Why Phased Array Technology?

PHASED ARRAY UT의 장점

1. 고속탐상 가능
- 빠른 속도와, 재연성, 검증된 절차서 등의 장점
2. 향상된 검사 기법
- 검사 제한 영역의 최소화(TOFD의 불감대 탐상가능)
- 향상된 검출능
- 보다 정확한 결함의 크기측정
- 여러 빔 각도의 동시 사용 및 자유로운 초점 거리 적용.
- 용접부상의 결함의 정확한 위치 확인 가능.(용접수정 시 매우 유리).
- 결함의 종류 구별 가능.
- 검사자의 기량에 따라 상이한 검사결과의 발생 축소
- 데이터의 영구 보존
3. One line Scan으로 검사시갂 단축.
- 검사두께에 따라 TOFD와 같은 원리 적용(Scan map 작성 필요)
4. A, B, C 및 D-scan 이미지를 제공하므로서 결함의 공갂적 3차원적 평가가 가능함.
5. ASME code에서 TOFD와 함께 RT를 대체하는 검사방법으로 인정함.

PHASED ARRAY UT의 단점

1. 검사장비 및 소모품(Probe, scanner, wedge 등)이 고가.

2. 결함 검출 감도는 TOFD에 비해 상대적으로 낮음.

 Why TOFD Technology?

TOFD의 장점

1. 결함의 크기 및 위치를 정확히 측정할 수 있다

2. 결함의 방향에 영향받지 않는다
3. 결함 검출 감도가 매우 우수하다
4. 고속의 자동 탐상이 가능하다
5. 두꺼운 시험체도 한번의 scan으로 탐상 가능
6. 데이터 영구보존 가능

TOFD의 단점

1. 불감대가 존재한다(표면 및 backwall)

2. 결함의 종류 식별이 불가능
3. 재질의 grain size에 영향 받는다
4. 지시의 판독이 어렵다
5. 탐촉자 축방향의 결함 위치 측정이 불가능
6. 모재 결함의 구분 불가
DEAD ZONES OF TOFD

1. Near the scanning surface there is a dead zone (Dds) due to presence of the lateral wave. Interference between the lateral
wave and the imperfection indication can obscure the indication. The depth of the so-called scanning-surface dead zone is
given by:
Dds :Dead zone(scan surface
C: sound velocity
Dds = [c2tp2/4+Sctp]1/2
tp : the length of the acoustic pulse(lateral wave ring time),
S : half the distance between the index points ofthe ultrasonic probes

tp
 2. Near the backwall there is also a dead zone (Ddw) due to presence of the backwall-echo. The depth of the

backwall dead zone is given by:

Ddw : Dead zone(back wall)

Ddw = [c2(tp+tw)2/4-S2]1/2-W tw : the time-of-flight of the backwall echo
W : the wall thickness

3. Both dead zones can be reduced by decreasing the probe separation or by using probes with shorter pulse

length

일반적으로 탐상표면(Scanning surface)에서의 불감대는 약 3~4 mm 정도 이며, 저면에서의 프로브의 공갂적

배치에 따라 약갂 변화가 있을 수 있으나 불감대는 약 1~2 mm 정도이다.
사용하는 탐촉자의 펄스 길이가 길어지면 불감대는 늘어날 것이며, 사용되는 두개의 프르브 사이가 늘어나면
갂격(PCS, probe center separation) 늘어나면 역시 불감대는 증가할 것이다.

이러한 단점을 보완하기 위하여 Manual UT 또는 PAUT(Phased array UT)를 추가적용하여 불감대 내의 결함을
정확히 평가한다.
Porosity LOSWF Crack
 Slag
IP
Toe Crack
Lamination Root Crack LORF
LOSWF Side Wall Crack
 옆 이미지는 두께 20 mm의 X(Double V)개
선을 가지는 용접 시험편을 TOFD와 PAUT
를 이용하여 각각 탐상한 결과임.

이 시험편은 Sonaspection으로 부터 검사원

의 기량검증을 위하여 구매한 시험편으로 탐
상결과와 같이 3개의 결함이 들어있음.

1) TOFD 탐상 결과:
3개의 결함이 모두 탐상되었으나 용접부의
축방향의 위치 및 길이는 알수 있었지만 용
접부의 횡방향(용접부의 횡단면 상의 위치)의
위치 정보는 얻을 수 없었음. 그리고 3번 결
함의 경우 lateral wave의 영향으로 정확한
a) TOFD Scan Image 깊이 측정에 문제가 있었음.

D-Scan
S-Scan 2) PAUT 탐상 결과:
3개의 결함이 모두 탐상되었으며, B-Scan
image를 통해 결함의 횡방향 위치를 알수
있었고 C-scan image를 통해 결함의 용접부
축방향 위치 및 길이를 정확히 측정할 수 있
었음. 또한 A-scan 및 S, D, B-scan 상의
Image를 통해 결함의 종류의 추정이 가능했
음.
C-Scan
 b) PAUT Scan Image

옆 이미지는 두께 25 mm의 V(Single V)개선

을 가지는 용접 시험편을 TOFD와 PAUT를
이용하여 각각 탐상한 결과임.

이 시험편은 Sonaspection으로 부터 검사원

의 기량검증을 위하여 구매한 시험편으로 탐
상결과와 같이 2개의 결함이 들어있음.

1) TOFD 탐상 결과:
2개의 결함이 모두 탐상되었으나 용접부의
축방향의 위치 및 길이는 알수 있었지만 용
접부의 횡방향(용접부의 횡단면 상의 위치)의
위치 정보는 얻을 수 없었음.

2) PAUT 탐상 결과:
a) TOFD Scan Image
2개의 결함이 모두 탐상되었으며, B-Scan
image를 통해 결함의 횡방향 위치를 알수
D-Scan
S-Scan 있었고 C-scan image를 통해 결함의 용접부
축방향 위치 및 길이를 정확히 측정할 수 있
었음. 또한 A-scan 및 S, D, B-scan 상의
Image를 통해 결함의 종류의 추정이 가능했
음.

C-Scan
 b) PAUT Scan Image

PAUT - How to cover welds including HAZ ?

Example : T = 24 mm, Weld cap = 36 mm, HAZ = 1/4(25%) x T

 TOFD - How to cover welds including HAZ ?

Example : T = 24 mm, Weld cap = 36 mm, Wedge angle : 70°, Frequency : 10 MHz, Diameter : 3.18 mm
PAUT - How to scan complex welds ?
- 종파를 이용한 Sectorial-Scan으로 검출된 용융부족(LOF) 및 불완전용입(LORP) – T weld

- 종파를 이용한 Sectorial-Scan 으로 검출된 Underbead Crack – T weld

 - 횡파를 이용한 Sectorial-Scan 으로 검출된 Underbead Crack – T weld

- 횡파를 이용한 Sectorial-Scan 으로 검출된 Toe Crack 및 용융부족(LOF) – T weld