Professional Documents
Culture Documents
Presentation1 1
Presentation1 1
Nhiệt sinh
ra trong
quá trình
Tuổi thọ và Ảnh
sạc hoặc
Tình trạng hiệu suất hưởng
xả do phản Hiệu suất
bộ pin sạc của các trực tiếp
ứng hóa sạc-xả
và xả quá viên pin đến hiệu
học, điều giữa các
mức sau giảm đáng suất, tuổi
kiện tỏa pin khác
nhiều chu kể và bộ thọ và độ
nhiệt xung nhau
kì pin mất an toàn
quanh mỗi
hiệu quả của bộ pin
viên pin
không
giống nhau
Hướng tiếp cận và giải quyết vấn đề
Xác định nhược điểm của kiểu làm mát
hiện tại
Đánh giá tình trạng làm mát hiên tại
Thu thập dữ liệu về nhiệt độ hoạt động,
hiệu suất với các điều kiện khác nhau
Cải thiện tính đồng nhất nhiệt độ của bộ pin và nhiệt độ trung bình
của bộ pin
Tăng cường hơn nữa khả năng tản nhiệt cho bộ pin
CÁCH THỰC HIỆN MÔ
PHỎNG THEO TỪNG
BƯỚC:
Geometry: Xử lí hình học
130 mm
572 mm 104 mm
Meshing: Chia lưới trong Ansys
Nhập
Chọn
Setup: thiết lập các điều kiện biên
Setup: thiết lập các điều kiện biên
Chọn chạy mô
phỏng
Kết quả
RLAF có thể cải thiện đáng kể tính đồng nhất nhiệt độ của bộ pin, đồng thời hạ
thấp HT và MXATD của bộ pin
Biên độ biến thiên của HT và MXATD đối với hai hệ thống trở nên nhỏ
Nhiệt độ trung bình tối đa của luồng không khí phân lớp ngược giảm
Cải thiện luồng không khí phân lớp ngược bằng cách thêm lưới chỉnh lưu ở lối
vào để giảm sự dao động nhiệt độ ở lối vào của pin
Các tham số như khoảng cách giữa các ô và tốc độ khí vào được tối ưu hóa
Chênh lệch nhiệt độ trung bình tối đa ban đầu tăng và giảm sau đó khi khoảng
cách tăng, chênh lệch nhiệt độ trung bình tối đa giảm khi tốc độ tăng