2011년 방사성동위원소취급자 일반면허

Contents
1. 방사선 측정기술 개요

2. 기체충전형 검출기

방사선취급기술
3. 섬광 검출기

4. 반도체 검출기

5. 선량 측정

6. 방사능 측정

7. 에너지 측정

8. 중성자 측정

연세대학교 서수현 9. 기타 선량계 및 선량평가

10. 측정치 통계처리

방사선측정

방사선측정 기술개요 K (n=1)

L (n=2)
M (n=3)

물질과의 정보취득
정보 생성 인지 가능한
상호작용 (방사능, 에너지,
(전류, 빛 등) 정보처리 선량)
(여기 & 전리등)
계측시스템의 구조 검출기(센서)의 작동원리

신호처리장치 

증
전치
검출기 폭 계수기
증폭기
기

방사선과 상호작용 신호처리 및 기록 부분

(센서 역할) 


검출기(센서)의 작동원리 검출기(센서)의 작동원리

 기체충전형 검출기 : 양이온, 전자

e e e
e e e e
h 전자
e K (n=1)
e 전리 e
e e 이온쌍
L (n=2)
e e M (n=3)
e e e e 양이온 K (n=1)
e e L (n=2)
M (n=3)
 반도체검출기 : 정공, 전자
N형 P형
+ -
- 전자의 운동 + + - + - 전도대
+-- + -+- - + + ++
-- - + + - 전자트랩
-+ +
-+
- ++ +++ _
광자 --정공의 운동 + + - +
-- + - + 여기
천이 가시광선
공핍층

정공트랩
e 충만대
검출기 이해 기초 검출기 측정원리
전압과 전자의 에너지 : 전자를 가속시키는 역할 방사선에 의한 2차 효과 측정
검출원리 물질특성 검출기 명칭 주요용도 비 고

기체전리 전리함 베타/감마 선량(률)측정

1eV 100eV 130keV
+ 비례계수관

GM 관
알파/베타

베타/감마 계수
알파/베타 구분 가능

전리작용 HP Ge 엑스선, 감마선 에너지 분해능 탁월

1V 100V 130kV S i(Li) 엑스선, 감마선 저에너지 엑스선 측정
고체전리
표면장벽형 알파
e e e
- CdTe, HgI 2, GaAs
Na I(Tl), CsI(Tl)
엑스선, 감마선
엑스선, 감마선
상온에서 냉각 필요치 않음

고체섬광
Z nS(Ag) 알파

여기작용 LiI(Eu) 중성자

액체섬광 액체섬광계수관(LSC) 알파, 저에너지 베타 3 H, 14 C 측정에 적합

열형광 T LD 선량측정
화학작용 프리케선량계 선량측정 대선량 측정에 적합
감광작용 필름감광 필름뱃지 선량측정
결함유발 비적생성 고체비적검출기(CR-39, LR115) 중하전입자/중성자

방사선계측기의 종류 방사선측정 시 고려사항

능동형 ☞ 순수베타선원 : 3H, 14C, 32P, 90Sr, 147Pm
☞ 알파선원 : 210Po, 238U, 239Pu
- 측정 목적/방법
☞ 순수 감마선원 : 226Ra, 60Co
- 방사선작업 환경
☞ 0.511 MeV 광자선원 : 22Na
- 방사성물질의 특성 ☞ 중성자 선원 : 252Cf, 241Am/Be(α, n)
- 측정 방사선의 종류/세기/단위

수동형
- 계측기의 상태/성능
- 기타: 검출한계, 교정 및 유효기간, 전원확인, 외관
 [문제019] 다음 중 방사선의 검출에 직접 관계 없는 것은?
[문제010] 방사선측정기의 선택단자의 지시가 Χ 100이고 눈금의 위치가 0.2를 가리키고
① 전리작용 ② 여기작용 ③ 러더포드 산란 ④ 광전효과
단위가 μSv/h라면 측정값은?
① 200 μSv/h ② 0.2 μSv/h ③ 20 μSv/h ④100 μSv/h [문제033] 다음 관계가 옳지 않은 것은?
① TLD – 글로우 곡선
② Film badge – 잠상퇴행(fading)
[문제015] 다음 검출기 중 검출원리가 다른 하나는? ③ Ge(Li) - 액체질소
① 전리함 ② 비례계수관 ③ 반도체검출기 ④ 고체비적검출기 ④ 전리함 - 전자사태

[예] 아래 빈칸을 채우시오.

[문제017] 방사선검출기와 측정방사선을 잘못 연결한 것은?
전리함 기체전리
① TLD – 실용량
NaI(Tl) 검출기 여기작용, 고체섬광
② Fe 선량계 – 대용량의 흡수선량
반도체검출기 고체전리
③ 전리함 - 조사선량 TLD 여기작용, 열형광
④ 체렌코프 검출기 – 저에너지 베타선 Film badge 감광작용

1. 방사선 검출기의 검출원리에 대한 설명으로 옳지 않은 것은? 4. 다음 설명중 옳지 않은 것은?

① 전리 - GM ② 전리 - Ge(Li) ① CdTe 검출기는 상온에서 냉각없이 사용할 수 있는 반도체 검출기이다.

③ 여기 - NaI(Tl) ④ 여기 - 필름배지 ② ZnS(Ag)는 알파선 검출에 적합하다.

③ 프릿케 선량계는 저선량 측정에 적합하다.

2. 방사선 검출기의 용도가 옳지 않은 것은? ④ 액체섬광검출기는 3H 핵종의 측정에 적합하다.

① NaI(Tl) - 감마선 측정 ② ZnS(Ag) - 감마선 측정

③ HPGe - 감마선 측정 ④ CdTe - 감마선 측정

3. 다음중 222Rn 측정에 적합한 방사선검출기로 올바르게 짝지워진 것은?

① NaI(Tl) - HPGe ② ZnS(Ag) - CR39
③ HPGe - HgI2 ④ CdTe - LR115
 일반적 구조
원리 : 기체 전리작용을 이용

기체충전형 검출기 H.V.

전리함, 비례계수관, GM계수관

gas

양극
wall
E

음극

특성 6영역 곡선 기체 전리를 이용한 검출기

Ⅰ. 재결합 영역
1차 전리만 일어나는 영역
양극 에 포 집 되는 전자의 수

- 생성된 이온쌍의 일부가 재결합

Ⅰ Ⅱ Ⅲ - 검출기 사용이 불가능한 영역
재결합 전리함 비례
영역 영역 계수관
Ⅱ. 전리함 영역 재결합 영역, 전리함 영역
- 재결합 현상이 사라짐
영역 - 일차적으로 생성된 모든 전자와 이온이 전극에 포집
- 넓은 전압 범위에서 전류의 크기가 일정
(인가전압이 변화해도 생성 전하량 변화 無)
Ⅳ Ⅴ
- 전리함 사용 전자증폭이 일어나는 영역
GM 영역 연속
Ⅲ. 비례계수관 영역
방전
영역
- 기체증폭(최초의 전자사태) 발생 비례계수관 영역, 한정비례 영역
- 비례계수관 사용
- α, β선의 종류 구별 가능
Ⅳ. 한정(제한)비례 영역
GM 계수관 영역, 연속방전 영역
- 양이온의 공간전하에 의해 비례성 상실

인 가 전 압 (V) Ⅴ. GM 영역
- 양극주변 모든 영역에서 기체증폭 발생
- 수집된 전하량 1차 전자수와 무관 측정에 이용할 수 있는 영역
- 계수관 크기, 가스압력 등에 의해 일정한 2차전자 생성
재 전 비 한 G 방 - GM 관 사용
Ⅵ. 연속방전영역
전리함, 비례계수관, GM계수관
- 연속적인 불꽃 방전현상
이온쌍 수집과정 검출기별 출력신호 특성

검출기 전리함 비례계수관 GM계수관

방사선 에너지 340eV 3400eV 340eV 3400eV 340eV 3400eV

초기에 생성되는 전자수 10 10 2 10 10 2 10 10 2

증배율 1 1 10 5 10 5 10 7 10 7

양극에 포집되는 전자수 10 10 2 10 6 10 7 아주 많음 아주 많음

출력신호의 크기

방사선의 에너지 구분 가능 가능 불가능

1차 전리만 수집: 전리함 기체 증폭수집: 비례계수관, GM * W = 34 eV

관
조건 : 입사되는 방사선은 검출기 내에서 모든 에너지를 전부 잃음!

W값 & Q = CV = It = Ne 전리함
W값
- 일차적으로 생성된 모든 전자와 이온이 전극에 포집
- 기체 중에서 하나의 이온쌍(전자와 양이온)을 생성하는데 필요한 평균 에너지
(직접전리 & 재결합 현상 소멸)
- Wa ir = 34 eV
음극
+ + ++
- 포화전류
양극
+ 검출기 내에 생성된 모든 전자가 양극에 도달할 때 흐르는 전류
-
Q[C] = C[F] * V[V] = I[A] * t[sec] = N[ip] * e[C] -- 검출기 내 기체의 종류, 압력, 검출기의 크기에 의존
-- -
+
- 대개의 경우 대기압 상태의 공기 이용
E
- 생성되는 이온쌍의 수 : N E = 입사방사선 에너지 ※ 가압형 전리함 - 민감도가 높아 환경감시용으로 사용
W
Ee - 입사방사선의 선질 구분 가능
- 전하량 : Q  N e  - 모든 종류의 방사선 측정 가능 (α, β, γ-ray에 대한 선질 특성 좋음)
W
Q Ne - 비교적 에너지 의존성이 작음
- 전압 : V   C = 정전용량[F], 1F = 1C/V
전류계
C C - 감도가 작음
- 전류 : Q t = 시간, 1A = 1C/s
I - 전리함 벽 물질에 따라 용도가 다름
t
1) 공기등가 물질 : 조사선량 측정
- 1 e = 1.6 × 10 -19 C / 1 eV = 1.6 × 10 -19 J
2) 조직등가 물질 : 흡수선량 측정

- 조사선량 측정, 방사선원 교정용으로 사용

조직등가 전리함 전리함의 종류
전리함의 벽을 인체조직과 유사한 재질로 구성한 전리함 => 선량평가에 사용
전류형 Q  I t 펄스형 V  I R
I V
양극 양극
- -
+ +
음극 음극

다양한 형태의 전리함 전위차계

- 출력신호(펄스)의 크기 단일 방사선으로 생성된 전하량(Q)
Q Ne -전류(I) = 사건발생률(r) x 사건당 생성전하량(Q) -전압( V) =
전리함의 출력신호는 상대적으로 작다.
출력신호의 크기 : Vmax   정전용량(C)
C C Q E
I  r  r e V
Q
1 MeV의 하전입자가 전리함 내에서 모든 에너지를 잃었을 때 생성되는 출력신호의 크기는? C W
(전리함의 통상적인 정전용량은 10-10F 이다)
C
- 일정 시간동안 사건으로 생성된 전하를 시간적으로
-하전 입자수 측정
발생되는 전압이 미세하여 noise 등과의 구분이 용이하 평균한 전리전류 측정
지 않음 - 핵종분석 시스템에서 주로 사용
- 선량( 율) 측정(전리함 체적과 전하량 알 경우)
- 전류펄스 크기는 인가전압에 무관하고 생성된
E 10 6 eV - 방사선의 강도가 매우 높은 환경에서 사용
N   2.94  10 4 ip 출력신호의 크기가 매우 작으므로 정밀한 측정장치를 이온의 수에만 의존하여 전류펄스 파고치로 나타냄
W 34eV / ip 필요로 함 ( 비전리가 大 => 전류펄스 크기 大)
: 전류펄스 파고치로 하전입자 종류나 에너지 알 수 있음
Ne ( 2.94  10 ip )  (1.6  10
4 19
C]
Vmax    4.7  10 5V Q[C ]  C[ F ]  V [V ]  I [ A]  t[sec]
C 1010 F

전리함의 종류 비례계수관
가압형 전리함(HPIC ; ERMS : 감도가 높아 환경감시에 사용
음극
+++
전자사태 ++ +
+ +
증배율 　 105 - 양극
-+ +- -
--++-+ -
--+ - -
-

1. 기체증폭 발생
- 입사방사선으로 생성된 전자가 양극으로 포집되는 과정에서 또다른 전리를 일으키는 현상
- 전자사태: 전자의 증배과정
2. 기체증배율(M) : 기체의 종류 및 압력, 계수관 구조, 인가전압에 의존
3. 출력신호의 크기는 입사방사선의 에너지에 비례(에너지 선별력이 있음)
4. 출력신호가 전리함에서 보다 상대적으로 크다
5. α, β를 계수할 목적
6. 불감시간 : 수 µsec
α & β 측정 α & β 측정
α/β 동시측정가능
※ 입자별 공기중 비정]
동시운전방식(simultaneous operating mode): 파고선별기의 활용을 통해
- 원 리: 알파와 베타의 비전리도 차를 이용  4 MeV 알파입자 : 1 cm 이하
- 출력신호(펄스)의 크기와 동작전압 설정  1 MeV 베타입자 : 수 m
α
계 β플레토우
α channel
수
율
Discriminator
β α플레토우
β channel

LLD
동작전압 V

α선의 펄스가 β선 보다 큰 이유
베타선의 에너지스펙트럼
에너지

Intensity
통상의 RI에서 방출되는 베타선의 최대에너지는 2 MeV 이하인
(알파만을 계수)
반면 알파선의 에너지는 약 4~8 MeV
비전리도
알파선의 비전리도가 베타선보다 훨씬 크다
Eaverage Emax
베타선의 경우 검출기를 이탈할 수 있다
(알파와 베타계수)
α 선 플레토우는 평탄하나, β선 플레토우는 기울기를 갖는 이유
알파선은 단일에너지이지만 베타선은 연속에너지 스펙트럼을 지니기 때문

비례계수관의 동작과정 비례계수관의 충전기체

조성 기체명 특성

Ar(90 %)+CH4(10 %) P-10 일반 목적용

CH4(100 %)
- 신속 타이밍용
C3Hg(100 %)
Ze(90 %)+CH4(10 %)
- 고감도용
Kr(90 %)+CH4(10 %)

BF3 - 중성자 측정용

CH4(64.4 %)+CO2(32.4 % )+N(3.2 %) 인체등가기체 선량 측정용

*소멸기체 : 유기다원자 기체(CH4 등)

-> 비례계수관에서 가속된 전자가 2차 전리를 일으키는 대신 원자를 여기시키고, 이 여기된 원자가 기저
상태로 천이하면서 자외선 등을 발생하는 경우가 발생되는데, 소멸기체는 자외선이나 가시광선을 흡수하
고, 전자를 방출하지 않음
비례계수관 종류 비례계수관 종류별 측정 방사선
BF3 비례계수관 3He 비례계수관
- 열중성자 측정용으로 BF3 가스를 봉입 - 열중성자 측정용으로 3He 가스를 봉입
- 1 0 B(n, α) 7Li 반응 이용 　 α선 계수 - 3 He(n, p) 3H 반응 이용 　 양성자 계수 2π형 가스 flow 비례계수관 :  선 측정

Cadimium loaded 4π형 가스 flow 비례계수관 :  선 측정

po lyethylene sphere

BF 3 비례계수관 : 열중성자 측정용으로 BF3 가스를 봉입

가스유입형 검출기 - 10B(n, α)7Li 반응 이용  α선 계수

g as in t o p anode
- 종류 : 2 π, 4 π 검출기 3He 비례계수관 : 열중성자 측정용으로 3He 가스를 봉입
- 검출효율이 우수
- 기체의 연속적인 주입으로 검출기체
a node
성능저하가 없다
- 3He(n, p)3H 반응 이용  양성자 계수
g as in g as out s ample
- 저에너지 베타선 측정에 적합
-> 3H(18 keV), 14C(156 keV)
w indow
s ample b o ttom anode
s ample slide
g as out
액체섬광검출기
2 π 기체유입형 비례계수관 4 π 기체유입형 비례계수관

기체충전형 검출기의 전기장

BF3 계수관 서베이메터를 이용하여 241 Am-Be선원으로부터 중성자의 선량을 측
정하는 경우 두께 3cm 이상의 파라핀을 덮어서 지시치를 판독하는 이유?
평판형 원통(실린더)형 구형

BF3 계수관이 고감도를 나타낼 수 있는 에너지영역까지, 즉 열중성자의 에너지까지

감속시키기 위해서이다. 241Am-Be선원에서 방출되는 중성자는 속중성자이므 로 r
d V=V0
b V=V0 b r
파라핀을 이용하여 감속시켜서 열중성자화하여 측정한다.

V=0 V=V0

VO VO VO ab
E [V / m] E [V / m] E [V / m]
d r  ln(b / a ) r  (b  a )
2

a : 양극의 반경 / b : 계수관의 반경 / r : 계수관 중앙으로부터의 거리

 기체충전형 검출기의 전기장
[예] 양극과 계수관의 반경이 각각 0.008 cm, 1.0 cm 인 원통형 계수관에 2000 V의 인가전압이 걸려
평판형 원통(실린더)형 구형 있고 기체증배에 필요한 전기장의 세기가 최소 106 V/m 임을 가정하자. 기체증배가 시작되는 양극으로
부터의 거리를 구하시오.
VO VO VO ab
E [V / m] E [V / m] E [V / m]
d r  ln(b / a ) r 2  (b  a )
- 기체증배가 시작되는 양극으로부터의 거리
(예) 양극과 계수관의 반경이 각각 0.008 cm, 1.0 cm 인 원통형 계수관에 2000 V의 인가전압이 걸려있다
면 양극 표면에서 형성되는 전기장의 세기는 얼마인가? VO
E  10 6[V / m]
VO 2,000V r  ln(b / a )
E   5.18 10 6[V / m]
r  ln(b / a ) 0.008cm  1m  ln(1 / 0.008) 2,000V
 10 6[V / m]
100cm r  ln(1 / 0.008)
(예) 앞서 획득한 전기장의 세기를 평판형 계수관의 양극 표면에서 얻으려면 평판형 계수관에 인가되어 r  4.1 10 4 m  0.041cm
야하는 전압은 얼마인가? 계수관의 양극과 음극 사이의 거리는 1 cm 이다.

VO VO
E  5.18 10 6[V / m]  ,
d 0.01, m
VO  51,800V

비례계수관의 특성 정리
[예] 비례계수관에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
1) 가스증폭작용을 이용 ① 비례계수관의 명칭은 전자의 증배과정이 초기에 입사한 방사선의 에너지에 비례성을 갖고 있다는
것을 의미한다
2) 출력펄스파고치는 1차 이온쌍 수에 비례
② 같은에너지의 α,β 방사선이 비례계수관내에 입사했을 때 나타나는 출력의 크기는 β,α 순이다
3) 인가전압에 따라 α선과 β선을 선별하여 측정가능 ③ 비례계수관의 장점은 α,β 또는 γ, β의 분리측정이 가능하다는 것이다
④ 비례계수관은 전자의 증배과정의 제어가 가능하기 때문에 초기 방사선에 대한 정보를 잃지 않는다
4) 충전기체는 주로 P-10(Ar(90 %)+CH4(10 %)) 사용
[예) 비례계수관에 다음과 같은 기체를 충전하였다. 각 검출기의 용도가 잘못 연결된 것은?
5) 출력펄스파고치는 약 1 mV
① 90% Xe + 10% CH4 -감마선 측정용
6) 분해시간 수 μsec ② 64% CH4 + 33% CO 2 + 3% N2 – 선량측정용(조직등가물질)
③ BF3 - 감마선 측정용
④ 90% Ar + 10% CH4 - 전베타/알파 측정용
 ‥
GM(Geiger-Muller) 계수관 소멸과 충전기체

소멸 : 양이온이 음극과 충돌하여 2차 전자를 생성하는 것을 방지

음극 -
-
- 외부소멸법 내부소멸법
- 양극
전자증폭 ++ +
++
- - - 외부에 저항을 연결하여 연속방전을 방지 소멸기체는 GM계수관 내에 넣어 연속방전 방지
+++++ - - - -
++ + - -
- + +++ - - - -- - +
+++ - - - ++
유 기기체 할 로겐기체(Cl2,Br2)
- ++ + - - - + + +++ 불감시간(msec) long!
+++ - - + +++
+ ++ - - - - - - +++
- - - -
++ +
+ + + ++ (고선량률의 방사선검출에는 부적당) 수 명제한 有 (10 8~10 9c ount) 無
+++
+++
사 용전압 높 음(1000 V) 낮 음(200~300 V)
플 레토우경사 낮 음(2~3 %) 높 음(5~10 %)

1) 양극주변 모든 영역에서 기체증폭 발생 - 유 기 기체(메탄, 다 분자유기화합물) : 소 멸 작용과 함 께 분 해되므로 수 명이 있 다

- 할 로 겐 가 스(Cl2, Br2): 소 멸작용 후 재 결합하므로 수 명이 없 다
　 생성되는 1차 이온쌍의 수에 관계없이 동일한 출력펄스 생성
2) 에너지 선별력이 無
　 방사능 측정용으로 사용(선량 & 선량율 측정 불가능) 충전기체
3) 펄스파고가 높아 계측회로를 단순화 시킬 수 있음 불활성기체(He, Ar, Ne) + 소멸기체
(1) 가격저렴 / (2) 안정적 / (3) 실무에 널리 이용
4) 기체증폭도 약 10 9 정도 Q gas : He(99.5 %) + isobutane(0.5 %)
5) 불감시간 : 전자사태가 발생하면 양극의 전이가 떨어져 검출하지 못하는 시간,
수백 μsec

단창형 GM & 보상형 GM 단창형 GM & 보상형 GM

단창형 GM 보상형 GM
- 원통형 GM관의 한쪽 면이 알파 또는 베타입자가 투과할 수 있도록 얇은 막으로 닫혀 있는 GM 검출기의 외벽을 Pb, Sn 등으로 적절히 차폐하여 200 keV 이하의 저에너지 광자에 대한 반응도를
(운모, Al ; t=1.5~4mg/cm2 ) 낮추어 줌으로써 100 keV에서 수 MeV 까지 영역에서의 반응도를 일정하게하여 선량을 근사적으로
- α,β의 방사능 측정 얻을 수 있는 GM (광전효과 ∝ 1/E3~4 )
- 알파입자에 대한 검출효율 저조
　 광자의 선량율 측정 (mR/h, uSv/h 등)
- 엑스선과 감마선에 대한 검출효율 저조
　 통상 얇은 벽물질의 GM관 (~30mg/cm2) 주위에 두꺼운 벽물질 (~200mg/cm2)로 차폐함
- 주로 100 keV 이상의 베타입자의 방사능 측정 또는 오염감시에 사용 　 가변형의 경우 두꺼운 벽물질을 필요에 따라 개방할 수 있음
　 3 H (E max=18keV), 63Ni (Emax=66keV) 측정불가 - 엑스선 또는 감마선 : 차폐체를 닫은 상태에서 측정
　 계수율의 단위로 주로 사용(cpm, cps 등) - 300 keV 이상의 베타입자 : 차폐체를 개방한 상태에서 측정

가변형 GM 서베이메터와 각각의 에너지 반응도

검출기의 방향 의존성 GM 계수관의 계수특성
GM계수관의 플레토우 GM계수관의 동작전압
계
- 이상적인 검출기란 방사선의 입사방향에 관계없이 방사선을 동일한 감도로 측정하는 검출기 수 1
- 검출기의 형태가 등방향(구형)이라면 방향성에는 커다란 문제가 없지만, 전자회로 등이 있는 nb Vop  Va  (Vb  Va )  플레토우 폭이 넓은 경우
3
쪽은 제감도를 발휘할 수 없음 na
1
- 방사선측정 시에는 방사선이 입사하는 방향으로 검출기가 향하게 하여 측정함으로써 검출기의 플레토우 Vop  Va  (Vb  Va )  플레토우 폭이 좁은 경우
감도가 100% 발휘되도록 해야 함 2

V th Va V op Vb 전압

V th : 계수개시전압 / Va : 동작전압 / Vop : 사용전압 / V b : 연속방전전압

플레토우 경사 (%/100 V)
100(nb  na )
na
플레토우 경사[% / 100V ]  100
(Vb  Va )
인가전압 100V에 대한
계수율의 상대적인 변화율

GM 계수관의 계수특성 불감시간 & 회복시간

펄스크기
플레토우(Plateau) : 동작전압~연속방전전압 구간
파고선별기
+++ + + -----
++ + ++
++ + ----
1) 플레토우 영역이 길고(300 V이상) + ++
++++ + +- -----
-- - ++ + +
- --
+ + ++
+ +++ - - ++
2) 플레토우 경사가 낮고(5 %/100 V) Good! + + +------- ++ +
++++
3) 계수개시전압이 일정하면 --- +++ ++++ ++
시간(usec) +++
4) 사용전압은 플레토우 길이의 1/2~1/4로 설정
불감시간

회복시간

사용기간이 경과함에 따라 플레토우의 기울기가 증가하는 이유

원인 : 전자사태 후 양극부근에서 양이온이 형성하는 공간전하에 의한 전압강하
(전자와 양이온의 이동속도 차에 기인, 전자가 양이온보다 약 1000배 정도 빨리 움직인다)
1) 가스의 미시적 누설
2) 소멸기체의 성능저하
3) 방사선과 검출기와의 상호작용으로 생성된 불순물에 의한 계수관 내 전기장의 변화 GM 계수관의 불감시간에 영향을 미치는 인자
- GM관 내 가스의 종류 및 압력
- 전기장의 강도(계측기의 형태)
- 파고선별기 설정 위치
분해시간에 따른 계수손실 보정 불감시간 측정법

- 계수율이 낮은 경우 - 계수율이 높은 경우
: 2선원법, 붕괴선원법, 직접측정(오실로스코프) 등

2선원법 : 계수손실이 계수율에 비례하는 것을 이용

　 　 　 　 　 　 　 　
참계수 : 3 실측계수 : 3 참계수 : 13 실측계수 : 5

S1 B B S2 S1 S2 시료 無
분해시간에 의한 계수손실 보정 필요
실측계수 : n1 n2 n12 nb

n n0 : 참계수율(cps)
nO  n : 측정된 계수율(cps)
1  n n1  n2  ( n12  nb )
τ: 분해시간(sec)
　 2 2 2
n12  ( n1  n2 )

[예] 불감시간이 100 μsec인 계측기로 1 분간에 36,000 counts를 얻었다. 참 계수값을 불감시간 120μs, 전계수효율 20%인 GM계수기로 0.25μCi의 32P를 계수할 때 실측 계수율은?
cpm으로 나타내면?

3.7 10 4 Bq
36,000cpm  36,000cpm 
1cps
 600cps A  0.25 Ci   9,250 Bq
60cpm 1Ci

n 600 참계수값
nO    638.3cps
1  n  1  600  100 10  6 방사능 = 참계수값 = 방사능 × 계수효율
계수효율
= 9250 Bq × 0.2
60cpm = 1850 cps
638.3cps   38,297.8cpm
1cps

nO
nO 
n
1  n → n
1  nO
 n
nO  [예) 2선원법을 이용하여 불감시간을 측정하는 실험을 수행하였다. 실험결과 n1, n2, n12 그리고
1  n nb의 값을 각각 23,126 cpm, 27,016 cpm, 47,688 cpm, 20 cpm 획득하였다. 이 GM관의 불감
시간은?
(1  n   ) nO  n
n1  n2  ( n12  nb )
nO  n    nO  n  2 2 2
n12  ( n1  n2 )
nO  n  n   nO 23,216 cpm  27,016cpm  (47,688cpm  20cpm)

(47, 688cpm)2  (23, 216cpm) 2  (27,016cpm)2
nO  (1  nO  )n
 2.36 10 6 min
nO 60 sec
 2.36 10 6 min
n 1min
1  nO  141 .6 sec

GM 계수관의 장단점 비례계수관 VS GM 계수관

장점
비례계수관 GM 계수관
- 고 민감도
- 여러 종류의 방사선 측정 가능
충전가스
P-10 가스 Q 가스
- 다양한 형태와 window의 제작이 가능 (Ar 90 % + 메탄 10 % ) (He 99.5 % + 이소부탄 0.05 % )
- 큰 출력신호 : 휴대가 용이(서베이메터의 약 70%)
- 저렴하다 출력펄스 파고가 1차 전리량에 관계없이
출력펄스 파고가 1차 전리량에 비례하고,
거의 일정하며, 방사선의 종류나 에너지
- 동작이 간편 알파와 베타선 에너지 판별이 가능
를 알 수 없음
차 출력펄스파고
- 안정적 계수 (플레토 구간이 길다)
이 수 mV 수V
단점 점
- 유한수명 (소멸가스의 분해) 불감시간 수 μsec 수백 μsec
- 에너지분해능이 없다 (에너지와 방사선의 종류에 대한 초기정보 상실)
　 선량측정이 원칙적으로 불가능 수명제한이 있으나,
수명제한 수명제한이 없음 할로겐타입의 경우 수명제한 없음
- 불감시간이 길다.
　 GM : 100 - 400 usec
유 1) 기체충전형 검출기
　 비례계수관 : 수 usec
사 2) 충전가스만 다르고 구조가 유사
　 NaI(Tl) : 수 - 수십 usec
　 반도체 : 수십 nsec
점 3) 가스증폭을 이용한 형태
[예] 다음 설명중 옳지 않은 것은?
① GM계측기의 전기장내에서 전자 이동속도는 양이온의 이동속도보다 대략 1000배정도 빠르다
② 기체충전형 검출기는 본질적으로 감마선에 대해 계수효율이 높다 [예] 다음 GM계수관의 특징에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
③ GM계측기의 불감시간은 100 ~ 400 μsec의 범위이다 ① 넓은 플레토우가 존재하기 때문에 안정적인 계수가 가능하다
④ 기체유입형 GM관에 사용하는 기체는 He + 0.5% isobutane 으로 구성되는 Q가스이다 ② 출력신호가 크기 때문에 증폭기 등의 주변장치가 필요 없다
③ 휴대가 용이하므로 상용되는 서베이메터의 상당수가 GM 계수관이다
[예] 다음 기체충전형 검출기에 대한 설명 중 옳지 않은 것은?
④ GM계수관은 알파선과 베타선의 분리측정에 용이하다
① 기체충전형 검출기의 양극은 일반적으로 텅스텐이나 플라티늄을 사용한다
② 단창형 가스충전형 검출기의 창은 운모나 알루미늄, 유리등의 재질을 사용한다 [예] GM계수관의 불감시간에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
③ 가스의 압력은 전자의 증폭과정과 동작전압의 결정에 영향을 준다 ① GM계수관의 불감시간은 다른 계측기에 비해 상대적으로 짧다
④ 관내 기체의 압력이 클수록 불감시간은 짧아진다 ② GM계수관에서 불감시간이 발생하는 이유는 양극주변에서 형성되는 공간전하 때문이다
③ 외부소멸법을 사용하는 GM관은 불감시간이 길다
[예] 선량측정을 위한 공동전리함에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
④ GM계수관의 불감시간 측정법에는 2선원법과 붕괴선원법 등이 있다.
① 공동전리함에서 전자평형이란 공동과 벽물질에서의 전자의 평형상태를 의미한다
② 상용 공동전리함의 조직등가물질은 폴리에틸렌 등의 수지내벽에 탄소피막을 입힌 것이 사용된다 [예] GM계수관에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
③ 전자평형이 일어나기 위해서는 공동벽의 두께가 2차전자의 최대비정보다 커야한다 ① 플레토우의 경사율이 클수록 양호한 계측기이다
④ 상용되는 전리함은 7 MeV까지의 감마선에 대한 선량을 측정할 수 있도록 제작된다 ② 플레토우의 경사율과 폭의 넓이를 통해 계측기의 동작상태의 정상 유무를 판단할 수 있다
③ 플레토우의 경사율과 폭은 사용기간이 경과함에 따라 변화한다
[예] 다음 기체유입형 검출기에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
④ 동작전압은 플레토우 영역에서 대략 1/3되는 지점에서 결정한다
① 사용기간의 경과에 따라 밀봉형 검출기에서와 같은 기체의 성능저하가 없는 장점이 있다
② 창이없는 기체유입형 검출기는 저에너지 베타선과 알파선 측정이 가능하다
③ 기체유입형 가스중 메탄과 아르곤의 비가 9:1인 가스를 P-10 가스라 한다
④ 기체유입형 검출기의 종류로는 2π 또는 4π형이 있다

[문제004] 전리함영역에 대한 설명 중 옳지 않은 것은? [문제023] 기체충전형 검출기의 계수율은 인가전압에 따라 그 특성이 변하게 되는데, 다음 중 측정에
① 인가전압이 낮을 경우 재결합이 일어날 수 있다 이용되는 가장 저전압 영역과 최초의 전자사태가 일어나는 영역은?
② 인가전압이 증가할 경우 계수율이 증가하는 영역이다 ① 재결합영역 ② 전리함영역 ③ 비례계수관영역 ④ 한정비례영역 ⑤ GM 영역
③ 포화전류의 크기는 기체의 종류, 압력, 검출기 크기 등에 따라 달라진다
[문제025] 방사선이 기체를 전리하는 경우, 하나의 이온쌍을 만드는데 필요한 평균에너지는?
④ 조사선량률이 큰 경우 재결합이 많이 잃어난다
① 0.3 eV ② 3 eV ③ 30 eV ④ 300 eV

[문제014] 동일한 방사선원에 대하여 전리함의 포화전류에 영향을 미치지 않는 것은?

[문제033] 비례계수관에서 출력펄스의 크기가 중요한 이유는?
① 전리함의 치수 ② 인가전압 ③ 가스의 종류 ④ 가스의 압력
① 검출기의 감도
② 검출기의 방향 의존성
③ 검출기의 종류 선정
④ 방사선의 종류를 알 수 있기 때문

[문제040] GM 계수관의 특징에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?

① 넓은 플래토우가 존재하기 때문에 안정적인 계수가 가능하다
② 출력신호가 크기 때문에 증폭기 등의 주변장치가 필요 없다
③ 휴대가 용이하므로 상용되는 서베이메터의 상당수가 GM계수관이다
④ GM 계수관은 α선과 β선의 분리측정에 용이하다
[문제045] 다음중 GM 계수관의 성능을 좌우하는 인자가 아닌 것은? [문제002] 정전용량이 10pF인 공기를 내장하고 있는 전리함에 100 keV β선이 입사하였다. 공기 중에서
① 플레토우 길이 ② 플레토우 기울기 ③ 에너지분해능 ④ 분해시간 생성되는 이온쌍의 수와 생성되는 전하량, 전압을 구하라. 또한 전리함의 신호포집시간이 1μsec일 때
전류량(A)는 얼마인가? (단 W치는 33.7 eV)
[문제049] GM계수관의 특성에 대한 설명으로 틀린 것은?
① 플래토우는 짧을수록 좋다
② 불감시간을 가진다
Q[C ]  C[ F ] V [V ]  I [ A]  t[sec]  N [ip ]  e[C / ip ]
③ 사용되는 소멸기체에 따라 계수관의 수명이 유한한 것이 있다
④ γ선 에너지를 분석할 수 없다 E [eV ] 100  10 3 eV
N [ip ]    3,000 ip
[문제071] 소멸기체의 역할과 가장 관계가 깊은 것은? W [ eV / ip ] 34 eV / ip
① 출력펄스를 크게 해 준다
② 검출감도를 높여 준다
Q [C ]  3,000 ip  1 . 6  10 19 C / ip  4 . 8  10 16 C
③ 연속 전리작용을 방지한다
④ 방사선 종류를 구별할 수 있게 한다
Q [C ] 4 .8  10  16 C
[문제075] 다음 설명 중 옳지 않은 것은? V [V ]    4. 8  10  5 V
① GM계수관의 전기장내에서 전자 이동속도는 양이온의 이동속도보다 약 1000배정도 빠르다
C [ F ] 10  10  12 F
② 기체충전형 검출기는 본질적으로 γ선에 대해 계수효율이 높다
③ GM계수관의 불감시간은 100~400 μs의 범위이다 Q [C ] 4 .8  10  16 C
④ 기체유입형 GM계수관에 사용하는 기체는 He(99.5 %) + isobutane(0.5 %)의 Q가스이다 I [ A]    4 . 8  10 10 A
t[sec] 10  6 sec

[문제005] 아래 GM계수관의 전극전압 대 계수율의 특성곡선이다. 다음 물음에 답하라.

계수율

3500
3000

반도체 검출기
960 1000 1340 인가전압(V)

① 개수개시전압 960 V
1 1
② 운전전압 Vop = V1+ (V2-V1) = 1,000+ (1,340-1,000)
3 3
= 1,113 V

③ 플레토우 범위 =V2-V1 = 1,340 – 1,000 = 340 V

④ 플레토우 경사(%/100V) 1 0 0(3500- 3000)

= 3 0 00 * 100 = 4.9 %/100V

( 1 340-1000)
반도체 검출기의 원리 반도체 검출기의 원리
원리 : 고체 전리작용을 이용 - 입사방사선의 전리작용에 의해 전자와 정공쌍을 생성
e 전도대
- 전자는 결정내부를 이동
전도대
- 정공은 양전자와 같은 행동으로 결정내부를 이동
전도대 정공의 이동속도는 전자의 1 / 2~3배
E g > 5eV Ge(Z=32) : E g = 0.67eV e e 충만대
E g  1eV - 하나의 전자/정공쌍을 생성하는데 필요한 에너지
S i(Z=14) : E g = 1.106eV
충만대 충만대 　 Ge: 2.96eV 　 S i: 3.65eV 　 기체: 34eV
　 동일한 에너지의 입사방사선에 대한 출력신호가 기체보다 약 10배 정도 큼을 의미
절연체 반도체
+ Ⅲ족  P형 반도체 - 밀도가 기체보다 1000배 가량 크므로 감마선에 대한 계측효율이 우수함
Ⅳ족
(Si, Ge)
+ Ⅴ족  N형 반도체
반도체 검출기로 사용되는 물질의 특성
P-N 접합
Energy needed
N형 P형 Material Atomic Number Energy gap (eV)
to form the pair (eV)
+ - +
- 전자의 운동 + + - -
Si 14 1.106 (300 K) 3.65 (300 K)
+
-
- + - + + + [반도체 검출기의 제작] Ge 32 0.67 (77 K) 2.96 (77 K)
- +
- + - +- + -
- +
+ - +  P-N 접합 CdTe 48, 52 1.47 (300 K) 4.43 (300 K)
광자
-
+ - + + + + _  Li drift
- + + - +  Ion implantation HgI2 80, 53 2.13 (300 K) 4.22 (300 K)
- 정공의 운동
-- + - + GaAs 21, 33 1.45 (300 K) 4.51 (300 K)
공핍층

반도체 검출기 종류 및 특성 반도체 검출기 종류 및 외관

종 류 특 성 용 도 HPGe 반도체 검출기
P -N형 - P 형 Si에 인을 확산시켜 형성시킴 알 파선, 베타선

- N 형 반도체를 산화시켜 검출영역 제작 알 파선,

표 면장벽형 검출기
- 검 출영역의 두께가 얇으므로 감마선 백그라운드의 영향이 작다 중 하전입자

저 에너지 엑스선,
S i(Li) - 사 용 시에만 액체질소로 냉각
Li 감 마선,고에너지 베타선
드 리프트형 CdTe 반도체 검출기
G e(Li) - 항 시 액체질소로 냉각 감 마선

- 사 용 시에만 액체질소로 냉각
H PGe - 에 너 지분해능 탁월 감 마선
- H i gh c ost

- 상 온에서 사용가능
C dTe, H gI2, GaAs - H PGe 보다 에너지분해능 저조 감 마선
표면장벽형 검출기
- 결 정의 크기 제한(~1cm) 고에너지(1>MeV) 방사선 측정에 부적합

※ Si(Li): 저에너지 광자에 대해서는 광전효과의 발생확률이 적절하게 높음

※ 광전효과 발생확률
※ 고순도 게르마늄(HPGe: High Purity Germanium) 4
 ph  Z 3
E
반도체 검출기의 특징 반도체 검출기_Radiation Damage

1)에너지분해능 우수!!
- 입사방사선과 반도체검출기 원자물질과의 상호작용(atom displacement)에
-일함수가 작음(Ge : 2.9 eV / S i : 3.6 eV) => 생성이온쌍수 多
-High density 기인한 defects(Frenkel defect, Crystal defect:New trapping center 등)을
-전자 전공쌍이 모두 높은 이동속도
만드는 현상으로 에너지 분해능 저하
통계적 변동 적음 에너지분해능 우수!
- 감마선에 의한 radiation damage의 영향은 무시 가능함
2)입사방사선의 에너지와 출력펄스와의 비례성이 좋음
- 검출기의 계측효율이 클수록 잘 발생함
3)응답속도가 신속
- 해결책: annealing or redrifting
4)검출부 소형

5)유효계수면적이 넓은 검출기를 만들기 어려움

6)방사선손상(radiation damage)(=조사손상) 大

7)냉각탱크(액체질소)가 부착되어 운반이 불편

반도체 검출기 구성 Ge(Li)검출기 VS NaI(Tl)검출기

Oscilloscope

HPGe Preamp AMP PC based PC Ge(Li) NaI(Tl)

MCA
반도체검출기 섬광계수기

Good
LN2 H. V. 에너지분해능 -일함수 小 Bad
-통계적 변 동 小

Bad
계수효율 & 감도 Good
- 상대적으로 유효면적 넓은 것을 만들기 어려움

Bad
운반 Good
- 액체질소 냉장탱크가 부착되어 운반이 어려움

- 저준위 방사능 측정시 background와 분리가 - Background 측정에 유리

- 전치증폭기(preamp) : 펄스의 1차성형 및 약간의 증폭 저 준위 방사능 측정
확 실 (에너지분해능이 좋아서) ( 계수효율이 우수하기 때문에)
- 주증폭기(amp) : 펄스의 2차성형 및 증폭
- 다중채널분석기(MCA, Multichannel Analyzer ): 검출기에 흡수된 에너지에 비례하는
펄스를 크기에 따라 해당 채널에 기록저장
Ge(Li)검출기 VS Si(Li)검출기
[문제003] Ge(Li)반도체검출기와 Si(Li)반도체검출기에 대 한 설 명으로 올 바른 것 은?
① Ge(Li)반도체 검 출기가 Si(Li)반도체검출기보다 원 자번호가 낮 기 때 문에 베 타선 에 너지 측 정에 유 리
② Si(Li)반도체검출기는 사 용 중 일 때 나 보 관 중 일 때 항 상 냉 각하여야 한 다
Ge(Li) Si(Li) ③ 알 파 선의 에 너지측정에는 Ge(Li)반도체검출기가 우 수하다
반도체검출기 반도체검출기 ④ Ge(Li)반도체검출기와 Si(Li)반도체 검 출기를 액 체질소로 냉 각시키는 이 유는 상 온에서 공 핍층이
없 어 지기 때 문이다

대상 방사선 감 마선 측 정 유 리 베 타선 측 정 유 리 [문제011] 수 keV이상의 X선 및 감마선의 측정에는 Si반도체검출기보다 Ge반도체검출기가 잘 사용되는

이 유로 올 바른 것 은 ?
① 취 급 하기 편 하기 때 문이다
② 1개 의 전 자 & 전 공 쌍을 만 드는데 필 요한 평 균에너지가 Ge쪽이 크 다
냉각 항 상(보존, 사용시) 액체질소 냉각 사 용시에만 액체질소 냉각
③ Ge의 원 자번호가 Si보다 크 므로 검 출효율이 높 다
④ Si의 고 순도결정을 만 드는데 어 려움이 있 다

*Ge(Li) 반도체 검출기가 감마선 측정에 더 유리한 이유? [문제016] 다 음 설 명 중 옳 지 않 은 것 은?

① 반 도 체검출기는 에 너지 분 해능이 좋 다
② 반 도 체검출기의 효 율은 통 상적으로 3”* 3”NaI(Tl) 섬 광검출기에 대 한 상 대효율이다
*Si (Li) 반도체 검출기가 베타선 측정에 더 유리한 이유?
③ HPGe 반 도체검출기는 사 용시 냉 각할 필 요가 없 다
④ 반 도 체검출기는 전 리작용을 이 용한다

1. 다음중 저에너지 X선 측정에 유리한 검출기는?

① HPGe ② LiI(Eu) ③ Si(Li) ④ HgI2
[ 문제026] HPGe 반 도체검출기의 특 성에 대 한 설 명으로 옳 지 않 은 것 은?
① 에 너 지분해능이 탁 월하다
② W 값 이 다 른 측 정기에 비 하여 적 다
2. HPGe 반도체 검출기의 특성에 대한 설명으로 옳지 않은것은?
③ N a I(Tl) 검 출기에 비 해 측 정효율이 좋 다 ① 에너지 분해능이 탁월하다.
④ 전 자 와 전 공은 반 대 방 향으로 이 동한다.
② W값이 다른 계측기에 비하여 적다.

[ 문제028] γ선 검출에 있어 Ge(Li) 반도체검출기가 S i(Li) 반도체검출기보다 더 우수한 이유는? ③ NaI(Tl)검출기에 비해 측정효율이 좋다.
① 동 일 한 크 기인 경 우 상 대적으로 고 유 검 출효율이 높 음 ④ 전자와 정공은 반대 방향으로 이동한다.
② 우 수 한 에 너지 분 해능
③ 높 음 민 감도
④ 높 은 재 현성 3. 다음중 알파선 측정에 사용되는 검출기는?
① 표면장벽형검출기, ZnS(Ag) ② HPGe, Si(Li)

예) 다음중 상온에서 액체질소로 냉각하지 않고 사용할 수 있는 반도체 검출기는? ③ LiI(Eu), Ge(Li) ④ GaAs, CsI(Na)
① GaAs
② S i(Li) 4. 다음중 반도체 검출기의 상대효율의 기준이 되는 검출기는?
③ Ge(Li) ① 1″× 1″NaI(Tl) ② 2″× 2″NaI(Tl)
④ HPGe
③ 3″× 3″NaI(Tl) ④ 4″× 4″NaI(Tl)
 5. 다음 설명중 옳지 않은 것은?
① Si에 P을 첨가한 것은 n형 반도체이다.
② Ge(Li)반도체 검출기는 일반적으로 Jelly라 칭한다.
③ Ge(Li)계측기는 중성자에 의한 방사선손상(Radiation Damage)이 발생될 수 있으나
Annealing을 통해 희복이 가능하다.
④ 반도체검출기에서 전자와 정공의 이동속도는 같다.
섬광 검출기
6. 다음 설명으로 옳지 않은 것은?
① CdTe는 1MeV이상의 고에너지 측정에는 적합하다.
② HPGe 계측기는 보관시에는 상온에서 냉각하지 않아도 된다.
③ 고순도 Si형 검출기는 Si의 melting point가 높기 때문에 제작하기가 어렵다.
④ Si(Li)은 상온에서 냉각을 시키지 않더라도 Ge(Li)에 비해 수주 정도는 견딜 수 있는 다소의
융통성이 있는데 이러한 이유는 Li의 확산계수가 작기 때문이다.

섬광 검출기 섬광체(Scintillator)의 종류
원리 : 여기작용을 이용

섬광물질 특 성 무기섬광물질 유기섬광물질

흡수된 방사선에너지를 가시광으로 변환하여 방출하는 성질을 지닌 물질 탄소(C) 無 有

- 고체, 액체, 기체
- 무기질, 유기질 발광효율 높다 낮다
자유전자
전도대
천이속도 느리다 빠르다
e

e 선형성
여기 밴드간격 (방사선 에너지와 발광량)
좋다 좋지 않다
hν　 천이 가시광선
(3~4 eV)
플라스틱섬광검출기,
종류 NaI(Tl), CsI(Tl), LiI(Eu) 등
e e e 액체섬광검출기 등
충만대
방사선장의 세기 ∝ 가시광선의 세기

1)섬광체의 발광량은 흡수된 방사선의 에너지지에 비례함(에너지 정보 취득)

2)다른 검출기에 비해 분해시간이 짧고, 계수효율이 좋음
섬광체가 갖추어야 할 조건 무기 섬광체

1) 소량의 불순물(약 1 %)을 포함한 무기염 결정 사용

1) 방사선이 빛에너지로 변환되는 율이 높고 비례성이 좋을 것 *활성체(Activator) : 소량의 불순물로 결정 중에 발광 중심이 됨

2) 생성된 빛에 대하여 투과성(투명도)이 좋고, 섬광의 감쇠시간이 짧을 것 2) 밀도 & 유효 원자번호 -> X선, γ선 측정에 多用

3) 발광스펙트럼의 분포와 PM tube의 분광감도에 적합할 것 NaI(Tl) 섬광체

4) 제작이 쉽고, 기계적 화학적 내성이 높을 것 　 감 마 선, 중 경 엑 스선 측 정
　 발 광 효율이 좋 다
5) 고에너지 감마선용으로는 원자번호와 밀도가 높고 대용량 검출기 제작이 용이 　 기 계 적, 열 적 충 격에 약 하다
할것 　 조 해 성이 있 다
NaI(Tl) 검 출기
※ NaI(Tl) 검 출기를 Al, Be 등 으로 밀 봉하는 이 유
6) 섬광체를 PM tube에 효율적으로 접속할 수 있도록 굴절률이 유리의 굴절률
　 조 해 성(흡습성)
(1.5)와 유사할 것 　 기 계 적, 열 적 충 격 방 지
　 가 시 광선에 의 한 섬 광 방 지

※ NaI(Tl) 검 출기로 베 타선 측 정을 하 지 않 는 이 유
　 조 해 성(흡습성)이 있 어 Al 등 으로 밀 봉
　 섬 광 체 유 효 원 자번호가 커 후 방산란이 多 發

무기 섬광체 무기 섬광체
CsI(Tl) 섬광체 LiI(Eu) 섬광체
　 감 마 선, 중 경 엑 스선 측 정 　 열 중 성자 측 정
　 6 Li (n,α) 3 H 반 응으로 생 성된 α 입자에 의 한 섬 광작용 이 용
　 NaI(Tl) 보 다 원 자번호가 높 아 검 출효율
　 NaI(Tl) 보 다 발 광량이 작 고 에 너지분해능이 낮 음
　 기 계 적 강 도와 내 수성이 강 하다 ZnS(Ag) 섬광체
　 펄 스 형성이 느 리다 ( 계수율이 높 은 환 경에 부 적합)
　 알파선 측정
　 큰 결 정 을 얻 을 수 없 다 – 분 말 (powder)로 박 막하여 사 용
　 백 그 라운드의 영 향이 小
BGO(Bismuth Germanate, Bi4Ge3O12)
　 감 마 선, 중 경 엑 스선 측 정
　 원 자 번호(83) 가 높 고 와 밀 도(7.3g/cm3) 검 출효율이 우 수하다
　 광 수 율이 낮 아 에 너지분해능이 N aI(Tl) 보 다 떨 어짐(NaI(Tl)의 20 %이내)
　 기 계 적 강 도와 화 학적 특 성이 우 수
　 조 해 성 無 / 견 고 함 / 신 호출력 지 연현상 無
　 다 른 무 기섬광차에 다 르게 activator를 사 용하지 않 음
　 발 광 의 감 쇄시간이 매 우 짧 아 빨 리 반 응해야 하 는 X선 CT, PET 등 의 검 출기로 사 용
 유기 섬광체
문제) NaI(Tl) 섬광검출기에서 Tl의 주요 역할에 대해 논의하시요.
1) C, H, O 가 주 성분이므로 감마선 측정 부적합 (광전효과 발생할 확률 낮음)
2) 베타 또는 알파측정에 주로 이용
액체 섬광 검출기
① 순 수 유 기결정
해) Tl은 에너지밴드에서 낮은 에너지의 빛을 방출한다. 이것은 방사선검출 측면에서 두가지 안 트라센 (anthracene), 스 틸벤(stilbene)
중요도를 가질 수 있다. ② 액 체 유 기섬광물질
　 유 기 섬광물질을 적 절한 용 매에 녹 여서 제 작
첫 째: Tl의 에너지 밴드에서 방출된 빛은 에너지가 낮은(파장이 길다) 관계로 신틸레이터에 　 대 용 량 검 출기 제 작에 용 이
흡수될 가능성이 작다. 　 액 체 섬광검출기 (LSC, Liquid Scintillation Counter)
->시료의 자 체흡수, 검 출기 창 (window)에 의 한 감 쇠가 없 다
->알파 및 저 에너지 베 타선(H-3, C-14) 측 정
두 번째: 방출된 빛이 PM관에 입사시 광전효과를 통해 전자를 방출할 수 있는 능력이 우수함
③ 플 라 스틱 유 기섬광물질
즉, 광전효과는 에너지의 3~4의 역자승에 비례함 　 액 체 유 기섬광물질  중 합 반응  플 라 스틱 섬 광물질
　 다 양 한 형 태의 검 출기 제 작에 용 이
　 대 용 량의 고 체 섬 광검출기 제 작이 용 이
④ 장 전 유 기섬광물질 (loaded organic scintillator)
　 유 기 섬광물질은 원 자번호가 낮 은 C, H, O 로 구 성 되어 있 으므로 광 전효과의 발 생확률이
낮 아 원 천적으로 감 마선 핵 종분석이 어 려움. 감 마선이 유 기섬광물질에 입 사하면 주 로
콤 프턴산란이 일 어나므로 콤 프턴연속(compton continuum)만이 형 성된다. 따 라서 원 자번호가
높 은 Pb, Sn 등 의 물 질을 유 기섬광물질에 첨 가하여 감 마선 핵 종분석에 사 용.
　 장 전 유 기섬광검출기

광전자 증배관(PM tube)

빛 전류 방사선
섬광체
전치
1) Photocathode(광전면 또는 광음극) e 증폭기
- 반투명으로 되어있음
- 섬광체로부터 광자(빛)을 받아 광전자를 방출하는 역할
- 낮은 work function 물질인 알칼리 토금족 (K, Sb, Cs)의 혼합물

2) Dynode
- 10~14단의 dynode로 구성되어 있고 dynode의 재질은 BeO, MgO 등 가시광선
- dynode 사이의 전압은 약 100~150 V 광음극 Dynode 양극
- 1, 2단의 dynode는 나머지 dynode에 비해 전압이 높음(이유: 전자의 feedback 막기 위해) 광전자방출 광전자를 증폭 전류로 취출
3) Anode(collector) : 양극(집전극)
- 광전자를 수집하는 부분
- 증배된 전자를 최종적으로 수집하여 전기적 펄스로 내보내는 역할
광전자 증배관(PM tube) 섬광검출기의 동작전압 결정
특성
순계수율 (cpm)
( )2
백그라운드 계수율 (cpm) 의 값이 최대가 되는 지점에 인가전압 설정
-
1)최근 GaP 등과 같은 NEA (negative electron affinity) 물질의 개발로 dynode의 수를 감소할 수
있음(전기적인 shock 방지 측면에서 효과적)
- 인가전압이 너무 높으면 계수효율은 높아지지만 광증배관의 광음극으로부터 방출되는
2)PMT에서의 증배도 : 약 10 5 ~ 7 배
열전자에 의한 잡음이 증가
3)직사광선, 열에 의한 암전류 (dark current)가 발생하므로 광차폐가 필요하고 적정 실내온도
에서 동작이 요구됨
5 0,000
4)펄스 ∝ V (동작전압)0.7N, N은 다이노드의 수
　 안정적인 HV 공급장치가 필요함
N et Counting Rate
2 0,000
　 섬광검출기의 경우 동작전압에 상당히 민감함 (GM관과는 대조적)

C ounting Rate
1 0000
주의사항
5 000
1)규정전압만 사용
2)고전압정전회로의 전원을 사용
2 000
3)측정 전 안정될 동작을 위하여 충분한 시간을 가져야 함 B ackground

4)PM tube는 지자기의 영향을 최소화하기 위해 μmetal (철과 니켈의 합금)로 차폐 1 000
9 00 1 000 1 100 1 200 1 300
5)전압이 걸려있는 상태에서 직사광선에 노출시키면 안됨 H igh Voltage [V]

6)열잡음을 줄이기 위하여 냉각시켜줄 필요가 있음

섬광검출기 구성
예) 다음중 광전증배관(PM)에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
O scilloscope

① 자장의 영향을 방지하기 위하여 μ metal로 차폐설계 된다.

S cin- P C based
t illator P MT P reamp A MP PC
② 온도의 영향을 받지 않는다. M CA

③ 최근에는 섬광물질과 광전증배관이 일체로 제작되어 진다.

④ 빛에 민감하기 때문에 light tight 물질로 제작된다. H . V.

- 전 치 증폭기(preamp) : 펄 스 의 1차성형 및 약 간 의 증 폭
- 주 증 폭기(amp) : 펄 스 의 2차성형 및 증 폭
- 다 중 채널분석기(MCA, Multichannel Analyzer ): 검 출기에 흡 수된 에 너지에 비 례하는
펄 스를 크 기에 따 라 해 당 채 널에 기 록　저장
Phoswich detector 우물형 섬광검출기
Phoswich Detector 또는 Phosphor Sandwich Detector
- 검출효율이 매우 높다 (저에너지 광자의 경우 검출효율이 100%에 이른다)
- 인체의 배설물, 혈액 등에 함유된 방사능측정에 적합
- 핵의학, 핵화학 분야에서 주로 사용

- 한개의 PMT에 서로 다른 펄스 붕괴시간을 갖는 두 개의 섬광물질을 광학적으로 접합한 검출기

- 대개 감마선 백그라운드가 존재하는 환경에서 X선과 같은 저에너지 광자를 측정할 목적
- 저에너지 광자는 전방의 얇은 섬광체에서만 반응하는 반면 투과력이 강한 고에너지 감마선은
전방과 후방 섬광체 모두에서 펄스를 생성
- 펄스파형분석기 (pulse shape analyzer)
펄스의 붕괴시간을 이용하여 전방의 얇은 섬광체에서 생성된 저에너지 광자 펄스를 후방의
두꺼운 섬광체에서 생성된 고에너지 감마선 펄스로부터 분리해내는 전기장치
- 펄스의 붕괴시간
ㆍNaI(Tl) : 0.23 μsec ㆍCsI(Tl) : 1.0 μsec

액체섬광계수기(LSC) 액체섬광계수기(LSC) 동작원리

특징
1) 기하학적 효율이 거의 1
2) 높은 계수효율을 가짐
3) 선원의 자기흡수가 생김(저에너지 베타선)
4) 소광현상에 대한 보정필요
5) 저에너지 베타선 방출핵종의 방사능 측정에 多用(H-3, C-14)

방사선으로 생성된 빛은 PMT로 반사되므로

두개의 PMT 모두에서 신호를 생성하는 반
면 P MT에서 발생하는 열적 잡음은 하나의
P MT에서만 생성
액체섬광계수기(LSC) Wave Length Shifter(파장 전이체)

　 섬광 칵테일
시 료 + 용매(solvent ; toluene, xylene) + 용질(solute, PPO)

　 Wave Length Shifter(파장전이체)

- 칵 테 일에서 방출되는 빛이 PMT와 잘 맞도록 더욱 긴 파장의 빛을 재방출하는 물질 첨가.
이 때 첨가되는 물질을 제2용질 또는 w ave l ength s hifter 라고 한다.
- 주 로 P OPOP사용
P PO: D ipheylacetylene
P OPOP: Phenyloxazole-benzene

　 LSC를 이용한 핵종분석

E max 또는 에너지 스펙트럼(펄스크기 분포)을 이용하여 베타선 방출핵종 분석

소광(Quenching) 소광(Quenching)
액체섬광물질에서 발생한 빛의 에너지와 세기가 약해지는 현상

소광의 효과

① 광소광 (Photon Quenching)

방사선 에너지가 용매에 녹지 않는 물질에 의해 감쇠되는 현상
② 화학적 소광 (Chemical Quenching)
방사선 에너지가 칵테일에 함유된 화학물질에 흡수되어 빛을 방출하는 대신 열(적외선)로 소실되는 현상
③ 색소광 (Color Quenching)
방사선에 의해 생성된 빛이 칵테일에 함유된 색깔을 띤 물질에 흡수되는 현상

R a dioactive S olvent Flu or P hotomultiplier

M olecule M olecule M olecule T u be

P hoton Ch emical Color

Qu enching Qu enching Qu enching
 소광 교정(Quenching calibration)
예) 소광현상으로 인하여 전체 계수효율이 감소할 수 있기 때문에 이를 보정
방 사능은 동 일하지만 화 학적 소 광물질(nitromethane, CCl 4) 의 양 이 다 른 여 러 개 의 vial을 LSC에서
해주어야 한다. 이를 보정해주는 방법은? 계 수하여 소 광정도에 따 른 효 율곡선을 획 득하는 과 정

① 내부표준선원법 : 원리적으로 가장 우수한 방법으로 시료의 계수율을 측정한 후

Efficiency
방사능이 알려진 표준선원을 가하여 계수율을 측정하는 방법이다.
② 외부표준선원법 : 외부선원으로 226Ra, 137Cs 등의 선원을 장착하여 자동적인 조작으로
계수효율을 구하는 방법
③ 채널비법 : β선 스펙트럼의 2개의 채널을 설정하고 표준시료에 의하여 계수비에 대한
계수효율의 값으로부터 시료의 계수효율을 구하는 방법이다.
④ 외부표준선원채널비법 : 외부표준선원비법 + 채널비법

Degree of Quenching
?

아래의 곡선은 표준선원 + 증류수 + 칵테일의 농도에 따른 표준효율을 의미함

(예를 들어 0.1 + 9.9 + 10, 0.1+ 8.9 + 11..... 등)

[문제001] 유기섬광물질에 원자번호가 높은 Pb, Sn 등 물질을 첨가하여 γ선 핵종분석에 사용하는 검출기는?

① 장전유기섬광검출기
[예] 다음 설명중 옳지 않은 것은?
② 순수유기섬광검출기
① ZnS (Ag) 검출기의 경우 방사선검출 체적이 작기 때문에 백그라운드의 영향을 덜 받는 장점이 있다
③ 플라스틱섬광검출기
② 온도의 영향으로 PM관의 광음극에서 방출되는 전자를 dark current라 한다
④ LiI(Eu)섬광검출기
③ 섬광 검출기의 출력은 대략 동작전압의 7승에 비례한다
④ CsI(Tl) 섬광물질의 단점은 조해성이다
[문제004] 다음 핵종 중 NaI(Tl) 섬광검출기로 측정하는 것이 부적당한 것은?
① Na-24 ② P-32 ③ C0-60 ④ Cs-137 [예] 다음중 3H, 1 4C과 같은 방사성핵종의 측정에 용이한 검출기는?

[문제015] 광전자증배관 사용시 주의사항으로 틀린 것은? ① CsI(Tl) ② 액체섬광검출기 ③ HPGe ④ GaAs

① 규정이상의 고전압을 걸지 말 것
[예] NaI(Tl) 검출기에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
② 광전자증배관은 증폭도가 크기 때문에 고압전원 안전회로가 필요하지 않다
① 조해성이 있기 때문에 Al, Be, Mg등과 같은 재질로 밀봉한다
③ 자장의 영향을 방지하기 위하여 μ메탈과 같은 자성 재료로 광전자증배관을 둘러싼다
② 기계적, 열적 충격에 약하다
④ 측정 전에 동작이 안정될 때까지 충분한 시간을 취한다
③ 발광효율은 작으나 빛의 천이가 신속하게 일어난다
[문제016] 유기 섬광검출기 특성으로 옳지 않은 것은? ④ 감마선과의 상호작용은 원자번호가 높은 원자에서 대부분 일어난다
① α선 또는 저에너지 β선(H-3, C-14)의 측정에 매우 효과적이다
② 액체 섬광계수법은 시료와 섬광체를 혼합하여 사용한다 [예] 다음 섬광검출기 중 100 keV 이상의 에너지를 지닌 광자의 계수에 적합하지 않은 것은?
③ γ선 에너지스펙트럼 측정에서 전흡수 peak가 잘 나타난다 ① ZnS (Ag) ② BGO ③ NaI(Tl) ④ CsI(Tl)
④ 측정하고자 하는 임의의 크기와 형태의 제작이 용이하다
 [예] 섬광 검출기는 다음과 같이 여러 종류가 있다. 물음에 답하시오.

NaI(Tl), CsI(Tl), LiI(Eu), BGO, ZnS(Ag), 스틸벤, 액체섬광검출기

(예) 액체섬광 계수기에 대한 물음에 답하시오 (1) 같은 크기라면 NaI와 CsI 중 어느것이 6 0Co 감마선에 대한 검출효율이 높을까? 이유는?
(1) 장점과 활용 (2) 1 MeV 감마선이 NaI(Tl)과 BGO에 입사하여 모든 에너지를 잃었을 때 생성된 광자의 수가 각각
(2) 감마 에너지 스펙트럼 측정이 곤란한 이유와 대책
38000개와 8200 개이었다면 이 에너지의 감마선에 대한 분해능은 어느 쪽이 얼마나 높은가?
(해답) (3) ZnS(Ag)는 단결정을 크게 만들 수 없어 분말상을 얇게 코팅하여 사용한다. 이 검출기의 측정대상이
(1)- 대용량의 검출기 제작이 용이
되는 방사선은?
- 다양한 형태의 검출기를 제작할 수 있다
- 시료를 섬광물질에 혼합할 수 있어 알파 또는 저에너지 베타입자에 대하여 높은 검출효율 유지 (4) LiI(Eu) 검출기를 제조할 때 종종 농축한 6 Li을 사용한다. 그 이유는 무엇일까?
( 3 H, 1 4C 등 측정에 적합) (5) 위 섬광검출기중 분자생물학 실험실에서 꼭 필요한 것은? 이유는?
(2) 유기섬광물질(안트라센, 스틸벤 등)을 유기 용매에 녹여 제작함에 따라 주로 C, H, O, N 등의 (6) 액체섬광 계수기로는 감마선분광분석을 수행하기 어렵다. 그 이유는?
원자번호가 낮은 물질로 구성되어 있다. 따라서 광전효과의 발생확률이 낮아 원천적으로 감마선
핵종분석이 어렵다. 즉, 감마선이 유기섬광물질에 입사하면 주로 콤프턴산란이 일어나므로 [해답)
콤프턴연속(compton continuum)만이 형성된다. ( 1) CsI, Na(Z=11)보다 Cs(Z=55)의 원자번호가 높다
- 대책 : 광전효과가 발생할 수 있도록 원자번호가 높은 Pb, S n 등을 유기섬광물질에 첨가하여 1 RNaI 8200 1
감마선핵종분석에 사용.
( 2) NaI의 분해능이 BGO 보다 약 2배 양호, R ,  
N RBGO 38000 2
( 3) 알파입자
( 4) 6Li이 7Li 보다 열중성자 반응단면적이 크기 때문
( 5) 액체섬광검출기, 저에너지 베타 방출핵종인 3H, 14C 등 계측에 필요
(6) 유기섬광물질은 원자번호가 낮은 C, H, O 등으로 구성되기 때문에 광전효과의 발생확률이
낮아 전에너지흡수 피크가 형성되지 않기 때문

조사선량(Exposure dose)

어떤 질량을 가지는 공기체적 내에서, 광자(X선, γ선)에 의하여 생성된 양이온 또는 전자의 한쪽 전
하의 총합

dQ

선 량 측 정 X = [R or C/kg]
dm
X : 조 사선량 / dQ : 한쪽 전하량 의 총합 / dm : 공기의 질량

1C
1esu 
1esu 3 10 9 esu
1R  
0.001293g 0.001293g  1kg
1,000 g
 2.58  10  4 C / kg
-표준상태 : 0 ℃, 1기압(760 mmHg)
-공기 : 1 cc(cm3 ) = 0.001293 g
-1 C = 3 × 109 esu
조사선량 적용을 위한 조건 조사선량과 흡수선량

1)광자에 국한하여 사용
조사선량 : 광 자 와 공 기에만 적 용
2)공기에 국한하여 사용
3)광자 에너지에 제한 (3 MeV 이하일 경우에 적용)
4)하전입자 평형이 성립되어야 함
흡수선량 : 모 든 방 사선과 모 든 물 질에 적 용(에너지 정 보가 있 어야 함 )
하 전입자평형(전자평형)
관심체적 밖에서 생성된 하전입자가 관심체적 내에서 에너지를 잃는 양과
관심체적 내에서 생성된 하전입자가 관심체적 밖에서 에너지를 잃는 양이 평형 을 이루는 상태
1 Gy = 1 J/kg = 100 rad
1 rad = 100 erg/g
[하전입자(전자)평형 조건]
- 일차방사선장이 균질해야 한다
- 관심체적의 두께가 생성된 하전입자의 최대 비정보다
조금 큰 경우 성립
- 3 MeV 이하의 광자에 대하여 성립한다

흡수선량(Absorbed dose) Bragg-Gray 공동이론

-전리함을 사용하여 흡수선량을 측정하는 기본원리
-방사선이 물질과 상호작용하여 그 물질의 단위 질량당(dm) 흡수되는 평균 에너지(dE) => 전리함의 벽과 공동기체에서의 흡수선량비 는 질량저지능비와 같다
-모든 물질(공기포함)과 모든 방사선에 적용됨 - 조건 : 전자평형
*전자평형
dE -관심체적 밖에서 생성된 하전입자가 관심체적 내에서 에너지를 잃는 양과

D= dm
[Gy or J/kg] -관심체적 내에서 생성된 하전입자가 관심체적 밖에서 에너지를 잃는 양이 평형을 이루는 상태

D : 조사선량 / dE : 흡수된 평균 에너지 / dm : 흡수체의 질량

DW SW
 `
gas Dg Sg
. D
D= t [Gy/hr or J/kg*hr] S
DW  Dg  W
  nW   SW 
       E  nW
. wall S
 g   m  g  Sg 
D : 조 사 선 량 율 / D : 조 사 선 량 / t : 시간

n : 공동내에서 생성된 이온쌍의 수

인체의 흡수선량을 측정하기 위해서는 “인체등가물질”로 벽을 하여야 함!
m : 공동기체의 질량
W : 공동기체의 W 값
Bragg-Gray 공동이론 공기와 물질 중의 흡수선량

1R이 조사되었을 때 공기 1g당 생성되는 이온쌍의 수는,

전자평형
1ip
4 2.58 10  4 C 
[하전입자(전자)평형 조건] 2.58 10 C 1.6  1019 C
a′ a 1R  
b′ b
c′d′ c
- 일 차 방사선장이 균 질해야 한 다
- 관 심 체적의 두 께가 생 성된 하 전입자의 최 대 비 정보다
kg 103 g
d
a″b″ 조금 큰 경우 성립  1.61 1012 [ip / g ]
c″ - 3 M e V 이 하의 광 자에 대 하여 성 립한다
d″

 ab  bc  cd 

커 마(at p o int a "] 공기에 대한 평균 이온화 에너지(W) : 34 eV/ip,
흡 수선량(관심체적에서)  ab  bc  c d 
bc  cd   bc  cd 
　 커 마 = 흡 수 선량 34eV 1.6  10 19 J 10 7 erg
1.61 10 ip / g 
12
   87.7[erg / g ]
1ip 1eV 1J

공기와 물질 중의 흡수선량 전리함에서 흡수선량 계산

1 R이 공기에 조사되었을 때 공기의 흡수선량은 ?

1 R = 87.7 erg/g = 0.877 rad

공기의 조사선량(X)를 구한다. ( R 단위로 환산 )
공기 중 흡수선량

Dair [ rad ]  0.877  X [ R ]

공기의 흡수선량(Dair)[단위 : rad]을 구한다. (곱하기 0.877 )
물질 중 흡수선량
( en /  ) matter
Dmatter [ rad ]  0.877  X [ R] 
( en /  ) air Sm
-μ en / ρ : 질량에너지 흡수계수 질량저지능비를 곱한다. ( 을 곱한다 )
Sg
-질량에너지 흡수계수비는 입사방사선의 에너지에 따라 변하는
값이므로, 에너지 정보를 알아야 함
조사선량(률) 측정
[예] 25 oC, 750mmHg 일 때 200cc 전 리함에서 15 pA의 전 류가 측 정되었다. 노 출된 방 사선장의
-조사선량(률) 측정에는 전리함 이용 조 사선량율(R/h)은?
-자유공기전리함 : 검출부의 유효체적이 주변공기에 노출
-> 외부 기압과 온도를 고려해야 함
m  밀도  부피
Q Q 760 T 750 273
X [C/kg] = = × × m  1.29  10 3 g / cm 3  200cm3  (
)( )  0. 234 g
m ρs ×V P 273 760 298
. Q / t 15 1012 C / s 1,000 g 1R 3600s
X    4
  0. 896 R / h
-ρ s : 표준상태 공기밀도(kg/m3) P 273 m 0. 234 g 1kg 2.58 10 C / kg 1h
-ρ : 주변 공기밀도(kg/m3)
*ρ = ρ s × ×
760 T
-P : 주변 공기압력(mmHg)
P 273
-T : 절대온도(273 °+ t ℃) [예] 표 준상태에서 1.25×10-4 kg의 공 기를 내 장한 공 기등가벽 전 리함을 어 떤 X선장에 노 출하였더니
*m = V ×ρ s × ×
760 T 16 pA의 전 류가 흘 렀다면 이 방 사선장의 조 사선량율(R/h)은 얼 마인가?

m : 공기질량 (kg) / V : 부피 (m3 )

Q / t 16 1012 A C / s 1R 3600s
X       1.8 R / h
위 식에서 Q[C]를 I[A=C/sec]로 바꿔주면 선량율을 구할 수 있음 m 1.25 104 kg A 2.58 104 C / kg h

감마상수(Γ)
[ 예] 환 경 중 의 자 연 방 사선량률은 대 략 1 0 μ R/h 이 다. 사 용할 전 리함의 전 류측정 하 한이 0.02 pA
라 면 2L 체 적의 전 리함으로 자 연방사선량률을 측 정하려면 전 리함의 공 기 압 력을 얼 마나 높 여야
하 는 가? (단, 표 준상태의 공 기 밀 도는 1 .3*10-3 k g/L 이 다)
r . S
S 조사선량율(X) ∝
(S ource)
r2
6 2.58 10 4 C / kg 1012 pA 1.3 103 kg 1h
10  10 R / h    2L    P  0.02 pA
1R C/s L 3600s
-A : activity(Ci)
P  10.7 atm . A -r : 거리(m)
X = Γ
r2

감마상수(비례상수)
-핵종에 따라 고유한 값을 가짐
-단위 : R·m2/Ci·hr (SI 단위로도 변환할 수 있음)
-0.2~2 MeV 감마선에 적용되는 값
감마상수(Γ) 감마상수(Γ)

Γ ≒ 0.53 * ∑ f i * Ei Co-60의 Γ를 구해보자!

R·m2/Ci·hr
핵종 Γ 핵종 Γ 핵종 Γ
C-60 (5.3 year)
Na-22 1.20 Co-60 1.32 Cs-137 0.33

Na-24 1.84 Cu-64 0.12 Tm-170 0.0025 99+ %

Mn-54 0.47 Zn-65 0.30 Ir-192 0.48

0.318 MeV = 0.53*(1*1.17+1*1.33)
2.5 MeV
Ag-
Fe-59 0.64 1.43 Au-198 0.232
110m ≒ 1.32 R·m2/Ci·hr
Co-56 1.76 I-131 0.22 Ra-226 0.825 1.33 MeV

[예] 전자평형에 관한 설명 중 틀린 것은?

① 벽물질에서 생성된 전자가 공동에서 에너지를 잃는 양과 공동에서
생성된 전자가 벽물질에서 에너지를 잃는 양이 평형을 이루는 상태이다
② Bragg-Gray원리는 하전입자평형 또는 전자평형이 이루어 진다는 가정 하에 성립된다
③ 전자평형이 이루어지기 위해서는 일차방사선장은 균질해야 한다
④ 벽물질의 두께는 2차전자의 최대비정보다 조금 작아야 한다 [문제009] 대 (大) 선 량의 흡 수선량을 측 정하는데 쓰 이는 방 사선측정기는?
[예] Bragg-Gray 원리를 바르게 설명하고 있는 것은? ① 프 리 케 선 량계 ② 액 체 섬광검출기 ③ Ge(Li)반도체검출기 ④ GM계수관
① 벽물질과 공동기체의 흡수선량 비는 질량저지능 비와 같다
② 벽물질과 공동기체의 흡수선량 비는 질량에너지흡수계수의 비와 같다
③ 벽물질과 공동기체의 조사선량 비는 질량저지능 비와 같다 [문제018] 물 의 온 도를 1℃ 상 승하는데 필 요한 흡 수선량은 ?
.
④ 벽물질과 공동기체의 조사선량 비는 질량에너지흡수계수의 비와 같다

[S RI문제004] 조직등가의 벽물질로 구성된 공기 전리함이 광자 방사선장에 노출되었을 때 20 pA의 전류가 물의 비열c = 1 cal/g
흘렀다면 조직에서의 흡수선량률은 얼마인가? (단, W는 34eV이고, 전리함 내 공기의 질량은 0.15g,
S tissue/S air =1.03 ) 1cal 1000 g 4.2 J
Dtissue  Dair 
Stissue
(
nW S
) air  ( tissue )    4,200 J / kg
Sair m S air g 1kg 1cal
20  1012 C / s
n  1.25 108 ip / s
1.6 1019 C / ip
1.25 108 ip / s 1.6 1019 J 3,600 s
Dtissue    1.03
1.5  10 4 kg 1eV 1h
 1.68 10 2 J / kg  h  1.68 10 2 Gy / h  16.8mGy / h
[예] 환자의 환부에 정확한 선량을 부여하기 위해 팬텀내에 공기전리함을 삽입하고 코발트 치료기로
조사하였다. 이때 공기전리함에 측정된 전하량이 3.02 * 10-3 C/kg 이었다면 팬텀에서의 흡수선량은?
(단, W air= 34 eV 이고 S tissue/S air = 1.11 이다)

S   nW   Stissue 
Dtissue  Dair  tissue   

Dtissue 
 
 Sair   m air  Sair 


3.02  10 3 C / kg  34 eV / ip 1.6  10 19 J

1.6  10 19 C / ip

1eV
 1.11
방사능 측정
 0.11 J / kg  0.11 Gy

방사능 측정 개요 절대측정(직접측정)법
방사능 측정 : 방사성붕괴 시 방출되는 방사선 수를 측정하여 방사능을 구하는 것 정입체각법 베타입자를 방출하는 핵종의 방사능 측정

n
계수율 방사능 A A : 방사능
n : 순계수율
보정
f g  f a  f b  f w  f  f  f m

방사능 측정 방법 ① 기하학적 보정인자 ( fg) : 검출기의 크기, 모양, 선원과 검출기간의 거리

fg = 1 이면 기하학적 효율은 100% => 4 π 계수관

설명 종류
fg = 0.5 이면 기하학적 효율은 50% => 2 π 계수관
-정입체각법 ② 선원의 자기흡수 ( fa) : 시료의 유한한 두께에 기인한 방사선의 시료에서의 흡수
직접측정법 다른 측정으로 부터 얻은 데이터 없이 계수율만으로 부터 보정
을 행하여 직접 방사능을 구하는 방법 -동시계수법
(절대측정법) 자기흡수가 있을 때 선원의 표면에서 방출되는 입자의 수
-2π및 4π 계수법 등 fa =
자기흡수가 없을 때 선원의 표면에서 방출되는 입자의 수
-동위원소 질량 측정법
-열량 측정법 ③ 선원의 후방산란 보정인자 ( fb) : 선원 지지대에 의한 방사선의 후방산란
준직접측정법 다른 물리량을 측정 + 계산
-손실전하 측정법
-생성자료 측정법 등 선원 지지대가 있을 때의 계수율
fb =
선원 지지대가 없을 때의 계수율
간접측정법 표준시료를 이용하여 최대한 동일한 조건으로 놓고 시료를 계
-액체섬광계수법
(상대측정법) 수하여 방사능을 간접적으로 측정하는 방법
절대측정(직접측정)법 절대측정(직접측정)법
동시계수법 - 베타핵종의 베타방출에 있어서 극히 단시간 내에 감마선을 방출하는 핵종
- 베타입자와 감마선을 동시에 계측하여 방사능을 절대측정
- 베타입자 : 단창형 GM, / 감마선: NaI(Tl)
④ 검 출 기의 창 과 공 기에 의 한 흡 수 보 정인자 ( f w) : 선원과 검출기 창 사이의 공기 및 검출기 창에
의한 방사선 흡수 NaI(Tl) 파고선별기[nγ]

⑤ 계 수 관의 검 출효율 ( f ε) : 검출기에 입사된 방사선이 검출기와 반응하지 않거나 파고선별기를 초과할

동시계수회로 파고선별기[nc]
정도로 충분한 반응을 하지 못하는 경우
단창형
단위 시간당 검출기에 계수되는 입자의 수
fε = GM관 파고선별기[nβ]
단위 시간당 검출기로 입사하는 입자의 수
nγ : 감마선을 측정한 계수율 nβ × nγ
⑥ 불 감 시간 보 정인자 (f τ) : 불 감 시간에 의 한 계 수손실 nγ = εγ × A
nβ : 베타선을 측정한 계수율 A=
⑦ 다 중 계수 보 정인자 ( f m) : G M 계 수관의 노 화로 인 한 방 전 소 거능력 저 하 nc = εγ × εβ × A nc
nc : 동시에 계수된 계수율
nβ = εβ × A
각 검출기의 검출효율에 관계없이
ε γ : 감마선의 검출효율 방사능의 절대측정이 가능

ε β : 베타선의 검출효율
A : 방사능(Bq)

절대측정(직접측정)법 상대측정(간접측정)법

2 π 및 4 π 계수법 - 방사능을 사전에 알고 있는 표준선원을 사용하여 검출기를 교정한 다음 표준선원과 같은 형상으로

시료를 제작하고 교정시와 동일한 기하학적 배치 하에서 측정을 수행하는 방법
- 정입체각 측정법에서 나타나는 각종의 보정인자가 상쇄되므로 보다 손쉽게 방사능을 정량
- 알파 또는 베타입자를 방출하는 핵종의 방사능 측정
-주어진 측정조건에서 방사능 A0 (Bq)를 알고 있는 표준선원을 측정하여 n 0의 순계수율 ( cps)을 얻었다면
- 2 π 또는 4 π 기체유입형 비례계수관은 시료를 계수관 속에 삽입함으로써 여러 보정계수를 무시
이 조건에서 검출기의 전계수효율은

nO
2 π 비례계수관 : A
n
 f g  0.5 
0.5  f a  f b AO
n - 동일한 조건에서 미지의 시료를 계측하여 순계수율 n s (cps)를 얻었다면 시료의 방사능(As)
4 π 비례계수관 : A
fa
nS
AS 

상대측정(간접측정)법 상대측정(간접측정)법

액체섬광계수법
표준선원의 계수율 : n s (cpm)
1) 계 수효율이 좋 음(액체섬광체와 시 료를 m ix하여 사 용)
2) 저 에너지 베 타선(H-3, C - 14) 측 정
미지시료의 계수율 : n x (cpm)
3) 기 하학적 효 율이 1 에 가 깝고 에 너지 선 택능력 有
4 ) 大 용 적 의 섬 광체 제 작 가 능
자연계수율 : n b (cpm)
5) 낮 은 원 자번호이기 때 문에 감 마선 파 고분석은 어 려움
표준선원의 방사능 : S (Bq)
미지시료의 방사능 : A (Bq)
방사능측정의 정확도 향상을 위한 방법

1) 백 그라운드 계 수율을 낮 춘다
n x  nb
A S
2) 계 수시간을 가 능한 길 게 한 다
3) 계 수효율을 향 상시킨다
4) 파 고선별기를 설 정을 통 해 방 사선에 의 한 신 호와 잡 음과의 구 분을 최 적화한다
ns  nb

문) 1,000MBq 60Co 점선원이 분실되었다. 0.05mR/h 민감도의 방사선측정기로

문) 32-P, 1MBq의 표준선원을 사용하여 GM계수관에 의한 미지의 시료를
정량하고자 한다. 표준선원을 계측한 것은 840cpm이었고, 미지시료를 분실선원을 찾고자 할 때 주변에 차폐체가 없다고 가정할 경우 분실선원이
동일한 기하학적 배치로 하여 계측한 것은 1,160cpm이었다. 자연계수를
검출될 수 있는 거리는 몇 m인가? (06)
40cpm으로 하면 미지시료의 방사능은 얼마인가? 60Co의
(단, 감마상수는 1.32Rm2Ci-1h-1이다.)
nx - nb
A= ХS 방사선측정기 ≥ 0.05mR/h
ns - nb
ᆞ
X 
S
[R/h]
2
1,160 - 40 d
= Х 1MBq 1.32 R·m2/Ci·h × 1000MBq × 1Ci
840 - 40  S 3.7×104 MBq
d 2  ᆞ =
X 0.05×10-3 R/h
= 1.4 MBq
d = 26.7 m ≒ 27 m
[ 문제001] 다 음 중 방 사능의 절 대측정법이 아 닌 것 은? [문제002] β-γ 동시계수법으로 어떤 시료를 1,000초 동안 측정하였더니, 베타계수가
① 정 입 체각법 ② F e ather법 ③ β - γ 동 시계수법 ④ 4π계수법
120,000 counts, 감마계수가 60,000 counts, 동시계수로서 6,000 counts였다. 이 시료의
[ 문제003] 저 에너지 β 시료의 방 사능 측 정에 사 용되는 측 정기는?
방사능(Bq)을 구하라
① 액체 섬광검출기 ② GM 계수관 ③ 반도체검출기 ④ BF3 계수관

n  n 120counts  60counts
[ 문제008] 액 체 섬 광계수법에 대 한 설 명 중 틀 린 것 은? A   1,200Bq
① 시 료 조제가 용 이하고 낮 은 에 너지의 베 타선을 측 정할 수 있 다 nC 6counts
② 에 너 지 선 별능이 좋 아서 H -3, C -14, P -32와 같 은 혼 합 핵 종이 있 더라도 각 핵 종에 대 한 측 정이
가 능 하다
③ 기 하 학적 효 율이 약 1 이 다
④ 분 해 능이 우 수하므로 감 마선 핵 종 분 석에 적 합하다
n  (120,000 / 1,000)counts  120counts
n  (60,000 / 1,000)counts  60counts
nC  (6,000 / 1,000)counts  6counts

알파선 에너지 측정

1) α선의 에너지 : 4~9 MeV 의 선스펙트럼

에너지 측정 2) α선의 에너지 스펙트럼 측정

(1) 그리드 부착형 펄스 전리함
(2) Si 반도체
dN
(3) ZnS(Ag) 섬광계수기
dE
Y (4) 액체 섬광계수기
(5) 2 π gas flow 비례계수관
Y/2 (6) α선 비정으로 에너지 산출하는 방법
FWHM
(7) 자기 스펙트로메터 이용 등

E0 E
베타선 에너지 측정 감마선 에너지 측정

1) β선의 에너지 1) γ선 : 물질과 상호작용에 의해 생성된 2차 전자를 검출하여 측정

(1)수 keV ~ 수 MeV 범위의 연속 스펙트럼 2) 펄스파고 분석법 이용
(2)α선 비하여 산란되기 쉽고, 검출기 표면 부근에서 에너지 일부를 잃은 후 3) γ선은 원자번호, 밀도 & 용적이 大 물질 이용
산란에 의하여 다시 밖으로 튀어나오는 확률이 큼 4) 주사용 계측기
(1) NaI(Tl) 섬광계수기
2) β선의 에너지 측정
(2) Ge 반도체 검출기 등
(1) 유기 섬광계수기
(2) 액체 섬광계수기
(3) Si 반도체 검출기 등을 이용한 에너지 스펙트럼 측정
(4) 흡수법에 의한 β선 최대에너지 측정법
(5) 흡수법을 개선한 Feather법, Harley법도 있음

감마선 핵종분석시스템 연결 에너지분해능

HV 공급기 주증폭기
전치증폭기 방사선의 에너지를 측정할 때
1800V 인접하는 peak를 구별 할 수 있는 능력
In put

선원
차폐체

검출기

ou tput

HV 1.33MeV 1.33MeV
In put

1.17MeV 1.17MeV

M CA

NaI((Tl
NaI Tl)) 검출기 HPGe 검출기
에너지분해능과 FWHM 에너지분해능과 FWHM
1) 흡수된 에너지, 생성된 이온쌍수 ↑ 에너지분해능(R) ↓
FWHM
n 에너지분해능( R )  2) 일반적으로 1 MeV의 감마선에 대하여
EO
-> NaI(Tl)은 7~8 %
-반 치폭(FWHM, Full Width at Half Maximum) -> Ge(Li)는 0.15 % 정도
n/2 : 피 크 최 대값의 1/2에서 피 크 폭
3) FWTM
FW HM - E 0 : 입 사 방사선의 에 너지
-> 전흡수 peak 최대치의 1/10이 되는 장소의 peak 폭
EO  KN
-> 반도체 검출기의 peak tail 의 표시지표
FWHM  2.35
E0 E K : 비례상수
 K N N : 생성된 정보전달자의 수 에너지분해능 지배인자
2개의 peak가 반치폭(FWHM) 이내에 있으면 구분이 안되고, 반치폭 이상으로 떨어져
1) Carrier수의 통계적 변동
있으면 peak의 구분이 가능하다.
2) 검출기의 동작특성 변화
N=E 0 /W
3) 전자회로의 잡음
FWHM 2.35  K  N 2.35 1
에너지분해능( R )    R 4) 전하수집효율의 변동
EO K N N EO
=> R이 작을수록 에너지분해능이 우수함
=> 에너지분해능 ∝ 단위 에너지당 생성되는 정보전달자의 수

NaI(Tl) =VS= HPGe Fano factor

실제 관찰되는 정보전달자의 분산
Fano Factor (F) =
포아손 분포로 예상되는 정보전달자의 분산

- 전하운반자의 생성수가 관측된 통계적 요동이 순수한 포아슨 통계로부터 얼마만큼 차이가 있는 가를 정
량화하기 위해 도입
- 실험적으로 결정

N  N, (예) 6MeV 알파입자가 자신의 에너지를 모두

EO  WN 잃고 정지하였다면 반치폭은 얼마인가?
(W-값=30eV/ip, Fano factor=0.2)
NaI(Tl) HPGe  E  W N  W N  EOW
FWHM  2.35 EOWF
1.33MeV 1.33MeV FWHM  2.35  2.35 EOW
 2.35 6 10 6  30  0.2
1.17MeV 1.17MeV Fano Factor 를 고려하면,  14,100eV  14.1keV
FWHM  2.35 EOWF

FWHM 2.35 EOWF WF F

R   2.35  2.35
EO EO EO N
검출효율 핵종분석 시스템의 성능평가 기준
① 절 대 효율 (absolute e fficiency)
Peak to Total Ratio Peak to Compton Ratio
검출기에서 생성된 펄스의 수
abs  선원에서 방출된 감마선의 수
P eak

Intensity
② 고 유 효율 (intrinsic e fficiency)
검출기에서 생성된 펄스의 수
int  검출기로 입사된 감마선의 수

③ 상 대 효율 (relative e fficiency): 참 고검출기에 대 한 기 타검출기의 효 율

검 출 기에서 25 cm 거 리에 위 치한 점 선원에서 방 출되는 1 .33 MeV의 감 마선에 대 한 3”x 3”의
Na I(Tl) 검 출기 효 율과 반 도체검출기 효 율의 비 로 주 어진다.
Energy
④ 전 에 너지 피 크 효 율 ( full e nergy p eak e fficiency)
- 입 사 감 마선의 모 든 에 너지를 검 출기에 부 여하는 반 응만을 고 려한 효 율
- 절 대 전 에너지 피 크 효 율(absolute f ull e nergy p e ak e fficiency)로 테 이블화
Area under the Peak Counts at the Peak
PTR = PCR=
Area of total spectrum Average counts btw 1040 and 1096 keV

- P T R 값은 검출기의 성능을 판단하는 기준값으로 사용가능 - P e ak to Compton ratio가 클수 록 에너지 분해능이 좋다

- P T R 값이 크면 에너지분해능이 좋다. - P e ak to Compton ratio가 클수 록 검출효율은 좋다.

감마선 핵종분석 시스템 단일채널분석기(SCA)

- 특정 범위의 크기를 지닌 펄스만 계수하는 장치

S ingle Channel Analyzer
- 상한선별기(upper level disciminator, ULD)와 하한선별기(lower level disciminator, LLD)로
이루어진 하나의 채널(channel)을 구성
Timer
- 반동시회로로 동작

H. V. [S CA의 동작과 출력펄스] [반동시회로의 구성]

Discriminator S caler

Pulse height(V)
ULD
상한선별기
Pre- Data Window
Detector Amplifier (ULD)
amplifier S torage LLD
검출기 증폭기 반동시회로
Pile-up
Rejector ADC
하한선별기
Time H. V. (LLD)
Pulse height(V)

Timer
계수기
Multichannel Analyzer

S CA output

Time
단일채널분석기(SCA)의 이용 다중채널분석기(MCA)

- 방사성핵종분석에서 핵심적인 장치
[채널수 결정]
-검출기에 흡수된 에너지에 비례하는 펄스를 크기에
-MCA가 개발되기 전에는 SCA를 이용하여 핵종분석 수행
따라 해당 채널에 기록　저장 관심있는 에너지 범위(keV)
채널수  h
FWHM(keV)
-MCA 보다 불감시간의 영향을 덜 받음 Vp
Ca pacitor h : 스펙트럼에서 피크 식별을 위해 FW HM 묘사에 할당
- SCA는 많이 사용되지는 않지만 window를 미세하게 설정할 수 있는 장점으로 c harging 되는 최소의 채널수(최소 4개 채널을 FW HM에 할당)
인해 여러 에너지를 지닌 방사선장에서 특정 핵종의 감시에 활용 관심있는 에너지 범위: 통상 0~2 MeV
T ime
(예) 원전 등의 경우 다양한 에너지를 갖는 방사성핵종이 방출되는데, 　 NaI( Tl)의 경우 : 에너지분해능: 50keV 정도
Linear-ramp V p 를 일정하게 방전
이 경우 특정 핵종(Cs-137, I-131 등)의 신속한 감시에 적합 discharging Vp  2, 000 
최소 채널수  4     160 channels
 50 
T ime
Oscillator 　 HP Ge의 경우 에너지분해능 : 2keV 정도
c lock T ime
　t  2, 000 
Ga ting pulse Ga ting pulse 최소 채널수  4     4,000 channels
S ta rt(open) S top(close)  2 

- MCA에서 Channel의 수를 늘리면?

　 핵종분석시 피크를 보다 명확하게 구분할 수 있다
　 각 채널당 계수값 감소로 통계적 오차가 커짐
　 데이터 처리시간이 길어지기 때문에 계측시스템의 불감시간이 늘어남

SCA와 MCA 원리 비교
문) FWHM이 1keV이고 에너지가 2MeV 일 때 채널수는 얼마로 하는 것이 단일채널분석기(SCA)
ULD와 LLD 사이(window)에 있는 펄스만 계수
좋은가? (03) (예) V1과 V2 사이의 펄스의 수 : 5개

V1을 이동
측정하고자하는 에너지 영역
MCA 채널수 = X 4 V2
ΔV, window
FWHM V1
ΔV
4 : 스펙트럼에서 피크 식별을 위해 FWHM 묘사에 할당 되는 최소의 채널수 일정 시간동안 발생한 펄스
(최소 4개 채널을 FWHM에 할당) 다중채널분석기(MCA) 펄스의 높이에 해당하는 채널에서 그 수를 적산
(예) 5번 채널에서 계수된 펄스의 수 : 5개
C9
6
2× 10 3 keV C8
5
= X 4 C7
C6 4
채널번호

1 keV

C ounts
C5 3
C4
2
C3
1
C2 C1 C2 C3 C4 C5 C6 C7 C8 C9
= 8000 채널 C1 Ch annel

일정 시간동안 발생한 펄스
동시계수회로와 반동시계수회로 감마선과 물질과의 상호작용
동시계수회로 반동시계수회로 광전효과 : 광자의 에너지가 궤도전자에 흡수되어 궤도전자를 이탈시키는 현상

e 광전자(단일에너지)
Channel 1 Channel 1 No
동시회로 반동시회로 e
hv
T  hv  Eb
(Coincidence) Yes (An ti-coincidence)
Channel 2 Channel 2

τ τ e
e Z 4~ 5
1
동시회로
No 1
반동시회로
e  ph  3
(Coincidence) (An ti-coincidence) Yes
E ※ 방사선과 물질과의 상호작용
2 2
e  광자와 물질
- 광전효과 : 광전자
[검출기의 반응] - 컴프턴산란 : 반도전자
1 No 1 전에너지피크
동시회로 반동시회로 - 전자쌍생성 : 음전자, 양전자
(Coincidence) (An ti-coincidence) Yes dN ( 광전피크)
2 2  전자와 물질
dE - 충돌 (collision) : 전리, 여기
- 복사 (radiation) : 제동복사
1 No 1 No  중하전입자와 물질
동시회로 반동시회로
(Coincidence) (An ti-coincidence) - 충돌 (collision) : 전리, 여기
2 2

※ τ : : 분해시간 (resolving time) 또는 동시회로의 폭 (width of coincidence)

h　
Energy

감마선과 물질과의 상호작용 감마선과 물질과의 상호작용

컴퓨턴 산란 :입사광자가 자유전자와 반응하여 광자는 방향을 바꾸어 튕겨나가고 에너지를 전자쌍 생성 1) 광자가 전기장내를 진행하다가 흡수되고 그 에너지를 양전자와 음전자로
전달받은 전자가 궤도를 이탈하는 현상 변환하여 방출하는 현상
2) 입사관자 에너지가 1.02 MeV 이상일 경우에만 발생
hv ´ Z
 cs 
hv
e Θ E e [검출기의 반응]
φ 전에너지피크
m0 hv e- dN
Ee hv'  e
e hv(1  cos  ) hv dE 단일이탈
반도전자 1 이중이탈 피크
(연속에너지) mO c 2 e e
e+ 피크

hv
[검출기의 반응] E e  hv  hv '  e

Θ =0 Θ =180 mO c 2
dN 1 e
dE
컴프턴에지
hv hv (1  cos  ) h v-2m0c 2 h v-m 0c2 hv
hv
E e (max)  소멸감마선 생성 Energy
m c2
컴프턴연속 1 O
2hv  pp  Z 2 ( E  1.022)
Energy
감마선과 물질과의 상호작용 감마선과 물질과의 상호작용
중간 크기의 검출기를 이용한 감마선 핵종분석
NaI(Tl) 검출기에서 감마선 에너지에 따른 선형감쇠계수

광전효과
e- e-
저에너지에서 광전효과가 4~ 5
Z
지배적으로 발생  광전효과 :  ph  hv
컴프턴산란
E3 e- e- 다중 산란감마선 이탈
e-
전자쌍생성
Z
 컴프턴산란 :  cs  e+

E
소멸감마선 이탈
 전자쌍생성 :
 pp  Z 2 E

감마선과 물질과의 상호작용 감마선과 물질과의 상호작용

감마선 핵종분석에서의 peak 유형 주변물질과의 반응에 의한 스펙트럼 변화

hv  2 m O c 2 hv  2 m O c 2 PE
dN 전에너지 피크 dN 특성엑스선
단일이탈 피크
dE dE 이중이탈 피크
전에너지 피크
① CS 선원
차폐체
②
검출기
컴프턴 단애 ③ 검출기
컴프턴 단애 선원
e-
컴프턴 연속 PP e + 차폐체
컴프턴 연속
dN
dE
① ②
hv E hv E 특성
엑스선 후방산란선
다중 컴프턴 산란 hv  1 .022 hv  0.511다중 컴프턴 산란

③
hv
컴프턴단애 에너지 E e (max)  제동
복사선
소멸감마선

mOc 2
1
2 hv ~0.2 0.511 E [ M eV]
감마선과 물질과의 상호작용 핵종분석 및 방사능 측정
▪ 측정시간 : 10 min
Cs-137 과 Al-28의 감마선핵종분석 결과 ▪ 피크아래의 계수 : 60,000 counts

Counts
▪ 계수율 : 6,000 cpm, 100 cps
▪ 방사능

cps
dps  [ Bq ]

E0 E
감마선 에너지 핵종정보
피크아래의 계수 방사능정보

Counts
Channel Number
감마선 에너지 핵종정보

계측기 크기에 따른 스펙트럼 변화 계측기 크기에 따른 스펙트럼 변화

Large detector Small detector

계측기 크기에 따른 스펙트럼 변화 계측기 크기에 따른 스펙트럼 변화

Intermediate detector 각 피크의 발생원과 전자 광자에 대한 거동의 이해가 필요

감마선과 물질과의 상호작용 Background 저감기법

검출기의 효율 및 에너지분해능 정리
백그라운드 선원
- 검출기의 효율 ∝ 검출기의 원자번호, HPGe < NaI(Tl)
반도체 검출기의 효율은 6 0Co 선원(1.33 MeV) 부터 25 cm
1) 검출기 재료에 함유된 자연방사능
거리에서 3"×3" NaI(Tl) 효율의 상대효율로 표현

- 에너지분해능 ∝ 단위 에너지당 생성되는 정보전달자의 수 2) 검출기 주변장치(보조장치, 지지대, 차폐체)에 함유된 자연방사능
　 하나의 전자 여기 및 전리에 필요한 에너지
3) 지표의 지각방사선, 실험실 벽 또는 다른 구조물로부터 방출되는 방사선
NaI(Tl): 약 20 eV HPGe : 약 3 eV
 HPGe > NaI(Tl) 4) 검출기 주변 공기 중에 존재하는 방사능 : 222Rn, 220Rn 4 0 K, 232Th, 238U,
토륨과 우라늄의
　 반치폭(FWHM, Full Width at Half Max imum) 붕괴생성물 등의 천연 방사성핵종
피크 최대값의 1/2에서 피크의 폭 5) 우주선

dN
　 FWHM 1 dE
에너지분해능( R )   Y
EO N
Y /2
F W HM

E0 E
Background 저감기법 Background 저감기법

차폐체를 이용한 background 저감 (차폐체: 납 또는 철) 가드검출기를 이용한 반동시회로

- 가드검출기 : 대용량의 플라스틱 검출기, 액체섬광검출기, 환상의 GM 검출기

- 우주선에 의한 백그라운드 기여분 저감
- 선원에서 방출되는 방사선은 주검출기에서만 신호생성 => 반동시회로에서 출력펄스 형성
- 우주선은 가드검출기와 주검출기 모두에서 신호생성 => 반동시회로에서 출력펄스 제거
- 컴프턴연속 저감
선원
차폐체 선원에서 방출된 감마선이 주검출기에서 컴프턴산란을 한 후 가드검출기로 입사하여 다른 반응을
검출기 하면 반동시회로에서 출력펄스 제거

가드검출기

주검출기 반동시회로

선원 차폐체 선형 게이트
(Linear Gate)

파고분석기

Background 저감기법 X선 escape peak

동시회로 발생원인 - X 선 이탈피크 스펙트럼
- 베타붕괴 후 감마선을 방출하는 핵종과 같이 동시에 하나 이상의 방사선을 방출하는 선원
- 방사선을 검출하는 검출기와 함께 동시회로(coincidence)를 사용하면 백그라운드 저감
- 12.7cm×12.7cm NaI(Tl) 검출기 내벽에 기체유입형 4π 비례계수관을 둔 검출시스템
- 베타선과 감마선 : 각각 비례계수관과 NaI(Tl) 검출기에서 신호생성 => 동시회로에서 출력펄스 형성
백그라운드 방사선 : 어느 한 검출에서만 신호생성 => 동시회로에서 출력펄스 제거
- 백그라운드 저감효과가 높으므로 극저준위 방사능을 측정할 때 많이 이용(최소검출한계 개선)

동시회로

- 계측기가 클수록 X 선 이탈피크 스펙트럼의 발생 가능성이 작음

- X 선 이탈피크 스펙트럼은 계측기의 종류에 따라 차이가 있음
(예: NaI의 경우 I의 특성 X선의 에너지가 28 keV임)
- NaI에서 감마선과의 상호작용은 주로 I 원자에서 벌어짐
에너지 스펙트럼 에너지 스펙트럼
HPGe를 이용하여 28Al(E=1.78 MeV)의 에너지 스펙트럼을 분석한 결과이다.
각 번호에 해당하는 피크의 명칭과 에너지를 구하라. (1) 전에너지 피크: 1.78 MeV
(2) 컴프턴단애:
hv
hv ' 
hv (1  cos  )
1
mOc2
1 .78
  0 . 22 MeV
1 .78 (1  cos 180  )
1
0 . 511
T  hv  hv '  1 . 78  0 . 22  1 .56 MeV
(3) 단일이탈 피크: 1.78MeV - 0.511MeV = 1.269 MeV

(4) 이중이탈 피크: 1.78MeV - 0.511MeV x 2 = 0.758 MeV

(5) 소멸감마선 피크: 0.511 MeV

(6) 후방산란선 피크: ~0.2 MeV

(7) 제동복사선

문제) 감마선에 대한 아래의 관계에 대하여 서술 하시오. [예] 다음중 저에너지 엑스선 측정에 유리한 검출기는?
① HPGe ② LiI(Eu) ③ S i(Li) ④ HgI2

상호작용 광전효과 컴프톤 산란 전자쌍생성 [예] 다음중 알파선 측정에 사용되는 검출기는?
① 표면장벽형검출기, ZnS(Ag) ② HPGe, S i(Li)
원자번호 Z4~5 Z 원자번호 제곱에 비례 ③ LiI(Eu), Ge(Li) ④ GaAs, CsI(Na)

에너지 E-3~4 에너지에 반비례 에너지에 비례 [예] 다음중 반도체 검출기의 상대효율의 기준이 되는 검출기는?
① 1"×1" HPGe ② 2"×2" NaI(Tl)
Single escape Peak ③ 3"×3" NaI(Tl) ④ 4"×4" HPGe

스펙트럼 Photo Peak Compton continuum Double escape Peak [예] 1 3 7Cs 선원을 HPGe 검출기로 측정한 결과 FW HM이 3 keV 이었다. 이 경우 662 keV 광자에 대한
분해능(%)은 얼마인가?
Annihilation peak 3
R 100  0.45%
662
[문제002] 다음의 방사선과 검출기 사이에 직접 방사선에너지를 측정할 수 없는 것은?
① α선 : S i 반도체검출기 ② β선 : GM 계수관
③ γ선 : Ge 반도체검출기 ④ γ선 : NaI(Tl) 섬광검출기
[예] MCA에서 채널의 수를 증가시키는 것과 관련이 없는 것은?
① 핵종분석시 피크를 보다 명확하게 구분할 수 있다
[문제039] 1 37Cs핵종의 감마선 스펙트럼 분석에서 나타나지 않는 피크는?
② 각 채널당 계수값 증가로 통계적 오차가 커진다
① 광전피크 ② 컴프턴연속 ③ 후방산란선 피크 ④ 이중이탈 피크
③ 계측시스넴의 불감시간이 늘어난다
④ 데이터의 처리 시간이 길어진다 [예] 반도체 검출기의 에너지 분해능이 섬광검출기나 비례계수관에 비해 우수한 이유를 설명하시오.

[예] 다음은 MCA(다중파고분석기)에 대한 설명이다. 틀린 것은? - 하나의 정보전달자를 생성하는데 필요한 에너지
① 채널수는 방사선의 계수치에 비례한다 ② 채널수는 출력펄스의 높이에 비례한다 반도체: ~3 eV 정도, 섬광검출기: ~20 eV, 기체: ~30 eV
③ 채널수는 방사선의 에너지에 비례한다 ④ 출력펄스의 높이는 에너지에 비례한다 E
- 생성되는 정보전달자의 수 : N
W
[예] 감마선 에너지측정시스템의 배열구성이 옳은 것은?
1
㉮ 검출기 ㉯ 펄스크기분석기 ㉰ 전치증폭기 ㉱ 계수기 ㉲ 주증폭기 - 분해능 : R
N
① ㉮-㉯-㉰-㉱-㉲ ② ㉮-㉰-㉲-㉯-㉱
- 따라서 단위 광자에 대하여 각 검출기에 흡수된 에너지가 같다면 분해능의 비는 다음과 같다
③ ㉮-㉰-㉲-㉱-㉯ ④ ㉮-㉲-㉰-㉯-㉱ 반도체검출기 : 섬광검출기 : 비례계수관
1 1 1
[문제007] 단일파고분석기(SCA)에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?  : :  3 : 20 : 30  1.7 : 4.5 : 5.5
① 동시회로를 이용한다 E /3 E / 20 E / 30
② 원자력시설등의 환경감시에서 S CA는 MCA보다 특정핵종의 감시에 유리할 수 있다 (주의:분해능 값이 작은 것이 우수한 것임)
③ 하한선별기와 상한선별기 사이에 존재하는 펄스만을 계수한다
④ 하한선별기와 상한선별기 구간을 창(Window)이라 칭한다 [예] 다음중 계측기 주변 차폐체의 영향에 의한 피크가 아닌것은?
① 특성 엑스선 피크 ② 후방산란선 피크
[예] HPGe 검출기를 사용할 때 액체 질소로 냉각하는 이유를 쓰시오.
③ 소멸감마선 피크 ④ 콤프턴단애
Ge의 경우 전도대와 충만대의 에너지 간격이 약 1 eV 정도에 불과하므로 상온에서 열적여기에 의해
[예] 2 8 Al(1.779 MeV) 핵종의 측정시 관찰되는 단일이탈피크의 에너지는?
충만대의 전자가 전도대로 이동하여 잡음(noise)을 형성할 수 있다. 이를 제거하기 위해 LN2 로 냉각
① 732 keV ② 898 keV ③ 1038 keV ④ 1268 keV

[ 예] 감 마선 에 너지 분 석에서 중 요한 피 크는?
① 광 전 피크 ② 콤 프 턴연속 [문제008] Co-60의 γ선 에너지 스펙트럼을 분석하였을 때 나타나지 않는 에너지 peak는?
③ 단 일 이탈피크 ④ 이 중 이탈피크 ① 1.25 MeV ② 1.17 MeV ③ 1.33 MeV ④ 2.5 MeV

[ 예] 천 연에 존 재하는 40
K(1.46 M eV)핵종의 측 정시 나 타나는 컴 프톤 단 애의 에 너지는? [문제022] γ선 스펙트럼 측정시 스펙트럼분포도가 갖추어야 할 요건으로 적당하지 않는 것은?
① 전에너지 peak의 높이가 클 것
hv ② Compton 연속분포영역이 작을 것
Ee (max) 
m c2 ③ 에너지분해능이 작을 것
1 O ④ FW HM이 클 것
2hv
[문제027] γ선의 에너지를 측정하기 위한 측정기가 아닌 것은?
1.46 ① HPGe 반도체검출기 ② NaI(Tl) 섬광검출기
  1.24 MeV ③ CsI(Tl) 섬광검출기 ④ BF3 계수관
0.511
1
2 1 .46
[ 예] 감 마선 스 펙트로메트리에서 감 마선의 에 너지와 무 관하게 후 방산란 피 크가 나 타나는 에 너지 구 간은?
① 2 0 0 - 250 keV ② 3 2 0 - 3 7 0 k eV
③ 4 3 0 - 480 keV ④ 5 7 0 - 6 5 0 k eV
7. 다음 설명으로 옳지 않은 것은?
① Peak to Compton ratio 값이 클수록 핵종분석이 용이하다.
② Peak to Compton ratio 값은 방사선 계측기의 크기가 클수록 크다.
③ HPGe 검출기를 사용시 상온에서 냉각하는 이유는 열전자에 의한 잡음 때문이다.
④ 분해능 R값이 크면 에너지 분해능이 좋다.

8) FWHM의 인자가 아닌것은?

중성자 측정
① 정보운반자의 통계적 요동 ② Fano 인자
③ 제동복사 ④ 전자회로의 잡음

9) 다음 설명중 옳은 것은?
① 다중파고분석기의 채널수를 크게하면 계수값의 통계적 오차가 감소한다
② 다중파고분석기의 채널수를 크게하면 분해시간이 짧아진다.
③ 반도체 검출기의 MCA에서 채널수는 통상 FWHM/4를 기준으로 설정된다.
④ 다중파고분석기의 에너지 교정에 사용되는 선원은 단일 에너지를 방출하는 핵종이 적합하다.

중성자의 분류 보건 물리학상 중요한 열중성자 반응

종류 에너지 열중성자
반응의 종류 주요작용
흡수단면적
열중성자(Thermal neutron) ~ 0.025 eV
1H(n,γ)2H 0.33b
열외중성자(Epithermal neutron) ~ 1 eV 인체조직의 주성분이 중성자와 일으키는 반응
14N(n,p)14C 1.70b
저속중성자(Slow neutron) ~ 100 eV

중속중성자(Intermediate neutron) ~ 500 keV 10B(n,α)7Li 중성자 측정 4.01*103b

고속중성자(Fast neutron) 500 keV 이상 113Cd(n,γ)114Cd 중성자 차폐 2.1*104b

-보통 실온에서 열 평형된 중성자를 열중성자(약 0.025 eV)라 부름
-중성자는 에너지에 따라 물질과의 상호작용현상이 다르게 나타남
중성자 측정 방법 중성자 측정 방법
측정원리
핵분열 비례계수관
전기적으로 중성이므로 물질과의 상호작용으로 인해 발생되는 하전입자의 전리량으로 중성자 측정

-2 3 5 U(열중성자), 2 38U, 232Th(속중성자 측정)의 핵분열 물질을 검출기 전극벽에 도포

핵반응을 이용하는 방법
-중성자와 상호작용하여 방출되는 핵분열 파편에 의한 전리량 측정
-충전가스 : BF3 gas -원자로 출력 측정 or 교정용
BF3 비례계수관
-1 0 B(n,α)7Li
-BF3 계수관 + 파라핀 => 속중성자 측정
반도양성자를 이용한 방법
3
3He 계수관 -충전가스 : He gas + 제논(Xenon)
-3 He(n,p)3H -오직 고속중성자 측정에만 이용
-반도양성자 비례계수관, 플라스틱 섬광계수기
-중성자수 및 에너지 스펙트럼 측정
-열중성자, 속중성자 측정 * 반도양성자 : 고속중성자가 수소를 함유하고 있는 물질과 탄성산란하여 발생하는 운동에너지를 가진 수소핵

LiI(Eu) 섬광계수기 -7 Li(n,α)3H : 열중성자 측정

[문제003] 다음 중 BF3 계수관과 직접 관계가 없는 것은?

① (n, α) 반응 ② 광전효과 ③ 비례계수관 ④ 붕소(B) 동위원소

[문제006] 다음 중 중성자검출기로 적합하지 않은 것은?

① BF3 계수관
② LiI(Eu) 섬광검출기
③ 플라스틱 섬광검출기
기타 선량계 및 선량평가
④ HPGe 반도체검출기
개인선량계 열형광물질의 종류 및 특성
열형광선량계(TLD) : 고체 여기작용을 이용
※ 조직의 유효원자번호 = 7.4
열형광물질 : 방사선에너지를 흡수한 물질에 열을 가하면 형광을 방출하는 성질을 지닌 구분 열형광물질 Z eff 상품명 측정방사선 용도
물질 T LD-100, TLD-700 감마선, 베타선
LiF:Mg,Ti 8.3
T LD-600 중성자
자유전자
전도대 전도대 T LD-100H, T LD-700H
감마선, 베타선
e GR -207(7LiF:Mg,Cu,P)
조직등가 개인선량측정
LiF:Mg,Cu,P 8.3
T LD-600H
e e 중성자
GR -206(6LiF:Mg,Cu,P)
여기
천이 Li 2 B4O7:Cu
가시광선 7.3 감마선, 베타선
hν Ca SO4:Dy 14.4 감마선, 베타선 개인선량측정
조직비등가
Ca F2:Dy 16.3 감마선, 베타선 환경감시

e e e e e e 열형광물질 6 Li (%) 7 Li (%) 감마/중성자 혼합방사선장 비고

충만대 충만대
T LD-100 7.5 92.5 감마선 천연 Li
가열 T LD-700 0.07 99.93 감마선 7 Li 농축
T LD-600 95.6 4.4 감마선 + 중성자, 6 Li(n,　)3H 6 Li 농축

※ 중성자 선량 = (TLD-600 판독치) - (TLD-700 판독치)

방사선 피폭량 ∝ 가시광선의 세기

누적형 검출기

열형광선량계(TLD) 열혈광물질 종류별 에너지감응함수

열형광선량계의 특성 ※ 10 keV 에서 DT LD /Dtissue
- 저에너지 광자 : 광전효과 지배적
- 감도가 매우 우수 : 최소검출한도: 1 mR 이하 → 저선량 측정 용이
- 열처리(annealing)하면 재사용 가능  144  - 조직등가물질: 에너지 의존성이 작다
 
3 
 0.01 Ca계열 4
4
- 반응도의 에너지의존성이 낮다 Z
 ph  3  2 - 비조직등가물질: 에너지의존성이 크다
- 잠상퇴행(fading)이 낮다 E  74 
 0.013  - 조직 및 비조직 등가물질의 종류에 대한 이해
※ 잠상퇴행 : 시간이 경과함에 따라 선량계에 기록된 정보가 손실되는 현상  인체조직직

열형광선량계의 에너지의존성 글로우 곡선

- 방사선에 조사된 열형광물질을 가열하였을 때
CaF2 나타나는 열형광의 강도곡선
열형광선량계
10 - 열형광물질에 따라 고유한 글로우 곡선을 지님
DTLD/Dtissue [Gy/Gy]

CaSO4

MgB4O7
1 LiF
Li2B4O7

0.1 1 2 3 4
10 10 10 10
Photon Energy[keV]

조직비등가 물질은 에너지의존성이 크다

Glow Curve 열형광선량계(TLD)
- 방사선에 조사된 TL 물질을 온도를 상승시키며 가열하였을 때 나타나는 계수값 곡선
- Glow Curve는 TL 물질에 따라 고유의 특성이 있음 Front Case

T L C ard P anasonic-UD802

Rear C ase

KAERI ICN

손목선량계
손가락선량계

열형광선량계 판독시스템 필름 배지
필름의 흑화도가 피폭량에 비례

P reamp AMP ADC S caler

P MT
P roxtronics Inc. ICN ICN wrist
H. V.

방사선에 필름의 반응 원리
가열 방사선 + 필름 　 e-
e - + Ag+ 　 Ag
Ag + e - 　 Ag-
Ag- + Ag+ 　 2Ag
　 AgAg-
2Ag + e -
AgAg + Ag+ 　 3Ag
-
처리과정을 거치면
　 가시상으로 형상화
4 ~ 6 Ag = 잠상의 중심

필름의 처리 순서

현상 　 정지 　 정착 　 수세 　 건조
필름 배지 필름배지 케이스와 필터 역할
필름 배지의 특성 필름의 에너지의존성 1 37Cs 90Sr/90Y M100(51keV)
100
- 열형광선량계에 비하여 잠상퇴행이 크다 A: 필터 없음
필름배지
- 온도 및 습도 영향이 크다 B: 0.4 cm Cu A

DF ilm/Dtissue [Gy/Gy]
- 측정가능한 선량범위가 좁다 10
C: 0.7 cm Pb
- 에너지 의존성이 크다 10mS v B
필름 유제 속의 47Ag35Br(브롬화은)의 1 전방 케이스
원자번호가 높기때문 C

- 비용이 저렴 0.1
101 102 103 104 검출기 카드
필름의 판독시스템 Photon Energy[keV] A

100mS v B
AMP 후방 케이스

광 C
계수기
검출기

필름 - 필터의 두께를 조정하여 다음을 측정한다 방사선의 종류와 선량에 따른 검출기의 반응도
광원 　 심부선량 : Hp(10)
　 피부선량 : Hp(0.07)
필름의 흑화도
　 수정체선량 : Hp(3)
밀도계(Xrite 301)
I  I0 : 필름에 입사하는 빛의 강도 - 입사되는 방사선의 선질정보 획득
D  log10  O  I : 필름을 투과한 빛의 강도
 I 

TLD =VS= F/B 기타 보조 선량계

전자 개인선량계

TLD F/B [능동형선량계의 역할]

- 작업자의 심리적 안정 도모
- 주선량계 파손 및 분실시 선량을 대체평가
-넓은 측정범위
- 사고 등의 감지 및 경보
-낮은 LLD
-우수한 선형성 -저비용 포켓 선량계
장점
-낮은 에너지 의존성 -피폭 실물증거
-작은 잠상퇴행
-온도 및 습도의 영향이 작음

단점 -고비용 -TL 장점의 반대

 광자극발광선량계(OSL)
고체비적검출기 - O SL (Optically stimulated luminescence) : Al2O3
- 발광과정은 열형광선량계와 유사하지만 전자를 천이시켜 빛을 방출하는 방법이 다르다.
·방사선 특히 중하전입자 또는 중성자가 검출기에 입사하여 격자구조에 손상을 줌으로써 비적이 즉, 열형광선량계의 고온가열 방식과 달리 광자극발광선량계는 레이저 자극을 통해 빛을 방출시킨다.
형성되는 것을 이용한 검출기
　 CR-30, LR-115, Markrofol 등

- 공기 중 라돈농도 측정

알베도 선량계(albedo dosimeter)

- 인체로 입사하는 속중성자가 인체에서 감속된 후 다시 인체표면으로 산란되는 열중성자를 측정
3개월 노출 화학적 에칭 비적계수 / 라돈농도평가 - 6 Li 사용

- NRPB의 중성자 선량계와 에칭 후의 CR-39

6
3 Li  1
0 n  7
3 Li*  4
2 He  13 H
- 알파입자 (4.8 MeV)와 반도된 삼중수소는 열형광물질에서 에너지를 소실
- 속중성자와 열중성자의 혼합장에서 속중성자 측정
선량계의 전면에 약 0.8mm 두께의 카드뮴(Cd)이나 보론(B)을 섞은 플라스틱을 필터를 설치하여
열중성자를 차폐한 후 속중성자 측정
- 단점 : 1keV~10MeV에 이르는 중성자에 대하여 약 2000배가량의 반응도 차이
　 정확한 선량평가를 위해서는 작업장의 중성자 선질(평균에너지)을 사전에 알고 있어야 함

개인선량계 종류별 특성 기타선량계-화학선량계

- 고선량 측정용이며 누적형
- 방사선의 조사 결과 발생한 화학변화량을 측정
에너지
명칭 원리 용도 측정 방사선 측정범위 잠상퇴행 - 수십 ~ 수천 Gy 정도의 대선량 측정에 이용
의존성

프리케 선량계(Fricke dosimeter)

포켓 다소
기체전리 수시선량 측정 X, γ, nth 10mR∼수 R - - 산화반응 이용 : Fe +2 + OH  Fe +3 + OH-
선량계 나쁨
- G(Fe +3) = 15.5
경보선량계
기체전리 수시선량 측정 X, γ 1mR∼수 R 작음 -
(Alarm meter) 세륨 선량계(Ce dosimeter)

X, γ, β, 다소 - 환원반응 이용 : Ce +4  Ce +3
필름배지 필름감광 누적선량 측정 10mR∼103 R 5%/30day
nf , nth 나쁨 - G(Ce +3) = 2.34

열형광선량계 고체여기(열형광) 누적선량 측정 X, γ, β, nth 0.1mR∼105 R 작음 5%/90day ※ G값(G-Value)

- 방사선에너지 100eV 흡수당 생성되는 원자나 분자의 수
- G값이 클수록 방사선에 대한 감도가 좋다
- nth : 열중성자 (thermal neutron)
- nf : 속중성자 (fast neutron)
Fricke 선량계의 산화과정 기타선량계-열량계(Calorimeter)

많은 종류의 라디칼들과의 상호작용을 통해 발생

- 물질에 흡수된 방사선 에너지의 대부분은 열로 전환
- 열량계는 방사선에 의한 온도상승을 측정함으로써 흡수선량 측정

1) Fe2+ + OH* → Fe3+ + OH-

D  4200  C  T
D : 흡수선량 (Gy)
2) Fe2+ + H2O2 → Fe3+ + OH* +OH- C : 비열 (cal/goK]
ΔT : 온도변화 ( oK)

3) H* + Fe2+ → Fe3+ + H2 - 물의 비열이 1 cal/goK 일때 물의 온도를 1o C 상승시키기 위해서는 4,200 Gy 만큼의 많은 선량이 필요
- 방사선치료 분야와 같은 대선량 측정에 이용

4) HO2* +Fe2+ → Fe3+ + OH2-

주선량계 & 보조선량계 [예] 다음 선량계에 대한 설명으로 옳지 않은것은?

① LiF은 조직등가물질이다
② TLD는 판독후에 열처리를 통해 재사용할 수 있다

주선량계와 보조선량계 ③ 조직등가물질을 사용하는 선량계는 에너지 의존성 높다

④ TLD-100은 물질내 6 Li의 함량이 천연비로 존재하는 것을 의미한다

국내 원자력법상의 주선량계 [예] 저선량인 환경방사선측정에 널리 사용되는 열형광물질은?

-필름배지 ① CaS O 4:Mn ② LiF:Ti ③ CaS O 4:Dy ④ MgB 4 O7:Dy
-열형광선량계(TLD) ※ CaS O 4 :Mn은 LiF 계열에 비해 상대적 감도는 우수하지만 잠상퇴행 커서 장기간 사용이 곤란
-유리선량계
[예] 다음 관계가 옳지 않은 것은?
-OSL ① TLD-글로우 곡선 ② 필름배지-잠상퇴행
③ HPGe-액체질소 ④ 전리함-전자사태
보조선량계
[예] G값에 대한 정의로 옳은 것은?
-전자선량계(EPD)
① 방사선 에너지 10eV당 생성되는 분자수
-포켓선량계 등
② 방사선 에너지 100eV당 생성되는 분자수
③ 방사선 에너지 1keV당 생성되는 분자수
보조 선량계의 역할 ④ 방사선 에너지 1MeV당 생성되는 분자수

- 작업자에게 심리적인 안정을 도모
- 주선량계가 고장시 대체 선량을 평가
- 사고 등의 감지나 경보 가능
[예] 다음은 개인선량계로 사용되는 TLD와 필름배지를 비교한 것이다. 잘못된 것은?
① TLD가 필름배지보다 에너지 의존성이 작다
② TLD가 필름배지보다 측정하한선량이 낮다
③ TLD가 필름배지보다 잠상퇴행이 작다
④ TLD가 필름배지보다 습도에 영향을 많이 받는다
 내부피폭선량 측정
체외계수법, 바이오에세이(생물분석법), 작업환경감시(공기샘플러 등)
[예] 필름배지에 대한 설명으로 옳지 않은 것은?
① 시간의 경과에 따라 AgBr로 환원되는 현상을 fogging 이라고 한다 - 검출기 : NaI(Tl), HPGe
체외계수법
② 방사선에 의한 필름의 감광현상을 이용한다 - 전신계수기(Whole Body Counter) 및 폐계수기(Lung Counter)
③ 에너지에 대한 의존성을 보상하기 위해 Al, Cu, Pb 등의 필터를 사용한다
④ 필름배지는 사용하지 않을 경우 냉암소에 보관한다

Oscilloscope
※ Fogging은 잠상퇴행(fading)과 반대되는 의미로 백그라운드에 의해 Ag 핵이 확장되는
잠상현상(latent image)이다
Preamp PC based
AMP PC
MCA

격실모델 해석
H. V.

예탁유효선량 평가

내부피폭선량 측정 격실 모델
GI Track

바이오어세이(생물분석법) 호흡기 모델
13
14

12 11 13T 12T 11T

9 8 7 9T 8T 7T
sp t
10 6 5 4 10T 6T 5T 4T

시료채집(대·소변) 3 2 1 3T 2T 1T
Pa rtic les in in it ial stat e Particles in t ran sformed st ate

(1-fb)s t fbs p fbs t (1-fb)s t

시료의 화학적 처리 LNETb ETb
BBb

LNTHb bbb
방사능측정(LSC, ICP-MS) A Ib
Bound Mat erial
sb
격실모델 해석 Blood

예탁유효선량 평가 생체역학적 모델 Othe r Soft

Tissue s
Ra pid
Turnover(ST0 )
Intermediate
Turnover(ST1)
Slow
Turn ove r(ST2)

Sk eleton
Liver 2
Cortical Volume Cortical Plasma
Surface
No n-ex ch Exch Liver 1
소화기 모델
GI Track
Trabecular Volume Trabecular
RBC ST
N on-e xch Exch Surface

SI

Kidneys ULI
Other Kidn ey
Tissue LL I
Urinary
Urine Bladder
Contents Urin ary Path
Faeces
X-ray 발생장치 X-ray 발생장치
Collimator Tube
High Voltage
S upply
Current 양극의 재질
S upply - 원자번호가 높은 물질
(제동복사 수율을 높이기 위해)
Tube
제동복사 - 녹는점이 높은 물질
Cathode - 74 W , 42Mo, 29Cu 등
Anode
Filter

Beam monitor Housing

Target
chamber
W indow

Tube Housing
필터에 따른 스펙트럼 변화
Fo cusing Cap
Unfiltered

Intensity
beam

Normally
filtered
beam
Ideal
beam

X-ray energy

X-ray spectrum X-ray spectrum

관전류 변화에 따른 X-선 스펙트럼
Kα X-선 발생장치에서 전류와 전압의 역할
In tensity

In tensity

특성 X-선
Kβ
400 mA  관전류 증가  음극에서 방출되는 전자의 수 증가  양극에서 방출되는 광자의 수 증가

제동복사선  관전압 증가  음극에서 방출되는 전자의 에너지 증가  양극에서 방출되는 광자의 에너지 증가
T u be peak  양극에서 방출되는 광자의 수 증가
200 mA
voltage(kVp)

X-r ay energy
방사손실 E*Z
X-r ay energy ≒ Z : 양극의 원자번호
충돌손실 800 E : 입사 전자의 에너지 [MeV]
관전압 변화에 따른 X-선 스펙트럼
In tensity

방사손실 E*Z X-선 발생장치 정리

≒ 80 kVp
충돌손실 800  전류와 전압의 역할
 양극 : 원자번호가 높고 녹는점이 높은 물질 (예 : 74
W)
Z : 양극의 원자번호 70 kVp
 제동복사 (연속에너지 스펙트럼) 이용
E : 입사 전자의 에너지 [MeV]

 입사되는 전자 에너지의 99%는 열로 전환

X-r ay energy
 측정치의 통계처리

방사능 측정치는 무작위성을 띤 확률변수 측정데이터는 평균과 표준편차로 나타냄

측정치의 통계처리 10분동안 4,000 counts를 얻었다!

동일한 시간동안 재 계측하면 4,000 counts를

중심으로 이보다 작거나 큰 값을 얻게됨

방사성붕괴나 계측은 포아송 분포를 따름

계수값이 클 경우 종모양의 정규분포로 근사할 수 있음

측정치의 통계처리 측정치의 통계처리

Background를 제외한 참계수율과 표준편차의 계산
dps = Bq
1 Ci = 3.7*1010 Bq 어떤 시료를 일정시간 동안 계측하여 계수 N을 얻었다면
dps cps
  N  N  N
cps
Efficiency (ε ) = 100 (%)
dps 시료 Background

Nt Nt nt Nb Nb nb
- 계수치(count, N): 일정시간(t) 동안의 측정치   nt    nb 
tt tt tt tb tb tb
N
- 계수율(Count rate, n): n N : 계수치 / t : 측정시간 / n : 계수율(N/t)
t
- 단창형 GM 검출기를 이용하여 137Cs 선원을 5분간 측정하여 1000 counts 를 얻었다.
5분간의 계수 = 1000 counts 참계수율 (시료-background)
N 1, 000 counts
계수율(n), n    200 cpm nt nb
t 5 min (nt  nb )   또는 (nt  nb )  n 2 n 2

tt tb t b
측정치의 통계처리 측정치의 통계처리
상대오차 가감승제

( A   A )  (B   B )  ( A  B)   A   B
2 2
N 1
계수치의 상대오차 :  100 %   100 %
N N
( A   A )  ( B   B )  ( A  B)   A   B
2 2
n/t 1
계수율의 상대오차 :  100 %   100 %
n nt
2 2
   
( A   A )  ( B   B )  ( A  B)  ( A  B)  A    B 
신뢰도 : 계수율이 표준편차의 범위에 존재하는 확률(근사치)  A   B 
68 % 신뢰도 σ n±σ 2 2
   
95 % 신뢰도 2σ n ± 2σ ( A   A )  (B   B )  ( A  B)  ( A  B)  A    B 
99 % 신뢰도 2.58σ n ± 2.58σ  A   B 
99.7 % 신뢰도 3σ n ± 3σ Ex ) 순계수(nn)=총계수(nt)-백그라운드 계수(nb)
비방사능(s)=방사능(A)/질량(m)

측정치의 통계처리 정확도 & 정밀도

정확도와 정밀도

정확도 정밀도
(계통오차) (우연오차=무작위오차)

측정치가 참값에 반복 관측치간의 차이

설명
얼마나 가까운 정도 ->재현성 : 표준편차

-기기의 잘못된 교정, -방사성붕괴의 통계적 현상

원인 -관측오차 -방사선과 물질과의 상호작용의 통
-환경간섭 계적 현상
여러 조건에서의 오차계산 여러 조건에서의 오차계산
① 백그라운드가 일정할 경우
[예제] 백그라운드가 22cpm인 환경에서 시료를 계수한 결과 2,630cpm이었다. 1시간
백그라운드를 충분히 오랜 시간동안 측정하여 그 오차가 무시할 수 있을 정도로 작을 경우,
동안에 시료와 백그라운드를 측정하고자 할 때, 오차를 최소화하도록 각 측정시간을
σ b =0 로 둘 수 있다
배분하시오.
nt
  n 2
  nb
2
 n 2
 t  t t  t b  60 min
t t
tt
tt nt 2 , 630 cpm
   10 . 9
② 정해진 시간에서 시료와 백그라운드 계수시간의 최적배분법
tb nb 22 cpm
한정된 시간, 즉 t = t t + t b 내에 시료와 백그라운드를 측정하려 한다. 오차를 최소화하기
위해 각 측정에 할당할 수 있는 시간
위의 두식을 연립하여 풀면 t t =55min, t b=5min

tt nt

tb nb

[예] 시료를 10분간 계수하여 6235 counts를 얻었다.

계수와 계수율을 평균과 표준편차로 나타내시오.
- 계수(N) - 계수율(n) [예] 시료의 계수율이 250 cpm인 경우, 표준편차가 계수율의 1%가 되기 위해서는 얼마동안 계측해야
하는가?
N  6 , 235 N 6 , 235
n   623 . 5
t 10 N nt n
N  N  6 , 235  79 n   
 N 6 , 235 t t t
N  6 , 235  79 counts n  N    7.9
t t 10 250
n  623 . 5  7 . 9 cpm 250  0 . 01 
[예] 어떤 시료를 10분간 측정하여 2,630 의 총계수를 얻었고,
t
백그라운드를 30분간 측정하여 405 계수를 얻었다. 순계수율과 표준편차는? t  40 min

총계수율(nt) 백그라운드 계수율 (nb)

2630 405 [문제003] 장반감기 시료를 10분 동안 계측하여 3,000 count를 얻었다. 백그라운드를 30분동안 계측하여
  263 cpm   13 . 5 cpm 2,400 count를 얻었다. 95 % 신뢰도 수준에서 참계수율과 표준편차를 구하라.
10 30
백그라운드 계수율의 표준편차 (σb)
총계수율의 표준편차 ( σ t )
nb 13 . 5 300 80

nt

263
 5 . 13 cpm    0 . 67 cpm ( 300  80 )    220  5 . 7 cpm
tt 10 tb 30 10 30
순계수율 = 총계수율 – 백그라운드 계수율  263  13.5  249.5 cpm * 신뢰도 95 % 구간은 2σ 이므로 표준편차는 11.4 cpm이 된다.

순계수율의 표준편차   t 2 b 2  5 . 13 2  0 . 67 2  5 . 17 cpm  220  11 . 4 cpm

∴249.5±5.17 cpm
[문제004] 어떤 시료를 2분간 측정하여 800 cpm을 얻었다. 상대오차(%)는 얼마인가? [문제013] 질량이 100 mg(시료 저울의 오차범위 ± 10 %)인 시료의 방사능을 측정하였더니 5 ± 0.604 Bq이
었다. 비방사능(Bq/mg)과 표준편차를 구하라

계수치의 상대오차 : N 1
 100 %   100 % 비방사능 
방사능
N N 질량

n/t 1
계수율의 상대오차 :
 100 %   100 % 2
    
2

n nt ( A   A )  ( B   B )  ( A  B)  ( A  B)  A    B 
 A   B 

2 2
상대오차  0.604   10 
(5  0. 604)  (100  10 )  (5  100)  (5  100 )    
 5   100 

N 1  0.05  0.0078 Bq / mg
 100 %   100 %  2 . 5 %
N 800  2

계측기 평가 계측기 평가
[ χ 2 분포표 ]
반복된 측정을 통해 계측시스템의 건전성을 주기적으로 평가 확 률( p)
자유도
(N-1) 0.99 0.95 0.90 0.50 0.10 0.05 0.01
4 0.30 0.71 1.06 3.36 7.78 9.49 13.28 실제 포아송 분포에서
χ 2 test 15 5.23 7.26 8.55 14.34 22.31 25.00 30.58 무작위로 추출된 값이
16 5.81 7.96 9.31 15.34 23.54 26.30 32.00 표의 특정 값보다 큰 값
측정값에서 나타난 요동과 통계적인 예측치(포아송 또는 정규분포)와의 일치 여부를 평가함으로써
17 6.41 8.67 10.09 16.34 24.77 27.59 33.41 을 지닐 확률
계측시스템의 동작상태를 평가하는 방법 18 7.02 9.39 10.97 17.34 25.99 28.87 34.81
19 7.63 10.12 11.65 18.34 27.20 30.14 36.19
2

( x  x-)
1) χ 를 아래 식으로 구한다. N 20 8.26 10.85 12.44 19.34 28.41 31.41 37.57

x  i -
2 [ 예] 자유도가 19 일 때 χ2 의 값이 30 보다 클 확률은 약 5%

i 1 x
- 계산된 χ 2 에 대한 확률이 0.05 < p < 0.95 (또는 0.1 < p < 0.9 ) 범위에 있다면
xi : i 번째 측정치 N : 측정횟수 x : 평균치 　 계측시스템은 정상적으로 동작
- 계산된 χ 2 에 대한 확률이
2) 해당 분포도에 표를 보고 χ2 의 분포확률(p)이 0.05 < p < 0.95 (또는 0.1 < p <0.9 ) 범위 ① p > 0.95 일 때 　 계측기의 감도가 좋지 않아 핵종붕괴의 확률적 요동과 계측의 무작위성을 반영하지 못함
에 있다면 정상동작
② p < 0.05 일 때 　 계측시스템의 분산 값이 과다
[원인] 계측시스템의 외적 요인
전원공급의 불안정, 측정자의 계측상 오류, 장치의 접속불량,
외부선원의 간섭, 계측장비의 수명종료 등
 검출한도와 최소검출방사능(MDL)
[예] 방사선 계측시스템의 건전성을 평가하기 위해 정해진 조건에서 다음과 같은 측정치를 획득하였다.
χ 2 를 통해 이 계측시스템의 상태를 평가하시오. 검출한도(Detection limit)
- 측정된 계수가 백그라운드와 구분될 수 있는 한계
측정결과(cpm) : 105, 92, 88, 110, 120
- 최소검출한계 (Minimum Detection Level : MDL), 측정하한(Lower Limit of Detection; LLD)
이라고 부르기도 함
(해답)

105  92  88  110  120 LD  2.71  4.65 N B

- 평균 : x  103 cpm
5 N B : 백그라운드 계수 (count)
N

x  x 
2

최소검출방사능(Minimum Detectable Activity : MDA)

i
- 　 :  
2 2 i 1

x - 검출한도에 붕괴당 방사선 방출률(f), 검출효율(ε), 시료의 계측시간(T )을 고려하여 방사능으

105  103  92  103   88  103   110  103  120  103
2 2 2 2 2
로 환산한 값

103 - 측정된 시료의 방사능이 MDA보다 작을 경우에는 95%의 신뢰도로 시료에 방사능이 존재하지
 6.68 cpm 않는다고 평가

2.71  4.65 N B
- 측정회수 : 5회
MDA 
- 자유도(F) : 4 f T
- 확률 : 0.1 < p < 0.5  계측시스템은 정상적으로 동작

표면오염도

허용 표면오염도

계측기 사용 및 오염평가 α선을 방출하는 핵종이 있는 경우는 4 kBq/m2 (= 0.4 Bq/cm2 ),

그렇지 않을 경우는 40 kBq/m2 (= 4Bq/cm2 )

-방사성오염 평가 및 제염-
외부로 나갈 경우에는 허용 표면오염도의 1/10 이하인 경우 허용

α선 : 0.04 Bq/cm2
그 외 : 0.4Bq/cm2
표면오염 측정법 표면오염도 측정(직접법)

① 고착성 오염 : 서베이법(probing method), 직접법

+ 갈라진 틈의 오염 측정
+ 백그라운드가 높은 지역은 불가
* 방호장비 사용(예, 장갑)
② 유리성오염 : 스메어법(smear method), 간접법
+ 백그라운드가 높은 지역도 가능 * 서베이미터의 동작상태 점검
+ 지름이 2 내지 2.5 cm의 원형용지에 의한 문지름 시험 - 배터리 점검
+ 문지름 용지(smear paper)에 전이된 방사성물질을 측정
- 백그라운드 준위 기록
+ 특징 : 개인오차 大, 전이율 변화 大
+ 방사성포장물의 표면오염도 측정 - 경보음 작동
- 체크선원을 이용한 probe 점검

표면오염도 측정(간접법) 측정실습_1

10cmx10cm
1 2 3
9 1) 현재 계측기의 측정치는
5 6 7 8 4 5 6 얼마인가?

1 2 3 4 mR/hr
카세트 준비 7 8 9
지시치 0.7
비례자 × 10

실험실 측정
단창형 GM, 비례계수관 오염지역 스메어
측정실습_2 오염평가 실습
2.25 Bq/cm2는 4Bq/cm2보다 작으므로 오염되지 않았음

평가방법 실제예 계 산
1.계측기를 이 용하여 측 정값을
2) 현재 계측기의 측정치는 구함
아날로그 계측기를 이용한 측정값 ( 540 ) cpm
얼마인가?
2.측정값을 cps 로 변 환 1 cps = 60 cpm 이므로, cps ( 9 ) cps
CPM cps에서 dps를 환 산하 려면 cps에 효 율을
( 45 ) dps
3.측정값에 효 율을 적 용(약 20%) 나눔
∴ cps / 0.2 = dps (dps = Bq)
지시치 5.4K 4.Window 크 기를 단 위면적으로
윈도우의 반지름이 2.5cm이라면,
πr 2 ≒ 20cm 2 ( 2.25 ) Bq/cm2
환산
비례자 × 0.1 ∴ dps(=Bq)/20cm 2 = Bq/cm2

5.결과 값 평 가 측 정치는 4Bq/cm2 보다 (작음 / 큼 ) 작음 / 큼

6.기준 값 초 과 시 제 염 4Bq/cm2를 초 과시에는 제 염절차 및 방 법 에 따 라 제 염실시

누설점검 목적

RI를 이용하는 기관은 사용 중인

방사선원 누설점검 밀봉선원 중 누설점검 대상에 대하여
밀봉 성능의 확인 및 누설여부를 정기적으
로 실시

하여 건전성을 확인 하기 위함
누설점검 대상 누설점검 대상

① 베타 및 감마선을 방출하는 밀봉 선원으로서, 방사능량

이 3.7 MBq 이상인 것

② 알파선을 방출하는 밀봉 선원으로서, 방사능량이

0.37 MBq 이상인 것

③ 물리적 반감기가 30일 이상인 것

누설점검 시기 누설점검 시험방법

① 신규로 방사선을 취득한 경우 ‣ 취득일로부터 30일 1. 문지름 시험

이내
② (사용) 중인 방사선원인 경우 ‣ 매 1년 마다 2. 건조 문지름 시험
③ (최근) 6개월 이내 누설 점검을 실시하지 않고, 보관 또
는 저장하고 있는 경우 ‣ 사용 재 개시 하기 전 3. 가열 및 침수시험
④ 제작자 누설점검 시기 및 유효 기간 지정된 경우 ‣ 증빙서
류 확보
평가기준 누설점검 실습_건조 문지름 시험

1. 문지름 시험 (1)
누설점검 대상 Cs-137 20 mCi
‣ 계측결과, 총 방사능량이 200 Bq 초과하지 않을 선원
때 합격 시간 : 20 min
(2) Calibration 및
2. 건조 문지름 시험 측정기 준비 Background 측정
계수치 : 400 counts
‣ 건조한 종이 필터 사용
(3) 시간 : 5 min
‣ 계측결과, 총 방사능량이 200 Bq 초과하지 않을 Smear paper 측정기를 이용한 counts
때 합격 측정 계수치 : 250 counts
3. 가열 및 침수시험
(4)
‣ 용매 침수 후 10분간 가열 반복 3회 실시 실습지 하단의 해당 핵종 효율 적용
효율
‣ 계측결과, 총 방사능량이 200 Bq 초과하지 않을 때 합격

누설점검 실습_건조 문지름 시험

평가방법 실 예 계 산
N : 400 counts
Calibration &
1.측정기 준비
Background 측정
Time :

n(=N/t) :
20 min
20 cpm(=400/20 경청해 주셔서 감사합니다.
N : 250 counts
2.Smear paper 측정 측정기를 이용한 counts Time : 5 min
서수현 : sooehyun@yonsei.ac.kr
n(=N/t) : 50 cpm(=400/20
참고 및 인용자료
3.순(참) 계수율 시료 계수율 – BG 계수율 1. 2009년 방사선취급감독자면허 단기강좌 “방사선취급기술”- 김현기
50 - 20 = 30 cpm 2. RISRI summary Book - 박철서
3. RISRI 종합문제집 - 박철서
4. 방사선의 이론과 실제 - 백민, 조건우, 장재권, 김형기 외
4.단위환산 5. 방사선물리의 이론과 연습 - 서두환
(cpm ⇒cps)
30
( cpm
)ⅹ(1/60)=(0.5 cps
) 0.5 cps(순계수율)

5.누설평가 0.5 cps 0.087=(5.75)Bq

순계수율÷효율 5.75 Bq(=dps) < 200 Bq