có spin. Do đó notron tương tác với moment từ cua nguyên tử. Do vật
nhiễu xạ notron dùng để phân tích cấu trúc từ tính của vật liệu
So sánh nhiễu xạ tia X và nhiễu xạ nơtron
1.3. Nhiễu xạ điện tử
- Độ đâm sâu: ~ 10 lớp nguyên tử
- Electron là những hạt mang điện, do vậy khác với trường hợp sử dụng tia X và
nơtron (không mang điện), electron tương tác với vật rắn bằng lực Coulomb giữa
electron tới với hạt nhân và giữa electron tới với electron của nguyên tử vật
rắn.

Bài tập: Lập bảng so sánh nhiễu xạ tia X, nhiễu xạ điện tử, nhiễu xạ nơtron

Phân biệt tán xạ, giao thoa, nhiễu xạ:

Tán xạ: Quá trình hấp thụ và bức xạ khi sóng điện từ tương tác với nguyên tử (1
nguyên tử) gọi là hiện tượng tán xạ.
Giao thoa: tống hợp sóng sau khi tán xạ bởi các nguyên tử vật rắn. Các sóng kết hợp
cùng pha cho sóng tổng hợp biên độ cực đại, sóng lệch pha 180° cho sóng tổng hợp
với biên độ cực tiểu.
Nhiễu xạ = giao thoa của nhiều sóng tán xạ
2. Định luật Bragg
2.1. Định luật Bragg
θ θ
William Henry Bragg
William Lawrence Bragg d
A C
Giả thiết rằng tinh thể được cấu tạo từ các B 2dsinθ = λ
mặt phẳng tinh thể song song với nhau,
cách nhau khoảng d.
- Khi chiếu chùm bức xạ với bước sóng λ
(tia X, điện tử, nơtron) tới tinh thể, tạo góc 2dsinθ = nλ
θ với mặt phẳng tinh thể, chúng bị phản xạ
(gương). Các tia phản xạ giao thoa với
nhau và tuân theo định luật Vulf-Bragg:
n=1,2,3… bậc phản xạ

a. n=1: bậc phản xạ thứ nhất 2dhklsinθ = λ

b. n>1: phản xạ bậc cao 2sinθ = λ

Tương đương: nhiễu xạ bậc một xảy ra khi phản xạ tia tới khỏi mặt phẳng (nh,nk,nl)
song song với (hkl), nhưng với khoảng cách nhỏ hơn 1/n lần
 2dsinθ = nλ

Nhận xét: Từ công thức Bragg trên đưa ra hai giả thiết xác định cấu trúc đơn tinh thể
bằng thực nghiệm:
1. Cố định góc θ (cố định hướng chiếu bức xạ), thay đổi bước sóng λ tia chiếu vào
2. Cố định bước sóng λ, thay đổi góc θ
n ac-60 0 0n n ac-h rpt-d
H RFD HRPT
N A C , D ec-0 4 N A C , = 1.886 Å
N o rm a liz e d in te n sity

In te n sity

0 .6 0 .8 1 .0 1 .2 1 .4 1 .6 1 .8 2 .0 2 .2 2 .4 2 .6 2 .8 3.0 3 .2 3 .4 3.6 1.0 1.2 1.4 1 .6 1.8 2.0 2.2 2.4 2 .6 2 .8 3.0 3.2 3.4 3.6 3.8
d, Å d, Å

Ảnh nhiễu xạ nơtron của đa tinh thể Ảnh nhiễu xạ nơtron của đa tinh thể
Na2Al2Ca3F14, 2θ0 = 152, λ = 1.2 – 7.2 Å. Na2Al2Ca3F14, λ0 = 1.886 Å 2θ = 10 - 165
 2.2. Công thức tổng quát định luật Bragg
k1/2π
=k2 – k1=2H θ
2θ H
k1 , k2: vector sóng tia tới và tia phản xạ
k = 2π/λ k2/2π
H: vector mạng đảo tương ứng với mặt 5 phản xạ hkl
buras.grf

Bài tập: Chứng minh công thức tổng 111

2dsin = 
quát và công thức đơn giản tương
4 200
đương
111
3 220
Giản đồ Burac
Å

113
222
2 400

0 =1.6 Å
2dsinθ = nλ 1
111 0 =45 0
0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
У гол БGóc
рэггаθ
 2.3. Cầu phản xạ Ewald
2.3.1. Cầu phản xạ Ewald khi cố đinh λ, thay đổi θ
Cho chùm tia bức xạ với bước sóng λ cố định chiếu vào tinh thể kim loại. Yêu
cầu tìm hướng của tia nhiễu xạ
k2 – k1=2H
b2
Cầu Ewald Bước 1: Vẽ tia tới đi qua gốc tọa độ.
- Ngọn của vector trùng gốc tọa độ
- Hướng trùng với hướng của chùm bức
xạ.
H - Độ dài k/2π = 1/λ
k2/2π Bước 2:
Từ gốc vector trên vẽ hình cầu bán kính
b1 k/2π = 1/λ.
k1/2π 2θ Nếu hình cầu này cắt nút mạng của mạng
đảo, định luật Bragg được thỏa mãn. Nối
tâm hình cầu với nút mạng này sẽ cho hướng
của tia phản xạ.
Nếu hình cầu Ewald không cắt nút mạng
đảo, điều kiện Bragg không được thỏa mãn
Mặt cầu giới hạn
Bức xạ tới có bước sóng cố định λ.
Xoay tinh thể (thay đổi hướng θ)

b2
ính i hạn
0
2/ λ
Đặc điểm:
Cầu Ewald
n k g iớ

- Bán kính mặt cầu

Bá ặt cầu

giới hạn 2/λ0

- Những nút mạng
H
M

nằm trong mặt cầu

k2/2π giới hạn: cầu Ewald
có thể đi qua
b1 - Những nutx mạng
k1/2π 2θ
nằm ngoài mặt cầu
giới hạn: cầu Ewald
không đi qua
 2.3.2. Cầu phản xạ Ewald khi cố đinh θ, thay đổi λ
Cho chùm tia bức xạ với bước sóng λ thay đổi chiếu vào tinh thể kim loại được
giữ cố định. Yêu cầu tìm bước sóng λ thích hợp cho nhiễu xạ
1. Từ gốc tọa độ vẽ một đường thẳng theo
phương của chùm tia tới (vào tinh thể)
=k2 – k1=2H
b2 2. Xác định hướng của vector H , tương ứng với
góc 2θ0. Vẽ đường thẳng theo hướng của vector
H.
H
3. Đường thẳng vector H cắt nút mạng của mạng
đảo (h k l), (2h, 2k, 2l)...
k2/2π Từ nút mạng này vẽ đường vuông góc với đường
thẳng vector H.
b1
4. Điểm cắt của đường vuông góc trên với đường
k1/2π thẳng theo chùm tia tới sẽ cho thông tin k1/2π = 1/
2θ0
λ, tức bước sóng của sóng tới λ1, λ2.
Những sóng với bước sóng trên tuân theo định
luật Bragg
3. Cường độ nhiễu xạ Nhiễu xạ nơtron

o
Từ giản đồ nhiễu xạ:
- Vị trí các peak cho
2  64
thông tin về hằng số
mạng (a,b,c, α, β, γ)

Cường độ
- Cường độ nhiễu xạ
(độ cao các peak) cho
thông tin về vị trí các
nguyên tử, loại
nguyên tử, hàm lượng
các nguyên tử, thông
số dao động nhiệt của
nguyên tử d, angstrom
- Cường độ nhiễu xạ tỉ lệ với bình phương thừa số cấu trúc
Iint  Fhkl2
Trong đó thừa số cấu trúc :
n
Fhkl   b j exp{2 i( hx j  ky j  lz j )}exp( B j / 4d 2 )
j 1
n
  f j exp{2 i (hx j  ky j  lz j )
j 1
f j  b j exp(  B j / 4d 2 )
j- ký hiệu nguyên tử, n – số nguyên tử thuộc ô cơ bản
h, k, l – số
B -thừa chỉnhiệt
số Miller,, xj, ỵj, tử
của nguyên zj –thứ
tọaj.độ nguyên tử j
j
bj- hệ số tán xạ.
• Đối với nhiễu xạ X: bj phụ thuộc vào cấu trúc đám mây electron.
• Đối với nhiễu xạ nơtron, bj phụ thuộc vào cấu trúc hạt nhân.
+ bj của các đồng vị khác nhau thì khác nhau. Do đó nhiễu xạ notron có thể phân
biệt được các đồng vị
bH = 0.37 bD = 0.67 bFe-56 = 1.01 bFe-57 = 0.23
+ thậm chí bj còn có giá trị âm
• Đối với nhiễu xạ điện tử bj phụ thuộc vào đặc điểm hàm thế năng tĩnh điện của
a. Thừa số cấu trúc mạng lập phương đơn giản
Mạng P có 1 nguyên tử, tọa độ (0,0,0)
2 𝜋 𝑖(0 h +0 𝑘+0 𝑙)
Thừa số cấu trúc: 𝐹=𝑓 𝑒 =𝑓
Nhận xét: đối với mạng P thừa số cầu trúc không phụ thuộc vào h, k, l. Điều đó có
nghĩa là mọi phản xạ đều cho phép. Nhiễu xạ bởi mặt phẳng (100), (110), (111),…

b. Thừa số cấu trúc mạng lập phương tâm khối

Mạng I có 2 nguyên tử, tọa độ (0,0,0) và (1/2,1/2,1/2)
Thừa số cấu trúc:

𝐹=2 𝑓 𝑛ế 𝑢h+𝑘+𝑙𝑙à𝑠ố 𝑐h ẵ𝑛,

Nhận xét: đối với mạng I chỉ có ảnh nhiễu xạ bởi các mặt phẳng có h+k+l là số chẵn.
Ví dụ (110), (200), (211), (220),…
c. Thừa số cấu trúc mạng lập phương tâm mặt

d. Thừa số cấu trúc mạng lập phương tâm mặt

Quy tắc chọn lọc chỉ số Miller
Loại tinh thể Mạng Cho phép nhiễu xạ Không xảy
Bravais ra nhiễu xạ
Lập phương nguyên thủy LP h,k,l bất kỳ Không
Lập phương tâm khối LPTK h+k+l chẵn h+k+l lẻ

Lập phương tâm mặt LPTM h,k,l cùng chẵn hoặc h,k,l hỗn hợp
cùng lẻ
Lập phương tâm đáy LPTĐ h+k chẵn h+k lẻ
NaCl LPTM h,k,l cùng chẵn hoặc h,k,l hỗn hợp
cùng lẻ
Lập phương kim cương LPTM h,k,l cùng chẵn hoặc h,k,l hỗn hợp
cùng lẻ Và trường
Trừ trường hợp h,k,l hợp h,k,l
cùng chẵn, h+k+l=4n cùng chẵn,
h+k+l=4n
Sáu phương xếp chặt Sáu phương h+2k = 3n với l chẵn
h+2k = 3n±1 với l lẻ h+2k = 3n
h+2k = 3n±1 với l chẵn với l lẻ
4. Các phương pháp nhiễu xạ tia X
2dsinθ = nλ
Nhận xét: Từ công thức Bragg trên đưa ra hai giả thiết xác định cấu trúc đơn tinh thể
bằng thực nghiệm:
1. Cố định góc θ (cố định hướng chiếu bức xạ), thay đổi bước sóng λ tia chiếu vào
2. Cố định bước sóng λ, thay đổi góc θ

phương pháp nhiễu xạ tia X

Laue Xoay tinh thể Bột (Debye)

Cố định tinh thể θ thay đổi θ thay đổi
λ thay đổi λ =const λ =const
Đơn tinh thể Đa tinh thể
(dạng bột)
4.1. Phương pháp Laue
Chùm bức xạ với phổ liên tục (λ thay đổi) (chùm tia X trắng) được
chiếu lên đơn tinh thể đứng yên (θ = const)
 = (0.2 ÷= 2) .10-10 m Ảnh nhiễu xạ gồm một
loạt các điểm sáng nằm
-
trên phim, đặc trưng
cho tính đối xứng của
tinh thể
Từ ảnh nhiễu xạ có thể
xác định:
- Tính đối xứng của
tinh thể
- Định hướng tinh thể
- Nghiên cứu lệch
mạng: nếu vết nhiễu
xạ dài lệch mạng
- Nếu mẫu đủ mỏng để tia X truyền qua,
người ta chụp theo sơ đồ truyền qua, ảnh
nhiễu xạ nhận được gọi là ảnh Laue truyền
qua (ảnh Laue)
Ảnh nhiễu xạ: Các điểm
sáng nằm trên đường
hypepol
Tia X
Đơn
tinh thể Film

- Nếu mẫu dày, người ta chụp theo sơ đồ phản xạ, ảnh

nhiễu xạ nhận được gọi là ảnh Laue ngược (epigram)
Ảnh nhiễu xạ:Các điểm sáng nằm trên đường elip

Đơn tinh thể siêu dẫn

La1.85Sr0.15Cu1-yMnyO4 Tia X Đơn
với y = 0.05 tinh thể
Film
4.2. Phương pháp xoay tinh thể
Chùm bức xạ đơn sắc (λ = const) được chiếu lên đơn tinh thể quay
phương pháp xoay tinh thể có thể xác định
- Tính đối xứng của tinh thể
- Định hướng tinh thể
- Hằng số mạng (khoảng cách giữa các mặt tinh thể d)
- …

4.2. Phương pháp bột

Các hạt đơn tinh thể được tạo thành bột (hoặc sau đó ép lại thành đa tinh thể) với mục
đinh tinh thể có định hướng ngẫu nhiên, luôn luôn có một số hạt với định hướng sao
cho thỏa mãn định luật Bragg

Phương pháp bột cho phép xác định khá chính xác hằng số mạng tinh thể
 - Buồng chụp bằng kim loại có một diapham
xuyên qua thành để tạo chùm tia X song song
từ ngoại rọi vào mẫu

- Chùm tia X đơn sắc chiếu vào mẫu bột gồm

nhiều đơn tinh thể với định hướng ngẫu
nhiên, thì chùm tia nhiễu xạ thuộc các mặt nón
như trên hình (chú ý có mặt nón phía trước và
phía sau mẫu)

- Phim được lắp sát vào thành trong buồng

chụp (vòng Debye) và buồng chụp được
che hoàn toàn
- Trêm phim thu được các vệt hình hypepole
(như hình)
 Phân tích ảnh nhiễu xạ phương pháp bột
- Phim chụp có hai tâm. Tâm O2 là giao
điểm của tia tới với vòng Debye, còn tâm
O1 là giao điểm của tia nhiễu xạ với vòng.
W – khoảng cách hai tâm O2 O1
S1, S2: khoảng cách các vệt sáng tính từ
tâm O1 , O2
O2 O1

Góc nhiễu xạ Bragg:

𝜃=
𝑆1 𝜋
𝑊 2
𝜋
h𝑜 ặ 𝑐 𝜃= 1−
2
𝑆2
𝑊 ( )
Từ các công thức đã học: 2dsinθ = λ
= (giả sử mạng lập phương)
Thu được: ()
Ví dụ: Từ thí nghiệm thu được ảnh nhiễu xạ Debye như sau. Giả sử mạng lập
phương. Tính hằng số mạng a
Bài tập: Một sinh viên làm thí
nghiệm nhiễu xạ tia X với 3 mẫu
bột bằng phương pháp Debye, thu
được 3 bảng số liệu như sau. Kết
quả thí nghiệm từ nhiễu xạ Laue
cho biết đơn tinh thể là mạng lập
phương. Tính hằng số mạng a của 2
mẫu.
Bước sóng tia X, W như ví dụ